WO2016145848A1 - 测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法 - Google Patents

测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法 Download PDF

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马艳
关孔辉
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing

Definitions

  • the present invention relates to the field of testing technology, and in particular, to a test lap device, a system, and a test automatic lap method.
  • Automated testing will face different combinations of boards, chassis, and services. Therefore, there are a large number of test scenarios, such as multiple projects and multiple scenarios. But the test server's test port is provided by a voice card, and a voice card has 4 ports. Each scenario requires multiple test ports, and the test port is seriously lacking. Therefore, it is necessary to deploy more test servers to correspond to more test scenarios, resulting in a huge waste of test servers. In addition, due to space constraints, manual intervention in each server and the environment being tested, automated test systems are more difficult to deploy, resulting in the fact that automated testing is actually not easy to promote. In automated testing, a network element of a project usually consists of multiple user boards. Each user board has multiple ports. To traverse more test ports, one test server is difficult to support, so the traditional one-to-one ( A test server corresponds to a test network element. The test model is no longer able to meet the current test requirements.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a test splicing device, a system, and a test automatic lap joint method, which are used to solve the problem that the prior art tests a plurality of network elements through a test server to be inefficient.
  • the present invention provides a test lap joint apparatus, including:
  • a communication module configured to communicate with the host computer, and configured to receive a control message sent by the host computer; the control message includes a control instruction for connecting the next tested network element connection line;
  • the test control module is respectively connected to a plurality of tested network elements; each tested network element is connected to the test control module through a four-way connection line, wherein each connection connection line is automatically opened according to the control instruction Switch unit.
  • control message includes data line information, chip selection information, clock information, and input information, where the chip selection information carries the control instruction.
  • the switching unit is a relay switch.
  • the present invention also provides a test lap joint system, including a test lap joint device and a host computer, wherein the test lap joint device comprises:
  • a communication module configured to communicate with the host computer, and configured to receive a control message sent by the host computer; the control message includes a control instruction for connecting the next tested network element connection line;
  • the test control module is respectively connected to a plurality of tested network elements; each tested network element is connected to the test control module through a four-way connection line, wherein each connection connection line is automatically opened according to the control instruction Switch unit.
  • control message includes data line information, chip selection information, clock information, and input information, where the chip selection information carries the control instruction.
  • the switching unit is a relay switch.
  • the present invention also provides a test automatic lap method, comprising:
  • the control message includes a control instruction that is connected to the next tested network element connection line;
  • connection line between the upper computer and the next tested network element; wherein each tested network element is connected with four connection lines, and each connection line is provided according to the A control unit that automatically turns on the control command.
  • control message includes data line information, chip selection information, clock information, and input information, where the chip selection information carries the control instruction.
  • the switching unit is a relay switch.
  • the host computer pre-stores a test configuration file, where the test configuration file includes a test sequence and test information of the tested network element, and the host computer delivers the test configuration file according to the test configuration file.
  • the switch unit on the connected line is automatically disconnected.
  • the invention realizes the connection between a server and a plurality of test network elements by testing the lap joint device, and can control the closing of the switch unit by sending control commands, thereby realizing the automatic test of multiple test network elements in turn, greatly improving the test.
  • Efficiency to some extent, reduces the number of test servers used and reduces costs.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of a test lap joint system according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing the principle of testing a lap joint system according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 3 is a schematic diagram of a test lap joint system for automatically overlapping different scenarios according to an embodiment of the present invention.
  • Embodiment 1 is a diagrammatic representation of Embodiment 1:
  • an embodiment of the present invention relates to a test lap joint system, including a test lap joint device and a host computer, wherein the test lap joint device includes:
  • a communication module configured to communicate with the host computer, and configured to receive a control message sent by the host computer; the control message includes a control instruction for connecting the next tested network element connection line;
  • the test control module is respectively connected to a plurality of tested network elements; each tested network element is connected to the test control module through a four-way connection line, wherein each connection connection line is automatically opened according to the control instruction Switch unit.
  • a test plan is prepared, and a test configuration file is formed and saved to the upper computer.
  • the host computer issues a control message according to the test configuration file.
  • the control message includes data line information, chip selection information, clock information, and input information, wherein the chip selection information carries a control instruction.
  • the switch unit is a relay switch; it can also be other switching devices that can be automatically controlled by the circuit, such as a diode switch (including a matching control circuit to control only the connection line connecting the test network element).
  • the embodiment further relates to a method for implementing automatic test lap by using the above system, including:
  • the control message includes a control instruction that is connected to the next tested network element connection line;
  • connection line between the upper computer and the next tested network element; wherein each tested network element is connected with four connection lines, and each connection line is provided according to the A control unit that automatically turns on the control command.
  • the host computer pre-stores a test configuration file, and the test configuration file includes the test sequence and test information of the tested network element; the host computer issues a control message according to the test configuration file; the control message includes data line information, chip selection information, clock information, and Input information, wherein the chip selection information carries a control instruction.
  • the switch unit uses a relay switch.
  • the switch unit on the connected line is automatically disconnected; then the host computer sends a control message again, and opens the connection line of the next network element to be tested for testing, and repeats until the test Finished, automatic testing.
  • Embodiment 2 is a diagrammatic representation of Embodiment 1:
  • an Auto Test Manage system which is a socket-based (referred to as socket), which means that two programs on the network exchange data through a two-way communication connection.
  • socket a socket-based server-side application system that manages automated test cases.
  • the system can develop test plans and run uninterrupted according to the test plan.
  • Host computer side On the server, install the NI board, and develop the port control function of the host computer (server) to the lower computer (test bridge device) through the NI library file.
  • the control word data is output to the LNK1 (test splicing device) in order of high to low, and the function of transmitting the user line sequence to the lower computer is completed, and the user line serial number data to be lapped is specified.
  • the NI board is connected to LNK1 through the SPI interface.
  • the LNK1 board has an array of relays, including 48 relays, divided into 12 groups of four for each of the 12-to-1 selection.
  • the one-to-many test scenario can be realized by changing the overlap of the designated line from the relay array of the lower machine LNK1 board. For example, when chip select A1A0 is set to 00, 01, 10, and 11, respectively, corresponding to scene 1, 0, 1, 2, and 3, each group of 4 corresponds to four scenes.
  • the upper computer outputs the control word data to the lower computer in the order from high to low, and the lower computer collects the signal lap relay.
  • the connected circuit After the relay lap is effective, the connected circuit is connected and enters the test state.
  • the schematic diagram is shown in Figure 3.
  • Logic can set more scenes.
  • two or more voice cards can be installed on the server to implement a many-to-many test scenario.
  • To share the server load multiple servers can be connected to the lower computer, and many-to-many test scenarios can be implemented.
  • test configuration files need to be connected to which four users, the lower machine LNK1 will lap the corresponding line, so that the measured line is connected. After the test is completed, the test line is disconnected, and the next network element under test is re-designated according to the next control command.
  • the entire test process does not require manual intervention of the tested line, and the requirement that one server corresponds to multiple test scenarios in turn testing can be realized, which can effectively reduce the purchase of more servers.
  • a connection between a server and a plurality of test network elements is implemented by testing the splicing device, and a plurality of test network elements can be implemented by sending a control command to control the closing of the switch unit.
  • the automated testing in turn greatly improves the testing efficiency, and also reduces the number of test servers used and reduces the cost.

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Abstract

本发明公开了一种测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法，测试搭接装置，包括：通信模块，与上位机进行通信，以及用于接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。本发明通过测试搭接装置，实现了一台服务器与多个测试网元的连接，通过发送控制指令，控制开关单元的闭合，可以实现对多个测试网元的依次自动化测试，大大提高了测试效率，也一定程度上降低了测试服务器的使用数量，降低了成本。

Description

测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法 技术领域
本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法。
背景技术
自动化测试会面对不同单板、机框、业务的组合，因此存在测试场景数量剧增的情况，例如多个项目，多个场景。但是测试服务器的测试端口由语音卡提供，一块语音卡有4个端口。每个场景都需要多个测试端口，测试端口严重缺乏，因此，就要部署更多的测试服务器，去对应更多的测试场景，造成测试服务器的巨大浪费。另外，由于空间受限，需要人工干预每台服务器以及被测试环境，自动化测试系统部署起来比较困难，从而造成实际测试中存在自动化测试实际上不容易推广使用的问题。在自动化测试时，项目的一个网元通常有多块用户板组成，每一个用户板有多个端口，要遍历更多的测试端口，一台测试服务器很难支持，因此传统的一对一(一台测试服务器对应一个测试网元)测试模型已经无法满足当前的测试需求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种测试搭接装置、系统及测试自动搭接方法，用以解决现有技术通过一台测试服务器测试多个网元效率低下的问题。
为解决上述技术问题，在本发明的实施例中，本发明提供一种测试搭接装置，包括：
通信模块，与上位机进行通信，以及设置为接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
在本发明的实施例中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息、时钟信息和输入信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
在本发明的实施例中，所述开关单元为继电器开关。
在本发明的另一个实施例中，本发明还提供一种测试搭接系统，包括测试搭接装置和上位机，其中，测试搭接装置包括：
通信模块，与上位机进行通信，以及设置为接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
在本发明的实施例中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息、时钟信息和输入信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
在本发明的实施例中，所述开关单元为继电器开关。
在本发明的再一个实施例中，本发明还提供一种测试自动搭接方法，包括：
接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
根据所述控制指令，将所述上位机与下一个被测试网元之间的连接线连通；其中，每个被测试网元连接有四路连接线，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
在本发明的实施例中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息、时钟信息和输入信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
在本发明的实施例中，所述开关单元为继电器开关。
在本发明的实施例中，所述上位机预先保存有测试配置文件，所述测试配置文件中包括被测试网元的测试顺序和测试信息；所述上位机根据所述测试配置文件下发所述控制消息；
当前测试网元测试完毕后，与其连接的连接线上的开关单元自动断开。
本发明有益效果如下：
本发明通过测试搭接装置，实现了一台服务器与多个测试网元的连接，通过发送控制指令，控制开关单元的闭合，可以实现对多个测试网元的依次自动化测试，大大提高了测试效率，也一定程度上降低了测试服务器的使用数量，降低了成本。
附图说明
图1是本发明实施例中一种测试搭接系统的结构示意图；
图2是本发明实施例中一种测试搭接系统进行测试的原理示意图；
图3是本发明实施例中一种测试搭接系统实现不同场景自动搭接的示意图。
具体实施方式
以下结合附图以及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不限定本发明。
如何只通过一台服务器上操作，确定测试配置文件，自动搭接用户线，将测试计划执行 完毕，满足多个项目测试场景，使控制方式自动化，可以不需要人工干预就可以连续测试多个被测网元，是本发明的关键点。
实施例一：
如图1所示，本发明实施例涉及一种测试搭接系统，包括测试搭接装置和上位机，其中，测试搭接装置包括：
通信模块，与上位机进行通信，以及设置为接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
其中，测试之前，根据需要测试的网元及需要测试的应用场景，制定测试计划，形成测试配置文件，保存到上位机内。测试时，上位机根据测试配置文件下发控制消息。控制消息包括数据线信息、片选信息、时钟信息和输入信息，其中，片选信息中携带控制指令。
开关单元为继电器开关；也可以为其它通过电路能够实现自动控制的开关器件，比如二极管开关(包括配套的控制电路，以控制只打开与测试网元连接的连接线路)。
另外，本实施例还涉及一种利用上述系统实现测试自动搭接的方法，包括：
接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
根据所述控制指令，将所述上位机与下一个被测试网元之间的连接线连通；其中，每个被测试网元连接有四路连接线，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
上位机预先保存有测试配置文件，测试配置文件中包括被测试网元的测试顺序和测试信息；上位机根据测试配置文件下发控制消息；控制消息包括数据线信息、片选信息、时钟信息和输入信息，其中，片选信息中携带控制指令。开关单元选用继电器开关。
当前测试网元测试完毕后，与其连接的连接线上的开关单元自动断开；然后上位机再次下发控制消息，打开下一个待测试网元的连接线路进行测试，以此重复下去，直至测试完毕，实现自动测试。
实施例二：
如图2、3所示，下面以一个具体实施例来详细说明本发明。
在服务器上，部署一个自动化控制管理系统(Auto Test Manage)，该系统是一个基于Socket(简称套接字，是指网络上的两个程序通过一个双向的通信连接实现数据的交换，这个连接的一端称为一个socket)方式的服务器端应用系统，管理自动化测试用例，该系统可以制定测试计划，按照测试计划不间断的运行。
上位机侧：在服务器上，安装NI板，通过NI的库文件开发上位机(服务器)对下位机(测试搭接装置)的端口控制功能。按从高到低的次序输出控制字数据给LNK1(测试搭接装置)，完成对下位机传达要操作用户线路序列的功能，指定具体需要搭接的用户线路序列号数据。
下位机(测试搭接装置)侧：NI板通过SPI接口与LNK1相连。LNK1板有一个继电器阵列，包括48个继电器，分成12组，每组四个，用于12选1的选路。根据从上位机采集到的数据，从下位机LNK1板的继电器阵列里更改指定线路的搭接，即可实现一对多的测试场景。例如，当片选A1A0设置为00、01、10、11时，分别对应场景一的0路、1路、2路、3路，每组4个对应四个场景。上位机按从高到低的次序输出控制字数据给下位机，下位机采集到信号搭接继电器，继电器搭接生效后，连通被测电路，进入测试状态，示意图如图3所示，按此逻辑可以设置更多场景。另外，服务器上安装两个或多个语音卡，可以实现多对多的测试场景；或者为分担服务器载荷，设置多台服务器与下位机连接，也可以实现多对多的测试场景。
被测网元侧，下位机LNK1板对应的48路线路连接对应测试的多个待测网元。等在自动化测试管理系统AutoTestManage里制定测试计划，测试配置文件需要搭接哪四路用户，下位机LNK1会搭接好对应的线路，从而被测线路是连通状态。等测试完成后将测试线路断开，根据下一个控制指令重新指定连通下一个被测网元。
通过上述流程可以看出，测试系统制定好测试计划后，整个测试过程不需要人工干预被测线路，就可以实现一台服务器对应多个测试场景轮流测试的需求，可以有效的降低购买更多服务器的成本，减少人工搭接用户电路的人力投入，解放双手。
尽管为示例目的，已经公开了本发明的优选实施例，本领域的技术人员将意识到各种改进、增加和取代也是可能的，因此，本发明的范围应当不限于上述实施例。
工业实用性
基于本发明实施例提供的上述技术方案，通过测试搭接装置，实现了一台服务器与多个测试网元的连接，通过发送控制指令，控制开关单元的闭合，可以实现对多个测试网元的依次自动化测试，大大提高了测试效率，也一定程度上降低了测试服务器的使用数量，降低了成本。

Claims (10)

  1. 一种测试搭接装置，包括：
    通信模块，与上位机进行通信，以及设置为接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
    测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
  2. 如权利要求1所述的测试搭接装置，其中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息和时钟信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
  3. 如权利要求1或2所述的测试搭接装置，其中，所述开关单元为继电器开关。
  4. 一种测试搭接系统，包括测试搭接装置和上位机，其中，测试搭接装置包括：
    通信模块，与上位机进行通信，以及设置为接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
    测试控制模块，分别与若干个被测试网元连接；每个被测试网元通过四路连接线与所述测试控制模块连接，其中，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
  5. 如权利要求4所述的测试搭接系统，其中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息和时钟信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
  6. 如权利要求4或5所述的测试搭接系统，其中，所述开关单元为继电器开关。
  7. 一种测试自动搭接方法，包括：
    接收上位机下发的控制消息；所述控制消息包括连通下一个被测试网元连接线路的控制指令；
    根据所述控制指令，将所述上位机与下一个被测试网元之间的连接线连通；其中，每个被测试网元连接有四路连接线，每路连接线上设置有根据所述控制指令自动打开的开关单元。
  8. 如权利要求7所述的测试自动搭接方法，其中，所述控制消息包括数据线信息、片选信息和时钟信息，其中，所述片选信息中携带所述控制指令。
  9. 如权利要求7或8所述的测试自动搭接方法，其中，所述开关单元为继电器开关。
  10. 如权利要求9所述的测试自动搭接方法，其中，所述上位机预先保存有测试配置文件，所述测试配置文件中包括被测试网元的测试顺序和测试信息；所述上位机根据所述测试配置文件下发所述控制消息；
    当前测试网元测试完毕后，与其连接的连接线上的开关单元自动断开。
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