JP2000193994A - Reflection type liquid crystal display device - Google Patents

Reflection type liquid crystal display device

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JP2000193994A
JP2000193994A JP10369541A JP36954198A JP2000193994A JP 2000193994 A JP2000193994 A JP 2000193994A JP 10369541 A JP10369541 A JP 10369541A JP 36954198 A JP36954198 A JP 36954198A JP 2000193994 A JP2000193994 A JP 2000193994A
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JP
Japan
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liquid crystal
film
crystal display
display device
light
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JP10369541A
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Japanese (ja)
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Takayuki Iwasa
隆行 岩佐
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Victor Company of Japan Ltd
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Victor Company of Japan Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a reflection type liquid crystal display device which can yield excellent contrast by decreasing the reflectance of an anti reflection film below 10% over the entire visible light region. SOLUTION: On a substrate 1, at least transistors 2, an insulating layer 4, a shading film 13a formed of metal formed so as to cover the transistors 2 in the insulating layer 4, the reflection preventive film 14, pixel electrodes 15 arrayed having a prescribed pixel pitch, a liquid crystal layer 16, and a glass substrate 17 covering the entire surface of the liquid crystal layer 16 are stacked in order and a wiring layer 12 is provided to connect the transistors 2 and pixel electrodes 15, thus constituting the reflection type liquid crystal device. In this case, the reflection preventive film 14 is composed of nitride 14a and a dielectric film 14 with a different refractive index from the insulating layer 4 which are formed in order on the shading film 13a.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、読出し光を入射さ
せ、この読出し光を反射させて表示を行う反射型液晶表
示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a reflection type liquid crystal display device in which a reading light is made incident and a display is performed by reflecting the reading light.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、透過型や反射型の液晶表示装
置を用いた液晶プロジェクタが知られている。透過型の
液晶表示装置は、液晶を駆動する駆動回路及び配線が液
晶パネルの面内にあって画素の周辺に約10μm程の幅
で形成されているため、液晶パネルの表示領域全面に対
する光変調に係わる画素領域の占める割合(以下、開口
率という)が低い。現状最も開口率の高い透過型液晶表
示装置でも開口率は60%程度の報告しかない。透過型
液晶表示装置は、画素数が増し(高解像度)画素密度が
上がると、開口率が低下するので、この透過型液晶表示
装置を搭載した液晶プロジェクタでは高輝度な表示画像
を得ることが困難であった。そこで近年、高輝度、高解
像度の液晶プロジェクタとして反射型液晶表示装置を用
いた液晶プロジェクタが開発され実用化している。
2. Description of the Related Art A liquid crystal projector using a transmission type or reflection type liquid crystal display device has been conventionally known. In a transmissive liquid crystal display device, a driving circuit and wiring for driving the liquid crystal are formed in the plane of the liquid crystal panel and formed with a width of about 10 μm around a pixel, so that light modulation over the entire display area of the liquid crystal panel is performed. (Hereinafter referred to as an aperture ratio). At present, even a transmissive liquid crystal display device having the highest aperture ratio has a report of an aperture ratio of only about 60%. In a transmissive liquid crystal display device, as the number of pixels increases (high resolution) and the pixel density increases, the aperture ratio decreases. Therefore, it is difficult to obtain a high-luminance display image with a liquid crystal projector equipped with the transmissive liquid crystal display device. Met. Therefore, in recent years, a liquid crystal projector using a reflective liquid crystal display device has been developed and put into practical use as a high-brightness, high-resolution liquid crystal projector.

【0003】反射型液晶表示装置は、大略、基板上に所
定のピッチを有してマトリクス状に形成された複数の画
素電極と、前記基板と前記画素電極の間に形成され、前
記画素電極を駆動する駆動回路と、前記画素電極上に形
成された液晶層とからなる構成を有している。この反射
型液晶表示装置の動作は、前記駆動回路により前記液晶
層に画像情報の書き込みを行うと共に、前記液晶層側か
ら読出し光を照射し、前記画像情報に対応して光変調さ
れた情報光を放射することによって行われる。
[0003] A reflective liquid crystal display device is generally formed of a plurality of pixel electrodes formed in a matrix at a predetermined pitch on a substrate, and formed between the substrate and the pixel electrodes. It has a configuration including a driving circuit for driving and a liquid crystal layer formed on the pixel electrode. The operation of the reflection type liquid crystal display device is such that the drive circuit writes image information to the liquid crystal layer, irradiates read light from the liquid crystal layer side, and modulates information light corresponding to the image information. It is done by radiating

【0004】通常、この反射型液晶表示装置の光変調に
係わらない無効となる領域は、前記画素電極間の0.5
乃至0.7μm程であるから、例えば14μmの画素電
極ピッチを有する反射型液晶表示装置の場合では、90
乃至93%の開口率を得ることができる。従って、反射
型液晶表示装置は、高輝度、高解像度の液晶プロジェク
タを提供するのに好適な液晶表示装置として注目されて
いる。
Usually, an ineffective area irrespective of light modulation of the reflection type liquid crystal display device has a distance between the pixel electrodes of 0.5.
In the case of a reflective liquid crystal display device having a pixel electrode pitch of, for example, 14 μm,
An aperture ratio of up to 93% can be obtained. Therefore, the reflection type liquid crystal display device has been attracting attention as a liquid crystal display device suitable for providing a high-brightness, high-resolution liquid crystal projector.

【0005】このような反射型液晶表示装置について図
5、図6を用いて説明する。図5は、従来の反射型液晶
表示装置の液晶パネルを示す断面図である。図6は、従
来の反射型液晶表示装置を上面からみた様子を示す平面
図である。図5及び図6に示すように、従来の反射型液
晶表示装置の液晶パネルは、シリコン基板1と、このシ
リコン基板1上に並列して形成されたMOS型トランジ
スタ2及び保持容量3と、これらのMOS型トランジス
タ2と保持容量3上に順次形成された屈折率1.45か
らなる層間絶縁膜4と、液晶セル5とからなる画素Aが
配列して構成されている。MOS型トランジスタ2と保
持容量3との間には、分離酸化膜9が形成され、MOS
型トランジスタ2と保持容量3とを電気的に分離してい
る。MOS型トランジスタ2は、ソース6と、ドレイン
8と、ソース6とドレイン8との間に挟持されたゲート
7とからなる。
[0005] Such a reflection type liquid crystal display device will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG. 5 is a sectional view showing a liquid crystal panel of a conventional reflection type liquid crystal display device. FIG. 6 is a plan view showing a state in which a conventional reflective liquid crystal display device is viewed from above. As shown in FIGS. 5 and 6, the liquid crystal panel of the conventional reflection type liquid crystal display device includes a silicon substrate 1, a MOS transistor 2 and a storage capacitor 3 formed in parallel on the silicon substrate 1, and The pixel A is composed of an interlayer insulating film 4 having a refractive index of 1.45 and a liquid crystal cell 5 sequentially formed on the MOS transistor 2 and the storage capacitor 3. An isolation oxide film 9 is formed between the MOS transistor 2 and the storage capacitor 3,
The type transistor 2 and the storage capacitor 3 are electrically separated. The MOS transistor 2 includes a source 6, a drain 8, and a gate 7 held between the source 6 and the drain 8.

【0006】保持容量3は、シリコン基板1中に形成さ
れた高濃度層10と、層間絶縁膜4を介して、この高濃
度層10に対向配置された保持電極11とからなる。液
晶セル5は、画素電極間隙15aを有してAlからなる
画素電極15と、液晶層16と、ガラス基板17が順次
積層されてなる。後述するように、層間絶縁膜4中に
は、画素電極間隙15aから侵入する読出し光がMOS
型トランジスタ2に侵入しないように、所定のピッチを
有したAlからなる遮光膜13aがMOS型トランジス
タ2と画素電極間隙15a及び画素電極15との間に形
成されている。
The storage capacitor 3 is composed of a high-concentration layer 10 formed in the silicon substrate 1 and a storage electrode 11 disposed opposite the high-concentration layer 10 with an interlayer insulating film 4 interposed therebetween. The liquid crystal cell 5 includes a pixel electrode 15 made of Al having a pixel electrode gap 15a, a liquid crystal layer 16, and a glass substrate 17 sequentially laminated. As will be described later, in the interlayer insulating film 4, the readout light that enters from the pixel electrode gap 15a
A light shielding film 13a made of Al and having a predetermined pitch is formed between the MOS type transistor 2 and the pixel electrode gap 15a and the pixel electrode 15 so as not to enter the type transistor 2.

【0007】配線層13bは、配線層12を介して画素
電極15、MOS型トランジスタ2のドレイン8及び保
持電極11に接続されている。更に、遮光膜13a及び
配線層13b上には、窒化チタンからなる反射防止膜1
4が形成されている。また、MOS型トランジスタ2の
ソース6は、図示しない画像信号配線に、ゲート7は、
図示しない走査信号配線に接続されている。
The wiring layer 13b is connected to the pixel electrode 15, the drain 8 of the MOS transistor 2, and the holding electrode 11 via the wiring layer 12. Further, on the light shielding film 13a and the wiring layer 13b, an antireflection film 1 made of titanium nitride is formed.
4 are formed. The source 6 of the MOS transistor 2 is connected to an image signal wiring (not shown), and the gate 7 is connected to
It is connected to a scanning signal wiring (not shown).

【0008】次に、従来の反射型液晶表示装置の液晶パ
ネルの動作について説明する。図示しない画像信号配線
を介して、画像信号がソース6に印加された状態で、図
示しない走査信号配線を介して、走査信号がゲート7に
加わるとMOS型トランジスタ2がオンとなり画像信号
の電荷が保持容量3及び液晶セル5に充電され、この画
像信号が液晶層16に書き込まれる。この状態で、読出
し光をガラス基板17側から液晶セル3に入射させる
と、この読出し光は、画像信号に応じて液晶セル3を通
過中に液晶層16で光変調を受け、反射防止膜14及び
画素電極15によって反射され、再び液晶層16で光変
調されてガラス基板17から画像情報光として射出す
る。このガラス基板17から放出された画像情報光をス
クリーン上に拡大投写することによって画像表示を行う
ことができる。
Next, the operation of the liquid crystal panel of the conventional reflection type liquid crystal display device will be described. When a scanning signal is applied to the gate 7 via a scanning signal line (not shown) in a state where the image signal is applied to the source 6 via an image signal line (not shown), the MOS transistor 2 is turned on and charges of the image signal are discharged. The storage capacitor 3 and the liquid crystal cell 5 are charged, and this image signal is written to the liquid crystal layer 16. In this state, when reading light is incident on the liquid crystal cell 3 from the glass substrate 17 side, the reading light undergoes light modulation in the liquid crystal layer 16 while passing through the liquid crystal cell 3 in accordance with an image signal, and the antireflection film 14 is formed. Then, the light is reflected by the pixel electrode 15, light-modulated again by the liquid crystal layer 16, and emitted from the glass substrate 17 as image information light. An image can be displayed by enlarging and projecting the image information light emitted from the glass substrate 17 onto a screen.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
反射型液晶表示装置は、以下の問題点を有していた。前
記液晶パネルを1枚用いる単板方式の場合、全可視光領
域(4000オングストローム乃至7000オングスト
ロームの波長)の光が用いられるが、層間絶縁膜4に用
いられる酸化膜と反射防止膜14に用いられる窒化チタ
ンは、この中の1部の波長の光に対してだけ反射率が低
くなるだけで、それ以外の波長の光に対しては反射防止
をすることができない。このため、画素電極間隙15a
から入射する読出し光が反射防止膜14で反射されて隣
接する画素の液晶層17中に侵入し、隣接した画素に照
射される読出し光との間で干渉を生じて、コントラスト
の低下を生じていた。このため、良好なコントラストを
有する高品質な表示画像が得られなかった。一般的に、
全可視光領域に対して反射防止膜14の反射率が10%
以下であれば、読出し光が反射防止膜14で反射されて
隣接する画素の液晶層16に侵入することを防止できる
ため、コントラストを大幅に劣化させないと言われてい
るので、反射防止膜14の反射率を10%以下にするこ
とが必要とされている。また、液晶パネルを3枚用いる
三板方式の場合、それぞれ赤、青、緑の液晶パネルに用
いられる反射防止膜14は、それぞれに入射する光に対
して反射防止すればよい。即ち、赤に用いられる液晶パ
ネルの反射防止膜14では、赤(波長が6000オング
ストローム乃至7000オングストロームの光)のみを
反射防止すれば、コントラストの良好な画像を得ること
ができるので、全可視光領域において、この反射率を1
0%以下に抑える必要はない。しかし、赤、青、緑の液
晶パネルは、それぞれにおいて、反射防止膜14の膜厚
を変えて最適化を図る必要があり、赤、青、緑の液晶パ
ネルの共通化を行うことができなかった。このため、生
産性を低下させていた。また、遮光膜13a上の反射防
止膜14の反射防止効果が低いと、画素電極間隙15a
から入射する読出し光が反射防止膜14と画素電極15
との間を伝搬してMOS型トランジスタ2に到達し、こ
のMOS型トランジスタ2のトランジスタ性能を劣化さ
せていた。
However, the conventional reflection type liquid crystal display device has the following problems. In the case of the single-panel system using one liquid crystal panel, light in the entire visible light region (wavelength of 4000 to 7000 angstroms) is used, but it is used for the oxide film used for the interlayer insulating film 4 and the antireflection film 14. Titanium nitride only has a low reflectance with respect to light of a part of the wavelength, but cannot prevent reflection of light of other wavelengths. Therefore, the pixel electrode gap 15a
Is reflected by the antireflection film 14 and penetrates into the liquid crystal layer 17 of an adjacent pixel, causing interference with the read light applied to the adjacent pixel, thereby lowering the contrast. Was. For this reason, a high-quality display image having good contrast could not be obtained. Typically,
The reflectance of the antireflection film 14 is 10% in the entire visible light region.
In the following case, it is said that the read light is prevented from being reflected by the antireflection film 14 and entering the liquid crystal layer 16 of the adjacent pixel, so that the contrast is not significantly deteriorated. It is required that the reflectance be 10% or less. In the case of a three-panel system using three liquid crystal panels, the antireflection films 14 used for the red, blue, and green liquid crystal panels, respectively, only need to prevent reflection of incident light. That is, in the antireflection film 14 of the liquid crystal panel used for red, if only red (light having a wavelength of 6000 Å to 7000 Å) is prevented from being reflected, an image with good contrast can be obtained. , The reflectance is 1
It is not necessary to keep it below 0%. However, it is necessary to optimize the red, blue, and green liquid crystal panels by changing the thickness of the antireflection film 14, and the red, blue, and green liquid crystal panels cannot be shared. Was. For this reason, the productivity has been reduced. If the antireflection effect of the antireflection film 14 on the light shielding film 13a is low, the pixel electrode gap 15a
The read light incident from the surface is reflected by the antireflection film 14 and the pixel electrode 15.
And reaches the MOS transistor 2 to deteriorate the transistor performance of the MOS transistor 2.

【0010】そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなさ
れたものであり、可視光領域全域に渡って、反射防止膜
の反射率を10%以下にし、良好なコントラストが得ら
れる反射型液晶表示装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and has a reflection type liquid crystal display in which the reflectance of an antireflection film is reduced to 10% or less over the entire visible light region and a good contrast is obtained. It is intended to provide a device.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の反射型液晶表示
装置は、少なくとも、基板上にトランジスタと、絶縁層
と、前記絶縁層中に前記トランジスタを覆うようにして
形成された金属からなる遮光膜と、反射防止膜と、所定
画素ピッチを有して配列された画素電極と、液晶層と、
前記液晶層を全面覆うガラス基板が順次積層され、かつ
前記トランジスタと前記画素電極とを接続する配線層と
からなる反射型液晶表示装置において、前記反射防止膜
は、前記遮光膜上に順次形成された窒化物と、前記絶縁
層と屈折率の異なる誘電体膜とからなることを特徴とす
る。
According to the present invention, there is provided a reflection type liquid crystal display device comprising at least a transistor on a substrate, an insulating layer, and a light-shielding metal formed in the insulating layer so as to cover the transistor. A film, an anti-reflection film, a pixel electrode arranged with a predetermined pixel pitch, and a liquid crystal layer,
In a reflective liquid crystal display device in which a glass substrate covering the entire surface of the liquid crystal layer is sequentially laminated, and a wiring layer connecting the transistor and the pixel electrode, the antireflection film is sequentially formed on the light shielding film. And a dielectric film having a different refractive index from the insulating layer.

【0012】第2の発明は、請求項1記載の反射型液晶
表示装置において、前記反射防止膜は、波長4000オ
ングストローム乃至7000オングストロームの光に対
して10%以下の反射率を有する膜であることを特徴と
する。
According to a second aspect of the present invention, in the reflective liquid crystal display device according to the first aspect, the antireflection film is a film having a reflectance of 10% or less with respect to light having a wavelength of 4000 to 7000 angstroms. It is characterized by.

【0013】第3の発明は、請求項1又は2記載の反射
型液晶表示装置において、前記窒化物は、窒化チタンで
あり、前記誘電体膜は、窒化シリコンであることを特徴
とする。
According to a third aspect of the present invention, in the reflective liquid crystal display device according to the first or second aspect, the nitride is titanium nitride, and the dielectric film is silicon nitride.

【0014】第4の発明は、請求項1乃至4記載の反射
型液晶表示装置において、前記遮光膜は、Alであり、
前記窒化チタンの厚さを800オングストローム乃至1
200オングストローム、前記窒化シリコンの厚さを5
00オングストロームとすることを特徴とする
According to a fourth aspect of the present invention, in the reflective liquid crystal display device according to any one of the first to fourth aspects, the light shielding film is made of Al;
The thickness of the titanium nitride is 800 angstrom to 1
200 Å, the thickness of the silicon nitride is 5
Characterized as 00 angstrom

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の反射型液晶表示装
置について、図1乃至4を参照して説明する。本発明の
反射型液晶表示装置は、従来の反射型液晶表示装置の画
素Aの代わりに反射防止膜14を窒化チタン(以下、T
iNという)14aと窒化シリコン(以下、SiNとい
う)14bの2層からなるようにした画素Mにしたもの
である。図1は、本発明の反射型液晶表示装置の液晶パ
ネルの1画素を示す図である。図2は、Al上に順次形
成された窒化シリコンと窒化チタンの厚さを固定させた
場合の反射率と波長との関係を示す図である。図3は、
Al上に順次形成された窒化シリコンと窒化チタンのう
ち窒化チタンの厚さを固定し、窒化シリコンの厚さを変
化させた場合の反射率と波長との関係を示す図である。
図4は、Al上に順次形成された窒化シリコンと窒化チ
タンのうち窒化シリコンの厚さを固定し、窒化チタンの
厚さを変化させた場合の反射率と波長との関係を示す図
である。従来と同一構成には同一符号を付し、その説明
を省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a reflection type liquid crystal display device of the present invention will be described with reference to FIGS. In the reflection type liquid crystal display device of the present invention, the antireflection film 14 is formed of titanium nitride (hereinafter, referred to as T) instead of the pixel A of the conventional reflection type liquid crystal display device.
The pixel M has two layers, i.e., iN) 14a and silicon nitride (hereinafter, SiN) 14b. FIG. 1 is a diagram showing one pixel of a liquid crystal panel of a reflection type liquid crystal display device of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of silicon nitride and titanium nitride formed sequentially on Al is fixed. FIG.
FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of titanium nitride is fixed and the thickness of silicon nitride is changed among silicon nitride and titanium nitride sequentially formed on Al.
FIG. 4 is a view showing the relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of silicon nitride is fixed and the thickness of titanium nitride is changed among the silicon nitride and titanium nitride sequentially formed on Al. . The same components as those in the related art are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0016】図1に示すように、本発明の反射型液晶表
示装置の液晶パネルは、シリコン基板1と、このシリコ
ン基板1上に並列して形成されたMOS型トランジスタ
2及び保持容量3と、これらのMOSトランジスタ2と
保持容量3上に順次形成された層間絶縁膜4と、液晶セ
ル5とからなる画素Mを配列して構成されている。MO
S型トランジスタ2と保持容量3との間には、分離酸化
膜9が形成され、MOS型トランジスタ2と保持容量3
を電気的に分離している。MOS型トランジスタ2は、
ソース6と、ドレイン8と、ソース6とドレイン8との
間に挟持されたゲート7とからなる。
As shown in FIG. 1, the liquid crystal panel of the reflection type liquid crystal display device of the present invention comprises a silicon substrate 1, a MOS transistor 2 and a storage capacitor 3 formed in parallel on the silicon substrate 1, Pixels M each including an interlayer insulating film 4 sequentially formed on the MOS transistor 2 and the storage capacitor 3 and a liquid crystal cell 5 are arranged. MO
An isolation oxide film 9 is formed between the S-type transistor 2 and the storage capacitor 3, and the MOS transistor 2 and the storage capacitor 3
Are electrically separated from each other. The MOS transistor 2
It comprises a source 6, a drain 8, and a gate 7 sandwiched between the source 6 and the drain 8.

【0017】保持容量3は、シリコン基板1中に形成さ
れた高濃度層10と、この高濃度層10と層間絶縁膜4
を介して対向配置された保持電極11とからなる。後述
するように、層間絶縁膜4中には、画素電極間隙15a
から侵入する読出し光がMOS型トランジスタ2に侵入
しないように、所定のピッチを有したAlからなる遮光
膜13aがMOS型トランジスタ2と画素電極間隙15
a及び画素電極15との間に形成されている。液晶セル
5は、画素電極間隙15aを有したAlからなる画素電
極15と、この画素電極15上に順次形成された液晶層
16と、ガラス基板17とからなる。
The storage capacitor 3 includes a high-concentration layer 10 formed in the silicon substrate 1 and the high-concentration layer 10 and the interlayer insulating film 4.
And the holding electrode 11 arranged to face the other. As described later, the pixel electrode gap 15a is provided in the interlayer insulating film 4.
A light-shielding film 13a made of Al having a predetermined pitch is provided between the MOS-type transistor 2 and the pixel electrode gap 15 so that readout light entering from the MOS-type transistor 2 does not enter the MOS-type transistor 2.
a and the pixel electrode 15. The liquid crystal cell 5 includes a pixel electrode 15 made of Al having a pixel electrode gap 15 a, a liquid crystal layer 16 sequentially formed on the pixel electrode 15, and a glass substrate 17.

【0018】更に、配線層13bは、配線層12を介し
て画素電極15、MOS型トランジスタ2のドレイン8
及び保持電極11に接続されている。遮光膜13a及び
配線層13b上には、反射防止膜14が形成されてい
る。この反射防止膜14は、TiN14a上にSiN1
4bを積層したものである。この際、TiN14aの厚
さは、800オングストローム乃至1200オングスト
ロームであり、SiN14bの厚さは、500オンスト
ロームである。SiN14bは絶縁体であるので、Ti
N14a上に形成されていると共に、層間絶縁膜4中に
も形成され、画素電極間隙15aから侵入する読出し光
が画素電極15とTiN14aの間を伝搬してMOS型
トランジスタ2に到達しないように形成されている。こ
のSiN14bの屈折率は、2.00であり、層間絶縁
膜4とは異なる。MOS型トランジスタ2のソース6
は、図示しない画像信号配線に、ゲート7は、図示しな
い走査信号配線に接続されている。
Further, the wiring layer 13b is connected to the pixel electrode 15 and the drain 8 of the MOS transistor 2 via the wiring layer 12.
And the holding electrode 11. An antireflection film 14 is formed on the light shielding film 13a and the wiring layer 13b. This antireflection film 14 is made of SiN1 on TiN14a.
4b. At this time, the thickness of the TiN 14a is 800 Å to 1200 Å, and the thickness of the SiN 14b is 500 Å. Since SiN 14b is an insulator, TiN
It is formed not only on the N14a but also in the interlayer insulating film 4 so as to prevent the readout light entering from the pixel electrode gap 15a from propagating between the pixel electrode 15 and the TiN 14a and reaching the MOS transistor 2. Have been. The refractive index of the SiN 14b is 2.00, which is different from that of the interlayer insulating film 4. Source 6 of MOS transistor 2
Is connected to an image signal wiring (not shown), and the gate 7 is connected to a scanning signal wiring (not shown).

【0019】次に、本発明の反射型液晶表示装置の動作
について説明する。図示しない画像信号配線を介して、
画像信号がソース6に印加された状態で、図示しない走
査信号配線を介して、走査信号がゲート7に加わるとM
OS型トランジスタ2がオンとなり画像信号の電荷が保
持容量3及び液晶セル5に充電され、この画像信号が液
晶層16に書き込まれる。この状態で、読出し光をガラ
ス基板17側から液晶セル3に入射させると、この読出
し光は、画像信号に応じて液晶セル3を通過中に液晶層
16で光変調を受け、反射防止膜14及び画素電極15
によって反射され、再び液晶層16で光変調されてガラ
ス基板17から画像情報光として射出する。このガラス
基板17から放出された画像情報光をスクリーン上に拡
大投写することによって画像表示を行うことができる。
Next, the operation of the reflection type liquid crystal display device of the present invention will be described. Via an image signal wiring not shown,
When a scanning signal is applied to the gate 7 via a scanning signal wiring (not shown) in a state where the image signal is applied to the source 6, M
The OS-type transistor 2 is turned on, the charge of the image signal is charged to the storage capacitor 3 and the liquid crystal cell 5, and the image signal is written to the liquid crystal layer 16. In this state, when reading light is incident on the liquid crystal cell 3 from the glass substrate 17 side, the reading light undergoes light modulation in the liquid crystal layer 16 while passing through the liquid crystal cell 3 in accordance with an image signal, and the antireflection film 14 is formed. And pixel electrode 15
The light is again modulated by the liquid crystal layer 16 and emitted from the glass substrate 17 as image information light. An image can be displayed by enlarging and projecting the image information light emitted from the glass substrate 17 onto a screen.

【0020】ここで、本発明の反射型液晶表示装置の画
素Mに可視光を照射して、Al上にTiN14aと、S
iN14bとを順次形成した構造の反射防止膜14の反
射率と可視光領域の波長との関係について調べた。その
結果について、図2乃至図4を用いて説明する。反射防
止膜14の反射率は、読出し光として波長4000オン
グストローム乃至7000オングストロームの可視光を
用い、この読出し光をガラス基板17側から入射させ、
この読出し光の反射光の読出し光に対する割合を測定す
ることによって求められる。ここでは、反射率を100
%表示で示す。この反射防止膜14の反射率の測定では
TiN14aとSiN14bの厚さを変化させて調べ
た。まず初めに、Al上に厚さ800オングストローム
のTiNと、厚さ500オングストロームのSiNとを
順次形成した場合の反射率と可視光領域の波長との関係
について図2を用いて説明する。
Here, the pixel M of the reflection type liquid crystal display device of the present invention is irradiated with visible light, and TiN 14a and S
The relationship between the reflectance of the antireflection film 14 having a structure in which iN14b and iN14b were sequentially formed and the wavelength in the visible light region was examined. The results will be described with reference to FIGS. The reflectance of the antireflection film 14 is such that visible light having a wavelength of 4000 to 7000 angstroms is used as readout light, and this readout light is incident from the glass substrate 17 side.
It is obtained by measuring the ratio of the reflected light of the read light to the read light. Here, the reflectance is 100
Shown in%. In the measurement of the reflectance of the antireflection film 14, the thickness of the TiN 14a and the thickness of the SiN 14b were changed. First, the relationship between the reflectance and the wavelength in the visible light region when TiN having a thickness of 800 angstroms and SiN having a thickness of 500 angstroms are sequentially formed on Al will be described with reference to FIG.

【0021】図2中では、比較のためにAlの上に形成
されたTiNとAlの反射率を示し、*は、Al上に順
次形成されたTiN(厚さ800オングストローム)
と、SiN(厚さ500オングストローム)(以下、S
iN(500A)/TiN(800A)/Alという)
であり、△は、Al上に形成されたTiN(厚さ800
オングストローム)(以下、TiN(800A)/Al
という)であり、■は、Alである。TiN(800
A)/Al及びAlの反射率は、10%以上であるのに
対して、SiN(500A)/TiN(800A)/A
lの反射率は、波長4000オングストローム乃至70
00オングストロームの領域に渡って10%以下であ
る。このことから、Al上に厚さ800オングストロー
ムのTiNと厚さ500オングストロームのSiNを順
次形成した構造にすれば、波長4000オングストロー
ム乃至7000オングストローム領域で10%以下の反
射率が得られることがわかる。
In FIG. 2, the reflectivity of TiN and Al formed on Al is shown for comparison, and * indicates TiN (800 angstrom thick) formed sequentially on Al.
And SiN (thickness 500 Å) (hereinafter referred to as S
iN (500A) / TiN (800A) / Al)
△ represents TiN (thickness 800) formed on Al
Angstrom) (hereinafter TiN (800A) / Al
■ is Al. TiN (800
A) / Al and the reflectance of Al and Al are 10% or more, whereas SiN (500 A) / TiN (800 A) / A
The reflectance of 1 is between 4000 Angstroms and 70 wavelengths.
10% or less over the area of 00 Angstroms. From this, it can be seen that if a structure in which TiN having a thickness of 800 angstroms and SiN having a thickness of 500 angstroms are sequentially formed on Al is used, a reflectance of 10% or less can be obtained in a wavelength region of 4,000 angstroms to 7000 angstroms.

【0022】次に、Al上に厚さを800オングストロ
ームのTiNと、厚さを変化させたSiNとを順次形成
した場合の反射率と可視光領域の波長との関係について
図3を用いて説明する。図3中では、*は、SiNの厚
さが200オングストローム(以下、SiN200とい
う)であり、△は、SiNの厚さが500オングストロ
ーム(以下、SiN500という)であり、■は、Si
Nの厚さが800オングストローム(以下、SiN80
0という)である。SiN200は、波長4000オン
グストローム乃至6500オングストロームの範囲では
10%以下の反射率であるが、6500オングストロー
ム乃至7000オングストロームの範囲では、10%以
上を示し、SiN800は、波長4000オングストロ
ーム乃至7000オングストローム領域で10%以上の
反射率を示している。
Next, the relationship between the reflectance and the wavelength in the visible light region when TiN having a thickness of 800 angstroms and SiN having a changed thickness are sequentially formed on Al will be described with reference to FIG. I do. In FIG. 3, * indicates that the thickness of SiN is 200 Å (hereinafter, referred to as SiN 200), 200 indicates that the thickness of SiN is 500 Å (hereinafter, referred to as SiN 500), and ■ indicates the thickness of SiN.
The thickness of N is 800 Å (hereinafter referred to as SiN80).
0). SiN 200 has a reflectance of 10% or less in a wavelength range of 4000 to 6500 Å, but exhibits a reflectance of 10% or more in a range of 6500 Å to 7000 Å, and SiN 800 has a reflectance of 10% in a wavelength range of 4000 to 7000 Å. The above reflectivity is shown.

【0023】一方、前述したと同様に、SiN500の
反射率は、4000オングストローム乃至7000オン
グストロームの波長領域に渡って10%以下を有してい
る。このことから、Al上に厚さ800オングストロー
ムのTiNと厚さ500オングストロームのSiNを順
次形成した構造にすれば、波長4000オングストロー
ム乃至7000オングストローム領域で10%以下の反
射率が得られることがわかる。
On the other hand, as described above, the reflectivity of SiN 500 is 10% or less over a wavelength range of 4000 Å to 7000 Å. From this, it can be seen that if a structure in which TiN having a thickness of 800 angstroms and SiN having a thickness of 500 angstroms are sequentially formed on Al is used, a reflectance of 10% or less can be obtained in a wavelength region of 4,000 angstroms to 7000 angstroms.

【0024】更に、Al上に厚さを変化させたTiN
と、厚さが500オングストロームのSiNとを順次形
成した場合の反射率と可視光領域の波長との関係につい
て図4を用いて説明する。図4中では、*は、TiNの
厚さが400オングストローム(以下、TiN400と
いう)であり、△は、TiNの厚さが800オングスト
ローム(以下、TiN800という)であり、■は、T
iNの厚さが1200オングストローム(以下、TiN
1200という)である。TiN400は、波長400
0オングストローム乃至5900オングストロームの範
囲では10%以下の反射率を示しているが、5900オ
ングストローム乃至7000オングストロームの範囲で
は10%以上の反射率を示している。一方、TiN80
0及びTiN1200の反射率は、4000オングスト
ローム乃至7000オングストロームの波長領域に渡っ
て10%以下の反射率を示している。このことから、A
l上に厚さ800オングストローム乃至1200オング
ストロームのTiNと厚さ500オングストロームのS
iNを順次形成した構造にすれば、波長4000オング
ストローム乃至7000オングストローム領域で10%
以下の反射率が得られることがわかる。
Further, TiN having a varied thickness on Al
The relationship between the reflectance and the wavelength in the visible light region when SiN having a thickness of 500 Å is sequentially formed will be described with reference to FIG. In FIG. 4, * indicates that the thickness of TiN is 400 angstroms (hereinafter, referred to as TiN400), △ indicates that the thickness of TiN is 800 angstroms (hereinafter, referred to as TiN800), and ■ indicates the TN.
iN has a thickness of 1200 Å (hereinafter referred to as TiN
1200). TiN400 has a wavelength of 400
In the range of 0 Å to 5900 Å, the reflectance is 10% or less, while in the range of 5900 Å to 7000 Å, the reflectance is 10% or more. On the other hand, TiN80
The reflectance of 0 and TiN1200 shows a reflectance of 10% or less over a wavelength range of 4000 Å to 7000 Å. From this, A
800 to 1200 Å thick TiN and 500 Å thick S
With a structure in which iN is sequentially formed, 10% in the wavelength range of 4,000 Å to 7000 Å
It can be seen that the following reflectance is obtained.

【0025】以上のように、遮光膜13aにAlを用
い、この遮光膜13上に厚さ800オングストローム乃
至1200オングストロームのTiNと厚さ500オン
ストロームのSiNとを順次形成した構造の反射防止膜
14を用いれば、波長4000オングストローム乃至7
000オングストロームの可視光領域全域に渡って読出
し光の反射率を10%以下に抑えることができる。この
ため、読出し光の反射光が隣接する画素に侵入すること
を防止でき、コントラストを向上させることができる。
この結果、液晶パネルを1枚だけ用いる単板方式の液晶
表示装置では良好なコントラストを有する表示画像を得
ることができる。
As described above, the anti-reflection film 14 has a structure in which Al is used for the light-shielding film 13a and TiN having a thickness of 800 Å to 1200 Å and SiN having a thickness of 500 Å are sequentially formed on the light-shielding film 13. Is used, the wavelength is 4000 angstrom to 7
The reflectance of the read light can be suppressed to 10% or less over the entire visible light region of 2,000 angstroms. For this reason, it is possible to prevent the reflected light of the read light from entering the adjacent pixels, and it is possible to improve the contrast.
As a result, in a single-panel liquid crystal display device using only one liquid crystal panel, a display image having good contrast can be obtained.

【0026】また、液晶パネルを3枚用いる三板方式の
液晶表示装置では、波長4000オングストローム乃至
7000オングストロームの可視光領域全域に渡って読
出し光の反射率を10%以下に抑えることができるの
で、3原色光に対応する3枚の液晶パネルを共通化で
き、生産性が向上する。更に、画素電極間隙15aから
入射する読出し光がMOS型トランジスタ2に到達して
トランジスタ性能を劣化させることを防止できる。
In a three-panel type liquid crystal display device using three liquid crystal panels, the reflectance of the read light can be suppressed to 10% or less over the entire visible light region having a wavelength of 4000 to 7000 angstroms. The three liquid crystal panels corresponding to the primary color light can be shared, and the productivity is improved. Further, it is possible to prevent the read light incident from the pixel electrode gap 15a from reaching the MOS transistor 2 and deteriorating the transistor performance.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明の反射型液晶表示装置によれば、
反射防止膜は、前記遮光膜上に順次形成された窒化物
と、前記絶縁層と屈折率の異なる誘電体膜とからなるの
で、画素電極間から侵入する光が反射してトランジスタ
に到達してトランジスタ性能を劣化させることを防止で
きる。遮光膜にAlを用い、この遮光膜上に厚さ800
オングストローム乃至1200オングストロームのTi
Nと厚さ500オンストロームのSiNとを順次形成し
た構造の反射防止膜に用いているので、波長4000オ
ングストローム乃至7000オングストロームの可視光
領域全域に渡って読出し光の反射率を10%以下に抑え
ることができる。このため、読出し光の反射光が隣接す
る画素に侵入することを防止できコントラストを向上さ
せることができる。この結果、液晶パネルを1枚だけ用
いる単板方式では、良好なコントラストを有する表示画
像を得ることができる。また、液晶パネルを3枚用いる
三板方式では、波長4000オングストローム乃至70
00オングストロームの可視光領域全域に渡って読出し
光の反射率を10%以下に抑えることができるので、3
原色光に対応する3枚の画素を共通化でき、生産性が向
上する。
According to the reflection type liquid crystal display device of the present invention,
Since the anti-reflection film is composed of a nitride sequentially formed on the light-shielding film and a dielectric film having a different refractive index from the insulating layer, light entering from between pixel electrodes is reflected and reaches the transistor. Deterioration of transistor performance can be prevented. Al is used for the light-shielding film, and a thickness of 800
Angstroms to 1200 Angstroms Ti
Since N and SiN having a thickness of 500 Å are sequentially used for the anti-reflection film, the reflectance of the read light is suppressed to 10% or less over the entire visible light range of wavelengths from 4,000 Å to 7000 Å. be able to. For this reason, it is possible to prevent the reflected light of the read light from entering the adjacent pixels, thereby improving the contrast. As a result, in the single-panel system using only one liquid crystal panel, a display image having good contrast can be obtained. In a three-panel system using three liquid crystal panels, a wavelength of 4,000 Å to 70 Å is used.
Since the reflectance of the reading light can be suppressed to 10% or less over the entire visible light region of 00 angstroms, 3
The three pixels corresponding to the primary color light can be shared, and the productivity is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の反射型液晶表示装置の液晶パネルの1
画素を示す図である。
FIG. 1 shows a liquid crystal panel of a reflection type liquid crystal display device of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating pixels.

【図2】Al上に順次形成された窒化シリコンと窒化チ
タンの厚さを固定させた場合の反射率と波長と関係を示
す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of silicon nitride and titanium nitride sequentially formed on Al is fixed.

【図3】Al上に順次形成された窒化シリコンと窒化チ
タンのうち窒化チタンの厚さを固定し、窒化シリコンの
厚さを変化させた場合の反射率と波長との関係を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of titanium nitride is fixed and the thickness of silicon nitride is changed among silicon nitride and titanium nitride sequentially formed on Al. .

【図4】Al上に順次形成された窒化シリコンと窒化チ
タンのうち窒化シリコンの厚さを固定し、窒化チタンの
厚さを変化させた場合の反射率と波長との関係を示す図
である。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the reflectance and the wavelength when the thickness of silicon nitride is fixed and the thickness of titanium nitride is changed among silicon nitride and titanium nitride sequentially formed on Al. .

【図5】従来の反射型液晶表示装置の液晶パネルの1画
素を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing one pixel of a liquid crystal panel of a conventional reflection type liquid crystal display device.

【図6】従来の反射型液晶表示装置を上面からみた様子
を示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing a state in which a conventional reflective liquid crystal display device is viewed from above.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…シリコン基板(基板)、2…MOS型トランジス
タ、3…保持容量、4…層間絶縁膜(絶縁層)、5…液
晶セル、6…ソース、7…ゲート、8…ドレイン、9…
分離酸化膜、10…高濃度層、11…保持電極、12…
配線層、13a、13b…遮光膜、14…反射防止膜、
14a…窒化チタン(窒化物)、14b…窒化シリコン
(誘電体膜)、15…画素電極、15a…画素電極間
隙、16…液晶層、17…ガラス基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Silicon substrate (substrate), 2 ... MOS transistor, 3 ... Capacitance, 4 ... Interlayer insulating film (insulating layer), 5 ... Liquid crystal cell, 6 ... Source, 7 ... Gate, 8 ... Drain, 9 ...
Isolation oxide film, 10 high concentration layer, 11 holding electrode, 12
Wiring layers, 13a, 13b: light shielding film, 14: antireflection film,
14a: titanium nitride (nitride), 14b: silicon nitride (dielectric film), 15: pixel electrode, 15a: gap between pixel electrodes, 16: liquid crystal layer, 17: glass substrate

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】少なくとも、基板上にトランジスタと、絶
縁層と、前記絶縁層中に前記トランジスタを覆うように
して形成された金属からなる遮光膜と、反射防止膜と、
所定画素ピッチを有して配列された画素電極と、液晶層
と、前記液晶層を全面覆うガラス基板が順次積層され、
かつ前記トランジスタと前記画素電極とを接続する配線
層とからなる反射型液晶表示装置において、 前記反射防止膜は、前記遮光膜上に順次形成された窒化
物と、前記絶縁層と屈折率の異なる誘電体膜とからなる
ことを特徴とする反射型液晶表示装置。
At least a transistor, an insulating layer, a light-shielding film made of a metal formed in the insulating layer so as to cover the transistor, and an anti-reflection film are provided on the substrate.
Pixel electrodes arranged with a predetermined pixel pitch, a liquid crystal layer, and a glass substrate covering the entire surface of the liquid crystal layer are sequentially laminated,
In the reflection type liquid crystal display device including the transistor and a wiring layer connecting the pixel electrode, the antireflection film has a different refractive index from the nitride sequentially formed on the light shielding film and the insulating layer. A reflective liquid crystal display device comprising a dielectric film.
【請求項2】前記反射防止膜は、波長4000オングス
トローム乃至7000オングストロームの光に対して1
0%以下の反射率を有する膜であることを特徴とする請
求項1記載の反射型液晶表示装置。
2. The anti-reflection coating according to claim 1, wherein said anti-reflection film has a wavelength of 4,000 Å to 7000 Å.
2. The reflective liquid crystal display device according to claim 1, wherein the film has a reflectance of 0% or less.
【請求項3】前記窒化物は、窒化チタンであり、前記誘
電体膜は、窒化シリコンであることを特徴とする請求項
1又は2記載の反射型液晶表示装置。
3. The reflection type liquid crystal display device according to claim 1, wherein said nitride is titanium nitride, and said dielectric film is silicon nitride.
【請求項4】前記遮光膜は、Alであり、前記窒化チタ
ンの厚さを800オングストローム乃至1200オング
ストローム、前記窒化シリコンの厚さを500オングス
トロームとすることを特徴とする請求項1乃至4記載の
反射型液晶表示装置。
4. The light-shielding film according to claim 1, wherein said light-shielding film is made of Al, and said titanium nitride has a thickness of 800 to 1200 angstroms, and said silicon nitride has a thickness of 500 angstroms. Reflective liquid crystal display.
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