ATA15082002A - Verfahren zur messung starker magnetfelder und sensor zur ausführung des verfahrens - Google Patents

Verfahren zur messung starker magnetfelder und sensor zur ausführung des verfahrens

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Hans Dr Hauser
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Inst Ind Elektronik Und Materi
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    • G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/50—MFM [Magnetic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. MFM probes
    • G01Q60/54—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
    • G—PHYSICS
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    • G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
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