WO2022181774A1 - 電磁波吸収体を備えたシステム、及び電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法 - Google Patents

電磁波吸収体を備えたシステム、及び電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法 Download PDF

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WO2022181774A1
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electromagnetic wave
dielectric
wave absorber
frequency
magnetic
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PCT/JP2022/007936
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Inventor
一茂 兵頭
Original Assignee
住友金属鉱山株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q17/00Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields

Definitions

  • the present invention relates to a system provided with an electromagnetic wave absorber and a method of absorbing electromagnetic waves using the electromagnetic wave absorber.
  • Metamaterials are artificial substances whose size is smaller than the wavelength of the target electromagnetic wave, and they have attracted attention in recent years because they exhibit characteristics that are not found in substances in nature.
  • materials called left-handed metamaterials exhibit a negative refractive index in a specific frequency range. Therefore, intensive research and development is being carried out with the aim of applying it to new optical applications such as perfect lenses and transparent cloaks.
  • Non-Patent Document 1 British physicist J. B. Pendry proposed a nanometal structure having a periodic structure smaller than the wavelength of electromagnetic waves, and theoretically showed that the refractive index of this structure is negative (Non-Patent Document 1).
  • This nano-metal structure has a structure in which nano-units composed of minute split ring resonators (SRR) and metal wires are arranged three-dimensionally. By reducing the size of the nanounits, the nanometal structure acts as a homogeneous medium for electromagnetic waves and exhibits an electromagnetic wave response that depends on the functions of the SRR and metal wires.
  • the SRR acts as an LC resonator for electromagnetic waves and exhibits negative permeability above the resonance frequency.
  • Conductive metal wires also exhibit a negative dielectric constant.
  • Non-Patent Document 2 The combination of SRR and metal wire makes both the effective permittivity and the effective permeability negative, resulting in a negative refractive index, which is the product of the square root of the permittivity and the square root of the permeability. Furthermore, Pendry theoretically showed that by using a left-handed metamaterial that exhibits a negative refractive index, it is possible to realize a perfect lens that can observe as many fine structures as possible beyond the diffraction limit of light (Non-Patent Document 2). ).
  • dielectric metamaterials using dielectrics instead of nanometal structures have been proposed.
  • a nanometal structure has the disadvantage that it has a large conductor loss and requires a precise and fine processing technology for manufacturing.
  • dielectric metamaterials have the advantages of low non-resonant loss and easy manufacturing.
  • Non-Patent Document 4 a structure in which dielectric resonators composed of high-permittivity TiO 2 ceramic disks are two-dimensionally periodically arranged.
  • Mie resonance occurs when the size of the dielectric resonator is made as small as the wavelength of the electromagnetic wave. Therefore, it is possible to use either the TE resonance mode or the TM resonance mode.
  • Dielectric resonators exhibit a negative effective permeability above the resonance frequency in the TE resonance mode.
  • it exhibits a negative effective dielectric constant above the resonance frequency in the TM resonance mode.
  • the TE resonance mode corresponds to the SRR of the nanometal structure
  • the TM resonance mode corresponds to the metal wire.
  • metamaterials such as dielectric metamaterials
  • most of them are targeted at substances that exhibit a negative refractive index, that is, left-handed metamaterials, and optical systems such as perfect lenses and transparent cloaks. Aiming for application.
  • nanometal structures to antennas and transmission lines in the microwave region
  • dielectric metamaterials to electronic devices other than optical components.
  • An electromagnetic wave absorber utilizes a phenomenon (absorption attenuation) in which the absorber absorbs the energy of an incident electromagnetic wave (electromagnetic wave energy), converts it into heat energy, and radiates it.
  • absorption attenuation it is important to use absorbers (absorbent materials) that exhibit excellent absorption characteristics. Specifically, it is desired that the transmission attenuation (rate) of the absorber is high in the absorption band.
  • Magnetic loss, dielectric loss, or resistance loss of the material constituting the absorber is used for electromagnetic wave absorption, and absorbers that utilize these losses are called magnetic electromagnetic wave absorbers, dielectric electromagnetic wave absorbers, and resistive electromagnetic wave absorbers, respectively. It is called an absorber.
  • magnetic electromagnetic wave absorbers using ferromagnetic materials such as soft magnetic metal powders and ferrite powders are widely used due to their excellent absorption characteristics.
  • Magnetic electromagnetic wave absorbers use the loss that occurs based on the magnetic resonance of ferromagnetic materials. That is, a ferromagnetic material has a magnetic moment mainly based on spin angular momentum of electrons (3d electrons) bound by magnetic elements (Fe, Ni, Co, etc.). Also, the interaction causes binding in the direction in which each magnetic moment faces, resulting in spontaneous magnetization.
  • a magnetic material is irradiated with an electromagnetic wave
  • the direction of magnetization changes due to domain wall motion in the low frequency range and due to magnetization rotation in the high frequency range.
  • magnetization fluctuations interfere with electromagnetic waves at a specific frequency, resulting in a phenomenon in which magnetization resonates, that is, magnetic resonance.
  • the imaginary part ( ⁇ ′′) of magnetic permeability has a peak and the loss is maximum. Loss based on magnetic resonance is called magnetic loss.
  • the magnetic electromagnetic wave absorber absorbs electromagnetic waves using the magnetic loss of ferromagnetic materials.
  • a theory called Snoek's limit is known for magnetism, and according to this theory, there is a relationship between the upper limit of the magnetic permeability of a magnetic material and the resonance frequency. Therefore, it is difficult to maintain a high magnetic permeability in a high frequency range, and therefore there is a limit in obtaining excellent electromagnetic wave absorption characteristics in a high frequency range.
  • the inventor of the present invention has diligently studied in view of such circumstances. As a result, even in a dielectric that does not contain a magnetic element, if the characteristics and shape of the dielectric are controlled, the Mie resonance mode will appear and magnetic resonance will occur. It was found that electromagnetic waves can be made to penetrate into the inside of the absorber, and as a result, absorption of electromagnetic waves occurs.
  • the present invention has been completed based on such findings, and provides a system equipped with an electromagnetic wave absorber that utilizes magnetic loss based on dielectric Mie resonance, and an electromagnetic wave absorption method using this electromagnetic wave absorber. is the subject.
  • the present invention includes the following aspects (A) to (F).
  • the expression "-" includes both numerical values. That is, “X to Y” is synonymous with “X or more and Y or less”.
  • a system comprising an electromagnetic radiation source and an electromagnetic radiation absorber,
  • the electromagnetic wave absorber comprises a disk-shaped dielectric,
  • the disk-shaped dielectric has a relative permittivity real part ⁇ r ′ of 30 or more at 100 MHz, and a ratio of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) (D/T ratio) of 3 or more.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave radiated by the electromagnetic radiation source, the relative permittivity real part ⁇ r ' at 100 MHz of the disk-shaped dielectric and the thickness T (unit: ⁇ m) are the following ( A system that satisfies the formulas 1) and (2) (where c is the speed of light (3.0 ⁇ 10 14 ⁇ m/sec)).
  • the electromagnetic wave absorber comprises a disk-shaped dielectric,
  • the disk-shaped dielectric has a relative permittivity real part ⁇ r ′ of 30 or more at 100 MHz, and a ratio of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) (D/T ratio) of 3 or more.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave, the relative permittivity real part ⁇ r ′ at 100 MHz of the disk-shaped dielectric and the thickness T (unit: ⁇ m) are the following (1) and (2): A method that satisfies the formula (where c is the speed of light (3.0 ⁇ 10 14 ⁇ m/sec)).
  • a system provided with an electromagnetic wave absorber utilizing magnetic loss based on dielectric Mie resonance, and an electromagnetic wave absorbing method using this electromagnetic wave absorber are provided.
  • FIG. 4 shows the frequency dispersion of the complex dielectric constant of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 1.
  • FIG. 4 shows the frequency dispersion of the complex relative permeability of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 1.
  • FIG. 4 shows the frequency dispersion of the complex relative permeability of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 2.
  • FIG. 4 shows the frequency dispersion of the complex relative permeability of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 3.
  • FIG. The frequency dispersion of the complex relative permeability of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 4 is shown.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 1 are shown.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 2 are shown.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 3 are shown.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics of the electromagnetic wave absorber obtained in Example 4 are shown.
  • the system of the present embodiment comprises an electromagnetic radiation source and an electromagnetic wave absorber.
  • This electromagnetic wave absorber comprises a disk-shaped dielectric.
  • this disk-shaped dielectric has a relative permittivity real part ⁇ r ′ of 30 or more at 100 MHz, and a ratio (D/T ratio) of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) 3 or more.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave radiated by the electromagnetic wave radiation source, the relative permittivity real part ⁇ r ' at 100 MHz of the disk-shaped dielectric and the thickness T (unit: ⁇ m) are the following (1 ) and (2) (where c is the speed of light (3.0 ⁇ 10 14 ⁇ m/sec)).
  • the system of this embodiment comprises an electromagnetic radiation source.
  • the electromagnetic radiation source is a leaking (unnecessary) electromagnetic radiation source such as a transmission line, a high-frequency circuit, an electronic element, an electronic component, an electronic device, a radar, and/or a cable.
  • An electronic element, electronic component, or electronic device including a high-frequency circuit constantly emits leakage electromagnetic waves to the surroundings from the circuit during operation.
  • transmission lines and cables that transmit high-frequency signals radiate leakage electromagnetic waves to the surroundings as the signals are transmitted.
  • Transmitters, antennas, and receivers of radars, such as automotive radars radiate large amounts of electromagnetic waves during operation.
  • an electromagnetic wave absorber By providing an electromagnetic wave absorber, such leaked electromagnetic waves are absorbed, and as a result, electromagnetic waves to the surrounding environment such as other transmission lines, high frequency circuits, electronic elements, electronic parts, electronic equipment, cables, radars, or the human body. Disruptions can be prevented. Details of the electromagnetic wave absorber will be described later.
  • the system of the present embodiment may comprise a single leaky (unwanted) electromagnetic radiation source, or may include multiple radiation sources.
  • the electromagnetic wave absorber is not limited in its installation mode as long as it can absorb leaked electromagnetic waves and prevent electromagnetic interference.
  • the system may consist of one leaky electromagnetic wave radiation source and an electromagnetic wave absorber provided inside or on its outer surface.
  • the electromagnetic wave absorber may be incorporated inside the electronic component to prevent electromagnetic interference between elements included in the electronic component.
  • An electromagnetic wave absorber may be incorporated in the electronic component package to prevent electromagnetic interference with other components.
  • An electromagnetic wave absorber may be provided in the housing of the electronic device to prevent electromagnetic interference to other devices or the human body.
  • An electromagnetic wave absorber may be incorporated in the outer coating of the cable to prevent electromagnetic wave leakage. As long as an electromagnetic wave radiation source and an electromagnetic wave absorber are provided to prevent leakage electromagnetic waves from this radiation source, the system of the present embodiment can take any form.
  • the system of this embodiment comprises an electromagnetic wave absorber.
  • This electromagnetic wave absorber may satisfy any of the following first aspect and second aspect.
  • the second aspect is an embodiment of the first aspect and is included in the first aspect.
  • the electromagnetic wave absorber in each aspect will be described below.
  • the electromagnetic wave absorber in the first aspect includes a disk-shaped dielectric (hereinafter sometimes referred to as "dielectric").
  • dielectric acts as a dielectric metamaterial and exhibits a resonant mode known as Mie resonance. Therefore, the magnetic loss based on magnetic resonance is shown in a predetermined frequency range, and the electromagnetic wave absorption characteristic is shown in this frequency range.
  • Mie resonance When the size of the dielectric is about the same as the wavelength of the incident electromagnetic wave or smaller, a steady state of electric and magnetic fields is generated inside the dielectric at a certain frequency (first Mie resonance frequency), thereby causing a resonance phenomenon. This resonance phenomenon is called Mie resonance. More specifically, when the source of electromagnetic radiation is in the far field, the electromagnetic waves are incident on the dielectric as plane waves. At this time, the electromagnetic wave is incident so that both the tangential component and the vertical component of the electromagnetic wave electric field component satisfy the boundary conditions at the interface between the dielectric and the air. As a result, a different electromagnetic field distribution occurs in the dielectric than in the previous propagation medium. Among them, in the mode corresponding to the magnetic Mie resonance, a swirling electric field and displacement current distribution occurs inside the dielectric.
  • a spiral displacement current (electric field) is generated in the dielectric, resulting in an oscillating magnetic field perpendicular to the displacement current (electric field) inside the dielectric.
  • the spiral displacement current (electric field) distribution in the dielectric can be regarded as a magnetic dipole.
  • This oscillating magnetic dipole interacts with the magnetic field component of the incident electromagnetic wave to cause magnetic resonance (magnetic resonance) at a specific frequency (first Mie resonance frequency).
  • first Mie resonance frequency the electric field component of the incident electromagnetic wave causes a magnetic dipole in the dielectric, and the interaction between the magnetic dipole and the electromagnetic wave magnetic field component causes magnetic resonance.
  • the present inventors calculate the effective permittivity ( ⁇ eff ) and effective permeability ( ⁇ eff ) of the dielectric based on the scattering model (Lewin model) of substances in electromagnetic waves, and further based on the summation rule, the magnetic The magnitude of loss (Q M ) was estimated.
  • v is the volume ratio of spherical particles in the matrix
  • f is the frequency
  • is the angular frequency
  • c is the speed of light
  • ⁇ ′′ is the imaginary part of the effective permeability ⁇ eff .
  • the material of the dielectric is not limited as long as it is composed of a high dielectric constant material.
  • the dielectric may contain only one of these materials, or may contain a plurality of materials. When multiple kinds of materials are contained, they may be contained in the form of mixed crystals or may be contained in the form of solid solutions.
  • the dielectric may include at least one of barium titanate (BaTiO 3 ) and bismuth potassium titanate (Bi 0.5 K 0.5 TiO 3 ).
  • the dielectric may be polycrystalline or single crystal.
  • the dielectric may be a dried body, molded body or sintered body of dielectric material.
  • the dried body is obtained by drying the dielectric material to remove liquid components such as an organic solvent, and the molded body is obtained by molding the dielectric material.
  • a sintered body is obtained by sintering a molded body.
  • the solvent has a low boiling point and does not easily remain.
  • the solvent should be selected in consideration of the balance with the dispersibility. The same applies to dispersants.
  • the dielectric may be produced by a known method.
  • a dielectric which is a ceramic sintered body, may be produced by molding and firing a dielectric raw material.
  • Dielectric raw materials may be synthesized by known methods such as a solid phase reaction method, a complex polymerization method, a coprecipitation method, a hydrothermal synthesis method, a sol-gel method, and a vapor phase method.
  • Additives such as molding aids and sintering aids may be added in addition to the dielectric material.
  • Dielectrics that are single crystals are produced by the aqueous solution method, hydrothermal synthesis method, flux method, Verneuil method, Czochralski method, Bridgman method, floating zone melting method, skymelt method, sublimation recrystallization method, chemical transport method, and It may be produced by a known method such as a chemical vapor deposition method.
  • the dielectric has a relative permittivity real part ⁇ r ′ of 30 or more at 100 MHz.
  • ⁇ r ′ is preferably 100 or more, more preferably 300 or more.
  • the upper limit of ⁇ r ′ is not particularly limited, but is typically 2000 or less, more typically 1000 or less. The reason why the measurement frequency is set to 100 MHz is that there is a problem in the measurement method in the frequency range above GHz, and it is difficult to accurately measure the dielectric constant of high dielectric constant materials.
  • the dielectric has a ratio (D/T ratio) of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) of 3 or more.
  • D/T ratio ratio of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) of 3 or more.
  • Each dielectric provided in the electromagnetic wave absorber of this embodiment has a disk-like shape. That is, the cross section is circular.
  • the cross section of the dielectric is preferably as close to a perfect circle as possible.
  • a perfect circle has a constant diameter.
  • a perfectly circular dielectric in cross section can be difficult to manufacture. Therefore, the dielectric is not limited to a perfectly circular cross section. In each dielectric, a variation of ⁇ 10% or less in diameter is allowed.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave radiated by the electromagnetic wave radiation source, the relative permittivity real part ⁇ r ' at 100 MHz of the disk-shaped dielectric and the thickness T (unit: ⁇ m) satisfies the following equations (1) and (2) (where c is the speed of light (3.0 ⁇ 10 14 ⁇ m/sec)).
  • the dielectric thickness d satisfies the relationship of the above equation (7), that is, the dielectric thickness T is a half wavelength of the resonance wavelength ( The magnetic loss is expected to increase under conditions close to ⁇ R ′/2).
  • ⁇ ' is the wavelength (unit: ⁇ m) of the electromagnetic wave in the dielectric.
  • the wavelength in dielectrics is shortened inversely proportional to the square root of the dielectric constant compared to the wavelength of electromagnetic waves in vacuum (c/f).
  • the reason why the upper limit of T is widened in the above equation (2) is that the real part of permittivity ⁇ r ′ is the value measured at 100 MHz. Since the dielectric constant decreases on the high frequency side, the upper limit of T is widened in anticipation of the decrease.
  • T preferably satisfies the following formula (8), more preferably satisfies the following formula (9), and further preferably satisfies the following formula (10).
  • the electromagnetic wave absorber of this embodiment exhibits magnetic loss based on the Mie resonance mode with respect to electromagnetic waves of a specific wavelength by including the dielectric arrangement group that functions as a dielectric metamaterial.
  • the electromagnetic wave absorber has local maxima of effective relative magnetic permeability imaginary part ( ⁇ ′′ ar ) and loss factor (tan ⁇ aM ) at a specific frequency (f max ; magnetic loss maximum frequency).
  • the maximum value of the imaginary part of the complex relative permeability ( ⁇ ''ar ) may be 0.50 or greater, 1.00 or greater, or 1.50 or greater.
  • the maximum value of the loss factor (tan ⁇ aM ) may be 0.50 or more, 1.00 or more, 1.50 or more, or 2.00 or more.
  • the frequency f of the electromagnetic wave emitted by the electromagnetic wave radiation source is not particularly limited. However, it is preferably 1 GHz or more and 10 THz or less, more preferably 3 GHz or more and 5 THz or less, still more preferably 10 GHz or more and 1 THz or less, particularly preferably 10 GHz or more and 300 GHz or less, and most preferably 30 GHz or more and 100 GHz or less.
  • the frequency f may be 60 GHz or more and 80 GHz or less.
  • the system of the present embodiment can sufficiently absorb leakage (unnecessary) electromagnetic waves in the GHz band by including the electromagnetic wave absorber described above. Specifically, the maximum electromagnetic wave absorption can be provided within the above frequency range, and the absolute value of the return loss at this maximum can be set to 10 dB or more, 15 dB or more, or 20 dB or more.
  • An electromagnetic wave absorber in the second aspect comprises a base and a dielectric arrangement group.
  • This dielectric arrangement group is composed of a plurality of disk-shaped dielectrics. Further, each dielectric constituting this dielectric arrangement group has a front surface and a bottom surface, and is arranged such that the bottom surface faces one surface of the base.
  • the dielectrics constituting this dielectric arrangement group have a relative permittivity real part ⁇ r ′ of 30 or more at 100 MHz, an average diameter D m of 100 ⁇ m or more and 10000 ⁇ m or less (0.1 mm or more and 10 mm or less), and an average thickness T m is 20 ⁇ m or more and 300 ⁇ m or less (0.02 mm or more and 0.3 mm or less).
  • this dielectric has a ratio of average diameter D m to average thickness T m (D m /T m ratio) of 3 or more and a coefficient of variation CV of thickness T of 20% or less.
  • the electromagnetic wave absorber in the second aspect comprises a base.
  • the substrate has a function of holding a dielectric, and its material is not limited as long as it has this function. Examples include resins, metals, and ceramics. Also, the shape thereof is not limited, and examples thereof include a plate, a sheet, and a foil. Flexibility can be imparted to the electromagnetic wave absorber by using a sheet-like resin substrate or a foil-like metal substrate. Also, by using a metal substrate, the substrate can be provided with a function as an electromagnetic wave reflecting layer.
  • the electromagnetic wave absorber in the second aspect includes a dielectric arrangement group composed of a plurality of disk-shaped dielectrics in addition to the base.
  • Each dielectric constituting this dielectric arrangement group has a front surface and a bottom surface, and is arranged such that the bottom surface faces one surface of the substrate. That is, the disk-shaped dielectrics are distributed on the substrate such that the bottom surfaces thereof are substantially parallel to the surface of the substrate.
  • the proportion of electromagnetic waves reflected by the surface of the dielectric increases, possibly degrading the absorption characteristics.
  • the proportion of electromagnetic waves reflected by the surface of the dielectric increases, possibly degrading the absorption characteristics.
  • the plurality of disk-shaped dielectrics are arranged, gaps are formed between the dielectrics, and electromagnetic waves enter these gaps. Absorption occurs when the electromagnetic waves entering the gap resonate with the dielectric.
  • each dielectric provided in the electromagnetic wave absorber has a disk-like shape. That is, the cross section is circular.
  • the cross section of the dielectric is preferably as close to a perfect circle as possible.
  • a perfect circle has a constant diameter.
  • a perfectly circular dielectric in cross section can be difficult to manufacture. Therefore, the dielectric is not limited to a perfectly circular cross section. In each dielectric, a variation of ⁇ 10% or less in diameter is allowed.
  • the variation in diameter of the dielectric is preferably ⁇ 10% or less.
  • the dielectrics included in the dielectric arrangement group may be arranged regularly or may be arranged irregularly. Furthermore, the number of dielectrics may be two or more.
  • the dielectric gap may be filled with a material such as resin, or may not be filled.
  • the material and manufacturing method of the dielectric in the second aspect are the same as those of the dielectric in the first aspect.
  • the material of the dielectric is not limited as long as it is composed of a high dielectric constant material.
  • the dielectric may also be polycrystalline or monocrystalline.
  • the dielectric may be a dried, molded or sintered body of dielectric material. Furthermore, the dielectric may be produced by a known method.
  • the average thickness Tm of the dielectric in the second aspect in the frequency range of, for example, 30 GHz or more and 1 THz or less, the magnetic loss based on Mie resonance can be effectively reduced. As a result, it is possible to fully exhibit electromagnetic wave absorption characteristics.
  • the average thickness T m may be 30 ⁇ m or more and 250 ⁇ m or less, 50 ⁇ m or more and 200 ⁇ m or less, or 70 ⁇ m or more and 150 ⁇ m or less.
  • the dielectrics constituting the dielectric arrangement group have an average diameter Dm of 100 ⁇ m or more and 10000 ⁇ m or less (0.1 mm or more and 10 mm or less).
  • Dm average diameter of 100 ⁇ m or more and 10000 ⁇ m or less (0.1 mm or more and 10 mm or less).
  • the average diameter Dm may be 200 ⁇ m or more and 5000 ⁇ m or less, 300 ⁇ m or more and 3000 ⁇ m or less, or 500 ⁇ m or more and 2000 ⁇ m or less.
  • the dielectrics constituting the dielectric arrangement group have a ratio of average diameter Dm to average thickness Tm ( Dm / Tm ratio) of 3 or more.
  • Dm / Tm ratio average diameter of average thickness of 3 or more.
  • the dielectric arrangement group has a coefficient of variation CV of the thickness T of the dielectric constituting the group of 20% or less.
  • the coefficient of variation CV is an index of variation. That is, by reducing variations in thickness among the dielectrics constituting the dielectric arrangement group, the resonance frequencies of the dielectrics are uniformed. Therefore, steeper and deeper electromagnetic wave absorption characteristics can be obtained.
  • the coefficient of variation is preferably 15% or less, more preferably 10% or less.
  • the coefficient of variation CV is obtained according to the following equations (11) and (12) using the thickness T i and the average thickness T m of the individual dielectrics constituting the dielectric arrangement group. In the following equations (11) and (12), n is the number of dielectrics constituting the dielectric arrangement group, u 2 is the unbiased dispersion (sample dispersion) of the thickness, and u is the sample standard deviation of the thickness. .
  • the area ratio of the dielectric constituting the dielectric arrangement group is 10% or more and 90% or less.
  • the area ratio of the dielectric means the ratio of the total area of the front surface (or bottom surface) of the dielectric to the total area of the regions in which the dielectric is dispersed on the substrate surface. That is, it is the ratio of the area occupied by the dielectric when the electromagnetic wave absorber is viewed from above.
  • the area ratio is 10% or more, the ratio of the dielectric that causes magnetic resonance (Mie resonance) increases, resulting in better electromagnetic wave absorption characteristics.
  • the area ratio may be 10% or more and 75% or less, or may be 10% or more and 50% or less.
  • the number areal density of the dielectrics constituting the dielectric arrangement group is 3/cm 2 or more.
  • the number density is the ratio of the total number of dielectrics to the total area of the regions in which the dielectrics are dispersed on the substrate surface. That is, it is the number of dielectrics per unit area when the electromagnetic wave absorber is viewed from above.
  • the number areal density is preferably 15/cm 2 or more, more preferably 30/cm 2 or more.
  • the dielectric loss tangent (tan ⁇ ) of the dielectric constituting the dielectric arrangement group is preferably 0.03 or more.
  • the dissipation factor may be 0.06 or greater, 0.09 or greater, or 0.12 or greater.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave radiated by the electromagnetic radiation source, the relative permittivity real part ⁇ r ' of the dielectric provided in the electromagnetic wave absorber, the average diameter D m (unit: ⁇ m), and The thickness T m (unit: ⁇ m) satisfies the following equations (13) to (16).
  • Tm preferably satisfies the relationship of the following equation (17), more preferably satisfies the relationship of the following equation (18), and further preferably satisfies the relationship of the following equation (19).
  • electromagnetic wave absorption can be efficiently performed by making the diameter of the dielectric smaller than the wavelength of the incident electromagnetic wave. Therefore, the electromagnetic wave absorption efficiency is improved under the condition that the average diameter Dm of the plurality of dielectrics provided in the electromagnetic wave absorber satisfies the above formula (15).
  • is the wavelength (unit: ⁇ m) of the electromagnetic wave under vacuum, which is almost the same as the wavelength under the atmosphere.
  • Dm preferably satisfies the relationship of formula (20) below, more preferably satisfies the relationship of formula (21) below, and further preferably satisfies the relationship of formula (22) below.
  • the frequency f of the electromagnetic wave emitted by the electromagnetic wave radiation source is not particularly limited. However, it is preferably 1 GHz or more and 10 THz or less, more preferably 3 GHz or more and 5 THz or less, still more preferably 10 GHz or more and 1 THz or less, particularly preferably 10 GHz or more and 300 GHz or less, and most preferably 30 GHz or more and 100 GHz or less.
  • the frequency f may be 60 GHz or more and 80 GHz or less.
  • the system of the present embodiment can sufficiently absorb leakage (unnecessary) electromagnetic waves in the GHz band by including the electromagnetic wave absorber described above. Specifically, the maximum electromagnetic wave absorption can be provided within the above frequency range, and the absolute value of the return loss at this maximum can be set to 10 dB or more, 15 dB or more, or 20 dB or more.
  • the electromagnetic wave absorber may contain members other than the substrate and the dielectric arrangement group.
  • an impedance matching layer or a surface protective layer may be provided on the surface.
  • a reflecting member may be provided on the back surface.
  • an impedance matching layer a layer in which magnetic powder or dielectric powder is dispersed in resin is exemplified.
  • the surface protective layer a layer made of resin or glass is exemplified. A film-like, foil-like, plate-like, or mesh-like metal member can be used as the reflecting member.
  • Electromagnetic wave absorption method uses an electromagnetic wave absorber. Moreover, this electromagnetic wave absorber is equipped with a disk-shaped dielectric. This disk-shaped dielectric has a relative permittivity real part ⁇ r ' at 100 MHz of 30 or more, and a ratio of diameter D (unit: ⁇ m) to thickness T (unit: ⁇ m) (D/T ratio) of 3 or more. is.
  • the frequency f (unit: Hz) of the electromagnetic wave, the relative permittivity real part ⁇ r ' at 100 MHz of the disk-shaped dielectric and the thickness T (unit: ⁇ m) are obtained by the following equations (1) and (2): (However, c satisfies the speed of light (3.0 ⁇ 10 14 ⁇ m/sec)).
  • electromagnetic waves are leakage electromagnetic waves radiated by electromagnetic radiation sources such as transmission lines, high-frequency circuits, electronic elements, electronic parts, electronic equipment, radars, and/or cables.
  • electromagnetic wave absorber are the same as those of the electromagnetic wave absorber in either the first or second aspect described above.
  • the frequency f of the electromagnetic wave is not particularly limited. However, it is preferably 1 GHz or more and 10 THz or less, more preferably 3 GHz or more and 5 THz or less, still more preferably 10 GHz or more and 1 THz or less, particularly preferably 10 GHz or more and 300 GHz or less, and most preferably 30 GHz or more and 100 GHz or less.
  • the frequency f may be 60 GHz or more and 80 GHz or less.
  • the method of the present embodiment can sufficiently absorb unnecessary electromagnetic waves in the GHz band by using the electromagnetic wave absorber described above. Specifically, the maximum electromagnetic wave absorption can be provided within the above frequency range, and the absolute value of the return loss at this maximum can be set to 10 dB or more, 15 dB or more, or 20 dB or more.
  • a system provided with an electromagnetic wave absorber utilizing magnetic loss based on dielectric Mie resonance, and an electromagnetic wave absorption method using this electromagnetic wave absorber are realized. There are various advantages to this system and absorption method.
  • Conventional electromagnetic wave absorbers attempt to absorb electromagnetic waves by utilizing the dielectric properties of dielectric materials and/or the magnetic properties of magnetic materials. Specifically, electromagnetic wave energy is converted into heat energy by utilizing the dielectric loss of dielectric materials and the magnetic loss of magnetic materials. In addition, by individually controlling the permittivity of the dielectric material and the magnetic permeability of the magnetic material, the characteristic impedance of the material is matched with the characteristic impedance of the external environment, thereby preventing electromagnetic wave reflection on the surface of the absorber.
  • the system and absorption method of the present embodiment utilizes magnetic loss based on dielectric Mie resonance, does not use a ferromagnetic material, and is not bound by Snake's limit. It is possible to maintain high absorption performance.
  • the resonance frequency has little dependence on the incident angle of electromagnetic waves, there is an advantage that electromagnetic waves incident from various directions can be dealt with.
  • the electromagnetic wave absorber used in the system and absorption method of this embodiment comprises a plurality of disk-shaped dielectric bodies.
  • the diameter of the dielectric is made smaller than the wavelength of the incident electromagnetic wave, and the area ratio of the dielectric is limited to 90% or less.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics are further improved. That is, by providing a plurality of dielectrics, gaps are formed between the dielectrics. By reducing the diameter of the dielectric and arranging the dielectric so as to be moderately sparse, the electromagnetic wave penetrates into this gap and Mie resonance of the dielectric is effectively expressed.
  • conventional electromagnetic wave absorbers do not utilize Mie resonance. For this reason, it is common to place an absorbent material over the entire surface to increase the occupancy rate. That is, unlike the present embodiment, the absorbent material is not arranged so as to be moderately sparse.
  • the system of this embodiment which uses magnetic loss based on Mie resonance, and the electromagnetic wave absorption method are based on a completely new concept, and are epoch-making both academically and industrially.
  • Example 1 An electromagnetic wave absorber was produced using a barium titanate (BTO; BaTiO 3 ) sintered body as a dielectric.
  • BTO barium titanate
  • Barium titanate powder with a D50 of 60 nm as a dielectric raw material, neopentyl glycol diolate (NOF Corporation, Unistar HP281R) as a solvent, and a dispersant (Lubrizol, HPA-N107) are shown in Table 1 below. and kneaded using a rotation-revolution mixer. This produced a paste.
  • a metal mask (thickness: 150 ⁇ m) provided with a plurality of circular holes ( ⁇ 1.2 mm) was placed on the alumina plate, and the prepared paste was applied onto the metal mask. After that, the metal mask was removed and a paste pattern with a thickness of 150 ⁇ m was formed on the alumina. Then, the prepared paste pattern was fired under the conditions of 1025° C. for 3 hours to obtain a plurality of barium titanate sintered bodies as dielectrics.
  • Example 2 an electromagnetic wave absorber was produced using a barium titanate (BTO; BaTiO 3 ) sintered body as a dielectric.
  • BTO barium titanate
  • dielectric raw material Three types of barium titanate powder with different particle sizes (D50) were used as the dielectric raw material.
  • the dielectric raw material, solvent and dispersant were weighed so as to obtain the composition shown in Table 1 below. Further, the thickness of the metal mask was changed to 125 ⁇ m to form a paste pattern with a thickness of 125 ⁇ m.
  • An electromagnetic wave absorber was produced in the same manner as in Example 1 except for the above.
  • Example 3 an electromagnetic wave absorber was produced using a barium titanate (BTO; BaTiO 3 ) compact as a dielectric.
  • BTO barium titanate
  • BaTiO 3 barium titanate
  • a metal mask (thickness 125 ⁇ m) provided with a plurality of circular holes ( ⁇ 1.2 mm) was placed on a PET film (12 cm ⁇ 12 cm ⁇ 0.05 mm), and the paste obtained in Example 2 was applied onto the metal mask. After that, the metal mask was removed and a paste pattern with a thickness of 125 ⁇ m was formed on the PET film. The obtained paste pattern was dried under reduced pressure at 200° C. to volatilize and remove part of the solvent. In this way, 2500 barium titanate compacts were produced as dielectrics on PET. After that, an epoxy resin was injected into the gaps of the molded body and cured to produce an electromagnetic wave absorber. In Example 3, unlike Example 1, the dielectric arrangement maintains the regular paste pattern of the metal mask and is not random.
  • Example 4 an electromagnetic wave absorber was produced using a barium strontium titanate (BSTO; Ba 0.8 Sr 0.2 TiO 3 ) sintered body as a dielectric.
  • BSTO barium strontium titanate
  • Barium strontium titanate (Ba 0.8 Sr 0.2 TiO 3 ) powder was used as a dielectric raw material.
  • barium carbonate (BaTiO 3 ), strontium carbonate (SrCO 3 ) and titanium oxide (TiO 2 ) were used to synthesize barium strontium titanate powder by a solid phase reaction method.
  • the dielectric raw material, solvent and dispersant were weighed so as to obtain the composition shown in Table 1 below, and kneaded using a rotation/revolution mixer. This produced a paste.
  • a metal mask (thickness: 100 ⁇ m) provided with a plurality of circular holes ( ⁇ 1.2 mm) was placed on the alumina plate, and the prepared paste was applied onto the metal mask. After that, the metal mask was removed and a paste pattern with a thickness of 100 ⁇ m was formed on the alumina. The prepared paste pattern was fired under conditions of 1200° C. for 3 hours to obtain a plurality of barium strontium titanate sintered bodies as dielectrics.
  • the resulting barium strontium titanate sintered bodies were randomly placed on a polyethylene terephthalate (PET) film, and an epoxy resin was injected into the gaps and cured to produce an electromagnetic wave absorber.
  • PET polyethylene terephthalate
  • the diameter of the paste pattern was taken as the average diameter of the dielectric, Dm . This is because the diameter of the paste pattern and the diameter of the sintered body can be regarded as the same because the shrinkage in the diameter direction after firing is small.
  • ⁇ r ' and ⁇ r '' are the real and imaginary parts of the complex dielectric constant, respectively.
  • the dielectric loss tangent (tan ⁇ ) was obtained according to the following equation (23).
  • ⁇ ar and ⁇ ar are the effective complex relative permittivity and effective relative permeability of the entire electromagnetic wave absorber, respectively, and are distinguished from the complex permittivity ⁇ r and the complex relative permeability ⁇ r of the dielectric.
  • the frequency dispersion of the relative permeability real part ⁇ ar ′ and the imaginary part ⁇ ar ′′ of the electromagnetic wave absorber was determined, and the frequency at which the imaginary part ⁇ ar ′′ had a maximum value was defined as the maximum magnetic loss frequency f max .
  • the loss factor tan ⁇ aM (f max ) was calculated according to the following equation (24).
  • the return loss (rate) RL was obtained from the ratio of the incident wave intensity and the reflected wave intensity. Furthermore, for a sample having a maximum return loss (maximum absorption) within the measurement frequency, the frequency at which the return loss becomes maximum is defined as the absorption frequency fR , and the absolute value of the return loss at fR is the maximum return loss. It was determined as the quantity RLR . Also, the wavelength ⁇ R in the atmosphere and the wavelength ⁇ R ′ in the dielectric of the electromagnetic wave (absorbed electromagnetic wave) at f R were calculated according to the following equations (25) and (26). In equations (25) and (26) below, c is the speed of light, and ⁇ r ′ is the real part of the complex dielectric constant at 100 MHz of the dielectric.
  • Table 2 summarizes the dielectric structures of Examples 1 to 4. 1 to 9 show the frequency characteristics of the dielectric constant, magnetic permeability and transmission attenuation of the electromagnetic wave absorbers of Examples 1 to 4. FIG. Further, Tables 3 and 4 collectively show the magnetic properties and absorption properties of the electromagnetic wave absorber.
  • Example 1 As shown in Table 2, the dielectric (sintered body) of Example 1 had an average thickness of 135 ⁇ m and a standard deviation of 13 ⁇ m. In Example 1, the content of BaTiO 3 in the raw material paste at the time of dielectric fabrication was small. Therefore, thickness shrinkage at the time of firing is large, which is considered to have led to a relatively large standard deviation. Further, as shown in Table 2, the dielectric of Example 1 had a large relative permittivity real part ⁇ r ' of about 500 at 100 MHz. From this, it was found that it shows a large dielectric response to vacuum.
  • the dielectric constant of the electromagnetic wave absorber of Example 1 is shown in FIG. Since the dielectric (sintered body) was dispersed in the resin, the dielectric constant was significantly lower than that of the single dielectric. Moreover, no clear resonance behavior was observed in the dielectric constant.
  • the relative magnetic permeability of the electromagnetic wave absorber of Example 1 is shown in FIG.
  • the real part of the magnetic permeability was approximately 1 on the low frequency side.
  • the dielectric contained in the electromagnetic wave absorber does not contain a magnetic element.
  • the value of the real part of the magnetic permeability on the low-frequency side confirms that no ferromagnetic magnetic ordering based on magnetic elements has occurred.
  • magnetic resonance occurred in the vicinity of 70 GHz, and the imaginary part of the magnetic permeability was maximized.
  • the relative magnetic permeability imaginary part ⁇ ar '' at the frequency (maximum magnetic loss frequency) fmax at which the magnetic permeability imaginary part is maximized was 1.53, and the loss coefficient (tan ⁇ M ) was 1.79, which were very large (Table 3). . Since ferromagnetic magnetic order does not occur, magnetic loss is thought to occur due to the Mie resonance mode, which depends on the permittivity and thickness of the dielectric.
  • FIG. 6 shows the transmission attenuation (absorption characteristics) of the electromagnetic wave absorber of Example 1.
  • the transmission attenuation was maximized in the vicinity of 70 GHz, and the peak value at that time was over -10 dB.
  • Mie resonance occurs by setting the thickness of the dielectric to about half the wavelength of the electromagnetic wave.
  • a resonant mode occurs in the range where the thickness is sufficiently smaller than the wavelength as shown in Table 4.
  • the relative permittivity of most ferroelectrics in the GHz band is between 100 and 10000.
  • the resonance mode described above is suppressed by setting the thickness of the dielectric to about 1/20 to 1/200 of the measurement wavelength. thought to occur. In the vicinity of this resonance mode, it is considered that the electromagnetic wave efficiently penetrates into the sintered body and is absorbed.
  • Example 2 In Example 2, as in Example 1, an electromagnetic wave absorber was produced by dispersing a dielectric (sintered body) of BaTiO 3 in resin. The BaTiO 3 content of the paste was increased by mixing BaTiO 3 with three different particle sizes (D50) during dielectric fabrication. As a result, as shown in Table 2, while the difference between the thickness of the metal mask and the thickness of the sintered body was 15 ⁇ m in Example 1, it was suppressed to 7 ⁇ m in Example 2. In addition, it was confirmed that the coefficient of variation of the thickness was lowered, which is considered to be caused by the decrease in the shrinkage rate.
  • Example 2 Compared with Example 1, the BaTiO 3 density in the sintered body is considered to be improved, and an increase in the dielectric constant of the dielectric (sintered body) as shown in Table 2 was also confirmed. As a result, Example 2 had a stronger wavelength shortening effect than Example 1, and as shown in Table 4, the ratio of ⁇ R ′ to dielectric thickness increased.
  • Example 2 The magnetic permeability of the electromagnetic wave absorber of Example 2 is shown in FIG.
  • Example 2 although the thickness of the dielectric included in the electromagnetic wave absorber was thinner than in Example 1, a resonance peak was observed at a frequency similar to that in Example 1. It is considered that this is because the increase in the frequency of the resonance mode due to the decrease in the thickness of the dielectric almost canceled out the decrease in the frequency of the resonance mode due to the increase in the dielectric constant.
  • FIG. 7 shows the transmission attenuation (absorption characteristics) of the electromagnetic wave absorber of Example 2. As in the case of magnetic permeability, it was confirmed that the frequency at which the maximum absorption occurs is approximately the same as in Example 1.
  • Example 3 In Example 3, a paste was prepared with the same composition as in Example 2, but only drying was performed without firing to prepare a dielectric (molded body), and this molded body was dispersed in a resin to fabricate an electromagnetic wave absorber. did. The average thickness of the dielectric (molded body) was slightly increased compared to Example 2. This is probably because part of the solvent and dispersant remained.
  • the magnetic permeability of the electromagnetic wave absorber of Example 3 is shown in FIG. Although the electromagnetic wave absorber of Example 3 was provided with a dielectric made of a molded body, the same resonant behavior as when provided with a dielectric made of a sintered body (Examples 1 and 2) was observed. However, compared with Example 2, the frequency at which resonance occurred shifted slightly to the high frequency side. It is believed that the remaining portion of the solvent and dispersant lowered the dielectric constant of the entire molded body, weakening the wavelength shortening effect.
  • FIG. 8 shows the transmission attenuation (absorption characteristics) of the electromagnetic wave absorber of Example 3. Corresponding to the magnetic resonance mode, it was confirmed that the same absorption as in the case of using the sintered body (Examples 1 and 2) occurs.
  • Example 3 although the electromagnetic wave absorber is produced by arranging the dielectric (molded body) regularly like the pattern of the metal mask, the same effect as in the case of random arrangement (Examples 1 and 2) is obtained. have been obtained. This is probably because each dielectric has an electromagnetic wave absorbing ability, so that the manner of arrangement with surrounding dielectrics has little effect on the absorbing ability.
  • Example 4 In Example 4, a dielectric (sintered body) was produced with a composition in which part of Ba in BaTiO 3 was replaced with Sr, and this dielectric was dispersed in a resin to produce an electromagnetic wave absorber. A perovskite-type compound having this composition is known to exhibit relaxor-like behavior at room temperature. Therefore, the dielectric (sintered body) had a dielectric constant higher than that of Examples 1 and 2 at 100 MHz.
  • the magnetic permeability of the electromagnetic wave absorber of Example 4 is shown in FIG. Compared to Example 1, although the thickness of the dielectric was thinner, resonant behavior was observed at approximately the same frequency. This is probably because the effect of wavelength shortening and frequency reduction due to an increase in dielectric constant and the effect of frequency increase due to a decrease in dielectric thickness are canceled out with respect to the frequency at which the resonance mode occurs.
  • FIG. 9 shows the transmission attenuation of the electromagnetic wave absorber of Example 4. Absorption thought to be caused by magnetic resonance modes was confirmed.

Landscapes

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Abstract

誘電体のMie共鳴に基づく磁気損失を利用した電磁波吸収体を備えたシステム、及びこの電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法が提供される。このシステムは、電磁波放射源と電磁波吸収体とを備える。前記電磁波吸収体は円板状誘電体を備え、前記円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部εr'が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上である。前記電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、前記円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部εr'及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する。

Description

電磁波吸収体を備えたシステム、及び電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法
 本発明は、電磁波吸収体を備えたシステム、及び電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法に関する。
 メタマテリアルは、そのサイズが対象とする電磁波の波長に比べて小さい人工物質であり、自然界の物質には無い特性を示すことから、近年、注目を浴びている。特に、左手系メタマテリアルと呼ばれる物質は、特定の周波数領域で負の屈折率を示す。そのため、完全レンズや透明マントといった新規な光学用途での応用を目指して、研究開発が盛んにおこなわれている。
 1999年に英国の物理学者J.B.Pendryは、電磁波の波長に比べて小さい周期構造を有するナノメタル構造体を提案し、この構造体の屈折率が負になることを理論的に示した(非特許文献1)。このナノメタル構造体は、微小なスプリットリング共振器(SRR)とメタルワイヤからなるナノユニットを3次元的に配列した構造を備えている。ナノユニットのサイズを小さくすることで、ナノメタル構造体は電磁波に対して均質な媒質として働き、SRRとメタルワイヤの機能に依存する電磁波応答を示す。SRRは電磁波に対してLC共振器として働き、共振周波数の上側で負の透磁率を示す。また導電性メタルワイヤは負の誘電率を示す。SRRとメタルワイヤを組み合わせることで、実効誘電率と実効透磁率の両方が負になり、その結果、誘電率の平方根と透磁率の平方根との積で表される屈折率が負になる。さらにPendryは、負の屈折率を示す左手系メタマテリアルを用いることで、光の回折限界を超えて、いくらでも細かな構造を観察できる完全レンズが実現できることを理論的に示した(非特許文献2)。
 Pendryの発表を受けて、米国の物理学者D.R.Smithらは、SRRとメタルワイヤからなるナノメタル構造体を実際に作製し、この構造物の誘電率と透磁率とがマイクロ波領域で負になることを実証した(非特許文献3)。これらの発表を受けて、メタマテリアルは一気に注目を浴びるようになった。
 一方で、ナノメタル構造体の代わりに誘電体を用いた誘電体メタマテリアルが提案されている。ナノメタル構造物は、導体損が大きく、また製造のために精密微細な加工技術が必要との欠点がある。これに対して、誘電体メタマテリアルは、非共振時の損失が小さく、製造が容易という利点がある。
 例えば、R.Yahiaouiらは、高誘電率TiOセラミックディスクからなる誘電体共振器を2次元的に周期配列した構造を提案している(非特許文献4)。誘電体共振器のサイズを電磁波の波長程度に小さくすると、Mie共鳴が起こる。そのためTE共振とTM共振のいずれの共振モードを利用することが可能になる。誘電体共振器は、TE共振モードにおいて共振周波数の上側で負の実効透磁率を示す。またTM共振モードにおいて共振周波数の上側で負の実効誘電率を示す。この点、TE共振モードが、ナノメタル構造のSRRに相当し、TM共振モードがメタルワイヤに相当すると言うことができる。
J.B.Pendry et al., Magnetism from Conductors, and Enhanced Non-linear Phenomena, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, November 1999, volume 47, Issue 11, page 2075-2084 J.B.Pendry, Negative Refraction Makes a Perfect Lens, PYSICAL REVIEW LETTERS, 30 October, 2000, Volume 85, Number 18, page 3966-3969 R.A.Shelby et al, Experimental Verification of a Negative Index of Refraction, Science, 6 April, 2001, Volume 292, Issue 5514, page 77-79 R.Yahiaoui et al., Towards left-handed metamaterials using single-size dielectric resonators: The case of TiO2-disks at millimeter wavelengths, APPLIED PHYSICS LETTERS, Volume 101, 042909 (2012)
 このように、誘電体メタマテリアルなどのメタマテリアルに関する開発が盛んに行われるものの、その殆どが、負の屈折率を示す物質、即ち左手系メタマテリアルを対象とし、また完全レンズや透明マントといった光学用途での応用を目指している。ナノメタル構造体を、マイクロ波領域におけるアンテナや伝送線路に適用する技術が僅かに知られるものの、誘電体メタマテリアルを光学部品以外の電子デバイスに適用することを目指した技術は知られていない。
 一方で、近年の電子情報通信技術の急速な発展に伴い、電磁波の利用が急速に増えるとともに、使用される電磁波の高周波化及び広帯域化が進んでいる。また電磁波の利用拡大及び高周波化が進むにつれて、電磁ノイズによる電子機器の誤作動や身体への悪影響といった電磁干渉の問題がクローズアップされ、EMC対策への要望が高まっている。
 EMC対策の一手段として、電磁波吸収体(電波吸収体)を用いて不要な電磁波を吸収し、その侵入を防ぐ手法が提案されている。電磁波吸収体は、入射した電磁波のエネルギー(電磁波エネルギー)を吸収体が吸収し、これを熱エネルギーに変換して放射する現象(吸収減衰)を利用する。吸収減衰を効果的に利用するためには、優れた吸収特性を示す吸収体(吸収材料)を用いることが重要である。具体的には、吸収体の伝送減衰量(率)が吸収帯域において高いことが望まれる。
 電磁波吸収には、吸収体を構成する材料の磁気損失、誘電損失、または抵抗損失が利用され、これらの損失を利用する吸収体をそれぞれ磁性電磁波吸収体、誘電性電磁波吸収体、及び抵抗性電磁波吸収体とよぶ。このうち、軟磁性金属粉末やフェライト粉末などの強磁性材料を用いた磁性電磁波吸収体は、優れた吸収特性を示すことから広く利用されている。
 磁性電磁波吸収体は、強磁性体の磁気共鳴に基づき発現する損失を利用している。すなわち強磁性体は、主として磁性元素(Fe、Ni、Co等)に束縛される電子(3d電子)のスピン角運動量に基づく磁気モーメントを有している。また相互作用により各磁気モーメントの向く方向に束縛が生じ、その結果、自発磁化が生じている。磁性体に電磁波を照射すると、低周波領域では磁壁移動により、高周波領域では磁化回転により、磁化の向きが変動する。周波数が高くなると、特定の周波数で磁化変動が電磁波と干渉し合う結果、磁化が共鳴する現象、すなわち磁気共鳴が生じる。磁気共鳴が生じる周波数では、透磁率の虚部(μ’’)がピークをもち、損失が極大となる。磁気共鳴に基づく損失を磁気損失とよぶ。
 しかしながら、従来から提案される磁性電磁波吸収体には改良の余地があった。すなわち磁性電磁波吸収体は、強磁性材料の磁気損失を利用して電磁波を吸収している。一方で、磁性に関してスネーク(Snoek)の限界と呼ばれる理論が知られており、この理論によれば、磁性体の透磁率の上限と共鳴周波数との間に関係がある。そのため、高周波領域で高い透磁率を維持するのは困難であり、それ故、優れた電磁波吸収特性を高周波領域で得る上で限界があった。
 本発明者は、このような実情に鑑みて鋭意検討を行った。その結果、磁性元素を含まない誘電体であっても、その特性及び形状を制御すれば、Mie共鳴モードが発現して磁気共鳴が起こること、この磁気共鳴を利用すれば、誘電体の厚み制御によって電磁波を吸収体内部に侵入させることができ、その結果、電磁波の吸収が起こることを見出した。
 本発明は、このような知見に基づき完成されたものであり、誘電体のMie共鳴に基づく磁気損失を利用した電磁波吸収体を備えたシステム、及びこの電磁波吸収体を用いた電磁波吸収方法の提供を課題とする。
 本発明は、下記(A)~(F)の態様を包含する。なお本明細書において「~」なる表現は、その両端の数値を含む。すなわち「X~Y」は「X以上Y以下」と同義である。
(A)電磁波放射源と電磁波吸収体とを備えたシステムであって、
  前記電磁波吸収体は円板状誘電体を備え、
 前記円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上であり、
 前記電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、前記円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する、システム。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
(B)前記電磁波放射源が、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルである、上記(A)のシステム。
(C)前記周波数fにおける前記電磁波吸収体の反射減衰量の絶対値が10dB以上である、上記(A)又は(B)のシステム。
(D)電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法であって、
 前記電磁波吸収体は円板状誘電体を備え、
 前記円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上であり、
 前記電磁波の周波数f(単位:Hz)と、前記円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する、方法。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
(E)前記電磁波が、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルからの漏洩電磁波である、上記(D)の方法。
(F)前記周波数fにおける前記電磁波吸収体の反射減衰量の絶対値が10dB以上である、上記(D)又は(E)の方法。
 本発明によれば、誘電体のMie共鳴に基づく磁気損失を利用した電磁波吸収体を備えたシステム、及びこの電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法が提供される。
例1で得られた電磁波吸収体の複素比誘電率の周波数分散を示す。 例1で得られた電磁波吸収体の複素比透磁率の周波数分散を示す。 例2で得られた電磁波吸収体の複素比透磁率の周波数分散を示す。 例3で得られた電磁波吸収体の複素比透磁率の周波数分散を示す。 例4で得られた電磁波吸収体の複素比透磁率の周波数分散を示す。 例1で得られた電磁波吸収体の電磁波吸収特性を示す。 例2で得られた電磁波吸収体の電磁波吸収特性を示す。 例3で得られた電磁波吸収体の電磁波吸収特性を示す。 例4で得られた電磁波吸収体の電磁波吸収特性を示す。
1.電磁波吸収体を備えたシステム
 本実施形態のシステムは電磁波放射源と電磁波吸収体とを備える。この電磁波吸収体は円板状誘電体を備える。また、この円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上である。さらに電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 <電磁波放射源>
 本実施形態のシステムは電磁波放射源を備える。ここで電磁波放射源とは、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルなどの漏洩(不要)電磁波放射源となるものである。高周波回路を含む電子素子、電子部品、または電子機器は、動作中の回路からたえず漏洩電磁波が周囲に放射される。また高周波信号を伝送する伝送線やケーブルは、信号の伝送に伴い漏洩電磁波が周囲に放射される。車載用レーダーなどのレーダーの送信機、アンテナ及び受信機は、動作に伴い多量の電磁波を放射する。電磁波吸収体を設けることで、このような漏洩電磁波が吸収され、その結果、他の伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、ケーブル、レーダー、あるいは人体などの周囲環境への電磁波障害を防ぐことができる。なお電磁波吸収体の詳細については後述する。
 本実施形態のシステムは、単数の漏洩(不要)電磁波放射源を備えてもよく、あるいは複数の放射源を含んでもよい。また電磁波吸収体は、漏洩電磁波を吸収して電磁波障害を防ぐことができる限り、その設置態様は限定されない。例えば、一個の漏洩電磁波放射源と、その内部あるいは外面に設けられた電磁波吸収体と、からシステムを構成してもよい。電磁波吸収体を内部に設ける場合には、電子回路の一区画に電磁波吸収体を設けて、他の回路への漏洩を防ぐ態様が考えられる。また電子部品の内部に電磁波吸収体を組み込み、この電子部品内に含まれる素子間の電磁干渉を防ぐ態様としてもよい。電子部品のパッケージに電磁波吸収体を組み込み、他の部品との電磁干渉を防ぐ態様としてもよい。電子機器の筐体に電磁波吸収体を設けて、他の機器または人体への電磁波障害を防ぐ態様としてもよい。ケーブルの外部被膜に電磁波吸収体を組み込み、電磁波漏洩を防ぐ態様としてもよい。電磁波放射源と、この放射源からの漏洩電磁波を防ぐように電磁波吸収体が設けられる限り、本実施形態のシステムはいずれの態様をとることが可能である。
 <電磁波吸収体>
 本実施形態のシステムは電磁波吸収体を備える。この電磁波吸収体は、下記第1の態様及び第2の態様のいずれを満足するものであってよい。このうち第2の態様は第1の態様の一実施形態であり、第1の態様に包含される。各態様における電磁波吸収体を以下に説明する。
 -第1の態様-
 第1の態様における電磁波吸収体は円板状誘電体(以下、「誘電体」と称する場合がある)を備える。この誘電体は、誘電体メタマテリアルとして働き、Mie共鳴として知られる共鳴モードを示す。そのため、磁気共鳴に基づく磁気損失を所定の周波数領域で示し、この周波数領域で電磁波吸収特性を示す。
 まずMie共鳴についての一般論を説明する。誘電体のサイズが入射電磁波の波長と同程度、またはそれよりも小さいとき、ある周波数(第1Mie共鳴周波数)で誘電体内部に電場と磁場の定常状態が生まれ、これにより共鳴現象が発現する。この共鳴現象をMie共鳴と呼ぶ。より詳細に説明するに、電磁波放射源が遠方界にある場合、電磁波は平面波として誘電体に入射する。この際、誘電体と空気との界面で電磁波電界成分の接線成分と垂直成分の両方が境界条件を満足するように電磁波が入射する。その結果、誘電体内ではそれまでの伝搬媒体と異なる電磁界分布が生じる。この中でも磁気的なMie共鳴に対応するモードでは、誘電体内部に渦をまくような電界および変位電流の分布が生じる。
 誘電体内で渦状の変位電流(電界)が生じる結果、誘電体内部には変位電流(電界)と垂直に振動磁界が発生する。この点、誘電体内の渦状の変位電流(電界)分布を磁気双極子と見なすことができる。この振動する磁気双極子は、入射電磁波の磁界成分と相互に作用して、特定の周波数(第1Mie共鳴周波数)で磁気的な共鳴(磁気共鳴)を引き起こす。要するに、入射電磁波の電界成分が誘電体内に磁気双極子を生じさせ、この磁気双極子と電磁波磁界成分が作用し合うことで磁気共鳴が起こる。
 同様にして、電気共鳴も起きる。すなわち、入射電磁波の磁界成分が誘電体内に電気双極子を生じさせ、この電気双極子と電磁波電界成分とが特定の周波数(第2Mie共鳴周波数)で電気的に共鳴(電気共鳴)する。
 本発明者が調べたところ、Mie共鳴に基づく磁気共鳴により磁気損失が生じ、その大きさは電磁波を十分に吸収する程度に大きいことが分かった。すなわち、本発明者は、電磁波中の物質の散乱モデル(Lewinモデル)に基づき、誘電体の実効誘電率(εeff)及び実効透磁率(μeff)を算出し、さらに合計則に基づき、磁気損失(Q)の大きさを見積もった。
 ここで、Lewinモデルは、多数の球状粒子(粒径a、誘電率ε、透磁率ε)がマトリックス(誘電率ε、透磁率μ)中に周期間隔pを保ちながら分散している複合体について、電磁波応答を理論的に考察したモデルである。複合体の実効誘電率(εeff)と実効透磁率(μeff)は下記(3)~(5)式にしたがって求められる。また、磁気損失(Q)は下記(6)式に示す合計則にしたがって求められる。なお下記(3)~(6)式において、vはマトリックス中球状粒子の体積割合、fは周波数、ωは角周波数、cは光速である。またμ’’は実効透磁率μeffの虚部である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014
 上記(3)~(6)式を用いて、シミュレーションにより磁気損失(Q)を求めたところ、球状粒子及びマトリックスが磁性成分(磁性元素)をもたない場合、即ちμ=μ=1の場合であっても、磁気損失(Q)が生じることが分かった。また、この磁気損失(Q)は、球状粒子とマトリックスの誘電率(ε、ε)に大きく依存することが分かった。さらに電磁波の周波数(f)が大きくなるにつれ、磁気損失(Q)は急増することが分かった。
 このように、誘電率の高い誘電体を用いることで、Mie共鳴に基づく大きな磁気損失が高周波領域で生じることが分かった。またこの磁気損失を電磁波吸収の用途に適用できることが期待された。
 次に本実施形態の誘電体について説明する。誘電体は、高誘電率材料から構成される限り、その材質は限定されない。例えば、チタン酸バリウム(BaTiO)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO)、チタン酸カルシウム(CaTiO)、チタン酸ビスマスアルカリ(Bi0.50.5TiO、Bi0.5Na0.5TiO等)、ニオブ酸アルカリ(NaNbO、KNbO等)、鉛系材料(PZT、PMN-PT等)、ビスマス層状化合物(SBT等)などの高誘電率材料を挙げることができる。誘電体は、これらの材料を1種のみ含んでもよく、あるいは複数種の材料を含んでもよい。複数種の材料を含む場合には、混晶の形態で含んでもよく、あるいは固溶体の形態で含んでもよい。誘電体は、チタン酸バリウム(BaTiO)及びチタン酸ビスマスカリウム(Bi0.50.5TiO)の少なくとも一方を含んでもよい。
 また誘電体は、多結晶でよく、あるいは単結晶であってもよい。さらに誘電体は、誘電材料の乾燥体、成形体又は焼結体であってもよい。ここで乾燥体は、誘電材料を乾燥させて有機溶剤などの液体成分を乾燥させたものであり、また成形体は、誘電材料を成形したものである。さらに焼結体は、成形体を焼結したものである。なお乾燥体において一部の溶剤が残存する懸念がある。したがって、溶剤は残存しにくい沸点の低いものが好ましい。また仮に残存したとしても問題が生じにくい誘電率の高いものが好ましい。ただしペースト中での粉の分散も重要であるため、分散性とのバランスを考えて溶剤を選択すればよい。分散剤についても同様である。
 誘電体は、公知の手法で作製すればよい。例えば、セラミック焼結体である誘電体は、誘電体原料を成形及び焼成して作製すればよい。誘電体原料は、固相反応法、錯体重合法、共沈法、水熱合成法、ゾルゲル法、及び気相法などの公知の手法で合成すればよい。また誘電体原料以外に、成形助剤や焼結助剤などの添加剤を加えてもよい。単結晶である誘電体は、水溶液法、水熱合成法、フラックス法、ベルヌーイ法、チョクラルスキー法、ブリッジマン法、浮遊帯溶融法、スカイメルト法、昇華再結晶法、化学輸送法、及び化学気相成長法などの公知の手法で作製すればよい。
 誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上である。高誘電率誘電体を用いることで、この誘電体を備える電磁波吸収体に高い電磁波吸収性能を付与することが可能になる。すなわち、誘電体の誘電率が高いほど、屈折率増大に基づく電磁波の波長短縮効果が大きくなり、より小さい吸収体でMie共鳴が実現する。誘電体の誘電率は高いほど好ましい。ε’は100以上が好ましく、300以上がより好ましい。ε’の上限は特に限定されない、しかしながら、典型的には2000以下、より典型的には1000以下である。なお測定周波数を100MHzに設定した理由は、GHz超の周波数域では測定手法上の問題があり、高誘電率材料の誘電率を精度よく測定することが困難であるからである。
 誘電体は、厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上である。本発明者が検討を重ねた結果、扁平形状の誘電体の方が、より薄い吸収体を実現できることが分かった。すなわちD/T比(アスペクト比)を高くすることで、厚みが同じ場合に比べて、より低周波でMie共鳴が生じる。換言するに、Mie共鳴周波数が同じであれば、より薄型の吸収体を実現できる。D/T比は5以上が好ましく、10以上がさらに好ましい。
 本実施形態の電磁波吸収体が備える各誘電体は円板状の形状を有している。すなわち断面が円形である。誘電体の断面は、できるだけ完全な円形に近いほど好ましい。完全な円では径が一定である。しかしながら断面が完全な円形の誘電体は、その製造が困難な場合がある。したがって誘電体は断面が完全な円形であるものに限定されない。各誘電体において、径のバラツキが±10%以下であれば許容される。
 本実施形態のシステムにおいて、電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000015
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000016
 この点について説明するに、Mie共鳴時の物質はFabry-Perot共振と類似の挙動を示すことが知られている。またFabry-Perot共振において、物質の厚さd’は、共振時の波長λ’及び共振周波数fと下記(7)式に示す関係を満足することが知られている。なお下記(7)式において、cは光速であり、ε’は物質の比誘電率実部である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000017
 Fabry-Perot共振の結果から推論するに、Mie共鳴においても、誘電体の厚さdが上記(7)式の関係を満足する条件、すなわち誘電体の厚さTが共振波長の半波長分(λ’/2)に近い条件で磁気損失が大きくなると期待される。
 したがって電磁波吸収体に備えられる誘電体の平均厚さTが上記(2)式を満足する条件で、Mie共鳴に基づく磁気損失が引き起こされ、それにより電磁波が効率的に吸収される。なお上記(2)式において、λ’は誘電体内での電磁波の波長(単位:μm)である。誘電体内での波長は、真空中の電磁波の波長(c/f)に比べて誘電率の平方根に逆比例するように短縮される。また上記(2)式においてTの上限を広くとっているのは、誘電率実部ε’が100MHzで測定した値であるからである。高周波側では誘電率が低下するため、その低下分を見込んでTの上限を幅広くとっている。ただし、温度における吸収周波数の変化を抑える観点では、誘電率の周波数に対する変化は小さいほうが好ましい。つまり上記(7)式に近い関係が保たれていることが好ましい。したがってTは下記(8)式の関係を満足することが好ましく、下記(9)式の関係を満足することがより好ましく、下記(10)式の関係を満足することがさらに好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000018
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000019
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000020
 本実施形態の電磁波吸収体は、誘電体メタマテリアルとして働く上記誘電体配置群を備えることで、特定波長の電磁波に対してMie共鳴モードに基づく磁気損失を示す。具体的には、電磁波吸収体は、特定の周波数(fmax;磁気損失最大周波数)で実効的な比透磁率虚部(μ’’ar)及び損失係数(tanδaM)の極大値をもつ。複素比透磁率虚部(μ’’ar)の極大値は0.50以上、1.00以上、または1.50以上であってよい。また損失係数(tanδaM)の極大値は0.50以上、1.00以上、1.50以上、または2.00以上であってよい。
 電磁波放射源が放射する電磁波の周波数fは、特に限定されない。しかしながら1GHz以上10THz以下が好ましく、3GHz以上5THz以下がより好ましく、10GHz以上1THz以下がさらに好ましく、10GHz以上300GHz以下が特に好ましく、30GHz以上100GHz以下が最も好ましい。周波数fは60GHz以上80GHz以下であってもよい。本実施形態のシステムは、上述した電磁波吸収体を備えることで、GHz帯域における漏洩(不要)電磁波を十分に吸収することができる。具体的には、上記周波数範囲内に電磁波吸収の極大をもたせ、この極大時の反射減衰量の絶対値を10dB以上、15dB以上、または20dB以上にすることができる。
 -第2の態様-
 第2の態様における電磁波吸収体は基体と誘電体配置群を備える。この誘電体配置群は複数個の円板状誘電体から構成される。また、この誘電体配置群を構成する各誘電体は、前面及び底面を有し、且つ底面が基体の一表面と対向するように配置される。さらにこの誘電体配置群を構成する誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、平均直径Dが100μm以上10000μm以下(0.1mm以上10mm以下)、且つ平均厚さTが20μm以上300μm以下(0.02mm以上0.3mm以下)である。またこの誘電体は、平均厚さTに対する平均直径Dの比(D/T比)が3以上であり、厚さTの変動係数CVが20%以下である。
 第2の態様における電磁波吸収体は、基体を備える。基体は、誘電体を保持する機能を有しており、この機能を有する限り、その材質は限定されない。例えば、樹脂、金属、セラミックスなどが例示される。また、その形状も限定されず、例えば、板、シート、及び箔が例示さる。シート状樹脂基体や箔状金属基体を用いることで、電磁波吸収体に可撓性を付与することが可能になる。また金属基体を用いることで、基体に電磁波反射層としての機能を付与できる。
 第2の態様における電磁波吸収体は、基体の他に、複数個の円板状誘電体から構成される誘電体配置群を備える。この誘電体配置群を構成する各誘電体は、前面及び底面を有し、且つその底面が基体の一表面と対向するように配置されている。すなわち円板状誘電体は、その底面が基体表面に略平行になるように基体上に分散配置されている。円板状誘電体を分散配置させることで、電磁波を効率よく吸収することが可能になる。すなわち、電磁波は、その一部が誘電体の表面で反射される。そのため、入射する電磁波の全てが誘電体中に侵入して減衰する訳ではない。例えば、基体上に誘電体を一様に形成すると、誘電体表面で反射する電磁波の割合が多くなり、吸収特性が低下する恐れがある。これに対して、複数の円板状誘電体を配置すると誘電体間に間隙ができ、この間隙に電磁波が侵入する。間隙に侵入した電磁波が誘電体と共鳴することで吸収が生じる。
 第2の態様において、電磁波吸収体が備える各誘電体は円板状の形状を有している。すなわち断面が円形である。誘電体の断面は、できるだけ完全な円形に近いほど好ましい。完全な円では径が一定である。しかしながら断面が完全な円形の誘電体は、その製造が困難な場合がある。したがって誘電体は断面が完全な円形であるものに限定されない。各誘電体において、径のバラツキが±10%以下であれば許容される。
 第2の態様において、誘電体配置群に含まれる誘電体間のサイズ(径)のバラツキが小さいほど好ましい。誘電体サイズ(径)にバラツキが生じると、それぞれの誘電体がもつ共鳴周波数が揃わないため、急峻で深い電磁波吸収特性を得ることが困難になる恐れがある。誘電体の径の大きさのバラツキは±10%以下が好ましい。
 誘電体配置群に含まれる誘電体を規則的に配置してもよく、あるいは不規則に配置してもよい。さらに誘電体の個数も、2個以上であればよい。誘電体の間隙を樹脂などの材料で充填した態様としてもよく、あるいは充填しない態様としてもよい。このように誘電体を配置することで、吸収体表面から入射した電磁波が効率的に誘電体内に侵入し、そこで吸収される。
 第2の態様における誘電体の材質や製造方法は、第1の態様における誘電体と同様である。すなわち、誘電体は、高誘電率材料から構成される限り、その材質は限定されない。
また誘電体は、多結晶であってよく、あるいは単結晶であってもよい。誘電体は、誘電材料の乾燥体、成形体又は焼結体であってもよい。さらに誘電体は、公知の手法で作製すればよい。
 Fabry-Perot共振の結果から推論するに、第2の態様における誘電体の平均厚さTを限定することで、例えば30GHz以上1THz以下の周波数域において、Mie共鳴に基づく磁気損失を効果的に利用することができ、その結果、電磁波吸収特性を十分に発揮させることが可能になる。平均厚さTは30μm以上250μm以下であってよく、50μm以上200μm以下であってよく、70μm以上150μm以下であってもよい。
 第2の態様において、誘電体配置群を構成する誘電体は、平均直径Dが100μm以上10000μm以下(0.1mm以上10mm以下)である。本発明者が調べたところ、第2の態様における円板状誘電体の径を入射電磁波の波長より小さくすることで、電磁波の吸収効率を最大にできることが分かった。すなわち先述したように、複数の円板状誘電体を配置することで、誘電体間に間隙ができる。この間隙に電磁波が侵入することで電磁波吸収が効率的に行われる。入射する電磁波の波長より誘電体の径を小さくすることで、誘電体間の間隙への電磁波の侵入が促進され、その結果、誘電体の共鳴現象がより顕著に起こる。平均直径Dは200μm以上5000μm以下であってよく、300μm以上3000μm以下であってよく、500μm以上2000μm以下であってもよい。
 第2の態様において、誘電体配置群を構成する誘電体は、平均厚さTに対する平均直径Dの比(D/T比)が3以上である。D/T比(アスペクト比)を高くすることで、厚みが同じ場合に比べて、より低周波でMie共鳴が生じる。つまり、より薄型の吸収体が実現される。D/T比は5以上が好ましく、10以上がさらに好ましい。
 第2の態様において、誘電体配置群は、これを構成する誘電体の厚さTの変動係数CVが20%以下である。ここで変動係数CVはバラツキの指標となるものである。すなわち誘電体配置群を構成する誘電体間での厚さのバラツキを小さくすることで、それぞれの誘電体がもつ共鳴周波数が揃う。そのため、より急峻で深い電磁波吸収特性を得ることができる。変動係数は15%以下が好ましく、10%以下がさらに好ましい。なお変動係数CVは、誘電体配置群を構成する個々の誘電体の厚さTと平均厚さTとを用いて、下記(11)式及び(12)式にしたがって求められる。なお下記(11)式及び(12)式において、nは誘電体配置群を構成する誘電体の個数、uは厚さの不偏分散(標本分散)、uは厚さの標本標準偏差である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000021
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000022
 第2の態様において、好ましくは、誘電体配置群を構成する誘電体の面積割合は10%以上90%以下である。ここで誘電体の面積割合とは、基体表面のうち誘電体が分散配置されている領域の総面積に対する、誘電体前面(または底面)の合計面積の割合のことである。すなわち電磁波吸収体を上方から見たときに誘電体が占める面積の割合のことである。面積割合を10%以上にすると、磁気共鳴(Mie共鳴)を起す誘電体の割合が大きくなる結果、電磁波吸収特性がより優れたものになる。また面積割合を90%以下にすることで、誘電体間に十分な間隙を設けることができるため、この間隙に侵入した電磁波が引き起こす磁気共鳴現象を十分に利用することができる。そのため電磁波吸収特性が優れたものになる。面積割合は10%以上75%以下であってよく、10%以上50%以下であってもよい。
 第2の態様において、好ましくは、誘電体配置群を構成する誘電体の個数面密度は3個/cm以上である。ここで個数密度とは、基体表面のうち誘電体が分散配置されている領域の総面積に対する、誘電体の総個数の比である。すなわち電磁波吸収体を上方から見たときに単位面積当たりの誘電体の個数のことである。個数面密度を高めることで、磁気共鳴(Mie共鳴)を起す誘電体の割合が高くなり、その結果、電磁波吸収特性がより優れたものになる。個数面密度は15個/cm以上が好ましく、30個/cm以上がより好ましい。
 第2の態様において、好ましくは、誘電体配置群を構成する誘電体の誘電正接(tanδ)は0.03以上である。誘電正接の高い誘電体を用いることで、Mie共鳴時の磁気損失が大きくなるとともに誘電損失も電磁波吸収に利用することができる。そのため、電磁波吸収特性がより一層優れたものになると期待される。誘電正接は0.06以上、0.09以上、または0.12以上であってもよい。
 第2の態様において、電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、電磁波吸収体が備える誘電体の比誘電率実部ε’、平均直径D(単位:μm)及び厚さT(単位:μm)と、は、下記(13)~(16)式を満足する。なお下記(13)及び(14)式において、cは光速(3.0×1014μm/秒=3.0×10m/秒)である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000023
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000024
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000025
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000026
 この点について説明するに、第2の態様において、第1の態様の場合と同様に誘電体の厚さ(T)が共振波長の半波長(λ’/2)に近似しているときに磁気損失が生じる。したがって電磁波吸収体に備えられる複数の誘電体の平均厚さTが上記(16)式を満足する条件で、Mie共鳴に基づく磁気損失が引き起こされ、それにより電磁波が効率的に吸収される。なお上記(16)式において、λ’は誘電体内での電磁波の波長(単位:μm)である。誘電体内での波長は、真空中の電磁波の波長(c/f)に比べて誘電率の平方根に逆比例するように短縮される。また上記(16)式においてTの上限を広くとっているのは、誘電率実部ε’が100MHzで測定した値であるからである。高周波側では誘電率が低下するため、その低下分を見込んでTの上限を幅広くとっている。ただし、温度における吸収周波数の変化を抑える観点では、誘電率の周波数に対する変化は小さいほうが好ましい。つまり上記(7)式に近い関係が保たれていることが好ましい。したがってTは下記(17)式の関係を満足することが好ましく、下記(18)式の関係を満足することがより好ましく、下記(19)式の関係を満足することがさらに好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000027
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000028
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000029
 第2の態様において、上述したように、入射する電磁波の波長より誘電体の径を小さくすることで、電磁波吸収を効率的に行える。したがって電磁波吸収体に備えられる複数の誘電体の平均直径Dが上記(15)式を満足する条件で電磁波の吸収効率が改善される。なお上記(15)式において、λは真空下での電磁波の波長(単位:μm)であり、これは大気下での波長と殆ど同じである。Dは下記(20)式の関係を満足することが好ましく、下記(21)式の関係を満足することがより好ましく、下記(22)式の関係を満足することがさらに好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000030
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000031
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000032
 第2の態様において、電磁波放射源が放射する電磁波の周波数fは、特に限定されない。しかしながら1GHz以上10THz以下が好ましく、3GHz以上5THz以下がより好ましく、10GHz以上1THz以下がさらに好ましく、10GHz以上300GHz以下が特に好ましく、30GHz以上100GHz以下が最も好ましい。周波数fは60GHz以上80GHz以下であってもよい。本実施形態のシステムは、上述した電磁波吸収体を備えることで、GHz帯域における漏洩(不要)電磁波を十分に吸収することができる。具体的には、上記周波数範囲内に電磁波吸収の極大をもたせ、この極大時の反射減衰量の絶対値を10dB以上、15dB以上、または20dB以上にすることができる。
 第1の態様及び第2の態様のいずれであっても、電磁波吸収体は基体と誘電体配置群以外の他の部材を含んでもよい。例えば表面にインピーダンス整合層や表面保護層を設けてもよい。また裏面に反射部材を設けてもよい。インピーダンス整合層として、磁性粉や誘電体粉末を樹脂中に分散させた層が例示される。表面保護層として、樹脂やガラスからなる層が例示される。反射部材として、膜状、箔状、板状、または網状の金属部材が挙げられる。
2.電磁波吸収方法
 本実施形態の電磁波の吸収方法は、電磁波吸収体を用いる。また、この電磁波吸収体は円板状誘電体を備える。この円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上である。さらに電磁波の周波数f(単位:Hz)と、円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000033
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000034
 本実施形態の電磁波の吸収方法の詳細は、本実施形態のシステムについて説明したとおりである。すなわち電磁波は、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルなどの電磁波放射源が放射する漏洩電磁波である。また電磁波吸収体の詳細は、上述した第1及び第2態様のいずれかにおける電磁波吸収体と同様である。
 電磁波の周波数fは、特に限定されない。しかしながら1GHz以上10THz以下が好ましく、3GHz以上5THz以下がより好ましく、10GHz以上1THz以下がさらに好ましく、10GHz以上300GHz以下が特に好ましく、30GHz以上100GHz以下が最も好ましい。周波数fは60GHz以上80GHz以下であってもよい。本実施形態の方法は、上述した電磁波吸収体を用いることで、GHz帯域における不要電磁波を十分に吸収することができる。具体的には、上記周波数範囲内に電磁波吸収の極大をもたせ、この極大時の反射減衰量の絶対値を10dB以上、15dB以上、または20dB以上にすることができる。
 このような本実施形態によれば、誘電体のMie共鳴に基づく磁気損失を利用した電磁波吸収体を備えたシステム、及びこの電磁波吸収体を用いた電磁波吸収方法が実現される。このシステム及び吸収方法には様々な利点がある。
 従来の電磁波吸収体では、誘電材料の誘電特性、及び/又は磁性材料の磁気特性を利用して電磁波吸収を図っている。具体的には、誘電材料の誘電損失や磁性材料の磁気損失を利用して電磁波エネルギーを熱エネルギーに変換している。また誘電材料の誘電率と磁性材料の透磁率を個別に制御することで、材料の特性インピーダンスを外部環境の特性インピーダンスと整合させ、それにより吸収体表面での電磁波反射を防いでいる。
 しかしながら、スネーク(Snoek)の限界によれば、磁性材料の高い磁気特性を高周波まで維持することは困難である。そのため従来の材料では、特にGHz以上の高周波域で高い吸収特性を得る上で限界があった。また電磁波吸収体の背面に金属板を設置して、吸収体表面での反射波と吸収体表面での反射波を干渉させることで電磁波を減衰させる手法も知られているが、この手法では、吸収周波数が電磁波の入射角に強く依存するという問題があった。
 これに対して、本実施形態のシステムや吸収方法は、誘電体のMie共鳴に基づく磁気損失を利用している、強磁性体を用いていないためスネークの限界の縛りを受けず、高周波域まで高い吸収性能を維持することが可能である。また共振周波数の電磁波入射角依存性が小さいため、様々な方向から入射する電磁波に対処できるという利点がある。
 その上、本実施形態のシステムや吸収方法で用いられる電磁波吸収体は、複数個の円板状誘電体を備えている。また限定されるものではないが、入射する電磁波の波長より誘電体の直径を小さくするとともに、誘電体の面積割合を90%以下に限定している。そして、これらにより電磁波吸収特性がより一層優れたものになる。すなわち複数個の誘電体を設けることで誘電体間に間隙ができる。そして誘電体の直径を小さくするとともに、適度に疎となるように誘電体を配置することで、電磁波がこの間隙に侵入して、誘電体のMie共鳴が効果的に発現されるようになる。これに対して、従来の電磁波吸収体は、Mie共鳴を利用していない。そのため、通常は占有率を上げるため吸収物質を一面に配置する。つまり本実施形態とは異なり、吸収物質は適度に疎になるように配置されていない。
 Mie共鳴に基づく磁気損失を利用する本実施形態のシステム、及び電磁波吸収方法は、従来は全くなかったコンセプトに基づくものであり、学術的にも産業的にも画期的なものである。
(1)電磁波吸収体の作製
 [例1]
 例1では、チタン酸バリウム(BTO;BaTiO)焼結体を誘電体として用いて電磁波吸収体を作製した。
 誘電体原料としてD50が60nmのチタン酸バリウム粉末、溶剤としてネオペンチルグルコールジオレート(日油株式会社、ユニスターHP281R)、及び分散剤(Lubrizol社、HPA-N107)を下記表1に示す配合組成が得られるように秤量し、自公転ミキサーを用いて混錬した。これによりペーストを作製した。
 次いで、複数個の円形の穴(φ1.2mm)を設けたメタルマスク(厚み150μm)をアルミナ板上に置き、作製したペーストをメタルマスク上に塗布した。その後、メタルマスクを外して、アルミナ上に厚さ150μmのペーストパターンを形成した。そして、作製したペーストパターンを1025℃×3時間の条件で焼成して、複数個のチタン酸バリウム焼結体を誘電体として得た。
 得られたチタン酸バリウム焼結体5200個をポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(12cm×12cm×0.05mm)上にランダムに配置し、その間隙にエポキシ樹脂を注入及び硬化させて、電磁波吸収体を作製した。得られた電磁波吸収体の特性を下記表3に示す。
 [例2]
 例2では、チタン酸バリウム(BTO;BaTiO)焼結体を誘電体として用いて電磁波吸収体を作製した。
 誘電体原料として、粒径(D50)の異なる3種類のチタン酸バリウム粉末を用いた。また誘電体原料、溶剤及び分散剤の秤量を、下記表1に示す配合組成が得られるように行った。さらにメタルマスクの厚みを125μmに変えて、厚さ125μmのペーストパターンを形成した。それ以外は例1と同様にして電磁波吸収体を作製した。
 [例3]
 例3では、チタン酸バリウム(BTO;BaTiO)成形体を誘電体として用いて電磁波吸収体を作製した。
 複数個の円形の穴(φ1.2mm)を設けたメタルマスク(厚み125μm)をPETフィルム(12cm×12cm×0.05mm)上に置き、例2で得られたペーストをメタルマス上に塗布した。その後、メタルマスクを外して、PETフィルム上に厚さ125μmのペーストパターンを形成した。得られたペーストパターンを200℃で減圧乾燥して溶剤の一部を揮発除去させた。このようにしてPET上にチタン酸バリウム成形体2500個を誘電体として作製した。その後、成形体の間隙にエポキシ樹脂を注入及び硬化させて電磁波吸収体を作製した。例3では、例1と異なり、誘電体の配置はメタルマスクの規則的なペーストパターンを維持しており、ランダム配置にはなっていない。
 [例4]
 例4では、チタン酸バリウムストロンチウム(BSTO;Ba0.8Sr0.2TiO)焼結体を誘電体として用いて電磁波吸収体を作製した。
 誘電体原料としてチタン酸バリウムストロンチウム(Ba0.8Sr0.2TiO)粉末を用いた。まず炭酸バリウム(BaTiO)、炭酸ストロンチウム(SrCO)及び酸化チタン(TiO)を用いて固相反応法でチタン酸バリウムストロンチウム粉末を合成した。次いで、誘電体原料、溶剤及び分散剤を下記表1に示す配合組成が得られるように秤量し、自公転ミキサーを用いて混錬した。これによりペーストを作製した。
 次いで、複数個の円形の穴(φ1.2mm)を設けたメタルマスク(厚み100μm)をアルミナ板上に置き、作製したペーストをメタルマスク上に塗布した。その後、メタルマスクを外して、アルミナ上に厚さ100μmのペーストパターンを形成した。そして、作製したペーストパターンを1200℃×3時間の条件で焼成して、複数個のチタン酸バリウムストロンチウム焼結体を誘電体として得た。
 得られたチタン酸バリウムストロンチウム焼結体をポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム上にランダムに配置し、その間隙にエポキシ樹脂を注入及び硬化させて、電磁波吸収体を作製した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000035
(2)評価
 例1~例4について、各種特性の評価を以下のとおり行った。
 <誘電体の寸法>
 例1~例4のそれぞれについて、ペーストパターンの直径を誘電体の平均直径Dと見なした。焼成後の直径方向の収縮は小さいため、ペーストパターンの直径と焼結体の直径を同一視できるからである。厚みについては、得られた複数個の誘電体(焼結体、成形体)から無作為に20個の誘電体を選び、各誘電体の中心部における厚みT(i=1,2・・・20)をレーザー顕微鏡で測定し、その平均値Tを求めた。そして、上記(11)式及び(12)に従って、厚さの変動係数CVを求めた。
 <誘電体の誘電特性>
 例1~例4で得られた誘電体について、100MHzにおける誘電特性を測定した。具体的には以下の手順で測定を行った。まず誘電体の両面に銀ペーストを塗布して電極を形成してサンプルを作製した。次いで、電圧電流法でサンプルのインピーダンスを求め、得られたインピーダンスを解析してキャパシタ成分及び抵抗成分を求めた。そしてサンプル厚み及び電極面積を用いて、キャパシタ成分及び抵抗成分から複素比誘電率(ε=ε’-jε’’)を算出した。ここで、ε’とε’’は、それぞれ複素比誘電率の実部と虚部である。また複素比誘電率の実部ε’と虚部ε’’を用いて、誘電正接(tanδ)下記(23)式にしたがって求めた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000036
 <電磁波吸収体の特性>
 例1~例4で得られた電磁波吸収体について、60~80GHzにおける複素比誘電率、複素比透磁率、及び電磁波吸収特性の測定を、以下の手順で行った。すなわち、自由空間法により、ベクトルネットワークアナライザ(アンリツ株式会社、ME7838A)を用いてサンプルの反射特性及び透過特性を測定し、得られた反射特性と透過特性から複素比誘電率(εa=εa’-jεa’’)と複素比透磁率(μa=μa’-jμa’’)を算出した。ここでεarとμarのそれぞれは電磁波吸収体全体の実効複素比誘電率と実効比透磁率であり、誘電体の複素誘電率ε及び複素比透磁率μとは区別される。
 そして電磁波吸収体の比透磁率実部μar’と虚部μar’’の周波数分散を求め、虚部μar’’が極大値をもつ周波数を磁気損失最大周波数fmaxとした。そしてfmaxにおける比透磁率実部μar’(fmax)と虚部μar’’(fmax)を用いて、損失係数tanδaM(fmax)を下記(24)式にしたがって算出した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000037
 またサンプルの背後に厚さ1mmの金属板を設置し、電磁波の透過成分を十分に低減させた状態で反射特性を求めた。そして入射波強度と反射波強度の比から反射減衰量(率)RLを求めた。さらに反射減衰量の極大(吸収量の極大)が測定周波数内に存在するサンプルについて、反射減衰量が極大となる周波数を吸収周波数fとし、fにおける反射減衰量の絶対値を最大反射減衰量RLとして求めた。またfにおける電磁波(吸収電磁波)の大気中での波長λ、及び誘電体中での波長λ’を、下記(25)式及び(26)式にしたがって算出した。なお、下記(25)及び(26)式において、cは光速、ε’は誘電体の100MHzにおける複素比誘電率実部である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000038
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000039
(3)評価結果
 例1~例4について誘電体の構成を表2にまとめて示す。また例1~4の電磁波吸収体の誘電率、透磁率及び伝送減衰量の周波数特性を図1~図9に示す。さらに電磁波吸収体の磁気特性及び吸収特性を表3及び表4にまとめて示す。
 [例1]
 表2に示されるように、例1の誘電体(焼結体)は、平均厚みが135μmであり、標準偏差が13μmであった。例1では、誘電体作製時の原料ペースト中のBaTiO含有率が小さかった。そのため焼成時の厚み収縮が大きく、これが比較的大きい標準偏差につながったと考えられる。また表2に示されるように、例1の誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が500程度と大きかった。このことから真空に対して大きな誘電応答を示すことが分かった。
 例1の電磁波吸収体の比誘電率を図1に示す。誘電体(焼結体)を樹脂中に分散させて作製したたため、誘電体単体の場合と比べて誘電率が大きく低下していた。また誘電率に明確な共鳴挙動が見られなかった。
 例1の電磁波吸収体の比透磁率を図2に示す。低周波側での透磁率実部はほぼ1であった。電磁波吸収体に含まれる誘電体は磁性元素を含んでいない。低周波側での透磁率実部の値は、磁性元素に基づく強磁性的な磁気秩序が生じていないことを裏付けている。一方で、強磁性的な磁気秩序が生じていないにもかかわらず、70GHz近傍で磁気的な共鳴が生じて、透磁率虚部が極大となっていた。透磁率虚部が最大となる周波数(磁気損失最大周波数)fmaxにおける比透磁率虚部μar’’は1.53、損失係数(tanδ)は1.79と非常に大きかった(表3)。強磁性的な磁気秩序が生じていないことから、誘電体の誘電率と厚みに依存するMie共鳴モードに起因する磁気損失が生じと考えられる。
 例1の電磁波吸収体の伝送減衰量(吸収特性)を図6に示す。70GHz近傍で伝送減衰量が極大となり、そのときのピーク値は-10dB超であった。誘電体の厚みを電磁波波長の1/2長程度にすることでMie共鳴が生じる。しかしながら強誘電体内ではその誘電率に起因した波長短縮が起こるため、表4に示すように厚みが波長と比べて十分小さい範囲で共鳴モードが生じることとなる。大半の強誘電体のGHz帯における比誘電率は100~10000の間にあるが、この場合、誘電体の厚みを測定波長の1/20~1/200程度にすることで上述した共鳴モードが生じると考えられる。本共鳴モード近傍では電磁波が焼結体内に効率よく侵入し吸収されると考えられる。
 [例2]
 例2では、例1と同様にBaTiOからなる誘電体(焼結体)を樹脂中に分散させて電磁波吸収体を作製した。誘電体作製時に3種類の異なる粒径(D50)をもつBaTiOを混合することでペーストのBaTiO含有率を高めた。その結果、表2に示すように、メタルマスク厚みと焼結体厚みの差が例1では15μmであるのに対し、例2では7μmと抑制されていた。また、収縮率低下に起因すると考えられる厚みの変動係数の低下も確認できた。加えて例1と比べて焼結体中のBaTiO密度も向上していると考えられ、表2に示すような誘電体(焼結体)の誘電率増加も確認した。その結果、例2は例1と比べて波長短縮効果が強まり、表4に示すようにλ’と誘電体厚みの比が増大していた。
 例2の電磁波吸収体の透磁率を図3に示す。例2では電磁波吸収体が備える誘電体の厚みが例1より薄いにも関わらず、例1と同程度の周波数で共鳴ピークが観察された。これは、誘電体の厚み低下による共鳴モードの高周波化が、誘電率の増加に依る共鳴モードの低周波化とほぼ打ち消しあったためと考えられる。
 例2の電磁波吸収体の伝送減衰量(吸収特性)を図7に示す。透磁率の場合と同様に、吸収が極大となる周波数が例1とほぼ同じであることを確認した。
 [例3]
 例3では、例2と同じ配合組成でペーストを作製したものの、焼成は行わず乾燥のみ行って誘電体(成形体)を作製し、この成形体を樹脂中に分散して電磁波吸収体を作製した。誘電体(成形体)の平均厚みが例2と比べてわずかに増加していた。これは溶媒及び分散剤の一部が残留したためと考えられる。
 例3の電磁波吸収体の透磁率を図4に示す。例3の電磁波吸収体は成形体からなる誘電体を備えているが、焼結体からなる誘電体を備えた場合(例1及び例2)と同様の共鳴的挙動が見られた。しかしながら共鳴が起こる周波数が例2と比較して若干高周波側に移行していた。溶剤及び分散剤の一部が残留することで成形体全体の誘電率が低下し、波長短縮効果が弱まったためと考えられる。
 例3の電磁波吸収体の伝送減衰量(吸収特性)を図8に示す。磁気的な共鳴モードに対応して、焼結体を用いた場合(例1及び例2)と同様の吸収が起こることを確認した。また例3では、誘電体(成形体)をメタルマスクのパターンと同じく規則的に配置して電磁波吸収体を作製しているものの、ランダム配置した場合(例1及び例2)と類似の効果が得られている。個々の誘電体が電磁波吸収能をもつため、周囲の誘電体との配置態様が吸収能に与える影響が少ないためと考えられる。
 [例4]
 例4では、BaTiOのBaの一部をSrに置換した組成について誘電体(焼結体)を作製し、この誘電体を樹脂中に分散させて電磁波吸収体を作製した。この組成を有するペロブスカイト型化合物は室温においてリラクサー的な挙動を示すことが知られている。そのため誘電体(焼結体)は100MHzにおける誘電率が例1及び例2より高かった。
 例4の電磁波吸収体の透磁率を図5に示す。例1と比較すると誘電体の厚みが薄くなっているにも関わらず、ほぼ同じ周波数で共鳴的な挙動が見られた。これは、共鳴モードが生じる周波数に関して、誘電率増加による波長短縮及び周波数低減の効果と、誘電体厚み減少による周波数増加の効果が打ち消しあったためと考えられる。
 例4の電磁波吸収体の伝送減衰量を図9に示す。磁気的な共鳴モードに起因すると考えらえる吸収が確認された。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000040
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000041
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000042

 

Claims (6)

  1.  電磁波放射源と電磁波吸収体とを備えたシステムであって、
      前記電磁波吸収体は円板状誘電体を備え、
     前記円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上であり、
     前記電磁波放射源が放射する電磁波の周波数f(単位:Hz)と、前記円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する、システム。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
  2.  前記電磁波放射源が、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルである、請求項1に記載のシステム。
  3.  前記周波数fにおける前記電磁波吸収体の反射減衰量の絶対値が10dB以上である、請求項1又は2に記載のシステム。
  4.  電磁波吸収体を用いた電磁波の吸収方法であって、
     前記電磁波吸収体は円板状誘電体を備え、
     前記円板状誘電体は、100MHzにおける比誘電率実部ε’が30以上、且つ厚さT(単位:μm)に対する直径D(単位:μm)の比(D/T比)が3以上であり、
     前記電磁波の周波数f(単位:Hz)と、前記円板状誘電体の100MHzにおける比誘電率実部ε’及び厚さT(単位:μm)と、が、下記(1)及び(2)式(ただし、cは光速(3.0×1014μm/秒))を満足する、方法。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
  5.  前記電磁波が、伝送線路、高周波回路、電子素子、電子部品、電子機器、レーダー、及び/又はケーブルからの漏洩電磁波である、請求項4に記載の方法。
  6.  前記周波数fにおける前記電磁波吸収体の反射減衰量の絶対値が10dB以上である、請求項4又は5に記載の方法。

     
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JP2004153135A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Nichias Corp 電磁波吸収体
JP2011014723A (ja) * 2009-07-02 2011-01-20 Yupo Corp 電磁波遮蔽体
JP2013201359A (ja) * 2012-03-26 2013-10-03 Nitto Denko Corp 電磁波吸収体及び電磁波吸収体の製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004153135A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Nichias Corp 電磁波吸収体
JP2011014723A (ja) * 2009-07-02 2011-01-20 Yupo Corp 電磁波遮蔽体
JP2013201359A (ja) * 2012-03-26 2013-10-03 Nitto Denko Corp 電磁波吸収体及び電磁波吸収体の製造方法

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