WO2013140582A1 - 検出装置及び方法 - Google Patents

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WO2013140582A1
WO2013140582A1 PCT/JP2012/057378 JP2012057378W WO2013140582A1 WO 2013140582 A1 WO2013140582 A1 WO 2013140582A1 JP 2012057378 W JP2012057378 W JP 2012057378W WO 2013140582 A1 WO2013140582 A1 WO 2013140582A1
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detection
state
voltage
amplifier
reference voltage
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PCT/JP2012/057378
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French (fr)
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立石 潔
泰輝 児玉
石戸谷 耕一
剛 並木
信夫 三岡
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パイオニア株式会社
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/20Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
    • G01L1/22Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
    • G01L1/225Measuring circuits therefor
    • G01L1/2256Measuring circuits therefor involving digital counting

Definitions

  • the present invention relates to a technical field of a detection apparatus and method for detecting a detection target amount such as a distortion amount.
  • a detection device including a bridge circuit such as a Wheatstone bridge and an amplifier that amplifies an output (that is, a detection result) of the bridge circuit is known (for example, see Patent Document 1).
  • a voltage signal corresponding to the distortion generated in the bridge circuit that is, a voltage signal corresponding to the distortion amount
  • the amplifier Amplified.
  • the distortion amount is detected by analyzing the output of the amplifier (that is, the amplified voltage signal).
  • measures may be taken to supply operating power to the bridge circuit only while the amount of distortion is actually detected. In other words, measures may be taken not to supply operating power to the bridge circuit while the amount of distortion is not actually detected.
  • a reference voltage for adjusting (for example, canceling) the offset is supplied to the amplifier.
  • the reference voltage supplied to the amplifier is constant regardless of the operating state of the bridge circuit arranged in the previous stage of the amplifier. That is, the reference voltage supplied to the amplifier when the operating power is supplied to the bridge circuit is the same as the reference voltage supplied to the amplifier when the operating power is not supplied to the bridge circuit.
  • the amplification factor (in other words, gain) of the amplifier is relatively large, when the reference voltage is always constant, the amplifier may be saturated depending on the offset generated in the amplifier. Problems arise.
  • Such a technical problem is not limited to a detection device including a bridge circuit in which distortion occurs and an amplifier that amplifies the output of the bridge circuit, and a detection circuit that detects an arbitrary detection target amount and the detection circuit. This can also occur in a detection apparatus including an amplifier that amplifies the output of the same.
  • the present invention has been made in view of the above problems, for example, and provides a detection apparatus and method that can detect an arbitrary detection target amount more appropriately (in other words, without saturating the amplifier). This is the issue.
  • a detection device for solving the above problems includes a detection unit that detects a desired detection target amount, an amplification unit that amplifies the detection target amount detected by the detection unit according to a reference voltage for offset adjustment,
  • the operating state of the detecting means is (i) a first state in which the detecting means detects the detection target amount by supplying operating power to the detecting means, and (ii) the operating power is supplied to the detecting means.
  • a predetermined first voltage is supplied to the amplifying unit as the reference voltage, and (ii) when the operating state of the detecting unit is in the second state, it is different from the first voltage.
  • a detection method for solving the above-described problem includes a detection unit that detects a desired detection target amount, and the detection target amount detected by the detection unit is amplified according to a reference voltage for offset adjustment of the detection target amount.
  • a detection method comprising: an amplifying unit that detects an operating state of the detecting unit; and (i) an operating power supply is supplied to the detecting unit, so that the detecting unit detects the detection target amount.
  • the detection apparatus includes a detection unit that detects a desired detection target amount, an amplification unit that amplifies the detection target amount detected by the detection unit according to a reference voltage for offset adjustment, and the detection unit.
  • the operation state of the detection means is in the first state so that the detection means switches between the second state in which the detection target amount is not detected and the second state in which the detection target amount is not detected.
  • a predetermined first voltage is supplied to the amplifying unit as the reference voltage, and (ii) a predetermined first voltage different from the first voltage when the operating state of the detecting unit is in the second state.
  • the amplification hand using two voltages as the reference voltage And a supply means for supplying.
  • the detection means detects a desired detection target amount.
  • the detection target amount may be anything as long as it is a characteristic or index that can be detected by a detection means including, for example, an arbitrary sensor.
  • An example of such a detection target amount is a distortion amount.
  • the detection means preferably includes a strain gauge (for example, a strain gauge configured with a Wheatstone bridge circuit).
  • the amplification means amplifies the detection target amount detected by the detection means.
  • the amplification unit amplifies the detection target amount detected by the detection unit in accordance with a reference voltage for adjusting (in other words, compensating) the offset of the amplification unit.
  • control means controls the detection means so as to switch the operation state of the detection means. More specifically, the control means switches the operation state of the detection means from the first state to the second state when the operation state of the detection means is the first state. On the other hand, when the operation state of the detection unit is the second state, the control unit switches the operation state of the detection unit from the second state to the first state.
  • the first state indicates an operating state in which operating power is supplied to the detecting means. That is, the first state indicates an operation state in which the detection unit is operating (that is, an operation state in which the detection unit can detect the detection target amount).
  • the second state indicates an operating state in which operating power is not supplied to the detecting means (that is, the operating power supply is cut). That is, the second state indicates an operation state in which the detection unit is not operating (that is, an operation state in which the detection unit cannot detect the detection target amount).
  • the supply unit further switches the reference voltage supplied to the amplification unit in accordance with the operating state of the detection unit. Specifically, the supply unit supplies a predetermined first voltage to the amplification unit as a reference voltage when the operation state of the detection unit is in the first state (that is, the detection unit is operating). On the other hand, the supply unit is different from the first voltage (for example, smaller or larger than the first voltage) when the operation state of the detection unit is in the second state (that is, the detection unit is not operating). A predetermined second voltage is supplied as a reference voltage to the amplification means.
  • first voltage is preferably adjusted as appropriate by first adjusting means described later.
  • second voltage is appropriately adjusted by a second adjusting unit described later. Such adjustment of the first voltage and the second voltage is preferably performed before the detection unit actually detects the detection target amount (that is, before the detection device starts the detection operation).
  • the control unit can appropriately switch the operation state of the detection unit.
  • the control unit can switch the operation state of the detection unit to the second state during a period in which the detection unit does not have to detect the detection target amount. For this reason, a period during which no operating power is supplied to the detection means is provided. Therefore, the power consumption of the detection device of the present embodiment can be reduced as compared with a detection device of a comparative example in which the operation state of the detection means is not appropriately switched.
  • the control unit can switch the operation state of the detection unit to the first state during the period in which the detection unit should detect the detection target amount. For this reason, while the power consumption of the detection device is reduced, the detection of the detection target amount by the detection means is not hindered.
  • the supply means can switch the reference voltage supplied to the amplification means in accordance with the operating state of the detection means. That is, the supply unit can supply a suitable reference voltage that matches the operating state of the detection unit to the amplification unit. Therefore, compared with the detection device of the comparative example that supplies a fixed reference voltage to the amplification means regardless of the operation state of the detection means, in this embodiment, even if the operation state of the detection means is switched, the amplification means The possibility of saturation is reduced. Alternatively, in this embodiment, there is little or no saturation of the amplification means. It should be noted that saturation of the amplifying means is more preferably prevented by adjusting the first voltage (that is, initial setting or initial adjustment) by the first adjusting means described later and adjusting the second voltage by the second adjusting means.
  • the amplification in the case where the detection target amount of a size detectable by the detection unit is not generated and the operation state of the detection unit is in the first state.
  • First adjustment means for adjusting the first voltage is further provided so that the output value of the means follows a threshold value determined according to the dynamic range of the amplification means.
  • the first adjusting means can suitably adjust (in other words, set) the first voltage.
  • the first adjustment unit appropriately adjusts the first voltage so that the output value of the amplification unit follows a threshold value determined according to the dynamic range of the amplification unit.
  • a detection target amount that is detectable by the detection unit that is, a detection target amount that is greater than or equal to the detection limit of the detection unit
  • the detection target amount is a distortion amount
  • the operation state of the detection unit is in the first state while the first adjustment unit appropriately adjusts the first voltage.
  • the output value of the detection means is normally zero.
  • the output value of the detection means may not become zero depending on the specifications of the detection means (for example, variation in resistance constituting the detection means). Therefore, in the present embodiment, the first adjustment unit adjusts the first voltage, so that the state where the output value of the detection unit does not become zero is compensated or canceled. That is, the offset of the amplifying means due to the specification of the detecting means (for example, variation in resistance constituting the detecting means) is compensated or offset.
  • the “threshold value determined according to the dynamic range of the amplifying unit” is appropriately determined from the viewpoint of realizing a state in which the output value of the amplifying unit is appropriately within the dynamic range of the amplifying unit (in other words, the dynamic range cannot be deviated). It is preferable that the value is set. That is, the “threshold value determined according to the dynamic range of the amplifying unit” is preferably a value that is appropriately set from the viewpoint of realizing a state in which the amplifying unit is not saturated. As such a “threshold value determined according to the dynamic range of the amplifying unit”, for example, an intermediate value of the dynamic range of the amplifying unit (that is, an average value of the upper limit value and the lower limit value) is given as an example.
  • the output value of the amplification unit when the operation state of the detection unit is in the second state follows a threshold value determined according to the dynamic range of the amplification unit.
  • a second adjusting means for adjusting the second voltage is another aspect of the detection device of the present embodiment.
  • the second adjustment means can suitably adjust (in other words, set) the second voltage.
  • the second adjusting means appropriately adjusts the second voltage so that the output value of the amplifying means follows a threshold value determined according to the dynamic range of the amplifying means.
  • the operation state of the detection unit is preferably in the second state.
  • the operating state of the detecting means is in the second state, the operating power is not supplied to the detecting means, so the output of the detecting means is zero and the input of the amplifying means is normally zero. Or it can be designed to be zero.
  • the second adjustment unit also adjusts the second voltage supplied to the amplification unit as the reference voltage when the detection unit is not operating. As a result, there is little or no saturation of the amplification means when the detection means is not operating.
  • the detector further includes a conversion unit that performs a predetermined conversion process on the output value of the amplification unit, and the conversion unit is configured such that the reference voltage supplied to the amplification unit is The conversion process is started after a predetermined time has elapsed since switching from the second voltage to the first voltage.
  • the conversion means is stable in the operation state without being affected by the transient state of the amplification means caused by the switching of the reference voltage (and the transient state of the detection means caused by the switching of the operation state). Conversion processing can be suitably performed on the output value of the amplification means.
  • the conversion process is, for example, an A / D conversion process that converts an analog signal that is an output value of the amplification means into a digital signal.
  • the predetermined time is the reference voltage supplied to the amplification means. Is the time required for the output of the amplifying means to become stable with reference to the time when the second voltage is switched to the first voltage.
  • the conversion means is stable in the operation state without being affected by the transient state of the amplification means caused by the switching of the reference voltage (and the transient state of the detection means caused by the switching of the operation state). Conversion processing can be suitably performed on the output value of the amplification means.
  • control unit changes the operation state of the detection unit from the second state to the first state before the conversion unit starts the conversion process. Switching, the control means switches the operation state of the detection means from the first state to the second state after the conversion means finishes the conversion process.
  • the operation state of the detection means is switched in accordance with the conversion process performed by the conversion means. Therefore, the converting means is not affected by the transient state of the detecting means caused by the switching of the operating state (further, the transient state of the amplifying means caused by the switching of the reference voltage). Conversion processing can be suitably performed on the detected detection target amount (in other words, the output value of the amplifying unit whose operation state is stable).
  • the detection means includes a bridge circuit that detects a distortion amount as the detection target amount.
  • the above-described various effects can be suitably enjoyed in the detection device including the bridge circuit that detects the amount of distortion.
  • the detection method of this embodiment includes a detection unit that detects a desired detection target amount, and an amplification unit that amplifies the detection target amount detected by the detection unit in accordance with a reference voltage for offset adjustment of the detection target amount.
  • the detection method of this embodiment may adopt various aspects.
  • the detection device As described above, according to the detection apparatus of the present embodiment, the detection device, the amplification device, the control device, and the supply device are provided. According to the detection method of this embodiment, a control process and a supply process are provided. Therefore, it is possible to detect an arbitrary detection target amount more suitably (in other words, without saturating the amplifier).
  • any detection that includes an arbitrary detection element that detects any detection target amount other than the strain amount for example, pressure, temperature, strain, etc.
  • An apparatus may be used.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the detection apparatus 1 of the present embodiment.
  • the detection device 1 of the present embodiment includes a detection element 10, a drive circuit 20, an amplifier 30, a reference voltage generator 40, and a control circuit 50.
  • the detection element 10 constitutes a specific example of “detection means” and is driven by the drive voltage Vdd supplied from the drive circuit 20. As a result, the detection element 10 detects distortion applied to the detection element 10. The detection element 10 outputs a value indicating the detected distortion (that is, the amount of distortion) to the amplifier 30 in the form of a differential signal In (that is, a normal phase detection signal In + and a negative phase detection signal In ⁇ ).
  • the drive circuit 20 constitutes a specific example of “control means” together with the control circuit 50, and supplies the drive voltage Vdd to the detection element 10 in accordance with the drive command signal VCTL output from the control circuit 50. .
  • the drive circuit 20 supplies the operating voltage Vcc as the drive voltage Vdd when the drive command signal VCTL output from the control circuit 50 is at a high level.
  • the operation state of the detection element 10 becomes an operation state in which distortion can be detected (that is, an operation state).
  • the drive command signal VCTL output from the control circuit 50 is at a low level, the drive circuit 20 does not supply the operating voltage Vcc (that is, supplies the ground voltage Gnd) as the drive voltage Vdd.
  • the operation state of the detection element 10 becomes an operation state in which distortion cannot be detected (that is, a state in which it does not operate).
  • the amplifier 30 constitutes a specific example of “amplifying means”, and amplifies the distortion amount (that is, the normal phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ ) output from the detection element 10. At this time, the amplifier 30 adjusts (in other words, compensates) the offset of the amplifier 30 (in other words, the offset of the signal amplified by the amplifier 30) according to the reference voltage Vref supplied from the reference voltage generator 40. The amount of distortion output from the detection element 10 is amplified. The amplifier 30 outputs the amplified distortion amount to the outside of the detection apparatus 1 in the form of a detection signal (analog) AOut. In addition, the amplifier 30 outputs the amplified distortion amount to the control circuit 50 in the form of a detection signal (analog) AOut.
  • the reference voltage generator 40 constitutes a specific example of “supply means” together with the control circuit 50, and supplies the reference voltage Vref to the amplifier 30 in accordance with the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50. Supply.
  • the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 is the first adjustment value DA1
  • the reference voltage generator 40 uses the first adjustment value as the reference voltage Vref.
  • a first voltage Vref1 that is variable according to DA1 is supplied.
  • the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 becomes the first adjustment value DA1 when the detection element 10 is operating (that is, the operating voltage Vcc is supplied to the detection element 10). It is.
  • the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 is the second adjustment value DA2
  • the reference voltage generator 40 is variable as the reference voltage Vref according to the second adjustment value DA2.
  • a second voltage Vref2 that is the second voltage Vref2 and different from the first voltage Vref1 is supplied.
  • the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 becomes the second adjustment value DA2 when the detection element 10 is not operating (that is, the operating voltage Vcc is not supplied to the detection element 10). It is.
  • the control circuit 50 converts the detection signal (analog) AOut to the detection signal (digital) DtOut by performing A / D (Analogue to Digital) conversion processing on the detection signal (analog) AOut output from the amplifier 30. To do.
  • the control circuit 50 constitutes a specific example of “control means” together with the drive circuit 20, and a drive for instructing the drive circuit 20 to switch the drive voltage Vdd supplied by the drive circuit 20.
  • Command signal VCTL is output.
  • the control circuit 50 constitutes a specific example of “supply means” together with the reference voltage generator 40, and switches the reference voltage Vref supplied by the reference voltage generator 40 to the reference voltage generator 40.
  • the adjustment value control signal DACTL for instructing is output.
  • control circuit 50 constitutes one specific example of the “first adjustment unit” and the “second adjustment unit” together with the reference voltage generator 40, and the value of the reference voltage Vref supplied by the reference voltage generator 40.
  • the first adjustment value DA1 and the second adjustment value DA2 are determined as appropriate.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the detection element 10.
  • the detection element 10 includes a first resistor 11, a second resistor 12, a third resistor 13, and a fourth resistor 14.
  • Each of the first resistor 11 to the fourth resistor 14 may be a resistor formed of a semiconductor such as a piezo element, or may be a resistor formed of a metal such as platinum.
  • the drive voltage Vdd is supplied from the drive circuit 20 to one terminal of the first resistor 11.
  • One terminal of the second resistor 12 is connected to the other terminal of the first resistor 11.
  • the other terminal of the second resistor 12 is grounded.
  • the drive voltage Vdd supplied from the drive circuit 20 is supplied to one terminal of the third resistor 13.
  • One terminal of the fourth resistor 14 is connected to the other terminal of the third resistor 13.
  • the other terminal of the fourth resistor 14 is grounded.
  • a positive phase detection signal In + is output from a connection point between the first resistor 11 and the second resistor 12.
  • a negative phase detection signal In ⁇ is output from a connection point between the third resistor 13 and the fourth resistor 14. That is, the detection element 10 of the present embodiment corresponds to a Wheatstone bridge circuit (in other words, a strain gauge) configured by the first resistor 11 to the fourth resistor 14.
  • Each of the resistance value R1d of the first resistor 11 and the resistance value R4d of the fourth resistor 14 increases when subjected to positive strain (in other words, decreases when subjected to negative strain).
  • each of the resistance value R2d of the second resistor 12 and the resistance value R3d of the third resistor 13 decreases when subjected to positive strain (in other words, increases when subjected to negative strain).
  • each of the resistance value R1d of the first resistor 11 and the resistance value R4d of the fourth resistor 14 decreases when subjected to positive strain (in other words, increases when subjected to negative strain).
  • each of the resistance value R2d of the second resistor 12 and the resistance value R3d of the third resistor 13 increases when subjected to positive strain (in other words, decreases when subjected to negative strain).
  • Equation 1 When the operating voltage Vcc as the drive voltage Vdd is supplied from the drive circuit 20 to the detection element 10, the normal phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ are expressed by Equation 1 and Equation 2, respectively.
  • the voltage signal shown in FIG. Similarly, when the operation voltage Vcc as the drive voltage Vdd is not supplied from the drive circuit 20 to the detection element 10, the normal phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ are respectively expressed by the following equation 1 and The voltage signal is given by Equation 2.
  • all of the first resistor 11 to the fourth resistor 14 detect the strain (that is, the resistance value varies with respect to the strain). 10).
  • a detection element 10 in which only two of the first resistor 11 to the fourth resistor 14 detect distortion may be used.
  • a detection element 10 in which only one of the first resistor 11 to the fourth resistor 14 detects distortion may be used.
  • FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the drive circuit 30.
  • the drive circuit 20 includes a power source 21 and an analog switch 22.
  • the power source 21 is a battery (battery) that supplies the operating voltage Vcc.
  • One input terminal of the analog switch 22 is connected to the anode terminal (positive electrode terminal) of the power source 21.
  • the other input terminal of the analog switch 22 is grounded.
  • the output terminal of the analog switch 22 is grounded with one input terminal of the analog switch 22 connected to the anode terminal of the power source 21 that supplies the operating voltage Vcc in response to the drive command signal VCTL supplied from the control circuit 50.
  • the drive circuit 20 supplies the operating voltage Vcc as the drive voltage Vdd to the detection element 10.
  • the drive circuit 20 does not supply the operating voltage Vcc as the drive voltage Vdd (that is, supplies the ground voltage Gnd) to the detection element 10.
  • FIG. 3 illustrates an example in which the drive circuit 20 includes an analog switch 22.
  • the drive circuit 20 may include a regulator IC with an on / off control terminal or the like instead of the analog switch 22.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of the control circuit 50.
  • the control circuit 50 includes a timing generation circuit 51, an A / D (Analogue Digital) converter 52, an arithmetic circuit 53, a storage circuit 54, and a data selector 55.
  • the control circuit 50 shown in FIG. 4 is an example of the control circuit 50 when the detection element 10 is attached to a bicycle crank.
  • the detection element 10 substantially detects a force applied to the crank (that is, a distortion corresponding to the force applied to the crank).
  • a magnetic sensor for detecting the rotation angle of the bicycle crank is further attached to the bicycle crank.
  • a rotation angle detector that amplifies the output of the magnetic sensor and generates a detection pulse every time a predetermined rotation angle is detected is preferably attached to the bicycle or provided in the detection device 1. .
  • the timing generation circuit 51 generates a timing t1, a timing t2, and a timing t3 that define the operation of the detection device 1 based on the detection pulse output from the rotation angle detector. In addition, the timing generation circuit 51 outputs the generated timing t2 and timing t3 to the A / D converter 52. In addition, the timing generation circuit 51 outputs the generated timing t3 to the arithmetic circuit 53. In addition, the timing generation circuit 51 outputs the generated timing t1 and timing t3 to the data selector 55.
  • the timing generation circuit 51 generates a drive command signal VCTL (specifically, a pulse signal whose rising edge coincides with the timing t1 and whose falling edge coincides with the timing t3 based on the generated timings t1 and t3.
  • Drive command signal VCTL corresponding to.
  • Timing t1 is a timing that coincides with the rising edge of the detection pulse output from the rotation angle detector.
  • the timing t1 defines the timing at which the operating voltage Vcc starts to be supplied as the driving voltage Vdd from the driving circuit 20 to the detection element 10. Therefore, at the timing t1, the timing generation circuit 51 switches the drive command signal VCTL from the low level to the high level.
  • the timing t1 defines the timing at which the first voltage Vref1 starts to be supplied as the reference voltage Vref from the reference voltage generator 40 to the amplifier 30.
  • the reference voltage generator 40 supplies the first voltage Vref1 when the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 becomes the first adjustment value DA1. Accordingly, at the timing t1, the data selector 55 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the first adjustment value DA1 stored in the storage circuit 54.
  • the timing t2 defines the timing at which the A / D converter 52 starts operation. Therefore, at the timing t2, the A / D converter 52 starts A / D conversion processing on the detection signal (analog) AOut output from the amplifier 30.
  • the predetermined time Td defining the timing t2 is that the operation of the detection element 10 starts from the timing at which the drive voltage Vdd supplied to the detection element 10 is switched from the ground voltage Gnd to the operating voltage Vcc (that is, the timing t1). This corresponds to the time required to stabilize (that is, to end the transient state).
  • the timing t3 defines the timing at which the computing unit 53 starts operating. Therefore, at time t3, the computing unit 53 captures the output value AD of the A / D converter 52, and starts LPF (Low Path Filter) computation and averaging computation on the fetched output value AD. As a result, the computing unit 53 outputs a detection signal (digital) DtOut.
  • the predetermined time Ta that defines the timing t3 starts from the timing when the A / D converter 52 starts the A / D conversion process (that is, the timing t2), and the A / D converter 52 completes the A / D conversion process. This corresponds to the time required to complete the process.
  • the timing t3 defines the timing when the A / D converter 52 finishes the operation. Therefore, the A / D converter 52 ends the A / D conversion process for the detection signal (analog) AOut output from the amplifier 30 at the timing t3.
  • the timing t3 defines the timing at which the supply of the operating voltage Vcc as the driving voltage Vdd from the driving circuit 20 to the detection element 10 ends (that is, the timing at which the ground voltage Gnd starts to be supplied).
  • the timing generation circuit 51 switches the drive command signal VCTL from the high level to the low level.
  • the timing t3 defines the timing at which the second voltage Vref2 starts to be supplied as the reference voltage Vref from the reference voltage generator 40 to the amplifier 30.
  • the reference voltage generator 40 supplies the second voltage Vref2 when the adjustment value control signal DACTL output from the control circuit 50 becomes the second adjustment value DA2. Therefore, at the timing t3, the data selector 55 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the second adjustment value DA2 stored in the storage circuit 54.
  • the storage circuit 54 further includes the first adjustment value DA1 and the second adjustment value based on the output value AD of the A / D converter 52 (or the detection signal (digital) DtOut that is the output value of the arithmetic circuit 53).
  • An initial adjustment (in other words, initial setting) of DA2 is performed.
  • the initial adjustment of the first adjustment value DA1 and the second adjustment value DA2 by the storage circuit 54 will be described in detail later, and detailed description thereof will be omitted here.
  • FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the amplifier 30.
  • the amplifier 30 includes a first stage amplifier 31 and a next stage amplifier 32.
  • the first-stage amplifier 31 is a so-called instrumentation amplifier (instrumentation amplifier), and includes a first operational amplifier 301, a second operational amplifier 302, a third operational amplifier 303, a first resistor 311, a second resistor 312 and a third operational amplifier.
  • a resistor 313, a fourth resistor 314, a fifth resistor 315, a sixth resistor 316, and a seventh resistor 317 are provided.
  • the negative phase detection signal In ⁇ output from the detection element 10 is input to the positive phase input terminal of the first operational amplifier 301.
  • the output signal of the first operational amplifier 301 is negatively fed back to the negative phase input terminal of the first operational amplifier 301 via the second resistor 312. Accordingly, the anti-phase detection signal In ⁇ output from the detection element 10 is amplified by the first operational amplifier 301.
  • the anti-phase detection signal In ⁇ amplified by the first operational amplifier 301 is input to the anti-phase input terminal of the third operational amplifier 303 via the fourth resistor 314.
  • the positive phase detection signal In + output from the detection element 10 is input to the positive phase input terminal of the second operational amplifier 302.
  • the output signal of the second operational amplifier 302 is negatively fed back to the negative phase input terminal of the second operational amplifier 302 via the third resistor 313. Therefore, the positive phase detection signal In + output from the detection element 10 is amplified by the second operational amplifier 302.
  • the positive phase detection signal In + amplified by the second operational amplifier 302 is input to the positive phase input terminal of the third operational amplifier 303 via the fifth resistor 315.
  • the third operational amplifier 303 functions as a so-called differential amplifier (in particular, a differential amplifier in which the output signal DfOut is negatively fed back via the sixth resistor 316). Accordingly, the third operational amplifier 303 differentially amplifies the negative phase detection signal In ⁇ amplified by the first operational amplifier 301 and the positive phase detection signal In + amplified by the second operational amplifier 302. The output signal DfOut of the third operational amplifier 303 is input to the next stage amplifier 32.
  • the power supply 33 is connected to the positive phase input terminal of the third operational amplifier 303 via the seventh resistor 317.
  • a voltage Vcc / 2 is supplied from the power source 33.
  • the voltage reference of the third operational amplifier 303 (in other words, the voltage reference of the first stage amplifier 31) is determined by the voltage Vcc / 2 of the power supply 33.
  • the next-stage amplifier 32 is a so-called differential amplifier, and includes a fourth operational amplifier 304, an eighth resistor 318, a ninth resistor 319, a tenth resistor 320, and an eleventh resistor 321.
  • the output signal DfOut of the third operational amplifier 303 is input to the positive phase input terminal of the fourth operational amplifier 304 through the eighth resistor.
  • the output signal of the fourth operational amplifier 304 is negatively fed back to the negative phase input terminal of the fourth operational amplifier 304 via the tenth resistor 320.
  • a reference voltage Vref for adjusting the offset of the amplifier 30 is input to the negative phase input terminal of the fourth operational amplifier 304 via the ninth resistor 319. Therefore, the fourth operational amplifier 304 amplifies the output signal DfOut of the third operational amplifier 303 while adjusting the offset according to the reference voltage Vref (in other words, adjusting the signal level of the output signal).
  • the output signal of the fourth operational amplifier 304 is output to the outside of the amplifier 30 as a detection signal (analog) AOut.
  • a power supply 33 is connected to the positive phase input terminal of the fourth operational amplifier 304 via an eleventh resistor 321.
  • a voltage Vcc / 2 is supplied from the power source 33.
  • the voltage reference of the fourth operational amplifier 304 (in other words, the voltage reference of the next stage amplifier 32) is determined by the voltage Vcc / 2 of the power supply 33.
  • the resistance value of the first resistor 311 is R1
  • the resistance value of the second resistor 312 is R2
  • the resistance value of the third resistor 313 is R3
  • the resistance value of the fourth resistor 314 is R4, and the fifth resistor
  • the resistance value of 315 is R5
  • the resistance value of the sixth resistor 316 is R6
  • the resistance value of the seventh resistor 317 is R7
  • the resistance value of the eighth resistor 318 is R8
  • the resistance value of the ninth resistor 319 is R9.
  • the resistance value of the tenth resistor 320 is R10
  • the resistance value of the eleventh resistor 321 is R11.
  • the transfer characteristic of the first stage amplifier 31 is expressed by Equation 5.
  • the transfer characteristic of the next stage amplifier 32 is expressed by Equation 6.
  • the amplification factor Gac of the amplifier 30 as a whole is a value represented by Expression 7. That is, the detection signal (analog) Aout output from the amplifier 30 is a voltage signal of GAc ⁇ ((In +) ⁇ (In ⁇ )).
  • the difference signal In 0.
  • the detection signal (analog) Aout output from the amplifier 30 becomes the voltage Vcc / 2 from Equation 5 and Equation 6.
  • the detection signal (analog) Aout appropriately indicates that the detection element 10 is not distorted. . That is, by monitoring the output of the amplifier 30, distortion generated in the detection element 10 is preferably detected.
  • the positive voltage ⁇ V shown in Expression 9 and the negative voltage ⁇ V shown in Expression 10 are substantially canceled by the reference voltage Vref. That is, in order to cancel the positive voltage ⁇ V shown in Equation 9, the reference voltage Vref only needs to be the voltage Vcc / 2 + K1 ⁇ ⁇ V instead of the voltage Vcc / 2. Similarly, in order to cancel the negative voltage ⁇ V shown in Expression 10, it is only necessary that the reference voltage Vref is not the voltage Vcc / 2 but the voltage Vcc / 2 ⁇ K1 ⁇ ⁇ V. As a result, the offset of the first stage amplifier 31 due to the balance deviation of the Wheatstone bridge circuit constituting the detection element 10 is canceled by the adjustment of the reference voltage Vref supplied to the next stage amplifier 32.
  • the operating voltage Vcc as the drive voltage Vdd is not supplied from the drive circuit 20 to the detection element 10 (that is, the ground voltage Gnd is supplied).
  • the difference signal In that is, (In +) ⁇ (In ⁇ )
  • the difference signal In between the positive phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ is zero.
  • the amplification factor Gac (see Equation 7) of the amplifier 30 is typically several hundred times to several thousand times. Often set to a value. In this case, the offset of the amplifier 30 cannot often be ignored. That is, if the offset of the amplifier 30 is not adjusted, the output of the amplifier 30 may be saturated. Accordingly, from the viewpoint of preventing saturation of the amplifier 30, even when the detection element 10 is not operating (that is, the operating voltage Vcc is not supplied to the detection element 10), the reference voltage Vref is It is preferable that the offset of the amplifier 30 be adjusted to such an extent that it can be adjusted.
  • the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating is defined.
  • Each of the first adjustment value DA1 and the second adjustment value DA2 defining the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating is adjusted independently.
  • movement of the detection apparatus 1 is advanced.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the overall flow of the operation of the detection apparatus 1 of the present embodiment.
  • the detection device 1 adjusts (ie, initially adjusts) the reference voltage Vref (step S1).
  • the reference voltage Vref is varied according to the first adjustment value DA1 and the second adjustment value DA2. Therefore, the adjustment of the reference voltage Vref is substantially performed by the first adjustment value DA1 and the detection element 10 that define the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating.
  • the positive voltage ⁇ V shown in Equation 9 and the negative voltage ⁇ V shown in Equation 10 are changed to the reference voltage Vref corresponding to the first adjustment value DA1 (that is, the first voltage Vref1).
  • the adjustment of the first adjustment value DA1 mainly adjusts the offset of the amplifier 30 due to variations in the first resistance 11 to the fourth resistance 14 included in the detection element 10.
  • the adjustment of the first adjustment value DA1 is comprehensively performed including the offset of the amplifier 30 due to the variation of the amplifier 30.
  • Adjustment of the second adjustment value DA2 prevents saturation of the amplifier 30 when the detection element 10 is not operating (that is, the operating voltage Vcc is not supplied to the detection element 10). That is, the offset of the amplifier 30 due to the variation of the amplifier 30 is adjusted by adjusting the second adjustment value DA2.
  • the detection device 1 detects the distortion generated in the detection element 10 (step S2).
  • FIG. 7 is a flowchart showing the flow of the “adjustment operation of the reference voltage Vref” in step S1 of FIG.
  • the detection element 10 is not distorted. That is, while the operation shown in FIG. 7 is performed, the detection element 10 is distorted to a level that can be detected by the detection element 10 (that is, the first resistance 11 to the fourth resistance 14 included in the detection element 10). (Distortion to the extent that at least one of the resistance values is greatly changed) does not occur. In other words, when the detection element 10 is largely distorted, the operation shown in FIG. 7 is not performed. However, the operation from step S111 to step S117 shown in FIG. 7 to be described later may be performed in a state where a predetermined strain is applied to the detection element 10 or in a state where no strain is generated.
  • the control circuit 50 adjusts the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) that is used when the detection element 10 is operating (step). Step S111 to step S117).
  • the timing generation circuit 51 included in the control circuit 50 switches the drive command signal VCTL from the low level to the high level (step S111).
  • the operating voltage Vcc is supplied as the drive voltage Vdd from the drive circuit 20 to the detection element 10. Accordingly, the detection element 10 starts to operate.
  • the memory circuit 54 provided in the control circuit 50 sets the initial value of the default to the first adjustment value DA1 following the operation of step S111, before or after or in parallel (step S112).
  • the data selector 55 provided in the control circuit 50 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the first adjustment value DA1 stored in the storage circuit 54.
  • the adjustment value control signal DACTL that is the first adjustment value DA1 is output from the control circuit 50 to the reference voltage generator 40.
  • the reference voltage generator 40 supplies the first voltage Vref1 corresponding to the first adjustment value DA1 set to the default initial value to the amplifier 30 as the reference voltage Vref.
  • the A / D converter 52 provided in the control circuit 50 also starts operation at the time of Step S111 and Step S112.
  • the arithmetic circuit 53 with which the control circuit 50 is provided may also start operation
  • the storage circuit 54 acquires the output value AD of the A / D converter 52 (or the detection signal (digital) DtOut that is the output value of the arithmetic circuit 53) (step S113).
  • the storage circuit 54 determines whether or not the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 acquired in step S113 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than a predetermined threshold (step S114).
  • the predetermined reference value Ref_center is, for example, an intermediate value of the output dynamic range of the A / D converter 52 (that is, an average value of the upper limit value of the dynamic range and the lower limit value of the dynamic range).
  • the predetermined reference value Ref_center may be an arbitrary value other than the intermediate value of the output dynamic range of the A / D converter 52.
  • the input dynamic range of the A / D converter 52 is set to be equal to or less than the output dynamic range of the amplifier 30.
  • the predetermined threshold is a value that is appropriately set according to how much the offset of the amplifier 30 is allowed.
  • the predetermined threshold value may be set to be larger as the offset of the amplifier 30 is allowed (that is, a relatively large offset is allowed).
  • the predetermined threshold value may be set to be smaller as the offset of the amplifier 30 is not allowed (that is, only a relatively small offset is allowed).
  • step S114 when it is determined that the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than the predetermined threshold (step S114: Yes), In a state where the detection element 10 is operating, it can be estimated that an unacceptable level offset has not occurred due to the reference voltage Vref corresponding to the current first adjustment value DA1 (that is, the first voltage Vref1). Therefore, in this case, the control circuit 50 performs the operation of Step S121 without performing the operations of Step S115 to Step S117 (that is, the adjustment of the first adjustment value DA1).
  • step S114 when it is determined as a result of the determination in step S114 that the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is not smaller than the predetermined threshold (step S114). : No), it can be inferred that an offset of an unacceptable level is generated by the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) corresponding to the current first adjustment value DA1 in a state where the detection element 10 is operating. . Accordingly, in this case, the storage circuit 54 determines whether or not the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center (step S115). That is, the storage circuit 54 determines whether or not the offset of the amplifier 30 is generated on the plus side with respect to the predetermined reference value Ref_center (in other words, whether or not it is generated on the minus side).
  • step S115 when it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center (step S115: Yes), the offset of the amplifier 30 is set to the predetermined reference value Ref_center. It is speculated that it occurs on the positive side. In this case, the offset of the amplifier 30 is canceled by shifting the offset of the amplifier 30 (or the detection signal (analog) AOut, which is the output value of the amplifier 30) to the minus side.
  • the reference voltage Vref is supplied to the negative phase input terminal of the amplifier 30. Therefore, in order to shift the offset of the amplifier 30 to the minus side, the reference voltage Vref may be increased.
  • the memory circuit 54 increases the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating by a predetermined amount ⁇ . It adjusts so that it may become (step S116). As a result of the increase in the first adjustment value DA1, the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating also increases. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted so as to shift in the negative direction.
  • the reference voltage Vref may be supplied to the positive phase input terminal of the amplifier 30a.
  • the reference voltage Vref may be reduced in order to shift the offset of the amplifier 30 to the minus side. Therefore, for the amplifier 30 to which the reference voltage Vref is supplied to the positive phase input terminal, when it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center, the storage circuit 54
  • the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating is adjusted to be reduced by a predetermined amount ⁇ .
  • the reference voltage Vref that is, the first voltage Vref1 used when the detection element 10 is operating also becomes smaller.
  • the offset of the amplifier 30 is adjusted so as to shift in the negative direction.
  • step S115 determines that the output value AD of the A / D converter 52 is not larger than the predetermined reference value Ref_center as a result of the determination in step S115 (step S115: No).
  • the offset of the amplifier 30 is predetermined. It is estimated that this occurs on the negative side with respect to the reference value Ref_center. In this case, the offset of the amplifier 30 is canceled by shifting the offset of the amplifier 30 to the plus side.
  • the reference voltage Vref is supplied to the negative phase input terminal of the amplifier 30. Accordingly, in order to shift the offset of the amplifier 30 to the minus side, the reference voltage Vref may be reduced.
  • the memory circuit 54 reduces the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating by a predetermined amount ⁇ . It adjusts so that it may become (step S117). As a result of the first adjustment value DA1 becoming smaller, the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating also becomes smaller. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted to shift in the positive direction.
  • the reference voltage Vref When the reference voltage Vref is supplied to the positive phase input terminal of the amplifier 30a, the reference voltage Vref may be increased in order to shift the offset of the amplifier 30 to the plus side. Accordingly, for the amplifier 30 to which the reference voltage Vref is supplied to the positive phase input terminal, if it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is not larger than the predetermined reference value Ref_center, the storage circuit 54
  • the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating is adjusted to be increased by a predetermined amount ⁇ .
  • the reference voltage Vref that is, the first voltage Vref1 used when the detection element 10 is operating also increases. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted to shift in the positive direction.
  • the storage circuit 54 repeats the operations from step S115 to step S117 until the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than a predetermined threshold value.
  • the control circuit 50 includes the detection element 10
  • the second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref2) used when is not operating is adjusted (step S121 to step S127).
  • the timing generation circuit 51 included in the control circuit 50 switches the drive command signal VCTL from the high level to the low level (step S121).
  • the operation voltage Vcc is not supplied as the drive voltage Vdd from the drive circuit 20 to the detection element 10. Therefore, the detection element 10 ends the operation.
  • the memory circuit 54 included in the control circuit 50 sets a default initial value to the second adjustment value DA2 following, in parallel with, or in parallel with the operation of Step S121 (Step S122).
  • the data selector 55 included in the control circuit 50 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the second adjustment value DA2 stored in the storage circuit 54.
  • the adjustment value control signal DACTL that is the second adjustment value DA2 is output from the control circuit 50 to the reference voltage generator 40. Therefore, the reference voltage generator 40 supplies the second voltage Vref2 corresponding to the second adjustment value DA2 set to the default initial value to the amplifier 30 as the reference voltage Vref.
  • the A / D converter 52 provided in the control circuit 50 also starts operation at the time of step S121 and step S122.
  • the arithmetic circuit 53 with which the control circuit 50 is provided may also start operation
  • the memory circuit 54 acquires the output value AD of the A / D converter 52 (or the detection signal (digital) DtOut that is the output value of the arithmetic circuit 53) (step S123).
  • the storage circuit 54 determines whether or not the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 acquired in step S123 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than a predetermined threshold (step S124). ).
  • step S124 when it is determined that the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than the predetermined threshold (step S124: Yes), In a state where the detection element 10 is not operating, it can be estimated that an unacceptable level offset has not occurred due to the reference voltage Vref corresponding to the current second adjustment value DA2 (that is, the second voltage Vref2). Therefore, in this case, the control circuit 50 ends the operation without performing the operation from step S125 to step S127 (that is, the adjustment of the second adjustment value DA2).
  • step S124 when it is determined that the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is not smaller than the predetermined threshold (step S124). : No), it can be presumed that an offset of an unacceptable level occurs due to the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) corresponding to the current second adjustment value DA2 in a state where the detection element 10 is not operating. . Therefore, in this case, the storage circuit 54 determines whether or not the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center (step S125).
  • step S125 when it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center (step S125: Yes), the offset of the amplifier 30 is set to the predetermined reference value Ref_center. It is speculated that it occurs on the plus side. Accordingly, in this case, the memory circuit 54 increases the second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating by a predetermined amount ⁇ . It adjusts so that it may become (step S126). As a result of the second adjustment value DA2 increasing, the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating also increases. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted so as to shift in the negative direction.
  • the storage circuit 54 For the amplifier 30 to which the reference voltage Vref is supplied to the positive phase input terminal, when it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is larger than the predetermined reference value Ref_center, the storage circuit 54 The second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating is adjusted to be reduced by a predetermined amount ⁇ . As a result of the second adjustment value DA2 becoming smaller, the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating also becomes smaller. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted so as to shift in the negative direction.
  • step S125 when it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is not larger than the predetermined reference value Ref_center (step S125: No), the offset of the amplifier 30 is predetermined. It is estimated that this occurs on the negative side with respect to the reference value Ref_center. Accordingly, in this case, the memory circuit 54 reduces the second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating by a predetermined amount ⁇ . It adjusts so that it may become (step S117).
  • the second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating by a predetermined amount ⁇ . It adjusts so that it may become (step S117).
  • the reference voltage Vref that is, the second voltage Vref2
  • the offset of the amplifier 30 is adjusted to shift in the positive direction.
  • the storage circuit 54 For the amplifier 30 to which the reference voltage Vref is supplied to the positive phase input terminal, if it is determined that the output value AD of the A / D converter 52 is not larger than the predetermined reference value Ref_center, the storage circuit 54 The second adjustment value DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating is adjusted so as to increase by a predetermined amount ⁇ . As a result of the second adjustment value DA2 increasing, the reference voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) used when the detection element 10 is not operating also increases. As a result, the offset of the amplifier 30 is adjusted to shift in the positive direction.
  • the storage circuit 54 repeats the operations from step S125 to step S127 until the absolute value ⁇ of the difference between the output value AD of the A / D converter 52 and the predetermined reference value Ref_center is smaller than a predetermined threshold value.
  • FIG. 8 is a flowchart showing the flow of “distortion detection operation” in step S2 of FIG.
  • the timing generation circuit 51 determines whether or not the current timing corresponds to the timing t1 (step S211). That is, the timing generation circuit 51 determines whether or not the current timing coincides with the rising edge of the detection pulse output from the rotation angle detector.
  • step S211 when it is determined that the current timing does not correspond to the timing t1 (step S211: No), the timing generation circuit 51 repeats the operation in step S211.
  • step S211 when it is determined that the current timing corresponds to the timing t1 (step S211: Yes), the timing generation circuit 51 changes the drive command signal VCTL from the low level to the high level. (Step S212). As a result, the operating voltage Vcc is supplied as the drive voltage Vdd from the drive circuit 20 to the detection element 10. Accordingly, the detection element 10 starts to operate.
  • the timing generation circuit 51 outputs the timing t1 to the data selector 55.
  • the data selector 55 uses the input at timing t1 as a trigger, the data selector 55 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the first adjustment value DA1 stored in the storage circuit 54.
  • the adjustment value control signal DACTL that is the first adjustment value DA1 is output from the control circuit 50 to the reference voltage generator 40 (step S213). Therefore, the reference voltage generator 40 supplies the first voltage Vref1 corresponding to the first adjustment value DA1 adjusted to adjust the offset of the amplifier 30 to the amplifier 30 as the reference voltage Vref.
  • the amplifier 30 outputs the distortion amount (that is, the normal phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ ) output from the detection element 10. Is amplified.
  • the first adjustment value DA1 stored in the storage circuit 54 at this time is the first adjustment value DA1 subjected to the initial adjustment shown in FIG. Accordingly, in the subsequent operation, the offset of the amplifier 30 when the detection element 10 is operating is suppressed to an acceptable level.
  • the timing generation circuit 51 determines whether or not the current timing corresponds to the timing t2 (step S221). That is, the timing generation circuit 51 starts from a time at which the current timing is determined to correspond to the timing t1 as a starting point until the predetermined time Td (that is, the operation of the detection element 10 is stabilized (that is, the transient state ends). It is determined whether the time required) has elapsed.
  • step S221 when it is determined that the current timing does not correspond to the timing t2 (step S221: No), the timing generation circuit 51 repeats the operation in step S221.
  • step S221 when it is determined that the current timing corresponds to the timing t2 (step S221: Yes), the timing generation circuit 51 sends the timing t2 to the A / D converter 52. Output.
  • the A / D converter 52 starts the operation with the input at the timing t2 as a trigger. That is, the A / D converter 52 starts A / D conversion processing on the detection signal (analog) AOut output from the amplifier 30.
  • the timing generation circuit 51 determines whether or not the current timing corresponds to the timing t3 (step S231). That is, the timing generation circuit 51 starts from a time at which the current timing is determined to correspond to the timing t2, as a starting point (that is, the time required for the A / D converter 52 to complete the A / D conversion process). It is determined whether or not elapses.
  • step S231 when it is determined that the current timing does not correspond to the timing t3 (step S231: No), the timing generation circuit 51 repeats the operation in step S231.
  • step S231 when it is determined that the current timing corresponds to the timing t3 (step S231: Yes), the timing generation circuit 51 outputs the timing t3 to the arithmetic circuit 53. .
  • the arithmetic circuit 53 starts the operation with the input at the timing t3 as a trigger. That is, the arithmetic circuit 53 starts an LPF (Low Path Filter) operation and an averaging operation on the output value AD output from the A / D converter 52 (step S232). As a result, the arithmetic circuit 53 outputs a detection signal (digital) DtOut (step S232).
  • LPF Low Path Filter
  • the timing generation circuit 51 outputs the timing t3 to the A / D converter 52.
  • the A / D converter 52 ends the operation with the input at the timing t3 as a trigger. That is, the A / D converter 52 ends the A / D conversion process for the detection signal (analog) AOut output from the amplifier 30.
  • step S231 when it is determined that the current timing corresponds to the timing t3 (step S231: Yes), the timing generation circuit 51 switches the drive command signal VCTL from the high level to the low level (step S233). As a result, the operation voltage Vcc is not supplied as the drive voltage Vdd from the drive circuit 20 to the detection element 10. Therefore, the detection element 10 ends the operation.
  • the timing generation circuit 51 outputs the timing t3 to the data selector 55.
  • the data selector 55 uses the input at timing t3 as a trigger, the data selector 55 operates so that the output value of the data selector 55 becomes the second adjustment value DA2 stored in the storage circuit 54.
  • the adjustment value control signal DACTL which is the second adjustment value DA2
  • the reference voltage generator 40 supplies the second voltage Vref2 corresponding to the second adjustment value DA2 adjusted so as to adjust the offset of the amplifier 30 to the amplifier 30 as the reference voltage Vref.
  • the second adjustment value DA2 stored in the storage circuit 54 at this time is the first adjustment value DA1 subjected to the initial adjustment shown in FIG. Therefore, in the subsequent operation, the offset of the amplifier 30 when the detection element 10 is not operating is suppressed to an acceptable level.
  • the detection apparatus 1 of the present embodiment can temporarily stop the supply of the operating voltage Vcc to the detection element 10.
  • the detection device 1 according to the present embodiment can intermittently supply the operating voltage Vcc to the detection element 10.
  • the detection apparatus 1 of the present embodiment can supply the operating voltage Vcc to the detection element 10 only during a period when the detection element 10 should detect the amount of distortion.
  • the detection apparatus 1 of the present embodiment does not need to supply the operating voltage Vcc to the detection element 10 during a period when the detection element 10 does not need to detect the amount of distortion. Therefore, the power consumption of the detection device 1 of this embodiment is reduced as compared with the detection device of the comparative example in which the operating voltage Vcc is always supplied to the detection element 10. As a result, the battery duration of the power source 21 shown in FIG.
  • the period during which the supply of the operating voltage Vcc to the detection element 10 is stopped is long.
  • the supply of the operating voltage Vcc to the detection element 10 is continued for a certain minimum time. Therefore, it is preferable to appropriately set the period during which the operating voltage Vcc is supplied to the detection element 10 and the period during which the operation voltage Vcc is stopped according to the specifications of the detection element 10 and the degree of request for reduction of power consumption.
  • the period in which the operating voltage Vcc is supplied to the detection element 10 is shorter than the period in which the supply of the operating voltage Vcc to the detection element 10 is stopped (that is, the duty ratio of the drive voltage Vdd is less than 50%). preferable.
  • the detection device 1 of the present embodiment can switch the reference voltage Vref supplied to the amplifier 30 in accordance with the temporary stop of the supply of the operating voltage Vcc to the detection element 10. That is, the detection apparatus 1 of the present embodiment can switch the reference voltage Vref supplied to the amplifier 30 in accordance with the operation state of the detection element 10.
  • the detection device 1 of the present embodiment is defined by the first adjustment value DA1 that is adjusted according to the operating state in which the detection element 10 is operating when the detection element 10 is operating.
  • the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) can be supplied.
  • the detection apparatus 1 of the present embodiment when the detection element 10 is not operating, the reference defined by the second adjustment value DA2 that is adjusted according to the operating state in which the detection element 10 is not operating.
  • the voltage Vref (that is, the second voltage Vref2) can be supplied. Therefore, in comparison with the detection device of the comparative example in which the fixed reference voltage Vref is supplied to the amplifier 30 regardless of the operation state of the detection element 10, the detection device 1 of the present embodiment is Even if it is switched, the possibility that the amplifier 30 is saturated is reduced. Alternatively, in the detection device 1 of the present embodiment, the amplifier 30 is hardly or completely saturated.
  • the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is operating, and the detection element 10 operate.
  • Each of the second adjustment values DA2 that defines the reference voltage Vref (that is, the first voltage Vref1) used when the detection element 10 is not adjusted is separately adjusted in consideration of the difference in the operating state of the detection element 10. Therefore, regardless of the operating state of the detection element 10, the offset of the amplifier 30 (for example, an offset caused by variations in the first resistance 11 to the fourth resistance 14 constituting the detection element 10, Variations between the first operational amplifier 301 and the fourth operational amplifier 304 or an offset caused by a differential deviation are suitably adjusted (that is, compensated or canceled).
  • FIG. 9 is a timing chart showing waveforms of various signals (voltage signals) obtained by the detection device 1 of the present embodiment.
  • FIG. 10 is a timing chart showing waveforms of various signals (voltage signals) obtained by the detection device of the comparative example in which the fixed reference voltage Vref is supplied to the amplifier 30 regardless of the operation state of the detection element 10.
  • the rotation angle detector outputs a pulse signal shown in the second stage of FIG.
  • the drive voltage Vdd supplied from the drive circuit 20 to the detection element 10 is a pulse signal shown in the third stage of FIG. That is, the drive voltage Vdd from timing t1 to timing t3 matches the operating voltage Vcc, and the drive voltage Vdd from timing t3 to timing t1 matches the ground voltage Gnd.
  • the output signal DfOut of the third operational amplifier 303 provided in the amplifier 30 is a pulse signal shown in the fourth stage of FIG. 9 (however, the comprehensive line has a shape corresponding to the distortion). That is, the output signal DfOut from timing t1 to timing t3 matches the voltage that varies according to the distortion generated in the detection element 10.
  • the output signal DfOut from timing t3 to timing t1 is the output of the third operational amplifier 303 when the ground voltage Gnd is input to the positive phase detection signal In + and the negative phase detection signal In ⁇ , if the offset of the first stage amplifier 31 is ignored. Thus, it matches the voltage of the power supply 33 (that is, Vcc / 2). However, the output signal DfOut from timing t3 to timing t1 is actually a potential obtained by adding the offset of the first-stage amplifier 31 to the voltage (Vcc / 2) of the power supply 33.
  • the reference voltage Vref supplied to the amplifier 30 is a pulse signal shown in the fifth stage of FIG. That is, the reference voltage Vref from timing t1 to timing t3 matches the first voltage Vref1 corresponding to the first adjustment value DA1, and the reference voltage Vref from timing t3 to timing t1 corresponds to the second adjustment value DA2. It corresponds to the second voltage Vref2.
  • the output signal DfOut is amplified by the fourth operational amplifier 304, so that the detection signal (analog) AOut shown in the sixth stage of FIG. 30.
  • the peak value of the detection signal (analog) AOut is smaller than the operating voltage Vcc, and the bottom value of the detection signal (analog) AOut is ground. It is larger than the voltage Gnd. That is, the amplifier 30 is not saturated.
  • the detection signal (digital) DtOut obtained by performing A / D conversion processing on such detection signal (analog) AOut is a value corresponding to the distortion generated in the detection element 10. Therefore, by analyzing the detection signal (digital) DtOut, the distortion generated in the detection element 10 is preferably detected.
  • the reference voltage Vref supplied to the amplifier 30 is a voltage signal having a fixed voltage value as shown in the third stage of FIG.
  • FIG. 10 shows an example in which the reference voltage Vref is fixed to the second voltage Vref2 corresponding to the second adjustment value DA2.
  • the detection signal (analog) AOut shown in the fourth stage of FIG. As can be seen from the detection signal (analog) AOut shown in FIG. 10, a pulse signal having a comprehensive line indicated by a dotted line should be output as the detection signal (analog) AOut.
  • the detection signal (analog) AOut that has been saturated is output. That is, in the detection device of the comparative example, the peak value of a part of the detection signal (analog) AOut cannot exceed the power supply voltage Vcc, and the amplifier 30 is saturated.
  • the detection signal (digital) DtOut obtained by performing A / D conversion processing on such a detection signal (analog) AOut does not have a value corresponding to the distortion generated in the detection element 10. Therefore, even if the detection signal (digital) DtOut is analyzed, the distortion generated in the detection element 10 is not suitably detected.
  • the reference voltage Vref supplied to the amplifier 30 is switched in accordance with the operation state of the detection element 10, and (ii) the detection element 10 operates.
  • the first adjustment value DA1 that defines the reference voltage Vref that is, the first voltage Vref1 used when the detection element 10 is not operating
  • the reference voltage Vref that is, the second voltage Vref2 that is used when the detection element 10 is not operating.
  • Each of the second adjustment values DA2 that defines (1) is adjusted separately in consideration of the difference in the operating state of the detection element 10.
  • the offset of the amplifier 30 (for example, an offset caused by variations in the first resistance 11 to the fourth resistance 14 constituting the detection element 10,
  • the offset of the first operational amplifier 301 to the fourth operational amplifier 304 and the offset caused by the balance deviation caused by the differential gain deviation caused by the respective resistance value variations are suitably adjusted (that is, compensated or canceled). Therefore, the amplifier 30 hardly saturates or does not saturate, and as a result, the distortion generated in the detection element 10 is preferably detected.
  • the operating voltage Vcc supplied to the amplifier 30 may be increased.
  • increasing the operating voltage Vcc supplied to the amplifier 30 leads to an increase in power consumption of the amplifier 30.
  • the detection apparatus 1 of the present embodiment can adjust the first adjustment value DA1 and the second adjustment value DA2 (that is, the reference voltage Vref is adjusted) in consideration of the difference in the operation state of the detection element 10. . For this reason, even if the detection sensitivity of the detection element 10 is relatively increased by increasing the amplification factor Gac of the amplifier 30, saturation of the amplifier 30 is prevented without increasing the operating voltage Vcc supplied to the amplifier 30. .
  • the detection resolution is improved by increasing the detection sensitivity of the distortion amount, and the power consumption is reduced by intermittently driving the detection element 10 and lowering the operating voltage Vcc of the amplifier 30. It is possible to achieve both of the technical effects.
  • FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration of an amplifier 30a included in the detection device of the first modification.
  • the amplifier 30a of the first modified example includes the first-stage amplifier 31 (that is, an instrumentation amplifier) described above.
  • the amplifier 30a of the first modification does not include the next stage amplifier 32. Therefore, the amplifier 30a of the first modification outputs the output signal DfOut of the third operational amplifier 303 as a detection signal (analog) AOut to the outside of the amplifier 30a.
  • FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a control circuit 50a included in the detection device of the second modification.
  • the control circuit 50a of the second modified example matches the timing t1 generated based on an arbitrary clock output from the frequency dividing circuit, instead of the detection pulse output from the rotation angle detector. It may work.
  • the timing generation circuit 51 may generate a timing t1 that coincides with the rising edge of an arbitrary clock output from the frequency dividing circuit.
  • the frequency divider circuit divides the clock output from the crystal oscillator to generate a desired clock.
  • the detection device of the second modification example may also include an amplifier 30a included in the detection device of the first modification example, instead of the amplifier 30 included in the detection device 1 described above.

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Abstract

 検出装置(1)は、所望の検出対象量を検出する検出手段(10)と、検出対象量を、オフセット調整用の基準電圧(Vref)に応じて増幅する増幅手段(30)と、検出手段の動作状態を、(i)検出手段に動作電源(Vdd)が供給されることで、検出手段が検出対象量を検出する第1状態と、(ii)検出手段に動作電源が供給されないことで、検出手段が検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、検出手段を制御する制御手段(20、50)と、(i)検出手段の動作状態が第1状態にある場合に、所定の第1電圧を基準電圧として増幅手段に供給すると共に、(ii)検出手段の動作状態が第2状態にある場合に、所定の第2電圧を基準電圧として前記増幅手段に供給する供給手段(40、50)とを備える。

Description

検出装置及び方法
 本発明は、例えば歪み量等の検出対象量を検出する検出装置及び方法の技術分野に関する。
 このような検出装置として、ホイートストンブリッジ等のブリッジ回路と、当該ブリッジ回路の出力(つまり、検出結果)を増幅する増幅器とを備える検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。このような検出装置によれば、ブリッジ回路に生じた歪みに応じた電圧信号(つまり、歪み量に応じた電圧信号)がブリッジ回路に発生すると共に、当該歪み量に応じた電圧信号が増幅器によって増幅される。その結果、増幅器の出力(つまり、増幅された電圧信号)が解析されることで、歪み量が検出される。
特許第3409744号公報
 このような検出装置の動作電力を低減するために、歪み量を実際に検出する間だけブリッジ回路に動作電源を供給する対策がとられることがある。言い換えれば、歪み量を実際に検出しない間には、ブリッジ回路に動作電源を供給しない対策がとられることがある。
 ところで、増幅器には、オフセットを調整する(例えば、キャンセルする)ための基準電圧が供給されている。しかしながら、従来は、増幅器の前段に配置されるブリッジ回路の動作状態に関わらず、増幅器に供給される基準電圧は一定であった。つまり、ブリッジ回路に動作電源が供給されている場合に増幅器に供給される基準電圧は、ブリッジ回路に動作電源が供給されていない場合に増幅器に供給される基準電圧と同一であった。しかしながら、増幅器の増幅率(言い換えれば、ゲイン)が相対的に大きいがゆえに、基準電圧が常に一定である場合には、増幅器に発生するオフセットによっては、増幅器が飽和してしまいかねないという技術的な問題点が生ずる。
 尚、このような技術的な問題点は、歪みが生ずるブリッジ回路と当該ブリッジ回路の出力を増幅する増幅器とを備える検出装置に限らず、任意の検出対象量を検出する検出回路と当該検出回路の出力を増幅する増幅器とを備える検出装置においても同様に生じ得る。
 本発明は、例えば上記問題点に鑑みてなされたものであり、任意の検出対象量をより好適に(言い換えれば、増幅器を飽和させることなく)検出することが可能な検出装置及び方法を提供することを課題とする。
 上記課題を解決するための検出装置は、所望の検出対象量を検出する検出手段と、前記検出手段が検出した前記検出対象量を、オフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段と、前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御手段と、(i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給手段とを備える。
 上記課題を解決するための検出方法は、所望の検出対象量を検出する検出手段と、前記検出手段が検出した前記検出対象量を、当該検出対象量のオフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段とを備える検出装置における検出方法であって、前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御工程と、(i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給工程とを備える。
本実施例の検出装置の全体構成を示すブロック図である。 検出素子の構成を示すブロック図である。 駆動回路の構成を示すブロック図である。 制御回路の構成を示すブロック図である。 増幅器の構成を示すブロック図である。 本実施例の検出装置の動作の全体の流れを示すフローチャートである。 図6のステップS1における基準電圧の調整動作の流れを示すフローチャートである。 図6のステップS2における歪みの検出動作の流れを示すフローチャートである。 本実施例の検出装置によって得られる各種信号(電圧信号)の波形を示すタイミングチャートである。 比較例の検出装置によって得られる各種信号(電圧信号)の波形を示すタイミングチャートである。 第1変形例の検出装置が備える増幅器の構成を示すブロック図である。 第2変形例の検出装置が備える制御回路の構成を示すブロック図である。
 以下、発明を実施するための形態として、検出装置及び方法の実施形態について順に説明する。
 (検出装置の実施形態)
 <1>
 本実施形態の検出装置は、所望の検出対象量を検出する検出手段と、前記検出手段が検出した前記検出対象量を、オフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段と、前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御手段と、(i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給手段とを備える。
 本実施形態の検出装置によれば、検出手段は、所望の検出対象量を検出する。検出対象量は、例えば任意のセンサから構成される検出手段によって検出可能な特性ないしは指標であれば、どのようなものであってもよい。このような検出対象量として、例えば、歪み量が一例としてあげられる。尚、歪み量が検出対象量として検出される場合には、検出手段は、歪みゲージ(例えば、ホイートストンブリッジ回路から構成される歪みゲージ)等を備えていることが好ましい。
 増幅手段は、検出手段が検出した検出対象量を増幅する。特に、増幅手段は、増幅手段のオフセットを調整する(言い換えれば、補償する)ための基準電圧に応じて、検出手段が検出した検出対象量を増幅する。
 本実施形態では特に、制御手段は、検出手段の動作状態を切り替えるように検出手段を制御する。より具体的には、制御手段は、検出手段の動作状態が第1状態である場合には、検出手段の動作状態を、第1状態から第2状態へと切り替える。他方で、制御手段は、検出手段の動作状態が第2状態である場合には、検出手段の動作状態を、第2状態から第1状態へと切り替える。
 第1状態は、検出手段に動作電源が供給されている動作状態を示す。つまり、第1状態は、検出手段が動作している動作状態(つまり、検出手段が検出対象量を検出することが可能な動作状態)を示す。一方で、第2状態は、検出手段に動作電源が供給されていない(つまり、動作電源の供給がカットされている)動作状態を示す。つまり、第2状態は、検出手段が動作していない動作状態(つまり、検出手段が検出対象量を検出することが可能でない動作状態)を示す。
 本実施形態では更に、供給手段は、検出手段の動作状態に合わせて、増幅手段に供給する基準電圧を切り替える。具体的には、供給手段は、検出手段の動作状態が第1状態にある(つまり、検出手段が動作している)場合に、所定の第1電圧を基準電圧として増幅手段に供給する。一方で、供給手段は、検出手段の動作状態が第2状態にある(つまり、検出手段が動作していない)場合に、第1電圧とは異なる(例えば、第1電圧よりも小さい又は大きい)所定の第2電圧を基準電圧として増幅手段に供給する。
 尚、第1電圧は、後述する第1調整手段によって適宜調整されることが好ましい。同様に、第2電圧は、後述する第2調整手段によって適宜調整されることが好ましい。このような第1電圧及び第2電圧の調整は、検出手段が検出対象量を実際に検出する前に(つまり、検出装置が検出動作を開始する前に)行われることが好ましい。
 このような本実施形態の検出装置によれば、制御手段は、検出手段の動作状態を適宜切り替えることができる。例えば、制御手段は、検出手段が検出対象量を検出しなくてもよい期間には、検出手段の動作状態を第2状態に切り替えることができる。このため、検出手段に動作電源が供給されない期間が設けられる。従って、検出手段の動作状態を適宜切り替えない比較例の検出装置と比較して、本実施形態の検出装置の消費電力を低減することができる。一方で、例えば、制御手段は、検出手段が検出対象量を検出するべき期間には、検出手段の動作状態を第1状態に切り替えることができる。このため、検出装置の消費電力が低減されつつも、検出手段による検出対象量の適切な検出が妨げられることはない。
 加えて、本実施形態の検出装置によれば、供給手段は、検出手段の動作状態に合わせて、増幅手段に供給する基準電圧を切り替えることができる。つまり、供給手段は、検出手段の動作状態に合わせた好適な基準電圧を、増幅手段に供給することができる。従って、検出手段の動作状態に関係なく固定的な基準電圧を増幅手段に供給する比較例の検出装置と比較して、本実施形態では、検出手段の動作状態が切り替わったとしても、増幅手段が飽和する可能性は低減される。或いは、本実施形態では、増幅手段が飽和することは殆ど又は全くなくなる。尚、増幅手段の飽和は、後述する第1調整手段による第1電圧の調整(つまり、初期設定ないしは初期調整)及び第2調整手段による第2電圧の調整によって更に好適に防止される。
 <2>
 本実施形態の検出装置の他の態様では、前記検出手段によって検出可能な大きさの前記検出対象量が発生しておらず且つ前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合における前記増幅手段の出力値が、当該増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、前記第1電圧を調整する第1調整手段を更に備える。
 この態様によれば、第1調整手段は、第1電圧を好適に調整する(言い換えれば、設定する)ことができる。
 具体的には、第1調整手段は、増幅手段の出力値が、増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、第1電圧を適宜調整御する。ここで、第1調整手段が第1電圧を適宜調整している間は、検出手段によって検出可能な大きさの検出対象量(つまり、検出手段の検出限界以上の検出対象量)が発生していないことが好ましい。例えば、検出対象量が歪み量である場合には、検出手段に歪みが全く又は殆ど発生していないことが好ましい。加えて、第1調整手段が第1電圧を適宜調整している間は、検出手段の動作状態が第1状態にあることが好ましい。尚、検出手段によって検出可能な大きさの検出対象量が発生していない場合には、検出手段の出力値は通常ゼロになる。しかしながら、検出手段の仕様(例えば、検出手段を構成する抵抗のばらつき等)によっては、検出手段の出力値がゼロにならないことがある。そこで、本実施形態では、第1調整手段が第1電圧を調整することで、このような検出手段の出力値がゼロにならない状態が補償又は相殺される。つまり、検出手段の仕様(例えば、検出手段を構成する抵抗のばらつき等)に起因した増幅手段のオフセット等が補償又は相殺される。
 尚、「増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値」とは、増幅手段の出力値が増幅手段のダイナミックレンジに適切に収まる(言い換えれば、ダイナミックレンジを外れない)状態を実現するという観点から適宜設定される値であることが好ましい。つまり、「増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値」とは、増幅手段が飽和しない状態を実現するという観点から適宜設定される値であることが好ましい。このような「増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値」として、例えば、増幅手段のダイナミックレンジの中間値(つまり、上限値及び下限値の平均値)が一例としてあげられる。
 <3>
 本実施形態の検出装置の他の態様では、前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合における前記増幅手段の出力値が、当該増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、前記第2電圧を調整する第2調整手段を更に備える。
 この態様によれば、第2調整手段は、第2電圧を好適に調整する(言い換えれば、設定する)ことができる。
 具体的には、第2調整手段は、増幅手段の出力値が、増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、第2電圧を適宜調整御する。第2調整手段が第2電圧を適宜調整している間は、検出手段の動作状態が第2状態にあることが好ましい。検出手段の動作状態が第2状態にあると、検出手段に動作電源が供給されないので、検出手段の出力はゼロとなり、増幅手段の入力は通常ゼロとなる。ないしは、ゼロとなるべく設計可能である。しかしながら、検出手段の出力値がゼロになったとしても、増幅手段の増幅率が相対的に大きいことに起因して、増幅手段のオフセット等によっては、増幅手段の出力が飽和してしまうおそれがある。そこで、本実施形態では、検出手段が動作していない場合に基準電圧として増幅手段に供給される第2電圧についても、第2調整手段が調整する。その結果、検出手段が動作していない場合に増幅手段が飽和してしまうことは殆ど又は全くなくなる。
 <4>
 本実施形態の検出装置の他の態様では、前記増幅手段の出力値に対して所定の変換処理を行う変換手段を更に備え、前記変換手段は、前記増幅手段に供給される前記基準電圧が前記第2電圧から前記第1電圧に切り替わってから所定時間経過した後に前記変換処理を開始する。
 この態様によれば、変換手段は、基準電圧の切り替えに起因した増幅手段の過渡状態(更には、動作状態の切り替えに起因した検出手段の過渡状態)の影響を受けることなく、動作状態が安定した増幅手段の出力値に対して好適に変換処理を行うことができる。
 尚、変換処理は、例えば、増幅手段の出力値であるアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換処理である。
 <5>
 上述の如く基準電圧が第2電圧から第1電圧に切り替わってから所定時間経過した後に変換処理を開始する検出装置の他の態様では、前記所定時間は、前記増幅手段に供給される前記基準電圧が前記第2電圧から前記第1電圧に切り替わった時刻を基準として、前記増幅手段の出力が安定するまでに要する時間である。
 この態様によれば、変換手段は、基準電圧の切り替えに起因した増幅手段の過渡状態(更には、動作状態の切り替えに起因した検出手段の過渡状態)の影響を受けることなく、動作状態が安定した増幅手段の出力値に対して好適に変換処理を行うことができる。
 <6>
 上述の如く変換手段を備える検出装置の他の態様では、前記制御手段は、前記変換手段が前記変換処理を開始する前に、前記検出手段の動作状態を前記第2状態から前記第1状態に切り替え、前記制御手段は、前記変換手段が前記変換処理を終了した後に、前記検出手段の動作状態を前記第1状態から前記第2状態に切り替える。
 この態様によれば、変換手段が行う変換処理に合わせて、検出手段の動作状態が切り替えられる。従って、変換手段は、動作状態の切り替えに起因した検出手段の過渡状態(更には、基準電圧の切り替えに起因した増幅手段の過渡状態)の影響を受けることなく、動作状態が安定した検出手段が検出した検出対象量(言い換えれば、動作状態が安定した増幅手段の出力値)に対して好適に変換処理を行うことができる。
 <7>
 本実施形態の検出装置の他の態様では、前記検出手段は、前記検出対象量としての歪み量を検出するブリッジ回路を含んでいる。
 この態様によれば、歪み量を検出するブリッジ回路を備える検出装置において、上述した各種効果が好適に享受される。
 (検出方法の実施形態)
 <8>
 本実施形態の検出方法は、所望の検出対象量を検出する検出手段と、前記検出手段が検出した前記検出対象量を、当該検出対象量のオフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段とを備える検出装置における検出方法であって、前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御工程と、(i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給工程とを備える。
 本実施形態の検出方法によれば、上述した本実施形態の検出装置が享受する各種効果を好適に享受することができる。
 尚、本実施形態の検出装置が採用する各種態様に対応して、本実施形態の検出方法も、各種態様を採用してもよい。
 本実施形態のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から明らかにされる。
 以上説明したように、本実施形態の検出装置によれば、検出手段と、増幅手段と、制御手段と、供給手段とを備える。本実施形態の検出方法によれば、制御工程と、供給工程とを備える。従って、任意の検出対象量をより好適に(言い換えれば、増幅器を飽和させることなく)検出することができる。
 以下、図面を参照しながら、検出装置の実施例について説明する。尚、以下では、検出装置として、歪み量を検出する検出素子を備える検出装置を用いて説明を進める。しかしながら、歪み量を検出する検出素子を備える検出装置に代えて、歪み量以外の任意の検出対象量(例えば、圧力や、温度や、ひずみ等)を検出する任意の検出素子を備える任意の検出装置が用いられてもよい。
 (1)検出装置の構成
 はじめに、図1から図5を参照して、本実施例の検出装置1の構成について説明を進める。
 (1-1)検出装置の全体構成
 はじめに、図1を参照して、本実施例の検出装置1の全体構成について説明する。図1は、本実施例の検出装置1の全体構成を示すブロック図である。
 図1に示すように、本実施例の検出装置1は、検出素子10と、駆動回路20と、増幅器30と、基準電圧発生器40と、制御回路50とを備えている。
 検出素子10は、「検出手段」の一具体例を構成しており、駆動回路20から供給される駆動電圧Vddによって駆動する。その結果、検出素子10は、検出素子10に加わる歪みを検出する。検出素子10は、検出した歪みを示す値(つまり、歪み量)を、差分信号In(つまり、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-)の形式で、増幅器30に対して出力する。
 駆動回路20は、制御回路50と共に「制御手段」の一具体例を構成しており、制御回路50から出力される駆動指令信号VCTLに応じて、検出素子10に対して駆動電圧Vddを供給する。尚、後に詳述するように、駆動回路20は、制御回路50から出力される駆動指令信号VCTLがハイレベルである場合には、駆動電圧Vddとして、動作電圧Vccを供給する。その結果、検出素子10の動作状態は、歪みを検出可能な動作状態(つまり、動作する状態)となる。一方で、駆動回路20は、制御回路50から出力される駆動指令信号VCTLがローレベルである場合には、駆動電圧Vddとして、動作電圧Vccを供給しない(つまり、グランド電圧Gndを供給する)。その結果、検出素子10の動作状態は、歪みを検出不可能な動作状態(つまり、動作しない状態)となる。
 増幅器30は、「増幅手段」の一具体例を構成しており、検出素子10から出力される歪み量(つまり、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-)を増幅する。このとき、増幅器30は、基準電圧発生器40から供給される基準電圧Vrefに応じて、増幅器30のオフセット(言い換えれば、増幅器30が増幅する信号のオフセット)を調整(言い換えれば、補償)しながら、検出素子10から出力される歪み量を増幅する。増幅器30は、増幅した歪み量を、検出信号(アナログ)AOutの形式で、検出装置1の外部に出力する。加えて、増幅器30は、増幅した歪み量を、検出信号(アナログ)AOutの形式で、制御回路50に出力する。
 基準電圧発生器40は、制御回路50と共に「供給手段」の一具体例を構成しており、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLに応じて、増幅器30に対して基準電圧Vrefを供給する。尚、後に詳述するように、基準電圧発生器40は、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第1調整値DA1である場合には、基準電圧Vrefとして、当該第1調整値DA1に応じて可変な第1電圧Vref1を供給する。尚、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第1調整値DA1となるのは、検出素子10が動作している(つまり、検出素子10に動作電圧Vccが供給されている)場合である。一方で、基準電圧発生器40は、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第2調整値DA2である場合には、基準電圧Vrefとして、当該第2調整値DA2に応じて可変な第2電圧Vref2であって且つ第1電圧Vref1とは異なる第2電圧Vref2を供給する。尚、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第2調整値DA2となるのは、検出素子10が動作していない(つまり、検出素子10に動作電圧Vccが供給されていない)場合である。
 制御回路50は、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)AOutに対してA/D(Analogue to Digital)変換処理を行うことで、検出信号(アナログ)AOutを検出信号(デジタル)DtOutに変換する。加えて、制御回路50は、駆動回路20と共に「制御手段」の一具体例を構成しており、駆動回路20に対して、駆動回路20が供給する駆動電圧Vddの切り替えを指示するための駆動指令信号VCTLを出力する。加えて、制御回路50は、基準電圧発生器40と共に「供給手段」の一具体例を構成しており、基準電圧発生器40に対して、基準電圧発生器40が供給する基準電圧Vrefの切り替えを指示するための調整値制御信号DACTLを出力する。加えて、制御回路50は、基準電圧発生器40と共に「第1調整手段」及び「第2調整手段」の一具体例を構成しており、基準電圧発生器40が供給する基準電圧Vrefの値を決定するための第1調整値DA1及び第2調整値DA2を適宜調整する。
 (1-2)検出素子の構成
 続いて、図2を参照して、検出素子10の構成について説明する。図2は、検出素子10の構成を示すブロック図である。
 図2に示すように、検出素子10は、第1抵抗11と、第2抵抗12と、第3抵抗13と、第4抵抗14とを備えている。第1抵抗11から第4抵抗14の夫々は、例えば、ピエゾ素子等の半導体から構成される抵抗であってもよいし、白金等の金属から構成される抵抗であってもよい。
 第1抵抗11の一方の端子には、駆動回路20から、駆動電圧Vddが供給される。第1抵抗11の他方の端子には、第2抵抗12の一方の端子が接続されている。第2抵抗12の他方の端子は、接地されている。第3抵抗13の一方の端子には、駆動回路20から供給される駆動電圧Vddが供給される。第3抵抗13の他方の端子には、第4抵抗14の一方の端子が接続されている。第4抵抗14の他方の端子は、接地されている。第1抵抗11と第2抵抗12との接続点からは、正相検出信号In+が出力される。第3抵抗13と第4抵抗14との接続点からは、逆相検出信号In-が出力される。つまり、本実施例の検出素子10は、第1抵抗11から第4抵抗14によって構成されるホイートストンブリッジ回路(言い換えれば、歪みゲージ)に相当する。
 第1抵抗11の抵抗値R1d及び第4抵抗14の抵抗値R4dの夫々は、正方向の歪みを受けた場合に増加する(言い換えれば、負方向の歪みを受けた場合に減少する)。一方で、第2抵抗12の抵抗値R2d及び第3抵抗13の抵抗値R3dの夫々は、正方向の歪みを受けた場合に減少する(言い換えれば、負方向の歪みを受けた場合に増加する)。
 ないしは、第1抵抗11の抵抗値R1d及び第4抵抗14の抵抗値R4dの夫々は、正方向の歪みを受けた場合に減少する(言い換えれば、負方向の歪みを受けた場合に増加する)一方で、第2抵抗12の抵抗値R2d及び第3抵抗13の抵抗値R3dの夫々は、正方向の歪みを受けた場合に増加する(言い換えれば、負方向の歪みを受けた場合に減少する)ように構成されてもよい。
 駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとしての動作電圧Vccが供給されている場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-は、夫々、数式1及び数式2にて示される電圧信号となる。同様に、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとしての動作電圧Vccが供給されていない場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-は、夫々、数式1及び数式2にて示される電圧信号となる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 尚、上述の説明では、第1抵抗11から第4抵抗14の全てが歪みを検出する(つまり、歪みに対して抵抗値が可変する)検出素子10(いわゆる、4ゲージ法を採用する検出素子10)について説明している。しかしながら、第1抵抗11から第4抵抗14のうちのいずれか2つの抵抗のみが歪みを検出する検出素子10(いわゆる、2ゲージ法を採用する検出素子10)が用いられてもよい。或いは、第1抵抗11から第4抵抗14のうちのいずれか1つの抵抗のみが歪みを検出する検出素子10(いわゆる、1ゲージ法を採用する検出素子10)が用いられてもよい。
 (1-3)駆動回路の構成
 続いて、図3を参照して、駆動回路20の構成について説明する。図3は、駆動回路30の構成を示すブロック図である。
 図3に示すように、駆動回路20は、電源21と、アナログスイッチ22とを備えている。
 電源21は、動作電圧Vccを供給する電池(バッテリ)である。アナログスイッチ22の一方の入力端子には、電源21の陽極端子(正極端子)が接続される。アナログスイッチ22の他方の入力端子は、接地される。尚、電源21の陰極端子(負極端子)が接地されていることを考慮すれば、アナログスイッチ22の他方の入力端子には、電源21の陰極端子(負極端子)が接続されているとも言える。アナログスイッチ22の出力端子は、制御回路50から供給される駆動指令信号VCTLに応じて、動作電圧Vccを供給する電源21の陽極端子に接続されているアナログスイッチ22の一方の入力端子及び接地されているアナログスイッチ22の他方の入力端子のいずれかと電気的に接続される。具体的には、制御回路50から出力される駆動指令信号VCTLがハイレベルである場合には、アナログスイッチ22の出力端子は、動作電圧Vccを供給する電源21の陽極端子に接続されているアナログスイッチ22の一方の入力端子と電気的に接続される。その結果、駆動回路20は、検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして、動作電圧Vccを供給する。一方で、制御回路50から出力される駆動指令信号VCTLがローレベルである場合には、アナログスイッチ22の出力端子は、接地されているアナログスイッチ22の他方の入力端子と電気的に接続される。その結果、駆動回路20は、検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして、動作電圧Vccを供給しない(つまり、グランド電圧Gndを供給する)。
 尚、図3では、駆動回路20がアナログスイッチ22を備える例について説明している。しかしながら、駆動回路20は、アナログスイッチ22に代えて、オン/オフ制御端子付きのレギュレータIC等を備えていてもよい。
 (1-4)制御回路の構成
 続いて、図4を参照して、制御回路50の構成について説明する。図4は、制御回路50の構成を示すブロック図である。
 図4に示すように、制御回路50は、タイミング生成回路51と、A/D(Analogue to Digital)コンバータ52と、演算回路53と、記憶回路54と、データセレクタ55とを備える。尚、図4に示す制御回路50は、検出素子10が、自転車のクランクに取り付けられている場合の制御回路50の例である。この場合、検出素子10は、実質的には、クランクに印加される力(つまり、クランクに印加される力に応じた歪み)を検出する。尚、検出素子10が自転車のクランクに取り付けられている場合には、自転車のクランクには、自転車のクランクの回転角度を検出する磁気センサが更に取り付けられていることが好ましい。加えて、磁気センサの出力を増幅すると共に所定の回転角度が検出される毎に検出パルスを発生する回転角検出器が、自転車に取り付けられている又は検出装置1に備え付けられていることが好ましい。
 タイミング生成回路51は、回転角検出器が出力する検出パルスに基づいて、検出装置1の動作を規定するタイミングt1、タイミングt2及びタイミングt3を生成する。加えて、タイミング生成回路51は、生成したタイミングt2及びタイミングt3を、A/Dコンバータ52に出力する。加えて、タイミング生成回路51は、生成したタイミングt3を、演算回路53に出力する。加えて、タイミング生成回路51は、生成したタイミングt1及びタイミングt3を、データセレクタ55に出力する。加えて、タイミング生成回路51は、生成したタイミングt1及びタイミングt3に基づいて、駆動指令信号VCTL(具体的には、立ち上がりエッジがタイミングt1に一致し且つ立ち下がりエッジがタイミングt3に一致するパルス信号に相当する駆動指令信号VCTL)を生成する。
 タイミングt1は、回転角検出器が出力する検出パルスの立ち上がりに一致するタイミングである。タイミングt1は、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして動作電圧Vccが供給され始めるタイミングを規定する。従って、タイミングt1の時点で、タイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ローレベルからハイレベルへと切り替える。加えて、タイミングt1は、基準電圧発生器40から増幅器30に対して、基準電圧Vrefとして第1電圧Vref1が供給され始めるタイミングを規定する。尚、基準電圧発生器40が第1電圧Vref1を供給するのは、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第1調整値DA1となる場合である。従って、タイミングt1の時点で、データセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第1調整値DA1となるように動作する。
 タイミングt2は、タイミングt1を起点として所定時間Tdが経過したタイミングである。つまり、タイミングt2=タイミングt1+Tdとなる。タイミングt2は、A/Dコンバータ52が動作を開始するタイミングを規定する。従って、タイミングt2の時点で、A/Dコンバータ52は、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)AOutに対するA/D変換処理を開始する。尚、タイミングt2を規定する所定時間Tdは、検出素子10に供給される駆動電圧Vddがグランド電圧Gndから動作電圧Vccに切り替わったタイミング(つまり、タイミングt1)を起点として、検出素子10の動作が安定する(つまり、過渡状態が終了する)までに要する時間に相当する。
 タイミングt3は、タイミングt2を起点として所定時間Taが経過したタイミングである。つまり、タイミングt3=タイミングt2+Taとなる。タイミングt3は、演算器53が動作を開始するタイミングを規定する。従って、タイミングt3の時点で、演算器53は、A/Dコンバータ52の出力値ADを取り込むと共に、当該取り込んだ出力値ADに対するLPF(Low Path Filter)演算及び平均化演算を開始する。その結果、演算器53は、検出信号(デジタル)DtOutを出力する。尚、タイミングt3を規定する所定時間Taは、A/Dコンバータ52がA/D変換処理を開始したタイミング(つまり、タイミングt2)を起点として、A/Dコンバータ52がA/D変換処理を完了するまでに要する時間に相当する。加えて、タイミングt3は、A/Dコンバータ52が動作を終了するタイミングを規定する。従って、タイミングt3の時点で、A/Dコンバータ52は、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)AOutに対するA/D変換処理を終了する。加えて、タイミングt3は、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとしての動作電圧Vccの供給が終了するタイミング(つまり、グランド電圧Gndが供給され始めるタイミング)を規定する。従って、タイミングt3の時点で、タイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ハイレベルからローレベルに切り替える。加えて、タイミングt3は、基準電圧発生器40から増幅器30に対して、基準電圧Vrefとして第2電圧Vref2が供給され始めるタイミングを規定する。尚、基準電圧発生器40が第2電圧Vref2を供給するのは、制御回路50から出力される調整値制御信号DACTLが第2調整値DA2となる場合である。従って、タイミングt3の時点で、データセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第2調整値DA2となるように動作する。
 加えて、記憶回路54は更に、A/Dコンバータ52の出力値AD(或いは、演算回路53の出力値である検出信号(デジタル)DtOut)に基づいて、第1調整値DA1及び第2調整値DA2の初期調整(言い換えれば、初期設定)を行う。尚、記憶回路54による第1調整値DA1及び第2調整値DA2の初期調整については、後に詳述するため、ここでの詳細な説明を省略する。
 (1-4)増幅器の構成
 続いて、図5を参照して、増幅器30の構成について説明する。図5は、増幅器30の構成を示すブロック図である。
 図5に示すように、増幅器30は、初段増幅器31と、次段増幅器32とを備えている。
 初段増幅器31は、いわゆるインスツルメンションアンプ(計装アンプ)であり、第1オペアンプ301と、第2オペアンプ302と、第3オペアンプ303と、第1抵抗311と、第2抵抗312と、第3抵抗313と、第4抵抗314と、第5抵抗315と、第6抵抗316と、第7抵抗317とを備えている。
 第1オペアンプ301の正相入力端子には、検出素子10から出力される逆相検出信号In-が入力される。第1オペアンプ301の逆相入力端子には、第1オペアンプ301の出力信号が第2抵抗312を介して負帰還されている。従って、検出素子10から出力される逆相検出信号In-は、第1オペアンプ301によって増幅される。第1オペアンプ301によって増幅された逆相検出信号In-は、第4抵抗314を介して、第3オペアンプ303の逆相入力端子に入力される。
 第2オペアンプ302の正相入力端子には、検出素子10から出力される正相検出信号In+が入力される。第2オペアンプ302の逆相入力端子には、第2オペアンプ302の出力信号が第3抵抗313を介して負帰還されている。従って、検出素子10から出力される正相検出信号In+は、第2オペアンプ302によって増幅される。第2オペアンプ302によって増幅された正相検出信号In+は、第5抵抗315を介して、第3オペアンプ303の正相入力端子に入力される。
 第3オペアンプ303は、いわゆる差動増幅器(特に、出力信号DfOutが第6抵抗316を介して負帰還されている差動増幅器)として機能する。従って、第3オペアンプ303は、第1オペアンプ301によって増幅された逆相検出信号In-及び第2オペアンプ302によって増幅された正相検出信号In+を差動増幅する。第3オペアンプ303の出力信号DfOutは、次段増幅器32に入力される。
 尚、第3オペアンプ303の正相入力端子には、第7抵抗317を介して電源33が接続されている。電源33からは、電圧Vcc/2が供給されている。この電源33の電圧Vcc/2によって、第3オペアンプ303の電圧基準(言い換えれば、初段増幅器31の電圧基準)が定められる。
 次段増幅器32は、いわゆる差動増幅器であり、第4オペアンプ304と、第8抵抗318と、第9抵抗319と、第10抵抗320と、第11抵抗321とを備えている。
 第4オペアンプ304の正相入力端子には、第8抵抗を介して、第3オペアンプ303の出力信号DfOutが入力される。第4オペアンプ304の逆相入力端子には、第4オペアンプ304の出力信号が第10抵抗320を介して負帰還されている。加えて、第4オペアンプ304の逆相入力端子には、第9抵抗319を介して、増幅器30のオフセットを調整するための基準電圧Vrefが入力されている。従って、第4オペアンプ304は、基準電圧Vrefに応じてオフセットを調整しながら(言い換えれば、出力信号の信号レベルを調整しながら)、第3オペアンプ303の出力信号DfOutを増幅する。第4オペアンプ304の出力信号は、検出信号(アナログ)AOutとして、増幅器30の外部に出力される。
 尚、第4オペアンプ304の正相入力端子には、第11抵抗321を介して電源33が接続されている。電源33からは、電圧Vcc/2が供給されている。この電源33の電圧Vcc/2によって、第4オペアンプ304の電圧基準(言い換えれば、次段増幅器32の電圧基準)が定められる。
 ここで、第1抵抗311の抵抗値をR1とし、第2抵抗312の抵抗値をR2とし、第3抵抗313の抵抗値をR3とし、第4抵抗314の抵抗値をR4とし、第5抵抗315の抵抗値をR5とし、第6抵抗316の抵抗値をR6とし、第7抵抗317の抵抗値をR7とし、第8抵抗318の抵抗値をR8とし、第9抵抗319の抵抗値をR9とし、第10抵抗320の抵抗値をR10とし、第11抵抗321の抵抗値をR11とする。また、抵抗値R2=抵抗値R3であり、抵抗値R4=抵抗値R5であり、抵抗値R6=抵抗値R7であり、抵抗値R8=抵抗値R9であり且つ抵抗値R10=抵抗値R11であるものとする。この場合、初段増幅器31のオフセットを無視すると、初段増幅器31の伝達特性は、数式5にて示される。加えて、次段増幅器32のオフセットを無視すると、次段増幅器32の伝達特性は、数式6にて示される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 数式5及び数式6によれば、増幅器30全体としての増幅率Gacは、数式7に示される値となる。つまり、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)Aoutは、GAc×((In+)-(In-))という電圧信号となる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 上述した数式1及び数式2によれば、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとしての動作電圧Vccが供給されている場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-の差分信号In(つまり、(In+)-(In-))は、数式8に示される電圧信号となる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008

 ここで、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のバランスがとれている(つまり、歪みが生じていない状態において、抵抗値R1d=抵抗値R2d=抵抗値R3d=抵抗値R4dが成立する)状態を想定する。この状態で検出素子10に歪みが生じておらず且つ動作電圧Vccが検出素子10に供給されている場合には、差分信号In=0となる。加えて、基準電圧Vref=電圧Vcc/2に調整されているとすると、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)Aoutは、数式5及び数式6から、電圧Vcc/2となる。従って、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のバランスがとれている場合には、検出信号(アナログ)Aoutは、検出素子10に歪みが生じていないことを適切に示している。つまり、増幅器30の出力を監視することで、検出素子10に生じた歪みが好適に検出される。
 しかるに、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のばらつきが存在する(つまり、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のバランスがとれていない)場合には、以下の技術的問題が生ずる。
 具体的には、例えば、抵抗値R2d-抵抗値R1d=ΔR>0というばらつきが発生し且つ抵抗値R3d-抵抗値R4d=ΔR>0というばらつきが発生している状態を想定する。この状態で検出素子10に歪みが生じておらず且つ動作電圧Vccが検出素子10に供給されている場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-の差分信号Inは、数式8によれば、数式9に示される電圧信号となる。つまり、差分信号Inが正の電圧ΔVの電圧信号となってしまう。このため、検出素子10に歪みが生じていないにもかかわらず、検出素子10に正の歪みが生じていると誤検出されてしまう。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 同様に、例えば、抵抗値R1d-抵抗値R2d=ΔR>0というばらつきが発生し且つ抵抗値R4d-抵抗値R3d=ΔR>0というばらつきが発生している状態を想定する。この状態で検出素子10に歪みが生じておらず且つ動作電圧Vccが検出素子10に供給されている場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-の差分信号Inは、数式8によれば、数式10に示される電圧信号となる。つまり、差分信号Inが負の電圧-ΔVの電圧信号となってしまう。このため、検出素子10に歪みが生じていないにもかかわらず、検出素子10に負の歪みが生じていると誤検出されてしまう。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 このような技術的問題を解消するためには、数式9で示した正の電圧ΔVや数式10で示した負の電圧-ΔVが、基準電圧Vrefによって実質的に相殺されればよい。つまり、数式9で示した正の電圧ΔVを相殺するために、基準電圧Vrefが、電圧Vcc/2ではなく、電圧Vcc/2+K1×ΔVとなっていればよい。同様に、数式10で示した負の電圧-ΔVを相殺するために、基準電圧Vrefが、電圧Vcc/2ではなく、電圧Vcc/2-K1×ΔVとなっていればよい。その結果、検出素子10を構成するホイートストンブリッジ回路のバランスずれに起因した初段増幅器31のオフセットが、次段増幅器32に供給される基準電圧Vrefの調整によって相殺される。
 他方で、上述した数式3及び数式4によれば、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとしての動作電圧Vccが供給されていない(つまり、グランド電圧Gndが供給されている)場合には、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-の差分信号In(つまり、(In+)-(In-))は0となる。尚、駆動回路20から検出素子10に対して動作電圧Vccが供給されていない場合には、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のバランスがとれているか否かに関わらず、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-の差分信号Inは0となる。
 しかしながら、検出素子10における歪みの検出精度を高める(つまり、高感度化を図る)ために、増幅器30の増幅率Gac(数式7参照)は、典型的には、数百倍から数千倍という値に設定されることが多い。この場合には、増幅器30のオフセットを無視することができないことが多い。つまり、増幅器30のオフセットが調整されなければ、増幅器30の出力が飽和してしまうおそれがある。従って、増幅器30の飽和を防止するという観点から見れば、検出素子10が動作してない(つまり、検出素子10に動作電圧Vccが供給されていない)場合であっても、基準電圧Vrefが、増幅器30のオフセットを調整することができる程度に調整されることが好ましい。
 従って、本実施例では、上述した問題点を解決するために、以下に説明するように、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1及び検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2の夫々が、別個独立に調整される。以下、検出装置1の動作の説明を進める。
 (2)検出装置の動作
 続いて、図6から図10を参照して、本実施例の検出装置1の動作について説明を進める。
 (2-1)検出装置の全体動作
 初めに、図6を参照して、本実施例の検出装置1の動作の全体の流れについて説明する。図6は、本実施例の検出装置1の動作の全体の流れを示すフローチャートである。
 図6に示すように、検出素子10による歪みの検出に先立って、検出装置1は、基準電圧Vrefを調整(つまり、初期調整)する(ステップS1)。尚、基準電圧Vrefは、第1調整値DA1及び第2調整値DA2に応じて可変される。従って、基準電圧Vrefの調整は、実質的には、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1及び検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2の夫々の調整に相当する。
 第1調整値DA1の調整により、数式9で示した正の電圧ΔVや数式10で示した負の電圧-ΔVが、第1調整値DA1に応じた基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)によって相殺される。つまり、第1調整値DA1の調整により、主として、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14のばらつきに起因した増幅器30のオフセットが調整される。但し、第1調整値DA1の調整において、増幅器30のばらつきに起因した増幅器30のオフセットも含めて総合的に調整される。
 第2調整値DA2の調整により、検出素子10が動作してない(つまり、検出素子10に動作電圧Vccが供給されていない)場合における増幅器30の飽和が防止される。つまり、第2調整値DA2の調整により、増幅器30のばらつきに起因した増幅器30のオフセットが調整される。
 その後、検出装置1は、検出素子10に生じた歪みを検出する(ステップS2)。
 (2-2)基準電圧の調整動作
 続いて、図7を参照しながら、図6のステップS1における「基準電圧Vrefの調整動作」の流れについて説明する。図7は、図6のステップS1における「基準電圧Vrefの調整動作」の流れを示すフローチャートである。
 尚、図7に示す動作が行われている間は、検出素子10に歪みが発生していない。つまり、図7に示す動作が行われている間は、検出素子10に、検出素子10が検出可能な程度の大きさの歪み(つまり、検出素子10が備える第1抵抗11から第4抵抗14の少なくとも一つの抵抗値を大きく変えてしまう程度の歪み)が発生していない。言い換えれば、検出素子10に大きな歪みが発生している場合には、図7に示す動作は行われない。但し、検出素子10に規定の歪みが印加された状態、ないしは歪みが発生していない状態で、後述する図7で示すステップS111からSステップ117の動作が実施されてもよい。
 図7に示すように、はじめに、制御回路50は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1を調整する(ステップS111からステップS117)。
 具体的には、制御回路50が備えるタイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ローレベルからハイレベルへと切り替える(ステップS111)。その結果、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして動作電圧Vccが供給される。従って、検出素子10は、動作を開始する。
 ステップS111の動作に続いて若しくは相前後して又は並行して、制御回路50が備える記憶回路54は、第1調整値DA1に、デフォールトの初期値を設定する(ステップS112)。このとき、制御回路50が備えるデータセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第1調整値DA1となるように動作する。その結果、制御回路50から基準電圧発生器40に対して、第1調整値DA1である調整値制御信号DACTLが出力される。従って、基準電圧発生器40は、デフォールトの初期値に設定されている第1調整値DA1に応じた第1電圧Vref1を、基準電圧Vrefとして、増幅器30に供給する。
 尚、ステップS111及びステップS112の時点で、制御回路50が備えるA/Dコンバータ52もまた、動作を開始することが好ましい。或いは、ステップS111及びステップS112の時点で、制御回路50が備える演算回路53もまた、動作を開始してもよい。
 その後、記憶回路54は、A/Dコンバータ52の出力値AD(或いは、演算回路53の出力値である検出信号(デジタル)DtOut)を取得する(ステップS113)。
 その後、記憶回路54は、ステップS113で取得したA/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さいか否かを判定する(ステップS114)。ここで、所定の基準値Ref_centerは、例えばA/Dコンバータ52の出力ダイナミックレンジの中間値(つまり、ダイナミックレンジの上限値とダイナミックレンジの下限値との平均値)である。但し、所定の基準値Ref_centerは、A/Dコンバータ52の出力ダイナミックレンジの中間値以外の任意の値であってもよい。また、A/Dコンバータ52の入力ダイナミックレンジは増幅器30の出力ダイナミックレンジと等しいかまたはそれ以下に設定される。加えて、所定閾値は、増幅器30のオフセットをどれだけ許容するかに応じて適宜設定される値である。例えば、増幅器30のオフセットを許容する(つまり、相対的に大きなオフセットを許容する)ほど、所定閾値は大きくなるように設定されてもよい。言い換えれば、例えば、増幅器30のオフセットを許容しない(つまり、相対的に小さなオフセットしか許容しない)ほど、所定閾値は小さくなるように設定されてもよい。
 ステップS114の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さいと判定される場合には(ステップS114:Yes)、検出素子10が動作している状態において、現在の第1調整値DA1に応じた基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)によって、許容できないレベルのオフセットが発生していないと推測できる。従って、この場合には、制御回路50は、ステップS115からステップS117の動作(つまり、第1調整値DA1の調整)を行うことなく、ステップS121の動作を行う。
 他方で、ステップS114の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さくないと判定される場合には(ステップS114:No)、検出素子10が動作している状態において、現在の第1調整値DA1に応じた基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)によって、許容できないレベルのオフセットが発生している推測できる。従って、この場合には、記憶回路54は、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいか否かを判定する(ステップS115)。つまり、記憶回路54は、増幅器30のオフセットが、所定の基準値Ref_centerに対してプラス側に発生しているか否か(言い換えれば、マイナス側に発生しているか否か)を判定する。
 ステップS115の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいと判定される場合には(ステップS115:Yes)、増幅器30のオフセットが、所定の基準値Ref_centerに対してプラス側に発生していると推測される。この場合には、増幅器30のオフセット(或いは、増幅器30の出力値である検出信号(アナログ)AOut)を、マイナス側にシフトさせれば、増幅器30のオフセットが相殺される。ここで、図5に示すように、基準電圧Vrefは、増幅器30の逆相入力端子に供給される。従って、増幅器30のオフセットをマイナス側にシフトさせるためには、基準電圧Vrefを大きくすればよい。従って、この場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1が、所定量Δだけ大きくなるように調整する(ステップS116)。第1調整値DA1が大きくなる結果、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)もまた大きくなる。その結果、増幅器30のオフセットがマイナス方向にシフトするように調整される。
 尚、後の第1変形例(図11参照)で説明するように、基準電圧Vrefが増幅器30aの正相入力端子に供給されることもある。基準電圧Vrefが増幅器30aの正相入力端子に供給される場合には、増幅器30のオフセットをマイナス側にシフトさせるためには、基準電圧Vrefを小さくすればよい。従って、基準電圧Vrefが正相入力端子に供給される増幅器30については、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいと判定される場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1が、所定量Δだけ小さくなるように調整する。第1調整値DA1が小さくなる結果、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)もまた小さくなる。その結果、増幅器30のオフセットがマイナス方向にシフトするように調整される。
 他方で、ステップS115の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きくないと判定される場合には(ステップS115:No)、増幅器30のオフセットが、所定の基準値Ref_centerに対してマイナス側に発生していると推測される。この場合には、増幅器30のオフセットをプラス側にシフトさせれば、増幅器30のオフセットが相殺される。ここで、図5に示すように、基準電圧Vrefは、増幅器30の逆相入力端子に供給される。従って、増幅器30のオフセットをマイナス側にシフトさせるためには、基準電圧Vrefを小さくすればよい。従って、この場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1が、所定量Δだけ小さくなるように調整する(ステップS117)。第1調整値DA1が小さくなる結果、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)もまた小さくなる。その結果、増幅器30のオフセットがプラス方向にシフトするように調整される。
 尚、基準電圧Vrefが増幅器30aの正相入力端子に供給される場合には、増幅器30のオフセットをプラス側にシフトさせるためには、基準電圧Vrefを大きくすればよい。従って、基準電圧Vrefが正相入力端子に供給される増幅器30については、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きくないと判定される場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1が、所定量Δだけ大きくなるように調整する。第1調整値DA1が大きくなる結果、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)もまた大きくなる。その結果、増幅器30のオフセットがプラス方向にシフトするように調整される。
 記憶回路54は、ステップS115からステップS117の動作を、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さくなるまで繰り返し行う。その結果、検出素子10が動作している場合における増幅器30のオフセットは、実質的には相殺される。言い換えれば、検出素子10が動作している場合における増幅器30のオフセットは、許容できるレベルにまで抑制される。
 検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1の調整に続いて若しくは相前後して、制御回路50は、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2を調整する(ステップS121からステップS127)。
 具体的には、制御回路50が備えるタイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ハイレベルからローレベルへと切り替える(ステップS121)。その結果、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして動作電圧Vccが供給されない。従って、検出素子10は、動作を終了する。
 ステップS121の動作に続いて若しくは相前後して又は並行して、制御回路50が備える記憶回路54は、第2調整値DA2に、デフォールトの初期値を設定する(ステップS122)。このとき、制御回路50が備えるデータセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第2調整値DA2となるように動作する。その結果、制御回路50から基準電圧発生器40に対して、第2調整値DA2である調整値制御信号DACTLが出力される。従って、基準電圧発生器40は、デフォールトの初期値に設定されている第2調整値DA2に応じた第2電圧Vref2を、基準電圧Vrefとして、増幅器30に供給する。
 尚、ステップS121及びステップS122の時点で、制御回路50が備えるA/Dコンバータ52もまた、動作を開始することが好ましい。或いは、ステップS121及びステップS122の時点で、制御回路50が備える演算回路53もまた、動作を開始してもよい。
 その後、記憶回路54は、A/Dコンバータ52の出力値AD(或いは、演算回路53の出力値である検出信号(デジタル)DtOut)を取得する(ステップS123)。
 その後、記憶回路54は、ステップS123で取得したA/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さいか否かを判定する(ステップS124)。
 ステップS124の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さいと判定される場合には(ステップS124:Yes)、検出素子10が動作していない状態において、現在の第2調整値DA2に応じた基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)によって、許容できないレベルのオフセットが発生していないと推測できる。従って、この場合には、制御回路50は、ステップS125からステップS127の動作(つまり、第2調整値DA2の調整)を行うことなく、動作を終了する。
 他方で、ステップS124の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さくないと判定される場合には(ステップS124:No)、検出素子10が動作していない状態において、現在の第2調整値DA2に応じた基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)によって、許容できないレベルのオフセットが発生している推測できる。従って、この場合には、記憶回路54は、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいか否かを判定する(ステップS125)。
 ステップS125の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいと判定される場合には(ステップS125:Yes)、増幅器30のオフセットが、所定の基準値Ref_centerに対してプラス側に発生していると推測される。従って、この場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2が、所定量Δだけ大きくなるように調整する(ステップS126)。第2調整値DA2が大きくなる結果、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)もまた大きくなる。その結果、増幅器30のオフセットがマイナス方向にシフトするように調整される。
 尚、基準電圧Vrefが正相入力端子に供給される増幅器30については、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きいと判定される場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2が、所定量Δだけ小さくなるように調整する。第2調整値DA2が小さくなる結果、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)もまた小さくなる。その結果、増幅器30のオフセットがマイナス方向にシフトするように調整される。
 他方で、ステップS125の判定の結果、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きくないと判定される場合には(ステップS125:No)、増幅器30のオフセットが、所定の基準値Ref_centerに対してマイナス側に発生していると推測される。従って、この場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2が、所定量Δだけ小さくなるように調整する(ステップS117)。第2調整値DA2が小さくなる結果、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)もまた小さくなる。その結果、増幅器30のオフセットがプラス方向にシフトするように調整される。
 尚、基準電圧Vrefが正相入力端子に供給される増幅器30については、A/Dコンバータ52の出力値ADが所定の基準値Ref_centerよりも大きくないと判定される場合には、記憶回路54は、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2が、所定量Δだけ大きくなるように調整する。第2調整値DA2が大きくなる結果、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)もまた大きくなる。その結果、増幅器30のオフセットがプラス方向にシフトするように調整される。
 記憶回路54は、ステップS125からステップS127の動作を、A/Dコンバータ52の出力値ADと所定の基準値Ref_centerとの差分の絶対値δが、所定閾値よりも小さくなるまで繰り返し行う。その結果、検出素子10が動作していない場合における増幅器30のオフセットは、実質的には相殺される。言い換えれば、検出素子10が動作していない場合における増幅器30のオフセットは、許容できるレベルにまで抑制される。
 (2-3)歪みの検出動作
 続いて、図8を参照しながら、図6のステップS2における「歪みの検出動作」の流れについて説明する。図8は、図6のステップS2における「歪みの検出動作」の流れを示すフローチャートである。
 図4及び図8に示すように、タイミング生成回路51は、現在のタイミングがタイミングt1に相当するか否かを判定する(ステップS211)。つまり、タイミング生成回路51は、現在のタイミングが、回転角検出器が出力する検出パルスの立ち上がりに一致するタイミングであるか否かを判定する。
 ステップS211の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt1に相当しないと判定される場合には(ステップS211:No)、タイミング生成回路51は、ステップS211の動作を繰り返す。
 他方で、ステップS211の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt1に相当すると判定される場合には(ステップS211:Yes)、タイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ローレベルからハイレベルへと切り替える(ステップS212)。その結果、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして動作電圧Vccが供給される。従って、検出素子10は、動作を開始する。
 加えて、現在のタイミングがタイミングt1に相当すると判定される場合には(ステップS211:Yes)、タイミング生成回路51は、タイミングt1を、データセレクタ55に対して出力する。タイミングt1の入力をトリガとして、データセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第1調整値DA1となるように動作する。その結果、制御回路50から基準電圧発生器40に対して、第1調整値DA1である調整値制御信号DACTLが出力される(ステップS213)。従って、基準電圧発生器40は、増幅器30のオフセットを調整するように調整された第1調整値DA1に応じた第1電圧Vref1を、基準電圧Vrefとして、増幅器30に供給する。その結果、第1電圧Vref1に応じて増幅器30のオフセットが調整された状態で、増幅器30は、検出素子10から出力される歪み量(つまり、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-)を、増幅する。
 尚、このときに記憶回路54が記憶している第1調整値DA1は、図7に示す初期調整が行われた第1調整値DA1である。従って、以降の動作では、検出素子10が動作している場合における増幅器30のオフセットは、許容できるレベルにまで抑制されている。
 その後、タイミング生成回路51は、現在のタイミングがタイミングt2に相当するか否かを判定する(ステップS221)。つまり、タイミング生成回路51は、現在のタイミングがタイミングt1に相当すると判定された時刻を起点として、所定時間Td(つまり、検出素子10の動作が安定する(つまり、過渡状態が終了する)までに要する時間)が経過したか否かを判定する。
 ステップS221の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt2に相当しないと判定される場合には(ステップS221:No)、タイミング生成回路51は、ステップS221の動作を繰り返す。
 他方で、ステップS221の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt2に相当すると判定される場合には(ステップS221:Yes)、タイミング生成回路51は、タイミングt2を、A/Dコンバータ52に対して出力する。タイミングt2の入力をトリガとして、A/Dコンバータ52は、動作を開始する。つまり、A/Dコンバータ52は、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)AOutに対するA/D変換処理を開始する。
 その後、タイミング生成回路51は、現在のタイミングがタイミングt3に相当するか否かを判定する(ステップS231)。つまり、タイミング生成回路51は、現在のタイミングがタイミングt2に相当すると判定された時刻を起点として、所定時間Ta(つまり、A/Dコンバータ52がA/D変換処理を完了するまでに要する時間)が経過したか否かを判定する。
 ステップS231の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt3に相当しないと判定される場合には(ステップS231:No)、タイミング生成回路51は、ステップS231の動作を繰り返す。
 他方で、ステップS231の判定の結果、現在のタイミングがタイミングt3に相当すると判定される場合には(ステップS231:Yes)、タイミング生成回路51は、タイミングt3を、演算回路53に対して出力する。タイミングt3の入力をトリガとして、演算回路53は、動作を開始する。つまり、演算回路53は、A/Dコンバータ52から出力される出力値ADに対するLPF(Low Path Filter)演算及び平均化演算を開始する(ステップS232)。その結果、演算回路53は、検出信号(デジタル)DtOutを出力する(ステップS232)。
 加えて、現在のタイミングがタイミングt3に相当すると判定される場合には(ステップS231:Yes)、タイミング生成回路51は、タイミングt3を、A/Dコンバータ52に対して出力する。タイミングt3の入力をトリガとして、A/Dコンバータ52は、動作を終了する。つまり、A/Dコンバータ52は、増幅器30から出力される検出信号(アナログ)AOutに対するA/D変換処理を終了する。
 加えて、現在のタイミングがタイミングt3に相当すると判定される場合には(ステップS231:Yes)、タイミング生成回路51は、駆動指令信号VCTLを、ハイレベルからローレベルへと切り替える(ステップS233)。その結果、駆動回路20から検出素子10に対して、駆動電圧Vddとして動作電圧Vccが供給されない。従って、検出素子10は、動作を終了する。
 加えて、現在のタイミングがタイミングt3に相当すると判定される場合には(ステップS231:Yes)、タイミング生成回路51は、タイミングt3を、データセレクタ55に対して出力する。タイミングt3の入力をトリガとして、データセレクタ55は、当該データセレクタ55の出力値が、記憶回路54が記憶している第2調整値DA2となるように動作する。その結果、制御回路50から基準電圧発生器40に対して、第2調整値DA2である調整値制御信号DACTLが出力される(ステップS234)。従って、基準電圧発生器40は、増幅器30のオフセットを調整するように調整された第2調整値DA2に応じた第2電圧Vref2を、基準電圧Vrefとして、増幅器30に供給する。
 尚、このときに記憶回路54が記憶している第2調整値DA2は、図7に示す初期調整が行われた第1調整値DA1である。従って、以降の動作では、検出素子10が動作していない場合における増幅器30のオフセットは、許容できるレベルにまで抑制されている。
 (3)検出装置の技術的効果
 以上説明した本実施例の検出装置1によれば、以下に示す技術的効果が実現される。
 まず、本実施例の検出装置1は、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給を一時的に停止することができる。言い換えれば、本実施例の検出装置1は、検出素子10に対して、動作電圧Vccを断続的に供給することができる。例えば、本実施例の検出装置1は、検出素子10が歪み量を検出するべき期間にのみ、検出素子10に対して動作電圧Vccを供給することができる。一方で、本実施例の検出装置1は、検出素子10が歪み量を検出しなくともよい期間には、検出素子10に対して動作電圧Vccを供給しなくともよい。従って、検出素子10に常に動作電圧Vccが供給されている比較例の検出装置と比較して、本実施例の検出装置1の消費電力が低減される。その結果、図3に示した電源21のバッテリ持続時間が長くなる。
 尚、検出装置1の消費電力の低減という観点から見れば、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給を停止する期間は長いことが好ましい。一方で、検出素子10の正常な動作に悪影響を与えないという観点から見れば、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給は、ある程度の最低時間だけは継続していることが好ましい。従って、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給を行う期間及び停止する期間は、検出素子10の仕様や消費電力の低減の要請度合い等に応じて適宜設定されることが好ましい。但し、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給を行う期間は、検出素子10に対する動作電圧Vccの供給を停止する期間よりも短い(つまり、駆動電圧Vddのデューティー比が50%未満になる)ことが好ましい。
 加えて、本実施例の検出装置1は、検出素子10に対する動作電圧Vcc供給の一時的な停止に合わせて、増幅器30に供給する基準電圧Vrefを切り替えることができる。つまり、本実施例の検出装置1は、検出素子10の動作状態に合わせて、増幅器30に供給する基準電圧Vrefを切り替えることができる。具体的には、本実施例の検出装置1は、検出素子10が動作している場合には、検出素子10が動作している動作状態に合わせて調整される第1調整値DA1によって規定される基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を供給することができる。一方で、本実施例の検出装置1は、検出素子10が動作していない場合には、検出素子10が動作していない動作状態に合わせて調整される第2調整値DA2によって規定される基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を供給することができる。従って、検出素子10の動作状態に関係なく固定的な基準電圧Vrefが増幅器30に供給される比較例の検出装置と比較して、本実施例の検出装置1では、検出素子10の動作状態が切り替わったとしても、増幅器30が飽和する可能性は低減される。或いは、本実施例の検出装置1では、増幅器30が飽和することは殆ど又は全くなくなる。
 加えて、本実施例の検出装置1は、検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1及び検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第2調整値DA2の夫々が、検出素子10の動作状態の違いを考慮しながら別個に調整される。従って、検出素子10の動作状態に関わらず、増幅器30のオフセット(例えば、検出素子10を構成する第1抵抗11から第4抵抗14のばらつきに起因して生ずるオフセットや、増幅器30を構成する第1オペアンプ301から第4オペアンプ304のばらつきないしは差動ずれに起因して生ずるオフセット等)が好適に調整(つまり、補償ないしは相殺)される。
 ここで、図9及び図10を参照しながら、増幅器30の飽和について説明する。図9は、本実施例の検出装置1によって得られる各種信号(電圧信号)の波形を示すタイミングチャートである。図10は、検出素子10の動作状態に関係なく固定的な基準電圧Vrefが増幅器30に供給される比較例の検出装置によって得られる各種信号(電圧信号)の波形を示すタイミングチャートである。
 図9の最上段に示すように、概ねサインカーブ状の歪みが検出素子10に生じているとする。また、回転角検出器は、図9の2段目に示すパルス信号を出力するものとする。
 この場合、駆動回路20から検出素子10に対して供給される駆動電圧Vddは、図9の3段目に示すパルス信号となる。つまり、タイミングt1からタイミングt3までの駆動電圧Vddは、動作電圧Vccに一致し、タイミングt3からタイミングt1までの駆動電圧Vddは、グランド電圧Gndに一致する。
 その結果、増幅器30が備える第3オペアンプ303の出力信号DfOutは、図9の4段目に示すパルス信号(但し、包括線が歪みに応じた形状を有する)となる。つまり、タイミングt1からタイミングt3までの出力信号DfOutは、検出素子10に生ずる歪みに応じて変動する電圧に一致する。タイミングt3からタイミングt1までの出力信号DfOutは、初段増幅器31のオフセットを無視すれば、正相検出信号In+及び逆相検出信号In-にグランド電圧Gndが入力された場合の第3オペアンプ303の出力となり、電源33の電圧(つまり、Vcc/2)に一致する。但し、タイミングt3からタイミングt1までの出力信号DfOutは、実際には、電源33の電圧(Vcc/2)に初段増幅器31のオフセット分が付加された電位となる。
 このとき、増幅器30に供給される基準電圧Vrefは、図9の5段目に示すパルス信号となる。つまり、タイミングt1からタイミングt3までの基準電圧Vrefは、第1調整値DA1に応じた第1電圧Vref1に一致し、タイミングt3からタイミングt1までの基準電圧Vrefは、第2調整値DA2に応じた第2電圧Vref2に一致する。
 このような基準電圧Vrefに応じて増幅器30のオフセットが調整されるため、出力信号DfOutが第4オペアンプ304によって増幅されることで、図9の6段目に示す検出信号(アナログ)AOutが増幅器30から出力される。図9に示す検出信号(アナログ)AOutを見て分かるように、検出信号(アナログ)AOutのピーク値は、動作電圧Vccより小さくなっており、且つ検出信号(アナログ)AOutのボトム値は、グランド電圧Gndよりも大きくなっている。つまり、増幅器30は飽和していない。
 従って、このような検出信号(アナログ)AOutに対してA/D変換処理を行うことで得られる検出信号(デジタル)DtOutは、検出素子10に生じた歪みに応じた値となる。従って、検出信号(デジタル)DtOutを解析することで、検出素子10に生じた歪みが好適に検出される。
 一方で、検出素子10の動作状態に関係なく固定的な基準電圧Vrefが増幅器30に供給される比較例の検出装置においても、図10の最上段に示すように、概ねサインカーブ状の歪みが検出素子10に生じているとする。また、比較例の検出装置においても、駆動回路20から検出素子10に対して供給される駆動電圧Vddは、図10の2段目に示すパルス信号となっているとする。但し、比較例の検出装置では、増幅器30に供給される基準電圧Vrefは、図10の3段目に示すように固定の電圧値を有する電圧信号となる。尚、図10では、基準電圧Vrefが、第2調整値DA2に応じた第2電圧Vref2に固定されている例を示している。
 このような基準電圧Vrefに応じて増幅器30のオフセットが調整されるため、図10の4段目に示す検出信号(アナログ)AOutが増幅器30から出力される。図10に示す検出信号(アナログ)AOutを見て分かるように、本来は点線で示す包括線を有するパルス信号が検出信号(アナログ)AOutとして出力されるべきところ、ピーク値が電源電圧Vccに対して飽和した検出信号(アナログ)AOutが出力されている。つまり、比較例の検出装置では、検出信号(アナログ)AOutの一部のピーク値が、電源電圧Vccを越えることができずに、増幅器30は飽和してしまっている。
 従って、このような検出信号(アナログ)AOutに対してA/D変換処理を行うことで得られる検出信号(デジタル)DtOutは、検出素子10に生じた歪みに応じた値とはならない。従って、検出信号(デジタル)DtOutを解析したとしても、検出素子10に生じた歪みが好適に検出されない。
 しかるに、上述したように、本実施例の検出装置1では、(i)検出素子10の動作状態に合わせて、増幅器30に供給する基準電圧Vrefが切り替えられると共に、(ii)検出素子10が動作している場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第1電圧Vref1)を規定する第1調整値DA1及び、検出素子10が動作していない場合に用いられる基準電圧Vref(つまり、第2電圧Vref2)を規定する第2調整値DA2の夫々が、検出素子10の動作状態の違いを考慮しながら別個に調整される。従って、検出素子10の動作状態に関わらず、増幅器30のオフセット(例えば、検出素子10を構成する第1抵抗11から第4抵抗14のばらつきに起因して生ずるオフセットや、増幅器30を構成する第1オペアンプ301から第4オペアンプ304のオフセットやそれぞれの抵抗値ばらつきから生じる差動ゲインずれに起因して生ずるバランスずれによるオフセット等)が好適に調整(つまり、補償ないしは相殺)される。従って、増幅器30が飽和することは殆ど又は全くなく、結果として、検出素子10に生じた歪みが好適に検出される。
 尚、増幅器30の飽和を防止するためには、増幅器30に供給する動作電圧Vccを大きくすればよいとも考えられる。しかしながら、増幅器30に供給する動作電圧Vccを大きくすることは、増幅器30の消費電力の増大につながってしまう。しかるに、本実施例の検出装置1は、検出素子10の動作状態の違いを考慮しながら第1調整値DA1及び第2調整値DA2を調整する(つまり、基準電圧Vrefが調整する)ことができる。このため、増幅器30の増幅率Gacを増大させることで検出素子10の検出感度を相対的に高めたとしても、増幅器30に供給する動作電圧Vccを増大させることなく増幅器30の飽和が防止される。従って、本実施例の検出装置1によれば、歪み量の検出感度の高感度化による検出分解能の向上と、検出素子10の間欠駆動及び増幅器30の動作電圧Vccの低電圧化による低消費電力化という2つの技術的効果を両立することができる。
 (4)変形例
 続いて、図11及び図12を参照して、本実施例の検出装置1の変形例について説明を進める。
 (4-1)第1変形例
 初めに、図11を参照して、第1変形例の検出装置について説明する。尚、第1変形例の検出装置は、上述した検出装置1と比較して、増幅器30aの構成が異なっている。第1変形例の検出装置が備えるその他の構成要素は、上述した検出装置1のその他の構成要素と同一であってもよい。従って、以下では、第1変形例の検出装置が備える増幅器30aに着目して説明を進める。図11は、第1変形例の検出装置が備える増幅器30aの構成を示すブロック図である。
 図11に示すように、第1変形例の増幅器30aは、上述した初段増幅器31(つまり、インスツルメンションアンプ)を備えている。一方で、第1変形例の増幅器30aは、次段増幅器32を備えていない。従って、第1変形例の増幅器30aは、第3オペアンプ303の出力信号DfOutを、検出信号(アナログ)AOutとして、増幅器30aの外部に出力する。
 このような増幅器30aを備える第1変形例の検出装置であっても、上述した検出装置1が享受することができる各種効果を好適に享受することができる。
 (4-2)第2変形例
 続いて、図12を参照して、第2変形例の検出装置について説明する。尚、第2変形例の検出装置は、上述した検出装置1と比較して、制御回路50aの構成が異なっている。第2変形例の検出装置が備えるその他の構成要素は、上述した検出装置1のその他の構成要素と同一であってもよい。従って、以下では、第2変形例の検出装置が備える制御回路50aに着目して説明を進める。図12は、第2変形例の検出装置が備える制御回路50aの構成を示すブロック図である。
 図12に示すように、第2変形例の制御回路50aは、回転角検出器が出力する検出パルスに代えて、分周回路が出力する任意のクロックに基づいて生成されるタイミングt1に合わせて動作してもよい。例えば、タイミング生成回路51は、分周回路が出力する任意のクロックの立ち上がりに一致するタイミングt1を生成してもよい。尚、分周回路は、水晶発振器が出力するクロックを分周することで、所望のクロックを生成する。
 このような制御回路50aを備える第2変形例の検出装置であっても、上述した検出装置1が享受することができる各種効果を好適に享受することができる。
 尚、第2変形例の検出装置においても、上述した検出装置1が備える増幅器30に代えて、第1変形例の検出装置が備える増幅器30aを備えていてもよい。
 また、本発明は、請求の範囲及び明細書全体から読み取るこのできる発明の要旨又は思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う検出装置及び方法もまた本発明の技術思想に含まれる。
 1 検出装置
 10 検出素子
 20 駆動回路
 30 増幅器
 40 基準電圧発生器
 50 制御回路

Claims (8)

  1.  所望の検出対象量を検出する検出手段と、
     前記検出手段が検出した前記検出対象量を、オフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段と、
     前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御手段と、
     (i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給手段と
     を備えることを特徴とする検出装置。
  2.  前記検出手段によって検出可能な大きさの前記検出対象量が発生しておらず且つ前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合における前記増幅手段の出力値が、当該増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、前記第1電圧を調整する第1調整手段を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
  3.  前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合における前記増幅手段の出力値が、当該増幅手段のダイナミックレンジに応じて定まる閾値に追従するように、前記第2電圧を調整する第2調整手段を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
  4.  前記増幅手段の出力値に対して所定の変換処理を行う変換手段を更に備え、
     前記変換手段は、前記増幅手段に供給される前記基準電圧が前記第2電圧から前記第1電圧に切り替わってから所定時間経過した後に、前記変換処理を開始することを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
  5.  前記所定時間は、前記増幅手段に供給される前記基準電圧が前記第2電圧から前記第1電圧に切り替わった時刻を基準として、前記増幅手段の出力が安定するまでに要する時間であることを特徴とする請求項4に記載の検出装置。
  6.  前記制御手段は、前記変換手段が前記変換処理を開始する前に、前記検出手段の動作状態を前記第2状態から前記第1状態に切り替え、
     前記制御手段は、前記変換手段が前記変換処理を終了した後に、前記検出手段の動作状態を前記第1状態から前記第2状態に切り替えることを特徴とする請求項4に記載の検出装置。
  7.  前記検出手段は、前記検出対象量としての歪み量を検出するブリッジ回路を含んでいることを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
  8.  所望の検出対象量を検出する検出手段と、
     前記検出手段が検出した前記検出対象量を、当該検出対象量のオフセット調整用の基準電圧に応じて増幅する増幅手段と
     を備える検出装置における検出方法であって、
     前記検出手段の動作状態を、(i)前記検出手段に動作電源が供給されることで、前記検出手段が前記検出対象量を検出する第1状態と、(ii)前記検出手段に動作電源が供給されないことで、前記検出手段が前記検出対象量を検出しない第2状態との間で切り替えるように、前記検出手段を制御する制御工程と、
     (i)前記検出手段の動作状態が前記第1状態にある場合に、所定の第1電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給すると共に、(ii)前記検出手段の動作状態が前記第2状態にある場合に、前記第1電圧とは異なる所定の第2電圧を前記基準電圧として前記増幅手段に供給する供給工程と
     を備えることを特徴とする検出方法。
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