WO2014095176A1 - Verfahren und einrichtung zur funktionsprüfung von leuchtmitteln - Google Patents

Verfahren und einrichtung zur funktionsprüfung von leuchtmitteln Download PDF

Info

Publication number
WO2014095176A1
WO2014095176A1 PCT/EP2013/073852 EP2013073852W WO2014095176A1 WO 2014095176 A1 WO2014095176 A1 WO 2014095176A1 EP 2013073852 W EP2013073852 W EP 2013073852W WO 2014095176 A1 WO2014095176 A1 WO 2014095176A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
brightness
light
lighting means
sensor
arrangement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/EP2013/073852
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Norbert Kollmann
Maximilian Austerer
Martin Roth
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aumovio Germany GmbH
Original Assignee
Continental Automotive Technologies GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Continental Automotive Technologies GmbH filed Critical Continental Automotive Technologies GmbH
Publication of WO2014095176A1 publication Critical patent/WO2014095176A1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0214—Constructional arrangements for removing stray light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
    • G01J2001/4252—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources for testing LED's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps

Definitions

  • the invention relates to a method and a device for functional testing of an arrangement of light sources, which are subdivided into at least two independently controllable groups, with at least one sensor, with a control unit for controlling an array of light sources to be checked.
  • the invention relates to the functional ⁇ verification of LED arrays in the automotive sector.
  • Illuminant arrangements with a multiplicity of light sources, some of which are independent of each other, can be used for adaptive headlamp systems, for example of vehicles. Often these are LED array Anord ⁇ voltages of a plurality of individually addressable LEDs.
  • the illumination geometry can be variably adjusted, for example, to a driving situation. This is of particular interest in the automotive sector in order to integrate various lighting functions, such as daytime running lights, dipped headlights, cornering lights and cornering lights, in a headlight design, although the individual functions are still flexibly adjustable.
  • each light means or each LED a separate sensor which is optically connected to the LED via a light transmission path during the functional test, i.
  • the sensor is positioned in conjunction with a light transmission path so that the light of a single light source is detected.
  • the disadvantage here is the complex in production and maintenance testing device, especially in a large number of bulbs.
  • the positioning of the lamp assembly relative to the light transmission paths must be so to be precise, that in case of malfunction of a light source of the associated sensor is not the light of an adjacent
  • the light-emitting groups are controlled sequentially and while a temporal course of the outgoing light from several lamps brightness is measured, which is compared with an expected brightness curve, with a deviation of the brightness curve (ie Measured time course of the outgoing light from several bulbs) a malfunction is signaled.
  • the measured brightness curve at each measuring point can be compared with the expected brightness curve.
  • the brightness measurements are carried out at different times, so that the measured values are independent of one another and mutual influences can be ruled out.
  • the sequential measurement allows use of a sensor for a plurality of bulbs of the same arrangement.
  • the test device both with the sensor and with the control unit, an evaluation unit for monitoring the time course of outgoing brightness of several bulbs connected, the sensor as a common sensor for measuring the brightness of several sequentially controlled lighting means is directed ⁇ .
  • the structure of the test device is thus simplified compared to known devices, since the same number of light sources, a smaller number of sensors is required, ie, the number of sensors is advantageously less than the number of lamps of a device to be tested.
  • Experiencing the test can be advantageously further simplified if the lamps are divided into groups whose expected brightness is substantially equal. The expected course of the measured brightness is particularly simple in this case; For verification it is possible for each group the measured
  • Triggering the transitions between the groups are synchronized so that the expected time course of the brightness is substantially uniform or time constant, an otherwise necessary synchronization between the control of the lamps and measurement or evaluation of the brightness can be omitted, and it is sufficient to synchronize the beginning and the end of a measurement sequence. Since the sequential measurements follow one another directly, the speed of the entire measurement can be improved or the duration of the entire check can be reduced.
  • a particularly simple measurement and evaluation can be achieved if the lighting means are individually controllable and each sequentially driven group has only one light source.
  • the bulbs are advantageously individually driven and thus lit at the review to each
  • a malfunction of a light ⁇ means is detected by means of a temporary loss of light in the course of the measured brightness.
  • the light intensity does not have to be measured or evaluated in this case.
  • a group with a faulty luminous means can be identified on the basis of the time of the deviation in the time course of the measured brightness. For such identification, the brightness profile must be compared with the sequence and the duration of the driving of the lighting means.
  • the group with the defective illuminant is the group that was driven at the time of the deviation. For example, instead of discarding the complete arrangement or rechecking all groups manually, only the faulty group can be replaced.
  • the brightness emanating from the entire arrangement is measured with a single sensor.
  • the positioning of the lamp arrangement is easy to accomplish in this case, since a faulty association between the lamp and the sensor is excluded.
  • the evaluation unit can in this case be integrated directly with the sensor, as a connection with several sensors is not required.
  • the present method for checking the function is particularly advantageous when the lighting means are light-emitting diodes (LEDs), the arrangement being in particular an LED matrix.
  • LEDs light-emitting diodes
  • ⁇ such arrangements, a large number of light sources can be realized in a small space, so that an assignment of each light source to a separate sensor would be particularly difficult.
  • a sequential check according to the present method allows this exact results and large savings in terms of the sensors and simplifies the necessary adjustment for the adjustment to a minimum.
  • a conical, opaque screen can be provided which extends from a sensor to an edge of the illuminant arrangement.
  • Figure 1 is a perspective view of a test device with a test specimen.
  • Fig. 2 is a schematic block diagram of a horrein ⁇ direction with an inspected lamp positioning.
  • a test device 1 with a detector 2 and a shield 3 is shown.
  • the detector 2 has a single sensor 4, which is set up to measure the brightness within the shield 3.
  • the shield 3 is in ⁇ game as a truncated pyramid with a generally rectangular base 5, wherein the shield to the base and parallel opposing cut surface 6 has an opening.
  • the detector 2 is arranged on the narrower upper side 7 of the shield 3 and forms an opaque termination with an edge of the cut surface 6.
  • Adjacent to a wide base 8 of the shielding 3 9 is arranged in the form of an LED array Mo ⁇ duls 10 is a lighting means arrangement to be tested.
  • the LED matrix module 10 is oriented so that its lighting means or LEDs 11 are arranged on a side facing the scholarein ⁇ direction 1.
  • the LEDs 11 are individually controllable (see Fig. 2).
  • the surface 12, over which the LEDs 11 are distributed, is smaller than or equal to the base 5 of the shield 3.
  • the shield 3 can be brought to the LED matrix module 10 so that the environment no light, especially no stray light on which detector 2 can penetrate.
  • FIG. 2 shows a schematic block diagram of the electrical Part of the test device 1 for carrying out the present method, which is connected to a device under test, that is, a lamp assembly 9 to be checked.
  • the device under test 9, which may be for example, an LED array module 10 includes at least one strand 13 in series ge ⁇ switched LEDs. 11
  • the strand 13 is connected to a constant current source 14, which provides a current adapted to supply the LEDs 11.
  • the LEDs 11 are individually controllable by a switch 15 is connected in parallel to each LED 11 to the bridging. When the switch 15 is closed, the current flows due to the significantly lower resistance of the switch 15 in wesent ⁇ union exclusively via the switch 15 and the associated LED 11 remains dark. It can be seen directly from FIG.
  • LED groups each having a plurality of LEDs, with a switch 15 for bridging a group, ie all LEDs of the group, being able to be set up. In this case, not all LEDs would be individually controllable; the present method could then be applied at least to the groups.
  • the groups could include series and / or parallel circuits of LEDs 11.
  • the switches 15 are connected to a drive unit 16 which controls the position of the switches 15. Between the drive unit 16 and the individual switches 15 are
  • the dently ⁇ approximation unit 16 has a clock which allows the sequential control of the individual LEDs 11 by opening at regular time intervals in each case precisely one of the switches 15 and thus the associated LED is activated. 11
  • the opening of a switch 15 is synchronized with the simultaneous closing ⁇ SEN of another, previously open switch 15 so that a light flux or brightness of light emanating from the LEDs 11 light remains substantially unchanged and has a uniform gradient. It is at the transitions from one LED 11 to the next to the precise timing Value.
  • the LEDs 11 are arranged in a viewing area of a sensor 4, which is part of a detector 2 (see FIG.
  • the sensor 4 is set up to measure the brightness of the light emitted by the LEDs 11.
  • a Auswer ⁇ teech 18 is connected.
  • the sensor 4 transmits the brightness values measured during a function check or the time profile of the measured brightness to the evaluation unit 18. In the case of a synchronized sequential
  • the control unit 16 also transmits a timing of the control of the individual LEDs 11 with the information at what time which LED (s) 11 are or were active, to the evaluation unit 18.
  • the timing of the control can also from the evaluation unit 18th predetermined and optionally confirmed by the drive unit 16. It is obvious to the person skilled in the art, both in connection with the sensor 4 and with the control unit 16, that the transmission of the data to the evaluation unit 18 can take place either in real time during the functional test or at the end of the functional test.
  • the evaluation unit 18 On the basis of the transmitted sequence (the activation) and the course (the brightness), the evaluation unit 18 identifies any incorrect functions of one or more LEDs 11 of the strand 13. With individual control of the LEDs 11, recognition is based on a qualitative, bivalent evaluation of the sensor signal: should If one of the LEDs does not work, then the detector or the evaluation unit detects a (short) interruption of the light and can evaluate this as an error of the LED matrix. About the time of the light interruption can be with knowledge of the sequence 0
  • the drive the faulty LED 11 are identified.
  • the measured brightness in the evaluation unit 18 is quantitatively compared with a predefined setpoint value or a preset minimum brightness, and when the brightness drops, the group active at the time of the intrusion is recognized as having an error.
  • the evaluation unit 18 transmits the assigned Identifi ⁇ cation information to a display or output unit 19.
  • the display or output unit 19 signals the detected malfunction ⁇ function, so that following the function check, for example, an exchange or a repair of the faulty LED matrix module 10 can be made.
  • the light guide at least partially collects the light of all LEDs regardless of a geometrical arrangement of the LEDs with each other and / or with respect to the sensor and passes the collected light to the sensor 4, which can thus monitor or check all the LEDs.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

Verfahren und Einrichtung (1) zur Funktionsüberprüfung einer Anordnung (9) von Leuchtmitteln (11), welche in zumindest zwei unabhängig ansteuerbare Gruppen unterteilt sind, wobei die Gruppen sequentiell angesteuert werden und währenddessen ein zeitlicher Verlauf der von mehreren Leuchtmitteln (11) ausgehenden Helligkeit gemessen wird, der mit einem erwarteten Helligkeits-Verlauf verglichen wird, wobei bei einer Abweichung des Helligkeits-Verlaufs eine Fehlfunktion signalisiert wird.

Description

Beschreibung
Verfahren und Einrichtung zur Funktionsprüfung von Leuchtmitteln
Die Erfindung betrifft eine Verfahren und eine Einrichtung zur Funktionsüberprüfung einer Anordnung von Leuchtmitteln, welche in zumindest zwei unabhängig ansteuerbare Gruppen unterteilt sind, mit zumindest einem Sensor, mit einer Ansteuerungseinheit zur Ansteuerung einer zu überprüfenden Anordnung von Leuchtmitteln. Insbesondere betrifft die Erfindung die Funktions¬ überprüfung von LED-Anordnungen im KFZ-Bereich. Leuchtmittelanordnungen mit einer Vielzahl von teilweise unabhängig bis hin zu einzeln ansteuerbarer Leuchtmittel werden für adaptive Scheinwerfersysteme, beispielsweise von Fahrzeugen, eingesetzt. Häufig handelt es sich dabei um LED-Matrix-Anord¬ nungen einer Vielzahl einzeln adressierbarer LEDs. Bei der- artigen Anordnungen kann die Ausleuchtungsgeometrie variabel, z.B. an eine Fahrsituation, angepasst werden. Dies ist besonders im KFZ-Bereich von Interesse, um verschiedene Lichtfunktionen, wie Tagfahrlicht, Abblendlicht, Kurvenlicht und Abbiegelicht , in einem Scheinwerferdesign zu integrieren, wobei die einzelnen Funktionen dennoch flexibel einstellbar sind.
Bei der Herstellung der vorgenannten Leuchtmittelanordnungen müssen die Leuchtmittel einer Funktionsprüfung unterzogen werden. So muss etwa bei der Herstellung einer LED-Matrix die Funktion jeder einzelnen LED sichergestellt sein. In diesem Zusammenhang ist es üblich, für jedes Leichtmittel bzw. jede LED einen eigenen Sensor vorzusehen, der über eine Lichtübertragungsstrecke bei der Funktionsprüfung optisch mit der LED verbunden wird, d.h. der Sensor wird in Verbindung mit einer Lichtübertragungsstrecke so positioniert, dass das Licht eines einzigen Leuchtmittels detektiert wird.
Nachteilig hierbei ist die in Herstellung und Wartung aufwendige Prüfeinrichtung, insbesondere bei einer großen Anzahl von Leuchtmitteln. Außerdem muss die Positionierung der Leuchtmittelanordnung relativ zu den Lichtübertragungsstrecken so genau sein, dass bei Fehlfunktion eines Leuchtmittels der zugeordnete Sensor nicht das Licht eines benachbarten
Leuchtmittels detektiert und somit eine Erkennung der Fehl¬ funktion fehlschlägt. Es ist Aufgabe der Erfindung, das Prüf erfahren und die
Prüfeinrichtung zu vereinfachen, somit Herstellungs- und Durchführungsaufwand und -kosten zu reduzieren und die Zu¬ verlässigkeit der Funktionsüberprüfung zu erhöhen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass die Leuchtmittel-Gruppen sequentiell angesteuert werden und währenddessen ein zeitlicher Verlauf der von mehreren Leuchtmitteln ausgehenden Helligkeit gemessen wird, der mit einem erwarteten Helligkeits-Verlauf verglichen wird, wobei bei einer Abweichung des Helligkeits-Verlaufs (d.h. des gemessenen zeitlichen Verlaufs der von mehreren Leuchtmitteln ausgehenden Helligkeit) eine Fehlfunktion signalisiert wird. Zur Ermittlung etwaiger Abweichungen kann beispielsweise der gemessene Helligkeits- Verlauf an jedem Messpunkt mit dem erwarteten Helligkeits- Verlauf verglichen werden. Im Unterschied zu bekannten Über- prüfungsverfahren werden die Helligkeitsmessungen zeitlich versetzt durchgeführt, so dass die gemessenen Werte voneinander unabhängig sind und gegenseitige Beeinflussungen ausgeschlossen werden können. Insbesondere ermöglicht die sequentielle Messung eine Verwendung eines Sensors für mehrere Leuchtmittel derselben Anordnung.
Dementsprechend ist bei der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung sowohl mit dem Sensor als auch mit der Ansteuerungseinheit eine Auswerteeinheit zur Überwachung des zeitlichen Verlaufs der von mehreren Leuchtmitteln ausgehenden Helligkeit verbundenen, wobei der Sensor als gemeinsamer Sensor zur Messung der Helligkeit mehrerer sequentiell angesteuerter Leuchtmittel ein¬ gerichtet ist. Der Aufbau der Prüfeinrichtung ist somit gegenüber bekannten Einrichtungen vereinfacht, da bei gleicher Anzahl von Leuchtmitteln eine geringere Anzahl von Sensoren erforderlich ist, d.h. die Anzahl der Sensoren ist vorteilhafterweise geringer als die Anzahl der Leuchtmittel einer zu überprüfenden Anordnung. Das Prüf erfahren kann vorteilhaft weiter vereinfacht werden, wenn die Leuchtmittel in Gruppen unterteilt sind, deren erwartete Helligkeit im Wesentlichen gleich ist. Der erwartete Verlauf der gemessenen Helligkeit ist in diesem Fall besonders einfach; zur Überprüfung ist es möglich, bei jeder Gruppe die gemessene
Helligkeit mit einem immer gleichen Vorgabewert zu vergleichen.
Eine entsprechend einfache Überprüfung ist beispielsweise möglich, wenn alle Leuchtmittel der Anordnung im Wesentlichen baugleich sind. Wenn in diesem Zusammenhang außerdem bei der sequentiellen
Ansteuerung die Übergänge zwischen den Gruppen so synchronisiert werden, dass der erwartete zeitliche Verlauf der Helligkeit im Wesentlichen gleichförmig bzw. zeitlich konstant ist, kann eine ansonsten notwendige Synchronisation zwischen der Ansteuerung der Leuchtmittel und Messung bzw. Auswertung der Helligkeit unterbleiben, und es genügt, lediglich den Beginn und das Ende einer Messsequenz zu synchronisieren. Da die sequentiellen Messungen unmittelbar aufeinander folgen, kann die Geschwindigkeit der gesamten Messung verbessert bzw. die Dauer der gesamten Überprüfung reduziert werden.
Eine besonders einfache Messung und Auswertung kann erzielt werden, wenn die Leuchtmittel einzeln ansteuerbar sind und jede sequentiell angesteuerte Gruppe nur ein Leuchtmittel aufweist. In diesem Fall werden die Leuchtmittel vorteilhaft einzeln angesteuert und bei der Überprüfung leuchtet somit zu jedem
Zeitpunkt nur genau ein Leuchtmittel, so dass eine quantitative Messung der Helligkeit unterbleiben kann. Es kann daher ein vergleichsweise ungenauer Sensor mit einer lediglich zweiwertigen Auswertung eingesetzt werden, da lediglich erkannt werden muss, ob zu jedem Messzeitpunkt ein Licht leuchtet oder nicht .
Dabei ist es vorteilhaft, wenn eine Fehlfunktion eines Leucht¬ mittels anhand eines vorübergehenden Lichtausfalls im Verlauf der gemessenen Helligkeit erkannt wird. Die Lichtintensität muss in diesem Fall weder gemessen noch ausgewertet werden. Auch wenn eine eindeutige Zuordnung zwischen Sensor und Leuchtmittel bei dem vorliegenden Verfahren im Allgemeinen nicht gegeben ist, kann eine Gruppe mit einem fehlerhaften Leuchtmittel anhand des Zeitpunkts der Abweichung im zeitlichen Verlauf der gemessenen Helligkeit identifiziert werden. Für eine derartige Identifikation muss der Helligkeitsverlauf mit der Reihenfolge und der Dauer der Ansteuerung der Leuchtmittel verglichen werden. Die Gruppe mit dem fehlerhaften Leuchtmittel ist jene Gruppe, die zum Zeitpunkt der Abweichung angesteuert wurde. Anstatt die komplette Anordnung zu verwerfen oder alle Gruppen manuell erneut zu überprüfen, kann nun beispielsweise nur die fehlerhafte Gruppe ausgetauscht werden.
Es ist weiters besonders günstig, wenn die von der gesamten Anordnung ausgehende Helligkeit mit einem einzigen Sensor gemessen wird. Die Positionierung der Leuchtmittelanordnung ist in diesem Fall einfach zu bewerkstelligen, da eine fehlerhafte Zuordnung zwischen Leuchtmittel und Sensor ausgeschlossen ist.
Bei der entsprechenden Prüfeinrichtung ist somit vorteilhaft nur ein Sensor zur Messung der Helligkeit aller Leuchtmittel der Anordnung vorgesehen. Die Auswerteeinheit kann in diesem Fall direkt mit dem Sensor integriert werden, da eine Verbindung mit mehreren Sensoren nicht erforderlich ist.
Das vorliegende Verfahren zur Funktionsüberprüfung ist besonders vorteilhaft, wenn die Leuchtmittel Leuchtdioden (LEDs) sind, wobei die Anordnung insbesondere eine LED-Matrix ist. Bei der¬ artigen Anordnungen kann eine hohe Anzahl von Leuchtmitteln auf engem Raum realisiert werden, so dass eine Zuordnung jedes Leuchtmittels zu einem eigenen Sensor besonders schwierig wäre. Eine sequentielle Überprüfung gemäß dem vorliegenden Verfahren ermöglicht hierbei exakte Ergebnisse sowie große Einsparungen hinsichtlich der Sensoren und vereinfacht die zur Überprüfung notwendige Justierung auf ein Mindestmaß.
Damit eventuelle Beeinflussungen durch Lichtquellen, welche nicht zur zu überprüfenden Anordnung gehören, vermieden werden, ist es günstig, wenn ein Bereich zwischen der Leuchtmittel- anordnung und dem zumindest einen Detektor gegen Streulicht abgeschirmt ist. Beispielsweise kann ein kegelförmiger, lichtundurchlässiger Schirm vorgesehen sein, welcher sich von einem Sensor bis zu einem Rand der Leuchtmittelanordnung er- streckt.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von besonders bevorzugten Ausführungsbeispielen, auf die sie jedoch nicht beschränkt sein soll, und unter Bezugnahme auf die Zeichnungen noch weiter erläutert. In den Zeichnungen zeigen dabei im Einzelnen:
Fig. 1 eine schaubildliche Ansicht einer Prüfeinrichtung mit einem Prüfling; und
Fig. 2 ein schematisches Blockschaltbild einer Prüfein¬ richtung mit einer zu überprüfenden Leuchtmittelanordnung.
In Fig. 1 ist eine Prüfeinrichtung 1 mit einem Detektor 2 und einer Abschirmung 3 gezeigt. Der Detektor 2 weist einen einzigen Sensor 4 auf, welcher zur Messung der Helligkeit innerhalb der Abschirmung 3 eingerichtet ist. Die Abschirmung 3 ist bei¬ spielsweise pyramidenstumpfförmig mit einer im Allgemeinen rechteckigen Grundfläche 5, wobei die Abschirmung an der Grundfläche und der parallel gegenüberliegenden Schnittfläche 6 eine Öffnung aufweist. Der Detektor 2 ist auf der engeren Oberseite 7 der Abschirmung 3 angeordnet und bildet mit einem Rand der Schnittfläche 6 einen lichtundurchlässigen Abschluss.
Benachbart einer breiten Unterseite 8 der Abschirmung 3 ist eine zu prüfende Leuchtmittelanordnung 9 in Form eines LED-Matrix-Mo¬ duls 10 angeordnet. Das LED-Matrix-Modul 10 ist so orientiert, dass seine Leuchtmittel bzw. LEDs 11 auf einer der Prüfein¬ richtung 1 zugewandten Seite angeordnet sind. Die LEDs 11 sind einzeln ansteuerbar (vgl. Fig. 2). Die Fläche 12, über die die LEDs 11 verteilt sind, ist kleiner oder gleich der Grundfläche 5 der Abschirmung 3. Somit kann die Abschirmung 3 so an das LED-Matrix-Modul 10 herangeführt werden, dass von der Umgebung kein Licht, insbesondere kein Streulicht, auf den Detektor 2 eindringen kann. Fig. 2 zeigt ein schematisches Blockschaltbild des elektrischen Teils der Prüfeinrichtung 1 zur Durchführung des vorliegenden Verfahrens, welche mit einem Prüfling, d.h. einer zu überprüfenden Leuchtmittelanordnung 9, verbunden ist. Der Prüfling 9, bei dem es sich beispielsweise um ein LED-Matrix-Modul 10 handeln kann, weist zumindest einen Strang 13 in Serie ge¬ schalteter LEDs 11 auf. Zur Funktionsprüfung ist der Strang 13 mit einer Konstantstromquelle 14 verbunden, welche einen zur Versorgung der LEDs 11 angepassten Strom bereitstellt. Die LEDs 11 sind einzeln ansteuerbar, indem parallel zu jeder LED 11 ein Schalter 15 zu deren Überbrückung geschaltet ist. Wenn der Schalter 15 geschlossen ist, fließt der Strom aufgrund des erheblich niedrigeren Widerstands des Schalters 15 im Wesent¬ lichen ausschließlich über den Schalter 15 und die zugeordnete LED 11 bleibt dunkel. Es ist aus Fig. 2 unmittelbar ersichtlich, dass anstelle der einzelnen LEDs 11 auch LED-Gruppen mit jeweils mehreren LEDs vorgesehen sein können, wobei ein Schalter 15 zur Überbrückung einer Gruppe, d.h. sämtlicher LEDs der Gruppe, eingerichtet sein kann. In diesem Fall wären nicht alle LEDs einzeln ansteuerbar; das vorliegende Verfahren könnte dann zumindest auf die Gruppen angewendet werden. Die Gruppen könnten dabei Reihen- und/oder Parallelschaltungen von LEDs 11 enthalten .
Die Schalter 15 sind mit einer Ansteuerungseinheit 16 verbunden, welche die Stellung der Schalter 15 steuert. Zwischen der Ansteuerungseinheit 16 und den einzelnen Schaltern 15 sind
Treiberschaltungen 17 geschaltet, welche ein von der Ansteuerungseinheit 16 generiertes Steuersignal auf ein Arbeitspo¬ tential des zugeordneten Schalters 15 bringen. Die Ansteue¬ rungseinheit 16 weist einen Taktgeber auf, der eine sequentielle Ansteuerung der einzelnen LEDs 11 erlaubt, indem in zeitlich regelmäßigen Abständen jeweils genau einer der Schalter 15 geöffnet und somit die zugeordnete LED 11 aktiviert wird. Das Öffnen eines Schalters 15 ist dabei mit dem zeitgleichen Schlie¬ ßen eines anderen, zuvor geöffneten Schalters 15 synchronisiert, so dass ein Lichtstrom bzw. die Helligkeit des von den LEDs 11 ausgehenden Lichts im Wesentlichen unverändert bleibt und einen gleichförmigen Verlauf aufweist. Dabei ist bei den Übergängen von einer LED 11 zur nächsten auf die präzise zeitliche Ansteuerung Wert zu legen. Während ein derartiger gleichförmiger Verlauf für die Anwendung nicht unbedingt erforderlich ist, ist es prin¬ zipiell von Vorteil, wenn eine sequentielle Ansteuerung der Leuchtmittelanordnung 9 in der Art eines „Lauflichts" für eine Funktionsprüfung gemäß dem vorliegenden Verfahren zumindest im Testbetrieb möglich ist.
Zur Durchführung der Funktionsüberprüfung sind die LEDs 11 in einem Sichtbereich eines Sensors 4 angeordnet, welcher Teil eines Detektors 2 (s. Fig. 1) ist. Der Sensor 4 ist zur Messung der Helligkeit des von den LEDs 11 abgegebenen Lichts eingerichtet. Mit dem Sensor 4 und der Ansteuerungseinheit 16 ist eine Auswer¬ teeinheit 18 verbunden. Der Sensor 4 übermittelt die während einer Funktionsüberprüfung gemessenen Helligkeitswerte bzw. den zeitlichen Verlauf der gemessenen Helligkeit an die Auswer- teeinheit 18. Im Fall einer synchronisierten sequentiellen
Ansteuerung von baugleichen LEDs 11 oder LED-Gruppen registriert der Sensor 4 beispielsweise eine im Wesentlichen konstante Helligkeit. Die Ansteuerungseinheit 16 übermittelt ebenfalls einen zeitlichen Ablauf der Ansteuerung der einzelnen LEDs 11 mit der Information, zu welchem Zeitpunkt welche LED(s) 11 aktiv sind bzw. waren, an die Auswerteeinheit 18. Der zeitliche Ablauf der Ansteuerung kann aber auch von der Auswerteeinheit 18 vorgegeben und von der Ansteuerungseinheit 16 gegebenenfalls bestätigt werden. Es ist dem Fachmann sowohl im Zusammenhang mit dem Sensor 4 als auch mit der Ansteuerungseinheit 16 ersichtlich, dass die Übertragung der Daten zur Auswerteeinheit 18 entweder in Echtzeit während der Funktionsprüfung oder gesammelt am Ende der Funktionsprüfung erfolgen kann.
Anhand des übermittelten Ablaufs (der Ansteuerung) und Verlaufs (der Helligkeit) erkennt die Auswerteeinheit 18 etwaige Fehl¬ funktionen einer oder mehrerer LEDs 11 des Strangs 13. Bei einzelner Ansteuerung der LEDs 11 erfolgt die Erkennung anhand einer qualitativen, zweiwertigen Auswertung des Sensorsignals: sollte eine der LEDs nicht funktionieren, so erkennt der Detektor bzw. die Auswerteeinheit eine (kurze) Unterbrechung des Lichtes und kann das als Fehler der LED-Matrix auswerten. Über den Zeitpunkt der Lichtunterbrechung kann bei Kenntnis der Abfolge 0
o
der Ansteuerung die fehlerbehaftete LED 11 identifiziert werden. Bei einer Ansteuerung von LED-Gruppen wird die gemessene Helligkeit in der Auswerteeinheit 18 quantitativ mit einem vorgegebenen Sollwert bzw. einer voreingestellten Mindest- helligkeit verglichen, und bei einem Einbruch der Helligkeit wird die zum Zeitpunkt des Einbruchs aktive Gruppe als fehlerbehaftet erkannt. Nach Ermittlung der fehlerhaften LED 11 oder LED-Gruppe übermittelt die Auswerteeinheit 18 die zugeordnete Identifi¬ kationsinformation an eine Anzeige- oder Ausgabeeinheit 19. Die Anzeige- oder Ausgabeeinheit 19 signalisiert die erkannte Fehl¬ funktion, so dass im Anschluss an die Funktionsüberprüfung beispielsweise ein Austausch oder eine Reparatur des fehlerbehafteten LED-Matrix-Moduls 10 vorgenommen werden kann.
Alternativ zur Anordnung sämtlicher LEDs in einem Sichtbereich eines Sensors kann auch ein die LEDs verbindender Lichtleiter vorgesehen sein, mit dem der Sensor gekoppelt ist. In diesem Fall sammelt der Lichtleiter - unabhängig von einer geometrischen Anordnung der LEDs untereinander und/oder gegenüber dem Sensor - das Licht sämtlicher LEDs zumindest teilweise ein und leitet das gesammelte Licht an den Sensor 4, welcher somit sämtliche LEDs überwachen bzw. prüfen kann.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Funktionsüberprüfung einer Anordnung (9) von Leuchtmitteln (11), welche in zumindest zwei unabhängig an¬ steuerbare Gruppen unterteilt sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Gruppen sequentiell angesteuert werden und währenddessen ein zeitlicher Verlauf der von mehreren Leuchtmitteln (11) ausgehenden Helligkeit gemessen wird, der mit einem erwarteten Helligkeits-Verlauf verglichen wird, wobei bei einer Abweichung des Helligkeits-Verlaufs eine Fehlfunktion signalisiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmittel (11) in Gruppen unterteilt sind, deren erwartete Helligkeit im Wesentlichen gleich ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass bei der sequentiellen Ansteuerung die Übergänge zwischen den Gruppen so synchronisiert werden, dass der erwartete Helligkeits-Verlauf im Wesentlichen gleichförmig bzw. zeitlich konstant ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmittel (11) einzeln ansteuerbar sind und jede sequentiell angesteuerte Gruppe nur ein
Leuchtmittel (11) aufweist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine Fehlfunktion eines Leuchtmittels (11) anhand eines vo¬ rübergehenden Lichtausfalls im gemessenen Helligkeits-Verlauf erkannt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass eine Gruppe mit einem fehlerhaften
Leuchtmittel (11) anhand des Zeitpunkts der Abweichung im zeitlichen Verlauf der gemessenen Helligkeit identifiziert wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge- kennzeichnet, dass die von der gesamten Anordnung (9) ausgehende Helligkeit mit einem einzigen Sensor (4) gemessen wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmittel (11) Leuchtdioden (LEDs) sind, wobei die Anordnung (9) insbesondere eine LED-Matrix (10) ist .
9. Prüfeinrichtung (1), insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8, mit zumindest einem Sensor (4), mit einer Ansteuerungseinheit (16) zur Ansteuerung einer zu überprüfenden Anordnung (9) von Leuchtmitteln (11), dadurch gekennzeichnet, dass sowohl mit dem Sensor (4) als auch mit der Ansteuerungseinheit (16) eine Auswerteeinheit (18) zur Überwachung des zeitlichen Verlaufs der von mehreren Leuchtmitteln (11) ausgehenden Helligkeit verbundenen ist, wobei der Sensor (4) als gemeinsamer Sensor (4) zur Messung der Helligkeit mehrerer sequentiell angesteuerter Leuchtmittel (11) einge- richtet ist.
10. Prüfeinrichtung (1) nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmittel (11) einzeln ansteuerbar sind.
11. Prüfeinrichtung (1) nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass alle Leuchtmittel (11) der Anordnung (9) im Wesentlichen baugleich sind.
12. Prüfeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Leuchtmittel (11) Leuchtdioden sind .
13. Prüfeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass ein Sichtbereich zwischen der
Leuchtmittelanordnung (9) und dem zumindest einen Detektor (2) gegen Streulicht abgeschirmt ist.
14. Prüfeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass nur ein Detektor (2) zur Messung der Helligkeit aller Leuchtmittel (11) der Anordnung (9) vorgesehen ist .
PCT/EP2013/073852 2012-12-21 2013-11-14 Verfahren und einrichtung zur funktionsprüfung von leuchtmitteln Ceased WO2014095176A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012224323.2A DE102012224323B4 (de) 2012-12-21 2012-12-21 Verfahren und Einrichtung zur Funktionsprüfung von Leuchtmitteln
DE102012224323.2 2012-12-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014095176A1 true WO2014095176A1 (de) 2014-06-26

Family

ID=49578319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2013/073852 Ceased WO2014095176A1 (de) 2012-12-21 2013-11-14 Verfahren und einrichtung zur funktionsprüfung von leuchtmitteln

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102012224323B4 (de)
WO (1) WO2014095176A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104965181A (zh) * 2015-07-09 2015-10-07 儒拉玛特自动化技术（合肥）有限公司 一种基于光敏传感器的车灯led灯光检测机构
US20170234727A1 (en) * 2016-02-16 2017-08-17 Feasa Enterprises Limited Method and Apparatus for Testing Optical Outputs
WO2017181507A1 (zh) * 2016-04-19 2017-10-26 深圳Tcl数字技术有限公司 灯条光衰检测方法、装置和系统
GB2551016A (en) * 2016-04-19 2017-12-06 Leviton Manufacturing Co Brightness monitoring for LED failures and daylighting target adjusting

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104296973A (zh) * 2014-09-12 2015-01-21 昆山博文照明科技有限公司 汽车led前照灯配光检测装置
CN104360292B (zh) * 2014-12-08 2017-09-19 昆山精讯电子技术有限公司 Led灯条光电性检测机构
DE102019109123A1 (de) * 2019-04-08 2020-10-08 HELLA GmbH & Co. KGaA Beleuchtungsvorrichtung für ein Kraftfahrzeug, Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit einer Mehrzahl von Lichtquellen einer Beleuchtungsvorrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Beleuchtungsvorrichtung
DE102020104959A1 (de) 2020-02-26 2021-08-26 HELLA GmbH & Co. KGaA Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Detektion einer Beeinträchtigung einer Lichtabstrahlung bei einer Beleuchtungsvorrichtung für ein Fahrzeug
DE102023106878A1 (de) * 2023-03-20 2024-09-26 HELLA GmbH & Co. KGaA Prüfverfahren für Scheinwerfer sowie Testvorrichtung
DE102023208521A1 (de) 2023-09-05 2025-03-06 Siemens Mobility GmbH Funktionsüberwachung eines Signalbilds

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4775640A (en) * 1987-05-01 1988-10-04 American Telephone And Telegraph Company Electronic device test method and apparatus
US6384612B2 (en) * 1998-10-07 2002-05-07 Agere Systems Guardian Corporation Method and apparatus for testing the light output of light emitting devices
US20110267087A1 (en) * 2010-04-28 2011-11-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Apparatus and method for wafer level classification of light emitting device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202004006019U1 (de) * 2004-04-16 2004-06-09 GPS Prüftechnik mbH Testvorrichtung für lichtemittierende Dioden
DE102011076133A1 (de) * 2011-05-19 2012-11-22 Robert Bosch Gmbh Prüfvorrichtung für eine Kamera sowie ein Verfahren zur Prüfung einer Kamera

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4775640A (en) * 1987-05-01 1988-10-04 American Telephone And Telegraph Company Electronic device test method and apparatus
US6384612B2 (en) * 1998-10-07 2002-05-07 Agere Systems Guardian Corporation Method and apparatus for testing the light output of light emitting devices
US20110267087A1 (en) * 2010-04-28 2011-11-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Apparatus and method for wafer level classification of light emitting device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104965181A (zh) * 2015-07-09 2015-10-07 儒拉玛特自动化技术（合肥）有限公司 一种基于光敏传感器的车灯led灯光检测机构
US20170234727A1 (en) * 2016-02-16 2017-08-17 Feasa Enterprises Limited Method and Apparatus for Testing Optical Outputs
GB2547428A (en) * 2016-02-16 2017-08-23 Feasa Entpr Ltd Method and apparatus for testing optical outputs
US11067437B2 (en) 2016-02-16 2021-07-20 Feasa Enterprises Umsted Method and apparatus for testing optical outputs
WO2017181507A1 (zh) * 2016-04-19 2017-10-26 深圳Tcl数字技术有限公司 灯条光衰检测方法、装置和系统
GB2551016A (en) * 2016-04-19 2017-12-06 Leviton Manufacturing Co Brightness monitoring for LED failures and daylighting target adjusting
GB2551016B (en) * 2016-04-19 2021-10-20 Leviton Manufacturing Co Brightness monitoring for LED failures and daylighting target adjusting

Also Published As

Publication number Publication date
DE102012224323A1 (de) 2014-06-26
DE102012224323B4 (de) 2019-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102012224323B4 (de) Verfahren und Einrichtung zur Funktionsprüfung von Leuchtmitteln
DE102014112176B4 (de) Verfahren zum Betreiben einer optoelektronischen Baugruppe und optoelektronische Baugruppe
DE102013110840B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Diagnose von LED's in einem LED-Array-System
EP0866440B1 (de) Leuchtdiodenmatrix-Anzeigevorrichtung
EP3792547B1 (de) Blendfreier scheinwerfer und kraftfahrzeug
DE102008025530B4 (de) Einrichtung zur Prüfung der Funktion einer Leuchteinrichtung eines Kraftfahrzeugs
DE102007045259A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der von einer LED-Lichtquelle abgestrahlten Lichtleistung
EP0061021A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung von Fehlern von Glasgegenständen
EP3414581B1 (de) Verfahren und ict-einrichtung zum überprüfen von zumindest zwei leds enthaltenden modulen einer beleuchtungseinrichtung
DE102014013236B4 (de) Prüfvorrichtung zum automatisierten Prüfen einer Funktionsfähigkeit eines Fahrzeugs sowie Verfahren zum Betreiben einer Prüfvorrichtung
DE102008034524B4 (de) Notlichteinheit
EP3578294A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur überwachung eines aufnahmestatus eines werkstücks
EP2050619B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln eines Betriebsparameters von zumindest einem Leuchtmittel einer Lichtquelle eines Kraftfahrzeuges
EP2584874B1 (de) LED-Leuchte mit Überwachung
WO2011107343A1 (de) Verfahren zur gruppierung oder kennzeichnung von lumineszenzdiodenbauelementen und lumineszenzdiodenbauelement
EP3424275B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum automatischen erfassen der konfiguration von hintereinander geschaltenen leuchtelementen
DE10349769B3 (de) Instrumentenanzeigesystem für ein Kraftfahrzeug
DE102014108044B4 (de) Lichtmikroskop mit einer rotierbaren Scheibe und Verfahren zum Mikroskopieren mit diesem
DE202013009490U1 (de) Leuchte bzw. Leuchtanordnung
DE3602395C2 (de) Verfahren zur Selbstkontrolle einer optoelektronischen Rißerkennungsvorrichtung
DE102021100543A1 (de) Anordnung zur Bereitstellung von wenigstens zwei unterschiedlichen Lichtfunktionen für ein Fahrzeug
DE102020104959A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Detektion einer Beeinträchtigung einer Lichtabstrahlung bei einer Beleuchtungsvorrichtung für ein Fahrzeug
EP3407681B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur durchführung einer funktionsprüfung eines leuchtmittels einer leuchte für beleuchtungs- oder anzeigezwecke
EP1921587A1 (de) Optoelektronische Überwachungsvorrichtung mit Testeinheit und Testverfahren
EP4732636A1 (de) Funktionsüberwachung eines signalbilds

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13789587

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13789587

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1