WO2022186187A1 - Organic ferroelectric device - Google Patents

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邦夫 阿波賀
明宏 富松
聖也 横倉
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国立大学法人東海国立大学機構
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Abstract

The purpose of the present invention is to provide an organic ferroelectric device in which the ferroelectric properties do not depend on molecular orientation. This organic ferroelectric device (100) includes a first conductor (110) and a second conductor (120), a first insulating layer (130) and a second insulating layer (140) positioned between the first conductor (110) and the second conductor (120), and an organic semiconductor (150) positioned between the first insulating layer (130) and the second insulating layer (140). The first insulating layer (130) and the second insulating layer (140) are organic insulators. The organic semiconductor (150) is in contact with the first insulating layer (130) and the second insulating layer (140).

Description

有機強誘電デバイスorganic ferroelectric device
 本明細書の技術分野は、有機強誘電デバイスに関する。 The technical field of this specification relates to organic ferroelectric devices.
 強誘電体は、圧電素子、焦電素子、太陽電池、強誘電体メモリ等の素子として応用されてきている。強誘電体の材料として、無機セラミックスが主に採用されている。しかし、無機セラミックスは、鉛等の有害元素を含有することがある。 Ferroelectrics have been applied as elements such as piezoelectric elements, pyroelectric elements, solar cells, and ferroelectric memories. Inorganic ceramics are mainly used as ferroelectric materials. However, inorganic ceramics may contain harmful elements such as lead.
 そのため、有害元素を含まない有機強誘電体が研究開発されてきている。例えば、特許文献1には、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)の場合には、原料液を塗布した基板を熱処理して分子鎖を所望の構造にする処理を必要とする旨が開示されている(特許文献1の段落[0004])。特許文献2には、ウェットエッチングにより予め分子配向を制御した有機強誘電体薄膜と基板との接着をスピンコートにより実施する技術が開示されている(特許文献1の段落[0005]、特許文献2)。 Therefore, organic ferroelectrics that do not contain harmful elements have been researched and developed. For example, Patent Literature 1 discloses that, in the case of polyvinylidene fluoride (PVDF), it is necessary to heat-treat a substrate coated with a raw material solution to make the molecular chain into a desired structure (Patent Paragraph [0004] of Document 1). Patent Literature 2 discloses a technique of performing adhesion between an organic ferroelectric thin film whose molecular orientation is controlled in advance by wet etching and a substrate by spin coating (paragraph [0005] of Patent Literature 1, Patent Literature 2 ).
特開2015-156449号公報JP 2015-156449 A 特開2006-203037号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-203037
 このように、有機強誘電体を製造する際には、強誘電体としての性質を引き出せるように配向等を制御しながら薄膜化することが求められる(特許文献1の段落[0004])。このため、分子配向等を十分に制御できなければ、有機強誘電体の性能が安定しない。これにより、有機強誘電体の製造工程が複雑化する傾向にある。 Thus, when manufacturing an organic ferroelectric, it is required to thin the film while controlling the orientation and the like so as to bring out the properties of the ferroelectric (Patent Document 1, paragraph [0004]). Therefore, the performance of the organic ferroelectric is unstable unless the molecular orientation and the like are sufficiently controlled. This tends to complicate the manufacturing process of the organic ferroelectric.
 本明細書の技術が解決しようとする課題は、強誘電性が分子配向に依存しない有機強誘電デバイスを提供することである。 The problem to be solved by the technology of this specification is to provide an organic ferroelectric device whose ferroelectricity does not depend on molecular orientation.
 第1の態様における有機強誘電デバイスは、第1導電体および第2導電体と、第1導電体と第2導電体との間に位置する第1絶縁層および第2絶縁層と、第1絶縁層と第2絶縁層との間に位置する半導体と、を有する。第1絶縁層および第2絶縁層は、有機絶縁体である。半導体は、有機半導体であるとともに、第1絶縁層および第2絶縁層に接触している。 An organic ferroelectric device in a first aspect includes a first conductor and a second conductor, a first insulating layer and a second insulating layer positioned between the first conductor and the second conductor, and a first a semiconductor located between the insulating layer and the second insulating layer. The first insulating layer and the second insulating layer are organic insulators. The semiconductor is an organic semiconductor and is in contact with the first insulating layer and the second insulating layer.
 この有機強誘電デバイスは、有機半導体と第1絶縁層との界面付近の有機半導体の内部に正または負の電荷があつまり、有機半導体と第2絶縁層との界面付近の有機半導体の内部に正または負の電荷があつまる。第1絶縁層の側の電荷と第2絶縁層の側の電荷とは反対の極性である。 In this organic ferroelectric device, positive or negative charges accumulate inside the organic semiconductor near the interface between the organic semiconductor and the first insulating layer, causing positive charges to accumulate inside the organic semiconductor near the interface between the organic semiconductor and the second insulating layer. Or negative charges accumulate. The charge on the side of the first insulating layer and the charge on the side of the second insulating layer are of opposite polarity.
 本明細書では、強誘電性が分子配向に依存しない有機強誘電デバイスが提供されている。 This specification provides an organic ferroelectric device whose ferroelectricity does not depend on molecular orientation.
第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 100 of a first embodiment; FIG. 第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の積層構造と内部の材料とを説明するための図である。1 is a diagram for explaining the laminated structure and internal materials of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment; FIG. 第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の分極状態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the polarization state of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment; 第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の有機半導体150の誘電性を説明する図である。FIG. 3 is a diagram for explaining the dielectric properties of the organic semiconductor 150 of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment; 従来の強誘電デバイスの分極の様子を示す概念図である。FIG. 2 is a conceptual diagram showing polarization of a conventional ferroelectric device; 第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス200の概略構成図である。2 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 200 in a modified example of the first embodiment; FIG. 第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス300の概略構成図である。3 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 300 in a modified example of the first embodiment; FIG. 有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その1)である。1 is a graph (Part 1) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device; 有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その2)である。2 is a graph (part 2) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device; 有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その3)である。3 is a graph (part 3) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device; 第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス200に対する赤外線透過スペクトルを示すグラフである。5 is a graph showing an infrared transmission spectrum for the organic ferroelectric device 200 in the modified example of the first embodiment; 有機半導体がTCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。1 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is TCNQ; 有機半導体がPTCDA-TMBである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。4 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is PTCDA-TMB; 有機半導体がTMB-TCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。4 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is TMB-TCNQ; 有機半導体がPTCDA-TCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。4 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is PTCDA-TCNQ; 有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を有機半導体の違いにより比較するグラフである。4 is a graph comparing hysteresis curves of organic ferroelectric devices with different organic semiconductors. 有機強誘電デバイスにおける過渡光電流を示すグラフ(その1)である。1 is a graph (part 1) showing transient photocurrent in an organic ferroelectric device; 有機強誘電デバイスにおける過渡光電流を示すグラフ(その2)である。2 is a graph (part 2) showing transient photocurrent in an organic ferroelectric device;
 以下、具体的な実施形態について、有機強誘電デバイスを例に挙げて図を参照しつつ説明する。 Specific embodiments will be described below with reference to the drawings, taking an organic ferroelectric device as an example.
(第1の実施形態)
1.有機強誘電デバイス
 図1は、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の概略構成図である。図1に示すように、有機強誘電デバイス100は、第1導電体110と、第2導電体120と、第1絶縁層130と、第2絶縁層140と、有機半導体150と、を有する。
(First embodiment)
1. Organic Ferroelectric Device FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 100 of the first embodiment. As shown in FIG. 1, the organic ferroelectric device 100 has a first conductor 110, a second conductor 120, a first insulating layer 130, a second insulating layer 140, and an organic semiconductor 150. FIG.
 第1導電体110は、板状の導体である。第1導電体110は、例えば、金属である。第1導電体110は、第1面110aと第2面110bとを有する。第2面110bは第1面110aの反対側の面である。第1導電体110の第1面110aは、第1絶縁層130の第2面130bと接触している。第1導電体110の第2面110bは、有機強誘電デバイス100の外部に露出している。 The first conductor 110 is a plate-shaped conductor. The first conductor 110 is, for example, metal. The first conductor 110 has a first surface 110a and a second surface 110b. The second surface 110b is the surface opposite to the first surface 110a. The first surface 110 a of the first conductor 110 is in contact with the second surface 130 b of the first insulating layer 130 . A second surface 110 b of the first conductor 110 is exposed to the outside of the organic ferroelectric device 100 .
 第2導電体120は、板状の導体である。第2導電体120は、例えば、金属である。第2導電体120は、第1面120aと第2面120bとを有する。第2面120bは第1面120aの反対側の面である。第2導電体120の第1面120aは、第2絶縁層140の第2面140bと接触している。第2導電体120の第2面120bは、有機強誘電デバイス100の外部に露出している。第2導電体120の第2面120bは、第1導電体110の第2面110bの反対側の面である。 The second conductor 120 is a plate-shaped conductor. The second conductor 120 is, for example, metal. The second conductor 120 has a first surface 120a and a second surface 120b. The second surface 120b is the surface opposite to the first surface 120a. The first surface 120 a of the second conductor 120 is in contact with the second surface 140 b of the second insulating layer 140 . A second surface 120 b of the second conductor 120 is exposed to the outside of the organic ferroelectric device 100 . The second surface 120 b of the second conductor 120 is the surface opposite to the second surface 110 b of the first conductor 110 .
 第1絶縁層130は、板状の絶縁体である。第1絶縁層130は、例えば、有機化合物である。特に、有機高分子材料であるとよい。第1絶縁層130は、第1面130aと第2面130bとを有する。第2面130bは第1面130aの反対側の面である。第1絶縁層130の第1面130aは、有機半導体150の第1面150aと接触している。第1絶縁層130の第2面130bは、第1導電体110の第1面110aと接触している。 The first insulating layer 130 is a plate-like insulator. The first insulating layer 130 is, for example, an organic compound. In particular, it is preferable that it is an organic polymer material. The first insulating layer 130 has a first surface 130a and a second surface 130b. The second surface 130b is the surface opposite to the first surface 130a. The first surface 130 a of the first insulating layer 130 is in contact with the first surface 150 a of the organic semiconductor 150 . The second surface 130 b of the first insulating layer 130 is in contact with the first surface 110 a of the first conductor 110 .
 第2絶縁層140は、板状の絶縁体である。第2絶縁層140は、例えば、有機化合物である。特に、有機高分子材料であるとよい。第2絶縁層140は、第1面140aと第2面140bとを有する。第2面140bは第1面140aの反対側の面である。第2絶縁層140の第1面140aは、有機半導体150の第2面150bと接触している。第2絶縁層140の第2面140bは、第2導電体120の第1面120aと接触している。 The second insulating layer 140 is a plate-like insulator. The second insulating layer 140 is, for example, an organic compound. In particular, it is preferable that it is an organic polymer material. The second insulating layer 140 has a first surface 140a and a second surface 140b. The second surface 140b is the surface opposite to the first surface 140a. The first surface 140 a of the second insulating layer 140 is in contact with the second surface 150 b of the organic semiconductor 150 . The second surface 140 b of the second insulating layer 140 is in contact with the first surface 120 a of the second conductor 120 .
 有機半導体150は、有機化合物を有する半導体である。有機半導体150は、ドナー層とアクセプター層とを有する。ドナー層は、ドナーが層状に形成されている層である。アクセプター層は、アクセプターが層状に形成されている層である。有機半導体150は、第1面150aと第2面150bとを有する。第2面150bは第1面150aの反対側の面である。有機半導体150の第1面150aは、第1絶縁層130の第1面130aと接触している。有機半導体150の第2面150bは、第2絶縁層140の第1面140aと接触している。 The organic semiconductor 150 is a semiconductor containing an organic compound. The organic semiconductor 150 has a donor layer and an acceptor layer. The donor layer is a layer in which donors are formed in layers. The acceptor layer is a layer in which acceptors are formed in layers. The organic semiconductor 150 has a first surface 150a and a second surface 150b. The second surface 150b is the surface opposite to the first surface 150a. The first surface 150 a of the organic semiconductor 150 is in contact with the first surface 130 a of the first insulating layer 130 . The second surface 150 b of the organic semiconductor 150 is in contact with the first surface 140 a of the second insulating layer 140 .
 第1絶縁層130および第2絶縁層140は、第1導電体110と第2導電体120との間に位置する。有機半導体150は、第1絶縁層110と第2絶縁層120との間に位置する。 The first insulating layer 130 and the second insulating layer 140 are located between the first conductor 110 and the second conductor 120 . The organic semiconductor 150 is located between the first insulating layer 110 and the second insulating layer 120 .
2.有機強誘電デバイスの内部構造
 図2は、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の積層構造と内部の材料とを説明するための図である。図2に示すように、第1絶縁層130は、例えば、パリレンC(登録商標)である。第2絶縁層140は、例えば、パリレンC(登録商標)である。
2. Internal Structure of Organic Ferroelectric Device FIG. 2 is a diagram for explaining the laminated structure and internal materials of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment. As shown in FIG. 2, the first insulating layer 130 is, for example, Parylene C (registered trademark). The second insulating layer 140 is, for example, Parylene C (registered trademark).
 有機半導体150は、ドナー層とアクセプター層とを交互に積層した積層体である。この積層体は、ドナーとアクセプターとが交互に積層されて一次元鎖をなすことにより強誘電性を示す。ドナーは、例えば、3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)である。アクセプターは、例えば、7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)である。 The organic semiconductor 150 is a laminate in which donor layers and acceptor layers are alternately laminated. This laminate exhibits ferroelectricity by alternately stacking donors and acceptors to form a one-dimensional chain. The donor is, for example, 3,3',5,5'-tetramethylbenzidine (TMB). Acceptors are, for example, 7,7',8,8'-tetracyanoquinodimethane (TCNQ).
 有機半導体150におけるドナー・アクセプター界面は、第1絶縁層130の第1面130aと平行であるとよい。また、有機半導体150におけるドナー・アクセプター界面は、第2絶縁層140の第1面140aと平行であるとよい。実際には、成膜の精度、材料の加工精度の範囲で、これらは完全に平行でないことがある。例えば、ドナー層とアクセプター層との界面であるドナー・アクセプター界面と、第1絶縁層130の第1面130aまたは第2絶縁層140の第1面140aと、がなす角の角度は、0°以上5°以下である。好ましくは、0°以上3°以下である。より好ましくは、0°以上1°以下である。ここで、2つの平面がなす角の角度は、0°以上である。 The donor-acceptor interface in the organic semiconductor 150 is preferably parallel to the first surface 130 a of the first insulating layer 130 . Also, the donor-acceptor interface in the organic semiconductor 150 is preferably parallel to the first surface 140 a of the second insulating layer 140 . In reality, these may not be completely parallel within the range of film deposition accuracy and material processing accuracy. For example, the angle between the donor-acceptor interface, which is the interface between the donor layer and the acceptor layer, and the first surface 130a of the first insulating layer 130 or the first surface 140a of the second insulating layer 140 is 0°. more than 5° and less than 5°. Preferably, it is 0° or more and 3° or less. More preferably, it is 0° or more and 1° or less. Here, the angle formed by the two planes is 0° or more.
3.有機強誘電デバイスの性質
3-1.分極
 図3は、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の分極状態を示す図である。図3に示すように、有機強誘電デバイス100に電圧を印加する。例えば、有機強誘電デバイス100の第1導電体110に負の電位を付与し、第2導電体120に正の電位を付与する。このように、有機強誘電デバイス100に電圧を印加することにより、有機半導体150の内部で電荷が移動し、有機半導体150は分極する。その結果、有機強誘電デバイス100は分極する。
3. Properties of organic ferroelectric devices 3-1. Polarization FIG. 3 is a diagram showing the polarization state of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment. A voltage is applied to the organic ferroelectric device 100 as shown in FIG. For example, a negative potential is applied to the first conductor 110 of the organic ferroelectric device 100 and a positive potential is applied to the second conductor 120 . Thus, by applying a voltage to the organic ferroelectric device 100, electric charges move inside the organic semiconductor 150, and the organic semiconductor 150 is polarized. As a result, the organic ferroelectric device 100 becomes polarized.
 図3に示すように、有機半導体150における第1導電体110の側には正の電荷が集まり、有機半導体150における第2導電体120の側には負の電荷が集まる。つまり、有機半導体150における第1絶縁層130の第1面130aに面する位置に正の電荷が集まり、有機半導体150における第2絶縁層140の第1面140aに面する位置に負の電荷が集まる。 As shown in FIG. 3 , positive charges gather on the first conductor 110 side of the organic semiconductor 150 , and negative charges gather on the second conductor 120 side of the organic semiconductor 150 . That is, positive charges gather at the position facing the first surface 130a of the first insulating layer 130 in the organic semiconductor 150, and negative charges gather at the position facing the first surface 140a of the second insulating layer 140 in the organic semiconductor 150. get together.
 このとき、有機半導体150では次のような現象が生じていると考えられる。図3に示すように、第1導電体110または第1絶縁層130に最も近いドナー層が、正に帯電する。また、第2導電体120または第2絶縁層140に最も近いアクセプター層が、負に帯電する。逆方向の電圧を印加すると、第1導電体110または第1絶縁層130に最も近いアクセプター層が、負に帯電する。また、第2導電体120または第2絶縁層140に最も近いドナー層が、正に帯電する。 At this time, it is considered that the following phenomenon occurs in the organic semiconductor 150. As shown in FIG. 3, the donor layer closest to the first conductor 110 or first insulating layer 130 is positively charged. Also, the acceptor layer closest to the second conductor 120 or the second insulating layer 140 is negatively charged. When a reverse voltage is applied, the acceptor layer closest to the first conductor 110 or the first insulating layer 130 is negatively charged. Also, the donor layer closest to the second conductor 120 or the second insulating layer 140 is positively charged.
 一方、有機半導体150の中心付近のドナー層およびアクセプター層は、帯電しない。第1絶縁層130および第2絶縁層140に近い領域のドナー層およびアクセプター層が帯電する。このため、分極は有機半導体150における第1絶縁層130および第2絶縁層140に近い領域に起源をもつ。 On the other hand, the donor layer and acceptor layer near the center of the organic semiconductor 150 are not charged. The donor and acceptor layers in the regions near the first insulating layer 130 and the second insulating layer 140 are charged. Thus, the polarization originates in the regions of the organic semiconductor 150 close to the first insulating layer 130 and the second insulating layer 140 .
 なお、実際には、有機半導体150のドナー層のうちの複数層が帯電することも起こりえる。また、有機半導体150のアクセプター層のうちの複数層が帯電することも起こりえる。 It should be noted that, in practice, it is possible that multiple layers among the donor layers of the organic semiconductor 150 are charged. It is also possible that more than one of the acceptor layers of the organic semiconductor 150 are charged.
3-2.誘電性
 図4は、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100の有機半導体150の誘電性を説明する図である。図4に示すように、有機半導体150は、第1強誘電性部151と、第2強誘電性部152と、常誘電性部153と、を有する。
3-2. Dielectric Properties FIG. 4 is a diagram for explaining the dielectric properties of the organic semiconductor 150 of the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment. As shown in FIG. 4 , the organic semiconductor 150 has a first ferroelectric portion 151 , a second ferroelectric portion 152 and a paraelectric portion 153 .
 第1強誘電性部151は、第1絶縁層130の第1面130aに接触する領域である。第2強誘電性部152は、第2絶縁層140の第1面140aに接触する領域である。常誘電性部153は、第1強誘電性部151と第2強誘電性部152とに挟まれた領域である。 The first ferroelectric part 151 is a region in contact with the first surface 130a of the first insulating layer 130 . The second ferroelectric portion 152 is a region that contacts the first surface 140 a of the second insulating layer 140 . The paraelectric portion 153 is a region sandwiched between the first ferroelectric portion 151 and the second ferroelectric portion 152 .
 第1強誘電性部151は強誘電性を示す部分である。第2強誘電性部152は強誘電性を示す部分である。常誘電性部153は常誘電性を示す部分である。 The first ferroelectric portion 151 is a portion exhibiting ferroelectricity. The second ferroelectric portion 152 is a portion exhibiting ferroelectricity. The paraelectric portion 153 is a portion exhibiting paraelectric properties.
 図3に示すように、第1強誘電性部151と、第2強誘電性部152と、常誘電性部153と、の材料は、同じである。第1強誘電性部151と、第2強誘電性部152と、常誘電性部153とは、誘電性の性質により、有機半導体150を分類したものにすぎない。 As shown in FIG. 3, the materials of the first ferroelectric portion 151, the second ferroelectric portion 152, and the paraelectric portion 153 are the same. The first ferroelectric portion 151, the second ferroelectric portion 152, and the paraelectric portion 153 are merely classifications of the organic semiconductor 150 according to dielectric properties.
4.従来の強誘電デバイスとの比較
 図5は、従来の強誘電デバイスの分極の様子を示す概念図である。図5に示すように、従来の強誘電デバイスでは、それぞれの分極領域PR1が分極する。そして、一番外側の分極領域を除いた中間領域では、分極は互いにキャンセルしあう。
4. Comparison with Conventional Ferroelectric Device FIG. 5 is a conceptual diagram showing the state of polarization of a conventional ferroelectric device. As shown in FIG. 5, in conventional ferroelectric devices, each polarization region PR1 is polarized. Polarizations cancel each other in the intermediate region except for the outermost polarized region.
 一方、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100においては、図3に示すように、外側のドナー層およびアクセプター層が帯電するが、中央付近のドナー層およびアクセプター層は帯電しない。このため、常誘電性部153では、ドナー層およびアクセプター層は帯電しない。したがって、常誘電性部153は常誘電性を示す。 On the other hand, in the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment, as shown in FIG. 3, the outer donor layer and acceptor layer are charged, but the donor layer and acceptor layer near the center are not charged. Therefore, in the paraelectric portion 153, the donor layer and the acceptor layer are not charged. Therefore, the paraelectric portion 153 exhibits paraelectricity.
5.有機強誘電デバイスの製造方法
5-1.導電体準備工程
 第1導電体110および第2導電体120を準備する。
5. Manufacturing method of organic ferroelectric device 5-1. Conductor Preparing Step The first conductor 110 and the second conductor 120 are prepared.
5-2.第1絶縁層形成工程
 第1導電体110の第1面110aの上に第1絶縁層130を成膜する。そのために、真空蒸着装置を用いればよい。第1絶縁層130がパリレンCの場合には、顆粒状原材料を真空蒸着装置の内部に入れる。顆粒状原材料を真空下で加熱することによりダイマー気体とする。ダイマー気体は熱分解により開裂し、モノマーとなる。真空装置の内部で第1導電体110の第1面110aの表面で重合し、パリレンCが成膜される。
5-2. First Insulating Layer Forming Step A first insulating layer 130 is formed on the first surface 110 a of the first conductor 110 . Therefore, a vacuum vapor deposition apparatus may be used. When the first insulating layer 130 is parylene C, the granular raw material is placed inside the vacuum deposition apparatus. A dimer gas is formed by heating the granular raw material under vacuum. The dimer gas is pyrolytically cleaved into monomers. Inside the vacuum apparatus, the parylene C is polymerized on the surface of the first surface 110a of the first conductor 110 to form a film.
5-3.有機半導体形成工程
 第1絶縁層130の第1面130aの上に有機半導体150を成膜する。そのために、真空蒸着装置を用いればよい。例えば、LABCOTER PDS2010(日本パリレン株式会社製)を用いる。例えば、3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と、7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)と、を真空蒸着により第1絶縁層130の第1面130aの上に蒸着させる。この際に、3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と、7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)とは、一分子層ずつ交互に積層される。
5-3. Organic Semiconductor Forming Step An organic semiconductor 150 is formed on the first surface 130 a of the first insulating layer 130 . Therefore, a vacuum vapor deposition apparatus may be used. For example, LABCOTER PDS2010 (manufactured by Japan Parylene Co., Ltd.) is used. For example, 3,3′,5,5′-tetramethylbenzidine (TMB) and 7,7′,8,8′-tetracyanoquinodimethane (TCNQ) are vacuum-deposited to form the first insulating layer 130. It is deposited on the first surface 130a. At this time, 3,3′,5,5′-tetramethylbenzidine (TMB) and 7,7′,8,8′-tetracyanoquinodimethane (TCNQ) are alternately laminated by one molecular layer. be done.
5-4.第2絶縁層形成工程
 有機半導体150の第2面150bの上に第2絶縁層140を成膜する。第1絶縁層130の成膜と同様に実施すればよい。
5-4. Second Insulating Layer Forming Step A second insulating layer 140 is formed on the second surface 150 b of the organic semiconductor 150 . It may be performed in the same manner as the film formation of the first insulating layer 130 .
5-5.第2導電体貼り付け工程
 第2絶縁層140の第2面140bに第2導電体120を貼り付ける。例えば、接着剤を用いてもよい。
5-5. Second Conductor Attaching Step The second conductor 120 is attached to the second surface 140 b of the second insulating layer 140 . For example, an adhesive may be used.
6.第1の実施形態の効果
 第1の実施形態の有機強誘電デバイス100は、有機半導体150における絶縁層との接触面付近のドナーおよびアクセプターが主に帯電する。そして、絶縁層から離れているドナーおよびアクセプターはほとんど帯電しない。このように、第1絶縁層110または第2絶縁層120と有機半導体150との間の界面の付近で強誘電性が発生する。このため、強誘電性が安定している。
6. Effect of First Embodiment In the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment, donors and acceptors near the contact surface with the insulating layer in the organic semiconductor 150 are mainly charged. And donors and acceptors far from the insulating layer are hardly charged. Thus, ferroelectricity occurs near the interface between the first insulating layer 110 or the second insulating layer 120 and the organic semiconductor 150 . Therefore, ferroelectricity is stable.
 また、有機強誘電デバイス100の構成要素は常誘電体である。このため、構造が単純である。そして、配向に依存しない。したがって、デバイスの製造時に配向を制御する必要がない。強誘電性については、製造後に印加する電圧で制御することが可能である。また、相転移を利用していないため、広い温度領域で使用することができる。 Also, the constituent elements of the organic ferroelectric device 100 are paraelectrics. Therefore, the structure is simple. and orientation independent. Therefore, there is no need to control orientation during device fabrication. Ferroelectricity can be controlled by voltage applied after manufacturing. In addition, since phase transition is not used, it can be used in a wide temperature range.
 有機強誘電デバイス100では、第1絶縁層130または第2絶縁層140と有機半導体150との間の界面の付近で電荷がトラップされ、強誘電性が発生する。このため、小型化されたデバイスに対して十分な数の界面を形成すれば、そのデバイスは十分な強誘電性を発揮する。すなわち、強誘電デバイスの記録密度が向上しうる。 In the organic ferroelectric device 100, charges are trapped near the interface between the first insulating layer 130 or the second insulating layer 140 and the organic semiconductor 150, generating ferroelectricity. Therefore, if a sufficient number of interfaces are formed for a miniaturized device, the device will exhibit sufficient ferroelectricity. That is, the recording density of ferroelectric devices can be improved.
 有機強誘電デバイス100は、一般的な有機デバイスと同様に、フレキシブル、軽量、プリンタブル、といった機能を付与することができる。また、有機材料は、生体に対する高い親和性を備えている。したがって、有機強誘電デバイス100はウェアラブルデバイス、医療デバイスへの応用に適している。 The organic ferroelectric device 100 can be provided with functions such as flexibility, light weight, and printability, like general organic devices. In addition, organic materials have a high affinity for living organisms. Therefore, the organic ferroelectric device 100 is suitable for application to wearable devices and medical devices.
7.変形例
7-1.第2導電体形成工程
 第2導電体120を貼り付ける代わりに、第2導電体120を蒸着により成膜してもよい。
7. Modification 7-1. Second Conductor Forming Step Instead of attaching the second conductor 120, the second conductor 120 may be deposited by vapor deposition.
7-2.透明電極
 図6は、第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス200の概略構成図である。有機強誘電デバイス200は、第1導電体210と、第2導電体120と、第1絶縁層130と、第2絶縁層140と、有機半導体150と、を有する。第1導電体210は、透明電極である。第1導電体210の材料は、例えば、ITO、IZO、ICO、ZnO、TiO2 、NbTiO2 、TaTiO2 等の透明な導電性酸化物である。
7-2. Transparent Electrode FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 200 in a modification of the first embodiment. The organic ferroelectric device 200 has a first conductor 210 , a second conductor 120 , a first insulating layer 130 , a second insulating layer 140 and an organic semiconductor 150 . The first conductor 210 is a transparent electrode. The material of the first conductor 210 is, for example, a transparent conductive oxide such as ITO, IZO, ICO, ZnO, TiO2, NbTiO2, TaTiO2.
 図7は、第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス300の概略構成図である。有機強誘電デバイス300は、第1導電体210と、第2導電体320と、第1絶縁層130と、第2絶縁層140と、有機半導体150と、を有する。第2導電体320は、透明電極である。第2導電体320の材料は、例えば、ITO、IZO、ICO、ZnO、TiO2 、NbTiO2 、TaTiO2 等の透明な導電性酸化物である。 FIG. 7 is a schematic configuration diagram of an organic ferroelectric device 300 in a modified example of the first embodiment. The organic ferroelectric device 300 has a first conductor 210 , a second conductor 320 , a first insulating layer 130 , a second insulating layer 140 and an organic semiconductor 150 . The second conductor 320 is a transparent electrode. The material of the second conductor 320 is, for example, a transparent conductive oxide such as ITO, IZO, ICO, ZnO, TiO2, NbTiO2, TaTiO2.
 このように、第1導電体と第2導電体とのうちの少なくとも一方は、透明導電性酸化物であってもよい。 Thus, at least one of the first conductor and the second conductor may be a transparent conductive oxide.
7-3.有機半導体
 有機半導体150は、ドナー層とアクセプター層とを交互に積層した構造でなくてもよい。有機半導体150は、ドナー層を有する単層膜と、アクセプター層を有する単層膜と、ドナー層とアクセプター層とを有する二層膜と、ドナー分子とアクセプター分子とを有する電荷移動錯体膜と、バルクヘテロジャンクション薄膜と、のいずれかを有する。
7-3. Organic Semiconductor The organic semiconductor 150 may not have a structure in which donor layers and acceptor layers are alternately laminated. The organic semiconductor 150 includes a single layer film having a donor layer, a single layer film having an acceptor layer, a bilayer film having a donor layer and an acceptor layer, a charge transfer complex film having a donor molecule and an acceptor molecule, and a bulk heterojunction thin film.
 例えば、ドナーとアクセプターとで構成される電荷移動錯体薄膜であってもよい。また、ドナー層またはアクセプター層の単成分薄膜であってもよい。その場合には、ドナー層の表面またはアクセプター層の表面は、第1絶縁層130の第1面130aまたは第2絶縁層140の第1面140aと平行であるとよい。ドナー層の表面またはアクセプター層の表面と、第1絶縁層130の第1面130aまたは第2絶縁層140の第1面140aと、がなす角の角度は、0°以上5°以下である。好ましくは、0°以上3°以下である。より好ましくは、0°以上1°以下である。 For example, it may be a charge-transfer complex thin film composed of a donor and an acceptor. It may also be a single-component thin film of a donor layer or an acceptor layer. In that case, the surface of the donor layer or the surface of the acceptor layer should be parallel to the first surface 130 a of the first insulating layer 130 or the first surface 140 a of the second insulating layer 140 . The angle formed by the surface of the donor layer or the surface of the acceptor layer and the first surface 130a of the first insulating layer 130 or the first surface 140a of the second insulating layer 140 is 0° or more and 5° or less. Preferably, it is 0° or more and 3° or less. More preferably, it is 0° or more and 1° or less.
 ドナー分子は、例えば、3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と、フタロシアニンと、ナフタロシアニンと、金属フタロシアニンと、金属ナフタロシアニンと、を含む。ここで、金属フタロシアニンおよび金属ナフタロシアニンにおける金属は、例えば、Zn、Cu、Ni、Pb、Sn、Mg、Fe、Co、Li、Naなどの金属またはTiO、VOなどの金属酸化物を含む。 Donor molecules include, for example, 3,3',5,5'-tetramethylbenzidine (TMB), phthalocyanine, naphthalocyanine, metal phthalocyanine, and metal naphthalocyanine. Here, metals in metal phthalocyanines and metal naphthalocyanines include, for example, metals such as Zn, Cu, Ni, Pb, Sn, Mg, Fe, Co, Li and Na, and metal oxides such as TiO and VO.
 アクセプター分子は、例えば、7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)と、TCNQの類縁体と、フラーレンと、3,4,9,10-ペリレンテトラカルボン酸二無水物(PTCDA)と、フッ素置換されたフタロシアニン(ヘキサデカフルオロフタロシアニン、オクタフルオロフタロシアニン)と、フッ素化された金属フタロシアニンと、を含む。TCNQの類縁体は、2-フルオロ-7,7,8,8,-テトラシアノキノジメタン(FTCNQ)と、2,5-ジフルオロ-7,7,8,8,-テトラシアノキノジメタン(F2TCNQ)と、2,3,5,6-テトラフルオロ-7,7,8,8,-テトラシアノキノジメタン(F4TCNQ)と、ジメチル-テトラシアノキノジメタン(Me2TCNQ)と、を含む。 Acceptor molecules are, for example, 7,7′,8,8′-tetracyanoquinodimethane (TCNQ), analogs of TCNQ, fullerenes, and 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride. (PTCDA), fluorine-substituted phthalocyanines (hexadecafluorophthalocyanine, octafluorophthalocyanine), and fluorinated metal phthalocyanines. Analogues of TCNQ are 2-fluoro-7,7,8,8,-tetracyanoquinodimethane (FTCNQ) and 2,5-difluoro-7,7,8,8,-tetracyanoquinodimethane ( F2TCNQ), 2,3,5,6-tetrafluoro-7,7,8,8,-tetracyanoquinodimethane (F4TCNQ), and dimethyl-tetracyanoquinodimethane (Me2TCNQ).
7-4.絶縁層
 第1絶縁層130および第2絶縁層140は、パリレンC以外の絶縁体であってもよい。
7-4. Insulating Layers The first insulating layer 130 and the second insulating layer 140 may be insulators other than parylene-C.
7-5.組み合わせ
 上記の変形例を自由に組み合わせてよい。
7-5. Combination The above modifications may be freely combined.
(実験)
1.ヒステリシス
1-1.サンプルの作製
 ITOまたは銀電極が形成された絶縁性基板上にパリレンCを真空蒸着し、その上に3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)とを真空蒸着し、その上にパリレンCを真空蒸着し、その上に銀を蒸着した。このようにして、有機強誘電デバイスを作製した。
(experiment)
1. Hysteresis 1-1. Preparation of sample Parylene C was vacuum-deposited on an insulating substrate on which ITO or silver electrodes were formed, and 3,3',5,5'-tetramethylbenzidine (TMB) and 7,7',8, 8′-tetracyanoquinodimethane (TCNQ) was vacuum-deposited, parylene C was vacuum-deposited thereon, and silver was vapor-deposited thereon. Thus, an organic ferroelectric device was produced.
1-2.ヒステリシス曲線
 次に、ポジティブアップネガティブダウン法により有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を測定した。ポジティブアップネガティブダウン法を用いるために、正の電圧を印加したときの誘電分極の値と、負の電圧を印加したときの誘電分極の値と、が電圧0Vの箇所で一致しない。
1-2. Hysteresis Curve Next, the hysteresis curve of the organic ferroelectric device was measured by the positive up-negative down method. Since the positive up-negative down method is used, the value of dielectric polarization when a positive voltage is applied and the value of dielectric polarization when a negative voltage is applied do not match at a voltage of 0V.
 図8は、有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その1)である。図8の横軸は有機強誘電デバイスに印加する電圧である。図8の縦軸は誘電分極である。図8の横軸および縦軸は、それぞれ、V、μCcm-2で割ることにより規格化されている。 FIG. 8 is a graph (Part 1) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device. The horizontal axis of FIG. 8 is the voltage applied to the organic ferroelectric device. The vertical axis in FIG. 8 is the dielectric polarization. The horizontal and vertical axes in FIG. 8 are normalized by dividing by V and μC cm −2 , respectively.
 図8の有機強誘電デバイスは、基板に150nmのITO、240nmのパリレンC、200nmのTMB-TCNQ、240nmのパリレンC、100nmのAgを順に積層したデバイスである。ここで、TMB-TCNQの表記は、ドナー側にTMBを用い、アクセプター側にTCNQを用い、これらを交互に積層したことを示している。 The organic ferroelectric device in FIG. 8 is a device in which 150 nm ITO, 240 nm Parylene C, 200 nm TMB-TCNQ, 240 nm Parylene C, and 100 nm Ag are laminated in this order on a substrate. Here, the notation of TMB-TCNQ indicates that TMB is used on the donor side and TCNQ is used on the acceptor side, and these are alternately stacked.
 図8に示すように、ポジティブアップネガティブダウン法で入力するパルス電圧の周波数によって、ヒステリシス曲線に違いがでる。パルス電圧の周波数が低いほど、大きな誘電分極の値となる傾向にある。 As shown in Fig. 8, the hysteresis curve differs depending on the frequency of the pulse voltage input in the positive up-negative down method. The lower the frequency of the pulse voltage, the larger the dielectric polarization value tends to be.
 図9は、有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その2)である。図9の横軸は有機強誘電デバイスに印加する電圧である。図9の縦軸は誘電分極である。図9の横軸および縦軸は、それぞれ、V、μCcm-2で割ることにより規格化されている。 FIG. 9 is a graph (2) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device. The horizontal axis of FIG. 9 is the voltage applied to the organic ferroelectric device. The vertical axis in FIG. 9 is the dielectric polarization. The horizontal and vertical axes in FIG. 9 are normalized by dividing by V and μCcm −2 , respectively.
 図9の「240nm」の表記で示されるデバイスは、基板に150nmのITO、240nmのパリレンC、200nmのTMB-TCNQ、240nmのパリレンC、100nmのAgを順に積層したデバイスである。図9の「90nm」の表記で示されるデバイスは、基板に150nmのITO、90nmのパリレンC、200nmのTMB-TCNQ、240nmのパリレンC、100nmのAgを順に積層したデバイスである。図9の「60nm」の表記で示されるデバイスは、基板に150nmのITO、60nmのパリレンC、200nmのTMB-TCNQ、240nmのパリレンC、100nmのAgを順に積層したデバイスである。 The device indicated by the notation "240 nm" in FIG. 9 is a device in which 150 nm ITO, 240 nm Parylene C, 200 nm TMB-TCNQ, 240 nm Parylene C, and 100 nm Ag are laminated in this order on a substrate. The device denoted by "90 nm" in FIG. 9 is a device in which 150 nm of ITO, 90 nm of Parylene C, 200 nm of TMB-TCNQ, 240 nm of Parylene C, and 100 nm of Ag are laminated in order on a substrate. The device denoted by "60 nm" in FIG. 9 is a device in which 150 nm of ITO, 60 nm of Parylene C, 200 nm of TMB-TCNQ, 240 nm of Parylene C, and 100 nm of Ag are laminated in order on a substrate.
 図9に示すように、第1絶縁層130または第2絶縁層140の膜厚を変えることによりヒステリシス曲線が変わる。図9の「240nm」の表記で示されるデバイスでは、第1絶縁層130の膜厚と第2絶縁層140の膜厚とは同じである。絶縁層の膜厚を厚くするほど、誘電分極の値は小さくなる傾向にある。絶縁層の膜厚を変えることにより、分極反転に必要な電圧を制御することができる。 As shown in FIG. 9, changing the film thickness of the first insulating layer 130 or the second insulating layer 140 changes the hysteresis curve. In the device indicated by the notation "240 nm" in FIG. 9, the film thickness of the first insulating layer 130 and the film thickness of the second insulating layer 140 are the same. The value of dielectric polarization tends to decrease as the film thickness of the insulating layer increases. By changing the film thickness of the insulating layer, the voltage required for polarization reversal can be controlled.
 図10は、有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を示すグラフ(その3)である。図10の横軸は有機強誘電デバイスに印加する電圧である。図10の縦軸は誘電分極である。図10の横軸および縦軸は、それぞれ、V、μCcm-2で割ることにより規格化されている。 FIG. 10 is a graph (3) showing a hysteresis curve of an organic ferroelectric device. The horizontal axis of FIG. 10 is the voltage applied to the organic ferroelectric device. The vertical axis of FIG. 10 is the dielectric polarization. The horizontal and vertical axes in FIG. 10 are normalized by dividing by V and μCcm −2 , respectively.
 図10の有機強誘電デバイスは、基板に150nmのITO、240nmのパリレンC、200nmのTMB-TCNQ、240nmのパリレンC、100nmのAgを順に積層したデバイスである。 The organic ferroelectric device in FIG. 10 is a device in which 150 nm ITO, 240 nm Parylene C, 200 nm TMB-TCNQ, 240 nm Parylene C, and 100 nm Ag are laminated in this order on a substrate.
 図10に示すように、有機強誘電デバイスは広い温度領域で強誘電性を示す。 As shown in FIG. 10, organic ferroelectric devices exhibit ferroelectricity over a wide temperature range.
 このように、第1の実施形態の有機強誘電デバイス100は強誘電性を示す。 Thus, the organic ferroelectric device 100 of the first embodiment exhibits ferroelectricity.
2.強誘電性部および常誘電性部
2-1.サンプルの作製
 銀層を有する基材にパリレンCを真空蒸着し、その上に3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)とを真空蒸着し、その上にパリレンCを真空蒸着し、その上にITOを蒸着した。このようにして、有機強誘電デバイスを作製した。
2. Ferroelectric part and paraelectric part 2-1. Preparation of sample Parylene C was vacuum-deposited on a substrate having a silver layer, and 3,3′,5,5′-tetramethylbenzidine (TMB) and 7,7′,8,8′-tetracyanoquino were deposited thereon. Dimethane (TCNQ) was vacuum-deposited, parylene C was vacuum-deposited thereon, and ITO was vapor-deposited thereon. Thus, an organic ferroelectric device was produced.
2-2.赤外線透過スペクトル
 図11は、第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス200に対する赤外線透過スペクトルを示すグラフである。図11の横軸は波数である。図11の縦軸は吸収の強さである。縦軸は規格化されている。
2-2. Infrared Transmission Spectrum FIG. 11 is a graph showing the infrared transmission spectrum for the organic ferroelectric device 200 in the modified example of the first embodiment. The horizontal axis of FIG. 11 is the wave number. The vertical axis in FIG. 11 is the intensity of absorption. The vertical axis is normalized.
 図11に示すように、電圧を印加した有機強誘電デバイスと、電圧を印加しなかった有機強誘電デバイスと、有機半導体材料の粉末と、について赤外線透過スペクトルを比較した。いずれの場合も、赤外線を吸収している。常誘電体が赤外線を吸収する。すなわち、第1の実施形態の変形例における有機強誘電デバイス200は、強誘電性を発揮しつつも、有機半導体150の大部分は常誘電体のままであることを示している。 As shown in FIG. 11, the infrared transmission spectra of the organic ferroelectric device to which voltage was applied, the organic ferroelectric device to which no voltage was applied, and the organic semiconductor material powder were compared. In both cases, infrared radiation is absorbed. A paraelectric material absorbs infrared light. That is, the organic ferroelectric device 200 in the modified example of the first embodiment exhibits ferroelectricity, but most of the organic semiconductor 150 remains paraelectric.
 したがって、第1絶縁層130に接触するごく薄い領域に第1強誘電性部151が存在し、第2絶縁層140に接触するごく薄い領域に第2強誘電性部152が存在すると考えられる。そして、第1強誘電性部151と第2強誘電性部152との間に、常誘電性部153が存在すると考えられる。 Therefore, it is considered that the first ferroelectric part 151 exists in a very thin region in contact with the first insulating layer 130 and the second ferroelectric part 152 exists in a very thin region in contact with the second insulating layer 140 . A paraelectric portion 153 is considered to exist between the first ferroelectric portion 151 and the second ferroelectric portion 152 .
3.有機半導体の材料
3-1.サンプルの作製
 銀層を有する基材にパリレンCを真空蒸着し、その上に有機半導体を真空蒸着し、その上にパリレンCを真空蒸着し、その上に銀またはITOを蒸着した。このようにして、有機強誘電デバイスを作製した。表1に示すように、有機半導体の材料を変えた。有機半導体の材料として、3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)、7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)、3,4,9,10-ペリレンテトラカルボン酸二無水物(PTCDA)を用いた。サンプル3では、第1導電体110および第2導電体120は、それぞれ、銀、銀であった。それ以外のサンプル1、2、4では、第1導電体110および第2導電体120は、それぞれ、銀、ITOであった。
3. Organic semiconductor materials 3-1. Preparation of Samples Parylene C was vacuum-deposited on a substrate having a silver layer, an organic semiconductor was vacuum-deposited thereon, Parylene C was vacuum-deposited thereon, and silver or ITO was vapor-deposited thereon. Thus, an organic ferroelectric device was produced. As shown in Table 1, the material of the organic semiconductor was changed. 3,3′,5,5′-tetramethylbenzidine (TMB), 7,7′,8,8′-tetracyanoquinodimethane (TCNQ), 3,4,9,10- Perylenetetracarboxylic dianhydride (PTCDA) was used. In sample 3, the first conductor 110 and the second conductor 120 were silver and silver, respectively. In other samples 1, 2, and 4, the first conductor 110 and the second conductor 120 were silver and ITO, respectively.
[表1]
 サンプル   有機半導体の種類
 サンプル1  TCNQ
 サンプル2  PTCDA-TMB
 サンプル3  TMB-TCNQ
 サンプル4  PTCDA-TCNQ
[Table 1]
Sample Type of organic semiconductor Sample 1 TCNQ
Sample 2 PTCDA-TMB
Sample 3 TMB-TCNQ
Sample 4 PTCDA-TCNQ
3-2.実験結果
 図12は、有機半導体がTCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。図12の横軸は電圧である。図12の縦軸は電流である。横軸および縦軸は、それぞれ、規格化されている。
3-2. Experimental Results FIG. 12 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is TCNQ. The horizontal axis of FIG. 12 is voltage. The vertical axis in FIG. 12 is current. The horizontal and vertical axes are each normalized.
 図12に示すように、印加電圧の絶対値が60Vを超えたあたりで電流の絶対値が上昇する。 As shown in FIG. 12, the absolute value of the current increases when the absolute value of the applied voltage exceeds 60V.
 図13は、有機半導体がPTCDA-TMBである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。図13の横軸は電圧である。図13の縦軸は電流である。横軸および縦軸は、それぞれ、規格化されている。 FIG. 13 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is PTCDA-TMB. The horizontal axis of FIG. 13 is voltage. The vertical axis in FIG. 13 is current. The horizontal and vertical axes are each normalized.
 図13に示すように、印加電圧の絶対値が90Vを超えたあたりで電流の絶対値が上昇する。 As shown in FIG. 13, the absolute value of the current increases when the absolute value of the applied voltage exceeds 90V.
 図14は、有機半導体がTMB-TCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。図14の横軸は電圧である。図14の縦軸は電流である。横軸および縦軸は、それぞれ、規格化されている。 FIG. 14 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is TMB-TCNQ. The horizontal axis of FIG. 14 is voltage. The vertical axis in FIG. 14 is current. The horizontal and vertical axes are each normalized.
 図14に示すように、印加電圧の絶対値が50Vを超えたあたりで電流の絶対値が上昇する。 As shown in FIG. 14, the absolute value of the current increases when the absolute value of the applied voltage exceeds 50V.
 図15は、有機半導体がPTCDA-TCNQである場合の有機強誘電デバイスの電流電圧特性を示すグラフである。図15の横軸は電圧である。図15の縦軸は電流である。横軸および縦軸は、それぞれ、規格化されている。 FIG. 15 is a graph showing current-voltage characteristics of an organic ferroelectric device when the organic semiconductor is PTCDA-TCNQ. The horizontal axis of FIG. 15 is voltage. The vertical axis in FIG. 15 is current. The horizontal and vertical axes are each normalized.
 図15に示すように、印加電圧の絶対値が90Vを超えたあたりで電流の絶対値が上昇する。 As shown in FIG. 15, the absolute value of the current increases when the absolute value of the applied voltage exceeds 90V.
 図16は、有機強誘電デバイスのヒステリシス曲線を有機半導体の違いにより比較するグラフである。図16の横軸は有機強誘電デバイスに印加する電圧である。図16の縦軸は誘電分極である。図16の横軸および縦軸は、それぞれ、V、μCcm-2で割ることにより規格化されている。 FIG. 16 is a graph comparing hysteresis curves of organic ferroelectric devices with different organic semiconductors. The horizontal axis of FIG. 16 is the voltage applied to the organic ferroelectric device. The vertical axis of FIG. 16 is the dielectric polarization. The horizontal and vertical axes in FIG. 16 are normalized by dividing by V and μCcm −2 , respectively.
 図16に示すように、分極の大きさ等に違いはあるものの複数種類の有機半導体を用いた場合にも、有機強誘電デバイスは強誘電性を示した。また、有機半導体がドナー層またはアクセプター層のみの単一成分膜であっても、有機強誘電デバイスは強誘電性を示した。 As shown in FIG. 16, the organic ferroelectric device exhibited ferroelectricity even when a plurality of types of organic semiconductors were used, although there was a difference in the magnitude of polarization. Also, the organic ferroelectric devices exhibited ferroelectricity even when the organic semiconductor was a single-component film with only a donor layer or an acceptor layer.
4.過渡光電流の制御
4-1.サンプルの作製
 銀層を有する基材にパリレンCを真空蒸着し、その上に3,3’,5,5’-テトラメチルベンジジン(TMB)と7,7’,8,8’-テトラシアノキノジメタン(TCNQ)とを真空蒸着し、その上にパリレンCを真空蒸着し、その上にITOを蒸着した。このようにして、有機強誘電デバイスを作製した。
4. Control of Transient Photocurrent 4-1. Preparation of sample Parylene C was vacuum-deposited on a substrate having a silver layer, and 3,3′,5,5′-tetramethylbenzidine (TMB) and 7,7′,8,8′-tetracyanoquino were deposited thereon. Dimethane (TCNQ) was vacuum-deposited, parylene C was vacuum-deposited thereon, and ITO was vapor-deposited thereon. Thus, an organic ferroelectric device was produced.
4-2.過渡光電流
 図17は、有機強誘電デバイスにおける過渡光電流を示すグラフ(その1)である。図17の横軸は時間である。図17の縦軸は電流密度である。縦軸および横軸は、それぞれ、μs、μAcm-2で規格化されている。
4-2. Transient Photocurrent FIG. 17 is a graph (part 1) showing transient photocurrent in an organic ferroelectric device. The horizontal axis of FIG. 17 is time. The vertical axis of FIG. 17 is the current density. The vertical and horizontal axes are normalized in μs and μAcm −2 , respectively.
 図18は、有機強誘電デバイスにおける過渡光電流を示すグラフ(その2)である。図18は、図17を拡大したグラフである。図18では、負に分極している有機強誘電デバイスの過渡光電流を示している。 FIG. 18 is a graph (part 2) showing transient photocurrent in an organic ferroelectric device. FIG. 18 is a graph in which FIG. 17 is enlarged. FIG. 18 shows the transient photocurrent of a negatively polarized organic ferroelectric device.
 図17および図18に示すように、分極の値が正である場合には、過渡光電流は大きい。分極の値が負である場合には、過渡光電流は小さい。したがって、分極の値を制御することにより、過渡光電流を制御することができる。 As shown in FIGS. 17 and 18, when the value of polarization is positive, the transient photocurrent is large. If the value of polarization is negative, the transient photocurrent is small. Therefore, by controlling the value of polarization, the transient photocurrent can be controlled.
(付記)
 第1の態様における有機強誘電デバイスは、第1導電体および第2導電体と、第1導電体と第2導電体との間に位置する第1絶縁層および第2絶縁層と、第1絶縁層と第2絶縁層との間に位置する半導体と、を有する。第1絶縁層および第2絶縁層は、有機絶縁体である。半導体は、有機半導体であるとともに、第1絶縁層および第2絶縁層に接触している。
(Appendix)
An organic ferroelectric device in a first aspect includes a first conductor and a second conductor, a first insulating layer and a second insulating layer positioned between the first conductor and the second conductor, and a first a semiconductor located between the insulating layer and the second insulating layer. The first insulating layer and the second insulating layer are organic insulators. The semiconductor is an organic semiconductor and is in contact with the first insulating layer and the second insulating layer.
 第2の態様における有機強誘電デバイスにおいては、有機半導体は、ドナー層およびアクセプター層を有する。ドナー層とアクセプター層との界面であるドナー・アクセプター界面と、第1絶縁層の第1面または第2絶縁層の第1面と、がなす角の角度は、0°以上5°以下である。 In the organic ferroelectric device according to the second aspect, the organic semiconductor has a donor layer and an acceptor layer. The angle formed by the donor-acceptor interface, which is the interface between the donor layer and the acceptor layer, and the first surface of the first insulating layer or the first surface of the second insulating layer is 0° or more and 5° or less. .
 第3の態様における有機強誘電デバイスにおいては、有機半導体は、ドナー層またはアクセプター層を有する。ドナー層の表面またはアクセプター層の表面と、第1絶縁層の第1面または第2絶縁層の第1面と、がなす角の角度は、0°以上5°以下である。 In the organic ferroelectric device according to the third aspect, the organic semiconductor has a donor layer or an acceptor layer. The angle formed by the surface of the donor layer or the surface of the acceptor layer and the first surface of the first insulating layer or the first surface of the second insulating layer is 0° or more and 5° or less.
 第4の態様における有機強誘電デバイスにおいては、第1絶縁層および第2絶縁層は、有機高分子材料である。 In the organic ferroelectric device according to the fourth aspect, the first insulating layer and the second insulating layer are organic polymer materials.
 第5の態様における有機強誘電デバイスにおいては、有機半導体は、ドナー層を有する単層膜と、アクセプター層を有する単層膜と、ドナー層とアクセプター層とを有する二層膜と、ドナー分子とアクセプター分子とを有する電荷移動錯体膜と、バルクヘテロジャンクション薄膜と、のいずれかを有する。 In the organic ferroelectric device according to the fifth aspect, the organic semiconductor comprises a monolayer film having a donor layer, a monolayer film having an acceptor layer, a bilayer film having a donor layer and an acceptor layer, and a donor molecule. It has either a charge transfer complex film having an acceptor molecule or a bulk heterojunction thin film.
 第6の態様における有機強誘電デバイスにおいては、第1導電体と第2導電体とのうちの少なくとも一方は、透明導電性酸化物である。 In the organic ferroelectric device of the sixth aspect, at least one of the first conductor and the second conductor is a transparent conductive oxide.
100…有機強誘電デバイス
110…第1導電体
120…第2導電体
130…第1絶縁層
140…第2絶縁層
150…有機半導体
 
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100...Organic ferroelectric device 110...First conductor 120...Second conductor 130...First insulating layer 140...Second insulating layer 150...Organic semiconductor

Claims (6)

  1. 第1導電体および第2導電体と、
    前記第1導電体と前記第2導電体との間に位置する第1絶縁層および第2絶縁層と、
    前記第1絶縁層と前記第2絶縁層との間に位置する半導体と、
    を有し、
     前記第1絶縁層および前記第2絶縁層は、
      有機絶縁体であり、
     前記半導体は、
      有機半導体であるとともに、
      前記第1絶縁層および前記第2絶縁層に接触していること
    を含む有機強誘電デバイス。
    a first conductor and a second conductor;
    a first insulating layer and a second insulating layer positioned between the first conductor and the second conductor;
    a semiconductor positioned between the first insulating layer and the second insulating layer;
    has
    The first insulating layer and the second insulating layer are
    is an organic insulator,
    The semiconductor is
    In addition to being an organic semiconductor,
    An organic ferroelectric device comprising contacting said first insulating layer and said second insulating layer.
  2. 請求項1に記載の有機強誘電デバイスにおいて、
     前記有機半導体は、
      ドナー層およびアクセプター層を有し、
     前記ドナー層と前記アクセプター層との界面であるドナー・アクセプター界面と、
      前記第1絶縁層の第1面または前記第2絶縁層の第1面と、がなす角の角度は、0°以上5°以下であること
    を含む有機強誘電デバイス。
    The organic ferroelectric device of claim 1, wherein
    The organic semiconductor is
    having a donor layer and an acceptor layer,
    a donor-acceptor interface that is an interface between the donor layer and the acceptor layer;
    The organic ferroelectric device, wherein the angle formed by the first surface of the first insulating layer or the first surface of the second insulating layer is 0° or more and 5° or less.
  3. 請求項1に記載の有機強誘電デバイスにおいて、
     前記有機半導体は、
      ドナー層またはアクセプター層を有し、
     前記ドナー層の表面または前記アクセプター層の表面と、
      前記第1絶縁層の第1面または前記第2絶縁層の第1面と、がなす角の角度は、0°以上5°以下であること
    を含む有機強誘電デバイス。
    The organic ferroelectric device of claim 1, wherein
    The organic semiconductor is
    having a donor layer or an acceptor layer,
    the surface of the donor layer or the surface of the acceptor layer;
    The organic ferroelectric device, wherein the angle formed by the first surface of the first insulating layer or the first surface of the second insulating layer is 0° or more and 5° or less.
  4. 請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の有機強誘電デバイスにおいて、
     前記第1絶縁層および前記第2絶縁層は、
      有機高分子材料であること
    を含む有機強誘電デバイス。
    In the organic ferroelectric device according to any one of claims 1 to 3,
    The first insulating layer and the second insulating layer are
    An organic ferroelectric device comprising being an organic polymeric material.
  5. 請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の有機強誘電デバイスにおいて、
     前記有機半導体は、
      ドナー層を有する単層膜と、
      アクセプター層を有する単層膜と、
      前記ドナー層と前記アクセプター層とを有する二層膜と、
      ドナー分子とアクセプター分子とを有する電荷移動錯体膜と、
      バルクヘテロジャンクション薄膜と、
    のいずれかを有すること
    を含む有機強誘電デバイス。
    In the organic ferroelectric device according to any one of claims 1 to 4,
    The organic semiconductor is
    a monolayer film having a donor layer;
    a monolayer film having an acceptor layer;
    a bilayer film comprising the donor layer and the acceptor layer;
    a charge transfer complex film having a donor molecule and an acceptor molecule;
    a bulk heterojunction thin film;
    An organic ferroelectric device comprising having any of
  6. 請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の有機強誘電デバイスにおいて、
     前記第1導電体と前記第2導電体とのうちの少なくとも一方は、
      透明導電性酸化物であること
    を含む有機強誘電デバイス。
     
    In the organic ferroelectric device according to any one of claims 1 to 5,
    At least one of the first conductor and the second conductor,
    An organic ferroelectric device comprising being a transparent conductive oxide.
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