WO2019202070A1 - Chiplabor-analysegerät und gehäuse für ein chiplabor-analysegerät - Google Patents

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WO2019202070A1
WO2019202070A1 PCT/EP2019/060065 EP2019060065W WO2019202070A1 WO 2019202070 A1 WO2019202070 A1 WO 2019202070A1 EP 2019060065 W EP2019060065 W EP 2019060065W WO 2019202070 A1 WO2019202070 A1 WO 2019202070A1
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chip
analyzer
lab
chip laboratory
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PCT/EP2019/060065
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Karsten Seidl
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Robert Bosch Gmbh
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Publication date
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    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L9/00—Supporting devices; Holding devices
    • B01L9/52—Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips
    • B01L9/527—Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips for microfluidic devices, e.g. used for lab-on-a-chip
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
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    • B01L2300/0809—Geometry, shape and general structure rectangular shaped
    • B01L2300/0816—Cards, e.g. flat sample carriers usually with flow in two horizontal directions

Definitions

  • the invention is based on a device according to the class of the independent claims.
  • IVD In-vitro diagnostics
  • Presence of a particular DNA sequence, composition of blood, etc. measure and allow diagnosis and treatment decision. This can be done in a chain of several laboratory steps, with a sample can be prepared so that a target size is measurable trouble-free.
  • Various laboratory methods can be used, each of which has an appropriate for the method analyzer. For example, in near-patient devices known as point-of-care devices, the goal may be to map such in vitro diagnostic tests into a device and minimize a number of manual steps on the part of the user.
  • the sample or the sample can be entered into a disposable cartridge. After entering the cartridge into the analyzer, the diagnostic test can be processed fully automatically.
  • Analyzer z. B. are introduced by means of IEC connector, they should be separated for safety reasons before opening the analyzer. Disclosure of the invention
  • a constructive design of a housing for a chip laboratory analyzer may be provided in order to disconnect an electrical power supply during
  • the chip laboratory analyzer For example, be formed so that an access for the power supply and access to the interior of the chip laboratory analyzer and additionally or alternatively to be serviced components are arranged on different sides of the device.
  • a shaping of the housing in order to carry out maintenance work, it is possible, in particular, to relocate a base area of the chip laboratory analyzer to which the access to the interior of the device and additionally or alternatively to components requiring maintenance is directed to that area or side with the access for the energy supply and be favored.
  • a housing for a chip laboratory analyzer or so-called lab-on-chip analyzer can be or be formed so that a secure separation of an electrical power supply during maintenance work can be achieved. This may be required or favored by a geometry of the housing that the chip laboratory analyzer is disconnected by removing a power cord from the device before the chip laboratory analysis device for maintenance on that side with access for the
  • Power supply can be tilted to access the interior of the device and in addition or alternatively to the access to
  • a fan can be stopped before, for example, a flap acting as an access is taken with the filter element to be replaced, whereby the rotating at power supply fan can be stopped reliably.
  • a flap acting as an access is taken with the filter element to be replaced, whereby the rotating at power supply fan can be stopped reliably.
  • a housing for a chip laboratory analyzer having the following features: a cartridge opening for introducing a cartridge with material to be analyzed into the chip laboratory analyzer; a back side having a connection port for connecting a power supply cable to the chip lab analyzer; and a stand area side having a maintenance interface for servicing the chip laboratory analyzer, wherein the stand surface side is formed to function as a stand surface of the chip lab analyzer in operation of the chip lab analyzer, the back side being shaped to leave the cable and the lead removed from the lead opening when maintaining the chip lab analyzer, to serve as another footprint of the chip lab analyzer.
  • the chip lab analyzer may also be referred to as a lab-on-chip analyzer.
  • the housing may be formed to completely or substantially embed the chip laboratory analyzer.
  • the cartridge can be a microfluidic chip laboratory cartridge or lab-on-chip cartridge. The cartridge opening, for example, on the
  • Terminal opening may be formed as a through hole through the housing for inserting a plug of the cable.
  • Connection port can be accessible to a connection socket of the chip laboratory analyzer or the connection opening can be as such
  • Connection socket be formed.
  • the plug can be a cold-device plug.
  • the maintenance interface may be formed to allow access to at least one service-requiring component of the chip laboratory analyzer.
  • the back side and the side surface side may be adjoining surfaces with a common edge.
  • Tilting movement can be performed on the common edge.
  • Such an embodiment offers the advantage that a change from the stand area side as a base in normal operation of the chip laboratory analyzer to the
  • the chip lab analyzer may be of a size and weight that allows an operator to perform the tilting movement easily and without aids.
  • connection opening may be arranged adjacent to the common edge. More specifically, the connection opening may be arranged in a common edge third of the back of the housing.
  • the common edge may be rounded.
  • Stand surface side on the back can be further facilitated.
  • the back side and the stand surface side may span an acute angle or a right angle between each other.
  • Such an embodiment offers the advantage that a secure state of the chip laboratory analyzer can be achieved, even if for
  • the housing may have at least one elastic element which extends over a partial section of the base side and additionally or alternatively over a partial section of the rear side.
  • at least one elastic element can be formed continuously.
  • the at least one elastic element can either be formed from rubber or the like.
  • the maintenance interface may have at least one flap, by means of which a housing inner side, an air filter and additionally or alternatively another functional component of the chip laboratory analysis device for maintenance is feasible.
  • Functional components may for example be a sealing element, in particular a sealing lip or the like.
  • a sealing element in particular a sealing lip or the like.
  • the housing can also have a further connection opening for connecting at least one further cable for data transmission to the chip laboratory analyzer.
  • the additional connection opening can be formed in the back of the housing.
  • the housing may have a window for a reading device for reading opto-electronically readable symbols.
  • the reading device may be a so-called bar code reading device for reading bar codes or the like.
  • a chip laboratory analyzer with an embodiment of the aforementioned housing is also presented.
  • FIG. 1 is a schematic representation of a chip laboratory analyzer according to an embodiment
  • FIG. 2 is a schematic representation of the chip laboratory analyzer of FIG. 1 from a different perspective
  • FIG. 3 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis device from FIG. 1 or FIG. 2 from a different perspective
  • FIG. 4 shows a schematic illustration of the chip laboratory analysis device from FIG. 1, FIG. 2 or FIG. 3 from a different perspective;
  • FIG. 4 shows a schematic illustration of the chip laboratory analysis device from FIG. 1, FIG. 2 or FIG. 3 from a different perspective;
  • FIG. 5 shows a schematic illustration of a partial section of the chip laboratory analyzer from FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3 or FIG. 4;
  • FIG. 5 shows a schematic illustration of a partial section of the chip laboratory analyzer from FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3 or FIG. 4;
  • FIG. 6 is a schematic representation of the chip laboratory analyzer of FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3 or FIG. 4 during a tilting operation of FIG.
  • Stand area on the further floor space; 7 is a schematic representation of the chip laboratory analyzer of FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3, FIG. 4 or FIG. 6 at the beginning of a
  • FIG. 8 is a schematic representation of the chip laboratory analyzer of FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3, FIG. 4, FIG. 6, and FIG. 7 at the end of FIG.
  • the chip lab analyzer 100 may be provided for near-patient use.
  • the chip laboratory analyzer 100 is designed to analyze material introduced into cartridges.
  • the chip lab analyzer 100 includes a housing 110 for receiving functional components of the chip lab analyzer 100.
  • the chip lab analyzer 100, and in particular the housing 110 is shown in an oblique front view.
  • the housing 110 has a front side 112, a rear side 114 and a side surface side 116. Exemplary is in the front 112 a
  • Cartridge opening 111 for introducing a cartridge with material to be analyzed in the chip laboratory analyzer 100 formed.
  • a connection opening for connecting a power supply cable to the chip lab analyzer 100 is formed.
  • a maintenance interface for maintaining the chip laboratory analyzer 100 is formed or arranged.
  • the base surface side 116 is formed to be in an operation or
  • the chip laboratory analyzer 100 Normal operation of the chip laboratory analyzer 100 to act as a footprint of the chip laboratory analyzer 100.
  • the back 114 is formed, to function as another footprint of the chip lab analyzer 100 during maintenance work on the chip lab analyzer 100 when the cable is removed from the terminal opening of the back side 114.
  • the chip lab analyzer 100 can be rotated from the standing surface side 116, which functions as a standing surface during normal operation, to the rear side 114, which acts as a further footprint for maintenance, wherein a possibly present cable is removed from the
  • Connection opening of the back 114 is to be removed in order to use the back 114 as a further footprint.
  • the rear side 114 and the base side 116 are designed according to the embodiment shown here as contiguous surfaces or sides of the housing 110.
  • the back 114 and the base side 116 are designed according to the embodiment shown here as contiguous surfaces or sides of the housing 110.
  • Stand surface side 116 in this case have a common edge 118.
  • the common edge 118 is rounded.
  • the housing 110 additionally has further sides, so that in a side view of the chip laboratory analysis apparatus 100 merely by way of example an outline of the
  • Housing 110 in the form of an irregular pentagon results.
  • the front side 112 is inclined and the rear side is vertically aligned when the chip laboratory analysis device 100 is in the ready state on the base side 116.
  • FIG. 2 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis apparatus 100 from FIG. 1 from a different perspective.
  • the chip lab analyzer 100 and in particular the housing 110, is shown in a side view.
  • the housing 110 with the front side 112, the back side 114, the floor surface side 116 and the common edge 118 are shown in FIG. 2 by the chip laboratory analysis apparatus 100.
  • the outline of the housing 110 in the form of an irregular pentagon is recognizable.
  • a right angle is spanned between the rear side 114 and the base side 116.
  • FIG. 3 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis device 100 from FIG. 1 or FIG. 2 from a different perspective.
  • the chip lab analyzer 100 and in particular the housing 110, is shown in a rear view.
  • the housing 110 with the rear side 114, the common edge 118, the connection opening 313 and a further connection opening 315 are shown in FIG. 3 by the chip laboratory analyzer 100.
  • connection opening 313 for connecting a power supply cable to the chip laboratory analyzer 100 is formed.
  • connection opening 313 therethrough is a connection socket of the
  • Chip lab analyzer 100 accessible to the cable.
  • a connection socket for a cable connector of the cable is accessible.
  • the connection opening 313 is arranged adjacent to the common edge 118. More specifically, the terminal opening 313 is formed in a third of the rear side 114 of the housing 110 adjacent to the common edge 118.
  • the housing 110 has the further connection opening 315 for connecting at least one further cable for data transmission to the chip laboratory analyzer 100.
  • the further connection opening 315 is formed adjacent to the connection opening 313 for connecting the cable to the power supply.
  • FIG. 4 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis device 100 from FIG. 1, FIG. 2 or FIG. 3 from a different perspective.
  • the chip lab analyzer 100 and in particular the housing 110, is shown in a bottom view.
  • the chip lab analyzer 100 shows the housing 110 with the footprint side 116, the common edge 118, the maintenance interface 417, elastic members 420, a window 430, and a device label 440.
  • the maintenance interface 417 is formed or arranged in the base surface side 116, which functions as a base during operation or normal operation of the chip laboratory analyzer 100.
  • Maintenance interface 417 is a maintenance
  • Maintenance interface 417 a flap by means of which an air filter of the chip laboratory analysis device 100 is accessible for maintenance work. Additionally or alternatively, the maintenance interface 417 may have a flap by means of which a housing inner side and / or another functional component, for example at least one sealing element, in particular a sealing lip, of the chip laboratory analyzer 100 for
  • the housing 110 has three elastic elements 420 according to the exemplary embodiment shown here.
  • the elastic elements 420 in this case act as feet for the chip laboratory analyzer 100.
  • the elastic elements 420 are formed, for example, from rubber or another elastic material.
  • the elastic elements 420 extend over a partial section of the base side 116 and / or a partial section of the rear side of the housing 110. More specifically, one of the elastic elements 420 extends over a partial section of the base side 116 and two of the elastic elements 420 extend over a partial section the floor surface side 116 and a sectionabschnit the back of the housing 110th
  • the window 430 is for a reading device for reading opto-electronically readable symbols on cartridges.
  • the window 430 is formed in a further side of the housing 110, which adjoins the base surface side 116.
  • the electronically readable symbols are, for example, barcodes or the like.
  • the device label 440 is arranged on the base side 116, in particular adjacent to the maintenance interface 417.
  • FIG. 5 shows a schematic representation of a partial section of the chip laboratory analyzer 100 from FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3 or FIG. 4.
  • the chip laboratory analyzer 100, and in particular the housing 110, is in an oblique rear view shown.
  • FIG. 5 a partial section of the housing 110 with the rear side 114, the common edge 118, the connection opening 313, the further connection opening 315, a cable 550 for power supply and a further cable 560 for data transmission are shown in FIG. 5 by the chip laboratory analyzer 100.
  • the illustration in FIG. 5 is similar to the illustration from FIG. 3, wherein additionally the cable 550 and the further cable 560 are shown.
  • the cable 550 has according to the embodiment shown here on a device connector. Arrows symbolically illustrate that the cable 550 is removed from the connection opening 313 and the further cable 560 is removed from the further connection opening 315 in order to use the chip laboratory analysis apparatus 100 for
  • FIG. 6 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis apparatus 100 from FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3 or FIG. 4 during a tilting operation from the standing surface to the further standing surface.
  • the chip lab analyzer 100 and in particular the housing 110, is shown in a side view.
  • the housing 110 with the front side 112, the back side 114, the floor surface side 116 and the common edge 118 are shown in FIG. 6 by the chip laboratory analyzer 100.
  • the chip laboratory analyzer 100 is tilted from the stand surface side 116 functioning as a standing surface in normal operation via the common edge 118 to the rear side 114 acting as a further standing surface for maintenance work.
  • FIG. 7 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis apparatus 100 from FIGS. 1, 2, 3, 4 and 6 at the beginning of a
  • the chip laboratory analyzer 100 and in particular the housing 110, is shown standing in an oblique side view on the rear side 114 as a further standing surface. Due representation In Fig. 7, from the chip lab analyzer 100, the housing 110 having the front side 112, the back side 114, the floor surface side 116,
  • Maintenance interface 417 or filter flap is shown opened in the illustration of FIG. 7. Arrows and a garbage bin symbol illustrate that the spent air filter 770 is disposed of.
  • FIG. 8 shows a schematic representation of the chip laboratory analysis apparatus 100 from FIGS. 1, 2, 3, 4, 6 and 7 at the end of FIG
  • FIG. 8 corresponds to the illustration from FIG. 7, with the exception that instead of the used air filter a new air filter 870 is shown.
  • a chip laboratory analyzer 100 is shown in FIGS. 1 to 8, wherein the chip laboratory analyzer 100 is shown as standing surface in FIGS. 1, 2 and 5 during normal operation and on the stand surface side 116, for example.
  • the connection opening 313, for example for a cold-device plug, according to the exemplary embodiment shown here, is arranged in a region of the rear side 114 adjoining the common edge 118 in order to guide an electrical power supply as close as possible to a laboratory bench and reliable separation of the
  • FIG. 2 shows the rounding or rounded common edge 118 between the rear side 114 and the base side 116.
  • the chip laboratory analyzer 100 is rolled over this rounding or rounded common edge 118.
  • Circumferential elastic elements 420 or rubber feet extend in accordance with the exemplary embodiment illustrated here over the rounded common edge 118 in order to facilitate a tilting operation of the chip laboratory analyzer 100 from the base surface side 116 to the rear side 114.
  • the chip laboratory analyzer 100 in the Connection opening 313 inserted and thus protruding
  • the cable connector of the 550 cable can not be tilted unless this
  • IEC connector is pulled out of the connection opening 313 before the tilting operation.
  • the power supply is completely disconnected from the chip lab analyzer 100.
  • the maintenance interface 417 designed as a filter flap, which is to be opened in order, for example, to replace the used air filter 770 by the new air filter 870 during maintenance. Only after
  • FIG. 4 likewise shows the elastic elements 420 or rubber feet or so-called rubber bumpers which serve for a secure state of the chip laboratory analyzer 100 in normal operation and, due to the design running around on the rear side 114, also the
  • FIGS. 5 to 8 the sequence of the process for preparing and carrying out maintenance work is again outlined, for example shown for changing the air filter 770 or 870 in the case of maintenance.
  • Fig. 5 shows the pulling of the cable 550 with the IEC connector, which is to be achieved before the chip laboratory analyzer 100 can be tilted as shown in Fig. 5 on the back 114 of the housing 110.
  • the maintenance interface 417 or filter door is then opened, the used air filter 770 is removed and replaced. At the moment of replacement, the fan stops and the chip lab analyzer 100 is de-energized.
  • the chip laboratory analyzer 100 After replacement or other maintenance / service work and the closing of the maintenance interface 417, the chip laboratory analyzer 100 is tilted back onto the base surface side 116, the Cable 550 is connected to the IEC connector again to the connection port 313 and the chip laboratory analyzer 100 can be operated normally again. If an exemplary embodiment comprises a "and / or" link between a first feature and a second feature, then this is to be read so that the embodiment according to one embodiment, both the first feature and the second feature and according to another embodiment either only first feature or only the second feature.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Gehäuse (110) für ein Chiplabor-Analysegerät (100). Das Gehäuse (110) weist eine Kartuschenöffnung (111) zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät (100) auf. Auch weist das Gehäuse (110) eine Rückseite (114) mit einer Anschlussöffnung zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät (100)auf. Das Gehäuse (110) weist ferner eine Standflächenseite (116) mit einer Instandhaltungsschnittstelle zum Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes (100)auf. Die Standflächenseite (116) ist ausgeformt, um bei einem Betrieb des Chiplabor-Analysegerätes (100) als Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes (100) zu fungieren. Die Rückseite (114) ist ausgeformt, um bei aus der Anschlussöffnung entferntem Kabel und bei dem Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes (100) als weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes (100) zu fungieren.

Description

Beschreibung
Titel
Chiplabor-Analysegerät und Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät
Stand der Technik
Die Erfindung geht von einer Vorrichtung nach Gattung der unabhängigen Ansprüche aus.
In-vitro-Diagnostik (IVD) ist ein Feld von Medizinprodukten, welche aus humanen Proben spezifische Größen, wie z. B. Konzentration eines Moleküles,
Vorhandensein einer bestimmten DNA-Sequenz, Zusammensetzung von Blut etc., messen und eine Diagnose und Behandlungsentscheid zulassen. Dies kann in einer Verkettung von mehreren Laborschritten geschehen, wobei eine Probe so aufbereitet werden kann, dass eine Zielgröße störungsfrei messbar ist. Dabei können verschiedene Labormethoden angewandt werden, die jeweils ein für die Methode geeignetes Analysegerät aufweist. In patientennahen Geräten, sogenannten point-of-care-Geräten, kann es beispielsweise das Ziel sein, solche In-vitro-Diagnostik-Tests in einem Gerät abzubilden und eine Anzahl manueller Schritte seitens des Benutzers auf ein Minimum zu reduzieren. Dabei kann die Probe bzw. das Sample in eine Einwegkartusche eingegeben werden. Nach einer Eingabe der Kartusche in das Analysegerät kann der Diagnosetest vollautomatisch abgearbeitet werden. Solche Analysegeräte können
wartungsrelevante Komponenten wie beispielsweise Luftfilter oder Dichtlippen aufweisen. Auch können solche die Analysegeräte bei Wartungsarbeiten, z. B. bei einer Justierung von Optiken, geöffnet werden. Insbesondere wenn elektrische Spannungen von beispielsweise 100 bis 230 Volt an das
Analysegerät z. B. mittels Kaltgerätestecker herangeführt sind, sollten diese aus Sicherheitsaspekten vor dem Öffnen des Analysegerätes getrennt werden. Offenbarung der Erfindung
Vor diesem Hintergrund werden mit dem hier vorgestellten Ansatz ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät und ein Chiplabor-Analysegerät gemäß den Hauptansprüchen vorgestellt. Durch die in den abhängigen Ansprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen der im unabhängigen Anspruch angegebenen Vorrichtung möglich.
Gemäß Ausführungsformen kann insbesondere eine konstruktive Auslegung bzw. Ausformung eines Gehäuses für ein Chiplabor-Analysegerät vorgesehen sein, um eine Trennung einer elektrischen Energieversorgung während
Instandhaltungsarbeiten mit teilweisem oder vollständigem Öffnen des Gerätes zu erzwingen oder zumindest zu fördern. Hierbei kann das Gehäuse
beispielsweise so ausgeformt sein, dass ein Zugang für die Energieversorgung und ein Zugang zum Inneren des Chiplabor-Analysegerätes und zusätzlich oder alternativ zu instandhaltungsbedürftigen Komponenten auf unterschiedlichen Geräteseiten angeordnet sind. Durch eine Formgebung des Gehäuses kann zum Durchführen von Instandhaltungsarbeiten insbesondere ein Umlagern einer Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes, an welcher der Zugang zum Inneren des Gerätes und zusätzlich oder alternativ zu instandhaltungsbedürftigen Komponenten angeordnet ist, auf jene Fläche oder Seite mit dem Zugang für die Energieversorgung verlangt und begünstigt werden.
Vorteilhafterweise kann gemäß Ausführungsformen insbesondere ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät bzw. sogenanntes Lab-on-Chip-Analysegerät so ausgeformt sein oder werden, dass eine sichere Trennung einer elektrischen Energieversorgung während Instandhaltungsarbeiten erreicht werden kann. Hierbei kann durch eine Geometrie des Gehäuses verlangt oder begünstigt werden, dass das Chiplabor-Analysegerät durch Abziehen eines Stromkabels aus dem Gerät spannungsfrei geschaltet wird, bevor das Chiplabor-Analysegerät für Instandhaltungsarbeiten auf jene Seite mit dem Zugang für die
Energieversorgung gekippt werden kann, um an den Zugang zum Inneren des Gerätes und zusätzlich oder alternativ an den Zugang zu
instandhaltungsbedürftigen Komponenten zu gelangen. Damit kann
insbesondere bei einem Auswechseln von Luftfilterelementen, beispielsweise Filtermaten, zunächst ein Lüfter gestoppt werden, bevor zum Beispiel eine als Zugang fungierende Klappe mit dem zu tauschenden Filterelement entnommen wird, wodurch der bei Spannungsversorgung rotierende Lüfter zuverlässig gestoppt werden kann. Somit kann eine Sicherheit für einen Benutzer bei einer Durchführung von Instandhaltungsarbeiten erhöht werden. Durch das
erzwungene oder begünstigte Trennen der Energieversorgung kann verhindert werden, dass ein Benutzer oder Servicetechniker bei Instandhaltungsarbeiten beim partiellen oder vollständigen Öffnen des Gerätes an spannungsführende Komponenten und zusätzlich oder alternativ sich bewegende Teile greift.
Es wird ein Gehäuse für ein Chiplabor-Analysegerät vorgestellt, wobei das Gehäuse folgende Merkmale aufweist: eine Kartuschenöffnung zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät; eine Rückseite mit einer Anschlussöffnung zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät; und eine Standflächenseite mit einer Instandhaltungsschnitstelle zum Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes, wobei die Standflächenseite ausgeformt ist, um bei einem Betrieb des Chiplabor-Analysegerätes als Standfläche des Chiplabor- Analysegerätes zu fungieren, wobei die Rückseite ausgeformt ist, um bei aus der Anschlussöffnung entferntem Kabel und bei dem Instandhalten des Chiplabor- Analysegerätes als weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes zu fungieren.
Das Chiplabor-Analysegerät kann auch als ein Lab-on-chip-Analysegerät bezeichnet werden. Das Gehäuse kann ausgeformt sein, um das Chiplabor- Analysegerät vollständig oder zu einem Großteil einzuhausen. Bei der Kartusche kann es sich um eine mikrofluidische Chiplabor- Kartusche oder Lab-on-chip- Kartusche handeln. Die Kartuschenöffnung kann beispielsweise auf der
Vorderseite oder Oberseite des Gehäuses angeordnet sein. Die
Anschlussöffnung kann als eine Durchgangsöffnung durch das Gehäuse zum Einführen eines Steckers des Kabels ausgeformt sein. Durch die Anschlussöffnung kann eine Anschlussbuchse des Chiplabor-Analysegerätes zugänglich sein oder die Anschlussöffnung kann als eine solche
Anschlussbuchse ausgeformt sein. Bei dem Stecker kann es sich um einen Kaltgerätestecker handeln. Die Instandhaltungsschnittstelle kann ausgeformt sein, um einen Zugriff auf zumindest eine instandhaltungsbedürftige Komponente des Chiplabor-Analysegerätes zu ermöglichen.
Gemäß einer Ausführungsform können die Rückseite und die Standflächenseite aneinander angrenzende Flächen mit einer gemeinsamen Kante sein. Für Instandhaltungsarbeiten an dem Chiplabor-Analysegerät kann eine
Kippbewegung über die gemeinsame Kante ausgeführt werden. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Wechsel von der Standflächenseite als Standfläche im Normalbetrieb des Chiplabor-Analysegerätes zu der
Rückseite als weitere Standfläche für Instandhaltungsarbeiten begünstigt oder gefördert werden kann, weil lediglich eine Kippbewegung von einer Seite auf eine angrenzende Seite durchzuführen ist. Das Chiplabor-Analysegerät kann eine Größe und ein Gewicht aufweisen, die es einer Bedienperson ermöglichen, die Kippbewegung einfach und ohne Hilfsmittel durchzuführen.
Dabei kann die Anschlussöffnung benachbart zu der gemeinsamen Kante angeordnet sein. Genauer gesagt kann die Anschlussöffnung in einem die gemeinsame Kante aufweisenden Drittel der Rückseite des Gehäuses angeordnet sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Wechsel von der Standfläche auf die weitere Standfläche für
Instandhaltungsarbeiten lediglich bei abgezogenem Kabel ermöglicht wird.
Auch kann die gemeinsame Kante abgerundet sein. Eine solche
Ausführungsform bietet den Vorteil, dass eine Kippbewegung von der
Standflächenseite auf die Rückseite noch weiter erleichtert werden kann.
Gemäß einer Ausführungsform können die Rückseite und die Standflächenseite einen spitzen Winkel oder einen rechten Winkel zwischen einander aufspannen. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein sicherer Stand des Chiplabor-Analysegerätes erreicht werden kann, selbst wenn für
Instandhaltungsarbeiten die weitere Standfläche genutzt wird. Ferner kann das Gehäuse zumindest ein elastisches Element aufweisen, das sich über einen Teilabschnitt der Standflächenseite und zusätzlich oder alternativ über einen Teilabschnitt der Rückseite erstreckt. Hierbei kann mindestens ein elastisches Element durchgehend ausgeformt sein. Das zumindest eine elastische Element kann beides Weise aus Gummi oder dergleichen ausgeformt sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass ein Verrutschen des Chiplabor-Analysegerätes vermieden werden kann. Bei einer durchgehenden Ausformung mindestens eines elastischen Elements, das sich über einen Teilabschnitt der Standflächenseite und über einen Teilabschnitt der Rückseite erstreckt, kann zudem eine Kippbewegung von der Standflächenseite auf die Rückseite unterstützt werden.
Insbesondere kann die Instandhaltungsschnittstelle zumindest eine Klappe aufweisen, mittels derer eine Gehäuseinnenseite, ein Luftfilter und zusätzlich oder alternativ eine andere Funktionskomponente des Chiplabor-Analysegerätes für das Instandhalten zugänglich machbar ist. Eine andere
Funktionskomponenten kann beispielsweise ein Dichtelement sein, insbesondere eine Dichtlippe oder dergleichen. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass eine einfache Instandhaltung von Funktionskomponenten des Chiplabor- Analysegerätes ermöglicht wird.
Auch kann das Gehäuse eine weitere Anschlussöffnung zum Anschließen mindestens eines weiteren Kabels zur Datenübertragung an das Chiplabor- Analysegerät aufweisen. Die weitere Anschlussöffnung kann in der Rückseite des Gehäuses ausgeformt sein. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass zumindest ein Chiplabor-Analysegerät beispielsweise an ein Netzwerk, einen Zentralrechner oder dergleichen angeschlossen werden kann.
Zudem kann das Gehäuse ein Fenster für eine Lesevorrichtung zum Lesen optoelektronisch lesbarer Symbole aufweisen. Bei der Lesevorrichtung kann es sich um eine sogenannte Barcode-Lesevorrichtung zum Lesen von Strichcodes oder dergleichen handeln. Eine solche Ausführungsform bietet den Vorteil, dass an Kartuschen angebrachte optoelektronisch lesbare Symbole ausgelesen werden können, um für jede Art von Kartusche eine spezifische Analyse mittels des Chiplabor-Analysegerätes zu ermöglichen.
Es wird ferner ein Chiplabor-Analysegerät mit einer Ausführungsform des vorstehend genannten Gehäuses vorgestellt.
Hierbei können Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes innerhalb des Gehäuses angeordnet sein. Anders ausgedrückt können
Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes durch das Gehäuse gegenüber einer Umgebung geschützt angeordnet sein.
Ausführungsbeispiele des hier vorgestellten Ansatzes sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Chiplabor-Analysegerätes gemäß einem Ausführungsbeispiel;
Fig. 2 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1 aus einer anderen Perspektive;
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1 bzw. Fig. 2 aus einer anderen Perspektive;
Fig. 4 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2 bzw. Fig. 3 aus einer anderen Perspektive;
Fig. 5 eine schematische Darstellung eines Teilabschnittes des Chiplabor- Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4;
Fig. 6 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4 während eines Kippvorgangs von der
Standfläche auf die weitere Standfläche; Fig. 7 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4 bzw. Fig. 6 am Anfang eines
Instandhaltungsvorgangs; und
Fig. 8 eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4, Fig. 6 bzw. Fig. 7 am Ende des
Instandhaltungsvorgangs.
In der nachfolgenden Beschreibung günstiger Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden für die in den verschiedenen Figuren
dargestellten und ähnlich wirkenden Elemente gleiche oder ähnliche
Bezugszeichen verwendet, wobei auf eine wiederholte Beschreibung dieser Elemente verzichtet wird.
Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung eines Chiplabor-Analysegerätes 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel. Das Chiplabor-Analysegerät 100 kann für einen patientennahen Einsatz vorgesehen sein. Dabei ist das Chiplabor- Analysegerät 100 ausgebildet, um in Kartuschen eingebrachtes Material zu analysieren. Das Chiplabor-Analysegerät 100 weist ein Gehäuse 110 zum Aufnehmen von Funktionskomponenten des Chiplabor-Analysegerätes 100 auf. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer schrägen Vorderansicht gezeigt.
Das Gehäuse 110 weist eine Vorderseite 112, eine Rückseite 114 und eine Standflächenseite 116 auf. Beispielshaft ist in der Vorderseite 112 eine
Kartuschenöffnung 111 zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. In der Rückseite 114 ist eine Anschlussöffnung zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. In der Standflächenseite 116 ist eine Instandhaltungsschnittstelle zum Instandhalten des Chiplabor- Analysegerätes 100 ausgeformt bzw. angeordnet.
Dabei ist die Standflächenseite 116 ausgeformt, um bei einem Betrieb bzw.
Normalbetrieb des Chiplabor-Analysegerätes 100 als eine Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes 100 zu fungieren. Die Rückseite 114 ist ausgeformt, um während Instandhaltungsarbeiten an dem Chiplabor-Analysegerät 100 als eine weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes 100 zu fungieren, wenn das Kabel aus der Anschlussöffnung der Rückseite 114 entfernt ist. Somit kann zum Durchführen von Instandhaltungsarbeiten das Chiplabor-Analysegerät 100 von der bei Normalbetrieb als Standfläche fungierenden Standflächenseite 116 auf die als weitere Standfläche zur Instandhaltung fungierenden Rückseite 114 gedreht werden, wobei ein eventuell vorhandenes Kabel aus der
Anschlussöffnung der Rückseite 114 zu entfernen ist, um die Rückseite 114 als weitere Standfläche nutzen zu können.
Die Rückseite 114 und die Standflächenseite 116 sind gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel als aneinander angrenzende Flächen oder Seiten des Gehäuses 110 ausgeführt. Die Rückseite 114 und die
Standflächenseite 116 weisen hierbei eine gemeinsame Kante 118 auf. Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel ist die gemeinsame Kante 118 abgerundet.
Wie es unter anderem in der Darstellung von Fig. 1 erkennbar ist, weist das Gehäuse 110 zusätzlich weitere Seiten auf, sodass sich in einer Seitenansicht des Chiplabor-Analysegerätes 100 lediglich beispielhaft ein Umriss des
Gehäuses 110 in Gestalt eines unregelmäßigen Fünfecks ergibt.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist die Vorderseite 112 geneigt und die Rückseite vertikal ausgerichtet, wenn das Chiplabor-Analysegerät 100 im betriebsbereiten Zustand auf der Standflächenseite 116 steht.
Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1 aus einer anderen Perspektive. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer Seitenansicht gezeigt.
Darstellungsbedingt sind in Fig. 2 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116 und der gemeinsamen Kante 118 gezeigt. Auch in der Darstellung von Fig. 2 ist der Umriss des Gehäuses 110 in Gestalt eines unregelmäßigen Fünfecks erkennbar. Dabei ist zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116 ein rechter Winkel aufgespannt. Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel kann zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116 ein spitzer Winkel aufgespannt sein.
Fig. 3 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1 bzw. Fig. 2 aus einer anderen Perspektive. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer Rückansicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 3 von dem Chiplabor- Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Rückseite 114, der gemeinsamen Kante 118, der Anschlussöffnung 313 und einer weiteren Anschlussöffnung 315 gezeigt.
In der Rückseite 114 ist die Anschlussöffnung 313 zum Anschließen eines Kabels zur Energieversorgung an das Chiplabor-Analysegerät 100 ausgeformt. Durch die Anschlussöffnung 313 hindurch ist eine Anschlussbuchse des
Chiplabor-Analysegerätes 100 für das Kabel zugänglich. Insbesondere ist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel eine Anschlussbuchse für einen Kaltgerätestecker des Kabels zugänglich. Die Anschlussöffnung 313 ist benachbart zu der gemeinsamen Kante 118 angeordnet. Genauer gesagt ist die Anschlussöffnung 313 in einem an die gemeinsame Kante 118 angrenzenden Drittel der Rückseite 114 des Gehäuses 110 ausgeformt.
Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel weist das Gehäuse 110 die weitere Anschlussöffnung 315 zum Anschließen mindestens eines weiteren Kabels zur Datenübertragung an das Chiplabor-Analysegerät 100 auf. Die weitere Anschlussöffnung 315 ist benachbart zu der Anschlussöffnung 313 zum Anschließen des Kabels zur Energieversorgung ausgeformt bzw. angeordnet.
Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2 bzw. Fig. 3 aus einer anderen Perspektive. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer Unteransicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 4 von dem Chiplabor- Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Standflächenseite 116, der gemeinsamen Kante 118, der Instandhaltungsschnittstelle 417, elastischen Elementen 420, einem Fenster 430 und einem Geräteetikett 440 gezeigt. Die Instandhaltungsschnitstelle 417 ist in der Standflächenseite 116 ausgeformt bzw. angeordnet, die bei einem Betrieb oder Normalbetrieb des Chiplabor- Analysegerätes 100 als Standfläche fungiert. Durch die
Instandhaltungsschnitstelle 417 ist eine Instandhaltung bzw. sind
Instandhaltungsarbeiten des Chiplabor-Analysegerätes 100 durchführbar.
Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel weist die
Instandhaltungsschnitstelle 417 eine Klappe auf, mitels derer eine ein Luftfilter des Chiplabor-Analysegerätes 100 für Instandhaltungsarbeiten zugänglich machbar ist. Zusätzlich oder alternativ kann die Instandhaltungsschnitstelle 417 eine Klappe aufweisen, mitels derer eine Gehäuseinnenseite und/oder eine andere Funktionskomponente, beispielsweise mindestens ein Dichtelement, insbesondere eine Dichtlippe, des Chiplabor-Analysegerätes 100 für
Instandhaltungsarbeiten zugänglich machbar ist.
Das Gehäuse 110 weist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel drei elastische Elemente 420 auf. Die elastischen Elemente 420 verkehren hierbei als Standfüße für das Chiplabor-Analysegerät 100. Dabei sind die elastischen Elemente 420 beispielsweise aus Gummi oder einem anderen elastischen Material ausgeformt. Die elastischen Elemente 420 erstrecken sich dabei über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und/oder einen Teilabschnit der Rückseite des Gehäuses 110. Genauer gesagt erstreckt sich eines der elastischen Elemente 420 über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und erstrecken sich zwei der elastischen Elemente 420 über einen Teilabschnit der Standflächenseite 116 und über einen Teilabschnit der Rückseite des Gehäuses 110.
Von dem Gehäuse 110 sind in der Darstellung von Fig. 4 ferner das Fenster 430 und das Geräteetiket 440 gezeigt. Das Fenster 430 ist für eine Lesevorrichtung zum Lesen optoelektronisch lesbarer Symbole auf Kartuschen vorgesehen.
Dabei ist das Fenster 430 in einer weiteren Seite des Gehäuses 110 ausgeformt, die an die Standflächenseite 116 angrenzt. Bei den elektronisch lesbaren Symbolen handelt es sich beispielsweise um Strichcodes oder dergleichen. Das Geräteetiket 440 ist an der Standflächenseite 116 angeordnet, insbesondere benachbart zu der Instandhaltungsschnitstelle 417. Fig. 5 zeigt eine schematische Darstellung eines Teilabschnittes des Chiplabor- Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4. Das Chiplabor- Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, ist dabei in einer schrägen Rückansicht gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 5 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 ein Teilabschnitt des Gehäuses 110 mit der Rückseite 114, der gemeinsamen Kante 118, der Anschlussöffnung 313, der weiteren Anschlussöffnung 315, einem Kabel 550 zur Energieversorgung und einem weiteren Kabel 560 zur Datenübertragung gezeigt. Hierbei ähnelt die Darstellung in Fig. 5 der Darstellung aus Fig. 3, wobei zusätzlich das Kabel 550 und das weitere Kabel 560 gezeigt sind. Das Kabel 550 weist gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel einen Kaltgerätestecker auf. Durch Pfeile ist symbolisch veranschaulicht, dass das Kabel 550 aus der Anschlussöffnung 313 und das weitere Kabel 560 aus der weiteren Anschlussöffnung 315 entfernt bzw. abgezogen werden, um das Chiplabor-Analysegerät 100 für
Instandhaltungsarbeiten von der Standflächenseite auf die Rückseite 114 kippen zu können.
Fig. 6 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3 bzw. Fig. 4 während eines Kippvorgangs von der Standfläche auf die weitere Standfläche. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer Seitenansicht gezeigt.
Darstellungsbedingt sind in Fig. 6 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116 und der gemeinsamen Kante 118 gezeigt. Durch einen Pfeil ist symbolisch der Kippvorgang bzw. eine Kippbewegung des Chiplabor-Analysegerätes 100 veranschaulicht. Bei dem Kippvorgang wird das Chiplabor-Analysegerät 100 von der im Normalbetrieb als Standfläche fungierenden Standflächenseite 116 über die gemeinsame Kante 118 auf die für Instandhaltungsarbeiten als weitere Standfläche fungierende Rückseite 114 gekippt.
Fig. 7 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4 bzw. Fig. 6 am Anfang eines
Instandhaltungsvorgangs. Hierbei ist das Chiplabor-Analysegerät 100, und insbesondere das Gehäuse 110, in einer schrägen Seitenansicht auf der Rückseite 114 als weiterer Standfläche stehend gezeigt. Darstellungsbedingt sind in Fig. 7 von dem Chiplabor-Analysegerät 100 das Gehäuse 110 mit der Vorderseite 112, der Rückseite 114, der Standflächenseite 116, der
gemeinsamen Kante 118, der Instandhaltungsschnittstelle 417 in Gestalt der Filterklappe und ein verbrauchter Luftfilter 770 gezeigt. Die
Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe ist in der Darstellung von Fig. 7 geöffnet gezeigt. Durch Pfeilsymbole und ein Mülltonnensymbol ist veranschaulicht, dass der verbrauchte Luftfilter 770 entsorgt wird.
Fig. 8 zeigt eine schematische Darstellung des Chiplabor-Analysegerätes 100 aus Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, Fig. 4, Fig. 6 bzw. Fig. 7 am Ende des
Instandhaltungsvorgangs. Die Darstellung in Fig. 8 entspricht hierbei der Darstellung aus Fig. 7 mit Ausnahme dessen, dass anstelle des verbrauchten Luftfilters ein neuer Luftfilter 870 gezeigt ist. Durch einen Pfeil ist symbolisch veranschaulicht, dass der neue Luftfilter 870 in das Chiplabor-Analysegerät 100 eingesetzt wird.
Zusammenfassend gesagt und mit anderen Worten ausgedrückt ist in den Figuren 1 bis 8 ein Chiplabor-Analysegerät 100 gezeigt, wobei das Chiplabor- Analysegerät 100 beispielsweise in den Figuren 1, 2 und 5 während eines Normalbetriebs und auf der Standflächenseite 116 als Standfläche stehend dargestellt ist. In der Rückseite 114 ist die Anschlussöffnung 313, beispielsweise für einen Kaltgerätestecker, gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel in einem an die gemeinsame Kante 118 angrenzenden Bereich der Rückseite 114 angeordnet, um eine elektrische Spannungsversorgung möglichst nahe an einem Labortisch zu führen und eine zuverlässige Trennung der
Spannungsversorgung vor Instandhaltungsarbeiten zu erzwingen oder zu fördern. Insbesondere Fig. 2 zeigt die Rundung bzw. abgerundete gemeinsame Kante 118 zwischen der Rückseite 114 und der Standflächenseite 116. Im Service- und/oder Wartungsfall bzw. für Instandhaltungsarbeiten wird das Chiplabor-Analysegerät 100 über diese Rundung bzw. abgerundete gemeinsame Kante 118 gerollt. Über die abgerundete gemeinsame Kante 118 erstrecken sich gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel umlaufende elastische Elemente 420 bzw. Gummifüße, um einen Kippvorgang des Chiplabor- Analysegerätes 100 von der Standflächenseite 116 auf die Rückseite 114 zu erleichtern. Dabei kann das Chiplabor-Analysegerät 100 bei in die Anschlussöffnung 313 eingestecktem und somit herausstehendem
Kaltgerätestecker des Kabels 550 erst gekippt werden, wenn dieser
Kaltgerätestecker vor dem Kippvorgang aus der Anschlussöffnung 313 herausgezogen wird. Damit wird die Spannungsversorgung vollständig von dem Chiplabor-Analysegerät 100 getrennt.
Fig. 4 zeigt auch die als Filterklappe ausgeführte Instandhaltungsschnittstelle 417, die zu öffnen ist, um im Wartungsfall beispielsweise den verbrauchten Luftfilter 770 durch den neuen Luftfilter 870 zu ersetzen. Erst nach dem
Kippvorgang des Chiplabor-Analysegerätes 100 auf die Rückseite als weitere Standfläche 114 gelangt ein Nutzer oder Servicetechniker an die
Instandhaltungsschnittstelle 417, zum Beispiel eine Filtereinheit. Bei einem Öffnen der Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe und Entfernen der Filtermatte bzw. des verbrauchten Luftfilters 770, ist die Spannungsversorgung getrennt und unter dem Luftfilter 770 bzw. 870 angeordnete, bei Betrieb rotierende Lüfter steht still. Damit wird verhindert, dass der Benutzer in rotierende bzw. sich bewegende Bauteile greift. Fig. 4 zeigt ebenfalls die elastischen Elemente 420 bzw. Gummifüße oder sogenannte Rubber-Bumper, die für einen sicheren Stand des Chiplabor-Analysegerätes 100 im Normalbetrieb dienen und aufgrund der auf die Rückseite 114 umlaufenden Ausführung auch den
Kippvorgang auf die Rückseite 114 des Chiplabor-Analysegerätes 100 erleichtern.
In den Figuren 5 bis 8 ist nochmals der Ablauf des Vorgangs zur Vorbereitung und Durchführung von Instandhaltungsarbeiten skizziert, beispielhaft gezeigt für ein Wechseln des Luftfilters 770 bzw. 870 im Wartungsfall. Fig. 5 zeigt das Ziehen des Kabels 550 mit dem Kaltgerätestecker, was erreicht werden soll, bevor das Chiplabor-Analysegerät 100 wie in Fig. 5 gezeigt auf die Rückseite 114 des Gehäuses 110 gekippt werden kann. Wie in Fig. 7 gezeigt, wird dann die Instandhaltungsschnittstelle 417 bzw. Filterklappe geöffnet, der verbrauchte Luftfilter 770 entfernt und ausgetauscht. Im Moment des Austauschens steht der Lüfter still und das Chiplabor-Analysegerät 100 ist stromlos geschaltet. Nach erfolgtem Austausch oder auch anderen Wartungs-/Servicearbeiten und dem Verschließen der Instandhaltungsschnittstelle 417 wird das Chiplabor- Analysegerät 100 wieder auf die Standflächenseite 116 zurückgekippt, wird das Kabel 550 mit dem Kaltgerätestecker wieder an die Anschlussöffnung 313 angeschlossen und kann das Chiplabor-Analysegerät 100 wieder normal betrieben werden. Umfasst ein Ausführungsbeispiel eine„und/oder“-Verknüpfung zwischen einem ersten Merkmal und einem zweiten Merkmal, so ist dies so zu lesen, dass das Ausführungsbeispiel gemäß einer Ausführungsform sowohl das erste Merkmal als auch das zweite Merkmal und gemäß einer weiteren Ausführungsform entweder nur das erste Merkmal oder nur das zweite Merkmal aufweist.

Claims

Ansprüche
1. Gehäuse (110) für ein Chiplabor-Analysegerät (100), wobei das
Gehäuse (110) folgende Merkmale aufweist: eine Kartuschenöffnung (111) zum Einbringen einer Kartusche mit zu analysierendem Material in das Chiplabor-Analysegerät (100); eine Rückseite (114) mit einer Anschlussöffnung (313) zum Anschließen eines Kabels (550) zur Energieversorgung an das Chiplabor- Analysegerät (100); und eine Standflächenseite (116) mit einer Instandhaltungsschnittstelle (417) zum Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes (100), wobei die Standflächenseite (116) ausgeformt ist, um bei einem Betrieb des Chiplabor-Analysegerätes (100) als Standfläche des Chiplabor- Analysegerätes (100) zu fungieren, wobei die Rückseite (114) ausgeformt ist, um bei aus der Anschlussöffnung (313) entferntem Kabel (550) und bei dem Instandhalten des Chiplabor-Analysegerätes (100) als weitere Standfläche des Chiplabor-Analysegerätes (100) zu fungieren.
2. Gehäuse (110) gemäß Anspruch 1, bei dem die Rückseite (114) und die Standflächenseite (116) aneinander angrenzende Flächen mit einer gemeinsamen Kante (118) sind.
3. Gehäuse (110) gemäß Anspruch 2, bei dem die Anschlussöffnung
benachbart zu der gemeinsamen Kante (118) angeordnet ist.
4. Gehäuse (110) gemäß einem der Ansprüche 2 bis 3, bei dem die
gemeinsame Kante (118) abgerundet ist.
5. Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, bei dem die Rückseite (114) und die Standflächenseite (116) einen spitzen Winkel oder einen rechten Winkel zwischen einander aufspannen.
6. Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, mit zumindest einem elastischen Element (420), das sich über einen Teilabschnitt der Standflächenseite (116) und/oder einen Teilabschnitt der Rückseite (114) erstreckt.
7. Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, bei dem die Instandhaltungsschnittstelle (417) zumindest eine Klappe aufweist, mittels derer eine Gehäuseinnenseite, ein Luftfilter (770, 870) und/oder eine andere Funktionskomponente des Chiplabor- Analysegerätes (100) für das Instandhalten zugänglich machbar ist.
8. Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, mit einer weiteren Anschlussöffnung (315) zum Anschließen mindestens eines weiteren Kabels (560) zur Datenübertragung an das Chiplabor- Analysegerät (100).
9. Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, mit einem Fenster (430) für eine Lesevorrichtung zum Lesen
optoelektronisch lesbarer Symbole.
10. Chiplabor-Analysegerät (100) mit einem Gehäuse (110) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche.
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