WO2020133837A1 - 测量坐标校正方法和系统 - Google Patents

测量坐标校正方法和系统 Download PDF

Info

Publication number
WO2020133837A1
WO2020133837A1 PCT/CN2019/083870 CN2019083870W WO2020133837A1 WO 2020133837 A1 WO2020133837 A1 WO 2020133837A1 CN 2019083870 W CN2019083870 W CN 2019083870W WO 2020133837 A1 WO2020133837 A1 WO 2020133837A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
measurement
geometric center
physical
optical lens
coordinates
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/CN2019/083870
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
方杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Publication of WO2020133837A1 publication Critical patent/WO2020133837A1/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates

Definitions

  • the invention relates to the field of image measurement, in particular to a method and system for measuring coordinate correction.
  • the probe measurement system or contact measurement system
  • optical coupling Lens Charge Coupled Device (CCD) acquires the image of the object to be measured and performs measurement
  • CCD Charge Coupled Device
  • the probe measuring system does not have an observation lens, when using the probe for resistivity measurement, the coordinates of the work file are directly used as the measuring coordinates, and then the probe is moved to the position of the measuring coordinates for detection.
  • the measurement coordinates and actual coordinates of the job file are often slightly different, which may easily lead to inaccurate measurement points and lead to the probe not being able to be accurately pinned to the designated test area. Inaccuracy can also lead to chip package failure and chip damage.
  • the present invention provides a method and system for measuring coordinate correction to solve the technical problem of inaccurate measurement results due to the inability to confirm the actual coordinates of the target to be measured during physical measurement.
  • the present invention provides a method for measuring coordinate correction, wherein the method includes:
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the method for correcting the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module includes:
  • the method for determining whether the geometric center coordinates of the optical lens coincide with the geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module is:
  • the calculation method is:
  • 0, it means that the geometric center coordinate of the optical lens coincides with the geometric center coordinate of the measurement range of the physical measurement module, otherwise it does not coincide.
  • the physical measurement module is a probe measurement module.
  • the present invention provides a method for measuring coordinate correction, wherein the method includes:
  • the method for correcting the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module includes:
  • the method for determining whether the geometric center coordinates of the optical lens coincide with the geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module is:
  • the calculation method is:
  • 0, it means that the geometric center coordinate of the optical lens coincides with the geometric center coordinate of the measurement range of the physical measurement module, otherwise it does not coincide.
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the physical measurement module is a probe measurement module.
  • the present invention also provides a measurement coordinate correction system, wherein the system includes:
  • a first data acquisition unit configured to acquire the measurement range of the test area corresponding to the physical measurement module of the measurement system and the coordinates of the geometric center of the measurement range;
  • a correction unit configured to correct the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module, so that the measurement range of the optical lens is consistent with the measurement range of the physical measurement module;
  • a second data acquisition unit configured to acquire the coordinates of the geometric center of the object to be measured using the corrected optical lens
  • a comparison unit configured to compare the coordinates of the measurement object with the measurement range of the physical measurement module
  • An adjustment unit configured to adjust the position of the measurement object when at least part of the coordinates of the measurement object are outside the measurement range of the physical measurement module, and then perform comparison again;
  • the execution unit is configured to perform physical measurement when the coordinates of the measurement object are in the measurement range of the physical measurement module.
  • the correction unit corrects the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module, including:
  • the correction unit determines whether the geometric center coordinates of the optical lens coincide with the geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module as follows:
  • the calculation method is:
  • 0, it means that the geometric center coordinate of the optical lens coincides with the geometric center coordinate of the measurement range of the physical measurement module, otherwise it does not coincide.
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the physical measurement module is a probe measurement module.
  • the measurement correction method and system of the present invention can correct the position of the target to be measured during the physical measurement by the capacitive coupling lens of the optical measurement unit before the measurement, which solves the problem that the position of the measurement target cannot be treated in the prior art because the physical measurement unit does not have a lens
  • the problem of adjustment effectively improves the accuracy of the measurement results of the physical measurement unit, while avoiding damage to the chip to be measured.
  • FIG. 1 is a flowchart of a measurement correction method in an embodiment of the invention
  • FIG. 2 is a schematic structural diagram of a measurement correction system in an embodiment of the present invention.
  • the present invention provides a method and system for measuring coordinate correction to solve the technical problem of inaccurate measurement results due to the inability to confirm the actual coordinates of the target to be measured during physical measurement. Specifically, referring to FIG. 1, the method includes the following steps:
  • step S110 the measurement range of the test area corresponding to the physical measurement module of the measurement system and the coordinates of the geometric center of the measurement range are acquired.
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the physical measurement module is a probe measurement module
  • the optical lens is a capacitive coupling lens.
  • the measurement range of the test area corresponding to the physical measurement module and the coordinates of the geometric center of the measurement range are preset and stored in the system, which can be obtained by retrieving data.
  • step S120 the optical lens of the measurement system is corrected according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module, so that the measurement range of the optical lens is consistent with the measurement range of the physical measurement module .
  • the method for correcting the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module includes:
  • the method for determining whether the geometric center coordinates of the optical lens coincide with the geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module is:
  • the calculation method is:
  • 0, it means that the geometric center coordinate of the optical lens coincides with the geometric center coordinate of the measurement range of the physical measurement module, otherwise it does not coincide.
  • step S130 the corrected optical lens is used to acquire the coordinates of the geometric center of the object to be measured. That is, a real-time image of the object to be measured is acquired through the corrected optical lens, and the coordinate range of the area and the geometric center coordinate corresponding to the area are calculated according to the acquired image.
  • step S140 the coordinates of the measurement object are compared with the measurement range of the physical measurement module. Specifically, during comparison, the edge coordinates of the area of the object to be measured are compared with the measurement range of the physical measurement module to determine whether the object to be measured is all within the measurement range of the physical measurement module, and according to Judgment results for subsequent operations.
  • step S150 when at least part of the coordinates of the measurement object are outside the measurement range of the physical measurement module, the position of the measurement object is adjusted, and then the comparison is performed again.
  • step S160 when the coordinates of the measurement object are in the measurement range of the physical measurement module, physical measurement is performed.
  • the measurement correction method and system of the present invention can correct the position of the target to be measured during the physical measurement by the capacitive coupling lens of the optical measurement unit before the measurement, which solves the problem that the position of the measurement target cannot be treated in the prior art because the physical measurement unit does not have a lens
  • the problem of adjustment effectively improves the accuracy of the measurement results of the physical measurement unit, while avoiding damage to the chip to be measured.
  • the present invention also provides a measurement coordinate correction system, which includes: a first data acquisition unit, a correction unit, a second data acquisition unit, a comparison unit, an adjustment unit, and an execution unit.
  • the first data acquisition unit is used to acquire the measurement range of the test area corresponding to the physical measurement module of the measurement system and the coordinates of the geometric center of the measurement range.
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the physical measurement module is a probe measurement module
  • the optical lens is a capacitive coupling lens.
  • the measurement range of the test area corresponding to the physical measurement module and the coordinates of the geometric center of the measurement range are preset and stored in the system, which can be obtained by retrieving data.
  • the correction unit is used to correct the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module, so that the measurement range of the optical lens is consistent with the measurement range of the physical measurement module.
  • the correction unit corrects the optical lens of the measurement system according to the acquired geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module, including:
  • the correction unit determines whether the geometric center coordinates of the optical lens coincide with the geometric center coordinates of the measurement range of the physical measurement module as follows:
  • the calculation method is:
  • 0, it means that the geometric center coordinate of the optical lens coincides with the geometric center coordinate of the measurement range of the physical measurement module, otherwise it does not coincide.
  • the second data acquisition unit is used to acquire the coordinates of the geometric center of the object to be measured using the corrected optical lens. That is, a real-time image of the object to be measured is acquired through the corrected optical lens, and the coordinate range of the area and the geometric center coordinate corresponding to the area are calculated according to the acquired image.
  • the comparison unit is used to compare the coordinates of the measurement object with the measurement range of the physical measurement module. Specifically, during comparison, the edge coordinates of the area of the object to be measured are compared with the measurement range of the physical measurement module to determine whether the object to be measured is all within the measurement range of the physical measurement module, and according to Judgment results for subsequent operations.
  • the adjustment unit is configured to adjust the position of the measurement object and perform comparison again when at least part of the coordinates of the measurement object is outside the measurement range of the physical measurement module.
  • the execution unit is configured to perform physical measurement when the coordinates of the measurement object are in the measurement range of the physical measurement module.
  • the measurement system has both an image measurement unit and a contact measurement unit, wherein the image measurement unit includes an optical lens, and the contact measurement unit includes a physical measurement module.
  • the physical measurement module is a probe measurement module.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

一种测量坐标校正方法和系统,方法包括:获取测试区域的测量范围和测量范围几何中心的坐标(S110);根据获取的几何中心坐标对光学镜头进行校正(S120);采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标(S130);将测量对象的坐标与物理测量模块的测量范围进行比较(S140);当测量对象的坐标处于物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量(S160)。

Description

测量坐标校正方法和系统 技术领域
本发明涉及影像测量领域,尤其涉及一种测量坐标校正方法和系统。
背景技术
目前对待测物体的量测主要有两种方式,一种是利用探针直接接触待测物体进行量测(称为探针量测系统或接触式量测系统),另外一种是利用光学耦合镜头(Charge Coupled Device, CCD)获取待测物体的影像进行量测(称为影像量测系统或非接触式量测系统),现有的测量设备上通常同时配备有探针测量系统和影像测量系统。
由于探针测量系统没有设置观察镜头,在利用探针进行电阻率测量时,直接以作业文件坐标作为量测坐标,然后移动探针到量测坐标的位置进行检测。
技术问题
作业文件的量测坐标和实际坐标往往略有差异,容易导致量测点位置不准确,导致探针无法准确扎到指定的测试区域,如果扎到测量区域外的封装区,不仅会使测量结果不准确,还会导致芯片封装失效,造成芯片损毁。
技术解决方案
本发明提供一种测量坐标校正的方法和系统,以解决物理测量时由于无法确认待测量目标的实际坐标而导致测量结果不准确的技术问题。
为解决上述问题,本发明提供了一种测量坐标校正方法,其中,所述方法包括:
获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量;
所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
为解决上述问题,本发明提供了一种测量坐标校正方法,其中,所述方法包括:
获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
相应的,本发明还提供了一种测量坐标校正系统,其中,所述系统包括:
第一数据获取单元,用于获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
校正单元,用于根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
第二数据获取单元,用于采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
比较单元,用于将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
调整单元,用于当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
执行单元,用于当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述校正单元根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述校正单元判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
有益效果
本发明的测量校正方法和系统能够在测量之前通过光学测量单元的电容耦合镜头校正物理测量时待测量目标的位置,解决了现有技术中由于物理测量单元未设置镜头而无法对待测量目标的位置进行调整的问题,有效提高了物理测量单元的测量结果的准确率,同时避免损坏待测量芯片。
附图说明
图1为本发明的一个实施例中的测量校正方法的流程图;
图2为本发明的一个实施例中的测量校正系统的结构示意图。
本发明的实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明提供一种测量坐标校正的方法和系统,以解决物理测量时由于无法确认待测量目标的实际坐标而导致测量结果不准确的技术问题。具体的,参见图1,该方法包括以下步骤:
首先,在步骤S110中,获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。具体的,所述物理测量模块为探针测量模块,所述光学镜头为电容耦合镜头。具体的,物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标为预先设置好并存储在系统中的,通过调取数据即可获得。
其次,在步骤S120中,根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致。具体的,所述根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
之后,在步骤S130中,采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标。即,通过校正后的光学镜头获取待测量对象的实时图像,并根据获取的图像计算出其所述区域的坐标范围和该区域对应的几何中心坐标。
之后,在步骤S140中,将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较。具体的,比较时,将待测量对象的所处区域的边缘坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较,判断所述待测量对象是否全部位于所述物理测量模块的测量范围内,并根据判断结果进行后续操作。
具体的,在步骤S150中,当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较。
最后,在步骤S160中,当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
本发明的测量校正方法和系统能够在测量之前通过光学测量单元的电容耦合镜头校正物理测量时待测量目标的位置,解决了现有技术中由于物理测量单元未设置镜头而无法对待测量目标的位置进行调整的问题,有效提高了物理测量单元的测量结果的准确率,同时避免损坏待测量芯片。
相应的,参见图2,本发明还提供了一种测量坐标校正系统,其包括:第一数据获取单元、校正单元、第二数据获取单元、比较单元、调整单元以及执行单元。
所述第一数据获取单元用于获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。具体的,所述物理测量模块为探针测量模块,所述光学镜头为电容耦合镜头。具体的,物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标为预先设置好并存储在系统中的,通过调取数据即可获得。
所述校正单元用于根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述校正单元根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述校正单元判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
所述第二数据获取单元用于采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标。即,通过校正后的光学镜头获取待测量对象的实时图像,并根据获取的图像计算出其所述区域的坐标范围和该区域对应的几何中心坐标。
所述比较单元用于将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较。具体的,比较时,将待测量对象的所处区域的边缘坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较,判断所述待测量对象是否全部位于所述物理测量模块的测量范围内,并根据判断结果进行后续操作。
所述调整单元用于当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较。
所述执行单元用于当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
根据本发明的一个具体实施例,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (14)

  1. 一种测量坐标校正方法,其中,所述方法包括:
    获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
    根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
    采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
    将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
    当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
    当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量;
    所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
  2. 根据权利要求1所述的测量坐标校正方法,其中,所述根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
    将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
  3. 根据权利要求2所述的测量坐标校正方法,其中,判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
    获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
    获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
    计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
    Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
    若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
  4. 根据权利要求1所述的测量坐标校正方法,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
  5. 一种测量坐标校正方法,其中,所述方法包括:
    获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
    根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
    采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
    将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
    当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
    当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
  6. 根据权利要求5所述的测量坐标校正方法,其中,所述根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
    将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
  7. 根据权利要求6所述的测量坐标校正方法,其中,判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
    获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
    获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
    计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
    Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
    若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
  8. 根据权利要求5所述的测量坐标校正方法,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
  9. 根据权利要求8所述的测量坐标校正方法,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
  10. 一种测量坐标校正系统,其中,所述系统包括:
    第一数据获取单元,用于获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;
    校正单元,用于根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正,使所述光学镜头的测量范围与所述物理测量模块的测量范围保持一致;
    第二数据获取单元,用于采用校正后的光学镜头获取待测量对象的几何中心的坐标;
    比较单元,用于将所述测量对象的坐标与所述物理测量模块的测量范围进行比较;
    调整单元,用于当所述测量对象的至少部分坐标处于所述物理测量模块的测量范围之外时,调整所述测量对象的位置,再重新进行比较;
    执行单元,用于当所述测量对象的坐标处于所述物理测量模块的测量范围中时,执行物理测量。
  11. 根据权利要求10所述的测量坐标校正系统,其中,所述校正单元根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正的方法包括:
    将所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标进行对比,看二者是否重合;如不重合,则调整所述光学镜头的位置,直至所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合。
  12. 根据权利要求11所述的测量坐标校正系统,其中,所述校正单元判断所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标是否重合的方法为:
    获取所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标(x 0, y 0);
    获取所述光学镜头的几何中心坐标(x 1, y 1);
    计算所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标之间的距离Δ,计算方法为:
    Δ=(x 1-x 02+(y 1-y 0) 2
    若Δ为0,则说明所述光学镜头的几何中心坐标与所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标重合,否则不重合。
  13. 根据权利要求10所述的测量坐标校正系统,其中,所述测量系统同时具有影像式测量单元和接触式测量单元,其中所述影像式测量单元包括光学镜头,所述接触式测量单元包括物理测量模块。
  14. 根据权利要求13所述的测量坐标校正系统,其中,所述物理测量模块为探针测量模块。
PCT/CN2019/083870 2018-12-26 2019-04-23 测量坐标校正方法和系统 Ceased WO2020133837A1 (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811605002.8 2018-12-26
CN201811605002.8A CN109579703B (zh) 2018-12-26 2018-12-26 测量坐标校正方法和系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020133837A1 true WO2020133837A1 (zh) 2020-07-02

Family

ID=65932899

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2019/083870 Ceased WO2020133837A1 (zh) 2018-12-26 2019-04-23 测量坐标校正方法和系统

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN109579703B (zh)
WO (1) WO2020133837A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109579703B (zh) * 2018-12-26 2020-06-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测量坐标校正方法和系统
CN115854910B (zh) * 2022-11-24 2026-01-02 武汉中观自动化科技有限公司 标定目标物位置的方法、系统、电子设备及存储介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4714339A (en) * 1986-02-28 1987-12-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Three and five axis laser tracking systems
CN102506748A (zh) * 2011-10-21 2012-06-20 李志扬 一种基于激光探针阵列的三维测量方法及装置
CN103105126A (zh) * 2011-11-10 2013-05-15 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 星型探针量测校正系统及方法
CN204807597U (zh) * 2015-01-12 2015-11-25 豪勉科技股份有限公司 能根据待测物及针尖的影像自动调校点测位置的设备
CN106885515A (zh) * 2017-03-01 2017-06-23 苏州光照精密仪器有限公司 一种影像测量方法、装置以及系统
CN108663380A (zh) * 2017-03-29 2018-10-16 吉而特科技有限公司 探针卡检测方法及系统
CN109579703A (zh) * 2018-12-26 2019-04-05 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测量坐标校正方法和系统

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1804278A4 (en) * 2004-09-14 2011-03-02 Nikon Corp CORRECTION METHOD AND EXPOSURE DEVICE
JP5509013B2 (ja) * 2010-09-17 2014-06-04 株式会社ミツトヨ 三次元測定機の測定データ補正方法および三次元測定機
CN102901473B (zh) * 2011-07-27 2016-05-11 赛恩倍吉科技顾问(深圳)有限公司 量测坐标校正系统及方法
CN102909728B (zh) * 2011-08-05 2015-11-25 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 机器人工具中心点的视觉校正方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4714339A (en) * 1986-02-28 1987-12-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Three and five axis laser tracking systems
US4714339B1 (en) * 1986-02-28 1997-03-18 Us Army Three and five axis laser tracking systems
US4714339B2 (en) * 1986-02-28 2000-05-23 Us Commerce Three and five axis laser tracking systems
CN102506748A (zh) * 2011-10-21 2012-06-20 李志扬 一种基于激光探针阵列的三维测量方法及装置
CN103105126A (zh) * 2011-11-10 2013-05-15 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 星型探针量测校正系统及方法
CN204807597U (zh) * 2015-01-12 2015-11-25 豪勉科技股份有限公司 能根据待测物及针尖的影像自动调校点测位置的设备
CN106885515A (zh) * 2017-03-01 2017-06-23 苏州光照精密仪器有限公司 一种影像测量方法、装置以及系统
CN108663380A (zh) * 2017-03-29 2018-10-16 吉而特科技有限公司 探针卡检测方法及系统
CN109579703A (zh) * 2018-12-26 2019-04-05 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 测量坐标校正方法和系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN109579703B (zh) 2020-06-16
CN109579703A (zh) 2019-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102901473B (zh) 量测坐标校正系统及方法
CN110375648A (zh) 棋盘格靶标辅助的单台相机实现的空间点三维坐标测量方法
JP2015066603A5 (zh)
CN106382886B (zh) 一种用于可转位刀片加工在线检测装置及方法
CN106705860B (zh) 一种激光测距方法
CN109931869A (zh) 基于激光扫描成像的物料体积高精度检测方法
CN106920261A (zh) 一种机器人手眼静态标定方法
WO2017215351A1 (zh) 摄像装置识别范围的调整方法及装置
CN108833912A (zh) 一种摄像机机芯光轴中心和视场角的测量方法及系统
CN109963147B (zh) 摄像头的安装角度检测方法、装置和车辆
WO2020133837A1 (zh) 测量坐标校正方法和系统
CN110146024B (zh) 基于自适应搜索的双精度位移测量方法
CN104391390B (zh) 基板检查装置及方法
CN107449394B (zh) 全站仪电子对中系统及其对中自动补偿方法
KR101094313B1 (ko) 로봇 tcp와 lvs 사이의 캘리브레이션 방법 및 캘리브레이션 지그
CN105783735B (zh) 一种基于二维数字图像相关补偿算法的实时引伸计测量方法
CN110197485A (zh) 一种古建筑彩绘梁位移的测量系统
CN105043252A (zh) 一种基于图像处理的无参考物尺寸测量方法
JP2010051997A (ja) スポット溶接ガン管理装置
CN116678362A (zh) 平台检测装置及方法
CN104315997B (zh) 一种在平面镜检测中标记检测数据坐标系的装置和方法
CN107490358A (zh) 一种激光测距装置及其使用方法
CN108257184A (zh) 一种基于正方形点阵合作目标的相机姿态测量方法
CN114820820B (zh) 一种电脑后壳的3d检测方法
CN111044039A (zh) 基于imu的单目目标区域自适应高精度测距装置和方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19906578

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19906578

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1