WO2017109439A1 - Dispositif et procédé de test d'un système électronique - Google Patents

Dispositif et procédé de test d'un système électronique Download PDF

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WO2017109439A1
WO2017109439A1 PCT/FR2016/053667 FR2016053667W WO2017109439A1 WO 2017109439 A1 WO2017109439 A1 WO 2017109439A1 FR 2016053667 W FR2016053667 W FR 2016053667W WO 2017109439 A1 WO2017109439 A1 WO 2017109439A1
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WO
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electronic equipment
signal
radiation
irradiation
testing
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PCT/FR2016/053667
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Inventor
Florent Miller
Sébastien MORAND
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Airbus Group Sas
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    • G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
    • G01R31/311—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of integrated circuits

Definitions

  • the present invention relates to a method and a device for characterizing the sensitivity of electronic equipment to the effects of radiation.
  • the present invention finds a particularly advantageous application in high frequency laser testing of the sensitivity of electronic components embedded in the equipment of the aerospace field vis-à-vis radiation.
  • the characterization tests of electronic equipment with sensitivity to the effects of radiation generally consist in subjecting electronic equipment to controlled irradiation in order to determine the consequences of radiation on the operation of the equipment and possibly to determine the more particularly sensitive areas of the system. .
  • the characterization of the sensitivity of the electronic equipment to the radiative effects is carried out by exposing test equipment to real radiation that can be created by various means.
  • particle accelerator tests natural radiative environment tests, ion microbeam tests, radioactive source tests, and pulsed X-ray or Gamma beam tests are performed.
  • the implementation of sub-tests reproducing the effect of the radiative environment has among other things the ability to excite a physical element on a known area.
  • This excitation zone is a function of the nature of the irradiation. In the case of a laser excitation it depends on the incidence parameters of the laser with respect to the physical element tested.
  • this approach is carried out in a step-by-step manner by transmitting one or more pulses for each zone of the device.
  • the transition to a new zone of the device is performed manually or by automated elements such as displacement plates allowing either the displacement of the source or the component.
  • This measurement may comprise a direct physical measurement such as the capture of an infrared spectrum.
  • This measurement may comprise a functional test by measuring the alterations of the data on the outputs of an electronic card as presented in the document of the prior art FR 2919402.
  • Documents FR 2900242 and FR 2979708 detail methods for characterizing the sensitivity of an electronic component respectively to a focused laser radiation and to an irradiation with an ionizing radiation source.
  • the laser firing orders are given by a control system to which the laser controller is connected, usually a computer.
  • This same control system also controls the movement of the decks to choose the position at which the laser firing will take place.
  • the control system activates the displacement plates, verifies that the position reached is the desired one, performs the laser shot, makes the appropriate measurements and then reproduces this sequence to perform the test on a following position defined in the procedure of test.
  • the order of magnitude of the firing frequency reached by this type of approach is a few shots per second. Since the surfaces to be subjected to radiation exposure are generally between 0.1 and 10 square centimeters, the need to obtain a total coverage rate of the device and the size of the focused laser beam of the order of two micrometers do not cover all the test cases in an industrially effective time.
  • the present invention aims to remedy all or part of these disadvantages.
  • the present invention relates to a device for testing an electronic equipment which comprises: a board comprising a power supply and a means capable of performing an operating measurement during the test, the board also comprising at least one encoder delivering a signal, representative of a distance traveled by the board,
  • irradiation means with respect to the electronic equipment and configured to subject it to radiation
  • the signal is transmitted to the irradiation means and in that the emission of radiation is initiated by receiving a predetermined signal.
  • the proposed solution makes it possible to optimize the duration of the laser tests and to bypass the control system synchronizing all the elements of a laser bench.
  • the invention makes it possible in particular to generate the irradiation orders, for example laser shots, by the displacement stage.
  • the invention consists in setting up a control of the irradiation means controlled directly by the displacement of the motorized plates and no longer controlled by the control system.
  • some displacement plates on which the electronic equipment is based are provided with encoders, or any other systems allowing the plates to send a logic or analog signal whenever positions or distances specified in advance are reached. These deliver a predetermined signal, characterized by its shape and duration, for a distance traveled by the plate and therefore by the tested electronic equipment which is integral with it.
  • the invention uses this route information to synchronize the moment of fire with the movement of the motorized stage.
  • the laser pulse duration is of the order of less than one nanosecond and the startup times of the laser source of the order of one hundred nanoseconds are sufficiently short for the laser pulse is located in the area of interest.
  • a sensitivity map is obtained with a chain generating the laser shots in a conventional manner, via input-output boards connected to a computer operating an operating system in which is executed a platinum control program, at a frequency of the order of a few Hertz.
  • the control mode of the laser controlled by a signal generated during the displacement of the stage makes it possible to reach frequencies of the order of two hundred to two thousand Hertz or more depending on the technical characteristics of the plates and the laser.
  • the invention allows a continuous displacement with regular emission of irradiation on the electronic equipment tested, the invention makes it possible to overcome the phases of acceleration / deceleration of the stage by working on signals logic or analog sent by the motors and directly interfaced with the irradiation means.
  • the frequency of the shots is dimensioned by the speed of the plates and the performance of the encoders.
  • the invention makes it possible to implement a device for testing electronic equipment with a frequency nearly a thousand times faster than the solutions proposed by the prior art.
  • An example of a practical application may be the evaluation of the latch-up sensitivity of an electronic component of one centimeter by one centimeter which can be accurately evaluated in less than twenty minutes where the tests disclosed by the prior art would require several hours.
  • the invention proposes to meet this need by drastically reducing the duration of tests.
  • the signal is transmitted to the means capable of performing an operation measurement and an operation measurement is initiated by receiving a predetermined signal.
  • the means for measuring the operation which may consist for example of a sensor or the evaluation of output data of the electronic equipment under test, may be actuated by the displacement of the plate in a manner similar to the triggering of a radiation described above.
  • the plate is configured to move along three axes X, Y and Z forming an orthogonal reference, an encoder delivering a signal representative of a distance traveled by the plate along the Z axis only and in which the The emission of a radiation is triggered by the reception of a signal so that a displacement along the X and Y axes makes it possible to position the device and that a displacement along the Z axis makes it possible to control the emission of radiation. .
  • the displacement of the plate in one dimension can be used as control means of the irradiation means.
  • a displacement along the X and Y axes will position the tested electronic equipment relative to the irradiation means but without triggering irradiation.
  • an X-axis displacement with periodic movements along the Z axis will make it possible to displace the irradiation means by producing regular radiation throughout the movement.
  • an encoder per axis delivering a signal representative of a distance traveled by the platen along the axis in question will provide a pulse of the displacements on each axis.
  • the tested electronic equipment includes a clock outputting a plurality of clock signals that pace the operation of the electronic equipment and wherein at least one of a radiation emission operation, a setting of a predetermined operating state of the electronic equipment, or a measurement of operation of the electronic equipment is synchronized to the transmission of the clock signal.
  • This embodiment is particularly advantageous for evaluating electronic equipment in a particular operating state.
  • the execution of a step of a program implemented during the test by the electronic equipment may be synchronized with the emission of a radiation.
  • the device comprises a delay line connected to at least one encoder which, upon receiving a signal, delivers a delayed signal after a predetermined time.
  • a delay line is a device in which a signal passes from the input to the output in a period of time defined in advance. We can also use the term delay generator.
  • a delay line may be electronic or optical in nature.
  • the transmission of the signal emitted by the encoder can be delayed.
  • This arrangement makes it possible to synchronize between them different elements implemented during the test or to fix a fixed time between two elements.
  • the same signal can be delivered directly by means of irradiation and at the delay line.
  • the delay line then transmits a delayed signal to the operation measurement means to establish a controlled delay between the radiation exposure and the operation measurement.
  • One aspect of the invention is the spatially resolved high speed test.
  • Another aspect lies in the temporal mapping of sensitivity. Indeed, in an operating cycle (clocking of a program, execution time), it is possible from the synchronous chain to act precisely on the component by delaying more or less the delay between the irradiation and the startup of the component. Thus, performing this temporal mapping at particular points of the component is another interest of the synchronous chain.
  • a plurality of signals are combined to form a signal transmitted by the irradiation means and the emission of radiation is initiated by receiving a predetermined signal.
  • the logic signals emanating from several encoders can be combined before transmission by means of irradiation.
  • a series of tests, by irradiation then measurement of the operation of the electronic equipment, positioned according to a predetermined path, is interrupted as soon as a loss of functionality is measured during a measurement of operation.
  • loss of functionality is meant an unwanted change of state of the electronic equipment tested, whether temporary or permanent. It can for example be any event that causes a restart time of a component of the tested electronic equipment.
  • it can be voltage level variations or current level variations, the loss of functionality being reached beyond a predetermined threshold or an error in the component configuration logic resulting in a loss of power. functionality.
  • these arrangements will interrupt a series of tests scheduled on a predetermined path through the tested electronic equipment to go directly to the next path.
  • the tests are likely to be very fast and delimit so-called sensitive areas that will eventually be subject to further analysis later.
  • the result of several series of tests are combined to delimit so-called sensitive areas.
  • the device comprises a plurality of irradiation means facing the electronic equipment, configured to subject it to radiation, and in which the emission of a radiation, is triggered by the reception of a predetermined signal.
  • the speed of the tests performed on the electronic equipment is increased by placing in parallel two irradiation means.
  • the two irradiation means may for example be controlled by the same signal emitted by an encoder.
  • At least one irradiation means is an electromagnetic pulse generator.
  • the invention relates to a method of testing an electronic device by means of the device of the invention which comprises the following steps:
  • FIG. 1 represents, schematically, a particular embodiment of the test device forming the subject of the invention
  • FIG. 2 represents, in the form of a logic diagram, the method of implementation of the device which is the subject of the invention.
  • FIG. 3 represents, schematically and in the form of graphs, the result of four series of tests carried out as part of a preliminary study with measurement of loss of functionality for detection of sensitivity zone on electronic equipment.
  • FIG. 1 schematically represents a test device 10 according to the invention, illustrated during the execution of a test of an electronic equipment 100.
  • the test device 10 mainly comprises:
  • a radiation generator 135 producing at least one beam of
  • the plate 105 keeps the electronic equipment 100 in a desired position when said electronic equipment is subjected to the test.
  • the plate 105 comprises as many as the needs of the encoders 120, 121, 122 which deliver a signal 125, 126, 127 representative of a distance traveled by the plate 105.
  • the radiation generator comprises at least one source 135 of radiation generating at least one radiation 140 forming a beam whose rays converge at a focal point 146 and comprises a support (not shown) which holds said generator or a terminal optic of said generator to position the focus of the at least one beam at a given position in space, which position corresponds in practice to a volume of the electronic equipment under test, centered on the focal point, volume in which a specified energy level is injected.
  • the carrier may be stationary or movable as long as combined movements of the platen 105 and the radiation generator carrier allow the focal point 146 to be moved throughout a volume of the electronic equipment to be exposed to radiation.
  • the radiation corresponds to a coherent electromagnetic radiation of the visible, infrared or ultraviolet optical domain, generated by a laser.
  • the convergence of the rays is ensured by conventional optical elements.
  • the radiations are generated by an electromagnetic generator.
  • the test means 1 may include any means for physically measuring a discrete or global physical state of the device.
  • the equipment 100 is subjected to a functional test that includes stimulation and response analysis.
  • the stimulations comprise, for example, the transmission of input data to the equipment 100 which allows the execution of a program.
  • the test means 1 monitors the output data of the equipment.
  • the output data obtained during operation of a device in good working order being known, the test means 1 15 compares the output data obtained during the test.
  • Obtaining abnormal output data makes it possible to identify an error or failure of the device under test.
  • the operating tests are carried out continuously during the displacement and in particular synchronously with the displacement of the plate 105.
  • each irradiation is triggered by the reception of a predetermined signal in the following manner: a signal is emitted by the at least one of the encoders and transmitted to the irradiation source 135 which triggers the emission of an irradiation according to predetermined rules. For example, exceeding a threshold, a signal frequency or an amplitude can trigger the emission of an irradiation.
  • the operation of the irradiation source is governed by the single movement of the plate and does not require the establishment of a dedicated shooting program.
  • This embodiment allows the realization of high frequency test in continuous motion.
  • the supervisor 170 includes an acquisition unit 171 of data generated by the test equipment 1 15.
  • the supervisor 170 also comprises a generator for controlling the platen's movements relative to the radiation beam 140, for example by transmitting displacement commands to the motors or to the power controller supplying said motors that move the plate in energy.
  • the supervisor also executes sequences of instructions corresponding to the specification of a test to be performed on an electronic equipment.
  • the supervisor in this respect defines the displacements of the radiation beam and records the data transmitted by the test equipment according to the position of the zone of the electronic equipment exposed to radiation.
  • the recorded data is analyzed to provide sensitivity maps of the electronic equipment 100 to radiation exposure.
  • test device 100 The invention will be better understood in the light of an exemplary implementation of the test device 100 which follows.
  • said equipment For performing the test of an electronic equipment 100, in a preliminary step, said equipment is placed in a hardware configuration favorable to the realization of the test and the exploitation of the results.
  • cards or sensitive components will be tested unitarily while being positioned on the plate 105 so that, movements relative to the table and the beam of radiation, the focal point of said beam sweeps a volume to be exposed to radiation.
  • the electrical equipment 100 is a printed circuit board, single-layer or multi-layer.
  • the electrical equipment 100 comprises passive and active components, more or less integrated, useful for its operation, including a clock 150, a switch, microcontrollers, microprocessors, and memories.
  • the equipment 100 may comprise a protective layer 101, for example of resin or metal type.
  • a protective layer 101 for example of resin or metal type.
  • the protective layer 101 may consist of a casing encapsulating the electronic equipment 100, said casing then being disassembled to expose the electronic equipment 100.
  • the electronic equipment is fixed on the plate so that a volume of said equipment to be exposed is in a test volume accessible by the focal point of the radiation beam.
  • the said electronic equipment is also connected to the power supply 1 10 to be electrically powered and by means of test 1 to receive input signals and to communicate output signals.
  • a test program is first loaded in the supervisor 170, the said test program in which is defined the volume of the equipment to be exposed, the amount of energy and or the intensity of the radiation to which must each elemental volume resulting from a discretization of the volume to be exposed and a trajectory to be followed by the focal point in the exposed volume is exposed.
  • the focal point scans the volume to be exposed to radiation along the specified path.
  • the signal representative of the displacement of the plate 105 is delivered by the at least one of the encoders 120, 121, 122 to the irradiation means 135.
  • the irradiation means 135 emits radiation on receipt of a predetermined signal.
  • test program Once the test program has begun, a continuous operation test is initiated and maintained for the duration of the test. The data collected during the operation test is recorded for a fourth step.
  • the recordings are used to produce a synthesis of the sensitivity of the equipment to radiation.
  • the synthesis may consist of a mapping of a surface of the equipment, or slices of a volume of the equipment, in which a position of the focal point on the equipment map corresponding to an occurrence of a malfunction said equipment is identified as a singular point.
  • the correlation is for example spatial and or temporal and takes into account the trajectory followed by the focal point.
  • FIG. 1 An exemplary embodiment for determining a sensitivity map is illustrated in FIG. 1
  • the irradiation may be of any type such as laser radiation, ionizing radiation, radiation of the visible spectrum or radiation of the electromagnetic spectrum.
  • the test device comprises two laser radiation sources, 135 and 136, respectively concentrated by two lenses 142 and 143.
  • the two sources of laser radiation 135 and 136 can be concentrated by a single focusing system.
  • the device 10 comprises a plurality of irradiation means 135, 136 facing the electronic equipment 100 configured to subject it to irradiations 140, 141 and in which the emission of an irradiation 140, 141 is triggered by receiving a predetermined signal 125, 126, 127, 128, 129.
  • the irradiation means 135, 136 is configured to be positioned accurately with respect to the electronic equipment 100 by the plate 105 so as to irradiate all of a volume to be tested.
  • the analysis of the surface of an electronic device 100 of about 10 cm 2 by laser irradiation with a pitch of a few microns between each irradiation may require a large number of tests.
  • the irradiation is liable to cause temporary or permanent damage to the electronic equipment 100, to hinder its operation or to hinder its ability to execute a program.
  • the operation of the electrical equipment 100 is measured discretely by a means 1 able to perform a measurement of operation following each irradiation.
  • it may be an optical sensor, a voltage sensor or any other electronic measurement.
  • the means 1 may also consist of an output data analyzer produced by the electrical equipment 100 during the implementation of a program and which checks whether the output data corresponds to the data expected during normal operation of the electronic equipment 100.
  • the measurement made by means 1 can be a set of discrete measurements or else carried out continuously.
  • the plate 105 comprises at least one encoder 120, 121, 122, which delivers a signal 125, 126, 127 logic or analog representative of a distance traveled by the plate 105.
  • the embodiment shown in Figure 1 illustrates a plate 105 With the electronic equipment 100. It is understood that in embodiments the platen can carry the irradiation means so as to move the irradiation source opposite a fixed tested electronic equipment.
  • the plate 105 comprises three encoders 120, 121 and 122 each delivering a signal representative of the displacement of the plate respectively along an axis X, Y or Z.
  • the X, Y and Z axes are orthogonal.
  • the device 10 is particularly distinguished from the prior art in that the signal 125, 126, 127 is transmitted to the irradiation means 135, 136 and in that the emission of an irradiation 140 is triggered by the reception of a predetermined signal 125, 126, 127.
  • the invention takes advantage of the logic or analog signal delivered by the encoders to directly control the irradiation means.
  • the plate 105 is configured to move along three axes X, Y and Z forming an orthogonal reference, an encoder 122 delivering a signal 127 representative of a distance traveled by the plate 105 along the Z axis only and wherein the emission of irradiation 140 is initiated by receiving a signal 127.
  • the X and Y axes form a plane parallel to the surface of the electronic equipment 100 and the Z axis is normal to the plane.
  • a displacement of the plate on the XY plane of the electronic equipment 100 does not trigger emission by the irradiation means 135, 136.
  • a controlled displacement of the plate on the Z axis has the effect of
  • signal 127 may be transmitted to irradiation means 135, 136 to initiate the emission of radiation.
  • This embodiment allows the control of the irradiation means 135, 136 by a displacement of the plate 105 along the Z axis.
  • the device 10 may comprise a stage 162 dedicated to the signal processing configured to reform the raw signal 125, 126, 127.
  • This stage 162 is implemented in the case where the signal delivered by the encoders is not directly compatible. with the signals that the irradiating means 135, 136, or the controller of the irradiating means, can accept as input.
  • the signal processing stage 162 is a well known element of the prior art which uses for example a comparator-based system.
  • a plurality of signals 125, 126, 127 are combined to form a signal 128 transmitted to the irradiation means 135.
  • the combination of several signals is realized by means of a signal processing stage 161.
  • the element 1 outputs a logic signal signaling the health status of the component. This can then be combined with the displacement signals 125, 126, 127 emitted by at least one encoder. The signal delivered by the signal processing stage can then be analyzed to allow a new shot.
  • the signal 125, 126, 127 is transmitted to the means 1 able to carry out an operation measurement and an operation measurement is triggered by the reception of a predetermined signal 125, 126, 127.
  • the signal can be exploited to trigger a measurement of operation by the means 15.
  • This embodiment is particularly advantageous in the case of discrete measurements.
  • the device comprises a sensor 144 for activating the irradiation means 135, 136.
  • the sensor 144 is configured to identify the emission of an irradiation 140, 141 by the means 135, 136.
  • the sensor 144 may for example be a photodiode configured to identify a laser shot 140, 141.
  • the sensor 144 may be interfaced to means 1 15 so that when irradiation 140, 141 is detected a signal sent to means 1 15 triggers an operation measurement.
  • the electronic equipment 100 under test includes a clock 150 delivering a plurality of clock signals 130 which clock the operation of the electronic equipment 100 and in which at least one operation among the emission of a radiation 140, the setting in a predetermined operating state of the electronic equipment 100, or an operating measurement of the electronic equipment 100 is synchronized to the emission of the clock signal 130.
  • This embodiment relates to the electrical system test 100 having a clock 150 setting the status of the equipment.
  • a power converter operating at a frequency of given division or an application operating at a given clock frequency has this characteristic.
  • the device 10 then makes it possible to carry out irradiation tests in which, for each irradiation position, the firing is carried out synchronously with an operating state of the equipment 100 under test.
  • the device 10 includes a delay line 160 connected to at least one encoder 120, 121, 122 which on receipt of a signal 125, 126, 127 delivers a delayed signal 129 after a predetermined time.
  • a series of tests, by irradiation 140 and measurement of the operation of the electronic equipment 100, positioned according to a predetermined path, is interrupted when a loss of functionality is measured during a measurement of operation.
  • the test program includes a division of the path traveled by the irradiation source into a plurality of trajectories and when a loss of functionality is noted the test according to the current trajectory is interrupted and then resumes at origin point of the next trajectory. This embodiment is illustrated in FIG.
  • FIG. 2 shows a method of testing an electronic equipment 100 by means of the device described above, which comprises the following steps:
  • a platinum displacement program is established which details the speed, the trajectory, a starting point and a point of arrival of the platen during the implementation of the method.
  • the displacement program governs the emission of a radiation on the electronic equipment tested.
  • the displacement program can also govern the triggering of tests of the operation of electronic equipment and the implementation of a software program by electronic equipment.
  • the method may also include:
  • a delay step 216 implemented by a delay line, which comprises sending a delayed signal to the irradiation means and / or to the means able to perform an operation measurement,
  • a function test step 255 configured to determine whether a loss of functionality is noted on the electronic equipment, according to embodiments of the invention, the measurement of a loss of functionality can lead to an immediate end of the movement of the device; platinum.
  • FIG. 3 shows the result in the form of graphs 410, 420, 430 and 440, four sets of tests carried out as part of a preliminary study with measurement of loss of functionality for sensing zone detection on electronic equipment. 400.
  • Each graph 410, 420, 430, 440 is obtained by implementing the device for testing an electronic device as described in FIG.
  • the electronic equipment is arranged on a platen set in motion relative to an irradiation means. As the plate moves, irradiations are emitted. At the end of each irradiation, a functionality test is performed.
  • the portion of the electronic equipment tested may be related to a plane defined by two orthogonal X and Y axes.
  • the intersection of the X and Y axes is defined as the origin of the XY mark.
  • Test series 41 1, 412 each comprising an irradiation and a functionality test are performed on the surface of the electronic equipment 400.
  • the path of movement of the medium irradiation in connection with the tested electronic equipment is programmed as lines parallel to the X axis and move in increasing value of the X axis.
  • test series Each set of tests performed along a single line is a test series.
  • a test series is interrupted when a functional test measures a loss of functionality. This is the case illustrated by the 412 series. All the electronic equipment to be tested is thus scanned.
  • the graph 420 represents the result of a scan by X-axis parallel test series 421, 422 and in decreasing value.
  • the graphs s430 and 440 represent the results of scans by series 431, 432, 441, 442 of tests parallel to the Y axis, in decreasing and increasing value.
  • the result of several series of tests are combined to delimit so-called sensitive areas 401, 402.

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Abstract

Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) comportant : - une platine (105) comportant une alimentation (110) de puissance et un moyen (115) apte à réaliser une mesure de fonctionnement pendant le test, la platine (105) comportant également au moins un encodeur (120, 121, 22) délivrant un signal (125, 126, 127) représentatif d'une distance 5 parcourue par la platine (105), - un moyen (135) d'irradiation en regard de l'équipement électronique (100) et configuré pour le soumette à des radiations (140), dans lequel, le signal (125, 126, 127) est transmis au moyen (135) d'irradiation et en ce que l'émission d'une radiation (140) est déclenchée par la réception 10 d'un signal (125, 126, 127) prédéterminé. L'invention concerne également le procédé (20) de test d'un équipement électronique (100) mis en œuvre au moyen du dispositif (10).

Description

DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST D'UN SYSTÈME ÉLECTRONIQUE
DOMAINE TECHNIQUE DE L'INVENTION
La présente invention vise un procédé et un dispositif de caractérisation de la sensibilité des équipements électroniques aux effets des radiations.
La présente invention trouve une application particulièrement avantageuse dans les tests haute fréquence par laser de la sensibilité des composants électroniques embarqués dans les équipements du domaine aérospatial vis-à-vis des radiations.
ÉTAT DE LA TECHNIQUE
Les tests de caractérisation des équipements électroniques à la sensibilité aux effets des radiations consistent généralement à soumettre un équipement électronique à une irradiation contrôlée afin de déterminer les conséquences des radiations sur le fonctionnement de l'équipement et éventuellement de déterminer les zones plus particulièrement sensibles du système.
Ces tests de caractérisations trouvent une application pertinente pour les systèmes électroniques susceptibles d'être soumis à des radiations importantes tels que les calculateurs embarqués dans les applications aérospatiales et se trouvant exposés au rayonnement cosmique plus intense en altitude qu'au niveau du sol, ou encore dans environnement générateur de rayonnements pouvant endommager des composants électroniques comme ceux appeler à fonctionner de certaines zones de réacteurs nucléaires ou de chambre expérimentales de cyclotrons ou autres accélérateurs de particules.
De manière connue, la caractérisation de la sensibilité des équipements électroniques aux effets radiatifs est effectuée en exposant des équipements à tester aux rayonnements réels pouvant être créés par différents moyens.
Ainsi, il est pratiqué des tests en accélérateur de particules, des tests en environnement radiatif naturel, des tests sous microfaisceaux d'ions, des tests par source radioactive ou encore des tests par faisceaux puisés de rayonnements X ou Gamma.
La réalisation de ce type de tests s'avère particulièrement lourde et coûteuse, en partie par la complexité technique intrinsèquement imposée par les essais et en partie par les mesures de sécurités qui s'imposent lors de la réalisation de tels essais.
Il est également connu l'utilisation de laser comme source reproduisant l'effet de l'environnement radiatif.
La mise en œuvre de tests sous reproduisant l'effet de l'environnement radiatif présente entre autre la capacité d'exciter un élément physique sur une zone connue.
Cette zone d'excitation est fonction de la nature de l'irradiation. Dans le cas d'une excitation par laser elle dépend des paramètres d'incidence du laser par rapport à l'élément physique testé.
Afin d'obtenir une mesure globale de la sensibilité du dispositif physique, l'ensemble des éléments constituants le dispositif doit être étudié.
Dans les méthodes connues de l'art antérieur cette approche est effectué de manière dites pas à pas en effectuant l'émission d'une à plusieurs impulsions pour chaque zone du dispositif. Le passage à une nouvelle zone du dispositif est effectué de manière manuelle ou par des éléments automatisés comme des platines de déplacement permettant soit le déplacement de la source, soit du composant.
Suite à chaque irradiation une mesure de l'équipement électronique testé est réalisée. Cette mesure peut comporter une mesure physique directe comme par exemple la capture d'un spectre infrarouge. Cette mesure peut comporter un test de fonctionnement en mesurant les altérations des données sur des sorties d'une carte électronique tel que présenté dans le document de l'art antérieur FR 2919402.
Il est également connu, en particulier du document FR 2939964 qui décrit le test en fonctionnement d'un équipement électronique porté par une platine, de soumettre l'équipement électronique à un bombardement de protons.
Les documents FR 2900242 et FR 2979708 détaillent des procédés de caractérisation de la sensibilité d'un composant électronique respectivement à un rayonnement laser focalisé et à une irradiation par une source de rayonnement ionisant.
Dans les solutions connues de l'art antérieur mettant en œuvre un laser, les ordres de tir laser sont donnés par un système de contrôle auquel le contrôleur laser est relié, usuellement un ordinateur. Ce même système de contrôle pilote également le déplacement des platines permettant de choisir la position à laquelle s'effectuera le tir laser. Ainsi, séquentiellement : le système de contrôle active les platines de déplacement, vérifie que la position atteinte est bien celle souhaitée, effectue le tir laser, effectue les mesures adéquates puis reproduit cette séquence pour effectuer le test sur une position suivante définie dans la procédure de test.
Le temps de réalisation de ces étapes est particulièrement significatif lorsque la méthode est mise en œuvre pour des tests de plusieurs centaines de milliers voir millions de tirs.
Dans le cas d'une excitation au laser, l'ordre de grandeur de la fréquence des tirs atteinte par ce type d'approche est de quelques tirs par seconde. Etant donné que les surfaces devant être soumises à l'exposition aux radiations sont généralement comprises entre 0,1 et 10 centimètre carrés, la nécessité d'obtenir un taux de couverture total du dispositif et la taille du faisceau laser focalisé de l'ordre de deux micromètres ne permettent pas de couvrir l'ensemble des cas de tests en un temps industriellement efficace.
Ces tests peuvent ainsi durer plusieurs dizaines voire centaines d'heures. La durée de ces tests favorise par ailleurs les aléas expérimentaux, comme par exemple la perte d'alignement optique ou des fluctuations thermiques localisées, pouvant diminuer la qualité des résultats.
Le test élémentaire étant lui-même long, la réalisation de séries de test complètes est rarement pratiquée au vu du temps d'essai disponible. En outre, les systèmes électroniques présentent de multiples configurations envisageables comme par exemple des paramètres d'alimentation, des configurations des éléments de contrôle, des paramètres fonctionnels, des températures de fonctionnement. Dès lors, l'exhaustivité demandée par ce type de test ne peut être obtenue par les méthodes connues de l'art antérieur.
Aucunes des solutions actuelles ne permettent de répondre simultanément à tous les besoins requis, à savoir de s'affranchir efficacement des difficultés liées au temps d'exécution de tests d'irradiation réalisés en de multiples endroits d'un équipement électronique.
OBJET DE L'INVENTION
La présente invention vise à remédier à tout ou partie de ces inconvénients. A cet effet, selon un premier aspect, la présente invention vise un dispositif de test d'un équipement électronique qui comporte : - une platine comportant une alimentation et un moyen apte à réaliser une mesure de fonctionnement pendant le test, la platine comportant également au moins un encodeur délivrant un signal, représentatif d'une distance parcourue par la platine,
- un moyen d'irradiation en regard de l'équipement électronique et configuré pour le soumette à des radiations,
dans lequel le signal est transmis au moyen d'irradiation et en ce que l'émission d'une radiation est déclenchée par la réception d'un signal prédéterminé.
Grâce à ces dispositions, la solution proposée permet d'optimiser la durée des tests laser et de passer outre le système de contrôle synchronisant l'ensemble des éléments d'un banc laser. L'invention permet en particulier de faire générer les ordres d'irradiation, par exemple des tirs lasers, par la platine de déplacement.
L'invention consiste à mettre en place une commande du moyen d'irradiation pilotée directement par le déplacement des platines motorisées et non plus pilotée par le système de contrôle. En effet, certaines platines de déplacements sur lesquelles repose l'équipement électronique sont munies d'encodeurs, ou tout autres systèmes permettant aux platines d'envoyer un signal logique ou analogique à chaque fois que des positions ou des distances spécifiées à l'avance sont atteintes. Ceux-ci délivrent un signal prédéterminé, caractérisé par sa forme et sa durée, pour une distance parcourue par la platine et donc par l'équipement électronique testé qui lui est solidaire.
L'invention utilise cette information de parcours afin de synchroniser l'instant de tir avec le déplacement de la platine motorisée. Dans le cas d'une irradiation au laser, la durée d'impulsion laser est de l'ordre de moins d'une nanoseconde et les délais de mise en fonctionnement de la source laser de l'ordre de cent nanosecondes sont suffisamment courts pour que l'impulsion laser soit localisée dans la zone d'intérêt.
On pourrait envisager d'avoir des délais de mise en fonctionnement plus long en fonction des besoins de précisions (distance entre 2 tirs laser) et la vitesse des moteurs.
Cette approche permet d'augmenter significativement la vitesse de parcours du faisceau de radiation sur l'ensemble de l'équipement électronique testé tout en garantissant la localisation précise de chacun des tirs. Dans les procédés de l'art antérieur, une cartographie de sensibilité est obtenue avec une chaîne générant les tirs laser de manière classique, en passant par des cartes d'entrées sorties connectées à un ordinateur opérant un système d'exploitation dans lequel est exécuté un programme de pilotage des platine, à une fréquence de l'ordre de quelques Hertz.
Le mode de contrôle du laser piloté par un signal généré lors du déplacement des platine permet d'atteindre des fréquences de l'ordre de deux-cents à deux milles Hertz ou plus suivant les caractéristiques techniques des platines et du laser.
En d'autres termes, l'invention permet un déplacement en continu avec émission régulière d'irradiation sur l'équipement électronique testé, l'invention permet de s'affranchir des phases d'accélération/décélération de la platine en travaillant sur des signaux logiques ou analogiques envoyés par les moteurs et directement interfacé avec le moyen d'irradiation.
Au moyen du dispositif objet de l'invention, la fréquence des tirs est dimensionnée par la vitesse des platines et la performance des encodeurs. L'invention permet de mettre en œuvre un dispositif de test d'un équipement électronique avec une fréquence près de mille fois plus rapide que les solutions proposées par l'art antérieur.
Un exemple d'application pratique peut être l'évaluation de la sensibilité au latch-up d'un composant électronique de un centimètre par un centimètre qui peut être évaluée avec précision en moins de vingt minutes là où les tests divulgués par l'art antérieur nécessiteraient plusieurs heures.
Le contexte actuel de multiplication de systèmes électroniques toujours plus complexes dans des conditions d'irradiation plus intenses, en particulier les systèmes embarqués au niveau sol, en avionique et aérospatiale nécessitent des tests d'exposition plus nombreux et de meilleures résolutions. L'invention se propose de répondre à ce besoin en réduisant drastiquement la durée de tests.
Dans des modes de réalisation, le signal est transmis au moyen apte à réaliser une mesure de fonctionnement et une mesure de fonctionnement est déclenchée par la réception d'un signal prédéterminé.
Grâce à ces dispositions, le moyen de mesure du fonctionnement, qui peut consister par exemple en un capteur ou en l'évaluation de données de sorties de l'équipement électronique testé, peut être actionné par le déplacement de la platine de façon analogue au déclenchement d'une radiation décrit ci-avant. Dans des modes de réalisation, la platine est configurée pour se déplacer selon trois axes X, Y et Z formant un repère orthogonal, un encodeur délivrant un signal représentatif d'une distance parcourue par la platine selon l'axe Z uniquement et dans lequel l'émission d'une radiation est déclenchée par la réception d'un signal de sorte qu'un déplacement selon les axes X et Y permet de positionner le dispositif et qu'un déplacement selon l'axe Z permet de contrôler l'émission de radiations.
Grâce à ces dispositions, le déplacement de la platine selon une dimension peut être utilisé comme moyen de commande du moyen d'irradiation. Ainsi un déplacement selon les axes X et Y permettra de positionner l'équipement électronique testé par rapport au moyen d'irradiation mais sans déclencher d'irradiation.
Dans un autre exemple un déplacement selon l'axe X avec des mouvements périodiques selon l'axe Z permettra de déplacer le moyen d'irradiation en réalisant des radiations régulières tout au long du déplacement.
Dans un autre exemple un encodeur par axe délivrant un signal représentatif d'une distance parcourue par la platine selon l'axe considéré permettra d'obtenir une impulsion des déplacements sur chaque axe.
Dans des modes de réalisation, l'équipement électronique testé comporte une horloge délivrant une pluralité de signaux d'horloge qui cadence le fonctionnement de l'équipement électronique et dans lequel au moins une opération parmi l'émission d'une radiation, la mise dans un état de fonctionnement prédéterminé de l'équipement électronique, ou une mesure de fonctionnement de l'équipement électronique est synchronisée à l'émission du signal d'horloge.
Grâce à ces dispositions, on peut synchroniser un état de fonctionnement de l'équipement électronique testé avec un événement du test. Ce mode de réalisation est particulièrement avantageux pour évaluer un équipement électronique dans un état de fonctionnement particulier.
Par exemple, l'exécution d'une étape d'un programme mis en œuvre pendant le test par l'équipement électronique pourra être synchronisée avec l'émission d'une radiation.
Dans des modes de réalisation, le dispositif comporte une ligne à retard reliée à au moins un encodeur qui à la réception d'un signal, délivre après un temps prédéterminé un signal retardé. Une ligne à retard est un appareil dans lequel un signal passe de l'entrée à la sortie en une période de temps définie à l'avance. On pourra également utiliser le terme générateur de délai. Une ligne à retard peut être de nature électronique ou optique.
Grâce à ces dispositions, la transmission du signal émis par l'encodeur peut être retardée. Cette disposition permet de synchroniser entre eux différents éléments mis en œuvre lors du test ou encore de fixer un délai déterminé entre deux éléments.
Par exemple un même signal peut être délivré directement au moyen d'irradiation et à la ligne à retard. La ligne à retard transmet ensuite un signal retardé au moyen de mesure du fonctionnement de sorte à établir un délai maîtrisé entre l'exposition à la radiation et la mesure de fonctionnement.
Un aspect de l'invention est le test à haute vitesse résolu spatialement. Un autre aspect réside dans la cartographie temporelle de sensibilité. En effet dans un cycle de fonctionnement (coups d'horloge d'un programme, temps d'exécution), il est possible à partir de la chaîne synchrone de précisément agir sur le composant en retardant plus ou moins le délai entre l'irradiation et le démarrage du composant. Ainsi, effectuer cette cartographie temporelle en des points particuliers du composant est un autre intérêt de la chaîne synchrone.
Dans des modes de réalisation, une pluralité de signaux est combinée pour former un signal transmis au moyen d'irradiation et l'émission d'une radiation est déclenchée par la réception d'un signal prédéterminé.
Grâce à ces dispositions, les signaux logiques émanant de plusieurs encodeurs peuvent être combinés avant transmission au moyen d'irradiation.
Dans des modes de réalisation, une série de tests, par irradiation puis mesure du fonctionnement de l'équipement électronique, positionnés selon un chemin prédéterminé, est interrompu dès lors qu'une perte de fonctionnalité est mesurée lors d'une mesure de fonctionnement.
Grâce à ces dispositions, la durée du test est écourtée sur les tests comprenant une mesure de fonctionnement d'appareil susceptible d'expérimenter une perte de fonctionnalité. Ces dispositions permettent également de s'affranchir de l'occurrence de tests faussés par une perte de fonctionnalité causée par l'irradiation précédente lors d'une série de test.
On entend par perte de fonctionnalité un changement d'état non souhaité de l'équipement électronique testé, qu'il soit temporaire ou définitif. Il peut par exemple s'agir de tout événement qui occasionne un délai de remise en marche d'un composant de l'équipement électronique testé.
Il peut par exemple s'agir de variations de niveau de tension ou des variations de niveau de courant, la perte de fonctionnalité étant atteinte au-delà d'un seuil prédéterminé ou d'erreur dans la logique de configuration de composants entraînant une perte de fonctionnalité.
Avantageusement, ces dispositions permettront d'interrompre une série de tests prévus sur un chemin prédéterminé parcourant l'équipement électronique testé pour passer directement au chemin suivant. Selon ces modalités, les tests sont susceptibles d'être très rapides et de délimiter des zones dites sensibles qui feront éventuellement l'objet d'analyse plus poussées ultérieurement.
Dans des modes de réalisation, le résultat de plusieurs séries de tests sont combinés pour délimiter des zones dites sensibles.
Dans des modes de réalisation, le dispositif comporte une pluralité de moyens d'irradiation en regard de l'équipement électronique, configurés pour le soumette à des radiations, et dans lequel l'émission d'une radiation, est déclenchée par la réception d'un signal prédéterminé.
Grâce à ces dispositions, la vitesse des tests réalisés sur l'équipement électronique est augmentée par mise en parallèle de deux moyens d'irradiation. Les deux moyens d'irradiations pourront par exemple être commandés par un même signal émis par un encodeur.
Dans des modes de réalisation, au moins moyen d'irradiation est un générateur de puise électromagnétique.
Selon un deuxième aspect, l'invention concerne un procédé de test d'un équipement électronique au moyen du dispositif de l'invention qui comporte les étapes suivantes :
- mise en mouvement de la platine,
- génération par au moins un encodeur d'un signal représentatif d'une distance parcourue par la platine,
- transmission du signal au moyen d'irradiation
- émission d'une radiation par le moyen d'irradiation à la réception d'un signal prédéterminé et
- mesure de fonctionnement de l'équipement électronique. Les buts, avantages et caractéristiques particulières de ce procédé objet de la présente invention étant similaires à ceux du dispositif objet de la présente invention, ils ne sont pas rappelés ici. BRÈVE DESCRIPTION DES FIGURES
D'autres avantages, buts et caractéristiques particulières de la présente invention ressortiront de la description non limitative qui suit d'un mode de réalisation particulier du dispositif et procédé objets de la présente invention, en regard des dessins annexés, dans lesquels :
- la figure 1 représente, schématiquement, un exemple de réalisation particulier du dispositif de test objet de l'invention,
- la figure 2 représente, sous forme de logigramme, le procédé de mise en œuvre du dispositif objet de l'invention, et
- la figure 3 représente, schématiquement et sous forme de graphiques, le résultat de quatre séries de tests réalisés dans le cadre d'une étude préliminaire avec mesure de perte de fonctionnalité pour la détection de zone de sensibilité sur un équipement électronique.
DESCRIPTION DÉTAILLÉE DE MODES DE RÉALISATION DE L'INVENTION
La présente description est donnée à titre non limitatif, chaque caractéristique d'un mode de réalisation pouvant être combinée à toute autre caractéristique fonctionnellement compatible de tout autre mode de réalisation de manière avantageuse.
On note, dès à présent, que les figures ne sont pas à l'échelle.
La figure 1 représente, de manière schématique, un dispositif de test 10 suivant l'invention, illustré pendant l'exécution d'un test d'un équipement électronique 100. Le dispositif de test 10 comporte principalement :
- une platine 105 de support de l'équipement électronique 100 à tester,
- un générateur de radiations 135 produisant au moins un faisceau de
radiation 140,
- un moyen de test 1 15 du bon fonctionnement de l'équipement
électronique 100,
- un système de déplacement relatif de la platine 105 par rapport au faisceau de radiations 140 et - un superviseur 170 du dispositif de test 10.
La platine 105 maintient l'équipement électronique 100 dans une position voulue lorsque ledit équipement électronique est soumis au test. La platine 105 comporte autant que de besoins des encodeurs 120, 121 , 122 qui délivrent un signal 125, 126, 127 représentatif d'une distance parcourue par la platine 105.
Le générateur de radiations comporte au moins une source 135 de radiations générant au moins un rayonnement 140 formant un faisceau dont les rayons convergent en un point focal 146 et comporte un support (non représenté) qui maintient ledit générateur ou une optique terminale dudit générateur pour positionner le foyer de l'au moins un faisceau à une position donnée dans l'espace, position qui correspond en pratique à un volume de l'équipement électronique en test, centré sur le point focal, volume dans lequel un niveau d'énergie spécifié est injecté.
Le support peut être fixe ou mobile pour autant que des mouvements combinés de la platine 105 et du support du générateur de radiations permettent de déplacer le point focal 146 dans l'ensemble d'un volume de l'équipement électronique devant être exposé aux radiations.
Dans le présent exemple de réalisation, les radiations correspondent à un rayonnement électromagnétique cohérent du domaine optique, visible, infrarouge ou ultraviolet, généré par un laser. Dans ce cas, la convergence des rayons est assurée par des éléments optiques conventionnels.
Dans une variant de réalisation les radiations sont générées par un générateur de puise électromagnétique.
Le moyen de test 1 15 peut comporter tout moyen de mesure physique d'un état physique discret ou global du dispositif.
Dans l'exemple de réalisation, l'équipement 100 est soumis à un test fonctionnel qui comporte une stimulation et une analyse de réponse.
Les stimulations comportent par exemple la transmission de données d'entrée à l'équipement 100 qui permettent l'exécution d'un programme.
Le moyen de test 1 15 réalise une surveillance des données de sorties l'équipement. Les données de sortie obtenues lors du fonctionnement d'un équipement en bon état de fonctionnement étant connues le moyen de test 1 15 compare les données de sorties obtenues lors du test. L'obtention de données de sortie anormales permet d'identifier une erreur ou panne du dispositif testé. Dans l'exemple décrit les tests de fonctionnement sont réalisés en continu au court du déplacement et en particulier de manière synchrone au déplacement de la platine 105.
En effet, chaque irradiation est déclenchée par la réception d'un signal prédéterminé de la manière suivante : un signal est émis par l'au moins un des encodeurs et transmis a la source d'irradiation 135 qui déclenche l'émission d'une irradiation selon des règles prédéterminées. Par exemple le dépassement d'un seuil, d'une fréquence de signaux ou d'une amplitude peut déclencher l'émission d'une irradiation.
Ainsi le fonctionnement de la source d'irradiation est gouverné par le seul déplacement de la platine et ne requiert par de l'établissement d'un programme de tir dédié. Ce mode de réalisation permet la réalisation de test haute fréquence en mouvement continu.
Le superviseur 170 comporte une unité d'acquisition 171 de données générées par l'équipement de test 1 15.
Le superviseur 170 comporte également un générateur de commandes de déplacements de la platine par rapport au faisceau de radiation 140, par exemple en transmettant des ordres de déplacement aux moteurs ou au contrôleur de puissance alimentant lesdits moteurs déplaçant la platine en énergie.
Le superviseur exécute également des séquences d'instructions correspondant à la spécification d'un essai à réaliser sur un équipement électronique. Le superviseur à ce titre définit les déplacements du faisceau de radiations et enregistre les données transmises par l'équipement de test en fonction de la position de la zone de l'équipement électronique exposée aux radiations.
Pendant un essai ou ultérieurement à l'essai, les données enregistrées sont analysées pour fournir des cartes de sensibilité de l'équipement électronique 100 à l'exposition aux radiations.
L'invention sera mieux comprise à la lumière d'un exemple de mise en œuvre du dispositif de test 100 qui suit.
Pour la réalisation de l'essai d'un équipement électronique 100, dans une étape préliminaire, ledit équipement est placé dans une configuration matérielle favorable à la réalisation de l'essai et à l'exploitation des résultats.
Avantageusement des cartes ou des composants sensibles seront testés unitairement en étant positionné sur la platine 105 de sorte que, des mouvements relatifs de la table et du faisceau de radiations, le point focal dudit faisceau balaye un volume devant être exposé aux radiations.
Par exemple, l'équipement électrique 100 est une carte de type circuit imprimé, mono-couche ou multi-couche. L'équipement électrique 100 comporte des composants passifs et actifs, plus ou moins intégrés, utiles à son fonctionnement, notamment une horloge 150, un commutateur, des microcontrôleurs, microprocesseurs, et mémoires.
L'équipement 100 peut comporter une couche protectrice 101 par exemple de type résine ou métallique. Dans ce cas, il est avantageux de retirer ladite couche protectrice, au moins pour former une fenêtre 102 au niveau d'une zone devant être exposée aux radiations pour favoriser la pénétration des radiations 140, 141 sans nécessairement augmenter la puissance du faisceau de radiations. Il est alors pris en compte l'atténuation provoquée par la couche protectrice 101 pour l'interprétation des résultats des essais.
La couche protectrice 101 peut consister en un boîtier encapsulant l'équipement électronique 100, ledit boîtier étant alors démonté pour exposer l'équipement électronique 100.
Dans une deuxième étape, l'équipement électronique est fixé sur la platine de sorte qu'un volume dudit équipement devant être exposé se trouve dans un volume de test accessible par le point focal du faisceau de radiations. Le dit équipement électronique est également raccordé à l'alimentation 1 10 pour être alimenté électriquement et au moyen de test 1 15 pour recevoir des signaux d'entrée et pour communiquer des signaux de sortie.
Dans une troisième étape, l'exposition de l'équipement aux rayonnements est effectuée. Pour cela, un programme d'essai est préalablement chargé dans le superviseur 170, le dit programme d'essai dans lequel est défini le volume de l'équipement devant être exposé, la quantité d'énergie et ou l'intensité du rayonnement auquel doit être exposé chaque volume élémentaire résultant d'une discrétisation du volume devant être exposé et une trajectoire devant être suivie par le point focal dans le volume exposé.
Ces conditions se traduisent fonctionnellement par exemple par une trajectoire du point focal fonction du temps associée à une courbe de puissance émise par la source en fonction du temps ou de la position dudit point focal. Dans le cas où une puissance du faisceau n'est pas modulable, il sera alors modulé l'énergie apporté en chaque point du volume par un contrôle de la vitesse de déplacement dudit point focal, d'autant plus d'énergie étant déposée dans un volume donné que le temps pendant lequel point focal se trouve dans ce volume est long.
Une fois le programme d'essai engagé, le point focal balaye le volume devant être exposé aux radiations en suivant la trajectoire spécifiée.
Le signal représentatif du déplacement de la platine 105 est délivré par l'au moins un des encodeurs 120, 121 , 122 au moyen d'irradiation 135. Le moyen d'irradiation 135 émet une irradiation à la réception d'un signal prédéterminé.
On comprend ainsi que le fonctionnement de la source d'irradiation est gouverné par les mouvements de la platine déterminé par l'opérateur dans son programme d'essai.
Une fois le programme d'essai engagé un test de fonctionnement en continu est engagé et maintenu pour toute la durée du test. Les données collectées lors du test de fonctionnement sont enregistrés en vue d'une quatrième étape.
Dans une quatrième étape les enregistrements sont exploités pour produire une synthèse de la sensibilité de l'équipement aux radiations.
La synthèse peut consister en une cartographie d'une surface de l'équipement, ou de tranches d'un volume de l'équipement, dans lequel une position du point focal sur la carte de l'équipement correspondant à une occurrence d'un dysfonctionnement dudit équipement est repérée comme un point singulier.
Ainsi sur la cartographie de l'équipement électronique il est obtenu une série de points singuliers dont une mise en corrélation permet de matérialiser une zone de l'équipement sensible au rayonnement.
La mise en corrélation est par exemple spatiale et ou temporelle et prend en compte la trajectoire suivie par le point focal.
Un exemple de réalisation de détermination d'une cartographie de sensibilité est illustré en figure 3.
Dans des variantes de réalisation de la source d'irradiation 135, 136, l'irradiation peut être de tout type tel qu'un rayonnement laser, un rayonnement ionisant, un rayonnement du spectre visible ou un rayonnement du spectre électromagnétique.
Dans une variante présentée en figure 1 , le dispositif de test comporte deux sources de rayonnement laser, 135 et 136, concentrés respectivement par deux lentilles 142 et 143. Alternativement, les deux sources de rayonnement laser 135 et 136 peuvent être concentrées par un unique système de focalisation.
Dans ce mode de réalisation, le dispositif 10 comporte une pluralité de moyens 135, 136 d'irradiation en regard de l'équipement électronique 100 configurés pour le soumette à des irradiations 140, 141 et dans lequel l'émission d'une irradiation 140,141 est déclenchée par la réception d'un signal 125, 126, 127, 128, 129 prédéterminé.
Le moyen d'irradiation 135, 136 est configuré pour être positionné avec précision en regard de l'équipement électronique 100 par la platine 105 de sorte à pouvoir irradier l'ensemble d'un volume à tester. Par exemple, l'analyse de la surface d'un dispositif électronique 100 d'une dizaine de centimètre carré par irradiation au laser avec un pas de quelques micromètres entre chaque irradiation pourra requérir un grand nombre de tests.
L'irradiation est susceptible d'occasionner un dégât temporaire ou définitif sur l'équipement électronique 100, d'entraver son fonctionnement ou d'entraver sa capacité à exécuter un programme.
Dans des modes de réalisation, le fonctionnement de l'équipement électrique 100 est mesuré de manière discrète par un moyen 1 15 apte à réaliser une mesure de fonctionnement suite à chaque irradiation.
Selon la caractéristique observée, il peut s'agir d'un capteur optique, d'un capteur de tension ou de toute autre mesure électronique.
Dans des modes de réalisation, le moyen 1 15 peut également consister en un analyseur de données de sorties produite par l'équipement électrique 100 lors de la mise en œuvre d'un programme et qui vérifie si les données de sorties correspondent aux données attendue lors d'un fonctionnement normal de l'équipement électronique 100.
On souligne ainsi que la mesure réalisée par le moyen 1 15 peut être un ensemble de mesures discrètes ou bien effectué en continue.
La réalisation d'un ensemble de test suivis d'une mesure de fonctionnement permet de dresser des cartes de sensibilité de l'équipement électronique testé à l'irradiation mise en œuvre.
La platine 105 comporte au moins un encodeur 120, 121 , 122, qui délivre un signal 125, 126, 127 logique ou analogique représentatif d'une distance parcouru par la platine 105. Le mode de réalisation présenté en figure 1 illustre une platine 105 portant l'équipement électronique 100. Il est bien entendu que dans des modes de réalisation la platine peut porter le moyen d'irradiation de manière à déplacer la source d'irradiation en regard d'un équipement électronique testé fixe.
Dans des modes de réalisation la platine 105 comporte trois encodeurs 120, 121 et 122 délivrant chacun un signal représentatif du déplacement de la platine respectivement selon un axe X, Y ou Z. Préférentiellement les axes X, Y et Z sont orthogonaux.
Le dispositif 10 se distingue tout particulièrement de l'art antérieur en ce que le signal 125, 126, 127 est transmis au moyen 135, 136 d'irradiation et en ce que l'émission d'une irradiation 140 est déclenchée par la réception d'un signal 125, 126, 127 prédéterminé. L'invention tire parti du signal logique ou analogique délivré par les encodeurs pour contrôler directement le moyen d'irradiation.
Dans des modes de réalisation, la platine 105 est configurée pour se déplacer selon trois axes X, Y et Z formant un repère orthogonal, un encodeur 122 délivrant un signal 127 représentatif d'une distance parcourue par la platine 105 selon l'axe Z uniquement et dans lequel l'émission d'une irradiation 140 est déclenchée par la réception d'un signal 127.
A titre d'exemple, les axes X et Y forment un plan parallèle à la surface de l'équipement électronique 100 et l'axe Z est la normale au plan. Ainsi, un déplacement de la platine sur le plan XY de l'équipement électronique 100 ne déclenche pas d'émission par le moyen d'irradiation 135, 136. En revanche un déplacement contrôlé de la platine sur l'axe Z a pour effet l'émission d'un signal 127 par l'encodeur 122, le signal 127 peut être transmis au moyen d'irradiation 135, 136 pour déclencher l'émission d'une radiation. Ce mode de réalisation permet le contrôle du moyen d'irradiation 135, 136 par un déplacement de la platine 105 selon l'axe Z.
Le dispositif 10 peut comporter un étage 162 dédié au traitement du signal configuré pour remettre en forme le signal brut 125, 126, 127. Cet étage 162 est mis en œuvre dans le cas ou le signal délivré par les encodeurs n'est pas directement compatible avec les signaux que le moyen d'irradiation 135, 136, ou le contrôleur du moyen d'irradiation, peut accepter en entrée. L'étage 162 de traitement du signal est un élément bien connu de l'art antérieur qui utilise par exemple un système à base de comparateur. Dans des modes de réalisation, une pluralité de signaux 125, 126, 127 est combinée pour former un signal 128 transmis au moyen 135 d'irradiation.
La combinaison de plusieurs signaux est réalisée au moyen d'un étage de traitement du signal 161 .
Dans des modes de réalisation, l'élément 1 15 délivre un signal logique signalant l'état de santé du composant. Celui-ci peut alors être combiné aux signaux de déplacement 125, 126, 127 émis par au moins un encodeur. Le signal délivré par l'étage de traitement du signal pourra alors être analysé afin d'autoriser un nouveau tir.
Dans des variantes de réalisation, le signal 125, 126, 127 est transmis au moyen 1 15 apte à réaliser une mesure de fonctionnement et une mesure de fonctionnement est déclenchée par la réception d'un signal 125, 126, 127 prédéterminé.
Selon des dispositions comparables au contrôle de l'émission d'irradiation 140, 141 par la réception d'un signal émis par les encodeurs lors d'un déplacement de la platine 105 le signal peut être exploité pour déclencher une mesure de fonctionnement par le moyen 1 15. Ce mode de réalisation est particulièrement avantageux dans le cas de mesures discrètes.
Dans des variantes, le dispositif comporte un capteur 144 d'activation du moyen 135, 136 d'irradiation. Le capteur 144 est configuré pour identifier l'émission d'une irradiation 140, 141 par le moyen 135, 136. Le capteur 144 peut par exemple être une photodiode configurée pour identifier un tir laser 140, 141 . Le capteur 144 peut être interfacé au moyen 1 15 de sorte que lorsqu'une irradiation 140, 141 est détectée un signal envoyé au moyen 1 15 déclenche une mesure de fonctionnement.
Dans des modes de réalisation, l'équipement électronique 100 testé comporte une horloge 150 délivrant une pluralité de signaux 130 d'horloge qui cadencent le fonctionnement de l'équipement électronique 100 et dans lequel au moins une opération parmi l'émission d'une radiation 140, la mise dans un état de fonctionnement prédéterminé de l'équipement électronique 100, ou une mesure de fonctionnement de l'équipement électronique 100 est synchronisée à l'émission du signal 130 d'horloge.
Ce mode de réalisation concerne le test de systèmes électrique 100 possédant une horloge 150 cadençant l'évolution d'état de l'équipement. A titre d'exemple, un convertisseur de puissance fonctionnant à une fréquence de découpage donnée ou une application fonctionnant à une fréquence d'horloge donnée présente cette caractéristique.
Le dispositif 10 permet alors de réaliser des tests d'irradiation dans lesquels, pour chaque position d'irradiation, le tir est effectué de manière synchronisée avec un état de fonctionnement de l'équipement 100 sous test.
Dans des modes de réalisation, le dispositif 10 comporte une ligne à retard 160 relié à au moins un encodeur 120, 121 , 122 qui à la réception d'un signal 125, 126, 127 délivre après un temps prédéterminé un signal 129 retardé.
Dans des modes de réalisation, une série de tests, par irradiation 140 puis mesure du fonctionnement de l'équipement électronique 100, positionnés selon un chemin prédéterminé, est interrompu dès lors qu'une perte de fonctionnalité est mesurée lors d'une une mesure de fonctionnement. Dans ce mode de réalisation, le programme de test inclue un découpage du chemin parcouru par la source d'irradiation en une pluralité de trajectoires et dès lors qu'une perte de fonctionnalité est constatée le test selon la trajectoire en cours est interrompu puis reprend au point d'origine de la trajectoire suivante. Ce mode de réalisation est illustré en figure 3.
On observe, en figure 2 un procédé 20 de test d'un équipement électronique 100 au moyen du dispositif décrit précédemment, qui comporte les étapes suivantes :
- mise en mouvement 210 de la platine,
- génération 220 par au moins un encodeur d'un signal représentatif d'une distance parcourue par la platine,
- transmission 230 du signal au moyen d'irradiation
- émission 240 d'une irradiation par le moyen d'irradiation à la réception d'un signal prédéterminé et
- mesure 250 de fonctionnement de l'équipement électronique.
Une partie des buts et caractéristiques du procédé 20 étant détaillée dans la description du dispositif 10, ils ne sont pas rappelés ici.
Préalablement à la mise en place du procédé 20 un programme de déplacement de la platine est établi qui détaille la vitesse, la trajectoire, un point de départ et un point d'arrivée de la platine lors de la mise en œuvre du procédé.
Avantageusement, le programme de déplacement gouverne à l'émission d'une radiation sur l'équipement électronique testé. Le programme de déplacement peut également gouverner au déclenchement de tests du fonctionnement de l'équipement électronique et à la mise en œuvre d'un programme logiciel par l'équipement électronique.
Le procédé 20 peut également comporter:
- une étape de délai 216, mise en œuvre par une ligne à retard, qui comporte l'envoi d'un signal retardé vers le moyen d'irradiation et/ou vers le moyen apte à réaliser une mesure de fonctionnement,
- une étape 217 de mise en œuvre d'un programme informatique par l'équipement électronique testé,
- une étape 225 de mise en forme du signal mise en œuvre par un étage de traitement du signal,
- une étape 226 de combinaison de plusieurs signaux durant laquelle plusieurs signaux logique émis par les encodeurs sont combinés, par exemple par addition et
- une étape 255 de test de fonctionnalité configurée pour déterminer si une perte de fonctionnalité est constatée sur l'équipement électronique, selon des modes de réalisation de l'invention la mesure d'une perte de fonctionnalité peut entraîner une fin immédiate du mouvement de la platine.
On observe en figure 3, le résultat sous forme de graphiques 410, 420, 430 et 440, quatre ensembles de tests réalisés dans le cadre d'une étude préliminaire avec mesure de perte de fonctionnalité pour la détection de zone de sensibilité sur un équipement électronique 400.
Chaque graphique 410, 420, 430, 440 est obtenu par mise en œuvre du dispositif de test d'un équipement électronique tel que décrit en figure 1 . L'équipement électronique est disposé sur une platine mise en mouvement par rapport à un moyen d'irradiation. Au fur et à mesure du déplacement de la platine, des irradiations sont émise. A l'issu de chaque irradiation, un test de fonctionnalité est réalisé.
La partie de l'équipement électronique testée peut être rapporté à un plan défini par deux axes X et Y orthogonaux. L'intersection des axes X et Y est définie comme l'origine du repère XY.
On s'intéresse en particulier au graphique 410. Des séries 41 1 , 412 de test comportant chacun une irradiation et un test de fonctionnalité sont réalisé sur la surface de l'équipement électronique 400. La trajectoire de déplacement du moyen d'irradiation en relation avec l'équipement électronique testé est programmée sous formes de lignes parallèles à l'axe X et se déplacent en valeur croissante de l'axe X.
Chaque ensemble de tests réalisés le long d'une unique ligne constitue une série de test. Une série de test est interrompue dès lors qu'un test de fonctionnement mesure une perte de fonctionnalité. C'est le cas illustré par la série 412. L'ensemble de l'équipement électronique à tester est ainsi balayée.
De manière analogue, le graphique 420 représente le résultat d'un balayage par des séries 421 , 422 de test parallèles à l'axe X et en valeur décroissantes.
De manière analogue les graphique s430 et 440 représentent les résultats de balayages par des séries 431 , 432, 441 , 442 de test parallèles à l'axe Y, en valeur décroissantes et croissantes.
Dans des modes de réalisation, le résultat de plusieurs séries de tests sont combinés pour délimiter des zones 401 , 402 dites sensibles.
En recoupant par superposition les résultats obtenus lors de chaque ensemble de test on peut délimiter le contour d'une à plusieurs zone dites sensible qui feront éventuellement l'objet de tests plus poussés.

Claims

REVENDICATIONS
1. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) comportant :
- une platine (105) comportant une alimentation (1 10) de puissance et un moyen (1 15) apte à réaliser une mesure de fonctionnement pendant le test, la platine (105) comportant également au moins un encodeur (120, 121 , 122) délivrant un signal (125, 126, 127) représentatif d'une distance parcourue par la platine (105),
- un moyen (135) d'irradiation en regard de l'équipement électronique (100) et configuré pour le soumette à des radiations (140),
caractérisé en ce que, le signal (125, 126, 127) est transmis au moyen (135) d'irradiation et en ce que l'émission d'une radiation (140) est déclenchée par la réception d'un signal (125, 126, 127) prédéterminé.
2. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon la revendication 1 , dans lequel le signal (125, 126, 127) est transmis au moyen (1 15) apte à réaliser une mesure de fonctionnement et en ce qu'une mesure de fonctionnement est déclenchée par la réception d'un signal (125, 126, 127) prédéterminé.
3. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la platine (105) est configurée pour se déplacer selon trois axes X, Y et Z formant un repère orthogonal, un encodeur (122) délivrant un signal (27) représentatif d'une distance parcourue par la platine (105) selon l'axe Z uniquement et dans lequel l'émission d'une radiation (140) est déclenchée par la réception d'un signal (127) de sorte qu'un déplacement selon les axes X et Y permet de positionner le dispositif (10) et qu'un déplacement selon l'axe Z permet de contrôler l'émission de radiations (140).
4. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'équipement électronique (100) testé comporte une horloge (150) délivrant une pluralité de signaux (130) d'horloge qui cadencent le fonctionnement de l'équipement électronique (100) et dans lequel au moins une opération parmi l'émission d'une radiation (140), la mise dans un état de fonctionnement prédéterminé de l'équipement électronique (100), ou une mesure de fonctionnement de l'équipement électronique (100) est synchronisée à l'émission du signal (130) d'horloge.
5. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, qui comporte une ligne à retard (160) reliée à au moins un encodeur (120, 121 , 122) qui à la réception d'un signal (125, 126, 127) délivre après un temps prédéterminé un signal (129) retardé.
6. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel une pluralité de signaux (125, 126, 127) est combinée pour former un signal (128) transmis au moyen (135) d'irradiation.
7. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel une série de tests, par irradiation (140) puis mesure du fonctionnement de l'équipement électronique (100), positionnés selon un chemin prédéterminé, est interrompu dès lors qu'une perte de fonctionnalité est mesurée lors d'une une mesure de fonctionnement.
8. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon la revendication précédente, dans lequel le résultat de plusieurs séries de tests sont combinés pour délimiter des zones (401 , 402) dites sensibles.
9. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, qui comporte une pluralité de moyens (135, 136) d'irradiation en regard de l'équipement électronique (100) configurés pour le soumette à des radiations (140, 141 ) et dans lequel l'émission d'une radiation (140,141 ) est déclenchée par la réception d'un signal (125, 126, 127, 128, 129) prédéterminé.
0. Dispositif (10) de test d'un équipement électronique (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel au moins moyen (135) d'irradiation est un générateur de puise électromagnétique.
1. Procédé (20) de test d'un équipement électronique (100) au moyen du dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes :
- mise en mouvement (210) de la platine,
- génération (220) par au moins un encodeur d'un signal représentatif d'une distance parcourue par la platine,
- transmission (230) du signal au moyen d'irradiation
- émission (240) d'une radiation par le moyen d'irradiation à la réception d'un signal prédéterminé et
- mesure (250) de fonctionnement de l'équipement électronique.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4786865A (en) * 1986-03-03 1988-11-22 The Boeing Company Method and apparatus for testing integrated circuit susceptibility to cosmic rays
US6445813B1 (en) * 1994-08-24 2002-09-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. System for inspecting an apparatus of a printed circuit board
FR2939964A1 (fr) * 2008-12-17 2010-06-18 Eads Europ Aeronautic Defence Dispositif de test de circuit integre et procede de mise en oeuvre

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4786865A (en) * 1986-03-03 1988-11-22 The Boeing Company Method and apparatus for testing integrated circuit susceptibility to cosmic rays
US6445813B1 (en) * 1994-08-24 2002-09-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. System for inspecting an apparatus of a printed circuit board
FR2939964A1 (fr) * 2008-12-17 2010-06-18 Eads Europ Aeronautic Defence Dispositif de test de circuit integre et procede de mise en oeuvre

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