JPH0241058B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0241058B2
JPH0241058B2 JP57089844A JP8984482A JPH0241058B2 JP H0241058 B2 JPH0241058 B2 JP H0241058B2 JP 57089844 A JP57089844 A JP 57089844A JP 8984482 A JP8984482 A JP 8984482A JP H0241058 B2 JPH0241058 B2 JP H0241058B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
write
data
read
partial
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57089844A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS58208996A (en
Inventor
Hidehiko Kobayashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP57089844A priority Critical patent/JPS58208996A/en
Publication of JPS58208996A publication Critical patent/JPS58208996A/en
Publication of JPH0241058B2 publication Critical patent/JPH0241058B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、コンピユータ等情報処理装置に関
し、特に、記憶装置の高速連続読出し/書込み動
作方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to information processing devices such as computers, and particularly to a high-speed continuous read/write operation method for a storage device.

〔従来技術〕[Prior art]

近年、半導体集積回路技術の急速な発展に伴な
い、記憶装置に使用される半導体メモリICは、
ますます大容量化される傾向にある。このような
大容量メモリICを記憶媒体とする記憶装置は、
高速に読出し/書込み動作ができることが要求さ
れるだけでなく、高速にデータを転送することも
要求されている。
In recent years, with the rapid development of semiconductor integrated circuit technology, semiconductor memory ICs used in storage devices have
There is a trend toward increasing capacity. A storage device using such a large-capacity memory IC as a storage medium is
Not only is it required to be able to perform read/write operations at high speed, but it is also required to transfer data at high speed.

従来、高速にデータの読出し又は書込みを行な
う方法として、異なるメモリIC群を並行して読
み書き動作させるインタリービングが知られてい
る。しかしながら、メモリIC単体は、入出力ピ
ン数を減らすために、例えば、64kワード×1ビ
ツト、256kワード×1ビツト等、ワード方向に
大容量化される傾向が強いために、複数個のメモ
リIC群に分割してインターリービングを行なう
と、メモリ装置の容量が大きくなる欠点があつ
た。
Conventionally, interleaving, in which different memory IC groups perform read/write operations in parallel, has been known as a method for reading or writing data at high speed. However, in order to reduce the number of input/output pins, single memory ICs tend to have larger capacities in the word direction, for example, 64k words x 1 bit or 256k words x 1 bit, so multiple memory ICs When interleaving is performed by dividing into groups, there is a drawback that the capacity of the memory device increases.

ところで、このような大規模メモリICとして、
入力ピン数を減らすために、2つのタイミング入
力とともに、アドレス信号を2回に分けて受信す
る、アドレス2回転送メモリICがよく使われて
いる。そして、この種メモリICでは、連続アド
レスに対して高速に読み書きできるニブルモード
を採用したものがある。
By the way, as such a large-scale memory IC,
To reduce the number of input pins, two-address transfer memory ICs are often used, which receive two timing inputs and an address signal twice. Some memory ICs of this type employ a nibble mode that allows for high-speed reading and writing of consecutive addresses.

このニブルモードを利用すると、同一メモリ
IC内の連続アドレスに対して高速に読出し書込
みが行なえるため、高速データ転送が可能であ
る。しかしながら、誤り訂正を行なう記憶装置で
は、部分書込み動作(データ幅のうちの一部に書
込みを行なう動作)を含む連続アドレスの書込み
読出し動作は、当該アドレスのデータを読出した
後、読出しデータの誤りチエツク訂正と共に、部
分書込みデータと読出しデータの一部である再書
込みデータとから誤り訂正符号を発生させて部分
書込みを行なうため、部分書込みサイクルタイム
が増加する欠点があつた 〔発明の目的〕 本発明の目的は、誤り訂正を行なう記憶装置に
おいて、ニブルモードを有するメモリICを用い
て部分書込みを含む連続アドレスに対し高速に読
出し書込みを行なう方式を提供することにある。
Using this nibble mode, you can use the same memory
High-speed data transfer is possible because reading and writing can be performed at high speed to consecutive addresses within the IC. However, in a storage device that performs error correction, a write/read operation of consecutive addresses including a partial write operation (an operation of writing to a part of the data width) is performed after reading the data at the address, and then In addition to check correction, partial writing is performed by generating an error correction code from partial write data and rewrite data that is a part of read data, so there is a drawback that the partial write cycle time increases. [Object of the Invention] An object of the invention is to provide a system for high-speed reading and writing of continuous addresses, including partial writing, using a memory IC having a nibble mode in a storage device that performs error correction.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

本発明は、第1及び第2のクロツクに同期して
第1及び第2のアドレス信号を受け、第2のアド
レス信号の数ビツトに対して第2のクロツクによ
り順に読出し又は書込み動作を行なうメモリ素子
群からなる記憶部と、誤り訂正符号発生機能及び
誤り訂正機能を有するデータ制御部と、前記記憶
部に第1及び第2のクロツク、読出し又は書込み
制御信号及びアドレス信号を送出し、前記データ
制御部に誤り訂正符号発生及び誤り訂正を制御す
る信号を送出するメモリ制御部とを含み、前記デ
ータ制御部は、前記記憶部へ書込むデータを連続
動作数だけ保持する保持手段と、前記記憶部から
読出されたデータを連続動作数だけ保持する保持
手段とを有し、両保持手段の出力をバイト毎に選
択し、誤り訂正符号を作成するものであり、前記
メモリ制御部は、部分書込みを含む第2のアドレ
ス信号で指定したアドレスから連続したアドレス
への連続動作を行なう際に、前記記憶部から部分
書込みアドレスの情報を読出して前記データ制御
部への入力させた後に、前記第2のクロツクを前
記部分書込みアドレスに戻るまで入力し、その間
読出し、書込み、あるいはダミー動作を行なつ
て、再び当該部分書込みアドレスに戻つたときに
その部分書込みアドレスに前記データ制御部から
出力される情報を書込むことを特徴とする、誤り
訂正を行なう記憶装置の部分書込みを含む連続ア
ドレスへの連続動作方式である。
The present invention provides a memory which receives first and second address signals in synchronization with first and second clocks and sequentially performs read or write operations on several bits of the second address signal using the second clock. a storage section consisting of a group of elements; a data control section having an error correction code generation function and an error correction function; a memory control section that sends a signal for controlling error correction code generation and error correction to the control section; and a holding means for holding the data read from the memory unit for the number of consecutive operations, and selects the output of both holding means for each byte to create an error correction code, and the memory control unit is configured to perform partial writing. When performing a continuous operation from an address specified by a second address signal including input the clock until it returns to the partial write address, perform a read, write, or dummy operation during that time, and when it returns to the partial write address again, the information is output from the data control unit to the partial write address. This is a continuous operation method for continuous addresses including partial writing of a memory device that performs error correction.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

次に本発明の実施例について図面を参照して説
明する。第1図を参照すると、本発明の一実施例
は、メモリ制御部1と、記憶部2と、データ制御
部3とを含む。メモリ制御部1は、スタート信号
4、読出し/書込み指定信号5、アドレス信号6
を入力とし、アドレス信号9、読出し/書込み制
御信号10、データ制御信号11を出力とするも
のである。データ制御部3は、書込みデータ7
と、データ制御信号11を入力とし、読出しデー
タ8を出力とし、データ12を入出力とするもの
である。記憶部2は、アドレス信号9、読出し/
書込み制御信号10を入力とし、データ12を入
出力とするものである。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, one embodiment of the present invention includes a memory control section 1, a storage section 2, and a data control section 3. The memory control unit 1 includes a start signal 4, a read/write designation signal 5, and an address signal 6.
is an input, and an address signal 9, a read/write control signal 10, and a data control signal 11 are output. The data control unit 3 writes the write data 7
The data control signal 11 is input, the read data 8 is output, and the data 12 is input/output. The storage unit 2 receives an address signal 9, a read/write
The write control signal 10 is input, and data 12 is input/output.

ここで、データ制御部3と記憶部2との間でや
りとりされるデータ12は、情報ビツト及びそれ
に付加された誤り訂正用チエツクビツトを含む誤
り訂正符号化されたデータである。データ制御部
3は、書込みデータを7、データ制御信号11に
より第1の保持回路(図示せず)に取り込んだ
後、誤り訂正用チエツクビツトを作成し、これを
書込みデータに付加して、データ12として出力
する。また、データ制御部3は、情報ビツト及び
チエツクビツトからなるデータ12を、データ制
御信号11により第2の保持回路(図示せず)に
取り込んだ後、その誤りを検出し、訂正し、第3
の保持回路(図示せず)に、データ制御信号11
により取り込み、読出しデータ8として出力す
る。さらに、データ制御部3は、第1の保持回路
の出力と、第3の保持回路の出力とをデータ制御
信号11の指定によりバイト毎に選択し、誤り訂
正用チエツクビツトを作成し、これを部分書込み
データとして書込みデータに付加して、データ1
2として出力する。なお、第1及び第3の保持回
路は連続部分書込み動作数だけの保持回路の組を
有している。また、記憶部2は、データ幅がデー
タ12と等しく、第1及び第2のクロツクに同期
した第1のアドレス及び第2のアドレス信号によ
りアドレスが指定され、かつ第2のクロツクを与
えることにより第2のアドレス信号の数ビツトに
対し順に読出しあるいは書込みの可能なメモリ素
子群から構成されている。
Here, the data 12 exchanged between the data control section 3 and the storage section 2 is error correction encoded data including information bits and error correction check bits added thereto. The data control unit 3 takes in the write data 7 and a first holding circuit (not shown) using the data control signal 11, creates an error correction check bit, adds this to the write data, and then reads the data 12. Output as . Further, the data control section 3 takes in data 12 consisting of information bits and check bits into a second holding circuit (not shown) using a data control signal 11, detects an error in the data, corrects it, and stores it in a third holding circuit.
A data control signal 11 is supplied to a holding circuit (not shown) of
, and outputs it as read data 8. Furthermore, the data control unit 3 selects the output of the first holding circuit and the output of the third holding circuit for each byte according to the specification of the data control signal 11, creates a check bit for error correction, and partially Data 1 is added to the write data as write data.
Output as 2. Note that the first and third holding circuits have as many sets of holding circuits as the number of consecutive partial write operations. In addition, the storage unit 2 has a data width equal to the data 12, is addressed by a first address signal and a second address signal synchronized with the first and second clocks, and is configured by applying the second clock. It is composed of a group of memory elements that can sequentially read or write several bits of the second address signal.

次に、本実施例の動作について説明する。 Next, the operation of this embodiment will be explained.

先ず、読出し動作の場合には、メモリ制御部1
に、スタート信号4と共に、アドレス信号6、読
出し指定された読出し/書込み指定信号5が与え
られる。この時、メモリ制御部1から2回転送に
よりアドレス信号9が出力され、これに同期して
第1、第2のクロツク及び読出しを指定した読出
し/書込み制御信号10が出力される。この時、
記憶部2から、アドレス信号9により指定された
アドレスからデータ12が読出される。データ制
御部3は、このデータ12を、データ制御信号1
1に応答して、第2の保持回路に保持した後、誤
りがあれば訂正して読出しデータ8として出力す
る。
First, in the case of a read operation, the memory control unit 1
In addition to the start signal 4, an address signal 6 and a read/write designation signal 5 specifying reading are applied. At this time, the address signal 9 is outputted from the memory control unit 1 by two transfers, and in synchronization with this, the first and second clocks and a read/write control signal 10 specifying reading are outputted. At this time,
Data 12 is read from the storage section 2 from the address specified by the address signal 9. The data control section 3 converts this data 12 into a data control signal 1.
1, the data is held in the second holding circuit, and if there is an error, it is corrected and output as read data 8.

次に、全書込み動作の場合には、メモリ制御部
1に、スタート信号4と共に、アドレス信号6と
全書込み状態を指定した読出し/書込み指定信号
5とが与えられる。この時、メモリ制御部1から
データ制御信号11が出力される。データ制御部
3は、このデータ制御信号11を受けると、第1
の保持回路に書込みデー7を保持した後、書込み
データ7から誤り訂正用チエツクビツトを作成し
て、これを情報ビツトと共にデータ12として出
力する。記憶部2には、第1及び第2のクロツク
と共に書込みを指定する読出し/書込み制御信号
10と、これらクロツクに同期して2回転送によ
りアドレス信号9が与えられて、記憶部2の当該
アドレスへデータ12が書込まれる。
Next, in the case of a full write operation, the memory control unit 1 is supplied with a start signal 4, an address signal 6, and a read/write designation signal 5 specifying the full write state. At this time, the data control signal 11 is output from the memory control section 1. When the data control section 3 receives this data control signal 11, the first
After the write data 7 is held in the holding circuit, an error correction check bit is created from the write data 7, and this is output as data 12 together with the information bits. The storage unit 2 is given a read/write control signal 10 specifying writing together with the first and second clocks, and an address signal 9 transferred twice in synchronization with these clocks, and the corresponding address in the storage unit 2 is given. Data 12 is written to.

さらに、部分書込み動作の場合には、メモリ制
御部1に、スタート信号4及びアドレス信号6と
共に部分書込みバイトを指定する読出し/書込み
指定信号5が与えられる。この時、メモリ制御部
1からデータ制御信号11が出力される。このデ
ータ制御信号11により書込みデータ7がデータ
制御部3へ入力された後、第1の保持回路に保持
される。一方、メモリ制御部1からは、第1のク
ロツク、第2のクロツク及び読出しを指定する読
出し/書込み制御信号10とこれらクロツクに同
期した2回転送されたアドレス信号9が出力され
る。これらの信号により、記憶部2の当該アドレ
スからデータ12が読出される。データ制御部3
は、データ制御信号11に応答して、第2の保持
回路にデータ12を保持した後、データ12に誤
りがあるかどうか検査して誤りがあれば訂正し、
第3の保持回路に保持する。更に、データ制御部
3は、このデータとすでに入力されているデータ
7とから書込み用データ12を作成して記憶部2
に与える。記憶部2では、この書込み用データ1
2が、先にアドレス信号9により指定されたアド
レスへ、書込み指定された読出し/書込み制御信
号10により書込まれる。このようにして、部分
書込みが行なわれる。
Further, in the case of a partial write operation, a read/write designation signal 5 specifying a partial write byte is provided to the memory control unit 1 along with a start signal 4 and an address signal 6. At this time, the data control signal 11 is output from the memory control section 1. After the write data 7 is input to the data control section 3 by this data control signal 11, it is held in the first holding circuit. On the other hand, the memory control section 1 outputs a first clock, a second clock, a read/write control signal 10 specifying reading, and an address signal 9 transferred twice in synchronization with these clocks. Data 12 is read from the corresponding address in storage section 2 by these signals. Data control section 3
In response to the data control signal 11, after holding the data 12 in the second holding circuit, checking whether there is an error in the data 12 and correcting it if there is an error,
It is held in the third holding circuit. Furthermore, the data control unit 3 creates write data 12 from this data and the data 7 that has already been input, and stores it in the storage unit 2.
give to In the storage unit 2, this write data 1
2 is written to the address previously designated by the address signal 9 by the read/write control signal 10 designated for writing. In this way, partial writing is performed.

ところで、記憶部2に使用されているメモリ素
子群は第2のアドレス信号の数ビツトが第2のク
ロツクを入力することにより高速に連続的に変る
ことが特徴である。従つて、連続アドレスへの読
出しの場合には、読出し/書込み指定信号5によ
りあらかじめ読出すアドレス数を指定すれば高速
連続読出しが可能となり、又連続アドレスへの全
書込みの場合には、読出し/書込み指定信号5に
よりあらかじめ書込むアドレス数を指定すると共
に、書込みデータ7を順次与えてやれば、高速連
続全書込みが可能である。
Incidentally, the memory element group used in the storage section 2 is characterized in that several bits of the second address signal change continuously at high speed by inputting the second clock. Therefore, in the case of reading to consecutive addresses, high-speed continuous reading is possible by specifying the number of addresses to be read in advance using the read/write designation signal 5, and in the case of writing to all consecutive addresses, read/write is possible. If the number of addresses to be written is specified in advance by the write designation signal 5 and the write data 7 is sequentially applied, high-speed continuous full writing is possible.

ところが、部分書込み動作を含む書込み又は読
出し動作の場合には、部分書込み動作は、先に説
明したように、一度読出したデータの誤り訂正を
行ない、この読出しデータの一部と部分書込み用
データとから情報ビツトとその誤り訂正用チエツ
クビツトとを作成してから再書込みを行なうこと
により、行なわれる。従つて、サイクルタイムが
長くなり、高速に連続アドレスへの動作ができな
い。
However, in the case of a write or read operation that includes a partial write operation, as explained above, the partial write operation corrects errors in the data that has been read once, and combines part of this read data with the partial write data. This is done by creating information bits and error correction check bits from the data and then rewriting. Therefore, the cycle time becomes long and operations to consecutive addresses cannot be performed at high speed.

そのため、本発明の実施例では、部分書込みを
含む連続アドレスへの高速動作を行なうために、
部分書込みのための読出し動作後、第2のクロツ
クにより一度他のアドレスへ順に書込み、読出し
あるいはダミー動作を行なつて、再び元のアドレ
スへ戻つてきたとき書込み動作を行なつて部分書
込みを行なつている。
Therefore, in the embodiment of the present invention, in order to perform high-speed operation to consecutive addresses including partial writing,
After a read operation for partial writing, write once to another address in sequence using the second clock, perform a read or dummy operation, and when the address returns to the original address again, perform a write operation to perform partial writing. It's summery.

なお、ダミー動作とは、メモリ制御部1から第
1のクロツクが出力されたままで第2のクロツク
と読出し指定された制御信号10が出力される
が、データ制御信号11は出力されず、従つて、
データ制御部3は動作せず、記憶部2へ与えられ
るアドレスのみ更新されることをいう。
Note that the dummy operation means that the first clock remains output from the memory control unit 1 and the second clock and the control signal 10 designated for reading are output, but the data control signal 11 is not output. ,
This means that the data control section 3 does not operate and only the address given to the storage section 2 is updated.

第2図〜第4図は、いずれもメモリ素子群が第
2のクロツクにより第2のアドレスの最下
位2ビツトに対しニブルモードが可能な動作例で
ある。第2図は、部分書込み、部分書込みの連続
アドレスへの動作例であり、第3図は、部分書込
み、全書込み、部分書込みの連続アドレスへの動
作例であり、第4図は、部分書込み、全書込み、
全書込み、部分書込みの連続アドレスへの動作例
である。第2図〜第4図のいずれの場合にも、ス
タート信号4と共に動作開始アドレスがアドレス
信号6により与えられ、これら動作モードは読出
し/書込み指定信号5により与えられ、書込みデ
ータは書込みデータ7より順に与えられるものと
する。
2 to 4 are operation examples in which the memory element group can be operated in the nibble mode for the lowest two bits of the second address by the second clock. Figure 2 shows an example of partial writing and partial writing to consecutive addresses. Figure 3 is an example of partial writing, full writing, and partial writing to consecutive addresses. Figure 4 shows partial writing. , all writes,
This is an example of full write and partial write operations to consecutive addresses. In any of the cases shown in FIGS. 2 to 4, the start signal 4 and the operation start address are given by the address signal 6, these operation modes are given by the read/write designation signal 5, and the write data is given by the write data 7. shall be given in order.

先ず、第2図を参照すると、第1のクロツク
RAS及び第2のクロツクに同期して第1及
び第2のアドレスAが与えられ、読出し書込み制
御はタイミングにより行なわれ、第2のクロ
ツクにより、アドレスA0の読出し、アドレ
ス(A0+1)の読出し、アドレス(A0+2)、
(A0+3)のダミー読出し、アドレスA0の書込
み、アドレス(A0+1)の書込み動作により、
アドレスA0及び(A0+1)への部分書込みが行
なわれる。D0は記憶部よりの出力データ、DI
記憶部への入力データである。
First, referring to FIG.
The first and second addresses A are given in synchronization with RAS and the second clock, and read/write control is performed by timing, and the second clock reads address A 0 and addresses (A 0 +1) Read, address (A 0 +2),
By dummy read operation of (A 0 +3), write of address A 0 , and write operation of address (A 0 +1),
Partial writing to addresses A 0 and (A 0 +1) is performed. D 0 is output data from the storage section, and D I is input data to the storage section.

即ち、第2図に示されるように、 A0番地:部分書込み A0+1番地:部分書込み の書込み動作が行われる場合、A0、A0+1番地
ともに部分書込みなので、一度読出した後に書込
みが行われ、A0+2,A0+3番地がダミー動作
を行つているのは、ニブルモードでは、アドレス
の指定が第2のクロツクにより、A0→A0
1→A0+2→A0+3→A0の繰り返しとなるの
で、もとのアドレスA0へ戻すためである。
That is, as shown in FIG. 2, when a write operation is performed such as address A 0 : partial write address A 0 +1 address : partial write, both addresses A 0 and A 0 +1 are partial writes, so writing is performed after reading once. The reason why addresses A 0 +2 and A 0 +3 perform dummy operations is that in nibble mode, the address specification is performed by the second clock, and the addresses A 0 →A 0 +
This is to return to the original address A 0 because 1→A 0 +2→A 0 +3→A 0 is repeated.

なお、ダミー動作とは、前にのべたように、第
1のクロツクが入り放しで、第2のクロツ
クが入り、読出し書込み制御は読出し状
態で、さらにデータ制御信11が与えられない場
合で、アドレスのみ更新される場合をいう。
As mentioned above, the dummy operation is a case where the first clock is kept on, the second clock is on, the read/write control is in the read state, and the data control signal 11 is not applied. This refers to the case where only the address is updated.

ここで、データ制御部3では、書込みデータ用
の第1の保持回路及び読出しデータ用の第3の保
持回路を連続動作の数だけ持つていて、しかも部
分書込み動作は読出し動作と書込み動作に分けて
行うので、データ制御部3でのデータの衝突、競
合は起こらない。
Here, the data control unit 3 has a first holding circuit for write data and a third holding circuit for read data for the number of consecutive operations, and furthermore, the partial write operation is divided into a read operation and a write operation. Therefore, no data collision or contention occurs in the data control unit 3.

第3図の場合も第2図と同様にして、アドレス
A0の読出し、アドレス(A0+1)の書込み、ア
ドレス(A0+2)の読出し、アドレス(A0+3)
のダミー読出し、アドレスA0の書込み、アドレ
ス(A0+1)のダミー読出し、アドレス(A0
2)の書込みにより、アドレスA0への部分書込
み、アドレス(A0+1)への全書込み、アドレ
ス(A0+2)への部分書込みが行なわれる。
In the case of Figure 3, the address is
Read A 0 , write address (A 0 +1), read address (A 0 +2), address (A 0 +3)
Dummy read of address A 0, write of address A 0 , dummy read of address (A 0 + 1), address (A 0 +
By writing 2), partial writing to address A 0 , full writing to address (A 0 +1), and partial writing to address (A 0 +2) are performed.

即ち、第3図に示されるように、 A0番地:部分書込み A0+1番地:全書込み A0+2番地:部分書込み の書込みが行われる場合、A0番地への書込みは
部分書込みなので、2回目にA0番地が指定され
たとき行われ、A0+1番地への書込みは、はじ
めのA0+1番地の指定のとき、完結し、A0+2
番地への書込みは部分書込みなので、2回目に
A0+2番地が指定されたとき行われ、A0+3番
地及びA0+1番地へのダミー動作は、再びA0
地及びA0+2番地に書込みが必要なために行な
われる。即ちアドレスはニブルモードでは、A0
→A0+1→A0+2→A0+3→A0の巡回をするた
めにこのような動作が入つている。更に、第2図
の説明と同様に、データ制御部3には第1及び第
3の保持回路が連続動作数だけ設けられていて、
データの競合、衝突は起こらない。
That is, as shown in FIG. 3, when a write is performed at address A0 : partial write A0 +1 address: full write A0 +2 address: partial write, writing to address A0 is a partial write, so 2 Writing to address A 0 +1 is completed when address A 0 +1 is specified for the first time, and writing to address A 0 +2 is completed when address A 0 +1 is specified for the first time.
Writing to an address is a partial write, so the second time
This is performed when address A 0 +2 is designated, and the dummy operation to addresses A 0 +3 and A 0 +1 is performed again because it is necessary to write to addresses A 0 and A 0 +2. That is, the address is A 0 in nibble mode.
This operation is included to perform the cycle →A 0 +1 →A 0 +2 →A 0 +3 →A 0 . Furthermore, as described in FIG. 2, the data control section 3 is provided with first and third holding circuits corresponding to the number of consecutive operations.
No data conflicts or collisions occur.

第4図の場合も第2図及び第3図と同様にし
て、アドレスA0の読出し、アドレス(A0+1)
の書込み、アドレス(A0+2)の書込み、アド
レス(A0+3)の読出し、アドレスA0の書込み、
アドレス(A0+1),(A0+2)のダミー読出し、
アドレス(A0+3)の書込みにより、アドレス
A0への部分書込み、アドレス(A0+1)への全
書込み、アドレス信号(A0+2)への全書込み、
アドレス(A0+3)への部分書込みが行なわれ
る。
In the case of FIG. 4, read address A 0 and read address (A 0 +1) in the same way as FIGS. 2 and 3.
write, write address (A 0 +2), read address (A 0 +3), write address A 0 ,
Dummy reading of addresses (A 0 +1), (A 0 +2),
By writing the address (A 0 + 3), the address
Partial write to A 0 , full write to address (A 0 +1), full write to address signal (A 0 +2),
Partial writing to address (A 0 +3) is performed.

即ち、第4図に示されるように、 A0番地:部分書込み A0+1番地:全書込み A0+2番地:全書込み A0+3番地:部分書込み の動作が行われる場合、A0、A0+3番地はとも
に全書込みなので、一度読出しを行つた後、書込
みが行われ、A1及びA0+2番地はともに全書込
みなので、一度の動作で書込みが行えるが、A0
+3番地を再び呼び出すためには、A0+1、A0
+2番地にダミー動作を行つている。この場合
も、データ制御部3の構成からデータの競合、衝
突は起こらない。
That is, as shown in FIG. 4, when the A 0 address: partial write A 0 +1 address: full write A 0 +2 address: full write A 0 +3 address: partial write operation is performed, A 0 , A 0 Addresses A 1 and A 0 +2 are both full write, so they can be written in one operation, but A 0
To call address +3 again, A 0 +1, A 0
A dummy operation is being performed at address +2. Also in this case, due to the configuration of the data control unit 3, data competition and collision will not occur.

なお、第2図〜第4図の説明では、ニブルモー
ドは第2のアドレスの最下位2ビツトとしたが、
必ずしも2ビツトに限定されるものではない。ま
た開始アドレスは第2のアドレスの下位数ビツト
の最小アドレスに限定されない。即ち、記憶部
に、定められたアドレス範囲内で開始アドレスよ
り順に第2のクロツクにより巡回して動作させる
ことができればよい。
In addition, in the explanation of FIGS. 2 to 4, the nibble mode is the lowest two bits of the second address, but
It is not necessarily limited to 2 bits. Further, the starting address is not limited to the minimum address of the lower several bits of the second address. That is, it is sufficient if the storage section can be operated by cycling in order from the start address within a predetermined address range using the second clock.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、誤り訂
正を行なう装置において、第1のクロツク及び第
2のクロツクに同期して第1のアドレス及び第2
のアドレスが与えられた後の第2のクロツクによ
り連続したアドレスに高速な読出し/書込みの可
能なメモリ素子群を用いて、部分書込み動作のう
ちの読出し動作を行なつた後に、次のアドレスへ
順次読出し、書込みあるいはダミー動作を行な
い、再び部分書込みアドレスへ書込みを行なう、
高速に部分書込みを含む連続アドレスへの読出
し、書込み動作可能な記憶装置を提供できるとい
う効果がある。
As explained above, according to the present invention, in an error correction device, the first address and the second address are synchronized with the first clock and the second clock.
After the second address is given, a read operation of the partial write operation is performed using a memory element group capable of high-speed reading/writing to successive addresses, and then the next address is read. Perform sequential read, write, or dummy operations, and then write to the partial write address again.
This has the advantage that it is possible to provide a storage device capable of reading and writing operations to continuous addresses, including partial writing, at high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の実施例のブロツク図、第2
図〜第4図は、本発明の実施例の動作例を示すタ
イムチヤートである。 1…メモリ制御部、2…記憶部、3…データ制
御部、4…スタート信号、5…読出し/書込み指
定信号、6…アドレス信号、7…書込みデータ、
8…読出しデータ、9…アドレス信号、10…読
出し/書込み制御信号、11…データ制御信号、
12…データ。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG.
4 are time charts showing an example of the operation of the embodiment of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Memory control unit, 2...Storage unit, 3...Data control unit, 4...Start signal, 5...Read/write designation signal, 6...Address signal, 7...Write data,
8... Read data, 9... Address signal, 10... Read/write control signal, 11... Data control signal,
12...Data.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 第1及び第2のクロツクに同期して第1及び
第2のアドレス信号を受け、第2のアドレス信号
の数ビツトに対して第2のクロツクにより順に読
出し又は書込み動作を行なうメモリ素子群からな
る記憶部と、誤り訂正符号発生機能及び誤り訂正
機能を有するデータ制御部と、前記記憶部に第1
及び第2のクロツク、読出し又は書込み制御信号
及びアドレス信号を送出し、前記データ制御部に
誤り訂正符号発生及び誤り訂正を制御する信号を
送出するメモリ制御部とを含み、前記メモリ制御
部は、部分書込みを含む第2のアドレス信号で指
定したアドレスから連続したアドレスへの連続動
作を行なう際に、前記記憶部から部分書込みアド
レスの情報を読出して前記データ制御部へ入力さ
せた後に、前記第2のクロツクを前記部分書込み
アドレスに戻るまで入力し、その間読出し、書込
み、あるいはダミー動作を行なつて、再び当該部
分書込みアドレスに戻つたときにその部分書込み
アドレスに前記データ制御部から出力される情報
を書込むことを特徴とする、誤り訂正を行なう記
憶装置の部分書込みを含む連続アドレスへの連続
動作方式。
1 From a group of memory elements that receive first and second address signals in synchronization with first and second clocks and perform read or write operations on several bits of the second address signal in order by the second clock. a data control unit having an error correction code generation function and an error correction function;
and a memory control section that sends out a second clock, a read or write control signal, and an address signal, and sends a signal for controlling error correction code generation and error correction to the data control section, and the memory control section includes: When performing a continuous operation from the address specified by the second address signal including partial writing to consecutive addresses, after reading the information of the partial write address from the storage section and inputting it to the data control section, 2 clock is input until it returns to the partial write address, during which it performs read, write, or dummy operations, and when it returns to the partial write address again, it is output from the data control section to that partial write address. A method of continuous operation to continuous addresses, including partial writing of a storage device that performs error correction, characterized by writing information.
JP57089844A 1982-05-28 1982-05-28 Continuous operating system to continuous address including partial write of storage device for error correction Granted JPS58208996A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57089844A JPS58208996A (en) 1982-05-28 1982-05-28 Continuous operating system to continuous address including partial write of storage device for error correction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57089844A JPS58208996A (en) 1982-05-28 1982-05-28 Continuous operating system to continuous address including partial write of storage device for error correction

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58208996A JPS58208996A (en) 1983-12-05
JPH0241058B2 true JPH0241058B2 (en) 1990-09-14

Family

ID=13982069

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57089844A Granted JPS58208996A (en) 1982-05-28 1982-05-28 Continuous operating system to continuous address including partial write of storage device for error correction

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58208996A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62278651A (en) * 1986-05-28 1987-12-03 Hitachi Ltd Partial writing controller

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58208996A (en) 1983-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040172581A1 (en) External storage device and memory access control method thereof
JPS5847741B2 (en) pattern generator
JPH1198462A (en) Data reproduction device
JPH0241058B2 (en)
JPH1069430A (en) Semiconductor storage
JPS6349809B2 (en)
JPH08115268A (en) Memory circuit device
JP2854301B2 (en) Memory access circuit
JPH10340596A (en) Data storage device and semiconductor memory
JPH05210981A (en) Semiconductor memory
JPH04106793A (en) Memory interface circuit
JPH0672910B2 (en) Test pattern memory circuit
JPS6232818B2 (en)
JP3655658B2 (en) Numerical controller
JPS6019258A (en) Memory
JPS6349808B2 (en)
JP2969645B2 (en) Time slot replacement circuit
JPH0227600A (en) Integrated circuit device
JPS58208997A (en) Continuous operating system including partial write of storage device for error correction
JPH01171191A (en) Storage element with arithmetic function
JPS63175956A (en) Parity circuit
JPS635778B2 (en)
JPS63126047A (en) Memory control system
JPH02125769A (en) Drawing control circuit
JPH022236B2 (en)