WO2019237367A1 - Circuit de test et système de test - Google Patents

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田晨
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Oppo广东移动通信有限公司
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

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Abstract

L'invention concerne un circuit de test et un système de test. Le circuit de test comprend une charge électronique (20) et un module de condensateur (30). La charge électronique (20) comprend une première extrémité d'entrée (201) et une seconde extrémité d'entrée (202). La première extrémité d'entrée (201) est utilisée pour se connecter à une première extrémité de sortie (101) d'un dispositif de charge (10). La seconde extrémité d'entrée (202) est utilisée pour se connecter à une seconde extrémité de sortie (102) du dispositif de charge (10). La charge électronique (20) est utilisée pour tester un signal d'impulsion émis par le dispositif de charge (10). Le module de condensateur (30) est disposé entre la première extrémité d'entrée (201) et la seconde extrémité d'entrée (202). Lorsque la tension du signal d'impulsion émis par le dispositif de charge (10) est inférieure à un premier seuil de tension, le module de condensateur (30) est utilisé pour fournir de l'énergie au dispositif de charge (10). Lorsque la charge électronique (20) est utilisée pour tester le signal d'impulsion émis par le dispositif de charge (10) et lorsque la tension du signal d'impulsion est inférieure au premier seuil de tension, le module de condensateur (30) peut fournir de l'énergie au dispositif de charge (10) de telle sorte que l'alimentation du dispositif de charge (10) est ininterrompue, ce qui permet de réaliser un test avec succès.
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