WO2023162125A1 - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2023162125A1
WO2023162125A1 PCT/JP2022/007851 JP2022007851W WO2023162125A1 WO 2023162125 A1 WO2023162125 A1 WO 2023162125A1 JP 2022007851 W JP2022007851 W JP 2022007851W WO 2023162125 A1 WO2023162125 A1 WO 2023162125A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
ion source
main body
engaging member
lever
mass spectrometer
Prior art date
Application number
PCT/JP2022/007851
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
幸平 細尾
朋也 工藤
Original Assignee
株式会社島津製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社島津製作所 filed Critical 株式会社島津製作所
Priority to PCT/JP2022/007851 priority Critical patent/WO2023162125A1/ja
Publication of WO2023162125A1 publication Critical patent/WO2023162125A1/ja

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/24—Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes

Definitions

  • the present invention relates to a mass spectrometer.
  • a mass spectrometer such as a liquid chromatograph-mass spectrometer (LC-MS) uses an ion source to ionize components in a sample separated by the liquid chromatograph (LC).
  • the ion source is attached to the main body of the mass spectrometer so that it can be opened and closed, and the ion source is opened to the main body during maintenance (for example, see Patent Document 1 below).
  • a vacuum chamber is formed in the main body into which the ions generated in the ionization chamber are introduced.
  • the ionization chamber and the vacuum chamber are communicated through a connection pipe called a desolvation line (DL).
  • Ions generated in the ionization chamber are introduced from the ionization chamber into a vacuum chamber through a connecting tube, and subjected to mass spectrometry.
  • connection pipe is held by a flange (DL flange) that is made up of a disk-shaped member.
  • a flange DL flange
  • the ion source presses the flange portion toward the main body, thereby fixing the connection pipe.
  • the pressing force from the ion source on the flange portion is released, and the flange portion and the connecting pipe can be removed.
  • An O-ring is provided as a sealing member between the ion source and the main body.
  • the mass spectrometer disclosed in Patent Document 1 is provided with a lock mechanism for locking the ion source in a closed state with respect to the main body.
  • a lock mechanism for locking the ion source in a closed state with respect to the main body.
  • the sealing member is elastically deformed by a large pressing force, and the ion source is attached to the main body so as to maintain that state. must be locked against.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a mass spectrometer in which the ion source can be easily locked with respect to the main body with a space-saving structure.
  • a mass spectrometer includes an ion source, a main body, a connection pipe, a flange portion, a first seal member, and a lock mechanism.
  • An ionization chamber for ionizing a sample is formed inside the ion source.
  • a vacuum chamber into which ions generated in the ionization chamber are introduced is formed in the main body, and the ion source is attached so as to be openable and closable.
  • the connection pipe is detachable from the main body and introduces ions from the ionization chamber into the vacuum chamber.
  • the flange portion holds the connection pipe, and is pressed toward the main body by a pressing surface formed on the ion source when the ion source is closed with respect to the main body.
  • the first seal member is provided between the flange portion and the pressing surface.
  • the locking mechanism is for locking the ion source closed with respect to the body.
  • the locking mechanism has a lever and an engaging portion.
  • the lever is provided on the main body or the ion source and has a locked state in which the ion source is kept closed with respect to the main body, and an unlocked state in which the ion source can be opened with respect to the main body. It is possible to rotate between
  • the engaging portion includes a first engaging member and a second engaging member, at least one of which is rotatably provided, and the first engaging member and the second engaging member are engaged with each other in the locked state. do. As the lever rotates from the unlocked state to the locked state, at least one of the first engaging member and the second engaging member rotates while coming into contact with each other.
  • the ion source can be easily locked to the main body with a space-saving structure.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration around the connection pipe;
  • FIG. 4 is a schematic side view showing an example of the configuration of a lock mechanism;
  • FIG. 4 is a schematic side view showing an example of the configuration of a lock mechanism;
  • FIG. 4 is a schematic side view showing an example of the configuration of a lock mechanism;
  • FIG. 5 is a schematic side view for explaining rotation detection of a lever;
  • FIG. 5 is a schematic side view for explaining rotation detection of a lever;
  • FIG. 2 is a schematic plan view for explaining gas supply into the ionization chamber, partly shown in cross section.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration around the gas outlet and the gas inlet;
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of a mass spectrometer 10 of this embodiment.
  • a mass spectrometer 10 shown in FIG. 1 is a liquid chromatograph mass spectrometer that performs mass spectrometry on components in a sample separated by liquid chromatography.
  • This mass spectrometer 10 comprises a liquid chromatograph section 12 and a mass spectrometry section 14 .
  • the present invention can also be applied to mass spectrometers other than liquid chromatograph mass spectrometers.
  • the liquid chromatograph section 12 has a column (not shown). During analysis, a mobile phase containing an organic solvent is introduced to the column. A predetermined amount of sample is injected into the mobile phase introduced into the column. The mobile phase into which the sample has been injected is introduced into the column, and each component in the sample is separated during the process of passing through the column. Each component in the sample separated by the column is sequentially supplied to the mass spectrometer 14 .
  • An ionization chamber 16 , a vacuum chamber 18 and an analysis chamber 20 are formed in the mass spectrometer 14 .
  • the inside of the ionization chamber 16 is at substantially atmospheric pressure.
  • the vacuum chamber 18 and the analysis chamber 20 are evacuated by driving vacuum pumps (not shown).
  • the ionization chamber 16 communicates with the vacuum chamber 18, and the analysis chamber 20 communicates with the vacuum chamber 18. That is, the ionization chamber 16 communicates with the analysis chamber 20 via the vacuum chamber 18 .
  • the ionization chamber 16, the vacuum chamber 18, and the analysis chamber 20 are configured so that the degree of vacuum increases stepwise in this order.
  • a probe 22 is provided in the ionization chamber 16 .
  • the probe 22 sprays the liquid sample by, for example, the ESI method (Electrospray ionization).
  • ESI method Electron ionization
  • an electric charge is imparted to the sample to be sprayed, and charged droplets made of the charged sample are generated, thereby generating ions derived from each component in the sample.
  • the sample supplied from the liquid chromatograph section 12 is ionized.
  • the ionization chamber 16 and the vacuum chamber 18 are separated by a partition wall 24 , and a connection pipe 26 penetrates through the partition wall 24 .
  • the connection pipe 26 allows the insides of the ionization chamber 16 and the vacuum chamber 18 to communicate with each other.
  • the connecting pipe 26 is a thin tube called a desolvation line (DL), and is used for desolvation.
  • the vacuum chamber 18 is also provided with an ion guide 28 for converging ions and sending them to the analysis chamber 20 .
  • the vacuum chamber 18 communicating with the ionization chamber 16 may be configured in multiple stages.
  • the analysis chamber 20 communicates with the vacuum chamber 18 via a skimmer 30 consisting of small holes. Ions generated in the ionization chamber 16 are introduced from the ionization chamber 16 into the vacuum chamber 18 via the connection pipe 26 and then flow through the skimmer 30 into the analysis chamber 20 .
  • a quadrupole filter 32 and a detector 34 are provided in the analysis room 20, for example. Ions entering the analysis chamber 20 from the vacuum chamber 18 are separated by a quadrupole filter 32 according to their mass-to-charge ratios, and only ions having a particular mass-to-charge ratio pass through the quadrupole filter 32 . Ions passing through the quadrupole filter 32 are incident on the detector 34 . At the detector 34, a current corresponding to the number of ions that have reached is output as a detection signal.
  • ions generated by ionizing the sample in the ionization chamber 16 can be introduced into the vacuum chamber 18 and detected by the detector 34 .
  • a hollow main body 100 in which the vacuum chamber 18 and the analysis chamber 20 are formed, and a hollow ion source 200 in which the ionization chamber 16 is formed are constructed by separate members.
  • the connection pipe 26 is attachable/detachable to/from the partition wall 24 provided in the main body 100 .
  • the ion source 200 is attached to the main body 100 so as to be openable and closable. By closing the ion source 200 to the main body 100, the ion source 200 faces the partition wall 24, and the ionization chamber 16 and the vacuum chamber 18 are opened. and the analysis chamber 20 is sealed. Further, by opening the ion source 200 with respect to the main body 100, the connection pipe 26 can be exposed to the outside, and the connection pipe 26 can be removed from the main body 100 for maintenance.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of a configuration around the connection pipe 26 .
  • the connection pipe 26 is made of a metal having electrical and thermal conductivity, and is held by the flange portion 62 via the connection body portion 40 as shown in FIG.
  • connection body portion 40 is provided for heating the connection pipe 26 and surrounds the outer circumference of the connection pipe 26 .
  • the connection body 40 is composed of a heating block 42, a heater 44, a cylindrical member 46, a sealing member 48, and the like.
  • the heating block 42 is made of metal having electrical and thermal conductivity.
  • the heating block 42 also includes a projecting portion 42a projecting toward the ionization chamber 16 side.
  • the heating block 42 is formed with a through hole 42b extending in its longitudinal direction.
  • the connecting pipe 26 is inserted through the through-hole 42b so as to contact the inner peripheral surface of the through-hole 42b. That is, the heating block 42 surrounds the outer periphery of the connection pipe 26 .
  • a heater 44 is in contact with the heating block 42 .
  • the heat of the heater 44 is transferred to the connection pipe 26 via the heating block 42, thereby heating the connection pipe 26. As shown in FIG.
  • connection main body portion 40 heats the connection pipe 26 inserted through the connection main body portion 40 .
  • Wiring for supplying electric power to the heater 44 is omitted from the drawing.
  • the cylindrical member 46 has a through hole 46a whose diameter changes stepwise, and the heating block 42 is inserted so as to come into contact with the inner peripheral surface of the through hole 46a.
  • the sealing member 48 is composed of, for example, an O-ring.
  • the heating block 42 is inserted inside the sealing member 48 , and the outside of the sealing member 48 contacts the inside of the cylindrical member 46 . Also, the sealing member 48 is sandwiched between the heating block 42 and the cylindrical member 46 in the axial direction of the connecting pipe 26 .
  • a sampling cone 50 is attached to the connection main body 40 .
  • the sampling cone 50 is an interface for drawing ions from the ionization chamber 16 side into the connecting tube 26, and is made of a conductive metal.
  • the sampling cone 50 is provided on the ionization chamber 16 side with respect to the connection main body 40 .
  • the sampling cone 50 is a conical cylindrical body through which the end of the connection pipe 26 is inserted. Further, inside the sampling cone 50, the protrusion 42a of the heating block 42 is inserted.
  • a holding member 52 is provided on the vacuum chamber 18 side with respect to the connection body portion 40 .
  • the holding member 52 is made of metal having electrical and thermal conductivity.
  • a through-hole 52a is formed in the holding member 52, and the end of the connection pipe 26 is inserted and held so as to come into contact with the inner peripheral surface of the through-hole 52a.
  • the holding member 52 is fixed to the connecting pipe 26 by welding a part of the holding member 52 to the connecting pipe 26 . Therefore, by displacing the holding member 52 along the axial direction of the connecting pipe 26, the connecting pipe 26 held by the holding member 52 can be pulled out from the through hole 42b of the heating block 42 for maintenance. .
  • the holding member 52 is in contact with the entire end face 42c of the heating block 42. Thereby, the heat transferred from the heater 44 to the heating block 42 is favorably transferred to the holding member 52 from the end face 42c. Further, a part of the holding member 52 is inserted through the opening 24a in the partition wall 24 while protruding toward the vacuum chamber 18 side. Thereby, the connection pipe 26 is inserted through the opening 24a.
  • An orifice member 54 is provided in the opening 24 a of the partition wall 24 .
  • Orifice member 54 is an interface for introducing ions into vacuum chamber 18 .
  • the orifice member 54 is fixed to the partition wall 24 using fasteners 56 such as screws.
  • a seal member 58 is sandwiched between the holding member 52 and the orifice member 54 .
  • the ion source 200 is attached to the main body 100 so as to be rotatable about the rotating shaft 101 .
  • the main body 100 and the ion source 200 are connected via a hinge (not shown) made of stainless steel, for example, and the rotation shaft 101 is provided on the hinge.
  • the rotating shaft 101 may be held by a hinge via a bearing composed of, for example, a metal cermet oil bush.
  • the ion source 200 can be opened and closed with respect to the main body 100 by rotating the ion source 200 around the rotating shaft 101 .
  • the ion source 200 is shown closed to the body 100 .
  • the ion source 200 is not limited to being rotatable with respect to the main body 100 , and may be configured to be openable and closable with respect to the main body 100 by other modes such as sliding with respect to the main body 100 .
  • the flange portion 62 is a so-called DL flange and is configured by a disk-shaped member.
  • a through hole 62a is formed in the flange portion 62, and the connection main body portion 40 (cylindrical member 46) is inserted through the through hole 62a.
  • the pressing surface 201 of the ion source 200 presses the flange portion 62 toward the main body 100 side.
  • the flange portion 62 presses the connecting body portion 40 via the cylindrical member 46 , and accordingly the holding member 52 is pressed toward the vacuum chamber 18 .
  • the sealing member 48 and the sealing member 58 are each elastically deformed.
  • a sealing member 202 as a first sealing member is provided between the flange portion 62 and the pressing surface 201 of the ion source 200 .
  • the sealing member 202 is an annular O-ring and is fixed within a recess provided in the pressing surface 201 .
  • the seal member 202 is made of, for example, a low-friction non-adhesive fluororubber that is difficult to stick.
  • the sealing member 202 may be attached to the flange portion 62 instead of being attached to the pressing surface 201 .
  • the ion source 200 is locked in a closed state with respect to the main body 100 by the locking mechanism 300 .
  • the locked state shown in FIG. 2 since the ion source 200 is locked by the lock mechanism 300, the ion source 200 cannot be rotated around the rotation shaft 101, and the ion source 200 is closed with respect to the main body 100. maintained as it was.
  • the seal member 202 In the locked state, the seal member 202 is elastically deformed to ensure the airtightness of the ionization chamber 16 .
  • FIGS. 3A to 3C are schematic side views showing an example of the configuration of the lock mechanism 300.
  • FIG. The specific configuration and operation of the lock mechanism 300 will be described below with reference to FIGS. 2 and 3A to 3C.
  • the lock mechanism 300 includes a lever 301 and an engaging portion 302.
  • the engaging portion 302 includes a first engaging member 321 and a second engaging member 322 that are engageable with each other.
  • the lock mechanism 300 can change the engagement state between the first engagement member 321 and the second engagement member 322 based on the user's operation of the lever 301 .
  • the lever 301 is attached to the main body 100 so as to be rotatable around a rotating shaft 311 .
  • the rotating shaft 311 extends in a direction intersecting with the rotating shaft 101 of the ion source 200, more specifically in a perpendicular direction. Therefore, the rotation direction D1 of the lever 301 about the rotation axis 311 is different from the rotation direction D2 of the ion source 200 about the rotation axis 101 .
  • the lever 301 has a support plate 312 , and a rotating shaft 311 inserted through an insertion hole 312 a formed in the support plate 312 is fixed to the main body 100 .
  • the lever 301 is configured by, for example, an L-shaped member in a side view, by connecting a base portion 313 provided with a support plate 312 and an operation portion 314 operated by a user.
  • the shape of the lever 301 is not limited to such a shape.
  • the second engaging member 322 is provided on the lever 301 by being rotatably attached to the support plate 312 . Specifically, the second engaging member 322 is inserted from one side into the insertion hole 312b formed in the support plate 312, and the fastener 323 is attached from the other side of the insertion hole 312b, thereby A second engaging member 322 is rotatably supported.
  • the corners of the insertion hole 312b facing the second engaging member 322, that is, the corners forming both edges of the insertion hole 312b are chamfered by scraping to form tapered surfaces 312c. Thereby, the second engaging member 322 can be smoothly rotated within the insertion hole 312b.
  • the engaging portion 302 also includes a thrust washer 324 provided between the insertion hole 312 b and the second engaging member 322 .
  • the thrust washers 324 are ring-shaped washers for facilitating rotation, and are provided at both edges of the insertion hole 312b.
  • One thrust washer is sandwiched between the head of the second engaging member 322 and the support plate 312 , and the other thrust washer is sandwiched between the fastener 323 and the support plate 312 .
  • a bearing may be provided between the insertion hole 312 b and the second engaging member 322 .
  • the corners of the insertion hole 312a facing the rotating shaft 311, that is, the corners forming both edges of the insertion hole 312a are also chamfered by scraping to form tapered surfaces 312c.
  • Thrust washers 324 are also sandwiched between the rotating shaft 311 and both end edges of the insertion hole 312a. As a result, the support plate 312 (lever 301) can be smoothly rotated around the rotating shaft 311. As shown in FIG.
  • the first engaging member 321 is provided in the ion source 200 by being rotatably attached to the ion source 200 .
  • the rotation axis of the first engaging member 321 is parallel to the rotation axis of the second engaging member 322 .
  • the outer peripheral surface of the first engaging member 321 is a first contact surface 321a formed of a circumferential surface, and as the lever 301 rotates around the rotation shaft 311, the second contact surface 322a formed of a circumferential surface is formed. It can contact with the outer peripheral surface of a certain second engaging member 322 .
  • the first contact surface 321a of the first engaging member 321 and the second contact surface 322a of the second engaging member 322 are in contact, but in the state of FIG. 3C , the first contact surface 321a of the first engaging member 321 and the second contact surface 322a of the second engaging member 322 are not in contact.
  • at least one of the first contact surface 321a and the second contact surface 322a may not be a circumferential surface, but may be another circumferential surface such as an arc surface, or may be a surface other than a circumferential surface.
  • the state shown in FIGS. 2 and 3A is a locked state in which the ion source 200 is kept closed with respect to the main body 100.
  • FIG. In this state the first engaging member 321 and the second engaging member 322 are engaged with each other. Specifically, the outer peripheral surface of the first engaging member 321 and the outer peripheral surface of the second engaging member 322 are in contact with each other, and the restoring force of the elastically deformed seal member 202 is shown by arrows in FIG. 3A. It acts on the second engaging member 322 from the first engaging member 321 .
  • the first engaging member is positioned on the side opposite to the rotating direction of the lever 301 when locked from a straight line connecting the center (rotational axis) of the rotating shaft 311 and the center (rotational axis) of the second engaging member 322 . Since the center (rotational axis) of 321 is located, it is possible to prevent the locked state from being released when an external force such as an impact is applied to the ion source 200 in the locked state.
  • the base 313 of the lever 301 is connected to the main body 100 via a tension spring 315 .
  • a rotating force acts on the lever 301 counterclockwise in FIG. 3A around the rotating shaft 311 .
  • the lever 301 does not rotate and is locked unless the user operates the lever 301. is maintained.
  • the ion source 200 can be forcibly opened with respect to the main body 100 only by operating the lever 301 .
  • the pressing member 303 is not limited to the configuration provided on the support plate 312 and may be provided on other parts of the lock mechanism 300 such as the lever 301 .
  • the first engaging member 321 and the second engaging member 322 rotate while contacting each other. Specifically, as the lever 301 is rotated from the unlocked state to the locked state, the first contact surface 321a of the first engaging member 321 and the second contact surface 322a of the second engaging member 322 are brought into contact with each other. Each of the first engaging member 321 and the second engaging member 322 rotates while contacting each other.
  • the ion source 200 can be locked in a closed state with respect to the main body 100 against the restoring force of the seal member 202 indicated by the arrow in FIG. 3A. .
  • the radius of the second contact surface 322a of the second engaging member 322 is larger than the radius of the first contact surface 321a of the first engaging member 321.
  • the ratio of these radii is not particularly limited, but the larger the radius of the second contact surface 322a with respect to the radius of the first contact surface 321a, the smaller the force needed to lock the lever 301 from the unlocked state. state can be rotated.
  • the configuration in which the lever 301 is provided on the main body 100 is not limiting, and the lever 301 may be provided on the ion source 200 . That is, the ion source 200 may be locked in a closed state with respect to the main body 100 by rotating the lever 301 provided in the ion source 200 from the unlocked state to the locked state. Further, the configuration is not limited to the configuration in which both the first engaging member 321 and the second engaging member 322 are rotatable, and the configuration may be such that only one of them is rotatable.
  • FIGS. 4A and 4B are schematic side views for explaining detection of rotation of the lever 301.
  • the main body 100 is provided with a detection section 400 for detecting rotation of the lever 301 .
  • the sensing section 400 includes a switch 401 and a follower section 402 .
  • the switch 401 is, for example, a microswitch, and detects whether or not the driven portion 402 is in contact with the contact 411 .
  • the switch 401 is off when the contact 411 is not in contact with the driven portion 402 as shown in FIG. 4A, and the switch 401 is on when the contact 411 is in contact with the follower portion 402 as shown in FIG. 4B.
  • the driven part 402 is rotatable around a rotating shaft 421 attached to the main body 100 .
  • a rotation axis 421 of the driven part 402 is parallel to the rotation axis 311 of the lever 301 .
  • An urging member 422 configured by, for example, a torsion spring is attached to the driven portion 402. The urging member 422 urges the driven portion 402 counterclockwise in FIG. 4A.
  • the driven portion 402 is in contact with a stopper (not shown) and is restricted from rotating counterclockwise beyond this state.
  • the lever 301 In the state of FIG. 4A, the lever 301 is in the unlocked state, and the lever 301 is not in contact with the driven portion 402 in this state.
  • the contact portion 304 provided on the lever 301 contacts the contacted portion 423 provided on the driven portion 402 .
  • the contacted portion 423 is pressed by the contact portion 304 against the biasing force of the biasing member 422 , and the driven portion 402 rotates clockwise around the rotating shaft 421 . rotate to
  • a control unit (not shown) can detect that the lever 301 is locked based on the signal when the switch 401 is switched from the off state to the on state.
  • the control unit can detect that the lever 301 is in the unlocked state based on the signal when the switch 401 is switched from the ON state to the OFF state.
  • the outside of the detection unit 400 is covered with a cover member 403 .
  • a notch 431 is formed in the cover member 403 in a portion facing the non-contact portion 423 , and the contact portion 304 of the lever 301 can enter the cover member 403 through the notch 431 . It has become. Since the detection unit 400 is covered with the cover member 403 except for the notch 431, it is possible to prevent the user from touching the detection unit 400 carelessly. In addition, it is possible to prevent electromagnetic noise from entering from the outside of the apparatus via the detection unit 400, thereby preventing the electromagnetic noise from adversely affecting analysis results.
  • FIG. 5 is a schematic plan view, partly shown in cross section, for explaining gas supply into the ionization chamber 16 .
  • a gas dry gas
  • FIG. 5 is a schematic plan view, partly shown in cross section, for explaining gas supply into the ionization chamber 16 .
  • a gas dry gas
  • the main body 100 is provided with a manifold 102 which is a block for supplying gas to the ion source 200 .
  • a plurality of gas supply paths 121 are formed in the manifold 102 . Although three gas supply paths 121 are formed in this example, the configuration is not limited to this, and two or less gas supply paths 121 or four or more gas supply paths 121 may be formed.
  • the manifold 102 of the main body 100 closely faces the ion source 200 when the ion source 200 is closed.
  • Each gas supply path 121 is opened via a gas outlet 122 at a position facing the ion source 200 , and the gas in each gas supply path 121 is led out from each gas outlet 122 .
  • a gas introduction port 203 is formed in the ion source 200 at a position facing the manifold 102 of the main body 100 when the ion source 200 is closed.
  • the number of gas inlets 203 is the same as the number of gas outlets 122 , and each gas inlet 203 closely faces each gas outlet 122 when the ion source 200 is closed. Thereby, the gas discharged from each gas outlet 122 through each gas supply path 121 of the main body 100 is introduced into the ion source 200 from each gas inlet 203 .
  • a gas introduced into the ion source 200 from each gas introduction port 203 is supplied into the ionization chamber 16 through a pipe (not shown).
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an example of the configuration around the gas outlet 122 and the gas inlet 203. As shown in FIG. As shown in FIG. 6, when the ion source 200 is closed with respect to the main body 100, a sealing member 204 as a second sealing member is compressed between the main body 100 (manifold 102) and the ion source 200. sandwiched between.
  • Each sealing member 204 is attached to the periphery of each gas inlet 203 .
  • Each sealing member 204 is an annular O-ring, and is made of, for example, a low-friction non-adhesive fluororubber that is difficult to stick.
  • the inner diameter of each seal member 204 is larger than the inner diameter of each gas introduction port 203 .
  • Each sealing member 204 is fixed to the ion source 200 using a fixing member 205 .
  • the fixing member 205 is a screw-like member in which a shaft portion 251 and a head portion 252 are integrally formed, and is fixed by being screwed into the ion source 200 .
  • O-rings are generally more likely to adhere at higher temperatures.
  • the temperature of the ion source 200 is higher than that of the manifold 102 due to the heat of the heating assist gas that promotes desolvation.
  • each sealing member 204 is fixed to the ion source 200 which is at a high temperature, each sealing member 204 can be firmly fixed to the ion source 200 by the force of fixing to the ion source 200, and the manifold 102 which is at a low temperature can be fixed. Therefore, it is possible to prevent the sealing member 204 from sticking to the manifold 102 and falling off from the fixing member 205 .
  • a shaft portion 251 of the fixing member 205 is a hollow cylindrical member.
  • the outer diameter of the shaft portion 251 substantially matches the inner diameter of the gas introduction port 203 , and a screw thread is formed on the outer peripheral surface of the shaft portion 251 , and a thread groove corresponding to the screw thread is formed in the gas introduction port 203 . formed.
  • the shaft portion 251 is inserted through the seal member 204 and screwed into the gas introduction port 203 of the ion source 200 .
  • a head portion 252 of the fixing member 205 is an annular member provided at one end of the shaft portion 251 .
  • the outer diameter of the head portion 252 is larger than the outer diameter of the shaft portion 251 .
  • the head portion 252 is formed in a flange shape so as to protrude radially from the outer peripheral surface of the shaft portion 251 .
  • a contact surface 253 that contacts the seal member 204 is formed on the head portion 252 , and the seal member 204 is pressed toward the ion source 200 by the contact surface 253 and fixed.
  • the contact surface 253 constitutes the outer peripheral surface of the head 252 and is formed by a tapered surface 254 that tapers toward the ion source 200 side (the shaft portion 251 side). That is, the head portion 252 is formed such that the outer diameter gradually decreases toward the shaft portion 251 side.
  • the contact surface 253 of the head portion 252 contacts the inner peripheral surface of the seal member 204 . It is elastically deformed, and the inner peripheral surface becomes a tapered surface along the contact surface 253 . Thereby, the seal member 204 is fixed to the ion source 200 more firmly.
  • the thickness of the head portion 252 is less than or equal to the thickness of the seal member 204.
  • the fixing member 205 (the head portion 252 ) can be configured so as not to protrude further toward the main body 100 than the sealing member 204 . Therefore, it is not necessary to adopt a structure in which the fixing member 205 enters the gas outlet 122 provided in the manifold 102 .
  • the fixed member 205 does not come into contact with the manifold 102. It is possible to prevent the occurrence of gas seal failure and the generation of shavings.
  • a mass spectrometer in which an ionization chamber for ionizing a sample is formed; a main body in which a vacuum chamber into which ions generated in the ionization chamber are introduced is formed, and the ion source is attached so as to be openable and closable; a connecting tube that is detachable from the main body and introduces ions from the ionization chamber into the vacuum chamber; a flange portion that holds the connection pipe and is pressed toward the main body by a pressing surface formed on the ion source when the ion source is closed with respect to the main body; a first sealing member provided between the flange portion and the pressing surface; a locking mechanism for locking the ion source closed with respect to the body; The locking mechanism is A lock provided on the main body or the ion source and rotated between a locked state in which the ion source is kept closed with respect to the main body and an unlocked state in which the ion source can be opened
  • a movable lever an engaging portion including a first engaging member and a second engaging member, at least one of which is rotatably provided, and in which the first engaging member and the second engaging member are engaged with each other in the locked state; have As the lever rotates from the unlocked state to the locked state, at least one of the first engaging member and the second engaging member may rotate while being in contact with each other.
  • the mass spectrometer According to the mass spectrometer according to item 1, by rotating the lever from the unlocked state to the locked state, at least one of the first engaging member and the second engaging member is rotated while being brought into contact with each other, The ion source can be locked closed to the body. As a result, the lever can be turned to the locked state with a small force, so that the ion source can be easily locked with respect to the main body with a space-saving structure.
  • the lever can be rotated with a smaller force to achieve the locked state. .
  • the first engaging member is provided on the ion source, the second engaging member is provided on the lever, A radius of the second contact surface may be greater than a radius of the first contact surface.
  • the lever can be rotated with a smaller force to bring it into the locked state.
  • the lever has a support plate that rotatably supports the second engagement member;
  • An insertion hole through which the second engaging member is rotatably inserted may be formed in the support plate, and a corner of the insertion hole facing the second engaging member may be chamfered.
  • the lever can be rotated with a smaller force to achieve the locked state.
  • the engaging portion may further have a thrust washer provided between the insertion hole and the second engaging member.
  • the second engaging member can be rotated more smoothly within the insertion hole, so that the lever can be rotated with a smaller force to achieve the locked state.
  • the lever may be rotatably provided with respect to the main body.
  • the ion source is locked in a closed state with respect to the main body by rotating the lever rotatable with respect to the main body from the unlocked state to the locked state. be able to.
  • the mass spectrometer described in item 8 it is possible to detect that the lever is in the locked state or the unlocked state. Moreover, since the outside of the detection unit is covered with the cover member, it is possible to prevent the user from touching the detection unit carelessly. In addition, it is possible to prevent electromagnetic noise from entering from the outside of the apparatus via the detection unit, and to prevent the electromagnetic noise from adversely affecting the analysis results.
  • the lock mechanism includes a pressing member that presses the ion source in a direction away from the main body as the lever rotates from the locked state to the unlocked state and further rotates from the unlocked state. You may have more.
  • the ion source can be forcibly opened with respect to the main body by pushing the ion source away from the main body by the pushing member only by operating the lever.
  • the main body is formed with a gas outlet for leading gas to be supplied into the ionization chamber
  • the ion source is provided with a gas introduction port that is adjacent to the gas outlet in a state in which the ion source is closed with respect to the main body, and into which gas is introduced from the gas outlet.
  • a ring-shaped second sealing member may be attached to the peripheral edge of the.
  • the mass spectrometer described in item 10 by closing the ion source with respect to the main body, the gas outlet of the main body and the gas inlet of the ion source communicate with each other in a state sealed by the second sealing member.
  • the fixing member includes a hollow shaft portion that is inserted through the second seal member and screwed into the ion source, and is provided at one end of the shaft portion to press the second seal member toward the ion source.
  • a toric head When the ion source is not closed with respect to the main body, the thickness of the head is equal to or less than the thickness of the second sealing member;
  • a contact surface of the head with the second seal member may include a tapered surface that tapers toward the ion source.
  • the fixing member can be configured so as not to protrude toward the main body from the sealing member, even if the position of the ion source is displaced, the fixing member contacts the main body. It is possible to elastically deform the second seal member satisfactorily without removing the fixing member, and it is possible to prevent the generation of shavings and the like due to the contact of the fixing member with the main body.
  • the second sealing member since the second sealing member is fixed to the high-temperature ion source side, the second sealing member can be firmly fixed to the ion source by the force of fixing to the ion source. Therefore, it is possible to prevent the second seal member from sticking to the main body and falling off from the fixing member.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

ロック機構（３００）が、レバー（３０１）と、係合部（３０２）とを有する。レバー（３０１）は、本体（１００）又はイオン源（２００）に設けられ、イオン源（２００）を本体（１００）に対して閉じられた状態で維持するロック状態と、イオン源（２００）が本体（１００）に対して開放可能なロック解除状態との間で回動可能である。係合部（３０２）は、少なくとも一方が回転可能に設けられた第１係合部材（３２１）及び第２係合部材（３２２）を含み、ロック状態において第１係合部材（３２１）及び第２係合部材（３２２）が互いに係合する。レバー（３０１）がロック解除状態からロック状態に回動することに伴い、第１係合部材（３２１）及び第２係合部材（３２２）が互いに接触しつつ少なくとも一方が回転する。

Description

質量分析装置
　本発明は、質量分析装置に関するものである。
　液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ－ＭＳ）などの質量分析装置では、液体クロマトグラフ（ＬＣ）において分離された試料中の成分をイオン化するためのイオン源が用いられる。イオン源は、質量分析装置の本体に対して開閉可能に取り付けられており、メンテナンスの際などにはイオン源が本体に対して開放される（例えば、下記特許文献１参照）。
　本体内には、イオン化室で生成されたイオンが導入される真空室が形成されている。イオン化室と真空室とは、脱溶媒管（ＤＬ：Desolvation Line）と呼ばれる接続管を介して連通している。イオン化室で生成されたイオンは、接続管を介してイオン化室から真空室に導入され、質量分析が行われる。
　接続管は、円板状の部材により構成されるフランジ部（ＤＬフランジ）により保持される。イオン源を本体に対して閉じることにより、イオン源によりフランジ部が本体側に押圧され、接続管が固定される。一方、イオン源を本体に対して開いたときには、フランジ部に対するイオン源からの押圧力が解除され、フランジ部及び接続管を取り外すことが可能になる。
　イオン源と本体との間には、シール部材としてのＯリングが設けられる。イオン源を本体に対して閉じたときには、シール部材が押圧されて弾性変形することにより、イオン化室内の気密性が確保される。
特開２０２１－８２４９７号公報
　上記特許文献１に開示された質量分析装置には、イオン源を本体に対して閉じられた状態でロックするためのロック機構が設けられている。しかしながら、イオン化室内の気密性を十分に確保するためには、イオン源を本体に対して閉じるときに、大きな押圧力でシール部材を弾性変形させ、その状態を維持するようにイオン源を本体に対してロックする必要がある。
　特に、小型の質量分析装置においては、省スペースな構造で大きな力を作用させ、イオン源を本体に対して容易にロックすることができるような構成であることが望ましい。
　本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、省スペースな構造でイオン源を本体に対して容易にロックすることができる質量分析装置を提供することを目的とする。
　本発明に係る質量分析装置は、イオン源と、本体と、接続管と、フランジ部と、第１シール部材と、ロック機構とを備える。前記イオン源には、試料をイオン化させるためのイオン化室が内部に形成されている。前記本体には、前記イオン化室で生成されたイオンが導入される真空室が内部に形成され、前記イオン源が開閉可能に取り付けられている。前記接続管は、前記本体に対して着脱可能であり、前記イオン化室から前記真空室にイオンを導入させる。前記フランジ部は、前記接続管を保持し、前記イオン源が前記本体に対して閉じられることに伴い、当該イオン源に形成された押圧面により前記本体側に押圧される。前記第１シール部材は、前記フランジ部と前記押圧面との間に設けられている。前記ロック機構は、前記イオン源が前記本体に対して閉じられた状態でロックするためのものである。
　前記ロック機構は、レバーと、係合部とを有する。前記レバーは、前記本体又は前記イオン源に設けられ、前記イオン源を前記本体に対して閉じられた状態で維持するロック状態と、前記イオン源が前記本体に対して開放可能なロック解除状態との間で回動可能である。前記係合部は、少なくとも一方が回転可能に設けられた第１係合部材及び第２係合部材を含み、前記ロック状態において前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに係合する。前記レバーが前記ロック解除状態から前記ロック状態に回動することに伴い、前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに接触しつつ少なくとも一方が回転する。
　本発明によれば、省スペースな構造で、イオン源を本体に対して容易にロックすることができる。
本実施形態の質量分析装置の一例を示す概略図である。 接続管の周辺の構成の一例を示す概略断面図である。 ロック機構の構成の一例を示す概略側面図である。 ロック機構の構成の一例を示す概略側面図である。 ロック機構の構成の一例を示す概略側面図である。 レバーの回動検知について説明するための概略側面図である。 レバーの回動検知について説明するための概略側面図である。 イオン化室内へのガス供給について説明するための概略平面図であり、一部を断面で示している。 ガス導出口及びガス導入口の周辺の構成の一例を示す概略断面図である。
１．質量分析装置の全体構成
　図１は、本実施形態の質量分析装置１０の一例を示す概略図である。図１に示す質量分析装置１０は、液体クロマトグラフィーにより分離された試料中の成分に対して質量分析を行う液体クロマトグラフ質量分析装置である。この質量分析装置１０は、液体クロマトグラフ部１２及び質量分析部１４を備えている。なお、本発明は、液体クロマトグラフ質量分析装置以外の質量分析装置にも適用可能である。
　液体クロマトグラフ部１２は、カラム（図示せず）を備えている。分析中は、有機溶媒を含む移動相がカラムに導入される。カラムに導入される移動相には、所定量の試料が注入される。試料が注入された移動相はカラムに導入され、カラムを通過する過程で試料中の各成分が分離される。カラムで分離された試料中の各成分は、質量分析部１４に順次供給される。
　質量分析部１４内には、イオン化室１６、真空室１８及び分析室２０が形成されている。イオン化室１６内は、略大気圧となっている。真空室１８及び分析室２０は、それぞれ真空ポンプ（図示せず）の駆動により真空状態とされる。
　イオン化室１６は真空室１８に連通し、分析室２０は真空室１８に連通している。つまり、イオン化室１６は、真空室１８を介して分析室２０に連通している。また、イオン化室１６、真空室１８及び分析室２０は、この順序に従って段階的に真空度が高くなるように構成されている。
　イオン化室１６には、プローブ２２が設けられている。プローブ２２は、例えばＥＳＩ法（Electrospray ionization：エレクトロスプレーイオン化法）により液体試料を噴霧する。プローブ２２では、噴霧される試料に対して電荷が付与され、帯電された試料からなる帯電液滴が生成されることにより、試料中の各成分由来のイオンが生成される。このように、イオン化室１６では、液体クロマトグラフ部１２から供給された試料がイオン化される。
　イオン化室１６と真空室１８とは、区画壁２４により区画されており、その区画壁２４には、接続管２６が貫通している。つまり、接続管２６は、イオン化室１６及び真空室１８内を連通させる。接続管２６は、脱溶媒管（ＤＬ：Desolvation Line）と呼ばれる細管からなり、脱溶媒のために用いられる。
　また、真空室１８には、イオンを収束させつつ分析室２０へ送るためのイオンガイド２８が設けられている。なお、イオン化室１６に連通する真空室１８は、多段に構成されてもよい。
　分析室２０は、小孔からなるスキマー３０を介して、真空室１８と連通している。イオン化室１６で生成されたイオンは、接続管２６を介してイオン化室１６から真空室１８に導入された後、スキマー３０を通って分析室２０へと流入する。
　分析室２０には、例えば四重極フィルタ３２及び検出器３４が設けられている。真空室１８から分析室２０に流入するイオンは、四重極フィルタ３２により質量電荷比に応じて分離され、特定の質量電荷比を有するイオンのみが四重極フィルタ３２を通過する。四重極フィルタ３２を通過したイオンは、検出器３４に入射する。検出器３４では、到達したイオン数に応じた電流が検出信号として出力される。
　このような質量分析装置１０によれば、イオン化室１６で試料をイオン化することにより生成されるイオンを真空室１８内に導入し、そのイオンを検出器３４で検出することができる。
　本実施形態では、真空室１８及び分析室２０が内部に形成された中空状の本体１００と、イオン化室１６が内部に形成された中空状のイオン源２００とが、別部材により構成されている。接続管２６は、本体１００に設けられた区画壁２４に対して着脱可能である。
　イオン源２００は、本体１００に対して開閉可能に取り付けられており、本体１００に対してイオン源２００を閉じることにより、イオン源２００が区画壁２４に対向して、イオン化室１６、真空室１８及び分析室２０が密閉される。また、本体１００に対してイオン源２００を開くことにより、接続管２６を外部に露出させ、当該接続管２６を本体１００から取り外してメンテナンスを行うことができる。
２．接続管の周辺の構成
　図２は、接続管２６の周辺の構成の一例を示す概略断面図である。接続管２６は、導電性及び熱伝導性を有する金属により形成され、図２に示すように接続本体部４０を介してフランジ部６２により保持されている。
　接続本体部４０は、接続管２６を加熱するために設けられ、接続管２６の外周を取り囲む。接続本体部４０は、加熱ブロック４２、ヒータ４４、円筒部材４６及びシール部材４８等により構成される。
　加熱ブロック４２は、導電性及び熱伝導性を有する金属により形成される。また、加熱ブロック４２は、イオン化室１６側に突出する突出部４２ａを含む。
　さらに、加熱ブロック４２には、その長手方向に延びる貫通孔４２ｂが形成されている。接続管２６は、貫通孔４２ｂの内周面に接触するようにその貫通孔４２ｂに挿通される。つまり、加熱ブロック４２は、接続管２６の外周を取り囲んでいる。
　加熱ブロック４２には、ヒータ４４が接触している。このヒータ４４の熱が加熱ブロック４２を介して接続管２６に伝達されることで、接続管２６が加熱される。
　これらのことから、接続本体部４０は、その接続本体部４０に挿通される接続管２６を加熱する。なお、ヒータ４４へ電力を供給するための配線等の図示は省略する。
　円筒部材４６は、段階的に径が変化する貫通孔４６ａを有し、その貫通孔４６ａの内周面に接触するように加熱ブロック４２が挿通される。
　シール部材４８は、例えばＯリングにより構成される。シール部材４８の内側には、加熱ブロック４２が挿通され、シール部材４８の外側は、円筒部材４６の内側と当接する。また、シール部材４８は、接続管２６の軸線方向において、加熱ブロック４２と円筒部材４６との間で挟持される。
　接続本体部４０には、サンプリングコーン５０が取り付けられている。サンプリングコーン５０は、イオン化室１６側のイオンを接続管２６に引き込むためのインターフェイスであって、導電性を有する金属により形成される。
　サンプリングコーン５０は、接続本体部４０に対してイオン化室１６側に設けられる。また、サンプリングコーン５０は、円錐形状の筒体であって、接続管２６の端部が挿通される。さらに、サンプリングコーン５０の内側には、加熱ブロック４２の突出部４２ａが挿入される。
　また、接続本体部４０に対して真空室１８側には、保持部材５２が設けられている。保持部材５２は、導電性及び熱伝導性を有する金属により形成される。保持部材５２には、貫通孔５２ａが形成されており、その貫通孔５２ａの内周面に接触するように接続管２６の端部が挿通されて保持される。また、保持部材５２は、その一部が接続管２６と溶接されることにより、接続管２６に固定される。したがって、保持部材５２を接続管２６の軸線方向に沿って変位させることにより、その保持部材５２に保持されている接続管２６を加熱ブロック４２の貫通孔４２ｂから抜脱し、メンテナンスを行うことができる。
　また、保持部材５２は、加熱ブロック４２の端面４２ｃ全体に当接している。これにより、ヒータ４４から加熱ブロック４２に伝達される熱は、端面４２ｃから保持部材５２に良好に伝達される。さらに、保持部材５２の一部は、真空室１８側に突出しつつ、区画壁２４における開口部２４ａに挿通されている。これにより、接続管２６が開口部２４ａに挿通される。
　区画壁２４の開口部２４ａには、オリフィス部材５４が設けられている。オリフィス部材５４は、イオンを真空室１８に導入するためのインターフェイスである。オリフィス部材５４は、ビスなどの固定具５６を用いて区画壁２４に固定される。保持部材５２とオリフィス部材５４との間には、シール部材５８が挟持される。
　イオン源２００は、本体１００に対して、回転軸１０１を中心に回動可能に取り付けられている。本体１００及びイオン源２００は、例えばステンレス鋼により形成されたヒンジ（図示せず）を介して連結されており、当該ヒンジに回転軸１０１が設けられている。回転軸１０１は、例えば金属サーメットオイルブッシュにより構成される軸受を介して、ヒンジに保持されていてもよい。
　回転軸１０１を中心にイオン源２００を回動させることにより、本体１００に対してイオン源２００を開閉させることができる。図２では、イオン源２００が本体１００に対して閉じられた状態が示されている。なお、イオン源２００は、本体１００に対して回動可能な構成に限らず、本体１００に対してスライドするなどの他の態様により、本体１００に対して開閉可能な構成であってもよい。
　イオン源２００が本体１００に対して閉じられた状態では、イオン源２００の押圧面２０１がフランジ部６２に対向する。フランジ部６２は、いわゆるＤＬフランジであり、円板状の部材により構成される。フランジ部６２には、貫通孔６２ａが形成されており、この貫通孔６２ａに接続本体部４０（円筒部材４６）が挿通される。
　図２に示す例では、イオン源２００が本体１００に対して閉じられることに伴い、イオン源２００の押圧面２０１によりフランジ部６２が本体１００側に押圧される。これにより、フランジ部６２が円筒部材４６を介して接続本体部４０を押圧し、それに伴って、保持部材５２が真空室１８側に押圧される。また、接続本体部４０がフランジ部６２により押圧されることで、シール部材４８及びシール部材５８のそれぞれが弾性変形する。
　フランジ部６２とイオン源２００の押圧面２０１との間には、第１シール部材としてのシール部材２０２が設けられている。この例では、シール部材２０２は、円環状のＯリングであり、押圧面２０１に設けられた凹部内に固定されている。シール部材２０２は、例えば、固着しにくい低摩擦非粘着性のフッ素ゴムにより形成されている。ただし、シール部材２０２は、押圧面２０１に取り付けられた構成に限らず、フランジ部６２に取り付けられてもよい。
　イオン源２００は、ロック機構３００により、本体１００に対して閉じられた状態でロックされる。図２に示すロック状態では、イオン源２００がロック機構３００によりロックされているため、回転軸１０１を中心にイオン源２００を回動させることができず、イオン源２００が本体１００に対して閉じられた状態で維持される。ロック状態において、シール部材２０２は弾性変形し、イオン化室１６の気密性が確保される。
３．ロック機構の構成
　図３Ａ～図３Ｃは、ロック機構３００の構成の一例を示す概略側面図である。以下では、図２及び図３Ａ～図３Ｃを用いて、ロック機構３００の具体的構成及び動作について説明する。
　ロック機構３００には、レバー３０１及び係合部３０２が含まれる。係合部３０２は、互いに係合可能な第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２を備えている。ロック機構３００は、ユーザによるレバー３０１の操作に基づいて、第１係合部材３２１と第２係合部材３２２との係合状態を変化させることができる。
　レバー３０１は、本体１００に対して回転軸３１１を中心に回動可能に取り付けられている。回転軸３１１は、イオン源２００の回転軸１０１に対して交差する方向、より具体的には直交方向に延びている。したがって、回転軸３１１を中心とするレバー３０１の回転方向Ｄ１は、回転軸１０１を中心とするイオン源２００の回転方向Ｄ２と異なっている。
　レバー３０１は、支持板３１２を有しており、この支持板３１２に形成された挿通孔３１２ａに挿通された回転軸３１１が、本体１００に固定されている。レバー３０１は、支持板３１２が設けられた基部３１３と、ユーザが操作するための操作部３１４とが連結されることにより、例えば側面視でＬ字状の部材により構成されている。ただし、レバー３０１の形状は、このような形状に限られるものではない。
　第２係合部材３２２は、支持板３１２に対して回転可能に取り付けられることにより、レバー３０１に設けられている。具体的には、支持板３１２に形成された挿通孔３１２ｂに第２係合部材３２２が一方側から挿通され、挿通孔３１２ｂの他方側から留め具３２３が取り付けられることにより、挿通孔３１２ｂ内で第２係合部材３２２が回転可能に支持されている。
　挿通孔３１２ｂにおける第２係合部材３２２に対向する角部、すなわち挿通孔３１２ｂの両端縁を構成する角部は、テーパ面３１２ｃを形成するように削り取られることにより面取りされている。これにより、挿通孔３１２ｂ内で第２係合部材３２２を円滑に回転させることができる。
　また、係合部３０２には、挿通孔３１２ｂと第２係合部材３２２との間に設けられたスラストワッシャ３２４が含まれる。スラストワッシャ３２４は、回転を円滑化するための環状のワッシャであり、挿通孔３１２ｂの両端縁に設けられている。一方のスラストワッシャは、第２係合部材３２２の頭部と支持板３１２との間に挟持されており、他方のスラストワッシャは、留め具３２３と支持板３１２との間に挟持されている。これにより、挿通孔３１２ｂ内で第２係合部材３２２をさらに円滑に回転させることができる。挿通孔３１２ｂと第２係合部材３２２との間には、軸受が設けられていてもよい。
　挿通孔３１２ａにおける回転軸３１１に対向する角部、すなわち挿通孔３１２ａの両端縁を構成する角部も同様に、テーパ面３１２ｃを形成するように削り取られることにより面取りされている。また、挿通孔３１２ａの両端縁にも、回転軸３１１との間にスラストワッシャ３２４が挟持されている。これにより、回転軸３１１を中心に支持板３１２（レバー３０１）を円滑に回転させることができる。
　第１係合部材３２１は、イオン源２００に対して回転可能に取り付けられることにより、イオン源２００に設けられている。第１係合部材３２１の回転軸線は、第２係合部材３２２の回転軸線に対して平行である。また、第１係合部材３２１の外周面は円周面からなる第１接触面３２１ａであり、回転軸３１１を中心とするレバー３０１の回転に伴い、円周面からなる第２接触面３２２ａである第２係合部材３２２の外周面に対して接触可能である。
　図２、図３Ａ及び図３Ｂの状態では、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａと第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａとが接触しているが、図３Ｃの状態では、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａと第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａとが接触していない。ただし、第１接触面３２１ａ及び第２接触面３２２ａの少なくとも一方は、円周面ではなく、円弧面などの他の円周状の表面であってもよいし、円周状以外の表面であってもよい。
　図２及び図３Ａに示す状態は、イオン源２００を本体１００に対して閉じられた状態で維持するロック状態である。この状態では、第１係合部材３２１と第２係合部材３２２とが互いに係合している。具体的には、第１係合部材３２１の外周面と第２係合部材３２２の外周面とが接触し、弾性変形しているシール部材２０２の復元力が、図３Ａに矢印で示すように第１係合部材３２１から第２係合部材３２２に作用している。この状態では、回転軸３１１の中心（回転軸線）と第２係合部材３２２の中心（回転軸線）とを結ぶ直線よりもロック時のレバー３０１の回転方向とは逆側に第１係合部材３２１の中心（回転軸線）が位置しているため、ロック状態でイオン源２００に衝撃が加わるなどの外力が作用した場合に、ロック状態が解除されることを防止できる。
　レバー３０１は、基部３１３が引張ばね３１５を介して本体１００に連結されている。これにより、レバー３０１には、回転軸３１１を中心に、図３Ａにおける反時計回りに回転力が作用している。ただし、図３Ａの状態では、第１係合部材３２１と第２係合部材３２２との間に作用する抵抗力が大きいため、レバー３０１は回転せず、ユーザがレバー３０１を操作しない限りロック状態が維持される。
　図３Ａのロック状態からレバー３０１を反時計回りに回動させると、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａと第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａとが互いに接触しつつ、第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２のそれぞれが回転する。このとき、引張ばね３１５からレバー３０１に作用する力に起因して、小さい力でレバー３０１を容易に回動させることができる。
　このように、レバー３０１が回動することに伴い、、第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２のそれぞれが回転しつつ、図３Ｂに示すように、イオン源２００が本体１００に対して開放可能なロック解除状態となる。図３のロック解除状態からさらにレバー３０１を反時計回りに回転させると、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａと第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａとが離間する。
　イオン化室１６内が負圧の状態や、シール部材２０２がフランジ部６２に固着した状態では、レバー３０１をロック状態からロック解除状態に回動させても、シール部材２０２の復元力だけではイオン源２００が本体１００に対して開かない。そこで、本実施形態では、レバー３０１をロック解除状態からさらに反時計回りに回転させることに伴い、図３Ｃに示すように、支持板３１２に設けられた押圧部材３０３がイオン源２００に接触し、イオン源２００が本体１００から離間する方向に押圧されるようになっている。
　これにより、レバー３０１の操作だけで、イオン源２００を本体１００に対して強制的に開くことができる。ただし、押圧部材３０３は、支持板３１２に設けられた構成に限らず、レバー３０１などのロック機構３００の他の部分に設けられていてもよい。
　イオン源２００を本体１００に対して閉じるときには、上記のような動作とは逆の動作を行うこととなる。すなわち、ユーザは、イオン源２００を本体１００に対して閉じた後、レバー３０１を図３Ｂのロック解除状態から図３Ａのロック状態まで回動させる。なお、イオン源２００を本体１００に対して閉じるときには、シール部材２０２がフランジ部６２に当接するよりも前に、第１係合部材３２１と第２係合部材３２２が接触するようになっている。そのため、イオン源２００を閉じる際にシール部材２０２の反発力に対抗する力をイオン源２００に対して手で与える必要がなく、レバー３０１の操作のみで大きな力を作用させイオン源２００を本体１００に対して容易にロックすることができる。
　レバー３０１がロック解除状態からロック状態に回動されることに伴い、第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２は、互いに接触しつつ回転する。具体的には、レバー３０１がロック解除状態からロック状態に回動されることに伴い、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａと第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａとが互いに接触しつつ、第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２のそれぞれが回転する。
　これにより、シール部材２０２をフランジ部６２に押圧しながら、図３Ａに矢印で示すシール部材２０２の復元力に抗して、イオン源２００を本体１００に対して閉じた状態でロックすることができる。
　第２係合部材３２２の第２接触面３２２ａの半径は、第１係合部材３２１の第１接触面３２１ａの半径よりも大きい。これらの半径の比は、特に限定されるものではないが、第２接触面３２２ａの半径が、第１接触面３２１ａの半径に対して大きいほど、より小さい力でレバー３０１をロック解除状態からロック状態に回動させることができる。
　ただし、レバー３０１が本体１００に設けられた構成に限らず、レバー３０１がイオン源２００に設けられていてもよい。すなわち、イオン源２００に設けられたレバー３０１をロック解除状態からロック状態に回動させることにより、イオン源２００が本体１００に対して閉じられた状態でロックされてもよい。また、第１係合部材３２１及び第２係合部材３２２の両方が回転可能な構成に限らず、一方のみが回転可能な構成であってもよい。
４．レバーの回動検知
　図４Ａ及び図４Ｂは、レバー３０１の回動検知について説明するための概略側面図である。本体１００には、レバー３０１の回動を検知するための検知部４００が設けられている。検知部４００には、スイッチ４０１及び従動部４０２が含まれる。
　スイッチ４０１は、例えばマイクロスイッチであり、接点４１１に対する従動部４０２の接触の有無を検知する。図４Ａのように接点４１１に従動部４０２が接触していない状態ではスイッチ４０１がオフ状態であり、図４Ｂのように接点４１１に従動部４０２が接触すればスイッチ４０１がオン状態となる。
　従動部４０２は、本体１００に取り付けられた回転軸４２１を中心に回動可能となっている。従動部４０２の回転軸４２１は、レバー３０１の回転軸３１１に対して平行である。従動部４０２には、例えばトーションばねにより構成される付勢部材４２２が取り付けられており、この付勢部材４２２により、図４Ａにおける反時計回りに従動部４０２が付勢されている。ただし、図４Ａの状態では、従動部４０２がストッパ（図示せず）に接触しており、この状態よりも反時計回りに回転しないように規制されている。
　図４Ａの状態では、レバー３０１がロック解除状態であり、この状態ではレバー３０１が従動部４０２に接触していない。図４Ａの状態からレバー３０１が時計回りに回動されると、レバー３０１に設けられた接触部３０４が、従動部４０２に設けられた被接触部４２３に接触する。そして、レバー３０１がさらに時計回りに回動されると、付勢部材４２２の付勢力に抗して被接触部４２３が接触部３０４により押圧され、従動部４０２が回転軸４２１を中心に時計回りに回転する。
　図４Ｂのようにロック状態までレバー３０１が回動されると、従動部４０２の一部がスイッチ４０１の接点４１１に接触し、スイッチ４０１がオフ状態からオン状態に切り換わる。このスイッチ４０１がオフ状態からオン状態に切り換わったときの信号に基づいて、レバー３０１がロック状態になったことを制御部（図示せず）で検知することができる。
　一方、図４Ｂのロック状態から、図４Ａのロック解除状態にレバー３０１を回動させた場合には、スイッチ４０１がオン状態からオフ状態に切り替わる。この場合は、スイッチ４０１がオン状態からオフ状態に切り換わったときの信号に基づいて、レバー３０１がロック解除状態になったことを制御部で検知することができる。
　検知部４００の外側は、カバー部材４０３で覆われている。カバー部材４０３には、非接触部４２３に対向する部分に切欠き４３１が形成されており、この切欠き４３１を介してレバー３０１の接触部３０４がカバー部材４０３の内部に進入することができるようになっている。検知部４００は、切欠き４３１以外の部分がカバー部材４０３で覆われているため、ユーザが検知部４００に不用意に触れることを防止できる。また、装置外部から検知部４００を経由して電磁ノイズが侵入することを防止でき、電磁的なノイズが分析結果に悪影響を与えることを防止できる。
５．イオン化室内へのガス供給
　図５は、イオン化室１６内へのガス供給について説明するための概略平面図であり、一部を断面で示している。本実施形態では、イオン化室１６内に、帯電液滴の脱溶媒化を促進するためにガス（乾燥ガス）が供給される。
　本体１００には、イオン源２００にガスを供給するためのブロックであるマニホールド１０２が設けられている。マニホールド１０２には、複数のガス供給路１２１が形成されている。この例では、ガス供給路１２１が３つ形成されているが、これに限らず、ガス供給路１２１が２つ以下、又は、４つ以上形成された構成であってもよい。
　図５に示すように、本体１００のマニホールド１０２は、イオン源２００が閉じられた状態で、当該イオン源２００に近接して対向する。各ガス供給路１２１は、イオン源２００に対向する位置において、ガス導出口１２２を介して開放されており、各ガス供給路１２１内のガスは各ガス導出口１２２から導出される。
　イオン源２００には、当該イオン源２００が閉じられた状態で本体１００のマニホールド１０２に対向する位置にガス導入口２０３が形成されている。ガス導入口２０３の数は、ガス導出口１２２の数と同数であり、イオン源２００が閉じられた状態では、各ガス導入口２０３が各ガス導出口１２２に近接して対向する。これにより、本体１００の各ガス供給路１２１を介して各ガス導出口１２２から導出されるガスは、各ガス導入口２０３からイオン源２００に導入される。各ガス導入口２０３からイオン源２００に導入されたガスは、図示しない配管を介して、イオン化室１６内に供給される。
　図６は、ガス導出口１２２及びガス導入口２０３の周辺の構成の一例を示す概略断面図である。図６に示すように、イオン源２００を本体１００に対して閉じた状態では、本体１００（マニホールド１０２）とイオン源２００との間に、第２シール部材としてのシール部材２０４が圧縮された状態で挟持される。
　各シール部材２０４は、各ガス導入口２０３の周縁部に取り付けられている。各シール部材２０４は、円環状のＯリングであり、例えば、固着しにくい低摩擦非粘着性のフッ素ゴムにより形成されている。各シール部材２０４の内径は、各ガス導入口２０３の内径よりも大きい。
　各シール部材２０４は、固定部材２０５を用いてイオン源２００に固定される。固定部材２０５は、軸部２５１と頭部２５２とが一体的に形成されたねじ状の部材であり、イオン源２００にねじ込まれることにより固定される。Ｏリングは一般に高温であるほど固着しやすくなる。脱溶媒を促進させる加熱アシストガスの熱により、マニホールド１０２よりもイオン源２００のほうが高温である。各シール部材２０４が高温であるイオン源２００側に固定されることで、イオン源２００に対して固着する力により強固に各シール部材２０４をイオン源２００に対して固定でき、低温であるマニホールド１０２に対しては固着しづらいため、シール部材２０４がマニホールド１０２に固着して固定部材２０５から脱落することを防止することができる。
　固定部材２０５の軸部２５１は、円筒状に形成された中空状の部材である。軸部２５１の外径は、ガス導入口２０３の内径と略一致しており、軸部２５１の外周面にねじ山が形成されるとともに、当該ねじ山に対応するねじ溝がガス導入口２０３に形成されている。軸部２５１は、シール部材２０４に挿通されてイオン源２００のガス導入口２０３にねじ込まれる。
　固定部材２０５の頭部２５２は、軸部２５１の一端部に設けられた円環状の部材である。頭部２５２の外径は、軸部２５１の外径よりも大きい。これにより、頭部２５２は、軸部２５１の外周面から径方向に突出するようにフランジ状に形成されている。頭部２５２には、シール部材２０４と当接する当接面２５３が形成されており、この当接面２５３によりシール部材２０４がイオン源２００側に押圧されて固定される。
　当接面２５３は、頭部２５２の外周面を構成しており、イオン源２００側（軸部２５１側）に向かって先細りするテーパ面２５４により形成されている。すなわち、頭部２５２は、軸部２５１側に向かって徐々に外径が小さくなるように形成されている。
　固定部材２０５の軸部２５１をシール部材２０４に挿通させて、軸部２５１をイオン源２００のガス導入口２０３にねじ込んだときには、頭部２５２の当接面２５３によりシール部材２０４の内周面が弾性変形され、当該内周面が当接面２５３に沿ったテーパ面となる。これにより、シール部材２０４はより強固にイオン源２００に固定される。
　イオン源２００が本体に対して閉じられていない状態、つまり各シール部材２０４がマニホールド１０２に接していない状態では、頭部２５２の厚みは、シール部材２０４の厚み以下となっている。このように、頭部２５２の厚みをシール部材２０４の厚み以下とすることにより、固定部材２０５（頭部２５２）がシール部材２０４よりも本体１００側に突出しない構成とすることができる。そのため、マニホールド１０２に設けられたガス導出口１２２に固定部材２０５が入り込む構造とする必要が無い。そのため、各部材の製作誤差や組立誤差によりイオン源２００の位置がずれてガス導出口１２２の中心位置とガス導入口２０３の中心位置がずれた場合でも、固定部材２０５がマニホールド１０２に接触してガスシール不良を引き起こしたり、削り粉などが生じることを防止できる。
６．態様
　上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（第１項）一態様に係る質量分析装置は、
　試料をイオン化させるためのイオン化室が内部に形成されたイオン源と、
　前記イオン化室で生成されたイオンが導入される真空室が内部に形成され、前記イオン源が開閉可能に取り付けられた本体と、
　前記本体に対して着脱可能であり、前記イオン化室から前記真空室にイオンを導入させる接続管と、
　前記接続管を保持し、前記イオン源が前記本体に対して閉じられることに伴い、当該イオン源に形成された押圧面により前記本体側に押圧されるフランジ部と、
　前記フランジ部と前記押圧面との間に設けられた第１シール部材と、
　前記イオン源が前記本体に対して閉じられた状態でロックするためのロック機構とを備え、
　前記ロック機構は、
　前記本体又は前記イオン源に設けられ、前記イオン源を前記本体に対して閉じられた状態で維持するロック状態と、前記イオン源が前記本体に対して開放可能なロック解除状態との間で回動可能なレバーと、
　少なくとも一方が回転可能に設けられた第１係合部材及び第２係合部材を含み、前記ロック状態において前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに係合する係合部とを有し、
　前記レバーが前記ロック解除状態から前記ロック状態に回動することに伴い、前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに接触しつつ少なくとも一方が回転してもよい。
　第１項に記載の質量分析装置によれば、レバーをロック解除状態からロック状態に回動させることにより、第１係合部材及び第２係合部材を互いに接触させつつ少なくとも一方を回転させ、イオン源を本体に対して閉じられた状態でロックすることができる。これにより、小さい力でレバーを回動させてロック状態にすることができるため、省スペースな構造でイオン源を本体に対して容易にロックすることができる。
（第２項）第１項に記載の質量分析装置において、
　前記第１係合部材及び前記第２係合部材は、互いに平行な回転軸線に対してそれぞれ回転可能に設けられており、
　前記レバーが前記ロック解除状態から前記ロック状態に回動することに伴い、前記第１係合部材に形成された円周状の第１接触面と、前記第２係合部材に形成された円周状の第２接触面とが互いに接触しつつ、前記第１係合部材及び前記第２係合部材のそれぞれが回転してもよい。
　第２項に記載の質量分析装置によれば、第１係合部材及び第２係合部材の両方が回転可能であるため、より小さい力でレバーを回動させてロック状態にすることができる。
（第３項）第２項に記載の質量分析装置において、
　前記第１係合部材は、前記イオン源に設けられ、前記第２係合部材は、前記レバーに設けられており、
　前記第２接触面の半径が、前記第１接触面の半径よりも大きくてもよい。
　第３項に記載の質量分析装置によれば、さらに小さい力でレバーを回動させてロック状態にすることができる。
（第４項）第３項に記載の質量分析装置において、
　前記レバーは、前記第２係合部材を回転可能に支持する支持板を有し、
　前記支持板には、前記第２係合部材が回転可能に挿通される挿通孔が形成されており、当該挿通孔における前記第２係合部材に対向する角部が面取りされていてもよい。
　第４項に記載の質量分析装置によれば、挿通孔内で第２係合部材を円滑に回転させることができるため、より小さい力でレバーを回動させてロック状態にすることができる。
（第５項）第４項に記載の質量分析装置において、
　前記係合部は、前記挿通孔と前記第２係合部材との間に設けられたスラストワッシャをさらに有していてもよい。
　第５項に記載の質量分析装置によれば、挿通孔内で第２係合部材をさらに円滑に回転させることができるため、さらに小さい力でレバーを回動させてロック状態にすることができる。
（第６項）第１項に記載の質量分析装置において、
　前記イオン源が前記本体に対して閉じられるときには、前記第１シール部材が前記フランジ部又は前記押圧面に当接するよりも前に、前記第１係合部材と前記第２係合部材とが接触してもよい。
　第６項に記載の質量分析装置によれば、イオン源を閉じる際にシール部材の反発力に対抗する力をイオン源に対して手で与える必要がなく、レバーの操作のみで大きな力を作用させイオン源を本体に対して容易にロックすることができる。
（第７項）第１項に記載の質量分析装置において、
　前記レバーは、前記本体に対して回動可能に設けられていてもよい。
　第７項に記載の質量分析装置によれば、本体に対して回動可能なレバーをロック解除状態からロック状態に回動させることにより、イオン源を本体に対して閉じられた状態でロックすることができる。
（第８項）第７項に記載の質量分析装置において、
　前記本体に設けられ、前記レバーの回動を検知するための検知部と、
　前記検知部の外側を覆うカバー部材とをさらに備えていてもよい。
　第８項に記載の質量分析装置によれば、レバーがロック状態又はロック解除状態になったことを検知することができる。また、検知部の外側がカバー部材で覆われているため、ユーザが検知部に不用意に触れることを防止できる。また、装置外部から検知部を経由して電磁ノイズが侵入することを防止でき、電磁的なノイズが分析結果に悪影響を与えることを防止できる。
（第９項）第７項に記載の質量分析装置において、
　前記ロック機構は、前記レバーが前記ロック状態から前記ロック解除状態に回動し、当該ロック解除状態からさらに回動することに伴い、前記イオン源を前記本体から離間する方向に押圧する押圧部材をさらに有していてもよい。
　第９項に記載の質量分析装置によれば、レバーの操作だけで、押圧部材によりイオン源を本体から離間する方向に押圧し、イオン源を本体に対して強制的に開くことができる。
（第１０項）第１項に記載の質量分析装置において、
　前記本体には、前記イオン化室内に供給するためのガスを導出するガス導出口が形成されており、
　前記イオン源には、当該イオン源が前記本体に対して閉じられた状態で前記ガス導出口に近接し、前記ガス導出口からのガスが導入されるガス導入口が形成され、当該ガス導入口の周縁部には円環状の第２シール部材が取り付けられていてもよい。
　第１０項に記載の質量分析装置によれば、イオン源を本体に対して閉じることにより、本体のガス導出口とイオン源のガス導入口とを、第２シール部材で密閉された状態で連通させることができる。
（第１１項）第１０項に記載の質量分析装置において、
　前記イオン源にねじ込まれることにより、前記第２シール部材を前記イオン源に固定する固定部材をさらに備え、
　前記固定部材は、前記第２シール部材に挿通されて前記イオン源にねじ込まれる中空状の軸部と、前記軸部の一端部に設けられ、前記第２シール部材を前記イオン源側に押圧する円環状の頭部とを有し、
　前記イオン源が前記本体に対して閉じられていない状態では、前記頭部の厚みが、前記第２シール部材の厚み以下であり、
　前記頭部における前記第２シール部材との当接面が、前記イオン源側に向かって先細りするテーパ面を含んでいてもよい。
　第１１項に記載の質量分析装置によれば、固定部材がシール部材よりも本体側に突出しない構成とすることができるため、イオン源の位置ずれが生じた場合でも、固定部材が本体に接触することなく良好に第２シール部材を弾性変形させることができるとともに、固定部材が本体に接触することにより削り粉などが生じることを防止できる。また、第２シール部材が高温であるイオン源側に固定されることで、イオン源に対して固着する力により強固に第２シール部材をイオン源に対して固定でき、低温である本体に対しては固着しづらいため、第２シール部材が本体に固着して固定部材から脱落することを防止することができる。
１０　　　質量分析装置
１６　　　イオン化室
１８　　　真空室
２６　　　接続管
６２　　　フランジ部
１００　　本体
１０１　　回転軸
１２２　　ガス導出口
２００　　イオン源
２０１　　押圧面
２０２　　シール部材
２０３　　ガス導入口
２０４　　シール部材
２０５　　固定部材
２５１　　軸部
２５２　　頭部
２５３　　当接面
２５４　　テーパ面
３００　　ロック機構
３０１　　レバー
３０２　　係合部
３０３　　押圧部材
３１１　　回転軸
３１２ａ　挿通孔
３１２ｂ　挿通孔
３１２ｃ　テーパ面
３１２　　支持板
３２１　　第１係合部材
３２１ａ　第１接触面
３２２　　第２係合部材
３２２ａ　第２接触面
３２４　　スラストワッシャ
４００　　検知部
４０３　　カバー部材

Claims (11)

  1. 　試料をイオン化させるためのイオン化室が内部に形成されたイオン源と、
    　前記イオン化室で生成されたイオンが導入される真空室が内部に形成され、前記イオン源が開閉可能に取り付けられた本体と、
    　前記本体に対して着脱可能であり、前記イオン化室から前記真空室にイオンを導入させる接続管と、
    　前記接続管を保持し、前記イオン源が前記本体に対して閉じられることに伴い、当該イオン源に形成された押圧面により前記本体側に押圧されるフランジ部と、
    　前記フランジ部と前記押圧面との間に設けられた第１シール部材と、
    　前記イオン源が前記本体に対して閉じられた状態でロックするためのロック機構とを備え、
    　前記ロック機構は、
    　前記本体又は前記イオン源に設けられ、前記イオン源を前記本体に対して閉じられた状態で維持するロック状態と、前記イオン源が前記本体に対して開放可能なロック解除状態との間で回動可能なレバーと、
    　少なくとも一方が回転可能に設けられた第１係合部材及び第２係合部材を含み、前記ロック状態において前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに係合する係合部とを有し、
    　前記レバーが前記ロック解除状態から前記ロック状態に回動することに伴い、前記第１係合部材及び前記第２係合部材が互いに接触しつつ少なくとも一方が回転する、質量分析装置。
  2. 　前記第１係合部材及び前記第２係合部材は、互いに平行な回転軸線に対してそれぞれ回転可能に設けられており、
    　前記レバーが前記ロック解除状態から前記ロック状態に回動することに伴い、前記第１係合部材に形成された円周状の第１接触面と、前記第２係合部材に形成された円周状の第２接触面とが互いに接触しつつ、前記第１係合部材及び前記第２係合部材のそれぞれが回転する、請求項１に記載の質量分析装置。
  3. 　前記第１係合部材は、前記イオン源に設けられ、前記第２係合部材は、前記レバーに設けられており、
    　前記第２接触面の半径が、前記第１接触面の半径よりも大きい、請求項２に記載の質量分析装置。
  4. 　前記レバーは、前記第２係合部材を回転可能に支持する支持板を有し、
    　前記支持板には、前記第２係合部材が回転可能に挿通される挿通孔が形成されており、当該挿通孔における前記第２係合部材に対向する角部が面取りされている、請求項３に記載の質量分析装置。
  5. 　前記係合部は、前記挿通孔と前記第２係合部材との間に設けられたスラストワッシャをさらに有する、請求項４に記載の質量分析装置。
  6. 　前記イオン源が前記本体に対して閉じられるときには、前記第１シール部材が前記フランジ部又は前記押圧面に当接するよりも前に、前記第１係合部材と前記第２係合部材とが接触する、請求項１に記載の質量分析装置。
  7. 　前記レバーは、前記本体に対して回動可能に設けられている、請求項１に記載の質量分析装置。
  8. 　前記本体に設けられ、前記レバーの回動を検知するための検知部と、
    　前記検知部の外側を覆うカバー部材とをさらに備える、請求項７に記載の質量分析装置。
  9. 　前記ロック機構は、前記レバーが前記ロック状態から前記ロック解除状態に回動し、当該ロック解除状態からさらに回動することに伴い、前記イオン源を前記本体から離間する方向に押圧する押圧部材をさらに有する、請求項７に記載の質量分析装置。
  10. 　前記本体には、前記イオン化室内に供給するためのガスを導出するガス導出口が形成されており、
    　前記イオン源には、当該イオン源が前記本体に対して閉じられた状態で前記ガス導出口に近接し、前記ガス導出口からのガスが導入されるガス導入口が形成され、当該ガス導入口の周縁部には円環状の第２シール部材が取り付けられている、請求項１に記載の質量分析装置。
  11. 　前記イオン源にねじ込まれることにより、前記第２シール部材を前記イオン源に固定する固定部材をさらに備え、
    　前記固定部材は、前記第２シール部材に挿通されて前記イオン源にねじ込まれる中空状の軸部と、前記軸部の一端部に設けられ、前記第２シール部材を前記イオン源側に押圧する円環状の頭部とを有し、
    　前記イオン源が前記本体に対して閉じられていない状態では、前記頭部の厚みが、前記第２シール部材の厚み以下であり、
    　前記頭部における前記第２シール部材との当接面が、前記イオン源側に向かって先細りするテーパ面を含む、請求項１０に記載の質量分析装置。
PCT/JP2022/007851 2022-02-25 2022-02-25 質量分析装置 WO2023162125A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2022/007851 WO2023162125A1 (ja) 2022-02-25 2022-02-25 質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2022/007851 WO2023162125A1 (ja) 2022-02-25 2022-02-25 質量分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2023162125A1 true WO2023162125A1 (ja) 2023-08-31

Family

ID=87765046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/007851 WO2023162125A1 (ja) 2022-02-25 2022-02-25 質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
WO (1) WO2023162125A1 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021082497A (ja) * 2019-11-20 2021-05-27 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP2021110568A (ja) * 2020-01-07 2021-08-02 株式会社島津製作所 質量分析装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021082497A (ja) * 2019-11-20 2021-05-27 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP2021110568A (ja) * 2020-01-07 2021-08-02 株式会社島津製作所 質量分析装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10978286B2 (en) Coupling devices and source assemblies including them
US20190371584A1 (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
KR100272730B1 (ko) 가스크로마토그래프질량분석장치
US11476103B2 (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
JP5056597B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
GB2574723A (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
US11621154B2 (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
US5726447A (en) Ionization chamber and mass spectrometer having a corona needle which is externally removable from a closed ionization chamber
US20240084805A1 (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
WO2023162125A1 (ja) 質量分析装置
WO2019229465A1 (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
GB2609096A (en) Bench-top Time of Flight mass spectrometer
GB2606328A (en) Bench-top time of flight mass spectrometer
US12009193B2 (en) Bench-top Time of Flight mass spectrometer
WO2023073983A1 (ja) 質量分析装置
US20210118662A1 (en) Mass spectrometer
WO2020250282A1 (ja) ガスクロマトグラフ質量分析装置
GB2520152A (en) Tool free gas cone retaining device for mass spectrometer ion block assembly

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 22928652

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2024502359

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A