WO2013079450A1 - Laser machining system - Google Patents

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WO2013079450A1
WO2013079450A1 PCT/EP2012/073642 EP2012073642W WO2013079450A1 WO 2013079450 A1 WO2013079450 A1 WO 2013079450A1 EP 2012073642 W EP2012073642 W EP 2012073642W WO 2013079450 A1 WO2013079450 A1 WO 2013079450A1
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WO
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laser
substrate
laser processing
processing system
unit
Prior art date
Application number
PCT/EP2012/073642
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Inventor
Tino Petsch
Frank Allenstein
Heiko BÄR
Martin Sachse
Original Assignee
3D-Micromac Ag
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Filing date
Publication date
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    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/12Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure
    • B23K26/127Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure in an enclosure
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    • H05K2203/15Position of the PCB during processing
    • H05K2203/1545Continuous processing, i.e. involving rolls moving a band-like or solid carrier along a continuous production path

Definitions

  • the invention relates to a laser processing system according to the preamble of claim 1.
  • Laser processing systems of this type permit laser processing of substrates in a process chamber sealed off from the environment, e.g. under vacuum, negative pressure, overpressure and / or a defined protective gas atmosphere.
  • a gas-tight lockable housing encloses a process chamber.
  • Mounted in the process chamber is a substrate holding device configured to hold a substrate to be processed for laser processing in a processing position within the process chamber.
  • the substrate may be, for example, a rigid glass substrate or metal substrate or may be a flexible substrate, e.g. a portion of a tape-shaped flexible substrate used in the manufacture of printed electronics.
  • a laser unit is mounted with an exit optics, which emits a, usually focused on the substrate laser beam.
  • This can be directed, for example, by means of a scanning device successively along a path with a defined course over the region of the substrate to be processed in order to process it by means of the locally irradiated laser radiation.
  • the laser beam is thereby coupled into the process chamber through an optical window transparent to the laser radiation.
  • the optical window separates the process chamber from the environment in which the laser unit is mounted.
  • Such a laser processing system can be used, for example, as a processing station in a belt manufacturing line for producing printed electronic components on a belt-shaped flexible substrate in a roll-to-roll process.
  • a problem with such laser processing systems is to position the substrate to be processed under different operating conditions as accurately as possible in the processing position and to irradiate the laser beam as accurately as possible and with defined beam quality to the particular surface areas to be processed under all operating conditions.
  • the invention has for its object to provide a laser processing system of the type mentioned, which ensures an exact processing of positioned in a process chamber substrates under different operating conditions.
  • the invention provides a laser processing system having the features of claim 1.
  • the exit optics of the laser unit with the substrate holding device is mechanically rigidly coupled and mechanically from the housing of the process chamber decoupled.
  • a mechanical decoupling is given in particular if during a relative movement of the mechanically decoupled elements between them no or only very small forces can be transmitted, so that the decoupled elements can move largely independently of each other and the movement of one of the elements does not affect the state of motion or the position of the other element to a practically relevant extent. It can thereby be achieved that the focus area of the laser beam irradiated for processing into the process chamber is always correctly positioned independently of any movements of the housing walls with respect to the substrate held by the substrate holding device.
  • the radiation source (laser unit) is placed outside the process chamber, e.g. the problem arises that the position of the substrate or the substrate holding device with respect to the position of the radiation source (laser unit) and its external components changes when the pressure in the process chamber changes with respect to the external pressure (atmospheric pressure) because thereby Forces can result, which can deform the housing walls of the process chamber and thus affect chamber components, such as may have the substrate holding device.
  • the invention avoids the emergence of such problems by design measures.
  • a laser unit normally has a base unit to which optical components of the laser unit are mounted in the required geometric arrangement with each other.
  • a base unit will have a granite block or block of another material with extremely low coefficients of thermal expansion.
  • Metallic frame elements can be mounted on this block.
  • the substrate holding device also typically has a base unit on which one or more substrate holding members formed for contact with the substrate are mounted.
  • the base may, for example, have a torsion-resistant construction with steel plates and / or steel profiles.
  • the base unit of the laser unit functions as a support for the base unit of the substrate holding device so that it does not require a supporting connection with an element of the housing.
  • the substrate holding device may be e.g. be suspended above the housing bottom.
  • a base unit of the laser unit is mechanically rigidly connected to a base unit of the substrate holding device via at least one connecting element, wherein the connecting element is guided through a passage opening in a wall element of the housing such that an all-round radial connection between the connecting element and the edge of the passage opening Distance, for example in the form of an annular gap exists.
  • the base of the laser unit can function as a support for the base unit of the substrate holding device, so that it does not require a supporting connection with an element of the housing. Because the connecting element passes through the wall element of the housing in the area of the passage opening without contact, movements of the wall element can occur do not interfere with the relative positioning of the laser unit and the substrate holding device, so that a mechanical decoupling can be realized.
  • a plurality of connecting elements are provided between the base units of the laser unit and the substrate holding device in order to ensure a particularly rigid, stable mounting of the substrate holding device on the laser unit.
  • Each of the connecting elements may be guided in a corresponding manner without contact by an associated passage opening.
  • the connecting elements are designed in some embodiments as telescopic rods, ie as connecting elements that are adjustable in length.
  • sealing devices are preferably provided.
  • a sealing device can be designed so that there are no sealing elements in the gap formed between the connecting element and the edge of the associated through-opening, so that in this area even with relative transverse movements or longitudinal movements no forces are transmitted directly between the connecting element and wall element. Sealing elements are preferably mounted outside the region of the passage opening.
  • a sealing device for sealing the passage opening has a gas-impermeable, optionally vacuum-resistant bellows enclosing the connecting element, which can be designed, for example, as a bellows or bellows.
  • the bellows can on the one hand with the interposition of a first sealing element the outside of the wall element and on the other hand with an axial distance to rest with the interposition of a second sealing element on a fixedly connected to the connecting element flange.
  • sealing surfaces may be formed by axial end faces of the bellows or of the wall element and of the flange element, so that a pure axial sealing device is provided. Due to the flexibility of the bellows in the axial direction and in the lateral direction, longitudinal and transverse movements of the connecting element in the passage opening are possible, without there being any significant effect on the housing.
  • special measures are taken in the region of the optical window, which ensure that the laser beam can be optically coupled exactly into the process chamber, without any relative movements between the laser unit and the housing to influence the beam path of the laser beam.
  • a passage opening associated with the optical window is provided in a housing-fixed wall element of the housing.
  • the optical window is not inserted in this through-opening, but accommodated in a separate from the wall element holder unit, which is connected to the wall element via a flexible gas-tight connection means.
  • the mounting unit is mechanically rigidly connected to the laser unit or its exit optics, so that their relative spatial relationship is fixed and also remains when the wall element having the passage opening moves relative to the laser unit.
  • the flexible gas-tight connection device compensates for a possible relative movement between the holder unit and the wall element and at the same time decouples the housing mechanically from the laser unit.
  • the connecting device has at least one gas-tight, optionally vacuum-resistant bellows.
  • a bellows the For example, can be designed as a bellows or bellows made of metal or plastic, can compensate for relative movements between the housing and the laser unit and simultaneously decouple these elements mechanically.
  • the substrate holding device is constructed such that the surface of a substrate held in the processing position is vertically or substantially vertically aligned.
  • essentially vertical here means, in particular, that an angle between the surface of the substrate and the vertical direction should not be greater than 30 ° or 20 ° or 10 ° and / or in some other way optionally athermically detached substrate material can not fall back onto the processed substrate, thereby supporting the production of cleaner, low-defect components.
  • a plasma cloud When processing materials with concentrated electromagnetic radiation, such as laser radiation, especially under negative pressure, a plasma cloud often forms in front of the substrate surface. In addition to gases, this plasma cloud contains partly ionized particles, which may be present in the solid and liquid state. Components that are located in the area of the plasma cloud can be severely impaired in their function by "coating" the material, especially solids such as metal particles, in particular optics such as optical entrance windows or focusing lenses, or by erosion on their surface Due to the arrangement of the laser unit Outside the process chamber, the components of the laser unit are protected.
  • a problem that is possible with generic laser processing systems consists in the fact that the inside of the optical window can become increasingly polluted and / or wear out as a result of increasing operating time through processing products. As a result, the coupling of the laser beam would be increasingly affected.
  • the optical window as a replaceable element so that it can either be easily cleaned after installation or replaced with another clean optical easy window.
  • measures are taken to avoid a disadvantageous for operation pollution of the optical window or to reduce to an uncritical extent.
  • the exit optics of the laser unit is aligned obliquely with respect to the substrate holding device such that an optical axis of the exit optics encloses an acute angle with a normal direction of the surface of a substrate held by the substrate holding device.
  • the acute angle may for example be between 10 ° and 50 °, in particular in the range between 20 ° and 35 °, for example at about 25 °.
  • This measure takes into account that a plasma cloud with processing residues can form above the processed substrate surface during laser processing, the particle current density of the processing residues in the normal direction of the substrate surface being particularly high and decreasing greatly towards the sides.
  • the oblique arrangement can thus be achieved that, starting from the substrate, only relatively few machining residue particles per unit of time are directed in the direction of the optical window, whereby the tendency to fouling is greatly reduced.
  • the radiation is still steep enough, so that an exact positioning of the focus area on the substrate is possible. This measure can be used advantageously regardless of the features of the claimed invention in other laser processing systems.
  • a separate window protection device for protecting the window from contamination by laser processing processing products, the window protection device having at least one laser beam transparent protective element disposed between the substrate and the optical window.
  • the window protection device having at least one laser beam transparent protective element disposed between the substrate and the optical window.
  • those processing products that move from the substrate in the direction of the optical window can be absorbed by the transparent protective element and thus not pollute the optical window.
  • a window without a tool (ie without the aid of a tool) replaceable window protection device is provided, whereby maintenance is simplified.
  • the transparent protective element is aligned obliquely with respect to an irradiation direction of the laser beam such that laser light reflected by the protective element is not reflected in the exit optics of the laser unit.
  • the transparent protective element is placed at a relatively small angle obliquely to the direction of irradiation of the laser beam, so that it is irradiated approximately vertically.
  • an angle between a normal direction of the transparent protective element and the irradiation direction or the optical axis of the output optics may be less than 15 ° and, for example, between 3 ° and 10 °, for example at approximately 4 °.
  • Interchangeable transparent protective elements can be provided, for example in the form of plates made of glass or another material transparent to the laser radiation.
  • the transparent protective element is formed by a section of a flexible film strip, wherein the window protection device preferably has a first roll with a supply of fresh foil strip and a second roll for winding used foil strip, wherein a foil section cantilevered between the rolls separates the foil section Protective element forms.
  • a winding mechanism By a winding mechanism can be tracked continuously or discontinuously (intermittently) fresh foil tape, so that at any time a sufficiently transparent film section is available as a protective element.
  • the current contamination of the transparent protective element can be detected by a suitable detection device and a corresponding signal for controlling the winding device can be processed in order to control the feed of the film strip in dependence on the strength of the pollution can.
  • Such a window protection device can also be advantageously used in other laser processing systems, regardless of the features of the claimed invention.
  • FIG. 1 shows a schematic partial view of a laser processing system according to an embodiment of the invention
  • FIG. 2 shows an oblique perspective view of a substrate holding device fixedly connected to the base of the laser unit and wall elements of the housing of the process chamber therebetween;
  • FIG. 3 shows a detail view of a through opening, which is penetrated by a connecting element and sealed by an axial sealing device, in a wall element of the housing;
  • Fig. 4 shows an oblique perspective view of the surroundings of the optical window.
  • FIG. 1 shows a schematic partial view of a laser processing system 100 according to an embodiment of the invention.
  • the laser processing system is designed so that it can be used in a strip production line for the production of printed electronic components on strip-shaped flexible substrates in a roll-to-roll process.
  • Laser processing is used here as a sub-process in the production of flexible CIS / CIGS thin-film solar cells, but can be used, for example. also in the production or structuring of organic light emitting diodes (OLED) or other printed electronic or electrical components, such as transistors, sensors or printed batteries, are used.
  • OLED organic light emitting diodes
  • One feature of printed electrical or electronic components is the use of flexible, ie flexible substrate films which offer the possibility of roll-to-roll processing.
  • a thin plastic film or metal foil on the input side of a process line is fed from a roll into the process line.
  • one or more coating operations for depositing functional layers on the substrate film and structuring operations take place in different processing stations.
  • the finished film can then be rolled up again or cut into the desired shape for further use.
  • electronic components can be produced with relatively low production costs, on the other hand extremely lightweight and mechanically flexible components can be produced.
  • the flexible carrier material (substrate) is first coated with layers of electrically conductive or semiconductive materials. These layers are usually only a few micrometers thick and are selectively removed or irradiated by laser irradiation with different wavelengths from the infrared range (IR), the visible range (VIS) or the ultraviolet range (UV) in the process steps P1, P2 and P3 of the overall process Slices separated laterally.
  • IR infrared range
  • VIS visible range
  • UV ultraviolet range
  • Typical line widths in the removal with focused laser beam are in the range of a few micrometers, for example between 20 ⁇ m and 50 ⁇ m. Write speeds up to several thousand mm / s can be achieved with high-performance laser units. An exact positioning of the focus area of the laser beam along the desired path is of great importance for the quality of the finished products.
  • the laser processing can take place in the laser processing system under vacuum or a defined gas atmosphere at negative pressure or overpressure (relative to the environment) in a hermetically sealable and optionally evacuatable process chamber.
  • the laser processing system 100 has a pressure-resistant, multi-part design. tes housing 1 10, which hermetically encloses a evacuated by means of a pump process chamber 1 12, ie gas-tight.
  • At least one substrate holding device 120 is arranged, which in operation holds the substrate to be processed in a processing position suitable for the laser processing within the process chamber.
  • two substrate-holding devices 120, 120 'arranged mirror-symmetrically to one another and mechanically coupled to one another, are provided in an essentially identical manner, in order to enable parallel processing of two substrate webs.
  • the following description of the substrate holding device shown on the left also applies analogously to the other substrate holding device.
  • the substrate to be processed in each case is formed by a section of a film strip 15 coated in upstream sub-processes.
  • the substrate film whose length can be up to several 100 m or several 1000 m, is introduced via a loading chamber, not shown, from above into the process chamber 12, processed there in sections, and then discharged again via an unloading chamber, not shown.
  • the respectively processed foil band section can rest in the area of the substrate holding device. It is also possible to run processes in which the film strip is moved during the laser processing in the web direction with a uniform or irregular web speed.
  • film tape buffer for example those with dancer rollers or other means to maintain a sufficient Strap tension. If there is enough space, free-hanging foil tape loops can form.
  • the substrate holding device 120 is arranged in the region of the side wall 1 14 of the housing shown on the left in FIG. 1 at a vertical distance from the bottom of the process chamber.
  • the laser unit 140 assigned to the substrate holding device 120 is arranged outside the housing 110 on the side of the side wall 14 opposite the substrate holding device.
  • the laser unit 140 stands on top of a rollable frame 180, in which the electronic components of the control of the laser unit and display units are housed in the form of screens.
  • a corresponding second laser unit 140 ' is placed on the opposite side outside the housing.
  • the substrate holding device 120 has a multi-part base 122, which has a plurality of steel plates that are bolted together.
  • a vertical support plate 124 of the base carries vertically above one another a first roller 132 and below a second roller 134 which are each rotatable about horizontally oriented roller axis.
  • the rollers serve as substrate holding elements.
  • the substrate film 1 15 is under suitable belt tension on the cylindrical outer surfaces of the rollers, so that the position of the rollers and their orientation to each other exactly specify the processing position of each to be processed film section.
  • the vertical support plate 124 is screwed to a below the rollers arranged horizontal support plate 126 and other plates.
  • the base may have further elements for stiffening.
  • a base 148 of the laser unit 140 has a solid granite block 142, on the horizontal, planar upper side of which the optical components (not shown) of the laser unit (eg resonator, deflector) are located. Mirrors, prisms, lenses, etc.).
  • the granite block 142 is held by a torsion-resistant support frame having an attached laterally on the granite block vertical support plate 144 and acting on the underside of the support plate angled supports.
  • the coupled out of the resonator of the laser unit laser radiation is formed by suitable optical assemblies and optionally homogenized and occurs after passing through an exit optics 150 as laser beam 155 with high beam quality from the laser unit in the direction of the substrate.
  • the coupling-out optical system 150 is fastened to a carrier plate screwed to the base and comprises a scanner system controllable via the control unit of the laser unit in order to successively direct the laser beam to different processing points on the surface of the stationary substrate.
  • the solid angle range which can be scanned by the laser beam is shown by dashed lines in FIG.
  • the main direction of irradiation is defined by the optical axis of the exit optics 150.
  • the laser beam is irradiated obliquely from above onto the vertically aligned substrate, the optical axis of the exit optics 150 enclosing an acute angle of approximately 30 ° with the normal direction of the substrate surface aligned vertically between the rollers.
  • the emerging from the exit optics laser beam is coupled through an optical window 170 into the process chamber.
  • the transparent to the laser beam optical window separates the interior of the housing 1 10, so the process chamber 1 12, from the environment in which the laser unit is located.
  • a special feature of the laser processing system is that the substrate holding device 120 is not attached to a fixedly connected to the housing 1 10 and its bottom member, but rigidly connected via rigid connecting elements with the base 148 of the laser unit 140, so that they are used as a carrier for the substrate holding direction.
  • the substrate holding device 120 is largely mechanically decoupled from the housing 110 so that movements of the housing, for example vibrations or pressure-related displacements of housing walls, are not or not disturbing the relative positioning between the laser unit 140 and the substrate holding device 120 or the housing held thereon Substrate can affect.
  • the rigid mechanical connection between the base 148 of the laser unit 140 and the base 122 of the substrate holding device 120 is provided by a group of four connecting elements, each designed as a telescopic bolt.
  • the two lower connecting elements 161, 162 are fixed with their outer end to the vertical support plate 144, while the inner end located in the process chamber is bolted to a respective attached to the underside of the horizontal support plate 126 block of material.
  • a pair of upper connecting members 163, 164 similarly connects the support plate 144 associated with the base of the laser unit to a support member which is bolted to an angle member of the base 122 of the substrate support means.
  • the stable, partially cylindrical connecting elements extend parallel to each other horizontally and pierce through each circular through holes 1 18, which are provided in a vertical wall element 1 16 of the multi-part housing 1 10 of the process chamber.
  • the detailed illustration in FIG. 3 clearly shows how it is ensured in the embodiment that there is no mechanical coupling between the wall element 116 and the centrally extending connecting element 161 in the region of the passage opening 118 and, on the other hand, the passage opening nevertheless sealed against the environment.
  • the connecting element 161 has in the range of 1 opening 18 a cylindrical cross-section with an outer diameter which is significantly smaller than the inner diameter of the cylindrical passage opening. This ensures that between the outer side of the connecting element and the inner edge of the passage opening in all radial directions a distance 1 19 remains, so that in the region of the passage opening an annular gap is formed.
  • the distance 1 19 may be on the order of one or more millimeters and is generally dimensioned so that in the largest expected relative movement between the wall member 1 16 and the connecting element 161, a contact contact between these elements in the region of the passage opening is reliably avoided.
  • an axial sealing device 165 is provided, which does not require any radially acting sealing elements and transfers virtually no mechanical forces between these elements even with relative transverse movements and / or longitudinal movements of the connecting element relative to the wall element. wearing.
  • An essential element of the sealing device is a vacuum-tight metallic bellows 166, which may be formed, for example, as a bellows or bellows.
  • a first flange section 167 adjoins the side of the housing and a second flange section 168 on the side facing the laser unit, at an axially or transversely folded or corrugated center section.
  • the first flange portion 167 is pressed with the interposition of an annular small flange seal to the outside of the wall element, whereby this area is sealed.
  • the opposite second flange portion 168 is pressed with the interposition of a second small flange seal on a fixedly attached to the connecting element flange 169, whereby this area is sealed.
  • this axial sealing device only axial end faces are provided as sealing surfaces. Longitudinal and transverse movements of the connecting rod relative to the wall element 1 16 are thereby possible without substantial force-transmitting reaction to the housing, wherein the central bellows portion serves as a compensation element.
  • a further stabilization of the position of the two substrate holding devices 120, 120 'in the laser processing system 100 is given by the fact that their base units are rigidly interconnected by connecting elements.
  • the housing is associated with only a single laser unit.
  • at least one further, non-laser processing unit may also be provided on or in the housing.
  • the optical window 170 which may be formed by a plate of glass or other solid-state material transparent to the laser radiation, is not gripped in the illustrated circular through-hole 172 in a wall member 144 of the housing, but in a separate one from the wall member Holder unit 179.
  • This has a base plate 182 with a circular passage opening in which the optical window is located.
  • a mounting ring 184 is provided with a smaller inner diameter, which supports the optical window inwards (to the negative pressure side of the process chamber).
  • the socket unit is arranged at a distance in front of the associated wall element 1 14 of the housing.
  • the holder unit is connected to this wall element via a flexible, vacuum-tight connection device 185, which in the example is formed by a bellows or corrugated bellows of suitable inner diameter.
  • the optical window is thereby movably mounted relative to the housing of the process chamber.
  • the frame unit is rigidly connected to the base unit of the laser unit because the inclined base plate 182 is fixed to the base unit.
  • the flexible connection device 185 that the laser unit or its exit optics 150 is mechanically decoupled from the housing 110, so that any vibrations or other movements of the housing wall can not be transmitted to the laser unit. Any relative movements are compensated by the bellows portion of the connecting device. Furthermore, it is ensured that the optical window is always in fixed spatial relation to the exit optics 150 of the laser unit. This precludes the possibility that the optical effect of the plane plate on the passing laser beam during laser processing changes in an uncontrollable manner, which could for example lead to an uncontrollable temporary beam offset.
  • a window protection device 190 is provided, which is explained in more detail in particular in connection with FIG.
  • the window protection device has a transparent to the laser radiation protection element 192, which is formed by a portion of a transparent film, which is disposed between the processed substrate and the substrate holding device and the optical window. In the direction of the optical window thrown machining products are collected by the transparent protective element and thus can not reach the optical window.
  • the window protection device 190 comprises a cassette 195, which can be easily replaced without tools by means of tools and which can be fastened to a carrier plate, for example, which is located in the region of the passage opening 172 assigned to the window on the inside of the associated wall element. For example, at the be arranged parallel plate holding profiles, between which the cassette can be inserted. Inside the cassette is a first roller 196, is wound on the fresh, still unused foil tape. At a distance opposite an axially parallel rotating second roller 198 is provided, which can be rotated continuously or intermittently by means of a roller drive to wind used foil strip sections as needed and rewet fresh foil strip.
  • the film strip is guided over two cassette-fixed bar-shaped deflecting elements such that a freely stretched film strip section lies between the deflecting elements and forms the transparent protective element.
  • the crack-resistant plastic film of the film strip is in the example about 50 ⁇ thick.
  • the housing of the cassette has on the laser unit facing the beam inlet side and the substrate holding device facing the beam exit side protection plates in a central, substantially rectangular recess which is dimensioned so that the rollers are each protected between the protective plates inside the winding cassette and the laser beam in all can be irradiated by the scanning device adjustable fürstrahlraumen without shading by the cassette into the interior of the process chamber.
  • the rod-shaped deflecting elements are arranged relative to one another such that the self-supporting foil band section penetrated by the laser beam is oriented somewhat obliquely at an angle deviating from 90 ° to the optical axis (in FIG. 4 coaxial with the laser beam) of the exit optics, so that the protective element reflects Laser light can not be reflected back into the exit optics 150.
  • the oblique angle between the optical axis and the normal direction of the stretched film section is about 5 °, inter alia, depends on the axial distance between the exit optics and the protective element and may also be greater or less than 5 °.
  • sensors can be installed in front of and behind the processing station in the process chamber, for example in the form of line scan cameras, which evaluate between original and possibly pre-processed ones Substrates used to process results and allowing adjustment of process parameters depending on the specification or deviation. This can be used, for example, for the exact alignment of new laser cutting lines to be introduced to already existing laser cutting lines or markings. This control mechanism thus allows the control of process parameters.
  • a monitoring system with line scan cameras is provided in the embodiment, which are connected to a communicating with the control of the system evaluation.
  • An upper line camera 175 is mounted in the area above the first roller 132 and a second line camera 176 in the area below the second roller 134 relative to the substrate holding device, that by the line scan cameras the machined top of the substrate across the entire width through the Line scan cameras can be detected.
  • any errors in the output structures can be detected on the entry side and any possible deviations of the geometry of the laser structures generated from a desired desired geometry can be detected early on the output side so that, if necessary, laser parameters can be readjusted to ensure a stable process.
  • the line scan cameras are each arranged in the exemplary embodiment on an adjustable rail, so that the depth of field can be adjusted as needed. This adjustment can be made from outside the pressure housing via a cardan shaft.
  • laser processing systems in which the relative position between the external beam unit (here laser unit) and the workpiece or the substrate in the pressure chamber is variable within a certain tolerance range. This can e.g. be the case in generic laser processing systems without rigid coupling between the laser unit and substrate holding device. It may also be that in laser processing systems with rigid coupling so high demands are placed on the positioning accuracy that additional measures to improve the positioning accuracy can be beneficial.
  • a laser processing system may include a compensation system having means for determining a time-varying change in the relative position between the exit optics of the laser unit and the substrate holding means and for generating a position signal representing the relative position change, and means for controlling laser parameters Have position signal.
  • These devices can be configured so that the laser beam always hits the substrate surface even with changing relative positioning with defined beam quality, eg with a largely constant beam cross section in the focus area.
  • the processing result can be made largely independent of any relative position changes.
  • a compensation of relative position changes is possible, for example, by the position change is determined dynamically or regularly. Such a determination is possible, for example, by measurement by means of laser interferometry or by means of another, preferably optical, range finding method.
  • a laser interferometer (or another distance measuring device) can be positioned in the pressure chamber or process chamber and fixedly connected to the substrate holding device (workpiece holder unit) and measured at a fixed point on the external radiation source or the laser unit through the optical window. It is also possible for a fixed measuring point to be located on the workpiece receiving unit (substrate holding device) in the pressure chamber (process chamber) and for a laser interferometer to be fixedly attached to the laser unit or one of its components, such as scanners. If a plurality of distance measuring units are provided, for example a plurality of laser interferometers, it is also possible to determine three-dimensional position changes and to process corresponding position signals for controlling the laser unit.
  • beam shaping components and / or beam deflection components such as scanners or focusing lenses
  • beam deflection components can be modified in their effect by moving these components accordingly.
  • a corresponding angle compensation of the individual mirrors can be effected.
  • the embodiments show laser processing systems used as a processing station in a belt manufacturing line for producing printed electronic components on a belt-shaped flexible substrate in a roll-to-roll process. It is also possible to use a laser processing system in the context of batch processes or inline processes or as a stand-alone system.
  • the substrate holding device can also be designed as a xyz-stage or as a turntable.

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Abstract

A laser machining system (100) which can be used, for example, in a line production plant for producing printed electronic components on a band-like flexible substrate in a roll-to-roll method, has a housing (110), which can be closed off in a gas-tight manner and encloses a process chamber (112), at least one substrate holding device (120) which is arranged in the process chamber and is set up to hold the substrate (115) for laser machining in a machining position within the process chamber, and a laser unit (140), fitted outside the housing, having an exit optical system (150) for emitting a laser beam that can be directed onto the substrate, wherein an optical window (170), which is transparent to the laser beam, for injecting the laser beam into the process chamber is provided, said optical window (170) separating the process chamber from the surroundings. The exit optical system (150) of the laser unit (140) is coupled in a mechanically rigid manner to the substrate holding device (120) and mechanically uncoupled from the housing (110).

Description

Beschreibung  description
Laserbearbeitunqssvstem  Laserbearbeitunqssvstem
HINTERGRUND BACKGROUND
Die Erfindung betrifft ein Laserbearbeitungssystem gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1. The invention relates to a laser processing system according to the preamble of claim 1.
Laserbearbeitungssysteme dieser Art erlauben eine Laserbearbeitung von Substraten in einer von der Umgebung abgeschotteten Prozesskammer, z.B. unter Vakuum, Unterdruck, Überdruck und/oder einer definierten Schutzgasatmosphäre. Dabei umschließt ein gasdicht abschließbares Gehäuse eine Prozesskammer. In der Prozesskammer ist eine Substrathalteeinrichtung angebracht, die dafür eingerichtet ist, ein zu bearbeitendes Substrat für eine Laserbearbeitung in einer Bearbeitungsposition innerhalb der Prozesskammer zu halten. Bei dem Substrat kann es sich beispielsweise um ein steifes Glassubstrat oder Metallsubstrat handeln oder um ein flexibles Substrat, z.B. einen Abschnitt eines bandförmigen flexiblen Substrates, wie es bei der Herstellung von ge- druckter Elektronik verwendet wird. Laser processing systems of this type permit laser processing of substrates in a process chamber sealed off from the environment, e.g. under vacuum, negative pressure, overpressure and / or a defined protective gas atmosphere. A gas-tight lockable housing encloses a process chamber. Mounted in the process chamber is a substrate holding device configured to hold a substrate to be processed for laser processing in a processing position within the process chamber. The substrate may be, for example, a rigid glass substrate or metal substrate or may be a flexible substrate, e.g. a portion of a tape-shaped flexible substrate used in the manufacture of printed electronics.
Außerhalb des Gehäuses ist eine Lasereinheit mit einer Austrittsoptik angebracht, die einen auf das Substrat ausrichtbaren, in der Regel fo- kussierten Laserstrahl abgibt. Dieser kann beispielsweise mittels einer Scaneinrichtung sukzessive entlang einer Bahn mit definiertem Verlauf über den zu bearbeitenden Bereich des Substrats gelenkt werden, um dieses mittels der lokal eingestrahlten Laserstrahlung zu bearbeiten. Der Laserstrahl wird dabei durch ein für die Laserstrahlung transparentes optisches Fenster hindurch in die Prozesskammer eingekoppelt. Das optische Fenster trennt die Prozesskammer von der Umgebung, in der die Lasereinheit angebracht ist. Ein solches Laserbearbeitungssystem kann z.B. als Bearbeitungsstation in einer Bandfertigungsanlage zur Herstellung von gedruckten elektronischen Bauelementen auf einem bandförmigen flexiblen Substrat in einem Rolle-zu-Rolle-Verfahren verwendet. Es ist jedoch auch möglich, ein Laserbearbeitungssystem im Rahmen von Batch-Prozessen oder Inline-Prozessen oder als Stand-Alone-System einzusetzen. Outside the housing, a laser unit is mounted with an exit optics, which emits a, usually focused on the substrate laser beam. This can be directed, for example, by means of a scanning device successively along a path with a defined course over the region of the substrate to be processed in order to process it by means of the locally irradiated laser radiation. The laser beam is thereby coupled into the process chamber through an optical window transparent to the laser radiation. The optical window separates the process chamber from the environment in which the laser unit is mounted. Such a laser processing system can be used, for example, as a processing station in a belt manufacturing line for producing printed electronic components on a belt-shaped flexible substrate in a roll-to-roll process. However, it is also possible to use a laser processing system in the context of batch processes or inline processes or as a stand-alone system.
Ein Problem bei derartigen Laserbearbeitungssystemen besteht darin, das zu bearbeitende Substrat bei unterschiedlichen Betriebsbedingun- gen möglichst genau in der Bearbeitungsposition zu positionieren und den Laserstrahl unter allen Betriebsbedingungen möglichst positionsgenau und mit definierter Strahlqualität auf die jeweils zu bearbeitenden Oberflächenbereiche einzustrahlen. Diese Probleme werden umso kritischer, je kleiner die zu erzeugenden oder zu verändernden Strukturen am Substrat werden. A problem with such laser processing systems is to position the substrate to be processed under different operating conditions as accurately as possible in the processing position and to irradiate the laser beam as accurately as possible and with defined beam quality to the particular surface areas to be processed under all operating conditions. These problems become more critical the smaller the structures to be created or changed on the substrate become.
AUFGABE UND LÖSUNG TASK AND SOLUTION
Vor diesem Hintergrund liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Laserbearbeitungssystem der eingangs erwähnten Art bereitzustellen, welches eine exakte Bearbeitung von in einer Prozesskammer positionierten Substraten unter unterschiedlichen Betriebsbedingungen gewährleistet. Zur Lösung dieser Aufgabe stellt die Erfindung ein Laserbearbeitungssystem mit den Merkmalen von Anspruch 1 bereit. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben. Der Wortlaut sämtlicher Ansprüche wird durch Bezugnahme zum Inhalt der Beschreibung gemacht. Against this background, the invention has for its object to provide a laser processing system of the type mentioned, which ensures an exact processing of positioned in a process chamber substrates under different operating conditions. To achieve this object, the invention provides a laser processing system having the features of claim 1. Advantageous developments are specified in the dependent claims. The wording of all claims is incorporated herein by reference.
Bei einem erfindungsgemäßen Laserbearbeitungssystem ist die Austrittsoptik der Lasereinheit mit der Substrathalteeinrichtung mechanisch starr gekoppelt und von dem Gehäuse der Prozesskammer mechanisch entkoppelt. Eine mechanische Entkopplung ist dabei insbesondere dann gegeben, wenn bei einer Relativbewegung der mechanisch entkoppelten Elemente zueinander zwischen diesen keine oder nur sehr geringe Kräfte übertragen werden können, so dass sich die entkoppelten Ele- mente weitgehend unabhängig voneinander bewegen können und sich die Bewegung eines der Elemente nicht in einem praktisch relevanten Ausmaß auf den Bewegungszustand oder der Position des anderen Elements auswirkt. Dadurch kann erreicht werden, dass der Fokusbereich des zur Bearbeitung in die Prozesskammer eingestrahlten Laserstrahls unabhängig von eventuellen Bewegungen der Gehäusewände in Bezug auf das von der Substrathalteeinrichtung gehaltene Substrat immer richtig positioniert ist. Durch die starre mechanische Kopplung zwischen der Lasereinheit bzw. ihrer Austrittsoptik und der Substrathalteeinrichtung bleibt die räumliche Beziehung zwischen diesen beiden Einrichtungen im Rahmen der durch die mechanische Kopplung vorgegebenen Toleranzen immer erhalten, auch wenn sich das Gehäuse oder Wandelemente des Gehäuses relativ zur Lasereinheit und/oder zur Substrateinheit bewegen In a laser processing system according to the invention, the exit optics of the laser unit with the substrate holding device is mechanically rigidly coupled and mechanically from the housing of the process chamber decoupled. A mechanical decoupling is given in particular if during a relative movement of the mechanically decoupled elements between them no or only very small forces can be transmitted, so that the decoupled elements can move largely independently of each other and the movement of one of the elements does not affect the state of motion or the position of the other element to a practically relevant extent. It can thereby be achieved that the focus area of the laser beam irradiated for processing into the process chamber is always correctly positioned independently of any movements of the housing walls with respect to the substrate held by the substrate holding device. Due to the rigid mechanical coupling between the laser unit or its exit optics and the substrate holding device, the spatial relationship between these two devices within the given by the mechanical coupling tolerances is always maintained, even if the housing or wall elements of the housing relative to the laser unit and / or move to the substrate unit
Wird die Strahlenquelle (Lasereinheit) außerhalb der Prozessammer angeordnet, so kann z.B. das Problem auftreten, dass sich die Position des Substrats bzw. der Substrathalteeinrichtung in Bezug auf die Position der Strahlenquelle (Lasereinheit) und deren externen Bauteile ändert, wenn sich der Druck in der Prozesskammer im Bezug auf den äußeren Druck (Atmosphärendruck) ändert, weil dadurch Kräfte resultieren können, welche die Gehäusewände der Prozesskammer verformen können und damit Auswirkungen auf Kammerkomponenten, wie z.B. die Substrathalteeinrichtung haben können. Die Erfindung vermeidet die Entste- hung derartiger Probleme durch konstruktive Maßnahmen. If the radiation source (laser unit) is placed outside the process chamber, e.g. the problem arises that the position of the substrate or the substrate holding device with respect to the position of the radiation source (laser unit) and its external components changes when the pressure in the process chamber changes with respect to the external pressure (atmospheric pressure) because thereby Forces can result, which can deform the housing walls of the process chamber and thus affect chamber components, such as may have the substrate holding device. The invention avoids the emergence of such problems by design measures.
Die mechanische Entkopplung zwischen dem Gehäuse der Prozesskammer und der Lasereinheit bzw. ihrer Austrittsoptik sorgt gleichzeitig dafür, dass sich relative Bewegungen zwischen Gehäusewänden und der Lasereinheit nicht auf die relative räumliche Positionierung der Lasereinheit zur Substrathalteeinrichtung auswirken können. Eine Lasereinheit hat normalerweise eine Basiseinheit, an der optische Komponenten der Lasereinheit in der erforderlichen geometrischen Anordnung zueinander montiert sind. Typischerweise hat eine Basiseinheit einen Granitblock oder einen Block aus einem anderen Material mit extrem geringen thermischen Ausdehnungskoeffizienten. An diesen Block können metallische Gestellelemente montiert sein. Die Substrathalteeinrichtung hat in der Regel ebenfalls eine Basiseinheit, an der ein oder mehrere zum Kontakt mit dem Substrat ausgebildete Substrathalteelemente montiert sind. Die Basis kann z.B. eine verwindungssteife Konstruktion mit Stahlplatten und/oder Stahlprofilen aufweisen. The mechanical decoupling between the housing of the process chamber and the laser unit or its exit optics provides simultaneously that relative movements between the housing walls and the laser unit can not affect the relative spatial positioning of the laser unit to the substrate holding device. A laser unit normally has a base unit to which optical components of the laser unit are mounted in the required geometric arrangement with each other. Typically, a base unit will have a granite block or block of another material with extremely low coefficients of thermal expansion. Metallic frame elements can be mounted on this block. The substrate holding device also typically has a base unit on which one or more substrate holding members formed for contact with the substrate are mounted. The base may, for example, have a torsion-resistant construction with steel plates and / or steel profiles.
Bei einer Ausführungsform fungiert die Basiseinheit der Lasereinheit als Träger für die Basiseinheit der Substrathalteeinrichtung, so dass diese keine tragende Verbindung mit einem Element des Gehäuses benötigt. Die Substrathalteeinrichtung kann z.B. oberhalb des Gehäusebodens schwebend angeordnet sein. In one embodiment, the base unit of the laser unit functions as a support for the base unit of the substrate holding device so that it does not require a supporting connection with an element of the housing. The substrate holding device may be e.g. be suspended above the housing bottom.
Bei einer Ausführungsform ist eine Basiseinheit der Lasereinheit mit einer Basiseinheit der Substrathalteeinrichtung über mindestens ein Verbindungselement mechanisch starr verbunden, wobei das Verbindungs- element derart durch eine Durchgangsöffnung in einem Wandelement des Gehäuses geführt ist, dass zwischen dem Verbindungselement und dem Rand der Durchgangsöffnung ein allseitiger radialer Abstand, beispielsweise in Form eines Ringspalts, besteht. Damit kann die Basis der Lasereinheit als Träger für die Basiseinheit der Substrathalteeinrichtung fungieren, so dass diese keine tragende Verbindung mit einem Element des Gehäuses benötigt. Dadurch, dass das Verbindungselement das Wandelement des Gehäuses im Bereich der Durchgangsöffnung berührungslos durchgreift, können sich Bewegungen des Wandelementes nicht in störender Weise auf die relative Positionierung von Lasereinheit und Substrathalteeinrichtung auswirken, so dass eine mechanische Entkopplung realisierbar ist. Bei manchen Ausführungsformen sind mehrere Verbindungselemente, beispielsweise drei oder vier Verbindungselemente, zwischen den Basiseinheiten der Lasereinheit und der Substrathalteeinrichtung vorgesehen, um eine besonders verwindungssteife, stabile Halterung der Substrathalteeinrichtung an der Lasereinheit zu gewährleisten. Jedes der Verbindungselemente kann in entsprechender Weise berührungslos durch eine zugehörige Durchgangsöffnung geführt sein. Die Verbindungselemente sind bei manchen Ausführungsformen als Teleskopstangen ausgelegt, also als Verbindungselemente, die hinsichtlich ihrer Länge einstellbar sind. Dadurch ist eine exakte Ausrichtung der Sub- strathalteeinrichtung in Bezug auf die Lasereinheit bei der Montage und eventuellen Wartungsarbeiten oder Umrüstarbeiten möglich. In one embodiment, a base unit of the laser unit is mechanically rigidly connected to a base unit of the substrate holding device via at least one connecting element, wherein the connecting element is guided through a passage opening in a wall element of the housing such that an all-round radial connection between the connecting element and the edge of the passage opening Distance, for example in the form of an annular gap exists. Thus, the base of the laser unit can function as a support for the base unit of the substrate holding device, so that it does not require a supporting connection with an element of the housing. Because the connecting element passes through the wall element of the housing in the area of the passage opening without contact, movements of the wall element can occur do not interfere with the relative positioning of the laser unit and the substrate holding device, so that a mechanical decoupling can be realized. In some embodiments, a plurality of connecting elements, for example three or four connecting elements, are provided between the base units of the laser unit and the substrate holding device in order to ensure a particularly rigid, stable mounting of the substrate holding device on the laser unit. Each of the connecting elements may be guided in a corresponding manner without contact by an associated passage opening. The connecting elements are designed in some embodiments as telescopic rods, ie as connecting elements that are adjustable in length. As a result, an exact alignment of the substrate holder with respect to the laser unit during assembly and possible maintenance or retooling is possible.
Um eine hermetische Abdichtung der Prozesskammer auch im Bereich der von Verbindungselementen durchgriffenen Durchgangsöffnungen zu ermöglichen, sind vorzugsweise entsprechende Dichteinrichtungen vorgesehen. Eine Dichteinrichtung kann so ausgelegt sein, dass sich keine Dichtelemente in dem zwischen dem Verbindungselement und dem Rand der zugehörigen Durchgangsöffnung gebildeten Spalt befinden, so dass in diesem Bereich auch bei relativen Querbewegungen oder Längsbewegungen keine Kräfte unmittelbar zwischen Verbindungselement und Wandelement übertragen werden. Dichtelemente sind vorzugsweise außerhalb des Bereichs der Durchgangsöffnung angebracht. In order to enable a hermetic sealing of the process chamber also in the region of the through openings which are penetrated by connecting elements, corresponding sealing devices are preferably provided. A sealing device can be designed so that there are no sealing elements in the gap formed between the connecting element and the edge of the associated through-opening, so that in this area even with relative transverse movements or longitudinal movements no forces are transmitted directly between the connecting element and wall element. Sealing elements are preferably mounted outside the region of the passage opening.
Bei manchen Ausführungsformen hat eine Dichteinrichtung zur Abdich- tung der Durchgangsöffnung einen das Verbindungselement umschließenden gasundurchlässigen, gegebenenfalls vakuumfesten Balg, der z.B. als Faltenbalg oder Wellenbalg ausgestaltet sein kann. Der Balg kann einerseits unter Zwischenschaltung eines ersten Dichtelements an der Außenseite des Wandelements und andererseits mit axialem Abstand dazu unter Zwischenschaltung eines zweiten Dichtelements an einem fest mit dem Verbindungselement verbundenen Flanschelement anliegen. Bei dieser Anordnung können Dichtflächen durch axiale Stirn- flächen des Balgs bzw. des Wandelements und des Flanschelements gebildet sein, so dass eine reine Axial-Dichteinrichtung geschaffen ist. Aufgrund der Flexibilität des Balgs in axialer Richtung und in lateraler Richtung sind Längs- und Querbewegungen des Verbindungselementes in der Durchgangsöffnung möglich, ohne dass sich eine wesentliche Rückwirkung auf das Gehäuse ergibt. In some embodiments, a sealing device for sealing the passage opening has a gas-impermeable, optionally vacuum-resistant bellows enclosing the connecting element, which can be designed, for example, as a bellows or bellows. The bellows can on the one hand with the interposition of a first sealing element the outside of the wall element and on the other hand with an axial distance to rest with the interposition of a second sealing element on a fixedly connected to the connecting element flange. In this arrangement, sealing surfaces may be formed by axial end faces of the bellows or of the wall element and of the flange element, so that a pure axial sealing device is provided. Due to the flexibility of the bellows in the axial direction and in the lateral direction, longitudinal and transverse movements of the connecting element in the passage opening are possible, without there being any significant effect on the housing.
Bei manchen Ausführungsformen sind im Bereich des optischen Fensters besondere Maßnahmen getroffen, die dafür sorgen, dass der Laserstrahl optisch exakt in die Prozesskammer eingekoppelt werden kann, ohne dass eventuelle Relativbewegungen zwischen der Lasereinheit und dem Gehäuse zu einer Beeinflussung des Strahlverlaufs des Laserstrahl führen. Dazu ist bei einer Ausführungsform in einem gehäusefesten Wandelement des Gehäuses eine dem optischen Fenster zugeordnete Durchgangsöffnung vorgesehen. Das optische Fenster ist je- doch nicht in dieser Durchgangsöffnung eingesetzt, sondern in einer von dem Wandelement gesonderten Fassungseinheit aufgenommen, die mit dem Wandelement über eine flexible gasdichte Verbindungseinrichtung verbunden ist. Die Fassungseinheit wiederum ist mechanisch starr mit der Lasereinheit bzw. deren Austrittsoptik verbunden, so dass deren re- lative räumliche Beziehung festgelegt ist und auch bestehen bleibt, wenn sich das die Durchgangsöffnung aufweisende Wandelement relativ zur Lasereinheit bewegt. Die flexible gasdichte Verbindungseinrichtung gleicht dabei eine eventuelle Relativbewegung zwischen der Fassungseinheit und dem Wandelement aus und entkoppelt dabei gleichzei- tig das Gehäuse mechanisch von der Lasereinheit. In some embodiments, special measures are taken in the region of the optical window, which ensure that the laser beam can be optically coupled exactly into the process chamber, without any relative movements between the laser unit and the housing to influence the beam path of the laser beam. For this purpose, in one embodiment in a housing-fixed wall element of the housing, a passage opening associated with the optical window is provided. However, the optical window is not inserted in this through-opening, but accommodated in a separate from the wall element holder unit, which is connected to the wall element via a flexible gas-tight connection means. The mounting unit, in turn, is mechanically rigidly connected to the laser unit or its exit optics, so that their relative spatial relationship is fixed and also remains when the wall element having the passage opening moves relative to the laser unit. The flexible gas-tight connection device compensates for a possible relative movement between the holder unit and the wall element and at the same time decouples the housing mechanically from the laser unit.
Vorzugsweise weist die Verbindungseinrichtung mindestens einen gasdichten, gegebenenfalls vakuumfesten Balg auf. Ein solcher Balg, der beispielsweise als Wellenbalg oder Faltenbalg aus Metall oder Kunststoff ausgelegt sein kann, kann Relativbewegungen zwischen Gehäuse und Lasereinheit ausgleichen und diese Elemente gleichzeitig mechanisch entkoppeln. Preferably, the connecting device has at least one gas-tight, optionally vacuum-resistant bellows. Such a bellows, the For example, can be designed as a bellows or bellows made of metal or plastic, can compensate for relative movements between the housing and the laser unit and simultaneously decouple these elements mechanically.
Bei der Bearbeitung von Substraten mittels hochenergetischer Laserstrahlung entstehen beispielsweise durch Verdampfung oder Aufschmelzen von Materialien Bearbeitungsprodukte, die einerseits den Bearbeitungsprozess beeinträchtigen und andererseits auch am bear- beiteten Substrat Probleme erzeugen können. Um zu verhindern, dass Bearbeitungsprodukte der Laserbearbeitung sich wieder auf dem bearbeiteten Substrat abscheiden, ist bei bevorzugten Ausführungsformen die Substrathalteeinrichtung derart konstruiert, dass die Oberfläche eines in der Bearbeitungsposition gehaltenen Substrats vertikal oder im Wesentlichen vertikal ausgerichtet ist. Der Begriff „im Wesentlichen vertikal" bedeutet hier insbesondere, dass ein Winkel zwischen der Oberfläche des Substrats und der vertikalen Richtung nicht größer als 30° oder 20° oder 10° sein sollte. Durch diese Ausrichtung des Substrats kann erreicht werden, dass verdampftes, aufgeschmolzenes und/oder auf andere Weise gegebenenfalls athermisch abgelöstes Substratmaterial nicht auf das bearbeitete Substrat zurückfallen kann. Dadurch wird die Fertigung von saubereren, defektarmen Bauelementen unterstützt. In the processing of substrates by means of high-energy laser radiation, by evaporation or melting of materials, for example, machining products are produced which, on the one hand, impair the machining process and, on the other hand, can also cause problems on the processed substrate. In order to prevent laser processing machining products from re-depositing on the processed substrate, in preferred embodiments, the substrate holding device is constructed such that the surface of a substrate held in the processing position is vertically or substantially vertically aligned. The term "essentially vertical" here means, in particular, that an angle between the surface of the substrate and the vertical direction should not be greater than 30 ° or 20 ° or 10 ° and / or in some other way optionally athermically detached substrate material can not fall back onto the processed substrate, thereby supporting the production of cleaner, low-defect components.
Bei der Bearbeitung von Materialien mit konzentrierter elektromagneti- scher Strahlung, wie Laserstrahlung, speziell unter Unterdruck, entsteht oftmals vor der Substratoberfläche eine Plasmawolke. Diese Plasmawolke enthält neben Gasen zum Teil ionisierte Partikel, welche im festen und flüssigen Zustand vorhanden sein können. Bauteile, die sich im Bereich der Plasmawolke befinden, können in ihrer Funktion stark beein- trächtigt werden, indem die Materie, besonders Feststoffe wie Metallpartikel, insbesondere Optiken wie optische Eintrittsfenster oder Fokussier- linsen „beschichten" oder an ihrer Oberfläche einen Verschleiß durch Erosion erzeugen können. Durch die Anordnung der Lasereinheit au- ßerhalb der Prozesskammer sind die Komponenten der Lasereinheit geschützt. Ein bei gattungsgemäßen Laserbearbeitungssystemen mögliches Problem besteht aber darin, dass die Innenseite des optischen Fensters mit zunehmender Betriebsdauer durch Bearbeitungsprodukte immer stärker verschmutzen und/oder verschleißen kann. Dadurch würde die Einkopplung des Laserstrahls zunehmend beeinträchtigt. When processing materials with concentrated electromagnetic radiation, such as laser radiation, especially under negative pressure, a plasma cloud often forms in front of the substrate surface. In addition to gases, this plasma cloud contains partly ionized particles, which may be present in the solid and liquid state. Components that are located in the area of the plasma cloud can be severely impaired in their function by "coating" the material, especially solids such as metal particles, in particular optics such as optical entrance windows or focusing lenses, or by erosion on their surface Due to the arrangement of the laser unit Outside the process chamber, the components of the laser unit are protected. However, a problem that is possible with generic laser processing systems consists in the fact that the inside of the optical window can become increasingly polluted and / or wear out as a result of increasing operating time through processing products. As a result, the coupling of the laser beam would be increasingly affected.
Eine Möglichkeit zum Umgang mit diesem Problem besteht darin, das optische Fenster als auswechselbares Element auszulegen, so dass es entweder nach der Montage leicht gereinigt oder durch ein anderes sauberes optisches leicht Fenster ersetzt werden kann. Vorzugsweise werden jedoch Maßnahmen getroffen, um eine für den Betrieb nachteilige Verschmutzung des optischen Fensters zu vermeiden oder auf ein unkritisches Ausmaß zu reduzieren. Bei manchen Ausführungsformen ist hierzu die Austrittsoptik der Lasereinheit in Bezug auf die Substrathalteeinrichtung derart schräg ausgerichtet, dass eine optische Achse der Austrittsoptik mit einer Normalenrichtung der Oberfläche eines von der Substrathalteeinrichtung gehaltenen Substrats einen spitzen Winkel einschließt. Der spitze Winkel kann beispielsweise zwischen 10° und 50° liegen, insbesondere im Bereich zwischen 20° und 35°, beispielsweise bei ca. 25°. Diese Maßnahme berücksichtigt, dass sich bei der Laserbearbeitung über der bearbeiteten Substratoberfläche eine Plasmawolke mit Bearbeitungsrückständen bilden kann, wobei die Teilchenstromdichte der Bearbeitungsrückstände in der Normalenrichtung der Substrat- Oberfläche besonders hoch ist und zu den Seiten stark abnimmt. Durch die schräge Anordnung kann also erreicht werden, dass ausgehend vom Substrat nur relativ wenige Bearbeitungsrückstandspartikel pro Zeiteinheit in Richtung optisches Fenster gerichtet sind, wodurch die Neigung zur Verschmutzung stark reduziert wird. Andererseits ist die Einstrah- lung noch steil genug, so dass eine exakte Positionierung des Fokusbereichs auf dem Substrat möglich ist. Diese Maßnahme kann unabhängig von den Merkmalen der beanspruchten Erfindung auch bei anderen Laserbearbeitungssystemen vorteilhaft genutzt werden. Bei manchen Ausführungsformen ist alternativ oder zusätzlich eine gesonderte Fensterschutzvorrichtung zum Schutz des Fensters gegen Verschmutzung durch Bearbeitungsprodukte der Laserbearbeitung vorgesehen, wobei die Fensterschutzvorrichtung mindestens ein für den Laserstrahl transparentes Schutzelement aufweist, das zwischen dem Substrat und dem optischen Fenster angeordnet ist. Dadurch können diejenigen Bearbeitungsprodukte, die sich vom Substrat in Richtung des optischen Fensters bewegen, durch das transparent Schutzelement aufgefangen werden und somit das optische Fenster nicht verschmutzen. Vorzugsweise ist eine bequem werkzeuglos (d.h. ohne Zuhilfenahme eines Werkzeugs) auswechselbare Fensterschutzvorrichtung vorgesehen, wodurch Wartungsarbeiten vereinfacht werden. One way to deal with this problem is to design the optical window as a replaceable element so that it can either be easily cleaned after installation or replaced with another clean optical easy window. Preferably, however, measures are taken to avoid a disadvantageous for operation pollution of the optical window or to reduce to an uncritical extent. In some embodiments, for this purpose, the exit optics of the laser unit is aligned obliquely with respect to the substrate holding device such that an optical axis of the exit optics encloses an acute angle with a normal direction of the surface of a substrate held by the substrate holding device. The acute angle may for example be between 10 ° and 50 °, in particular in the range between 20 ° and 35 °, for example at about 25 °. This measure takes into account that a plasma cloud with processing residues can form above the processed substrate surface during laser processing, the particle current density of the processing residues in the normal direction of the substrate surface being particularly high and decreasing greatly towards the sides. The oblique arrangement can thus be achieved that, starting from the substrate, only relatively few machining residue particles per unit of time are directed in the direction of the optical window, whereby the tendency to fouling is greatly reduced. On the other hand, the radiation is still steep enough, so that an exact positioning of the focus area on the substrate is possible. This measure can be used advantageously regardless of the features of the claimed invention in other laser processing systems. In some embodiments, alternatively or additionally, a separate window protection device is provided for protecting the window from contamination by laser processing processing products, the window protection device having at least one laser beam transparent protective element disposed between the substrate and the optical window. As a result, those processing products that move from the substrate in the direction of the optical window can be absorbed by the transparent protective element and thus not pollute the optical window. Preferably, a window without a tool (ie without the aid of a tool) replaceable window protection device is provided, whereby maintenance is simplified.
Bei einer Ausführungsform ist das transparente Schutzelement in Bezug auf eine Einstrahlrichtung des Laserstrahls derart schräg ausgerichtet, dass von dem Schutzelement reflektiertes Laserlicht nicht in die Austrittsoptik der Lasereinheit reflektiert wird. Um andererseits zu vermeiden, dass der eingekoppelte Laserstrahl durch das transparente Schutzelement auf dem Weg zum Substrat in einer schlecht kontrollierbaren Weise abgelenkt wird, hat es sich als vorteilhaft herausgestellt, wenn das transparente Schutzelement unter einem relativ kleinen Winkel schräg zur Einstrahlrichtung des Laserstrahls gestellt ist, so dass es annähernd senkrecht durchstrahlt wird. Insbesondere kann ein Winkel zwischen einer Normalenrichtung des transparenten Schutzelements und der Einstrahlrichtung bzw. der optischen Achse der Ausgangsoptik weniger als 15° betragen und beispielsweise zwischen 3° und 10° liegen, z.B. bei ca. 4°. Es können auswechselbare transparente Schutzelemente vorgesehen, beispielsweise in Form von Platten aus Glas oder einem anderen für die Laserstrahlung transparenten Material. Bei bevorzugten Ausführungsformen wird das transparente Schutzelement durch einen Abschnitt ei- nes flexiblen Folienbandes gebildet, wobei die Fensterschutzvorrichtung vorzugsweise eine erste Rolle mit einem Vorrat aus frischem Folienband und eine zweite Rolle zum Aufwickeln von gebrauchtem Folienband aufweist, wobei ein zwischen den Rollen freitragend gespannter Folienabschnitt das Schutzelement bildet. Durch einen Wickelmechanismus kann kontinuierlich oder diskontinuierlich (intermittierend) frisches Folienband nachgeführt werden, so dass jederzeit ein ausreichend transparenter Folienabschnitt als Schutzelement zur Verfügung steht. Die aktuelle Verschmutzung des transparenten Schutzelements kann über eine geeignete Detektionseinrichtung erfasst und ein entsprechendes Signal zur Ansteuerung der Wickel Vorrichtung verarbeitet werden, um den Vorschub des Folienbandes in Abhängigkeit von der Stärke der Verschmutzung steuern zu können. In one embodiment, the transparent protective element is aligned obliquely with respect to an irradiation direction of the laser beam such that laser light reflected by the protective element is not reflected in the exit optics of the laser unit. On the other hand, in order to avoid that the coupled laser beam is deflected by the transparent protective element on the way to the substrate in a poorly controllable manner, it has proven advantageous if the transparent protective element is placed at a relatively small angle obliquely to the direction of irradiation of the laser beam, so that it is irradiated approximately vertically. In particular, an angle between a normal direction of the transparent protective element and the irradiation direction or the optical axis of the output optics may be less than 15 ° and, for example, between 3 ° and 10 °, for example at approximately 4 °. Interchangeable transparent protective elements can be provided, for example in the form of plates made of glass or another material transparent to the laser radiation. In preferred embodiments, the transparent protective element is formed by a section of a flexible film strip, wherein the window protection device preferably has a first roll with a supply of fresh foil strip and a second roll for winding used foil strip, wherein a foil section cantilevered between the rolls separates the foil section Protective element forms. By a winding mechanism can be tracked continuously or discontinuously (intermittently) fresh foil tape, so that at any time a sufficiently transparent film section is available as a protective element. The current contamination of the transparent protective element can be detected by a suitable detection device and a corresponding signal for controlling the winding device can be processed in order to control the feed of the film strip in dependence on the strength of the pollution can.
Eine solche Fensterschutzvorrichtung kann unabhängig von den Merk- malen der beanspruchten Erfindung auch bei anderen Laserbearbeitungssystemen vorteilhaft genutzt werden. Such a window protection device can also be advantageously used in other laser processing systems, regardless of the features of the claimed invention.
Diese und weitere Merkmale gehen außer aus den Ansprüchen auch aus der Beschreibung und den Zeichnungen hervor, wobei die einzelnen Merkmale jeweils für sich allein oder zu mehreren in Form von Unterkombinationen bei einer Ausführungsform der Erfindung und auf anderen Gebieten verwirklicht sein und vorteilhafte sowie für sich schutzfähige Ausführungen darstellen können. KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGSFIGUREN These and other features will become apparent from the claims but also from the description and drawings, wherein the individual features each alone or more in the form of sub-combinations in an embodiment of the invention and in other fields be realized and advantageous and protectable Can represent versions. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWING FIGURES
Fig. 1 zeigt eine schematische Teilansicht eines Laserbearbeitungssystems gemäß einer Ausführungsform der Erfindung; Fig. 2 zeigt eine schrägperspektivische Ansicht einer mit der Basis der Lasereinheit fest verbundenen Substrathalteeinrichtung und dazwischen liegenden Wandelementen des Gehäuses der Pro- zesskammer; Fig. 1 shows a schematic partial view of a laser processing system according to an embodiment of the invention; FIG. 2 shows an oblique perspective view of a substrate holding device fixedly connected to the base of the laser unit and wall elements of the housing of the process chamber therebetween; FIG.
Fig. 3 zeigt eine Detailansicht einer von einem Verbindungselement durchgriffenen, durch eine Axial-Dichteinrichtung abgedichteten Durchgangsöffnung in einem Wandelement des Gehäuses; und FIG. 3 shows a detail view of a through opening, which is penetrated by a connecting element and sealed by an axial sealing device, in a wall element of the housing; FIG. and
Fig. 4 zeigt eine schrägperspektivische Ansicht der Umgebung des optischen Fensters. Fig. 4 shows an oblique perspective view of the surroundings of the optical window.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSFORMEN DETAILED DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS
In Fig. 1 ist eine schematische Teilansicht eines Laserbearbeitungssystems 100 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung gezeigt. Das Laserbearbeitungssystem ist so konstruiert, dass es in einer Bandferti- gungsanlage zur Herstellung von gedruckten elektronischen Bauelementen auf bandförmigen flexiblen Substraten in einem Rolle-zu-Rolle- Verfahren genutzt werden kann. Die Laserbearbeitung kommt hier als Teilprozess bei der Produktion von flexiblen CIS/CIGS-Dünnschicht- solarzellen zum Einsatz, kann aber z.B. auch bei der Herstellung bzw. Strukturierung von organischen Leuchtdioden (OLED) oder anderen gedruckten elektronischen oder elektrischen Bauelementen, wie Transistoren, Sensoren oder gedruckten Batterien, genutzt werden. FIG. 1 shows a schematic partial view of a laser processing system 100 according to an embodiment of the invention. The laser processing system is designed so that it can be used in a strip production line for the production of printed electronic components on strip-shaped flexible substrates in a roll-to-roll process. Laser processing is used here as a sub-process in the production of flexible CIS / CIGS thin-film solar cells, but can be used, for example. also in the production or structuring of organic light emitting diodes (OLED) or other printed electronic or electrical components, such as transistors, sensors or printed batteries, are used.
Ein Merkmal gedruckter elektrischer oder elektronischer Bauelemente ist die Verwendung von flexiblen, also biegsamen Substratfolien, die die Möglichkeit einer Rolle-zu-Rolle-Verarbeitung bieten. In einem solchen Prozess wird eine dünne Kunststofffolie oder Metallfolie auf der Eingangsseite einer Prozesslinie von einer Rolle in die Prozesslinie geführt. In der Prozesslinie erfolgen in unterschiedlichen Bearbeitungsstationen eine oder mehrere Beschichtungsoperationen zum Abscheiden von Funktionsschichten auf der Substratfolie sowie Strukturierungsoperatio- nen. Die fertig bearbeitete Folie kann dann anschließend wieder aufge- rollt oder gleich in die für die Weiterverwendung gewünschte Form geschnitten werden. Auf diese Weise können elektronische Bauelemente mit relativ niedrigen Produktionskosten hergestellt werden, zum anderen können extrem leichte und mechanisch flexible Bauelemente erzeugt werden. One feature of printed electrical or electronic components is the use of flexible, ie flexible substrate films which offer the possibility of roll-to-roll processing. In such a process, a thin plastic film or metal foil on the input side of a process line is fed from a roll into the process line. In the process line, one or more coating operations for depositing functional layers on the substrate film and structuring operations take place in different processing stations. The finished film can then be rolled up again or cut into the desired shape for further use. In this way, electronic components can be produced with relatively low production costs, on the other hand extremely lightweight and mechanically flexible components can be produced.
Bei der beispielhaft dargestellten Herstellung von Dünnschicht- Solarzellen in einem Rolle-zu-Rolle-Verfahren wird das flexible Trägermaterial (Substrat) zunächst mit Schichten von elektrisch leitenden oder halbleitenden Materialien überzogen. Diese Schichten sind in der Regel nur wenige Mikrometer dick und werden durch Laserbestrahlung mit unterschiedlichen Wellenlängen aus dem Infrarotbereich (IR), dem sichtbaren Bereich (VIS) oder dem Ultraviolettbereich (UV) in den Prozessschritten P1 , P2 und P3 des Gesamtprozesses selektiv abgetragen oder durch Schnitte lateral getrennt. Beispielsweise kommen fokussierte La- serstrahlen mit 1030 nm oder 515 nm Wellenlänge zum Einsatz. Typische Linienbreiten bei der Abtragung mit fokussiertem Laserstrahl liegen im Bereich weniger Mikrometer, beispielsweise zwischen 20 μητι und 50 μητι. Dabei können mit hochleistungsfähigen Lasereinheiten Schreibgeschwindigkeiten bis zum mehreren tausend mm/s erreicht werden. Eine exakte Positionierung des Fokusbereichs des Laserstrahls entlang der gewünschten Bahn ist dabei für die Qualität der gefertigten Produkte von großer Bedeutung. In the exemplary production of thin-film solar cells in a roll-to-roll process, the flexible carrier material (substrate) is first coated with layers of electrically conductive or semiconductive materials. These layers are usually only a few micrometers thick and are selectively removed or irradiated by laser irradiation with different wavelengths from the infrared range (IR), the visible range (VIS) or the ultraviolet range (UV) in the process steps P1, P2 and P3 of the overall process Slices separated laterally. For example, focused laser beams with a wavelength of 1030 nm or 515 nm are used. Typical line widths in the removal with focused laser beam are in the range of a few micrometers, for example between 20 μm and 50 μm. Write speeds up to several thousand mm / s can be achieved with high-performance laser units. An exact positioning of the focus area of the laser beam along the desired path is of great importance for the quality of the finished products.
Die Laserbearbeitung kann bei dem Laserbearbeitungssystem unter Va- kuum oder einer definierten Gasatmosphäre bei Unterdruck oder Überdruck (relativ zur Umgebung) in einer hermetisch abschließbaren und gegebenenfalls evakuierbaren Prozesskammer stattfinden. Das Laserbearbeitungssystem 100 hat hierzu ein mehrteilig aufgebautes druckfes- tes Gehäuse 1 10, das eine mittels einer Pumpe evakuierbare Prozesskammer 1 12 hermetisch, also gasdicht, umschließt. The laser processing can take place in the laser processing system under vacuum or a defined gas atmosphere at negative pressure or overpressure (relative to the environment) in a hermetically sealable and optionally evacuatable process chamber. For this purpose, the laser processing system 100 has a pressure-resistant, multi-part design. tes housing 1 10, which hermetically encloses a evacuated by means of a pump process chamber 1 12, ie gas-tight.
Im Inneren des Gehäuses, also in der Prozesskammer, ist mindestens eine Substrathalteeinrichtung 120 angeordnet, die im Betrieb das zu bearbeitende Substrat in einer für die Laserbearbeitung geeigneten Bearbeitungsposition innerhalb der Prozesskammer hält. Im dargestellten Beispielsfall sind zwei spiegelsymmetrisch zueinander angeordnete, mechanisch miteinander gekoppelte, im Wesentlichen identisch aufge- baute Substrathalteeinrichtungen 120, 120' vorgesehen, um eine Parallelbearbeitung von zwei Substratbahnen zu ermöglichen. Die folgende Beschreibung der links gezeigten Substrathalteeinrichtung trifft sinngemäß auch für die andere Substrathalteeinrichtung zu. Bei der Rolle-zu-Rolle-Anlage wird das jeweils zu bearbeitende Substrat durch einen Abschnitt eines in vorgelagerten Teilprozessen beschichteten Folienbands 1 15 gebildet. Die Substratfolie, deren Länge bis zu einigen 100 m oder einigen 1000 m betragen kann, wird über eine nicht dargestellte Ladekammer von oben in die Prozesskammer 1 12 einge- schleust, dort abschnittsweise bearbeitet und anschließend über eine nicht dargestellte Ausladekammer wieder ausgeschleust. In the interior of the housing, that is to say in the process chamber, at least one substrate holding device 120 is arranged, which in operation holds the substrate to be processed in a processing position suitable for the laser processing within the process chamber. In the illustrated example case, two substrate-holding devices 120, 120 'arranged mirror-symmetrically to one another and mechanically coupled to one another, are provided in an essentially identical manner, in order to enable parallel processing of two substrate webs. The following description of the substrate holding device shown on the left also applies analogously to the other substrate holding device. In the roll-to-roll system, the substrate to be processed in each case is formed by a section of a film strip 15 coated in upstream sub-processes. The substrate film, whose length can be up to several 100 m or several 1000 m, is introduced via a loading chamber, not shown, from above into the process chamber 12, processed there in sections, and then discharged again via an unloading chamber, not shown.
Während der Laserbearbeitung kann der jeweils bearbeitete Folien- bandabschnitt im Bereich der Substrathalteeinrichtung ruhen. Es ist auch möglich, Prozesse zu fahren, bei denen das Folienband während der Laserbearbeitung in Bahnrichtung mit gleichmäßiger oder ungleichmäßiger Bahngeschwindigkeit bewegt wird. Um in jedem Fall eine kontinuierliche Zufuhr und Abfuhr von Folienband zu ermöglichen, können zwischen Ladekammer und Substrathalteeinrichtung sowie zwischen Substrathalteeinrichtung und Ausladekammer Folienband- Pufferspeicher angeordnet sein, z.B. solche mit Tänzerwalzen oder anderen Einrichtungen zur Aufrechterhaltung einer ausreichenden Bandspannung. Wenn ausreichend Platz vorhanden ist, können sich auch frei hängende Folienbandschlaufen bilden. During the laser processing, the respectively processed foil band section can rest in the area of the substrate holding device. It is also possible to run processes in which the film strip is moved during the laser processing in the web direction with a uniform or irregular web speed. In order to enable in each case a continuous supply and removal of film strip, between the loading chamber and the substrate holding device and between the substrate holding device and Ausladekammer be arranged film tape buffer, for example those with dancer rollers or other means to maintain a sufficient Strap tension. If there is enough space, free-hanging foil tape loops can form.
Anordnung, Aufbau und Funktion der Substrathalteeinrichtung 120 sind in den Fig. 1 und 2 besonders gut zu erkennen. Die Substrathalteeinrichtung 120 ist im Bereich der in Fig. 1 links gezeigten Seitenwand 1 14 des Gehäuses mit vertikalem Abstand vom Boden der Prozesskammer angeordnet. Die der Substrathalteeinrichtung 120 zugeordnet Lasereinheit 140 ist außerhalb des Gehäuses 1 10 an der der Substrathalteeinrich- tung gegenüberliegenden Seite der Seitenwand 1 14 angeordnet. Die Lasereinheit 140 steht auf der Oberseite eines über Rollen verfahrbaren Gestells 180, in welchem die elektronischen Komponenten der Steuerung der Lasereinheit sowie Anzeigeeinheiten in Form von Bildschirmen untergebracht sind. Eine entsprechende zweite Lasereinheit 140' ist an der gegenüberliegenden Seite außerhalb des Gehäuses aufgestellt. Arrangement, structure and function of the substrate holding device 120 can be seen particularly well in FIGS. 1 and 2. The substrate holding device 120 is arranged in the region of the side wall 1 14 of the housing shown on the left in FIG. 1 at a vertical distance from the bottom of the process chamber. The laser unit 140 assigned to the substrate holding device 120 is arranged outside the housing 110 on the side of the side wall 14 opposite the substrate holding device. The laser unit 140 stands on top of a rollable frame 180, in which the electronic components of the control of the laser unit and display units are housed in the form of screens. A corresponding second laser unit 140 'is placed on the opposite side outside the housing.
Die Substrathalteeinrichtung 120 hat eine mehrteilig aufgebaute Basis 122, die mehrere Stahlplatten aufweist, die fest miteinander verschraubt sind. Eine vertikale Trägerplatte 124 der Basis trägt vertikal übereinan- derliegend eine erste Rolle 132 und darunter eine zweite Rolle 134, die jeweils um horizontal ausgerichtete Rollenachse drehbar sind. Die Rollen dienen als Substrathalteelemente. Im Betrieb liegt die Substratfolie 1 15 unter geeigneter Bandspannung an den zylindrischen Außenflächen der Rollen an, so dass die Position der Rollen und Ihrer Ausrichtung zu- einander exakt die Bearbeitungsposition des jeweils zu bearbeitenden Folienabschnitts vorgeben. Die vertikale Trägerplatte 124 ist mit einer unterhalb der Rollen angeordneten horizontalen Trägerplatte 126 und weiteren Platten verschraubt. Die Basis kann weitere Elemente zur Versteifung aufweisen. The substrate holding device 120 has a multi-part base 122, which has a plurality of steel plates that are bolted together. A vertical support plate 124 of the base carries vertically above one another a first roller 132 and below a second roller 134 which are each rotatable about horizontally oriented roller axis. The rollers serve as substrate holding elements. In operation, the substrate film 1 15 is under suitable belt tension on the cylindrical outer surfaces of the rollers, so that the position of the rollers and their orientation to each other exactly specify the processing position of each to be processed film section. The vertical support plate 124 is screwed to a below the rollers arranged horizontal support plate 126 and other plates. The base may have further elements for stiffening.
Eine Basis 148 der Lasereinheit 140 weist einen massiven Granitblock 142 auf, auf dessen horizontaler, ebener Oberseite die nicht dargestellten optischen Komponenten der Lasereinheit (z.B. Resonator, Umlenk- Spiegel, Prismen, Linsen etc.) befestigt sind. Der Granitblock 142 wird von einem verwindungssteifen Haltegestell gehalten, das eine seitlich am Granitblock angebrachte vertikale Trägerplatte 144 sowie an der Unterseite der Trägerplatte angreifende winklige Stützen aufweist. A base 148 of the laser unit 140 has a solid granite block 142, on the horizontal, planar upper side of which the optical components (not shown) of the laser unit (eg resonator, deflector) are located. Mirrors, prisms, lenses, etc.). The granite block 142 is held by a torsion-resistant support frame having an attached laterally on the granite block vertical support plate 144 and acting on the underside of the support plate angled supports.
Die aus dem Resonator der Lasereinheit ausgekoppelte Laserstrahlung wird durch geeignete optische Baugruppen geformt und gegebenenfalls homogenisiert und tritt nach Durchlaufen einer Austrittsoptik 150 als Laserstrahl 155 mit hoher Strahlqualität aus der Lasereinheit in Richtung Substrat aus. Die Auskoppeloptik 150 ist an einer mit der Basis verschraubten Trägerplatte befestigt und umfasst ein über die Steuereinheit der Lasereinheit steuerbares Scannersystem, um den Laserstrahl sukzessive zu unterschiedlichen Bearbeitungsstellen auf der Oberfläche des ruhenden Substrats zu richten. Der durch den Laserstrahl abscan- bare Raumwinkelbereich ist in Fig. 1 gestrichelt dargestellt. Die Haupt- Einstrahlrichtung ist durch die optische Achse der Austrittsoptik 150 definiert. Der Laserstrahl wird dabei schräg von oben auf das vertikal ausgerichtet Substrat eingestrahlt, wobei die optische Achse der Austrittsoptik 150 mit der Normalenrichtung der zwischen den Rollen vertikal aus- gerichteten Substratoberfläche einen spitzen Winkel von ca. 30° einschließt. The coupled out of the resonator of the laser unit laser radiation is formed by suitable optical assemblies and optionally homogenized and occurs after passing through an exit optics 150 as laser beam 155 with high beam quality from the laser unit in the direction of the substrate. The coupling-out optical system 150 is fastened to a carrier plate screwed to the base and comprises a scanner system controllable via the control unit of the laser unit in order to successively direct the laser beam to different processing points on the surface of the stationary substrate. The solid angle range which can be scanned by the laser beam is shown by dashed lines in FIG. The main direction of irradiation is defined by the optical axis of the exit optics 150. In this case, the laser beam is irradiated obliquely from above onto the vertically aligned substrate, the optical axis of the exit optics 150 enclosing an acute angle of approximately 30 ° with the normal direction of the substrate surface aligned vertically between the rollers.
Der aus der Austrittsoptik austretende Laserstrahl wird durch ein optisches Fenster 170 hindurch in die Prozesskammer eingekoppelt. Das für den Laserstrahl transparente optische Fenster trennt dabei den Innenraum des Gehäuses 1 10, also die Prozesskammer 1 12, von der Umgebung, in der die Lasereinheit sich befindet. The emerging from the exit optics laser beam is coupled through an optical window 170 into the process chamber. The transparent to the laser beam optical window separates the interior of the housing 1 10, so the process chamber 1 12, from the environment in which the laser unit is located.
Eine Besonderheit des Laserbearbeitungssystems besteht darin, dass die Substrathalteeinrichtung 120 nicht an einem fest mit dem Gehäuse 1 10 bzw. dessen Boden verbundenen Element befestigt ist, sondern über starre Verbindungselemente starr mit der Basis 148 der Lasereinheit 140 verbunden ist, so dass diese als Träger für die Substrathalteein- richtung fungiert. Gegenüber dem Gehäuse 1 10 ist die Substrathalteeinrichtung 120 dagegen mechanisch weitestgehend entkoppelt, so dass Bewegungen des Gehäuses, beispielsweise Vibrationen oder druckbedingte Verlagerungen von Gehäusewänden, sich nicht oder nicht stö- rend auf die relative Positionierung zwischen Lasereinheit 140 und Substrathalteeinrichtung 120 bzw. dem davon gehaltenem Substrat auswirken können. Einige hierzu beitragende konstruktive Maßnahmen werden im Folgenden näher erläutert. Die starre mechanische Verbindung zwischen der Basis 148 der Lasereinheit 140 und der Basis 122 der Substrathalteeinrichtung 120 wird durch eine Gruppe von vier Verbindungselementen geschaffen, die jeweils als Teleskopbolzen ausgestaltet sind. Die zwei unteren Verbindungselemente 161 , 162 sind mit ihrem äußeren Ende an der vertikalen Trägerplatte 144 befestigt, während das in der Prozesskammer liegende innere Ende jeweils mit einem an der Unterseite der horizontalen Trägerplatte 126 befestigten Materialblock verschraubt ist. Ein Paar von oberen Verbindungselementen 163, 164 verbindet auf gleiche Weise die zur Basis der Lasereinheit gehörende Trägerplatte 144 mit einem Hal- teelement, das an einem Winkelelement der Basis 122 der Substrathalteeinrichtung fest verschraubt ist. Die stabilen, abschnittsweise zylindrischen Verbindungselemente verlaufen parallel zueinander horizontal und durchstoßen dabei jeweils kreisrunde Durchgangsöffnungen 1 18, die in einem vertikalen Wandelement 1 16 des mehrteilig aufgebauten Gehäuses 1 10 der Prozesskammer vorgesehen sind. A special feature of the laser processing system is that the substrate holding device 120 is not attached to a fixedly connected to the housing 1 10 and its bottom member, but rigidly connected via rigid connecting elements with the base 148 of the laser unit 140, so that they are used as a carrier for the substrate holding direction. By contrast, the substrate holding device 120 is largely mechanically decoupled from the housing 110 so that movements of the housing, for example vibrations or pressure-related displacements of housing walls, are not or not disturbing the relative positioning between the laser unit 140 and the substrate holding device 120 or the housing held thereon Substrate can affect. Some constructive measures contributing to this will be explained in more detail below. The rigid mechanical connection between the base 148 of the laser unit 140 and the base 122 of the substrate holding device 120 is provided by a group of four connecting elements, each designed as a telescopic bolt. The two lower connecting elements 161, 162 are fixed with their outer end to the vertical support plate 144, while the inner end located in the process chamber is bolted to a respective attached to the underside of the horizontal support plate 126 block of material. A pair of upper connecting members 163, 164 similarly connects the support plate 144 associated with the base of the laser unit to a support member which is bolted to an angle member of the base 122 of the substrate support means. The stable, partially cylindrical connecting elements extend parallel to each other horizontally and pierce through each circular through holes 1 18, which are provided in a vertical wall element 1 16 of the multi-part housing 1 10 of the process chamber.
Die Detaildarstellung in Fig. 3 zeigt klar, auf weiche Weise bei der Ausführungsform sichergestellt ist, dass im Bereich der Durchgangsöffnung 1 18 keine für eine Bewegungsübertragung geeignete mechanische Kopplung zwischen dem Wandelement 1 16 und dem dieses mittig durchgreifenden Verbindungselement 161 besteht und dass andererseits die Durchgangsöffnung dennoch gegenüber der Umgebung abgedichtet ist. Das Verbindungselement 161 hat im Bereich der Durch- gangsöffnung 1 18 einen zylindrischen Querschnitt mit einem Außendurchmesser, der deutlich kleiner ist als der Innendurchmesser der zylindrischen Durchgangsöffnung. Dadurch wird erreicht, dass zwischen der Außenseite der Verbindungselements und dem inneren Rand der Durchgangsöffnung in alle Radialrichtungen ein Abstand 1 19 verbleibt, so dass im Bereich der Durchgangsöffnung ein Ringspalt gebildet wird. Der Abstand 1 19 kann in der Größenordnung von einem oder mehreren Millimetern liegen und ist generell so bemessen, dass bei der größten zu erwartenden Relativbewegung zwischen dem Wandelement 1 16 und dem Verbindungselement 161 ein Berührungskontakt zwischen diesen Elementen im Bereich der Durchgangsöffnung zuverlässig vermieden wird. The detailed illustration in FIG. 3 clearly shows how it is ensured in the embodiment that there is no mechanical coupling between the wall element 116 and the centrally extending connecting element 161 in the region of the passage opening 118 and, on the other hand, the passage opening nevertheless sealed against the environment. The connecting element 161 has in the range of 1 opening 18 a cylindrical cross-section with an outer diameter which is significantly smaller than the inner diameter of the cylindrical passage opening. This ensures that between the outer side of the connecting element and the inner edge of the passage opening in all radial directions a distance 1 19 remains, so that in the region of the passage opening an annular gap is formed. The distance 1 19 may be on the order of one or more millimeters and is generally dimensioned so that in the largest expected relative movement between the wall member 1 16 and the connecting element 161, a contact contact between these elements in the region of the passage opening is reliably avoided.
Zur Abdichtung des Bereichs der Durchgangsöffnung gegen Eindringen von Umgebungsatmosphäre in die Prozesskammer ist eine Axial- Dichteinrichtung 165 vorgesehen, die ohne radial wirkende Dichtelemente auskommt und auch bei relativen Querbewegungen und/oder Längsbewegungen des Verbindungselements gegenüber dem Wandelement praktisch keine mechanischen Kräfte zwischen diesen Elementen über- trägt. Ein wesentliches Element der Dichteinrichtung ist ein vakuumdichter metallischer Balg 166, der beispielsweise als Faltenbalg oder Wellenbalg ausgebildet sein kann. An einen in Axialrichtung und in Querrichtung flexiblen gefalteten oder gewellten Mittelabschnitt schließt sich auf der Seite des Gehäuses ein erster Flanschabschnitt 167 und an der ge- genüberliegenden, der Lasereinheit zugewandten Seite, ein zweiter Flanschabschnitt 168 an. Der erste Flanschabschnitt 167 wird unter Zwischenlage einer ringförmigen Kleinflanschdichtung an die Außenseite des Wandelements gepresst, wodurch dieser Bereich abgedichtet wird. Der gegenüberliegende zweite Flanschabschnitt 168 wird unter Zwischenlage einer zweiten Kleinflanschdichtung an ein fest am Verbindungselement befestigten Flanschelement 169 angepresst, wodurch dieser Bereich abgedichtet wird. Bei dieser Axial-Dichtungseinrichtung sind ausschließlich axiale Stirnflächen als Dichtflächen vorgesehen. Längs- und Querbewegungen der Verbindungsstange gegenüber dem Wandelement 1 16 sind dadurch ohne wesentliche kraftübertragende Rückwirkung auf das Gehäuse möglich, wobei der mittlere Balgabschnitt als Ausgleichselement dient. To seal the region of the through-opening against ingress of ambient atmosphere into the process chamber, an axial sealing device 165 is provided, which does not require any radially acting sealing elements and transfers virtually no mechanical forces between these elements even with relative transverse movements and / or longitudinal movements of the connecting element relative to the wall element. wearing. An essential element of the sealing device is a vacuum-tight metallic bellows 166, which may be formed, for example, as a bellows or bellows. A first flange section 167 adjoins the side of the housing and a second flange section 168 on the side facing the laser unit, at an axially or transversely folded or corrugated center section. The first flange portion 167 is pressed with the interposition of an annular small flange seal to the outside of the wall element, whereby this area is sealed. The opposite second flange portion 168 is pressed with the interposition of a second small flange seal on a fixedly attached to the connecting element flange 169, whereby this area is sealed. In this axial sealing device only axial end faces are provided as sealing surfaces. Longitudinal and transverse movements of the connecting rod relative to the wall element 1 16 are thereby possible without substantial force-transmitting reaction to the housing, wherein the central bellows portion serves as a compensation element.
Eine weitere Stabilisierung der Position der beiden Substrathalteeinrichtungen 120, 120' in des Laserbearbeitungssystems 100 ist dadurch gegeben, dass deren Basiseinheiten durch Verbindungselemente starr miteinander verbunden sind. A further stabilization of the position of the two substrate holding devices 120, 120 'in the laser processing system 100 is given by the fact that their base units are rigidly interconnected by connecting elements.
Bei anderen Ausführungsformen ist dem Gehäuse nur eine einzige Lasereinheit zugeordnet. Zusätzlich zu mindestens einer Lasereinheit kann auch mindestens eine weitere, nicht mit Laser arbeitende Bearbeitungseinheit am oder im Gehäuse vorgesehen sein. In other embodiments, the housing is associated with only a single laser unit. In addition to at least one laser unit, at least one further, non-laser processing unit may also be provided on or in the housing.
Eine weitere Besonderheit ist im Bereich des optischen Fensters 170 vorgesehen und wird nun vor allem anhand von Fig. 4 näher erläutert. Das optische Fenster 170, welches durch eine Platte aus Glas oder einem anderen für die Laserstrahlung transparenten Festkörpermaterial gebildet sein kann, ist bei der gezeigten Ausführungsform nicht in der zugeordneten kreisrunden Durchgangsöffnung 172 in einem Wandelement 144 des Gehäuses gefasst, sondern in einer von dem Wandelement gesonderten Fassungseinheit 179. Diese hat eine Grundplatte 182 mit einer kreisrunden Durchgangsöffnung, in der das optische Fenster liegt. An der Innenseite ist ein Fassungsring 184 mit kleinerem Innendurchmesser vorgesehen, der das optische Fenster nach innen (zur Unterdruckseite der Prozesskammer) abstützt. Die Fassungseinheit ist mit Abstand vor dem zugeordneten Wandelement 1 14 des Gehäuses angeordnet. Die Fassungseinheit ist mit diesem Wandelement über eine fle- xible vakuumdichte Verbindungseinrichtung 185 verbunden, die im Beispielsfall durch einen Faltenbalg oder Wellbalg geeigneten Innendurchmessers gebildet wird. Das optische Fenster ist dadurch gegenüber dem Gehäuse der Prozesskammer beweglich gelagert. Die Fassungseinheit ist starr mit der Basiseinheit der Lasereinheit verbunden, da die schräg stehende Grundplatte 182 an der Basiseinheit befestigt ist. Another special feature is provided in the region of the optical window 170 and will now be explained in more detail with reference to FIG. 4. The optical window 170, which may be formed by a plate of glass or other solid-state material transparent to the laser radiation, is not gripped in the illustrated circular through-hole 172 in a wall member 144 of the housing, but in a separate one from the wall member Holder unit 179. This has a base plate 182 with a circular passage opening in which the optical window is located. On the inside, a mounting ring 184 is provided with a smaller inner diameter, which supports the optical window inwards (to the negative pressure side of the process chamber). The socket unit is arranged at a distance in front of the associated wall element 1 14 of the housing. The holder unit is connected to this wall element via a flexible, vacuum-tight connection device 185, which in the example is formed by a bellows or corrugated bellows of suitable inner diameter. The optical window is thereby movably mounted relative to the housing of the process chamber. The frame unit is rigidly connected to the base unit of the laser unit because the inclined base plate 182 is fixed to the base unit.
Diese Anordnung bietet mehrere Vorteile. Einerseits ist durch die flexible Verbindungseinrichtung 185 sichergestellt, dass die Lasereinheit bzw. deren Austrittsoptik 150 mechanisch gegenüber dem Gehäuse 1 10 entkoppelt ist, so dass sich eventuelle Schwingungen oder andere Bewegungen der Gehäusewand nicht auf die Lasereinheit übertragen können. Eventuelle Relativbewegungen werden durch den Balgabschnitt der Verbindungseinrichtung ausgeglichen. Weiterhin ist sichergestellt, dass das optische Fenster immer in festem räumlichen Bezug zur Austrittsoptik 150 der Lasereinheit steht. Damit ist ausgeschlossen, dass sich die optische Wirkung der Planplatte auf den durchtretenden Laserstrahl während der Laserbearbeitung in unkontrollierbarer Weise ändert, was beispielsweise zu einem nicht kontrollierbaren temporären Strahlversatz führen könnte. This arrangement offers several advantages. On the one hand, it is ensured by the flexible connection device 185 that the laser unit or its exit optics 150 is mechanically decoupled from the housing 110, so that any vibrations or other movements of the housing wall can not be transmitted to the laser unit. Any relative movements are compensated by the bellows portion of the connecting device. Furthermore, it is ensured that the optical window is always in fixed spatial relation to the exit optics 150 of the laser unit. This precludes the possibility that the optical effect of the plane plate on the passing laser beam during laser processing changes in an uncontrollable manner, which could for example lead to an uncontrollable temporary beam offset.
Zum Schutz des optischen Fensters 170 gegen Verschmutzung durch Bearbeitungsprodukte der Laserbearbeitung ist eine Fensterschutzvor- richtung 190 vorgesehen, die insbesondere in Verbindung mit Fig. 4 näher erläutert wird. Die Fensterschutzvorrichtung hat ein für die Laserstrahlung transparentes Schutzelement 192, das durch einen Abschnitt einer transparenten Folie gebildet wird, die zwischen dem bearbeiteten Substrat bzw. der Substrathaltereinrichtung und dem optischen Fenster angeordnet ist. In Richtung des optischen Fensters geschleuderte Bearbeitungsprodukte werden dabei durch das transparente Schutzelement aufgefangen und können somit nicht auf das optische Fenster gelangen. To protect the optical window 170 against contamination by processing products of the laser processing, a window protection device 190 is provided, which is explained in more detail in particular in connection with FIG. The window protection device has a transparent to the laser radiation protection element 192, which is formed by a portion of a transparent film, which is disposed between the processed substrate and the substrate holding device and the optical window. In the direction of the optical window thrown machining products are collected by the transparent protective element and thus can not reach the optical window.
Die Fensterschutzvorrichtung 190 umfasst eine bequem ohne Zuhilfen- ahme von Werkzeugen auswechselbare Kassette 195, die an einer Trägerplatte z.B. befestigt werden kann, die sich im Bereich der dem Fenster zugeordneten Durchgangsöffnung 172 an der Innenseite des zugeordneten Wandelements befindet. Beispielsweise können an der Trä- gerplatte parallele Halteprofile angeordnet sein, zwischen die die Kassette eingeschoben werden kann. Im Inneren der Kassette befindet sich eine erste Rolle 196, auf der frisches, noch unverbrauchtes Folienband aufgewickelt ist. Mit Abstand gegenüberliegend ist eine achsparallel drehende zweite Rolle 198 vorgesehen, die mit Hilfe eines Rollenantriebs kontinuierlich oder intermittierend gedreht werden kann, um gebrauchte Folienbandabschnitte bei Bedarf aufzuwickeln und frisches Folienband nachzuziehen. Zwischen den Rollen ist das Folienband über zwei kassettenfeste stangenformige Umlenkelemente so geführt, dass zwischen den Umlenkelementen ein frei tragend gespannter Folien- bandabschnitt liegt, der das transparente Schutzelement bildet. Die rissfeste Kunststofffolie des Folienbands ist im Beispielsfall ca. 50 μητι dick. The window protection device 190 comprises a cassette 195, which can be easily replaced without tools by means of tools and which can be fastened to a carrier plate, for example, which is located in the region of the passage opening 172 assigned to the window on the inside of the associated wall element. For example, at the be arranged parallel plate holding profiles, between which the cassette can be inserted. Inside the cassette is a first roller 196, is wound on the fresh, still unused foil tape. At a distance opposite an axially parallel rotating second roller 198 is provided, which can be rotated continuously or intermittently by means of a roller drive to wind used foil strip sections as needed and rewet fresh foil strip. Between the rollers, the film strip is guided over two cassette-fixed bar-shaped deflecting elements such that a freely stretched film strip section lies between the deflecting elements and forms the transparent protective element. The crack-resistant plastic film of the film strip is in the example about 50 μητι thick.
Das Gehäuse der Kassette hat auf der der Lasereinheit zugewandten Strahleintrittseite und der der Substrathalteeinrichtung zugewandten Strahlaustrittsseite jeweils Schutzplatten in einer mittigen, weitgehend rechtwinkligen Aussparung, die so bemessen ist, dass die Rollen jeweils zwischen den Schutzplatten geschützt im Inneren der Wickelkassette liegen und der Laserstrahl in allen durch die Scaneinrichtung einstellba- ren Durchstrahlrichtungen ohne Abschattung durch die Kassette ins Innere der Prozesskammer gestrahlt werden kann. The housing of the cassette has on the laser unit facing the beam inlet side and the substrate holding device facing the beam exit side protection plates in a central, substantially rectangular recess which is dimensioned so that the rollers are each protected between the protective plates inside the winding cassette and the laser beam in all can be irradiated by the scanning device adjustable Durchstrahlrichtungen without shading by the cassette into the interior of the process chamber.
Die stangenförmigen Umlenkelemente sind relativ zueinander so angeordnet, dass der vom Laserstrahl durchdrungene freitragende Folien- bandabschnitt etwas schräg in einem von 90° abweichende Winkel zur optischen Achse (in Fig. 4 koaxial mit dem Laserstrahl) der Austrittsoptik ausgerichtet ist, so dass vom Schutzelement reflektiertes Laserlicht nicht in die Austrittsoptik 150 zurückreflektiert werden kann. Der Schrägstel- lungswinkel zwischen der optischen Achse und der Normalenrichtung des gespannten Folienabschnitts liegt bei etwa 5°, ist u.a. abhängig vom axialen Abstand zwischen der Austrittsoptik und dem Schutzelement und kann auch größer oder kleiner als 5° sein. Um die Bearbeitungsqualität bei Rolle-zu-Rolle-Systemen zu optimieren und die Prozesssicherheit zu maximieren, können vor und hinter der Bearbeitungsstelle der Substrate in der Prozesskammer Sensoren z.B. in Form von Zeilenkameras angebracht werden, welche eine Auswer- tung zwischen ursprünglichen, eventuell bereits vorbearbeiteten Substraten, mit dem Bearbeitungsergebnissen vornimmt und je nach Einhaltung der Spezifikationen oder Abweichung davon eine Einstellung der Prozessparameter zulässt. Dies kann z.B. zur exakten Ausrichtung von neuen einzubringenden Laser-Schnittlinien zu bereits vorhandenen Laser- Schnittlinien oder Markierungen genutzt werden. Dieser Kontrolinnechanisnnus ermöglicht somit die Regelung von Prozessparametern. The rod-shaped deflecting elements are arranged relative to one another such that the self-supporting foil band section penetrated by the laser beam is oriented somewhat obliquely at an angle deviating from 90 ° to the optical axis (in FIG. 4 coaxial with the laser beam) of the exit optics, so that the protective element reflects Laser light can not be reflected back into the exit optics 150. The oblique angle between the optical axis and the normal direction of the stretched film section is about 5 °, inter alia, depends on the axial distance between the exit optics and the protective element and may also be greater or less than 5 °. In order to optimize the processing quality in roll-to-roll systems and to maximize process reliability, sensors can be installed in front of and behind the processing station in the process chamber, for example in the form of line scan cameras, which evaluate between original and possibly pre-processed ones Substrates used to process results and allowing adjustment of process parameters depending on the specification or deviation. This can be used, for example, for the exact alignment of new laser cutting lines to be introduced to already existing laser cutting lines or markings. This control mechanism thus allows the control of process parameters.
Zur Überwachung der Laserbearbeitung ist bei der Ausführungsform ein Überwachungssystem mit Zeilenkameras vorgesehen, die an eine mit der Steuerung der Anlage kommunizierende Auswerteeinheit angeschlossen sind. Eine obere Zeilenkamera 175 ist im Bereich oberhalb der ersten Rolle 132 und eine zweite Zeilenkamera 176 im Bereich unterhalb der zweiten Rolle 134 derart gegenüber der Substrathalteeinrichtung angebracht, dass durch die Zeilenkameras die zu bearbeitende o- der bearbeitete Oberseite des Substrats über die gesamte Breite durch die Zeilenkameras erfasst werden kann. Dadurch können eintrittseitig eventuelle Fehler in den Ausgangsstrukturen erfasst und ausgangsseitig eventuelle Abweichungen der Geometrie der erzeugten Laserstrukturen von einer gewünschten Sollgeometrie frühzeitig erfasst werden, so dass ggf. Laserparameter nachgestellt werden können, um einen stabilen Prozess sicherzustellen. Die Zeilenkameras sind im Ausführungsbeispiel jeweils auf einer verstellbaren Schiene angeordnet, damit der Schärfentiefenbereich nach Bedarf justiert werden kann. Diese Justage kann von außerhalb des Druckgehäuses über eine Kardanwelle vorgenommen werden. For monitoring the laser processing, a monitoring system with line scan cameras is provided in the embodiment, which are connected to a communicating with the control of the system evaluation. An upper line camera 175 is mounted in the area above the first roller 132 and a second line camera 176 in the area below the second roller 134 relative to the substrate holding device, that by the line scan cameras the machined top of the substrate across the entire width through the Line scan cameras can be detected. As a result, any errors in the output structures can be detected on the entry side and any possible deviations of the geometry of the laser structures generated from a desired desired geometry can be detected early on the output side so that, if necessary, laser parameters can be readjusted to ensure a stable process. The line scan cameras are each arranged in the exemplary embodiment on an adjustable rail, so that the depth of field can be adjusted as needed. This adjustment can be made from outside the pressure housing via a cardan shaft.
Bei den bisher beschriebenen Ausführungsbeispielen ist die relative räumliche Positionierung der Substrathalteeinrichtung gegenüber der Lasereinheit durch die mechanisch starre Kopplung zwischen diesen Einrichtungen fest vorgegeben. Dadurch ist für die meisten in der Praxis vorkommenden Prozessanforderungen ohne gesonderten steuerungstechnischen Aufwand jederzeit eine exakte Fokussierung des Laser- Strahls auf dem Substrat sichergestellt. In the embodiments described so far, the relative spatial positioning of the substrate holder relative to the Fixed laser unit by the mechanically rigid coupling between these devices. As a result, exact focusing of the laser beam on the substrate is ensured for most process requirements occurring in practice at any time without separate control engineering effort.
Es kann Laserbearbeitungssysteme geben, bei denen die relative Position zwischen der externen Strahleneinheit (hier Lasereinheit) und dem Werkstück bzw. dem Substrat in der Druckkammer in einem gewissen Toleranzbereich variabel ist. Dies kann z.B. bei gattungsgemäßen Laserbearbeitungssystemen ohne starre Kopplung zwischen Lasereinheit und Substrathalteeinrichtung der Fall sein. Es kann auch sein, dass bei Laserbearbeitungssystemen mit starrer Kopplung so hohe Anforderungen an die Positioniergenauigkeit vorgegeben sind, dass zusätzliche Maßnahmen zur Verbesserung der Positioniergenauigkeit von Vorteil sein können. There may be laser processing systems in which the relative position between the external beam unit (here laser unit) and the workpiece or the substrate in the pressure chamber is variable within a certain tolerance range. This can e.g. be the case in generic laser processing systems without rigid coupling between the laser unit and substrate holding device. It may also be that in laser processing systems with rigid coupling so high demands are placed on the positioning accuracy that additional measures to improve the positioning accuracy can be beneficial.
Insbesondere für solche Fälle kann ein Laserbearbeitungssystem ein Kompensationssystem mit einer Einrichtung zur Bestimmung einer zeit- liehen Änderung der relativen Position zwischen der Austrittsoptik der Lasereinheit und der Substrathalteeinrichtung und zur Erzeugung eines die relative Positionsänderung repräsentierenden Positionssignals sowie eine Einrichtung zur Steuerung von Laserparametern in Abhängigkeit von dem Positionssignals aufweisen. Diese Einrichtungen können so konfiguriert sein, dass der Laserstrahl auch bei sich verändernder relativer Positionierung immer mit definierter Strahlqualität, z.B. mit weitgehend konstantem Strahlquerschnitt im Fokusbereich, auf die Substratoberfläche trifft. Dadurch kann das Bearbeitungsergebnis weitgehend unabhängig von eventuellen Relativpositionsveränderungen gemacht werden. Eine Kompensation von Relativpositionsveränderungen ist beispielsweise möglich, indem die Positionsänderung dynamisch oder regelmäßig bestimmt wird. Eine solche Bestimmung ist z.B. durch Messung mittels Laserinterferometerie oder mittels eines anderen, vorzugsweise opti- sehen Entfernungsmessungsverfahrens möglich. Dabei kann z.B. ein Laserinterferometer (oder eine andere Entfernungsmesseinrichtung) in der Druckkammer bzw. Prozesskammer positioniert und mit der Substrathalteeinrichtung (Werkstückaufnahmeeinheit) fest verbunden sein und auf einen festen Punkt an der externen Strahlenquelle bzw. der La- sereinheit durch das optische Fenster hindurch messen. Es ist auch möglich, dass sich ein fester Messpunkt an der Werkstückaufnahmeeinheit (Substrathalteeinrichtung) in der Druckkammer (Prozesskammer) befindet und ein Laserinterferometer an der Lasereinheit bzw. einem seiner Bauteile, wie z.B. Scanner, fest angebracht ist. Wenn mehrere Entfernungsmesseinheiten vorgesehen sind, z.B. mehrere Laserinterferometer, können auch dreidimensionale Positionsänderungen bestimmt und entsprechende Positionssignale zur Steuerung der Lasereinheit verarbeitet werden. Um mittels der Steuerung eine Kompensation der Auswirkungen von relativen Positionsveränderungen zu erreichen, kön- nen Strahlformungsbauteile und/oder Strahlumlenkbauteile, wie Scanner oder Fokussierlinsen, entsprechend durch Verfahren dieser Bauteile in ihrer Wirkung verändert werden. Beim Scanner kann eine entsprechende Winkelkompensation der einzelnen Spiegel bewirkt werden. Die Ausführungsbeispiele zeigen Laserbearbeitungssysteme, die als Bearbeitungsstation in einer Bandfertigungsanlage zur Herstellung von gedruckten elektronischen Bauelementen auf einem bandförmigen flexiblen Substrat in einem Rolle-zu-Rolle-Verfahren verwendet werden. Es ist auch möglich, ein Laserbearbeitungssystem im Rahmen von Batch- Prozessen oder Inline-Prozessen oder als Stand-Alone-System einzusetzen. Alternativ zu bandförmigen Substraten kann auch jede andere Form von Substraten bzw. Werkstücken bearbeitet werden, z.B. runde, polygonale, insbesondere rechteckige Einzelsubstrate aus Metall, Poly- merwerkstoff o.dgl. Die Substrathalteeinrichtung kann bei Bedarf auch als x-y-z-Kreuztisch oder als Drehtisch ausgelegt sein. In particular, in such cases, a laser processing system may include a compensation system having means for determining a time-varying change in the relative position between the exit optics of the laser unit and the substrate holding means and for generating a position signal representing the relative position change, and means for controlling laser parameters Have position signal. These devices can be configured so that the laser beam always hits the substrate surface even with changing relative positioning with defined beam quality, eg with a largely constant beam cross section in the focus area. As a result, the processing result can be made largely independent of any relative position changes. A compensation of relative position changes is possible, for example, by the position change is determined dynamically or regularly. Such a determination is possible, for example, by measurement by means of laser interferometry or by means of another, preferably optical, range finding method. In this case, for example, a laser interferometer (or another distance measuring device) can be positioned in the pressure chamber or process chamber and fixedly connected to the substrate holding device (workpiece holder unit) and measured at a fixed point on the external radiation source or the laser unit through the optical window. It is also possible for a fixed measuring point to be located on the workpiece receiving unit (substrate holding device) in the pressure chamber (process chamber) and for a laser interferometer to be fixedly attached to the laser unit or one of its components, such as scanners. If a plurality of distance measuring units are provided, for example a plurality of laser interferometers, it is also possible to determine three-dimensional position changes and to process corresponding position signals for controlling the laser unit. In order to compensate for the effects of relative positional changes by means of the control, beam shaping components and / or beam deflection components, such as scanners or focusing lenses, can be modified in their effect by moving these components accordingly. With the scanner, a corresponding angle compensation of the individual mirrors can be effected. The embodiments show laser processing systems used as a processing station in a belt manufacturing line for producing printed electronic components on a belt-shaped flexible substrate in a roll-to-roll process. It is also possible to use a laser processing system in the context of batch processes or inline processes or as a stand-alone system. As an alternative to band-shaped substrates, it is also possible to process any other form of substrates or workpieces, for example round, polygonal, in particular rectangular, individual metal substrates, polygonal substrates. merwerkstoff or the like. If necessary, the substrate holding device can also be designed as a xyz-stage or as a turntable.

Claims

Patentansprüche claims
1. Laserbearbeitungssystem (100), insbesondere zur Verwendung in einer Bandfertigungsanlage zur Herstellung von gedruckten elekt- ronischen Bauelementen auf einem bandförmigen flexiblen Substrat in einem Rolle-zu-Rolle-Verfahren, mit: 1. A laser processing system (100), in particular for use in a strip production line for producing printed electronic components on a strip-shaped flexible substrate in a roll-to-roll method, comprising:
einem gasdicht abschließbaren Gehäuse (1 10), das eine Prozesskammer (1 12) umschließt,  a gas-tight lockable housing (1 10) enclosing a process chamber (1 12),
einer in der Prozesskammer angeordnete Substrathalteeinrichtung (120), die dafür eingerichtet ist, das Substrat (1 15) für eine Laserbearbeitung in einer Bearbeitungsposition innerhalb der Prozesskammer zu halten, und  a substrate holding device (120) arranged in the process chamber and configured to hold the substrate (1 15) for laser processing in a processing position within the process chamber, and
einer außerhalb des Gehäuses angebrachten Lasereinheit (140) mit einer Austrittsoptik (150) zur Abgabe eines auf das Substrat ausrichtbaren Laserstrahls,  a laser unit (140) mounted outside the housing and having outlet optics (150) for emitting a laser beam which can be aligned with the substrate,
wobei ein für den Laserstrahl transparentes optisches Fenster (170) zum Einkoppeln des Laserstrahls in die Prozesskammer vorgesehen ist, welches die Prozesskammer von der Umgebung trennt,  wherein a transparent to the laser beam optical window (170) is provided for coupling the laser beam into the process chamber, which separates the process chamber from the environment,
dadurch gekennzeichnet,  characterized,
dass die Austrittsoptik (150) der Lasereinheit (140) mit der Substrathalteeinrichtung (120) mechanisch starr gekoppelt und von dem Gehäuse (1 10) mechanisch entkoppelt ist.  the exit optics (150) of the laser unit (140) are mechanically rigidly coupled to the substrate holding device (120) and mechanically decoupled from the housing (110).
2. Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass eine Basiseinheit (148) der Lasereinheit als Träger für eine Basiseinheit (122) der Substrathalteeinrichtung fungiert und dass keine tragende Verbindung zwischen der Substrathalteeinrichtung (120) und einem Element des Gehäuses besteht. 2. A laser processing system according to claim 1, characterized in that a base unit (148) of the laser unit acts as a support for a base unit (122) of the substrate holding means and that there is no supporting connection between the substrate holding means (120) and an element of the housing.
3. Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Basiseinheit (148) der Lasereinheit mit einer Basiseinheit (122) der Substrathalteeinrichtung über mindes- tens ein Verbindungselement (161 , 162, 163) mechanisch starr verbunden ist, wobei das Verbindungselement derart durch eine Durchgangsöffnung (1 18) in einem Wandelement (1 16) des Gehäuses geführt ist, dass zwischen dem Verbindungselement (161 ) und dem Rand der Durchgangsöffnung ein allseitiger radialer Abstand (1 19) besteht. 3. Laser processing system according to claim 1 or 2, characterized in that a base unit (148) of the laser unit with a base unit (122) of the substrate holding device via at least at least one connecting element (161, 162, 163) is mechanically rigidly connected, wherein the connecting element is guided in such a way through a through hole (1 18) in a wall element (1 16) of the housing, that between the connecting element (161) and the edge of the through hole an all-round radial distance (1 19) consists.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere Verbindungselemente, insbesondere drei oder vier Verbindungselemente (161 , 162, 163), zwischen den Basiseinheiten der Lasereinheit und der Substrathalteeinrichtung vorgesehen sind, wobei jedes der Verbindungselemente durch eine zugehörige Durchgangsöffnung geführt ist, wobei die Verbindungselemente insbesondere hinsichtlich ihrer Länge einstellbar sind. Laser processing system according to claim 3, characterized in that a plurality of connecting elements, in particular three or four connecting elements (161, 162, 163) are provided between the base units of the laser unit and the substrate holding device, wherein each of the connecting elements is guided through an associated passage opening, wherein the connecting elements are adjustable in particular with regard to their length.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass eine Dichteinrichtung (165) zur Abdichtung der Durchgangsöffnung (1 18) vorgesehen ist, wobei die Dichteinrichtung vorzugsweise einen das Verbindungselement umschließenden gasdichten Balg aufweist, insbesondere einen Wellenbalg o- der Faltenbalg. Laser processing system according to claim 2 or 4, characterized in that a sealing device (165) for sealing the passage opening (1 18) is provided, wherein the sealing device preferably comprises a connecting element enclosing the gas-tight bellows, in particular a bellows o- the bellows.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Balg einerseits unter Zwischenschaltung eines ersten Dichtelements an der Außenseite des Wandelements (1 16) und andererseits mit axialem Abstand dazu unter Zwischenschaltung eines zweiten Dichtelements an einem fest mit dem Verbindungselement (161 ) verbundenen Flanschelement (168) anliegt. Laser processing system according to claim 5, characterized in that the bellows on the one hand with the interposition of a first sealing element on the outside of the wall element (1 16) and on the other at an axial distance thereto with the interposition of a second sealing element on a fixedly connected to the connecting element (161) flange (168 ) is present.
Laserbearbeitungssystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in einem gehäusefesten Wandelement (1 14) des Gehäuses eine dem optischen Fenster (170) zugeordnete Durchgangsöffnung (172) vorgesehen ist, dass das optische Fenster in einer von dem Wandelement gesonderten Fassungseinheit (179) aufgenommen ist und dass die Fassungseinheit mit dem Wandelement über eine flexible gasdichte Verbindungseinrichtung (185) verbunden ist, wobei die Verbindungseinrichtung vorzugsweise einen Balg aufweist. Laser processing system according to one of the preceding claims, characterized in that in a housing-fixed wall element (1 14) of the housing, an optical window (170) is provided through passage opening (172) is provided, that the optical window in a separate from the wall element holder unit (179) is accommodated and that the socket unit with the wall element via a flexible gas-tight connection means (185) is connected, wherein the connecting means preferably a Has bellows.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Fenster (170) starr mit der Austrittsoptik (150) der Lasereinheit gekoppelt ist. Laser processing system according to claim 7, characterized in that the optical window (170) is rigidly coupled to the exit optics (150) of the laser unit.
Laserbearbeitungssystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrathalteeinrichtung (120) derart konstruiert ist, dass die Oberfläche eines in der Bearbeitungsposition gehaltenen Substrats (1 15) vertikal oder im Wesentlichen vertikal ausgerichtet ist. Laser processing system according to one of the preceding claims, characterized in that the substrate holding device (120) is constructed such that the surface of a held in the processing position, the substrate (1 15) is vertically or substantially vertically aligned.
Laserbearbeitungssystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Austrittsoptik der Lasereinheit (140) in Bezug auf die Substrathalteeinrichtung (120) derart schräg ausgerichtet ist, dass eine optische Achse der Austrittsoptik mit einer Normalenrichtung der Oberfläche eines von der Substrathalteeinrichtung gehaltenen Substrats einen spitzen Winkel einschließt, wobei der spitze Winkel vorzugsweise zwischen 10° und 50° liegt, insbesondere im Bereich zwischen 20° und 35°. Laser processing system according to one of the preceding claims, characterized in that the exit optics of the laser unit (140) with respect to the substrate holding device (120) is aligned obliquely such that an optical axis of the exit optics with a normal direction of the surface of a held by the substrate holding device a substrate Angle includes, wherein the acute angle is preferably between 10 ° and 50 °, in particular in the range between 20 ° and 35 °.
Laserbearbeitungssystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Fensterschutzvorrichtung (190) zum Schutz des optischen Fensters (170) gegen Verschmutzung durch Bearbeitungsprodukte der Laserbearbeitung, wobei die Fensterschutzvorrichtung mindestens ein für den Laserstrahl transparentes Schutzelement (192) aufweist, das zwischen dem Substrat und dem optischen Fenster angeordnet ist, wobei die Fensterschutzvorrichtung vorzugsweise auswechselbar ist, insbesondere ohne Zuhilfenahme eines Werkzeugs. Laser processing system according to one of the preceding claims, characterized by a window protection device (190) for protection of the optical window (170) against contamination by laser processing products, wherein the window protection device has at least one protective element (192) transparent to the laser beam, which is located between the substrate and the optical window is arranged, wherein the window protection device is preferably replaceable, in particular without the aid of a tool.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 1 1 , dadurch gekennzeichnet, dass das Schutzelement (192) in Bezug auf eine Einstrahlrichtung des Laserstrahls derart schräg ausgerichtet ist, dass von dem Schutzelement reflektiertes Laserlicht nicht in die Austrittsoptik (150) der Lasereinheit reflektiert wird. Laser processing system according to claim 1 1, characterized in that the protective element (192) is aligned obliquely with respect to an irradiation direction of the laser beam that reflected by the protective element laser light is not reflected in the exit optics (150) of the laser unit.
Laserbearbeitungssystem nach Anspruch 1 1 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass das transparente Schutzelement durch einen Abschnitt eines flexiblen Folienbands gebildet ist, wobei vorzugsweise die Fensterschutzvorrichtung eine erste Rolle (196) mit einem Vorrat aus frischem Folienband und eine zweite Rolle (198) zum Aufwickeln von gebrauchtem Folienband aufweist, wobei ein zwischen den Rollen freitragend gespannter Folienbahnabschnitt das transparente Schutzelement (192) bildet. Laser processing system according to claim 1 1 or 12, characterized in that the transparent protective element is formed by a portion of a flexible film strip, wherein preferably the window protection device, a first roll (196) with a supply of fresh foil tape and a second roll (198) for winding used foil strip, wherein a self-supporting stretched between the rollers film web portion forms the transparent protective element (192).
Laserbearbeitungssystem nach dem Oberbegriff von Anspruch 1 , insbesondere nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ein Kompensationssystem mit einer Einrichtung zur Bestimmung einer relativen Position zwischen der Austrittsoptik der Lasereinheit und der Substrathalteeinrichtung und zur Erzeugung eines die relative Position repräsentierenden Positionssignals sowie mit einer Einrichtung zur Steuerung von Laserparametern in Abhängigkeit von dem Positionssignal, wobei diese Einrichtungen so konfiguriert sind, dass der Laserstrahl auch bei sich verändernder relativer Position immer mit definierter Strahlqualität, insbesondere mit weitgehend konstantem Strahlquerschnitt im Fokusbereich, auf die Substratoberfläche trifft. Laser processing system according to the preamble of claim 1, in particular according to one of the preceding claims, characterized by a compensation system with a device for determining a relative position between the exit optics of the laser unit and the substrate holding device and for generating a position signal representing the relative position and with a device for controlling of laser parameters as a function of the position signal, these devices being configured such that the laser beam always strikes the substrate surface even with a changing relative position with defined beam quality, in particular with a largely constant beam cross section in the focus area.
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