JP2000047258A - Electro-optic device and projection type display device - Google Patents

Electro-optic device and projection type display device

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JP2000047258A
JP2000047258A JP21298698A JP21298698A JP2000047258A JP 2000047258 A JP2000047258 A JP 2000047258A JP 21298698 A JP21298698 A JP 21298698A JP 21298698 A JP21298698 A JP 21298698A JP 2000047258 A JP2000047258 A JP 2000047258A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To display a high quality image by improving an efficiency of incident light with respect to a liquid crystal device of such a constitution as is provided with a light-shielding film under TFTs(Thin Film Transistors) for switching pixels and micro lenses on a counter substrate. SOLUTION: A liquid crystal device is provided with a liquid crystal layer 50 held between a pair of substrates, and pixel electrodes 9a arranged in a matrix form on a TFT array substrate 10. A 1st light-shielding film 11a is formed under each TFT 30 of pixels, and at least partially specifies light- shielding areas. On a counter substrate, plural micro lenses 500 and a 2nd light- shielding film 23 flatly covered in the light-shielding area are formed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜トランジスタ
(以下適宜、TFTと称する)駆動によるアクティブマ
トリクス駆動方式の液晶装置等の電気光学装置の技術分
野に属し、特に、プロジェクタ等に用いられる、TFT
の下側に遮光膜を設けた形式であり且つ入射光の利用効
率を向上するためのマイクロレンズが対向基板上に設け
られた形式の電気光学装置の技術分野に属する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention belongs to the technical field of an electro-optical device such as a liquid crystal device of an active matrix drive system driven by a thin film transistor (hereinafter referred to as a TFT as appropriate), and in particular, a TFT used for a projector or the like.
It belongs to the technical field of an electro-optical device of a type in which a light shielding film is provided on the lower side and a micro lens for improving the use efficiency of incident light is provided on a counter substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の液晶装置が液晶プロジェ
クタ等にライトバルブとして用いられる場合には一般
に、液晶層を挟んでTFTアレイ基板に対向配置される
対向基板の側から投射光が入射される。ここで、投射光
がTFTのa−Si(アモルファスシリコン)膜やp−
Si(ポリシリコン)膜から構成されたチャネル形成用
の領域に入射すると、この領域において光電変換効果に
より光電流が発生してしまい、TFTのトランジスタ特
性が劣化する。このため、対向基板には、各TFTに夫
々対向する位置に、Cr(クロム)などの金属材料や樹
脂ブラックなどからブラックマトリクス或いはブラック
マスクと呼ばれる遮光膜が形成されるのが一般的であ
る。この遮光膜は、各画素の開口領域(即ち、投射光が
透過する領域)を規定することにより、TFTのp−S
i層に対する遮光の他に、コントラストの向上、色材の
混色防止などの機能を果たしている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a liquid crystal device of this type is used as a light valve in a liquid crystal projector or the like, generally, projection light is incident from the side of a counter substrate which is disposed opposite to a TFT array substrate with a liquid crystal layer interposed therebetween. You. Here, the projected light is an a-Si (amorphous silicon) film or a p-
When the light enters a region for channel formation made of a Si (polysilicon) film, a photoelectric current is generated in this region due to a photoelectric conversion effect, and the transistor characteristics of the TFT deteriorate. For this reason, a light-shielding film called a black matrix or a black mask is generally formed from a metal material such as Cr (chromium) or resin black on the opposite substrate at a position facing each TFT. This light-shielding film defines the opening area of each pixel (that is, the area through which the projection light is transmitted), thereby forming the p-S of the TFT.
In addition to shading the i-layer, it has functions of improving contrast, preventing color mixture of color materials, and the like.

【0003】更に、データ線を、対向基板の側から見て
TFTを構成するp−Si層のチャネル領域を覆うよう
に、Al(アルミニウム)等の遮光性の金属材料から構
成することにより、データ線単独で或いは前述の遮光膜
と協動で、TFTのp−Si層に対する遮光を行う技術
も一般的である。
Further, the data line is made of a light-shielding metal material such as Al (aluminum) so as to cover the channel region of the p-Si layer constituting the TFT when viewed from the side of the counter substrate. It is also common to use a line alone or in cooperation with the above-mentioned light shielding film to shield the p-Si layer of the TFT from light.

【0004】この種の液晶装置においては、特にトップ
ゲート構造(即ち、TFTアレイ基板上においてゲート
電極がチャネルの上側に設けられた構造)を採る正スタ
ガ型又はコプラナー型のa−Si又はp−SiTFTを
用いる場合には、投射光の一部が液晶プロジェクタ内の
投射光学系により戻り光として、TFTアレイ基板の側
からTFTのチャネルに入射するのを防ぐ必要がある。
同様に、投射光が通過する際のTFTアレイ基板の表面
からの反射光や、更にカラー用に複数の液晶装置を組み
合わせて使用する場合の他の液晶装置から出射した後に
投射光学系を突き抜けてくる投射光の一部が、戻り光と
してTFTアレイ基板の側からTFTのチャネルに入射
するのを防ぐ必要もある。このために、特開平9−12
7497号公報、特公平3−52611号公報、特開平
3−125123号公報、特開平8−171101号公
報等では、石英基板等からなるTFTアレイ基板上にお
いてTFTに対向する位置(即ち、TFTの下側)に
も、例えば不透明な高融点金属から遮光膜を形成した液
晶装置を提案している。
In this type of liquid crystal device, a regular stagger type or coplanar type a-Si or p-type transistor having a top gate structure (ie, a structure in which a gate electrode is provided above a channel on a TFT array substrate) is used. In the case of using a SiTFT, it is necessary to prevent a part of the projection light from being incident on the TFT channel from the TFT array substrate side as return light by the projection optical system in the liquid crystal projector.
Similarly, the reflected light from the surface of the TFT array substrate when the projected light passes therethrough, or when it is emitted from another liquid crystal device when a plurality of liquid crystal devices are used in combination for color, passes through the projection optical system after being emitted. It is also necessary to prevent some of the incoming projection light from entering the TFT channel from the TFT array substrate side as return light. For this purpose, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-12
No. 7497, Japanese Patent Publication No. 3-52611, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-125123, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-171101, and the like disclose a position facing a TFT on a TFT array substrate made of a quartz substrate or the like (that is, a TFT A liquid crystal device having a light-shielding film formed of, for example, an opaque high-melting point metal is also proposed on the lower side).

【0005】他方、この種の液晶装置では、画面を明る
くするために、液晶装置の画像表示領域全体に対する画
素の開口領域の比率である画素開口率を高めることが重
要であるが、Al(アルミニウム)等からなるデータ
線、ポリシリコン等からなる走査線や容量線、半導体層
や絶縁層を含むTFTなどが画像表示領域内に非開口領
域をなすため、画素開口率を高めるのには一定の限界が
ある。特に、画素密度を上げて高精細な画像を表示可能
とするため及び液晶装置の大きさを小型化するために画
素ピッチを小さくすると、このような非開口領域をなす
各種配線やTFT等を小さくすることに一定の限界があ
るが故に、画素開口率を高めることも困難となる。
On the other hand, in this type of liquid crystal device, it is important to increase the pixel aperture ratio, which is the ratio of the pixel opening region to the entire image display region of the liquid crystal device, in order to brighten the screen. ), A scanning line and a capacitance line made of polysilicon and the like, and a TFT including a semiconductor layer and an insulating layer form a non-opening area in the image display area. There is a limit. In particular, when the pixel pitch is reduced in order to increase the pixel density to enable display of a high-definition image and to reduce the size of the liquid crystal device, various wirings and TFTs forming such non-opening areas are reduced in size. Since there is a certain limit to the operation, it is also difficult to increase the pixel aperture ratio.

【0006】そこで、例えば特開昭60−165621
号〜165624号公報、特開平5−196926号公
報等に開示されているように、入射光の利用効率を向上
するためのマイクロレンズが対向基板上に設けられた形
式の液晶装置が開発されている。この場合、画素開口率
が同じであれば、液晶装置に対向基板の側から入射した
光は、開口領域に入るように集光されるので、開口率が
同じであっても、各開口を通過する光の強度が増加する
ため、即ち各画素における実効開口率が高くなるため、
液晶装置により表示される画像を明るく出来る。
Accordingly, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-165621.
As disclosed in JP-A-165624 and JP-A-5-196926, there has been developed a liquid crystal device in which a microlens for improving the utilization efficiency of incident light is provided on a counter substrate. I have. In this case, if the pixel aperture ratio is the same, the light incident on the liquid crystal device from the side of the counter substrate is collected so as to enter the aperture region. Since the intensity of the light to be emitted increases, that is, the effective aperture ratio in each pixel increases,
Images displayed by the liquid crystal device can be brightened.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、液晶装
置の技術分野における表示画像の高品位化や省エネルギ
化という一般的要請の下では、上述した従来のマイクロ
レンズを用いた液晶装置においても、入射光の利用効率
は十分とは言えない。
However, under the general demand for higher quality and energy saving of the displayed image in the technical field of the liquid crystal device, the above-mentioned conventional liquid crystal device using a microlens has an incident light. Light use efficiency is not enough.

【0008】特に、前述した従来の技術のように、TF
Tアレイ基板上のTFTの下側に遮光膜(以下、第1遮
光膜と称す)を設けると共に、マイクロレンズを配置す
る対向基板上に遮光膜(以下、第2遮光膜と称す)を設
ける構成を採用すると、この第2遮光膜の存在により、
必然的に入射光における光損失が発生してしまうという
問題点がある。
In particular, as in the prior art described above, TF
A structure in which a light-shielding film (hereinafter, referred to as a first light-shielding film) is provided below a TFT on a T-array substrate, and a light-shielding film (hereinafter, referred to as a second light-shielding film) is provided on a counter substrate on which microlenses are arranged. Is adopted, due to the presence of the second light shielding film,
Inevitably, there is a problem that light loss occurs in incident light.

【0009】そして、このように第1遮光膜と共に第2
遮光膜を形成する構成を採用する場合には、入射光の入
射する側(即ち、対向基板側)から見て第1及び第2遮
光膜のいずれか一方により遮光される領域は、非開口領
域或いは遮光領域となる。従って、対向基板とTFTア
レイ基板とを機械的に貼り合わせる際に発生する組みず
れの度合いに応じて、第1及び第2遮光膜の一方が他方
から平面的に見てはみ出すことにより開口領域は狭くな
り、入射光の利用効率が更に低下してしまうという問題
点がある。
The second light-shielding film and the second light-shielding film
When a configuration in which a light-shielding film is formed is adopted, a region that is shielded by one of the first and second light-shielding films when viewed from the side where incident light is incident (that is, the counter substrate side) is a non-opening region. Or, it becomes a light shielding area. Therefore, depending on the degree of misalignment that occurs when the opposing substrate and the TFT array substrate are mechanically bonded to each other, one of the first and second light-shielding films protrudes from the other in a plan view, so that the opening area is reduced. There is a problem that the width becomes narrower and the utilization efficiency of incident light is further reduced.

【0010】そこで入射光の利用効率を高めるために、
対向基板側の第2遮光膜を無くして光損失を抑えると共
に第1遮光膜のみで画素の開口領域を規定することも考
えられるが、このように構成すると、対向基板における
機械的強度が低下して、接着剤により周辺のみでTFT
アレイ基板に接着される対向基板には反りや歪みが、よ
り顕著に生じてしまう。また、このように構成すると、
入射光と共に対向基板側から入射する熱を対向基板にお
いて遮断する能力が極度に低下するため、液晶における
温度上昇を招き、延いては、液晶の寿命を短くしてしま
う。更に、マイクロレンズの境界を突き抜ける光が液晶
に入射するため、多重反射等による迷光が液晶装置内に
発生して画像劣化の原因となってしまう。このように、
仮に画素開口領域を規定する機能を専ら第1遮光膜に持
たせたとしても、マイクロレンズを対向基板に設ける限
りは、上述した種々の理由により、この対向基板上に第
2遮光膜が必要となり、この結果、光の損失が無視し得
ない程度に生じてしまうという問題点がある。
Therefore, in order to increase the efficiency of use of incident light,
It is conceivable to suppress the light loss by eliminating the second light-shielding film on the counter substrate side and to define the opening area of the pixel only with the first light-shielding film. However, in such a configuration, the mechanical strength of the counter substrate decreases. And use only the periphery of the TFT
Warpage and distortion are more remarkably generated in the counter substrate adhered to the array substrate. Also, with this configuration,
Since the ability of the opposing substrate to block heat incident from the opposing substrate together with the incident light is extremely reduced, the temperature of the liquid crystal increases, and the life of the liquid crystal is shortened. Further, since light penetrating the boundary of the microlens enters the liquid crystal, stray light due to multiple reflection or the like is generated in the liquid crystal device, causing image degradation. in this way,
Even if the first light-shielding film is provided solely with the function of defining the pixel opening area, the second light-shielding film is required on the opposing substrate for the various reasons described above as long as the microlens is provided on the opposing substrate. As a result, there is a problem that light loss is generated to an extent that cannot be ignored.

【0011】本発明は上述の問題点に鑑みなされたもの
であり、比較的簡単な構成を用いて入射光の利用効率を
改善し得ると共に高品位の画像を表示可能な液晶装置等
の電気光学装置を提供することを課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and uses a relatively simple structure to improve the use efficiency of incident light and to display an electro-optical device such as a liquid crystal device capable of displaying a high-quality image. It is an object to provide a device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の電気光学装置は
上記課題を解決するために、一対の第1及び第2基板間
に電気光学物質が挟持されてなり、該第1基板上に、マ
トリクス状に配置された複数の画素電極と、該複数の画
素電極を夫々駆動する複数の薄膜トランジスタと、該複
数の薄膜トランジスタに夫々接続されており相交差する
複数のデータ線及び複数の走査線と、前記複数の薄膜ト
ランジスタの少なくともチャネル領域を前記第1基板の
側から見て夫々覆う位置に形成された第1遮光膜とを備
え、前記第2基板上に、前記第2基板の側から入射され
る光を前記複数の画素電極に夫々集光するマトリクス状
に配置された複数のマイクロレンズと、該複数のマイク
ロレンズの相互の境界に夫々対向する位置に形成された
第2遮光膜とを備え、前記第1遮光膜は、前記第1基板
上において前記複数の画素電極に夫々対応する複数の画
素開口領域を相互に区切る遮光領域を少なくとも部分的
に規定し、前記第2遮光膜は、前記第1基板の側から見
て該遮光領域に覆われている。
In order to solve the above-mentioned problems, an electro-optical device according to the present invention comprises an electro-optical material sandwiched between a pair of first and second substrates. A plurality of pixel electrodes arranged in a matrix, a plurality of thin film transistors respectively driving the plurality of pixel electrodes, a plurality of data lines and a plurality of scanning lines which are respectively connected to the plurality of thin film transistors and cross each other, A first light-shielding film formed at a position covering each of at least channel regions of the plurality of thin film transistors as viewed from the first substrate side, and is incident on the second substrate from the second substrate side. A plurality of microlenses arranged in a matrix for condensing light on the plurality of pixel electrodes; and a second light-shielding film formed at a position opposed to a mutual boundary between the plurality of microlenses. The first light-shielding film at least partially defines a light-shielding region on the first substrate that partitions a plurality of pixel opening regions respectively corresponding to the plurality of pixel electrodes, and wherein the second light-shielding film is When viewed from the side of the first substrate, it is covered with the light shielding region.

【0013】本発明の電気光学装置によれば、第2基板
上に備えられた複数のマイクロレンズにより、第2基板
側からの入射光は、複数の画素電極上に夫々集光され
る。そして、薄膜トランジスタは、第1遮光膜により少
なくとも部分的に規定される遮光領域内に、即ちマイク
ロレンズによる画素電極上の集光領域から外れて位置す
る。このため、第2基板側からの入射光がマイクロレン
ズを介して薄膜トランジスタのチャネル領域に入射する
ことはない。更に、複数のマイクロレンズの相互の境界
においては、第2基板側からの入射光は、第2遮光膜に
より遮光される。従って、第2基板側からの入射光がマ
イクロレンズの境界を通過して、薄膜トランジスタのチ
ャネル領域に直接入射したり、多重反射等により迷光と
なった後に入射する事態を未然に防げる。以上のよう
に、薄膜トランジスタの少なくともチャネル領域におけ
る第2基板側の遮光を例えば遮光性材料からなるデータ
線により施さなくても、第2基板側からの入射光に対す
る薄膜トランジスタのチャネル領域における遮光は、マ
イクロレンズ及び第2遮光膜により十分に施される。他
方、第1遮光膜により、複数の薄膜トランジスタの少な
くともチャネル領域は、第1基板の側から見て夫々覆わ
れる。従って、第1基板側からの戻り光等が薄膜トラン
ジスタのチャネル領域に入射して薄膜トランジスタの特
性が劣化する事態を未然に防ぐことが出来る。以上の結
果、入射光や戻り光等がチャネル領域に入射することに
より、薄膜トランジスタの特性が劣化することは実践上
殆ど又は全く無く、当該薄膜トランジスタによる精度の
高い電気光学物質の駆動が可能とされる。
According to the electro-optical device of the present invention, the incident light from the second substrate side is respectively focused on the plurality of pixel electrodes by the plurality of micro lenses provided on the second substrate. The thin film transistor is located in a light-shielding region defined at least partially by the first light-shielding film, that is, out of the light-collecting region on the pixel electrode by the microlens. Therefore, incident light from the second substrate side does not enter the channel region of the thin film transistor through the microlens. Further, at the boundary between the plurality of microlenses, incident light from the second substrate side is shielded by the second light-shielding film. Accordingly, it is possible to prevent incident light from the second substrate side from passing through the boundary of the microlens and directly entering the channel region of the thin film transistor, or entering after becoming stray light due to multiple reflection or the like. As described above, even if at least the light blocking on the second substrate side in the channel region of the thin film transistor is not performed by the data line made of the light blocking material, the light blocking in the channel region of the thin film transistor with respect to the incident light from the second substrate side is performed by the micro Sufficiently applied by the lens and the second light shielding film. On the other hand, at least the channel regions of the plurality of thin film transistors are respectively covered by the first light shielding film when viewed from the first substrate side. Therefore, it is possible to prevent a situation in which return light from the first substrate side or the like enters the channel region of the thin film transistor and the characteristics of the thin film transistor are deteriorated. As a result, the incident light, the return light, and the like are incident on the channel region, so that the characteristics of the thin film transistor are practically hardly or not degraded, and the thin film transistor can drive the electro-optical material with high accuracy. .

【0014】そして、マイクロレンズにより、第2基板
側からの入射光は画素電極上に夫々集光されるので、入
射光の利用効率は高められる。同時に、第2遮光膜の存
在により、第2基板における機械的強度及び熱遮断性能
は夫々、当該第2遮光膜が無かった場合と比較して顕著
に高められる。
Since the incident light from the second substrate side is condensed on the pixel electrode by the microlens, the utilization efficiency of the incident light can be improved. At the same time, due to the presence of the second light-shielding film, the mechanical strength and the heat-shielding performance of the second substrate are each significantly improved as compared with the case where the second light-shielding film is not provided.

【0015】ここで、第1遮光膜は、第1基板上におい
て複数の画素電極に夫々対応する複数の画素開口領域を
相互に区切る遮光領域を少なくとも部分的に規定してお
り、第2遮光膜は、第1基板の側から見て該遮光領域に
覆われている。即ち、第1基板の側から見て、遮光領域
の輪郭の内側に第2遮光膜の輪郭が位置している。従っ
て、第1及び第2基板を機械的に貼り合わせる際の組み
ずれにより、遮光領域(或いは、第1遮光膜)に対して
第2遮光膜が平面的にずれてたとしても、両輪郭間の距
離に応じて、第2遮光膜の第1遮光膜からの平面的なは
み出しは、全部或いは部分的に吸収される。
Here, the first light-shielding film at least partially defines a light-shielding region on the first substrate that partitions a plurality of pixel opening regions respectively corresponding to the plurality of pixel electrodes, and a second light-shielding film. Are covered by the light-blocking region when viewed from the first substrate side. That is, when viewed from the side of the first substrate, the outline of the second light-shielding film is located inside the outline of the light-shielding region. Therefore, even if the second light-shielding film is displaced in a plane with respect to the light-shielding region (or the first light-shielding film) due to a misalignment when the first and second substrates are mechanically bonded to each other, the gap between the two contours is not affected. Depending on the distance, the protrusion of the second light-shielding film from the first light-shielding film in a planar manner is completely or partially absorbed.

【0016】更にまた、第2遮光膜は、上述のように開
口率にほぼ又は全く影響しないので、従来のCr等と比
べて寸法精度が出ない材料を第2遮光膜の材料として使
用することも可能となる。従って、従来のCr等と比べ
て反射率が高い、例えばAl等の材料を第2遮光膜とし
て使用することも可能となる。これにより第2基板側か
ら入射する入射光を第2遮光膜により高反射率で反射す
ることが出来るので、第2遮光膜の形成面積に応じて当
該電気光学装置の温度上昇をより効率的に抑えることも
可能となる。
Furthermore, since the second light-shielding film has little or no effect on the aperture ratio as described above, a material having a lower dimensional accuracy than conventional Cr or the like should be used as the material of the second light-shielding film. Is also possible. Therefore, it is possible to use a material having a higher reflectance than conventional Cr, such as Al, for example, as the second light-shielding film. Thus, the incident light incident from the second substrate side can be reflected by the second light-shielding film with high reflectance, so that the temperature of the electro-optical device can be more efficiently increased according to the formation area of the second light-shielding film. It can also be suppressed.

【0017】本発明の電気光学装置の一態様では、前記
第1遮光膜は、網目状に形成されており、前記遮光領域
を単独で規定する。
In one aspect of the electro-optical device of the present invention, the first light-shielding film is formed in a mesh shape, and defines the light-shielding region alone.

【0018】この態様によれば、マイクロレンズにより
集光された光は、第1遮光膜により規定された画素開口
領域を透過して、表示用の光として当該電気光学装置を
透過する。
According to this aspect, the light condensed by the microlens passes through the pixel opening region defined by the first light-shielding film, and passes through the electro-optical device as display light.

【0019】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記データ線は、遮光性且つ導電性の薄膜から構成されて
おり、前記遮光領域のうち前記データ線に沿った領域を
規定しており、前記第1遮光膜は、前記複数の走査線に
夫々沿って縞状に形成されており、前記遮光領域のうち
前記走査線に沿った領域を規定する。
In another aspect of the electro-optical device according to the present invention, the data line is formed of a light-shielding and conductive thin film, and defines a region along the data line in the light-shielding region. The first light shielding film is formed in a stripe shape along each of the plurality of scanning lines, and defines a region along the scanning line among the light shielding regions.

【0020】この態様によれば、マイクロレンズにより
集光された光は、遮光性の薄膜から構成されたデータ線
及び第1遮光膜により規定された画素開口領域を透過し
て、表示用の光として当該液晶装置を透過する。この態
様では特に、第2基板側から見てデータ線下に、薄膜ト
ランジスタのチャネル領域が位置するように構成すれ
ば、薄膜トランジスタのチャネル領域における第2基板
側の遮光を、より確実なものとすることが出来る。特に
第2遮光膜を反射性の材料から構成した場合に発生し得
る多重反射により第2基板側からチャネル領域に侵入し
ようとする迷光を確実に遮光できる。
According to this aspect, the light condensed by the microlens passes through the data line composed of the light-shielding thin film and the pixel aperture area defined by the first light-shielding film, and is used for display light. Through the liquid crystal device. In this aspect, in particular, if the channel region of the thin film transistor is located below the data line as viewed from the second substrate side, light shielding on the second substrate side in the channel region of the thin film transistor can be further ensured. Can be done. In particular, stray light that tends to enter the channel region from the second substrate side can be reliably shielded by multiple reflections that can occur when the second light-shielding film is made of a reflective material.

【0021】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記走査線は、遮光性且つ導電性の薄膜から構成されてお
り、前記遮光領域のうち前記走査線に沿った領域を規定
しており、前記第1遮光膜は、前記複数のデータ線に夫
々沿って縞状に形成されており、前記遮光領域のうち前
記データ線に沿った領域を規定する。
In another aspect of the electro-optical device according to the present invention, the scanning line is formed of a light-shielding and conductive thin film, and defines a region along the scanning line in the light-shielding region. The first light-shielding film is formed in a stripe shape along each of the plurality of data lines, and defines a region along the data line among the light-shielding regions.

【0022】この態様によれば、マイクロレンズにより
集光された光は、遮光性の薄膜から構成された走査線及
び第1遮光膜により規定された画素開口領域を透過し
て、表示用の光として当該電気光学装置を透過する。こ
の態様では特に、第2基板側から見て走査線下に、薄膜
トランジスタのチャネル領域が位置するように構成すれ
ば、薄膜トランジスタのチャネル領域における第2基板
側の遮光を、より確実なものとすることが出来る。
According to this aspect, the light condensed by the microlens passes through the scanning line formed of the light-shielding thin film and the pixel opening area defined by the first light-shielding film, and is used for display light. Through the electro-optical device. In this aspect, in particular, if the channel region of the thin film transistor is located below the scanning line as viewed from the second substrate side, the light shielding on the second substrate side in the channel region of the thin film transistor can be further ensured. Can be done.

【0023】これらのデータ線或いは走査線が遮光性且
つ導電性の薄膜から構成された態様では、前記遮光性且
つ導電性の薄膜は、金属或いは金属合金の薄膜からなる
ように構成してもよい。
In the aspect in which the data line or the scanning line is formed of a light-shielding and conductive thin film, the light-shielding and conductive thin film may be formed of a metal or metal alloy thin film. .

【0024】このように構成すれば、例えば、Al等の
金属或いは金属合金の薄膜から比較的容易に遮光領域を
規定するデータ線や走査線を形成できる。
According to this structure, for example, a data line or a scanning line for defining a light shielding region can be formed relatively easily from a thin film of a metal such as Al or a metal alloy.

【0025】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第1基板上に、前記画素電極に所定蓄積容量を夫々付
与する複数の容量線を前記走査線と平行に更に備え、該
複数の容量線は、前記第1基板上において前記遮光領域
に位置する。
In another aspect of the electro-optical device of the present invention, a plurality of capacitance lines for respectively providing a predetermined storage capacitance to the pixel electrodes are provided on the first substrate in parallel with the scanning lines. The capacitance line is located in the light shielding region on the first substrate.

【0026】この態様によれば、容量線により付与され
る蓄積容量に応じて、各画素電極における画像信号に係
るデューティー比を下げつつ高コントラスト比或いは高
解像度の画像表示を実現できるが、容量線も、遮光領域
に位置するので、容量線を配設したことによる白抜け表
示を発生させないようにでき、更に容量線により引き起
こされる電気光学物質のディスクリネーションが開口領
域における電気光学物質に対して悪影響を実践上殆ど又
は全く及ぼさないようにできる。
According to this aspect, it is possible to realize a high-contrast ratio or high-resolution image display while lowering the duty ratio of the image signal in each pixel electrode according to the storage capacitance provided by the capacitance line. Also, since it is located in the light-shielding region, it is possible to prevent the occurrence of a blank display due to the provision of the capacitance line, and furthermore, the disclination of the electro-optical material caused by the capacitance line is less than the electro-optical material in the opening region. The adverse effects can be made to have little or no practical effect.

【0027】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第2遮光膜は、前記複数のマイクロレンズの境界に夫
々沿って網目状に形成されている。
In another aspect of the electro-optical device according to the present invention, the second light-shielding film is formed in a mesh shape along boundaries of the plurality of microlenses.

【0028】この態様では、第2遮光膜は、網目状であ
り、遮光領域の輪郭と相似或いは略相似する。従って、
遮光領域に覆われる範囲で第2遮光膜の形成領域を大き
くすれば、電気光学装置内部へ入射しようとする入射光
に対する第2遮光膜の遮光や反射の機能を向上でき、こ
れに応じて液晶装置における温度上昇を抑制できる。更
に、遮光領域を規定する第1遮光層等が持つ遮光機能や
開口領域を規定する機能を、第2遮光膜にも冗長的に持
たせることが出来る。
In this embodiment, the second light-shielding film has a mesh shape and is similar or substantially similar to the contour of the light-shielding region. Therefore,
If the area where the second light-shielding film is formed is enlarged in the range covered by the light-shielding area, the function of the second light-shielding film to shield or reflect incident light that is going to enter the inside of the electro-optical device can be improved. Temperature rise in the device can be suppressed. Furthermore, the second light-shielding film can redundantly have the light-shielding function of the first light-shielding layer and the like that define the light-shielding region and the function of defining the opening region.

【0029】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第2遮光膜は、前記複数のマイクロレンズの境界のう
ち前記走査線に沿った方向の境界に夫々沿って縞状に形
成されている。
In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the second light-shielding film is formed in a stripe shape along each of the boundaries of the plurality of microlenses in the direction along the scanning line. I have.

【0030】この態様によれば、形成が比較的容易な縞
状の輪郭を持つ第2遮光膜により、電気光学装置内部へ
入射しようとする入射光を遮光や反射できるので、電気
光学装置における温度上昇を抑制できる。更に、遮光領
域を規定する第1遮光膜等が持つ遮光機能や開口領域を
規定する機能を、第2遮光膜にも冗長的に持たせること
が出来る。
According to this aspect, the second light-shielding film having a striped outline that is relatively easy to form can shield or reflect incident light that is going to enter the inside of the electro-optical device. The rise can be suppressed. Furthermore, the second light-shielding film can redundantly have the light-shielding function of the first light-shielding film defining the light-shielding region and the function of defining the opening region.

【0031】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第2遮光膜は、前記複数のマイクロレンズの境界のう
ち前記走査線に沿った方向の境界に夫々沿って島状に形
成されている。
In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the second light-shielding film is formed in an island shape along a boundary of the plurality of microlenses in a direction along the scanning line. I have.

【0032】この態様によれば、形成が比較的容易な島
状の輪郭を持つ第2遮光膜により、電気光学装置内部へ
入射しようとする投射光を遮光や反射できるので、電気
光学装置における温度上昇を抑制できる。特に第2遮光
膜は遮光領域(或いは開口領域)を規定する機能を持た
ないので、第2基板における遮光や強度を出すために必
要最低限の領域にのみ、島状に第2遮光膜を形成するこ
とにより、TFTアレイ基板と対向基板の貼り合わせ精
度にマージンを持たせることができる。
According to this aspect, the second light-shielding film having an island-like contour, which is relatively easy to form, can shield or reflect the projected light that is going to enter the inside of the electro-optical device. The rise can be suppressed. In particular, since the second light-shielding film does not have a function of defining a light-shielding region (or an opening region), the second light-shielding film is formed in an island shape only in the minimum region required for light-shielding and strength on the second substrate. By doing so, a margin can be given to the bonding accuracy between the TFT array substrate and the counter substrate.

【0033】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記画素電極上において前記マイクロレンズの集光領域に
はみ出さないように前記マイクロレンズの集光角度に応
じて前記遮光領域が規定されている。
In another aspect of the electro-optical device according to the present invention, the light-shielding region is defined in accordance with the converging angle of the microlens so as not to protrude into the converging region of the microlens on the pixel electrode. I have.

【0034】マイクロレンズの集光角度或いは集光能力
が大きい程、画素電極上における集光領域は小さくなる
ので、このように集光領域にはみ出さない範囲で、第1
遮光膜により規定される遮光領域を大きく設定すれば、
マイクロレンズの集光角度によらず、第1及び第2遮光
膜における遮光による光損失を低く抑えられる。
As the focusing angle or the focusing ability of the microlens is larger, the focusing area on the pixel electrode is smaller.
If the light-shielding area defined by the light-shielding film is set large,
Irrespective of the converging angle of the microlenses, light loss due to light shielding in the first and second light shielding films can be suppressed to a low level.

【0035】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第1遮光膜は、Ti、Cr、W、Ta、Mo及びPd
のうちの少なくとも一つを含む。
In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the first light-shielding film is made of Ti, Cr, W, Ta, Mo, and Pd.
At least one of the following.

【0036】この態様によれば、第1遮光膜は、不透明
な高融点金属であるTi、Cr、W、Ta、Mo及びP
dのうちの少なくとも一つを含む、例えば、金属単体、
合金、金属シリサイド等から構成されるため、第1基板
上の遮光膜形成工程の後に行われるTFT形成工程にお
ける高温処理により、第1遮光膜が破壊されたり溶融し
ないようにできる。
According to this aspect, the first light-shielding film is made of Ti, Cr, W, Ta, Mo, and P, which are opaque refractory metals.
d, including at least one of, for example, a metal simple substance,
Since the first light-shielding film is formed of an alloy, a metal silicide, or the like, the first light-shielding film can be prevented from being broken or melted by the high-temperature treatment in the TFT forming step performed after the light-shielding film forming step on the first substrate.

【0037】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記第2遮光膜は、金属又は金属合金の薄膜から構成され
ている。
In another aspect of the electro-optical device according to the present invention, the second light-shielding film is formed of a thin film of a metal or a metal alloy.

【0038】この態様によれば、第2遮光膜は、Al等
の金属又は金属合金の薄膜から構成されているので、そ
の反射率を、例えば90数パーセントといったように従
来のCrと比べて非常に高くできる。従って、電気光学
装置内部へ入射しようとする入射光に対する第2遮光膜
の反射機能を向上でき、これに応じて電気光学装置にお
ける温度上昇を抑制できる。
According to this aspect, since the second light-shielding film is composed of a thin film of a metal such as Al or a metal alloy, the reflectance of the second light-shielding film is much higher than that of conventional Cr, for example, 90% or more. Can be higher. Therefore, it is possible to improve the reflection function of the second light-shielding film with respect to the incident light that is going to enter the inside of the electro-optical device, and accordingly, it is possible to suppress the temperature rise in the electro-optical device.

【0039】本発明の電気光学装置を用いた投射型表示
装置では、光源と、該光源から出射された光を集光しな
がら前記電気光学装置に導く集光光学系と、当該電気光
学装置で光変調した光を投射面に拡大投影する拡大投影
光学系とを有することを特徴とする。
In the projection display device using the electro-optical device of the present invention, a light source, a condensing optical system for condensing light emitted from the light source and guiding the light to the electro-optical device, And a magnifying projection optical system for magnifying and projecting the light modulated light onto the projection surface.

【0040】本発明の投射型表示装置によれば、高画質
の画像表示が可能な投射型表示装置を実現できる。
According to the projection display of the present invention, a projection display capable of displaying a high-quality image can be realized.

【0041】本発明のこのような作用及び他の利得は次
に説明する実施の形態から明らかにされよう。
The operation and other advantages of the present invention will become more apparent from the embodiments explained below.

【0042】[0042]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0043】(電気光学装置の画素部)本発明による電
気光学装置の一例として液晶装置を用いて説明する。ま
ず、液晶装置の画素部について、図1から図4を参照し
て説明する。図1は、液晶装置の画像表示領域を構成す
るマトリクス状に形成された複数の画素における各種素
子、配線等の等価回路である。図2は、データ線、走査
線、画素電極、第1遮光膜等が形成されたTFTアレイ
基板の相隣接する複数の画素群並びに対向基板に形成さ
れた第2遮光膜及びマイクロレンズの平面図である。図
3は、対向基板に形成されたマイクロレンズにより入射
光が集光される様子を擬似断面にて示す模式図であり、
図4は、図3に示したTFT1個に係るTFTアレイ基
板部分を拡大して示す拡大断面図である。尚、図3及び
図4においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程
度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異なら
しめてあり、更に、図3では、集光の様子を理解し易く
描くために、マイクロレンズ及びTFTの配置関係を、
実際の配置関係とは異ならしめてある。即ち、実際に
は、図2に示すように、マイクロレンズは、そのレンズ
中心が各画素中心に一致するように配置されており、T
FTは、遮光領域の交点にほぼ対応するように配置され
ている。
(Pixel Section of Electro-Optical Device) A liquid crystal device will be described as an example of the electro-optical device according to the present invention. First, a pixel portion of a liquid crystal device will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is an equivalent circuit of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix forming an image display area of a liquid crystal device. FIG. 2 is a plan view of a plurality of pixel groups adjacent to each other on a TFT array substrate on which data lines, scanning lines, pixel electrodes, a first light-shielding film, etc. are formed, and a second light-shielding film and a microlens formed on a counter substrate. It is. FIG. 3 is a schematic diagram showing a state in which incident light is condensed by a microlens formed on a counter substrate in a pseudo cross section.
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing a TFT array substrate portion relating to one TFT shown in FIG. 3 in an enlarged manner. In FIGS. 3 and 4, the scale of each layer and each member is made different so that each layer and each member have a size recognizable in the drawings. In order to draw easily, the arrangement relationship of the micro lens and the TFT is
It is different from the actual arrangement. That is, actually, as shown in FIG. 2, the microlenses are arranged so that the lens centers thereof coincide with the pixel centers.
The FT is arranged so as to substantially correspond to the intersection of the light-shielding regions.

【0044】図1において、本実施の形態による液晶装
置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された
複数の画素は、画素電極9aを制御するためのTFT3
0がマトリクス状に複数形成されており、画像信号が供
給されるデータ線6aが当該TFT30のソースに電気
的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号
S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給しても
構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対し
て、グループ毎に供給するようにしても良い。また、T
FT30のゲートに走査線3aが電気的に接続されてお
り、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査
信号G1、G2、…、Gmを、この順に線順次で印加す
るように構成されている。画素電極9aは、TFT30
のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素
子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じ
ることにより、データ線6aから供給される画像信号S
1、S2、…、Snを所定のタイミングで書き込む。画
素電極9aを介して電気光学物質としての液晶に書き込
まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、
対向基板(後述する)に形成された対向電極(後述す
る)との間で一定期間保持される。液晶は、印加される
電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化すること
により、光を変調し、階調表示を可能にする。ノーマリ
ーホワイトモードであれば、印加された電圧に応じて入
射光がこの液晶部分を通過不可能とされ、ノーマリーブ
ラックモードであれば、印加された電圧に応じて入射光
がこの液晶部分を通過可能とされ、全体として液晶装置
からは画像信号に応じたコントラストを持つ光が出射す
る。ここで、保持された画像信号がリークするのを防ぐ
ために、画素電極9aと対向電極との間に形成される液
晶容量と並列に蓄積容量70を付加する。例えば、画素
電極9aの電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも
3桁も長い時間だけ蓄積容量70により保持される。こ
れにより、保持特性は更に改善され、コントラスト比の
高い液晶装置が実現できる。
In FIG. 1, a plurality of pixels formed in a matrix and constituting an image display area of the liquid crystal device according to the present embodiment have TFTs 3 for controlling a pixel electrode 9a.
A plurality of 0s are formed in a matrix, and the data line 6a to which an image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied to a plurality of adjacent data lines 6a for each group. good. Also, T
The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the FT 30, and is configured to apply the scanning signals G1, G2,..., Gm in a pulsed manner to the scanning line 3a in this order at a predetermined timing. ing. The pixel electrode 9a is a TFT 30
Of the TFT 30 which is a switching element and is closed by a switch for a predetermined period, so that the image signal S supplied from the data line 6a is provided.
1, S2,..., Sn are written at a predetermined timing. The image signals S1, S2,..., Sn of a predetermined level written in the liquid crystal as the electro-optical material through the pixel electrodes 9a are:
It is held for a certain period between a counter electrode (to be described later) formed on a counter substrate (to be described later). The liquid crystal modulates light by changing the orientation and order of the molecular assembly according to the applied voltage level, thereby enabling gray scale display. In the normally white mode, the incident light cannot pass through the liquid crystal portion according to the applied voltage. In the normally black mode, the incident light passes through the liquid crystal portion according to the applied voltage. The liquid crystal device emits light having a contrast corresponding to the image signal as a whole. Here, in order to prevent the held image signal from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with a liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode. For example, the voltage of the pixel electrode 9a is held by the storage capacitor 70 for a time that is three orders of magnitude longer than the time during which the source voltage is applied. Thereby, the holding characteristics are further improved, and a liquid crystal device having a high contrast ratio can be realized.

【0045】図2において、液晶装置のTFTアレイ基
板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極9a
(点線により輪郭が示されている)が設けられており、
画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデータ線6a、
走査線3a及び容量線3bが設けられている。また、こ
れらの配線の各交点にほぼ対応してTFT30が設けら
れている。図中、1点鎖線で示されており上下方向に伸
びる各データ線6aは、コンタクトホール5を介してポ
リシリコン膜等からなる半導体層1aのうちTFT30
のソース領域に電気的接続されている。画素電極9a
は、コンタクトホール8を介して半導体層1aのうちT
FT30のドレイン領域に電気的接続されている。ま
た、図中左右方向に伸びる各走査線3aは、半導体層1
aのうちチャネル領域1a’(図中右下りの斜線の領
域)に対向するように配置されており、走査線3aはT
FT30のゲート電極として機能する。
In FIG. 2, a plurality of transparent pixel electrodes 9a are arranged in a matrix on a TFT array substrate of a liquid crystal device.
(Indicated by the dotted line),
The data lines 6a,
A scanning line 3a and a capacitance line 3b are provided. Further, a TFT 30 is provided substantially corresponding to each intersection of these wirings. In the figure, each data line 6a, which is indicated by a dashed line and extends in the vertical direction, is connected to the TFT 30 of the semiconductor layer 1a made of a polysilicon film or the like via the contact hole 5.
Are electrically connected to the source region. Pixel electrode 9a
Represents T in the semiconductor layer 1a through the contact hole 8.
It is electrically connected to the drain region of the FT 30. Each scanning line 3a extending in the left-right direction in the figure is
a, the scanning line 3a is disposed so as to face the channel region 1a '(the hatched region on the lower right in the figure).
It functions as the gate electrode of FT30.

【0046】容量線3bは、走査線3aに沿ってほぼ直
線状に伸びる本線部と、データ線6aと交差する箇所か
らデータ線6aに沿って図中上向きに突出した突出部と
を有する。そして、半導体層1aは、TFT30から容
量線3bに沿って蓄積容量電極1fとして延設されてお
り、この蓄積容量電極1fと容量線3bとが誘電体とし
ての後述の絶縁膜(ゲート絶縁膜)を介して対向配置さ
れることにより、蓄積容量が形成されている。
The capacitance line 3b has a main line portion extending substantially linearly along the scanning line 3a, and a protruding portion projecting upward in the figure along the data line 6a from a portion intersecting the data line 6a. The semiconductor layer 1a extends from the TFT 30 along the capacitor line 3b as a storage capacitor electrode 1f, and the storage capacitor electrode 1f and the capacitor line 3b are connected to an insulating film (gate insulating film) described later as a dielectric. , A storage capacitor is formed.

【0047】図中、1点鎖線で示されており走査線3a
及び容量線3bに沿って左右方向に伸びる領域には、複
数の縞状部分からなる第1遮光膜11aが設けられてい
る。より具体的には、第1遮光膜11aは、走査線3a
及び容量線3bの本線部に沿って伸びる複数の縞状部分
に分断されており、更に各縞状部分は、データ線6aと
交差する個所からデータ線6aに沿って図中下方向に夫
々突出しており、この突出部により、半導体層1aのチ
ャネル領域1a’を含むTFT30を夫々覆うように構
成されている。
In the figure, the scanning line 3a is shown by a one-dot chain line.
A first light-shielding film 11a composed of a plurality of striped portions is provided in a region extending in the left-right direction along the capacitor line 3b. More specifically, the first light-shielding film 11a is
And is divided into a plurality of striped portions extending along the main line portion of the capacitor line 3b, and each striped portion projects downward along the data line 6a from a point intersecting the data line 6a. The protrusions cover the TFTs 30 including the channel region 1a 'of the semiconductor layer 1a.

【0048】図2には更に、対向基板に、各画素電極1
1aに夫々対向して形成される複数のマイクロレンズの
マイクロレンズ端500aと、対向基板上において複数
のマイクロレンズ端500aに夫々対向配置された網目
状の第2遮光膜23(図中、右上がりの斜線領域)とが
示されている。
FIG. 2 further shows that each pixel electrode 1
The microlens ends 500a of the plurality of microlenses formed to face each of the microlenses 1a, and the mesh-shaped second light-shielding films 23 (upward to the right in the drawing) arranged on the counter substrate so as to face the plurality of microlens ends 500a, respectively. ).

【0049】本実施例では特に、第1遮光膜11aと遮
光性の金属膜の一例としてのAl(アルミニウム)膜か
らなるデータ線6aとから、TFTアレイ基板上に網目
状の遮光領域が規定されており、網目状の第2遮光膜2
3は平面的に、この遮光領域により覆われている。即
ち、平面的に見て第2遮光膜23の輪郭は、遮光領域の
輪郭内に含まれている。そして、遮光領域に囲まれた各
画素電極9aにより、入射光が透過する領域である画素
開口領域が規定されている。マイクロレンズにより集光
された入射光は、図中、破線で示される円形の集光領域
500bに集光される。
In this embodiment, in particular, a mesh-shaped light-shielding region is defined on the TFT array substrate from the first light-shielding film 11a and the data line 6a made of an Al (aluminum) film as an example of a light-shielding metal film. And the mesh-shaped second light-shielding film 2
Reference numeral 3 is planarly covered by the light shielding area. That is, the outline of the second light-shielding film 23 in plan view is included in the outline of the light-shielding region. Each pixel electrode 9a surrounded by the light-shielding region defines a pixel opening region that is a region through which incident light is transmitted. The incident light condensed by the microlens is condensed on a circular condensing area 500b indicated by a broken line in the figure.

【0050】図3に示すように、TFTアレイ基板10
と対向基板20とは対向配置され、両基板間に液晶層5
0が挟持される。TFTアレイ基板10は、例えば石英
基板からなり、対向基板20は、例えばガラス基板や石
英基板からなる。
As shown in FIG. 3, the TFT array substrate 10
And the opposing substrate 20 are arranged to face each other, and the liquid crystal layer 5 is interposed between the substrates.
0 is pinched. The TFT array substrate 10 is made of, for example, a quartz substrate, and the counter substrate 20 is made of, for example, a glass substrate or a quartz substrate.

【0051】図3の模式図の上半分の断面図部分に示す
ように、液晶装置の対向基板20には、対向基板20の
側から入射される入射光を複数の画素電極9aに夫々集
光するマトリクス状に配置された複数のマイクロレンズ
500と、複数のマイクロレンズ500の相互の境界に
夫々対向する位置に形成された第2遮光膜23とを備え
る。マイクロレンズ500の表面全体には、接着剤50
1によりカバーガラス502が貼り付けられており、こ
の上に(図中下側に)更に第2遮光膜23及び対向電極
21が形成されている。マイクロレンズ500は、後述
のように、感光性樹脂からなり、接着剤501は、空気
に近い屈折率を有するアクリル系の接着剤からなり、両
者間の屈折率の違いにより、マイクロレンズ500は、
集光レンズとしての機能を果たす。
As shown in the cross-sectional view of the upper half of the schematic diagram of FIG. 3, on the opposing substrate 20 of the liquid crystal device, incident light incident from the opposing substrate 20 is condensed on a plurality of pixel electrodes 9a. A plurality of microlenses 500 arranged in a matrix, and a second light-shielding film 23 formed at a position facing each boundary of the plurality of microlenses 500. An adhesive 50 is applied to the entire surface of the microlens 500.
1, a cover glass 502 is attached, and a second light-shielding film 23 and a counter electrode 21 are further formed thereon (at the lower side in the figure). The microlens 500 is made of a photosensitive resin as described later, and the adhesive 501 is made of an acrylic adhesive having a refractive index close to that of air.
It functions as a condenser lens.

【0052】図3の模式図の下半分の断面図部分及び図
4の拡大断面図において、TFTアレイ基板10には、
画素電極9aが設けられており、その上側には、ラビン
グ処理等の所定の配向処理が施された配向膜16が設け
られている。画素電極9aは例えば、ITO膜(インジ
ウム・ティン・オキサイド膜)などの透明導電性薄膜か
らなる。また配向膜16は例えば、ポリイミド薄膜など
の有機薄膜からなる。
In the sectional view of the lower half of the schematic diagram of FIG. 3 and the enlarged sectional view of FIG.
The pixel electrode 9a is provided, and an alignment film 16 on which a predetermined alignment process such as a rubbing process is performed is provided above the pixel electrode 9a. The pixel electrode 9a is made of, for example, a transparent conductive thin film such as an ITO film (indium tin oxide film). The alignment film 16 is made of, for example, an organic thin film such as a polyimide thin film.

【0053】他方、図3の模式図の上半分の断面図部分
に示すように、対向基板20には、その全面に渡って対
向電極(共通電極)21が設けられており、その下側に
は、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜
22が設けられている。対向電極21は例えば、ITO
膜などの透明導電性薄膜からなる。また配向膜22は、
ポリイミド薄膜などの有機薄膜からなる。
On the other hand, as shown in the upper half cross-sectional view of the schematic diagram of FIG. 3, the counter substrate 20 is provided with a counter electrode (common electrode) 21 over the entire surface thereof, Is provided with an alignment film 22 that has been subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process. The counter electrode 21 is made of, for example, ITO.
It is composed of a transparent conductive thin film such as a film. The alignment film 22 is
It is made of an organic thin film such as a polyimide thin film.

【0054】図4の拡大断面図に示すように、TFTア
レイ基板10には、各画素電極9aに隣接する位置に、
各画素電極9aをスイッチング制御する画素スイッチン
グ用TFT30が設けられている。
As shown in the enlarged cross-sectional view of FIG. 4, the TFT array substrate 10 has a position adjacent to each pixel electrode 9a.
A pixel switching TFT 30 that controls the switching of each pixel electrode 9a is provided.

【0055】このように構成され、画素電極9aと対向
電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ基
板10と対向基板20との間には、後述のシール材(図
10及び図11参照)により囲まれた空間に電気光学物
質である液晶が封入され、液晶層50が形成される。液
晶層50は、画素電極9aからの電界が印加されていな
い状態で配向膜16及び22により所定の配向状態を採
る。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティッ
ク液晶を混合した液晶からなる。シール材は、二つの基
板10及び20をそれらの周辺で貼り合わせるための、
例えば光硬化性樹脂や熱硬化性樹脂からなる接着剤であ
り、両基板間の距離を所定値とするためのグラスファイ
バー或いはガラスビーズ等のスペーサが混入されてい
る。
A sealing material described later (see FIGS. 10 and 11) is provided between the TFT array substrate 10 and the opposing substrate 20, which are configured as described above and are arranged so that the pixel electrode 9a and the opposing electrode 21 face each other. The liquid crystal which is an electro-optical material is sealed in the space surrounded by the parentheses, and the liquid crystal layer 50 is formed. The liquid crystal layer 50 adopts a predetermined alignment state by the alignment films 16 and 22 when no electric field is applied from the pixel electrode 9a. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several kinds of nematic liquid crystals are mixed. The sealing material is for bonding the two substrates 10 and 20 around them,
For example, it is an adhesive made of a photocurable resin or a thermosetting resin, and a spacer such as glass fiber or glass bead for mixing the distance between the two substrates to a predetermined value is mixed.

【0056】図4に示すように、画素スイッチング用T
FT30に各々対向する位置においてTFTアレイ基板
10と各画素スイッチング用TFT30との間には、第
1遮光膜11aが設けられている。第1遮光膜11a
は、好ましくは不透明な高融点金属であるTi、Cr、
W、Ta、Mo及びPdのうちの少なくとも一つを含
む、金属単体、合金、金属シリサイド等から構成され
る。このような材料から構成すれば、TFTアレイ基板
10上の第1遮光膜11aの形成工程の後に行われる画
素スイッチング用TFT30の形成工程における高温処
理により、第1遮光膜11aが破壊されたり溶融しない
ようにできる。第1遮光膜11aが形成されているの
で、TFTアレイ基板10の側からの戻り光等が画素ス
イッチング用TFT30のチャネル領域1a’やLDD
領域1b、1cに入射する事態を未然に防ぐことがで
き、光電流の発生により画素スイッチング用TFT30
の特性が劣化することはない。
As shown in FIG. 4, the pixel switching T
A first light-shielding film 11a is provided between the TFT array substrate 10 and each pixel switching TFT 30 at a position facing each FT 30. First light shielding film 11a
Are preferably opaque refractory metals Ti, Cr,
It is composed of a metal simple substance, an alloy, a metal silicide or the like containing at least one of W, Ta, Mo and Pd. With such a material, the first light-shielding film 11a is not broken or melted by high-temperature processing in the step of forming the pixel switching TFT 30 performed after the step of forming the first light-shielding film 11a on the TFT array substrate 10. I can do it. Since the first light-shielding film 11a is formed, return light and the like from the side of the TFT array substrate 10 are transmitted to the channel region 1a 'of the pixel switching TFT 30 or the LDD.
The incident on the regions 1b and 1c can be prevented beforehand, and the pixel switching TFT 30
Does not deteriorate.

【0057】また、第1遮光膜11aと複数の画素スイ
ッチング用TFT30との間には、第1層間絶縁膜12
が設けられている。第1層間絶縁膜12は、画素スイッ
チング用TFT30を構成する半導体層1aを第1遮光
膜11aから電気的絶縁するために設けられるものであ
る。更に、第1層間絶縁膜12は、TFTアレイ基板1
0の全面に形成されることにより、画素スイッチング用
TFT30のための下地膜としての機能をも有する。即
ち、TFTアレイ基板10の表面の研磨時における荒れ
や、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用TFT3
0の特性の劣化を防止する機能を有する。第1層間絶縁
膜12は、例えば、NSG(ノンドープトシリケートガ
ラス)、PSG(リンシリケートガラス)、BSG(ボ
ロンシリケートガラス)、BPSG(ボロンリンシリケ
ートガラス)などの高絶縁性ガラス又は、酸化シリコン
膜、窒化シリコン膜等からなる。第1層間絶縁膜12に
より、第1遮光膜11aが画素スイッチング用TFT3
0等を汚染する事態を未然に防ぐこともできる。
A first interlayer insulating film 12 is provided between the first light shielding film 11a and the plurality of pixel switching TFTs 30.
Is provided. The first interlayer insulating film 12 is provided for electrically insulating the semiconductor layer 1a constituting the pixel switching TFT 30 from the first light-shielding film 11a. Further, the first interlayer insulating film 12 is formed on the TFT array substrate 1.
By being formed on the entire surface of 0, it also has a function as a base film for the pixel switching TFT 30. That is, the pixel switching TFT 3 may be roughened during polishing of the surface of the TFT array substrate 10 or stains remaining after cleaning.
0 has the function of preventing the deterioration of the characteristic. The first interlayer insulating film 12 is made of, for example, a highly insulating glass such as NSG (non-doped silicate glass), PSG (phosphosilicate glass), BSG (boron silicate glass), BPSG (boron phosphorus silicate glass), or a silicon oxide film. , A silicon nitride film or the like. Due to the first interlayer insulating film 12, the first light-shielding film 11a is formed by the pixel switching TFT 3
It is also possible to prevent a situation where 0 or the like is contaminated.

【0058】本実施の形態では、ゲート絶縁膜2を走査
線3aに対向する位置から延設して誘電体膜として用
い、半導体層1aを延設して第1蓄積容量電極1fと
し、更にこれらに対向する容量線3bの一部を第2蓄積
容量電極とすることにより、蓄積容量70が構成されて
いる。より詳細には、半導体層1aの高濃度ドレイン領
域1eが、データ線6a及び走査線3aの下に延設され
て、同じくデータ線6a及び走査線3aに沿って伸びる
容量線3b部分に絶縁膜2を介して対向配置されて、第
1蓄積容量電極(半導体層)1fとされている。特に蓄
積容量70の誘電体としての絶縁膜2は、高温酸化によ
りポリシリコン膜上に形成されるTFT30のゲート絶
縁膜2に他ならないので、薄く且つ高耐圧の絶縁膜とす
ることができ、蓄積容量70は比較的小面積で大容量の
蓄積容量として構成できる。
In this embodiment, the gate insulating film 2 extends from a position facing the scanning line 3a and is used as a dielectric film, and the semiconductor layer 1a extends to form a first storage capacitor electrode 1f. A storage capacitor 70 is formed by using a part of the capacitor line 3b opposed to the first storage capacitor electrode as a second storage capacitor electrode. More specifically, a high-concentration drain region 1e of the semiconductor layer 1a extends below the data line 6a and the scanning line 3a, and an insulating film is formed on a portion of the capacitance line 3b extending along the data line 6a and the scanning line 3a. The first storage capacitor electrode (semiconductor layer) 1f is opposed to the first storage capacitor electrode 2 via the second storage capacitor electrode 2. In particular, since the insulating film 2 as a dielectric of the storage capacitor 70 is nothing but the gate insulating film 2 of the TFT 30 formed on the polysilicon film by high-temperature oxidation, it can be a thin and high withstand voltage insulating film. The capacitor 70 can be configured as a large-capacity storage capacitor with a relatively small area.

【0059】この結果、データ線6a下の領域及び走査
線3aに沿って液晶のディスクリネーションが発生する
領域(即ち、容量線3bが形成された領域)という開口
領域を外れたスペースを有効に利用して、画素電極9a
の蓄積容量を増やすことが出来る。
As a result, a space outside the opening area, that is, the area below the data line 6a and the area where the liquid crystal disclination occurs along the scanning line 3a (ie, the area where the capacitance line 3b is formed) is effectively used. Utilizing the pixel electrode 9a
Storage capacity can be increased.

【0060】図4において、画素スイッチング用TFT
30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有して
おり、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチ
ャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1
a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶
縁膜2、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領
域(ソース側LDD領域)1b及び低濃度ドレイン領域
(ドレイン側LDD領域)1c、半導体層1aの高濃度
ソース領域1d並びに高濃度ドレイン領域1eを備えて
いる。高濃度ドレイン領域1eには、複数の画素電極9
aのうちの対応する一つが接続されている。ソース領域
1b及び1d並びにドレイン領域1c及び1eは、半導
体層1aに対し、n型又はp型のチャネルを形成するか
に応じて所定濃度のn型用又はp型用のドーパントをド
ープすることにより形成されている。n型チャネルのT
FTは、動作速度が速いという利点があり、画素のスイ
ッチング素子である画素スイッチング用TFT30とし
て用いられることが多い。本実施の形態では特にデータ
線6aは、Al等の低抵抗な金属膜や金属シリサイド等
の合金膜などの遮光性の薄膜から構成されている。ま
た、走査線3a、ゲート絶縁膜2及び第1層間絶縁膜1
2の上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタクト
ホール5及び高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタク
トホール8が各々形成された第2層間絶縁膜4が形成さ
れている。このソース領域1bへのコンタクトホール5
を介して、データ線6aは高濃度ソース領域1dに電気
的接続されている。更に、データ線6a及び第2層間絶
縁膜4の上には、高濃度ドレイン領域1eへのコンタク
トホール8が形成された第3層間絶縁膜7が形成されて
いる。この高濃度ドレイン領域1eへのコンタクトホー
ル8を介して、画素電極9aは高濃度ドレイン領域1e
に電気的接続されている。前述の画素電極9aは、この
ように構成された第3層間絶縁膜7の上面に設けられて
いる。尚、画素電極9aと高濃度ドレイン領域1eと
は、データ線6aと同一のAl膜や走査線3bと同一の
ポリシリコン膜を中継しての電気的接続するようにして
もよい。
In FIG. 4, a TFT for pixel switching is used.
Reference numeral 30 denotes an LDD (Lightly Doped Drain) structure, and includes a scanning line 3a and a channel region 1 of a semiconductor layer 1a in which a channel is formed by an electric field from the scanning line 3a.
a ', gate insulating film 2 for insulating scanning line 3a from semiconductor layer 1a, data line 6a, low-concentration source region (source-side LDD region) 1b and low-concentration drain region (drain-side LDD region) 1c of semiconductor layer 1a , A high concentration source region 1d and a high concentration drain region 1e of the semiconductor layer 1a. A plurality of pixel electrodes 9 are provided in the high-concentration drain region 1e.
The corresponding one of a is connected. The source regions 1b and 1d and the drain regions 1c and 1e are formed by doping the semiconductor layer 1a with a predetermined concentration of n-type or p-type dopant depending on whether an n-type or p-type channel is formed. Is formed. T for n-type channel
The FT has an advantage that the operation speed is fast, and is often used as the pixel switching TFT 30 which is a pixel switching element. In the present embodiment, in particular, the data line 6a is formed of a light-shielding thin film such as a low-resistance metal film such as Al or an alloy film such as metal silicide. Further, the scanning line 3a, the gate insulating film 2, and the first interlayer insulating film 1
Above 2, a second interlayer insulating film 4 is formed in which a contact hole 5 leading to the high-concentration source region 1d and a contact hole 8 leading to the high-concentration drain region 1e are formed. Contact hole 5 to source region 1b
, The data line 6a is electrically connected to the high-concentration source region 1d. Further, a third interlayer insulating film 7 having a contact hole 8 to the high-concentration drain region 1e is formed on the data line 6a and the second interlayer insulating film 4. The pixel electrode 9a is connected to the high-concentration drain region 1e through the contact hole 8 to the high-concentration drain region 1e.
Is electrically connected to The above-described pixel electrode 9a is provided on the upper surface of the third interlayer insulating film 7 configured as described above. The pixel electrode 9a and the high-concentration drain region 1e may be electrically connected to each other by relaying the same Al film as the data line 6a or the same polysilicon film as the scanning line 3b.

【0061】画素スイッチング用TFT30は、好まし
くは上述のようにLDD構造を持つが、低濃度ソース領
域1b及び低濃度ドレイン領域1cに不純物イオンの打
ち込みを行わないオフセット構造を持ってよいし、ゲー
ト電極3aをマスクとして高濃度で不純物イオンを打ち
込み、自己整合的に高濃度ソース及びドレイン領域を形
成するセルフアライン型のTFTであってもよい。
The pixel switching TFT 30 preferably has the LDD structure as described above, but may have an offset structure in which impurity ions are not implanted into the low-concentration source region 1b and the low-concentration drain region 1c. A self-aligned TFT in which impurity ions are implanted at a high concentration using 3a as a mask to form high-concentration source and drain regions in a self-aligned manner may be used.

【0062】また本実施の形態では、画素スイッチング
用TFT30のゲート電極(データ線3a)をソース−
ドレイン領域1b及び1e間に1個のみ配置したシング
ルゲート構造としたが、これらの間に2個以上のゲート
電極を配置してもよい。この際、各々のゲート電極には
同一の信号が印加されるようにする。このようにデュア
ルゲート(ダブルゲート)或いはトリプルゲート以上で
TFTを構成すれば、チャネルとソース−ドレイン領域
接合部のリーク電流を防止でき、オフ時の電流を低減す
ることができる。これらのゲート電極の少なくとも1個
をLDD構造或いはオフセット構造にすれば、更にオフ
電流を低減でき、安定したスイッチング素子を得ること
ができる。
In the present embodiment, the gate electrode (data line 3a) of the pixel switching TFT 30 is connected to the source
Although only one single gate structure is arranged between the drain regions 1b and 1e, two or more gate electrodes may be arranged between them. At this time, the same signal is applied to each gate electrode. When a TFT is formed with a dual gate (double gate) or triple gate or more as described above, a leak current at a junction between a channel and a source-drain region can be prevented, and a current in an off state can be reduced. If at least one of these gate electrodes has an LDD structure or an offset structure, the off-state current can be further reduced, and a stable switching element can be obtained.

【0063】以上のように構成されているため、本実施
の形態の液晶装置によれば、対向基板20上に備えられ
た複数のマイクロレンズ500により、対向基板20側
からの入射光は、複数の画素電極9a上に夫々集光され
る。従って、マイクロレンズ500が無い場合と比較し
て、各画素における実効開口率が高められている。
According to the liquid crystal device of the present embodiment, as described above, according to the liquid crystal device of the present embodiment, the plurality of microlenses 500 provided on the opposite substrate 20 allow the incident light from the opposite substrate 20 Are condensed on the pixel electrodes 9a. Therefore, the effective aperture ratio in each pixel is increased as compared with the case where the micro lens 500 is not provided.

【0064】そして、TFT30は、第1遮光膜11a
及びデータ線6aにより規定される遮光領域(図2参
照)内に、即ちマイクロレンズ500による画素電極9
a上の集光領域500bから外れて位置する。このた
め、対向基板20側からの入射光がマイクロレンズ50
0を介してTFT30のチャネル領域に入射することは
実用上殆ど又は全くない。更に、複数のマイクロレンズ
500の相互の境界においては、対向基板20側からの
入射光は、第2遮光膜23により遮光される。従って、
対向基板20側からの入射光がマイクロレンズ500の
境界を通過して、TFT30のチャネル領域に直接入射
したり、多重反射等により迷光となった後に入射する事
態を未然に防げる。
The TFT 30 has a first light-shielding film 11a.
And within the light-blocking area (see FIG. 2) defined by the data line 6a, that is, the pixel electrode 9 by the microlens 500.
a. For this reason, the incident light from the counter substrate 20 side is
Practically, there is little or no incident light to the channel region of the TFT 30 through 0. Further, at the mutual boundary between the plurality of microlenses 500, the incident light from the counter substrate 20 side is shielded by the second light shielding film 23. Therefore,
It is possible to prevent incident light from the counter substrate 20 side from passing through the boundary of the microlens 500 and directly entering the channel region of the TFT 30 or entering after becoming stray light due to multiple reflection or the like.

【0065】以上のように、仮にTFT30のチャネル
領域1a’における対向基板20側の遮光を金属薄膜か
らなるデータ線6aにより施さなくても、対向基板20
側からの入射光に対するTFT30のチャネル領域1
a’における遮光は、マイクロレンズ500及び第2遮
光膜23により十分に施される。他方、前述のように第
1遮光膜11aにより、各TFT30のチャネル領域1
a’は、TFTアレイ基板10側から見て夫々覆われ
る。従って、TFTアレイ基板10側からの戻り光等が
TFT30のチャネル領域1a’に入射してTFT30
のトランジスタ特性が劣化する事態を未然に防ぐことが
出来る。以上の結果、入射光や戻り光等のTFT30の
チャネル領域1a’への入射により、TFT30の特性
が劣化することは実践上殆ど又は全く無く、本実施の形
態の液晶装置では、TFT30による精度の高い液晶駆
動が可能とされる。
As described above, even if the light shielding on the counter substrate 20 side in the channel region 1a 'of the TFT 30 is not performed by the data line 6a made of a metal thin film,
Channel region 1 of TFT 30 for incident light from the side
The light shielding at a ′ is sufficiently performed by the microlens 500 and the second light shielding film 23. On the other hand, as described above, the channel region 1 of each TFT 30 is formed by the first light shielding film 11a.
a ′ is covered when viewed from the TFT array substrate 10 side. Therefore, the return light from the TFT array substrate 10 enters the channel region 1a 'of the TFT 30 and
Can be prevented from being deteriorated. As a result, there is practically little or no deterioration in the characteristics of the TFT 30 due to the incidence of incident light or return light on the channel region 1a 'of the TFT 30, and in the liquid crystal device of the present embodiment, the accuracy of the TFT 30 High liquid crystal driving is enabled.

【0066】これらに加えて、第1遮光膜11aとデー
タ線6aとにより規定される遮光領域は、コントラスト
の向上、色材の混色防止などの機能をも有する。
In addition, the light-shielding area defined by the first light-shielding film 11a and the data line 6a has functions such as improvement of contrast and prevention of color mixing of color materials.

【0067】そして、マイクロレンズ500により、対
向基板20側からの入射光は画素電極9a上の集光領域
500bに夫々集光されるので(図2参照)、入射光の
利用効率は高められると同時に、第2遮光膜23の存在
により、対向基板20における機械的強度及び熱遮断性
能は夫々、第2遮光膜23が無かった場合と比較して顕
著に高められる。
Then, the incident light from the counter substrate 20 side is respectively condensed on the condensing area 500b on the pixel electrode 9a by the microlens 500 (see FIG. 2), so that the utilization efficiency of the incident light is improved. At the same time, due to the presence of the second light-shielding film 23, the mechanical strength and the heat-shielding performance of the opposing substrate 20 are each significantly improved as compared with the case where the second light-shielding film 23 is not provided.

【0068】ここで前述のように、第2遮光膜23は、
平面的に見て第1遮光膜11a及びデータ線6aにより
TFTアレイ基板10上に規定される遮光領域に覆われ
ている。即ち、TFTアレイ基板10側から見て、遮光
領域の輪郭の内側に第2遮光膜23の輪郭が位置してい
る。従って、両基板を機械的に貼り合わせる際の組みず
れにより、遮光領域(或いは、第1遮光膜11a)に対
して第2遮光膜23が平面的にずれてたとしても、両輪
郭間の距離に応じて、第2遮光膜23の第1遮光膜11
a或いはデータ線6aからの平面的なはみ出しは、全部
或いは部分的に吸収される。言い換えれば、第2遮光膜
23は、遮光領域或いは画素開口領域を規定する機能を
持たず、上述のようにマイクロレンズ500の境界にだ
け最低限設けておけば足りるので、両基板を接着する際
の組みずれを見込んで、第2遮光膜23の形成領域を小
さめに設定しておくことにより、この組みずれが画素開
口率には何等影響しないようにできる。このため、所定
許容範囲内にある多少の組みずれによっては、画素開口
領域は全く狭くならないか或いは少ししか狭くならない
で済む。
Here, as described above, the second light shielding film 23
The first light-shielding film 11a and the data lines 6a cover a light-shielding region defined on the TFT array substrate 10 in a plan view. That is, when viewed from the TFT array substrate 10 side, the outline of the second light-shielding film 23 is located inside the outline of the light-shielded region. Therefore, even if the second light-shielding film 23 is two-dimensionally shifted with respect to the light-shielding region (or the first light-shielding film 11a) due to a misalignment when the two substrates are mechanically bonded to each other, the distance between the two contours is different. According to the first light shielding film 11 of the second light shielding film 23
A or a planar protrusion from the data line 6a is completely or partially absorbed. In other words, the second light-shielding film 23 does not have a function of defining the light-shielding region or the pixel opening region, and only needs to be provided at the minimum at the boundary of the microlens 500 as described above. By setting the formation area of the second light-shielding film 23 small in consideration of the misalignment, the misalignment can have no effect on the pixel aperture ratio. For this reason, the pixel opening area does not need to be narrowed at all or only slightly narrowed depending on a slight misalignment within the predetermined allowable range.

【0069】更にまた、第2遮光膜23は、上述のよう
に画素開口率にほぼ又は全く影響しないので、従来のC
r等と比べて寸法精度が出ない材料を第2遮光膜23の
材料として使用することも可能となる。従って、従来の
Cr等と比べて反射率が高いが精度を出し難い、例えば
Al等の材料を第2遮光膜23として使用することも可
能となる。これにより対向基板20側から入射する入射
光を第2遮光膜23により高反射率で反射することが出
来るので、第2遮光膜23の形成面積に応じて当該液晶
装置の温度上昇をより効率的に抑えることも可能とな
る。
Furthermore, since the second light-shielding film 23 has little or no effect on the pixel aperture ratio as described above,
It is also possible to use a material whose dimensional accuracy is not high as compared with r or the like as the material of the second light shielding film 23. Therefore, the reflectance is higher than that of the conventional Cr or the like, but it is difficult to obtain a high accuracy. For example, a material such as Al can be used as the second light shielding film 23. Accordingly, the incident light incident from the counter substrate 20 side can be reflected at a high reflectance by the second light shielding film 23, so that the temperature rise of the liquid crystal device can be more efficiently increased according to the formation area of the second light shielding film 23. It is also possible to keep it low.

【0070】本実施の形態では特に、図2及び図3に示
したように、画素電極9a上においてマイクロレンズ5
00の集光領域500bにはみ出さないようにマイクロ
レンズ500の集光角度に応じて、第1遮光膜11a及
びデータ線6aからなる遮光領域が規定されている。こ
こで、マイクロレンズ500の集光角度或いは集光能力
が大きい程、画素電極9a上における集光領域500b
の面積は小さくなるので、このように集光領域500b
にはみ出さない範囲で、遮光領域を大きく設定すれば、
マイクロレンズ500の集光角度によらず、第1遮光膜
11a及び第2遮光膜23における遮光による光損失を
低く抑えられる。従って、各種の曲率や形状を持つマイ
クロレンズ500を用いて本実施の形態の液晶装置を構
成することが可能となる。
In this embodiment, in particular, as shown in FIGS. 2 and 3, the micro lens 5 is formed on the pixel electrode 9a.
The light-shielding region including the first light-shielding film 11a and the data line 6a is defined according to the light-converging angle of the microlens 500 so as not to protrude into the light-collecting region 500b. Here, as the focusing angle or the focusing ability of the microlens 500 increases, the focusing area 500b on the pixel electrode 9a increases.
Of the light-collecting region 500b
If you set the light-blocking area large within the range that does not protrude,
Irrespective of the converging angle of the microlens 500, light loss due to light shielding in the first light-shielding film 11a and the second light-shielding film 23 can be reduced. Therefore, the liquid crystal device of the present embodiment can be configured using the microlenses 500 having various curvatures and shapes.

【0071】また、前述のように第2遮光膜23は、金
属又は金属合金の薄膜の一例としてAl膜等から構成さ
れている。従って、第2遮光膜23は、その反射率を、
例えば90数パーセントといったように従来のCrと比
べて非常に高くできる。このため、液晶装置内部へ入射
しようとする入射光に対する第2遮光膜23の反射機能
を向上でき、これに応じて液晶装置における温度上昇を
抑制できる。また、前述のように、第2遮光膜23は、
遮光領域を規定する機能を持たないので、寸法精度が出
ないAl等の金属材料を材料として使用することも可能
である。
Further, as described above, the second light-shielding film 23 is formed of an Al film or the like as an example of a metal or metal alloy thin film. Therefore, the second light-shielding film 23 has a reflectance of
For example, it can be much higher than conventional Cr, such as 90 percents. For this reason, the reflection function of the second light-shielding film 23 with respect to the incident light that is going to enter the inside of the liquid crystal device can be improved, and accordingly, the temperature rise in the liquid crystal device can be suppressed. In addition, as described above, the second light-shielding film 23
Since it does not have the function of defining the light-shielding region, it is possible to use a metal material such as Al, which does not provide dimensional accuracy, as the material.

【0072】本実施の形態では、第1遮光膜11aは、
定電位源に接続されて定電位とされる。従って、第1遮
光膜11aに対向配置される画素スイッチング用TFT
30に対し第1遮光膜11aの電位変動が悪影響を及ぼ
すことはない。また、容量線3bも、定電位源に接続さ
れて定電位とされ、蓄積容量70の第2蓄積容量電極と
して良好に機能し得る。この場合、定電位源としては、
当該液晶装置を駆動するための周辺回路(例えば、走査
線駆動回路、データ線駆動回路等)に供給される負電
源、正電源等の定電位源、接地電源、対向電極21に供
給される定電位源等が挙げられる。このように周辺回路
等の電源を利用すれば、専用の電位配線や外部入力端子
を設ける必要なく、第1遮光膜11a及び容量線3bを
定電位にできる。
In the present embodiment, the first light shielding film 11a is
It is connected to a constant potential source and has a constant potential. Therefore, the pixel switching TFT disposed opposite to the first light shielding film 11a
30 does not adversely affect the potential change of the first light-shielding film 11a. Further, the capacitance line 3 b is also connected to a constant potential source and is set to a constant potential, and can function well as a second storage capacitor electrode of the storage capacitor 70. In this case, as the constant potential source,
A constant potential source such as a negative power supply or a positive power supply supplied to peripheral circuits (for example, a scanning line driving circuit, a data line driving circuit, etc.) for driving the liquid crystal device, a ground power supply, and a constant power supply supplied to the counter electrode 21. And a potential source. By using a power source such as a peripheral circuit, the first light-shielding film 11a and the capacitor line 3b can be set at a constant potential without providing a dedicated potential wiring or an external input terminal.

【0073】また、本実施の形態では、容量線3bと走
査線3aとは、同一のポリシリコン膜からなり、蓄積容
量70の誘電体膜と画素スイッチング用TFT30のゲ
ート絶縁膜2とは、同一の高温酸化膜からなり、第1蓄
積容量電極1fと、画素スイッチング用TFT30のチ
ャネル形成領域1a’、ソース領域1d、ドレイン領域
1e等とは、同一の半導体層1aからなる。このため、
TFTアレイ基板10上に形成される積層構造を単純化
でき、更に、後述の液晶装置の製造方法において、同一
の薄膜形成工程で容量線3b及び走査線3aを同時に形
成でき、蓄積容量70の誘電体膜及びゲート絶縁膜2を
同時に形成できる。
In this embodiment, the capacitance line 3b and the scanning line 3a are made of the same polysilicon film, and the dielectric film of the storage capacitor 70 and the gate insulating film 2 of the pixel switching TFT 30 are the same. The first storage capacitor electrode 1f, the channel forming region 1a ', the source region 1d, the drain region 1e, etc. of the pixel switching TFT 30 are formed of the same semiconductor layer 1a. For this reason,
The layered structure formed on the TFT array substrate 10 can be simplified, and furthermore, in the method of manufacturing a liquid crystal device described later, the capacitor line 3b and the scanning line 3a can be formed simultaneously in the same thin film forming step. The body film and the gate insulating film 2 can be formed simultaneously.

【0074】更にまた、コンタクトホール13は、対向
基板20の側から見てデータ線6aの下に開孔されてい
る。このため、コンタクトホール13は、画素部の開口
領域から外れており、しかも画素スイッチング用TFT
30や第1蓄積容量電極1fが形成されていない第1層
間絶縁膜12の部分に設けられているので、画素領域の
有効利用を図りつつ、コンタクトホール13の形成によ
るTFT30や他の配線等の不良化を防ぐことができ
る。
Further, the contact hole 13 is opened below the data line 6a when viewed from the counter substrate 20 side. Therefore, the contact hole 13 is out of the opening area of the pixel portion, and furthermore, the pixel switching TFT
30 and the first storage capacitor electrode 1f are provided in the portion of the first interlayer insulating film 12 where the first storage capacitor electrode 1f is not formed. Therefore, the TFT 30 and other wiring and the like are formed by forming the contact hole 13 while effectively utilizing the pixel region. Deterioration can be prevented.

【0075】以上説明したように、本実施の形態の液晶
装置により、比較的簡単な構成を用いて、各画素におけ
る実効開口率を高めつつ、高精細な画像を表示できる。
As described above, the liquid crystal device of the present embodiment can display a high-definition image while increasing the effective aperture ratio of each pixel using a relatively simple structure.

【0076】(マイクロレンズの製造方法)次に、本実
施の形態に用いられるマイクロレンズ500の製造方法
について、図5を参照して説明する。
(Method of Manufacturing Micro Lens) Next, a method of manufacturing the micro lens 500 used in the present embodiment will be described with reference to FIG.

【0077】先ず図5(a)に示すように、ネオセラム
等からなる基板10上に、感光性樹脂510を塗布す
る。
First, as shown in FIG. 5A, a photosensitive resin 510 is applied on a substrate 10 made of neoceram or the like.

【0078】次に図5(b)に示すように、各マイクロ
レンズ500となる部分に対応する凸部が残るように所
定パターンを有するマスク520を介して、感光性樹脂
510をマスク露光し、その後、図5(c)に示すよう
に、ウエット又はドライエッチングにより現像する。
Next, as shown in FIG. 5B, the photosensitive resin 510 is mask-exposed through a mask 520 having a predetermined pattern so that a convex portion corresponding to each microlens 500 remains. Thereafter, as shown in FIG. 5C, development is performed by wet or dry etching.

【0079】次に図5(d)に示すように、熱フローを
印加し、感光性樹脂510の熱変形及び表面張力によ
り、滑らかな各マイクロレンズの凸面を持つ感光性樹脂
510からなる、図2及び図3に示したような複数のマ
イクロレンズ500を形成する。この際特に、熱フロー
を基板面上で制御することにより、所定の集光能力を有
し且つ隙間が殆ど空かないように複数のマイクロレンズ
500を形成する。
Next, as shown in FIG. 5D, a heat flow is applied, and the photosensitive resin 510 is made of a photosensitive resin 510 having a smooth convex surface of each microlens due to thermal deformation and surface tension of the photosensitive resin 510. A plurality of microlenses 500 as shown in FIGS. 2 and 3 are formed. At this time, in particular, by controlling the heat flow on the substrate surface, the plurality of microlenses 500 are formed so as to have a predetermined light-collecting ability and hardly leave a gap.

【0080】次に図5(e)に示すように、マイクロレ
ンズ500の表面にアクリル系接着剤501を塗布して
ネオセラム等からなるカバーガラス502gを接着す
る。
Next, as shown in FIG. 5E, an acrylic adhesive 501 is applied to the surface of the microlens 500, and a cover glass 502g made of neoceram or the like is adhered.

【0081】次に図5(f)に示すように、カバーガラ
ス502gを研磨して、図3に示した如き、所定の厚み
を有するカバーガラス502とする。
Next, as shown in FIG. 5F, the cover glass 502g is polished to obtain a cover glass 502 having a predetermined thickness as shown in FIG.

【0082】最後に図5(g)に示すように、第2遮光
膜23及び対向電極21をスパッタリング、コーティン
グ等によりこの順に成膜して、図3に示した如きマイク
ロレンズ500及び第2遮光膜23を備えた対向基板2
0を完成させる。
Finally, as shown in FIG. 5G, a second light-shielding film 23 and a counter electrode 21 are formed in this order by sputtering, coating, or the like, and the microlens 500 and the second light-shielding film as shown in FIG. Counter substrate 2 provided with film 23
Complete 0.

【0083】尚、マイクロレンズ500は、例えば、特
開平6−194502号公報に開示されている公知の製
造方法や伝統的な所謂「熱変形法」により形成してもよ
い。
The microlens 500 may be formed by, for example, a known manufacturing method disclosed in JP-A-6-194502 or a traditional so-called “thermal deformation method”.

【0084】(液晶装置の各種の変形形態)次に、上述
した液晶装置の各種の変形形態について図6から図8を
参照して説明する。
(Various Modifications of Liquid Crystal Device) Next, various modifications of the above-described liquid crystal device will be described with reference to FIGS.

【0085】第1に、図3に示したマイクロレンズ50
0については、図6に示すように構成されてもよい。即
ち、予め各レンズの凸面が形成された透明板(マイクロ
レンズアレイ)を対向基板20の表面に貼り付けてマイ
クロレンズ500’付きの対向基板20を構成するよう
にしてもよい。更に、対向基板20の液晶層50に対面
する側の面上に、このようなマイクロレンズアレイを貼
り付けてもよい。
First, the micro lens 50 shown in FIG.
For 0, it may be configured as shown in FIG. That is, a transparent plate (microlens array) on which the convex surface of each lens is formed in advance may be attached to the surface of the opposing substrate 20 to form the opposing substrate 20 with the microlenses 500 '. Further, such a microlens array may be attached on the surface of the opposite substrate 20 facing the liquid crystal layer 50.

【0086】第2に、TFTアレイ基板10上において
第1遮光膜11aから少なくとも部分的に規定される遮
光領域については、図7(A)から図7(C)に示すよ
うに各種の形態とすることが可能である。
Second, the light-shielding region defined at least partially from the first light-shielding film 11a on the TFT array substrate 10 has various forms as shown in FIGS. 7A to 7C. It is possible to

【0087】先ず、図7(A)に示すように、右下がり
の斜線で示す網目状の第1遮光膜11a’により、遮光
領域を単独で規定するように構成してもよい。
First, as shown in FIG. 7A, the light-shielding region may be defined solely by the mesh-like first light-shielding film 11a 'indicated by the diagonally downward slanted lines.

【0088】或いは、図2に示したと同様に、図7
(B)に示すように、右下がりの斜線で示す左右方向
(走査線に沿った方向)に伸びる縞状の第1遮光膜11
aと、右上がりの斜線で示す上下方向に伸びる遮光性の
データ線6aとにより、遮光領域を規定するように構成
してもよい。
Alternatively, as shown in FIG.
As shown in (B), the first light-shielding film 11 in the form of stripes extending in the left-right direction (direction along the scanning line) indicated by the diagonal line inclined downward and to the right.
The light-shielding area may be defined by the light-shielding data line 6a extending in the vertical direction indicated by the oblique line rising to the right.

【0089】或いは、図7(C)に示すように、右下が
りの斜線で示す上下方向(データ線に沿った方向)に伸
びる縞状の第1遮光膜11a”と、右上がりの斜線で示
す左右方向に伸びる遮光性の走査線3a”及び容量線3
b”のうち少なくとも一方の遮光配線とにより、遮光領
域を規定するように構成してもよい。この場合の遮光配
線の材料としては、前述した実施の形態におけるデータ
線6aの場合と同様にAl膜等の遮光性及び導電性に優
れた金属膜等が挙げられる。
Alternatively, as shown in FIG. 7 (C), a stripe-shaped first light-shielding film 11a ″ extending in the vertical direction (direction along the data line) indicated by a downward-sloping oblique line and an obliquely upward-sloping line. Light-shielding scanning line 3a ″ and capacitor line 3 extending in the left-right direction
The light-shielding area may be defined by at least one of the light-shielding wirings of b ”. In this case, the material of the light-shielding wiring may be Al as in the case of the data line 6a in the above-described embodiment. A metal film having excellent light-shielding properties and conductivity, such as a film, may be used.

【0090】これら図7(A)から図7(C)に示した
いずれの形態によっても、画素開口領域の周囲に遮光領
域を規定することができる。
In any of the embodiments shown in FIGS. 7A to 7C, a light-shielding region can be defined around the pixel opening region.

【0091】第3に、対向基板20上における第2遮光
膜23の形状については、図8(A)から図8(C)に
示すように各種の形状とすることが可能である。
Third, the shape of the second light-shielding film 23 on the counter substrate 20 can be various shapes as shown in FIGS. 8A to 8C.

【0092】先ず、図2に示したと同様に、図8(A)
に示すように、右下がりの斜線で示す遮光領域により平
面的に覆われる右上がりの斜線で示した領域に、網目状
の第2遮光膜23を形成してもよい。
First, as shown in FIG. 2, FIG.
As shown in (2), the mesh-shaped second light-shielding film 23 may be formed in an area indicated by obliquely rising oblique lines that is two-dimensionally covered by a light-shielding area indicated by obliquely downwardly-sloping lines.

【0093】或いは、図8(B)に示すように、右下が
りの斜線で示す遮光領域により平面的に覆われる右上が
りの斜線で示した領域に、走査線に沿って(図中、左右
方向に)伸びる縞状の第2遮光膜23’を形成してもよ
い。
Alternatively, as shown in FIG. 8 (B), an area shown by a diagonally right-upward oblique line covered by a light-shielding area shown by a diagonally right-down diagonal line extends along the scanning line (in the horizontal direction in the figure). (2) A second stripe-shaped light-shielding film 23 ′ that extends may be formed.

【0094】或いは、図8(C)に示すように、右下が
りの斜線で示す遮光領域により平面的に覆われる右上が
りの斜線で示した領域に、走査線に沿って画素毎に分断
された島状の第2遮光膜23”を形成してもよい。
Alternatively, as shown in FIG. 8C, each pixel is divided along a scanning line into a region shown by a diagonally right-upward obliquely covered by a light-shielding region shown by a diagonally right-down diagonal line. An island-shaped second light-shielding film 23 "may be formed.

【0095】これら図8(A)から図8(C)に示した
いずれの形態によっても、対向基板20の強度を高める
ことが出来ると共に、液晶層への熱入射を低減すること
が出来る。
8A to 8C, the strength of the opposing substrate 20 can be increased and the heat incidence on the liquid crystal layer can be reduced.

【0096】(液晶装置の全体構成)以上のように構成
された液晶装置の各実施の形態の全体構成を図9から図
11を参照して説明する。尚、図9は、TFTアレイ基
板上の画素部及び周辺回路の具体的な構成を示すブロッ
ク図である。図10は、TFTアレイ基板10をその上
に形成された各構成要素と共に対向基板20の側から見
た平面図であり、図11は、対向基板20を含めて示す
図10のH−H’断面図である。
(Overall Configuration of Liquid Crystal Device) The overall configuration of each embodiment of the liquid crystal device configured as described above will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a block diagram showing a specific configuration of a pixel portion and a peripheral circuit on the TFT array substrate. FIG. 10 is a plan view of the TFT array substrate 10 together with the components formed thereon as viewed from the counter substrate 20 side. FIG. It is sectional drawing.

【0097】図9において、液晶装置は周辺回路とし
て、データ線6aを駆動するデータ線駆動回路101
と、走査線3aを駆動する走査線駆動回路104と、複
数のデータ線6aに所定電圧レベルのプリチャージ信号
NRSを画像信号VIDに先行して夫々供給するプリチ
ャージ回路201と、画像信号VIDをサンプリングし
て複数のデータ線6aに夫々供給するサンプリング回路
301とを備える。
In FIG. 9, the liquid crystal device has a data line driving circuit 101 for driving data line 6a as a peripheral circuit.
A scanning line driving circuit 104 for driving the scanning line 3a; a precharge circuit 201 for supplying a precharge signal NRS of a predetermined voltage level to the plurality of data lines 6a prior to the image signal VID; A sampling circuit 301 for sampling and supplying the data to the plurality of data lines 6a.

【0098】走査線駆動回路104は、外部制御回路か
ら供給される電源、基準クロック信号CLY及びその反
転クロック信号、スタート信号DY等に基づいて、所定
タイミングで走査線3aに走査信号G1、G2、…、G
mをパルス的に線順次で印加する。
The scanning line driving circuit 104 supplies the scanning signals G1, G2, G2,... To the scanning line 3a at a predetermined timing based on the power supplied from the external control circuit, the reference clock signal CLY and its inverted clock signal, the start signal DY, and the like. …, G
m is applied in a pulsed manner in a line-sequential manner.

【0099】データ線駆動回路101は、外部制御回路
から供給される電源、基準クロック信号CLX及びその
反転クロック信号、スタート信号DX等に基づいて、走
査線駆動回路104が走査信号G1、G2、…、Gmを
印加するタイミングに合わせて、画像信号線304夫々
について、データ線6a毎にサンプリング回路駆動信号
X1、X2、…、Xnをサンプリング回路301にサン
プリング回路駆動信号線306を介して所定タイミング
で供給する。
The data line driving circuit 101 is configured such that the scanning line driving circuit 104 causes the scanning signals G1, G2,... Based on the power supplied from the external control circuit, the reference clock signal CLX and its inverted clock signal, the start signal DX and the like. , Gm are applied to the image signal lines 304, and the sampling circuit drive signals X1, X2,..., Xn are supplied to the sampling circuit 301 for each data line 6a at a predetermined timing via the sampling circuit drive signal line 306. Supply.

【0100】プリチャージ回路201は、スイッチング
素子として、例えばTFT202を各データ線6a毎に
備えており、プリチャージ信号線204がTFT202
のドレイン又はソース電極に接続されており、プリチャ
ージ回路駆動信号線206がTFT202のゲート電極
に接続されている。そして、動作時には、プリチャージ
信号線204を介して、外部電源からプリチャージ信号
NRSを書き込むために必要な所定電圧の電源が供給さ
れ、プリチャージ回路駆動信号線206を介して、各デ
ータ線6aについて画像信号S1、S2、…、Snに先
行するタイミングでプリチャージ信号NRSを書き込む
ように、外部制御回路からプリチャージ回路駆動信号N
RGが供給される。プリチャージ回路201は、好まし
くは中間階調レベルの画像信号S1、S2、…、Snに
相当するプリチャージ信号NRS(画像補助信号)を供
給する。
The precharge circuit 201 includes, for example, a TFT 202 as a switching element for each data line 6a.
, And a precharge circuit drive signal line 206 is connected to the gate electrode of the TFT 202. In operation, power of a predetermined voltage required for writing the precharge signal NRS is supplied from an external power supply via the precharge signal line 204, and each data line 6a is supplied via the precharge circuit drive signal line 206. From the external control circuit so as to write the precharge signal NRS at a timing preceding the image signals S1, S2,.
RG is supplied. The precharge circuit 201 preferably supplies a precharge signal NRS (image auxiliary signal) corresponding to the image signals S1, S2,.

【0101】サンプリング回路301は、TFT302
を各データ線6a毎に備えており、画像信号線304が
TFT302のソース電極に接続されており、サンプリ
ング回路駆動信号線306がTFT302のゲート電極
に接続されている。そして、画像信号線304を介し
て、画像信号VIDが入力されると、これらをサンプリ
ングする。
The sampling circuit 301 includes a TFT 302
Is provided for each data line 6a, the image signal line 304 is connected to the source electrode of the TFT 302, and the sampling circuit drive signal line 306 is connected to the gate electrode of the TFT 302. Then, when the image signal VID is input via the image signal line 304, the image signal VID is sampled.

【0102】このように本実施の形態では、データ線6
aを一本毎に選択するように構成されているが、データ
線6aを複数本毎にまとめて同時選択するように構成し
てもよい。例えば、サンプリング回路301を構成する
TFT302の書き込み特性及び画像信号の周波数に応
じて、複数相(例えば、3相、6相、12相、…)に相
展開された画像信号VIDを画像信号線304から供給
して、これらをグループ毎に同時にサンプリングするよ
うに構成してもよい。この際、少なくとも相展開数だけ
画像信号線304が必要なことは言うまでもない。
As described above, in the present embodiment, data line 6
Although the configuration is such that a is selected one by one, the configuration may be such that the data lines 6a are collectively selected for a plurality of lines at the same time. For example, the image signal VID expanded into a plurality of phases (for example, three phases, six phases, twelve phases,...) In accordance with the write characteristics of the TFT 302 constituting the sampling circuit 301 and the frequency of the image signal is output to the image signal line 304. , And may be configured to sample them simultaneously for each group. At this time, it is needless to say that the image signal lines 304 are required at least for the number of phase developments.

【0103】図10において、TFTアレイ基板10の
上には、シール材52がその縁に沿って設けられてお
り、その内側に並行して、例えば第2遮光膜23と同じ
或いは異なる材料から成る周辺見切りとしての第3遮光
膜53が設けられている。シール材52の外側の領域に
は、データ線駆動回路101及び実装端子102がTF
Tアレイ基板10の一辺に沿って設けられており、走査
線駆動回路104が、この一辺に隣接する2辺に沿って
設けられている。走査線3aに供給される走査信号遅延
が問題にならないのならば、走査線駆動回路104は片
側だけでも良いことは言うまでもない。また、データ線
駆動回路101を画像表示領域の辺に沿って両側に配列
してもよい。例えば奇数列のデータ線6aは画像表示領
域の一方の辺に沿って配設されたデータ線駆動回路から
画像信号を供給し、偶数列のデータ線は前記画像表示領
域の反対側の辺に沿って配設されたデータ線駆動回路か
ら画像信号を供給するようにしてもよい。この様にデー
タ線6aを櫛歯状に駆動するようにすれば、データ線駆
動回路の占有面積を拡張することができるため、複雑な
回路を構成することが可能となる。更にTFTアレイ基
板10の残る一辺には、画像表示領域の両側に設けられ
た走査線駆動回路104間をつなぐための複数の配線1
05が設けられており、更に、周辺見切りとしての第3
遮光膜53の下に隠れてプリチャージ回路201が設け
るようにしても良い。また、対向基板20のコーナー部
の少なくとも1箇所においては、TFTアレイ基板10
と対向基板20との間で電気的導通をとるための導通材
106が設けられている。そして、図11に示すよう
に、図10に示したシール材52とほぼ同じ輪郭を持つ
対向基板20が当該シール材52によりTFTアレイ基
板10に固着されている。
In FIG. 10, a sealing material 52 is provided along the edge of the TFT array substrate 10, and is made of, for example, the same or different material as the second light shielding film 23 in parallel with the inside thereof. A third light-shielding film 53 is provided as a peripheral parting. The data line drive circuit 101 and the mounting terminal 102
The scanning line drive circuit 104 is provided along one side of the T array substrate 10 and is provided along two sides adjacent to the one side. If the delay of the scanning signal supplied to the scanning line 3a does not matter, it goes without saying that the scanning line driving circuit 104 may be provided on only one side. Further, the data line driving circuits 101 may be arranged on both sides along the side of the image display area. For example, the odd-numbered data lines 6a supply image signals from a data line driving circuit arranged along one side of the image display area, and the even-numbered data lines extend along the opposite side of the image display area. The image signal may be supplied from a data line driving circuit disposed in the same manner. If the data lines 6a are driven in a comb-tooth shape in this manner, the area occupied by the data line driving circuit can be expanded, so that a complicated circuit can be formed. Further, on one remaining side of the TFT array substrate 10, a plurality of wirings 1 for connecting between the scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display area are provided.
05 as well as a third
The precharge circuit 201 may be provided hidden under the light shielding film 53. In at least one of the corners of the opposing substrate 20, the TFT array substrate 10
A conductive material 106 for providing electrical continuity between the substrate and the counter substrate 20 is provided. Then, as shown in FIG. 11, the opposite substrate 20 having substantially the same contour as the sealing material 52 shown in FIG. 10 is fixed to the TFT array substrate 10 by the sealing material 52.

【0104】以上図1から図11を参照して説明した各
実施の形態における液晶装置のTFTアレイ基板10上
には更に、製造途中や出荷時の当該液晶装置の品質、欠
陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。ま
た、データ線駆動回路101及び走査線駆動回路104
をTFTアレイ基板10の上に設ける代わりに、例えば
TAB(テープオートメイテッドボンディング基板)上
に実装された駆動用LSIに、TFTアレイ基板10の
周辺部に設けられた異方性導電フィルムを介して電気的
及び機械的に接続するようにしてもよい。また、対向基
板20の投射光が入射する側及びTFTアレイ基板10
の出射光が出射する側には各々、例えば、TN(ツイス
テッドネマティック)モード、STN(スーパーTN)
モード、D−STN(ダブル−STN)モード等の動作
モードや、ノーマリーホワイトモード/ノーマリーブラ
ックモードの別に応じて、偏光フィルム、位相差フィル
ム、偏光板などが所定の方向で配置される。
The TFT array substrate 10 of the liquid crystal device according to each of the embodiments described above with reference to FIGS. 1 to 11 is further inspected for quality, defects, and the like of the liquid crystal device during manufacturing or shipping. May be formed. Further, the data line driving circuit 101 and the scanning line driving circuit 104
Is provided on the TFT array substrate 10, for example, via a drive LSI mounted on a TAB (tape automated bonding substrate) via an anisotropic conductive film provided on the periphery of the TFT array substrate 10. The connection may be made electrically and mechanically. Also, the side of the opposite substrate 20 on which the projected light is incident and the TFT array substrate 10
For example, a TN (twisted nematic) mode, STN (super TN)
A polarizing film, a retardation film, a polarizing plate, and the like are arranged in a predetermined direction according to an operation mode such as a D-STN (double-STN) mode or a normally white mode / a normally black mode.

【0105】以上説明した各実施の形態における液晶装
置は、カラー液晶プロジェクタに適用されるため、3枚
の液晶装置がRGB用のライトバルブとして各々用いら
れ、各液晶装置には各々RGB色分解用のダイクロイッ
クミラーを介して分解された各色の光が投射光として各
々入射されることになる。従って、各実施の形態では、
対向基板20に、カラーフィルタは設けられていない。
しかしながら、第2遮光膜23の形成されていない画素
電極9aに対向する所定領域にRGBのカラーフィルタ
をその保護膜と共に、対向基板20上に形成してもよ
い。このようにすれば、液晶プロジェクタ以外の直視型
や反射型のカラー液晶テレビなどのカラー液晶装置に各
実施の形態における液晶装置を適用できる。更にまた、
対向基板20上に、何層もの屈折率の相違する干渉層を
堆積することで、光の干渉を利用して、RGB色を作り
出すダイクロイックフィルタを形成してもよい。このダ
イクロイックフィルタ付き対向基板によれば、より明る
いカラー液晶装置が実現できる。
Since the liquid crystal device in each of the embodiments described above is applied to a color liquid crystal projector, three liquid crystal devices are used as RGB light valves, and each liquid crystal device has an RGB color separation device. The light of each color decomposed via the dichroic mirror is incident as projection light. Therefore, in each embodiment,
No color filter is provided on the opposing substrate 20.
However, an RGB color filter may be formed on the opposing substrate 20 in a predetermined area facing the pixel electrode 9a where the second light-shielding film 23 is not formed, together with the protective film. In this way, the liquid crystal device according to each embodiment can be applied to a color liquid crystal device such as a direct-view or reflection type color liquid crystal television other than the liquid crystal projector. Furthermore,
By depositing a number of interference layers having different refractive indices on the counter substrate 20, a dichroic filter that creates RGB colors using light interference may be formed. According to the counter substrate with the dichroic filter, a brighter color liquid crystal device can be realized.

【0106】また従来は、TFTアレイ基板10の裏面
側での反射を防止するために、反射防止用のAR被膜さ
れた偏光板を別途配置したり、ARフィルムを貼り付け
る必要があった。しかし、各実施の形態では、TFTア
レイ基板10の表面と半導体層1aの少なくともチャネ
ル領域1a’及びLDD領域1b、1cとの間に第1遮
光膜11aが形成されているため、このようなAR被膜
された偏光板やARフィルムを用いたり、TFTアレイ
基板10そのものをAR処理した基板を使用する必要が
無くなる。従って、各実施の形態によれば、材料コスト
を削減でき、また偏光板貼り付け時に、ごみ、傷等によ
り、歩留まりを落とすことがなく大変有利である。ま
た、耐光性が優れているため、明るい光源を使用した
り、偏光ビームスプリッタにより偏光変換して、光利用
効率を向上させても、光によるクロストーク等の画質劣
化を生じない。
Conventionally, in order to prevent reflection on the back surface side of the TFT array substrate 10, it has been necessary to separately arrange a polarizing plate coated with an anti-reflection AR coating or attach an AR film. However, in each embodiment, the first light-shielding film 11a is formed between the surface of the TFT array substrate 10 and at least the channel region 1a 'and the LDD regions 1b and 1c of the semiconductor layer 1a. It is not necessary to use a coated polarizing plate or AR film, or use a substrate obtained by subjecting the TFT array substrate 10 itself to an AR process. Therefore, according to each of the embodiments, the material cost can be reduced, and the yield is not significantly reduced due to dust, scratches or the like at the time of attaching the polarizing plate, which is very advantageous. In addition, since light resistance is excellent, even if a bright light source is used or polarization conversion is performed by a polarizing beam splitter to improve light use efficiency, image quality deterioration such as crosstalk due to light does not occur.

【0107】また、各画素に設けられるスイッチング素
子としては、正スタガ型又はコプラナー型のポリシリコ
ンTFTであるとして説明したが、逆スタガ型のTFT
やアモルファスシリコンTFT等の他の形式のTFTに
対しても、各実施の形態は有効である。
The switching element provided in each pixel is described as a normal stagger type or coplanar type polysilicon TFT.
The embodiments are also effective for other types of TFTs such as TFTs and amorphous silicon TFTs.

【0108】更にまた、マイクロレンズ500の集光能
力としては、集光領域500b(図2参照)が開口領域
に丁度収まる程度に集光できれば十分であり、必要以上
に集光領域500bを小さくする必要はない。更に、マ
イクロレンズ500により、各画素における実効開口率
が高められているので、画素開口領域を広げるために、
走査線3a、容量線3b及びデータ線6aの線幅やTF
T30の平面的なサイズを必要以上に小さくする必要は
ない。従って、本実施の形態は、画素ピッチを小さくし
て、各画素の微細化を行う場合に非常に適している。
Further, the light-collecting ability of the microlens 500 is sufficient if the light-collecting area 500b (see FIG. 2) can be focused to just fit in the opening area, and the light-collecting area 500b is made smaller than necessary. No need. Further, since the effective aperture ratio in each pixel is increased by the microlens 500, in order to increase the pixel aperture area,
The line width and TF of the scanning line 3a, the capacitance line 3b and the data line 6a
It is not necessary to reduce the planar size of T30 more than necessary. Therefore, this embodiment is very suitable for a case where the pixel pitch is reduced and each pixel is miniaturized.

【0109】尚、本実施の形態では、TFTを用いて画
素電極9aを駆動するように構成したが、TFT以外
の、例えば、TFD(Thin Film Diode:薄膜ダイオー
ド)等のアクティブマトリクス素子を用いることも可能
であり、更に、液晶装置をパッシブマトリクス型の液晶
装置として構成することも可能である。このような場合
であっても、マイクロレンズで画素電極上に光を集光す
る構成を採る限り、光の利用効率を向上させる上で本実
施の形態の場合と同様に有効である。また、液晶装置に
限らず、各種の電気光学装置、例えばエレクトロルミネ
ッセンス、プラズマディスレプレイ等の電気光学装置に
本実施の形態は有効である。
In this embodiment, the pixel electrode 9a is driven by using a TFT. However, an active matrix element such as a TFD (Thin Film Diode) other than the TFT is used. It is also possible to configure the liquid crystal device as a passive matrix type liquid crystal device. Even in such a case, as long as the configuration in which light is condensed on the pixel electrode by the microlens is employed, it is as effective as in the present embodiment in improving the light use efficiency. The present embodiment is effective not only for liquid crystal devices but also for various electro-optical devices, for example, electro-optical devices such as electroluminescence and plasma display.

【0110】図12に本実施の形態を用いた応用例とし
て液晶プロジェクタの構成について説明する。液晶プロ
ジェクタ1100は、上述の電気光学装置としての液晶
装置を含む液晶モジュールを3個用意し、各々RGB用
のライトバルブ100R、100G及び100Bとして
用いたプロジェクタとして構成されている。液晶プロジ
ェクタ1100では、メタルハライドランプ等の白色光
源のランプユニット1102から投射光が発せられる
と、3枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミ
ラー1108によって、RGBの3原色に対応する光成
分R、G、Bに分けられ、各色に対応するライトバルブ
100R、100G及び100Bに各々導かれる。この
際特にB光は、長い光路による光損失を防ぐために、入
射レンズ1122、リレーレンズ1123及び出射レン
ズ1124からなるリレーレンズ系1121を介して導
かれる。そして、ライトバルブ100R、100G及び
100Bにより各々変調された3原色に対応する光成分
は、ダイクロイックプリズム1112により再度合成さ
れた後、投射レンズ1114を介してスクリーン112
0にカラー画像として投射される。
FIG. 12 illustrates the configuration of a liquid crystal projector as an application example using the present embodiment. The liquid crystal projector 1100 is configured as a projector that prepares three liquid crystal modules including the liquid crystal device as the above-described electro-optical device and uses them as the light valves 100R, 100G, and 100B for RGB. In the liquid crystal projector 1100, when projection light is emitted from a lamp unit 1102 of a white light source such as a metal halide lamp, three mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 cause light components R, G, B, and are led to light valves 100R, 100G, and 100B corresponding to each color. At this time, in particular, the B light is guided through a relay lens system 1121 including an entrance lens 1122, a relay lens 1123, and an exit lens 1124 in order to prevent light loss due to a long optical path. Then, light components corresponding to the three primary colors modulated by the light valves 100R, 100G, and 100B, respectively, are recombined by the dichroic prism 1112, and then are transmitted through the projection lens 1114 to the screen 112.
0 is projected as a color image.

【0111】本実施の形態では特に、遮光膜がTFTの
下側にも設けられているため、当該液晶装置100から
の投射光に基づく液晶プロジェクタ内の投射光学系によ
る反射光、投射光が通過する際の液晶装置用基板の表面
からの反射光、他の液晶装置から出射した後にダイクロ
イックプリズム1112を突き抜けてくる投射光の一部
等が、戻り光として液晶装置用基板の側から入射して
も、画素電極のスイッチング用のTFT等のチャネル領
域に対する遮光を十分に行うことができる。このため、
小型化に適したプリズムを投射光学系に用いても、各液
晶装置の液晶装置用基板とプリズムとの間において、戻
り光防止用のAR(Anti−Reflection)
フィルムを貼り付けたり、偏光板にAR被膜処理を施し
たりすることが不要となるので、構成を小型且つ簡易化
する上で大変有利である。
In this embodiment, in particular, since the light-shielding film is also provided below the TFT, the reflected light and the projected light by the projection optical system in the liquid crystal projector based on the light projected from the liquid crystal device 100 pass through. The reflected light from the surface of the liquid crystal device substrate, the part of the projected light that passes through the dichroic prism 1112 after being emitted from another liquid crystal device, etc., is incident on the liquid crystal device substrate side as return light. Also, it is possible to sufficiently shield a channel region such as a switching TFT of a pixel electrode from light. For this reason,
Even if a prism suitable for miniaturization is used in the projection optical system, an AR (anti-reflection) for preventing return light is provided between the liquid crystal device substrate and the prism of each liquid crystal device.
Since there is no need to attach a film or apply an AR coating treatment to the polarizing plate, it is very advantageous in reducing the size and simplifying the configuration.

【0112】さらに、本実施形態は、遮光膜によりチャ
ネル領域への戻り光を防ぐことができるため、液晶装置
に戻り光防止処理を施した偏光板を直接貼りつけず、偏
光板を液晶装置から離して形成するようにしてもよい。
より具体的には、一方の偏光板(図示せず)をダイクロ
イックプリズム1112に貼り付けることが可能であ
る。このように、偏光板をプリズムユニットに貼り付け
ることにより、偏光板の熱は、プリズムユニットあるい
はレンズで吸収されるため、液晶装置の温度上昇を防ぐ
ことができる。また、このような構成の場合、液晶装置
と偏光板との間を離して形成することができるため、液
晶装置と偏光板との間には空気層ができる。そこでプリ
ズムユニットの上側あるいは下側の一方に冷却手段(図
示せず)を設け、冷却手段から液晶装置と偏光手段との
間に冷風等の送風を送り込むことにより、液晶装置の温
度上昇をさらに防ぐことができ、液晶装置の温度上昇に
よる誤動作を防ぐことができる。
Furthermore, in this embodiment, since the return light to the channel region can be prevented by the light-shielding film, the polarizing plate which has been subjected to the return light prevention processing is not directly attached to the liquid crystal device, and the polarizing plate is removed from the liquid crystal device. It may be formed apart.
More specifically, one polarizing plate (not shown) can be attached to dichroic prism 1112. By attaching the polarizing plate to the prism unit in this manner, the heat of the polarizing plate is absorbed by the prism unit or the lens, so that a rise in the temperature of the liquid crystal device can be prevented. In addition, in such a configuration, since the liquid crystal device and the polarizing plate can be formed separately, an air layer is formed between the liquid crystal device and the polarizing plate. Therefore, a cooling means (not shown) is provided on one of the upper side and the lower side of the prism unit, and a cooling air or the like is sent between the liquid crystal device and the polarizing means from the cooling means to further prevent the temperature of the liquid crystal device from rising. Accordingly, a malfunction due to a temperature rise of the liquid crystal device can be prevented.

【0113】[0113]

【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明の電気
光学装置によれば、比較的簡単な構成を用いて、各画素
における実効開口率を高めつつ、高精細な画像を表示で
きる。また、第2基板(対向基板)における強度を高め
ることも可能となり、更に、入射光に伴う電気光学物質
への熱入射を抑制することにより、電気光学物質の寿命
を長めることも可能となる。
As described above in detail, according to the electro-optical device of the present invention, it is possible to display a high-definition image while increasing the effective aperture ratio in each pixel by using a relatively simple structure. In addition, it is possible to increase the strength of the second substrate (opposite substrate), and it is also possible to prolong the life of the electro-optical material by suppressing heat incident on the electro-optical material due to incident light. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の液晶装置の実施形態における画像表示
領域を構成するマトリクス状の複数の画素に設けられた
各種素子、配線等の等価回路である。
FIG. 1 is an equivalent circuit of various elements, wiring, and the like provided in a plurality of pixels in a matrix forming an image display area in an embodiment of the liquid crystal device of the present invention.

【図2】液晶装置の実施の形態におけるTFTアレイ基
板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側
から見た平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a TFT array substrate according to an embodiment of the liquid crystal device, together with components formed thereon, viewed from a counter substrate side.

【図3】対向基板に設けられたマイクロレンズにより入
射光を集光する様子を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a state in which incident light is collected by a microlens provided on a counter substrate.

【図4】図3のTFT1個に係るTFTアレイ基板部分
の拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged sectional view of a TFT array substrate portion relating to one TFT in FIG. 3;

【図5】図3に示したマイクロレンズの製造方法を順を
追って示す工程図である。
FIG. 5 is a process chart sequentially showing a method of manufacturing the microlens shown in FIG. 3;

【図6】本実施の形態におけるマイクロレンズの他の一
例が形成された画素部における対向基板の拡大断面図で
ある。
FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a counter substrate in a pixel portion where another example of a microlens according to the present embodiment is formed.

【図7】本実施の形態における遮光領域についての各種
の形態を夫々示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing various forms of a light shielding region in the present embodiment.

【図8】本実施の形態における第2遮光膜についての各
種の形態を夫々示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing various forms of a second light shielding film in the present embodiment.

【図9】液晶装置の実施形態におけるTFTアレイ基板
上に設けられた画素部及び周辺回路のブロック図であ
る。
FIG. 9 is a block diagram of a pixel portion and peripheral circuits provided on a TFT array substrate in the embodiment of the liquid crystal device.

【図10】液晶装置の各実施の形態におけるTFTアレ
イ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板
の側から見た平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a TFT array substrate in each embodiment of the liquid crystal device together with components formed thereon viewed from a counter substrate side.

【図11】図10のH−H’断面図である。11 is a sectional view taken along the line H-H 'of FIG.

【図12】本実施の形態の液晶装置を用いた電子機器の
一例である液晶プロジェクタの構成図である。
FIG. 12 is a configuration diagram of a liquid crystal projector which is an example of an electronic apparatus using the liquid crystal device of the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a…半導体層 1a’…チャネル領域 1b…低濃度ソース領域(ソース側LDD領域) 1c…低濃度ドレイン領域(ドレイン側LDD領域) 1d…高濃度ソース領域 1e…高濃度ドレイン領域 1f…第1蓄積容量電極 2…ゲート絶縁膜 3a…走査線(ゲート電極) 3b…容量線(第2蓄積容量電極) 4…第2層間絶縁膜 5…コンタクトホール 6a…データ線(ソース電極) 7…第3層間絶縁膜 8…コンタクトホール 9a…画素電極 10…TFTアレイ基板 11a…第1遮光膜 12…第1層間絶縁膜 13…コンタクトホール 16…配向膜 20…対向基板 21…対向電極 22…配向膜 23…第2遮光膜 30…画素スイッチング用TFT 50…液晶層 52…シール材 53…第3遮光膜 70…蓄積容量 101…データ線駆動回路 104…走査線駆動回路 201…プリチャージ回路 301…サンプリング回路 500…マイクロレンズ 501…接着剤 502…カバーガラス 1a Semiconductor layer 1a 'Channel region 1b Low-concentration source region (source-side LDD region) 1c Low-concentration drain region (drain-side LDD region) 1d High-concentration source region 1e High-concentration drain region 1f First accumulation Capacitance electrode 2 ... Gate insulating film 3a ... Scan line (gate electrode) 3b ... Capacitance line (second storage capacitor electrode) 4 ... Second interlayer insulating film 5 ... Contact hole 6a ... Data line (source electrode) 7 ... Third interlayer Insulating film 8 Contact hole 9a Pixel electrode 10 TFT array substrate 11a First light shielding film 12 First interlayer insulating film 13 Contact hole 16 Alignment film 20 Counter substrate 21 Counter electrode 22 Alignment film 23 Second light shielding film 30: TFT for pixel switching 50: Liquid crystal layer 52: Sealing material 53: Third light shielding film 70: Storage capacitor 101: Data line driving circuit 104: scanning line drive circuit 201: precharge circuit 301: sampling circuit 500: microlens 501: adhesive 502: cover glass

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 GA17 GA18 GA21 GA25 GA30 JA24 JA25 JA26 JA29 JA30 JB52 JB54 JB62 JB66 NA07 NA12 PA01 PA07 PA08 RA05 5C094 AA05 AA10 AA16 AA33 AA48 AA49 AA54 BA03 BA16 BA43 CA19 CA24 DA13 DA14 EA04 EA05 EA06 ED01 ED11 ED15 FA01 FA02 FB12 5G435 AA03 AA12 AA14 AA16 BB12 BB16 BB17 CC09 CC12 DD02 DD06 DD12 DD13 EE12 EE22 FF02 FF07 FF13 GG02 GG28 HH02 HH05 HH12 HH13 HH14 KK05 KK07 LL15  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H092 GA17 GA18 GA21 GA25 GA30 JA24 JA25 JA26 JA29 JA30 JB52 JB54 JB62 JB66 NA07 NA12 PA01 PA07 PA08 RA05 5C094 AA05 AA10 AA16 AA33 AA48 AA49 AA54 BA03 BA16 BA43 CA19 EA14 DA13 EA06 ED01 ED11 ED15 FA01 FA02 FB12 5G435 AA03 AA12 AA14 AA16 BB12 BB16 BB17 CC09 CC12 DD02 DD06 DD12 DD13 EE12 EE22 FF02 FF07 FF13 GG02 GG28 HH02 HH05 HH12 HH13 HH14 KK05 KK07

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一対の第1及び第2基板間に電気光学物
質が挟持されてなり、 該第1基板上に、マトリクス状に配置された複数の画素
電極と、該複数の画素電極を夫々駆動する複数の薄膜ト
ランジスタと、該複数の薄膜トランジスタに夫々接続さ
れており相交差する複数のデータ線及び複数の走査線
と、前記複数の薄膜トランジスタの少なくともチャネル
領域を前記第1基板の側から見て夫々覆う位置に形成さ
れた第1遮光膜とを備え、 前記第2基板上に、前記第2基板の側から入射される光
を前記複数の画素電極に夫々集光するマトリクス状に配
置された複数のマイクロレンズと、該複数のマイクロレ
ンズの相互の境界に夫々対向する位置に形成された第2
遮光膜とを備え、 前記第1遮光膜は、前記第1基板上において前記複数の
画素電極に夫々対応する複数の画素開口領域を相互に区
切る遮光領域を少なくとも部分的に規定し、 前記第2遮光膜は、前記第1基板の側から見て該遮光領
域に覆われていることを特徴とする電気光学装置。
An electro-optical material is sandwiched between a pair of first and second substrates, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on the first substrate, and the plurality of pixel electrodes are respectively arranged. A plurality of thin film transistors to be driven, a plurality of data lines and a plurality of scanning lines respectively connected to the plurality of thin film transistors and intersecting with each other, and at least a channel region of the plurality of thin film transistors as viewed from the first substrate side. A first light-shielding film formed at a position to cover the plurality of pixel electrodes, the plurality of light-shielding films being arranged on the second substrate in such a manner that light incident from the side of the second substrate is focused on the plurality of pixel electrodes, respectively. Microlenses and second microlenses formed at positions facing respective boundaries of the plurality of microlenses.
A light-shielding film, wherein the first light-shielding film at least partially defines, on the first substrate, a light-shielding region that mutually partitions a plurality of pixel opening regions respectively corresponding to the plurality of pixel electrodes; An electro-optical device, wherein the light-shielding film is covered by the light-shielding region when viewed from the first substrate side.
【請求項2】 前記第1遮光膜は、網目状に形成されて
おり、前記遮光領域を単独で規定することを特徴とする
請求項1に記載の電気光学装置。
2. The electro-optical device according to claim 1, wherein the first light-shielding film is formed in a mesh shape, and defines the light-shielding region independently.
【請求項3】 前記データ線は、遮光性且つ導電性の薄
膜から構成されており、前記遮光領域のうち前記データ
線に沿った領域を規定しており、 前記第1遮光膜は、前記複数の走査線に夫々沿って縞状
に形成されており、前記遮光領域のうち前記走査線に沿
った領域を規定することを特徴とする請求項1に記載の
電気光学装置。
3. The data line includes a light-shielding and conductive thin film, and defines a region along the data line in the light-shielding region. 2. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is formed in a stripe shape along each of the scanning lines, and defines a region along the scanning line in the light-shielding region. 3.
【請求項4】 前記走査線は、遮光性且つ導電性の薄膜
から構成されており、前記遮光領域のうち前記走査線に
沿った領域を規定しており、 前記第1遮光膜は、前記複数のデータ線に夫々沿って縞
状に形成されており、前記遮光領域のうち前記データ線
に沿った領域を規定することを特徴とする請求項1に記
載の電気光学装置。
4. The scanning line is formed of a light-shielding and conductive thin film, and defines a region along the scanning line in the light-shielding region. 2. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is formed in a stripe shape along each of the data lines, and defines a region along the data line in the light-shielding region. 3.
【請求項5】 前記遮光性且つ導電性の薄膜は、金属或
いは金属合金の薄膜からなることを特徴とする請求項3
又は4に記載の電気光学装置。
5. The light-shielding and conductive thin film comprises a metal or metal alloy thin film.
Or the electro-optical device according to 4.
【請求項6】 前記第1基板上に、前記画素電極に所定
蓄積容量を夫々付与する複数の容量線を前記走査線と平
行に更に備え、 該複数の容量線は、前記第1基板上において前記遮光領
域に位置することを特徴とする請求項1から5のいずれ
か一項に記載の電気光学装置。
6. A plurality of capacitor lines, each of which provides a predetermined storage capacitance to the pixel electrode, in parallel with the scanning line on the first substrate, wherein the plurality of capacitor lines are provided on the first substrate. The electro-optical device according to claim 1, wherein the electro-optical device is located in the light blocking area.
【請求項7】 前記第2遮光膜は、前記複数のマイクロ
レンズの境界に夫々沿って網目状に形成されていること
を特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の電
気光学装置。
7. The electro-optical device according to claim 1, wherein the second light-shielding film is formed in a mesh shape along each of the boundaries of the plurality of microlenses. apparatus.
【請求項8】 前記第2遮光膜は、前記複数のマイクロ
レンズの境界のうち前記走査線に沿った方向の境界に夫
々沿って縞状に形成されていることを特徴とする請求項
1から6のいずれか一項に記載の電気光学装置。
8. The method according to claim 1, wherein the second light-shielding film is formed in a stripe shape along each of boundaries of the plurality of microlenses in a direction along the scanning line. The electro-optical device according to any one of claims 6 to 13.
【請求項9】 前記第2遮光膜は、前記複数のマイクロ
レンズの境界のうち前記走査線に沿った方向の境界に夫
々沿って島状に形成されていることを特徴とする請求項
1から6のいずれか一項に記載の電気光学装置。
9. The method according to claim 1, wherein the second light-shielding film is formed in an island shape along each of the boundaries of the plurality of microlenses in a direction along the scanning line. The electro-optical device according to any one of claims 6 to 13.
【請求項10】 前記画素電極上において前記マイクロ
レンズの集光領域に食み出さないように前記マイクロレ
ンズの集光角度に応じて前記遮光領域が規定されている
ことを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載
の電気光学装置。
10. The light-shielding region according to claim 1, wherein the light-shielding region is defined in accordance with the light-collecting angle of the microlens so as not to protrude into the light-collecting region of the microlens on the pixel electrode. 10. The electro-optical device according to any one of items 1 to 9.
【請求項11】 前記第1遮光膜は、Ti、Cr、W、
Ta、Mo及びPdのうちの少なくとも一つを含むこと
を特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の
電気光学装置。
11. The first light-shielding film is made of Ti, Cr, W,
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 10, further comprising at least one of Ta, Mo, and Pd.
【請求項12】 前記第2遮光膜は、金属又は金属合金
の薄膜から構成されていることを特徴とする請求項1か
ら11のいずれか一項に記載の電気光学装置。
12. The electro-optical device according to claim 1, wherein the second light-shielding film is formed of a metal or a metal alloy thin film.
【請求項13】 請求項1乃至請求項12のいずれか一
項に記載の電気光学装置を備えた投射型表示装置であっ
て、光源と、該光源から出射された光を集光しながら前
記電気光学装置に導く集光光学系と、当該電気光学装置
で光変調した光を投射面に拡大投影する拡大投影光学系
とを有することを特徴とする投射型表示装置。
13. A projection display device comprising the electro-optical device according to claim 1, wherein the light source and the light emitted from the light source are condensed. A projection display device comprising: a condensing optical system for leading to an electro-optical device; and an enlarged projection optical system for enlarging and projecting light modulated by the electro-optical device onto a projection surface.
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