KR102229164B1 - High temperature evaporation source - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은, 고온 증착 소스에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 노즐의 구경을 직접적으로 변경시키지 않으면서도 크루시블의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절할 수 있는 고온 증착 소스에 관한 것이다.The present invention relates to a high-temperature evaporation source, and more particularly, to a high-temperature evaporation source capable of controlling the evaporation amount of evaporation material inside a crucible without directly changing the aperture of the nozzle.
정보 통신 기술의 비약적인 발전과 시장의 팽창에 따라 디스플레이 소자로 평판표시소자(Flat Panel Display)가 각광 받고 있다. 이러한 평판표시소자에는 액정표시소자(Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이 소자(Plasma Display Panel), 유기전계발광소자(Organic Light Emitting Diodes) 등이 있다.With the rapid development of information and communication technology and the expansion of the market, flat panel displays are in the spotlight as display devices. Such flat panel display devices include Liquid Crystal Display, Plasma Display Panel, and Organic Light Emitting Diodes.
이 중에서 유기전계발광소자, 예컨대 OLED는 빠른 응답속도, 기존의 LCD보다 낮은 소비 전력, 경량성, 별도의 백라이트(back light) 장치가 필요 없어서 초박형으로 만들 수 있는 점, 고휘도 등의 매우 좋은 장점을 가지고 있어서 최근 디스플레이 소자로서 각광받고 있다.Among them, organic electroluminescent devices, such as OLED, have very good advantages such as fast response speed, lower power consumption than conventional LCDs, light weight, ultra-thin, high luminance because they do not require a separate backlight device. It has been in the spotlight as a display device in recent years.
이러한 유기전계발광소자는 기판 위에 양극 막, 유기 박막, 음극 막을 순서대로 입히고, 양극과 음극 사이에 전압을 걸어줌으로써 적당한 에너지의 차이가 유기 박막에 형성되어 스스로 발광하는 원리이다.Such an organic light emitting device is a principle that an anode film, an organic thin film, and a cathode film are sequentially coated on a substrate, and a voltage is applied between the anode and the cathode, so that an appropriate difference in energy is formed on the organic thin film to emit light by itself.
다시 말해, 주입되는 전자와 정공(hole)이 재결합하며, 남는 여기 에너지가 빛으로 발생되는 것이다. 이때 유기 물질의 도펀트의 양에 따라 발생하는 빛의 파장을 조절할 수 있으므로 풀 칼라(full color)의 구현이 가능하다.In other words, the injected electrons and holes recombine, and the remaining excitation energy is generated as light. At this time, since the wavelength of light generated according to the amount of the dopant of the organic material can be adjusted, a full color can be implemented.
도 1은 유기전계발광소자의 구조도이다.1 is a structural diagram of an organic electroluminescent device.
이 도면에 도시된 바와 같이, 유기전계발광소자는 기판 상에 애노드(anode), 정공 주입층(hole injection layer), 정공 운송층(hole transfer layer), 발광층(emitting layer), 정공 방지층(hole blocking layer), 전자 운송층(electron transfer layer), 전자 주입층(electron injection layer), 캐소드(cathode) 등의 막이 순서대로 적층되어 형성된다.As shown in this figure, the organic light emitting diode is an anode, a hole injection layer, a hole transfer layer, a light emitting layer, and a hole blocking layer on a substrate. layer), an electron transfer layer, an electron injection layer, and a cathode are sequentially stacked and formed.
이러한 구조에서 애노드로는 면 저항이 작고 투과성이 좋은 ITO(Indium Tin Oxide)가 주로 사용된다. 그리고 유기 박막은 발광 효율을 높이기 위하여 정공 주입층, 정공 운송층, 발광층, 정공 방지층, 전자 운송층, 전자 주입층의 다층으로 구성된다. 발광층으로 사용되는 유기물질은 Alq3, TPD, PBD, m-MTDATA, TCTA 등이 있다. 캐소드로는 Lie-Al 금속막이 사용된다. 그리고 유기 박막이 공기 중의 수분과 산소에 매우 약하므로 소자의 수명(life time)을 증가시키기 위해 봉합하는 봉지막이 최상부에 형성된다.In this structure, ITO (Indium Tin Oxide) is mainly used as the anode, which has a small surface resistance and good permeability. In addition, the organic thin film is composed of multiple layers of a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, a hole blocking layer, an electron transport layer, and an electron injection layer in order to increase luminous efficiency. Organic materials used as the emission layer include Alq3, TPD, PBD, m-MTDATA, and TCTA. As the cathode, a Lie-Al metal film is used. In addition, since the organic thin film is very weak to moisture and oxygen in the air, a sealing film is formed on the top to increase the life time of the device.
도 1에 도시된 유기전계발광소자를 다시 간략하게 정리하면, 유기전계발광소자는 애노드, 캐소드, 그리고 애노드와 캐소드 사이에 개재된 발광층을 포함하며, 구동 시 정공은 애노드로부터 발광층 내로 주입되고, 전자는 캐소드로부터 발광층 내로 주입된다. 발광층 내로 주입된 정공과 전자는 발광층에서 결합하여 엑시톤(exciton)을 생성하고, 이러한 엑시톤이 여기상태에서 기저상태로 전이하면서 빛을 방출하게 된다.When the organic light emitting device shown in FIG. 1 is briefly summarized again, the organic light emitting device includes an anode, a cathode, and a light emitting layer interposed between the anode and the cathode, and holes are injected from the anode into the light emitting layer during driving, and electrons Is injected from the cathode into the light emitting layer. Holes and electrons injected into the emission layer combine in the emission layer to generate excitons, and these excitons transition from an excited state to a ground state to emit light.
이러한 유기전계발광소자는 구현하는 색상에 따라 단색 또는 풀 칼라(full color) 유기전계발광소자로 구분될 수 있는데, 풀 칼라 유기전계발광소자는 빛의 삼원색인 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 별로 패터닝된 발광층을 구비함으로써 풀 칼라를 구현한다.These organic electroluminescent devices can be classified into monochromatic or full color organic electroluminescent devices according to the colors to be implemented. The full-color organic electroluminescent devices are red (R), green (G), and the three primary colors of light. Full color is realized by providing a light emitting layer patterned for each blue color (B).
도 1과 같은 구조의 유기전계발광소자를 만들기 위해, 즉 발광층(유기물) 및 전극층(무기물)을 증착하기 위해 평판표시소자용 기판 증착장치가 적용된다.A substrate deposition apparatus for a flat panel display device is applied to make an organic electroluminescent device having the structure as shown in FIG. 1, that is, to deposit a light emitting layer (organic material) and an electrode layer (inorganic material).
진공 증착 방식(thermal evaporation)이 적용되는 평판표시소자용 기판 증착장치에는 기판을 향해 증착물질을 분사하는 고온 증착 소스(High temperature evaporation source)가 마련된다.In a substrate deposition apparatus for a flat panel display device to which a thermal evaporation method is applied, a high temperature evaporation source for spraying a deposition material toward a substrate is provided.
최근에는 박막 두께의 균일성(uniformity) 확보, 컨트롤(control) 장치의 단순화, 그리고 챔버(chamber)의 볼륨(volume) 축소를 위해 리니어 타입(linear type)의 선형 증착 소스가 적용되며, 증착물질로서 유기물 또는 무기물을 증착하는 증착 소스일 수 있다.Recently, a linear type of linear deposition source has been applied to secure the uniformity of the thin film thickness, simplify the control device, and reduce the volume of the chamber. It may be a deposition source for depositing organic or inorganic materials.
이러한 고온 증착 소스에서는 증착두께를 제어하기 위하여 복수 개의 노즐의 구멍(hole) 크기를 다양한 방법으로 조절함으로써, 증착량이 많은 위치는 노즐의 크기를 작게하고 반대로 증착량이 적은 위치는 노즐 크기를 크게하여 증착두께를 조절하는 방법을 주로 사용하고 있다. In such a high-temperature evaporation source, the size of the holes of a plurality of nozzles is adjusted in various ways to control the deposition thickness, so that the size of the nozzle is reduced for locations with a large amount of deposition, and the size of the nozzles is increased for locations with a small amount of deposition. The method of controlling the thickness is mainly used.
예를 들어, 1) 기본 노즐의 구멍에 작은 크기의 파이프와 같은 형상의 구조물을 삽입하여 조절하는 방법이나, 2) 노즐을 여러 크기의 형상으로 직접 제작하는 방법 등이 사용되고 있다. For example, 1) a method of adjusting by inserting a structure having a shape such as a small pipe into the hole of a basic nozzle, or 2) a method of directly manufacturing a nozzle into a shape of various sizes, etc. are used.
그러나, 1)과 같은 방법은 삽입 혹은 제거하는 과정에서 기본 노즐이 변형되거나 파손될 수 있는 문제점이 발생할 수 있으며, 노즐과 파이프가 국부적으로 접촉이 이루어지지 않으면 온도차가 발생하여 증발재료가 쌓이는 클로깅(clogging) 문제가 발생할 수 있다. However, the method of 1) may cause a problem that the basic nozzle may be deformed or damaged during the insertion or removal process, and if the nozzle and the pipe do not contact locally, a temperature difference occurs and clogging ( clogging) problems may occur.
또한, 2)와 같은 방법은 노즐을 여러 크기의 형상으로 제작하여 스크류(screw) 방식으로 조립하는데 스크류를 통하여 물질이 새어 나오는 문제점이 발생할 수 있으며, 노즐을 결정하고 통가공을 한다 하더라도 증발량을 다르게 공정을 진행할 경우에는 통가공된 노즐을 사용할 수 없는 문제가 발생한다. In addition, in the same method as 2), the nozzle is fabricated in a shape of various sizes and assembled in a screw method, but there may be a problem that the material leaks through the screw, and even if the nozzle is determined and passed through, the evaporation amount is different. In the case of the process, there is a problem that a through-processed nozzle cannot be used.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 보조파이프를 사용하여 노즐의 구경을 변경시키거나 노즐 자체를 교환하는 방법을 사용하지 않으면서도, 크루시블의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절할 수 있는 고온 증착 소스를 제공하는 것이다.Therefore, the technical problem to be achieved by the present invention is a high-temperature deposition capable of controlling the evaporation amount of the deposition material inside the crucible without using a method of changing the diameter of the nozzle or replacing the nozzle itself using an auxiliary pipe. It is to provide the source.
본 발명의 일 측면에 따르면, 증착물질을 구비하는 크루시블(crucible); 상기 크루시블의 일측에 배치되어 증발된 상기 증착물질을 배출하는 노즐; 및 적어도 일부가 상기 크루시블의 내부에 배치되도록 상기 크루시블의 일측에 결합되며, 상기 노즐과 연통되는 적어도 하나의 오리피스(orifice)와, 상기 증착물질이 1차로 통과하는 제1 증착물질 통과공이 마련되되 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있는 이너 플레이트(inner plate) 모듈을 구비하는 이너 플레이트 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, a crucible having a deposition material; A nozzle disposed on one side of the crucible to discharge the evaporated deposition material; And at least one orifice coupled to one side of the crucible to be disposed inside the crucible, and passing through at least one orifice communicating with the nozzle, and a first deposition material through which the deposition material first passes. A high-temperature deposition source, characterized in that it includes an inner plate unit including an inner plate module capable of adjusting a separation distance from the orifice to the through hole of the first deposition material while a ball is provided.
상기 이너 플레이트 모듈은, 상기 오리피스로부터 미리 결정된 거리만큼 상기 증착물질 측으로 이격 배치되되 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되며, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절가능한 제1 이너 플레이트 모듈; 및 상기 제1 이너 플레이트 모듈에 결합되되, 적어도 하나의 상기 오리피스를 배치하는 제2 이너 플레이트 모듈을 포함할 수 있다.The inner plate module is spaced apart from the orifice toward the deposition material by a predetermined distance, the first deposition material passage hole is provided, and the separation distance from the orifice to the first deposition material passage hole is adjustable. Plate module; And a second inner plate module coupled to the first inner plate module to arrange at least one orifice.
상기 제1 이너 플레이트 모듈은, 상기 크루시블의 상단부로부터 미리 결정된 거리만큼 상기 크루시블의 내벽과 접촉하도록 배치되는 바디부와, 상기 바디부의 상단부에 마련되어 상기 크루시블의 상단부에 걸림 결합되도록 마련되는 플랜지부를 구비하는 제1 이너 플레이트 본체; 및 미리 결정된 영역에 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되며 상기 바디부의 하단부에 결합되되, 상기 바디부에 결합되는 위치를 변화시켜 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있는 제1 이너 플레이트 내압조절부를 포함할 수 있다.The first inner plate module includes a body portion disposed to contact the inner wall of the crucible by a predetermined distance from the upper end portion of the crucible, and a body portion provided at the upper end portion of the body portion so as to be engaged with the upper end portion of the crucible. A first inner plate body having a flange portion provided; And the first deposition material passage hole is provided in a predetermined region, and is coupled to the lower end of the body portion, and the separation distance from the orifice to the first deposition material passage hole can be adjusted by changing a position coupled to the body portion. It may include a first inner plate pressure control unit.
상기 제1 이너 플레이트 내압조절부는, 상기 바디부의 내벽에 접촉하며 결합되도록 미리 결정된 높이를 가지는 결합 스커트; 및 상기 결합 스커트의 일단부에 결합되어 상기 증착물질이 통과하는 것을 차단하되 미리 결정된 영역에 적어도 하나의 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되는 플레이트 바디를 포함할 수 있다.The first inner plate internal pressure control unit may include: a coupling skirt having a predetermined height to be coupled to and contact with an inner wall of the body portion; And a plate body that is coupled to one end of the coupling skirt to block passage of the deposition material, but is provided with at least one first deposition material through hole in a predetermined region.
상기 바디부 또는 상기 결합 스커트 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공이 마련되며, 상기 바디부 또는 상기 결합 스커트 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 상기 바디부에 대한 상기 플레이트 바디의 상대위치를 조절할 수 있도록 상기 결합공과 대응하는 위치에 배치되는 수직방향의 장공형태를 가지는 높이조절 결합공이 마련될 수 있다.A coupling hole is provided on one side selected from the body portion or the coupling skirt, and on the other side selected from the body portion or the coupling skirt, the plate body can be adjusted to a relative position of the plate body with respect to the body portion. A height adjustment coupling hole having a vertical long hole shape disposed at a position corresponding to the coupling hole may be provided.
상기 제1 이너 플레이트 모듈은, 상기 결합 스커트가 상기 오리피스에서 가까운 위치에 배치되고 상기 플레이트 바디가 상기 오리피스에서 먼 위치에 배치되도록, 상기 제1 이너 플레이트 내압조절부가 상기 제1 이너 플레이트 본체에 결함됨으로써, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있다.In the first inner plate module, the first inner plate internal pressure adjusting part is defective in the first inner plate body so that the coupling skirt is disposed at a position close to the orifice and the plate body is disposed at a position far from the orifice. , It is possible to adjust the separation distance from the orifice to the through hole of the first deposition material.
상기 제1 이너 플레이트 모듈은, 상기 플레이트 바디가 상기 오리피스에서 가까운 위치에 배치되고 상기 결합 스커트가 상기 오리피스에서 먼 위치에 배치되도록, 상기 제1 이너 플레이트 내압조절부가 상기 제1 이너 플레이트 본체에 결함됨으로써, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있다.The first inner plate module is configured such that the plate body is disposed at a position close to the orifice and the coupling skirt is disposed at a position far from the orifice, so that the first inner plate internal pressure control unit is defective in the first inner plate main body. , It is possible to adjust the separation distance from the orifice to the through hole of the first deposition material.
상기 제2 이너 플레이트 모듈은 상기 적어도 하나의 상기 오리피스를 배치할 때 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있도록 마련될 수 있다.The second inner plate module may be provided to change an open area of the nozzle when the at least one orifice is disposed.
상기 오리피스는, 미리 결정된 내경을 갖는 제2 증착물질 통과공이 형성되는 관형부; 및 상기 관형부의 상단부에 결합되어 상기 제2 이너 플레이트 모듈의 일측에 걸림결합되는 걸림부를 포함할 수 있다.The orifice may include a tubular portion in which a second deposition material passing hole having a predetermined inner diameter is formed; And a locking portion coupled to an upper end of the tubular portion and engaging with one side of the second inner plate module.
상기 제2 이너 플레이트 모듈은, 상기 관형부가 배치되는 관형부배치공이 형성되는 오리피스 지지 플레이트; 및 상기 오리피스 지지 플레이트에 결합되되, 상기 제1 이너 플레이트 모듈의 상단부에 걸림결합되는 지지 스커트부를 포함할 수 있다.The second inner plate module may include an orifice support plate having a tubular portion arranging hole in which the tubular portion is disposed; And a support skirt part coupled to the orifice support plate and engaged with an upper end of the first inner plate module.
상기 걸림부는 상기 관형부배치공보다 큰 지름을 가지는 원형으로 마련되는 원형 걸림부이며, 상기 오리피스 지지 플레이트는, 상기 관형부배치공의 가장자리에 마련되어 상기 원형 걸림부를 지지하는 원형 걸림턱을 포함할 수 있다.The locking portion is a circular locking portion provided in a circular shape having a diameter larger than that of the tubular portion placing hole, and the orifice supporting plate may include a circular locking jaw provided at an edge of the tubular portion placing hole to support the circular locking portion. have.
상기 오리피스 지지 플레이트의 상기 원형 걸림턱에 미리 결정된 내경을 가지는 적어도 하나의 상기 오리피스를 교환하여 배치함으로써, 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있다.By exchanging and disposing at least one orifice having a predetermined inner diameter on the circular locking protrusion of the orifice support plate, the open area of the nozzle may be changed.
상기 관형부배치공은, 상기 관형부가 관통하여 배치된 상태로 상대이동 가능하도록 장공형태로 마련되며, 상기 관형부를 장공형태의 상기 관형부배치공을 따라 상대이동시켜 배치함으로써, 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있다.The tubular portion arrangement hole is provided in a long hole shape so as to be relatively movable in a state in which the tubular portion is disposed through, and by disposing the tubular portion relative to the tubular portion arrangement hole in the long hole shape, the nozzle is opened. You can change the area.
상기 오리피스 지지 플레이트는, 상기 관형부배치공의 가장자리에 마련되어 상기 걸림부를 지지하되, 상기 걸림부가 걸림결합된 상태로 상대이동을 가이드하는 가이드 홈을 포함할 수 있다.The orifice support plate may include a guide groove provided at an edge of the tubular portion arrangement hole to support the locking portion, and guide relative movement while the locking portion is engaged.
상기 걸림부는 상기 관형부배치공보다 큰 면적을 가지는 사각형으로 마련되는 사각형 걸림부이며, 상기 가이드 홈은 상기 사각형 걸림부의 상대이동을 가이드할 수 있도록 상기 사각형 걸림부의 상대이동 방향을 따라 길게 형성된 사각형 가이드 홈일 수 있다.The locking part is a rectangular locking part provided in a square shape having an area larger than the tubular part arranging hole, and the guide groove is a rectangular guide formed to be elongated along the relative movement direction of the rectangular locking part so as to guide the relative movement of the rectangular locking part. It can be a groove.
상기 사각형 걸림부 또는 상기 사각형 가이드 홈 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공이 마련되며, 상기 사각형 걸림부 또는 상기 사각형 가이드 홈 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 상기 노즐에 대한 상기 오리피스의 상대위치를 조절할 수 있도록 상기 결합공과 대응하는 위치에 배치되는 장공형태의 위치조절 결합공이 마련될 수 있다.A coupling hole is provided on one side selected from the rectangular locking portion or the rectangular guide groove, and a relative position of the orifice with respect to the nozzle may be adjusted on the other side selected from the rectangular locking portion or the rectangular guide groove. A long hole-shaped position-adjusting coupling hole disposed at a position corresponding to the coupling hole may be provided.
본 발명의 실시예들은, 노즐과 연통되는 적어도 하나의 오리피스를 이너 플레이트 모듈에 배치할 수 있는 이너 플레이트 유닛을 마련함으로써, 보조파이프를 사용하여 노즐의 구경을 변경시키거나 노즐을 교환하는 방법을 사용하지 않으면서도 크루시블의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절할 수 있다.Embodiments of the present invention use a method of changing the diameter of the nozzle or replacing the nozzle by using an auxiliary pipe by providing an inner plate unit capable of arranging at least one orifice in communication with the nozzle in the inner plate module. Without doing so, it is possible to control the evaporation amount of the evaporation material inside the crucible.
도 1은 유기전계발광소자의 구조도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 고온 증착 소스가 적용된 평판표시소자용 기판 증착장치의 개략적인 구조도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 고온 증착 소스에서 증착물질이 증발하는 과정을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 이너 플레이트 유닛을 도시한 분해사시도이다.
도 5는 제1 이너 플레이트 내압조절부가 제1 이너 플레이트 본체에 결합된 위치에 따라 오리피스로부터 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절하는 방법에 대해 설명하기 위한 도면들이다.
도 6은 오리피스를 제2 이너 플레이트 모듈의 가이드 홈을 따라 상대이동시켜 배치함으로써, 노즐의 개방되는 면적을 변화시키는 방법에 대해 설명하기 위한 도면들이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 이너 플레이트 유닛을 도시한 분해사시도이다.1 is a structural diagram of an organic electroluminescent device.
2 is a schematic structural diagram of a substrate deposition apparatus for a flat panel display device to which a high-temperature deposition source is applied according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram schematically illustrating a process of evaporating a deposition material in a high temperature deposition source according to the first embodiment of the present invention.
4 is an exploded perspective view showing the inner plate unit according to the first embodiment of the present invention.
5 are views for explaining a method of adjusting a separation distance from an orifice to a first deposition material passage hole according to a position at which the first inner plate internal pressure control unit is coupled to the first inner plate body.
6 are diagrams for explaining a method of changing an open area of a nozzle by arranging the orifice by moving relative to the guide groove of the second inner plate module.
7 is an exploded perspective view showing an inner plate unit according to a second embodiment of the present invention.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, operational advantages of the present invention, and objects achieved by the implementation of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by describing a preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals shown in each drawing indicate the same members.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 고온 증착 소스가 적용된 평판표시소자용 기판 증착장치의 개략적인 구조도이다.2 is a schematic structural diagram of a substrate deposition apparatus for a flat panel display device to which a high-temperature deposition source is applied according to an embodiment of the present invention.
도면 대비 설명에 앞서, 평판표시소자는 액정표시소자(Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이 소자(Plasma Display Panel), 유기전계발광소자(Organic Light Emitting Diodes) 등을 포함하나 이하에서는 평판표시소자를 유기전계발광소자(OLED)용 기판이라 하여 설명한다.Prior to the description compared to the drawings, the flat panel display device includes a liquid crystal display, a plasma display panel, and organic light emitting diodes, but hereinafter, the flat panel display device is used as an organic electric field. It will be described as a substrate for a light emitting device (OLED).
도 2를 참조하면 평판표시소자용 기판 증착장치는 기판에 대한 증착 공정이 진행되는 공정 챔버(2)와, 공정 챔버(2)의 일측에 마련되어 기판을 향해 증착물질을 분사하는 고온 증착 소스(1)를 포함한다.Referring to FIG. 2, a substrate deposition apparatus for a flat panel display device includes a
공정 챔버(2)는 기판에 대한 증착 공정이 진행되는 장소이다. 즉 도 1에 도시된 유기전계발광소자의 제조를 위해 발광층(유기물) 및 전극층(무기물)을 증착하는 장소를 형성한다. 본 실시예의 증착장치는 유기물 또는 무기물을 증착하는 증착장치일 수 있다.The
증착 공정 시 공정 챔버(2)의 내부는 진공 분위기를 유지한다. 때문에 공정 챔버(2)에는 진공 펌프 등이 연결될 수 있다.During the deposition process, the inside of the
한편, 고온 증착 소스(1)는 공정 챔버(2)의 일측에 마련되어 기판을 향해 증착물질을 분사한다.Meanwhile, the high-
이하, 도 3 내지 도 6을 참조하여 본 실시 예의 고온 증착 소스(1)에 대해 자세히 알아보도록 한다.Hereinafter, the high-
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 고온 증착 소스에서 증착물질이 증발하는 과정을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 이너 플레이트 유닛을 도시한 분해사시도이며, 도 5는 제1 이너 플레이트 내압조절부가 제1 이너 플레이트 본체에 결합된 위치에 따라 오리피스로부터 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절하는 방법에 대해 설명하기 위한 도면들이고, 도 6은 오리피스를 제2 이너 플레이트 모듈의 가이드 홈을 따라 상대이동시켜 배치함으로써, 노즐의 개방되는 면적을 변화시키는 방법에 대해 설명하기 위한 도면들이다.3 is a diagram schematically illustrating a process of evaporating a deposition material in a high temperature deposition source according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an exploded perspective view showing an inner plate unit according to the first embodiment of the present invention. 5 is a view for explaining a method of adjusting the separation distance from the orifice to the first deposition material passage hole according to the position of the first inner plate inner pressure control unit coupled to the first inner plate body, FIG. These are drawings for explaining a method of changing an open area of a nozzle by arranging the orifice by moving relative to the guide groove of the second inner plate module.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 고온 증착 소스(1)는 크루시블(crucible, 100)과, 노즐(200)과, 이너 플레이트(inner plate) 유닛(500)을 포함한다.As shown in these drawings, the high-
크루시블(100)은 증착물질을 구비하는 장소이며, 크루시블(100)의 일측에 배치되는 히터(미도시)에 의해 증착물질(10)이 가열되어 증발하게 된다.The
노즐(200)은 크루시블(100)의 일측에 배치되어 증발된 증착물질(10)을 배출하는 역할을 한다.The
도 3에서는 노즐(200)이 크루시블(100)의 상부에 배치된 일체형의 형태를 가진 고온 증착 소스를 도시하였으나, 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니며, 크루시블(100)에서 연통된 장소에 노즐이 배치되는 ㄱ자 형태의 선형 고온 증착 소스 뿐만 아니라, 하나의 노즐을 가지는 점형 고온 증착 소스 등 다양한 형태의 고온 증착 소스에 본 발명이 적용될 수 있다. In FIG. 3, a high-temperature deposition source having an integral form in which the
한편, 이너 플레이트 유닛(500)은 적어도 하나의 오리피스(orifice, 600)와, 이너 플레이트 모듈(700)을 포함하며, 적어도 일부가 크루시블(100)의 내부에 배치되도록 크루시블(100)의 일측에 결합된다. Meanwhile, the
이너 플레이트 모듈(700)은, 크루시블(100)의 내부에 배치되어 크루시블(100)의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절하는 역할을 하며, 제1 이너 플레이트 모듈(710)과, 제2 이너 플레이트 모듈(750)을 포함한다.The
제1 이너 플레이트 모듈(710)은 오리피스(600)로부터 미리 결정된 거리만큼 증착물질 측으로 이격 배치되되 제1 증착물질 통과공(733)이 마련되며, 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절하는 역할을 한다.The first
먼저 제1 증착물질 통과공(733)에 대하여 설명하면, 크루시블(100)의 일측에서 히터(미도시)에 의해 가열된 증착물질(10)이 증발할 때, 여러가지 요인에 의해 위치에 따라 증발되는 증착물질의 양이 달라질 수 있다. 따라서 1차적으로 증착물질을 한 방향으로 모아 균일하게 분배해줄 필요가 있으며, 제1 증착물질 통과공(733)이 증착물질을 한방향으로 모아 균일하게 분배해주는 역할을 하게 된다. First, the first deposition
즉 도 3에 자세히 도시된 바와 같이, 증착물질(10)이 가열되어 화살표 방향으로 증발하면서 균일하지 않은 증발상태의 증착물질이 1차적으로 제1 증착물질 통과공(733)을 통과하면서 모두 모이게 되고, 이후에는 균일하게 분배되어 제2 증착물질 통과공(613)과 노즐(200)을 차례로 거쳐 배출되게 된다.That is, as shown in detail in FIG. 3, the
이때 발생되는 크루시블 내부의 증착물질의 압력을 내압이라 하는데, 제1 증착물질 통과공(733)을 통하여 내압을 조절할 수 있으므로, 증발되는 증착물질의 양과 크루시블의 크기에 따라 제1 증착물질 통과공(733)의 위치 및 크기는 다양하게 조절될 수 있다.The pressure of the deposition material inside the crucible generated at this time is referred to as the internal pressure. Since the internal pressure can be adjusted through the first deposition material through
또한 본 발명에 따르면, 제1 이너 플레이트 모듈(710)을 마련함으로써, 제1 증착물질 통과공(733)이 배치되는 위치를 변화시켜 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절하여 크루시블 내부의 증착물질의 압력인 내압을 조절할 수 있게 된다.In addition, according to the present invention, by providing the first
이러한 역할을 하는 제1 이너 플레이트 모듈(710)은, 도 3 및 도 4에 자세히 도시된 바와 같이, 제1 이너 플레이트 본체(720)와, 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)를 포함한다.The first
먼저, 제1 이너 플레이트 본체(720)는 크루시블(100)의 상단부로부터 미리 결정된 거리만큼 크루시블(100)의 내벽과 접촉하도록 배치되는 바디부(721)와, 바디부(721)의 상단부에 마련되어 크루시블(100)의 상단부에 걸림 결합되도록 마련되는 플랜지부(722)를 포함한다.First, the first
다음으로, 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)는 미리 결정된 영역에 제1 증착물질 통과공(733)이 마련되며 바디부(721)의 하단부에 결합되되, 바디부(721)에 결합되는 위치를 변화시켜 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절할 수 있게 마련되며, 이격거리를 조절함으로써 내압을 조절할 수 있다.Next, the first inner plate internal
이러한 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)는, 바디부(721)의 내벽에 접촉하며 결합되도록 미리 결정된 높이를 가지는 결합 스커트(731) 및 결합 스커트(731)의 일단부에 결합되어 증착물질이 통과하는 것을 차단하되 미리 결정된 영역에 적어도 하나의 제1 증착물질 통과공(733)이 마련되는 플레이트 바디(732)를 포함한다.The first inner plate internal
바디부(721) 또는 결합 스커트(731) 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공(725)이 마련되며, 바디부(721) 또는 결합 스커트(731) 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 바디부(721)에 대한 플레이트 바디(731)의 상대위치를 조절할 수 있도록 결합공(725)과 대응하는 위치에 배치되는 수직방향의 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)이 마련된다.A
본 발명의 제1 실시 예에 따르면, 도 4에 자세히 도시된 바와 같이, 바디부(721)에 원형의 결합공(725)이 마련되고 결합 스커트(731)에 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)이 마련되었으나, 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니며 반대의 위치에 마련될 수도 있을 것이다.According to the first embodiment of the present invention, as shown in detail in FIG. 4, a
이하에서는 도 5를 참조하여, 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)가 제1 이너 플레이트 본체(720)의 바디부(721)에 결합되는 위치에 따라 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절함으로써 내압을 조절하는 방법에 대해 설명한다.Hereinafter, referring to FIG. 5, the first inner plate inner
먼저 도 5의 (a) 내지 (c)의 경우에, 제1 이너 플레이트 모듈(710)은, 결합 스커트(731)가 오리피스(600)에서 가까운 위치에 배치되고 플레이트 바디(732)가 오리피스(600)에서 먼 위치에 배치되도록, 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)가 제1 이너 플레이트 본체(720)에 결함됨으로써, 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절하게 된다.First, in the case of (a) to (c) of Figure 5, the first
즉, 플레이트 바디(732)가 오리피스(600)에서 먼 위치에 배치됨으로써 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리가 멀어지게 된다.That is, since the
나아가, (a)의 경우에는 원형의 결합공(725)이 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)의 중앙에 위치하고, (b)의 경우에는 원형의 결합공(725)이 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)의 최상부에 위치하며, (c)의 경우에는 원형의 결합공(725)이 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)의 최하부에 위치하도록 배치함으로써, 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 더욱 미세하게 조절할 수 있게 된다.Furthermore, in the case of (a), the
원형의 결합공(725)과 높이조절 결합공(735)이 원하는 위치에 배치된 상태에서는 볼트 및 너트 등의 결합부재를 사용하여 결합시킴으로써 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)를 고정시킬 수 있을 것이다.In a state in which the
도 5의 (d) 및 (e)의 경우에, 제1 이너 플레이트 모듈(710)은, 플레이트 바디(732)가 오리피스(600)에서 가까운 위치에 배치되고 결합 스커트(731)가 오리피스(600)에서 먼 위치에 배치되도록, 제1 이너 플레이트 내압조절부(730)가 제1 이너 플레이트 본체(720)에 결함됨으로써, 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절하게 된다.In the case of (d) and (e) of Figure 5, the first
즉, 플레이트 바디(732)가 오리피스(600)에서 가까운 위치에 배치됨으로써 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리가 가까워지게 된다.That is, since the
나아가, (d)의 경우에는 원형의 결합공(725)이 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)의 최상부에 위치하고, (d)의 경우에는 원형의 결합공(725)이 장공형태를 가지는 높이조절 결합공(735)의 최하부에 위치하도록 배치함으로써, 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 더욱 미세하게 조절할 수 있게 된다.Further, in the case of (d), the
한편, 제2 이너 플레이트 모듈(750)은 제1 이너 플레이트 모듈(710)에 결합되되, 적어도 하나의 오리피스(600)를 배치하는 장소를 마련하며, 적어도 하나의 오리피스(600)를 배치할 때 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시키는 역할을 한다.On the other hand, the second
도 4에 자세히 도시된 바와 같이, 제2 이너 플레이트 모듈(750)은 오리피스 지지 플레이트(760)와, 지지 스커트부(770)를 포함한다.As shown in detail in FIG. 4, the second
먼저 오리피스(600)에 대해 설명하면, 오리피스(600)는 노즐(200)과 연통되되 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시키는 역할을 하며, 미리 결정된 내경을 갖는 제2 증착물질 통과공(613)이 형성되는 관형부(610)와, 관형부(610)의 상단부에 결합되어 제2 이너 플레이트 모듈(750)의 일측에 걸림결합되는 걸림부(630)를 포함한다.First, description of the
이러한 오리피스(600)를 지지하기 위하여 제2 이너 플레이트 모듈(750)의 오리피스 지지 플레이트(760)에는 오리피스(600)의 관형부(610)가 배치되는 관형부배치공(761)이 형성된다.In order to support the
그리고 오리피스 지지 플레이트(760)에는 관형부배치공(761)의 가장자리에 마련되어 걸림부(630)를 지지하되, 걸림부(630)가 걸림결합된 상태로 상대이동을 가이드하는 가이드 홈(763)이 마련된다.And the
관형부배치공(761)은 관형부(610)가 관통하여 배치된 상태로 상대이동 가능하도록 장공형태로 마련되며, 관형부(610)를 장공형태의 관형부배치공(761)을 따라 상대이동시켜 배치함으로써, 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있게 된다.The tubular
본 발명의 제1 실시 예에서는 도 4 및 도 6에 자세히 도시된 바와 같이, 걸림부는 관형부배치공(761)보다 큰 면적을 가지는 사각형으로 마련되는 사각형 걸림부(630)이며, 가이드 홈(763)은 사각형 걸림부(630)의 상대이동을 가이드할 수 있도록 사각형 걸림부(630)의 상대이동 방향을 따라 길게 형성된 사각형 가이드 홈(763)인 것을 특징으로 한다.In the first embodiment of the present invention, as shown in detail in FIGS. 4 and 6, the locking part is a
사각형 걸림부(630) 또는 사각형 가이드 홈(763) 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공(764)이 마련되며, 사각형 걸림부(630) 또는 사각형 가이드 홈(763) 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 노즐(200)에 대한 오리피스(600)의 상대위치를 조절할 수 있도록 결합공(634)과 대응하는 위치에 배치되는 장공형태의 위치조절 결합공(634)이 마련된다.A
본 발명의 제1 실시 예에 따르면, 도 4에 자세히 도시된 바와 같이, 사각형 가이드 홈(763)에 원형의 결합공(764)이 마련되고 사각형 걸림부(632)에 장공형태를 가지는 위치조절 결합공(634)이 마련되었으나, 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니며 반대의 위치에 마련될 수도 있을 것이다.According to the first embodiment of the present invention, as shown in detail in FIG. 4, a
한편, 지지 스커트부(770)는 오리피스 지지 플레이트(760)에 결합되되, 제1 이너 플레이트 모듈(710)의 상단부에 걸림결합되는 역할을 한다.Meanwhile, the
이하에서는 도 3 및 도 6을 참조하여, 앞에서 설명한 구조를 가진 오리피스(600)와 제2 이너 플레이트 모듈(750)에 의해 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시키는 방법에 대해 자세히 설명한다.Hereinafter, a method of changing the open area of the
먼저 도 3에 자세히 도시된 바와 같이, 노즐(200)의 하부에 오리피스(600)가 배치되어 노즐(200)과 오리피스(600)에 형성된 제2 증착물질 통과공(613)이 동일한 형상으로 연통되어 있는 상태에서는 노즐(200)의 구멍이 전부 개방되어 있다.First, as shown in detail in FIG. 3, the
이 때의 제2 이너 플레이트 모듈(750)을 살펴보면, 도 6의 (a)에 자세히 도시된 바와 같이, 네 개의 관형부(610)가 모두 관형부배치공(761)의 중앙에 배치되어 있는 상태이며, 제2 증착물질 통과공(613)와 연통된 노즐(200)의 구멍이 제2 증착물질 통과공(613)과 동일한 형상으로 전부 개방된 상태이므로, 네 개의 노즐에서 배출되는 증착물질은 모두 동일한 양 만큼 배출되게 된다.Looking at the second
그러나 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 네 개의 관형부(610) 중에서 중앙에 배치된 두 개의 오리피스가 서로 멀어지는 방향으로 상대이동되어 배치되는 경우에는, 두 개의 오리피스 상부에 배치되는 노즐(200)의 구멍과 제2 증착물질 통과공(613)이 엇갈려있는 상태가 되므로, 엇갈린만큼 걸림부(630)에 의해 노즐(200)의 구멍이 가려지게 되어, 양 쪽 가장자리의 제2 증착물질 통과공(613)과 동일한 형상으로 연통된 노즐(200)보다 배출되는 증착물질의 양이 줄어들게 된다.However, as shown in (b) of FIG. 6, in the case where the two orifices disposed in the center among the four
결국 오리피스(600)를 상대이동시켜 원하는 위치에 배치시킴으로써, 오리피스(600)의 제2 증착물질 통과공(613)과 노즐(200)의 구멍이 연통되는 형상을 변화시켜 결과적으로 노즐(200)을 통해 배출되는 증착물질의 양을 크루시블 내부에서 조절할 수 있게 된다.Eventually, the
나아가, 상대이동시키는 오리피스의 위치에 따라 특정 위치의 노즐에서 배출되는 증착물질의 양을 조절할 수 있고, 오리피스를 상대이동시키는 이동거리에 따라 배출되는 증착물질의 양을 조절할 수 있으며, 오리피스를 상대이동시키는 방향에 따라서도 증착물질이 배출되는 위치를 미세하게 조절할 수 있게 된다.Furthermore, the amount of deposition material discharged from the nozzle at a specific position can be adjusted according to the position of the orifice to be moved relative to the orifice, and the amount of the deposition material discharged can be adjusted according to the moving distance of the orifice to move relative to each other, It is also possible to finely control the location where the deposition material is discharged depending on the direction in which the material is discharged.
이와 같이, 본 실시 예에 따르면, 제1 이너 플레이트 모듈(710)을 마련함으로써, 제1 증착물질 통과공(733)이 배치되는 위치를 변화시켜 오리피스(600)로부터 제1 증착물질 통과공(733)까지의 이격거리를 조절하여 크루시블 내부의 증착물질의 압력인 내압을 조절할 수 있으며, 제2 이너 플레이트 모듈(750)을 마련함으로써, 적어도 하나의 오리피스(600)를 배치할 때 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있으므로, 보조파이프를 사용하여 노즐의 구경을 변경시키거나 노즐을 교환하는 방법을 사용하지 않으면서도 크루시블의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절할 수 있게 된다.As described above, according to the present embodiment, by providing the first
도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 이너 플레이트 유닛을 도시한 분해사시도이다.7 is an exploded perspective view showing an inner plate unit according to a second embodiment of the present invention.
이하에서는 도 7을 참조하여, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 오리피스(600)와 제2 이너 플레이트 모듈(750')에 의해 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시키는 방법에 대해 자세히 설명한다.Hereinafter, a method of changing the open area of the
본 발명의 제2 실시 예는, 제1 실시 예와 비교하여, 오리피스(600')의 형상과 제2 이너 플레이트 모듈(750')의 형상이 다른 것을 제외하고 다른 구조와 기능은 모두 전술한 바와 동일하므로 차이점에 대해서만 설명한다.In the second embodiment of the present invention, compared to the first embodiment, all other structures and functions are as described above except that the shape of the
먼저, 오리피스(600')의 형상을 살펴보면, 걸림부(630')는 관형부배치공(761)보다 큰 지름을 가지는 원형으로 마련되는 원형 걸림부(630')이며, 오리피스 지지 플레이트(760')는 관형부배치공(761)의 가장자리에 마련되어 원형 걸림부(631)를 지지하는 원형 걸림턱(762)을 포함한다.First, looking at the shape of the
제2 실시 예에서는 관형부배치공(761)에 배치된 오리피스(600')가 오리피스 지지 플레이트(760')에 대하여 상대이동할 수 있는 것은 아니며, 오리피스(600')를 교환하는 방식으로 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시키는 점에서 제1 실시 예와 차이가 있다.In the second embodiment, the
이에 대하여 자세히 설명하면, 오리피스 지지 플레이트(760')의 원형 걸림턱(762)에 미리 결정된 내경을 가지는 적어도 하나의 오리피스(600')를 교환하여 배치함으로써, 제2 증착물질 통과공(613)의 크기를 변경시킬 수 있고, 제2 증착물질 통과공(613)의 크기에 따라 노즐(200)의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있으므로, 보조파이프를 사용하여 노즐의 구경을 변경시키거나 노즐을 교환하는 방법을 사용하지 않으면서도 크루시블의 내부에서 증착물질의 증발량을 조절할 수 있게 된다.In detail, by exchanging and disposing at least one
이와 같이 본 발명은 기재된 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정 예 또는 변형 예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As described above, the present invention is not limited to the described embodiments, and it is obvious to those of ordinary skill in the art that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, such modifications or variations will have to belong to the scope of the claims of the present invention.
1 : 고온 증착 소스 2 : 공정 챔버
10 : 증착물질 100 : 크루시블
200 : 노즐 600 : 오리피스
610 : 관형부 613 : 제2 증착물질 통과공
630 : 걸림부 700 : 이너 플레이트 모듈
710 : 제1 이너 플레이트 모듈 720 : 제1 이너 플레이트 본체
730 : 제1 이너 플레이트 내압조절부 731 : 결합 스커트
732 : 플레이트 바디 733 : 제1 증착물질 통과공
750 : 제2 이너 플레이트 모듈 760 : 오리피스 지지 플레이트
761 : 관형부 배치공 762 : 원형 걸림턱
763 : 가이드 홈 770 : 지지 스커트부1: high temperature deposition source 2: process chamber
10: evaporation material 100: crucible
200: nozzle 600: orifice
610: tubular part 613: second evaporation material through hole
630: locking part 700: inner plate module
710: first inner plate module 720: first inner plate main body
730: first inner plate internal pressure control unit 731: coupling skirt
732: plate body 733: first evaporation material through hole
750: second inner plate module 760: orifice support plate
761: tubular part arranging hole 762: circular locking jaw
763: guide groove 770: support skirt portion
Claims (16)
상기 크루시블의 일측에 배치되어 증발된 상기 증착물질을 배출하는 노즐; 및
적어도 일부가 상기 크루시블의 내부에 배치되도록 상기 크루시블의 일측에 결합되며, 상기 노즐과 연통되는 적어도 하나의 오리피스(orifice)와, 상기 증착물질이 1차로 통과하는 제1 증착물질 통과공이 마련되되 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있는 이너 플레이트(inner plate) 모듈을 구비하는 이너 플레이트 유닛을 포함하며,
상기 이너 플레이트 모듈은,
상기 오리피스로부터 미리 결정된 거리만큼 상기 증착물질 측으로 이격 배치되되 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되며, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절가능한 제1 이너 플레이트 모듈; 및
상기 제1 이너 플레이트 모듈에 결합되되, 적어도 하나의 상기 오리피스를 배치하는 제2 이너 플레이트 모듈을 포함하고,
상기 제1 이너 플레이트 모듈은,
상기 크루시블의 상단부로부터 미리 결정된 거리만큼 상기 크루시블의 내벽과 접촉하도록 배치되는 바디부와, 상기 바디부의 상단부에 마련되어 상기 크루시블의 상단부에 걸림 결합되도록 마련되는 플랜지부를 구비하는 제1 이너 플레이트 본체; 및
미리 결정된 영역에 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되며 상기 바디부의 하단부에 결합되되, 상기 바디부에 결합되는 위치를 변화시켜 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절할 수 있는 제1 이너 플레이트 내압조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.A crucible having a deposition material;
A nozzle disposed on one side of the crucible to discharge the evaporated deposition material; And
At least a portion of the crucible is coupled to one side of the crucible so as to be disposed inside the crucible, at least one orifice communicating with the nozzle, and a first deposition material passing hole through which the deposition material first passes It is provided, and includes an inner plate unit having an inner plate module capable of adjusting a separation distance from the orifice to the through hole of the first deposition material,
The inner plate module,
A first inner plate module spaced apart from the orifice by a predetermined distance toward the deposition material, the first deposition material passage hole is provided, and the separation distance from the orifice to the first deposition material passage hole is adjustable; And
A second inner plate module coupled to the first inner plate module, wherein at least one orifice is disposed,
The first inner plate module,
A first body having a body portion disposed to contact the inner wall of the crucible by a predetermined distance from the upper end portion of the crucible, and a flange portion provided at the upper end portion of the body portion and provided to be engaged with the upper end portion of the crucible. 1 inner plate body; And
The first deposition material passage hole is provided in a predetermined area, and is coupled to the lower end of the body portion, and is capable of adjusting a separation distance from the orifice to the first deposition material passage hole by changing a position coupled to the body portion. 1 High-temperature deposition source comprising an inner plate pressure control unit.
상기 제1 이너 플레이트 내압조절부는,
상기 바디부의 내벽에 접촉하며 결합되도록 미리 결정된 높이를 가지는 결합 스커트; 및
상기 결합 스커트의 일단부에 결합되어 상기 증착물질이 통과하는 것을 차단하되 미리 결정된 영역에 적어도 하나의 상기 제1 증착물질 통과공이 마련되는 플레이트 바디를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 1,
The first inner plate internal pressure control unit,
A coupling skirt having a predetermined height to be coupled to and in contact with the inner wall of the body portion; And
And a plate body coupled to one end of the coupling skirt to block passage of the deposition material, but having at least one first deposition material passage hole provided in a predetermined region.
상기 바디부 또는 상기 결합 스커트 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공이 마련되며,
상기 바디부 또는 상기 결합 스커트 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 상기 바디부에 대한 상기 플레이트 바디의 상대위치를 조절할 수 있도록 상기 결합공과 대응하는 위치에 배치되는 수직방향의 장공형태를 가지는 높이조절 결합공이 마련되는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 4,
A coupling hole is provided on one side of any one selected from the body portion or the coupling skirt,
On the other side selected from the body portion or the coupling skirt, there is a height adjustment coupling hole having a vertical long hole shape disposed at a position corresponding to the coupling hole so that the relative position of the plate body with respect to the body portion can be adjusted. High temperature deposition source, characterized in that provided.
상기 제1 이너 플레이트 모듈은,
상기 결합 스커트가 상기 오리피스에서 가까운 위치에 배치되고 상기 플레이트 바디가 상기 오리피스에서 먼 위치에 배치되도록, 상기 제1 이너 플레이트 내압조절부가 상기 제1 이너 플레이트 본체에 결함됨으로써, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 4,
The first inner plate module,
The first inner plate internal pressure control part is defective in the first inner plate body so that the coupling skirt is disposed at a position close to the orifice and the plate body is disposed at a position far from the orifice, so that the first deposition from the orifice High-temperature evaporation source, characterized in that controlling the separation distance to the material through hole.
상기 제1 이너 플레이트 모듈은,
상기 플레이트 바디가 상기 오리피스에서 가까운 위치에 배치되고 상기 결합 스커트가 상기 오리피스에서 먼 위치에 배치되도록, 상기 제1 이너 플레이트 내압조절부가 상기 제1 이너 플레이트 본체에 결함됨으로써, 상기 오리피스로부터 상기 제1 증착물질 통과공까지의 이격거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 4,
The first inner plate module,
The first inner plate internal pressure adjusting part is defective in the first inner plate body so that the plate body is disposed at a position close to the orifice and the coupling skirt is disposed at a position far from the orifice, so that the first deposition from the orifice High-temperature evaporation source, characterized in that controlling the separation distance to the material through hole.
상기 제2 이너 플레이트 모듈은 상기 적어도 하나의 상기 오리피스를 배치할 때 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시킬 수 있도록 마련되는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 1,
Wherein the second inner plate module is provided to change an open area of the nozzle when the at least one orifice is disposed.
상기 오리피스는,
미리 결정된 내경을 갖는 제2 증착물질 통과공이 형성되는 관형부; 및
상기 관형부의 상단부에 결합되어 상기 제2 이너 플레이트 모듈의 일측에 걸림결합되는 걸림부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 8,
The orifice,
A tubular portion in which a second deposition material passing hole having a predetermined inner diameter is formed; And
And a locking portion coupled to an upper end of the tubular portion and engaging with one side of the second inner plate module.
상기 제2 이너 플레이트 모듈은,
상기 관형부가 배치되는 관형부배치공이 형성되는 오리피스 지지 플레이트; 및
상기 오리피스 지지 플레이트에 결합되되, 상기 제1 이너 플레이트 모듈의 상단부에 걸림결합되는 지지 스커트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 9,
The second inner plate module,
An orifice support plate in which a tubular portion arranging hole in which the tubular portion is disposed is formed; And
And a support skirt portion coupled to the orifice support plate and engaged with an upper end portion of the first inner plate module.
상기 걸림부는 상기 관형부배치공보다 큰 지름을 가지는 원형으로 마련되는 원형 걸림부이며,
상기 오리피스 지지 플레이트는,
상기 관형부배치공의 가장자리에 마련되어 상기 원형 걸림부를 지지하는 원형 걸림턱을 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 10,
The locking portion is a circular locking portion provided in a circular shape having a larger diameter than the tubular portion arrangement hole,
The orifice support plate,
A high-temperature deposition source comprising a circular locking protrusion provided at an edge of the tubular part arrangement hole to support the circular locking part.
상기 오리피스 지지 플레이트의 상기 원형 걸림턱에 미리 결정된 내경을 가지는 적어도 하나의 상기 오리피스를 교환하여 배치함으로써, 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시키는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 11,
The high temperature deposition source, characterized in that the opening area of the nozzle is changed by exchanging and disposing at least one orifice having a predetermined inner diameter on the circular locking protrusion of the orifice support plate.
상기 관형부배치공은,
상기 관형부가 관통하여 배치된 상태로 상대이동 가능하도록 장공형태로 마련되며,
상기 관형부를 장공형태의 상기 관형부배치공을 따라 상대이동시켜 배치함으로써, 상기 노즐의 개방되는 면적을 변화시키는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 10,
The tubular part placement hole,
It is provided in the form of a long hole so as to be able to move relative to the state disposed through the tubular portion,
The high-temperature deposition source, characterized in that the opening area of the nozzle is changed by placing the tubular portion by moving relative to the tubular portion arranging hole in the form of a long hole.
상기 오리피스 지지 플레이트는,
상기 관형부배치공의 가장자리에 마련되어 상기 걸림부를 지지하되, 상기 걸림부가 걸림결합된 상태로 상대이동을 가이드하는 가이드 홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 13,
The orifice support plate,
A high-temperature deposition source, comprising: a guide groove provided at an edge of the tubular portion arrangement hole to support the locking portion, and guide relative movement while the locking portion is engaged.
상기 걸림부는 상기 관형부배치공보다 큰 면적을 가지는 사각형으로 마련되는 사각형 걸림부이며,
상기 가이드 홈은 상기 사각형 걸림부의 상대이동을 가이드할 수 있도록 상기 사각형 걸림부의 상대이동 방향을 따라 길게 형성된 사각형 가이드 홈인 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스. The method of claim 14,
The locking part is a rectangular locking part provided in a square shape having an area larger than that of the tubular part arranging hole,
The guide groove is a high-temperature deposition source, characterized in that the rectangular guide groove is formed to be elongated along the relative movement direction of the rectangular locking portion to guide the relative movement of the rectangular locking portion.
상기 사각형 걸림부 또는 상기 사각형 가이드 홈 중에서 선택된 어느 하나의 일측에는 결합공이 마련되며,
상기 사각형 걸림부 또는 상기 사각형 가이드 홈 중에서 선택된 다른 하나의 일측에는, 상기 노즐에 대한 상기 오리피스의 상대위치를 조절할 수 있도록 상기 결합공과 대응하는 위치에 배치되는 장공형태의 위치조절 결합공이 마련되는 것을 특징으로 하는 고온 증착 소스.The method of claim 15,
A coupling hole is provided at one side of any one selected from the square locking part or the square guide groove,
On the other side selected from the rectangular engaging portion or the rectangular guide groove, a long-hole-shaped position-adjusting coupling hole disposed at a position corresponding to the coupling hole is provided so as to adjust the relative position of the orifice with respect to the nozzle. High temperature evaporation source.
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KR1020190130064A KR102229164B1 (en) | 2019-10-18 | 2019-10-18 | High temperature evaporation source |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102667509B1 (en) * | 2021-08-31 | 2024-05-22 | (주)알파플러스 | Vacuum effusion cell and method for fabricating organic light emitting display device using the same |
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2019
- 2019-10-18 KR KR1020190130064A patent/KR102229164B1/en active IP Right Grant
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