JP4409331B2 - 光画像計測装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係る光画像計測装置1の好適な一実施形態の概略構成を示している。光画像計測装置1は、例えば医療用や工業用に利用可能な装置であって、散乱媒質からなる被測定物体Oの複数の深さ領域の2次元断層画像を並列的に取得するための構成を備えている。ここで、被測定物体Oの深さ領域とは、被測定物体Oの或る深さ位置(図1中に示す3次元座標の或るz座標)における領域を示している。具体的には、図1中の符号D1〜Dnで示すように、被測定物体Oの深さ方向(z方向)の或る位置においてxy平面方向に広がる範囲と、その深さ位置前後の所定のz方向の範囲とによって決定される領域である。当該所定のz方向の範囲は、干渉光Lにより検出可能なz方向の幅を示している。
続いて、以上のような構成の光画像計測装置1による測定形態について説明する。まず、オペレータは、被測定物体Oの各深さ領域D1〜Dnを計測可能な位置に反射板7−1〜7−nを移動させる。具体的には、反射板7−1〜7−nは、各参照光R1〜Rnと、対応する深さ領域D1〜Dnにて反射された信号光Sの成分が干渉し合う位置に配置される。すなわち、ビームスプリッタ4に対する反射板7−kと深さ領域Dkとの距離がほぼ等しくなるように、反射板7−kは配置される(k=1〜n)。また、各周波数シフタ6−1〜6−nの周波数シフト量が設定される。当該シフト量は、オペレータが手動で設定してもよいし、所定のデフォルト値を使用してもよい。また、各周波数シフタ6−1〜6−nの設定に応じて、各シャッタ9−1〜9−nの開閉動作の周波数が設定される(詳細は後述する)。
式(2)、(3)、(4)に示す各CCDカメラ10−1、10−2、10−3から出力された電気信号は、コンピュータ20に送信される。コンピュータ20は、これらの出力結果を用いて以下に説明するような演算を実行することにより、干渉光成分L1の背景光、すなわち干渉光Lの背景光に対応する式(1)に示す直流成分と、干渉光成分L1の信号強度及び位相の空間分布とを算出する。コンピュータ20は、この干渉光成分L1の強度及び位相の分布に基づいて、当該干渉光成分L1に対応する深さ領域D1における被測定物体Oの反射率分布を演算し、この反射率分布に基づいて当該深さ領域D1の2次元断面画像を形成する処理を実行する。なお、干渉光成分L1の強度及び位相情報に基づくコンピュータ20の画像形成処理は、従来の装置と同様の方法で行われるものである。
2 光源
3 レンズ系
4、5−1〜5−(n−1)、8−1、8−2 ビームスプリッタ
5−n 反射鏡
6−1〜6−n 周波数シフタ
7−1〜7−n 反射板
9−1、9−2、9−3 シャッタ
10−1、10−2、10−3 CCDカメラ
20 コンピュータ
A1〜An 参照系
R、R1〜Rn 参照光
S 信号光
L 干渉光
L1〜Ln 干渉光成分
O 被測定物体
D1、D2、D3 深さ領域
Claims (7)
- 光ビームを出射する光源と、
この光源からの光ビームを平行光束にするとともにそのビーム径を拡大するレンズ系と、
このレンズ系により平行光束とされてビーム径が拡大された光ビームを基に、被測定物体の深さ領域毎に異なる周波数を有する複数の干渉光成分を含んだ前記拡大されたビーム径を有する干渉光を生成する干渉系と、
前記生成された干渉光から前記各干渉光成分を選択的に検出する検出系と、
前記検出された前記各干渉光成分に基づいて、当該各干渉光成分に対応する前記深さ領域における前記被測定物体の2次元断面画像を形成する画像形成手段と、
を備えていることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記干渉系は、
前記被測定物体からの距離が各々異なるように配置された複数の参照物体と、
前記レンズ系により平行光束とされてビーム径が拡大された光ビームを、前記被測定物体の複数の前記深さ領域にて反射される前記拡大されたビーム径を有する信号光と、前記複数の参照物体を各々経由する前記拡大されたビーム径を有する複数の参照光とに分割する分割手段と、
前記複数の参照光の周波数を各々異なる量だけシフトする周波数シフト手段と、
前記被測定物体を経由した前記信号光と、前記周波数シフト手段により周波数が各々シフトされ、前記複数の参照物体を各々経由した前記複数の参照光とを重畳して前記干渉光を生成する重畳手段と、
を含んでいることを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記干渉系は、マイケルソン干渉計を用いた構成とされていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光画像計測装置。
- 前記検出系は、
前記生成された前記干渉光の強度を前記周波数のシフト量に同期した変調周波数で周期的に変調することにより、当該変調周波数に対応する前記干渉光成分を前記干渉光から抽出する強度変調手段と、
前記抽出された前記干渉光成分を受光し、電気信号に変換して出力する2次元光センサアレイと、
を含んでいることを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記強度変調手段は、前記干渉光を前記変調周波数にて周期的に遮断するシャッタであることを特徴とする請求項4に記載の光画像計測装置。
- 前記検出系は、前記生成された干渉光を複数に分割する干渉光分割手段を更に備え、
前記強度変調手段及び前記2次元光センサアレイは、前記分割された前記複数の干渉光の各光路上に各々配置されていることを特徴とする請求項4に記載の光画像計測装置。 - 光ビームを出射する光源と、
この光源からの光ビームを平行光束にするとともにそのビーム径を拡大するレンズ系と、
このレンズ系により平行光束とされてビーム径が拡大された光ビームを、被測定物体の複数の深さ領域にて反射される前記拡大されたビーム径を有する信号光と、所定の参照物体により反射される前記拡大されたビーム径を有する参照光とに分割する第1のビームスプリッタと、
前記参照光を複数に分割する第2のビームスプリッタと、
前記第2のビームスプリッタにより分割された前記複数の参照光の各光路上に配置され、前記複数の参照光の周波数を各々異なる量だけシフトさせる周波数シフタと、
前記複数の参照光の各光路上に配置され、前記被測定物体からの距離が各々異なるように配置された前記参照物体としての反射板と、
前記周波数シフタにより前記周波数が各々シフトされ、前記反射板により各々反射された前記複数の前記参照光と、前記被測定物体の前記複数の深さ領域にて反射された前記信号光とを重畳することにより、前記各深さ領域毎に異なる周波数を有する複数の干渉光成分を含んだ前記拡大されたビーム径を有する干渉光を生成する第3のビームスプリッタと、
前記生成された前記干渉光を前記周波数のシフト量のいずれかに同期した周波数で周期的に遮断することにより、当該同期した周波数に対応する前記干渉光成分を前記干渉光から抽出するシャッタと、
前記抽出された前記干渉光成分を受光し、電気信号に変換して出力する2次元光センサアレイと、
前記出力された電気信号に基づいて前記干渉光成分の強度及び位相の分布を演算し、当該強度及び位相の分布に基づいて前記干渉光成分に対応する前記深さ領域における前記被測定物体の反射率分布を演算し、当該反射率分布に基づいて当該深さ領域における2次元断面画像を形成するコンピュータと、
を備えていることを特徴とする光画像計測装置。
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