WO2018199386A1 - 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법 - Google Patents

전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법 Download PDF

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이영성
임용훈
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Definitions

  • the present invention relates to an apparatus and method for generating power equipment data quality information.
  • Utility is making various efforts such as introducing smart grid and applying intelligent system analysis to improve the stability and economic efficiency of power system.
  • various protocols and various power facilities are applied in the field.
  • power systems have used the DNP (Distributed Network Protocol) communication protocol and have mainly used signals transmitted and received by RTUs (Remote Terminal Units), but recent power systems are not only DNP but also Modbus, UDP, and IEC 61850.
  • DNP Distributed Network Protocol
  • RTUs Remote Terminal Units
  • Various communication protocols are used and signals transmitted and received by various power equipment such as Intelligent Electronic Device (IED), Energy Storage System (ESS), Phase Measurement Unit (PMU) as well as RTU. This greatly increased the complexity of the information.
  • IED Intelligent Electronic Device
  • ESS Energy Storage System
  • PMU Phase Measurement Unit
  • An embodiment of the present invention provides an apparatus and method for generating power equipment data quality information, which can reduce quality complexity by generating quality information of measured data of a power equipment.
  • the power equipment data quality information generating device for collecting the measurement data of the power equipment; A storage unit for storing a past value and a set value of the measurement data; And a quality value generator for generating a quality value of the measured data by applying the measured data, the past value, and the set value to a predetermined logic circuit. It may include.
  • the measurement data may have a sequence structure
  • the quality value may correspond to a quality value of measurement data of a hierarchical structure.
  • the measurement data of the sequence structure may follow a communication protocol of at least one of DNP, Modbus, and UDP, and the measurement data of the hierarchy may follow the communication protocol of IEC 61850.
  • the data collection unit collects the measurement data of the sequence structure from the power plant and collects the measurement data of the hierarchical structure from the second power plant, and the storage unit stores the past value and the set value of the measurement data of the sequence structure.
  • the quality value generator may generate a quality value of the measurement data of the sequence structure.
  • the quality value generator may convert the structure of the measurement data of the sequence structure into a hierarchical structure by applying the quality value generated to the measurement data of the sequence structure.
  • the quality value generator may generate a second quality value according to the verification of the measurement data, and generate a comprehensive quality value based on the quality value according to the predetermined logic circuit and the second quality value. have.
  • the quality value generating unit compares the measured data with the past value, accumulates a variable value in response to a comparison result, and determines whether the time elapsed until the variable value reaches the reference value is greater than or equal to the reference time. As a result, a variable quality value can be generated.
  • the set value may include a measurement period setting value
  • the quality value generation unit may generate a missing quality value corresponding to whether the measurement data is updated during a period corresponding to the measurement period setting value.
  • the set value includes a data type set value and a data range set value
  • the quality value generator generates a type quality value corresponding to a result of comparing the type of the measured data with the data type set value
  • a range quality value corresponding to whether the measured data is out of the data range setting value may be generated.
  • the measurement data includes a power factor value of the power equipment
  • the set value includes a range set value of the power factor value and a range set value of the denominator of the power factor value
  • the quality value generation unit Generate a range quality value corresponding to whether the power factor value of the facility is outside the range setting value of the power factor value, and correspond to whether the denominator of the power factor value of the power facility is outside the range setting value of the denominator of the power factor value
  • the reference quality value can be generated.
  • a method for generating power equipment data quality information may include collecting measurement data of a power equipment; Generating a data table including the measurement data and a set value; And generating a quality value by applying the data table and the historical data table to a predetermined logic circuit. It may include.
  • generating the quality value may include: generating a first quality value according to the predetermined logic circuit; Generating a second quality value according to the verification of the measurement data; Generating a comprehensive quality value based on the first quality value and the second quality value; It may include.
  • the quality value is a type quality value based on the type of the measurement data, a range quality value based on the reference range of the measurement data, a reference quality value based on the reference value reference range of the measurement data, and a frequency of change of the measurement data. And a missing quality value based on an update time of the measurement data.
  • the apparatus and method for generating power equipment data quality information may reduce the complexity of information by generating quality information of measured data of a power equipment, and may integrate data of a power system, intelligent system analysis, and smart. Improve the efficiency of grid operations.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a multiple collection form of a power equipment data quality information generating device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a view showing a single collection form of the power equipment data quality information generating apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a data table for generating a quality value.
  • FIG. 4 is a diagram summarizing setting values in the data table of FIG. 3.
  • FIG. 5 is a diagram summarizing measurement data and quality values in the data table of FIG. 3.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a predetermined logic circuit for generating a quality value.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating the generation of a quality value of a data table to which substation measurement data is applied.
  • FIG. 8 is a flowchart illustrating a method of generating power equipment data quality information according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a multiple collection form of a power equipment data quality information generating device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a view showing a single collection form of the power equipment data quality information generating apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • the power equipment data quality information generating apparatus 100 may include a data collection unit 110, a storage unit 120, and a quality value generation unit 130. It may include.
  • the power equipment data quality information generating apparatus 100 collects measurement data from a plurality of power equipment and transmits data corresponding to the collected measurement data to front end processor (FEP) of SCADA (Supervisory Control And Data Acquisition). It can be transmitted to the upper system 200, such as, it can serve as a proxy-gateway (proxy-gateway).
  • FEP front end processor
  • SCADA Supervisory Control And Data Acquisition
  • the data collector 110 may collect measurement data of the power facility.
  • the data collector 110 may collect measurement data of the plurality of first power equipments 11, 12, and 13 together with measurement data of the second power equipment 20.
  • the plurality of first power equipments 11, 12, and 13 may transmit the measurement data having a sequence structure to the data collection unit 110 according to communication protocols such as DNP, Modbus, and UDP.
  • communication protocols such as DNP, Modbus, and UDP.
  • one form of the enumeration structure may be a structure in which each of the values has a parallel relationship with each other.
  • the second power equipment 20 may transmit measurement data having a hierarchical structure to the data collection unit 110 according to a communication protocol such as IEC 61850.
  • a communication protocol such as IEC 61850.
  • one type of hierarchical structure includes one second power equipment 20 corresponding to a plurality of logical devices, one logical device corresponding to a plurality of logical nodes, and one logical node. It may be a structure corresponding to a plurality of data objects, and may have a structure similar to a UML (Unified Modeling Language) format.
  • UML Unified Modeling Language
  • the hierarchical structure may include, as a value of the data object layer, a quality value that is a measure of how reliable the upper system or the manager can trust the measurement data from the generation of the measurement data. Therefore, the quality value can improve the efficiency of data integration, intelligent system analysis and smart grid operation of the upper system 200.
  • the apparatus 100 for generating quality data of power equipment data may improve the compatibility of the measurement data of the hierarchical structure with the hierarchical structure of the measurement data by generating the quality value in the measurement data of the enumerated structure. .
  • the storage unit 120 may store a past value and a set value of the measurement data of the sequence structure.
  • the storage unit 120 may store a past value and a setting value according to the format of the data table shown in FIG. 3.
  • the storage unit 120 may store the setting values shown in FIG. 4.
  • the storage unit 120 may store a past value and a present value of the measurement data shown in FIG. 5.
  • the quality value generator 130 may generate the quality value of the collected measurement data by applying the measurement data, the past value, and the set value of the enumeration structure to a predetermined logic circuit.
  • the predetermined logic circuit may include the logic circuits shown in FIG. 6.
  • the measurement data that does not initially include the quality value may include the quality value.
  • the quality value may correspond to the quality value of the hierarchical structure, compatibility of the measurement data of the sequence structure with respect to the measurement data of the hierarchical structure may be improved. Furthermore, the quality value may improve the efficiency of data integration, intelligent system analysis, and smart grid operation of the upper system 200.
  • the quality value generation unit 130 combines the generated quality value with the measurement data of the enumeration structure or applies the generated quality value to the measurement data of the enumeration structure to convert the structure of the measurement data of the enumeration structure into a hierarchical structure. It may be transmitted to the higher system 200.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a data table for generating a quality value.
  • the data table may include a configuration value and real time data.
  • FIG. 4 is a diagram summarizing setting values in the data table of FIG. 3.
  • the configuration value includes a data type setting value (definedDataType), a data minimum value setting value (minValue), a data maximum value setting value (maxValue), a reference data minimum value setting value (refMinValue), and a reference data maximum value. It may include a set value (refMaxValue), a variable time (binErrorTime), a variable value (binErrorNumber), and a measurement period set value (meaErrorTime).
  • the data type set value (definedDataType) may affect the type quality value (overflow).
  • the data minimum value set value minMin and the data maximum value set value maxValue may affect the range quality value outOfRange.
  • the reference data minimum value set (refMinValue) and the reference data maximum value set (refMaxValue) may affect the reference quality values (badReference, inaccurate).
  • variable time (binErrorTime) and the variable value (binErrorNumber) can affect the oscillatory value.
  • the measurement interval setting (meaErrorTime) may affect the missing quality value (oldData).
  • FIG. 5 is a diagram summarizing measurement data and quality values in the data table of FIG. 3.
  • the measurement data may include a sequencer, a measurement timestamp, a measurement value, and a data type.
  • the measurement time value may affect the oscillatory quality and the missing quality value (oldData).
  • the data type value (dataType) may affect the type quality value (overflow).
  • the quality value includes a comprehensive quality value, a type quality value overflow, a range quality value outOfRange, a reference quality value badReference, inaccurate, an oscillatory quality value, and a missing quality value ( oldData), and may further include a failure verification value and an inconsistent verification value.
  • Type quality value (overflow), range quality value (outOfRange), reference quality value (badReference, inaccurate), variable quality value (oscillatory), missing quality value (oldData) may be generated according to a predetermined logic circuit shown in FIG. Can be.
  • the second quality value such as a failure verification value and an inconsistent value, may be a value generated by additional verification by a separate application.
  • the comprehensive quality value may have a value synthesized based on a quality value generated according to a predetermined logic circuit and the second quality value.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a predetermined logic circuit for generating a quality value.
  • a predetermined logic circuit may include first, second, third, fourth, fifth, and sixth logic circuits 131, 132, 133, 134, 135, and 136.
  • the first logic circuit 131 may receive a data type set value I02 and a data type value I13, and may output a type quality value O2 dependent on whether the input values are the same.
  • the second logic circuit 132 may receive the measured value I12, the data minimum value set value I04, and the data maximum value set value I05, and between the measured value I12 and the data minimum value set value I04.
  • the range quality value O3 dependent on the magnitude relationship and the magnitude relationship between the measured value I12 and the data maximum value set value I05 can be output.
  • the third logic circuit 133 may receive the measured value I12, the reference data minimum value set value I06, and the reference data maximum value set value I07, and the measured value I12 and the reference data minimum value set value (The reference quality value O4 which is dependent on the magnitude relation between I06) and the magnitude relation between the measured value I12 and the reference data maximum value set value I07 can be output.
  • the fourth logic circuit 134 may receive the measured value I12, the variable time I08, and the variable value I09, and output the variable quality value O5.
  • the fourth logic circuit 134 compares the past value of the measured value I12 and the measured value I12 and accumulates the variable value I09 corresponding to the comparison result, and the variable value I09 reaches the reference value.
  • the variable quality value O5 may be generated depending on whether the time elapsed until the variable time I08 is greater than or equal to the variable time I08.
  • the fifth logic circuit 135 may receive the measurement time value I11 and the measurement period setting value I10, and the missing quality dependent on the comparison result between the measurement time value I11 and the measurement period setting value I10.
  • the value O7 can be output. That is, the fifth logic circuit 135 may generate the missing quality value O7 corresponding to whether the measured value I12 is updated during the period corresponding to the measurement period set value I10.
  • the sixth logic circuit 136 may receive the measured value I12 and the data minimum value set value I04, and the second reference quality corresponding to the comparison result between the measured value I12 and the data minimum value set value I04.
  • the value O9 can be output.
  • the predetermined logic circuit may further receive a definition value I01 and a data type definition value I03, and add a comprehensive quality value O1, a failure verification value O6, and a contradiction verification value O8. Can be printed as
  • FIG. 7 is a diagram illustrating the generation of a quality value of a data table to which substation measurement data is applied.
  • the measurement data may include a power factor value of a power facility (substation).
  • the minimum setting value of the power factor value of the power equipment (substation) is 0, the maximum setting value is 1, the reference data (reactive power) minimum setting value is 5000, and the reference data (reactive power) maximum setting value is 20000. Can be set.
  • the power factor value (0.97038) of the first measurement time (# 1) is greater than the minimum value and less than the maximum value, and the reactive power value (12490) of the first measurement time (# 1) may be greater than the minimum value. have. Therefore, the quality value of the power factor value of the first measurement time # 1 may correspond to the normal quality value.
  • the power factor value (0.97082) of the second measurement time (# 2) is larger than the minimum value and smaller than the maximum value, and the reactive power value (12510) of the second measurement time (# 2) may be larger than the minimum value. have. Therefore, the quality value of the power factor value of the second measurement time # 2 may correspond to the normal quality value (0).
  • the power factor value 3.37125 of the n th measurement time # n may be greater than the maximum value set value, and the reactive power value 3604 of the n th measurement time # n may be smaller than the minimum value set value 5000. Therefore, the quality value of the power factor value of the n th measurement time #n may correspond to the abnormal quality value 1.
  • FIG. 8 is a flowchart illustrating a method of generating power equipment data quality information according to an embodiment of the present invention.
  • Step S120 collecting measurement data of power equipment (S110) and generating a data table including the measured data and a set value.
  • Generating a second quality value according to the verification (S150), generating a comprehensive quality value based on the first quality value and the second quality value (S160), and checking whether the measurement data is the last data ( S170) may include adding a sequence number of the measurement data (S180).
  • the quality value is based on the type quality value based on the type of the measurement data, the range quality value based on the reference range of the measurement data, the reference quality value based on the reference value reference range of the measurement data, and the frequency of variation of the measurement data. It may include a missing quality value based on the variation quality value and the update time of the measurement data.
  • the power facility data quality information generation method may be implemented by a computing device described below.
  • the computing device may be a personal computer, server computer, handheld or laptop device, mobile device (mobile phone, PDA, media player, etc.), multiprocessor system, consumer electronics, mini computer, mainframe computer, any of the aforementioned systems or Distributed computing environments including devices, and the like, but are not limited to such.
  • the computing device may include at least one processing unit and a memory.
  • the processing unit may include, for example, a central processing unit (CPU), a graphics processing unit (GPU), a microprocessor, an application specific integrated circuit (ASIC), field programmable gate arrays (FPGA), and the like. It may have a plurality of cores.
  • the memory may be volatile memory (eg, RAM, etc.), nonvolatile memory (eg, ROM, flash memory, etc.), or a combination thereof.
  • the processing unit may serve as the above-described quality value generator, and the memory may serve as the above-described storage unit.
  • the computing device may include additional storage.
  • Storage includes, but is not limited to, magnetic storage, optical storage, and the like.
  • Storage may store computer readable instructions for implementing one or more embodiments disclosed herein, and other computer readable instructions for implementing operating systems, application programs, and the like.
  • Computer readable instructions stored in the storage may be loaded into the memory for execution by the processing unit.
  • the computing device may include input device (s) and output device (s).
  • the input device (s) may include, for example, a keyboard, mouse, pen, voice input device, touch input device, infrared camera, video input device or any other input device.
  • the output device (s) may include, for example, one or more displays, speakers, printers or any other output device.
  • the computing device may use the input device or output device included in another computing device as the input device (s) or output device (s).
  • the input device (s) may receive a signal for updating the above-described setting value from an administrator, and the output device (s) may output a quality value to the administrator.
  • the computing device may include communication connection (s) that enable communication with other devices via a network.
  • the communication connection (s) may include a modem, a network interface card (NIC), an integrated network interface, a radio frequency transmitter / receiver, an infrared port, a USB connection, or another interface for connecting a computing device to another computing device.
  • the communication connection (s) may include a wired connection or a wireless connection.
  • the communication connection (s) may serve as the data collection unit described above.
  • Each component of the computing device described above may be connected by various interconnections such as a bus (eg, peripheral component interconnect (PCI), USB, firmware (IEEE 1394), optical bus structure, etc.), and a network May be interconnected by a bus (eg, peripheral component interconnect (PCI), USB, firmware (IEEE 1394), optical bus structure, etc.), and a network May be interconnected by a bus (eg, peripheral component interconnect (PCI), USB, firmware (IEEE 1394), optical bus structure, etc.), and a network May be interconnected by a bus (eg, peripheral component interconnect (PCI), USB, firmware (IEEE 1394), optical bus structure, etc.), and a network May be interconnected by a network May be interconnected by a network May be interconnected by a network May be interconnected by a network May be interconnected by
  • the data collector, storage, and quality value generator described above may be remotely connected to each other through interconnection.
  • ком ⁇ онент generally refer to a computer-related entity that is hardware, a combination of hardware and software, software, or running software.
  • a component may be, but is not limited to being, a process running on a processor, a processor, an object, an executable, a thread of execution, a program, and / or a computer.
  • an application running on a controller and the controller can be a component.
  • One or more components may reside within a thread of process and / or execution, and the components may be localized on one computer and distributed between two or more computers.

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치는, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부와, 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부와, 측정 데이터와 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부를 포함할 수 있다.

Description

전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법
본 발명은 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법에 관한 것이다.
유틸리티는 전력시스템의 안정성과 경제성을 향상시키려는 목적으로 스마트그리드의 도입, 지능형 계통해석의 적용 등 다양한 노력을 하고 있다. 이러한 과정에서 다양한 프로토콜들과 다양한 전력설비들이 현장에 적용되고 있다.
예를 들어 전력시스템은 DNP(Distributed Network Protocol) 통신프로토콜을 따르고 RTU(Remote Terminal Unit)에 의해 송수신되는 신호를 중심으로 사용하여왔으나, 최근의 전력시스템은 DNP뿐만 아니라 Modbus, UDP, IEC 61850과 같은 다양한 통신프로토콜을 사용하고 RTU뿐만 아니라 IED(Intelligent Electronic Device), ESS(Energy Storage System), PMU(Phase Measurement Unit)와 같은 다양한 전력설비에 의해 송수신되는 신호를 사용하고 있다. 이로 인하여 정보의 복잡성이 크게 증가하였다.
본 발명의 일 실시 예는, 전력설비의 측정 데이터의 품질 정보를 생성하여 정보의 복잡성을 완화시킬 수 있는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치는, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부; 상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및 상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 측정 데이터는 나열구조를 가지고, 상기 품질값은 계층구조의 측정 데이터가 가지는 품질값에 대응될 수 있다.
예를 들어, 상기 나열구조의 측정 데이터는 DNP, Modbus 및 UDP 중 적어도 하나의 통신프로토콜을 따르고, 상기 계층구조의 측정 데이터는 IEC 61850의 통신프로토콜을 따를 수 있다.
예를 들어, 상기 데이터 수집부는 상기 전력설비로부터 나열구조의 측정 데이터를 수집하고 제2 전력설비로부터 계층구조의 측정 데이터를 수집하고, 상기 저장부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하고, 상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터에 생성한 품질값을 적용하여 상기 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하고, 상기 소정의 논리 회로에 따른 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터와 상기 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값을 축적하고, 상기 변수값이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 기준 시간 이상인지 여부에 따라 변동 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 설정값은 측정 주기 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터가 상기 측정 주기 설정값에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 설정값은 데이터 유형 설정값과 데이터 범위 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터의 유형과 상기 데이터 유형 설정값의 비교 결과에 대응되는 유형 품질값을 생성하고, 상기 측정 데이터가 상기 데이터 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 측정 데이터는 상기 전력설비의 역률값을 포함하고, 상기 설정값은 상기 역률값의 범위 설정값과 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 전력설비의 역률값이 상기 역률값의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하고, 상기 전력설비의 역률값의 분모가 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 참조 품질값을 생성할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계; 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계; 및 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값을 생성하는 단계는, 상기 소정의 논리 회로에 따라 제1 품질값을 생성하는 단계; 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계; 및 상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법은, 전력설비의 측정 데이터의 품질 정보를 생성하여 정보의 복잡성을 완화시킬 수 있으며, 전력시스템의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 다중 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 단일 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 3은 품질값 생성을 위한 데이터 테이블을 예시한 도면이다.
도 4는 도 3의 데이터 테이블에서의 설정값을 정리한 도면이다.
도 5는 도 3의 데이터 테이블에서의 측정 데이터와 품질값을 정리한 도면이다.
도 6은 품질값 생성을 위한 소정의 논리 회로를 예시한 도면이다.
도 7은 변전소 측정 데이터가 적용된 데이터 테이블의 품질값 생성을 예시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법을 나타낸 순서도이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 다중 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 단일 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는, 데이터 수집부(110), 저장부(120) 및 품질값 생성부(130)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는 다수의 전력설비로부터 측정 데이터를 수집하고 수집한 측정 데이터에 대응되는 데이터를 SCADA(Supervisory Control And Data Acquisition)의 FEP(Front End Processor)와 같은 상위시스템(200)으로 전송할 수 있으며, 프록시-게이트웨이(proxy-gateway)의 역할을 수행할 수 있다.
데이터 수집부(110)는 전력설비의 측정 데이터를 수집할 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 수집부(110)는 복수의 제1 전력설비(11, 12, 13)의 측정 데이터와 제2 전력설비(20)의 측정 데이터를 함께 수집할 수 있다.
여기서, 복수의 제1 전력설비(11, 12, 13)는 DNP, Modbus 및 UDP와 같은 통신프로토콜에 따라 나열구조의 측정 데이터를 데이터 수집부(110)로 전송할 수 있다. 여기서, 나열구조의 일 형태는 값들 각각이 서로 병렬적인 관계를 가지는 구조일 수 있다.
또한, 제2 전력설비(20)는 IEC 61850과 같은 통신프로토콜에 따라 계층구조의 측정 데이터를 데이터 수집부(110)로 전송할 수 있다. 여기서, 계층구조의 일 형태는 하나의 제2 전력설비(20)가 다수의 논리장치(Logical Device)에 대응되고 하나의 논리장치가 다수의 논리노드(Logical Node)에 대응되고 하나의 논리노드가 다수의 데이터대상(Data Object)에 대응되는 구조일 수 있으며, UML(Unified Modeling Language) 형식과 유사한 구조를 가질 수 있다.
또한, 계층구조는 측정 데이터의 생성 과정에서부터 측정 데이터를 상위시스템 또는 관리자가 얼마나 믿을 수 있는지를 나타내는 척도인 품질값을 데이터대상(Data Object) 계층의 값으로 포함할 수 있다. 따라서, 상기 품질값은 상위시스템(200)의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
일반적으로 상기 품질값은 나열구조에 포함되지 않으므로, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성은 낮을 수 있다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는 나열구조의 측정 데이터에 품질값을 생성함으로써, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성을 향상시킬 수 있다.
저장부(120)는 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 3에 도시된 데이터 테이블의 형식에 따라 과거값과 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 4에 도시된 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 5에 도시된 측정 데이터의 과거값과 현재값을 저장할 수 있다.
품질값 생성부(130)는 나열구조의 측정 데이터와 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 수집된 측정 데이터의 품질값을 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 소정의 논리 회로는 도 6에 도시된 논리 회로들을 포함할 수 있다.
이에 따라, 나열구조와 같이 품질값을 최초에 포함하지 않는 측정 데이터는 품질값을 포함할 수 있다. 상기 품질값은 계층구조의 품질값에 대응될 수 있으므로, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성은 향상될 수 있다. 더 나아가, 상기 품질값은 상위시스템(200)의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
한편, 상기 품질값 생성부(130)는 생성한 품질값과 나열구조의 측정 데이터를 결합하거나 생성한 품질값을 나열구조의 측정 데이터에 적용하여 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환하여 상위시스템(200)으로 전송할 수 있다.
도 3은 품질값 생성을 위한 데이터 테이블을 예시한 도면이다.
도 3을 참조하면, 데이터 테이블은 설정값(Configuration)과 측정 데이터(Real time data)을 포함할 수 있다.
도 4는 도 3의 데이터 테이블에서의 설정값을 정리한 도면이다.
도 4를 참조하면, 설정값(Configuration)은 데이터 유형 설정값(definedDataType), 데이터 최소값 설정값(minValue), 데이터 최대값 설정값(maxValue), 참조 데이터 최소값 설정값(refMinValue), 참조 데이터 최대값 설정값(refMaxValue), 변수시간(binErrorTime), 변수값(binErrorNumber), 측정 주기 설정값(meaErrorTime)을 포함할 수 있다.
데이터 유형 설정값(definedDataType)은 유형 품질값(overflow)에 영향을 줄 수 있다.
데이터 최소값 설정값(minValue)과 데이터 최대값 설정값(maxValue)은 범위 품질값(outOfRange)에 영향을 줄 수 있다.
참조 데이터 최소값 설정값(refMinValue)과 참조 데이터 최대값 설정값(refMaxValue)은 참조 품질값(badReference, inaccurate)에 영향을 줄 수 있다.
변수시간(binErrorTime)과 변수값(binErrorNumber)은 변동 품질값(oscillatory)에 영향을 줄 수 있다.
측정 주기 설정값(meaErrorTime)은 누락 품질값(oldData)에 영향을 줄 수 있다.
도 5는 도 3의 데이터 테이블에서의 측정 데이터와 품질값을 정리한 도면이다.
도 5를 참조하면, 측정 데이터(Real time data)는 순번값(Pointer), 측정시각값(timeStamp), 측정값(value), 데이터 유형값(dataType)을 포함할 수 있다.
측정시각값(timeStamp)은 변동 품질값(oscillatory)과 누락 품질값(oldData)에 영향을 줄 수 있다.
데이터 유형값(dataType)은 유형 품질값(overflow)에 영향을 줄 수 있다.
도 5를 참조하면, 품질값은 종합 품질값(validity), 유형 품질값(overflow), 범위 품질값(outOfRange), 참조 품질값(badReference, inaccurate), 변동 품질값(oscillatory), 누락 품질값(oldData)을 포함할 수 있으며, 실패 검증값(failure)과 모순 검증값(inconsistent)을 더 포함할 수 있다.
유형 품질값(overflow), 범위 품질값(outOfRange), 참조 품질값(badReference, inaccurate), 변동 품질값(oscillatory), 누락 품질값(oldData)은 도 6에 도시된 소정의 논리 회로에 따라 생성될 수 있다.
실패 검증값(failure)과 모순 검증값(inconsistent)과 같은 제2 품질값은 별도의 어플리케이션(Application)에 의한 추가 검증에 의해 생성된 값일 수 있다.
종합 품질값(validity)은 소정의 논리 회로에 따라 생성된 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합된 값을 가질 수 있다.
도 6은 품질값 생성을 위한 소정의 논리 회로를 예시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 소정의 논리 회로는 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6 논리 회로(131, 132, 133, 134, 135, 136)를 포함할 수 있다.
제1 논리 회로(131)는 데이터 유형 설정값(I02)과 데이터 유형값(I13)을 입력 받을 수 있으며, 입력값들의 동일 여부에 종속적인 유형 품질값(O2)을 출력할 수 있다.
제2 논리 회로(132)는 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)과 데이터 최대값 설정값(I05)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)간의 대소관계와 측정값(I12)과 데이터 최대값 설정값(I05)간의 대소관계에 종속적인 범위 품질값(O3)을 출력할 수 있다.
제3 논리 회로(133)는 측정값(I12)과 참조 데이터 최소값 설정값(I06)과 참조 데이터 최대값 설정값(I07)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 참조 데이터 최소값 설정값(I06)간의 대소관계와 측정값(I12)과 참조 데이터 최대값 설정값(I07)간의 대소관계에 종속적인 참조 품질값(O4)을 출력할 수 있다.
제4 논리 회로(134)는 측정값(I12)과 변수시간(I08)과 변수값(I09)을 입력 받을 수 있으며, 변동 품질값(O5)을 출력할 수 있다. 상기 제4 논리 회로(134)는 측정값(I12)과 측정값(I12)의 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값(I09)을 축적하고, 변수값(I09)이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 변수시간(I08) 이상인지 여부에 따라 변동 품질값(O5)을 생성할 수 있다.
제 5 논리 회로(135)는 측정시각값(I11)과 측정 주기 설정값(I10)을 입력 받을 수 있으며, 측정시각값(I11)과 측정 주기 설정값(I10)간의 비교 결과에 종속적인 누락 품질값(O7)을 출력할 수 있다. 즉, 상기 제5 논리 회로(135)는 측정값(I12)이 측정 주기 설정값(I10)에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값(O7)을 생성할 수 있다.
제6 논리 회로(136)는 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)간의 비교 결과에 대응되는 제2 참조 품질값(O9)을 출력할 수 있다.
한편, 소정의 논리 회로는 정의값(I01), 데이터 유형 정의값(I03)을 추가로 입력 받을 수 있으며, 종합 품질값(O1)과 실패 검증값(O6)과 모순 검증값(O8)을 추가로 출력할 수 있다.
도 7은 변전소 측정 데이터가 적용된 데이터 테이블의 품질값 생성을 예시한 도면이다.
도 7을 참조하면, 측정 데이터는 전력설비(변전소)의 역률값을 포함할 수 있다. 전력설비(변전소)의 역률값의 최소값 설정값은 0이고, 최대값 설정값은 1이고, 참조 데이터(무효전력) 최소값 설정값은 5000이고, 참조 데이터(무효전력) 최대값 설정값은 20000으로 설정될 수 있다.
제1 측정시각(#1)의 역률값(0.97038)은 최소값 설정값보다 크고 최대값 설정값보다 작으며, 제1 측정시각(#1)의 무효전력값(12490)은 최소값 설정값보다 클 수 있다. 따라서, 제1 측정시각(#1)의 역률값의 품질값은 정상 품질값에 대응될 수 있다.
제2 측정시각(#2)의 역률값(0.97082)은 최소값 설정값보다 크고 최대값 설정값보다 작으며, 제2 측정시각(#2)의 무효전력값(12510)은 최소값 설정값보다 클 수 있다. 따라서, 제2 측정시각(#2)의 역률값의 품질값은 정상 품질값(0)에 대응될 수 있다.
제n 측정시각(#n)의 역률값(3.37125)은 최대값 설정값보다 크며, 제n 측정시각(#n)의 무효전력값(3604)은 최소값 설정값(5000)보다 작을 수 있다. 따라서, 제n 측정시각(#n)의 역률값의 품질값은 비정상 품질값(1)에 대응될 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법을 나타낸 순서도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계(S110), 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계(S120), 과거 데이터 테이블을 검색하는 단계(S130), 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계(S140)를 포함할 수 있으며, 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계(S150), 상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계(S160), 측정 데이터가 마지막 데이터인지 확인하는 단계(S170), 측정 데이터의 순번을 추가하는 단계(S180)를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함할 수 있다.
한편, 상기 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은 후술하는 컴퓨팅 디바이스에 의해 구현될 수 있다. 상기 컴퓨팅 디바이스는 개인 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 핸드헬드 또는 랩탑 디바이스, 모바일 디바이스(모바일폰, PDA, 미디어 플레이어 등), 멀티프로세서 시스템, 소비자 전자기기, 미니 컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터, 임의의 전술된 시스템 또는 디바이스를 포함하는 분산 컴퓨팅 환경 등을 포함하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
컴퓨팅 디바이스는 적어도 하나의 프로세싱 유닛 및 메모리를 포함할 수 있다. 여기서, 프로세싱 유닛은 예를 들어 중앙처리장치(CPU), 그래픽처리장치(GPU), 마이크로프로세서, 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC), Field Programmable Gate Arrays(FPGA) 등을 포함할 수 있으며, 복수의 코어를 가질 수 있다. 메모리는 휘발성 메모리(예를 들어, RAM 등), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM, 플래시 메모리 등) 또는 이들의 조합일 수 있다.
상기 프로세싱 유닛은 전술한 품질값 생성부의 역할을 수행할 수 있으며, 상기 메모리는 전술한 저장부의 역할을 수행할 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 추가적인 스토리지를 포함할 수 있다. 스토리지는 자기 스토리지, 광학 스토리지 등을 포함하지만 이것으로 한정되지 않는다. 스토리지에는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예를 구현하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 명령이 저장될 수 있고, 운영 시스템, 애플리케이션 프로그램 등을 구현하기 위한 다른 컴퓨터 판독 가능한 명령도 저장될 수 있다. 스토리지에 저장된 컴퓨터 판독 가능한 명령은 프로세싱 유닛에 의해 실행되기 위해 메모리에 로딩될 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 입력 디바이스(들) 및 출력 디바이스(들)을 포함할 수 있다. 여기서, 입력 디바이스(들)은 예를 들어 키보드, 마우스, 펜, 음성 입력 디바이스, 터치 입력 디바이스, 적외선 카메라, 비디오 입력 디바이스 또는 임의의 다른 입력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 출력 디바이스(들) 은 예를 들어 하나 이상의 디스플레이, 스피커, 프린터 또는 임의의 다른 출력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 컴퓨팅 디바이스는 다른 컴퓨팅 디바이스에 구비된 입력 디바이스 또는 출력 디바이스를 입력 디바이스(들) 또는 출력 디바이스(들)로서 사용할 수도 있다.
상기 입력 디바이스(들)는 관리자로부터 전술한 설정값 업데이트를 위한 신호를 입력 받을 수 있으며, 상기 출력 디바이스(들)는 관리자에게 품질값을 출력할 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 네트워크를 통하여 다른 디바이스와 통신할 수 있게 하는 통신접속(들)을 포함할 수 있다. 여기서, 통신 접속(들)은 모뎀, 네트워크 인터페이스 카드(NIC), 통합 네트워크 인터페이스, 무선 주파수 송신기/수신기, 적외선 포트, USB 접속 또는 컴퓨팅 디바이스를 다른 컴퓨팅 디바이스에 접속시키기 위한 다른 인터페이스를 포함할 수 있다. 또한, 통신 접속(들)은 유선 접속 또는 무선 접속을 포함할 수 있다.
상기 통신접속(들)은 전술한 데이터 수집부의 역할을 수행할 수 있다.
상술한 컴퓨팅 디바이스의 각 구성요소는 버스 등의 다양한 상호접속(예를 들어, 주변 구성요소 상호접속(PCI), USB, 펌웨어(IEEE 1394), 광학적 버스 구조 등)에 의해 접속될 수도 있고, 네트워크에 의해 상호접속될 수도 있다.
즉, 전술한 데이터 수집부, 저장부, 품질값 생성부는 상호접속을 통해 서로에게 원격으로 접속될 수 있다.
본 명세서에서 사용되는 "구성요소", "모듈", "시스템", "인터페이스" 등과 같은 용어들은 일반적으로 하드웨어, 하드웨어와 소프트웨어의 조합, 소프트웨어, 또는 실행중인 소프트웨어인 컴퓨터 관련 엔티티를 지칭하는 것이다. 예를 들어, 구성요소는 프로세서 상에서 실행중인 프로세스, 프로세서, 객체, 실행 가능물(executable), 실행 스레드, 프로그램 및/또는 컴퓨터일 수 있지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 컨트롤러 상에서 구동중인 애플리케이션 및 컨트롤러 모두가 구성요소일 수 있다. 하나 이상의 구성요소는 프로세스 및/또는 실행의 스레드 내에 존재할 수 있으며, 구성요소는 하나의 컴퓨터 상에서 로컬화될 수 있고, 둘 이상의 컴퓨터 사이에서 분산될 수도 있다.
이상에서는 본 발명을 실시 예로써 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형이 가능할 것이다.

Claims (13)

  1. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 측정 데이터는 나열구조를 가지고,
    상기 품질값은 계층구조의 측정 데이터가 가지는 품질값에 대응되는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 나열구조의 측정 데이터는 DNP, Modbus 및 UDP 중 적어도 하나의 통신프로토콜을 따르고,
    상기 계층구조의 측정 데이터는 IEC 61850의 통신프로토콜을 따르는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 수집부는 상기 전력설비로부터 나열구조의 측정 데이터를 수집하고 제2 전력설비로부터 계층구조의 측정 데이터를 수집하고,
    상기 저장부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터에 생성한 품질값을 적용하여 상기 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하고, 상기 소정의 논리 회로에 따른 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터와 상기 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값을 축적하고, 상기 변수값이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 기준 시간 이상인지 여부에 따라 변동 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 설정값은 측정 주기 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터가 상기 측정 주기 설정값에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 설정값은 데이터 유형 설정값과 데이터 범위 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터의 유형과 상기 데이터 유형 설정값의 비교 결과에 대응되는 유형 품질값을 생성하고, 상기 측정 데이터가 상기 데이터 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 측정 데이터는 상기 전력설비의 역률값을 포함하고,
    상기 설정값은 상기 역률값의 범위 설정값과 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 전력설비의 역률값이 상기 역률값의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하고, 상기 전력설비의 역률값의 분모가 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 참조 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  11. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계;
    상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계; 및
    상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계; 를 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 품질값을 생성하는 단계는,
    상기 소정의 논리 회로에 따라 제1 품질값을 생성하는 단계;
    상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계; 및
    상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계; 를 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법.
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