WO2019120387A1 - Method for operating a depositing system - Google Patents

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WO2019120387A1
WO2019120387A1 PCT/DE2018/101037 DE2018101037W WO2019120387A1 WO 2019120387 A1 WO2019120387 A1 WO 2019120387A1 DE 2018101037 W DE2018101037 W DE 2018101037W WO 2019120387 A1 WO2019120387 A1 WO 2019120387A1
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pressure
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Sebastian Hubertus SCHULZ
Lars GUGGOLZ
Josef Haase
Reiner Müller
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centrotherm international AG
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    • H01J37/32853Hygiene
    • H01J37/32871Means for trapping or directing unwanted particles

Definitions

  • the invention relates to a method according to the preamble of claim 1.
  • Separation plants are used in different variants to deposit layers on objects to be coated. For example, in the manufacture of semiconductor devices, such as solar cells, layers are deposited on substrates.
  • the desired layers can be deposited in particular by means of chemical vapor deposition, which is commonly referred to as chemical vapor deposition in the English-speaking world and is abbreviated to CVD for short.
  • CVD chemical vapor deposition
  • a variant of the CVD technology is the plasma-assisted chemical deposition from the
  • Vapor phase which in the English-speaking world is called Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition and hereafter PECVD.
  • PECVD Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition
  • Another separation technology is the atomic layer deposition, which is known in the English-speaking world as Atomic Layer Deposition and is often called ALD for short.
  • layers can be deposited by sputtering.
  • Used exhaust systems usually have a Abgasstre bridge on which gases are removed from the process chamber by means of a vacuum pump from the process chamber. As a result, it is also in the exhaust gas line and the vacuum pump, which is part of the exhaust gas line, to Abscheidun conditions. These are generally not desirable because they can lead to cases out of the vacuum pumps used. In addition, in the described unwanted deposits ent standing and transported in an exhaust gas flow particles can lead to damage to the vacuum pump. Particles of this type can inter alia reach the exhaust gas stream as flakes from the undesirable deposits described. In many deposition processes therefore periodic maintenance of the vacuum pump are required, which significantly increase the cost of the divorce of the desired layers.
  • Corresponding traps can be supported chemically or thermally, as is the case for example with a cold trap.
  • the use of such traps and filters is still associated with a considerable effort for maintenance and cleaning tion work, which are to be made to the filters and traps used.
  • the use of a filter can be easily implemented, complex and time-consuming or impossible.
  • the term "parasitic deposition” refers to such deposits which, as a result of the deposition process, are not deposited on objects to be coated deposited in the deposition plant, but on other surfaces such as walls of process chambers, walls of the exhaust gas line or walls of the vacuum pump.
  • the present invention is the object of the invention to provide a method for operating a separation plant available, with which stand times of a vacuum pump of the deposition system can be extended.
  • the term of the service life of the vacuum pump is understood to mean a period of time during which the vacuum pump can be reliably operated without having to carry out any maintenance work on the vacuum pump or the vacuum pump has to be exchanged.
  • the inventive method for operating a Abscheidean situation provides that on a wall of a process chamber or on a wall connected to the process chamber exhaust line of Abscheidestrom annealed educt of an un desired reaction by means of a binding substance is chemically to set in at least one product. This at least one product is removed from the separation plant.
  • the at least one product is removed in the present sense from the separation plant when it is removed from the process chamber and / or the exhaust line so that it can not get into a vacuum pump of the exhaust line in ge ordinary operation of the separation plant.
  • the at least one product from the deposition system can be derivatized with a vacuum pump of the exhaust line in ge ordinary operation of the separation plant.
  • the at least one product from the deposition system can be derivatized with a vacuum pump of the exhaust line in ge ordinary operation of the separation plant.
  • the at least one product from the deposition system can be obtain leads by it by means of the vacuum pump in a gas flow from the process chamber and an upstream of the Va kuumpumpe located section of the exhaust line is led out.
  • angela alloyed oxides can be chemically reacted by means of reducing gases who the.
  • reducing gases who the.
  • oxidizing gases the same applies to the use of oxidizing gases.
  • a substrate for example a silicon substrate, can be provided as the object to be coated.
  • an attached gas is chemically reacted as an attached starting material.
  • the described method has proven particularly useful. Especially before given to the annealed gas is desorbed in the course of the chemical reaction and transferred to a gas phase.
  • a gas is used as the binding substance. This can be passed in a comfortable manner in the deposition system.
  • a variant of the method provides that, on the wall of the process chamber and on the wall of the exhaust gas line connected to the process chamber, quantities of the educt of the undesired reaction are chemically converted into the at least one product by means of the binding substance. This allows a substantial chemical reaction of the educt and consequently a long extension of the life of the vacuum pump.
  • the binding substance is provided by being introduced into the process chamber or the exhaust line connected to the process chamber. This allows, in particular in conjunction with a gaseous binding substance, a com fortable provision of the binding substance and a kontrol profiled chemical reaction of the reactant.
  • the inventive method is attached to the wall of the process chamber or attached to the wall of the exhaust line What water chemically reacted by means of the binding substance.
  • the water is preferably attached in gaseous state of aggregation to the wall of the process chamber or the exhaust gas line.
  • the inventive method has proved to be advantageous.
  • this process variant when used in the subsequent deposition of the process layer trimethylaluminum as the process gas, this process variant has FITS proven special, since in the presence of water, the Trimethylalu minium reacts with this to form alumina.
  • Aluminum oxides, and in particular Al 2 O 3 have a high degree of hardness and can therefore cause considerable damage and / or wear in the vacuum pump, which causes them Shorten the service life. This can be avoided or at least considerably reduced by means of the process variable described.
  • At least one substance selected from the group consisting of methane, silane, ammonia and trimethylaluminum is used as the binding substance.
  • Trimethylaluminium is partly called TMA for short. These substances have proven themselves in practice.
  • silane is used.
  • silane is used as Bin desubstanz and by means of this silane annealed water, which represents the annealed educt, chemically to set.
  • Si (OH) 4 and / or S1O2 is formed according to the fol lowing reactions:
  • Si (OH) 4 and / or S1O2 affect the vacuum pump significantly lower and reduce their life significantly less than, for example, the above-described, from TMA in the presence of water-forming th aluminum oxides.
  • the process chamber is evacuated to a pressure in the range from 0.001 mbar to 10 mbar.
  • the process chamber is purged with an inert gas. Nitrogen is preferably used as the inert gas.
  • lens is understood to mean that inert gas is introduced simultaneously and pumped out of the process chamber over a period of more than 2 minutes.
  • the process chamber is again evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, wherein the range limits are always part of the respective pressure range in all of the pressure ranges indicated in the present application. In this way, remaining amounts of the at least one product or of the attached educt can be further removed from the process chamber and the exhaust gas line before the process layer is deposited. This allows a further extension of the service life of the vacuum pump.
  • a further development provides, before the chemical reaction of the educt, the process chamber to a pressure in the range of
  • the process chamber with an inert gas, preferably nitrogen, ge flushes. This again takes place before the chemical reaction of the educt. Thereafter, the process chamber is evacuated again to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, which in turn takes place before the chemical reaction of the educt.
  • the term of chemical reaction of the educt always refers to the described chemical reaction of the starting material by means of the binding substance. This development represents a preparatory flushing of the process chamber, and thus also the exhaust gas line. In conjunction with the chemical reaction of the starting material and the described removal of the at least one product allows complete, or at least further removal of the starting material and thus a further extension the service life of the vacuum pump.
  • the process chamber before the chemical reaction of the starting material, is adapted to a pressure in the process. rich from 0.001 mbar to 10 mbar is evacuated and subsequently the process chamber is filled with an inert gas to a pressure of more than 100 mbar, preferably up to a pressure of more than 500 mbar and more preferably up to ambient atmospheric pressure. This filling of the process chamber with the inert gas takes place before the chemical reaction of Edu kts. Thereafter, the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, which in turn takes place before the chemical reaction of the educt.
  • the starting material can be completely, or at least further, removed from the reaction chamber and / or the exhaust gas line.
  • the educt is completely removed from the process chamber and the exhaust gas line. In this way, a maxi times extension of the life of the vacuum pump achieved who the.
  • TMA is introduced into the process chamber for the purpose of depositing the process layer.
  • an aluminum-containing layer in particular an aluminum oxide layer, are deposited as a process layer on the object to be coated.
  • the process layer is preferably deposited chemically from a vapor phase. This takes place particularly preferably plasmaunter supported, ie by means of PECVD.
  • Figure 1 Schematic representation of a first embodiment of the method according to the invention
  • Figure 2 additional or alternative process steps in a further embodiment of the erfindungsge MAESSEN method
  • Figure 3 is a schematic representation of an attached to a wall educt
  • FIG. 4 shows a schematic introduction of a binding substance
  • FIG. 5 is a schematic representation of a desorption of the angela Gerten starting material
  • Figure 6 shows a discharge of at least one product from the separation plant from in a schematic representation
  • Figure 1 illustrates, together with Figures 3 to 6 ers tes embodiment of the method according to the invention for operating a separation plant.
  • a process chamber is first evacuated to a pressure in the range from 0.001 mbar to 10 mbar. 10.
  • the process chamber is evacuated by means of a vacuum pump arranged in an exhaust line of the deposition plant, so that this exhaust gas line is likewise evacuated at the same time.
  • the process chamber is purged with an inert gas 12. As the inert gas in the present Ausry approximately nitrogen is used.
  • the process chamber is evacuated again 10.
  • the deposited starting material 42 is water 42, which is shown schematically in FIG. 3.
  • Figure 3 shows a partial view of the wall 40, wel che to the water 42 is attached.
  • the wall 40 may be a wall of the process chamber or a wall of the exhaust gas line.
  • the products formed Si (OH) 4 46 and H 2 48 are further removed from the separation plant 18. For this purpose, they are pumped submit from the process chamber or the process chamber with the exhaust pipe connected by means of the vacuum pump. This is shown schematically in Figure 6 by the arrow 50 represents.
  • the process chamber is evacuated 10 to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, the process chamber flushed with nitrogen 12 and the process chamber subsequently evacuated again 10.
  • the said aluminum oxide layer is deposited chemically from the vapor phase on the object to be coated as the process layer.
  • the deposition is carried out with plasma assistance.
  • FIG. 2 illustrates further exemplary embodiments of the method. These further embodiments differ from the embodiment of FIG. 2 shows a reproduced process steps of filling 13 of the process chamber with nitrogen and the subsequent evacuation 10 of the process chamber. In the exemplary embodiment illustrated in FIG. 1, these two method steps can replace the process steps of rinsing 12 of the process chamber and the subsequent evacuation 10 of the process chamber provided prior to the chemical reaction 16 of the stored water 42.
  • the method steps from FIG. 2 are taken into the process step sequence from FIG. 1 before the silane is introduced into the process chamber. Thus, they are performed before chemi's reaction 16 of the stored water 42.
  • the process steps of filling the process chamber with nitrogen and the subsequent evacuation 10 of the process chamber can be inserted into the process step sequence of fi gure 1 after the first evacuation 10 of the process chamber and before the first flushing 12 of the process chamber who or after the second evacuation step 10th

Abstract

The invention relates to a method for operating a depositing system in which a process layer is deposited (22) onto an object to be coated. Prior to depositing the process layer on the object to be coated, a reactant (42) of an undesired reaction, said reactant being accumulated on a wall (40) of a process chamber or on a wall (40) of a depositing system exhaust gas section connected to the process chamber, is chemically converted (16) into at least one product (46, 48) using a binding substance (44), and the at least one product (46, 48) is discharged from the depositing system (18).

Description

Verfahren zum Betrieb einer Abscheideanlage  Method for operating a separation plant
Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. The invention relates to a method according to the preamble of claim 1.
Abscheideanlagen werden in verschiedenen Varianten eingesetzt, um Schichten auf zu beschichtenden Objekten abzuscheiden. Zum Beispiel werden bei der Herstellung von Halbleiterbauelemen ten, wie beispielsweise Solarzellen, Schichten auf Substraten abgeschieden . Separation plants are used in different variants to deposit layers on objects to be coated. For example, in the manufacture of semiconductor devices, such as solar cells, layers are deposited on substrates.
Für die Abscheidung von Schichten wird auf verschiedene Tech nologien zurückgegriffen. Die gewünschten Schichten können insbesondere mittels chemischer Abscheidung aus der Dampfphase abgeschieden werden, was im englischen Sprachraum üblicher weise als Chemical Vapor Deposition bezeichnet und nachfolgend kurz als CVD abgekürzt wird. Eine Variante der CVD-Technologie ist die plasmaunterstützte chemische Abscheidung aus der For the deposition of layers different technologies are used. The desired layers can be deposited in particular by means of chemical vapor deposition, which is commonly referred to as chemical vapor deposition in the English-speaking world and is abbreviated to CVD for short. A variant of the CVD technology is the plasma-assisted chemical deposition from the
Dampfphase, welche im englischen Sprachraum Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition und nachfolgend kurz PECVD genannt wird. Eine weitere Abscheidetechnologie stellt die Atomlagen abscheidung dar, welche im englischen Sprachraum als Atomic Layer Deposition bekannt ist und häufig kurz ALD genannt wird. Darüber hinaus können Schichten mittels Sputtern abgeschieden werden . Vapor phase, which in the English-speaking world is called Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition and hereafter PECVD. Another separation technology is the atomic layer deposition, which is known in the English-speaking world as Atomic Layer Deposition and is often called ALD for short. In addition, layers can be deposited by sputtering.
All diesen Abscheidetechnologien ist gemein, dass die zugehö rigen Abscheideanlagen Prozesskammern aufweisen, in welchen die Abscheidung erfolgt. Weiterhin weisen sie eine Gaszufüh rung sowie ein Abgassystem auf. Mittels der Gaszuführung wer den für die Abscheideprozesse benötigte Prozessgase bereitge stellt, während das Abgassystem Gase aus der Prozesskammer ab saugt und in der Prozesskammer einen gewünschten Druck bereit- stellt, insbesondere diesen regelt. Die genannten Abscheidean lagen können im Stapelbetrieb oder als Durchlaufanlagen be trieben werden. All these deposition technologies have in common that the associated separation plants have process chambers in which the deposition takes place. Furthermore, they have a Gaszufüh tion and an exhaust system. By means of the gas supply who provides the process gases required for the deposition processes, while the exhaust system sucks gases from the process chamber and in the process chamber a desired pressure ready- provides, in particular, regulates this. The aforementioned Abscheidean can be operated in batch mode or as continuous systems be.
Eingesetzte Abgassysteme weisen üblicherweise eine Abgasstre cke auf, über welche hinweg Gase aus der Prozesskammer mittels einer Vakuumpumpe aus der Prozesskammer abgeführt werden. In folgedessen kommt es auch in der Abgasstrecke und der Vakuum pumpe, welche Bestandteil der Abgasstrecke ist, zu Abscheidun gen. Diese sind in der Regel nicht erwünscht, da sie zu Aus fällen bei den eingesetzten Vakuumpumpen führen können. Zudem können bei den beschriebenen, unerwünschten Abscheidungen ent stehende und in einem Abgasstrom transportierte Partikel zu Schäden an den Vakuumpumpen führen. Derartige Partikel können unter anderem als Abplatzungen von den beschriebenen, uner wünschten Abscheidungen in den Abgasstrom gelangen. Bei vielen Abscheideprozessen sind daher regelmäßig aufwendige Wartungen der Vakuumpumpe erforderlich, welche den Aufwand für die Ab scheidung der gewünschten Schichten deutlich erhöhen. Used exhaust systems usually have a Abgasstre bridge on which gases are removed from the process chamber by means of a vacuum pump from the process chamber. As a result, it is also in the exhaust gas line and the vacuum pump, which is part of the exhaust gas line, to Abscheidun conditions. These are generally not desirable because they can lead to cases out of the vacuum pumps used. In addition, in the described unwanted deposits ent standing and transported in an exhaust gas flow particles can lead to damage to the vacuum pump. Particles of this type can inter alia reach the exhaust gas stream as flakes from the undesirable deposits described. In many deposition processes therefore periodic maintenance of the vacuum pump are required, which significantly increase the cost of the divorce of the desired layers.
Um den Aufwand für die Wartung der Vakuumpumpen zu reduzieren, ist bislang bekannt, in vor der Pumpe gelegenen Abschnitten der Abgasstrecke Filter oder Fallen anzuordnen, um für die Ab scheidungen in der Abgasstrecke relevante oder die Vakuumpumpe schädigende Abgasbestandteile aus dem Abgasstrom herauszufil tern oder herauszufällen. In order to reduce the cost of maintenance of the vacuum pumps, it is previously known to arrange in front of the pump sections of the exhaust system filters or traps to tiff or precipitate for the decisions in the exhaust gas relevant or the exhaust pump harmful exhaust components from the exhaust stream.
Entsprechende Fallen können chemisch oder thermisch unter stützt werden, wie dies beispielsweise bei einer Kühlfalle der Fall ist. Doch der Einsatz solcher Fallen und Filter ist immer noch mit einem erheblichen Aufwand für Wartungs- und Reini gungsarbeiten verbunden, welche an den eingesetzten Filtern und Fallen vorzunehmen sind. Je nach herauszufilternder Sub- stanz kann die Verwendung eines Filters einfach realisierbar, komplex und aufwändig oder unmöglich sein. Corresponding traps can be supported chemically or thermally, as is the case for example with a cold trap. However, the use of such traps and filters is still associated with a considerable effort for maintenance and cleaning tion work, which are to be made to the filters and traps used. Depending on the subfilters to be filtered out The use of a filter can be easily implemented, complex and time-consuming or impossible.
Unter dem Begriff parasitärer Abscheidung werden vorliegend solche Abscheidungen verstanden, welche in Folge des Abschei devorgangs nicht auf zu beschichtenden, in der Abscheideanlage angeordneten Objekten abgeschieden werden, sondern auf anderen Oberflächen wie Wandungen von Prozesskammern, Wandungen der Abgasstrecke oder Wandungen der Vakuumpumpe. In the present case, the term "parasitic deposition" refers to such deposits which, as a result of the deposition process, are not deposited on objects to be coated deposited in the deposition plant, but on other surfaces such as walls of process chambers, walls of the exhaust gas line or walls of the vacuum pump.
Vor dem geschilderten Hintergrund liegt der vorliegenden Er findung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Betrieb einer Abscheideanlage zur Verfügung zu stellen, mit welchem Stand zeiten einer Vakuumpumpe der Abscheideanlage verlängert werden können. Unter dem Begriff der Standzeit der Vakuumpumpe wird dabei eine Zeitspanne verstanden, während welcher die Vakuum pumpe zuverlässig betrieben werden kann, ohne dass Wartungsar beiten an der Vakuumpumpe durchgeführt werden müssen oder die Vakuumpumpe getauscht werden muss. Against the background outlined, the present invention is the object of the invention to provide a method for operating a separation plant available, with which stand times of a vacuum pump of the deposition system can be extended. The term of the service life of the vacuum pump is understood to mean a period of time during which the vacuum pump can be reliably operated without having to carry out any maintenance work on the vacuum pump or the vacuum pump has to be exchanged.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren mit den Merkma len des Anspruchs 1. This object is achieved by a method with the Merkma len of claim 1.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind Gegenstand abhängiger Unter ansprüche . Advantageous developments are the subject of dependent dependent claims.
Das erfindungsgemäße Verfahren zum Betrieb einer Abscheidean lage sieht vor, dass ein an einer Wandung einer Prozesskammer oder an einer Wandung einer mit der Prozesskammer verbundenen Abgasstrecke der Abscheideanlage angelagertes Edukt einer un erwünschten Reaktion mittels einer Bindesubstanz chemisch um gesetzt wird in wenigstens ein Produkt. Dieses wenigstens eine Produkt wird aus der Abscheideanlage abgeführt. Diese Prozess schritte werden ausgeführt, bevor eine Prozessschicht auf ei- nem zu beschichtenden Objekt abgeschieden wird. Danach erfolgt die Abscheidung der Prozessschicht auf dem zu beschichtenden Objekt . The inventive method for operating a Abscheidean situation provides that on a wall of a process chamber or on a wall connected to the process chamber exhaust line of Abscheideanlage annealed educt of an un desired reaction by means of a binding substance is chemically to set in at least one product. This at least one product is removed from the separation plant. These process steps are carried out before a process layer on a is deposited to be coated object. This is followed by the deposition of the process layer on the object to be coated.
Das wenigstens eine Produkt wird im vorliegenden Sinne aus der Abscheideanlage abgeführt, wenn es aus der Prozesskammer und/oder der Abgasstrecke derart entfernt wird, dass es im ge wöhnlichen Betriebsablauf der Abscheideanlage nicht mehr in eine Vakuumpumpe der Abgasstrecke gelangen kann. Insbesondere kann das wenigstens eine Produkt aus der Abscheideanlage abge führt werden, indem es mittels der Vakuumpumpe in einem Ab gasstrom aus der Prozesskammer und einem stromaufwärts der Va kuumpumpe gelegenen Abschnitt der Abgasstrecke herausgeleitet wird . The at least one product is removed in the present sense from the separation plant when it is removed from the process chamber and / or the exhaust line so that it can not get into a vacuum pump of the exhaust line in ge ordinary operation of the separation plant. In particular, the at least one product from the deposition system can be abge leads by it by means of the vacuum pump in a gas flow from the process chamber and an upstream of the Va kuumpumpe located section of the exhaust line is led out.
Infolge der chemischen Umsetzung des angelagerten Edukts und dessen Abfuhr aus der Abscheideanlage steht dieses nicht mehr als Edukt für die unerwünschte Reaktion zur Verfügung. Parasi täre Abscheidungen in der Vakuumpumpe oder die Bildung von die Vakuumpumpe schädigenden Partikeln können auf diese Weise ver mieden oder zumindest reduziert werden. Somit können verlän gerte Standzeiten der Vakuumpumpen realisiert werden. As a result of the chemical reaction of the attached starting material and its removal from the separation plant this is no longer available as starting material for the undesirable reaction. Parasi tary deposits in the vacuum pump or the formation of the vacuum pump damaging particles can be avoided in this way ver or at least reduced. Thus, extended service life of the vacuum pumps can be realized.
Bei dem beschriebenen Verfahren können beispielsweise angela gerte Oxide mittels reduzierender Gase chemisch umgesetzt wer den. Entsprechendes gilt für den Einsatz oxidierender Gase.In the described method, for example, angela alloyed oxides can be chemically reacted by means of reducing gases who the. The same applies to the use of oxidizing gases.
Als zu beschichtendes Objekt kann insbesondere ein Substrat, beispielsweise ein Siliziumsubstrat, vorgesehen werden. In particular, a substrate, for example a silicon substrate, can be provided as the object to be coated.
Vorzugsweise wird als angelagertes Edukt ein angelagertes Gas chemisch umgesetzt. In dieser Ausgestaltungsvariante hat sich das beschriebene Verfahren besonders bewährt. Besonders bevor zugt wird das angelagerte Gas im Zuge des chemischen Umsetzens desorbiert und in eine Gasphase überführt. Vorteilhafterweise wird ein Gas als Bindesubstanz verwendet. Dieses kann auf komfortable Weise in die Abscheideanlage ein geleitet werden. Preferably, an attached gas is chemically reacted as an attached starting material. In this embodiment variant, the described method has proven particularly useful. Especially before given to the annealed gas is desorbed in the course of the chemical reaction and transferred to a gas phase. Advantageously, a gas is used as the binding substance. This can be passed in a comfortable manner in the deposition system.
Eine Verfahrensvariante sieht vor, dass an der Wandung der Prozesskammer und an der Wandung der mit der Prozesskammer verbundenen Abgasstrecke angelagerte Mengen des Edukts der un erwünschten Reaktion mittels der Bindesubstanz chemisch in das wenigstens eine Produkt umgesetzt werden. Dies ermöglicht eine weitgehende chemische Umsetzung des Edukts und infolgedessen eine große Verlängerung der Standzeit der Vakuumpumpe. A variant of the method provides that, on the wall of the process chamber and on the wall of the exhaust gas line connected to the process chamber, quantities of the educt of the undesired reaction are chemically converted into the at least one product by means of the binding substance. This allows a substantial chemical reaction of the educt and consequently a long extension of the life of the vacuum pump.
Bevorzugt wird die Bindesubstanz bereitgestellt, indem sie in die Prozesskammer oder die mit der Prozesskammer verbundene Abgasstrecke eingeleitet wird. Dies ermöglicht, insbesondere in Verbindung mit einer gasförmigen Bindesubstanz, eine kom fortable Bereitstellung der Bindesubstanz sowie eine kontrol lierte chemische Umsetzung des Edukts. Preferably, the binding substance is provided by being introduced into the process chamber or the exhaust line connected to the process chamber. This allows, in particular in conjunction with a gaseous binding substance, a com fortable provision of the binding substance and a kontrol profiled chemical reaction of the reactant.
Bei einer Verfahrensvariante wird an der Wandung der Prozess kammer oder an der Wandung der Abgasstrecke angelagertes Was ser mittels der Bindesubstanz chemisch umgesetzt. Das Wasser ist dabei vorzugsweise in gasförmigem Aggregatszustand an die Wandung der Prozesskammer oder der Abgasstrecke angelagert. In dieser Variante hat sich das erfindungsgemäße Verfahren als vorteilhaft erwiesen. Insbesondere wenn bei dem nachfolgenden Abscheiden der Prozessschicht Trimethylaluminium als Prozess gas eingesetzt wird, hat sich diese Verfahrensvariante beson ders bewährt, da bei Anwesenheit von Wasser das Trimethylalu minium mit diesem unter Bildung von Aluminiumoxid reagiert. Aluminiumoxide, und insbesondere AI2O3, weisen eine große Härte auf und können daher in der Vakuumpumpe erhebliche Schäden und/oder Abnutzungserscheinungen hervorrufen, welche deren Standzeit verkürzen. Mittels der beschriebenen Verfahrensvari ante kann dies vermieden oder zumindest in erheblichem Umfang reduziert werden. In a variant of the method is attached to the wall of the process chamber or attached to the wall of the exhaust line What water chemically reacted by means of the binding substance. The water is preferably attached in gaseous state of aggregation to the wall of the process chamber or the exhaust gas line. In this variant, the inventive method has proved to be advantageous. In particular, when used in the subsequent deposition of the process layer trimethylaluminum as the process gas, this process variant has FITS proven special, since in the presence of water, the Trimethylalu minium reacts with this to form alumina. Aluminum oxides, and in particular Al 2 O 3 , have a high degree of hardness and can therefore cause considerable damage and / or wear in the vacuum pump, which causes them Shorten the service life. This can be avoided or at least considerably reduced by means of the process variable described.
Vorzugsweise wird als Bindesubstanz wenigstens eine Substanz aus einer Gruppe bestehend aus Methan, Silan, Ammoniak und Trimethylaluminium verwendet. Trimethylaluminium wird vorlie gend teilweise kurz TMA genannt. Diese Substanzen haben sich in der Praxis bewährt. Vorzugsweise wird Silan eingesetzt. Preferably, at least one substance selected from the group consisting of methane, silane, ammonia and trimethylaluminum is used as the binding substance. Trimethylaluminium is partly called TMA for short. These substances have proven themselves in practice. Preferably silane is used.
Bei einer besonders bevorzugten Variante wird Silan als Bin desubstanz eingesetzt und mittels dieses Silans angelagertes Wasser, welches das angelagerte Edukt darstellt, chemisch um gesetzt. Bei dieser chemischen Umsetzung wird gemäß den fol genden Reaktionen Si (OH) 4 und/oder S1O2 gebildet: In a particularly preferred variant silane is used as Bin desubstanz and by means of this silane annealed water, which represents the annealed educt, chemically to set. In this chemical reaction Si (OH) 4 and / or S1O2 is formed according to the fol lowing reactions:
SiH4 + 4 H20 -> Si (OH) 4 + 4 H2 SiH 4 + 4 H 2 O -> Si (OH) 4 + 4 H 2
2 H20 + SiH4 -> S1O2 + 4 H2 2 H 2 O + SiH 4 -> S1O 2 + 4 H 2
Da Silan in vielen Abscheideverfahren bei der Fertigung von Halbleiterbauelementen Verwendung findet, kann mittels dieser Variante Wasser, welches häufig Edukt unerwünschter Reaktionen ist, vergleichsweise aufwandsgünstig und effizient chemisch umgesetzt werden. Die gebildeten Produkte Si (OH) 4 und/oder S1O2 beeinträchtigen die Vakuumpumpe deutlich geringer und reduzie ren deren Standzeit signifikant weniger als beispielsweise die oben beschriebenen, aus TMA in Anwesenheit von Wasser gebilde ten Aluminiumoxide. Since silane is used in many deposition processes in the manufacture of semiconductor devices, by means of this variant, water, which is often the starting material of undesirable reactions, can be chemically converted relatively inexpensively and efficiently. The products formed Si (OH) 4 and / or S1O2 affect the vacuum pump significantly lower and reduce their life significantly less than, for example, the above-described, from TMA in the presence of water-forming th aluminum oxides.
Vorteilhafterweise wird nach dem beschriebenen chemischen Um setzen des Edukts die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert. Nachfolgend wird die Prozesskammer mit einem Inertgas gespült. Als Inertgas wird vorzugsweise Stickstoff eingesetzt. Unter dem Begriff des Spü- lens wird vorliegend verstanden, dass über einen Zeitraum von mehr als 2 Minuten hinweg Inertgas gleichzeitig eingeleitet und aus der Prozesskammer abgepumpt wird. Nachfolgend wird die Prozesskammer erneut auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert, wobei die Bereichsgrenzen bei allen in der vorliegenden Anmeldung angegebenen Druckbereichen stets Bestandteil des jeweiligen Druckbereichs sind. Auf diese Weise können noch vorhandene Mengen des wenigstens einen Produkts oder des angelagerten Edukts weitergehend aus der Prozesskam mer und der Abgasstrecke entfernt werden, ehe die Prozess schicht abgeschieden wird. Dies ermöglicht eine weitergehende Verlängerung der Standzeit der Vakuumpumpe. Advantageously, after the described chemical reaction of the starting material, the process chamber is evacuated to a pressure in the range from 0.001 mbar to 10 mbar. Subsequently, the process chamber is purged with an inert gas. Nitrogen is preferably used as the inert gas. Under the concept of In the present case, lens is understood to mean that inert gas is introduced simultaneously and pumped out of the process chamber over a period of more than 2 minutes. Subsequently, the process chamber is again evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, wherein the range limits are always part of the respective pressure range in all of the pressure ranges indicated in the present application. In this way, remaining amounts of the at least one product or of the attached educt can be further removed from the process chamber and the exhaust gas line before the process layer is deposited. This allows a further extension of the service life of the vacuum pump.
Eine Weiterbildung sieht vor, vor dem chemischen Umsetzen des Edukts die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von A further development provides, before the chemical reaction of the educt, the process chamber to a pressure in the range of
0,001 mbar bis 10 mbar zu evakuieren. Nachfolgend wird die Prozesskammer mit einem Inertgas, vorzugsweise Stickstoff, ge spült. Dies erfolgt wiederum vor dem chemischen Umsetzen des Edukts. Danach wird die Prozesskammer erneut auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert, was wiederum vor dem chemischen Umsetzen des Edukts erfolgt. Der Begriff des chemischen Umsetzens des Edukts bezieht sich dabei stets auf das beschriebene chemische Umsetzen des Edukts mittels der Bindesubstanz. Diese Weiterbildung stellt ein vorbereitendes Spülen der Prozesskammer, und somit auch der Abgasstrecke, dar. Im Zusammenspiel mit dem chemischen Umsetzen des Edukts und dem beschriebenen Abführen des wenigstens einen Produkts ermöglicht sie eine vollständige, oder zumindest weitergehende Entfernung des Edukts und damit eine weitergehende Verlänge rung der Standzeit der Vakuumpumpe. 0.001 mbar to 10 mbar to evacuate. Subsequently, the process chamber with an inert gas, preferably nitrogen, ge flushes. This again takes place before the chemical reaction of the educt. Thereafter, the process chamber is evacuated again to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, which in turn takes place before the chemical reaction of the educt. The term of chemical reaction of the educt always refers to the described chemical reaction of the starting material by means of the binding substance. This development represents a preparatory flushing of the process chamber, and thus also the exhaust gas line. In conjunction with the chemical reaction of the starting material and the described removal of the at least one product allows complete, or at least further removal of the starting material and thus a further extension the service life of the vacuum pump.
Alternativ oder zusätzlich zu der vorstehend beschriebenen Weiterbildung kann vorgesehen werden, dass vor dem chemischen Umsetzen des Edukts die Prozesskammer auf einen Druck im Be- reich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird und nachfol gend die Prozesskammer mit einem Inertgas bis zu einem Druck von mehr als 100 mbar, vorzugsweise bis zu einem Druck von mehr 500 mbar und besonders bevorzugt bis zu atmosphärischem Umgebungsdruck gefüllt wird. Dieses Füllen der Prozesskammer mit dem Inertgas erfolgt vor dem chemischen Umsetzen des Edu kts. Danach wird die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert, was wiederum vor dem chemischen Umsetzen des Edukts erfolgt. Bei dieser Vorgehens weise kann, wie bei der vorstehend beschriebenen Weiterbil dung, eine Menge des in der Prozesskammer und/oder der Abgas strecke vorhandenen Edukts bereits im Vorfeld des chemischen Umsetzens des Edukts aus der Abscheideanlage abgeführt werden. In Verbindung mit dem chemischen Umsetzen des Edukts und dem Abführen des wenigstens einen Produkts aus der Abscheideanlage kann das Edukt vollständig, oder zumindest weitergehend, aus der Reaktionskammer und/oder der Abgasstrecke entfernt werden. Infolgedessen kann die Standzeit der Vakuumpumpe weiter ver längert werden. As an alternative or in addition to the further development described above, it can be provided that, before the chemical reaction of the starting material, the process chamber is adapted to a pressure in the process. rich from 0.001 mbar to 10 mbar is evacuated and subsequently the process chamber is filled with an inert gas to a pressure of more than 100 mbar, preferably up to a pressure of more than 500 mbar and more preferably up to ambient atmospheric pressure. This filling of the process chamber with the inert gas takes place before the chemical reaction of Edu kts. Thereafter, the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, which in turn takes place before the chemical reaction of the educt. In this approach, as in the above-described Weiterbil tion, an amount of the existing in the process chamber and / or exhaust gas reactant already be removed in advance of the chemical reaction of the starting material from the deposition plant. In conjunction with the chemical reaction of the educt and the discharge of the at least one product from the separation plant, the starting material can be completely, or at least further, removed from the reaction chamber and / or the exhaust gas line. As a result, the life of the vacuum pump can be extended ver.
Vorzugsweise wird das Edukt vollständig aus der Prozesskammer und der Abgasstrecke entfernt. Auf diese Weise kann eine maxi male Verlängerung der Standzeit der Vakuumpumpe erzielt wer den . Preferably, the educt is completely removed from the process chamber and the exhaust gas line. In this way, a maxi times extension of the life of the vacuum pump achieved who the.
Bei einer vorteilhaften Ausführungsvariante wird zum Zwecke des Abscheidens der Prozessschicht TMA in die Prozesskammer eingeleitet. Auf diese Weise kann eine Aluminium aufweisende Schicht, insbesondere eine Aluminiumoxidschicht, als Prozess schicht auf dem zu beschichtenden Objekt abgeschieden werden. In diesem Zusammenhang hat sich das Verfahren besonders be währt . Bevorzugt wird die Prozessschicht chemisch aus einer Dampfpha se abgeschieden. Dies erfolgt besonders bevorzugt plasmaunter stützt, also mittels PECVD . In an advantageous embodiment variant, TMA is introduced into the process chamber for the purpose of depositing the process layer. In this way, an aluminum-containing layer, in particular an aluminum oxide layer, are deposited as a process layer on the object to be coated. In this context, the method has been particularly appreciated. The process layer is preferably deposited chemically from a vapor phase. This takes place particularly preferably plasmaunter supported, ie by means of PECVD.
Im Weiteren wird die Erfindung anhand von Figuren näher erläu tert. Soweit zweckdienlich, sind hierin gleichwirkende Elemen te mit gleichen Bezugszeichen versehen. Die Erfindung ist nicht auf die in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispie le beschränkt - auch nicht in Bezug auf funktionale Merkmale. Die bisherige Beschreibung wie auch die nachfolgende Figuren beschreibung enthalten zahlreiche Merkmale, die in den abhän- gen Unteransprüchen teilweise zu mehreren zusammengefasst wie dergeben sind. Diese Merkmale wie auch alle übrigen und in der nachfolgenden Figurenbeschreibung offenbarten Merkmale wird der Fachmann jedoch auch einzeln betrachten und zu sinnvollen weiteren Kombinationen zusammenfügen. Insbesondere sind alle genannten Merkmale jeweils einzeln und in beliebiger geeigne ter Kombination mit dem Verfahren gemäß Anspruch 1 kombinier bar. Es zeigen: Furthermore, the invention will be explained in more detail with reference to figures. As far as appropriate, elements having the same effect here are provided with the same reference numbers. The invention is not limited to the Ausführungsbeispie le shown in the figures - not even in terms of functional features. The previous description as well as the following description of the figures contain numerous features, which are partly summarized in the dependent subclaims. However, those features, as well as all other features disclosed in the following description of the figures, will also be considered individually by the person skilled in the art and put together to meaningful further combinations. In particular, all the features mentioned in each case individually and in any geeigne ter combination with the method according to claim 1 combinable bar. Show it:
Figur 1 Prinzipdarstellung eines ersten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Verfahrens Figure 1 Schematic representation of a first embodiment of the method according to the invention
Figur 2 zusätzliche oder alternative Verfahrensschritte bei einem weiteren Ausführungsbeispiel des erfindungsge mäßen Verfahrens Figure 2 additional or alternative process steps in a further embodiment of the erfindungsge MAESSEN method
Figur 3 schematische Darstellung eines an einer Wandung ange lagerten Edukts Figure 3 is a schematic representation of an attached to a wall educt
Figur 4 ein Einleiten einer Bindesubstanz in schematischer FIG. 4 shows a schematic introduction of a binding substance
Darstellung Figur 5 schematische Darstellung einer Desorption des angela gerten Edukts presentation Figure 5 is a schematic representation of a desorption of the angela Gerten starting material
Figur 6 ein Abführen wenigstens eines Produkts aus der Ab scheideanlage in schematischer Darstellung Figure 6 shows a discharge of at least one product from the separation plant from in a schematic representation
Figur 1 illustriert zusammen mit den Figuren 3 bis 6 ein ers tes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Betrieb einer Abscheideanlage. Bei diesem wird zunächst eine Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert 10. Die Prozesskammer wird mittels einer in einer Abgasstrecke der Abscheideanlage angeordneten Vakuumpum pe evakuiert 10, sodass diese Abgasstrecke zugleich ebenfalls evakuiert wird. Im Weiteren wird die Prozesskammer mit einem Inertgas gespült 12. Als Inertgas wird im vorliegenden Ausfüh rungsbeispiel Stickstoff eingesetzt. Im Weiteren wird die Pro zesskammer erneut evakuiert 10. Mittels der bislang beschrie benen Evakuierungs- und Spülschritte 10, 12 wird bereits eine gewisse Menge eines an eine Wandung 40 der Prozesskammer oder der mit der Prozesskammer verbundenen Abgasstrecke angelager ten Edukts 42 aus der Abscheideanlage abgeführt. Im vorliegen den Ausführungsbeispiel handelt es sich bei dem angelagerten Edukt 42 um Wasser 42, welches in Figur 3 schematisch darge stellt ist. Figure 1 illustrates, together with Figures 3 to 6 ers tes embodiment of the method according to the invention for operating a separation plant. In this process, a process chamber is first evacuated to a pressure in the range from 0.001 mbar to 10 mbar. 10. The process chamber is evacuated by means of a vacuum pump arranged in an exhaust line of the deposition plant, so that this exhaust gas line is likewise evacuated at the same time. In addition, the process chamber is purged with an inert gas 12. As the inert gas in the present Ausfüh approximately nitrogen is used. In addition, the process chamber is evacuated again 10. By means of hitherto described enclosed evacuation and rinsing steps 10, 12 is already a certain amount of an attached to a wall 40 of the process chamber or connected to the process chamber exhaust passage angelager th starting material 42 removed from the deposition plant. In the present embodiment, the deposited starting material 42 is water 42, which is shown schematically in FIG. 3.
Figur 3 zeigt in einer Teildarstellung die Wandung 40, an wel che das Wasser 42 angelagert ist. Bei der Wandung 40 kann es sich um eine Wandung der Prozesskammer oder um eine Wandung der Abgasstrecke handeln. Figure 3 shows a partial view of the wall 40, wel che to the water 42 is attached. The wall 40 may be a wall of the process chamber or a wall of the exhaust gas line.
Im weiteren Verfahrensverlauf wird, wie in Figur 4 schematisch dargestellt, gasförmiges Silan 44 als Bindesubstanz in die Prozesskammer oder die mit der Prozesskammer verbundene Abgas strecke eingeleitet 14. Infolgedessen kommt es zu einer in Fi- gur 5 schematisch dargestellten Desorption des an die Wandung 40 angelagerten Wassers 42 und dieses wird chemisch umgesetzt 16. Die genannte chemische Umsetzung 16 erfolgt im Übergang von Figur 5 auf Figur 6 und ist durch einen Pfeil schematisch angedeutet. Bei dieser Umsetzung 16 werden im dargestellten Ausführungsbeispiel Si (OH) 4 46 und H248 gebildet. Die chemi sche Umsetzung 16 des Wassers 42 verläuft dabei gemäß folgen der Reaktion: In the further course of the process, as shown schematically in Figure 4, gaseous silane 44 as a binding substance in the process chamber or connected to the process chamber exhaust gas line initiated 14. As a result, there is an in gur 5 shown schematically desorption of the water 40 attached to the wall 40 and this is chemically reacted 16. The said chemical reaction 16 takes place in the transition from Figure 5 to Figure 6 and is indicated schematically by an arrow. In this implementation 16 Si (OH) 4 46 and H 2 48 are formed in the illustrated embodiment. The chemical cal implementation 16 of the water 42 proceeds according to the reaction:
SiH4 + 4 H20 -> Si (OH) 4 + 4 H2 SiH 4 + 4 H 2 O -> Si (OH) 4 + 4 H 2
Die gebildeten Produkte Si (OH) 446 und H248 werden im Weiteren aus der Abscheideanlage abgeführt 18. Zu diesem Zweck werden sie aus der Prozesskammer beziehungsweise der mit der Prozess kammer verbundenen Abgasstrecke mittels der Vakuumpumpe abge pumpt. Dies ist in Figur 6 schematisch durch den Pfeil 50 dar gestellt . The products formed Si (OH) 4 46 and H 2 48 are further removed from the separation plant 18. For this purpose, they are pumped abge from the process chamber or the process chamber with the exhaust pipe connected by means of the vacuum pump. This is shown schematically in Figure 6 by the arrow 50 represents.
Im Weiteren wird die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert 10, die Prozesskammer mit Stickstoff gespült 12 und die Prozesskammer nachfolgend erneut evakuiert 10. Wie in der Prinzipdarstellung der Figur 1 wie dergegeben ist, wird nachfolgend zum Zwecke des Abscheidens einer Prozessschicht TMA in die Prozesskammer eingeleitet 20. Hieran schließt sich ein Abscheiden 22 einer Aluminiumoxid schicht mittels PECVD auf einem in der Prozesskammer angeord neten, zu beschichtenden Objekt an. Hierbei wird als Prozess schicht die genannte Aluminiumoxidschicht chemisch aus der Dampfphase auf dem zu beschichtenden Objekt abgeschieden 22. Die Abscheidung erfolgt plasmaunterstützt. In addition, the process chamber is evacuated 10 to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar, the process chamber flushed with nitrogen 12 and the process chamber subsequently evacuated again 10. As shown in the schematic diagram of Figure 1 as dergegeben is subsequently for the purpose of deposition This is followed by a deposition 22 of an aluminum oxide layer by means of PECVD on a in the process chamber angeord Neten, to be coated object. In this case, the said aluminum oxide layer is deposited chemically from the vapor phase on the object to be coated as the process layer. The deposition is carried out with plasma assistance.
Figur 2 illustriert weitere Ausführungsbeispiele des Verfah rens. Diese weiteren Ausführungsbeispiele unterscheiden sich von dem Ausführungsbeispiel der Figur 1 durch die in der Prin- zipdarstellung der Figur 2 wiedergegebenen Verfahrensschritte des Befüllens 13 der Prozesskammer mit Stickstoff und des an schließenden Evakuierens 10 der Prozesskammer. Diese beiden Verfahrensschritte können bei dem in Figur 1 dargestellten Ausführungsbeispiel die vor dem chemischen Umsetzen 16 des an gelagerten Wassers 42 vorgesehenen Verfahrensschritte des Spü- lens 12 der Prozesskammer und des daran anschließenden Evaku ierens 10 der Prozesskammer ersetzen. FIG. 2 illustrates further exemplary embodiments of the method. These further embodiments differ from the embodiment of FIG. 2 shows a reproduced process steps of filling 13 of the process chamber with nitrogen and the subsequent evacuation 10 of the process chamber. In the exemplary embodiment illustrated in FIG. 1, these two method steps can replace the process steps of rinsing 12 of the process chamber and the subsequent evacuation 10 of the process chamber provided prior to the chemical reaction 16 of the stored water 42.
Alternativ besteht die Möglichkeit, die Verfahrensschritte aus Figur 2 zusätzlich zu den bereits in Figur 1 dargestellten Verfahrensschritten vorzusehen. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden die Verfahrensschritte aus Figur 2 vor dem Einleiten 14 des Silans in die Prozesskammer in die Verfahrensschrittabfol- ge aus Figur 1 aufgenommen. Somit werden sie vor dem chemi schen Umsetzen 16 des eingelagerten Wassers 42 durchgeführt. Die Verfahrensschritte des Befüllens 13 der Prozesskammer mit Stickstoff und des anschließenden Evakuierens 10 der Prozess kammer können dabei in die Verfahrensschrittabfolge der Fi gur 1 nach dem erstmaligen Evakuieren 10 der Prozesskammer und vor dem erstmaligen Spülen 12 der Prozesskammer eingefügt wer den oder nach dem zweiten Evakuierungsschritt 10. Durch eine zusätzliche Aufnahme der Verfahrensschritte aus Figur 2 in die Verfahrensschrittabfolge aus Figur 1 kann, wie oben beschrie ben, eine weitergehende Verlängerung der Standzeit der Vakuum pumpe realisiert werden. Alternatively, it is possible to provide the method steps from FIG. 2 in addition to the method steps already shown in FIG. In this exemplary embodiment, the method steps from FIG. 2 are taken into the process step sequence from FIG. 1 before the silane is introduced into the process chamber. Thus, they are performed before chemi's reaction 16 of the stored water 42. The process steps of filling the process chamber with nitrogen and the subsequent evacuation 10 of the process chamber can be inserted into the process step sequence of fi gure 1 after the first evacuation 10 of the process chamber and before the first flushing 12 of the process chamber who or after the second evacuation step 10th By an additional recording of the process steps of Figure 2 in the process step sequence of Figure 1, as described above ben, a further extension of the service life of the vacuum pump can be realized.
Obwohl die Erfindung im Detail durch bevorzugte Ausführungs beispiele näher beschrieben wurde, ist die Erfindung durch die offenbarten Ausführungsbeispiele nicht eingeschränkt und ande re Varianten der Erfindung können vom Fachmann abgeleitet wer den, ohne von dem Grundgedanken der Erfindung abzuweichen. Bezugszeichenliste Although the invention has been described in detail by preferred embodiment examples, the invention is not limited by the disclosed embodiments and other variants of the invention can be derived by those skilled in the, without departing from the spirit of the invention. LIST OF REFERENCE NUMBERS
10 Evakuieren Prozesskammer 10 evacuate process chamber
12 Spülen der Prozesskammer  12 rinsing the process chamber
13 Befüllen Prozesskammer mit Stickstoff  13 Fill process chamber with nitrogen
14 Einleiten Silan in Prozesskammer  14 Introducing silane in process chamber
16 chemisches Umsetzen des angelagerten Wassers und Bildung von SI (OH) 4 und/oder S1O2 16 chemical reaction of the deposited water and formation of SI (OH) 4 and / or S1O 2
18 Abführen Produkte aus Abscheideanlage  18 purging products from separation plant
20 Einleiten TMA in Prozesskammer  20 Initiate TMA in process chamber
22 Abscheiden Aluminiumoxidschicht mittels PECVD  22 depositing aluminum oxide layer using PECVD
40 Wandung 40 wall
42 H20 42 H 2 0
44 SiH4 44 SiH 4
46 Si (OH) 4 46 Si (OH) 4
48 H2 48 H 2
50 Abpumpen Produkte  50 pumping products

Claims

Patentansprüche claims
1. Verfahren zum Betrieb einer Abscheideanlage, bei welchem eine Prozessschicht auf einem zu beschichtenden Objekt ab geschieden wird (22); A method of operating a deposition apparatus, wherein a process layer is deposited on an object to be coated (22);
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass  d a d u r c h e c e n c i n e s that
vor dem Abscheiden (22) der Prozessschicht auf dem zu be schichtenden Objekt  before depositing (22) the process layer on the object to be coated
— ein an einer Wandung (40) einer Prozesskammer oder an einer Wandung (40) einer mit der Prozesskammer verbunde nen Abgasstrecke der Abscheideanlage angelagertes Edukt (42) einer unerwünschten Reaktion mittels einer Binde substanz (44) chemisch umgesetzt wird (16) in wenigstens ein Produkt (46, 48) ;  - An educt (42) of an unwanted reaction by means of a binding substance (44) is chemically reacted (16) in at least one on a wall (40) of a process chamber or on a wall (40) connected to the process chamber NEN exhaust gas line of the deposition plant Product (46, 48);
— dieses wenigstens eine Produkt (46, 48) aus der Abschei deanlage abgeführt wird (18) .  - This at least one product (46, 48) is discharged from the separation deanlage (18).
2. Verfahren nach Anspruch 1, 2. The method according to claim 1,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass als angelagertes Edukt (42) ein angelagertes Gas che misch umgesetzt wird.  that as annealed educt (42) an attached gas is chemically reacted.
3. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 3. Method according to one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass ein Gas als Bindesubstanz (44) verwendet wird.  that a gas is used as the binding substance (44).
4. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 4. Method according to one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass an der Wandung (40) der Prozesskammer und an der Wan dung der mit der Prozesskammer verbundenen Abgasstrecke an gelagerte Mengen des Edukts (42) der unerwünschten Reaktion mittels der Bindesubstanz (44) chemisch in das wenigstens eine Produkt (46, 48) umgesetzt werden. on the wall (40) of the process chamber and on the wall of the exhaust gas line connected to the process chamber to stored quantities of the educt (42) of the unwanted reaction by means of the binding substance (44) are chemically converted into the at least one product (46, 48) ,
5. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 5. Method according to one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass die Bindesubstanz (44) bereitgestellt wird, indem sie in die Prozesskammer oder die mit der Prozesskammer verbun dene Abgasstrecke eingeleitet wird (14) .  in that the binding substance (44) is provided by being introduced into the process chamber or the exhaust gas line connected to the process chamber (14).
6. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 6. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass an der Wandung (40) der Prozesskammer oder an der Wan dung der Abgasstrecke angelagertes Wasser (42) mittels der Bindesubstanz (44) chemisch umgesetzt wird.  in that water (42) attached to the wall (40) of the process chamber or to the wall of the exhaust gas line is chemically reacted by means of the binding substance (44).
7. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 7. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass als Bindesubstanz (44) wenigstens eine Substanz aus einer Gruppe bestehend aus Methan, Silan (44), Ammoniak und Trimethylaluminium verwendet wird, vorzugsweise Silan (44) .  in that at least one substance selected from the group consisting of methane, silane (44), ammonia and trimethylaluminum is used as the binding substance (44), preferably silane (44).
8. Verfahren nach den Ansprüchen 6 und 7, 8. Process according to claims 6 and 7,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass Silan als Bindesubstanz (44) eingesetzt wird und bei der Umsetzung des Wassers (42) Si (OH) 4 (46) und/oder S1O2 gebildet wird (16) .  that silane is used as the binding substance (44) and in the reaction of the water (42) Si (OH) 4 (46) and / or S1O2 is formed (16).
9. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 9. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass  d a d u r c h e c e n c i n e s that
— nach dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10);  - after said chemical reaction (16) of the educt (42), the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar (10);
— nachfolgend die Prozesskammer mit einem Inertgas, vor zugsweise Stickstoff, gespült wird (12);  - Subsequently, the process chamber with an inert gas, preferably nitrogen before, is rinsed (12);
— nachfolgend die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10) . - Subsequently, the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar (10).
10. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass 10. The method according to any one of the preceding claims, d a d u r c h e c e n e c e s in that e
— vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10);  - Before said chemical reaction (16) of the educt (42), the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar (10);
— nachfolgend vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer mit einem Inertgas, vorzugsweise Stickstoff, gespült wird (12);  - Subsequently, prior to said chemical reaction (16) of the educt (42), the process chamber with an inert gas, preferably nitrogen, is rinsed (12);
— nachfolgend vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer auf einen Druck im Be reich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10) .  - Subsequently, prior to said chemical reaction (16) of the starting material (42), the process chamber is evacuated to a pressure in the loading range of 0.001 mbar to 10 mbar (10).
11. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 11. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass  d a d u r c h e c e n c i n e s that
— vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer auf einen Druck im Bereich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10);  - Before said chemical reaction (16) of the educt (42), the process chamber is evacuated to a pressure in the range of 0.001 mbar to 10 mbar (10);
— nachfolgend vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer mit einem Inertgas bis zu einem Druck von mehr als 100 mbar, vorzugsweise bis zu einem Druck von mehr als 500 mbar und besonders be vorzugt bis zu atmosphärischem Umgebungsdruck gefüllt wird (13) ;  - Subsequently, prior to said chemical reaction (16) of the educt (42) the process chamber with an inert gas to a pressure of more than 100 mbar, preferably up to a pressure of more than 500 mbar and particularly preferably be filled to atmospheric pressure (13);
— nachfolgend vor dem genannten chemischen Umsetzen (16) des Edukts (42) die Prozesskammer auf einen Druck im Be reich von 0,001 mbar bis 10 mbar evakuiert wird (10) .  - Subsequently, prior to said chemical reaction (16) of the starting material (42), the process chamber is evacuated to a pressure in the loading range of 0.001 mbar to 10 mbar (10).
12. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 12. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass das Edukt (42) vollständig aus der Prozesskammer und der Abgasstrecke entfernt wird. the educt (42) is completely removed from the process chamber and the exhaust gas line.
13. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , 13. Method according to one of the preceding claims, characterized in that
dass zum Zwecke des Abscheidens (22) der Prozessschicht Trimethylaluminium in die Prozesskammer eingeleitet wird (20) .  for the purpose of depositing (22) the process layer trimethylaluminum is introduced into the process chamber (20).
14. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, 14. The method according to any one of the preceding claims,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass als Prozessschicht eine Aluminium aufweisende Schicht abgeschieden wird (22) .  that an aluminum-containing layer is deposited as the process layer (22).
15. Verfahren nach Anspruch 14, 15. The method according to claim 14,
d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t ,  characterized ,
dass als Prozessschicht eine Aluminiumoxidschicht abge schieden wird (22) .  that a layer of aluminum oxide is deposited as the process layer (22).
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5129958A (en) * 1989-09-22 1992-07-14 Applied Materials, Inc. Cleaning method for semiconductor wafer processing apparatus
US20030205237A1 (en) * 2000-11-20 2003-11-06 Tokyo Electron Limited Method of cleaning processing chamber of semiconductor processing apparatus
US20040081757A1 (en) * 2002-08-30 2004-04-29 Tokyo Electron Limited Substrate treatment device, substrate treatment method, and cleaning method for substrate treatment device
US20040123879A1 (en) * 2002-12-26 2004-07-01 Eun-Taek Yim Method for cleaning a deposition chamber and deposition apparatus for performing in situ cleaning
US20060264045A1 (en) * 2005-05-23 2006-11-23 Youfan Gu Method and apparatus for preventing ALD reactants from damaging vacuum pumps
US20150252473A1 (en) * 2014-03-06 2015-09-10 Applied Materials, Inc. Plasma foreline thermal reactor system
US20160284542A1 (en) * 2015-03-25 2016-09-29 Hitachi Kokusai Electric Inc. Method of manufacturing semiconductor device, substrate processing apparatus, and recording medium
CN106702348A (en) * 2016-12-29 2017-05-24 圆融光电科技股份有限公司 Method for removing water-oxygen molecule impurities in MOCVD equipment reaction chamber

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0636704B1 (en) * 1993-07-30 1999-11-03 Applied Materials, Inc. Silicon nitride deposition
US5626775A (en) * 1996-05-13 1997-05-06 Air Products And Chemicals, Inc. Plasma etch with trifluoroacetic acid and derivatives
US6099649A (en) * 1997-12-23 2000-08-08 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition hot-trap for unreacted precursor conversion and effluent removal
US6844273B2 (en) * 2001-02-07 2005-01-18 Tokyo Electron Limited Precleaning method of precleaning a silicon nitride film forming system
US6720259B2 (en) * 2001-10-02 2004-04-13 Genus, Inc. Passivation method for improved uniformity and repeatability for atomic layer deposition and chemical vapor deposition
JP4836780B2 (en) * 2004-02-19 2011-12-14 東京エレクトロン株式会社 Method of cleaning a processing chamber in a substrate processing apparatus and a method for detecting an end point of cleaning
JP4675127B2 (en) * 2004-04-23 2011-04-20 東京エレクトロン株式会社 Thin film forming apparatus, thin film forming apparatus cleaning method and program
KR20060018323A (en) * 2004-08-24 2006-03-02 삼성전자주식회사 Method of cleaning a processing chamber
JP4492963B2 (en) * 2005-06-14 2010-06-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Thin film deposition method, vapor phase growth apparatus, program
JP4438850B2 (en) * 2006-10-19 2010-03-24 東京エレクトロン株式会社 Processing apparatus, cleaning method and storage medium
US20130133697A1 (en) * 2011-06-29 2013-05-30 Paul A. STOCKMAN Prevention of post-pecvd vacuum and abatement system fouling using a fluorine containing cleaning gas chamber
US20130064973A1 (en) * 2011-09-09 2013-03-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Chamber Conditioning Method
JP5689984B2 (en) * 2011-12-27 2015-03-25 キヤノンアネルバ株式会社 Method for continuously forming noble metal film and method for continuously manufacturing electronic parts
US9595448B2 (en) * 2015-06-29 2017-03-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for cleaning plasma processing chamber and substrate
US9803277B1 (en) * 2016-06-08 2017-10-31 Asm Ip Holding B.V. Reaction chamber passivation and selective deposition of metallic films

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5129958A (en) * 1989-09-22 1992-07-14 Applied Materials, Inc. Cleaning method for semiconductor wafer processing apparatus
US20030205237A1 (en) * 2000-11-20 2003-11-06 Tokyo Electron Limited Method of cleaning processing chamber of semiconductor processing apparatus
US20040081757A1 (en) * 2002-08-30 2004-04-29 Tokyo Electron Limited Substrate treatment device, substrate treatment method, and cleaning method for substrate treatment device
US20040123879A1 (en) * 2002-12-26 2004-07-01 Eun-Taek Yim Method for cleaning a deposition chamber and deposition apparatus for performing in situ cleaning
US20060264045A1 (en) * 2005-05-23 2006-11-23 Youfan Gu Method and apparatus for preventing ALD reactants from damaging vacuum pumps
US20150252473A1 (en) * 2014-03-06 2015-09-10 Applied Materials, Inc. Plasma foreline thermal reactor system
US20160284542A1 (en) * 2015-03-25 2016-09-29 Hitachi Kokusai Electric Inc. Method of manufacturing semiconductor device, substrate processing apparatus, and recording medium
CN106702348A (en) * 2016-12-29 2017-05-24 圆融光电科技股份有限公司 Method for removing water-oxygen molecule impurities in MOCVD equipment reaction chamber

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