WO2016052170A1 - Organic electronic device, organic thin film transistor, electronic paper and display device - Google Patents

Organic electronic device, organic thin film transistor, electronic paper and display device Download PDF

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泰明 松下
季彦 松村
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Definitions

  • the organic electronic device of the present invention includes at least an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material and an electrode layer disposed adjacent to the organic semiconductor layer. As will be described later, the organic electronic device can be applied for various uses including an organic thin film transistor. Hereinafter, first, the organic semiconductor layer and the electrode layer will be described in detail.
  • the content of the organic semiconductor material in the organic semiconductor layer is not particularly limited, but the mobility and / or insulation reliability of the obtained organic electronic device is more excellent (hereinafter simply referred to as “the effect of the present invention is more excellent”). 20 to 95% by mass, more preferably 30 to 95% by mass, and still more preferably 33 to 75% by mass with respect to the total mass of the organic semiconductor layer.
  • R 1 to R 4 each independently represents a hydrogen atom or a substituent.
  • substituents include a halogen atom, an alkyl group (including a cycloalkyl group), an alkenyl group (including a cycloalkenyl group and a bicycloalkenyl group), an alkynyl group, an aryl group, a heterocyclic group, a cyano group, a hydroxyl group, Nitro group, carboxyl group, alkoxy group, aryloxy group, silyloxy group, heterocyclic oxy group, acyloxy group, carbamoyloxy group, alkoxycarbonyloxy group, aryloxycarbonyloxy, amino group (including anilino group), acylamino group, Aminocarbonylamino group, alkoxycarbonylamino group, aryloxycarbonylamino group, sulfamoylamino group, alkyl and arylsulf
  • the group represented by the general formula (A) is a group represented by the general formula (A-1) or a group represented by the general formula (A-2) in that the effect of the present invention is more excellent.
  • a group selected from the group consisting of groups represented by formula (A-3) is preferable. * Represents a binding position.
  • R 11 and R 13 each independently represents an alkyl group or an alkoxy group.
  • R 12 and R 14 represent a hydrogen atom, an alkyl group, or an alkoxy group.
  • Y represents a single bond or a divalent linking group, and the definition thereof is as described above.
  • n + m-valent linking group is a group selected from the group consisting of groups represented by general formula (1) to general formula (10) in that the effect of the present invention is more excellent. It is done. * Indicates a binding position.
  • n + m 2
  • n + m 3
  • L 1 represents a single bond or a divalent linking group.
  • the definition of a bivalent coupling group is synonymous with the definition of the bivalent coupling group represented by Y.
  • R 5 represents a hydrogen atom or an alkyl group.
  • Rx represents a group represented by general formula (A). The definition of group represented by general formula (A) is as above-mentioned.
  • the thickness of the organic semiconductor layer is not particularly limited and varies depending on the application, but is preferably 10 to 200 nm in terms of balance between thinning and performance.
  • aromatic compounds such as toluene, xylene, mesitylene, 1,2,3,4-tetrahydronaphthalene (tetralin), chlorobenzene, dichlorobenzene, anisole, are illustrated suitably.
  • the electrode layer contains the above-described phenol compound (compound having a phenolic hydroxyl group).
  • the definition of the phenol compound is as described above.
  • the content of the phenolic compound in the electrode layer is not particularly limited, but is preferably 3 to 70% by mass, and preferably 5 to 30% by mass with respect to the total mass of the metal contained in the electrode layer, from the viewpoint that the effect of the present invention is more excellent. % Is more preferable.
  • the metal oxide particle containing a predetermined metal is used instead of a metal particle, and a metal oxide particle is heat-processed.
  • An electrode layer containing a metal and a phenol compound may be formed by reduction by light irradiation treatment.
  • the organic electronic device includes the organic semiconductor layer and the electrode layer.
  • the content Ms of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer with respect to the content Mm of the phenol compound contained in the electrode layer is more excellent in the effect of the present invention.
  • the mass ratio (content Ms / content Mm) is preferably 5.0 or more, more preferably 10 to 5000, and still more preferably 20 to 1000.
  • the organic electronic device only needs to include the organic semiconductor layer and the electrode layer, and may include other layers depending on the application.
  • organic thin film transistors, organic solar cells, and organic EL devices can be used, and in particular, it can be suitably applied to organic thin film transistors.
  • the organic thin film transistor can be suitably applied to electronic paper, a display device, and the like.
  • the aspect which applied the said organic electronic device to the organic thin-film transistor is explained in full detail.
  • the organic semiconductor layer 50 is synonymous with the organic semiconductor layer included in the organic electronic device described above, and the definition of the phenol compound included in the organic semiconductor layer 50 is also as described above.
  • the mass of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer 50 and the mass of the phenol compound contained in the source electrode 40 satisfy the relationship of the above-described content Ms / content Mm. Further, the relationship between the mass of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer 50 and the mass of the phenol compound contained in the drain electrode 42 also satisfies the relationship of content Ms / content Mm, as described above.
  • the thickness of the organic semiconductor layer 50 is not particularly limited, but is preferably 10 to 200 nm.
  • the substrate plays a role of supporting a gate electrode, a source electrode, a drain electrode and the like which will be described later.
  • substrate is not restrict
  • the material of the plastic substrate includes a thermosetting resin (for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyester resin (for example, PET, PEN)) or thermoplastic resin (for example, phenoxy resin, polyether sulfone, polysulfone, Polyphenylene sulfone).
  • Gate insulation film Materials for the gate insulating film include polymethyl methacrylate, polystyrene, polyvinyl phenol, polyimide, polycarbonate, polyester, polyvinyl alcohol, polyvinyl acetate, polyurethane, polysulfone, polybenzoxazole, polysilsesquioxane, epoxy resin, phenol resin And the like; oxides such as silicon dioxide, aluminum oxide, and titanium oxide; and nitrides such as silicon nitride. Of these materials, a polymer is preferable in view of compatibility with the organic semiconductor layer. When a polymer is used as the material for the gate insulating film, it is preferable to use a crosslinking agent (for example, melamine) in combination. By using a crosslinking agent in combination, the polymer is crosslinked and the durability of the formed gate insulating film is improved.
  • the thickness of the gate insulating film is not particularly limited, but is preferably 100 to 1000 nm.
  • the method for forming the sealing layer is not particularly limited.
  • the composition for forming the sealing layer is applied onto the substrate on which the gate electrode, the gate insulating film, the source electrode, the drain electrode, and the organic semiconductor layer are formed.
  • the method etc. are mentioned.
  • a specific example of the method of applying the sealing layer forming composition is the same as the method of applying the gate insulating film forming composition.
  • the second embodiment of the organic thin film transistor has the same configuration as that of the first embodiment of the organic thin film transistor except that the positions of the layers used are different. The description is omitted. Also in the second embodiment, as in the first embodiment, the organic semiconductor layer 50, the source electrode 40, and the drain electrode 42 contain a phenol compound.
  • O-1 5,11-bis (triethylsilylethynyl) anthradithiophene (TES-ADT) (manufactured by Aldrich)
  • O-2 Compound represented by the following formula (synthesized according to the method described in JP2009-190999A)
  • Phenol compound S-1 contained in the organic semiconductor layer IRGANOX 1010 (manufactured by BASF)
  • Example 6 Comparison between Example 6 and Comparative Example 1 revealed that both the mobility and the insulation reliability were improved when both the organic semiconductor layer and the electrode layer contained a phenol compound.
  • a phenol compound is further added to the electrode layer of Comparative Example 1, the insulation reliability is improved and, as described above, the adhesion between the organic semiconductor layer and the electrode layer is improved, and as a result, the mobility is increased. Is estimated to have improved.

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Abstract

The present invention provides: an organic electronic device which has achieved improved insulation reliability between electrodes, without significantly decreasing the mobility; an organic thin film transistor; an electronic paper; and a display device. An organic electronic device according to the present invention comprises: an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material; and an electrode layer that is arranged adjacent to the organic semiconductor layer and contains a metal. Both the organic semiconductor layer and the electrode layer contain a compound having a phenolic hydroxyl group.

Description

有機電子デバイス、有機薄膜トランジスタ、電子ペーパー、ディスプレイデバイスOrganic electronic devices, organic thin film transistors, electronic paper, display devices
 本発明は、有機電子デバイス、有機薄膜トランジスタ、電子ペーパー、および、ディスプレイデバイスに関する。 The present invention relates to an organic electronic device, an organic thin film transistor, electronic paper, and a display device.
 軽量化、低コスト化、柔軟化が可能であることから、液晶ディスプレイや有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイに用いられるTFT(薄膜トランジスタ)、RFID(Radio Frequency Identifier)やメモリなどの論理回路を用いる装置等に、有機半導体材料からなる有機半導体膜(有機半導体層)を有する有機電子デバイスが利用されている。
 昨今、有機電子デバイスへの期待が高まるなか、有機電子デバイスには、移動度(特に電界効果移動度)の向上や安定性などが求められている。
 このようななか、特許文献1には、有機半導体層の酸化劣化を低減するために、酸化防止剤を含有する組成物で有機半導体層を形成した有機薄膜トランジスタが開示されている。より具体的には、特許文献1の実施例欄においては、ヒンダードフェノール系酸化防止剤(長瀬産業社製:イルガノックス1076)が使用されている。
Equipment that uses logic circuits such as TFTs (Thin Film Transistors), RFIDs (Radio Frequency Identifiers), and memories used in liquid crystal displays and organic EL (Electro Luminescence) displays because they can be reduced in weight, cost, and flexibility. In addition, an organic electronic device having an organic semiconductor film (organic semiconductor layer) made of an organic semiconductor material is used.
In recent years, with increasing expectations for organic electronic devices, organic electronic devices are required to have improved mobility (particularly field effect mobility) and stability.
Under such circumstances, Patent Document 1 discloses an organic thin film transistor in which an organic semiconductor layer is formed of a composition containing an antioxidant in order to reduce oxidative degradation of the organic semiconductor layer. More specifically, in the Example column of Patent Document 1, a hindered phenol-based antioxidant (manufactured by Nagase Sangyo Co., Ltd .: Irganox 1076) is used.
特開2005-5582号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2005-5582
 一方、近年、有機電子デバイスの性能のより一層の向上が求められており、特に、移動度を低下させることなく、電極間の絶縁信頼性をより一層向上させることが求められている。例えば、有機薄膜トランジスタの形態においては、有機半導体層を介した移動度を低下させることなく、ソース電極およびドレイン電極間の絶縁信頼性をより一層向上させることが求められている。
 本発明者らが特許文献1で具体的に開示される上述した酸化防止剤(イルガノックス1076)を含む組成物を用いて有機電子デバイス(特に、有機薄膜トランジスタ)を作製したところ、有機電子デバイス(特に、有機薄膜トランジスタ)の移動度、および、電極間(有機薄膜トランジスタの場合は、ソース電極およびドレイン電極間)の絶縁信頼性の両立が昨今求められるレベルでは満たされていないことが明らかとなった。特に、絶縁信頼性に関しては、電極間において金属のイオンマイグレーションが進行してしまう、という問題があった。
On the other hand, in recent years, there has been a demand for further improvement in the performance of organic electronic devices, and in particular, there has been a demand for further improving insulation reliability between electrodes without lowering mobility. For example, in the form of an organic thin film transistor, it is required to further improve the insulation reliability between the source electrode and the drain electrode without reducing the mobility via the organic semiconductor layer.
When the present inventors produced an organic electronic device (particularly, an organic thin film transistor) using the above-described composition containing the antioxidant (Irganox 1076) specifically disclosed in Patent Document 1, an organic electronic device ( In particular, it has been clarified that both the mobility of the organic thin film transistor) and the insulation reliability between the electrodes (in the case of the organic thin film transistor, between the source electrode and the drain electrode) are not satisfied at the level required recently. In particular, regarding the insulation reliability, there has been a problem that metal ion migration proceeds between the electrodes.
 そこで、本発明は、上記実情を鑑みて、移動度を大きく低下させることなく、電極間の絶縁信頼性を向上させた有機電子デバイスを提供することを目的とする。
 また、本発明は、有機薄膜トランジスタ、電子ペーパー、および、ディスプレイデバイスを提供することも目的とする。
Accordingly, in view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide an organic electronic device having improved insulation reliability between electrodes without greatly reducing mobility.
Another object of the present invention is to provide an organic thin film transistor, electronic paper, and a display device.
 本発明者らは、上記課題について鋭意検討した結果、有機半導体層と電極層とにフェノール性水酸基を有する化合物を含有させることにより、所定の効果が得られることを見出し、本発明に至った。
 すなわち、本発明者らは、以下の構成により上記課題が解決できることを見出した。
As a result of intensive studies on the above problems, the present inventors have found that a predetermined effect can be obtained by including a compound having a phenolic hydroxyl group in the organic semiconductor layer and the electrode layer, and have reached the present invention.
That is, the present inventors have found that the above problem can be solved by the following configuration.
(1) 有機半導体材料を含む有機半導体層と、有機半導体層に隣接して配置され、金属を含む電極層とを有し、
 有機半導体層と電極層との両方にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれる、有機電子デバイス。
(2) フェノール性水酸基を有する化合物が、後述する一般式(I)で表される化合物、および、後述する一般式(II)で表される繰り返し単位を有する化合物からなる群から選択される少なくとも1種を含む、(1)に記載の有機電子デバイス。
(3) 有機半導体層内に含まれるフェノール性水酸基を有する化合物の含有量が、有機半導体材料全質量に対して、10~300質量%である、(1)または(2)に記載の有機電子デバイス。
(4) 電極層内に含まれるフェノール性水酸基を有する化合物の含有量Mmに対する、有機半導体層内に含まれるフェノール性水酸基を有する化合物の含有量Msの質量比が5.0以上である、(1)~(3)のいずれかに記載に有機電子デバイス。なお、質量比は、含有量Ms/含有量Mmを意図する。
(5) 有機半導体材料が低分子化合物であり、かつ、有機半導体層内に含まれるフェノール性水酸基を有する化合物が低分子化合物であるか、または、
 有機半導体材料が高分子化合物であり、かつ、有機半導体層内に含まれるフェノール性水酸基を有する化合物が高分子化合物である、(1)~(4)のいずれかに記載に有機電子デバイス。
(6) 電極層に含まれる金属が、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、および、タンタルからなる群より選択される金属である、(1)~(5)のいずれかに記載の有機電子デバイス。
(7) 有機薄膜トランジスタ、有機太陽電池、および、有機ELデバイスからなる群から選択される少なくとも一つに適用される、(1)~(6)のいずれかに記載の有機電子デバイス。
(8) (1)~(6)のいずれかに記載の有機電子デバイスを含む有機薄膜トランジスタ。
(9) ソース電極と、ドレイン電極と、ゲート電極と、ゲート絶縁膜と、有機半導体層とを備える有機薄膜トランジスタであって、
 有機半導体層にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれ、
 有機半導体層と隣接して配置されるソース電極およびドレイン電極の少なくとも一方にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれる、有機薄膜トランジスタ。
(10) (8)または(9)に記載の有機薄膜トランジスタを含む、電子ペーパー。
(11) (8)または(9)に記載の有機薄膜トランジスタを含む、ディスプレイデバイス。
(1) An organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material, and an electrode layer arranged adjacent to the organic semiconductor layer and containing a metal,
An organic electronic device in which a compound having a phenolic hydroxyl group is contained in both the organic semiconductor layer and the electrode layer.
(2) The compound having a phenolic hydroxyl group is at least selected from the group consisting of a compound represented by formula (I) described later and a compound having a repeating unit represented by formula (II) described later The organic electronic device according to (1), comprising one kind.
(3) The organic electron according to (1) or (2), wherein the content of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is 10 to 300% by mass relative to the total mass of the organic semiconductor material device.
(4) The mass ratio of the content Ms of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer to the content Mm of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the electrode layer is 5.0 or more. The organic electronic device according to any one of 1) to (3). In addition, mass ratio intends content Ms / content Mm.
(5) The organic semiconductor material is a low molecular compound, and the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is a low molecular compound, or
The organic electronic device according to any one of (1) to (4), wherein the organic semiconductor material is a polymer compound, and the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is a polymer compound.
(6) The organic electronic device according to any one of (1) to (5), wherein the metal contained in the electrode layer is a metal selected from the group consisting of silver, copper, aluminum, nickel, and tantalum.
(7) The organic electronic device according to any one of (1) to (6), which is applied to at least one selected from the group consisting of organic thin film transistors, organic solar cells, and organic EL devices.
(8) An organic thin film transistor comprising the organic electronic device according to any one of (1) to (6).
(9) An organic thin film transistor comprising a source electrode, a drain electrode, a gate electrode, a gate insulating film, and an organic semiconductor layer,
The organic semiconductor layer contains a compound having a phenolic hydroxyl group,
An organic thin film transistor, wherein a compound having a phenolic hydroxyl group is contained in at least one of a source electrode and a drain electrode arranged adjacent to an organic semiconductor layer.
(10) Electronic paper comprising the organic thin film transistor according to (8) or (9).
(11) A display device comprising the organic thin film transistor according to (8) or (9).
 本発明によれば、移動度を大きく低下させることなく、電極間の絶縁信頼性を向上させた有機電子デバイスを提供することができる。
 また、本発明によれば、有機薄膜トランジスタ、電子ペーパー、および、ディスプレイデバイスを提供することもできる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the organic electronic device which improved the insulation reliability between electrodes can be provided, without reducing a mobility significantly.
Moreover, according to this invention, an organic thin-film transistor, electronic paper, and a display device can also be provided.
本発明の有機薄膜トランジスタの第1実施態様の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the 1st embodiment of the organic thin-film transistor of this invention. 本発明の有機薄膜トランジスタの第2実施態様の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the 2nd embodiment of the organic thin-film transistor of this invention.
 以下に、本発明の有機電子デバイスなどについて説明する。
 なお、本明細書において「~」を用いて表される数値範囲は、「~」の前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。
 まず、本発明の特徴点としては、フェノール性水酸基を有する化合物(以後、単に「フェノール化合物」とも称する)が有機半導体層および電極層の両方に含まれている点が挙げられる。有機半導体層および電極層の両方にフェノール化合物が含まれると、金属のイオンマイグレーションがより抑制され、絶縁信頼性が大きく向上する。また、有機半導体層および電極層の両方にフェノール化合物が含まれると、移動度の低下が最小限に抑制される。その理由としては、まず、電極層に添加されたフェノール化合物は電極層表面に偏在しやすく、電極層表面側に偏在したフェノール化合物と、有機半導体層内に含まれるフェノール化合物とはその性質が類似している点から、隣接して配置される電極層と有機半導体層との界面の密着性が向上し、結果として両者の間の電子やホールの移動のより促進され、移動度の低下が抑制されたものと推測される。
The organic electronic device of the present invention will be described below.
In the present specification, a numerical range represented by using “to” means a range including numerical values described before and after “to” as a lower limit value and an upper limit value.
First, a feature of the present invention is that a compound having a phenolic hydroxyl group (hereinafter simply referred to as “phenol compound”) is contained in both the organic semiconductor layer and the electrode layer. When a phenol compound is contained in both the organic semiconductor layer and the electrode layer, ion migration of the metal is further suppressed, and the insulation reliability is greatly improved. Moreover, when a phenol compound is contained in both the organic semiconductor layer and the electrode layer, a decrease in mobility is suppressed to a minimum. The reason is that the phenol compound added to the electrode layer tends to be unevenly distributed on the electrode layer surface, and the phenol compound unevenly distributed on the electrode layer surface side and the phenol compound contained in the organic semiconductor layer have similar properties. Therefore, the adhesion at the interface between the adjacent electrode layer and the organic semiconductor layer is improved, and as a result, the movement of electrons and holes between them is promoted, and the decrease in mobility is suppressed. It is speculated that it was done.
 本発明の有機電子デバイスは、有機半導体材料を含む有機半導体層と、有機半導体層に隣接して配置される電極層とを少なくとも有する。後述するように、有機電子デバイスは有機薄膜トランジスタを含め種々の用途の適用することができる。
 以下では、まず、有機半導体層および電極層についてそれぞれ詳述する。
The organic electronic device of the present invention includes at least an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material and an electrode layer disposed adjacent to the organic semiconductor layer. As will be described later, the organic electronic device can be applied for various uses including an organic thin film transistor.
Hereinafter, first, the organic semiconductor layer and the electrode layer will be described in detail.
<有機半導体層>
 有機半導体層には、有機半導体材料と、フェノール性水酸基を有する化合物とが含まれる。この有機半導体層を介して電極層への電子やホールのやり取りが実施される。
 以下では、まず、有機半導体層を構成する材料について詳述する。
<Organic semiconductor layer>
The organic semiconductor layer includes an organic semiconductor material and a compound having a phenolic hydroxyl group. Exchange of electrons and holes to the electrode layer is performed through the organic semiconductor layer.
Below, the material which comprises an organic-semiconductor layer is explained in full detail first.
[有機半導体材料]
 有機半導体層には、有機半導体材料が含まれる。その種類は特に制限されず、公知の有機半導体材料を使用することができ、低分子化合物であっても、高分子化合物(好ましくは、共役系高分子)であってもよい。具体的には、6,13-ビス(トリイソプロピルシリルエチニル)ペンタセン(TIPSペンタセン)、テトラメチルペンタセン、パーフルオロペンタセン等のペンタセン類、TES-ADT、diF-TES-ADT(2,8-ジフルオロ-5,11-ビス(トリエチルシリルエチニル)アントラジチオフェン)等のアントラジチオフェン類、DPh-BTBT(2,7-ジフェニル[1]ベンゾチエノ[3,2-b][1]ベンゾチオフェン)、Cn-BTBT等のベンゾチエノベンゾチオフェン類、Cn-DNTT(dinaphtho[2,3-b:2',3'-f]thieno[3,2-b]thiophene)等のジナフトチエノチオフェン類、ペリキサンテノキサンテン等のジオキサアンタントレン類、ルブレン類、C60、PCBM([6,6]-Phenyl-C61-Butyric Acid Methyl Ester)等のフラーレン類、銅フタロシアニン、フッ素化銅フタロシアニン等のフタロシアニン類、P3RT(ポリ(3-アルキルチオフェン))、PQT(ポリ[5,5'-ビス(3-ドデシル-2-チエニル1)-2,2'-ビチオフェン])、P3HT(ポリ(3-ヘキシルチオフェン))等のポリチオフェン類、ポリ[2,5-ビス(3-ドデシルチオフェン-2-イル)チエノ[3,2-b]チオフェン](PBTTT)等のポリチエノチオフェン類等が例示される。
 有機半導体材料としては、上述したように、低分子化合物であっても、高分子化合物であってもよい。なお、低分子化合物とは、その分子量は2000以下の化合物を意図する。また、高分子化合物とは、その分子量は2000超の化合物を意図する。なお、高分子化合物が所定の繰り返し単位を複数有する化合物である場合、数平均分子量が2000超であればよい。
 なお、数平均分子量の測定方法は、後述する、一般式(II)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物の数平均分子量の測定方法と同じである。
[Organic semiconductor materials]
The organic semiconductor layer includes an organic semiconductor material. The kind in particular is not restrict | limited, A well-known organic-semiconductor material can be used, A low molecular compound or a high molecular compound (preferably conjugated polymer) may be sufficient. Specifically, pentacenes such as 6,13-bis (triisopropylsilylethynyl) pentacene (TIPS pentacene), tetramethylpentacene, perfluoropentacene, TES-ADT, diF-TES-ADT (2,8-difluoro- 5,11-bis (triethylsilylethynyl) anthradithiophene) and the like, DPh-BTBT (2,7-diphenyl [1] benzothieno [3,2-b] [1] benzothiophene), Cn— Benzthienobenzothiophenes such as BTBT, dinaphthothienothiophenes such as Cn-DNTT (dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3,2-b] thiophene), and perixantheno Fullerenes such as dioxaanthanthrenes such as xanthene, rubrenes, C60, PCBM ([6,6] -Phenyl-C61-Butyric Acid Methyl Ester), Phthalocyanines such as copper phthalocyanine and fluorinated copper phthalocyanine, P3RT (poly (3-alkylthiophene)), PQT (poly [5,5'-bis (3-dodecyl-2-thienyl1) -2,2'-bithiophene) ]), Polythiophenes such as P3HT (poly (3-hexylthiophene)), poly [2,5-bis (3-dodecylthiophen-2-yl) thieno [3,2-b] thiophene] (PBTT), etc. Examples include polythienothiophenes.
As described above, the organic semiconductor material may be a low molecular compound or a high molecular compound. In addition, a low molecular compound intends the compound whose molecular weight is 2000 or less. Moreover, the high molecular compound intends the compound whose molecular weight exceeds 2000. In addition, when the polymer compound is a compound having a plurality of predetermined repeating units, the number average molecular weight may be more than 2000.
In addition, the measuring method of a number average molecular weight is the same as the measuring method of the number average molecular weight of the high molecular compound which has a repeating unit represented by general formula (II) mentioned later.
 有機半導体層中における有機半導体材料の含有量は特に制限されないが、得られる有機電子デバイスの移動度および/または絶縁信頼性がより優れる点(以後、単に「本発明の効果がより優れる点」とも称する)で、有機半導体層全質量に対して、20~95質量%が好ましく、30~95質量%がより好ましく、33~75質量%がさらに好ましい。 The content of the organic semiconductor material in the organic semiconductor layer is not particularly limited, but the mobility and / or insulation reliability of the obtained organic electronic device is more excellent (hereinafter simply referred to as “the effect of the present invention is more excellent”). 20 to 95% by mass, more preferably 30 to 95% by mass, and still more preferably 33 to 75% by mass with respect to the total mass of the organic semiconductor layer.
[フェノール性水酸基を有する化合物]
 有機半導体層には、フェノール性水酸基を有する化合物が含まれる。フェノール化合物は、いわゆるマイグレーション防止剤(マイグレーション抑制剤)として機能する化合物である。上述したように、従来技術において、電極層の絶縁信頼性が低下している要因の一つとしては、電極層を構成する金属のイオンマイグレーションが考えられる。フェノール化合物は、上記金属のイオンマイグレーションを抑制する機能を有する。
 フェノール化合物は、フェノール性水酸基を有する化合物である。フェノール性水酸基とは、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環等に例示される芳香族炭化水素環(芳香族炭化水素核)に直接結合した水酸基を意図する。
 フェノール化合物には、フェノール性水酸基が少なくとも1つ含まれていればよく、フェノール化合物が低分子化合物である場合、本発明の効果がより優れる点で、1~4つが好ましく、1~2つが好ましい。
 フェノール性水酸基は、一つの芳香族炭化水素環に複数置換していてもよい。
 なお、フェノール化合物は、低分子化合物であっても、高分子化合物であってもよい。なお、低分子化合物とは、その分子量は2000以下の化合物を意図する。また、高分子化合物とは、その分子量は2000超の化合物を意図する。なお、高分子化合物が所定の繰り返し単位を複数有する化合物である場合、数平均分子量が2000超であればよい。
[Compound having phenolic hydroxyl group]
The organic semiconductor layer contains a compound having a phenolic hydroxyl group. A phenol compound is a compound that functions as a so-called migration inhibitor (migration inhibitor). As described above, in the prior art, as one of the factors that decrease the insulation reliability of the electrode layer, ion migration of the metal constituting the electrode layer can be considered. The phenol compound has a function of suppressing ion migration of the metal.
A phenol compound is a compound having a phenolic hydroxyl group. The phenolic hydroxyl group means a hydroxyl group directly bonded to an aromatic hydrocarbon ring (aromatic hydrocarbon nucleus) exemplified by a benzene ring, naphthalene ring, anthracene ring and the like.
The phenol compound only needs to contain at least one phenolic hydroxyl group. When the phenol compound is a low-molecular compound, 1 to 4 is preferable and 1 to 2 is preferable in that the effect of the present invention is more excellent. .
A plurality of phenolic hydroxyl groups may be substituted on one aromatic hydrocarbon ring.
The phenol compound may be a low molecular compound or a high molecular compound. In addition, a low molecular compound intends the compound whose molecular weight is 2000 or less. Moreover, the high molecular compound intends the compound whose molecular weight exceeds 2000. In addition, when the polymer compound is a compound having a plurality of predetermined repeating units, the number average molecular weight may be more than 2000.
 フェノール性水酸基の好適態様の一つとしては、本発明の効果がより優れる点で、一般式(A)で表される基が挙げられる。つまり、フェノール化合物は、一般式(A)で表される基を有する化合物であることが好ましい。 One preferred embodiment of the phenolic hydroxyl group is a group represented by the general formula (A) in that the effect of the present invention is more excellent. That is, the phenol compound is preferably a compound having a group represented by the general formula (A).
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
 一般式(A)中、R1~R4は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。
 置換基としては、例えば、ハロゲン原子、アルキル基(シクロアルキル基を含む)、アルケニル基(シクロアルケニル基、ビシクロアルケニル基を含む)、アルキニル基、アリール基、複素環基、シアノ基、ヒドロキシル基、ニトロ基、カルボキシル基、アルコキシ基、アリールオキシ基、シリルオキシ基、複素環オキシ基、アシルオキシ基、カルバモイルオキシ基、アルコキシカルボニルオキシ基、アリールオキシカルボニルオキシ、アミノ基(アニリノ基を含む)、アシルアミノ基、アミノカルボニルアミノ基、アルコキシカルボニルアミノ基、アリールオキシカルボニルアミノ基、スルファモイルアミノ基、アルキルおよびアリールスルホニルアミノ基、メルカプト基、アルキルチオ基、アリールチオ基、複素環チオ基、スルファモイル基、スルホ基、アルキルおよびアリールスルフィニル基、アルキルおよびアリールスルホニル基、アシル基、アリールオキシカルボニル基、アルコキシカルボニル基、カルバモイル基、アリールおよび複素環アゾ基、イミド基、ホスフィノ基、ホスフィニル基、ホスフィニルオキシ基、ホスフィニルアミノ基、シリル基、またはこれらの組み合わせが挙げられる。
 なお、上記例示した置換基には、-O-、-S-、-NH-などのヘテロ原子が含まれていてもよい。また、上記置換基には、さらに、上記で例示した置換基が置換されていてもよい。
In general formula (A), R 1 to R 4 each independently represents a hydrogen atom or a substituent.
Examples of the substituent include a halogen atom, an alkyl group (including a cycloalkyl group), an alkenyl group (including a cycloalkenyl group and a bicycloalkenyl group), an alkynyl group, an aryl group, a heterocyclic group, a cyano group, a hydroxyl group, Nitro group, carboxyl group, alkoxy group, aryloxy group, silyloxy group, heterocyclic oxy group, acyloxy group, carbamoyloxy group, alkoxycarbonyloxy group, aryloxycarbonyloxy, amino group (including anilino group), acylamino group, Aminocarbonylamino group, alkoxycarbonylamino group, aryloxycarbonylamino group, sulfamoylamino group, alkyl and arylsulfonylamino group, mercapto group, alkylthio group, arylthio group, heterocyclic thio group, sulfamoy Group, sulfo group, alkyl and arylsulfinyl group, alkyl and arylsulfonyl group, acyl group, aryloxycarbonyl group, alkoxycarbonyl group, carbamoyl group, aryl and heterocyclic azo group, imide group, phosphino group, phosphinyl group, phosphine group Examples include a ruoxy group, a phosphinylamino group, a silyl group, or a combination thereof.
Note that the substituents exemplified above may include heteroatoms such as —O—, —S—, and —NH—. Moreover, the above-described substituents may be further substituted with the substituents exemplified above.
 さらに詳しくは、置換基としては、ハロゲン原子(例えば、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子)、アルキル基〔直鎖、分岐、環状の置換または無置換のアルキル基を表す。それらは、アルキル基(好ましくは炭素数1から30のアルキル基、例えば、メチル、エチル、n-プロピル、イソプロピル、t-ブチル、n-オクチル、エイコシル、2-クロロエチル、2-シアノエチル、2-エチルヘキシル)、シクロアルキル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシクロアルキル基、例えば、シクロヘキシル、シクロペンチル、4-n-ドデシルシクロヘキシル)、ビシクロアルキル基(好ましくは、炭素数5から30の置換または無置換のビシクロアルキル基、つまり、炭素数5から30のビシクロアルカンから水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、ビシクロ[1.2.2]ヘプタン-2-イル、ビシクロ[2.2.2]オクタン-3-イル)、さらに環構造が多いトリシクロ構造なども包含するものである。以下に説明する置換基の中のアルキル基(例えばアルキルチオ基のアルキル基)もこのような概念のアルキル基を表す。〕、 More specifically, examples of the substituent include a halogen atom (for example, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom), an alkyl group [a linear, branched, cyclic substituted or unsubstituted alkyl group. They are alkyl groups (preferably alkyl groups having 1 to 30 carbon atoms such as methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, t-butyl, n-octyl, eicosyl, 2-chloroethyl, 2-cyanoethyl, 2-ethylhexyl. ), A cycloalkyl group (preferably a substituted or unsubstituted cycloalkyl group having 3 to 30 carbon atoms, such as cyclohexyl, cyclopentyl, 4-n-dodecylcyclohexyl), a bicycloalkyl group (preferably 5 to 30 carbon atoms). A substituted or unsubstituted bicycloalkyl group, that is, a monovalent group obtained by removing one hydrogen atom from a bicycloalkane having 5 to 30 carbon atoms, such as bicyclo [1.2.2] heptan-2-yl, Bicyclo [2.2.2] octane-3-yl), and a tricyclo structure having more ring structures. It is intended to encompass such. An alkyl group (for example, an alkyl group of an alkylthio group) in the substituents described below also represents such an alkyl group. ],
アルケニル基〔直鎖、分岐、環状の置換または無置換のアルケニル基を表す。それらは、アルケニル基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換のアルケニル基、例えば、ビニル、アリル、プレニル、ゲラニル、オレイル)、シクロアルケニル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシクロアルケニル基、つまり、炭素数3から30のシクロアルケンの水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、2-シクロペンテン-1-イル、2-シクロヘキセン-1-イル)、ビシクロアルケニル基(置換または無置換のビシクロアルケニル基、好ましくは、炭素数5から30の置換または無置換のビシクロアルケニル基、つまり二重結合を一個持つビシクロアルケンの水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、ビシクロ[2.2.1]ヘプト-2-エン-1-イル、ビシクロ[2.2.2]オクト-2-エン-4-イル)を包含するものである。〕、アルキニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のアルキニル基、例えば、エチニル、プロパルギル、トリメチルシリルエチニル基)、 Alkenyl group [represents a linear, branched, or cyclic substituted or unsubstituted alkenyl group. They are alkenyl groups (preferably substituted or unsubstituted alkenyl groups having 2 to 30 carbon atoms, such as vinyl, allyl, prenyl, geranyl, oleyl), cycloalkenyl groups (preferably substituted or substituted groups having 3 to 30 carbon atoms). An unsubstituted cycloalkenyl group, that is, a monovalent group obtained by removing one hydrogen atom of a cycloalkene having 3 to 30 carbon atoms (for example, 2-cyclopenten-1-yl, 2-cyclohexen-1-yl), Bicycloalkenyl group (a substituted or unsubstituted bicycloalkenyl group, preferably a substituted or unsubstituted bicycloalkenyl group having 5 to 30 carbon atoms, i.e., a monovalent group obtained by removing one hydrogen atom of a bicycloalkene having one double bond. For example, bicyclo [2.2.1] hept-2-en-1-yl, bicyclo [2. .2] is intended to encompass oct-2-en-4-yl). An alkynyl group (preferably a substituted or unsubstituted alkynyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as ethynyl, propargyl, trimethylsilylethynyl group),
アリール基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリール基、例えば、フェニル、p-トリル、ナフチル、m-クロロフェニル、o-ヘキサデカノイルアミノフェニル)、複素環基(好ましくは5または6員の置換または無置換の、芳香族または非芳香族の複素環化合物から一個の水素原子を取り除いた一価の基であり、さらに好ましくは、炭素数3から30の5員または6員の芳香族の複素環基である。例えば、2-フラニル、2-チエニル、2-ピリミジニル、2-ベンゾチアゾリニル)、 An aryl group (preferably a substituted or unsubstituted aryl group having 6 to 30 carbon atoms such as phenyl, p-tolyl, naphthyl, m-chlorophenyl, o-hexadecanoylaminophenyl), a heterocyclic group (preferably 5 or A monovalent group obtained by removing one hydrogen atom from a 6-membered substituted or unsubstituted aromatic or non-aromatic heterocyclic compound, and more preferably a 5- or 6-membered group having 3 to 30 carbon atoms Aromatic heterocyclic groups such as 2-furanyl, 2-thienyl, 2-pyrimidinyl, 2-benzothiazolinyl),
シアノ基、ヒドロキシル基、ニトロ基、カルボキシル基、アルコキシ基(好ましくは、炭素数1から30の置換もしくは無置換のアルコキシ基、例えば、メトキシ、エトキシ、イソプロポキシ、t-ブトキシ、n-オクチルオキシ、2-メトキシエトキシ)、アリールオキシ基(好ましくは、炭素数6から30の置換または無置換のアリールオキシ基、例えば、フェノキシ、2-メチルフェノキシ、4-t-ブチルフェノキシ、3-ニトロフェノキシ、2-テトラデカノイルアミノフェノキシ)、シリルオキシ基(好ましくは、炭素数3から20のシリルオキシ基、例えば、トリメチルシリルオキシ、t-ブチルジメチルシリルオキシ)、複素環オキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換の複素環オキシ基、1-フェニルテトラゾール-5-オキシ、2-テトラヒドロピラニルオキシ)、アシルオキシ基(好ましくはホルミルオキシ基、炭素数2から30の置換または無置換のアルキルカルボニルオキシ基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールカルボニルオキシ基、例えば、ホルミルオキシ、アセチルオキシ、ピバロイルオキシ、ステアロイルオキシ、ベンゾイルオキシ、p-メトキシフェニルカルボニルオキシ)、カルバモイルオキシ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のカルバモイルオキシ基、例えば、N,N-ジメチルカルバモイルオキシ、N,N-ジエチルカルバモイルオキシ、モルホリノカルボニルオキシ、N,N-ジ-n-オクチルアミノカルボニルオキシ、N-n-オクチルカルバモイルオキシ)、アルコキシカルボニルオキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニルオキシ基、例えばメトキシカルボニルオキシ、エトキシカルボニルオキシ、t-ブトキシカルボニルオキシ、n-オクチルカルボニルオキシ)、アリールオキシカルボニルオキシ基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニルオキシ基、例えば、フェノキシカルボニルオキシ、p-メトキシフェノキシカルボニルオキシ、p-n-ヘキサデシルオキシフェノキシカルボニルオキシ)、 A cyano group, a hydroxyl group, a nitro group, a carboxyl group, an alkoxy group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 30 carbon atoms, such as methoxy, ethoxy, isopropoxy, t-butoxy, n-octyloxy, 2-methoxyethoxy), aryloxy groups (preferably substituted or unsubstituted aryloxy groups having 6 to 30 carbon atoms, such as phenoxy, 2-methylphenoxy, 4-t-butylphenoxy, 3-nitrophenoxy, 2 -Tetradecanoylaminophenoxy), silyloxy groups (preferably silyloxy groups having 3 to 20 carbon atoms, such as trimethylsilyloxy, t-butyldimethylsilyloxy), heterocyclic oxy groups (preferably having 2 to 30 carbon atoms) Substituted or unsubstituted heterocyclic oxy group, 1-phenyl Trazol-5-oxy, 2-tetrahydropyranyloxy), acyloxy group (preferably formyloxy group, substituted or unsubstituted alkylcarbonyloxy group having 2 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted group having 6 to 30 carbon atoms) Arylcarbonyloxy groups such as formyloxy, acetyloxy, pivaloyloxy, stearoyloxy, benzoyloxy, p-methoxyphenylcarbonyloxy), carbamoyloxy groups (preferably substituted or unsubstituted carbamoyloxy groups having 1 to 30 carbon atoms) For example, N, N-dimethylcarbamoyloxy, N, N-diethylcarbamoyloxy, morpholinocarbonyloxy, N, N-di-n-octylaminocarbonyloxy, Nn-octylcarbamoyloxy), alkoxyca Bonyloxy group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonyloxy group having 2 to 30 carbon atoms such as methoxycarbonyloxy, ethoxycarbonyloxy, t-butoxycarbonyloxy, n-octylcarbonyloxy), aryloxycarbonyloxy group (preferably Is a substituted or unsubstituted aryloxycarbonyloxy group having 7 to 30 carbon atoms, such as phenoxycarbonyloxy, p-methoxyphenoxycarbonyloxy, pn-hexadecyloxyphenoxycarbonyloxy),
アミノ基(好ましくは、アミノ基、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルアミノ基、炭素数6から30の置換または無置換のアニリノ基、例えば、アミノ、メチルアミノ、ジメチルアミノ、アニリノ、N-メチル-アニリノ、ジフェニルアミノ)、アシルアミノ基(好ましくは、ホルミルアミノ基、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルカルボニルアミノ基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールカルボニルアミノ基、例えば、ホルミルアミノ、アセチルアミノ、ピバロイルアミノ、ラウロイルアミノ、ベンゾイルアミノ、3,4,5-トリ-n-オクチルオキシフェニルカルボニルアミノ)、アミノカルボニルアミノ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアミノカルボニルアミノ、例えば、カルバモイルアミノ、N,N-ジメチルアミノカルボニルアミノ、N,N-ジエチルアミノカルボニルアミノ、モルホリノカルボニルアミノ)、アルコキシカルボニルアミノ基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニルアミノ基、例えば、メトキシカルボニルアミノ、エトキシカルボニルアミノ、t-ブトキシカルボニルアミノ、n-オクタデシルオキシカルボニルアミノ、N-メチルーメトキシカルボニルアミノ)、アリールオキシカルボニルアミノ基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニルアミノ基、例えば、フェノキシカルボニルアミノ、p-クロロフェノキシカルボニルアミノ、m-n-オクチルオキシフェノキシカルボニルアミノ)、スルファモイルアミノ基(好ましくは、炭素数0から30の置換または無置換のスルファモイルアミノ基、例えば、スルファモイルアミノ、N,N-ジメチルアミノスルホニルアミノ、N-n-オクチルアミノスルホニルアミノ)、アルキルおよびアリールスルホニルアミノ基(好ましくは炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルホニルアミノ、炭素数6から30の置換または無置換のアリールスルホニルアミノ、例えば、メチルスルホニルアミノ、ブチルスルホニルアミノ、フェニルスルホニルアミノ、2,3,5-トリクロロフェニルスルホニルアミノ、p-メチルフェニルスルホニルアミノ)、 An amino group (preferably an amino group, a substituted or unsubstituted alkylamino group having 1 to 30 carbon atoms, a substituted or unsubstituted anilino group having 6 to 30 carbon atoms, such as amino, methylamino, dimethylamino, anilino, N-methyl-anilino, diphenylamino), acylamino group (preferably formylamino group, substituted or unsubstituted alkylcarbonylamino group having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylcarbonylamino group having 6 to 30 carbon atoms) Groups such as formylamino, acetylamino, pivaloylamino, lauroylamino, benzoylamino, 3,4,5-tri-n-octyloxyphenylcarbonylamino), aminocarbonylamino groups (preferably substituted with 1 to 30 carbon atoms) Or unsubstituted aminocarbonylamino, eg , Carbamoylamino, N, N-dimethylaminocarbonylamino, N, N-diethylaminocarbonylamino, morpholinocarbonylamino), an alkoxycarbonylamino group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonylamino group having 2 to 30 carbon atoms, for example, Methoxycarbonylamino, ethoxycarbonylamino, t-butoxycarbonylamino, n-octadecyloxycarbonylamino, N-methyl-methoxycarbonylamino), aryloxycarbonylamino group (preferably substituted or unsubstituted having 7 to 30 carbon atoms) Aryloxycarbonylamino groups such as phenoxycarbonylamino, p-chlorophenoxycarbonylamino, mn-octyloxyphenoxycarbonylamino), sulfamoyla Group (preferably a substituted or unsubstituted sulfamoylamino group having 0 to 30 carbon atoms, such as sulfamoylamino, N, N-dimethylaminosulfonylamino, Nn-octylaminosulfonylamino), alkyl And an arylsulfonylamino group (preferably substituted or unsubstituted alkylsulfonylamino having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylsulfonylamino having 6 to 30 carbon atoms, such as methylsulfonylamino, butylsulfonylamino, phenylsulfonyl Amino, 2,3,5-trichlorophenylsulfonylamino, p-methylphenylsulfonylamino),
メルカプト基、アルキルチオ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルチオ基、例えば、メチルチオ、エチルチオ、n-ヘキサデシルチオ)、アリールチオ基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリールチオ、例えば、フェニルチオ、p-クロロフェニルチオ、m-メトキシフェニルチオ)、複素環チオ基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換の複素環チオ基、例えば、2-ベンゾチアゾリルチオ、1-フェニルテトラゾール-5-イルチオ)、スルファモイル基(好ましくは炭素数0から30の置換または無置換のスルファモイル基、例えば、N-エチルスルファモイル、N-(3-ドデシルオキシプロピル)スルファモイル、N,N-ジメチルスルファモイル、N-アセチルスルファモイル、N-ベンゾイルスルファモイル、N-(N’-フェニルカルバモイル)スルファモイル)、スルホ基、アルキルおよびアリールスルフィニル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルフィニル基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールスルフィニル基、例えば、メチルスルフィニル、エチルスルフィニル、フェニルスルフィニル、p-メチルフェニルスルフィニル)、 A mercapto group, an alkylthio group (preferably a substituted or unsubstituted alkylthio group having 1 to 30 carbon atoms, such as methylthio, ethylthio, n-hexadecylthio), an arylthio group (preferably a substituted or unsubstituted group having 6 to 30 carbon atoms) Arylthio, such as phenylthio, p-chlorophenylthio, m-methoxyphenylthio), a heterocyclic thio group (preferably a substituted or unsubstituted heterocyclic thio group having 2 to 30 carbon atoms, such as 2-benzothiazolylthio, 1-phenyltetrazol-5-ylthio), a sulfamoyl group (preferably a substituted or unsubstituted sulfamoyl group having 0 to 30 carbon atoms, such as N-ethylsulfamoyl, N- (3-dodecyloxypropyl) sulfamoyl, N , N-dimethylsulfamoyl, N-acetylsulfur Moyl, N-benzoylsulfamoyl, N- (N′-phenylcarbamoyl) sulfamoyl), sulfo group, alkyl and arylsulfinyl group (preferably a substituted or unsubstituted alkylsulfinyl group having 1 to 30 carbon atoms, carbon number 6 to 30 substituted or unsubstituted arylsulfinyl groups such as methylsulfinyl, ethylsulfinyl, phenylsulfinyl, p-methylphenylsulfinyl),
アルキルおよびアリールスルホニル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルホニル基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールスルホニル基、例えば、メチルスルホニル、エチルスルホニル、フェニルスルホニル、p-メチルフェニルスルホニル)、アシル基(好ましくはホルミル基、炭素数2から30の置換または無置換のアルキルカルボニル基、炭素数7から30の置換または無置換のアリールカルボニル基、炭素数4から30の置換または無置換の炭素原子でカルボニル基と結合している複素環カルボニル基、例えば、アセチル、ピバロイル、2-クロロアセチル、ステアロイル、ベンゾイル、p-n-オクチルオキシフェニルカルボニル、2-ピリジルカルボニル、2-フリルカルボニル)、アリールオキシカルボニル基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニル基、例えば、フェノキシカルボニル、o-クロロフェノキシカルボニル、m-ニトロフェノキシカルボニル、p-t-ブチルフェノキシカルボニル)、アルコキシカルボニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニル基、例えば、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、t-ブトキシカルボニル、n-オクタデシルオキシカルボニル)、 Alkyl and arylsulfonyl groups (preferably substituted or unsubstituted alkylsulfonyl groups having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylsulfonyl groups having 6 to 30 carbon atoms such as methylsulfonyl, ethylsulfonyl, phenylsulfonyl, p-methylphenylsulfonyl), acyl group (preferably formyl group, substituted or unsubstituted alkylcarbonyl group having 2 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylcarbonyl group having 7 to 30 carbon atoms, 4 to 30 carbon atoms) A heterocyclic carbonyl group bonded to a carbonyl group at a substituted or unsubstituted carbon atom such as acetyl, pivaloyl, 2-chloroacetyl, stearoyl, benzoyl, pn-octyloxyphenylcarbonyl, 2-pyridylcarbonyl, 2-furylcarbonyl), A reeloxycarbonyl group (preferably a substituted or unsubstituted aryloxycarbonyl group having 7 to 30 carbon atoms, such as phenoxycarbonyl, o-chlorophenoxycarbonyl, m-nitrophenoxycarbonyl, pt-butylphenoxycarbonyl), An alkoxycarbonyl group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as methoxycarbonyl, ethoxycarbonyl, t-butoxycarbonyl, n-octadecyloxycarbonyl),
カルバモイル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のカルバモイル、例えば、カルバモイル、N-メチルカルバモイル、N,N-ジメチルカルバモイル、N,N-ジ-n-オクチルカルバモイル、N-(メチルスルホニル)カルバモイル)、アリールおよび複素環アゾ基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリールアゾ基、炭素数3から30の置換または無置換の複素環アゾ基、例えば、フェニルアゾ、p-クロロフェニルアゾ、5-エチルチオ-1,3,4-チアジアゾール-2-イルアゾ)、イミド基(好ましくは、N-スクシンイミド、N-フタルイミド)、ホスフィノ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィノ基、例えば、ジメチルホスフィノ、ジフェニルホスフィノ、メチルフェノキシホスフィノ)、ホスフィニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニル基、例えば、ホスフィニル、ジオクチルオキシホスフィニル、ジエトキシホスフィニル)、ホスフィニルオキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニルオキシ基、例えば、ジフェノキシホスフィニルオキシ、ジオクチルオキシホスフィニルオキシ)、ホスフィニルアミノ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニルアミノ基、例えば、ジメトキシホスフィニルアミノ、ジメチルアミノホスフィニルアミノ)、シリル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシリル基、例えば、トリメチルシリル、t-ブチルジメチルシリル、フェニルジメチルシリル)、またはこれらの組み合わせを表す。 A carbamoyl group (preferably a substituted or unsubstituted carbamoyl having 1 to 30 carbon atoms such as carbamoyl, N-methylcarbamoyl, N, N-dimethylcarbamoyl, N, N-di-n-octylcarbamoyl, N- (methyl (Sulfonyl) carbamoyl), aryl and heterocyclic azo groups (preferably substituted or unsubstituted arylazo groups having 6 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted heterocyclic azo groups having 3 to 30 carbon atoms, such as phenylazo, p- Chlorophenylazo, 5-ethylthio-1,3,4-thiadiazol-2-ylazo), an imide group (preferably N-succinimide, N-phthalimide), a phosphino group (preferably a substituted or unsubstituted group having 2 to 30 carbon atoms) Substituted phosphino groups such as dimethylphosphino, diphenylphosphino, Tilphenoxyphosphino), phosphinyl group (preferably a substituted or unsubstituted phosphinyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as phosphinyl, dioctyloxyphosphinyl, diethoxyphosphinyl), phosphinyloxy group (preferably Is a substituted or unsubstituted phosphinyloxy group having 2 to 30 carbon atoms, such as diphenoxyphosphinyloxy, dioctyloxyphosphinyloxy), a phosphinylamino group (preferably having 2 to 30 carbon atoms). A substituted or unsubstituted phosphinylamino group such as dimethoxyphosphinylamino, dimethylaminophosphinylamino), a silyl group (preferably a substituted or unsubstituted silyl group having 3 to 30 carbon atoms, such as Trimethylsilyl, t-butyldimethylsilyl, phenyldimethylsilyl , Or a combination thereof.
 上記の官能基の中で、水素原子を有するものは、これを取り去りさらに上記の基で置換されていてもよい。そのような官能基の例としては、アルキルカルボニルアミノスルホニル基、アリールカルボニルアミノスルホニル基、アルキルスルホニルアミノカルボニル基、アリールスルホニルアミノカルボニル基などが挙げられる。その例としては、メチルスルホニルアミノカルボニル、p-メチルフェニルスルホニルアミノカルボニル、アセチルアミノスルホニル、ベンゾイルアミノスルホニル基などが挙げられる。 Among the above functional groups, those having a hydrogen atom may be substituted with the above groups by removing this. Examples of such functional groups include alkylcarbonylaminosulfonyl groups, arylcarbonylaminosulfonyl groups, alkylsulfonylaminocarbonyl groups, arylsulfonylaminocarbonyl groups, and the like. Examples thereof include methylsulfonylaminocarbonyl, p-methylphenylsulfonylaminocarbonyl, acetylaminosulfonyl, benzoylaminosulfonyl groups and the like.
 なお、本明細書において「置換基」とは上記の意味を表す。 In the present specification, the “substituent” has the above meaning.
 Yは、単結合または2価の連結基を表す。2価の連結基としては、例えば、2価の炭化水素基(例えば、直鎖状、分岐状もしくは環状の2価の脂肪族炭化水素基(例えば、炭素数1~12のアルキレン基(より具体的には、メチレン基、エチレン基、プロピレン基など))、若しくは、2価の芳香族炭化水素基(例えば、フェニレン基)、または、これらの組み合わせ(2価の脂肪族炭化水素基と2価の芳香族炭化水素基の組み合わせ))、-O-、-S-、-SO2-、-NR20-、-CO-、-NH-、-COO-、-CONR20-、-O-CO-O-、-SO3-、-NHCO-、-SO2NR20-、-NH-CO-NH-、またはこれらを複数組み合わせた基(例えば、アルキレンオキシ基、アルキレンオキシカルボニル基、アルキレンカルボニルオキシ基など)などが挙げられる。ここで、R20は、水素原子または炭素数1~5のアルキル基を表す。
 なお、上記2価の連結基には、上述した置換基が置換されていてもよい。
 なかでも、本発明の効果がより優れる点で、Yは、単結合、または、置換基(例えば、アルキル基、水酸基)を有していてもよい2価の炭化水素基(好ましくは、アルキレン基、または、置換基を有していてもよいフェニレン基、または、これらを組み合わせた基)、-O-、-CO-、-COO-、-NHCO-、もしくは、これらを組み合わせた基が好ましく挙げられる。より好ましくは、-2価の炭化水素基-Lx-、-2価の炭化水素基-Lx-2価の炭化水素基-Lx-などが挙げられる。Lxは、-O-、-CO-、-COO-、または、-NHCO-を表す。
 *は結合位置を示す。
Y represents a single bond or a divalent linking group. Examples of the divalent linking group include a divalent hydrocarbon group (for example, a linear, branched or cyclic divalent aliphatic hydrocarbon group (for example, an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms (more specifically, In particular, a methylene group, an ethylene group, a propylene group, etc.)), a divalent aromatic hydrocarbon group (for example, a phenylene group), or a combination thereof (a divalent aliphatic hydrocarbon group and a divalent group). Of aromatic hydrocarbon groups)), —O—, —S—, —SO 2 —, —NR 20 —, —CO—, —NH—, —COO—, —CONR 20 —, —O—CO —O—, —SO 3 —, —NHCO—, —SO 2 NR 20 —, —NH—CO—NH—, or a combination of a plurality thereof (for example, an alkyleneoxy group, an alkyleneoxycarbonyl group, an alkylenecarbonyloxy group) Group etc.) It is. Here, R 20 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
The divalent linking group may be substituted with the above-described substituent.
Among them, Y is a divalent hydrocarbon group (preferably an alkylene group) which may have a single bond or a substituent (for example, an alkyl group or a hydroxyl group) in that the effect of the present invention is more excellent. Or a phenylene group which may have a substituent, or a combination thereof), —O—, —CO—, —COO—, —NHCO—, or a combination thereof. It is done. More preferred are -valent hydrocarbon group -Lx-, -valent hydrocarbon group -Lx -valent hydrocarbon group -Lx-, and the like. Lx represents —O—, —CO—, —COO—, or —NHCO—.
* Indicates a binding position.
 なかでも、一般式(A)で表される基は、本発明の効果がより優れる点で、一般式(A-1)で表される基、一般式(A-2)で表される基、および、一般式(A-3)で表される基からなる群から選択される基が好ましく挙げられる。*は、結合位置を表す。 Among them, the group represented by the general formula (A) is a group represented by the general formula (A-1) or a group represented by the general formula (A-2) in that the effect of the present invention is more excellent. And a group selected from the group consisting of groups represented by formula (A-3) is preferable. * Represents a binding position.
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
 一般式(A-1)中、R11およびR13は、それぞれ独立に、アルキル基、または、アルコキシ基を表す。R12およびR14は、水素原子、アルキル基、または、アルコキシ基を表す。
 Yは単結合または2価の連結基を表し、その定義は上述の通りである。
In general formula (A-1), R 11 and R 13 each independently represents an alkyl group or an alkoxy group. R 12 and R 14 represent a hydrogen atom, an alkyl group, or an alkoxy group.
Y represents a single bond or a divalent linking group, and the definition thereof is as described above.
 一般式(A-2)中、R11およびR15は、それぞれ独立に、アルキル基、または、アルコキシ基を表す。R12およびR14は、水素原子、アルキル基、または、アルコキシ基を表す。
 Yは単結合または2価の連結基を表し、その定義は上述の通りである。
In general formula (A-2), R 11 and R 15 each independently represents an alkyl group or an alkoxy group. R 12 and R 14 represent a hydrogen atom, an alkyl group, or an alkoxy group.
Y represents a single bond or a divalent linking group, and the definition thereof is as described above.
 一般式(A-3)中、R16~R18は、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基、アルキル基、または、アルコキシ基を表す。
 Yは単結合または2価の連結基を表し、その定義は上述の通りである。
In general formula (A-3), R 16 to R 18 each independently represents a hydrogen atom, a hydroxy group, an alkyl group, or an alkoxy group.
Y represents a single bond or a divalent linking group, and the definition thereof is as described above.
(フェノール化合物の好適態様)
 フェノール化合物の好適態様の一つとしては、本発明の効果がより優れる点で、一般式(I)で表される化合物、および、一般式(II)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物からなる群から選択される少なくとも1種が挙げられる。
 以下、それぞれの化合物について詳述する。
(Preferred embodiment of phenol compound)
As a preferred embodiment of the phenol compound, a compound represented by the general formula (I) and a polymer compound having a repeating unit represented by the general formula (II) in that the effect of the present invention is more excellent. And at least one selected from the group consisting of:
Hereinafter, each compound will be described in detail.
(一般式(I)で表される化合物)
一般式(I) (Rx)-L-(Ry)
 一般式(I)中、Rxは、一般式(A)で表される基を表す。一般式(A)で表される基の定義は上述の通りであり、その好適態様も同じである。また、nが2以上の場合、複数のRxは同一でも異なっていてもよい。
(Compound represented by formula (I))
Formula (I) (Rx) n -L- (Ry) m
In general formula (I), Rx represents a group represented by general formula (A). The definition of group represented by general formula (A) is as above-mentioned, and its suitable aspect is also the same. When n is 2 or more, the plurality of Rx may be the same or different.
 Ryは、水素原子または置換基を表す。置換基の定義は上述の通りである。mが2以上の場合、複数のRyは同一でも異なっていてもよい。
 なかでも、本発明の効果がより優れる点で、アルキル基、ポリアルキレンオキシ基、または、これらを組み合わせた基が挙げられる。
 ここで、ポリアルキレンオキシ基とは、-(La-O)-で表されるアルキレンオキシ繰り返し単位を複数有する基である。なお、Laはアルキレン基を表し、炭素数1から4が好ましく、炭素数2から3がより好ましい。ポリアルキレンオキシ基の好適態様としては、以下の一般式(V)で表される基が挙げられる。
 一般式(V)  *-(La-O)-R31
 R31は、水素原子、または、アルキル基を表す。pは、2以上の整数を表し、本発明の効果がより優れる点で、4~50が好ましく、5~30がより好ましい。
Ry represents a hydrogen atom or a substituent. The definition of the substituent is as described above. When m is 2 or more, the plurality of Ry may be the same or different.
Especially, the group which combined the alkyl group, the polyalkyleneoxy group, or these is mentioned by the point which the effect of this invention is more excellent.
Here, the polyalkyleneoxy group is a group having a plurality of alkyleneoxy repeating units represented by — (La—O) —. La represents an alkylene group, preferably having 1 to 4 carbon atoms, more preferably 2 to 3 carbon atoms. As a suitable aspect of a polyalkyleneoxy group, group represented by the following general formula (V) is mentioned.
Formula (V) *-(La-O) p -R 31
R 31 represents a hydrogen atom or an alkyl group. p represents an integer of 2 or more, and is preferably 4 to 50, more preferably 5 to 30 in terms of more excellent effects of the present invention.
 Lは、単結合またはn+m価の連結基を表す。なお、Lが単結合の場合は、n=1およびm=1を表す。つまり、Rx-Ryを表す。
 n+m価の連結基としては、例えば、n+m=2の場合は2価の連結基を、n+m=3の場合は3価の連結基を、n+m=4の場合は4価の連結基、n+m=5の場合は5価の連結基、および、n+m=6の場合は6価の連結基を表す。なお、n+m=2の場合の2価の連結基の定義としては、Yで表される2価の連結基の定義と同義である。
 n+m価の連結基の好適態様の一つとしては、本発明の効果がより優れる点で、一般式(1)~一般式(10)で表される基からなる群から選択される基が挙げられる。*は、結合位置を示す。
 なお、一般式(1)、(2)、(8)および(9)の場合はn+m=2であり、一般式(3)~(5)の場合はn+m=3であり、一般式(6)の場合はn+m=4であり、一般式(7)および(10)の場合はn+m=6である。
 なお、一般式(10)中、L1は、単結合または2価の連結基を表す。2価の連結基の定義は、Yで表される2価の連結基の定義と同義である。
L represents a single bond or an n + m-valent linking group. Note that when L is a single bond, n = 1 and m = 1. That is, Rx−Ry is represented.
Examples of the n + m-valent linking group include a divalent linking group when n + m = 2, a trivalent linking group when n + m = 3, a tetravalent linking group when n + m = 4, and n + m = 5 represents a pentavalent linking group, and n + m = 6 represents a hexavalent linking group. The definition of the divalent linking group in the case of n + m = 2 is synonymous with the definition of the divalent linking group represented by Y.
One preferred embodiment of the n + m-valent linking group is a group selected from the group consisting of groups represented by general formula (1) to general formula (10) in that the effect of the present invention is more excellent. It is done. * Indicates a binding position.
In the general formulas (1), (2), (8), and (9), n + m = 2, and in the general formulas (3) to (5), n + m = 3, and the general formula (6 ) Is n + m = 4, and in the case of general formulas (7) and (10), n + m = 6.
In general formula (10), L 1 represents a single bond or a divalent linking group. The definition of a bivalent coupling group is synonymous with the definition of the bivalent coupling group represented by Y.
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
 nは1~6の整数を表し、mは0~5の整数を表し、2≦n+m≦6を満たす。
 なかでも、本発明の効果がより優れる点で、nは1~4の整数を表すことが好ましい。また、mは0~2の整数を表すことが好ましく、mは0または1が好ましい。
 nとmとの関係の好適態様は、nは1~4の整数を表し、mは0または1の整数を表し、2≦n+m≦4を満たす態様が挙げられる。
n represents an integer of 1 to 6, m represents an integer of 0 to 5, and 2 ≦ n + m ≦ 6 is satisfied.
Among these, n is preferably an integer of 1 to 4 in that the effect of the present invention is more excellent. M is preferably an integer of 0 to 2, and m is preferably 0 or 1.
Preferred embodiments of the relationship between n and m include an embodiment in which n represents an integer of 1 to 4, m represents an integer of 0 or 1, and 2 ≦ n + m ≦ 4 is satisfied.
 一般式(I)で表される化合物の分子量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、2000以下が好ましく、1000以下がより好ましい。下限は特に制限されないが、有機半導体材料の結晶性の点からは、200以上が好ましい。 The molecular weight of the compound represented by the general formula (I) is not particularly limited, but is preferably 2000 or less, more preferably 1000 or less, from the viewpoint that the effect of the present invention is more excellent. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 200 or more from the viewpoint of crystallinity of the organic semiconductor material.
(一般式(II)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
(Polymer compound having a repeating unit represented by formula (II))
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 一般式(II)中、R5は、水素原子またはアルキル基を表す。
 一般式(II)中、Rxは、一般式(A)で表される基を表す。一般式(A)で表される基の定義は上述の通りである。
In general formula (II), R 5 represents a hydrogen atom or an alkyl group.
In general formula (II), Rx represents a group represented by general formula (A). The definition of group represented by general formula (A) is as above-mentioned.
 なお、一般式(II)をより具体的に表すと、以下の式として表される。以下の式中のR1~R4およびYの定義は上述の通りである。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
The general formula (II) is more specifically expressed as the following formula. The definitions of R 1 to R 4 and Y in the following formulas are as described above.
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 高分子化合物中における一般式(II)で表される繰り返し単位の含有量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点、および、溶解性などの点で、高分子化合物中の全繰り返し単位に対して、10~90モル%が好ましく、20~80モル%がより好ましい。
 高分子化合物には、上記一般式(II)で表される繰り返し単位以外の他の繰り返し単位が含まれていてもよい。
The content of the repeating unit represented by the general formula (II) in the polymer compound is not particularly limited, but all the repeating units in the polymer compound are more advantageous in terms of the effect of the present invention and solubility. 10 to 90 mol% is preferable with respect to the unit, and 20 to 80 mol% is more preferable.
The polymer compound may contain a repeating unit other than the repeating unit represented by the general formula (II).
 一般式(II)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物の数平均分子量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、2000超が好ましく、10000~1000000がより好ましく、100000~500000がさらに好ましい。
 高分子化合物の重量平均分子量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、2000超が好ましく、10000~1000000がより好ましく、100000~500000がさらに好ましい。
 なお、数平均分子量および重量平均分子量の測定は、下記条件で、GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)を用いて行う。
装置:東ソー社製 HLC-8320GPC
カラム:東ソー社製 TSK-GEL G3000PWXL
カラム温度:35℃
流速:0.5mL/min
検量線:創和科学社製 POLY SODIUM ACRYLATE STANDARD
溶離液:リン酸二水素ナトリウム12水和物/リン酸水素二ナトリウム2水和物(34.
5g/46.2g)の混合物を純水にて5000gに希釈した溶液。
The number average molecular weight of the polymer compound having the repeating unit represented by the general formula (II) is not particularly limited, but is preferably more than 2000, more preferably 10,000 to 1,000,000, and more preferably 100,000 to 1,000,000 in view of more excellent effects of the present invention. 500,000 is more preferable.
The weight average molecular weight of the polymer compound is not particularly limited, but is preferably more than 2000, more preferably 10,000 to 1,000,000, and even more preferably 100,000 to 500,000, from the viewpoint that the effect of the present invention is more excellent.
The number average molecular weight and the weight average molecular weight are measured using GPC (gel permeation chromatography) under the following conditions.
Equipment: HLC-8320GPC manufactured by Tosoh Corporation
Column: Tosoh Corporation TSK-GEL G3000PWXL
Column temperature: 35 ° C
Flow rate: 0.5 mL / min
Calibration curve: POLY SODIUM ACRYLATE STANDARD
Eluent: sodium dihydrogen phosphate 12 hydrate / disodium hydrogen phosphate dihydrate (34.
A solution obtained by diluting a mixture of 5 g / 46.2 g) with pure water to 5000 g.
 有機半導体層の好適態様としては、本発明の効果がより優れる点で、有機半導体材料が低分子化合物であり、かつ、有機半導体層内に含まれるフェノール化合物が低分子化合物である態様(態様A)か、または、有機半導体材料が高分子化合物であり、かつ、有機半導体層内に含まれるフェノール化合物が高分子化合物である態様(態様B)が挙げられる。 A preferred embodiment of the organic semiconductor layer is an embodiment in which the organic semiconductor material is a low-molecular compound and the phenol compound contained in the organic semiconductor layer is a low-molecular compound (Aspect A). Or the organic semiconductor material is a polymer compound and the phenol compound contained in the organic semiconductor layer is a polymer compound (embodiment B).
 有機半導体層中におけるフェノール化合物の含有量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、有機半導体材料全質量に対して、10~300質量%が好ましく、30~300質量%がより好ましく、50~250質量%がさらに好ましく、50~150質量%が特に好ましい。 The content of the phenolic compound in the organic semiconductor layer is not particularly limited, but is preferably 10 to 300% by mass and more preferably 30 to 300% by mass with respect to the total mass of the organic semiconductor material in that the effect of the present invention is more excellent. Preferably, 50 to 250% by mass is more preferable, and 50 to 150% by mass is particularly preferable.
 有機半導体層の厚みは特に制限されず、用途によって異なるが、薄型化と性能のバランスの点で、10~200nmが好ましい。 The thickness of the organic semiconductor layer is not particularly limited and varies depending on the application, but is preferably 10 to 200 nm in terms of balance between thinning and performance.
 有機半導体層の製造方法は特に制限されず、公知の方法を採用できる。例えば、上記有機半導体材料およびフェノール化合物を所定量含む組成物(有機半導体層形成用組成物)を用意して、所定の位置に組成物を付与して、必要に応じて乾燥処理を実施することにより製造することができる。なお、上記組成物を付与する方法としては、例えば、インクジェット印刷、スクリーン印刷などが適用できる。
 有機半導体層形成用組成物は、形成される有機半導体層の均質性、結晶性の観点から、溶媒を含有するのが好ましい。
 溶媒としては特に制限されないが、例えば、トルエン、キシレン、メシチレン、1,2,3,4-テトラヒドロナフタレン(テトラリン)、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、アニソールなどの芳香族化合物が好適に例示される。
The manufacturing method in particular of an organic-semiconductor layer is not restrict | limited, A well-known method is employable. For example, preparing a composition (a composition for forming an organic semiconductor layer) containing a predetermined amount of the organic semiconductor material and the phenol compound, applying the composition to a predetermined position, and performing a drying treatment as necessary Can be manufactured. In addition, as a method of providing the said composition, inkjet printing, screen printing, etc. are applicable, for example.
The composition for forming an organic semiconductor layer preferably contains a solvent from the viewpoint of homogeneity and crystallinity of the formed organic semiconductor layer.
Although it does not restrict | limit especially as a solvent, For example, aromatic compounds, such as toluene, xylene, mesitylene, 1,2,3,4-tetrahydronaphthalene (tetralin), chlorobenzene, dichlorobenzene, anisole, are illustrated suitably.
<電極層>
 電極層は、有機半導体層に隣接して配置され、金属を含む層である。電極層は、有機電子デバイスにおいて、電気を通す導電部(金属配線層)の役割を果たす。電極層は、複数個配置されていてもよく、例えば、後述するように有機薄膜トランジスタに使用した場合、ソース電極およびドレイン電極がこの電極層に該当していてもよい。
<Electrode layer>
The electrode layer is disposed adjacent to the organic semiconductor layer and includes a metal. The electrode layer serves as a conductive portion (metal wiring layer) that conducts electricity in the organic electronic device. A plurality of electrode layers may be arranged. For example, when used in an organic thin film transistor as described later, a source electrode and a drain electrode may correspond to this electrode layer.
 電極層には、金属が含まれる。金、銀、アルミニウム、銅、クロム、ニッケル、タンタル、コバルト、チタン、白金、マグネシウム等の金属が挙げられ、導電性がより優れる点で、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、タンタルが挙げられる。 The electrode layer contains a metal. Examples of the metal include gold, silver, aluminum, copper, chromium, nickel, tantalum, cobalt, titanium, platinum, and magnesium, and silver, copper, aluminum, nickel, and tantalum in terms of more excellent conductivity.
 電極層中における金属の含有量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、電極層全質量に対して、30~97質量%が好ましく、50~95質量%がより好ましい。 The metal content in the electrode layer is not particularly limited, but is preferably from 30 to 97% by mass, more preferably from 50 to 95% by mass, based on the total mass of the electrode layer, from the viewpoint of better effects of the present invention.
 電極層には、上述したフェノール化合物(フェノール性水酸基を有する化合物)が含まれる。フェノール化合物の定義は上述の通りである。
 電極層中におけるフェノール化合物の含有量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、電極層中に含まれる金属全質量に対して、3~70質量%が好ましく、5~30質量%がより好ましい。
The electrode layer contains the above-described phenol compound (compound having a phenolic hydroxyl group). The definition of the phenol compound is as described above.
The content of the phenolic compound in the electrode layer is not particularly limited, but is preferably 3 to 70% by mass, and preferably 5 to 30% by mass with respect to the total mass of the metal contained in the electrode layer, from the viewpoint that the effect of the present invention is more excellent. % Is more preferable.
 電極層の製造方法は特に制限されず、公知の方法を採用できる。例えば、所定の金属を含む金属粒子およびフェノール化合物を所定量含む組成物(電極層形成用組成物)を用意して、所定の位置に組成物を付与して、必要に応じて焼結処理(例えば、加熱処理または光照射処理)を実施することにより電極層を製造することができる。上記組成物には、必要に応じて、溶媒(例えば、水、有機溶媒)が含まれていてもよい。
 上記組成物を付与する方法としては、例えば、インクジェット印刷、スクリーン印刷などが適用できる。
 なお、上記では、金属粒子を使用する態様を述べたが、この態様に限定されず、所定の金属を含む金属酸化物粒子を金属粒子の代わりに使用して、金属酸化物粒子を加熱処理または光照射処理により還元して、金属およびフェノール化合物を含む電極層を形成してもよい。
The method for producing the electrode layer is not particularly limited, and a known method can be adopted. For example, a metal particle containing a predetermined metal and a composition containing a predetermined amount of a phenol compound (a composition for forming an electrode layer) are prepared, and the composition is applied to a predetermined position. For example, an electrode layer can be manufactured by performing heat treatment or light irradiation treatment. The composition may contain a solvent (for example, water or an organic solvent) as necessary.
As a method for applying the composition, for example, inkjet printing, screen printing, or the like can be applied.
In addition, although the aspect which uses a metal particle was described above, it is not limited to this aspect, The metal oxide particle containing a predetermined metal is used instead of a metal particle, and a metal oxide particle is heat-processed. An electrode layer containing a metal and a phenol compound may be formed by reduction by light irradiation treatment.
<有機電子デバイス>
 有機電子デバイスには、上記有機半導体層および上記電極層が含まれる。
 有機電子デバイスの好適態様の一つとしては、本発明の効果がより優れる点で、電極層内に含まれるフェノール化合物の含有量Mmに対する、有機半導体層内に含まれるフェノール化合物の含有量Msの質量比(含有量Ms/含有量Mm)が5.0以上であることが好ましく、10~5000であることがより好ましく、20~1000であることがさらに好ましい。
<Organic electronic devices>
The organic electronic device includes the organic semiconductor layer and the electrode layer.
As one of the preferred embodiments of the organic electronic device, the content Ms of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer with respect to the content Mm of the phenol compound contained in the electrode layer is more excellent in the effect of the present invention. The mass ratio (content Ms / content Mm) is preferably 5.0 or more, more preferably 10 to 5000, and still more preferably 20 to 1000.
 有機電子デバイスには、上記有機半導体層および上記電極層が含まれていればよく、用途に応じて、他の層が含まれていてもよい。
 有機電子デバイスの種々の用途に適用することができ、例えば、有機薄膜トランジスタ、有機太陽電池、および、有機ELデバイスなどが挙げられ、特に、有機薄膜トランジスタに好適に適用できる。また、有機薄膜トランジスタは、電子ペーパー、ディスプレイデバイスなどに好適に適用できる。
 以下、上記有機電子デバイスを有機薄膜トランジスタに適用した態様について詳述する。
The organic electronic device only needs to include the organic semiconductor layer and the electrode layer, and may include other layers depending on the application.
For example, organic thin film transistors, organic solar cells, and organic EL devices can be used, and in particular, it can be suitably applied to organic thin film transistors. The organic thin film transistor can be suitably applied to electronic paper, a display device, and the like.
Hereinafter, the aspect which applied the said organic electronic device to the organic thin-film transistor is explained in full detail.
<有機薄膜トランジスタ(有機トランジスタ)>
 本発明の有機薄膜トランジスタの好適態様の一つとしては、ソース電極と、ドレイン電極と、ゲート電極と、ゲート絶縁膜と、有機半導体層とを備え、有機半導体層にフェノール化合物が含まれ、有機半導体層と隣接して配置されるソース電極およびドレイン電極の少なくとも一方にフェノール化合物が含まれる。
 以下、図面を参照して、有機薄膜トランジスタの好適態様について図面を参照して説明する。
<Organic thin film transistor (organic transistor)>
As a preferred embodiment of the organic thin film transistor of the present invention, the organic thin film transistor includes a source electrode, a drain electrode, a gate electrode, a gate insulating film, and an organic semiconductor layer, and the organic semiconductor layer includes a phenol compound, A phenol compound is contained in at least one of the source electrode and the drain electrode arranged adjacent to the layer.
Hereinafter, preferred embodiments of the organic thin film transistor will be described with reference to the drawings.
[第1実施態様]
 図1は、本発明の有機薄膜トランジスタの第1実施態様の断面模式図である。
 図1において、有機薄膜トランジスタ100は、基板10と、基板10上に配置されたゲート電極20と、ゲート電極20を覆うように配置されたゲート絶縁膜30と、ゲート絶縁膜30上に配置され、互いに離間して配置されたソース電極40およびドレイン電極42と、少なくともソース電極40およびドレイン電極42間のゲート絶縁膜30を覆うように、かつ、ソース電極40およびドレイン電極42と接するように配置された有機半導体層50と、各部材を覆う封止層60とを備える。ここで、有機半導体層50は、有機半導体材料とフェノール化合物とを含む。また、ソース電極40およびドレイン電極42の両方には、金属とフェノール化合物とが含まれる。有機薄膜トランジスタ100は、いわゆるボトムコンタクト-ボトムゲート型の有機薄膜トランジスタである。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a first embodiment of the organic thin film transistor of the present invention.
In FIG. 1, an organic thin film transistor 100 is disposed on a substrate 10, a gate electrode 20 disposed on the substrate 10, a gate insulating film 30 disposed so as to cover the gate electrode 20, and a gate insulating film 30. The source electrode 40 and the drain electrode 42 that are spaced apart from each other, and at least the gate insulating film 30 between the source electrode 40 and the drain electrode 42 are covered, and the source electrode 40 and the drain electrode 42 are in contact with each other. The organic semiconductor layer 50 and the sealing layer 60 covering each member are provided. Here, the organic semiconductor layer 50 includes an organic semiconductor material and a phenol compound. Moreover, both the source electrode 40 and the drain electrode 42 contain a metal and a phenol compound. The organic thin film transistor 100 is a so-called bottom contact-bottom gate type organic thin film transistor.
 有機半導体層50は、上述した有機電子デバイス中に含まれる有機半導体層と同義であり、有機半導体層50に含まれるフェノール化合物の定義も上述の通りである。
 有機半導体層50に含まれるフェノール化合物の質量と、ソース電極40に含まれるフェノール化合物の質量とは、上述した含有量Ms/含有量Mmとの関係を満たす。また、有機半導体層50に含まれるフェノール化合物の質量と、ドレイン電極42に含まれるフェノール化合物の質量との関係も、上記と同様に、含有量Ms/含有量Mmとの関係を満たす。
 有機半導体層50の厚みは特に制限されないが、10~200nmであることが好ましい。
The organic semiconductor layer 50 is synonymous with the organic semiconductor layer included in the organic electronic device described above, and the definition of the phenol compound included in the organic semiconductor layer 50 is also as described above.
The mass of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer 50 and the mass of the phenol compound contained in the source electrode 40 satisfy the relationship of the above-described content Ms / content Mm. Further, the relationship between the mass of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer 50 and the mass of the phenol compound contained in the drain electrode 42 also satisfies the relationship of content Ms / content Mm, as described above.
The thickness of the organic semiconductor layer 50 is not particularly limited, but is preferably 10 to 200 nm.
 また、ソース電極40およびドレイン電極42は、上述した有機電子デバイス中に含まれる電極層と同義であり、ソース電極40およびドレイン電極42に含まれるフェノール化合物の定義も上述の通りである。
 ソース電極40およびドレイン電極42のチャネル長は特に制限されないが、5~30μmであることが好ましい。
 ソース電極40およびドレイン電極42のチャネル幅は特に制限されないが、10~200μmであることが好ましい。
 なお、上記態様においては、ソース電極40およびドレイン電極42の両方にフェノール化合物が含まれる態様について述べたが、ソース電極40およびドレイン電極42の少なくとも一方にフェノール化合物が含まれていればよい。
 上記構成の有機薄膜トランジスタであれば、所望の効果が得られる。
 以下、ソース電極40、ドレイン電極42および有機半導体層50以外の構成について詳述する。
Moreover, the source electrode 40 and the drain electrode 42 are synonymous with the electrode layer contained in the organic electronic device mentioned above, and the definition of the phenol compound contained in the source electrode 40 and the drain electrode 42 is also as above-mentioned.
The channel lengths of the source electrode 40 and the drain electrode 42 are not particularly limited, but are preferably 5 to 30 μm.
The channel width of the source electrode 40 and the drain electrode 42 is not particularly limited, but is preferably 10 to 200 μm.
In addition, in the said aspect, although the aspect in which a phenol compound is contained in both the source electrode 40 and the drain electrode 42 was described, the phenol compound should just be contained in at least one of the source electrode 40 and the drain electrode 42. FIG.
If it is the organic thin-film transistor of the said structure, a desired effect will be acquired.
Hereinafter, configurations other than the source electrode 40, the drain electrode 42, and the organic semiconductor layer 50 will be described in detail.
(基板)
 基板は、後述するゲート電極、ソース電極、ドレイン電極などを支持する役割を果たす。
 基板の種類は特に制限されず、例えば、プラスチック基板、ガラス基板、セラミック基板などが挙げられる。なかでも、各デバイスへの適用性およびコストの観点から、ガラス基板またはプラスチック基板であることが好ましい。
 プラスチック基板の材料としては、熱硬化性樹脂(例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂(例えばPET、PEN)など)または熱可塑性樹脂(例えば、フェノキシ樹脂、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリフェニレンスルフォンなど)が挙げられる。
 セラミック基板の材料としては、例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、ジルコニア、シリコン、窒化シリコン、シリコンカーバイドなどが挙げられる。
 ガラス基板の材料としては、例えば、ソーダガラス、カリガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス、アルミケイ酸ガラス、鉛ガラスなどが挙げられる。
(substrate)
The substrate plays a role of supporting a gate electrode, a source electrode, a drain electrode and the like which will be described later.
The kind of board | substrate is not restrict | limited in particular, For example, a plastic substrate, a glass substrate, a ceramic substrate etc. are mentioned. Among these, a glass substrate or a plastic substrate is preferable from the viewpoint of applicability to each device and cost.
The material of the plastic substrate includes a thermosetting resin (for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyester resin (for example, PET, PEN)) or thermoplastic resin (for example, phenoxy resin, polyether sulfone, polysulfone, Polyphenylene sulfone).
Examples of the material for the ceramic substrate include alumina, aluminum nitride, zirconia, silicon, silicon nitride, silicon carbide, and the like.
Examples of the glass substrate material include soda glass, potash glass, borosilicate glass, quartz glass, aluminum silicate glass, and lead glass.
(ゲート電極)
 ゲート電極の材料としては、例えば、金(Au)、銀、アルミニウム、銅、クロム、ニッケル、コバルト、チタン、白金、マグネシウム、カルシウム、バリウム、ナトリウム等の金属;InO2、SnO2、ITO等の導電性の酸化物;ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアセチレン、ポリジアセチレン等の導電性高分子;シリコン、ゲルマニウム、ガリウム砒素等の半導体;フラーレン、カーボンナノチューブ、グラファイト等の炭素材料などが挙げられる。なかでも、金属であることが好ましく、銀、アルミニウムであることがより好ましい。
 ゲート電極の厚みは特に制限されないが、20~200nmであることが好ましい。
(Gate electrode)
Examples of the material for the gate electrode include gold (Au), silver, aluminum, copper, chromium, nickel, cobalt, titanium, platinum, magnesium, calcium, barium, sodium, and other metals; InO 2 , SnO 2 , ITO, etc. Examples include conductive oxides; conductive polymers such as polyaniline, polypyrrole, polythiophene, polyacetylene, and polydiacetylene; semiconductors such as silicon, germanium, and gallium arsenide; carbon materials such as fullerene, carbon nanotube, and graphite. Especially, it is preferable that it is a metal, and it is more preferable that they are silver and aluminum.
The thickness of the gate electrode is not particularly limited, but is preferably 20 to 200 nm.
 ゲート電極を形成する方法は特に制限されないが、例えば、基板上に、電極材料を真空蒸着またはスパッタする方法、電極形成用組成物を塗布または印刷する方法などが挙げられる。また、電極をパターニングする場合、パターニングする方法としては、例えば、フォトリソグラフィー法;インクジェット印刷、スクリーン印刷、オフセット印刷、凸版印刷等の印刷法;マスク蒸着法などが挙げられる。 The method for forming the gate electrode is not particularly limited, and examples thereof include a method of vacuum depositing or sputtering an electrode material on a substrate, and a method of applying or printing an electrode forming composition. In the case of patterning the electrode, examples of the patterning method include a photolithography method; a printing method such as ink jet printing, screen printing, offset printing, letterpress printing; and a mask vapor deposition method.
(ゲート絶縁膜)
 ゲート絶縁膜の材料としては、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリビニルフェノール、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、ポリウレタン、ポリスルホン、ポリベンゾキサゾール、ポリシルセスキオキサン、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等のポリマー;二酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化チタン等の酸化物;窒化珪素等の窒化物などが挙げられる。これらの材料のうち、有機半導体層との相性から、ポリマーであることが好ましい。
 ゲート絶縁膜の材料としてポリマーを用いる場合、架橋剤(例えば、メラミン)を併用するのが好ましい。架橋剤を併用することで、ポリマーが架橋されて、形成されるゲート絶縁膜の耐久性が向上する。
 ゲート絶縁膜の膜厚は特に制限されないが、100~1000nmであることが好ましい。
(Gate insulation film)
Materials for the gate insulating film include polymethyl methacrylate, polystyrene, polyvinyl phenol, polyimide, polycarbonate, polyester, polyvinyl alcohol, polyvinyl acetate, polyurethane, polysulfone, polybenzoxazole, polysilsesquioxane, epoxy resin, phenol resin And the like; oxides such as silicon dioxide, aluminum oxide, and titanium oxide; and nitrides such as silicon nitride. Of these materials, a polymer is preferable in view of compatibility with the organic semiconductor layer.
When a polymer is used as the material for the gate insulating film, it is preferable to use a crosslinking agent (for example, melamine) in combination. By using a crosslinking agent in combination, the polymer is crosslinked and the durability of the formed gate insulating film is improved.
The thickness of the gate insulating film is not particularly limited, but is preferably 100 to 1000 nm.
 ゲート絶縁膜を形成する方法は特に制限されないが、例えば、ゲート電極が形成された基板上に、ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布する方法、ゲート絶縁膜材料を蒸着またはスパッタする方法などが挙げられる。ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布する方法は特に制限されず、公知の方法(バーコート法、スピンコート法、ナイフコート法、ドクターブレード法)を使用することができる。
 ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布してゲート絶縁膜を形成する場合、溶媒除去、架橋などを目的として、塗布後に加熱(ベーク)してもよい。
The method for forming the gate insulating film is not particularly limited, and examples thereof include a method for applying a gate insulating film forming composition on a substrate on which a gate electrode is formed, and a method for depositing or sputtering a gate insulating film material. It is done. The method for applying the gate insulating film forming composition is not particularly limited, and known methods (bar coating method, spin coating method, knife coating method, doctor blade method) can be used.
When a gate insulating film forming composition is applied to form a gate insulating film, it may be heated (baked) after application for the purpose of solvent removal, crosslinking, and the like.
(封止層)
 有機薄膜トランジスタは、耐久性の観点から、最外層に封止層を備えるのが好ましい。封止層には公知の封止剤を用いることができる。なお、有機薄膜トランジスタの耐久性が十分であれば、封止層はなくてもよい。
 封止層の厚みは特に制限されないが、0.2~10μmであることが好ましい。
(Sealing layer)
The organic thin film transistor is preferably provided with a sealing layer as the outermost layer from the viewpoint of durability. A well-known sealing agent can be used for a sealing layer. If the durability of the organic thin film transistor is sufficient, the sealing layer may not be provided.
The thickness of the sealing layer is not particularly limited, but is preferably 0.2 to 10 μm.
 封止層を形成する方法は特に制限されないが、例えば、ゲート電極とゲート絶縁膜とソース電極とドレイン電極と有機半導体層とが形成された基板上に、封止層形成用組成物を塗布する方法などが挙げられる。封止層形成用組成物を塗布する方法の具体例は、ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布する方法と同じである。封止層形成用組成物を塗布して封止層を形成する場合、溶媒除去、架橋などを目的として、塗布後に加熱(ベーク)してもよい。 The method for forming the sealing layer is not particularly limited. For example, the composition for forming the sealing layer is applied onto the substrate on which the gate electrode, the gate insulating film, the source electrode, the drain electrode, and the organic semiconductor layer are formed. The method etc. are mentioned. A specific example of the method of applying the sealing layer forming composition is the same as the method of applying the gate insulating film forming composition. When the sealing layer-forming composition is applied to form the sealing layer, it may be heated (baked) after application for the purpose of solvent removal, crosslinking, and the like.
[第2実施形態]
 図2は、本発明の有機薄膜トランジスタの第2実施形態の断面模式図である。
 図2において、有機薄膜トランジスタ200は、基板10と、基板10上に配置されたゲート電極20と、ゲート電極20を覆うように配置されたゲート絶縁膜30と、ゲート絶縁膜30上に配置された有機半導体層50と、有機半導体層50上に配置され、互いに離間して配置されたソース電極40およびドレイン電極42と、各部材を覆う封止層60とを備える。有機薄膜トランジスタ200は、いわゆるトップコンタクト-ボトムゲート型の有機薄膜トランジスタに該当する。
 有機薄膜トランジスタの第2実施態様は、使用される層の位置が異なる点を除いて、有機薄膜トランジスタの第1実施態様と同様の構成を有するものであるので、同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その説明を省略する。
 第2実施態様においても、第1実施態様と同様に、有機半導体層50、ソース電極40およびドレイン電極42にフェノール化合物が含まれる。
[Second Embodiment]
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a second embodiment of the organic thin film transistor of the present invention.
In FIG. 2, the organic thin film transistor 200 is disposed on the substrate 10, the gate electrode 20 disposed on the substrate 10, the gate insulating film 30 disposed so as to cover the gate electrode 20, and the gate insulating film 30. The organic semiconductor layer 50 includes a source electrode 40 and a drain electrode 42 that are disposed on the organic semiconductor layer 50 and spaced apart from each other, and a sealing layer 60 that covers each member. The organic thin film transistor 200 corresponds to a so-called top contact-bottom gate type organic thin film transistor.
The second embodiment of the organic thin film transistor has the same configuration as that of the first embodiment of the organic thin film transistor except that the positions of the layers used are different. The description is omitted.
Also in the second embodiment, as in the first embodiment, the organic semiconductor layer 50, the source electrode 40, and the drain electrode 42 contain a phenol compound.
 上記においては、図1においてボトムコンタクト-ボトムゲート型の有機薄膜トランジスタ、および、図2においてトップコンタクト-ボトムゲート型の有機薄膜トランジスタについて述べたが、この態様に限定されず、ボトムコンタクト-トップゲート型の有機薄膜トランジスタおよびトップコンタクト-トップゲート型の有機薄膜トランジスタであってもよい。 In the above description, the bottom contact-bottom gate type organic thin film transistor is described with reference to FIG. 1 and the top contact-bottom gate type organic thin film transistor is described with reference to FIG. Organic thin film transistors and top contact-top gate type organic thin film transistors may also be used.
 以下、実施例により、本発明についてさらに詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。 Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited to these.
 後述する実施例および比較例においては、以下に例示する材料を使用した。
(A)電極層に含まれるフェノール化合物(M-1~M-3)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
In the examples and comparative examples described later, the materials exemplified below were used.
(A) Phenolic compounds (M-1 to M-3) contained in the electrode layer
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
(合成例1:フェノール化合物M-1)
 反応容器に、3-(3,5-ジ-tert-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオン酸(5.0g、18.0mmol)、ポリエチレングリコールモノメチルエーテル(平均分子量550、FLUKA社製)(9.88g、18.0mmol)、ジクロロメタン(20ml)、テトラヒドロフラン(10ml)を加え、氷冷下で1-エチル-3-(3-ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド塩酸塩(3.62g、18.9mmol)、4-ジメチルアミノピリジン(0.07g、0.54mmol)を加え、30分攪拌した。さらに反応溶液を室温で3時間攪拌した後、減圧濃縮し、粗生成物を得た。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(移動相:メタノール/酢酸エチル=1/9)にて精製し、フェノール化合物M-1を10g得た(収率64%)。
(Synthesis Example 1: Phenol Compound M-1)
In a reaction vessel, 3- (3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionic acid (5.0 g, 18.0 mmol), polyethylene glycol monomethyl ether (average molecular weight 550, manufactured by FLUKA) (9. 88 g, 18.0 mmol), dichloromethane (20 ml), tetrahydrofuran (10 ml) were added, and 1-ethyl-3- (3-dimethylaminopropyl) carbodiimide hydrochloride (3.62 g, 18.9 mmol), 4 under ice-cooling, -Dimethylaminopyridine (0.07 g, 0.54 mmol) was added and stirred for 30 minutes. The reaction solution was further stirred at room temperature for 3 hours and then concentrated under reduced pressure to obtain a crude product. The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography (mobile phase: methanol / ethyl acetate = 1/9) to obtain 10 g of phenol compound M-1 (yield 64%).
(合成例2:フェノール化合物M-2)
 反応容器に、3-(3,4-ジヒドロキシフェニル)プロピオン酸(5.0g、27.5mmol)、ポリエチレングリコールモノメチルエーテル(平均分子量350、FLUKA社製)(9.61g、27.5mmol)、トリフェニルホスフィン(12.96g、49.4mmol)、テトラヒドロフラン(100ml)を加え、氷冷下でアゾジカルボン酸ジイソプロピルのトルエン溶液(1.9mol/L)(21.7ml、41.2mmol)を加え、30分攪拌した。さらに反応溶液を室温で3時間攪拌した後、減圧濃縮し、粗生成物を得た。得られた粗生成物をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(移動相:メタノール/酢酸エチル=1/9)にて精製し、フェノール化合物M-2を7g得た(収率51%)。
(Synthesis Example 2: Phenol Compound M-2)
In a reaction vessel, 3- (3,4-dihydroxyphenyl) propionic acid (5.0 g, 27.5 mmol), polyethylene glycol monomethyl ether (average molecular weight 350, manufactured by FLUKA) (9.61 g, 27.5 mmol), Phenylphosphine (12.96 g, 49.4 mmol) and tetrahydrofuran (100 ml) were added, and a toluene solution of diisopropyl azodicarboxylate (1.9 mol / L) (21.7 ml, 41.2 mmol) was added under ice cooling. Stir for minutes. The reaction solution was further stirred at room temperature for 3 hours and then concentrated under reduced pressure to obtain a crude product. The obtained crude product was purified by silica gel column chromatography (mobile phase: methanol / ethyl acetate = 1/9) to obtain 7 g of phenol compound M-2 (yield 51%).
 なお、フェノール化合物M-3は、上記フェノール化合物M-1と類似の手順で合成した。 The phenol compound M-3 was synthesized by a procedure similar to that of the phenol compound M-1.
 なお、電極層に含まれる比較マイグレーション防止剤として、以下のM-4(トシル酸テトラメチルアンモニウム塩)を用いた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
The following M-4 (tetramethylammonium tosylate) was used as a comparative migration inhibitor contained in the electrode layer.
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
(B)有機半導体材料
O-1:5,11-ビス(トリエチルシリルエチニル)アントラジチオフェン(TES-ADT)(Aldrich製)
O-2:以下式の化合物(特開2009-190999号公報に記載された方法に準じて合成を行った)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010

O-3:P3HT(ポリ(3-ヘキシルチオフェン))(Aldrich製:Mn=54000~75000)
(B) Organic semiconductor material O-1: 5,11-bis (triethylsilylethynyl) anthradithiophene (TES-ADT) (manufactured by Aldrich)
O-2: Compound represented by the following formula (synthesized according to the method described in JP2009-190999A)
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010

O-3: P3HT (poly (3-hexylthiophene)) (manufactured by Aldrich: Mn = 54000-75000)
(C)有機半導体層に含まれるフェノール化合物
S-1:IRGANOX1010(BASF製)
S-2:2,6-Dimethoxy-p-cresol(東京化成製)
S-3:IRGANOX1076(BASF製)
S-4:下記式のポリマー
(C) Phenol compound S-1 contained in the organic semiconductor layer: IRGANOX 1010 (manufactured by BASF)
S-2: 2,6-Dimethoxy-p-cresol (manufactured by Tokyo Chemical Industry)
S-3: IRGANOX 1076 (manufactured by BASF)
S-4: Polymer of the following formula
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
(合成例:S-4)
 100mLの三口フラスコに、以下の化合物Z-1(3.51g)、メチルメタクリレート3.60g、トルエン6.1gを入れ、窒素気流下、80℃まで加熱した。そこへ、アゾビスイソブチロニトリル(和光純薬工業(株)製)148mg、トルエン1.0gを加え、16時間攪拌した。反応終了後、室温まで冷却し、トルエン18.0gで希釈した。ヘキサンで再沈を行った後、分取クロマトグラフィーで分子量分画分取を行い、上記構造のS-4(Mw=470,000、Mn=290,000)を4.8g得た。Mw(重量平均分子量)およびMn(数量平均分子量)の測定方法は上述のとおりである。
 なお、S-4は一般式(II)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物に該当する。
(Synthesis example: S-4)
A 100 mL three-necked flask was charged with the following compound Z-1 (3.51 g), 3.60 g of methyl methacrylate, and 6.1 g of toluene, and heated to 80 ° C. under a nitrogen stream. Thereto, 148 mg of azobisisobutyronitrile (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) and 1.0 g of toluene were added and stirred for 16 hours. After completion of the reaction, the reaction mixture was cooled to room temperature and diluted with 18.0 g of toluene. After reprecipitation with hexane, molecular weight fractionation was performed by preparative chromatography to obtain 4.8 g of S-4 (Mw = 470,000, Mn = 290,000) having the above structure. The measuring method of Mw (weight average molecular weight) and Mn (number average molecular weight) is as described above.
S-4 corresponds to a polymer compound containing a repeating unit represented by the general formula (II).
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
 なお、有機半導体層に含まれる比較マイグレーション防止剤として、以下のS-5(トシル酸ドデシルトリメチルアンモニウム塩)を用いた。 The following S-5 (dodecyltrimethylammonium tosylate) was used as a comparative migration inhibitor contained in the organic semiconductor layer.
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
<実施例1>
(電極層形成用組成物A1調製方法)
 ナノ粒子の分散剤として「Disperbyk-190」(ビックケミー社製 不揮発物として7.36g)を使用し、水100mLに溶かし、硝酸銀50.00g(294.3mmol)を水200mLに溶解したものを加えて攪拌した。この混合物に、85%N,N-ジエチルヒドロキシルアミン78.71g(750.5mmol)とさらに「Disperbyk-190」7.36gを水1000mLに溶解した溶液を、室温でゆっくり滴下した。
 得られた懸濁液を限外濾過ユニット(ザルトリウス・ステディム社ビバフロー50、分画分子量10万、4個)に通し、限外濾過ユニットから約5Lの滲出液がでるまで精製水を通過させて精製した。精製水の供給を止め、濃縮し、50gの銀ナノ粒子の分散液(銀インクA1)を得た。
 この銀インクA1の固形分は32質量%、固形分中の銀含量をTG-DTAにて測定した所、97.0質量%であった。
 得られた銀インクA1に、後述する表1に示す質量割合関係を満たすように、フェノール化合物M-1を添加し、電極層形成用組成物A1を製造した。
<Example 1>
(Method for preparing electrode layer forming composition A1)
“Disperbyk-190” (736 g as a non-volatile material manufactured by Big Chemie) was used as a nanoparticle dispersant, dissolved in 100 mL of water, and a solution of 50.00 g (294.3 mmol) of silver nitrate dissolved in 200 mL of water was added. Stir. To this mixture, a solution prepared by dissolving 78.71 g (750.5 mmol) of 85% N, N-diethylhydroxylamine and 7.36 g of “Disperbyk-190” in 1000 mL of water was slowly added dropwise at room temperature.
The obtained suspension was passed through an ultrafiltration unit (Sartorius Stedim Vivaflow 50, molecular weight cut off 100,000, 4 pieces), and purified water was passed through until about 5 L of exudate appeared from the ultrafiltration unit. Purified. The supply of purified water was stopped and concentrated to obtain 50 g of a silver nanoparticle dispersion (silver ink A1).
The solid content of the silver ink A1 was 32% by mass, and the silver content in the solid content measured by TG-DTA was 97.0% by mass.
Phenol compound M-1 was added to the obtained silver ink A1 so as to satisfy the mass ratio relationship shown in Table 1 to be described later to produce an electrode layer forming composition A1.
(有機半導体組成物(有機半導体層形成用組成物)の調製)
 上記有機半導体材料O-1と上記フェノール化合物S-1とをトルエンに溶解させて(有機半導体材料O-1/フェノール化合物S-1=100質量部/30質量部(w/w)、有機半導体材料濃度:2質量%)、有機半導体組成物1を調製した。
(Preparation of organic semiconductor composition (composition for forming an organic semiconductor layer))
The organic semiconductor material O-1 and the phenol compound S-1 are dissolved in toluene (organic semiconductor material O-1 / phenol compound S-1 = 100 parts by mass / 30 parts by mass (w / w)). Material concentration: 2% by mass), an organic semiconductor composition 1 was prepared.
(有機薄膜トランジスタの作製)
 ガラス基板(イーグルXG:コーニング社製)上に、ゲート電極となるAlを蒸着した(厚み:50nm)。その上にゲート絶縁膜用組成物(ポリビニルフェノール/メラミン=1質量部/1質量部(w/w)のPGMEA(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート)溶液(溶液濃度:2質量%))をスピンコートし、150℃で60分間ベークを行い、膜厚300nmのゲート絶縁膜を形成した。その上に電極層形成用組成物A1をインクジェット装置DMP-2831(富士フイルムダイマティクス製:1pLヘッド使用)を用い、チャネル長40μm、チャネル幅250μmのソース電極状およびドレイン電極状に描画した。その後オーブンにて180℃、30分ベークを行い、焼結を行い、ソース電極およびドレイン電極を製造した。その上に有機半導体組成物1のスピンコートを行い、厚み100nmの有機半導体層を形成した。その上にCytop CTL-107MK(AGC社製)をスピンコートし、140℃で20分間ベークを行い、厚み1μmの封止層(最上層)を形成して、有機薄膜トランジスタ(ボトムコンタクト-ボトムゲート型)を得た。
 なお、上記有機薄膜トランジスタに含まれる電極層(ソース電極およびドレイン電極)中においては、フェノール化合物の含有量は、電極層中に含まれる金属全質量に対して、6質量%となった。
(Production of organic thin film transistor)
Al serving as a gate electrode was deposited on a glass substrate (Eagle XG: Corning) (thickness: 50 nm). A gate insulating film composition (polyvinylphenol / melamine = 1 part by weight / 1 part by weight (w / w) PGMEA (propylene glycol monomethyl ether acetate) solution (solution concentration: 2% by weight)) was spin-coated thereon. Then, baking was performed at 150 ° C. for 60 minutes to form a gate insulating film having a thickness of 300 nm. On top of this, the electrode layer forming composition A1 was drawn into a source electrode shape and a drain electrode shape having a channel length of 40 μm and a channel width of 250 μm using an ink jet apparatus DMP-2831 (manufactured by Fujifilm Dimatics: 1 pL head used). Thereafter, baking was performed at 180 ° C. for 30 minutes in an oven, sintering was performed, and a source electrode and a drain electrode were manufactured. The organic semiconductor composition 1 was spin coated thereon to form an organic semiconductor layer having a thickness of 100 nm. Cytop CTL-107MK (manufactured by AGC) is spin-coated thereon and baked at 140 ° C. for 20 minutes to form a 1 μm-thick sealing layer (top layer), and an organic thin film transistor (bottom contact-bottom gate type) )
In the electrode layer (source electrode and drain electrode) included in the organic thin film transistor, the content of the phenol compound was 6% by mass with respect to the total mass of the metal included in the electrode layer.
<移動度の評価>
 得られた有機薄膜トランジスタの各電極と、半導体パラメータ・アナライザ(4155C、Agilent Technologies社製)に接続されたマニュアルプローバの各端子とを接続して、電界効果トランジスタ(FET)の評価を行った。具体的には、ドレイン電流-ゲート電圧(Id‐Vg)特性を測定することにより電界効果移動度([cm2/V・sec])を算出した。同様に作製した5素子の平均値を、電界効果移動度μ1とする。
 また、上記と同様の手順に従って、フェノール化合物を含有しない、電極形成用組成物および有機半導体組成物をそれぞれ調製した。より具体的には、フェノール化合物を含まない銀インクA1を電極層形成用組成物として用意し、有機半導体材料O-1をトルエンに溶解させて(有機半導体材料濃度:2質量%)、比較組成物1を調製した。次に、電極層形成用組成物1の代わりに銀インクA1を、有機半導体組成物1の代わりに比較組成物1を用いた以外は、実施例1の有機薄膜トランジスタの作製と同様の手順に従って、有機薄膜トランジスタを作製した。得られた有機薄膜トランジスタについて、上記μ1と同様の手順に従って、電界効果移動度を算出した。算出した電界効果移動度をμ2とする。
 算出したμ1とμ2からμ1/μ2を求め、以下の基準に従って評価した。結果を表1に示す。実用上、移動度の観点から、AまたはBであることが好ましく、Aであることがより好ましい。
「A」:μ1/μ2≧0.8
「B」:0.8>μ1/μ2≧0.5
「C」:0.5>μ1/μ2≧0.1
「D」:0.1>μ1/μ2
<Evaluation of mobility>
Each electrode of the obtained organic thin film transistor was connected to each terminal of a manual prober connected to a semiconductor parameter analyzer (4155C, manufactured by Agilent Technologies) to evaluate a field effect transistor (FET). Specifically, field effect mobility ([cm 2 / V · sec]) was calculated by measuring drain current-gate voltage (Id-Vg) characteristics. Similarly, the average value of the five manufactured elements is defined as field effect mobility μ1.
Moreover, according to the procedure similar to the above, the composition for electrode formation and the organic-semiconductor composition which do not contain a phenol compound were prepared, respectively. More specifically, a silver ink A1 that does not contain a phenol compound is prepared as an electrode layer forming composition, and the organic semiconductor material O-1 is dissolved in toluene (organic semiconductor material concentration: 2% by mass). Product 1 was prepared. Next, according to the same procedure as the production of the organic thin film transistor of Example 1, except that the silver ink A1 was used instead of the electrode layer forming composition 1 and the comparative composition 1 was used instead of the organic semiconductor composition 1. An organic thin film transistor was produced. About the obtained organic thin-film transistor, field effect mobility was computed according to the procedure similar to said μ1. The calculated field effect mobility is defined as μ2.
Μ1 / μ2 was obtained from the calculated μ1 and μ2, and evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 1. Practically, from the viewpoint of mobility, A or B is preferable, and A is more preferable.
“A”: μ1 / μ2 ≧ 0.8
“B”: 0.8> μ1 / μ2 ≧ 0.5
“C”: 0.5> μ1 / μ2 ≧ 0.1
“D”: 0.1> μ1 / μ2
<絶縁信頼性の評価>
 得られた有機薄膜トランジスタの耐久性試験を以下の方法に従い実施した。得られた有機薄膜トランジスタを温度:60℃、湿度60%の恒温恒湿槽内に設置し、Vs=-20V、Vd=0V、Vg=-20Vの電圧をかけた。その間、10分毎にトランジスタ特性の測定を行い、閾値電圧Vthが初期値に対して10V以上のシフトが観測された時間をそのトランジスタの寿命時間(T1)として算出した
 また、上述した移動度の評価と同様の手順に従って、フェノール化合物を含有しない、電極層形成用組成物および有機半導体組成物を使用した有機薄膜トランジスタを作製した。得られた有機薄膜トランジスタについて、閾値電圧Vthが初期値に対して10V以上のシフトが観測された時間をそのトランジスタの寿命時間(T2)として算出した
 算出したT1とT2からT1/T2を求め、以下の基準に従って評価した。結果を表1に示す。絶縁信頼性の観点から、AまたはBであることが好ましく、Aであることがより好ましい。
「A」:T1/T2≧10
「B」:10>T1/T2≧5
「C」:5>T1/T2≧1.5
「D」:1.5>T1/T2
<Evaluation of insulation reliability>
The durability test of the obtained organic thin film transistor was performed according to the following method. The obtained organic thin film transistor was placed in a constant temperature and humidity chamber at a temperature of 60 ° C. and a humidity of 60%, and voltages of Vs = −20V, Vd = 0V, and Vg = −20V were applied. Meanwhile, the transistor characteristics were measured every 10 minutes, and the time when the threshold voltage Vth was observed to be shifted by 10 V or more with respect to the initial value was calculated as the lifetime of the transistor (T1). According to the same procedure as the evaluation, an organic thin film transistor using a composition for forming an electrode layer and an organic semiconductor composition that does not contain a phenol compound was produced. For the obtained organic thin film transistor, the time when the threshold voltage Vth was observed to be shifted to 10 V or more with respect to the initial value was calculated as the lifetime (T2) of the transistor. T1 / T2 was calculated from the calculated T1 and T2, and the following: Evaluation was performed according to the criteria. The results are shown in Table 1. From the viewpoint of insulation reliability, A or B is preferable, and A is more preferable.
“A”: T1 / T2 ≧ 10
“B”: 10> T1 / T2 ≧ 5
“C”: 5> T1 / T2 ≧ 1.5
“D”: 1.5> T1 / T2
<実施例2~9、比較例1~3>
 実施例2~9、比較例1~3に関しては、フェノール化合物の種類、有機半導体材料の種類、フェノール化合物と有機半導体材料との質量割合、有機半導体層中のフェノール化合物と電極層中のフェノール化合物との質量比を表1に記載のように変更した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機薄膜トランジスタを製造し、各種評価を行った。結果を表1にまとめて示す。
<Examples 2 to 9, Comparative Examples 1 to 3>
For Examples 2 to 9 and Comparative Examples 1 to 3, the type of phenolic compound, the type of organic semiconductor material, the mass ratio of the phenolic compound to the organic semiconductor material, the phenolic compound in the organic semiconductor layer and the phenolic compound in the electrode layer The organic thin film transistor was manufactured according to the same procedure as in Example 1 except that the mass ratio was changed as described in Table 1, and various evaluations were performed. The results are summarized in Table 1.
 なお、表1中、「(フェノール化合物(F2)の質量(Ms)/有機半導体材料の質量)×100」は、有機半導体材料全質量に対する、フェノール化合物の含有割合(質量%)を表す。
 また、表1中、「フェノール化合物(F2)の質量(Ms)/(フェノール化合物(F1)の質量(Mm)」は、電極層(ソース電極またはドレイン電極)に含まれるフェノール化合物の質量と、有機半導体層に含まれるフェノール化合物の質量との質量比を表す。なお、上記実施例および比較例3では、ソース電極およびドレイン電極は同じ電極形成用組成物を用いて形成されているので、ソース電極と有機半導体層との間の上記比率(Ms/Mm)と、ドレイン電極と有機半導体層との間の上記比率(Ms/Mm)とは同じ値を示す。
In Table 1, “(mass of phenol compound (F2) (Ms) / mass of organic semiconductor material) × 100” represents the content ratio (mass%) of the phenol compound with respect to the total mass of the organic semiconductor material.
In Table 1, “mass of phenol compound (F2) (Ms) / (mass of phenol compound (F1) (Mm)” is the mass of phenol compound contained in the electrode layer (source electrode or drain electrode), This represents the mass ratio of the phenolic compound contained in the organic semiconductor layer with respect to the mass of the phenolic compound, since in the above Example and Comparative Example 3, the source electrode and the drain electrode are formed using the same electrode forming composition. The ratio (Ms / Mm) between the electrode and the organic semiconductor layer and the ratio (Ms / Mm) between the drain electrode and the organic semiconductor layer show the same value.
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000015
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000015
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000016
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000016
 上記表1に示すように、本発明の有機電子デバイス(有機薄膜トランジスタ)においては、移動度を大きく低下させることなく、絶縁信頼性を向上させた。
 なかでも、実施例1から3の比較より、有機半導体全質量に対して、有機半導体層に含まれるフェノール化合物の含有量が50~250質量%の場合、より効果が優れることが確認された。
 一方、有機半導体層のみにフェノール化合物を含む比較例1および2、および、フェノール化合物を使用していない比較例3においては、所望の効果が得られなかった。特に、比較例2は、特許文献1の態様に該当し、所望の効果が得られないことが確認された。
 また、実施例6と比較例1との比較より、有機半導体層および電極層の両方にフェノール化合物が含まれる場合、移動度および絶縁信頼性が共に向上することが明らかとなった。このように、比較例1の電極層にさらにフェノール化合物を追加すると、絶縁信頼性が向上すると共に、上述したように、有機半導体層と電極層との密着性が向上して、結果として移動度が向上したものと推測される。
As shown in Table 1 above, in the organic electronic device (organic thin film transistor) of the present invention, the insulation reliability was improved without greatly reducing the mobility.
In particular, from the comparison of Examples 1 to 3, it was confirmed that the effect was more excellent when the content of the phenol compound contained in the organic semiconductor layer was 50 to 250% by mass with respect to the total mass of the organic semiconductor.
On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2 in which only the organic semiconductor layer contains a phenol compound, and in Comparative Example 3 in which no phenol compound is used, the desired effect was not obtained. In particular, Comparative Example 2 corresponds to the aspect of Patent Document 1, and it was confirmed that a desired effect could not be obtained.
In addition, comparison between Example 6 and Comparative Example 1 revealed that both the mobility and the insulation reliability were improved when both the organic semiconductor layer and the electrode layer contained a phenol compound. Thus, when a phenol compound is further added to the electrode layer of Comparative Example 1, the insulation reliability is improved and, as described above, the adhesion between the organic semiconductor layer and the electrode layer is improved, and as a result, the mobility is increased. Is estimated to have improved.
 10:基板
 20:ゲート電極
 30:ゲート絶縁膜
 40:ソース電極
 42:ドレイン電極
 50:有機半導体層
 60:封止層
 100,200:有機薄膜トランジスタ
 
10: Substrate 20: Gate electrode 30: Gate insulating film 40: Source electrode 42: Drain electrode 50: Organic semiconductor layer 60: Sealing layer 100, 200: Organic thin film transistor

Claims (11)

  1.  有機半導体材料を含む有機半導体層と、前記有機半導体層に隣接して配置され、金属を含む電極層とを有し、
     前記有機半導体層と前記電極層との両方にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれる、有機電子デバイス。
    An organic semiconductor layer including an organic semiconductor material, and an electrode layer disposed adjacent to the organic semiconductor layer and including a metal;
    An organic electronic device in which a compound having a phenolic hydroxyl group is contained in both the organic semiconductor layer and the electrode layer.
  2.  前記フェノール性水酸基を有する化合物が、一般式(I)で表される化合物および一般式(II)で表される繰り返し単位を有する化合物からなる群から選択される少なくとも1種を含む、請求項1に記載の有機電子デバイス。
    一般式(I) (Rx)-L-(Ry)
     一般式(I)中、Rxは、一般式(A)で表される基を表す。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001

     一般式(A)中、R1~R4は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。
     一般式(A)中、Yは、単結合または2価の連結基を表す。一般式(A)中、*は結合位置を示す。
     Ryは、水素原子または置換基を表す。
     Lは、単結合またはn+m価の連結基を表す。なお、Lが単結合の場合は、n=1およびm=1を表す。
     Lがn+m価の連結基を表す場合、nは1~6の整数を表し、mは0~5の整数を表し、2≦n+m≦6を満たす。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002

    一般式(II)中、R5は、水素原子またはアルキル基を表す。Rxは、前記一般式(A)で表される基を表す。
    The compound having a phenolic hydroxyl group includes at least one selected from the group consisting of a compound represented by general formula (I) and a compound having a repeating unit represented by general formula (II). The organic electronic device described in 1.
    Formula (I) (Rx) n -L- (Ry) m
    In general formula (I), Rx represents a group represented by general formula (A).
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001

    In general formula (A), R 1 to R 4 each independently represents a hydrogen atom or a substituent.
    In general formula (A), Y represents a single bond or a divalent linking group. In the general formula (A), * indicates a bonding position.
    Ry represents a hydrogen atom or a substituent.
    L represents a single bond or an n + m-valent linking group. Note that when L is a single bond, n = 1 and m = 1.
    When L represents an n + m-valent linking group, n represents an integer of 1 to 6, m represents an integer of 0 to 5, and 2 ≦ n + m ≦ 6 is satisfied.
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002

    In general formula (II), R 5 represents a hydrogen atom or an alkyl group. Rx represents a group represented by the general formula (A).
  3.  前記有機半導体層内に含まれる前記フェノール性水酸基を有する化合物の含有量が、前記有機半導体材料全質量に対して、10~300質量%である、請求項1または2に記載の有機電子デバイス。 3. The organic electronic device according to claim 1, wherein the content of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is 10 to 300% by mass with respect to the total mass of the organic semiconductor material.
  4.  前記電極層内に含まれる前記フェノール性水酸基を有する化合物の含有量Mmに対する、前記有機半導体層内に含まれる前記フェノール性水酸基を有する化合物の含有量Msの質量比が5.0以上である、請求項1~3のいずれか1項に記載に有機電子デバイス。なお、前記質量比は、含有量Ms/含有量Mmを意図する。 The mass ratio of the content Ms of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer to the content Mm of the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the electrode layer is 5.0 or more. The organic electronic device according to any one of claims 1 to 3. In addition, the said mass ratio intends content Ms / content Mm.
  5.  前記有機半導体材料が低分子化合物であり、かつ、前記有機半導体層内に含まれる前記フェノール性水酸基を有する化合物が低分子化合物であるか、または、
     前記有機半導体材料が高分子化合物であり、かつ、前記有機半導体層内に含まれる前記フェノール性水酸基を有する化合物が高分子化合物である、請求項1~4のいずれか1項に記載に有機電子デバイス。
    The organic semiconductor material is a low molecular compound, and the compound having the phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is a low molecular compound, or
    The organic electron according to any one of claims 1 to 4, wherein the organic semiconductor material is a polymer compound, and the compound having a phenolic hydroxyl group contained in the organic semiconductor layer is a polymer compound. device.
  6.  前記電極層に含まれる前記金属が、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、および、タンタルからなる群より選択される金属である、請求項1~5のいずれか1項に記載の有機電子デバイス。 The organic electronic device according to any one of claims 1 to 5, wherein the metal contained in the electrode layer is a metal selected from the group consisting of silver, copper, aluminum, nickel, and tantalum.
  7.  有機薄膜トランジスタ、有機太陽電池、および、有機ELデバイスからなる群から選択される少なくとも一つに適用される、請求項1~6のいずれか1項に記載の有機電子デバイス。 7. The organic electronic device according to claim 1, which is applied to at least one selected from the group consisting of an organic thin film transistor, an organic solar cell, and an organic EL device.
  8.  請求項1~6のいずれか1項に記載の有機電子デバイスを含む有機薄膜トランジスタ。 An organic thin film transistor comprising the organic electronic device according to any one of claims 1 to 6.
  9.  ソース電極と、ドレイン電極と、ゲート電極と、ゲート絶縁膜と、有機半導体層とを備える有機薄膜トランジスタであって、
     前記有機半導体層にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれ、
     前記有機半導体層と隣接して配置される前記ソース電極および前記ドレイン電極の少なくとも一方にフェノール性水酸基を有する化合物が含まれる、有機薄膜トランジスタ。
    An organic thin film transistor comprising a source electrode, a drain electrode, a gate electrode, a gate insulating film, and an organic semiconductor layer,
    The organic semiconductor layer contains a compound having a phenolic hydroxyl group,
    An organic thin film transistor, wherein a compound having a phenolic hydroxyl group is contained in at least one of the source electrode and the drain electrode arranged adjacent to the organic semiconductor layer.
  10.  請求項8または9に記載の有機薄膜トランジスタを含む、電子ペーパー。 Electronic paper comprising the organic thin film transistor according to claim 8 or 9.
  11.  請求項8または9に記載の有機薄膜トランジスタを含む、ディスプレイデバイス。
     
    A display device comprising the organic thin film transistor according to claim 8.
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