WO2020207513A3 - 一种评估半导电屏蔽材料发射性能的测试装置及评估方法 - Google Patents

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    • G01R31/2648—Characterising semiconductor materials

Abstract

一种评估半导电屏蔽材料发射性能的测试装置，包括真空控制系统、性能测试系统，其中，性能测试系统包括测试室（3）、测试样品（2）、载物台（6）、阳极（1）、电流表、保护电阻（7）、高压直流电源，测试样品（2）固定在载物台（6）上作为阴极，阳极（1）接高压直流电源的正极端，测试样品（2）接高压直流电源的阴极端，高压直流电源的阴极端接地，保护电阻（7）和电流表串联在电路中，阳极（1）、阴极均位于测试室（3）中，真空控制系统控制测试室（3）为真空状态。测试装置能够在高电场下直接测试半导电屏蔽材料的载流子发射情况，进而表征用作高压直流电缆的半导电屏蔽材料对于绝缘层电荷注入性能的优劣，对于研制高压直流输电电缆具有重要意义。
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