WO2018159112A1 - Radiation imaging device and radiation imaging system - Google Patents

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竹田 慎市
長野 和美
野村 慶一
智之 大池
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キヤノン株式会社
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    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments

Abstract

Provided is a radiation imaging device configured such that inside a casing are disposed: a first imaging panel and a second imaging panel that are disposed such that pixel arrays thereof, which are for acquiring radiation images, overlap each other; a plurality of processing chips that process signals output from the first imaging panel and the second imaging panel; and a support base that is for supporting the first imaging panel and the second imaging panel. The plurality of processing chips are disposed between a rear surface of the support base, the rear surface being on the opposite side from a support surface of the support base that supports the first imaging panel and the second imaging panel, and a bottom part of the casing, the bottom part facing the rear surface of the support base. The plurality of processing chips radiate heat via the bottom part or a side part of the casing that intersects the bottom part.

Description

放射線撮像装置および放射線撮像システムRadiation imaging apparatus and radiation imaging system
 本発明は、放射線撮像装置および放射線撮像システムに関するものである。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus and a radiation imaging system.
 医療画像診断や非破壊検査に用いる撮像装置として、放射線を電荷に変換する変換素子と薄膜トランジスタ(TFT)などのスイッチ素子とを組み合わせた画素がアレイ状に配された撮像パネルを含む放射線撮像装置が広く利用されている。このような放射線撮像装置を用いて、エネルギ成分が異なる放射線を用いた放射線画像を複数取得し、取得した放射線画像の差分から、特定の被写体部分を分離または強調したエネルギサブトラクション画像を取得する方法が知られている。特許文献1には、エネルギサブトラクション画像を取得するために、2つの撮像パネルを用いて、被写体に対して1回の放射線照射(ワンショット法)で2つの異なるエネルギ成分の放射線の放射線画像を記録する放射線撮像装置が提案されている。 As an imaging apparatus used for medical image diagnosis and nondestructive inspection, there is a radiation imaging apparatus including an imaging panel in which pixels in which a combination of a conversion element that converts radiation into electric charge and a switching element such as a thin film transistor (TFT) are arranged in an array. Widely used. There is a method for acquiring a plurality of radiographic images using radiation having different energy components using such a radiation imaging apparatus, and acquiring an energy subtraction image in which a specific subject portion is separated or emphasized from a difference between the acquired radiographic images. Are known. In Patent Document 1, to obtain an energy subtraction image, radiation images of radiation having two different energy components are recorded by one radiation irradiation (one-shot method) on a subject using two imaging panels. A radiation imaging apparatus has been proposed.
特開2010-101805号公報JP 2010-101805 A
 それぞれの撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップは、信号を処理する際に発熱を伴う。特許文献1に示されるように、2つの撮像パネルが指示される支持基台に信号処理を行うための回路を取り付けた基板が配された場合、処理用チップからの熱が支持基台を介して撮像パネルに伝わる。この場合、支持基台の側に配された撮像パネルと、支持基台から離れた側に配された撮像パネルと、の間で温度差が生じる可能性がある。撮像パネル間で温度差が生じた場合、2つの撮像パネルに配された画素間で特性に差が生じうる。ワンショット法では、同時に2つの撮像パネルで撮像された放射線画像からエネルギサブトラクション画像を生成するため、2つの撮像パネル間で特性に差が生じた場合、取得されるエネルギサブトラクション画像の画質が低下する可能性がある。 The processing chip that processes the signal output from each imaging panel generates heat when processing the signal. As shown in Patent Document 1, when a substrate on which a circuit for performing signal processing is attached to a support base instructed by two imaging panels, heat from the processing chip passes through the support base. To the imaging panel. In this case, a temperature difference may occur between the imaging panel arranged on the support base side and the imaging panel arranged on the side away from the support base. When a temperature difference occurs between the imaging panels, a difference in characteristics may occur between the pixels arranged in the two imaging panels. In the one-shot method, an energy subtraction image is generated from radiographic images captured by two imaging panels at the same time. If there is a difference in characteristics between the two imaging panels, the image quality of the acquired energy subtraction image is degraded. there is a possibility.
 本発明は、2つの撮像パネルを用い、1回の放射線の照射でエネルギサブトラクション画像を取得するための放射線撮像装置において、画質の低下を抑制する技術を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a technique for suppressing deterioration in image quality in a radiation imaging apparatus that uses two imaging panels to acquire an energy subtraction image by one irradiation of radiation.
 上記課題に鑑みて、本発明の実施形態に係る放射線撮像装置は、放射線画像を取得するための画素アレイが互いに重なるように配された第1の撮像パネルおよび第2の撮像パネルと、第1の撮像パネルおよび第2の撮像パネルから出力される信号を処理する複数の処理用チップと、第1の撮像パネルおよび第2の撮像パネルを支持するための支持基台と、が筐体の中に配された放射線撮像装置であって、複数の処理用チップは、支持基台のうち第1の撮像パネルおよび第2の撮像パネルを支持する支持面とは反対側の裏面と、筐体のうち支持基台の裏面と向かい合う底部との間に配され、底部または底部と交差する側部を介して放熱されることを特徴とする。 In view of the above problems, a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first imaging panel and a second imaging panel in which pixel arrays for acquiring a radiation image are arranged to overlap each other, and a first imaging panel. A plurality of processing chips for processing signals output from the imaging panel and the second imaging panel, and a support base for supporting the first imaging panel and the second imaging panel. A plurality of processing chips including a back surface opposite to a support surface supporting the first image pickup panel and the second image pickup panel of the support base; Among these, it is arranged between the back surface of the support base and the bottom portion facing, and radiates heat through the bottom portion or a side portion intersecting with the bottom portion.
 上記手段によって、2つの撮像パネルを用い、1回の放射線の照射でエネルギサブトラクション画像を取得するための放射線撮像装置において、画質の低下を抑制する技術を提供する。 By the above means, a technique for suppressing deterioration in image quality is provided in a radiation imaging apparatus for acquiring an energy subtraction image by one radiation irradiation using two imaging panels.
 本発明のその他の特徴及び利点は、添付図面を参照とした以下の説明により明らかになるであろう。なお、添付図面においては、同じ若しくは同様の構成には、同じ参照番号を付す。 Other features and advantages of the present invention will become apparent from the following description with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, the same or similar components are denoted by the same reference numerals.
 添付図面は明細書に含まれ、その一部を構成し、本発明の実施の形態を示し、その記述と共に本発明の原理を説明するために用いられる。
本発明の実施形態に係る放射線撮像装置の外形を示す図。 図1の放射線撮像装置の平面図。 図1の放射線撮像装置の断面図。 図2の平面図の変形例を示す図。 図3の断面図の変形例を示す図。 図4の平面図の変形例を示す図。 図5の断面図の変形例を示す図。 図1の放射線撮像装置を用いた放射線撮像システムの構成例を示す図。
The accompanying drawings are included in the specification, constitute a part thereof, show an embodiment of the present invention, and are used to explain the principle of the present invention together with the description.
The figure which shows the external shape of the radiation imaging device which concerns on embodiment of this invention. The top view of the radiation imaging device of FIG. Sectional drawing of the radiation imaging device of FIG. The figure which shows the modification of the top view of FIG. The figure which shows the modification of sectional drawing of FIG. The figure which shows the modification of the top view of FIG. The figure which shows the modification of sectional drawing of FIG. The figure which shows the structural example of the radiation imaging system using the radiation imaging device of FIG.
 以下、本発明に係る放射線撮像装置の具体的な実施形態を、添付図面を参照して説明する。なお、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども含みうる。 Hereinafter, specific embodiments of the radiation imaging apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The radiation in the present invention includes a beam having energy of the same degree or more, such as X-rays, β-rays, γ-rays, etc., which are beams formed by particles (including photons) emitted by radiation decay, such as X It can also include rays, particle rays, and cosmic rays.
 第1の実施形態
 図1~3を参照して、本発明の実施形態による放射線撮像装置の構成について説明する。図1は、本発明の第1の実施形態による放射線撮像装置100の外形の構成例を示す斜視図である。放射線撮像装置100は筐体150を有し、図中の矢印方向から放射線が照射される。筐体150は、放射線が照射される照射面151を備える。図2は、放射線撮像装置100の照射面151の側から見た平面図である。図3は、図1のA-B-Cで示される部分の断面図である。
First Embodiment A configuration of a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a perspective view showing a configuration example of the outer shape of the radiation imaging apparatus 100 according to the first embodiment of the present invention. The radiation imaging apparatus 100 includes a housing 150, and the radiation is emitted from the direction of the arrow in the drawing. The housing 150 includes an irradiation surface 151 on which radiation is irradiated. FIG. 2 is a plan view seen from the irradiation surface 151 side of the radiation imaging apparatus 100. FIG. 3 is a cross-sectional view of the portion indicated by ABC in FIG.
 筐体150の中には、放射線画像を取得するための画素アレイが互いに重なるように配された2つの撮像パネル130が配される。(本明細書において、2つの撮像パネル130のうち特定の撮像パネルを説明する場合、撮像パネル130aのように、参照符号の後に「a」などを添え字する。他の構成要素についても同様である。)また、筐体150の中には、2つの撮像パネル130を支持するための支持基台140が配される。本実施形態において、支持基台140は、筐体150の放射線を照射するための照射面151とは反対の裏面に固定されている。 In the housing 150, two imaging panels 130 are arranged in which pixel arrays for acquiring radiographic images are arranged so as to overlap each other. (In this specification, when a specific imaging panel of the two imaging panels 130 is described, “a” or the like is added after the reference symbol as in the imaging panel 130a. The same applies to other components. In addition, a support base 140 for supporting the two imaging panels 130 is disposed in the housing 150. In this embodiment, the support base 140 is fixed to the back surface opposite to the irradiation surface 151 for irradiating the housing 150 with radiation.
 図3に示すように、2つの撮像パネル130のうち、放射線を照射するための照射面151に近い側に撮像パネル130aが配され、支持基台140に近い側に撮像パネル130bが配される。撮像パネル130のそれぞれの固定には、接着樹脂、接着シート(両面接着シート)、ダンパー材などが用いられうる。また、撮像パネル130aと撮像パネル130bとの間に放射線吸収フィルタ(不図示)を配置してもよい。放射線吸収フィルタには、金属シート(金属箔)や樹脂に金属粒子を含んだシート、また、それらを積層したものが使用され、低エネルギ側の放射線を吸収する。例えば、33keV以下のX線を低減する銅(Cu)フィルタなどが用いられうる。放射線吸収フィルタを撮像パネル130aと撮像パネル130bとの間に配することによって、2つの撮像パネル130で受像する放射線のエネルギの分解能を高めることが可能となる。本実施形態において、撮像パネル130aは、主に高エネルギ側の放射線に基づく画像信号を生成し、撮像パネル130bは、主に低エネルギ側の放射線に基づく画像信号を生成する。 As shown in FIG. 3, among the two imaging panels 130, the imaging panel 130 a is arranged on the side near the irradiation surface 151 for irradiating radiation, and the imaging panel 130 b is arranged on the side near the support base 140. . For fixing each of the imaging panels 130, an adhesive resin, an adhesive sheet (double-sided adhesive sheet), a damper material, or the like can be used. Further, a radiation absorption filter (not shown) may be disposed between the imaging panel 130a and the imaging panel 130b. As the radiation absorbing filter, a metal sheet (metal foil), a sheet containing metal particles in a resin, or a laminate of them is used, and the radiation on the low energy side is absorbed. For example, a copper (Cu) filter that reduces X-rays of 33 keV or less can be used. By disposing the radiation absorbing filter between the imaging panel 130a and the imaging panel 130b, it is possible to increase the resolution of the energy of the radiation received by the two imaging panels 130. In the present embodiment, the imaging panel 130a generates an image signal mainly based on high-energy radiation, and the imaging panel 130b generates an image signal mainly based on low-energy radiation.
 本実施形態において、撮像パネル130は、放射線を光に変換するシンチレータ132と、シンチレータ132で変換された光を電気信号に変換する変換素子を含む画素が2次元アレイ状に配された画素アレイ133を備える光電変換パネル131とを含む。撮像パネル130aの画素アレイ133aと、撮像パネル130bの画素アレイ133bと、が互いに重なるように撮像パネル130aと撮像パネル130bとが、支持基台140の上に配される。撮像パネル130aと撮像パネル130bとは、互いに同じ構成を有していてもよい。また、撮像パネル130のうち、画素アレイ133aと画素アレイ133bとが、互いに同じ構成を有していてもよい。2つの撮像パネル130に同じ構成を有する撮像パネルを用いることによって、放射線撮像装置100に用いる部品、部材の種類を抑制することができ、放射線撮像装置100の製造コストを抑制することが可能となる。 In the present embodiment, the imaging panel 130 includes a scintillator 132 that converts radiation into light, and a pixel array 133 in which pixels including a conversion element that converts light converted by the scintillator 132 into an electrical signal are arranged in a two-dimensional array. The photoelectric conversion panel 131 provided with. The imaging panel 130a and the imaging panel 130b are arranged on the support base 140 so that the pixel array 133a of the imaging panel 130a and the pixel array 133b of the imaging panel 130b overlap each other. The imaging panel 130a and the imaging panel 130b may have the same configuration. In the imaging panel 130, the pixel array 133a and the pixel array 133b may have the same configuration. By using imaging panels having the same configuration for the two imaging panels 130, the types of components and members used in the radiation imaging apparatus 100 can be suppressed, and the manufacturing cost of the radiation imaging apparatus 100 can be suppressed. .
 光電変換パネル131は、ガラスなどを用いた基板上に、アモルファスシリコンなどの半導体層を成膜し、半導体層に薄膜トランジスタ(TFT)などのスイッチ素子や変換素子などが形成されることによって構成されうる。シリコン基板を用いてスイッチ素子や変換素子を形成してもよい。シンチレータ132は、タリウム(Tl)やナトリウム(Na)などが賦活剤として使用されるヨウ化セシウム(CsI)や、酸硫化ガドリニウム(Gd2O2S:Tb)などが用いられうる。シンチレータ132上には、保護膜(不図示)が形成されうる。保護膜として、ポリパラキシリレン(パリレン)、ホットメルト樹脂、また、ホットメルト樹脂とアルミの積層シートなどが用いられうる。 The photoelectric conversion panel 131 can be configured by forming a semiconductor layer such as amorphous silicon on a substrate using glass or the like, and forming a switch element such as a thin film transistor (TFT), a conversion element, or the like on the semiconductor layer. . A switch element and a conversion element may be formed using a silicon substrate. As the scintillator 132, cesium iodide (CsI) in which thallium (Tl), sodium (Na), or the like is used as an activator, gadolinium oxysulfide (Gd2O2S: Tb), or the like can be used. A protective film (not shown) can be formed on the scintillator 132. As the protective film, polyparaxylylene (parylene), hot melt resin, or a laminated sheet of hot melt resin and aluminum can be used.
 本実施形態では、放射線を光に変換するシンチレータ132と光を電気信号に変換する光電変換パネル131とを用いる構成を示すが、入射した放射線を電気信号に直接変換する構成を用いてもよい。この場合、変換素子を構成する材料としてアモルファスセレン(a-Se)などが用いられうる。 In the present embodiment, a configuration using the scintillator 132 that converts radiation into light and the photoelectric conversion panel 131 that converts light into an electrical signal is shown, but a configuration that directly converts incident radiation into an electrical signal may be used. In this case, amorphous selenium (a-Se) or the like can be used as a material constituting the conversion element.
 筐体150の中には、さらに、2つの撮像パネル130から出力される信号を処理する複数の処理用チップ101、2つの撮像パネル130を駆動する複数の駆動用チップ102が配される。処理用チップ101のそれぞれは、回路基板に取り付けられる。本実施形態において、処理用チップ101の取り付けられる回路基板は、リジッド回路基板111とフレキシブル回路基板121とを含む。しかしながら、これに限られることはなく、処理用チップ101は、リジッド回路基板111のみに配され、撮像パネル130とリジッド回路基板111との間がフレキシブル配線基板によって接続されていてもよい。また、処理用チップ101が、すべてフレキシブル回路基板121に取り付けられていてもよい。1つ以上のリジッド回路基板111および1つ以上のフレキシブル回路基板121の少なくとも一方を含む回路基板に、処理用チップ101のそれぞれが取り付けられる。処理用チップ101およびリジッド回路基板111、フレキシブル回路基板121の配置については後述する。駆動用チップ102は、駆動用回路基板112に取り付けられ、駆動用回路基板112を介して支持基台140、筐体150の内側の底部152または筐体150の内側の側部153に固定される。撮像パネル130と駆動用回路基板112との間は、フレキシブル配線基板122によって接続される。駆動用チップ102が、処理用チップ101と同様にフレキシブル回路基板に取り付けられていてもよい。リジッド回路基板111、駆動用回路基板112は、エポキシ樹脂やフッ素樹脂などの樹脂、セラミックなどを用いた絶縁基板であり、表面には配線パターンが形成され、また、処理用チップ101や駆動用チップ102が取り付けられる。フレキシブル回路基板121、フレキシブル配線基板122は、ポリイミドフィルムなどの樹脂を基材とし、表面に配線パターンが形成された基板であり、屈曲が可能で、基板の配置に自由度を与えることができる。また、フレキシブル回路基板121には処理用チップ101が取り付けられる。配線パターンには、銅などの金属や他の導電体を用いることができる。処理用チップ101、駆動用チップ102、リジッド回路基板111、フレキシブル回路基板121、駆動用回路基板112、フレキシブル配線基板122は、接続される撮像パネル130によらず、それぞれ同じ構成、構造を有していてもよい。それぞれ同じ構成、構造を有する部品、部材を用いることによって、接続される撮像パネル130ごとに部品、部材を使い分ける場合と比較して部品、部材の種類を抑制し、放射線撮像装置100の製造コストを抑制することが可能となる。 In the housing 150, a plurality of processing chips 101 that process signals output from the two imaging panels 130 and a plurality of driving chips 102 that drive the two imaging panels 130 are further arranged. Each of the processing chips 101 is attached to a circuit board. In the present embodiment, the circuit board to which the processing chip 101 is attached includes a rigid circuit board 111 and a flexible circuit board 121. However, the present invention is not limited to this, and the processing chip 101 may be disposed only on the rigid circuit board 111, and the imaging panel 130 and the rigid circuit board 111 may be connected by a flexible wiring board. Further, all the processing chips 101 may be attached to the flexible circuit board 121. Each of the processing chips 101 is attached to a circuit board including at least one of one or more rigid circuit boards 111 and one or more flexible circuit boards 121. The arrangement of the processing chip 101, the rigid circuit board 111, and the flexible circuit board 121 will be described later. The driving chip 102 is attached to the driving circuit board 112, and is fixed to the support base 140, the bottom part 152 inside the casing 150, or the side part 153 inside the casing 150 via the driving circuit board 112. . The imaging panel 130 and the driving circuit board 112 are connected by a flexible wiring board 122. Similarly to the processing chip 101, the driving chip 102 may be attached to the flexible circuit board. The rigid circuit board 111 and the driving circuit board 112 are insulating boards using a resin such as epoxy resin or fluororesin, ceramic, etc., and a wiring pattern is formed on the surface, and the processing chip 101 or the driving chip. 102 is attached. The flexible circuit board 121 and the flexible wiring board 122 are substrates having a resin pattern such as a polyimide film as a base material and a wiring pattern formed on the surface thereof. A processing chip 101 is attached to the flexible circuit board 121. For the wiring pattern, a metal such as copper or another conductor can be used. The processing chip 101, the driving chip 102, the rigid circuit board 111, the flexible circuit board 121, the driving circuit board 112, and the flexible wiring board 122 have the same configuration and structure regardless of the imaging panel 130 to be connected. It may be. By using parts and members having the same configuration and structure, the types of parts and members are suppressed as compared with the case where the parts and members are properly used for each imaging panel 130 to be connected, and the manufacturing cost of the radiation imaging apparatus 100 is reduced. It becomes possible to suppress.
 本実施形態において、2つの撮像パネル130は、矩形状を有し、互いに対向する2辺に設けられた接続部171と処理用チップ101とが電気的に接続される。また、撮像パネル130aの接続部171aが配された2辺と、撮像パネル130bの接続部171bが配された2辺と、が互いに沿うように、撮像パネル130aと撮像パネル130bとが重なって配される。また、接続部171が配される辺と交差する2辺に設けられた接続部172と駆動用チップ102とが電気的に接続される。換言すると、2つの撮像パネル130aと撮像パネル130bの互いに重なる辺には、撮像パネル130a、130bともに接続部171または接続部172の何れか一方が配される。 In the present embodiment, the two imaging panels 130 have a rectangular shape, and the connection portions 171 provided on two opposite sides are electrically connected to the processing chip 101. In addition, the imaging panel 130a and the imaging panel 130b are arranged so that the two sides where the connection part 171a of the imaging panel 130a is arranged and the two sides where the connection part 171b of the imaging panel 130b are arranged are along each other. Is done. In addition, the connection portion 172 provided on two sides intersecting the side where the connection portion 171 is arranged and the driving chip 102 are electrically connected. In other words, either the connection portion 171 or the connection portion 172 is disposed on the side where the two image pickup panels 130a and 130b overlap each other in the image pickup panels 130a and 130b.
 図2、3に示す構成において、撮像パネル130aの接続部171aには、フレキシブル回路基板121aと、フレキシブル回路基板121aを介してリジッド回路基板111aと、が接続される。リジッド回路基板111aには処理用チップ101a-1が取り付けられ、フレキシブル回路基板121aには処理用チップ101a-2が取り付けられ、それぞれ、撮像パネル130aから出力される信号を処理する。また、撮像パネル130aの接続部171aを備える辺と重なるように、撮像パネル130bの接続部171bを備える辺が配される。撮像パネル130bの接続部171bには、フレキシブル回路基板121bと、フレキシブル回路基板121bを介してリジッド回路基板111bと、が接続される。リジッド回路基板111bには処理用チップ101b-1が取り付けられ、フレキシブル回路基板121bには処理用チップ101b-2が取り付けられ、それぞれ、撮像パネル130bから出力される信号を処理する。また、撮像パネル130aの接続部172aは、フレキシブル配線基板122aおよび駆動用回路基板112aを介して駆動用チップ102aと電気的に接続され、駆動用チップ102は、撮像パネル130aを駆動する。また、撮像パネル130aの接続部172aを備える辺と重なるように、撮像パネル130bの接続部172bを備える辺が配される。撮像パネル130bの接続部172bは、フレキシブル配線基板122bおよび駆動用回路基板112bを介して駆動用チップ102bと電気的に接続され、駆動用チップ102は、撮像パネル130aを駆動する。 2 and 3, the flexible circuit board 121a and the rigid circuit board 111a are connected to the connection portion 171a of the imaging panel 130a via the flexible circuit board 121a. A processing chip 101a-1 is attached to the rigid circuit board 111a, and a processing chip 101a-2 is attached to the flexible circuit board 121a to process signals output from the imaging panel 130a. In addition, the side including the connection portion 171b of the imaging panel 130b is arranged so as to overlap the side including the connection portion 171a of the imaging panel 130a. The flexible circuit board 121b and the rigid circuit board 111b are connected to the connection portion 171b of the imaging panel 130b via the flexible circuit board 121b. The processing chip 101b-1 is attached to the rigid circuit board 111b, and the processing chip 101b-2 is attached to the flexible circuit board 121b, respectively, and processes signals output from the imaging panel 130b. The connection portion 172a of the imaging panel 130a is electrically connected to the driving chip 102a through the flexible wiring board 122a and the driving circuit board 112a, and the driving chip 102 drives the imaging panel 130a. In addition, the side including the connection portion 172b of the imaging panel 130b is arranged so as to overlap the side including the connection portion 172a of the imaging panel 130a. The connection portion 172b of the imaging panel 130b is electrically connected to the driving chip 102b via the flexible wiring board 122b and the driving circuit board 112b, and the driving chip 102 drives the imaging panel 130a.
 次いで、複数の処理用チップ101およびリジッド回路基板111、フレキシブル回路基板121の配置について説明する。リジッド回路基板111は、支持基台140と筐体150の底部152との間に配され、リジッド回路基板111のうち支持基台140に対向する面1111は、支持基台140に対して空間を介して対向する。また、リジッド回路基板111は、図3には示されていないが、支持基台140と筐体150の側部153との間に配され、リジッド回路基板111のうち支持基台140に対向する面1111は、支持基台140に対して空間を介して対向する。同様に、フレキシブル回路基板121は、支持基台140と筐体150の底部152または側部153との間に配され、フレキシブル回路基板121のうち支持基台140に対向する面1211は、支持基台140に対して空間を介して対向しうる。また、それぞれの処理用チップ101は、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121のうち支持基台140に対向する面とは反対側の面1112、1212に取り付けられる。換言すると、それぞれの処理用チップ101は、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121のうち筐体150の底部152または側部153に対向する面1112、1212に取り付けられる。さらに、それぞれの処理用チップ101は、筐体150の底部152または側部153を介して放熱されるよう、筐体150の底部152または側部153に直接または固定部材160を介して接している。固定部材160には、処理用チップ101で発生する熱を効率的に放熱できるように、熱伝導率の高いシリコン樹脂やゴムなどが用いられうる。本実施形態において、処理用チップ101は、筐体150のうち、支持基台140の撮像パネル130を支持する支持面とは反対側の裏面と向かい合う底部152と、底部152と交差する側部153と、に接するようにそれぞれ配される。上述の構成によって、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121は、処理用チップ101(および固定部材160)を介して、それぞれ筐体150に対する位置が固定されうる。 Next, the arrangement of the plurality of processing chips 101, the rigid circuit board 111, and the flexible circuit board 121 will be described. The rigid circuit board 111 is disposed between the support base 140 and the bottom 152 of the housing 150, and the surface 1111 of the rigid circuit board 111 that faces the support base 140 has a space with respect to the support base 140. Opposite through. Although not shown in FIG. 3, the rigid circuit board 111 is disposed between the support base 140 and the side portion 153 of the housing 150 and faces the support base 140 in the rigid circuit board 111. The surface 1111 faces the support base 140 through a space. Similarly, the flexible circuit board 121 is disposed between the support base 140 and the bottom 152 or the side part 153 of the housing 150, and the surface 1211 of the flexible circuit board 121 that faces the support base 140 is a support base. It can be opposed to the table 140 via a space. In addition, each processing chip 101 is attached to the surfaces 1112 and 1212 on the opposite side of the surface facing the support base 140 of the rigid circuit board 111 and the flexible circuit board 121. In other words, each processing chip 101 is attached to the surfaces 1112 and 1212 of the rigid circuit board 111 and the flexible circuit board 121 that face the bottom 152 or the side 153 of the housing 150. Further, each processing chip 101 is in contact with the bottom 152 or the side 153 of the casing 150 directly or via the fixing member 160 so that heat is radiated through the bottom 152 or the side 153 of the casing 150. . The fixing member 160 may be made of silicon resin or rubber having high thermal conductivity so that heat generated in the processing chip 101 can be efficiently radiated. In the present embodiment, the processing chip 101 includes a bottom 152 that faces the back surface of the housing 150 opposite to the support surface that supports the imaging panel 130 of the support base 140, and a side portion 153 that intersects the bottom 152. And so as to contact each other. With the above-described configuration, the positions of the rigid circuit board 111 and the flexible circuit board 121 can be respectively fixed with respect to the housing 150 via the processing chip 101 (and the fixing member 160).
 ここで、本発明の効果について説明する。撮像パネル130から出力される信号を処理する処理用チップ101の発熱量は、撮像パネル130を駆動するための駆動用チップ102の発熱量よりも大きくなりうる。これは、高速の処理を要する回路であることや、撮像パネル130から読み出す信号は非常に微弱であることから低ノイズで高倍率の増幅回路必要であり、用いる部品(アンプICなど)の発熱が特に大きいためである。この処理用チップ101の発熱に対して、本実施形態において、処理用チップ101は、直接外気と接する筐体150の底部152または側部153に、直接または固定部材160を介して接する。これによって、外気への放熱を効率よく行うことができる。また、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121のうち支持基台140に対向する面1111、1211と、支持基台140と、の間に空間が存在する。換言すると、処理用チップ101が、支持基台140の支持面とは反対側の裏面に直接またはリジッド回路基板111またはフレキシブル回路基板121を介して接しない。つまり、処理用チップ101と支持基台140との間の回路基板(リジッド回路基板111またはフレキシブル回路基板121。)および回路基板(リジッド回路基板111またはフレキシブル回路基板121。)と支持基台140との間の空間を介した熱抵抗が、処理用チップ101と筐体150の底部152または側部153との間の熱抵抗よりも大きい。このため、処理用チップ101から支持基台140などを介して撮像パネル130までの熱抵抗が大きくなる。これによって、処理用チップ101から発せられた熱が、撮像パネル130に拡散することを抑制し、処理用チップ101から発せられた熱によって撮像パネル130aと撮像パネル130bとの間で温度差が生じることを抑制することができる。このため、撮像パネル130a、130bの画素アレイ133aと画素アレイ133bの間で、画素の特性がばらつくことが抑制され、ワンショット法によって取得されるエネルギサブトラクション画像の画質の低下が抑制される。 Here, the effect of the present invention will be described. The heat generation amount of the processing chip 101 that processes the signal output from the imaging panel 130 can be larger than the heat generation amount of the driving chip 102 for driving the imaging panel 130. This is a circuit that requires high-speed processing, and since the signal read from the imaging panel 130 is very weak, a low-noise and high-magnification amplifier circuit is necessary, and the components (amplifier IC, etc.) used generate heat. This is because it is particularly large. In this embodiment, the processing chip 101 is in contact with the bottom 152 or the side part 153 of the housing 150 that is in direct contact with the outside air, either directly or via the fixing member 160, against the heat generated by the processing chip 101. As a result, heat can be efficiently radiated to the outside air. Further, spaces exist between the surfaces 1111 and 1211 of the rigid circuit board 111 and the flexible circuit board 121 that face the support base 140 and the support base 140. In other words, the processing chip 101 does not contact the back surface opposite to the support surface of the support base 140 directly or via the rigid circuit board 111 or the flexible circuit board 121. That is, the circuit board (rigid circuit board 111 or flexible circuit board 121.) and the circuit board (rigid circuit board 111 or flexible circuit board 121.) between the processing chip 101 and the support base 140, and the support base 140. The thermal resistance through the space between the processing chip 101 and the bottom portion 152 or the side portion 153 of the housing 150 is larger than the thermal resistance. For this reason, the thermal resistance from the processing chip 101 to the imaging panel 130 via the support base 140 or the like increases. Accordingly, the heat generated from the processing chip 101 is prevented from diffusing to the imaging panel 130, and a temperature difference is generated between the imaging panel 130a and the imaging panel 130b due to the heat generated from the processing chip 101. This can be suppressed. For this reason, it is suppressed that the characteristic of a pixel varies between the pixel array 133a and the pixel array 133b of the imaging panels 130a and 130b, and the deterioration of the image quality of the energy subtraction image acquired by the one-shot method is suppressed.
 また、図2、3に示すように、処理用チップ101から発せられる熱を、筐体150を介して効率的に放熱するために、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121の支持基台140と対向する面1111、1211には、処理用チップ101を配さなくてもよい。また、図2に示すように、筐体150の放射線を照射するための照射面151に対する正射影において、処理用チップ101が、矩形の筐体150の中央に対して点対称の位置に配されてもよい。また、筐体150の放射線を照射するための照射面151に対する正射影において、処理用チップ101が、筐体150の中央および筐体150の互いに対向する2辺の中央を通る仮想線190に対して線対称の位置に配されてもよい。複数の処理用チップ101を、筐体150に対して点対称または線対称の位置に配することによって、発熱量の大きい部品の位置が筐体150内で偏ることによって生じる温度分布を抑制できる。これによって、撮像パネル130それぞれの面内での温度むらを抑制でき、撮像パネル130それぞれの面内での画素の特性ばらつきを抑制できる。ここで、筐体150の照射面151に対する正射影における筐体150の中央とは、筐体150の対角線の交わる中心および中心から対角線の20%の長さの半径の範囲内のことを言う。また、筐体150の照射面151に対する正射影における筐体150の互いに対向する2辺の中央とは、対向する2辺それぞれの中心および中心から前後に2辺それぞれの20%の長さの範囲内のことを言う。 Further, as shown in FIGS. 2 and 3, in order to efficiently dissipate the heat generated from the processing chip 101 through the housing 150, the rigid circuit board 111 and the support base 140 of the flexible circuit board 121 The processing chip 101 may not be disposed on the opposing surfaces 1111 and 1211. Further, as shown in FIG. 2, the processing chip 101 is arranged at a point-symmetrical position with respect to the center of the rectangular casing 150 in the orthogonal projection with respect to the irradiation surface 151 for irradiating the radiation of the casing 150. May be. Further, in the orthogonal projection with respect to the irradiation surface 151 for irradiating the radiation of the housing 150, the processing chip 101 is directed to a virtual line 190 passing through the center of the housing 150 and the centers of the two opposite sides of the housing 150. It may be arranged in a line symmetrical position. By disposing the plurality of processing chips 101 at point-symmetrical or line-symmetrical positions with respect to the housing 150, it is possible to suppress a temperature distribution caused by the position of a component having a large amount of heat generation being biased in the housing 150. Thereby, temperature unevenness in each plane of the imaging panel 130 can be suppressed, and variation in pixel characteristics in each plane of the imaging panel 130 can be suppressed. Here, the center of the casing 150 in the orthogonal projection with respect to the irradiation surface 151 of the casing 150 refers to the center of the diagonal of the casing 150 and the radius within the range of 20% of the diagonal from the center. Further, the center of two opposite sides of the casing 150 in the orthogonal projection with respect to the irradiation surface 151 of the casing 150 is a range of 20% of the length of each of the two opposite sides from the center and the center of the two opposite sides. Say the inside.
 筐体150は、上述の各構成を覆う外装ケースでありうる。図1~3に示す構成では、筐体150は、密閉された一体の箱のように描画しているが、2つ以上に分割された部材によって構成することが可能である。従って、筐体150は、筐体150内の場所ごとに、それぞれ適当な材料を組み合わせて構成することができる。例えば、筐体150の放射線を照射するための照射面151は、撮像パネル130への放射線の入射効率を高めるように、一面または部分的に、放射線の吸収率の低い材料が用いられうる。放射線の吸収率の低い材料として、プラスチック板、カーボン板、炭素繊維強化プラスチック(Carbon Fiber Reinforced Plastics:CFRP)板などが挙げられる。また、筐体150のうち処理用チップ101が直接または固定部材160を介して接する部分は、熱伝導率の大きい材料が用いられうる。例えば、筐体150の放射線を照射するための照射面151を除く側面や底面は、熱伝導率の大きい金属などの材料を用いて構成されてもよい。筐体150の処理用チップ101が配される面が、金属など導電性を有する場合、電気的絶縁を施すためにPETフィルムなど絶縁シートが、筐体150の底部152または側部153の表面に配されてもよい。 The housing 150 can be an exterior case that covers the above-described components. In the configuration shown in FIGS. 1 to 3, the casing 150 is drawn like a sealed integral box, but it can be configured by a member divided into two or more. Therefore, the housing 150 can be configured by combining appropriate materials for each location in the housing 150. For example, the irradiation surface 151 for irradiating the radiation of the housing 150 may be made of a material having a low radiation absorption rate on one or a part thereof so as to increase the incident efficiency of the radiation to the imaging panel 130. Examples of the material having a low radiation absorption rate include a plastic plate, a carbon plate, and a carbon fiber reinforced plastic (CFRP) plate. Further, a portion having a high thermal conductivity can be used for a portion of the housing 150 where the processing chip 101 contacts directly or via the fixing member 160. For example, the side surface and the bottom surface of the housing 150 other than the irradiation surface 151 for irradiating radiation may be configured using a material such as a metal having a high thermal conductivity. In the case where the surface on which the processing chip 101 of the housing 150 is disposed has conductivity such as metal, an insulating sheet such as a PET film is provided on the surface of the bottom 152 or the side portion 153 of the housing 150 in order to provide electrical insulation. It may be arranged.
 処理用チップ101よりも発熱量の小さい駆動用チップ102は、図2、3に示すように、支持基台140の撮像パネル130を支持する支持面とは反対側の裏面および筐体150の底部152または側部153に配される。この場合、支持基台140は、筐体150のうち処理用チップ101が直接または固定部材160を介して接する部分よりも熱伝導率の小さい材料が用いられうる。駆動用チップ102も熱を発しうるが、支持基台140に熱伝導率の小さい材料を用いることによって、駆動用チップ102から支持基台140を介して撮像パネル130に熱が伝わることを抑制することができる。また、図3に示される駆動用チップ102bが、駆動用チップ102aのように、筐体150の底部152または側部153に駆動用回路基板112bを介して固定されていてもよい。 As shown in FIGS. 2 and 3, the driving chip 102 that generates less heat than the processing chip 101 has a back surface opposite to the support surface that supports the imaging panel 130 of the support base 140 and a bottom portion of the housing 150. 152 or the side portion 153. In this case, the support base 140 may be made of a material having a lower thermal conductivity than the portion of the housing 150 that the processing chip 101 contacts directly or via the fixing member 160. The driving chip 102 can also generate heat, but by using a material with low thermal conductivity for the support base 140, it is possible to prevent heat from being transmitted from the driving chip 102 to the imaging panel 130 via the support base 140. be able to. Further, the driving chip 102b shown in FIG. 3 may be fixed to the bottom 152 or the side 153 of the housing 150 via the driving circuit board 112b like the driving chip 102a.
 また、本実施形態において、1つのリジッド回路基板111には1つの処理用チップ101が取り付けられる例を示すが、1つのリジッド回路基板111に複数の処理用チップ101が取り付けられてもよい。同様に、1つのフレキシブル回路基板121に、複数の処理用チップ101が取り付けられてもよい。また、それぞれの撮像パネル130に接続される処理用チップ101の数は、図2、3に示される数に限られることはなく、撮像パネル130に要求される性能や、処理用チップ101の性能などによって適宜、決定すればよい。駆動用チップ102についても同様に、図2、3に示される数に限られることはなく、撮像パネル130に要求される性能や、駆動用チップ102の性能などによって適宜、決定すればよい。 In this embodiment, an example in which one processing chip 101 is attached to one rigid circuit board 111 is shown, but a plurality of processing chips 101 may be attached to one rigid circuit board 111. Similarly, a plurality of processing chips 101 may be attached to one flexible circuit board 121. The number of processing chips 101 connected to each imaging panel 130 is not limited to the number shown in FIGS. 2 and 3, and the performance required for the imaging panel 130 and the performance of the processing chip 101. What is necessary is just to determine suitably by etc. Similarly, the number of the driving chips 102 is not limited to the number shown in FIGS. 2 and 3, and may be appropriately determined depending on the performance required for the imaging panel 130, the performance of the driving chip 102, and the like.
 第2の実施形態
 図4、5を参照して、本発明の実施形態による放射線撮像装置の構成について説明する。図4は、図1に示す放射線撮像装置100の照射面151の側から見た平面図であり、図5は、図1のA-B-Cで示される部分の断面図である。本実施形態の放射線撮像装置100は、上述の第1の実施形態と比較して、撮像パネル130aと撮像パネル130bとにおける処理用チップ101および駆動用チップ102が接続される接続部171、172の位置関係が90°回転している。それ以外の構成は、上述の第1の実施形態と同じであってもよい。
Second Embodiment A configuration of a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a plan view seen from the irradiation surface 151 side of the radiation imaging apparatus 100 shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line ABC in FIG. Compared with the first embodiment described above, the radiation imaging apparatus 100 of the present embodiment includes connection portions 171 and 172 to which the processing chip 101 and the driving chip 102 in the imaging panel 130a and the imaging panel 130b are connected. The positional relationship is rotated by 90 °. Other configurations may be the same as those in the first embodiment.
 本実施形態においても、2つの撮像パネル130は、矩形状を有し、互いに対向する2辺に設けられた接続部171と処理用チップ101とが電気的に接続される。一方、本実施形態において、撮像パネル130aの接続部171aが配された2辺と、撮像パネル130bの接続部171bが配された2辺と、が互いに交差する方向に延びるように、撮像パネル130aと撮像パネル130bとが重なって配される。また、接続部171が配される辺と交差する2辺に設けられた接続部172と駆動用チップ102とが電気的に接続される。換言すると、2つの撮像パネル130の互いに重なる辺には、撮像パネル130aに接続部171aおよび撮像パネル130bに接続部172bが配される、または、撮像パネル130aに接続部172aおよび撮像パネル130bに接続部171bが配される。 Also in the present embodiment, the two imaging panels 130 have a rectangular shape, and the connection portions 171 provided on two opposite sides and the processing chip 101 are electrically connected. On the other hand, in the present embodiment, the imaging panel 130a extends so that the two sides where the connection part 171a of the imaging panel 130a is arranged and the two sides where the connection part 171b of the imaging panel 130b are arranged cross each other. And the imaging panel 130b are arranged to overlap each other. In addition, the connection portion 172 provided on two sides intersecting the side where the connection portion 171 is arranged and the driving chip 102 are electrically connected. In other words, the connection part 171a and the imaging panel 130b are connected to the imaging panel 130a on the side where the two imaging panels 130 overlap with each other, or the connection part 172a and the imaging panel 130b are connected to the imaging panel 130a. A portion 171b is arranged.
 図4、5に示す構成において、撮像パネル130aの接続部171aには、フレキシブル回路基板121aと、フレキシブル回路基板121aを介してリジッド回路基板111aと、が接続される。リジッド回路基板111aには処理用チップ101a-1が取り付けられ、フレキシブル回路基板121aには処理用チップ101a-2が取り付けられ、それぞれ、撮像パネル130aから出力される信号を処理する。撮像パネル130aの接続部171aを備える辺に重なるように、撮像パネル130bの接続部172bを備える辺が配される。撮像パネル130bの接続部172bは、フレキシブル配線基板122bおよび駆動用回路基板112bを介して駆動用チップ102bと電気的に接続され、駆動用チップ102は、撮像パネル130aを駆動する。また、撮像パネル130aの接続部172aは、フレキシブル配線基板122aおよび駆動用回路基板112aを介して駆動用チップ102aと電気的に接続され、駆動用チップ102は、撮像パネル130aを駆動する。撮像パネル130aの接続部172aを備える辺と重なるように、撮像パネル130bの接続部171aを備える辺が配される。撮像パネル130bの接続部171bには、フレキシブル回路基板121bと、フレキシブル回路基板121bを介してリジッド回路基板111bと、が接続される。リジッド回路基板111bには処理用チップ101b-1が取り付けられ、フレキシブル回路基板121bには処理用チップ101b-2が取り付けられ、それぞれ、撮像パネル130bから出力される信号を処理する。 4 and 5, the flexible circuit board 121a and the rigid circuit board 111a are connected to the connection portion 171a of the imaging panel 130a via the flexible circuit board 121a. A processing chip 101a-1 is attached to the rigid circuit board 111a, and a processing chip 101a-2 is attached to the flexible circuit board 121a to process signals output from the imaging panel 130a. The side provided with the connection part 172b of the imaging panel 130b is arranged so as to overlap the side provided with the connection part 171a of the imaging panel 130a. The connection portion 172b of the imaging panel 130b is electrically connected to the driving chip 102b via the flexible wiring board 122b and the driving circuit board 112b, and the driving chip 102 drives the imaging panel 130a. The connection portion 172a of the imaging panel 130a is electrically connected to the driving chip 102a through the flexible wiring board 122a and the driving circuit board 112a, and the driving chip 102 drives the imaging panel 130a. The side provided with the connection part 171a of the imaging panel 130b is arranged so as to overlap the side provided with the connection part 172a of the imaging panel 130a. The flexible circuit board 121b and the rigid circuit board 111b are connected to the connection portion 171b of the imaging panel 130b via the flexible circuit board 121b. The processing chip 101b-1 is attached to the rigid circuit board 111b, and the processing chip 101b-2 is attached to the flexible circuit board 121b, respectively, and processes signals output from the imaging panel 130b.
 本実施形態においても、処理用チップ101は、直接外気と接する筐体150の底部152または側部153に、直接または固定部材160を介して接触させることによって、外気への放熱を効率よく行うことができる。また、リジッド回路基板111およびフレキシブル回路基板121のうち支持基台140に対向する面1111、1211と、支持基台140と、の間に空間が存在し、処理用チップ101から支持基台140を介して撮像パネル130までの熱抵抗が大きい。また、処理用チップ101が、支持基台140の支持面とは反対側の裏面に接しない。この構成によって、処理用チップ101から発せられた熱が、撮像パネル130に拡散することを抑制し、撮像パネル130aと撮像パネル130bとの間で温度差ができることを抑制することができる。このため、撮像パネル130a、130bの画素アレイ133aと画素アレイ133bの間で、画素の特性がばらつくことが抑制され、ワンショット法によって取得されるエネルギサブトラクション画像の画質の低下が抑制される。 Also in the present embodiment, the processing chip 101 efficiently dissipates heat to the outside air by contacting the bottom portion 152 or the side portion 153 of the casing 150 that directly contacts the outside air, directly or via the fixing member 160. Can do. Further, spaces exist between the support base 140 and the surfaces 1111 and 1211 facing the support base 140 of the rigid circuit board 111 and the flexible circuit board 121, and the support base 140 is moved from the processing chip 101. The thermal resistance to the imaging panel 130 is large. Further, the processing chip 101 does not contact the back surface opposite to the support surface of the support base 140. With this configuration, heat generated from the processing chip 101 can be prevented from diffusing to the imaging panel 130, and a temperature difference between the imaging panel 130a and the imaging panel 130b can be suppressed. For this reason, it is suppressed that the characteristic of a pixel varies between the pixel array 133a and the pixel array 133b of the imaging panels 130a and 130b, and the deterioration of the image quality of the energy subtraction image acquired by the one-shot method is suppressed.
 さらに、本実施形態において、処理用チップ101が接続される接続部171が、2つの撮像パネル130の4つの辺に分散して配置される。このため、処理用チップ101を上述の第1の実施形態よりも筐体150の底部152および側部153内に均等に配することが可能となる。これによって、撮像パネル130それぞれの面内での温度むらを抑制でき、撮像パネル130それぞれの面内での画素の特性ばらつきを、より抑制できる。また、上述の第1の実施形態と同様に、面内での温度むらを抑制するために図4に示すように、筐体150の放射線を照射するための照射面151に対する正射影において、処理用チップ101が、矩形の筐体150の中央に対して点対称の位置に配されてもよい。また同様に、筐体150の放射線を照射するための照射面151に対する正射影において、処理用チップ101が、筐体150の中央および筐体150の互いに対向する2辺の中央を通る仮想線190に対して線対称の位置に配されてもよい。 Furthermore, in the present embodiment, the connection portions 171 to which the processing chip 101 is connected are distributed on the four sides of the two imaging panels 130. For this reason, it becomes possible to arrange | position the processing chip | tip 101 more evenly in the bottom part 152 and the side part 153 of the housing | casing 150 than the above-mentioned 1st Embodiment. Thereby, temperature unevenness in each plane of the imaging panel 130 can be suppressed, and variation in pixel characteristics in each plane of the imaging panel 130 can be further suppressed. Similarly to the above-described first embodiment, in order to suppress uneven temperature in the surface, as shown in FIG. 4, in the orthogonal projection for the irradiation surface 151 for irradiating the radiation of the housing 150, processing is performed. The chip 101 may be disposed at a point-symmetrical position with respect to the center of the rectangular casing 150. Similarly, in orthographic projection onto the irradiation surface 151 for irradiating the radiation of the housing 150, the processing chip 101 passes through the center of the housing 150 and the center of two opposite sides of the housing 150. May be arranged in a line-symmetric position.
 第3の実施形態
 図6、7を参照して、本発明の実施形態による放射線撮像装置の構成について説明する。図6は、図1に示す放射線撮像装置100の照射面151の側から見た平面図であり、図7は、図1のA-B-Cで示される部分の断面図である。上述の第1および第2の実施形態では、撮像パネル130aに接続される処理用チップ101が取り付けられたリジッド回路基板111aと、撮像パネル130bに接続される処理用チップ101が取り付けられたリジッド回路基板111bと、を別々に配した。一方、本実施形態の放射線撮像装置100は、上述の第2の実施形態と比較して、撮像パネル130aおよび撮像パネル130bから出力される信号を処理する処理用チップ101aと処理用チップ101bとの両方が1つのリジッド回路基板111に配される。それ以外の構成は、上述の第2の実施形態と同じであってもよい。
Third Embodiment A configuration of a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a plan view seen from the irradiation surface 151 side of the radiation imaging apparatus 100 shown in FIG. 1, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line ABC in FIG. In the first and second embodiments described above, the rigid circuit board 111a to which the processing chip 101 connected to the imaging panel 130a is attached and the rigid circuit to which the processing chip 101 connected to the imaging panel 130b is attached. The substrate 111b was arranged separately. On the other hand, the radiation imaging apparatus 100 according to the present embodiment includes a processing chip 101a and a processing chip 101b that process signals output from the imaging panel 130a and the imaging panel 130b, as compared with the second embodiment described above. Both are arranged on one rigid circuit board 111. Other configurations may be the same as those of the second embodiment described above.
 本実施形態においても、処理用チップ101は、直接外気と接する筐体150の底部152または側部153に、直接または固定部材160を介して接触させることによって、外気への放熱を効率よく行うことができ、上述の第2の実施形態と同様の効果を有する。また、リジッド回路基板111が、筐体150内において一体構造を有する。このため、リジッド回路基板111が、板状の熱を伝導する部材として機能することによって、筐体150内や撮像パネル130それぞれの面内での温度むらをより抑制し、放射線撮像装置100を安定動作させることが可能となる。 Also in the present embodiment, the processing chip 101 efficiently dissipates heat to the outside air by contacting the bottom portion 152 or the side portion 153 of the casing 150 that directly contacts the outside air, directly or via the fixing member 160. And has the same effect as the second embodiment described above. In addition, the rigid circuit board 111 has an integral structure in the housing 150. For this reason, the rigid circuit board 111 functions as a plate-like member that conducts heat, thereby further suppressing temperature unevenness in the housing 150 and the respective surfaces of the imaging panel 130, thereby stabilizing the radiation imaging apparatus 100. It becomes possible to operate.
 以上、本発明に係る実施形態を示したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、上述した実施形態は適宜変更、組み合わせが可能である。例えば、第3の実施形態において説明した一体構造のリジッド回路基板111を、第1の実施形態に組み込んでもよい。また、上述の各実施形態において、それぞれの撮像パネル130において、処理用チップ101に接続される接続部171が2つ、駆動用チップ102に接続される接続部172が2つ、それぞれ配される構成を説明した。しかしながら、それぞれの撮像パネル130において、処理用チップ101に接続される接続部171および駆動用チップ102に接続される接続部172が、それぞれ1つずつ配される構成であっても、本発明の効果を得ることが可能である。 As mentioned above, although embodiment which concerns on this invention was shown, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to these embodiment, In the range which does not deviate from the summary of this invention, embodiment mentioned above can be changed and combined suitably. Is possible. For example, the monolithic rigid circuit board 111 described in the third embodiment may be incorporated in the first embodiment. Further, in each of the above-described embodiments, in each imaging panel 130, two connection portions 171 connected to the processing chip 101 and two connection portions 172 connected to the driving chip 102 are arranged. Explained the configuration. However, even if each of the imaging panels 130 has a configuration in which one connection portion 171 connected to the processing chip 101 and one connection portion 172 connected to the driving chip 102 are arranged, one by one. An effect can be obtained.
 以下、図8を参照しながら本発明の放射線撮像装置100が組み込まれた放射線撮像システムを例示的に説明する。放射線源であるX線チューブ6050で発生したX線6060は、患者又は被験者6061の胸部6062を透過し、本発明の放射線撮像装置100に入射する。この入射したX線に患者又は被験者6061の体内部の情報が含まれる。放射線撮像装置100において、X線6060の入射に対応してシンチレータが発光し、これが光電変換素子で光電変換され、電気的情報を得る。この情報は、デジタルに変換され信号処理部としてのイメージプロセッサ6070によって画像処理され、制御室の表示部としてのディスプレイ6080で観察できる。 Hereinafter, a radiation imaging system in which the radiation imaging apparatus 100 of the present invention is incorporated will be exemplarily described with reference to FIG. X-rays 6060 generated by an X-ray tube 6050 serving as a radiation source pass through a chest 6062 of a patient or subject 6061 and enter the radiation imaging apparatus 100 of the present invention. This incident X-ray includes information inside the body of the patient or subject 6061. In the radiation imaging apparatus 100, the scintillator emits light in response to the incidence of the X-ray 6060, and this is photoelectrically converted by the photoelectric conversion element to obtain electrical information. This information is converted into digital data, image-processed by an image processor 6070 as a signal processing unit, and can be observed on a display 6080 as a display unit of a control room.
 また、この情報は、電話、LAN、インターネットなどのネットワーク6090などの伝送処理部によって遠隔地へ転送できる。これによって別の場所のドクタールームなどの表示部であるディスプレイ6081に表示し、遠隔地の医師が診断することも可能である。また、この情報は、光ディスクなどの記録媒体に記録することができ、またフィルムプロセッサ6100によって記録媒体となるフィルム6110に記録することもできる。 Further, this information can be transferred to a remote place by a transmission processing unit such as a network 6090 such as a telephone, a LAN, and the Internet. In this way, it can be displayed on a display 6081 which is a display unit such as a doctor room in another place, and a doctor in a remote place can make a diagnosis. In addition, this information can be recorded on a recording medium such as an optical disk, and can also be recorded on a film 6110 serving as a recording medium by the film processor 6100.
 本発明は上記実施の形態に制限されるものではなく、本発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、本発明の範囲を公にするために、以下の請求項を添付する。 The present invention is not limited to the above embodiment, and various changes and modifications can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, in order to make the scope of the present invention public, the following claims are attached.
 本願は、2017年3月2日提出の日本国特許出願特願2017-39773を基礎として優先権を主張するものであり、その記載内容の全てを、ここに援用する。 This application claims priority on the basis of Japanese Patent Application No. 2017-39773 filed on Mar. 2, 2017, the entire contents of which are incorporated herein by reference.

Claims (19)

  1.  放射線画像を取得するための画素アレイが互いに重なるように配された第1の撮像パネルおよび第2の撮像パネルと、前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルから出力される信号を処理する複数の処理用チップと、前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルを支持するための支持基台と、が筐体の中に配された放射線撮像装置であって、
     前記複数の処理用チップは、前記支持基台のうち前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルを支持する支持面とは反対側の裏面と、前記筐体のうち前記支持基台の裏面と向かい合う底部との間に配され、前記底部または前記底部と交差する側部を介して放熱されることを特徴とする放射線撮像装置。
    A first imaging panel and a second imaging panel arranged so that pixel arrays for acquiring radiographic images overlap each other, and signals output from the first imaging panel and the second imaging panel are processed A plurality of processing chips, and a support base for supporting the first imaging panel and the second imaging panel, wherein the radiation imaging apparatus is disposed in a housing,
    The plurality of processing chips include a back surface opposite to a support surface that supports the first imaging panel and the second imaging panel in the support base, and the support base in the housing. A radiation imaging apparatus, wherein the radiation imaging apparatus is disposed between a bottom portion facing a back surface and radiates heat through the bottom portion or a side portion intersecting with the bottom portion.
  2.  前記複数の処理用チップが、前記底部または前記側部に、直接または固定部材を介して接していることを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。 The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the plurality of processing chips are in contact with the bottom portion or the side portion directly or through a fixing member.
  3.  前記複数の処理用チップを取り付けるための1つ以上の第1の回路基板が、前記筐体の中にさらに配されており、
     前記1つ以上の第1の回路基板は、前記支持基台の前記裏面と前記筐体の前記底部との間に配され、
     前記1つ以上の第1の回路基板のうち前記支持基台に対向する第1の面は、前記支持基台に対して空間を介して対向し、
     前記複数の処理用チップのそれぞれは、
      前記1つ以上の第1の回路基板のうち前記第1の面と反対側の第2の面であって、前記底部または前記側部に対向する前記第2の面に取り付けられていることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。
    One or more first circuit boards for mounting the plurality of processing chips are further arranged in the housing;
    The one or more first circuit boards are disposed between the back surface of the support base and the bottom portion of the housing,
    The first surface of the one or more first circuit boards facing the support base is opposed to the support base via a space,
    Each of the plurality of processing chips is
    Of the one or more first circuit boards, the second surface is opposite to the first surface, and is attached to the second surface facing the bottom portion or the side portion. The radiation imaging apparatus according to claim 2, wherein the radiation imaging apparatus is a radiation imaging apparatus.
  4.  前記1つ以上の第1の回路基板が、前記複数の処理用チップを介して、前記筐体に固定されることを特徴とする請求項3に記載の放射線撮像装置。 4. The radiation imaging apparatus according to claim 3, wherein the one or more first circuit boards are fixed to the housing via the plurality of processing chips.
  5.  前記複数の処理用チップが、前記第1の面に配されないことを特徴とする請求項3または4に記載の放射線撮像装置。 The radiation imaging apparatus according to claim 3 or 4, wherein the plurality of processing chips are not arranged on the first surface.
  6.  前記複数の処理用チップと前記支持基台との間の前記1つ以上の第1の回路基板および前記空間を介した熱抵抗が、前記複数の処理用チップと、前記底部または前記側部と、の間の熱抵抗よりも大きいことを特徴とする請求項3乃至5の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 Thermal resistance through the one or more first circuit boards and the space between the plurality of processing chips and the support base includes the plurality of processing chips, the bottom portion, or the side portion. 6. The radiation imaging apparatus according to claim 3, wherein the radiation imaging apparatus is larger than a thermal resistance between.
  7.  前記1つ以上の第1の回路基板は、前記複数の処理用チップのうち前記第1の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップが配された第1の回路基板と、前記複数の処理用チップのうち前記第2の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップが配された第1の回路基板と、を含むことを特徴とする請求項3乃至6の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 The one or more first circuit boards include a first circuit board on which processing chips for processing signals output from the first imaging panel among the plurality of processing chips are arranged, and the plurality of first circuit boards. And a first circuit board on which a processing chip for processing a signal output from the second imaging panel is disposed. The radiation imaging apparatus according to Item.
  8.  前記1つ以上の第1の回路基板は、前記複数の処理用チップのうち前記第1の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップおよび前記複数の処理用チップのうち前記第2の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップの両方が配された第1の回路基板を含むことを特徴とする請求項3乃至7の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 The one or more first circuit boards include a processing chip for processing a signal output from the first imaging panel among the plurality of processing chips and the second of the plurality of processing chips. The radiation imaging apparatus according to claim 3, further comprising a first circuit board on which both processing chips for processing signals output from the imaging panel are arranged.
  9.  前記1つ以上の第1の回路基板は、1つ以上のリジッド回路基板および1つ以上のフレキシブル回路基板の少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項3乃至8の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 9. The one or more first circuit boards according to claim 3, wherein the one or more first circuit boards include at least one of one or more rigid circuit boards and one or more flexible circuit boards. Radiation imaging device.
  10.  前記筐体のうち前記複数の処理用チップが直接または前記固定部材を介して接する部分の材料が、金属を含むことを特徴とする請求項3乃至9の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 The radiation imaging apparatus according to any one of claims 3 to 9, wherein a material of a portion of the housing that is in contact with the plurality of processing chips directly or via the fixing member includes a metal. .
  11.  前記筐体のうち前記複数の処理用チップが直接または前記固定部材を介して接する部分の熱伝導率が、前記支持基台の熱伝導率よりも大きいことを特徴とする請求項3乃至10の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 11. The thermal conductivity of a portion of the casing where the plurality of processing chips are in contact directly or via the fixing member is greater than the thermal conductivity of the support base. The radiation imaging apparatus according to any one of the above.
  12.  前記筐体の放射線を照射するための照射面に対する正射影において、
      前記筐体は矩形状を有し、
      前記複数の処理用チップが、前記筐体の中央に対して点対称の位置に配されることを特徴とする請求項1乃至11の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
    In orthographic projection on the irradiation surface for irradiating the radiation of the housing,
    The housing has a rectangular shape;
    The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 11, wherein the plurality of processing chips are arranged at point-symmetrical positions with respect to a center of the casing.
  13.  前記筐体の放射線を照射するための照射面に対する正射影において、
      前記筐体は矩形状を有し、
      前記複数の処理用チップが、前記筐体の中央および前記筐体の互いに対向する2辺の中央を通る仮想線に対して線対称の位置に配されることを特徴とする請求項1乃至12の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
    In orthographic projection on the irradiation surface for irradiating the radiation of the housing,
    The housing has a rectangular shape;
    The plurality of processing chips are arranged at positions symmetrical with respect to an imaginary line passing through a center of the casing and a center of two opposite sides of the casing. The radiation imaging apparatus according to any one of the above.
  14.  前記放射線撮像装置は、前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルを駆動する複数の駆動用チップと、前記複数の駆動用チップを取り付けるための複数の第2の回路基板と、をさらに含み、
     前記複数の駆動用チップが、前記複数の第2の回路基板の何れかを介して前記底部、前記側部または前記支持基台に固定されることを特徴とする請求項1乃至13の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
    The radiation imaging apparatus further includes: a plurality of driving chips that drive the first imaging panel and the second imaging panel; and a plurality of second circuit boards for attaching the plurality of driving chips. Including
    The plurality of driving chips are fixed to the bottom part, the side part, or the support base via any one of the plurality of second circuit boards. The radiation imaging apparatus according to item 1.
  15.  前記複数の処理用チップの発熱量が、前記複数の駆動用チップの発熱量よりも大きいことを特徴とする請求項14に記載の放射線撮像装置。 The radiation imaging apparatus according to claim 14, wherein the heat generation amount of the plurality of processing chips is larger than the heat generation amount of the plurality of driving chips.
  16.  前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルは、矩形状を有し、
     前記第1の撮像パネルは、互いに対向する第1および第2の辺に設けられた第1および第2の接続部を備え、前記第1および第2の接続部と前記複数の処理用チップのうち前記第1の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップとが電気的に接続され、
     前記第2の撮像パネルは、互いに対向する第3および第4の辺に設けられた第3および第4の接続部を備え、前記第3および第4の接続部と前記複数の処理用チップのうち前記第2の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップとが電気的に接続され、
     前記第1および第2の辺と前記第3および第4の辺とが互いに沿うように、前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルが重なって配されることを特徴とする請求項1乃至15の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
    The first imaging panel and the second imaging panel have a rectangular shape,
    The first imaging panel includes first and second connection portions provided on first and second sides facing each other, the first and second connection portions and the plurality of processing chips. Among them, a processing chip for processing a signal output from the first imaging panel is electrically connected,
    The second imaging panel includes third and fourth connection portions provided on the third and fourth sides facing each other, and the third and fourth connection portions and the plurality of processing chips are provided. Among them, a processing chip for processing a signal output from the second imaging panel is electrically connected,
    The first image pickup panel and the second image pickup panel are arranged to overlap each other so that the first and second sides and the third and fourth sides are along each other. The radiation imaging apparatus according to any one of 1 to 15.
  17.  前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルは、矩形状を有し、
     前記第1の撮像パネルは、互いに対向する第1および第2の辺に設けられた第1および第2の接続部を備え、前記第1および第2の接続部と前記複数の処理用チップのうち前記第1の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップとが電気的に接続され、
     前記第2の撮像パネルは、互いに対向する第3および第4の辺に設けられた第3および第4の接続部を備え、前記第3および第4の接続部と前記複数の処理用チップのうち前記第2の撮像パネルから出力される信号を処理する処理用チップとが電気的に接続され、
     前記第1および第2の辺と前記第3および第4の辺とが互いに交差する方向に延びるように、前記第1の撮像パネルおよび前記第2の撮像パネルが重なって配されることを特徴とする請求項1乃至15の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
    The first imaging panel and the second imaging panel have a rectangular shape,
    The first imaging panel includes first and second connection portions provided on first and second sides facing each other, the first and second connection portions and the plurality of processing chips. Among them, a processing chip for processing a signal output from the first imaging panel is electrically connected,
    The second imaging panel includes third and fourth connection portions provided on the third and fourth sides facing each other, and the third and fourth connection portions and the plurality of processing chips are provided. Among them, a processing chip for processing a signal output from the second imaging panel is electrically connected,
    The first imaging panel and the second imaging panel are arranged so as to overlap so that the first and second sides and the third and fourth sides extend in a direction crossing each other. The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 15.
  18.  前記第1の撮像パネルは、前記第1および第2の辺と交差する第5および第6の辺に設けられた第5および第6の接続部を備え、前記第5および第6の接続部と前記複数の駆動用チップのうち前記第1の撮像パネルを駆動する駆動用チップとが電気的に接続され、
     前記第2の撮像パネルは、前記第1および第2の辺と交差する第7および第8の辺に設けられた第7および第8の接続部を備え、前記第7および第8の接続部と前記複数の駆動用チップのうち前記第2の撮像パネルを駆動する駆動用チップとが電気的に接続されることを特徴とする請求項14または15に従属する請求項16または17に記載の放射線撮像装置。
    The first imaging panel includes fifth and sixth connection portions provided on the fifth and sixth sides intersecting the first and second sides, and the fifth and sixth connection portions. And a driving chip for driving the first imaging panel among the plurality of driving chips are electrically connected,
    The second imaging panel includes seventh and eighth connection portions provided on seventh and eighth sides intersecting with the first and second sides, and the seventh and eighth connection portions. 18. The drive chip for driving the second imaging panel among the plurality of drive chips is electrically connected to the drive chip for driving the second imaging panel. Radiation imaging device.
  19.  請求項1乃至18の何れか1項に記載の放射線撮像装置と、
     前記放射線撮像装置からの信号を処理する信号処理部と、を備えることを特徴とする放射線撮像システム。
    A radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 18,
    A radiation imaging system comprising: a signal processing unit that processes a signal from the radiation imaging apparatus.
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