JPH10194785A - Production of glass substrate for information recording medium, and production of information recording medium - Google Patents

Production of glass substrate for information recording medium, and production of information recording medium

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JPH10194785A
JPH10194785A JP35754396A JP35754396A JPH10194785A JP H10194785 A JPH10194785 A JP H10194785A JP 35754396 A JP35754396 A JP 35754396A JP 35754396 A JP35754396 A JP 35754396A JP H10194785 A JPH10194785 A JP H10194785A
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JP
Japan
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glass substrate
recording medium
information recording
particles
chemical strengthening
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Application number
JP35754396A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Takahashi
浩二 高橋
Kazuhiko Maeda
和彦 前田
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Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for producing a glass substrate for an information-recording medium, containing a process for chemically reinforcing a glass substrate and a process for grinding the glass substrate, to preventing the adhesion of foreign particles causing a low flying height and a thermal asperity by performing at least one of processes in an atmosphere in which filtered and clean air is circulated. SOLUTION: This method for producing a glass substrate for an information recording medium contains a process for grinding the main surface of a glass substrate and a chemically reinforcing process for reinforcing the glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemically reinforcing treatment liquid to replace a part of ions contained in the glass substrates with ions each having a larger diameter than that of each of the ions contained in the substrate. Therein, at least one of a washing process, the chemically reinforcing treatment process, a process for washing a chemically reinforcing treatment liquid, a drying process, an examination process, and a packaging and storing process is performed in a filtered and cleaned air-circulated atmosphere so that particles do not adhere to the glass substrate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は情報処理機器の記録媒体
として使用される情報記録媒体、及びその基板の製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information recording medium used as a recording medium for information processing equipment, and a method of manufacturing a substrate thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の情報記録媒体の一つとして磁気
ディスクがある。磁気ディスクは、基板上に磁性層等の
薄膜を形成して構成されたものであり、その基板として
はアルミやガラス基板が用いられてきた。しかし、最近
では、高記録密度化の追求に呼応して、アルミと較べて
磁気ヘッドと磁気記録媒体との間隔をより狭くすること
が可能なガラス基板の占める比率が次第に高くなってき
ている。
2. Description of the Related Art A magnetic disk is one of such information recording media. A magnetic disk is formed by forming a thin film such as a magnetic layer on a substrate, and an aluminum or glass substrate has been used as the substrate. However, in recent years, in response to the pursuit of higher recording density, the proportion of the glass substrate that can make the distance between the magnetic head and the magnetic recording medium smaller than that of aluminum has been gradually increasing.

【0003】このように増加の傾向にあるガラス基板
は、磁気ディスクドライバーに装着された際の衝撃に耐
えるように一般的に強度を増すために化学強化されて製
造されている。又、ガラス基板表面は磁気ヘッドの浮上
高さを極力下げることができるように、高精度に研磨し
て高記録密度化を実現している。
[0003] The glass substrate which tends to increase in this manner is generally manufactured by chemically strengthening it to increase the strength so as to withstand an impact when mounted on a magnetic disk driver. In addition, the glass substrate surface is polished with high precision to achieve a high recording density so that the flying height of the magnetic head can be reduced as much as possible.

【0004】他方、ガラス基板だけではなく、磁気ヘッ
ドも薄膜ヘッドから磁気抵抗(MRヘッド)に推移し、
高記録密度化にこたえている。
On the other hand, not only the glass substrate but also the magnetic head changes from a thin film head to a magnetic resistance (MR head).
Responding to high recording density.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したように高記録
密度化にとって必要な低フライングハイト化のために磁
気ディスク表面の高い平坦性は必要不可欠である。加え
て、MRヘッドを用いた場合,TA(サーマル・アスフ
ェリティー)の問題からも磁気記録媒体の表面には高い
平坦性が必要となる。このサーマル・アスフェリティー
は、磁気ディスクの表面上に突起があると、この突起に
MRヘッドが影響をうけてMRヘッドに熱が発生し、こ
の熱によってヘッドの抵抗値が変動し電磁変換に誤動作
を引き起こす現象である。
As described above, high flatness of the surface of a magnetic disk is indispensable for a low flying height required for a high recording density. In addition, when an MR head is used, a high flatness is required on the surface of the magnetic recording medium due to the problem of TA (thermal asperity). The thermal asperity is such that when a protrusion is present on the surface of a magnetic disk, the protrusion is affected by the MR head, and heat is generated in the MR head. This is a phenomenon that causes malfunction.

【0006】このように、低フライングハイト化にとっ
ても、サーマル・アスフェリティーの発生防止のために
も磁気ディスク表面の高い平坦性の要請は日増に高まっ
てきている。このような、磁気ディスク表面の高い平坦
性を得るためには結局高い平坦性の基板表面が求められ
ることになるが、もはや、高精度に基板表面を研磨する
だけでは、磁気ディスクの高記録密度化を実現できない
段階まで来ている。つまり、いくら、高精度に研磨して
も基板上に異物が付着していては高い平坦性は得られな
い。勿論、従来から異物の除去はなされていたが、従来
は許容されていた基板上の異物が、今日の高密度化のレ
ベルでは問題視される状況にある。この種の異物として
は、例えば、通常の洗浄では除去できない極めて微小な
鉄粉が挙げられる。この鉄粉がガラス基板上に付着した
状態で磁性膜等の薄膜を積層すると、磁気ディスク表面
に突部が形成され、低フライング・ハイト化やサーマル
・アスフェリティー防止の阻害要因になる。本発明は、
このような微小な鉄粉のガラス基板への付着を防止する
ことを目的とする。
As described above, the demand for high flatness of the magnetic disk surface has been increasing day by day to reduce the flying height and to prevent the occurrence of thermal asperity. In order to obtain such high flatness of the magnetic disk surface, a substrate surface with high flatness is ultimately required. However, if the substrate surface is no longer polished with high precision, the high recording density of the magnetic disk can no longer be obtained. We have reached the stage where we cannot realize the realization. In other words, no matter how high the polishing accuracy, high flatness cannot be obtained if foreign matter adheres to the substrate. Needless to say, foreign matter has been conventionally removed, but foreign matter on the substrate, which has been conventionally allowed, is considered to be a problem at today's high-density level. Examples of such foreign matter include extremely fine iron powder that cannot be removed by ordinary cleaning. When a thin film such as a magnetic film is laminated with the iron powder adhered to the glass substrate, a protrusion is formed on the surface of the magnetic disk, which becomes a hindrance to lowering the flying height and preventing thermal asperity. The present invention
An object of the present invention is to prevent such minute iron powder from adhering to a glass substrate.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を鑑みてなされたものであり、微小な鉄粉がガラス基板
に付着する原因を、鋭意究明したところ、化学強化処理
装置を取り囲む雰囲気中に、製造装置あるいは建設設備
から発塵した鉄粉等の金属又は金属酸化物が浮遊してお
り、これらの浮遊物が化学強化処理液に混入してガラス
基板に付着することが判明した。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned object, and has ascertained why a fine iron powder adheres to a glass substrate. It was found that metals or metal oxides such as iron powder generated from manufacturing equipment or construction equipment were floating therein, and these floating substances were mixed into the chemical strengthening treatment liquid and adhered to the glass substrate.

【0008】本発明の第1の構成は、ガラス基板の主表
面を研磨する工程と、ガラス基板を化学強化処理液に接
触させることにより、ガラス基板の中に含まれる一部の
イオンを、そのイオンより大きなイオン径の処理液中の
イオンに置換することによりガラス基板を強化する化学
強化工程とを含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
において、最終研磨工程以後の洗浄工程、前記化学強化
工程、化学強化処理液の洗浄工程、乾燥工程、検査工
程、及び情報記録媒体用ガラス基板の包装あるいは容器
への収納工程のなかの少なくとも一工程を、ガラス基板
にパーティクルが付着しないように、濾過された清浄な
空気を循環した雰囲気下で実施することを特徴とする情
報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A first configuration of the present invention comprises a step of polishing a main surface of a glass substrate and a step of bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution to remove some ions contained in the glass substrate. A chemical strengthening step of strengthening the glass substrate by substituting ions in a processing liquid having an ion diameter larger than the ions, wherein the cleaning step after the final polishing step, the chemical strengthening step At least one of the steps of washing the chemical strengthening treatment solution, drying, inspecting, and packaging or storing the glass substrate for the information recording medium in a container is filtered so that particles do not adhere to the glass substrate. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the method is performed in an atmosphere in which clean air is circulated.

【0009】本発明の第2の構成は、ガラス基板の主表
面を研磨する工程と、ガラス基板を化学強化処理液に接
触させることにより、ガラス基板の中に含まれる一部の
イオンを、そのイオンより大きなイオン径の処理液中の
イオンに置換することによりガラス基板を強化する化学
強化工程とを含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
において、最終研磨工程以後の洗浄工程、前記化学強化
工程、化学強化処理液の洗浄工程、乾燥工程、検査工
程、及び情報記録媒体用ガラス基板の包装あるいは容器
への収納工程のなかの少なくとも一工程を、0.3〜1
00ミクロンの大きさのパーティクルが1000個/立
方フィート・メートル以下の清浄度の環境下で行うこと
を特徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
In a second aspect of the present invention, a step of polishing a main surface of a glass substrate and a step of bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution to remove some ions contained in the glass substrate. A chemical strengthening step of strengthening the glass substrate by substituting ions in a processing liquid having an ion diameter larger than the ions, wherein the cleaning step after the final polishing step, the chemical strengthening step At least one of the steps of washing, drying, inspecting, and packaging the glass substrate for information recording medium in a container,
A method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the method is performed in an environment having a cleanliness of 1000 particles / cubic foot-meter or less of particles having a size of 00 microns.

【0010】本発明の第3の構成は、清浄な空気の清浄
度が、0.3〜100ミクロンの大きさのパーティクル
が1000個/立方フィート・メートル以下の清浄度で
あることを特徴とする前記構成1記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造法。
A third configuration of the present invention is characterized in that clean air has a cleanliness of less than 1000 particles / cubic foot-meter of particles having a size of 0.3 to 100 microns. 2. The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to the above configuration 1.

【0011】本発明の第4の構成は、0.3〜100ミ
クロンのパーティクルの清浄度が、100個/立方フィ
ート・メートル以下であることを特徴とする前記構成1
又は2記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
In a fourth aspect of the present invention, the cleanliness of particles of 0.3 to 100 microns is 100 particles / cubic foot-meter or less.
Or the method for producing a glass substrate for an information recording medium according to 2 above.

【0012】本発明の第5の構成は、パーティクルの清
浄度が、50個/立方フィート・メートル以下であるこ
とを特徴とする前記構成1又は2記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
A fifth aspect of the present invention is the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to the first or second aspect, wherein the cleanliness of the particles is not more than 50 particles / cubic foot-meter.

【0013】本発明の第6の構成は、前記構成1〜5の
いずれかに記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
において規定されたパーティクルの清浄度の環境下で、
最終研磨工程後の洗浄とガラス基板の化学強化を行うこ
とを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the first to fifth aspects, wherein the particle cleanliness environment is specified.
A method for manufacturing an information recording medium, comprising performing cleaning after the final polishing step and chemically strengthening the glass substrate.

【0014】本発明の第7の構成は、情報記録媒体用ガ
ラス基板が磁気ディスク用ガラス基板であることを特徴
とする前記構成1〜6記載の情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法。
A seventh aspect of the present invention is the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the first to sixth aspects, wherein the glass substrate for the information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk.

【0015】本発明の第8の構成は、磁気ディスク用ガ
ラス基板が、磁気抵抗型ヘッドで再生される磁気ディス
クに使用されるガラス基板であることを特徴とする前記
構成7記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
According to an eighth aspect of the present invention, in the information recording medium according to the seventh aspect, the glass substrate for a magnetic disk is a glass substrate used for a magnetic disk reproduced by a magnetoresistive head. Of manufacturing glass substrates for use.

【0016】本発明の第9の構成は、前記構成1〜8記
載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって得ら
れたガラス基板上に少なくとも記録層を形成する情報記
録媒体の製造方法。
A ninth aspect of the present invention is a method for manufacturing an information recording medium, wherein at least a recording layer is formed on a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of the first to eighth aspects.

【0017】本発明の第10の構成は、記録層が磁性層
であることを特徴とする前記構成9記載の情報記録媒体
の製造方法。
A tenth aspect of the present invention is the method for manufacturing an information recording medium according to the ninth aspect, wherein the recording layer is a magnetic layer.

【0018】本発明が除去するパーティクルとしては、
微小鉄粉等の金属片、金属酸化物片、ガラスチップ、オ
イルミスト、珪素系塵埃、繊維等がある。それらの大き
さは要は、情報記録媒体の使用中、或いは製造工程の不
良となるものが対象となる。好ましい大きさの範囲は、
0.3ミクロンから100ミクロン以下のものである。
1ミクロン〜100ミクロンの大きさに規制しても効果
がある。また、10〜100ミクロンの大きさに規制し
ても実用的に使える。。
The particles removed by the present invention include:
There are metal pieces such as fine iron powder, metal oxide pieces, glass chips, oil mist, silicon dust, fibers and the like. In essence, these sizes are intended to be used during the use of the information recording medium or in the manufacturing process. The preferred size range is
It is from 0.3 microns to less than 100 microns.
There is an effect even if the size is restricted to 1 micron to 100 microns. Even if the size is restricted to 10 to 100 microns, it can be used practically. .

【0019】パーティクルの清浄度を高める方法として
は、製造設備や建設設備等の発塵の可能性のある箇所を
防塵クロスで覆う方法、あるいは、クリーンブース方式
やクリーンルーム方式によって、所定の清浄度にコント
ロールされた室内で、最終研磨後の洗浄工程、化学強化
工程、洗浄工程、乾燥工程、検査工程、ガラス基板の包
装や梱包工程を実施すればよい。
As a method for increasing the cleanliness of particles, a method of covering dust-producing parts such as manufacturing equipment and construction equipment with a dustproof cloth, or a method using a clean booth system or a clean room system to achieve a predetermined cleanliness degree. In a controlled room, a cleaning step after final polishing, a chemical strengthening step, a cleaning step, a drying step, an inspection step, and a glass substrate packaging and packing step may be performed.

【0020】パーティクルの清浄度を高める工程は、最
終研磨後の洗浄工程、化学強化工程、洗浄工程、乾燥工
程、検査工程、ガラス基板の包装あるいは梱包工程の少
なくとも一工程で良いが、全行程で行う方が望ましい。
又、最終研磨工程から化学強化工程に至る工程でパーテ
ィクルの清浄度を向上させると特に効果的である。何故
ならば、化学強化する段階でガラス基板上にパーティク
ルが付着していると、そのパーティクルの下のガラス基
板の部分が化学強化されなかったり、ガラス基上状のパ
ーティクルが化学強化塩によって強固にガラス基板に付
着してしまい、後工程の洗浄で容易に除去できないため
である。従って、化学強化工程中及びその前工程のガラ
ス基板の清浄度は特に大事である。
The step of increasing the cleanliness of the particles may be at least one of a cleaning step after final polishing, a chemical strengthening step, a cleaning step, a drying step, an inspection step, and a glass substrate packaging or packing step. It is better to do.
It is particularly effective to improve the cleanliness of the particles in the steps from the final polishing step to the chemical strengthening step. If particles adhere to the glass substrate at the stage of chemical strengthening, the part of the glass substrate under the particles will not be chemically strengthened, or the particles on the glass base will be strengthened by the chemical strengthening salt. This is because they adhere to the glass substrate and cannot be easily removed by washing in a later step. Therefore, the cleanliness of the glass substrate during and before the chemical strengthening step is particularly important.

【0021】ガラス基板の種類、サイズ、厚さ等は特に
制限されない。ガラス基板の材質としては、例えば、ア
ルミノシリケートガラス、ソーダライムガラス、ソーダ
アルミノケイ酸ガラス、アルミノボロシリケートガラ
ス、ボロシリケートガラス、石英ガラス、チェーンシリ
ケートガラス、又は、結晶化ガラス等のガラスセラミッ
クなどが挙げられる。
The type, size, thickness and the like of the glass substrate are not particularly limited. Examples of the material of the glass substrate include aluminosilicate glass, soda lime glass, soda aluminosilicate glass, aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, quartz glass, chain silicate glass, and glass ceramics such as crystallized glass. Can be

【0022】アルミノシリケートガラスとしては、Si
O2:62〜75重量%、Al2O3:5〜15重量%、L
i2O:4〜10重量%、Na2O:4〜12重量%、Z
rO2:5.5〜15重量%を主成分として含有するとと
もに、Na2O/ZrO2の重量比が0.5〜2.0、A
l2O3/ZrO2の重量比が0.4〜2.5である化学強
化用ガラス等が好ましい。
As the aluminosilicate glass, Si
O2: 62 to 75% by weight, Al2 O3: 5 to 15% by weight, L
i2O: 4 to 10% by weight, Na2O: 4 to 12% by weight, Z
rO2: contains 5.5 to 15% by weight as a main component, and the weight ratio of Na2O / ZrO2 is 0.5 to 2.0;
Chemical strengthening glass having a weight ratio of l2O3 / ZrO2 of 0.4 to 2.5 is preferred.

【0023】また、ZrO2の未溶解物が原因で生じる
ガラス基板表面の突起をなくすためには、モル%表示
で、SiO2を57〜74%、ZnO2を0〜2.8%、
Al2O3を3〜15%、LiO2を7〜16%、Na2O
を4〜14%含有する化学強化用ガラス等を使用するこ
とが好ましい。このような組成のアルミノシリケートガ
ラス等は、化学強化することによって、抗折強度が増加
し、圧縮応力層の深さも深く、ヌープ硬度にも優れる。
In order to eliminate projections on the surface of the glass substrate caused by undissolved ZrO 2, 57% to 74% of SiO 2, 0% to 2.8% of ZnO 2,
Al2O3 3-15%, LiO2 7-16%, Na2O
It is preferable to use glass for chemical strengthening containing 4 to 14%. The aluminosilicate glass or the like having such a composition increases the transverse rupture strength by chemical strengthening, has a deep compressive stress layer, and is excellent in Knoop hardness.

【0024】本発明では、耐衝撃性や耐振動性等の向上
を目的として、ガラス基板の表面に低温イオン交換法に
よる化学強化処理を施すことができる。
In the present invention, the surface of the glass substrate can be subjected to a chemical strengthening treatment by a low-temperature ion exchange method for the purpose of improving impact resistance, vibration resistance and the like.

【0025】ここで、化学強化方法としては、従来より
公知の化学強化法であれば特に制限されないが、例え
ば、ガラス転移点の観点から転移温度を超えない領域で
イオン交換を行う低温型化学強化などが好ましい。化学
強化に用いるアルカリ溶融塩としては、硝酸カリウム、
硝酸ナトリウム、あるいは、それらを混合した硝酸塩な
どが挙げられる。
The chemical strengthening method is not particularly limited as long as it is a conventionally known chemical strengthening method. For example, a low-temperature chemical strengthening method in which ion exchange is performed in a region not exceeding a transition temperature from the viewpoint of a glass transition point. Are preferred. Potassium nitrate,
Examples thereof include sodium nitrate, and a nitrate obtained by mixing them.

【0026】上記本発明の製造方法に係る情報記録媒体
用ガラス基板は、微細なパーティクルを嫌う光磁気ディ
スク用のガラス基板や、光ディスクなどの電子光学用デ
ィスク基板としても利用できる。
The glass substrate for an information recording medium according to the manufacturing method of the present invention can be used as a glass substrate for a magneto-optical disk which does not like fine particles, or as a disk substrate for an electro-optical disk such as an optical disk.

【0027】次に、本発明の磁気記録媒体について説明
する。
Next, the magnetic recording medium of the present invention will be described.

【0028】本発明の磁気記録媒体は、上記本発明の磁
気記録媒体用ガラス基板上に、少なくとも磁性層を形成
したものである。
The magnetic recording medium of the present invention is obtained by forming at least a magnetic layer on the glass substrate for a magnetic recording medium of the present invention.

【0029】本発明では、サーマル・アスフェリティー
の原因となるパーティクルが発生することがないので、
ガラス基板上に磁性層等を形成して磁気記録媒体を製造
する際にガラス基板の主表面にサーマル・アスフェリテ
ィーの原因となるパーティクルによって形成される凸部
が発生せず、より高いレベルでヘッドクラッシュを防止
できる。特に、磁気抵抗型ヘッドによって再生を行う磁
気記録媒体にとって、磁気抵抗型ヘッドの機能を十分に
引き出すことができる。また、磁気抵抗型ヘッドに好適
に使用することができるCoPt系等の磁気記録媒体と
してもその性能を十分に引き出すことができる。
In the present invention, since particles that cause thermal asperity are not generated,
When manufacturing a magnetic recording medium by forming a magnetic layer etc. on a glass substrate, a convex part formed by particles that cause thermal asperity does not occur on the main surface of the glass substrate, at a higher level Head crash can be prevented. In particular, the function of the magnetoresistive head can be fully exploited for a magnetic recording medium that performs reproduction with the magnetoresistive head. In addition, the performance of a CoPt-based magnetic recording medium or the like that can be suitably used for a magnetoresistive head can be sufficiently brought out.

【0030】同様に、磁気記録媒体の記録・再生面にお
いてもサーマル・アスフェリティーの原因となるパーテ
ィクルによって形成される凸部が発生せず、より高いレ
ベルでヘッドクラッシュを防止できる。
Similarly, on the recording / reproducing surface of the magnetic recording medium, no projection formed by particles causing thermal asperity does not occur, and head crash can be prevented at a higher level.

【0031】また、サーマル・アスフェリティーの原因
となるパーティクルによって、磁性層等の膜に欠陥が発
生しエラーの原因となるということもない。
Further, there is no possibility that a particle such as a thermal asperity causes a defect in a film such as a magnetic layer to cause an error.

【0032】磁気記録媒体は、通常、所定の平坦度、表
面粗さを有し、必要に応じ表面の化学強化処理を施した
磁気ディスク用ガラス基板上に、下地層、磁性層、保護
層、潤滑層を順次積層して製造する。
The magnetic recording medium usually has a predetermined flatness and surface roughness, and has an underlayer, a magnetic layer, a protective layer, It is manufactured by sequentially laminating a lubricating layer.

【0033】本発明の磁気記録媒体における下地層は、
磁性層に応じて選択される。
The underlayer in the magnetic recording medium of the present invention comprises:
It is selected according to the magnetic layer.

【0034】下地層としては、例えば、Cr、Mo、T
a、Ti、W、V、B、Alなどの非磁性金属から選ば
れる少なくとも一種以上の材料からなる下地層等が挙げ
られる。Coを主成分とする磁性層の場合には、磁気特
性向上等の観点からCr単体やCr合金であることが好
ましい。また、下地層は単層とは限らず、同一又は異種
の層を積層した複数層構造とすることもできる。例え
ば、Cr/Cr、Cr/CrMo、Cr/CrV、Cr
V/CrV、Al/Cr/CrMo、Al/Cr/C
r、Al/Cr/CrV、Al/CrV/CrV等の多
層下地層等が挙げられる。
As the underlayer, for example, Cr, Mo, T
a, an underlayer made of at least one material selected from nonmagnetic metals such as Ti, W, V, B, and Al. In the case of a magnetic layer containing Co as a main component, it is preferable to use Cr alone or a Cr alloy from the viewpoint of improving magnetic properties. The underlayer is not limited to a single layer, and may have a multilayer structure in which the same or different layers are stacked. For example, Cr / Cr, Cr / CrMo, Cr / CrV, Cr
V / CrV, Al / Cr / CrMo, Al / Cr / C
r, a multilayer base layer of Al / Cr / CrV, Al / CrV / CrV and the like.

【0035】本発明の磁気記録媒体における磁性層の材
料は特に制限されない。
The material of the magnetic layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited.

【0036】磁性層としては、例えば、Coを主成分と
するCoPt、CoCr、CoNi、CoNiCr、C
oCrTa、CoPtCr、CoNiPtや、CoNi
CrPt、CoNiCrTa、CoCrTaPt、Co
CrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げられる。磁性層
は、磁性膜を非磁性膜(例えば、Cr、CrMo、Cr
Vなど)で分割してノイズの低減を図った多層構成(例
えば、CoPtCr/CrMo/CoPtCr、CoC
rTaPt/CrMo/CoCrTaPtなど)として
もよい。
As the magnetic layer, for example, CoPt, CoCr, CoNi, CoNiCr, C
oCrTa, CoPtCr, CoNiPt, CoNi
CrPt, CoNiCrTa, CoCrTaPt, Co
A magnetic thin film such as CrPtSiO may be used. The magnetic layer is made of a non-magnetic film (for example, Cr, CrMo, Cr).
V, etc. to reduce noise (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtCr, CoC
rTaPt / CrMo / CoCrTaPt).

【0037】磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型
磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁性層として
は、Co系合金に、Y、Si、希土類元素、Hf、G
e、Sn、Znから選択される不純物元素、又はこれら
の不純物元素の酸化物を含有させたものなども含まれ
る。
As a magnetic layer corresponding to a magnetoresistive head (MR head) or a large magnetoresistive head (GMR head), Y, Si, rare earth elements, Hf, G
An impurity element selected from e, Sn, and Zn, or an element containing an oxide of these impurity elements is also included.

【0038】また、磁性層としては、上記の他、フェラ
イト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNなどからなる
非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の
磁性粒子が分散された構造のグラニュラーなどであって
もよい。また、磁性層は、内面型、垂直型のいずれの記
録形式であってもよい。
The magnetic layer has a structure in which magnetic particles such as Fe, Co, FeCo, and CoNiPt are dispersed in a nonmagnetic film made of ferrite, iron-rare earth, SiO2, BN, or the like. And the like. Further, the magnetic layer may have any of an inner surface type and a perpendicular type recording format.

【0039】本発明の磁気記録媒体における保護層は特
に制限されない。
The protective layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited.

【0040】保護層としては、例えば、Cr膜、Cr合
金膜、カーボン膜、ジルコニア膜、シリカ膜等が挙げら
れる。これらの保護膜は、下地層、磁性層等とともにイ
ンライン型スパッタ装置で連続して形成できる。また、
これらの保護膜は、単層としてもよく、あるいは、同一
又は異種の膜からなる多層構成としてもよい。
Examples of the protective layer include a Cr film, a Cr alloy film, a carbon film, a zirconia film, and a silica film. These protective films can be continuously formed with an underlayer, a magnetic layer, and the like by an in-line type sputtering apparatus. Also,
These protective films may have a single-layer structure or a multilayer structure composed of the same or different films.

【0041】本発明では、上記保護層上に、あるいは上
記保護層に替えて、他の保護層を形成してもよい。例え
ば、上記保護層に替えて、Cr膜の上にテトラアルコキ
シランをアルコール系の溶媒で希釈した中に、コロイダ
ルシリカ微粒子を分散して塗布し、さらに焼成して酸化
ケイ素(SiO2)膜を形成してもよい。
In the present invention, another protective layer may be formed on the above protective layer or in place of the above protective layer. For example, in place of the above protective layer, colloidal silica fine particles are dispersed and applied to a Cr film after diluting tetraalkoxylan with an alcohol-based solvent, and then baked to form a silicon oxide (SiO2) film. May be.

【0042】本発明の磁気記録媒体における潤滑層は特
に制限されない。
The lubricating layer in the magnetic recording medium of the present invention is not particularly limited.

【0043】潤滑層は、例えば、液体潤滑剤であるパー
フロロポリエーテル(PFPE)をフレオン系などの溶
媒で希釈し、媒体表面にディッピング法、スピンコート
法、スプレイ法によって塗布し、必要に応じ加熱処理を
行って形成する。
The lubricating layer is prepared, for example, by diluting perfluoropolyether (PFPE), which is a liquid lubricant, with a solvent such as freon, and applying it to the medium surface by dipping, spin coating, or spraying. It is formed by performing heat treatment.

【0044】[0044]

【実施例】以下、実施例に基づき本発明をさらに具体的
に説明する。
EXAMPLES The present invention will be described below more specifically based on examples.

【0045】実施例1 (1)荒ずり工程 まず、ダウンドロー法で形成したシートガラスから、研
削砥石で直径96mmφ、厚さ3mmの円盤状に切り出
したアルミノシリケイトガラスからなるガラス基板を、
比較的粗いダイヤモンド砥石で研削加工して、直径96
mmφ、厚さ1.5mmに成形した。この場合、ダウン
ドロー法の代わりに、溶融ガラスを、上型、下型、胴型
を用いてダイレクトプレスして、円盤状のガラス体を得
てもよい。又、フロート法でも良い。
Example 1 (1) Roughing Step First, a glass substrate made of aluminosilicate glass having a diameter of 96 mmφ and a thickness of 3 mm cut out from a sheet glass formed by a down-draw method with a grinding wheel was used.
Grinding with a relatively rough diamond wheel
It was molded to a diameter of 1.5 mm and a thickness of 1.5 mm. In this case, instead of the down-draw method, the molten glass may be directly pressed using an upper mold, a lower mold, and a body mold to obtain a disk-shaped glass body. Further, a float method may be used.

【0046】なお、アルミノシリケイトガラスとして
は、モル%表示で、SiO2を57〜74%、ZnO2を
0〜2.8%、Al2O3を3〜15%、LiO2を7〜
16%、Na2Oを4〜14%、を主成分として含有す
る化学強化用ガラス(例えば、モル%表示で、SiO2:
67.0%、ZnO2:1.0%、Al2O3:9.0%、
LiO2:12.0%、Na2O:10.0%を主成分と
して含有する化学強化用ガラス)を使用した。
As the aluminosilicate glass, in terms of mol%, SiO 2 is 57 to 74%, ZnO 2 is 0 to 2.8%, Al 2 O 3 is 3 to 15%, and LiO 2 is 7 to 74%.
Glass for chemical strengthening containing 16% and 4 to 14% of Na2O as main components (for example, SiO2:
67.0%, ZnO2: 1.0%, Al2O3: 9.0%,
Glass for chemical strengthening containing 12.0% of LiO2 and 10.0% of Na2O as main components was used.

【0047】次いで、上記砥石よりも粒度の細かいダイ
ヤモンド砥石で上記ガラス基板の両面を片面ずつ研削加
工した。このときの荷重は100kg程度とした。これ
により、ガラス基板両面の表面粗さをRmax(JIS
B 0601で測定)で10μm程度に仕上げた。
Next, both surfaces of the glass substrate were ground one by one with a diamond grindstone having a finer grain size than the grindstone. The load at this time was about 100 kg. As a result, the surface roughness of both surfaces of the glass substrate can be reduced to Rmax (JIS
B 0601) (about 10 μm).

【0048】次に、円筒状の砥石を用いてガラス基板の
中央部分に孔を開けるとともに、外周端面も研削して直
径を95mmφとした後、外周端面及び内周面に所定の
面取り加工を施した。このときのガラス基板端面の表面
粗さは、Rmaxで4μm程度であった。
Next, a hole is formed in the center of the glass substrate using a cylindrical grindstone, the outer peripheral end surface is also ground to a diameter of 95 mmφ, and then the outer peripheral end surface and the inner peripheral surface are subjected to predetermined chamfering. did. At this time, the surface roughness of the end face of the glass substrate was about 4 μm in Rmax.

【0049】(2)端面鏡面加工工程 次いで、ブラシ研磨により、ガラス基板を回転させなが
らガラス基板の端面の表面粗さを、Rmaxで1μm、
Raで0.3μm程度に研磨した。
(2) Mirror Finishing Process Next, the surface roughness of the end surface of the glass substrate is set to 1 μm by Rmax while rotating the glass substrate by brush polishing.
Polished to about 0.3 μm with Ra.

【0050】上記端面鏡面加工を終えたガラス基板の表
面を水洗浄した。
The surface of the glass substrate which had been subjected to the above-mentioned mirror polishing of the end face was washed with water.

【0051】(3)砂掛け(ラッピング)工程 次に、ガラス基板に砂掛け加工を施した。この砂掛け工
程は、寸法精度及び形状精度の向上を目的としている。
砂掛け加工は、ラッピング装置を用いて行い、砥粒の粒
度を#400、#1000と替えて2回行った。
(3) Sanding (Wrapping) Step Next, the glass substrate was sanded. This sanding step aims at improving dimensional accuracy and shape accuracy.
The sanding process was performed using a lapping device, and was performed twice while changing the grain size of the abrasive grains to # 400 and # 1000.

【0052】詳しくは、はじめに、粒度#400のアル
ミナ砥粒を用い、荷重Lを100kg程度に設定して、
内転ギアと外転ギアを回転させることによって、キャリ
ア内に収納したガラス基板の両面を面精度0〜1μm、
表面粗さ(Rmax)6μm程度にラッピングした。
More specifically, first, the load L was set to about 100 kg using alumina abrasive grains having a grain size of # 400.
By rotating the internal rotation gear and the external rotation gear, both sides of the glass substrate housed in the carrier are surface-accurate 0-1 μm,
Lapping was performed to a surface roughness (Rmax) of about 6 μm.

【0053】次いで、アルミナ砥粒の粒度を#1000
に替えてラッピングを行い、表面粗さ(Rmax)2μ
m程度とした。
Next, the particle size of the alumina abrasive grains was changed to # 1000.
Perform lapping instead of surface roughness (Rmax) 2μ
m.

【0054】上記砂掛け加工を終えたガラス基板を、中
性洗剤、水の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。
The glass substrate that had been subjected to the sanding process was washed by sequentially immersing it in a washing bath of a neutral detergent and water.

【0055】(4)第一研磨工程 次に、第一研磨工程を施した。この第一研磨工程は、上
述した砂掛け工程で残留したキズや歪みの除去を目的と
するもので、研磨装置を用いて行った。
(4) First Polishing Step Next, a first polishing step was performed. This first polishing step is intended to remove scratches and distortion remaining in the above sanding step, and was performed using a polishing apparatus.

【0056】詳しくは、ポリシャ(研磨粉)として硬質
ポリシャ(セリウムパッドMHC15:スピードファム
社製)を用い、以下の研磨条件で第一研磨工程を実施し
た。
More specifically, the first polishing step was carried out under the following polishing conditions using a hard polisher (cerium pad MHC15: manufactured by Speed Fam) as a polisher (polishing powder).

【0057】研磨液:酸化セリウム+水 荷重:300g/cm2(L=238kg) 研磨時間:15分 除去量:30μm 下定盤回転数:40 rpm 上定盤回転数:35 rpm 内ギア回転数:14 rpm 外ギア回転数:29 rpmPolishing liquid: cerium oxide + water Load: 300 g / cm 2 (L = 238 kg) Polishing time: 15 minutes Removal amount: 30 μm Lower platen rotation speed: 40 rpm Upper platen rotation speed: 35 rpm Gear rotation speed in the inner part: 14 rpm Outer gear rotation speed: 29 rpm

【0058】上記第一研磨工程を終えたガラス基板を、
中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコー
ル)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、
洗浄した。
After the first polishing step, the glass substrate is
Immerse in each washing tank of neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), IPA (steam drying) sequentially,
Washed.

【0059】(5)第二研磨工程 次に、第一研磨工程で使用した研磨装置を用い、ポリシ
ャを硬質ポリシャから軟質ポリシャ(ポリラックス:ス
ピードファム社製)に替えて、第二研磨工程を実施し
た。研磨条件は、荷重を100g/cm2、研磨時間を
5分、除去量を5μmとしたこと以外は、第一研磨工程
と同様とした。
(5) Second Polishing Step Next, using the polishing apparatus used in the first polishing step, the polisher was changed from a hard polisher to a soft polisher (Polyak: manufactured by Speed Fam), and the second polishing step was performed. Carried out. The polishing conditions were the same as in the first polishing step, except that the load was 100 g / cm 2 , the polishing time was 5 minutes, and the removal amount was 5 μm.

【0060】上記第二研磨工程以後の工程はクリーンブ
ースによって濾過した空気を循環させている雰囲気下で
行った。具体的には、空気洗浄度が、2〜4ミクロンの
大きさのパーティクルが800個/立方フィート・メー
トルの環境下で第二研磨工程後の洗浄、化学強化、化学
強化処理溶液の洗浄工程、ベーパー乾燥、基板のパッケ
ージの全ての工程を実施した。
The steps after the second polishing step were performed in an atmosphere in which air filtered by a clean booth was circulated. Specifically, in the environment where the air cleaning degree is 800 particles / cubic foot meter of particles having a size of 2 to 4 microns, cleaning after the second polishing step, chemical strengthening, chemical strengthening treatment solution cleaning step, All steps of vapor drying and substrate packaging were performed.

【0061】まず、第二研磨工程を終えたガラス基板
を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプ
ロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に
順次浸漬して、洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波を
印加した。
First, the glass substrate after the second polishing step is sequentially immersed in each of washing tanks of a neutral detergent, a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol) and IPA (steam drying). , Washed. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

【0062】(6)化学強化工程 次に、上記研削、研磨、洗浄工程を終えたガラス基板に
化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60
%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶
液を用意し、この化学強化溶液を400℃に加熱し、3
00℃に予熱された洗浄済みのガラス基板を約3時間浸
漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表面全体
が化学強化されるようにするため、複数のガラス基板が
端面で保持されるようにホルダーに収納した状態で行っ
た。
(6) Chemical Strengthening Step Next, the glass substrate after the above-mentioned grinding, polishing and cleaning steps was subjected to chemical strengthening. Chemical strengthening is performed using potassium nitrate (60
%) And sodium nitrate (40%) were prepared, and the solution was heated to 400 ° C.
The cleaning was performed by immersing the cleaned glass substrate preheated to 00 ° C. for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the immersion was performed in a state where a plurality of glass substrates were housed in a holder so as to be held at end faces.

【0063】このように、化学強化溶液に浸漬処理する
ことによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナト
リウムイオンは、化学強化溶液中のナトリウムイオン、
カリウムイオンにそれぞれ置換されガラス基板は強化さ
れる。
As described above, by performing the immersion treatment in the chemical strengthening solution, the lithium ions and the sodium ions on the surface layer of the glass substrate become the sodium ions and the sodium ions in the chemical strengthening solution.
The glass substrate is strengthened by being respectively substituted by potassium ions.

【0064】ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層
の厚さは、約100〜200μmであった。
The thickness of the compressive stress layer formed on the surface of the glass substrate was about 100 to 200 μm.

【0065】上記化学強化を終えたガラス基板を、20
℃の水槽に浸漬して急冷し約10分間維持した。この
後、ベーパー乾燥をし、表面検査をし、ケースに箱詰め
して製造を完了した。
The glass substrate that has been chemically strengthened is
It was immersed in a water bath at a temperature of 10 ° C. and rapidly cooled and maintained for about 10 minutes. Thereafter, the product was dried by vapor, surface inspection was performed, and the product was packed in a case to complete the production.

【0066】上記急冷を終えたガラス基板を、約40℃
に加熱した硫酸に浸漬し、超音波をかけながら洗浄を行
った。
The quenched glass substrate is heated to about 40 ° C.
The substrate was immersed in heated sulfuric acid and washed while applying ultrasonic waves.

【0067】上記の工程を経て得られたガラス基板の主
表面の表面粗さRaは0.5〜1nmであった。
The surface roughness Ra of the main surface of the glass substrate obtained through the above steps was 0.5 to 1 nm.

【0068】さらに、ガラス表面を精密検査したところ
サーマル・アスペリティの原因となるパーティクルは認
められなかった。具体的には、65ミリメートルの直径
のガラス基板を30分放置し、その後レーザ散乱型の表
面欠陥検査装置で検査したところ、1ミクロンのパーテ
ィクルは30個以下であった。ガラス基板上に5ミクロ
ン以上のパーティクルを除去した状態が好ましい。な
お、従来の方法では、微小鉄粉を中心に10〜100ミ
クロンの大きさのパーティクルが数百個あった。
Further, when the glass surface was subjected to a close inspection, no particles causing thermal asperity were found. Specifically, a glass substrate having a diameter of 65 mm was left for 30 minutes, and then inspected with a laser scattering type surface defect inspection apparatus. As a result, it was found that 30 or less 1 micron particles were present. It is preferable that particles of 5 μm or more are removed from the glass substrate. Incidentally, in the conventional method, there were several hundred particles having a size of 10 to 100 μm, mainly the fine iron powder.

【0069】(7)磁気ディスク製造工程 上述した工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板
の両面に、インライン式のスパッタリング装置を用い
て、AlNのスパッタによるテクスチャー層、Cr下地
層、CrMo下地層、CoPtCrTa磁性層、C保護
層を順次成膜して磁気ディスクを得た。
(7) Magnetic Disk Manufacturing Process A texture layer, a Cr underlayer, and a CrMo underlayer are formed on both surfaces of a glass substrate for a magnetic disk obtained through the above-described steps by using an in-line type sputtering apparatus by sputtering AlN. , A CoPtCrTa magnetic layer and a C protective layer were sequentially formed to obtain a magnetic disk.

【0070】得られた磁気ディスクについてグライドテ
ストを実施したところ、ヒット(ヘッドが磁気ディスク
表面の突起にかすること)やクラッシュ(ヘッドが磁気
ディスク表面の突起に衝突すること)は認められなかっ
た。また、サーマル・アスフェリティーの原因となるパ
ーティクルによって、磁性層等の膜に欠陥が発生してい
ないことも確認できた。このように、本実施例において
は高い歩留まりで磁気でディスクを製造することができ
た。
A glide test was performed on the obtained magnetic disk. As a result, no hit (the head touches a projection on the magnetic disk surface) or crash (the head collides with the projection on the magnetic disk surface) was not recognized. . In addition, it was confirmed that no defect was generated in the film such as the magnetic layer due to the particles causing the thermal asperity. As described above, in this example, a disk could be manufactured magnetically with a high yield.

【0071】また、グライドテストを終えた本実施例の
磁気ディスクについて、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を
行ったが、複数のサンプル(500枚)の全数について
サーマル・アスフェリティーによる再生の誤動作は認め
られなかった。
A reproduction test was performed on the magnetic disk of the present embodiment after the glide test with a magnetoresistive head. However, a malfunction of reproduction due to thermal asperity was observed for all of a plurality of samples (500 sheets). I was not able to admit.

【0072】実施例2 実施例1で得られた磁気ディスク用ガラス基板の両面
に、Al(膜厚50オングストローム)/Cr(100
0オングストローム)/CrMo(100オングストロ
ーム)からなる下地層、CoPtCr(120オングス
トローム)/CrMo(50オングストローム)/Co
PtCr(120オングストローム)からなる磁性層、
Cr(50オングストローム)保護層をインライン型ス
パッタ装置で形成した。
Example 2 On both sides of the glass substrate for magnetic disk obtained in Example 1, Al (film thickness 50 Å) / Cr (100
0 Å / CrMo (100 Å), CoPtCr (120 Å) / CrMo (50 Å) / Co
A magnetic layer made of PtCr (120 Å),
A Cr (50 Å) protective layer was formed by an in-line type sputtering apparatus.

【0073】上記基板を、シリカ微粒子(粒経100オ
ングストローム)を分散した有機ケイ素化合物溶液(水
とIPAとテトラエトキシシランとの混合液)に浸し、
焼成することによってSiO2からなるテクスチャー機
能を持った保護層を形成し、さらに、この保護層上をパ
ーフロロポリエーテルからなる潤滑剤でディップ処理し
て潤滑層を形成して、MRヘッド用磁気ディスクを得
た。
The above substrate is immersed in an organic silicon compound solution (a mixed solution of water, IPA and tetraethoxysilane) in which silica fine particles (particle size: 100 Å) are dispersed,
A protective layer having a texture function of SiO2 is formed by firing, and a lubricating layer is formed on the protective layer by dipping with a lubricant of perfluoropolyether to form a magnetic disk for an MR head. I got

【0074】得られた磁気ディスクについてグライドテ
ストを実施したところ、ヒットやクラッシュは認められ
なかった。また、磁性層等の膜に欠陥が発生していない
ことも確認できた。さらに、磁気抵抗型ヘッドによる再
生試験の結果、サーマル・アスフェリティーによる再生
の誤動作は認められなかった。また、良品の磁気ディス
クを磁気ディスクドライバーに装着した後の使用中に発
生する後発サーマル・アスフェリティーも発生しなかっ
た。
When a glide test was conducted on the obtained magnetic disk, no hit or crash was recognized. It was also confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer. Furthermore, as a result of a reproduction test using a magnetoresistive head, no reproduction malfunction due to thermal asperity was recognized. In addition, there was no subsequent thermal asperity generated during use after a good magnetic disk was mounted on the magnetic disk driver.

【0075】実施例3 下地層をAl/Cr/Crとし、磁性層をCoNiCr
Taとしたこと以外は実施例1及び2と同様にして薄膜
ヘッド用磁気ディスクを得た。
Example 3 The underlayer was made of Al / Cr / Cr, and the magnetic layer was made of CoNiCr.
A magnetic disk for a thin film head was obtained in the same manner as in Examples 1 and 2, except that Ta was used.

【0076】上記磁気ディスクについて上記実施例と同
様のことが確認された。
It was confirmed that the above magnetic disk was the same as in the above embodiment.

【0077】以上好ましい実施例を挙げて本発明を説明
したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるもの
ではない。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, the present invention is not necessarily limited to the above embodiments.

【0078】例えば、ガラス基板の種類や磁性層の種類
は実施例のものに限定されない。
For example, the type of the glass substrate and the type of the magnetic layer are not limited to those of the embodiment.

【0079】[0079]

【発明の効果】以上説明したように本発明では、最終研
磨以後のガラス基板の製造を清浄な雰囲気下で行ったの
で、ヘッドクラッシュや、サーマル・アスフェリティー
の原因となるパーティクルが発生することがなく、サー
マル・アスフェリティーによる再生機能の低下を防止す
ることができる。
As described above, according to the present invention, since the production of the glass substrate after the final polishing is performed in a clean atmosphere, particles which cause head crash and thermal asperity are generated. Therefore, it is possible to prevent a decrease in the reproduction function due to thermal asperity.

【0080】また、サーマル・アスフェリティーの原因
となるパーティクルに起因する不良を回避でき、より高
品質の磁気記録媒体が高歩留まりで得られる。
Further, it is possible to avoid a defect caused by particles which cause thermal asperity, and to obtain a higher quality magnetic recording medium with a higher yield.

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ガラス基板の主表面を研磨する工程と、
ガラス基板を化学強化処理液に接触させることにより、
ガラス基板の中に含まれる一部のイオンを、そのイオン
より大きなイオン径の処理液中のイオンに置換すること
によりガラス基板を強化する化学強化工程とを含む情報
記録媒体用ガラス基板の製造方法において、 最終研磨工程以後の洗浄工程、前記化学強化工程、化学
強化処理液の洗浄工程、乾燥工程、検査工程、及び情報
記録媒体用ガラス基板の包装あるいは容器への収納工程
のなかの少なくとも一工程を、 ガラス基板にパーティクルが付着しないように、濾過さ
れた清浄な空気を循環した雰囲気下で実施することを特
徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
A step of polishing a main surface of a glass substrate;
By contacting the glass substrate with the chemical strengthening treatment solution,
A chemical strengthening step of strengthening the glass substrate by replacing some of the ions contained in the glass substrate with ions in a processing solution having a larger ion diameter than the ions. In the above, at least one of a cleaning step after the final polishing step, the chemical strengthening step, a cleaning step of the chemical strengthening treatment liquid, a drying step, an inspection step, and a packaging step of packaging the information recording medium glass substrate or a container. Is carried out in an atmosphere in which filtered clean air is circulated so that particles do not adhere to the glass substrate.
【請求項2】 ガラス基板の主表面を研磨する工程と、
ガラス基板を化学強化処理液に接触させることにより、
ガラス基板の中に含まれる一部のイオンを、そのイオン
より大きなイオン径の処理液中のイオンに置換すること
によりガラス基板を強化する化学強化工程とを含む情報
記録媒体用ガラス基板の製造方法において、 最終研磨工程以後の洗浄工程、前記化学強化工程、化学
強化処理液の洗浄工程、乾燥工程、検査工程、及び情報
記録媒体用ガラス基板の包装あるいは容器への収納工程
のなかの少なくとも一工程を、 0.3〜100ミクロンの大きさのパーティクルが10
00個/立方フィート・メートル以下の清浄度の環境下
で行うことを特徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製
造方法。
2. A step of polishing a main surface of a glass substrate,
By contacting the glass substrate with the chemical strengthening treatment solution,
A chemical strengthening step of strengthening the glass substrate by replacing some of the ions contained in the glass substrate with ions in a processing solution having a larger ion diameter than the ions. In the above, at least one of a cleaning step after the final polishing step, the chemical strengthening step, a cleaning step of the chemical strengthening treatment liquid, a drying step, an inspection step, and a packaging step of packaging the information recording medium glass substrate or a container. And particles having a size of 0.3 to 100 microns are 10
A method for producing a glass substrate for an information recording medium, wherein the method is performed in an environment having a cleanness of not more than 00 pieces / cubic foot-meter.
【請求項3】 清浄な空気の清浄度が、0.3から10
0ミクロンの大きさのパーティクルが1000個/立方
フィート・メートル以下の清浄度であることを特徴とす
る請求項1記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造法。
3. The cleanness of clean air is from 0.3 to 10
2. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the cleanliness of the particles having a size of 0 micron is 1000 particles / cubic foot / meter or less.
【請求項4】 パーティクルの清浄度が、100個/立
方フィート・メートル以下であることを特徴とする請求
項1又は2記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法。
4. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the cleanliness of the particles is 100 particles / cubic foot-meter or less.
【請求項5】 パーティクルの清浄度が、50個/立方
フィート・メートル以下であることを特徴とする請求項
1又は2記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
5. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the cleanliness of the particles is 50 particles / cubic foot-meter or less.
【請求項6】 請求項1〜5記載のいずれかに記載の情
報記録媒体用ガラス基板の製造方法において規定された
パーティクルの清浄度の環境下で、最終研磨工程後の洗
浄とガラス基板の化学強化を行うことを特徴とする情報
記録媒体の製造方法。
6. The cleaning after the final polishing step and the chemical treatment of the glass substrate under the environment of particle cleanliness specified in the method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1. A method for manufacturing an information recording medium, comprising strengthening.
【請求項7】 情報記録媒体用ガラス基板が磁気ディス
ク用ガラス基板であることを特徴とする請求項1〜6記
載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
7. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the glass substrate for an information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk.
【請求項8】 磁気ディスク用ガラス基板が、磁気抵抗
型ヘッドで再生される磁気ディスクに使用されるガラス
基板であることを特徴とする請求項7記載の情報記録媒
体用ガラス基板の製造方法。
8. The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 7, wherein the glass substrate for a magnetic disk is a glass substrate used for a magnetic disk reproduced by a magnetoresistive head.
【請求項9】 請求項1〜8記載の情報記録媒体用ガラ
ス基板の製造方法によって得られたガラス基板上に少な
くとも記録層を形成する情報記録媒体の製造方法。
9. A method for manufacturing an information recording medium, comprising forming at least a recording layer on a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1.
【請求項10】 記録層が磁性層であることを特徴とす
る請求項9記載の情報記録媒体の製造方法。
10. The method according to claim 9, wherein the recording layer is a magnetic layer.
JP35754396A 1996-12-30 1996-12-30 Production of glass substrate for information recording medium, and production of information recording medium Pending JPH10194785A (en)

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