WO2017061419A1 - 偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置 - Google Patents

偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2017061419A1
WO2017061419A1 PCT/JP2016/079468 JP2016079468W WO2017061419A1 WO 2017061419 A1 WO2017061419 A1 WO 2017061419A1 JP 2016079468 W JP2016079468 W JP 2016079468W WO 2017061419 A1 WO2017061419 A1 WO 2017061419A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
polarization axis
polarizing plate
stage
light receiving
light
Prior art date
Application number
PCT/JP2016/079468
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
裕二 谷口
正敬 大山
勝寛 山口
Original Assignee
シャープ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シャープ株式会社 filed Critical シャープ株式会社
Priority to US15/765,819 priority Critical patent/US20180283952A1/en
Publication of WO2017061419A1 publication Critical patent/WO2017061419A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/3473—Circular or rotary encoders
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J4/00—Measuring polarisation of light
    • G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/344—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using polarisation
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80—Constructional details
    • H10K59/8791—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/19—Dichroism
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133528—Polarisers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00—Organic light-emitting devices
    • H10K50/80—Constructional details
    • H10K50/86—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light

Definitions

  • the present invention relates to a polarization axis detection device for detecting the polarization axis of a polarizing plate used in a display device, a method for detecting the polarization axis of a polarizing plate using this polarization axis detection device, and the polarization axis detected.
  • the present invention relates to a method of manufacturing a display device using a polarizing plate, and a display device manufactured thereby.
  • a display device having a polarizing plate such as a liquid crystal display device or an organic EL (Electro-Luminescence) display device accurately aligns the panel and the polarizing plate when the polarizing plate is attached to the panel in the manufacturing process. This is an issue.
  • high-precision control is required when performing alignment by rotating the polarizing plate in a plane parallel to the surface of the panel so that the direction of the polarization axis coincides with a predetermined direction.
  • the position of the polarizing plate is controlled by recognizing the outer shape (edge) or the entire polarizing plate from an image taken by a camera.
  • outer shape edge
  • entire polarizing plate from an image taken by a camera.
  • position control of the polarizing plate is more difficult.
  • a circular polarizing plate is used. In that case, in the method of recognizing the outer shape of the polarizing plate, it is difficult to attach the polarizing plate (control of the direction of the polarization axis).
  • a pair of polarizing films for the front and back surfaces of the liquid crystal panel are arranged in front of the light source, one polarizing film is fixed, and the other polarizing film is rotated to transmit the amount of transmitted light.
  • Japanese Patent Laid-Open No. 2013-83784 discloses a method of measuring the position and forming an alignment mark when the amount of transmitted light reaches the maximum or minimum. However, in the method disclosed in this publication, it is necessary to relatively rotate the pair of polarizing films.
  • the present invention can easily detect the polarization axis of a circularly polarizing plate or a deformed polarizing plate (a polarizing plate having a shape other than a circle or a rectangle) regardless of the shape of the polarizing plate.
  • the purpose is to provide.
  • a polarization axis detection apparatus includes: An irradiation unit that emits sensor light; A stage equipped with a polarizing plate and rotating, A light receiving unit that receives the sensor light transmitted through the polarizing plate on the stage and outputs a signal according to the received light amount; A calculation unit that detects the direction of the polarization axis of the polarizing plate based on an output signal from the light receiving unit; In a storage unit accessible by the arithmetic unit, reference data based on an output signal from the light receiving unit in a state in which a polarizing plate is arranged with a polarization axis directed in a desired direction is stored in advance.
  • the calculation unit While irradiating sensor light to the polarizing plate on the stage while rotating the stage, based on the signal output from the light receiving unit and the reference data stored in the storage unit, the calculation unit is configured on the stage. The direction of the polarization axis of the polarizing plate is detected.
  • the polarization axis can be easily detected regardless of the shape of the polarizing plate, even if it is a circular polarizing plate or a deformed polarizing plate.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a polarization axis detection apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a waveform diagram showing an example of a reference waveform.
  • FIG. 3 is a waveform diagram showing an example of a measurement waveform from a polarizing plate to be detected.
  • FIG. 4 is a waveform diagram showing a phase shift between the reference waveform and the measurement waveform.
  • FIG. 5 is a waveform diagram showing a state in which the phase shift between the reference waveform and the measurement waveform is eliminated.
  • FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a schematic configuration of the polarization axis detection apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating an example of the transmitted light amount measured by the polarization axis detection apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a schematic configuration of a polarization axis detection device according to a modification.
  • the polarization axis detection apparatus includes: An irradiation unit that emits sensor light; A stage equipped with a polarizing plate and rotating, A light receiving unit that receives the sensor light transmitted through the polarizing plate on the stage and outputs a signal according to the received light amount; A calculation unit that detects the direction of the polarization axis of the polarizing plate based on an output signal from the light receiving unit; In a storage unit accessible by the arithmetic unit, reference data based on an output signal from the light receiving unit in a state in which a polarizing plate is arranged with a polarization axis directed in a desired direction is stored in advance.
  • the calculation unit While irradiating sensor light to the polarizing plate on the stage while rotating the stage, based on the signal output from the light receiving unit and the reference data stored in the storage unit, the calculation unit is configured on the stage. The direction of the polarization axis of the polarizing plate is detected.
  • the polarizing plate on the stage is irradiated with sensor light while rotating the stage, and on the stage based on the signal output from the light receiving unit and the reference data stored in the storage unit Therefore, the direction of the polarization axis can be easily detected regardless of the shape of the polarization plate.
  • the polarization axis detection device is the polarization axis detection device according to the first configuration, In order for the calculation unit to detect the direction of the polarization axis of the polarizing plate on the stage, the rotation angle of the stage when the signal output from the light receiving unit shows a peak value, and the reference data is a peak value Is compared with the rotation angle of the stage.
  • a polarization axis detection device is the polarization axis detection device according to the first configuration
  • As the reference data the value of the output signal from the light receiving unit in a state where the polarizing plate is arranged with its polarization axis oriented in a desired direction is stored,
  • the arithmetic unit compares the value of the signal output from the light receiving unit with the value of the reference data in order to detect the direction of the polarization axis of the polarizing plate on the stage.
  • a polarization axis detection device is the polarization axis detection device according to the first to third configurations, and includes two sets of the irradiation unit and the light receiving unit.
  • the method for detecting the polarization axis of the polarizing plate according to the present invention is as follows.
  • An irradiation unit that emits sensor light;
  • a light receiving unit that receives the sensor light transmitted through the polarizing plate on the stage and outputs a signal according to the received light amount;
  • a polarization axis detection device comprising an arithmetic unit that detects the orientation of the polarization axis of the polarizing plate based on an output signal from the light receiving unit,
  • reference data based on an output signal from the light receiving unit in a state in which a polarizing plate is arranged with a polarization axis directed in a desired direction is stored in advance.
  • the calculation unit While irradiating sensor light to the polarizing plate on the stage while rotating the stage, based on the signal output from the light receiving unit and the reference data stored in the storage unit, the calculation unit is configured on the stage. The direction of the polarization axis of the polarizing plate is detected.
  • a method for manufacturing a display device includes: A method of manufacturing a display device including a polarizing plate, Detecting the direction of the polarization axis of the polarizing plate by the method for detecting the polarization axis, and A step of attaching the polarizing plate and the display panel.
  • the display panel is preferably a liquid crystal panel or an organic EL panel, for example.
  • FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a schematic configuration of a polarization axis detection apparatus according to the first embodiment.
  • the polarization axis detection apparatus according to the present embodiment is used in a polarization axis detection process that is performed at a stage prior to the process of attaching a polarizing plate to a display panel such as a liquid crystal panel or an EL panel in a production line.
  • the polarizing plate After the direction of the polarization axis of the polarizing plate is accurately detected by this polarization axis detection device and the direction of the polarizing plate is corrected so that the direction of the polarization axis is in a desired (as designed) direction, the polarizing plate On the other hand, the display panel to be attached is supplied so as to be aligned, and the polarizing plate and the display panel are attached.
  • the polarization axis detection apparatus 1 of this embodiment includes a stage 11 on which a polarizing plate to be detected is placed, an optical sensor (an irradiation head 12 and a light receiving head 13), a rotation angle detection circuit 14, and a calculation. Circuit 15.
  • the polarizing plate to be detected has a disk shape
  • the stage 11 also has a disk shape.
  • the stage 11 is configured to rotate around the rotation shaft 111.
  • the stage 11 is formed of a material that transmits light emitted from the irradiation head 12.
  • the rotation angle detection circuit 14 detects a rotation angle from a predetermined angle reference position or rotation start position. The detected rotation angle is output to the arithmetic circuit 15.
  • the irradiation head 12 incorporates a laser light source (not shown) and irradiates the light receiving head 13 with laser light.
  • the wavelength of this laser beam is in the visible light region (400 nm to 700 nm). However, even light having a wavelength other than the visible light region (infrared light or the like) can be used as detection light as long as the amount of transmitted light from the polarizing plate is changed as the stage 11 rotates.
  • the irradiation head 12 and the light receiving head 13 may be configured as fiber sensors.
  • the light receiving head 13 receives the light emitted from the irradiation head 12 and transmitted through the polarizing plate on the stage 11, and outputs a signal representing the light amount to the arithmetic circuit 15.
  • the polarization axis detection apparatus 1 In the polarization axis detection apparatus 1 according to the present embodiment, light is irradiated from the irradiation head 12 while rotating the stage 11, and a change in a signal output from the light receiving head 13 is detected.
  • the arithmetic circuit 15 detects the direction of the polarization axis of the polarizing plate on the stage 11 based on the change in the output signal accompanying the rotation.
  • the polarizing plate to be detected when installed on the stage 11, it is desirable that the center of the polarizing plate and the center of the rotation axis 111 of the stage 11 coincide.
  • the irradiation position of the light from the irradiation head 12 is located farther in the radial direction from the rotation axis 111 of the stage 11.
  • the rotation of the stage 11 is generally controlled by a motor or the like. In order to obtain a detection result with high resolution, when the rotation angle (step angle) per pulse of the motor is reduced, the irradiation position of the irradiation head 12 is farther from the rotation axis 111 of the stage 11 in the radial direction. This is because the change in the amount of light in units of step angles becomes large and the detection becomes easy.
  • a polarizing plate is placed on the stage 11 so that the direction of the polarization axis is as designed, and the waveform of the output signal from the light receiving head 13 is acquired as a reference waveform.
  • a reference waveform as shown in FIG. 2 is obtained.
  • the horizontal axis represents the rotation angle of the stage 11 from a certain reference position
  • the vertical axis represents the amount of transmitted light.
  • Such reference waveform data is stored in the reference waveform storage unit 151 inside the arithmetic circuit 15.
  • the reference waveform data may be stored not in the arithmetic circuit 15 but in an external memory (not shown) accessible from the arithmetic circuit 15.
  • a polarizing plate to be detected is installed on the stage 11. At this time, the orientation of the polarizing plate may be random. Then, light is irradiated from the irradiation head 12 while rotating the stage 11, and a change in the signal output from the light receiving head 13 is detected.
  • a waveform as shown in FIG. 3 is obtained. As can be seen from FIGS. 2 and 3, the reference waveform of FIG. 2 and the measured waveform of FIG. 3 are both sine waves, but are out of phase.
  • the phase shift between the reference waveform and the measurement waveform is detected using the peak value (the maximum value or the minimum value of the light amount) in each of the reference waveform and the measurement waveform. From the detection result here, the deviation angle between the direction of the polarization axis when the reference waveform is obtained and the direction of the polarization axis when the measurement waveform is obtained can be obtained.
  • the waveform of the transmitted light amount is a sine wave, and there are four peak values between the rotation angles of 0 degrees to 360 degrees. Therefore, if the stage 11 is rotated at least 90 degrees, the peak value can be detected, so it is not necessary to rotate 360 degrees.
  • the polarizing plate can be attached to a liquid crystal panel or the like with the direction of the polarization axis adjusted to the designed angle (See FIG. 5). For example, when the deviation between the peak position of the reference waveform and the peak position of the measurement waveform shown in FIG. 4 is 30 degrees, if the direction of the polarizing plate is rotated by 150 degrees or 30 degrees by rotating the stage 11, the reference The deviation from the direction of the polarization axis when the waveform is obtained (the direction of the polarization axis as designed) is eliminated.
  • the liquid crystal panel or the like to which the polarizing plate is to be attached is aligned and attached to the polarizing plate on the stage 11 in which the deviation from the direction of the polarization axis as designed is eliminated. .
  • the panel after detecting the polarization axis, the panel is supplied onto the polarization axis detection device and pasted.
  • the correction of the polarization axis deviation angle (rotation of the polarizing plate) You may implement in the middle of conveyance to a sticking process from a polarization axis detection process, and you may carry out in a sticking process.
  • polarizing plates polarizer and analyzer
  • a reference waveform for each of the polarizer and the analyzer is obtained separately, and the polarizer
  • the direction of the polarization axis and the direction of the polarization axis of the analyzer may be obtained separately by comparing with the respective reference waveforms.
  • the direction of the polarization axis can be detected for a polarizing plate having a rectangular shape or any other shape, not limited to a disk shape.
  • FIG. 1 shows an example in which the stage 11 has a disk shape
  • the shape of the stage is arbitrary.
  • the shape of the stage and the shape of the polarizing plate to be detected need not necessarily match.
  • the schematic configuration of the polarization axis detection apparatus according to the second embodiment of the present invention is the same as that of the polarization axis detection apparatus 1 described in the first embodiment.
  • the processing in the arithmetic circuit is different from that of the first embodiment, and an arithmetic circuit 25 is provided instead of the arithmetic circuit 15 according to the first embodiment.
  • the arithmetic circuit 25 includes a transmitted light amount table 251.
  • the transmitted light amount table 251 the transmitted light amount when the polarizing plate is arranged on the stage 11 so that the polarization axis is oriented as designed is measured and recorded in advance. If the polarizing plate is attached to the panel so that the polarization axis is oriented as designed, the contrast of the panel is maximized. Therefore, a test panel is prepared, and the direction of the polarization axis when the contrast is maximized is obtained while adjusting the direction of attaching the polarizing plate.
  • the value of the received light amount detected here is stored in the transmitted light amount table 251. That is, the value of the received light amount stored here is the amount of transmitted light when the direction of the polarization axis of the polarizing plate is optimized.
  • the polarizing plate to be detected is installed on the stage 11. At this time, the orientation of the polarizing plate may be random.
  • light is irradiated from the irradiation head 12 while rotating the stage 11, and a signal (transmitted light amount) output from the light receiving head 13 is detected.
  • the arithmetic circuit 25 compares the detected transmitted light amount with the transmitted light amount stored in the transmitted light amount table 251 and detects the rotation angle when the difference is minimized.
  • the transmitted light amount stored in the transmitted light amount table 251 is 1952
  • the transmitted light amount output from the light receiving head 13 to the arithmetic circuit 25 is as shown in FIG.
  • the polarizing axis is adjusted by supplying the polarizing plate to the attaching step while maintaining the state when the rotation angle of the stage 11 is 19 degrees.
  • a polarizing plate can be attached to a liquid crystal panel or the like with the orientation adjusted to the designed angle.
  • the transmitted light amount data stored in the transmitted light amount table 251 is not limited to one point.
  • the transmitted light amount when the contrast is maximized on the test panel and the peripheral data may be stored in the transmitted light table 251.
  • the transmitted light amount data when the contrast is minimized may be used.
  • FIG. 8 the structure which added another set of sensors with respect to the structure concerning 1st Embodiment shown in FIG. 1 was illustrated. However, even in the configuration according to the second embodiment, it is possible to use two sets of sensors.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

偏光板の形状にかかわらず、円形偏光板や異形偏光板であっても、偏光軸を容易に検出することを可能とする。センサ光を出射する照射ヘッド１２と、偏光板を搭載し、回転するステージ１１と、ステージ１１上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光ヘッド１３と、受光ヘッド１３からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算回路１５とを備え、演算回路１５がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における受光ヘッド１３からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、ステージを回転させながら偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と前記基準データとに基づき、演算回路１５が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出する。

Description

偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置
　本発明は、表示装置に用いられる偏光板の偏光軸を検出するための偏光軸検出装置と、この偏光軸検出装置を用いて偏光板の偏光軸を検出する方法と、偏光軸が検出された偏光板を用いて表示装置を製造する方法と、これにより製造される表示装置とに関する。
　液晶表示装置や有機ＥＬ（Electro Luminescence）表示装置等の、偏光板を有する表示装置は、その製造工程において、パネルへ偏光板を貼り付ける際に、パネルと偏光板との位置合わせを精度良く行うことが課題となっている。特に、偏光軸の向きが所定の方向に一致するように、パネルの表面と平行な面内で偏光板を回転させて位置合わせを行う際に、高精度な制御が要求される。
　従来、偏光板の外形（エッジ）または全体をカメラで撮影した画像から認識すること等によって、偏光板の位置制御が行われている。しかしながら、近年は、求められる画質の高精細化に伴い、こういった従来の方法では対応できないほどの高精度な貼り付け制御が要求されるようになっている。また、矩形以外の様々な形状の表示面を有するパネルや、小型の表示面を有するウェアラブル（wearable）端末等が出現したことにより、偏光板の位置制御がより難しくなっている。例えば、液晶パネルを用いた時計型の端末の場合、その表示面が円形であれば、円形の偏光板が用いられる。その場合には、偏光板の外形を認識する方法では、偏光板の貼り付け角度（偏光軸の向きの制御）が難しい。
　また、その他の方法として、例えば、液晶パネルの表面用と裏面用の一対の偏光フィルムを光源の前に配置し、一方の偏光フィルムを固定して他方の偏光フィルムを回転させて透過光の光量を測定し、透過光量が最大または最小となった時点で位置合わせ用のマークを形成する方法が、特開２０１３－８３７８４号公報に開示されている。しかしながら、この公報に開示されている方法では、一対の偏光フィルムを相対的に回転させる必要がある。
特開２０１３－８３７８４号公報
　本発明は、上記の課題を鑑み、偏光板の形状にかかわらず、円形偏光板や異形偏光板（円形や矩形以外の形状を有する偏光板）であっても、偏光軸を容易に検出できる技術を提供することを目的とする。
　上記の目的を達成するために、本発明にかかる偏光軸検出装置は、
　センサ光を出射する照射部と、
　偏光板を搭載し、回転するステージと、
　前記ステージ上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光部と、
　前記受光部からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算部とを備え、
　前記演算部がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、
　前記ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づき、前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出することを特徴とする。
　本発明によれば、偏光板の形状にかかわらず、円形偏光板や異形偏光板であっても、偏光軸を容易に検出することが可能となる。
図１は、第1の実施形態における偏光軸検出装置の概略構成を示す模式図である。 図２は、基準波形の一例を示す波形図である。 図３は、検出対象の偏光板からの測定波形の一例を示す波形図である。 図４は、基準波形と測定波形との位相ずれを示す波形図である。 図５は、基準波形と測定波形との位相ずれを解消した様子を示す波形図である。 図６は、第２の実施形態にかかる偏光軸検出装置の概略構成を示す模式図である。 図７は、第２の実施形態にかかる偏光軸検出装置で測定された透過光量の一例を示す図である。 図８は、変形例にかかる偏光軸検出装置の概略構成を示す図である。
　本発明の第１の構成にかかる偏光軸検出装置は、
　センサ光を出射する照射部と、
　偏光板を搭載し、回転するステージと、
　前記ステージ上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光部と、
　前記受光部からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算部とを備え、
　前記演算部がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、
　前記ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づき、前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出することを特徴とする。
　この構成によれば、ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づいて、ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出することができるので、偏光板の形状にかかわらず、偏光軸の向きを容易に検出することが可能となる。
　本発明の第２の構成にかかる偏光軸検出装置は、前記第１の構成にかかる偏光軸検出装置において、
　前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出するために、前記受光部から出力される信号がピーク値を示すときの前記ステージの回転角度と、前記基準データがピーク値を示すときの前記ステージの回転角度とを比較する。
　本発明の第３の構成にかかる偏光軸検出装置は、前記第１の構成にかかる偏光軸検出装置において、
　前記基準データとして、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号の値が記憶され、
　前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出するために、前記受光部から出力される信号の値と、前記基準データの値とを比較する。
　本発明の第４の構成にかかる偏光軸検出装置は、前記第１～第３の構成にかかる偏光軸検出装置において、前記照射部と受光部とを２組備えている。
　また、本発明にかかる偏光板の偏光軸の検出方法は、
　センサ光を出射する照射部と、
　偏光板を搭載し、回転するステージと、
　前記ステージ上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光部と、
　前記受光部からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算部とを備えた偏光軸検出装置を用いた、偏光板の偏光軸の検出方法において、
　前記演算部がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、
　前記ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づき、前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出することを特徴とする。
　また、本発明にかかる表示装置の製造方法は、
　偏光板を備えた表示装置の製造方法であって、
　上記の偏光軸の検出方法により、偏光板の偏光軸の向きを検出する工程と、
　前記偏光板と表示用パネルとを貼り付ける工程とを含む。
　上記の表示用パネルは、例えば、液晶パネルおよび有機ＥＬパネルのいずれかであることが好ましい。
　［実施の形態］
　以下、図面を参照し、本発明の実施の形態を詳しく説明する。図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。なお、説明を分かりやすくするために、以下で参照する図面においては、構成が簡略化または模式化して示されたり、一部の構成部材が省略されたりしている。また、各図に示された構成部材間の寸法比は、必ずしも実際の寸法比を示すものではない。
　［第１の実施形態］
　図１は、第１の実施形態にかかる偏光軸検出装置の概略構成を示す模式図である。本実施形態にかかる偏光軸検出装置は、製造ラインにおいて、液晶パネルやＥＬパネル等のディスプレイパネルに偏光板を貼り付ける工程の前段階で実施される偏光軸検出工程で使用される。この偏光軸検出装置で偏光板の偏光軸の方向が正確に検出されて、偏光軸の方向が所望の（設計どおりの）方向に向くように偏光板の向きが修正された後、その偏光板に対して、貼り付け対象のディスプレイパネルが位置を合わせるように供給され、偏光板とディスプレイパネルとが貼り付けられる。
　図１に示すように、本実施形態の偏光軸検出装置１は、検出対象の偏光板を載せるステージ１１と、光学センサ（照射ヘッド１２および受光ヘッド１３）と、回転角検出回路１４と、演算回路１５とを備えている。なお、本実施形態では、検出対象の偏光板が円板形状であるものとし、ステージ１１も円板形状である。
　ステージ１１は、回転軸１１１を中心として回転するよう構成されている。ステージ１１は、照射ヘッド１２から出射される光を透過する材料で形成されている。ステージ１１が回転すると、回転角検出回路１４が、所定の角度基準位置または回転開始位置からの回転角度を検出する。検出された回転角度は、演算回路１５へ出力される。
　照射ヘッド１２は、レーザ光源（図示せず）を内蔵しており、受光ヘッド１３へ向けてレーザ光を照射する。このレーザ光の波長は、可視光領域（４００ｎｍ～７００ｎｍ）内である。ただし、可視光領域以外の波長を有する光（赤外光等）であっても、ステージ１１の回転に伴って偏光板からの透過光量に変化が見られるのであれば、検出光として利用できる。
　なお、照射ヘッド１２および受光ヘッド１３は、ファイバセンサとして構成されていても良い。
　受光ヘッド１３は、照射ヘッド１２から出射されてステージ１１上の偏光板を透過した光を受光し、その光量を表す信号を演算回路１５へ出力する。本実施形態にかかる偏光軸検出装置１では、ステージ１１を回転させながら照射ヘッド１２から光を照射し、受光ヘッド１３から出力される信号の変化を検出する。演算回路１５は、回転に伴う出力信号の変化に基づいて、ステージ１１上の偏光板の偏光軸の向きを検出する。
　なお、ステージ１１上に検出対象の偏光板を設置する際に、偏光板の中心とステージ１１の回転軸１１１の中心とが一致することが望ましい。また、照射ヘッド１２からの光の照射位置が、ステージ１１の回転軸１１１から半径方向において、より遠い位置にある方が好ましい。ステージ１１の回転は一般的にはモータ等で制御する。分解能の高い検出結果を得るために、モータの１パルス当たりの回転角（ステップ角）を小さくした場合、照射ヘッド１２を、その照射位置が、ステージ１１の回転軸１１１から半径方向においてより遠い位置になるよう設置することにより、ステップ角単位の光量の変化が大きくなり、検出が容易になるからである。
　以下、偏光軸検出装置１により偏光軸の向きを検出する方法について説明する。
　なお、実際の検出に先立って、偏光軸の方向が設計どおりの方向になるようステージ１１に偏光板を設置し、受光ヘッド１３からの出力信号の波形を、基準波形として取得しておく。例えば、図２に示すような基準波形が得られたものとする。なお、図２の波形図において、横軸は、ある基準位置からのステージ１１の回転角度を表し、縦軸は、透過光量である。このような基準波形のデータは、演算回路１５の内部の基準波形記憶部１５１に記憶されている。なお、基準波形のデータは、演算回路１５の内部ではなく、演算回路１５からアクセス可能な外部のメモリ（図示せず）に記憶されていても良い。
　次に、検出対象の偏光板をステージ１１上に設置する。この際に、偏光板の向きはランダムで良い。そして、ステージ１１を回転させながら照射ヘッド１２から光を照射し、受光ヘッド１３から出力される信号の変化を検出する。ここで、図３に示すような波形が得られたものとする。図２および図３から分かるように、図２の基準波形と図３の測定波形はいずれも正弦波であるが、位相がずれている。
　そして、図４に示すように、基準波形および測定波形のそれぞれにおけるピーク値（光量の最大値または最小値）を用いて、基準波形と測定波形との位相ずれを検出する。ここでの検出結果から、基準波形が得られたときの偏光軸の向きと、測定波形が得られたときの偏光軸の向きとの間のずれ角度を求めることができる。なお、上述のとおり、透過光量の波形は正弦波であり、０度～３６０度の回転角度の間にピーク値は４点存在する。したがって、ステージ１１を少なくとも９０度回転させればピーク値を検出することができるので、３６０度回転させる必要はない。
　したがって、ここで求められた偏光軸のずれ角度だけ偏光板を回転させれば、偏光軸の向きが設計どおりの角度に調整された状態で、液晶パネル等へ偏光板を貼り付けることができる（図５参照）。例えば、図４に示す基準波形のピーク位置と測定波形のピーク位置のずれが３０度であるとき、ステージ１１を回転させることによって偏光板の向きを１５０度または３０度だけ回転させれば、基準波形が得られたときの偏光軸の向き（設計どおりの偏光軸の向き）に対するずれは解消される。
　そして、このように、設計どおりの偏光軸の向きに対するずれが解消された、ステージ１１上の偏光板に対して、この偏光板の貼り付け対象である液晶パネル等を位置合わせして、貼り付ける。
　なお、本実施形態においては、偏光軸を検出した後に、偏光軸検出装置上へパネルを供給して貼り付けを行うものとしたが、偏光軸のずれ角度の修正（偏光板の回転）は、偏光軸検出工程から貼り付け工程への搬送途中に実施しても良いし、貼り付け工程において実施しても良い。
　なお、液晶パネルのように、パネルの両面に一対の偏光板（偏光子および検光子）を貼り付ける場合には、偏光子と検光子のそれぞれについての基準波形を別個に求めておき、偏光子の偏光軸の向きと、検光子の偏光軸の向きとを、それぞれの基準波形と比較することによって別個に求めるようにすれば良い。
　本実施形態にかかる偏光軸検出装置１によれば、円板形状に限らず、矩形やその他の任意の形状の偏光板について、偏光軸の方向を検出することができる。なお、図１では、ステージ１１が円板形状である例を示したが、ステージの形状は任意である。また、ステージの形状と検出対象の偏光板の形状とは必ずしも一致しなくても良い。なお、前述のとおり、ステージの回転中心と偏光板の中心位置とは、一致していることが好ましい。
　［第２の実施形態］
　本発明の第２の実施形態にかかる偏光軸検出装置の概略構成は、第１の実施形態で説明した偏光軸検出装置１と同様である。ただし、演算回路における処理が、第１の実施形態とは異なっており、第１の実施形態にかかる演算回路１５の代わりに、演算回路２５を備えている。
　演算回路２５は、透過光量テーブル２５１を備えている。透過光量テーブル２５１には、偏光軸が設計どおりの向きになるようにステージ１１上に偏光板を配置した場合の透過光量があらかじめ測定され、記録されている。偏光軸が設計どおりの向きになるよう偏光板がパネルに貼り付けられていれば、当該パネルのコントラストは最大となる。したがって、テスト用のパネルを準備し、偏光板の貼り付けの向きを調整しながら、コントラストが最大となるときの偏光軸の向きを求める。そして、その偏光軸の向きを維持してステージ１１上に偏光板のみを配置した状態で、照射ヘッド１２から光を照射し、受光ヘッド１３での受光量を検出する。そして、ここで検出された受光量の値を、透過光量テーブル２５１に記憶する。すなわち、ここで記憶される受光量の値は、偏光板の偏光軸の向きが最適化されたときの透過光量である。
　そして、検出対象の偏光板をステージ１１上に設置する。この際に、偏光板の向きはランダムで良い。次に、ステージ１１を回転させながら照射ヘッド１２から光を照射し、受光ヘッド１３から出力される信号（透過光量）を検出する。演算回路２５は、検出された透過光量を、透過光量テーブル２５１に記憶されている透過光量と比較し、その差が最も小さくなるときの回転角度を検出する。
　例えば、透過光量テーブル２５１に記憶されている透過光量が１９５２であったとし、受光ヘッド１３から演算回路２５へ出力される透過光量が図７に示すとおりであったとする。この場合、回転角度が１９度のときの透過光量が１９５２であるので、ステージ１１の回転角度が１９度である場合の状態を保ちながら偏光板を貼り付け工程へ供給することにより、偏光軸の向きが設計どおりの角度に調整された状態で、液晶パネル等へ偏光板を貼り付けることができる。
　なお、透過光量テーブル２５１に記憶される透過光量のデータは、１点のみに限定されない。例えば、テスト用のパネルでコントラストが最大となるときの透過光量およびその周辺のデータを、透過光量テーブル２５１に記憶させても良い。
　また、コントラストが最大となるときの透過光量の代わりに、コントラストが最小となるときの透過光量のデータを用いても良い。
　［変形例］
　例えば、上述の実施形態では、照射ヘッド１２と受光ヘッド１３とを一組備えた構成を例示したが、図８に示すように、照射ヘッド１２と受光ヘッド１３とを二組備えた構成としても良い。このように、二組の照射ヘッドと受光ヘッドとを備えた構成とすれば、一組のセンサ（照射ヘッドと受光ヘッド）により得られたデータに誤差等の誤りがないかを、もう一組のセンサで検証することができる。例えば、ステージ１１の回転中心と測定対象の偏光板の中心とが完全に一致していない場合に、二組のセンサを用いれば、より正確に偏光軸の方向を検出できるというメリットがある。なお、二組のセンサの位置関係については、特に制限はない。
　なお、図８では、図１に示した第１の実施形態にかかる構成に対して、もう一組のセンサを追加した構成を例示した。しかし、第２の実施形態にかかる構成においても、二組のセンサを用いることが可能である。
　以上、上述した実施の形態および変形例は本発明を実施するための例示に過ぎない。よって、本発明は上述した実施の形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲内で上述した実施の形態を適宜変形して実施することが可能である。
　１：偏光軸検出装置、１１：ステージ、１１１：回転中心、１２：照射ヘッド、１３：受光ヘッド、１４：回転角検出回路、１５：演算回路、１５１：基準波形記憶部、２５：演算回路、２５１：透過光量テーブル

Claims (8)

  1. 　センサ光を出射する照射部と、
    　偏光板を搭載し、回転するステージと、
    　前記ステージ上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光部と、
    　前記受光部からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算部とを備え、
    　前記演算部がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、
    　前記ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づき、前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出する、偏光軸検出装置。
  2. 　前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出するために、前記受光部から出力される信号がピーク値を示すときの前記ステージの回転角度と、前記基準データがピーク値を示すときの前記ステージの回転角度とを比較する、請求項１に記載の偏光軸検出装置。
  3. 　前記基準データとして、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号の値が記憶され、
    　前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出するために、前記受光部から出力される信号の値と、前記基準データの値とを比較する、請求項１に記載の偏光軸検出装置。
  4. 　前記照射部と受光部とを２組備えた、請求項１～３のいずれか一項に記載の偏光軸検出装置。
  5. 　センサ光を出射する照射部と、
    　偏光板を搭載し、回転するステージと、
    　前記ステージ上の偏光板を透過したセンサ光を受光し、受光した光量に応じた信号を出力する受光部と、
    　前記受光部からの出力信号に基づいて前記偏光板の偏光軸の向きを検出する演算部とを備えた偏光軸検出装置を用いた、偏光板の偏光軸の検出方法において、
    　前記演算部がアクセス可能な記憶部に、偏光板がその偏光軸を所望の方向に向けて配置された状態における前記受光部からの出力信号に基づく基準データをあらかじめ記憶し、
    　前記ステージを回転させながら前記ステージ上の偏光板へセンサ光を照射し、前記受光部から出力される信号と、前記記憶部に記憶された基準データとに基づき、前記演算部が、前記ステージ上の偏光板の偏光軸の向きを検出する、偏光軸の検出方法。
  6. 　偏光板を備えた表示装置の製造方法であって、
    　請求項５に記載の偏光軸の検出方法により、偏光板の偏光軸の向きを検出する工程と、
    　前記偏光板と表示用パネルとを貼り付ける工程とを含む、表示装置の製造方法。
  7. 　請求項６に記載の製造方法によって製造された表示装置。
  8. 　前記表示用パネルが、液晶パネルおよび有機ＥＬパネルのいずれかである、請求項７に記載の表示装置。
PCT/JP2016/079468 2015-10-08 2016-10-04 偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置 WO2017061419A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/765,819 US20180283952A1 (en) 2015-10-08 2016-10-04 Polarizing axis detection device, polarizing axis detection method, display device producing method, and display device produced thereby

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015-200270 2015-10-08
JP2015200270 2015-10-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017061419A1 true WO2017061419A1 (ja) 2017-04-13

Family

ID=58487761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/079468 WO2017061419A1 (ja) 2015-10-08 2016-10-04 偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20180283952A1 (ja)
WO (1) WO2017061419A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6596533B2 (ja) * 2018-03-30 2019-10-23 日東電工株式会社 粘着剤層付偏光フィルム、及び画像表示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60231106A (ja) * 1984-05-01 1985-11-16 Nitto Electric Ind Co Ltd 吸収軸ズレ測定装置
JP2003161935A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Sharp Corp 偏光板貼付装置
JP2006201152A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Optimax Technology Corp 偏光板測定装置及び測定方法
JP2008139274A (ja) * 2006-12-01 2008-06-19 Optimax Technology Corp 偏光板軸向測量装置および測量方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5517309A (en) * 1993-05-03 1996-05-14 Barker; David D. Tool for analyzing a polarization state of a light beam
US7777879B2 (en) * 2007-02-01 2010-08-17 Stmicroelectronics (Research & Development) Ltd. Rotary encoders

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60231106A (ja) * 1984-05-01 1985-11-16 Nitto Electric Ind Co Ltd 吸収軸ズレ測定装置
JP2003161935A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Sharp Corp 偏光板貼付装置
JP2006201152A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Optimax Technology Corp 偏光板測定装置及び測定方法
JP2008139274A (ja) * 2006-12-01 2008-06-19 Optimax Technology Corp 偏光板軸向測量装置および測量方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20180283952A1 (en) 2018-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4921090B2 (ja) 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置
CN103765303A (zh) 光定向照射装置
JP2012220381A (ja) 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
US20170102221A1 (en) Device for detecting rotation angle of prism and method for using the same
KR20180010982A (ko) 검사 장치 및 검사 방법
US10788716B2 (en) Light alignment control method and light alignment device
KR20100130153A (ko) 편광판의 제조방법
JP4663529B2 (ja) 光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置
TW201316096A (zh) 偏光膜之貼附方法
JP2007127567A (ja) 偏光方向測定装置
WO2017061419A1 (ja) 偏光軸検出装置、偏光軸の検出方法、表示装置の製造方法およびこれにより製造される表示装置
KR101594308B1 (ko) 편광기의 투과축 측정장치를 이용한 편광기의 투과축 측정방법
JP2006201152A (ja) 偏光板測定装置及び測定方法
US20130169790A1 (en) Optical characteristics capturing apparatus and method for inspecting optical characteristics of a flexible display
JP2014092489A (ja) 検査装置および検査方法
TW201632869A (zh) 光學薄膜的缺陷檢查方法、光學薄膜的缺陷檢查裝置、光學薄膜的製造方法、及光學薄膜的製造裝置
TWI413566B (zh) 偏光片之製造方法
US20180052074A1 (en) Method for calibrating a polarisation axis measuring device and method for determining polarisation axes of spectacle lenses for a polarisation axis measuring device
KR20140089200A (ko) 결함의 검출 방법 및 이를 이용한 반사 광학계 검사 장치
JP2011117792A (ja) 楕円偏光板の貼合角測定装置
CN101923238B (zh) 液晶显示装置的制造方法
CN108181095A (zh) 偏光片光学参数的测量方法及测量装置
JP6197896B2 (ja) 偏光光照射装置
JP4728830B2 (ja) 光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置
KR101594307B1 (ko) 편광기의 투과축 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16853573

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15765819

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16853573

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP