WO2023101259A1 - 변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템 - Google Patents

변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템 Download PDF

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WO2023101259A1
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strain sensor
deformation
stretchable display
voltage
degree
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이수연
강지민
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서울대학교산학협력단
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Definitions

  • Various embodiments of the present invention relate to a deformation sensor circuit, a method for determining a deformation point and degree of deformation of a stretchable display using the same, and a current compensation system for a stretchable display.
  • Display devices used in computer monitors, TVs, mobile phones, etc. include organic light emitting displays (OLEDs) that emit light themselves, and liquid crystal displays (LCDs) that require a separate light source.
  • OLEDs organic light emitting displays
  • LCDs liquid crystal displays
  • the range of applications of displays is diversifying from computer monitors and TVs to personal portable devices, and research into display devices having a reduced volume and weight while having a large display area is being conducted.
  • display units and wires are formed on flexible substrates such as plastic, which is a flexible material, to be folded, rolled into a roll shape, or stretched in at least one direction.
  • stretchable displays that can be deformed are being researched and developed.
  • the problem to be solved by the present invention is to accurately determine the deformation point of the stretchable display by coupling the deformation sensor circuitry to the backplane region of the stretchable display for the purpose of solving the above-described problems of the conventional stretchable display.
  • a strain sensor circuit for determining a deformation point and degree of deformation of a stretchable display for solving the above problems is combined with the stretchable display to determine the deformation point and degree of deformation of the stretchable display.
  • the strain sensor network includes a first strain sensor network including a plurality of first strain sensor modules serially connected in a first direction and a plurality of second strain sensor modules serially connected in a second direction A voltage applied to each of the plurality of first strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules as a voltage is applied to the first strain sensor network and the second strain sensor network. Based on the value, a deformation point and a degree of deformation of the stretchable display may be determined.
  • each of the plurality of first strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules may include a plurality of unit strain sensors connected in parallel, and each of the plurality of unit strain sensors may have the same resistance value. there is.
  • each of the plurality of first strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules includes a plurality of unit strain sensors connected in parallel, and each of the plurality of unit strain sensors has a mutually different resistance value.
  • the stretchable display includes a TFT (Thin Film Transistor) network including a plurality of pixel regions in a lattice structure
  • the first strain sensor network includes the plurality of first strain sensor modules and the plurality of strain sensor modules.
  • the second strain sensor modules of are intersecting and combined with the second strain sensor circuitry to form a lattice structure, and each of a plurality of lattice points generated as the lattice structure is formed is correspondingly positioned within the plurality of pixel areas. It may be combined with the stretchable display to do so.
  • the first strain sensor circuitry further includes a first reference resistance module connected in series with at least one first strain sensor module among the plurality of first strain sensor modules in the first direction
  • the second strain sensor circuitry further includes a second reference resistance module connected in series with at least one second strain sensor module among the plurality of second strain sensor modules in the second direction, wherein the first reference resistance module and
  • Each of the second reference resistance modules may include a plurality of unit reference resistances connected in parallel, wherein the plurality of unit reference resistances have a fixed resistance value regardless of deformation of the stretchable display.
  • the first strain sensor circuitry sets one of the plurality of first strain sensor modules having a minimum change in resistance value during a predetermined period as a first reference resistance module, , The second strain sensor circuitry may set any second strain sensor module having the smallest change in resistance value during a predetermined period among the plurality of second strain sensor modules as the second reference resistance module.
  • the strain sensor circuitry may be configured through a voltage source for applying a voltage to each of the first strain sensor circuitry and the second strain sensor circuitry, and the first strain sensor circuitry and the second strain sensor circuitry, respectively, through the voltage source. It may further include a voltage measuring module for measuring a voltage value applied to each of the plurality of first strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules as voltage is applied to the.
  • a deformation sensor circuit for determining a deformation point and degree of deformation of a stretchable display for solving the above problems is a deformation coupled with the stretchable display to determine a deformation point and degree of deformation of the stretchable display.
  • the strain sensor network is connected in series with a plurality of first strain sensor modules connected in series in a first direction and at least one first strain sensor module among the plurality of first strain sensor modules in the first direction.
  • a first strain sensor network including a first reference resistance module that is connected in series in a second direction and at least one second strain sensor module among a plurality of second strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules and the second strain sensor module and a second strain sensor circuit network including second reference resistance modules connected in series in a direction, and each of the plurality of first strain sensor modules and the first reference resistance module as a voltage is applied to the first strain sensor network
  • a deformation point and a degree of deformation of the stretchable display in a first direction are determined based on a voltage value applied to the plurality of second deformation sensor modules and the first deformation sensor module as voltage is applied to the second deformation sensor network.
  • a deformation point and degree of deformation of the stretchable display in the second direction may be determined based on a voltage value applied to each of the two reference resistance modules.
  • a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display using a deformation sensor circuit for solving the above problems includes a plurality of first deformation sensor modules connected in series in a first direction.
  • the first deformation sensor network Calculating a plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first strain sensor modules by applying a voltage to the strain sensor network, applying a voltage to the second strain sensor network to calculate the plurality of second strain sensor modules Calculating a plurality of second voltage values applied to each of the plurality of voltage values, and determining a deformation point and a degree of deformation of the stretchable display using the calculated plurality of first voltage values and the calculated plurality of second voltage values.
  • the first strain sensor circuitry includes a first reference resistance module connected in series with at least one first strain sensor module among the plurality of first strain sensor modules in the first direction, and Calculating a first voltage value of a plurality of nodes for each of a plurality of first direction nodes generated as the plurality of first deformation sensor modules and the first reference resistance module are connected in series in the first direction measuring a voltage; calculating a voltage drop between two mutually adjacent first-direction nodes among the plurality of first-direction nodes using the measured plurality of node voltages; Calculating the plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first strain sensor modules and the first reference voltage applied to the first reference resistance module, wherein the deformation point and degree of deformation of the stretchable display are calculated.
  • the determining step may include determining a first direction node corresponding to at least one first strain sensor module to which at least one first voltage value having a value greater than the first reference voltage among the plurality of first voltage values is applied.
  • the method may include determining a coordinate value in a first direction with respect to a deformation point of the stretchable display.
  • the second strain sensor circuitry includes a second reference resistance module connected in series with at least one second strain sensor module among the plurality of second strain sensor modules in the second direction, and
  • the step of calculating the second voltage value of is a plurality of nodes for each of a plurality of second direction nodes generated as the plurality of second deformation sensor modules and the second reference resistance module are connected in series in the second direction.
  • the determining step may include a second direction node corresponding to at least one second deformation sensor module to which at least one second voltage value having a value greater than the second reference voltage among the plurality of second voltage values is applied.
  • a step of determining coordinate values in the second direction with respect to the deformation point of the stretchable display may be included.
  • the calculating of the plurality of first voltage values may include a plurality of nodes for each of a plurality of first direction nodes generated as the plurality of first strain sensor modules are serially connected in the first direction. A voltage is measured, a voltage drop between two mutually adjacent first-direction nodes among the plurality of first-direction nodes is calculated using the measured voltages of the plurality of nodes, and the plurality of first-direction nodes are calculated using the calculated voltage drop.
  • the step of calculating the plurality of first voltage values applied to each deformation sensor module, and the step of determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display include the first or last of the plurality of first voltage values.
  • a first direction node corresponding to at least one first strain sensor module to which at least one first voltage value having a higher value than the first voltage value applied to the first strain sensor module located at the end is applied is connected to the first direction node of the stretchable display.
  • a step of determining the coordinate value of the first direction with respect to the deformation point may be included.
  • the calculating of the plurality of second voltage values may include a plurality of nodes for each of a plurality of second direction nodes generated as the plurality of second strain sensor modules are serially connected in the second direction. A voltage is measured, a voltage drop between two mutually adjacent second-direction nodes among the plurality of second-direction nodes is calculated using the measured plurality of node voltages, and the plurality of second-direction nodes are calculated using the calculated voltage drop. 2
  • the step of calculating the plurality of second voltage values applied to each deformation sensor module, and the step of determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display includes the first or last stage of the plurality of second voltage values.
  • a step of determining the coordinate value of the second direction with respect to the deformation point may be included.
  • the calculating of the plurality of first voltage values may include the resistance among the plurality of first strain sensor modules based on the amount of change in resistance value of each of the plurality of first strain sensor modules for a predetermined period of time. Setting any one first strain sensor module having a minimum value variation as a first reference sensor module, wherein the plurality of first strain sensor modules and the set first reference resistance module are connected in series in the first direction Measuring a plurality of node voltages for each of a plurality of first-direction nodes generated according to the plurality of first-direction nodes, using the measured plurality of node voltages, voltages between two mutually adjacent first-direction nodes among the plurality of first-direction nodes Calculating a drop and calculating a first reference voltage applied to the plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first deformation sensor modules and the set first reference resistance module using the calculated voltage drop
  • the step of determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display may include applying at least one first voltage
  • the step of calculating the plurality of second voltage values may include the resistance among the plurality of second strain sensor modules based on the amount of change in the resistance value of each of the plurality of second strain sensor modules for a predetermined period of time. Setting any one second strain sensor module having the minimum value variation as a second reference sensor module, as the plurality of second strain sensor modules and the set second reference resistance module are connected in series in the second direction Measuring a plurality of node voltages for each of a plurality of second-direction nodes generated according to the plurality of second-direction nodes, using the measured plurality of node voltages, voltages between two mutually adjacent second-direction nodes among the plurality of second-direction nodes Calculating a drop and calculating a second reference voltage applied to the plurality of second voltage values applied to each of the plurality of second deformation sensor modules and the set second reference resistance module using the calculated voltage drop.
  • the step of determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display may include applying at least one second voltage
  • the first strain sensor network includes a first reference resistance module connected in series with at least one first strain sensor module among the plurality of first strain sensor modules in the first direction
  • the stretchable Determining the deformation point and degree of deformation of the display may include comparing a first reference voltage applied to the first reference resistance module to at least one first deformation sensor module disposed at the determined deformation point of the stretchable display. 1 may include calculating a ratio of the first voltage value applied to the deformation sensor module and determining a degree of deformation of the stretchable display in a first direction from the calculated ratio.
  • the second strain sensor network includes a second reference resistance module connected in series with at least one second strain sensor module among the plurality of second strain sensor modules in the second direction
  • the stretchable Determining the deformation point and degree of deformation of the display may include a comparison of a second reference voltage applied to the second reference resistance module with at least one of the plurality of second deformation sensor modules disposed at the determined deformation point of the stretchable display. 2
  • the method may include calculating a ratio of second voltage values applied to the deformation sensor module and determining a degree of deformation of the stretchable display in a second direction from the calculated ratio.
  • the determining of the deformation point and degree of deformation of the stretchable display may include comparing the first voltage value applied to the first deformation sensor module located at the frontmost or lastmost stage among the plurality of first deformation sensor modules.
  • a first ratio of a first voltage value applied to at least one first strain sensor module disposed at the determined deformation point of the stretchable display is calculated, and the calculated first ratio is a degree of deformation in a first direction with respect to the stretchable display.
  • the method may include calculating a second ratio of a second voltage value applied to the module, and determining a degree of deformation of the stretchable display in a second direction based on the calculated second ratio.
  • the stretchable display includes a TFT (Thin Film Transistor) network including a plurality of pixel areas in a lattice structure
  • the first strain sensor network includes the plurality of first strain sensor modules and the plurality of strain sensor modules.
  • the second strain sensor modules of are intersecting and combined with the second strain sensor circuitry to form a lattice structure, and each of a plurality of lattice points generated as the lattice structure is formed is correspondingly positioned within the plurality of pixel areas.
  • the method for determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display using the deformation sensor circuitry corresponds to the calculated degree of deformation of the stretchable display based on previously stored current compensation value data for each degree of deformation.
  • a step of performing current compensation may be further included.
  • a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display using a deformation sensor circuit according to another embodiment of the present invention for solving the above problems is a plurality of first deformation sensor modules connected in series in a first direction and the plurality of first deformation sensor modules.
  • a first strain sensor network including a first reference resistance module serially connected in the first direction with at least one first strain sensor module among the strain sensor modules and a plurality of second strain sensor modules serially connected in the second direction
  • a plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first strain sensor modules by applying a voltage to the first strain sensor network and a first voltage applied to the first reference resistance module 1 Calculating a reference voltage, applying a voltage to the second strain sensor circuit network to obtain a plurality of second voltage values applied to each of the plurality of second strain sensor modules and a second reference applied to the second reference resistance module
  • Calculating a voltage determining a deformation point and degree of deformation of the stretchable display in a first direction using the calculated plurality of first voltage values and the calculated first reference voltage, and the calculated pluralit
  • a current compensation system for a stretchable display using a strain sensor circuitry for solving the above problems is a stretchable display and a plurality of first strain sensors coupled to the stretchable display and connected in series in a first direction.
  • a first strain sensor network including a module, a second strain sensor network including a plurality of second strain sensor modules connected in series in a second direction, applying a voltage to the first strain sensor network and the second strain sensor network
  • a strain sensor network including a voltage source and a voltage measuring module for measuring a voltage value applied to each of the plurality of first strain sensor modules and the plurality of second strain sensor modules, and controlling the operation of the strain sensor network, Deformation points of the stretchable display and and a controller configured to determine a degree of deformation and to compensate current for the stretchable display based on the determined point and degree of deformation of the stretchable display.
  • the deformation sensor circuitry by coupling the deformation sensor circuitry to the backplane region of the stretchable display, it is possible not only to accurately determine the deformation point of the stretchable display, but also to accurately determine the degree of deformation of the deformation point, , By performing current compensation for the stretchable display based on this, there is an advantage in that problems (eg, luminance unevenness, etc.) of the conventional stretchable display can be solved.
  • FIGS. 1 to 3 are diagrams illustrating a current compensation system of a stretchable display using a deformation sensor circuit according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a first strain sensor circuitry, in various embodiments.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a second strain sensor circuitry, in various embodiments.
  • 6 and 7 are diagrams illustrating a change in resistance value according to a change in length of a unit strain sensor applicable to various embodiments and a change in voltage drop accordingly.
  • FIG. 8 is a diagram exemplarily illustrating a coupling form of a strain sensor circuitry and a stretchable display in various embodiments.
  • FIG. 9 is a flowchart of a method for determining a deformation point of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a flowchart of a method for determining a degree of deformation of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • 11 to 15 are views illustrating a process of calculating a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display according to various embodiments.
  • 16 to 20 illustratively illustrate simulation results of a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display in various embodiments.
  • 21 is a hardware configuration diagram of a controller performing a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • unit or “module” used in the specification means a hardware component such as software, FPGA or ASIC, and "unit” or “module” performs certain roles. However, “unit” or “module” is not meant to be limited to software or hardware.
  • a “unit” or “module” may be configured to reside in an addressable storage medium and may be configured to reproduce one or more processors.
  • a “unit” or “module” may refer to components such as software components, object-oriented software components, class components, and task components, processes, functions, properties, procedures, subroutines, segments of program code, drivers, firmware, microcode, circuitry, data, databases, data structures, tables, arrays and variables. Functions provided within components and “units” or “modules” may be combined into smaller numbers of components and “units” or “modules” or may be combined into additional components and “units” or “modules”. can be further separated.
  • spatially relative terms “below”, “beneath”, “lower”, “above”, “upper”, etc. It can be used to easily describe a component's correlation with other components. Spatially relative terms should be understood as including different orientations of elements in use or operation in addition to the orientations shown in the drawings. For example, if you flip a component that is shown in a drawing, a component described as “below” or “beneath” another component will be placed “above” the other component. can Thus, the exemplary term “below” may include directions of both below and above. Components may also be oriented in other orientations, and thus spatially relative terms may be interpreted according to orientation.
  • a computer means any kind of hardware device including at least one processor, and may be understood as encompassing a software configuration operating in a corresponding hardware device according to an embodiment.
  • a computer may be understood as including a smartphone, a tablet PC, a desktop computer, a laptop computer, and user clients and applications running on each device, but is not limited thereto.
  • each step described in this specification is described as being performed by a computer, the subject of each step is not limited thereto, and at least a part of each step may be performed in different devices according to embodiments.
  • FIGS. 6 and 7 show a change in resistance value according to a change in length of a unit strain sensor applicable to various embodiments and a change in voltage drop accordingly.
  • 8 is a diagram exemplarily illustrating a combination form of a deformation sensor circuit and a stretchable display in various embodiments.
  • a current compensation system for a stretchable display using a strain sensor circuitry may include a stretchable display 10, a strain sensor circuitry 100, and a controller 200. there is.
  • the stretchable display using the deformation sensor circuit shown in FIGS. 1 to 8 is according to an embodiment, and its components are not limited to the embodiment shown in FIGS. 1 to 8, and additional, if necessary, may be changed or deleted.
  • strain sensor circuitry 100 may include first strain sensor circuitry 110 and second strain sensor circuitry 120 .
  • the first strain sensor circuitry 110 includes a plurality of first strain sensor modules 111, a first reference resistance module 112, and a first voltage source, as shown in FIG. (Voltage source) 113 and a first voltage measuring module (Sensing Unit) 114 may be included.
  • the plurality of first strain sensor modules 111 may be serially connected to each other in a first direction.
  • the first direction may mean an x-axis direction, in particular, a positive x-axis direction based on a two-dimensional coordinate system (screen coordinate system), but is not limited thereto.
  • each first strain sensor module 111 connects a first direction node to the other first strain sensor modules 111. may be generated, and each node in the first direction generated in this way may be used as a coordinate value of the first direction, that is, an x-axis coordinate value.
  • the plurality of first strain sensor modules 111 may include a plurality of unit strain sensors, as shown in FIG. 4 , and may have a structure in which a plurality of unit strain sensors are connected in parallel.
  • the number of unit strain sensors included in each of the plurality of first strain sensor modules 111 and the resistance value of each unit strain sensor may be configured to be the same, but are not limited thereto, and the plurality of first strain sensors Resistance values of unit strain sensors included in each module 111 may have different values.
  • the unit strain sensor is a sensor used to detect length deformation of the stretchable display 10, and is a sensor using a change in resistance value according to the length deformation of the stretchable display 10 (eg, a piezoresistive sensor). ), strain gauge, etc.), but is not limited thereto.
  • the length of the unit strain sensor is deformed in response to the deformation of the length of the stretchable display 10 by an external force, and the resistance value of the unit strain sensor changes linearly in response to the deformation of the length of the unit strain sensor.
  • the degree of deformation of the unit strain sensor may be predicted based on the change in resistance of the unit strain sensor
  • the degree of deformation of the stretchable display 10 may be predicted based on the degree of deformation of the unit strain sensor.
  • FIGS. 6 and 7 when an external force is applied to a unit strain sensor between a x 2 node and a x 3 node among a plurality of unit strain sensors having the same resistance value, the resistance is corresponding to the deformation of the length. It can be seen that the value increases linearly and the voltage drop increases as the resistance value increases, and through this, the deformation point and degree of deformation can be predicted.
  • the first reference resistance module 112 serves as a reference for detecting a change in the resistance value of the plurality of first strain sensor modules 111, and has a fixed resistance value regardless of the deformation of the stretchable display 10. It may be implemented in a form including a unit reference resistance of At this time, the plurality of unit reference resistances included in the first reference resistance module 112 may also be connected in parallel, and the same number of resistances as the number of the plurality of unit strain sensors included in the plurality of first strain sensor modules 111 It may include, but is not limited to.
  • the first strain sensor circuit 110 is a separate first reference resistance module 112 as shown in FIG. 2 for the purpose of detecting a change in resistance value for the plurality of first strain sensor modules 111 It has been described as being connected to at least one first strain sensor module 111 among a plurality of first strain sensor modules 111, but is not limited thereto, and the first strain sensor circuit 110 is shown in FIG. 3 As described above, the first reference resistance module 112 is not separately provided, and the first resistance module 112 is not affected by the change of the stretchable display 10 or is disposed at a position where the influence of the change of the stretchable display 10 is small.
  • the deformation sensor module 111 may be set as a reference resistance module.
  • the deformation sensor module 111 may be set as a reference resistance module.
  • the first deformation sensor module 111 having this minimum value may be set as a reference resistance module.
  • the first voltage source 113 is electrically connected to the first strain sensor network 110, and the plurality of first strain sensor modules 111 and the first reference resistance module 112 included in the first strain sensor network 110 ) voltage can be applied.
  • the first voltage measuring module 114 applies the voltage to the plurality of first direction nodes as the voltage is applied to the plurality of first strain sensor modules 111 and the first reference resistance module 112 through the first voltage source 113 node voltage can be measured.
  • the plurality of nodes in the first direction refer to nodes generated at locations where each module is connected as the plurality of first strain sensor modules 111 and the first reference resistance module 112 are serially connected in the first direction. It can, but is not limited to this.
  • the second strain sensor circuitry 120 includes a plurality of second strain sensor modules 121, a second reference resistance module 122, a second voltage source 123, and a second strain sensor module 123, as shown in FIG. 2 voltage measurement module 124 may be included.
  • the plurality of second deformation sensor modules 121 may be connected in series to each other in the second direction.
  • the second direction may mean a y-axis direction, in particular, a positive y-axis direction based on a two-dimensional coordinate system (screen coordinate system), but is not limited thereto.
  • each second strain sensor module 121 connects a second direction node to the other second strain sensor modules 121. and each node in the second direction generated in this way can be used as a coordinate value in the second direction, that is, a y-axis coordinate value.
  • the plurality of second strain sensor modules 121 may include a plurality of unit strain sensors as shown in FIG. 5 , and may have a structure in which a plurality of unit strain sensors are connected in parallel.
  • the plurality of second strain sensor modules 121 and the configuration, structure, and properties of the plurality of unit strain sensors included in each of the plurality of second strain sensor modules 121 are the plurality of first strain sensor modules in FIG. 4 ( 111) and a plurality of unit strain sensors included in each of the plurality of first strain sensor modules 111, but may be implemented in the same way, but is not limited thereto.
  • the second reference resistance module 122 serves as a reference for detecting a change in the resistance value of the plurality of second strain sensor modules 121, and has a fixed resistance value regardless of the deformation of the stretchable display 10. It may be implemented in a form including a unit reference resistance of At this time, the plurality of unit reference resistances included in the second reference resistance module 122 may also be connected in parallel, and the same number of resistances as the number of the plurality of unit strain sensors included in the plurality of second strain sensor modules 121 It may include, but is not limited to.
  • the second strain sensor circuit 120 is a separate second reference resistance module 122 as shown in FIG. 2 for the purpose of sensing a change in resistance value for the plurality of second strain sensor modules 121 It has been described as being connected to at least one second strain sensor module 121 among a plurality of second strain sensor modules 121, but is not limited thereto, and the second strain sensor network 120 is shown in FIG. 3 As described above, the second reference resistance module 122 is not separately provided, and the second is disposed at a position that is not affected by changes in the stretchable display 10 or is less affected by changes in the stretchable display 10.
  • the deformation sensor module 121 may be set as a reference resistance module.
  • the deformation sensor module 121 may be set as a reference resistance module.
  • the second strain sensor module 121 may be set as a reference resistance module.
  • the second voltage source 123 is electrically connected to the second strain sensor network 120, and the plurality of second strain sensor modules 121 and the second reference resistance module 122 included in the second strain sensor network 120 ) voltage can be applied.
  • the second voltage measurement module 124 applies voltage to the plurality of second direction nodes as the voltage is applied to the plurality of second strain sensor modules 121 and the first reference resistance module 122 through the first voltage source 123 node voltage can be measured.
  • the plurality of nodes in the second direction refer to nodes generated at locations where respective modules are connected as the plurality of second strain sensor modules 121 and the second reference resistance module 122 are serially connected in the second direction. It can, but is not limited to this.
  • the first strain sensor network 110 and the second strain sensor network 120 are different only in the direction of arrangement, and the first strain sensor network 110 and the second strain sensor network 110 differ from each other.
  • Components included in the circuitry 120, shapes (or arrangements) and properties of the components may all be the same, but are not limited thereto.
  • the strain sensor circuitry 100 is inserted into a backplane active region of the stretchable display 10 to form a TFT (Thin Film Transistor) of the stretchable display 10 including a plurality of pixel regions of a lattice structure. ) may be combined with the circuitry 11.
  • TFT Thin Film Transistor
  • the strain sensor circuitry 100 may be combined with the circuitry 11.
  • a plurality of first strain sensor modules 111 and a plurality of second strain sensor modules 121 cross each other.
  • the stretchable display 10 may be disposed and combined with the second strain sensor circuitry 120 to form a lattice structure, and each of a plurality of lattice points generated as the lattice structure is formed is correspondingly positioned in a plurality of pixel areas. It can be combined with the TFT (Thin Film Transistor) circuitry 11.
  • TFT Thin Film Transistor
  • the controller 200 may control the operation of components included in the deformation sensor circuitry 100.
  • the controller 200 applies a voltage to the first strain sensor network 110 and the second strain sensor network 120, so that the plurality of first strain sensor modules 111 and the plurality of second strain sensor modules 121 ), a deformation point and a degree of deformation of the stretchable display 10 may be determined using voltage values applied to each of the voltage values.
  • controller 200 may perform current compensation on the stretchable display 10 based on the determined deformation point and degree of deformation of the stretchable display 10 .
  • the controller 200 may be a control module included in the stretchable display driving system to control the operation of the stretchable display 10, but is not limited thereto, and calculates the deformation point and degree of deformation of the stretchable display 10.
  • it may be an external server provided separately outside the stretchable display 10 or a control module itself provided in the deformation sensor circuit 100, but is not limited thereto.
  • FIGS. 9 to 15 a method for determining a deformation point and degree of deformation of the stretchable display 10 and a current compensation method performed through the current compensation system of the stretchable display 10 using the deformation sensor circuit will be described. do.
  • FIG. 9 is a flowchart of a method for determining a deformation point of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • step S110 the controller 200 may calculate a plurality of first voltage values.
  • the controller 200 controls the first voltage source 113 included in the first strain sensor network 110 as shown in FIG. 12 to a plurality of first strains included in the first strain sensor network 110.
  • a voltage may be applied to the sensor module 111 and the first reference resistance module 112 .
  • the controller 200 controls the first voltage measurement module 114 to generate a plurality of first deformation sensor modules 111 and a first reference resistance module 112 connected in series in a first direction. It is possible to measure a plurality of node voltages (V(x 1 ), V(x 2 ), V(x N ) and V(x ref )) applied to each of the nodes in the first direction of and use a plurality of node voltages It is possible to calculate the voltage drop between two mutually adjacent first-direction nodes among the plurality of first-direction nodes (eg, V(x i ) - V(x i+1 )), and use the calculated voltage drop to calculate a plurality of first-direction nodes.
  • a plurality of first voltage values applied to each of the first deformation sensor modules 111 and a first reference voltage applied to the first reference resistance module 112 may be calculated.
  • the controller 200 calculates the difference between the two node voltages applied to the two first direction nodes located at both ends of each of the plurality of first strain sensor modules 111, thereby calculating the plurality of first strain sensor modules.
  • a plurality of first voltage values applied to (111) can be calculated, and a difference between two node voltages applied to two first direction nodes located at both ends of the first reference resistance module 112 is calculated. 1
  • a first reference voltage applied to the reference resistance module 112 may be calculated.
  • the controller 200 when there is no first reference resistance module 112 separately connected to the plurality of first strain sensor modules 111, the plurality of first strain sensor modules 111 according to the above method It is possible to calculate a plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first deformation sensor modules 111, respectively, and is located at the foremost end in the first direction among the plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first deformation sensor modules 111.
  • the first voltage value of the module 111 or the first voltage value of the first deformation sensor module 111 located at the last end may be set as the first reference voltage.
  • the controller 200 determines a predetermined value for each of the plurality of first strain sensor modules 111 when there is no first reference resistance module 112 separately connected to the plurality of first strain sensor modules 111.
  • the amount of change in resistance value during the period may be calculated, and based on the amount of change in resistance value calculated, one of the first deformation sensor modules 111 having a minimum value in the amount of change in resistance value may be set as the first reference resistance module.
  • the controller 200 may calculate a plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first strain sensor modules 111 according to the above method, and each of the plurality of first strain sensor modules 111 Among the plurality of applied first voltage values, a first voltage value applied to the first deformation sensor module 111 set as the first reference resistance module may be set as the first reference voltage.
  • step S120 the controller 200 may calculate a plurality of second voltage values.
  • the controller 200 controls the first voltage source 123 included in the second strain sensor network 120 as shown in FIG. 14 to form a plurality of second strains included in the second strain sensor network 120.
  • a voltage may be applied to the sensor module 121 and the second reference resistance module 122 .
  • the controller 200 controls the second voltage measurement module 124 to generate a plurality of second deformation sensor modules 121 and a plurality of second reference resistance modules 122 connected in series in the second direction. It is possible to measure a plurality of node voltages (V (y 1 ), V (y 2 ), V (y N ) and V (y ref )) applied to each of the nodes in the second direction of the, and use a plurality of node voltages It is possible to calculate the voltage drop between two mutually adjacent first direction nodes among the plurality of second direction nodes (eg, V(y i ) - V(y i + 1 )), and use the calculated voltage drop to calculate the voltage drop between the two mutually adjacent first direction nodes.
  • V (y 1 ), V (y 2 ), V (y N ) and V (y ref ) applied to each of the nodes in the second direction of the
  • a plurality of second voltage values applied to each of the second deformation sensor modules 121 and a second reference voltage applied to the second reference resistance module 122 may be calculated.
  • the controller 200 calculates the difference between the two node voltages applied to the two second direction nodes located at both ends of each of the plurality of second strain sensor modules 121, and calculates the plurality of second strain sensor modules.
  • a plurality of second voltage values applied to 121 may be calculated, and a difference between two node voltages applied to two second direction nodes located at both ends of the second reference resistance module 122 may be calculated.
  • a second reference voltage applied to the second reference resistance module 122 may be calculated.
  • the controller 200 does not have the second reference resistance module 122 separately connected to the plurality of second strain sensor modules 121, the plurality of second strain sensor modules 121 according to the above method.
  • a second strain sensor that can calculate a plurality of second voltage values applied to each of the plurality of second strain sensor modules 121 and is located at the foremost end in the second direction among a plurality of second voltage values applied to each of the plurality of second strain sensor modules 121
  • the second voltage value of the module 121 or the second voltage value of the second distortion sensor module 121 positioned at the last end may be set as the second reference voltage.
  • the controller 200 determines a predetermined value for each of the plurality of second strain sensor modules 121 when there is no second reference resistance module 122 separately connected to the plurality of second strain sensor modules 121. It is possible to calculate the amount of change in the resistance value during the period, and based on the calculated amount of change in the resistance value, any one second strain sensor module 121 having a minimum value in the amount of change in the resistance value may be set as the first reference resistance module.
  • the controller 200 may calculate a plurality of second voltage values applied to each of the plurality of second strain sensor modules 121 according to the above method, and each of the plurality of second strain sensor modules 121 Among the plurality of applied second voltage values, a second voltage value applied to the first deformation sensor module 121 set as the second reference resistance module may be set as the second reference voltage.
  • step S130 the controller 200 uses the plurality of first voltage values and the first reference voltage calculated through step S110 and the plurality of second voltage values and the second reference voltage calculated through step S120 to display the stretchable display.
  • the deformation point of (10) can be determined.
  • the controller 200 determines coordinate values in a first direction with respect to a deformation point of the stretchable display 10 using a plurality of first voltage values and a first reference voltage. can decide
  • the resistance value of the first strain sensor module 111 positioned at the deformed point increases, and accordingly, the first strain sensor module 111 positioned at the deformed point ), that is, the magnitude of the first voltage value applied to the first strain sensor module 111 located at the deformed point increases.
  • the controller 200 compares the plurality of first voltage values and the first reference voltage, so that the first strain sensor module 111 to which the first voltage value having a value greater than the first reference voltage is applied It may be determined that deformation of the stretchable display 10 has occurred at the disposed position, and a first direction node (eg, the first deformation sensor module 111 corresponding to the first deformation sensor module 111 in which deformation is determined to have occurred) ) may be determined as coordinate values (x-axis coordinate values) of the first direction with respect to the deformation point of the stretchable display 10 .
  • a first direction node eg, the first deformation sensor module 111 corresponding to the first deformation sensor module 111 in which deformation is determined to have occurred
  • the controller 200 calculates coordinate values in the second direction of the deformation point of the stretchable display 10 using a plurality of second voltage values and a second reference voltage. can decide
  • the controller 200 has a plurality of second By comparing the voltage value and the second reference voltage, it is determined that the deformation of the stretchable display 10 has occurred at the location where the second strain sensor module 121 to which the second voltage value having a value greater than the second reference voltage is applied is disposed.
  • a second direction node eg, two second direction nodes located at both ends of the second strain sensor module 121 corresponding to the second strain sensor module 121 for which deformation is determined to have occurred is displayed on the stretchable display. It can be determined as the coordinate value (y-axis coordinate value) of the second direction with respect to the deformation point of (10).
  • step S140 the controller 200 may perform current compensation on the deformation point of the stretchable display 10 determined through step S130.
  • the controller 200 may determine an area in the stretchable display 10 requiring current compensation based on the deformation point of the stretchable display 10 determined through step S130.
  • the controller 200 performs an operation for calculating the degree of deformation of the stretchable display (eg, step S230 of FIG. 10 ) based on pre-stored current compensation value data for each degree of deformation.
  • a current compensation value corresponding to the calculated deformation degree of the stretchable display 10 may be determined, and a plurality of lattice points (first strain sensor network 110 and second strain sensor network) may be determined based on the determined current compensation value. (120) in the area of the stretchable display 10 corresponding to the lattice point corresponding to the deformation point of the stretchable display 10 (for example, the pixel area of the TFT circuitry 11) current compensation can be performed.
  • FIG. 10 is a flowchart of a method for determining a degree of deformation of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • the controller 200 may calculate a plurality of first voltage values.
  • the method of calculating the plurality of first voltage values may be implemented in the same or similar form as the method of calculating the plurality of first voltage values performed through step S110 of FIG. 9 , but is not limited thereto.
  • step S220 the controller 200 may calculate a plurality of second voltage values.
  • the method of calculating the plurality of second voltage values may be implemented in the same or similar form as the method of calculating the plurality of second voltage values performed through step S120 of FIG. 9 , but is not limited thereto.
  • step S230 the controller 200 may determine the degree of deformation of the deformation point of the stretchable display 10 (eg, the deformation point calculated through step S130 of FIG. 9 ).
  • the controller 200 compares the first reference voltage applied to the first reference resistance module 112 with at least one of the plurality of first deformation sensor modules 111 disposed at the deformation point of the stretchable display 10.
  • a first ratio of the first voltage value applied to the first deformation sensor module 111 may be calculated, and the calculated first ratio may be determined as a degree of deformation of the stretchable display 10 in the first direction.
  • the controller 200 divides a first voltage value applied to at least one first strain sensor module 111 disposed at a deformation point of the stretchable display 10 by a first reference voltage, so that the stretchable display ( 10), the degree of deformation in the first direction (degree of deformation in the x-axis direction) can be calculated.
  • the controller 200 compares the second reference voltage applied to the second reference resistance module 122 with at least one of the plurality of second deformation sensor modules 121 disposed at the deformation point of the stretchable display 10.
  • a second ratio of the second voltage value applied to the second deformation sensor module 121 may be calculated, and the calculated second ratio may be determined as a degree of deformation of the stretchable display 10 in the second direction.
  • the controller 200 divides the second voltage value applied to the at least one second strain sensor module 121 disposed at the deformation point of the stretchable display 10 by the second reference voltage, so that the stretchable display ( 10), the degree of deformation in the second direction (the degree of deformation in the y-axis direction) can be calculated.
  • step S240 the controller 200 performs current compensation for the stretchable display 10 based on the deformation point calculated through step S130 of FIG. 9 and the degree of deformation of the stretchable display 10 determined through step S230.
  • the controller 200 may determine a current compensation value corresponding to the deformation degree of the stretchable display 10 based on pre-stored current compensation value data for each deformation degree, as shown in FIG. 15, Corresponds to a deformation point of the stretchable display 10 among a plurality of lattice points (a plurality of intersection points generated as the first strain sensor network 110 and the second strain sensor network 120 intersect) based on the determined current compensation value Current compensation may be performed for an area of the stretchable display 10 (eg, a pixel area of the TFT circuitry 11) corresponding to the lattice point of the pixel.
  • simulation results of a method for determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display 10 will be described with reference to FIGS. 16 to 20 .
  • 16 to 20 illustratively illustrate simulation results of a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display according to various embodiments.
  • each of the eight first strain sensor modules 111 includes eight unit strain sensors having the same size (eg, 1 ⁇ ), or the first strain sensor network 110 includes seven first strain sensors It includes a strain sensor module 111 and one first reference resistance module 112, and each of the seven first strain sensor modules 111 includes eight unit strain sensors having the same size (eg, 1 ⁇ ) It is assumed that one first reference resistance module 112 includes eight unit resistances having the same size (eg, 1 ⁇ ).
  • the deformation points of the stretchable display 10 are (3, 3), (4, 3), and (5) where coordinate values in the first direction are 3, 4, 5, and 6 and coordinate values in the second direction are 3, respectively. , 3) and (6, 3) points, and it is assumed that the degree of deformation of the three first deformation sensor modules 111 located at the deformation point is 2 ⁇ , 4 ⁇ , and 2 ⁇ , respectively.
  • each of the plurality of first voltage values is 0.1517, 0.1518, 0.1619, 0.1675, 0.1619, 0.1518, and 0.1518 V, and compared with the first reference voltage (0.1518 V), the first voltage values having a larger value than the first reference voltage are 0.1619, 0.1675, and 0.1619 V.
  • the first strain sensor module 111 to which the first voltage value of 0.1619, 0.1675, and 0.1619 V having a value greater than the first reference voltage is applied is a total of three, and the three first strain sensor modules 111
  • the corresponding first direction nodes are 3 and 4, 4 and 5, 5 and 6, that is, 3, 4, 5 and 6 Able to know.
  • the coordinate values in the first direction of the deformation point of the stretchable display 10 extracted by comparing the plurality of first voltage values with the first reference voltage are 3, 4, 5, and 6, respectively, which are necessary to perform the simulation. It can be seen that the coordinate values of the first direction with respect to the deformation point of the stretchable display 10 are accurately extracted as the same as the assumptions made above.
  • the first voltage values (0.1619, 0.1675, and 0.1619 V) of each of the three first deformation sensor modules 111 located at the deformation point of the stretchable display 10 are set to the first reference voltage ( 0.1518 V), it can be seen that the degree of deformation of the stretchable display 10 in the first direction is 1.067, 1.103, and 1.067, respectively.
  • the degree of deformation of the stretchable display 10 is a measure indicating how much the stretchable display 10 is stretched. That is, as the stretchable display 10 increases, the resistance value of the deformation sensor module increases.
  • the degree of deformation of the stretchable display 10 refers to how much the resistance value of the deformation sensor module increases compared to the resistance value of the reference resistance module. It means.
  • the stretchable display 10 increases as described above, when one unit strain sensor included in the specific first strain sensor module 111 increases from 1 ⁇ to 2 ⁇ , the specific first strain sensor module ( 111) increases from 0.125 ⁇ to 0.133 ⁇ , and when calculated numerically, it can be seen that the increase is about 1.067 times.
  • the total resistance value of the specific first strain sensor module 111 increases from 0.125 ⁇ to 0.138 ⁇ .
  • the increase is about 1.103 times.
  • the degree of deformation in the first direction of the stretchable display 10 calculated by dividing the first voltage value of the first deformation sensor module 111 located at the deformation point of the stretchable display 10 by the first reference voltage is It can be seen that the degree of deformation in the first direction with respect to the deformation point of the stretchable display 10 is accurately extracted because it is the same as the amount of change in the resistance value according to the assumptions prior to performing the simulation.
  • a method for determining the deformation point and degree of deformation of the stretchable display using the above-described deformation sensor circuitry has been described with reference to the flow chart shown in the drawings.
  • the method for determining the deformation point and degree of deformation of a stretchable display using a deformation sensor circuitry has been illustrated and described as a series of blocks, but the present invention is not limited to the order of the blocks, and some blocks are shown herein. It may be performed in a different order or concurrently with the procedures performed. In addition, new blocks not described in the present specification and drawings may be added, or some blocks may be deleted or changed.
  • FIG. 21 the hardware configuration of the controller 200 that performs the method of determining the deformation point and degree of deformation of a stretchable display using a deformation sensor circuit will be described.
  • 21 is a hardware configuration diagram of a controller performing a method for determining a deformation point and a degree of deformation of a stretchable display according to another embodiment of the present invention.
  • the controller 200 includes one or more processors 210, a memory 220 that loads a computer program 251 executed by the processor 210, and a bus 230. ), a communication interface 240 and a storage 250 for storing the computer program 251.
  • processors 210 the controller 200 includes one or more processors 210, a memory 220 that loads a computer program 251 executed by the processor 210, and a bus 230.
  • a communication interface 240 for storing the computer program 251.
  • FIG. 21 only components related to the embodiment of the present invention are shown. Therefore, those skilled in the art to which the present invention pertains can know that other general-purpose components may be further included in addition to the components shown in FIG. 21 .
  • the processor 210 controls the overall operation of each component of the controller 200.
  • the processor 210 includes a Central Processing Unit (CPU), a Micro Processor Unit (MPU), a Micro Controller Unit (MCU), a Graphic Processing Unit (GPU), or any type of processor well known in the art. It can be.
  • CPU Central Processing Unit
  • MPU Micro Processor Unit
  • MCU Micro Controller Unit
  • GPU Graphic Processing Unit
  • the processor 210 may perform an operation for at least one application or program for executing a method according to embodiments of the present invention
  • the controller 200 may include one or more processors.
  • the processor 210 may temporarily and/or permanently store signals (or data) processed in the processor 210 (RAM: Random Access Memory, not shown) and ROM (ROM: Read -Only Memory, not shown) may be further included.
  • the processor 210 may be implemented in the form of a system on chip (SoC) including at least one of a graphics processing unit, RAM, and ROM.
  • SoC system on chip
  • Memory 220 stores various data, commands and/or information. Memory 220 may load computer program 251 from storage 250 to execute methods/operations according to various embodiments of the present invention. When the computer program 251 is loaded into the memory 220, the processor 210 may perform the method/operation by executing one or more instructions constituting the computer program 251.
  • the memory 220 may be implemented as a volatile memory such as RAM, but the technical scope of the present disclosure is not limited thereto.
  • the bus 230 provides a communication function between components of the controller 200 .
  • the bus 230 may be implemented as various types of buses such as an address bus, a data bus, and a control bus.
  • the communication interface 240 supports wired and wireless Internet communication of the controller 200 . Also, the communication interface 240 may support various communication methods other than internet communication. To this end, the communication interface 240 may include a communication module well known in the art. In some embodiments, communication interface 240 may be omitted.
  • the storage 250 may non-temporarily store the computer program 251 .
  • the storage 250 provides the process of calculating the deformation point and degree of deformation of the stretchable display using the strain sensor circuitry. It can store various kinds of necessary information.
  • the storage 250 may be a non-volatile memory such as read only memory (ROM), erasable programmable ROM (EPROM), electrically erasable programmable ROM (EEPROM), flash memory, or the like, a hard disk, a removable disk, or a device well known in the art. It may be configured to include any known type of computer-readable recording medium.
  • ROM read only memory
  • EPROM erasable programmable ROM
  • EEPROM electrically erasable programmable ROM
  • flash memory or the like, a hard disk, a removable disk, or a device well known in the art. It may be configured to include any known type of computer-readable recording medium.
  • Computer program 251 may include one or more instructions that, when loaded into memory 220, cause processor 210 to perform methods/operations in accordance with various embodiments of the invention. That is, the processor 210 may perform the method/operation according to various embodiments of the present disclosure by executing the one or more instructions.
  • the computer program 251 calculates a plurality of first voltage values applied to each of the plurality of first strain sensor modules by applying a voltage to the first strain sensor circuitry, voltage to the second strain sensor circuitry Calculating a plurality of second voltage values applied to each of a plurality of second strain sensor modules by applying and using the calculated plurality of first voltage values and the calculated plurality of second voltage values to deform points of the stretchable display and one or more instructions for performing a method for determining a deformation point and a deformation degree of a stretchable display using a deformation sensor circuit, which includes determining a deformation degree.
  • Steps of a method or algorithm described in connection with an embodiment of the present invention may be implemented directly in hardware, implemented in a software module executed by hardware, or implemented by a combination thereof.
  • a software module may include random access memory (RAM), read only memory (ROM), erasable programmable ROM (EPROM), electrically erasable programmable ROM (EEPROM), flash memory, hard disk, removable disk, CD-ROM, or It may reside in any form of computer readable recording medium well known in the art to which the present invention pertains.
  • Components of the present invention may be implemented as a program (or application) to be executed in combination with a computer, which is hardware, and stored in a medium.
  • Components of the present invention may be implemented as software programming or software elements, and similarly, embodiments may include various algorithms implemented as data structures, processes, routines, or combinations of other programming constructs, such as C, C++ , Java (Java), can be implemented in a programming or scripting language such as assembler (assembler). Functional aspects may be implemented in an algorithm running on one or more processors.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

본 발명의 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 신축성 디스플레이와 결합되는 변형 센서 회로망은, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하며, 제1 변형 센서 회로망 및 제2 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도가 결정되는 것을 특징으로 하고, 신축성 디스플레이의 전류를 보상할 수 있다.

Description

변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템
본 발명의 다양한 실시예는 변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템에 관한 것이다.
컴퓨터의 모니터나 TV, 핸드폰 등에 사용되는 표시 장치에는 스스로 광을 발광하는 유기 발광 디스플레이(Organic Light Emitting Display; OLED) 등과 별도의 광원을 필요로 하는 액정 디스플레이(Liquid CrystalDisplay; LCD)등이 있다.
디스플레이는 컴퓨터의 모니터 및 TV 뿐만 아니라 개인 휴대 기기까지 그 적용 범위가 다양해지고 있으며, 넓은 표시 면적을 가지면서도 감소된 부피 및 무게를 갖는 표시 장치에 대한 연구가 진행되고 있다.
최근 디스플레이 관련 기술의 발달과 함께, 플렉서블(flexible) 소재인 플라스틱 등과 같이 유연성 있는 기판에 표시부, 배선 등을 형성하여, 접거나 롤(Roll) 형상으로 말거나 적어도 한 방향으로 신축성이 있는 등, 사용 단계에서 변형 가능한 신축성 디스플레이(Stretchable display)들이 연구 및 개발되고 있다.
이러한 신축성 디스플레이는 다양한 형태로 변형 가능하기 때문에, 사용 단계에서의 디스플레이의 대형화 요구와 휴대를 위한 디스플레이의 소형화의 요구를 모두 만족시킬 수 있다는 이점이 있다.
그러나, 신축성 디스플레이에서는 스트레쳐블 표시 패널의 사이즈가 신축성과 탄력성을 바탕으로 변하게 되는 경우, 스트레쳐블 표시 패널에 구비된 화소들의 구조가 변형될 수 있다.
이에, 화소들 내부에 있는 전극들에 저항 변화가 야기될 수 있고, 화소들 내부에 있는 박막 트랜지스터들에 특성 변화(예를 들어, 문턱 전압 변화, 이동도 변화 등)가 야기될 수 있으며, 그 결과, 신축성 디스플레이에서는 스트레쳐블 표시 패널의 사이즈가 변할 때, 화소들 내부에 흐르는 전류에 변화가 생겨 스트레쳐블 표시 패널에 휘도 불균일(예를 들어, 휘도 얼룩 등)이 발생될 수 있다는 문제가 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 상술된 종래의 신축성 디스플레이의 문제점을 해소하기 위한 목적으로, 변형 센서 회로망을 신축성 디스플레이의 백플레인(Backplane) 영역에 결합함으로써, 신축 디스플레이의 변형 지점을 정확하게 결정할 수 있을 뿐만 아니라, 변형 지점에 대한 변형 정도까지 정확하게 결정이 가능하며, 이를 토대로 신축성 디스플레이에 대한 전류 보상을 수행함으로써, 종래의 신축성 디스플레이가 가지는 문제점(예: 휘도 분균일 등)을 해소할 수 있는 변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망은, 신축성 디스플레이의 변형 지점과 변형 정도를 결정하기 위하여, 상기 신축성 디스플레이와 결합되는 변형 센서 회로망에 있어서, 상기 변형 센서 회로망은, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하며, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도가 결정될 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각은, 병렬 연결된 복수의 단위 변형 센서를 포함하며, 상기 복수의 단위 변형 센서 각각은 동일한 저항값을 가질 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각은, 병렬 연결된 복수의 단위 변형 센서를 포함하며, 상기 복수의 단위 변형 센서 각각은 상호 상이한 저항값을 가질 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 신축성 디스플레이는, 격자 구조의 복수의 픽셀 영역을 포함하는 TFT(Thin Film Transistor) 회로망을 포함하며, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 교차 배치되어 격자 구조를 형성하도록 상기 제2 변형 센서 회로망과 결합되고, 상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성되는 복수의 격자점 각각이 상기 복수의 픽셀 영역 내에 각각 대응하여 위치하도록 상기 신축성 디스플레이와 결합될 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 더 포함하고, 상기 제2 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 더 포함하며, 상기 제1 기준 저항 모듈 및 상기 제2 기준 저항 모듈 각각은, 병렬 연결된 복수의 단위 기준 저항 - 상기 복수의 단위 기준 저항은, 상기 신축성 디스플레이의 변형과 관계없이 고정된 저항값을 가지는 것임 - 을 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 소정 기간 동안의 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제1 변형 센서 모듈을 제1 기준 저항 모듈로 설정하며, 상기 제2 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 소정 기간 동안의 저항값 변화량이 가장 작은 어느 하나의 제2 변형 센서 모듈을 제2 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 변형 센서 회로망은, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망 각각에 전압을 인가하는 전압원 및 상기 전압원을 통해 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망 각각에 전압을 인가함에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 측정하는 전압 측정 모듈을 더 포함할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망은 신축성 디스플레이의 변형 지점과 변형 정도를 결정하기 위하여, 상기 신축성 디스플레이와 결합되는 변형 센서 회로망에 있어서, 상기 변형 센서 회로망은, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하며, 상기 제1 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 제1 기준 저항 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하고, 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 및 상기 제2 기준 저항 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제2 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법에 있어서, 상기 제1 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계, 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계 및 상기 산출된 복수의 제1 전압값 및 상기 산출된 복수의 제2 전압값을 이용하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 포함하며, 상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 기준 저항 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계 및 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값과 상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제1 전압값 중 상기 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제2 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 포함하며, 상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 기준 저항 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계 및 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값과 상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제2 전압값 중 상기 제2 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하고, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하며, 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계를 포함하며, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제1 전압값 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하고, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하며, 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계를 포함하며, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제2 전압값 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는, 소정 기간 동안의 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각의 저항값 변화량에 기초하여, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 상기 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제1 변형 센서 모듈을 제1 기준 센서 모듈로 설정하는 단계, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 설정된 제1 기준 저항 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두 개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계 및 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값과 상기 설정된 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제1 전압값 중 상기 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는, 소정 기간 동안의 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각의 저항값 변화량에 기초하여, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 상기 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제2 변형 센서 모듈을 제2 기준 센서 모듈로 설정하는 단계, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈과 상기 설정된 제2 기준 저항 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두 개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계 및 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값과 상기 설정된 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제2 전압값 중 상기 제2 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 포함하며, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압 대비 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값의 비율을 산출하는 단계 및 상기 산출된 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제1 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 제2 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 포함하며, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압 대비 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값의 비율을 산출하는 단계 및 상기 산출된 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제2 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값 대비 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값의 제1 비율을 산출하고, 상기 산출된 제1 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제1 방향의 변형 정도로 결정하는 단계 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값 대비 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값의 제2 비율을 산출하고, 상기 산출된 제2 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제2 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다양한 실시예에서, 상기 신축성 디스플레이는, 격자 구조의 복수의 픽셀 영역을 포함하는 TFT(Thin Film Transistor) 회로망을 포함하고, 상기 제1 변형 센서 회로망은, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 교차 배치되어 격자 구조를 형성하도록 상기 제2 변형 센서 회로망과 결합되고, 상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성되는 복수의 격자점 각각이 상기 복수의 픽셀 영역 내에 각각 대응하여 위치하도록 상기 신축성 디스플레이와 결합되며, 상기 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은, 기 저장된 변형 정도별 전류 보상값 데이터에 기초하여, 상기 산출된 신축성 디스플레이의 변형 정도에 대응하는 전류 보상값을 결정하는 단계 및 상기 결정된 전류 보상값에 기초하여, 상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성된 복수의 격자점 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 대응되는 격자점에 대응되는 픽셀 영역에 대한 전류 보상을 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출방법에 있어서, 상기 제1 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값과 상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계, 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값과 상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계, 상기 산출된 복수의 제1 전압값 및 상기 산출된 제1 기준 전압을 이용하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계 및 상기 산출된 복수의 제2 전압값 및 상기 산출된 제2 기준 전압을 이용하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템은 신축성 디스플레이, 상기 신축성 디스플레이와 결합되며, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망, 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하는 전압원 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 측정하는 전압 측정 모듈을 포함하는 변형 센서 회로망 및 상기 변형 센서 회로망의 동작을 제어하고, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가함에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 이용하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하며, 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 전류 보상을 수행하는 컨트롤러를 포함할 수 있다.
본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 변형 센서 회로망을 신축성 디스플레이의 백플레인(Backplane) 영역에 결합함으로써, 신축 디스플레이의 변형 지점을 정확하게 결정할 수 있을 뿐만 아니라, 변형 지점에 대한 변형 정도까지 정확하게 결정이 가능하며, 이를 토대로 신축성 디스플레이에 대한 전류 보상을 수행함으로써, 종래의 신축성 디스플레이가 가지는 문제점(예: 휘도 분균일 등)을 해소할 수 있다는 이점이 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템을 도시한 도면이다.
도 4는 다양한 실시예에서, 제1 변형 센서 회로망을 도시한 도면이다.
도 5는 다양한 실시예에서, 제2 변형 센서 회로망을 도시한 도면이다.
도 6 및 도 7은 다양한 실시예에 적용 가능한 단위 변형 센서의 길이 변화에 따른 저항값 변화와 이에 따른 전압강하 변화를 도시한 도면이다.
도 8은 다양한 실시예에서, 변형 센서 회로망과 신축성 디스플레이의 결합 형태를 예시적으로 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 결정방법의 순서도이다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 정도 결정방법의 순서도이다.
도 11 내지 도 15는 다양한 실시예에서, 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출 과정을 도시한 도면이다.
도 16 내지 도 20은 다양한 실시예에서, 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 시뮬레이션한 결과를 예시적으로 도시한 도면이다.
도 21은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 수행하는 컨트롤러의 하드웨어 구성도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
명세서에서 사용되는 "부" 또는 “모듈”이라는 용어는 소프트웨어, FPGA 또는 ASIC과 같은 하드웨어 구성요소를 의미하며, "부" 또는 “모듈”은 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 "부" 또는 “모듈”은 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. "부" 또는 “모듈”은 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 "부" 또는 “모듈”은 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로 코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들 및 변수들을 포함한다. 구성요소들과 "부" 또는 “모듈”들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 "부" 또는 “모듈”들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 "부" 또는 “모듈”들로 더 분리될 수 있다.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 구성요소와 다른 구성요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 구성요소들의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들어, 도면에 도시되어 있는 구성요소를 뒤집을 경우, 다른 구성요소의 "아래(below)"또는 "아래(beneath)"로 기술된 구성요소는 다른 구성요소의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 구성요소는 다른 방향으로도 배향될 수 있으며, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
본 명세서에서, 컴퓨터는 적어도 하나의 프로세서를 포함하는 모든 종류의 하드웨어 장치를 의미하는 것이고, 실시 예에 따라 해당 하드웨어 장치에서 동작하는 소프트웨어적 구성도 포괄하는 의미로서 이해될 수 있다. 예를 들어, 컴퓨터는 스마트폰, 태블릿 PC, 데스크톱, 노트북 및 각 장치에서 구동되는 사용자 클라이언트 및 애플리케이션을 모두 포함하는 의미로서 이해될 수 있으며, 또한 이에 제한되는 것은 아니다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다.
본 명세서에서 설명되는 각 단계들은 컴퓨터에 의하여 수행되는 것으로 설명되나, 각 단계의 주체는 이에 제한되는 것은 아니며, 실시 예에 따라 각 단계들의 적어도 일부가 서로 다른 장치에서 수행될 수도 있다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템을 도시한 도면이고, 도 4는 다양한 실시예에서, 제1 변형 센서 회로망을 도시한 도면이며, 도 5는 다양한 실시예에서, 제2 변형 센서 회로망을 도시한 도면이고, 도 6 및 도 7은 다양한 실시예에 적용 가능한 단위 변형 센서의 길이 변화에 따른 저항값 변화와 이에 따른 전압강하 변화를 도시한 도면이며, 도 8은 다양한 실시예에서, 변형 센서 회로망과 신축성 디스플레이의 결합 형태를 예시적으로 도시한 도면이다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템은 신축성 디스플레이(10), 변형 센서 회로망(100) 및 컨트롤러(200)를 포함할 수 있다.
여기서, 도 1 내지 도 8에 도시된 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이는 일 실시예에 따른 것이고, 그 구성 요소가 도 1 내지 도 8에 도시된 실시예에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 부가, 변경 또는 삭제될 수 있다.
일 실시예에서, 변형 센서 회로망(100)은 제1 변형 센서 회로망(110) 및 제2 변형 센서 회로망(120)을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 변형 센서 회로망(110)은 도 4에 도시된 바와 같이, 복수의 제1 변형 센서 모듈(Strain sensor module)(111), 제1 기준 저항 모듈(112), 제1 전압원(Voltage source)(113) 및 제1 전압 측정 모듈(Sensing Unit)(114)를 포함할 수 있다.
복수의 제1 변형 센서 모듈(111)은 제1 방향으로 상호 직렬 연결될 수 있다. 여기서, 제1 방향은 2차원 좌표계(화면 좌표계)를 기준으로 x축 방향 특히, x축의 양의 방향을 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
즉, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)이 상호 직렬 연결됨에 따라, 각각의 제1 변형 센서 모듈(111)이 다른 제1 변형 센서 모듈(111)들과 연결되는 부분마다 제1 방향 노드를 생성할 수 있고, 이와 같이 생성된 제1 방향 노드 각각이 제1 방향의 좌표값 즉, x축 좌표값으로 활용될 수 있다.
다양한 실시예에서, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)은 도 4에 도시된 바와 같이 복수의 단위 변형 센서를 포함할 수 있고, 복수의 단위 변형 센서가 병렬 연결된 구조를 가질 수 있다. 여기서, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 포함된 단위 변형 센서의 개수와 각각의 단위 변형 센서의 저항값은 상호 동일하게 구성될 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 포함된 단위 변형 센서의 저항값은 상호 상이한 값을 가질 수 있다.
여기서, 단위 변형 센서는 신축성 디스플레이(10)의 길이 변형을 감지하기 위하여 사용되는 센서로서, 신축성 디스플레이(10)의 길이 변형에 따라 저항값이 변화하는 것을 이용하는 센서(예: 피에조저항 센서(piezoresistive sensor), 변형 게이지(strain gauge) 등)를 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
이러한, 단위 변형 센서의 길이는 외력에 의해 신축성 디스플레이(10)의 길이가 변형되는 것에 대응하여 변형되고, 단위 변형 센서의 저항값은 단위 변형 센서의 길이가 변형되는 것에 대응하여 선형적으로 변화하는 바, 단위 변형 센서의 저항값 변화에 기초하여, 단위 변형 센서의 변형 정도를 예측할 수 있고, 단위 변형 센서의 변형 정도에 기초하여 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도를 예측할 수 있다. 예를 들어, 도 6 및 7을 참조하면, 동일한 크기의 저항값을 가지는 복수의 단위 변형 센서 중 x2 노드와 x3 노드 사이의 단위 변형 센서에 외력이 가해질 경우 길이가 변형되는 것에 대응되어 저항값이 선형적으로 증가하게 되고, 저항값이 증가함에 따라 전압강하가 커지는 것을 알 수 있으며, 이를 통해 변형 지점과 변형 정도를 예측할 수 있다.
제1 기준 저항 모듈(112)은 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)에 대한 저항값 변화를 감지하기 위한 기준이 되는 것으로, 신축성 디스플레이(10)의 변형과 관계없이 고정된 저항값을 가지는 복수의 단위 기준 저항을 포함하는 형태로 구현될 수 있다. 이때, 제1 기준 저항 모듈(112)에 포함된 복수의 단위 기준 저항 역시 병렬 연결될 수 있으며, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)에 포함된 복수의 단위 변형 센서의 개수와 동일한 개수의 저항이 포함될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
여기서, 제1 변형 센서 회로망(110)은 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)에 대한 저항값 변화를 감지하기 위한 목적으로, 도 2에 도시된 바와 같이 별도의 제1 기준 저항 모듈(112)을 구비하여 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈(111)과 연결되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않고, 제1 변형 센서 회로망(110)은 도 3에 도시된 바와 같이 제1 기준 저항 모듈(112)을 별도로 구비하지 않고, 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 영향을 받지 않거나, 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 대한 영향이 적은 위치에 배치되는 제1 변형 센서 모듈(111)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
일례로, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 중 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 대한 영향이 적은 위치 즉, 최전단에 배치되는 제1 변형 센서 모듈(111) 또는 최후단에 배치되는 제1 변형 센서 모듈(111)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
다른 예로, 소정의 기간 동안 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 대한 저항값 변화량을 산출할 수 있고, 산출된 저항값 변화량이 가장 적은 제1 변형 센서 모듈(111) 즉, 저항값 변화량이 최소값을 가지는 제1 변형 센서 모듈(111)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
제1 전압원(113)은 제1 변형 센서 회로망(110)에 전기적으로 연결되어, 제1 변형 센서 회로망(110)에 포함된 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 제1 기준 저항 모듈(112)에 전압을 인가할 수 있다.
제1 전압 측정 모듈(114)은 제1 전압원(113)을 통해 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 제1 기준 저항 모듈(112)에 전압을 인가함에 따라 복수의 제1 방향 노드에 인가되는 노드 전압을 측정할 수 있다. 여기서, 복수의 제1 방향 노드는 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 제1 기준 저항 모듈(112)이 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 각각의 모듈이 연결되는 위치에 생성되는 노드를 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
일 실시예에서, 제2 변형 센서 회로망(120)은 도 5에 도시된 바와 같이, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121), 제2 기준 저항 모듈(122), 제2 전압원(123) 및 제2 전압 측정 모듈(124)을 포함할 수 있다.
복수의 제2 변형 센서 모듈(121)은 제2 방향으로 상호 직렬 연결될 수 있다. 여기서, 제2 방향은 2차원 좌표계(화면 좌표계)를 기준으로 y축 방향 특히, y축의 양의 방향을 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
즉, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)이 상호 직렬 연결됨에 따라, 각각의 제2 변형 센서 모듈(121)이 다른 제2 변형 센서 모듈(121)들과 연결되는 부분마다 제2 방향 노드를 생성할 수 있고, 이와 같이 생성된 제2 방향 노드 각각이 제2 방향의 좌표값 즉, y축 좌표값으로 활용될 수 있다.
다양한 실시예에서, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)은 도 5에 도시된 바와 같이 복수의 단위 변형 센서를 포함할 수 있고, 복수의 단위 변형 센서가 병렬 연결된 구조를 가질 수 있다.
여기서, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 포함된 복수의 단위 변형 센서의 구성, 구조 및 속성은 도 4의 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 포함된 복수의 단위 변형 센서와 동일하게 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
제2 기준 저항 모듈(122)은 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)에 대한 저항값 변화를 감지하기 위한 기준이 되는 것으로, 신축성 디스플레이(10)의 변형과 관계없이 고정된 저항값을 가지는 복수의 단위 기준 저항을 포함하는 형태로 구현될 수 있다. 이때, 제2 기준 저항 모듈(122)에 포함된 복수의 단위 기준 저항 역시 병렬 연결될 수 있으며, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)에 포함된 복수의 단위 변형 센서의 개수와 동일한 개수의 저항이 포함될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
여기서, 제2 변형 센서 회로망(120)은 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)에 대한 저항값 변화를 감지하기 위한 목적으로, 도 2에 도시된 바와 같이 별도의 제2 기준 저항 모듈(122)을 구비하여 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈(121)과 연결되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않고, 제2 변형 센서 회로망(120)은 도 3에 도시된 바와 같이 제2 기준 저항 모듈(122)을 별도로 구비하지 않고, 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 영향을 받지 않거나, 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 대한 영향이 적은 위치에 배치되는 제2 변형 센서 모듈(121)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
일례로, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 중 신축성 디스플레이(10)가 변화하는 것에 대한 영향이 적은 위치 즉, 최전단에 배치되는 제2 변형 센서 모듈(121) 또는 최후단에 배치되는 제2 변형 센서 모듈(121)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
다른 예로, 소정의 기간 동안 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 대한 저항값 변화량을 산출할 수 있고, 산출된 저항값 변화량이 가장 적은 제2 변형 센서 모듈(121) 즉, 저항값 변화량이 최소값을 가지는 제2 변형 센서 모듈(121)을 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다.
제2 전압원(123)은 제2 변형 센서 회로망(120)에 전기적으로 연결되어, 제2 변형 센서 회로망(120)에 포함된 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 제2 기준 저항 모듈(122)에 전압을 인가할 수 있다.
제2 전압 측정 모듈(124)은 제1 전압원(123)을 통해 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 제1 기준 저항 모듈(122)에 전압을 인가함에 따라 복수의 제2 방향 노드에 인가되는 노드 전압을 측정할 수 있다. 여기서, 복수의 제2 방향 노드는 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 제2 기준 저항 모듈(122)이 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 각각의 모듈이 연결되는 위치에 생성되는 노드를 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
도 4 및 5에 도시된 바와 같이 제1 변형 센서 회로망(110)과 제2 변형 센서 회로망(120)은 배치의 방향만이 서로 상이할 뿐, 제1 변형 센서 회로망(110)과 제2 변형 센서 회로망(120)에 포함된 구성요소, 구성 요소들의 형태(또는 배치형태) 및 속성 등이 모두 동일할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
다양한 실시예에서, 변형 센서 회로망(100)은 신축성 디스플레이(10)의 백플레인 엑티브(backplane active) 영역에 삽입되어, 격자 구조의 복수의 픽셀 영역을 포함하는 신축성 디스플레이(10)의 TFT(Thin Film Transistor) 회로망(11)과 결합될 수 있다. 예를 들어, 변형 센서 회로망(100)의 제1 변형 센서 회로망(110)은 도 8에 도시된 바와 같이 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)과 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)이 교차 배치되어 격자 구조를 형성하도록 제2 변형 센서 회로망(120)과 결합될 수 있고, 격자 구조를 형성함에 따라 생성되는 복수의 격자점 각각이 복수의 픽셀 영역 내에 각각 대응하여 위치하도록 신축성 디스플레이(10)의 TFT(Thin Film Transistor) 회로망(11)과 결합될 수 있다.
일 실시예에서, 컨트롤러(200)는 변형 센서 회로망(100)에 포함된 구성 요소들의 동작을 제어할 수 있다.
또한, 컨트롤러(200)는 제1 변형 센서 회로망(110) 및 제2 변형 센서 회로망(120)에 전압을 인가함에 따라 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 전압값을 이용하여 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도를 결정할 수 있다.
또한, 컨트롤러(200)는 결정된 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도에 기초하여 신축성 디스플레이(10)에 대한 전류 보상을 수행할 수 있다.
여기서, 컨트롤러(200)는 신축성 디스플레이(10)의 동작을 제어하기 위하여, 신축성 디스플레이 구동 시스템에 포함되는 제어 모듈일 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도를 산출하기 위한 목적으로 신축성 디스플레이(10)의 외부에 별도로 마련된 외부 서버이거나, 변형 센서 회로망(100) 내에 자체적으로 구비되는 제어 모듈일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 이하, 도 9 내지 도 15를 참조하여, 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이(10)의 전류 보상 시스템을 통해 수행되는 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법과 전류 보상 방법에 대해 설명하도록 한다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 결정방법의 순서도이다.
도 9를 참조하면, S110 단계에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 전압값을 산출할 수 있다.
먼저, 컨트롤러(200)는 도 12에 도시된 바와 같이 제1 변형 센서 회로망(110)에 포함된 제1 전압원(113)을 제어하여 제1 변형 센서 회로망(110)에 포함된 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 제1 기준 저항 모듈(112)에 전압을 인가할 수 있다.
이후, 컨트롤러(200)는 제1 전압 측정 모듈(114)을 제어하여, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 및 제1 기준 저항 모듈(112)이 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성된 복수의 제1 방향 노드 각각에 인가되는 복수의 노드 전압(V(x1), V(x2)쪋 V(xN) 및 V(xref))을 측정할 수 있고, 복수의 노드 전압을 이용하여 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출(예: V(xi) - V(xi+1))할 수 있으며, 산출된 전압강하를 이용하여 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값과 제1 기준 저항 모듈(112)에 인가되는 제1 기준 전압을 산출할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각의 양단에 위치하는 두개의 제1 방향 노드에 인가되는 두개의 노드 전압 간의 차이를 산출하여 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출할 수 있고, 제1 기준 저항 모듈(112)의 양단에 위치하는 두개의 제1 방향 노드에 인가되는 두개의 노드 전압 간의 차이를 산출하여 제1 기준 저항 모듈(112)에 인가되는 제1 기준 전압을 산출할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)과 별도로 연결된 제1 기준 저항 모듈(112)이 없는 경우, 상기의 방법에 따라 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출할 수 있고, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값 중 제1 방향으로 최전단에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)의 제1 전압값 또는 최후단에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)의 제1 전압값을 제1 기준 전압으로 설정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)과 별도로 연결된 제1 기준 저항 모듈(112)이 없는 경우, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 대하여 소정의 기간 동안의 저항값 변화량을 산출할 수 있고, 산출된 저항값 변화량에 기초하여 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제1 변형 센서 모듈(111)을 제1 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다. 이후, 컨트롤러(200)는 상기의 방법에 따라 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출할 수 있고, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값 중 제1 기준 저항 모듈로 설정된 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가되는 제1 전압값을 제1 기준 전압으로 설정할 수 있다.
S120 단계에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 전압값을 산출할 수 있다.
먼저, 컨트롤러(200)는 도 14에 도시된 바와 같이 제2 변형 센서 회로망(120)에 포함된 제1 전압원(123)을 제어하여 제2 변형 센서 회로망(120)에 포함된 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 제2 기준 저항 모듈(122)에 전압을 인가할 수 있다.
이후, 컨트롤러(200)는 제2 전압 측정 모듈(124)을 제어하여, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 및 제2 기준 저항 모듈(122)이 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성된 복수의 제2 방향 노드 각각에 인가되는 복수의 노드 전압(V(y1), V(y2)쪋 V(yN) 및 V(yref))을 측정할 수 있고, 복수의 노드 전압을 이용하여 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출(예: V(yi) - V(yi+1))할 수 있으며, 산출된 전압강하를 이용하여 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값과 제2 기준 저항 모듈(122)에 인가되는 제2 기준 전압을 산출할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각의 양단에 위치하는 두개의 제2 방향 노드에 인가되는 두개의 노드 전압 간의 차이를 산출하여 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출할 수 있고, 제2 기준 저항 모듈(122)의 양단에 위치하는 두개의 제2 방향 노드에 인가되는 두개의 노드 전압 간의 차이를 산출하여 제2 기준 저항 모듈(122)에 인가되는 제2 기준 전압을 산출할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)과 별도로 연결된 제2 기준 저항 모듈(122)이 없는 경우, 상기의 방법에 따라 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출할 수 있고, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값 중 제2 방향으로 최전단에 위치하는 제2 변형 센서 모듈(121)의 제2 전압값 또는 최후단에 위치하는 제2 변형 센서 모듈(121)의 제2 전압값을 제2 기준 전압으로 설정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 변형 센서 모듈(121)과 별도로 연결된 제2 기준 저항 모듈(122)이 없는 경우, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 대하여 소정의 기간 동안의 저항값 변화량을 산출할 수 있고, 산출된 저항값 변화량에 기초하여 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제2 변형 센서 모듈(121)을 제1 기준 저항 모듈로 설정할 수 있다. 이후, 컨트롤러(200)는 상기의 방법에 따라 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출할 수 있고, 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값 중 제2 기준 저항 모듈로 설정된 제1 변형 센서 모듈(121)에 인가되는 제2 전압값을 제2 기준 전압으로 설정할 수 있다.
S130 단계에서, 컨트롤러(200)는 S110 단계를 거쳐 산출된 복수의 제1 전압값 및 제1 기준 전압과 S120 단계를 거쳐 산출된 복수의 제2 전압값 및 제2 기준 전압을 이용하여, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점을 결정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 도 13에 도시된 바와 같이, 복수의 제1 전압값 및 제1 기준 전압을 이용하여, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값을 결정할 수 있다.
신축성 디스플레이(10)가 적어도 일부분이 변형되는 경우, 변형된 지점에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)의 저항값이 증가하게 되고, 이에 따라 변형된 지점에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)에 의한 전압강하 증가 즉, 변형된 지점에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가되는 제1 전압값의 크기가 커지게 된다.
이러한 점을 고려하여, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 전압값 및 제1 기준 전압 비교함으로써, 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 제1 전압값이 인가된 제1 변형 센서 모듈(111)이 배치된 위치에서 신축성 디스플레이(10)의 변형이 발생한 것으로 판단할 수 있고, 변형이 발생한 것으로 판단되는 제1 변형 센서 모듈(111)에 대응하는 제1 방향 노드(예: 제1 변형 센서 모듈(111) 양단에 위치하는 두개의 제1 방향 노드)를 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값(x축 좌표값)으로 결정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 도 14에 도시된 바와 같이, 복수의 제2 전압값 및 제2 기준 전압을 이용하여, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값을 결정할 수 있다.
상기와 마찬가지로, 신축성 디스플레이(10)가 적어도 일부분이 변형되는 경우, 변형된 지점에 위치하는 제2 변형 센서 모듈(121)의 저항값이 증가하게 되고, 이에 따라 변형된 지점에 위치하는 제2 변형 센서 모듈(121)에 의한 전압강하 증가 즉, 변형된 지점에 위치하는 제2 변형 센서 모듈(121)에 인가되는 제2 전압값의 크기가 커지게 되는 바, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 전압값 및 제2 기준 전압 비교함으로써, 제2 기준 전압보다 큰 값을 가지는 제2 전압값이 인가된 제2 변형 센서 모듈(121)이 배치된 위치에서 신축성 디스플레이(10)의 변형이 발생한 것으로 판단할 수 있고, 변형이 발생한 것으로 판단되는 제2 변형 센서 모듈(121)에 대응하는 제2 방향 노드(예: 제2 변형 센서 모듈(121) 양단에 위치하는 두개의 제2 방향 노드)를 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값(y축 좌표값)으로 결정할 수 있다.
S140 단계에서, 컨트롤러(200)는 S130 단계를 거쳐 결정된 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 대하여, 전류 보상을 수행할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 S130 단계를 거쳐 결정된 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 기초하여, 신축성 디스플레이(10)에서 전류 보상이 필요한 영역을 결정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 도 15에 도시된 바와 같이, 기 저장된 변형 정도별 전류 보상값 데이터에 기초하여, 후술되는 신축성 디스플레이의 변형 정도 산출 동작(예: 도 10의 S230 단계)을 수행함에 따라 산출된 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도에 대응하는 전류 보상값을 결정할 수 있고, 결정된 전류 보상값에 기초하여 복수의 격자점(제1 변형 센서 회로망(110)과 제2 변형 센서 회로망(120)이 교차함에 따라 생성되는 복수의 교차점) 중 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 대응되는 격자점에 대응되는 신축성 디스플레이(10)의 영역(예: TFT 회로망(11)의 픽셀 영역)에 대한 전류 보상을 수행할 수 있다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 정도 결정방법의 순서도이다.
도 10을 참조하면, S210 단계에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제1 전압값을 산출할 수 있다. 여기서, 복수의 제1 전압값을 산출하는 방법은 도 9의 S110 단계를 거쳐 수행되는 복수의 제1 전압값 산출 방법과 동일, 유사한 형태로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
S220 단계에서, 컨트롤러(200)는 복수의 제2 전압값을 산출할 수 있다. 여기서, 복수의 제2 전압값을 산출하는 방법은 도 9의 S120 단계를 거쳐 수행되는 복수의 제2 전압값 산출 방법과 동일, 유사한 형태로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
S230 단계에서, 컨트롤러(200)는 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점(예: 도 9의 S130 단계를 거쳐 산출된 변형 지점)에 대한 변형 정도를 결정할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 제1 기준 저항 모듈(112)에 인가되는 제1 기준 전압 대비 복수의 제1 변형 센서 모듈(111) 중 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가되는 제1 전압값의 제1 비율을 산출할 수 있고, 산출된 제1 비율을 신축성 디스플레이(10)에 관한 제1 방향의 변형 정도로 결정할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가된 제1 전압값을 제1 기준 전압으로 나눠줌으로써, 신축성 디스플레이(10)에 대한 제1 방향의 변형 정도(x축 방향으로의 변형 정도)를 산출할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 제2 기준 저항 모듈(122)에 인가되는 제2 기준 전압 대비 복수의 제2 변형 센서 모듈(121) 중 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈(121)에 인가되는 제2 전압값의 제2 비율을 산출할 수 있고, 산출된 제2 비율을 신축성 디스플레이(10)에 관한 제2 방향의 변형 정도로 결정할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈(121)에 인가된 제2 전압값을 제2 기준 전압으로 나눠줌으로써, 신축성 디스플레이(10)에 대한 제2 방향의 변형 정도(y축 방향으로의 변형 정도)를 산출할 수 있다.
S240 단계에서, 컨트롤러(200)는 도 9의 S130 단계를 거쳐 산출된 변형 지점과 S230 단계를 거쳐 결정된 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도에 기초하여, 신축성 디스플레이(10)에 대한 전류 보상을 수행할 수 있다.
다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 도 15에 도시된 바와 같이, 기 저장된 변형 정도별 전류 보상값 데이터에 기초하여, 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도에 대응하는 전류 보상값을 결정할 수 있고, 결정된 전류 보상값에 기초하여 복수의 격자점(제1 변형 센서 회로망(110)과 제2 변형 센서 회로망(120)이 교차함에 따라 생성되는 복수의 교차점) 중 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 대응되는 격자점에 대응되는 신축성 디스플레이(10)의 영역(예: TFT 회로망(11)의 픽셀 영역)에 대한 전류 보상을 수행할 수 있다. 이하, 도 16 내지 도 20를 참조하여 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법의 시뮬레이션한 결과를 설명하도록 한다.
도 16 내지 20은 다양한 실시예에서, 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 시뮬레이션한 결과를 예시적으로 도시한 도면이다.
먼저, 도 16 내지 20을 참조하여 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 시뮬레이션한 결과를 설명하기에 앞서, 먼저, 제1 변형 센서 회로망(110)이 8개의 제1 변형 센서 모듈(111)을 포함하고, 8개의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각이 동일한 크기(예: 1Ω)를 가지는 8개의 단위 변형 센서를 포함하거나, 제1 변형 센서 회로망(110)이 7개의 제1 변형 센서 모듈(111)과 하나의 제1 기준 저항 모듈(112)을 포함하고 있고, 7개의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각이 동일한 크기(예: 1Ω)를 가지는 8개의 단위 변형 센서를 포함하고 있으며, 하나의 제1 기준 저항 모듈(112)이 동일한 크기(예: 1Ω)를 가지는 8개의 단위 저항을 포함하는 것으로 가정한다.
또한, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점은 각각 제1 방향의 좌표값이 3, 4, 5 및 6이고 제2 방향의 좌표값이 3인 (3, 3), (4, 3), (5, 3) 및 (6, 3) 지점이며, 변형 지점에 위치하는 3개의 제1 변형 센서 모듈(111)의 변형 정도가 각각 2Ω, 4Ω 및 2Ω인 것으로 가정한다.
도 16 내지 20을 참조하면, 먼저, 복수의 제1 변형 센서 모듈(111)에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출한 결과, 복수의 제1 전압값 각각은 0.1517, 0.1518, 0.1619, 0.1675, 0.1619, 0.1518 및 0.1518 V이며, 이중 제1 기준 전압(0.1518 V)과 비교하여 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 제1 전압값은 0.1619, 0.1675 및 0.1619 V임을 알 수 있다.
여기서, 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 제1 전압값인 0.1619, 0.1675 및 0.1619 V가 인가되는 제1 변형 센서 모듈(111)은 총 3개이며, 3개의 제1 변형 센서 모듈(111)에 대응하는 제1 방향 노드(3개의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각의 양단에 위치하는 제1 방향 노드)가 3 및 4, 4 및 5, 5 및 6 즉, 3, 4, 5 및 6임을 알 수 있다.
즉, 복수의 제1 전압값과 제1 기준 전압을 비교하여 추출된 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 대한 제1 방향의 좌표값은 각각 3, 4, 5 및 6이며, 이는 시뮬레이션을 수행하기에 앞서서 가정된 내용과 동일한 바, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값을 정확하게 추출했다는 것을 알 수 있다.
다음으로, 상기의 과정을 거쳐, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 위치하는 3개의 제1 변형 센서 모듈(111) 각각의 제1 전압값(0.1619, 0.1675 및 0.1619 V)을 제1 기준 전압(0.1518 V)으로 나눠줌으로써, 신축성 디스플레이(10)에 대한 제1 방향의 변형 정도가 각각 1.067, 1.103 및 1.067임을 알 수 있다.
여기서, 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도라는 것은 신축성 디스플레이(10)가 얼마만큼 늘어났는 지를 가리키는 척도이다. 즉, 신축성 디스플레이(10)가 늘어남에 따라 변형 센서 모듈의 저항값이 증가하는 바, 신축성 디스플레이(10)의 변형 정도라는 것은 변형 센서 모듈의 저항값이 기준 저항 모듈의 저항값 대비 얼만큼 증가했는지를 의미하는 것이다.
실제로, 상기의 가정 내용과 같이 신축성 디스플레이(10)가 늘어남에 따라 특정 제1 변형 센서 모듈(111)에 포함된 하나의 단위 변형 센서가 1Ω에서 2Ω으로 증가할 경우, 특정 제1 변형 센서 모듈(111)의 전체 저항값은 0.125Ω에서 0.133Ω으로 증가하게 되고, 이를 수치적으로 계산하면 약 1.067배 증가한 것임을 알 수 있다.
또한, 특정 제1 변형 센서 모듈(111)에 포함된 하나의 단위 변형 센서가 1Ω에서 4Ω으로 증가할 경우, 특정 제1 변형 센서 모듈(111)의 전체 저항값은 0.125Ω에서 0.138Ω으로 증가하게 되고, 이를 수치적으로 계산하면 약 1.103배 증가한 것임을 알 수 있다.
즉, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 위치하는 제1 변형 센서 모듈(111)의 제1 전압값을 제1 기준 전압으로 나눠줌으로써 산출되는 신축성 디스플레이(10)에 대한 제1 방향의 변형 정도는 시뮬레이션을 수행하기에 앞서서 가정된 내용에 따른 저항값 변화량과 동일한 바, 신축성 디스플레이(10)의 변형 지점에 대한 제1 방향의 변형 정도를 정확하게 추출했다는 것을 알 수 있다.
전술한 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은 도면에 도시된 순서도를 참조하여 설명하였다. 간단한 설명을 위해 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은 일련의 블록들로 도시하여 설명하였으나, 본 발명은 상기 블록들의 순서에 한정되지 않고, 몇몇 블록들은 본 명세서에 도시되고 시술된 것과 상이한 순서로 수행되거나 또는 동시에 수행될 수 있다. 또한, 본 명세서 및 도면에 기재되지 않은 새로운 블록이 추가되거나, 일부 블록이 삭제 또는 변경된 상태로 수행될 수 있다. 이하, 도 21을 참조하여, 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 수행하는 컨트롤러(200)의 하드웨어 구성에 대해 설명하도록 한다.
도 21은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 수행하는 컨트롤러의 하드웨어 구성도이다.
도 21을 참조하면, 다양한 실시예에서, 컨트롤러(200)는 하나 이상의 프로세서(210), 프로세서(210)에 의하여 수행되는 컴퓨터 프로그램(251)을 로드(Load)하는 메모리(220), 버스(230), 통신 인터페이스(240) 및 컴퓨터 프로그램(251)을 저장하는 스토리지(250)를 포함할 수 있다. 여기서, 도 21에는 본 발명의 실시예와 관련 있는 구성요소들만 도시되어 있다. 따라서, 본 발명이 속한 기술분야의 통상의 기술자라면 도 21에 도시된 구성요소들 외에 다른 범용적인 구성 요소들이 더 포함될 수 있음을 알 수 있다.
프로세서(210)는 컨트롤러(200)의 각 구성의 전반적인 동작을 제어한다. 프로세서(210)는 CPU(Central Processing Unit), MPU(Micro Processor Unit), MCU(Micro Controller Unit), GPU(Graphic Processing Unit) 또는 본 발명의 기술 분야에 잘 알려진 임의의 형태의 프로세서를 포함하여 구성될 수 있다.
또한, 프로세서(210)는 본 발명의 실시예들에 따른 방법을 실행하기 위한 적어도 하나의 애플리케이션 또는 프로그램에 대한 연산을 수행할 수 있으며, 컨트롤러(200)는 하나 이상의 프로세서를 구비할 수 있다.
다양한 실시예에서, 프로세서(210)는 프로세서(210) 내부에서 처리되는 신호(또는, 데이터)를 일시적 및/또는 영구적으로 저장하는 램(RAM: Random Access Memory, 미도시) 및 롬(ROM: Read-Only Memory, 미도시)을 더 포함할 수 있다. 또한, 프로세서(210)는 그래픽 처리부, 램 및 롬 중 적어도 하나를 포함하는 시스템온칩(SoC: system on chip) 형태로 구현될 수 있다.
메모리(220)는 각종 데이터, 명령 및/또는 정보를 저장한다. 메모리(220)는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 방법/동작을 실행하기 위하여 스토리지(250)로부터 컴퓨터 프로그램(251)을 로드할 수 있다. 메모리(220)에 컴퓨터 프로그램(251)이 로드되면, 프로세서(210)는 컴퓨터 프로그램(251)을 구성하는 하나 이상의 인스트럭션들을 실행함으로써 상기 방법/동작을 수행할 수 있다. 메모리(220)는 RAM과 같은 휘발성 메모리로 구현될 수 있을 것이나, 본 개시의 기술적 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.
버스(230)는 컨트롤러(200)의 구성 요소 간 통신 기능을 제공한다. 버스(230)는 주소 버스(address Bus), 데이터 버스(Data Bus) 및 제어 버스(Control Bus) 등 다양한 형태의 버스로 구현될 수 있다.
통신 인터페이스(240)는 컨트롤러(200)의 유무선 인터넷 통신을 지원한다. 또한, 통신 인터페이스(240)는 인터넷 통신 외의 다양한 통신 방식을 지원할 수도 있다. 이를 위해, 통신 인터페이스(240)는 본 발명의 기술 분야에 잘 알려진 통신 모듈을 포함하여 구성될 수 있다. 몇몇 실시예에서, 통신 인터페이스(240)는 생략될 수도 있다.
스토리지(250)는 컴퓨터 프로그램(251)을 비 임시적으로 저장할 수 있다. 컨트롤러(200)를 통해 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출 프로세스를 수행하는 경우, 스토리지(250)는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출 프로세스를 제공하기 위하여 필요한 각종 정보를 저장할 수 있다.
스토리지(250)는 ROM(Read Only Memory), EPROM(Erasable Programmable ROM), EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM), 플래시 메모리 등과 같은 비휘발성 메모리, 하드 디스크, 착탈형 디스크, 또는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 잘 알려진 임의의 형태의 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체를 포함하여 구성될 수 있다.
컴퓨터 프로그램(251)은 메모리(220)에 로드될 때 프로세서(210)로 하여금 본 발명의 다양한 실시예에 따른 방법/동작을 수행하도록 하는 하나 이상의 인스트럭션들을 포함할 수 있다. 즉, 프로세서(210)는 상기 하나 이상의 인스트럭션들을 실행함으로써, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 방법/동작을 수행할 수 있다.
일 실시예에서, 컴퓨터 프로그램(251)은 제1 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계, 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계 및 산출된 복수의 제1 전압값 및 산출된 복수의 제2 전압값을 이용하여 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계를 포함하는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법을 수행하도록 하는 하나 이상의 인스트럭션을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예와 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은 하드웨어로 직접 구현되거나, 하드웨어에 의해 실행되는 소프트웨어 모듈로 구현되거나, 또는 이들의 결합에 의해 구현될 수 있다. 소프트웨어 모듈은 RAM(Random Access Memory), ROM(Read Only Memory), EPROM(Erasable Programmable ROM), EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM), 플래시 메모리(Flash Memory), 하드 디스크, 착탈형 디스크, CD-ROM, 또는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 잘 알려진 임의의 형태의 컴퓨터 판독가능 기록매체에 상주할 수도 있다.
본 발명의 구성 요소들은 하드웨어인 컴퓨터와 결합되어 실행되기 위해 프로그램(또는 애플리케이션)으로 구현되어 매체에 저장될 수 있다. 본 발명의 구성 요소들은 소프트웨어 프로그래밍 또는 소프트웨어 요소들로 실행될 수 있으며, 이와 유사하게, 실시 예는 데이터 구조, 프로세스들, 루틴들 또는 다른 프로그래밍 구성들의 조합으로 구현되는 다양한 알고리즘을 포함하여, C, C++, 자바(Java), 어셈블러(assembler) 등과 같은 프로그래밍 또는 스크립팅 언어로 구현될 수 있다. 기능적인 측면들은 하나 이상의 프로세서들에서 실행되는 알고리즘으로 구현될 수 있다.
이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

Claims (21)

  1. 신축성 디스플레이의 변형 지점과 변형 정도를 결정하기 위하여, 상기 신축성 디스플레이와 결합되는 변형 센서 회로망에 있어서,
    상기 변형 센서 회로망은,
    제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망; 및
    제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망;을 포함하며,
    상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도가 결정되는 것을 특징으로 하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각은,
    병렬 연결된 복수의 단위 변형 센서;를 포함하며, 상기 복수의 단위 변형 센서 각각은 동일한 저항값을 가지는 것을 특징으로 하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각은,
    병렬 연결된 복수의 단위 변형 센서;를 포함하며, 상기 복수의 단위 변형 센서 각각은 상호 상이한 저항값을 가지는 것을 특징으로 하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 신축성 디스플레이는,
    격자 구조의 복수의 픽셀 영역을 포함하는 TFT(Thin Film Transistor) 회로망;을 포함하며,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 교차 배치되어 격자 구조를 형성하도록 상기 제2 변형 센서 회로망과 결합되고,
    상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성되는 복수의 격자점 각각이 상기 복수의 픽셀 영역 내에 각각 대응하여 위치하도록 상기 신축성 디스플레이와 결합되는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈;을 더 포함하고,
    상기 제2 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈;을 더 포함하며,
    상기 제1 기준 저항 모듈 및 상기 제2 기준 저항 모듈 각각은,
    병렬 연결된 복수의 단위 기준 저항; - 상기 복수의 단위 기준 저항은, 상기 신축성 디스플레이의 변형과 관계없이 고정된 저항값을 가지는 것임 - 을 포함하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 소정 기간 동안의 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제1 변형 센서 모듈을 제1 기준 저항 모듈로 설정하며,
    상기 제2 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 소정 기간 동안의 저항값 변화량이 가장 작은 어느 하나의 제2 변형 센서 모듈을 제2 기준 저항 모듈로 설정하는 것을 특징으로 하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 변형 센서 회로망은,
    상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망 각각에 전압을 인가하는 전압원; 및
    상기 전압원을 통해 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망 각각에 전압을 인가함에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 측정하는 전압 측정 모듈;을 더 포함하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  8. 신축성 디스플레이의 변형 지점과 변형 정도를 결정하기 위하여, 상기 신축성 디스플레이와 결합되는 변형 센서 회로망에 있어서,
    상기 변형 센서 회로망은,
    제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈; 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈;을 포함하는 제1 변형 센서 회로망; 및
    제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈; 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈;을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하며,
    상기 제1 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 제1 기준 저항 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하고,
    상기 제2 변형 센서 회로망에 전압이 인가됨에 따라 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 및 상기 제2 기준 저항 모듈 각각에 인가되는 전압값에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제2 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 것을 특징으로 하는,
    신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정을 위한 변형 센서 회로망.
  9. 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출방법에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계;
    상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 복수의 제1 전압값 및 상기 산출된 복수의 제2 전압값을 이용하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈;을 포함하며,
    상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 기준 저항 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두 개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값과 상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제1 전압값 중 상기 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제2 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈;을 포함하며,
    상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 기준 저항 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값과 상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제2 전압값 중 상기 제2 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하고, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하며, 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계를 포함하며,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제1 전압값 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하고, 상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하며, 상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계를 포함하며,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제2 전압값 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  14. 제9항에 있어서,
    상기 복수의 제1 전압값을 산출하는 단계는,
    소정 기간 동안의 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각의 저항값 변화량에 기초하여, 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 상기 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제1 변형 센서 모듈을 제1 기준 센서 모듈로 설정하는 단계;
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 설정된 제1 기준 저항 모듈이 상기 제1 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제1 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제1 방향 노드 중 상호 인접한 두 개의 제1 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제1 전압값과 상기 설정된 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제1 전압값 중 상기 제1 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제1 전압값이 인가된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 대응하는 제1 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제1 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  15. 제9항에 있어서,
    상기 복수의 제2 전압값을 산출하는 단계는,
    소정 기간 동안의 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각의 저항값 변화량에 기초하여, 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 상기 저항값 변화량이 최소값을 가지는 어느 하나의 제2 변형 센서 모듈을 제2 기준 센서 모듈로 설정하는 단계;
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈과 상기 설정된 제2 기준 저항 모듈이 상기 제2 방향으로 직렬 연결됨에 따라 생성되는 복수의 제2 방향 노드 각각에 대한 복수의 노드 전압을 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 노드 전압을 이용하여, 상기 복수의 제2 방향 노드 중 상호 인접한 두 개의 제2 방향 노드 간의 전압강하를 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 전압강하를 이용하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 상기 복수의 제2 전압값과 상기 설정된 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계를 포함하고,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제2 전압값 중 상기 제2 기준 전압보다 큰 값을 가지는 적어도 하나의 제2 전압값이 인가된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 대응하는 제2 방향 노드를 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점에 관한 제2 방향의 좌표값으로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈;을 포함하며,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압 대비 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값의 비율을 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제1 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  17. 제9항에 있어서,
    상기 제2 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈;을 포함하며,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압 대비 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값의 비율을 산출하는 단계; 및
    상기 산출된 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제2 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  18. 제9항에 있어서,
    상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계는,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값 대비 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈에 인가되는 제1 전압값의 제1 비율을 산출하고, 상기 산출된 제1 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제1 방향의 변형 정도로 결정하는 단계; 및
    상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 최전단 또는 최후단에 위치한 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값 대비 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 배치된 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈에 인가되는 제2 전압값의 제2 비율을 산출하고, 상기 산출된 제2 비율을 상기 신축성 디스플레이에 관한 제2 방향의 변형 정도로 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  19. 제9항에 있어서,
    상기 신축성 디스플레이는,
    격자 구조의 복수의 픽셀 영역을 포함하는 TFT(Thin Film Transistor) 회로망;을 포함하고,
    상기 제1 변형 센서 회로망은,
    상기 복수의 제1 변형 센서 모듈과 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈이 교차 배치되어 격자 구조를 형성하도록 상기 제2 변형 센서 회로망과 결합되고, 상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성되는 복수의 격자점 각각이 상기 복수의 픽셀 영역 내에 각각 대응하여 위치하도록 상기 신축성 디스플레이와 결합되며,
    상기 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법은,
    기 저장된 변형 정도별 전류 보상값 데이터에 기초하여, 상기 산출된 신축성 디스플레이의 변형 정도에 대응하는 전류 보상값을 결정하는 단계; 및
    상기 결정된 전류 보상값에 기초하여, 상기 격자 구조를 형성함에 따라 생성된 복수의 격자점 중 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점에 대응되는 격자점에 대응되는 픽셀 영역에 대한 전류 보상을 수행하는 단계를 더 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  20. 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제1 변형 센서 모듈과 상기 제1 방향으로 직렬 연결되는 제1 기준 저항 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망 및 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 중 적어도 하나의 제2 변형 센서 모듈과 상기 제2 방향으로 직렬 연결되는 제2 기준 저항 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망을 포함하는 변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 산출방법에 있어서,
    상기 제1 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제1 전압값과 상기 제1 기준 저항 모듈에 인가되는 제1 기준 전압을 산출하는 단계;
    상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하여 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 복수의 제2 전압값과 상기 제2 기준 저항 모듈에 인가되는 제2 기준 전압을 산출하는 단계;
    상기 산출된 복수의 제1 전압값 및 상기 산출된 제1 기준 전압을 이용하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계; 및
    상기 산출된 복수의 제2 전압값 및 상기 산출된 제2 기준 전압을 이용하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 제1 방향으로의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하는 단계를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법.
  21. 신축성 디스플레이;
    상기 신축성 디스플레이와 결합되며, 제1 방향으로 직렬 연결된 복수의 제1 변형 센서 모듈을 포함하는 제1 변형 센서 회로망, 제2 방향으로 직렬 연결된 복수의 제2 변형 센서 모듈을 포함하는 제2 변형 센서 회로망, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가하는 전압원 및 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 측정하는 전압 측정 모듈을 포함하는 변형 센서 회로망; 및
    상기 변형 센서 회로망의 동작을 제어하고, 상기 제1 변형 센서 회로망 및 상기 제2 변형 센서 회로망에 전압을 인가함에 따라 상기 복수의 제1 변형 센서 모듈 및 상기 복수의 제2 변형 센서 모듈 각각에 인가되는 전압값을 이용하여 상기 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도를 결정하며, 상기 결정된 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도에 기초하여 상기 신축성 디스플레이에 대한 전류 보상을 수행하는 컨트롤러;를 포함하는,
    변형 센서 회로망을 이용한 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템.
PCT/KR2022/017823 2021-12-03 2022-11-14 변형 센서 회로망, 이를 이용한 신축성 디스플레이의 변형 지점 및 변형 정도 결정방법 및 신축성 디스플레이의 전류 보상 시스템 WO2023101259A1 (ko)

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