WO2016166901A1 - Temperature measurement device - Google Patents
Temperature measurement device Download PDFInfo
- Publication number
- WO2016166901A1 WO2016166901A1 PCT/JP2015/061913 JP2015061913W WO2016166901A1 WO 2016166901 A1 WO2016166901 A1 WO 2016166901A1 JP 2015061913 W JP2015061913 W JP 2015061913W WO 2016166901 A1 WO2016166901 A1 WO 2016166901A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- temperature
- voltage
- resistor
- resistance
- terminal
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/18—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
- G01K7/20—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
Abstract
The present invention is provided with a first terminal connected to one end of a resistance temperature detector via first wiring, a second terminal connected to the other end of the resistance temperature detector via second wiring, a third terminal connected to the other end of the resistance temperature detector via third wiring, an electric current output unit for supplying a constant electric current to each of the first terminal and the second terminal, a resistor connected between the third terminal and a reference potential, a processing unit for calculating the temperature of the resistance temperature detector on the basis of the voltage between the first terminal and the second terminal, and a nonvolatile memory unit for storing a voltage of the resistor measured in advance, the processing unit detecting that at least one of the first, second, and third wiring is disconnected on the basis of the voltage of the resistor, and correcting the temperature of the resistance temperature detector on the basis of the voltage of the resistor stored in the nonvolatile memory unit and the measured voltage of the resistor.
Description
本発明は、測温抵抗体を用いて被測定物の温度を測定する温度測定装置に関する。
The present invention relates to a temperature measuring device that measures the temperature of an object to be measured using a resistance temperature detector.
従来、被測定物の温度を測定するために、測温抵抗体が用いられている。測温抵抗体は、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗である。測温抵抗体の抵抗値が温度に応じて変化するので、測温抵抗体の抵抗値を測定することで、測温抵抗体の温度つまり被測定物の温度を取得することができる。
Conventionally, a resistance temperature detector is used to measure the temperature of an object to be measured. The resistance temperature detector is a resistor whose resistance value changes according to temperature. Since the resistance value of the resistance temperature detector changes according to the temperature, the temperature of the resistance temperature detector, that is, the temperature of the object to be measured can be obtained by measuring the resistance value of the resistance temperature detector.
測温抵抗体を用いる温度測定装置では、測温抵抗体と温度測定装置とを接続する配線の断線を検出したいという要請がある。
In a temperature measuring device using a resistance temperature detector, there is a demand for detecting disconnection of a wiring connecting the resistance temperature detector and the temperature measuring device.
また、測温抵抗体を用いる温度測定装置では、電子部品の電気的特性が電子部品の温度に応じて変化する温度ドリフトにより生ずる、測温抵抗体の温度の誤差を補正したいという要請がある。
Also, in a temperature measuring device using a resistance temperature detector, there is a demand for correcting an error in the temperature of the resistance temperature detector caused by a temperature drift in which the electrical characteristics of the electronic component change according to the temperature of the electronic component.
関連する技術として、下記の特許文献１には、断線検出機能付きの４線式測温抵抗体入力回路が記載されている。
As a related technique, the following Patent Document 1 describes a 4-wire RTD input circuit with a disconnection detection function.
また、下記の特許文献２には、部品故障を検出する４線式測温抵抗体入力回路が記載されている。
Also, Patent Document 2 below describes a 4-wire resistance thermometer input circuit that detects a component failure.
また、下記の特許文献３には、測温抵抗体に入線する導線の断線を検知する測温抵抗体入力装置が記載されている。
Also, Patent Document 3 below describes a resistance temperature detector input device that detects disconnection of a lead wire entering the resistance temperature detector.
しかしながら、特許文献１記載の４線式測温抵抗体入力回路は、２個の温度測定用の定電流源１１，１２と、３個の断線検出用の定電流源７１，７２，７３と、直列に接続された２個のレファレンス用の定抵抗８１，８２と、を備え、部品点数が多いので、大きなスペースが必要であり、コストが高い。
However, the 4-wire RTD input circuit described in Patent Document 1 includes two constant current sources 11 and 12 for temperature measurement, three constant current sources 71, 72, and 73 for detecting disconnection, Since two constant resistors 81 and 82 for reference are connected in series and the number of parts is large, a large space is required and the cost is high.
また、特許文献２記載の４線式測温抵抗体入力回路は、基準抵抗Ｒ１，Ｒ２などの部品故障を行うが、断線検出を行うものではない。
In addition, the 4-wire resistance thermometer input circuit described in Patent Document 2 causes component failures such as the reference resistors R1 and R2, but does not detect disconnection.
また、特許文献３記載の測温抵抗体入力回路は、断線を検出するが、温度ドリフト補正を行うものではない。
In addition, the resistance temperature detector input circuit described in Patent Document 3 detects disconnection, but does not perform temperature drift correction.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、少ない部品点数で断線検出及び温度ドリフト補正を行うことができる温度測定装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to obtain a temperature measuring device capable of detecting disconnection and correcting temperature drift with a small number of parts.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、測温抵抗体の一端と第１の配線を介して接続される第１の端子と、測温抵抗体の他端と第２の配線を介して接続される第２の端子と、測温抵抗体の他端と第３の配線を介して接続される第３の端子と、第１の端子及び前記第２の端子の各々に一定の電流を供給する電流出力部と、第３の端子と基準電位との間に接続された抵抗器と、第１の端子と第２の端子との間の電圧に基づいて、測温抵抗体の温度を算出する処理部と、予め測定された前記抵抗器の電圧を格納する不揮発性記憶部と、を備える。処理部は、抵抗器の電圧に基づいて、第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していることを検出し、不揮発性記憶部に格納された抵抗器の電圧と、測定した前記抵抗器の電圧と、に基づいて、測温抵抗体の温度を補正する。
In order to solve the above-described problems and achieve the object, the present invention provides a first terminal connected to one end of a resistance temperature detector via a first wiring, the other end of the resistance temperature detector, and a first terminal. A second terminal connected via the second wiring, a third terminal connected to the other end of the resistance temperature detector via the third wiring, the first terminal and the second terminal. Based on a current output section that supplies a constant current to each, a resistor connected between the third terminal and the reference potential, and a voltage between the first terminal and the second terminal, measurement is performed. A processing unit that calculates the temperature of the temperature resistor, and a nonvolatile storage unit that stores the voltage of the resistor measured in advance. The processing unit detects that at least one of the first, second, and third wirings is disconnected based on the voltage of the resistor, and detects the voltage of the resistor stored in the nonvolatile storage unit. The temperature of the resistance temperature detector is corrected based on the measured voltage of the resistor.
本発明にかかる温度測定装置は、少ない部品点数で断線検出及び温度ドリフト補正を行うことができるという効果を奏する。
The temperature measuring device according to the present invention has an effect that disconnection detection and temperature drift correction can be performed with a small number of parts.
以下に、本発明の実施の形態にかかる温度測定装置を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
Hereinafter, a temperature measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments.
実施の形態１．
図１は、実施の形態１にかかる温度測定装置の構成を示す図である。温度測定装置１は、３線式の測温抵抗体２の一端に第１の配線３ａを介して接続される第１の端子Ａと、測温抵抗体２の他端に第２の配線３ｂを介して接続される第２の端子Ｂと、測温抵抗体２の他端に第３の配線３ｃを介して接続される第３の端子ｂと、を含む。Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the temperature measurement device according to the first embodiment. Thetemperature measuring device 1 includes a first terminal A connected to one end of a three-wire temperature measuring resistor 2 via a first wiring 3a, and a second wiring 3b to the other end of the temperature measuring resistor 2. And a third terminal b connected to the other end of the resistance temperature detector 2 via a third wiring 3c.
図１は、実施の形態１にかかる温度測定装置の構成を示す図である。温度測定装置１は、３線式の測温抵抗体２の一端に第１の配線３ａを介して接続される第１の端子Ａと、測温抵抗体２の他端に第２の配線３ｂを介して接続される第２の端子Ｂと、測温抵抗体２の他端に第３の配線３ｃを介して接続される第３の端子ｂと、を含む。
FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the temperature measurement device according to the first embodiment. The
測温抵抗体２は、被測定物に取り付けられる。測温抵抗体２は、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗である。測温抵抗体２の抵抗値が温度に応じて変化するので、温度測定装置１は、測温抵抗体２の抵抗値を測定することで、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。
The resistance temperature detector 2 is attached to the object to be measured. The resistance temperature detector 2 is a resistor whose resistance value changes according to temperature. Since the resistance value of the resistance temperature detector 2 changes according to the temperature, the temperature measuring device 1 measures the resistance value of the resistance temperature detector 2, so that the temperature of the resistance temperature detector 2, that is, the temperature of the object to be measured. Can be calculated.
温度測定装置１は、第１の端子Ａに一定の電流Ｉ１を供給し、第２の端子Ｂに一定の電流Ｉ２を供給する電流出力部４を含む。実施の形態１では、Ｉ１＝Ｉ２である。なお、電流Ｉ１及びＩ２の電流値をＩと称する。
The temperature measuring device 1 includes a current output unit 4 that supplies a constant current I 1 to the first terminal A and supplies a constant current I 2 to the second terminal B. In the first embodiment, I 1 = I 2 . Note that the current values of the currents I 1 and I 2 are referred to as I.
温度測定装置１は、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された抵抗器５を含む。実施の形態１では、基準電位は、接地電位である。抵抗器５には、第３の端子ｂから基準電位に向かう方向に電流Ｉ３が流れる。
The temperature measuring device 1 includes a resistor 5 connected between the third terminal b and a reference potential. In the first embodiment, the reference potential is the ground potential. A current I 3 flows through the resistor 5 in a direction from the third terminal b toward the reference potential.
電流Ｉ１は、第１の端子Ａ、配線３ａ、測温抵抗体２、配線３ｃ、第３の端子ｂ及び抵抗器５の経路を流れる。電流Ｉ２は、第２の端子Ｂ、配線３ｂ、配線３ｃ、第３の端子ｂ及び抵抗器５の経路を流れる。従って、Ｉ３＝Ｉ１＋Ｉ２＝２Ｉである。
The current I 1 flows through the path of the first terminal A, the wiring 3 a, the resistance temperature detector 2, the wiring 3 c, the third terminal b, and the resistor 5. The current I 2 flows through the path of the second terminal B, the wiring 3b, the wiring 3c, the third terminal b, and the resistor 5. Therefore, I 3 = I 1 + I 2 = 2I.
温度測定装置１は、第１の端子Ａの電位ＶＡ、第２の端子Ｂの電位ＶＢ及び第３の端子ｂの電位ＶＣを測定するＡＤ（analog to digital）変換部６を含む。実施の形態１では、基準電位が接地電位であるので、第３の端子ｂの電位ＶＣは、抵抗器５の電圧と同じである。
Temperature measuring apparatus 1 includes an AD (analog to digital) converter 6 for measuring the potential V A of the first terminal A, the potential V C of the electric potential V B and a third terminal b of the second terminal B. In the first embodiment, since the reference potential is the ground potential, the potential V C of the third terminal b is the same as the voltage of the resistor 5.
温度測定装置１は、ＡＤ変換部６で測定された電位ＶＡ及びＶＢに基づいて測温抵抗体２の温度を算出する制御部７を含む。制御部７は、制御プログラムが格納された記憶部７ａと、制御プログラムを実行する処理部７ｂと、を含む。制御部７は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）が例示される。
Temperature measuring apparatus 1 includes a control unit 7 for calculating the temperature of the resistance temperature detector 2 based on the potential V A and V B which is measured by the AD converter 6. The control unit 7 includes a storage unit 7a that stores a control program, and a processing unit 7b that executes the control program. The control unit 7 is exemplified by a CPU (Central Processing Unit).
温度測定装置１は、予め測定された抵抗器５の電圧を格納する不揮発性記憶部８を含む。不揮発性記憶部８は、フラッシュメモリ（登録商標）が例示される。
The temperature measuring device 1 includes a nonvolatile storage unit 8 that stores the voltage of the resistor 5 measured in advance. The nonvolatile storage unit 8 is exemplified by a flash memory (registered trademark).
温度測定装置１の温度算出動作について説明する。図２は、実施の形態１にかかる温度測定装置の温度測定動作を示すフローチャートである。
The temperature calculation operation of the temperature measuring device 1 will be described. FIG. 2 is a flowchart illustrating the temperature measurement operation of the temperature measurement apparatus according to the first embodiment.
処理部７ｂは、ステップＳ１０において、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖを、Ｖ＝ＶＡ－ＶＢにより算出する。この電圧Ｖは、測温抵抗体２の電圧である。
In step S10, the processing unit 7b calculates the voltage V between the first terminal A and the second terminal B by V = V A −V B. This voltage V is the voltage of the resistance temperature detector 2.
処理部７ｂは、ステップＳ１２において、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度を算出する。
The processing unit 7b calculates the temperature of the resistance temperature detector 2 based on the voltage V between the first terminal A and the second terminal B in step S12.
詳細には、測温抵抗体２を流れる電流は、一定の電流Ｉ１である。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２を、Ｒ２＝（ＶＡ－ＶＢ）／Ｉ１により算出する。
In particular, the current flowing through the resistance temperature detector 2 is a constant current I 1. Accordingly, the processing unit 7b calculates the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2 by R 2 = (V A −V B ) / I 1 .
測温抵抗体２は、温度に応じて抵抗値が変化する。つまり、測温抵抗体２の温度は、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２により一意に定まる。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２に基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。
The resistance value of the resistance temperature detector 2 changes according to the temperature. That is, the temperature of the resistance temperature detector 2 is uniquely determined by the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2. Therefore, the processing unit 7 b can calculate the temperature of the resistance temperature detector 2, that is, the temperature of the object to be measured, based on the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2.
なお、処理部７ｂは、予め判っている測温抵抗体２の抵抗値と温度との関係式を使用して、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２に演算処理を施すことにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。また、不揮発性記憶部８が、測温抵抗体２の抵抗値と温度との関係を表すテーブルを予め格納し、処理部７ｂが、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２をキーにしてテーブルを検索することにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。
The processing unit 7b uses the relationship between the pre-resistance of Known RTD 2 and temperature, by applying operation to the resistance value R 2 of the RTD 2, temperature measurement The temperature of the resistor 2 may be calculated. Further, the nonvolatile storage unit 8 stores in advance a table representing the relationship between the resistance value and temperature of the resistance temperature detector 2, and the processing unit 7b uses the resistance value R2 of the resistance temperature detector 2 as a key. The temperature of the resistance thermometer 2 may be calculated by searching for.
また、電流Ｉ１が一定であるので、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２は、電圧ＶつまりＶＡ－ＶＢにより一意に定まる。つまり、測温抵抗体２の温度は、電圧Ｖにより一意に定まる。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することもできる。
Further, since the current I 1 is constant, the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2 is uniquely determined by the voltage V, that is, V A −V B. That is, the temperature of the resistance temperature detector 2 is uniquely determined by the voltage V. Accordingly, the processing unit 7b can also calculate the temperature of the resistance temperature detector 2, that is, the temperature of the object to be measured, based on the voltage V of the resistance temperature detector 2.
つまり、処理部７ｂは、予め判っている測温抵抗体２の電圧と温度との関係式を使用して、測温抵抗体２の電圧Ｖに演算処理を施すことにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。また、不揮発性記憶部８が、測温抵抗体２の電圧と温度との関係を表すテーブルを予め格納し、処理部７ｂが、測温抵抗体２の電圧Ｖをキーにしてテーブルを検索することにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。
That is, the processing unit 7b performs a calculation process on the voltage V of the resistance temperature detector 2 using a relational expression between the voltage and the temperature of the resistance temperature detector 2 that is known in advance, whereby the resistance temperature detector 2 May be calculated. Further, the non-volatile storage unit 8 stores in advance a table representing the relationship between the voltage and temperature of the resistance temperature detector 2, and the processing unit 7b searches the table using the voltage V of the resistance temperature detector 2 as a key. Thus, the temperature of the resistance temperature detector 2 may be calculated.
なお、電流出力部４が、電流Ｉ１だけを第１の端子Ａに供給し、電流Ｉ２を第２の端子Ｂに供給しない態様も考えられる。この態様においても、処理部７ｂは、測温抵抗体２の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。しかしながら、配線３ａは、抵抗成分を有する。従って、この態様では、電流Ｉ１が配線３ａを流れることによる電位上昇分が測温抵抗体２の電圧Ｖの誤差成分となり、測温抵抗体２の電圧Ｖの精度が低下してしまい、測温抵抗体２の温度の精度が低下してしまう。配線３ａが長くなるほど、配線３ａの抵抗成分が大きくなり、電流Ｉ１が配線３ａを流れることによる電位上昇分が大きくなり、測温抵抗体２の温度の精度が低下してしまう。
In addition, a mode in which the current output unit 4 supplies only the current I 1 to the first terminal A and does not supply the current I 2 to the second terminal B is also conceivable. Also in this aspect, the processing unit 7 b can calculate the temperature of the resistance temperature detector 2, that is, the temperature of the object to be measured, based on the voltage V of the resistance temperature detector 2. However, the wiring 3a has a resistance component. Thus, in this embodiment, becomes the error component of the voltage V of the potential rise is RTD 2 due to the current I 1 flows through the wiring 3a, will the accuracy of the voltage V of the resistance temperature detector 2 is reduced, measured The temperature accuracy of the temperature resistor 2 is lowered. More wiring 3a is long, the resistance component of the wiring 3a is increased, the current I 1 that potential rise is increased by flowing lines 3a, temperature accuracy RTD 2 is lowered.
一方、実施の形態１では、電流Ｉ１が配線３ａを流れることによる電位上昇分と、電流Ｉ２が配線３ｂを流れることによる電位上昇分とが、Ｖ＝ＶＡ－ＶＢにより相殺されるので、測温抵抗体２の電圧Ｖの精度を高くすることができ、測温抵抗体２の温度の精度を高くすることができる。また、実施の形態１では、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが長くなっても、測温抵抗体２の温度の精度を高く保つことができる。
On the other hand, in the first embodiment, the potential increase due to the current I 1 flowing through the wiring 3a and the potential increase due to the current I 2 flowing through the wiring 3b are offset by V = V A −V B. Therefore, the accuracy of the voltage V of the resistance temperature detector 2 can be increased, and the accuracy of the temperature of the resistance temperature detector 2 can be increased. Moreover, in Embodiment 1, even if wiring 3a, 3b and 3c become long, the precision of the temperature of the resistance temperature detector 2 can be kept high.
温度測定装置１の断線検出動作について説明する。測温抵抗体２は、被測定物に取り付けられるので、温度測定装置１と測温抵抗体２とは、地理的に離れた場所に配置される。従って、配線３ａ、３ｂ及び３ｃは、長くなる場合が多い。そのため、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが断線する可能性が高まる。そこで、温度測定装置１は、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが断線しているか否かを検出する。
The disconnection detection operation of the temperature measuring device 1 will be described. Since the resistance temperature detector 2 is attached to the object to be measured, the temperature measuring device 1 and the resistance temperature detector 2 are arranged at geographically separated locations. Accordingly, the wirings 3a, 3b and 3c are often long. Therefore, the possibility that the wirings 3a, 3b, and 3c are disconnected increases. Therefore, the temperature measuring device 1 detects whether or not the wirings 3a, 3b, and 3c are disconnected.
図３は、実施の形態１にかかる温度測定装置の断線検出動作を示すフローチャートである。処理部７ｂは、ステップＳ１００において、予め定められて不揮発性記憶部８に格納されている閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧ＶＣと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣが小さければ（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１０２に進め、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣが小さくなければ（Ｎｏ）、処理をステップＳ１０４に進める。
FIG. 3 is a flowchart of the disconnection detection operation of the temperature measuring apparatus according to the first embodiment. In step S100, the processing unit 7b compares the threshold value Th that is predetermined and stored in the nonvolatile storage unit 8 with the voltage V C of the resistor 5, and compares the voltage V C of the resistor 5 with the threshold value Th. if is less satisfied (Yes), then the process proceeds to step S102, and if not smaller voltage V C of the resistor 5 is higher than the threshold value Th (No), the process proceeds to step S104.
閾値Ｔｈについて説明する。抵抗器５の抵抗値をＲ５とする。もし、配線３ａ，３ｂ及び３ｃが断線していないとすると、Ｉ３＝Ｉ１＋Ｉ２＝２Ｉとなるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝２Ｉ×Ｒ５となる。
The threshold value Th will be described. The resistance value of the resistor 5 is R5. If the wirings 3a, 3b and 3c are not disconnected, I 3 = I 1 + I 2 = 2I, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 2I × R 5 .
もし、配線３ａが断線していたとすると、Ｉ３＝Ｉ２＝Ｉとなるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝Ｉ×Ｒ５となる。
If the wiring 3a is disconnected, I 3 = I 2 = I, and the voltage V C of the resistor 5 is V C = I × R 5 .
もし、配線３ｂが断線していたとすると、Ｉ３＝Ｉ１＝Ｉとなるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝Ｉ×Ｒ５となる。
If the wiring 3b is disconnected, I 3 = I 1 = I, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = I × R 5 .
もし、配線３ｃが断線していたとすると、Ｉ３＝０となるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝０となる。
If the wiring 3c is disconnected, I 3 = 0, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 0.
もし、配線３ａ及び３ｂが断線していたとすると、Ｉ３＝０となるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝０となる。
If the wirings 3a and 3b are disconnected, I 3 = 0, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 0.
もし、配線３ａ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ３＝０となるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝０となる。
If the wires 3a and 3c are disconnected, I 3 = 0, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 0.
もし、配線３ｂ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ３＝０となるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝０となる。
If the wires 3b and 3c are disconnected, I 3 = 0, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 0.
もし、配線３ａ，３ｂ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ３＝０となるので、抵抗器５の電圧ＶＣは、ＶＣ＝０となる。
If the wirings 3a, 3b and 3c are disconnected, I 3 = 0, so that the voltage V C of the resistor 5 is V C = 0.
従って、閾値Ｔｈを２Ｉ×Ｒ５より小さく且つＩ×Ｒ５より大きな値に定めておく。これにより、処理部７ｂは、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧ＶＣと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣが小さければ、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していると判定することができる。また、処理部７ｂは、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧ＶＣと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣが小さくなければ、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの全てが断線していないと判定することができる。
Therefore, the threshold Th is set to a value smaller than 2I × R 5 and larger than I × R 5 . Thus, the processing unit 7b includes a threshold value Th, the resistor and the voltage V C of 5, compare, smaller voltage V C of the resistor 5 is higher than the threshold value Th, at least in the wiring 3a, 3b and 3c It can be determined that one is disconnected. The processing unit 7b includes a threshold value Th, the voltage V C of the resistor 5, compare, not smaller voltage V C of the resistor 5 is higher than the threshold value Th, all wires 3a, 3b and 3c are broken It can be determined that it is not.
閾値Ｔｈを、２Ｉ×Ｒ５よりも、Ｉ×Ｒ５側に近い値に定めておけば、断線検出感度を高めることができる一方、ノイズで例示される外部要因による誤検出が起こりやすくなる。
If the threshold value Th is set to a value closer to the I × R 5 side than 2I × R 5 , the disconnection detection sensitivity can be increased, but erroneous detection due to an external factor exemplified by noise is likely to occur.
閾値Ｔｈを、Ｉ×Ｒ５よりも、２Ｉ×Ｒ５側に近い値に定めておけば、断線検出感度は低くなる反面、ノイズで例示される外部要因による誤検出が起こりにくくなる。
The threshold value Th, than I × R 5, if determined to a value close to 2I × R 5 side, disconnection detection sensitivity whereas the lower, the erroneous detection due to external factors, exemplified by the noise hardly occurs.
従って、閾値Ｔｈは、２Ｉ×Ｒ５とＩ×Ｒ５との中間値に定めることが好適である。
Thus, the threshold value Th, it is preferable to determine the intermediate value between 2I × R 5 and I × R 5.
処理部７ｂは、ステップＳ１０２において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していると判定し、処理を終了する。
In step S102, the processing unit 7b determines that at least one of the wirings 3a, 3b, and 3c is disconnected, and ends the process.
処理部７ｂは、ステップＳ１０４において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの全部が断線していないと判定し、処理を終了する。
In step S104, the processing unit 7b determines that all of the wirings 3a, 3b, and 3c are not disconnected, and ends the process.
温度測定装置１によれば、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備え、抵抗器５の電圧ＶＣに基づいて、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを検出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。
According to the temperature measuring device 1, comprising a single resistor 5 connected between the third terminal b and the reference potential, based on the voltage V C of the resistor 5, in the wire 3a, 3b and 3c It is possible to detect that at least one of is disconnected. Thereby, the temperature measuring device 1 can save space and cost.
温度測定装置１の温度ドリフト補正動作について説明する。電子部品は、温度に応じて、電気的特性が変化する。この電気的特性の変化は、温度ドリフトと呼ばれる。温度ドリフトが発生すると、温度測定装置１は、測温抵抗体２の温度を高精度に算出することができない。
The temperature drift correction operation of the temperature measuring device 1 will be described. The electronic component changes in electrical characteristics according to temperature. This change in electrical characteristics is called temperature drift. When the temperature drift occurs, the temperature measuring device 1 cannot calculate the temperature of the resistance temperature detector 2 with high accuracy.
温度測定装置１が有する電流出力部４、抵抗器５、ＡＤ変換部６、制御部７及び不揮発性記憶部８の中で、温度ドリフトが最も大きいのは、電流出力部４である。電流出力部４の温度が変化すると、電流Ｉ１及びＩ２が一定ではなくなり、誤差を有してしまう。電流Ｉ１及びＩ２が誤差を有すると、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖも誤差を有することになる。結果として、算出された測温抵抗体２の温度も誤差を有することになる。
Among the current output unit 4, the resistor 5, the AD conversion unit 6, the control unit 7, and the nonvolatile storage unit 8 included in the temperature measurement device 1, the current output unit 4 has the largest temperature drift. When the temperature of the current output unit 4 changes, the currents I 1 and I 2 are not constant and have an error. If the currents I 1 and I 2 have an error, the voltage V between the first terminal A and the second terminal B also has an error. As a result, the calculated temperature of the resistance temperature detector 2 also has an error.
そこで、温度測定装置１は、電流出力部４の温度ドリフトに起因する誤差を抑制し、測温抵抗体２の温度を補正する。
Therefore, the temperature measuring device 1 suppresses an error caused by the temperature drift of the current output unit 4 and corrects the temperature of the resistance temperature detector 2.
具体的には、温度測定装置１は、出荷前に、補正の基準となる基準値を格納する。そして、温度測定装置１は、測温抵抗体２の温度測定の際に、基準値を用いて、測定された温度を補正する。
Specifically, the temperature measuring device 1 stores a reference value serving as a correction reference before shipment. Then, the temperature measuring device 1 corrects the measured temperature using the reference value when measuring the temperature of the resistance temperature detector 2.
図４は、実施の形態１にかかる温度測定装置の基準値格納動作を示すフローチャートである。図４に示すフローチャートは、温度測定装置１の出荷前に実行される。図４に示すフローチャートは、常温で実行されると好ましい。常温は、２５℃が例示される。
FIG. 4 is a flowchart showing the reference value storing operation of the temperature measuring apparatus according to the first embodiment. The flowchart shown in FIG. 4 is executed before the temperature measuring device 1 is shipped. The flowchart shown in FIG. 4 is preferably executed at room temperature. The room temperature is exemplified by 25 ° C.
処理部７ｂは、ステップＳ２００において、測温抵抗体２の電圧ＶつまりＶＡ－ＶＢを測定し、測定値を不揮発性記憶部８に格納する。不揮発性記憶部８に格納された測温抵抗体２の電圧Ｖの測定値は、補正の基準となる基準値である。
In step S200, the processing unit 7b measures the voltage V of the resistance temperature detector 2, that is, V A -V B , and stores the measured value in the nonvolatile storage unit 8. The measured value of the voltage V of the resistance temperature detector 2 stored in the nonvolatile storage unit 8 is a reference value serving as a correction reference.
なお、測温抵抗体２の温度Ｔは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２により一意に定まり、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ２は、電圧Ｖにより一意に定まる。
The temperature T of the resistance temperature detector 2 is uniquely determined by the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2, and the resistance value R 2 of the resistance temperature detector 2 is uniquely determined by the voltage V.
処理部７ｂは、ステップＳ２０２において、抵抗器５の電圧ＶＣを測定し、測定値を不揮発性記憶部８に格納する。不揮発性記憶部８に格納された抵抗器５の電圧ＶＣの測定値は、補正の基準となる基準値である。
Processing unit 7b, in step S202, the voltage V C of the resistor 5 are measured, and stores the measured value in the nonvolatile storage unit 8. Measurement of the voltage V C of the resistor 5, which are stored in nonvolatile memory 8 is a reference value serving as a reference for the correction.
図５は、実施の形態１にかかる温度測定装置の温度ドリフト補正動作を示すフローチャートである。図５に示すフローチャートは、予め定められたタイミング又は予め定められた周期で実行される。
FIG. 5 is a flowchart showing the temperature drift correcting operation of the temperature measuring apparatus according to the first embodiment. The flowchart shown in FIG. 5 is executed at a predetermined timing or a predetermined cycle.
処理部７ｂは、ステップＳ３００において、測温抵抗体２の電圧Ｖ’を測定する。
In step S300, the processing unit 7b measures the voltage V 'of the resistance temperature detector 2.
処理部７ｂは、ステップＳ３０２において、抵抗器５の電圧ＶＣ’を測定する。
In step S302, the processing unit 7b measures the voltage V C ′ of the resistor 5.
処理部７ｂは、ステップＳ３０４において、電流Ｉ１及びＩ２の変化率を算出する。Ｉ３＝Ｉ１＋Ｉ２であるので、電流Ｉ１及びＩ２の変化率は、電流Ｉ３の変化率と同じである。そして、ＶＣ＝Ｉ３×Ｒ５であるので、電流Ｉ３の変化率は、電圧ＶＣの変化率と同じである。従って、処理部７ｂは、電流Ｉ１及びＩ２の変化率αを、α＝ＶＣ／ＶＣ’により算出する。
Processing unit 7b, in step S304, calculates the rate of change of the current I 1 and I 2. Since I 3 = I 1 + I 2 , the rate of change of the currents I 1 and I 2 is the same as the rate of change of the current I 3 . Since V C = I 3 × R 5 , the rate of change of the current I 3 is the same as the rate of change of the voltage V C. Accordingly, the processing unit 7b calculates the change rate α of the currents I 1 and I 2 by α = V C / V C ′.
処理部７ｂは、ステップＳ３０６において、ステップＳ３００で測定した電圧Ｖ’に電流Ｉ１及びＩ２の変化率αを乗ずることにより、電圧Ｖ’を補正し、補正後の電圧Ｖ’’を算出する。そして、処理部７ｂは、補正後の電圧Ｖ’’に基づいて、補正後の温度Ｔ’’を算出する。
In step S306, the processing unit 7b corrects the voltage V ′ by multiplying the voltage V ′ measured in step S300 by the rate of change α of the currents I 1 and I 2 and calculates the corrected voltage V ″. . Then, the processing unit 7b calculates a corrected temperature T ″ based on the corrected voltage V ″.
処理部７ｂは、ステップＳ３０８において、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧ＶＣ’と、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣ’が小さくなければ（Ｎｏ）、処理を終了し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧ＶＣ’が小さければ（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ３１０に進める。
Processing unit 7b, in step S308, and the threshold Th, the voltage V C of the resistor 5 'and compares the voltage V C of the resistor 5 than the threshold value Th' be small is (No), the process ends If the voltage V C ′ of the resistor 5 is smaller than the threshold Th (Yes), the process proceeds to step S310.
処理部７ｂは、ステップＳ３１０において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを外部装置に報知し、処理を終了する。
In step S310, the processing unit 7b notifies the external device that at least one of the wirings 3a, 3b, and 3c is disconnected, and ends the process.
温度測定装置１によれば、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備え、基準値の電圧ＶＣと、測定された電圧ＶＣ’と、に基づいて、測温抵抗体２の温度Ｔ’を補正することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。
According to the temperature measuring device 1, comprising a single resistor 5 connected between the third terminal b and the reference potential, and the voltage V C of the reference value, the voltage V C 'measured, based on Thus, the temperature T ′ of the resistance temperature detector 2 can be corrected. Thereby, the temperature measuring device 1 can save space and cost.
また、温度測定装置１は、電圧ＶＣ’を測定するだけで測温抵抗体２の温度Ｔ’を補正することができるので、温度ドリフト補正の高速化が可能になる。
Moreover, since the temperature measuring device 1 can correct the temperature T ′ of the resistance temperature detector 2 only by measuring the voltage V C ′, the temperature drift correction can be speeded up.
図６は、実施の形態１にかかる温度測定装置の他の温度ドリフト補正動作を示すフローチャートである。図６に示すフローチャートは、予め定められたタイミング又は予め定められた周期で実行される。
FIG. 6 is a flowchart showing another temperature drift correction operation of the temperature measuring apparatus according to the first embodiment. The flowchart shown in FIG. 6 is executed at a predetermined timing or a predetermined cycle.
図５に示すフローチャートでは、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度行っている。しかしながら、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度行う必要は少ない。図６に示すフローチャートでは、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度には行わない。
In the flowchart shown in FIG. 5, the processing unit 7 b detects disconnection every time the temperature is measured. However, the processing unit 7b does not need to detect the disconnection every time the temperature is measured. In the flowchart shown in FIG. 6, the processing unit 7b does not detect the disconnection every time the temperature is measured.
図６に示すフローチャートでは、図５に示すフローチャートのステップＳ３０６とステップＳ３０８との間に、ステップＳ３０７が追加されている。ステップＳ３０７以外の他のステップは、図５に示すフローチャートと同様であるので、説明を省略する。
In the flowchart shown in FIG. 6, step S307 is added between step S306 and step S308 in the flowchart shown in FIG. Steps other than step S307 are the same as those in the flowchart shown in FIG.
処理部７ｂは、ステップＳ３０７において、断線検出を実行するフラグが設定されているか否かを判定する。処理部７ｂは、断線検出を実行するフラグが設定されていたら（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ３０８に進め、断線検出を実行するフラグが設定されていなかったら（Ｎｏ）、処理を終了する。
In step S307, the processing unit 7b determines whether a flag for executing disconnection detection is set. If the flag for executing disconnection detection is set (Yes), the processing unit 7b proceeds to step S308, and if the flag for executing disconnection detection is not set (No), the processing ends.
断線検出を実行するフラグは、パラメータとして不揮発性記憶部８に設定されても良い。あるいは、断線検出を実行するフラグは、図示しないタイマー回路によって、定期的に設定されても良い。
A flag for executing disconnection detection may be set in the nonvolatile storage unit 8 as a parameter. Alternatively, the flag for performing disconnection detection may be set periodically by a timer circuit (not shown).
温度測定装置１によれば、測温抵抗体２の温度測定に際し、断線検出を実行するフラグが設定されている場合に、断線検出を行うことができる。これにより、温度測定装置１は、処理部７ｂの負荷を軽減することができる。
According to the temperature measuring device 1, when measuring the temperature of the resistance temperature detector 2, the disconnection detection can be performed when the flag for executing the disconnection detection is set. Thereby, the temperature measuring device 1 can reduce the load of the processing unit 7b.
以上説明したように、実施の形態１にかかる温度測定装置１は、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備える。
As described above, the temperature measuring apparatus 1 according to the first embodiment includes one resistor 5 connected between the third terminal b and the reference potential.
温度測定装置１は、抵抗器５を備えることにより、抵抗器５の電圧ＶＣに基づいて、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを検出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。
Temperature measuring apparatus 1 is provided with the resistor 5, on the basis of the voltage V C of the resistor 5, the wiring 3a, but at least one of 3b and 3c can detect that it is disconnected. Thereby, the temperature measuring device 1 can save space and cost.
温度測定装置１は、抵抗器５を備えることにより、基準値の電圧ＶＣと、測定値の電圧ＶＣ’とに基づいて、電流Ｉ１及びＩ２の変化率αを、α＝ＶＣ／ＶＣ’により算出することができる。そして、温度測定装置１は、測定値の電圧Ｖ’に変化率αを乗ずることにより、補正後の電圧Ｖ’’を算出する。さらに、温度測定装置１は、補正後の電圧Ｖ’’に基づいて、補正後の温度Ｔ’’を算出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。
By providing the resistor 5, the temperature measurement device 1 determines the change rate α of the currents I 1 and I 2 based on the reference value voltage V C and the measurement value voltage V C ′, α = V C / V C ′. Then, the temperature measuring device 1 calculates the corrected voltage V ″ by multiplying the voltage V ′ of the measurement value by the change rate α. Furthermore, the temperature measuring apparatus 1 can calculate the corrected temperature T ″ based on the corrected voltage V ″. Thereby, the temperature measuring device 1 can save space and cost.
また、温度測定装置１は、電圧ＶＣ’を測定するだけで測温抵抗体２の温度Ｔ’を補正することができるので、温度ドリフト補正の高速化が可能になる。
Moreover, since the temperature measuring device 1 can correct the temperature T ′ of the resistance temperature detector 2 only by measuring the voltage V C ′, the temperature drift correction can be speeded up.
以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。
The configuration described in the above embodiment shows an example of the contents of the present invention, and can be combined with another known technique, and can be combined with other configurations without departing from the gist of the present invention. It is also possible to omit or change the part.
１ 温度測定装置、２ 測温抵抗体、４ 電流出力部、５ 抵抗器、６ ＡＤ変換部、７ 制御部、７ａ 記憶部、７ｂ 処理部、８ 不揮発性記憶部。
1. Temperature measuring device, 2. Resistance thermometer, 4. Current output unit, 5. Resistor, 6. AD converter, 7. Control unit, 7.a storage unit, 7.b processing unit, 8. Nonvolatile storage unit.
Claims (4)
- 測温抵抗体の一端と第１の配線を介して接続される第１の端子と、
前記測温抵抗体の他端と第２の配線を介して接続される第２の端子と、
前記測温抵抗体の他端と第３の配線を介して接続される第３の端子と、
前記第１の端子及び前記第２の端子の各々に一定の電流を供給する電流出力部と、
前記第３の端子と基準電位との間に接続された抵抗器と、
前記第１の端子と前記第２の端子との間の電圧に基づいて、前記測温抵抗体の温度を算出する処理部と、
予め測定された前記抵抗器の電圧を格納する不揮発性記憶部と、
を備え、
前記処理部は、
前記抵抗器の電圧に基づいて、前記第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していることを検出し、前記不揮発性記憶部に格納された前記抵抗器の電圧と、測定した前記抵抗器の電圧と、に基づいて、前記測温抵抗体の温度を補正すること
を特徴とする温度測定装置。 A first terminal connected to one end of the resistance temperature detector via a first wiring;
A second terminal connected to the other end of the resistance temperature detector via a second wiring;
A third terminal connected to the other end of the resistance temperature detector via a third wiring;
A current output section for supplying a constant current to each of the first terminal and the second terminal;
A resistor connected between the third terminal and a reference potential;
A processing unit that calculates a temperature of the resistance temperature detector based on a voltage between the first terminal and the second terminal;
A nonvolatile storage unit for storing the voltage of the resistor measured in advance;
With
The processor is
Based on the voltage of the resistor, it is detected that at least one of the first, second and third wirings is disconnected, and the voltage of the resistor stored in the nonvolatile storage unit A temperature measuring device for correcting the temperature of the resistance temperature detector based on the measured voltage of the resistor. - 前記不揮発性記憶部は、
予め定められた閾値を格納し、
前記処理部は、
前記抵抗器の電圧が前記閾値より小さかったら、前記第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していると判定すること
を特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。 The nonvolatile storage unit is
Stores a predetermined threshold,
The processor is
2. The temperature measuring device according to claim 1, wherein if the voltage of the resistor is smaller than the threshold value, it is determined that at least one of the first, second, and third wirings is disconnected. . - 前記閾値は、前記電流の２倍と前記抵抗器の抵抗値との積より小さく且つ前記電流と前記抵抗器の抵抗値との積より大きいこと
を特徴とする請求項２に記載の温度測定装置。 The temperature measuring device according to claim 2, wherein the threshold value is smaller than a product of twice the current and a resistance value of the resistor and larger than a product of the current and the resistance value of the resistor. . - 前記処理部は、
前記不揮発性記憶部に格納された前記抵抗器の電圧と、測定された前記抵抗器の電圧と、に基づいて、前記電流の変化率を算出し、前記電流の変化率を前記測温抵抗体の電圧に乗じることにより、前記測温抵抗体の温度を補正すること
を特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。 The processor is
Based on the voltage of the resistor stored in the nonvolatile storage unit and the measured voltage of the resistor, the rate of change of the current is calculated, and the rate of change of the current is calculated as the resistance temperature detector. The temperature measuring device according to claim 1, wherein the temperature of the resistance temperature detector is corrected by multiplying the voltage of the temperature measuring resistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2015/061913 WO2016166901A1 (en) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | Temperature measurement device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2015/061913 WO2016166901A1 (en) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | Temperature measurement device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2016166901A1 true WO2016166901A1 (en) | 2016-10-20 |
Family
ID=57125720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2015/061913 WO2016166901A1 (en) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | Temperature measurement device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| WO (1) | WO2016166901A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019211381A (en) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | 三菱電機株式会社 | Electronic control device |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS526677U (en) * | 1975-06-30 | 1977-01-18 | ||
| JPS55139463U (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-04 | ||
| JPH08247857A (en) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Toshiba Corp | Input device for temperature detecting resistor |
| JPH09105681A (en) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Temperature measuring circuit |
| JP2008191131A (en) * | 2007-02-08 | 2008-08-21 | Yokogawa Electric Corp | Thermometric resistor measuring circuit |
-
2015
- 2015-04-17 WO PCT/JP2015/061913 patent/WO2016166901A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS526677U (en) * | 1975-06-30 | 1977-01-18 | ||
| JPS55139463U (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-04 | ||
| JPH08247857A (en) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Toshiba Corp | Input device for temperature detecting resistor |
| JPH09105681A (en) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Temperature measuring circuit |
| JP2008191131A (en) * | 2007-02-08 | 2008-08-21 | Yokogawa Electric Corp | Thermometric resistor measuring circuit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019211381A (en) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | 三菱電機株式会社 | Electronic control device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5477261B2 (en) | MOSFET current determination device | |
| US20150301103A1 (en) | Precision Measurement of Voltage Drop Across a Semiconductor Switching Element | |
| EP2511682B1 (en) | Semiconductor device and temperature data generation method | |
| US9651626B2 (en) | Electric capacity measurement apparatus with temperature compensation and temperature compensation method thereof | |
| JP6928228B2 (en) | Battery monitoring circuit | |
| JP2008198817A (en) | Semiconductor device and trimming method thereof | |
| WO2016166901A1 (en) | Temperature measurement device | |
| JP6421498B2 (en) | Ground fault detection device and ground fault detection method | |
| KR100909660B1 (en) | Error compensator of sensor measurement circuit and its method | |
| JP6342100B1 (en) | Analog input unit and reference voltage stabilization circuit | |
| JP2017003441A (en) | Gas thermal conduction type gas sensor and output correction method thereof | |
| JP7189421B2 (en) | Motor drive circuit and motor drive device | |
| US9742349B2 (en) | PV junction unit, PV junction box and method for monitoring current in PV string | |
| US11316516B2 (en) | Circuit fault detection apparatus | |
| JP6428168B2 (en) | Temperature conversion table creation device, temperature conversion table creation method, and temperature measurement device | |
| JP6838589B2 (en) | Circuit abnormality detection device | |
| JP6897441B2 (en) | Power supply voltage detector | |
| JP6685196B2 (en) | Voltage detection circuit | |
| US10591332B2 (en) | Airflow meter | |
| JP2002350476A (en) | Voltage detecting circuit | |
| JP5523370B2 (en) | 4-wire RTD input circuit | |
| JP2017133995A (en) | Temperature measurement device | |
| JP2016017943A (en) | Temperature detector and temperature detector inspection method | |
| JP6854618B2 (en) | Temperature measuring device | |
| KR20220135612A (en) | Method for Calibrating Temperature Measuring Data in the Long Distant Fire Test Fields |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 15889238 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 15889238 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |