ATE107778T1 - Methode und vorrichtung zum nachweis einer spannung. - Google Patents

Methode und vorrichtung zum nachweis einer spannung.

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ATE107778T1
ATE107778T1 AT90303924T AT90303924T ATE107778T1 AT E107778 T1 ATE107778 T1 AT E107778T1 AT 90303924 T AT90303924 T AT 90303924T AT 90303924 T AT90303924 T AT 90303924T AT E107778 T1 ATE107778 T1 AT E107778T1
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electrooptic material
voltage
light beam
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AT90303924T
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Hironori Takahashi
Shinichiro Aoshima
Yutaka Tsuchiya
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Hamamatsu Photonics Kk
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2676543B1 (fr) * 1991-05-14 1998-03-06 Thomson Csf Dispositif pour tests hyperfrequences a large bande realises in situ.
DE69232905T2 (de) * 1991-08-05 2003-08-21 Koninkl Philips Electronics Nv Elektrooptische Messanordnung zum Messen eines elektrischen Signals in einem elektronischen Bauteil
US5635831A (en) * 1991-12-11 1997-06-03 Imatran Voima Oy Optical voltage and electric field sensor based on the pockels effect
JPH06265574A (ja) * 1993-03-15 1994-09-22 Hamamatsu Photonics Kk E−oプローブ
US5808473A (en) * 1994-08-04 1998-09-15 Nippon Telegraph & Telephone Corp. Electric signal measurement apparatus using electro-optic sampling by one point contact
US6034883A (en) * 1998-01-29 2000-03-07 Tinney; Charles E. Solid state director for beams
US6567206B1 (en) * 2001-12-20 2003-05-20 St. Clair Intellectual Property Consultants, Inc. Multi-stage optical switching device
EP1462811A1 (de) * 2003-03-28 2004-09-29 Abb Research Ltd. Elektrooptischer Spannungssensor für hohe Spannungen
EP1462810B1 (de) * 2003-03-28 2015-09-09 ABB Research Ltd. Temperaturkompensierter elektrooptischer Spannungssensor
US7177494B1 (en) 2005-01-14 2007-02-13 St. Clair Intellectual Property Consultants, Inc. Optical control device and method
JP6192890B2 (ja) * 2011-11-25 2017-09-06 東芝三菱電機産業システム株式会社 表面電位分布計測装置および表面電位分布計測方法
WO2014147660A1 (ja) 2013-03-19 2014-09-25 東芝三菱電機産業システム株式会社 表面電位分布計測装置
JP6642154B2 (ja) 2016-03-17 2020-02-05 富士通株式会社 光送信器および光信号を送信する方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5327938B2 (de) * 1971-12-17 1978-08-11
JPS4881554A (de) * 1972-02-01 1973-10-31
DE2845625A1 (de) * 1978-10-19 1980-04-30 Siemens Ag Anordnung zur elektrooptischen spannungsmessung
US4298794A (en) * 1979-08-30 1981-11-03 United Technologies Corporation Fiber optic hot spot detector
JPS5832171A (ja) * 1981-07-27 1983-02-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 光応用電圧電界センサ
US4422035A (en) * 1981-12-11 1983-12-20 Extrude Hone Corporation Capacitance measurement probe
JPS58113764A (ja) * 1981-12-26 1983-07-06 Mitsubishi Electric Corp 交流電界測定装置
US4446425A (en) * 1982-02-12 1984-05-01 The University Of Rochester Measurement of electrical signals with picosecond resolution
DE3301939A1 (de) * 1983-01-21 1984-07-26 Max Planck Gesellschaft, 3400 Göttingen Anordnung zur messung von potentialdifferenzen
JPS59147274A (ja) * 1983-02-10 1984-08-23 Hitachi Ltd 光方式電界測定装置
US4603293A (en) * 1984-03-27 1986-07-29 University Of Rochester Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution
US4618819A (en) * 1984-03-27 1986-10-21 The University Of Rochester Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution
US4681449A (en) * 1984-09-07 1987-07-21 Stanford University High speed testing of electronic circuits by electro-optic sampling
EP0197196A1 (de) * 1985-03-08 1986-10-15 The University Of Rochester Elektro-elektronenoptisches Oszilloskop zur Zeitauflösung elektrischer Wellenzüge im Picosekundenbereich
JPH0695108B2 (ja) * 1986-11-25 1994-11-24 浜松ホトニクス株式会社 回路電圧検出装置
US4910458A (en) * 1987-03-24 1990-03-20 Princeton Applied Research Corp. Electro-optic sampling system with dedicated electro-optic crystal and removable sample carrier
US4926043A (en) * 1987-03-31 1990-05-15 Siemens Aktiengesellschaft Apparatus and method for optical measuring and imaging of electrical potentials
JPH0695109B2 (ja) * 1987-05-30 1994-11-24 浜松ホトニクス株式会社 電圧検出装置
EP0293841B1 (de) * 1987-05-31 1993-01-20 Hamamatsu Photonics K.K. Spannungsdetektor
JPH0695112B2 (ja) * 1987-06-10 1994-11-24 浜松ホトニクス株式会社 電圧検出装置
FR2633055B2 (fr) * 1987-07-31 1991-01-04 Schlumberger Ind Sa Perfectionnements aux testeurs de circuits
DE3889986T2 (de) * 1987-07-13 1994-09-15 Hamamatsu Photonics Kk Anordnung eines Spannungsdetektors.
DE3740468A1 (de) * 1987-11-28 1989-06-08 Kernforschungsz Karlsruhe Vorrichtung zur beruehrungslosen messung statischer und/oder zeitlich veraenderlicher elektrischer felder
JP2665231B2 (ja) * 1988-05-13 1997-10-22 浜松ホトニクス株式会社 光波形測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0392830B1 (de) 1994-06-22
EP0392830A3 (de) 1991-07-03
US5055770A (en) 1991-10-08
DK0392830T3 (da) 1994-10-24
DE69010053D1 (de) 1994-07-28
EP0392830A2 (de) 1990-10-17
DE69010053T2 (de) 1994-10-13

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