WO2022201474A1

WO2022201474A1 - 多心無反射終端部および光線路試験方法

Info

Publication number: WO2022201474A1
Application number: PCT/JP2021/012731
Authority: WO
Inventors: 圭高榎本
Original assignee: 日本電信電話株式会社
Priority date: 2021-03-25
Filing date: 2021-03-25
Publication date: 2022-09-29
Also published as: US20240126030A1; JPWO2022201474A1

Abstract

本発明は、反射した光による光伝送システムへの影響が少なく、且つ少ない部品点数で構成される多心無反射終端部及びそれを用いた光線路試験方法を提供することを目的とする。　本発明に係る多心無反射終端部（７０）は、一端側が垂直研磨された端面、且つ他端側が斜め研磨された端面を持つ２ｎ本（ｎは自然数）の光ファイバ（７１）と、２ｎ本の光ファイバ（７１）をまとめ、光ファイバ（７１）の一端側に取り付けられた２ｎ心ＭＴコネクタ（７２）と、２ｎ本の光ファイバ（７１）を２つにグループ分けし、前記グループ毎に光ファイバ（７１）の他端側に取り付けられたｎ心ＭＴコネクタ（７３ａ，７３ｂ）と、を備える。

Description

多心無反射終端部および光線路試験方法

　本開示は、光伝送システムのテープファイバに取り付けられる光カプラのコネクタ部に接続する多心無反射終端部及びそれを用いた光線路試験方法に関するものである。

　通信設備ビルとユーザ間を結ぶ光ファイバを測定するシステムの構成を図１と図２で説明する。通信設備ビル１０内は、ＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｌｉｎｅ　Ｔｅｒｍｉｎａｌ）１１、光カプラ１２、光ファイバスイッチ１３、ＯＴＭ　（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　Ｍｏｄｕｌｅ）１４、及び操作端末１５で構成されている。

　ＯＬＴ１１とユーザ側のＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｎｅｔｗｏｒｋ　Ｕｎｉｔ）２１間は光カプラ１２とテープファイバ５０で結ばれている。また、光カプラ１２と光ファイバスイッチ１３とは、２組の８心テープファイバ３１で接続される。ここで、８心テープファイバ３１と光カプラ１２とは、１６ＭＴコネクタ（３２ａ、３２ｂ）で１６心一括接続される。

　ＯＴＭ１４は、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｔｉｍｅ　Ｄｏｍａｉｎ　Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）、心線対照用光源等の光測定器、並びにこれらを制御するコントローラで構成されている。

　光ファイバスイッチ１３は、Ｖ溝基盤１３ａ上に複数の光ファイバを幅方向に並べたファイバアレイ１３ｂと、Ｘ軸方向及びＹ軸方向に移動する１本のヘッドファイバ１３ｃをＶ溝基盤１３ａ上で接続する。光ファイバスイッチ１３は、ヘッドファイバ１３ｃを移動させ、ファイバアレイ１３ｂの光ファイバから任意の１心を選択できる（例えば、特許文献１～３を参照。）。なお、ファイバアレイ１３ｂとヘッドファイバ１３ｃとの間には微小な間隙がある。ここでの反射を抑制するため、屈折率整合材が光ファイバスイッチ１３の内部に充填されている。このため、ヘッドファイバ１３ｃに接続されていないファイバアレイ１３ｂの光ファイバ端も屈折率整合材で反射を抑制され、４０ｄＢ以上の反射減衰量が確保されている。

　図１のシステムでは、作業者が操作端末１５で測定を行いたい心線を選ぶと、光ファイバスイッチ１３のヘッドファイバ１３ｃがＶ溝基盤１３ａ上をＸ方向及びＹ方向に移動してファイバアレイ１３ｂのうちの所望光ファイバに接続する。その後、ＯＴＭ１４から心線対照光やＯＴＤＲの試験光を光カプラ１２を経由してテープファイバ５０に入射し、光伝送システムの試験を行う（例えば、非特許文献１を参照。）。

特開平０９－０８０３２９号公報特開平１０－１２３４３９号公報特開２００９－１０７８９号公報特開平０７－２２５３２５号公報

有居正仁、東裕司、榎本圭高、鈴木勝晶、荒木則幸、宇留野重則、渡邉常一、"拡大する光アクセス網を支える光媒体網運用技術"、ＮＴＴ技術ジャーナル、ｐｐ．　５８－６１、　２００６．１２

　光ファイバを測定するシステムは、ルーラルエリアなど通信設備ビル１０の規模が小さい場合、通信設備ビル１０内に光ファイバスイッチ１３とＯＴＭ１４が導入されていない場合もある。その場合、図２に示すとおり、光カプラ１２の１６ＭＴコネクタ３２ａは開放された状態であり、ＯＬＴ１１やＯＮＵ２１からの通信光が光カプラ１２の１６ＭＴコネクタ３２ａのコネクタ端面で反射する。

　１６ＭＴコネクタは４ＭＴや８ＭＴコネクタ同様、コネクタ端面は直角に研磨されており、１６ＭＴコネクタの反射減衰量は１５ｄＢ程度の場合もある。また、光伝送方式によっては、１６ＭＴコネクタで発生した反射光がＯＬＴ１１とＯＮＵ２１間の通信品質に影響を及ぼすこともある。加えて、１６ＭＴコネクタ３２ａの端面から出力するＯＬＴ１１やＯＮＵ２１からの通信光が誤って作業者の目に入る危険性がある。

　そこで、図３に示す通り、１６ＭＴコネクタ３２ａに取り付け、１６ＭＴコネクタ３２ａの端面で発生する反射を一括で抑制できる多心の無反射終端部６０も知られている（例えば、特許文献４を参照。）。この無反射終端部６０は、１６ＭＴコネクタ３２ａの端面を保護するとともに、１６ＭＴコネクタ３２ａの端面から出力するＯＬＴ１１やＯＮＵ２１からの通信光が作業者の目に入ることを防ぐこともできる。

　しかし、図３に示す通り１６ＭＴコネクタ３２ａを全てふさぐ形態で無反射終端部６０を取り付けた場合、テープファイバ５０に対するＯＴＤＲ等の測定が行えない。そこで、図４に示すように、１６ＭＴコネクタ３２ａに無反射終端部６０を取り付けるのではなく、１６ＭＴコネクタ３２ａを２組の８ＭＴコネクタ６１ｂに変換する変換器６１を接続し、さらに、８ＭＴコネクタ６１ｂにＦＯ（ファンナウト）コード６２を接続する。この形態で１６ＭＴコネクタ３２ａの端部を１心単位に分割でき、測定対象の端部以外の各々に単心の無反射終端部６３をとりつけることで、反射を抑制することができる。

　図４の構成は、テープファイバ５０のうち、任意の１心をＯＴＤＲ等で測定を行うことができるとともに、他の心線は無反射終端部６３があるため、反射してＯＬＴ１１とＯＮＵ２１間の通信品質に影響することがない。加えて、１６ＭＴコネクタ３２ａの端面から出力するＯＬＴ１１やＯＮＵ２１からの通信光が作業者の目に入ることを防ぐこともできる。

　ただし、図４の構成とするためには、変換器６１、ＦＯコード６２、及び単心の無反射終端部６３が必要となる。つまり、図４の構成とするためには、部品点数が多く、無反射終端も１心単位で手間も費用がかかるうえ、変換器６１、ＦＯコード６２、及び単心の無反射終端部６３を収納するスペース（以下、「収納スペース」と記載することがある。）も必要という課題がある。

　そこで、本発明は、上記課題を解決するために、反射した光による光伝送システムへの影響が少なく、且つ少ない部品点数で構成される多心無反射終端部及びそれを用いた光線路試験方法を提供することを目的とする。

　上記目的を達成するために、本発明に係る多心無反射終端部は、光カプラのコネクタに接続する側の光ファイバ端については通常であるが、その反対側の端面については斜め研磨することとした。

　具体的には、本発明に係る多心無反射終端部は、
　一端側が垂直研磨された端面、且つ他端側が斜め研磨された端面を持つ２ｎ本（ｎは自然数）の光ファイバと、
　２ｎ本の前記光ファイバをまとめ、前記光ファイバの一端側に取り付けられた２ｎ心ＭＴコネクタと、
　２ｎ本の前記光ファイバを２つにグループ分けし、前記グループ毎に前記光ファイバの他端側に取り付けられたｎ心ＭＴコネクタと、
を備える。

　本多心無反射終端部は、３つのパーツ（光ファイバ、光カプラ側のコネクタ、反光カプラ側のコネクタ）だけで構成されており、構成部品点数が少ない。さらに、反光カプラ側の光ファイバ端部が斜め研磨されているので、当該端部で反射した光がＯＬＴやＯＮＵへ戻ることが無い。なお、「反光カプラ側のコネクタ」とは、前記光ファイバの光カプラに接続していない側にあるコネクタのことであり、図５から図７のコネクタ（７３ａ、７３ｂ）である。従って、本発明は、反射した光による光伝送システムへの影響が少なく、且つ少ない部品点数で構成される多心無反射終端部を提供することができる。

　本多心無反射終端部は、次のように光カプラに接続することが好ましい。
（１）前記２ｎ心ＭＴコネクタは、ｎ台のＯＬＴとｎ台のＯＮＵとをそれぞれ接続するｎ心テープファイバに設けられた光カプラの２ｎ心の入出力端に一括接続されること。
（２）前記ｎ心ＭＴコネクタの一方は、前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＮＵに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続されること。
（３）前記ｎ心ＭＴコネクタの他方は、前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＬＴに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続されること。

　本発明に係る多心無反射終端部は、ｎ心のＦＯ（ファンアウト）コードをさらに備え、
　前記ＦＯコードは、
　前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられ、前記ｎ心ＭＴコネクタに接続されるＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタと、
　前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられた単心コネクタと、
を有し、
　各心の端部は前記ＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ側及び前記単心コネクタ側ともに斜め研磨されていることを特徴とする。

　ＦＯコードにより任意の経路の光試験を行うことができる。なお、当該ＦＯコードは光試験を行うときだけ使用することが望ましい。

　本発明に係る多心無反射終端部の前記ｎ心ＭＴコネクタは、前記光ファイバの他端を含め、コネクタフェルール全体が斜め研磨されていることを特徴とする。キャップをかぶせたときに光ファイバの端面とキャップとの接触を回避でき、光ファイバの端面に傷がつくことを回避することができる。

　本発明に係る光線路試験方法は、前記多心無反射終端部を、ｎ台（ｎは自然数）のＯＬＴとｎ台のＯＮＵとをそれぞれ接続するｎ心テープファイバに設けられた光カプラの２ｎ心の入出力端に接続すること、及び
　前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＮＵに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続された前記ｎ心ＭＴコネクタの一方、もしくは前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＬＴに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続された前記ｎ心ＭＴコネクタの他方の、いずれかの前記光ファイバに光計測器を接続すること
を行う。

　本発明に係る光線路試験方法は、前記光計測器を接続するときに、
　ｎ心のＦＯ（ファンアウト）コードの、前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられているＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタを前記ｎ心ＭＴコネクタに接続すること、及び
　前記ＦＯコードの、前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられている単心コネクタのいずれかに前記光計測器を接続すること、
を特徴とする。

　なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。

　本発明は、反射した光による光伝送システムへの影響が少なく、且つ少ない部品点数で構成される多心無反射終端部及びそれを用いた光線路試験方法を提供することができる。

通信設備ビルとユーザ間を結ぶ光ファイバを測定するシステムの構成を説明する図である。通信設備ビルとユーザ間を結ぶ光ファイバを測定するシステムの構成を説明する図である。本発明の課題を説明する図である。本発明の課題を説明する図である。本発明に係る多心無反射終端部を説明する図である。本発明に係る多心無反射終端部を説明する図である。本発明に係る多心無反射終端部を説明する図である。本発明に係る多心無反射終端部を説明する図である。本発明に係る光線路試験方法を説明する図である。

　添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（実施形態１）
　図５及び図６は、本実施形態の多心無反射終端部７０を備え、光伝送システムの通信設備ビル１０とユーザ間を結ぶ光ファイバ５０を測定する光線路試験システムを説明する図である。多心無反射終端部７０は、
　一端側が垂直研磨された端面、且つ他端側が斜め研磨された端面を持つ２ｎ本（ｎは自然数）の光ファイバ７１と、
　２ｎ本の光ファイバ７１をまとめ、光ファイバ７１の一端側に取り付けられた２ｎ心ＭＴコネクタ７２と、
　２ｎ本の光ファイバ７１を２つにグループ分けし、前記グループ毎に光ファイバ７１の他端側に取り付けられたｎ心ＭＴコネクタ（７３ａ，７３ｂ）と、
を備える。
　本実施形態では、ｎ＝８の例を説明する。ｎが８以外であっても同様である。

　通信設備ビル１０は、ＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｌｉｎｅ　Ｔｅｒｍｉｎａｌ）１１及び光カプラ１２を備える。また、ＯＬＴ１１とユーザ側のＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｎｅｔｗｏｒｋ　Ｕｎｉｔ）２１との間は光カプラ１２とテープファイバ５０で結ばれる。

　また、光カプラ１２と多心の無反射終端部７０とは１６ＭＴコネクタ（３２ａ、７２）で１６心一括接続する。
　つまり、２ｎ心ＭＴコネクタ７２は、複数ｎ台のＯＬＴ１１と複数ｎ台のＯＮＵ２１とをそれぞれ接続するｎ心テープファイバ５０に設けられた光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａに一括接続される。
　ｎ心ＭＴコネクタ７３ａは、２ｎ心ＭＴコネクタ７２により、光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａのうちＯＮＵ２１に対して光を入出力できる入出力端に前記一端が接続された光ファイバ７１の前記他端に接続される。
　ｎ心ＭＴコネクタ７３ｂは、２ｎ心ＭＴコネクタ７２により、光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａのうちＯＬＴ１１に対して光を入出力できる入出力端に前記一端が接続された光ファイバ７１の前記他端に接続される。

　図５の通り、ＯＬＴ１１およびＯＮＵ２１からの通信光は、光カプラ１２の１６ＭＴコネクタ３２ａから１６ＭＴ－８ＭＴ変換部（ＭＴコネクタ７２からＭＴコネクタ（７３ａ、７３ｂ）までの部分）を経由して、斜め研磨された、８ＭＴコネクタ７３側の光ファイバ７１の端面に到達する。当該端面は斜め研磨のため、通信光が反射しても入射側の方向に戻ることはなく、反射光がＯＬＴ１１とＯＮＵ２１との間の通信品質に及ぼすことはない。なお、光ファイバ７１の端面を斜め研磨する角度は、８度程度が良い。

　図６は、テープファイバ５０を測定するため、図５で説明した８ＭＴコネクタ７３ａにＦＯコード８２をとりつけ、ＦＯコード８２の任意の単心コネクタ８３にＯＴＤＲを接続している。
　つまり、多心無反射終端部７０は、ｎ心のＦＯコード８２をさらに備え、
　ＦＯコード８２は、
　前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられ、ｎ心ＭＴコネクタ（７３ａ又は７３ｂ）に接続されるＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ８１と、
　前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられた単心コネクタ８３と、
を有し、
　各心の端部はＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ８１側及び単心コネクタ８３側ともに斜め研磨されていることを特徴とする。
　換言すれば、ＦＯコード８２は、光ファイバ７１の端部が斜め研磨されている８ＭＴコネクタ７３ａを端部が斜め研磨された８個の単心コネクタ８３に変換している。

　図６に示す通り、単心コネクタ８３も端面を斜め研磨としているため、単心コネクタ８３の端面で通信光が反射しても入射側の方向に戻ることはなく、反射光がＯＬＴ１１とＯＮＵ２１との間の通信品質に及ぼすことはない。

　ＯＴＤＲの測定を行わない場合は図５の形態であり、測定を行うときのみ図６のようにＦＯコード８２をとりつければよいのでＦＯコードの収納スペースは不要である。

　測定を行う場合も、光ファイバ７１の端部が斜め研磨されている８ＭＴコネクタ７３ａに端部が斜め研磨された８ＭＴコネクタ８１を接続するだけである。ただし、接続した時に光ファイバ７１の端部と８ＭＴコネクタ８１の端部との間に隙間が生じないように、両者の研磨方向及び角度を一致させておく。

　ＦＯコード８２を取り付けた時も、各コネクタ端面が斜め研磨されているため、各端面で通信光が反射しても入射側の方向に戻ることはなく、反射光がＯＬＴ１１とＯＮＵ２１との間の通信品質に及ぼすことはない。

　なお、無反射終端部７０が短尺（たとえば５ｃｍ以下）だと、より収納スペースが不要となる。

　本実施形態は、カプラ１２のコネクタ３２ａが１６ＭＴコネクタの例であるが、無反射終端部７０が１６ＭＴ－８ＭＴ変換でなく、１６ＭＴ－斜め研磨１６ＭＴコネクタであって、ＦＯコードが斜め研磨１６ＭＴコネクタと１６個の単心コネクタの構成でもよい。

（実施形態２）
　図７と図８は、本実施形態の多心無反射終端部７０を説明する図である。光ファイバ７１の端面保護と作業者の目に通信光が入ることないよう安全性を確保するため、開放されている８ＭＴコネクタ（７３ａ、７３ｂ）の端面にキャップ７５を取り付けることが必要である。

　ところが、光ファイバ７１の端面がキャップ７５と接触していると、キャップ７５の影響で端面が保護されるどころか、傷つけることもある。加えて、光ファイバ７１の端面にキャップ７５が接触することで、斜め研磨された端面状況が変化し、端面で通信光が反射して入射側に戻り、反射光がＯＬＴ１１とＯＮＵ２１との間の通信品質に影響を与える可能性もある。

　そこで、本実施形態では、図８に示すとおり、８ＭＴコネクタ（７３ａ、７３ｂ）はコネクタフェルール７４全体が斜め研磨される。つまり、ｎ心ＭＴコネクタ（７３ａ、７３ｂ）は、光ファイバ７１の他端を含め、コネクタフェルール７４全体が斜め研磨されていることを特徴とする。

　コネクタフェルール７４の端部全体が斜め研磨されているので、フェルール７４の一部がキャップ７５の内側にあたり、光ファイバ７１の端面とキャップ７５との間に空間９０ができる。この空間９０で、光ファイバ７１の端面に接触することなくキャップすることができる。従って、本実施形態は、実施形態１で説明した効果に加え、光ファイバ７１の端面保護と作業者の安全対策が容易に実現できる。

（実施形態３）
　図９は、本実施形態の光線路試験方法を説明する図である。本光線路試験方法は、実施形態１に記載の多心無反射終端部７０を、ｎ台のＯＬＴ１１とｎ台のＯＮＵ２１とをそれぞれ接続するｎ心テープファイバ５０に設けられた光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａに接続すること（ステップＳ０１）、及び
　２ｎ心ＭＴコネクタ７２により、光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａのうちＯＮＵ２１に対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された光ファイバ７１の前記他端に接続されたｎ心ＭＴコネクタ７３ａ、もしくは２ｎ心ＭＴコネクタ７２により、光カプラ１２の２ｎ心の入出力端（ＭＴコネクタ）３２ａのうちＯＬＴ１１に対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された光ファイバ７１の前記他端に接続されたｎ心ＭＴコネクタ７３ｂの、いずれかの光ファイバ７１に光計測器を接続すること（ステップＳ０２）
を行う。

　ここで、ステップＳ０２において、
　ｎ心のＦＯ（ファンアウト）コード８２の、前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられているＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ８１をｎ心ＭＴコネクタ（７３ａ又は７３ｂ）に接続すること（ステップＳ０２ａ）、及び
　ＦＯコード８２の、前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられている単心コネクタ８３のいずれかに前記光計測器を接続すること（ステップＳ０２ｂ）、
が好ましい。

１０：通信設備ビル
１１：ＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｌｉｎｅ　Ｔｅｒｍｉｎａｌ）
１２：光カプラ
１３：光ファイバスイッチ
１３ａ：Ｖ溝基盤
１３ｂ：ファイバアレイ
１３ｃ：ヘッドファイバ
１４：ＯＴＭ　（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　Ｍｏｄｕｌｅ）
１５：操作端末
２１：ＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｎｅｔｗｏｒｋ　Ｕｎｉｔ）
３１：ｎ心テープファイバ（図面ではｎ＝８）
３２ａ、３２ｂ：２ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
５０：テープファイバ（図面では８心）
６０：無反射終端部
６１：変換器
６１ａ：２ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
６１ｂ：ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
６２：ＦＯ（ファンナウト）コード
６３：単心の無反射終端部
７０：多心無反射終端部
７１：光ファイバ
７２：２ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
７３ａ、７３ｂ：ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
７４：コネクタフェルール
７５：キャップ
８１：ＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ（図面ではｎ＝８）
８２：ＦＯ（ファンナウト）コード
８３：単心コネクタ
９０：空間

Claims

　一端側が垂直研磨された端面、且つ他端側が斜め研磨された端面を持つ２ｎ本（ｎは自然数）の光ファイバと、
　２ｎ本の前記光ファイバをまとめ、前記光ファイバの一端側に取り付けられた２ｎ心ＭＴコネクタと、
　２ｎ本の前記光ファイバを２つにグループ分けし、前記グループ毎に前記光ファイバの他端側に取り付けられたｎ心ＭＴコネクタと、
を備える多心無反射終端部。
　前記２ｎ心ＭＴコネクタは、ｎ台のＯＬＴとｎ台のＯＮＵとをそれぞれ接続するｎ心テープファイバに設けられた光カプラの２ｎ心の入出力端に一括接続され、
　前記ｎ心ＭＴコネクタの一方は、前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＮＵに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続され、
　前記ｎ心ＭＴコネクタの他方は、前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＬＴに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続されること
を特徴とする請求項１に記載の多心無反射終端部。
　ｎ心のＦＯ（ファンアウト）コードをさらに備え、
　前記ＦＯコードは、
　前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられ、前記ｎ心ＭＴコネクタに接続されるＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタと、
　前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられた単心コネクタと、
を有し、
　各心の端部は前記ＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタ側及び前記単心コネクタ側ともに斜め研磨されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の多心無反射終端部。
　前記ｎ心ＭＴコネクタは、前記光ファイバの他端を含め、コネクタフェルール全体が斜め研磨されていることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の多心無反射終端部。
　請求項１に記載の多心無反射終端部を、ｎ台（ｎは自然数）のＯＬＴとｎ台のＯＮＵとをそれぞれ接続するｎ心テープファイバに設けられた光カプラの２ｎ心の入出力端に接続すること、及び
　前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＮＵに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続された前記ｎ心ＭＴコネクタの一方、もしくは前記２ｎ心ＭＴコネクタにより、前記光カプラの２ｎ心の入出力端のうち前記ＯＬＴに対して光を入出力できる前記入出力端に前記一端が接続された前記光ファイバの前記他端に接続された前記ｎ心ＭＴコネクタの他方の、いずれかの前記光ファイバに光計測器を接続すること
を行う光線路試験方法。
　前記光計測器を接続するときに、
　ｎ心のＦＯ（ファンアウト）コードの、前記ｎ心がまとめられている側に取り付けられているＦＯ側ｎ心ＭＴコネクタを前記ｎ心ＭＴコネクタに接続すること、及び
　前記ＦＯコードの、前記ｎ心が分岐されている側の各心に取り付けられている単心コネクタのいずれかに前記光計測器を接続すること、
を特徴とする請求項５に記載の光線路試験方法。