WO2024075660A1 - 磁気記録媒体およびカートリッジ - Google Patents

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WO2024075660A1
WO2024075660A1 PCT/JP2023/035765 JP2023035765W WO2024075660A1 WO 2024075660 A1 WO2024075660 A1 WO 2024075660A1 JP 2023035765 W JP2023035765 W JP 2023035765W WO 2024075660 A1 WO2024075660 A1 WO 2024075660A1
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WO
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magnetic
less
recording medium
magnetic tape
magnetic recording
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PCT/JP2023/035765
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English (en)
French (fr)
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嵩 潟口
大貴 川口
淳 橋本
潤 寺川
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ソニーグループ株式会社
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    • G11B21/00—Head arrangements not specific to the method of recording or reproducing
    • G11B21/02—Driving or moving of heads
    • G11B21/10—Track finding or aligning by moving the head ; Provisions for maintaining alignment of the head relative to the track during transducing operation, i.e. track following
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
    • G11B23/02—Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
    • G11B23/037—Single reels or spools
    • G—PHYSICS
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    • G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B5/09—Digital recording
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    • G11B5/70—Record carriers characterised by the selection of the material comprising one or more layers of magnetisable material homogeneously mixed with a bonding agent on a base layer
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    • G11B5/70—Record carriers characterised by the selection of the material comprising one or more layers of magnetisable material homogeneously mixed with a bonding agent on a base layer
    • G11B5/714—Record carriers characterised by the selection of the material comprising one or more layers of magnetisable material homogeneously mixed with a bonding agent on a base layer characterised by the dimension of the magnetic particles
    • G—PHYSICS
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/74—Record carriers characterised by the form, e.g. sheet shaped to wrap around a drum
    • G11B5/78—Tape carriers

Definitions

  • This disclosure relates to a magnetic recording medium and a cartridge equipped with the same.
  • Patent Document 1 discloses that the electromagnetic conversion characteristics can be improved by making the average particle volume V of hexagonal ferrite magnetic powder 2000 nm3 or less.
  • the electromagnetic conversion characteristics may deteriorate.
  • the objective of this disclosure is to provide a magnetic recording medium and cartridge that can suppress the deterioration of electromagnetic conversion characteristics.
  • the magnetic recording medium comprises: A tape-shaped magnetic recording medium, A substrate and a magnetic layer are provided,
  • the magnetic layer includes magnetic particles.
  • the magnetic particles include hexagonal ferrite;
  • the ratio (Hc1/V XRD ) of the coercive force Hc1 of the magnetic layer in the perpendicular direction of the magnetic recording medium to the crystallite volume V XRD of the magnetic grains obtained by measuring the material constituting the magnetic layer by X-ray diffraction is 1.80 or more and 2.50 or less.
  • the cartridge according to the present disclosure includes the magnetic recording medium according to the present disclosure.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view illustrating an example of a configuration of a cartridge according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of a configuration of a cartridge memory.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a layout of a data band and a servo band.
  • FIG. 4 is an enlarged view showing an example of the configuration of a data band.
  • FIG. 2 is an enlarged view showing an example of a configuration of a servo band.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of an apparatus used to peel off a magnetic layer.
  • FIG. 2 is a perspective view showing an example of a particle shape.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a magnetic tape.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a layout of a data band and a servo band.
  • FIG. 2 is a diagram showing a first example of a cross-sectional TEM image of a magnetic layer.
  • FIG. 4 is a diagram showing a second example of a cross-sectional TEM image of the magnetic layer.
  • FIG. 13 is an exploded perspective view showing an example of a configuration of a cartridge according to a modified example of an embodiment of the present disclosure.
  • Cartridge structure 2. Cartridge memory structure 3. Magnetic tape structure 4. Magnetic tape manufacturing method 5. Functions and effects 6. Modifications
  • the measurements are performed in an environment of 25°C ⁇ 2°C and 50% RH ⁇ 5% RH.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a cartridge 10.
  • the cartridge 10 is a one-reel type cartridge, and includes, inside a cartridge case 12 consisting of a lower shell 12A and an upper shell 12B, one reel 13 on which a tape-like magnetic recording medium (hereinafter referred to as "magnetic tape") MT is wound, a reel lock 14 and a reel spring 15 for locking the rotation of the reel 13, a spider 16 for unlocking the locked state of the reel 13, a slide door 17 for opening and closing a tape outlet 12C provided in the cartridge case 12 across the lower shell 12A and the upper shell 12B, a door spring 18 for biasing the slide door 17 to a closed position of the tape outlet 12C, a write protect 19 for preventing erroneous erasure, and a cartridge memory 11.
  • magnetic tape tape-like magnetic recording medium
  • the reel 13 for winding the magnetic tape MT is substantially disc-shaped with an opening in the center, and is composed of a reel hub 13A and a flange 13B made of a hard material such as plastic.
  • a leader tape LT is connected to the outer peripheral end of the magnetic tape MT, and a leader pin 20 is provided at the tip of the leader tape LT.
  • the cartridge 10 may be a magnetic tape cartridge that conforms to the LTO (Linear Tape-Open) standard, or it may be a magnetic tape cartridge that conforms to a standard other than the LTO standard.
  • LTO Linear Tape-Open
  • the cartridge memory 11 is provided near one corner of the cartridge 10. When the cartridge 10 is loaded into the recording and playback device, the cartridge memory 11 faces the reader/writer of the recording and playback device.
  • the cartridge memory 11 communicates with the recording and playback device, specifically the reader/writer, using a wireless communication standard that complies with the LTO standard.
  • the cartridge memory 11 includes an antenna coil (communication unit) 31 that communicates with a reader/writer using a prescribed communication standard, a rectification/power circuit 32 that generates power from radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force and rectifies the power to generate power, a clock circuit 33 that generates a clock from the radio waves received by the antenna coil 31 using induced electromotive force, a detection/modulation circuit 34 that detects the radio waves received by the antenna coil 31 and modulates the signal to be transmitted by the antenna coil 31, a controller (control unit) 35 consisting of a logic circuit or the like for determining commands and data from the digital signal extracted from the detection/modulation circuit 34 and processing the commands and data, and a memory (storage unit) 36 that stores information.
  • the cartridge memory 11 also includes a capacitor 37 connected in parallel to the antenna coil 31, and the antenna coil 31 and the capacitor 37 form a resonant circuit.
  • Memory 36 stores information related to cartridge 10.
  • Memory 36 is non-volatile memory (NVM).
  • the storage capacity of memory 36 is preferably approximately 32 KB or more.
  • the memory 36 may have a first memory area 36A and a second memory area 36B.
  • the first memory area 36A corresponds to the memory area of a cartridge memory of a magnetic tape standard prior to the specified generation (e.g., an LTO standard prior to LTO8), for example, and is an area for storing information conforming to the magnetic tape standard prior to the specified generation.
  • Information conforming to the magnetic tape standard prior to the specified generation is, for example, manufacturing information (e.g., a unique number for the cartridge 10), usage history (e.g., the number of times the tape has been pulled out (Thread Count)), etc.
  • the second memory area 36B corresponds to an extended memory area for the memory area of the cartridge memory of the magnetic tape standard before the specified generation (for example, the LTO standard before LTO8).
  • the second memory area 36B is an area for storing additional information.
  • the additional information means, for example, information related to the cartridge 10 that is not specified in the magnetic tape standard before the specified generation (for example, the LTO standard before LTO8).
  • the additional information includes, for example, at least one type of information selected from the group consisting of tension adjustment information, management ledger data, index information, and thumbnail information, but is not limited to these data.
  • the tension adjustment information is information for adjusting the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the tension adjustment information includes, for example, at least one type of information selected from the group consisting of information obtained by intermittently measuring the width between the servo bands in the longitudinal direction of the magnetic tape MT, tension information of the drive, and information on the temperature and humidity of the drive. These pieces of information may be managed in conjunction with information on the usage status of the cartridge 10. It is preferable that the tension adjustment information is obtained when data is recorded on the magnetic tape MT or before data is recorded.
  • Drive tension information refers to information about the tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction.
  • the management ledger data includes at least one type of data selected from the group consisting of the capacity, creation date, editing date, and storage location of the data file recorded on the magnetic tape MT.
  • the index information is metadata for searching the contents of the data file.
  • the thumbnail information is a thumbnail of the video or still image stored on the magnetic tape MT.
  • Memory 36 may have multiple banks. In this case, some of the multiple banks may form a first memory area 36A, and the remaining banks may form a second memory area 36B.
  • the antenna coil 31 induces an induced voltage by electromagnetic induction.
  • the controller 35 communicates with the recording and playback device via the antenna coil 31 using a specified communication standard. Specifically, for example, it performs mutual authentication, sending and receiving commands, and exchanging data.
  • the controller 35 stores information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the memory 36.
  • the controller 35 stores tension adjustment information received from the recording and playback device via the antenna coil 31 in the second memory area 36B of the memory 36.
  • the controller 35 reads information from the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • the controller 35 reads tension adjustment information from the second memory area 36B of the memory 36 and transmits it to the recording and playback device via the antenna coil 31.
  • the magnetic tape MT includes a long substrate 41, an underlayer 42 provided on one main surface (first main surface) of the substrate 41, a magnetic layer 43 provided on the underlayer 42, and a back layer 44 provided on the other main surface (second main surface) of the substrate 41.
  • the underlayer 42 and the back layer 44 are provided as necessary and may not be required.
  • the magnetic tape MT may be a perpendicular recording type magnetic recording medium or a longitudinal recording type magnetic recording medium. From the viewpoint of improving running performance, the magnetic tape MT preferably contains a lubricant.
  • the lubricant may be included in at least one layer of the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the magnetic tape MT may be one that complies with the LTO standard, or one that complies with a standard other than the LTO standard.
  • the width of the magnetic tape MT may be 1/2 inch, or may be wider than 1/2 inch. If the magnetic tape MT complies with the LTO standard, the width of the magnetic tape MT is 1/2 inch.
  • the magnetic tape MT may have a configuration that allows the width of the magnetic tape MT to be kept constant or nearly constant by adjusting the tension applied to the magnetic tape MT in the longitudinal direction during running using a recording/playback device (drive).
  • the magnetic tape MT is long and runs in the longitudinal direction during recording and playback.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device that has a ring-type head as the recording head.
  • the magnetic tape MT is preferably used in a recording and playback device that is configured to be able to record data with a data track width of 1200 nm or less or 1000 nm or less.
  • the magnetic tape MT is preferably reproduced by a reproduction head using a TMR element.
  • the signal reproduced by the reproduction head using TMR may be data recorded in the data band DB (see FIG. 4) or a servo pattern (servo signal) recorded in the servo band SB (see FIG. 4).
  • the substrate 41 is a non-magnetic support that supports the underlayer 42 and the magnetic layer 43.
  • the substrate 41 has a long film shape.
  • the upper limit of the average thickness of the substrate 41 is preferably 4.40 ⁇ m or less, more preferably 4.20 ⁇ m or less, even more preferably 4.00 ⁇ m or less, particularly preferably 3.80 ⁇ m or less, and most preferably 3.40 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average thickness of the substrate 41 is preferably 3.00 ⁇ m or more, more preferably 3.20 ⁇ m or more. When the lower limit of the average thickness of the substrate 41 is 3.00 ⁇ m or more, the strength reduction of the substrate 41 can be suppressed.
  • the average thickness of the substrate 41 is determined as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and a sample is prepared by cutting the magnetic tape MT to a length of 250 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT.
  • longitudinal direction when referring to "the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT” means the direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT toward the other end of the inner periphery.
  • the layers of the sample other than the substrate 41 i.e., the underlayer 42, the magnetic layer 43, and the back layer 44
  • a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • the thickness of the sample (substrate 41) is measured at five positions using a Mitutoyo Laser Hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the average thickness of the substrate 41 is calculated by simply averaging (arithmetic mean) these measurements. Note that the five measurement positions are selected randomly from the sample so that they are each different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the base 41 contains, for example, a polyester-based resin as a main component.
  • the polyester-based resin contains, for example, at least one selected from the group consisting of PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), PBT (polybutylene terephthalate), PBN (polybutylene naphthalate), PCT (polycyclohexylene dimethylene terephthalate), PEB (polyethylene-p(oxybenzoate), and polyethylene bisphenoxycarboxylate).
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PBT polybutylene terephthalate
  • PBN polybutylene naphthalate
  • PCT polycyclohexylene dimethylene terephthalate
  • PEB polyethylene-p(oxybenzoate
  • polyethylene bisphenoxycarboxylate polyethylene bisphenoxycarboxylate
  • the term "main component” means the component that is contained in the highest proportion among the components that constitute the base 41.
  • the content of the polyester-based resin in the base 41 may be, for example, 50% by mass or more, 60% by mass or more, 70% by mass or more, 80% by mass or more, 90% by mass or more, 95% by mass or more, or 98% by mass or more relative to the mass of the base 41, or the base 41 may be composed only of a polyester-based resin.
  • the substrate 41 contains polyester-based resin can be confirmed, for example, as follows. First, similar to the method for measuring the average thickness of the substrate 41, a magnetic tape MT is prepared and cut to a length of 250 mm to prepare a sample, and then the layers of the sample other than the substrate 41 are removed. Next, an IR spectrum of the sample (substrate 41) is obtained by infrared absorption spectrometry (IR). Based on this IR spectrum, it can be confirmed that the substrate 41 contains polyester-based resin.
  • IR infrared absorption spectrometry
  • the substrate 41 preferably contains a polyester-based resin.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 can be reduced to preferably 2.5 GPa or more and 7.8 GPa or less, more preferably 3.0 GPa or more and 7.0 GPa or less. Therefore, by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic tape MT during running using a recording/playback device, the width of the magnetic tape MT can be kept constant or nearly constant. A method for measuring the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 will be described later.
  • the base 41 may contain a resin other than polyester-based resin.
  • the resin other than polyester-based resin may be the main component of the constituent material of the base 41.
  • the content ratio of the resin other than polyester-based resin in the base 41 may be, for example, 50 mass% or more, 60 mass% or more, 70 mass% or more, 80 mass% or more, 90 mass% or more, 95 mass% or more, or 98 mass% or more relative to the mass of the base 41, or the base 41 may be composed only of a resin other than polyester-based resin.
  • the resin other than polyester-based resin includes, for example, at least one selected from the group consisting of polyolefin-based resins, cellulose derivatives, vinyl-based resins, and other polymer resins.
  • the base 41 contains two or more of these resins, the two or more materials may be mixed, copolymerized, or laminated.
  • the polyolefin resin includes, for example, at least one selected from the group consisting of PE (polyethylene) and PP (polypropylene).
  • the cellulose derivative includes, for example, at least one selected from the group consisting of cellulose diacetate, cellulose triacetate, CAB (cellulose acetate butyrate), and CAP (cellulose acetate propionate).
  • the vinyl resin includes, for example, at least one selected from the group consisting of PVC (polyvinyl chloride) and PVDC (polyvinylidene chloride).
  • polymer resins include, for example, at least one selected from the group consisting of PEEK (polyetheretherketone), PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide), aromatic PAI (aromatic polyamideimide), PBO (polybenzoxazole, e.g.
  • Zylon (registered trademark)), polyether, PEK (polyetherketone), polyetherester, PES (polyethersulfone), PEI (polyetherimide), PSF (polysulfone), PPS (polyphenylene sulfide), PC (polycarbonate), PAR (polyarylate), and PU (polyurethane).
  • the base 41 may contain PEEK (polyetheretherketone), PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide), aromatic PAI (aromatic polyamideimide), PBO (polybenzoxazole, for example Zylon (registered trademark)), polyether, PEK (polyetherketone), polyetherester, PES (polyethersulfone), PEI (polyetherimide), PSF (polysulfone), PPS (polyphenylene sulfide), PC (polycarbonate), PAR (polyarylate), or PU (polyurethane) as a main component.
  • PEEK polyetheretherketone
  • PA polyamide, nylon
  • aromatic PA aromatic polyamide, aramid
  • PI polyimide
  • PAI polyamideimide
  • PAI aromatic PAI (aromatic polyamideimide)
  • PBO poly
  • the substrate 41 may be biaxially stretched in the longitudinal and width directions.
  • the polymer resin contained in the substrate 41 is preferably oriented in a direction oblique to the width direction of the substrate 41.
  • the magnetic layer 43 is configured to be capable of recording signals by a magnetization pattern.
  • the magnetic layer 43 may be a perpendicular recording type recording layer or a longitudinal recording type recording layer.
  • the magnetic layer 43 includes, for example, magnetic particles and a binder.
  • the magnetic layer 43 may further include at least one additive selected from the group consisting of conductive particles, abrasive particles, lubricants, hardeners, rust inhibitors, and non-magnetic reinforcing particles, as necessary.
  • the magnetic layer 43 may have a plurality of protrusions on the magnetic surface. The plurality of protrusions are formed, for example, by conductive particles and abrasive particles protruding from the magnetic surface.
  • the magnetic layer 43 may already have a plurality of servo bands SB and a plurality of data bands DB, as shown in FIG. 4.
  • the plurality of servo bands SB are arranged at equal intervals in the width direction of the magnetic tape MT.
  • a data band DB is provided between adjacent servo bands SB.
  • the servo bands SB are for guiding the head unit 56 (specifically, servo read heads 56A, 56B) when recording or reproducing data.
  • a servo pattern (servo signal) for tracking control of the head unit 56 is written in advance in the servo bands SB. User data is recorded in the data bands DB.
  • the head unit 56 may be configured to be able to maintain an angle with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT when recording and reproducing data, as shown in FIG. 4.
  • the head unit 56 may be configured to follow the meandering or deformation of the magnetic tape MT and become angled with respect to the axis Ax when recording and reproducing data.
  • the inclination angle of the head unit 56 with respect to the axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT is preferably 3° to 18°, more preferably 5° to 15°.
  • the lower limit of the ratio Rs of the total area S SB of the multiple servo bands SB to the area S of the magnetic surface is preferably 1.0% or more, from the viewpoint of ensuring 5 or more servo bands SB.
  • the ratio Rs of the total area Ss of the servo bands SB to the area S of the entire magnetic surface is calculated as follows:
  • the magnetic tape MT is developed using a ferricolloid developer (Sigma Marker Q, manufactured by Sigma High Chemical Co., Ltd.), and the developed magnetic tape MT is then observed under an optical microscope to measure the servo band width Wsb and the number of servo bands SB.
  • the number of servo bands SB is, for example, 5+4n or more (where n is an integer equal to or greater than 0).
  • the number of servo bands SB is preferably 5 or more, and more preferably 9 or more. If the number of servo bands SB is 5 or more, the effect of dimensional changes in the width direction of the magnetic tape MT on the servo signal can be suppressed, ensuring stable recording and playback characteristics with less off-track.
  • the upper limit of the number of servo bands SB is not particularly limited, but is, for example, 33 or less.
  • the number of servo bands SB is calculated in the same manner as the ratio RS described above.
  • the upper limit of the servo band width WSB is preferably 95 ⁇ m or less, more preferably 65 ⁇ m or less, and even more preferably 50 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the servo band width WSB is preferably 10 ⁇ m or more. It is difficult to manufacture a magnetic head capable of reading a servo signal with a servo band width WSB of less than 10 ⁇ m.
  • the width of the servo band width WSB is calculated in the same manner as the ratio RS described above.
  • the magnetic layer 43 is configured so that multiple data tracks Tk can be formed in the data band DB.
  • the upper limit of the data track width W is preferably 1200 nm or less, 1000 nm or less, or 800 nm or less, and particularly preferably 600 nm or less.
  • the lower limit of the data track width W is preferably 20 nm or more.
  • the data track width W is obtained as follows. First, a cartridge 10 with data recorded on the entire surface of the magnetic tape MT is prepared, the magnetic tape MT is unwound from the cartridge 10, and the magnetic tape MT is cut into a length of 250 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT to prepare a sample. Next, the data recording pattern of the data band DB part of the magnetic layer 43 of the sample is observed using a magnetic force microscope (MFM) to obtain an MFM image. As the MFM, Dimension3100 manufactured by Digital Instruments and its analysis software are used.
  • MFM Magnetic force microscope
  • the analysis software provided with the Dimension3100 is used to measure the track width.
  • the measurement conditions for the above MFM are sweep speed: 1 Hz, chip used: MFMR-20, lift height: 20 nm, correction: Flatten order 3.
  • the magnetic layer 43 is configured to be capable of recording data such that the minimum distance Lmin between magnetization reversals is preferably 47 nm or less, more preferably 44 nm or less, even more preferably 42 nm or less, and particularly preferably 40 nm or less.
  • the lower limit of the minimum distance Lmin between magnetization reversals is preferably 20 nm or more.
  • MFM magnetic force microscope
  • bit distances are measured from a two-dimensional concave-convex chart of the recording pattern of the obtained MFM image.
  • the measurement of the bit distance is performed using analysis software attached to Dimension3100.
  • the minimum distance between magnetization reversals Lmin is determined as the approximate greatest common divisor of the 50 measured distances between bits.
  • the measurement conditions are sweep speed: 1 Hz, chip used: MFMR-20, lift height: 20 nm, and correction: Flatten order 3.
  • the bit length L bit of the signal recorded in the data band DB is preferably 50 nm or less, more preferably 46 nm or less, and even more preferably 44 nm or less, 42 nm or less, or 40 nm or less.
  • the bit length L bit of the signal recorded in the data band DB is determined in the same manner as the method for measuring the minimum value L min of the distance between magnetic reversals.
  • the bit area of the signal recorded in the data band DB is preferably 53,000 nm2 or less, more preferably 45,000 nm2 or less, even more preferably 37,000 nm2 or less, and particularly preferably 30,000 nm2 or less.
  • the bit area of the signal recorded in the data band DB is calculated as follows. First, three MFM images are obtained in the same manner as in the method for measuring the data track width W. Next, the data track width W and the bit length L bit are calculated in the same manner as in the method for measuring the data track width W and the bit length L bit . Next, the bit area (W ⁇ L bit ) of the signal recorded in the data band DB is calculated using the data track width W and the bit length L bit .
  • the servo pattern is a magnetized region, and is formed by magnetizing a specific region of the magnetic layer 43 in a specific direction with a servo write head during magnetic tape manufacturing.
  • the region of the servo band SB where the servo pattern is not formed (hereinafter referred to as the "non-pattern region") may be a magnetized region where the magnetic layer 43 is magnetized, or a non-magnetized region where the magnetic layer 43 is not magnetized.
  • the non-pattern region is a magnetized region
  • the servo pattern forming region and the non-pattern region are magnetized in different directions (e.g., opposite directions).
  • the servo band SB has a servo pattern formed thereon consisting of multiple servo stripes (linear magnetized regions) 113 inclined with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT, as shown in FIG. 6.
  • the servo band SB includes multiple servo frames 110.
  • Each servo frame 110 is made up of 18 servo stripes 113.
  • each servo frame 110 is made up of a servo subframe 1 (111) and a servo subframe 2 (112).
  • Servo subframe 1 is composed of an A burst 111A and a B burst 111B.
  • the B burst 111B is disposed adjacent to the A burst 111A.
  • the A burst 111A has five servo stripes 113 formed at regular intervals and inclined at a predetermined angle ⁇ 1 with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT. In Fig. 6, these five servo stripes 113 are indicated by the symbols A1 , A2 , A3 , A4 , and A5 from the EOT (End Of Tape) to the BOT (Beginning Of Tape) of the magnetic tape MT.
  • the B burst 111B has five servo stripes 113 formed at regular intervals and inclined at a predetermined angle ⁇ 2 with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • these five servo stripes 113 are indicated by the symbols B1 , B2 , B3 , B4 , and B5 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 113 of B burst 111B are inclined in the opposite direction to the servo stripes 113 of A burst 111A.
  • the servo stripes 113 of A burst 111A and the servo stripes 113 of B burst 111B are asymmetric with respect to the axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT. In other words, the servo stripes 113 of A burst 111A and the servo stripes 113 of B burst 111B are arranged in a roughly V-shape.
  • the servo stripes 113 of A burst 111A and the servo stripes 113 of B burst 111B are asymmetric with respect to the axis Ax, when the head unit 56 is inclined obliquely with respect to the axis Ax, there exists a state in which the servo stripes 113 of A burst 111A and the servo stripes 113 of B burst 111B are roughly symmetric with respect to the central axis of the sliding surface of the head unit 56.
  • By changing the inclination of the head unit 56 based on this state it becomes possible to adjust the distance between the servo read heads 56A, 56B in the width direction of the magnetic tape MT.
  • the servo read heads 56A, 56B can be made to face the specified positions of the servo band SB.
  • the central axis of the sliding surface of the head unit 56 means the axis that passes through the centers of the multiple servo read heads 56A, 56B on the sliding surface of the head unit 56.
  • the predetermined angle ⁇ 1 which is the inclination angle of the servo stripes 113 of the A burst 111A is different from the predetermined angle ⁇ 2 which is the inclination angle of the servo stripes 113 of the B burst 111B. More specifically, the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripes 113 of the A burst 111A may be larger than the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripes 113 of the B burst 111B, or the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripes 113 of the B burst 111B may be larger than the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripes 113 of the A burst 111A.
  • the inclination of the servo stripes 113 of the A burst 111A may be larger than the inclination of the servo stripes 113 of the B burst 111B, or the inclination of the servo stripes 113 of the B burst 111B may be larger than the inclination of the servo stripes 113 of the A burst 111A.
  • 6 shows an example in which the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripe 113 of the A burst 111A is larger than the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripe 113 of the B burst 111B.
  • Servo subframe 2 (112) is composed of a C burst 112C and a D burst 112D.
  • the D burst 112D is disposed adjacent to the C burst 112C.
  • the C burst 112C has four servo stripes 113 formed at a specified interval and inclined at a specified angle ⁇ 1 with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT. In Fig. 6, these four servo stripes 113 are indicated by the symbols C1 , C2 , C3 , and C4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the D burst 112D has four servo stripes 113 formed at regular intervals and inclined at a predetermined angle ⁇ 2 with respect to an axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT.
  • these four servo stripes 113 are indicated by the symbols D1 , D2 , D3 , and D4 from the EOT to the BOT of the magnetic tape MT.
  • the servo stripes 113 of the D burst 112D are inclined in the opposite direction to the servo stripes 113 of the C burst 112C.
  • the servo stripes 113 of the C burst 112C and the servo stripes 113 of the D burst 112D are asymmetric with respect to the axis Ax parallel to the width direction of the magnetic tape MT. That is, the servo stripes 113 of the C burst 112C and the servo stripes 113 of the D burst 112D are arranged in a substantially V-shape.
  • the servo stripes 113 of the C burst 112C and the servo stripes 113 of the D burst 112D are asymmetric with respect to the axis Ax, when the head unit 56 is inclined obliquely with respect to the axis Ax, there exists a state in which the servo stripes 113 of the C burst 112C and the servo stripes 113 of the D burst 112D are substantially symmetric with respect to the central axis of the head unit 56. By changing the inclination of the head unit 56 based on this state, it becomes possible to adjust the servo distance.
  • the predetermined angle ⁇ 1 which is the inclination angle of the servo stripes 113 of the C burst 112C is different from the predetermined angle ⁇ 2 which is the inclination angle of the servo stripes 113 of the D burst 112D. More specifically, the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripes 113 of the C burst 112C may be larger than the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripes 113 of the D burst 112D, or the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripes 113 of the D burst 112D may be larger than the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripes 113 of the C burst 112C.
  • the inclination of the servo stripes 113 of the C burst 112C may be larger than the inclination of the servo stripes 113 of the D burst 112D, or the inclination of the servo stripes 113 of the D burst 112D may be larger than the inclination of the servo stripes 113 of the C burst 112C.
  • 6 shows an example in which the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripe 113 of the C burst 112C is larger than the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripe 113 of the D burst 112D.
  • the predetermined angle ⁇ 1 of the servo stripes 113 in the A burst 111A and the C burst 112C is preferably 18° or more and 28° or less, more preferably 18° or more and 26° or less.
  • the predetermined angle ⁇ 2 of the servo stripes 113 in the B burst 111B and the D burst 112D is preferably -4° or more and 6° or less, more preferably -2° or more and 6° or less.
  • the servo stripes 113 in the A burst 111A and the C burst 112C are an example of a first magnetized region.
  • the servo stripes 113 in the B burst 111B and the D burst 112D are an example of a second magnetized region.
  • the servo band SB is read by the head unit 56 to obtain information for obtaining the tape speed and the vertical position of the head unit 56.
  • the tape speed is calculated from the time between four timing signals (A1-C1, A2-C2, A3-C3, A4-C4).
  • the head position is calculated from the time between the aforementioned four timing signals and the time between another four timing signals (A1-B1, A2-B2, A3-B3, A4-B4).
  • the servo pattern may be a shape that includes two parallel lines.
  • the servo pattern (i.e., the multiple servo stripes 113) is preferably arranged linearly in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the servo band SB is preferably linear in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the upper limit of the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is preferably 0.08 ⁇ m or less, more preferably 0.07 ⁇ m or less, and even more preferably 0.06 ⁇ m or less.
  • the upper limit of the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is 0.08 ⁇ m or less, the influence of the demagnetizing field can be reduced when a ring-type head is used as the recording head, and therefore excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the lower limit of the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is preferably 0.04 ⁇ m or more. If the lower limit of the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is 0.04 ⁇ m or more, when an MR head is used as the reproducing head, output can be ensured, and excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out to a length of 250 mm from each of the positions 10 m to 20 m, 30 m to 40 m, and 50 m to 60 m from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT in the longitudinal direction to prepare three samples. Then, each sample is processed by the FIB method or the like to be thinned. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as a protective film as a pretreatment for observing a TEM image of a cross section described later.
  • the carbon layer is formed on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side by a vapor deposition method, and the tungsten layer is further formed on the surface on the magnetic layer 43 side by a vapor deposition method or a sputtering method.
  • the thinning is performed along the longitudinal direction of the magnetic tape MT. That is, the thinning forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the thickness of the magnetic layer 43 is measured at 10 positions of each of the thin samples.
  • the measurement positions of the 10 points of each of the thin samples are randomly selected from the sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the average value obtained by simply averaging (arithmetic mean) the measured values of each of the obtained thin samples (a total of 30 thicknesses of the magnetic layer 43) is set as the average thickness t 1 [nm] of the magnetic layer 43.
  • the magnetic particles include particles containing magnetoplumbite type (M type) hexagonal ferrite (hereinafter referred to as "hexagonal ferrite particles").
  • the magnetic particles are preferably crystalline oriented preferentially in the perpendicular direction of the magnetic tape MT.
  • the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic tape MT means the thickness direction of the magnetic tape MT in a flat state.
  • Hexagonal ferrite particles have, for example, a plate shape such as a hexagonal plate or a column shape such as a hexagonal column (however, the thickness or height is smaller than the major axis of the plate surface or bottom surface).
  • hexagonal plate shape includes approximately hexagonal plate shape.
  • Hexagonal ferrite preferably contains at least one selected from the group consisting of Ba, Sr, Pb, and Ca, more preferably at least one selected from the group consisting of Ba and Sr.
  • hexagonal ferrite may be, for example, barium ferrite or strontium ferrite.
  • Barium ferrite may further contain at least one selected from the group consisting of Sr, Pb, and Ca in addition to Ba.
  • Strontium ferrite may further contain at least one selected from the group consisting of Ba, Pb, and Ca in addition to Sr.
  • the hexagonal ferrite has an average composition represented by the general formula MFe 12 O 19.
  • M is, for example, at least one metal selected from the group consisting of Ba, Sr, Pb, and Ca, preferably at least one metal selected from the group consisting of Ba and Sr.
  • M may be a combination of Ba and at least one metal selected from the group consisting of Sr, Pb, and Ca.
  • M may also be a combination of Sr and at least one metal selected from the group consisting of Ba, Pb, and Ca.
  • a part of Fe may be substituted with another metal element.
  • the average particle size Dave of the magnetic particles is, for example, 13 nm or more and 20 nm or less, 13 nm or more and 19 nm or less, 13 nm or more and 18 nm or less, 14 nm or more and 17 nm or less, or 14 nm or more and 16 nm or less.
  • the coefficient of variation R ⁇ /D is 45% or less, the variation in particle size distribution is small, so that deterioration of paint dispersibility in the preparation process of the paint for forming the magnetic layer, deterioration of data writing ability, and increase in transition noise during reproduction can be suppressed. Therefore, excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the coefficient of variation R ⁇ /D is found as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT. Next, the magnetic tape MT to be measured is processed by the FIB method or the like to be sliced. When the FIB method is used, a carbon layer and a tungsten layer are formed as protective films as a pretreatment for observing a TEM image of a cross section, which will be described later.
  • the carbon layer is formed by a deposition method on the surface of the magnetic tape MT on the magnetic layer 43 side and the surface on the back layer 44 side, and the tungsten layer is further formed by a deposition method or a sputtering method on the surface on the magnetic layer 43 side.
  • the slice is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape MT. That is, the slice forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic tape MT.
  • the cross section of the obtained thin sample is observed using a transmission electron microscope (Hitachi High-Technologies Corporation H-9500) at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times in the thickness direction of the magnetic layer 43 so as to include the entire magnetic layer 43, and a TEM image is taken.
  • a number of TEM images are prepared that can extract 50 particles for which the particle size D (see Figure 8) of the magnetic particles shown below can be measured.
  • the shape of the hexagonal ferrite particles observed in the above TEM image is plate-like or columnar (however, the thickness or height is smaller than the major axis of the plate surface or base surface) as shown in Figure 8, so the major axis (plate diameter) of the plate surface or base surface of the magnetic particle is taken as the particle size D of the magnetic particle.
  • 50 particles are selected from the captured TEM image based on the following criteria. Particles that are partially outside the field of view of the TEM image are not measured, and only particles that have a clear outline and exist in isolation are measured. If there are overlapping particles, those with a clear boundary between them and whose overall shape can be determined are measured as individual particles, but particles with unclear boundaries and whose overall shape cannot be determined are not measured as their shape cannot be determined.
  • Figures 9 and 10 show a first example and a second example of TEM images, respectively.
  • the magnetic particles indicated by arrows a and b are selected because their particle size (plate diameter) D can be clearly confirmed.
  • the particles indicated by arrows c and d are particles shown for reference, and are particles whose plate thickness (thickness or height) T (of the particle) can be clearly confirmed.
  • the particle size D of each of the selected 50 magnetic particles is measured.
  • the particle sizes D thus obtained are simply averaged (arithmetic averaged) to calculate the average particle size D ave and the standard deviation ⁇ of the magnetic particles.
  • the upper limit of the crystallite size D XRD of the magnetic particles in the state of the magnetic tape MT is preferably 15 nm or less, more preferably 14 nm or less.
  • the crystallite size D XRD of the magnetic particles in the state of the magnetic tape MT refers to the crystallite size of the magnetic particles obtained by taking out the constituent material of the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT and measuring the constituent material by XRD (X-ray diffraction method).
  • the lower limit of the crystallite size D XRD of the magnetic particles in the magnetic tape MT is preferably 11 nm or more, more preferably 12 nm or more.
  • the crystallite size D XRD of the magnetic particles in the magnetic tape MT is 11 nm or more, sufficient thermal stability can be maintained magnetically, and the long-term storage reliability of the magnetic tape MT can be ensured.
  • the numerical range of the platelet diameter of the magnetic particles may be defined by any of the upper limit values and any of the lower limit values, and is preferably 11 nm or more and 15 nm or less, and more preferably 12 nm or more and 14 nm or less.
  • the upper limit of the crystallite volume V XRD of the magnetic particles in the state of the magnetic tape MT is preferably 2500 nm 3 or less, more preferably 1800 nm 3 or less, even more preferably 1400 nm 3 or less, and particularly preferably 1200 nm 3 or less.
  • the crystallite volume V XRD is 2500 nm 3 or less, excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained in a high recording density magnetic tape MT.
  • the crystallite volume V XRD of the magnetic particles in the state of the magnetic tape MT refers to the crystallite volume of the magnetic particles obtained by taking out the constituent material of the magnetic layer 43 of the magnetic tape MT and measuring the constituent material by XRD.
  • the lower limit of the crystallite volume VXRD of the magnetic particles is preferably 900 nm3 or more, more preferably 1000 nm3 or more.
  • the crystallite volume VXRD is 900 nm3 or more, the deterioration of the magnetic properties due to thermal disturbance can be suppressed, so that excellent electromagnetic conversion properties can be obtained.
  • the numerical range of the crystallite volume VXRD of the magnetic particles may be defined by any one of the upper limits and any one of the lower limits, and may be preferably 900 nm3 or more and 2500 nm3 or less, more preferably 900 nm3 or more and 1800 nm3 or less, even more preferably 900 nm3 or more and 1400 nm3 or less, and particularly preferably 900 nm3 or more and 1200 nm3 or less.
  • the crystallite size D XRD and the crystallite volume V XRD of the magnetic particles are obtained as follows. First, a reel 211 on which a magnetic tape MT is wound is attached to a running system (e.g., MTS Transport 2' x 3' deck manufactured by Mountain Engineering II) shown in Fig. 7. A support member 215 and a blade 213 for supporting a nonwoven fabric 214 are provided in the running system. The support member 215 is provided upstream of the running path of the blade 213. A solvent such as ethanol, methyl ethyl ketone, or acetone is soaked into the nonwoven fabric 214.
  • a running system e.g., MTS Transport 2' x 3' deck manufactured by Mountain Engineering II
  • a support member 215 and a blade 213 for supporting a nonwoven fabric 214 are provided in the running system.
  • the support member 215 is provided upstream of the running path of the blade 213.
  • a solvent such as ethanol, methyl ethyl ketone, or
  • the magnetic tape MT on the outer periphery was unwound from reel 211, the magnetic tape MT was set on a predetermined running path provided with tape running guides 221, 222, 223, 224, 225, and 226, and one end of the magnetic tape MT was fixed to reel 212.
  • the traveling system was driven and the blade 213 and the nonwoven fabric 214 were slid on the surface of the magnetic layer 43.
  • the surface of the magnetic layer 43 was moistened by the nonwoven fabric 214, and then the surface of the magnetic layer 43 was thinly peeled off by the blade 213, and the exfoliated material (constituent material of the magnetic layer 43) 216 of the magnetic layer 43 was obtained.
  • the exfoliated material 216 was obtained until the amount of the exfoliated material 216 reached the amount required for the XRD measurement described below. If the required amount of the exfoliated material 216 cannot be obtained from one reel 211 of the magnetic tape MT, the required amount of the exfoliated material 216 is obtained from two or more reels of the magnetic tape MT. For example, if the cartridge 10 is an LTO9 cartridge, the required amount of the exfoliated material 216 is obtained by peeling off the magnetic layer 43 over a length of about 1000 m from the magnetic tape MT of one cartridge 10.
  • the peeled material 216 is placed in a depression (circular, diameter 5 mm ⁇ ) of a non-reflective silicon sample plate for XRD, and a measurement sample is prepared by smoothing the surface with a glass plate.
  • the X-ray diffraction pattern profile of the measurement sample is obtained by the focusing method, and the X-ray diffraction pattern profile is peak-separated using a Voigt function, and the crystallite size D 1 is calculated from the diffraction peak of the (0,0,6) plane.
  • the crystallite size D 2 is calculated from the diffraction peak of the (2,2,0) plane.
  • the following Scherrer formula is used to calculate the crystallite size D 1 and the crystallite size D 2 .
  • Dx K ⁇ /Bcos ⁇
  • Dx crystallite size (nm)
  • ⁇ wavelength of measured X-ray (nm)
  • B Broadening of the diffraction line due to the size of the crystallite (half-width of the diffraction peak)
  • ⁇ angle at which a diffraction peak appears
  • the crystallite volume V XRD of the magnetic particles is calculated by the following formula.
  • D1 is the crystallite size calculated from the diffraction peak of the (0,0,6) plane
  • D2 is the crystallite size calculated from the diffraction peak of the (2,2,0) plane.
  • the binder includes, for example, a thermoplastic resin.
  • the binder may further include a thermosetting resin or a reactive resin.
  • the thermoplastic resin includes a first thermoplastic resin (first binder) containing chlorine atoms and a second thermoplastic resin (second binder) containing nitrogen atoms. More specifically, the thermoplastic resin includes vinyl chloride resin and urethane resin.
  • vinyl chloride resin means a polymer containing a structural unit derived from vinyl chloride. More specifically, for example, vinyl chloride resin means a homopolymer of vinyl chloride, a polymer of vinyl chloride and a comonomer copolymerizable therewith, and a mixture of these polymers.
  • the vinyl chloride resin includes, for example, at least one selected from the group consisting of vinyl chloride, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, vinyl chloride-vinylidene chloride copolymer, vinyl chloride-acrylonitrile copolymer, acrylate-vinyl chloride-vinylidene chloride copolymer, and methacrylate-vinyl chloride copolymer.
  • a urethane-based resin means a resin that contains a urethane bond in at least a part of the molecular chain that constitutes the resin, and may be a urethane resin or a copolymer that contains a urethane bond in a part of the molecular chain.
  • the urethane-based resin may be, for example, one obtained by reacting a polyisocyanate with a polyol.
  • the urethane-based resin may be, for example, one obtained by reacting a polyester with a polyol.
  • the urethane-based resin also includes one obtained by reacting with a curing agent.
  • the polyisocyanate includes at least one selected from the group consisting of, for example, diphenylmethane diisocyanate (MDI), tolylene diisocyanate (TDI), xylylene diisocyanate (XDI), 1,5-pentamethylene diisocyanate (PDI), hexamethylene diisocyanate (HDI), and isophorone diisocyanate (IPDI).
  • MDI diphenylmethane diisocyanate
  • TDI tolylene diisocyanate
  • XDI xylylene diisocyanate
  • PDI 1,5-pentamethylene diisocyanate
  • HDI hexamethylene diisocyanate
  • IPDI isophorone diisocyanate
  • polyisocyanate means a compound having two or more isocyanate groups in the molecule.
  • the polyisocyanate may be the polyisocyanate contained in the curing agent.
  • the polyol includes at least one selected from the group consisting of, for example, polyols (diols) having two OH groups, polyols (triols) having three OH groups, polyols (tetraols) having four OH groups, polyols (pentaols) having five OH groups, and polyols (hexaols) having six OH groups.
  • the polyol includes at least one selected from the group consisting of, for example, polyester-based polyols, polyether-based polyols, polycarbonate-based polyols, polyesteramide-based polyols, and acrylate-based polyols.
  • the polyester includes, for example, at least one selected from the group consisting of phthalic acid-based polyesters and aliphatic polyesters.
  • the thermoplastic resin may further include a thermoplastic resin other than vinyl chloride resin and urethane resin.
  • a thermoplastic resin may include at least one selected from the group consisting of, for example, vinyl acetate, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymer, acrylic acid ester-acrylonitrile copolymer, acrylic acid ester-vinylidene chloride copolymer, methacrylic acid ester-vinylidene chloride copolymer, methacrylic acid ester-ethylene copolymer, polyvinyl fluoride, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer, acrylonitrile-butadiene copolymer, polyamide resin, polyvinyl butyral, cellulose derivatives (cellulose acetate butyrate, cellulose diacetate, cellulose triacetate, cellulose propionate, nitrocellulose), styrene butadiene copolymer, polyester resin, amino resin, and synthetic rubber.
  • Thermosetting resin includes at least one selected from the group consisting of, for example, phenolic resin, epoxy resin, polyurethane curing resin, urea resin, melamine resin, alkyd resin, silicone resin, polyamine resin, and urea formaldehyde resin.
  • all of the above-mentioned binders may contain polar functional groups such as -SO 3 M, -OSO 3 M, -COOM, P ⁇ O(OM) 2 (wherein M represents a hydrogen atom or an alkali metal such as lithium, potassium or sodium), side chain amines having terminal groups represented by -NR1R2 or -NR1R2R3 + X- , main chain amines represented by >NR1R2 + X- (wherein R1, R2 and R3 represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group, and X- represents a halogen element ion such as fluorine, chlorine, bromine or iodine, an inorganic ion or an organic ion), -OH, -SH, -CN and epoxy groups.
  • the amount of these polar functional groups introduced into the binder is preferably 10 -1 or more and 10 -8 mol/g or less, and more preferably 10 -2 or more and 10
  • Some of the conductive particles contained in the magnetic layer 43 may protrude from the magnetic surface to form multiple protrusions. By forming multiple protrusions from the conductive particles, the electrical resistance of the magnetic surface can be reduced, and charging of the magnetic surface can be suppressed. In addition, dynamic friction between the head unit 56 and the magnetic surface during running of the magnetic tape MT can be reduced.
  • the conductive particles are preferably an antistatic agent and a solid lubricant.
  • the conductive particles are preferably particles containing carbon.
  • As the carbon-containing particles for example, at least one type selected from the group consisting of carbon particles and hybrid particles can be used, and carbon particles are preferably used.
  • the average primary particle size of the conductive particles is preferably 100 nm or less. When the average primary particle size of the conductive particles is 100 nm or less, even when the conductive particles are particles with a large particle size distribution (e.g., carbon black, etc.), the inclusion of particles that are excessively large relative to the thickness of the magnetic layer 43 is suppressed.
  • carbon particles for example, one or more selected from the group consisting of carbon black, acetylene black, ketjen black, carbon nanotubes, and graphene can be used, and among these carbon particles, it is preferable to use carbon black.
  • carbon black for example, Seast TA manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd., Asahi #15, #15HS, etc. manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd. can be used.
  • the hybrid particles include carbon and a material other than carbon.
  • the material other than carbon is, for example, an organic material or an inorganic material.
  • the hybrid particles may be hybrid particles in which carbon is attached to the surface of an inorganic particle.
  • the hybrid particles may be hybrid carbon in which carbon is attached to the surface of a silica particle.
  • Some of the abrasive particles contained in the magnetic layer 43 may protrude from the magnetic surface to form a plurality of protrusions. When the head unit 56 slides over the magnetic tape MT, the protrusions formed by the abrasive particles can come into contact with the head unit 56.
  • the lower limit of the Mohs hardness of the abrasive particles is preferably 7.0 or more, more preferably 7.5 or more, even more preferably 8.0 or more, and particularly preferably 8.5 or more, from the viewpoint of suppressing deformation due to contact with the head unit 56.
  • the upper limit of the Mohs hardness of the abrasive particles is preferably 9.5 or less, from the viewpoint of suppressing wear of the head unit 56.
  • the abrasive particles are preferably inorganic particles.
  • inorganic particles include ⁇ -alumina with an ⁇ conversion rate of 90% or more, ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, silicon carbide, chromium oxide, cerium oxide, ⁇ -iron oxide, corundum, silicon nitride, titanium carbide, titanium oxide, silicon dioxide, tin oxide, magnesium oxide, tungsten oxide, zirconium oxide, boron nitride, zinc oxide, calcium carbonate, calcium sulfate, barium sulfate, molybdenum disulfide, acicular ⁇ -iron oxide obtained by dehydrating and annealing magnetic iron oxide raw materials, and those surface-treated with aluminum and/or silica as necessary, diamond powder, etc.
  • alumina particles such as ⁇ -alumina, ⁇ -alumina, and ⁇ -alumina, and silicon carbide are preferably used.
  • the abrasive particles may be in any shape such as needle-shaped, spherical, or cube-shaped, but those with some corners in the shape are preferred because they have high abrasiveness.
  • the lubricant contains at least one selected from, for example, fatty acids and fatty acid esters, preferably both fatty acids and fatty acid esters.
  • the inclusion of a lubricant in the magnetic layer 43 contributes to improving the running stability of the magnetic tape MT. More particularly, the magnetic layer 43 contains a lubricant and has pores, thereby achieving good running stability. The improvement in running stability is believed to be due to the lubricant adjusting the dynamic friction coefficient of the magnetic layer 43 side surface of the magnetic tape MT to a value suitable for running the magnetic tape MT.
  • the fatty acid may preferably be a compound represented by the following general formula (1) or (2).
  • the fatty acid may contain either a compound represented by the following general formula (1) or a compound represented by the following general formula (2), or may contain both.
  • the fatty acid ester may preferably be a compound represented by the following general formula (3), (4) or (5).
  • the fatty acid ester may contain one, two or three of the compounds represented by the following general formula (3), (4) and (5).
  • the lubricant contains either or both of the compound represented by general formula (1) and the compound represented by general formula (2), and one, two or three of the compounds represented by general formula (3), (4) and (5), thereby making it possible to suppress an increase in the dynamic friction coefficient due to repeated recording or playback of the magnetic tape MT.
  • k is an integer selected from the range of 14 or more and 22 or less, more preferably from the range of 14 or more and 18 or less.
  • the antistatic agent includes carbon particles.
  • the antistatic agent may further include at least one selected from the group consisting of a natural surfactant, a nonionic surfactant, a cationic surfactant, etc.
  • the carbon particles include at least one selected from the group consisting of, for example, carbon black, acetylene black, ketjen black, carbon nanotubes, and graphene.
  • the curing agent includes, for example, polyisocyanate.
  • the polyisocyanate may include, for example, diphenylmethane diisocyanate (MDI), tolylene diisocyanate (TDI), xylylene diisocyanate (XDI), 1,5-pentamethylene diisocyanate (PDI), hexamethylene diisocyanate (HDI), isophorone diisocyanate (IPDI), or the like as an isocyanate source.
  • the polyisocyanate may have a TMP adduct structure, an isocyanurate structure, a biuret structure, or an allophanate structure.
  • polyisocyanates include aromatic polyisocyanates such as an adduct of tolylene diisocyanate (TDI) and an active hydrogen compound, and aliphatic polyisocyanates such as an adduct of hexamethylene diisocyanate (HMDI) and an active hydrogen compound.
  • TDI tolylene diisocyanate
  • HMDI hexamethylene diisocyanate
  • the weight average molecular weight of these polyisocyanates is preferably in the range of 100 to 3,000.
  • anti-rust examples include phenols, naphthols, quinones, heterocyclic compounds containing a nitrogen atom, heterocyclic compounds containing an oxygen atom, and heterocyclic compounds containing a sulfur atom.
  • Non-magnetic reinforcing particles examples include aluminum oxide ( ⁇ , ⁇ or ⁇ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, titanium oxide (rutile or anatase type titanium oxide), and the like.
  • the underlayer 42 is intended to reduce the unevenness of the surface of the substrate 41 and adjust the unevenness of the magnetic surface.
  • the underlayer 42 is a non-magnetic layer containing non-magnetic particles, a binder, and a lubricant.
  • the underlayer 42 supplies the lubricant to the magnetic surface.
  • the underlayer 42 may further contain at least one additive selected from the group consisting of an antistatic agent, a hardener, an anti-rust agent, etc., as necessary.
  • the average thickness t2 of the underlayer 42 is preferably 0.30 ⁇ m or more and 1.20 ⁇ m or less, more preferably 0.30 ⁇ m or more and 0.90 ⁇ m or less, and 0.30 ⁇ m or more and 0.60 ⁇ m or less.
  • the average thickness t2 of the underlayer 42 is determined in the same manner as the average thickness t1 of the magnetic layer 43. However, the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the underlayer 42.
  • the average thickness t2 of the underlayer 42 is 1.20 ⁇ m or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to an external force is further increased, and therefore, the adjustment of the width of the magnetic tape MT by adjusting the tension becomes even easier.
  • the underlayer 42 preferably has a plurality of holes. By storing lubricant in these holes, it is possible to further suppress the decrease in the amount of lubricant supplied between the magnetic surface and the head unit 56 even after repeated recording or playback (i.e., even after the head unit 56 is in contact with the surface of the magnetic tape MT and the tape is repeatedly run). This makes it possible to further suppress the increase in the dynamic friction coefficient. In other words, it is possible to obtain excellent running stability.
  • the non-magnetic particles include at least one of inorganic particles and organic particles.
  • the non-magnetic particles may be carbon particles such as carbon black.
  • One type of non-magnetic particles may be used alone, or two or more types of non-magnetic particles may be used in combination.
  • the inorganic particles include, for example, metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, or metal sulfides.
  • the shapes of the non-magnetic particles include, for example, various shapes such as needles, spheres, cubes, and plates, but are not limited to these shapes.
  • Binding agent, lubricant The binder and lubricant are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the antistatic agent, hardener and rust inhibitor are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the back layer 44 contains a binder and non-magnetic particles.
  • the back layer 44 may further contain at least one additive selected from the group consisting of a lubricant, a hardener, an antistatic agent, etc., as necessary.
  • the binder and non-magnetic particles are the same as those in the underlayer 42 described above.
  • the hardener and antistatic agent are the same as those in the magnetic layer 43 described above.
  • the average particle size of the non-magnetic particles is preferably 10 nm or more and 150 nm or less, more preferably 15 nm or more and 110 nm or less.
  • the non-magnetic particles may include non-magnetic particles having two or more particle size distributions.
  • the average particle size of the nonmagnetic particles is determined as follows. First, a thin sample is obtained in the same procedure as the measurement method of the above-mentioned coefficient of variation R ⁇ /D , and a cross-sectional TEM image of the underlayer 42 is taken using the thin sample. Next, 50 nonmagnetic particles whose shapes can be clearly confirmed are selected from the taken TEM image, and the long axis length DL of each nonmagnetic particle is measured.
  • the long axis length DL means the maximum distance between two parallel lines drawn from all angles so as to be in contact with the contour of each nonmagnetic particle (so-called maximum Feret diameter).
  • the long axis lengths DL of the measured 50 nonmagnetic particles are simply averaged (arithmetic average) to determine the average long axis length DL ave .
  • the average long axis length DL ave thus determined is the average particle size of the nonmagnetic particles.
  • the upper limit of the average thickness of the back layer 44 is preferably 0.60 ⁇ m or less. If the upper limit of the average thickness of the back layer 44 is 0.60 ⁇ m or less, the thickness of the underlayer 42 and the base 41 can be kept thick even if the average thickness of the magnetic tape MT is 5.30 ⁇ m or less, so that the running stability of the magnetic tape MT within a recording and reproducing device can be maintained.
  • the lower limit of the average thickness of the back layer 44 is not particularly limited, but is, for example, 0.20 ⁇ m or more.
  • the average thickness t b of the back layer 44 is obtained as follows. First, the average thickness t T of the magnetic tape MT is measured. The method for measuring the average thickness t T is as described in the "Average Thickness of Magnetic Tape" below. Next, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into a length of 250 mm at a position 30 to 40 m from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT in the longitudinal direction to prepare a sample. Next, the back layer 44 of the sample is removed with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • MEK methyl ethyl ketone
  • the thickness of the sample is measured at five positions using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C), and the measured values are simply averaged (arithmetic average) to calculate the average value t B [ ⁇ m]. Then, the average thickness t b [ ⁇ m] of the back layer 44 is obtained from the following formula.
  • the upper limit of the average thickness (average total thickness) tT of the magnetic tape MT is preferably 5.30 ⁇ m or less, more preferably 5.10 ⁇ m or less, even more preferably 4.90 ⁇ m or less, and particularly preferably 4.70 ⁇ m or less.
  • the lower limit of the average thickness tT of the magnetic tape MT is not particularly limited, but is, for example, 3.50 ⁇ m or more.
  • the average thickness tT of the magnetic tape MT is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into a length of 250 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT to prepare a sample. Next, the thickness of the sample is measured at five positions using a Mitutoyo Laser Hologram (LGH-110C) as a measuring device, and the measured values are simply averaged (arithmetic average) to calculate the average thickness tT [ ⁇ m]. The five measurement positions are randomly selected from the sample so that they are different positions in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • LGH-110C Mitutoyo Laser Hologram
  • the upper limit of the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is preferably 3000 Oe or less, and more preferably 2700 Oe or less.
  • the lower limit of the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is preferably 1800 Oe or more, more preferably 2000 Oe or more, and even more preferably 2300 Oe or more. If the lower limit of the coercive force Hc1 is 1800 Oe or more, it is possible to prevent the written data from being erased due to the effects of thermal disturbance.
  • the vertical coercive force Hc1 is found as follows. First, the magnetic tape MT contained in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out at a position 30 m to 40 m from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT in the longitudinal direction. Next, three magnetic tapes MT are stacked with double-sided tape so that the longitudinal direction of the magnetic tape MT is the same, and then punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to prepare a measurement sample. At this time, marking is performed with any non-magnetic ink so that the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT can be identified.
  • the M-H loop of the measurement sample (whole magnetic tape MT) corresponding to the vertical direction of the magnetic tape MT (thickness direction of the magnetic tape MT) is measured using a vibrating sample magnetometer (VSM).
  • VSM vibrating sample magnetometer
  • the coating film (undercoat layer 42, magnetic layer 43, back layer 44, etc.) is wiped off using acetone or ethanol, etc., and only the substrate 41 remains.
  • Three of the obtained substrates 41 are then stacked together with double-sided tape, and punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to create a sample for background correction (hereinafter simply referred to as the "correction sample").
  • a VSM is used to measure the M-H loop of the correction sample (substrate 41) that corresponds to the perpendicular direction of substrate 41 (thickness direction of magnetic tape MT).
  • a high-sensitivity vibration sample magnetometer "VSM-P7-15 type" manufactured by Toei Industry Co., Ltd. is used.
  • the measurement conditions are as follows: measurement mode: full loop, maximum magnetic field: 15 kOe, magnetic field step: 40 bits, time constant of locking amp: 0.3 sec, waiting time: 1 sec, number of MH averages: 20.
  • background correction is performed by subtracting the M-H loop of the correction sample (substrate 41) from the M-H loop of the measurement sample (entire magnetic tape MT), and the M-H loop after background correction is obtained.
  • the measurement and analysis program included with the "VSMP7-15" is used to calculate this background correction.
  • the vertical coercive force Hc1 is calculated from the obtained M-H loop after background correction.
  • the measurement and analysis program included with the "VSM-P7-15" is used for this calculation. All of the above M-H loop measurements are performed at 25°C ⁇ 2°C and 50% RH ⁇ 5% RH. Furthermore, no "demagnetizing field correction" is performed when measuring the M-H loop in the vertical direction of the magnetic tape MT.
  • the squareness ratio S1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is preferably 62% or more, more preferably 65% or more, even more preferably 68% or more, particularly preferably 72% or more, and most preferably 75% or more.
  • the squareness ratio S1 is 62% or more, the perpendicular orientation of the magnetic particles is sufficiently high, so that excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the squareness ratio S1 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is calculated as follows. First, an M-H loop after background correction is obtained in the same manner as in the measurement of the coercive force Hc1.
  • the squareness ratio S2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT is preferably 35% or less, more preferably 30% or less, even more preferably 25% or less, particularly preferably 20% or less, and most preferably 15% or less.
  • the vertical orientation of the magnetic particles is sufficiently high, so that excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • one of the squareness ratio S1 of the magnetic layer 43 in the vertical direction of the magnetic tape MT and the squareness ratio S2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT may be within the above preferred range, and the other may be outside the above preferred range.
  • both the squareness ratio S1 of the magnetic layer 43 in the vertical direction of the magnetic tape MT and the squareness ratio S2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT may be within the above preferred range.
  • the squareness ratio S2 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is determined in the same manner as the squareness ratio S1, except that the M-H loop is measured in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic tape MT and the substrate 41.
  • the ratio Hc2/Hc1 of the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT to the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT preferably satisfies the relationship Hc2/Hc1 ⁇ 0.8, more preferably Hc2/Hc1 ⁇ 0.75, even more preferably Hc2/Hc1 ⁇ 0.7, particularly preferably Hc2/Hc1 ⁇ 0.65, and most preferably Hc2/Hc1 ⁇ 0.6.
  • the magnetization transition width can be reduced and a high-output signal can be obtained during signal reproduction, so that excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • Hc2 when Hc2 is small, the magnetization reacts sensitively to the perpendicular magnetic field from the recording head, so that a good recording pattern can be formed.
  • the ratio Hc2/Hc1 is Hc2/Hc1 ⁇ 0.8
  • it is particularly effective that the average thickness t1 of the magnetic layer 43 is 90 nm or less. If the average thickness t1 of the magnetic layer 43 exceeds 90 nm, when a ring-type head is used as a recording head, the lower region of the magnetic layer 43 (the region on the underlayer 42 side) is magnetized in the longitudinal direction of the magnetic tape MT, and the magnetic layer 43 may not be uniformly magnetized in the thickness direction. Therefore, even if the ratio Hc2/Hc1 is Hc2/Hc1 ⁇ 0.8 (i.e., even if the degree of perpendicular orientation of the magnetic particles is increased), there is a risk that excellent electromagnetic conversion characteristics cannot be obtained.
  • Hc2/Hc1 is not particularly limited, but for example, 0.5 ⁇ Hc2/Hc1.
  • Hc2/Hc1 represents the degree of vertical orientation of the magnetic particles, and the smaller Hc2/Hc1 is, the higher the degree of vertical orientation of the magnetic particles.
  • the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT is as described above.
  • the coercive force Hc2 of the magnetic layer 43 in the longitudinal direction of the magnetic tape MT can be calculated in the same manner as the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT, except that the M-H loop is measured in the longitudinal direction of the magnetic tape MT and the substrate 41.
  • the lower limit of the ratio (Hc1/V XRD ) between the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT and the crystallite volume V XRD of the magnetic grains determined by X-ray diffraction is preferably 1.80 or more, more preferably 2.00 or more.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is 1.80 or more, the thermal stability can be maintained even when the magnetic tape MT is made to have a high recording density. Therefore, even when the magnetic tape MT is made to have a high recording density, the deterioration of the electromagnetic conversion characteristics can be suppressed. In addition, the erase of written information due to the influence of thermal disturbance can be suppressed.
  • the upper limit of the ratio (Hc1/ VXRD ) between the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT and the crystallite volume VXRD of the magnetic grains determined by X-ray diffraction is 2.50 or less.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is determined using the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 determined as described above and the crystallite volume V XRD of the magnetic grains.
  • the crystallite size D XRD and crystallite volume V XRD in the state of the magnetic tape MT are different from the particle size and particle volume measured from the cross-sectional TEM image of the magnetic tape MT. What can be observed by cross-sectional TEM is the external size of the magnetic particles, whereas the crystallite size D XRD and crystallite volume V XRD indicate the size and volume of the crystalline portion inside the magnetic particles. The surface of the magnetic particles is chemically unstable and does not contribute to the effective particle volume that functions as a magnet. On the other hand, the crystallite size D XRD and crystallite volume V XRD measured by XRD can be considered as the size and volume of the effective particle that functions as a magnet.
  • the magnetic particles may be damaged by the dispersion media such as beads. Although large damage such as the magnetic particles being broken in half can be observed with an electron microscope such as a TEM, it is difficult to distinguish minute changes such as the particle surface being scraped by one molecule or internal defects by external observation with an electron microscope such as a TEM.
  • the ratio (Hc1/Va) is set to a specified range using the particle volume Va measured from the cross-sectional TEM image of the magnetic tape MT, it is difficult to obtain excellent electromagnetic conversion characteristics.
  • the ratio (Hc1/Vb) is set to a specified range using the crystallite volume Vb measured by XRD in the magnetic powder state before coating, it is difficult to obtain excellent electromagnetic conversion characteristics.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is set to a specified range using the crystallite volume V XRD in the state of the magnetic tape MT, so that excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained.
  • the crystallite volume V XRD in the state of the magnetic tape MT is the volume of the crystallite that effectively behaves as a magnet, taking into account the damage that occurs to the magnetic particles during the dispersion process, and is a parameter that is directly related to the recording and reproduction of the actual magnetic tape MT.
  • the activation volume Vact is preferably 8000 nm3 or less, more preferably 6000 nm3 or less, even more preferably 5000 nm3 or less, particularly preferably 4000 nm3 or less, and most preferably 3000 nm3 or less.
  • the activation volume Vact is 8000 nm3 or less, the dispersion state of the magnetic particles is good, so that the bit inversion region can be made steep, and the deterioration of the magnetization signal recorded on the adjacent track due to the leakage magnetic field from the recording head can be suppressed. Therefore, there is a risk that excellent electromagnetic conversion characteristics cannot be obtained.
  • V act is calculated by the following formula derived by Street & Woolley.
  • Vact ( nm3 ) kB ⁇ T ⁇ Xirr /( ⁇ 0 ⁇ Ms ⁇ S) (wherein k B is Boltzmann's constant (1.38 ⁇ 10 ⁇ 23 J/K), T is temperature (K), X irr is irreversible magnetic susceptibility, ⁇ 0 is vacuum permeability, S is magnetic viscosity coefficient, and Ms is saturation magnetization (emu/cm 3 )).
  • the irreversible magnetic susceptibility X irr , saturation magnetization Ms, and magnetic viscosity coefficient S substituted into the above formula are determined using a VSM as follows.
  • the measurement direction using the VSM is the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic tape MT.
  • the measurement using the VSM is performed on a measurement sample cut out from a long magnetic tape MT at 25°C ⁇ 2°C and 50% RH ⁇ 5% RH.
  • no "demagnetization correction" is performed.
  • the irreversible magnetic susceptibility ⁇ irr is defined as the slope of the residual magnetization curve (DCD curve) near the residual coercivity Hr.
  • DCD curve residual magnetization curve
  • Magnetic viscosity coefficient S First, a magnetic field of -1193 kA/m (15 kOe) is applied to the entire magnetic tape MT (measurement sample), and the magnetic field is returned to zero to create a residual magnetization state. After that, a magnetic field equivalent to the value of the residual coercivity Hr obtained from the DCD curve is applied in the opposite direction. With the magnetic field applied, the amount of magnetization is continuously measured at regular time intervals for 1000 seconds. The magnetic viscosity coefficient S is calculated by referring to the relationship between time t and amount of magnetization M(t) obtained in this way in the following formula.
  • M(t) M0+S ⁇ ln(t) (where M(t) is the amount of magnetization at time t, M0 is the initial amount of magnetization, S is the magnetic viscosity coefficient, and ln(t) is the natural logarithm of time.)
  • the surface roughness Rb of the back surface (surface roughness of the back layer 44) satisfies Rb ⁇ 6.0 [nm].
  • Rb surface roughness of the back layer 44
  • the surface roughness Rb of the back surface is obtained as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut into a length of 100 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT to prepare a sample. Next, the sample is placed on a slide glass so that the surface to be measured (the surface on the magnetic layer side) faces up, and the end of the sample is fixed with mending tape. The surface shape is measured using a VertScan (20x objective lens) as a measuring device, and the surface roughness Rb of the back surface is obtained from the following formula based on the ISO 25178 standard. The measurement conditions are as follows.
  • Non-contact roughness meter using optical interference (Ryoka Systems Co., Ltd. non-contact surface and layer cross-sectional shape measurement system VertScan R5500GL-M100-AC)
  • Objective lens 20x Measurement area: 640 x 480 pixels (field of view: approx.
  • Measurement mode phase Wavelength filter: 520 nm
  • CCD 1/3 inch
  • Noise reduction filter Smoothing 3x3
  • Surface correction Correction using quadratic polynomial approximation surface
  • Measurement software VS-Measure Version 5.5.2
  • Analysis software VS-viewer Version 5.5.5 After measuring the surface roughness at five points in the longitudinal direction of the magnetic tape MT as described above, the average value of the arithmetic mean roughness S a (nm) automatically calculated from the surface profile obtained at each position is defined as the surface roughness R b (nm) of the back surface.
  • the upper limit of the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 9.0 GPa or less, more preferably 8.0 GPa or less, even more preferably 7.5 GPa or less, and particularly preferably 7.1 GPa or less.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 9.0 GPa or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external forces is further increased, so that the adjustment of the width of the magnetic tape MT by tension adjustment becomes even easier. Therefore, off-track can be further appropriately suppressed, and data recorded on the magnetic tape MT can be reproduced more accurately.
  • the lower limit of the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is preferably 3.0 GPa or more, more preferably 4.0 GPa or more.
  • the lower limit of the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is 3.0 GPa or more, the decrease in running stability can be suppressed.
  • the Young's modulus of the magnetic tape MT in the longitudinal direction is a value that indicates the resistance of the magnetic tape MT to expansion and contraction in the longitudinal direction due to external forces; the larger this value, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the longitudinal direction due to external forces, and the smaller this value, the more easily the magnetic tape MT can expand and contract in the longitudinal direction due to external forces.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT is a value related to the longitudinal direction of the magnetic tape MT, it also correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction. In other words, the larger this value is, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value is, the more easily the magnetic tape MT will expand and contract in the width direction due to external forces. Therefore, from the perspective of tension adjustment, it is advantageous for the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT to be small as described above, 9.0 GPa or less.
  • a tensile tester (AG-100D, manufactured by Shimadzu Corporation) is used to measure the Young's modulus in the tape longitudinal direction.
  • the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut to a length of 180 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT to prepare a measurement sample.
  • a jig capable of fixing the tape width (1/2 inch) is attached to the tensile tester, and the top and bottom of the tape width are fixed. The distance (length of the tape between the chucks) is set to 100 mm.
  • the Young's modulus is calculated using the following formula.
  • E(N/ m2 ) (( ⁇ N/S)/( ⁇ x/L)) ⁇ 106 ⁇ N: Change in stress (N)
  • S Cross-sectional area of the test piece (mm 2 )
  • ⁇ x Elongation (mm)
  • L Distance between gripping jigs (mm)
  • the cross-sectional area S of the measurement sample 10S is the cross-sectional area before the tensile operation, and is calculated by multiplying the width (1/2 inch) of the measurement sample 10S by the thickness of the measurement sample 10S.
  • the range of tensile stress when performing the measurement is set to a linear region tensile stress range depending on the thickness of the magnetic tape MT, etc.
  • the stress range is set to 0.2 N to 0.7 N, and the stress change ( ⁇ N) and elongation ( ⁇ x) at this time are used for calculation.
  • the Young's modulus is measured at 25° C. ⁇ 2° C. and 50% RH ⁇ 5% RH.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is preferably 7.8 GPa or less, more preferably 7.0 GPa or less, even more preferably 6.6 GPa or less, and particularly preferably 6.4 GPa or less.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is 7.8 GPa or less, the elasticity of the magnetic tape MT due to external force is further increased, so that the adjustment of the width of the magnetic tape MT by tension adjustment becomes easier. Therefore, off-track can be further appropriately suppressed, and data recorded on the magnetic tape MT can be reproduced more accurately.
  • the lower limit of the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is preferably 2.5 GPa or more, more preferably 3.0 GPa or more.
  • the lower limit of the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is 2.5 GPa or more, the decrease in running stability can be suppressed.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is determined as follows. First, the magnetic tape MT housed in the cartridge 10 is unwound, and the magnetic tape MT is cut out to a length of 180 mm at a position 30 to 40 m in the longitudinal direction from one end of the outer periphery of the magnetic tape MT. Next, the underlayer 42, magnetic layer 43, and back layer 44 are removed from the cut magnetic tape MT to obtain the substrate 41. Using this substrate 41, the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is determined in the same manner as for the Young's modulus in the longitudinal direction of the magnetic tape MT.
  • the thickness of the base 41 accounts for more than half of the total thickness of the magnetic tape MT. Therefore, the Young's modulus in the longitudinal direction of the base 41 correlates with the resistance of the magnetic tape MT to expansion and contraction due to external forces; the larger this value, the less likely the magnetic tape MT is to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value, the more likely the magnetic tape MT is to expand and contract in the width direction due to external forces.
  • the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 is a value related to the longitudinal direction of the magnetic tape MT, but it also correlates with the difficulty of the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction. In other words, the larger this value is, the more difficult it is for the magnetic tape MT to expand and contract in the width direction due to external forces, and the smaller this value is, the more easily the magnetic tape MT will expand and contract in the width direction due to external forces. Therefore, from the perspective of tension adjustment, it is advantageous for the Young's modulus in the longitudinal direction of the substrate 41 to be small as described above, 7.8 GPa or less.
  • the metal carbonate includes at least one selected from the group consisting of, for example, barium carbonate (BaCO 3 ), strontium carbonate (SrCO 3 ), lead carbonate (PbCO 3 ), and calcium carbonate (CaCo 3 ).
  • the mixed material is then placed in a glass melting furnace and melted. At this time, it is preferable to stir the inside of the melting furnace in order to eliminate unevenness in the composition of the material.
  • the melted material is quenched. As a method of quenching, it is preferable to use roll quenching in order to increase the quenching efficiency and promote amorphization.
  • the quenched material is placed in a firing furnace and fired to crystallize it.
  • the firing temperature is preferably 530°C or higher and 650°C or lower.
  • the heating rate is preferably 1°C/min or higher and 15°C/min or lower.
  • the firing time is preferably 1 hour or higher and 24 hours or lower.
  • glass and impurities are removed from the fired material. Next, the removed material is washed with a ball mill, and then centrifugal separation and decantation are performed to remove impurities. This results in magnetic particles.
  • the paint for forming the undercoat layer is prepared by kneading and dispersing the non-magnetic particles and the binder in the solvent.
  • the paint for forming the magnetic layer is prepared by kneading and dispersing the magnetic particles and the binder in the solvent.
  • the magnetic particles produced as described above are used as the magnetic particles.
  • the following solvents, dispersing devices, and kneading devices can be used to prepare the paint for forming the magnetic layer and the paint for forming the undercoat layer.
  • Solvents used in preparing the above-mentioned paints include, for example, ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, and propanol; ester-based solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, propyl acetate, ethyl lactate, and ethylene glycol acetate; ether-based solvents such as diethylene glycol dimethyl ether, 2-ethoxyethanol, tetrahydrofuran, and dioxane; aromatic hydrocarbon-based solvents such as benzene, toluene, and xylene; and halogenated hydrocarbon-based solvents such as methylene chloride, ethylene chloride, carbon tetrachloride, chloroform, and chlorobenzene. These may be used alone or
  • the kneading device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a continuous twin-screw kneader, a continuous twin-screw kneader capable of dilution in multiple stages, a kneader, a pressure kneader, a roll kneader, etc., but is not limited to these devices.
  • the dispersing device used in the above-mentioned paint preparation may be, for example, a roll mill, a ball mill, a horizontal sand mill, a vertical sand mill, a spike mill, a pin mill, a tower mill, a pearl mill (for example, the "DCP Mill” manufactured by Eirich), a homogenizer, an ultrasonic dispersing machine, etc., but is not limited to these devices.
  • a coating material for forming a base layer is applied to one main surface of the substrate 41 and dried to form a base layer 42.
  • a coating material for forming a magnetic layer is applied to the base layer 42 and dried to form a magnetic layer 43 on the base layer 42.
  • the magnetic particles are magnetically oriented in the thickness direction of the substrate 41, for example, by a solenoid coil. Also, during drying, the magnetic particles may be magnetically oriented in the running direction (longitudinal direction) of the substrate 41, and then magnetically oriented in the thickness direction of the substrate 41, for example, by a solenoid coil.
  • the degree of vertical orientation of the magnetic particles i.e., the squareness ratio S1
  • the degree of vertical orientation of the magnetic particles i.e., the squareness ratio S1
  • a back layer 44 is formed on the other main surface of the substrate 41. This results in a magnetic tape MT.
  • the squareness ratios S1 and S2 are set to the desired values by, for example, adjusting the strength of the magnetic field applied to the coating film of the magnetic layer-forming paint, the concentration of the solids in the magnetic layer-forming paint, and the drying conditions (drying temperature and drying time) of the coating film of the magnetic layer-forming paint.
  • the strength of the magnetic field applied to the coating film is preferably two to three times the coercive force of the magnetic particles.
  • the magnetic tape MT is wound into a roll, and then the magnetic tape MT is subjected to a heat treatment in this state to harden the underlayer 42 and the magnetic layer 43 .
  • the magnetic tape MT may be demagnetized and then a servo pattern may be written onto the magnetic tape MT.
  • the magnetic tape MT is cut to a predetermined width (for example, 1/2 inch width).
  • the magnetic tape MT may be wound around a take-up hub and then subjected to a distortion relaxation process by being held in an environment at a predetermined temperature for a predetermined period of time. In this manner, the magnetic tape MT is obtained.
  • the magnetic particles contain hexagonal ferrite, and the ratio (Hc1/V XRD ) between the coercive force Hc1 of the magnetic layer 43 in the perpendicular direction of the magnetic tape MT and the crystallite volume V XRD of the magnetic particles obtained by measuring the material of the magnetic layer 43 by X-ray diffraction is 1.8 or more and 2.5 or less.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is 1.8 or more, the thermal stability can be maintained even when the magnetic tape MT is made to have a high recording density. Therefore, even when the magnetic tape MT is made to have a high recording density, the deterioration of the electromagnetic conversion characteristics can be suppressed. In addition, the written information can be suppressed from being erased due to the influence of thermal disturbance.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is 2.5 or less, saturation recording by the magnetic head becomes easy.
  • the magnetic tape cartridge 10 is a one-reel type cartridge, but it may be a two-reel type cartridge.
  • Fig. 11 is an exploded perspective view showing an example of the configuration of a two-reel type cartridge 321.
  • the cartridge 321 comprises an upper half 302 made of synthetic resin, a transparent window member 323 that fits into and is fixed to a window portion 302a opened on the upper surface of the upper half 302, a reel holder 322 that is fixed to the inside of the upper half 302 and prevents the reels 306 and 307 from floating up, a lower half 305 that corresponds to the upper half 302, the reels 306 and 307 that are stored in the space formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, the magnetic tape MT wound on the reels 306 and 307, a front lid 309 that closes the front opening formed by combining the upper half 302 and the lower half 305, and a back lid 309A that protects the magnetic tape MT exposed at this front opening.
  • Reels 306 and 307 are used to wind magnetic tape MT.
  • Reel 306 comprises a lower flange 306b having a cylindrical hub portion 306a in the center around which magnetic tape MT is wound, an upper flange 306c of approximately the same size as lower flange 306b, and a reel plate 311 sandwiched between hub portion 306a and upper flange 306c.
  • Reel 307 has the same configuration as reel 306.
  • the window member 323 has mounting holes 323a at positions corresponding to the reels 306 and 307 for attaching reel holders 322, which are reel holding means for preventing the reels from floating up.
  • the magnetic tape MT is the same as the magnetic tape MT in the first embodiment.
  • the average thickness of the magnetic tape, the average thickness of the magnetic layer, the average thickness of the underlayer, the average thickness of the back layer, the squareness ratio S1 of the magnetic layer in the perpendicular direction of the magnetic tape, and the squareness ratio S2 of the magnetic layer in the longitudinal direction of the magnetic tape are values determined by the measurement method described in the above embodiment.
  • Example 1 Magnetic particle manufacturing process
  • Barium ferrite magnetic particles were prepared as follows.
  • melt was quenched by twin roll quenching at a rotation speed of 150 rpm.
  • the quenched material was placed in a firing furnace and fired at a firing temperature of 550° C., a temperature rise rate of 5° C./min, and a firing time of 8 hours.
  • a coating material for forming a magnetic layer was prepared as follows. First, the first composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed first composition and the second composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, further mixing was performed with a dyno mill and filtering was performed to prepare a coating material for forming a magnetic layer.
  • the paint for forming the undercoat layer was prepared as follows. First, the third composition having the following composition was mixed with an extruder. Next, the mixed third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disperser and premixed. Then, further mixing was performed with a dyno mill and filtering was performed to prepare the paint for forming the undercoat layer.
  • Carbon black 30.0 parts by mass (manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80)
  • n-Butyl stearate 2.0 parts by weight Methyl ethyl ketone: 108.2 parts by weight Toluene: 108.2 parts by weight
  • Cyclohexanone 100.0 parts by weight
  • the coating material for forming the back layer was prepared as follows: The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disperser, and the mixture was filtered to prepare the coating material for forming the back layer.
  • Carbon black manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80
  • Polyester polyurethane 100.0 parts by mass
  • Methyl ethyl ketone 500.0 parts by mass Toluene: 400.0 parts by mass
  • Cyclohexanone 100.0 parts by mass Polyisocyanate (product name: Coronate L, manufactured by Tosoh Corporation): 10.0 parts by mass
  • PEN film long polyethylene naphthalate film
  • PEN film a long polyethylene naphthalate film
  • the undercoat layer forming paint was applied to one main surface of the PEN film and dried to form an undercoat layer having an average thickness of 1.15 ⁇ m after strain relaxation treatment.
  • the magnetic layer forming paint was applied to the undercoat layer and dried to form a magnetic layer having an average thickness of 0.07 ⁇ m after strain relaxation treatment.
  • the magnetic particles were magnetically oriented in the thickness direction of the film by a solenoid coil.
  • the squareness ratio S1 in the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic tape was set to 65%
  • the squareness ratio S2 in the longitudinal direction of the magnetic tape was set to 38%.
  • a coating material for forming a back layer was applied onto the other main surface of the PEN film and dried to form a back layer having an average thickness of 0.45 ⁇ m after strain relaxation treatment, thereby obtaining a magnetic tape.
  • the magnetic tape was wound into a roll, and then in this state, it was subjected to a heat treatment at 70° C. for 48 hours to harden the underlayer and the magnetic layer.
  • the magnetic tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm) and wound around a winding hub.
  • the magnetic tape wound around the winding hub is referred to as a pancake.
  • the pancake was subjected to a strain relaxation treatment by being kept in an environment of 60°C for 24 hours. As a result, a magnetic tape with an average thickness of 5.27 ⁇ m was obtained.
  • Example 2 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the manufacturing process of the magnetic particles, the blending amount of aluminum oxide (Al 2 O 3 ), which is a raw material, was changed to 13.88 parts by mass.
  • Example 3 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the manufacturing process of the magnetic particles, the sintering time was changed to 11 hours.
  • Example 4 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that 18.51 parts by mass of neodymium oxide (Nd 2 O 3 ) was weighed out as a raw material and further added in the magnetic particle manufacturing process.
  • Nd 2 O 3 neodymium oxide
  • Example 5 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the manufacturing process of the magnetic particles, the sintering time was changed to 15 hours.
  • Example 6 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the manufacturing process of the magnetic particles, 18.51 parts by mass of neodymium oxide (Nd 2 O 3 ) was weighed out and further added as a raw material, and the baking time was changed to 10 hours.
  • neodymium oxide Na 2 O 3
  • Example 1 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the magnetic particle manufacturing process, stirring was not performed inside the melting furnace when the stirred material was melted in the melting furnace, the melt was quenched by submerging it in water instead of quenching by twin roll quenching, and the firing temperature was changed to 600°C.
  • Example 2 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the magnetic particle manufacturing process, stirring was not performed inside the melting furnace when the stirred material was melted in the melting furnace, the melt was quenched by submerging it in water instead of quenching by twin roll quenching, and the firing temperature was changed to 590°C.
  • Example 3 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that in the magnetic particle manufacturing process, stirring was not performed inside the melting furnace when the stirred material was melted in the melting furnace, the melt was quenched by submerging it in water instead of quenching by twin roll quenching, and the firing temperature was changed to 580°C.
  • Example 4 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that the melting temperature in the magnetic particle manufacturing process was changed to 1,380°C.
  • Example 5 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that the sintering temperature in the magnetic particle manufacturing process was changed to 570°C.
  • Example 6 A magnetic tape was obtained in the same manner as in Example 1, except that the sintering temperature in the magnetic particle manufacturing process was changed to 530°C.
  • the S/N ratio when recording and reproducing with a recording wavelength twice the shortest recording bit length is generally used as the S/N of the signal amount S and the noise amount N.
  • the S/N at twice the recording bit length has a higher correlation with the error rate than the S/N at the shortest recording bit length.
  • the tape noise may be hidden by the system noise of the recording and reproducing system, and the noise characteristics of the media may not be reflected correctly. Especially in the case of high linear recording density recording, the noise characteristics of the media are often not reflected correctly.
  • the peak of the captured spectrum was then taken as the signal amount S, and the floor noise excluding the peak was integrated to obtain the noise amount N.
  • the ratio S/N of the signal amount S to the noise amount N was calculated as the SNR (Signal-to-Noise Ratio).
  • the calculated SNR was then converted into a relative value (dB) based on the SNR of Comparative Example 3 as the reference media. The results are shown in Table 1.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is 1.80 or more, so that the deterioration of the electromagnetic conversion characteristics (SNR) can be suppressed even at high recording density.
  • the ratio (Hc1/V XRD ) is less than 1.80, so that the electromagnetic conversion characteristics (SNR) deteriorate at high recording density.
  • the electromagnetic conversion characteristics (SNR) are particularly poor in Comparative Examples 1, 4, and 6. This is believed to be due to the following reasons.
  • the large decrease in electromagnetic conversion characteristics in Comparative Example 1 is believed to be due to the fact that the crystallite volume V XRD was very large at 2700 nm 3 , making it difficult to record at high recording density.
  • the large decrease in electromagnetic conversion characteristics in Comparative Example 4 is believed to be due to the very large coefficient of variation R ⁇ /D of 50% and the presence of magnetic particles of various sizes in the magnetic layer, which reduces packing and recording density and makes recording and reproduction difficult.
  • the large drop in electromagnetic conversion characteristics in Comparative Example 6 is believed to be due to thermal instability caused by the extremely low coercive force Hc1 of 1320 Oe.
  • a tape-shaped magnetic recording medium, A substrate and a magnetic layer are provided, the magnetic layer includes magnetic particles; the magnetic particles include hexagonal ferrite; a ratio (Hc1/V XRD ) of the coercive force Hc1 of the magnetic layer in the perpendicular direction of the magnetic recording medium to the crystallite volume V XRD of the magnetic grains obtained by measuring the material constituting the magnetic layer by an X- ray diffraction method is 1.80 or more and 2.50 or less; Magnetic recording media.
  • a coefficient of variation (( ⁇ /Dave) ⁇ 100) calculated by dividing the standard deviation ⁇ of the magnetic particles by the average particle size Dave of the magnetic particles is 45% or less; 1.
  • the crystallite volume V XRD of the magnetic particles is 2500 nm 3 or less; The magnetic recording medium according to (1) or (2).
  • the crystallite volume V XRD of the magnetic particles is 1400 nm 3 or less; The magnetic recording medium according to (1) or (2).
  • the coercivity Hc1 of the magnetic layer in the perpendicular direction of the magnetic recording medium is 1800 Oe or more and 3000 Oe or less;
  • the coercivity Hc1 of the magnetic layer in the perpendicular direction of the magnetic recording medium is 2300 Oe or more and 3000 Oe or less;
  • the hexagonal ferrite includes barium ferrite or strontium ferrite.
  • the magnetic layer has a servo pattern; the servo pattern includes a plurality of first magnetized regions and a plurality of second magnetized regions; the plurality of first magnetization regions and the plurality of second magnetization regions are asymmetric with respect to an axis parallel to a width direction of the magnetic recording medium; The magnetic recording medium according to any one of (1) to (7).
  • a tilt angle of the first magnetization region with respect to the axis and a tilt angle of the second magnetization region with respect to the axis are different, the larger of the inclination angle of the first magnetization region and the inclination angle of the second magnetization region is equal to or greater than 18° and equal to or less than 28°; (8)
  • a magnetic recording medium according to (8). (10) The average thickness of the magnetic recording medium is 5.30 ⁇ m or less.
  • the magnetic layer is configured to be capable of recording signals with a data track width of 800 nm or less and a bit length of 46 nm or less;
  • the average thickness of the underlayer is 0.90 ⁇ m or less.
  • the average thickness of the magnetic layer is 0.08 ⁇ m or less.
  • the average thickness of the substrate is 4.40 ⁇ m or less.

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  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

電磁変換特性の低下を抑制することができる磁気記録媒体を提供する。　磁気記録媒体は、テープ状の磁気記録媒体であって、基体と磁性層とを備える。磁性層は、磁性粒子を含み、磁性粒子は、六方晶フェライトを含む。磁気記録媒体の垂直方向における磁性層の保磁力Ｈｃ１と、磁性層の構成材料をＸ線回折法により測定して求められた磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が、１．８０以上２．５０以下である。

Description

磁気記録媒体およびカートリッジ
　本開示は、磁気記録媒体およびそれを備えるカートリッジに関する。
　近年、ＩＴ（情報技術）社会の発展等により、データストレージ用メディアとしてのテープ状の磁気記録媒体を高記録密度化する要求が高まっている。この要求に応えるべく、六方晶フェライト磁性粉の小粒子化が求められている。例えば特許文献１には、六方晶フェライト磁性粉の平均粒子体積Ｖを２０００ｎｍ３以下にすることにより、電磁変換特性を向上できることが開示されている。
特開２０２１－１１４３５２号公報
　しかしながら、磁性粉の平均粒子体積を規定範囲に設定しても、電磁変換特性が低下することがある。
　本開示の目的は、電磁変換特性の低下を抑制することができる磁気記録媒体およびカートリッジを提供することにある。
　上述の課題を解決するために、本開示に係る磁気記録媒体は、
　テープ状の磁気記録媒体であって、
　基体と磁性層とを備え、
　磁性層は、磁性粒子を含み、
　磁性粒子は、六方晶フェライトを含み、
　磁気記録媒体の垂直方向における磁性層の保磁力Ｈｃ１と、磁性層の構成材料をＸ線回折法により測定して求められた磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が、１．８０以上２．５０以下である。
　本開示に係るカートリッジは、本開示に係る磁気記録媒体を備える。
本開示の一実施形態に係るカートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。 カートリッジメモリの構成の一例を示すブロック図である。 磁気テープの構成の一例を示す断面図である。 データバンドおよびサーボバンドのレイアウトの一例を示す概略図である。 データバンドの構成の一例を示す拡大図である。 サーボバンドの構成の一例を示す拡大図である。 磁性層の剥離に用いられる装置の概略図である。 粒子の形状の一例を示す斜視図である。 磁性層の断面ＴＥＭ像の第１の例を示す図である。 磁性層の断面ＴＥＭ像の第２の例を示す図である。 本開示の一実施形態の変形例に係るカートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。
　本開示の実施形態について以下の順序で説明する。
　１　カートリッジの構成
　２　カートリッジメモリの構成
　３　磁気テープの構成
　４　磁気テープの製造方法
　５　作用効果
　６　変形例
　本明細書において、測定方法の説明に関して測定環境が特に記載のない場合、測定は２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨの環境下にて行われるものとする。
［１　カートリッジの構成］
　図１は、カートリッジ１０の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ１０は、１リールタイプのカートリッジであり、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂとで構成されるカートリッジケース１２の内部に、テープ状の磁気記録媒体（以下「磁気テープ」という。）ＭＴが巻かれた１つのリール１３と、リール１３の回転をロックするためのリールロック１４およびリールスプリング１５と、リール１３のロック状態を解除するためのスパイダ１６と、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂに跨ってカートリッジケース１２に設けられたテープ引出口１２Ｃを開閉するスライドドア１７と、スライドドア１７をテープ引出口１２Ｃの閉位置に付勢するドアスプリング１８と、誤消去を防止するためのライトプロテクト１９と、カートリッジメモリ１１とを備える。磁気テープＭＴを巻くためのリール１３は、中心部に開口を有する略円盤状であって、プラスチック等の硬質の材料からなるリールハブ１３Ａとフランジ１３Ｂとにより構成される。磁気テープＭＴの外周側の端部には、リーダーテープＬＴが接続されている。リーダーテープＬＴの先端には、リーダーピン２０が設けられている。
　カートリッジ１０は、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠した磁気テープカートリッジであってもよい。
　カートリッジメモリ１１は、カートリッジ１０の１つの角部の近傍に設けられている。カートリッジ１０が記録再生装置にロードされた状態において、カートリッジメモリ１１は、記録再生装置のリーダライタと対向するようになっている。カートリッジメモリ１１は、ＬＴＯ規格に準拠した無線通信規格で記録再生装置、具体的にはリーダライタと通信を行う。
［２　カートリッジメモリの構成］
　図２は、カートリッジメモリ１１の構成の一例を示すブロック図である。カートリッジメモリ１１は、規定の通信規格でリーダライタと通信を行うアンテナコイル（通信部）３１と、アンテナコイル３１により受信した電波から、誘導起電力を用いて発電、整流して電源を生成する整流・電源回路３２と、アンテナコイル３１により受信した電波から、同じく誘導起電力を用いてクロックを生成するクロック回路３３と、アンテナコイル３１により受信した電波の検波およびアンテナコイル３１により送信する信号の変調を行う検波・変調回路３４と、検波・変調回路３４から抽出されるデジタル信号から、コマンドおよびデータを判別し、これを処理するための論理回路等で構成されるコントローラ（制御部）３５と、情報を記憶するメモリ（記憶部）３６とを備える。また、カートリッジメモリ１１は、アンテナコイル３１に対して並列に接続されたキャパシタ３７を備え、アンテナコイル３１とキャパシタ３７により共振回路が構成される。
　メモリ３６は、カートリッジ１０に関連する情報等を記憶する。メモリ３６は、不揮発性メモリ（Non Volatile Memory：ＮＶＭ）である。メモリ３６の記憶容量は、好ましくは約３２ＫＢ以上である。
　メモリ３６は、第１の記憶領域３６Ａと第２の記憶領域３６Ｂとを有してもよい。第１の記憶領域３６Ａは、例えば、規定世代以前の磁気テープ規格（例えばＬＴＯ８以前のＬＴＯ規格）のカートリッジメモリの記憶領域に対応し、規定世代以前の磁気テープ規格に準拠した情報を記憶するための領域である。規定世代以前の磁気テープ規格に準拠した情報は、例えば製造情報（例えばカートリッジ１０の固有番号等）、使用履歴（例えばテープ引出回数（Thread Count））等である。
　第２の記憶領域３６Ｂは、規定世代以前の磁気テープ規格（例えばＬＴＯ８以前のＬＴＯ規格）のカートリッジメモリの記憶領域に対する拡張記憶領域に相当する。第２の記憶領域３６Ｂは、付加情報を記憶するための領域である。ここで、付加情報は、例えば、規定世代以前の磁気テープ規格（例えばＬＴＯ８以前のＬＴＯ規格）で規定されていない、カートリッジ１０に関連する情報を意味する。付加情報は、例えば、テンション調整情報、管理台帳データ、Index情報、およびサムネイル情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種の情報を含むが、これらのデータに限定されるものではない。テンション調整情報は、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションを調整するための情報である。テンション調整情報は、例えば、サーボバンド間の幅を磁気テープＭＴの長手方向に間欠的に測定して得られる情報、ドライブのテンション情報、およびドライブの温度と湿度の情報等からなる群より選ばれた少なくとも１種の情報を含む。これらの情報は、カートリッジ１０の使用状況に関する情報等と連携して管理されることもある。テンション調整情報は、磁気テープＭＴに対するデータ記録時、もしくはデータ記録前に取得されることが好ましい。ドライブのテンション情報とは、磁気テープＭＴの長手方向にかかるテンションの情報を意味する。
　管理台帳データは、磁気テープＭＴに記録されているデータファイルの容量、作成日、編集日および保管場所等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含むデータである。Index情報は、データファイルの内容を検索するためのメタデータなどである。サムネイル情報は、磁気テープＭＴに記憶された動画または静止画のサムネイルである。
　メモリ３６は、複数のバンクを有していてもよい。この場合、複数のバンクうちの一部のバンクにより第１の記憶領域３６Ａが構成され、残りのバンクにより第２の記憶領域３６Ｂが構成されてもよい。
　アンテナコイル３１は、電磁誘導により誘起電圧を誘起する。コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して、規定の通信規格で記録再生装置と通信を行う。具体的には例えば、相互認証、コマンドの送受信またはデータのやり取り等を行う。
　コントローラ３５は、アンテナコイル３１を介して記録再生装置から受信した情報をメモリ３６に記憶する。例えば、アンテナコイル３１を介して記録再生装置から受信したテンション調整情報をメモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂに記憶する。コントローラ３５は、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６から情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。例えば、記録再生装置の要求に応じて、メモリ３６の第２の記憶領域３６Ｂからテンション調整情報を読み出し、アンテナコイル３１を介して記録再生装置に送信する。
［３　磁気テープの構成］
　図３は、磁気テープＭＴの構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴは、長尺状の基体４１と、基体４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、基体４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープＭＴは、垂直記録型の磁気記録媒体であってもよいし、長手記録型の磁気記録媒体であってもよい。磁気テープＭＴは、走行性の向上の観点から、潤滑剤を含むことが好ましい。潤滑剤は、下地層４２および磁性層４３のうちの少なくとも１層に含まれていてもよい。
　磁気テープＭＴはＬＴＯ規格に準拠するものであってもよいし、ＬＴＯ規格とは別の規格に準拠するものであってもよい。磁気テープＭＴの幅は、１／２インチであってもよいし、１／２インチよりも広くてもよい。磁気テープＭＴがＬＴＯ規格に準拠するものである場合には、磁気テープＭＴの幅は、１／２インチである。磁気テープＭＴは、走行時に磁気テープＭＴの長手方向に加わるテンションを記録再生装置（ドライブ）により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことが可能な構成を有していてもよい。
　磁気テープＭＴは長尺状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。磁気テープＭＴは、記録ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープＭＴは、１２００ｎｍ以下または１０００ｎｍ以下のデータトラック幅でデータを記録可能に構成された記録再生装置に用いられることが好ましい。
　磁気テープＭＴは、ＴＭＲ素子を用いた再生ヘッドにより再生されることが好ましい。ＴＭＲを用いた再生ヘッドにより再生される信号は、データバンドＤＢ（図４参照）に記録されたデータであってもよいし、サーボバンドＳＢ（図４参照）に記録されたサーボパターン（サーボ信号）であってもよい。
（基体）
　基体４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。基体４１は、長尺のフィルム状を有する。基体４１の平均厚みの上限値は、好ましくは４．４０μｍ以下、より好ましくは４．２０μｍ以下、さらにより好ましくは４．００μｍ以下、特に好ましくは３．８０μｍ以下、最も好ましくは３．４０μｍ以下である。基体４１の平均厚みの上限値が４．４０μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。基体４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３．００μｍ以上、より好ましくは３．２０μｍ以上である。基体４１の平均厚みの下限値が３．００μｍ以上であると、基体４１の強度低下を抑制することができる。
　基体４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。本明細書において、“磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向”という場合の“長手方向”とは、磁気テープＭＴの外周側の一端から内周側の他端に向かう方向を意味する。
　続いて、サンプルの基体４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプル（基体４１）の厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、基体４１の平均厚みを算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　基体４１は、例えば、ポリエステル系樹脂を主成分として含む。ポリエステル系樹脂は、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）、ＰＢＮ（ポリブチレンナフタレート）、ＰＣＴ（ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート）、ＰＥＢ（ポリエチレン－ｐ(オキシベンゾエート）、およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。基体４１が２種以上のポリエステル系樹脂を含む場合、それらの２種以上のポリエステル系樹脂は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、または積層されていてもよい。ポリエステル系樹脂の末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。基体４１は、ポリエステル系樹脂に加えて、後述のポリエステル系樹脂以外の樹脂を含んでもよい。
　本明細書内において、「主成分」とは、基体４１を構成する成分のうち最も含有割合が高い成分であることを意味する。例えば、基体４１の主成分がポリエステル系樹脂である場合、基体４１中のポリエステル系樹脂の含有割合は、例えば、基体４１の質量に対して５０質量％以上、６０質量％以上、７０質量％以上、８０質量％以上、９０質量％以上、９５質量％以上、若しくは９８質量％以上であってもよいし、または、基体４１がポリエステル系樹脂のみから構成されていてもよい。
　基体４１にポリエステル系樹脂が含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、基体４１の平均厚みの測定方法と同様に、磁気テープＭＴを準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製した後、サンプルの基体４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（基体４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、基体４１にポリエステル系樹脂が含まれていることを確認することができる。
　基体４１は、ポリエステル系樹脂を含むことが好ましい。基体４１がポリエステル系樹脂を含むことで、基体４１の長手方向のヤング率を、好ましくは２．５ＧＰａ以上７．８ＧＰａ以下、より好ましくは３．０ＧＰａ以上７．０ＧＰａ以下に低減することができる。したがって、走行時における磁気テープＭＴの長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことができる。基体４１の長手方向のヤング率の測定方法については後述する。
　基体４１は、ポリエステル系樹脂以外の樹脂を含んでいてもよい。この場合、ポリエステル系樹脂以外の樹脂が基体４１の構成材料の主成分であってもよい。ポリエステル系樹脂以外の樹脂が基体４１の構成材料の主成分である場合、基体４１中のポリエステル系樹脂以外の樹脂の含有割合は、例えば、基体４１の質量に対して５０質量％以上、６０質量％以上、７０質量％以上、８０質量％以上、９０質量％以上、９５質量％以上、若しくは９８質量％以上であってもよいし、または、基体４１がポリエステル系樹脂以外の樹脂のみから構成されていてもよい。ポリエステル系樹脂以外の樹脂は、例えば、ポリオレフィン系樹脂、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。基体４１が、これらの樹脂のうちの２種以上を含む場合、それらの２種以上の材料は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、または積層されていてもよい。
　ポリオレフィン系樹脂は、例えば、ＰＥ（ポリエチレン）およびＰＰ（ポリプロピレン）からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。セルロース誘導体は、例えば、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ＣＡＢ（セルロースアセテートブチレート）、およびＣＡＰ（セルロースアセテートプロピオネート）からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。ビニル系樹脂は、例えば、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）およびＰＶＤＣ（ポリ塩化ビニリデン）からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　その他の高分子樹脂は、例えば、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）、およびＰＵ（ポリウレタン）からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。具体的には例えば、基体４１が、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）、またはＰＵ（ポリウレタン）を主成分として含んでもよい。
　基体４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。基体４１に含まれる高分子樹脂は、基体４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。
（磁性層）
　磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録することが可能に構成されている。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粒子および結着剤を含む。磁性層４３が、必要に応じて、導電粒子、研磨粒子、潤滑剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等からなる群より選ばれた少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。磁性層４３は、複数の突起を磁性面に有していてもよい。複数の突起は、例えば、磁性面から突出した導電粒子および研磨粒子等により形成されている。
　磁性層４３は、図４に示されるように、複数のサーボバンドＳＢと複数のデータバンドＤＢとを予め有していてもよい。複数のサーボバンドＳＢは、磁気テープＭＴの幅方向に等間隔で設けられている。隣り合うサーボバンドＳＢの間には、データバンドＤＢが設けられている。サーボバンドＳＢは、データの記録または再生時にヘッドユニット５６（具体的にはサーボリードヘッド５６Ａ、５６Ｂ）をガイドするためのものである。サーボバンドＳＢには、ヘッドユニット５６のトラッキング制御をするためのサーボパターン（サーボ信号）が予め書き込まれている。データバンドＤＢには、ユーザデータが記録される。
　後述の非対称のサーボストライプ１１３（図６参照）を読み取るために、ヘッドユニット５６は、図４に示されるように、データの記録および再生時において、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して斜めに維持可能に構成されていてもよい。あるいは、ヘッドユニット５６が、データの記録および再生時において、磁気テープＭＴの蛇行または変形に追従して、上記軸Ａｘに対して斜めになるように構成されていてもよい。磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘを基準とするヘッドユニット５６の傾斜角度は、好ましくは３°以上１８°以下、より好ましくは５°以上１５°以下である。
　磁性面（磁性層４３の表面）の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積ＳＳＢの比率Ｒｓ（＝（ＳＳＢ／Ｓ）×１００）の上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは４．０％以下、より好ましくは３．５％以下、さらにより好ましくは３．０％以下である。一方、磁性面の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積ＳＳＢの比率Ｒｓの下限値は、５以上のサーボバンドＳＢを確保する観点から、好ましくは１．０％以上である。
　磁性面全体の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積ＳＳＢの比率ＲＳは、以下のようにして求められる。磁気テープＭＴを、フェリコロイド現像液（株式会社シグマハイケミカル製、シグマーカーＱ）を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴを光学顕微鏡で観察し、サーボバンド幅ＷＳＢおよびサーボバンドＳＢの本数を測定する。次に、以下の式から比率Ｒｓを求める。
　比率Ｒｓ［％］＝（（（サーボバンド幅ＷＳＢ）×（サーボバンドＳＢの本数））／（磁気テープＭＴの幅））×１００
　サーボバンドＳＢの本数は、例えば、５＋４ｎ（但し、ｎは０以上の整数である。）以上である。サーボバンドＳＢの本数は、好ましくは５以上、より好ましくは９以上である。サーボバンドＳＢの本数が５以上であると、磁気テープＭＴの幅方向の寸法変化によるサーボ信号への影響を抑制し、よりオフトラックが少ない安定した記録再生特性を確保できる。サーボバンドＳＢの本数の上限値は特に限定されるものではないが、例えば３３以下である。
　サーボバンドＳＢの本数は、上記の比率ＲＳの算出方法と同様にして求められる。
　サーボバンド幅ＷＳＢの上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは９５μｍ以下、より好ましくは６５μｍ以下、さらにより好ましくは５０μｍ以下である。サーボバンド幅ＷＳＢの下限値は、好ましくは１０μｍ以上である。１０μｍ未満のサーボバンド幅ＷＳＢのサーボ信号を読み取り可能な磁気ヘッドは製造が困難である。
　サーボバンド幅ＷＳＢの幅は、上記の比率ＲＳの算出方法と同様にして求められる。
　磁性層４３は、図５に示されるように、データバンドＤＢに複数のデータトラックＴｋを形成可能に構成されている。データトラック幅Ｗの上限値は、トラック記録密度を向上し、高記録容量を確保する観点から、好ましくは１２００ｎｍ以下、１０００ｎｍ以下または８００ｎｍ以下、特に好ましくは６００ｎｍ以下ある。データトラック幅Ｗの下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　データトラック幅Ｗは以下のようにして求められる。まず、データが磁気テープＭＴの全面に記録されたカートリッジ１０を準備し、このカートリッジ１０から磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製する。続いて、サンプルの磁性層４３のデータバンドＤＢ部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は１０μｍ×１０μｍとし、当該１０μｍ×１０μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。場所の異なる３つの１０μｍ×１０μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られた３つのＭＦＭ像それぞれでトラック幅を１０ヶ所測定し、合計で３０ヶ所の測定値を取得し、３０ヶ所の測定値の平均値（単純平均である）を算出する。当該平均値が、データトラック幅Ｗである。トラック幅の測定には、Dimension3100に付属の解析ソフトが用いられる。なお、上記ＭＦＭの測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。
　磁性層４３は、高記録容量を確保する観点から、磁化反転間距離の最小値Ｌminが好ましくは４７ｎｍ以下、より好ましくは４４ｎｍ以下、さらにより好ましくは４２ｎｍ以下、特に好ましくは４０ｎｍ以下となるように、データを記録可能に構成されている。磁化反転間距離の最小値Ｌminの下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　磁化反転間距離の最小値Ｌminは以下のようにして求められる。まず、データトラック幅Ｗの測定方法と同様にして、サンプルを作製する。続いて、サンプルの磁性層４３のデータバンドＤＢ部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は２μｍ×２μｍとし、当該２μｍ×２μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。場所の異なる３つの２μｍ×２μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られたＭＦＭ像の記録パターンの二次元の凹凸チャートからビット間距離を５０個測定する。当該ビット間距離の測定は、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて行われる。測定された５０個のビット間距離のおよそ最大公約数となる値を磁化反転間距離の最小値Ｌminとする。なお、測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。
　データバンドＤＢに記録される信号のビット長Ｌbitは、磁気テープＭＴの記録密度の向上の観点から、好ましくは５０ｎｍ以下、より好ましくは４６ｎｍ以下、さらにより好ましくは４４ｎｍ以下、４２ｎｍ以下または４０ｎｍ以下である。
　データバンドＤＢに記録される信号のビット長Ｌbitは、磁化反転間距離の最小値Ｌminの測定方法と同様にして求められる。
　データバンドＤＢに記録される信号のビット面積は、磁気テープＭＴの記録密度の向上の観点から、好ましくは５３０００ｎｍ２以下、より好ましくは４５０００ｎｍ２以下、さらに好ましくは３７０００ｎｍ２以下、特に好ましくは３００００ｎｍ２以下である。
　データバンドＤＢに記録される信号のビット面積は以下のようにして求められる。まず、データトラック幅Ｗの測定方法と同様にして、３つのＭＦＭ像を得る。次に、データトラック幅Ｗの測定方法およびビット長Ｌbitの測定方法と同様にして、データトラック幅Ｗおよびビット長Ｌbitを求める。次に、データトラック幅Ｗおよびビット長Ｌbitを用いて、データバンドＤＢに記録される信号のビット面積（Ｗ×Ｌbit）を求める。
　サーボパターンは、磁化領域であって、磁気テープ製造時にサーボライトヘッドにより磁性層４３の特定の領域を特定方向に磁化することによって形成される。サーボバンドＳＢのうち、サーボパターンが形成されていない領域（以下「非パターン領域」という。）は、磁性層４３が磁化された磁化領域であってもよいし、磁性層４３が磁化されていない非磁化領域であってもよい。非パターン領域が磁化領域である場合、サーボパターン形成領域と非パターン領域とは、異なる方向（例えば逆方向）に磁化されている。
　ＬＴＯ規格では、サーボバンドＳＢには、図６に示されるように、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して傾斜した複数のサーボストライプ（線状の磁化領域）１１３からなるサーボパターンが形成されている。
　サーボバンドＳＢは、複数のサーボフレーム１１０を含んでいる。各サーボフレーム１１０は、１８本のサーボストライプ１１３から構成されている。具体的には、各サーボフレーム１１０は、サーボサブフレーム１（１１１）およびサーボサブフレーム２（１１２）から構成される。
　サーボサブフレーム１（１１１）は、Ａバースト１１１ＡおよびＢバースト１１１Ｂから構成される。Ｂバースト１１１Ｂは、Ａバースト１１１Ａに隣接して配置されている。Ａバースト１１１Ａは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して所定角度θ１で傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１１３を備えている。図６中では、これらの５本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴ（End Of Tape）からＢＯＴ（Beginning Of Tape）に向って符号Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、Ａ５を付して示している。
　Ｂバースト１１１Ｂは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して所定角度θ２で傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１１３を備えている。図６中では、これらの５本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５を付して示している。
　Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３は、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とは逆向きに傾斜している。Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とＢバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３とは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して非対称性を有している。すなわち、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とＢバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３は略ハの字状に配置されている。Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とＢバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３とが軸Ａｘに対して非対称性を有することで、ヘッドユニット５６が軸Ａｘに対して斜めに傾いたときに、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とＢバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３とがヘッドユニット５６の摺動面の中心軸に対して略対称になる状態が存在する。この状態を基準にしてヘッドユニット５６の傾きを変えることで、磁気テープＭＴの幅方向におけるサーボリードヘッド５６Ａ、５６Ｂ間の距離を調整することが可能になる。したがって、磁気テープＭＴの幅が広がった場合と磁気テープＭＴの幅が縮んだ場合の両方の場合において、サーボリードヘッド５６Ａ、５６ＢをそれぞれサーボバンドＳＢの規定位置に対向させることができる。なお、ヘッドユニット５６の摺動面の中心軸とは、ヘッドユニット５６の摺動面において、複数のサーボリードヘッド５６Ａ、５６Ｂの中心を通る軸を意味する。
　Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の傾斜角度である所定角度θ１と、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の傾斜角度である所定角度θ２とは異なっている。より具体的には、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きくてもよいし、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の所定角度θ２が、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の所定角度θ１に比べて大きくてもよい。すなわち、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の傾斜が、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の傾斜に比べて大きくてもよいし、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の傾斜が、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の傾斜に比べて大きくてもよい。なお、図６では、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きい例が示されている。以下では、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きい場合について説明する。
　サーボサブフレーム２（１１２）は、Ｃバースト１１２ＣおよびＤバースト１１２Ｄから構成される。Ｄバースト１１２Ｄは、Ｃバースト１１２Ｃに隣接して配置されている。Ｃバースト１１２Ｃは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して所定角度θ１で傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１１３を備えている。図６中では、これらの４本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４を付して示している。
　Ｄバースト１１２Ｄは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して所定角度θ２で傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１１３を備えている。図６中では、これらの４本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４を付して示している。
　Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３は、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とは逆向きに傾斜している。Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とＤバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３とは、磁気テープＭＴの幅方向に平行な軸Ａｘに対して非対称性を有している。すなわち、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とＤバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３は略ハの字状に配置されている。Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とＤバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３とが軸Ａｘに対して非対称性を有することで、ヘッドユニット５６が軸Ａｘに対して斜めに傾いたときに、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とＤバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３とがヘッドユニット５６の中心軸に対して略対称になる状態が存在する。この状態を基準にしてヘッドユニット５６の傾きを変えることで、サーボ間距離を調整することが可能になる。
　Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の傾斜角度である所定角度θ１と、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の傾斜角度である所定角度θ２とは異なっている。より具体的には、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きくてもよいし、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の所定角度θ２が、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の所定角度θ１に比べて大きくてもよい。すなわち、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の傾斜が、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の傾斜に比べて大きくてもよいし、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の傾斜が、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の傾斜に比べて大きくてもよい。なお、図６では、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きい例が示されている。以下では、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３の所定角度θ１が、Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３の所定角度θ２に比べて大きい場合について説明する。
　Ａバースト１１１ＡおよびＣバースト１１２Ｃにおけるサーボストライプ１１３の上記所定角度θ１は、好ましくは１８°以上２８°以下、より好ましくは１８°以上２６°以下である。Ｂバースト１１１ＢおよびＤバースト１１２Ｄにおけるサーボストライプ１１３の上記所定角度θ２は、好ましくは－４°以上６°以下、より好ましくは－２°以上６°以下である。Ａバースト１１１ＡおよびＣバースト１１２Ｃにおけるサーボストライプ１１３は、第１磁化領域の一例である。Ｂバースト１１１ＢおよびＤバースト１１２Ｄにおけるサーボストライプ１１３は、第２磁化領域の一例である。
　サーボバンドＳＢをヘッドユニット５６で読み取りことにより、テープ速度およびヘッドユニット５６の縦方向の位置を取得するための情報が得られる。テープ速度は、４つのタイミング信号（Ａ１－Ｃ１、Ａ２－Ｃ２、Ａ３－Ｃ３、Ａ４－Ｃ４）間の時間から計算される。ヘッド位置は、前述の４つのタイミング信号間の時間および別の４つのタイミング信号（Ａ１－Ｂ１、Ａ２－Ｂ２、Ａ３－Ｂ３、Ａ４－Ｂ４）間の時間から計算される。サーボパターンは、平行な２本の線を含む形状でもよい。
　図６に示されるように、サーボパターン（すなわち複数のサーボストライプ１１３）は、磁気テープＭＴの長手方向に向って直線的に配列されていることが好ましい。すなわち、サーボバンドＳＢは、磁気テープＭＴの長手方向に直線状を有していることが好ましい。
　磁性層４３の平均厚みｔ１の上限値は、好ましくは０．０８μｍ以下、より好ましくは０．０７μｍ以下、さらにより好ましくは０．０６μｍ以下である。磁性層４３の平均厚みｔ１の上限値が０．０８μｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みｔ１の下限値は、好ましくは０．０４μｍ以上である。磁性層４３の平均厚みｔ１の下限値が０．０４μｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性層４３の平均厚みｔ１は、以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に１０ｍから２０ｍの位置、３０ｍから４０ｍの位置、５０ｍから６０ｍの位置のそれぞれから磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し３つのサンプルを作製する。続いて、各サンプルをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長手方向に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた各薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、各薄片化サンプルのＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
　次に、得られた各薄片化サンプルのＴＥＭ像を用い、各薄片化サンプルの１０点の位置で磁性層４３の厚みを測定する。なお、各薄片化サンプルの１０点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、サンプルから無作為に選ばれる。得られた各薄片化サンプルの測定値（合計で３０点の磁性層４３の厚み）を単純に平均（算術平均）して得られた平均値を磁性層４３の平均厚みｔ１［ｎｍ］とする。
（磁性粒子）
　磁性粒子は、マグネトプランバイト型（Ｍ型）の六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）を含む。磁性粒子は、磁気テープＭＴの垂直方向に優先的に結晶配向していることが好ましい。本明細書において、磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）とは、平面状態にある磁気テープＭＴの厚み方向を意味する。
　六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状または六角柱状等の柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）を有する。本明細書において、六角板状は、略六角板状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ１２Ｏ１９で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒからなる群より選ばれた少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれた少なくとも１種の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
　磁性粒子の平均粒子サイズＤaveは、例えば、１３ｎｍ以上２０ｎｍ以下、１３ｎｍ以上１９ｎｍ以下、１３ｎｍ以上１８ｎｍ以下、１４ｎｍ以上１７ｎｍ以下または１４ｎｍ以上１６ｎｍ以下である。
　磁性粒子の標準偏差σを磁性粒子の平均粒子サイズＤaveで割ることにより求められる変動係数Ｒσ/D（＝（σ／Ｄave）×１００）が、好ましくは４５％以下、より好ましくは４０％以下、さらにより好ましくは３５％以下である。変動係数Ｒσ/Dが４５％以下であると、粒度分布のばらつきが小さいため、磁性層形成用塗料の調製工程における塗料分散性の悪化、データの書き込み性の悪化、および再生時の遷移ノイズの増加等を抑制することができる。したがって、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　変動係数Ｒσ/Dは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを切り出す。続いて、測定対象となる磁気テープＭＴをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
　得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製 H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ像を撮影する。ＴＥＭ像は、下記で示す磁性粒子の粒子サイズＤ（図８参照）を測定できる粒子を５０個抽出できる枚数準備する。
　上記のＴＥＭ像において観察される六方晶フェライト粒子の形状は、図８に示されるように、板状または柱状（但し、厚さまたは高さが板面または底面の長径より小さい。）であるため、磁性粒子の板面または底面の長径（板径）を磁性粒子の粒子サイズＤとする。
　次に、撮影したＴＥＭ像から抽出する５０個の粒子を、下記の基準に基づき選び出す。粒子の一部がＴＥＭ像の視野の外にはみだしている粒子は測定せず、輪郭がはっきりしており、孤立して存在している粒子を測定する。粒子同士に重なりがある場合は、両者の境界が明瞭で、粒子全体の形状も判断可能な粒子は、それぞれの粒子を単独粒子として測定するが、境界がはっきりせず、粒子の全形も判らない粒子は、粒子の形状が判断できないものとして測定しない。
　図９、図１０にそれぞれ、ＴＥＭ像の第１の例、第２の例を示す。図９、図１０において、例えば矢印ａおよびｂで示される磁性粒子が、その粒子サイズ（板径）Ｄを明らかに確認できるので、選択される。なお、図９、図１０において、例えば矢印ｃおよびｄで示される粒子は、参考のために示される粒子であり、その粒子の板厚（その粒子の厚さまたは高さ）Ｔを明らかに確認できる粒子である。
　次に、選択された５０個の磁性粒子それぞれの粒子サイズＤを測定する。このようにして求めた粒子サイズＤを単純平均（算術平均）して磁性粒子の平均粒子サイズＤａｖｅおよび磁性粒子の標準偏差σを算出する。次に、上記のようにして算出された磁性粒子の平均粒子サイズＤａｖｅおよび磁性粒子の標準偏差σを用いて、変動係数Ｒσ/D（＝（σ／Ｄave）×１００）を算出する。
　磁気テープＭＴの状態における磁性粒子の結晶子サイズＤXRDの上限値は、好ましくは１５ｎｍ以下、より好ましくは１４ｎｍ以下である。磁気テープ状態における磁性粒子の結晶子サイズＤXRDが１５ｎｍ以下であると、記録密度を向上させることができる。したがって、優れた電磁変換特性を得ることができる。本明細書において、磁気テープＭＴの状態における磁性粒子の結晶子サイズＤXRDとは、磁気テープＭＴの磁性層４３の構成材料を取り出し、当該構成材料をＸＲＤ（Ｘ線回折法）により測定して求められた磁性粒子の結晶子サイズを表す。
　磁気テープＭＴの状態における磁性粒子の結晶子サイズＤXRDの下限値は、好ましくは１１ｎｍ以上、より好ましくは１２ｎｍ以上である。磁気テープ状態における磁性粒子の結晶子サイズＤXRDが１１ｎｍ以上であると、磁気的に十分な熱安定性を保持することができ、磁気テープＭＴの長期保存信頼性を担保することができる。
　磁性粒子の板径の数値範囲は、上記上限値のいずれかと上記下限値のいずれかとにより規定されてよく、好ましくは１１ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは１２ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。
　磁気テープＭＴの状態における磁性粒子の結晶子体積ＶXRDの上限値は、好ましくは２５００ｎｍ３以下、より好ましくは１８００ｎｍ３以下、さらに好ましくは１４００ｎｍ３以下、特に好ましくは１２００ｎｍ３以下である。結晶子体積ＶXRDが２５００ｎｍ３以下であると、高記録密度の磁気テープＭＴにおいて、優れた電磁変換特性を得ることができる。本明細書において、磁気テープＭＴの状態における磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとは、磁気テープＭＴの磁性層４３の構成材料を取り出し、当該構成材料をＸＲＤにより測定して求められた磁性粒子の結晶子体積を表す。
　磁性粒子の結晶子体積ＶXRDの下限値は、好ましくは９００ｎｍ３以上、より好ましくは１０００ｎｍ３以上である。結晶子体積ＶXRDが９００ｎｍ３以上であると、熱擾乱による磁気特性の劣化を抑制することができるので、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁性粒子の結晶子体積ＶXRDの数値範囲は、上記上限値のいずれかと上記下限値のいずれかとにより規定されてよく、好ましくは９００ｎｍ３以上２５００ｎｍ３以下、より好ましくは９００ｎｍ３以上１８００ｎｍ３以下、さらに好ましくは９００ｎｍ３以上１４００ｎｍ３以下、特に好ましくは９００ｎｍ３以上１２００ｎｍ３以下であってもよい。
　磁性粒子の結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDは以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴが巻き取られたリール２１１を、図７に示される走行系（例えばMountain engineering II社製 MTS Transport 2' x 3' deck ）に取り付けた。不織布２１４を支持する支持部材２１５とブレード２１３が当該走行系に設けられている。支持部材２１５はブレード２１３よりも走行経路の上流側に設けられている。エタノール、メチルエチルケトンまたはアセトン等の溶媒が、不織布２１４には染み込まされている。
　次に、リール２１１から磁気テープＭＴの外周側の一端を巻き出し、テープ走行ガイド２２１、２２２、２２３、２２４、２２５、２２６が設けられた所定の走行経路に磁気テープＭＴをセットし、磁気テープＭＴの一端をリール２１２に固定した。
　次に、走行系を駆動すると共に、ブレード２１３および不織布２１４を磁性層４３の表面に摺動させた。これにより、不織布２１４により磁性層４３の表面が湿潤された後に、ブレード２１３により磁性層４３の表面が薄く剥がし取られ、磁性層４３の剥離物（磁性層４３の構成材料）２１６が取得される。剥離物２１６の取得は、剥離物２１６の量が後述のＸＲＤの測定に必要な量に到達するまで行われる。１つのリール２１１の磁気テープＭＴから必要量の剥離物２１６が取得されない場合には、２以上のリール２１１の磁気テープＭＴから必要量の剥離物２１６が取得される。例えばカートリッジ１０がＬＴＯ９規格のカートリッジである場合には、１巻のカートリッジ１０の磁気テープＭＴから１０００ｍ程度の長さにわたって磁性層４３を剥がし取ることにより、必要量の剥離物２１６が取得される。
　次に、ＸＲＤ用無反射シリコン試料板の窪み（円形、直径５ｍｍΦ）に剥離物２１６を入れ、ガラス板で摺り切り平らにならすことにより測定サンプルを作製した。次に、集中法により測定サンプルのＸ線回折パターンプロファイルを取得し、当該Ｘ線回折パターンプロファイルをVoigt関数を用いてピーク分離し、（０，０，６）面の回折ピークから結晶子サイズＤ１を算出する。また、（２，２，０）面の回折ピークから結晶子サイズＤ２を算出する。結晶子サイズＤ１および結晶子サイズＤ２の算出には、以下のScherrerの式を用いる。
　Scherrerの式：Ｄｘ＝Ｋλ／Ｂｃｏｓθ
　Ｄｘ：結晶子サイズ（ｎｍ）
　λ：測定Ｘ線の波長（ｎｍ）
　Ｂ：結晶子の大きさによる回折線の広がり（回折ピークの半値幅）
　θ：回折ピークが現れる角度
　Ｋ：Ｓｃｈｅｒｒｅｒ定数（＝０．９４）
　Ｘ線回折の測定条件は以下のとおりである。
　使用機器：ＸＲＤ（Ｕｌｔｉｍａ　ＩＶ、Ｒｉｇａｋｕ　製）
　測定モード：集中法
　線源：Ｃｏ（ＣｏＫα線、波長λ＝０．１７９ｎｍ）
　電圧：４０ｋＶ
　電流：４０ｍＡ
　発散スリット：１／２°
　発散縦制限スリット：２ｍｍ
　散乱スリット：８ｍｍ
　受光スリット：開放
　ステップ幅：０．０２°
　スキャンスピード：１°／ｍｉｎ
　走査範囲：２０°から８０°
　解析ソフト：ＰＤＸＬ２
　次に、以下の式により、磁性粒子の結晶子体積ＶXRDを求める。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 　但し、Ｄ１は、（０，０，６）面の回折ピークから算出された結晶子サイズであり、Ｄ２は、（２，２，０）面の回折ピークから算出された結晶子サイズである。例えば、磁性粒子がバリウムフェライト粒子である場合、Ｄ１は、２θ＝約２６．７°（（０，０，６）面）の回折ピークから算出された結晶子サイズであり、Ｄ２は、２θ＝約７４．９°（（２，２，０）面）の回折ピークから算出された結晶子サイズである。
（結着剤）
　結着剤は、例えば、熱可塑性樹脂を含む。結着剤は、熱硬化性樹脂または反応型樹脂等をさらに含んでいてもよい。
　熱可塑性樹脂は、塩素原子を含む第１熱可塑性樹脂（第１結着剤）と、窒素原子を含む第２熱可塑性樹脂（第２結着剤）とを含む。より具体的には、熱可塑性樹脂は、塩化ビニル系樹脂とウレタン系樹脂とを含む。本明細書において、塩化ビニル系樹脂とは、塩化ビニルに由来する構造単位を含む重合体を意味する。より具体的には例えば、塩化ビニル系樹脂は、塩化ビニルの単独重合体、塩化ビニルとこれに共重合可能なコモノマーとの重合体、およびこれらの重合体の混合物のことを意味する。
　塩化ビニル系樹脂は、例えば、塩化ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体およびメタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　ウレタン系樹脂とは、樹脂を構成する分子鎖の少なくとも一部にウレタン結合を含む樹脂を意味し、ウレタン樹脂であってもよく、分子鎖の一部にウレタン結合を含む共重合体であってもよい。ウレタン系樹脂は、例えば、ポリイソシアネートと、ポリオールとを反応させて得られるものであってもよい。あるいは、ウレタン系樹脂は、例えば、ポリエステルと、ポリオールとを反応させて得られるものであってもよい。本明細書において、ウレタン系樹脂には、硬化剤との反応により得られたものも含まれる。
　ポリイソシアネートは、例えば、ジフェニルメタンジイソシアネート（ＭＤＩ）、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）、キシリレンジイソシアネート（ＸＤＩ）、１，５－ペンタメチレンジイソシアネート（ＰＤＩ）、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＤＩ）およびイソホロンジイソシアネート（ＩＰＤＩ）等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。本明細書において、ポリイソシアネートとは、分子内にイソシアネート基を２個以上有する化合物を意味する。ポリイソシアネートは、硬化剤に含まれるポリイソシアネートであってもよい。
　ポリオールとしては、ＯＨ基を２個以上有するポリオールであれば、任意の適切なポリオールを採用し得る。ポリオールは、例えば、ＯＨ基を２個有するポリオール（ジオール）、ＯＨ基を３個有するポリオール（トリオール）、ＯＨ基を４個有するポリオール（テトラオール）、ＯＨ基を５個有するポリオール（ペンタオール）、およびＯＨ基を６個有するポリオール（ヘキサオール）等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。ポリオールは、具体的には例えば、ポリエステル系ポリオール、ポリエーテル系ポリオール、ポリカーボネート系ポリオール、ポリエステルアミド系ポリオール、およびアクリレート系ポリオール等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　ポリエステルは、例えば、フタル酸系ポリエステルおよび脂肪族系ポリエステルからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　熱可塑性樹脂が、塩化ビニル系樹脂およびウレタン系樹脂以外の熱可塑性樹脂をさらに含んでいてもよい。このような熱可塑性樹脂は、例えば、酢酸ビニル、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、および合成ゴム等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　熱硬化性樹脂は、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂および尿素ホルムアルデヒド樹脂等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　上記の全ての結着剤には、磁性粒子の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ３Ｍ、－ＯＳＯ３Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）２（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３＋Ｘ－で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２＋Ｘ－で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ－はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０－１以上１０－８モル／ｇ以下であるのが好ましく、１０－２以上１０－６モル／ｇ以下であるのがより好ましい。
（導電粒子）
　磁性層４３に含まれる導電粒子のうちの一部の粒子は、磁性面から突出し、複数の突起を形成していてもよい。複数の突起が導電粒子により形成されることで、磁性面の電気抵抗を低減し、磁性面の帯電を抑えることができる。また、磁気テープＭＴの走行時においてヘッドユニット５６と磁性面との間の動摩擦を低減することができる。
　導電粒子は、帯電防止剤であり、かつ、固体潤滑剤であることが好ましい。導電粒子は、カーボンを含む粒子であることが好ましい。カーボンを含む粒子としては、例えば、カーボン粒子、およびハイブリッド粒子からなる群より選ばれた少なくとも１種を用いることができ、カーボン粒子を用いることが好ましい。導電粒子の平均１次粒子サイズが、好ましくは１００ｎｍ以下である。導電粒子の平均１次粒子サイズが１００ｎｍ以下であると、導電粒子が粒度分布の大きい粒子（例えばカーボンブラック等）である場合にも、磁性層４３の厚みに対して過度に大きい粒子の含有が抑制される。
　カーボン粒子としては、例えば、カーボンブラック、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、カーボンナノチューブおよびグラフェンからなる群より選ばれる１種以上を用いることができ、これらのカーボン粒子のうちでもカーボンブラックを用いることが好ましい。カーボンブラックとしては、例えば、東海カーボン社製のシーストＴＡ、旭カーボン社の旭＃１５、＃１５ＨＳ等を用いることができる。
　ハイブリッド粒子は、カーボンとカーボン以外の材料とを含む。カーボン以外の材料は、例えば、有機材料または無機材料である。ハイブリッド粒子は、無機粒子表面にカーボンが付着されたハイブリッド粒子であってもよい。具体的には例えば、シリカ粒子表面にカーボンが付着されたハイブリッドカーボンであってもよい。
（研磨粒子）
　磁性層４３に含まれる研磨粒子のうちの一部の粒子は、磁性面から突出し、複数の突起を形成していてもよい。ヘッドユニット５６と磁気テープＭＴの摺動時に、研磨粒子により形成された突起は、ヘッドユニット５６と接触することが可能である。
　研磨粒子のモース硬度の下限値は、ヘッドユニット５６との接触による変形を抑制する観点から、好ましくは７．０以上、より好ましくは７．５以上、さらにより好ましくは８．０以上、特に好ましくは８．５以上である。研磨粒子のモース硬度の上限値は、ヘッドユニット５６の摩耗を抑制する観点から、好ましくは９．５以下である。
　研磨粒子は、無機粒子であることが好ましい。無機粒子としては、例えば、α化率９０％以上のα－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α－酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ－バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの、ダイヤモンド粉末等が挙げられる。無機粒子としては、α－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ等のアルミナ粒子、炭化ケイ素を用いることが好ましい。研磨粒子は、針状、球状、サイコロ状等のいずれの形状でもよいが、形状の一部に角を有するものが、高いアブラシビティを有するので好ましい。
（潤滑剤）
　潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープＭＴの走行安定性の向上に貢献する。より特には、磁性層４３が潤滑剤を含み且つ細孔を有することによって、良好な走行安定性が達成される。当該走行安定性の向上は、磁気テープＭＴの磁性層４３側表面の動摩擦係数が上記潤滑剤により、磁気テープＭＴの走行に適した値へ調整されるためと考えられる。
　脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
　また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）、（４）または（５）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物、一般式（４）により示される化合物および一般式（５）により示される化合物のうちの１種、２種または３種が含まれていてもよい。
　潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物、一般式（４）に示される化合物および一般式（５）により示される化合物のうちの１種、２種または３種と、を含むことによって、磁気テープＭＴの繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。
　ＣＨ3（ＣＨ2）kＣＯＯＨ　・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ2）mＣＯＯＨ　・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ（ＣＨ2）qＣＨ3　・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）rＣＯＯ－（ＣＨ2）sＣＨ（ＣＨ3）2　・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
　ＣＨ3（ＣＨ2）ｔＣＯＯ－（ＣＨ）（ＣＨ3）ＣＨ2（ＣＨ3）ｕ　・・・（５）
（但し、一般式（５）において、ｔは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｕは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
（帯電防止剤）
　帯電防止剤は、カーボン粒子を含む。帯電防止剤が、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤およびカチオン性界面活性剤等からなる群より選ばれた少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。カーボン粒子は、例えば、カーボンブラック、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、カーボンナノチューブおよびグラフェンからなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
（硬化剤）
　硬化剤は、例えば、ポリイソシアネート等を含む。ポリイソシアネートは、例えば、ジフェニルメタンジイソシアネート（ＭＤＩ）、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）、キシリレンジイソシアネート（ＸＤＩ）、１，５－ペンタメチレンジイソシアネート（ＰＤＩ）、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＤＩ）またはイソホロンジイソシアネート（ＩＰＤＩ）等をイソシアネート源として含むものであってもよい。ポリイソシアネートは、ＴＭＰアダクト構造、イソシアヌレート構造、ビウレット構造またはアロファネート構造等を有していてもよい。
　ポリイソシアネートは、具体的には例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等を含む。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００以上３０００以下の範囲であることが望ましい。
（防錆剤）
　防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。
（非磁性補強粒子）
　非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。
（下地層）
　下地層４２は、基体４１の表面の凹凸形状を緩和し、磁性面の凹凸形状を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粒子、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等からなる群より選ばれた少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。
　下地層４２の平均厚みｔ２は、好ましくは０．３０μｍ以上１．２０μｍ以下、より好ましくは０．３０μｍ以上０．９０μｍ以下、０．３０μｍ以上０．６０μｍ以下である。なお、下地層４２の平均厚みｔ２は、磁性層４３の平均厚みｔ１と同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。下地層４２の平均厚みｔ２が１．２０μｍ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。
　下地層４２は、複数の孔部を有していることが好ましい。これらの複数の孔部に潤滑剤が蓄えられることで、繰り返し記録または再生を行った後にも（すなわちヘッドユニット５６を磁気テープＭＴの表面に接触させて繰り返し走行を行った後にも）、磁性面とヘッドユニット５６の間に対する潤滑剤の供給量の低下をさらに抑制することができる。したがって、動摩擦係数の増加をさらに抑制することができる。すなわち、優れた走行安定性を得ることができる。
（非磁性粒子）
　非磁性粒子は、例えば無機粒子および有機粒子の少なくとも１種を含む。また、非磁性粒子は、カーボンブラック等の炭素粒子であってもよい。なお、１種の非磁性粒子を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粒子を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粒子の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。
（結着剤、潤滑剤）
　結着剤および潤滑剤は、上記の磁性層４３と同様である。
（添加剤）
　帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上記の磁性層４３と同様である。
（バック層）
　バック層４４は、結着剤および非磁性粒子を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等からなる群より選ばれた少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粒子は、上記の下地層４２と同様である。硬化剤および帯電防止剤は、上記の磁性層４３と同様である。
　非磁性粒子の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。非磁性粒子が、２以上の粒度分布を有する非磁性粒子を含んでいてもよい。
　非磁性粒子の平均粒子サイズは、以下のようにして求められる。まず、上記の変動係数Ｒσ/Dの測定方法と同様の手順で、薄片サンプルを取得し、当該薄片サンプルを用いて下地層４２の断面ＴＥＭ像を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ像から、非磁性粒子の形状を明らかに確認することができる５０個の非磁性粒子を選び出し、各非磁性粒子の長軸長ＤＬを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各非磁性粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる最大フェレ径）を意味する。続いて、測定した５０個の非磁性粒子の長軸長ＤＬを単純に平均（算術平均）して平均長軸長ＤＬaveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬaveを非磁性粒子の平均粒子サイズとする。
　バック層４４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６０μｍ以下である。バック層４４の平均厚みの上限値が０．６０μｍ以下であると、磁気テープＭＴの平均厚みが５．３０μｍ以下である場合でも、下地層４２や基体４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープＭＴの記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２０μｍ以上である。
　バック層４４の平均厚みｔｂは以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴの平均厚みｔＴを測定する。平均厚みｔＴの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出しサンプルを作製する。次に、サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔＢ［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔｂ［μｍ］を求める。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　ｔｂ［μｍ］＝ｔＴ［μｍ］－ｔＢ［μｍ］
（磁気テープの平均厚み）
　磁気テープＭＴの平均厚み（平均全厚）ｔＴの上限値が、好ましくは５．３０μｍ以下、より好ましくは５．１０μｍ以下、さらにより好ましくは４．９０μｍ以下、特に好ましくは４．７０μｍ以下である。磁気テープＭＴの平均厚みｔＴが５．３０μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。磁気テープＭＴの平均厚みｔＴの下限値は特に限定されるものではないが、例えば３．５０μｍ以上である。
　磁気テープＭＴの平均厚みｔＴは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均厚みｔＴ［μｍ］を算出する。なお、上記５点の測定位置は、磁気テープＭＴの長手方向においてそれぞれ異なる位置となるように、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
（保磁力Ｈｃ１）
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１の上限値が、好ましくは３０００Ｏｅ以下、より好ましくは２７００Ｏｅ以下である。
保磁力Ｈｃ１が大きいほど熱擾乱の影響を受けにくくなるが、保磁力Ｈｃ１が３０００Ｏｅを超えると、記録ヘッドでの飽和記録が困難となる虞がある。飽和記録が困難になると、磁性層４３に記録できない部分が存在しノイズが増加し、結果として電磁変換特性が悪化する虞がある。
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１の下限値が、好ましくは１８００Ｏｅ以上、より好ましくは２０００Ｏｅ以上が好ましく、さらにより好ましくは２３００Ｏｅ以上である。保磁力Ｈｃ１の下限値が１８００Ｏｅ以上であると、書き込んだデータが熱擾乱による影響により消えるのを抑制することができる。
　垂直方向の保磁力Ｈｃ１は以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴが巻き出され、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０の位置で磁気テープＭＴを切り出される。次に、磁気テープＭＴの長手方向の向きが同じになるように、磁気テープＭＴが両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープＭＴの長手方向(走行方向)が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気テープＭＴの垂直方向（磁気テープＭＴの厚み方向）に対応する測定サンプル（磁気テープＭＴ全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基体４１のみが残される。そして、得られた基体４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」という。）とされる。その後、ＶＳＭが用いられて基体４１の垂直方向（磁気テープＭＴの厚み方向）に対応する補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが測定される。
　測定サンプル（磁気テープＭＴ全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。
　２つのＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープＭＴ全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭＰ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループから垂直方向の保磁力Ｈｃ１が求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨにて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの垂直方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。
（角形比）
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の角形比Ｓ１が、好ましくは６２％以上、より好ましくは６５％以上、さらにより好ましくは６８％以上、特に好ましくは７２％以上、最も好ましくは７５％以上である。角形比Ｓ１が６２％以上であると、磁性粒子の垂直配向性が十分に高くなるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　磁気テープＭＴの垂直方向における角形比Ｓ１は以下のようにして求められる。まず、保磁力Ｈｃ１の測定方法と同様にして、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。
　得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）が以下の式に代入されて、角形比Ｓ１（％）が計算される。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００
　磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２が、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２が３５％以下であると、磁性粒子の垂直配向性が十分に高くなるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。なお、磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の角形比Ｓ１、および磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２のうちの一方が、上記の好ましい範囲内にあり、他方が、上記の好ましい範囲から外れていてもよい。あるいは、磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の角形比Ｓ１、および磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２の両方が、上記の好ましい範囲内にあってもよい。
　磁気テープＭＴの長手方向における角形比Ｓ２は、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴおよび基体４１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。
（比Ｈｃ２／Ｈｃ１）
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と、磁気テープＭＴの長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の比Ｈｃ２／Ｈｃ１が、好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８、より好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．７５、さらにより好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．７、特に好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．６５、最も好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．６の関係を満たす。保磁力Ｈｃ１、Ｈｃ２がＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８の関係を満たすことで、磁性粒子の垂直配向度を高めることができる。したがって、磁化遷移幅を低減し、かつ信号再生時に高出力の信号を得ることができるので、優れた電磁変換特性を得ることができる。なお、上記のように、Ｈｃ２が小さいと、記録ヘッドからの垂直方向の磁界により感度良く磁化が反応するため、良好な記録パターンを形成することができる。
　比Ｈｃ２／Ｈｃ１がＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８である場合、磁性層４３の平均厚みｔ１が９０ｎｍ以下であることが特に有効である。磁性層４３の平均厚みｔ１が９０ｎｍを超えると、記録ヘッドとしてリング型ヘッドを用いた場合に、磁性層４３の下部領域（下地層４２側の領域）が磁気テープＭＴの長手方向に磁化されてしまい、磁性層４３を厚み方向に均一に磁化することができなくなる虞がある。したがって、比Ｈｃ２／Ｈｃ１をＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８としても（すなわち、磁性粒子の垂直配向度を高めても）、優れた電磁変換特性を得られなくなる虞がある。
　Ｈｃ２／Ｈｃ１の下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．５≦Ｈｃ２／Ｈｃ１である。なお、Ｈｃ２／Ｈｃ１は磁性粒子の垂直配向度を表しており、Ｈｃ２／Ｈｃ１が小さいほど磁性粒子の垂直配向度が高くなる。
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１は、上記の通りである。磁気テープＭＴの長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の算出方法は、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴおよび基体４１の長手方向に測定すること以外は磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と同様にして求められる。
（比率（Ｈｃ１／ＶXRD））
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と、Ｘ線回折法により求められた磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）の下限値が、好ましくは１．８０以上、より好ましくは２．００以上である。比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が１．８０以上であると、磁気テープＭＴを高記録密度化した場合にも、熱安定性を維持することができる。したがって、磁気テープＭＴを高記録密度化した場合にも、電磁変換特性の低下を抑制することができる。また、書き込んだ情報が熱擾乱による影響で消えるのを抑制することができる。
　磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と、Ｘ線回折法により求められた磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）の上限値が、２．５０以下である。比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が大きいほど熱安定性を高めることができるが、比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が２．５０を超えると、磁気ヘッドでの飽和記録が困難となる虞がある。
　比率（Ｈｃ１／ＶXRD）は、上記のようにして求められた磁性層４３の保磁力Ｈｃ１および磁性粒子の結晶子体積ＶXRDを用いて求められる。
　磁気テープＭＴの状態における結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDは、磁気テープＭＴの断面ＴＥＭ像から測定された粒子サイズおよび粒子体積とは異なる。断面ＴＥＭにより観察できるのは、磁性粒子の外観上の大きさであるのに対して、結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDが示すのは、磁性粒子内部の結晶部分のサイズおよび体積である。磁性粒子の表面は、化学構造的に不安定であるため、磁石として機能する実効的な粒子体積に寄与しない。一方、ＸＲＤで測定された結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDは、磁石として機能する実効的な粒子のサイズおよび体積と見なすことができる。
　磁気テープＭＴの断面ＴＥＭ像から測定された粒子サイズおよび粒子体積や、塗料化前の磁性粉の状態でＸＲＤにより測定された結晶子サイズおよび結晶子体積を規定しても、磁気テープＭＴの状態における結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDを特定することは困難である。磁気テープＭＴの作製工程（主として磁性層形成用塗料の調製工程）にて、ビーズ等の分散メディアにより磁性粒子が損傷する虞がある。磁性粒子が半分に割れる等の大きな損傷はＴＥＭ等の電子顕微鏡で観察することはできるが、粒子表面が１分子分削れる等の微小な変化や内部の欠損等は、ＴＥＭ等の電子顕微鏡による外観上の観察では判別することは困難である。磁気テープＭＴの状態における結晶子サイズＤXRDおよび結晶子体積ＶXRDの測定では、磁気テープＭＴの作製工程を経て最終的に磁石として振る舞う実効的な磁性粒子のサイズおよび体積を知ることができる。
　磁気テープＭＴの断面ＴＥＭ像から測定される粒子体積Ｖａを用いて比率（Ｈｃ１／Ｖａ）を規定の範囲に設定しても、優れた電磁変換特性を得ることは困難である。同様に、塗料化前の磁性粉の状態でＸＲＤにより測定される結晶子体積Ｖｂを用いて比率（Ｈｃ１／Ｖｂ）を規定の範囲に設定しても、優れた電磁変換特性を得ることは困難である。これに対して、本実施形態では、磁気テープＭＴの状態における結晶子体積ＶXRDを用いて比率（Ｈｃ１／ＶXRD）を規定の範囲に設定しているため、優れた電磁変換特性を得ることができる。これは、磁気テープＭＴの状態における結晶子体積ＶXRDは、分散過程で磁性粒子に入るダメージを加味した実効的に磁石として振る舞う結晶子の体積であり、実際の磁気テープＭＴの記録再生により直結するパラメータであるためである。
（活性化体積Ｖａｃｔ）
　活性化体積Ｖａｃｔが、好ましくは８０００ｎｍ３以下、より好ましくは６０００ｎｍ３以下、さらにより好ましくは５０００ｎｍ３以下、特に好ましくは４０００ｎｍ３以下、最も好ましくは３０００ｎｍ３以下である。活性化体積Ｖａｃｔが８０００ｎｍ３以下であると、磁性粒子の分散状態が良好になるため、ビット反転領域を急峻にすることができ、記録ヘッドからの漏れ磁界により、隣接するトラックに記録された磁化信号が劣化することを抑制できる。したがって、優れた電磁変換特性が得られなくなる虞がある。
　上記の活性化体積Ｖａｃｔは、Ｓｔｒｅｅｔ＆Ｗｏｏｌｌｅｙにより導出された下記の式により求められる。
　Ｖａｃｔ（ｎｍ３）＝ｋＢ×Ｔ×Χｉｒｒ／（μ０×Ｍｓ×Ｓ）
（但し、ｋＢ：ボルツマン定数（１．３８×１０－２３Ｊ／Ｋ）、Ｔ：温度（Ｋ）、Χｉｒｒ：非可逆磁化率、μ０：真空の透磁率、Ｓ：磁気粘性係数、Ｍｓ：飽和磁化（ｅｍｕ／ｃｍ３））
　上記式に代入される非可逆磁化率Χｉｒｒ、飽和磁化Ｍｓおよび磁気粘性係数Ｓは、ＶＳＭを用いて以下のようにして求められる。なお、ＶＳＭによる測定方向は、磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）とする。また、ＶＳＭによる測定は、長尺状の磁気テープＭＴから切り出された測定サンプルに対して２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨにて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。
（非可逆磁化率Χｉｒｒ）
　非可逆磁化率Χｉｒｒは、残留磁化曲線（ＤＣＤ曲線）の傾きにおいて、残留保磁力Ｈｒ付近における傾きと定義される。まず、磁気テープＭＴ全体に－１１９３ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）の磁界を印加し、磁界をゼロに戻し残留磁化状態とする。その後、反対方向に約１５．９ｋＡ／ｍ（２００Ｏｅ）の磁界を印加し再びゼロに戻し残留磁化量を測定する。その後も同様に、先ほどの印加磁界よりもさらに１５．９ｋＡ／ｍ大きい磁界を印加しゼロに戻す測定を繰り返し行い、印加磁界に対して残留磁化量をプロットしＤＣＤ曲線を測定する。得られたＤＣＤ曲線から、磁化量ゼロとなる点を残留保磁力Ｈｒとし、さらにＤＣＤ曲線を微分し、各磁界におけるＤＣＤ曲線の傾きを求める。このＤＣＤ曲線の傾きにおいて、残留保磁力Ｈｒ付近の傾きがΧｉｒｒとなる。
（飽和磁化Ｍｓ）
　まず、上記の角形比Ｓ１の測定方法と同様にして、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループを得る。次に、得られたＭ－Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）の値と、測定サンプル中の磁性層４３の体積（ｃｍ３）から、Ｍｓ（ｅｍｕ／ｃｍ３）を算出する。なお、磁性層４３の体積は測定サンプルの面積に磁性層４３の平均厚みｔ１を乗ずることにより求められる。磁性層４３の体積の算出に必要な磁性層４３の平均厚みｔ１の算出方法は、上記の通りである。
（磁気粘性係数Ｓ）
　まず、磁気テープＭＴ（測定サンプル）全体に－１１９３ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）の磁界を印加し、磁界をゼロに戻し残留磁化状態とする。その後、反対方向に、ＤＣＤ曲線より得られた残留保磁力Ｈｒの値と同等の磁界を印加する。磁界を印加した状態で１０００秒間、磁化量を一定の時間間隔で継続的に測定する。このようにして得られた、時間ｔと磁化量Ｍ（ｔ）の関係を以下の式に照らし合わせて、磁気粘性係数Ｓを算出する。
　Ｍ（ｔ）＝Ｍ０＋Ｓ×ｌｎ（ｔ）
（但し、Ｍ（ｔ）：時間ｔの磁化量、Ｍ０：初期の磁化量、Ｓ：磁気粘性係数、ｌｎ（ｔ）：時間の自然対数）
（バック面の表面粗度Ｒｂ）
　バック面の表面粗度（バック層４４の表面粗度）Ｒｂが、Ｒｂ≦６．０［ｎｍ］であることが好ましい。バック面の表面粗度Ｒｂが上記範囲であると、優れた電磁変換特性を得ることができる。
　バック面の表面粗度Ｒｂは以下のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを１００ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、サンプルの被測定面（磁性層側の表面）が上になるようにスライドグラスに乗せ、サンプルの端部をメンディングテープで固定する。測定装置としてVertScan（対物レンズ２０倍）を用いて表面形状を測定し、ＩＳＯ　２５１７８の規格に基づいて以下の式からバック面の表面粗度Ｒｂを求める。
　測定条件は以下のとおりである。
　装置：光干渉を用いた非接触粗度計
（株式会社菱化システム製 非接触表面・層断面形状計測システム VertScan R5500GL-M100-AC）
　対物レンズ：２０倍
　測定領域：６４０×４８０ピクセル（視野：約２３７μｍ×１７８μｍ視野）
　測定モード：ｐｈａｓｅ
　波長フィルター：５２０ｎｍ
　ＣＣＤ：１／３インチ
　ノイズ除去フィルター：スムージング３×３
　面補正：２次多項式近似面にて補正
　測定ソフトウエア：VS-Measure　Version5.5.2
　解析ソフトウエア：VS-viewer　Version5.5.5
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 　上記のようにして、磁気テープＭＴの長手方向に５点の位置にて面粗度を測定したのち、各位置で得られた表面プロファイルから自動計算されたそれぞれの算術平均粗さＳａ（ｎｍ）の平均値をバック面の表面粗度Ｒｂ（ｎｍ）とする。
（磁気テープの長手方向のヤング率）
　磁気テープＭＴの長手方向のヤング率の上限値は、好ましくは９．０ＧＰａ以下、より好ましくは８．０ＧＰａ以下、さらにより好ましくは７．５ＧＰａ以下、特に好ましくは７．１ＧＰａ以下である。磁気テープＭＴの長手方向のヤング率が９．０ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。磁気テープＭＴの長手方向のヤング率の下限値は、好ましくは３．０ＧＰａ以上、より好ましくは４．０ＧＰａ以上である。磁気テープＭＴの長手方向のヤング率の下限値が３．０ＧＰａ以上であると、走行安定性の低下を抑制することができる。
　磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、外力による磁気テープＭＴの長手方向における伸縮のし難さを示す値であり、この値が大きいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮し難く、この値が小さいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮しやすい。
　なお、磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、上記のように小さく、９．０ＧＰａ以下であることが有利である。
　ヤング率の測定には引っ張り試験機（島津製作所製、AG-100D）を用いる。テープ長手方向のヤング率を測定したい場合は、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを１８０ｍｍの長さに切り出し測定サンプルを準備する。上記引っ張り試験機にテープの幅（１／２インチ）を固定できる冶具を取り付け、テープ幅の上下を固定する。距離（チャック間のテープの長さ）は１００ｍｍにする。テープサンプルをチャック後、サンプルを引っ張る方向に応力を徐々にかけていく。引っ張り速度は０．１ｍｍ／ｍｉｎとする。この時の応力の変化と伸び量から、以下の式を用いてヤング率を計算する。
　Ｅ（Ｎ／ｍ２）＝（（ΔＮ／Ｓ）／（Δｘ／Ｌ））×１０６
　ΔＮ：応力の変化（Ｎ）
　Ｓ：試験片の断面積（ｍｍ２）
　Δｘ：伸び量（ｍｍ）
　Ｌ：つかみ治具間距離（ｍｍ）
上記測定サンプル１０Ｓの断面積Ｓは、引張動作前の断面積であり、測定サンプル１０Ｓの幅（１／２インチ）と測定サンプル１０Ｓの厚さとの積で求められる。測定を行う際の引張応力の範囲は、磁気テープＭＴの厚み等に応じて線形領域の引張応力の範囲を設定する。ここでは、応力の範囲としては０．２Ｎから０．７Ｎとし、この時の応力変化（ΔＮ）と伸び量（Δｘ）を計算に使用する。なお、上記のヤング率の測定は、２５℃±２℃、５０％ＲＨ±５％ＲＨにて行われるものとする。
（基体の長手方向のヤング率）
　基体４１の長手方向のヤング率は、好ましくは７．８ＧＰａ以下、より好ましくは７．０ＧＰａ以下、さらにより好ましくは６．６ＧＰａ以下、特に好ましくは６．４ＧＰａ以下である。基体４１の長手方向のヤング率が７．８ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。基体４１の長手方向のヤング率の下限値は、好ましくは２．５ＧＰａ以上、より好ましくは３．０ＧＰａ以上である。基体４１の長手方向のヤング率の下限値が２．５ＧＰａ以上であると、走行安定性の低下を抑制することができる。
　上記の基体４１の長手方向のヤング率は、次のようにして求められる。まず、カートリッジ１０に収容された磁気テープＭＴを巻き出し、磁気テープＭＴの外周側の一端から長手方向に３０ｍから４０ｍの位置で磁気テープＭＴを１８０ｍｍの長さに切り出す。続いて、切り出した磁気テープＭＴから下地層４２、磁性層４３およびバック層４４を除去し、基体４１を得る。この基体４１を用いて、上記の磁気テープＭＴの長手方向のヤング率と同様の手順で基体４１の長手方向のヤング率を求める。
　基体４１の厚さは、磁気テープＭＴの全体の厚さの半分以上を占めている。したがって、基体４１の長手方向のヤング率は、外力による磁気テープＭＴの伸縮し難さと相関があり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。
　なお、基体４１の長手方向のヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、基体４１の長手方向のヤング率は、上記のように小さく、７．８ＧＰａ以下であることが有利である。
［４　磁気テープの製造方法］
　次に、上記の構成を有する磁気テープＭＴの製造方法の一例について説明する。
（磁性粒子の製造工程）
　まず、原材料として四ホウ酸ナトリウム（Ｎａ２Ｂ４Ｏ７）、酸化鉄（Ｆｅ２Ｏ３）、金属炭酸塩、酸化チタン（ＴｉＯ２）および酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）を秤量し、例えばロールミルにより混合する。この際、酸化ネオジウム（Ｎｄ２Ｏ３）を秤量し、上記原材料と共に混合してもよい。金属炭酸塩は、例えば、炭酸バリウム（ＢａＣＯ３）、炭酸ストロンチウム（ＳｒＣＯ３）、炭酸鉛（ＰｂＣＯ３）および炭酸カルシウム（ＣａＣｏ３）等からなる群より選ばれた少なくとも１種を含む。
　次に、混合後の材料をガラス溶解炉に投入し、溶解する。この際、材料の組成ムラを解消するために、溶解炉内を撹拌することが好ましい。次に、溶解後の材料を急冷する。急冷の方法としては、急冷効率を高め、アモルファス化を促進するために、ロール急冷を用いることが好ましい。次に、急冷後の材料を焼成炉に投入して焼成し、結晶化を行う。焼成温度は、５３０℃以上６５０℃以下であることが好ましい。昇温速度は１℃／ｍｉｎ以上１５℃／ｍｉｎ以下であることが好ましい。焼成時間は、１時間以上２４時間以下であることが好ましい。次に、焼成後の材料からガラスおよび不純物を除去する。次に、除去後の材料をボールミル洗浄した後、遠心分離およびデカンテーションを行うことにより、不純物を除去する。これにより、磁性粒子が得られる。
（塗料の調製工程）
　まず、非磁性粒子および結着剤等を溶剤に混練、分散させることにより、下地層形成用塗料を調製する。次に、磁性粒子および結着剤等を溶剤に混練、分散させることにより、磁性層形成用塗料を調製する。磁性粒子としては、上記のようにして製造された磁性粒子が用いられる。磁性層形成用塗料および下地層形成用塗料の調製には、例えば、以下の溶剤、分散装置および混練装置を用いることができる。
　上記の塗料調製に用いられる溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸プロピル、乳酸エチル、エチレングリコールアセテート等のエステル系溶媒、ジエチレングリコールジメチルエーテル、２－エトキシエタノール、テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、メチレンクロライド、エチレンクロライド、四塩化炭素、クロロホルム、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒等が挙げられる。これらは単独で用いてもよく、適宜混合して用いてもよい。
　上記の塗料調製に用いられる混練装置としては、例えば、連続二軸混練機、多段階で希釈可能な連続二軸混練機、ニーダー、加圧ニーダー、ロールニーダー等の混練装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。また、上記の塗料調製に用いられる分散装置としては、例えば、ロールミル、ボールミル、横型サンドミル、縦型サンドミル、スパイクミル、ピンミル、タワーミル、パールミル（例えばアイリッヒ社製「ＤＣＰミル」等）、ホモジナイザー、超音波分散機等の分散装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。
（塗布工程）
　次に、下地層形成用塗料を基体４１の一方の主面に塗布して乾燥させることにより、下地層４２を形成する。続いて、この下地層４２上に磁性層形成用塗料を塗布して乾燥させることにより、磁性層４３を下地層４２上に形成する。なお、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粒子を基体４１の厚み方向に磁場配向させる。また、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粒子を基体４１の走行方向（長手方向）に磁場配向させたのちに、基体４１の厚み方向に磁場配向させるようにしてもよい。このように長手方向に磁性粒子を一旦配向させる処理を施すことで、磁性粒子の垂直配向度（すなわち角形比Ｓ１）をさらに向上することができる。磁性層４３の形成後、基体４１の他方の主面にバック層４４を形成する。これにより、磁気テープＭＴが得られる。
　角形比Ｓ１、Ｓ２は、例えば、磁性層形成用塗料の塗膜に印加される磁場の強度、磁性層形成用塗料中における固形分の濃度、磁性層形成用塗料の塗膜の乾燥条件（乾燥温度および乾燥時間）を調整することにより所望の値に設定される。塗膜に印加される磁場の強度は、磁性粒子の保磁力の２倍以上３倍以下であることが好ましい。角形比Ｓ１をさらに高めるためには（すなわち角形比Ｓ２をさらに低めるためには）、磁性層形成用塗料中における磁性粒子の分散状態を向上させることが好ましい。また、角形比Ｓ１をさらに高めるためには、磁性粒子を磁場配向させるための配向装置に磁性層形成用塗料が入る前の段階で、磁性粒子を磁化させておくことも有効である。なお、上記の角形比Ｓ１、Ｓ２の調整方法は単独で使用されてもよいし、２以上組み合わされて使用されてもよい。
（硬化工程）
　次に、磁気テープＭＴをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープＭＴに加熱処理を行うことにより、下地層４２および磁性層４３を硬化させる。
（カレンダー工程）
　次に、得られた磁気テープＭＴにカレンダー処理を行い、磁性面を平滑化する。
（消磁工程およびサーボパターンの書き込み工程）
　次に、必用に応じて、磁気テープＭＴの消磁を行ったのち、磁気テープＭＴにサーボパターンを書き込んでもよい。
（裁断工程およびひずみ緩和処理工程）
　次に、磁気テープＭＴを所定の幅（例えば１／２インチ幅）に裁断する。次に、必用に応じて、磁気テープＭＴを巻き取りハブに巻き取った後、磁気テープＭＴを所定温度の環境に所定時間保持することにより、ひずみ緩和処理を行ってもよい。以上により、磁気テープＭＴが得られる。
［５　作用効果］
　以上説明したように、一実施形態に係る磁気テープＭＴでは、磁性粒子は、六方晶フェライトを含み、磁気テープＭＴの垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と、磁性層４３の構成材料をＸ線回折法により測定して求められた磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が、１．８以上２．５以下である。比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が１．８以上であることで、磁気テープＭＴを高記録密度化した場合にも、熱安定性を維持することができる。したがって、磁気テープＭＴを高記録密度化した場合にも、電磁変換特性の低下を抑制することができる。また、書き込んだ情報が熱擾乱による影響で消えるのを抑制することができる。一方、比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が２．５以下であることで、磁気ヘッドで飽和記録しやすくなる。
［６　変形例］
　上記の一実施形態では、磁気テープカートリッジが、１リールタイプのカートリッジ１０である場合について説明したが、２リールタイプのカートリッジであってもよい。
　図１１は、２リールタイプのカートリッジ３２１の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ３２１は、合成樹脂製の上ハーフ３０２と、上ハーフ３０２の上面に開口された窓部３０２ａに嵌合されて固着される透明な窓部材３２３と、上ハーフ３０２の内側に固着されリール３０６、３０７の浮き上がりを防止するリールホルダー３２２と、上ハーフ３０２に対応する下ハーフ３０５と、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできる空間に収納されるリール３０６、３０７と、リール３０６、３０７に巻かれた磁気テープＭＴと、上ハーフ３０２と下ハーフ３０５を組み合わせてできるフロント側開口部を閉蓋するフロントリッド３０９およびこのフロント側開口部に露出した磁気テープＭＴを保護するバックリッド３０９Ａとを備える。
　リール３０６、３０７は、磁気テープＭＴを巻くためのものである。リール３０６は、磁気テープＭＴが巻かれる円筒状のハブ部３０６ａを中央部に有する下フランジ３０６ｂと、下フランジ３０６ｂとほぼ同じ大きさの上フランジ３０６ｃと、ハブ部３０６ａと上フランジ３０６ｃの間に挟み込まれたリールプレート３１１とを備える。リール３０７はリール３０６と同様の構成を有している。
　窓部材３２３には、リール３０６、３０７に対応した位置に、これらリールの浮き上がりを防止するリール保持手段であるリールホルダー３２２を組み付けるための取付孔３２３ａが各々設けられている。磁気テープＭＴは、第１の実施形態における磁気テープＭＴと同様である。
　以下、実施例により本開示を具体的に説明するが、本開示はこれらの実施例に限定されるものではない。
　以下の実施例および比較例において、磁気テープの平均厚み、磁性層の平均厚み、下地層の平均厚み、バック層の平均厚み、磁気テープの垂直方向における磁性層の角形比Ｓ１、および磁気テープの長手方向における磁性層の角形比Ｓ２は、上記の一実施形態にて説明した測定方法により求められた値である。
［実施例１］
(磁性粒子の製造工程)
　バリウムフェライト磁性粒子を以下のようにして製造した。
＜秤量＞
　まず、原材料として四ホウ酸ナトリウム（Ｎａ２Ｂ４Ｏ７）を３３８．３２質量部、酸化鉄（Ｆｅ２Ｏ３）を２８９．５２質量部、炭酸バリウム（ＢａＣＯ３）を３３１．８３質量部、酸化チタン（ＴｉＯ２）を１１．７５質量部、酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）を２８．５８質量部、秤量し、１時間ロールミルで撹拌した。
＜溶解＞
　次に、撹拌物をガラス溶解炉に投入し、溶解温度１２５０℃にて溶解した。溶解時間は８０分とした。融液の組成ムラ解消のため、炉内撹拌を行った。
＜急冷＞
　次に、溶解物を双ロール急冷にて急冷した。双ロール急冷の回転数は１５０ｒｐｍとした。
＜焼成＞
　次に、急冷後の材料を焼成炉に投入して焼成を行った。焼成温度は５５０℃、昇温速度は５℃／ｍｉｎ、焼成時間は８時間とした。
＜洗浄＞
　次に、焼成後の材料を酢酸によるボールミル洗浄を１時間行った後、デカンテーションを繰り返して不純物を除去することにより、バリウムフェライト磁性粒子を得た。
（磁性層形成用塗料の調製工程）
　上記のようにして製造されたバリウムフェライト磁性粒子を用いて、磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第１組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第１組成物と、下記配合の第２組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
（第１組成物）
バリウムフェライト（ＢａＦｅ１２Ｏ１９）磁性粒子（六角板状、平均アスペクト比２．９、平均粒子体積１４００ｎｍ３）：１００．０質量部
塩化ビニル系樹脂（当該樹脂溶液の配合：塩化ビニル系樹脂３０．０質量％、シクロヘキサノン溶液７０．０質量％）：３５．０質量部
（重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ３Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０．０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０．０質量％）：２６．７質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）
酸化アルミニウム粉末：６．０質量部（α－Ａｌ２Ｏ３、平均粒径０．１μｍ）
（第２組成物）
カーボンブラック：２．０質量部（東海カーボン社製、商品名：シーストＳ　算術平均粒子径７０ｎｍ）
ポリウレタン樹脂（当該樹脂溶液の配合：ポリウレタン樹脂３０．０質量％、シクロヘキサノン７０．０質量％）：５．０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝１１０℃）
ｎ－ブチルステアレート：２．０質量部
メチルエチルケトン：１２１．０質量部
トルエン：１２１．０質量部
シクロヘキサノン：１１６．０質量部
　最後に、上記のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：３．３質量部と、ステアリン酸：１．０質量部とを添加した。
（下地層形成用塗料の調製工程）
　下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
（第３組成物）
針状酸化鉄粉末：１００．０質量部
（α－Ｆｅ２Ｏ３、平均長軸長０．１１μｍ）
塩化ビニル系樹脂（当該樹脂溶液の配合：塩化ビニル系樹脂３０．０質量％、シクロヘキサノン７０．０質量％）：４６．０質量部
（重合度３００、数平均分子量Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ３Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
酸化アルミニウム粉末：３．０質量部（α－Ａｌ２Ｏ３、平均粒径０．１μｍ）
（第４組成物）
カーボンブラック：３０．０質量部（旭カーボン社製、商品名：＃８０）
ポリウレタン樹脂（当該樹脂溶液の配合：ポリウレタン樹脂３０．０質量％、シクロヘキサノン７０．０質量％）：４０．０質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝７０℃）
ｎ－ブチルステアレート：２．０質量部
メチルエチルケトン：１０８．２質量部
トルエン：１０８．２質量部
シクロヘキサノン：１００．０質量部
　最後に、上記のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１．５質量部と、ステアリン酸：１．５質量部とを添加した。
（バック層形成用塗料の調製工程）
　バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。
カーボンブラック（旭カーボン社製、商品名：＃８０）：１００．０質量部
ポリエステルポリウレタン：１００．０質量部
（日本ポリウレタン社製、商品名：Ｎ－２３０４）
メチルエチルケトン：５００．０質量部
トルエン：４００．０質量部
シクロヘキサノン：１００．０質量部
ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１０．０質量部
（塗布工程）
　上記のようにして調製した磁性層形成用塗料および下地層形成用塗料を用いて、ベースフィルム（非磁性支持体）である、平均厚み３．６０μｍ、長尺のポレエチレンナフタレートフィルム（以下「ＰＥＮフィルム」という。）の一方の主面上に下地層および磁性層を以下のようにして形成した。まず、ＰＥＮフィルムの一方の主面上に下地層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、ひずみ緩和処理後に平均厚みが１．１５μｍとなるように下地層を形成した。次に、下地層上に磁性層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、ひずみ緩和処理後に平均厚みが０．０７μｍとなるように磁性層を形成した。磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ソレノイドコイルにより、磁性粒子をフィルムの厚み方向に磁場配向させた。これにより、磁気テープの垂直方向（厚み方向）における角形比Ｓ１を６５％に設定し、磁気テープの長手方向における角形比Ｓ２を３８％に設定した。続いて、ＰＥＮフィルムの他方の主面上にバック層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、ひずみ緩和処理後に平均厚みが０．４５μｍとなるようにバック層を形成した。これにより、磁気テープが得られた。
（硬化工程）
　磁気テープをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープに７０℃、４８時間の加熱処理を行うことにより、下地層および磁性層を硬化させた。
（カレンダー工程）
　カレンダー処理を行い、磁性層の表面を平滑化した。この際、カレンダー処理の温度を温度１００℃とし、かつ、カレンダー処理の圧力を２００ｋｇ／ｃｍとした。
（裁断工程およびひずみ緩和処理工程）
　上記のようにして得られた磁気テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断し、巻き取りハブに巻き取った。以下では、この巻き取りハブに巻き取られた磁気テープをパンケーキという。次に、パンケーキを６０℃の環境に２４時間保持することにより、ひずみ緩和処理を行った。これにより、平均厚み５．２７μｍの磁気テープが得られた。
［実施例２］
　磁性粒子の製造工程において、原材料である酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）の配合量を１３．８８質量部に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［実施例３］
　磁性粒子の製造工程において、焼成時間を１１時間に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［実施例４］
　磁性粒子の製造工程において、原材料として酸化ネオジウム（Ｎｄ２Ｏ３）を１８．５１質量部、秤量し、さらに加えたこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［実施例５］
　磁性粒子の製造工程において、焼成時間を１５時間に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［実施例６］
　磁性粒子の製造工程において、原材料として酸化ネオジウム（Ｎｄ２Ｏ３）を１８．５１質量部、秤量し、さらに加えたこと、および焼成時間を１０時間に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例１］
　磁性粒子の製造工程において、攪拌物を溶解炉で溶解する際に炉内攪拌を行わなかったこと、溶解物を双ロール急冷にて急冷する代わりに、溶解物を水没させて急冷したこと、および焼成温度を６００℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例２］
　磁性粒子の製造工程において、攪拌物を溶解炉で溶解する際に炉内攪拌を行わなかったこと、溶解物を双ロール急冷にて急冷する代わりに、溶解物を水没させて急冷したこと、焼成温度を５９０℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例３］
　磁性粒子の製造工程において、攪拌物を溶解炉で溶解する際に炉内攪拌を行わなかったこと、溶解物を双ロール急冷にて急冷する代わりに、溶解物を水没させて急冷したこと、焼成温度を５８０℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例４］
　磁性粒子の製造工程において、溶解温度を１３８０℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例５］
　磁性粒子の製造工程において、焼成温度を５７０℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［比較例６］
　磁性粒子の製造工程において、焼成温度を５３０℃に変更したこと以外は実施例１と同様にして磁気テープを得た。
［評価］
　上記のようにして得られた磁気テープに対して以下の評価を行った。
［磁性層の保磁力Ｈｃ１］
　上記の一実施形態にて説明した磁性層の保磁力Ｈｃ１の測定方法により、磁性層の保磁力Ｈｃ１を測定した。その結果を表１に示した。
［磁性粒子の結晶子体積ＶXRD］
　まず、上記の一実施形態にて説明した磁性層の剥離物の取得方法により、実施例１～６、比較例１～６の磁気テープそれぞれから磁性層の剥離物を取得した。次に、Ｘ線回折装置（Ｕｌｔｉｍａ　ＩＶ、Ｒｉｇａｋｕ製）を用いて、Ｘ線回折分析を行った。その結果、いずれの磁気テープの磁性層に含まれる磁性粒子も、マグネトプランバイト型（Ｍ型）の六方晶フェライトの結晶構造を有することが確認された。
　次に、上記の一実施形態にて説明した磁性粒子の結晶子体積ＶXRDの測定方法により、磁性粒子の結晶子体積ＶXRDを測定した。その結果を表１に示した。
［比率（Ｈｃ１／ＶXRD）］
　上記のようにして測定された磁性層の保磁力Ｈｃ１および磁性粒子の結晶子体積ＶXRDを用いて、比率（Ｈｃ１／ＶXRD）を求めた。その結果を表１に示した。
［変動係数Ｒσ/D］
　上記の一実施形態にて説明した変動係数Ｒσ/D（＝（σ／Ｄave）×１００）の測定方法により、変動係数Ｒσ/Dを測定した。その結果を表１に示した。
［電磁変換特性］
　まず、ループテスター（Microphysics社製）を用いて、磁気テープの再生信号を取得した。以下に、再生信号の取得条件について示す。
head:GMR
headspeed : 2m/s
signal : 単一記録周波数（１０ＭＨｚ）（記録ビット長Ｌbit＝１００ｎｍに相当する。）
記録電流：最適記録電流
　ここで、記録ビット長Ｌbit＝１００ｎｍは、当該記録ビット長Ｌbit（＝１００ｎｍ）の１／２に相当する記録ビット長Ｌbit＝５０ｎｍでの記録を想定した条件である。このような条件で評価を行っているのは以下の理由による。すなわち、短波長を用いた記録再生系では、信号量Ｓと雑音量ＮのＳ／Ｎとしては一般的に最短記録ビット長の２倍の記録波長で記録再生した際のＳ／Ｎの比を用いることが多い。また、２倍の記録ビット長でのＳ／Ｎは、最短記録ビット長でのＳ／Ｎよりもエラーレートとの相関性が高い。更に、最短記録ビット長でＳ／Ｎ計測を行った場合、記録再生系の波長特性によっては、テープノイズが記録再生系のシステムノイズに隠れてしまい、メディアのノイズ特性を正しく反映しない場合もある。特に高線記録密度記録の場合、メディアのノイズ特性を正しく反映しない場合が多い。
　次に、再生信号をスペクトラムアナライザ（spectrum analyzer）によりスパン（SPAN）0～20MHz（resolution band width=100kHz, VBW = 30kHz）で取り込んだ。次に、取り込んだスペクトルのピークを信号量Ｓとすると共に、ピークを除いたfloor noiseを積算して雑音量Ｎとし、信号量Ｓと雑音量Ｎの比Ｓ／ＮをＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）として求めた。次に、求めたＳＮＲを、リファレンスメディアとしての比較例３のＳＮＲを基準とした相対値（ｄＢ）に変換した。その結果を表１に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
　実施例１～６では、比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が１．８０以上であるため、高記録密度においても電磁変換特性（ＳＮＲ）の低下を抑制することができる。一方、比較例１～６では、比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が１．８０未満であるため、高記録密度において電磁変換特性（ＳＮＲ）が低下する。
　比較例１、４、６では、電磁変換特性（ＳＮＲ）が特に低下している。これは、以下の理由によるものと考えられる。
　比較例１における電磁変換特性の大きな低下は、結晶子体積ＶXRDが２７００ｎｍ３と非常に大きく、高記録密度での記録が困難であるためと考えられる。
　比較例４における電磁変換特性の大きな低下は、変動係数Ｒσ/Dが５０％と非常に大きく、大小様々な磁性粒子が磁性層中に存在するため、ｐａｃｋｉｎｇおよび記録密度が低下すること、ならびに記録再生が困難になることが要因であると考えられる。
　比較例６における電磁変換特性の大きな低下は、保磁力Ｈｃ１が１３２０Ｏｅと非常に低いため、熱的に不安定になったためと考えられる。
　以上、本開示の実施形態および変形例について具体的に説明したが、本開示は、上記の実施形態および変形例に限定されるものではなく、本開示の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、上記の実施形態および変形例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値等を用いてもよい。上記の実施形態および変形例の構成、方法、工程、形状、材料および数値等は、本開示の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
　上記の実施形態および変形例にて例示した化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。上記の実施形態および変形例で段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。上記の実施形態および変形例で例示した材料は、特に断らない限り、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いることができる。
　また、本開示は以下の構成を採用することもできる。
（１）
　テープ状の磁気記録媒体であって、
　基体と磁性層とを備え、
　前記磁性層は、磁性粒子を含み、
　前記磁性粒子は、六方晶フェライトを含み、
　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１と、前記磁性層の構成材料をＸ線回折法により測定して求められた前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が、１．８０以上２．５０以下である、
　磁気記録媒体。
（２）
　前記磁性粒子の標準偏差σを前記磁性粒子の平均粒子サイズＤaveで割ることにより求められる変動係数（（σ／Ｄave）×１００）が、４５％以下である、
　（１）に記載の磁気記録媒体。
（３）
　前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDは、２５００ｎｍ３以下である、
　（１）または（２）に記載の磁気記録媒体。
（４）
　前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDは、１４００ｎｍ３以下である、
　（１）または（２）に記載の磁気記録媒体。
（５）
　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１は、１８００Ｏｅ以上３０００Ｏｅ以下である、
　（１）から（４）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（６）
　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１は、２３００Ｏｅ以上３０００Ｏｅ以下である、
　（１）から（４）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（７）
　前記六方晶フェライトは、バリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトを含む、
　請求項１に記載の磁気記録媒体。
（８）
　前記磁性層は、サーボパターンを有し、
　前記サーボパターンは、複数の第１磁化領域と、複数の第２磁化領域とを含み、
　前記複数の第１磁化領域と前記複数の第２磁化領域とは、前記磁気記録媒体の幅方向に平行な軸に対して非対称である、
　（１）から（７）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（９）
　前記軸に対する前記第１磁化領域の傾斜角度と、前記軸に対する前記第２磁化領域の傾斜角度とが異なり、
　前記第１磁化領域の傾斜角度および前記第２磁化領域の傾斜角度のうち、大きい方の傾斜角度は、１８°以上２８°以下である、
　（８）に記載の磁気記録媒体。
（１０）
　前記磁気記録媒体の平均厚みが、５．３０μｍ以下である、
　（１）から（９）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１１）
　前記磁性層は、８００ｎｍ以下のデータトラック幅、および４６ｎｍ以下のビット長で信号を記録可能に構成されている、
　（１）から（１０）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１２）
　下地層をさらに備え、
　前記下地層の平均厚みは、０．９０μｍ以下である、
　（１）から（１１）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１３）
　前記磁性層の平均厚みが、０．０８μｍ以下である、
　（１）から（１２）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１４）
　前記基体の平均厚みは、４．４０μｍ以下である、
　（１）から（１３）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１５）
　バック層をさらに備え、
　前記バック層の平均厚みは、０．６０μｍ以下である、
　（１）から（１４）のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
（１６）
　（１）から（１５）のいずれか１項に記載された磁気記録媒体を備える、
　カートリッジ。
　１０、３２１　　カートリッジ
　１０Ｓ　　サンプル
　１１　　カートリッジメモリ
　３１　　アンテナコイル
　３２　　整流・電源回路
　３３　　クロック回路
　３４　　検波・変調回路
　３５　　コントローラ
　３６　　メモリ
　３６Ａ　　第１の記憶領域
　３６Ｂ　　第２の記憶領域
　４１　　基体
　４２　　下地層
　４３　　磁性層
　４４　　バック層
　５６　　ヘッドユニット
　５６Ａ、５６Ｂ　　サーボリードヘッド
　１１０　　サーボフレーム
　１１１　　サーボサブフレーム１
　１１２　　サーボサブフレーム２
　１１３　　サーボストライプ
　１１１Ａ　　Ａバースト
　１１１Ｂ　　Ｂバースト
　１１２Ｃ　　Ｃバースト
　１１２Ｄ　　Ｄバースト
　２１０　　測定装置
　ＭＴ　　磁気テープ
　ＳＢ　　サーボバンド
　ＤＢ　　データバンド
　Ｔｋ　　データトラック

Claims (16)

  1. 　テープ状の磁気記録媒体であって、
    　基体と磁性層とを備え、
    　前記磁性層は、磁性粒子を含み、
    　前記磁性粒子は、六方晶フェライトを含み、
    　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１と、前記磁性層の構成材料をＸ線回折法により測定して求められた前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDとの比率（Ｈｃ１／ＶXRD）が、１．８０以上２．５０以下である、
    　磁気記録媒体。
  2. 　前記磁性粒子の標準偏差σを前記磁性粒子の平均粒子サイズＤaveで割ることにより求められる変動係数（（σ／Ｄave）×１００）が、４５％以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  3. 　前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDは、２５００ｎｍ３以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  4. 　前記磁性粒子の結晶子体積ＶXRDは、１４００ｎｍ３以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  5. 　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１は、１８００Ｏｅ以上３０００Ｏｅ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  6. 　前記磁気記録媒体の垂直方向における前記磁性層の保磁力Ｈｃ１は、２３００Ｏｅ以上３０００Ｏｅ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  7. 　前記六方晶フェライトは、バリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトを含む、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  8. 　前記磁性層は、サーボパターンを有し、
    　前記サーボパターンは、複数の第１磁化領域と、複数の第２磁化領域とを含み、
    　前記複数の第１磁化領域と前記複数の第２磁化領域とは、前記磁気記録媒体の幅方向に平行な軸に対して非対称である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  9. 　前記軸に対する前記第１磁化領域の傾斜角度と、前記軸に対する前記第２磁化領域の傾斜角度とが異なり、
    　前記第１磁化領域の傾斜角度および前記第２磁化領域の傾斜角度のうち、大きい方の傾斜角度は、１８°以上２８°以下である、
    　請求項８に記載の磁気記録媒体。
  10. 　前記磁気記録媒体の平均厚みが、５．３０μｍ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  11. 　前記磁性層は、８００ｎｍ以下のデータトラック幅、および４６ｎｍ以下のビット長で信号を記録可能に構成されている、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  12. 　下地層をさらに備え、
    　前記下地層の平均厚みは、０．９０μｍ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  13. 　前記磁性層の平均厚みが、０．０８μｍ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  14. 　前記基体の平均厚みは、４．４０μｍ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  15. 　バック層をさらに備え、
    　前記バック層の平均厚みは、０．６０μｍ以下である、
    　請求項１に記載の磁気記録媒体。
  16. 　請求項１に記載された磁気記録媒体を備える、
    　カートリッジ。
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