WO2018123476A1 - 薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 - Google Patents

薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 Download PDF

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WO2018123476A1
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metal oxide
porous structure
sample
oxide film
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俊裕 坂本
年伸 松野
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パナソニックＩｐマネジメント株式会社
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    • G01N30/94—Development

Definitions

  • the present disclosure relates to a thin layer chromatography plate and a sample analysis method using the same.
  • a method for separating a specific component from a mixture of a plurality of components As a method for separating a specific component from a mixture of a plurality of components, a chromatography method, an electrophoresis method and the like are known.
  • a thin layer chromatography method which is one type of chromatography method, allows a plurality of components to be separated from each other easily and in a short time.
  • Patent Document 1 describes a thin-layer chromatography plate 500 including a first separating agent layer 531 and a second separating agent layer 532.
  • the second separating agent layer 532 is adjacent to the first separating agent layer 531.
  • the first separating agent layer 531 and the second separating agent layer 532 are each formed of a separating agent having different optical responsiveness.
  • the thin layer chromatography plate 500 By using the thin layer chromatography plate 500, a plurality of components can be separated from each other as follows.
  • the sample 560 is placed on the first separating agent layer 531, and the sample 560 is developed in the direction X.
  • the second separating agent layer 532 is dried.
  • the direction of the thin-layer chromatography plate 500 is changed, and the sample 560 is developed in the direction Y orthogonal to the direction X.
  • the second separating agent layer 532 a plurality of components are separated from each other.
  • the thin layer chromatography plate includes a substrate and a separation layer.
  • the separation layer is disposed on the substrate and configured to separate a plurality of components contained in the sample from each other.
  • the separation layer includes a first layer and a second layer.
  • the first layer has a porous structure and extends in the first direction.
  • the second layer has a porous structure and extends in the first direction.
  • the first layer and the second layer are arranged in a second direction orthogonal to the first direction.
  • the zeta potential of the first layer is different from the zeta potential of the second layer.
  • the sample analysis method includes the following procedure. A sample is placed on each of the first layer and the second layer of the thin-layer chromatography plate according to the first embodiment. The end portions of the first layer and the second layer in the first direction are brought into contact with the developing solvent.
  • the sample can be analyzed more easily and in a short time.
  • FIG. 1A is a plan view of a thin-layer chromatography plate according to the first embodiment.
  • 1B is a cross-sectional view of the thin-layer chromatography plate shown in FIG. 1A taken along line IB-IB.
  • FIG. 2A is a partially enlarged cross-sectional view of the thin layer chromatography plate according to the first embodiment.
  • FIG. 2B is a partially enlarged cross-sectional view of a thin layer chromatography plate according to a modification of the first embodiment.
  • FIG. 2C is a partially enlarged cross-sectional view of a thin layer chromatography plate according to another modification of the first embodiment.
  • FIG. 3A is a schematic diagram showing a state in which a sample is placed on the thin layer chromatography plate according to the first embodiment.
  • FIG. 3A is a schematic diagram showing a state in which a sample is placed on the thin layer chromatography plate according to the first embodiment.
  • FIG. 3B is a schematic diagram showing a state where the thin-layer chromatography plate of FIG. 3A is in contact with a developing solvent.
  • FIG. 4A is a plan view of a thin-layer chromatography plate according to the second embodiment.
  • 4B is a cross-sectional view of the thin layer chromatography plate shown in FIG. 4A taken along line IVB-IVB.
  • FIG. 5A is a plan view of a thin-layer chromatography plate according to a third embodiment.
  • FIG. 5B is a cross-sectional view of the thin-layer chromatography plate shown in FIG. 5A taken along line VB-VB.
  • FIG. 6A is a plan view of a thin layer chromatography plate according to a fourth embodiment.
  • FIG. 6B is a cross-sectional view of the thin layer chromatography plate shown in FIG. 6A along the line VIB-VIB.
  • FIG. 7 is a plan view of a conventional thin layer chromatography plate.
  • the present disclosure provides a technique for analyzing a sample more easily and in a short time.
  • Protein analysis is performed, for example, as follows.
  • a sample such as epidermis is collected from the subject's skin.
  • the sample contains a plurality of proteins.
  • a plurality of proteins contained in a sample are separated from each other by thin layer chromatography. Each of the proteins separated from each other is identified.
  • the sample contains protein due to rough skin
  • the skin of the subject is rough.
  • cosmetics suitable for the subject can be proposed. It is convenient to diagnose the skin condition of the subject and to propose cosmetics based on the obtained diagnostic results in a cosmetic retail store. At this time, it is necessary to quickly analyze the protein during the waiting time of the subject.
  • the thin layer chromatography plate of the present disclosure includes a substrate and a separation layer.
  • the separation layer is disposed on the substrate and configured to separate a plurality of components contained in the sample from each other.
  • the separation layer includes a first layer and a second layer.
  • the first layer has a porous structure and extends in the first direction.
  • the second layer has a porous structure and extends in the first direction.
  • the first layer and the second layer are arranged in a second direction orthogonal to the first direction.
  • the zeta potential of the first layer is different from the zeta potential of the second layer.
  • the interaction between the plurality of components included in the sample and the first layer is the interaction between the plurality of components and the second layer. Different from interaction. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer and the second layer, different results are obtained in each of the first layer and the second layer. For example, a plurality of components that are not separated from each other in the first layer are separated from each other in the second layer. A plurality of components that are not separated from each other in the second layer are separated from each other in the first layer.
  • each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage, and there is no need to develop the plurality of components in the second stage. Thereby, a sample can be analyzed more simply and in a short time.
  • the first layer includes the first metal oxide
  • the second layer includes the second metal oxide
  • the isoelectric point of the first metal oxide is the second metal oxide.
  • the first metal oxide of the thin layer chromatography plate is disposed on the porous structure of the first layer. Therefore, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the first layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the first layer.
  • the first layer of the thin layer chromatography plate includes a first metal oxide film disposed on the porous structure of the first layer, and the first metal oxide film is the first metal oxide film. Formed from. Thereby, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the first layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the first layer.
  • the porous structure of the first layer of the thin-layer chromatography plate includes an aggregate of particles coated with the first metal oxide film, and the first metal oxide film is formed from the first metal oxide. Is formed. Thereby, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the first layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the first layer.
  • the second metal oxide of the thin layer chromatography plate is disposed on the porous structure of the second layer. Therefore, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the second layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the second layer.
  • the second layer of the thin layer chromatography plate includes a second metal oxide film disposed on the porous structure of the second layer, and the second metal oxide film is the second metal oxide film. Formed from. Thereby, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the second layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the second layer.
  • the porous structure of the second layer of the thin-layer chromatography plate includes an aggregate of particles coated with the second metal oxide film, and the second metal oxide film is made of the second metal oxide. Is formed. Thereby, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the second layer is promoted. Therefore, it may be easy to separate a plurality of components from each other in the second layer.
  • the porous structure of the first layer of the thin-layer chromatography plate includes an aggregate of particles each having a single composition phase.
  • the first metal oxide of the thin layer chromatography plate is selected from the group consisting of titanium oxide, aluminum oxide, tin oxide, zinc oxide, tungsten oxide, manganese oxide, nickel oxide, copper oxide and magnesium oxide. Including at least one. Thereby, in the first layer, it may be easy to separate a plurality of components from each other.
  • the second metal oxide of the thin layer chromatography plate is selected from the group consisting of titanium oxide, aluminum oxide, tin oxide, zinc oxide, tungsten oxide, manganese oxide, nickel oxide, copper oxide and magnesium oxide. Including at least one. Thereby, in the second layer, it may be easy to separate a plurality of components from each other.
  • the first layer and the second layer of the thin layer chromatography plate are in contact with each other. Thereby, the separation layer can be easily produced.
  • the thin layer chromatography plate is further disposed on the separation layer and further includes a belt-like functional layer for placing the sample on the separation layer, and the functional layer extends in the second direction. Accordingly, the sample is immersed in the functional layer by placing the sample in the functional layer. The sample extends throughout the functional layer. A sample immersed in the functional layer contacts the separation layer. Therefore, it is not necessary to divide the sample into a plurality of times and place it in the separation layer. Thereby, a sample can be efficiently placed on the separation layer.
  • the sample analysis method of the present disclosure includes placing a sample on each of the first layer and the second layer of the thin-layer chromatography plate of the present disclosure, and each end of the first layer and the second layer in the first direction. Contacting with a developing solvent.
  • each of the first layer and the second layer different results are obtained in each of the first layer and the second layer.
  • a plurality of components that are not separated from each other in the first layer are separated from each other in the second layer.
  • a plurality of components that are not separated from each other in the second layer are separated from each other in the first layer. Therefore, since each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage, it is not necessary to develop the plurality of components in the second stage. Thereby, a sample can be analyzed more simply and in a short time.
  • the developing solvent for the sample analysis method contains water.
  • each of the first metal oxide and the second metal oxide is charged.
  • the kind or amount of charge generated in each of the first metal oxide and the second metal oxide is different from each other. Therefore, the interaction between the plurality of components contained in the sample and the first layer is significantly different from the interaction between the plurality of components and the second layer. Accordingly, it becomes easy to identify each of the plurality of components based on the result of developing the plurality of components in the first stage.
  • the sample of the sample analysis method includes protein.
  • the interaction between the first layer or the second layer and the protein may be promoted.
  • a thin layer chromatography plate 100 (hereinafter referred to as “TLC plate 100”) according to the present embodiment includes a substrate 10 and a separation layer 20.
  • the substrate 10 has a plate shape, for example.
  • the substrate 10 has, for example, a rectangular shape in plan view.
  • the separation layer 20 is disposed on the substrate 10.
  • the separation layer 20 covers the surface of the substrate 10.
  • the substrate 10 has two sets of a pair of end faces facing each other.
  • the development direction X (first direction) is a direction from one of the pair of end faces of the substrate 10 toward the other, and is a direction in which a plurality of components included in the sample are developed.
  • the arrangement direction Y (second direction) is a direction from one of the other pair of end faces of the substrate 10 toward the other, and is a direction orthogonal to the development direction X.
  • the separation layer 20 is a layer for separating a plurality of components contained in the sample from each other.
  • the separation layer 20 includes a first layer 31 and a second layer 32.
  • the first layer 31 is a belt-like layer.
  • the first layer 31 has a rectangular shape and a band shape in plan view.
  • the first layer 31 extends in the development direction X.
  • the first layer 31 extends from one of the pair of end faces of the substrate 10 in the development direction X to the other. However, the first layer 31 may not extend to the other end surface of the substrate 10.
  • the second layer 32 is a belt-like layer.
  • the second layer 32 has a rectangular and band shape in plan view.
  • the second layer 32 extends in the development direction X.
  • the second layer 32 extends from one of the pair of end faces of the substrate 10 in the development direction X to the other. However, the second layer 32 may not extend to the other end surface of the substrate 10.
  • Both the first layer 31 and the second layer 32 are disposed on the substrate 10. In other words, both the first layer 31 and the second layer 32 are in contact with the substrate 10.
  • the first layer 31 and the second layer 32 are arranged in the arrangement direction Y.
  • the second layer 32 is in contact with the first layer 31.
  • the side surface of the first layer 31 and the side surface of the second layer 32 are in contact with each other.
  • one side of the first layer 31 is in contact with one side of the second layer 32.
  • the length of one side of the first layer 31 is equal to the length of one side of the second layer 32.
  • the boundary surface 40 is configured by the first layer 31 and the second layer 32 being in contact with each other.
  • the boundary surface 40 extends in the development direction X.
  • the second layer 32 may not be in contact with the first layer 31.
  • the material of the substrate 10 is not particularly limited as long as it does not elute into the developing solvent and can maintain the shape of the TLC plate 100.
  • the material of the substrate 10 is, for example, glass, resin, metal, or paper.
  • the substrate 10 is typically a glass plate or an aluminum film.
  • the first layer 31 has a porous structure.
  • the porous structure of the first layer 31 can guide the developing solvent from one end to the other end of the first layer 31 in the developing direction X by capillary action.
  • the material of the porous structure is not particularly limited.
  • the material having a porous structure includes, for example, at least one selected from the group consisting of a fiber material, an inorganic material, and a polymer material.
  • the fiber material includes, for example, at least one selected from the group consisting of plant fibers, animal fibers, regenerated fibers, synthetic fibers, and glass fibers.
  • Plant fibers include, for example, cellulose.
  • Synthetic fibers include, for example, cellulose acetate.
  • the inorganic material includes, for example, at least one selected from the group consisting of alumina, silicon dioxide, and zirconia.
  • the polymer material includes, for example, at least one selected from the group consisting of agarose, dextran, mannan, fluororesin, polystyrene, polyethylene, polypropylene, polyurethane, and polyvinyl chloride.
  • the porous structure is composed of, for example, at least one selected from the group consisting of filter paper, an aggregate of inorganic particles, a porous body of a polymer material, and an aggregate of particles of a polymer material.
  • the inorganic particles include, for example, at least one selected from the group consisting of alumina particles, silica gel particles, silicon pillars, zeolite particles, diatomaceous earth, and zirconia particles.
  • the inorganic particles may be modified with a hydrophobic functional group or a hydrophilic functional group.
  • the hydrophobic functional group includes, for example, a functional group having a hydrocarbon group at the terminal.
  • the hydrocarbon group includes, for example, at least one selected from the group consisting of an octadecyl group, an octyl group, a t-butyl group, a trimethylsilyl group, and a phenyl group.
  • the hydrophilic functional group includes, for example, at least one selected from the group consisting of a functional group having a cyano group and a functional group having an amino group.
  • the average pore diameter of the porous structure of the first layer 31 may be in the range of 0.01 ⁇ m to 100 ⁇ m.
  • the average particle diameter of the inorganic particles or polymer material particles is in the range of 1 ⁇ m to 100 ⁇ m. May be.
  • the “average pore diameter” can be measured by the following method. That is, the surface or cross section of the first layer 31 is observed with an electron microscope (for example, a scanning electron microscope). The pore diameter of a plurality of pores (for example, arbitrary 50 pores) in the observed porous structure is measured. The average pore diameter is determined by the average value calculated using the obtained measured values.
  • the diameter of a circle having an area equal to the area of the pores observed with an electron microscope can be regarded as the pore diameter.
  • the “average particle size” can be measured by the following method. That is, the surface or cross section of the first layer 31 is observed with an electron microscope, and the diameter of an arbitrary number of particles (for example, 50 particles) constituting the porous structure of the first layer 31 is measured. The average particle diameter is determined by the average value calculated using the obtained measured values.
  • the diameter of a circle having an area equal to the area of the particles observed with an electron microscope can be regarded as the particle diameter.
  • the first layer 31 includes a first metal oxide.
  • the first metal oxide is not particularly limited as long as it is a metal oxide.
  • the first metal oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of titanium oxide, aluminum oxide, tin oxide, zinc oxide, tungsten oxide, manganese oxide, nickel oxide, copper oxide, and magnesium oxide.
  • the first metal oxide may be a semi-metal oxide.
  • the metalloid oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of boron oxide and silicon dioxide.
  • the first metal oxide is different from the material of the porous structure of the first layer 31.
  • the composition of the first metal oxide is different from the composition of the porous structure of the first layer 31.
  • the first metal oxide may be included in the porous structure of the first layer 31.
  • the first metal oxide may be in contact with a part of the porous structure of the first layer 31.
  • the first metal oxide may be disposed on the porous structure of the first layer 31.
  • the first metal oxide may be disposed between the porous structure of the first layer 31 and the substrate 10.
  • the porous structure of the first layer 31 is composed of an aggregate of inorganic particles or polymer material particles
  • the first metal oxide includes a plurality of the porous structures of the first layer 31. It may be located between the particles.
  • a first metal oxide film 81 may be disposed on the porous structure 80 of the first layer 31.
  • the first metal oxide film 81 is formed from a first metal oxide. As shown in FIG.
  • the first metal oxide film 81 may be disposed between the porous structure 80 of the first layer 31 and the substrate 10.
  • the interaction between the plurality of components contained in the sample and the first layer 31 is promoted. Therefore, in the first layer 31, it may be easy to separate a plurality of components from each other.
  • the first metal oxide film 81 may only partially cover the surface of the porous structure 80.
  • the first metal oxide film 81 may only partially cover the surface of the substrate 10.
  • the porous structure 80 of the first layer 31 may include an aggregate of particles coated with the first metal oxide film 81.
  • the first layer 31 is composed of an aggregate of particles covered with the first metal oxide film 81.
  • the particles include, for example, at least one selected from the group consisting of inorganic particles and polymer material particles.
  • the first metal oxide film 81 may cover the entire surface of the particle, or may cover a part of the surface of the particle.
  • the particles are covered with the first metal oxide film 81 by observing a cross section of the first layer 31 with an electron microscope (for example, a scanning electron microscope).
  • the fact that the particles are covered with the first metal oxide film 81 can also be confirmed by performing elemental analysis on the cross section of the first layer 31. Elemental analysis can be performed by, for example, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) or energy dispersive X-ray analysis (EDX).
  • XPS X-ray photoelectron spectroscopy
  • EDX energy dispersive X-ray analysis
  • the thickness of the first metal oxide film 81 is not particularly limited.
  • the thickness of the first metal oxide film 81 is determined according to the material of the first metal oxide film 81 and the like. The thicker the first metal oxide film 81, the more easily a plurality of components are separated from each other when the sample is developed in the first layer 31. The thicker the first metal oxide film 81, the lower the moving speed of the developing solvent in the first layer 31.
  • the thickness of the first metal oxide film 81 is, for example, not less than 10 nm and not more than 1000 nm.
  • the first layer 31 may further contain an additive.
  • the additive include a fluorescent indicator and a binder.
  • Fluorescent indicators include magnesium tungstate and zinc silicate containing manganese.
  • the positions of a plurality of components can be detected by irradiating the first layer 31 with ultraviolet rays.
  • the binder includes, for example, at least one selected from the group consisting of inorganic binders, organic fibers, thickeners, and organic binders.
  • the inorganic binder include gypsum and colloidal silica.
  • organic fibers include microfibrillated cellulose.
  • thickeners include hydroxyethyl cellulose and carboxymethyl cellulose.
  • the organic binder include polyvinyl alcohol and polyacrylic acid.
  • the above-described additives may be mixed with the porous structure material of the first layer 31.
  • the additive may cover the surface of the inorganic particles or polymer material particles constituting the porous structure.
  • the second layer 32 has a porous structure.
  • the porous structure of the second layer 32 can guide the developing solvent from one end to the other end of the second layer 32 in the developing direction X by capillary action.
  • the material of the porous structure of the second layer 32 may be the same as that exemplified as the material of the porous structure of the first layer 31.
  • the average pore diameter of the porous structure of the second layer 32 may be in the range of 0.01 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the average particle diameter of the inorganic particles or polymer material particles is in the range of 1 ⁇ m to 100 ⁇ m. May be.
  • the second layer 32 includes a second metal oxide.
  • the second metal oxide is not particularly limited as long as it is a metal oxide.
  • the second metal oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of titanium oxide, aluminum oxide, tin oxide, zinc oxide, tungsten oxide, manganese oxide, nickel oxide, copper oxide, and magnesium oxide.
  • the second metal oxide may be a semi-metal oxide.
  • the metalloid oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of boron oxide and silicon dioxide.
  • the second metal oxide is different from the material of the porous structure of the second layer 32.
  • the composition of the second metal oxide is different from the composition of the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide may be included in the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide is different from the first metal oxide.
  • the isoelectric point of the second metal oxide is different from the isoelectric point of the first metal oxide.
  • the difference between the isoelectric point of the first metal oxide and the isoelectric point of the second metal oxide is, for example, 1 to 8.
  • the “isoelectric point” can be measured by the following method. That is, the solvent containing water is brought into contact with the metal oxide. The zeta potential on the surface of the metal oxide is measured. The zeta potential can be measured by, for example, a commercially available zeta potential measuring device. The pH value of the solvent when the zeta potential on the surface of the metal oxide becomes zero can be regarded as the isoelectric point of the metal oxide.
  • the isoelectric point of the metal oxide is determined according to the metal oxide.
  • the isoelectric point of tin oxide is typically 4.5 to 7.3.
  • the isoelectric point of zinc oxide is typically 9.2.
  • the isoelectric point of tungsten oxide is typically 0.5.
  • the isoelectric point of nickel oxide is typically 10.3 ⁇ 0.4.
  • the isoelectric point of magnesium oxide is typically 12.4 ⁇ 0.3.
  • the isoelectric point of silicon dioxide is typically 1.8 to 2.2.
  • the second metal oxide may be in contact with a part of the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide may be disposed on the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide may be disposed between the porous structure of the second layer 32 and the substrate 10.
  • the porous structure of the second layer 32 is constituted by an aggregate of inorganic particles or polymer material particles
  • the second metal oxide includes a plurality of the porous structures of the second layer 32. It may be located between the particles.
  • a second metal oxide film may be disposed on the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide film is formed from the second metal oxide.
  • the second metal oxide film may only partially cover the surface of the porous structure of the second layer 32.
  • the second metal oxide film may be disposed between the porous structure of the second layer 32 and the substrate 10.
  • the second metal oxide film may only partially cover the surface of the substrate 10.
  • the porous structure of the second layer 32 may include an aggregate of particles covered with the second metal oxide film.
  • the second layer 32 may be composed of an aggregate of particles coated with the second metal oxide film.
  • the particles include, for example, at least one selected from the group consisting of inorganic particles and polymer material particles.
  • the second metal oxide film may cover the entire surface of the particle, or may cover a part of the surface of the particle.
  • the thickness of the second metal oxide film is not particularly limited.
  • the thickness of the second metal oxide film is determined according to the material of the second metal oxide film. The thicker the second metal oxide film, the more easily a plurality of components are separated from each other when the sample is developed in the second layer 32. The thicker the second metal oxide film, the lower the moving speed of the developing solvent in the second layer 32.
  • the thickness of the second metal oxide film is, for example, not less than 10 nm and not more than 1000 nm.
  • the second layer 32 may further contain the above-described additive.
  • the length L1 of the first layer 31 in the development direction X is not particularly limited.
  • the length L1 is determined according to the material of the porous structure of the first layer 31, the first metal oxide, the size of the container for accommodating the TLC plate 100, and the like.
  • the length L1 is, for example, 20 mm or more and 200 mm or less.
  • Each of the length of the second layer 32 and the length of the substrate 10 in the development direction X is typically equal to the length L1.
  • the length L2 of the first layer 31 in the arrangement direction Y is not particularly limited.
  • the length L2 is determined according to the amount of the sample placed on the first layer 31 and the like.
  • the length L2 is, for example, not less than 10 mm and not more than 100 mm.
  • the length L3 of the second layer 32 in the arrangement direction Y is not particularly limited.
  • the length L3 is equal to a possible value of the length L2.
  • the length of the substrate 10 in the development direction X is typically equal to the sum of the length L2 and the length L3.
  • the thickness L4 of the first layer 31 is not particularly limited.
  • the thickness L4 is determined according to the porous structure of the first layer 31, the first metal oxide, and the like.
  • the thickness L4 is, for example, not less than 0.05 mm and not more than 1 mm.
  • the thickness of the second layer 32 is typically equal to the thickness L4 of the first layer 31.
  • the thickness L5 of the substrate 10 is not particularly limited as long as the shape of the TLC plate 100 can be maintained.
  • the thickness L5 is, for example, not less than 0.1 mm and not more than 5 mm.
  • a first dispersion liquid containing inorganic particles or polymer material particles is prepared.
  • the first dispersion can be obtained by dispersing inorganic particles or polymer material particles in a coating solvent.
  • the coating solvent includes, for example, at least one selected from the group consisting of water and organic solvents.
  • the organic solvent includes, for example, at least one selected from the group consisting of alcohol, ketone, ether, nitrile, sulfoxide, sulfone, ester, carboxylic acid, amide, hydrocarbon, aromatic hydrocarbon, and halogen-containing compound.
  • the alcohol include methanol, ethanol and isopropyl alcohol.
  • ketones include acetone and ethyl methyl ketone.
  • ethers include tetrahydrofuran and dioxane.
  • nitriles include acetonitrile.
  • the sulfoxide include dimethyl sulfoxide.
  • Examples of sulfones include sulfolane.
  • Examples of esters include ethyl acetate.
  • Examples of carboxylic acids include formic acid and acetic acid.
  • Examples of amides include dimethylformamide.
  • Examples of hydrocarbons include pentane and hexane.
  • Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene and xylene.
  • Examples of halogen-containing compounds include methylene chloride, chloroform, bromoform, chlorobenzene and bromobenzene.
  • the first dispersion is applied to part of the surface of the substrate 10 to form a coating film.
  • the precursor layer of the first layer 31 is formed on the substrate 10 by drying the coating film.
  • the precursor layer of the first layer 31 may be formed on the substrate 10 by pressure-bonding a filter paper or a porous material of a polymer material to a part of the surface of the substrate 10.
  • a first metal oxide is deposited on the precursor layer of the first layer 31.
  • the first layer 31 is formed on the substrate 10.
  • the first metal oxide film may be formed by depositing the first metal oxide on the precursor layer.
  • the method for depositing the first metal oxide include a sputtering method using a known mask, an ion plating method, an electron beam vapor deposition method, a vacuum vapor deposition method, a chemical vapor deposition method, and a chemical vapor phase method.
  • the first layer 31 is easily formed because the first metal oxide is deposited after the precursor layer of the first layer 31 is formed.
  • the first metal oxide may be deposited on the substrate 10 in advance. At this time, the first metal oxide film may be formed by depositing the first metal oxide on the substrate 10. The first dispersion 31 is applied on the deposited first metal oxide, and the obtained coating film is dried, whereby the first layer 31 is formed on the substrate 10. The first layer 31 may be formed on the substrate 10 by pressing a filter paper or a porous material of a polymer material on the first metal oxide.
  • the first dispersion may contain a first metal oxide.
  • the first dispersion may contain particles coated with the first metal oxide film.
  • the particles coated with the first metal oxide film can be produced, for example, by the following method.
  • a metal salt is dissolved in the first dispersion.
  • the metal salt is, for example, at least one salt selected from the group consisting of titanium, aluminum, tin, zinc, tungsten, manganese, nickel, copper, and magnesium.
  • a complex compound is formed by dissolving the metal salt in the first dispersion.
  • the complex compound adheres to the surface of inorganic particles or particles of polymer material.
  • the inorganic particles or polymer material particles to which the complex compound is attached are treated so that the metal oxide is precipitated.
  • the treatment is, for example, changing the pH of the first dispersion or oxidizing the complex compound.
  • the oxidation of the complex compound is performed, for example, by heating inorganic particles or polymer material particles. Thereby, the particle
  • a second dispersion liquid containing inorganic particles or polymer material particles is prepared.
  • the second dispersion is obtained by dispersing inorganic particles or polymer material particles in a coating solvent.
  • the coating solvent those described above can be used.
  • the second dispersion is applied to a part of the surface of the substrate 10 to form a coating film.
  • the precursor layer of the second layer 32 is formed on the substrate 10 by drying the coating film.
  • the precursor layer of the second layer 32 may be formed on the substrate 10 by pressing a filter paper or a porous material of a polymer material on a part of the surface of the substrate 10.
  • a second metal oxide is deposited on the precursor layer of the second layer 32.
  • the second layer 32 is formed on the substrate 10.
  • the second metal oxide film may be formed by depositing the second metal oxide on the precursor layer.
  • the method described above can be used for the deposition of the second metal oxide.
  • the second metal oxide is deposited after the precursor layer of the second layer 32 is formed. Therefore, the second layer 32 can be easily manufactured.
  • the second metal oxide may be deposited on the substrate 10 in advance. At this time, the second metal oxide film may be formed by depositing the second metal oxide on the substrate 10.
  • the second layer 32 is formed on the substrate 10 by applying the second dispersion on the second metal oxide and drying the obtained coating film.
  • the second layer 32 may be formed on the substrate 10 by pressure-bonding a filter paper or a porous material of a polymer material on the second metal oxide.
  • the second dispersion may contain a second metal oxide.
  • the second dispersion may include particles coated with the second metal oxide film.
  • a method for producing the particles covered with the second metal oxide film for example, the method exemplified as the method for producing the particles covered with the first metal oxide film can be used.
  • Each of the first layer 31 and the second layer 32 may be formed by the following method.
  • a 1st dispersion liquid is apply
  • the precursor layer of the first layer 31 and the precursor layer of the second layer 32 are formed on the substrate 10.
  • a first metal oxide is deposited on the precursor layer of the first layer 31.
  • a second metal oxide is deposited on the precursor layer of the second layer 32.
  • each of the first layer 31 and the second layer 32 is formed on the substrate 10. Since the first metal oxide and the second metal oxide are deposited after the precursor layers of the first layer 31 and the second layer 32 are formed, the separation layer 20 can be easily manufactured. . In the separation layer 20 formed by this method, the side surface of the first layer 31 is in contact with the side surface of the second layer 32.
  • the order in which each of the first layer 31 and the second layer 32 is formed on the substrate 10 is not particularly limited.
  • the first layer 31 may be formed on the substrate 10 after the second layer 32 is formed on the substrate 10.
  • the sample 60 is placed on each of the first layer 31 and the second layer 32 of the separation layer 20 of the TLC plate 100.
  • the sample 60 penetrates into the first layer 31 and a circular spot 61 is formed.
  • the sample 60 penetrates into the second layer 32, and a circular spot 62 is formed.
  • the sample 60 is an aqueous solution containing a plurality of proteins, for example.
  • the content rate of the some protein in the sample 60 is 0.01 weight% or more and 1 weight% or less, for example.
  • the volume of the sample 60 placed on each of the first layer 31 and the second layer 32 is, for example, 0.5 ⁇ L or more and 10 ⁇ L or less.
  • the position where the sample 60 is to be placed is not particularly limited as long as the sample 60 is not in direct contact with the developing solvent.
  • An end portion of the first layer 31 in the development direction X is defined as an end portion 31a
  • an end portion of the second layer 32 in the development direction X is defined as an end portion 32a.
  • the distance from the end 31a in the development direction X to the center of gravity of the spot 61 may be equal to the distance from the end 32a in the development direction X to the center of gravity of the spot 62.
  • the TLC plate 100 is installed in the container 75 so that the end 31a of the first layer 31 and the end 32a of the second layer 32 are positioned below.
  • the container 75 contains the developing solvent 70.
  • the container 75 is, for example, a glass bottle.
  • the container 75 may be disposed inside an analyzer (not shown).
  • the developing solvent 70 is not particularly limited as long as it can move the first layer 31 or the second layer 32 by capillary action when it contacts the first layer 31 or the second layer 32.
  • the developing solvent 70 may contain water. When the developing solvent 70 contains water, the developing solvent 70 may contain 20 to 100% by weight of water. When the developing solvent 70 contains water and the sample 60 contains protein, the solubility of the protein in the developing solvent 70 is improved.
  • the developing solvent 70 may contain an organic solvent. As the organic solvent, those exemplified as the solvent for coating can be used.
  • the organic solvent includes, for example, at least one selected from the group consisting of methanol, ethanol, isopropyl alcohol, acetonitrile, and acetic acid.
  • the developing solvent 70 may contain 20 to 100% by weight of the organic solvent.
  • the developing solvent 70 contains carboxylic acid and the sample 60 contains protein, the frequency of protein adsorption / desorption with respect to each of the porous structure of the first layer 31 and the porous structure of the second layer 32 is improved.
  • the developing solvent 70 may be an aqueous solution.
  • the solute of the aqueous solution includes, for example, at least one selected from the group consisting of phosphate, citrate, acetate, and borate.
  • the end 31a of the first layer 31 and the end 32a of the second layer 32 are in contact with the developing solvent 70.
  • the liquid surface height of the developing solvent 70 is set to a height at which the developing solvent 70 and the sample 60 do not come into direct contact. Due to the capillary phenomenon, the developing solvent 70 moves in the developing direction X from each of the end 31 a of the first layer 31 and the end 32 a of the second layer 32.
  • a plurality of components contained in the sample 60 are dissolved in the developing solvent 70.
  • the plurality of components dissolved in the developing solvent 70 move in the developing direction X together with the developing solvent 70.
  • the plurality of components located at the spot 61 move while repeating adsorption and desorption with respect to the porous structure of the first layer 31. Since the frequency of adsorption / desorption differs for each component, a plurality of components are separated from each other in the first layer 31.
  • the plurality of components located at the spot 62 move while repeating adsorption and desorption with respect to the porous structure of the second layer 32. Since the frequency of adsorption / desorption differs for each component, a plurality of components are separated from each other in the second layer 32.
  • the method for detecting the position of a plurality of components is not particularly limited, and a known method can be used.
  • the positions of a plurality of components may be detected by irradiating the separation layer 20 with ultraviolet rays.
  • each of the plurality of components may be a compound that absorbs ultraviolet rays.
  • the analyzer may include a mechanism for irradiating ultraviolet rays.
  • the position of a plurality of components may be detected by attaching a coloring reagent to the separation layer 20. At this time, the TLC plate 100 may be heated as necessary. A well-known thing can be used as a coloring reagent.
  • coloring reagent examples include anisaldehyde, phosphomolybdic acid, iodine, ninhydrin, chameleon solution, 2,4-dinitrophenylhydrazine, manganese chloride, bromocresol green, and the like.
  • each of a plurality of components separated from each other can be identified.
  • a component having a known structure is developed on the TLC plate 100 under the same conditions as those for developing the sample 60.
  • Data is obtained by associating the position of the component after the development with the structure of the component.
  • the above data may be stored in advance in the memory of the analyzer. In light of the above data, each of the plurality of components can be identified from the respective positions of the plurality of components after the sample 60 is developed.
  • the isoelectric point of the first metal oxide included in the first layer 31 is different from the isoelectric point of the second metal oxide included in the second layer 32. That is, the interaction between the plurality of components included in the sample 60 and the first layer 31 is different from the interaction between the plurality of components and the second layer 32. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 and the second layer 32, different results are obtained in each of the first layer 31 and the second layer 32. For example, a plurality of components that are not separated from each other in the first layer 31 are separated from each other in the second layer 32. A plurality of components that are not separated from each other in the second layer 32 are separated from each other in the first layer 31.
  • Each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage. Therefore, it is not necessary to develop a plurality of components in the second stage. Thereby, the sample 60 can be analyzed more simply and in a short time.
  • each of the first metal oxide and the second metal oxide is charged by getting wet with the developing solvent 70.
  • the pH value of the developing solvent 70 is smaller than the isoelectric point of the metal oxide, the metal oxide is positively charged.
  • the pH value of the developing solvent 70 is larger than the isoelectric point of the metal oxide, the metal oxide is negatively charged. Since the isoelectric points of the first metal oxide and the second metal oxide are different from each other, the types or amounts of charges generated in the first metal oxide and the second metal oxide are different from each other. .
  • the interaction between the plurality of components and the first layer 31 is greatly different from the interaction between the plurality of components and the second layer 32. Therefore, it becomes easy to identify each of the plurality of components based on the result of developing the plurality of components in the first stage.
  • the interaction between the first layer 31 or the second layer 32 and the protein may be promoted.
  • the specific functional group contained in the protein may coordinate to the first metal oxide or the second metal oxide.
  • the phosphate group coordinates to titanium oxide.
  • the sugar chain coordinates to boron oxide. Therefore, when a metal oxide capable of coordinating a specific functional group contained in protein is selected as the first metal oxide or the second metal oxide, in the first layer 31 or the second layer 32, It may be easier to separate multiple components from each other.
  • the first layer 31 may not include the first metal oxide.
  • the second layer 32 may not include the second metal oxide.
  • the TLC plate 100 has at least one selected from the fact that the composition of the first layer 31 is different from the composition of the second layer 32 and the structure of the first layer 31 is different from the structure of the second layer 32.
  • the interaction between the plurality of components included in the sample 60 and the first layer 31 is different from the interaction between the plurality of components and the second layer 32. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 and the second layer 32, different results are obtained in each of the first layer 31 and the second layer 32.
  • the structure of the first layer 31 is different from the structure of the second layer 32” means, for example, the average pore diameter of the porous structure of the first layer 31, the porosity of the porous structure, and the average of the materials of the porous structure It means that at least one selected from the particle sizes is different from those of the porous structure of the second layer 32.
  • the porous structure of the second layer 32 of the first layer 31 and the second layer 32 may be modified with a metal oxide. .
  • the zeta potential of the first layer 31 and the zeta potential of the second layer 32 can be made different.
  • the first layer 31 does not have a metal oxide film.
  • the first layer 31 may be configured with a porous structure.
  • the porous structure of the first layer 31 may include an aggregate of particles each having a single composition phase, and may be composed of an aggregate of particles each having a single composition phase. . “Particle having a single composition phase” means that there is no compositional deviation within the particle. That is, it means that the particles are not covered with a metal oxide film.
  • the porous structure of the second layer 32 is modified with a metal oxide film.
  • the porous structure is modified with a metal oxide film means that the porous structure is covered with a metal oxide film, or the surface of the particles constituting the porous structure is covered with a metal oxide film. Means that That is, the second layer 32 has a metal oxide film.
  • the metal oxide film is made of a metal oxide.
  • the metal oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of titanium oxide, aluminum oxide, tin oxide, zinc oxide, tungsten oxide, manganese oxide, nickel oxide, copper oxide, and magnesium oxide.
  • the metal oxide may be a semi-metal oxide.
  • the metalloid oxide includes, for example, at least one selected from the group consisting of boron oxide and silicon dioxide.
  • the material of the metal oxide film is different from the material of the porous structure of the second layer 32.
  • the composition of the metal oxide film is different from the composition of the porous structure of the second layer 32.
  • the porous structure of the second layer 32 of the first layer 31 and the second layer 32 is modified with a metal oxide film. That is, the interaction between the plurality of components included in the sample 60 and the first layer 31 is different from the interaction between the plurality of components and the second layer 32. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 and the second layer 32, different results are obtained in each of the first layer 31 and the second layer 32. For example, a plurality of components that are not separated from each other in the first layer 31 are separated from each other in the second layer 32. A plurality of components that are not separated from each other in the second layer 32 are separated from each other in the first layer 31.
  • Each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage. Therefore, it is not necessary to develop a plurality of components in the second stage. Thereby, the sample 60 can be analyzed more simply and in a short time.
  • the TLC plate 200 As shown in FIGS. 4A and 4B, the TLC plate 200 according to this embodiment includes a separation layer 21 having a first layer 31, a second layer 32, and a third layer 33. Except for the third layer 33, the structure of the TLC plate 200 is the same as the structure of the TLC plate 100 of the first embodiment. Therefore, elements common to the TLC plate 100 of the first embodiment and the TLC plate 200 of the present embodiment may be denoted by the same reference numerals, and description thereof may be omitted. That is, the following description regarding each embodiment can be applied to each other as long as there is no technical contradiction. Furthermore, as long as there is no technical contradiction, each embodiment may be combined with each other.
  • the third layer 33 is a belt-like layer.
  • the third layer 33 has a rectangular and band shape in plan view.
  • the third layer 33 extends in the development direction X.
  • the third layer 33 extends from one of the pair of end faces of the substrate 10 in the development direction X to the other. However, the third layer 33 may not extend to the other end surface of the substrate 10.
  • each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 is disposed on the substrate 10.
  • each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 is in contact with the substrate 10.
  • the third layer 33 is in contact with the second layer 32.
  • the side surface of the third layer 33 and the side surface of the second layer 32 are in contact with each other.
  • one side of the third layer 33 is in contact with one side of the second layer 32.
  • the length of one side of the third layer 33 is equal to the length of one side of the second layer 32.
  • the boundary surface 41 is configured by the second layer 32 and the third layer 33 being in contact with each other.
  • the boundary surface 41 extends in the development direction X.
  • the third layer 33 may not be in contact with the second layer 32.
  • the third layer 33 has a porous structure.
  • the porous structure of the third layer 33 can guide the developing solvent from one end to the other end of the third layer 33 in the developing direction X by capillary action.
  • the material of the porous structure of the third layer 33 may be the same as that exemplified as the material of the porous structure of the first layer 31.
  • the average pore diameter of the porous structure of the third layer 33 may be in the range of 0.01 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the average particle diameter of the inorganic particles or polymer material particles is in the range of 1 ⁇ m to 100 ⁇ m. May be.
  • the third layer 33 includes a third metal oxide.
  • the third metal oxide may be the same as that exemplified as the first metal oxide.
  • the third metal oxide is different from the material of the porous structure of the third layer 33.
  • the composition of the third metal oxide is different from the composition of the porous structure of the third layer 33.
  • the third metal oxide may be included in the porous structure of the third layer 33.
  • the isoelectric point of the first metal oxide, the isoelectric point of the second metal oxide, and the isoelectric point of the third metal oxide are different from each other.
  • Each difference is, for example, 1 to 8.
  • the third metal oxide may be in contact with a part of the porous structure of the third layer 33.
  • the third metal oxide may be disposed on the porous structure of the third layer 33.
  • the third metal oxide may be disposed between the porous structure of the third layer 33 and the substrate 10.
  • the third metal oxide includes a plurality of the porous structures of the third layer 33. It may be located between the particles.
  • a third metal oxide film may be disposed on the porous structure of the third layer 33.
  • the third metal oxide film is formed from a third metal oxide.
  • the third metal oxide film may only partially cover the surface of the porous structure of the third layer 33.
  • the third metal oxide film may be disposed between the porous structure of the third layer 33 and the substrate 10.
  • the third metal oxide film may only partially cover the surface of the substrate 10.
  • the porous structure of the third layer 33 may include an aggregate of particles covered with a third metal oxide film.
  • the third layer 33 may be composed of an aggregate of particles coated with a third metal oxide film.
  • the particles include, for example, at least one selected from the group consisting of inorganic particles and polymer material particles.
  • the third metal oxide film may cover the entire surface of the particle, or may cover a part of the surface of the particle.
  • the thickness of the third metal oxide film is not particularly limited.
  • the thickness of the third metal oxide film is determined according to the material of the third metal oxide film. The thicker the third metal oxide film, the more easily a plurality of components are separated from each other when the sample is developed in the third layer 33. The thicker the third metal oxide film, the lower the moving speed of the developing solvent in the third layer 33.
  • the thickness of the third metal oxide film is, for example, not less than 10 nm and not more than 1000 nm.
  • the third layer 33 may further contain the above-described additive.
  • the length of the third layer 33 in the development direction X is typically equal to the length L1 of the first layer 31 of the TLC plate 100.
  • the length of the third layer 33 in the arrangement direction Y is typically equal to the length L2 of the first layer 31 of the TLC plate 100.
  • the method for forming the third layer 33 on the substrate 10 for example, the method exemplified as the method for forming each of the first layer 31 and the second layer 32 on the substrate 10 in the first embodiment is used. be able to.
  • the isoelectric point of the first metal oxide, the isoelectric point of the second metal oxide, and the isoelectric point of the third metal oxide are different from each other. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33, different results are obtained in each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33. It is done. For example, a plurality of components that are not separated from each other in each of the first layer 31 and the second layer 32 are separated from each other in the third layer 33. Each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage. Therefore, it is not necessary to develop a plurality of components in the second stage. Thereby, the sample 60 can be analyzed more simply and in a short time.
  • the third layer 33 may not include the third metal oxide.
  • the compositions of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 are different from each other, and each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 is different. It is necessary to satisfy at least one requirement selected from the fact that the structures are different from each other. When the above requirements are satisfied, each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 exerts different interactions on a plurality of components contained in the sample 60.
  • the structures of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 are different from each other means, for example, the average of the porous structures of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33. It means that at least one selected from the pore diameter, the porosity of the porous structure, and the average particle diameter of the material of the porous structure is different from each other.
  • the first layer 31 may not have a metal oxide film as in the first embodiment. With such a configuration, the same effect as that described in the first embodiment can be obtained.
  • the TLC plate 300 further includes a fourth layer 34 to an nth layer 35 in addition to the configuration of the TLC plate 200 of the second embodiment.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 has an interaction different from that of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 with respect to a plurality of components contained in the sample 60. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 to the nth layer 35, different results are obtained in each of the first layer 31 to the nth layer 35. For example, a plurality of components that are not separated from each other in each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 are separated from each other in any of the fourth layer 34 to the nth layer 35.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 is a belt-like layer.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 has a rectangular shape and a band shape in plan view.
  • n is an integer of 4 or more.
  • n is, for example, an integer of 5 to 10.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 extends in the development direction X.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 extends from one of the pair of end faces of the substrate 10 in the development direction X to the other. However, each of the fourth layer 34 to the nth layer 35 may not extend to the other end surface of the substrate 10.
  • each of the first layer 31 to the nth layer 35 is disposed on the substrate 10. In other words, each of the first layer 31 to the n-th layer 35 is in contact with the substrate 10. In the arrangement direction Y, the first layer 31 to the n-th layer 35 are arranged in this order.
  • the fourth layer 34 to the nth layer 35 are in contact with the third layer 33 to the (n ⁇ 1) th layer (not shown), respectively.
  • one side of each of the fourth layer 34 to the nth layer 35 is in contact with one side of each of the third layer 33 to the (n ⁇ 1) th layer.
  • each side of the fourth layer 34 to the nth layer 35 is equal to the length of each side of the third layer 33 to the (n ⁇ 1) th layer.
  • the fourth layer 34 to the nth layer 35 may not be in contact with the third layer 33 to the (n ⁇ 1) th layer, respectively.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 has a porous structure.
  • the porous structures of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 can guide the developing solvent from one end to the other end of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 in the developing direction X by capillary action.
  • the material of the porous structure of each of the fourth layer 34 to the nth layer 35 may be the same as that exemplified as the material of the porous structure of the first layer 31.
  • the average pore diameter of each of the porous structures of the fourth layer 34 to the nth layer 35 may be in the range of 0.01 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • each of the fourth layer 34 to the nth layer 35 is composed of an aggregate of inorganic particles or polymer material particles
  • the average particle diameter of the inorganic particles or polymer material particles is 1 ⁇ m or more. In the range of 100 ⁇ m or less.
  • the fourth layer 34 to the n-th layer 35 include a fourth metal oxide to an n-th metal oxide, respectively.
  • Each of the fourth metal oxide to the nth metal oxide may be the same as those exemplified as the first metal oxide.
  • the fourth metal oxide to the nth metal oxide are different from the materials of the porous structures of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the compositions of the fourth metal oxide to the nth metal oxide are different from the compositions of the porous structures of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the fourth metal oxide to the nth metal oxide may be included in the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the isoelectric points of the first metal oxide to the nth metal oxide are different from each other.
  • the fourth metal oxide to the nth metal oxide may be in contact with part of the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the fourth metal oxide to the nth metal oxide may be disposed on the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the fourth to nth metal oxides may be disposed between the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35 and the substrate 10, respectively.
  • the porous structure of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 is composed of an aggregate of inorganic particles or polymer material particles
  • the fourth metal oxide to the n-th metal oxide respectively It may be located between a plurality of particles constituting the porous structure of the fourth layer 34 to the n-th layer 35.
  • the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film may be disposed on the porous structures of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film are formed of the fourth metal oxide to the nth metal oxide, respectively.
  • the fourth to nth metal oxide films may only partially cover the surfaces of the porous structures of the fourth layer 34 to the nth layer 35, respectively.
  • the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film may be disposed between the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35 and the substrate 10, respectively. Each of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film may only partially cover the surface of the substrate 10.
  • the porous structure of the fourth layer 34 to the nth layer 35 may include an aggregate of particles covered with the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film, respectively.
  • the fourth layer 34 to the n-th layer 35 may each be composed of an aggregate of particles covered with a fourth metal oxide film to an n-th metal oxide film.
  • the particles include, for example, at least one selected from the group consisting of inorganic particles and polymer material particles.
  • Each of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film may cover the entire surface of the particle, or may cover a part of the surface of the particle.
  • the porous structures of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 include aggregates of particles coated with the fourth metal oxide film to the n-th metal oxide film, respectively, a plurality of samples included in the sample 60 are included. Interaction between the component and each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 is promoted. Therefore, in each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35, it may be easy to separate a plurality of components from each other.
  • each of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film is not particularly limited.
  • the thicknesses of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film are determined according to the materials of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film, respectively.
  • the thicker each of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film the more easily a plurality of components are separated from each other when the sample is developed in the development direction X.
  • the thicker each of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film the lower the moving speed of the developing solvent in each of the fourth layer 34 to the nth layer 35.
  • Each thickness of the fourth metal oxide film to the nth metal oxide film is, for example, not less than 10 nm and not more than 1000 nm.
  • Each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 may further contain the additive described above.
  • Each length of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 in the development direction X is typically equal to the length L1 of the first layer 31 of the TLC plate 100.
  • the lengths of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 in the arrangement direction Y are typically equal to the length L2 of the first layer 31 of the TLC plate 100.
  • each of the fourth layer 34 to the n-th layer 35 on the substrate 10 for example, in the first embodiment, each of the first layer 31 and the second layer 32 is formed on the substrate 10.
  • the method illustrated as a method can be used.
  • the isoelectric points of the first metal oxide to the nth metal oxide are different from each other. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 to the nth layer 35, different results are obtained in each of the first layer 31 to the nth layer 35. For example, a plurality of components that are not separated from each other in each of the first layer 31, the second layer 32, and the third layer 33 are separated from each other in any of the fourth layer 34 to the nth layer 35. Each of the plurality of components can be identified based on the result of developing the plurality of components in the first stage. Therefore, it is not necessary to develop a plurality of components in the second stage. Thereby, the sample 60 can be analyzed more simply and in a short time.
  • the fourth layer 34 to the nth layer 35 may not include the fourth metal oxide to the nth metal oxide, respectively.
  • the TLC plate 300 is at least selected from the fact that the compositions of the first layer 31 to the nth layer 35 are different from each other and the structures of the first layer 31 to the nth layer 35 are different from each other.
  • One requirement must be met.
  • each of the first layer 31 to the n-th layer 35 interacts differently with respect to a plurality of components included in the sample 60. Therefore, when a plurality of components are developed in each of the first layer 31 to the nth layer 35, different results are obtained in each of the first layer 31 to the nth layer 35.
  • the structures of the first layer 31 to the nth layer 35 are different from each other means, for example, the average pore diameter of the porous structure of each of the first layer 31 to the nth layer 35, the porosity of the porous structure, and This means that at least one selected from the average particle diameter of the porous structure material is different from each other.
  • the first layer 31 may not have a metal oxide film as in the first embodiment. With such a configuration, the same effect as that described in the first embodiment can be obtained.
  • the TLC plate 400 As shown in FIGS. 6A and 6B, the TLC plate 400 according to this embodiment includes a functional layer 50 disposed on the separation layer 20. Except for the functional layer 50, the structure of the TLC plate 400 is the same as the structure of the TLC plate 100 of the first embodiment.
  • the sample 60 When the sample 60 is placed on the functional layer 50, the sample 60 penetrates into the functional layer 50. The sample 60 extends over the entire functional layer 50. The sample 60 immersed in the functional layer 50 contacts the separation layer 20. Therefore, it is not necessary to divide the sample 60 into a plurality of times and place it on the separation layer 20. Thereby, the sample 60 can be efficiently placed on the separation layer 20.
  • the functional layer 50 is a belt-like layer.
  • the functional layer 50 has a rectangular and band shape in plan view.
  • the functional layer 50 is in contact with each of the first layer 31 and the second layer 32.
  • the functional layer 50 extends in the arrangement direction Y.
  • the functional layer 50 extends from one of the pair of end faces of the substrate 10 in the arrangement direction Y to the other.
  • the functional layer 50 may not extend from one of the end faces of the substrate 10.
  • the functional layer 50 may not extend to the other end surface of the substrate 10.
  • the functional layer 50 is disposed on each of the first layer 31 and the second layer 32.
  • the lower surface of the functional layer 50 and the upper surface of the first layer 31 form a boundary surface 42.
  • the lower surface of the functional layer 50 and the upper surface of the second layer 32 constitute a boundary surface 43.
  • Each of the boundary surfaces 42 and 43 extends in the arrangement direction Y.
  • the functional layer 50 has a porous structure.
  • the material of the porous structure of the functional layer 50 may be the same as that exemplified as the material of the porous structure of the first layer 31.
  • the average pore diameter of the porous structure of the functional layer 50 may be in the range of 0.01 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the porous structure of the functional layer 50 is composed of an aggregate of inorganic particles or polymer material particles, the average particle diameter of the inorganic particles or polymer material particles is in the range of 1 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less. Also good.
  • the functional layer 50 may further include the above-described additive.
  • the distance from the end 31a of the first layer 31 to the functional layer 50 in the development direction X is determined according to the height of the liquid surface of the development solvent 70 and the like.
  • the length of the functional layer 50 in the development direction X is determined according to the amount of the sample 60 placed on the functional layer 50 and the like.
  • the thickness of the functional layer 50 is determined according to the porous structure of the functional layer 50 and the like.
  • the thickness of the functional layer 50 is typically equal to the thickness L4 of the first layer 31.
  • the method exemplified in the first embodiment as a method for forming each of the first layer 31 and the second layer 32 on the substrate 10 is used. be able to.
  • the functional layer 50 has a porous structure. Therefore, when the sample 60 is placed on the functional layer 50, the sample 60 penetrates into the functional layer 50. The sample 60 extends over the entire functional layer 50. The sample 60 immersed in the functional layer 50 contacts the separation layer 20. Specifically, the sample 60 immersed in the functional layer 50 comes into contact with the first layer 31 through the boundary surface 42. As a result, the sample 60 penetrates into the first layer 31. The sample 60 immersed in the functional layer 50 comes into contact with the second layer 32 through the boundary surface 43. As a result, the sample 60 penetrates into the second layer 32. Since the sample 60 spreads over the entire functional layer 50, it is not necessary to divide the sample 60 into a plurality of times and place it on the separation layer 20. Thereby, the sample 60 can be efficiently placed on the separation layer 20.
  • the volume of the sample 60 to be placed on the functional layer 50 is, for example, 2 ⁇ L or more and 20 ⁇ L or less.
  • the first layer 31 may not have a metal oxide film as in the first embodiment. With such a configuration, the same effect as that described in the first embodiment can be obtained.

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Abstract

薄層クロマトグラフィープレートは、基板と、分離層とを備えている。分離層は、基板の上に配置され、試料に含まれた複数の成分を互いに分離するように構成されている。また、分離層は、第１層と、第２層とを含む。第１層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第２層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第１層及び第２層は、第１方向に直交する第２方向に配列されている。第１層のゼータ電位が第２層のゼータ電位と異なる。

Description

薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法
　本開示は、薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法に関する。
　複数の成分の混合物から特定の成分を分離するための方法として、クロマトグラフィー法、電気泳動法などが知られている。クロマトグラフィー法の１種である薄層クロマトグラフィー法は、簡便に、かつ短時間で複数の成分を互いに分離することを可能にする。
　図７に示すように、特許文献１には、第一の分離剤層５３１及び第二の分離剤層５３２を備える薄層クロマトグラフィープレート５００が記載されている。第二の分離剤層５３２は、第一の分離剤層５３１に隣接している。第一の分離剤層５３１及び第二の分離剤層５３２は、それぞれ、互いに異なる光学応答性を有する分離剤によって形成されている。
　薄層クロマトグラフィープレート５００を使用することによって、次のように複数の成分を互いに分離することができる。試料５６０を第一の分離剤層５３１に置き、方向Ｘに試料５６０を展開させる。次に、第二の分離剤層５３２を乾燥させる。次に、薄層クロマトグラフィープレート５００の向きを変えて、方向Ｘに直交する方向Ｙに試料５６０を展開させる。第二の分離剤層５３２において、複数の成分が互いに分離される。
国際公開第２０１１／１４９０４１号
　本開示の第１の態様に係る薄層クロマトグラフィープレートは、基板と、分離層とを備えている。分離層は、基板の上に配置され、試料に含まれた複数の成分を互いに分離するように構成されている。また、分離層は、第１層と、第２層とを含む。第１層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第２層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第１層及び第２層は、第１方向に直交する第２方向に配列される。第１層のゼータ電位が第２層のゼータ電位と異なる。
　本開示の第２の態様に係る試料の分析方法は、以下の手順を含む。第１の態様に係る薄層クロマトグラフィープレートの第１層及び第２層のそれぞれに試料を置く。第１方向における第１層及び第２層のそれぞれの端部を展開溶媒に接触させる。
　本開示の薄層クロマトグラフィープレートおよびそれを用いた試料の分析方法によれば、より簡便に、かつ短時間で試料を分析することができる。
図１Ａは、第１実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートの平面図である。 図１Ｂは、図１Ａに示す薄層クロマトグラフィープレートのＩＢ－ＩＢ線における断面図である。 図２Ａは、第１実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートの部分拡大断面図である。 図２Ｂは、第１実施形態の変形例にかかる薄層クロマトグラフィープレートの部分拡大断面図である。 図２Ｃは、第１実施形態の別の変形例にかかる薄層クロマトグラフィープレートの部分拡大断面図である。 図３Ａは、第１実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートに試料が置かれた状態を示す模式図である。 図３Ｂは、図３Ａの薄層クロマトグラフィープレートを展開溶媒に接触させた状態を示す模式図である。 図４Ａは、第２実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートの平面図である。 図４Ｂは、図４Ａに示す薄層クロマトグラフィープレートのＩＶＢ－ＩＶＢ線における断面図である。 図５Ａは、第３実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートの平面図である。 図５Ｂは、図５Ａに示す薄層クロマトグラフィープレートのＶＢ－ＶＢ線における断面図である。 図６Ａは、第４実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレートの平面図である。 図６Ｂは、図６Ａに示す薄層クロマトグラフィープレートのＶＩＢ－ＶＩＢ線に沿った断面図である。 図７は、従来の薄層クロマトグラフィープレートの平面図である。
　特許文献１に記載された方法によれば、第一の分離剤層５３１において試料を展開させたのち、薄層クロマトグラフィープレート５００の向きを変え、第二の分離剤層５３２において試料を展開させる必要がある。本開示は、より簡便に、かつ短時間で試料を分析するための技術を提供する。
　（本開示の基礎となった知見）
　人の肌に含まれているタンパク質を分析することにより、肌の状態を診断することができる。タンパク質の分析は、例えば、次のように行われる。被検者の肌から表皮等のサンプルを採取する。サンプルには、複数のタンパク質が含まれている。薄層クロマトグラフィー法によって、サンプルに含まれた複数のタンパク質を互いに分離する。互いに分離されたタンパク質のそれぞれを同定する。
　例えば、サンプルが、肌荒れに起因するタンパク質を含むとき、被検者の肌が肌荒れを起こしていることがわかる。被検者の肌の状態を把握できれば、被検者に適した化粧品を提案することができる。被検者の肌の状態を診断すること、及び、得られた診断結果に基づいて化粧品を提案することは、化粧品の小売店舗内で行うことが便宜である。このとき、被検者の待ち時間の間に、タンパク質の分析を迅速に行う必要がある。
　本開示の薄層クロマトグラフィープレートは、基板と、分離層とを備えている。分離層は、基板の上に配置され、試料に含まれた複数の成分を互いに分離するように構成されている。また、分離層は、第１層と、第２層とを含む。第１層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第２層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている。第１層及び第２層は、第１方向に直交する第２方向に配列される。第１層のゼータ電位が第２層のゼータ電位と異なる。
　本開示によれば、第１層のゼータ電位が第２層のゼータ電位と異なるので、試料に含まれた複数の成分と第１層との相互作用は、複数の成分と第２層との相互作用と異なる。そのため、第１層及び第２層のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層及び第２層のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層において互いに分離されなかった複数の成分は、第２層において互いに分離される。第２層において互いに分離されなかった複数の成分は、第１層において互いに分離される。そのため、複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定でき、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料を分析することができる。
　ここで、例えば、第１層は、第１の金属酸化物を含み、第２層は、第２の金属酸化物を含み、第１の金属酸化物の等電点が第２の金属酸化物の等電点と異なる構成とすることにより、第１層のゼータ電位と第２層のゼータ電位とを異ならせることができる。また、第１層及び第２層のうち、第２層の多孔質構造のみが金属酸化物で修飾されている構成とすることにより、第１層のゼータ電位と第２層のゼータ電位とを異ならせることができる。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１の金属酸化物は、第１層の多孔質構造の上に配置されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第１層との相互作用が促進される。そのため、第１層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１層は、第１層の多孔質構造の上に配置された第１の金属酸化膜を含み、第１の金属酸化膜が第１の金属酸化物から形成されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第１層との相互作用が促進される。そのため、第１層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１層の多孔質構造は、第１の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含み、第１の金属酸化膜が第１の金属酸化物から形成されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第１層との相互作用が促進される。そのため、第１層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第２の金属酸化物は、第２層の前記多孔質構造の上に配置されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第２層との相互作用が促進される。そのため、第２層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第２層は、第２層の多孔質構造の上に配置された第２の金属酸化膜を含み、第２の金属酸化膜が第２の金属酸化物から形成されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第２層との相互作用が促進される。そのため、第２層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第２層の多孔質構造は、第２の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含み、第２の金属酸化膜が第２の金属酸化物から形成されている。これにより、試料に含まれた複数の成分と第２層との相互作用が促進される。そのため、第２層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１層の多孔質構造は、それぞれ単一の組成の相を有する粒子の集合体を含む。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１の金属酸化物は、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。これにより、第１層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第２の金属酸化物は、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。これにより、第２層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートの第１層と第２層とが接している。これにより、分離層を容易に作製できる。
　また、例えば、薄層クロマトグラフィープレートは、分離層の上に配置され、試料を分離層に置くための帯状の機能層をさらに備え、機能層は、第２方向に延びている。これにより、機能層に試料を置くことによって、試料が機能層に浸み込む。試料は、機能層全体に広がる。機能層に浸み込んだ試料が分離層に接触する。そのため、試料を複数回に分けて、分離層に置く必要がない。これにより、効率的に、試料を分離層に置くことができる。
　本開示の試料の分析方法は、本開示の薄層クロマトグラフィープレートの第１層及び第２層のそれぞれに試料を置くことと、第１方向における第１層及び第２層のそれぞれの端部を展開溶媒に接触させることと、を含む。
　これにより、第１層及び第２層のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層において互いに分離されなかった複数の成分は、第２層において互いに分離される。第２層において互いに分離されなかった複数の成分は、第１層において互いに分離される。そのため、複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定できため、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料を分析することができる。
　また、例えば、試料の分析方法の展開溶媒が水を含む。これにより、第１層及び第２層が展開溶媒に接触したとき、第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれが帯電する。第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれに生じる電荷の種類又は電荷量は互いに異なる。そのため、試料に含まれた複数の成分と第１層との相互作用は、複数の成分と第２層との相互作用と大きく異なる。これにより、複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定することが容易になる。
　また、例えば、試料の分析方法の試料がタンパク質を含む。これにより、第１層又は第２層とタンパク質との相互作用が促進されることがある。これにより、第１層又は第２層において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら説明する。本開示は、以下の実施形態に限定されない。
　（第１実施形態）
　図１Ａ及び図１Ｂに示すように、本実施形態にかかる薄層クロマトグラフィープレート１００（以下、「ＴＬＣプレート１００」と称する）は、基板１０と分離層２０とを備えている。基板１０は、例えば、板状である。基板１０は、例えば、平面視で矩形の形状を有する。分離層２０は、基板１０の上に配置されている。分離層２０は、基板１０の表面を覆っている。基板１０は、互いに向かい合う１対の端面を２組有する。本実施形態において、展開方向Ｘ（第１方向）は、基板１０の１対の端面の一方から他方に向かう方向であり、試料に含まれた複数の成分を展開させる方向である。配列方向Ｙ（第２方向）は、基板１０の他の１対の端面の一方から他方に向かう方向であり、展開方向Ｘに直交する方向である。
　分離層２０は、試料に含まれた複数の成分を互いに分離するための層である。分離層２０は、第１層３１及び第２層３２を有する。第１層３１は、帯状の層である。第１層３１は、平面視で矩形かつ帯の形状を有する。第１層３１は、展開方向Ｘに延びている。第１層３１は、展開方向Ｘにおける基板１０の１対の端面の一方から他方まで延びている。ただし、第１層３１は、基板１０の他方の端面まで延びていなくてもよい。
　第２層３２は、帯状の層である。第２層３２は、平面視で矩形かつ帯の形状を有する。第２層３２は、展開方向Ｘに延びている。第２層３２は、展開方向Ｘにおける基板１０の１対の端面の一方から他方まで延びている。ただし、第２層３２は、基板１０の他方の端面まで延びていなくてもよい。
　第１層３１及び第２層３２の両方が基板１０の上に配置されている。言い換えれば、第１層３１及び第２層３２の両方が基板１０に接している。第１層３１及び第２層３２は、配列方向Ｙに配列されている。本実施形態では、第２層３２は、第１層３１に接している。第１層３１の側面と第２層３２の側面とが接している。分離層２０を平面視したとき、第１層３１の一辺が第２層３２の一辺に接している。第１層３１の一辺の長さは、第２層３２の一辺の長さに等しい。第１層３１と第２層３２とが接することにより境界面４０を構成している。境界面４０は、展開方向Ｘに延びている。ただし、第２層３２は、第１層３１に接していなくてもよい。
　基板１０の材料は、展開溶媒に溶出せず、ＴＬＣプレート１００の形状を維持できるものであれば特に限定されない。基板１０の材料は、例えば、ガラス、樹脂、金属又は紙である。基板１０は、典型的には、ガラス板又はアルミニウムフィルムである。
　第１層３１は、多孔質構造を有している。第１層３１の多孔質構造は、毛細管現象によって展開方向Ｘにおける第１層３１の一端から他端へと展開溶媒を導くことができる。多孔質構造の材料は、特に限定されない。多孔質構造の材料は、例えば、繊維材料、無機材料及び高分子材料からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。
　繊維材料は、例えば、植物繊維、動物繊維、再生繊維、合成繊維及びガラス繊維からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。植物繊維は、例えば、セルロースを含む。合成繊維は、例えば、酢酸セルロースを含む。
　無機材料は、例えば、アルミナ、二酸化ケイ素及びジルコニアからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。高分子材料は、例えば、アガロース、デキストラン、マンナン、フッ素樹脂、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリウレタン及びポリ塩化ビニルからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。
　多孔質構造は、例えば、ろ紙、無機粒子の集合体、高分子材料の多孔質体及び高分子材料の粒子の集合体からなる群より選ばれる少なくとも１つから構成されている。無機粒子は、例えば、アルミナ粒子、シリカゲル粒子、シリコンピラー、ゼオライト粒子、珪藻土及びジルコニア粒子からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。無機粒子は、疎水性の官能基又は親水性の官能基で修飾されていてもよい。疎水性の官能基は、例えば、末端に炭化水素基を有している官能基を含む。炭化水素基は、例えば、オクタデシル基、オクチル基、ｔ－ブチル基、トリメチルシリル基及びフェニル基からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。親水性の官能基は、例えば、シアノ基を有している官能基及びアミノ基を有している官能基からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。
　第１層３１の多孔質構造の平均孔径は、０．０１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。第１層３１の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、無機粒子又は高分子材料の粒子の平均粒径は、１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。「平均孔径」は、次の方法で測定することができる。すなわち、第１層３１の表面又は断面を電子顕微鏡（例えば走査電子顕微鏡）で観察する。観察された多孔質構造における複数の細孔（例えば任意の５０個の細孔）の孔径を測定する。得られた測定値を用いて算出された平均値により、平均孔径が定められる。電子顕微鏡で観察された細孔の面積と等しい面積を有する円の直径を孔径とみなすことができる。「平均粒径」は、次の方法で測定することができる。すなわち、第１層３１の表面又は断面を電子顕微鏡で観察し、第１層３１の多孔質構造を構成する任意の数の粒子（例えば５０個）の直径を測定する。得られた測定値を用いて算出された平均値により、平均粒径が定められる。電子顕微鏡で観察された粒子の面積と等しい面積を有する円の直径を粒径とみなすことができる。
　第１層３１は、第１の金属酸化物を含む。第１の金属酸化物は、金属酸化物である限り特に限定されない。第１の金属酸化物は、例えば、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第１の金属酸化物は、半金属の酸化物であってもよい。半金属の酸化物は、例えば、酸化ホウ素及び二酸化ケイ素からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造の材料と異なる。第１の金属酸化物の組成は、第１層３１の多孔質構造の組成と異なる。第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造に含まれていてもよい。
　第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造の一部に接していてもよい。第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造の上に配置されていてもよい。第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第１層３１の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、第１の金属酸化物は、第１層３１の多孔質構造を構成している複数の粒子の間に位置していてもよい。図２Ａに示すように、第１層３１の多孔質構造８０の上に第１の金属酸化膜８１が配置されていてもよい。第１の金属酸化膜８１は、第１の金属酸化物から形成される。図２Ｂに示すように、第１の金属酸化膜８１は、第１層３１の多孔質構造８０と基板１０との間に配置されていてもよい。第１の金属酸化物が第１層３１の多孔質構造８０に接しているとき、試料に含まれた複数の成分と第１層３１との相互作用が促進される。そのため、第１層３１において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。図２Ａにおいて、第１の金属酸化膜８１は、多孔質構造８０の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。図２Ｂにおいて、第１の金属酸化膜８１は、基板１０の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。
　図２Ｃに示すように、第１層３１の多孔質構造８０は、第１の金属酸化膜８１で被覆された粒子の集合体を含んでいてもよい。図２Ｃでは、第１層３１は、第１の金属酸化膜８１で被覆された粒子の集合体で構成されている。粒子は、例えば、無機粒子及び高分子材料の粒子からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第１の金属酸化膜８１は、粒子の表面全体を被覆していてもよく、粒子の表面の一部を被覆していてもよい。多孔質構造８０が第１の金属酸化膜８１で被覆された粒子の集合体を含むとき、試料に含まれた複数の成分と第１層３１との相互作用が促進される。そのため、第１層３１において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　粒子が第１の金属酸化膜８１によって被覆されていることは、第１層３１の断面を電子顕微鏡（例えば走査電子顕微鏡）で観察することによって確認できる。粒子が第１の金属酸化膜８１によって被覆されていることは、第１層３１の断面について元素分析を行うことによっても確認できる。元素分析は、例えば、Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ）又はエネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）により行うことができる。
　第１の金属酸化膜８１の厚さは、特に限定されない。第１の金属酸化膜８１の厚さは、第１の金属酸化膜８１の材料などに応じて定められる。第１の金属酸化膜８１が厚ければ厚いほど、第１層３１において試料を展開したときに、複数の成分が互いに分離しやすくなる傾向がある。第１の金属酸化膜８１が厚ければ厚いほど、第１層３１における展開溶媒の移動速度が低下する。第１の金属酸化膜８１の厚さは、例えば、１０ｎｍ以上、１０００ｎｍ以下である。
　第１層３１は、添加剤をさらに含んでいてもよい。添加剤としては、蛍光指示薬、バインダなどが挙げられる。
　蛍光指示薬としては、タングステン酸マグネシウム、マンガンを含有しているケイ酸亜鉛などが挙げられる。第１層３１が蛍光指示薬を含むとき、第１層３１に紫外線を照射することによって、複数の成分の位置を検出することができる。
　バインダは、例えば、無機バインダ、有機繊維、増粘剤及び有機バインダからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。無機バインダの例には、石膏及びコロイダルシリカが含まれる。有機繊維の例には、ミクロフィブリル化セルロースが含まれる。増粘剤の例には、ヒドロキシエチルセルロース及びカルボキシメチルセルロースが含まれる。有機バインダの例には、ポリビニルアルコール及びポリアクリル酸が含まれる。第１層３１がバインダを含むとき、基板１０と第１層３１との接着性が向上する。第１層３１の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体で構成されているとき、バインダにより、無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体の耐久性が向上する。
　上述した添加剤は、第１層３１の多孔質構造の材料に混合されていてもよい。添加剤は、多孔質構造を構成している無機粒子又は高分子材料の粒子の表面を被覆していてもよい。
　第２層３２は、多孔質構造を有している。第２層３２の多孔質構造は、毛細管現象によって展開方向Ｘにおける第２層３２の一端から他端へと展開溶媒を導くことができる。第２層３２の多孔質構造の材料は、第１層３１の多孔質構造の材料として例示したものと同じであってもよい。第２層３２の多孔質構造の平均孔径は、０．０１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。第２層３２の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、無機粒子又は高分子材料の粒子の平均粒径は、１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。
　第２層３２は、第２の金属酸化物を含む。第２の金属酸化物は、金属酸化物である限り特に限定されない。第２の金属酸化物は、例えば、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第２の金属酸化物は、半金属の酸化物であってもよい。半金属の酸化物は、例えば、酸化ホウ素及び二酸化ケイ素からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造の材料と異なる。第２の金属酸化物の組成は、第２層３２の多孔質構造の組成と異なる。第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造に含まれていてもよい。
　第２の金属酸化物は、第１の金属酸化物と異なる。具体的には、第２の金属酸化物の等電点は、第１の金属酸化物の等電点と異なる。第１の金属酸化物の等電点と第２の金属酸化物の等電点との差は、例えば、１～８である。「等電点」は、次の方法で測定することができる。すなわち、水を含んでいる溶媒と金属酸化物とを接触させる。金属酸化物の表面のゼータ電位を測定する。ゼータ電位は、例えば、市販のゼータ電位測定装置により測定できる。金属酸化物の表面のゼータ電位がゼロになるときの溶媒のｐＨの値を金属酸化物の等電点とみなすことができる。金属酸化物の等電点は、金属酸化物に応じて定まる。例えば、酸化スズの等電点は、典型的には、４．５～７．３である。酸化亜鉛の等電点は、典型的には、９．２である。酸化タングステンの等電点は、典型的には、０．５である。酸化ニッケルの等電点は、典型的には、１０．３±０．４である。酸化マグネシウムの等電点は、典型的には、１２．４±０．３である。二酸化ケイ素の等電点は、典型的には、１．８～２．２である。
　第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造の一部に接していてもよい。第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造の上に配置されていてもよい。第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第２層３２の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、第２の金属酸化物は、第２層３２の多孔質構造を構成している複数の粒子の間に位置していてもよい。第２層３２の多孔質構造の上に第２の金属酸化膜が配置されていてもよい。第２の金属酸化膜は、第２の金属酸化物から形成される。第２の金属酸化膜は、第２層３２の多孔質構造の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第２の金属酸化膜は、第２層３２の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第２の金属酸化膜は、基板１０の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第２の金属酸化物が第２層３２の多孔質構造に接しているとき、試料に含まれた複数の成分と第２層３２との相互作用が促進される。そのため、第２層３２において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第２層３２の多孔質構造は、第２の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含んでいてもよい。第２層３２は、第２の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体で構成されていてもよい。粒子は、例えば、無機粒子及び高分子材料の粒子からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第２の金属酸化膜は、粒子の表面全体を被覆していてもよく、粒子の表面の一部を被覆していてもよい。多孔質構造が第２の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含むとき、試料に含まれた複数の成分と第２層３２との相互作用が促進される。そのため、第２層３２において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第２の金属酸化膜の厚さは、特に限定されない。第２の金属酸化膜の厚さは、第２の金属酸化膜の材料などに応じて定められる。第２の金属酸化膜が厚ければ厚いほど、第２層３２において試料を展開したときに、複数の成分が互いに分離しやすくなる傾向がある。第２の金属酸化膜が厚ければ厚いほど、第２層３２における展開溶媒の移動速度が低下する。第２の金属酸化膜の厚さは、例えば、１０ｎｍ以上、１０００ｎｍ以下である。
　第２層３２は、上述した添加剤をさらに含んでいてもよい。
　展開方向Ｘについての第１層３１の長さＬ１は、特に限定されない。長さＬ１は、第１層３１の多孔質構造の材料、第１の金属酸化物、ＴＬＣプレート１００を収容するための容器の大きさなどに応じて定められる。長さＬ１は、例えば、２０ｍｍ以上、２００ｍｍ以下である。展開方向Ｘについての第２層３２の長さ及び基板１０の長さのそれぞれは、典型的には、長さＬ１に等しい。
　配列方向Ｙについての第１層３１の長さＬ２は、特に限定されない。長さＬ２は、第１層３１に置かれる試料の量などに応じて定められる。長さＬ２は、例えば、１０ｍｍ以上、１００ｍｍ以下である。
　配列方向Ｙについての第２層３２の長さＬ３は、特に限定されない。長さＬ３は、長さＬ２の取りうる値に等しい。展開方向Ｘについての基板１０の長さは、典型的には、長さＬ２及び長さＬ３を合計した値に等しい。
　第１層３１の厚さＬ４は、特に限定されない。厚さＬ４は、第１層３１の多孔質構造、第１の金属酸化物などに応じて定められる。厚さＬ４は、例えば、０．０５ｍｍ以上、１ｍｍ以下である。第２層３２の厚さは、典型的には、第１層３１の厚さＬ４に等しい。
　基板１０の厚さＬ５は、ＴＬＣプレート１００の形状を維持できる限り、特に限定されない。厚さＬ５は、例えば、０．１ｍｍ以上、５ｍｍ以下である。
　次に、ＴＬＣプレート１００の製造方法を説明する。
　まず、無機粒子又は高分子材料の粒子を含む第１分散液を調製する。第１分散液は、塗布用溶媒に無機粒子又は高分子材料の粒子を分散させることによって得られる。
　塗布用溶媒は、例えば、水及び有機溶媒からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。有機溶媒は、例えば、アルコール、ケトン、エーテル、ニトリル、スルホキシド、スルホン、エステル、カルボン酸、アミド、炭化水素、芳香族炭化水素及びハロゲン含有化合物からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。アルコールの例には、メタノール、エタノール及びイソプロピルアルコールが含まれる。ケトンの例には、アセトン及びエチルメチルケトンが含まれる。エーテルの例には、テトラヒドロフラン及びジオキサンが含まれる。ニトリルの例には、アセトニトリルが含まれる。スルホキシドの例には、ジメチルスルホキシドが含まれる。スルホンの例には、スルホランが含まれる。エステルの例には、酢酸エチルが含まれる。カルボン酸の例には、ギ酸及び酢酸が含まれる。アミドの例には、ジメチルホルムアミドが含まれる。炭化水素の例には、ペンタン及びヘキサンが含まれる。芳香族炭化水素の例には、ベンゼン、トルエン及びキシレンが含まれる。ハロゲン含有化合物の例には、塩化メチレン、クロロホルム、ブロモホルム、クロロベンゼン及びブロモベンゼンが含まれる。
　基板１０の表面の一部に第１分散液を塗布し、塗布膜を形成する。塗布膜を乾燥させることにより、第１層３１の前駆体層が基板１０の上に形成される。基板１０の表面の一部に、ろ紙又は高分子材料の多孔質体を圧着することにより、第１層３１の前駆体層を基板１０の上に形成してもよい。
　次に、第１層３１の前駆体層に第１の金属酸化物を堆積させる。これにより、第１層３１が基板１０の上に形成される。このとき、第１の金属酸化物を前駆体層に堆積させることにより、第１の金属酸化膜が形成されてもよい。第１の金属酸化物を堆積する方法としては、既知のマスクを用いたスパッタリング法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着法、真空蒸着法、化学蒸着法、化学的気相法などが挙げられる。本実施形態の製造方法では、第１層３１の前駆体層を形成したのちに、第１の金属酸化物を堆積させるため、第１層３１の作製が容易である。
　第１の金属酸化物は、予め基板１０の上に堆積させてもよい。このとき、第１の金属酸化物を基板１０の上に堆積させることにより、第１の金属酸化膜が形成されてもよい。堆積した第１の金属酸化物の上に第１分散液を塗布し、得られた塗布膜を乾燥させることによって、第１層３１が基板１０の上に形成される。第１の金属酸化物の上に、ろ紙又は高分子材料の多孔質体を圧着することにより、第１層３１を基板１０の上に形成してもよい。
　第１分散液は、第１の金属酸化物を含んでいてもよい。第１分散液は、第１の金属酸化膜で被覆された粒子を含んでいてもよい。第１の金属酸化膜で被覆された粒子は、例えば、次の方法によって作製できる。第１分散液に金属塩を溶解させる。金属塩は、例えば、チタン、アルミニウム、スズ、亜鉛、タングステン、マンガン、ニッケル、銅及びマグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つの塩である。金属塩が第１分散液に溶解することによって、錯化合物が生じる。錯化合物は、無機粒子又は高分子材料の粒子の表面に付着する。錯化合物が付着している無機粒子又は高分子材料の粒子に対して、金属酸化物が析出するように処理を行う。処理は、例えば、第１分散液のｐＨの変更、又は、錯化合物の酸化である。錯化合物の酸化は、例えば、無機粒子又は高分子材料の粒子を加熱することにより行われる。これにより、第１の金属酸化膜で被覆された粒子が得られる。
　次に、無機粒子又は高分子材料の粒子を含む第２分散液を調製する。第２分散液は、無機粒子又は高分子材料の粒子を塗布用溶媒に分散させることによって得られる。塗布用溶媒としては、上述したものを使用できる。
　基板１０の表面の一部に第２分散液を塗布し、塗布膜を形成する。塗布膜を乾燥させることにより、第２層３２の前駆体層が基板１０の上に形成される。基板１０の表面の一部に、ろ紙又は高分子材料の多孔質体を圧着することにより、第２層３２の前駆体層を基板１０の上に形成してもよい。
　次に、第２層３２の前駆体層に第２の金属酸化物を堆積させる。これにより、第２層３２が基板１０の上に形成される。このとき、第２の金属酸化物を前駆体層に堆積させることにより、第２の金属酸化膜が形成されてもよい。第２の金属酸化物の堆積は、上述した方法を利用できる。本実施形態の製造方法では、第２層３２の前駆体層を形成したのちに、第２の金属酸化物を堆積させるため、第２層３２の作製が容易である。
　第２の金属酸化物は、予め基板１０の上に堆積させてもよい。このとき、第２の金属酸化物を基板１０の上に堆積させることにより、第２の金属酸化膜が形成されてもよい。第２の金属酸化物の上に第２分散液を塗布し、得られた塗布膜を乾燥させることによって、第２層３２が基板１０の上に形成される。第２の金属酸化物の上に、ろ紙又は高分子材料の多孔質体を圧着することにより、第２層３２を基板１０の上に形成してもよい。
　第２分散液は、第２の金属酸化物を含んでいてもよい。第２分散液は、第２の金属酸化膜で被覆された粒子を含んでいてもよい。第２の金属酸化膜で被覆された粒子を作製する方法としては、例えば、第１の金属酸化膜で被覆された粒子を作製する方法として例示した方法を用いることができる。
　第１層３１及び第２層３２のそれぞれは、次の方法により形成してもよい。第１分散液を基板１０の表面全体に塗布し、塗布膜を形成する。塗布膜を乾燥させることにより、第１層３１の前駆体層と第２層３２の前駆体層とが基板１０の上に形成される。第１層３１の前駆体層に第１の金属酸化物を堆積させる。第２層３２の前駆体層に第２の金属酸化物を堆積させる。これにより、第１層３１及び第２層３２のそれぞれが基板１０の上に形成される。第１層３１及び第２層３２のそれぞれの前駆体層を形成したのちに、第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれを堆積させるため、分離層２０の作製が容易である。この方法により形成された分離層２０において、第１層３１の側面は、第２層３２の側面と接している。
　第１層３１及び第２層３２のそれぞれを基板１０の上に形成する順番は、特に限定されない。第２層３２を基板１０の上に形成したのちに、第１層３１を基板１０の上に形成してもよい。
　次に、ＴＬＣプレート１００を用いた試料の分析方法を説明する。
　まず、図３Ａに示すように、ＴＬＣプレート１００の分離層２０の第１層３１及び第２層３２のそれぞれに試料６０を置く。第１層３１に試料６０を置くことにより、第１層３１に試料６０が浸み込み、円形状のスポット６１が形成される。第２層３２に試料６０を置くことにより、第２層３２に試料６０が浸み込み、円形状のスポット６２が形成される。試料６０は、例えば、複数のタンパク質を含んでいる水溶液である。試料６０における複数のタンパク質の含有率は、例えば、０．０１重量％以上、１重量％以下である。第１層３１及び第２層３２のそれぞれに置かれた試料６０の容積は、例えば、０．５μＬ以上、１０μＬ以下である。第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて、試料６０を置くべき位置は、展開溶媒に試料６０が直接接触しない限り、特に限定されない。展開方向Ｘにおける第１層３１の端部を端部３１ａとし、展開方向Ｘにおける第２層３２の端部を端部３２ａとする。展開方向Ｘについての端部３１ａからスポット６１の重心までの距離は、展開方向Ｘについての端部３２ａからスポット６２の重心までの距離と等しくてもよい。
　次に、図３Ｂに示すように、第１層３１の端部３１ａ、及び、第２層３２の端部３２ａが下方に位置するように、ＴＬＣプレート１００を容器７５内に設置する。容器７５は、展開溶媒７０を収容している。容器７５は、例えば、ガラス瓶である。容器７５は、分析装置（図示省略）の内部に配置されていてもよい。
　展開溶媒７０は、第１層３１又は第２層３２に接触したとき、毛細管現象によって第１層３１又は第２層３２を移動できるものである限り、特に限定されない。展開溶媒７０は、水を含んでいてもよい。展開溶媒７０が水を含むとき、展開溶媒７０は、水を２０～１００重量％含有していてもよい。展開溶媒７０が水を含み、かつ、試料６０がタンパク質を含むとき、展開溶媒７０に対するタンパク質の溶解性が向上する。展開溶媒７０は、有機溶媒を含んでいてもよい。有機溶媒としては、塗布用溶媒として例示したものを使用できる。有機溶媒は、例えば、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、アセトニトリル及び酢酸からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。展開溶媒７０が有機溶媒を含むとき、展開溶媒７０は、有機溶媒を２０～１００重量％含有していてもよい。展開溶媒７０がカルボン酸を含み、かつ、試料６０がタンパク質を含むとき、第１層３１の多孔質構造及び第２層３２の多孔質構造のそれぞれに対するタンパク質の吸着脱離の頻度が向上する。展開溶媒７０は、水溶液であってもよい。水溶液の溶質は、例えば、リン酸塩、クエン酸塩、酢酸塩及びホウ酸塩からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。
　ＴＬＣプレート１００を容器７５内に設置したとき、第１層３１の端部３１ａ及び第２層３２の端部３２ａのそれぞれは、展開溶媒７０に接触する。展開溶媒７０の液面の高さは、展開溶媒７０と試料６０とが直接接触しない高さに設定されている。毛細管現象によって、展開溶媒７０は、第１層３１の端部３１ａ及び第２層３２の端部３２ａのそれぞれから展開方向Ｘに移動する。展開溶媒７０と試料６０とが接触することにより、試料６０に含まれた複数の成分が展開溶媒７０に溶解する。展開溶媒７０に溶解した複数の成分は、展開溶媒７０とともに、展開方向Ｘに移動する。スポット６１に位置していた複数の成分は、第１層３１の多孔質構造に対して吸着脱離を繰り返しつつ移動する。成分ごとに吸着脱離の頻度が異なるため、第１層３１において複数の成分が互いに分離される。スポット６２に位置していた複数の成分は、第２層３２の多孔質構造に対して吸着脱離を繰り返しつつ移動する。成分ごとに吸着脱離の頻度が異なるため、第２層３２において複数の成分が互いに分離される。
　複数の成分の位置を検出する方法は、特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、第１層３１及び第２層３２が蛍光指示薬を含有するとき、分離層２０に紫外線を照射することによって、複数の成分の位置を検出してもよい。このとき、複数の成分のそれぞれは、紫外線を吸収する化合物でありうる。分析装置は、紫外線を照射する機構を備えていてもよい。発色試薬を分離層２０に付着させることにより、複数の成分の位置を検出してもよい。このとき、必要に応じてＴＬＣプレート１００を加熱してもよい。発色試薬としては、公知のものを用いることができる。発色試薬としては、アニスアルデヒド、リンモリブデン酸、ヨウ素、ニンヒドリン、カメレオン液、２，４－ジニトロフェニルヒドラジン、塩化マンガン、ブロモクレゾールグリーンなどが挙げられる。
　試料６０を展開させたあとの複数の成分の位置は、条件が同じであれば、成分ごとに定まる。そのため、本実施形態の試料の分析方法では、互いに分離された複数の成分のそれぞれを同定することができる。例えば、試料６０を展開させる条件と同じ条件下で、構造が既知の成分をＴＬＣプレート１００に展開させる。展開させたあとの成分の位置と成分の構造とを対応させたデータを取得する。上記のデータは、分析装置のメモリに予め記憶されていてもよい。上記のデータに照らし合わせて、試料６０を展開させたあとの複数の成分のそれぞれの位置から複数の成分のそれぞれを同定できる。
　ＴＬＣプレート１００において、第１層３１に含まれた第１の金属酸化物の等電点は、第２層３２に含まれた第２の金属酸化物の等電点と異なる。すなわち、試料６０に含まれた複数の成分と第１層３１との相互作用は、複数の成分と第２層３２との相互作用と異なる。そのため、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて、複数の成分を展開したとき、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層３１において互いに分離されなかった複数の成分は、第２層３２において互いに分離される。第２層３２において互いに分離されなかった複数の成分は、第１層３１において互いに分離される。複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定できる。そのため、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料６０を分析することができる。
　展開溶媒７０が水を含むとき、第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれは、展開溶媒７０に濡れることによって帯電する。具体的には、展開溶媒７０のｐＨの値が金属酸化物の等電点より小さいとき、金属酸化物は正に帯電する。展開溶媒７０のｐＨの値が金属酸化物の等電点より大きいとき、金属酸化物は負に帯電する。第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれの等電点が互いに異なるため、第１の金属酸化物及び第２の金属酸化物のそれぞれに生じる電荷の種類又は電荷量が互いに異なる。これにより、複数の成分と第１層３１との相互作用は、複数の成分と第２層３２との相互作用と大きく異なる。そのため、複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定することが容易になる。
　試料６０がタンパク質を含むとき、第１層３１又は第２層３２とタンパク質との相互作用が促進されることがある。具体的には、タンパク質に含まれた特定の官能基が、第１の金属酸化物又は第２の金属酸化物に配位することがある。例えば、タンパク質がリン酸基を含むとき、リン酸基は、酸化チタンに配位する。タンパク質が糖鎖を含むとき、糖鎖は、酸化ホウ素に配位する。そのため、第１の金属酸化物又は第２の金属酸化物として、タンパク質に含まれた特定の官能基が配位可能な金属酸化物を選択したとき、第１層３１又は第２層３２において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　試料６０に含まれた複数の成分によっては、第１層３１は、第１の金属酸化物を含んでいなくてもよいことがある。同様に、第２層３２は、第２の金属酸化物を含んでいなくてもよいことがある。このとき、ＴＬＣプレート１００は、第１層３１の組成が第２層３２の組成と異なること、及び、第１層３１の構造が第２層３２の構造と異なること、から選ばれる少なくとも１つの要件を満足している必要がある。上記の要件を満足しているとき、試料６０に含まれた複数の成分と第１層３１との相互作用は、複数の成分と第２層３２との相互作用と異なる。そのため、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。「第１層３１の構造が第２層３２の構造と異なる」とは、例えば、第１層３１の多孔質構造の平均孔径、多孔質構造の空隙率、及び、多孔質構造の材料の平均粒径から選ばれる少なくとも１つが、第２層３２の多孔質構造のそれらと異なることを意味する。
　上記で説明した第１実施形態のＴＬＣプレート１００の構造として、第１層３１及び第２層３２のうち、第２層３２の多孔質構造のみが金属酸化物で修飾されている構成としてもよい。これにより、第１層３１のゼータ電位と第２層３２のゼータ電位とを異ならせることができる。
　すなわち、第１層３１は、金属酸化膜を有していない。第１層３１は、多孔質構造で構成されていてもよい。第１層３１の多孔質構造は、それぞれ単一の組成の相を有する粒子の集合体を含んでいてもよく、それぞれ単一の組成の相を有する粒子の集合体から構成されていてもよい。「単一の組成の相を有する粒子」とは、粒子内で組成の偏りがないことを意味する。すなわち、粒子が金属酸化膜で被覆されていないことを意味する。
　一方、第２層３２の多孔質構造は、金属酸化膜で修飾されている。「多孔質構造が金属酸化膜で修飾されている」とは、多孔質構造が金属酸化膜で被覆されていること、又は、多孔質構造を構成するための粒子の表面が金属酸化膜で被覆されていることを意味する。すなわち、第２層３２は、金属酸化膜を有する。金属酸化膜は、金属酸化物でできている。金属酸化物は、例えば、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。金属酸化物は、半金属の酸化物であってもよい。半金属の酸化物は、例えば、酸化ホウ素及び二酸化ケイ素からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。金属酸化膜の材料は、第２層３２の多孔質構造の材料と異なる。金属酸化膜の組成は、第２層３２の多孔質構造の組成と異なる。
　このような構造のＴＬＣプレート１００において、第１層３１及び第２層３２のうち、第２層３２の多孔質構造のみが金属酸化膜で修飾されている。すなわち、試料６０に含まれた複数の成分と第１層３１との相互作用は、複数の成分と第２層３２との相互作用と異なる。そのため、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて、複数の成分を展開したとき、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層３１において互いに分離されなかった複数の成分は、第２層３２において互いに分離される。第２層３２において互いに分離されなかった複数の成分は、第１層３１において互いに分離される。複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定できる。そのため、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料６０を分析することができる。
　（第２実施形態）
　図４Ａ及び図４Ｂに示すように、本実施形態にかかるＴＬＣプレート２００は、第１層３１、第２層３２及び第３層３３を有する分離層２１を備えている。第３層３３を除き、ＴＬＣプレート２００の構造は、第１実施形態のＴＬＣプレート１００の構造と同じである。したがって、第１実施形態のＴＬＣプレート１００と本実施形態のＴＬＣプレート２００とで共通する要素には同じ参照符号を付し、それらの説明を省略することがある。すなわち、以下の各実施形態に関する説明は、技術的に矛盾しない限り、相互に適用されうる。さらに、技術的に矛盾しない限り、各実施形態は、相互に組み合わされてもよい。
　第３層３３は、帯状の層である。第３層３３は、平面視で矩形かつ帯の形状を有する。第３層３３は、展開方向Ｘに延びている。第３層３３は、展開方向Ｘにおける基板１０の１対の端面の一方から他方まで延びている。ただし、第３層３３は、基板１０の他方の端面まで延びていなくてもよい。
　本実施形態において、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれが基板１０の上に配置されている。言い換えれば、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれが基板１０に接している。配列方向Ｙにおいて、第１層３１、第２層３２及び第３層３３がこの順番で並んでいる。第３層３３は、第２層３２に接している。第３層３３の側面と第２層３２の側面とが接している。分離層２１を平面視したとき、第３層３３の一辺が第２層３２の一辺に接している。第３層３３の一辺の長さは、第２層３２の一辺の長さに等しい。第２層３２と第３層３３とが接することにより境界面４１を構成している。境界面４１は、展開方向Ｘに延びている。ただし、第３層３３は、第２層３２に接していなくてもよい。
　第３層３３は、多孔質構造を有している。第３層３３の多孔質構造は、毛細管現象によって展開方向Ｘにおける第３層３３の一端から他端へと展開溶媒を導くことができる。第３層３３の多孔質構造の材料は、第１層３１の多孔質構造の材料として例示したものと同じであってもよい。第３層３３の多孔質構造の平均孔径は、０．０１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。第３層３３の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、無機粒子又は高分子材料の粒子の平均粒径は、１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。
　第３層３３は、第３の金属酸化物を含む。第３の金属酸化物は、第１の金属酸化物として例示したものと同じであってもよい。第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造の材料と異なる。第３の金属酸化物の組成は、第３層３３の多孔質構造の組成と異なる。第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造に含まれていてもよい。第１の金属酸化物の等電点、第２の金属酸化物の等電点及び第３の金属酸化物の等電点のそれぞれは互いに異なる。第３の金属酸化物の等電点と第１の金属酸化物の等電点との差、及び、第３の金属酸化物の等電点と第２の金属酸化物の等電点との差は、それぞれ、例えば、１～８である。
　第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造の一部に接していてもよい。第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造の上に配置されていてもよい。第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第３層３３の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、第３の金属酸化物は、第３層３３の多孔質構造を構成している複数の粒子の間に位置していてもよい。第３層３３の多孔質構造の上に第３の金属酸化膜が配置されていてもよい。第３の金属酸化膜は、第３の金属酸化物から形成される。第３の金属酸化膜は、第３層３３の多孔質構造の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第３の金属酸化膜は、第３層３３の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第３の金属酸化膜は、基板１０の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第３の金属酸化物が第３層３３の多孔質構造に接しているとき、試料６０に含まれた複数の成分と第３層３３との相互作用が促進される。そのため、第３層３３において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第３層３３の多孔質構造は、第３の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含んでいてもよい。第３層３３は、第３の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体で構成されていてもよい。粒子は、例えば、無機粒子及び高分子材料の粒子からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第３の金属酸化膜は、粒子の表面全体を被覆していてもよく、粒子の表面の一部を被覆していてもよい。多孔質構造が第３の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含むとき、試料６０に含まれた複数の成分と第３層３３との相互作用が促進される。そのため、第３層３３において、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第３の金属酸化膜の厚さは、特に限定されない。第３の金属酸化膜の厚さは、第３の金属酸化膜の材料などに応じて定められる。第３の金属酸化膜が厚ければ厚いほど、第３層３３において試料を展開したときに、複数の成分が互いに分離しやすくなる傾向がある。第３の金属酸化膜が厚ければ厚いほど、第３層３３における展開溶媒の移動速度が低下する。第３の金属酸化膜の厚さは、例えば、１０ｎｍ以上、１０００ｎｍ以下である。
　第３層３３は、上述した添加剤をさらに含んでいてもよい。
　展開方向Ｘについての第３層３３の長さは、典型的には、ＴＬＣプレート１００の第１層３１の長さＬ１に等しい。配列方向Ｙについての第３層３３の長さは、典型的には、ＴＬＣプレート１００の第１層３１の長さＬ２に等しい。
　第３層３３を基板１０の上に形成する方法としては、例えば、第１実施形態において、第１層３１及び第２層３２のそれぞれを基板１０の上に形成する方法として例示した方法を用いることができる。
　ＴＬＣプレート２００において、第１の金属酸化物の等電点、第２の金属酸化物の等電点及び第３の金属酸化物の等電点のそれぞれは互いに異なる。そのため、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて、複数の成分を展開したとき、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層３１及び第２層３２のそれぞれにおいて互いに分離されなかった複数の成分は、第３層３３において互いに分離される。複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定できる。そのため、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料６０を分析することができる。
　試料６０に含まれた複数の成分によっては、第３層３３は、第３の金属酸化物を含んでいなくてもよいことがある。このとき、ＴＬＣプレート２００は、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれの組成が互いに異なること、並びに、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれの構造が互いに異なること、から選ばれる少なくとも１つの要件を満足している必要がある。上記の要件を満足しているとき、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれは、試料６０に含まれた複数の成分に対して、互いに異なる相互作用を及ぼす。そのため、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。「第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれの構造が互いに異なる」とは、例えば、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれの多孔質構造の平均孔径、多孔質構造の空隙率、及び、多孔質構造の材料の平均粒径から選ばれる少なくとも１つが、互いに異なることを意味する。
　上記で説明した第２実施形態のＴＬＣプレート２００の構造として、第１実施形態と同様に第１層３１が金属酸化膜を有していない構成としてもよい。このような構成により、第１実施形態において記載した効果と同様の効果が得られる。
　（第３実施形態）
　図５Ａ及び図５Ｂに示すように、本実施形態にかかるＴＬＣプレート３００は、第２実施形態のＴＬＣプレート２００の構成に加え、第４層３４～第ｎ層３５をさらに備えている。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、試料６０に含まれた複数の成分に対して、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれとは異なる相互作用を及ぼす。そのため、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて互いに分離されなかった複数の成分は、第４層３４～第ｎ層３５のいずれかにおいて互いに分離される。
　第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、帯状の層である。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、平面視で矩形かつ帯の形状を有する。ｎは、４以上の整数である。ｎは、例えば、５～１０の整数である。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、展開方向Ｘに延びている。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、展開方向Ｘにおける基板１０の１対の端面の一方から他方まで延びている。ただし、第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、基板１０の他方の端面まで延びていなくてもよい。
　本実施形態において、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれが基板１０の上に配置されている。言い換えれば、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれが基板１０に接している。配列方向Ｙにおいて、第１層３１～第ｎ層３５がこの順番で並んでいる。第４層３４～第ｎ層３５は、それぞれ、第３層３３～第（ｎ－１）層（図示省略）に接している。分離層２２を平面視したとき、第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの一辺が、第３層３３～第（ｎ－１）層のそれぞれの一辺に接している。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの一辺の長さは、第３層３３～第（ｎ－１）層のそれぞれの一辺の長さに等しい。ただし、第４層３４～第ｎ層３５は、それぞれ、第３層３３～第（ｎ－１）層に接していなくてもよい。
　第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、多孔質構造を有している。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの多孔質構造は、毛細管現象によって展開方向Ｘにおける第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの一端から他端へと展開溶媒を導くことができる。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの多孔質構造の材料は、第１層３１の多孔質構造の材料として例示したものと同じであってもよい。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの多孔質構造の平均孔径は、０．０１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、無機粒子又は高分子材料の粒子の平均粒径は、１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。
　第４層３４～第ｎ層３５は、それぞれ、第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物を含む。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物のそれぞれは、第１の金属酸化物として例示したものと同じであってもよい。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の材料と異なる。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物の組成は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の組成と異なる。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造に含まれていてもよい。第１の金属酸化物～第ｎの金属酸化物のそれぞれの等電点は、互いに異なる。
　第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の一部に接していてもよい。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の上に配置されていてもよい。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造を構成している複数の粒子の間に位置していてもよい。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の上に配置されていてもよい。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜は、それぞれ、第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物から形成される。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜は、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造と基板１０との間に配置されていてもよい。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれは、基板１０の表面を部分的に被覆しているだけでもよい。第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物が、それぞれ、第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造に接しているとき、試料６０に含まれた複数の成分と第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれとの相互作用が促進される。そのため、第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれにおいて、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造は、それぞれ、第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含んでいてもよい。第４層３４～第ｎ層３５は、それぞれ、第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜で被覆された粒子の集合体で構成されていてもよい。粒子は、例えば、無機粒子及び高分子材料の粒子からなる群より選ばれる少なくとも１つを含む。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれは、粒子の表面全体を被覆していてもよく、粒子の表面の一部を被覆していてもよい。第４層３４～第ｎ層３５の多孔質構造が、それぞれ、第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含むとき、試料６０に含まれた複数の成分と第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれとの相互作用が促進される。そのため、第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれにおいて、複数の成分を互いに分離することが容易になることがある。
　第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれの厚さは、特に限定されない。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜の厚さは、それぞれ、第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜の材料などに応じて定められる。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれが厚ければ厚いほど、展開方向Ｘに試料を展開したときに、複数の成分が互いに分離しやすくなる傾向がある。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれが厚ければ厚いほど、第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれにおける展開溶媒の移動速度が低下する。第４の金属酸化膜～第ｎの金属酸化膜のそれぞれの厚さは、例えば、１０ｎｍ以上、１０００ｎｍ以下である。
　第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれは、上述した添加剤をさらに含んでいてもよい。
　展開方向Ｘについての第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの長さは、典型的には、ＴＬＣプレート１００の第１層３１の長さＬ１に等しい。配列方向Ｙについての第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれの長さは、典型的には、ＴＬＣプレート１００の第１層３１の長さＬ２に等しい。
　第４層３４～第ｎ層３５のそれぞれを基板１０の上に形成する方法としては、例えば、第１実施形態において、第１層３１及び第２層３２のそれぞれを基板１０の上に形成する方法として例示した方法を用いることができる。
　ＴＬＣプレート３００において、第１の金属酸化物～第ｎの金属酸化物のそれぞれの等電点は互いに異なる。そのため、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。例えば、第１層３１、第２層３２及び第３層３３のそれぞれにおいて互いに分離されなかった複数の成分は、第４層３４～第ｎ層３５のいずれかにおいて互いに分離される。複数の成分を第１段階で展開した結果に基づいて、複数の成分のそれぞれを同定できる。そのため、複数の成分を第２段階で展開する必要がない。これにより、より簡便に、かつ短時間で試料６０を分析することができる。
　試料６０に含まれた複数の成分によっては、第４層３４～第ｎ層３５は、それぞれ、第４の金属酸化物～第ｎの金属酸化物を含んでいなくてもよいことがある。このとき、ＴＬＣプレート３００は、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれの組成が互いに異なること、及び、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれの構造が互いに異なること、から選ばれる少なくとも１つの要件を満足している必要がある。上記の要件を満足しているとき、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれは、試料６０に含まれた複数の成分に対して、互いに異なる相互作用を及ぼす。そのため、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて複数の成分を展開したとき、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれにおいて互いに異なる結果が得られる。「第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれの構造が互いに異なる」とは、例えば、第１層３１～第ｎ層３５のそれぞれの多孔質構造の平均孔径、多孔質構造の空隙率、及び、多孔質構造の材料の平均粒径から選ばれる少なくとも１つが互いに異なることを意味する。
　上記で説明した第３実施形態のＴＬＣプレート３００の構造として、第１実施形態と同様に第１層３１が金属酸化膜を有していない構成としてもよい。このような構成により、第１実施形態において記載した効果と同様の効果が得られる。
　（第４実施形態）
　図６Ａ及び図６Ｂに示すように、本実施形態にかかるＴＬＣプレート４００は、分離層２０の上に配置された機能層５０を備えている。機能層５０を除き、ＴＬＣプレート４００の構造は、第１実施形態のＴＬＣプレート１００の構造と同じである。機能層５０に試料６０を置いたとき、試料６０は、機能層５０に浸み込む。試料６０は、機能層５０全体に広がる。機能層５０に浸み込んだ試料６０は、分離層２０に接触する。そのため、試料６０を複数回に分けて、分離層２０に置く必要がない。これにより、効率的に、試料６０を分離層２０に置くことができる。
　機能層５０は、帯状の層である。機能層５０は、平面視で矩形かつ帯の形状を有する。機能層５０は、第１層３１及び第２層３２のそれぞれに接している。機能層５０は、配列方向Ｙに延びている。機能層５０は、配列方向Ｙにおける基板１０の１対の端面の一方から他方まで延びている。ただし、機能層５０は、第１層３１及び第２層３２のそれぞれに接している限り、基板１０の端面の一方から延びていなくてもよい。機能層５０は、基板１０の端面の他方まで延びていなくてもよい。
　機能層５０は、第１層３１及び第２層３２のそれぞれの上に配置されている。機能層５０の下面と第１層３１の上面とが境界面４２を構成している。機能層５０の下面と第２層３２の上面とが境界面４３を構成している。境界面４２及び４３のそれぞれは、配列方向Ｙに延びている。
　機能層５０は、多孔質構造を有している。機能層５０の多孔質構造の材料は、第１層３１の多孔質構造の材料として例示したものと同じであってもよい。機能層５０の多孔質構造の平均孔径は、０．０１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。機能層５０の多孔質構造が無機粒子又は高分子材料の粒子の集合体から構成されているとき、無機粒子又は高分子材料の粒子の平均粒径は、１μｍ以上、１００μｍ以下の範囲にあってもよい。機能層５０は、上述した添加剤をさらに含んでいてもよい。
　展開方向Ｘについての第１層３１の端部３１ａから機能層５０までの距離は、展開溶媒７０の液面の高さなどに応じて定められる。展開方向Ｘについての機能層５０の長さは、機能層５０に置かれる試料６０の量などに応じて定められる。機能層５０の厚さは、機能層５０の多孔質構造などに応じて定められる。機能層５０の厚さは、典型的には、第１層３１の厚さＬ４に等しい。
　機能層５０を分離層２０の上に形成する方法としては、例えば、第１実施形態において、第１層３１及び第２層３２のそれぞれを基板１０の上に形成する方法として例示した方法を用いることができる。
　機能層５０は、多孔質構造を有する。そのため、機能層５０に試料６０を置いたとき、試料６０は、機能層５０に浸み込む。試料６０は、機能層５０全体に広がる。機能層５０に浸み込んだ試料６０は、分離層２０に接触する。具体的には、機能層５０に浸み込んだ試料６０は、境界面４２を通じて、第１層３１に接触する。これにより、試料６０が第１層３１に浸み込む。機能層５０に浸み込んだ試料６０は、境界面４３を通じて、第２層３２に接触する。これにより、試料６０が第２層３２に浸み込む。試料６０が機能層５０全体に広がるため、試料６０を複数回に分けて、分離層２０に置く必要がない。これにより、効率的に、分離層２０に試料６０を置くことができる。機能層５０に置くべき試料６０の容積は、例えば、２μＬ以上、２０μＬ以下である。
　上記で説明した第４実施形態のＴＬＣプレート４００の構造として、第１実施形態と同様に第１層３１が金属酸化膜を有していない構成としてもよい。このような構成により、第１実施形態において記載した効果と同様の効果が得られる。
　本明細書に開示された技術は、タンパク質の分析などに有用である。
１０　基板
２０，２１，２２　分離層
３１　第１層
３２　第２層
５０　機能層
６０　試料
１００，２００，３００，４００　ＴＬＣプレート（薄層クロマトグラフィープレート）
Ｘ　展開方向（第１方向）
Ｙ　配列方向（第２方向）

Claims (17)

  1. 　基板と、
    　前記基板の上に配置され、試料に含まれた複数の成分を互いに分離するための分離層と、を備え、
    　前記分離層は、多孔質構造を有し、第１方向に延びている第１層と、多孔質構造を有し、前記第１方向に延びている第２層とを含み、
    　前記第１層及び前記第２層は、前記第１方向に直交する第２方向に配列され、
    　前記第１層のゼータ電位が前記第２層のゼータ電位と異なる、薄層クロマトグラフィープレート。
  2. 　前記第１層は、第１の金属酸化物を含み、
    　前記第２層は、第２の金属酸化物を含み、
    　前記第１の金属酸化物の等電点が前記第２の金属酸化物の等電点と異なる、請求項１に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  3. 　前記第１層及び前記第２層のうち、前記第２層の前記多孔質構造のみが金属酸化物で修飾されている、請求項１に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  4. 　前記第１の金属酸化物は、前記第１層の前記多孔質構造の上に配置されている、請求項２に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  5. 　前記第１層は、前記第１層の前記多孔質構造の上に配置された第１の金属酸化膜を含み、
    　前記第１の金属酸化膜が前記第１の金属酸化物から形成されている、請求項２に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  6. 　前記第１層の前記多孔質構造は、第１の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含み、
    　前記第１の金属酸化膜が前記第１の金属酸化物から形成されている、請求項２または４に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  7. 　前記第２の金属酸化物は、前記第２層の前記多孔質構造の上に配置されている、請求項２～６のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  8. 　前記第２層は、前記第２層の前記多孔質構造の上に配置された第２の金属酸化膜を含み、
    　前記第２の金属酸化膜が前記第２の金属酸化物から形成されている、請求項２～６のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  9. 　前記第２層の前記多孔質構造は、第２の金属酸化膜で被覆された粒子の集合体を含み、
    　前記第２の金属酸化膜が前記第２の金属酸化物から形成されている、請求項２～７のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  10. 　前記第１層の前記多孔質構造は、それぞれ単一の組成の相を有する粒子の集合体を含む、請求項３、７および９のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  11. 　前記第１の金属酸化物は、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む、請求項２および請求項４～１０のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  12. 　前記第２の金属酸化物は、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化タングステン、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化銅及び酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも１つを含む、請求項２～１１のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  13. 　前記第１層と前記第２層とが接している、請求項２～１２のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  14. 　前記分離層の上に配置され、試料を前記分離層に置くための帯状の機能層をさらに備え、
    　前記機能層は、前記第２方向に延びている、請求項２～１３のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレート。
  15. 　請求項１～１４のいずれか１項に記載の薄層クロマトグラフィープレートの前記第１層及び前記第２層のそれぞれに試料を置くことと、
    　前記第１方向における前記第１層及び前記第２層のそれぞれの端部を展開溶媒に接触させることと、を含む、試料の分析方法。
  16. 　前記展開溶媒が水を含む、請求項１５に記載の試料の分析方法。
  17. 　前記試料がタンパク質を含む、請求項１５又は１６に記載の試料の分析方法。
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