WO2023013144A1 - 磁気記録媒体および磁気記録媒体カートリッジ - Google Patents

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WO2023013144A1
WO2023013144A1 PCT/JP2022/012710 JP2022012710W WO2023013144A1 WO 2023013144 A1 WO2023013144 A1 WO 2023013144A1 JP 2022012710 W JP2022012710 W JP 2022012710W WO 2023013144 A1 WO2023013144 A1 WO 2023013144A1
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WO
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magnetic recording
tape
magnetic
recording medium
layer
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PCT/JP2022/012710
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English (en)
French (fr)
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和男 阿武
孝信 岩間
洋 熊谷
妙子 高橋
栄治 中塩
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ソニーグループ株式会社
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    • G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
    • G11B23/02—Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
    • G11B23/04—Magazines; Cassettes for webs or filaments
    • G11B23/08—Magazines; Cassettes for webs or filaments for housing webs or filaments having two distinct ends
    • G11B23/107—Magazines; Cassettes for webs or filaments for housing webs or filaments having two distinct ends using one reel or core, one end of the record carrier coming out of the magazine or cassette
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B23/20—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture with provision for splicing to provide permanent or temporary connections
    • G11B23/26—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture with provision for splicing to provide permanent or temporary connections of leaders for loading or threading, e.g. to form a temporary connection
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
    • G11B5/627—Record carriers characterised by the selection of the material of leaders for magnetic tapes, e.g. non-magnetic strips on the tapes or for connection
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/74—Record carriers characterised by the form, e.g. sheet shaped to wrap around a drum
    • G11B5/78—Tape carriers

Definitions

  • the present disclosure relates to magnetic recording media and magnetic recording media cartridges.
  • Tape-shaped magnetic recording media are widely used to store electronic data. 2. Description of the Related Art So far, a magnetic recording medium has been proposed in which a leader tape is connected to the tip of a magnetic recording tape on which information is recorded (see, for example, Patent Document 1).
  • a magnetic recording medium as an embodiment of the present disclosure has a magnetic recording tape extending in the longitudinal direction and a leader tape connected to the magnetic recording tape in the longitudinal direction. Furthermore, among the plurality of stepped portions that occur on the leader tape after running according to conditions 1 to 3 below, the maximum stepped portion of the stepped portion closest to the connection portion between the leader tape and the magnetic recording tape is the thickness of the leader tape. 34 ⁇ m or less in any direction.
  • condition 1 is an environment with a temperature of 23° C. and a relative humidity of 45% RH
  • condition 2 is to use a drive conforming to the LTO9 standard
  • condition 3 is to record and reproduce a capacity of 18 terabytes. It is to make 140 round trips.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of a magnetic recording cartridge according to a first embodiment of the present disclosure
  • FIG. 2 is an enlarged sectional view of a magnetic recording tape of the magnetic recording medium shown in FIG. 1
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the cross-sectional structure of ⁇ -iron oxide particles contained in the magnetic layer shown in FIG. 2.
  • FIG. 3 is a graph showing an example of an SFD curve of the magnetic recording tape shown in FIG. 2
  • 1 is a schematic diagram showing the appearance of a measuring device used for measuring the width of a magnetic recording medium
  • FIG. 2 is an enlarged sectional view of a leader tape of the magnetic recording medium shown in FIG. 1
  • FIG. 2 is a schematic plan view showing an enlarged connection portion between the leader tape and the magnetic recording tape shown in FIG. 1; 2 is a schematic cross-sectional view showing an enlarged connection portion between the leader tape and the magnetic recording tape shown in FIG. 1;
  • FIG. FIG. 4 is an explanatory diagram schematically showing the uneven shape of the surface of the leader tape;
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing an enlarged part of a reel of the magnetic recording cartridge shown in FIG. 1;
  • FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining a method of measuring the maximum level difference of the leader tape shown in FIG. 1;
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration example of a recording/reproducing apparatus provided with the magnetic recording cartridge of FIG. 1;
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of ⁇ -iron oxide particles according to a modification of the first embodiment
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a magnetic recording medium according to another modification of the first embodiment
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a magnetic recording medium according to a second embodiment of the present disclosure
  • 15 is a schematic diagram showing a configuration example of a sputtering apparatus used for manufacturing the magnetic recording medium shown in FIG. 14
  • FIG. 12A and 12B are diagrams for explaining a PES measuring method using the recording/reproducing apparatus of FIG. 11
  • FIG. FIG. 12 is a schematic diagram of a head unit of the recording/reproducing device of FIG. 11
  • It is a figure explaining the measuring method of a servo trace line.
  • First Embodiment (Example of Magnetic Recording Cartridge Containing Magnetic Recording Medium) 1-1. Configuration of Magnetic Recording Cartridge 1-2. Structure of magnetic recording medium 1-3. Method for measuring level difference of leader tape 1-4. Manufacturing method of magnetic recording medium 1-5. Recording/playback device 1-6. Effects 1-7. Modification 2.
  • Second Embodiment (Example of Magnetic Recording Cartridge Including Sputtering Type Magnetic Recording Medium) 2-1. Configuration of Magnetic Recording Cartridge 2-2. Structure of magnetic recording medium 2-3. Configuration of sputtering device 2-4. Manufacturing method of magnetic recording medium 2-5. Effect 2-6. Modification 3.
  • First Embodiment Example of Magnetic Recording Cartridge Containing Magnetic Recording Medium
  • Second Embodiment (Example of Magnetic Recording
  • the magnetic recording/reproducing apparatus may not be able to accurately read the data recorded on the magnetic recording medium, causing a read error. Therefore, the operational reliability of the magnetic recording/reproducing device and the reliability of the magnetic recording medium used in the magnetic recording/reproducing device may be impaired.
  • the present applicant has proposed a magnetic recording/reproducing apparatus capable of keeping the width of a tape-shaped magnetic recording medium substantially constant by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium, and a magnetic recording medium suitable for the same. is proposing.
  • the magnetic recording/reproducing apparatus detects, for example, the widthwise dimension of the magnetic recording medium or changes in the dimension, and adjusts the longitudinal tension applied to the magnetic recording medium based on the detection result.
  • the width of the magnetic recording medium can be kept substantially constant, and the reliability of the magnetic recording medium and the magnetic recording/reproducing apparatus can be ensured.
  • a magnetic recording medium has a leader tape connected to the leading end of a magnetic recording tape on which information is recorded.
  • a leader pin is provided at the end of the leader tape to be attached to a take-up reel (hereinafter referred to as a take-up reel) on the tape drive side.
  • the take-up reel has a notch, and the part connected to the leader pin fits into the notch. When the part connected to the leader pin is fitted into the notch, there is a slight step on the winding part of the take-up reel.
  • the step of the take-up reel is transferred to the surface of the magnetic recording tape, and the surface of the magnetic recording medium is bent or dented. may occur.
  • the applicant proposes a magnetic recording medium capable of realizing excellent recording and reproducing operations while having a high recording density.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the magnetic recording cartridge 1.
  • the magnetic recording cartridge 1 has a cartridge case 2 and a cartridge reel 3 provided therein.
  • a tape-shaped magnetic recording medium TM is wound around the cartridge reel 3 .
  • the magnetic recording medium TM travels along its own longitudinal direction.
  • the magnetic recording medium TM is preferably used, for example, in a recording/reproducing apparatus having a ring-shaped head as a recording head.
  • FIG. 1 schematically shows a state in which the vicinity of the end portion of the outermost layer portion of the magnetic recording medium TM wound around the cartridge reel 3 is pulled out from the cartridge case 2 .
  • a tape-shaped magnetic recording medium TM has a magnetic recording tape 10 and a leader tape 20 extending in the longitudinal direction of the magnetic recording medium TM.
  • the magnetic recording tape 10 and the leader tape 20 are connected to each other in the longitudinal direction of the magnetic recording medium TM.
  • the magnetic recording tape 10 is a portion on which various information can be magnetically recorded.
  • the leader tape 20 is a portion wound around the cartridge reel 3 after the magnetic recording tape 10, and has a strength higher than that of the magnetic recording tape 10, for example.
  • a leader pin 20P is provided at the end of the leader tape 20 .
  • the recording/reproducing device 30 is a drive (recording/reproducing device) conforming to the LTO9 standard.
  • FIG. 2 schematically shows a cross-sectional configuration example of the magnetic recording tape 10 .
  • the magnetic recording tape 10 has a laminated structure in which multiple layers are laminated.
  • the magnetic recording tape 10 includes a long tape-shaped substrate 11, an underlayer 12 provided on the main surface 11A of the substrate 11, and a magnetic layer 13 provided on the underlayer 12. , and a back layer 14 provided on the principal surface 11B opposite to the principal surface 21A of the substrate 11 .
  • the surface 13S of the magnetic layer 13 slides on the surface 13S of the magnetic head.
  • the base layer 12 and the back layer 14 are provided as required, and may be omitted.
  • the base 11 is a nonmagnetic support that supports the underlayer 12 and the magnetic layer 13 .
  • the substrate 11 has a long film shape.
  • the upper limit of the average thickness of the substrate 11 is preferably 4.4 ⁇ m or less, more preferably 4.2 ⁇ m or less.
  • the recording capacity that can be recorded in one magnetic recording cartridge 1 can be made higher than that of a general magnetic recording medium.
  • the recording capacity that can be recorded in one LTO-shaped magnetic recording cartridge 1 can be increased to 15 TB or more.
  • the lower limit of the average thickness of the substrate 11 is preferably 3 ⁇ m or more, more preferably 3.2 ⁇ m or more. When the lower limit of the average thickness of the substrate 11 is 3 ⁇ m or more, a decrease in the strength of the substrate 11 can be suppressed.
  • the average thickness of the substrate 11 is obtained as follows. First, a magnetic recording tape 10 having a width of 1/2 inch is prepared and cut into a length of 250 mm to prepare a sample. Subsequently, layers other than the substrate 11 of the sample, that is, the underlayer 12, the magnetic layer 13 and the back layer 14 are removed with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid. Next, using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C) as a measuring device, the thickness of the substrate 11, which is a sample, is measured at five or more points. Then, these measured values are simply averaged (arithmetic average) to calculate the average thickness of the substrate 11 . It is assumed that the measurement position is randomly selected from the sample.
  • a Mitutoyo laser hologram LGH-110C
  • the base 11 contains, for example, polyesters as a main component.
  • the substrate 11 may contain PEEK (polyetheretherketone) as a main component.
  • Substrate 11 may contain at least one of polyolefins, cellulose derivatives, vinyl resins, and other polymer resins in addition to polyesters or PEEK.
  • the substrate 11 contains two or more of the above materials, the two or more materials may be mixed, copolymerized, or laminated.
  • Polyesters contained in the substrate 11 include, for example, PET (polyethylene terephthalate), PEN (polyethylene naphthalate), PBT (polybutylene terephthalate), PBN (polybutylene naphthalate), PCT (polycyclohexylenedimethylene terephthalate), PEB (polyethylene-p-oxybenzoate) and at least one of polyethylene bisphenoxycarboxylate.
  • the polyolefins contained in the substrate 11 include, for example, at least one of PE (polyethylene) and PP (polypropylene).
  • Cellulose derivatives include, for example, at least one of cellulose diacetate, cellulose triacetate, CAB (cellulose acetate butyrate) and CAP (cellulose acetate propionate).
  • Vinyl-based resins include, for example, at least one of PVC (polyvinyl chloride) and PVDC (polyvinylidene chloride).
  • polymer resins contained in the substrate 11 include, for example, PA (polyamide, nylon), aromatic PA (aromatic polyamide, aramid), PI (polyimide), aromatic PI (aromatic polyimide), PAI (polyamideimide ), aromatic PAI (aromatic polyamideimide), PBO (polybenzoxazole, e.g. Zylon®), polyether, PEK (polyetherketone), polyetherester, PES (polyethersulfone), PEI ( polyetherimide), PSF (polysulfone), PPS (polyphenylene sulfide), PC (polycarbonate), PAR (polyarylate) and PU (polyurethane).
  • PA polyamide, nylon
  • aromatic PA aromatic polyamide, aramid
  • PI polyimide
  • PAI polyamideimide
  • PAI aromatic PAI (aromatic polyamideimide)
  • PBO polybenzoxazole, e.g. Zylon®
  • polyether PEK
  • the magnetic layer 13 is a recording layer for recording signals.
  • the magnetic layer 13 contains, for example, magnetic powder, binder and lubricant.
  • the magnetic layer 13 may further contain additives such as conductive particles, abrasives, and rust preventives, if necessary.
  • the arithmetic mean roughness Ra of the surface 13S of the magnetic layer 13 is 2.5 nm or less, preferably 2.2 nm or less, more preferably 1.9 nm or less. Excellent electromagnetic conversion characteristics can be obtained when the arithmetic mean roughness Ra is 2.5 nm or less.
  • the lower limit of the arithmetic mean roughness Ra of the surface 13S of the magnetic layer 13 is preferably 0.4 nm or more, more preferably 0.6 nm or more, and even more preferably 0.8 nm or more. When the lower limit of the arithmetic mean roughness Ra of the surface 13S of the magnetic layer 13 is 1.0 nm or more, it is possible to suppress deterioration in running performance due to increased friction.
  • the arithmetic mean roughness Ra of the surface 13S is obtained as follows. First, the surface of the magnetic layer 13 is observed with an AFM (Atomic Force Microscope) to obtain an AFM image of 40 ⁇ m ⁇ 40 ⁇ m.
  • the AFM is Nano Scope IIIa D3100 manufactured by Digital Instruments, the cantilever is made of silicon single crystal, and the tapping frequency is tuned from 200 Hz to 400 Hz.
  • the magnetic recording tape 10 of the magnetic recording medium TM housed in the magnetic recording cartridge 1 is in a range of 10 m or less from the connecting portion 4 and in the longitudinal direction.
  • One measurement sample is taken at each of three different positions along the line. Observation by the above-described AFM is performed on the three measurement samples taken.
  • the arithmetic average roughness Ra of the surface 13S is calculated as described above, and the arithmetic average of the entire surface 13S of the magnetic recording tape 10 is obtained by simply averaging the calculated values of all three measurement samples. Roughness Ra.
  • the magnetic layer 13 can record data such that the minimum value of the distance L between magnetization reversals is preferably 48 nm or less, more preferably 44 nm or less, and even more preferably 40 nm or less. It is configured.
  • the lower limit of the minimum value of the distance L between magnetization reversals is preferably 20 nm or more from the viewpoint of the magnetic grain size.
  • the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 13 is preferably 90 nm or less, particularly preferably 80 nm or less, more preferably 70 nm or less, and even more preferably 50 nm or less. If the upper limit of the average thickness of the magnetic layer 13 is 90 nm or less, magnetization can be recorded uniformly in the thickness direction of the magnetic layer 13 when a ring-type head is used as the recording head, thereby improving electromagnetic conversion characteristics. be able to.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic layer 13 is preferably 35 nm or more.
  • the output can be ensured when an MR head is used as the reproducing head, so that the electromagnetic conversion characteristics can be improved.
  • the average thickness of the magnetic layer 13 is obtained as follows.
  • the magnetic recording tape 10 is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned.
  • FIB Flucused Ion Beam
  • a carbon film and a tungsten thin film are formed as protective films as a pretreatment for observing a cross-sectional TEM image, which will be described later.
  • the carbon film is formed on the magnetic layer side surface and the back layer side surface of the magnetic recording tape 10 by vapor deposition, and the tungsten thin film is further formed on the magnetic layer side surface by vapor deposition or sputtering.
  • the thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic recording tape 10 .
  • the thinning of the magnetic recording tape 10 forms a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction.
  • the cross section of the obtained thinned sample is observed with a transmission electron microscope (TEM) under the following conditions to obtain a TEM image.
  • TEM transmission electron microscope
  • the magnification and the acceleration voltage may be appropriately adjusted according to the type of apparatus. Apparatus: TEM (H9000NAR manufactured by Hitachi, Ltd.) Accelerating voltage: 300 kV Magnification: 100,000 times
  • the thickness of the magnetic layer 13 is measured at at least 10 positions in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 .
  • the average thickness of the magnetic layer 13 is obtained by simply averaging (arithmetic averaging) the obtained measured values.
  • the position where the said measurement is performed shall be chosen at random from a test piece.
  • the magnetic powder includes, for example, powder of nanoparticles containing ⁇ -iron oxide (hereinafter referred to as “ ⁇ -iron oxide particles”). ⁇ -iron oxide particles can obtain a high coercive force even when they are fine particles.
  • the ⁇ -iron oxide contained in the ⁇ -iron oxide particles is preferably crystal-oriented preferentially in the thickness direction (perpendicular direction) of the magnetic recording tape 10 .
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing an example of the cross-sectional structure of the ⁇ -iron oxide particles 50 contained in the magnetic layer 13.
  • the ⁇ -iron oxide particles 50 have a spherical or nearly spherical shape, or have a cubic or nearly cubic shape. Since the ⁇ -iron oxide particles 50 have the above-described shape, when the ⁇ -iron oxide particles 50 are used as the magnetic particles, the magnetic properties are higher than when the hexagonal tabular barium ferrite particles are used as the magnetic particles. It is possible to reduce the contact area between the particles in the thickness direction of the recording tape 10 and suppress the aggregation of the particles. Therefore, it is possible to improve the dispersibility of the magnetic powder and obtain a better SNR (Signal-to-Noise Ratio).
  • the ⁇ -iron oxide particles 50 have, for example, a core-shell structure. Specifically, as shown in FIG. 3, the ⁇ -iron oxide particles 50 include a core portion 51 and a two-layered shell portion 52 provided around the core portion 51 .
  • the shell portion 52 having a two-layer structure has a first shell portion 52a provided on the core portion 51 and a second shell portion 52b provided on the first shell portion 52a.
  • the core portion 51 of the ⁇ -iron oxide particles 50 contains ⁇ -iron oxide.
  • the ⁇ -iron oxide contained in the core portion 51 preferably has an ⁇ -Fe2O3 crystal as a main phase, more preferably a single-phase ⁇ -Fe2O3.
  • the first shell portion 52a covers at least part of the periphery of the core portion 51. Specifically, the first shell portion 52 a may partially cover the periphery of the core portion 51 or may cover the entire periphery of the core portion 51 . From the viewpoint of ensuring sufficient exchange coupling between the core portion 51 and the first shell portion 52a and improving the magnetic properties, it is preferable that the entire surface of the core portion 51 is covered.
  • the first shell portion 52a is a so-called soft magnetic layer, and includes a soft magnetic material such as ⁇ -Fe, Ni-Fe alloy or Fe-Si-Al alloy.
  • ⁇ -Fe may be obtained by reducing ⁇ -iron oxide contained in the core portion 51 .
  • the second shell portion 52b is an oxide film as an antioxidant layer.
  • the second shell portion 52b contains ⁇ -iron oxide, aluminum oxide, or silicon oxide.
  • ⁇ -iron oxide includes at least one iron oxide selected from, for example, Fe3O4, Fe2O3 and FeO.
  • the ⁇ -iron oxide may be obtained by oxidizing the ⁇ -Fe contained in the first shell portion 52a.
  • the ⁇ -iron oxide particle 50 has the first shell portion 52a as described above, the ⁇ -iron oxide particle (core-shell The coercive force Hc of the particles) 20 as a whole can be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording. Further, since the ⁇ -iron oxide particles 50 have the second shell portions 52b as described above, the ⁇ -iron oxide particles 50 are exposed to the air during and before the manufacturing process of the magnetic recording tape 10, and the particle surface is It is possible to suppress the deterioration of the properties of the ⁇ -iron oxide particles 50 due to the occurrence of rust or the like. Therefore, by covering the first shell portion 52a with the second shell portion 52b, deterioration of the characteristics of the magnetic recording tape 10 can be suppressed.
  • the average particle size (average maximum particle size) of the magnetic powder is preferably 25 nm or less, more preferably 8 nm or more and 22 nm or less, and even more preferably 12 nm or more and 22 nm or less.
  • a region having a size of 1/2 of the recording wavelength is the actual magnetized region. Therefore, by setting the average particle size of the magnetic powder to be half or less of the shortest recording wavelength, a good S/N ratio can be obtained. Therefore, when the average particle size of the magnetic powder is 22 nm or less, the magnetic recording tape 10 with a high recording density (for example, the magnetic recording tape 10 configured to record signals at the shortest recording wavelength of 50 nm or less) exhibits good electromagnetic properties.
  • a transfer characteristic (eg, SNR) can be obtained.
  • the average particle size of the magnetic powder is 8 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and better electromagnetic conversion characteristics (for example, SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1 or more and 3.0 or less, more preferably 1 or more and 2.8 or less, and even more preferably 1 or more and 1.8 or less.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the range of 1 or more and 3.0 or less, it is possible to suppress aggregation of the magnetic powder, and at the time of perpendicularly orienting the magnetic powder in the step of forming the magnetic layer 13, the magnetic powder can suppress the resistance applied to Therefore, the perpendicular orientation of the magnetic powder can be improved.
  • the average particle size and average aspect ratio of the magnetic powder are determined as follows. First, the magnetic recording tape 10 to be measured is processed by an FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. Thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic tape. That is, by this thinning, a cross section parallel to both the longitudinal direction and the thickness direction of the magnetic recording tape 10 is formed. Using a transmission electron microscope (H-9500, manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation), the thin sample thus obtained was examined at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times. Observe the cross section so that it is visible, and take a TEM photograph.
  • FIB Fluorous Ion Beam
  • the major axis length DL means the maximum distance (so-called maximum Feret diameter) between two parallel lines drawn from all angles so as to touch the outline of each particle.
  • the minor axis length DS means the maximum length of the particles in the direction perpendicular to the major axis length DL of the particles.
  • the average major axis length DL ave is obtained by simply averaging (arithmetic mean) the major axis lengths DL of the 50 measured particles.
  • the average major axis length DLave obtained in this way is taken as the average particle size of the magnetic powder.
  • the average short axis length DSave is obtained by simply averaging (arithmetic mean) the short axis length DS of the 50 particles measured. Then, the average aspect ratio (DLave/DSave) of the particles is obtained from the average long axis length DLave and the average short axis length DSave.
  • the average particle volume of the magnetic powder is, for example, 400 nm 3 or more and 1800 nm 3 or less. Furthermore, the average particle volume of the magnetic powder is preferably 400 nm 3 or more and 1500 nm 3 or less, more preferably 400 nm 3 or more and 1200 nm 3 or less.
  • Binder a resin having a structure obtained by imparting a cross-linking reaction to a polyurethane-based resin, a vinyl chloride-based resin, or the like is preferable.
  • the binder is not limited to these, and other resins may be blended as appropriate depending on the physical properties required for the magnetic recording tape 10 .
  • the resin to be blended is not particularly limited as long as it is a resin commonly used in the coating type magnetic recording tape 10 .
  • polyvinyl chloride polyvinyl acetate, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, vinyl chloride-vinylidene chloride copolymer, vinyl chloride-acrylonitrile copolymer, acrylate-acrylonitrile copolymer, acrylate-chloride Vinyl-vinylidene chloride copolymer, vinyl chloride-acrylonitrile copolymer, acrylate-acrylonitrile copolymer, acrylate-vinylidene chloride copolymer, methacrylate-vinylidene chloride copolymer, methacrylate-chloride Vinyl copolymer, methacrylate-ethylene copolymer, polyvinyl fluoride, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer, acrylonitrile-butadiene copolymer, polyamide resin, polyvinyl butyral, cellulose derivatives (cellulose acetate butyrate, cellulose dye acetate, cellulose tria
  • thermosetting resins or reactive resins examples include phenol resins, epoxy resins, urea resins, melamine resins, alkyd resins, silicone resins, polyamine resins, and urea-formaldehyde resins.
  • polar functional groups such as —SOM, —OSO3M, —COOM, and P ⁇ O(OM) may be introduced into each of the binders described above for the purpose of improving the dispersibility of the magnetic powder.
  • M in the above chemical formula is a hydrogen atom or an alkali metal such as lithium, potassium or sodium.
  • the polar functional groups include side chain types having end groups of -NR1R2, -NR1R2R3+X-, and main chain types of >NR1R2+X-.
  • R1, R2 and R3 in the above formula are hydrogen atoms or hydrocarbon groups
  • X- is a halogen element ion such as fluorine, chlorine, bromine or iodine, or an inorganic or organic ion.
  • the polar functional group includes -OH, -SH, -CN, epoxy group and the like.
  • the lubricant contained in the magnetic layer 13 contains, for example, fatty acid and fatty acid ester.
  • the fatty acid contained in the lubricant preferably contains, for example, at least one of a compound represented by the following general formula ⁇ 1> and a compound represented by the following general formula ⁇ 2>.
  • the fatty acid ester contained in the lubricant preferably contains at least one of the compound represented by the following general formula ⁇ 3> and the compound represented by the following general formula ⁇ 4>.
  • the lubricant contains the compound represented by the general formula ⁇ 1> and the compound represented by the general formula ⁇ 3>, so that the compound represented by the general formula ⁇ 2> and the compound represented by the general formula ⁇ 3> By including two types of the compound represented by the general formula ⁇ 1> and the compound represented by the general formula ⁇ 4>, the compound represented by the general formula ⁇ 2> and the general formula ⁇ 4> By including two types of compounds represented by general formula ⁇ 1>, by including three types of compounds represented by general formula ⁇ 2> and general formula ⁇ 3>, general The compound represented by the general formula ⁇ 1>, the compound represented by the general formula ⁇ 3, by including three kinds of the compound represented by the formula ⁇ 1>, the compound represented by the general formula ⁇ 2>, and the compound represented by the general formula ⁇ 4>> and the compound represented by the general formula ⁇ 4>, the compound represented by the general formula ⁇ 2>, the compound represented by the general formula ⁇ 3>, and the compound represented by the general formula ⁇ 4> or
  • CH3(CH2)kCOOH ⁇ 1> (However, in general formula ⁇ 1>, k is an integer selected from the range of 14 or more and 22 or less, more preferably 14 or more and 18 or less.)
  • CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ⁇ 3> (However, in general formula ⁇ 3>, p is an integer selected from the range of 14 to 22, more preferably 14 to 18, and q is 2 to 5, more preferably 2 to 4 An integer selected from the following range.) CH3(CH2)pCOO-(CH2)qCH(CH3)2 ⁇ 4> (However, in the general formula ⁇ 4>, p is an integer selected from the
  • the magnetic layer 13 contains nonmagnetic reinforcing particles such as aluminum oxide ( ⁇ , ⁇ or ⁇ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, titanium oxide ( Rutile-type or anatase-type titanium oxide) and the like may be further included.
  • nonmagnetic reinforcing particles such as aluminum oxide ( ⁇ , ⁇ or ⁇ alumina), chromium oxide, silicon oxide, diamond, garnet, emery, boron nitride, titanium carbide, silicon carbide, titanium carbide, titanium oxide ( Rutile-type or anatase-type titanium oxide) and the like may be further included.
  • the underlayer 12 is a nonmagnetic layer containing nonmagnetic powder and a binder.
  • the underlayer 12 may further contain at least one additive selected from lubricants, conductive particles, hardeners, rust preventives, and the like, if necessary.
  • the underlayer 12 may have a multi-layer structure in which a plurality of layers are laminated.
  • the average thickness of the underlayer 12 is preferably 0.3 ⁇ m or more and 0.9 ⁇ m or less, more preferably 0.5 ⁇ m or more and 0.7 ⁇ m or less.
  • the tension control for the magnetic recording tape 10 is facilitated. Further, by setting the average thickness of the underlayer 12 to 0.3 ⁇ m or more, the adhesive force between the substrate 11 and the underlayer 12 is ensured. Moreover, variations in the thickness of the underlayer 12 can be suppressed, and an increase in the roughness of the surface 13S of the magnetic layer 13 can be prevented.
  • the average thickness of the underlying layer 12 is obtained, for example, as follows. First, a magnetic recording tape 10 having a width of 1/2 inch is prepared and cut into a length of 250 mm to prepare a sample. Subsequently, the underlayer 12 and the magnetic layer 13 of the sample magnetic recording tape 10 are peeled off from the substrate 11 . Next, using a laser hologram (LGH-110C) manufactured by Mitutoyo as a measuring device, the thickness of the laminated body of the underlayer 12 and the magnetic layer 13 peeled off from the substrate 11 is measured at five or more positions. do. Then, these measured values are simply averaged (arithmetic average) to calculate the average thickness of the laminate of the underlayer 12 and the magnetic layer 13 . It is assumed that the measurement position is randomly selected from the sample. Finally, the average thickness of the underlayer 12 is obtained by subtracting the average thickness of the magnetic layer 13 measured using the TEM as described above from the average thickness of the laminate.
  • LGH-110C laser hologram manufactured by Mituto
  • the base layer 12 preferably has a large number of holes. By accumulating lubricant in these numerous holes, the magnetic layer remains stable even after repeated recording or reproduction (that is, even after repeated running with the magnetic head in contact with the surface of the magnetic recording tape 10). A decrease in the amount of lubricant supplied between the surface 13S of 13 and the magnetic head can be further suppressed. Therefore, an increase in dynamic friction coefficient can be further suppressed.
  • the non-magnetic powder includes, for example, at least one of inorganic powder and organic powder. Also, the non-magnetic powder may contain carbon powder such as carbon black. One type of non-magnetic powder may be used alone, or two or more types of non-magnetic powder may be used in combination.
  • Inorganic particles include, for example, metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, metal sulfides, and the like. Examples of the shape of the non-magnetic powder include various shapes such as acicular, spherical, cubic, and plate-like, but are not limited to these.
  • Binder for base layer 12 The binder in the underlayer 12 is the same as in the magnetic layer 13 described above.
  • the back layer 14 contains, for example, a binder and non-magnetic powder.
  • the back layer 14 may further contain at least one additive selected from lubricants, curing agents, antistatic agents, and the like, if necessary.
  • the binder and non-magnetic powder in the back layer 14 are the same as the binder and non-magnetic powder in the underlayer 12 described above.
  • the average particle size of the non-magnetic powder in the back layer 14 is preferably 10 nm or more and 150 nm or less, more preferably 15 nm or more and 110 nm or less.
  • the average particle size of the non-magnetic powder in the back layer 14 is obtained in the same manner as the average particle size of the magnetic powder in the magnetic layer 13 described above.
  • the non-magnetic powder may contain particles having two or more particle size distributions.
  • the upper limit of the average thickness of the back layer 14 is preferably 0.6 ⁇ m or less, particularly preferably 0.5 ⁇ m or less.
  • the thickness of the underlayer 12 and the substrate 11 can be kept thick even when the average thickness of the magnetic recording tape 10 is 5.3 ⁇ m or less. , the running stability of the magnetic recording tape 10 in the recording/reproducing apparatus can be maintained.
  • the lower limit of the average thickness of the back layer 14 is not particularly limited, it is, for example, 0.2 ⁇ m or more, and particularly preferably 0.3 ⁇ m or more.
  • the average thickness of the back layer 14 is obtained as follows. First, a magnetic recording tape 10 having a width of 1/2 inch is prepared and cut into a length of 250 mm to prepare a sample. Next, using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C) as a measuring device, the thickness of the sample magnetic recording tape 10 is measured at five or more points, and the measured values are simply averaged ( arithmetic mean) to calculate the average thickness tT [ ⁇ m] of the magnetic recording tape 10 . It is assumed that the measurement position is randomly selected from the sample. Subsequently, the back layer 14 is removed from the sample magnetic recording tape 10 with a solvent such as MEK (methyl ethyl ketone) or dilute hydrochloric acid.
  • MEK methyl ethyl ketone
  • the thickness of the sample obtained by removing the back layer 14 from the magnetic recording tape 10 was measured at five or more points, and the measured values were simply averaged (arithmetic average) to obtain the thickness of the back layer.
  • An average thickness tB [ ⁇ m] of the magnetic recording tape 10 from which 14 is removed is calculated. It is assumed that the measurement position is randomly selected from the sample.
  • the upper limit of the average thickness (average total thickness) T10 of the magnetic recording tape 10 is preferably 5.6 ⁇ m or less, more preferably 5.3 ⁇ m or less.
  • the recording capacity that can be recorded in one magnetic recording cartridge 1 can be increased compared to general magnetic recording media.
  • the lower limit of the average thickness of the magnetic recording tape 10 is preferably 4.0 ⁇ m or more, for example. When the average thickness of the magnetic recording tape 10 is 4.0 ⁇ m or more, deformation of the magnetic recording tape 10 can be effectively suppressed.
  • the average thickness T10 of the magnetic recording tape 10 is obtained as follows. First, a magnetic recording tape 10 having a width of 1/2 inch is prepared and cut into a length of 250 mm to prepare a measurement sample. The same number of measurement samples for measuring the average thickness T10 are taken from the vicinity of the measurement samples taken when measuring the Young's modulus in the longitudinal direction. Next, using a Mitutoyo laser hologram (LGH-110C) as a measuring device, the thickness of the sample is measured at 5 or more points, and the measured values are simply averaged (arithmetic average) to obtain an average Calculate the value [ ⁇ m]. The average value is the average thickness T10 of the magnetic recording tape 10. FIG. It is assumed that the measurement position is randomly selected from the sample.
  • the upper limit of the coercive force Hc in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 is preferably 2000 Oe or less, more preferably 1900 Oe or less, and even more preferably 1800 Oe or less.
  • the longitudinal coercive force Hc2 is 2000 Oe or less, the magnetization reacts with high sensitivity to the perpendicular magnetic field from the magnetic head, so that a good recording pattern can be formed.
  • the lower limit of the coercive force Hc measured in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 is preferably 1000 Oe or more.
  • the lower limit value of the coercive force Hc in the longitudinal direction is 1000 Oe or more, demagnetization due to leakage flux from the recording head can be suppressed.
  • the above coercive force Hc is obtained as follows. Three magnetic recording tapes 10 are superimposed and adhered with a double-sided tape, and then punched out with a ⁇ 6.39 mm punch to prepare a measurement sample. At this time, marking is performed with any non-magnetic ink so that the longitudinal direction (running direction) of the magnetic recording tape 10 can be recognized. Then, using a vibrating sample magnetometer (VSM), the MH loop of the measurement sample (entire magnetic recording tape 10) corresponding to the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 (running direction of the magnetic recording tape 10) to measure. Next, the coating film (underlying layer 12, magnetic layer 13, backing layer 14, etc.) is wiped off with acetone, ethanol, or the like, leaving only the substrate 11.
  • VSM vibrating sample magnetometer
  • a correction sample a sample for background correction
  • the VSM is used to measure the MH loop of the correction sample (substrate 11) corresponding to the longitudinal direction of the substrate 11 (running direction of the magnetic recording tape 10).
  • the magnetic recording medium TM accommodated in the magnetic recording cartridge 1 is subjected to the measurement at three different positions along the longitudinal direction. and take correction samples.
  • the position 10 m from the connection portion 4 connected to the leader tape 20, the position 30 m from the connection portion 4, and the position 60 m from the connection portion 4 are collected at three locations.
  • the coercive force Hc in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 is obtained by calculating the arithmetic mean of the respective coercive forces Hc obtained from the MH loops measured for the measurement sample and the correction sample obtained at each of the three locations. .
  • VSM-P7- 15 type For the measurement of the MH loop of the measurement sample (entire magnetic recording tape 10) and the MH loop of the correction sample (substrate 11), for example, a highly sensitive vibration sample magnetometer "VSM-P7- 15 type” is used. Measurement conditions are measurement mode: full loop, maximum magnetic field: 15 kOe, magnetic field step: 40 bits, Time constant of locking amp: 0.3 sec, Waiting time: 1 sec, MH average number: 20.
  • background correction is performed by subtracting the MH loop of the correction sample (substrate 11) from the MH loop of the measurement sample (whole magnetic recording tape 10). , the MH loop after background correction is obtained.
  • the measurement/analysis program attached to the "VSMP7-15 type" is used for the calculation of this background correction.
  • the coercive force Hc is obtained from the obtained MH loop after background correction.
  • the measurement/analysis program attached to the "VSM-P7-15 model” is used. It should be noted that all the measurements of the above MH loop are performed at 25°C. Also, “demagnetizing field correction" when measuring the MH loop in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 is not performed.
  • the squareness ratio S1 in the perpendicular direction (thickness direction) of the magnetic recording tape 10 is, for example, 65% or more, preferably 67% or more, more preferably 70% or more, still more preferably 75% or more, and particularly preferably 80%. That's it.
  • the squareness ratio S1 is 65% or more, the perpendicular orientation of the magnetic powder is sufficiently high, so that a better SNR can be obtained.
  • the squareness ratio S1 is calculated, for example, from the same MH loop as the MH loop used for calculating the coercive force Hc. That is, the squareness ratio S1 is calculated by measuring the MH loop in the same manner as the method for calculating the coercive force Hc.
  • the squareness ratio S2 in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic recording tape 10 is preferably 35% or less, more preferably 30% or less, even more preferably 25% or less, particularly preferably 20% or less, and most preferably 15%. It is below. When the squareness ratio S2 is 35% or less, the perpendicular orientation of the magnetic powder is sufficiently high, so that a better SNR can be obtained.
  • the squareness ratio S2 is obtained in the same manner as the squareness ratio S1, except that the MH loop is measured in the longitudinal direction (running direction) of the magnetic recording tape 10 and the substrate 11.
  • the peak ratio X/Y between the main peak height X and the sub-peak height Y near zero magnetic field is preferably 3.0 or more, more preferably It is preferably 5.0 or higher, even more preferably 7.0 or higher, particularly preferably 10.0 or higher, and most preferably 20.0 or higher (see FIG. 4).
  • FIG. 4 is a graph showing an example of the SFD curve of the magnetic recording tape 10 shown in FIG.
  • the peak ratio X/Y is 3.0 or more, in addition to the ⁇ -iron oxide particles 50 that contribute to actual recording, low coercive force components peculiar to ⁇ -iron oxide (for example, soft magnetic particles, superparamagnetic particles, etc.) are magnetic.
  • the upper limit of the peak ratio X/Y is not particularly limited, it is 100 or less, for example.
  • the above peak ratio X/Y is obtained as follows. First, an MH loop after background correction is obtained in the same manner as in the coercive force Hc measurement method described above. Next, an SFD curve is calculated from the obtained MH loop. A program attached to the measuring machine may be used to calculate the SFD curve, or another program may be used. Let “Y” be the absolute value of the point where the calculated SFD curve intersects the Y axis (dM/dH), and let "X" be the height of the main peak seen near the coercive force Hc in the MH loop, Calculate the peak ratio X/Y. Note that the measurement of the MH loop is performed at 25° C. in the same manner as in the method of measuring the coercive force Hc.
  • the MH loop may be measured by stacking a plurality of samples to be measured.
  • a dimensional change ⁇ w [ppm/N] in the width direction of the magnetic recording tape 10 with respect to a change in tension in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 is preferably 650 ppm/N ⁇ w, more preferably 700 ppm/N ⁇ w. , still more preferably 750 ppm/N ⁇ w, and particularly preferably 800 ppm/N ⁇ w.
  • the dimensional change amount ⁇ w is 650 ppm/N ⁇ w, the change in the width of the magnetic recording tape 10 can be more effectively suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording medium 10 by the recording/reproducing device 30, which will be described later. can be done.
  • the upper limit of the dimensional change amount ⁇ w is not particularly limited, for example, ⁇ w ⁇ 1700000 ppm/N, preferably ⁇ w ⁇ 20000 ppm/N, more preferably ⁇ w ⁇ 8000 ppm/N, still more preferably ⁇ w ⁇ 5000 ppm/N. , ⁇ w ⁇ 4000 ppm/N, ⁇ w ⁇ 3000 ppm/N, or ⁇ w ⁇ 2000 ppm/N.
  • the dimensional change amount ⁇ w can be set to a desired value by selecting the substrate 11.
  • the dimensional change amount ⁇ w can be set to a desired value by selecting at least one of the thickness of the substrate 11 and the material of the substrate 11 .
  • the dimensional change amount ⁇ w may be set to a desired value, for example, by adjusting the stretching strength in the width direction and the longitudinal direction of the substrate 11 . For example, by stretching the substrate 11 more strongly in the width direction, the dimensional change amount ⁇ w is further decreased, and conversely, by increasing the stretching of the substrate 11 in the longitudinal direction, the dimensional change amount ⁇ w is increased.
  • the dimensional change amount ⁇ w is obtained as follows. First, a magnetic recording medium 10 having a width of 1/2 inch is prepared and cut into a length of 250 mm to obtain a sample 10S. Next, loads of 0.2N, 0.6N, and 1.0N are applied in the order of 0.2N, 0.6N, and 1.0N in the longitudinal direction of the sample 10S, and the width of the sample 10S under the loads of 0.2N, 0.6N, and 1.0N is measured. Subsequently, the dimensional change amount ⁇ w is obtained from the following formula. In addition, the measurement when a load of 0.6 N was applied was performed to confirm that there were no abnormalities in the measurement (especially to confirm that these three measurement results were linear). The measurement results are not used in the following equations. (In the formula, D (0.2 N) and D (1.0 N) respectively indicate the width of sample 10S when loads of 0.2 N and 1.0 N are applied in the longitudinal direction of sample 10S.)
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing the appearance of a measuring device 210 used for measuring the width of the magnetic recording medium 10.
  • the measurement device 210 includes a pedestal 211 , a support column 212 , a light emitter 213 , a light receiver 214 , a support plate 215 , five support members 216A to 216E, and a fixing portion 217 .
  • the pedestal 211 has a rectangular plate shape.
  • a light receiver 214 is provided in the center of the base 211 .
  • the support column 212 is erected adjacent to the light receiver 214 at a position shifted from the center of the pedestal 211 toward one long side.
  • a fixing portion 217 is provided on one short side of the base 211 .
  • a light emitter 213 is supported at the tip of the support column 212 .
  • the light emitter 213 and the light receiver 214 face each other.
  • the sample 10S supported by support members 216A to 216E is arranged between the light emitter 213 and the light receiver 214 facing each other.
  • the light emitter 213 and the light receiver 214 are connected to a PC (personal computer), measure the width of the sample 10S supported by the support members 216A to 216E, and output the measurement results to the PC under the control of the PC.
  • the light emitter 213 and the light receiver 214 incorporate a digital dimension measuring instrument LS-7000 manufactured by Keyence Corporation.
  • the light emitter 213 irradiates the sample 10S with linear light parallel to the width direction of the sample 10S supported by the support members 216A to 216E.
  • the light receiver 214 measures the width of the sample 10S by measuring the amount of light not blocked by the sample 10S.
  • An elongated rectangular support plate 215 is fixed at approximately half the height of the support column 212 .
  • the support plate 215 is supported such that the long sides of the support plate 215 are parallel to the main surface of the pedestal 211 .
  • One main surface of the support plate 215 supports five support members 216A to 216E.
  • the support members 216A to 216E have a cylindrical bar shape and support the back surface of the sample 10S (magnetic recording medium 10).
  • the five support members 216A to 216E (particularly their surfaces) are all made of stainless steel SUS304, and their surface roughness Rz (maximum height) is 0.15 ⁇ m to 0.3 ⁇ m.
  • each of the five support members 216A to 216E has a diameter of 7 mm, for example.
  • the distance d1 between the support members 216A and 216B (especially the distance between the central axes of these support members) is 20 mm.
  • a distance d2 between the support member 216B and the support member 216C is 30 mm.
  • a distance d3 between the support member 216C and the support member 216D is 30 mm.
  • a distance d4 between the support member 216D and the support member 216E is 20 mm.
  • the three support members 216B to 216D are arranged such that the portions of the sample 10S lying between the support members 216B, 216C, and 216D form a plane substantially perpendicular to the direction of gravity. are placed.
  • the support member 216C is fixed so as not to rotate, but the other four support members 216A, 216B, 216D and 216E are all rotatable.
  • a support member 216C positioned between the light emitter 213 and the light receiver 214 and positioned substantially at the center between the fixed portion 217 and the portion to which the load is applied is provided with a slit 216S.
  • Light L is emitted from the light emitter 213 to the light receiver 214 through the slit 216S.
  • the slit width of the slit 216S is 1 mm, and the light L can pass through the slit 216S without being blocked by the frame of the slit 216S.
  • the sample 10S is first set in the measuring device 210. Specifically, one end of the elongated sample 10S is fixed by the fixing part 217 . Next, the sample 10S is placed on five support members 216A-216E. At this time, the back surface of the sample 10S is brought into contact with the five support members 216A to 216E.
  • a weight 233 for applying a load of 0.2 N is attached to the other end of the sample 10S.
  • the sample 10S is held in the above environment for 2 hours or more to acclimatize the sample 10S to the above environment.
  • the width of the sample 10S is measured. Specifically, with a load 218 of 0.2 N attached, the light L is emitted from the light emitter 213 to the light receiver 214, and the width of the sample 10S to which the load is applied in the longitudinal direction is measured. The width measurement is performed while the sample 10S is not curled.
  • the weight for applying a load of 0.2 N is changed to a weight for applying a load of 0.6 N, and the width of the sample 10S is measured 5 minutes after the change. Finally, the weight is changed to apply a load of 1.0 N and the width of sample 10S is measured 5 minutes after the change.
  • the temperature expansion coefficient ⁇ of the magnetic recording tape 10 is preferably 3 [ppm/° C.] ⁇ 10 [ppm/° C.].
  • the change in the width of the magnetic recording tape 10 can be suppressed by adjusting the tension in the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10 by the recording/reproducing device 30, which will be described later.
  • the temperature expansion coefficient ⁇ is obtained as follows. First, the sample 10S is produced in the same manner as the method for measuring the amount of dimensional change ⁇ w, and the sample 10S is set in the measuring apparatus 210 that is the same as the method for measuring the amount of dimensional change ⁇ w. After that, for example, when measuring the temperature expansion coefficient ⁇ under a relative humidity environment of 10% RH, the measuring device 210 in which the sample 10S is set is controlled to a constant environment of a temperature of 29° C. and a relative humidity of 10%. housed in a separate chamber. Next, a load of 0.2 N is applied in the longitudinal direction of the sample 10S, and the sample 10S is held in the above environment for 2 hours or more to acclimatize.
  • the temperature is changed in order of 45°C, 29°C, and 10°C
  • the width of the sample 10S at 45°C and 10°C is measured, and the temperature expansion coefficient ⁇ is obtained from the following formula.
  • the measurement of the width of the sample 10S at a temperature of 29° C. is performed in order to confirm whether there is any abnormality in the measurement (in particular, to confirm that these three measurement results are linear). and its measurement results are not used in the following equations.
  • D (45° C.) and D (10° C.) indicate the widths of sample 10S at temperatures of 45° C. and 10° C., respectively.
  • Measurement of the temperature expansion coefficient ⁇ under relative humidity environments of 40% RH and 80% RH is also performed in the same manner as described above.
  • the humidity expansion coefficient ⁇ of the magnetic recording tape 10 is preferably ⁇ 5 [ppm/% RH].
  • the change in the width of the magnetic recording tape 10 can be further suppressed by adjusting the tension of the magnetic recording tape 10 in the longitudinal direction by the recording/reproducing device 30 .
  • the humidity expansion coefficient ⁇ is obtained as follows. First, the sample 10S is produced in the same manner as the method for measuring the amount of dimensional change ⁇ w, and the sample 10S is set in the measuring apparatus 210 that is the same as the method for measuring the amount of dimensional change ⁇ w. After that, for example, when measuring the humidity expansion coefficient ⁇ in a temperature environment of 10° C., the measuring device 210 in which the sample 10S is set is placed in a chamber controlled to a constant environment with a temperature of 10° C. and a relative humidity of 24%. accommodate within. Next, a load of 0.2 N is applied in the longitudinal direction of the sample 10S, and the sample 10S is held in the above environment for 2 hours or more to acclimatize.
  • the relative humidity is changed in the order of 80%, 24%, and 10%
  • the width of the sample 10S at 80% and 10% is measured, and the humidity expansion coefficient ⁇ is obtained from the following formula. .
  • the measurement of the width of the sample 10S at a humidity of 24% is performed in order to confirm whether there is any abnormality in the measurement (in particular, to confirm that these three measurement results are linear). and its measurement results are not used in the following equations. (In the formula, D (80%) and D (10%) indicate the width of sample 10S at relative humidity of 80% and 10%, respectively.)
  • the same procedure as described above is performed.
  • FIG. 6 schematically shows a cross-sectional configuration example of the leader tape 20.
  • the leader tape 20 has a laminated structure in which multiple layers are laminated, like the magnetic recording tape 10 .
  • the leader tape 20 includes a long tape-shaped substrate 21, an underlying layer 22 provided on the main surface 21A of the substrate 21, a magnetic layer 23 provided on the underlying layer 22, A back layer 24 is provided on the major surface 21A of the substrate 21 and the major surface 21B opposite to the major surface 21A.
  • the surface 23S of the magnetic layer 23 slides on the surface 23S of the magnetic head.
  • the underlying layer 22 and the backing layer 24 are provided as required, and may be omitted.
  • the leader tape 20 has the magnetic layer 23 , it is possible to pre-record an identification signal that can identify the leader tape 20 on the magnetic layer 23 . By doing so, for example, it is possible to prevent data from being recorded on the leader tape 20 by mistake.
  • the leader tape 20 since the leader tape 20 has a structure in which a plurality of layers such as the underlayer 22 and the magnetic layer 23 are laminated on the substrate 21, the leader tape 20 may have a coefficient of friction more suitable for running than the case where the leader tape 20 is composed only of the substrate 21. can. Therefore, the leader tape 20 can run more smoothly.
  • the structure of the base 21, underlayer 22, magnetic layer 23, and back layer 24 of the leader tape 20 is similar to that of the base 11, underlayer 12, magnetic layer 13, and back layer 14 of the magnetic recording tape 10 described above. configuration can be substantially equal. However, the configurations of the substrate 21, the underlayer 22, the magnetic layer 23, and the back layer 24 of the leader tape 20 are the same as the configurations of the substrate 11, the underlayer 12, the magnetic layer 13, and the back layer 14 of the magnetic recording tape 10, respectively. can be different.
  • the underlayer 12 of the magnetic recording tape 10 may be made of an acicular inorganic material
  • the underlayer 22 of the leader tape 20 may be made of an inorganic material other than the acicular inorganic material.
  • the average thickness (average total thickness) T20 of the leader tape 20 is, for example, 5.0 ⁇ m or more and 18.0 ⁇ m or less. Average thickness T20 is thicker than average thickness T10 of magnetic recording tape 10 . The difference between the average thickness T20 of the leader tape 20 and the average thickness T10 of the magnetic recording tape 10 is, for example, 12 ⁇ m or less.
  • the thickness of the substrate 21 is, for example, 3.0 ⁇ m or more and 15.0 ⁇ m or less.
  • the thickness of the underlying layer 22 is 0.6 ⁇ m or more and 3.0 ⁇ m or less.
  • the thickness of the magnetic layer 23 is 0.05 ⁇ m or more and 0.30 ⁇ m or less.
  • the thickness of the back layer 24 is 0.2 ⁇ m or more and 1.0 ⁇ m or less.
  • the average thickness T20 of the leader tape 20 is obtained by the same method as the average thickness T10 of the magnetic recording tape 10, for example.
  • the same number of measurement samples for measuring the average thickness T20 are taken from the vicinity of the measurement samples taken when measuring Young's modulus in the longitudinal direction.
  • the leader tape 20 is connected to the magnetic recording tape 10 by a splicing tape 60, for example, as shown in FIGS. 7A and 7B.
  • FIG. 7A is a schematic plan view showing an enlarged part of the leader tape 20 and the magnetic recording tape 10.
  • FIG. 7B is a schematic cross-sectional view showing an enlarged part of the leader tape 20 and the magnetic recording tape 10.
  • the splicing tape 60 is provided at the connection portion 4 (FIG. 1) between the leader tape 20 and the magnetic recording tape 10 .
  • the splicing tape 60 is adhered to the trailing edge 20E of the leader tape 20 and the leading edge 10S of the magnetic recording tape 10, respectively.
  • splicing tape 60 has a thickness T60.
  • the average thickness T60 is, for example, 5 ⁇ m or more and 24 ⁇ m or less.
  • the splicing tape 60 has, for example, a base material 61 and an adhesive layer 62 provided on the surface of the base material 61 .
  • the substrate 61 is made of, for example, the same constituent material as the constituent material of the substrate 11 of the magnetic recording tape 10 described above.
  • the base material 61 is, for example, a polyester film.
  • the thickness of the base material 61 is, for example, 16.0 ⁇ m.
  • the adhesive layer 62 can be configured using, for example, a pressure-sensitive adhesive.
  • the thickness of the adhesive layer 62 is, for example, 6.0 ⁇ m.
  • the leader tape 20 has a plurality of stepped portions 20U scattered in the longitudinal direction of the magnetic recording medium TM.
  • the constant condition here means that, in the recording/reproducing device 30 described later, in accordance with the LTO9 standard, under an environment of, for example, a temperature of 25° C. and a relative humidity of 45% RH, a constant condition is maintained between the cartridge reel 3 and the take-up reel 32 over the entire length
  • the condition is that the vehicle travels 140 round trips.
  • the maximum running speed during that run is 8 m/min.
  • the stepped portion 20U that is closest to the connection portion 4 between the leader tape 20 and the magnetic recording tape 10 is the leader tape 20. It has a maximum step ⁇ T of 34 ⁇ m or less in the thickness direction of the tape 20 . 7A and 7B show only the stepped portion 20U that is closest to the connection portion 4 among the plurality of stepped portions 20U.
  • the maximum step ⁇ T is the highest position P1 in the thickness direction and the lowest position P1 in the thickness direction of the unevenness on the surface of the leader tape 20, which is the step portion 20U. Refers to the difference from P2.
  • FIG. 8 is an explanatory view schematically showing the uneven shape of the surface of the leader tape 20 caused by running under the constant conditions described above. It should be noted that, in running according to the LTO9 standard, a tension of, for example, 0.4N to 1.3N, usually about 0.8N, is applied to the magnetic recording medium TM.
  • FIG. 9 is a schematic diagram showing an enlarged part of the take-up reel 32.
  • the core 71 is a member around which the magnetic recording medium TM is wound.
  • the core 71 is provided with a recess 71U into which the leader block 72 is fitted.
  • the leader block 72 is fitted in the recess 71U.
  • the leader block 72 is fitted into the recess 71 so as to sandwich the leader pin 20P of the leader tape 20 and the core 71 .
  • the partial surface 72S of the leader block 72 and the outer surface 71S of the core 71 form one substantially cylindrical outer peripheral surface.
  • a step 73 is generated between the partial surface 72S of the leader block 72 and the outer surface 71S of the core 71 .
  • the step 73 is transferred to the leader tape 20 and may be transferred to the magnetic recording tape 10 as well.
  • the maximum The step ⁇ T is set to 34 ⁇ m or less. Note that the maximum step ⁇ T is not determined only by the average thickness T20 of the leader tape 20 and the length of the leader tape 20. It is a parameter determined by adjusting the material and thickness of each layer, such as layer 24 .
  • the stepped portion 20U that is closest to the connecting portion 4 has a maximum step ⁇ T of 34 ⁇ m or less, thereby ensuring good recording and reproducing operations. , which enhances operational reliability.
  • the leader tape 20 is taken from the magnetic recording medium TM that has been reciprocated 140 times between the cartridge reel 3 and the take-up reel 32 in accordance with the LTO9 standard in the recording/reproducing device 30, as described above.
  • a digital microscope manufactured by KEYENCE CORPORATION can be used as a measuring device for measuring the maximum step ⁇ T.
  • a digital microscope includes a body, a head, and a lens. Their model names and measurement conditions are exemplified below. Body: VHX-7000 Head: VHX-7100 Lens: VHX-E20 (20-100x magnification) Lens magnification: 100x Shooting mode: Standard Storage pixel size: 1200 x 9000 pixels Shooting pitch: 4.00 ⁇ m
  • a sample of the leader tape 20 is placed on the stage S of the measuring machine so that the stepped portion 20U of the leader tape 20 to be measured fits within the angle of view of the lens.
  • the sample of the leader tape 20 was fixed on the stage at the first end T1 in the longitudinal direction, and then the second end T2 on the side opposite to the first end T1 was fixed.
  • a weight W of 20 g is placed on the sample of the leader tape 20 on the stage S so that the sample of the leader tape 20 does not float from the surface of the stage S.
  • the maximum step ⁇ T of the leader tape 20 can be measured.
  • Examples of the solvent used for preparing the above paint include ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone, alcohol solvents such as methanol, ethanol and propanol, methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate and propyl acetate.
  • ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone
  • alcohol solvents such as methanol, ethanol and propanol, methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate and propyl acetate.
  • ester solvents such as ethyl lactate and ethylene glycol acetate
  • ether solvents such as diethylene glycol dimethyl ether, 2-ethoxyethanol, tetrahydrofuran and dioxane
  • aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene and xylene
  • methylene chloride ethylene chloride
  • halogenated hydrocarbon solvents such as carbon tetrachloride, chloroform, and chlorobenzene. These may be used alone, or may be used by mixing them as appropriate.
  • a continuous twin-screw kneader for example, a continuous twin-screw kneader, a continuous twin-screw kneader capable of multistage dilution, a kneader, a pressure kneader, a roll kneader, or the like can be used. , and are not particularly limited to these devices.
  • Dispersing devices used for the above coating preparation include, for example, roll mills, ball mills, horizontal sand mills, vertical sand mills, spike mills, pin mills, tower mills, pearl mills (e.g. "DCP Mill” manufactured by Eirich), homogenizers, ultra A dispersing device such as a sonic disperser can be used, but it is not particularly limited to these devices.
  • the base layer 12 is formed by applying a base layer forming coating material to one main surface 11A of the substrate 11 and drying it.
  • the magnetic layer 13 is formed on the underlayer 12 by coating the underlayer 12 with a magnetic layer-forming paint and drying it.
  • the magnetic powder may be magnetically oriented in the running direction (longitudinal direction) of the substrate 11 by, for example, a solenoid coil, and then magnetically oriented in the thickness direction of the substrate 11 .
  • the degree of perpendicular orientation that is, the squareness ratio S1
  • the back layer 14 is formed by applying a back layer forming coating material to the other main surface 11B of the substrate 11 and drying it.
  • the magnetic recording tape 10 is obtained.
  • the squareness ratios S1 and S2 are determined by, for example, the strength of the magnetic field applied to the coating film of the magnetic layer-forming paint, the concentration of solids in the magnetic layer-forming paint, and the drying conditions (drying conditions) of the magnetic layer-forming paint film.
  • the desired value is set by adjusting the temperature and drying time).
  • the strength of the magnetic field applied to the coating film is preferably at least twice the coercive force of the magnetic powder.
  • the squareness ratio S1 In order to further increase the squareness ratio S1, it is effective to magnetize the magnetic powder before the magnetic layer-forming coating material enters an orientation device for magnetically orienting the magnetic powder.
  • the methods for adjusting the squareness ratios S1 and S2 may be used singly or in combination of two or more.
  • the obtained magnetic recording tape 10 is calendered to smooth the surface 13S of the magnetic layer 13.
  • the calendered magnetic recording tape 10 is wound into a roll.
  • the magnetic recording tape 10 is cut into a predetermined width (eg, 1/2 inch width). As described above, the intended magnetic recording tape 10 is obtained.
  • the leader tape 20 can also be manufactured in the same manner as the magnetic recording tape 10 described above.
  • the magnetic recording medium TM is completed by connecting the magnetic recording tape 10 and the leader tape 20 obtained as described above.
  • the recording/reproducing device 30 has a configuration in which the tension applied in the longitudinal direction of the magnetic recording medium TM can be adjusted. Further, the recording/reproducing device 30 has a configuration in which the magnetic recording cartridge 1 can be loaded. Here, for ease of explanation, the case where the recording/reproducing device 30 has a configuration in which one magnetic recording cartridge 1 can be loaded will be explained. However, in the present disclosure, the recording/reproducing device 30 may have a configuration in which a plurality of magnetic recording cartridges 1 can be loaded. As mentioned above, the magnetic recording medium TM is tape-shaped. The magnetic recording medium TM may be accommodated in the housing while wound around the cartridge reel 3 inside the magnetic recording cartridge 1, for example. The magnetic recording medium TM is adapted to run in the longitudinal direction during recording and reproduction.
  • the magnetic recording medium TM may be configured to record signals at the shortest recording wavelength of preferably 100 nm or less, more preferably 75 nm or less, even more preferably 60 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less. It can be used for the recording/reproducing device 30 whose wavelength is within the above range.
  • the recording track width can be, for example, 2 ⁇ m or less.
  • the recording/reproducing device 30 is connected to information processing devices such as a server 41 and a personal computer (hereinafter referred to as "PC") 42 via a network 43, for example, and magnetically records data supplied from these information processing devices.
  • the medium cartridge 1 is configured to be recordable.
  • the recording/reproducing device 30 includes a spindle 31, a take-up reel 32, a driving device 33, a driving device 34, a plurality of guide rollers 35, a head unit 36, and a communication interface ( ) 37 and a control device 38 .
  • the spindle 31 is configured such that the magnetic recording cartridge 1 can be mounted thereon.
  • the magnetic recording cartridge 1 conforms to the LTO (Linear Tape Open) standard, and rotatably accommodates a single cartridge reel 3 in which a magnetic recording medium TM is wound in a cartridge case 2 .
  • a V-shaped servo pattern is recorded in advance on the magnetic recording medium TM as a servo signal.
  • the take-up reel 32 is configured such that the leading end of the magnetic recording medium TM pulled out from the magnetic recording cartridge 1, that is, the leader pin 20P of the leader tape 20 can be fixed.
  • the driving device 33 is a device that drives the spindle 31 to rotate.
  • the drive device 34 is a device that rotates the take-up reel 32 .
  • the driving devices 33 and 34 rotate the spindle 31 and the take-up reel 32, respectively, thereby causing the magnetic recording medium TM to run.
  • the guide roller 35 is a roller for guiding travel of the magnetic recording medium TM.
  • the head unit 36 includes a plurality of recording heads for recording data signals on the magnetic recording medium TM, a plurality of reproducing heads for reproducing data signals recorded on the magnetic recording medium TM, and a plurality of servo heads for reproducing recorded servo signals.
  • a ring head can be used as the recording head
  • a magnetoresistive magnetic head can be used as the reproducing head, but the types of the recording head and the reproducing head are not limited to these.
  • the I/F 37 is for communicating with information processing devices such as the server 41 and the PC 42 and is connected to the network 43 .
  • the control device 38 controls the recording/reproducing device 30 as a whole. For example, the control device 38 records the data signal supplied from the information processing device on the magnetic recording medium TM by the head unit 36 in response to the request of the information processing device such as the server 41 and the PC 42 . Further, the control device 38 reproduces the data signal recorded on the magnetic recording medium 10 by the head unit 36 in response to a request from the information processing device such as the server 41 and the PC 42, and supplies the data signal to the information processing device.
  • the magnetic recording cartridge 1 is mounted in the recording/reproducing device 30, the leading end of the leader tape 20 of the magnetic recording medium TM is pulled out, and is transported to the take-up reel 32 via a plurality of guide rollers 35 and the head unit 36, whereupon the leader is taped.
  • a leader pin 20P at the tip of the tape 20 is attached to the take-up reel 32.
  • the spindle driving device 33 and the reel driving device 34 are driven under the control of the control device 38, and the magnetic recording medium 10 is run from the cartridge reel 3 toward the take-up reel 32. , the spindle 31 and the take-up reel 32 are rotated in the same direction. As a result, while the magnetic recording medium TM is wound around the reel 32, the head unit 36 records information on the magnetic recording medium TM or reproduces information recorded on the magnetic recording medium TM.
  • the spindle 31 and the take-up reel 32 are driven to rotate in the direction opposite to the above, so that the magnetic recording medium TM is pulled from the take-up reel 32 to the cartridge. It is run to reel 3.
  • the head unit 36 also records information on the magnetic recording medium TM or reproduces information recorded on the magnetic recording medium TM.
  • the magnetic recording medium TM has the magnetic recording tape 10 extending in the longitudinal direction and the leader tape 20 connected to the magnetic recording tape 10 in the longitudinal direction.
  • the maximum step ⁇ T of the step portion 20U closest to the connection portion 4 among the plurality of step portions 20U generated by repeatedly running the magnetic recording medium TM under certain conditions is 34 ⁇ m. It is adjusted as follows. Therefore, even if the magnetic recording medium TM is wound around the take-up reel 32 and stored, that is, even if the magnetic recording medium TM is laid down, the surface of the magnetic recording medium TM may be transferred with bends and dents. can prevent Alternatively, bends, dents, and the like transferred to the surface of the magnetic recording medium TM can be reduced. Therefore, the information recording operation on the magnetic recording tape 10 and the information reading operation from the magnetic recording tape 10 can be performed satisfactorily without hindrance.
  • Modification 1 Modification 1
  • the ⁇ -iron oxide particles 50 (FIG. 3) having the shell portion 52 with a two-layer structure have been exemplified and explained.
  • ⁇ -iron oxide particles 50A having a shell portion 53 with a single-layer structure may be included.
  • the shell portion 53 of the ⁇ -iron oxide particle 20A has, for example, the same configuration as the first shell portion 52a.
  • the ⁇ -iron oxide particles 50 having the shell portion 52 of the two-layer structure described in the first embodiment are more preferable than the ⁇ -iron oxide particles 50A of the first modification.
  • the ⁇ -iron oxide particles 50 having a core-shell structure have been exemplified, but the ⁇ -iron oxide particles may contain an additive instead of the core-shell structure, It may have a core-shell structure and may contain an additive. In this case, part of the Fe in the ⁇ -iron oxide particles is replaced with the additive.
  • the coercive force Hc of the ⁇ -iron oxide particles as a whole can also be adjusted to a coercive force Hc suitable for recording, so that the easiness of recording can be improved.
  • the additive is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Co (cobalt), Mn (manganese), Zr (zirconium). , Hf (hafnium), Cs (cesium) and Ti (titanium), Sm (samarium), Nd (neodymium), Pr (praseodymium) and at least one of Tb (terbium).
  • a metal element other than iron preferably a trivalent metal element, more preferably Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Co (cobalt), Mn (manganese), Zr (zirconium). , Hf (hafnium), Cs (cesium) and Ti (titanium), Sm (samarium), Nd (neodymium), Pr (praseodymium) and at least one of Tb (terbium).
  • the ⁇ -iron oxide containing the additive is an ⁇ -Fe2-xMxO3 crystal (where M is a metal element other than iron, preferably a trivalent metal element, more preferably Al, Ga and In). at least one, even more preferably at least one of Al and Ga.
  • x is, for example, 0 ⁇ x ⁇ 1.
  • the magnetic powder of the present disclosure may contain powder of nanoparticles containing hexagonal ferrite (hereinafter referred to as “hexagonal ferrite particles”) instead of powder of ⁇ -iron oxide particles.
  • Hexagonal ferrite particles have, for example, a hexagonal plate shape or a substantially hexagonal plate shape.
  • the hexagonal ferrite preferably contains at least one of Ba (barium), Sr (strontium), Pb (lead) and Ca (calcium), more preferably at least one of Ba and Sr.
  • the hexagonal ferrite may in particular be, for example, barium ferrite or strontium ferrite.
  • Barium ferrite may further contain at least one of Sr, Pb and Ca in addition to Ba.
  • the strontium ferrite may further contain at least one of Ba, Pb and Ca in addition to Sr.
  • hexagonal ferrite has an average composition represented by the general formula MFe12O19.
  • M is, for example, at least one metal selected from Ba, Sr, Pb and Ca, preferably at least one metal selected from Ba and Sr.
  • M may be a combination of Ba and one or more metals selected from the group consisting of Sr, Pb and Ca.
  • M may be a combination of Sr and one or more metals selected from the group consisting of Ba, Pb and Ca.
  • Part of Fe in the above general formula may be substituted with another metal element.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 50 nm or less, more preferably 40 nm or less, and even more preferably 30 nm or less. More preferably, the average particle size of the magnetic powder is 25 nm or less, 22 nm or less, 21 nm or less, or 20 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is, for example, 10 nm or more, preferably 12 nm or more, and more preferably 15 nm or more.
  • the average particle size of magnetic powder containing hexagonal ferrite particles can be, for example, 10 nm to 50 nm, 10 nm to 40 nm, 12 nm to 30 nm, 12 nm to 25 nm, or 15 nm to 22 nm.
  • the average particle size of the magnetic powder is equal to or less than the above upper limit (e.g., 50 nm or less, particularly 30 nm or less)
  • good electromagnetic conversion characteristics e.g., SNR
  • SNR high-density magnetic recording medium
  • the average particle size of the magnetic powder is at least the above lower limit (e.g., 10 nm or more, preferably 12 nm or more), the dispersibility of the magnetic powder is further improved, resulting in better electromagnetic conversion characteristics (e.g., SNR). be able to.
  • the above lower limit e.g. 10 nm or more, preferably 12 nm or more
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is preferably 1 or more and 3.5 or less, more preferably 1 or more and 3.1 or less, or 2 or more and 3.1 or less, and still more Preferably, it may be 2 or more and 3 or less.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is within the above numerical range, the aggregation of the magnetic powder can be suppressed. can be suppressed. This can result in improved vertical orientation of the magnetic powder.
  • the average particle size and average aspect ratio of magnetic powder containing hexagonal ferrite particles are obtained as follows.
  • the magnetic recording portion 10 to be measured is processed by the FIB (Focused Ion Beam) method or the like to be thinned. Thinning is performed along the length direction (longitudinal direction) of the magnetic recording portion 10 .
  • a transmission electron microscope Hitachi High-Technologies H-9500
  • the thin sample obtained was examined at an acceleration voltage of 200 kV and a total magnification of 500,000 times so that the entire recording layer was included in the thickness direction of the recording layer.
  • Cross-sectional observation is performed on Next, 50 particles whose sides face the observation surface are selected from the TEM photograph taken, and the plate thickness DA of each particle is measured.
  • the average plate thickness DAave is obtained by simply averaging (arithmetic mean) the plate thicknesses DA thus obtained.
  • the plate diameter DB of each magnetic powder is measured.
  • the plate diameter DB means the distance between two parallel lines drawn so as to contact the outline of the magnetic powder.
  • the average plate diameter DBave is obtained by simple averaging (arithmetic mean) the measured plate diameters DB.
  • the average aspect ratio (DBave/DAave) of the particles is obtained from the average plate thickness DAave and the average plate diameter DBave.
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 400 nm 3 or more and 1800 nm 3 or less. If the average particle volume of the magnetic powder is 1800 nm 3 or less, good electromagnetic conversion characteristics (for example, SNR) required for the magnetic recording portion 10 with high recording density can be obtained. In particular, when the average particle volume of the magnetic powder containing hexagonal ferrite particles is 1500 nm 3 or less, better electromagnetic conversion characteristics can be obtained, and when it is 1200 nm 3 or less, even better electromagnetic conversion characteristics can be obtained. When the average particle volume of the magnetic powder is 400 nm 3 or more, for example, sufficient thermal stability is ensured in the magnetic layer 13, and a good recording state is maintained in the magnetic layer 13.
  • SNR electromagnetic conversion characteristics
  • the average particle volume of the magnetic powder is obtained as follows. First, the average plate thickness DAave and the average plate diameter DBave are obtained by the method for calculating the average particle size of the magnetic powder described above. Next, the average particle volume V of the magnetic powder is obtained from the following formula.
  • the magnetic powder can be barium ferrite magnetic powder or strontium ferrite magnetic powder, more preferably barium ferrite magnetic powder.
  • the barium ferrite magnetic powder contains iron oxide magnetic particles having barium ferrite as the main phase (hereinafter referred to as "barium ferrite particles").
  • Barium ferrite magnetic powder has high reliability in data recording, for example, its coercive force does not decrease even in a hot and humid environment. From this point of view, barium ferrite magnetic powder is preferable as the magnetic powder.
  • the average thickness tm [nm] of the magnetic layer 13 is preferably 35 nm ⁇ tm ⁇ 100 nm, particularly preferably 80 nm or less.
  • the coercive force Hc measured in the thickness direction (perpendicular direction) of the magnetic recording portion 10 is preferably 160 kA/m or more and 280 kA/m or less, more preferably 165 kA/m or more and 275 kA/m or less, and even more preferably 170 kA/m. m or more and 270 kA/m or less.
  • the magnetic powder may contain powder of nanoparticles containing Co-containing spinel ferrite (hereinafter referred to as "cobalt ferrite particles") instead of powder of ⁇ -iron oxide particles.
  • Cobalt ferrite particles preferably have uniaxial anisotropy.
  • Cobalt ferrite particles for example, have a cubic or nearly cubic shape.
  • the Co-containing spinel ferrite may further contain at least one of Ni, Mn, Al, Cu and Zn in addition to Co.
  • a Co-containing spinel ferrite has, for example, an average composition represented by the following formula.
  • CoxMyFe2Oz _ (In formula (1), M is, for example, at least one metal selected from Ni, Mn, Al, Cu, and Zn.
  • x is within the range of 0.4 ⁇ x ⁇ 1.0.
  • y is a value within the range of 0 ⁇ y ⁇ 0.3, provided that x and y satisfy the relationship of (x+y) ⁇ 1.0, z is within the range of 3 ⁇ z ⁇ 4 is the value of.
  • Part of Fe may be substituted with other metal elements.
  • the average particle size of the magnetic powder is preferably 25 nm or less, more preferably 10 nm or more and 23 nm or less.
  • the average particle size of the magnetic powder is 25 nm or less, good electromagnetic conversion characteristics (for example, SNR) can be obtained in the magnetic recording tape 10 with high recording density.
  • the average particle size of the magnetic powder is 10 nm or more, the dispersibility of the magnetic powder is further improved, and better electromagnetic conversion characteristics (for example, SNR) can be obtained.
  • the average aspect ratio of the magnetic powder is the same as in one embodiment described above. Also, the average particle size and average aspect ratio of the magnetic powder are obtained in the same manner as in the calculation method of the above embodiment.
  • the average particle volume of the magnetic powder is preferably 15000 nm 3 or less, more preferably 1000 nm 3 or more and 12000 nm 3 or less.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 15000 nm 3 or less, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 25 nm or less can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is 1000 nm 3 or more, the same effect as when the average particle size of the magnetic powder is 10 nm or more can be obtained.
  • the average particle volume of the magnetic powder is obtained by the calculation method of the average particle volume of the magnetic powder in the above-described first embodiment (calculating the average particle volume when the ⁇ -iron oxide particles have a cubic or nearly cubic shape). calculation method).
  • the coercive force Hc of the cobalt ferrite magnetic powder is preferably 2500 Oe or more, more preferably 2600 Oe or more and 3500 Oe or less.
  • the magnetic recording tape of this embodiment may further include a barrier layer 15 provided on at least one surface of the substrate 11, like the magnetic recording tape 10A shown in FIG.
  • the barrier layer 15 is a layer for suppressing dimensional changes of the substrate 11 depending on the environment. For example, one of the causes of the dimensional change is the hygroscopicity of the substrate 11. By providing the barrier layer 15, the penetration speed of moisture into the substrate 11 can be reduced.
  • Barrier layer 15 includes, for example, a metal or metal oxide.
  • the metals referred to here include, for example, Al, Cu, Co, Mg, Si, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Mo, Ru, Pd, Ag, Ba , Pt, Au and Ta can be used.
  • the metal oxide for example, a metal oxide containing one or more of the above metals can be used. More specifically, at least one of Al 2 O 3 , CuO, CoO, SiO 2 , Cr 2 O 3 , TiO 2 , Ta 2 O 5 and ZrO 2 can be used.
  • the barrier layer 15 is made of diamond-like carbon (Diamond-Like Carbon). Carbon: DLC) or diamond or the like may be included.
  • the average thickness of the barrier layer 15 is preferably 20 nm or more and 1000 nm or less, more preferably 50 nm or more and 1000 nm or less.
  • the average thickness of the barrier layer 15 is obtained in the same manner as the average thickness of the magnetic layer 13 .
  • the magnification of the TEM image is appropriately adjusted according to the thickness of the barrier layer 15 .
  • the magnetic recording medium TM according to the above embodiment may be used in the library device.
  • the library device may include a plurality of recording/reproducing devices 30 in the above embodiment.
  • the magnetic recording cartridge 1 of the present embodiment is the same as the magnetic recording cartridge 1 described in the first embodiment except that the magnetic recording tape 10B of the sputter type is included instead of the magnetic recording tape 10 of the coating type. is.
  • FIG. 14 schematically shows a cross-sectional configuration example of the magnetic recording tape 10B.
  • the magnetic recording medium 110 is an elongated perpendicular magnetic recording medium, and has a laminated structure in which multiple layers are laminated as shown in FIG.
  • the magnetic recording tape 10B includes a long tape-shaped base 111, a first seed layer 113A, a second seed layer 113B, a first underlayer 114A, and a second underlayer. 114B and a magnetic layer 115 are provided in this order.
  • the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sputtered films formed by sputtering, for example. can do.
  • the magnetic recording tape 10B may further include a protective layer 116 and a lubricating layer 117 on the magnetic layer 115 in this order. Further, the magnetic recording tape 10B may further include a back layer 118 provided on the second main surface of the substrate 111. As shown in FIG. Also, a soft magnetic underlayer (SUL) 112 provided on the first main surface of the substrate 111 may be further provided.
  • SUL soft magnetic underlayer
  • the longitudinal direction of the magnetic recording tape 10B (longitudinal direction of the substrate 111) is referred to as machine direction (MD).
  • MD machine direction
  • the machine direction means the relative moving direction of the recording and reproducing heads with respect to the magnetic recording tape 10B, that is, the direction in which the magnetic recording tape 10B travels during recording and reproduction.
  • the magnetic recording tape 10B is suitable for use as a storage medium for data archiving, which is expected to be in increasing demand in the future.
  • the magnetic recording tape 10B can achieve, for example, an areal recording density of 50 Gb/inch 2 or more, which is ten times or more that of current coated magnetic recording media for storage. If the magnetic recording tape 10B having such a high areal recording density is used to form a general linear recording type data cartridge, a large capacity recording of 100 TB or more per magnetic recording cartridge is possible.
  • the magnetic recording tape 10B is a recording/reproducing apparatus (recording/reproducing data) having a ring-type recording head and a giant magnetoresistive (GMR) type or tunneling magnetoresistive (TMR) type reproducing head. It is possible to suitably use it for a recording/reproducing device for recording. Further, it is preferable that the magnetic recording tape 10B uses a ring type recording head as a servo signal writing head.
  • a data signal is perpendicularly recorded on the magnetic layer 115 by, for example, a ring-type recording head.
  • a servo signal is perpendicularly recorded on the magnetic layer 115 by, for example, a ring-type recording head.
  • the magnetic recording tape 10B is connected to the leader tape 20 at the connecting portion 4 in its own longitudinal direction.
  • the magnetic recording tape 10B differs from the magnetic recording tape 10 of the first embodiment in that it has the cross-sectional structure shown in FIG.
  • Substrate 111 may have substantially the same structure as substrate 11 in magnetic recording tape 10 of the first embodiment. Therefore, detailed description of the base 111 is omitted.
  • the SUL 112 includes soft magnetic material in an amorphous state.
  • the soft magnetic material includes, for example, at least one of Co-based materials and Fe-based materials.
  • Co-based materials include, for example, CoZNb, CoZrTa, or CoZrTaNb.
  • Fe-based materials include, for example, FeCoB, FeCoZr, or FeCoTa.
  • the SUL 112 has, for example, a single layer structure and is provided directly on the substrate 111.
  • the average thickness of the SUL 112 is preferably 10 nm or more and 50 nm or less, more preferably 20 nm or more and 30 nm or less.
  • the average thickness of the SUL 112 can be obtained, for example, in the same manner as the method of measuring the average thickness of the magnetic layer 13 in the first embodiment. Note that the average thicknesses of the layers other than the SUL 112, that is, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115, are also It can be obtained in the same manner as the method for measuring the average thickness of No. 13.
  • the first seed layer 113A contains an alloy containing Ti and Cr and has an amorphous state material.
  • this alloy may further contain O (oxygen).
  • This oxygen may be impurity oxygen that is contained in a small amount in the first seed layer 113A when the first seed layer 113A is formed by a film forming method such as a sputtering method.
  • the alloy as used herein means at least one of a solid solution containing Ti and Cr, a eutectic, an intermetallic compound, and the like.
  • the amorphous state means that a halo is observed by an X-ray diffraction method, an electron beam diffraction method, or the like, and the crystal structure of the substance forming the first seed layer 113 cannot be specified.
  • the atomic ratio of Ti to the total amount of Ti and Cr contained in the first seed layer 113A is preferably 30 atomic % or more and less than 100 atomic %, more preferably 50 atomic % or more and less than 100 atomic %.
  • the atomic ratio of Ti is less than 30%, the (100) plane of the body-centered cubic lattice (bcc) structure of Cr is oriented and formed on the first seed layer 113A.
  • the orientation of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B may deteriorate.
  • the atomic ratio of Ti is obtained as follows. While the magnetic recording medium 110 is ion-milled from the magnetic layer 115 side, a depth direction analysis (depth profile measurement) of the first seed layer 113A is performed by Auger Electron Spectroscopy (AES). Next, from the obtained depth profile, the average composition (average atomic ratio) of Ti and Cr in the film thickness direction is determined. Next, using the obtained average composition of Ti and Cr, the atomic ratio of Ti is obtained.
  • the atomic ratio of O to the total amount of Ti, Cr, and O contained in the first seed layer 113A is preferably 15 atomic % or less, more preferably is 10 atomic % or less.
  • the atomic ratio of O exceeds 15 atomic %, TiO 2 crystals are generated, which hinders the formation of crystal nuclei in the first underlayer 114A and the second underlayer 114B formed on the first seed layer 113A. This may affect the orientation of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B.
  • the atomic ratio of O is obtained by using the same analytical method as that for the atomic ratio of Ti.
  • the alloy contained in the first seed layer 113A may further contain elements other than Ti and Cr as additive elements.
  • This additive element may be one or more elements selected from the group consisting of Nb, Ni, Mo, Al, and W, for example.
  • the average thickness of the first seed layer 113A is preferably 1 nm or more and 15 nm or less, more preferably 1 nm or more and 10 nm or less.
  • the second seed layer 113B contains, for example, NiW or Ta and has a crystalline state.
  • the average thickness of the second seed layer 113B is preferably 2 nm or more and 20 nm or less, more preferably 3 nm or more and 15 nm or less.
  • the first seed layer 113A and the second seed layer 113B are not seed layers provided for the purpose of crystal growth of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B.
  • the first seed layer 113A and the second seed layer 113B are seed layers that improve the vertical orientation of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B.
  • the first underlayer 114A and the second underlayer 114B preferably have the same crystal structure as that of the magnetic layer 115 .
  • the first underlayer 114A and the second underlayer 114B include a material having a hexagonal close-packed (hcp) structure similar to the Co-based alloy, and the structure is preferably oriented in the direction perpendicular to the film surface (that is, the film thickness direction). This is because the orientation of the magnetic layer 115 can be enhanced and the lattice constant matching between the second underlayer 114B and the magnetic layer 115 can be made relatively good.
  • Ru alloys include Ru alloy oxides, such as Ru--SiO 2 , Ru--TiO 2 , and Ru--ZrO 2 , and the Ru alloy can be any one of these.
  • Materials having a hexagonal close-packed (hcp) structure forming the first underlayer 114A and the second underlayer 114B include, in addition to the above, Co (100-y) Cr y (where 35 ⁇ y ⁇ 45.) and Co-based alloys such as [Co (100-y) Cr y ] (100-z) (MO 2 ) z (within the range of 35 ⁇ y ⁇ 45, z ⁇ 10, and M is Si or Ti.).
  • the same materials can be used for the first underlayer 114A and the second underlayer 114B.
  • the intended effects of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B are different.
  • the second underlayer 114B has a film structure that promotes the granular structure of the upper magnetic layer 115
  • the first underlayer 114A has a film structure with high crystal orientation.
  • the average thickness of the first underlayer 114A is preferably 3 nm or more and 15 nm or less, more preferably 5 nm or more and 10 nm or less.
  • the average thickness of the second underlayer 114B is preferably 7 nm or more and 100 nm or less, more preferably 40 nm or more and 80 nm or less.
  • the magnetic layer (also called recording layer) 115 can be a perpendicular magnetic recording layer in which the magnetic material is vertically oriented. From the viewpoint of improving the recording density, the magnetic layer 115 is preferably a granular magnetic layer containing a Co-based alloy. This granular magnetic layer is composed of ferromagnetic crystal grains containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (non-magnetic material) surrounding the ferromagnetic crystal grains. More specifically, this granular magnetic layer consists of columns (columnar crystals) containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (e.g. oxides such as SiO 2 ) that surround the columns and magnetically separate the columns. ) and In this structure, a magnetic layer 115 having a structure in which each column is magnetically separated can be constructed.
  • This granular magnetic layer is composed of ferromagnetic crystal grains containing a Co-based alloy and non-magnetic grain boundaries (non-magnetic material) surrounding the
  • a Co-based alloy has a hexagonal close-packed (hcp) structure, and its c-axis is oriented in the direction perpendicular to the film surface (film thickness direction).
  • hcp hexagonal close-packed
  • the CoCrPt-based alloy may further contain additional elements.
  • additive elements include one or more elements selected from the group consisting of Ni and Ta.
  • the non-magnetic grain boundaries surrounding the ferromagnetic crystal grains contain non-magnetic metallic material.
  • metal shall include semimetal.
  • At least one of metal oxides and metal nitrides can be used as the non-magnetic metal material, and metal oxides are preferably used from the viewpoint of more stably maintaining the granular structure.
  • metal oxides include metal oxides containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf.
  • Metal oxides, including oxides (ie SiO 2 ) are preferred.
  • metal oxides include SiO2 , Cr2O3 , CoO, Al2O3 , TiO2 , Ta2O5 , ZrO2 , and HfO2 .
  • metal nitrides include metal nitrides containing at least one element selected from the group consisting of Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, and Hf.
  • metal nitrides include SiN, TiN, and AlN.
  • the CoCrPt-based alloy contained in the ferromagnetic crystal grains and the Si oxide contained in the non-magnetic grain boundaries have an average composition represented by the following formula (1). This is because it is possible to suppress the influence of the demagnetizing field and realize a saturation magnetization amount Ms that can ensure a sufficient reproduction output, thereby realizing further improvement in recording and reproduction characteristics.
  • (CoxPtyCr100-xy)100-z-(SiO2)z (1) (However, in formula (1), x, y, and z are values within the ranges of 69 ⁇ x ⁇ 75, 10 ⁇ y ⁇ 16, and 9 ⁇ z ⁇ 12, respectively.)
  • the above composition can be obtained as follows. While performing ion milling of the magnetic recording medium 110 from the magnetic layer 115 side, the depth direction analysis of the magnetic layer 115 by AES was performed, and the average composition (average atomic ratio) of Co, Pt, Cr, Si, and O in the film thickness direction. Ask for
  • the average thickness tm [nm] of the magnetic layer 115 is preferably 9 nm ⁇ tm ⁇ 90 nm, more preferably 9 nm ⁇ tm ⁇ 20 nm, and even more preferably 9 nm ⁇ tm ⁇ 15 nm.
  • the average particle volume of the magnetic powder in the magnetic layer 115 formed by the sputtering method is desirably 350 nm 3 or more and 1800 nm 3 or less.
  • the surface of the magnetic layer 115 is exposed by etching, and the surface is observed with a TEM. From the observed image, the diameter R115 of the magnetic particles on the surface of the magnetic layer 115 is measured.
  • a cross section of the magnetic layer 115 is formed by FIB, for example, and the thickness t115 of the magnetic layer 115 is measured from the image of the cross section obtained by TEM.
  • the protective layer 116 contains, for example, a carbon material or silicon dioxide (SiO2), and from the viewpoint of film strength of the protective layer 116, it preferably contains a carbon material.
  • carbon materials include graphite, diamond-like carbon (DLC), and diamond.
  • Lubricating layer 117 contains at least one lubricant.
  • the lubricating layer 117 may further contain various additives, such as rust preventives, if necessary.
  • the lubricant has at least two carboxyl groups and one ester bond and contains at least one carboxylic acid compound represented by the following general formula (1).
  • the lubricant may further contain a lubricant other than the carboxylic acid compound represented by the following general formula (1).
  • the carboxylic acid compound is preferably represented by the following general formula (2) or (3).
  • General formula (2) (Wherein, Rf is an unsubstituted or substituted saturated or unsaturated fluorine-containing hydrocarbon group or hydrocarbon group.)
  • General formula (3) (Wherein, Rf is an unsubstituted or substituted saturated or unsaturated fluorine-containing hydrocarbon group or hydrocarbon group.)
  • the lubricant preferably contains one or both of the carboxylic acid compounds represented by the above general formulas (2) and (3).
  • a lubricant containing a carboxylic acid compound represented by the general formula (1) When a lubricant containing a carboxylic acid compound represented by the general formula (1) is applied to the magnetic layer 115 or the protective layer 116, lubrication occurs due to the cohesive force between the hydrophobic fluorine-containing hydrocarbon groups or the hydrocarbon groups Rf. It takes action.
  • the Rf group is a fluorine-containing hydrocarbon group
  • the total carbon number is preferably 6-50
  • the total carbon number of the fluorohydrocarbon group is preferably 4-20.
  • the Rf group can be, for example, a saturated or unsaturated straight-chain, branched-chain or cyclic hydrocarbon group, preferably a saturated straight-chain hydrocarbon group.
  • Rf group is a hydrocarbon group
  • it is preferably a group represented by the following general formula (4).
  • General formula (4) (However, in general formula (4), l is an integer selected from the range of 8 to 30, more preferably 12 to 20.)
  • Rf group is a fluorine-containing hydrocarbon group
  • it is preferably a group represented by the following general formula (5).
  • the fluorohydrocarbon groups may be concentrated at one site in the molecule as described above, or may be dispersed as in the following general formula (6). It may be CHF2, -CHF-, or the like.
  • the number of carbon atoms in the general formulas (4), (5), and (6) is limited as described above because the number of carbon atoms constituting the alkyl group or fluorine-containing alkyl group (l or the sum of m and n) is the above lower limit or more, the length becomes a moderate length, the cohesive force between the hydrophobic groups is effectively exhibited, a good lubricating action is exhibited, and the friction / wear durability is improved. . Further, when the number of carbon atoms is equal to or less than the above upper limit, the solubility of the lubricant composed of the carboxylic acid compound in a solvent is maintained satisfactorily.
  • the Rf group in general formulas (1), (2), and (3) contains a fluorine atom
  • it is effective in reducing the coefficient of friction and improving running performance.
  • it is possible to provide a hydrocarbon group between the fluorine-containing hydrocarbon group and the ester bond, and to separate the fluorine-containing hydrocarbon group and the ester bond to ensure the stability of the ester bond and prevent hydrolysis. preferable.
  • the Rf group may have a fluoroalkyl ether group or a perfluoropolyether group.
  • the R group in general formula (1) may be absent, but in some cases, it is preferably a hydrocarbon chain with a relatively small number of carbon atoms.
  • the Rf group or R group contains one or more elements selected from nitrogen, oxygen, sulfur, phosphorus, and halogen as constituent elements, and in addition to the functional groups described above, a hydroxyl group, a carboxyl group, and a carbonyl group. , an amino group, an ester bond, and the like.
  • the carboxylic acid compound represented by formula (1) is preferably at least one of the compounds shown below. That is, the lubricant preferably contains at least one compound shown below.
  • the carboxylic acid-based compound represented by the general formula (1) is soluble in non-fluorine-based solvents with low environmental load, such as hydrocarbon-based solvents, ketone-based solvents, alcohol-based solvents, and ester-based solvents. It has the advantage that operations such as coating, dipping, and spraying can be performed using general-purpose solvents.
  • examples of general-purpose solvents include hexane, heptane, octane, decane, dodecane, benzene, toluene, xylene, cyclohexane, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, methanol, ethanol, isopropanol, diethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, and cyclohexanone.
  • Solvents such as
  • the protective layer 116 contains a carbon material
  • the carboxylic acid-based compound when applied as a lubricant onto the protective layer 116, two carboxyl groups and at least one The ester bond groups are adsorbed, and the cohesive force between the hydrophobic groups can form a particularly durable lubricating layer 117 .
  • the lubricant is not only held as the lubricating layer 117 on the surface of the magnetic recording tape 10B as described above, but is also contained in layers such as the magnetic layer 115 and the protective layer 116 that constitute the magnetic recording tape 10B. may have been
  • the back layer 118 can have the same configuration as the back layer 14 in the first embodiment.
  • the physical properties of the magnetic recording tape 10 and the method of measuring the same described in the first embodiment also apply to the physical properties of the magnetic recording tape 10B of the present embodiment and the method of measuring the same.
  • the average thickness of the magnetic recording tape 10B and its measuring method are the same as the average thickness of the magnetic recording tape 10B and its measuring method.
  • the sputtering apparatus 120 is a continuous winding sputtering apparatus used for forming the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115. is. As shown in FIG.
  • the sputtering apparatus 120 includes a film forming chamber 121, a drum 122 which is a metal can (rotating body), cathodes 123a to 123f, a supply reel 124, a take-up reel 125, and a plurality of Guide rollers 127a to 127c and 128a to 128c are provided.
  • the sputtering device 120 is, for example, a DC (direct current) magnetron sputtering system, but the sputtering system is not limited to this system.
  • the film forming chamber 121 is connected to a vacuum pump (not shown) through an exhaust port 126, and the vacuum pump sets the atmosphere in the film forming chamber 121 to a predetermined degree of vacuum.
  • a rotatable drum 122 , a supply reel 124 , and a take-up reel 125 are arranged inside the film formation chamber 121 .
  • a plurality of guide rollers 127a to 127c for guiding the transport of the base layer 111 between the supply reel 124 and the drum 122 are provided, and the drum 122 and the take-up reel 125 are provided.
  • a plurality of guide rollers 128a to 128c are provided for guiding the transport of the base layer 111 between.
  • the base layer 111 unwound from the supply reel 124 is wound onto the take-up reel 125 via the guide rollers 127a-127c, the drum 122, and the guide rollers 128a-128c.
  • the drum 122 has a cylindrical shape, and the elongated base layer 111 is transported along the cylindrical peripheral surface of the drum 122 .
  • the drum 122 is provided with a cooling mechanism (not shown), and is cooled to, for example, about -20° C. during sputtering.
  • a plurality of cathodes 123a to 123f are arranged facing the peripheral surface of the drum 122. As shown in FIG.
  • a target is set on each of these cathodes 123a to 123f.
  • cathodes 123a, 123b, 123c, 123d, 123e, and 123f are provided with SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, and second underlayer 114B, respectively.
  • a target for depositing the magnetic layer 115 is set.
  • These cathodes 123a-123f allow multiple types of films, namely SUL 112, first seed layer 113A, second seed layer 113B, first underlayer 114A, second underlayer 114B, and magnetic layer 115, to be formed simultaneously.
  • a film is formed.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are continuously formed by the Roll-to-Roll method.
  • the magnetic recording tape 10B can be manufactured, for example, as follows.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are deposited as a base layer. Films are deposited sequentially on the surface of the layer 111 . Specifically, the film is formed as follows. First, the film forming chamber 121 is evacuated to a predetermined pressure. After that, the targets set on the cathodes 123a to 123f are sputtered while introducing a process gas such as Ar gas into the film forming chamber 121. Next, as shown in FIG.
  • the SUL 112 the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 are sequentially formed on the surface of the running base layer 111. be done.
  • the atmosphere in the film forming chamber 121 during sputtering is set to about 1 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa to 5 ⁇ 10 ⁇ 5 Pa, for example.
  • the film thicknesses and properties of the SUL 112, the first seed layer 113A, the second seed layer 113B, the first underlayer 114A, the second underlayer 114B, and the magnetic layer 115 depend on the tape line speed at which the base layer 111 is wound. , the pressure of a process gas such as Ar gas introduced during sputtering (sputtering gas pressure), and the input electric power.
  • a protective layer 116 is deposited on the magnetic layer 115 .
  • a method for forming the protective layer 116 for example, a chemical vapor deposition (CVD) method or a physical vapor deposition (PVD) method can be used.
  • CVD chemical vapor deposition
  • PVD physical vapor deposition
  • a binder, inorganic particles, lubricant, etc. are kneaded and dispersed in a solvent to prepare a paint for forming a back layer.
  • the back layer 118 is formed on the back surface of the base layer 111 by coating the back surface of the base layer 111 with a paint for forming a back layer and drying it.
  • a lubricant is applied onto the protective layer 116 to form a lubricating layer 117 .
  • Various coating methods such as gravure coating and dip coating can be used as the coating method of the lubricant.
  • the magnetic recording tape 10B is cut into a predetermined width. Thus, the magnetic recording tape 10B shown in FIG. 14 is obtained.
  • Magnetic recording tape 10B may further include an underlayer between substrate 111 and SUL 112 . Since SUL 112 has an amorphous state, it does not play a role in promoting epitaxial growth of layers formed on SUL 112 . However, the SUL 112 is required not to disturb the crystal orientation of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B formed thereon. For that purpose, it is preferable that the soft magnetic material has a fine structure that does not form columns. However, when the release of gas such as moisture from the substrate 111 has a large effect, the soft magnetic material becomes coarse, and the crystal orientation of the first underlayer 114A and the second underlayer 114B formed on the SUL 112 is disturbed.
  • an underlayer containing an alloy containing Ti and Cr and having an amorphous state is provided between the substrate 111 and the SUL 112. It is preferable to provide As a specific configuration of this underlayer, a configuration similar to that of the first seed layer 113A can be adopted.
  • the magnetic recording tape 10B may not include at least one of the second seed layer 113B and the second underlayer 114B. However, from the viewpoint of improving the SNR, it is more preferable to include both the second seed layer 113B and the second underlayer 114B.
  • the magnetic recording tape 10B may be provided with an APC-SUL (Antiparallel Coupled SUL) instead of the single-layer structure SUL 112 .
  • APC-SUL Antiparallel Coupled SUL
  • the maximum step ⁇ T of the leader tape is a value obtained by the measurement method described in the first embodiment.
  • Example 1 A magnetic recording medium as Example 1 was obtained as follows.
  • a magnetic recording tape was produced as follows.
  • a coating material for forming a magnetic layer was prepared as follows. First, a first composition having the following formulation was kneaded with an extruder. Next, the kneaded first composition and the second composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disper and premixed. Subsequently, dyno-mill mixing was further carried out and filter treatment was carried out to prepare a coating material for forming a magnetic layer.
  • Each component and weight in the first composition are as follows.
  • ⁇ Powder of barium ferrite (BaFe12O19) particles (hexagonal plate shape, average aspect ratio 3.0, average particle volume 1600 nm3): 100 parts by mass ⁇ 50 parts by mass of cyclohexanone solution of vinyl chloride resin (the composition of the solution is the resin content 30% by mass and 70% by mass of cyclohexanone
  • Aluminum oxide powder ( ⁇ -Al 2 O 3 , average particle size 0.1 ⁇ m): 5 parts by mass
  • a base layer-forming coating material was prepared as follows. First, a third composition having the following formulation was kneaded with an extruder. Next, the kneaded third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disper and premixed. Subsequently, dyno-mill mixing was further carried out and filter treatment was carried out to prepare a base layer forming coating material.
  • Each component and weight in the third composition are as follows.
  • ⁇ Acicular iron oxide powder ⁇ -Fe 2 O 3 , average major axis length 0.12 ⁇ m
  • ⁇ Vinyl chloride resin resin solution: resin content 30% by mass, cyclohexanone 70% by mass
  • a coating material for forming a back layer was prepared as follows. The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disper and subjected to filter treatment to prepare a coating material for forming a back layer.
  • Carbon black manufactured by Asahi Carbon Co., Ltd., product name: #80
  • Polyurethane manufactured by Tosoh Corporation, product name: N-2304
  • 100 parts by mass ⁇ Methyl ethyl ketone: 500 parts by mass ⁇ Toluene: 400 Parts by mass
  • Cyclohexanone 100 parts by mass Polyisocyanate (trade name: Coronate L, manufactured by Tosoh Corporation): 10 parts by mass
  • ⁇ Coating process> Using the magnetic layer-forming coating composition and the underlayer-forming coating composition prepared as described above, a long polyester film having an average thickness of 4.0 ⁇ m, which is a non-magnetic support, was coated on one main surface with an average thickness after calendaring. An underlayer having a thickness of 0.92 ⁇ m and a magnetic layer having an average thickness of 80 nm were formed as follows. First, a base layer was formed by applying a base layer forming coating material on one main surface of a polyester film and drying it. Next, a magnetic layer was formed by applying a coating material for forming a magnetic layer on the underlayer and drying it.
  • the weight ratio of the vinyl chloride-based resin and the polyurethane-based resin in the binder of the magnetic layer was set to 1:1. Further, during drying of the magnetic layer-forming paint, the magnetic powder was magnetically oriented in the thickness direction of the film by a solenoid coil. The squareness ratio in the thickness direction (perpendicular direction) of the magnetic recording medium was set to 67%. Subsequently, a back layer forming coating material was applied to the other main surface of the polyester film and dried to form a back layer having an average thickness of 0.3 ⁇ m. A magnetic recording medium was thus obtained.
  • the magnetic recording tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm). As a result, the target long magnetic recording tape (average thickness 5.2 ⁇ m) was obtained. The length of the magnetic recording tape in the longitudinal direction was 1035 m.
  • a leader tape as Example 1 to be connected to the magnetic recording tape of Example 1 obtained as described above was produced as follows.
  • a coating material for forming a magnetic layer was prepared as follows.
  • a base layer-forming coating material was prepared as follows. First, a third composition having the following formulation was kneaded with an extruder. Next, the kneaded third composition and the fourth composition having the following composition were added to a stirring tank equipped with a disper and premixed. Subsequently, dyno-mill mixing was further carried out and filter treatment was carried out to prepare a base layer forming coating material.
  • polyisocyanate (trade name: Coronate L, manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.): 2.49 parts by mass and myristic acid: 2 parts by mass were added to the base layer-forming coating prepared as described above as a curing agent. was added.
  • a coating material for forming a back layer was prepared as follows. The following raw materials were mixed in a stirring tank equipped with a disper and subjected to filter treatment to prepare a coating material for forming a back layer.
  • an underlayer and a magnetic layer were formed on the base film as follows.
  • a long polyester film having an average thickness of 15.0 ⁇ m was used as the base film.
  • a base layer was formed on the base film by applying a base layer forming coating material on the base film and drying it.
  • a magnetic layer-forming paint was applied onto the underlayer and dried to form a magnetic layer on the underlayer.
  • the magnetic powder was magnetically oriented in the thickness direction of the film by a solenoid coil.
  • the squareness ratio S2 in the thickness direction (perpendicular direction) of the magnetic recording medium was set to 65% by adjusting the application time of the magnetic field to the magnetic layer forming coating material.
  • the underlayer was formed to have a final average thickness of 1.5 ⁇ m.
  • the magnetic layer was formed to have a final average thickness of 0.2 ⁇ m.
  • a back layer was applied to the base film on which the underlayer and the magnetic layer were formed, and dried. Then, a curing treatment was performed on the base film on which the underlayer, magnetic layer and back layer were formed. Subsequently, calendering was performed to smooth the surface of the magnetic layer. Further, a re-curing treatment was applied to obtain a leader tape having an average thickness of 17.0 ⁇ m. The back layer was formed to have a final average thickness of 0.50 ⁇ m.
  • Example 1 The leader tape obtained as described above was cut to a width of 1/2 inch (12.65 mm). As a result, a desired long leader tape (average thickness: 17.0 ⁇ m) was obtained as Example 1. The length of the leader tape in the longitudinal direction was 4500 mm. Finally, the magnetic recording medium of Example 1 was obtained by connecting the separately prepared magnetic recording tape of Example 1 and the leader tape of Example 1.
  • Example 1 After running the obtained magnetic recording medium of Example 1 under the constant conditions described above, a leader tape was taken from the magnetic recording medium, and the maximum step ⁇ T of the step portion of the leader tape was measured. Table 1 shows the results.
  • the confirmation position [m] in Table 1 represents the position in the longitudinal direction from the leading end of the leader tape.
  • Table 1 also shows the error rate and PES.
  • the error rate referred to here is the standard of Ecma International “Standard ECMA-319 Data Interchange on 12,7 mm 384-Track Magnetic Tape Cartridges - Ultrium-1 Format" (https://www.ecma-international.org/ wp-content/uploads/ECMA-319#1st#edition#june#2001.pdf) is the Error Correcting Code (ECC).
  • ECC Error Correcting Code
  • FIG. 16A is a diagram illustrating a PES measuring method using the recording/reproducing device 30 of FIG. 16B is a schematic diagram of the head unit 36 of the recording/reproducing device 30.
  • the head unit 36 has, for example, two servo read heads, multiple data write heads, and the like.
  • FIG. 16B is a schematic diagram of the head unit 36 viewed from below (tape running surface). As shown in FIG. 16B, the head unit 36 includes a first drive head portion 36a, a second drive head portion 36b, and a third drive head portion 36c.
  • the first drive head portion 36a and the second drive head portion 36b are configured symmetrically in the X-axis direction, which is the running direction of the magnetic recording medium TM.
  • the third drive head portion 36c is arranged between the first drive head portion 36a and the second drive head portion 36b in the X-axis direction.
  • the first to third drive head portions 36a to 36c are configured to be movable in the Y-axis direction, which is the width direction of the magnetic recording medium TM1.
  • the first drive head portion 36a is a drive head used when the magnetic recording medium TM is running in the forward direction, that is, in the +X direction.
  • the second drive head portion 36b is a drive head used when the magnetic recording tape 10 is running in the reverse direction, that is, in the -X direction. Since the first drive head portion 36a and the second drive head portion 36b have basically the same configuration, the first drive head portion 36a will be described as a representative.
  • the first drive head section 36 a has a head body 131 , two servo read heads 132 and a plurality of data write heads 133 .
  • the servo read heads 132 are provided on each side of the head body 131 in the width direction (Y-axis direction).
  • the MR element includes a tunnel magnetoresistive effect element (TMR: Tunnel Magneto Resistive effect).
  • TMR Tunnel Magneto Resistive effect
  • the distance between the two servo read heads 132 in the width direction (Y-axis direction) should be substantially the same as the distance between adjacent servo bands s on the magnetic recording medium TM.
  • the data write heads 133 are arranged at equal intervals along the width direction (Y-axis direction). Also, the data write head 133 is arranged at a position sandwiched between the two servo read heads 132 .
  • the number of data write heads 133 is, for example, about 20 and 40, but this number is not particularly limited.
  • the data write head 133 is configured to be able to record data signals on the data band d of the magnetic recording tape 10 by the magnetic field generated from the magnetic gap.
  • the third drive head section 36c has, for example, a head main body 131, two servo heads 134, and a plurality of data read heads 135.
  • the data read head 135 is configured to read the magnetic field generated from the magnetic information recorded in the data band d of the magnetic recording medium TM with an MR element or the like, thereby reproducing the data signal.
  • the MR element includes a tunnel magnetoresistive effect element (TMR: Tunnel Magneto Resistive effect).
  • the first drive head portion 36a is arranged on the left side of the third drive head portion 36c, that is, on the upstream side when the magnetic recording medium TM flows in the forward direction.
  • the second drive head portion 36b is arranged on the right side of the third drive head portion 36c, that is, on the upstream side when the magnetic recording medium TM flows in the opposite direction.
  • the data read head 135 of the third drive head portion 36c reproduces the data signal immediately after the first drive head portion 36a or the second drive head portion 36b writes the data signal to the magnetic recording medium TM. It is possible.
  • the PES here means the servo trace line T on each servo band of the two servo read heads 132 (FIG. 16B) when the magnetic recording medium TM is run over the entire length by the recording/reproducing device 30. It is a numerical value representing the relative position with respect to the pattern 6 .
  • the interval between the servo trace lines T indicated by solid lines in FIG. 16A is the servo band pitch when the width of the magnetic recording medium TM does not change, that is, the first interval which is the arrangement interval between the two servo read heads 132 of the head unit 36. Pitch P1 is shown. Also, the interval between the servo trace lines T indicated by broken lines in FIG. 16A corresponds to the servo band pitch P2' when the width of the magnetic recording medium TM is widened.
  • FIG. 16C is a diagram explaining a method of measuring the servo trace line T.
  • the magnetic recording/reproducing device 30 outputs a servo reproduction signal having a waveform corresponding to the position of the servo trace line T with respect to the servo pattern 6 .
  • a distance AC between A bursts and C bursts, which are arrays of gradient patterns of the same shape, and a distance AB between A bursts and B bursts, which are arrays of gradient patterns of different shapes are calculated.
  • a numerical value representing the relative position of the servo trace line T of each servo read head 132 with respect to the servo pattern 6 is calculated by the following equation (5).
  • ⁇ is the azimuth angle of each tilt pattern, which is 12° in this example.
  • the distance AC is calculated by multiplying AC Time by the tape running speed.
  • AC Time means the time from A signal to C signal.
  • the distance AB is calculated by multiplying AB Time by the tape running speed.
  • AB Time means the time from A signal to B signal.
  • the distance AC may be the distance AC1 between the first slopes of the A burst and the C burst, the distance AC2 between their second slopes, or the distance AC2 between their third slopes. may be the distance AC3 between them, or the distance AC4 between the fourth inclined portions.
  • These distances AC (AC1AC4) refer to distances calculated by multiplying the tape running speed by the time between the timings (upper peak) where the amplitude shows the maximum positive value in the servo reproduction waveform.
  • the PES was measured using an LTO-9 drive servo characteristic evaluation device.
  • Example 2 A magnetic recording medium of Example 2 was prepared in the same manner as the magnetic recording medium of Example 1 except that the final average thickness of the underlayer of the leader tape was 1.3 ⁇ m.
  • the maximum step ⁇ T, error rate, and PES were measured in the same manner as in Example 1, respectively. Table 1 shows the results.
  • Example 3 A magnetic recording medium of Example 3 was prepared in the same manner as the magnetic recording medium of Example 1 except that the final average thickness of the underlayer of the leader tape was 1.1 ⁇ m.
  • the maximum step ⁇ T, error rate, and PES were measured in the same manner as in Example 1, respectively. Table 1 shows the results.
  • Comparative Example 1 A magnetic recording medium of Comparative Example 1 was prepared in the same manner as the magnetic recording medium of Example 1 except that the length of the leader tape in the longitudinal direction was 900 ⁇ 30 mm.
  • the maximum step ⁇ T, error rate, and PES were measured in the same manner as in Example 1, respectively. Table 1 shows the results.
  • Comparative Example 2 A magnetic recording medium of Comparative Example 2 was prepared in the same manner as the magnetic recording medium of Comparative Example 1 except that the final average thickness of the underlayer of the leader tape was 1.3 ⁇ m.
  • the maximum step ⁇ T, error rate, and PES were measured in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results.
  • Comparative Example 3 A magnetic recording medium of Comparative Example 3 was prepared in the same manner as the magnetic recording medium of Comparative Example 1 except that the final average thickness of the underlayer of the leader tape was 1.1 ⁇ m.
  • the maximum step ⁇ T, error rate, and PES were measured in the same manner as in Example 1, respectively. Table 1 shows the results.
  • the configurations, methods, steps, shapes, materials, numerical values, etc. given in the above-described embodiments and modifications thereof are merely examples, and different configurations, methods, steps, shapes, materials, numerical values, etc., may be used if necessary. etc. may be used.
  • the magnetic recording medium of the present disclosure may contain components other than the substrate, underlayer, magnetic layer, back layer and barrier layer.
  • the chemical formulas of compounds and the like are representative ones, and the valence numbers and the like are not limited as long as they are common names of the same compound.
  • the upper limit or lower limit of the numerical range at one stage may be replaced with the upper limit or lower limit of the numerical range at another stage.
  • the materials exemplified in this specification can be used singly or in combination of two or more unless otherwise specified.
  • the connection between the leader tape and the magnetic recording tape It is configured so that the maximum step of the stepped portion closest to the portion is 34 ⁇ m or less. Therefore, the information recording operation on the magnetic recording tape and the information reading operation from the magnetic recording tape can be performed satisfactorily without hindrance.
  • the present technology can take the following configurations.
  • Condition 1 An environment with a temperature of 23° C. and a relative humidity of 45% RH.
  • Condition 2 Use a drive conforming to the LTO9 standard.
  • Condition 3 140 round trips for recording and reproducing a capacity of 18 terabytes.
  • (2) further comprising a splicing tape provided on the connecting portion;
  • the magnetic recording medium according to (1) wherein the leader tape and the magnetic recording tape are connected by the splicing tape.
  • (3) The magnetic recording medium according to (2) above, wherein both the average thickness of the leader tape and the average thickness of the magnetic recording tape are thinner than the average thickness of the splicing tape.
  • (4) The magnetic recording medium according to (3) above, wherein the splicing tape has an average thickness of 5 ⁇ m or more and 24 ⁇ m or less.
  • the magnetic recording medium is a longitudinally extending magnetic recording tape; a leader tape connected to the magnetic recording tape in the longitudinal direction, Of the plurality of stepped portions that occur on the leader tape after running according to conditions 1 to 3 below, the maximum stepped portion of the stepped portion that is closest to the connection portion between the leader tape and the magnetic recording tape is the leader tape. 34 ⁇ m or less in the thickness direction of the magnetic recording medium cartridge.
  • Condition 1 An environment with a temperature of 23° C. and a relative humidity of 45% RH.
  • Condition 2 Use a drive conforming to the LTO9 standard.
  • Condition 3 140 round trips for recording and reproducing a capacity of 18 terabytes.

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  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

さらなる高容量化に対応しつつ、優れた動作信頼性が得られる磁気記録媒体を提供する。この磁気記録媒体は、長手方向に延在する磁気記録テープと、長手方向において磁気記録テープと連結されるリーダーテープとを有する。さらに、以下の条件１～３に従う走行後にリーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、リーダーテープと磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある段差部分の最大段差は、リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である。但し、条件１は温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であることであり、条件２はＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いることであり、条件３は１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復することである。

Description

磁気記録媒体および磁気記録媒体カートリッジ
　本開示は、磁気記録媒体および磁気記録媒体カートリッジに関する。
　電子データの保存のために、テープ状の磁気記録媒体が幅広く利用されている。これまでに、情報記録を行う磁気記録テープの先端にリーダーテープを接続するようにした磁気記録媒体が提案されている（例えば特許文献１参照）。
特開２００５－３１０３５４号公報
　ところで、今後、磁気記録媒体のさらなる高容量化が予想される。
　そこで、さらなる高容量化に対応しつつ、優れた動作信頼性が得られる磁気記録媒体が望まれる。　
　本開示の一実施形態としての磁気記録媒体は、長手方向に延在する磁気記録テープと、長手方向において磁気記録テープと連結されるリーダーテープとを有する。さらに、以下の条件１～３に従う走行後にリーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、リーダーテープと磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある段差部分の最大段差は、リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である。但し、条件１は温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であることであり、条件２はＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いることであり、条件３は１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復することである。
本開示の第１の実施の形態に係る磁気記録カートリッジの構成例を表す模式図である。 図１に示した磁気記録媒体のうちの磁気記録テープの拡大断面図である。 図２に示した磁性層に含まれるε酸化鉄粒子の断面構造を模式的に表す断面図である。 図２に示した磁気記録テープのＳＦＤ曲線の一例を示すグラフである。 磁気記録媒体の幅の測定に用いられる測定装置の外観を表す概略模式図である。 図１に示した磁気記録媒体のうちのリーダーテープの拡大断面図である。 図１に示したリーダーテープと磁気記録テープとの接続部分を拡大して表す平面模式図である。 図１に示したリーダーテープと磁気記録テープとの接続部分を拡大して表す断面模式図である。 リーダーテープの表面の凹凸形状を模式的に表す説明図である。 図１に示した磁気記録カートリッジのリールの一部を拡大して表した模式図である。 図１に示したリーダーテープの最大段差の測定方法を説明するための説明図である。 図１の磁気記録カートリッジを備えた記録再生装置の構成例を表す模式図である。 第１の実施の形態の変形例に係るε酸化鉄粒子の断面図である。 第１の実施の形態の他の変形例に係る磁気記録媒体の断面図である。 本開示の第２の実施の形態に係る磁気記録媒体の断面図である。 図１４に示した磁気記録媒体の製造に用いられるスパッタ装置の構成例を表す模式図である。 図１１の記録再生装置を用いたＰＥＳの測定方法を説明する図である。 図１１の記録再生装置のヘッドユニットの概略図である。 サーボトレースラインの測定方法を説明する図である。
　以下、本開示の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本技術の代表的な実施の形態を示したものであり、本技術は以下の実施の形態に限定されるものではない。
　説明は以下の順序で行う。
０．本技術の概要
１．第１の実施の形態（磁気記録媒体を含む磁気記録カートリッジの例）
　１－１．磁気記録カートリッジの構成
　１－２．磁気記録媒体の構成
　１－３．リーダーテープの段差の測定方法
　１－４．磁気記録媒体の製造方法
　１－５．記録再生装置
　１－６．効果
　１－７．変形例
２．第２の実施の形態（スパッタ型の磁気記録媒体を含む磁気記録カートリッジの例）
　２－１．磁気記録カートリッジの構成
　２－２．磁気記録媒体の構成
　２－３．スパッタ装置の構成
　２－４．磁気記録媒体の製造方法
　２－５．効果
　２－６．変形例
３．実施例
＜０．本技術の概要＞
　まず、本開示の技術を創作するに至った経緯について説明する。近年、コンピュータ用データストレージなどに利用されている磁気記録カートリッジ１つ当たりの記録容量をさらに増やすことが求められている。記録容量を増やすために、例えば、磁気記録カートリッジに収容されるテープ状の磁気記録媒体におけるトラック幅を狭めたり、隣接トラック間の距離を狭めたりすることが行われる。ところが、トラック幅が狭小化されたり、隣接トラック間の距離が狭小化されたりすると、温湿度変化等の環境要因に起因する磁気記録媒体自体の許容される寸法変化量がますます小さくなる。すなわち、磁気記録媒体の幅の変動に起因して、磁気記録再生装置が、磁気記録媒体に記録されたデータを正確に読み出すことができずに読出しエラーを発生させてしまう可能性がある。そのため、磁気記録再生装置の動作信頼性や、その磁気記録再生装置に用いられる磁気記録媒体の信頼性を損なう可能性がある。
　そこで、本出願人は、テープ状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することにより、その磁気記録媒体の幅をほぼ一定に保つことができる磁気記録再生装置、およびそれに好適な磁気記録媒体を提案している。その磁気記録再生装置では、例えば磁気記録媒体の幅方向の寸法、または寸法の変化を検知し、その検知結果に基づき磁気記録媒体に付与する長手方向のテンションを調整するようにしている。このように、磁気記録媒体に所定のテンションを付与することでその磁気記録媒体の幅をほぼ一定に保持し、磁気記録媒体および磁気記録再生装置の信頼性を確保することができる。
　しかしながら、磁気記録媒体に所定のテンションを付与することで、磁気記録媒体の表面に発生する折れ曲がりや凹みなどがより顕著に表れることがある。例えば、磁気記録媒体は、情報の記録がなされる磁気記録テープの先端にリーダーテープが接続されている。通常、リーダーテープの端部には、テープドライブ側の巻き取りリール（以下テイクアップリール）に取り付けられるリーダーピンが設けられている。テイクアップリールには切り欠き部が設けられており、リーダーピンに接続されるパーツがその切り欠き部にはめ込まれるようになっている。リーダーピンに接続されるパーツが切り欠き部にはめ込まれた際、テイクアップリールの巻き取り部分にわずかな段差が生じる。このため、例えばテイクアップリールに磁気記録媒体が高テンションで巻き取られた状態で保管されると、テイクアップリールの段差が磁気記録テープの表面に転写され、磁気記録媒体の表面に折れ曲がりや凹みが発生することがある。
　そこで本出願人は、このような状況を鑑みて、高い記録密度を有しつつ、優れた記録動作および再生動作を実現することのできる磁気記録媒体を提案する。
＜１．第１の実施の形態（塗布型の磁気記録媒体を含む磁気記録カートリッジの例）＞
［１－１．磁気記録カートリッジ１の構成］
　まず図１を参照して、本開示の第１の実施の形態に係る磁気記録カートリッジ１の構成を説明する。図１は、磁気記録カートリッジ１の一例を表す模式図である。磁気記録カートリッジ１は、カートリッジケース２と、その内部に設けられたカートリッジリール３とを備えている。カートリッジリール３には、テープ状の磁気記録媒体ＴＭが巻回されている。磁気記録媒体ＴＭへの記録を行う際、および磁気記録媒体ＴＭの再生を行う際には、磁気記録媒体ＴＭは自らの長手方向に沿って走行するようになっている。磁気記録媒体ＴＭは、例えば記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置に用いられるものであることが好ましい。
［１－２．磁気記録媒体ＴＭの構成］
　図１では、カートリッジリール３に巻回された磁気記録媒体ＴＭの最外層部分の端部近傍をカートリッジケース２から引き出した状態を模式的に表している。テープ状の磁気記録媒体ＴＭは、磁気記録媒体ＴＭの長手方向に延在する磁気記録テープ１０およびリーダーテープ２０を有する。磁気記録テープ１０とリーダーテープ２０とは、磁気記録媒体ＴＭの長手方向において互いに連結されている。
　磁気記録テープ１０は、各種情報が磁気的に記録され得る部分である。リーダーテープ２０は、磁気記録テープ１０よりも後にカートリッジリール３に巻き付けられる部分であり、例えば磁気記録テープ１０の強度よりも高い強度を有する。リーダーテープ２０の端部には、リーダーピン２０Ｐが設けられている。磁気記録カートリッジ１が後述の記録再生装置３０に装着されると、磁気記録カートリッジ１からリーダーテープ２０が引き出され、記録再生装置３０に設けられたテイクアップリール３２（後述）にリーダーピン２０Ｐが取付けられるようになっている。なお、記録再生装置３０は、ＬＴＯ９の規格に従ったドライブ（記録再生装置）である。
（磁気記録テープ１０）
　図２は、磁気記録テープ１０の断面構成例を模式的に表している。図２に示したように、磁気記録テープ１０は複数層が積層された積層構造を有する。具体的には、磁気記録テープ１０は、長尺のテープ状の基体１１と、基体１１の主面１１Ａ上に設けられた下地層１２と、下地層１２の上に設けられた磁性層１３と、基体１１における主面２１Ａと反対側の主面１１Ｂ上に設けられたバック層１４とを備える。磁気記録媒体ＴＭが走行する際、磁性層１３の表面１３Ｓを磁気ヘッドの表面が摺動することとなる。なお、下地層１２およびバック層１４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。
（基体１１）
　基体１１は、下地層１２および磁性層１３を支持する非磁性支持体である。基体１１は、長尺のフィルム状をなしている。基体１１の平均厚みの上限値は、好ましくは４．４μｍ以下、より好ましくは４．２μｍ以下である。基体１１の平均厚みの上限値が４．２μｍ以下であると、１つの磁気記録カートリッジ１に記録できる記録容量を一般的な磁気記録媒体よりも高めることができる。例えば、ＬＴＯ形状の１つの磁気記録カートリッジ１に記録できる記録容量を１５ＴＢ以上に高めることができる。基体１１の平均厚みの下限値は、好ましくは３μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。基体１１の平均厚みの下限値が３μｍ以上であると、基体１１の強度低下を抑制することができる。
　基体１１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録テープ１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルの基体１１以外の層、すなわち下地層１２、磁性層１３およびバック層１４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてミツトヨ（Mitutoyo）社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルである基体１１の厚みを５点以上の位置で測定する。その後、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、基体１１の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　基体１１は、例えば、ポリエステル類を主たる成分として含んでいる。または、基体１１は、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）を主たる成分として含んでいてもよい。基体１１は、ポリエステル類またはＰＥＥＫに加えて、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種を含んでいてもよい。基体１１が上記材料のうちの２種以上を含む場合、それらの２種以上の材料は混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。
　基体１１に含まれるポリエステル類は、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）、ＰＢＮ（ポリブチレンナフタレート）、ＰＣＴ（ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート）、ＰＥＢ（ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。
　基体１１に含まれるポリオレフィン類は、例えば、ＰＥ（ポリエチレン）およびＰＰ（ポリプロピレン）のうちの少なくとも１種を含む。セルロース誘導体は、例えば、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ＣＡＢ（セルロースアセテートブチレート）およびＣＡＰ（セルロースアセテートプロピオネート）のうちの少なくとも１種を含む。ビニル系樹脂は、例えば、ＰＶＣ（ポリ塩化ビニル）およびＰＶＤＣ（ポリ塩化ビニリデン）のうちの少なくとも１種を含む。
　基体１１に含まれるその他の高分子樹脂は、例えば、ＰＡ（ポリアミド、ナイロン）、芳香族ＰＡ（芳香族ポリアミド、アラミド）、ＰＩ（ポリイミド）、芳香族ＰＩ（芳香族ポリイミド）、ＰＡＩ（ポリアミドイミド）、芳香族ＰＡＩ（芳香族ポリアミドイミド）、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール、例えばザイロン（登録商標））、ポリエーテル、ＰＥＫ（ポリエーテルケトン）、ポリエーテルエステル、ＰＥＳ（ポリエーテルサルフォン）、ＰＥＩ（ポリエーテルイミド）、ＰＳＦ（ポリスルフォン）、ＰＰＳ（ポリフェニレンスルフィド）、ＰＣ（ポリカーボネート）、ＰＡＲ（ポリアリレート）およびＰＵ（ポリウレタン）のうちの少なくとも１種を含む。
（磁性層１３）
　磁性層１３は、信号を記録するための記録層である。磁性層１３は、例えば、磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む。磁性層１３が、必要に応じて、導電性粒子、研磨剤、防錆剤等の添加剤をさらに含んでいてもよい。
　磁性層１３の表面１３Ｓの算術平均粗さＲａは、２．５ｎｍ以下、好ましくは２．２ｎｍ以下、より好ましくは１．９ｎｍ以下である。算術平均粗さＲａが２．５ｎｍ以下であると、優れた電磁変換特性を得ることができる。磁性層１３の表面１３Ｓの算術平均粗さＲａの下限値は、好ましくは０．４ｎｍ以上、より好ましくは０．６ｎｍ以上、さらにより好ましくは０．８ｎｍ以上である。磁性層１３の表面１３Ｓの算術平均粗さＲａの下限値が１．０ｎｍ以上であると、摩擦の増大による走行性の低下を抑制することができる。
　表面１３Ｓの算術平均粗さＲａは以下のようにして求められる。まず、磁性層１３の表面をＡＦＭ（Atomic Force Microscope）により観察し、４０μｍ×４０μｍのＡＦＭ像を得る。ＡＦＭとしてはDigital Instruments社製、Nano Scope IIIa D3100を用い、カンチレバーとしてはシリコン単結晶製のものを用い、タッピング周波数として２００Ｈｚ～４００Ｈｚのチューニングにて測定を行う。カンチレバーは、例えばNano World社製の「SPMプローブNCH ノーマルタイプPointProbeL(カンチレバー長)=125um」を用いることができる。次に、ＡＦＭ像を512×512（＝262,144）個の測定点に分割し、各測定点にて高さＺ（ｉ）（ｉ：測定点番号、ｉ＝１～262,144）を測定し、測定した各測定点の高さＺ（ｉ）を単純に平均（算術平均）して平均高さ（平均面）Ｚave（＝（Ｚ（１）＋Ｚ（２）＋・・・＋Ｚ（262,144））／262,144）を求める。続いて、各測定点での平均中心線からの偏差Ｚ"（ｉ）（＝｜Ｚ（ｉ）－Ｚave｜）を求め、算術平均粗さＲａ［ｎｍ］（＝（Ｚ"（１）＋Ｚ"（２）＋・・・＋Ｚ"（ 262,144））／262,144）を算出する。この際には、画像処理として、Flatten order2、ならびに、planefit order 3 XYによりフィルタリング処理を行ったものをデータとして用いる。なお、表面１３Ｓの算術平均粗さＲａを求める際には、磁気記録カートリッジ１に収容される磁気記録媒体ＴＭの磁気記録テープ１０のうち、接続部分４から１０ｍ以下の範囲であって長手方向に沿って互いに異なる位置の３箇所で１つずつ測定サンプルを採取する。採取した３つの測定サンプルについて上記のＡＦＭによる観察を行う。各測定サンプルにつき、上述のようにして表面１３Ｓの算術平均粗さＲａを算出し、３つ全ての測定サンプルの算出値を単純平均することにより、磁気記録テープ１０の全体の表面１３Ｓの算術平均粗さＲａとする。
　磁性層１３は、高記録容量を確保する観点から、磁化反転間距離Ｌの最小値が好ましくは４８ｎｍ以下、より好ましくは４４ｎｍ以下、さらにより好ましくは４０ｎｍ以下となるように、データを記録可能に構成されている。磁化反転間距離Ｌの最小値の下限値は、磁性粒子サイズの観点から、好ましくは２０ｎｍ以上である。
　磁性層１３の平均厚みの上限値は、好ましくは９０ｎｍ以下、特に好ましくは８０ｎｍ以下、より好ましくは７０ｎｍ以下、さらにより好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層１３の平均厚みの上限値が９０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、磁性層１３の厚み方向に均一に磁化を記録できるため、電磁変換特性を向上することができる。
　磁性層１３の平均厚みの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層１３の平均厚みの上限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、電磁変換特性を向上することができる。
　磁性層１３の平均厚みは以下のようにして求められる。
　まず、磁気記録テープ１０をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜及びタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気記録テープ１０の磁性層側表面及びバック層側表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法又はスパッタリング法により磁性層側表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気記録テープ１０の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気記録テープ１０の長手方向及び厚み方向の両方に平行な断面が形成される。得られた薄片化サンプルの前記断面を、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、ＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率及び加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
　次に、得られたＴＥＭ像を用い、磁気記録テープ１０の長手方向の少なくとも１０点以上の位置で磁性層１３の厚みを測定する。得られた測定値を単純に平均（算術平均）した平均値を磁性層１３の平均厚みとする。なお、前記測定が行われる位置は、試験片から無作為に選ばれるものとする。
（磁性粉）
　磁性粉は、例えば、ε酸化鉄を含有するナノ粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）の粉末を含んでいる。ε酸化鉄粒子は微粒子でも高保磁力を得ることができる。ε酸化鉄粒子に含まれるε酸化鉄は、磁気記録テープ１０の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向していることが好ましい。
　図３は、磁性層１３に含まれるε酸化鉄粒子５０の断面構造の一例を模式的に表す断面図である。図３に示したように、ε酸化鉄粒子５０は、球状もしくはほぼ球状を有しているか、または立方体状もしくはほぼ立方体状を有している。ε酸化鉄粒子５０が上記のような形状を有しているので、磁性粒子としてε酸化鉄粒子５０を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気記録テープ１０の厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粉の分散性を高め、より良好なＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）を得ることができる。
　ε酸化鉄粒子５０は、例えばコアシェル型構造を有する。具体的には、ε酸化鉄粒子５０は、図３に示したように、コア部５１と、このコア部５１の周囲に設けられた２層構造のシェル部５２とを備える。２層構造のシェル部５２は、コア部５１上に設けられた第１シェル部５２ａと、第１シェル部５２ａ上に設けられた第２シェル部５２ｂとを有する。
　ε酸化鉄粒子５０におけるコア部５１は、ε酸化鉄を含んでいる。コア部５１に含まれるε酸化鉄は、ε－Ｆｅ2Ｏ3結晶を主相とするものが好ましく、単相のε－Ｆｅ2Ｏ3からなるものがより好ましい。
　第１シェル部５２ａは、コア部５１の周囲のうちの少なくとも一部を覆っている。具体的には、第１シェル部５２ａは、コア部５１の周囲を部分的に覆っていてもよいし、コア部５１の周囲全体を覆っていてもよい。コア部５１と第１シェル部５２ａの交換結合を十分なものとし、磁気特性を向上する観点からすると、コア部５１の表面全体を覆っていることが好ましい。
　第１シェル部５２ａは、いわゆる軟磁性層であり、例えば、α－Ｆｅ、Ｎｉ－Ｆｅ合金またはＦｅ－Ｓｉ－Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α－Ｆｅは、コア部５１に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。
　第２シェル部５２ｂは、酸化防止層としての酸化被膜である。第２シェル部５２ｂは、α酸化鉄、酸化アルミニウムまたは酸化ケイ素を含む。α酸化鉄は、例えばＦｅ3Ｏ4、Ｆｅ2Ｏ3およびＦｅＯのうちの少なくとも１種の酸化鉄を含んでいる。第１シェル部５２ａがα－Ｆｅ（軟磁性体）を含む場合には、α酸化鉄は、第１シェル部５２ａに含まれるα－Ｆｅを酸化することにより得られるものであってもよい。
　ε酸化鉄粒子５０が、上述のように第１シェル部５２ａを有することで、熱安定性を確保するためにコア部５１単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（コアシェル粒子）２０全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。また、ε酸化鉄粒子５０が、上述のように第２シェル部５２ｂを有することで、磁気記録テープ１０の製造工程およびその工程前において、ε酸化鉄粒子５０が空気中に暴露されて粒子表面に錆び等が発生することによりε酸化鉄粒子５０の特性が低下するのを抑制することができる。したがって、第１シェル部５２ａを第２シェル部５２ｂにより覆うことで、磁気記録テープ１０の特性劣化を抑制することができる。
　磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、好ましくは２５ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２２ｎｍ以下、さらにより好ましくは１２ｎｍ以上２２ｎｍ以下である。磁気記録テープ１０では、記録波長の１／２のサイズの領域が実際の磁化領域となる。このため、磁性粉の平均粒子サイズを最短記録波長の半分以下に設定することで、良好なＳ／Ｎを得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気記録テープ１０（例えば５０ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成された磁気記録テープ１０）において、良好な電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、より優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１以上３．０以下、より好ましくは１以上２．８以下、さらにより好ましくは１以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができると共に、磁性層１３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
　上記の磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は、以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気記録テープ１０をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。薄片化は磁気テープの長さ方向(長手方向)に沿うかたちで行う。すなわち、この薄片化によって、磁気記録テープ１０の長手方向および厚み方向の双方に平行な断面が形成される。得られた薄片サンプルについて、透過電子顕微鏡(日立ハイテ
クノロジーズ製 H-9500)を用いて、加速電圧：２００ｋＶ、総合倍率５００，０００倍で磁性層１３の厚み方向に対して磁性層１３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から５０個の粒子を無作為に選び出し、各粒子の長軸長ＤＬと短軸長ＤＳとを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる
最大フェレ径）を意味する。一方、短軸長ＤＳとは、粒子の長軸長ＤＬと直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。
　続いて、測定した５０個の粒子の長軸長ＤＬを単純に平均（算術平均）して平均長軸長ＤＬaveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬaveを磁性粉の平均粒子サイズとする。また、測定した５０個の粒子の短軸長ＤＳを単純に平均（算術平均）して平均短軸長ＤＳaveを求める。そして、平均長軸長ＤＬaveおよび平均短軸長ＤＳaveから粒子の平
均アスペクト比（ＤＬave／ＤＳave）を求める。
　磁性粉の平均粒子体積は、例えば４００ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下である。さらに、磁性粉の平均粒子体積は４００ｎｍ3以上１５００ｎｍ3以下であると好ましく、４００ｎｍ3以上１２００ｎｍ3以下であるとより好ましい。
　ε酸化鉄粒子５０が球状またはほぼ球状を有している場合には、磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様にして、平均長軸長ＤＬaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均粒子体積Ｖを求める。
Ｖ＝（π/６）×（ＤＬave）3
（結着剤）
　結着剤としては、ポリウレタン系樹脂、塩化ビニル系樹脂等に架橋反応を付与した構造の樹脂が好ましい。しかしながら結着剤はこれらに限定されるものではなく、磁気記録テープ１０に対して要求される物性等に応じて、その他の樹脂を適宜配合してもよい。配合する樹脂としては、通常、塗布型の磁気記録テープ１０において一般的に用いられる樹脂であれば、特に限定されない。
　例えば、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリ弗化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。
　また、熱硬化性樹脂、または反応型樹脂の例としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。
　また、上述した各結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ3Ｍ、－ＯＳＯ3Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）2等の極性官能基が導入されていてもよい。ここで、上記化学式中のＭは、水素原子、またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属である。
　さらに、極性官能基としては、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３+Ｘ-の末端基を有する側鎖型のもの、＞ＮＲ１Ｒ２+Ｘ-の主鎖型のものが挙げられる。ここで、上記式中のＲ１、Ｒ２、Ｒ３は、水素原子、または炭化水素基であり、Ｘ-は弗素、塩素、臭素、ヨウ素
等のハロゲン元素イオン、または無機もしくは有機イオンである。また、極性官能基としては、－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等も挙げられる。
（潤滑剤）
　磁性層１３に含まれる潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルを含有している。潤滑剤に含有される脂肪酸は、例えば下記の一般式＜１＞により示される化合物および一般式＜２＞により示される化合物のうちの少なくとも一方を含むことが好ましい。また、潤滑剤に含有される脂肪酸エステルは、下記の一般式＜３＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物のうちの少なくとも一方を含むことが好ましい。潤滑剤が、一般式＜１＞により示される化合物および一般式＜３＞により示される化合物の２種を含むことにより、一般式＜２＞により示される化合物および一般式＜３＞により示される化合物の２種を含むことにより、一般式＜１＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の２種を含むことにより、一般式＜２＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の２種を含むことにより、一般式＜１＞により示される化合物、一般式＜２＞により示される化合物および一般式＜３＞により示される化合物の３種を含むことにより、一般式＜１＞により示される化合物、一般式＜２＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の３種を含むことにより、一般式＜１＞により示される化合物、一般式＜３＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の３種を含むことにより、一般式＜２＞により示される化合物、一般式＜３＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の３種を含むことにより、または、一般式＜１＞により示される化合物、一般式＜２＞により示される化合物、一般式＜３＞により示される化合物および一般式＜４＞により示される化合物の４種を含むことにより、磁気記録テープ１０における繰り返しの記録又は再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。その結果、磁気記録テープ１０の走行性をさらに向上させることができる。
ＣＨ3（ＣＨ2）kＣＯＯＨ ・・・＜１＞
（但し、一般式＜１＞において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
ＣＨ3（ＣＨ2）nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ2）mＣＯＯＨ　・・・＜２＞
（但し、一般式＜２＞において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ（ＣＨ2）qＣＨ3  ・・・＜３＞
（但し、一般式＜３＞において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）
ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ－（ＣＨ2）qＣＨ（ＣＨ3）2…＜４＞
（但し、前記一般式＜４＞において、ｐは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｑは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
（添加剤）
　磁性層１３は、非磁性補強粒子として、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等をさらに含んでいてもよい。
（下地層１２）
　下地層１２は、非磁性粉および結着剤を含む非磁性層である。下地層１２が、必要に応じて、潤滑剤、導電性粒子、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。また、下地層１２は、複数層が積層されてなる多層構造を有していてもよい。下地層１２の平均厚みは、好ましくは０．３μｍ以上０．９μｍ以下、より好ましくは０．５μｍ以上０．７μｍ以下である。下地層１２の平均厚みを０．９μｍ以下に薄くすることにより、基体１１の厚みを薄くする場合よりも磁気記録テープ１０全体のヤング率が効果的に低下する。このため、磁気記録テープ１０に対するテンションコントロールが容易となる。また、下地層１２の平均厚みを０．３μｍ以上とすることにより、基体１１と下地層１２との接着力が確保される。そのうえ、下地層１２の厚みのばらつきを抑えることができ、磁性層１３の表面１３Ｓの粗さが大きくなるのを防ぐことができる。
　なお、下地層１２の平均厚みは、例えば次のように求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録テープ１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルの磁気記録テープ１０について、下地層１２および磁性層１３を基体１１から剥がす。次に、測定装置としてミツトヨ（Mitutoyo）社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用い、基体１１から剥がした下地層１２と磁性層１３との積層体の厚みを、５点以上の位置で測定する。そののち、それらの測定値を単純平均（算術平均）し、下地層１２と磁性層１３との積層体の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。最後に、その積層体の平均厚みから、上述のようにＴＥＭを用いて測定した磁性層１３の平均厚みを差し引くことにより、下地層１２の平均厚みを求める。
　下地層１２は、多数の孔部を有していることが好ましい。これらの多数の孔部に潤滑剤が蓄えられることで、繰り返し記録または再生を行った後にも（すなわち磁気ヘッドを磁気記録テープ１０の表面に接触させて繰り返し走行を行った後にも）、磁性層１３の表面１３Ｓと磁気ヘッドとの間に対する潤滑剤の供給量の低下をさらに抑制することができる。したがって、動摩擦係数の増加をさらに抑制することができる。
（下地層１２の非磁性粉）
　非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これに限定されるものではない。
（下地層１２の結着剤）
　下地層１２における結着剤は、上述の磁性層１３と同様である。
（バック層１４）
　バック層１４は、例えば結着剤および非磁性粉を含んでいる。バック層１４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。バック層１４における結着剤および非磁性粉は、上述の下地層１２における結着剤および非磁性粉と同様である。
　バック層１４における非磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。バック層１４の非磁性粉の平均粒子サイズは、上記の磁性層１３における磁性粉の平均粒子サイズと同様にして求められる。非磁性粉が、２以上の粒度分布を有するものを含んでいてもよい。
　バック層１４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下であり、特に好ましくは０．５μｍ以下である。バック層１４の平均厚みの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気記録テープ１０の平均厚みが５．３μｍ以下である場合でも、下地層１２や基体１１の厚みを厚く保つことができるので、磁気記録テープ１０の記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層１４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上であり、特に好ましくは０．３μｍ以上である。
　バック層１４の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録テープ１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてミツトヨ（Mitutoyo）社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルである磁気記録テープ１０の厚みを５点以上で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、磁気記録テープ１０の平均厚みｔT［μｍ］を算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。続いて、サンプルの磁気記録テープ１０からバック層１４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。そののち、再び上記のレーザーホロゲージを用い、磁気記録テープ１０からバック層１４を除去したサンプルの厚みを５点以上で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）してバック層１４を除去した磁気記録テープ１０の平均厚みｔB［μｍ］を算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。最後に、以下の式よりバック層１４の平均厚みｔb［μｍ］を求める。
ｔb［μｍ］＝ｔT［μｍ］－ｔB［μｍ］
（磁気記録テープ１０の平均厚み）
　磁気記録テープ１０の平均厚み（平均全厚）Ｔ１０の上限値は、好ましくは５．６μｍ以下、より好ましくは５．３μｍ以下である。磁気記録テープ１０の平均厚みが５．６μｍ以下であると、１つの磁気記録カートリッジ１に記録できる記録容量を一般的な磁気記録媒体よりも高めることができる。また、磁気記録テープ１０の平均厚みの下限値は、例えば４．０μｍ以上であることが好ましい。磁気記録テープ１０の平均厚みが４．０μｍ以上であると、磁気記録テープ１０の変形を効果的に抑制することができる。
　磁気記録テープ１０の平均厚みＴ１０は以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録テープ１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、測定サンプルを作製する。なお、平均厚みＴ１０を測定するための測定サンプルは、長手方向のヤング率を測定する際に採取する測定サンプルの近傍から同数採取する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値［μｍ］を算出する。その平均値が磁気記録テープ１０の平均厚みＴ１０である。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
（保磁力Ｈｃ）
　磁気記録テープ１０の長手方向の保磁力Ｈｃの上限値は、好ましくは２０００Ｏｅ以下、より好ましくは１９００Ｏｅ以下、さらにより好ましくは１８００Ｏｅ以下である。長手方向の保磁力Ｈｃ２が２０００Ｏｅ以下であると、磁気ヘッドからの垂直方向の磁界により感度良く磁化が反応するため、良好な記録パターンを形成することができる。
　磁気記録テープ１０の長手方向に測定した保磁力Ｈｃの下限値が、好ましくは１０００Ｏｅ以上である。長手方向にける保磁力Ｈｃの下限値が１０００Ｏｅ以上であると、記録ヘッドからの漏れ磁束による減磁を抑制することができる。
　上記の保磁力Ｈｃは以下のようにして求められる。磁気記録テープ１０を３枚重ね合わせて両面テープで接着したのち、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜くことにより測定サンプルを作成する。この際に、磁気記録テープ１０の長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気記録テープ１０の長手方向（磁気記録テープ１０の走行方向）に対応する測定サンプル（磁気記録テープ１０全体）のＭ－Ｈループを測定する。次に、アセトンまたはエタノール等を用いて塗膜（下地層１２、磁性層１３およびバック層１４等）を払拭し、基体１１のみを残す。そして、得られた基体１１を両面テープで３枚重ね合わせて接着したのち、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜くことによりバックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に補正用サンプルという。）を得る。そののち、ＶＳＭを用いて基体１１の長手方向（磁気記録テープ１０の走行方向）に対応する補正用サンプル（基体１１）のＭ－Ｈループを測定する。なお、磁気記録テープ１０の長手方向の保磁力Ｈｃを求める際には、磁気記録カートリッジ１に収容される磁気記録媒体ＴＭのうち、長手方向に沿って互いに異なる位置の３箇所で上記の測定サンプルおよび補正用サンプルを採取する。具体的には、磁気記録媒体ＴＭの磁気記録テープ１０について、リーダーテープ２０と接続された接続部分４から１０ｍの位置と、接続部分４から３０ｍの位置と、接続部分４から６０ｍの位置との３箇所で上記の測定サンプルおよび補正用サンプルを採取する。３箇所でそれぞれ取得した測定サンプルおよび補正用サンプルについて測定したＭ－Ｈループから求めたそれぞれの保磁力Ｈｃの相加平均を算出することで、磁気記録テープ１０の長手方向の保磁力Ｈｃを求める。
　測定サンプル（磁気記録テープ１０全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基体１１）のＭ－Ｈループの測定には、例えば東英工業製の好感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とする。
　２つのＭ－Ｈループを得たのち、測定サンプル（磁気記録テープ１０全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体１１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭＰ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループから保磁力Ｈｃが求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気記録テープ１０の長手方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。
（角形比）
　磁気記録テープ１０の垂直方向（厚み方向）の角形比Ｓ１は、例えば６５％以上であり、好ましくは６７％以上、より好ましくは７０％以上、さらにより好ましくは７５％以上、特に好ましくは８０％以上である。角形比Ｓ１が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、より優れたＳＮＲを得ることができる。
　角形比Ｓ１は、例えば上記の保磁力Ｈｃを算出する際に用いるＭ－Ｈループと同じＭ－Ｈループから算出する。すなわち、角形比Ｓ１は、上記の保磁力Ｈｃを算出する方法と同様にしてＭ－Ｈループを測定し、算出する。
　上記の保磁力Ｈｃを算出する際に得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）を以下の式に代入して、角形比Ｓ１（％）を計算する。
角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００
なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気記録テープ１０の垂直方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。
　磁気記録テープ１０の長手方向（走行方向）における角形比Ｓ２は、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、より優れたＳＮＲを得ることができる。
　角形比Ｓ２は、Ｍ－Ｈループを磁気記録テープ１０および基体１１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。
（ＳＦＤ）
　磁気記録テープ１０のＳＦＤ（Switching Field Distribution）曲線において、メインピーク高さＸと磁場ゼロ付近のサブピークの高さＹとのピーク比Ｘ／Ｙは、好ましくは３．０以上であり、より好ましくは５．０以上、さらにより好ましくは７．０以上、特に好ましくは１０．０以上、最も好ましくは２０．０以上である（図４参照）。図４は、図２に示した磁気記録テープ１０のＳＦＤ曲線の一例を示すグラフである。ピーク比Ｘ／Ｙが３．０以上であると、実際の記録に寄与するε酸化鉄粒子５０の他にε酸化鉄特有の低保磁力成分（例えば軟磁性粒子や超常磁性粒子等）が磁性粉中に多く含まれることを抑制できる。したがって、記録ヘッドからの漏れ磁界により、隣接するトラックに記録された磁化信号が劣化することを抑制できるので、より優れたＳＮＲを得ることができる。ピーク比Ｘ／Ｙの上限値は特に限定されるものではないが、例えば１００以下である。
　上記のピーク比Ｘ／Ｙは、以下のようにして求められる。まず、上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様にして、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループを得る。次に、得られたＭ－ＨループからＳＦＤカーブを算出する。ＳＦＤカーブの算出には測定機に付属のプログラムを用いてもよいし、その他のプログラムを用いてもよい。算出したＳＦＤカーブがＹ軸（ｄＭ／ｄＨ）を横切る点の絶対値を「Ｙ」とし、Ｍ－Ｈループで言うところの保磁力Ｈｃ近傍に見られるメインピークの高さを「Ｘ」として、ピーク比Ｘ／Ｙを算出する。なお、Ｍ－Ｈループの測定は、上記の保磁力Ｈｃの測定方法と同様に２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気記録テープ１０の厚み方向（垂直方向）に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。また、使用するＶＳＭの感度に合わせて、測定するサンプルを複数枚重ねてＭ－Ｈループを測定してもよい。
（寸法変化量Δｗ）
　磁気記録テープ１０の長手方向のテンション変化に対する磁気記録テープ１０の幅方向の寸法変化量Δｗ［ｐｐｍ／Ｎ］は、好ましくは６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、より好ましくは７００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、さらにより好ましくは７５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであり、特に好ましくは８００ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗである。寸法変化量Δｗが６５０ｐｐｍ／Ｎ≦Δｗであると、後述の記録再生装置３０による磁気記録媒体１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録テープ１０の幅の変化をさらに効果的に抑制することができる。寸法変化量Δｗの上限値は特に限定されるものではないが、例えばΔｗ≦１７０００００ｐｐｍ／Ｎ、好ましくはΔｗ≦２００００ｐｐｍ／Ｎ、より好ましくはΔｗ≦８０００ｐｐｍ／Ｎ、さらにより好ましくはΔｗ≦５０００ｐｐｍ／Ｎ、Δｗ≦４０００ｐｐｍ／Ｎ、Δｗ≦３０００ｐｐｍ／Ｎ、またはΔｗ≦２０００ｐｐｍ／Ｎでありうる。
　寸法変化量Δｗは、基体１１の選択により所望の値に設定することが可能である。例えば、寸法変化量Δｗは、基体１１の厚みおよび基体１１の材料の少なくとも一方を選択することにより所望の値に設定され得る。また、寸法変化量Δｗは、例えば基体１１の幅方向および長手方向の延伸強度を調整することによって、所望の値に設定されてもよい。例えば、基体１１の幅方向により強く延伸することによって、寸法変化量Δｗはより低下し、反対に、基体１１の長手方向における延伸を強めることによって、寸法変化量Δｗは上昇する。
　寸法変化量Δｗは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気記録媒体１０を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプル１０Ｓを取得する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎ、０．６Ｎ、１．０Ｎの順で荷重をかけ、０．２Ｎ、０．６Ｎ、および１．０Ｎの荷重におけるサンプル１０Ｓの幅を測定する。続いて、以下の式より寸法変化量Δｗを求める。なお、０．６Ｎの荷重をかけた場合の測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 （但し、式中、Ｄ（０．２Ｎ）およびＤ（１．０Ｎ）はそれぞれ、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎおよび１．０Ｎの荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅を示す。）
　各荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅は、例えば図５に示した測定装置を用いて測定される。図５は、磁気記録媒体１０の幅の測定に用いられる測定装置２１０の外観を表す概略模式図である。まず、図５を参照して、測定装置２１０について説明する。測定装置２１０は、台座２１１と、支持柱２１２と、発光器２１３、受光器２１４、支持板２１５と、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅと、固定部２１７とを備える。
　台座２１１は、矩形の板状を有する。台座２１１の中央には、受光器２１４が設けられている。支持柱２１２は、台座２１１の中心から一方の長辺側にずれた位置に、受光器２１４に隣接して立てられている。台座２１１の一方の短辺側には、固定部２１７が設けられている。
　支持柱２１２の先端部には、発光器２１３が支持されている。発光器２１３と受光器２１４とは対向する。測定時には、対向する発光器２１３と受光器２１４の間に、支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに支持されたサンプル１０Ｓが配置される。発光器２１３および受光器２１４は、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）に接続され、このＰＣの制御に基づき、支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに支持されたサンプル１０Ｓの幅を測定し、測定結果をＰＣに出力する。
　発光器２１３および受光器２１４には、キーエンス社製のデジタル寸法測定器ＬＳ－７０００が組み込まれている。発光器２１３は、支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに支持されたサンプル１０Ｓの幅方向に平行な線状の光をサンプル１０Ｓに照射する。受光器２１４は、サンプル１０Ｓに遮断されなかった光量を計測することにより、サンプル１０Ｓの幅を測定する。
　支持柱２１２のおよそ半分の高さ位置には、細長い矩形状の支持板２１５が固定されている。支持板２１５は、この支持板２１５の長辺が台座２１１の主面と平行となるように支持されている。支持板２１５の一方の主面には、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅが支持されている。支持部材２１６Ａ～２１６Ｅは、円柱の棒状を有し、サンプル１０Ｓ（磁気記録媒体１０）のバック面を支持する。５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅ（特にその表面）はいずれもステンレス鋼ＳＵＳ３０４により構成され、その表面粗さＲｚ（最大高さ）は０．１５μｍ～０．３μｍである。
　ここで、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅの配置を、図５を参照しながら説明する。図６に示したように、サンプル１０Ｓは、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに乗せられている。５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅの各々の直径は、いずれも例えば７ｍｍである。支持部材２１６Ａと支持部材２１６Ｂとの距離ｄ１（特にはこれら支持部材の中心軸の間の距離）は２０ｍｍである。支持部材２１６Ｂと支持部材２１６Ｃとの距離ｄ２は３０ｍｍである。支持部材２１６Ｃと支持部材２１６Ｄとの距離ｄ３は３０ｍｍである。支持部材２１６Ｄと支持部材２１６Ｅとの距離ｄ４は２０ｍｍである。
　また、サンプル１０Ｓのうち支持部材２１６Ｂ、支持部材２１６Ｃ、および支持部材２１６Ｄの間に乗っている部分が、重力方向に対して略垂直な平面を形成するように、これら３つの支持部材２１６Ｂ～２１６Ｄは配置されている。また、サンプル１０Ｓが、支持部材２１６Ａと支持部材２１６Ｂとの間では、上記略垂直の平面に対してθ１＝３０°の角度を形成するように、支持部材２１６Ａおよび支持部材２１６Ｂは配置されている。さらに、サンプル１０Ｓが、支持部材２１６Ｄと支持部材２１６Ｅとの間では、上記の略垂直な平面に対してθ２＝３０°の角度を形成するように、支持部材２１６Ｄおよび支持部材２１６Ｅは配置されている。また、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅのうち、支持部材２１６Ｃは回転しないように固定されているが、その他の４本の支持部材２１６Ａ、２１６Ｂ、２１６Ｄ、２１６Ｅは、それぞれ全て回転可能である。
　支持部材２１６Ａ～２１６Ｅのうち、発光器２１３および受光器２１４の間に位置し、かつ、固定部２１７と荷重をかける部分とのほぼ中心に位置する支持部材２１６Ｃにはスリット２１６Ｓが設けられている。スリット２１６Ｓを介して発光器２１３から受光器２１４に光Ｌが照射されるようになっている。スリット２１６Ｓのスリット幅は１ｍｍであり、光Ｌは、スリット２１６Ｓの枠に遮られることなく、当該スリット２１６Ｓを通り抜けられる。
　測定装置２１０を用いて各荷重をかけたときのサンプル１０Ｓの幅を測定する際には、まず、サンプル１０Ｓを測定装置２１０にセットする。具体的には、長尺状のサンプル１０Ｓの一端を固定部２１７により固定する。次に、サンプル１０Ｓを、５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに載せる。この際、サンプル１０Ｓのバック面が５本の支持部材２１６Ａ～２１６Ｅに接するようにする。
　次に、温度２５℃相対湿度５０％の一定環境下に制御されたチャンバー内に測定装置２１０を収容したのち、サンプル１０Ｓの他端に、０．２Ｎの荷重をかけるための重り２３３を取り付け、サンプル１０Ｓを上記環境内に２時間以上保持し、サンプル１０Ｓを上記環境に馴染ませる。２時間置以上保持したのち、サンプル１０Ｓの幅を測定する。具体的には、０．２Ｎの荷重２１８が取り付けられた状態で、発光器２１３から受光器２１４に向けて光Ｌを照射し、長手方向に荷重が加えられたサンプル１０Ｓの幅を測定する。当該幅の測定は、サンプル１０Ｓがカールしていない状態で行われる。次に、０．２Ｎの荷重をかけるための重りを、０．６Ｎの荷重をかけるための重りに変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。最後に、１．０Ｎの荷重をかけるための重りに変更し、当該変更の５分後にサンプル１０Ｓの幅を測定する。
（温度膨張係数α）
　磁気記録テープ１０の温度膨張係数αは、３［ｐｐｍ／℃］≦α≦１０［ｐｐｍ／℃］であることが好ましい。温度膨張係数αが上記範囲であると、後述の記録再生装置３０による磁気記録テープ１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録テープ１０の幅の変化を抑制することができる。
　温度膨張係数αは以下のようにして求められる。まず、寸法変化量Δｗの測定方法と同様にしてサンプル１０Ｓを作製し、寸法変化量Δｗの測定方法と同様の測定装置２１０にサンプル１０Ｓをセットする。そののち、例えば１０％ＲＨの相対湿度環境下での温度膨張係数αを測定する場合には、サンプル１０Ｓがセットされた測定装置２１０を、温度２９℃，相対湿度１０％の一定環境に制御されたチャンバー内に収容する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎの荷重をかけ、上記環境にサンプル１０Ｓを２時間以上保持し、馴染ませる。その後、相対湿度１０％を保持したまま、４５℃、２９℃、１０℃の順で温度を変え、４５℃、１０℃におけるサンプル１０Ｓの幅を測定し、以下の式より温度膨張係数αを求める。なお、温度２９℃におけるサンプル１０Ｓの幅の測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 （但し、式中、Ｄ（４５℃）、Ｄ（１０℃）はそれぞれ、温度４５℃、１０℃におけるサンプル１０Ｓの幅を示す。）
４０％ＲＨおよび８０％ＲＨの相対湿度環境下での温度膨張係数αを測定する場合も、それぞれ上記と同様にして行う。
（湿度膨張係数β）
　磁気記録テープ１０の湿度膨張係数βは、β≦５［ｐｐｍ／％ＲＨ］であることが好ましい。湿度膨張係数βが上記範囲であると、記録再生装置３０による磁気記録テープ１０の長手方向のテンションの調整により、磁気記録テープ１０の幅の変化をさらに抑制することができる。
　湿度膨張係数βは以下のようにして求められる。まず、寸法変化量Δｗの測定方法と同様にしてサンプル１０Ｓを作製し、寸法変化量Δｗの測定方法と同様の測定装置２１０にサンプル１０Ｓをセットする。そののち、例えば１０℃の温度環境下での湿度膨張係数βを測定する場合には、サンプル１０Ｓがセットされた測定装置２１０を、温度１０℃，相対湿度２４％の一定環境に制御されたチャンバー内に収容する。次に、サンプル１０Ｓの長手方向に０．２Ｎの荷重をかけ、上記環境にサンプル１０Ｓを２時間以上保持し、馴染ませる。その後、温度１０℃を保持したまま、８０％、２４％、１０％の順で相対湿度を変え、８０％、１０％におけるサンプル１０Ｓの幅を測定し、以下の式より湿度膨張係数βを求める。なお、湿度２４％におけるサンプル１０Ｓの幅の測定は、測定において異常が生じていないかを確認するため（特にはこれら３つの測定結果が直線的になっていることを確認するため）に行われるものであり、その測定結果は以下の式において用いられない。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 （但し、式中、Ｄ（８０％）、Ｄ（１０％）はそれぞれ、相対湿度８０％、１０％におけるサンプル１０Ｓの幅を示す。）
３５℃および６０℃の温度環境下での湿度膨張係数βを測定する場合も、それぞれ上記と同様にして行う。
（リーダーテープ２０）
　図６は、リーダーテープ２０の断面構成例を模式的に表している。図６に示したように、リーダーテープ２０は、磁気記録テープ１０と同様、複数層が積層された積層構造を有する。具体的には、リーダーテープ２０は、長尺のテープ状の基体２１と、基体２１の主面２１Ａ上に設けられた下地層２２と、下地層２２の上に設けられた磁性層２３と、基体２１における主面２１Ａと反対側の主面２１Ｂ上に設けられたバック層２４とを備える。磁気記録媒体ＴＭが走行する際、磁性層２３の表面２３Ｓを磁気ヘッドの表面が摺動することとなる。なお、下地層２２およびバック層２４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。なお、リーダーテープ２０の磁性層２３にはデータを記録するわけではない。しかしながら、リーダーテープ２０が磁性層２３を有することにより、リーダーテープ２０であることを識別可能な識別用信号を磁性層２３に予め記録しておくことが可能である。そうすることによって、例えば間違ってリーダーテープ２０にデータの記録を行うのを防ぐことができる。また、リーダーテープ２０は、基体２１に下地層２２や磁性層２３などの複数の層が積層された構造を有することで、基体２１のみからなる場合よりも走行に適した摩擦係数を有することができる。そのため、リーダーテープ２０は、より円滑な走行が可能となる。
　リーダーテープ２０の基体２１、下地層２２、磁性層２３、およびバック層２４の構成は、それぞれ、先に説明した磁気記録テープ１０の基体１１、下地層１２、磁性層１３、およびバック層１４の構成と実質的に等しくすることができる。但し、リーダーテープ２０の基体２１、下地層２２、磁性層２３、およびバック層２４の構成は、それぞれ、磁気記録テープ１０の基体１１、下地層１２、磁性層１３、およびバック層１４の構成と異なっていてもよい。例えば磁気記録テープ１０の下地層１２が針状無機材料を使用したものであっても、リーダーテープ２０の下地層２２は針状無機材料以外の無機材料を使用したものであってもよい。
（リーダーテープ２０の平均厚み）
　リーダーテープ２０の平均厚み（平均全厚）Ｔ２０は、例えば５.０μｍ以上１８．０μｍ以下である。平均厚みＴ２０は、磁気記録テープ１０の平均厚みＴ１０よりも厚い。リーダーテープ２０の平均厚みＴ２０と磁気記録テープ１０の平均厚みＴ１０との差は、例えば１２μｍ以下である。基体２１の厚さは、例えば３．０μｍ以上１５．０μｍ以下である。下地層２２の厚さは、０．６μｍ以上３．０μｍ以下である。磁性層２３の厚さは、０．０５μｍ以上０．３０μｍ以下である。バック層２４の厚さは、０．２μｍ以上１．０μｍ以下である。
　リーダーテープ２０の平均厚みＴ２０は、例えば　磁気記録テープ１０の平均厚みＴ１０と同様の手法により求められる。なお、平均厚みＴ２０を測定するための測定サンプルは、長手方向のヤング率を測定する際に採取する測定サンプルの近傍から同数採取する。
　リーダーテープ２０は、例えば図７Ａおよび図７Ｂに示したように、スプライシングテープ６０により磁気記録テープ１０と接続されている。図７Ａは、リーダーテープ２０および磁気記録テープ１０の一部を拡大して表す平面模式図である。図７Ｂは、リーダーテープ２０および磁気記録テープ１０の一部を拡大して表す断面模式図である。スプライシングテープ６０は、リーダーテープ２０と磁気記録テープ１０との接続部分４（図１）に設けられている。スプライシングテープ６０は、リーダーテープ２０の終端２０Ｅおよび磁気記録テープ１０の始端１０Ｓのそれぞれと接着されている。図７Ｂに示したように、スプライシングテープ６０は、厚さＴ６０を有している。平均厚みＴ６０は、例えば５μｍ以上２４μｍ以下である。
　スプライシングテープ６０は、例えば、基材６１と、基材６１の表面に設けられた接着層６２とを有している。基材６１は、例えば、先に説明した磁気記録テープ１０の基体１１の構成材料と同じ構成材料によって構成されている。基材６１は、例えばポリエステルフィルムである。基材６１の厚さは、例えば１６．０μｍである。接着層６２は、例えば感圧性粘着剤を用いて構成することができる。接着層６２の厚さは、例えば６．０μｍである。
　磁気記録媒体ＴＭが一定条件下で繰り返し走行されることにより、リーダーテープ２０には、磁気記録媒体ＴＭの長手方向に散在する複数の段差部分２０Ｕが生ずる。ここでいう一定条件とは、後述の記録再生装置３０において、ＬＴＯ９の規格に従い、例えば温度２５℃および相対湿度４５％ＲＨの環境下でカートリッジリール３とテイクアップリール３２との間で全長に亘って１４０往復の走行を行うという条件である。その走行時の最大の走行速度は８ｍ／分である。そのような一定条件下での走行の結果、リーダーテープ２０に生じる複数の段差部分２０Ｕのうち、リーダーテープ２０と磁気記録テープ１０との接続部分４に最も近い位置にある段差部分２０Ｕは、リーダーテープ２０の厚さ方向において３４μｍ以下の最大段差ΔＴを有する。なお、図７Ａおよび図７Ｂでは、複数の段差部分２０Ｕのうち、接続部分４に最も近い位置にある段差部分２０Ｕのみを示している。ここで、最大段差ΔＴとは、図８に示したように、段差部分２０Ｕである、リーダーテープ２０の表面における凹凸のうち、厚さ方向において最も高い位置Ｐ１と、厚さ方向において最も低い位置Ｐ２との差分をいう。すなわち、リーダーテープ２０の厚み方向における最大の変動範囲をいう。なお図８は、上述の一定条件下での走行により生じるリーダーテープ２０の表面の凹凸形状を模式的に表す説明図である。なお、ＬＴＯ９の規格に従った走行では、磁気記録媒体ＴＭに対し例えば０．４Ｎ～１．３Ｎの張力、通常０．８Ｎ程度の張力が負荷される。
　なお、複数の段差部分２０Ｕは、例えば図９に示したように、テイクアップリール３２におけるコア７１と、リーダーブロック７２との段差７３に起因して生じるものである。したがって、複数の段差部分２０Ｕは、長手方向においてテイクアップリール３２のコア７１（後出）の外径の整数倍に対応した間隔で存在する。図９は、テイクアップリール３２の一部を拡大して表した模式図である。コア７１は、磁気記録媒体ＴＭが巻き付けられることとなる部材である。コア７１には、リーダーブロック７２が嵌合する凹部７１Ｕが設けられている。リーダーブロック７２は、凹部７１Ｕに嵌合可能に設けられている。リーダーブロック７２は、凹部７１に嵌合することで、リーダーテープ２０のリーダーピン２０Ｐをコア７１と挟持するようになっている。リーダーブロック７２が凹部７１Ｕに嵌合した際に、リーダーブロック７２の一部の表面７２Ｓとコア７１の外面７１Ｓとが１つの略円柱の外周面を形成するようになっている。ただし、リーダーブロック７２の一部の表面７２Ｓとコア７１の外面７１Ｓとの段差７３が発生する。テイクアップリール３２に磁気記録媒体ＴＭが巻き付けられると、このような段差７３がリーダーテープ２０に転写され、ひいては磁気記録テープ１０にも転写される場合がある。このような磁気記録テープ１０への転写は、情報の記録または再生の過程で記録再生ヘッドとの適正な距離を維持することの妨げとなりやすく、記録不能や情報の損失の原因となり得る。そこで、本開示では、リーダーテープ２０の平均厚さＴ２０、リーダーテープ２０の長さ、およびリーダーテープ２０の層構造を適宜調整することにより、最も接続部分４の近くに存在する段差部分２０Ｕの最大段差ΔＴが３４μｍ以下となるようにしている。なお、最大段差ΔＴは、リーダーテープ２０の平均厚さＴ２０およびリーダーテープ２０の長さのみで決定されるものではなく、リーダーテープ２０を構成する基体２１、下地層２２、磁性層２３、およびバック層２４などの各層の材料および厚さを調整することで決定されるパラメータである。リーダーテープ２０に生じる複数の段差部分２０Ｕのうち、最も接続部分４の近くに存在する段差部分２０Ｕの最大段差ΔＴが３４μｍ以下となるようにすることで、良好な記録動作および再生動作を確保し、動作信頼性を高めている。
［１－３．リーダーテープ２０の最大段差ΔＴの測定方法］
（測定機およびその測定条件）
　次に、リーダーテープ２０に生じ得る最大段差ΔＴの測定方法について説明する。リーダーテープ２０は、上述したように、記録再生装置３０において、ＬＴＯ９の規格に従ってカートリッジリール３とテイクアップリール３２との間で１４０往復走行させた磁気記録媒体ＴＭから採取する。最大段差ΔＴの測定には、測定機として株式会社キーエンス製のデジタルマイクロスコープを用いることができる。デジタルマイクロスコープは、本体と、ヘッドと、レンズとを備えている。それらの機種名および測定条件を以下に例示する。
本体：ＶＨＸ－７０００
ヘッド：ＶＨＸ－７１００
レンズ：ＶＨＸ－Ｅ２０（倍率は２０～１００倍）
　レンズ倍率：１００倍
　撮影モード：標準
　保存画素サイズ：１２００×９０００ピクセル
　撮影ピッチ：４．００μｍ
（測定準備）
　測定するリーダーテープ２０の段差部分２０Ｕがレンズの画角に収まるように、リーダーテープ２０のサンプルを測定機のステージＳ上に設置する。その際、図１０に示したように、リーダーテープ２０のサンプルは、その長手方向の第１端部Ｔ１をステージ上に固定したのち、第１端部Ｔ１と反対側の第２端部Ｔ２を５０ｇの荷重で引っ張るように設置する。そののち、リーダーテープ２０のサンプルがステージＳの表面から浮かないようにするため、ステージＳ上のリーダーテープ２０のサンプルに２０ｇの錘Ｗを乗せる。
（測定手順）
　リーダーテープ２０のサンプルをステージＳ上に設置したのち、対象物を測定機のモニタに映し、レンズの明るさおよびピントを調整する。次に、レンズ倍率を１００倍にセットする。そののち、メニューの「深度アップ」と、「クイック合成＆３Ｄ」との順次選択する。次に、Ｚ方向の上下限の移動域を決定する。Ｚ方向とは、磁気記録媒体ＴＭの厚さ方向である。具体的には、観察対象である段差部分２０Ｕを観察しつつ、ピントの下限値を決定する。そののち、段差部分２０Ｕを観察しつつ、ピントの上限値を決定する。次に、Ｚ方向の撮影ピッチを４．００μｍとし、測定機に入力する。最後にメニューの「合成実行」を選択する。これにより、段差部分２０Ｕの近傍の３Ｄ合成画像が作成される。
（結果の読み取り）
　段差部分２０Ｕの近傍の３Ｄ合成画像の作成ののち、モニタ画面上において「３Ｄ表示」と、「プロファイル」とを順次選択する。次に、モニタ画面上において「プロファイル線」と、「２点間」とを順次選択し、リーダーテープ２０のサンプルの段差部分２０Ｕの起伏を測定する。その際、「プロファイル線」が段差部分２０Ｕを通過するように設定する。そののち、「計測ツール」と「最大最小」とを順次選択する。さらに、モニタ画面に表示された値を最大段差ΔＴとして読み取る。
　以上により、リーダーテープ２０の最大段差ΔＴを測定することができる。
［１－４．磁気記録媒体ＴＭの製造方法］
　次に、上述の構成を有する磁気記録テープ１０の製造方法について説明する。まず、非磁性粉、結着剤および潤滑剤等を溶剤に混練、分散させることにより、下地層形成用塗料を調製する。次に、磁性粉、結着剤および潤滑剤等を溶剤に混練、分散させることにより、磁性層形成用塗料を調製する。次に、結着剤および非磁性粉等を溶剤に混練、分散させることにより、バック層形成用塗料を調製する。磁性層形成用塗料、下地層形成用塗料およびバック層形成用塗料の調製には、例えば、以下の溶剤、分散装置および混練装置を用いることができる。
　上述の塗料調製に用いられる溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、プロパノール等のアルコール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸プロピル、乳酸エチル、エチレングリコールアセテート等のエステル系溶媒、ジエチレングリコールジメチルエーテル、２－エトキシエタノール、テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、メチレンクロライド、エチレンクロライド、四塩化炭素、クロロホルム、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒等が挙げられる。これらは単独で用いてもよく、適宜混合して用いてもよい。
　上述の塗料調製に用いられる混練装置としては、例えば、連続二軸混練機、多段階で希釈可能な連続二軸混練機、ニーダー、加圧ニーダー、ロールニーダー等の混練装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。また、上述の塗料調製に用いられる分散装置としては、例えば、ロールミル、ボールミル、横型サンドミル、縦型サンドミル、スパイクミル、ピンミル、タワーミル、パールミル（例えばアイリッヒ社製「ＤＣＰミル」等）、ホモジナイザー、超音波分散機等の分散装置を用いることができるが、特にこれらの装置に限定されるものではない。
　次に、下地層形成用塗料を基体１１の一方の主面１１Ａに塗布して乾燥させることにより、下地層１２を形成する。続いて、この下地層１２上に磁性層形成用塗料を塗布して乾燥させることにより、磁性層１３を下地層１２上に形成する。なお、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉を基体１１の厚み方向に磁場配向させることが好ましい。また、乾燥の際に、例えばソレノイドコイルにより、磁性粉を基体１１の走行方向（長手方向）に磁場配向させたのちに、基体１１の厚み方向に磁場配向させるようにしてもよい。このような磁場配向処理をすることで、磁性粉の垂直配向度（すなわち角形比Ｓ１）を向上することができる。磁性層１３の形成後、バック層形成用塗料を基体１１の他方の主面１１Ｂに塗布して乾燥させることにより、バック層１４を形成する。これにより、磁気記録テープ１０が得られる。
　角形比Ｓ１、Ｓ２は、例えば、磁性層形成用塗料の塗膜に印加される磁場の強度、磁性層形成用塗料中における固形分の濃度、磁性層形成用塗料の塗膜の乾燥条件（乾燥温度および乾燥時間）を調整することにより所望の値に設定される。塗膜に印加される磁場の強度は、磁性粉の保磁力の２倍以上であることが好ましい。角形比Ｓ１をさらに高めるためには（すなわち角形比Ｓ２をさらに低めるためには）、磁性層形成用塗料中における磁性粉の分散状態を向上させることが好ましい。また、角形比Ｓ１をさらに高めるためには、磁性粉を磁場配向させるための配向装置に磁性層形成用塗料が入る前の段階で、磁性粉を磁化させておくことも有効である。なお、上記の角形比Ｓ１、Ｓ２の調整方法は単独で使用されてもよいし、２以上組み合わされて使用されてもよい。
　その後、得られた磁気記録テープ１０にカレンダー処理を行い、磁性層１３の表面１３Ｓを平滑化する。次に、カレンダー処理が施された磁気記録テープ１０をロール状に巻き取る。
　最後に、磁気記録テープ１０を所定の幅（例えば１／２インチ幅）に裁断する。以上により、目的とする磁気記録テープ１０が得られる。
　リーダーテープ２０についても、上記した磁気記録テープ１０の製造方法と同様にして製造することができる。
　上述のようにして得た磁気記録テープ１０とリーダーテープ２０とを接続することにより、磁気記録媒体ＴＭが完成する。
［１－５．記録再生装置３０］
（記録再生装置３０の構成）
　次に、図１１を参照して、上述の磁気記録媒体ＴＭへの情報の記録、および上述の磁気記録媒体ＴＭからの情報の再生を行う記録再生装置３０の構成について説明する。記録再生装置３０は、ＬＴＯ９の規格に準拠したドライブである。
　記録再生装置３０は、磁気記録媒体ＴＭの長手方向に加わるテンションを調整可能な構成を有している。また、記録再生装置３０は、磁気記録カートリッジ１を装填可能な構成を有している。ここでは、説明を容易とするために、記録再生装置３０が１つの磁気記録カートリッジ１を装填可能な構成を有している場合について説明する。但し、本開示では、記録再生装置３０が、複数の磁気記録カートリッジ１を装填可能な構成を有していてもよい。先に述べたように、磁気記録媒体ＴＭはテープ状である。磁気記録媒体ＴＭは、例えば磁気記録カートリッジ１の内部のカートリッジリール３に巻き付けられた状態で筐体に収容されていてよい。磁気記録媒体ＴＭは、記録再生の際に長手方向に走行されるようになっている。また、磁気記録媒体ＴＭは、好ましくは１００ｎｍ以下、より好ましくは７５ｎｍ以下、さらにより好ましくは６０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成されていてよく、例えば最短記録波長が上記範囲内にある記録再生装置３０に用いられうる。記録トラック幅は、例えば２μｍ以下でありうる。
　記録再生装置３０は、例えばネットワーク４３を介してサーバ４１およびパーソナルコンピュータ（以下「ＰＣ」という。）４２等の情報処理装置に接続されており、これらの情報処理装置から供給されたデータを磁気記録媒体カートリッジ１に記録可能に構成されている。
　記録再生装置３０は、例えば図１１に示したように、スピンドル３１と、テイクアップリール３２と、駆動装置３３と、駆動装置３４と、複数のガイドローラ３５と、ヘッドユニット３６と、通信インターフェース（以下、Ｉ／Ｆと記す）３７と、制御装置３８とを備える。
　スピンドル３１は、例えば磁気記録カートリッジ１を装着可能に構成されている。磁気記録カートリッジ１は、ＬＴＯ（Linear Tape Open）規格に準拠しており、カートリッジケース２に磁気記録媒体ＴＭを巻装した単一のカートリッジリール３を回転可能に収容している。磁気記録媒体ＴＭには、サーボ信号としてハの字状のサーボパターンが予め記録されている。テイクアップリール３２は、磁気記録カートリッジ１から引き出された磁気記録媒体ＴＭの先端、すなわち、リーダーテープ２０のリーダーピン２０Ｐを固定可能に構成されている。
　駆動装置３３は、スピンドル３１を回転駆動させる装置である。駆動装置３４は、テイクアップリール３２を回転駆動させる装置である。磁気記録媒体ＴＭに対してデータの記録または再生を行う際には、駆動装置３３と駆動装置３４とが、スピンドル３１とテイクアップリール３２とをそれぞれ回転駆動させることによって、磁気記録媒体ＴＭを走行させる。ガイドローラ３５は、磁気記録媒体ＴＭの走行をガイドするためのローラである。
　ヘッドユニット３６は、磁気記録媒体ＴＭにデータ信号を記録するための複数の記録ヘッドと、磁気記録媒体ＴＭに記録されているデータ信号を再生するための複数の再生ヘッドと、磁気記録媒体ＴＭに記録されているサーボ信号を再生するための複数のサーボヘッドとを備える。記録ヘッドとしては例えばリング型ヘッドを用いることができ、再生ヘッドとしては例えば磁気抵抗効果型磁気ヘッドを用いることができるが、記録ヘッドおよび再生ヘッドの種類はこれに限定されるものではない。
　Ｉ／Ｆ３７は、サーバ４１およびＰＣ４２等の情報処理装置と通信するためのものであり、ネットワーク４３に対して接続される。
　制御装置３８は、記録再生装置３０の全体を制御する。例えば、制御装置３８は、サーバ４１およびＰＣ４２等の情報処理装置の要求に応じて、情報処理装置から供給されるデータ信号をヘッドユニット３６により磁気記録媒体ＴＭに記録する。また、制御装置３８は、サーバ４１およびＰＣ４２等の情報処理装置の要求に応じて、ヘッドユニット３６により、磁気記録媒体１０に記録されたデータ信号を再生し、情報処理装置に供給する。
（記録再生装置の動作）
　次に、上記構成を有する記録再生装置３０の動作について説明する。
　まず、磁気記録カートリッジ１を記録再生装置３０に装着し、磁気記録媒体ＴＭのリーダーテープ２０の先端を引き出して、複数のガイドローラ３５及びヘッドユニット３６を介してテイクアップリール３２まで移送し、リーダーテープ２０の先端のリーダーピン２０Ｐをテイクアップリール３２に取り付ける。
　次に、図示しない操作部を操作すると、スピンドル駆動装置３３とリール駆動装置３４とが制御装置３８の制御により駆動され、カートリッジリール３からテイクアップリール３２へ向けて磁気記録媒体１０が走行されるように、スピンドル３１とテイクアップリール３２とが同方向に回転される。これにより、磁気記録媒体ＴＭがリール３２に巻き取られつつ、ヘッドユニット３６によって、磁気記録媒体ＴＭへの情報の記録または磁気記録媒体ＴＭに記録された情報の再生が行われる。
　また、カートリッジリール３に磁気記録媒体ＴＭを巻き戻す場合は、上記とは逆方向に、スピンドル３１とテイクアップリール３２とが回転駆動されることにより、磁気記録媒体ＴＭがテイクアップリール３２からカートリッジリール３に走行される。この巻き戻しの際にも、ヘッドユニット３６による、磁気記録媒体ＴＭへの情報の記録または磁気記録媒体ＴＭに記録された情報の再生が行われる。
［１－６．効果］
　このように、本実施の形態では、磁気記録媒体ＴＭが、長手方向に延在する磁気記録テープ１０と、その長手方向において磁気記録テープ１０と連結されたリーダーテープ２０とを有する。ここでリーダーテープ２０は、磁気記録媒体ＴＭが一定条件下で繰り返し走行されることにより発生する複数の段差部分２０Ｕのうちの接続部分４に最も近い位置にある段差部分２０Ｕの最大段差ΔＴが３４μｍ以下となるように調整されている。このため、例えば磁気記録媒体ＴＭをテイクアップリール３２に巻き取った状態で保存した場合であっても、すなわち寝押しした場合であっても磁気記録媒体ＴＭの表面に折れ曲がりや凹みなどが転写されるのを防ぐことができる。あるいは、磁気記録媒体ＴＭの表面に転写される折れ曲がりや凹みなどを軽減することができる。よって、磁気記録テープ１０への情報記録動作や磁気記録テープ１０からの情報読出し動作を妨げることなく、良好に行うことができる。
［１－７．変形例］
（変形例１）
　上記の第１の実施の形態では、２層構造のシェル部５２を有するε酸化鉄粒子５０（図３）を例示して説明したが、本技術の磁気記録媒体は、例えば図１２に示したように、単層構造のシェル部５３を有するε酸化鉄粒子５０Ａを含むようにしてもよい。ε酸化鉄粒子２０Ａにおけるシェル部５３は、例えば第１シェル部５２ａと同様の構成を有する。但し、特性劣化を抑制する観点においては、変形例１のε酸化鉄粒子５０Ａよりも上記の第１の実施の形態で説明した２層構造のシェル部５２を有するε酸化鉄粒子５０が好ましい。
（変形例２）
　上記一実施の形態の磁気記録媒体ＴＭでは、コアシェル構造を有するε酸化鉄粒子５０を例示して説明したが、ε酸化鉄粒子が、コアシェル構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、コアシェル構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ（アルミニウム）、Ｇａ（ガリウム）、Ｉｎ（インジウム）、Ｃｏ（コバルト）、Ｍｎ（マンガン）、Ｚｒ（ジルコニウム），Ｈｆ（ハフニウム），Ｃｓ（セシウム）及びＴｉ（チタン）、Ｓｍ（サマリウム），Ｎｄ（ネオジウム），Ｐｒ（プラセオジム）及びＴｂ（テルビウム）のうちの少なくとも１種を含む。
　具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε－Ｆｅ2-xＭxＯ3結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。
（変形例３）
　本開示の磁性粉は、ε酸化鉄粒子の粉末に代えて、六方晶フェライトを含有するナノ粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）の粉末を含むようにしてもよい。六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状またはほぼ六角板状を有する。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ（バリウム）、Ｓｒ（ストロンチウム）、Ｐｂ（鉛）およびＣａ（カルシウム）のうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ12Ｏ19で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは５０ｎｍ以下、より好ましくは４０ｎｍ以下、さらにより好ましくは３０ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズは、２５ｎｍ以下、２２ｎｍ以下、２１ｎｍ以下、もしくは２０ｎｍ以下であるとなおよい。また、磁性粉の平均粒子サイズは、例えば１０ｎｍ以上であり、好ましくは１２ｎｍ以上、より好ましくは１５ｎｍ以上であるとよい。したがって、六方晶フェライト粒子の粉末を含む磁性粉の平均粒子サイズは、例えば１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下、１０ｎｍ以上４０ｎｍ以下、１２ｎｍ以上３０ｎｍ以下、１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下、または１５ｎｍ以上２２ｎｍ以下とすることができる。磁性粉の平均粒子サイズが上記上限値以下である場合（例えば５０ｎｍ以下、特には３０ｎｍ以下である場合）、高記録密度の磁気記録媒体ＴＭにおいて、良好な電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉の平均粒子サイズが上記下限値以上である場合（例えば１０ｎｍ以上、好ましくは１２ｎｍ以上である場合）、磁性粉の分散性がより向上し、より優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比は、好ましくは１以上３．５以下、より好ましくは１以上３．１以下、又は２以上３．１以下、さらにより好ましくは２以上３以下でありうる。磁性粉の平均アスペクト比が上記数値範囲内にあることによって、磁性粉の凝集を抑制することができ、さらに、磁性層１３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。これは、磁性粉の垂直配向性の向上をもたらしうる。
　なお、六方晶フェライト粒子の粉末を含む磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気記録部分１０をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。薄片化は磁気記録部分１０の長さ方向(長手方向)に沿うかたちで行う。得られた薄片サンプルについて、透過電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ製 H-9500)を用いて、加速電圧：２００ｋＶ、総合倍率５００，０００倍で記録層の厚み方向に対して記録層全体が含まれるように断面観察を行う。次に、撮影したＴＥＭ写真から観察面の方向に側面を向けている粒子を５０個選び出し、各粒子の板厚ＤＡを測定する。このようにして求めた板厚ＤＡを単純に平均（算術平均）して平均板厚ＤＡaveを求める。続いて、各磁性粉の板径ＤＢを測定する。ここで、板径ＤＢとは、磁性粉の輪郭に接するように引いた２本の平行線間の距離を意味する。続いて、測定した板径ＤＢを単純平均（算術平均）して平均板径ＤＢaveを求める。そして、平均板厚ＤＡaveおよび平均板径ＤＢaveから粒子の平均アスペクト比（ＤＢave／ＤＡave）を求める。
　磁性粉が六方晶フェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは、４００ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が１８００ｎｍ3以下であると、高記録密度の磁気記録部分１０として要求される良好な電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。特に、六方晶フェライト粒子を含む磁性粉の平均粒子体積が１５００ｎｍ3以下であると、より良好な電磁変換特性が得られ、１２００ｎｍ3以下であると、よりいっそう良好な電磁変換特性が得られる。磁性粉の平均粒子体積が４００ｎｍ3以上であると、例えば磁性層１３における熱安定性が十分に確保され、磁性層１３における記録状態が良好に維持される。
　なお、磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法により、平均板厚ＤＡaveおよび平均板径ＤＢaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均粒子体積Ｖを求める。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　本技術の特に好ましい実施態様に従い、磁性粉は、バリウムフェライト磁性粉またはストロンチウムフェライト磁性粉であり、より好ましくはバリウムフェライト磁性粉でありうる。バリウムフェライト磁性粉は、バリウムフェライトを主相とする鉄酸化物の磁性粒子（以下「バリウムフェライト粒子」という。）を含む。バリウムフェライト磁性粉は、例えば高温多湿環境でも抗磁力が落ちないなど、データ記録の信頼性が高い。このような観点から、バリウムフェライト磁性粉は、磁性粉として好ましい。
　磁性層１３が磁性粉としてバリウムフェライト磁性粉を含む場合、磁性層１３の平均厚みｔｍ［ｎｍ］が、３５ｎｍ≦ｔｍ≦１００ｎｍであることが好ましく、特に好ましくは８０ｎｍ以下である。また、磁気記録部分１０の厚み方向（垂直方向）に測定した保磁力Ｈｃが、好ましくは１６０ｋＡ／ｍ以上２８０ｋＡ／ｍ以下、より好ましくは１６５ｋＡ／ｍ以上２７５ｋＡ／ｍ以下、更により好ましくは１７０ｋＡ／ｍ以上２７０ｋＡ／ｍ以下である。
（変形例４）
　磁性粉は、ε酸化鉄粒子の粉末に代えて、Ｃｏ含有スピネルフェライトを含有するナノ粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）の粉末を含むようにしてもよい。コバルトフェライト粒子は、一軸異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状またはほぼ立方体状を有している。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
　Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
ＣｏxＭyＦｅ2ＯZ
（但し、式（１）中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）
　磁性粉がコバルトフェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは２５ｎｍ以下、より好ましくは１０ｎｍ以上２３ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが２５ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気記録テープ１０において、良好な電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１０ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、より優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉がコバルトフェライト粒子の粉末を含む場合、磁性粉の平均アスペクト比は上述の一実施形態と同様である。また、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比も上述の一実施形態の算出方法と同様にして求められる。
　磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは１５０００ｎｍ3以下、より好ましくは１０００ｎｍ3以上１２０００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が１５０００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２５ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が１０００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１０ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。なお、磁性粉の平均粒子体積は、上述の第１の実施形態における磁性粉の平均粒子体積の算出方法（ε酸化鉄粒子が立方体状またはほぼ立方体状を有している場合の平均粒子体積の算出方法）と同様である。
　コバルトフェライト磁性粉の保磁力Ｈｃは、好ましくは２５００Ｏｅ以上、より好ましくは２６００Ｏｅ以上３５００Ｏｅ以下である。
（変形例５）
　本実施の形態の磁気記録テープは、例えば図１３に示した磁気記録テープ１０Ａのように、基体１１の少なくとも一方の表面に設けられたバリア層１５をさらに備えたものであってもよい。バリア層１５は、基体１１が有する環境に応じた寸法変化を抑制するための層である。例えば、その寸法変化を及ぼす原因の一例として、基体１１の吸湿性があるが、バリア層１５を設けることにより基体１１への水分の侵入速度を低減することができる。バリア層１５は、例えば、金属または金属酸化物を含む。ここでいう金属としては、例えば、Ａｌ、Ｃｕ、Ｃｏ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｎｉ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｇｅ、Ｙ、Ｚｒ、Ｍｏ、Ｒｕ、Ｐｄ、Ａｇ、Ｂａ、Ｐｔ、ＡｕおよびＴａのうちの少なくとも１種を用いることができる。金属酸化物としては、例えば、上記金属を１種または２種以上含む金属酸化物を用いることができる。より具体的には例えば、Ａｌ2Ｏ3、ＣｕＯ、ＣｏＯ、ＳｉＯ2、Ｃｒ2Ｏ3、ＴｉＯ2、Ｔａ2Ｏ5およびＺｒＯ2のうちの少なくとも１種を用いることができる。また、バリア層１５が、ダイヤモンド状炭素（Diamond-Like
Carbon：ＤＬＣ）またはダイヤモンド等を含むようにしてもよい。
　バリア層１５の平均厚みは、好ましくは２０ｎｍ以上１０００ｎｍ以下、より好ましくは５０ｎｍ以上１０００ｎｍ以下である。バリア層１５の平均厚みは、磁性層１３の平均厚みと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、バリア層１５の厚みに応じて適宜調整される。
（変形例６）
　上述の一実施形態に係る磁気記録媒体ＴＭをライブラリ装置に用いるようにしてもよい。この場合、ライブラリ装置は、上述の一実施形態における記録再生装置３０を複数備えるものであってもよい。
＜２．第２の実施の形態（スパッタ型の磁気記録媒体を含む磁気記録カートリッジの例）＞
［２－１．磁気記録カートリッジ１の構成］
　本実施の形態の磁気記録カートリッジ１は、塗布型の磁気記録テープ１０の代わりにスパッタ型の磁気記録テープ１０Ｂを含むこと以外は、上記第１の実施の形態で説明した磁気記録カートリッジ１と同じである。
［２－２．磁気記録テープ１０Ｂの構成］
　図１４は、磁気記録テープ１０Ｂの断面構成例を模式的に表している。磁気記録媒体１１０は、長尺状の垂直磁気記録媒体であり、図１４に示したように複数層が積層された積層構造を有する。具体的には、磁気記録テープ１０Ｂは、長尺のテープ状の基体１１１と、第１のシード層１１３Ａと、第２のシード層１１３Ｂと、第１の下地層１１４Ａと、第２の下地層１１４Ｂと、磁性層１１５とを順に備える。ここで、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、および磁性層１１５は、例えば、スパッタリング法により形成されたスパッタ膜とすることができる。
　磁気記録テープ１０Ｂは、磁性層１１５の上に、保護層１１６と、潤滑層１１７とを順にさらに備えるようにしてもよい。また、磁気記録テープ１０Ｂは、基体１１１の第２の主面上に設けられたバック層１１８をさらに備えるようにしてもよい。また、基体１１１の第１の主面上に設けられた軟磁性裏打ち層（Soft magnetic underlayer；ＳＵＬ）１１２をさらに備えるようにしてもよい。
　以下では、磁気記録テープ１０Ｂの長手方向（基体１１１の長手方向）を機械方向（ＭＤ： Machine Direction）という。ここで、機械方向とは、磁気記録テープ１０Ｂに対する記録及び再生ヘッドの相対的な移動方向、すなわち記録再生時に磁気記録テープ１０Ｂが走行する方向を意味する。
　磁気記録テープ１０Ｂは、今後ますます需要が高まることが期待されるデータアーカイブ用ストレージメディアとして用いて好適なものである。磁気記録テープ１０Ｂは、例えば、現在のストレージ用塗布型磁気記録媒体の１０倍以上の面記録密度、すなわち５０Ｇｂ／ｉｎｃｈ2以上の面記録密度を実現することが可能である。このような高い面記録密度を有す磁気記録テープ１０Ｂを用いて一般のリニア記録方式のデータカートリッジを構成した場合には、磁気記録カートリッジ１つ当たり１００ＴＢ以上の大容量記録が可能になる。
　磁気記録テープ１０Ｂは、リング型の記録ヘッドと、巨大磁気抵抗効果（ Giant Magnetoresistive：ＧＭＲ）型またはトンネル磁気抵抗効果（Tunneling Magnetoresistive：ＴＭＲ）型の再生ヘッドとを有する記録再生装置（データを記録再生するための記録再生装置）に好適に用いることが可能である。また、磁気記録テープ１０Ｂは、サーボ信号書込ヘッドとしてリング型の記録ヘッドが用いられるものであることが好ましい。磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりデータ信号が垂直記録される。また、磁性層１１５には、例えばリング型の記録ヘッドによりサーボ信号が垂直記録される。
　磁気記録テープ１０Ｂは、自らの長手方向において接続部分４においてリーダーテープ２０と連結される。但し、磁気記録テープ１０Ｂは、図１４に示した断面構成を有する点が第１の実施の形態の磁気記録テープ１０と異なる。
（基体１１１）
　基体１１１は、上記第１の実施の形態の磁気記録テープ１０における基体１１と実質的に同じ構成を有するものを用いることができる。このため、基体１１１についての詳細な説明は省略する。
（ＳＵＬ１１２）
　ＳＵＬ１１２は、アモルファス状態の軟磁性材料を含む。軟磁性材料は、例えば、Ｃｏ系材料及びＦｅ系材料のうちの少なくとも１種を含む。Ｃｏ系材料は、例えば、ＣｏＺＮｂ，ＣｏＺｒＴａ，又はＣｏＺｒＴａＮｂを含む。Ｆｅ系材料は、例えば、ＦｅＣｏＢ，ＦｅＣｏＺｒ，又はＦｅＣｏＴａを含む。
　ＳＵＬ１１２は、例えば単層構造を有しており、基体１１１上に直接設けられている。ＳＵＬ１１２の平均厚みは、好ましくは１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下、より好ましくは２０ｎｍ以上３０ｎｍ以下である。ＳＵＬ１１２の平均厚みは、例えば第１の実施形態における磁性層１３の平均厚みの測定方法と同様にして求めることが可能である。なお、ＳＵＬ１１２以外の層、すなわち、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、および磁性層１１５の各平均厚みについても、磁性層１３の平均厚みの測定方法と同様にして求めることが可能である。
（第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ）
　第１のシード層１１３Ａは、ＴｉおよびＣｒを含有する合金を含み、アモルファス状態の物質を有している。また、この合金には、Ｏ（酸素）がさらに含まれていてもよい。この酸素は、スパッタリング法などの成膜法で第１のシード層１１３Ａを成膜する際に、第１のシード層１１３Ａ内に微量に含まれる不純物酸素であってもよい。ここでいう合金とは、ＴｉおよびＣｒを含有する固溶体、共晶体、及び金属間化合物などのうちの少なくとも１種を意味する。また、アモルファス状態とは、Ｘ線回折法または電子線回折法などにより、ハローが観測され、第１のシード層１１３を構成する物質の結晶構造を特定できないことを意味する。
　第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉおよびＣｒの総量に対するＴｉの原子比率は、好ましくは３０原子％以上１００原子％未満、より好ましくは５０原子％以上１００原子％未満である。Ｔｉの原子比率が３０％未満であると、Ｃｒの体心立方格子（Body-Centered Cubic lattice：ｂｃｃ）構造の（１００）面が配向するようになり、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの配向性が低下するおそれがある。
　上記Ｔｉの原子比率は次のようにして求められる。磁性層１１５側から磁気記録媒体１１０をイオンミリングしながら、オージェ電子分光法（Auger Electron Spectroscopy：ＡＥＳ）による第１のシード層１１３Ａの深さ方向分析（デプスプロファイル測定）を行う。次に、得られたデプスプロファイルから、膜厚方向におけるＴｉ及びＣｒの平均組成（平均原子比率）を求める。次に、求めたＴｉ及びＣｒの平均組成を用いて、上記Ｔｉの原子比率を求める。
　第１のシード層１１３ＡがＴｉ，Ｃｒ，およびＯを含む場合、第１のシード層１１３Ａに含まれるＴｉ，Ｃｒ，およびＯの総量に対するＯの原子比率は、好ましくは１５原子％以下、より好ましくは１０原子％以下である。Ｏの原子比率が１５原子％を超えると、ＴｉＯ2結晶が生成することにより、第１のシード層１１３Ａ上に形成される第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの結晶核形成に影響を与えるようになり、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの配向性が低下するおそれがある。上記Ｏの原子比率は、上記Ｔｉの原子比率と同様の解析方法を用いて求められる。
　第１のシード層１１３Ａに含まれる合金が、Ｔｉ及びＣｒ以外の元素を添加元素としてさらに含んでいてもよい。この添加元素は、例えば、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｍｏ、Ａｌ、及びＷからなる群より選ばれる１種以上の元素であってよい。
　第１のシード層１１３Ａの平均厚みは、好ましくは１ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは１ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。
　第２のシード層１１３Ｂは、例えば、ＮｉＷまたはＴａを含み、結晶状態を有している。第２のシード層１１３Ｂの平均厚みは、好ましくは２ｎｍ以上２０ｎｍ以下、より好ましくは３ｎｍ以上１５ｎｍ以下である。
　第１のシード層１１３Ａおよび第２のシード層１１３Ｂは、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの結晶成長を目的として設けられるシード層ではない。第１のシード層１１３Ａおよび第２のシード層１１３Ｂは、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの垂直配向性を向上するシード層である。
（第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂ）
　第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂは、磁性層１１５と同様の結晶構造を有していることが好ましい。磁性層１１５がＣｏ系合金を含む場合には、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂは、Ｃｏ系合金と同様の六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料を含み、その構造のｃ軸が膜面に対して垂直方向（すなわち膜厚方向）に配向していることが好ましい。これは、磁性層１１５の配向性を高め、かつ、第２の下地層１１４Ｂと磁性層１１５との格子定数のマッチングを比較的良好にできるからである。六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料としては、Ｒｕを含む材料を用いることが好ましく、具体的にはＲｕ単体またはＲｕ合金が好ましい。Ｒｕ合金としては、例えばＲｕ－ＳｉＯ2、Ｒｕ－ＴｉＯ2、及びＲｕ－ＺｒＯ2などのＲｕ合金酸化物が挙げられ、Ｒｕ合金はこれらのうちのいずれか一つであってよい。第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂを構成する六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有する材料としては、上記のほか、例えばＣｏ(100-y)Ｃｒy（但し、３５≦ｙ≦４５の範囲内である。）などのＣｏ系合金や、例えば［Ｃｏ(100-y)Ｃｒy］(100-z)（ＭＯ2）z（但し、３５≦ｙ≦４５の範囲内であり、ｚ≦１０の範囲内であり、且つ、ＭはＳｉ又はＴｉである。）などの非磁性酸化物を含むものであってもよい。
　上述のように、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの材料として同様のものを用いることができる。しかしながら、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂのそれぞれの目的とする効果が異なっている。具体的には、第２の下地層１１４Ｂについてはその上層となる磁性層１１５のグラニュラ構造を促進する膜構造であり、第１の下地層１１４Ａについては結晶配向性の高い膜構造である。このような膜構造を得るためには、第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂそれぞれのスパッタ条件などの成膜条件を異なるものとすることが好ましい。
　第１の下地層１１４Ａの平均厚みは、好ましくは３ｎｍ以上１５ｎｍ以下、より好ましくは５ｎｍ以上１０ｎｍ以下である。第２の下地層１１４Ｂの平均厚みは、好ましくは７ｎｍ以上１００ｎｍ以下、より好ましくは４０ｎｍ以上８０ｎｍ以下である。
（磁性層）
　磁性層（記録層ともいう）１１５は、磁性材料が垂直に配向した垂直磁気記録層でありうる。磁性層１１５は、記録密度を向上する観点からすると、Ｃｏ系合金を含むグラニュラ磁性層であることが好ましい。このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含む強磁性結晶粒子と、この強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界（非磁性体）とから構成されている。より具体的には、このグラニュラ磁性層は、Ｃｏ系合金を含むカラム（柱状結晶）と、このカラムを取り囲み、それぞれのカラムを磁気的に分離する非磁性粒界（例えばＳｉＯ2などの酸化物）とから構成されている。この構造では、それぞれのカラムが磁気的に分離した構造を有する磁性層１１５を構成することができる。
　Ｃｏ系合金は、六方最密充填（ｈｃｐ）構造を有し、そのｃ軸が膜面に対して垂直方向（膜厚方向）に配向している。Ｃｏ系合金としては、少なくともＣｏ、Ｃｒ、及びＰｔを含有するＣｏＣｒＰｔ系合金を用いることが好ましい。ＣｏＣｒＰｔ系合金は、さらに添加元素を含んでいてもよい。添加元素としては、例えば、Ｎｉ及びＴａなどからなる群より選ばれる１種以上の元素が挙げられる。
　強磁性結晶粒子を取り巻く非磁性粒界は、非磁性金属材料を含む。ここで、金属には半金属を含むものとする。非磁性金属材料としては、例えば、金属酸化物及び金属窒化物のうちの少なくとも一方を用いることができ、グラニュラ構造をより安定に維持する観点からすると、金属酸化物を用いることが好ましい。金属酸化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、Ｙ、及びＨｆなどからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属酸化物が挙げられ、少なくともＳｉ酸化物（すなわちＳｉＯ2）を含む金属酸化物が好ましい。金属酸化物の具体例としては、ＳｉＯ2、Ｃｒ2Ｏ3、ＣｏＯ、Ａｌ2Ｏ3、ＴｉＯ2、Ｔａ2Ｏ5、ＺｒＯ2、及びＨｆＯ2などが挙げられる。金属窒化物としては、Ｓｉ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｃｅ、Ｙ、及びＨｆなどからなる群より選ばれる少なくとも１種以上の元素を含む金属窒化物が挙げられる。金属窒化物の具体例としては、ＳｉＮ、ＴｉＮ、及びＡｌＮなどが挙げられる。
　強磁性結晶粒子に含まれるＣｏＣｒＰｔ系合金と、非磁性粒界に含まれるＳｉ酸化物とが、以下の式（１）に示す平均組成を有していることが好ましい。反磁界の影響を抑え、かつ、十分な再生出力を確保できる飽和磁化量Ｍｓを実現でき、これにより、記録再生特性の更なる向上を実現できるからである。
（ＣｏｘＰｔｙＣｒ１００－ｘ－ｙ）１００－ｚ－（ＳｉＯ２）ｚ・・・（１）
（但し、式（１）中において、ｘ、ｙ、ｚはそれぞれ、６９≦ｘ≦７５、１０≦ｙ≦１６、９≦ｚ≦１２の範囲内の値である。）
　なお、上記組成は次のようにして求めることができる。磁性層１１５側から磁気記録媒体１１０をイオンミリングしながら、ＡＥＳによる磁性層１１５の深さ方向分析を行い、膜厚方向におけるＣｏ、Ｐｔ、Ｃｒ、Ｓｉ、及びＯの平均組成（平均原子比率）を求める。
　磁性層１１５の平均厚みｔｍ［ｎｍ］は、好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦９０ｎｍ、より好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦２０ｎｍ、更により好ましくは９ｎｍ≦ｔｍ≦１５ｎｍである。磁性層１１５の平均厚みｔｍが上記数値範囲内にあることによって、電磁変換特性を向上することができる。
　また、スパッタ法により形成される磁性層１１５の磁性粉の平均粒子体積は、３５０ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下であることが望ましい。磁性層１１５の磁性粉の平均粒子体積を求めるには、まず、エッチング処理により磁性層１１５の表面を露出させ、ＴＥＭによりその表面を観察する。その観察画像から、磁性層１１５の表面における磁性粒子の直径Ｒ115を測定する。次に、例えばＦＩＢにより磁性層１１５の断面を形成し、ＴＥＭにより得られる断面の画像から磁性層１１５に厚みｔ115を測定する。そののち、下記の式から粒子体積を求める。
（粒子体積）＝（（Ｒ115）／２）2×π×（ｔ115）
これを数点の箇所について繰り返し行い、それらの粒子体積の平均値を算出する。
（保護層）
　保護層１１６は、例えば、炭素材料又は二酸化ケイ素（ＳｉＯ2）を含み、保護層１１６の膜強度の観点からすると、炭素材料を含むことが好ましい。炭素材料としては、例えば、グラファイト、ダイヤモンド状炭素（Diamond-Like Carbon：ＤＬＣ）、又はダイヤモンドなどが挙げられる。
（潤滑層）
　潤滑層１１７は、少なくとも１種の潤滑剤を含む。潤滑層１１７は、必要に応じて各種添加剤、例えば防錆剤など、をさらに含んでいてもよい。潤滑剤は、少なくとも２つのカルボキシル基と１つのエステル結合とを有し、下記の一般式（１）で表されるカルボン酸系化合物の少なくとも１種を含む。潤滑剤は、下記の一般式（１）で表されるカルボン酸系化合物以外の種類の潤滑剤をさらに含んでいてもよい。
一般式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
 （式中、Ｒｆは、非置換若しくは置換の飽和若しくは不飽和の含フッ素炭化水素基又は炭化水素基であり、Ｅｓはエステル結合であり、Ｒは、なくてもよいが、非置換若しくは置換の飽和若しくは不飽和の炭化水素基である。）
　上記カルボン酸系化合物は、下記の一般式（２）又は（３）で表されるものであることが好ましい。
一般式（２）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 （式中、Ｒｆは、非置換若しくは置換の飽和若しくは不飽和の含フッ素炭化
水素基又は炭化水素基である。）
一般式（３）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 （式中、Ｒｆは、非置換若しくは置換の飽和若しくは不飽和の含フッ素炭化水素基又は炭化水素基である。）
　潤滑剤は、上記の一般式（２）及び（３）で表されるカルボン酸系化合物の一方または両方を含むことが好ましい。
　一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物を含む潤滑剤を磁性層１１５または保護層１１６などに塗布すると、疎水性基である含フッ素炭化水素基又は炭化水素基Ｒｆ間の凝集力により潤滑作用が発現する。Ｒｆ基が含フッ素炭化水素基である場合には、総炭素数が６～５０であり、且つフッ化炭化水素基の総炭素数が４～２０であることが好ましい。Ｒｆ基は、例えば飽和又は不飽和の直鎖、分岐鎖、又は環状の炭化水素基であってよいが、好ましくは飽和の直鎖状炭化水素基でありうる。
　例えば、Ｒｆ基が炭化水素基である場合には、下記一般式（４）で表される基であることが望ましい。
一般式（４）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
 （但し、一般式（４）において、ｌは、８～３０、より望ましくは１２～２０の範囲から選ばれる整数である。）
　また、Ｒｆ基が含フッ素炭化水素基である場合には、下記一般式（５）で表される基であることが望ましい。
一般式（５）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
 （但し、一般式（５）において、ｍとｎは、それぞれ次の範囲から互いに独立に選ばれる整数で、ｍ＝２～２０、ｎ＝３～１８、より望ましくは、ｍ＝４～１３、ｎ＝３～１０である。）
　フッ化炭化水素基は、上記のように分子内の１箇所に集中していても、また下記一般式（６）のように分散していてもよく、－ＣＦ３や－ＣＦ２－ばかりでなく－ＣＨＦ２や－ＣＨＦ－等であってもよい。
一般式（６）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
 （但し、一般式（５）及び（６）において、ｎ１＋ｎ２＝ｎ、ｍ１＋ｍ２＝ｍである。）
　一般式（４）、（５）、及び（６）において炭素数を上記のように限定したのは、アルキル基または含フッ素アルキル基を構成する炭素数（ｌ、又は、ｍとｎの和）が上記下限以上であると、その長さが適度の長さとなり、疎水性基間の凝集力が有効に発揮され、良好な潤滑作用が発現し、摩擦・摩耗耐久性が向上するからである。また、その炭素数が上記上限以下であると、上記カルボン酸系化合物からなる潤滑剤の、溶媒に対する溶解性が良好に保たれるからである。
　特に、一般式（１）、（２）、及び（３）におけるＲｆ基は、フッ素原子を含有すると、摩擦係数の低減、さらには走行性の改善等に効果がある。但し、含フッ素炭化水素基とエステル結合との間に炭化水素基を設け、含フッ素炭化水素基とエステル結合との間を隔てて、エステル結合の安定性を確保して加水分解を防ぐことが好ましい。
　また、Ｒｆ基がフルオロアルキルエーテル基又はパーフルオロポリエーテル基を有するものであってもよい。
　一般式（１）におけるＲ基は、なくてもよいが、ある場合には、比較的炭素数の少ない炭化水素鎖であることが好ましい。
　また、Ｒｆ基又はＲ基は、構成元素として窒素、酸素、硫黄、リン、及びハロゲンから選ばれる１又は複数の元素を含み、既述した官能基に加えて、ヒドロキシル基、カルボキシル基、カルボニル基、アミノ基、及びエステル結合等を更に有していてもよい。
　一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物は、具体的には以下に示す化合物の少なくとも１種であることが好ましい。すなわち、潤滑剤は、以下に示す化合物を少なくとも１種含むことが好ましい。
CF3(CF2)7(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
C17H35COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)2OCOCH2CH(C18H37)COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CHF2(CF2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)2OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)6OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)11OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)6OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
C18H37OCOCH2CH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)4COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)4COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)3(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)9(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7(CH2)12COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)5(CH2)10COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7CH(C9H19)CH2CH=CH(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CF3(CF2)7CH(C6H13)(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
CH3(CH2)3(CH2CH2CH(CH2CH2(CF2)9CF3))2(CH2)7COOCH(COOH)CH2COOH
　一般式（１）で示されるカルボン酸系化合物は、環境への負荷の小さい非フッ素系溶剤に可溶であり、例えば炭化水素系溶剤、ケトン系溶剤、アルコール系溶剤、及びエステル系溶剤などの汎用溶剤を用いて、塗布、浸漬、噴霧などの操作を行えるという利点を備えている。具体的には、前記汎用溶剤として、例えばヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、ドデカン、ベンゼン、トルエン、キシレン、シクロヘキサン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、及びシクロヘキサノンなどの溶媒を挙げることができる。
　保護層１１６が炭素材料を含む場合には、潤滑剤として上記カルボン酸系化合物を保護層１１６上に塗布すると、保護層１１６上に潤滑剤分子の極性基部である２つのカルボキシル基と少なくとも１つのエステル結合基が吸着され、疎水性基間の凝集力により特に耐久性の良好な潤滑層１１７を形成することができる。
　なお、潤滑剤は、上述のように磁気記録テープ１０Ｂの表面に潤滑層１１７として保持されるのみならず、磁気記録テープ１０Ｂを構成する磁性層１１５及び保護層１１６などの層に含まれ、保有されていてもよい。
（バック層）
　バック層１１８については、第１の実施形態におけるバック層１４と同様の構成とすることができる。
　上記第１の実施の形態で説明した磁気記録テープ１０の物性およびその測定方法に関する説明は、いずれも、本実施の形態の磁気記録テープ１０Ｂの物性およびその測定方法についても当てはまる。例えば、磁気記録テープ１０Ｂの平均厚みおよびその測定方法は、磁気記録テープ１０Ｂの平均厚みおよびその測定方法と同様である。保磁力Ｈｃや角形比、水分含有率ＷＡなどの他の物性を表すパラメータについても同様である。
［２－３．スパッタ装置の構成］
　以下、図１５を参照して、磁気記録テープ１０Ｂの製造に用いられるスパッタ装置１２０の構成の一例について説明する。スパッタ装置１２０は、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ及び磁性層１１５の成膜に用いられる連続巻取式スパッタ装置である。スパッタ装置１２０は、図１４に示したように、成膜室１２１と、金属キャン（回転体）であるドラム１２２と、カソード１２３ａ～１２３ｆと、供給リール１２４と、巻き取りリール１２５と、複数のガイドローラ１２７ａ～１２７ｃ、１２８ａ～１２８ｃとを備える。スパッタ装置１２０は、例えばＤＣ（直流）マグネトロンスパッタリング方式の装置であるが、スパッタリング方式はこの方式に限定されるものではない。
　成膜室１２１は、排気口１２６を介して図示しない真空ポンプに接続され、この真空ポンプにより成膜室１２１内の雰囲気が所定の真空度に設定される。成膜室１２１の内部には、回転可能な構成を有するドラム１２２、供給リール１２４、及び巻き取りリール１２５が配置されている。成膜室１２１の内部には、供給リール１２４とドラム１２２との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドローラ１２７ａ～１２７ｃが設けられていると共に、ドラム１２２と巻き取りリール１２５との間におけるベース層１１１の搬送をガイドするための複数のガイドローラ１２８ａ～１２８ｃが設けられている。スパッタ時には、供給リール１２４から巻き出されたベース層１１１が、ガイドローラ１２７ａ～１２７ｃ、ドラム１２２、及びガイドローラ１２８ａ～１２８ｃを介して巻き取りリール１２５に巻き取られる。ドラム１２２は円柱状の形状を有し、長尺状のベース層１１１はドラム１２２の円柱面状の周面に沿わせて搬送される。ドラム１２２には、図示しない冷却機構が設けられており、スパッタ時には、例えば－２０℃程度に冷却される。成膜室１２１の内部には、ドラム１２２の周面に対向して複数のカソード１２３ａ～１２３ｆが配置されている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにはそれぞれターゲットがセットされている。具体的には、カソード１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ、１２３ｄ、１２３ｅ、１２３ｆにはそれぞれ、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、磁性層１１５を成膜するためのターゲットがセットされている。これらのカソード１２３ａ～１２３ｆにより複数の種類の膜、すなわちＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５が同時に成膜される。
　上述の構成を有するスパッタ装置１２０では、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、および磁性層１１５をRolltoRoll法により連続成膜することができる。
［２－４．磁気記録テープ１０Ｂの製造方法］
　磁気記録テープ１０Ｂは、例えば、以下のようにして製造することができる。
　まず、図１５に示したスパッタ装置１２０を用いて、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５をベース層１１１の表面上に順次成膜する。具体的には以下のようにして成膜する。まず、成膜室１２１を所定の圧力になるまで真空引きする。その後、成膜室１２１内にＡｒガスなどのプロセスガスを導入しながら、カソード１２３ａ～１２３ｆにセットされたターゲットをスパッタする。これにより、ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５が、走行するベース層１１１の表面に順次成膜される。
　スパッタ時の成膜室１２１の雰囲気は、例えば、１×１０-5Ｐａ～５×１０-5Ｐａ程度に設定される。ＳＵＬ１１２、第１のシード層１１３Ａ、第２のシード層１１３Ｂ、第１の下地層１１４Ａ、第２の下地層１１４Ｂ、及び磁性層１１５の膜厚及び特性は、ベース層１１１を巻き取るテープライン速度、スパッタ時に導入するＡｒガスなどのプロセスガスの圧力（スパッタガス圧）、及び投入電力などを調整することにより制御可能である。
　次に、磁性層１１５上に保護層１１６を成膜する。保護層１１６の成膜方法としては、例えば化学気相成長（Chemical Vapor Deposition：ＣＶＤ）法または物理蒸着（Physical Vapor Deposition：ＰＶＤ）法を用いることができる。
　次に、結着剤、無機粒子、及び潤滑剤などを溶剤に混練、分散させることにより、バック層成膜用の塗料を調製する。次に、ベース層１１１の裏面上にバック層成膜用の塗料を塗布して乾燥させることにより、バック層１１８をベース層１１１の裏面上に成膜する。
　次に、例えば潤滑剤を保護層１１６上に塗布し、潤滑層１１７を成膜する。潤滑剤の塗布方法としては、例えば、グラビアコーティング、ディップコーティングなどの各種塗布方法を用いることができる。次に、必要に応じて、磁気記録テープ１０Ｂを所定の幅に裁断する。以上により、図１４に示した磁気記録テープ１０Ｂが得られる。
［２－５．効果］
　本実施の形態においても、リーダーテープ２０を用いることにより、磁気記録テープ１０Ｂの表面に転写される折れ曲がりや凹みなどを軽減することができる。よって、磁気記録テープ１０Ｂへの情報記録動作や磁気記録テープ１０Ｂからの情報読出し動作を妨げることなく、良好に行うことができる。
［２－６．変形例］
　磁気記録テープ１０Ｂが、基体１１１とＳＵＬ１１２との間に下地層をさらに備えるようにしてもよい。ＳＵＬ１１２はアモルファス状態を有するので、ＳＵＬ１１２上に形成される層のエピタキシャル成長を促す役割を担うものではない。しかしながら、ＳＵＬ１１２には、ＳＵＬ１１２の上に形成される第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの結晶配向を乱さないことが求められる。そのためには、軟磁性材料がカラムを形成しない微細な構造を有していることが好ましい。ところが、基体１１１からの水分などのガスの放出の影響が大きい場合、軟磁性材料が粗大化し、ＳＵＬ１１２上に形成される第１の下地層１１４Ａおよび第２の下地層１１４Ｂの結晶配向を乱してしまうおそれがある。基体１１１からの水分などのガスの放出の影響を抑制するためには、上述のように、基体１１１とＳＵＬ１１２との間に、ＴｉおよびＣｒを含有する合金を含み、アモルファス状態を有する下地層を設けることが好ましい。この下地層の具体的な構成としては、第１のシード層１１３Ａと同様の構成を採用することができる。
　磁気記録テープ１０Ｂは、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂのうちの少なくとも１つの層を備えていなくてもよい。ただし、ＳＮＲの向上の観点からすると、第２のシード層１１３Ｂおよび第２の下地層１１４Ｂの両方の層を備えることがより好ましい。
　磁気記録テープ１０Ｂは、単層構造のＳＵＬ１１２に代えて、ＡＰＣ－ＳＵＬ（Antiparallel Coupled ＳＵＬ）を備えるようにしてもよい。
＜３．実施例＞
　以下、実施例により本開示を具体的に説明するが、本開示はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
　以下の実施例および比較例において、リーダーテープの最大段差ΔＴは、上述の第１の実施の形態にて説明した測定方法により求められた値である。
［実施例１］
　実施例１としての磁気記録媒体を以下のようにして得た。
　まず、磁気記録テープを以下のようにして作製した。
＜磁性層形成用塗料の調製工程＞
　磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第１組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第１組成物と、下記配合の第２組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
（第１組成物）
　第１組成物における各構成要素および重量は以下の通りである。
・バリウムフェライト（ＢａＦｅ12Ｏ19）粒子の粉末（六角板状、平均アスペクト比３．０、平均粒子体積１６００ｎｍ3）：１００質量部
・塩化ビニル系樹脂のシクロヘキサノン溶液５０質量部
（当該溶液の組成は、樹脂分３０質量％及びシクロヘキサノン７０質量％である。塩化ビニル系樹脂の詳細は以下のとおりであった：重合度３００、Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ3Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する
・酸化アルミニウム粉末（α－Ａｌ2Ｏ3、平均粒径０．１μｍ）：５質量部
（第２組成物）
　第２組成物における各構成要素および重量は以下の通りである。
・カーボンブラック：２質量部
（東海カーボン社製、商品名：シーストＴＡ）
・ポリウレタン樹脂（樹脂溶液：ポリウレタン樹脂の配合量３０質量％、シクロヘキサノンの配合量７０質量％）：５．５６質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、Tg　110℃）
・脂肪酸エステルとしてｎ－ブチルステアレート：２質量部
・メチルエチルケトン：１２１．３質量部
・トルエン：１２１．３質量部
・シクロヘキサノン：６０．７質量部
　上述のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤としてポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：４質量部と、脂肪酸としてステアリン酸：２質量部とを添加した。
＜下地層形成用塗料の調製工程＞
　下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
（第３組成物）
　第３組成物における各構成要素および重量は以下の通りである。
・針状酸化鉄粉末（α－Ｆｅ2Ｏ3、平均長軸長０．１２μｍ）：１００質量部
・塩化ビニル系樹脂（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）：４６質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、Tg　110℃）
（第４組成物）
　第４組成物における各構成要素および重量は以下の通りである。
・カーボンブラック（平均粒径２０ｎｍ）：２０質量部
・ポリウレタン系樹脂（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）：３７質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、Tg　110℃）
・脂肪酸エステルとしてｎ－ブチルステアレート：２質量部
・メチルエチルケトン：１０８．２質量部
・トルエン：１０８．２質量部
・シクロヘキサノン：１８．５質量部
　上述のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤としてポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：２．４９質量部と、脂肪酸としてステアリン酸：２質量部とを添加した。
＜バック層形成用塗料の調製工程＞
　バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。・カーボンブラック（旭カーボン株式会社製、商品名：＃８０）：１００質量部
・ポリエステルポリウレタン（東ソー株式会社製、商品名：Ｎ－２３０４）：１００質量部
・メチルエチルケトン：５００質量部
・トルエン：４００質量部
・シクロヘキサノン：１００質量部
・ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１０質量部
＜塗布工程＞
　上述のようにして調製した磁性層形成用塗料および下地層形成用塗料を用いて、非磁性支持体である平均厚み４．０μｍの長尺のポリエステルフィルムの一方の主面上に、カレンダー後に平均厚み０．９２μｍの下地層、および平均厚み８０ｎｍの磁性層になるように以下のようにして形成した。まず、ポリエステルフィルムの一方の主面上に下地層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、下地層を形成した。次に、下地層上に磁性層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、磁性層を形成した。なお、磁性層の結着剤における塩化ビニル系樹脂とポリウレタン系樹脂との重量比は、１：１となるようにした。また、磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ソレノイドコイルにより、磁性粉をフィルムの厚み方向に磁場配向させた。磁気記録媒体の厚み方向（垂直方向）における角形比は６７％とした。続いて、ポリエステルフィルムの他方の主面上にバック層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、平均厚み０．３μｍのバック層を形成した。これにより、磁気記録媒体が得られた。
＜カレンダー工程および転写工程＞
　続いて、カレンダー処理を行い、磁性層の表面を平滑化した。次に、磁性層の表面が平滑化された磁気記録テープをロール状に巻き取ったのち、その状態のまま磁気記録テープに６０℃、１０時間の加熱処理を行った。そして、内周側に位置している端部が反対に外周側に位置するように、磁気記録テープをロール状に巻き直したのち、その状態のまま磁気記録テープに６０℃、１０時間の加熱処理を再度行った。
＜裁断工程＞
　上述のようにして得られた磁気記録テープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。これにより、目的とする長尺状の磁気記録テープ（平均厚み５．２μｍ）が得られた。なお、磁気記録テープの長手方向の長さは１０３５ｍとした。
　次に、上記のようにして得た実施例１の磁気記録テープと接続される実施例１としての
リーダーテープを以下のようにして作製した。
（磁性層形成用塗料の調製工程）
　磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。
（第１組成物）
・針状メタル磁性粉（針状比６．０、平均粒子体積Ｖは５０００ｎｍ3）：１００質量部
・塩化ビニル系樹脂（シクロヘキサノン溶液３０質量％）：３５．０質量部（重合度３００、Ｍｎ＝１００００、極性基としてＯＳＯ3Ｋ＝０．０７ｍｍｏｌ／ｇ、２級ＯＨ＝０．３ｍｍｏｌ／ｇを含有する。）
・ポリウレタン系樹脂（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）：３２質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、Tg　110℃）
・カーボンブラック：３質量部（東海カーボン社製、商品名：シーストＴＡ）
・酸化アルミニウム粉末：５質量部（α－Ａｌ2Ｏ3、平均粒径０．１μｍ）
・ｎ－ブチルステアレート：２質量部
・メチルエチルケトン：１２１．３質量部
・トルエン：１２１．３質量部
・シクロヘキサノン：６０．７質量部
　最後に、上述のようにして調製した磁性層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、日本ポリウレタン社製）：４質量部と、ミリスチン酸：２質量部とを添加した。
（下地層形成用塗料の調製工程）
　下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第３組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第３組成物と、下記配合の第４組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにダイノミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
（第３組成物）
・針状酸化鉄粉末：１００質量部（α－Ｆｅ2Ｏ3、平均長軸長０．１２μｍ）
・塩化ビニル系樹脂：４６質量部（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）
（第４組成物）
・カーボンブラック：２０質量部（平均粒径２０ｎｍ）
・ポリウレタン系樹脂（樹脂溶液：樹脂分３０質量％、シクロヘキサノン７０質量％）：３７質量部
（ポリウレタン樹脂：数平均分子量Ｍｎ＝２５０００、Tg　110℃）
・ｎ－ブチルステアレート：２質量部
・メチルエチルケトン：１０８．２質量部
・トルエン：１０８．２質量部
・シクロヘキサノン：１８．５質量部
　最後に、上述のようにして調製した下地層形成用塗料に、硬化剤として、ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、日本ポリウレタン社製）：２．４９質量部と、ミリスチン酸：２質量部とを添加した。
（バック層形成用塗料の調製工程）
バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。
・カーボンブラック（旭カーボン株式会社製、商品名：＃８０）：１００質量部
・ポリエステルポリウレタン：１００質量部（日本ポリウレタン社製、商品名：Ｎ－２３０４）
・メチルエチルケトン：５００質量部
・トルエン：４００質量部
・シクロヘキサノン：１００質量部
・ポリイソシアネート（商品名：コロネートＬ、東ソー株式会社製）：１０質量部
（成膜工程）
　上述のようにして作製した塗料を用いて、ベースフィルム上に下地層と磁性層とを以下のようにして形成した。なお、ベースフィルムとして平均厚み１５．０μｍの長尺のポリエステルフィルムを用いた。まず、ベースフィルム上に、下地層形成用塗料を塗布、乾燥させることにより、ベースフィルム上に下地層を形成した。次に、下地層上に、磁性層形成用塗料を塗布し、乾燥させることにより、下地層上に磁性層を形成した。なお、磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ソレノイドコイルにより、磁性粉をフィルムの厚み方向に磁場配向させた。また、磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し、磁気記録媒体の厚み方向（垂直方向）における角形比Ｓ２を６５％に設定した。また、下地層は、最終的な平均厚みが１．５μｍとなるように形成した。磁性層は、最終的な平均厚みが０．２μｍとなるように形成した。
　続いて、下地層及び磁性層が形成されたベースフィルムに対して、バック層を塗布し乾燥させた。そして、下地層、磁性層、及びバック層が形成されたベースフィルムに対して硬化処理を行った。続いて、カレンダー処理を行い、磁性層表面を平滑化した。さらに、再硬化処理を施し、１７．０μｍの平均厚みを有するリーダーテープが得られた。なお、バック層は、最終的な平均厚みが０．５０μｍとなるように形成した。
（裁断の工程）
　上述のようにして得られたリーダーテープを１／２インチ（１２．６５ｍｍ）幅に裁断した。これにより、実施例１として、目的とする長尺状のリーダーテープ（平均厚み１７．０μｍ）が得られた。なお、リーダーテープの長手方向の長さは４５００ｍｍとした。最後に、別途作製した実施例１としての磁気記録テープと実施例１としてのリーダーテープとを接続することにより、実施例１の磁気記録媒体を得た。
　得られた実施例１の磁気記録媒体を上述した一定条件下で走行させたのち、その磁気記録媒体からリーダーテープを採取し、そのリーダーテープの段差部分の最大段差ΔＴを測定した。その結果を表１に示す。なお、表１の確認位置［ｍ］とは、リーダーテープの始端からの長手方向の位置を表している。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000011
　なお、表１には、エラーレートおよびＰＥＳについても併せて示す。ここでいうエラーレートは、エクマ・インターナショナルの標準規格「Standard ECMA-319 Data Interchange on 12,7 mm 384-Track Magnetic Tape Cartridges - Ultrium-1 Format」（https://www.ecma-international.org/wp-content/uploads/ECMA-319#1st#edition#june#2001.pdf）に記載のError Correcting Code (ECC)である。エラーレートについては、ＬＴＯ９用フルハイトドライブを用いてECMA-319記載の方法で評価した。
　次に、図１６Ａ～１６Ｃを参照して、ＰＥＳについて説明する。図１６Ａは、図１１の記録再生装置３０を用いたＰＥＳの測定方法を説明する図である。図１６Ｂは、記録再生装置３０のヘッドユニット３６の概略図である。ヘッドユニット３６は、例えば、２つのサーボリードヘッド、複数のデータライトヘッド等を有する。図１６Ｂは、ヘッドユニット３６を下側（テープ走行面）から見た概略図である。図１６Ｂに示したように、ヘッドユニット３６は、第１のドライブヘッド部３６ａと、第２のドライブヘッド部３６ｂと、第３のドライブヘッド部３６ｃとを含む。第１のドライブヘッド部３６ａおよび第２のドライブヘッド部３６ｂは、磁気記録媒体ＴＭの走行方向であるＸ軸方向で対称に構成されている。第３のドライブヘッド部３６ｃは、Ｘ軸方向において第１のドライブヘッド部３６ａと第２のドライブヘッド部３６ｂとの間に配置されている。第１～第３のドライブヘッド部３６ａ～３６ｃは、磁気記録媒体ＴＭ１の幅方向であるＹ軸方向に移動可能に構成されている。
　第１のドライブヘッド部３６ａは、磁気記録媒体ＴＭが順方向、すなわち＋Ｘ方向に走行しているときに使用されるドライブヘッドである。一方、第２のドライブヘッド部３６ｂは、磁気記録テープ１０が逆方向、すなわち－Ｘ方向に走行しているときに使用されるドライブヘッドである。第１のドライブヘッド部３６ａおよび第２のドライブヘッド部３６ｂは、基本的に同様の構成であるため、第１のドライブヘッド部３６ａについて代表的に説明する。
　第１のドライブヘッド部３６ａは、ヘッド本体１３１と、２つのサーボリードヘッド１３２と、複数のデータライトヘッド１３３とを有する。
　サーボリードヘッド１３２は、ヘッド本体１３１における幅方向（Ｙ軸方向）の両端側にそれぞれ１つずつ設けられる。ＭＲ素子としては、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ：Ｔｕｎｎｅｌ　Ｍａｇｎｅｔｏ　Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ　ｅｆｆｅｃｔ）などを含む。２つのサーボリードヘッド１３２の幅方向（Ｙ軸方向）における間隔は、磁気記録媒体ＴＭにおける隣接するサーボバンドｓ間の距離と略同じがよい。
　データライトヘッド１３３は、幅方向（Ｙ軸方向）に沿って、等間隔に配置されている。また、データライトヘッド１３３は、２つのサーボリードヘッド１３２に挟み込まれる位置に配置されている。データライトヘッド１３３の数は、例えば、２０個４０個程度とされるが、この個数については特に限定されない。データライトヘッド１３３は、磁気ギャップから発生する磁界によって、磁気記録テープ１０のデータバンドｄに対してデータ信号を記録することが可能に構成されている。
　第３のドライブヘッド部３６ｃは、例えばヘッド本体１３１と、２つのサーボヘッド１３４と、複数のデータリードヘッド１３５とを有する。データリードヘッド１３５は、磁気記録媒体ＴＭのデータバンドｄに記録された磁気的情報から発生する磁界をＭＲ素子などにより読み取ることで、データ信号を再生可能に構成されている。ＭＲ素子としては、トンネル磁気抵抗効果素子（ＴＭＲ：Ｔｕｎｎｅｌ　Ｍａｇｎｅｔｏ　Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ　ｅｆｆｅｃｔ）などを含む。
　第１のドライブヘッド部３６ａは、第３のドライブヘッド部３６ｃの左側、すなわち磁気記録媒体ＴＭが順方向に流れる場合の上流側に配置される。一方、第２のドライブヘッド部３６ｂは、第３のドライブヘッド部３６ｃの右側、すなわち磁気記録媒体ＴＭが逆方向に流れる場合の上流側に配置される。なお、第３のドライブヘッド部３６ｃのデータリードヘッド１３５は、第１のドライブヘッド部３６ａまたは第２のドライブヘッド部３６ｂが磁気記録媒体ＴＭにデータ信号を書き込んだ直後に、このデータ信号を再生可能とされている。
　ここでいうＰＥＳとは、記録再生装置３０によって磁気記録媒体ＴＭを全長に亘って走行させたときの、２つのサーボリードヘッド１３２（図１６Ｂ）の各サーボバンド上でのサーボトレースラインＴのサーボパターン６に対する相対位置を表す数値である。図１６Ａに実線で示すサーボトレースラインＴの間隔は、磁気記録媒体ＴＭの幅が変化していないときのサーボバンドピッチ、すなわちヘッドユニット３６の２つのサーボリードヘッド１３２の配置間隔である第１のピッチＰ１を示している。また、図１６Ａに破線で示すサーボトレースラインＴの間隔は、磁気記録媒体ＴＭの幅が広がったときのサーボバンドピッチＰ２’に相当する。
　図１６Ｃは、サーボトレースラインＴの測定方法を説明する図である。磁気記録再生装置３０は、サーボパターン６に対するサーボトレースラインＴの位置に応じた波形のサーボ再生信号を出力する。典型的には、互いに同種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト及びＣバースト間の距離ＡＣと、互いに異種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト及びＢバースト間の距離ＡＢとを算出し、下記［数５］に示した式で各サーボリードヘッド１３２のサーボトレースラインＴのサーボパターン６に対する相対位置を表す数値を算出する。なお、θは、上記各傾斜パターンのアジマス角であり、本例では、１２°とする。また、距離ＡＣは、ＡＣ　Ｔｉｍｅにテープ走行速度を乗じることにより算出される。ここで、ＡＣ　Ｔｉｍｅとは、Ａ信号からＣ信号までの時間を意味する。多数のサーボフレームを用いた測定からＡＣ　Ｔｉｍｅを測定する場合は、ＡＣ　Ｔｉｍｅの算術平均値にテープ走行速度を乗じることにより算出される。同様に距離ＡＢは、ＡＢ　Ｔｉｍｅにテープ走行速度を乗じることにより算出される。ここで、ＡＢ　Ｔｉｍｅとは、Ａ信号からＢ信号までの時間を意味する。なお、下記［数１］式において、ΣＡＢ　Ｔｉｍｅ及びΣＡＣ　Ｔｉｍｅとは、１００１０００００個のサーボフレームにおけるＡＢ　ＴｉｍｅとＡＣ　Ｔｉｍｅの積算値を意味する。［数５］の式において、（ΣＡＢ　Ｔｉｍｅ／ΣＡＣ　Ｔｉｍｅ）を計算する際、ＡＢ　Ｔｉｍｅを第１傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とする場合、ＡＣ　Ｔｉｍｅも第１傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とし、ＡＢ　Ｔｉｍｅを第２傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とする場合、ＡＣ　Ｔｉｍｅも第２傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とし、ＡＢ　Ｔｉｍｅを第３傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とする場合、ＡＣ　Ｔｉｍｅも第３傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とし、ＡＢ　Ｔｉｍｅを第４傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とする場合、ＡＣ　Ｔｉｍｅも第４傾斜部間のサーボ再生波形がピークを持つ場合の時間とする。
　なお、Ｔの位置は、（ΣＡＢ　Ｔｉｍｅ／ΣＡＣ　Ｔｉｍｅ）が１となる位置である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
　ここで、距離ＡＣは、Ａバースト及びＣバーストの第１傾斜部同士の間の距離ＡＣ１でもよいし、それらの第２傾斜部同士の間の距離ＡＣ２でもよいし、それらの第３傾斜部同士の間の距離ＡＣ３でもよいし、それらの第４傾斜部同士の間の距離ＡＣ４でもよい。これらの距離ＡＣ（ＡＣ１ＡＣ４）は、サーボ再生波形において振幅が正の最大値を示す（上ピーク）タイミング間の時間にテープ走行速度を乗じることにより算出された距離をいう。
　なお、本実施例では、ＰＥＳについてはＬＴＯ－９ドライブサーボ特性評価装置を用いて測定した。
［実施例２］
　リーダーテープの下地層の最終的な平均厚みが１．３μｍとなるように形成したことを除き、他は実施例１の磁気記録媒体と同様にして実施例２の磁気記録媒体を作成した。このようにして得た実施例２の磁気記録媒体についても実施例１と同様にして最大段差ΔＴ、エラーレート、およびＰＥＳをそれぞれ測定した。その結果を表１に示す。
［実施例３］
　リーダーテープの下地層の最終的な平均厚みが１．１μｍとなるように形成したことを除き、他は実施例１の磁気記録媒体と同様にして実施例３の磁気記録媒体を作成した。このようにして得た実施例３の磁気記録媒体についても実施例１と同様にして最大段差ΔＴ、エラーレート、およびＰＥＳをそれぞれ測定した。その結果を表１に示す。
［比較例１］
　リーダーテープの長手方向の長さを９００±３０ｍｍとしたことを除き、他は実施例１の磁気記録媒体と同様にして比較例１の磁気記録媒体を作成した。このようにして得た比較例１の磁気記録媒体についても実施例１と同様にして最大段差ΔＴ、エラーレート、およびＰＥＳをそれぞれ測定した。その結果を表１に示す。
［比較例２］
　リーダーテープの下地層の最終的な平均厚みが１．３μｍとなるように形成したことを除き、他は比較例１の磁気記録媒体と同様にして比較例２の磁気記録媒体を作成した。このようにして得た比較例２の磁気記録媒体についても実施例１と同様にして最大段差ΔＴ、エラーレート、およびＰＥＳをそれぞれ測定した。その結果を表１に示す。
［比較例３］
　リーダーテープの下地層の最終的な平均厚みが１．１μｍとなるように形成したことを除き、他は比較例１の磁気記録媒体と同様にして比較例３の磁気記録媒体を作成した。このようにして得た比較例３の磁気記録媒体についても実施例１と同様にして最大段差ΔＴ、エラーレート、およびＰＥＳをそれぞれ測定した。その結果を表１に示す。
［評価］
　表１に示したように、実施例１～３では、接続部分４に最も近接した位置、すなわち、リーダーテープの始端から４．４ｍの位置であって接続部分４からリーダーテープの始端に向かって０．１ｍの位置にある段差部分の最大段差ΔＴが３４μｍ以下となっている。一方、比較例１～３では、接続部分４に最も近接した位置、すなわち、リーダーテープの始端から０．８ｍの位置での段差部分の最大段差ΔＴが３９μｍ以下となっている。このため、エラーレートおよびＰＥＳの双方において、比較例１～３よりも実施例１～３のほうが良い結果が得られた。すなわち、リーダーテープのうち磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある段差部分の最大段差を、リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下とすることで、磁気記録テープの表面に転写される折れ曲がりや凹みなどを軽減することができることが確認できた。その結果、磁気記録テープへの情報記録動作や磁気記録テープからの情報読出し動作を妨げることなく、良好に行うことができることが確認できた。
　以上、実施の形態およびその変形例を挙げて本開示を具体的に説明したが、本開示は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。
　例えば、上述の実施形態およびその変形例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値等を用いてもよい。具体的には、本開示の磁気記録媒体は、基体、下地層、磁性層、バック層およびバリア層以外の構成要素を含んでいてもよい。また、化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。
　また、上述の実施形態およびその変形例の構成、方法、工程、形状、材料および数値等は、本開示の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
　また、本明細書において段階的に記載された数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。本明細書に例示した材料は、特に断らない限り、１種を単独で用いることができるし、２種以上を組み合わせて用いることもできる。
　以上説明したように、本開示の一実施形態としての磁気記録媒体によれば、所定の条件１～３に従う走行後にリーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、リーダーテープと磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある段差部分の最大段差が３４μｍ以下となるように構成されている。このため、磁気記録テープへの情報記録動作や磁気記録テープからの情報読出し動作を妨げることなく、良好に行うことができる。
　なお、本開示の効果はこれに限定されるものではなく、本明細書に記載のいずれの効果であってもよい。また、本技術は以下のような構成を取り得るものである。
（１）
　長手方向に延在する磁気記録テープと、
　前記長手方向において前記磁気記録テープと連結されるリーダーテープと
　を有し、
　以下の条件１～３に従う走行後に前記リーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、前記リーダーテープと前記磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある前記段差部分の最大段差は、前記リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である
　磁気記録媒体。
条件１：温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であること。
条件２：ＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いること。
条件３：１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復すること。
（２）
　前記接続部分に設けられたスプライシングテープをさらに有し、
　前記リーダーテープと前記磁気記録テープとは、前記スプライシングテープにより接続されている
　上記（１）記載の磁気記録媒体。
（３）
　前記リーダーテープの平均厚みおよび前記磁気記録テープの平均厚みは、いずれも前記スプライシングテープの平均厚みよりも薄い
　上記（２）記載の磁気記録媒体。
（４）
　前記スプライシングテープの平均厚みは５μｍ以上２４μｍ以下である
　上記（３）記載の磁気記録媒体。
（５）
　前記リーダーテープの平均厚みは、前記磁気記録テープの平均厚みよりも厚い
　上記（３）または（４）記載の磁気記録媒体。
（６）
　前記リーダーテープの平均厚みは５.０μｍ以上１８．０μｍ以下であり、前記磁気記録テープの平均厚みは５．２±０．３μｍである
　上記（５）記載の磁気記録媒体。
（７）
　前記リーダーテープの長さは４５００ｍｍ以下である
　上記（６）記載の磁気記録媒体。
（８）
　前記長手方向のテンション変化に対する前記磁気記録テープの幅方向の寸法変化量Δｗが、７００［ｐｐｍ／Ｎ］≦Δｗである
　上記（１）から（７）のいずれか１つに記載の磁気記録媒体。
（９）
　リールと、
　前記リールに巻回されたテープ状の磁気記録媒体と、
　前記磁気記録媒体を収容する筐体と
　を備え、
　前記磁気記録媒体は、
　長手方向に延在する磁気記録テープと、
　前記長手方向において前記磁気記録テープと連結されるリーダーテープと
　を有し、
　以下の条件１～３に従う走行後に前記リーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、前記リーダーテープと前記磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある前記段差部分の最大段差は、前記リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である
　磁気記録媒体カートリッジ。
条件１：温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であること。
条件２：ＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いること。
条件３：１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復すること。
　本出願は、日本国特許庁において２０２１年８月６日に出願された日本特許出願番号２０２１－１３０３３２号を基礎として優先権を主張するものであり、この出願のすべての内容を参照によって本出願に援用する。
　当業者であれば、設計上の要件や他の要因に応じて、種々の修正、コンビネーション、サブコンビネーション、および変更を想到し得るが、それらは添付の請求の範囲やその均等物の範囲に含まれるものであることが理解される。

Claims (9)

  1. 　長手方向に延在する磁気記録テープと、
    　前記長手方向において前記磁気記録テープと連結されるリーダーテープと
    　を有し、
    　以下の条件１～３に従う走行後に前記リーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、前記リーダーテープと前記磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある前記段差部分の最大段差は、前記リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である
    　磁気記録媒体。
    条件１：温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であること。
    条件２：ＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いること。
    条件３：１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復すること。
  2. 　前記接続部分に設けられたスプライシングテープをさらに有し、
    　前記リーダーテープと前記磁気記録テープとは、前記スプライシングテープにより接続されている
    　請求項１記載の磁気記録媒体。
  3. 　前記リーダーテープの平均厚みおよび前記磁気記録テープの平均厚みは、いずれも前記スプライシングテープの平均厚みよりも薄い
    　請求項２記載の磁気記録媒体。
  4. 　前記スプライシングテープの平均厚みは５μｍ以上２４μｍ以下である
    　請求項３記載の磁気記録媒体。
  5. 　前記リーダーテープの平均厚みは、前記磁気記録テープの平均厚みよりも厚い
    　請求項３記載の磁気記録媒体。
  6. 　前記リーダーテープの平均厚みは５.０μｍ以上１８．０μｍ以下であり、前記磁気記録テープの平均厚みは５．２±０．３μｍである
    　請求項５記載の磁気記録媒体。
  7. 　前記リーダーテープの長さは４５００ｍｍ以下である
    　請求項６記載の磁気記録媒体。
  8. 　前記長手方向のテンション変化に対する前記磁気記録テープの幅方向の寸法変化量Δｗが、７００［ｐｐｍ／Ｎ］≦Δｗである
    　請求項１記載の磁気記録媒体。
  9. 　リールと、
    　前記リールに巻回されたテープ状の磁気記録媒体と、
    　前記磁気記録媒体を収容する筐体と
    　を備え、
    　前記磁気記録媒体は、
    　長手方向に延在する磁気記録テープと、
    　前記長手方向において前記磁気記録テープと連結されるリーダーテープと
    　を有し、
    　以下の条件１～３に従う走行後に前記リーダーテープに生じる複数の段差部分のうち、前記リーダーテープと前記磁気記録テープとの接続部分に最も近い位置にある前記段差部分の最大段差は、前記リーダーテープの厚さ方向において３４μｍ以下である
    　磁気記録媒体カートリッジ。
    条件１：温度２３℃および相対湿度４５％ＲＨの環境であること。
    条件２：ＬＴＯ９の規格に従ったドライブを用いること。
    条件３：１８テラバイトの容量を記録および再生する走行を１４０往復すること。
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