WO2024024734A1 - 発光モジュール - Google Patents

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WO2024024734A1
WO2024024734A1 PCT/JP2023/027025 JP2023027025W WO2024024734A1 WO 2024024734 A1 WO2024024734 A1 WO 2024024734A1 JP 2023027025 W JP2023027025 W JP 2023027025W WO 2024024734 A1 WO2024024734 A1 WO 2024024734A1
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WO
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light emitting
light
laser
mirror member
cover
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Application number
PCT/JP2023/027025
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English (en)
French (fr)
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一真 ▲高▼鶴
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日亜化学工業株式会社
古河電気工業株式会社
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02251Out-coupling of light using optical fibres
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
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    • H01S5/0225Out-coupling of light
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    • HELECTRICITY
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    • H01S5/022Mountings; Housings
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    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02257Out-coupling of light using windows, e.g. specially adapted for back-reflecting light to a detector inside the housing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30

Definitions

  • the present disclosure relates to a light emitting module.
  • DDL Direct Diode Laser
  • a light emitting module including a plurality of semiconductor laser elements is used in the DDL technology.
  • the light emitting module combines a plurality of laser beams obtained by emitting laser beams from each of a plurality of semiconductor laser elements, and emits a high-power laser beam.
  • the traveling directions of a plurality of laser beams are aligned in the same direction as designed, the plurality of laser beams can be effectively combined.
  • Patent Document 1 discloses an example of an optical component that can reduce the deviation between the traveling direction of laser light emitted from a semiconductor laser element and the designed traveling direction.
  • a light emitting module includes a plurality of light emitting devices that can reduce the deviation between the traveling direction of laser light emitted from a semiconductor laser element and the designed traveling direction.
  • the light emitting module of the present disclosure includes a support base having a plurality of mounting surfaces arranged in a first direction, and a plurality of light emitting devices, each of which has a corresponding light emitting device disposed on each of the plurality of mounting surfaces.
  • the apparatus each includes a substrate having a mounting surface, a semiconductor laser element supported by the mounting surface, a first mirror member supported by the mounting surface, and an opposing mirror member opposite to the mounting surface of the substrate. a second mirror member supported by the upper surface of the cover; and a second mirror member supported by the upper surface of the cover.
  • the first mirror member has a first reflective surface
  • the first reflective surface is attached to the mounting surface.
  • the second mirror member has a second reflective surface, and at least a portion of the second reflective surface is located above at least a portion of the first reflective surface;
  • the semiconductor laser element is arranged to emit a laser beam toward the first reflective surface, and the first reflective surface reflects the laser beam and directs the traveling direction of the laser beam toward the substrate.
  • the cover transmits the laser beam reflected by the first reflective surface, and the second reflective surface transmits the laser beam reflected by the first reflective surface.
  • the traveling direction of the laser beam is further changed to a second direction intersecting the first direction by reflection, and each of the plurality of third mirror members has a third reflective surface, and the third reflective surface reflects the laser beam traveling in the second direction to change the traveling direction of the laser beam to the first direction, and the condenser lens reflects the laser beam traveling in the second direction, and the condenser lens A plurality of laser beams obtained by the laser beam being reflected by the third reflecting surface are coupled to an optical fiber.
  • a light emitting module including a plurality of light emitting devices that can reduce the deviation between the traveling direction of laser light emitted from a semiconductor laser element and the designed traveling direction.
  • FIG. 1A is a top view schematically illustrating the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1B is a side view schematically showing the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1C is another side view schematically showing the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1D is a top view schematically showing the configuration of a modified example of the light emitting module according to the embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 2A is a perspective view schematically showing the configuration of a light emitting device according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 2B is an exploded perspective view of the light emitting device shown in FIG. 2A.
  • FIG. 2C is another exploded perspective view of the light emitting device shown in FIG. 2A.
  • FIG. 2D is a perspective view of the frame included in the light emitting device shown in FIG. 2C, viewed from below.
  • FIG. 2E is a top view of the light emitting device shown in FIG. 2A with the second mirror member and cover omitted.
  • FIG. 2F is a cross-sectional view of the light emitting device shown in FIG. 2A, parallel to the YZ plane.
  • FIG. 3 is a diagram schematically illustrating the configuration of a DDL device according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 4A is an exploded perspective view of the laser light source.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view of the laser light source parallel to the YZ plane.
  • polygons such as triangles or quadrilaterals include shapes whose corners have been rounded, chamfered, chamfered, rounded, etc. call. Furthermore, not only the corners (edges of sides) but also shapes in which the middle portions of the sides are processed are also called polygons. In other words, a shape that is partially processed while remaining a polygon as a base is included in the interpretation of "polygon" described in this specification and claims.
  • FIG. 1A is a top view schematically illustrating the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1B is a side view schematically showing the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 1C is another side view schematically showing the configuration of a light emitting module according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • the X-axis, Y-axis, and Z-axis which are perpendicular to each other, are schematically shown.
  • the direction of the arrow on the X-axis is called the +X direction, and the opposite direction is called the -X direction.
  • the ⁇ X direction is not distinguished, it is simply referred to as the X direction.
  • the Y direction and the Z direction are referred to as "upward” and the -Y direction is referred to as "downward.” This does not limit the orientation of the light emitting module during use, and the orientation of the light emitting module is arbitrary.
  • the light emitting module 200 shown in FIGS. 1A to 1C includes a support base 60, a condenser lens 70, an optical fiber 80, a support member 82 that supports the optical fiber 80, a plurality of slow-axis collimating lenses 92, and a plurality of slow-axis collimating lenses 92.
  • a mirror member 94 and a plurality of light emitting devices 100 are provided. Each mirror member 94 has a reflective surface 94s.
  • the support base 60 is arranged on a reference plane Ref parallel to the XZ plane.
  • the reference plane Ref is a height reference plane in the light emitting module 200.
  • the support base 60 includes a first portion 60-1 that supports a plurality of light emitting devices 100, as shown in FIG. 1A.
  • the support base 60 further includes a plurality of second portions 60-2 supported by the first portion 60-1. Each second portion 60-2 supports a corresponding slow-axis collimating lens 92 and mirror member 94.
  • the support base 60 further includes a third portion 60-3 connected to the first portion 60-1.
  • the third portion 60-3 supports the condenser lens 70 and the optical fiber 80.
  • the first portion 60-1 has a plurality of first mounting surfaces 60s1 arranged in the X direction.
  • a corresponding second portion 60-2 is arranged on each first mounting surface 60s1.
  • Each second portion 60-2 has a second mounting surface 60s2.
  • the third portion 60-3 has a third mounting surface 60s3.
  • the heights of the plurality of first mounting surfaces 60s1 decrease stepwise along the +X direction, as shown in FIG. 1B. The same applies to the heights of the plurality of second mounting surfaces 60s2.
  • a corresponding light emitting device 100 is arranged on each first mounting surface 60s1.
  • a corresponding slow-axis collimating lens 92 and mirror member 94 are arranged on each second mounting surface 60s2. If the slow-axis collimating lens 92 and/or the mirror member 94 have sufficiently large dimensions in the Y direction, the slow-axis collimating lens 92 and/or the mirror member 94 may be placed in the first position without using the second portion 60-2. It may be arranged on the surface 60s1.
  • a condensing lens 70 is disposed on the third mounting surface 60s3, and an optical fiber 80 is disposed via a support member 82.
  • the height of the third mounting surface 60s3 is larger than the minimum height and smaller than the maximum height of the plurality of first mounting surfaces 60s1.
  • the height of the third mounting surface 60s3 is further smaller than the minimum height of the plurality of second mounting surfaces 60s2.
  • the height of the third mounting surface 60s3 may be equal to or smaller than the minimum height of the plurality of first mounting surfaces 60s1.
  • the height of the third mounting surface 60s3 may be equal to or greater than the maximum height of the plurality of first mounting surfaces 60s1.
  • the number of light emitting devices 100 is four, and the number of first mounting surfaces 60s1 is four, but the number is not limited to these.
  • the number of light emitting devices 100 may be two, three, or five or more. As the number of light emitting devices 100 increases, it becomes possible to obtain higher output laser light.
  • the number of first mounting surfaces 60s1 may be two, three, five or more, and may be equal to or greater than the number of light emitting devices 100.
  • the support base 60 may be formed of a ceramic selected from the group consisting of AlN, SiN, SiC, and alumina, for example. Alternatively, the support base 60 may be formed from at least one metal material selected from the group consisting of, for example, Cu, Al, and Ag. Support substrate 60 may be formed, for example, from a metal matrix composite material in which diamond particles are dispersed in at least one metal material selected from the group consisting of Cu, Al, and Ag.
  • the support base 60 may be formed integrally or may be an assembly of a plurality of parts. The plurality of parts may be made of the same material or may be made of different materials.
  • first portion 60-1, the plurality of second portions 60-2, and the third portion 60-3 may be formed integrally or may be formed independently from each other.
  • first portion 60-1 and the third portion 60-3 are integrally formed, and the plurality of second portions 60-2 are independent of the first portion 60-1 and the third portion 60-3. It may be formed as follows.
  • the support base 60 is made of a metal material selected from the group consisting of Cu, Al, and Ag, and is made of a single member. Metal materials have better heat dissipation than ceramics, and are softer and easier to process.
  • the support base 60 functions as a support base on which the plurality of light emitting devices 100 are arranged.
  • the support base 60 can further function as a heat sink that transmits heat emitted from the plurality of light emitting devices 100 to the outside to reduce excessive temperature rise of the light emitting devices 100.
  • one or more channels for liquid cooling may be provided inside the support base 60.
  • water can be used as the liquid used for liquid cooling.
  • a fin structure for air cooling may be provided on the surface of the support base 60.
  • the support base 60 can also function as a heat spreader that transmits the heat emitted from the plurality of light emitting devices 100 to the heat sink.
  • Each light emitting device 100 emits laser light L in the +Z direction, as shown in FIGS. 1A and 1C.
  • each slow axis collimating lens 92 collimates laser light emitted from the corresponding light emitting device 100 and traveling in the +Z direction in the XZ plane.
  • the reflective surface 94s of each mirror member 94 reflects the collimated laser beam L emitted from the corresponding light emitting device 100 and directs the traveling direction of the laser beam L toward the condenser lens 70. Change it in the +X direction toward .
  • the laser light L emitted from each light emitting device 100 is represented by a thick line with three arrows in the example shown in FIG.
  • the condenser lens 70 has a fast-axis condenser lens 70a and a slow-axis condenser lens 70b.
  • the fast-axis condensing lens 70a may be, for example, a cylindrical lens having a uniform cross-sectional shape in the Z direction
  • the slow-axis condensing lens 70b may be, for example, a cylindrical lens having a uniform cross-sectional shape in the Y direction.
  • the optical axes of the fast-axis condensing lens 70a and the slow-axis condensing lens 70b are parallel to the X direction.
  • Condenser lens 70 may be formed from at least one translucent material selected from the group consisting of glass, silicon, quartz, synthetic quartz, sapphire, transparent ceramics, silicone resin, and plastic, for example.
  • the fast-axis condensing lens 70a is arranged so that its focal point almost coincides with the light incident end 80a of the optical fiber 80.
  • the slow axis condensing lens 70b is arranged so that its focal point substantially coincides with the light incident end 80a of the optical fiber 80.
  • the focal length of the fast-axis condenser lens 70a is longer than the focal length of the slow-axis condenser lens 70b.
  • the fast-axis condensing lens 70a directs a plurality of laser beams L obtained by emitting laser beams L from each of the plurality of light emitting devices 100 in the XY plane to a light input end of the optical fiber 80. Converge to 80a.
  • the slow-axis condensing lens 70b converges the spread laser light L emitted from each of the plurality of light emitting devices 100 onto the light incident end 80a in the XZ plane.
  • the laser beam L emitted from each of the plurality of light emitting devices 100 in the +Z direction is reflected in the +X direction by the corresponding reflecting surface 94s.
  • the plurality of laser beams L thus obtained can be combined by the condensing lens 70 and made to enter the optical fiber 80 .
  • the light emitting module 200 emits combined light in which the plurality of laser beams L are combined from the light emitting end 80b of the optical fiber 80.
  • the output of the combined light is approximately equal to the value obtained by multiplying the output of the laser beam L emitted from each light emitting device 100 by the number of light emitting devices 100. Therefore, by increasing the number of light emitting devices 100, the output of combined light can be increased.
  • FIG. 1D is a top view schematically showing the configuration of a modified example of the light emitting module according to the embodiment of the present disclosure.
  • the light emitting module 210 shown in FIG. 1D differs from the light emitting module 200 shown in FIGS. 1A to 1C in the following three points.
  • the first point is that the light emitting module 210 includes a support base 62 instead of the support base 60.
  • the shape of the support base 62 is different from the shape of the support base 60.
  • the second point is that the light emitting module 210 includes, in addition to the plurality of light emitting devices 100-1, the plurality of slow axis collimating lenses 92a, and the plurality of mirror members 94a, the light emitting module 210 includes a plurality of light emitting devices 100-2, a plurality of slow axis collimating lenses 92a, and a plurality of slow axis collimating lenses 92a. It further includes a lens 92b and a plurality of mirror members 94b.
  • Each mirror member 94a has a reflective surface 94as
  • each mirror member 94b has a reflective surface 94bs.
  • the third point is that the light emitting module 210 further includes a mirror member 94c, a 1/2 wavelength plate 96, and a polarizing beam splitter 98.
  • the mirror member 94c has a reflective surface 94cs.
  • the support base 62 includes a first portion 62-1 that supports a plurality of light emitting devices 100-1 and a plurality of light emitting devices 100-2.
  • the support base 62 further includes a plurality of second portions 62-2 supported by the first portions 62-1.
  • Each second portion 62-2 supports a corresponding slow-axis collimating lens 92a, slow-axis collimating lens 92b, mirror member 94a, and mirror member 94b.
  • the support base 62 further includes a third portion 62-3 connected to the first portion 62-1.
  • the third portion 62-3 supports a condenser lens 70, an optical fiber 80, a mirror member 94c, a half-wave plate 96, and a polarizing beam splitter 98.
  • the first portion 62-1 has a plurality of first mounting surfaces 60s1 arranged in the X direction.
  • a corresponding second portion 62-2 is arranged on each first mounting surface 60s1.
  • Each second portion 62-2 has a second mounting surface 60s2.
  • the third portion 62-3 has a third mounting surface 60s3.
  • the light emitting device 100-2, the slow axis collimating lens 92a, and the mirror member 94a have the same structures as the light emitting device 100, the slow axis collimating lens 92, and the mirror member 94 shown in FIG. 1A, respectively. The same applies to the light emitting device 100-2, the slow axis collimating lens 92b, and the mirror member 94b.
  • the light emitting device 100-1, the slow axis collimating lens 92a, and the mirror member 94a are arranged in this order along the +Z direction, and the light emitting device 100-2, the slow axis collimating lens 92b, and the mirror member 94b are arranged in the -Z direction. They are arranged in this order along the direction.
  • the positions of the light emitting device 100-1 and the light emitting device 100-2 are reversed in the Z direction. The same applies to the arrangement of the slow-axis collimating lens 92a and the slow-axis collimating lens 92b, and the arrangement of the mirror member 94a and the mirror member 94b.
  • Each light emitting device 100-1 and each light emitting device 100-2 is arranged on the corresponding first mounting surface 60s1.
  • Each light emitting device 100-1 emits laser light La in the +Z direction
  • each light emitting device 100-2 emits laser light Lb in the ⁇ Z direction.
  • the polarization directions of the laser beams La and Lb are parallel to the X direction.
  • Each slow axis collimating lens 92a, each slow axis collimating lens 92b, each mirror member 94a, and each mirror member 94b are arranged on the corresponding second mounting surface 60s2.
  • Each slow axis collimating lens 92a collimates the laser beam La emitted in the +Z direction from the corresponding light emitting device 100-1 in the XZ plane.
  • Each slow axis collimating lens 92b collimates the laser beam Lb emitted from the corresponding light emitting device 100-2 in the ⁇ Z direction in the XZ plane.
  • the reflecting surface 94as of each mirror member 94a reflects the collimated laser beam La to change the traveling direction of the laser beam La to the +X direction.
  • the reflective surface 94bs of each mirror member 94b reflects the collimated laser beam Lb and changes the traveling direction of the laser beam Lb to the +X direction.
  • the mirror member 94c, the 1/2 wavelength plate 96, and the polarizing beam splitter 98 are arranged on the third mounting surface 60s3.
  • the reflective surface 94cs of the mirror member 94c reflects the laser beam Lb traveling in the +X direction and changes the traveling direction of the laser beam Lb to the -Z direction.
  • the half-wave plate 96 changes the polarization direction of the laser beam Lb traveling in the ⁇ Z direction from the X direction to the Y direction.
  • the polarizing beam splitter 98 transmits laser light La that travels in the +X direction and has a polarization direction in the Z direction, and reflects laser light Lb that travels in the -Z direction and has a polarization direction in the Y direction.
  • the laser beam La transmitted through the polarizing beam splitter 98 is focused by the condensing lens 70 onto the light incident end 80a of the optical fiber 80.
  • the laser beam Lb reflected by the polarizing beam splitter 98 is converged by the condensing lens 70 onto the light incident end 80a of the optical fiber 80.
  • the light emitting module 210 emits a combined light in which the plurality of laser beams La and the plurality of laser beams Lb are combined from the light emitting end 80b of the optical fiber 80.
  • the total number of light emitting devices 100-1 and the number of light emitting devices 100-2 is twice the number of light emitting devices 100, compared to the light emitting module 200 illustrated in FIG. It is. Therefore, the output of the combined light can be further increased.
  • the traveling directions of the plurality of laser beams L when the traveling directions of the plurality of laser beams L are aligned in the +X direction as designed, the plurality of laser beams L can be effectively combined by the condenser lens 70 and enter the optical fiber 80. can.
  • the traveling directions of the plurality of laser beams La and the plurality of laser beams Lb are aligned in the +X direction as designed.
  • the corresponding light emitting device 100 is arranged on each of the plurality of first mounting surfaces 60s1 having different heights, but the structure is not limited to such a structure. Alternatively, a plurality of light emitting devices 100 may be employed in a more general spatially coupled light emitting module.
  • FIG. 2A is a perspective view schematically showing the configuration of a light emitting device according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 2B is an exploded perspective view of the light emitting device shown in FIG. 2A.
  • the light emitting device 100 shown in FIG. 2B includes a substrate 10, a laser light source 20, a first mirror member 30a, a second mirror member 30b, a frame 40, a plurality of wires 40w, and a cover 50.
  • the substrate 10 has a mounting surface of 10 us.
  • the first mirror member 30a has a first reflective surface 30as
  • the second mirror member 30b has a second reflective surface 30bs.
  • the laser light source 20 is a chip-on-submount type semiconductor laser light source having a semiconductor laser element 22 .
  • the light emitting device 100 may further include a protection element such as a Zener diode and/or a temperature measurement element for measuring internal temperature such as a thermistor.
  • FIG. 2C is another exploded perspective view of the light emitting device 100 shown in FIG. 2A. In FIG. 2C, the plurality of wires 40w shown in FIG. 2B are omitted.
  • FIG. 2D is a perspective view of the frame 40 included in the light emitting device 100 shown in FIG. 2C, viewed from below.
  • FIG. 2E is a top view of a configuration in which the second mirror member 30b and cover 50 are omitted from the light emitting device 100 shown in FIG. 2A.
  • FIG. 2F is a cross-sectional view of the light emitting device 100 shown in FIG. 2A, parallel to the YZ plane.
  • the laser light L emitted from the laser light source 20 is reflected in this order by the first reflective surface 30as and the second reflective surface 30bs. be done.
  • the first reflecting surface 30as and the second reflecting surface 30bs are independent of whether the traveling direction of the laser beam L emitted from the laser light source 20 deviates from the +Z direction which is the designed traveling direction.
  • the traveling direction of the laser beam L reflected in this order can be directed to the +Z direction.
  • the first reflective surface 30as reflects the laser light L emitted from the laser light source 20 and changes the traveling direction of the laser light L in a direction away from the mounting surface 10us of the substrate 10.
  • the second reflecting surface 30bs reflects the laser beam L reflected by the first reflecting surface 30as to further change the traveling direction of the laser beam L in the +Z direction.
  • the position and orientation of the second mirror member 30b can be adjusted so that the laser beam L reflected by the second reflective surface 30bs travels in the +Z direction.
  • the traveling direction of the laser beam L can be changed to the +X direction, which is the designed traveling direction. can.
  • the plurality of laser beams L traveling in the +X direction can be effectively combined to output high-power combined light from the light emitting module 200.
  • the traveling direction of the laser beam L incident on the reflective surface 94s is not parallel to the designed +Z direction
  • the traveling direction of the laser beam L reflected by the reflective surface 94s deviates from the designed +X direction.
  • the plurality of laser beams L having such a shift in the traveling direction may not be effectively combined, even if the angle of shift is several degrees, and the output of the combined light may be reduced.
  • the deviation between the traveling direction of the laser beam L reflected in this order by the first reflecting surface 30as and the second reflecting surface 30bs and the +Z direction which is the designed traveling direction is reduced. be able to.
  • the angle between the traveling direction of the laser beam L and the designed traveling direction is preferably, for example, 1° or less, and more preferably 0.1° or less. In this specification, the angle between two directions has a positive value and does not have a negative value.
  • the designed traveling direction of the laser beam L reflected in this order by the first reflective surface 30as and the second reflective surface 30bs is parallel to the +Z direction, and the laser beam reflected by the reflective surface 94s
  • the designed direction of movement of L is parallel to the +X direction.
  • the designed direction of travel is not limited to these directions.
  • the direction in which the plurality of first mounting surfaces 60s1 are lined up is referred to as a "first direction", and the traveling direction of the laser beam L reflected in this order by the first reflective surface 30as and the second reflective surface 30bs is referred to as " “Second direction”.
  • the reference plane Ref is parallel to the first direction.
  • the first direction is the +X direction and the second direction is the +Z direction, but the present invention is not limited to these directions.
  • the second direction does not need to be orthogonal to the first direction as long as it intersects with the first direction.
  • the light emitting device 100 may be used for other purposes without being adopted as the light emitting module 200 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the substrate 10 has a mounting surface 10us and a lower surface 10Ls, as shown in FIG. 2C.
  • the normal direction of the mounting surface 10us is the +Y direction.
  • the normal direction of a surface means a direction perpendicular to the surface and a direction away from an object having the surface.
  • the substrate 10 has a rectangular flat plate shape, but is not limited to this shape.
  • the substrate 10 may have a polygonal, circular, or elliptical flat plate shape, for example.
  • the lower surface 10Ls of the substrate 10 is bonded to the first mounting surface 60s1 of the support base 60 via, for example, an inorganic bonding member such as a solder material.
  • the substrate 10 may be formed of a material having a thermal conductivity of 10 W/m ⁇ K or more and 2000 W/m ⁇ K or less, for example. With the substrate 10 having such high thermal conductivity, the heat emitted from the laser light source 20 during driving can be effectively transferred to the support base 60 shown in FIGS. 1A to 1C via the substrate 10. Substrate 10 may be formed from the same material as supporting base 60, for example.
  • the dimension of the substrate 10 in the X direction may be, for example, 1000 ⁇ m or more and 10000 ⁇ m or less
  • the dimension in the Y direction may be, for example, 100 ⁇ m or more and 5000 ⁇ m or less
  • the dimension in the Z direction may be, for example, 1000 ⁇ m or more and 20000 ⁇ m or less.
  • the laser light source 20 is supported by the mounting surface 10us of the substrate 10, as shown in FIG. 2C.
  • the laser light source 20 includes a submount 21 , an edge-emitting semiconductor laser element 22 supported by the submount 21 , a lens support member 23 , and a fast-axis collimating lens 24 .
  • the semiconductor laser element 22 is supported by the mounting surface 10us of the substrate 10 via the submount 21.
  • the semiconductor laser element 22 is arranged to emit laser light L toward the first reflective surface 30as.
  • the lens support member 23 has a shape that straddles the semiconductor laser element 22.
  • the lens support member 23 supports the fast axis collimating lens 24 by its end face.
  • the components of the laser light source 20 may be treated as components of the light emitting device 100.
  • the semiconductor laser element 22 emits laser light L from a rectangular end face.
  • the end face extends in the X direction and is a plane parallel to the XY plane
  • the laser beam L emitted from the semiconductor laser element 22 in the +Z direction spreads relatively quickly in the YZ plane, and spreads slowly.
  • the fast axis direction of the laser beam L is parallel to the Y direction
  • the slow axis direction is parallel to the X direction.
  • the laser light source 20 emits laser light that is emitted from the semiconductor laser element 22 and transmitted through the fast-axis collimating lens 24.
  • the laser light L emitted from the laser light source 20 is collimated in the YZ plane, but not in the XZ plane.
  • collimating means not only making the laser beam L into parallel light but also reducing the spread angle of the laser beam L. The specific configuration of the laser light source 20 will be described later.
  • the semiconductor laser element 22 included in the laser light source 20 is sealed by the substrate 10, the frame 40, and the cover 50, as shown in FIG. 2F.
  • the seal is a hermetic seal.
  • the effect of hermetic sealing becomes higher as the wavelength of the laser light emitted from the semiconductor laser element 22 becomes shorter.
  • the shorter the wavelength of the laser light the higher the possibility that the emission surface will deteriorate during operation due to dust collection. It is from.
  • a surface-emitting type semiconductor laser element such as a VCSEL (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) element may be used.
  • a surface-emitting semiconductor laser device is arranged so that laser light emitted from the semiconductor laser device travels in the +Z direction.
  • the first mirror member 30a is supported by the mounting surface 10us of the substrate 10, as shown in FIG. 2C.
  • the first mirror member 30a has a uniform cross-sectional shape in the X direction.
  • the cross-sectional shape is generally triangular.
  • the first mirror member 30a has a lower surface, a back surface, and a slope connecting the lower surface and the back surface.
  • the bottom surface is parallel to the XZ plane, and the back surface is parallel to the XY plane.
  • the normal direction of the slope is a direction parallel to the YZ plane, making an acute angle with the +Y direction, and making an acute angle with the -Z direction.
  • the angle between the lower surface of the first mirror member 30a and the slope is 45°, but is not limited to this angle, and may be, for example, 30° or more and 60° or less.
  • the first mirror member 30a has a first reflective surface 30as on the above-mentioned slope.
  • the first reflective surface 30as is inclined with respect to the mounting surface 10us of the substrate 10 and faces obliquely upward.
  • diagonally upward means a direction forming an angle of 30° or more and 60° or less with the +Y direction.
  • the first reflective surface 30as can receive the laser beam L emitted from the laser light source 20, and the normal direction of the first reflective surface 30as forms an angle of 30 degrees or more and 60 degrees or less with the +Y direction.
  • the normal direction of the first reflective surface 30as may or may not be parallel to the YZ plane.
  • the first reflecting surface 30as reflects the laser light L emitted from the laser light source 20 and changes the traveling direction of the laser light L in a direction away from the mounting surface 10us of the substrate 10.
  • the angle between the direction in which the laser beam L leaves the mounting surface 10us of the substrate 10 and the normal direction of the mounting surface 10us may be, for example, 0° or more and 5° or less. Since the angle has a tolerance of 5 degrees, it is not necessary to adjust the position and orientation of the first mirror member 30a as strictly as the position and orientation of the second mirror member 30b.
  • the second mirror member 30b is supported by the upper surface 50us of the cover 50, as shown in FIG. 2C.
  • the second mirror member 30b has a uniform cross-sectional shape in the X direction.
  • the cross-sectional shape is generally trapezoidal.
  • the second mirror member 30b has an upper surface, a lower surface, and a slope connecting the upper surface and the lower surface. Each of the top and bottom surfaces are parallel to the XZ plane.
  • the dimension of the lower surface in the X direction is equal to the dimension of the upper surface in the X direction.
  • the dimension of the lower surface in the Z direction is smaller than the dimension of the upper surface in the Z direction.
  • the normal direction of the slope is a direction parallel to the YZ plane, making an acute angle with the -Y direction, and making an acute angle with the +Z direction.
  • the angle between the upper surface of the second mirror member 30b and the slope is 45°, but is not limited to this angle, and may be, for example, 30° or more and 60° or less.
  • the angle between the upper surface of the second mirror member 30b and the slope may be equal to or different from the angle between the lower surface of the first mirror member 30a and the slope.
  • the second mirror member 30b has a second reflective surface 30bs on the above-mentioned slope. At least a portion of the second reflective surface 30bs is located above at least a portion of the first reflective surface 30as. As shown in FIG. 2F, the second reflecting surface 30bs reflects the laser beam L reflected by the first reflecting surface 30as and changes the traveling direction of the laser beam L to the +Z direction.
  • a resin layer 32 exists between the lower surface of the second mirror member 30b and the upper surface 50us of the cover 50.
  • the resin layer 32 is formed by curing the resin while the lower surface of the second mirror member 30b is in contact with the upper surface 50us of the cover 50 via the uncured resin.
  • the resin can be, for example, a thermosetting resin that is cured by heating, or a photocurable resin that is cured by irradiation with ultraviolet or visible light.
  • the following active alignment is performed. That is, with the laser light source 20 emitting the laser light L, the position and orientation of the second mirror member 30b are appropriately adjusted so that the second reflective surface 30bs changes the traveling direction of the laser light L in the +Z direction. be done. Such adjustment can be performed after the light emitting device 100 is placed on the first mounting surface 60s1 of the support base 60 shown in FIGS. 1A to 1C, while the second mirror member 30b is held by a holding device.
  • the traveling direction of the laser beam L can be adjusted by rotating the second mirror member 30b using the X-axis or the Y-axis as the rotation axis and changing its direction.
  • the traveling direction of the laser beam L can be changed up and down.
  • the traveling direction of the laser beam L can be changed from side to side, with the traveling direction of the laser beam L being set as the front direction.
  • the height of the optical axis of the laser beam L can be adjusted.
  • the height of the optical axis of the laser beam L is reduced, and by shifting the second mirror member 30b along the -Z direction, the height of the optical axis of the laser beam L is reduced.
  • the height of the optical axis can be increased.
  • the optical axis of the laser beam means an axis passing through the center of the far-field pattern of the laser beam. Laser light traveling on the optical axis exhibits a peak intensity in the light intensity distribution of the far field pattern.
  • the normal direction of the light incident surface is parallel to the -Z direction
  • the normal direction of the light exit surface is parallel to the YZ plane and makes an acute angle with the +Y direction or -Y direction. This is a direction that makes an acute angle with the +Z direction. Due to the light incidence plane and the refraction at the light incidence plane which are not parallel to each other, the wedge can change the traveling direction of the laser light L passing through it. However, when using a wedge, in order to direct the traveling direction of the laser beam L in the +Z direction, a plurality of wedges whose normal directions of the light emitting surfaces are different from each other are prepared, and from the plurality of wedges, the normal direction of the light emitting surface is You need to choose a wedge that has the proper orientation.
  • the second mirror member 30b by arranging the second mirror member 30b at an appropriate position and orientation, it is possible to determine whether the traveling direction of the laser beam L emitted from the laser light source 20 is deviated from the +Z direction. Regardless, the traveling direction of the laser beam L reflected by the second reflective surface 30bs can be directed to the +Z direction. In this embodiment, it is not necessary to prepare a plurality of second mirror members 30b whose upper surfaces and slopes have different angles, and to select a second mirror member 30b having an appropriate angle from among the plurality of second mirror members 30b. .
  • the pedestal may be formed from at least one selected from the group consisting of, for example, glass, quartz, synthetic quartz, sapphire, ceramics, plastic, silicon, metal, silicone resin, and dielectric material.
  • the reflective surface may be formed from a reflective material, such as a dielectric multilayer and a metallic material. These reflective surfaces correspond to the first reflective surface 30as and second reflective surface 30bs shown in FIG. 2B, the reflective surface 94s shown in FIG. 1A, and the reflective surfaces 94as to 94cs shown in FIG. 1D.
  • the first mirror member 30a, the second mirror member 30b, and the mirror members 94, 94a to 94c may be provided with a pedestal having an inclined surface, and the pedestal may be made of the above-mentioned reflective material.
  • the slopes of the table correspond to the first reflective surface 30as, the second reflective surface 30bs, and the reflective surfaces 94s, 94as to 94cs.
  • the frame 40 is located around the mounting surface 10us of the board 10 as shown in FIG. 2B, and supports the cover 50 as shown in FIG. 2A.
  • the frame body 40 surrounds the laser light source 20 and the first mirror member 30a when viewed from the +Y direction, that is, when viewed from above.
  • the frame body 40 has a protrusion 40p that protrudes inward from the inner surface.
  • the protrusion 40p protrudes toward both side surfaces and the back surface of the submount 21.
  • the protrusion 40p may further protrude toward the front of the submount 21.
  • the protruding portion 40p may protrude only from both sides.
  • the front surface of the submount 21 is located on the same side as the emission surface of the semiconductor laser element 22, and the back surface of the submount 21 is located on the opposite side to the emission surface of the semiconductor laser element 22. Both sides of the submount 21 connect the front and back sides of the submount 21.
  • the frame 40 has a first upper surface 40us1 and a second upper surface 40us2.
  • the second upper surface 40us2 is the upper surface of the protrusion 40p, is located below the first upper surface 40us1, and is surrounded by the first upper surface 40us1 when viewed from above.
  • the second upper surface 40us2 has a roughly U-shape.
  • the first upper surface 40us1 is provided with a first bonding area 44a and an outer area 46 surrounding the first bonding area 44a.
  • Each of the first bonding region 44a and the outer region 46 has a generally rectangular annular shape.
  • the first bonding region 44a improves bonding strength when bonding the cover 50 and the frame 40 via an inorganic bonding member such as a solder material.
  • the outer region 46 prevents the inorganic bonding material that joins the cover 50 from flowing out beyond the outer region 46 .
  • the first bonding region 44a and the outer region 46 surround the laser light source 20 and the first mirror member 30a when viewed from above, as shown in FIG. 2E.
  • the first upper surface 40us1 is further provided with a first conductive region 42a and a second conductive region 42b that are electrically insulated from each other in the ⁇ Z direction from the first bonding region 44a and the outer region 46.
  • a third conductive region 42c and a fourth conductive region 42d that are electrically insulated from each other are provided on the second upper surface 40us2.
  • the third conductive region 42c is electrically connected to the first conductive region 42a via internal wiring
  • the fourth conductive region 42d is electrically connected to the second conductive region 42b via internal wiring.
  • the laser light source 20 and the first mirror member 30a are located between a portion of the third conductive region 42c extending in the Z direction and a portion of the fourth conductive region 42d extending in the Z direction.
  • the third conductive region 42c is electrically connected to the semiconductor laser element 22 via the upper surface of the submount 21 and some wires 40w shown in FIG. 2B.
  • the fourth conductive region 42d is electrically connected to the semiconductor laser element 22 via the remaining wire 40w shown in FIG. 2B. Therefore, power can be supplied to the laser light source 20 by applying a voltage between the first conductive region 42a and the second conductive region 42b.
  • the frame 40 further has a first lower surface 40Ls1 and a second lower surface 40Ls2, as shown in FIG. 2D.
  • the second lower surface 40Ls2 partially has the lower surface of the protrusion 40p, is located above the first lower surface 40Ls1, and is surrounded by the first lower surface 40Ls1 when viewed from the ⁇ Y direction, that is, when viewed from the bottom.
  • the second lower surface 40Ls2 has a generally rectangular annular shape. Part or all of the substrate 10 shown in FIG. 2C is housed in a space surrounded by a step between the first lower surface 40Ls1 and the second lower surface 40Ls2.
  • the outer periphery of the second lower surface 40Ls2 surrounds the outer periphery of the mounting surface 10us of the board 10 in a top view
  • the inner periphery of the second lower surface 40Ls2 surrounds the outer periphery of the mounting surface 10us of the board 10 in a top view. It is surrounded by the outer periphery of the mounting surface of 10 us.
  • a second bonding region 44b is provided on the entire first lower surface 40Ls1.
  • the second bonding region 44b improves the bonding strength when bonding the supporting base 60 and the frame 40 shown in FIGS. 1A to 1C via an inorganic bonding member such as a solder material.
  • a third bonding region 44c is provided on the entire second lower surface 40Ls2.
  • the third bonding region 44c is bonded to the peripheral area of the mounting surface 10us of the substrate 10 via an inorganic bonding member such as a brazing material.
  • the third bonding region 44c improves the bonding strength when bonding the substrate 10 and the frame 40 via the inorganic bonding member.
  • the melting point of the brazing material is higher than that of the solder material.
  • the heat applied to the solder material may cause the substrate 10 and the frame 40 to be bonded together.
  • the possibility that the frame body 40 will come loose can be reduced.
  • the second bonding region 44b is provided on the entire first lower surface 40Ls1, but the second bonding region 44b may be provided on a part of the first lower surface 40Ls1.
  • the third bonding region 44c is provided on the entire second lower surface 40Ls2, but the third bonding region 44c may be provided on a part of the second lower surface 40Ls2.
  • the second bonding region 44b may not be provided on the first lower surface 40Ls1, and the third bonding region 44c may not be provided on the second lower surface 40Ls2.
  • the first lower surface 40Ls1 of the frame 40 is located on the same plane as the lower surface 10Ls of the substrate 10.
  • the first lower surface 40Ls1 of the frame 40 may be located above the lower surface 10Ls of the substrate 10.
  • the first lower surface 40Ls1 of the frame body 40 may be located below the lower surface 10Ls of the substrate 10, as long as it does not interfere with joining the substrate 10 and the supporting base 60 via the inorganic joining member. Good too.
  • the frame 40 may be formed from the above-mentioned ceramics, for example, similar to the support base 60 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the dimension of the frame 40 in the X direction may be, for example, 3 mm or more and 15 mm or less
  • the maximum dimension in the Y direction may be, for example, 1 mm or more and 5 mm or less
  • the dimension in the Z direction may be, for example, 3 mm or more and 30 mm or less.
  • Conductive regions 42a-42d, bonding regions 44a-44c, and outer region 46 may be formed from at least one metal material selected from the group consisting of, for example, Ag, Cu, W, Au, Ni, Pt, and Pd. .
  • the conductive regions 42a to 42d, the bonding region 44a, and the outer region 46 can be formed, for example, by providing a metal film over the entire upper surfaces 40us1 and 40us2 and patterning the metal film by etching.
  • the cover 50 has an upper surface 50us and a lower surface 50Ls, as shown in FIG. 2B.
  • the lower surface 50Ls of the cover 50 faces the mounting surface 10us of the substrate 10, and the upper surface 50us of the cover 50 is located on the opposite side of the lower surface 50Ls of the cover 50.
  • the lower surface 50Ls of the cover 50 is also referred to as an "opposing surface.”
  • the cover 50 is located above the semiconductor laser element 22 and the first mirror member 30a. The cover 50 transmits the laser beam L reflected by the first reflective surface 30as.
  • the cover 50 has a light shielding film 52 on the lower surface 50Ls at least around the light-transmitting region 50t through which the laser beam L is transmitted.
  • the light-transmitting region 50t has a rectangular shape, but is not limited to this shape.
  • the shape of the transparent region 50t may be, for example, circular or elliptical.
  • the cover 50 may have a light-shielding film 52 on at least a portion of the periphery of the light-transmitting region 50t on the lower surface 50Ls.
  • the light shielding film 52 may be provided in at least part of the following regions of the lower surface 50Ls. This region is a region on the lower surface 50Ls that is adjacent to the remaining portion other than the above-mentioned portion among the ends of the light-transmitting region 50t.
  • the light shielding film 52 reduces the possibility that stray light other than the laser beam L generated inside the light emitting device 100 leaks to the outside of the light emitting device 100.
  • the light shielding film 52 further reduces the possibility that ultraviolet rays or visible light will reach the laser light source 20 when forming the resin layer 32 shown in FIG. 2F by irradiating ultraviolet rays or visible light.
  • the light shielding film 52 further reduces the possibility that the return light of the laser light L emitted to the outside of the light emitting device 100 will reach the laser light source 20. If irradiation by ultraviolet rays, visible light, or return light can be reduced, the laser light source 20 will be less likely to be damaged.
  • the light-shielding film 52 is provided over the entire region of the lower surface 50Ls other than the light-transmitting region 50t.
  • the light shielding film 52 provided in this manner further reduces the possibility that the above stray light will leak to the outside of the light emitting device 100 and the possibility that the above ultraviolet rays or visible light or the above return light will reach the laser light source 20. .
  • the cover 50 not only the light-transmitting region 50t but also the portion that overlaps the light-transmitting region 50t when viewed from above transmits the laser beam L.
  • the portion of the cover 50 that transmits the laser beam L has a transmittance of, for example, 60% or more, preferably 80% or more.
  • the remaining portion of the cover 50 may or may not have such translucency.
  • the cover 50 may be formed from the above-mentioned light-transmitting material, for example, similar to the condenser lens 70 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the dimension of the cover 50 in the X direction may be, for example, 3 mm or more and 15 mm or less
  • the dimension in the Y direction may be, for example, 0.1 mm or more and 1.5 mm or less
  • the dimension in the Z direction may be, for example, 1 mm or more and 20 mm or less.
  • the light-shielding film 52 can be formed from the aforementioned metal material, for example, similarly to the conductive regions 42a to 42d, the bonding regions 44a to 44c, and the outer region 46.
  • the light shielding film 52 is formed, for example, by providing a metal film over the entire lower surface 50Ls of the cover 50 and patterning the metal film by etching, similarly to the conductive regions 42a to 42d, the bonding region 44a, and the outer region 46. can be done.
  • the peripheral area of the light shielding film 52 is bonded to the first bonding area 44a provided on the first upper surface 40us1 of the frame body 40 via an inorganic bonding member such as a solder material.
  • an inorganic bonding member such as a solder material.
  • the cover 50 has a flat plate shape, but is not limited to this shape.
  • the cover 50 may have a box shape with an open bottom instead of a flat plate shape.
  • the cover 50 having such a shape is supported by the mounting surface 10us of the substrate 10 and accommodates the laser light source 20 and the first mirror member 30a.
  • the cover 50 having a box shape with an open bottom and the frame 40 may be joined, and the laser light source 20 and the first mirror member 30a may be surrounded by the cover 50 and the frame 40.
  • the light emitting device 100 that can reduce the deviation between the traveling direction of the laser beam L and the designed traveling direction.
  • a plurality of laser beams L obtained by emitting laser beams L from each of the plurality of light emitting devices 100 can be effectively combined. can be made to enter the optical fiber 80.
  • the light emitting device 100 can be manufactured, for example, as follows.
  • the substrate 10, the laser light source 20, the first mirror member 30a, the second mirror member 30b, the frame 40, the plurality of wires 40w, and the cover 50 are prepared.
  • the frame 40 is joined to the substrate 10.
  • the laser light source 20 and the first mirror member 30a are provided on the mounting surface 10us of the substrate 10.
  • a plurality of wires 40w for feeding power to the laser light source 20 are provided.
  • the cover 50 is joined to the frame 40.
  • active alignment is performed with the lower surface of the second mirror member 30b in contact with the upper surface 50 us of the cover 50 via the uncured resin.
  • the resin is cured to form a resin layer 32 between the second mirror member 30b and the cover 50.
  • FIG. 3 is a diagram schematically illustrating the configuration of a DDL device according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
  • a DDL device 1000 shown in FIG. 3 includes a plurality of light emitting modules 200 according to this embodiment, a processing head 300, and an optical transmission fiber 250 connecting the light emitting modules 200 to the processing head 300.
  • the number of light emitting modules 200 is four, but is not limited to this number.
  • the number of light emitting modules 200 may be one, two or three, or a plurality of five or more.
  • the number of light emitting devices 100 included in each light emitting module 200 is determined depending on the required light output or irradiance.
  • the wavelength of the laser light emitted from the light emitting device 100 may also be selected depending on the material to be processed. For example, when processing metals such as copper, brass, and aluminum, a semiconductor laser element having a center wavelength in the range of 350 nm or more and 550 nm or less can be suitably employed.
  • the wavelengths of the laser beams emitted from each light emitting device 100 do not need to be the same, and laser beams with different center wavelengths may be superimposed. Further, even when using a laser beam whose center wavelength is outside the range of 350 nm or more and 550 nm or less, it is possible to obtain the effects of the present invention.
  • an optical fiber 80 extends from each of the plurality of light emitting modules 200.
  • a plurality of optical fibers 80 thus obtained are coupled to an optical transmission fiber 250 by an optical multiplexer 230.
  • the optical multiplexer 230 may be, for example, a TFB (Tapered Fiber Bundle).
  • the processing head 300 converges and irradiates the object 400 with laser light emitted from the light emitting end of the optical fiber 80 .
  • one DDL device 1000 includes M light emitting modules 200 and each light emitting module 200 includes N light emitting devices 100
  • the maximum A laser beam with an optical power of P ⁇ N ⁇ M watts can be focused onto the object 400.
  • N is an integer of 2 or more
  • FIG. 4A is an exploded perspective view of the laser light source 20.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view of the laser light source 20 parallel to the YZ plane. Each component of the laser light source 20 will be explained below.
  • the submount 21 has an upper surface 21us and a lower surface 21Ls that are parallel to the XZ plane.
  • a metal film is provided on each of the upper surface 21us and the lower surface 21Ls.
  • the metal film provided on the upper surface 21us improves the bonding strength when bonding the semiconductor laser element 22 and the lens support member 23 to the submount 21 using an inorganic bonding member.
  • the metal film provided on the upper surface 21us may be further used to supply power to the semiconductor laser element 22.
  • the metal film provided on the lower surface 21Ls improves the bonding strength when bonding the substrate 10 and the laser light source 20 shown in FIG. 2C via the inorganic bonding member.
  • the metal films provided on each of the upper surface 21us and the lower surface 21Ls also serve to transmit heat generated by the semiconductor laser element 22 during driving to the substrate 10 via the submount 21.
  • Submount 21 may be formed, for example, from the ceramics, metal materials, or metal matrix composites described above, similar to support substrate 60 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the semiconductor laser element 22 is supported by the upper surface 21us of the submount 21, as shown in FIG. 4A.
  • the semiconductor laser element 22 has an emission surface 22e on one of two end faces intersecting in the Z direction, and emits laser light in the +Z direction from the emission surface 22e.
  • the laser beam spreads at different speeds in the YZ plane and the XZ plane as it travels in the +Z direction. Laser light spreads relatively quickly in the YZ plane and spreads relatively slowly in the XZ plane.
  • the laser beam spot has an elliptical shape in the far field, with the Y direction being the long axis and the X direction being the short axis in the XY plane.
  • the semiconductor laser element 22 can emit violet, blue, green, or red laser light in the visible region, or infrared or ultraviolet laser light in the invisible region.
  • the emission peak wavelength of the violet light is preferably within the range of 400 nm or more and 420 nm or less, and more preferably within the range of 400 nm or more and 415 nm or less.
  • the emission peak wavelength of blue light is preferably in a range of greater than 420 nm and less than 495 nm, more preferably in a range of greater than or equal to 440 nm and less than 475 nm.
  • the emission peak wavelength of green light is preferably in a range of greater than 495 nm and less than 570 nm, more preferably in a range of greater than or equal to 510 nm and less than or equal to 550 nm.
  • the emission peak wavelength of red light is preferably in the range of 605 nm or more and 750 nm or less, and more preferably in the range of 610 nm or more and 700 nm or less.
  • a laser diode containing a nitride semiconductor material can be mentioned.
  • the nitride semiconductor material for example, GaN, InGaN, and AlGaN can be used.
  • Examples of the semiconductor laser element 22 that emits red laser light include laser diodes containing InAlGaP-based, GaInP-based, GaAs-based, and AlGaAs-based semiconductor materials.
  • the lens support member 23 is supported by the upper surface 21us of the submount 21, as shown in FIG. 4A.
  • the lens support member 23 has two columnar parts 23a and a connecting part 23b located between the two columnar parts 23a and connecting the two columnar parts 23a.
  • the two columnar portions 23a are located on both sides of the semiconductor laser device 22, and the connecting portion 23b is located above the emission surface 22e of the semiconductor laser device 22.
  • the lens support member 23 supports the fast-axis collimator lens 24 by end surfaces 23as of the two columnar portions 23a.
  • the lens support member 23 is positioned so as to straddle the semiconductor laser element 22 and does not prevent the laser light emitted from the semiconductor laser element 22 from entering the fast-axis collimating lens 24 .
  • the lens support member 23 may be formed from the aforementioned ceramics, for example, similar to the support base 60 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the lens support member 23 may be formed from the above-mentioned light-transmitting material, for example, similar to the condenser lens 70 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • Lens support member 23 may be formed from at least one alloy selected from the group consisting of Kovar and CuW, for example.
  • the lens support member 23 may be made of Si, for example.
  • the fast-axis collimating lens 24 may be, for example, a cylindrical lens having a uniform cross-sectional shape in the X direction, as shown in FIG. 4A.
  • the fast-axis collimating lens 24 has a flat surface on the light incidence side and a convex curved surface on the light exit side.
  • the convex curved surface has a curvature in the YZ plane.
  • the focal point of the fast-axis collimating lens 24 substantially coincides with the center of the light emitting point of the emission surface 22e of the semiconductor laser element 22.
  • the fast-axis collimating lens 24 collimates the laser light emitted from the emission surface 22e of the semiconductor laser element 22 in the +Z direction in the YZ plane.
  • Fast-axis collimating lens 24 may be formed from the translucent material described above, for example, similar to condenser lens 70 shown in FIGS. 1A and 1B.
  • the fast axis collimating lens 24 is located between the mounting surface 10us of the substrate 10 and the lower surface 50Ls of the cover 50, and is located on the optical path of the laser beam L. Since the fast-axis collimating lens 24 is arranged inside the sealed space formed by the substrate 10, the frame 40, and the cover 50, it can collimate the laser beam L before it widely spreads. . Therefore, it becomes possible to make the fast-axis collimating lens 24 smaller.
  • a collimating lens that collimates the laser beam L emitted from the semiconductor laser element 22 not only in the YZ plane but also in the XZ plane may be used. In that case, it is not necessary to provide the slow axis collimating lenses 92, 92a, and 92b in the light emitting module 200 shown in FIGS. 1A to 1C and the light emitting module 210 shown in FIG. 1D.
  • the present disclosure includes the light emitting device described in the following items.
  • a support base having a plurality of mounting surfaces aligned in a first direction;
  • a plurality of light emitting devices wherein a corresponding light emitting device is arranged on each of the plurality of mounting surfaces, each of which includes: a board having a mounting surface; a semiconductor laser element supported by the mounting surface; a first mirror member supported by the mounting surface; a cover that has an opposing surface that faces the mounting surface of the substrate and an upper surface that is located on the opposite side of the opposing surface, and that is located above the semiconductor laser element and the first mirror member; a second mirror member supported by the upper surface of the cover; a plurality of light emitting devices; a plurality of third mirror members; a condensing lens, Equipped with The first mirror member has a first reflective surface, the first reflective surface is inclined with respect to the mounting surface and faces obliquely upward,
  • the second mirror member has a second reflective surface, at least a portion of the second reflective surface is located above at least a portion of the first reflective surface,
  • the light emitting device of the present disclosure can be used particularly to combine multiple laser beams to realize high-output laser beams. Further, the light emitting device of the present disclosure can be used, for example, in industrial fields where a high-power laser light source is required, such as cutting of various materials, drilling, local heat treatment, surface treatment, metal welding, and 3D printing. .
  • Substrate 10us Mounting surface 10Ls: Bottom surface 20: Laser light source 21: Submount 21Ls: Bottom surface 21us: Top surface 22: Semiconductor laser element 22e: Emission surface 23: Lens support member 23a: Columnar portion 23as: End surface 23b: Connection portion 24 : Fast axis collimating lens 30a: First mirror member 30as: First reflective surface 30b: Second mirror member 30bs: Second reflective surface 32: Resin layer 40: Frame 40us1: First top surface 40us2: Second top surface 40Ls1: First 1 lower surface 40Ls2: second lower surface 40p: protrusion 40w: wire 42a: first conductive region 42b: second conductive region 42c: third conductive region 42d: fourth conductive region 44a: first bonding region 44b: second bonding region 44c: Third bonding area 46: Outer area 50: Cover 50us: Top surface 50Ls: Bottom surface 50t: Transparent area 52: Light shielding film 60, 62: Support base 60-1, 62-1: First portion

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Abstract

発光モジュールは、第1方向に並ぶ複数の載置面を有する支持基体と、複数の載置面の各々に、対応する発光装置が配置される、複数の発光装置であって、各々は、半導体レーザ素子、第1ミラー部材、カバー、および第2ミラー部材を備える、複数の発光装置と、複数の第3ミラー部材と、集光レンズと、を備える。第1ミラー部材は半導体レーザ素子から出射されたレーザ光の進行方向を変化させ、カバーは進行方向が変化したレーザ光を透過させ、第2ミラー部材はカバーを透過したレーザ光の進行方向を第2方向にさらに変化させ、各第3ミラー部材はレーザ光の進行方向を第2方向から第1方向に変化させる。集光レンズは複数のレーザ光を光ファイバに結合する。

Description

発光モジュール
 本開示は、発光モジュールに関する。
 近年、半導体レーザ素子の高出力化に伴い、半導体レーザ素子を励起光源としてではなく、材料を直接に照射して加工するレーザ光の光源として用いる技術が開発されつつある。そのような技術は、ダイレクトダイオードレーザ(DDL:Direct Diode Laser)技術と称されている。
 DDL技術には、複数の半導体レーザ素子を備える発光モジュールが用いられる。発光モジュールは、複数の半導体レーザ素子の各々からレーザ光が出射されて得られる複数のレーザ光を結合して高出力のレーザ光を出射する。複数のレーザ光の進行方向が設計通りに同じ方向に揃う場合、複数のレーザ光を効果的に結合することができる。特許文献1は、半導体レーザ素子から出射されたレーザ光の進行方向と設計上の進行方向とのずれを低減することが可能な光部品の例を開示している。
国際公開第2016/051836号
 半導体レーザ素子から出射されたレーザ光の進行方向と、設計上の進行方向とのずれを低減することが可能な複数の発光装置を備える発光モジュールを提供する。
 本開示の発光モジュールは、ある実施形態において、第1方向に並ぶ複数の載置面を有する支持基体と、前記複数の載置面の各々に、対応する発光装置が配置される、複数の発光装置であって、各々は、実装面を有する基板と、前記実装面によって支持される半導体レーザ素子と、前記実装面によって支持される第1ミラー部材と、前記基板の前記実装面に対向する対向面、および前記対向面の反対側に位置する上面を有し、前記半導体レーザ素子および前記第1ミラー部材の上方に位置するカバーと、前記カバーの前記上面によって支持される第2ミラー部材と、を備える、複数の発光装置と、複数の第3ミラー部材と、集光レンズと、を備え、前記第1ミラー部材は第1反射面を有し、前記第1反射面は、前記実装面に対して傾斜し、斜め上方を向き、前記第2ミラー部材は第2反射面を有し、前記第2反射面の少なくとも一部は、前記第1反射面の少なくとも一部の上方に位置し、前記半導体レーザ素子は、前記第1反射面に向けてレーザ光を出射するように配置されており、前記第1反射面は、前記レーザ光を反射して前記レーザ光の進行方向を前記基板の前記実装面から離れる方向に変化させ、前記カバーは、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を透過させ、前記第2反射面は、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を、前記第1方向に交差する第2方向にさらに変化させ、前記複数の第3ミラー部材の各々は第3反射面を有し、前記第3反射面は、前記第2方向に進行する前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を前記第1方向に変化させ、前記集光レンズは、前記複数の発光装置の各々から出射された前記レーザ光が前記第3反射面で反射されて得られる複数のレーザ光を光ファイバに結合する。
 本開示の実施形態によれば、半導体レーザ素子から出射されたレーザ光の進行方向と、設計上の進行方向とのずれを低減することが可能な複数の発光装置を備える発光モジュールを実現できる。
図1Aは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す上面図である。 図1Bは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す側面図である。 図1Cは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す他の側面図である。 図1Dは、本開示の実施形態による発光モジュールの変形例の構成を模式的に示す上面図である。 図2Aは、本開示の例示的な実施形態による発光装置の構成を模式的に示す斜視図である。 図2Bは、図2Aに示す発光装置の分解斜視図である。 図2Cは、図2Aに示す発光装置の他の分解斜視図である。 図2Dは、図2Cに示す発光装置に含まれる枠体を下方から見た斜視図である。 図2Eは、図2Aに示す発光装置から第2ミラー部材およびカバーを省略した構成の上面図である。 図2Fは、図2Aに示す発光装置の、YZ平面に対して平行な断面図である。 図3は、本開示の例示的な実施形態によるDDL装置の構成を模式的に示す図である。 図4Aは、レーザ光源の分解斜視図である。 図4Bは、レーザ光源の、YZ平面に対して平行な断面図である。
 以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態による発光装置、および複数の発光装置を備える発光モジュールを説明する。複数の図面に表れる同一符号の部分は同一または同等の部分を示す。
 さらに、以下に説明する実施形態は、本発明の技術思想を具体化するために例示しているのであって、本発明を以下に限定しない。また、構成要素のサイズ、材質、形状、その相対的配置などの記載は、本発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、例示することを意図している。各図面が示す部材の大きさおよび位置関係は、理解を容易にするために誇張している場合がある。
 本明細書または特許請求の範囲において、三角形または四角形などの多角形に関しては、多角形の隅に角丸め、面取り、角取り、丸取りなどの加工が施された形状も含めて、多角形と呼ぶ。また、隅(辺の端)に限らず、辺の中間部分に加工が施された形状も同様に、多角形と呼ぶ。つまり、多角形をベースに残しつつ、部分的な加工が施された形状は、本明細書および特許請求の範囲で記載される“多角形”の解釈に含まれる。
 (実施形態)
 [発光モジュール]
 まず、図1Aから図1Cを参照して、本開示の実施形態による発光モジュールの構成例を説明する。図1Aは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す上面図である。図1Bは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す側面図である。図1Cは、本開示の例示的な実施形態による発光モジュールの構成を模式的に示す他の側面図である。これらの図では、参考のために、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸が模式的に示されている。X軸の矢印の方向を+X方向と称し、その反対方向を-X方向と称する。±X方向を区別しない場合、単にX方向と称する。Y方向およびZ方向についても同様である。本明細書では、説明のわかりやすさのために、+Y方向を「上方」と称し、-Y方向を「下方」と称する。このことは、発光モジュールの使用時における向きを制限するわけではなく、発光モジュールの向きは任意である。
 図1Aから図1Cに示す発光モジュール200は、支持基体60と、集光レンズ70と、光ファイバ80と、光ファイバ80を支持する支持部材82と、複数の遅軸コリメートレンズ92と、複数のミラー部材94と、複数の発光装置100と、を備える。各ミラー部材94は、反射面94sを有する。
 支持基体60は、図1Bに示すように、XZ平面に対して平行な基準平面Ref上に配置されている。基準平面Refは、発光モジュール200における高さの基準平面である。支持基体60は、図1Aに示すように、複数の発光装置100を支持する第1部分60-1を備える。支持基体60は、さらに、第1部分60-1によって支持される複数の第2部分60-2を備える。各第2部分60-2は、対応する遅軸コリメートレンズ92およびミラー部材94を支持する。支持基体60は、さらに、第1部分60-1に接続される第3部分60-3を備える。第3部分60-3は、集光レンズ70および光ファイバ80を支持する。
 第1部分60-1は、X方向に並ぶ複数の第1載置面60s1を有する。各第1載置面60s1には、対応する第2部分60-2が配置されている。各第2部分60-2は、第2載置面60s2を有する。第3部分60-3は、第3載置面60s3を有する。
 複数の第1載置面60s1の高さは、図1Bに示すように、+X方向に沿って段階的に減少する。複数の第2載置面60s2の高さについても同様である。各第1載置面60s1には、図1Aに示すように、対応する発光装置100が配置されている。各第2載置面60s2には、対応する遅軸コリメートレンズ92およびミラー部材94が配置されている。遅軸コリメートレンズ92および/またはミラー部材94がY方向において十分に大きい寸法を有する場合、第2部分60-2を介さずに、遅軸コリメートレンズ92および/またはミラー部材94を第1載置面60s1に配置してもよい。第3載置面60s3には、集光レンズ70が配置されており、かつ光ファイバ80が支持部材82を介して配置されている。
 図1Bに示す例において、第3載置面60s3の高さは、複数の第1載置面60s1の最小の高さよりも大きく、最大の高さよりも小さい。第3載置面60s3の高さは、さらに、複数の第2載置面60s2の最小の高さよりも小さい。集光レンズ70のY方向における寸法によっては、第3載置面60s3の高さは、複数の第1載置面60s1の最小の高さに等しい、またはそれよりも小さくてもよい。あるいは、第3載置面60s3の高さは、複数の第1載置面60s1の最大の高さに等しい、またはそれよりも大きくてもよい。
 図1Aから図1Cに示す例において、発光装置100の数は4個であり、第1載置面60s1の数は4個であるが、これらの数に限定されない。発光装置100の数は2個、3個、または5個以上であってもよい。発光装置100の数が増加するほど、高い出力のレーザ光を得ることが可能になる。第1載置面60s1の数は2個、3個、または5個以上であってもよいし、発光装置100の数に等しい、またはそれよりも多くてもよい。
 支持基体60は、例えば、AlN、SiN、SiC、およびアルミナからなる群から選択されるセラミックスから形成され得る。あるいは、支持基体60は、例えば、Cu、Al、およびAgからなる群から選択される少なくとも1つの金属材料から形成され得る。支持基体60は、例えば、Cu、Al、およびAgからなる群から選択される少なくとも1つの金属材料中にダイヤモンド粒子が分散した金属マトリクス複合材料から形成され得る。支持基体60は一体的に形成されていてもよいし、複数のパーツの組立体であってもよい。当該複数のパーツは互いに同じ材料から形成されていてもよいし、互いに異なる材料から形成されていてもよい。例えば、第1部分60-1、複数の第2部分60-2、および第3部分60-3は一体的に形成されていてもよいし、互いに独立して形成されていてもよい。あるいは、第1部分60-1および第3部分60-3は一体的に形成されており、複数の第2部分60-2は、第1部分60-1および第3部分60-3とは独立して形成されていてもよい。
 支持基体60は、Cu、Al、およびAgからなる群から選択される金属材料から形成され、かつ、単一の部材からなることが好ましい。金属材料はセラミックスよりも放熱性に優れており、また柔らかいので加工しやすい。
 支持基体60は、複数の発光装置100が配置される支持台として機能する。支持基体60は、さらに、複数の発光装置100から発せられる熱を外部に伝えて発光装置100の過度な温度上昇を低減するヒートシンクとしても機能し得る。その場合、支持基体60の内部に液冷のための1または複数の流路を設けてもよい。液冷に用いる液体としては、例えば水を用いることができる。また、支持基体60の表面に空冷のためのフィン構造を設けてもよい。あるいは、別途用意したヒートシンク上に支持基体60を配置する場合、支持基体60は、複数の発光装置100から発せられる熱を当該ヒートシンクに伝えるヒートスプレッダとしても機能し得る。
 各発光装置100は、図1Aおよび図1Cに示すように、レーザ光Lを+Z方向に出射する。各遅軸コリメートレンズ92は、図1Aに示すように、対応する発光装置100から出射され、+Z方向に進行するレーザ光をXZ平面においてコリメートする。各ミラー部材94の反射面94sは、図1Aおよび図1Bに示すように、対応する発光装置100から出射され、コリメートされたレーザ光Lを反射してレーザ光Lの進行方向を集光レンズ70に向けて+X方向に変化させる。各発光装置100から出射されたレーザ光Lは、図1Aに示す例において3本の矢印付きの太線によって表されており、図1Bおよび図1Cに示す例において1本の矢印付きの太線によって表されている。図1Aに示す例においてレーザ光Lが3本の矢印付きの太線によって表されているのは、レーザ光Lが広がりを有することを強調するためである。
 集光レンズ70は、速軸集光レンズ70aおよび遅軸集光レンズ70bを有する。速軸集光レンズ70aは、例えば、Z方向に一様な断面形状を有するシリンドリカルレンズであり、遅軸集光レンズ70bは、例えば、Y方向に一様な断面形状を有するシリンドリカルレンズであり得る。速軸集光レンズ70aおよび遅軸集光レンズ70bの各々の光軸はX方向に対して平行である。集光レンズ70は、例えば、ガラス、シリコン、石英、合成石英、サファイア、透明セラミックス、シリコーン樹脂、およびプラスチックからなる群から選択される少なくとも1つの透光性材料から形成され得る。
 速軸集光レンズ70aはその焦点が光ファイバ80の光入射端80aにほぼ一致するように配置されている。同様に、遅軸集光レンズ70bはその焦点が光ファイバ80の光入射端80aにほぼ一致するように配置されている。速軸集光レンズ70aの焦点距離は、遅軸集光レンズ70bの焦点距離よりも長い。速軸集光レンズ70aは、図1Bに示すように、XY平面において、複数の発光装置100の各々からレーザ光Lが出射されて得られる複数のレーザ光Lを、光ファイバ80の光入射端80aに収束させる。遅軸集光レンズ70bは、図1Aに示すように、XZ平面において、複数の発光装置100の各々から出射された広がりを有するレーザ光Lを光入射端80aに収束させる。
 上記のように、複数の発光装置100の各々から+Z方向に出射されたレーザ光Lは、対応する反射面94sで+X方向に反射される。集光レンズ70により、そのようにして得られる複数のレーザ光Lを結合して光ファイバ80に入射させることができる。
 その結果、発光モジュール200は、光ファイバ80の光出射端80bから、複数のレーザ光Lが結合された結合光を出射する。結合光の出力は、概略的に、各発光装置100から出射されたレーザ光Lの出力に発光装置100の数を乗算した値に等しい。したがって、発光装置100の数を増加させれば、結合光の出力を高めることができる。
 次に、図1Dを参照して、本開示の実施形態による発光モジュール200の変形例を説明する。図1Dは、本開示の実施形態による発光モジュールの変形例の構成を模式的に示す上面図である。図1Dに示す発光モジュール210は、以下の3点において、図1Aから図1Cに示す発光モジュール200とは異なる。
 第1の点は、発光モジュール210が、支持基体60の代わりに支持基体62を備えることである。支持基体62の形状は、支持基体60の形状とは異なる。第2の点は、発光モジュール210が、複数の発光装置100-1、複数の遅軸コリメートレンズ92a、および複数のミラー部材94aに加えて、複数の発光装置100-2、複数の遅軸コリメートレンズ92b、および複数のミラー部材94bをさらに備えることである。各ミラー部材94aは反射面94asを有し、各ミラー部材94bは反射面94bsを有する。第3の点は、発光モジュール210が、ミラー部材94cと、1/2波長板96と、偏光ビームスプリッタ98とをさらに備えることである。ミラー部材94cは反射面94csを有する。
 支持基体62は、複数の発光装置100-1および複数の発光装置100-2を支持する第1部分62-1を備える。支持基体62は、さらに、第1部分62-1によって支持される複数の第2部分62-2を備える。各第2部分62-2は、対応する遅軸コリメートレンズ92a、遅軸コリメートレンズ92b、ミラー部材94a、およびミラー部材94bを支持する。支持基体62は、さらに、第1部分62-1に接続される第3部分62-3を備える。第3部分62-3は、集光レンズ70、光ファイバ80、ミラー部材94c、1/2波長板96、および偏光ビームスプリッタ98を支持する。
 第1部分62-1は、X方向に並ぶ複数の第1載置面60s1を有する。各第1載置面60s1には、対応する第2部分62-2が配置されている。各第2部分62-2は、第2載置面60s2を有する。第3部分62-3は、第3載置面60s3を有する。
 発光装置100-2、遅軸コリメートレンズ92a、およびミラー部材94aは、それぞれ、図1Aに示す発光装置100、遅軸コリメートレンズ92、およびミラー部材94と同じ構造を有する。発光装置100-2、遅軸コリメートレンズ92b、およびミラー部材94bについても同様である。発光装置100-1、遅軸コリメートレンズ92a、およびミラー部材94aは、+Z方向に沿ってこの順に配置されており、発光装置100-2、遅軸コリメートレンズ92b、およびミラー部材94bは、-Z方向に沿ってこの順に配置されている。発光装置100-1および発光装置100-2の配置は、Z方向において互いに反転した関係にある。遅軸コリメートレンズ92aおよび遅軸コリメートレンズ92bの配置、ならびにミラー部材94aおよびミラー部材94bの配置についても同様である。
 各発光装置100-1および各発光装置100-2は、対応する第1載置面60s1に配置されている。各発光装置100-1はレーザ光Laを+Z方向に出射し、各発光装置100-2はレーザ光Lbを-Z方向に出射する。レーザ光La、Lbの偏光方向はX方向に対して平行である。各遅軸コリメートレンズ92a、各遅軸コリメートレンズ92b、各ミラー部材94a、および各ミラー部材94bは、対応する第2載置面60s2に配置されている。各遅軸コリメートレンズ92aは、対応する発光装置100-1から+Z方向に出射されたレーザ光LaをXZ平面においてコリメートする。各遅軸コリメートレンズ92bは、対応する発光装置100-2から-Z方向に出射されたレーザ光LbをXZ平面においてコリメートする。各ミラー部材94aの反射面94asは、コリメートされたレーザ光Laを反射してレーザ光Laの進行方向を+X方向に変化させる。各ミラー部材94bの反射面94bsは、コリメートされたレーザ光Lbを反射してレーザ光Lbの進行方向を+X方向に変化させる。
 ミラー部材94c、1/2波長板96、および偏光ビームスプリッタ98は、第3載置面60s3に配置されている。ミラー部材94cの反射面94csは+X方向に進行するレーザ光Lbを反射してレーザ光Lbの進行方向を-Z方向に変化させる。1/2波長板96は、-Z方向に進行するレーザ光Lbの偏光方向を、X方向からY方向に変化させる。偏光ビームスプリッタ98は、+X方向に進行し、偏光方向がZ方向であるレーザ光Laを透過させ、-Z方向に進行し、偏光方向がY方向であるレーザ光Lbを反射する。偏光ビームスプリッタ98を透過したレーザ光Laは、集光レンズ70によって光ファイバ80の光入射端80aに収束される。同様に、偏光ビームスプリッタ98で反射されたレーザ光Lbは、集光レンズ70によって光ファイバ80の光入射端80aに収束される。
 その結果、発光モジュール210は、光ファイバ80の光出射端80bから、複数のレーザ光Laおよび複数のレーザ光Lbが結合された結合光を出射する。図1Dに例示する発光モジュール210では、図1Aに例示する発光モジュール200と比較して、発光装置100-1の数および発光装置100-2の数の合計が、発光装置100の数の2倍である。したがって、結合光の出力をさらに高めることができる。
 発光モジュール200において、複数のレーザ光Lの進行方向が設計通りに+X方向に揃っている場合、集光レンズ70によって複数のレーザ光Lを効果的に結合して光ファイバ80に入射することができる。発光モジュール210において、複数のレーザ光Laおよび複数のレーザ光Lbの進行方向が設計通りに+X方向に揃っている場合についても同様である。
 なお、本実施形態による発光モジュール200では、互いに高さが異なる複数の第1載置面60s1の各々に、対応する発光装置100が配置されているが、そのような構成に限定されない。その他にも、複数の発光装置100をより一般的な空間結合型の発光モジュールに採用してもよい。
 [発光装置]
 以下に、図2Aから図2Fを参照して、本開示の実施形態による発光装置の構成例を説明する。本開示の実施形態による発光装置によれば、レーザ光Lの進行方向と、設計上の進行方向とのずれを低減することが可能になる。本明細書において、「レーザ光の進行方向」のように単に「進行方向」と記載する場合、当該「進行方向」は実際の進行方向を意味する。
 図2Aは、本開示の例示的な実施形態による発光装置の構成を模式的に示す斜視図である。図2Bは、図2Aに示す発光装置の分解斜視図である。図2Bに示す発光装置100は、基板10と、レーザ光源20と、第1ミラー部材30aと、第2ミラー部材30bと、枠体40と、複数のワイヤ40wと、カバー50とを備える。基板10は実装面10usを有する。第1ミラー部材30aは第1反射面30asを有し、第2ミラー部材30bは第2反射面30bsを有する。レーザ光源20は、半導体レーザ素子22を有するチップオンサブマウント(Chip on Submount)型の半導体レーザ光源である。発光装置100は、ツェナーダイオードのような保護素子および/またはサーミスタのような内部温度を測定するための温度測定素子をさらに備えてもよい。図2Cは、図2Aに示す発光装置100の他の分解斜視図である。図2Cにおいて、図2Bに示す複数のワイヤ40wは省略されている。図2Dは、図2Cに示す発光装置100に含まれる枠体40を下方から見た斜視図である。図2Eは、図2Aに示す発光装置100から第2ミラー部材30bおよびカバー50を省略した構成の上面図である。図2Fは、図2Aに示す発光装置100の、YZ平面に対して平行な断面図である。
 後で詳しく説明するが、本実施形態による発光装置100では、図2Fに示すように、レーザ光源20から出射されたレーザ光Lが、第1反射面30asおよび第2反射面30bsでこの順に反射される。そのような構成により、レーザ光源20から出射されたレーザ光Lの進行方向が設計上の進行方向である+Z方向からずれているか否かに関係なく、第1反射面30asおよび第2反射面30bsでこの順に反射されたレーザ光Lの進行方向を+Z方向に向けることができる。第1反射面30asは、レーザ光源20から出射されたレーザ光Lを反射してレーザ光Lの進行方向を、基板10の実装面10usから離れる方向に変化させる。第2反射面30bsは、第1反射面30asで反射されたレーザ光Lを反射してレーザ光Lの進行方向を+Z方向にさらに変化させる。
 第2ミラー部材30bの位置および向きは、第2反射面30bsで反射されたレーザ光Lが+Z方向に進行するように調整可能である。第2反射面30bsで反射されたレーザ光Lを、図1Aに示すように反射面94sで反射することにより、レーザ光Lの進行方向を設計上の進行方向である+X方向に変化させることができる。その結果、+X方向に進行する複数のレーザ光Lを効果的に結合させて発光モジュール200から高出力の結合光を出力することができる。
 反射面94sに入射するレーザ光Lの進行方向が設計上の+Z方向に対して平行ではない構成では、反射面94sで反射されたレーザ光Lの進行方向が設計上の+X方向からずれる。そのような進行方向のずれが生じた複数のレーザ光Lは、たとえずれの角度が数度程度であっても効果的に結合せず、結合光の出力が低下する可能性がある。
 これに対して、本実施形態では、第1反射面30asおよび第2反射面30bsでこの順に反射されたレーザ光Lの進行方向と、設計上の進行方向である+Z方向とのずれを低減することができる。その結果、反射面94sで反射されたレーザ光Lの進行方向と、設計上の進行方向である+X方向とのずれを低減することができる。レーザ光Lの進行方向と、設計上の進行方向とがなす角度は、例えば1°以下であることが好ましく、0.1°以下であることがより好ましい。本明細書において、2つの方向のなす角度は正の値を有し、負の値を有しない。
 本実施形態において、第1反射面30asおよび第2反射面30bsでこの順に反射されたレーザ光Lの設計上の進行方向は+Z方向に対して平行であり、反射面94sで反射されたレーザ光Lの設計上の進行方向は+X方向に対して平行である。ただし、設計上の進行方向はこれらの方向に限定されない。
 本明細書において、複数の第1載置面60s1が並ぶ方向を「第1方向」と称し、第1反射面30asおよび第2反射面30bsでこの順に反射されたレーザ光Lの進行方向を「第2方向」と称する。基準平面Refは第1方向に対して平行である。本実施形態において、第1方向は+X方向であり、第2方向は+Z方向であるが、これらの方向に限定されない。第2方向は第1方向に交差していれば、第1方向に直交する必要はない。
 なお、発光装置100を図1Aおよび図1Bに示す発光モジュール200に採用せずに他の用途に用いてもよい。
 以下に、発光装置100の各構成要素を説明する。
 <基板10>
 基板10は、図2Cに示すように、実装面10usおよび下面10Lsを有する。実装面10usの法線方向は+Y方向である。本明細書において、面の法線方向とは、面の垂直方向であって、当該面を有する物体から離れる方向を意味する。図2Cに示す例において、基板10は矩形の平板形状を有するが、この形状に限定されない。基板10は、例えば、多角形、円形または楕円形の平板形状を有してもよい。基板10の下面10Lsは、支持基体60の第1載置面60s1に、例えば、はんだ材のような無機接合部材を介して接合される。
 基板10は、例えば、熱伝導率が10W/m・K以上2000W/m・K以下である材料から形成され得る。そのような高い熱伝導率を有する基板10により、駆動時にレーザ光源20から発せられる熱を、基板10を介して図1Aから図1Cに示す支持基体60に効果的に伝えることができる。基板10は、例えば、支持基体60と同じ材料から形成され得る。基板10のX方向における寸法は、例えば1000μm以上10000μm以下であり、Y方向における寸法は、例えば100μm以上5000μm以下であり、Z方向における寸法は、例えば1000μm以上20000μm以下であり得る。
 <レーザ光源20>
 レーザ光源20は、図2Cに示すように、基板10の実装面10usによって支持されている。レーザ光源20は、サブマウント21と、サブマウント21によって支持される端面出射型の半導体レーザ素子22と、レンズ支持部材23と、速軸コリメートレンズ24とを備える。半導体レーザ素子22は、サブマウント21を介して、基板10の実装面10usによって支持されている。半導体レーザ素子22は、第1反射面30asに向けてレーザ光Lを出射するように配置されている。レンズ支持部材23は、半導体レーザ素子22を跨ぐ形状を有する。レンズ支持部材23は、端面によって速軸コリメートレンズ24を支持する。レーザ光源20の構成要素を発光装置100の構成要素として扱ってもよい。
 半導体レーザ素子22は、矩形形状の端面からレーザ光Lを出射する。当該端面がX方向に延び、XY平面に対して平行な平面である場合、半導体レーザ素子22から+Z方向に出射されたレーザ光Lは、YZ平面において相対的に速く広がり、XZ平面において相対的に遅く広がる。レーザ光Lの速軸方向はY方向に対して平行であり、遅軸方向はX方向に対して平行である。
 レーザ光源20は、半導体レーザ素子22から出射され、速軸コリメートレンズ24を透過したレーザ光を出射する。レーザ光源20から出射されたレーザ光LはYZ平面においてコリメートされているが、XZ平面においてコリメートされていない。本明細書において、「コリメートする」とは、レーザ光Lを平行光にすることだけではなく、レーザ光Lの広がり角を低減することも意味する。レーザ光源20の具体的な構成について後述する。
 レーザ光源20に含まれる半導体レーザ素子22は、図2Fに示すように、基板10、枠体40、およびカバー50によって封止されている。この封止は気密封止であることが好ましい。気密封止による効果は、半導体レーザ素子22から出射されたレーザ光の波長が短くなるほど高くなる。気密封止されず、半導体レーザ素子22の出射面が外気に接している構成では、レーザ光の波長が短くなるほど、集塵によって動作中に出射面の劣化が進行していく可能性が高くなるからである。
 なお、端面出射型の半導体レーザ素子22の代わりに、VCSEL(Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser)素子のような面発光型の半導体レーザ素子を用いてもよい。面発光型の半導体レーザ素子は、当該半導体レーザ素子から出射されたレーザ光が+Z方向に進行するように配置される。
 <第1ミラー部材30aおよび第2ミラー部材30b>
 第1ミラー部材30aは、図2Cに示すように、基板10の実装面10usによって支持されている。第1ミラー部材30aは、X方向に一様な断面形状を有する。当該断面形状は概略的に三角形である。第1ミラー部材30aは、下面と、背面と、下面および背面を繋ぐ斜面とを有する。下面はXZ平面に対して平行であり、背面はXY平面に対して平行である。当該斜面の法線方向は、YZ平面に対して平行な方向であって、+Y方向と鋭角をなし、かつ-Z方向と鋭角をなす方向である。第1ミラー部材30aの下面と斜面とがなす角度は45°であるが、この角度に限定されず例えば30°以上60°以下であってもよい。
 第1ミラー部材30aは、上記の斜面に第1反射面30asを有する。第1反射面30asは、基板10の実装面10usに対して傾斜し、斜め上方を向く。本明細書において、斜め上方とは、+Y方向と30°以上60°以下の角度をなす方向を意味する。第1反射面30asがレーザ光源20から出射されたレーザ光Lを受けることができ、かつ、第1反射面30asの法線方向が+Y方向と30°以上60°以下の角度をなす方向であれば、第1反射面30asの法線方向は、YZ平面に対して平行であってもよいし、平行でなくてもよい。
 第1反射面30asは、図2Fに示すように、レーザ光源20から出射されたレーザ光Lを反射してレーザ光Lの進行方向を、基板10の実装面10usから離れる方向に変化させる。レーザ光Lが基板10の実装面10usから離れる方向と、実装面10usの法線方向とがなす角度は、例えば、0°以上5°以下であり得る。当該角度には5°の許容範囲があるので、第1ミラー部材30aの位置および向きを、第2ミラー部材30bの位置および向きほど厳密に調整する必要はない。
 第2ミラー部材30bは、図2Cに示すように、カバー50の上面50usによって支持されている。第2ミラー部材30bは、X方向に一様な断面形状を有する。当該断面形状は概略的に台形である。第2ミラー部材30bは、上面と、下面と、上面および下面を繋ぐ斜面とを有する。上面および下面の各々は、XZ平面に対して平行である。下面のX方向における寸法は、上面のX方向における寸法に等しい。一方で、下面のZ方向における寸法は、上面のZ方向における寸法よりも小さい。斜面の法線方向は、YZ平面に対して平行な方向であって、-Y方向と鋭角をなし、かつ+Z方向と鋭角をなす方向である。第2ミラー部材30bの上面と斜面とがなす角度は45°であるが、この角度に限定されず例えば30°以上60°以下であってもよい。第2ミラー部材30bの上面と斜面とがなす角度は、第1ミラー部材30aの下面と斜面とがなす角度に等しくてもよいし、異なっていてもよい。
 第2ミラー部材30bは、上記の斜面に第2反射面30bsを有する。第2反射面30bsの少なくとも一部は、第1反射面30asの少なくとも一部の上方に位置する。第2反射面30bsは、図2Fに示すように、第1反射面30asで反射されたレーザ光Lを反射してレーザ光Lの進行方向を+Z方向に変化させる。
 第2ミラー部材30bの下面と、カバー50の上面50usとの間には、図2Fに示すように、樹脂層32が存在している。第2ミラー部材30bの下面をカバー50の上面50usに硬化前の樹脂を介して接触させた状態で、樹脂を硬化して樹脂層32が形成される。樹脂は、例えば、加熱することによって硬化される熱硬化性樹脂、または紫外線もしくは可視光の照射によって硬化される光硬化性樹脂であり得る。樹脂を硬化する前には以下のアクティブアライメントが行われる。すなわち、レーザ光源20にレーザ光Lを出射させた状態で、第2反射面30bsがレーザ光Lの進行方向を+Z方向に変化させるように、第2ミラー部材30bの位置および向きが適切に調整される。そのような調整は、発光装置100を、図1Aから図1Cに示す支持基体60の第1載置面60s1に配置した後、第2ミラー部材30bを保持装置によって保持しながら行われ得る。
 X軸またはY軸を回転軸として第2ミラー部材30bを回転させてその向きを変化させることにより、レーザ光Lの進行方向を調整することができる。X軸を回転軸として第2ミラー部材30bを回転させることにより、レーザ光Lの進行方向を上下に変化させることができる。Y軸を回転軸として第2ミラー部材30bを回転させることにより、レーザ光Lの進行方向を正面方向として、レーザ光Lの進行方向を左右に変化させることができる。
 さらに、第2ミラー部材30bのZ方向における位置を変化させることにより、レーザ光Lの光軸の高さを調整することができる。第2ミラー部材30bを+Z方向に沿ってシフトさせることにより、レーザ光Lの光軸の高さを小さくし、第2ミラー部材30bを-Z方向に沿ってシフトさせることにより、レーザ光Lの光軸の高さを大きくすることができる。本明細書において、「レーザ光の光軸」は、レーザ光のファーフィールドパターンの中心を通過する軸を意味する。光軸上を進むレーザ光は、ファーフィールドパターンの光強度分布においてピーク強度を示す。
 ここで、本実施形態とは異なり、第2ミラー部材30bの位置および向きを調整せずにカバー50の上面50usに固定した構成を例に挙げる。そのような構成であっても、図1Aから図1Cに示す発光モジュール200において、第2ミラー部材30bと遅軸コリメートレンズ92との間にウェッジを配置することにより、第2反射面30bsで反射されたレーザ光Lの進行方向を+Z方向に向けることができる。当該ウェッジは、互いに反対側に位置する光入射面および光反射面を有する。当該光入射面の法線方向は-Z方向に対して平行であり、当該光出射面の法線方向は、YZ平面に対して平行な方向であって、+Y方向または-Y方向と鋭角をなし、かつ+Z方向と鋭角をなす方向である。互いに平行ではない光入射面および光入射面での屈折に起因して、ウェッジは、自身を透過するレーザ光Lの進行方向を変化させることができる。しかしながら、ウェッジを用いる場合、レーザ光Lの進行方向を+Z方向に向けるために、光出射面の法線方向が互いに異なる複数のウェッジを用意し、当該複数のウェッジから、光出射面の法線方向が適切な方向であるウェッジを選択する必要がある。
 これに対して、本実施形態では、第2ミラー部材30bを適切な位置および向きに配置することにより、レーザ光源20から出射されたレーザ光Lの進行方向が+Z方向からずれているか否かに関係なく、第2反射面30bsで反射されたレーザ光Lの進行方向を+Z方向に向けることができる。本実施形態では、上面と斜面とがなす角度が互いに異なる複数の第2ミラー部材30bを用意し、当該複数の第2ミラー部材30bから適切な角度の第2ミラー部材30bを選択する必要はない。
 図2Bおよび図2Cに示すミラー部材30a、30b、図1Aから図1Cに示すミラー部材94、および図1Dに示すミラー部材94a~94cは、例えば、斜面を有する台と、当該斜面上に別途形成される反射面とを備え得る。台は、例えば、ガラス、石英、合成石英、サファイア、セラミックス、プラスチック、シリコン、金属、シリコーン樹脂、および誘電体材料からなる群から選択される少なくとも1つから形成され得る。反射面は、例えば、誘電体多層膜および金属材料などの反射性材料から形成され得る。この反射面が、図2Bに示す第1反射面30as、第2反射面30bs、図1Aに示す反射面94s、ならびに図1Dに示す反射面94as~94csに相当する。
 あるいは、第1ミラー部材30a、第2ミラー部材30b、ミラー部材94、94a~94cは、例えば、斜面を有する台を備え、当該台は上記の反射性材料から形成されていてもよい。この場合、当該台の斜面が、第1反射面30as、第2反射面30bs、反射面94s、94as~94csに相当する。
 <枠体40>
 枠体40は、図2Bに示すように基板10の実装面10usの周囲に位置し、図2Aに示すようにカバー50を支持する。枠体40は、図2Bに示すように、+Y方向から見て、すなわち上面視でレーザ光源20および第1ミラー部材30aを囲む。枠体40は、図2Cに示すように、内側面から内側に突出した突出部40pを有する。図2Eに示す例において、突出部40pは、サブマウント21の両側面および背面に向けて突出している。突出部40pは、さらに、サブマウント21の正面に向けて突出していてもよい。また、突出部40pは、両側面にのみ突出していてもよい。サブマウント21の正面は、半導体レーザ素子22の出射面と同じ側に位置し、サブマウント21の背面は、半導体レーザ素子22の出射面とは反対側に位置する。サブマウント21の両側面は、サブマウント21の正面および背面を繋ぐ。
 枠体40は、図2Cに示すように、第1上面40us1と、第2上面40us2とを有する。第2上面40us2は突出部40pの上面であり、第1上面40us1よりも下方に位置し、上面視で第1上面40us1によって囲まれる。図2Eに示すように、第2上面40us2は概略的にU字形状を有する。
 第1上面40us1には、第1接合領域44a、および第1接合領域44aを囲む外側領域46が設けられている。第1接合領域44aおよび外側領域46の各々は概略的に矩形環状の形状を有する。第1接合領域44aは、カバー50および枠体40を、はんだ材のような無機接合部材を介して接合する際に、接合強度を向上させる。外側領域46は、カバー50を接合する無機接合部材が外側領域46を越えて流れ出ることを抑制する。第1接合領域44aおよび外側領域46は、図2Eに示すように、上面視で、レーザ光源20および第1ミラー部材30aを囲む。第1上面40us1には、さらに、第1接合領域44aおよび外側領域46よりも-Z方向において、互いに電気的に絶縁された第1導電領域42aおよび第2導電領域42bが設けられている。
 第2上面40us2には、互いに電気的に絶縁された第3導電領域42cおよび第4導電領域42dが設けられている。第3導電領域42cは、内部配線を介して第1導電領域42aに電気的に接続されており、第4導電領域42dは、内部配線を介して第2導電領域42bに電気的に接続されている。図2Eに示すように、上面視で、レーザ光源20および第1ミラー部材30aは、第3導電領域42cのZ方向に延びる部分と、第4導電領域42dのZ方向に延びる部分との間に位置する。第3導電領域42cは、サブマウント21の上面および図2Bに示す一部のワイヤ40wを介して、半導体レーザ素子22に電気的に接続されている。第4導電領域42dは、図2Bに示す残りのワイヤ40wを介して、半導体レーザ素子22に電気的に接続されている。したがって、第1導電領域42aと第2導電領域42bとの間に電圧を印加することにより、レーザ光源20に給電することができる。
 枠体40は、さらに、図2Dに示すように、第1下面40Ls1と、第2下面40Ls2とを有する。第2下面40Ls2は突出部40pの下面を部分的に有し、第1下面40Ls1よりも上方に位置し、-Y方向から見て、すなわち下面視で第1下面40Ls1によって囲まれる。第2下面40Ls2は、概略的に矩形環状の形状を有する。図2Cに示す基板10の一部または全部は、第1下面40Ls1と第2下面40Ls2との段差によって囲まれた空間に収容される。枠体40を透過して見たとき、第2下面40Ls2の外周は、上面視で、基板10の実装面10usの外周を囲み、第2下面40Ls2の内周は、上面視で、基板10の実装面10usの外周によって囲まれる。
 第1下面40Ls1の全体には、第2接合領域44bが設けられている。第2接合領域44bは、図1Aから図1Cに示す支持基体60および枠体40を、はんだ材のような無機接合部材を介して接合する際に、接合強度を向上させる。第2下面40Ls2の全体には、第3接合領域44cが設けられている。第3接合領域44cは、基板10の実装面10usの周縁領域に、ろう材のような無機接合部材を介し接合される。第3接合領域44cは、基板10および枠体40を、無機接合部材を介して接合する際に、接合強度を向上させる。ろう材の融点は、はんだ材の融点よりも高い。したがって、ろう材を加熱して基板10および枠体40を接合し、次に、はんだ材を加熱して基板10およびレーザ光源20を接合する場合、はんだ材に加えられる熱が原因で基板10および枠体40の接合が外れる可能性を低減できる。
 図2Dに示す例において、第1下面40Ls1の全体に第2接合領域44bが設けられているが、第1下面40Ls1の一部に第2接合領域44bが設けられていてもよい。同様に、図2Dに示す例において、第2下面40Ls2の全体に第3接合領域44cが設けられているが、第2下面40Ls2の一部に第3接合領域44cが設けられていてもよい。あるいは、第1下面40Ls1に第2接合領域44bが設けられていなくてもよいし、第2下面40Ls2に第3接合領域44cが設けられていなくてもよい。第1下面40Ls1に第2接合領域44bが設けられていない場合、枠体40および支持基体60は接合されず、基板10の下面10Lsのみで、基板10および支持基体60が接合される。
 図2Fに示す例において、枠体40の第1下面40Ls1は、基板10の下面10Lsと同一平面上に位置する。枠体40の第1下面40Ls1は、基板10の下面10Lsよりも上方に位置していてもよい。あるいは、基板10および支持基体60を、無機接合部材を介して接合する際に妨げにならないのであれば、枠体40の第1下面40Ls1は、基板10の下面10Lsよりも下方に位置していてもよい。
 枠体40は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す支持基体60と同様に、前述のセラミックスから形成され得る。枠体40のX方向における寸法は、例えば3mm以上15mm以下であり、Y方向における最大の寸法は、例えば1mm以上5mm以下であり、Z方向における寸法は、例えば3mm以上30mm以下であり得る。
 導電領域42a~42d、接合領域44a~44c、および外側領域46は、例えば、Ag、Cu、W、Au、Ni、Pt、およびPdからなる群から選択される少なくとも1つの金属材料から形成され得る。導電領域42a~42d、接合領域44a、および外側領域46は、例えば、上面40us1、40us2の全体に金属膜を設け、当該金属膜をエッチングによってパターニングすることにより、形成され得る。
 <カバー50>
 カバー50は、図2Bに示すように、上面50usおよび下面50Lsを有する。カバー50の下面50Lsは基板10の実装面10usに対向し、カバー50の上面50usはカバー50の下面50Lsの反対側に位置する。本明細書において、カバー50の下面50Lsを「対向面」とも称する。カバー50は、半導体レーザ素子22および第1ミラー部材30aの上方に位置する。カバー50は、第1反射面30asで反射されたレーザ光Lを透過させる。
 カバー50は、下面50Lsのうち、レーザ光Lを透過させる透光領域50tの少なくとも周囲に遮光膜52を有する。図2Cに示す例において、透光領域50tは、矩形形状を有するが、この形状に限定されない。透光領域50tの形状は、例えば、円形であってもよいし、楕円形であってもよい。
 あるいは、カバー50は、下面50Lsのうち、透光領域50tの少なくとも周囲の一部に遮光膜52を有していてもよい。例えば、透光領域50tの端の一部が下面50Lsの端の一部に一致する場合、遮光膜52は、下面50Lsのうち、以下の領域の少なくとも一部に設けられ得る。当該領域は、下面50Lsにおいて、透光領域50tの端のうち、上記の一部以外の残りの部分に隣接する領域である。
 遮光膜52は、発光装置100の内部で生じるレーザ光L以外の迷光が発光装置100の外部に漏れる可能性を低減する。遮光膜52は、さらに、図2Fに示す樹脂層32を紫外線または可視光の照射によって形成する際に、紫外線または可視光がレーザ光源20に到達する可能性を低減する。遮光膜52は、さらに、発光装置100の外部に出射されたレーザ光Lの戻り光がレーザ光源20に到達する可能性を低減する。紫外線もしくは可視光または戻り光による照射を低減できれば、レーザ光源20は損傷しにくくなる。
 図2Cに示す例において、遮光膜52は、下面50Lsのうち、透光領域50t以外の領域の全体に設けられている。そのように設けられた遮光膜52は、上記の迷光が発光装置100の外部に漏れる可能性、および上記の紫外線もしくは可視光または上記の戻り光がレーザ光源20に到達する可能性をさらに低減する。
 カバー50のうち、透光領域50tだけでなく、上面視で透光領域50tに重なる部分も、レーザ光Lを透過させる。カバー50のうち、レーザ光Lを透過させる部分は、レーザ光Lに対して、例えば60%以上の透過率を有し、好ましくは80%以上の透過率を有し得る。カバー50のうち、残りの部分はそのような透光性を有してもよいし、有していなくてもよい。
 カバー50は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す集光レンズ70と同様に、前述の透光性材料から形成され得る。カバー50のX方向における寸法は、例えば3mm以上15mm以下であり、Y方向における寸法は、例えば0.1mm以上1.5mm以下であり、Z方向における寸法は、例えば1mm以上20mm以下であり得る。
 遮光膜52は、例えば、導電領域42a~42d、接合領域44a~44c、外側領域46と同様に、前述の金属材料から形成され得る。遮光膜52は、例えば、導電領域42a~42d、接合領域44a、および外側領域46と同様に、カバー50の下面50Lsの全体に金属膜を設け、当該金属膜をエッチングによってパターニングすることにより、形成され得る。
 遮光膜52の周縁領域は、枠体40の第1上面40us1に設けられた第1接合領域44aに、はんだ材のような無機接合部材を介して接合される。遮光膜52が上記の金属材料から形成される場合、遮光膜52は、カバー50および枠体40を、無機接合部材を介して接合する際に、接合強度を向上させる。
 なお、図2Aから図2Cに示す例において、カバー50は平板形状を有するが、この形状に限定されない。基板10が枠体40を設けない平板形状を有する構成において、カバー50は、平板形状ではなく、下部が開放された箱形状を有していてもよい。そのような形状を有するカバー50は、基板10の実装面10usによって支持され、レーザ光源20および第1ミラー部材30aを収容する。また、下部が開放された箱形状を有するカバー50と枠体40を接合する構成とし、カバー50および枠体40によって、レーザ光源20および第1ミラー部材30aが囲まれていてもよい。
 以上のことから、本実施形態によれば、レーザ光Lの進行方向と、設計上の進行方向とのずれを低減することが可能な発光装置100を実現できる。そのような発光装置100を図1Aから図1Cに示す発光モジュール200に採用することにより、複数の発光装置100の各々からレーザ光Lが出射されて得られる複数のレーザ光Lを効果的に結合して光ファイバ80に入射させることができる。
 発光装置100は、例えば、以下のようにして製造され得る。最初の工程において、基板10、レーザ光源20、第1ミラー部材30a、第2ミラー部材30b、枠体40、複数のワイヤ40w、およびカバー50が用意される。次の工程において、枠体40が基板10に接合される。次の工程において、レーザ光源20および第1ミラー部材30aが、基板10の実装面10usに設けられる。次の工程において、レーザ光源20に給電するための複数のワイヤ40wが設けられる。次の工程において、カバー50が枠体40に接合される。次の工程において、第2ミラー部材30bの下面をカバー50の上面50usに硬化前の樹脂を介して接触させた状態で、アクティブアライメントが行われる。次の工程において、樹脂を硬化して第2ミラー部材30bとカバー50との間に樹脂層32が形成される。
 [DDL装置]
 次に、図3を参照して、本開示の実施形態によるDDL装置の構成例を説明する。図3は、本開示の例示的な実施形態によるDDL装置の構成を模式的に示す図である。図3に示すDDL装置1000は、本実施形態による複数の発光モジュール200と、加工ヘッド300と、発光モジュール200を加工ヘッド300に接続する光伝送ファイバ250とを備える。図3に示す例において、発光モジュール200の数は4個であるが、この数に限定されない。発光モジュール200の数は1個であってもよいし、2個もしくは3個、または5個以上の複数個であってもよい。
 各発光モジュール200に含まれる発光装置100の数は、必要な光出力または放射照度に応じて決定される。発光装置100から出射されたレーザ光の波長も、加工対象の材料に応じて選択され得る。例えば、銅、真鍮、アルミニウムなどの金属を加工する場合、中心波長が350nm以上550nm以下の範囲に属する半導体レーザ素子が好適に採用され得る。各発光装置100から出射されたレーザ光の波長は同一である必要はなく、中心波長が異なるレーザ光が重畳されてもよい。また、中心波長が350nm以上550nm以下の範囲外にあるレーザ光を用いる場合にも、本発明による効果を得ることは可能である。
 図3に示す例において、複数の発光モジュール200の各々から光ファイバ80が延びている。そのようにして得られる複数の光ファイバ80が光合波器230によって光伝送ファイバ250に結合されている。光合波器230は、例えば、TFB(Tapered Fiber Bundle)であり得る。加工ヘッド300は、光ファイバ80の光出射端から出射されたレーザ光を対象物400に収束して照射する。1台のDDL装置1000がM個の発光モジュール200を備え、各発光モジュール200がN個の発光装置100を備える場合において、1個の発光装置100の光出力がPワットであれば、最大でP×N×Mワットの光出力を持ったレーザビームを対象物400上に収束させることができる。ここで、Nは2以上の整数、Mは正の整数である。例えばP=20ワット、N=22、M=12であれば、5キロワットを超える光出力を実現できる。
 [レーザ光源20の構成]
 次に、図4Aおよび図4Bを参照して、図2Cに示すレーザ光源20の構成の例を説明する。図4Aは、レーザ光源20の分解斜視図である。図4Bは、レーザ光源20の、YZ平面に対して平行な断面図である。以下に、レーザ光源20の各構成要素を説明する。
 サブマウント21は、図4Aに示すように、XZ平面に対して平行である上面21usおよび下面21Lsを有する。上面21usおよび下面21Lsの各々には金属膜が設けられている。上面21usに設けられた金属膜は、半導体レーザ素子22およびレンズ支持部材23をサブマウント21に無機接合部材で接合する際に、接合強度を向上させる。上面21usに設けられた金属膜は、さらに、半導体レーザ素子22に電力を供給することに用いてもよい。下面21Lsに設けられた金属膜は、図2Cに示す基板10およびレーザ光源20を、無機接合部材を介して接合する際に、接合強度を向上させる。上面21usおよび下面21Lsの各々に設けられた金属膜は、駆動時に半導体レーザ素子22で発せられる熱を、サブマウント21を介して基板10に伝えることにも役立つ。サブマウント21は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す支持基体60と同様に、前述のセラミックス、金属材料、または金属マトリクス複合材料から形成され得る。
 半導体レーザ素子22は、図4Aに示すように、サブマウント21の上面21usによって支持されている。半導体レーザ素子22はZ方向に交差する2つの端面の一方に出射面22eを有し、出射面22eからレーザ光を+Z方向に出射する。レーザ光は、+Z方向に進行するにつれてYZ平面およびXZ平面において異なる速さで広がる。レーザ光は、YZ平面において相対的に速く広がり、XZ平面において相対的に遅く広がる。レーザ光のスポットは、コリメートしない場合、ファーフィールドで、XY平面においてY方向が長軸でありX方向が短軸である楕円形状を有する。
 半導体レーザ素子22は、可視領域における紫色、青色、緑色もしくは赤色のレーザ光、または不可視領域における赤外もしくは紫外のレーザ光を出射し得る。紫色光の発光ピーク波長は、400nm以上420nm以下の範囲内にあることが好ましく、400nm以上415nm以下の範囲内にあることがより好ましい。青色光の発光ピーク波長は、420nmより大きく495nm以下の範囲内にあることが好ましく、440nm以上475nm以下の範囲内にあることがより好ましい。緑色光の発光ピーク波長は、495nmより大きく570nm以下の範囲内にあることが好ましく、510nm以上550nm以下の範囲内にあることがより好ましい。赤色光の発光ピーク波長は、605nm以上750nm以下の範囲内にあることが好ましく、610nm以上700nm以下の範囲内にあることがより好ましい。
 紫色、青色および緑色のレーザ光を出射する半導体レーザ素子22としては、窒化物半導体材料を含むレーザダイオードが挙げられる。窒化物半導体材料としては、例えば、GaN、InGaN、およびAlGaNを用いることができる。赤色のレーザ光を出射する半導体レーザ素子22としては、例えば、InAlGaP系、GaInP系、GaAs系、およびAlGaAs系の半導体材料を含むレーザダイオードが挙げられる。
 レンズ支持部材23は、図4Aに示すように、サブマウント21の上面21usによって支持されている。レンズ支持部材23は、2つの柱状部分23aと、2つの柱状部分23aの間に位置し、2つの柱状部分23aを連結する連結部分23bとを有する。2つの柱状部分23aは半導体レーザ素子22の両側に位置し、連結部分23bは半導体レーザ素子22の出射面22e側の上方に位置する。レンズ支持部材23は、2つの柱状部分23aの端面23asによって速軸コリメートレンズ24を支持する。レンズ支持部材23は、半導体レーザ素子22を跨ぐように位置し、半導体レーザ素子22から出射されたレーザ光が速軸コリメートレンズ24に入射することを妨げない。
 レンズ支持部材23は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す支持基体60と同様に、前述のセラミックスから形成され得る。レンズ支持部材23は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す集光レンズ70と同様に、前述の透光性材料から形成され得る。レンズ支持部材23は、例えば、コバールおよびCuWからなる群から選択される少なくとも1つの合金から形成され得る。レンズ支持部材23は、例えばSiから形成され得る。
 速軸コリメートレンズ24は、図4Aに示すように、例えば、X方向に一様な断面形状を有するシリンドリカルレンズであり得る。速軸コリメートレンズ24は、光入射側に平面を有し、光出射側に凸曲面を有する。当該凸曲面は、YZ平面において曲率を有する。速軸コリメートレンズ24の焦点は、半導体レーザ素子22の出射面22eの発光点の中心にほぼ一致する。図4Bに示すように、速軸コリメートレンズ24は、半導体レーザ素子22の出射面22eから+Z方向に出射されたレーザ光をYZ平面においてコリメートする。図4Bに示す破線によって囲まれた領域は、レーザ光の強度がそのピーク強度の1/e倍以上である領域を表す。eは自然対数の底である。速軸コリメートレンズ24は、例えば、図1Aおよび図1Bに示す集光レンズ70と同様に、前述の透光性材料から形成され得る。
 速軸コリメートレンズ24は、図2Fに示すように、基板10の実装面10usとカバー50の下面50Lsとの間に位置し、かつレーザ光Lの光路上に位置する。速軸コリメートレンズ24は、基板10、枠体40、およびカバー50によって形成される封止空間の内部に配置されているので、レーザ光Lが大きく広がる前にレーザ光Lをコリメートすることができる。したがって、速軸コリメートレンズ24を小型にすることが可能になる。
 速軸コリメートレンズ24の代わりに、半導体レーザ素子22から出射されたレーザ光Lを、YZ平面だけでなくXZ平面においてもコリメートするコリメートレンズを用いてもよい。その場合、図1Aから図1Cに示す発光モジュール200および図1Dに示す発光モジュール210において、遅軸コリメートレンズ92、92a、92bを設ける必要はない。
 本開示は、以下の項目に記載の発光装置を含む。
[項目1]
 第1方向に並ぶ複数の載置面を有する支持基体と、
 前記複数の載置面の各々に、対応する発光装置が配置される、複数の発光装置であって、各々は、
  実装面を有する基板と、
  前記実装面によって支持される半導体レーザ素子と、
  前記実装面によって支持される第1ミラー部材と、
  前記基板の前記実装面に対向する対向面、および前記対向面の反対側に位置する上面を有し、前記半導体レーザ素子および前記第1ミラー部材の上方に位置するカバーと、
  前記カバーの前記上面によって支持される第2ミラー部材と、を備える、複数の発光装置と、
 複数の第3ミラー部材と、
 集光レンズと、
を備え、
 前記第1ミラー部材は第1反射面を有し、前記第1反射面は、前記実装面に対して傾斜し、斜め上方を向き、
 前記第2ミラー部材は第2反射面を有し、前記第2反射面の少なくとも一部は、前記第1反射面の少なくとも一部の上方に位置し、
 前記半導体レーザ素子は、前記第1反射面に向けてレーザ光を出射するように配置されており、
 前記第1反射面は、前記レーザ光を反射して前記レーザ光の進行方向を前記基板の前記実装面から離れる方向に変化させ、
 前記カバーは、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を透過させ、
 前記第2反射面は、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を、前記第1方向に交差する第2方向にさらに変化させ、
 前記複数の第3ミラー部材の各々は第3反射面を有し、前記第3反射面は、前記第2方向に進行する前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を前記第1方向に変化させ、
 前記集光レンズは、前記複数の発光装置の各々から出射された前記レーザ光が前記第3反射面で反射されて得られる複数のレーザ光を光ファイバに結合する、発光モジュール。
[項目2]
 前記第2ミラー部材の下面と前記カバーの前記上面との間には、樹脂層が存在している、項目1に記載の発光モジュール。
[項目3]
 前記カバーは、前記カバーの前記対向面のうち、前記レーザ光が透過する領域の少なくとも周囲に遮光膜を有する、項目1または2に記載の発光モジュール。
[項目4]
 前記基板の前記実装面と前記カバーの前記対向面との間に位置し、かつ前記レーザ光の光路上に位置する速軸コリメートレンズを備える、項目1から3のいずれか1項に記載の発光モジュール。
[項目5]
 前記基板は、熱伝導率が10W/m・K以上2000W/m・K以下である材料から形成されている、項目1から4のいずれか1項に記載の発光モジュール。
[項目6]
 前記基板の前記実装面の周囲に位置し、前記カバーを支持する枠体を備え、
 前記半導体レーザ素子は、前記基板、前記枠体、および前記カバーによって気密封止されている、項目1から5のいずれか1項に記載の発光モジュール。
 本開示の発光装置は、特に複数のレーザ光を結合して高出力のレーザ光を実現するために用いられ得る。また、本開示の発光装置は、例えば、高出力のレーザ光源が必要とされる産業用分野、例えば各種材料の切断、穴あけ、局所的熱処理、表面処理、金属の溶接、3Dプリンティングに利用され得る。
 10:基板 10us:実装面 10Ls:下面 20:レーザ光源 21:サブマウント 21Ls:下面 21us:上面 22:半導体レーザ素子 22e:出射面 23:レンズ支持部材 23a:柱状部分 23as:端面 23b:連結部分 24:速軸コリメートレンズ 30a:第1ミラー部材 30as:第1反射面 30b:第2ミラー部材 30bs:第2反射面 32:樹脂層 40:枠体 40us1:第1上面 40us2:第2上面 40Ls1:第1下面 40Ls2:第2下面 40p:突出部 40w:ワイヤ 42a:第1導電領域 42b:第2導電領域 42c:第3導電領域 42d:第4導電領域 44a:第1接合領域 44b:第2接合領域 44c:第3接合領域 46:外側領域 50:カバー 50us:上面 50Ls:下面 50t:透光領域 52:遮光膜 60、62:支持基体 60-1、62-1:第1部分 60-2、62-2:第2部分 60-3、62-3:第3部分 60s1:第1載置面 60s2:第2載置面 60s3:第3載置面 70:集光レンズ 70a:速軸集光レンズ 70b:遅軸集光レンズ 80:光ファイバ 80a:光入射端 80b:光出射端 82:支持部材 92:遅軸コリメートレンズ 92a:遅軸コリメートレンズ 92b:遅軸コリメートレンズ 94、94a、94b、94c:ミラー部材 94s、94as、94bs、94cs:反射面 96:1/2波長板 98:偏光ビームスプリッタ 100、100-1、100-2:発光装置 200、210:発光モジュール 230:光合波器 250:光伝送ファイバ 300:加工ヘッド 400:対象物 1000:DDL装置

Claims (6)

  1.  第1方向に並ぶ複数の載置面を有する支持基体と、
     前記複数の載置面の各々に、対応する発光装置が配置される、複数の発光装置であって、各々は、
      実装面を有する基板と、
      前記実装面によって支持される半導体レーザ素子と、
      前記実装面によって支持される第1ミラー部材と、
      前記基板の前記実装面に対向する対向面、および前記対向面の反対側に位置する上面を有し、前記半導体レーザ素子および前記第1ミラー部材の上方に位置するカバーと、
      前記カバーの前記上面によって支持される第2ミラー部材と、を備える、複数の発光装置と、
     複数の第3ミラー部材と、
     集光レンズと、
    を備え、
     前記第1ミラー部材は第1反射面を有し、前記第1反射面は、前記実装面に対して傾斜し、斜め上方を向き、
     前記第2ミラー部材は第2反射面を有し、前記第2反射面の少なくとも一部は、前記第1反射面の少なくとも一部の上方に位置し、
     前記半導体レーザ素子は、前記第1反射面に向けてレーザ光を出射するように配置されており、
     前記第1反射面は、前記レーザ光を反射して前記レーザ光の進行方向を前記基板の前記実装面から離れる方向に変化させ、
     前記カバーは、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を透過させ、
     前記第2反射面は、前記第1反射面で反射された前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を、前記第1方向に交差する第2方向にさらに変化させ、
     前記複数の第3ミラー部材の各々は第3反射面を有し、前記第3反射面は、前記第2方向に進行する前記レーザ光を反射して前記レーザ光の前記進行方向を前記第1方向に変化させ、
     前記集光レンズは、前記複数の発光装置の各々から出射された前記レーザ光が前記第3反射面で反射されて得られる複数のレーザ光を光ファイバに結合する、発光モジュール。
  2.  前記第2ミラー部材の下面と前記カバーの前記上面との間には、樹脂層が存在している、請求項1に記載の発光モジュール。
  3.  前記カバーは、前記カバーの前記対向面のうち、前記レーザ光が透過する領域の少なくとも周囲に遮光膜を有する、請求項1または2に記載の発光モジュール。
  4.  前記基板の前記実装面と前記カバーの前記対向面との間に位置し、かつ前記レーザ光の光路上に位置する速軸コリメートレンズを備える、請求項1から3のいずれか1項に記載の発光モジュール。
  5.  前記基板は、熱伝導率が10W/m・K以上2000W/m・K以下である材料から形成されている、請求項1から4のいずれか1項に記載の発光モジュール。
  6.  前記基板の前記実装面の周囲に位置し、前記カバーを支持する枠体を備え、
     前記半導体レーザ素子は、前記基板、前記枠体、および前記カバーによって気密封止されている、請求項1から5のいずれか1項に記載の発光モジュール。
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