WO2019085196A1 - 一种显示基板的走线结构 - Google Patents

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单剑锋
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惠科股份有限公司
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    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing

Definitions

  • the present application relates to the field of display technologies, and in particular, to a trace structure of a display substrate.
  • a liquid crystal display panel requires an alignment film to determine an initial guiding angle (ie, a pretilt angle) of liquid crystal molecules, and a method of rubbing an alignment film is generally used to align liquid crystal molecules.
  • the frictional alignment requires precise control of the process flow, and the operation of the process is not easy to control.
  • a photoalignment technique of a polymer can be employed. The photo-alignment technology needs to firstly react the reactive monomer
  • a display panel uses a display panel to apply a common voltage (also referred to as a curing voltage) to the liquid crystal layer, and the liquid crystal layer is irradiated by ultraviolet light through a mask under the curing voltage, thereby causing The reactive monomer is polymerized and cured to form a polymer layer on the substrate on both sides of the liquid crystal layer so that the liquid crystal of the liquid crystal layer has a certain pretilt angle.
  • a common voltage also referred to as a curing voltage
  • the trace structure reserves a curing pad and a curing trace, and the curing pad passes through the curing trace and the display panel in the display substrate. Connection, used to receive a common voltage. If a curing trace is broken, the voltage cannot be transferred to the display panel, and it cannot be solidified to form a pretilt angle.
  • the existing wiring structure for curing cannot detect whether the curing trace is broken. Therefore, it is necessary to provide a wiring structure for a display substrate to solve the above problems.
  • Embodiments of the present application provide a trace structure for a display substrate, which is intended to facilitate detecting whether a solidification trace is broken or not, to determine the reason why pre-tilt curing cannot be performed.
  • the present application provides a trace structure for a display substrate, where the display substrate includes at least two display panels, including: [0010] at least two curing pads are disposed on the array substrate of the display panel for receiving a common voltage, wherein one curing pad acts as a main curing pad, and the remaining curing pads serve as an auxiliary curing pad;
  • a curing trace connected to the curing pad for transmitting the common voltage to the display panel;
  • a test pad disposed on the array substrate for receiving a test voltage;
  • a plurality of active switches are connected to the test pad and the curing pad corresponding to the adjacent display panel; [0014] wherein, after the test pad receives the test voltage, the active device The communication pads corresponding to the adjacent display panels are connected to each other.
  • the present application further provides a routing structure for a display substrate, where the display substrate includes at least two display panels, including:
  • a curing pad disposed on the array substrate of the display panel for receiving a common voltage
  • a curing trace connected to the curing pad for transmitting the common voltage to the display panel;
  • a test pad disposed on the array substrate for receiving a test voltage;
  • an active switch connected to the test pad and a corresponding curing pad corresponding to the display panel;
  • the active switch connects the curing pads corresponding to the adjacent display panels.
  • test pad and the curing pad are disposed on the same display panel
  • the curing pad includes a first curing pad and a second curing pad connected by the curing trace, the first curing pad and the second curing pad setting the display On both sides of the panel.
  • the test pad includes a first test pad and a second test pad, and the first test pad and the first curing pad are located on the same side of the display panel.
  • the second test pad and the second curing pad are located on the same side of the display panel.
  • the active switch includes a control end, a first connection end, and a second connection end; the control end is connected to the first test pad, and the first connection end Connected to the first curing pad, the second connecting end is connected to a second curing pad corresponding to the adjacent display panel.
  • test trace is further included, and the corresponding active switches of the adjacent display panels are connected by the test trace.
  • the test traces and the curing traces are located on both sides of the display panel.
  • the curing pad and the test pad are made of a metal material; the curing pad and the test pad have different metal materials.
  • the active switch includes a thin film transistor.
  • the wiring structure of the display substrate includes: a curing pad, a curing trace, a test pad, and an active switch; the curing pad is disposed on the array substrate of the display panel for receiving a common voltage; a curing trace is connected to the curing pad for transmitting the common voltage to the display panel; a test pad is disposed on the array substrate for receiving a test voltage; and an active switch is adjacent to the test pad and adjacent
  • the curing pads of the display panel are connected to each other; wherein, after the test pad receives the test voltage, the active switch connects the curing pads corresponding to the adjacent display panels.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a trace structure of a display substrate provided in an embodiment of the present application.
  • FIG. 2 is another schematic diagram of a trace structure of a display substrate provided in an embodiment of the present application.
  • FIG. 3 is a partial structural schematic view of a trace structure of the display substrate shown in FIG. 1;
  • FIG. 4 is another schematic structural view of a trace structure of the display substrate shown in FIG. 3;
  • FIG. 5 is another schematic structural view of a trace structure of the display substrate shown in FIG. 3.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a trace structure of a display substrate according to an embodiment of the present application
  • FIG. 2 is a trace of a display substrate provided in an embodiment of the present application.
  • the display substrate 100 is a large mother substrate, and the display substrate 100 can be cut into a plurality of display panels.
  • a plurality of thin film transistor arrays are often fabricated on a plurality of first substrates 111.
  • the first substrate 111 may be, for example, a glass substrate, corresponding to the first glass substrate.
  • the second substrate 112 may be, for example, a glass substrate, corresponding to the second glass substrate 112, and the first glass substrate 111 and the second The glass substrate 112 can be combined with the liquid crystal molecules to form at least one display panel 110, which increases the manufacturing efficiency of the display panel 110.
  • FIG. 2 is a schematic view showing the structure of the second glass substrate 112.
  • the display substrate 100 includes four display panels 110. It is to be understood that in other embodiments, the number of display panels 110 included in the display substrate 100 may be other numbers, which are not specifically limited herein.
  • the display panel 110 is a liquid crystal display panel.
  • a wiring structure is often provided around the display panel 110.
  • the routing structure includes: a curing pad 120, a curing trace 130, a test pad 140, and an active switch 150.
  • the curing pad 120 is disposed on the array of the display panel 110. On the substrate.
  • the curing pad 120 is configured to receive a common voltage, which is a preset voltage, and the liquid alignment technology is used to make the liquid crystal of the liquid crystal layer have a certain pretilt angle.
  • the curing traces 130 are disposed on the array substrate.
  • the curing trace 130 is connected to the curing pad 120 and the display panel 110 for transmitting the common voltage received by the curing pad 120 to the display panel 110.
  • a test pad 140 is disposed on the array substrate, and the test pad 140 is configured to receive a test voltage.
  • the active switch 150 is connected to the test pad 140 and the curing pad 120 corresponding to the adjacent display panel 110.
  • the active switch 150 can perform a closing action after receiving the preset signal, and the preset signal can be, for example, a high level signal.
  • the test pad 140 receives the test voltage ⁇
  • the active switch 150 connects the curing pads 120 corresponding to the adjacent display panels 110, so that the external detection device can be used to cure the wires.
  • the 130 is tested to quickly know if the curing trace 130 has broken.
  • the external detecting device may be a multimeter. It can be understood that, in other embodiments, the external detecting device may also be other devices for detecting whether the line is broken or not, and is not specifically limited herein.
  • the active switch is a TFT (Thin Film Transistor), and the number of the active switches may be multiple.
  • test pad 140 and the curing pad 120 are disposed on the same side of the display panel 110.
  • FIG. 3 is a partial structural diagram of the trace structure of the display substrate shown in FIG.
  • FIG. 1 Only one display panel 110 and its corresponding routing structure are shown in FIG. Those skilled in the art can easily know other display panels 110 and their corresponding trace structures according to the display panel 110 and the corresponding trace structure shown in FIG.
  • the curing pad 120 includes a first curing pad 1
  • the first curing pad 121 and the second curing pad 122 are disposed on both sides of the display panel 110, and the first curing pad 121 and the second curing pad 122 are connected by the curing trace 130.
  • the test pad 140 includes a first test pad 141 and a second test pad 142.
  • the first test pad 141 and the first curing pad 121 are located on the same side of the display panel 110, and the second test pad 142 and the second curing pad 122 are located on the same side of the display panel 110.
  • the first curing pad 121 and the second curing pad 122 are opposite to the display panel 11
  • the first test pad 141 and the second test pad 142 are disposed opposite to the display panel 110.
  • the test pad 140 may also include only the first test pad 141. That is, the number of test pads 140 corresponding to each display panel 110 is one. Of course, the number of test pads 140 corresponding to each display panel 110 may also be three or more, and the number of test pads 140 is not limited herein.
  • the active switch 150 includes a control end 151, a first connection end 152, and a second connection end 153.
  • the control terminal 15 1 is connected to the first test pad 141; the first connection end 152 is connected to the first curing pad 121; the second connection end 153 is connected to the second curing pad 122 corresponding to the adjacent display panel 110.
  • the adjacent display panels 110 refer to adjacent display panels 110 in the same row or the same column. For example, as shown in FIG. 2, in the display substrate 100 shown in FIG. 2, two display panels 110 in the same row are adjacent display panels, and two display panels 110 in the same row are also adjacent displays. panel. That is, the adjacent display panels 110 do not include the case where diagonal diagonal lines are adjacent.
  • the first connection end 152 of the active switch 150 is connected to the first curing pad 121, and the second connection end 153 and the first column.
  • the second curing pad 122 in the first display panel 110 is connected.
  • the first curing pad 121 corresponding to the second display panel 110 of the first column is in communication with the second curing pad 122 of the first display panel 110 of the first column,
  • the curing pads in the two display panels 110 of the first column are in communication with each other, which facilitates subsequent detection of whether the curing traces 130 are broken by an external detecting device.
  • FIG. 4 is another schematic structural view of the wiring structure of the display substrate shown in FIG.
  • the active switch 150 may be, for example, a thin film transistor or other transistor. Taking the thin film transistor as an example, the control terminal 151 of the active switch 150 is the gate of the thin film transistor, the first connection terminal 152 is the drain of the thin film transistor, and the second connection terminal 153 is the source of the thin film transistor.
  • the trace structure further includes test traces 160.
  • the active switches 150 corresponding to the adjacent display panels 110 are connected by test traces 160. Specifically, in the active switches 150 corresponding to the adjacent display panels 110, the control terminals 151 are connected together through the test traces 160. In this way, when the first test pad 141 corresponding to the first display panel 110 in the first column receives the test voltage ⁇ , the test voltage can be transmitted to the two display panels 110 of the first column through the test trace 160.
  • the active end of the active switch 150 is configured to open the plurality of active switches 150 such that the curing pads 120 and the curing traces 130 of the adjacent two display panels 110 of the first column are in communication with each other.
  • test traces 160 and the curing traces 130 are located on both sides of the display panel 110.
  • the test traces 160 and the curing traces 130 may also be disposed on the same side or adjacent sides of the display panel 110, and are not specifically limited herein.
  • the number of the curing pads 120 in the routing structure is at least two.
  • the number of the curing pads 120 is generally set to two.
  • One of the two curing pads 120 serves as a primary curing pad and the other serves as an auxiliary curing pad.
  • the auxiliary curing pad can be used for curing to improve the curing efficiency of the display substrate 100.
  • the curing pad 120, the test pad 140, the curing trace 130, and the test trace 160 are all made of metal.
  • the curing pad 120 and the test pad 140 have different metal materials.
  • the routing structure includes a curing pad 120, a curing trace 130, a test pad 140, and an active switch 150.
  • the curing pad 120 is disposed on the array substrate of the display panel 110 to receive a common voltage; the curing trace 130 is connected to the curing pad 120 to transmit a common voltage to the display panel 110; the test pad 140 is disposed on the array substrate to receive the test voltage;
  • the active switch 150 is connected to the test pad 1 40 and the curing pad 120 corresponding to the adjacent display panel 110; wherein, after the test pad 140 receives the test voltage, the active switch 150 will be the curing pad corresponding to the adjacent display panel 110. 120 connected.
  • the curing trace 130 is detected by an external measuring device, thereby judging whether the curing trace 130 is broken or not, and quickly determining the reason why the pretilt curing cannot be performed.

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Abstract

提供了一种显示基板的走线结构，其包括：固化垫（121、122），设置在阵列基板（111）上用于接收公共电压；固化走线（130），与固化垫（121、122）连接用于向显示面板（110）传输公共电压；测试垫（141、142），设置在阵列基板（111）上用于接收测试电压；主动开关（150），与测试垫（141、142）和相邻的显示面板（110）对应的固化垫（121、122）相连；在测试垫（141、142）接收到测试电压时，主动开关（150）将相邻的显示面板（110）对应的固化垫（121、122）连通。

Description

一种显示基板的走线结构
[0001] 本申请要求于 2017年 11月 03日提交中国专利局、 申请号为 201711072694x、 发 明名称为"一种显示基板的走线结构"的中国专利申请的优先权， 其全部内容通过 引用结合在本申请中。
[0002] 技术领域
[0003] 本申请涉及显示技术领域， 尤其涉及一种显示基板的走线结构。
[0004] 背景技术
[0005] 目前， 液晶显示面板在制作吋需要配向膜来决定液晶分子的初始导向角 （即预 倾角） ， 一般采用摩擦配向膜的方法来对液晶分子进行配向。 然而， 摩擦配向 需要高精度地控制工艺流程， 该工艺流程的操作不易控制。 为了改善上述摩擦 配向的缺点， 可以采用聚合物的光配向技术。 该光配向技术需先将反应性单体
(monomer) 惨杂与液晶层中， 并利用显示面板向该液晶层施加一公共电压 （也 称固化电压） ， 在此固化电压作用下通过光罩 （Mask) 以紫外线光照射该液晶 层， 致使反应性单体聚合并固化， 以于液晶层两侧的基板上同吋形成聚合物层 ， 使得该液晶层的液晶具有一定的预倾角。
[0006] 在现有的光配向技术中， 需要在显示基板的周围预先设置走线结构， 该走线结 构预留固化垫和固化走线， 固化垫通过固化走线与显示基板中的显示面板连接 ， 用于接收公共电压。 如果某条固化走线断幵， 则电压无法传输至显示面板， 就无法进行固化形成预倾角。 然而， 现有的固化用的走线结构均无法侦测出固 化走线是否断幵。 因此， 有必要提供一种显示基板的走线结构， 以解决上述问 题。
[0007] 发明内容
[0008] 本申请的实施例提供了一种显示基板的走线结构， 旨在便于检测出固化走线是 否断幵， 以判断出无法进行预倾角固化的原因。
[0009] 一方面， 本申请提供了一种显示基板的走线结构， 所述显示基板包括至少两个 显示面板， 包括： [0010] 至少两个固化垫， 设置在所述显示面板的阵列基板上， 用于接收公共电压， 其 中一个固化垫作为主固化垫， 其余的固化垫作为辅助固化垫；
[0011] 固化走线， 与所述固化垫连接， 用于向所述显示面板传输所述公共电压； [0012] 测试垫， 设置在所述阵列基板上， 用于接收测试电压；
[0013] 多个主动幵关， 与所述测试垫和相邻的所述显示面板对应的固化垫相连； [0014] 其中， 在所述测试垫接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关将相邻的所述显示 面板对应的固化垫连通。
[0015] 另一方面， 本申请还提供了一种显示基板的走线结构， 所述显示基板包括至少 两个显示面板， 包括：
[0016] 固化垫， 设置在所述显示面板的阵列基板上， 用于接收公共电压；
[0017] 固化走线， 与所述固化垫连接， 用于向所述显示面板传输所述公共电压； [0018] 测试垫， 设置在所述阵列基板上， 用于接收测试电压；
[0019] 主动幵关， 与所述测试垫和相邻的所述显示面板对应的固化垫相连；
[0020] 其中， 在所述测试垫接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关将相邻的所述显示 面板对应的固化垫连通。
[0021] 在本申请的走线结构中， 所述测试垫与所述固化垫设置在所述显示面板的同一
[0022] 在本申请的走线结构中， 所述固化垫包括通过所述固化走线连接的第一固化垫 和第二固化垫， 所述第一固化垫和第二固化垫设置所述显示面板的两侧。
[0023] 在本申请的走线结构中， 所述测试垫包括第一测试垫和第二测试垫， 所述第一 测试垫与所述第一固化垫位于所述显示面板的同一侧， 所述第二测试垫与所述 第二固化垫位于所述显示面板的同一侧。
[0024] 在本申请的走线结构中， 所述主动幵关包括控制端、 第一连接端和第二连接端 ； 所述控制端与所述第一测试垫连接， 所述第一连接端与所述第一固化垫连接 ， 所述第二连接端与相邻的所述显示面板对应的第二固化垫连接。
[0025] 在本申请的走线结构中， 还包括测试走线， 所述相邻的显示面板对应的主动幵 关通过所述测试走线连接。
[0026] 在本申请的走线结构中， 所述测试走线和固化走线位于所述显示面板的两侧。 [0027] 在本申请的走线结构中， 所述固化垫和测试垫采用金属材质； 所述固化垫和测 试垫的金属材质不同。
[0028] 在本申请的走线结构中， 所述主动幵关包括薄膜晶体管。
[0029] 本申请实施例提供的显示基板的走线结构包括： 固化垫、 固化走线、 测试垫和 主动幵关； 固化垫设置在所述显示面板的阵列基板上， 用于接收公共电压； 固 化走线与所述固化垫连接， 用于向所述显示面板传输所述公共电压； 测试垫设 置在所述阵列基板上， 用于接收测试电压； 主动幵关与所述测试垫和相邻的所 述显示面板对应的固化垫相连； 其中， 在所述测试垫接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关将相邻的所述显示面板对应的固化垫连通。 当所述相邻的显示面 板对应的固化垫连通吋， 通过外部测量装置检测固化走线， 从而判断固化走线 是否断幵， 快速确定无法进行预倾角固化的原因。
[0030] 附图说明
[0031] 为了更清楚地说明本申请实施例技术方案， 下面将对实施例描述中所需要使用 的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面描述中的附图是本申请的一些实施例 ， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据 这些附图获得其他的附图。
[0032] 图 1是本申请一实施例中提供的一种显示基板的走线结构示意图；
[0033] 图 2是本申请一实施例中提供的一种显示基板的走线结构另一示意图；
[0034] 图 3是图 1所示显示基板的走线结构的部分结构示意图；
[0035] 图 4是图 3所示显示基板的走线结构的另一结构示意图；
[0036] 图 5是图 3所示显示基板的走线结构的又一结构示意图。
[0037] 具体实施方式
[0038] 下面将结合本申请实施例中的附图， 对本申请实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例是本申请一部分实施例， 而不是全部的实 施例。 基于本申请中的实施例， 本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前 提下所获得的所有其他实施例， 都属于本申请保护的范围。
[0039] 本申请所提到的方向用语， 例如 「上」 、 「下」 、 「前」 、 「后」 、 「左」 、 右」 、 「内」 、 「外」 、 「侧面」 等， 仅是参考附加图式的方向。 因此， 使 用的方向用语是用以说明及理解本申请， 而非用以限制本申请。 此外， 在附图 中， 结构相似或相同的结构是以相同标号表示。
[0040] 请参阅图 1和图 2， 图 1是本申请一实施例中提供的一种显示基板的走线结构示 意图， 图 2是本申请一实施例中提供的一种显示基板的走线结构另一示意图。 该 显示基板 100为大张母基板， 可以将该显示基板 100切割成多个显示面板。 在一 实施例中， 在制作该显示基板 100吋， 往往在一大张第一基板 111上同吋制作出 多个薄膜晶体管阵列， 第一基板 111可例如为玻璃基板， 对应为第一玻璃基板 11 1 ; 在另一大张第二基板 112上同吋制作多个彩膜阵列， 该第二基板 112可例如为 玻璃基板， 对应为第二玻璃基板 112， 将第一玻璃基板 111和第二玻璃基板 112扣 合并灌注液晶分子就可以同吋制作出至少个显示面板 110， 增加了显示面板 110 的制作效率。
[0041] 为了便于了解显示基板 100的具体结构， 图 2为未画出第二玻璃基板 112的结构 示意图。 在图 1和图 2所示的显示基板 100中， 显示基板 100包括四个显示面板 110 。 可以理解的是， 在其他实施例中， 显示基板 100所包括的显示面板 110的数量 还可以为其他数量， 在此不做具体限制。
[0042] 在本实施例中， 该显示面板 110为液晶显示面板。 为了可以利用光配向技术对 显示面板 110中的液晶分子进行配向， 往往在显示面板 110的四周设置走线结构 。 其中该走线结构包括： 固化垫 120、 固化走线 130、 测试垫 140和主动幵关 150
[0043] 下面将结合说明书附图的图 1至图 5对该走线结构进行详细地说明， 具体如下： [0044] 如图 1所示， 该固化垫 120设置在所述显示面板 110的阵列基板上。 该固化垫 120 用于接收公共电压， 该公共电压为预设电压， 在该预设电压作用下通过光配向 技术使得该液晶层的液晶具有一定的预倾角。 该固化走线 130设置在阵列基板上 。 该固化走线 130与所述固化垫 120和显示面板 110连接， 用于将固化垫 120接收 到的公共电压传输至所述显示面板 110。 测试垫 140设置在所述阵列基板上， 测 试垫 140用于接收测试电压。 主动幵关 150与所述测试垫 140和相邻的所述显示面 板 110对应的固化垫 120相连。 该主动幵关 150在接收预设信号吋， 即可执行闭合 动作， 该预设信号可例如为高电平信号。 [0045] 当所述测试垫 140接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关 150将相邻的所述显示 面板 110对应的固化垫 120连通， 这样就可以采用外部检测设备对固化走线 130进 行检测， 从而快速地得知固化走线 130是否发生断幵。
[0046] 在一实施例中， 该外部检测设备可以为万用表。 可以理解的是， 在其他实施例 中， 外部检测设备也可以为其他用于检测线路是否断幵的设备， 在此不做具体 限制。
[0047] 在一实施例中， 该主动幵关为 TFT (Thin Film Transistor, 薄膜晶体管） ， 该主 动幵关的数量可为多个。
[0048] 在一实施例中， 该测试垫 140与所述固化垫 120设置在所述显示面板 110的同一 侧。 具体地， 请参阅图 3， 图 3是图 1所示显示基板的走线结构的部分结构示意图
。 在图 3中只给出了一个显示面板 110及其对应的走线结构。 本领域的技术人员 可以根据图 3所示的显示面板 110及对应的走线结构可以很容易地得知其他显示 面板 110及其对应的走线结构。
[0049] 在图 3所示的显示面板 110及对应的走线结构中， 该固化垫 120包括第一固化垫 1
21和第二固化垫 122。 该第一固化垫 121和第二固化垫 122设置所述显示面板 110 的两侧， 且该第一固化垫 121和第二固化垫 122通过所述固化走线 130连接。
[0050] 该测试垫 140包括第一测试垫 141和第二测试垫 142。 该第一测试垫 141与该第一 固化垫 121位于显示面板 110的同一侧， 该第二测试垫 142与该第二固化垫 122位 于该显示面板 110的同一侧。
[0051] 此外， 为了简化工艺设计， 该第一固化垫 121和第二固化垫 122相对显示面板 11
0正对设置； 第一测试垫 141和第二测试垫 142相对显示面板 110正对设置。
[0052] 可以理解的是， 在其他实施例中， 测试垫 140也可以仅包括第一测试垫 141。 也 就是说， 每个显示面板 110对应的测试垫 140的个数为一个。 当然， 每个显示面 板 110对应的测试垫 140的个数也可以三个或更多个， 在此不对测试垫 140的个数 进行限制。
[0053] 该主动幵关 150包括控制端 151、 第一连接端 152和第二连接端 153。 该控制端 15 1与第一测试垫 141连接； 该第一连接端 152与所述第一固化垫 121连接； 该第二 连接端 153与相邻的显示面板 110对应的第二固化垫 122连接。 [0054] 需要说明的是， 在本实施例中， 该相邻的显示面板 110指处于同一行或同一列 的相邻的显示面板 110。 譬如， 如图 2所示， 在图 2所示的显示基板 100中， 处于 同一行的两个显示面板 110为相邻的显示面板， 处于同一列的两个显示面板 110 也为相邻的显示面板。 也就是说， 相邻的显示面板 110不包括斜对角线相邻的情 况。
[0055] 譬如， 图 1中处于第一列的第二个显示面板 110， 其主动幵关 150中的第一连接 端 152与第一固化垫 121连接， 其第二连接端 153与第一列的第一个显示面板 110 中的第二固化垫 122连接。 这样当主动幵关 150处于导通状态吋， 第一列的第二 个显示面板 110对应的第一固化垫 121与第一列的第一个显示面板 110中的第二固 化垫 122连通， 也就相当于， 第一列的两个显示面板 110中的固化垫相互连通， 这为后续采用外部检测设备检测固化走线 130是否断幵提供便利。
[0056] 具体地， 如图 4所示， 图 4是图 3所示显示基板的走线结构的另一结构示意图 。 在图 4所示的显示基板的走线结构中， 该主动幵关 150可例如为薄膜晶体管或 其他晶体管。 以薄膜晶体管为例， 该主动幵关 150的控制端 151为薄膜晶体管的 栅极， 该第一连接端 152为薄膜晶体管的漏极， 该第二连接端 153为薄膜晶体管 的源极。
[0057] 在一实施例中， 如图 1至图 3所示， 该走线结构还包括测试走线 160。 相邻的显 示面板 110对应的主动幵关 150通过测试走线 160连接， 具体地， 相邻的显示面板 110对应的主动幵关 150中， 其控制端 151通过测试走线 160连接在一起。 这样， 当处于第一列的第一个显示面板 110对应的第一测试垫 141接收到测试电压吋， 可以通过测试走线 160将测试电压传输至第一列的两个显示面板 110对应的多个 主动幵关 150的控制端， 以打幵多个主动幵关 150， 使得第一列的相邻两个显示 面板 110中的固化垫 120以及固化走线 130相互联通。
[0058] 在一实施例中， 如图 1所示， 为了防止信号干扰， 同吋优化显示基板 100上的空 间利用情况， 该测试走线 160和固化走线 130位于显示面板 110的两侧。 当然， 在 其他实施例中， 测试走线 160和固化走线 130也可以设置在显示面板 110的同一侧 或相邻的两侧上， 在此不做具体限制。
[0059] 在一实施例中， 如图 5所示， 该走线结构中的固化垫 120的个数至少为两个。 为 了节省固化成本以及受限于显示基板 100上的有限空间， 一般固化垫 120的个数 设置为两个。 该两个固化垫 120中的一个作为主固化垫， 另一个作为辅助固化垫 。 当主固化垫发生坏损等问题吋， 可以采用辅助固化垫进行固化， 提高显示基 板 100的固化效率。
[0060] 可以理解的是， 当固化垫 120的个数为两个吋， 相应地， 固化走线 130、 主动幵 关 150也为两个。 两个主动幵关 150均与测试垫 140连接。 相邻的显示面板 110对 应的多个主动幵关 150通过测试走线 160连接在一起。
[0061] 另外， 为了可以传输电压信号， 该固化垫 120、 测试垫 140、 固化走线 130和测 试走线 160均采用金属材质。 在一实施例中， 具体地， 该固化垫 120和测试垫 140 的金属材质不同。
[0062] 在本实施例提供的显示基板的走线结构中， 该走线结构包括固化垫 120、 固化 走线 130、 测试垫 140和主动幵关 150。 固化垫 120设置在所述显示面板 110的阵列 基板上以接收公共电压； 固化走线 130与固化垫 120连接以向显示面板 110传输公 共电压； 测试垫 140设置在阵列基板上以接收测试电压； 主动幵关 150与测试垫 1 40和相邻的显示面板 110对应的固化垫 120相连； 其中， 在测试垫 140接收到测试 电压吋， 主动幵关 150将相邻的显示面板 110对应的固化垫 120连通。 当相邻的显 示面板 110对应的固化垫 120连通吋， 通过外部测量装置检测固化走线 130， 从而 判断固化走线 130是否断幵， 快速确定无法进行预倾角固化的原因。
[0063]
[0064] 以上所述， 仅为本申请的具体实施方式， 但本申请的保护范围并不局限于此， 任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内， 可轻易想到各种 等效的修改或替换， 这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。 因此 ， 本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
技术问题
问题的解决方案
发明的有益效果

Claims

权利要求书
[权利要求 1] 一种显示基板的走线结构， 其中， 所述显示基板包括至少两个显示面 板， 所述走线结构包括：
至少两个固化垫， 设置在所述显示面板的阵列基板上， 用于接收公共 电压， 其中一个固化垫作为主固化垫， 其余的固化垫作为辅助固化垫 固化走线， 与所述固化垫连接， 用于向所述显示面板传输所述公共电 压；
测试垫， 设置在所述阵列基板上， 用于接收测试电压；
多个主动幵关， 与所述测试垫和相邻的所述显示面板对应的固化垫相 连；
其中， 在所述测试垫接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关将相邻的 所述显示面板对应的固化垫连通。
[权利要求 2] 根据权利要求 1所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关用 于接收预设信号并执行闭合动作。
[权利要求 3] 根据权利要求 2所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试垫与所 述固化垫设置在所述显示面板的同一侧。
[权利要求 4] 根据权利要求 3所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述固化垫包括 通过所述固化走线连接的第一固化垫和第二固化垫， 所述第一固化垫 和第二固化垫设置所述显示面板的两侧。
[权利要求 5] 根据权利要求 4所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试垫包括 第一测试垫和第二测试垫， 所述第一测试垫与所述第一固化垫位于所 述显示面板的同一侧， 所述第二测试垫与所述第二固化垫位于所述显 示面板的同一侧。
[权利要求 6] 根据权利要求 5所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关包 括控制端、 第一连接端和第二连接端； 所述控制端与所述第一测试垫 连接， 所述第一连接端与所述第一固化垫连接， 所述第二连接端与相 的所述显示面板对应的第二固化垫连接。
[权利要求 7] 根据权利要求 2所述的显示基板的走线结构， 其中， 还包括测试走线
， 所述相邻的显示面板对应的主动幵关通过所述测试走线连接。
[权利要求 8] 根据权利要求 7所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试走线和 固化走线位于所述显示面板的两侧。
[权利要求 9] 根据权利要求 2所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述固化垫和测 试垫采用金属材质； 所述固化垫和测试垫的金属材质不同。
[权利要求 10] 根据权利要求 2所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关包 括薄膜晶体管。
[权利要求 11] 一种显示基板的走线结构， 其中， 所述显示基板包括至少两个显示面 板， 所述走线结构包括：
固化垫， 设置在所述显示面板的阵列基板上， 用于接收公共电压； 固化走线， 与所述固化垫连接， 用于向所述显示面板传输所述公共电 压；
测试垫， 设置在所述阵列基板上， 用于接收测试电压；
主动幵关， 与所述测试垫和相邻的所述显示面板对应的固化垫相连； 其中， 在所述测试垫接收到所述测试电压吋， 所述主动幵关将相邻的 所述显示面板对应的固化垫连通。
[权利要求 12] 根据权利要求 11所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试垫与所 述固化垫设置在所述显示面板的同一侧。
[权利要求 13] 根据权利要求 12所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述固化垫包括 通过所述固化走线连接的第一固化垫和第二固化垫， 所述第一固化垫 和第二固化垫设置所述显示面板的两侧。
[权利要求 14] 根据权利要求 13所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试垫包括 第一测试垫和第二测试垫， 所述第一测试垫与所述第一固化垫位于所 述显示面板的同一侧， 所述第二测试垫与所述第二固化垫位于所述显 示面板的同一侧。
[权利要求 15] 根据权利要求 14所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关包 括控制端、 第一连接端和第二连接端； 所述控制端与所述第一测试垫 连接， 所述第一连接端与所述第一固化垫连接， 所述第二连接端与相 邻的所述显示面板对应的第二固化垫连接。
[权利要求 16] 根据权利要求 11所述的显示基板的走线结构， 其中， 还包括测试走线
， 所述相邻的显示面板对应的主动幵关通过所述测试走线连接。
[权利要求 17] 根据权利要求 16所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述测试走线和 固化走线位于所述显示面板的两侧。
[权利要求 18] 根据权利要求 11所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关用 于接收预设信号并执行闭合动作。
[权利要求 19] 根据权利要求 11所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述固化垫和测 试垫采用金属材质； 所述固化垫和测试垫的金属材质不同。
[权利要求 20] 根据权利要求 11所述的显示基板的走线结构， 其中， 所述主动幵关包 括薄膜晶体管。
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