''Perfectionnements aux dispositifs passeurs d'échantillons"
L'invention décrite ci-après se rapporte à des perfectionnements
apportés aux dispositifs passeurs d'échantillons, destinés plus spécialement
à être utilisés dans le cadre de l'examen de matériaux soumis à une irradiation par rayons X, par exemple dans le cadre de l'étude du rayonnement X
réfléchi sur un échantillon déterminé. Il faut cependant comprendre qu'outre
cette application particulière, les perfectionnements ci-après décrits
peuvent également s'envisager pour tout dispositif dans lequel on fait usage d'un
rayonnement focalisé,projeté sur un objet-olble ou échantillon pouvant être
renouvelé selon des modalités quelconques. La description qui suit a été
établie en relation avec un dispositif de mesure d'un rayonnement X réfléchi, fonctionnant suivant le principe connu de focalisation de Bragg-Brentano, principe adapté à un goniomètre du type horizontal, mais c'est uniquement à titre d'exemple, sans aucun caractère de limitation.
L'étude du faisceau réfléchi par un échantillon bombardé par
un rayonnement X est fréquemment réalisée au moyen d'un goniomètre horizontal, couplé avec un émetteur à rayons X orientés en faisceau divergent vers un échantillon plan, et un récepteur disposé au foyer du rayonnement réfléchi par l'échantillon.
Le schéma de principe d'une telle installation est repris à la figure 1. En 1 se trouve un émetteur fixe à rayons X. Le rayonnement incident 2 émanant de l'émetteur 1 frappe un échantillon plan dont la surface est de suffisamment petites dimensions pour être assimilable à la portion de surface cylindrique passant par les points 1, 3 et 5, mais limitée aux dimensions de l'échantillon, et est réfléchi en 4 vers un récepteur 5 . Au cours de l'étude du rayonnement réfléchi,
on fait tourner l'échantillon 3 autour d'un axe vertical 6, d'un angle déterminé 8
dont la valeur peut suivre une loi quelconque en fonction du temps: à toute
<EMI ID=1.1>
du récepteur d'un angle 2 0 dans le même sens autour du même axe 6, suivant méthode bien connue .
Grâce à un tel dispositif, on peut sans difficultés étudier la structure d'échantillons de multiples natures, grâce aux caractéristiques des rayonnements X réfléchis par ces échantillons.
Lorsqu'on est amené à se servir de ces dispositifs de manière particulièrement fréquente, par exemple si l'on doit examiner de façon ininterrompue une certaine quantité d'échantillons dont la comparaison des structures présente une grande importance, il est impératif que les conditions dans lesquelles
se déroulent les mesures soient aussi rigoureusement identiques que possible. Parmi ces conditions, il faut notamment citer les dimensions des échantillons, leur mode de préparation, la présence d'une face plane polie, la qualité et les caractéristiques du polissage de cette face, eto.
Parmi les conditions à respecter, il faut également citer celle très importante, que la face plane des échantillons qui doit être irradiée doit toujours être disposée au même endroit et orientée de façon identique par rapport à l'émetteur et au récepteur de rayons X. Ceci pose nettement le problème du remplacement d'un échantillon par un autre, sans modification du plan d'irradiation.
A la connaissance du demandeur, et jusqu'à ce jour, le remplacement d'un échantillon par un autre après chaque mesure nécessitait au moment du changement le repositionnement minutieux de l'échantillon, afin de maintenir les conditions expérimentales inchangées. Cette technique présente
le double désavantage d'exiger la présence d'un opérateur à chaque changement d'échantillons, et de faire dépendre la précision de chaque positionnement d'échantillon de l'habileté manuelle et du soin de l'opérateur. Cette technique est donc tributaire de tous les aléas inhérents à toute intervention humaine.
La présente invention a pour objet un dispositif grâce auquel
les inconvénients indiqués ci-dessus peuvent être supprimés, en ce sens que chaque remplacement d'un échantillon par un autre ne nécessite plus systématiquement l'intervention d'un opérateur, et que les échantillons sont automatiquement disposés de telle façon que leur face à irradier soit placée sur le trajet du rayonnement incident, rigoureusement dans le plan théorique de réflexion, fixé par la géométrie du goniomètre.
Les schémas ci-après, donnés à titre d'exemple non limitatif
et non à l'échelle, permettront de se rendre compte comment on peut concevoir un dispositif conforme à celui de l'invention, dont les caractéristiques essentielles seront explicitées plus loin.
La figure 2 représente schématiquement la vue avant d'un plateau porte-échantillons conforme à l'invention, la figure 3 en représente une vue arrière, la figure 4 représente une coupe en travers simplifiée du plateau repris à la figure 3. La figure 5 représente un détail agrandi de la figure 4. La figure 6 représente une vue avant d'une tourelle porteplateau, la figure 7 en représente la vue en plan; la figure 8 représente en vue de face la tourelle munie du plateau porte-échantillons, du pignon d'attaque de
la rotation des échantillons et du dispositif commandant la rotation contrôlée du plateau, et la figure 9 représente une vue partielle en plan du dispositif représenté à la figure 8. Les figures 10 et 11 représentent en vue et en coupe, un plateau permettant la mise dans un même plan de toutes les faces des échantillons à soumettre à l'analyse par rayonnement X. La figure 12 représente un schéma simplifié du dispositif électrique de commande de tout le dispositif de l'invention.
Sur toutes les figures, les mêmes repères représentent les mêmes éléments.
Le dispositif représenté sur les-différentes figures sus-mentionnées se compose d'une tourelle pourvue d'un axe de rotation vertical, coïncidant avec celui 6 du goniomètre, la dite tourelle portant un plateau rotatif à axe horizontal, garni d'un certain nombre d'échantillons déjà préalablement positionnés de telle façon que par rotation successive d'un angle approprié autour de son axe horizontal le plateau présente successivement la face à irradier de chaque échantillon rigoureusement dans le plan théorique de réflexion du goniomètre, avec le centre de cette face exactement dans l'axe du faisceau incident et dans le plan qui, passant par l'axe vertical de rotation de la tourelle, est perpendiculaire au plan de la face.
<EMI ID=2.1>
du rayonnement X réfléchi tourne d'un angle 2 6 autour de ce même axe.
Sur la figure 2 est représentée la face avant du plateau 7 porteéchantillons; celui-ci est garni de 6 échantillons repérés 8 à 13, ayant tous leur face avant rigoureusement coplanaire, et dans le plan 3 lorsque le plateau 7 est placé correctement sur la tourelle. Chaque échantillon est solidaire d'un anneau tournant (par exemple 14) fou dans un logement 15 pratiqué dans le plateau. Cet anneau ne peut se déplacer axialement (voir figure 4) à cause de deux épaulements
16 et 17 situés de part et d'autre du plateau. La butée 17, située à l'arrière du plateau 7, est garnie d'une couronne dentée 18.
Le plateau 7 est encore pourvu en son centre d'un orifice 19 destiné à permettre le passage d'une vis de fixation du plateau 7 sur la tourelle, il est également muni d'un autre orifice excentré 20 dont le rôle sera explicité plus loin. Enfin, un ergot 101 disposé sur sa périphérie sert de butée de fin de course. Il y a lieu aussi de signaler que la périphérie du plateau 7 reste, sur sa face avant, libre de toute proéminence , sur une faible largeur (par exemple
5 mm); le plateau 7 présente donc une couronne périphérique plane sur tout son pourtour.
La figure 3 représente la face arrière du plateau 7. Sur cette face on peut également voir les épaulements 17 des anneaux tournants, ainsi que la couronne dentée dont ils sont munis. L'orifice central 19 est entouré d'une zone concentrique annulaire 21, dont le plan s'inscrit en creux par rapport à la face arrière 22 proprement dite; cette zone en retrait permet un centrage rapide et précis du plateau sur la tourelle. Deux tenons 23 et 24 fixés sur le plateau en permettent une orientation correcte sur la tourelle en s'engageant dans des évidements correspondants faisant partie du dispositif de la tourelle. La figure 5 représente, très agrandi et dament complété, le schéma simplifié des anneaux tournants repérés 16, 17 , 18 sur les figures 2, 3 et 4.
Sur ce schéma, le plateau 7 se trouve dessiné avec la face avant
25 du côté droit et la face arrière 22 du côté gauche. L'anneau tournant 14 d'axe de rotation 26 peut tourner dans le logement 15 d'une part, par l'intermédiaire d'une première série de billes 27 logées dans une rainure 28 circulaire pratiquée dans la face avant 25 du plateau 7 et maintenues en place grâce à l'épaulement 16, et d'autre part grâce à une seconde série de billes 29 logées dans une seconde rainure circulaire 30 coaxiale à la rainure 28, mais pratiquée dans la face arrière
22 du plateau,et maintenues en place grâce à une bague auxiliaire 31. Un second épaulement 17 circulaire est fixé sur le prolongement arrière 32 de la bague 14 par l'intermédiaire de 3 vis pointeaux 33 (disposées à 120[deg.] l'une de l'autre) prenant appui sur le prolongement 32 dans une rainure 34 appropriée, et elles-mêmes vissées chacune dans une portée taraudée 35 dans l'épaulement 17 radialement à l'axe 26. Un second jeu de 3 vis-borgnes 36, vissées à 1200 l'une de l'autre
dans des portées 37 taraudées dans l'épaulement 17, suivant l'axe 26, et maintenant la bague auxiliaire 31 contre le jeu de billes 29, complète le serrage de l'ensemble de la bague tournante 14 dans son logement 15, de telle façon que cette bague puisse facilement y tourner sans toutefois pouvoir se déplacer axialement.
La bague tournante 14 sert de support-réceptacle à un échantillon
13 par l'intermédiaire du dispositif décrit ci-après. La partie arrière 32 de la bague 14 présente intérieurement une partie filetée 38 dans laquelle se visse une buselure 39 cylindrique pourvue d'une portée filetée extérieure destinée à être vissée dans la portée 38 d'un épaulement - butée 40 servant de fin de course, ainsi que d'une portée cylindrique axiale 41 Intérieure. Dans cette portée intérieure 41 viennent se visser avec le minimum de jeu un bouchon fileté 42 et une bague filetée 43 servant en fait de contre-écrou au bouchon 42.
Le bouchon 42 présente sur sa face arrière 44 une rainure 45 destinée à faciliter son vissage, la bague filetée 43 présente d'une part un évidement central 46 destiné à permettre le passage de l'extrémité d'un tournevis approprié jusque dans la rainure 45, et d'autre part deux évidements cylindriques diamétralement opposés 47 et 48 et destinés à permettre le vissage de la bague 43 contre le bouchon 42 au moyen d'une clé à deux broches, de dimensions appropriées.
Le bouchon 42 présente sur sa face avant un évidement cylindrique 49 dans lequel est serti un petit disque 50 constitué d'un aimant permanent particulièrement puissant. C'est contre la face avant 51 de cet aimant qu'est appliqué l'échantillon 13, lui-même soigneusement parachevé en forme de disque d'épaisseur appropriée.
Le centrage et la mise en place du plateau 7 sur la tourelle sont tels, ainsi qu'il sera expliqué plus loin, que, après mise en place du dit plateau, la face avant 25 du plateau se trouve disposée parallèlement au plan théorique de réflexion du goniomètre et à une distance exactement connue en arrière de ce plan.
Le problème du positionnement correct de l'échantillon 13 par rapport au plan théorique 3 est ainsi ramené à celui du positionnement de la face à irradier 52 de cet échantillon, par rapport à la face 25.
Ce positionnement correct est obtenu comme suit. On fait appel à un plateau auxiliaire 84 représenté en plan à la figure 10 et en coupe longitudinale à la figure 11. Le diamètre intérieur 85 de ce plateau est légèrement supérieur à celui extérieur du plateau 7, ce qui permet de déposer facilement ce dernier sur le rebord circulaire 86 du plateau; le plateau 7 repose donc sur le rebord 86 par l'intermédiaire de sa couronne périphérique, bien plane et libre de toute proéminence. La distance axiale existant entre le niveau du rebord 86 et celui du fond 87 du plateau 84 représente exactement la distance qui sépare du plan théorique 3 la face avant 25 du plateau 7, lorsque le plateau 7 est monté sur la tourelle.
Une fois mis en place sur le plateau 84, le plateau 7 est solidarisé à celui-ci au moyen d'une vis dont la tête prend appui sur la face arrière
22 du plateau, et dont le corps, passant à travers l'orifice excentré 20, est vissé par son extrémité filetée, dans une portée taraudée correspondante 88, ménagée dans le fond du plateau 84.
Le processus à suivre pour fixer les échantillons en position correcte est le suivant.
On dépose le plateau 7 sur le plateau 84 de la façon décrite ci-dessus et on l'y fixe comme dit plus haut. A ce moment, le plateau 7 est garni uniquement de ses anneaux 14 (complets avec les roulements et les épaulements 16 et 17) et des buselures 39, vissées à refus. On place alors les échantillons 13, soigneusement parachevés , avec leur face interne contre les rondelles magnétiques 50-auxquelles elles adhèrent fortement; on visse alors chaque ensemble bouchon 42 - disque 50 et échantillon 13 dans la portée 41 jusqu'à ce que la face 52 de l'échantillon 13 arrive au contact du fond 87 du plateau 84, ce que l'on perçoit par une résistance très nette au vissage, puisque le plateau 7, par ailleurs pratiquement indéformable, est bloqué sur le plateau 84. A ce moment, la dite face 52 est correctement positionnée par rapport à la face 25.
Il suffit ensuite de visser le contre-écrou 43 jusqu'au contact de la face arrière du bouchon
42 et de l'y serrer à refus. Le même processus étant répété pour tous les anneaux tournants à garnir d'échantillons, le plateau 7 est ainsi pourvu de tous ses échantillons, prépositionnés en place correcte par rapport à lui, et après montage du plateau sur la tourelle, par rapport au plan théorique 3 de réflexion du goniomètre.
La figure 6 représente de façon très schématique et simplifiée la vue de face de la tourelle sur laquelle doit se placer le plateau 7 porte-échantillons. La figure 7 représente de la même manière la vue en plan de cette tourelle.
L'axe de rotation de tout le dispositif est repris en 6. Concentrique à cet axe vertical 6 se trouve un plateau fixe 54 supportant toute l'installation, un plateau annulaire 55 (en coupe sur la figure 6) qui supporte l'organe récepteur du goniomètre (non représenté). Ce plateau tourne toujours (suivant principe connu) d'un angle double de celui auquel la tourelle proprement dite est elle-même soumise. La tourelle proprement dite est supportée par un pivot central 56 soumis à un mouvement de rotation approprié, par un mécanisme non représenté. La tourelle se compose d'une assise 57 circulaire et d'un panneau vertical 58. Ce panneau vertical comporte trois conduits horizontaux cylindriques d'axes parallèles entre eux et perpendiculaires au plan du panneau.
Ces trois axes 59, 60, 61, matérialisés par des arbres correspondants, servent à supporter, en leur permettant de tourner, respectivement le mécanisme de commande de la rotation du plateau 7 (par l'axe 59), le plateau 7 proprement
dit (par l'axe 60) et le mécanisme de commande de la rotation des échantillons sur le plateau (par l'axe 61).
Afin de renforcer la rigidité de l'ensemble et éviter toute flexion dans les arbres, on a prévu des renforcements de leur portée dans le panneau vertical, respectivement en 62 pour l'axe 59, 63 pour l'axe 60 et 64
pour l'axe 61.
La figure 8 représente de façon schématique et en vue de face , les trois dispositifs tournants supportés par les axes de rotation 59, 60 et 61.
L'axe 59 dont le mouvement de rotation est commandé par un moteur électrique situé à l'arrière du panneau 58, mais non représenté sur la figure, supporte deux disques circulaires tournant autour du dit axe. Le premier de ces disques, 65, fixé sur l'arbre 59, est plan et comporte sur sa face avant un petit ergot 66, fixé sur le disque et tournant avec lui. Il comporte en sus, à
sa périphérie, une petite came 67 servant de fin de course de rotation. Le
second disque circulaire 68, est fixé coaxialement au premier et devant lui,
par un moyen connu en soi, il est de diamètre plus faible que celui du premier disque et présente sur sa périphérie un évidement 69 dont le rôle est explicité plus loin. L'ensemble de ces deux disques est monté sur l'arbre 59, le plus près possible de la face avant du panneau 58, mais de façon toutefois à pouvoir tourner librement.
L'axe de rotation 60 supporte deux ensembles rotatifs, tournant fou autour du dit axe. Le premier est un ensemble en forme d'hexagone rainuré,
le second, fixé de façon bien précise au premier, n'est autre que le plateau 7 muni de ses porte-échantillons, complètement garnis.
Le premier des ensembles est composé essentiellement d'une plaque 70 disposée dans le même plan que celui du disque 68. Cette plaque grossièrement en forme d'hexagone présente à sa périphérie une alternance de six
<EMI ID=3.1>
évidement étant disposé entre deux rainures et vice-versa. La plaque 70 est fixée coaxialement sur une buselure 73 elle-même disposée folle sur l'axe 60, mais sans jeu; la buselure 73 comporte, disposées à 60[deg.] l'une de l'autre, sur sa périphérie, six petites rainures 74.
Le second ensemble est constitué du plateau 7 complet, lequel se chausse sur l'axe 60, de façon à ce que d'une part sa partie évidée 21 vienne s'appuyer sans jeu contre la buselure 73 en se chaussant également sur sa périphérie 75 par son redan 76 circulaire (cfr. figure 4) et que d'autre part, les deux tenons 23 et 24 se présentent exactement en face de deux des six rainures 74.
Une vis axiale, non représentée, maintient le plateau 7 contre la.buselure 73.
Dans cette position, les échantillons sont disposés sur l'avant du plateau, tandis que les périphéries dentées 18 sont situées derrière le plateau dans un plan tel qu' elles peuvent, chacune à leur tour , engrener avec un pignon denté 77 monté fixe sur l'axe 61 dont le moteur de commande disposé derrière le panneau 58 n'est pas représenté sur la figure.
Le rayon des évidements 71 est pratiquement le même que celui du disque 68 et la disposition des dits évidements est telle que, lorsque la plaque
70 est convenablement orientée, un quelconque des évidements 71 est en contact avec le disque 68 et en épouse aussi exactement que possible le contour, ce qui signifie que, lorsque le disque est en rotation sur lui-même autour de l'axe 59
(exception faite de l'évidement 69), la plaque 70 est et reste immobilisée. La rotation de la plaque autour de l'axe 60 est cependant rendue possible lorsque,
au cours de sa rotation dans le sens de la flèche 78, l'extrémité 79 de l'évidement
69 atteint en 80 la ligne théorique qui relie les traces des axes 59 et 60 et que le tenon 66 tournant en même temps que les disques 65 et 68 s'engage dans une des rainures 72 qu'il entraîne dans son mouvement jusqu'au moment où il la quitte
<EMI ID=4.1>
A ce moment, l'autre extrémité 81 de l'évidement 69 est entrée en contact avec
<EMI ID=5.1>
avec le disque 68 et la plaque 70 èst à nouveau immobilisée, tandis que les disques
68 et 69 peuvent continuer leur mouvement de rotation. Il est à noter que le positionnement des épaulements 17 et des périphéries dentées 18 est tel qu'au cours de la rotation du plateau 7, ils n'entrent jamais en contact avec les disques
65 et 68 ni avec le tenon 66; en fait, ils sont disposés dans un plan différent de celui des deux disques 65 et 68.
Le fonctionnement de tout le dispositif s'explique comme suit.
Le plateau 7 ayant été préalablement garni de ses échantillons, conformément à la méthode décrite ci-dessus, est placé sur le panneau 58 de
telle façon que ses deux ergots 23 et 24 se placent dans deux des rainures 74 diamétralement opposées, et que la couronne dentée 18 de l'épaulement 17 de
l'un des échantillons engrène avec le pignon 77 d'axe 61. Le plateau 7 est alors
fixé au panneau 58 par une vis appropriée, passant au travers du plateau 7 par
son orifice central 19 et se vissant dans la portée 89, d'axe 60, taraudée dans le panneau 58. La tourelle 57, chargée du plateau 7, est mise en place correcte
par rapport au goniomètre proprement dit afin de pouvoir commencer les mesures, lesquelles se déroulent comme suit (voir figure 12 avec le schéma électrique simplifié).
Le démarrage du dispositif goniométrique, c'est-à-dire du goniomètre proprement dit et de la tourelle 57 porte - plateau d'échantillons étant effectué au moyen de leur circuit de commande propre (non représenté sur le schéma de la figure 12), on ferme l'interrupteur général bipolaire 90 commandant la mise en route du dispositif de l'invention. Une lampe au néon 91 renseigne l'opérateur sur la présence d'une tension électrique à ses bornes. Le circuit commandé par l'interrupteur 90 se ferme sur le moteur 92 par l'intermédiaire
d'un interrupteur 93 en position fermée (celle de la figure). Le moteur 92 commandant la rotation d'un échantillon sur lui-même, par l'intermédiaire du pignon
denté 77 d'axe 61, se met en rotation, et le reste pendant tout le temps que le goniomètre est lui-même en rotation. Pendant tout ce temps, les trois interrupteurs
94, 96 et 97 sont ouverts. Dès que le goniomètre atteint une position prédéterminée, il commande mécaniquement la fermeture de l'interrupteur 94 pendant un temps très court. Cet interrupteur 94 commande d'une part le retour du goniomètre vers sa position initiale par l'intermédiaire de circuits non figurés, d'autre part la rotation du moteur 95 du plateau porte-échantillons et enfin ferme l'interrupteur
96, lequel reste fermé sur lui-même assurant le maintien des deux rotations en cours, tandis que l'interrupteur 94 s'ouvre à nouveau au moment où le goniomètre quitte sa position extrême. Le moteur 95, d'axe 59, commande mécaniquement
la rotation du plateau 7 par l'intermédiaire de l'ergot 66 s'engageant dans une rainure type 72. Son mouvement propre est arrêté automatiquement par la protubérance 67 qui ouvre l'interrupteur 96 au moment où l'échantillon suivant est arrivé en bonne place pour être lui-même entrafhé en rotation par le pignon 77
qui n'a pas cessé de tourner sur lui-même . Pendant la course de retour du gonio-mètre, le deuxième échantillon est soumis au rayonnement X jusqu'au moment
où le gonio est revenu à sa position initiale, à laquelle il s'arrête grâce à l'interrupteur 97 qui se ferme en remplissant le même rôle que l'interrupteur 94
à l'autre position extrême du goniomètre. On peut ainsi éviter que la course retour du goniomètre ne soit pas utilisée.
Une fois que tous les échantillons ont été exposés aux radiations X, le microswitch 93 est ouvert par l'ergot 101, ce qui interrompt la rotation du moteur 92, tandis que l'opérateur en est averti par l'éclairement de la lampe néon 98, mise sous tension par le microswitch en position ouverte, dans laquelle il est au contact de la borne 99. Après remplacement du plateau 7 par un autre garni d'échantillons déjà prépositionnés, on peut recommencer le cycle des opérations en appuyant sur le bouton 100 qui remet le moteur 92 en rotation et ferme le microswitch 93.
Ayant ainsi décrit un exemple de dispositif conforme à l'invention, ainsi que son mode de fonctionnement, on en définit ci-après les caractéristiques.
Le dispositif passeur d'échantillon, objet de la présente invention, dans lequel un porte-échantillons comportant un certain nombre d'alvéoles destinés à recevoir chacun un échantillon, est essentiellement caractérisé en ce qu'il est muni de moyens permettant de placer successivement et automatiquement chaque échantillon pendant un temps déterminé à l'endroit où il doit être soumis
à un essai déterminé sur une de ses faces rendue préalablement plane, et en ce que chaque alvéole est pourvu de moyens pour y fixer l'échantillon, de telle façon que toutes les faces planes des échantillons soient parallèles entre elles, et de moyens pour déplacer chaque échantillon suivant l'axe de son alvéole respectif, tout en maintenant sa face plane parallèle à elle-même, le déplacement ainsi réalisé permettant de fixer l'échantillon à une distance bien déterminée par rapport à un repère fixe (par exemple une plage de surface bien plane) présentée par le porte-échantillons, parallèlement aux faces planes des échantillons.
De cette façon, il suffit de placer le porte-échantillons à l'endroit approprié du passeur d'échantillon, pour que l'un quelconque des échantillons soit lui-même en bonne place pour être soumis à l'essai considéré, dans les conditions exigées et pour que grâce aux moyens dont le porte-échantillons est pourvu, chaque échantillon puisse être successivement disposé à l'endroit d'essai désiré, sans qu'aucun nouvel ajustement de position soit nécessaire.
Différentes formes de porte-échantillons sont évidemment possibles, mais la préférence est donnée à un porte-échantillons en forme de disque circulaire, comportant à sa périphérie un certain nombre d'alvéoles cylindriques, d'axes parallèles à celui du disque, régulièrement distribués sur une circonférence centrée sur l'axe du disque, ce qui d'une part permet de prévoir un nombre important d'alvéoles et d'autre part permet, à nombre égal d'alvéoles, de réduire l'encombrement du porte-échantillons,lequel de surcroft ne change
pas de place au cours de son utilisation.
Un autre avantage réside dans le fait que le disque circulaire porte-échantillons est revenu automatiquement à sa position originelle lorsque tous les alvéoles
dont il est pourvu ont défilé devant la station où a lieu l'essai considéré.
Suivant une modalité constructive particulièrement avantageuse du dispositif de l'invention, le disque porte-échantillons est pourvu d'une plage circulaire périphérique plane, perpendiculaire à son axe et les alvéoles sont pourvus chacun d'une portée taraudée, d'axe parallèle à celui du disque, et
les supports d'échantillon d'une portée filetée permettant leur déplacement et leur ajustage en position adéquate par vissage dans les alvéoles prévus dans le disque .
Une modalité spécialement avantageuse de ce dispositif consiste dans le fait que les supports d'échantillon comportent des moyens pour permettre la rotation de l'échantillon sur lui-même, autour de l'axe de l'alvéole, sans modification de la position de sa face plane. Suivant l'invention, ces moyens sont constitués par deux portées de rotation, sur roulement à billes, et un organe d'entraînement en rotation , de préférence un pignon denté.
Egalement suivant l'invention, les moyens pour placer successivement et automatiquement chaque échantillon du porte -échantillons au contact
de l'organe de mise en rotation du dit échantillon pendant un temps déterminé, sont avantageusement constitués par deux disques rotatifs susceptibles d'engrener l'un avec l'autre; le premier de ces disques est plan, circulaire, et comporte
un ergot fixe tournant avec lui, il comporte également une surépaisseur centrale de forme circulaire, coaxiale au disque, mais munie sur sa périphérie d'un évidement approprié, situé en face de l'ergot, le second de ces disques est circulaire et constitué à sa périphérie d'une alternance d'évidements circulaires (de même rayon que celui de la surépaisseur du premier disque) et de rainures ( de préférence radiales), le tout disposé de telle façon que la rotation du premier disque sur lui-même entraîne la rotation du second, lorsque l'ergot en rotation pénètre dans une des rainures qu'elle entraîne avec elle, et que ce même premier disque en rotation bloque celle du second disque lorsque, l'ergot ayant quitté le contact d'une des rainures,
un des évidements circulaires du second disque est venu s'appliquer tout contre la surépaisseur circulaire du premier disque en épousant sa forme circulaire périphérique.
Le dispositif de l'invention permet, ainsi qu'il a été dit plus haut, une très grande précision dans la mise en place des échantillons à examiner et un examen successif et automatique de ceux-ci sans intervention humaine.
Le remplacement particulièrement aisé d'un plateau porte-échantillons par un autre tout préparé permet de réduire à quelques secondes le temps nécessaire pour cette opération qui n'exige plus aucune mise au point des échantillons,puisque ceux-ci peuvent être prépositionnés sans être placés sur la tourelle. Par ailleurs, la rotation de l'échantillon sur lui-même accroft la surface irradiée
et permet d'éviter les erreurs dues à une orientation préférentielle fortuite
des échantillons; la qualité de la mesure en est accrue d'autant.
REVENDICATIONS
1. Dispositif passeur d'échantillon, dans lequel un porteéchantillons comporte un certain nombre d'alvéoles destinés à recevoir chacun un échantillon, caractérisé en ce qu'il est muni de moyens permettant de placer successivement et automatiquement chaque échantillon pendant un temps déterminé à l'endroit où il doit être soumis à un essai déterminé sur une de ses faces rendue préalablement bien plane, et en ce que chaque alvéole est pourvu de moyens pour y fixer l'échantillon, de telle façon que toutes les faces planes des échantillons soient parallèles entre elles, et de moyens pour déplacer chaque échantillon suivant l'axe de son alvéole respectif, tout en maintenant sa face plane parallèle à elle-même, et fixer l'échantillon à une distance bien déterminée par rapport à un repère fixe, (par exemple une plage de surface bien plane)
présentée par le porte-échantillons, parallèlement aux faces planes des échantillons.