WO2023160815A1 - Verfahren zur vermessung optischer linsenflächen - Google Patents

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WO2023160815A1
WO2023160815A1 PCT/EP2022/054947 EP2022054947W WO2023160815A1 WO 2023160815 A1 WO2023160815 A1 WO 2023160815A1 EP 2022054947 W EP2022054947 W EP 2022054947W WO 2023160815 A1 WO2023160815 A1 WO 2023160815A1
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optical
lens
measuring beam
measured
lens surface
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PCT/EP2022/054947
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Inventor
Engelbert Hofbauer
Original Assignee
Engelbert Hofbauer
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0221—Testing optical properties by determining the optical axis or position of lenses

Definitions

  • the present invention relates to a method for measuring optical lens surfaces, in particular for centering measurements on aspheric lenses, in which the lens surfaces are measured in reflection with an optical measuring arrangement, in which an aperture limiting the optical measuring radiation is used and blurred as a light spot on an optical detector of the measuring arrangement is mapped.
  • EP 1918687 B1 describes a method for determining the position of an axis of symmetry of an aspheric lens surface relative to a reference axis, in which the position of the center of curvature of the spherical portion of the lens surface is first determined and a wobbling movement of the aspheric component is then measured by rotating the lens about an axis of rotation in order to determine the position of the axis of symmetry of the aspheric lens surface relative to the axis of rotation. The measurements are made with autocollimators via a reflection on the lens surface to be measured.
  • EP 1636542 B1 discloses a method and a measuring device for the non-contact measurement of angles or changes in angles on objects, which can also be used, among other things, for measuring aspherical lens or mirror surfaces.
  • an optical measuring beam is generated with an extended light source, with which a diaphragm acting as a field diaphragm is illuminated and which, after reflection on the surface to be measured, is recorded with an optical detector.
  • the screened aperture is imaged as a blurred light spot on the optical detector by an optical system.
  • EP 3037800 B1 discloses a method for measuring optical lens arrangements using back reflections from different lens surfaces, in which relatively complex imaging optics are used to generate different image planes at presumed positions of the centers of curvature of the lens surfaces.
  • WO 2014/114444 A1 shows a method for measuring optical lenses using an autocollimation telescope, in which individual lens surfaces are measured one after the other by focusing on the corresponding lens surface.
  • Another method for measuring optical lens surfaces is known from US Pat. No. 7,286,212 B2, in which separate imaging optics are used for each lens surface. Each lens surface is only measured from the side to which it is directed.
  • the object of the present invention is to specify a method for measuring optical lens surfaces of an optical lens arrangement that enables a quick measurement of at least two lens surfaces of the optical lens arrangement without complex imaging optics.
  • an optical measuring beam is generated with an extended light source, collimated via an optical arrangement, directed onto a first lens surface to be measured of an optical lens arrangement and, after reflection on the first lens surface to be measured, detected with at least one spatially resolving optical detector.
  • a measuring beam is placed between the light source and the optical detector limiting aperture is used, which acts as a vignetting field stop and is imaged onto the optical detector and detected by the measuring beam as a blurred light spot, hereinafter referred to as the first light spot due to the reflection on the first lens surface to be measured.
  • the extended light source is designed in such a way that it generates a uniform areal luminance, for example by using one or more LEDs with a diffusing screen arranged in front of it or with a condenser arranged in front of it or also a combination of diffusing screen and condenser arranged in front of it.
  • the position-resolving optical detector can be formed, for example, by a CCD or CMOS area sensor. Of course, other spatially resolving optical detectors can also be used. Several location-resolving detectors arranged next to one another are also possible.
  • the aperture delimiting the optical measuring beam is preferably formed by a diaphragm with a fixed or adjustable diaphragm opening. It can also be formed by a suitable lens mount of a lens of the optical arrangement. It is arranged at a suitable point in the beam path of the measuring beam in order to achieve the vignetting effect for generating the blurred light spot on the detector, preferably in or between the optical arrangement for collimation, preferably autocollimation optics, and the optical lens arrangement with the lens surfaces to be measured.
  • the optical lens arrangement can be a single lens, for example single- or double-sided asphere , i . H . an aspherical lens with one aspherical and one spherical or with two aspherical lens surfaces, or an arrangement of several lenses spaced apart from each other.
  • At least one second light spot which is obtained by reflection of the measuring beam on a further lens surface, hereinafter referred to as the second lens surface, of the optical lens arrangement, is now also detected with the optical detector simultaneously with the detection of the first light spot.
  • This second light spot is also created by the effect of the aperture limiting the measuring beam as a vignetting field stop and imaging of this aperture - after reflection on the second lens surface - onto the optical detector.
  • the intensity distributions of the two light spots recorded simultaneously with the optical detector are then evaluated for the respective angle between the first lens surface and the optical axis of the measuring beam at the point of intersection of the optical axis of the measuring beam with the first lens surface and between the second lens surface and the optical axis of the measuring beam at the point of intersection of the optical axis of the measuring beam with the second lens surface.
  • This determination of the angle can take place in the same way as is described, for example, in the already mentioned EP 1636542 B1.
  • the respective angle at the measuring position point of intersection between the optical axis of the measuring beam and the lens surface
  • the vignetting effect of the measuring beam limiting Aperture enables the position of the light spot to be determined very precisely via the intensity distribution generated by the light spot, which has a V-shape along a line passing through the center of the light spot.
  • the second lens surface can be, for example. be the rear lens surface of a lens or - in the case of cemented lenses - an inner lens surface.
  • the two light spots on the detector must be sufficiently distinguishable or be separable . If this is not the case during a measurement, the lens arrangement or Lens shifted perpendicularly to the optical axis of the measuring beam until the two light spots are sufficiently distinguishable or are separable.
  • the distance of the displacement is appropriately recorded and taken into account in the evaluation.
  • at least two lens surfaces can thus be measured simultaneously with regard to their angle to the optical axis of the measuring beam at the respective measuring position without an additional or complex optical arrangement.
  • a measurement on the aspheric part with a single rotation measurement by at least 180° - or correspondingly several measurements on different Positions in one half of the asphere - determine the exact position of the asphere, in particular tilting and lateral offset.
  • Fig. 1 shows a schematic representation of an exemplary optical structure as it can be used when carrying out the proposed method
  • Fig. 2 shows an example of the use of this optical structure when measuring an asphere using the proposed method
  • FIG. 3 shows a further example for carrying out the proposed method with such a structure
  • Fig. 4 an example for the measurement of a
  • Fig. 5 shows another example for measuring an asphere using the proposed method
  • Fig. 6a/b Examples of the measurement of a double-sided asphere using the proposed method.
  • At least two at least partially reflecting lens surfaces which can be spherical or aspherical, are each used to create blurry exit hatches as images of the limiting aperture or aperture used in the method.
  • Aperture stop of the optically effective system shown on a detector. In order to ensure this type of effect of the aperture stop as a field stop, it is positioned at a suitable point in the beam path of the measuring beam. The emitted measurement or Whether ect beams are not fixed in place, e.g. B. in the classic autocollimator with crosshairs.
  • an extended light source (illuminated object surface) is used as the object, which preferably has at least the same dimensions or should have the same size as the detection surface of the detector, so that each ob j ect illuminated point corresponds to a corresponding conjugate image point position, which corresponds to a corresponding chief ray inclination a through the center of the aperture stop.
  • This angle of the main beam is determined and evaluated during detection. It is particularly preferable for the object illumination area to be selected to be larger than the detection area. Due to the principle-related blurred imaging of the exit pupil of the overall system on the detector, different blurred exit apertures can now be evaluated longitudinally on the detector from different lens surfaces (with usually different radii).
  • the rays on the lens surfaces have different (separable) surface tilt angles. Then more than two surfaces can also be detected.
  • FIG. 1 first shows a schematic of an exemplary structure of the measuring system, as it can be used in the proposed method.
  • the figure shows an extended light source 21, also referred to as a planar emitter in the present patent application, which in this example is formed by irradiating a diffused light disk 21b from a radiation source 21a, for example an LED.
  • the measurement beam bundle 28 emanating from this extended light source 21 is radiated into the optical system via a beam splitter 22 , deflected by 90° and shines through the aperture diaphragm 24 .
  • the bundle of rays is reflected at the lens 10 to be measured and imaged via the lens 23 after passing through the beam splitter 22 again onto the photosensitive detector 25 .
  • a reflection occurs not only on the lens surface of the lens 10 facing the measuring system, but also on the lens surface facing away from the measuring system. If the lens surfaces are not exactly at an angle of 90° to this axis at the point of intersection with the optical axis 29 of this measuring system, a light spot is imaged on the detector 25 for each of the lens surfaces optical axis 29 with the detector 25 deviates.
  • the light spot is created by the vignetting effect of the aperture stop 24 and enables an exact measurement of the angular deviation from the 90° angle, as is described in more detail in EP 1636542 B1, for example.
  • FIG. 2 shows a schematic representation of the measurement of a lens 10 , which is spherical in this case, with the measurement arrangement of FIG. 1, which is also referred to as sensor 20 in this and the following examples.
  • an auxiliary lens 50 for beam shaping is arranged in front of this sensor 20 .
  • the lens 10 to be measured is preferably placed on a lens holder 30 , for example a ring edge or three-point support, on a rotary table 40 which can be rotated about an axis of rotation 41 (rotation C).
  • the lens mount 30 also enables precise referencing of the sensor 20 to the lens to be measured, for example by placing a polished ball of known precision on the lens mount 30 and adjusting the arrangement with this ball.
  • a reference axis can then be determined with the sensor 20 or a similar, suitable instrument, and the lens support can be referenced as the reference surface of the lens to be measured.
  • FIG. 3 shows a detailed representation of the measurement of a spherical lens 10 with the sensor 20 according to the proposed method.
  • the extended light source 21, the detector 25, the beam splitter 22 as well as the objective 23 and the aperture stop 24 are shown schematically in the sensor 20 shown .
  • the auxiliary lens 50 can also be seen in this representation.
  • the spherical lens 10 to be measured rests on the lens holder 30 on the turntable.
  • the spherical lens 10 has a vertex 11 , a rim region 12 , a rear vertex 13 , a rear rim region 14 and a rim cylinder 15 .
  • the center of curvature 16 of the front lens surface and the center of curvature 17 of the rear lens surface lie on the optical axis 18 of the lens, which, however, does not coincide with the axis of rotation 41 of the turntable.
  • Two main rays 26 , 27 are indicated in FIG. 3 which, after reflection on the two lens surfaces, appear as unsharp light spots on the detector 25 due to the vignetting by the aperture stop 24 .
  • the vignetting main ray 26, which is reflected at the front lens surface leads to a light spot 26a, the vignetting main ray 27, which is reflected at the rear lens surface, to a blurred light spot 27a on the detector.
  • both light spots each describe a circular or elliptical shape with a corresponding diameter, which corresponds to the real (front side, surface 1) or corresponds to virtual (rear side, surface 2) surface tilt angle.
  • the circle shape is in indicated in the upper left part of FIG. 3 in the field of view of the detector 25 .
  • the meridional and sagittal beam paths can be evaluated separately.
  • the real surface tilt angle of the back can be calculated backwards via the measured optical power of the first (front) surface (radius, refractive index, thickness) using an optics design program.
  • the angular deviations can also be interpreted as a lateral offset of the respective meridional and sagittal centers of curvature to the axis of rotation.
  • This correction factor can be provided, for example, via a LUT (look-up table) as a function of the angle of incidence.
  • an asphere has not just one, but many centers of curvature, all of which lie on an axis that runs through the apex (rotational symmetry point).
  • An aspheric surface has an aspheric axis. This axis can be inclined to a reference axis and the apex or Rotational symmetry point of the surface can be offset laterally from the reference axis.
  • FIG. 4 shows the example of a one-sided asphere 10 (one side asphere, other side sphere) with the apex 11 or Central area of the front surface of the asphere and the edge area 12 of the front surface of the asphere.
  • the sensor 20 is only simplified with the detector in this figure 25 and the auxiliary lens 50 shown.
  • the two measuring beams reflected on the front and back of the asphere 10, vignetted main beam 26 and vignetted main beam 27, are also shown as examples.
  • the asphere 10 has an apparent center of curvature 19 at the edge and a center of curvature 16 at the apex.
  • the asphere axis 18 is also shown in the figure.
  • the reflection of the measuring beam on the two lens surfaces of the asphere results in two light spots on the detector 25, through which the two lens surfaces can be measured both in the central area and at the edge.
  • This is shown again in FIG. 5 with the same reference numbers using an example in which two sensors 20a and 20b are used in order to be able to carry out measurements simultaneously in the center of the asphere 10 and in the edge area of the asphere 10.
  • the asphere axis can no longer be determined with sufficient accuracy just by measuring in the center.
  • the measurement is required at different points, as is shown schematically with reference to FIGS. 6a and 6b with an additional measurement of the rear surface at the edge using a third sensor 20c.
  • the two measurements on the front and rear surface at the edge according to the proposed method with only one sensor, for example.
  • Sensor 20b carried out at the same time.
  • the determination of the inner centration error of an aspheric lens can e.g. take place with the following steps: a) referencing of the support (or lens holder 30) as a reference surface of the lens, e.g.
  • a sphere of a preferred, approximately averaged radius of the two lens surfaces with the sensor 20 or a similar, suitable instrument, which is able to measure the centers of curvature of the lens surfaces without changing auxiliary lenses, shifting the instrument along the optical axis or varying the focus; b) measuring the position of the center of curvature of the spherical portion of the aspheric lens surfaces to be measured; c ) Measurement on the aspherical part outside the vertex (for both lens surfaces simultaneously); d) Determination of the inherent, internal centering error by calculating the two measured values together with the help of known design data
  • the structure of the optical arrangement for measuring the lens surfaces can also deviate from the example in Figure 1, for example by swapping the detector and light source, by using a different beam splitter, by arranging the vignetting field stop at a different location or by other modifications, as long as the vignetting effect of the field or Aperture diaphragm for generating the blurred light spots on the detector remains guaranteed.

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Abstract

Bei einem Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen wird mit einer ausgedehnten Lichtquelle (21) ein Messstrahl (26, 27, 28) erzeugt, über eine optische Anordnung (23) kollimiert und nach Reflexion an einer zu vermessenden Linsenfläche mit einem optischen Detektor (25) erfasst. Zwischen der Lichtquelle (21) und dem optischen Detektor (25) wird eine den Messstrahl (26, 27, 28) begrenzende Apertur (24) eingesetzt, die als vignettierende Feldblende wirkt. Die Feldblende wird durch den Messstrahl (26, 27, 28) nach Reflexion an einer ersten Linsenfläche unscharf als erster Lichtfleck (26a) auf den optischen Detektor (25) abgebildet. Mit dem optischen Detektor (25) wird gleichzeitig auch wenigstens ein zweiter Lichtfleck (27a) erfasst, der durch Reflexion des Messstrahls (26, 27, 28) an einer zweiten Linsenfläche der optischen Linsenanordnung (10) erhalten wird. Aus der Intensitätsverteilung der beiden Lichtflecke (26a, 27a) kann ein Winkel der jeweiligen Linsenfläche zur optischen Achse des Messstrahls (26, 27, 28) für beide Linsenflächen gleichzeitig bestimmt werden. Damit wird ein Verfahren zur Vermessung von Linsenflächen optischer Linsensysteme bereitgestellt, das ohne aufwändige optische Aufbauten auskommt und eine schnelle Vermessung der Linsenflächen ermöglicht.

Description

Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen
Technisches Anwendungsgebiet
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen, insbesondere zur Zentriermessung an asphärischen Linsen, bei dem die Linsenflächen in Reflexion mit einer optischen Messanordnung vermessen werden, in der eine die optische Messstrahlung begrenzende Apertur eingesetzt und unscharf als Lichtfleck auf einen optischen Detektor der Messanordnung abgebildet wird.
Bei der Herstellung asphärischer Linsen können durch Herstellungs fehler oder Herstellungstoleranzen Abweichungen von der gewünschten Asphärenform auftreten, die aus Gründen der Qualitätssicherung erkannt werden müssen. Dies kann mit einer berührungslosen Zentriermessung erfolgen, durch die ein Scheitelversatz und eine Achsverkippung der asphärischen Linse erfasst werden können. Bei der Zentriermessung wird zunächst die Lage des Krümmungsmittelpunktes (Scheitel) des sphärischen Anteils der asphärischen Linsenfläche bestimmt und anschließend am asphärischen Anteil, also dem Randbereich außerhalb des Scheitels, gemessen.
Stand der Technik
Die EP 1918687 Bl beschreibt ein Verfahren zur Bestimmung der Lage einer Symmetrieachse einer asphärischen Linsenfläche relativ zu einer Bezugsachse, bei dem zunächst die Lage des Krümmungsmittelpunktes des sphärischen Anteils der Linsenfläche bestimmt und anschließend durch Drehung der Linse um eine Drehachse eine Taumelbewegung des asphärischen Anteils gemessen wird, um die Lage der Symmetrieachse der asphärischen Linsenfläche relativ zur Drehachse zu ermitteln . Die Messungen erfolgen mit Autokollimatoren über eine Reflexion an der zu vermessenden Linsenfläche .
Aus der EP 1636542 Bl sind ein Verfahren und eine Messvorrichtung zur berührungslosen Messung von Winkeln oder Winkeländerungen an Gegenständen bekannt , die sich unter anderem auch zur Vermessung asphärischer Linsenoder Spiegel flächen einsetzen lassen . Bei diesem Verfahren wird mit einer ausgedehnten Lichtquelle ein optischer Messstrahl erzeugt , mit dem eine als Feldblende wirkende Blende durchleuchtet wird und der nach Reflexion an der zu vermessenden Fläche mit einem optischen Detektor erfasst wird . Die durchleuchtete Blende wird dabei über ein optisches System unscharf als Lichtfleck auf den optischen Detektor abgebildet . Durch Ermitteln der Lage des Blendenbildes in Bezug auf eine Referenzlage kann ein Winkel zwischen der vermessenen Fläche und einer optischen Achse des Messstrahls am Schnittpunkt der optischen Achse mit der vermessenen Fläche bestimmt werden .
Aus der EP 3037800 Bl ist ein Verfahren zur Vermessung optischer Linsenanordnungen anhand von Rückreflexen unterschiedlicher Linsenflächen bekannt , bei der eine relativ aufwändige Abbildungsoptik eingesetzt wird, um unterschiedliche Bildebenen an vermuteten Positionen der Krümmungsmittelpunkte der Linsenflächen zu erzeugen . Die WO 2014 / 114444 Al zeigt ein Verfahren zur Vermessung optischer Linsen mit Hil fe eines Autokollimations fernrohrs , bei der einzelne Linsenflächen nacheinander j eweils durch Fokussierung auf die entsprechende Linsenfläche vermessen werden . Aus der US 7286212 B2 ist ein weiteres Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen bekannt , bei dem für j ede Linsenfläche eine getrennte Abbildungsoptik eingesetzt wird . Jede Linsenfläche wird hierbei j eweils nur von der Seite vermessen, zu der sie gerichtet ist .
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen einer optischen Linsenanordnung anzugeben, das eine schnelle Vermessung von wenigstens zwei Linsenflächen der optischen Linsenanordnung ohne aufwändige Abbildungsoptiken ermöglicht .
Darstellung der Erfindung
Die Aufgabe wird mit dem Verfahren gemäß Patentanspruch 1 gelöst . Vorteilhafte Ausgestaltungen des Verfahrens sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche oder lassen sich der nachfolgenden Beschreibung sowie den Aus führungsbeispielen entnehmen .
Bei dem vorgeschlagenen Verfahren wird mit einer ausgedehnten Lichtquelle ein optischer Messstrahl erzeugt , über eine optische Anordnung kollimiert , auf eine erste zu vermessende Linsenfläche einer optischen Linsenanordnung gerichtet und nach Reflexion an der ersten zu vermessenden Linsenfläche mit wenigstens einem ortsauf lösenden optischen Detektor erfasst . Zwischen der Lichtquelle und dem optischen Detektor wird bei diesem Verfahren eine den Messstrahl begrenzende Apertur eingesetzt , die als vignettierende Feldblende wirkt und durch den Messstrahl unscharf als Lichtfleck, im Folgenden aufgrund der Reflexion an der ersten zu vermessenden Linsenfläche als erster Lichtfleck bezeichnet , auf den optischen Detektor abgebildet und mit dem optischen Detektor erfasst wird .
Die ausgedehnte Lichtquelle ist dabei so ausgebildet , dass sie eine gleichmäßige flächenhafte Leuchtdichte erzeugt , beispielsweise durch Nutzung einer oder mehrerer LEDs mit davor angeordneter Streuscheibe oder mit davor angeordnetem Kondensor oder auch einer davor angeordneten Kombination von Streuscheibe und Kondensor . Der ortsauf lösende optische Detektor kann beispielsweise durch einen CCD- oder CMOS-Flächensensor gebildet sein . Selbstverständlich lassen sich auch andere ortsauf lösende optische Detektoren einsetzen . Auch mehrere nebeneinander angeordnete ortsauf lösende Detektoren sind möglich .
Die den optischen Messstrahl begrenzende Apertur wird vorzugsweise durch eine Blende mit fester oder mit einstellbarer Blendenöf fnung gebildet . Sie kann auch durch eine geeignete Linsenfassung einer Linse der optischen Anordnung gebildet werden . Sie wird an geeigneter Stelle im Strahlengang des Messstrahls angeordnet , um die vignettierende Wirkung zur Erzeugung des unscharfen Lichtflecks auf dem Detektor zu erreichen, vorzugsweise in oder zwischen der optischen Anordnung zur Kollimation, vorzugsweise einer Autokollimationsoptik, und der optischen Linsenanordnung mit den vermessenden Linsenflächen . Bei der optischen Linsenanordnung kann es sich um eine einzelne Linse , beispielsweise eine ein- oder doppelseitige Asphäre , d . h . eine asphärische Linse mit einer asphärischen und einer sphärischen oder mit zwei asphärischen Linsenflächen, oder auch um eine Anordnung mehrerer voneinander beabstandeter Linsen handeln .
Bei dem vorgeschlagenen Verfahren wird nun mit dem optischen Detektor gleichzeitig mit der Erfassung des ersten Lichtflecks auch wenigstes ein zweiter Lichtfleck erfasst , der durch Reflexion des Messstrahls an einer weiteren Linsenfläche , im Folgenden als zweite Linsenfläche bezeichnet , der optischen Linsenanordnung erhalten wird . Auch dieser zweite Lichtfleck entsteht durch die Wirkung der den Messstrahl begrenzenden Apertur als vignettierende Feldblende und Abbildung dieser Apertur - nach Reflexion an der zweiten Linsenfläche - auf den optischen Detektor . Die mit dem optischen Detektor gleichzeitig erfassten Intensitätsverteilungen der beiden Lichtflecke werden dann ausgewertet , um den j eweiligen Winkel zwischen der ersten Linsenfläche und der optischen Achse des Messstrahls am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der ersten Linsenfläche und zwischen der zweiten Linsenfläche und der optischen Achse des Messstrahls am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der zweiten Linsenfläche zu bestimmen . Diese Bestimmung des Winkels kann in gleicher Weise erfolgen wie dies beispielsweise in der bereits genannten EP 1636542 Bl beschrieben ist . Aus einer Verschiebung des j eweiligen Lichtflecks gegenüber einer bekannten Bezugslage (Nulllage ) auf dem optischen Detektor kann dabei der j eweilige Winkel an der Messposition ( Schnittpunkt zwischen optischer Achse des Messstrahls und Linsenfläche ) ermittelt werden . Die vignettierende Wirkung der den Messstrahl begrenzenden Apertur ermöglicht eine sehr genaue Ermittlung der Lage des Lichtflecks über die durch den Lichtfleck erzeugte Intensitätsverteilung, die entlang einer durch das Zentrum des Lichtflecks gehenden Linie eine V-Form aufweist .
Bei dem vorgeschlagenen Verfahren wurde erkannt , dass bei Nutzung einer Messanordnung mit der vignettierenden Feldblende auch ein durch eine weitere , zweite Linsenfläche , auf die der Messstrahl nach Durchtritt durch die ersten Linsenfläche tri f ft , erzeugter Lichtfleck zusammen mit dem ersten Lichtfleck auf dem Detektor erfassbar ist und entsprechend ausgewertet werden kann . Bei der zweiten Linsenfläche kann es sich bspw . um die rückseitige Linsenfläche einer Linse oder auch - bei gekitteten Linsen - um eine innere Linsenfläche handeln . Die beiden Lichtflecke auf dem Detektor müssen für die Bestimmung der Winkel ausreichend voneinander unterscheidbar bzw . trennbar sein . I st dies bei einer Messung nicht der Fall , so wird die Linsenanordnung bzw . Linse senkrecht zur optischen Achse des Messstrahls verschoben, bis die beiden Lichtflecke ausreichend unterscheidbar bzw . trennbar sind . Die Distanz der Verschiebung wird dabei geeignet erfasst und bei der Auswertung berücksichtigt . Mit dem vorgeschlagenen Verfahren lassen sich somit ohne eine zusätzliche oder aufwändige optische Anordnung wenigstens zwei Linsenflächen gleichzeitig hinsichtlich ihres Winkels zur optischen Achse des Messstrahls an der j eweiligen Messposition vermessen . Im Falle der Vermessung einer Asphäre lassen sich damit durch eine Messung am asphärischen Teil mit einer einzigen Rotationsmessung um wenigstens 180 ° - oder entsprechend mehreren Messungen an unterschiedlichen Positionen in einer Häl fte der Asphäre - die exakte Lage der Asphäre , insbesondere eine Verkippung und einen seitlichen Versatz ermitteln .
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Das vorgeschlagene Verfahren wird nachfolgend anhand von Aus führungsbeispielen in Verbindung mit den Zeichnungen nochmals näher erläutert . Hierbei zeigen :
Fig . 1 eine schematische Darstellung eines beispielhaften optischen Aufbaus , wie er bei der Durchführung des vorgeschlagenen Verfahrens eingesetzt werden kann;
Fig . 2 ein Beispiel für den Einsatz dieses optischen Aufbaus bei der Vermessung einer Asphäre mit dem vorgeschlagenen Verfahren;
Fig . 3 ein weiteres Beispiel für die Durchführung des vorgeschlagenen Verfahrens mit einem derartigen Aufbau;
Fig . 4 ein Beispiel für die Vermessung einer
Asphäre mit dem vorgeschlagenen Verfahren;
Fig . 5 ein weiteres Beispiel für die Vermessung einer Asphäre mit dem vorgeschlagenen Verfahren; und
Fig . 6a/b Beispiele für die Vermessung einer doppelseitigen Asphäre mit dem vorgeschlagenen Verfahren .
Wege zur Ausführung der Erfindung Bei dem vorgeschlagenen Verfahren werden durch mindestens zwei zumindest teilweise reflektierende Linsenflächen, die sphärisch oder auch asphärisch ausgebildet sein können, j eweils unscharfe Austrittsluken als Bilder der bei dem Verfahren eingesetzten begrenzenden Apertur bzw . Aperturblende des optisch wirksamen Systems auf einem Detektor abgebildet . Um diese Art der Wirkung der Aperturblende als Feldblende zu gewährleisten, wird diese an geeigneter Stelle in dem Strahlengang des Messstrahls positioniert . Dabei ist das ausgesandte Mess- bzw . Ob ektstrahlenbündel nicht orts fest wie z . B . beim klassischen Autokollimator mit Fadenkreuz . Als Obj ekt dient vielmehr eine ausgedehnte Lichtquelle ( Obj ektleuchtfläche ) , die vorzugsweise mindestens die gleichen Abmessungen bzw . die gleiche Größe wie die Detektions fläche des Detektors aufweisen sollte , so dass j eder Ob j ektleucht- punkt einer entsprechenden konj ugierten Bildpunktlage entspricht , die durch die Mitte der Aperturblende mit einer entsprechenden Hauptstrahlneigung a korrespondiert . Dieser Winkel des Hauptstrahls wird bei der Detektion ermittelt und ausgewertet . Besonders bevorzugt wird die Ob j ektleucht fläche größer als die Detektions fläche gewählt . Durch die prinzipbedingte unscharfe Abbildung der Austrittspupille des Gesamtsystems am Detektor können nun von unterschiedlichen Linsenflächen (bei in der Regel unterschiedlichen Radien) longitudinal verschiedene unscharfe Austrittsluken am Detektor ausgewertet werden . Wichtig ist hierbei nur, dass die Strahlen an den Linsenflächen unterschiedliche ( trennbare ) Flächenkippwinkel aufweisen . Dann können auch mehr als zwei Flächen detektiert werden . Zur Optimierung der Messung ist es vorteilhaft , die Strahldivergenz durch entsprechende Vorsatzlinsen oder auch durch geeignete Einstellung der optischen Anordnung, in der Regel eines Obj ektivs , so anzupassen, dass die Lichtflecke auf dem Detektor ausreichend voneinander getrennt sind . Die Lichtflecke werden also dabei über die optischen Elemente , ggf . auch zusätzlich über eine Anpassung der Blendengröße , so eingestellt , dass beide Lichtflecke nicht überlappen, sondern voneinander getrennt werden können .
Figur 1 zeigt hierbei zunächst schematisch einen beispielhaften Aufbau des Messsystems , wie es beim vorgeschlagenen Verfahren eingesetzt werden kann . Die Figur zeigt eine ausgedehnte Lichtquelle 21 , in der vorliegenden Patentanmeldung auch als f lächenhaf ter Strahler bezeichnet , die in diesem Beispiel durch Bestrahlung einer Streulichtscheibe 21b von einer Strahlungsquelle 21a, beispielsweise einer LED, gebildet wird . Das von dieser ausgedehnten Lichtquelle 21 ausgehende Messstrahlbündel 28 wird über einen Strahlteiler 22 in das optische System eingestrahlt , um 90 ° abgelenkt und durchleuchtet die Aperturblende 24 . An der zu vermessenden Linse 10 wird das Strahlbündel in sich reflektiert und über das Obj ektiv 23 nach erneutem Durchgang durch den Strahlteiler 22 auf den fotoempfindlichen Detektor 25 abgebildet . Eine Reflexion erfolgt hierbei nicht nur an der dem Messsystem zugewandten Linsenfläche der Linse 10 , sondern auch an der dem Messsystem abgewandten Linsenfläche . Liegen die Linsenflächen am Schnittpunkt mit der optischen Achse 29 dieses Messsystems nicht exakt unter einem Winkel von 90 ° zu dieser Achse , so wird auf dem Detektor 25 für j ede der Linsenflächen ein Lichtfleck abgebildet , der vom Schnittpunkt der optischen Achse 29 mit dem Detektor 25 abweicht . Der Lichtfleck entsteht dabei durch die vignettierende Wirkung der Aperturblende 24 und ermöglicht eine exakte Vermessung der Winkelabweichung vom 90 ° -Winkel , wie dies beispielsweise in der EP 1636542 Bl genauer beschrieben ist .
Figur 2 zeigt hierzu eine schematische Darstellung der Vermessung einer in diesem Fall sphärischen Linse 10 mit der Messanordnung der Figur 1 , die in diesem und den folgenden Beispielen auch als Sensor 20 bezeichnet wird . Vor diesem Sensor 20 ist in diesen Beispielen eine Vorsatzlinse 50 zur Strahl formung angeordnet . Die zu vermessende Linse 10 wird für die Vermessung vorzugsweise auf eine Linsenaufnahme 30 , beispielsweise eine Ringkante oder Dreipunktauflage , auf einem Drehtisch 40 aufgesetzt , der um eine Rotationsachse 41 drehbar ist ( Drehung C ) . Die Linsenaufnahme 30 ermöglicht hierbei auch eine genaue Ref erenzierung des Sensors 20 zur zu vermessenden Linse , beispielsweise durch Aufsetzen einer polierten Kugel bekannter Präzision auf die Linsenaufnahme 30 und Justage der Anordnung mit dieser Kugel . Damit kann dann mit dem Sensor 20 oder auch einem ähnlichen, geeigneten Instrument , eine Bezugsachse bestimmt und die Linsenauflage als Bezugs fläche der zu vermessenden Linse referenziert werden .
Figur 3 zeigt eine detailliertere Darstellung der Vermessung einer sphärischen Linse 10 mit dem Sensor 20 gemäß dem vorgeschlagenen Verfahren . In dieser Abbildung sind im Sensor 20 schematisch die ausgedehnte Lichtquelle 21 , der Detektor 25 , der Strahlteiler 22 sowie das Obj ektiv 23 und die Aperturblende 24 dargestellt . Auch die Vorsatzlinse 50 ist in dieser Darstellung erkennbar . Die zu vermessende sphärische Linse 10 liegt auf der Linsenaufnahme 30 auf dem Drehtisch auf . Die sphärische Linse 10 weist einen Scheitel 11 , einen Randbereich 12 , einen rückseitigen Scheitel 13 , einen rückseitigen Randbereich 14 sowie einen Randzylinder 15 auf . Im vorliegenden Beispiel ist angedeutet , dass der Krümmungsmittelpunkt 16 der vorderen Linsenfläche und der Krümmungsmittelpunkt 17 der rückseitigen Linsenfläche auf der optischen Achse 18 der Linse liegen, die j edoch nicht mit der Rotationsachse 41 des Drehtisches übereinstimmt . In der Figur 3 sind zwei Hauptstrahlen 26 , 27 angedeutet , die nach Reflexion an den beiden Linsenflächen aufgrund der Vignettierung durch die Aperturblende 24 als unscharfe Lichtflecke auf dem Detektor 25 erscheinen . Der vignettierende Hauptstrahl 26 , der an der vorderen Linsenfläche reflektiert wird, führt dabei zu einem Lichtfleck 26a, der vignettierende Hauptstrahl 27 , der an der rückseitigen Linsenfläche reflektiert wird, zu einem unscharfen Lichtfleck 27a auf dem Detektor . Der linke obere Teil der Figur 3 zeigt exemplarisch das Gesichts feld bzw . die Detektions fläche des Detektors 25 mit den beiden Lichtflecken 26a, 27b bei eindeutiger lateraler Trennung, so dass beide gleichzeitig erfasst und ausgewertet werden können . Auf diese Weise lässt sich die Neigung der Linsenfläche am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der j eweiligen Linsenfläche bestimmen . Bei einer Rotation des Drehtisches beschreiben beide Lichtflecke j eweils eine Kreis- oder Ellipsenform mit entsprechendem Durchmesser, welcher mit dem realen (Vorderseite , Fläche 1 ) bzw . virtuellen (Rückseite , Fläche 2 ) Flächenkippwinkel korrespondiert . Die Kreis form ist im linken oberen Teil der Figur 3 im Gesichts feld des Detektors 25 angedeutet . Es lassen sich dabei der meridionale und der sagittale Strahlengang getrennt auswerten . Der reale Flächenkippwinkel der Rückseite kann über die gemessene optische Wirkung der ersten (vorderseitigen) Fläche (Radius , Brechzahl , Dicke ) über ein Optik-Design-Programm rückwärtig berechnet werden . Die Winkelabweichungen können auch als seitlicher Versatz der j eweiligen meridionalen und sagittalen Krümmungsmittelpunkte zur Drehachse interpretiert werden .
Bei nicht-paraxialen Messungen, bei denen der Messstrahl unter einem Einfallswinkel s (Winkel gegenüber der Senkrechten = Einfallslot ) auf die erste Linsenfläche tri f ft , machen sich nichtlineare Abweichungen bei der Brechung des Strahls an der ersten Linsenfläche bemerkbar, die für die Berechnung des Flächenkippwinkels der zweiten Linsenfläche ggf . berücksichtigt werden müssen . Bei der Zentriermessung der einzelnen realen Flächenkippungen ist die Berechnung von rückflächigen Kippwinkeln immer von den Flächenneigungen der davor liegenden Linsenflächen beeinflusst und wird über die Rückwärtsrechnung des Strahlverlaufs exakt berechnet . Bei nichtlinearen Änderungen im Falle von nicht paraxialer Anwendung des Strahlengangs , führt dies zu Fehlern, die bereits bei 15 ° Einfallswinkel zu 5% Abweichungen führen . Bei größeren Einfallswinkeln von 35 bis 45 Grad kann der Fehler im Bereich von 200 bis 300 Prozent liegen .
Die näherungsweise Betrachtung und Erstellung der Zusammenhänge sollen hier in einer Idealisierung der Anwendung erfolgen : 1 . Linsen- bzw . Asphärenachse = Drehachse
2 . Reflektierende ( zweite ) Fläche dicht hinter der ersten Fläche
3 . Reflektierter Strahl an gleicher Stelle wie einfallender Strahl
Die Änderung des Winkels s " des gebrochenen Strahles ergibt sich über die Brechzahl n sowie den Einfallswinkel s selbst zu :
COS £ de = n - ; de cos ft
Damit wird ein Korrekturf aktor K = n* coss/ coss ' erhalten, der bei der Bestimmung des realen Flächenkippwinkels der zweiten Fläche verwendet wird . Dieser Korrekturf aktor kann beispielweise über eine LUT ( Look-Up-Table ) in Abhängigkeit vom Einfallswinkel bereitgestellt werden .
Bei der Vermessung von Asphären wird das Verfahren in gleicher Weise eingesetzt , wie in Figur 4 am Beispiel der Vermessung einer einseitigen Asphäre dargestellt ist . Eine Asphärenf läche hat nicht nur einen, sondern viele Krümmungsmittelpunkte , welche alle auf einer Achse liegen, die durch den Scheitel (Rotationssymmetriepunkt ) verläuft . Eine Asphärenf läche hat eine Asphärenachse . Diese Achse kann zu einer Bezugsachse geneigt sein und der Scheitel bzw . Rotationssymmetriepunkt der Fläche , kann seitlich von der Bezugsachse verschoben sein . Figur 4 zeigt hierzu das Beispiel einer einseitigen Asphäre 10 ( eine Seite Asphäre , andere Seite Sphäre ) mit dem Scheitel 11 bzw . Zentralbereich der Vorderfläche der Asphäre und dem Randbereich 12 der Vorderfläche der Asphäre . Der Sensor 20 ist in dieser Figur nur vereinfacht mit dem Detektor 25 und der Vorsatzlinse 50 dargestellt . Die beiden an Vorder- und Rückseite der Asphäre 10 reflektierten Messstrahlen, vignettierter Hauptstrahl 26 und vignettierter Hauptstrahl 27 sind ebenfalls beispielhaft dargestellt . Die Asphäre 10 weist einen scheinbaren Krümmungsmittelpunkt 19 am Rand sowie einen Krümmungsmittelpunkt 16 des Scheitels auf . Die Asphärenachse 18 ist ebenfalls in der Figur dargestellt . Auch hier ergeben sich durch die Reflexion des Messstrahls an den beiden Linsenflächen der Asphäre zwei Lichtflecke auf dem Detektor 25 , durch die die beiden Linsenflächen sowohl im Zentralbereich als auch am Rand vermessen werden können . Dies ist anhand der Figur 5 nochmals mit den gleichen Bezugs zeichen anhand eines Beispiels dargestellt , bei dem zwei Sensoren 20a und 20b eingesetzt werden, um im Zentrum der Asphäre 10 und im Randbereich der Asphäre 10 gleichzeitig Messungen durchführen zu können .
Bei doppelseitigen Asphären (Rückseite ebenfalls mit asphärischer Fläche ) kann die Asphärenachse nicht mehr nur mit einer Messung im Zentrum hinreichend genau ermittelt werden . Hier ist die Messung an unterschiedlichen Stellen erforderlich, wie dies schematisch anhand der Figuren 6a und 6b mit einer zusätzlichen Messung der rückseitigen Fläche am Rand mit einem dritten Sensor 20c dargestellt ist . Vorzugsweise werden auch die beiden Messungen an der vorderseitigen und rückseitigen Fläche am Rand gemäß dem vorgeschlagenen Verfahren mit nur einem Sensor, bspw . Sensor 20b, gleichzeitig durchgeführt . Die Bestimmung des inneren Zentrierfehlers einer asphärischen Linse kann bspw . mit folgenden Schritten erfolgen : a ) Ref erenzierung der Auflage (bzw . Linsenaufnahme 30 ) als Bezugs fläche der Linse bspw . mit Hil fe einer Kugel eines bevorzugten, angenähert gemittelten Radius der beiden Linsenflächen mit dem Sensor 20 oder einem ähnlichen, geeigneten Instrument , welches ohne Änderung von Vorsatzlinsen, einer Verschiebung des Instrumentes entlang der optischen Achse oder einer Fokusvariation die Krümmungsmittelpunkte der Linsenflächen zu vermessen vermag; b ) Messen der Lage des Krümmungsmittelpunktes des sphärischen Anteils der zu vermessenden asphärischen Lins en flächen; c ) Messen am asphärischen Anteil außerhalb des Scheitels ( für beide Linsenflächen gleichzeitig) ; d) Ermittlung des inhärenten, inneren Zentrierfehlers durch Verrechnung aus den beiden Messwerten zusammen mit Hil fe bekannter Designdaten
(wie Radius , Dicke und Brechzahl ) .
Der Aufbau der optischen Anordnung zur Vermessung der Linsenflächen kann auch von dem Beispiel der Figur 1 abweichen, beispielsweise durch Vertauschung von Detektor und Lichtquelle , durch Einsatz eines anderen Strahlteilers , durch Anordnung der vignettierenden Feldblende an anderer Stelle oder durch andere Modi fikationen, solange die vignettierende Wirkung der Feld- bzw . Aperturblende zur Erzeugung der unscharfen Lichtflecke auf dem Detektor gewährleistet bleibt . Bezugs zeichenliste Linse Scheitel bzw . Zentralbereich der Linsenvorder fläche Randbereich der Linsenvorderf lache Scheitel bzw . Zentralbereich der Linsenrückfläche Randbereich der Linsenrückfläche Randzylinder der Linse Krümmungsmittelpunkt der ersten Fläche Krümmungsmittelpunkt der zweiten Fläche optische Achse der Linse scheinbarer Krümmungsmittelpunkt der Asphäre am Rand Sensor a erster Sensor b zweiter Sensor c dritter Sensor ausgedehnte Lichtquelle a Strahlungsquelle b Streulichtscheibe Strahlteiler Obj ektiv Aperturblende fotoempfindlicher Detektor vignettierender Hauptstrahl nach Reflexion an vorderer Linsenfläche a Lichtfleck auf Detektor vignettierter Hauptstrahl nach Reflexion an rückseitiger Linsenfläche a Lichtfleck auf Detektor Messstrahlbündel optische Achse Linsenaufnahme Drehtisch Rotationsachse Vorsatzlinse

Claims

Patentansprüche Verfahren zur Vermessung optischer Linsenflächen, insbesondere zur Zentriermessung an asphärischen Linsen, bei dem
- mit einer ausgedehnten Lichtquelle (21) ein optischer Messstrahl (26, 27, 28) erzeugt, über eine optische Anordnung (23) kollimiert, auf eine erste zu vermessende Linsenfläche einer optischen Linsenanordnung (10) gerichtet und nach Reflexion an der ersten zu vermessenden Linsenfläche mit wenigstens einem ortsauf lösenden optischen Detektor (25) erfasst wird,
- wobei zwischen der Lichtquelle (21) und dem optischen Detektor (25) eine den optischen Messstrahl (26, 27, 28) begrenzende Apertur (24) eingesetzt wird, die als vignettierende Feldblende wirkt und durch die der Messstrahl (26, 27, 28) unscharf als erster Lichtfleck (26a) auf den optischen Detektor (25) abgebildet und mit dem optischen Detektor (25) erfasst wird,
- aus einer Intensitätsverteilung des ersten Lichtflecks (26a) auf dem optischen Detektor (25) und einer Verschiebung des ersten Lichtflecks (26a) gegenüber einer Bezugslage (Nulllage) ein Winkel zwischen der ersten zu vermessenden Linsenfläche und einer optischen Achse des Messstrahls am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der ersten zu vermessenden Linsenfläche bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, dass mit dem optischen Detektor (25) gleichzeitig mit der Erfassung des ersten Lichtflecks (26a) auch wenigstens ein zweiter Lichtfleck (27a) erfasst wird, der durch Reflexion des Messstrahls (26, 27, 28) an einer zweiten zu vermessenden Linsenfläche der optischen Linsenanordnung (10) erhalten wird, und aus einer Intensitätsverteilung des zweiten Lichtflecks (27a) auf dem optischen Detektor (25) und einer Verschiebung des zweiten Lichtflecks (27a) gegenüber einer Bezugslage (Nulllage) ein Winkel zwischen der zweiten zu vermessenden Linsenfläche und der optischen Achse des Messstrahls (26, 27, 28) am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der zweiten zu vermessenden Linsenfläche bestimmt wird. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Linsenanordnung (10) bei einer für die Bestimmung der Winkel nicht ausreichenden Unterscheidbarkeit des ersten (26a) und zweiten Lichtflecks (27a) auf dem optischen Detektor (25) senkrecht zur optischen Achse des verschoben wird, bis die Lichtflecke (26a, 27a) ausreichend unterscheidbar sind. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass als die den Messstrahl (26, 27, 28) begrenzende Apertur (24) eine Blende mit fester oder einstellbarer Blendenöffnung eingesetzt wird. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass als optische Anordnung (23) eine Autokollimationsoptik eingesetzt wird. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die ausgedehnte Lichtquelle (21) mit einer Leuchtfläche bereitgestellt wird, die mindestens die Größe einer Detektionsfläche des optischen Detektors (25) aufweist. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5 zur Zentriermessung an einer asphärischen Linse als optische Linsenanordnung (10) , wobei die asphärische Linse eine asphärische erste Linsenfläche mit einem zentralen sphärischen und einem sich anschließenden asphärischen Anteil aufweist, bei dem zunächst eine Lage eines Krümmungsmittelpunktes des sphärischen Anteils der asphärischen ersten Linsenfläche bestimmt und anschließend am asphärischen Anteil an einer oder an mehreren Positionen ein Winkel zwischen der ersten Linsenfläche und der optischen Achse des Messstrahls (26, 27, 28) und gleichzeitig ein Winkel zwischen einer zweiten Linsenfläche der asphärischen Linse und der optischen Achse des Messstrahls (26, 27, 28) gemessen werden. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Linsenanordnung (10) für die Vermessung auf einem Drehtisch (40) gelagert und um eine Rotationsachse (41) gedreht wird, um die Winkel zwischen den zu vermessenden Linsenflächen und der optischen Achse des Messstrahls ( 26 , 27 , 28 ) an mehreren Positionen auf einer Kreislinie oder einem Abschnitt einer Kreislinie um die Rotationsachse ( 41 ) zu bestimmen . Verfahren nach Anspruch 7 , dadurch gekennzeichnet , dass die optische Linsenanordnung ( 10 ) für die Vermessung um mindestens 180 ° um die Rotationsachse ( 41 ) gedreht wird . Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6 , dadurch gekennzeichnet , dass
- mehrere Sensoren ( 20a, 20b, 20c ) zur Vermessung eingesetzt werden, mit denen j eweils mit einer ausgedehnten Lichtquelle ein optischer Messstrahl erzeugt , über eine optische Anordnung kollimiert , auf die zu vermessenden Linsenflächen einer optischen Linsenanordnung gerichtet und nach Reflexion an den zu vermessenden Linsenflächen mit wenigstens einem ortsauf lösenden optischen Detektor erfasst wird, wobei zwischen der Lichtquelle und dem optischen Detektor eine den optischen Messstrahl begrenzende Apertur eingesetzt wird, die als vignettierende Feldblende wirkt und durch die der Messstrahl unscharf als Lichtfleck auf den optischen Detektor abgebildet wird, und
- mit j edem der Sensoren ( 20a, 20b, 20c ) die Winkel zwischen den zu vermessenden Linsenflächen und der optischen Achse des j eweiligen Messstrahls an einer anderen Position der zu vermessenden Linsenflächen bestimmt werden. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass einer der Sensoren (2a, 20b, 20c) zur Bestimmung der Winkel an einer Position im Bereich des Scheitels der zu vermessenden Linsenflächen und der oder die anderen Sensoren (2a, 20b, 20c) zur Bestimmung der Winkel an einer oder mehreren Positionen in einem Randbereich der zu vermessenden Linsenflächen eingesetzt werden. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass bei nicht senkrechtem Einfall des optischen Messstrahls (26, 27, 28) auf die erste zu vermessende Linsenfläche der Winkel zwischen der zweiten zu vermessenden Linsenfläche und der optischen Achse des Messstrahls (26, 27, 28) am Schnittpunkt der optischen Achse des Messstrahls mit der zweiten zu vermessenden Linsenfläche unter Nutzung eines Korrekturf aktors K bestimmt wird, der die Brechung des Messstrahls (26, 27, 28) an der ersten zu vermessenden Linsenfläche berücksichtigt .
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