WO2021260871A1 - 赤外線画像処理装置および赤外線画像処理方法 - Google Patents

赤外線画像処理装置および赤外線画像処理方法 Download PDF

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WO2021260871A1
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correction coefficient
thermal image
pixel
thermal
image processing
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俊樹 藤野
康平 栗原
孝一 山下
大祐 鈴木
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三菱電機株式会社
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    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10048Infrared image

Definitions

  • the present disclosure relates to an infrared image processing apparatus and an infrared image processing method for performing noise reduction processing of thermal images.
  • the infrared image processing device that receives infrared rays and generates a thermal image is equipped with a plurality of infrared detection elements for receiving infrared rays.
  • the infrared detection elements are arranged in a matrix so as to correspond to the generated image.
  • separate drive lines are connected for each row or column in which the elements are lined up, and power is supplied from each drive line. If the characteristics of these drive lines vary, the relationship between the input value to the infrared detection element and the output value from the infrared detection element changes for each row or column. This change may cause streaky noise extending in the row or column direction in the thermal image generated by the infrared image processor.
  • the image pickup apparatus of Patent Document 1 proposes to reduce the noise by the following method.
  • the image pickup apparatus of Patent Document 1 captures images in a light-shielded state at regular intervals, and measures output signals at the time of light-shielding and at the time of exposure.
  • the image pickup apparatus of Patent Document 1 reduces noise by generating a correction signal corresponding to a noise offset component and a light amount-dependent component from the measured value and the ideal value.
  • the present disclosure has been made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to calculate a correction coefficient for correcting streak noise from a plurality of images, and the calculated correction coefficient is used with high accuracy. It is an object of the present invention to provide an infrared image processing apparatus capable of reducing streak noise.
  • the infrared image processing apparatus includes a thermal image sensor that receives infrared rays and outputs a signal corresponding to the infrared rays, a thermal image generation unit that generates a plurality of thermal images based on the signals, and a plurality of images.
  • Thermal image For each pixel of each image smoothing processing is performed using the pixel values of the surrounding pixels, and a plurality of smoothed images are calculated to calculate the smoothed pixel value, which is the smoothed pixel value.
  • the infrared image processing apparatus calculates the correction coefficient based on the difference in the pixel values of the pixels included in a plurality of images.
  • the calculated correction coefficient can accurately reduce streak noise.
  • FIG. 1 It is a block diagram which shows the structure of the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a graph which shows the relationship between the input value and the output value of the thermal image sensor which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a conceptual diagram for demonstrating the smoothing process of the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a conceptual diagram for demonstrating the thermal image and the target pixel value sequence in the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a conceptual diagram for demonstrating the method of calculating the correction coefficient in the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a flowchart up to showing the process of outputting the smoothed image of the infrared image processing apparatus 1 which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a flowchart up to showing the process of outputting the correction coefficient of the infrared image processing apparatus 1 which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a flowchart until the corrected thermal image of the infrared image processing apparatus 1 which concerns on Embodiment 1 is output.
  • It is a block diagram which shows the structure of the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 2.
  • FIG. 1 It is a schematic diagram of the thermal image sensor and the sensor moving part of the infrared image processing apparatus which concerns on Embodiment 2, and is a schematic diagram of a thermal image. It is a figure which shows an example of the hardware configuration of the respiratory information estimation apparatus which concerns on Embodiment 2. FIG. It is a figure which shows another example of the hardware composition of the respiratory information estimation apparatus which concerns on Embodiment 2. FIG.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an infrared image processing apparatus according to the first embodiment.
  • the infrared image processing device 1 includes a thermal image sensor 2 and a thermal image processing device 3.
  • the thermal image processing device 3 includes a thermal image generation unit 31, a smoothing processing unit 32, a correction coefficient calculation unit 33, and a thermal image correction unit 34.
  • the thermal image sensor 2 sends a voltage signal VI to the thermal image generation unit 31.
  • the thermal image generation unit 31 sends the thermal image TI to the smoothing processing unit 32, the correction coefficient calculation unit 33, and the thermal image correction unit 34.
  • the smoothing processing unit 32 sends the smoothed image FI to the correction coefficient calculation unit 33.
  • the correction coefficient calculation unit 33 sends the correction coefficient c and the correction coefficient d to the thermal image correction unit 34 via a memory or the like.
  • the thermal image correction unit 34 sends the corrected thermal image TO to the output destination as the output of the thermal image processing device 3 and the infrared image processing device 1.
  • the thermal image sensor 2 is installed in an electric product installed in the room, and images the room at regular intervals when the electric product is in operation. Next, the thermal image sensor 2 receives infrared rays (electromagnetic waves of about 8 ⁇ m to 12 ⁇ m) radiated from an object existing in the room and outputs a voltage signal VI corresponding to the intensity of the infrared rays.
  • the thermal image sensor 2 is composed of a plurality of infrared detection elements that detect infrared rays radiated from an object and output a voltage signal VI corresponding to the intensity of the infrared rays.
  • the infrared detection element is, for example, a pyroelectric element.
  • the plurality of infrared detection elements are arranged in a matrix, and one drive line is connected to the elements arranged in the row direction to supply electric power.
  • the thermal image sensor 2 transmits the voltage signal VI output by the infrared detection element to the thermal image processing device 3.
  • the thermal image sensor 2 transmits a voltage signal VI corresponding to infrared rays to the thermal image processing device 3 in the order associated with the arrangement of the infrared detection elements.
  • the thermal image TI is generated by the thermal image processing device 3 based on the voltage signal VI of the thermal image sensor 2, and is an image obtained by capturing a plurality of regions having different temperatures in the room in an exposed state.
  • the thermal image TI includes a plurality of pixels having different pixel values from the first frame to the second frame at a specific pixel position. For example, the first frame and the second frame are adjacent frames.
  • the frame number is, for example, a number for expressing the image of frame number 1 as the image of frame number 10 when there are 10 images.
  • the pixel value is a value obtained by converting the voltage value of the voltage signal VI into a digital value. Specifically, the pixel value is obtained by the following method.
  • the thermal image processing device 3 stores the voltage value of the voltage signal VI in a memory or the like (not shown in FIG. 1).
  • the thermal image processing device 3 reads out the voltage value and the order information, and converts the voltage value into a pixel value associated in advance.
  • the thermal image processing device 3 arranges the pixel values using the order information.
  • the thermal image processing device 3 generates a single thermal image from the arranged pixel values and stores it in a memory or the like (not shown).
  • FIG. 2 is a graph showing the relationship between the input value and the output value of the thermal image sensor according to the first embodiment.
  • the infrared detection element described here is affected by, for example, manufacturing errors and usage environment. Therefore, each infrared detection element has a different relationship between the input value (infrared intensity) to the infrared detection element and the output value (pixel value of the thermal image) from the infrared detection element.
  • the coefficient a and the coefficient b of the linear function are different for each infrared detection element.
  • the infrared detection element E can be represented by a linear function using the coefficients a1 and the coefficient b1.
  • the infrared detection element F can be represented by a linear function using the coefficient a2 and the coefficient b2.
  • the infrared detection element G can be represented by a linear function using the coefficients a3 and the coefficient b3.
  • the output value Y3 of the infrared detection element G is larger than the output value Y1 of the infrared detection element E.
  • the infrared detection elements lined up in the row direction are connected to the same drive line and receive power. Therefore, the coefficient a indicating the sensitivity of the infrared detection elements arranged in the row direction is affected by the characteristics of the drive line. Infrared detection elements arranged in the row direction have higher sensitivity than other infrared detection elements if the inclination is larger than that of other infrared detection elements. Further, the coefficient b, which is an intercept component, also changes for each infrared detection element in the same manner as the coefficient a. From the above, the output values of the infrared detection elements arranged in the row direction fluctuate.
  • streaky noise (hereinafter referred to as streak noise) extending in the row direction from one end to the other end of the thermal image is generated in the thermal image.
  • the coefficient a indicating the sensitivity of the infrared detection elements arranged in the row direction or the coefficient b which is an intercept component changes due to a change over time in the characteristics of the drive line. Therefore, the intensity of the streak noise also changes with time.
  • the thermal image processing device 3 receives the voltage signal VI from the thermal image sensor 2. That is, in the thermal image processing device 3, the thermal image generation unit 31 closest to the input unit receives the voltage signal VI from the thermal image sensor 2. The thermal image generation unit 31 converts the voltage signal VI of the thermal image sensor 2 into pixel values. Next, the thermal image generation unit 31 generates a thermal image TI including a plurality of pixels having different pixel values in the direction in which streak noise is generated from the converted pixel values. Then, the thermal image generation unit 31 sends the generated thermal image TI to the smoothing processing unit 32, the correction coefficient calculation unit 33, and the thermal image correction unit 34.
  • the smoothing processing unit 32 performs smoothing processing on the thermal image TI for each target pixel value using adjacent pixel values.
  • the smoothing processing unit 32 generates a smoothed image FI that has undergone smoothing processing, and sends it to the correction coefficient calculation unit 33.
  • the target pixel described above is a pixel at a pixel position that serves as a reference when performing smoothing processing, correction coefficient calculation processing, or correction processing.
  • the target pixel is included in a pixel array which is a set of pixels arranged in a direction in which streak noise is generated in the thermal image TI generated by the thermal image generation unit 31.
  • the above-mentioned adjacent pixels are included in a pixel array adjacent to a direction intersecting a direction in which streak noise is generated.
  • the adjacent pixel is adjacent to the target pixel.
  • the smoothed pixel value is an average value of the target pixel value and the adjacent pixel value.
  • FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining the smoothing process of the infrared image processing apparatus 1 according to the first embodiment.
  • FIG. 3A shows a thermal image of L rows and N columns.
  • FIG. 3 (b) shows a smoothing thermal image of L rows and N columns.
  • the row having the target pixel value is defined as the L1 row.
  • the smoothing processing unit 32 obtains the average value of the target pixel value PX1 and the corresponding adjacent pixel value PX2 and the adjacent pixel value PX3. This average value is obtained from the leftmost target pixel value and the leftmost adjacent pixel value in the pixel column of the L1 row.
  • the next average value is obtained by similarly processing the target pixel value and the adjacent pixel value from the second left to the left of the pixel column in the L1 row.
  • the average value is obtained, for example, in the range of the frame H in FIG. 3 (a).
  • a smoothing thermal image composed of smoothing pixel values in which streak noise is reduced in the L1 row can be obtained.
  • the correction coefficient calculation unit 33 calculates the correction coefficient c and the correction coefficient d.
  • the correction coefficient c may be rephrased as the first correction coefficient, the correction coefficient d as the second correction coefficient, and the first correction coefficient and the second correction coefficient as the correction coefficient group.
  • the pixel value z is the corrected pixel value, and the pixel value m is the pixel value of the thermal image.
  • the correction coefficient calculation unit 33 stores the calculated correction coefficient c and the correction coefficient d in a memory or the like (not shown).
  • the thermal image correction unit 34 corrects the image TI generated by the thermal image generation unit 31 using the correction coefficient c and the correction coefficient d read from the memory.
  • FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining a thermal image and a target pixel value sequence in the infrared image processing apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a conceptual diagram for explaining a smoothed thermal image and a target pixel value sequence thereof in the infrared image processing apparatus according to the first embodiment. For example, a case where a coordinate value is set from the target pixel value and the smoothed pixel value in the L row and Nth column will be described.
  • the correction coefficient calculation unit 33 reads out the target pixel value column from the pixel in the L row and Nth column of the first frame of the thermal image to the pixel in the L row and Nth column of the second frame.
  • the target pixel value sequence (R1, R2, and so on) in the thermal image as shown in FIG. 4B. R3, ..., Rn) are set.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram for explaining a method of calculating a correction coefficient in the infrared image processing apparatus according to the first embodiment.
  • the correction coefficient calculation unit 33 calculates the correction coefficient c and the correction coefficient d.
  • the correction coefficient c and the correction coefficient d are different for each pixel position.
  • the plurality of coordinate values are plotted at different positions. As described above, since the plurality of thermal images include a plurality of pixels having different pixel values in the direction (row direction) in which the streak noise is generated, the positions of the plots are deviated.
  • the correction coefficient calculation unit 33 calculates the correction coefficient c and the correction coefficient d based on this difference in position, that is, the difference in pixel value.
  • the correction coefficient calculation unit 33 uses, for example, the least squares method for calculating the correction coefficient c and the correction coefficient d.
  • the correction coefficient calculation unit 33 stores the correction coefficients c and d in a memory or the like (not shown).
  • the thermal image correction unit 34 acquires the pixel value z in the thermal image TI generated by the thermal image generation unit 31.
  • the pixel value z is a pixel value for a pixel sequence from the target pixel of the first frame to the target pixel of the second frame.
  • the thermal image correction unit 34 substitutes the pixel sequence from the target pixel of the first frame to the target pixel of the second frame into a correction formula using the stored correction coefficient c and correction coefficient d.
  • the thermal image correction unit 34 outputs the thermal image TO, which outputs the pixel value z for the image TI, to the output destination.
  • FIG. 7 is a flowchart up to showing a process of outputting a smoothed image FI of the infrared image processing apparatus 1 according to the first embodiment.
  • the operation of the thermal image sensor 2 in the infrared image processing apparatus 1 and the smoothing processing unit 32 of the thermal image processing apparatus 3 will be described with reference to the flowchart of FIG.
  • the infrared image processing device 1 generates a thermal image TI, performs smoothing processing on the thermal image TI for each target pixel value using adjacent pixel values, and outputs a smoothed image FI.
  • step S001 the thermal image generation unit 31 generates a thermal image TI from the voltage signal VI of the thermal image sensor 2.
  • step S002 the smoothing processing unit 32 determines the pixel values of the pixel columns of the Lth row, the L-1st row, and the L + 1st row in the plurality of thermal images generated by the thermal image generation unit 31. get.
  • L is a natural number.
  • the L-1th row in the thermal image does not exist. Therefore, for example, the pixel sequence similar to the Lth row or the L + 1st row is treated as existing in the L-1th row in the thermal image. That is, the pixel sequence of the Lth row or the L + 1st row read separately is treated as the pixel row of the L-1th row in the thermal image. Similarly, since the pixel string in the L + 1 row does not exist in the lowermost row of the thermal image, the pixel string in the Lth row or the L-1th row read separately is treated as the pixel string in the L + 1 row in the thermal image. Further, here, the pixel value included in the Lth row is the target pixel value, and the pixel values included in the L-1st row and the L + 1th row are adjacent pixel values.
  • step S003 the smoothing processing unit 32 smoothes each target pixel value in the Lth row with the adjacent pixel values that are the pixels in the L-1st row and the L + 1st row adjacent to each target pixel. do. Then, the smoothing processing unit 32 acquires the smoothing pixel value of each pixel in the Lth row.
  • step S004 the smoothing processing unit 32 replaces L with L + 1.
  • step S005 the smoothing processing unit 32 determines whether or not the pixel string exists in the L row replaced with L + 1 in the previous step. When the pixel sequence exists (YES in step S005), the processes of steps S002 to S004 are repeated. If the pixel sequence does not exist (NO in step S005), the process proceeds to the next step.
  • FIG. 8 is a flowchart up to showing the process of outputting the correction coefficient c and the correction coefficient d of the infrared image processing apparatus 1 according to the first embodiment.
  • the operation of the correction coefficient calculation unit 33 of the thermal image processing device 3 in the infrared image processing device 1 will be described with reference to the flowchart of FIG.
  • the pixel value z is the corrected pixel value, and the pixel value m is the pixel value of the thermal image.
  • the correction coefficient calculation unit 33 calculates the correction coefficient c and the correction coefficient d.
  • Step S006 is a step following step S005.
  • the correction coefficient calculation unit 33 acquires the pixel values in the L rows and N columns and the smoothed pixel values in the L rows and N columns, and a plurality of coordinate values in the corresponding target pixel strings and the smoothed pixel strings.
  • the pixel value in the L row and N column is a pixel value for each pixel column from the pixel in the L row and Nth column of the first frame to the pixel in the L row and Nth column of the second frame.
  • the smoothed pixel value in the L row and N column is the smoothed pixel value for each pixel column from the pixel in the L row and Nth column of the first frame to the pixel in the L row and Nth column in the second frame.
  • L and N are natural numbers.
  • the plurality of coordinate values are plotted at different positions.
  • the correction coefficient calculation unit 33 calculates the correction coefficients c and d based on this difference in position, that is, the difference in pixel value.
  • step S008 the correction coefficient calculation unit 33 performs a process of replacing L with L + 1.
  • step S009 the correction coefficient calculation unit 33 determines whether or not the pixel string exists in the L row replaced with L + 1 in the previous step. When the pixel column exists in the Lth row (YES in step S009), the processes of steps S006 to S009 are repeated. When the pixel string does not exist in the Lth row (NO in step S009), it means that the pixel string of the pixel in the Nth column has been corrected, and the process proceeds to the next step S010.
  • step S010 the correction coefficient calculation unit 33 performs a process of replacing N with N + 1.
  • step S011 the correction coefficient calculation unit 33 determines whether or not the pixel string exists in the Nth column replaced with N + 1 in the previous step. When the pixel row exists in the Nth row (YES in step S011), the processing of step S006 to step S011 is repeated.
  • step S011 When the pixel column does not exist in the Nth column (NO in step S011), it means that the calculation of the correction coefficients c and d is completed in all the rows of the thermal image, and the process proceeds to the next step.
  • FIG. 9 is a flowchart up to the output of the corrected thermal image TO of the infrared image processing apparatus 1 according to the first embodiment. The operation until the thermal image correction unit 34 in the infrared image processing apparatus 1 outputs the corrected thermal image TO will be described with reference to the flowchart of FIG.
  • Step S012 is a step following step S011.
  • the thermal image correction unit 34 acquires the pixel values of the pixels in the P row and Q column.
  • the pixel value of the pixel in the P row and Q column is each pixel of the pixel column from the pixel in the P row and Q column of the first frame to the pixel in the P row and Q column of the second frame in the thermal image.
  • the value. P and Q are natural numbers.
  • step S013 the thermal image correction unit 34 corrects the pixel values of the pixels in the P row and Q column using the corresponding correction formula.
  • the pixel values of the pixels in the P row and Q column are the pixel values of the pixels in the P row and Q column of the first frame to the pixel columns in the P row and Q column of the second frame.
  • step S014 the thermal image correction unit 34 performs a process of replacing P with P + 1.
  • step S015 the correction coefficient calculation unit 33 determines whether or not the pixel string exists in the P row replaced with P + 1 in the previous step. When the pixel column exists in the P row (YES in step S015), the processes of steps S012 to S014 are repeated. When the pixel string does not exist in the P row (NO in step S015), it means that the pixel string of the pixel in the Q column has been corrected, and the process proceeds to the next step.
  • step S016 the thermal image correction unit 34 performs a process of replacing Q with Q + 1.
  • step S017 determines whether or not the pixel string exists in the Q column replaced with Q + 1 in the previous step. When the pixel string exists in the Q column (YES in step S017), the processes of steps S012 to S016 are repeated. When the pixel string does not exist in the Qth column (NO in step S017), it means that the pixel string of the pixel in the Qth column has been corrected, and the process proceeds to the next step.
  • the thermal image correction unit 34 reconstructs the image using the corrected pixel value, and generates the corrected image. Specifically, the thermal image correction unit 34 rearranges the pixel rows from the corrected pixel values and pixel position information of each pixel row according to the pixel position information, and generates a plurality of thermal images.
  • step S019 the thermal image correction unit 34 outputs the corrected thermal image TO to the output destination.
  • the infrared image processing apparatus 1 is configured as described above, and has the following effects.
  • the infrared image processing apparatus 1 obtains a correction coefficient c and a correction coefficient d, and corrects the thermal image TI using them.
  • the infrared image processing apparatus 1 cannot sufficiently reduce the streak noise.
  • any input value can be used. Only correction that adds the difference value can be done.
  • the infrared image processing device 1 uses the smoothed pixel value obtained from the thermal image, the correction coefficient can be calculated using the thermal image during operation in which the temperature condition is not constant. Therefore, it is possible to update the correction coefficient while processing the infrared image processing device 1.
  • the infrared image processing device 1 sets coordinate values using the target pixel value of the thermal image and the smoothed pixel value of the smoothed thermal image, and calculates the correction coefficient by linearly approximating the coordinate values. .. Therefore, the correction coefficient can be calculated only by setting the coordinate value and performing the processing of one straight line approximation, and the correction coefficient can be updated efficiently.
  • the edge portion of the heat source body is located on the line for calculating the correction coefficient, the edge portion will be smoothed and the accuracy of the smoothed pixel value of the smoothed thermal image will decrease.
  • the thermal image processing apparatus 3 cannot obtain an appropriate thermal image.
  • the ratio of the smoothed pixel value of the edge portion to the entire pixel is reduced by approximating the plurality of coordinate values with a straight line. Therefore, the infrared image processing device 1 can suppress a decrease in correction accuracy due to the edge portion.
  • the target pixel value of the thermal image and the smoothed pixel value of the smoothed thermal image are input with data such as generation and correction of thermal images in the order of input to the thermal image sensor 2. It was decided to process in the order.
  • the order is the order of processing from the pixel at one end of the first row of the first column to the pixel to the other end, and then processing from the pixel at one end of the second row of the first column to the pixel to the other end.
  • the direction from the pixel at one end to the pixel at the other end is the row direction of the thermal image.
  • the thermal image processing apparatus 3 may sort the target pixel values of the thermal image and arrange them in descending order or ascending order in a straight line approximation.
  • a sorting unit for sorting the pixel values of a plurality of thermal images in descending order or ascending order in the frame direction is provided.
  • the thermal image processing apparatus 3 may perform a process of sorting the smoothed pixel values of the smoothed thermal image and arranging them in descending order or ascending order by linear approximation and correction.
  • a sorting unit is provided for sorting the pixel values of a plurality of smoothed thermal images in the descending order or the ascending order in the frame direction.
  • the thermal image processing apparatus 3 may set the sorting direction from the pixel at one end to the pixel at the other end.
  • the thermal image processing apparatus 3 sets the sorting direction to the frame direction, that is, the pixels in the first column and the first row, the pixels in the first column and the first row of the next frame, and the first row in the first column of the next frame. It may be in the direction of the pixel of.
  • the thermal image processing device 3 when the sorting direction is the direction from the pixel at one end to the pixel from the other end, the pixel located at the end of the pixel array in which the sorted pixels are arranged. The value may be removed. Specifically, in the thermal image processing apparatus 3, it is determined whether or not the first threshold value is exceeded in order from the largest value of the sorted pixel strings. Next, the thermal image processing device 3 deletes the pixel value exceeding the threshold value from the pixel sequence. Then, the thermal image processing apparatus 3 determines whether or not the second threshold value is in order from the smallest value of the sorted pixel sequence. Then, the thermal image processing device 3 deletes the pixel value below the second threshold value from the pixel sequence.
  • the first threshold value is larger than the second threshold value.
  • a pixel value below the designated first threshold value and a pixel value above the designated second threshold value are used.
  • a pixel value below the designated first threshold value or a pixel value above the designated second threshold value may be used.
  • the number of pixel values to be removed may be predetermined without using a threshold value, and the corresponding number of pixel values may be removed from the largest value in the pixel string and from the smallest value in the pixel string.
  • removing the pixel value located at the end of the pixel array in which the sorted pixels are arranged means that the large value and the small value in the pixel array are not used. For example, if there are light bulbs, gas stoves, people, etc. in the room, their contours will appear as edges in the thermal image. When the thermal image is smoothed, the edge portion is smoothed, so that the accuracy of the smoothed pixel value is lowered. The same applies to windows cooled by the outside air. By removing the edge portion in the thermal image, it is possible to suppress a decrease in the accuracy of the smoothed pixel value.
  • removing the pixel value located at the end of the pixel array in which the sorted pixels are arranged is not limited to this, for example, as long as it is a method of detecting the maximum pixel value and the minimum pixel value in the image.
  • the direction in which streak noise is generated is the row direction of the thermal image, but it may be the column direction or the diagonal direction. It was mentioned that the fact that the drive line is connected to the infrared detection element arranged in the row direction is the cause of the streak noise in the row direction, but when the drive line is connected in the column direction or the diagonal direction, the column Streaky noise is generated in the direction or diagonal direction.
  • streak noise is generated due to the difference in the characteristics of the drive line, but the cause of the streak noise is not limited to this.
  • infrared detection elements arranged in a row direction or the like are connected by the same output line (a line that transmits a voltage signal)
  • streak noise may occur due to variations in the characteristics of the output lines.
  • the characteristics of the A / D converter, amplifier, etc. connected to this output line vary.
  • noise reduction processing may be performed in addition to the processing of reducing streak noise. When this processing is performed line by line, the degree of noise reduction processing differs for each line, and streaky noise may occur.
  • the infrared image processing apparatus described above can similarly reduce these streaky noises.
  • FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the infrared image processing apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 11 is a schematic view of a thermal image sensor and a sensor moving portion of the infrared image processing apparatus according to the second embodiment, and a schematic diagram of a thermal image.
  • the same parts as the configuration and operation described in the first embodiment will be omitted, and the parts different from the first embodiment will be described below.
  • the thermal image sensor 2 in which the infrared detection elements are arranged in a matrix is used.
  • a thermal image sensor 502 in which a plurality of infrared detection elements are arranged in a row in the vertical direction is used.
  • the infrared image processing device generates a single thermal image by moving the thermal image sensor 502 in the lateral direction and synthesizing the voltage signal VI which is the output of the infrared detection element. By repeating this operation, the infrared image processing apparatus 501 generates a plurality of images.
  • the infrared image processing apparatus 501 of the second embodiment has a different configuration of the thermal image sensor 502 from the thermal image sensor 2 of the first embodiment, and as shown in FIG. 10, the infrared image of the first embodiment.
  • a sensor moving unit 504 is added to the configuration of the processing device 1.
  • the thermal image sensor 502 has a plurality of infrared detection elements arranged in a row in the vertical direction.
  • the sensor moving unit 504 moves the thermal image sensor 502 laterally so as to change the position of the thermal image sensor 502. That is, the sensor moving unit 504 moves the thermal image sensor 502 in the direction intersecting the direction in which the thermal image sensors 502 are lined up.
  • the sensor moving unit 504 is a motor.
  • the rotational operation of the motor is transmitted to the thermal image sensor 502.
  • the connection between the thermal image sensor 502 and the sensor moving unit 504 is shown by a dotted line connecting the two.
  • the sensor moving unit 504 includes a rotary encoder. The sensor moving unit 504 transmits a signal indicating the moving amount of the thermal image sensor 502, which is the rotation amount of the motor, to the thermal image processing device 503 (more specifically, the thermal image generation unit 531).
  • the thermal image generation unit 531 in the infrared image processing device 501 of the second embodiment is from the thermal image sensor 502, the voltage signal VI corresponding to the infrared rays received with the rotational movement of the thermal image sensor 502, and the sensor moving unit 504. Receives a signal indicating the amount of movement of.
  • the thermal image generation unit 531 rearranges the voltage signal VI to generate a single thermal image.
  • the thermal image sensor 502 rotates so as to draw an arc concentrically with the rotation axis, and transmits a voltage signal VI corresponding to the received infrared rays.
  • the thermal image sensor 502 and the sensor moving unit 504 are connected by a dotted line, but they are actually connected by a structure.
  • the thermal image sensor 502 combines a thermal image I1 generated from a voltage signal VI at a certain position in rotational movement and a thermal image I1 at a plurality of positions into a single sheet. Obtain a thermal image I2.
  • the infrared image processing device 501 is an infrared detection element in a matrix of several rows (three rows in FIG. 11 (c)) in an arc shape as the sensor moving unit 504 rotates. May be placed.
  • the infrared image processing device 1 receives a voltage signal VI corresponding to the infrared rays received with the rotational movement of the thermal image sensor 502b and a signal indicating the amount of movement from the sensor moving unit 504 to obtain a single thermal image. To generate.
  • the infrared image processing apparatus 501 according to the second embodiment of the present disclosure is configured as described above, and has the following effects.
  • the infrared image processing apparatus 501 of the second embodiment can capture a thermal image even with a small number of infrared detection elements. By reducing the number of infrared detection elements, it can be realized with a device of a small scale with respect to the configuration of the infrared image processing device 501 according to the first embodiment.
  • the infrared image processing apparatus 501 of the second embodiment can calculate the correction coefficient as in the first embodiment, it is possible to perform the process of reducing the streak noise. In addition, it has the same effect as that of the first embodiment.
  • the coefficient and the correction coefficient were calculated by using a linear function as a linear expression or a correction expression, but a polynomial function such as a cubic function may be used.
  • a polynomial function such as a cubic function
  • the pixel value can be approximated with high accuracy.
  • the correction coefficient is two or more.
  • the infrared image processing apparatus 501 may use an infrared detection element such as a thermopile type to which a thermocouple that causes the Seebeck effect is connected, or a bolometer type that utilizes a change in resistance value due to temperature information.
  • the infrared image processing device 501 may be of any type as long as it can detect infrared rays.
  • the thermal image generation unit 31 included in the thermal image processing device 3 receives the voltage signal VI of the thermal image sensor and generates a thermal image.
  • the thermal image generation unit 531 included in the thermal image processing device 503 receives the voltage signal VI of the thermal image sensor and generates a thermal image.
  • the thermal image generation unit 31 may be provided in the thermal image sensor 2
  • the thermal image generation unit 531 may be provided in the thermal image sensor 502.
  • the infrared image processing device 1 and the infrared image processing device 501 described above a process of obtaining an average value of a target pixel value and an adjacent pixel value was performed as a smoothing process.
  • the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 may obtain the average value by individually weighting the target pixel value and the adjacent pixel value for obtaining the average value.
  • the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 may obtain an average value only by the adjacent pixel value without using the target pixel value.
  • the infrared image processing device 1 and the infrared image processing device 501 performed smoothing processing using three pixel values including a target pixel value and two adjacent pixel values.
  • the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 may perform smoothing processing with five pixel values using two pixel values further adjacent to the adjacent pixel values.
  • the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 may perform smoothing processing with five or more pixel values using adjacent pixel values.
  • the above-mentioned infrared image processing device 1 and infrared image processing device 501 are assumed to be installed in an electric product in a room. However, by installing the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 on an electric product, the thermal image can be used for controlling the electric product. Further, the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501 can use a thermal image to confirm the temperature condition in the room where the electric product is installed. Further, in the infrared image processing device 1 or the infrared image processing device 501, the infrared image processing device may be used not only as an electric product but also as a security or surveillance camera installed indoors or outdoors.
  • FIG. 12 is a diagram showing an example of the hardware configuration of the thermal image processing device 503 (thermal image processing device 3).
  • FIG. 13 is a diagram showing another example of the hardware configuration of the thermal image processing device 3.
  • the thermal image processing device 503 is composed of, for example, at least one processor 101a and a memory 101b.
  • the processor 101a is, for example, a Central Processing Unit (CPU) that executes a program stored in the memory 101b.
  • the function of the thermal image processing apparatus 503 is realized by software, firmware, or a combination of software and firmware.
  • the software and firmware are stored in the memory 101b as a program. Thereby, the program for realizing the function of the thermal image processing apparatus 503 is executed by the computer.
  • the memory 101b is a computer-readable recording medium, and is, for example, a volatile memory such as a RAM (Random Access Memory) and a ROM (Read Only Memory), a non-volatile memory, or a combination of a volatile memory and a non-volatile memory. Is.
  • a volatile memory such as a RAM (Random Access Memory) and a ROM (Read Only Memory)
  • ROM Read Only Memory
  • non-volatile memory or a combination of a volatile memory and a non-volatile memory.
  • the thermal image processing apparatus 503 may be configured by a processing circuit 101c as dedicated hardware such as a single circuit or a composite circuit. In this case, the function of the thermal image processing apparatus 503 is realized by the processing circuit 101c.
  • 1 Infrared image processing device 2 Thermal image sensor, 3 Thermal image processing device, 31 Thermal image generation unit, 32 Smoothing processing unit, 33 Correction coefficient calculation unit, 34 Thermal image correction unit, 504 Sensor movement unit.

Abstract

複数枚の画像から筋状ノイズを補正するための補正係数を算出して、筋状ノイズを低減できる赤外線画像処理装置を提供する。 赤外線画像処理装置は、赤外線を受光して赤外線と対応する信号を出力する熱画像センサと、信号に基づいて、複数枚の熱画像を生成する熱画像生成部と、複数枚の熱画像それぞれの画像の各画素ごとに周辺の画素の画素値を用いて平滑化処理をおこない、複数枚の平滑化画像を算出し、各画像の平滑化済みの各画素値である平滑化画素値を算出する平滑化処理部と、熱画像および平滑化画像から第一の補正係数と第二の補正係数とを含む補正係数群を算出する補正係数算出部と、補正係数群を用いて熱画像を補正する熱画像補正部とを備えることを特徴とするものである。

Description

赤外線画像処理装置および赤外線画像処理方法
 本開示は、熱画像のノイズ低減処理を行う赤外線画像処理装置および赤外線画像処理方法に関する。
 赤外線を受光して熱画像を生成する赤外線画像処理装置は、赤外線を受光するための複数の赤外線検出素子を備えている。例えば、赤外線検出素子は、生成される画像と対応するようにマトリックス状に配置される。マトリックス状に配置された赤外線検出素子は、素子の並ぶ行または列ごとに別々の駆動線が接続され、各駆動線から電力が供給される。これらの駆動線の特性にばらつきがあると、赤外線検出素子への入力値と赤外線検出素子からの出力値との関係が行または列ごとに変化してしまう。この変化により赤外線画像処理装置が生成した熱画像に行方向または列方向に延びる筋状ノイズが生じることがある。
 このような筋状ノイズを低減するために、特許文献1の撮像装置では、以下の方法によりノイズを低減することが提案されている。特許文献1の撮像装置は、一定間隔毎に遮光状態の画像を撮像し、遮光時と露光時の出力信号を測定する。次に特許文献1の撮像装置は、測定値と理想値とからノイズのオフセット成分と光量依存成分とに対応した補正信号を生成することでノイズを低減する。
特開2009-105966号公報
 上記の特許文献1の撮像装置のように、一定間隔毎に遮光状態の画像を撮像し、遮光画像を用いて校正を行う場合、ノイズ特性は環境温度の変化などにより時々刻々と変化する。このため、撮像装置において、遮光時(シャッター時)からの時間経過により撮像装置における筋状ノイズの抑制効果は低下する。その結果、撮像装置では筋状ノイズが徐々に発生することになる。一般的に撮像装置においては、シャッター時には画像が暗転するためシャッター頻度は上げないことが望ましい。しかし、シャッター頻度を上げなければ、撮像装置においては、頻繁に遮光画像を用いて校正を行うことができない。この場合、撮像装置においては、トータル時間でのノイズの補正精度が低下する。
 本開示は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、複数枚の画像から筋状ノイズを補正するための補正係数を算出することができ、算出された補正係数により精度よく筋状ノイズを低減することが可能な赤外線画像処理装置を提供することを目的とする。
 本開示に係る赤外線画像処理装置は、赤外線を受光して赤外線と対応する信号を出力する熱画像センサと、この信号に基づいて複数枚の熱画像を生成する熱画像生成部と、複数枚の熱画像それぞれの画像の各画素ごとに周辺の画素の画素値を用いて平滑化処理を行い、複数枚の平滑化画像を算出して平滑化済みの各画素値である平滑化画素値を算出する平滑化処理部と、熱画像および平滑化画像から第一の補正係数と第二の補正係数とを含む補正係数群を算出する補正係数算出部と、補正係数群を用いて熱画像を補正する熱画像補正部とを備えることを特徴とするものである。
 本開示に係る赤外線画像処理装置は、複数枚の画像に含まれる画素の画素値の違いに基づいて補正係数を算出する。算出された補正係数により精度よく筋状ノイズを低減することができる。
実施の形態1に係る赤外線画像処理装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態1に係る熱画像センサの入力値と出力値との関係を示すグラフである。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置の平滑化処理を説明するための概念図である。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における熱画像とその対象画素値列を説明するための概念図である。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における平滑化熱画像とその対象画素値列を説明するための概念図である。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における補正係数を算出する方法を説明するための概念図である。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の平滑化画像を出力する処理を示すまでのフローチャートである。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の補正係数を出力する処理を示すまでのフローチャートである。 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の補正後の熱画像を出力するまでのフローチャートである。 実施の形態2に係る赤外線画像処理装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態2に係る赤外線画像処理装置の熱画像センサおよびセンサ移動部の概略図、および熱画像の概略図である。 実施の形態2に係る呼吸情報推定装置のハードウェア構成の一例を示す図である。 実施の形態2に係る呼吸情報推定装置のハードウェア構成の他の例を示す図である。
 以下、実施の形態について、図を用いて説明する。図中の同一の符号は、同一または相当する部分を表す。
実施の形態1
 実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の構成について説明する。図1は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置の構成を示すブロック図である。赤外線画像処理装置1は、熱画像センサ2および熱画像処理装置3を備える。熱画像処理装置3は、熱画像生成部31、平滑化処理部32、補正係数算出部33、および熱画像補正部34を備える。熱画像センサ2は、電圧信号VIを熱画像生成部31へ送る。熱画像生成部31は、熱画像TIを平滑化処理部32、補正係数算出部33および熱画像補正部34へ送る。平滑化処理部32は、平滑化画像FIを補正係数算出部33へ送る。補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dを、メモリ等を介して熱画像補正部34へ送る。熱画像補正部34は、補正後の熱画像TOを熱画像処理装置3および赤外線画像処理装置1の出力として出力先へ送る。
 熱画像センサ2は、室内に設置された電気製品に設けられ、電気製品の稼働時に一定の間隔で室内を撮像する。次に熱画像センサ2は、室内に存在する物体から放射される赤外線(約8μmから12μmの電磁波)を受光して赤外線の強度に対応した電圧信号VIを出力する。熱画像センサ2は、物体から放射される赤外線を検出し赤外線の強度に対応した電圧信号VIを出力する複数の赤外線検出素子により構成される。赤外線検出素子とは、例えば焦電素子である。複数の赤外線検出素子は、マトリックス状に配置されており、行方向に並ぶ素子には一本の駆動線が接続され、電力が供給される。熱画像センサ2は、赤外線検出素子が出力する電圧信号VIを熱画像処理装置3へ送信する。
 熱画像センサ2は、赤外線に対応した電圧信号VIを赤外線検出素子の配置と対応づけられた順序に従って、熱画像処理装置3へ送信する。ところで、電気製品が稼働していることで、電気製品自体またはその周辺の物体が温められる。熱画像TIは、熱画像センサ2の電圧信号VIに基づいて熱画像処理装置3により生成されており、露光状態で室内における温度の異なる複数の領域を撮像した画像となる。熱画像TIは、ある特定の画素位置の第1のフレームから第2のフレームまでの画素値の異なる複数の画素を含む。例えば第1のフレームと第2のフレームとは隣接するフレームである。フレーム番号とは、例えば、10枚の画像があった場合、フレーム番号1の画像からフレーム番号10の画像と表現するための番号である。なお、画素値とは電圧信号VIの電圧値をデジタル値に変換した値である。具体的には画素値は、以下の方法で求められる。熱画像処理装置3は、電圧信号VIの電圧値を図1に図示しないメモリ等へ記憶する。次に熱画像処理装置3は、電圧値と順序の情報とを読み出して、電圧値を予め対応づけられた画素値に変換する。そして、熱画像処理装置3は、順序の情報を用いて画素値を並べる。熱画像処理装置3は、並べた画素値から一枚の熱画像を生成し、図示しないメモリ等へ記憶する。
 図2は、実施の形態1に係る熱画像センサの入力値と出力値との関係を示すグラフである。ここで説明した赤外線検出素子は、例えば製造誤差や使用環境等の影響を受ける。このため、赤外線検出素子は、個々に、赤外線検出素子への入力値(赤外線強度)と赤外線検出素子からの出力値(熱画像の画素値)との関係が異なる。図2に示すように、各赤外線検出素子の入力値と出力値との関係は、一次関数y=ax+b(y:出力値、x:入力値、aおよびb:係数)で近似して表すことができる。それぞれの赤外線検出素子ごとに一次関数の係数aおよび係数bは異なる。例えば、赤外線検出素子Eは、係数a1および係数b1を用いた一次関数で表すことができる。また、赤外線検出素子Fは、係数a2および係数b2を用いた一次関数で表すことができる。また、赤外線検出素子Gは、係数a3および係数b3を用いた一次関数で表すことができる。赤外線検出素子Eに対して入力値X1の入力があった場合の出力値はY1(=a1・X1+b1)である。赤外線検出素子Gに対して入力値X1の入力があった場合の出力値はY3(=a3・X1+b3)である。入力値X1に対する出力値の関係としては赤外線検出素子Gの出力値Y3が赤外線検出素子Eの出力値Y1よりも大きい。
 上述のとおり、行方向に並んだ赤外線検出素子は、同一の駆動線に接続され電力の供給を受ける。そのため、行方向に並んだ赤外線検出素子の感度を示す係数aは、駆動線の特性によって影響を受ける。行方向に並んだ赤外線検出素子は、ほかの赤外線検出素子に比べ傾きが大きければ、ほかの赤外線検出素子に比べ高感度となる。また、切片成分である係数bも係数aと同様に赤外線検出素子ごとに変化する。上記より、行方向に並んだ赤外線検出素子の出力値がそれぞれ変動する。特に駆動線の特性が上下の行で異なることは、赤外線検出素子の上下の出力値に影響を与える。この場合、熱画像には熱画像の一端から他端まで行方向に延びる筋状のノイズ(以下、筋状ノイズという)が生じる。また、熱画像センサは、駆動線の特性の経時的な変化により行方向に並んだ赤外線検出素子の感度を示す係数aまたは切片成分である係数bが変化する。このため、筋状ノイズの強度も経時的に変化する。
 熱画像処理装置3は、熱画像センサ2から電圧信号VIを受信する。つまり、熱画像処理装置3において入力部に一番近い熱画像生成部31は、熱画像センサ2から電圧信号VIを受信する。熱画像生成部31は、熱画像センサ2の電圧信号VIを画素値に変換する。次に熱画像生成部31は、変換した画素値から、筋状ノイズが発生する方向に画素値の異なる複数の画素を含む熱画像TIを生成する。そして熱画像生成部31は、生成した熱画像TIを、平滑化処理部32、補正係数算出部33および熱画像補正部34へ送る。
 平滑化処理部32は、熱画像TIについて対象画素値ごとに、隣接画素値を用いて平滑化処理を行う。平滑化処理部32は、平滑化処理を行った平滑化画像FIを生成し、補正係数算出部33へ送る。上記の対象画素とは、平滑化処理、補正係数算出処理または補正処理を行う際の基準となる画素位置の画素である。対象画素は、熱画像生成部31が生成した熱画像TIにおける筋状ノイズが発生する方向に並ぶ画素の集合である画素列に含まれる。上記の隣接画素とは、筋状ノイズが発生する方向と交差する方向に隣接する画素列に含まれる。隣接画素は、対象画素に隣接する。平滑化画素値は、対象画素値と隣接画素値との平均値である。
 具体的な平滑化処理部32の処理について説明する。図3は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の平滑化処理を説明するための概念図である。図3(a)は、L行N列の熱画像を示す。図3(b)は、L行N列の平滑化熱画像を示す。L行のうち、対象画素値のある行をL1行目とする。例えば図3(a)の対象画素値を平滑化する場合、平滑化処理部32は、対象画素値PX1と、対応する隣接画素値PX2および隣接画素値PX3との平均値を求める。この平均値は、L1行目の画素列の一番左の対象画素値および一番左の隣接画素値で求められる。次の平均値は、L1行目の画素列の左から二番目以降の対象画素値および隣接画素値を同様に処理していくことで求められる。平均値は、例えば図3(a)の枠Hの範囲で求められる。
 上記平滑化処理を行うことで、図3(b)のようにL1行目において筋状ノイズが低減された平滑化画素値で構成される平滑化熱画像が得られる。L1行目における赤外線の分布と隣接するL1-1行目およびL1+1行目における赤外線分布とは相関がある。この相関により、平滑化処理部32において、L行目に含まれる個々の対象画素値と、平滑化熱画像に含まれる平滑化画素値との対応関係は維持される。これにより、平滑化処理部32は、筋状ノイズが低減された平滑化画素値を算出する。平滑化画素値をzとして、以降で説明するように各行の補正式z=cm+dの補正係数を算出する。
 補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dを算出する。補正係数cおよび補正係数dは、補正式z=cm+dに含まれる補正係数である。補正係数cを第一の補正係数、補正係数dを第二の補正係数、第一の補正係数と第二の補正係数とを補正係数群のように言いかえてもよい。なお、画素値zは補正後の画素値であり、画素値mは熱画像の画素値である。補正係数算出部33は、算出した補正係数cおよび補正係数dを、図示しないメモリ等へ記憶する。熱画像補正部34は、メモリから読みだした補正係数cおよび補正係数dを用いて熱画像生成部31が生成した画像TIを補正する。
 具体的な補正係数算出部33の処理について説明する。図4は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における熱画像とその対象画素値列とを説明するための概念図である。図5は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における平滑化熱画像とその対象画素値列を説明するための概念図である。例えばL行N列目の対象画素値と平滑化画素値とから座標値を設定する場合について説明する。補正係数算出部33は、熱画像の第1のフレームのL行N列目の画素から、第2のフレームのL行N列目の画素までの対象画素値列を読み出す。図4(a)のような熱画像におけるL=1、N=1である1行1列目の対象画素から、図4(b)のような熱画像の対象画素値列(R1、R2、R3、…、Rn)を設定する。また、補正係数算出部33は、平滑化熱画像の第1のフレームのL行N列目の画素から、第2のフレームのL行N列目の画素までの平滑化画素値を読み出す。そして、補正係数算出部33は、図5(a)のような平滑化熱画像におけるL=1、N=1である1行1列目の対象画素から、図5(b)のような座標値(R1h、R2h、R3h、…、Rnh)を設定する。そして、補正係数算出部33は、対象画素値と、対応する平滑化画素値を用いて、対象画素値をm座標、平滑化画素値をz座標とする座標値(例えば(R1,R1h))を設定する。
 図6は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置における補正係数の算出する方法を説明するための概念図である。補正係数算出部33は、設定した座標群をm-z座標空間にプロットし、直線近似し、直線の式である補正式z=cm+dを求める。補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dを算出する。補正係数cおよび補正係数dは、各画素位置ごとに異なる。ここで、複数の座標値は、異なる位置にプロットされる。上述のとおり、複数枚の熱画像は、筋状ノイズが発生する方向(行方向)に画素値の異なる複数の画素を含んでいるため、プロットの位置がずれる。この位置の違い、すなわち画素値の違いに基づいて補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dを算出する。補正係数算出部33は、設定した座標値と直線の式z=cm+dとの距離が最小になるように補正係数cおよび補正係数dを算出する。補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dの算出に、例えば最小二乗法を用いる。補正係数算出部33は、補正係数cおよびdを図示しないメモリ等へ記憶する。
 熱画像補正部34は、熱画像生成部31が生成した熱画像TIにおける、画素値zを取得する。ここで、画素値zとは、第1のフレームの対象画素から、第2のフレームの対象画素までの画素列についての画素値である。次に、熱画像補正部34は、第1のフレームの対象画素から、第2のフレームの対象画素までの画素列について、記憶された補正係数cおよび補正係数dを用いた補正式に代入して、画素値zを求める。熱画像補正部34は、画素値zを画像TIについて出力した熱画像TOを、出力先へ出力する。
 次に、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の処理の手順について図7、図8及び図9を用いて説明する。図7は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の平滑化画像FIを出力する処理を示すまでのフローチャートである。赤外線画像処理装置1における熱画像センサ2、および熱画像処理装置3の平滑化処理部32の動作を、図7のフローチャートに従って説明する。赤外線画像処理装置1は、熱画像TIを生成し、熱画像TIについて対象画素値ごとに、隣接画素値を用いて平滑化処理を行い、平滑化画像FIを出力する。
 まず、ステップS001で、熱画像生成部31が、熱画像センサ2の電圧信号VIから熱画像TIを生成する。
 次に、ステップS002で、平滑化処理部32が、熱画像生成部31が生成した複数枚の熱画像におけるL行目、L-1行目、およびL+1行目の画素列の各画素値を取得する。ここでLは自然数である。本フローチャートの処理が始まった際に赤外線画像処理装置1は初期値としてL=1に設定する。
 なお、L=1の場合、すなわち、熱画像の最上段の画素列の画素値を読み出す場合、熱画像におけるL-1行目は存在しない。そのため、例えば代わりにL行目またはL+1行目と同様の画素列が熱画像におけるL-1行目に存在するものとして扱う。つまり、別途読み出しているL行目またはL+1行目の画素列を熱画像におけるL-1行目の画素列として扱う。熱画像の最下段についても同様に、L+1行目の画素列が存在しないため、別途読み出しているL行目またはL-1行目の画素列を熱画像におけるL+1行目の画素列として扱う。また、ここでは、L行目に含まれる画素値が対象画素値であり、L-1行目、およびL+1行目に含まれる画素値が隣接画素値である。
 次に、ステップS003で、平滑化処理部32が、L行目の各対象画素値を、各対象画素と隣接するL-1行目、およびL+1行目の画素である隣接画素値で平滑化する。そして、平滑化処理部32が、L行目の各画素の平滑化画素値を取得する。
 次に、ステップS004で、平滑化処理部32が、LをL+1に置き換える。次に、ステップS005で、平滑化処理部32が、前のステップでL+1に置き換えたL行目に画素列が存在するかを判定する。画素列が存在する場合(ステップS005でYESの場合)は、ステップS002からステップS004の処理を繰り返す。画素列が存在しない場合(ステップS005でNOの場合)は、次のステップに進む。
 図8は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の補正係数cおよび補正係数dを出力する処理を示すまでのフローチャートである。赤外線画像処理装置1における熱画像処理装置3の補正係数算出部33の動作を、図8のフローチャートに従って説明する。補正係数cおよび補正係数dは、補正式z=cm+dに含まれる補正係数である。画素値zは補正後の画素値であり、画素値mは熱画像の画素値である。補正係数算出部33は、補正係数cおよび補正係数dを算出する。
 ステップS006は、ステップS005に続くステップである。ステップS006で、補正係数算出部33が、L行N列の画素値と、L行N列の平滑化画素値とを取得し、対応する対象画素列と平滑化画素列とで複数の座標値を設定する。L行N列の画素値とは、第1のフレームのL行N列目の画素から、第2のフレームのL行N列目の画素までの画素列についての各画素値である。L行N列の平滑化画素値とは、第1のフレームのL行N列目の画素から、第2のフレームのL行N列目の画素までの画素列についての各平滑化画素値である。LおよびNは自然数である。赤外線画像処理装置1の処理を開始する際の初期値として、赤外線画像処理装置1はL、およびNをL=1、N=1に設定する。
 次に、ステップS007で、補正係数算出部33が、設定した座標群をm-z座標空間にプロットし、直線近似して直線の式z=cm+dを求める。ここで、複数の座標値は、異なる位置にプロットされる。上述のとおり、複数枚の熱画像は、筋状ノイズが発生する方向(行方向)に画素値の異なる複数の画素を含んでいるため、プロットの位置がずれる。この位置の違い、すなわち画素値の違いに基づいて補正係数算出部33は、補正係数cおよびdを算出する。補正係数算出部33は、設定した座標値と直線の式z=cm+dとの距離が最小になるように最小二乗法を用いる。
 次に、ステップS008で、補正係数算出部33が、LをL+1に置き換える処理を行う。次に、ステップS009で、補正係数算出部33が、前のステップでL+1に置き換えたL行目に画素列が存在するか判定する。L行目に画素列が存在する場合(ステップS009でYESの場合)は、ステップS006からステップS009の処理を繰り返す。L行目に画素列が存在しない場合(ステップS009でNOの場合)は、N列目の画素の画素列を補正し終えた場合であり、次のステップS010に移る。
 次に、ステップS010で、補正係数算出部33が、NをN+1に置き換える処理を行う。次に、ステップS011で、補正係数算出部33が、前のステップでN+1に置き換えたN列目に画素列が存在するか判定する。N列目に画素列が存在する場合(ステップS011でYESの場合)は、ステップS006からステップS011の処理を繰り返す。
 N列目に画素列が存在しない場合(ステップS011でNOの場合)は、熱画像のすべての行で補正係数cおよびdの算出を終えた場合であり、次のステップに進む。
 図9は、実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1の補正後の熱画像TOを出力するまでのフローチャートである。赤外線画像処理装置1における熱画像補正部34が補正後の熱画像TOを出力するまでの動作を、図9のフローチャートに従って説明する。
 ステップS012は、ステップS011に続くステップである。ステップS012で、熱画像補正部34が、P行Q列目の画素の画素値を取得する。P行Q列目の画素の画素値とは、熱画像における第1のフレームのP行Q列目の画素から、第2のフレームのP行Q列目の画素までの画素列についての各画素値である。PおよびQは自然数である。赤外線画像処理装置1の処理が始まった際に初期値としてPおよびQをP=1、Q=1に設定する。
 次に、ステップS013で、熱画像補正部34が、対応する補正式を用いて、P行Q列の画素の画素値を補正する。P行Q列の画素の画素値とは、第1のフレームのP行Q列目の画素から、第2のフレームのP行Q列目の画素列についての各画素値である。次に、ステップS014は、熱画像補正部34が、PをP+1に置き換える処理を行う。次に、ステップS015で、補正係数算出部33が、前のステップでP+1に置き換えたP行目に画素列が存在するか判定する。P行目に画素列が存在する場合(ステップS015でYESの場合)は、ステップS012からステップS014の処理を繰り返す。P行目に画素列が存在しない場合(ステップS015でNOの場合)は、Q列目の画素の画素列を補正し終えた場合であり、次のステップに進む。
 次に、ステップS016は、熱画像補正部34が、QをQ+1に置き換える処理を行う。次に、ステップS017は、前のステップでQ+1に置き換えたQ列目に画素列が存在するか判定する。Q列目に画素列が存在する場合(ステップS017でYESの場合)は、ステップS012からステップS016の処理を繰り返す。Q列目に画素列が存在しない場合(ステップS017でNOの場合)は、Q列目の画素の画素列を補正し終えた場合であり、次のステップに進む。
 次に、ステップS018は、熱画像補正部34が、補正後の画素値を用いて画像を再構築し、補正後の画像を生成する。具体的には、熱画像補正部34は、各画素列の補正後の画素値と画素位置の情報から、画素位置の情報に沿って画素列を並べ替え、複数枚の熱画像を生成する。
 最後に、ステップS019は、熱画像補正部34が、補正後の熱画像TOを出力先へ出力する。
 本開示の実施の形態1に係る赤外線画像処理装置1は、以上のように構成されており、次のような効果を奏する。赤外線画像処理装置1は、補正係数cおよび補正係数dを求めて、それらを用いて熱画像TIを補正している。これに対して、一つの補正係数を求め、熱画像を補正する場合、赤外線画像処理装置1は十分に筋状ノイズを低減できない。例えば、対象画素値と平滑化画素値との差分値を求め(z=m+dにおける係数dを求めることとなる)、差分値だけで熱画像を補正する場合、どのような入力値であっても差分値を加算する補正しかできない。しかし、図2に示したように、赤外線検出素子ごとに係数aは異なる。a=1のとき入力値と出力値が等しいとして、a=1より大きい係数である高感度の赤外線検出素子の出力値は、入力値が変化すると、入力値の変化量より大きく変化する。このような素子の出力値を差分値だけで補正しても、補正量は不足する。また、a=1より小さい係数である低感度の赤外線検出素子の出力値に対しては補正量が大きくなりすぎる。赤外線画像処理装置1は、複数の補正係数(補正係数cおよび補正係数d)を算出することで、入力値が変化しても筋状ノイズを精度よく低減することが可能である。
 また、赤外線画像処理装置1は、熱画像から得られる平滑化画素値を用いているので、温度状況が一定ではない運用時の熱画像を用いて補正係数を算出することができる。よって、赤外線画像処理装置1の処理をしている間に補正係数を更新することが可能となる。
 また、赤外線画像処理装置1は、熱画像の対象画素値と、平滑化熱画像の平滑化画素値を用いて座標値を設定し、座標値を直線近似することで補正係数を算出している。よって、座標値の設定および一回の直線近似の処理を行うだけで補正係数を算出でき、効率的に補正係数の更新を行うことができる。
 補正係数を算出する行に熱源体のエッジ部分が位置する場合、エッジ部分は平滑化されてしまい、平滑化熱画像の平滑化画素値の精度が低下する。このような平滑化画素値を用いて対象画素値を補正した場合に熱画像処理装置3は適切な熱画像が得られない。しかし、当該赤外線画像処理装置1では、複数の座標値を直線で近似することにより、エッジ部分の平滑化画素値の画素全体における割合を少なくする。このため、赤外線画像処理装置1は、エッジ部分による補正精度の低下を抑制することができる。
 なお、上記説明では、熱画像の対象画素値と、平滑化熱画像の平滑化画素値は、熱画像センサ2に入力された順番で熱画像を生成し補正する等の処理をデータが入力された順番で処理するとした。その順番とは、1列1行目の一端の画素から他端への画素へと処理し、次に1列2行目の一端の画素から他端への画素へと処理する順番である。なお、一端の画素から他端への画素への方向とは、熱画像の行方向のことである。しかし、例えば熱画像処理装置3は熱画像の対象画素値をソートして降順または昇順に並べたものを直線近似してもよい。その場合は、例えば複数枚の熱画像の画素値をフレーム方向にそれぞれ降順または昇順でソートするソーティング部を備える。また、熱画像処理装置3は平滑化熱画像の平滑化画素値をソートして降順または昇順に並べたものを直線近似して補正する処理としてもよい。その場合は、例えば複数枚の平滑化熱画像の画素値をフレーム方向にそれぞれ降順または昇順でソートするソーティング部を備える。熱画像処理装置3はソートする方向を、一端の画素から他端への画素への方向としてもよい。また、熱画像処理装置3はソートする方向を、フレームの方向、つまり1列1行目の画素、そして次のフレームの1列1行目の画素、さらにその次のフレームの1列1行目の画素、といった方向としてもよい。
 また、上記のように熱画像処理装置3において、ソートする方向を、一端の画素から他端への画素への方向とした場合に、ソートした画素を並べた画素列の端部に位置する画素値を除去してもよい。具体的には、熱画像処理装置3において、ソートした画素列の最も大きい値から順番に第一の閾値を上回るか否かを判定する。次に、熱画像処理装置3は、閾値を上回る画素値を画素列から削除する。そして熱画像処理装置3は、ソートした画素列の最も小さな値から順番に第二の閾値を下回るか否かを判定する。そして熱画像処理装置3は、第二の閾値を下回る画素値を画素列から削除する。なお、第一の閾値は第二の閾値より大きい。熱画像処理装置3において、指定した第一の閾値を下回る画素値および指定した第二の閾値を上回る画素値を用いる。熱画像処理装置3において、指定した第一の閾値を下回る画素値または指定した第二の閾値を上回る画素値を用いてもよい。閾値を用いずに、除去する画素値の数を予め定めておき、対応する数の画素値を、画素列の最も大きい値から及び画素列の最も小さな値から除去するようにしてもよい。
 なお、ソートした画素を並べた画素列の端部に位置する画素値を除去することは、画素列の中における大きな値および小さな値を用いないことを意味する。例えば、室内に電球、ガスコンロまたは人などが存在すると、熱画像内にそれらの輪郭がエッジとなって現れる。熱画像を平滑化処理する際に、このエッジ部分が平滑化されることで、平滑化画素値の精度が低下する。また、外気によって冷やされた窓などについても同様である。熱画像内のエッジ部分を除去することにより、平滑化画素値の精度の低下を抑制することができる。なお、ソートした画素を並べた画素列の端部に位置する画素値を除去することは、例えば画像中の最大画素値と最小画素値を検出する方法であれば、これに限らない。
 上記の赤外線画像処理装置1では、筋状ノイズが発生する方向を熱画像の行方向としていたが、列方向や斜め方向であってもよい。駆動線が行方向に配置された赤外線検出素子に接続されていることが、行方向に筋状ノイズが発生する原因と述べたが、駆動線が列方向や斜め方向に接続された場合、列方向や斜め方向に筋状ノイズが発生する。
 上記の赤外線画像処理装置1では、駆動線の特性の違いにより筋状ノイズが発生するとしたが、筋状ノイズの発生原因はこれに限らない。行方向などに並ぶ赤外線検出素子が同一の出力線(電圧信号を送信する線)で接続されている場合、この出力線の特性のばらつきにより筋状ノイズが発生しうる。また、この出力線に接続されたA/D変換器やアンプなどの特性がばらつく場合も同様である。さらに、画像を生成する処理では、筋状ノイズを低減する処理以外にもノイズ低減処理が行われる場合がある。この処理が一行ごとに行われる場合は、一行ごとにノイズ低減処理の程度が異なり、筋状ノイズが発生しうる。上記の赤外線画像処理装置は、これらの筋状ノイズについても同様に低減することができる。
実施の形態2
 次に、本開示の実施の形態2について説明する。図10は、実施の形態2に係る赤外線画像処理装置の構成を示すブロック図である。図11は、実施の形態2に係る赤外線画像処理装置の熱画像センサおよびセンサ移動部の概略図、および熱画像の概略図である。実施の形態1で説明した構成および動作と同様の部分については説明を省略し、実施の形態1と異なる部分について、以下に説明する。
 実施の形態1の赤外線画像処理装置では、赤外線検出素子がマトリックス状に配置された熱画像センサ2を用いていた。実施の形態2の赤外線画像処理装置501では、複数の赤外線検出素子が縦方向に一列に並んだ熱画像センサ502を用いる。赤外線画像処理装置は、熱画像センサ502を横方向に移動させ、赤外線検出素子の出力である電圧信号VIを合成することで一枚の熱画像を生成する。この動作を繰り返すことで赤外線画像処理装置501は、複数枚の画像を生成する。
 実施の形態2の赤外線画像処理装置501は、上述のとおり、熱画像センサ502の構成が実施の形態1の熱画像センサ2と異なるほか、図10に示すように、実施の形態1の赤外線画像処理装置1の構成にセンサ移動部504が追加されている。熱画像センサ502は、複数の赤外線検出素子が縦方向に一列に並んだものである。センサ移動部504は、熱画像センサ502の位置を変化させるように、横方向に熱画像センサ502を移動させる。すなわち、センサ移動部504は、熱画像センサ502が並んだ方向と交差する方向に熱画像センサ502を移動させる。例えば、センサ移動部504は、モータである。モータの回転軸が熱画像センサ502と接続されることで、モータの回転動作が熱画像センサ502へ伝達される。図10では熱画像センサ502とセンサ移動部504との接続は、双方を結ぶ点線で示している。また、センサ移動部504は、ロータリエンコーダを備える。センサ移動部504は、モータの回転量である熱画像センサ502の移動量を示す信号を、熱画像処理装置503(より具体的には、熱画像生成部531)へ送信する。
 実施の形態2の赤外線画像処理装置501における熱画像生成部531は、熱画像センサ502から、熱画像センサ502の回転移動に伴って受光した赤外線に対応する電圧信号VIと、センサ移動部504からの移動量を示す信号を受信する。熱画像生成部531は、電圧信号VIを並べ替え、一枚の熱画像を生成する。
 図11(a)のように、熱画像センサ502は、回転軸と同心円状に円弧を描くように回転し、受光した赤外線に対応する電圧信号VIを送信する。なお、図11(a)では、熱画像センサ502とセンサ移動部504を点線で接続しているが、実際は構造物によって接続される。図11(b)のように、熱画像センサ502は、回転移動におけるある位置での電圧信号VIから生成される熱画像I1と、複数の位置での熱画像I1を合成することで一枚の熱画像I2を得る。
 上記説明の赤外線画像処理装置1では、複数の赤外線検出素子が縦方向に一列に並んだ熱画像センサ502としていた。しかし、赤外線画像処理装置501は、図11(c)のように、センサ移動部504の回転動作に伴って、円弧状で数列(図11(c)では3列)のマトリックス状に赤外線検出素子を配置してもよい。この赤外線画像処理装置1では、熱画像センサ502bの回転移動に伴って受光した赤外線に対応する電圧信号VIと、センサ移動部504からの移動量を示す信号を受信することで一枚の熱画像を生成する。
 本開示の実施の形態2に係る赤外線画像処理装置501は、以上のように構成されており、次のような効果を奏する。実施の形態2の赤外線画像処理装置501は、少ない赤外線検出素子でも熱画像の撮像が可能となる。赤外線検出素子を少なくすることで、実施の形態1における赤外線画像処理装置501の構成に対して小さな規模の装置で実現することができる。
 また、実施の形態2の赤外線画像処理装置501で熱画像を撮像した場合であっても、筋状ノイズは生じうる。縦方向に並べた赤外線検出素子ごとに、入出力の関係を示す式y=ax+bにおける係数a(感度)または切片成分である係数bが異なると、画像を合成した際に横方向の筋状ノイズとなりうる。しかし、実施の形態2の赤外線画像処理装置501は実施の形態1などと同様、補正係数を算出することができるので、筋状ノイズを低減する処理を行うことができる。そのほか、実施の形態1と同様の効果を奏する。
 実施の形態2では、センサ移動部504により熱画像センサ502の位置を移動させる例を示したが、モータの回転軸上に熱画像センサ502を固定して、熱画像センサ502の方向を変化させてもよい。
 上記の赤外線画像処理装置1および赤外線画像処理装置501では、直線の式や補正式として一次関数を用いて係数、補正係数を算出していたが、三次関数などの多項式関数を用いてもよい。高次の多項式関数を用いることで、精度よく画素値を近似することができる。また、高次の多項式を用いる場合、補正係数は、2つ以上となる。
 上記の赤外線画像処理装置1および赤外線画像処理装置501では、赤外線検出素子として焦電素子を用いていた。しかし、赤外線画像処理装置501は、ゼーベック効果を生じさせる熱電対を接続したサーモパイル型、温度情報による抵抗値の変化を利用したボロメータ型などの赤外線検出素子を用いてもよい。これらのほか、赤外線画像処理装置501は、赤外線を検出できるものであればその種類を問わない。
 上記の赤外線画像処理装置1では、熱画像処理装置3に含まれる熱画像生成部31が熱画像センサの電圧信号VIを受信して熱画像を生成することとしていた。または赤外線画像処理装置501では、熱画像処理装置503に含まれる熱画像生成部531が熱画像センサの電圧信号VIを受信して熱画像を生成することとしていた。しかし、熱画像生成部31は熱画像センサ2に設けられていてもよく、熱画像生成部531は熱画像センサ502に設けられていてもよい。
 上記の赤外線画像処理装置1および赤外線画像処理装置501では、平滑化処理として対象画素値と隣接画素値の平均値を求める処理を行っていた。しかし、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、平均値を求めるための対象画素値、隣接画素値の個々に重みづけをして、平均値を求めてもよい。また、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、対象画素値を用いずに、隣接画素値だけで平均値を求めてもよい。また、赤外線画像処理装置1および赤外線画像処理装置501は、対象画素値および2つの隣接画素値を含む3つの画素値を用いて平滑化処理を行っていた。しかし、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、隣接画素値にさらに隣接する2つの画素値を用いて5つの画素値で平滑化処理を行ってもよい。赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、隣接する画素値を用いて5つ以上の画素値で平滑化処理を行ってもよい。
 上記の赤外線画像処理装置1および赤外線画像処理装置501は、室内の電気製品に設置されるものとした。しかし、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、電気製品に設置することで、熱画像を電気製品の制御に利用できる。また、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、電気製品の設置された室内の温度状況を確認するために熱画像を用いることができる。さらに、赤外線画像処理装置1または赤外線画像処理装置501は、上記の赤外線画像処理装置は、電気製品に設置するだけでなく、室内外に設置される防犯または監視用のカメラとして用いてもよい。
 図12は、熱画像処理装置503(熱画像処理装置3)のハードウェア構成の一例を示す図である。図13は、熱画像処理装置3のハードウェア構成の他の例を示す図である。
 熱画像処理装置503は、例えば、少なくとも1つのプロセッサ101aおよびメモリ101bで構成される。プロセッサ101aは、例えば、メモリ101bに格納されるプログラムを実行するCentral Processing Unit(CPU)である。この場合、熱画像処理装置503の機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアおよびファームウェアはプログラムとしてメモリ101bに格納する。これにより、熱画像処理装置503の機能を実現するためのプログラムは、コンピュータによって実行される。
 メモリ101bは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体であり、例えば、RAM(Random Access Memory)およびROM(Read Only Memory)などの揮発性メモリ、不揮発性メモリ、または揮発性メモリと不揮発性メモリとの組み合わせである。
 熱画像処理装置503は、単一回路または複合回路などの専用のハードウェアとしての処理回路101cで構成されてもよい。この場合、熱画像処理装置503の機能は、処理回路101cで実現される。
 以上のように本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこれらの実施の形態に限るものではない。
 1 赤外線画像処理装置、2 熱画像センサ、3 熱画像処理装置、31 熱画像生成部、32 平滑化処理部、33 補正係数算出部、34 熱画像補正部、504 センサ移動部。

Claims (7)

  1.  赤外線を受光して前記赤外線と対応する信号を出力する熱画像センサと、
     前記信号に基づいて複数枚の熱画像を生成する熱画像生成部と、
     前記複数枚の熱画像それぞれの画像の各画素ごとに周辺の画素の画素値を用いて平滑化処理を行い、複数枚の平滑化画像を算出して各画像の平滑化済みの各画素値である平滑化画素値を算出する平滑化処理部と、
     前記熱画像および前記平滑化画像から第一の補正係数と第二の補正係数とを含む補正係数群を算出する補正係数算出部と、
     前記補正係数群を用いて前記熱画像を補正する熱画像補正部と
    を備えることを特徴とする赤外線画像処理装置。
  2.  前記補正係数算出部は、前記複数枚の熱画像の特定の画素位置の、第1のフレームから第2のフレームまでの画素値と、対応する前記複数枚の平滑化熱画像の特定の画素位置の、第1のフレームから第2のフレームまでの画素値とで表される複数の座標値を多項式関数で近似し、前記補正係数群を算出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の赤外線画像処理装置。
  3.  前記複数枚の熱画像の画素値と、前記複数枚の平滑化熱画像の画素値とをフレーム方向にそれぞれ降順または昇順でソートするソーティング部をさらに備え、
     前記補正係数算出部は、前記フレーム方向に並ぶ画素の画素値とその順番で表される座標値、および前記平滑化熱画像の画素値とその順番で表される座標値をそれぞれ多項式関数で近似し、それぞれの多項式関数の係数を用いて前記補正係数群を算出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の赤外線画像処理装置。
  4.  前記補正係数算出部は、指定した第一の閾値を下回る画素値または第一の閾値指定した第二の閾値を上回る画素値を用いて前記補正係数群を算出し、
     前記第一の閾値は、前記第二の閾値より大きい
    ことを特徴とする請求項3に記載の赤外線画像処理装置。
  5.  前記熱画像は、前記熱画像センサが露光状態で撮像した画像である
    ことを特徴とする請求項1に記載の赤外線画像処理装置。
  6.  前記熱画像センサの位置または方向を変化させるように前記熱画像センサを移動するセンサ移動部をさらに備え、
     前記熱画像生成部は、前記熱画像センサが移動しながら受光した前記赤外線に対応する前記信号から一枚または複数枚の熱画像を生成する
    ことを特徴とする請求項1に記載の赤外線画像処理装置。
  7.  赤外線を受光して前記赤外線と対応する信号を出力し、
     前記信号に基づいて、複数枚の熱画像を生成し、
     前記複数枚の熱画像それぞれの画像の各画素ごとに周辺の画素の画素値を用いて平滑化処理をおこない、複数枚の平滑化画像を算出し、各画像の平滑化済みの各画素値である平滑化画素値を算出し、
     前記熱画像および前記平滑化画像から補正係数群を算出し、前記補正係数群は第一の補正係数と第二の補正係数とを有し、
     前記補正係数群を用いて前記熱画像を補正する
    ことを特徴とする赤外線画像処理方法。
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