JP2002184328A - Image display device and its manufacturing method - Google Patents

Image display device and its manufacturing method

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JP2002184328A
JP2002184328A JP2000377814A JP2000377814A JP2002184328A JP 2002184328 A JP2002184328 A JP 2002184328A JP 2000377814 A JP2000377814 A JP 2000377814A JP 2000377814 A JP2000377814 A JP 2000377814A JP 2002184328 A JP2002184328 A JP 2002184328A
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sealing material
image display
display device
metal sealing
metal
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Application number
JP2000377814A
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Japanese (ja)
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Akiyoshi Yamada
晃義 山田
Koji Nishimura
孝司 西村
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image display device that can be easily sealed in a vacuum atmosphere and its manufacturing method. SOLUTION: The vacuum outer case of the image display device has a back substrate and a front substrate 11 arranged opposed to each other and a side wall provided between these substrates. A fluorescent screen 16 is formed on the inner face of the front substrate and electron emission elements are provided on the back substrate. A primary coat 31 and an indium layer 32 overlapping this primary coat are formed on the sealing face 11a between the front substrate and the side wall, and indium layer is formed in a pattern having many bending part 32a. By heating and melting indium in a vacuum atmosphere, the front substrate and the back substrate are mutually sealed through the side wall.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、対向配置された
背面基板および前面基板を有する外囲器と、この外囲器
の内側に設けられた複数の画像表示素子と、を備え画像
表示装置、およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image display device comprising: an envelope having a rear substrate and a front substrate opposed to each other; and a plurality of image display elements provided inside the envelope. And its manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、次世代の軽量、薄型の平面型表示
装置として、電子放出素子(以下、エミッタと称する)
を多数並べ、蛍光面と対向配置させた表示装置の開発が
進められている。エミッタとしては、電界放出型あるい
は表面伝導型の素子が想定される。通常、エミッタとし
て電界放出型電子放出素子を用いた表示装置は、フィー
ルドエミッションディスプレイ(以下、FEDと称す
る)、また、エミッタとして表面伝導型電子放出素子を
用いた表示装置は、表面伝導型電子放出ディスプレイ
(以下、SEDと称する)と呼ばれている。
2. Description of the Related Art In recent years, electron-emitting devices (hereinafter referred to as emitters) have been developed as next-generation light-weight and thin flat-panel display devices.
Are being developed, and a display device in which the display device is arranged to face the phosphor screen is being developed. As the emitter, a field emission type or surface conduction type element is assumed. Generally, a display device using a field emission type electron-emitting device as an emitter is a field emission display (hereinafter, referred to as an FED), and a display device using a surface conduction type electron-emitting device as an emitter is a surface emission type. This is called a display (hereinafter, referred to as SED).

【0003】例えば、FEDは、一般に、所定の隙間を
置いて対向配置された前面基板および背面基板を有し、
これらの基板は、矩形枠状の側壁を介して周縁部同士を
互いに接合することにより真空外囲器を構成している。
前面基板の内面には蛍光体スクリーンが形成され、背面
基板の内面には、蛍光体を励起して発光させる電子放出
源として多数のエミッタが設けられている。また、背面
基板および前面基板に加わる大気圧荷重を支えるため
に、これら基板の間には複数の支持部材が配設されてい
る。
For example, an FED generally has a front substrate and a rear substrate opposed to each other with a predetermined gap therebetween.
These substrates constitute a vacuum envelope by joining their peripheral parts to each other via a rectangular frame-shaped side wall.
A phosphor screen is formed on the inner surface of the front substrate, and a number of emitters are provided on the inner surface of the rear substrate as electron emission sources for exciting the phosphor to emit light. In addition, a plurality of support members are disposed between the rear substrate and the front substrate to support the atmospheric load applied thereto.

【0004】背面基板側の電位はほぼ0Vであり、蛍光
面にはアノード電圧Vaが印加される。そして、蛍光体
スクリーンを構成する赤、緑、青の蛍光体にエミッタか
ら放出された電子ビームを照射し、蛍光体を発光させる
ことによって画像を表示する。
The potential on the rear substrate side is almost 0 V, and an anode voltage Va is applied to the phosphor screen. An image is displayed by irradiating the red, green, and blue phosphors constituting the phosphor screen with an electron beam emitted from the emitter to cause the phosphors to emit light.

【0005】このようなFEDでは、前面基板と背面基
板との隙間を数mm以下に設定することができ、現在の
テレビやコンピュータのディスプレイとして使用されて
いる陰極線管(CRT)と比較して、軽量化、薄型化を
達成することができる。
In such an FED, the gap between the front substrate and the rear substrate can be set to several mm or less, and compared with a cathode ray tube (CRT) currently used as a display of a television or a computer. Lightening and thinning can be achieved.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した平面表示装置
では、真空外囲器内部の真空度を例えば10−5〜10
−6Paに保つ必要がある。従来の排気工程では、真空
外囲器を300℃程度まで加熱するベーキング処理によ
り、外囲器内部の表面吸着ガスを放出させるようにして
いたが、このような方法では表面吸着ガスを十分に放出
することが難しく、高い真空度を得ることが困難とな
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned flat panel display device
Then, the degree of vacuum inside the vacuum envelope is set to, for example, 10-5-10
-6It is necessary to keep Pa. In the conventional evacuation process, vacuum
Baking process to heat the envelope to about 300 ° C
To release the surface adsorption gas inside the envelope.
However, such a method releases the surface adsorbed gas sufficiently.
And it is difficult to obtain a high degree of vacuum.
You.

【0007】真空外囲器内部の真空度を上げる方法とし
ては、背面基板、側壁、前面基板を真空装置内に投入
し、真空雰囲気中でこれらのべ一キング、電子線照射を
行って表面吸着ガスを放出させた後、ゲッタ膜を形成
し、そのまま真空雰囲気中でフリットガラスなどを用い
て側壁と背面基板および前面基板とを封着する方法が考
えられる。この方法によれば、電子線洗浄によって表面
吸着ガスを十分に放出させることができ、ゲッタ膜も酸
化されず十分なガス吸着効果を得ることができる。ま
た、排気管が不要であるため、画像表示装置のスペース
が無駄に消費されることがなくなる。
As a method of increasing the degree of vacuum inside the vacuum envelope, the back substrate, the side walls, and the front substrate are put into a vacuum apparatus, and they are subjected to baking and electron beam irradiation in a vacuum atmosphere to adsorb the surface. After the gas is released, a method of forming a getter film and sealing the side wall to the rear substrate and the front substrate using frit glass or the like in a vacuum atmosphere is considered. According to this method, the surface adsorption gas can be sufficiently released by the electron beam cleaning, and the getter film is not oxidized, and a sufficient gas adsorption effect can be obtained. Further, since no exhaust pipe is required, the space of the image display device is not wasted.

【0008】しかしながら、真空中でフリットガラスを
使用して封着を行う場合、フリットガラスを400℃以
上の高温に加熱する必要があり、その際、フリットガラ
スから多数の気泡が発生し、真空外囲器の気密性、封着
強度などが悪化し、信頼性が低下するという問題があ
る。また、電子放出素子の特性上、400℃以上の高温
にすることは避けた方がよい場合があり、そのような場
合には、フリットガラスを用いて封着する方法は好まし
くない。
[0008] However, when sealing is performed using frit glass in a vacuum, it is necessary to heat the frit glass to a high temperature of 400 ° C. or more. There is a problem that the hermeticity and sealing strength of the enclosure are deteriorated, and the reliability is reduced. In addition, due to the characteristics of the electron-emitting device, it may be better to avoid raising the temperature to 400 ° C. or higher. In such a case, a method of sealing with frit glass is not preferable.

【0009】この発明は以上の点に鑑みなされたもの
で、その目的は、真空雰囲気で容易に封着を行うことが
可能な画像表示装置、およびその製造方法を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to provide an image display device capable of easily performing sealing in a vacuum atmosphere and a method of manufacturing the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る画像表示装置は、背面基板、および
この背面基板に対向配置されているとともに金属封着材
により上記背面基板に直接あるいは間接的に封着された
前面基板を有した外囲器と、上記外囲器の内側に設けら
れた複数の画像表示素子と、を備え、上記金属封着材は
上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に設けら
れ、この封着面の全周に亘って延びた金属封着材層を形
成しているとともに、上記金属封着材層は、上記封着面
の直線部に沿って延びた部分の少なくとも一部におい
て、屈曲部あるいは湾曲部を有していることを特徴とし
ている。
In order to achieve the above object, an image display apparatus according to the present invention comprises a rear substrate, and an image display device which is disposed opposite to the rear substrate and which is directly or directly attached to the rear substrate by a metal sealing material. An envelope having a front substrate indirectly sealed, and a plurality of image display elements provided inside the envelope, wherein the metal sealing material is the rear substrate and the front substrate And a metal sealing material layer extending over the entire circumference of the sealing surface, and the metal sealing material layer is formed by a linear portion of the sealing surface. Is characterized by having a bent portion or a curved portion in at least a part of the portion extending along.

【0011】また、この発明に係る他の画像表示装置
は、背面基板、およびこの背面基板に対向配置されてい
るとともに金属封着材により上記背面基板に直接あるい
は間接的に封着された前面基板を有した外囲器と、上記
外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素子と、を備
え、上記金属封着材は上記背面基板と上記前面基板との
間の封着面に設けられ、この封着面の全周に亘って延び
た金属封着材層を形成しているとともに、上記金属封着
材層は、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少な
くとも一部において、凹凸を有した側縁を備えているこ
とを特徴としている。
Another image display device according to the present invention is a rear substrate, and a front substrate disposed to face the rear substrate and sealed directly or indirectly to the rear substrate with a metal sealing material. And a plurality of image display elements provided inside the envelope, wherein the metal sealing material is provided on a sealing surface between the rear substrate and the front substrate. And forming a metal sealing material layer extending over the entire circumference of the sealing surface, and the metal sealing material layer has at least one of a portion extending along a linear portion of the sealing surface. The portion is provided with a side edge having irregularities.

【0012】一方、この発明に係る画像表示装置の製造
方法は、背面基板、およびこの背面基板に対向配置され
ているとともに金属封着材により上記背面基板に直接あ
るいは間接的に封着された前面基板を有した外囲器と、
上記外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素子と、
を備えた画像表示装置の製造方法において、上記背面基
板と上記前面基板との間の封着面に金属封着材を充填
し、この封着面の全周に亘って延びた金属封着材層を形
成する工程と、上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中
で上記金属封着材を加熱して溶融させ、上記背面基板と
上記前面基板とを上記封着面で直接あるいは間接的に封
着する工程と、を備え、上記金属封着材を充填する工程
において、上記金属封着材層の内、上記封着面の直線部
に沿って延びた部分の少なくとも一部に屈曲部あるいは
湾曲部を形成することを特徴としている。
On the other hand, a method of manufacturing an image display device according to the present invention is directed to a back substrate and a front surface which is disposed to face the back substrate and is directly or indirectly sealed to the back substrate by a metal sealing material. An envelope having a substrate;
A plurality of image display elements provided inside the envelope,
In the method for manufacturing an image display device provided with, a metal sealing material is filled in a sealing surface between the rear substrate and the front substrate, and the metal sealing material extends over the entire circumference of the sealing surface. Step of forming a layer and after filling the metal sealing material, heat and melt the metal sealing material in a vacuum atmosphere, and directly or indirectly connect the back substrate and the front substrate with the sealing surface. And a step of filling the metal sealing material in the metal sealing material layer, wherein at least a part of the metal sealing material layer extending along the linear portion of the sealing surface has a bent portion. Alternatively, it is characterized in that a curved portion is formed.

【0013】また、この発明に係る他の画像表示装置の
製造方法は、上記背面基板と上記前面基板との間の封着
面に金属封着材を充填し、この封着面の全周に亘って延
びた金属封着材層を形成する工程と、上記金属封着材の
充填後、真空雰囲気中で上記金属封着材を加熱して溶融
させ、上記背面基板と上記前面基板とを上記封着面で直
接あるいは間接的に封着する工程と、を備え、上記金属
封着材を充填する工程において、上記金属封着材層の
内、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少なくと
も一部が凹凸を有した側縁を形成するように上記金属封
着材を充填することを特徴としている。
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an image display device, comprising: filling a sealing surface between the rear substrate and the front substrate with a metal sealing material; Step of forming a metal sealing material layer extending over and after filling the metal sealing material, heating and melting the metal sealing material in a vacuum atmosphere, the back substrate and the front substrate A step of directly or indirectly sealing at the sealing surface, wherein in the step of filling the metal sealing material, the metal sealing material layer extends along a linear portion of the sealing surface. The metal sealing material is filled so that at least a part of the portion forms a side edge having irregularities.

【0014】上記本発明に係る画像表示装置およびその
製造方法において、金属封着材料として、350℃以下
の融点を有した低融点金属材料を用い、例えば、インジ
ウムまたはインジウムを含む合金を用いている。
In the image display device and the method of manufacturing the same according to the present invention, a low melting point metal material having a melting point of 350 ° C. or less is used as the metal sealing material, for example, indium or an alloy containing indium is used. .

【0015】上記のように構成された画像表示装置およ
びその製造方法によれば、金属封着材層を用いて前面基
板と背面基板と直接あるいは間接的に封着することによ
り、背面基板に設けられた電子放出素子などに熱的な損
傷を与えることのない低い温度で、封着を行なうことが
できる。また、フリットガラスを用いた場合のように多
数の気泡が発生することがなく、真空外囲器の気密性、
封着強度を向上することができる。
According to the image display apparatus and the method of manufacturing the same as described above, the front substrate and the rear substrate are directly or indirectly sealed using the metal sealing material layer, thereby providing the image display device on the rear substrate. The sealing can be performed at a low temperature that does not cause thermal damage to the electron-emitting devices and the like. Also, unlike the case where frit glass is used, many air bubbles are not generated, and the airtightness of the vacuum envelope,
Sealing strength can be improved.

【0016】同時に、上記金属封着材層の内、上記封着
面の直線部に沿って延びた部分の少なくとも一部は、屈
曲部あるいは湾曲部を有している。または、上記金属封
着材層の内、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の
少なくとも一部は、凹凸を有した側縁を備えている。そ
のため、封着時に金属封着材が溶融して粘性が低くなっ
た場合でも、上述した屈曲部、湾曲部、あるいは側縁の
凹凸によって金属封着材の流動を抑制し、所定位置に保
持することができる。従って、金属封着材の取り扱いが
容易であり、真空雰囲気中で容易にかつ確実に封着を行
うことが可能な画像表示装置、およびその製造方法を得
ることができる。
At the same time, at least a part of the metal sealing material layer extending along the linear portion of the sealing surface has a bent portion or a curved portion. Alternatively, in the metal sealing material layer, at least a part of a portion extending along a linear portion of the sealing surface has a side edge having irregularities. Therefore, even when the metal sealing material is melted at the time of sealing and the viscosity is reduced, the flow of the metal sealing material is suppressed by the above-described bent portion, curved portion, or unevenness of the side edge, and the metal sealing material is held at a predetermined position. be able to. Accordingly, it is possible to obtain an image display device in which the metal sealing material can be easily handled and can be easily and reliably sealed in a vacuum atmosphere, and a method of manufacturing the same.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の画像表示装置をFEDに適用した実施の形態につ
いて詳細に説明する。図1および図2に示すように、こ
のFEDは、絶縁基板としてそれぞれ矩形状のガラスか
らなる前面基板11、および背面基板12を備え、これ
らの基板は約1.5〜3.0mmの隙間を置いて対向配
置されている。そして、前面基板11および背面基板1
2は、矩形枠状の側壁18を介して周縁部同士が封着さ
れ、内部が真空状態に維持された偏平な矩形状の真空外
囲器10を構成している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment in which an image display device of the present invention is applied to an FED will be described in detail with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 and 2, the FED includes a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass as an insulating substrate, and these substrates have a gap of about 1.5 to 3.0 mm. They are placed facing each other. Then, the front substrate 11 and the rear substrate 1
Reference numeral 2 denotes a flat rectangular vacuum envelope 10 whose peripheral edges are sealed via a rectangular frame-shaped side wall 18 and whose inside is maintained in a vacuum state.

【0018】後述するように、背面基板12と側壁18
との間の封着面は、フリットガラス等の低融点ガラス3
0によって封着され、前面基板11と側壁18との間
は、封着面上に形成された下地層31とこの下地層上に
形成されたインジウム層32とが融合した封着層33に
よって封着されている。
As will be described later, the back substrate 12 and the side wall 18
The sealing surface between the two is made of low melting glass 3 such as frit glass.
0, and the space between the front substrate 11 and the side wall 18 is sealed by a sealing layer 33 in which an underlayer 31 formed on the sealing surface and an indium layer 32 formed on the underlayer are fused. Is being worn.

【0019】真空外囲器10の内部には、背面基板12
および前面基板11に加わる大気圧荷重を支えるため、
複数の支持部材14が設けられている。これらの支持部
材14は、真空外囲器10の長辺と平行な方向に延出し
ているとともに、短辺と平行な方向に沿って所定の間隔
を置いて配置されている。なお、支持部材14の形状に
ついては特にこれに限定されるものではなく、柱状の支
持部材を用いてもよい。
Inside the vacuum envelope 10, a rear substrate 12 is provided.
And to support the atmospheric pressure load applied to the front substrate 11,
A plurality of support members 14 are provided. These support members 14 extend in a direction parallel to the long sides of the vacuum envelope 10 and are arranged at predetermined intervals along a direction parallel to the short sides. The shape of the support member 14 is not particularly limited to this, and a columnar support member may be used.

【0020】図3に示すように、前面基板11の内面に
は蛍光体スクリーン16が形成されている。この蛍光体
スクリーン16は、赤、緑、青の3色に発光する蛍光体
層R、G、Bとマトリックス状の黒色光吸収部20とで
形成されている。上述の支持部材14は、黒色光吸収部
の影に隠れるように置かれる。また、蛍光体スクリーン
16上には、メタルバックとして図示しないアルミニウ
ム層が蒸着されている。
As shown in FIG. 3, a phosphor screen 16 is formed on the inner surface of the front substrate 11. The phosphor screen 16 is formed of phosphor layers R, G, and B emitting three colors of red, green, and blue, and a matrix-shaped black light absorbing portion 20. The above-described support member 14 is placed so as to be hidden by the shadow of the black light absorbing portion. On the phosphor screen 16, an aluminum layer (not shown) is deposited as a metal back.

【0021】図2に示すように、背面基板12の内面上
には、蛍光体層R、G、Bを励起する電子放出源とし
て、それぞれ電子ビームを放出する多数の電界放出型の
電子放出素子22が設けられている。これらの電子放出
素子22は、各画素毎に対応して複数列および複数行に
配列され、画素表示素子として機能する。
As shown in FIG. 2, on the inner surface of the back substrate 12, a large number of field emission type electron emitting devices each emitting an electron beam are provided as an electron emission source for exciting the phosphor layers R, G, B. 22 are provided. These electron-emitting devices 22 are arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel, and function as a pixel display device.

【0022】詳細に述べると、背面基板12の内面上に
は、導電性カソード層24が形成され、この導電性カソ
ード層上には多数のキャビティ25を有した二酸化シリ
コン膜26が形成されている。二酸化シリコン膜26上
には、モリブデン、ニオブ等からなるゲート電極28が
形成されている。そして、背面基板12の内面上におい
て各キャビティ25内に、モリブデン等からなるコーン
状の電子放出素子22が設けられている。その他、背面
基板12上には、電子放出素子22に接続された図示し
ないマトリックス状の配線等が形成されている。
More specifically, a conductive cathode layer 24 is formed on the inner surface of the back substrate 12, and a silicon dioxide film 26 having a number of cavities 25 is formed on the conductive cathode layer. . On the silicon dioxide film 26, a gate electrode 28 made of molybdenum, niobium or the like is formed. A cone-shaped electron-emitting device 22 made of molybdenum or the like is provided in each cavity 25 on the inner surface of the back substrate 12. In addition, on the back substrate 12, a matrix-like wiring (not shown) connected to the electron-emitting device 22 is formed.

【0023】上記のように構成されたFEDにおいて、
映像信号は、単純マトリックス方式に形成された電子放
出素子22とゲート電極28に入力される。電子放出素
子22を基準とした場合、最も輝度の高い状態の時、+
100Vのゲート電圧が印加される。また、蛍光体スク
リーン16には+10kVが印加される。そして、電子
放出素子22から放出される電子ビームの大きさは、ゲ
ート電極28の電圧によって変調され、この電子ビーム
が蛍光体スクリーン16の蛍光体層を励起して発光させ
ることにより画像を表示する。
In the FED configured as described above,
The video signal is input to the electron-emitting device 22 and the gate electrode 28 formed in a simple matrix system. On the basis of the electron-emitting device 22, when the brightness is the highest, +
A gate voltage of 100 V is applied. Further, +10 kV is applied to the phosphor screen 16. The size of the electron beam emitted from the electron-emitting device 22 is modulated by the voltage of the gate electrode 28, and the electron beam excites the phosphor layer of the phosphor screen 16 to emit light, thereby displaying an image. .

【0024】次に、上記のように構成されたFEDの製
造方法について詳細に説明する。まず、前面基板11と
なる板ガラスに蛍光体スクリーン16を形成する。これ
は、前面基板11と同じ大きさの板ガラスを準備し、こ
の板ガラスにプロッターマシンで蛍光体層のストライプ
パターンを形成する。この蛍光体ストライプパターンを
形成された板ガラスと前面基板用の板ガラスとを位置決
め治具に載せて露光台にセットすることにより、露光、
現像して蛍光体スクリーン16を生成する。
Next, a method of manufacturing the FED configured as described above will be described in detail. First, the phosphor screen 16 is formed on a plate glass to be the front substrate 11. For this, a glass sheet having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a stripe pattern of the phosphor layer is formed on the glass sheet by a plotter machine. Exposure is achieved by placing the plate glass on which the phosphor stripe pattern is formed and the plate glass for the front substrate on a positioning jig and setting it on an exposure table.
Develop to produce phosphor screen 16.

【0025】続いて、背面基板用の板ガラスに電子放出
素子22を形成する。この場合、板ガラス上にマトリッ
クス状の導電性カソード層を形成し、この導電性カソー
ド層上に、例えば熱酸化法、CVD法、あるいはスパッ
タリング法により二酸化シリコン膜の絶縁膜を形成す
る。
Subsequently, the electron-emitting devices 22 are formed on the glass plate for the rear substrate. In this case, a matrix-shaped conductive cathode layer is formed on a sheet glass, and an insulating film of a silicon dioxide film is formed on the conductive cathode layer by, for example, a thermal oxidation method, a CVD method, or a sputtering method.

【0026】その後、この絶縁膜上に、例えばスパッタ
リング法や電子ビーム蒸着法によりモリブデンやニオブ
などのゲート電極形成用の金属膜を形成する。次に、こ
の金属膜上に、形成すべきゲート電極に対応した形状の
レジストパターンをリソグラフィーにより形成する。こ
のレジストパターンをマスクとして金属膜をウェットエ
ッチング法またはドライエッチング法によりエッチング
し、ゲート電極28を形成する。
After that, a metal film for forming a gate electrode such as molybdenum or niobium is formed on the insulating film by, for example, a sputtering method or an electron beam evaporation method. Next, a resist pattern having a shape corresponding to the gate electrode to be formed is formed on the metal film by lithography. Using the resist pattern as a mask, the metal film is etched by a wet etching method or a dry etching method to form a gate electrode 28.

【0027】次に、レジストパターン及びゲート電極を
マスクとして絶縁膜をウェットエッチングまたはドライ
エッチング法によりエッチングして、キャビティ25を
形成する。そして、レジストパターンを除去した後、背
面基板表面に対して所定角度傾斜した方向から電子ビー
ム蒸着を行うことにより、ゲート電極28上に、例えば
アルミニウム、ニッケルやコバルトからなる剥離層を形
成する。この後、背面基板表面に対して垂直な方向か
ら、カソード形成用の材料として、例えばモリブデンを
電子ビーム蒸着法により蒸着する。これによって、各キ
ャビティ25の内部に電子放出素子22を形成する。続
いて、剥離層をその上に形成された金属膜とともにリフ
トオフ法により除去する。
Next, the cavity is formed by etching the insulating film by wet etching or dry etching using the resist pattern and the gate electrode as a mask. Then, after removing the resist pattern, a release layer made of, for example, aluminum, nickel, or cobalt is formed on the gate electrode 28 by performing electron beam evaporation from a direction inclined at a predetermined angle with respect to the rear substrate surface. Thereafter, for example, molybdenum as a material for forming a cathode is deposited by an electron beam evaporation method from a direction perpendicular to the surface of the rear substrate. Thus, the electron-emitting device 22 is formed inside each cavity 25. Subsequently, the release layer is removed by a lift-off method together with the metal film formed thereon.

【0028】続いて、電子放出素子22の形成された背
面基板12の周縁部と矩形枠状の側壁18との間の封着
面を、大気中で低融点ガラス30により互いに封着す
る。同時に、大気中で、背面基板12上に複数の支持部
材14を低融点ガラス30により封着する。
Subsequently, the sealing surfaces between the peripheral portion of the rear substrate 12 on which the electron-emitting devices 22 are formed and the rectangular frame-shaped side walls 18 are sealed to each other with low melting glass 30 in the atmosphere. At the same time, the plurality of support members 14 are sealed on the rear substrate 12 with the low-melting glass 30 in the atmosphere.

【0029】その後、背面基板12と前面基板11とを
側壁18を介して互いに封着する。この場合、図4およ
び図5に示すように、まず、前面基板11側の封着面1
1aとなる内面周縁部にその全周に亘って下地層31を
形成する。この封着面11aは、背面基板12側の封着
面18aとなる側壁18の上面に対応した矩形枠状をな
し、前面基板11内面の周縁部に沿って延びている。そ
して、封着面11aは、対向する2組の直線部と4つの
角部とを有しているとともに、側壁18の上面とほぼ同
一寸法および同一の幅と成っている。
Thereafter, the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sealed to each other via the side wall 18. In this case, as shown in FIGS. 4 and 5, first, the sealing surface 1 on the front substrate 11 side is used.
A base layer 31 is formed over the entire periphery of the inner peripheral portion 1a. The sealing surface 11 a has a rectangular frame shape corresponding to the upper surface of the side wall 18 which becomes the sealing surface 18 a on the rear substrate 12 side, and extends along the peripheral edge of the inner surface of the front substrate 11. The sealing surface 11 a has two pairs of straight portions and four corners facing each other, and has substantially the same dimensions and the same width as the upper surface of the side wall 18.

【0030】また、下地層31の幅は、封着面11aの
幅よりも僅かに狭く形成されている。本実施の形態にお
いて、下地層31は銀ペーストを塗布して形成する。
The width of the underlayer 31 is formed slightly smaller than the width of the sealing surface 11a. In the present embodiment, the base layer 31 is formed by applying a silver paste.

【0031】続いて、下地層31の上に、金属封着材料
としてインジウムを塗布し、下地層31の全周に亘って
切り目なく連続して延びたインジウム層32を形成す
る。この際、インジウム層32の内、封着面11aの各
直線部に沿って延びた部分は、多数の鋭角な屈曲部32
aを有したラーメン構造状のパターンを所定ピッチで連
続的に並べた形状に形成する。また、インジウム層32
はほぼ一定の幅に形成され、その結果、インジウム層3
2の両側縁も、多数の屈曲部を有した状態となる。な
お、インジウム層32は、下地層31の幅内に塗布す
る。
Subsequently, indium is applied as a metal sealing material on the underlayer 31 to form an indium layer 32 which extends continuously over the entire circumference of the underlayer 31 without a break. At this time, a portion of the indium layer 32 extending along each linear portion of the sealing surface 11a is formed by a large number of sharply bent portions 32.
A pattern having a ramen structure having a is formed in a shape in which the patterns are continuously arranged at a predetermined pitch. The indium layer 32
Is formed to have a substantially constant width, and as a result, the indium layer 3 is formed.
The two side edges also have many bent portions. Note that the indium layer 32 is applied within the width of the underlayer 31.

【0032】金属封着材料としては、融点が約350℃
以下で密着性、接合性に優れた低融点金属材料を使用す
ることが望ましい。本実施の形態で用いるインジウム
(In)は、融点156.7℃と低いだけでなく、蒸気
圧が低い、軟らかく衝撃に対して強い、低温でも脆くな
らないなどの優れた特徴がある。しかも、条件によって
はガラスに直接接合することができるので、本発明の目
的に好適した材料である。
The melting point of the metal sealing material is about 350 ° C.
In the following, it is desirable to use a low melting point metal material having excellent adhesion and bonding properties. Indium (In) used in this embodiment has not only a low melting point of 156.7 ° C. but also excellent characteristics such as a low vapor pressure, a soft and strong impact, and a low brittleness even at a low temperature. In addition, it can be directly bonded to glass depending on conditions, and is a material suitable for the purpose of the present invention.

【0033】また、低融点金属材料としては、Inの単
体ではなく、酸化銀、銀、金、銅、アルミニウム、亜
鉛、錫等の元素を単独あるいは複合で添加したインジウ
ム合金を用いることもできる。例えば、In97%−A
g3%の共晶合金では、融点が141℃とさらに低くな
り、しかも機械的強度を高めることができる。
Further, as the low melting point metal material, an indium alloy to which elements such as silver oxide, silver, gold, copper, aluminum, zinc, tin and the like are added alone or in combination can be used instead of simple substance of In. For example, In97% -A
In the case of g3% eutectic alloy, the melting point is further lowered to 141 ° C., and the mechanical strength can be increased.

【0034】なお、上記説明では、「融点」という表現
を用いているが、2種以上の金属からなる合金では、融
点が単一に定まらない場合がある。一般にそのような場
合には、液相線温度と固相線温度が定義される。前者
は、液体の状態から温度を下げていった際、合金の一部
が固体化し始める温度であり、後者は合金の全てが固体
化する温度である。本実施の形態では、説明の便宜上、
このような場合においても融点という表現を用いること
にし、固相線温度を融点と呼ぶことにする。
In the above description, the expression "melting point" is used, but in the case of an alloy composed of two or more kinds of metals, the melting point may not be determined singly. Generally, in such a case, the liquidus temperature and the solidus temperature are defined. The former is the temperature at which part of the alloy starts to solidify when the temperature is lowered from the liquid state, and the latter is the temperature at which all of the alloy solidifies. In the present embodiment, for convenience of explanation,
In such a case, the expression "melting point" will be used, and the solidus temperature will be called the melting point.

【0035】一方、前述した下地層31は、金属封着材
料に対して濡れ性および気密性の良い材料、つまり、金
属封着材料に対して親和性の高い材料を用いる。上述し
た銀ペーストの他、金、アルミニウム、ニッケル、コバ
ルト、銅等の金属ペーストを用いすることができる。金
属ペーストの他、下地層31として、銀、金、アルミニ
ウム、ニッケル、コバルト、銅等の金属メッキ層あるい
は蒸着膜、又はガラス材料層を用いることもできる。
On the other hand, the underlayer 31 is made of a material having good wettability and airtightness with respect to the metal sealing material, that is, a material having high affinity with the metal sealing material. In addition to the silver paste described above, a metal paste such as gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper can be used. In addition to the metal paste, as the base layer 31, a metal plating layer of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, copper, or the like, a deposited film, or a glass material layer can be used.

【0036】続いて、図6に示すように、封着面11a
に下地層31およびインジウム層32が形成された前面
基板11と、背面基板12に側壁18が封着された背面
側組立体とを、封着面11a、18a同士が向かい合っ
た状態で、かつ、所定の距離をおいて対向した状態で治
具等により保持し、真空処理装置に投入する。
Subsequently, as shown in FIG. 6, the sealing surface 11a
The front substrate 11 in which the underlayer 31 and the indium layer 32 are formed, and the rear assembly in which the side wall 18 is sealed to the rear substrate 12, with the sealing surfaces 11a and 18a facing each other, It is held by a jig or the like in a state of facing a predetermined distance, and is put into a vacuum processing apparatus.

【0037】図7に示すように、この真空処理装置10
0は、順に並んで設けられたロード室101、ベーキン
グ、電子線洗浄室102、冷却室103、ゲッタ膜の蒸
着室104、組立室105、冷却室106、およびアン
ロード室107を有している。これら各室は真空処理が
可能な処理室として構成され、FEDの製造時には全室
が真空排気されている。また、隣合う処理室間はゲート
バルブ等により接続されている。
As shown in FIG. 7, this vacuum processing apparatus 10
Numeral 0 has a load chamber 101, a baking, electron beam cleaning chamber 102, a cooling chamber 103, a getter film deposition chamber 104, an assembling chamber 105, a cooling chamber 106, and an unloading chamber 107 provided in order. . Each of these chambers is configured as a processing chamber capable of performing vacuum processing, and all the chambers are evacuated during the manufacture of the FED. Adjacent processing chambers are connected by a gate valve or the like.

【0038】所定の間隔をおいて対向した背面側組立体
および前面基板11は、ロード室101に投入され、ロ
ード室101内を真空雰囲気とした後、ベーキング、電
子線洗浄室102へ送られる。べーキング、電子線洗浄
室102では、10−5Pa程度の高真空度に達した時
点で、背面側組立体および前面基板を300℃程度の温
度に加熱してベーキングし、各部材の表面吸着ガスを十
分に放出させる。
The rear-side assembly and the front substrate 11 facing each other at a predetermined interval are put into a load chamber 101, and the inside of the load chamber 101 is evacuated to a vacuum atmosphere. In the baking and electron beam cleaning chamber 102, when a high degree of vacuum of about 10 −5 Pa is reached, the back assembly and the front substrate are heated to a temperature of about 300 ° C. and baked, and the surface of each member is adsorbed. Allow sufficient gas to be released.

【0039】この温度ではインジウム層(融点約156
℃)32が溶融する。ここで、前述したように、インジ
ウム層32は、多数の屈曲部32aを有したパターンに
形成されているため、溶融した場合でもインジウムの流
動が抑制される。同時に、インジウム層32は親和性の
高い下地層31上に形成されているため、溶融したイン
ジウムは流動することなく下地層31上に保持され、電
子放出素子22側や背面基板の外側、あるいは蛍光体ス
クリーン16側への流出が防止される。
At this temperature, the indium layer (having a melting point of about 156)
C) 32 melts. Here, as described above, since the indium layer 32 is formed in a pattern having a large number of bent portions 32a, the flow of indium is suppressed even when it is melted. At the same time, since the indium layer 32 is formed on the base layer 31 having a high affinity, the molten indium is held on the base layer 31 without flowing, and the molten indium is kept on the electron emission element 22 side, the outside of the rear substrate, or the fluorescence Outflow to the body screen 16 side is prevented.

【0040】また、べーキング、電子線洗浄室102で
は、加熱と同時に、べーキング、電子線洗浄室102に
取り付けられた図示しない電子線発生装置から、前面基
板11の蛍光体スクリーン面、および背面基板12の電
子放出素子面に電子線を照射する。この電子線は、電子
線発生装置外部に装着された偏向装置によって偏向走査
されるため、蛍光体スクリーン面、および電子放出素子
面の全面を電子線洗浄することが可能となる。
In the baking / electron beam cleaning chamber 102, simultaneously with heating, an electron beam generator (not shown) attached to the baking / electron beam cleaning chamber 102 sends a phosphor screen surface of the front substrate 11 and a back surface. An electron beam is irradiated on the electron-emitting device surface of the substrate 12. Since the electron beam is deflected and scanned by a deflecting device mounted outside the electron beam generator, it is possible to clean the entire surface of the phosphor screen surface and the electron emission element surface with the electron beam.

【0041】加熱、電子線洗浄後、背面基板側組立体お
よび前面基板11は冷却室103に送られ、例えば約1
00℃の温度の温度まで冷却される。続いて、背面側組
立体および前面基板11はゲッタ膜の蒸着室104へ送
られ、ここで蛍光体スクリーンの外側にゲッタ膜として
Ba膜が蒸着形成される。このBa膜は、表面が酸素や
炭素などで汚染されることが防止され、活性状態を維持
することができる。
After the heating and the electron beam cleaning, the rear substrate side assembly and the front substrate 11 are sent to the cooling chamber 103, for example, about 1 mm.
Cool to a temperature of 00 ° C. Subsequently, the back-side assembly and the front substrate 11 are sent to a getter film deposition chamber 104, where a Ba film is deposited as a getter film outside the phosphor screen. The surface of the Ba film is prevented from being contaminated with oxygen, carbon, or the like, and can maintain an active state.

【0042】次に、背面側組立体および前面基板11は
組立室105に送られ、ここで200℃まで加熱されイ
ンジウム層32が再び液状に溶融あるいは軟化される。
ここでも、上記と同様に、インジウム層32は、多数の
屈曲部32aを有したパターンに形成されているととも
に、親和性の高い下地層31上に形成されているため、
溶融したインジウムは流動することなく下地層31上に
保持される。そして、この状態で、前面基板11と側壁
18とを接合して所定の圧力で加圧した後、インジウム
を除冷して固化させる。これにより、前面基板11の封
着面11aと側壁18の封着面18aとが、インジウム
層32および下地層31を融合した封着層33によって
封着され、真空外囲器10が形成される。
Next, the rear-side assembly and the front substrate 11 are sent to an assembly chamber 105, where they are heated to 200 ° C., and the indium layer 32 is again melted or softened into a liquid state.
Also in this case, similarly to the above, the indium layer 32 is formed in a pattern having a large number of bent portions 32a and is formed on the high affinity base layer 31.
The molten indium is held on the underlayer 31 without flowing. Then, in this state, after the front substrate 11 and the side wall 18 are joined and pressurized at a predetermined pressure, the indium is cooled and solidified. Thereby, the sealing surface 11a of the front substrate 11 and the sealing surface 18a of the side wall 18 are sealed by the sealing layer 33 in which the indium layer 32 and the base layer 31 are fused, and the vacuum envelope 10 is formed. .

【0043】このようにして形成された真空外囲器10
は、冷却室106で常温まで冷却された後、アンロード
室107から取り出される。以上の工程により、FED
が完成する。
The vacuum envelope 10 thus formed is
Is cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and then taken out of the unloading chamber 107. By the above process, FED
Is completed.

【0044】以上のように構成されたFEDおよびその
製造方法によれば、真空雰囲気中で前面基板11、およ
び背面基板12の封着を行なうことにより、ベーキング
および電子線洗浄の併用によって基板の表面吸着ガスを
十分に放出させることができ、ゲッタ膜も酸化されず十
分なガス吸着効果を得ることができる。これにより、高
い真空度を維持可能なFEDを得ることができる。
According to the FED configured as described above and the method of manufacturing the same, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed in a vacuum atmosphere, so that the surface of the substrate can be combined with baking and electron beam cleaning. The adsorbed gas can be sufficiently released, and the getter film is not oxidized, so that a sufficient gas adsorbing effect can be obtained. Thereby, an FED that can maintain a high degree of vacuum can be obtained.

【0045】また、封着材料としてインジウムを使用す
ることにより封着時の発泡を抑えることができ、気密性
および封着強度の高いFEDを得ることが可能となる。
更に、封着面上に設けられたインジウム層32は、多数
の屈曲部32aを有したパターンに形成されているた
め、封着工程においてインジウムが溶融した場合でも、
インジウムの流出を抑制し所定位置に保持することがで
きる。従って、インジウムの取り扱いが簡単となり、5
0インチ以上の大型の画像表示装置であっても容易にか
つ確実に封着することができる。
Further, by using indium as a sealing material, foaming at the time of sealing can be suppressed, and an FED having high airtightness and sealing strength can be obtained.
Furthermore, since the indium layer 32 provided on the sealing surface is formed in a pattern having a large number of bent portions 32a, even when indium is melted in the sealing step,
Inflow of indium can be suppressed and the indium can be held at a predetermined position. Therefore, handling of indium is simplified, and 5
Even a large image display device having a size of 0 inch or more can be easily and reliably sealed.

【0046】同時に、本実施の形態によれば、インジウ
ム層32は親和性の高い下地層31上に形成されている
ため、封着工程においてインジウムが溶融した場合で
も、インジウムの流出を一層確実に防止し、容易かつ確
実な封着を実現することができる。
At the same time, according to the present embodiment, since the indium layer 32 is formed on the underlayer 31 having a high affinity, even if the indium is melted in the sealing step, the outflow of indium can be more reliably prevented. It is possible to realize easy and reliable sealing.

【0047】なお、上述した実施の形態において、イン
ジウム層32は、封着部11aの各直線部に沿って延び
た部分の全長に亘って多数の屈曲部を備えた構造とした
が、封着面11aの直線部に沿って延びた部分の少なく
とも一部に屈曲部あるいは湾曲部を有していれば、上記
実施の形態と同様に、溶融インジウムの流動を抑制する
効果を得ることができる。
In the above-described embodiment, the indium layer 32 has a structure having a large number of bent portions over the entire length of a portion extending along each linear portion of the sealing portion 11a. If at least a portion of the surface 11a extending along the linear portion has a bent portion or a curved portion, the effect of suppressing the flow of molten indium can be obtained as in the above-described embodiment.

【0048】また、インジウム層32のパターン形状
は、ラーメン構造状に限定されることなく、図8に示す
ような形状としても同様の作用効果を得ることができ
る。すなわち、インジウム層32は、図8(a)に示す
ような、屈曲部32の角度θが鋭角な鋸歯状パターン、
図8(b)に示すような、ほぼ直角な屈曲部32を有し
た連続的なクランク状パターン、図8(c)に示すよう
な、ほぼ三角形状の連続パターンとしても良い。更に、
インジウム層32のパターン形状は、屈曲部の組合わせ
に限らず、図8(d)に示すように、多数の湾曲部32
bを有した波状パターンとしても良く、あるいは、屈曲
部と湾曲部とを組合わせたパターンとすることも可能で
ある。
The pattern shape of the indium layer 32 is not limited to the ramen structure, and the same operation and effect can be obtained even if the pattern is as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 8A, the indium layer 32 has a sawtooth pattern in which the angle θ of the bent portion 32 is acute,
A continuous crank-shaped pattern having a bent portion 32 at a substantially right angle as shown in FIG. 8B, or a substantially triangular continuous pattern as shown in FIG. 8C may be used. Furthermore,
The pattern shape of the indium layer 32 is not limited to the combination of the bent portions, and as shown in FIG.
It may be a wavy pattern having b, or a pattern in which a bent portion and a curved portion are combined.

【0049】一方、上述した実施の形態および種々の変
形例において、インジウム層32は一定の幅を有した形
状としたが、封着面11aの直線部に沿って延びた部分
において、幅の異なる箇所を有し、側縁が凹凸をなした
形状としてもよい。
On the other hand, in the above-described embodiment and various modified examples, the indium layer 32 has a shape having a constant width. However, in the portion extending along the linear portion of the sealing surface 11a, the width is different. It may be a shape having a portion and a side edge having irregularities.

【0050】例えば、インジウム層32の各側縁に図9
(a)に示すよな矩形状の凸部40、あるいは、図9
(b)に示すような円弧状の凸部40を、インジウム層
の長手方向に沿って互いに離間して設けた構成としても
良い。
For example, each side edge of the indium layer 32 is
FIG. 9A shows a rectangular convex portion 40 shown in FIG.
A configuration in which arc-shaped convex portions 40 as shown in (b) are provided apart from each other along the longitudinal direction of the indium layer may be adopted.

【0051】この場合、図9(a)、9(b)に示すよ
うに、インジウム層32の一方の側縁に設けた凸部4
0、41は、他方の側縁に設けられた凸部40、41に
対し、インジウム層の長手方向に対して互いに重なって
配置されていてもよく、あるいは、図9(c)、9
(d)に示すように、インジウム層の長手方向に対し互
いにずれて配置されてもよい。
In this case, as shown in FIGS. 9A and 9B, the convex portions 4 provided on one side edge of the indium layer 32 are formed.
9 and 9 may be arranged so as to overlap with each other in the longitudinal direction of the indium layer with respect to the convex portions 40 and 41 provided on the other side edge, or alternatively, as shown in FIGS.
As shown in (d), they may be arranged shifted from each other in the longitudinal direction of the indium layer.

【0052】このようなインジウム層32を用いた場合
でも、インジウムが溶融した際の流動を抑制することが
できる。なお、凸部の形状は、矩形状、円弧状に限ら
ず、任意に選択可能である。また、凸部はインジウム層
32の少なくとも一方の側縁に設けられていればインジ
ウムの流動抑制効果を得ることができる。
Even when such an indium layer 32 is used, the flow when the indium is melted can be suppressed. In addition, the shape of the convex portion is not limited to a rectangular shape and an arc shape, and can be arbitrarily selected. In addition, if the convex portion is provided on at least one side edge of the indium layer 32, the effect of suppressing the flow of indium can be obtained.

【0053】また、上述した実施の形態では、封着面に
下地層を形成し、その上にインジウム層を形成する構成
としたが、下地層を用いることなく直接、封着面上にイ
ンジウム層を充填する構成としても良い。この場合にお
いても、インジウム層に上述した屈曲部あるいは湾曲部
を設けることにより、又は、凹凸を有した側縁形状とす
ることにより、インジウムの流動を抑制し、前述した実
施の形態と同様の作用効果を得ることができる。
In the above-described embodiment, the underlayer is formed on the sealing surface, and the indium layer is formed thereon. However, the indium layer is directly formed on the sealing surface without using the underlayer. May be filled. Also in this case, by providing the above-described bent portion or curved portion in the indium layer, or by forming a side edge shape having irregularities, the flow of indium is suppressed, and the same operation as the above-described embodiment is performed. The effect can be obtained.

【0054】一方、上述した実施の形態では、前面基板
11の封着面11aのみに下地層31およびインジウム
層32を形成した状態で封着する構成としたが、側壁1
8の封着面18aのみ、あるいは、図10に示すよう
に、前面基板11の封着面11aと側壁18の封着面1
8aとの両方に下地層31およびインジウム層32を形
成した状態で封着する構成としてもよい。
On the other hand, in the above-described embodiment, the sealing is performed in a state where the underlayer 31 and the indium layer 32 are formed only on the sealing surface 11a of the front substrate 11.
8 or only the sealing surface 11a of the front substrate 11 and the sealing surface 1 of the side wall 18 as shown in FIG.
The sealing may be performed in a state where the base layer 31 and the indium layer 32 are formed on both the substrate 8a and the substrate 8a.

【0055】その他、この発明は上述した実施の形態に
限定されることなく、この発明の範囲内で種々変形可能
である。例えば、背面基板と側壁との間を、上記と同様
の下地層31およびインジウム層32を融合した封着層
によって封着してもよい。また、前面基板あるいは背面
基板の一方の周縁部を折り曲げて形成し、これらの基板
を側壁を介することなく直接的に接合する構成としても
よい。
In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be variously modified within the scope of the present invention. For example, the space between the rear substrate and the side wall may be sealed by a sealing layer in which the underlayer 31 and the indium layer 32 are fused as described above. Alternatively, one peripheral portion of the front substrate or the back substrate may be formed by bending, and these substrates may be directly joined without interposing a side wall.

【0056】また、上述した実施の形態では、電子放出
素子として電界放出型の電子放出素子を用いたが、これ
に限らず、pn型の冷陰極素子あるいは表面伝導型の電
子放出素子等の他の電子放出素子を用いてもよい。ま
た、この発明は、プラズマ表示パネル(PDP)、エレ
クトロルミネッセンス(EL)等の他の画像表示装置に
も適用可能である。
In the above-described embodiment, a field emission type electron-emitting device is used as the electron-emitting device. However, the present invention is not limited to this. May be used. The present invention is also applicable to other image display devices such as a plasma display panel (PDP) and electroluminescence (EL).

【0057】[0057]

【発明の効果】以上詳述したように、この本発明によれ
ば、金属封着材の流動を抑制し、真空雰囲気中で容易に
封着を行うことができるとともに気密性および封着強度
の高い画像表示装置、およびその製造方法を提供するこ
とができる。
As described above in detail, according to the present invention, the flow of the metal sealing material can be suppressed, the sealing can be easily performed in a vacuum atmosphere, and the airtightness and the sealing strength can be improved. It is possible to provide a high image display device and a manufacturing method thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の形態に係るFEDを示す斜視
図。
FIG. 1 is a perspective view showing an FED according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の線A−Aに沿った断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG. 1;

【図3】上記FEDの蛍光体スクリーンを示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing a phosphor screen of the FED.

【図4】上記FEDの真空外囲器を構成する前面基板の
封着面に下地層およびインジウム層を形成した状態を示
す平面図およびインジウム層のパターンを拡大して示す
平面図。
FIG. 4 is a plan view showing a state in which a base layer and an indium layer are formed on a sealing surface of a front substrate constituting the vacuum envelope of the FED, and a plan view showing an enlarged pattern of the indium layer.

【図5】上記前面基板の封着面に下地層およびインジウ
ム層を形成した状態を示す斜視図。
FIG. 5 is a perspective view showing a state in which a base layer and an indium layer are formed on a sealing surface of the front substrate.

【図6】上記封着部に下地層およびインジウム層が形成
された前面基板と背面側組立体とを対向配置した状態を
示す断面図。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a front substrate on which a base layer and an indium layer are formed on the sealing portion and a rear assembly are opposed to each other.

【図7】上記FEDの製造に用いる真空処理装置を概略
的に示す図。
FIG. 7 is a view schematically showing a vacuum processing apparatus used for manufacturing the FED.

【図8】上記封着部に設けるインジウム層の変形パター
ンをそれぞれ概略的に示す平面図。
FIG. 8 is a plan view schematically showing a deformation pattern of an indium layer provided in the sealing portion.

【図9】上記封着部に設けるインジウム層の変形パター
ンをそれぞれ概略的に示す平面図。
FIG. 9 is a plan view schematically showing a deformation pattern of an indium layer provided in the sealing portion.

【図10】この発明の他の実施の形態に係るFEDの真
空外囲器を形成する工程において、前面基板の封着面に
下地層およびインジウム層を形成した状態を示す断面
図。
FIG. 10 is a sectional view showing a state in which a base layer and an indium layer are formed on a sealing surface of a front substrate in a step of forming a vacuum envelope of an FED according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…真空外囲器 11…前面基板 11a…封着面 12…背面基板 14…支持部材 16…蛍光体スクリーン 18…側壁 18a…封着面 22…電子放出素子 30…低融点ガラス 31…下地層 32…インジウム層 32a…屈曲部 32b…湾曲部 40、41…凸部 100…真空処理装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Vacuum envelope 11 ... Front substrate 11a ... Sealing surface 12 ... Back substrate 14 ... Support member 16 ... Phosphor screen 18 ... Side wall 18a ... Sealing surface 22 ... Electron emission element 30 ... Low melting point glass 31 ... Underlayer 32 indium layer 32a bent portion 32b curved portion 40, 41 convex portion 100 vacuum processing device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C012 AA05 BC03 5C032 AA01 BB18 5C036 EE14 EE17 EF01 EF06 EF09 EG05 EG06 EH01 EH26  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5C012 AA05 BC03 5C032 AA01 BB18 5C036 EE14 EE17 EF01 EF06 EF09 EG05 EG06 EH01 EH26

Claims (23)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】背面基板、およびこの背面基板に対向配置
されているとともに金属封着材により上記背面基板に直
接あるいは間接的に封着された前面基板を有した外囲器
と、上記外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素子
と、を備え、 上記金属封着材は上記背面基板と上記前面基板との間の
封着面に設けられ、この封着面の全周に亘って延びた金
属封着材層を形成しているとともに、上記金属封着材層
は、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少なくと
も一部において、屈曲部あるいは湾曲部を有しているこ
とを特徴とする画像表示装置。
An envelope having a back substrate, a front substrate disposed opposite to the back substrate, and directly or indirectly sealed to the back substrate by a metal sealing material, A plurality of image display elements provided inside the container, wherein the metal sealing material is provided on a sealing surface between the rear substrate and the front substrate, and extends over the entire circumference of the sealing surface. While forming a metal sealing material layer extending and extending, the metal sealing material layer has a bent portion or a curved portion in at least a part of a portion extending along a linear portion of the sealing surface. An image display device comprising:
【請求項2】上記屈曲部は鋭角に形成されていることを
特徴とする請求項1に記載の画像表示装置。
2. The image display device according to claim 1, wherein said bent portion is formed at an acute angle.
【請求項3】上記屈曲部はほぼ直角に形成されているこ
とを特徴とする請求項1に記載の画像表示装置。
3. The image display device according to claim 1, wherein said bent portion is formed substantially at a right angle.
【請求項4】上記金属封着材層はほぼ一定の幅に形成さ
れ、上記封着面の直線部に沿って延びた部分において、
鋸歯状に形成されていることを特徴とする請求項1に記
載の画像表示装置。
4. The metal sealing material layer is formed to have a substantially constant width, and at a portion extending along a linear portion of the sealing surface,
The image display device according to claim 1, wherein the image display device is formed in a sawtooth shape.
【請求項5】上記金属封着材層はほぼ一定の幅に形成さ
れ、上記封着面の直線部に沿って延びた部分において、
複数の連続したクランク状に形成されていることを特徴
とする請求項1に記載の画像表示装置。
5. The metal sealing material layer is formed to have a substantially constant width, and at a portion extending along a linear portion of the sealing surface,
The image display device according to claim 1, wherein the image display device is formed in a plurality of continuous crank shapes.
【請求項6】上記金属封着材層はほぼ一定の幅に形成さ
れ、上記封着面の直線部に沿って延びた部分において、
連続したラーメン構造状のパターンに形成していること
を特徴とする請求項1に記載の画像表示装置。
6. The metal sealing material layer is formed to have a substantially constant width, and at a portion extending along a linear portion of the sealing surface,
The image display device according to claim 1, wherein the image display device is formed in a continuous ramen structure pattern.
【請求項7】上記金属封着材層はほぼ一定の幅に形成さ
れ、上記封着面の直線部に沿って延びた部分において、
波状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載
の画像表示装置。
7. The metal sealing material layer is formed to have a substantially constant width, and at a portion extending along a linear portion of the sealing surface,
The image display device according to claim 1, wherein the image display device is formed in a wavy shape.
【請求項8】背面基板、およびこの背面基板に対向配置
されているとともに金属封着材により上記背面基板に直
接あるいは間接的に封着された前面基板を有した外囲器
と、上記外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素子
と、を備え、 上記金属封着材は上記背面基板と上記前面基板との間の
封着面に設けられ、この封着面の全周に亘って延びた金
属封着材層を形成しているとともに、上記金属封着材層
は、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少なくと
も一部において、凹凸を有した側縁を備えていることを
特徴とする画像表示装置。
8. An envelope having a rear substrate, a front substrate disposed to face the rear substrate, and directly or indirectly sealed to the rear substrate by a metal sealing material, A plurality of image display elements provided inside the container, wherein the metal sealing material is provided on a sealing surface between the rear substrate and the front substrate, and extends over the entire circumference of the sealing surface. Forming a metal sealing material layer extending along, the metal sealing material layer has a side edge having irregularities in at least a part of a portion extending along a linear portion of the sealing surface. An image display device comprising:
【請求項9】上記金属封着材層は、上記封着面の直線部
に沿って延びた部分において、幅の異なる箇所を有して
いることを特徴とする請求項8に記載の画像表示装置。
9. The image display according to claim 8, wherein the metal sealing material layer has portions having different widths in a portion extending along a linear portion of the sealing surface. apparatus.
【請求項10】上記金属封着材層は、上記封着面の直線
部に沿って延びた一対の側縁を有し、少なくとも一方の
側縁は、互いに離間して位置した複数の凸部を有してい
ることを特徴とする請求項9に記載の画像表示装置。
10. The metal sealing material layer has a pair of side edges extending along a linear portion of the sealing surface, and at least one side edge has a plurality of protrusions located apart from each other. The image display device according to claim 9, further comprising:
【請求項11】上記金属封着材層は、上記封着面の直線
部に沿って延びた一対の側縁を有し、各側縁は、互いに
離間して位置した複数の凸部を有していることを特徴と
する請求項9に記載の画像表示装置。
11. The metal sealing material layer has a pair of side edges extending along a straight portion of the sealing surface, and each side edge has a plurality of convex portions spaced apart from each other. The image display device according to claim 9, wherein:
【請求項12】上記金属封着材層の一方の側縁に設けら
れた凸部は、他方の側縁に設けられた凸部に対し、上記
金属封着材層の長手方向に互いにずれて配置されている
ことを特徴とする請求項11に記載の画像表示装置。
12. A projection provided on one side edge of the metal sealing material layer is shifted from the projection provided on the other side edge in the longitudinal direction of the metal sealing material layer. The image display device according to claim 11, wherein the image display device is arranged.
【請求項13】上記金属封着材層の一方の側縁に設けら
れた凸部は、他方の側縁に設けられた凸部とそれぞれ対
向する位置に配置されていることを特徴とする請求項1
1に記載の画像表示装置。
13. A projection provided on one side edge of the metal sealing material layer is arranged at a position facing each of the projections provided on the other side edge. Item 1
2. The image display device according to 1.
【請求項14】上記金属封着材層は、融点が350℃以
下の低融点金属材料により形成されていることを特徴と
する請求項1ないし13のいずれか1項に記載の画像表
示装置。
14. The image display device according to claim 1, wherein the metal sealing material layer is formed of a low melting point metal material having a melting point of 350 ° C. or less.
【請求項15】上記低融点金属材料は、インジウムまた
はインジウムを含む合金であることを特徴とする請求項
14記載の画像表示装置。
15. The image display device according to claim 14, wherein said low melting point metal material is indium or an alloy containing indium.
【請求項16】上記封着面に設けられ上記金属封着材層
と異種の下地層を備え、上記金属封着材層は上記下地層
に重ねて設けられていることを特徴とする請求項1ない
し15のいずれか1項に記載の画像表示装置。
16. The semiconductor device according to claim 16, further comprising an underlayer provided on said sealing surface and different from said metal sealing material layer, wherein said metal sealing material layer is provided so as to overlap said underlayer. 16. The image display device according to any one of 1 to 15.
【請求項17】上記下地層は、銀、金、アルミニウム、
ニッケル、コバルト、銅の少なくとも1つを含む金属ペ
ーストにより形成されていることを特徴とする請求項1
6に記載の画像表示装置。
17. The method according to claim 17, wherein the underlayer is silver, gold, aluminum,
2. A metal paste containing at least one of nickel, cobalt, and copper.
7. The image display device according to 6.
【請求項18】上記下地層は、銀、金、アルミニウム、
ニッケル、コバルト、銅の少なくとも1つを含む金属メ
ッキ層あるいは蒸着膜、又はガラス材料により形成され
ていることを特徴とする請求項17に記載の画像表示装
置。
18. The method according to claim 18, wherein the underlayer is made of silver, gold, aluminum,
18. The image display device according to claim 17, wherein the image display device is formed of a metal plating layer or a deposition film containing at least one of nickel, cobalt, and copper, or a glass material.
【請求項19】背面基板、およびこの背面基板に対向配
置されているとともに金属封着材により上記背面基板に
直接あるいは間接的に封着された前面基板を有した外囲
器と、 上記前面基板の内面に形成された蛍光体スクリーンと、 上記背面基板上に設けられ、上記蛍光体スクリーンに電
子ビームを放出し蛍光体スクリーンを発光させる電子放
出源と、を備え、 上記金属封着材は上記背面基板と上記前面基板との間の
封着面に設けられ、この封着面の全周に亘って延びた金
属封着材層を形成しているとともに、上記金属封着材層
は、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少なくと
も一部において、屈曲部あるいは湾曲部を有しているこ
とを特徴とする画像表示装置。
19. An envelope having a back substrate, a front substrate disposed opposite to the back substrate and sealed directly or indirectly to the back substrate with a metal sealing material, and the front substrate A phosphor screen formed on the inner surface of the substrate, and an electron emission source provided on the rear substrate, for emitting an electron beam to the phosphor screen to emit light from the phosphor screen. A metal sealing material layer is provided on a sealing surface between the rear substrate and the front substrate, and extends over the entire circumference of the sealing surface, and the metal sealing material layer is An image display device comprising a bent portion or a curved portion in at least a part of a portion extending along a linear portion of a sealing surface.
【請求項20】背面基板、およびこの背面基板に対向配
置されているとともに金属封着材により上記背面基板に
直接あるいは間接的に封着された前面基板を有した外囲
器と、上記外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素
子と、を備えた画像表示装置の製造方法において、 上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に金属封着
材を充填し、この封着面の全周に亘って延びた金属封着
材層を形成する工程と、 上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属封着
材を加熱して溶融させ、上記背面基板と上記前面基板と
を上記封着面で直接あるいは間接的に封着する工程と、
を備え、 上記金属封着材を充填する工程において、上記金属封着
材層の内、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少
なくとも一部に屈曲部あるいは湾曲部を形成することを
特徴とする画像表示装置の製造方法。
20. An envelope having a rear substrate, a front substrate disposed opposite to the rear substrate, and directly or indirectly sealed to the rear substrate by a metal sealing material; A plurality of image display elements provided inside the container, a method for manufacturing an image display device comprising: a metal sealing material is filled in a sealing surface between the rear substrate and the front substrate; A step of forming a metal sealing material layer extending over the entire periphery of the mounting surface, and after filling the metal sealing material, heat and melt the metal sealing material in a vacuum atmosphere to form the back substrate and A step of directly or indirectly sealing the front substrate with the sealing surface,
In the step of filling the metal sealing material, a bent portion or a curved portion is formed in at least a part of a portion of the metal sealing material layer extending along a linear portion of the sealing surface. A method for manufacturing an image display device, comprising:
【請求項21】背面基板、およびこの背面基板に対向配
置されているとともに金属封着材により上記背面基板に
直接あるいは間接的に封着された前面基板を有した外囲
器と、上記外囲器の内側に設けられた複数の画像表示素
子と、を備えた画像表示装置の製造方法において、 上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に金属封着
材を充填し、この封着面の全周に亘って延びた金属封着
材層を形成する工程と、 上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属封着
材を加熱して溶融させ、上記背面基板と上記前面基板と
を上記封着面で直接あるいは間接的に封着する工程と、
を備え、 上記金属封着材を充填する工程において、上記金属封着
材層の内、上記封着面の直線部に沿って延びた部分の少
なくとも一部が凹凸を有した側縁を形成するように上記
金属封着材を充填することを特徴とする画像表示装置の
製造方法。
21. An envelope having a back substrate, a front substrate disposed opposite to the back substrate, and directly or indirectly sealed to the back substrate by a metal sealing material; A plurality of image display elements provided inside the container, a method for manufacturing an image display device comprising: a metal sealing material is filled in a sealing surface between the rear substrate and the front substrate; A step of forming a metal sealing material layer extending over the entire periphery of the mounting surface, and after filling the metal sealing material, heat and melt the metal sealing material in a vacuum atmosphere to form the back substrate and A step of directly or indirectly sealing the front substrate with the sealing surface,
In the step of filling the metal sealing material, at least a part of the metal sealing material layer extending along the linear portion of the sealing surface forms a side edge having irregularities. A method of manufacturing an image display device, characterized by filling the above-mentioned metal sealing material.
【請求項22】上記金属封着材層を、融点が350℃以
下の低融点金属材料により形成することを特徴とする請
求項20又は21に記載の画像表示装置の製造方法。
22. The method according to claim 20, wherein the metal sealing material layer is formed of a low melting point metal material having a melting point of 350 ° C. or less.
【請求項23】上記低融点金属材料は、インジウムまた
はインジウムを含む合金であることを特徴とする請求項
22記載の画像表示装置の製造方法。
23. The method according to claim 22, wherein the low melting point metal material is indium or an alloy containing indium.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004064102A1 (en) * 2003-01-10 2004-07-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Image display device and method of producing the same
WO2005083739A1 (en) * 2004-03-02 2005-09-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Image forming device
KR100529071B1 (en) * 2002-11-26 2005-11-15 삼성에스디아이 주식회사 Plasma display panel having sealing structure for reducing noise
WO2005109463A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of producing image display device
KR100657953B1 (en) * 2005-02-23 2006-12-14 삼성에스디아이 주식회사 Sealing structure of a field emission display device, and a manufacturing method of the same
KR100658752B1 (en) 2004-12-08 2006-12-15 삼성에스디아이 주식회사 Plasma display panel
US7857674B2 (en) 2008-01-07 2010-12-28 Canon Kabushiki Kaisha Bonding member bonding method and method for manufacturing image display apparatus
US7888854B2 (en) 2002-10-21 2011-02-15 Canon Kabushiki Kaisha Manufacturing method of airtight container, manufacturing method of image display device, and bonding method

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7888854B2 (en) 2002-10-21 2011-02-15 Canon Kabushiki Kaisha Manufacturing method of airtight container, manufacturing method of image display device, and bonding method
US8018132B2 (en) 2002-10-21 2011-09-13 Canon Kabushiki Kaisha Manufacturing method of airtight container, manufacturing method of image display device, and bonding method
KR100529071B1 (en) * 2002-11-26 2005-11-15 삼성에스디아이 주식회사 Plasma display panel having sealing structure for reducing noise
WO2004064102A1 (en) * 2003-01-10 2004-07-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Image display device and method of producing the same
WO2005083739A1 (en) * 2004-03-02 2005-09-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Image forming device
WO2005109463A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of producing image display device
US7264529B2 (en) 2004-05-11 2007-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of manufacturing an image display device having a sealing portion which seals peripheral edges of front and back substrates
KR100658752B1 (en) 2004-12-08 2006-12-15 삼성에스디아이 주식회사 Plasma display panel
KR100657953B1 (en) * 2005-02-23 2006-12-14 삼성에스디아이 주식회사 Sealing structure of a field emission display device, and a manufacturing method of the same
US7541730B2 (en) 2005-02-23 2009-06-02 Samsung Sdi Co., Ltd. Sealing structure of field emission display device and method of manufacturing the same
US7857674B2 (en) 2008-01-07 2010-12-28 Canon Kabushiki Kaisha Bonding member bonding method and method for manufacturing image display apparatus

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