JP2015109402A - Organic thin-film transistor, electronic paper, and display device - Google Patents

Organic thin-film transistor, electronic paper, and display device Download PDF

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正兒 木下
Masaji Kinoshita
正兒 木下
泰明 松下
Yasuaki Matsushita
泰明 松下
季彦 松村
Suehiko Matsumura
季彦 松村
康智 米久田
Yasutomo Yonekuta
康智 米久田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic thin-film transistor which is more excellent in insulation reliability between electrodes, and to provide electronic paper and a display device.SOLUTION: The organic thin-film transistor includes at least an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material, a gate insulating film, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode. The organic semiconductor material contains a compound represented by general formula (X). At least one electrode selected from the group consisting of the gate electrode, the source electrode, and the drain electrode contains at least a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt.

Description

本発明は、有機薄膜トランジスタ、並びに、該有機薄膜トランジスタを含む電子ペーパーおよびディスプレイデバイスに関する。   The present invention relates to an organic thin film transistor, and an electronic paper and a display device including the organic thin film transistor.

軽量化、低コスト化、柔軟化が可能であることから、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイに用いられるFET(電界効果トランジスタ)、RFID(RFタグ)やメモリなどの論理回路を用いる装置等に、有機半導体膜(有機半導体層)を有する有機薄膜トランジスタ(有機TFT)が利用されている。
昨今、電子部品の小型化、高集積化および高性能化の要望がより一層強くなり、有機薄膜トランジスタにおいても、ソース電極、ドレイン電極、および、ゲート電極の微細化や、各電極間の狭小化が進んでいる。また、これらの電極に使用する材料としては、電気的特性の観点から、銀または銅が好ましく挙げられている(例えば、特許文献1)。
Light weight, low cost, and flexibility are possible, so organic devices such as FETs (field effect transistors), RFIDs (RF tags), and memories that are used in liquid crystal displays and organic EL displays An organic thin film transistor (organic TFT) having a semiconductor film (organic semiconductor layer) is used.
Recently, demands for smaller, higher integration and higher performance of electronic components have become stronger, and even in organic thin film transistors, miniaturization of source electrodes, drain electrodes, and gate electrodes, and narrowing between each electrode have been reduced. Progressing. Moreover, as a material used for these electrodes, silver or copper is preferably cited from the viewpoint of electrical characteristics (for example, Patent Document 1).

特開2010−161312号公報JP 2010-161312 A

一方、銀または銅は、イオンマイグレーションが生じやすい。そのため、電極間が狭小化された有機薄膜トランジスタにおいては、銀または銅のイオンマイグレーション(エレクトロケミカルマイグレーション)による電極間の導通などが生じやすく、有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性の更なる向上が求められていた。   On the other hand, silver or copper tends to cause ion migration. Therefore, in an organic thin film transistor in which the gap between electrodes is narrowed, conduction between electrodes due to silver or copper ion migration (electrochemical migration) is likely to occur, and further improvement in insulation reliability of the organic thin film transistor has been demanded. .

本発明は、上記実情に鑑みて、電極間の絶縁信頼性により優れる有機薄膜トランジスタを提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide an organic thin film transistor that is superior in insulation reliability between electrodes.

本発明者らは、上記課題について鋭意検討した結果、特定の有機半導体材料を選択すると共に、電極にオニウム塩を配合することで、所望の効果が得られることを見出し、本発明に至った。すなわち、本発明者らは、以下の構成により上記課題が解決できることを見出した。   As a result of intensive studies on the above problems, the present inventors have found that a desired effect can be obtained by selecting a specific organic semiconductor material and blending an electrode with an onium salt, and have reached the present invention. That is, the present inventors have found that the above problem can be solved by the following configuration.

(1) 有機半導体材料を含む有機半導体層と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、ソース電極と、ドレイン電極とを少なくとも有する有機薄膜トランジスタであって、
有機半導体材料が、後述する一般式(X)で表される化合物を含み、
ゲート電極、ソース電極、および、ドレイン電極からなる群から選択される少なくとも一つの電極に、銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が少なくとも含まれる、有機薄膜トランジスタ。
(2) 一般式(X)におけるRおよびRのうち少なくとも1つが後述する一般式(W)で表される置換基である、(1)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(3) 一般式(X)で表される化合物が、後述する一般式(Y)で表される化合物を含む、(1)または(2)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(4) 一般式(X)で表される化合物が、後述する一般式(Z)で表される化合物を含む、(1)〜(3)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(5) 一般式(X)におけるR〜Rが、それぞれ独立に、水素原子、フッ素原子、炭素数1〜3の置換若しくは無置換のアルキル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルキニル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルケニル基、炭素数1〜2の置換若しくは無置換のアルコキシ基、または、置換若しくは無置換のメチルチオ基である、(1)〜(4)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(6) オニウム塩が、後述する一般式(I)で表される化合物を含む、(1)〜(5)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(7) (1)〜(6)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタを含む、電子ペーパー。
(8) (1)〜(6)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタを含む、ディスプレイデバイス。
(1) An organic thin film transistor having at least an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material, a gate insulating film, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode,
The organic semiconductor material contains a compound represented by the following general formula (X),
An organic thin film transistor, wherein at least one electrode selected from the group consisting of a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode contains at least a metal selected from the group consisting of silver and copper and an onium salt.
(2) The organic thin film transistor according to (1), wherein at least one of R 1 and R 2 in the general formula (X) is a substituent represented by the general formula (W) described later.
(3) The organic thin-film transistor as described in (1) or (2) in which the compound represented by general formula (X) contains the compound represented by general formula (Y) mentioned later.
(4) The organic thin-film transistor in any one of (1)-(3) in which the compound represented by general formula (X) contains the compound represented by general formula (Z) mentioned later.
(5) R 3 to R 6 in the general formula (X) are each independently a hydrogen atom, a fluorine atom, a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted group having 2 to 3 carbon atoms. (1) to (4) which are an alkynyl group, a substituted or unsubstituted alkenyl group having 2 to 3 carbon atoms, a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 2 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted methylthio group. ).
(6) The organic thin film transistor according to any one of (1) to (5), wherein the onium salt includes a compound represented by the general formula (I) described later.
(7) Electronic paper containing the organic thin-film transistor in any one of (1)-(6).
(8) A display device comprising the organic thin film transistor according to any one of (1) to (6).

本発明によれば、電極間の絶縁信頼性により優れる有機薄膜トランジスタを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the organic thin-film transistor which is excellent by the insulation reliability between electrodes can be provided.

本発明の有機薄膜トランジスタの一態様の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of one aspect | mode of the organic thin-film transistor of this invention. 本発明の有機薄膜トランジスタの別の一態様の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of another one aspect | mode of the organic thin-film transistor of this invention.

以下に、本発明の有機薄膜トランジスタの好適態様について説明する。なお、本明細書において「〜」を用いて表される数値範囲は、「〜」前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。
本発明の特徴点としては、電極にオニウム塩が含まれると共に、有機半導体層に所定の有機半導体材料が含まれる点が挙げられる。より具体的に、以下では、ソース電極およびドレイン電極間の場合を例にする。まず、有機薄膜トランジスタの電極に電圧を印加すると、電界の作用により電極中の銀または銅がイオン化し、有機半導体層の中をイオンが移動(マイグレーション)することがある。このようなマイグレーションが生じると、ソース/ドレイン電極間の絶縁性が低下してしまう。
まず、電極中にオニウム塩が含まれると、電極中の銀または銅がイオン化したとしても、電極中のオニウム塩がこれをトラップし、マイグレーション自体の発生が防止される。すなわち、オニウム塩は優れたマイグレーション抑制剤(マイグレーション防止剤)として働く。また、わずかに発生した銀イオンまたは銅イオンが有機半導体層を拡散する際にも、一般式(X)で表される有機半導体材料は優れた結晶性を示すため、有機半導体層中において銀イオンまたは銅イオンの拡散経路となる結晶粒界が少なく、銀イオンまたは銅イオン自体の拡散が抑制され、その相乗効果で結果として電極間の絶縁性が担保される。
Below, the suitable aspect of the organic thin-film transistor of this invention is demonstrated. In the present specification, a numerical range expressed using “to” means a range including numerical values described before and after “to” as a lower limit value and an upper limit value.
A feature of the present invention is that the electrode contains an onium salt and the organic semiconductor layer contains a predetermined organic semiconductor material. More specifically, in the following, the case between the source electrode and the drain electrode is taken as an example. First, when a voltage is applied to an electrode of an organic thin film transistor, silver or copper in the electrode may be ionized by the action of an electric field, and ions may migrate (migrate) in the organic semiconductor layer. When such migration occurs, the insulation between the source / drain electrodes is degraded.
First, when an onium salt is contained in the electrode, even if silver or copper in the electrode is ionized, the onium salt in the electrode traps it, thereby preventing migration itself. That is, the onium salt works as an excellent migration inhibitor (migration inhibitor). In addition, when the slightly generated silver ions or copper ions diffuse through the organic semiconductor layer, the organic semiconductor material represented by the general formula (X) exhibits excellent crystallinity. Or there are few crystal grain boundaries used as the diffusion path | route of a copper ion, the spreading | diffusion of silver ion or copper ion itself is suppressed, and the insulation between electrodes is ensured as a result by the synergistic effect.

<第1の実施態様>
本発明の有機薄膜トランジスタの一態様について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の有機薄膜トランジスタの一態様の断面模式図である。
図1において、有機薄膜トランジスタ100は、基板10と、基板10上に配置されたゲート電極20と、ゲート電極20と接するゲート絶縁膜30と、ゲート絶縁膜30のゲート電極20側とは反対側の表面に接するソース電極40およびドレイン電極42と、ソース電極40とドレイン電極42との間のゲート絶縁膜30の表面を覆う有機半導体層50と、各部材を覆う封止層60とを備える。ここで、ソース電極40およびドレイン電極42には、上述した銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれる。有機薄膜トランジスタ100は、ボトムゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタである。これらのトランジスタは、電子ペーパーやディスプレイデバイスに好適に用いることができる。
なお、図1の態様では、ソース電極40およびドレイン電極42のみに銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれる態様を示すがこの態様には限定されず、ソース電極40、ドレイン電極42およびゲート電極20からなる群から選ばれる少なくとも1つの電極に銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれていればよい。より具体的には、ソース電極40、ドレイン電極42およびゲート電極20の3つに銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれていてもよく、3つの電極の一つにのみ銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれていてもよい。
以下、まず、本発明の特徴点である有機半導体層50について詳述する。
<First Embodiment>
One embodiment of the organic thin film transistor of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of one embodiment of the organic thin film transistor of the present invention.
In FIG. 1, an organic thin film transistor 100 includes a substrate 10, a gate electrode 20 disposed on the substrate 10, a gate insulating film 30 in contact with the gate electrode 20, and a gate insulating film 30 on the side opposite to the gate electrode 20 side. A source electrode 40 and a drain electrode 42 in contact with the surface, an organic semiconductor layer 50 covering the surface of the gate insulating film 30 between the source electrode 40 and the drain electrode 42, and a sealing layer 60 covering each member are provided. Here, the source electrode 40 and the drain electrode 42 include a metal selected from the above-described group consisting of silver and copper, and an onium salt. The organic thin film transistor 100 is a bottom gate-bottom contact type organic thin film transistor. These transistors can be suitably used for electronic paper and display devices.
1 illustrates an embodiment in which only the source electrode 40 and the drain electrode 42 include a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt, but the embodiment is not limited thereto, and the source electrode 40, It is only necessary that at least one electrode selected from the group consisting of the drain electrode 42 and the gate electrode 20 contains a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt. More specifically, a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt may be included in three of the source electrode 40, the drain electrode 42, and the gate electrode 20, and one of the three electrodes may be included. Only metals selected from the group consisting of silver and copper and onium salts may be included.
Hereinafter, first, the organic semiconductor layer 50 that is a feature of the present invention will be described in detail.

(有機半導体層)
有機半導体層は、ソース電極およびドレイン電極の間に配置される層で、両者の電極の間の電流経路となる層である。なお、図1においては、ソース電極およびドレイン電極の一部を覆い、かつ、ソース電極とドレイン電極との間のゲート絶縁膜の表面を覆うように配置されているが、この態様に限定されず、ソース電極とドレイン電極との間のゲート絶縁膜の表面を覆うように配置されていればよい。
有機半導体層には有機半導体材料が含まれ、有機半導体材料として後述する一般式(X)で表される化合物が少なくとも含まれる。一般式(X)で表される化合物については、後段で詳述する。
有機半導体層中に含まれる一般式(X)で表される化合物の含有量は特に制限されず、有機半導体層全質量に対して、20質量%以上が好ましく、50質量%以上がより好ましい。上限は特に制限されないが、100質量%が挙げられる。
なお、有機半導体材料としては、一般式(X)で表される化合物以外の他の化合物が合わせて使用されてもよい。
(Organic semiconductor layer)
The organic semiconductor layer is a layer disposed between the source electrode and the drain electrode, and serves as a current path between the electrodes. Note that in FIG. 1, the gate electrode is disposed so as to cover part of the source electrode and the drain electrode and to cover the surface of the gate insulating film between the source electrode and the drain electrode. The gate insulating film may be disposed so as to cover the surface of the gate insulating film between the source electrode and the drain electrode.
The organic semiconductor layer includes an organic semiconductor material, and includes at least a compound represented by the general formula (X) described later as the organic semiconductor material. The compound represented by the general formula (X) will be described in detail later.
Content of the compound represented with general formula (X) contained in an organic-semiconductor layer is not restrict | limited especially, 20 mass% or more is preferable with respect to the organic semiconductor layer total mass, and 50 mass% or more is more preferable. The upper limit is not particularly limited, but may be 100% by mass.
In addition, as an organic-semiconductor material, other compounds other than the compound represented by general formula (X) may be used together.

有機半導体層の厚みは特に制限されないが、10〜200nmであることが好ましい。
有機半導体層を形成する方法は特に制限されないが、例えば、ゲート電極とゲート絶縁膜とソース電極とドレイン電極とが形成された基板上に、一般式(X)で表される化合物を含む有機半導体材料を溶媒に溶解させた有機半導体用組成物(有機半導体層形成用組成物)を塗布する方法などが挙げられる。
有機半導体用組成物には、必要に応じて、溶媒(例えば、有機溶媒)が含まれていてもよい。
有機半導体用組成物を塗布する方法は特に制限されず、例えば、ダブルロールコータ、スリットコータ、エアナイフコータ、ワイヤーバーコータ、スライドホッパー、スプレーコータ、ブレードコータ、ドクターコータ、スクイズコータ、リバースロールコータ、トランスファーロールコータ、エクストロージョンコータ、カーテンコータ、ディップコーター、ダイコータ、グラビアロールによる塗工法、スクリーン印刷法、ディップコーティング法、スプレー塗布法、スピンコーティング法、インクジェット法などが挙げられる。
なお、有機半導体用組成物を塗布した後、必要に応じて、溶媒を除去するために乾燥処理を施してもよい。乾燥処理の方法としては、従来公知の方法を使用することができる。
The thickness of the organic semiconductor layer is not particularly limited, but is preferably 10 to 200 nm.
A method for forming the organic semiconductor layer is not particularly limited. For example, an organic semiconductor containing a compound represented by the general formula (X) on a substrate on which a gate electrode, a gate insulating film, a source electrode, and a drain electrode are formed. Examples thereof include a method of applying a composition for organic semiconductor (composition for forming an organic semiconductor layer) in which a material is dissolved in a solvent.
The organic semiconductor composition may contain a solvent (for example, an organic solvent) as necessary.
The method for applying the organic semiconductor composition is not particularly limited. For example, a double roll coater, slit coater, air knife coater, wire bar coater, slide hopper, spray coater, blade coater, doctor coater, squeeze coater, reverse roll coater, Examples thereof include transfer roll coaters, extrusion coaters, curtain coaters, dip coaters, die coaters, gravure roll coating methods, screen printing methods, dip coating methods, spray coating methods, spin coating methods, and ink jet methods.
In addition, after apply | coating the composition for organic semiconductors, you may perform a drying process in order to remove a solvent as needed. A conventionally known method can be used as the drying treatment method.

以下、一般式(X)で表される化合物について詳述する。
該化合物は、R〜Rのうち少なくとも1つが後述する一般式(W)で表される置換基を有するため、材料の溶液プロセス適性および膜中での分子配列の観点で好ましい。これにより有機薄膜トランジスタに適用できる有機薄膜の製造効率を上げ、製造コストを抑制することができる。また、電界効果移動度をはじめとする電荷輸送特性や薄膜の化学的、物理的安定性も向上する。これにより、電界効果移動度が高い有機薄膜トランジスタを得ることができる。
Hereinafter, the compound represented by formula (X) will be described in detail.
Since this compound has a substituent represented by the general formula (W) described later, at least one of R 1 to R 6 is preferable from the viewpoint of solution process suitability of the material and molecular arrangement in the film. Thereby, the manufacturing efficiency of the organic thin film applicable to an organic thin-film transistor can be raised, and manufacturing cost can be suppressed. In addition, charge transport properties such as field effect mobility and chemical and physical stability of the thin film are improved. Thereby, an organic thin-film transistor with high field effect mobility can be obtained.

一般式(X)において、AおよびAは、それぞれ独立に、硫黄原子、酸素原子、またはセレン原子を表す。AおよびAは、硫黄原子または酸素原子が好ましい。また、AおよびAは互いに同一であっても異なっていてもよいが、互いに同一であることが好ましい。 In General Formula (X), A 1 and A 2 each independently represent a sulfur atom, an oxygen atom, or a selenium atom. A 1 and A 2 are preferably a sulfur atom or an oxygen atom. A 1 and A 2 may be the same or different from each other, but are preferably the same.

一般式(X)において、R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。ただし、R〜Rのうち少なくとも1つが後述する一般式(W)で表される置換基である。
一般式(X)で表される化合物は、一般式(W)で表される置換基以外のその他の置換基を有していてもよい。
一般式(X)のR〜Rが採りうるその他の置換基としては、例えば、ハロゲン原子、アルキル基(シクロアルキル基、ビシクロアルキル基、トリシクロアルキル基を含む)、アルケニル基(シクロアルケニル基、ビシクロアルケニル基を含む)、アルキニル基、アリール基、複素環基(ヘテロ環基といってもよい)、シアノ基、ヒドロキシ基、ニトロ基、カルボキシ基、アルコキシ基、アリールオキシ基、シリルオキシ基、ヘテロ環オキシ基、アシルオキシ基、カルバモイルオキシ基、アルコキシカルボニルオキシ基、アリールオキシカルボニルオキシ基、アミノ基(アニリノ基を含む)、アンモニオ基、アシルアミノ基、アミノカルボニルアミノ基、アルコキシカルボニルアミノ基、アリールオキシカルボニルアミノ基、スルファモイルアミノ基、アルキルおよびアリールスルホニルアミノ基、メルカプト基、アルキルチオ基、アリールチオ基、ヘテロ環チオ基、スルファモイル基、スルホ基、アルキルおよびアリールスルフィニル基、アルキルおよびアリールスルホニル基、アシル基、アリールオキシカルボニル基、アルコキシカルボニル基、カルバモイル基、アリールおよびヘテロ環アゾ基、イミド基、ホスフィノ基、ホスフィニル基、ホスフィニルオキシ基、ホスフィニルアミノ基、ホスホノ基、シリル基、ヒドラジノ基、ウレイド基、ボロン酸基(−B(OH))、ホスファト基(−OPO(OH))、スルファト基(−OSOH)、その他の公知の置換基が挙げられる。
これらの中でもハロゲン原子、アルキル基およびアリール基が好ましく、フッ素原子、炭素数1〜3のアルキル基、炭素数2〜3のアルキニル基、炭素数2〜3のアルケニル基、炭素数1〜2のアルコキシ基、メチルチオ基、フェニル基がより好ましく、フッ素原子、炭素数1〜3の置換若しくは無置換のアルキル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルキニル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルケニル基、炭素数1〜2の置換若しくは無置換のアルコキシ基、または、置換若しくは無置換のメチルチオ基が特に好ましい。
一般式(X)で表される化合物中において、R〜Rのうち、一般式(W)で表される置換基以外のその他の置換基の個数は0〜4であることが好ましく、0〜2であることがより好ましく、0であることが特に好ましい。
また、これら置換基は、さらに上記置換基を有していてもよい。
なかでも、R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子、フッ素原子、炭素数1〜3の置換若しくは無置換のアルキル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルキニル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルケニル基、炭素数1〜2の置換若しくは無置換のアルコキシ基、または、置換若しくは無置換のメチルチオ基であることが好ましい。
In general formula (X), R < 1 > -R < 6 > represents a hydrogen atom or a substituent each independently. However, at least one of R 1 to R 6 is a substituent represented by the following general formula (W).
The compound represented by general formula (X) may have other substituents other than the substituent represented by general formula (W).
Examples of other substituents that R 1 to R 6 of the general formula (X) can take include, for example, a halogen atom, an alkyl group (including a cycloalkyl group, a bicycloalkyl group, and a tricycloalkyl group), and an alkenyl group (cycloalkenyl group). Group, bicycloalkenyl group), alkynyl group, aryl group, heterocyclic group (may be referred to as heterocyclic group), cyano group, hydroxy group, nitro group, carboxy group, alkoxy group, aryloxy group, silyloxy group , Heterocyclic oxy group, acyloxy group, carbamoyloxy group, alkoxycarbonyloxy group, aryloxycarbonyloxy group, amino group (including anilino group), ammonio group, acylamino group, aminocarbonylamino group, alkoxycarbonylamino group, aryl Oxycarbonylamino group, sulfamo Ruamino group, alkyl and arylsulfonylamino group, mercapto group, alkylthio group, arylthio group, heterocyclic thio group, sulfamoyl group, sulfo group, alkyl and arylsulfinyl group, alkyl and arylsulfonyl group, acyl group, aryloxycarbonyl group, Alkoxycarbonyl group, carbamoyl group, aryl and heterocyclic azo group, imide group, phosphino group, phosphinyl group, phosphinyloxy group, phosphinylamino group, phosphono group, silyl group, hydrazino group, ureido group, boronic acid group (-B (OH) 2), phosphato group (-OPO (OH) 2), a sulfato group (-OSO 3 H), and other known substituents.
Among these, a halogen atom, an alkyl group, and an aryl group are preferable, and a fluorine atom, an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkynyl group having 2 to 3 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 3 carbon atoms, and 1 to 2 carbon atoms. More preferred are an alkoxy group, a methylthio group and a phenyl group, a fluorine atom, a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, a substituted or unsubstituted alkynyl group having 2 to 3 carbon atoms, and a substituted group having 2 to 3 carbon atoms. Alternatively, an unsubstituted alkenyl group, a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 2 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted methylthio group is particularly preferable.
In the compound represented by the general formula (X), the number of other substituents other than the substituent represented by the general formula (W) among R 1 to R 6 is preferably 0 to 4, It is more preferably 0 to 2, and particularly preferably 0.
Moreover, these substituents may further have the above substituents.
Among these, R 3 to R 6 are each independently a hydrogen atom, a fluorine atom, a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, a substituted or unsubstituted alkynyl group having 2 to 3 carbon atoms, or a carbon number. A substituted or unsubstituted alkenyl group having 2 to 3 carbon atoms, a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 2 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted methylthio group is preferable.

次に、一般式(W)で表される置換基について説明する。
*−L−R 一般式(W)
一般式(W)において、Lは下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、2以上の下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。
Next, the substituent represented by the general formula (W) will be described.
* -LR General Formula (W)
In the general formula (W), L is a divalent linking group represented by any of the following general formulas (L-1) to (L-10), or two or more of the following general formulas (L-1) to The bivalent coupling group which the bivalent coupling group represented by either of (L-10) couple | bonded is represented.

一般式(L−1)〜(L−10)において、波線部分はナフタレン環、Aを含む環、または、Aを含む環との結合位置を示し、*は一般式(W)のRとの結合位置を示す。一般式(L−8)におけるmは4を表し、一般式(L−9)および(L−10)におけるmは2を表す。一般式(L−1)、(L−2)、(L−8)、(L−9)および(L−10)におけるR’は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。ただし、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。 In the general formulas (L-1) to (L-10), a wavy line part represents a bonding position with a naphthalene ring, a ring containing A 1 , or a ring containing A 2 , and * represents R in the general formula (W) Indicates the binding position. M in the general formula (L-8) represents 4, and m in the general formulas (L-9) and (L-10) represents 2. In the general formulas (L-1), (L-2), (L-8), (L-9) and (L-10), R ′ each independently represents a hydrogen atom or a substituent. However, R ′ in the general formulas (L-1) and (L-2) may be bonded to R adjacent to L to form a condensed ring.

Lが一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した連結基を形成する場合、一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基の結合数は2〜4であることが好ましく、2または3であることがより好ましい。
特に、上記の一般式(L−8)〜(L−10)においては、*とRの間にさらに一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかが挿入されて、Lが一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した連結基を形成することも好ましい。
一般式(L−1)、(L−2)、(L−8)、(L−9)および(L−10)中の置換基R’としては、上記の一般式(X)のR〜Rが採りうるその他の置換基として例示したものを挙げることができる。
一般式(L−8)におけるmは4を表し、一般式(L−9)および(L−10)におけるmは2を表す。
When L forms a linking group to which a divalent linking group represented by any one of formulas (L-1) to (L-10) is bonded, formulas (L-1) to (L-10) The number of bonds of the divalent linking group represented by any of the above is preferably 2-4, more preferably 2 or 3.
In particular, in the above general formulas (L-8) to (L-10), any one of the general formulas (L-1) to (L-10) is further inserted between * and R, so that L is It is also preferable to form a linking group to which a divalent linking group represented by any one of the general formulas (L-1) to (L-10) is bonded.
As the substituent R ′ in the general formulas (L-1), (L-2), (L-8), (L-9) and (L-10), R 1 in the above general formula (X) mention may be made of those to R 6 is exemplified as other substituents can take.
M in the general formula (L-8) represents 4, and m in the general formulas (L-9) and (L-10) represents 2.

Lは、一般式(L−1)〜(L−2)、(L−5)〜(L−8)、(L−9)若しくは(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、これらの2価の連結基が2以上結合した2価の連結基であることが好ましく、化学的安定性、電荷輸送性の観点から一般式(L−1)〜(L−3)、(L−8)、(L−9)および(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、これらの2価の連結基が2以上結合した2価の連結基であることがより好ましく、一般式(L−1)および(L−8)のいずれかで表される2価の連結基であることが特に好ましい。   L is a divalent compound represented by any one of the general formulas (L-1) to (L-2), (L-5) to (L-8), (L-9) or (L-10). It is preferably a linking group or a divalent linking group in which two or more of these divalent linking groups are bonded. From the viewpoints of chemical stability and charge transportability, the compounds represented by the general formulas (L-1) to (L- 3), a divalent linking group represented by any one of (L-8), (L-9) and (L-10), or a divalent linking group in which two or more of these divalent linking groups are bonded. A linking group is more preferable, and a divalent linking group represented by any one of the general formulas (L-1) and (L-8) is particularly preferable.

一般式(W)において、Rは、水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン基の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す。
ただし、Rが水素原子を表すのは、Lが一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限る。
In the general formula (W), R is a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene groups, an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms, or a substituted group. Alternatively, it represents an unsubstituted trialkylsilyl group.
However, R represents a hydrogen atom only when L is represented by the general formulas (L-1) to (L-3) or (L-8) to (L-10).

一般式(W)におけるRが置換または無置換のアルキル基の場合、炭素数は2〜18であることが好ましく、3〜12であることが化学的安定性、電荷輸送性の観点からより好ましく、4〜10であることがさらに好ましい。
一般式(X)で表される化合物は、一般式(W)で表される基にアルキル基が含まれる場合、Rが表すアルキル基の炭素数が上記範囲の下限値以上であると電界効果移動度が高くなる。また、LがRに隣接する一般式(L−1)を含む場合は、一般式(L−1)で表されるアルキレン基およびRで表されるアルキル基が結合して形成されるアルキル基の炭素数が上記範囲の下限値以上であると電界効果移動度が高くなる。
Rが採りうるアルキル基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよく、直鎖アルキル基であることが電界効果移動度を高める観点から好ましく、炭素数1〜12の直鎖アルキル基であることがより好ましく、炭素数3〜12の直鎖アルキル基であることがさらに好ましく、炭素数4〜10の直鎖アルキル基であることが特に好ましい。Rが置換基を有するアルキル基である場合の該置換基としては、ハロゲン原子などを挙げることができ、フッ素原子が好ましい。なお、Rがフッ素原子を有するアルキル基である場合は該アルキル基の水素原子が全てフッ素原子で置換されてパーフルオロアルキル基を形成してもよい。
When R in the general formula (W) is a substituted or unsubstituted alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 2 to 18 and more preferably 3 to 12 from the viewpoint of chemical stability and charge transportability. More preferably, it is 4-10.
When the compound represented by the general formula (X) includes an alkyl group in the group represented by the general formula (W), the field effect is such that the number of carbon atoms of the alkyl group represented by R is not less than the lower limit of the above range. Increases mobility. In addition, when L includes the general formula (L-1) adjacent to R, an alkyl group formed by combining an alkylene group represented by the general formula (L-1) and an alkyl group represented by R When the number of carbon atoms is equal to or greater than the lower limit of the above range, the field effect mobility is increased.
The alkyl group which R can take may be linear, branched or cyclic, and is preferably a linear alkyl group from the viewpoint of increasing the field effect mobility, and is a linear alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. It is more preferable that it is a C3-C12 linear alkyl group, and it is especially preferable that it is a C4-C10 linear alkyl group. Examples of the substituent when R is an alkyl group having a substituent include a halogen atom, and a fluorine atom is preferable. In addition, when R is an alkyl group having a fluorine atom, all hydrogen atoms of the alkyl group may be substituted with a fluorine atom to form a perfluoroalkyl group.

一般式(W)におけるRがオキシエチレン基の繰り返し数が2以上のオリゴエチレンオキシ基の場合、Rが表す「オリゴエチレンオキシ基」とは本明細書中、−(CHCHOYで表される基のことを言う(オキシエチレン単位の繰り返し数xは2以上の整数を表し、末端のYは水素原子または置換基を表す)。なお、オリゴオキシエチレン基の末端のYが水素原子である場合はヒドロキシ基となる。オキシエチレン単位の繰り返し数xは2〜4であることが好ましく、2〜3であることがより好ましい。オリゴオキシエチレン基の末端のヒドロキシ基は封止されていること、すなわちYが置換基を表すことが好ましい。この場合、ヒドロキシ基は、炭素数が1〜3のアルキル基で封止されること、すなわちYが炭素数1〜3のアルキル基であることが好ましく、Yがメチル基やエチル基であることがより好ましく、メチル基であることが特に好ましい。 When R in the general formula (W) is an oligoethyleneoxy group having 2 or more repeating oxyethylene groups, the “oligoethyleneoxy group” represented by R is — (CH 2 CH 2 ) x OY in the present specification. (The repeating number x of the oxyethylene unit represents an integer of 2 or more, and Y at the terminal represents a hydrogen atom or a substituent). In addition, when Y at the terminal of the oligooxyethylene group is a hydrogen atom, it becomes a hydroxy group. The number of repeating oxyethylene units x is preferably 2 to 4, and more preferably 2 to 3. The terminal hydroxy group of the oligooxyethylene group is preferably sealed, that is, Y represents a substituent. In this case, the hydroxy group is preferably sealed with an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, that is, Y is preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and Y is a methyl group or an ethyl group. Is more preferable, and a methyl group is particularly preferable.

一般式(W)におけるRがケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基の場合、シロキサン単位の繰り返し数は2〜4であることが好ましく、2〜3であることがさらに好ましい。また、Si原子には、水素原子やアルキル基が結合することが好ましい。Si原子にアルキル基が結合する場合、アルキル基の炭素数は1〜3であることが好ましく、例えば、メチル基やエチル基が結合することが好ましい。Si原子には、同一のアルキル基が結合してもよく、異なるアルキル基または水素原子が結合してもよい。また、オリゴシロキサン基を構成するシロキサン単位はすべて同一であっても異なっていてもよいが、すべて同一であることが好ましい。
Rに隣接するLが一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限り、Rが置換または無置換のトリアルキルシリル基をとり得る。Rが置換または無置換のトリアルキルシリル基の場合、Si原子に結合するアルキル基の炭素数は1〜3であることが好ましく、例えば、メチル基やエチル基やイソプロピル基が結合することが好ましい。Si原子には、同一のアルキル基が結合してもよく、異なるアルキル基が結合してもよい。Rが置換基を有するトリアルキルシリル基である場合の該置換基としては、特に制限はない。
When R in the general formula (W) is an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms, the number of repeating siloxane units is preferably 2 to 4, and more preferably 2 to 3. Further, it is preferable that a hydrogen atom or an alkyl group is bonded to the Si atom. When the alkyl group is bonded to the Si atom, the alkyl group preferably has 1 to 3 carbon atoms, and for example, a methyl group or an ethyl group is preferably bonded. The same alkyl group may be bonded to the Si atom, or different alkyl groups or hydrogen atoms may be bonded to it. Moreover, although all the siloxane units which comprise an oligosiloxane group may be the same or different, it is preferable that all are the same.
R can take a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group only when L adjacent to R is a divalent linking group represented by formula (L-3). When R is a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, the alkyl group bonded to the Si atom preferably has 1 to 3 carbon atoms, for example, a methyl group, an ethyl group, or an isopropyl group is preferably bonded. . The same alkyl group may be bonded to the Si atom, or different alkyl groups may be bonded thereto. There is no restriction | limiting in particular as this substituent in case R is a trialkylsilyl group which has a substituent.

一般式(X)で表される化合物中において、R〜Rのうち、一般式(W)で表される置換基の個数は1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、2であることが特に好ましい。 In the compound represented by the general formula (X), among R 1 to R 6 , the number of substituents represented by the general formula (W) is preferably 1 to 4, preferably 1 to 2. Is more preferable, and 2 is particularly preferable.

本発明では、一般式(X)において、RおよびRのうち少なくとも1つが上記一般式(W)で表される置換基であることが好ましい。
一般式(X)における置換位置として、これらの位置が好ましいのは、化合物の化学的安定性に優れ、HOMO準位、分子の膜中でのパッキングの観点からも好適であるためであると考えられる。特に、一般式(X)において、RおよびRの2箇所を一般式(W)で表される置換基とすることにより、高いキャリア濃度を得ることができる。
In the present invention, in general formula (X), at least one of R 1 and R 2 is preferably a substituent represented by general formula (W).
These positions are preferred as the substitution positions in the general formula (X) because they are excellent in chemical stability of the compound, and are suitable from the viewpoint of HOMO level and packing of molecules in the film. It is done. In particular, in the general formula (X), a high carrier concentration can be obtained by using two positions of R 1 and R 2 as substituents represented by the general formula (W).

一般式(X)で表される化合物は、有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性がより優れる点で、下記一般式(Y)で表される化合物であることが好ましい。   The compound represented by the general formula (X) is preferably a compound represented by the following general formula (Y) from the viewpoint that the insulation reliability of the organic thin film transistor is more excellent.

一般式(Y)において、A、A、およびR〜Rの定義は、上述した一般式(X)中における定義と同義である。 In the general formula (Y), the definition of A 1, A 2, and R 2 to R 6 have the same meanings as defined in the above general formula (X).

一般式(Y)において、Lは上記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、2以上の上記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。Lの好ましい範囲は、一般式(W)におけるLの好ましい範囲と同様である。なお、Lで表される一般式(L−1)〜(L−10)中の*はRとの結合部位を表す。また、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。
一般式(Y)において、Rは水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン単位の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す(ただし、Rが水素原子を表すのは、Lが一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限り、Rが置換または無置換のトリアルキルシリル基を表すのは、Rに隣接するLが下記一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限る。)。Rの好ましい範囲は、一般式(W)におけるRの好ましい範囲と同様である。
In General Formula (Y), La is a divalent linking group represented by any one of General Formulas (L-1) to (L-10), or two or more General Formulas (L-1). -The bivalent coupling group which the bivalent coupling group represented by any of (L-10) couple | bonded is represented. The preferred range of L a is the same as the preferred range of L in the general formula (W). In general formula represented by L a (L-1) ~ (L-10) in * represents a binding site with R a. Further, formula (L-1) and (L-2) in R 'may form a condensed ring by combining with R a respectively adjacent to the L a.
In General Formula (Y), R a is a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene units, an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms, or a substituted group. Or an unsubstituted trialkylsilyl group (provided that R a represents a hydrogen atom because La represents a general formula (L-1) to (L-3) or (L-8) to (L-10 ) only if, the R a represents a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group is a divalent linking group L a adjacent R a is represented by the following general formula (L-3) Only if.) The preferable range of R a is the same as the preferable range of R in the general formula (W).

一般式(X)で表される化合物は、本発明の効果がより優れる点で、一般式(Z)で表される化合物であることが好ましい。   The compound represented by the general formula (X) is preferably a compound represented by the general formula (Z) in that the effect of the present invention is more excellent.

一般式(Z)において、A、A、およびR〜Rの定義は、上述した一般式(X)中における定義と同義である。
一般式(Z)において、LおよびLは、それぞれ独立に、一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、2以上の一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。LおよびLの好ましい範囲は、一般式(W)におけるLの好ましい範囲と同様である。また、LおよびLは互いに同一であることが好ましい。なお、LまたはLで表される一般式(L−1)〜(L−10)中の*は、それぞれLまたはLとの結合部位を表す。なお、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するR、または、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。
In the general formula (Z), the definition of A 1, A 2, and R 3 to R 6 have the same meanings as defined in the above general formula (X).
In General Formula (Z), L b and L c are each independently a divalent linking group represented by any one of General Formulas (L-1) to (L-10), or two or more general groups A divalent linking group to which a divalent linking group represented by any one of formulas (L-1) to (L-10) is bonded is represented. The preferable range of L b and L c is the same as the preferable range of L in the general formula (W). L b and L c are preferably the same as each other. In general formula represented by L b or L c (L-1) ~ (L-10) * in, each represents a binding site with L b or L c. In addition, R ′ in the general formulas (L-1) and (L-2) is bonded to R b adjacent to L b or R c adjacent to L c to form a condensed ring. Also good.

一般式(Z)において、RおよびRは、それぞれ独立に、水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン単位の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す(ただし、RおよびRが水素原子を表すのは、LおよびLがそれぞれ一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限り、RおよびRが置換または無置換のトリアルキルシリル基を表すのは、Rに隣接するLおよびRに隣接するLがそれぞれ下記一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限る。)。RおよびRの好ましい範囲は、一般式(W)におけるRの好ましい範囲と同様である。また、RおよびRは互いに同一であることが好ましい。 In general formula (Z), R b and R c each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene units, and a silicon atom number of 2 or more. Represents an oligosiloxane group or a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group (provided that R b and R c represent a hydrogen atom because L b and L c are each represented by formulas (L-1) to ( Only in the case of L-3) or (L-8) to (L-10), R b and R c represent a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, L b and R adjacent to R b L c adjacent to c is limited to the case each is a divalent linking group represented by the following general formula (L-3).). The preferable range of R b and R c is the same as the preferable range of R in the general formula (W). R b and R c are preferably the same as each other.

一般式(Y)または(Z)において、R、R、およびRの全てが置換または無置換のアルキル基であることが好ましく、置換または無置換の直鎖のアルキル基であることがより好ましく、炭素数1〜12の直鎖のアルキル基であることがさらに好ましく、炭素数3〜12の直鎖アルキル基であることがよりさらに好ましく、炭素数4〜10の直鎖アルキル基であることがより特に好ましい。
一般式(Y)または(Z)において、L、L、およびLの全て(L−1)〜(L−3)、(L−8)、(L−9)、または(L−10)のいずれかで表される2価の連結基であることが好ましく、化学的安定性、電荷輸送性の観点から一般式(L−1)〜(L−3)、(L−8)、または(L−10)のいずれかであることがより好ましく、一般式(L−1)、または(L−8)であることが特に好ましい。
In general formula (Y) or (Z), all of R a , R b , and R c are preferably substituted or unsubstituted alkyl groups, and may be substituted or unsubstituted linear alkyl groups. More preferably, it is a linear alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, more preferably a linear alkyl group having 3 to 12 carbon atoms, and a linear alkyl group having 4 to 10 carbon atoms. More particularly preferred.
In the general formula (Y) or (Z), all of L a , L b , and L c are (L-1) to (L-3), (L-8), (L-9), or (L— 10) is preferably a divalent linking group represented by any one of formulas (L-1) to (L-3) and (L-8) from the viewpoints of chemical stability and charge transportability. Or (L-10) is more preferable, and general formula (L-1) or (L-8) is particularly preferable.

以下に上記一般式(X)で表される化合物の具体例を示すが、これらの具体例により限定的に解釈されるべきものではない。   Specific examples of the compound represented by the general formula (X) are shown below, but should not be construed as being limited to these specific examples.

上記一般式(X)で表される化合物は、分子量が3000以下であることが好ましく、2000以下であることがより好ましく、1000以下であることがさらに好ましく、850以下であることが特に好ましい。分子量を上記上限値以下とすることにより、溶媒への溶解性を高めることができるため好ましい。
一方で、薄膜の膜質安定性の観点からは、分子量は300以上であることが好ましく、350以上であることがより好ましく、400以上であることがさらに好ましい。
The compound represented by the general formula (X) preferably has a molecular weight of 3000 or less, more preferably 2000 or less, still more preferably 1000 or less, and particularly preferably 850 or less. It is preferable to make the molecular weight not more than the above upper limit value because the solubility in a solvent can be increased.
On the other hand, from the viewpoint of film quality stability of the thin film, the molecular weight is preferably 300 or more, more preferably 350 or more, and further preferably 400 or more.

一般式(X)で表される化合物は、Journal of American Chemical Society, 116, 925(1994)、Journal of Chemical Society, 221(1951)などを参考にして合成することができる。
一般式(X)で表される化合物の合成において、いかなる反応条件を用いてもよい。反応溶媒としては、いかなる溶媒を用いてもよい。また、環形成反応促進のために、酸または塩基を用いることが好ましく、特に塩基を用いることが好ましい。
各種置換基を有する合成中間体は公知の反応を組み合わせて合成することができる。また、各置換基はいずれの中間体の段階で導入してもよい。中間体の合成後は、カラムクロマトグラフィー、再結晶等による精製を行った後、昇華精製により精製することが好ましい。昇華精製により、有機不純物を分離できるだけでなく、無機塩や残留溶媒等を効果的に取り除くことができる。
The compound represented by the general formula (X) can be synthesized with reference to Journal of American Chemical Society, 116, 925 (1994), Journal of Chemical Society, 221 (1951), and the like.
Any reaction conditions may be used in the synthesis of the compound represented by the general formula (X). Any solvent may be used as the reaction solvent. In order to promote the ring formation reaction, it is preferable to use an acid or a base, and it is particularly preferable to use a base.
Synthetic intermediates having various substituents can be synthesized by combining known reactions. Each substituent may be introduced at any intermediate stage. After the synthesis of the intermediate, it is preferable to purify by sublimation purification after purification by column chromatography, recrystallization or the like. By sublimation purification, not only can organic impurities be separated, but inorganic salts and residual solvents can be effectively removed.

(ソース電極、ドレイン電極)
ソース電極およびドレイン電極には、銀(Ag)および銅(Cu)からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれる。オニウム塩については、後段で詳述する。
ソース電極およびドレイン電極中におけるオニウム塩の含有量は特に制限されないが、有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性がより優れる点で、銀および銅からなる群から選択される金属100質量部に対して、0.1〜40質量部が好ましく、1〜20質量部がより好ましく、1〜10質量部が特に好ましい。
(Source electrode, drain electrode)
The source electrode and the drain electrode include a metal selected from the group consisting of silver (Ag) and copper (Cu), and an onium salt. The onium salt will be described in detail later.
The content of the onium salt in the source electrode and the drain electrode is not particularly limited, but is 0.1% relative to 100 parts by mass of the metal selected from the group consisting of silver and copper in that the insulation reliability of the organic thin film transistor is more excellent. 1-40 mass parts is preferable, 1-20 mass parts is more preferable, and 1-10 mass parts is especially preferable.

ソース電極およびドレイン電極のチャネル長は特に制限されないが、5〜30μmであることが好ましい。ソース電極およびドレイン電極のチャネル幅は特に制限されないが、10〜200μmであることが好ましい。ソース電極およびドレイン電極の厚みは特に制限されないが、100〜1000nmであることが好ましい。   The channel length of the source electrode and the drain electrode is not particularly limited, but is preferably 5 to 30 μm. The channel widths of the source electrode and the drain electrode are not particularly limited, but are preferably 10 to 200 μm. The thickness of the source electrode and the drain electrode is not particularly limited, but is preferably 100 to 1000 nm.

ソース電極およびドレイン電極の製造方法は特に制限されないが、ゲート電極とゲート絶縁膜とが形成された基板上に、銀粒子(または銅粒子)およびオニウム塩を含む電極形成用組成物を塗布または印刷する方法などが挙げられる。なお、電極をパターニングする方法としては、例えば、フォトリソグラフィー法;インクジェット印刷、スクリーン印刷、オフセット印刷、凸版印刷などが挙げられる。
また、電極形成用組成物を塗布する方法は特に制限されず、上述した有機半導体層形成用組成物を塗布する方法が挙げられる。
電極形成用組成物には、必要に応じて、溶媒(例えば、有機溶媒)が含まれていてもよい。
The method for producing the source electrode and the drain electrode is not particularly limited, but an electrode-forming composition containing silver particles (or copper particles) and an onium salt is applied or printed on a substrate on which a gate electrode and a gate insulating film are formed. The method of doing is mentioned. Examples of the method for patterning the electrode include a photolithography method; ink jet printing, screen printing, offset printing, letterpress printing, and the like.
Moreover, the method in particular of apply | coating the composition for electrode formation is not restrict | limited, The method of apply | coating the composition for organic-semiconductor layer formation mentioned above is mentioned.
The electrode forming composition may contain a solvent (for example, an organic solvent) as necessary.

電極形成用組成物を塗布した後、必要に応じて、溶媒を除去するために乾燥処理を施してもよい。乾燥処理の方法としては従来公知の方法を使用することができる。
また、電極形成用組成物の塗膜に対して加熱熱や光照射などのエネルギー付与を行い、組成物中の銀粒子(または銅粒子)を焼結してもよい。
加熱の条件は特に制限されないが、加熱温度は100〜300℃が好ましく、加熱時間は10〜60分がより好ましい。
加熱手段は特に制限されず、オーブン、ホットプレート等公知の加熱手段を用いることができる。
光照射処理で使用される光源は特に制限されないが、例えば、水銀灯、メタルハライドランプ、キセノン(Xe)ランプ、ケミカルランプ、カーボンアーク灯などが挙げられる。
After applying the electrode forming composition, if necessary, a drying treatment may be applied to remove the solvent. A conventionally known method can be used as a method for the drying treatment.
Moreover, energy provision, such as heating heat and light irradiation, may be applied to the coating film of the electrode forming composition to sinter silver particles (or copper particles) in the composition.
The heating conditions are not particularly limited, but the heating temperature is preferably 100 to 300 ° C., and the heating time is more preferably 10 to 60 minutes.
The heating means is not particularly limited, and known heating means such as an oven and a hot plate can be used.
The light source used in the light irradiation treatment is not particularly limited, and examples thereof include a mercury lamp, a metal halide lamp, a xenon (Xe) lamp, a chemical lamp, and a carbon arc lamp.

以下、オニウム塩について詳述する。オニウム塩は、上述したように、銀イオンまたは銅イオンをトラップするマイグレーション抑制剤として機能する。
オニウム塩の種類は特に制限されず、公知のオニウム塩を使用することができ、例えば、ヨードニウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩等を挙げることができる。
なかでも、有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性がより優れる点で、オニウム塩としては、一般式(I)で表される化合物が好ましく挙げられる。
cCn+aAm- 一般式(I)
Hereinafter, the onium salt will be described in detail. As described above, the onium salt functions as a migration inhibitor that traps silver ions or copper ions.
The kind of onium salt is not particularly limited, and a known onium salt can be used, and examples thereof include iodonium salts, sulfonium salts, phosphonium salts, diazonium salts, pyridinium salts, and the like.
Especially, the compound represented by general formula (I) is mentioned preferably as an onium salt at the point which the insulation reliability of an organic thin-film transistor is more excellent.
cC n + aA m- general formula (I)

(カチオン)
一般式(I)中、Cn+は、n価のカチオンを表す。ここで、nは1〜6の整数を表す。すなわち、Cn+は、1〜6価のカチオンである。
一般式(I)中のnが1の場合(すなわち、Cn+が1価のカチオンの場合)、上記Cn+は、下記一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるカチオンを表す。なかでも、一般式(A)〜(C)からなる群より選択されるカチオンであることが好ましく、得られる有機薄膜トランジスタがより優れた絶縁信頼性を示す理由から、一般式(A)または一般式(B)で表されるカチオンであることがより好ましい。
(Cation)
In general formula (I), C n + represents an n-valent cation. Here, n represents an integer of 1 to 6. That is, C n + is a 1 to 6 valent cation.
When n in the general formula (I) is 1 (that is, when C n + is a monovalent cation), the C n + is a cation selected from the group consisting of the following general formulas (A) to (E). Represent. Especially, it is preferable that it is a cation selected from the group which consists of general formula (A)-(C), and since the organic thin-film transistor obtained shows the more superior insulation reliability, general formula (A) or general formula It is more preferable that it is a cation represented by (B).

一般式(A)中、R1〜R4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基(ただし、ヒドロキシアルキル基を除く)を表す。ただし、R1〜R4の全てが同時に水素原子であることはない。 In General Formula (A), R 1 to R 4 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent (excluding a hydroxyalkyl group). However, all of R 1 to R 4 are not simultaneously hydrogen atoms.

上記炭化水素基は特に制限されないが、例えば、脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、またはこれらを組み合わせた基などが挙げられる。
上記脂肪族炭化水素基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。上記脂肪族炭化水素基の炭素数は特に制限されないが、1〜12であることが好ましい。上記脂肪族炭化水素基の具体例としては、アルキル基、アルケニル基およびアルキニル基などが挙げられる。
上記芳香族炭化水素基の炭素数は特に制限されないが、6〜18であることが好ましい。上記芳香族炭化水素基の具体例としては、アリール基(フェニル基、トリル基、キシリル基など)、ナフチル基などが挙げられる。
The hydrocarbon group is not particularly limited, and examples thereof include an aliphatic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, or a group obtained by combining these.
The aliphatic hydrocarbon group may be linear, branched or cyclic. The number of carbon atoms of the aliphatic hydrocarbon group is not particularly limited, but is preferably 1-12. Specific examples of the aliphatic hydrocarbon group include an alkyl group, an alkenyl group, and an alkynyl group.
The number of carbon atoms of the aromatic hydrocarbon group is not particularly limited, but is preferably 6-18. Specific examples of the aromatic hydrocarbon group include an aryl group (phenyl group, tolyl group, xylyl group, etc.), a naphthyl group, and the like.

上記置換基としては、例えば、後述する置換基Qなどが挙げられる。
上記置換基は、得られる有機薄膜トランジスタの移動度がより優れる理由から、ヒドロキシ基以外の置換基であることが好ましい。
As said substituent, the substituent Q etc. which are mentioned later are mentioned, for example.
The substituent is preferably a substituent other than a hydroxy group because the mobility of the organic thin film transistor obtained is more excellent.

得られる有機薄膜トランジスタがより高い移動度を示す理由から、上記R1〜R4の少なくとも1つは、芳香族炭化水素基であることが好ましい。 It is preferable that at least one of the R 1 to R 4 is an aromatic hydrocarbon group because the resulting organic thin film transistor exhibits higher mobility.

上述のとおり、一般式(A)中のR1〜R4は、ヒドロキシアルキル基ではない。ここで、ヒドロキシアルキル基は、ヒドロキシ基を有するアルキル基であり、例えば、ヒドロキシエチル基(−C24−OH)などが挙げられる。
上記R1〜R4のいずれかがヒドロキシアルキル基である場合、電極間を移動するキャリアをトラップする事になり、結果として、得られる有機薄膜トランジスタの移動度が低下する。
As described above, R 1 to R 4 in the general formula (A) are not hydroxyalkyl groups. Here, the hydroxyalkyl group is an alkyl group having a hydroxy group, and examples thereof include a hydroxyethyl group (—C 2 H 4 —OH).
When any of R 1 to R 4 is a hydroxyalkyl group, carriers moving between the electrodes are trapped, and as a result, the mobility of the obtained organic thin film transistor is lowered.

また、上述のとおり、一般式(A)中のR1〜R4の全てが同時に水素原子であることはない。すなわち、Cn+はNH4 +ではない。Cn+がNH4 +である場合、遊離したアンモニアが揮発しやすいため、熱安定性が低下し、焼結などにより導電膜(電極)を形成したときに化合物(B)が分解しやすくなる。結果として、得られる有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性が低下する。 Moreover, as above-mentioned, all of R < 1 > -R < 4 > in general formula (A) is not a hydrogen atom simultaneously. That is, C n + is not NH 4 + . When C n + is NH 4 + , the liberated ammonia is likely to volatilize, so that the thermal stability is lowered, and the compound (B) is easily decomposed when a conductive film (electrode) is formed by sintering or the like. As a result, the insulation reliability of the organic thin film transistor obtained is lowered.

一般式(A)中、R1〜R4は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。すなわち、R1〜R4からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成してもよい。なお、本明細書において、互いに結合して環構造を形成するとは、2以上の基が任意の位置で単結合、二重結合、三重結合または2価の連結基を介して結合し、環構造を形成することを表す。
上記2価の連結基は特に制限されないが、例えば、−CO−、−NH−、−NR−(R:置換基(例えば、後述する置換基Q))、−O−、−S−、またはこれらを組み合わせた基などが挙げられる。
In general formula (A), R 1 to R 4 may be bonded to each other to form a ring structure. That is, two or more groups selected from the group consisting of R 1 to R 4 may be bonded to each other to form a ring structure. In this specification, the term “bonded together to form a ring structure” means that two or more groups are bonded at any position via a single bond, a double bond, a triple bond or a divalent linking group to form a ring structure. It represents forming.
The divalent linking group is not particularly limited. For example, -CO-, -NH-, -NR- (R: substituent (for example, substituent Q described later)), -O-, -S-, or Examples include a combination of these.

以下に一般式(A)で表されるカチオンの好適な態様を示す。ここで、Rpは、それぞれ独立に、上述したR1〜R4で表される基(例えば、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基(ただし、ヒドロキシアルキル基を除く))を表す。複数あるRpは同一であっても異なってもよい。Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基(例えば、後述する置換基Q)を表す。 The suitable aspect of the cation represented by general formula (A) below is shown. Here, each R p is independently a group represented by the above-described R 1 to R 4 (for example, a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent (excluding a hydroxyalkyl group). )). A plurality of R p may be the same or different. Each R independently represents a hydrogen atom or a substituent (for example, a substituent Q described later).

一般式(B)中、R5は、置換基を有してもよい炭化水素基、−NR1920、−N=CR2122、−CR23=NR24、または、−CRB1B2−NRB3B4を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記R19〜R24およびRB1〜RB4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。R19およびR20は、互いに結合して環構造を形成してもよい。
In the general formula (B), R 5 may have a substituent a hydrocarbon group, -NR 19 R 20, -N = CR 21 R 22, -CR 23 = NR 24 or,, -CR B1 R B2— NR B3 R B4 is represented. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).
R 19 to R 24 and R B1 to R B4 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A). R 19 and R 20 may combine with each other to form a ring structure.

一般式(B)中、R6は、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。 In general formula (B), R 6 represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

一般式(B)中、R7は、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、アルコキシ基、アルキルチオ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、または、−NR2526を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記R25およびR26は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表し、互いに結合して環構造を形成してもよい。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
In the general formula (B), R 7 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group which may have a substituent, an alkoxy group, an alkylthio group, a hydroxy group, a mercapto group, or —NR 25 R 26 . Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).
R 25 and R 26 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent, and may be bonded to each other to form a ring structure. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

一般式(B)中、R8は、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、アルコキシ基、アルキルチオ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、−NR2728、−N=CR2930、または、−CR31=NR32を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記R27〜R32は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。R27およびR28は、互いに結合して環構造を形成してもよい。
In general formula (B), R 8 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group which may have a substituent, an alkoxy group, an alkylthio group, a hydroxy group, a mercapto group, —NR 27 R 28 , —N═CR 29 R. 30, or represents a -CR 31 = NR 32. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).
R 27 to R 32 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A). R 27 and R 28 may combine with each other to form a ring structure.

ただし、一般式(B)中のR7およびR8の両方が同時にアルコキシ基、ヒドロキシ基、アルキルチオ基またはメルカプト基であることはない。
また、一般式(B)中のR5、R7およびR8の全てが同時に上記−NR1920、上記−NR2526または上記−NR2728であることはない。すなわち、R5が上記−NR1920であり、同時にR7が上記−NR2526であり、同時にR8が上記−NR2728であることはない。
However, R 7 and R 8 in the general formula (B) are not simultaneously an alkoxy group, a hydroxy group, an alkylthio group or a mercapto group.
Further, R 5 , R 7 and R 8 in the general formula (B) are not all —NR 19 R 20 , —NR 25 R 26 or —NR 27 R 28 at the same time. That, R 5 is the above -NR 19 R 20, at the same time R 7 is the -NR 25 R 26, never R 8 is at the same time is the -NR 27 R 28.

一般式(B)中、R5〜R8は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。すなわち、R5〜R8からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成してもよい。
5〜R8からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成するのが好ましい。
In general formula (B), R 5 to R 8 may be bonded to each other to form a ring structure. That is, two or more groups selected from the group consisting of R 5 to R 8 may be bonded to each other to form a ring structure.
Two or more groups selected from the group consisting of R 5 to R 8 are preferably bonded to each other to form a ring structure.

5が環構造を形成する場合、環構造中のR5に由来する2価の基は、下記一般式(a)〜(f)からなる群より選択される基であることが好ましい。
6が環構造を形成する場合、環構造中のR6に由来する2価の基は、下記一般式(a)〜(d)からなる群より選択される2価の基であることが好ましい。
7が環構造を形成する場合、環構造中のR7に由来する2価の基は、下記一般式(a)〜(e)、(g)および(h)からなる群より選択される2価の基であることが好ましい。
8が環構造を形成する場合、環構造中のR8に由来する2価の基は、下記一般式(a)〜(h)からなる群より選択される2価の基であることが好ましい。
When R 5 forms a ring structure, the divalent group derived from R 5 in the ring structure is preferably a group selected from the group consisting of the following general formulas (a) to (f).
When R 6 forms a ring structure, the divalent group derived from R 6 in the ring structure may be a divalent group selected from the group consisting of the following general formulas (a) to (d). preferable.
When R 7 forms a ring structure, the divalent group derived from R 7 in the ring structure is selected from the group consisting of the following general formulas (a) to (e), (g) and (h) A divalent group is preferred.
When R 8 forms a ring structure, the divalent group derived from R 8 in the ring structure may be a divalent group selected from the group consisting of the following general formulas (a) to (h). preferable.

ただし、「環構造中のR7に由来する2価の基」および「環構造中のR8に由来する2価の基」の両方が同時に下記一般式(g)または(h)で表される基であることはない。また、「環構造中のR5に由来する2価の基」、「環構造中のR7に由来する2価の基」および「環構造中のR8に由来する2価の基」の全てが同時に下記一般式(e)で表される基であることはない。 However, both “a divalent group derived from R 7 in the ring structure” and “a divalent group derived from R 8 in the ring structure” are simultaneously represented by the following general formula (g) or (h). It is not a group. In addition, “a divalent group derived from R 5 in the ring structure”, “a divalent group derived from R 7 in the ring structure” and “a divalent group derived from R 8 in the ring structure” Not all are groups represented by the following general formula (e) at the same time.

一般式(a)〜(f)中、R35〜R48は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。置換基としては、例えば、後述する置換基Qなどが挙げられる。
一般式(a)〜(h)中、アスタリスク(星印)は結合位置を表し、2つのアスタリスクのうち一方のアスタリスクは一般式(B)における各基の結合位置を表し、他方のアスタリスクは環構造を形成するために互いに結合する際の結合位置を表す。例えば、一般式(B)中のR5とR6とが互いに結合して環構造を形成し、環構造中のR5に由来する2価の基が一般式(a)で表される基であり、環構造中のR6に由来する2価の基が一般式(b)で表される基である場合、一般式(a)および(b)中の一方のアスタリスクは一般式(B)中のN+との結合位置を表し、一般式(a)および(b)中の他方のアスタリスクはR5とR6とが互いに結合する際の結合位置を表す。
In general formulas (a) to (f), R 35 to R 48 each independently represent a hydrogen atom or a substituent. Examples of the substituent include a substituent Q described later.
In general formulas (a) to (h), an asterisk (asterisk) represents a bonding position, one of the two asterisks represents a bonding position of each group in general formula (B), and the other asterisk represents a ring. It represents the bonding position when bonding together to form a structure. For example, R 5 and R 6 in general formula (B) are bonded to each other to form a ring structure, and a divalent group derived from R 5 in the ring structure is a group represented by general formula (a) When the divalent group derived from R 6 in the ring structure is a group represented by the general formula (b), one asterisk in the general formulas (a) and (b) is represented by the general formula (B ) Represents the bonding position with N +, and the other asterisk in the general formulas (a) and (b) represents the bonding position when R 5 and R 6 are bonded to each other.

以下に一般式(B)で表されるカチオンの好適な態様を示す。ここで、Rpは、上述したR5またはR6で表される基(例えば、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、−NR1920、−N=CR2122、−CR23=NR24、または、−CRB1B2−NRB3B4)を表し、Rsは、上述したR7またはR8で表される基(例えば、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、アルコキシ基、アルキルチオ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、−NR2728、−N=CR2930、または、−CR31=NR32)を表し、Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基(例えば、後述する置換基Q)を表す。 The suitable aspect of the cation represented by general formula (B) below is shown. Here, R p is a group represented by R 5 or R 6 described above (for example, a hydrogen atom, an optionally substituted hydrocarbon group, —NR 19 R 20 , —N═CR 21 R 22 -CR 23 = NR 24 or -CR B1 R B2 -NR B3 R B4 ), and R s represents a group represented by R 7 or R 8 (for example, a hydrogen atom or a substituent). hydrocarbon group which may be an alkoxy group, an alkylthio group, hydroxy group, a mercapto group, -NR 27 R 28, -N = CR 29 R 30 , or represents a -CR 31 = NR 32), R are each Independently, it represents a hydrogen atom or a substituent (for example, substituent Q described later).

一般式(C)中、R9は、置換基を有してもよい炭化水素基、または、−NRC1C2を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記RC1およびRC2は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
In general formula (C), R 9 represents a hydrocarbon group which may have a substituent, or —NR C1 R C2 . Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).
R C1 and R C2 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

一般式(C)中、R10は、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。 In general formula (C), R 10 represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

一般式(C)中、R11は、置換基を有してもよい炭化水素、−CR33=NR34、または、−NRC3C4を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記R33、R34、RC3およびRC4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
In general formula (C), R 11 represents a hydrocarbon which may have a substituent, —CR 33 ═NR 34 , or —NR C3 R C4 . Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).
R 33 , R 34 , R C3 and R C4 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

一般式(C)中、R9〜R11は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。すなわち、R9〜R11からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成してもよい。 In general formula (C), R 9 to R 11 may be bonded to each other to form a ring structure. That is, two or more groups selected from the group consisting of R 9 to R 11 may be bonded to each other to form a ring structure.

以下に一般式(C)で表されるカチオンの好適な態様を示す。ここで、Rpは、上述したR9またはR10で表される基(例えば、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、または、−NRC1C2)を表し、Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基(例えば、後述する置換基Q)を表す。 The suitable aspect of the cation represented by general formula (C) below is shown. Here, R p represents a group represented by R 9 or R 10 described above (for example, a hydrogen atom, a hydrocarbon group which may have a substituent, or —NR C1 R C2 ), and R is , Each independently represents a hydrogen atom or a substituent (for example, substituent Q described later).

一般式(D)中、R12〜R15は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例および好適な態様は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。 In general formula (D), R < 12 > -R < 15 > represents the hydrocarbon group which may have a hydrogen atom or a substituent each independently. Specific examples and preferred embodiments of the hydrocarbon group which may have the above substituent are the same as R 1 to R 4 in the general formula (A).

ただし、一般式(D)中のR12〜R15の全てが同時に水素原子であることはない。すなわち、Cn+はPH4 +ではない。Cn+がPH4 +である場合、熱安定性が低下し、焼結などにより導電膜(電極)を形成したときに化合物(B)が分解しやすくなる。結果として、得られる有機薄膜トランジスタの絶縁信頼性が低下する。 However, not all of R 12 to R 15 in the general formula (D) are hydrogen atoms at the same time. That is, C n + is not PH 4 + . When C n + is PH 4 + , the thermal stability is lowered, and the compound (B) is easily decomposed when a conductive film (electrode) is formed by sintering or the like. As a result, the insulation reliability of the organic thin film transistor obtained is lowered.

一般式(D)中、R12〜R15は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。すなわち、R12〜R15からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成してもよい。 In the general formula (D), R 12 ~R 15 may respectively be bonded together to form a ring structure. That is, two or more groups selected from the group consisting of R 12 to R 15 may be bonded to each other to form a ring structure.

一般式(E)中、R16〜R18は、それぞれ独立に、置換基を有してもよいアルキル基を表す。アルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。アルキル基の炭素数は特に制限されないが、1〜12であることが好ましい。置換基としては、例えば、後述する置換基Qなどが挙げられる。 In the general formula (E), R 16 to R 18 each independently represents an alkyl group which may have a substituent. The alkyl group may be linear, branched or cyclic. The number of carbon atoms of the alkyl group is not particularly limited, but is preferably 1-12. Examples of the substituent include a substituent Q described later.

上述のとおり、一般式(E)中のR16〜R18は、それぞれ独立に、置換基を有してもよいアルキル基を表す。R16〜R18のいずれかがアルキル基以外の炭化水素基(例えば、芳香族炭化水素基)である場合、電極中での安定性が低下し、結果として、有機薄膜トランジスタの移動度が低下する。 As described above, the general formula (E) in the R 16 to R 18 each independently represent an optionally substituted alkyl group. When any of R 16 to R 18 is a hydrocarbon group other than an alkyl group (for example, an aromatic hydrocarbon group), the stability in the electrode is lowered, and as a result, the mobility of the organic thin film transistor is lowered. .

一般式(E)中、R16〜R18は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。すなわち、R16〜R18からなる群より選択される2以上の基は互いに結合して環構造を形成してもよい。 In the general formula (E), R 16 to R 18 may be bonded to each other to form a ring structure. That is, two or more groups selected from the group consisting of R 16 to R 18 may be bonded to each other to form a ring structure.

なお、上記R5〜R34、上記RB1〜RB4および上記RC1〜RC4は、ヒドロキシアルキル基であってもよい。 The R 5 to R 34 , the R B1 to R B4, and the R C1 to R C4 may be hydroxyalkyl groups.

一般式(I)中のnが2〜6の場合(すなわち、Cn+が2〜6価のカチオンの場合)、Cn+は、一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるカチオンを同一分子内に部分構造としてn個有するカチオンを表す。すなわち、一般式(I)中のnが2〜6の場合、Cn+は、一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるカチオンから1以上の水素原子を除くことで得られる部分構造を同一分子内にn個有するカチオンを表す。なお、1種類の部分構造をn個有するカチオンであっても、2種類以上の部分構造を計n個有するカチオンであってもよい。
一般式(I)中のnが2〜6の場合、Cn+は、一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるn個のカチオン同士が、任意の位置で単結合、二重結合、三重結合または2価の連結基を介して結合したカチオンであることが好ましい。2価の連結基の具体例は上述のとおりである。なお、1種類のn個のカチオン同士が結合したカチオンであっても、2種類以上の計n個のカチオン同士が結合したカチオンであってもよい。
When n in the general formula (I) is 2 to 6 (that is, when C n + is a divalent to hexavalent cation), C n + is selected from the group consisting of the general formulas (A) to (E). A cation having n cations as a partial structure in the same molecule is represented. That is, when n in the general formula (I) is 2 to 6, C n + is obtained by removing one or more hydrogen atoms from a cation selected from the group consisting of the general formulas (A) to (E). It represents a cation having n partial structures in the same molecule. It may be a cation having n types of partial structures or a cation having a total of n types of two or more partial structures.
When n in the general formula (I) is 2 to 6, C n + is a group in which n cations selected from the group consisting of the general formulas (A) to (E) are single bonds, two A cation bonded through a heavy bond, a triple bond or a divalent linking group is preferred. Specific examples of the divalent linking group are as described above. In addition, it may be a cation in which one kind of n cations are bonded, or a cation in which two or more kinds of n cations in total are bonded.

(アニオン)
一般式(I)中、Am-は、m価のアニオンを表す。ここで、mは1〜3の整数を表す。すなわち、Am-は、1〜3価のアニオンである。
(Anion)
In the general formula (I), A m− represents an m-valent anion. Here, m represents an integer of 1 to 3. That is, A m− is a 1-3 valent anion.

上記Am-は、Cl-、Br-、I-、PF6 -、RA1CO3 -、RA10NHCOO-、SbF6 -、および、AsF6 -からなる群より選択されるアニオンではない。ここで、RA1およびRA10は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記Am-が、Cl-、Br-、I-、PF6 -、RA1CO3 -、RA10NHCOO-、SbF6 -、および、AsF6 -からなる群より選択されるアニオンである場合、得られる有機薄膜トランジスタの移動度または絶縁信頼性が不十分となる。
The above A m− is not an anion selected from the group consisting of Cl , Br , I , PF 6 , R A1 CO 3 , R A10 NHCOO , SbF 6 , and AsF 6 . Here, R A1 and R A10 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent. The specific example of the hydrocarbon group which may have the said substituent is the same as R < 1 > -R < 4 > in the general formula (A) mentioned above.
A m− is an anion selected from the group consisting of Cl , Br , I , PF 6 , R A1 CO 3 , R A10 NHCOO , SbF 6 , and AsF 6 −. The mobility or insulation reliability of the obtained organic thin film transistor becomes insufficient.

上記Am-は、SO4 2-、RA2SO4 -、RA3SO3 -、PO4 3-、RA4PO4 2-、(RA52PO4 -、PO3 3-、RA6PO3 2-、(RA72PO3 -、[BF4-、[B(CN)4-、[B(C654-、CN-、OCN-、SCN-、[RA8−COO]-、[(RA9−SO22N]-およびN(CN)2 -からなる群より選択されるアニオンであることが好ましく、SO4 2-、RA2SO4 -、RA3SO3 -および(RA52PO4 -からなる群より選択されるアニオンであることがより好ましく、得られる有機薄膜トランジスタがより高い移動度を示す理由から、SO4 2-、RA2SO4 -およびRA3SO3 -からなる群より選択されるアニオンであることがさらに好ましい。ここで、RA2〜RA9は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を有してもよい炭化水素基を表す。上記置換基を有してもよい炭化水素基の具体例は上述した一般式(A)中のR1〜R4と同じである。
上記RA2は、水素原子またはアルキル基であることが好ましい。
上記RA3は、置換基を有してもよいアルキル基(特に炭素数1〜12のもの)または置換基を有してもよい芳香族炭化水素基(特に炭素数6〜18のもの)であることが好ましい。置換基としては、後述する置換基Qが挙げられる。
上記RA4およびRA5は、それぞれ独立に、水素原子またはアルキル基であることが好ましい。
上記RA6およびRA7は、それぞれ独立に、置換基を有してもよい脂肪族炭化水素基(特に炭素数1〜12のもの)であることが好ましい。
The above A m− is SO 4 2− , R A2 SO 4 , R A3 SO 3 , PO 4 3− , R A4 PO 4 2− , (R A5 ) 2 PO 4 , PO 3 3− , R A6 PO 3 2− , (R A7 ) 2 PO 3 , [BF 4 ] , [B (CN) 4 ] , [B (C 6 H 5 ) 4 ] , CN , OCN , SCN , [R A8 —COO] , [(R A9 —SO 2 ) 2 N] and N (CN) 2 are preferred, and SO 4 2− , R A2 SO 4 , R A3 SO 3 and (R A5 ) 2 PO 4 are more preferably anions selected from the group consisting of SO 4 2- and the resulting organic thin film transistor exhibits higher mobility. , R A2 SO 4 - and R A3 SO 3 - and more preferably an anion selected from the group consisting of. Here, R A2 to R A9 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent. The specific example of the hydrocarbon group which may have the said substituent is the same as R < 1 > -R < 4 > in the general formula (A) mentioned above.
R A2 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group.
R A3 is an alkyl group (particularly having 1 to 12 carbon atoms) which may have a substituent or an aromatic hydrocarbon group (particularly having 6 to 18 carbon atoms) which may have a substituent. Preferably there is. Examples of the substituent include the substituent Q described later.
R A4 and R A5 are preferably each independently a hydrogen atom or an alkyl group.
R A6 and R A7 are preferably each independently an aliphatic hydrocarbon group (particularly having 1 to 12 carbon atoms) which may have a substituent.

なお、RA1〜RA10は、ヒドロキシアルキル基であってもよい。 R A1 to R A10 may be a hydroxyalkyl group.

一般式(I)中、cは1〜3の整数を表し、aは1〜6の整数を表し、一般式(I)中、c、n、aおよびmは、c×n=a×mの関係式を満たす。すなわち、化合物(B)は、c個のカチオン(Cn+)とa個のアニオン(Am-)からなる電荷的に中性の塩である。
上記c、n、aおよびmは、いずれも1であることが好ましい。
In general formula (I), c represents an integer of 1 to 3, a represents an integer of 1 to 6, and in general formula (I), c, n, a and m are c × n = a × m Is satisfied. That is, the compound (B) is a charge neutral salt composed of c cations (C n + ) and a anions (A m− ).
It is preferable that all of c, n, a and m are 1.

(置換基Q)
本明細書における置換基Qとしては、ハロゲン原子、アルキル基(シクロアルキル基を含む)、アルケニル基(シクロアルケニル基、ビシクロアルケニル基を含む)、アルキニル基、アリール基、複素環基、シアノ基、ヒドロキシ基、ニトロ基、カルボキシル基、アルコキシ基、アリールオキシ基、シリルオキシ基、複素環オキシ基、アシルオキシ基、カルバモイルオキシ基、アルコキシカルボニルオキシ基、アリールオキシカルボニルオキシ、アミノ基(アニリノ基を含む)、アシルアミノ基、アミノカルボニルアミノ基、アルコキシカルボニルアミノ基、アリールオキシカルボニルアミノ基、スルファモイルアミノ基、アルキルおよびアリールスルホニルアミノ基、メルカプト基、アルキルチオ基、アリールチオ基、複素環チオ基、スルファモイル基、スルホ基、アルキルおよびアリールスルフィニル基、アルキルおよびアリールスルホニル基、アシル基、アリールオキシカルボニル基、アルコキシカルボニル基、カルバモイル基、アリールおよび複素環アゾ基、イミド基、ホスフィノ基、ホスフィニル基、ホスフィニルオキシ基、ホスフィニルアミノ基、シリル基、またはこれらの組み合わせなどが挙げられる。
(Substituent Q)
As the substituent Q in the present specification, a halogen atom, an alkyl group (including a cycloalkyl group), an alkenyl group (including a cycloalkenyl group and a bicycloalkenyl group), an alkynyl group, an aryl group, a heterocyclic group, a cyano group, Hydroxy group, nitro group, carboxyl group, alkoxy group, aryloxy group, silyloxy group, heterocyclic oxy group, acyloxy group, carbamoyloxy group, alkoxycarbonyloxy group, aryloxycarbonyloxy, amino group (including anilino group), Acylamino group, aminocarbonylamino group, alkoxycarbonylamino group, aryloxycarbonylamino group, sulfamoylamino group, alkyl and arylsulfonylamino group, mercapto group, alkylthio group, arylthio group, heterocyclic thio group, sulfur Amoyl group, sulfo group, alkyl and arylsulfinyl group, alkyl and arylsulfonyl group, acyl group, aryloxycarbonyl group, alkoxycarbonyl group, carbamoyl group, aryl and heterocyclic azo group, imide group, phosphino group, phosphinyl group, phosphine group Examples thereof include a finyloxy group, a phosphinylamino group, a silyl group, or a combination thereof.

さらに詳しくは、置換基Qとしては、ハロゲン原子(例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子)、アルキル基〔(直鎖、分岐、環状の置換または無置換のアルキル基を表す。それらは、アルキル基(好ましくは炭素数1から30のアルキル基、例えば、メチル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、t−ブチル、n−オクチル、エイコシル、2−クロロエチル、2−シアノエチル、2−エチルヘキシル)、シクロアルキル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシクロアルキル基、例えば、シクロヘキシル、シクロペンチル、4−n−ドデシルシクロヘキシル)、ビシクロアルキル基(好ましくは、炭素数5から30の置換または無置換のビシクロアルキル基、つまり、炭素数5から30のビシクロアルカンから水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、ビシクロ[1.2.2]ヘプタン−2−イル、ビシクロ[2.2.2]オクタン−3−イル)、さらに環構造が多いトリシクロ構造なども包含するものである。以下に説明する置換基の中のアルキル基(例えばアルキルチオ基のアルキル基)もこのような概念のアルキル基を表す。〕、   More specifically, as the substituent Q, a halogen atom (for example, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom), an alkyl group [(a linear, branched, cyclic substituted or unsubstituted alkyl group is represented. Is an alkyl group (preferably an alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, such as methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, t-butyl, n-octyl, eicosyl, 2-chloroethyl, 2-cyanoethyl, 2-ethylhexyl) A cycloalkyl group (preferably a substituted or unsubstituted cycloalkyl group having 3 to 30 carbon atoms, such as cyclohexyl, cyclopentyl, 4-n-dodecylcyclohexyl), a bicycloalkyl group (preferably having 5 to 30 carbon atoms). A substituted or unsubstituted bicycloalkyl group, that is, a bicycloalkali having 5 to 30 carbon atoms A monovalent group in which one hydrogen atom is removed from, for example, bicyclo [1.2.2] heptan-2-yl, bicyclo [2.2.2] octane-3-yl), and more ring structures It also includes a tricyclo structure, etc. An alkyl group (for example, an alkyl group of an alkylthio group) in a substituent described below also represents such an alkyl group.

アルケニル基〔直鎖、分岐、環状の置換または無置換のアルケニル基を表す。それらは、アルケニル基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換のアルケニル基、例えば、ビニル、アリル、プレニル、ゲラニル、オレイル)、シクロアルケニル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシクロアルケニル基、つまり、炭素数3から30のシクロアルケンの水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、2−シクロペンテン−1−イル、2−シクロヘキセン−1−イル)、ビシクロアルケニル基(置換または無置換のビシクロアルケニル基、好ましくは、炭素数5から30の置換または無置換のビシクロアルケニル基、つまり二重結合を一個持つビシクロアルケンの水素原子を一個取り去った一価の基である。例えば、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン−1−イル、ビシクロ[2.2.2]オクト−2−エン−4−イル)を包含するものである。〕、アルキニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のアルキニル基、例えば、エチニル、プロパルギル、トリメチルシリルエチニル基)、 Alkenyl group [represents a linear, branched, or cyclic substituted or unsubstituted alkenyl group. They are alkenyl groups (preferably substituted or unsubstituted alkenyl groups having 2 to 30 carbon atoms, such as vinyl, allyl, prenyl, geranyl, oleyl), cycloalkenyl groups (preferably substituted or substituted groups having 3 to 30 carbon atoms). An unsubstituted cycloalkenyl group, that is, a monovalent group obtained by removing one hydrogen atom of a cycloalkene having 3 to 30 carbon atoms (for example, 2-cyclopenten-1-yl, 2-cyclohexen-1-yl), Bicycloalkenyl group (a substituted or unsubstituted bicycloalkenyl group, preferably a substituted or unsubstituted bicycloalkenyl group having 5 to 30 carbon atoms, i.e., a monovalent group obtained by removing one hydrogen atom of a bicycloalkene having one double bond. For example, bicyclo [2.2.1] hept-2-en-1-yl, bicyclo [2. .2] is intended to encompass oct-2-en-4-yl). An alkynyl group (preferably a substituted or unsubstituted alkynyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as ethynyl, propargyl, trimethylsilylethynyl group),

アリール基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリール基、例えばフェニル、p−トリル、ナフチル、m−クロロフェニル、o−ヘキサデカノイルアミノフェニル)、複素環基(好ましくは5または6員の置換または無置換の、芳香族または非芳香族の複素環化合物から一個の水素原子を取り除いた一価の基であり、さらに好ましくは、炭素数3から30の5員または6員の芳香族の複素環基である。例えば2−フラニル、2−チエニル、2−ピリミジニル、2−ベンゾチアゾリニル)、 An aryl group (preferably a substituted or unsubstituted aryl group having 6 to 30 carbon atoms such as phenyl, p-tolyl, naphthyl, m-chlorophenyl, o-hexadecanoylaminophenyl), a heterocyclic group (preferably 5 or 6 A monovalent group obtained by removing one hydrogen atom from a substituted or unsubstituted aromatic or non-aromatic heterocyclic compound, and more preferably a 5- or 6-membered aromatic having 3 to 30 carbon atoms Heterocyclic groups such as 2-furanyl, 2-thienyl, 2-pyrimidinyl, 2-benzothiazolinyl),

シアノ基、ヒドロキシ基、ニトロ基、カルボキシル基、アルコキシ基(好ましくは、炭素数1から30の置換もしくは無置換のアルコキシ基、例えば、メトキシ、エトキシ、イソプロポキシ、t−ブトキシ、n−オクチルオキシ、2−メトキシエトキシ)、アリールオキシ基(好ましくは、炭素数6から30の置換または無置換のアリールオキシ基、例えば、フェノキシ、2−メチルフェノキシ、4−t−ブチルフェノキシ、3−ニトロフェノキシ、2−テトラデカノイルアミノフェノキシ)、シリルオキシ基(好ましくは、炭素数3から20のシリルオキシ基、例えば、トリメチルシリルオキシ、t−ブチルジメチルシリルオキシ)、複素環オキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換の複素環オキシ基、1−フェニルテトラゾール−5−オキシ、2−テトラヒドロピラニルオキシ)、アシルオキシ基(好ましくはホルミルオキシ基、炭素数2から30の置換または無置換のアルキルカルボニルオキシ基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールカルボニルオキシ基、例えば、ホルミルオキシ、アセチルオキシ、ピバロイルオキシ、ステアロイルオキシ、ベンゾイルオキシ、p−メトキシフェニルカルボニルオキシ)、カルバモイルオキシ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のカルバモイルオキシ基、例えば、N,N−ジメチルカルバモイルオキシ、N,N−ジエチルカルバモイルオキシ、モルホリノカルボニルオキシ、N,N−ジ−n−オクチルアミノカルボニルオキシ、N−n−オクチルカルバモイルオキシ)、アルコキシカルボニルオキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニルオキシ基、例えばメトキシカルボニルオキシ、エトキシカルボニルオキシ、t−ブトキシカルボニルオキシ、n−オクチルカルボニルオキシ)、アリールオキシカルボニルオキシ基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニルオキシ基、例えば、フェノキシカルボニルオキシ、p−メトキシフェノキシカルボニルオキシ、p−n−ヘキサデシルオキシフェノキシカルボニルオキシ)、 A cyano group, a hydroxy group, a nitro group, a carboxyl group, an alkoxy group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 30 carbon atoms, such as methoxy, ethoxy, isopropoxy, t-butoxy, n-octyloxy, 2-methoxyethoxy), an aryloxy group (preferably a substituted or unsubstituted aryloxy group having 6 to 30 carbon atoms, such as phenoxy, 2-methylphenoxy, 4-t-butylphenoxy, 3-nitrophenoxy, 2 -Tetradecanoylaminophenoxy), silyloxy groups (preferably silyloxy groups having 3 to 20 carbon atoms, such as trimethylsilyloxy, t-butyldimethylsilyloxy), heterocyclic oxy groups (preferably having 2 to 30 carbon atoms) A substituted or unsubstituted heterocyclic oxy group, 1-phenyl te Razole-5-oxy, 2-tetrahydropyranyloxy), acyloxy group (preferably formyloxy group, substituted or unsubstituted alkylcarbonyloxy group having 2 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted group having 6 to 30 carbon atoms Arylcarbonyloxy groups such as formyloxy, acetyloxy, pivaloyloxy, stearoyloxy, benzoyloxy, p-methoxyphenylcarbonyloxy), carbamoyloxy groups (preferably substituted or unsubstituted carbamoyloxy groups having 1 to 30 carbon atoms) , For example, N, N-dimethylcarbamoyloxy, N, N-diethylcarbamoyloxy, morpholinocarbonyloxy, N, N-di-n-octylaminocarbonyloxy, Nn-octylcarbamoyloxy), alkoxycal Nyloxy group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonyloxy group having 2 to 30 carbon atoms such as methoxycarbonyloxy, ethoxycarbonyloxy, t-butoxycarbonyloxy, n-octylcarbonyloxy), aryloxycarbonyloxy group (preferably Is a substituted or unsubstituted aryloxycarbonyloxy group having 7 to 30 carbon atoms, such as phenoxycarbonyloxy, p-methoxyphenoxycarbonyloxy, pn-hexadecyloxyphenoxycarbonyloxy),

アミノ基(好ましくは、アミノ基、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルアミノ基、炭素数6から30の置換または無置換のアニリノ基、例えば、アミノ、メチルアミノ、ジメチルアミノ、アニリノ、N−メチル−アニリノ、ジフェニルアミノ)、アシルアミノ基(好ましくは、ホルミルアミノ基、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルカルボニルアミノ基、炭素数6から30の置換または無置換のアリールカルボニルアミノ基、例えば、ホルミルアミノ、アセチルアミノ、ピバロイルアミノ、ラウロイルアミノ、ベンゾイルアミノ、3,4,5−トリ−n−オクチルオキシフェニルカルボニルアミノ)、アミノカルボニルアミノ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアミノカルボニルアミノ、例えば、カルバモイルアミノ、N,N−ジメチルアミノカルボニルアミノ、N,N−ジエチルアミノカルボニルアミノ、モルホリノカルボニルアミノ)、アルコキシカルボニルアミノ基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニルアミノ基、例えば、メトキシカルボニルアミノ、エトキシカルボニルアミノ、t−ブトキシカルボニルアミノ、n−オクタデシルオキシカルボニルアミノ、N−メチルーメトキシカルボニルアミノ)、アリールオキシカルボニルアミノ基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニルアミノ基、例えば、フェノキシカルボニルアミノ、p−クロロフェノキシカルボニルアミノ、m−n−オクチルオキシフェノキシカルボニルアミノ)、スルファモイルアミノ基(好ましくは、炭素数0から30の置換または無置換のスルファモイルアミノ基、例えば、スルファモイルアミノ、N,N−ジメチルアミノスルホニルアミノ、N−n−オクチルアミノスルホニルアミノ)、アルキルおよびアリールスルホニルアミノ基(好ましくは炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルホニルアミノ、炭素数6から30の置換または無置換のアリールスルホニルアミノ、例えば、メチルスルホニルアミノ、ブチルスルホニルアミノ、フェニルスルホニルアミノ、2,3,5−トリクロロフェニルスルホニルアミノ、p−メチルフェニルスルホニルアミノ)、 An amino group (preferably an amino group, a substituted or unsubstituted alkylamino group having 1 to 30 carbon atoms, a substituted or unsubstituted anilino group having 6 to 30 carbon atoms, such as amino, methylamino, dimethylamino, anilino, N-methyl-anilino, diphenylamino), acylamino group (preferably formylamino group, substituted or unsubstituted alkylcarbonylamino group having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylcarbonylamino group having 6 to 30 carbon atoms) Groups such as formylamino, acetylamino, pivaloylamino, lauroylamino, benzoylamino, 3,4,5-tri-n-octyloxyphenylcarbonylamino), aminocarbonylamino groups (preferably substituted with 1 to 30 carbon atoms) Or unsubstituted aminocarbonylamino, eg , Carbamoylamino, N, N-dimethylaminocarbonylamino, N, N-diethylaminocarbonylamino, morpholinocarbonylamino), an alkoxycarbonylamino group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonylamino group having 2 to 30 carbon atoms, for example, Methoxycarbonylamino, ethoxycarbonylamino, t-butoxycarbonylamino, n-octadecyloxycarbonylamino, N-methyl-methoxycarbonylamino), aryloxycarbonylamino group (preferably substituted or unsubstituted having 7 to 30 carbon atoms) Aryloxycarbonylamino groups such as phenoxycarbonylamino, p-chlorophenoxycarbonylamino, mn-octyloxyphenoxycarbonylamino), sulfamoyla Group (preferably a substituted or unsubstituted sulfamoylamino group having 0 to 30 carbon atoms, such as sulfamoylamino, N, N-dimethylaminosulfonylamino, Nn-octylaminosulfonylamino), alkyl And an arylsulfonylamino group (preferably substituted or unsubstituted alkylsulfonylamino having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylsulfonylamino having 6 to 30 carbon atoms, such as methylsulfonylamino, butylsulfonylamino, phenylsulfonyl Amino, 2,3,5-trichlorophenylsulfonylamino, p-methylphenylsulfonylamino),

メルカプト基、アルキルチオ基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルチオ基、例えば、メチルチオ、エチルチオ、n−ヘキサデシルチオ)、アリールチオ基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリールチオ、例えば、フェニルチオ、p−クロロフェニルチオ、m−メトキシフェニルチオ)、複素環チオ基(好ましくは炭素数2から30の置換または無置換の複素環チオ基、例えば、2−ベンゾチアゾリルチオ、1−フェニルテトラゾール−5−イルチオ)、スルファモイル基(好ましくは炭素数0から30の置換または無置換のスルファモイル基、例えば、N−エチルスルファモイル、N−(3−ドデシルオキシプロピル)スルファモイル、N,N−ジメチルスルファモイル、N−アセチルスルファモイル、N−ベンゾイルスルファモイル、N−(N‘−フェニルカルバモイル)スルファモイル)、スルホ基、アルキルおよびアリールスルフィニル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルフィニル基、6から30の置換または無置換のアリールスルフィニル基、例えば、メチルスルフィニル、エチルスルフィニル、フェニルスルフィニル、p−メチルフェニルスルフィニル)、 Mercapto group, alkylthio group (preferably substituted or unsubstituted alkylthio group having 1 to 30 carbon atoms, such as methylthio, ethylthio, n-hexadecylthio), arylthio group (preferably substituted or unsubstituted group having 6 to 30 carbon atoms) Arylthio such as phenylthio, p-chlorophenylthio, m-methoxyphenylthio), heterocyclic thio group (preferably a substituted or unsubstituted heterocyclic thio group having 2 to 30 carbon atoms such as 2-benzothiazolylthio, 1-phenyltetrazol-5-ylthio), a sulfamoyl group (preferably a substituted or unsubstituted sulfamoyl group having 0 to 30 carbon atoms, such as N-ethylsulfamoyl, N- (3-dodecyloxypropyl) sulfamoyl, N , N-dimethylsulfamoyl, N-acetylsulfur Moyl, N-benzoylsulfamoyl, N- (N′-phenylcarbamoyl) sulfamoyl), sulfo group, alkyl and arylsulfinyl group (preferably substituted or unsubstituted alkylsulfinyl group having 1 to 30 carbon atoms, 6 30 substituted or unsubstituted arylsulfinyl groups such as methylsulfinyl, ethylsulfinyl, phenylsulfinyl, p-methylphenylsulfinyl)

アルキルおよびアリールスルホニル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のアルキルスルホニル基、6から30の置換または無置換のアリールスルホニル基、例えば、メチルスルホニル、エチルスルホニル、フェニルスルホニル、p−メチルフェニルスルホニル)、アシル基(好ましくはホルミル基、炭素数2から30の置換または無置換のアルキルカルボニル基、炭素数7から30の置換または無置換のアリールカルボニル基、炭素数4から30の置換または無置換の炭素原子でカルボニル基と結合している複素環カルボニル基、例えば、アセチル、ピバロイル、2−クロロアセチル、ステアロイル、ベンゾイル、p−n−オクチルオキシフェニルカルボニル、2−ピリジルカルボニル、2−フリルカルボニル)、アリールオキシカルボニル基(好ましくは、炭素数7から30の置換または無置換のアリールオキシカルボニル基、例えば、フェノキシカルボニル、o−クロロフェノキシカルボニル、m−ニトロフェノキシカルボニル、p−t−ブチルフェノキシカルボニル)、アルコキシカルボニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換アルコキシカルボニル基、例えば、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、t−ブトキシカルボニル、n−オクタデシルオキシカルボニル)、 Alkyl and arylsulfonyl groups (preferably substituted or unsubstituted alkylsulfonyl groups having 1 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylsulfonyl groups having 6 to 30 carbon atoms such as methylsulfonyl, ethylsulfonyl, phenylsulfonyl, p- Methylphenylsulfonyl), acyl group (preferably formyl group, substituted or unsubstituted alkylcarbonyl group having 2 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylcarbonyl group having 7 to 30 carbon atoms, substitution having 4 to 30 carbon atoms) Or a heterocyclic carbonyl group bonded to a carbonyl group with an unsubstituted carbon atom, such as acetyl, pivaloyl, 2-chloroacetyl, stearoyl, benzoyl, pn-octyloxyphenylcarbonyl, 2-pyridylcarbonyl, 2- Furylcarbonyl), ally An oxycarbonyl group (preferably a substituted or unsubstituted aryloxycarbonyl group having 7 to 30 carbon atoms such as phenoxycarbonyl, o-chlorophenoxycarbonyl, m-nitrophenoxycarbonyl, pt-butylphenoxycarbonyl), alkoxy A carbonyl group (preferably a substituted or unsubstituted alkoxycarbonyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as methoxycarbonyl, ethoxycarbonyl, t-butoxycarbonyl, n-octadecyloxycarbonyl),

カルバモイル基(好ましくは、炭素数1から30の置換または無置換のカルバモイル、例えば、カルバモイル、N−メチルカルバモイル、N,N−ジメチルカルバモイル、N,N−ジ−n−オクチルカルバモイル、N−(メチルスルホニル)カルバモイル)、アリールおよび複素環アゾ基(好ましくは炭素数6から30の置換または無置換のアリールアゾ基、炭素数3から30の置換または無置換の複素環アゾ基、例えば、フェニルアゾ、p−クロロフェニルアゾ、5−エチルチオ−1,3,4−チアジアゾール−2−イルアゾ)、イミド基(好ましくは、N−スクシンイミド、N−フタルイミド)、ホスフィノ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィノ基、例えば、ジメチルホスフィノ、ジフェニルホスフィノ、メチルフェノキシホスフィノ)、ホスフィニル基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニル基、例えば、ホスフィニル、ジオクチルオキシホスフィニル、ジエトキシホスフィニル)、ホスフィニルオキシ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニルオキシ基、例えば、ジフェノキシホスフィニルオキシ、ジオクチルオキシホスフィニルオキシ)、ホスフィニルアミノ基(好ましくは、炭素数2から30の置換または無置換のホスフィニルアミノ基、例えば、ジメトキシホスフィニルアミノ、ジメチルアミノホスフィニルアミノ)、シリル基(好ましくは、炭素数3から30の置換または無置換のシリル基、例えば、トリメチルシリル、t−ブチルジメチルシリル、フェニルジメチルシリル)などが挙げられる。 A carbamoyl group (preferably a substituted or unsubstituted carbamoyl having 1 to 30 carbon atoms such as carbamoyl, N-methylcarbamoyl, N, N-dimethylcarbamoyl, N, N-di-n-octylcarbamoyl, N- (methyl Sulfonyl) carbamoyl), aryl and heterocyclic azo groups (preferably substituted or unsubstituted arylazo groups having 6 to 30 carbon atoms, substituted or unsubstituted heterocyclic azo groups having 3 to 30 carbon atoms, such as phenylazo, p- Chlorophenylazo, 5-ethylthio-1,3,4-thiadiazol-2-ylazo), imide group (preferably N-succinimide, N-phthalimide), phosphino group (preferably substituted or unsubstituted 2 to 30 carbon atoms) Substituted phosphino groups such as dimethylphosphino, diphenylphosphino, Tilphenoxyphosphino), phosphinyl group (preferably a substituted or unsubstituted phosphinyl group having 2 to 30 carbon atoms, such as phosphinyl, dioctyloxyphosphinyl, diethoxyphosphinyl), phosphinyloxy group (preferably Is a substituted or unsubstituted phosphinyloxy group having 2 to 30 carbon atoms, such as diphenoxyphosphinyloxy, dioctyloxyphosphinyloxy), a phosphinylamino group (preferably having 2 to 30 carbon atoms). A substituted or unsubstituted phosphinylamino group such as dimethoxyphosphinylamino, dimethylaminophosphinylamino), a silyl group (preferably a substituted or unsubstituted silyl group having 3 to 30 carbon atoms, such as Trimethylsilyl, t-butyldimethylsilyl, phenyldimethylsilyl And the like.

(基板)
基板は、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極などを支持する役割を果たす。
基板の種類は特に制限されず、例えば、プラスチック基板、ガラス基板、セラミック基板などが挙げられる。なかでも、各デバイスへの適用性およびコストの観点から、ガラス基板またはプラスチック基板であることが好ましい。
プラスチック基板の材料としては、熱硬化性樹脂(例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂(例えばPET、PEN)など)または熱可塑性樹脂(例えば、フェノキシ樹脂、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリフェニレンスルフォンなど)が挙げられる。
セラミック基板の材料としては、例えば、アルミナ、窒化アルミニウム、ジルコニア、シリコン、窒化シリコン、シリコンカーバイドなどが挙げられる。
ガラス基板の材料としては、例えば、ソーダガラス、カリガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス、アルミケイ酸ガラス、鉛ガラスなどが挙げられる。
(substrate)
The substrate plays a role of supporting a gate electrode, a source electrode, a drain electrode, and the like.
The kind of board | substrate is not restrict | limited in particular, For example, a plastic substrate, a glass substrate, a ceramic substrate etc. are mentioned. Among these, a glass substrate or a plastic substrate is preferable from the viewpoint of applicability to each device and cost.
The material of the plastic substrate includes a thermosetting resin (for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyester resin (for example, PET, PEN)) or thermoplastic resin (for example, phenoxy resin, polyether sulfone, polysulfone, Polyphenylene sulfone).
Examples of the material for the ceramic substrate include alumina, aluminum nitride, zirconia, silicon, silicon nitride, silicon carbide, and the like.
Examples of the glass substrate material include soda glass, potash glass, borosilicate glass, quartz glass, aluminum silicate glass, and lead glass.

(ゲート電極)
ゲート電極の材料としては、例えば、金(Au)、銀、アルミニウム、銅、クロム、ニッケル、コバルト、チタン、白金、マグネシウム、カルシウム、バリウム、ナトリウム等の金属;InO2、SnO2、ITO等の導電性の酸化物;ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアセチレン、ポリジアセチレン等の導電性高分子;シリコン、ゲルマニウム、ガリウム砒素等の半導体;フラーレン、カーボンナノチューブ、グラファイト等の炭素材料などが挙げられる。なかでも、金属であることが好ましく、銀、アルミニウムであることがより好ましい。
(Gate electrode)
Examples of the material for the gate electrode include gold (Au), silver, aluminum, copper, chromium, nickel, cobalt, titanium, platinum, magnesium, calcium, barium, sodium, and other metals; InO 2 , SnO 2 , ITO, etc. Examples include conductive oxides; conductive polymers such as polyaniline, polypyrrole, polythiophene, polyacetylene, and polydiacetylene; semiconductors such as silicon, germanium, and gallium arsenide; carbon materials such as fullerene, carbon nanotube, and graphite. Especially, it is preferable that it is a metal, and it is more preferable that they are silver and aluminum.

ゲート電極の厚みは特に制限されないが、20〜200nmであることが好ましい。
ゲート電極を形成する方法は特に制限されないが、例えば、基板上に、電極材料を真空蒸着またはスパッタする方法、電極形成用組成物を塗布または印刷する方法などが挙げられる。また、電極をパターニングする場合、パターニングする方法としては、例えば、フォトリソグラフィー法;インクジェット印刷、スクリーン印刷、オフセット印刷、凸版印刷等の印刷法;マスク蒸着法などが挙げられる。
The thickness of the gate electrode is not particularly limited, but is preferably 20 to 200 nm.
A method for forming the gate electrode is not particularly limited, and examples thereof include a method of vacuum depositing or sputtering an electrode material on a substrate, a method of applying or printing an electrode forming composition, and the like. In the case of patterning the electrode, examples of the patterning method include a photolithography method; a printing method such as ink jet printing, screen printing, offset printing, letterpress printing; and a mask vapor deposition method.

なお、上述したように、ゲート電極は、銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩を含む態様であってもよい。   Note that, as described above, the gate electrode may include a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt.

(ゲート絶縁膜)
ゲート絶縁膜の材料としては、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリビニルフェノール、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリビニルアルコール、ポリ酢酸ビニル、ポリウレタン、ポリスルホン、ポリベンゾキサゾール、ポリシルセスキオキサン、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等のポリマー;二酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化チタン等の酸化物;窒化珪素等の窒化物などが挙げられる。これらの材料のうち、有機半導体層との相性から、ポリマーであることが好ましい。
ゲート絶縁膜の材料としてポリマーを用いる場合、架橋剤(例えば、メラミン)を併用するのが好ましい。架橋剤を併用することで、ポリマーが架橋されて、形成されるゲート絶縁膜の耐久性が向上する。
(Gate insulation film)
Materials for the gate insulating film include polymethyl methacrylate, polystyrene, polyvinyl phenol, polyimide, polycarbonate, polyester, polyvinyl alcohol, polyvinyl acetate, polyurethane, polysulfone, polybenzoxazole, polysilsesquioxane, epoxy resin, phenol resin And the like; oxides such as silicon dioxide, aluminum oxide, and titanium oxide; and nitrides such as silicon nitride. Of these materials, a polymer is preferable in view of compatibility with the organic semiconductor layer.
When a polymer is used as the material for the gate insulating film, it is preferable to use a crosslinking agent (for example, melamine) in combination. By using a crosslinking agent in combination, the polymer is crosslinked and the durability of the formed gate insulating film is improved.

ゲート絶縁膜の膜厚は特に制限されないが、100〜1000nmであることが好ましい。
ゲート絶縁膜を形成する方法は特に制限されないが、例えば、ゲート電極が形成された基板上に、ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布する方法、ゲート絶縁膜材料を蒸着またはスパッタする方法などが挙げられる。ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布する方法は特に制限されず、公知の方法(バーコート法、スピンコート法、ナイフコート法、ドクターブレード法)を使用することができる。
ゲート絶縁膜形成用組成物を塗布してゲート絶縁膜を形成する場合、溶媒除去、架橋などを目的として、塗布後に加熱(ベーク)してもよい。
The thickness of the gate insulating film is not particularly limited, but is preferably 100 to 1000 nm.
The method for forming the gate insulating film is not particularly limited, and examples thereof include a method for applying a gate insulating film forming composition on a substrate on which a gate electrode is formed, and a method for depositing or sputtering a gate insulating film material. It is done. The method for applying the gate insulating film forming composition is not particularly limited, and known methods (bar coating method, spin coating method, knife coating method, doctor blade method) can be used.
When a gate insulating film forming composition is applied to form a gate insulating film, it may be heated (baked) after application for the purpose of solvent removal, crosslinking, and the like.

(封止層)
本発明の有機薄膜トランジスタは、耐久性の観点から、最外層に封止層を備えるのが好ましい。封止層には公知の封止剤を用いることができる。
封止層の厚みは特に制限されないが、0.2〜10μmであることが好ましい。
封止層を形成する方法は特に制限されないが、例えば、ゲート電極とゲート絶縁膜とソース電極とドレイン電極と有機半導体層とが形成された基板上に、封止層形成用組成物を塗布する方法などが挙げられる。封止層形成用組成物を塗布する方法の具体例は、有機半導体用組成物を塗布する方法と同じである。封止層形成用組成物を塗布して封止層を形成する場合、溶媒除去、架橋などを目的として、塗布後に加熱(ベーク)してもよい。
(Sealing layer)
The organic thin film transistor of the present invention preferably includes a sealing layer as the outermost layer from the viewpoint of durability. A well-known sealing agent can be used for a sealing layer.
The thickness of the sealing layer is not particularly limited, but is preferably 0.2 to 10 μm.
The method for forming the sealing layer is not particularly limited. For example, the composition for forming the sealing layer is applied onto the substrate on which the gate electrode, the gate insulating film, the source electrode, the drain electrode, and the organic semiconductor layer are formed. The method etc. are mentioned. The specific example of the method of apply | coating the composition for sealing layer formation is the same as the method of apply | coating the composition for organic semiconductors. When the sealing layer-forming composition is applied to form the sealing layer, it may be heated (baked) after application for the purpose of solvent removal, crosslinking, and the like.

<第2の実施態様>
図2は、本発明の有機薄膜トランジスタの別の一態様の断面模式図である。
図2において、有機薄膜トランジスタ200は、基板10と、基板10上に配置されたゲート電極20と、ゲート電極20と接するゲート絶縁膜30と、ゲート絶縁膜30のゲート電極20がある側とは反対側の表面と接する有機半導体層50と、有機半導体層50と接するソース電極40およびドレイン電極42と、各部材を覆う封止層60を備える。ここで、有機半導体層50は、上述した本発明の組成物を用いて形成されたものである。有機薄膜トランジスタ200は、ボトムゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタである。
基板、ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース電極、ドレイン電極、有機半導体層および封止層については上述のとおりであり、ソース電極、ドレイン電極およびゲート電極からなる群から選ばれる少なくとも1つの電極に銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれ、有機半導体層中の有機半導体材料として一般式(X)で表される化合物が含まれる。
<Second Embodiment>
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of another embodiment of the organic thin film transistor of the present invention.
In FIG. 2, the organic thin film transistor 200 is opposite to the substrate 10, the gate electrode 20 disposed on the substrate 10, the gate insulating film 30 in contact with the gate electrode 20, and the side of the gate insulating film 30 where the gate electrode 20 is present. An organic semiconductor layer 50 in contact with the surface on the side, a source electrode 40 and a drain electrode 42 in contact with the organic semiconductor layer 50, and a sealing layer 60 that covers each member are provided. Here, the organic semiconductor layer 50 is formed using the composition of the present invention described above. The organic thin film transistor 200 is a bottom gate-top contact type organic thin film transistor.
The substrate, the gate electrode, the gate insulating film, the source electrode, the drain electrode, the organic semiconductor layer and the sealing layer are as described above, and at least one electrode selected from the group consisting of the source electrode, the drain electrode and the gate electrode is silver. And a metal selected from the group consisting of copper and onium salts, and a compound represented by the general formula (X) as an organic semiconductor material in the organic semiconductor layer.

なお、上記では図1および2において、ボトムゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ、および、ボトムゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタの態様について詳述したが、トップゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ、および、トップゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタにも適用できる。
つまり、トップゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ、および、トップゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタ中において、ソース電極、ドレイン電極およびゲート電極からなる群から選ばれる少なくとも1つの電極に銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が含まれ、有機半導体層中の有機半導体材料として一般式(X)で表される化合物が含まれる。
1 and 2, the embodiments of the bottom gate-bottom contact type organic thin film transistor and the bottom gate-top contact type organic thin film transistor have been described in detail. However, the top gate-bottom contact type organic thin film transistor, It can also be applied to top gate-top contact type organic thin film transistors.
That is, in the top gate-bottom contact type organic thin film transistor and the top gate-top contact type organic thin film transistor, at least one electrode selected from the group consisting of a source electrode, a drain electrode and a gate electrode is made of silver and copper. A metal selected from the group and an onium salt are included, and a compound represented by the general formula (X) is included as an organic semiconductor material in the organic semiconductor layer.

なお、トップゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ、および、トップゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタにおいても、図1および図2同様に、基板、ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース電極、ドレイン電極、有機半導体層が使用され、その積層順のみが異なる。
より具体的には、トップゲート−ボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタでは、基板と、基板上に配置されたソース電極およびドレイン電極と、ソース電極およびドレイン電極と接し、かつ、ソース電極とドレイン電極との間の基板表面を覆う有機半導体層と、有機半導体層の基板側とは反対側の表面に接するゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜の有機半導体層側とは反対側の表面に接するゲート電極とを備える。
また、トップゲート−トップコンタクト型の有機薄膜トランジスタでは、基板と、基板上に配置された有機半導体層と、有機半導体層の基板側とは反対側の表面に接するソース電極およびドレイン電極と、ソース電極およびドレイン電極と接し、かつ、ソース電極とドレイン電極との間の有機半導体層表面を覆うゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜の有機半導体層側とは反対側の表面に接するゲート電極とを備える。
Note that in the top gate-bottom contact type organic thin film transistor and the top gate-top contact type organic thin film transistor, as in FIGS. 1 and 2, the substrate, gate electrode, gate insulating film, source electrode, drain electrode, organic A semiconductor layer is used and only the stacking order is different.
More specifically, in a top gate-bottom contact type organic thin film transistor, a substrate, a source electrode and a drain electrode arranged on the substrate, a source electrode and a drain electrode, and a source electrode and a drain electrode are connected. An organic semiconductor layer covering the surface of the substrate in between, a gate insulating film in contact with the surface of the organic semiconductor layer opposite to the substrate side, and a gate electrode in contact with the surface of the gate insulating film opposite to the organic semiconductor layer side Prepare.
Further, in a top gate-top contact type organic thin film transistor, a substrate, an organic semiconductor layer disposed on the substrate, a source electrode and a drain electrode in contact with the surface of the organic semiconductor layer opposite to the substrate side, and a source electrode And a gate insulating film in contact with the drain electrode and covering the surface of the organic semiconductor layer between the source electrode and the drain electrode, and a gate electrode in contact with the surface of the gate insulating film opposite to the organic semiconductor layer.

以下に実施例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Examples are shown below, but the present invention is not limited thereto.

<合成例1:化合物7の合成>
以下のスキームに示した具体的合成手順にしたがって、一般式(X)で表される化合物である、化合物7を合成した。
化合物7cまでは以下論文を参照して合成した。
Journal of American Chemical Society, 116, 925(1994)
Journal of Chemical Society, 221(1951)
<Synthesis Example 1: Synthesis of Compound 7>
In accordance with the specific synthesis procedure shown in the following scheme, Compound 7, which is a compound represented by the general formula (X), was synthesized.
The compounds up to compound 7c were synthesized with reference to the following paper.
Journal of American Chemical Society, 116, 925 (1994)
Journal of Chemical Society, 221 (1951)

(化合物7aの合成)
1,5−ジアミノナフタレン(10g)のピリジン溶液(125ml)に、p−トルエンスルホニルクロリド(34g)をゆっくりと添加し、室温で2時間撹拌した。反応液を氷水に注ぎ、析出物を減圧濾過した。得られた粗結晶をメタノールで洗浄し、化合物7a(29g)を得た。
(Synthesis of Compound 7a)
To a pyridine solution (125 ml) of 1,5-diaminonaphthalene (10 g), p-toluenesulfonyl chloride (34 g) was slowly added and stirred at room temperature for 2 hours. The reaction solution was poured into ice water, and the precipitate was filtered under reduced pressure. The obtained crude crystals were washed with methanol to obtain Compound 7a (29 g).

(化合物7bの合成)
化合物7a(10g)の氷酢酸溶液を95℃で加熱撹拌し、そこに氷酢酸10mLで希釈した臭素(2mL)をゆっくりと滴下した。10分間反応させ、放冷後にろ過することで素結晶を灰色固体として得た。粗結晶をニトロベンゼン中で再結晶することで化合物7b(6.8g)を得た。
(Synthesis of Compound 7b)
A glacial acetic acid solution of compound 7a (10 g) was heated and stirred at 95 ° C., and bromine (2 mL) diluted with 10 mL of glacial acetic acid was slowly added dropwise thereto. The reaction was carried out for 10 minutes, and after cooling, filtration was performed to obtain an elementary crystal as a gray solid. The crude crystal was recrystallized in nitrobenzene to obtain Compound 7b (6.8 g).

(化合物7cの合成)
化合物7b(5g)の濃硫酸溶液を室温で24時間撹拌した。反応液を氷水に注ぎ、析出している固体をろ過して回収した。その固体を氷水中に再度分散し、アンモニア水で中和し、化合物7c(0.5g)を得た。
(Synthesis of Compound 7c)
A concentrated sulfuric acid solution of compound 7b (5 g) was stirred at room temperature for 24 hours. The reaction solution was poured into ice water, and the precipitated solid was collected by filtration. The solid was dispersed again in ice water and neutralized with aqueous ammonia to obtain Compound 7c (0.5 g).

(化合物7dの合成)
室温下、7c(2g)のピリジン溶液にブチリルクロリド(2.6mL)を滴下して2時間撹拌した。氷水に反応液を注ぎ、固体を減圧濾過した。メタノール中に分散し1時間撹拌した後、固体をろ過することで化合物7d(1.39g)を得た。
(Synthesis of Compound 7d)
Butyryl chloride (2.6 mL) was added dropwise to a pyridine solution of 7c (2 g) at room temperature, and the mixture was stirred for 2 hours. The reaction solution was poured into ice water, and the solid was filtered under reduced pressure. After dispersing in methanol and stirring for 1 hour, Compound 7d (1.39 g) was obtained by filtering the solid.

(化合物7eの合成)
THF(360mL)およびトルエン(72mL)の混合溶液中に化合物7d(1.2g)とローソン試薬(1.48g)を添加した後、加熱還流しながら3時間撹拌した。エバポレーションでTHFのみ除去してトルエン溶液とした後、60℃で1時間撹拌した。その後、不溶物をろ過することで化合物7e(0.5g)を得た。
(Synthesis of Compound 7e)
Compound 7d (1.2 g) and Lawesson's reagent (1.48 g) were added to a mixed solution of THF (360 mL) and toluene (72 mL), and the mixture was stirred for 3 hours while heating under reflux. After removing only THF by evaporation to form a toluene solution, the mixture was stirred at 60 ° C. for 1 hour. Thereafter, the insoluble material was filtered to obtain Compound 7e (0.5 g).

(化合物7の合成)
化合物7e(0.4g)と炭酸セシウム(1.33g)をジメチルアセトアミド中、120℃で2時間反応させた。反応液を水に注ぎ析出物をろ過した。ろ過した固体をTHF中で再結晶を繰返し、目的化合物7(0.12g)を合成した。得られた化合物の同定は、H−NMR、Massスペクトルにより行った。
(Synthesis of Compound 7)
Compound 7e (0.4 g) and cesium carbonate (1.33 g) were reacted in dimethylacetamide at 120 ° C. for 2 hours. The reaction solution was poured into water and the precipitate was filtered. The filtered solid was repeatedly recrystallized in THF to synthesize target compound 7 (0.12 g). The obtained compound was identified by H-NMR and Mass spectrum.

実施例で用いる化合物8、化合物9、化合物34、化合物37、および、化合物38も化合物7と同様にして合成した。なお、以下に上記化合物の構造式を示す。   Compound 8, Compound 9, Compound 34, Compound 37, and Compound 38 used in Examples were synthesized in the same manner as Compound 7. The structural formulas of the above compounds are shown below.

また、比較例化合物として、以下の比較例化合物1をDT2224746に従って、比較例化合物2を特開平6−073065に従って、合成した。   Further, as a comparative example compound, the following comparative example compound 1 was synthesized according to DT2224746, and comparative example compound 2 was synthesized according to JP-A-6-073065.

<実施例1>
(銀インクA1の調製)
分散剤としてDisperbyk−190(ビックケミー社製)(不揮発物として7.36g)を水(100mL)に溶解させた(溶液a)。次に、硝酸銀50.00g(294.3mmol)を水(200mL)に溶解させた(溶液b)。溶液aと溶液bとを混合し、攪拌した。得られた混合物に、85質量%N,N−ジエチルヒドロキシルアミン水溶液(78.71g)(N,N−ジエチルヒドロキシルアミンとして750.5mmol)を室温でゆっくり滴下した。さらに、Disperbyk−190(7.36g)を水(1000mL)に溶解させた溶液を室温でゆっくり滴下した。
得られた懸濁液を限外濾過ユニット(ザルトリウス・ステディム社製ビバフロー50、分画分子量:10万、ユニット数:4個)に通し、限外濾過ユニットから約5Lの滲出液がでるまで精製水を通過させて精製した。精製水の供給を止め、濃縮し、50gの銀ナノ粒子の分散液(銀インクA1)を得た。この銀インクA1中の固形分の含有量は32質量%であった。また、固形分中の銀の含有量をTG−DTAにて測定した所、97.0質量%であった。
次に、この銀インクA1に、銀に対して2.0質量%の割合で、マイグレーション抑制剤であるトシル酸ピリジニウム塩を添加することで、オニウム塩含有の銀インクを調製した。
<Example 1>
(Preparation of silver ink A1)
Dispersbyk-190 (manufactured by Big Chemie) as a dispersant (7.36 g as a nonvolatile material) was dissolved in water (100 mL) (solution a). Next, 50.00 g (294.3 mmol) of silver nitrate was dissolved in water (200 mL) (solution b). Solution a and solution b were mixed and stirred. To the resulting mixture, 85 mass% N, N-diethylhydroxylamine aqueous solution (78.71 g) (750.5 mmol as N, N-diethylhydroxylamine) was slowly added dropwise at room temperature. Further, a solution prepared by dissolving Disperbyk-190 (7.36 g) in water (1000 mL) was slowly added dropwise at room temperature.
The obtained suspension was passed through an ultrafiltration unit (Saltrius Stedim Vivaflow 50, molecular weight cut off: 100,000, number of units: 4) and purified until about 5 L of exudate was produced from the ultrafiltration unit. Purified by passing water through. The supply of purified water was stopped and concentrated to obtain 50 g of a silver nanoparticle dispersion (silver ink A1). The solid content in the silver ink A1 was 32% by mass. Moreover, it was 97.0 mass% when the content of silver in solid content was measured by TG-DTA.
Next, an onium salt-containing silver ink was prepared by adding pyridinium tosylate, which is a migration inhibitor, to the silver ink A1 at a ratio of 2.0 mass% with respect to silver.

(有機薄膜トランジスタの作製)
ガラス基板(イーグルXG:コーニング社製)上に、ゲート電極となるAlを蒸着した(厚み:50nm)。その上にゲート絶縁膜形成用組成物(ポリビニルフェノール/メラミン=1質量部/1質量部(w/w)のPGMEA(プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート)溶液(固形分濃度:2質量%))をスピンコートし、150℃で60分間ベークを行い、膜厚400nmのゲート絶縁膜を形成した。その上に調製したオニウム塩含有の銀インクをインクジェット装置DMP−2831(富士フイルムダイマティクス製)を用い、チャネル長60μm、チャネル幅150μmのソース電極およびドレイン電極に描画した。その後オーブンにて180℃、30分ベークを行い、焼結を行った。
その上に化合物7のトルエン溶液(化合物7の濃度:0.5質量%)をスピンコートし、140℃で10分間ベークを行い、厚み100nmの有機半導体層を形成した。その上にCytop CTL−107MK(AGC社製)をスピンコートし、140℃で20分間ベークを行い、厚み1μmの封止層(最上層)を形成して、有機薄膜トランジスタ(ボトムコンタクト型)を得た。
(Production of organic thin film transistor)
Al serving as a gate electrode was deposited on a glass substrate (Eagle XG: Corning) (thickness: 50 nm). On top of that, a composition for forming a gate insulating film (polyvinylphenol / melamine = 1 part by weight / 1 part by weight (w / w) PGMEA (propylene glycol monomethyl ether acetate) solution (solid content concentration: 2% by weight)) is spun Coating was performed and baking was performed at 150 ° C. for 60 minutes to form a gate insulating film having a thickness of 400 nm. An onium salt-containing silver ink prepared thereon was drawn on a source electrode and a drain electrode having a channel length of 60 μm and a channel width of 150 μm using an inkjet apparatus DMP-2831 (manufactured by Fuji Film Dimatics). Thereafter, baking was performed in an oven at 180 ° C. for 30 minutes, and sintering was performed.
A toluene solution of compound 7 (concentration of compound 7: 0.5 mass%) was spin-coated thereon and baked at 140 ° C. for 10 minutes to form an organic semiconductor layer having a thickness of 100 nm. Cytop CTL-107MK (manufactured by AGC) is spin-coated thereon and baked at 140 ° C. for 20 minutes to form a sealing layer (top layer) having a thickness of 1 μm to obtain an organic thin film transistor (bottom contact type). It was.

<実施例2〜14、比較例1〜14>
トシル酸ピリジニウム塩の代わりに、下記表1に示す有機半導体材料を使用し、化合物7の代わりに、下記表1に示すマイグレーション抑制剤(オニウム塩)を使用した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機薄膜トランジスタを調製した。
<Examples 2-14, Comparative Examples 1-14>
The organic semiconductor material shown in the following Table 1 was used instead of the pyridinium tosylate salt, and the migration inhibitor (onium salt) shown in the following Table 1 was used instead of the compound 7, and the same as in Example 1 An organic thin film transistor was prepared according to the procedure.

(絶縁信頼性評価(マイグレーション抑制効果評価))
各実施例および比較例で得られた有機薄膜トランジスタについて、EHS−221MD(エスペック社製)を用いて、以下の条件により寿命試験を行い、ソース/ドレイン電極間の抵抗値が1×105Ωになるまでの時間を測定した。この時、比較例1の測定結果(時間)を1とし、それに対する各実施例および比較例の相対時間を表1に示した。
・温度:60℃
・湿度:RH60%
・圧力:1.0atm
・ゲート電圧:−40V
・ソース/ドレイン電極間電圧:50V
(Insulation reliability evaluation (migration suppression effect evaluation))
About the organic thin-film transistor obtained by each Example and the comparative example, the lifetime test was conducted on condition of the following using EHS-221MD (made by ESPEC Co., Ltd.), and the resistance value between source / drain electrodes was set to 1 × 10 5 Ω. The time to become was measured. At this time, the measurement result (time) of Comparative Example 1 was set to 1, and Table 1 shows the relative time of each Example and Comparative Example.
・ Temperature: 60 ℃
・ Humidity: RH 60%
・ Pressure: 1.0 atm
・ Gate voltage: -40V
・ Voltage between source / drain electrodes: 50V

上記表1に示されている各成分の詳細は以下のとおりである。
・a−1:化合物7
・a−2:化合物8
・a−3:化合物9
・a−4:化合物34
・a−5:化合物37
・a−6:化合物38
・a−7:比較例化合物1
・a−8:比較例化合物2
・a−9:TIPSペンタセン(6,13−ビス(トリイソプロピルシリルエチニル)ペンタセン、Sigma−Aldrich社製)
・b−1:トシル酸ピリジニウム塩

・b−2:トシル酸テトラメチルアンモニウム塩

・b−3:ジエチルホスホン酸テトラメチルアンモニウム塩

・b−4:トシル酸ジメチルフェニルアンモニウム塩
The detail of each component shown by the said Table 1 is as follows.
A-1: Compound 7
A-2: Compound 8
A-3: Compound 9
A-4: Compound 34
A-5: Compound 37
A-6: Compound 38
A-7: Comparative Compound 1
A-8: Comparative compound 2
A-9: TIPS pentacene (6,13-bis (triisopropylsilylethynyl) pentacene, manufactured by Sigma-Aldrich)
B-1: pyridinium tosylate

B-2: Tetramethylammonium salt tosylate

B-3: Diethylphosphonic acid tetramethylammonium salt

B-4: dimethylphenylammonium tosylate salt

表1に示すように、本発明の有機薄膜トランジスタは、優れた絶縁信頼性を示すことが確認された。
なかでも、一般式(X)で表される化合物中において一般式(L−8)が含まれる場合は、より優れた絶縁信頼性を示すことが確認された。
一方、比較例1〜14に示すように、所定の構成を有さない有機薄膜トランジスタにおいては、所望の効果は得られなかった。
As shown in Table 1, it was confirmed that the organic thin film transistor of the present invention exhibits excellent insulation reliability.
Especially, when the general formula (L-8) was contained in the compound represented by general formula (X), it was confirmed that the insulation reliability was more excellent.
On the other hand, as shown in Comparative Examples 1 to 14, the desired effect was not obtained in the organic thin film transistor having no predetermined configuration.

10:基板
20:ゲート電極
30:ゲート絶縁膜
40:ソース電極
42:ドレイン電極
50:有機半導体層
60:封止層
100、200:有機薄膜トランジスタ
10: substrate 20: gate electrode 30: gate insulating film 40: source electrode 42: drain electrode 50: organic semiconductor layer 60: sealing layer 100, 200: organic thin film transistor

Claims (8)

有機半導体材料を含む有機半導体層と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極と、ソース電極と、ドレイン電極とを少なくとも有する有機薄膜トランジスタであって、
前記有機半導体材料が、一般式(X)で表される化合物を含み、
前記ゲート電極、前記ソース電極、および、前記ドレイン電極からなる群から選択される少なくとも一つの電極に、銀および銅からなる群から選択される金属並びにオニウム塩が少なくとも含まれる、有機薄膜トランジスタ。

(一般式(X)において、AおよびAは、それぞれ独立に、硫黄原子、酸素原子、またはセレン原子を表す。R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。ただし、R〜Rのうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。)
*−L−R 一般式(W)
(一般式(W)において、*は一般式(X)中のナフタレン環、Aを含む環、またはAを含む環との結合部位を表し、Lは、下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、2以上の下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。Rは、水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン単位の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す。ただし、Rが水素原子を表すのは、Lが一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限り、Rが置換または無置換のトリアルキルシリル基を表すのは、Rに隣接するLが下記一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限る。)

(一般式(L−1)〜(L−10)において、波線部分はナフタレン環、Aを含む環、または、Aを含む環との結合部位を表し、*は前記一般式(W)のRとの結合部位を表す。一般式(L−8)におけるmは4を表し、一般式(L−9)および(L−10)におけるmは2を表す。一般式(L−1)、(L−2)、(L−8)、(L−9)および(L−10)におけるR’は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。なお、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。)
An organic thin film transistor having at least an organic semiconductor layer containing an organic semiconductor material, a gate insulating film, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode,
The organic semiconductor material includes a compound represented by the general formula (X),
An organic thin film transistor, wherein at least one electrode selected from the group consisting of the gate electrode, the source electrode, and the drain electrode contains at least a metal selected from the group consisting of silver and copper, and an onium salt.

(In General Formula (X), A 1 and A 2 each independently represents a sulfur atom, an oxygen atom, or a selenium atom. R 1 to R 6 each independently represents a hydrogen atom or a substituent. However, at least one of R 1 to R 6 is a substituent represented by the following general formula (W).)
* -LR General Formula (W)
(In General Formula (W), * represents a bonding site with a naphthalene ring, a ring containing A 1 , or a ring containing A 2 in General Formula (X), and L is the following General Formula (L-1) To (L-10), or a divalent linking group represented by any of the following general formulas (L-1) to (L-10). And R represents a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene units, and an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms. Or a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, wherein R represents a hydrogen atom, L is represented by the general formulas (L-1) to (L-3) or (L-8) to (L -10) only when R represents a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group , Only if L adjacent to R is a divalent linking group represented by the following general formula (L-3).)

(In the general formula (L-1) ~ (L -10), the ring wavy line portion includes a naphthalene ring, the A 1 or represents a binding site to the ring containing A 2, * the general formula (W) In the general formula (L-8), m represents 4 and m in the general formulas (L-9) and (L-10) represents 2. General formula (L-1) , (L-2), (L-8), (L-9) and (L-10), each independently represents a hydrogen atom or a substituent, represented by the general formula (L-1) And R ′ in (L-2) may be bonded to R adjacent to L to form a condensed ring.)
前記一般式(X)におけるRおよびRのうち少なくとも1つが前記一般式(W)で表される置換基である、請求項1に記載の有機薄膜トランジスタ。 2. The organic thin film transistor according to claim 1, wherein at least one of R 1 and R 2 in the general formula (X) is a substituent represented by the general formula (W). 前記一般式(X)で表される化合物が、下記一般式(Y)で表される化合物を含む、請求項1または2に記載の有機薄膜トランジスタ。

(一般式(Y)において、AおよびAは、それぞれ独立に、硫黄原子、酸素原子、またはセレン原子を表す。R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。Lは下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または2以上の下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。Rは、水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン単位の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す。ただし、Rが水素原子を表すのは、Lが一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限り、Rが置換または無置換のトリアルキルシリル基を表すのは、Rに隣接するLが下記一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限る。)

(一般式(L−1)〜(L−10)において、波線部分はナフタレン環、Aを含む環、または、Aを含む環との結合部位を表し、*はRとの結合部位を表す。一般式(L−8)におけるmは4を表し、一般式(L−9)および(L−10)におけるmは2を表す。一般式(L−1)、(L−2)、(L−8)、(L−9)および(L−10)におけるR’は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。なお、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。)
The organic thin-film transistor of Claim 1 or 2 in which the compound represented by the said general formula (X) contains the compound represented by the following general formula (Y).

(In General Formula (Y), A 1 and A 2 each independently represent a sulfur atom, an oxygen atom, or a selenium atom. R 2 to R 6 each independently represent a hydrogen atom or a substituent. La is a divalent linking group represented by any one of the following general formulas (L-1) to (L-10), or any of two or more of the following general formulas (L-1) to (L-10). R a represents a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, or an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene units. Represents an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms, or a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, provided that Ra represents a hydrogen atom because La represents a general formula (L-1) to ( L-3) or (L-8) to (L-10) As long as the R a represents a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, only if L a adjacent R a is a divalent linking group represented by the following general formula (L-3). )

(In the general formula (L-1) ~ (L -10), the ring wavy line portion includes a naphthalene ring, the A 1 or represents a binding site to the ring containing A 2, * the binding site for R a M in the general formula (L-8) represents 4, and m in the general formulas (L-9) and (L-10) represents 2. General formulas (L-1) and (L-2) , (L-8), (L-9) and (L-10) each independently represents a hydrogen atom or a substituent, wherein the general formulas (L-1) and (L-2) R 'in may form a condensed ring by combining with R a respectively adjacent to the L a.)
前記一般式(X)で表される化合物が、下記一般式(Z)で表される化合物を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。

(一般式(Z)において、AおよびAは、それぞれ独立に、硫黄原子、酸素原子、またはセレン原子を表す。R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。LおよびLは、それぞれ独立に、下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基、または、2以上の下記一般式(L−1)〜(L−10)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。RおよびRは、それぞれ独立に、水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、オキシエチレン単位の繰り返し数が2以上のオリゴオキシエチレン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、または、置換若しくは無置換のトリアルキルシリル基を表す。ただし、RおよびRが水素原子を表すのは、LおよびLがそれぞれ一般式(L−1)〜(L−3)または(L−8)〜(L−10)の場合に限り、RおよびRが置換または無置換のトリアルキルシリル基を表すのは、Rに隣接するLおよびRに隣接するLがそれぞれ下記一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合に限る。)

(一般式(L−1)〜(L−10)において、波線部分はナフタレン環、Aを含む環、または、Aを含む環との結合部位を表し、*はRまたはRとの結合部位を表す。一般式(L−8)におけるmは4を表し、一般式(L−9)および(L−10)におけるmは2を表す。一般式(L−1)、(L−2)、(L−8)、(L−9)および(L−10)におけるR’は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を表す。なお、一般式(L−1)および(L−2)中のR’は、それぞれLに隣接するR、または、それぞれLに隣接するRと結合して縮合環を形成してもよい。)
The organic thin-film transistor of any one of Claims 1-3 in which the compound represented by the said general formula (X) contains the compound represented by the following general formula (Z).

(In General Formula (Z), A 1 and A 2 each independently represent a sulfur atom, an oxygen atom, or a selenium atom. R 3 to R 6 each independently represent a hydrogen atom or a substituent. L b and L c are each independently a divalent linking group represented by any one of the following general formulas (L-1) to (L-10), or two or more of the following general formulas (L-1). ) .R b and R c represents a divalent linking group is a divalent linking group represented by any one bound of ~ (L-10) each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl Represents an oligooxyethylene group having 2 or more repeating oxyethylene units, an oligosiloxane group having 2 or more silicon atoms, or a substituted or unsubstituted trialkylsilyl group, provided that R b and R c are represent a hydrogen atom, L And L c are each formula (L-1) only when the ~ (L-3) or (L-8) ~ (L -10), substitution R b and R c or unsubstituted trialkylsilyl group It represents the only if L c adjacent to L b and R c adjacent R b is a divalent linking group each represented by the following general formula (L-3).)

(In the general formulas (L-1) to (L-10), the wavy line represents a binding site with a naphthalene ring, a ring containing A 1 or a ring containing A 2 , and * represents R b or R c and In general formula (L-8), m represents 4 and m in general formulas (L-9) and (L-10) represents 2. General formulas (L-1) and (L -2), (L-8), (L-9), and (L-10) each independently represents a hydrogen atom or a substituent, R 'represents a general formula (L-1) and (L -2) may be bonded to R b adjacent to L b or R c adjacent to L c to form a condensed ring.
前記一般式(X)におけるR〜Rが、それぞれ独立に、水素原子、フッ素原子、炭素数1〜3の置換若しくは無置換のアルキル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルキニル基、炭素数2〜3の置換若しくは無置換のアルケニル基、炭素数1〜2の置換若しくは無置換のアルコキシ基、または、置換若しくは無置換のメチルチオ基である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。 R 3 to R 6 in the general formula (X) are each independently a hydrogen atom, a fluorine atom, a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted alkynyl group having 2 to 3 carbon atoms. The group according to any one of claims 1 to 4, which is a group, a substituted or unsubstituted alkenyl group having 2 to 3 carbon atoms, a substituted or unsubstituted alkoxy group having 1 to 2 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted methylthio group. 2. The organic thin film transistor according to item 1. 前記オニウム塩が、一般式(I)で表される化合物を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
cCn+aAm- 一般式(I)
(一般式(I)中、Cn+は、n価のカチオンを表す。nは、1〜6の整数を表す。nが1の場合、Cn+は、下記一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるカチオンを表す。nが2〜6の場合、Cn+は、下記一般式(A)〜(E)からなる群より選択されるカチオンを同一分子内に部分構造としてn個有するカチオンを表す。
m-は、m価のアニオン(ただし、Cl-、Br-、I-、PF6 -、RA1CO3 -、RA10NHCOO-、SbF6 -、および、AsF6 -からなる群より選択されるアニオンを除く。ここで、RA1およびRA10は、それぞれ独立に、水素原子または置換基を有してもよい炭化水素基を表す。)を表す。mは1〜3の整数を表す。
cは1〜3の整数を表し、aは1〜6の整数を表し、c、n、aおよびmは、c×n=a×mの関係式を満たす。)

(一般式(A)中、R1〜R4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基(ただし、ヒドロキシアルキル基を除く)を表す。ただし、R1〜R4の全てが同時に水素原子であることはない。R1〜R4は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。)
(一般式(B)中、R5は、置換基を有してもよい炭化水素基、−NR1920、−N=CR2122、−CR23=NR24、または、−CRB1B2−NRB3B4を表す。ここで、R19〜R24およびRB1〜RB4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。R19およびR20は、互いに結合して環構造を形成してもよい。
6は、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。
7は、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、アルコキシ基、アルキルチオ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、または、−NR2526を表す。ここで、R25およびR26は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表し、互いに結合して環構造を形成してもよい。
8は、水素原子、置換基を有してもよい炭化水素基、アルコキシ基、アルキルチオ基、ヒドロキシ基、メルカプト基、−NR2728、−N=CR2930、または、−CR31=NR32を表す。ここで、R27〜R32は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。R27およびR28は、互いに結合して環構造を形成してもよい。
ただし、R7およびR8の両方が同時にアルコキシ基、ヒドロキシ基、アルキルチオ基またはメルカプト基であることはなく、R5、R7およびR8の全てが同時に−NR1920、−NR2526または−NR2728であることはない。
5〜R8は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。)
(一般式(C)中、R9は、置換基を有してもよい炭化水素基、または、−NRC1C2を表す。ここで、RC1およびRC2は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。
10は、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。
11は、置換基を有してもよい炭化水素、−CR33=NR34、または、−NRC3C4を表す。ここで、R33、R34、RC3およびRC4は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。
9〜R11は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。)
(一般式(D)中、R12〜R15は、それぞれ独立に、水素原子、または、置換基を有してもよい炭化水素基を表す。ただし、R12〜R15の全てが同時に水素原子であることはない。R12〜R15は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。)
(一般式(E)中、R16〜R18は、それぞれ独立に、置換基を有してもよいアルキル基を表す。R16〜R18は、それぞれ互いに結合して環構造を形成してもよい。)
The organic thin-film transistor of any one of Claims 1-5 in which the said onium salt contains the compound represented by general formula (I).
cC n + aA m- general formula (I)
(In general formula (I), C n + represents an n-valent cation. N represents an integer of 1 to 6. When n is 1, C n + represents the following general formulas (A) to (E). If .n representing a cation selected from the group consisting of 2 to 6, C n + is, n a cation selected from the group consisting of the following general formula (a) ~ (E) as a partial structure in the molecule This represents a cation having one.
A m− is selected from the group consisting of m-valent anions (provided that Cl , Br , I , PF 6 , R A1 CO 3 , R A10 NHCOO , SbF 6 , and AsF 6 −). Wherein R A1 and R A10 each independently represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent. m represents an integer of 1 to 3.
c represents an integer of 1 to 3, a represents an integer of 1 to 6, and c, n, a, and m satisfy the relational expression of c × n = a × m. )

(In the general formula (A), R 1 to R 4 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group that may have a substituent (excluding a hydroxyalkyl group). ( Not all of 1 to R 4 are hydrogen atoms at the same time. R 1 to R 4 may be bonded to each other to form a ring structure.)
(In general formula (B), R 5 is a hydrocarbon group which may have a substituent, —NR 19 R 20 , —N═CR 21 R 22 , —CR 23 = NR 24 , or —CR B1. R B2 —NR B3 R B4 , wherein R 19 to R 24 and R B1 to R B4 each independently represent a hydrogen atom or an optionally substituted hydrocarbon group. 19 and R 20 may combine with each other to form a ring structure.
R 6 represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent.
R 7 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group that may have a substituent, an alkoxy group, an alkylthio group, a hydroxy group, a mercapto group, or —NR 25 R 26 . Here, R 25 and R 26 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent, and may be bonded to each other to form a ring structure.
R 8 represents a hydrogen atom, an optionally substituted hydrocarbon group, an alkoxy group, an alkylthio group, a hydroxy group, a mercapto group, —NR 27 R 28 , —N═CR 29 R 30 , or —CR 31. = NR 32 . Here, R 27 to R 32 each independently represent a hydrogen atom or may have a substituent hydrocarbon group. R 27 and R 28 may combine with each other to form a ring structure.
However, R 7 and R 8 are not both an alkoxy group, a hydroxy group, an alkylthio group or a mercapto group at the same time, and R 5 , R 7 and R 8 are all simultaneously —NR 19 R 20 , —NR 25 R never 26 or -NR 27 R 28.
R 5 to R 8 may be bonded to each other to form a ring structure. )
(In the general formula (C), R 9 represents a hydrocarbon group which may have a substituent, or —NR C1 R C2 . Here, R C1 and R C2 each independently represents a hydrogen atom. Or a hydrocarbon group which may have a substituent.
R 10 represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent.
R 11 represents an optionally substituted hydrocarbon, —CR 33 ═NR 34 , or —NR C3 R C4 . Here, R 33 , R 34 , R C3 and R C4 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent.
R 9 to R 11 may be bonded to each other to form a ring structure. )
(In the general formula (D), R 12 to R 15 each independently represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group which may have a substituent. However, all of R 12 to R 15 are hydrogen at the same time. (It is not an atom. R 12 to R 15 may be bonded to each other to form a ring structure.)
(In general formula (E), R 16 to R 18 each independently represents an alkyl group which may have a substituent. R 16 to R 18 are bonded to each other to form a ring structure. May be good.)
請求項1〜6のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタを含む、電子ペーパー。   Electronic paper containing the organic thin-film transistor of any one of Claims 1-6. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタを含む、ディスプレイデバイス。   A display device comprising the organic thin film transistor according to claim 1.
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