WO2017003274A2 - Масс-спектрометр, в том числе 3d времяпролетный масс-спектрометр - Google Patents
Масс-спектрометр, в том числе 3d времяпролетный масс-спектрометр Download PDFInfo
- Publication number
- WO2017003274A2 WO2017003274A2 PCT/KZ2016/000014 KZ2016000014W WO2017003274A2 WO 2017003274 A2 WO2017003274 A2 WO 2017003274A2 KZ 2016000014 W KZ2016000014 W KZ 2016000014W WO 2017003274 A2 WO2017003274 A2 WO 2017003274A2
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- reflection
- channel
- ion
- reflective
- group
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
Definitions
- Mass spectrometer including 3D time-of-flight mass spectrometer
- the invention can be used, for example, in medicine, in biology, in the gas and oil industry, in metallurgy, energy, geochemistry, hydrology, ecology, the food industry, for the control of doping and narcotic drugs.
- time-of-flight non-magnetic mass-reflecting mass spectrometers are generally known (US 8,598,516 B2, WO2014126449 A1).
- MS blocks ion source block; a group of ion-conducting blocks included in the docking-unit unit, as well as analyzer-dispersing a block, while the blocks include IB channels with boundary surfaces and with a channel 10 subsystem in which:
- the IB channel corresponding to its block is a part of the MS channel that combines the ion-conducting IB channels of the ion-conducting blocks together with the ion-source IB channel of the ion-source block;
- the channel J subsystem corresponding to its IB channel is part of the 10 system of the MS channel, which combines 10 systems of ion-conducting IB channels together with the J system of the ion-source IB channel;
- IB channels include at least two boundary surfaces that are selected from the group consisting of surface types, conditionally defined, a surface that matches the boundary electrode of channel 10 of the subsystem, any of which is made with at least one a passage window (for passage of the channel ion flow), in accordance with the choice of the boundary surface;
- the U subsystem of at least one ion-conducting IB channel is selected from a series consisting of linear, curvilinear, curvilinear with transverse spatial dispersion by mass, and reflective 10 subsystems;
- Its ion source block is made with at least two through-ports, and the MS is configured to simultaneously perform mass spectrometry of at least two ion flow paths, including ion paths with multiply connected cross-sectional surfaces, the ion flow in which are supplied by an ion source block;
- Its reflective subsystem 10 is three-dimensional (3D-reflector), and includes at least two Yu reflection means, the set of averaged facial vectors of which do not lie on one straight line and are made in at least one type selected from the group, consisting of an arcuately reflecting £ 7 -type and a loop-shaped reflecting -type of a two-reflection unit, and an angularly reflecting 10 reflection element of the V -type,. and a 3D reflector is used for time-of-flight dispersion by mass of ions, transverse spatial focusing, time-of-flight focusing on ion energy in an ion packet;
- At least one 10 element is selected from the group consisting of the following: elongated and local transversely-conical 10 elements of a reflecting type, including single-zone, two-zone: vertical-two-zone, horizontal-two-zone, and its mixed-two-zone types; local transverse-fracture-conical 10 elements of refracting form; 10 reflection elements with a three-dimensional reflection region, including transversely-conical 10 reflection elements; elongated 10 elements of refracting appearance, including transverse-fracture-conical.
- Each IB channel serves to form and control the movement of the channel ion flow and includes a channel 10 subsystem with one or more nodes, each of which contains two or more electrodes, also one or more boundary surfaces, which are exit surfaces or input surfaces and output for channel ion flow.
- the ion source type of the IB channel (the IB channel of the ion source block or the ion source IB channel) includes an exit surface that substantially coincides with the boundary electrode of the ion source IB channel.
- Ion-conducting type of the IB channel (IB channel of the ion-conducting block or ion-conducting IB channel) contains boundary surfaces and the channel subsystem (10 nodes), made in the form of one or more control subsystems, or made in a multi-reflective form.
- the options for forming a docking block link in MS are very diverse and depend on the range of specific types of tasks for which MS was developed. Depending on the quantitative composition of the blocks of the docking block link, the MS can be qualified as the types of blocking levels of MS: extended-multi-block, multi-block, medium-block, and low-block MS.
- At least one ion-conducting MS block includes at least one IB channel selected from the group consisting of channel-single-channel and channel-multi-channel types thereof.
- WO2015057042 A2 relates to a vacuum complex device system (VCSD), including a main device requiring a vacuum (objects and processes requiring a vacuum medium), a vacuum-creating system, which also includes MS analyzers.
- the vacuum casing is made in a systematic form and it creates a system vacuum chamber, which includes: separating the main device in which the main device is located, for example, MS analyzers; at least one compartment of the attached pumping system in which the attached pumping system (CES) of the vacuum generating system is located.
- CES attached pumping system
- CES is created in the vacuum chamber of the main device, taking into account the design and functional characteristics of the main device, and together they form the system VCSD.
- an external pump system is used in conjunction with CES, which, in it is further separated from the system VCSD through a connecting flange, and the vacuum condition in the system VCSD supports CES.
- This concept of creating VCSD has significant advantages: it is easy to create and maintain ultra-high vacuum in the system VCSD; system VCSD is less bulky and less massive compared to VCSD, which constantly uses an external pump system.
- WO2015057042 A2 also proposes a new type of magnet with increased coercive magnetic force and magnetic energy density, which allows the creation of small-sized attached pumping systems in the form of ion pumps.
- P-reflectors with a wide flat shape are selected from a series of members, including a second-order curvilinear genus and n -hedral / sectorial genus. Any such P-reflector has one common mid-plane. At the same time, P-reflectors are used as the U-subsystem of the analyzer-dispersing IB channel.
- Any P-reflector with a wide form of a flat view has one common middle plane.
- the main disadvantage of such P-reflectors with a wide flat form of the prototype is that the lower limit of the angle of total reflection of any reflected ion flux is limited so that the forward and reverse flows do not interact strongly with each other.
- This limitation also imposes a limitation on the amount of reflection (per path) of the ion flux during a single cycle of the passage of the ion flux in the P-reflector, which limits the time-of-flight dispersion and resolution of the whole MR-TOF MS.
- the main objective of the present invention is to provide an MS with a small size in order to increase the ratio of resolution to dimensions - an indicator of the resolution / dimensions of various MSs.
- variants of the method of mass spectrometry and devices for their implementation cover all blocking levels and resolution levels of MS.
- the invention additionally provides increased sensitivity, accuracy and speed of measuring the composition and structure of substances, while reducing the geometric dimensions and mass of the analyzers. Another objective further solved in the present invention is to expand the arsenal of mass spectrometry.
- the main differences of the proposed MS from the known MS is that it is made up of at least one feature selected from the group including the following:
- (a) its reflective 10 subsystem, for controlling the ion flux, is made of a magnetic, circular, loop-shaped P-reflector;
- its vacuum casing is made in a systematic form, and it creates a system vacuum chamber, which includes: the MS analyzer compartment in which the MS analyzer is located and one or more attached pumping system compartments, in each of which there is a vacuum-generating connected pumping subsystem (CESS) system, while in the area adjacent to its ion source and / or from the reflecting element, there are one or more branches of the attached pumping system.
- CESS vacuum-generating connected pumping subsystem
- - its reflective 10 subsystem is selected from members of the series, including the second-order curvilinear genus and n -facial / sectorial genus;
- the ratio of the width (longitudinal size) L Q , P-reflector to its thickness (transverse size) L mh , in the projection onto its base plane, is limited to 1.5 ⁇ —— ⁇ 100 ; between the P-sites of reflection, in the region of the middle of its length, is formed
- drift space space without a field
- n-sided / sector kind of reflective 10 subsystems are selected from a number including: an elongated 10 reflective element in the form of a circle sector; local Yu reflective element in the form of a sector of the circle; local flat (Cartesian-two-dimensional) 10 reflective element;
- - its reflective 10 subsystem includes at least two electrodes designed to control the flow of charged particles, with structural-geometric and electropotential-functional characteristics made from the group consisting of the following: elongated and local transverse-fracture-conical U elements of the reflective type, including single-zone, two-zone: vertical-two-zone, horizontal-two-zone, and its mixed-two-zone types; local transverse-fracture-conical 10 elements of refracting form; 10 reflection elements with a three-dimensional reflection region, including transversely discontinuous conical 10 reflection elements; elongated 10 elements of refracting appearance, including transverse-fracture-conical; - its reflective 10 subsystem is made in the form of a 3D reflector and without intermediate, deflecting, and focusing elements in a loop-like reflection;
- any reflective node (second-order curvilinear genus and n - facet / sectorial genus) is made selected from the group including types as: without a stub; with a plug located transversely to the main axis of the element from the side of reflection of ions;
- - its cap is made selected from the group including types as: flat; at least one of two mutually perpendicular directions is made with curvature;
- the plug is made separately from the adjacent electrode; the plug is inextricably made with an adjacent electrode;
- At least one of the field strength and curvature of the equipotential field surfaces increases with distance from the center of the reflective 10 subsystem;
- - its reflective 10 subsystem for controlling the ion flux, is made by a magnetless electric circular loop-shaped P-reflector and in its reflective 10 subsystem the projection of the total reflection angle 9 + onto the ⁇ -plane is limited to 0 - ⁇ 3 * - ⁇ ; - in its reflection subsystem 10, the projection value "9 * of the total reflection angle v + on the% plane satisfies the condition n * *, where n is an integer;
- At least one ion-conducting MS block includes at least one IB channel selected from the group consisting of channel-single-channel and channel-multi-channel types thereof;
- MS IMS view MS (ri) view
- MS (ri) view combinations of liquid chromatographs with masses spectrometer LC I MS
- the reflective subsystem for controlling the ion flux is made by a magnetically circular circular-loop P-reflector.
- the figures in schematic form show the main characteristic features of the reflective IO subsystem, made in the form of a circular-loop-shaped 3D P-reflector:
- FIG. 6 through 8 show some examples of the selection of the components of a circular loop 3D P-reflector to ensure the principle of the course of the average trajectory of the ion packet;
- FIG. 9 and 10 on the example of a circular type of a circular loop-shaped 3D P-reflector, presented in vertical section along its diameter in projection onto a-plane shows the structural features of a cone-shaped effect medium plane of a circular loop-shaped 3D P-reflector.
- FIG. 11 and 16 are some examples of 10 reflective elements
- the number of reflection vertices of the average trajectory of the ion packet is determined by the expressions, respectively, for the circular reflection half-cycle
- the reflection of ions is carried out using three linear (E L ⁇ A, E L 2A, EL L 2.2) reflectors.
- the reflection of ions is carried out using three sector-circular reflectors ( ⁇ réelle 1.1, ⁇ ⁇ 2 ⁇ , ⁇ réelle 2.2).
- E L l. l and E C ⁇ L are upper reflectors
- E L 2A, E L 2.2, E C 2A, E with 2.2 are lower reflectors.
- FIG. 8 and 9 show this kind of circular, two-looped 3D P-reflector - a round type of circular-two-looped 3D P-reflector: in FIG. 8 is shown in projection on the ⁇ - plane (in this case, only the upper reflection site E c ⁇ is visible) with four electrodes 391 ⁇ , 391 ⁇ , 392 ⁇ and 393 ⁇ ; the distance d between the electrode plates; in FIG. 9 is shown in projection onto the b-plane, in a section along the plane containing the coordinate axis x.
- the circular type is a circular two-loop 3D P-reflector, as shown in FIG. 9, consists of two identical parts: the upper round type of the reflection site E c ⁇ and the lower round type of the reflection site E c 2. Moreover the coordinate yz plane is the plane of symmetry, and the x axis is the axis of rotational symmetry of the circular type of a circular two-loop 3D P-reflector.
- any of the circular type of reflection with nodes E ⁇ and E 2 as shown in FIG. 10 has a conical middle surface B Q BB 2 with a vertex at point B 0 .
- a single-band longitudinally conic U reflection element V03RB of an angular oblique transition comprising: a plug (vertical-limiting electrode) V031Bn, which is made with curvature in at least one direction and is transverse to the main axis 10 cells, a first reflection electrode V31B, a second reflection electrode V32B, a third reflection electrode V33B, a fourth reflection electrode V34B.
- the electrodes are arranged horizontally-cascade; electrodes V31B and V32B are located at an angle of ⁇ 2 ⁇ ' ⁇ ⁇ ⁇ with respect to each other; electrodes V32B and V33B are located at an angle different from zero in relation to each other; there are two diaphragms, respectively, with two openings of width ⁇ ⁇ 1 and k ⁇ 2 for entering the 10 reflection element and leaving the 10 reflection element of the ion flux.
- a projection onto the xz plane shows a similar element to that shown in FIG. 11 and characterized only in that the first reflection electrode V31B, the second reflection electrode V32B are made vertically.
- FIG. 13 in the projection onto the xz plane, the element shown in FIG.
- FIG. 15 in a projection onto the yz-plane, the 10th node 310u is presented, comprising: transaxial type components of ZPu, 312u, 313y electrodes.
- the gaps between the electrodes are made in the form of segments of two concentric thin rings, with inner radii A, and R 2 .
- FIG. 15 shows that the radii of curvature of two adjacent slots R, and R 2 are concentric and R, - ⁇ R 2 .
- it happens that the condition R 2 or R ⁇ > R 2 can be fulfilled.
- sectors S of reflective elements are represented, each of which consists of two subsectors.
- Sector 2RA4 L y consists of sub-sectors ⁇ 40L y ⁇ and 140 / ⁇ , 2.
- Sector 2R.140R J consists of sub-sectors 140R V 1 and 140 / ⁇ 2.
- FIG. 19 in the projection onto the xz-plane, an example is given that, depending on the execution of the shapes of the electrodes, the technology for designing a circular two-loop P-reflector may be different.
- vertically made symmetrical electrodes (KZ IB and V32B) of the lower and upper 10 reflective elements can be connected.
- FIGS 20 and 21 presents a circular two-loop P-reflector ⁇ with four compartments P and , P ] 2 , P 13 and -P attached pumping system.
- FIG 22 and 23 presents a two-loop reflective P-reflector A 2 with four compartments P 2 i , P 22 i ⁇ 23 and ⁇ 24 attached pumping system.
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к электронной аналитической технике по определению состава и структуры веществ, в частности к области анализаторов, включающих в себя, по меньшей мере, один масс-спектрометр (MS - mass spectrometer), и может быть использовано в медицине, в биологии, в газовой и нефтяной промышленности, в металлургии, энергетике, геохимии, гидрологии, экологии. Предложен TOF MS выполненный, по меньшей мере, с одной особенностью, выбранной из группы, включающей следующее: (a) петлевой вид; (b) трактно-канальный; (c) с компенсаторным источником; (d) с присоединенной откачной системой. Технический результат - увеличение разрешающей способности TOF MS.
Description
Масс-спектрометр, в том числе 3D времяпролетныи масс-спектрометр
Изобретение может быть использовано, например, в медицине, в биологии, в газовой и нефтяной промышленности, в металлургии, энергетике, геохимии, гидрологии, экологии, пищевой промышленности, для контроля допинговых и наркотических средств.
В общем виде масс-спектрометры й безмагнитные многоотражающего вида времяпролетные (MR-TOF MS) известны (US 8,598,516 В2, WO2014126449 А1).
MR-TOF MS в общем виде содержит:
(i) MS-блоки: ионно-источниковый блок; группу ионопроводящих блоков, включенных в стыковочно-блочное звено, а также анализаторно-диспергирующий
блок, при этом блоки включают IB-каналы с пограничными поверхностями и с канальной 10 подсистемой, в котором:
- IB-канал, соответствующий его блоку, является частью MS-канала, который объединяет ионопроводящие IB-каналы ионопроводящих блоков совместно с ионно- источниковым IB-каналом ионно-источникового блока;
- канальная Ю подсистема, соответствующая ее IB-каналу, является частью 10 системы MS-канала, которая объединяет 10 системы ионопроводящих IB-каналов совместно с Ю системой ионно-источникого IB-канала;
- ионопроводящие IB-каналы включают, по меньшей мере, две пограничные поверхности, которые заданы выбранными из группы, состоящей из видов поверхности, заданной условно, поверхности, совпадающей с пограничным электродом канальной 10 подсистемы, любой из которых выполнен, по меньшей мере, с одним пропускным окном (для прохождения канального ионного потока), в соответствии с выбором пограничной поверхности;
- Ю подсистема, по меньшей мере, одного ионопроводящего IB-канала выполнена выбранной из ряда, состоящего из линейной, криволинейной, криволинейной с поперечной пространственной дисперсией по массе, и отражательной 10 подсистем;
(н) детекторную систему;
(iii) контроллерно-компьютерную систему.
Его ионно-источниковый блок выполнен, по меньшей мере, с двумя пропускными окнами, и MS выполнен с обеспечением возможности проведения одновременной масс-спектрометрии, по меньшей мере, двух трактов ионного потока, в том числе ионных трактов с многосвязанными поверхностями сечения, ионный поток в которые подается ионно-источниковым блоком;
Его отражательная 10 подсистема выполнена трехмерной (3D -отражатель), и включает, по меньшей мере, два Ю средства отражения, совокупность усредненных лицевых векторов которых не лежат на одной прямой линии и выполнены, по меньшей мере, в одном типе, выбранном из группы, состоящей из дугообразно отражающего £7 -типа и петлеобразно отражающего -типа двухотражательного узла, и углоообразно отражающего 10 элемента отражения V -типа, . и 3D - отражатель используется для времяпролетного диспергирования по массе ионов, поперечной пространственной фокусировки, времяпролетной фокусировки по энергии ионов в ионном пакете;
Его по меньшей мере, один 10 элемент выбран из группы, состоящей из следующего: удлиненных и локальных поперечноразрывно-конических 10 элементов отражающего вида, включая однозонные, двузонные: вертикально- двухзонные, горизонтально-двухзонные, и смешанно-двухзонные его типы; локальных поперечноразрывно-конических 10 элементов преломляющего вида; 10 элементов отражения с трехмерной областью отражения, включая поперечноразрывно-конические 10 элементы отражения; удлиненных 10 элементов преломляющего вида, включая поперечноразрывно-конические.
Каждый IB-канал, служит для формирования и управления движением канального ионного потока и включает канальную 10 подсистему с одним или более Ю узлами, каждый из которых содержит два или более электродов, также одну или более пограничные поверхности, которые являются поверхностями выхода или поверхностями входа и выхода для канального ионного потока.
Ионно-источниковый тип IB-канала (IB-канал ионно-источникового блока или ионно-источниковый IB-канал) включает поверхность выхода, преимущественно, совпадающий с пограничным электродом ионно-источникового IB-канала. Ионопроводящий тип IB-канала (IB-канал ионопроводящего блока или з
ионопроводящий IB-канал) содержит пограничные поверхности и канальную Ю подсистему (10 узлы), выполненной в виде одной или более подсистем управления, либо выполненной в многоотражающем виде.
Варианты образования стыковочного блочного звена в MS весьма разнообразны и зависит от круга конкретных вида задач, для решения которого разработан MS. В зависимости количественного состава блоков стыковочного блочного звена MS может быть квалифицированы в виды уровней блочности MS: расширенно-многоблочный, многоблочный, среднеблочный и малоблочный MS.
По меньшей мере, один его ионопроводящий MS-блок включает, по меньшей мере, один IB-канал, выбранный из группы, состоящей из канально-однотрактных и канально-многотрактных его видов.
Известно WO2015057042 А2, которое относится к вакуумно-комплексной системе устройств (VCSD), включающая, требующее вакуума основное устройство (объекты и процессы, требующие вакуумную среду), вакуумосоздающую систему, к которой также относится анализаторы MS. Согласно изобретению вакуумный кожух выполнен в системном виде и он создает системную вакуумную камеру, которая включает: отделение основного устройства в котором расположено основное устройство, например анализаторы MS; по меньшей мере, одно отделение присоединенной откачной системы, в котором расположена присоединенная откачная система (CES) вакуумосоздающей системы.
CES создается в вакуумной камере основного устройств с учетом конструктивных и функциональных характеристик основного устройства, и образуют они вместе системную VCSD.
Для первоначального быстрого достижения высокого вакуума в системной камере используется, совместно с CES, система внешних насосов, которая, в
дальнейшем отделяется от системной VCSD через соединительный фланец, и вакуумное условие в системной VCSD поддерживает CES.
Такая концепция создания VCSD имеет существенные преимущества: легко создать и поддержать в системной VCSD сверхвысокий вакуум; системная VCSD менее громоздкая, и менее массивная по сравнению с VCSD, постоянно использующей систему внешных насосов.
В WO2015057042 А2 также предложен новый вид магнита с повышенной коэрцитивной магнитной силой и плотностью магнитной энергией, который позволяет создать малогабаритные присоединенные откачные системы в виде ионных насосов.
В US 8,598,516 В2, в частности предложены Р-многоотражатели с широкой формой плоского вида выбранный из членов ряда, включающего, второго порядка криволинейный род и п -гранный/секторный род. Любой такой Р-многоотражатель имеет одну общую среднюю плоскость. При этом Р-многоотражатели использованы в качестве Ю- подсистемы анализаторно-диспергирующего IB-канала.
Любой Р-многоотражатель с широкой формой плоского вида имеет одну общую среднюю плоскость. Основным недостатком таких Р-многоотражателей с широкой формой плоского вида прототипа является то, что нижний предел угла полного отражения любого отраженного ионного потока ограничен, чтобы прямой и обратный потоки не сильно взаимодействовали между собой. Такое ограничение также накладывает ограничение на количество отражения (на путь прохождения) ионного потока при одном цикле прохождения ионного потока в Р-многоотражателе, что приводит к ограничению времяпролетной дисперсии и разрешения MR-TOF MS целом.
Основной задачей настоящего изобретения являются предложение MS с малым габаритом с целью увеличения величины отношения разрешения к габаритам - показателя величины разрешение/габариты различных MS. При этом варианты способа масс-спектрометрии и устройства для их осуществлений охватывают все уровни блочности и уровни разрешения MS.
Изобретение дополнительно обеспечивает повышение чувствительности, точности и скорости измерения состава и структуры веществ, при одновременном уменьшении геометрических габаритов и массы анализаторов. Еще одной задачей дополнительно решенной в предлагаемом изобретении является расширение арсенала масс-спектрометрии.
Основные отличия предлагаемого MS от известных MS заключается в том что, он выполнен включающим, по меньшей мере, одну особенность, выбранную из группы, включающей следующее:
(a) его отражательная 10 подсистема, для управления ионным потоком выполнена безмагнитным электрическим круго-петлеобразным Р- многоотражателем;
(b) ее вакуумный кожух выполнен в системном виде, и он создает системную вакуумную камеру, которая включает: отделение анализатора MS в котором расположен анализатор MS и одно или более отделение присоединенной откачной системы, в каждом из которых расположена присоединенная откачная подсистема (CESS) вакуумосоздающей системы, при этом в области смежной с его источником ионов и/или с отражающего Ю элемента расположен один или более отделений присоединенной откачной системы.
Другие отличия предлагаемого MS от известных MS заключаются в том что:
- его отражательная 10 подсистема выбрана из членов ряда, включающего, второго порядка криволинейный род и п -гранный/секторный род;
- его отражательная 10 подсистема выполнена, так что: отношение ширины (продольного размера) LQ , Р-многоотражателя к его толщине (поперечному размеру) Lmh , в проекции на его плоскость основания, ограничено в пределах 1,5 < —— < 100; между Р-узлами отражения, в области середины его длины, образованно
^MRh
дрейфовое пространство (пространство без поля);
- составляющие его второго порядка криволинейного рода отражательной 10 подсистемы выполнены второго порядка криволинейноом виде, составляющие его п -граннего/секторного рода отражательной 10 подсистемы выбраны из ряда включающего: удлиненного 10 отражательного элемента в виде сектора круга; локального Ю отражательного элемента в виде сектора круга; локального плоского (декартово-двумерного) 10 отражательного элемента;
- его отражательная 10 подсистема включает, по меньшей мере, два электрода, предназначенный для управления потоком заряженных частиц, обладающий конструкционно-геометрическими и электропотенциально-функциональными характеристиками выполнен выбранным из группы, состоящей из следующего: удлиненных и локальных поперечноразрывно-конических Ю элементов отражающего вида, включая однозонные, двузонные: вертикально-двухзонные, горизонтально-двухзонные, и смешанно-двухзонные его типы; локальных поперечноразрывно-конических 10 элементов преломляющего вида; 10 элементов отражения с трехмерной областью отражения, включая поперечноразрывно- конические 10 элементы отражения; удлиненных 10 элементов преломляющего вида, включая поперечноразрывно-конические;
- его отражательная 10 подсистема выполнена в виде 3D -отражателя и без промежуточных, отклоняющих и фокусирующих элементов при петлеобразном отражении;
- его любой отражательный узел (второго порядка криволинейный род и п - гранный/секторный род) выполнен выбранным из группы, включающей типы, как: без заглушки; с заглушкой, расположенной поперечно к главной оси Ю элемента со стороны отражения ионов;
- его заглушка выполнена выбранной из группы, включающей типы, как: плоская; по меньшей мере, одной из двух взаимно перпендикулярных направлениях выполнена с кривизной;
- его любой из отражательных узелов выбран из группы, состоящей из следующих его видов: заглушка выполнена отдельно от смежного с ним электрода; заглушка выполнена неразрывно со смежным с ним электродом;
- в его отражательной 10 подсистеме в области отражения ионов, по меньшей мере, один из напряженности поля и кривизны эквипотенциальных поверхностей поля при удалении от центра отражательной 10 подсистемы увеличивается;
- его отражательная 10 подсистема выполнена с обеспечением возможности компенсации как времяпролетных так и хроматических поперечных пространственных аберрации;
- его отражательная 10 подсистема, для управления ионным потоком выполнена безмагнитным электрическим круго-петлеобразным Р-многоотражателем и в его отражательной 10 подсистеме величина проекции полного угла отражения 9+ на λ -плоскость ограничена в пределах 0 -< 3* - Л ;
- в его отражательной 10 подсистеме величина проекции «9* полного угла отражения ι + на % -плоскость удовлеторяет условии п&* = , где п целое число;
- по меньшей мере, один его ионопроводящий MS-блок включает, по меньшей мере, один IB-канал, выбранный из группы, состоящей из канально-однотрактных и канально-многотрактных его видов;
- по меньшей мере, один его MS-канал выполнен с обеспечением возможности использования его, по меньшей мере, в одном из следующих режимов масс- спектрометрии: одноступенчатый вид, MS IMS -вид, MS(ri) -вид, комбинации жидкостных хроматографов с масс-спектрометром LC I MS , и последовательного осуществления шагов перевода ионного потока по варианту, выбранному из группы режимов использования:
- по первому варианту расширенно-многоблочного режима использования в случае расширенно-многоблочности выполнения MS;
- по второму варианту расширенно-многоблочного режима использования в случае расширенной многоблочности выполнения MS;
- по варианту многоблочного режима использования, минуя -канал дополнительного накопления ионов в случае расширенной многоблочности выполнения MS, включая случай отсутствия IB-канала дополнительного накопления ионов в составе MS;
- по варианту среднего уровня блочности режима использования без отбора ионов, минуя IB-канал дополнительного накопления ионов и Ш-канала отбора ионов в случае расширенной многоблочности выполнения MS, включая случай отсутствия Ш-канала дополнительного накопления ионов и Ш-канала отбора ионов в составе MS;
- по варианту среднего уровня блочности режима использования без измельчения ионов, минуя IB-канал дополнительного накопления ионов и IB- канала ячейки измельчения в случае расширенной многоблочности выполнения MS, включая случай отсутствия IB-канала дополнительного накопления ионов и IB-канала ячейки измельчения в составе MS;
- по малоблочному варианту режима использования, минуя IB-канал дополнительного накопления ионов, IB-канала отбора ионов и IB-канала ячейки измельчения в случае расширенной многоблочности выполнения MS, включая случай отсутствия IB-канала дополнительного накопления ионов, IB- канала отбора ионов и IB-канала ячейки измельчения в составе MS.
Настоящее изобретение может быть осуществлено во многих вариантах, и только некоторые привилегированные варианты конструкции будут описаны посредством примеров, представляемых в сопровождающих чертежах.
Отражательная Ю подсистема, для управления ионным потоком выполнена безмагнитным круго-петлеобразным Р-многоотражателем.
На фигурах в схематическом виде показаны основные характерные черты отражательная IO подсистемы, выполненный в виде круго-петлеобразного 3D Р- многоотражател я :
- на фиг. с 1 по 5 в проекции на λ - плоскость показаны общий принцип хода усрединенной траектории ионного пакета;
- на фиг. с 6 по 8 показаны некоторые примеры подбора составляющих круго- петлеобразного 3D Р-многоотражателя для обеспечения принципа хода усрединенной траектории ионного пакета;
- на фиг. 9 и 10 на примере круглого типа круго-петлеобразного 3D Р- многоотражателя, представленной в вертикальном разрезе по его диаметру в
проекции на -плоскость показана конструкционные особенности конусообразной эффектиной средней плоскостью круго-петлеобразного 3D Р-многоотражателя.
- на фиг. 11 и 16 представлены некоторые примеры выполнения 10 отражательных элементов;
- на фигурах 17 и 18 представлены секторы Ю отражательных элементов, каждый из которых состоит из двух подсекторов;
- на фиг. 19 в проекции на xz -плоскость приведен пример того, что в зависимости от выполнения форм электродов технология выполнения конструкции круго-петлеобразного Р-многоотражателя может быть разным. В частности, как показано на фиг. 19 вертикально выполненные симметричные электроды (V3 1B и V32B) нижнего и верхнего IO отражательных элементов могут быть соединены;
- на фигурах 20 - 23 представлены некоторые примеры выполнения анализаторов MS с присоединенной откачной системой.
На фиг. 1, 2 и 3 в проекции на % - плоскость показаны, при величине проекции полного угла отражения 3* равной 3* =— , общий принцип хода усрединенной траектории ионного пакета, соответственно для полцикла кругового отражения, полного цикла кругового отражения и без одног отражения полного цикла кругового отражения. На этих фигурах введены обазначения: круглые толстые линии эффективная поверхность отражения; тонкие линии с единичным и векторами ку0 и куе , соответственно направлении входа и выхода - усрединенная траектория ионного потока; точки эффективная поверхность отражения; l .j и 2.М , где 7 = 1, 2,..., т = 1, 2,..., показываю точки отражения усрединенная траектория ионного
потока, соответственно с верхней (при и с нижней (при 2.т ) эффективных поверхностей отражения.
На фиг. 4 в проекции на h - плоскость показана принцип хода усрединенной траектории ионного пакета, полцикла кругового отражения, соответсвующей фиг. 1 на λ - плоскости.
В принципе величине проекции полного угла отражения 3* может быть любой в пределах 0 -< 3* - ж . На практике удобно принять величину 3* удовлеторящей условию пЗ* = Ж , где п целое число. При этом 3* может принят любой из
7С 7ΐ 7t 7 7 Ж
значений, например,—, — , -— , — , — -, — .
F 4 8 12 20 24 36
Количество вершин отражения усрединенной траектории ионного пакета, определяется выражениями, соответственно для полцикла кругового отражения
Ps/2 ~ и °ез °ДН0Г
отражения полного цикла кругового отражения pS2 = - rjr _ 2 .
Отраженные усрединенные траектории ионного пакета, при полном угле отражения 3* от эффективной круглой поверхности отражения с радиусом R , в проекции на % - плоскость образуют внутренную окружность с радиусом равный г = 2R sin 23* sin 3* , к которой усрединенные траектории ионного пакета проходять по касательной с ее внешней стороны.
На фиг. 5 в проекции на λ - плоскость показана круго-двухпетлеобразного 3D Р-многоотражатель и полцикла кругового отражения в нем траектории ионного
Ж
пакета при * =— . Эта фигура анологична показанной ранее фиг. 1, но при разных
8
величинах проекции полного угла отражения 3* . В круго-двухпетлеобразноом 3D
Р-многоотражателе при -— , также как при любом другом значении может о
быть реализованы полный цикла кругового отражения или без одног отражения полный цикл кругового отражения.
На фиг. 6 и 7 в проекции на X - плоскость показаны примеры подбора составляющих п -граннего/секторнего круго-двухпетлеобразного 3D Р- многоотражателя при 3* =— , как показно на фиг. 1. На фиг. фиг. 6 отражения ионов осуществляется с помощью трех линейных (EL \ A , EL 2A , EL 2.2 ) отражателей. На фиг. фиг. 7 отражения ионов осуществляется с помощью трех секторно-круговых отражателей ( Ес 1.1 , ЕС2Л , Ес 2.2 ). При этом ELl . l и ЕС\ Л являются верхними отражателями, a EL 2A , EL 2.2 , ЕС2А , Ес2.2 являются нижними отражателями.
При необходимости значительного количества отражения в круго- двухпетлеобразном 3D Р-многоотражателе целесообразно выполнить его в второго порядка криволинейном роде. На фиг. 8 и 9 показан такого рода круго- двухпетлеобразный 3D Р-многоотражатель - круглого типа круго- двухпетлеобразный 3D Р-многоотражатель: на фиг. 8 показан в проекции на λ - плоскость (при этом видно только верхний узла отражения Ес\ ) с четырьмя электродами 391хп, 391х, 392х и 393х; расстояние d между обкладками электрода; на фиг. 9 показан в проекции на Ь -плоскость, в разрезе по плоскости содержащей координатную ось х .
Круглого типа круго-двухпетлеобразный 3D Р-многоотражатель, как показан на на фиг. 9, состоит из двух одинаковых частей: верхнего круглого типа узла отражения Ес\ и нижнего круглого типа узла отражения Ес2. При этом
координатная yz плоскость является плоскости» симметрии, а ось х является осью вращетельной симметрии круглого типа круго-двухпетлеобразного 3D Р- многоотражателя.
Любой из круглого типа узлов отражения Ес\ и Ес2 , как показано на фиг. 10, имеет конусовидную среднюю поверхность BQB B2 с вершиной в точке В0 . При этом любой лицевой вектор Uj , где j = 1, 2,... , направлен по радиусу к ее вершине и лежит на пересечении конусовидной средней поверхности Β0Β Β2 И плоскости содержащей координатную ось х .
На фиг. 11 в проекции на xz -плоскость приведен однозонный продольно- конический Ю элемент отражения V03RB углового наклонного перехода, содержащий: заглушку (вертикально-ограничительного электрода) V031Bn, которая выполнена с кривизной, по меньшей мере, в одном направлении, и расположена поперечно к главной оси 10 элемента, первый электрод отражения V31B, второй электрод отражения V32B, третьи электрод отражения V33B, четвертый электрод отражения V34B. При этом: электроды расположены горизонтально-каскадно; электроды V31B и V32B расположены под углом величиной Χ2χ ' ^\χ по отношению друг к другу; электроды V32B и V33B расположены под углом величиной отличной от нуля по отношению друг к другу; имеются две диафрагмы, соответственно с двумя отверстиями ширинами /ζφ1 и кф2 для входа в 10 элемент отражения и выхода из 10 элемента отражения ионного потока.
На фиг. 12 в проекции на xz -плоскость приведен аналогичный элемент показанному на фиг. 11 и отличающейся только тем, что первый электрод отражения V31B, второй электрод отражения V32B выполнены вертикально.
На фиг. 13 в проекции на xz -плоскость приведен элемент показанный на фиг.
12.
На фигурах с 14 по 16 представлены примеры выполнения 10 узлов без вертикально-ограничительных электродов и с электродами расположенными горизонтально-каскадном виде. На фиг. 15 в проекции на yz -плоскость представлен 10 узел 310у, содержащий: составляющие электродов ЗПу, 312у, 313у трансаксиального типа. При этом зазоры между электродами выполнены в виде сегментов двух концентричных тонких колец, с внутренними радиусами Л, и R2 . На фиг. 15 показано, что радиусы кривизны двух смежных щелей R, и R2 концентричны и R, -< R2 . В общем, случает, может быть выполнено условие = R2 или R{ > R2.
На фигурах 17 и 18 представлены секторы Ю отражательных элементов, каждый из которых состоит из двух подсекторов. Сектор 2RA4 Ly состоит из подсекторов \40Ly\ и 140/^,2. Сектор 2R.140RJ, состоит из подсекторов 140RV1 и 140/^2.
На фиг. 19 в проекции на xz -плоскость приведен пример того, что в зависимости от выполнения форм электродов технология выполнения конструкции круго-двухпетлеобразного Р-многоотражателя может быть разным. В частности, как показано на фиг. 19 вертикально выполненные симметричные электроды ( КЗ IB и V32B ) нижнего и верхнего 10 отражательных элементов могут быть соединены.
На фигурах 20 и 21 представлены круго-двухпетлеобразный Р-многоотражатель Α с четырьмя отделениями Ри , Р] 2 , Р13 и -Р присоединенной откачной системы.
На фигурах 22 и 23 представлены двухпетлеобразный отражательный Р- многоотражатель А2 с четырьмя отделениями P2 i , P22 i ^23 и ^ 24 присоединенной откачной системы.
На основе круго-петлеобразного Р-многоотражателя можно создать малогабаритный высокоразрешающий MS. Например, для круглого круго- петлеобразного Р-многоотражателя при величине проекции полного угла отражения ж
ι9* равной 3* -— и эффективной круглой поверхности отражения с радиусом
36
? « 0,5 длина пробега ионного пакета, при полном цикле кругового отражения, достигает 35 метров.
Claims
1. Времяпролетный масс-спектрометр (TOF MS), содержащий:
(i) ионно-источниковую систему, включающую один или более детектор;
(н) отражательную анализаторно-диспергирующую систему (RADS), включающую один или более IB-каналы, каждый из которых выполненный с обеспечением возможности, по меньшей мере, один раз отражения;
(ίν) контроллерно-компьютерную систему,
отличающийся тем, что он выполнен включающим, по меньшей мере, одну особенность, выбранную из группы, включающей следующее:
(a) петлевой вид, и в его RADS каждый IB-канал выполнен с обеспечением возможности выбранный из ряда (2,3)D kL вида отражения, где: (2,3)0=2-мерный Dimensional, 3-мерный Dimensional; kL=lL, 2L, (2x*2)L; при этом 1L - однопроекционно однопетлевой, 2L - однопроекционно 2-х петлевой, 2x*2L - многопроекционно 2*2-х петлевой;
(b) трактно-канальным, и его RADS выполнена с обеспечением возможности работы отдельно для каждого из IB-каналов IB-канала в статическом или динамическом измененяемом виде в одном из режимов выбранный из ряда jP (j- Path), где j=l, 2, 3, в текст описания: при этом 1- Path - однотрактный, j-Path, при j>l - многотрактный (два или более тракты);
(c) с компенсаторным источником, который выполнен с обеспечением возможности компенсации длины хода ионов от различных точек эффективной поверхности выхода источника до эффективной поверхности отражения отражателя.
(d) с присоединенной откачной системой, которая включает один или более насос, выполненные совмещенно с отражательным анализаторно-диспергирующим IB-каналом в одной вакуумной камере и с обеспечением возможности создания высокого вакуума в области отражения ионов.
2. MS по п. 1, отличающийся тем, что, его отражающего вида IB-канал выполнен без промежуточных, отклоняющих и фокусирующих ЮЕ (ионно-оптический элемент) или в зоне перекрестка траектории включает симметричного двухрукавного или двоякосимметричного четырехрукавного вида фокусирующего ЮЕ.
3. +3. MS по п. 2, отличающийся тем, что, его отражательная Ю подсистема выполнена, так что: отношение ширины (продольного размера) L0 , Р- многоотражателя к его толщине (поперечному размеру) LMRh , в проекции на его плоскость основания, ограничено в пределах 1,5 <—— < 100; между Р-узлами
^MRh отражения, в области середины его длины, образованно дрейфовое пространство (пространство без поля).
5. MS по п. 3, отличающийся тем, что, в нем IB-канал (2,3)D kL вида отражения включает СО элементов отражательного вида в количестве не менее к, каждый из которых выбран из членов ряда, включающего: удлиненных ступенчатых поперечноразрывно-конических ЮЕ отражающего вида; удлиненных и локальных поперечноразрывно-конических ЮЕ отражающего вида, включая однозонные, двузонные: вертикально-двухзонные, горизонтально-двухзонные, и смешанно- двухзонные его типы;
6. MS по п. 3, отличающийся тем, что, в нем IB-канал (2,3)D kL вида отражения выполнен с обеспечением возможности Ь -развертки (развертка в проекции на продольно высотную плоскость) циклический ступенчатом виде или гармоническом виде.
7. MS по п. 1, отличающийся тем, что, в нем Ш-канал 3D (2x*2)L вида отражения включает 2-х одинаковых СО элементов отражательного вида, любой из которых выбран из членов ряда, включающего: второго порядка криволинейный конический
род, включая его п -криво/секторный конический род; п -гранный конический род, включая его п -гранный/секторный конический род.
8. MS по любому из п. п. 1-7, отличающийся тем, что, его отражательная Ю подсистема, для управления ионным потоком выполнена безмагнитным электрическим круго-двухпетлеобразным Р-многоотражателем и в его отражательной IO подсистеме величина проекции 3* полного угла отражения 3+ на % -плоскость ограничена в пределах 0 -< 3* - .
9. MS по п. 12, отличающийся тем, что, в его отражательной Ю подсистеме величина проекции * полного угла отражения 3+ на % -плоскость удовлеторяет условии пЗ* = π , где п целое число.
10. Система по п. 3, отличающаяся тем, что ее CES выполнена в виде выбранной из группы, состоящей из следующих видов ее пересечения с основным устройством: jDP- пересечения, где j=l,2,3,4.
11. Система по п. 4, отличающаяся тем, что ее системный кожух выполнен с системой внутренних перегородок (экранов), выполненной, с обеспечением возможности, экранирования основного устройства от магнитного поля и распыленного металического мусора образуемых CES, и включает, по меньшей мере, одно газоотводное (для откачки газа) окно, выбранное из группы, состоящей из следующих видов: с односвязным сечением, с двухсвязным сечением, при этом каждый из них выбран из группы, состоящей из следующих его видов: с постоянным размером газоотводных окон и, по меньшей мере, одно из газоотводных окон ее системного кожуха выполнено с обеспечением возможности управляемого изменения его сечения (с диафрагмой), в частности до нуля (закрытия), режим изменения которого предусматривает оптимальное сочетание поддержания требуемого уровня вакуума в отделении основного устройства, а также требуемого уровня защиты
основного устройства от магнитного поля CES и выделяемого при работе CES мусора.
11. Система по п. 5, отличающаяся тем, что ее CES выполнена в виде выбранной из группы, состоящей из следующих видов ее пересечения с газоотводным окном: kTU - пересечения, где к=1,2,3,4.
12. Система устройств по п. '6, отличающаяся тем, что ее вакуумосоздающая система включает электроды катодной и анодной систем, формы и расположения которых относительно друг к другу выполнены с обеспечением возможности образования потока электронов между анодным и катодным электродами, и они выполнены выбранными из группы, состоящей из следующих видов: параллельно расположены пластинчатый катодный электрод и, по меньшей мере, один пластинчатый анодный электрод; пластинчатые анодные и катодные электроды расположены параллельно между собой и периодично чередуются; с разными внутренними и внешними радиусами две группы плоских кольцеобразных электродов, образующие анодную и катодную группы, расположены соосно, периодично чередующимися и параллельно; группа цилиндрических анодных электродов и, по меньшей мере, расположенный с одной из двух ее сторон перпендикулярно к осям их, пластинчатый катодный электрод; по меньшей мере, один цилиндрический анодный электрод и, внутри его и соосно с ним расположен цилиндрический катодный электрод.
13. Система по любому из п.п. 7 и 8, отличающаяся тем, что ее вакуумосоздающая система дополнительно включает внешнюю насосную систему, которая содержит, по меньшей мере, один внешный насос, выполненный отдельно от присоединенной вакуумосоздающей подсистемы и выбранный из группы включающей: насос предварительного разрежения и насос быстрой предварительной откачки.
14. Система по любому из п.п. 7-9, отличающаяся тем, что, ее вакуумосоздающая система включает, по меньшей мере, один ионный откачный узел, выполненный в
виде выбранного из группы, состоящей из следующего: имплантационный (палладиевый и каталитический), адсорбционный, сорбционный, магниторазрядный.
15. Система по любому из п.п. 9 и 10, отличающаяся тем, что ее системный вакуумный кожух выполнен с обеспечением возможности отделения его через стыковочный фланец от внешней насосной системы, при этом CES выполнена с обеспечением возможности поддержания необходимого уровня вакуума в отделении основного устройства системного кожуха без внешней насосной системы.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KZ2015/0807.1 | 2015-06-26 | ||
| KZ20150807 | 2015-06-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2017003274A2 true WO2017003274A2 (ru) | 2017-01-05 |
| WO2017003274A3 WO2017003274A3 (ru) | 2017-03-30 |
Family
ID=57608901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/KZ2016/000014 WO2017003274A2 (ru) | 2015-06-26 | 2016-06-24 | Масс-спектрометр, в том числе 3d времяпролетный масс-спектрометр |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| WO (1) | WO2017003274A2 (ru) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4176532B2 (ja) * | 2002-09-10 | 2008-11-05 | キヤノンアネルバ株式会社 | 反射型イオン付着質量分析装置 |
| DE112011102315T5 (de) * | 2010-07-09 | 2013-06-20 | Aldan Asanovich Sapargaliyev | Verfahren der Massenspektrometrie und Einrichtung für seine Ausführung |
| RU2474917C1 (ru) * | 2011-07-12 | 2013-02-10 | Валерий Владиславович Разников | Способ разделения ионов органических и биоорганических соединений в усредненном по вращениям ионов электрическом поле секционированной цилиндрической ячейки |
| EP2958133A1 (en) * | 2013-02-15 | 2015-12-23 | Aldan Asanovich Saparqaliyev | Mass spectrometry method and devices |
| RU2554104C2 (ru) * | 2013-07-22 | 2015-06-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно - производственная фирма "Прогресс" | Масс-спектрометрический анализатор газового течеискателя |
-
2016
- 2016-06-24 WO PCT/KZ2016/000014 patent/WO2017003274A2/ru active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2017003274A3 (ru) | 2017-03-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8598516B2 (en) | Method of mass-spectrometry and a device for its realization | |
| JP6907226B2 (ja) | 飛行時間質量分析法のためのマルチモードイオンミラープリズム及びエネルギーフィルタリング装置及びシステム | |
| US10692710B2 (en) | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation | |
| US8658969B2 (en) | Mass spectrometer | |
| JP6254612B2 (ja) | 最適化された磁気分路を備えた質量分析器 | |
| CN102446693A (zh) | 一种带电粒子的加速方法及其应用 | |
| US20160018368A1 (en) | Mass spectrometry method and devices | |
| US9449804B2 (en) | Dual field multipole converging ion guides, hyperbolic ion guides, and related methods | |
| JP6792334B2 (ja) | 改善された磁気セクタを備えた質量分析器 | |
| WO2017003274A2 (ru) | Масс-спектрометр, в том числе 3d времяпролетный масс-спектрометр | |
| Yu et al. | Experimental study on the ionization regions in a multi-cusped field thruster | |
| JP2012533148A (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
| US2719924A (en) | Magnetic shims | |
| CN102568997A (zh) | 一种双极性反射式飞行时间质量分析器 | |
| US10438788B2 (en) | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer | |
| JP2020518994A (ja) | イオンガイド装置およびそれに関連する方法 | |
| WO2013138852A1 (en) | An ion deflector for a mass spectrometer | |
| CN112262453A (zh) | 用于质谱仪的离子引导器以及使用该离子引导器的离子源 | |
| CN214099580U (zh) | 一种楔形电极离子迁移谱仪 | |
| Sharma et al. | Orientation dependence of multiple ionisation of a diatomic molecule under proton impact | |
| Linge et al. | Design of the stripping unit and the electromagnetic analysis unit for the E//B NPA on HL-2A/2M tokamak | |
| US7858950B2 (en) | Electrostatic dispersion lenses and ion beam dispersion methods | |
| CN113223919A (zh) | 环形tof质量分析器及其工作方法 | |
| Burrell et al. | A diagnostic method for time resolved spatial profile measurements of proton and impurity density and temperature | |
| WO2018044253A1 (en) | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 16818306 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A2 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase in: |
Ref country code: DE |
|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 16818306 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A2 |