WO2014204112A1 - 카메라모듈 저항 검사용 소켓 - Google Patents

카메라모듈 저항 검사용 소켓 Download PDF

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WO2014204112A1
WO2014204112A1 PCT/KR2014/004715 KR2014004715W WO2014204112A1 WO 2014204112 A1 WO2014204112 A1 WO 2014204112A1 KR 2014004715 W KR2014004715 W KR 2014004715W WO 2014204112 A1 WO2014204112 A1 WO 2014204112A1
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WO
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camera module
plate
resistance test
test socket
base plate
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PCT/KR2014/004715
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English (en)
French (fr)
Inventor
김행수
황영철
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프라임텍 주식회사
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

Definitions

  • the present invention relates to a camera module inspection socket, and more particularly, to a camera module resistance inspection socket for measuring the resistance of the conductive back cover flowing leakage current from the lens back of the camera module.
  • CMOS or CCD image sensors are equipped with CMOS or CCD image sensors on printed circuit boards, assembled in lenses and housings, and electrically connected to flexible printed circuit boards for electrical communication with the outside. After that, it is checked whether the camera module that has been manufactured is normally operated.
  • An object of the present invention to provide a camera module resistance test socket that can test the resistance of the conductive back cover of the camera module.
  • Another object of the present invention is to provide a camera module resistance inspection socket that can adjust the load applied to the camera module at the time of inspection.
  • the present invention is a base plate seating the camera module; A cover plate hinged to the base plate to be opened and closed; A connection part provided on the base plate to seat the camera module and connected to the camera module; A connection plate provided on the cover plate and receiving an elastic force to be in contact with the conductive rear cover provided on the rear surface of the camera module; And a latch for fixing the cover plate in close contact with the base plate.
  • the elastic force applied to the connection plate is adjustable.
  • connection plate and the lifting plate and the spacing is adjusted, and may further include an elastic member provided between the lifting plate and the connection plate,
  • the rotary shaft is further connected with the lifting plate, and includes a rotating shaft for changing the separation interval between the lifting plate and the connecting plate according to the rotation, and an adjustable knob detachable to the rotating shaft.
  • the adjustment knob and the rotating shaft be detachable by a magnetic.
  • it may further include a rocker for adjusting the fixing or release of the rotating shaft.
  • Camera module resistance test socket according to the present invention is attached to the adjustment knob can be freely adjusted the load applied to the connection plate, to maintain the appropriate load, when the change occurs in the load to reset the appropriate load It can bring an effect.
  • FIG. 1 is a view showing the back of the camera module that is the inspection object of the camera module resistance test socket according to the present invention
  • Figure 2 is a graph showing the change in resistance value over time and the load
  • FIG. 3 is a view showing a state in which the camera module resistance inspection socket opened according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 4 is a view showing a closed state of the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 5 is a view showing a state in which the adjustment knob removed in the closed state for the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention
  • Figure 6 is a cross-sectional view showing a load control structure of the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a view showing the back of the camera module that is the inspection object of the camera module resistance test socket according to the present invention.
  • the camera module 10 is provided with a lens unit 12 on the front surface, the rear of the lens unit 12 is provided with a conductive back cover 14.
  • the conductive back cover 14 is coated with a material such as gold (Au) having a low contact resistance to reduce the contact resistance, and may include a conductive tape or a conductive adhesive.
  • a material such as gold (Au) having a low contact resistance to reduce the contact resistance, and may include a conductive tape or a conductive adhesive.
  • the reason for having the conductive rear cover 14 is to ground the leakage current flowing in the camera module 10 to ensure the stability of the operation.
  • the present invention is to provide a leakage current inspection socket for measuring the leakage current of the conductive back cover (14).
  • the leakage current of the conductive back cover 14 may be measured by the resistance value of the conductive back cover 14.
  • the resistance is measured by contacting the conductive back cover 14, the resistance is measured in a pattern as shown in FIG. 2.
  • the resistance value at the beginning of the measurement converges with the intrinsic resistance value as time passes, and the time required for convergence becomes faster as the load applied to the contact increases.
  • the present invention relates to a camera module resistance test socket to adjust the load applied when measuring the resistance value of the conductive back cover 14 in view of this point.
  • FIG 3 is a view showing a state in which the camera module resistance test socket is opened according to an embodiment of the present invention.
  • the camera module resistance test socket 100 is the base plate 110 on which the camera module is seated, the hinge between the base plate and the camera between the base plate 110
  • a cover plate 120 for accommodating and compressing a module a connection part 130 provided on the base plate 110 and seating the camera module and connected to the camera module, and provided on the cover plate 120
  • Connection plate 140 is provided with an elastic force to be in contact with the conductive back cover provided on the back of the camera module, and a latch 150 for fixing the cover plate 120 in close contact with the base plate 110 do.
  • connection unit 130 may include a connection pin 132 to be electrically connected to the camera module to be inspected to operate the camera module.
  • connection pin 132 transmits and receives a signal through a lower printed circuit board (not shown) provided under the base plate 110, and the lower printed circuit board may be connected to a separate inspection facility.
  • cover plate 120 includes an upper printed circuit board (not shown).
  • the upper printed circuit board electrically connects the connection plate 140 and the connector pin block 135.
  • the connector pin block 135 is connected to the lower printed circuit board again.
  • connection plate 140 is connected to the inspection facility through the lower printed circuit board.
  • FIG 4 is a view showing a state of closing the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention
  • Figure 5 is a state in which the adjustment knob is removed in the closed state of the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention The figure which shows.
  • Adjusting knob 170 is attached to the outer surface of the cover plate 120, the adjusting knob 170 is preferably formed to be detachable.
  • the adjusting knob 170 is necessary to adjust the load value, and after the load is adjusted to an appropriate value, the adjusting knob 170 is separated to make it easier to open and close the cover plate 120.
  • the adjustment knob 170 is sufficient to be able to temporarily maintain the attached state, if the removable shaft to be attached to the rotation shaft 160 by using the magnetic brings more easy to use effect.
  • the rotation shaft 160 is formed below the adjustment knob 170, and the rocker 180 is formed to surround the rotation shaft 160.
  • the rocker 180 When the locker 180 is locked, the rocker 180 is wrapped around and fixed to the outer circumferential surface of the rotation shaft 160 such that the rotation shaft 160 cannot rotate. After setting the load value by turning the adjusting knob 170, the locker 180 is locked and the rotating shaft 160 is fixed so as to no longer move, and then the adjusting knob 170 is separated.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing a load control structure of the camera module resistance test socket according to an embodiment of the present invention.
  • the lifting plate 165 is formed on the upper portion of the connection plate 140 provided on the cover plate 120.
  • the elastic member 145 is disposed between the connection plate 140 and the elevating plate 165.
  • the load is applied to the connection plate 140 by the elastic member 145.
  • the elevating plate 165 moves up and down in accordance with the rotation of the rotary shaft 160, when the elevating plate 165 is lowered to the connection plate 140, the compression amount of the elastic member 145 is increased. The load on the connection plate 140 is increased.
  • the rocker 180 is disposed around the rotation shaft 160 exposed upward of the cover plate 120, when the locker 180 is locked, the rocker 180 is in close contact with the outer peripheral surface of the rotation shaft 160 The rotating shaft 160 is in a state in which it cannot rotate.
  • the appropriate load means a load in a state where the inspection time is short and a stable connection can be secured.
  • the locker is locked so that the rotation shaft no longer rotates, so that the load on the connecting plate does not change.
  • connection plate changes, so make sure that the set load is maintained by the tension meter at regular intervals, and if there is a change, attach the adjustment knob to adjust the set value again. Done.
  • the camera module resistance test socket according to the present invention can be attached to the adjustment knob to freely adjust the load applied to the connection plate, to maintain the appropriate load, when a change in the load is appropriate It has the effect of resetting it to be a load.

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Abstract

카메라모듈 검사용 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 카메라 모듈의 렌즈 뒷면에서 누설전류가 흐르는 전도성 배면커버의 저항을 측정할 수 있도록 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓에 관하여 개시한다. 본 발명은 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트; 상기 베이스플레이트에 개폐가능하게 힌지결합된 커버플레이트; 상기 베이스플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈을 안착하며, 상기 카메라모듈에 접속되는 접속부; 상기 커버플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈의 배면에 구비된 전도성 배면커버와 접촉되도록 탄성력을 부여받는 접속플레이트; 및 상기 커버플레이트를 상기 베이스플레이트에 밀착된 상태로 고정하는 래치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 제공한다.

Description

카메라모듈 저항 검사용 소켓
본 발명은 카메라모듈 검사용 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 카메라 모듈의 렌즈 뒷면에서 누설전류가 흐르는 전도성 배면커버의 저항을 측정할 수 있도록 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓에 관한 것이다.
최근 이동통신단말기에 대부분이 카메라가 구비되고 있으며, 이러한 대부분의 카메라는 CMOS나 CCD 이미지 센서가 적용된 소형 카메라가 사용된다.
소형카메라는 인쇄회로기판에 CMOS나 CCD 이미지센서가 장착된 후 렌즈(lens)와 하우징(housing)에 조립된 후 외부와 전기적으로 통신하기 위한 플렉시블 인쇄회로기판과 전기적으로 연결시켜 카메라모듈을 제작하게 되며, 이 후 제작이 완료된 카메라모듈이 정상적으로 동작을 하는지 여부를 검사하게 된다.
카메라모듈의 정상 동작 여부를 검사하기 위해 종래에는 모니터의 화면과 소정거리 이격된 위치에 작업자가 카메라모듈을 장착한 후 모니터의 화면에 검사 이미지(image)를 표시하면 이를 카메라모듈에서 촬영하고 촬영된 결과를 작업자가 확인하여 카메라모듈의 정상 동작의 여부를 수동적으로 판단하게 된다.
관련선행기술로는 대한민국 등록특허 등록번호 10-1019417호 '카메라모듈 검사용 소켓' (공고일자 2011년 3월 7일)이 있다.
본 발명의 목적은 카메라모듈의 전도성 배면커버의 저항을 검사할 수 있는 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 검사시에 카메라모듈에 인가되는 하중을 조절할 수 있는 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 제공함에 있다.
본 발명은 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트; 상기 베이스플레이트에 개폐가능하게 힌지결합된 커버플레이트; 상기 베이스플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈을 안착하며, 상기 카메라모듈에 접속되는 접속부; 상기 커버플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈의 배면에 구비된 전도성 배면커버와 접촉되도록 탄성력을 부여받는 접속플레이트; 및 상기 커버플레이트를 상기 베이스플레이트에 밀착된 상태로 고정하는 래치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 제공한다.
상기 접속플레이트에 인가되는 탄성력은 조절 가능한 것이 바람직하다.
이를 위해, 상기 접속플레이트와 이격간격이 조절되는 승하강플레이트와, 상기 승하강플레이트와 상기 접속플레이트 사이에 구비되는 탄성부재를 더 포함할 수 있고,
상기 승하강플레이트와 연결되어, 회전에 따라 상기 승하강플레이트와 상기 접속플레이트의 이격간격을 변경시키는 회전축과, 상기 회전축에 탈부착 가능한 조절손잡이를 더 포함하면 더욱 바람직하다.
이 때, 상기 조절손잡이와 상기 회전축은 마그네틱에 의하여 탈부착가능하도록 하면 더욱 바람직하다.
한 편, 상기 회전축의 고정 또는 해제를 조절하는 로커를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 커버플레이트의 내부에 상기 접속플레이트와 전기적으로 연결되는 상부인쇄회로기판; 상기 베이스플레이에 결합되는 하부인쇄회로기판; 및 상기 상부인쇄회로기판과 상기 하부인쇄회로기판을 연결하는 커넥터핀블럭;을 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓은 조절손잡이를 부착하여 접속플레이트에 인가되는 하중을 자유롭게 조절할 수 있고, 적정 하중이 유지되도록 할 수 있으며, 하중에 변화가 발생하였을 때 적절한 하중이 되도록 재 설정할 수 있는 효과를 가져온다.
도 1은 본 발명에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓의 검사 대상물인 카메라모듈의 배면을 나타낸 도면,
도 2는 하중과 시간의 경과에 따른 저항값의 변화를 나타낸 그래프,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 개방한 상태를 나타낸 도면,
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 닫은 상태를 나타낸 도면,
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 닫은 상태에서 조절손잡이를 분리한 상태를 나타낸 도면,
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓의 하중 조절구조를 나타낸 단면도임.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 카메라모듈 검사용 소켓의 바람직한 일 실시예를 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓의 검사 대상물인 카메라모듈의 배면을 나타낸 도면이다.
도시된 바와 같이, 카메라모듈(10)은 전면에 렌즈부(12)가 구비되며, 렌즈부(12)의 배면에는 전도성 배면커버(14)가 구비되어 있다.
전도성 배면커버(14)는 접촉저항을 감소시키기 위하여 표면이 접촉 저항이 낮은 금(Au)과 같은 물질로 코팅되어 있으며, 전도성 테이프 또는 전도성 접착제를 포함할 수 있다.
전도성 배면커버(14)를 구비하는 이유는, 카메라모듈(10)에서 흐르는 누설전류를 접지시켜서 동작의 안정성을 확보하기 위한 것이다.
본 발명은 전도성 배면커버(14)의 누설전류를 측정하기 위한 누설전류 검사용 소켓을 제공하기 위한 것이다.
전도성 배면커버(14))의 누설전류는 전도성 배면커버(14)의 저항값에 의하여 측정할 수 있다.
전도성 배면커버(14)에 접촉하여 저항을 측정하는 경우, 도 2와 같은 패턴으로 측정된다.
측정 초기의 저항값이 시간이 경과함에 따라 고유 저항값으로 수렴하게 되는데, 수렴에 소요되는 시간은 접촉에 가해지는 하중이 커질수록 빨라지게 된다.
본 발명은 이러한 점에 착안하여 전도성 배면커버(14)의 저항값 측정시 가해지는 하중을 조절가능하도록 한 카메라모듈 저항 검사용 소켓에 관한 것이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 개방한 상태를 나타낸 도면이다.
도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓(100)은 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트(110)와, 상기 베이스플레이트에 힌지결합되어 베이스플레이트(110)와의 사이에 카메라모듈을 수용하고 압착하는 커버플레이트(120)와, 상기 베이스플레이트(110)에 구비되어 상기 카메라모듈을 안착하며 상기 카메라모듈에 접속되는 접속부(130)와, 상기 커버플레이트(120)에 구비되어 상기 카메라모듈의 배면에 구비된 전도성 배면커버와 촉되도록 탄성력을 부여받는 접속플레이트(140)와, 상기 커버플레이트(120)를 상기 베이스플레이트(110)에 밀착된 상태로 고정하는 래치(150)를 포함한다.
접속부(130)는 접속핀(132)을 구비하여 검사대상물인 카메라모듈에 전기적으로 접속되어 카메라모듈을 동작시킬 수 있다.
접속핀(132)은 베이스플레이트(110)의 하부에 구비되는 하부인쇄회로기판(미도시)을 통해 신호를 주고 받게 되며, 하부인쇄회로기판은 별도의 검사설비에 연결될 수 있다.
그리고, 커버플레이트(120)에는 상부인쇄회로기판(미도시)이 내장된다.
상부인쇄회로기판은 접속플레이트(140)와 커넥터핀블럭(135)을 전기적으로 연결시켜준다. 커넥터핀블럭(135)은 다시 하부인쇄회로기판으로 연결된다.
결과적으로, 접속플레이트(140)가 하부인쇄회로기판을 통해 검사설비와 연결된다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 닫은 상태를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 닫은 상태에서 조절손잡이를 분리한 상태를 나타낸 도면이다.
커버플레이트(120)의 외측면에는 조절손잡이(170)가 부착되어 있는데, 조절손잡이(170)는 탈부착이 가능하도록 형성되는 것이 바람직하다.
조절손잡이(170)는 하중값을 조절할 때 필요한 것으로, 하중이 적절한 값으로 조절된 후에는 조절손잡이(170)를 분리하여 커버플레이트(120)의 개폐를 보다 쉽게 할 수 있도록 하는 것이다.
또한, 조절손잡이(170)는 일시적으로 부착상태를 유지할 수 있으면 족한 것으로, 마그네틱을 이용하여 회전축(160)에 탈부착되도록 하면 더욱 사용이 간편한 효과를 가져온다.
도 5을 참조하면, 조절손잡이(170)를 분리하면, 조절손잡이(170)의 아래쪽에는 회전축(160)이 형성되어 있고, 회전축(160)을 감싸는 형태로 로커(180)가 형성되어 있다.
로커(180)를 잠그게 되면, 로커(180)가 회전축(160)의 외주면을 감싸 고정하게 되어 회전축(160)이 회전할 수 없게 된다. 조절손잡이(170)를 돌려서 하중값을 설정한 후, 로커(180)를 잠가 회전축(160)이 더이상 움직일 수 없도록 고정한 후 조절손잡이(170)를 분리한다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓의 하중 조절구조를 나타낸 단면도이다.
도시한 바와 같이, 커버플레이트(120)에 구비되느 접속플레이트(140)의 상부에는 승하강플레이트(165)가 형성된다.
그리고, 접속플레이트(140)와 승하강플레이트(165)의 사이에는 탄성부재(145)가 배치된다.
따라서, 탄성부재(145)에 의하여 접속플레이트(140)에 하중이 가해지는 구조를 가진다.
그런데, 승하강플레이트(165)는 회전축(160)의 회전에 따라 상하로 이동하게 되므로, 승하강플레이트(165)를 접속플레이트(140) 측으로 하강시키게 되면, 탄성부재(145)의 압축량이 증가하여 접속플레이트(140)에 가해지는 하중이 증가하게 된다.
반대로, 승하강플레이트(165)를 접속플레이트(140)에서 멀어지게 상승시키면, 탄성부재(145)의 압축량이 감소하여 접속플레이트(140)에 가해지는 하중이 감소하게 된다.
한편, 로커(180)는 커버플레이트(120)의 위쪽으로 노출된 회전축(160)의 주변에 배치되어, 로커(180)를 잠그게 되면, 로커(180)가 회전축(160)의 외주면에 밀착되어 회전축(160)이 회전할 수 없는 상태가 된다.
또한, 로커(180)를 풀게되면 도시된 바와 같이 로커(180)와 회전축(160) 사이에 이격간격이 발생하여 회전축(160)이 회전할 수 있는 상태가 된다.
이하, 본 발명에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓을 이용한 저항 검사 방법에 관하여 설명한다.
먼저, 조절손잡이를 돌려가면 적절한 접속플레이트에 검사에 적절한 하중이 인가되도록 조절한다. 이 때 적절한 하중이란 검사시간이 짧고 안정적인 접속을 확보할 수 있는 상태의 하중을 의미한다.
조절손잡이를 이용한 하중의 조절이 완료되면, 로커를 잠가 회전축이 더이상 회전하지 않도록 함으로써, 접속플레이트에 가해지는 하중이 변화되지 않도록 한다.
이 상태에서, 텐션측정기를 이용하여 적정한 하중의 수치값을 확인한다.
그리고, 조절손잡이를 분리하고 카메라모듈의 저항 검사에 사용한다.
사용횟수가 반복되면 접속플레이트에 인가되는 하중이 변화하게 되므로, 일정한 주기마다 텐션측정기를 이용하여 설정된 하중이 유지되는지 확인 하고, 변화가 발생하였으면 조절손잡이를 부착하여 다시 설정된 하중값이 되도록 조절하고 사용하게 된다.
이상 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 카메라모듈 저항 검사용 소켓은 조절손잡이를 부착하여 접속플레이트에 인가되는 하중을 자유롭게 조절할 수 있고, 적정 하중이 유지되도록 할 수 있으며, 하중에 변화가 발생하였을 때 적절한 하중이 되도록 재 설정할 수 있는 효과를 가져온다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.
따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.

Claims (7)

  1. 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트;
    상기 베이스플레이트에 개폐가능하게 힌지결합된 커버플레이트;
    상기 베이스플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈을 안착하며, 상기 카메라모듈에 접속되는 접속부;
    상기 커버플레이트에 구비되어 상기 카메라모듈의 배면에 구비된 전도성 배면커버와 접촉되도록 탄성력을 부여받는 접속플레이트; 및
    상기 커버플레이트를 상기 베이스플레이트에 밀착된 상태로 고정하는 래치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 접속플레이트에 인가되는 탄성력은 조절 가능한 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 접속플레이트와 이격간격이 조절되는 승하강플레이트와,
    상기 승하강플레이트와 상기 접속플레이트 사이에 구비되는 탄성부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 승하강플레이트와 연결되어, 회전에 따라 상기 승하강플레이트와 상기 접속플레이트의 이격간격을 변경시키는 회전축과,
    상기 회전축에 탈부착 가능한 조절손잡이를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 조절손잡이와 상기 회전축은 마그네틱에 의하여 탈부착가능한 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 회전축의 고정 또는 해제를 조절하는 로커를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 커버플레이트의 내부에 상기 접속플레이트와 전기적으로 연결되는 상부인쇄회로기판;
    상기 베이스플레이에 결합되는 하부인쇄회로기판; 및
    상기 상부인쇄회로기판과 상기 하부인쇄회로기판을 연결하는 커넥터핀블럭;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 저항 검사용 소켓.
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