WO2022270158A1 - 固体撮像装置及び撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置及び撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2022270158A1
WO2022270158A1 PCT/JP2022/019634 JP2022019634W WO2022270158A1 WO 2022270158 A1 WO2022270158 A1 WO 2022270158A1 JP 2022019634 W JP2022019634 W JP 2022019634W WO 2022270158 A1 WO2022270158 A1 WO 2022270158A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
signal lines
pixel
signal
imaging device
solid
Prior art date
Application number
PCT/JP2022/019634
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
崇泰 鬼頭
範彦 角谷
Original Assignee
ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 filed Critical ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社
Priority to JP2023529672A priority Critical patent/JPWO2022270158A1/ja
Priority to CN202280043589.6A priority patent/CN117529932A/zh
Publication of WO2022270158A1 publication Critical patent/WO2022270158A1/ja
Priority to US18/543,731 priority patent/US20240121528A1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
    • H04N25/69SSIS comprising testing or correcting structures for circuits other than pixel cells
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components

Definitions

  • FIG. 8 is a diagram showing a main part of a pixel array section having a third example of load elements according to the first embodiment. This figure shows an example in which redundant signal line loads are aligned by load elements.
  • the redundancy relief circuit of FIG. 5 the number of SW120 connected to the signal lines VL1 and VLn+1 is small. Therefore, the signal line has a smaller load capacitance than the other signal lines VL2 to VLn. Therefore, the dummy SW 121 is connected to VL1 and VLn+1 of the signal lines with few pixel circuits. As a result, the loads on all signal lines become equal, and the pixel readout times become equal. Redundancy relief method can be implemented in the same manner as described in FIG.
  • a plurality of scanning circuits corresponding to the plurality of divided regions of the plurality of pixel circuits are provided, and the plurality of scanning circuits independently control selection of signal lines to be output destinations of the pixel signals.
  • the number of unnecessary signal lines that can be relieved can be increased, and the yield can be further improved.
  • the memory 9 is a non-volatile memory, and by writing during shipping inspection, the data in the memory 9 is read when the power of the image sensor is turned on, and the sensor is activated in the wiring redundancy relief state.
  • FIG. 18 is a flowchart showing imaging processing for imaging using recovery information in the solid-state imaging device according to Embodiment 2.
  • FIG. 18 is a flowchart showing imaging processing for imaging using recovery information in the solid-state imaging device according to Embodiment 2.
  • the signal line VL used by the timing control unit 6 is connected to the current source 3 by SWON.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

固体撮像装置(100)は、行列状に配置された複数の画素回路(1)と、N本(Nは3以上の整数)の信号線で構成される救済ユニットと、を備え、n個(nはN以下整数)の画素回路(1)のそれぞれは、N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、当該組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力し、n個の画素回路(1)に対応するn個の組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する。

Description

固体撮像装置及び撮像装置
 本開示は、固体撮像装置及び撮像装置に関する。
 イメージセンサの多画素化および高速化が進んでおり、それに伴い、画素アレイ部の配線本数も増加している。配線密度が増加すると、配線部のオープン・ショート不良発生確率が高くなる。単位画素セルの故障であれば、故障の影響は1画素のみのキズ故障となり、チップ内でキズの個数が少ない場合は補正処理による画質劣化が軽微であるため、補正で対応でき、良品として出荷可能である場合が多い。一方、線欠陥の場合は補正が必要な領域が隣接し範囲が広いことから、補正による画質劣化が大きく、チップ内で1本でも発生した場合、その固体撮像装置自体を不良と扱う場合が多い。線欠陥は、イメージセンサチップの不良率が増加につながる課題がある。
 そこで、故障が発生した場合、冗長回路により救済することで不良率を低下させる技術が考えられている。特許文献1は、1画素に対して2個の出力回路と2本の信号線を持ち、故障していない出力経路を使用する技術が開示されている。
 特許文献2は、信号線n本につき、1本の冗長信号線を持ち、各n本の信号線と1本の冗長信号線をスイッチで接続することで配線不良を回避する技術が開示されている。
特開2017-184075号公報 特開2020-123795号公報
 しかしながら、従来技術の特許文献1によれば、画素回路ごとに冗長救済回路と冗長信号線を持つことになるため、出力回路と信号線が2倍必要となり、冗長救済用の面積を大きくとる必要があることや、冗長救済配線が多いことで配線密度がさらに高くなり、逆に故障が発生する確率が高くなるといったデメリットがある。
 一方、従来技術の特許文献2によれば、信号線n本につき1本の冗長救済信号線でよいため、少ない面積で冗長救済可能であるが、特定の冗長救済用の配線に、残りのn本の信号線と接続するスイッチすべてが接続される構成であり、故障発生時、故障が発生した信号線と、冗長信号線をスイッチで接続することで、オープン不良を回避する技術である。よって、故障した信号線の配線負荷がつながったまま、さらに冗長救済用の信号線の配線負荷が加わることになる。つまり、冗長救済を行わない信号線と比較して、冗長救済が行われた信号線の配線負荷は非常に大きくなってしまう。結果、画素信号読み出し時間が、冗長救済を行わない信号線と比較して遅くなってしまい、フレームレートの低下につながる。また、故障した信号線がつながったまま救済するため、信号線のショート不良を救済することができない。
 そこで、本開示では、読み出し速度の低下を防ぎながら少ない冗長性でオープン不良もショート不良も救済する固体撮像装置および撮像装置を提供する。
 上記課題を解決するため本開示にける固体撮像装置は、行列状に配置された複数の画素回路と、救済ユニットと、を備え、前記救済ユニットは、N本(Nは3以上の整数)の信号線と、前記複数の画素回路中のn個(nはN以下整数)の画素回路と、を有し、前記n個の画素回路のそれぞれは、前記N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、前記組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力し、前記n個の画素回路に対応するn個の前記組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する。
 本開示の固体撮像装置および撮像装置によれば、読み出し速度の低下を防ぎながら少ない冗長性でオープン不良もショート不良も救済することが可能になる。
図1は、実施の形態1に係る固体撮像装置の構成例を示す図である。 図2は、実施の形態1に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の構成例を示す図である。 図3は、実施の形態1に係る画素回路の回路例および信号線の接続例を示す図である。 図4は、実施の形態1に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。 図5は、実施の形態1に係る列回路の構成例を示す図である。 図6は、実施の形態1に係る負荷素子の第1例を有する画素アレイ部の要部を示す図である。 図7は、実施の形態1に係る負荷素子の第2例を有する画素アレイ部の要部示す図である。 図8は、実施の形態1に係る負荷素子の第3例を有する画素アレイ部の要部を示す図である。 図9は、実施の形態1に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。 図10Aは、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=1)の信号線との接続例を示す図である。 図10Bは、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=2)の信号線との接続例を示す図である。 図11は、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=1)の信号線との他の接続例を示す図である。 図12は、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=0)の信号線との接続例を示す図である。 図13は、実施の形態2に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の構成例を示す図である。 図14は、実施の形態2に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。 図15は、実施の形態2に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の変形例を示す図である。 図16は、実施の形態1および実施の形態2に係る固体撮像装置の他の構成例を示す図である。 図17は、実施の形態2に係る固体撮像装置にリカバリ情報を書き込む処理を示すフローチャートである。 図18は、実施の形態2に係る固体撮像装置においてリカバリ情報を用いて撮像する撮像処理を示すフローチャートである。 図19は、実施の形態2に係る撮像装置の構成例を示す図である。
 以下、本技術を実施するための実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、いずれも本開示の一具体例を示すものであり、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本開示を限定するものではない。
 (実施の形態1)
 まず、本実施の形態に係る固体撮像装置100の構成について説明する。
 図1は、実施の形態1に係る固体撮像装置100の構成例を示す図である。また、図2は、実施の形態1に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の構成例を示す図である。
 図1の固体撮像装置100は、画素アレイ部10、垂直走査回路2、電流源3、参照信号生成部5、列回路30、タイミング制御部6、信号処理部7を備える。
 画素アレイ部10は、行列状に配置された複数の画素回路1を有する。画素アレイ部10には、画素回路列毎にN本(Nは3以上の整数)の信号線VLが配置されている。N本の信号線のうちn本(nはN以下の整数)の信号線は、n個の画素回路からのn個の画素信号を並列読み出しするための冗長でない信号線である。残りのN-n本は、不良の信号線を代替するための冗長な信号線である。冗長な信号線の本数N-nは図2ではαと記してある。なお、不良の信号線を代替するため信号線は、α本の信号線だけでなく他のn本の信号線も代替することができる。α(=N-n)は、上記のn個の画素信号の並列読み出しをする場合は1以上の整数であり、並列読み出しをしない場合は0以上の整数である。また、以下では、画素回路列は、単に列と記すことがある。
 複数の画素回路1のそれぞれは、N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、前記組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力するよう構成されている。
 垂直走査回路2は、画素アレイ部10の露光および読み出し動作を制御する。読み出し動作の制御として垂直走査回路2は、n行単位で走査する。具体的には、垂直走査回路2は、列方向に並ぶn個の画素回路1が同時に並列にn個の画素信号をn本の信号線VLに出力するように、n行単位で走査する。つまり、垂直走査回路2は、n行分の画素信号を並列に同時に読み出す制御を行う。
 ここで、走査単位のn行の画素回路1のうち、列方向に並ぶn個の画素回路1に注目して説明する。図2に示すように、列方向に並ぶn個の画素回路1のそれぞれは、N本の信号線VLのうちの少なくとも2本の信号線VLの組に接続され、当該組に含まれる信号線VLのうちの1つに選択的に画素信号を出力する。図2に示すように、1列に属する画素回路1と列回路30とを含む回路部分を救済ユニット11と呼ぶ。固体撮像装置100は、画素回路1の列数と同数の救済ユニット11を含む。なお、救済ユニット11は、広義では少なくとも(n+α)本の信号線を含む回路部分をいう。
 電流源3は、n本の信号線のそれぞれに設けられる。各電流源3は、画素信号を出力する画素回路内の増幅トランジスタとソースフォロアを構成し、増幅トランジスタに負荷電流を供給する。
 参照信号生成部5は、列回路30にAD変換用のランプ信号を出力する。
 列回路30は、列毎に設けられ、内部にn個のカラムAD回路4を備える。列回路30は、同じ列に対応するN本の信号線VLに接続され、N本中のn本の信号線VLから出力されるn個のアナログ画素信号をデジタル画素信号に変換する。カラムAD回路4は、参照信号生成部5からのランプ信号とアナログ画素信号とを比較してデジタル値に変換するシングルスロープ型のAD変換回路である。
 タイミング制御部6は、固体撮像装置100全体を動作させるための種々のタイミング信号を生成する。
 信号処理部7は、各列回路30から出力されるn個のデジタル画素信号を取得し、オフセット補正やゲイン補正などの信号処理を行う。
 図3は、実施の形態1に係る画素回路の回路例および信号線の接続例を示す図である。同図ではn行にまたがって列方向に並ぶn個の画素回路1を記している。n個の画素回路1を画素回路1_1から画素回路1_nとする。
 画素回路1_i(iは1からnまでの整数)は、N(つまりn+α)本の信号線のうち列の並び方向における配置順で第i番目から第(i+α)番目までの信号線に接続され、いずれか1つの信号線に画素信号を出力する。なお、図3ではαは1である。つまり、N本のうちのn本の信号線は並列読み出しのための信号線である。N本のうちのα本は不良配線を救済するための冗長な信号線である。同図における各画素回路1は、2つの信号線VLに接続される。
 画素回路1は、受光部(画素、フォトダイオード、光電変換素子)110と、信号電荷量に応じた増幅信号を出力する増幅トランジスタ111と、受光部110で光電変換された信号電荷を転送する転送トランジスタ112と、リセットトランジスタ113と第一の選択トランジスタ116、第二の選択トランジスタ117と、フローティングディフュージョン部(FD部)114を備える。
 第一の選択トランジスタ116および第二の選択トランジスタ117は、N本の信号線のうち2つの信号線に接続される。
 第一の選択トランジスタ116は、駆動パルス信号SEL0により、2つの信号線VLのうちの一方と増幅トランジスタ111とを導通させる。
 第二の選択トランジスタ117は、駆動パルス信号SEL1により、2つの信号線VLのうちの他方と増幅トランジスタ111とを導通させる。
 リセットトランジスタ113は、駆動パルス信号RSにより、FD部114を初期電圧にリセットする。転送トランジスタ112は、駆動パルス信号TGにより、受光部110が蓄積した信号を、FD部114に転送する。FD部114に転送された画素信号は、ドレイン側を電源に接続した増幅トランジスタ111と電流源3により、選択トランジスタ115を介して、信号線VLへ電圧として出力され、カラムAD回路4に入力される。図3で示した駆動パルス信号SEL,TG,RSは図1の水平制御線HLで示す信号線の詳細である。
 ここでは、画素回路1に1つの受光部110を持つ構成について説明したが、複数の受光部110を持つ構成であってもよい。
 各信号線は画素信号を伝搬するが、信号線の負荷容量を駆動するための時間を待つ必要がある。負荷容量がばらついた場合は、最も大きい負荷容量を駆動するための時間を待つ必要があるため、画素信号の読み出し時間が長くなることになる。複数の信号線VL1~VLn+1は、負荷容量が等しいほうが良い。前記信号線の負荷容量は、信号線と周辺構造との間の配線寄生容量と、前記信号線につながる画素回路の負荷容量で決まる。画素アレイの垂直方向の画素回路数がnの倍数であれば、前記信号線VL1~VLnに接続される画素回路数は、それぞれ同じ数となる。画素アレイの垂直方向の画素回路数がnの倍数でない場合は、残りの端数の画素回路を1つずつ前記信号線VL1~VLn+1の中のいずれかの信号線に接続する。前記信号線VL1~VLn+1に接続される画素回路数は、最大1画素回路分異なるが、画素アレイの垂直方向の画素回路数がnよりも十分大きい場合は、前記信号線VL1~VLnに接続される画素回路による負荷容量はほぼ等しくなる。前記複数の前記信号線VL1~VLn+1の負荷容量がほぼ等しくなることで、読み出し速度が最速となる。1画素回路列にn+α本の信号線VLを持つことで、行方向のn個の画素信号を同時に読み出すことが可能になり、1画素回路列に1本の信号線VLを備える固体撮像装置と比較して、読み出し速度がn倍速くなり、フレームレートを上げることができる。しかも、冗長な信号線を用いて不良配線を救済した場合と、救済しない場合とで各信号線の負荷容量が大きく変化することがない構成なので、救済した場合でも読み出し速度の低下を抑制し、フレームレートの低下も抑制することが可能である。
 さらに、図3の回路例を具体的に説明する。図3の回路例では、n個の画素回路1_1~1_nが同一画素回路列に並んでおり、n行分の画素を構成している。各画素回路1_1~1_nは、選択トランジスタを複数備える。第一の選択トランジスタ116と第二の選択トランジスタ117のゲートはそれぞれ、駆動パルス信号SEL0とSEL1が接続される。第一の選択トランジスタ116と第二の選択トランジスタ117がドレイン側を電源に接続した増幅トランジスタ111のソース側に接続されている。
 前記画素回路1_1の第一の選択トランジスタ116は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VL1をつなぐ形で接続されている。第二の選択トランジスタ117は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VL2をつなぐ形で接続されている。次に、前記画素回路1_2の第一の選択トランジスタ116は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VL2をつなぐ形で接続されている。第二の選択トランジスタ117は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VL3をつなぐ形で接続されている。前記画素回路1_nの第一の選択トランジスタ116は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VLnをつなぐ形で接続されている。第二の選択トランジスタ117は前記増幅トランジスタ111と前記信号線VLn+1をつなぐ形で接続されている。このように、各画素回路は、前記信号線VL1~VLnの中の、隣接する番号の2本の信号線に前記2つの選択トランジスタを介して接続され、次の画素回路は、前の画素回路から1本ずつシフトした番号の信号線に接続される。n行の画素回路周期でこれを繰り返し、前記信号線VL1~VLn+1に接続される。
 画素アレイの垂直方向の画素回路数がnの倍数であれば、前記信号線VL2~VLnに接続される画素回路数は、それぞれ同じ数となる。前記信号線VL1とVLn+1に接続される画素回路数は、前記信号線VL2~VLnの半分となる。画素アレイの垂直方向の画素回路数がnの倍数でない場合は、残りの端数の画素回路を1つずつ前記信号線VL1~VLnの中のいずれかの信号線に接続する。前記信号線VL2~VLn+1に接続される画素回路数は、最大1画素回路分異なるが、画素アレイの垂直方向の画素回路数がnよりも十分大きい場合は、前記信号線VL2~VLnに接続される画素回路による負荷容量はほぼ等しくなる。前記信号線VL1とVLn+1に接続される画素回路による負荷容量は、前記信号線VL2~VLnと比較して画素回路の数の違い分は小さくなるが、およそ2倍程度であり、極端に信号線負荷が変わることはない。前記信号線VL2~VLnの画素回路による負荷容量のほうが大きいため、前記信号線VL2~VLnの画素読み出し時間を確保すればよい。
 ここでは、各画素回路1に2つの選択トランジスタを配置して信号線を切り替える方法で説明を行ったが、3つ以上の複数の選択トランジスタであっても実現可能である。
 図4は、図4は、実施の形態1に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。同図は、画素信号線VLに故障が発生した場合の救済方法を示す図である。図4では、画素アレイ部10のうち、n行2列の画素回路を図示したものである。信号線VL2_2の故障個所8で故障が発生した場合を例にする。この例では、故障した信号線はn+1本の信号線のうち、2番目の信号線である。
 各画素回路は、選択トランジスタを2つずつ備えており、各々二つの隣接する番号の信号線に接続される。画素信号を読みだす行の順番がきた時、各画素回路が接続する二つの信号線のうち、小さい番号のほうの信号線が、故障した信号線よりも小さい場合は、小さい番号のほうの信号線を選択し接続する。各画素回路が接続する小さい番号のほうの信号線が、故障した信号線の番号と同じかそれよりも大きい場合は、二つの信号線のうち、大きい番号のほうの信号線を選択し接続する。信号線の選択は、垂直走査回路2の制御信号の制御パルスSELを用いて行う。図4の例では、画素回路1_1は、小さい番号のほうの信号線が信号線VL1であるため、小さい番号のほうの信号線を選択し接続するために、SEL0_1がHiとなり、SEL1_1がLoとなる。画素回路1_2~1_nは、小さい番号のほうの信号線が信号線VL2~VLnであり、故障配線のVL2と等しいか大きい信号線のため、大きい番号のほうの信号線を選択し接続するために、SEL0_2~nがLoとなり、SEL1_2~nがHiとなる。このとき、n行の画素回路は、信号線VL1とVL3~VLn+1に接続されることになり、故障した信号線VL2はどの画素回路にも接続されていない。よって、故障のない信号線を使って画素信号を伝搬することができるため、配線故障があったとしても線欠陥は発生しない。また、故障が発生した信号線VL2が選択トランジスタにより切り離されているため、冗長救済の動作によって、信号線の負荷容量が増えることがなく、冗長救済することでフレームレートが低下することがない。また、ショート故障モードにも対応できる。
 信号線の選択は、垂直走査回路2の制御信号の制御パルスSELを用いて行うため、同一制御線が接続されている、故障個所8とは異なる画素回路列も、故障個所8が存在する画素回路列と同じ信号線が選択される。よって、図4の例でいえば、故障個所8が存在しない画素回路列も信号線VL1とVL3~VLn+1に接続されることになる。
 図5は、実施の形態1に係る列回路の構成例を示す図である。図3と図4で説明したように、n+1本の信号線の中からn本を使ってn個の画素回路が同時に接続される。図3で説明したように画素信号を伝搬させるためには、画素回路1に電流源3を接続する必要がある。n+1本の信号線から、使用するn本の信号線に電流源n個を接続する方法が必要である。
 図5の列回路30は1画素回路列の信号線VL1~VLnと、n個の電流源3とn個のカラムAD回路4と、信号線と電流源・カラムAD回路を接続する2n-2個のSW120で構成される。各電流源3とカラムAD回路は1つずつ接続する状態で使うため、この二つを合わせて列回路30と呼ぶ。使用されるn個の信号線とn個の列回路を接続するために、1つめの列回路は、SW120を介して、信号線VL1とVL2に接続される。2つめの列回路は、SW120を介して、信号線VL2とVL3に接続される。これを繰り返し、n個目の列回路は、SW120を介して、信号線VLnとVLn+1に接続される構成をとる。
 故障した信号線よりも小さな数字の列回路30は数字の小さい側の信号線にSW120を用いて接続し、大きい側の信号線をSW120にて切断する。故障した信号線と同じか、それよりも大きな数字の列回路30は、数字の大きい側の信号線にSW120を用いて接続し、小さい側の信号線をSW120にて切断する。
 図4で説明した例で、2本目の信号線の故障が発生した例で説明すると、1つめの列回路は、VL1に接続し、2つ目以降の列回路は大きい数字側の信号線に接続されるため、VL3~VLn+1に2~n個目の列回路が接続される。この動作により、故障した信号線VL2が切り離されて、故障していない信号線VL1とVL3~VLn+1を使用することになる。
 図4と図5は一例であり、大きい番号を優先的に選択する方法などでも同様の効果を実現することは可能である。このように、n本の信号線に1本の冗長信号線を加える構成で、故障が発生した信号線を切り離し、故障がない信号線へ接続する機能を持つことができる。また、実施形態1の構成であれば、一つの画素回路から接続される信号線の本数を最小とすることができ、かつ、各信号線につながる画素回路の数は最大2倍であり、大幅に偏ることがないため、各信号線の間で負荷容量が大きく変わることはなく、画素読み出し時間の差は軽微である。
 本開示の実施例では、n本の信号線VLに冗長信号線を加えた、n+α(n>α≧1)本の信号線を含む救済ユニットが1画素回路列で構成される場合を基本として説明を行ったが、複数画素列単位で救済ユニットを構成する場合や、1画素列内に複数の救済ユニットを持つ場合であっても本開示を適用することが可能である。
 (信号線の負荷をそろえる例1)
 図6は、実施の形態1に係る負荷素子の第1例を有する画素アレイ部の要部を示す図である。同図は、負荷素子によって、冗長信号線の負荷をそろえる例を示している。図3の冗長救済回路では、信号線VL1とVLn+1に接続される画素回路1の数が少ない。そのため、ほかの信号線VL2~VLnよりも信号線の負荷容量が小さい。そこで、画素回路が少ない信号線のVL1とVLn+1にn行の中で1つずつ、ダミー選択トランジスタ118を接続する。これにより、すべての信号線の負荷が等しくなり、画素読み出し時間が等しくなる。冗長救済方法は、図4で説明したものと同じ方法で実施可能である。
 (信号線の負荷をそろえる例2)
 図7は、実施の形態1に係る負荷素子の第2例を有する画素アレイ部の要部示す図である。同図は、負荷素子によって冗長信号線負荷をそろえる例を示している。図3の冗長救済回路では、信号線VL1とVLn+1に接続される画素回路1の数が少ない。そのため、ほかの信号線VL2~VLnよりも信号線の負荷容量が小さい。そこで、画素回路が少ない信号線のVL1とVLn+1の配線寄生容量がほかの信号線VL2~VLnより大きくなるように容量119をつけることで、すべての信号線の負荷が等しくなるようにし、画素読み出し時間が等しくなる。冗長救済方法は、図4で説明したものと同じ方法で実施可能である。
 (信号線の負荷をそろえる例3)
 図8は、実施の形態1に係る負荷素子の第3例を有する画素アレイ部の要部を示す図である。同図は負荷素子によって冗長信号線負荷をそろえる例を示している。図5の冗長救済回路では、信号線VL1とVLn+1に接続されるSW120の数が少ない。そのため、ほかの信号線VL2~VLnよりも信号線の負荷容量が小さい。そこで、画素回路が少ない信号線のVL1とVLn+1にダミーSW121を接続する。これにより、すべての信号線の負荷が等しくなり、画素読み出し時間が等しくなる。冗長救済方法は、図5で説明したものと同じ方法で実施可能である。
 (画素アレイの領域ごとに冗長救済を行う)
 第一の実施形態では、信号線の選択は、垂直走査回路2の制御信号の制御パルスSELを用いて行うため、同一制御線が接続されている画素回路列は同じ信号線が選択される。そのため、冗長救済する故障配線は、固体撮像装置100の中で、信号線VL1~VLnで1本だけになる。撮像装置100の複数個所で信号線の故障が発生した場合は、救済することができない。
 図9は、実施の形態1に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。同図は、画素アレイの分割された領域ごとに冗長救済をする接続を示している。
 前記画素アレイ10の領域ごとに、水平制御信号HLを分割し、分割したそれぞれの水平制御信号HLに垂直走査回路2を配置する。冗長救済方法は、図4で説明したものと同じ方法で実施する。領域ごとの垂直走査回路2を用いて、前記n+1本の信号線を選択することができる。そのため、領域ごとに故障信号線を設定することができ、領域が異なれば、異なる信号線を救済することが可能であり、配線故障の救済率が向上する。
 なお、図9では、画素アレイ部10を2つの領域に分割し、垂直走査回路2を2つ備える例を示したが、分割数は3つ以上であってもよい。例えば、固体撮像装置100が、積層された2つ以上の半導体チップで構成される場合、画素回路1と垂直走査回路2とを別の半導体チップに搭載することができる。このような構成では、画素アレイ部10を、列方向に沿う境界線でk個の領域に分割し、k個の垂直走査回路2を搭載してもよい。kは例えば、2、4、8等でもよい。
 (変形例)
 図10Aは、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=1)の信号線との接続例を示す図である。同図ではn=4、α=1の例を示している。
 同図において、画素回路1_i(iは1からnまでの整数)は、N=5(=n+α)本の信号線のうち列の並び方向における配置順で第i番目から第(i+α)番目までの信号線に接続され、いずれか1つの信号線に画素信号を出力する。この点は、図10Aも図3と同様であるが、列方向の画素回路の順位が逆になっている点が異なっている。この例でも図3と同様の効果が得られる。
 次に、冗長な信号線の2本の場合(α=2)の例について説明する。
 図10Bは、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=2)の信号線との接続例を示す図である。
 同図において、画素回路1_i(iは1からnまでの整数)は、N=5(=n+α)本の信号線のうち列の並び方向における配置順で第i番目から第(i+α)番目までの信号線に接続され、いずれか1つの信号線に画素信号を出力する。この点は、図10Bも同様である。図10Bでは、冗長な信号線が2本なので、各画素回路1は、3本の信号線に接続されることになる。
 次に他の接続例について説明する。
 図11は、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=1)の信号線との他の接続例を示す図である。図11ではn=4である。
 列方向に並ぶn個(nはN以下整数)の画素回路1のそれぞれは、N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力する。n個の画素回路1に対応するn個の組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する。図11は、図3、図10A、図10Bのような単純な規則性を有していない。この構成によってもこの例でも図3等と同様の効果が得られる。
 次に、α=0、つまり、冗長な信号線を備えない例について説明する。
 図12は、実施の形態1に係る固体撮像装置におけるn個の画素回路とn+α本(α=0)の信号線との接続例を示す図である。図12の例ではN=n=4である。
 図12においても図11と同様に次の要件を満たす。列方向に並ぶn個(nはN以下整数)の画素回路1のそれぞれは、N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力する。n個の画素回路1に対応するn個の組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する。しかし、図12では冗長な配線がないので、いずれかの信号線が不良配線を代替して画素信号を読み出さなければならず、しかも、対応する画素回路の画素信号も読み出さなければならない。言い換えると、時分割で2回の読み出し動作を行えば、不良信号線を救済することができる。例えば、信号線VL1が不良配線になった場合に、1回目の読み出し動作で画素回路1_2から画素回路1_4の画素信号を、信号線VL2から信号線VL3を介して読み出し、2回目の読み出し動作で、画素回路1_1の画素信号を、信号線VL2を介して読み読み出す。2回目の読み出し動作では信号線VL2が信号線VL1を代替している。図12では、不良信号線を救済する場合にフレームレートの低下を抑制することは困難であるが、不良信号線の救済は実施することができる。
 以上説明してきたように実施の形態1に係る固体撮像装置100は行列状に配置された複数の画素回路1と、救済ユニットと、を備え、前記救済ユニットは、N本(Nは3以上の整数)の信号線と、前記複数の画素回路中のn個(nはN以下整数)の画素回路と、を有し、前記n個の画素回路のそれぞれは、前記N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、前記組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力し、前記n個の画素回路1に対応するn個の前記組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する。
 これによれば、n本の信号線毎に(N-n)本の冗長な信号線が追加され、n本の信号線中の(N-n)本にオープン不良が生じた場合もショート不良が生じた場合も救済することができる。しかも、救済する場合と救済しない場合とで信号線の配線容量、つまり、画素回路に対する負荷容量、が大きく変化しないので読み出し速度を低下させる必要がなく、救済する場合のフレームレートの低下を抑制することができる。例えば、故障した信号線を切り離し、故障していない信号線につなぐことで、故障した信号線の配線負荷は切り離されており、冗長救済時に信号線の配線負荷が増えることがないため、読み出し速度低下が発生せず、フレームレートは維持できる。また、故障した信号線を切り離しているため、ショート不良モードの救済にも活用できる。そのうえ、冗長回路は、信号線n本に対してα本(α≧0)の冗長信号線となるため、面積影響が小さく、追加した冗長信号線による故障率増加も軽微となる。
 ここで、前記画素回路1は、画素信号を出力する増幅トランジスタと、対応する前記組に含まれる信号線と同数の選択トランジスタと、を備え、前記選択トランジスタは、前記増幅トランジスタの出力端子と、対応する前記組に含まれる信号線の1つとを接続してもよい。
 これによれば、選択トランジスタを択一的に導通させることを容易に実現できる。
 ここで、前記N本の信号線は、前記n個の画素信号と同数のn本の信号線、および、α(αは1以上の整数)本の冗長な信号線を含み、前記複数の画素回路のそれぞれは、前記少なくとも(1+α)本の信号線に接続されてもよい。
 これによれば、例えば、冗長な信号線の数α(=N-n)が1であれば、n本の信号線中の1本の不良を救済可能であり、α(=N-n)が2であれば、n本の信号線中の2本の不良を救済可能になる。
 ここで、前記n個の組に含まれる第i組(iは1からnまでの整数)は、前記N本の信号線のうち列の並び方向における配置順で第i番目から第(i+α)番目までの信号線を含んでもよい。
 これによれば、n個の画素回路が接続されるn個の組は、列の並び方向に信号線を1つずつシフトするように配置される。n個の画素回路と(n+α)本の信号線とは、列方向のn個の画素回路毎に規則的に周期的に接続されるので、レイアウトと不良が生じた場合の救済制御を容易にすることができる。
 ここで、前記n個(nはNより小さい整数)の画素回路1は、画素信号を並列に出力してもよい。
 これによれば、n個(つまりn行)の画素信号を並列に出力するので、画素数の増大およりフレームレートの高速化に適している。
 ここで、前記N本の信号線は、冗長な信号線を含まず、前記n個の画素回路のうち少なくとも1つの画素回路は、他の画素回路と同じ信号線から時分割で出力してもよい。
 これによれば、不良信号線を救済する場合にフレームレートの低下を抑制することは困難であるが、冗長な信号線を設けることなく不良信号線の救済を実施することができる。
 ここで、前記複数の画素回路の分割された複数の領域に対応する複数の走査回路を備え、前記複数の走査回路は、独立して、画素信号の出力先とすべき信号線の選択を制御してもよい。
 これによれば、救済可能な不要信号線の数を増やすことができ、歩留まりをさらに向上させることができる。
 ここで、前記N本の信号線のうち少なくとも2本の信号線に負荷の大きさを調整するための負荷素子を備えてもよい。
 これによれば、N本の信号線の読み出し速度を揃えるので、フレームレートの低下を抑制することができる。
 ここで、被写体を撮像する、上記の固体撮像装置と、前記固体撮像装置に前記被写体から入射光を導く撮像光学系と、前記固体撮像装置からの出力信号を処理する信号処理部と、を備える。
 これによれば、n本の信号線毎に(N-n)本の冗長な信号線が追加され、n本の信号線中の(N-n)本にオープン不良が生じた場合もショート不良が生じた場合も救済することができる。しかも、救済する場合と救済しない場合とで信号線の配線容量、つまり、画素回路に対する負荷容量、が大きく変化しないので読み出し速度を低下させる必要がなく、救済する場合のフレームレートの低下を抑制することができる。
 (第二の実施形態)
 本実施形態では、N本の信号線VLおよび列回路30を、独立して動作可能なグループに分割する構成例について説明する。
 図13は、実施の形態2に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の構成例を示す図である。図13の回路では、α=1であり、1本の冗長信号線が配置されている。
 撮像装置100では、画素アレイ10の片側だけではなく、分割して列回路30(電流源3とカラムAD回路4)を配置するレイアウトが採用されることがある。これは、1画素回路列に搭載できる列回路数を増やす際に、特性劣化なくレイアウトしやすい配置であるためである。列回路数を増やすことでフレームレートを向上させることができるため、本開示の基本構成であるの図4で説明した1画素回路列に複数の信号線を持つ撮像装置100の技術と相性が良い。
 実施形態2では、1画素回路列にn+1本の信号線VLとn個の列回路30がある。列回路30は、2つの領域にn/2個ずつ分割してレイアウトされる。分割された列回路30にはそれぞれ、n+1本の信号線のうち、片側の列回路のみに接続されるn/2本の信号線n/2本と、両方の列回路に接続される1本の信号線を備える。初期状態では、片側の列回路のみに接続されるn/2本の信号線を用いて画素回路1から画素信号を列回路へ伝達させる。両方の列回路に接続される1本の信号線は冗長用の配線である。
 図14は、実施の形態2に係る固体撮像装置における配線不良の救済動作例を示す説明図である。図14では、前記画素アレイ10のうち、1画素回路列の画素回路を図示したものである。信号線VL2Uの故障個所8で故障が発生した場合を例にする。この例では、故障した信号線はn+1本の信号線のうち、上側の列回路30に接続される信号線のうち、2番目の信号線である。
 実施形態2では、n+1の信号線のうち、故障した信号線が接続される列回路を含むグループ内のみ、信号線をシフトさせることで冗長救済を行う。具体的には、各画素回路は、選択トランジスタを2つずつ備えており、各々二つの隣接する番号の信号線に接続される。画素信号を読みだす行の順番になった時、故障した信号線が接続される列回路を含むグループでは、各画素回路が接続する二つの信号線のうち、小さい番号のほうの信号線が、故障した信号線よりも小さい場合は、小さい番号のほうの信号線を選択し接続する。各画素回路が接続する小さい番号のほうの信号線が、故障した信号線の番号と同じかそれよりも大きい場合は、二つの信号線のうち、大きい番号のほうの信号線を選択し接続する。信号線の選択は、垂直走査回路2の制御信号の制御パルスSELを用いて行う。図14の例では、信号線VL1UとVL3U~VLn/2UとVLn+1に接続されることになり、故障した信号線VL2Uはどの画素回路にも接続されていない。よって、故障のない信号線を使って画素信号を伝搬することができるため、配線故障があったとしても線欠陥は発生しない。また、故障が発生した信号線VL2Uが選択トランジスタにより切り離されているため、冗長救済の動作によって、信号線の負荷容量が増えることがなく、冗長救済することでフレームレートが低下することがない。故障した信号線が接続されていない列回路を含むグループでは、信号線をシフトさせない。図14の例では、信号線VL1D~VLn/2Dに接続されている。これらの信号線には故障がないため、画素信号を伝搬することができる。
 上記は一例であり、3つ以上の領域に分割して列回路30をレイアウトしても同様の手法で列回路30まで接続する信号線をグループごとに分割して列回路に接続し、信号線が故障した場合は、故障したグループの信号線のみをシフトすることで冗長救済が可能であり、複数の列回路に接続する冗長救済用の信号線の本数を削減することが可能で、レイアウト効率が高いメリットがある。
 (実施形態2の冗長信号線負荷をそろえる例)
 図15は、実施の形態2に係る固体撮像装置内の画素アレイ部および列回路の変形例を示す図である。同図は冗長信号線負荷をそろえる例を図示する。
 図13の説明のように、2分割した列回路に接続する信号線を2つのグループに分けて各列回路に接続するが、冗長救済用の信号線VLn+1は両方の列回路に接続する必要があり、配線長が1本だけ長くなる。そのため、この信号線VLn+1のみ信号線負荷が大きくなる。
 図15のように、この冗長救済用の信号線VLn+1と列回路を選択接続するSW120を備える。冗長救済動作のため列回路30に接続する側のSW120のみをONし、接続しない側のSW120をOFFすることで、両方の列回路30に接続するための信号線VLn+1の配線容量を小さくし、その他の信号線との負荷容量に近づける。これにより、すべての信号線の負荷が等しくなり、画素読み出し時間が等しくなる。
 (冗長救済全体構成)
 図16は、実施の形態1および実施の形態2に係る固体撮像装置の他の構成例を示す図である。
 図1の固体撮像装置の基本構成例に対し、信号処理部にメモリ9を備える。
 メモリ9には、固体撮像装置100の出荷前検査において検出された配線不良の箇所および、その配線不良を救済するためのリカバリ情報が記憶されている。リカバリ情報としては、具体的には、配線不良の箇所に起因して、信号線VLをどの電流源3やカラムAD回路4に接続すべきかの情報、および、垂直走査回路2でどの信号線VLを選択するかの情報が、記憶されている。メモリ9の情報に基づき、タイミング制御部6が、垂直走査回路2や電流源3やカラムAD回路4を制御する。
 メモリ9は不揮発性メモリであり、出荷検査時に書き込みを行うことで、イメージセンサの電源を投入時にメモリ9のデータを読み込み、配線の冗長救済状態でセンサが起動される。
 図17は、実施の形態2に係る固体撮像装置にリカバリ情報を書き込む処理を示すフローチャートである。
 メモリ9にリカバリ情報を記録するフローチャートである。この処理は、例えば固体撮像装置100の出荷検査時に1度だけ実施される。
 ステップ11で、リカバリ情報がない初期状態で撮像検査を行う。
 撮像データを処理し、ステップ12で線欠陥の有無と欠陥がある場合は故障個所を検出する。ここで線欠陥がない場合は、ステップ15へと進む。
 線欠陥がある場合は、ステップ13で、線欠陥の発生した信号線を使用しないリカバリ状態に設定し撮像する。
 ステップ14で、撮像データを処理し、線欠陥の有無を検出する。ここで線欠陥がある場合は、ステップ16にてその固体撮像装置100を不良品判定とする。線欠陥がない場合はステップ15へと進む。
 ステップ15ではメモリ9に線欠陥の発生する信号線情報を書き込む。
 ステップ17で良品判定を行う。
 図18は、実施の形態2に係る固体撮像装置においてリカバリ情報を用いて撮像する撮像処理を示すフローチャートである。
 メモリ9に記憶されたリカバリ情報を用いて撮像を行う撮像処理のフローチャートである。この処理は、例えば、固体撮像装置100に電源が投入されたときに実行される。
 ステップ21で、固体撮像装置100に電源を投入する。
 ステップ22で、電源投入直後の信号線VLの初期状態は、垂直走査回路2によりすべての行の選択トランジスタ水平制御線をLoに固定する。また、信号線VLと電流源3とカラムAD回路4を接続するすべてのSW120をOFFとする。これは、信号線VLが故障していた場合、異常電流が流れる可能性があるため、電流が流れる経路をすべて遮断するためである。
 ステップ23で、メモリ9にアクセスし、リカバリ情報をリードし、使用する信号線VLを決定する。
 ステップ24でタイミング制御部6が使用する信号線VLを選択する信号を出力する。
 ステップ25でタイミング制御部6が使用する信号線VLの電流源3との接続SWONさせる。
 ステップ26でタイミング制御部6が走査を開始、映像が出力される。このステップで起動することで、故障した信号線VLが周辺回路と電源投入後に接続され、異常電流が流れることを防ぐ。
 (カメラシステム)
 図19は、実施の形態における固体撮像装置100を適用した撮像装置200の構成例を示す図である。同図の撮像装置は、カメラシステムであって、固体撮像装置100、レンズを含む撮像光学系202、信号処理部203、駆動回路204およびシステム制御部205を備える。
 撮像装置200において、実施の形態1から4の固体撮像装置100が使用される。
 また、駆動回路204は、システム制御部205から駆動モードに応じた制御信号を受け、固体撮像装置100に駆動モード信号を供給する。駆動モード信号を供給された固体撮像装置100においては、駆動モード信号に対応した駆動パルスを発生して、固体撮像装置100内の各ブロックに供給する。
 また、信号処理部203は、固体撮像装置100から出力された画像信号を受けて、当該画像信号に対して各種の信号処理を行う。
 このように、本実施形態における撮像装置は、上記の固体撮像装置100と、固体撮像装置100に被写体からの入射光を導く撮像光学系202と、固体撮像装置100からの出力信号を処理する信号処理部203とを備える。
 以上説明してきたように実施の形態2に係る固体撮像装置100は前記N本の信号線は、第1グループと第2グループとを含み、前記第1グループは、N本中のn/2本の信号線とα本の信号線を含み、前記第2グループは、前記第1グループのn/2本の信号線以外のn/2本の信号線と、前記第1グループのα本の信号線と同じα本の信号線とを含み、前記固体撮像装置は、列毎に第1列回路および第2列回路を有し、前記第1列回路は、前記第1グループに属する信号線に接続され、前記第2列回路は、前記第2グループに属する信号線に接続され、前記第1グループに対応するn/2個の画素回路は、前記第2グループに対応するn/2個の画素回路とは独立に画素信号の出力先の信号線を選択してもよい。
 これによれば、グループ毎に独立して画素信号の出力先の信号線を選択するので、故障がある信号線の救済をグループ毎に行うことができ、信号線の故障に対してより柔軟に救済することができる。
 ここで、前記α本の信号線のそれぞれに設けられた第1および第2スイッチを備え、前記第1スイッチは、対応する信号線の一端と前記第1列回路との接続と分離とを切り替え、前記第2スイッチは、対応する信号線の他端と前記第2列回路との接続と分離とを切り替え、前記第1スイッチと前記第2スイッチとは、同時に接続しない構成としてのよい。
 これによれば、第1列回路と第2列回路のうち救済動作する方もしない方も、信号線の配線負荷を揃えることができ画素信号の読み出し時間を均等化することができる。救済動作によるフレームレートの低下を抑制することができる。
 ここで、前記複数の画素回路を走査する走査回路を備え、前記走査回路は、前記n個の画素回路に対して、画素信号の出力先とすべき信号線の選択を制御してもよい。
 1行単位またはn行単位でN本の信号線の接続制御を容易に実現することができる。
 本開示は、固体撮像装置、及び、固体撮像装置を撮像デバイスとして用いた撮影装置や測距撮像装置に関し、例えばビデオカメラやデジタルカメラ、および、測距システム等に好適である。
 100 固体撮像装置
 1 画素回路
 10 画素アレイ部
 2 垂直走査回路
 30 列回路
 3 電流源
 4 カラムAD回路
 5 参照信号生成部
 6 タイミング制御部
 7 信号処理部
 8 故障個所
 9 メモリ
 VL 信号線
 HL 水平制御線
 110 受光部
 111 増幅トランジスタ
 112 転送トランジスタ
 113 リセットトランジスタ
 114 フローティングディフュージョン
 115 選択トランジスタ
 116 第一の選択トランジスタ
 117 第二の選択トランジスタ
 120 信号線と列回路接続SW
 118 ダミー選択トランジスタ
 119 配線寄生容量
 121 ダミーSW
 200 撮像装置
 202 撮像光学系
 203 信号処理部
 204 駆動回路
 205 システム制御部

Claims (12)

  1.  行列状に配置された複数の画素回路と、
     救済ユニットと、を備え、
     前記救済ユニットは、N本(Nは3以上の整数)の信号線と、前記複数の画素回路中のn個(nはN以下整数)の画素回路と、を有し、
     前記n個の画素回路のそれぞれは、前記N本の信号線のうちの少なくとも2本の信号線の組に接続され、前記組に含まれる信号線のうちの1つに選択的に画素信号を出力し、
     前記n個の画素回路に対応するn個の前記組は、互いに異なる信号線の組み合わせを有する
    固体撮像装置。
  2.  前記画素回路は、
     画素信号を出力する増幅トランジスタと、
     対応する前記組に含まれる信号線と同数の選択トランジスタと、を備え、
     前記選択トランジスタは、前記増幅トランジスタの出力端子と、対応する前記組に含まれる信号線の1つとを接続する
    請求項1に記載の固体撮像装置。
  3.  前記N本の信号線は、前記n個の画素信号と同数のn本の信号線、および、α(αは1以上の整数)本の冗長な信号線を含み、
     前記複数の画素回路のそれぞれは、前記少なくとも(1+α)本の信号線に接続される請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  4.  前記n個の組に含まれる第i組(iは1からnまでの整数)は、前記N本の信号線のうち列の並び方向における配置順で第i番目から第(i+α)番目までの信号線を含む
    請求項3に記載の固体撮像装置。
  5.  前記n個(nはNより小さい整数)の画素回路は、画素信号を並列に出力する
    請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  6.  前記N本の信号線は、冗長な信号線を含まず、前記n個の画素回路のうち少なくとも1つの画素回路は、他の画素回路と同じ信号線から時分割で出力する、
    請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  7.  前記N本の信号線は、第1グループと第2グループとを含み、
     前記第1グループは、N本中のn/2本の信号線とα本の信号線を含み、
     前記第2グループは、前記第1グループのn/2本の信号線以外のn/2本の信号線と、前記第1グループのα本の信号線と同じα本の信号線とを含み、
     前記固体撮像装置は、列毎に第1列回路および第2列回路を有し、
     前記第1列回路は、前記第1グループに属する信号線に接続され、
     前記第2列回路は、前記第2グループに属する信号線に接続され、
     前記第1グループに対応するn/2個の画素回路は、前記第2グループに対応するn/2個の画素回路とは独立に画素信号の出力先の信号線を選択する
    請求項5に記載の固体撮像装置。
  8.  前記α本の信号線のそれぞれに設けられた第1および第2スイッチを備え、
     前記第1スイッチは、対応する信号線の一端と前記第1列回路との接続と分離とを切り替え、
     前記第2スイッチは、対応する信号線の他端と前記第2列回路との接続と分離とを切り替え、
     前記第1スイッチと前記第2スイッチとは、同時に接続しない
    請求項7に記載の固体撮像装置。
  9.  前記複数の画素回路を走査する走査回路を備え、
     前記走査回路は、前記n個の画素回路に対して、画素信号の出力先とすべき信号線の選択を制御する
    請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  10.  前記複数の画素回路の分割された複数の領域に対応するする複数の走査回路を備え、前記複数の走査回路は、独立して、画素信号の出力先とすべき信号線の選択を制御する
    請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  11.  前記N本の信号線のうち少なくとも2本の信号線に負荷の大きさを調整するための負荷素子を備える
    請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  12.  被写体を撮像する、請求項1または2に記載の固体撮像装置と、
     前記固体撮像装置に前記被写体から入射光を導く撮像光学系と、
     前記固体撮像装置からの出力信号を処理する信号処理部と、を備える
    撮像装置。
PCT/JP2022/019634 2021-06-22 2022-05-09 固体撮像装置及び撮像装置 WO2022270158A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023529672A JPWO2022270158A1 (ja) 2021-06-22 2022-05-09
CN202280043589.6A CN117529932A (zh) 2021-06-22 2022-05-09 固体摄像装置及摄像装置
US18/543,731 US20240121528A1 (en) 2021-06-22 2023-12-18 Solid-state imaging device and imaging apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021-103226 2021-06-22
JP2021103226 2021-06-22

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US18/543,731 Continuation US20240121528A1 (en) 2021-06-22 2023-12-18 Solid-state imaging device and imaging apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2022270158A1 true WO2022270158A1 (ja) 2022-12-29

Family

ID=84545580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/019634 WO2022270158A1 (ja) 2021-06-22 2022-05-09 固体撮像装置及び撮像装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20240121528A1 (ja)
JP (1) JPWO2022270158A1 (ja)
CN (1) CN117529932A (ja)
WO (1) WO2022270158A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017184075A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像素子および撮像装置
JP2020123795A (ja) * 2019-01-30 2020-08-13 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置および電子機器
JP2021005794A (ja) * 2019-06-26 2021-01-14 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像システム、移動体、および、信号処理装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017184075A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 ソニー株式会社 固体撮像素子および撮像装置
JP2020123795A (ja) * 2019-01-30 2020-08-13 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置および電子機器
JP2021005794A (ja) * 2019-06-26 2021-01-14 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像システム、移動体、および、信号処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2022270158A1 (ja) 2022-12-29
US20240121528A1 (en) 2024-04-11
CN117529932A (zh) 2024-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10129444B2 (en) Solid-state imaging element and camera system
JP5631129B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像装置
JP5733536B2 (ja) 固体撮像素子及びその駆動方法
US20100182473A1 (en) Solid-state imaging device
US8259199B2 (en) Pixel array with reduced sensitivity to defects
US9241119B2 (en) Image pickup apparatus, method of driving image pickup apparatus, and image pickup system
WO2022270158A1 (ja) 固体撮像装置及び撮像装置
JP2015201879A (ja) アナログデジタル変換回路、アナログデジタル変換回路の検査方法、撮像装置、撮像装置を有する撮像システム、撮像装置の検査方法
US10484636B2 (en) Redundancy in active pixel sensors
WO2017169171A1 (ja) 固体撮像素子および撮像装置
WO2022259788A1 (ja) 固体撮像装置
JP2020102816A (ja) 撮像装置および撮像装置の制御方法
WO2022210152A1 (ja) 固体撮像装置および固体撮像システム
JP2008065085A (ja) 電子装置
JP2018057048A (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
US20210203918A1 (en) Image sensing device, image system including image sensing device and test method of image system
JP7056667B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
CN118302812A (en) Memory array with built-in relay buffer
JP6904119B2 (ja) 固体撮像素子および撮像装置
WO2023091093A1 (en) Memory array including repeater buffer
JPH0151112B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 22828077

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2023529672

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202280043589.6

Country of ref document: CN

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 22828077

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1