WO2024053394A1 - シールド導体、及び、開閉装置 - Google Patents
シールド導体、及び、開閉装置 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2024053394A1 WO2024053394A1 PCT/JP2023/030244 JP2023030244W WO2024053394A1 WO 2024053394 A1 WO2024053394 A1 WO 2024053394A1 JP 2023030244 W JP2023030244 W JP 2023030244W WO 2024053394 A1 WO2024053394 A1 WO 2024053394A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- conductor
- shield conductor
- nanofiller
- insulating spacer
- high voltage
- Prior art date
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 title claims abstract description 126
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 47
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 47
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims abstract description 47
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 7
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 4
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 17
- 239000000945 filler Substances 0.000 abstract description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 20
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 18
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 18
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 17
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 11
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- -1 cyclic aliphatic acid anhydride Chemical class 0.000 description 4
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 4
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 4
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 3
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000004844 aliphatic epoxy resin Substances 0.000 description 2
- PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N bisphenol F Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1CC1=CC=C(O)C=C1 PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- MUTGBJKUEZFXGO-OLQVQODUSA-N (3as,7ar)-3a,4,5,6,7,7a-hexahydro-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1CCC[C@@H]2C(=O)OC(=O)[C@@H]21 MUTGBJKUEZFXGO-OLQVQODUSA-N 0.000 description 1
- KMOUUZVZFBCRAM-OLQVQODUSA-N (3as,7ar)-3a,4,7,7a-tetrahydro-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1C=CC[C@@H]2C(=O)OC(=O)[C@@H]21 KMOUUZVZFBCRAM-OLQVQODUSA-N 0.000 description 1
- FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 2-(chloromethyl)pyridine-3-carbonitrile Chemical compound ClCC1=NC=CC=C1C#N FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MWSKJDNQKGCKPA-UHFFFAOYSA-N 6-methyl-3a,4,5,7a-tetrahydro-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1CC(C)=CC2C(=O)OC(=O)C12 MWSKJDNQKGCKPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 1
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 1
- PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N Maleimide Chemical compound O=C1NC(=O)C=C1 PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N Phthalic anhydride Natural products C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1 LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052454 barium strontium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1 WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIDNOXCRFUCAKQ-UHFFFAOYSA-N bicyclo[2.2.1]hept-5-ene-2,3-dicarboxylic acid Chemical compound C1C2C=CC1C(C(=O)O)C2C(O)=O NIDNOXCRFUCAKQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001588 bifunctional effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 150000001642 boronic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N butyl 2,2-difluorocyclopropane-1-carboxylate Chemical compound CCCCOC(=O)C1CC1(F)F JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M cyanate Chemical compound [O-]C#N XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000005516 deep trap Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 229910000514 dolomite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010459 dolomite Substances 0.000 description 1
- 238000002296 dynamic light scattering Methods 0.000 description 1
- 238000010893 electron trap Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- ANSXAPJVJOKRDJ-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-f][2]benzofuran-1,3,5,7-tetrone Chemical compound C1=C2C(=O)OC(=O)C2=CC2=C1C(=O)OC2=O ANSXAPJVJOKRDJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000007561 laser diffraction method Methods 0.000 description 1
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- VYKXQOYUCMREIS-UHFFFAOYSA-N methylhexahydrophthalic anhydride Chemical compound C1CCCC2C(=O)OC(=O)C21C VYKXQOYUCMREIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000003077 quantum chemistry computational method Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940014800 succinic anhydride Drugs 0.000 description 1
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- SRPWOOOHEPICQU-UHFFFAOYSA-N trimellitic anhydride Chemical compound OC(=O)C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1 SRPWOOOHEPICQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B—BOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B13/00—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle
- H02B13/02—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle with metal casing
- H02B13/035—Gas-insulated switchgear
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B—BOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B13/00—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle
- H02B13/02—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle with metal casing
- H02B13/035—Gas-insulated switchgear
- H02B13/045—Details of casing, e.g. gas tightness
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02G—INSTALLATION OF ELECTRIC CABLES OR LINES, OR OF COMBINED OPTICAL AND ELECTRIC CABLES OR LINES
- H02G5/00—Installations of bus-bars
- H02G5/06—Totally-enclosed installations, e.g. in metal casings
Definitions
- the present invention relates to a shield conductor and a switchgear using the same.
- a gas insulated switchgear has a structure in which a high voltage conductor is placed in a metal sealed container.
- a solid insulator called an insulating spacer is used to fix the high-voltage conductor at a predetermined position in a sealed container.
- a sealed container is filled with SF 6 gas.
- a high voltage conductor is provided in the center of the insulating spacer and is supported by the insulating spacer.
- shield conductors larger than the diameter of the high-voltage conductor on both sides of the insulating spacer are attached. It will be done.
- the insulating property of dry air was about 1/3 that of SF 6 , and the electric field strength on the surface of the shield conductor protruding from the outer peripheral surface of the high-voltage conductor became too high, which became the starting point of dielectric breakdown.
- the present invention aims to provide a shield conductor with improved insulation properties, and a switchgear using the same.
- a shield conductor according to one aspect of the present invention is a shield conductor used for electric field relaxation, and is characterized in that the surface of the shield conductor is coated with a resin containing nanofiller.
- a switchgear includes a sealed container, an insulating spacer fixed inside the sealed container, a high voltage conductor disposed on both sides of the center of the insulating spacer, and a high voltage conductor attached to the high voltage conductor on both sides.
- the above-described shield conductor having a diameter larger than that of the high-voltage conductor, and the surface of the shield conductor is coated with a resin containing nanofiller.
- the shielded conductor can be preferably used in a switchgear using dry air, and the switchgear can be made more compact.
- FIG. 2 is a sectional view of the opening/closing device according to the present embodiment.
- FIG. 2 is a cross-sectional view of a conventional opening/closing device.
- FIG. 1 is a sectional view of a switchgear 1 according to an embodiment of the present invention.
- the switchgear 1 includes a sealed container 2, an insulating spacer 3 fixed inside the sealed container 2, a high voltage conductor 4 disposed on both sides of the center of the insulating spacer 3, and a high voltage conductor 4.
- the shield conductor 5 has a diameter larger than that of the shield conductor 5.
- the insulating spacer 3 is a solid insulator for fixing the high voltage conductor 4 at a predetermined position in the sealed container 2, and is, for example, in the shape of a cone as shown in FIG.
- the shape of the insulating spacer 3 is not limited, and can be in various shapes, such as a disk shape, a configuration with axially symmetrical unevenness, or a configuration in which multiple (for example, three) high voltage conductors 4 penetrate. Applicable.
- a metal flange 6 is attached to the outer peripheral edge of the insulating spacer 3.
- the metal flange 6 is sandwiched between the connecting flange 7 of the sealed container 2, and the insulating spacer 3 is secured to the bolt 8. , fixed to the sealed container 2.
- the material of the insulating spacer 3 is not limited, it has a structure in which an inorganic filler is mixed into a thermosetting resin.
- the thermosetting resin epoxy resin can be preferably used.
- the inorganic filler it is preferable to add at least one of alumina, silica, dolomite, titanium oxide, barium titanate, strontium titanate, and the like.
- a conductor for supplying high voltage current is attached to the central axis A of the insulating spacer 3.
- the conductors include an insulated spacer shield conductor 9 buried inside the insulated spacer 3, a high voltage conductor 4 that is integrated with the insulated spacer shield conductor 9, and is arranged to extend on both sides of the insulated spacer 3;
- a shield conductor 5 is disposed on both sides of the insulating spacer 3 in the middle of the high voltage conductor 4 and has a diameter d2 larger than a diameter d1 of the high voltage conductor 4. Therefore, the shield conductor 5 protrudes from the outer peripheral surface of the high voltage conductor 4 in a ring shape.
- the height of the shield conductor 5 protruding from the outer peripheral surface of the high voltage conductor 4 is not limited, it is approximately 5 mm to 30 mm. Note that, as shown in FIG. 1, the diameter d3 of the shield conductor 9 within the insulating spacer is also larger than the diameter d1 of the high voltage conductor 4.
- the high voltage conductor 4 includes a first high voltage conductor 4a located between the shield conductor 9 in the insulating spacer and the shield conductor 5, and a first high voltage conductor 4a located outside the shield conductor 5 and extending in a direction away from the insulating spacer 3. It has a second high voltage conductor 4b.
- the shield conductor 9 in the insulating spacer and the first high voltage conductor 4a are integrally formed and buried in the insulating spacer 3, and the shield conductor 5 and the second high voltage conductor 4b are connected to the first high voltage conductor 4a. , for example, it is possible to incorporate it by concavo-convex fitting.
- the shield conductor 5 and the second high voltage conductor 4b may be formed integrally, or may be formed separately and assembled.
- the materials of the shield conductor 9, high voltage conductor 4, and shield conductor 5 in the insulating spacer are not limited, they are formed of, for example, aluminum (Al) or an aluminum alloy. All of the conductors can be made of the same metal, or they can be made of different metals depending on the location or member.
- the shield conductor 5 has an inner surface (first side surface) 5a close to the insulating spacer 3, an outer surface (second side surface) 5b far from the insulating spacer 3, and a space between the inner surface 5a and the outer surface 5b. and an outer circumferential surface 5c connecting the two.
- a convex curved surface B1 is formed between the inner surface 5a and the outer circumferential surface 5c
- a convex curved surface B2 is formed between the outer surface 5b and the outer circumferential surface 5c.
- the space between the inner surface 5a, the outer surface 5b, and the outer circumferential surface 5c is a convexly curved surface and does not have a sharp shape, which can alleviate electric field concentration.
- a gap T1 is provided between the inner surface 5a of the shield conductor 5 and the insulating spacer 3. As shown in FIG., the gap T1 has a size of about 5 mm to 30 mm. By setting the distance to this extent, the electric field strength can be appropriately relaxed. As shown in FIG. 1, in this embodiment, the surface of the shield conductor 5 is coated with a resin 10 containing nanofiller.
- the inside of the sealed container 2 is filled with highly insulating SF 6 gas 11.
- the shield conductors 5 arranged on both sides of the insulating spacer 3 in the direction of the central axis A are used to alleviate electric field concentration at the triple junction C where the insulating spacer 3, the high voltage conductor 4, and the SF 6 gas 11 are in contact with each other. established in
- the insulating properties of dry air are as low as about 1/3 that of SF 6 gas, and the electric field strength on the surface of the shield conductor 5 shown in FIG. dielectric breakdown was likely to occur starting from
- the insulation properties of dry air are about 1/3 or less lower than those of SF 6 gas, so it was necessary to increase the insulation distance to maintain the same insulation properties as SF 6 gas. .
- more economical efficiency has been required, and it has been desired to make the switchgear more compact, making it difficult to make it larger. For this reason, as miniaturization is promoted, the electric field strength on the convex curved surface B1 of the shield conductor 5 becomes higher and higher, which becomes a weak point in terms of insulation.
- the present inventors coated the surface of the shield conductor 5 with a resin 10 containing nanofiller, as shown in FIG. As a result, electron emission from the convex curved surface B1 of the shield conductor 5 can be suppressed, and the insulation properties of the shield conductor 5 can be improved.
- the nanofiller-containing resin 10 of this embodiment only needs to be coated on the surface of the shield conductor 5, that is, it is not necessary to coat the surface of the high voltage conductor 4. This allows for relatively easy construction. Moreover, by coating the entire exposed surface of the shield conductor 5 with the resin 10, rather than coating the resin 10 containing nanofiller only on the convex curved surface B1 of the shield conductor 5 where the electric field strength is particularly high, The insulation of the shield conductor 5 can be effectively improved, and the workability is also excellent.
- the shield conductor 5 can be provided separately from the high voltage conductor 4, and the shield conductor 5 whose surface is coated with the resin 10 containing nanofiller can be incorporated into the high voltage conductor 4.
- the method of applying the resin 10 is not limited, but may include spray coating, brush coating, fluid dipping, and the like.
- the resin material used for the nanofiller-containing resin 10 is a fluid insulating resin.
- the insulating resin is preferably a thermosetting resin.
- the thermosetting resin is an epoxy resin, a maleimide resin, a cyanate resin, or a mixture thereof. Among these, it is preferable to select an epoxy resin as the thermosetting resin.
- the epoxy resin includes an epoxy resin base resin, a curing agent, and a curing accelerator.
- the curing accelerator is arbitrarily selected.
- the epoxy resin base an aliphatic epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, or a mixture thereof can be used.
- aliphatic epoxy resins include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AD type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, trifunctional or higher polyfunctional type epoxy resin, etc.
- the present invention is not limited to these, and one kind of these can be used alone or two or more kinds can be used in combination.
- alicyclic epoxy resins include monofunctional epoxy resins, bifunctional epoxy resins, trifunctional or higher functional epoxy resins, but are not limited to these. They can be used alone or in combination of two or more.
- the curing agent for the thermosetting resin is not particularly limited as long as it reacts with the epoxy resin base material and can be cured.
- the curing agent for the thermosetting resin is an aromatic acid anhydride, and specific examples thereof include phthalic anhydride, pyromellitic anhydride, trimellitic anhydride, and the like.
- the curing agent for the thermosetting resin is a cyclic aliphatic acid anhydride, specifically, tetrahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methyl anhydride. Examples include nadic acid.
- the curing agent for the thermosetting resin is an aliphatic acid anhydride, and specific examples thereof include succinic anhydride, polyadipic anhydride, polysebacic anhydride, polyazelaic anhydride, and the like. Note that the curing agent for the thermosetting resin may be other than those listed above.
- the curing accelerator imidazole or its derivatives, tertiary amines, borate esters, Lewis acids, organometallic compounds, organic acid metal salts, etc. can be used as appropriate, but are not limited to these. .
- the nanofiller used in this embodiment will be explained.
- the size and material of the nanofillers dispersed in the resin 10 are selected so that they can exhibit the effects of this embodiment, that is, the effect of promoting electron emission suppression and improving the insulation properties of the shield conductor 5. can be done.
- the particle size of the nanofiller is preferably 100 nm or less, but even if the particle size exceeds 100 nm, if the same effect as in this embodiment can be obtained, the particle size falls under the nanofiller in this embodiment.
- the particle size of the nanofiller is preferably 100 nm or less, more preferably 90 nm or less, and even more preferably 80 nm or less.
- the particle size of the nanofiller is measured by averaging the particle size of a plurality of nanofillers (preferably 10 or more) using a SEM, but is not limited thereto.
- the average of the maximum length and minimum length of the nanofiller is defined as the particle size of the nanofiller.
- measurement data listed in a material manufacturer's catalog or the like is used.
- existing dynamic light scattering methods, laser diffraction methods, centrifugal sedimentation methods, FFF methods, electrical detection methods, etc. can be applied to measure the particle size of nanofillers.
- the nanofiller may have a cross section other than circular, for example, an ellipse or other irregular shape. In either case, the particle size of the nanofiller is measured as described above.
- Nanofillers are inorganic fillers, and specifically include silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ), boron nitride (BN), titanium oxide (TiO 2 ), strontium titanate (SrTiO 3 ), and titanium.
- silica SiO 2
- alumina Al 2 O 3
- BN boron nitride
- TiO 2 titanium oxide
- strontium titanate SrTiO 3
- titanium strontium titanate
- barium acid BaTiO 3
- silica, alumina, titanium oxide, or barium titanate can be preferably selected as the nanofiller.
- the nanofiller is mixed into the resin 10 in an amount of about 5% by volume or less. More specifically, about 0.05% to 3% by volume is mixed. Thereby, the nanofiller can be appropriately dispersed in the resin 10 and can exhibit high insulation properties.
- the resin 10 contains not only nanofiller, but also submicro (also referred to as "semi-micro") filler whose particle size is larger than nanofiller, taking into account workability and mechanical properties during coating. It is also possible to mix microfillers with a larger particle size than sub-microfillers.
- the particle size of the sub-microfiller is 100 nm or more and 1 ⁇ m or less, preferably 200 nm to less than 1 ⁇ m. Further, the particle size of the microfiller is 1 ⁇ m or more. It is preferable that the total amount of nanofiller, submicrofiller, and microfiller is adjusted to 50% by volume or less.
- the composition of the coating resin 10 is such that the above-mentioned thermosetting resin base, curing agent, curing accelerator, and inorganic filler such as nanofiller are combined with physical properties such as dielectric constant and heat resistance. The operator can make appropriate decisions to achieve the target value.
- the thickness of the resin 10 is approximately several tens of ⁇ m to 100 ⁇ m. By forming the thickness of the resin 10 within this range, it is possible to improve workability and insulation.
- the shield conductor 5 of this embodiment is applied, for example, to the switchgear 1 shown in FIG. 1, and is used for electric field relaxation.
- an insulating spacer 3 is fixedly supported inside a sealed container 2, and a high voltage conductor 4 is attached to the center of the insulating spacer 3.
- a shield conductor 5 having a larger diameter than the high voltage conductor 4 is provided on each of the high voltage conductors 4 located on both sides of the insulating spacer 3.
- the surface of the shield conductor 5 is coated with a resin 10 containing nanofiller.
- the average particle size of the SiO2 nanofiller shown in Table 1 was 50 nm. Further, the average particle size of the TiO 2 nanofiller shown in Table 1 was 40 nm. Further, the average particle size of the SrTiO 3 nanofiller shown in Table 1 was 70 nm. Moreover, the average particle size of the SiO 2 microfiller was 1.5 ⁇ m.
- test method is based on the description in "Creepage flashover characteristics of gas insulated switchgear spacer model using novel functional insulating material" (IEEJ Dielectric Insulating Materials Study Group manuscript: Paper No. DEI-19-116).
- the experimental results of the flashover characteristics using the single application method are shown in Table 2 below.
- V 63.2 shown in Table 2 is the value at which the FOV occurrence probability is 63.2% based on the Weibull distribution of the FOV measured by measuring the instantaneous voltage that flashed over as FOV in an experiment using a single application method. It is.
- Table 2 The parentheses in Table 2 indicate the rate of increase relative to V 63.2 in the comparative example. As shown in Table 2, the FOV improvement effect was observed in all of the reference examples compared to the comparative example.
- a shield conductor 5 which increases the electric field strength of the convex curved surface of the shield conductor surface.
- the present inventors coated the surface of the shield conductor 5 with a resin 10 containing nanofiller so that the electron emission suppressing effect based on the deep electron trap caused by the addition of nanoparticles could be obtained on the surface of the shield conductor. be.
- the surface of the shield conductor with a resin containing nanofiller and also add nanofiller to the insulating spacer 3.
- the sealed container 2 is filled with dry air 12, and it is preferable not to use a gas having a high global warming potential, such as SF 6 gas.
- the surface of the shield conductor 5 is coated with the resin 10 containing nanofiller, so that electrons on the convex curved surface B1, which is the starting point of dielectric breakdown, are prevented. Release can be suppressed and insulation deterioration can be improved.
- the switchgear 1 is made more compact, it is possible to improve the reduction in dielectric breakdown voltage caused by making the switchgear 1 more compact.
- the insulation of the shield conductor 5 can be improved by using dry air and by making it more compact, and it is possible to use a gas with a high global warming potential such as SF6 gas. Therefore, it is possible to provide a switchgear 1 that can be made more compact.
- the shield conductor of the present invention insulation properties can be improved, and it can be effectively applied to applications in which electric fields are relaxed.
- a shielded conductor to a switchgear, it is possible to realize a switchgear that uses dry air and is compact.
- Switchgear 2 Sealed container 3 : Insulating spacer 4 : High voltage conductor 4a : First high voltage conductor 4b : Second high voltage conductor 5 : Shield conductor 5a : Inner surface 5b : Outer surface 5c : Outer peripheral surface 6 : Metal flange 7: Connection flange 8: Bolt 9: Shield conductor in insulated spacer 11: SF 6 Gas 12: Dry air A: Central axis B1, B2: Convex curved surface T1: Gap
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Installation Of Bus-Bars (AREA)
Abstract
シールド導体の絶縁性を向上させたシールド導体、及び、それを用いた開閉装置を提供することを目的とする。本発明の一態様は、電界緩和に供されるシールド導体(5)であって、前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂(10)で被覆されている、ことを特徴とする。また、本発明の一態様の開閉装置(1)は、密封容器(2)と、前記密封容器の内部に固定された絶縁スペーサ(3)と、前記絶縁スペーサの中心の両側に配置された高圧導体(4)と、両側の前記高圧導体に取り付けられ、前記高圧導体よりも径が大きいシールド導体(5)と、を有し、前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂(10)で被覆されている、ことを特徴とする。
Description
本発明は、シールド導体、及び、それを用いた開閉装置に関する。
下記特許文献に示すように、ガス絶縁開閉装置は、金属製の密封容器の中に、高圧導体が配置された構造を備えている。このようなガス絶縁開閉装置において、高圧導体を密封容器の所定の位置に固定するための絶縁スペーサと呼ばれる固体絶縁物が用いられている。従来において、密封容器内には、SF6ガスが充填されている。絶縁スペーサの中央部には高圧導体が設けられ絶縁スペーサに支持される。
そして、絶縁スぺーサと、高圧導体と、SF6ガスとの三重点(トリプルジャンクション)での電界集中を緩和するために、絶縁スペーサの両側の高圧導体にはその径より大きいシールド導体が取り付けられる。
ところで、SF6ガスは、地球温暖化係数がCO2の2万倍以上となるため、代替ガス化が推進されている。そこで、代替ガスのひとつとして、乾燥空気の採用が推進されている。
しかしながら、乾燥空気の絶縁性は、SF6の約1/3であり、高圧導体の外周面から突出したシールド導体表面の電界強度が高くなりすぎて絶縁破壊の起点となった。
また、より経済性が要求されるようになり、開閉装置のコンパクト化が望まれているが、コンパクト化を推進すれば、ますます、シールド導体表面の電界強度が高くなり、絶縁上の弱点となった。
そこで本発明は、上記従来技術の問題点を鑑み、シールド導体の絶縁性を向上させたシールド導体、及び、それを用いた開閉装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様のシールド導体は、電界緩和に供されるシールド導体であって、前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂で被覆されている、ことを特徴とする。
本発明の一態様の開閉装置は、密封容器と、前記密封容器の内部に固定された絶縁スペーサと、前記絶縁スペーサの中心の両側に配置された高圧導体と、両側の前記高圧導体に取り付けられ、前記高圧導体よりも径が大きい上記に記載のシールド導体と、を有し、前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂で被覆されている、ことを特徴とする。
本発明によれば、絶縁性に優れたシールド導体にできる。本発明では、該シールド導体を乾燥空気を用いた開閉装置に好ましく用いることができ、開閉装置のコンパクト化を促進できる。
以下、本実施の形態に係る開閉装置について、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は、下記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施することができる。
<開閉装置1の概要>
図1は、本発明の実施の形態に係る開閉装置1の断面図である。図1に示すように、開閉装置1は、密封容器2と、密封容器2の内部に固定された絶縁スペーサ3と、絶縁スペーサ3の中心の両側に配置された高圧導体4と、高圧導体4よりも径が大きいシールド導体5と、を有して構成される。
図1は、本発明の実施の形態に係る開閉装置1の断面図である。図1に示すように、開閉装置1は、密封容器2と、密封容器2の内部に固定された絶縁スペーサ3と、絶縁スペーサ3の中心の両側に配置された高圧導体4と、高圧導体4よりも径が大きいシールド導体5と、を有して構成される。
[絶縁スペーサ3]
絶縁スペーサ3は、高圧導体4を密封容器2の所定の位置に固定するための固体絶縁物であり、例えば、図1に示すコーン型である。ただし、絶縁スペーサ3の形状は限定されるものでなく、円盤型、軸対称の凹凸を設けた構成、或いは、複数本(例えば3本)の高圧導体4が貫通する構成など、様々な形状に適用可能である。
絶縁スペーサ3は、高圧導体4を密封容器2の所定の位置に固定するための固体絶縁物であり、例えば、図1に示すコーン型である。ただし、絶縁スペーサ3の形状は限定されるものでなく、円盤型、軸対称の凹凸を設けた構成、或いは、複数本(例えば3本)の高圧導体4が貫通する構成など、様々な形状に適用可能である。
図1に示すように、絶縁スペーサ3の外周縁部には金属フランジ6が取り付けられており、金属フランジ6は、密封容器2の連結フランジ7に挟まれて、絶縁スペーサ3が、ボルト8により、密封容器2に固定される。
絶縁スペーサ3の材質を限定するものではないが、熱硬化性樹脂に無機フィラーを混入した構成である。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂を好ましく使用できる。また無機フィラーとしては、アルミナ、シリカ、ドロマイト、酸化チタン、チタン酸バリウム、及び、チタン酸ストロンチウム等のうち少なくとも1種を添加することが好ましい。
[導体]
図1に示すように、絶縁スペーサ3の中心軸Aには、高圧電流を通電するための導体が取り付けられている。導体は、絶縁スぺーサ3の内部に埋設された絶縁スペーサ内シールド導体9と、絶縁スペーサ内シールド導体9と一体的となり、絶縁スペーサ3の両側に延出して配置された高圧導体4と、高圧導体4の途中位置にて絶縁スペーサ3の両側に配置され、高圧導体4の径d1よりも径d2が大きいシールド導体5と、を有して構成される。このため、シールド導体5は、高圧導体4の外周面からリング状に突出している。高圧導体4の外周面からのシールド導体5の突出高さを限定するものではないが、5mm~30mm程度である。なお、図1に示すように、絶縁スペーサ内シールド導体9の径d3も、高圧導体4の径d1より大きい。
図1に示すように、絶縁スペーサ3の中心軸Aには、高圧電流を通電するための導体が取り付けられている。導体は、絶縁スぺーサ3の内部に埋設された絶縁スペーサ内シールド導体9と、絶縁スペーサ内シールド導体9と一体的となり、絶縁スペーサ3の両側に延出して配置された高圧導体4と、高圧導体4の途中位置にて絶縁スペーサ3の両側に配置され、高圧導体4の径d1よりも径d2が大きいシールド導体5と、を有して構成される。このため、シールド導体5は、高圧導体4の外周面からリング状に突出している。高圧導体4の外周面からのシールド導体5の突出高さを限定するものではないが、5mm~30mm程度である。なお、図1に示すように、絶縁スペーサ内シールド導体9の径d3も、高圧導体4の径d1より大きい。
例えば、高圧導体4は、絶縁スペーサ内シールド導体9とシールド導体5との間に位置する第1の高圧導体4aと、シールド導体5の外側に配置され、絶縁スペーサ3から離れる方向に延出する第2の高圧導体4bと、を有する。そして、絶縁スペーサ内シールド導体9と第1の高圧導体4aとは一体的に形成されて絶縁スペーサ3内に埋設され、シールド導体5及び第2の高圧導体4bが、第1の高圧導体4aに、例えば、凹凸嵌合により組み込むことが可能とされている。シールド導体5と第2の高圧導体4bは一体で形成され、或いは、別体で形成され組み立ててもよい。
絶縁スペーサ内シールド導体9、高圧導体4、及びシールド導体5の材質を限定するものではないが、例えば、アルミニウム(Al)やアルミニウム合金で形成される。導体のすべてを同じ金属で形成でき、或いは、場所や部材に応じて異なる金属で形成することもできる。
シールド導体5は、絶縁スペーサ3と近い側の内側面(第1の側面)5aと、絶縁スペーサ3から遠い側の外側面(第2の側面)5bと、内側面5a及び外側面5bの間をつなぐ外周面5cと、を有して構成される。そして、内側面5aと外周面5cとの間が凸曲面B1で形成され、外側面5bと外周面5cとの間が凸曲面B2で形成される。このように、内側面5a及び外側面5bと外周面5cとの間は、凸型に湾曲した面であり、尖った形状とはなっておらず、電界集中を緩和できる。
図1に示すように、シールド導体5の内側面5aと絶縁スペーサ3との間には、隙間T1が設けられている。限定されるものではないが、隙間T1は、5mm~30mm程度の大きさである。この程度の距離とすることで、電界強度の緩和を適切に図ることができる。
図1に示すように、本実施の形態では、シールド導体5の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂10で被覆されている。
図1に示すように、本実施の形態では、シールド導体5の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂10で被覆されている。
<従来技術の課題、及び、本実施の形態に至る経緯>
これに対して、図2に示す従来例では、シールド導体5の表面には、ナノフィラーを含有した樹脂10が被覆されておらず、シールド導体5の導体面が露出している。なお、図2において、図1と同じ符号は、同じ部材を示している。
これに対して、図2に示す従来例では、シールド導体5の表面には、ナノフィラーを含有した樹脂10が被覆されておらず、シールド導体5の導体面が露出している。なお、図2において、図1と同じ符号は、同じ部材を示している。
図2の従来例においては、密封容器2の内部に、絶縁性の高いSF6ガス11が充填されていた。絶縁スペーサ3の中心軸A方向の両側に配置されたシールド導体5は、絶縁スペーサ3と、高圧導体4と、SF6ガス11とが接する三重点(トリプルジャンクション)Cの電界集中を緩和するために設けられる。
ところで、SF6ガス11は、地球温暖化係数がCO2の2万倍以上と高いことから、SF6ガス11に代わって、乾燥空気の採用が推進されている。
しかしながら、乾燥空気の絶縁性は、SF6ガスの約1/3と低く、図2に示すシールド導体5の表面の特に、三重点Cに近い側の凸曲面B1における電界強度が高くなり、ここを起点として絶縁破壊が生じやすかった。
このように、乾燥空気の絶縁性は、SF6ガスの絶縁性に比べて1/3程度以下に低いため、SF6ガスと同様の絶縁性を保つには絶縁距離を増大する必要があった。しかしながら、近年、より経済性が要求されるようになり、開閉装置のコンパクト化が望まれており、大型化が困難であった。このため、コンパクト化を推進すれば、ますます、シールド導体5の凸曲面B1における電界強度が高くなり、絶縁上の弱点となった。
そこで、本発明者らは、鋭意研究を重ねた結果、図1に示すように、シールド導体5の表面を、ナノフィラーを含有した樹脂10で被覆した。これにより、シールド導体5の凸曲面B1からの電子放出を抑制でき、シールド導体5の絶縁性を向上させるに至った。
<ナノフィラーを含有した樹脂10>
本実施の形態のナノフィラーを含有した樹脂10は、図1に示すように、シールド導体5の表面にのみ被覆すればよく、すなわち、高圧導体4の表面にまで被覆することは必要でない。これにより、比較的容易に施工が可能である。また、シールド導体5の特に電界強度が高くなる凸曲面B1のみにナノフィラーを含有した樹脂10を被覆する構成とするよりも、露出するシールド導体5の表面全域に樹脂10を被覆することで、シールド導体5に対する絶縁性向上を効果的に図ることができ、且つ施工性にも優れる。また、例えば、シールド導体5を、高圧導体4とは別個に設けておき、ナノフィラーを含有した樹脂10を表面に被覆したシールド導体5を、高圧導体4に組み込むことができる。また、樹脂10の施工方法を限定するものではないが、スプレー塗装や刷毛塗り、或いは、流動浸漬等を提示できる。
本実施の形態のナノフィラーを含有した樹脂10は、図1に示すように、シールド導体5の表面にのみ被覆すればよく、すなわち、高圧導体4の表面にまで被覆することは必要でない。これにより、比較的容易に施工が可能である。また、シールド導体5の特に電界強度が高くなる凸曲面B1のみにナノフィラーを含有した樹脂10を被覆する構成とするよりも、露出するシールド導体5の表面全域に樹脂10を被覆することで、シールド導体5に対する絶縁性向上を効果的に図ることができ、且つ施工性にも優れる。また、例えば、シールド導体5を、高圧導体4とは別個に設けておき、ナノフィラーを含有した樹脂10を表面に被覆したシールド導体5を、高圧導体4に組み込むことができる。また、樹脂10の施工方法を限定するものではないが、スプレー塗装や刷毛塗り、或いは、流動浸漬等を提示できる。
ナノフィラーを含有した樹脂10に用いる樹脂材は、流体状の絶縁性樹脂である。絶縁性樹脂としては、熱硬化性樹脂であることが好ましい。例えば、熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、あるいはそれらの混合物である。このうち、熱硬化性樹脂として、エポキシ樹脂を選択することが好ましい。
エポキシ樹脂は、エポキシ樹脂主剤と、硬化剤と、硬化促進剤と、を含むことが好ましい。このうち、硬化促進剤は、任意に選択される。エポキシ樹脂主剤としては、脂肪族エポキシ樹脂、或いは、脂環式エポキシ樹脂、又は、これらの混合物を用いることができる。脂肪族エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAD型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、3官能以上の多官能型エポキシ樹脂等が挙げられるが、これらに限定されるものではなく、これらのうち1種を単独で、または2種類以上を混合して使用することができる。
脂環式エポキシ樹脂としては、単官能型エポキシ樹脂、2官能型エポキシ樹脂、3官能以上の多官能型エポキシ樹脂等が挙げられるが、これらに限定されるものでなく、これらのうち1種を単独で、または2種類以上を混合して使用することができる。
熱硬化性樹脂の硬化剤としては、エポキシ樹脂主剤と反応し、硬化しうるものであれば、特に限定されない。例えば、熱硬化性樹脂の硬化剤は、芳香族酸無水物であり、具体的には、無水フタル酸、無水ピロメリット酸、無水トリメリット酸等が挙げられる。あるいは、熱硬化性樹脂の硬化剤は、環状脂肪族酸無水物であり、具体的には、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸等が挙げられる。または、熱硬化性樹脂の硬化剤は、脂肪族酸無水物であり、具体的には、無水コハク酸、ポリアジピン酸無水物、ポリセバシン酸無水物、ポリアゼライン酸無水物等を挙げることができる。なお、熱硬化性樹脂の硬化剤としては上記に挙げたもの以外であってもよい。また、硬化促進剤としては、イミダゾール、もしくはその誘導体、三級アミン、ホウ酸エステル、ルイス酸、有機金属化合物、有機酸金属塩等を適宜用いることができるが、これらに限定されるものではない。
本実施の形態に使用されるナノフィラーについて説明する。樹脂10中に分散されるナノフィラーは、本実施の形態の効果、すなわち、電子放出抑制効果を促進でき、シールド導体5の絶縁性を高めることができる効果を発揮可能な大きさ及び材質が選択され得る。具体的には、ナノフィラーの粒径は、100nm以下であることが好ましいが、100nmを超えても、本実施の形態と同等の効果が得られれば本実施の形態におけるナノフィラーに該当する。ただし、ナノフィラーの粒径は、100nm以下とすることが好ましく、90nm以下とすることがより好ましく、80nm以下とすることが更に好ましい。
限定されるものではないが、例えば、ナノフィラーの粒径の測定は、SEMにて、複数個(10個以上が望ましい)のナノフィラーの粒径を平均化して求める。測定方法では、ナノフィラーの最大長さと最小長さの平均をナノフィラーの粒径と定義する。
あるいは、材料メーカのカタログ等に記載された測定データが使用される。または、ナノフィラーの粒径の測定として、既存の、動的光散乱法、レーザ回折法、遠心沈降法、FFF法、及び、電気的検知体法等を適用できる。
あるいは、材料メーカのカタログ等に記載された測定データが使用される。または、ナノフィラーの粒径の測定として、既存の、動的光散乱法、レーザ回折法、遠心沈降法、FFF法、及び、電気的検知体法等を適用できる。
ナノフィラーは、断面が円形以外、例えば、楕円形やそれ以外の不定形であってもよい。いずれの場合もナノフィラーの粒径の測定は、上記に従って行う。
ナノフィラーは、無機フィラーであり、具体的には、シリカ(SiO2)、アルミナ(Al2O3)、窒化ホウ素(BN)、酸化チタン(TiO2)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)、チタン酸バリウム(BaTiO3)のうち、いずれか1種、又は2種以上を選択できる。このうち、ナノフィラーには、シリカ、アルミナ、酸化チタン、或いは、チタン酸バリウムが好ましく選択できる。
限定されるものではないが、ナノフィラーは、樹脂10中に、5体積程度%以下、混合される。より具体的には、0.05体積%~3体積%程度混合される。これにより、ナノフィラーが樹脂10中で適度に分散し、且つ高い絶縁性を発揮できる。
また、樹脂10中には、ナノフィラーのみでなく、被覆時の作業性や機械的物性を考慮して、ナノフィラーよりも粒径が大きいサブマイクロ(「セミマイクロ」と称することもできる)フィラーや、サブマイクロフィラーよりも粒径が大きいマイクロフィラーを混合できる。サブマイクロフィラーの粒径は、100nm以上1μm以下であり、好ましくは200nm~1μm未満である。また、マイクロフィラーの粒径は1μm以上である。ナノフィラー、サブマイクロフィラー及びマイクロフィラーをすべて合わせて、50体積%以下に調整することが好ましい。
本実施の形態において、被覆する樹脂10の組成は、上記した熱硬化性樹脂主剤、硬化剤、硬化促進剤、及び、ナノフィラー等の無機充填材を、誘電率及び耐熱性などの物性値が目的値を達成するように、作業者が適宜決定できる。
限定されるものではないが、樹脂10の厚みは、数10μm~100μm程度である。樹脂10の厚みをこの程度の範囲で形成することで、施工性とともに絶縁性を向上させることができる。
<ナノフィラーを含有した樹脂10を被覆したシールド導体5>
本実施の形態のシールド導体5は、例えば、図1に示す開閉装置1に適用され、電界緩和に供される。図1に示すように、開閉装置1では、密封容器2の内部に絶縁スペーサ3が固定支持され、絶縁スペーサ3の中心に高圧導体4が取り付けられる。そして、絶縁スペーサ3の両側に位置する高圧導体4にそれぞれ、高圧導体4よりも径の大きいシールド導体5が設けられる。このような使用形態にあっては、高圧導体4の外周面から突出するシールド導体5の、絶縁スペーサ3に近い側の凸曲面B1での電界強度が高くなり絶縁破壊の起点となりやすい。
本実施の形態のシールド導体5は、例えば、図1に示す開閉装置1に適用され、電界緩和に供される。図1に示すように、開閉装置1では、密封容器2の内部に絶縁スペーサ3が固定支持され、絶縁スペーサ3の中心に高圧導体4が取り付けられる。そして、絶縁スペーサ3の両側に位置する高圧導体4にそれぞれ、高圧導体4よりも径の大きいシールド導体5が設けられる。このような使用形態にあっては、高圧導体4の外周面から突出するシールド導体5の、絶縁スペーサ3に近い側の凸曲面B1での電界強度が高くなり絶縁破壊の起点となりやすい。
そこで、本実施の形態では、シールド導体5の表面に、ナノフィラーを含有した樹脂10を被覆した。これにより、絶縁破壊の起点となる凸曲面B1での電子放出を抑制でき、高い絶縁性を得ることができる。
<フラッシオーバ―試験>
ところで、本発明者らは、絶縁スペーサ3に、ナノフィラー及びマイクロフィラーを添加した参照例と、ナノフィラーは添加せずにマイクロフィラーを添加した比較例を用いて、フラッシオーバ―特性を検証したところ、ナノフィラーを添加した参照例では、比較例に比べて、フラッシオーバ―特性を改善できることがわかった。
実験に使用したナノフィラーを、以下の表1に示す。
ところで、本発明者らは、絶縁スペーサ3に、ナノフィラー及びマイクロフィラーを添加した参照例と、ナノフィラーは添加せずにマイクロフィラーを添加した比較例を用いて、フラッシオーバ―特性を検証したところ、ナノフィラーを添加した参照例では、比較例に比べて、フラッシオーバ―特性を改善できることがわかった。
実験に使用したナノフィラーを、以下の表1に示す。
参照例及び比較例ともに、SiO2からなるマイクロフィラーを47体積%添加し、参照例では、更に表1に示すナノフィラーをマイクロフィラーに対して1体積%添加した。
表1に示すSiO2ナノフィラーの平均粒径は、50nmであった。また、表1に示すTiO2ナノフィラーの平均粒径は、40nmであった。また、表1に示すSrTiO3ナノフィラーの平均粒径は、70nmであった。また、SiO2マイクロフィラーの平均粒径は1.5μmであった。
表1に示すSiO2ナノフィラーの平均粒径は、50nmであった。また、表1に示すTiO2ナノフィラーの平均粒径は、40nmであった。また、表1に示すSrTiO3ナノフィラーの平均粒径は、70nmであった。また、SiO2マイクロフィラーの平均粒径は1.5μmであった。
試験方法は、「新規機能性絶縁材料を用いたガス絶縁開閉装置スペーサモデルの沿面フラッシオーバ特性」(IEEJ誘電絶縁材料研究会原稿:論文No.DEI-19-116)の記載による。
単発印加方式によるフラッシオーバ―特性の実験結果が以下の表2に示されている。
単発印加方式によるフラッシオーバ―特性の実験結果が以下の表2に示されている。
表2に示す「V63.2」は、単発印加方式による実験において、フラッシオーバ―した瞬時電圧をFOVとして測定し、そのFOVのワイブル分布から、FOV発生確率が、63.2%となる値である。
表2中の括弧書きは、比較例のV63.2に対する上昇率を示す。表2に示すように、いずれの参照例においても比較例に比べてFOV向上効果が見られた。
ナノフィラーを含有することでFOV向上効果が得られるのは、量子化学計算から得られるナノ粒子添加による深いトラップ準位形成に基づくと予測される。
ここで、本実施の形態では、シールド導体5を備えており、これにより、シールド導体表面の凸曲面の電界強度が高まる。このため、ナノ粒子添加による深い電子トラップに基づく電子放出抑制効果がシールド導体表面で得られるように、本発明者らは、シールド導体5の表面を、ナノフィラーを含有する樹脂10で被覆したのである。
本実施の形態では、電子放出抑制効果をより高めるため、ナノフィラーを含有した樹脂を、シールド導体表面に被覆するとともに、絶縁スペーサ3にもナノフィラーを添加することが好適である。
<樹脂10を被覆したシールド導体5を有する開閉装置1>
本実施の形態における開閉装置1は、密封容器2内が乾燥空気12で満たされており、SF6ガスに代表される地球温暖化係数が高いガスを用いないことが好ましい。
本実施の形態における開閉装置1は、密封容器2内が乾燥空気12で満たされており、SF6ガスに代表される地球温暖化係数が高いガスを用いないことが好ましい。
本実施の形態では、乾燥空気12を用いた構成であっても、シールド導体5の表面に、ナノフィラーを含有した樹脂10を被覆したことで、絶縁破壊の起点となる凸曲面B1での電子放出を抑制でき絶縁性低下を改善できる。加えて、開閉装置1のコンパクト化を推進しても、コンパクト化による絶縁破壊電圧の低下を改善することができる。
以上により、本実施の形態の開閉装置1においては、乾燥空気を用い且つコンパクト化によっても、シールド導体5の絶縁性を高めることができ、SF6ガス等の地球温暖化係数が高いガスを用いることなく、コンパクト化を促進可能な開閉装置1を提供できる。
本出願は、2022年9月7日出願の特願2022-141863に基づく。この内容は、全てここに含めておく。
本発明のシールド導体によれば、絶縁性を向上させることができ、効果的に、電界緩和に供する用途に適用できる。シールド導体を開閉装置に適用することで、乾燥空気を用い且つコンパクト化された開閉装置を実現できる。
1 :開閉装置
2 :密封容器
3 :絶縁スペーサ
4 :高圧導体
4a :第1の高圧導体
4b :第2の高圧導体
5 :シールド導体
5a :内側面
5b :外側面
5c :外周面
6 :金属フランジ
7 :連結フランジ
8 :ボルト
9 :絶縁スペーサ内シールド導体
11 :SF6ガス
12 :乾燥空気
A :中心軸
B1、B2 :凸曲面
T1 :隙間
2 :密封容器
3 :絶縁スペーサ
4 :高圧導体
4a :第1の高圧導体
4b :第2の高圧導体
5 :シールド導体
5a :内側面
5b :外側面
5c :外周面
6 :金属フランジ
7 :連結フランジ
8 :ボルト
9 :絶縁スペーサ内シールド導体
11 :SF6ガス
12 :乾燥空気
A :中心軸
B1、B2 :凸曲面
T1 :隙間
Claims (4)
- 電界緩和に供されるシールド導体であって、
前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂で被覆されている、
ことを特徴とするシールド導体。 - 密封容器と、
前記密封容器の内部に固定された絶縁スペーサと、
前記絶縁スペーサの中心の両側に配置された高圧導体と、
両側の前記高圧導体に取り付けられ、前記高圧導体よりも径が大きいシールド導体と、を有して構成され、
前記シールド導体の表面は、ナノフィラーを含有した樹脂で被覆されている、ことを特徴とする開閉装置。 - 前記シールド導体は、前記絶縁スペーサに近い側の第1の側面と、前記絶縁スペーサから遠い側の第2の側面と、前記第1の側面と前記第2の側面との間のつなぐ外周面と、を有し、前記第1の側面及び前記第2の側面と前記外周面との間が、凸曲面で形成され、
前記凸曲面は、前記ナノフィラーを含有した樹脂で被覆されている、ことを特徴とする請求項2に記載の開閉装置。 - 前記ナノフィラーには、シリカ、アルミナ、窒化ホウ素、酸化チタン、チタン酸ストロンチウム、及び、チタン酸バリウムのうち1種、或いは2種以上が選択される、ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のシールド導体及び開閉装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022141863 | 2022-09-07 | ||
JP2022-141863 | 2022-09-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2024053394A1 true WO2024053394A1 (ja) | 2024-03-14 |
Family
ID=90191120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2023/030244 WO2024053394A1 (ja) | 2022-09-07 | 2023-08-23 | シールド導体、及び、開閉装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
WO (1) | WO2024053394A1 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1075519A (ja) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Toshiba Corp | ガス絶縁装置 |
JP2006057017A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Toshiba Corp | 高電圧機器用耐部分放電性絶縁樹脂組成物、耐部分放電性絶縁材料及び絶縁構造体 |
JP2006320156A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | ガス絶縁機器 |
JP2008029068A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Somar Corp | 電力用スイッチギアの製造方法及び電力用スイッチギア |
-
2023
- 2023-08-23 WO PCT/JP2023/030244 patent/WO2024053394A1/ja unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1075519A (ja) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Toshiba Corp | ガス絶縁装置 |
JP2006057017A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Toshiba Corp | 高電圧機器用耐部分放電性絶縁樹脂組成物、耐部分放電性絶縁材料及び絶縁構造体 |
JP2006320156A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | ガス絶縁機器 |
JP2008029068A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Somar Corp | 電力用スイッチギアの製造方法及び電力用スイッチギア |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9890296B2 (en) | Coating material for electrical equipment, method for manufacturing coating material for electrical equipment, and closed insulating device | |
US8049108B2 (en) | High voltage bushing and high voltage device comprising such bushing | |
US9972987B2 (en) | Gas insulation device | |
US20100051306A1 (en) | High voltage bushing | |
JP6009839B2 (ja) | 非直線抵抗材料 | |
US20230395326A1 (en) | Dielectric material for a high voltage capacitor | |
JP2021523270A (ja) | コロナ耐性ポリイミド絶縁体を持つマグネットワイヤ | |
US20230368975A1 (en) | Dielectric material for a high voltage capacitor | |
WO2024053394A1 (ja) | シールド導体、及び、開閉装置 | |
JP7021255B2 (ja) | 絶縁スペーサ | |
KR100567286B1 (ko) | 수지 조성물 및 이를 사용한 점화 코일 장치 | |
US8163999B2 (en) | Insulation-coated wire | |
CN106188601A (zh) | 环氧树脂材料制品及其制备方法 | |
JP4131168B2 (ja) | 耐部分放電性絶縁塗料及び絶縁電線 | |
JP4165326B2 (ja) | 点火コイル | |
KR840001365B1 (ko) | 코로나-저항 절연방법 | |
JP6352782B2 (ja) | 絶縁スペーサ | |
US11070039B2 (en) | Insulation spacer and gas insulation shutoff apparatus using the insulation spacer | |
JPH05146035A (ja) | ガス絶縁機器 | |
JP7374668B2 (ja) | 電気機器 | |
WO2022054154A1 (ja) | ガス絶縁機器 | |
khan et al. | Tailoring the properties of epoxy/silicone blends for high-voltage capacitor applications | |
US20040031620A1 (en) | Corona-resistant wire | |
Park et al. | Effect of Silicone-modified Microsilica Content on Electrical and Mechanical Properties of Cycloaliphatic Epoxy/Microsilica System | |
CN104319034A (zh) | 简单的复合高压套管 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 23862933 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2024545552 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |