WO2011129135A1 - 蛍光体基板およびその製造方法、ならびに表示装置 - Google Patents

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悦昌 藤田
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    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
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    • G02F1/133617Illumination with ultraviolet light; Luminescent elements or materials associated to the cell
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/85Arrangements for extracting light from the devices
    • H10K50/856Arrangements for extracting light from the devices comprising reflective means
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
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    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays

Definitions

  • the present invention relates to a phosphor substrate, a method for manufacturing the same, and a display device using the phosphor substrate.
  • a non-self-luminous liquid crystal display LCD
  • a self-luminous plasma display PDP
  • an inorganic electroluminescence (inorganic EL) display an organic electroluminescence (organic EL) display, and the like are known. It has been.
  • the organic EL display is particularly attracting attention in terms of self-light emission.
  • the organic EL display mainly two display technologies are well known.
  • One is a technique for displaying a moving image by simple matrix driving.
  • the other is a technique for displaying a moving image by active matrix driving of an organic EL element using a thin film transistor (TFT).
  • TFT thin film transistor
  • red, green, and blue pixels are generally formed by separately coating the organic light emitting layer by a mask vapor deposition method using a shadow mask.
  • the mask is made of a very thin metal.
  • the typical film thickness is about 50 to 100 nm.
  • the mask processing accuracy and the mask alignment accuracy are reduced as the size is increased, so that the light emitting layers are mixed, and as a result, display colors are mixed.
  • a wide insulating layer is usually formed between the pixels.
  • the area of the pixel is determined, the area of the non-light emitting portion increases. That is, it leads to a decrease in the aperture ratio of the pixel, leading to a decrease in luminance, an increase in power consumption, and a decrease in device life.
  • the vapor deposition material is disposed below the substrate, and the organic material is deposited from the bottom to the top, thereby forming the organic layer. For this reason, as the substrate becomes larger (the mask becomes larger), the bending of the mask at the center becomes a problem. When the mask is bent, the above-described color mixture occurs. Furthermore, the organic layer may not be formed in part, and defects may occur as a result of leakage of the upper and lower electrodes. The above problem also occurs due to thermal expansion of the mask.
  • the mask deteriorates every time it is repeated, so that it can be used only a certain number of times. For this reason, when the mask is enlarged, the cost is increased. In recent years, the problem of cost is regarded as the biggest problem in organic EL displays.
  • the conventional method of painting with a shadow mask has a very large problem as the substrate becomes larger. Therefore, it has not been realized yet with a large-sized substrate, and it has only been realized in a substrate that is half the size of G4.
  • Patent Document 1 includes an organic EL element having a light-emitting layer that emits blue to blue-green light, and a phosphor layer that absorbs blue to blue-green light from the organic EL element and emits green light.
  • a method of emitting full color by combining a red pixel composed of a green pixel and a phosphor layer emitting red light and a blue pixel composed of a blue color filter for the purpose of improving color purity. Since this method does not require patterning of the organic layer, it can be easily manufactured compared to the above-described coating method, is superior in cost, and has no mask restrictions, so that it can be easily manufactured on a large substrate. It becomes.
  • Patent Document 3 proposes a method of efficiently extracting light toward the side surface from the front side by providing a reflective film on the side surface of the phosphor layer.
  • this method cannot extract a component that emits light on the light source side (the side opposite to the light extraction side).
  • Patent Document 2 and Non-Patent Document 1 propose a self-luminous display device that combines a conventional liquid crystal display device and a phosphor system. Unlike a conventional liquid crystal display device, this device emits light from an RGB phosphor layer provided outside the liquid crystal layer. Therefore, it is possible to realize a display device with extremely excellent viewing angle characteristics.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a phosphor substrate capable of improving the light extraction efficiency from the phosphor layer and greatly improving the conversion efficiency, and a method for manufacturing the same. It is to provide.
  • Another object of the present invention is to provide a display that is excellent in viewing angle characteristics, that is, a good image that does not deviate in color purity and brightness regardless of the viewing angle, and that can be reduced in cost and power consumption. To provide an apparatus.
  • the phosphor substrate of the present invention is A phosphor substrate on which a phosphor layer that emits light by excitation light is formed, A reflective film that is provided on a side surface of the phosphor layer and on a surface on which the excitation light is incident, and transmits a peak wavelength component in the excitation light and reflects a peak wavelength component in light emission from the phosphor layer It is characterized by having.
  • the reflection film transmits the peak wavelength component in the excitation light to minimize the loss of excitation light propagating to the phosphor layer, and the reflection film has a peak wavelength in light emission from the phosphor layer.
  • the reflection film By reflecting this component, it becomes possible to return (reflect) the light emission loss to the side surface of the phosphor layer due to isotropic light emission from the phosphor layer to the inside of the phosphor layer by the reflection film on the side surface.
  • the light emitted from the phosphor layer can be extracted from a desired light extraction position.
  • isotropic light emission loss from the phosphor layer that emits light on the excitation light incident side can be extracted from the light extraction side by the reflective film.
  • the light emission efficiency can be greatly improved, that is, the luminance in the light extraction direction can be greatly improved.
  • the method of manufacturing the phosphor substrate of the present invention Forming a phosphor layer that emits light by excitation light on a substrate; A reflection film that transmits the peak wavelength component in the excitation light and reflects the peak wavelength component in the emission from the phosphor layer is formed on the side surface of the phosphor layer and the surface on which the excitation light is incident. And a step of performing.
  • a phosphor substrate capable of improving luminous efficiency that is, improving luminance in the light extraction direction
  • the display device of the present invention provides The phosphor substrate; And a light source for irradiating the phosphor substrate with excitation light having a peak wavelength from an ultraviolet region to a blue region and exciting the phosphor layer.
  • the light emission efficiency of the display device can be improved, and the power consumption and cost can be reduced.
  • the phosphor substrate of the present invention comprises: A phosphor substrate on which a phosphor layer that emits light by excitation light is formed, A reflective film that is provided on a side surface of the phosphor layer and on a surface on which the excitation light is incident, and transmits a peak wavelength component in the excitation light and reflects a peak wavelength component in light emission from the phosphor layer It is characterized by having.
  • the method for producing the phosphor substrate of the present invention includes: Forming a phosphor layer that emits light by excitation light on a substrate; A reflection film that transmits the peak wavelength component in the excitation light and reflects the peak wavelength component in the emission from the phosphor layer is formed on the side surface of the phosphor layer and the surface on which the excitation light is incident. And a step of performing.
  • a phosphor substrate capable of improving luminous efficiency that is, improving luminance in the light extraction direction
  • the display device of the present invention includes: The phosphor substrate; And a light source for irradiating the phosphor substrate with excitation light having a peak wavelength from an ultraviolet region to a blue region and exciting the phosphor layer.
  • a display device that is excellent in viewing angle characteristics, that is, that can obtain a good image that does not deviate in color purity and luminance regardless of the viewing angle, and that can be reduced in cost and power consumption.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the shape of a phosphor layer according to an embodiment of the present invention, and (a) to (f) schematically show various shapes of the phosphor layer according to an embodiment of the present invention.
  • Indicate It is sectional drawing which shows typically an example of a structure of the light source as an LED element. It is sectional drawing which shows typically an example of a structure of the light source as an organic EL element. It is sectional drawing which shows typically an example of a structure of an active matrix drive type organic electroluminescent display apparatus.
  • FIG. 18 is a diagram showing a manufacturing process of the phosphor substrate according to Example 14, and (a) to (g) show each step in the manufacturing process of the phosphor substrate according to Example 14, respectively.
  • FIG. 18 is a diagram showing a manufacturing process of the phosphor substrate according to Example 14, and (a) to (g) show each step in the manufacturing process of the phosphor substrate according to Example 14, respectively.
  • Example 18 is a diagram showing a manufacturing process of a phosphor substrate according to Example 15, and (a) to (f) show respective steps in the manufacturing process of the phosphor substrate according to Example 15. It is a figure which shows the result of a comparative example and an Example as a table
  • the phosphor substrate 5 of the present invention is a phosphor substrate 5 on which a phosphor layer 3 that emits light by excitation light is formed.
  • the phosphor substrate 5 is provided on a side surface of the phosphor layer 3 and on a surface on which excitation light is incident.
  • a reflection film 10 is provided that transmits a peak wavelength component in light and reflects a peak wavelength component in light emission from the phosphor layer.
  • the reflection film transmits the peak wavelength component in the excitation light to minimize the loss of excitation light propagating to the phosphor layer 3, and the reflection film has a peak in light emission from the phosphor layer.
  • the wavelength component By reflecting the wavelength component, the direction of light emission to the side surface of the phosphor layer 3 and the direction of light emission to the surface on which the excitation light of the phosphor layer 3 is incident are changed, and the light is extracted in the light extraction direction of the phosphor substrate 5. (Solid arrow 6 in FIG. 1).
  • the light emission efficiency can be greatly improved, that is, the luminance in the light extraction direction can be greatly improved.
  • the phosphor layer 3 formed on the substrate 1 is covered with a reflective plate 210 such as metal as in the conventional display device shown in FIG. 12, the light emitted inside the phosphor layer 3 is reflected. Can be efficiently extracted to the outside (solid arrow 206 in FIG. 12), but excitation light for exciting the phosphor from the light source 4 is also reflected in the same manner (FIG. 12).
  • the dotted arrow 209) the intensity of the excitation light reaching the phosphor layer 3 decreases. As a result, the intensity of light that can be extracted to the outside decreases.
  • the reduction of the loss of excitation light incident on the phosphor layer 3 and the reduction of the emission loss in a direction different from the light extraction direction of the phosphor layer 3 are important factors for improving the light extraction efficiency. is there.
  • the wavelengths of the emission spectra of the excitation light and the phosphor layer 3 are different from each other.
  • the excitation light is efficiently transmitted, the light emission of the phosphor layer 3 is efficiently reflected, and the phosphor is extracted in the light extraction direction.
  • the reflective layer 10 preferably covers a surface other than the light extraction direction.
  • the reflective layer 10 preferably transmits 80% or more of the peak wavelength component in the excitation light and reflects 80% or more of the peak wavelength component in the light emission from the phosphor layer 3. . Thereby, isotropic light emission from the phosphor layer 3 can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the phosphor layer 3 is preferably formed in a tapered shape.
  • the reflective layer 5 can be simultaneously formed on the side surface of the phosphor layer 3 and the surface on which the excitation light is incident by a simple process, an increase in cost can be suppressed.
  • the reflective layer 10 can be uniformly formed on the phosphor layer 3, isotropic light emission can be extracted more efficiently in the light extraction direction. If the reflective layer 10 is not uniform, unevenness occurs in the reflection characteristics, and the light extraction efficiency decreases.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of the display device 50 according to the present embodiment.
  • the display device 50 includes a phosphor substrate 5 and a light source 4 that excites the phosphor layer 3 in the phosphor substrate 5.
  • the phosphor substrate 5 is opposite to the phosphor layer 3 that emits light by excitation light on the substrate 1, the light absorption layer 2 formed between the phosphor layers 3, the side surface of each phosphor layer 3, and the light source 4.
  • a reflective layer 10 that is formed on the surface to transmit the peak wavelength component in the excitation light and reflects the peak wavelength component in the light emission from the phosphor layer 3.
  • the substrate 1 is required to transmit light in the light emitting region of the phosphor layer 3 and thereby extract the light emitted from each phosphor layer 3 to the outside. Therefore, the substrate 1 is preferably made of a material having translucency.
  • the substrate 1 may be an inorganic material substrate made of glass or quartz, or a plastic substrate made of polyethylene terephthalate, polycarbazole, polyimide, or the like. Among these, a plastic substrate is preferable because a curved portion and a bent portion can be formed without stress.
  • the organic EL element deteriorates even with a low amount of moisture.
  • the plastic substrate transmits a certain amount of moisture. Therefore, in general, when a plastic substrate is used as the substrate of the organic EL element, there is a problem that the organic EL element is deteriorated by moisture (the biggest problem for the organic EL element). Therefore, as the substrate 1 of the phosphor layer 3, it is more preferable to use a substrate obtained by coating a plastic substrate with an inorganic material. With such a substrate, gas barrier properties can be improved and moisture permeation can be prevented, so that the problem of organic EL degradation due to moisture can be solved.
  • the phosphor layer 3 includes at least a blue phosphor layer, a red phosphor layer, and a green phosphor layer.
  • the blue phosphor layer absorbs excitation light from the light source 4 and emits blue light.
  • the red phosphor layer absorbs excitation light from the light source 4 and emits red light.
  • the green phosphor layer absorbs excitation light from the light source 4 and emits green light.
  • the light source 4 is an ultraviolet light emitting organic EL element, a blue light emitting organic EL element, an ultraviolet light emitting LED, or a blue LED.
  • the phosphor layer 3 can be added with a phosphor layer that emits cyan or yellow as necessary. As a result, the color purity of each pixel emitting light of cyan or yellow is set outside the triangle connected by the point of color purity of the pixels emitting light of red, green, or blue on the chromaticity diagram. The reproduction range can be expanded.
  • the phosphor layer 3 may be made of a phosphor material exemplified below. However, the present invention is not limited to this, and an additive or the like may optionally be included. Alternatively, a configuration in which these materials are dispersed in a polymer material (binding resin) or an inorganic material may be used.
  • the phosphor material may be any known material, and is classified into an organic phosphor material and an inorganic phosphor material. Specific compounds that can be used as these materials are exemplified below.
  • Organic phosphor materials are exemplified.
  • fluorescent dyes that convert ultraviolet excitation light into blue light emission stilbenzene dyes: 1,4-bis (2-methylstyryl) benzene, trans-4,4′-diphenylstilbenzene, and coumarins Pigment: 7-hydroxy-4-methylcoumarin and the like.
  • coumarin dyes 2,3,5,6-1H, 4H-tetrahydro-8-trifluoromethylquinolidine (9,9a, 1-gh) coumarin (coumarin 153), 3- (2′-benzothiazolyl) -7-diethylaminocoumarin (coumarin 6), 3- (2′-benzoimidazolyl) -7-N, N-diethylaminocoumarin (coumarin 7), Naphthalimide dyes: basic yellow 51, solvent yellow 11, solvent yellow 116, and the like.
  • cyanine dyes 4-dicyanomethylene-2-methyl-6- (p-dimethylaminostyryl) -4H-pyran
  • Pyridine dyes 1-ethyl-2- [4- (p-dimethylaminophenyl) -1,3-butadienyl] -pyridinium-perchlorate
  • rhodamine dyes rhodamine B, rhodamine 6G, rhodamine 3B, rhodamine 101, Examples thereof include rhodamine 110, basic violet 11, and sulforhodamine 101.
  • Inorganic phosphor materials are exemplified.
  • Sr 2 P 2 O 7 Sn 4+ , Sr 4 Al 14 O 25 : Eu 2+ , BaMgAl 10 O 17 : Eu 2+ , SrGa 2 S 4 : Ce 3+ , CaGa 2 S 4 : Ce 3+ , (Ba, Sr) (Mg, Mn) Al 10 O 17 : Eu 2+ , (Sr, Ca, Ba 2 , 0 Mg) 10 (PO 4 ) 6 Cl 2 : Eu 2+ , BaAl 2 SiO 8 : Eu 2+ , Sr 2 P 2 O 7 : Eu 2+ , Sr 5 (PO 4 ) 3 Cl: Eu 2+ , (Sr, Ca, Ba) 5 (PO 4 ) 3 Cl: Eu 2+ , BaMg 2 Al 16 O 27 : Eu 2+ , (B
  • Y 2 O 2 S Eu 3+ , YAlO 3 : Eu 3+ , Ca 2 Y 2 (SiO 4 ) 6 : Eu 3 + , LiY 9 (SiO 4 ) 6 O 2 : Eu 3+ , YVO 4 : Eu 3+ , CaS: Eu 3+ , Gd 2 O 3 : Eu 3+ , Gd 2 O 2 S: Eu 3+ , Y ( P, V) O 4 : Eu 3+ , Mg 4 GeO 5.5 F: Mn 4+ , Mg 4 GeO 6 : Mn 4+ , K 5 Eu 2.5 (WO 4 ) 6.25 , Na 5 Eu 2.5 (WO 4 ) 6.25 Examples thereof include K 5 Eu 2.5 (MoO 4 ) 6.25 and Na 5 Eu 2.5 (MoO 4 ) 6.25 .
  • the phosphor is preferably an inorganic phosphor.
  • the phosphor is preferably an inorganic phosphor.
  • light returning from the side surface of the reflective film 10 into the phosphor layer 3 (conventional light emission reflected between the side surfaces and deactivated by self-absorption inside the phosphor layer 3) is scattered by the phosphor layer 3.
  • scattering using the effect scattering effect of the inorganic phosphor
  • it can be brought to the light extraction side.
  • the emitted light can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the surface of the inorganic phosphor may be modified. At that time, chemical treatment such as a silane coupling agent or physical treatment by adding fine particles of submicron order or the like is possible. These treatments may be used in combination.
  • an inorganic material it is preferable to use an inorganic material.
  • the average particle diameter (d50) is preferably 1 ⁇ m to 50 ⁇ m. When the average particle size is 1 ⁇ m or less, the luminous efficiency of the phosphor layer 3 is rapidly reduced. On the other hand, when the average particle size is 50 ⁇ m or more, it becomes difficult to form a flat film.
  • a depletion (refractive index: 1) is present between the inorganic phosphor layer (refractive index: about 2.3) and the organic EL element (refractive index: about 1.7). .0).
  • the light from the organic EL element does not efficiently reach the inorganic phosphor layer, there arises a problem that the luminous efficiency of the phosphor layer 3 is lowered.
  • it is difficult to flatten the phosphor layer 3 there arises a problem that a liquid crystal layer cannot be formed between the phosphor substrate 5 and the light source 4. Specifically, the distance between the electrodes sandwiching the liquid crystal layer varies, and the electric field is not applied uniformly, so that the liquid crystal layer does not operate uniformly.
  • the phosphor layer 3 can be formed using a known wet process. At that time, a phosphor material and a phosphor layer forming coating solution are used.
  • the phosphor layer forming coating liquid is a liquid in which a resin material is dissolved and dispersed in a solvent.
  • a dry process or a laser transfer method can be applied to the formation.
  • Wet processes include spin coating, dipping, doctor blade, discharge coating (nozzle coating), spray coating, and other coating methods, inkjet printing, letterpress printing, intaglio printing, screen printing, and microgravure.
  • a known wet process such as a coating method or the like can be employed.
  • the phosphor layer 3 can also be formed by a dry process or a laser transfer method using the above materials.
  • a dry process a known process such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam (EB) vapor deposition method, a molecular beam epitaxy (MBE) method, a sputtering method, or an organic vapor deposition (OVPD) method can be employed.
  • EB electron beam
  • MBE molecular beam epitaxy
  • OVPD organic vapor deposition
  • a photosensitive resin may be used as the polymer resin.
  • the photosensitive resin can be patterned by a photolithography method.
  • a photosensitive resin photo-curable resist material having a reactive vinyl group such as an acrylic resin, a methacrylic resin, a polyvinyl cinnamate resin, or a hard rubber resin is used. It can. Any one of them may be used, or a plurality of types of mixtures may be used.
  • the phosphor material may be directly patterned.
  • a wet process, a dry process, a laser transfer method, or the like can be applied.
  • an inkjet method, a relief printing method, an intaglio printing method, a screen printing method, or the like can be used.
  • a resistance heating vapor deposition method using a shadow mask an electron beam (EB) vapor deposition method, a molecular beam epitaxy (MBE) method, a sputtering method, an organic vapor phase vapor deposition (OVPD) method, or the like can be used.
  • EB electron beam
  • MBE molecular beam epitaxy
  • OVPD organic vapor phase vapor deposition
  • the film thickness of the phosphor layer 3 is usually about 100 nm to 100 ⁇ m. 1 ⁇ m to 100 ⁇ m is preferable. If the film thickness is less than 100 nm, the light emitted from the light source 4 cannot be sufficiently absorbed, resulting in a problem that the light emission efficiency is lowered and the color purity is deteriorated. Therefore, in order to enhance absorption of light emitted from the light source 4 and not adversely affect color purity, a film thickness of 1 ⁇ m or more is preferable. On the other hand, if the film thickness exceeds 100 ⁇ m, the light emission from the light source 4 has already been sufficiently absorbed, so that the increase in light emission efficiency is not realized. Therefore, there arises a problem that only the material is consumed and the material cost is increased.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the shape of the phosphor layer according to the present embodiment.
  • the cross section of the phosphor layer 3 is preferably formed in a tapered shape as shown in FIGS. 2 (a) to 2 (f). Thereby, the light emitted from the side surface of the phosphor layer 3 can be efficiently extracted to the outside by the reflection layer 10 described later.
  • the cross-sectional shape of the phosphor layer 3 is as shown in FIGS. 2D to 2F. 2 is preferably formed in a tapered shape in the upper surface portion.
  • the reflective layer 10 can be formed on the side surface of the phosphor layer 3 and the surface opposite to the light extraction direction at the same time efficiently and at low cost.
  • the phosphor layer 3 is preferably flattened by a flattening film 42 (described later) or the like. Thereby, for example, the formation of depletion between the light source 4 (organic EL element) and the phosphor layer 3 can be prevented. Furthermore, the adhesion between the organic EL element substrate and the phosphor substrate can be improved.
  • the light absorption layer 2 In the phosphor substrate 5, the light absorption layer 2 is formed between the phosphor layers 3. The light absorption layer 2 absorbs light emitted from the phosphor layer 3 and does not leak into the phosphor layer 3 in another pixel. Thereby, the fall of contrast can be prevented.
  • the film thickness of the light absorption layer 2 is usually about 100 nm to 100 ⁇ m. In addition, 100 nm to 10 ⁇ m is preferable.
  • the film thickness of the light absorption layer 2 is preferably smaller than the film thickness of the phosphor layer 3. By so doing, light emitted to the side surface of the phosphor layer 3 can be efficiently extracted to the outside by the reflective layer 10.
  • a reflective layer 10 is formed so as to cover the side surface of the phosphor layer 3 and the surface of the phosphor layer 3 facing the light source 4 (surface on which excitation light is incident).
  • the reflective layer 10 is provided for each phosphor layer 3.
  • the reflective layer 10 has a property of transmitting excitation light and reflecting light emitted from the phosphor layer 3. Thereby, the light emission from the phosphor layer 3 (solid line arrow 6 in FIG. 1) can be efficiently extracted outside.
  • the reflection layer 10 preferably transmits 80% or more of the excitation light at the peak wavelength of the excitation light and reflects 80% or more of the emission at the peak wavelength of the light emission from the phosphor layer 3. Thereby, the excitation light can be efficiently transmitted, and the light emitted from the phosphor layer 3 can be efficiently reflected. As a result, light emitted from the phosphor layer 3 can be efficiently extracted in the light extraction direction. Further, it is more preferable that 90% or more of the excitation light is transmitted at the peak wavelength of the excitation light and 90% or more of the emission is reflected at the peak wavelength of the light emission from the phosphor layer 3.
  • the reflective layer 10 include, for example, a dielectric multilayer film, a metal thin film glass, an inorganic material substrate made of quartz, and a plastic substrate made of polyethylene terephthalate, polycarbazole, polyimide, or the like. There is no limit.
  • the phosphor layer when the transmittance of the excitation light is 80% or less at the peak wavelength of the excitation light and the reflectance of the light emission is 80% or less at the peak wavelength of the light emission from the phosphor layer 3, the phosphor layer The light extraction efficiency of light emitted from 3 is the same regardless of the presence or absence of the reflective layer 10. In this case, the effect of providing the reflective layer 10 is lost.
  • the maximum value of the film thickness on the side surface of the reflection film 3 is larger than the maximum value of the film thickness on the front surface of the reflection film 3. preferable.
  • the light emitted to the side surface of the phosphor layer 3 is returned to the inside while the transmittance of the excitation light in the reflecting film 10 on the light incident side is maintained in a more effective high state (reflection).
  • isotropic light emission from the phosphor layer 3 can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the film thickness of the reflective film 10 decreases toward the front surface of the reflective film 10.
  • the excitation light is diffused at a certain angle from the excitation light source 4, but according to the above configuration, the diffused light from the excitation light excitation light source 4 on the side surface of the phosphor is also more effectively incident on the light incident side. It is possible to return (reflect) the light emitted to the side of the phosphor layer 3 while maintaining a high transmittance of the excitation light to the phosphor layer 3 in the reflective film 10. Isotropic light emission from can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the reflective layer 10 is preferably a film containing at least gold. As a result, the excitation light can be transmitted efficiently, and the light emitted from the phosphor layer 3 can be reflected efficiently. Therefore, light emitted from the phosphor layer 3 can be efficiently extracted in the light extraction direction.
  • the thickness of the reflective film 10 containing at least gold is preferably 10 nm to 40 nm, and if it is within this range, the transmission characteristics of excitation light of the reflective film 10 containing at least gold and the phosphor layer 3 Thus, it is possible to take out the light emission efficiency more efficiently than the light emission from the phosphor layer 3.
  • the thickness of the reflective film 10 is 10 nm or less, the transmission characteristics of the excitation light are improved, and more energy of the excitation light is propagated to the phosphor layer 3 and the luminance of the phosphor is improved.
  • the reflection characteristics of isotropic light emission from the light source deteriorate, and the intensity on the light extraction side decreases.
  • the thickness of the reflective film 10 is 40 nm or more, the reflection characteristic of isotropic light emission from the phosphor layer 3 is improved, the transmission characteristic of excitation light on the side surface due to isotropic light emission is improved, and the phosphor layer The greater energy of the excitation light propagates to 3 and the brightness of the phosphor improves, but the intensity on the light extraction side decreases.
  • a color filter (not shown) is preferably provided between the surface on the light extraction side of the substrate 1 and each phosphor layer 3.
  • a conventional red color filter, green color filter, and blue color filter can be used as the color filter. By providing these color filters, it is possible to increase the color purity of each of the red pixel, the green pixel, and the blue pixel, so that the color reproduction range can be expanded.
  • the blue color filter formed on the blue phosphor layer, the green color filter formed on the green phosphor layer, and the red color filter formed on the red phosphor layer excite each phosphor layer 3. (Light other than excitation light from the light source 4) is absorbed. Therefore, the light emission of the phosphor layer 3 due to external light can be reduced or prevented. Furthermore, it is possible to reduce or prevent a decrease in contrast.
  • the blue color filter, green color filter, and red color filter can prevent the excitation light that is transmitted without being absorbed by the phosphor layer 3 from leaking outside. Therefore, it is possible to prevent a decrease in color purity due to a color mixture of light emitted from the phosphor layer 3 and excitation light.
  • the light source 4 emits light that excites the phosphor layer 3 and irradiates the phosphor layer 3.
  • the excitation light is preferably ultraviolet light (ultraviolet light) or blue light (blue light).
  • the ultraviolet light is preferably emitted with a main emission peak wavelength of 360 nm to 410 nm.
  • Blue light is preferably emitted with a main emission peak wavelength of 410 nm to 470 nm.
  • an organic electroluminescence element As the light source 4, an organic electroluminescence element, an inorganic electroluminescence element, or a light emitting diode can be used. More specifically, examples include, but are not limited to, ultraviolet LEDs, blue LEDs, ultraviolet light emitting inorganic ELs, blue light emitting inorganic ELs, ultraviolet light emitting organic ELs, and blue light emitting organic ELs.
  • the light source 4 is preferably provided with a sealing film or a sealing substrate.
  • Possible sealing films and sealing substrates can be formed by known sealing materials and sealing methods.
  • the sealing film can be formed by applying a resin on the surface of the phosphor substrate 5 that faces the light source 4 by using a spin coating method, an ODF, or a lamination method.
  • an inorganic film such as SiO, SiON, or SiN may be formed by a plasma CVD method, an ion plating method, an ion beam method, a sputtering method, or the like.
  • the sealing film can be formed by applying or bonding a resin using a spin coat method, an ODF, or a laminate method.
  • the sealing film can prevent external oxygen and moisture from entering the light emitting element, the life of the light source 4 can be improved.
  • the light source 4 can control ON / OFF of light emission for displaying an image by directly switching.
  • a layer having a shutter function such as a liquid crystal may be disposed between the phosphor layer 3 and the light source 4. By controlling it, it is also possible to control ON / OFF of light emission. It is also possible to control ON / OFF of both the layer having a shutter function such as liquid crystal and the light source 4.
  • the light source 4 and the phosphor substrate 5 can be bonded with a conventional ultraviolet curable resin or thermosetting resin.
  • a conventional ultraviolet curable resin or thermosetting resin for example, an inert gas such as nitrogen gas or argon gas is sealed with glass or metal. It is preferable to mix a hygroscopic agent such as barium oxide in the enclosed inert gas because deterioration of the light-emitting element due to moisture can be more effectively reduced.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing an example of the configuration of the light source 4 as an organic EL element.
  • the light source 4 shown in this figure includes a substrate 11, an anode 12, an edge cover 13, a hole injection layer 14, a hole transport layer 15, a light emitting layer 16, a hole prevention layer 17, an electron transport layer 18, an electron injection layer 19, And a cathode 20.
  • the anode 12, the hole injection layer 14, the hole transport layer 15, the light emitting layer 16, the hole prevention layer 17, the electron transport layer 18, the electron injection layer 19, and the cathode 20 are formed on the substrate 11. They are stacked in this order.
  • An edge cover 13 is formed on the edge portion of the anode 12.
  • Each of the hole injection layer 14, the hole transport layer 15, the light emitting layer 16, the hole prevention layer 17, the electron prevention layer, the electron transport layer 18, and the electron injection layer 19 may have a single layer structure or a multilayer structure.
  • the substrate 11 may be an inorganic material substrate made of glass or quartz, for example. Alternatively, it may be a plastic substrate made of polyethylene terephthalate, polycarbazole, polyimide, or the like. Alternatively, a ceramic substrate made of alumina or the like may be used. Alternatively, a metal substrate made of aluminum (Al) or iron (Fe) may be used.
  • the substrate 11 may be a substrate whose surface is coated with an insulator made of silicon oxide (SiO 2 ) or an organic insulating material. Or the board
  • a plastic substrate or a metal substrate As the substrate 11. With these substrates, it is possible to form a bent portion and a bent portion without stress.
  • a substrate in which a plastic substrate is coated with an inorganic material, or a substrate in which a metal substrate is coated with an inorganic insulating material is more preferable. If these substrates are used, the deterioration of the organic EL due to moisture permeation, which is the biggest problem when the plastic substrate is used as the substrate of the organic EL element, can be solved. Note that it is known that the organic EL deteriorates even with a low amount of moisture.
  • the film thickness of organic EL is very thin, about 100-200 nm. For this reason, it is known that leakage (short-circuit) occurs significantly in the current in the pixel portion due to the protrusion. If the metal substrate is a substrate for an organic EL element, this problem can be solved.
  • TFT thin film transistor
  • a substrate that does not melt at a temperature of 500 ° C. or less and does not cause distortion.
  • the thermal expansion coefficient of a general metal substrate is different from that of glass. Therefore, it is difficult to form a TFT on a metal substrate with a conventional production apparatus.
  • a metal substrate that is an iron-nickel alloy having a linear expansion coefficient of 1 ⁇ 10 ⁇ 5 / ° C. or less is used and the linear expansion coefficient is adjusted to that of glass, it can be used on a metal substrate even if a conventional production apparatus is used.
  • a TFT can be formed at a low cost.
  • the heat resistance temperature of plastic substrates is very low. Therefore, when the substrate 11 is a plastic substrate, the TFT is formed on a glass substrate, and then the formed TFT is transferred onto the plastic substrate.
  • the substrate 11 When the light emitted from the organic EL layer is taken out from the side opposite to the substrate 11, the substrate 11 is not limited. However, when taking out the emitted light from the substrate 11 side, it is necessary to use a transparent or translucent substrate.
  • TFT The TFT is formed in advance on the substrate 11 before the organic EL element is formed on the substrate 11 and functions as a switching device and a driving device.
  • a known TFT can be mentioned.
  • a metal-insulator-metal (MIM) diode may be used instead of the TFT.
  • a TFT having a known structure can be formed on the substrate 11 by a known formation method using a known material.
  • the material for the active layer of the TFT include inorganic semiconductor materials, oxide semiconductor materials, and organic semiconductor materials.
  • the inorganic semiconductor material amorphous silicon (amorphous silicon), polycrystalline silicon (polysilicon), microcrystalline silicon, cadmium selenide, or the like is used.
  • oxide semiconductor material zinc oxide, indium oxide-gallium oxide-zinc oxide, or the like is used.
  • organic semiconductor material polythiophene derivatives, thiophene oligomers, poly (p-ferylene vinylene) derivatives, naphthacene, pentacene, and the like are used.
  • TFT structure examples include a staggered type, an inverted staggered type, a top gate type, and a coplanar type.
  • a method for forming an active layer constituting a TFT first, there is a method in which impurities are ion-doped into amorphous silicon formed by a plasma induced chemical vapor deposition (PECVD) method. Second, amorphous silicon is formed by low pressure chemical vapor deposition (LPCVD) using silane (SiH 4 ) gas, and amorphous silicon is crystallized by solid phase growth to obtain polysilicon, followed by ion implantation. There is a method of ion doping.
  • PECVD plasma induced chemical vapor deposition
  • amorphous silicon is formed by LPCVD method using Si 2 HD 6 gas or PECVD method using SiH 4 gas, annealed by laser such as excimer laser, and amorphous silicon is crystallized to obtain polysilicon.
  • a method of performing ion doping (low temperature process) Fourth, a polysilicon layer is formed by LPCVD method or PECVD method, and a gate insulating film is formed by thermal oxidation at 1,000 ° C.
  • the gate insulating film of the TFT can be formed using a known material.
  • SiO 2 is formed as a gate insulating film by PECVD method or LPCVD method.
  • SiO 2 obtained by thermally oxidizing a polysilicon film is formed as a gate insulating film. Other methods limited to these may be used.
  • the signal electrode line, the scanning electrode line, the common electrode line, the first drive electrode, and the second drive electrode of the TFT can be formed using a known material.
  • the material include tantalum (Ta), aluminum (Al), and copper (Cu).
  • the TFT formed on the substrate 11 is not limited to the above-described material, structure, and formation method.
  • the interlayer insulating film can be formed using a known material (inorganic material or organic material).
  • inorganic material include silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiN or Si 2 N 4), tantalum oxide (TaO or Ta 2 O 5 ), and the like.
  • organic material include an acrylic resin or a resist material.
  • Examples of the method for forming the interlayer insulating film include a dry process such as a chemical vapor deposition (CVD) method and a vacuum deposition method, or a wet process such as a spin coating method. If necessary, patterning can be performed by a photolithography method or the like.
  • CVD chemical vapor deposition
  • vacuum deposition method or a wet process such as a spin coating method. If necessary, patterning can be performed by a photolithography method or the like.
  • an insulating film having a light shielding property is preferably used. As a result, it is possible to prevent external light from entering the TFT formed on the substrate 11 and causing a change in TFT characteristics. Note that a normal insulating film and a light-blocking insulating film can also be used in combination.
  • the light-shielding interlayer insulating film a material in which a pigment or dye such as phthalocyanine and quinaclone is dispersed in a polymer resin such as polyimide is used.
  • a color resist, a black matrix material, an inorganic insulating material such as Ni x Zn y Fe 2 O 4, and the like can be given. However, it is not limited to these materials and formation methods.
  • the planarizing film can be formed using a known material. Examples thereof include inorganic materials such as silicon oxide, silicon nitride, and tantalum oxide, and organic materials such as polyimide, acrylic resin, and resist material. Examples of the method for forming the planarizing film include a dry process such as a CVD method or a vacuum deposition method, and a wet process such as a spin coating method. However, it is not limited to these materials and formation methods.
  • the structure of the planarizing film may be a single layer or a multilayer structure.
  • the first electrode and the second electrode used in the present invention function as a pair as the anode 12 or the cathode 20 of the organic EL element. That is, when the first electrode is the anode 12, the second electrode is the cathode 20, and when the first electrode is the cathode 20, the second electrode is the anode 12.
  • the specific compound and formation method of the anode 12 and the cathode 20 are illustrated below, it is not limited to these.
  • the anode 12 can be formed of a known electrode material. Specifically, a metal having a work function of 4.5 eV or more, such as gold (Au), platinum (Pt), nickel (Ni), and an oxide (ITO) made of indium (In) and tin (Sn), Examples of the transparent electrode material include tin (Sn) oxide (SnO 2), indium (In), and oxide (IZO) made of zinc (Zn). With these materials, holes can be more efficiently injected into the organic EL layer.
  • a metal having a work function of 4.5 eV or more such as gold (Au), platinum (Pt), nickel (Ni), and an oxide (ITO) made of indium (In) and tin (Sn)
  • the transparent electrode material include tin (Sn) oxide (SnO 2), indium (In), and oxide (IZO) made of zinc (Zn). With these materials, holes can be more efficiently injected into the organic EL layer.
  • the cathode 20 can be formed of a known electrode material.
  • the material include metals such as lithium (Li), calcium (Ca), cerium (Ce), barium (Ba), and aluminum (Al) having a work function of 4.5 eV or less, or Mg containing these metals:
  • the alloy include an Ag alloy and a Li: Al alloy. With these materials, injection of electrons into the organic EL layer can be made more efficient.
  • the anode 12 and the cathode 20 can be formed by a known method such as EB vapor deposition, sputtering, ion plating, or resistance heating vapor deposition using the above materials. However, it is not limited to these. If necessary, the formed electrode can be patterned by a photolithographic fee method or a laser peeling method. Furthermore, a direct patterned electrode can be formed by combining with a shadow mask.
  • the film thickness of the anode 12 and the cathode 20 is preferably 50 nm or more. When the film thickness is less than 50 nm, the wiring resistance becomes high, which may increase the drive voltage.
  • the microcavity structure can be taken by the anode 12 and the cathode 20. Thereby, color purity, luminous efficiency, front luminance, and the like can be improved.
  • a translucent electrode As the material of the anode 12 (cathode 20), it is possible to use a metal semitransparent electrode alone or a combination of a metal translucent electrode and a transparent electrode material.
  • the film thickness of the translucent electrode is preferably 5 to 30 nm. If the film thickness is less than 5 nm, the reflection of light is insufficient and the effect of interference cannot be obtained sufficiently. On the other hand, if the film thickness exceeds 30 nm, the light transmittance is drastically lowered, and thus the luminance and efficiency of light emission may be lowered.
  • anode 12 As the anode 12 (the same applies to the cathode 20), it is preferable to use an electrode with high reflectivity that reflects light.
  • electrode materials used in this case include reflective metal electrodes such as aluminum, silver, gold, aluminum-lithium alloys, aluminum-neodymium alloys, and aluminum-silicon alloys, or transparent electrodes and reflective metal electrodes (reflective electrodes). Electrode) and the like.
  • An edge cover 13 is preferably formed at the edge portion of the anode 12 between the anode 12 and the cathode 20. Thereby, it is possible to prevent leakage between the anode 12 and the cathode 20.
  • the edge cover 13 can be formed by using a known method such as an EB vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, or a resistance heating vapor deposition method using an insulating material.
  • patterning can be performed by a known dry and wet photolithography method. However, it is not limited to these.
  • a known material can be used as the insulating material of the edge cover 13. Although not particularly limited, it is necessary to transmit light, and examples thereof include SiO, SiON, SiN, SiOC, SiC, HfSiON, ZrO, HfO, and LaO.
  • the film thickness of the edge cover 13 is preferably 100 nm to 2,000 nm. If the thickness is 100 nm or less, the insulation is not sufficient, so that leakage occurs between the anode 12 and the cathode 20. As a result, power consumption is increased and non-light emission is caused. On the other hand, if it is 2,000 nm or more, the film forming process takes time. For this reason, the productivity is deteriorated and the cathode 20 is disconnected in the edge cover.
  • the organic EL element used as the light source 4 preferably has a microcavity structure (optical microresonator structure).
  • This structure is realized by the interference effect between the reflective electrode and the semitransparent electrode, with either the anode 12 or the cathode 20 being a reflective electrode and the other being a semitransparent electrode.
  • it is realized by a dielectric multilayer film. If there is a microcavity structure, it becomes possible to condense light emitted from the organic EL element in the front direction (provide directivity). As a result, it is possible to reduce the light emission loss that escapes to the surroundings and increase the light emission efficiency in the front. Therefore, the light emission energy generated in the light emitting layer of the organic EL element can be more efficiently propagated to the phosphor layer. Furthermore, the front luminance can be increased.
  • the peak wavelength and half-value width of light emission can be adjusted to desired values by the interference effect of the microcavity structure.
  • the emission spectrum can be adjusted.
  • the red phosphor layer and the green phosphor layer are controlled to have a spectrum that can be excited more effectively.
  • the color purity of the blue pixel can be improved.
  • hole injection layer 14 and hole transport layer 15 examples of the material of the hole injection layer 14 and the hole transport layer 15 include oxides such as vanadium oxide (V 2 O 5 ) and molybdenum oxide (MoO 2 ), inorganic p-type semiconductor materials, porphyrin compounds, N, N '-Bis (3-methylphenyl) -N, N'-bis (phenyl) -benzidine (TPD) and N, N'-di (naphthalen-1-yl) -N, N'-diphenyl-benzidine (NPD) Low molecular weight materials such as aromatic tertiary amine compounds, hydrazone compounds, quinacridone compounds, and styrylamine compounds, and the like, and polyaniline (PANI), polyaniline-camphor sulfonic acid (PANI-CSA), 3,4-polyethylene Dioxythiophene / polystyrene sulfonate (PEDOT / PSS), poly (triphenyl
  • the material of the hole injection layer 14 preferably has an energy level of the highest occupied molecular orbital (HOMO) lower than that of the material of the hole transport layer 15. Thereby, the injection and transport of holes from the anode 12 can be made more efficient.
  • the material of the hole transport layer 15 preferably has a higher hole mobility than the material of the hole injection layer 14. It is preferable to dope the hole injection material and the hole transport material with an acceptor. Thereby, the hole injection property and the transport property can be further improved.
  • the acceptor a known acceptor material for organic EL can be used. Specific compounds are exemplified below, but are not limited thereto.
  • Acceptor materials include Au, Pt, W, Ir, POCl 3 , AsF 6 , Cl, Br, I, vanadium oxide (V 2 O 5 ), and an inorganic material such as molybdenum oxide (MoO 2 ), TCNQ (7, 7,8,8, -tetracyanoquinodimethane), TCNQF 4 (tetrafluorotetracyanoquinodimethane), TCNE (tetracyanoethylene), HCNB (hexacyanobutadiene), and DDQ (dicyclodicyanobenzoquinone) Examples thereof include compounds having a group, compounds having a nitro group such as TNF (trinitrofluorenone) and DNF (dinitrofluorenone), and organic materials such as fluoranyl, chloranil, and bromanyl. In particular, compounds having a cyano group such as TCNQ, TCNQF 4 , TCNE, HCNB, and DDQ are more preferable because the carrier concentration can be
  • the light emitting layer 16 should just be comprised only from the organic luminescent material illustrated below.
  • a combination of a light-emitting dopant and a host material may be used.
  • a hole transport material, an electron transport material, and an additive (donor, acceptor, etc.) may optionally be included.
  • a structure in which these materials are dispersed in a polymer material (binding resin) or an inorganic material may be used. From the viewpoint of luminous efficiency and lifetime, a material in which a luminescent dopant is dispersed in a host material is preferable.
  • the organic light emitting material a known light emitting material for an organic EL element can be used. Such a light emitting material is classified into a low molecular light emitting material or a polymer light emitting material. Specific compounds are exemplified below, but are not limited thereto.
  • the light emitting material may be classified as a fluorescent material or a phosphorescent material. It is preferable to use a phosphorescent material with high emission efficiency because power consumption can be reduced. Specific compounds are exemplified below, but are not limited thereto.
  • a known dopant material for organic EL elements can be used as the light-emitting dopant optionally contained in the light-emitting layer 16.
  • ultraviolet light emitting materials include fluorescence such as p-quaterphenyl, 3,5,3,5 tetra-t-butylsecphenyl, and 3,5,3,5 tetra-t-butyl-p-quinkphenyl.
  • luminescent materials include luminescent materials.
  • blue light-emitting materials include fluorescent light-emitting materials such as styryl derivatives, bis [(4,6-difluorophenyl) -pyridinato-N, C2 ′] picolinate, iridium (III) (FIrpic), and bis (4 ′, 6 Examples include phosphorescent organometallic complexes such as' -difluorophenylpolydinato) tetrakis (1-pyrazoyl) borate, iridium (III) (FIr6), and the like.
  • a known host material for an organic EL element can be used.
  • host materials include the low-molecular light-emitting materials, the polymer light-emitting materials, 4,4′-bis (carbazole) biphenyl, 9,9-di (4-dicarbazole-benzyl) fluorene (CPF), 3 , 6-bis (triphenylsilyl) carbazole (mCP) and carbazole derivatives such as (PCF), aniline derivatives such as 4- (diphenylphosphoyl) -N, N-diphenylaniline (HM-A1), and 1 Fluorene derivatives such as 1,3-bis (9-phenyl-9H-fluoren-9-yl) benzene (mDPFB) and 1,4-bis (9-phenyl-9H-fluoren-9-yl) benzene (pDPFB) Can be mentioned.
  • mDPFB 1,3-bis (9-phenyl-9H-fluoren-9-yl) benzene
  • the charge injection transport layers 18 and 19 are classified into an electron injection layer 19 and an electron transport layer 18 for the purpose of more efficiently performing injection of electrons from the cathode 20 and transport (injection) to the light emitting layer 16. What is necessary is just to be comprised only from the charge injection transport material illustrated below. Alternatively, an additive (donor, acceptor, etc.) may optionally be included. Furthermore, the structure by which these materials were disperse
  • charge injection / transport material known charge transport materials for organic EL and organic photoconductors can be used. Such charge injection transport materials are classified into hole injection transport materials and electron injection transport materials. Specific compounds are exemplified below, but are not limited thereto.
  • Examples of the electron injecting material and the electron transporting material include inorganic materials that are n-type semiconductors, oxadiazole derivatives, triazole derivatives, thiopyrazine dioxide derivatives, benzoquinone derivatives, naphthoquinone derivatives, anthraquinone derivatives, diphenoquinone derivatives, fluorenone derivatives, and And low molecular weight materials such as benzodifuran derivatives, and high molecular weight materials such as poly (oxadiazole) (Poly-OXZ) and polystyrene derivatives (PSS).
  • Examples of the electron injection material include fluorides such as lithium fluoride (LiF) and barium fluoride (BaF 2 ), and oxides such as lithium oxide (Li 2 O).
  • the material of the electron injection layer 19 preferably has a higher energy level of the lowest unoccupied molecular orbital (LUMO) than the material used for the electron transport layer 18. This makes it possible to more efficiently inject and transport electrons from the cathode 20.
  • the material of the electron transport layer 18 is preferably a material having higher electron mobility than the material of the electron injection layer 19. It is preferable to dope the electron injection material and the transport material with a donor. As a result, the electron injection and transport properties can be further improved.
  • a known donor material for organic EL can be used. Specific compounds are exemplified below, but are not limited thereto.
  • Donor materials include inorganic materials such as alkali metals, alkaline earth metals, rare earth elements, Al, Ag, Cu, and In, anilines, phenylenediamines, benzidines (N, N, N ′, N′-tetra Phenylbenzidine, N, N'-bis- (3-methylphenyl) -N, N'-bis- (phenyl) -benzidine, N, N'-di (naphthalen-1-yl) -N, N'-diphenyl -Benzidine, etc.), triphenylamines (triphenylamine, 4,4'4 "-tris (N, N-diphenyl-amino) -triphenylamine, 4,4'4" -tris (N-3 -Methylphenyl-N-phenyl-amino) -triphenylamine, 4,4'4 ''-tris (N- (1-naphthyl) -N-pheny
  • the condensed polycyclic compound may have a substituent
  • TTF tetrathiafulvalene
  • organic compounds such as dibenzofuran, phenothiazine, and carbazole
  • a compound having an aromatic tertiary amine in the skeleton, a condensed polycyclic compound, and an alkali metal are more preferable because the carrier concentration can be increased more effectively.
  • the organic EL layers such as the hole injection layer 14, the hole transport layer 15, the light emitting layer 16, the electron transport layer 18, and the electron injection layer 19 can be formed by various methods. For example, using an organic EL layer forming coating solution in which the above materials are dissolved and dispersed in a solvent, a spin coating method, a dipping method, a doctor blade method, a discharge coating method, a coating method such as a spray coating method, an inkjet method, It can be formed by a known wet process such as a relief printing method, an intaglio printing method, a screen printing method, or a printing method such as a micro gravure coating method.
  • a known dry process such as a resistance heating vapor deposition method, an electron beam (EB) vapor deposition method, a molecular beam epitaxy (MBE) method, a sputtering method, or an organic vapor deposition (OVPD) method may also be used.
  • EB electron beam
  • MBE molecular beam epitaxy
  • OVPD organic vapor deposition
  • it can be formed by a laser transfer method or the like using the above material.
  • the organic EL layer-forming coating solution may contain an additive for adjusting the physical properties of the coating solution, such as a leveling agent or a viscosity modifier.
  • the film thickness of each organic EL layer is usually about 1 to 1,000 nm. In addition, 10 nm to 200 nm is preferable. If the film thickness is less than 10 nm, the physical properties (charge injection characteristics, transport characteristics, confinement characteristics) that are originally required cannot be obtained. Furthermore, pixel defects due to foreign matters such as dust may occur. When the film thickness exceeds 200 nm, the drive voltage increases due to the resistance component of the organic EL layer, and thus power consumption is increased.
  • the light source 4 shown in FIG. 3 includes a hole injection layer 14, a hole transport layer 15, a light emitting layer 16, a hole prevention layer 17, an electron transport layer 18, and an electron injection layer 19.
  • the present invention is not limited to these.
  • the following configurations (1) to (9) are also possible.
  • Organic light emitting layer (2) Hole transport layer / organic light emitting layer (3) Organic light emitting layer / electron transport layer (4) Hole transport layer / organic light emitting layer / electron transport layer (5) Hole injection layer / Hole transport layer / organic light emitting layer / electron transport layer (6) hole injection layer / hole transport layer / organic light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer (7) hole injection layer / hole transport layer / organic Light emitting layer / Hole prevention layer / Electron transport layer (8) Hole injection layer / Hole transport layer / Organic light emitting layer / Hole prevention layer / Electron transport layer / Electron injection layer (9) Hole injection layer / Hole Transport layer / electron prevention layer / organic light emitting layer / hole prevention layer / electron transport layer / electron injection layer (configuration of display device 50)
  • the display device 50 described above is realized as an active matrix drive type organic EL display 50 shown in FIG.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing an example of the configuration of the active matrix driving type organic EL display 50.
  • the display device 50 shown in this figure is mainly composed of the phosphor substrate 5 shown in FIG. 1 and the light source 4 shown in FIG.
  • the display device 50 includes an inorganic sealing film 31, a resin sealing film 32, a red light emitting phosphor layer 33, a green light emitting phosphor layer 34, a scatterer layer 35, a gate electrode 36, a drain electrode 37, a source electrode 38, and a p-type.
  • a contact layer 51, a gate wiring 52, an interlayer insulating film 53, and a source wiring 54 are further provided.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing an example of the configuration of the light source 4 as an LED element. 5 includes a substrate 11, an anode 12, a cathode 20, a buffer layer 21, an n-type contact layer 22, n-type cladding layers 23 and 24, an active layer 25, p-type cladding layers 26 and 27, and a p-type. A contact layer 51 is provided.
  • a buffer layer 21 and an n-type contact layer 22 are stacked on the substrate 11.
  • a cathode 20 and a second n-type cladding layer 23 are formed on the n-type contact layer 22.
  • the anode 12 is laminated in this order.
  • the substrate 11 may be an inorganic material substrate made of glass or quartz, for example. Alternatively, it may be a plastic substrate made of polyethylene terephthalate, polycarbazole, polyimide, or the like. Alternatively, a ceramic substrate made of alumina or the like may be used. Alternatively, a metal substrate made of aluminum (Al) or iron (Fe) may be used.
  • the substrate 11 may be a substrate whose surface is coated with an insulator made of silicon oxide (SiO 2 ) or an organic insulating material. Or the board
  • N-type cladding layers 23 and 24 As the n-type cladding layers 23 and 24, a known n-type cladding layer material for LED can be used.
  • the n-type cladding layers 23 and 24 may be one layer or multiple layers.
  • the n-type cladding layers 23 and 24 may be made of a material formed of an n-type semiconductor having a band gap energy larger than that of the active layer 25.
  • a potential barrier against holes is formed between the n-type cladding layers 23 and 24 and the active layer 25.
  • holes can be confined in the active layer.
  • the n-type cladding layers 23 and 24 can be formed of, for example, n-type In x Ga 1-x N (0 ⁇ x ⁇ 1), but is not limited thereto.
  • the active layer 25 emits light by recombination of electrons and holes.
  • a known active layer material for LED can be used.
  • the material of the active layer 25 includes an ultraviolet active layer material and a blue active layer material.
  • the ultraviolet active layer material include AlGaN, InAlN, and In a Al b Ga 1-ab N (0 ⁇ a, 0 ⁇ b, a + b ⁇ 1).
  • Examples of the blue active layer material include InzGa1 -zN (0 ⁇ z ⁇ 1).
  • the active layer 25 is not limited to these.
  • the active layer 25 has a single quantum well structure or a multiple quantum well structure.
  • the quantum well structure active layer 25 may be either n-type or p-type.
  • non-doping no impurity added is preferable because the half-value width of the emission wavelength is narrowed by interband light emission and light emission with good color purity is obtained.
  • the active layer 25 may be doped with donor impurities, acceptor impurities, or both. If the crystallinity of the active layer 25 doped with impurities is the same as that of non-doped, doping with donor impurities can further increase the emission intensity between bands as compared to the non-doped one.
  • the acceptor impurity is doped, the peak wavelength can be shifted to the energy side lower by about 0.5 eV than the peak wavelength of interband light emission. However, the full width at half maximum becomes wider.
  • the emission intensity can be further increased as compared with the emission intensity of the active layer doped only with the acceptor impurity.
  • the conductivity type of the active layer 25 is preferably n-type doped with a donor impurity such as Si.
  • the p-type cladding layers 26 and 27 As the p-type cladding layers 26 and 27, a known p-type cladding layer material for LED can be used.
  • the p-type cladding layers 26 and 27 may be one layer or multiple layers.
  • the p-type cladding layers 26 and 27 may be made of a material formed of a p-type semiconductor having a band gap energy larger than that of the active layer 25.
  • a potential barrier against electrons is formed between the p-type cladding layers 26 and 27 and the active layer 25. As a result, electrons can be confined in the active layer.
  • the p-type cladding layers 26 and 27 can be formed of, for example, Al y Ga 1-y N (0 ⁇ y ⁇ 1), but is not limited thereto.
  • contact layers 22, 51 known contact layer materials for LEDs can be used.
  • the n-type contact layer 22 made of n-type GaN can be formed.
  • a p-type contact layer 51 made of p-type GaN can also be formed.
  • the contact layers 22 and 51 need not be formed if the second n-type cladding layer and the second p-type cladding layer are made of GaN, and the second cladding layer is used as a contact layer. Is also possible.
  • each of the layers described above can be formed using a known film forming process for LEDs.
  • the present invention is not limited thereto.
  • sapphire can be obtained by using a vapor phase growth method such as MOVPE (metal organic vapor phase epitaxy), MBE (molecular beam vapor phase epitaxy), or HDVPE (hydride vapor phase epitaxy).
  • MOVPE metal organic vapor phase epitaxy
  • MBE molecular beam vapor phase epitaxy
  • HDVPE hydrogen vapor phase epitaxy
  • SiC including 6H-SiC, 4H-SiC
  • spinel MgAl 2 O 4 , especially its (111) plane
  • It can be formed on a substrate such as an oxide single crystal substrate (such as NGO).
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing an example of the configuration of the light source 4 as an inorganic EL element.
  • the light source 4 shown in FIG. 6 includes a substrate 11, an electrode 28, a dielectric layer 29, and a light emitting layer 30. Specifically, the electrode 28, the dielectric layer 29, the light emitting layer 30, the dielectric layer 29, and the electrode 28 are laminated on the substrate 11 in this order.
  • the substrate 11 may be an inorganic material substrate made of glass or quartz, for example. Alternatively, it may be a plastic substrate made of polyethylene terephthalate, polycarbazole, polyimide, or the like. Alternatively, a ceramic substrate made of alumina or the like may be used. Alternatively, a metal substrate made of aluminum (Al) or iron (Fe) may be used.
  • the substrate 11 may be a substrate whose surface is coated with an insulator made of silicon oxide (SiO 2 ) or an organic insulating material. Or the board
  • the curved portion and the bent portion can be formed without stress.
  • the electrode 28 is formed using a transparent electrode material.
  • the material include metals such as aluminum (Al), gold (Au), platinum (Pt), and nickel (Ni).
  • an oxide (ITO) made of indium (In) and tin (Sn), an oxide (SnO 2 ) of tin (Sn), an oxide (IZO) made of indium (In) and zinc (Zn), etc. Can be mentioned.
  • the material is not limited to these. It is preferable to use a transparent electrode such as ITO in the direction of extracting light. On the other hand, it is preferable to use a reflective film such as aluminum on the side opposite to the light extraction direction.
  • the electrode 28 can be formed using the above materials by a known method such as an EB vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, or a resistance heating vapor deposition method. However, it is not limited to these. If necessary, the formed electrode can be patterned by a photolithographic fee method or a laser peeling method. Directly patterned electrodes can also be formed by combining with a shadow mask.
  • the film thickness of the electrode 28 is preferably 50 nm or more. When the film thickness is less than 50 nm, the wiring resistance becomes high, which may cause an increase in driving voltage.
  • the dielectric layer 29 can be formed using a known dielectric material for inorganic EL elements.
  • the material include tantalum pentoxide (Ta 2 O 5 ), silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (Si 3 N 4 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), aluminum titanate (AlTiO 3 ), and titanium.
  • the material include barium acid (BaTiO 3 ) and strontium titanate (SrTiO 3 ). However, it is not limited to these.
  • the dielectric layer 29 may be configured by one type selected from the above dielectric materials, or may be configured by stacking two or more types of materials.
  • the film thickness of the dielectric layer 29 is preferably about 200 nm to 500 nm.
  • the light emitting layer 30 can be formed using a known light emitting material for inorganic EL elements.
  • the material is classified into an ultraviolet light emitting material and a blue light emitting material.
  • Examples of the ultraviolet light emitting material include ZnF 2 : Gd.
  • As the blue light emitting material BaAl 2 S 4 : Eu, CaAl 2 S 4 : Eu, ZnAl 2 S 4 : Eu, Ba 2 SiS 4 : Ce, ZnS: Tm, SrS: Ce, SrS: Cu, CaS: Pb, And (Ba, Mg) Al 2 S 4 : Eu and the like.
  • the thickness of the light emitting layer 30 is preferably about 300 nm to 1,000 nm.
  • the LED element, inorganic EL element, or organic EL element as the light source 4 may be directly connected to an external circuit and driven.
  • an active element such as a TFT element is arranged in the pixel, and an external circuit (scanning line electrode circuit (source driver), data signal electrode circuit) for driving the light source 4 through a wiring to which the TFT or the like is connected. (Gate driver) and power supply circuit) may be electrically connected.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of a display device 50 of a method in which an organic EL element, a liquid crystal, and a phosphor are combined.
  • the display device 5 shown in this figure is mainly composed of the phosphor substrate 5 shown in FIG. 1 and the light source 4 shown in FIG.
  • the display device 50 further includes a polarizing plate 44, a substrate 45, a transparent electrode 46, an alignment film 47, a liquid crystal layer 48, and a planarizing film 49.
  • the phosphor layer 3 includes a red light-emitting phosphor layer 33, a green light-emitting phosphor layer 34, and a blue light-emitting phosphor layer 43.
  • the display device 50 shown in FIG. 7 includes a polarizing plate 44 on the light extraction side.
  • a polarizing plate 44 a combination of a conventional linear polarizing plate and a ⁇ / 4 plate can be used.
  • the polarizing plate 44 By providing the polarizing plate 44, external light reflection from the electrodes of the display device 50 and external light reflection on the surface of the substrate or the sealing substrate can be prevented. As a result, the contrast of the display device 50 can be improved.
  • the liquid crystal element is provided between the phosphor layer and the light source 4.
  • the liquid crystal element may be a known liquid crystal element.
  • it is constituted by a liquid crystal cell and a pair of deflecting plates 44 that sandwich the liquid crystal cell.
  • the deflection plate 44 may be formed as a layer.
  • the liquid crystal cell carries a liquid crystal layer 48 between two electrode substrates 45.
  • one optically anisotropic layer is disposed between the liquid crystal cell and one polarizing plate 44.
  • two optically anisotropic layers may be disposed between the liquid crystal cell and both polarizing plates 44.
  • limiting in particular as a kind of liquid crystal cell According to the objective, it can select suitably. For example, TN mode, VA mode, OCB mode, IPS mode, ECB mode and the like can be mentioned.
  • the liquid crystal element has a function as an optical shutter that selectively transmits light emitted from the light source 4.
  • the driving method of the liquid crystal element may be passive driving or active driving using a switching element such as a TFT. It is more preferable to combine the switching of the liquid crystal element and the switching of the light source 4 because the power consumption can be further reduced.
  • Comparative Example 1 The manufacturing process of the phosphor substrate in Comparative Example 1 will be described.
  • the phosphor substrate is a 0.7 mm glass substrate. First, this glass substrate was washed with water, followed by pure water ultrasonic cleaning for 10 minutes, acetone ultrasonic cleaning for 10 minutes, and isopropyl alcohol vapor cleaning for 5 minutes. Then, it was dried at 100 ° C. for 1 hour.
  • a green phosphor layer having a thickness of 100 ⁇ m was formed on the substrate.
  • 15 g of ethanol and 0.22 g of ⁇ -glycidoxypropyltriethoxysilane were added to 0.16 g of aerosil having an average particle diameter of 5 nm, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour.
  • This mixture and 20 g of green phosphor (Ca 0.97 Mg 0.03 : ZrO 3 : Ho) were transferred to a mortar, mixed well, and then heated in an oven at 70 ° C. for 2 hours. Furthermore, it was heated in an oven at 120 ° C. for 2 hours to obtain surface-modified Ba 2 SiO 4 : Eu 2+ .
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. in the phosphor substrate was measured. At that time, using a commercially available luminance meter (BM-7: manufactured by Topcontec House Co., Ltd.), measurement was performed with 450 nm light using blue LED as excitation light. As shown in FIG. 15, the luminance of the blue LED as the excitation light was 1,000 cd / m 2 . On the other hand, the light after passing through the phosphor layer was green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance was 1,023 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency was 1.0%.
  • FIG. 15 is a table showing the results of the respective comparative examples and examples.
  • Example 1 The manufacturing process of the phosphor substrate in Example 1 will be described. First, a green phosphor layer having a thickness of 100 ⁇ m was formed on a substrate using a commercially available dispenser. The shape was trapezoidal as shown in FIG. Next, a reflective layer having a thickness of 20 nm was formed on the green phosphor layer. In that case, it formed, rotating a board
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a reflection spectrum and a transmission spectrum of the reflection layer in Example 1. As shown in FIGS. 15 and 8, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • Comparative Example 1 the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured. As shown in FIG. 15, the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 . On the other hand, the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,880 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%. there were. That is, in Example 1, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 2 The manufacturing process of the phosphor substrate in Example 2 will be described. First, a trapezoidal light absorption layer made of chromium was formed on a substrate. At that time, the width was 20 ⁇ m, the film thickness was 500 nm, and the pitch was 200 ⁇ m. Next, a green phosphor layer was formed between the light absorption layers using a commercially available dispenser. At that time, the film thickness was 100 ⁇ m, and the shape was as shown in FIG. A phosphor substrate of Example 2 was produced in the same manner as Example 1 except for the above.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 2 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,902 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%. (FIG. 15). That is, in Example 2, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 3 gold having a thickness of 40 nm was used as the reflective layer. Other than that was carried out similarly to Example 2, and produced the phosphor substrate.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 3 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 30%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 90%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, its luminance is 1,605 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 160%. (FIG. 15). That is, in Example 3, the luminance of light emission was improved 1.6 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 4 In Example 4, 30 nm-thick gold was used as the reflective layer. Other than that was carried out similarly to Example 2, and produced the fluorescent substance substrate of Example 4. FIG.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 4 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance at the peak wavelength (450 nm) of excitation light (blue light) was 60%. Further, the reflectance at the peak wavelength (547 nm) of light emission of the phosphor was 85%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,060 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 300%. (FIG. 15). That is, in Example 4, the luminance of light emission was improved by 3.0 times compared with Comparative Example 1.
  • Example 5 gold having a thickness of 10 nm was used as the reflective layer. Otherwise, a phosphor substrate was produced in the same manner as in Example 2.
  • Example 1 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 5 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 85%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 50%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 2,848 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 280%. (FIG. 15). That is, in Example 5, the luminance of light emission was improved 2.8 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 6 In Example 6, 5 nm-thick gold was used as the reflective layer. Otherwise, the phosphor substrate of Example 6 was made in the same manner as Example 2.
  • Example 6 In the same manner as in Example 1, the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 6 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 90%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 4%.
  • Comparative Example 1 the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer was green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance was 945 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency was 92%. (FIG. 15). That is, in Example 6, the luminance of light emission was reduced 0.9 times compared to Comparative Example 1.
  • FIG. 9 is a diagram showing a reflection spectrum and a transmission spectrum of the reflective layer in Example 7. As shown in FIGS. 15 and 9, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 90%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 90%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having an emission peak at 547 nm, the luminance is 4,815 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 470%. (FIG. 15). That is, in Example 7, the luminance of light emission was improved 4.7 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 8 In Example 8, 50 nm-thick gold was used as the reflective layer. Other than that was carried out similarly to Example 2, and produced the fluorescent substance board of Example 8.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 8 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance at the peak wavelength (450 nm) of excitation light (blue light) was 5%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 92%.
  • Comparative Example 1 the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer was green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance was 273 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency was 27%. (FIG. 15). That is, in Example 8, the luminance of light emission was reduced 0.3 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 9 the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Other than that was carried out similarly to Example 1, and produced the fluorescent substance substrate of Example 9.
  • FIG. 9 the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Other than that was carried out similarly to Example 1, and produced the fluorescent substance substrate of Example 9.
  • Example 9 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 9 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,898 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%. (FIG. 15). That is, in Example 9, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 10 In Example 10, the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Otherwise, the phosphor substrate of Example 10 was made in the same manner as Example 1.
  • Example 1 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 10 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, its luminance is 3,823 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 370%. (FIG. 15). That is, in Example 10, the luminance of light emission was improved 3.7 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 11 In Example 11, the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Otherwise, the phosphor substrate of Example 11 was made in the same manner as Example 2.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 11 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,912 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%.
  • FIG. 15 That is, in Example 11, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared to Comparative Example 1.
  • Example 12 In Example 12, the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Otherwise, the phosphor substrate of Example 12 was made in the same manner as Example 2.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 12 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue LED was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,879 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%.
  • FIG. 15 That is, in Example 12, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared with Comparative Example 1.
  • Example 13 In Example 13, the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. Otherwise, the phosphor substrate of Example 13 was made in the same manner as Example 2.
  • Example 2 the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 13 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength of light emission of the phosphor (547 nm) was 80%.
  • a blue light-emitting organic EL element was produced as an excitation light source.
  • an anode was formed on a 0.7 mm glass substrate.
  • silver was deposited by sputtering so as to have a film thickness of 100 nm.
  • indium-tin oxide (ITO) was formed by sputtering.
  • the film thickness was 20 nm.
  • it was patterned into a 2 mm wide stripe using a conventional photolithography method. Thus, the formation of the anode was completed.
  • the edge cover has a structure in which the short side of the anode covers only 10 ⁇ m from the end. After washing with water, ultrasonic cleaning with pure water (10 minutes), ultrasonic cleaning with acetone (10 minutes), and isopropyl alcohol vapor cleaning (5 minutes) were performed. Further, it was dried at 120 ° C. for 1 hour.
  • this substrate was fixed to a substrate holder in a resistance heating vapor deposition apparatus, and the pressure was reduced to a vacuum of 1 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa or less to form each organic layer.
  • a hole injection material 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane (TAPC) is used, and a hole injection layer 14 having a thickness of 100 nm is formed by resistance heating vapor deposition. did.
  • TAPC 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane
  • N N, N′-di-l-naphthyl-N, N′-diphenyl-1,1′-biphenyl-1,1′-biphenyl-4,4′-diamine
  • a hole transport layer having a thickness of 40 nm is formed by resistance heating vapor deposition.
  • This blue organic light-emitting layer consists of 1,4-bis-triphenylsilyl-benzene (UGH-2) (host material) and bis [2- (4 ', 6'-difluorophenyl) pyridinate-N, C2'] tetrakis It was prepared by co-evaporation with (1-pyrazolyl) borate (Fir6) (blue phosphorescent dopant). At that time, the former deposition rate was set to 1.5 ⁇ / sec, and the latter deposition rate was set to 0.2 ⁇ / sec.
  • a hole blocking layer 17 (thickness: 10 nm) was formed on the light emitting layer 16 using 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline (BCP).
  • an electron transport layer (thickness: 30 nm) was formed on the hole blocking layer 17 using tris (8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq 3 ).
  • an electron injection layer (thickness: 0.5 nm) was formed on the electron transport layer using lithium fluoride (LiF).
  • a cathode was formed.
  • the substrate was fixed to a metal deposition chamber.
  • the shadow mask for forming the cathode and the substrate were aligned.
  • a mask having an opening for forming a cathode having a stripe shape with a width of 2 mm was used at a position facing the stripe of the anode.
  • magnesium and silver were formed in a desired pattern (thickness: 1 nm) on the surface of the electron injection layer by vacuum deposition (co-evaporation).
  • the deposition rate of magnesium was 0.1 ⁇ / sec, and the deposition rate of silver was 0.9 ⁇ / sec.
  • silver was formed in a desired pattern (thickness: 19 nm) at a deposition rate of 1 kg / sec.
  • an inorganic sealing film made of SiO 2 having a thickness of 3 ⁇ m was formed.
  • SiO 2 was patterned and formed from the edge of the display region to the sealing area of 2 mm vertically and horizontally by a plasma CVD method using a shadow mask.
  • the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue EL element was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having a light emission peak at 547 nm, the luminance is 3,879 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 380%. (FIG. 15). That is, in Example 12, the luminance of light emission was improved 3.8 times compared with Comparative Example 1.
  • Example 14 Embodiment 14 will be described with reference to FIG.
  • FIG. 13 is a diagram showing a manufacturing process of a phosphor substrate according to an embodiment of the present invention.
  • the phosphor layer was processed into the shape shown in FIG. 2F (FIGS. 13A to 13E).
  • gold was formed into a 200 ⁇ m film by sputtering ((f) in FIG. 13).
  • the phosphor substrate of Example 13 was made in the same manner as Example 2.
  • the surface becomes flat regardless of the unevenness of the substrate in the wet state.
  • the spectral characteristics of the phosphor substrate of Example 14 were measured. As shown in FIG. 15, the transmittance of the excitation light (blue light) at the peak wavelength (450 nm) was 80%. Further, the reflectance at the peak wavelength (547 nm) of light emission of the phosphor was 85%.
  • Example 13 the luminance conversion efficiency at 25 ° C. of excitation light (450 nm) from the blue EL element was measured.
  • the brightness of the excitation light was 1,000 cd / m 2 .
  • the light after passing the excitation light through the green phosphor layer is green light emission having an emission peak at 547 nm, the luminance is 4,829 cd / m 2 , and the luminance conversion efficiency is 470%. (FIG. 15). That is, in Example 14, the luminance of light emission was improved 4.8 times compared with Comparative Example 1.
  • FIG. 15 is a diagram showing a table in which the results of the comparative example and the example are described. As can be seen from the table shown in this figure, a phosphor substrate having higher performance than that of the comparative example can be manufactured if any of the conditions of Examples 1, 2, 7, and 9 to 14 is satisfied.
  • Example 15 A manufacturing process for the display device of Example 15 will be described.
  • the display device of this embodiment includes at least a light source (blue organic EL element) and a phosphor substrate.
  • a glass substrate having a thickness of 0.7 mm is used as the phosphor substrate (FIG. 14A).
  • a red phosphor layer, a green phosphor layer, and a blue scatterer layer are formed on the glass substrate.
  • a phosphor substrate is thus obtained.
  • a light absorption layer is formed on the substrate.
  • a trapezoid made of chromium is formed with a width of 20 ⁇ m, a film thickness of 500 nm, and a pitch of 200 ⁇ m ((b) of FIG. 14).
  • red phosphor layer is formed.
  • 15 g of ethanol and 0.22 g of ⁇ -glycidoxypropyltriethoxysilane are added to 0.16 g of aerosil having an average particle diameter of 5 nm, and the mixture is stirred at room temperature for 1 hour.
  • This mixture and the red phosphor K 5 Eu 2.5 (WO 4 ) 6.25 (20 g) are transferred to a mortar, thoroughly mixed, and then heated in an oven at 70 ° C. for 2 hours. Heat in an oven at 120 ° C. for 2 hours. In this way, surface-modified K 5 Eu 2.5 (WO 4 ) 6.25 is obtained.
  • a green phosphor layer is formed.
  • ethanol (15 g) and ⁇ -glycidoxypropyltriethoxysilane (0.22 g) are first added to aerosil (0.16 g) having an average particle diameter of 5 nm, and the mixture is stirred for 1 hour at room temperature in an open system.
  • This mixture and the green phosphor Ba 2 SiO 4 : Eu 2+ (20 g) are transferred to a mortar, mixed well, and then placed in an oven at 70 ° C. for 2 hours. Heat in an oven at 120 ° C. for 2 hours.
  • surface-modified Ba 2 SiO 4 : Eu 2+ is obtained.
  • a blue scatterer layer is formed.
  • a coating liquid for forming a blue scattering layer is prepared.
  • the produced blue scattering layer forming coating solution is applied to a region on the glass substrate where the light absorption layer is not formed, by a screen printing method. Then, it is heated and dried (4 hours) in a vacuum oven (200 ° C., 10 mmHg). This completes the formation of the blue scatterer layer (FIG. 14E).
  • a glass substrate having a thickness of 0.7 mm was used as the substrate 1 for the blue organic EL element.
  • An anode was first formed on a glass substrate.
  • a film of silver was formed by a sputtering method so as to have a film thickness of 100 nm.
  • An indium-tin oxide (ITO) film was formed thereon by sputtering.
  • the film thickness was 20 nm. This completes the formation of the anode.
  • the anode was patterned into 90 stripes with a width of 160 ⁇ m and a pitch of 200 ⁇ m. At that time, a conventional photolithography method was used.
  • the edge cover has a structure in which the short side of the anode covers only 10 ⁇ m from the end. This was washed with water, followed by pure water ultrasonic cleaning (10 minutes), acetone ultrasonic cleaning (10 minutes), and isopropyl alcohol vapor cleaning (5 minutes). Further, it was dried at 120 ° C. for 1 hour.
  • this substrate was fixed to a substrate holder in a resistance heating vapor deposition apparatus, and the pressure was reduced to a vacuum of 1 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa or less to form each organic layer.
  • a hole injection material 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane (TAPC) is used, and a hole injection layer 14 having a thickness of 100 nm is formed by resistance heating vapor deposition. did.
  • TAPC 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane
  • N N, N′-di-l-naphthyl-N, N′-diphenyl-1,1′-biphenyl-1,1′-biphenyl-4,4′-diamine
  • a hole transport layer having a thickness of 40 nm is formed by resistance heating vapor deposition.
  • This blue organic light-emitting layer comprises 1,4-bis-triphenylsilyl-benzene (UGH-2) (host material) and bis [(4,6-difluorophenyl) -pyridinato-N, C2 ′] picolinate iridium (III ) (FIrpic) (blue phosphorescent dopant).
  • UH-2 1,4-bis-triphenylsilyl-benzene
  • FIrpic picolinate iridium
  • a hole blocking layer 17 (thickness: 10 nm) was formed on the light emitting layer 16 using 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline (BCP).
  • an electron transport layer (thickness: 30 nm) was formed on the hole blocking layer 17 using tris (8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq 3 ).
  • an electron injection layer (thickness: 0.5 nm) was formed on the electron transport layer using lithium fluoride (LiF).
  • a cathode was formed.
  • the substrate was fixed to a metal deposition chamber.
  • the shadow mask for forming the cathode and the substrate were aligned.
  • a mask having an opening for forming a stripe-shaped cathode having a width of 500 ⁇ m and a pitch of 600 ⁇ m at a position facing the stripe of the anode was used.
  • magnesium and silver were formed in a desired pattern (thickness: 1 nm) on the surface of the electron injection layer by vacuum deposition (co-evaporation).
  • the deposition rate of magnesium was 0.1 ⁇ / sec, and the deposition rate of silver was 0.9 ⁇ / sec.
  • silver was formed in a desired pattern (thickness: 19 nm) at a deposition rate of 1 kg / sec.
  • the purpose is to emphasize the interference effect and prevent voltage drop due to wiring resistance at the cathode. This completes the formation of the cathode.
  • a microcavity effect (interference effect) appears between the anode (reflecting electrode) and the cathode (semi-transmissive electrode). Therefore, light emission energy from the organic EL element can be more efficiently propagated to the phosphor layer 3 while increasing the front luminance. Similarly, the emission peak can be adjusted to 460 nm and the half-value width can be adjusted to 50 nm by the microcavity effect.
  • an inorganic sealing film made of SiO 2 having a thickness of 3 ⁇ m was formed.
  • SiO 2 was patterned and formed from the edge of the display region to the sealing area of 2 mm vertically and horizontally by a plasma CVD method using a shadow mask.
  • the organic EL element and the phosphor substrate 5 were aligned by an alignment marker formed outside the display area. At that time, a thermosetting resin as the resin sealing film 32 was applied to the phosphor substrate in advance. Both substrates were brought into close contact via a thermosetting resin and cured by heating at 80 ° C. for 2 hours. In order to prevent the organic EL element from being deteriorated by moisture, this bonding step was performed in a dry air environment (water content: ⁇ 80 ° C.).
  • the organic EL display device was completed by connecting the terminals formed in the frame area to an external power source.
  • a desired current is applied to a desired stripe electrode by an external power source.
  • blue light emission organic EL is used as an excitation light source which can be switched arbitrarily.
  • blue light is converted into red light in the red phosphor layer.
  • blue light is converted into red light in the green phosphor layer.
  • isotropic red light emission and green light emission are obtained.
  • isotropic blue light emission is obtained from the blue scatterer layer.
  • the organic EL display device of this example was capable of full color display, and could display an image with good image quality and viewing angle characteristics.
  • Example 16 A manufacturing process of the display device of Example 16 will be described.
  • the display device of this embodiment includes at least a light source (blue organic EL element) and a phosphor substrate.
  • the blue organic EL element is driven by a thin film transistor (hereinafter referred to as “TFT”).
  • TFT thin film transistor
  • the phosphor substrate is produced by the same method as in Example 15. Hereinafter, a manufacturing process of the blue organic EL element will be described.
  • an amorphous silicon semiconductor film is formed on a glass substrate (100 ⁇ 100 mm square) by PECVD. Subsequently, a polycrystalline silicon semiconductor film was formed by crystallization treatment. Next, the polycrystalline silicon semiconductor film was patterned into a plurality of islands by photolithography. On the patterned polycrystalline silicon semiconductor layer, a gate insulating film and a gate electrode layer were formed in this order. Furthermore, it patterned by the photolithographic method.
  • the doped polycrystalline silicon semiconductor film was doped with an impurity element such as phosphorus. Thereby, a source region and a drain region were formed. Thus, a TFT element was produced. Subsequently, a planarizing film was formed. At that time, a silicon nitride film and an acrylic resin layer were laminated in this order. The silicon nitride film was formed by PECVD, and the acrylic resin layer was formed by a spin coater.
  • a silicon nitride film was formed. Thereafter, the silicon nitride film and the gate insulating film were etched together. As a result, a contact hole communicating with at least one of the source region and the drain region was formed. Subsequently, a source wiring was formed. Thereafter, an acrylic resin layer was formed. Further, a contact hole communicating with the drain region was formed at the same position as the contact hole of the drain region drilled in the gate insulating film and the silicon nitride film. This completed the active matrix substrate.
  • the function as a flattening film is realized by an acrylic resin layer.
  • the capacitor for setting the gate potential of the TFT to a constant potential is formed by interposing an insulating film such as an interlayer insulating film between the drain of the switching TFT and the source of the driving TFT.
  • the driving TFT, the anode of the red light emitting organic EL element, the anode of the green light emitting organic EL element, and the anode of the blue light emitting organic EL element are electrically connected to each other through the planarization layer.
  • a contact hole was provided to connect to the.
  • an anode (first electrode) of each pixel was formed by sputtering so as to be electrically connected to the contact hole.
  • the anode was formed by laminating Al (aluminum) having a film pressure of 150 nm and IZO (indium oxide-zinc oxide) having a film pressure of 20 nm.
  • the anode was patterned into a shape corresponding to each pixel by a conventional photolithography method.
  • the size of the anode was 300 ⁇ m ⁇ 160 ⁇ m. Further, it was formed on a 100 ⁇ 100 square substrate.
  • the size of the display unit was 80 mm ⁇ 80 mm. Sealing areas with a width of 2 mm were provided on the top, bottom, left and right of the display unit. On the short side, 2 mm terminal lead-out portions were further provided outside the sealing area. On the long side, a 2 mm terminal lead-out portion was provided for bending.
  • SiO 2 On the anode, 200 nm of SiO 2 was laminated by sputtering. Thereafter, SiO 2 is patterned so as to cover the edge portion of the anode by a conventional photolithography method. Here, the four sides are covered with SiO 2 by 10 ⁇ m from the end of the anode. This formed an edge cover.
  • the active substrate was cleaned. At that time, ultrasonic cleaning (10 minutes) was performed using acetone and IPA. Next, UV-ozone cleaning (30 minutes) was performed. The cleaned substrate was fixed to a substrate holder in an in-line type resistance heating vapor deposition apparatus. Then, the pressure was reduced to a vacuum of 1 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa or less.
  • TAPC 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane
  • N, N′-di-l-naphthyl-N, N′-diphenyl-1,1′-biphenyl-1,1′-biphenyl-4,4′-diamine NPD
  • a hole transport layer having a thickness of 40 nm was formed by resistance heating vapor deposition.
  • This blue organic light-emitting layer comprises 1,4-bis-triphenylsilyl-benzene (UGH-2) (host material) and bis [(4,6-difluorophenyl) -pyridinato-N, C2 ′] picolinate iridium ( III) (FIrpic) (blue phosphorescent dopant).
  • UH-2 1,4-bis-triphenylsilyl-benzene
  • FIrpic picolinate iridium
  • a hole blocking layer (thickness: 10 nm) was formed on the light emitting layer using 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline (BCP).
  • an electron transport layer (thickness: 30 nm) was formed on the hole blocking layer using tris (8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq 3 ).
  • an electron injection layer (thickness: 0.5 nm) was formed on the electron transport layer using lithium fluoride (LiF).
  • a cathode was formed.
  • the substrate was fixed to a metal deposition chamber.
  • the shadow mask for forming the cathode and the substrate were aligned.
  • a mask having an opening that can form a cathode in a stripe shape having a width of 2 mm at a position facing the stripe of the anode was used.
  • magnesium and silver were formed in a desired pattern (thickness: 1 nm) on the surface of the electron injection layer by vacuum deposition (co-evaporation).
  • the deposition rate of magnesium was 0.1 ⁇ / sec, and the deposition rate of silver was 0.9 ⁇ / sec.
  • silver was formed in a desired pattern (thickness: 19 nm) at a deposition rate of 1 kg / sec.
  • the purpose is to emphasize the interference effect and prevent voltage drop due to wiring resistance at the cathode. This completes the formation of the cathode.
  • a microcavity effect (interference effect) appears between the anode (reflecting electrode) and the cathode (semi-transmissive electrode). Therefore, light emission energy from the organic EL element can be more efficiently propagated to the phosphor layer 3 while increasing the front luminance. Similarly, the emission peak can be adjusted to 460 nm and the half-value width can be adjusted to 50 nm by the microcavity effect.
  • an inorganic sealing film made of SiO 2 having a thickness of 3 ⁇ m was formed.
  • SiO 2 was patterned and formed from the edge of the display region to the sealing area of 2 mm vertically and horizontally by a plasma CVD method using a shadow mask.
  • an active drive type organic EL element substrate was produced.
  • the active drive type organic EL element substrate and the phosphor substrate were aligned by an alignment marker formed outside the display area.
  • a thermosetting resin as the resin sealing film 32 was applied to the phosphor substrate in advance. Both substrates were brought into close contact via a thermosetting resin and cured by heating at 80 ° C. for 2 hours.
  • this bonding step was performed in a dry air environment (water content: ⁇ 80 ° C.).
  • an active drive type organic EL was completed by attaching a polarizing plate to the substrate in the light extraction direction.
  • connecting the terminal formed on the short side to the power supply circuit via the source driver and connecting the terminal formed on the long side to the external power supply via the gate driver is an 80 ⁇ 80 mm display.
  • An active drive organic EL display with a part was completed.
  • the active drive type organic EL display device of this embodiment a desired current is applied to each electrode by an external power source.
  • blue light emission organic EL is used as an excitation light source which can be switched arbitrarily.
  • blue light is converted into red light in the red phosphor layer.
  • blue light is converted into red light in the green phosphor layer.
  • isotropic red light emission and green light emission are obtained.
  • isotropic blue light emission is obtained from the blue scatterer layer.
  • the organic EL display device of this example was capable of full color display, and could display an image with good image quality and viewing angle characteristics.
  • Example 17 A manufacturing process of the LED display device of Example 17 will be described. First, a buffer layer made of GaN was grown to a thickness of 60 nm at 550 ° C. on the C surface of a sapphire substrate set in a reaction vessel using trimethylgallium (TMG) and ammonia (NH 3 ). Next, set the temperature to 1 The temperature was raised to 050 ° C., and an n-type contact layer made of Si-doped n-type GaN was grown to a thickness of 5 ⁇ m using SiH 4 gas in addition to TMG and NH 3 .
  • TMG trimethylgallium
  • NH 3 ammonia
  • TMA trimethylaluminum
  • a second cladding layer made of a Si-doped n-type Al 0.3 Ga 0.7 N layer is grown at a thickness of 0.2 ⁇ m at 1,050 ° C. It was.
  • the temperature is lowered to 850 ° C., and a first n-type cladding layer made of Si-doped n-type In 0.01 Ga 0.99 N is formed using TMG, trimethylindium (TMI), NH 3 and SiH 4.
  • TMG trimethylindium
  • TMI trimethylindium
  • an active layer made of non-doped In 0.05 Ga 0.95 N was grown to a thickness of 5 nm at 850 ° C. using TMG, TMI, and NH 3 .
  • a first p-type clad layer made of Mg-doped p-type In 0.01 Ga 0.99 N at 850 ° C. using TMG, TMI, and NH 3 in addition to cyclopentadienyl magnesium (CPMg) was grown to a thickness of 60 nm.
  • a second p-type cladding layer made of Mg-doped p-type Al 0.3 Ga 0.7 N is formed to a thickness of 150 nm using TMG, TMA, NH 3 , and CPMg. Growing up with.
  • a p-type contact layer made of Mg-doped p-type GaN was grown to a thickness of 600 nm using TMG, NH 3 and CPMg at 1,100 ° C.
  • the temperature was lowered to room temperature and the wafer was taken out from the reaction vessel. Then, by annealing the wafer at 720 ° C., the resistance of the p-type layer was reduced.
  • a mask having a predetermined shape was formed on the surface of the uppermost p-type contact layer, and etching was performed until the surface of the n-type contact layer was exposed. After the etching, a negative electrode made of titanium (Ti) and aluminum (Al) was formed on the surface of the n-type contact layer. A positive electrode made of nickel (Ni) and gold (Au) was formed on the surface of the p-type contact layer.
  • the wafer was separated into 350 ⁇ m square chips. Then, the produced LED chip was fixed with UV curable resin on the board
  • the produced light source substrate and phosphor substrate were aligned by an alignment marker formed outside the display unit.
  • a thermosetting resin as the resin sealing film 32 was applied to the phosphor substrate in advance. Both substrates were brought into close contact via a thermosetting resin and cured by heating at 80 ° C. for 2 hours.
  • this bonding step was performed in a dry air environment (water content: ⁇ 80 ° C.).
  • the LED display device was completed by connecting the terminals formed in the periphery to an external power source.
  • a desired current is applied to a desired stripe electrode by an external power source.
  • blue light emission organic EL is used as an excitation light source which can be switched arbitrarily.
  • blue light is converted into red light in the red phosphor layer.
  • blue light is converted into red light in the green phosphor layer.
  • isotropic red light emission and green light emission are obtained.
  • isotropic blue light emission is obtained from the blue scatterer layer.
  • the LED display device of this example was capable of full color display, and could display an image with good image quality and viewing angle characteristics.
  • Example 18 A manufacturing process for the display device of Example 18 will be described. First, a phosphor substrate was obtained by forming a red phosphor layer, a green phosphor layer, and a blue phosphor layer on a 0.7 mm glass substrate. Then, a trapezoidal low-reflection layer made of chromium was formed on the substrate with a width of 20 ⁇ m, a film thickness of 500 nm, and a pitch of 200 ⁇ m. Next, the surface of the low reflection layer was subjected to water repellent treatment by CF 4 plasma treatment.
  • red phosphor layer In forming the red phosphor layer, first, [2- [2- [4- (dimethylamino) phenyl] ethenyl] -6-methyl-4H-pyran-4-ylidene] -propanedinitrile (DCM) (0 0.02 mol / kg (solid content ratio)) was mixed with the epoxy thermosetting resin and stirred with a stirrer to prepare a red phosphor-forming coating solution. This red phosphor-forming coating solution was applied to a region on the glass where the low reflection layer was not formed, by an inkjet method. Next, a red phosphor layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed by curing in a vacuum oven (150 ° C.) for 1 hour. Here, the cross section of the red phosphor layer has a bowl-like shape due to the effect of the water repellent treatment of the low reflection layer.
  • DCM dimethylamino phenyl] ethenyl] -6-methyl-4H-pyran
  • the green phosphor layer When forming the green phosphor layer, first, 2,3,6,7-tetrahydro-11-oxo-1H, 5H, 11H- [1] benzopyrano [6,7,8-ij] quinolidine-10-carboxylic acid (Coumarin 519) (0.02 mol / kg (solid content ratio)) was mixed with an epoxy thermosetting resin and stirred with a stirrer to prepare a green phosphor-forming coating solution. This green phosphor-forming coating solution was applied to a region where a low reflection layer on the glass was not formed by an inkjet method. Next, the green phosphor layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed by curing in a vacuum oven (150 ° C.) for 1 hour. Here, the cross section of the green phosphor layer has a bowl-like shape due to the effect of the water repellent treatment of the low reflection layer.
  • the blue phosphor layer When forming the blue phosphor layer, first, 7-hydroxy-4-methylcoumarin (coumarin 4) (0.02 mol / kg (solid content ratio)) is mixed with an epoxy thermosetting resin and stirred with a stirrer. A blue phosphor-forming coating solution was prepared. This blue phosphor-forming coating solution was applied to an area of the glass where the low reflection layer was not formed by an inkjet method. Next, by curing for 1 hour in a vacuum oven (150 ° C.), a blue phosphor layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed.
  • the cross section of the blue phosphor layer has a bowl-like shape due to the effect of the water repellent treatment of the low reflection layer.
  • FIG. 10 is a diagram showing a reflection spectrum and a transmission spectrum of the reflection layer in Example 18.
  • a planarizing film was formed on the reflective layer using an acrylic resin by spin coating.
  • a polarizing film, a transparent electrode, and a light distribution film were formed by a conventional method.
  • a phosphor substrate was produced.
  • a switching element made of TFT was formed on a glass substrate by a conventional method.
  • a 100 nm ITO transparent electrode was formed so as to be in electrical contact with the TFT through a contact hole.
  • the transparent electrode was patterned by a normal photolithography method so as to have the same pitch as the pixels of the organic EL portion that had been prepared previously.
  • an alignment film was formed by a printing method.
  • the substrate on which the TFT was formed and the phosphor substrate were bonded via a 10 ⁇ m spacer.
  • a TN mode liquid crystal material was injected between both substrates. This completed the liquid crystal / phosphor part.
  • a reflective electrode was formed on a glass substrate having a thickness of 0.7 mm by a sputtering method so that silver had a thickness of 100 nm.
  • ITO indium-tin oxide
  • a reflective electrode anode was formed as an anode.
  • the anode was patterned to a desired size by a conventional photolithography method.
  • SiO 2 was laminated on the anode by sputtering. Furthermore, SiO 2 was patterned by a normal photolithography method so as to cover only the edge portion of the anode. Here, the short side is covered with SiO 2 by 10 ⁇ m from the end of the anode. After washing with water, ultrasonic cleaning with pure water (10 minutes), ultrasonic cleaning with acetone (10 minutes), and isopropyl alcohol vapor cleaning (5 minutes) were performed, respectively, followed by drying at 120 ° C. for 1 hour.
  • this substrate was fixed to a substrate holder in a resistance heating vapor deposition apparatus, and the pressure was reduced to a vacuum of 1 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa or less.
  • Each organic layer was deposited under these conditions.
  • 1,1-bis-di-4-tolylamino-phenyl-cyclohexane (TAPC) was used to form a hole injection layer having a thickness of 100 nm by resistance heating vapor deposition.
  • carbazole biphenyl (CBP) was used as a hole transport material, and a 10 nm-thick hole transport layer was formed by resistance heating vapor deposition.
  • a near ultraviolet organic light emitting layer (thickness: 30 nm) was formed on the hole transport layer.
  • This near-ultraviolet organic light-emitting layer comprises 3,5-bis (4-tert-butyl-phenyl) -4-phenyl- [1,2,4] triazole (TAZ) (near-ultraviolet phosphorescent light-emitting material) of 1.5 ⁇ / It was produced by vapor deposition at a vapor deposition rate of sec.
  • TEZ triazole
  • an electron transport layer (thickness: 20 nm) was formed on the light emitting layer using 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline (BCP).
  • an electron injection layer (thickness: 0.5 nm) was formed on the electron transport layer using lithium fluoride (LiF).
  • a cathode was formed.
  • the substrate was fixed to a metal deposition chamber.
  • the shadow mask for forming the cathode and the substrate were aligned.
  • a mask having an opening that can form a striped cathode having a width of 500 ⁇ m and a pitch of 600 ⁇ m in a direction opposite to the stripe of the anode was used.
  • magnesium and silver were formed in a desired pattern (thickness: 1 nm) on the surface of the electron injection layer by vacuum deposition (co-evaporation).
  • the deposition rate of magnesium was 0.1 ⁇ / sec, and the deposition rate of silver was 0.9 ⁇ / sec.
  • silver was formed in a desired pattern (thickness: 19 nm) at a deposition rate of 1 kg / sec.
  • the purpose is to emphasize the interference effect and prevent voltage drop due to wiring resistance at the cathode. This completes the formation of the cathode.
  • a microcavity effect (interference effect) appears between the anode (reflecting electrode) and the cathode (semi-transmissive electrode). Therefore, light emission energy from the organic EL element can be more efficiently propagated to the phosphor layer 3 while increasing the front luminance. Similarly, the emission peak was adjusted to 370 nm by the microcavity effect, and the half width was adjusted to 30 nm.
  • an inorganic protective layer made of 3 ⁇ m of SiO 2 was patterned by plasma CVD from the edge of the display portion to a sealing area of 2 mm in the vertical and horizontal directions using a shadow mask.
  • the light source substrate which consists of an organic EL element was produced by the above.
  • a desired voltage was applied from an external power source to an electrode for driving a liquid crystal while applying a current from an external power source in order to cause a desired organic EL unit to emit light.
  • a desired image with good image quality and viewing angle characteristics could be displayed.
  • the phosphor substrate of the present invention is A phosphor substrate on which a phosphor layer that emits light by excitation light is formed, A reflective film that is provided on a side surface of the phosphor layer and on a surface on which the excitation light is incident, and transmits a peak wavelength component in the excitation light and reflects a peak wavelength component in light emission from the phosphor layer It is characterized by having.
  • the reflection film transmits the peak wavelength component in the excitation light to minimize the loss of excitation light propagating to the phosphor layer, and the reflection film has a peak wavelength in light emission from the phosphor layer.
  • the reflection film By reflecting this component, it becomes possible to return (reflect) the light emission loss to the side surface of the phosphor layer due to isotropic light emission from the phosphor layer to the inside of the phosphor layer by the reflection film on the side surface.
  • the light emitted from the phosphor layer can be extracted from a desired light extraction position.
  • isotropic light emission loss from the phosphor layer that emits light on the excitation light incident side can be extracted from the light extraction side by the reflective film.
  • the light emission efficiency can be greatly improved, that is, the luminance in the light extraction direction can be greatly improved.
  • the reflection layer transmits 80% or more of the peak wavelength component in the excitation light and reflects 80% or more of the peak wavelength component in light emission from the phosphor layer. .
  • isotropic light emission from the phosphor layer can be efficiently extracted to the outside. Therefore, luminous efficiency can be improved.
  • the reflection layer preferably transmits 90% or more of the peak wavelength component in the excitation light and reflects 90% or more of the peak wavelength component in light emission from the phosphor layer.
  • isotropic light emission from the phosphor layer can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the maximum value of the film thickness on the side surface of the reflective film is It is preferable that it is larger than the maximum value of the film thickness on the front surface of the film.
  • the light emitted to the phosphor layer side is returned to the inside (reflection) while maintaining the transmittance of the excitation light to the phosphor layer in the reflecting film on the light incident side in a more effective high state.
  • isotropic light emission from the phosphor layer can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the reflective layer is preferably a film containing at least gold.
  • the excitation light can be efficiently transmitted and the light emitted from the phosphor layer can be efficiently reflected. Therefore, light emitted from the phosphor layer can be efficiently extracted in the light extraction direction.
  • the thickness of the reflective film containing at least gold is preferably 10 nm to 40 nm, and if it is within this range, the transmission characteristics of the excitation light of the reflective film containing at least gold and the emission of light from the phosphor layer are preferred. It is possible to make the light emission from the phosphor layer to the outside more efficiently by making the reflection characteristics compatible.
  • the thickness of the reflective film is 10 nm or less, the transmission characteristics of the excitation light are improved, and the greater energy of the excitation light is propagated to the phosphor layer, and the luminance of the phosphor is improved. The reflection characteristics of side emission are deteriorated, and the intensity on the light extraction side is reduced.
  • the thickness of the reflective film is 40 nm or more, the reflection characteristics of isotropic light emission from the phosphor layer are improved, the transmission characteristics of excitation light on the side surface due to isotropic light emission are improved, and excitation to the phosphor layer is performed.
  • the phosphor is preferably an inorganic phosphor.
  • the light returning from the side surface of the reflective film into the phosphor layer (conventional light emission reflected between the side surfaces and deactivated by self-absorption inside the phosphor layer) is scattered by the phosphor layer.
  • the phosphor layer By scattering using the (scattering effect of the inorganic phosphor), it can be brought to the light extraction side. As a result, the emitted light can be extracted to the outside more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • a plurality of types of phosphor layers made of different phosphor materials are provided on the phosphor substrate, and a light absorption layer is provided between the phosphor layers adjacent to each other. Preferably it is.
  • the phosphor layer is preferably formed in a tapered shape.
  • the reflective layer can be simultaneously formed on the side surface of the phosphor layer and the surface on which the excitation light is incident by a simple process, an increase in cost can be suppressed.
  • the reflective layer can be uniformly formed on the phosphor, isotropic light emission can be extracted more efficiently in the light extraction direction. If the reflective layer is not uniform, unevenness occurs in the reflection characteristics, and the light extraction efficiency decreases.
  • the thickness of the reflective film decreases toward the front surface of the reflective film.
  • the excitation light is diffused at a certain angle from the excitation light source.
  • the diffused light from the excitation light excitation light source on the side of the phosphor is also reflected more effectively on the light incident side. It is possible to return (reflect) the light emitted to the phosphor layer side while keeping the transmittance of the excitation light to the phosphor layer in a high state, and isotropic from the phosphor layer. Luminescence can be taken out more efficiently. Therefore, the luminous efficiency can be further improved.
  • the display device of the present invention provides The phosphor substrate; And a light source for irradiating the phosphor substrate with excitation light having a peak wavelength from an ultraviolet region to a blue region and exciting the phosphor layer.
  • the light emission efficiency of the display device can be improved, and the power consumption and cost can be reduced.
  • the light source preferably includes an organic electroluminescent element, an inorganic electroluminescent element, or a light emitting diode.
  • the cost and power consumption of the display device can be reduced.
  • the light source is preferably driven by an active element.
  • the light emission time of the light source can be extended compared to passive driving. Therefore, the instantaneous luminance for obtaining the desired luminance can be reduced and the driving voltage can be reduced, so that the power consumption can be reduced. In addition, since it is possible to drive in a region with higher light emission efficiency in the low luminance region, power consumption can be similarly reduced.
  • the light emission is extracted from another substrate provided opposite to the substrate on which the active element is formed.
  • the aperture ratio of each pixel can be increased without being affected by active elements and wirings formed on the substrate. As a result, a display device with low power consumption can be provided.
  • the display device of the present invention preferably further includes a liquid crystal element that is provided between the phosphor substrate and the light source and is switched by voltage.
  • the liquid crystal element can be used as a switching element, a display device with excellent display quality can be provided.
  • the method of manufacturing the phosphor substrate of the present invention Forming a phosphor layer that emits light by excitation light on a substrate; A reflection film that transmits the peak wavelength component in the excitation light and reflects the peak wavelength component in the emission from the phosphor layer is formed on the side surface of the phosphor layer and the surface on which the excitation light is incident. And a step of performing.
  • a phosphor substrate capable of improving the light emission efficiency that is, improving the luminance in the light extraction direction
  • the phosphor layer is preferably formed using a screen printing method, an ink jet method, or a nozzle coating method.
  • the phosphor layer can be directly patterned on the substrate. Accordingly, the utilization efficiency of the phosphor material can be remarkably improved as compared with the case where the pattern is formed by the photolithography method. As a result, the phosphor substrate can be manufactured at a lower cost.
  • the phosphor layer can be efficiently controlled to have a desired cross-sectional shape, so that a cross-sectional shape necessary for efficient light extraction can be directly formed.
  • the phosphor substrate according to the present invention has excellent luminance conversion efficiency, it can be suitably used for a display device.

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Abstract

 本発明の蛍光体基板(5)は、励起光によって発光する蛍光体層(3)が形成された蛍光体基板(5)であって、蛍光体層(3)の側面と励起光が入射する面上とに設けられ、励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、蛍光体層(3)からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜(10)とを備えている。

Description

蛍光体基板およびその製造方法、ならびに表示装置
 本発明は、蛍光体基板およびその製造方法、ならびに当該蛍光体基板を用いた表示装置に関するものである。
 近年、高度情報化に伴い、フラットパネルディスプレイに対する需要が高まっている。このようなディスプレイとして、非自発光型の液晶ディスプレイ(LCD)、自発光型のプラズマディスプレイ(PDP)、無機エレクトロルミネセンス(無機EL)ディスプレイ、および有機エレクトロルミネセンス(有機EL)ディスプレイ等が知られている。これらの中でも、有機ELディスプレイは自発光の点で特に注目されている。
 有機ELディスプレイにおいては、主に2つの表示技術が良く知られている。1つは単純マトリクス駆動によって動画を表示する技術である。もう1つは、薄膜トランジスタ(TFT)を用いて有機EL素子をアクティブマトリクス駆動によって動画を表示する技術である。
 従来のディスプレイでは、赤色、緑色、または青色を発光する複数の画素をまとめて1つの単位として並置する。これにより、白色を代表とする様々な色を作り出し、その結果として表示画像をフルカラー化する。この実現のため、有機EL素子の場合、一般的に、シャドーマスクを用いたマスク蒸着法によって有機発光層を塗り分けることによって、赤色、緑色、および青色の画素を形成する。
 しかしこの方法では、マスクの加工精度、マスクのアライメント精度、およびマスクの大型化がそれぞれ大きな課題となる。これら課題は、特に、テレビジョン装置に代表される大型ディスプレイの分野で顕著である。この分野における基板サイズは大型化が進んでいる。たとえば第6世代(G6、1500mm×1850mm)から第8世代(G8、2200mm×2500mm)へ、さらには第10世代(G10、2850mm×3050mm)へと世代交代を経ている。したがって、従来の方法であると、基板サイズと同等以上のマスクが必要になるため、大型基板に対応したマスクを作製したり加工したりする必要が生じる。
 一般に、マスクは非常に薄い金属によって構成される。その一般的な膜厚は50~100nm程度である。そのため、マスクの大型化は非常に困難である。また、大型化に伴いマスクの加工精度とマスクのアライメント精度とが低下することによって、発光層が混ざってしまい、その結果として表示色の混色が発生する。この混色を防止するため、通常は画素間において絶縁層を幅広く形成する。しかし画素の面積が決まっている場合、非発光部の面積が大きくなる。すなわち、画素の開口率の低下に繋がるので、輝度の低下、消費電力の上昇、および装置寿命の低下に繋がる。
 また、従来の有機ELディスプレイの製造方法では、蒸着材を基板よりも下側に配置すると共に、有機材料を下から上方向に蒸着することによって、有機層を成膜する。そのため、基板の大型化(マスクの大型化)に伴い、中央部におけるマスクの撓みが問題となる。マスクが撓むと上述した混色が発生する。さらに、一部に有機層が形成されなくなり、また上下の電極がリークする結果として欠陥が発生する可能性がある。また、マスクの熱膨張によっても前記問題は生じる。
 従来の製造方法では、マスクは、回数を重ねるごとに劣化するので、一定の回数しか使用できない。そのため、マスクが大型化すると、そのコストアップの問題に繋がる。近年、コストの問題は有機ELディスプレイにおける最大の問題とされている。
 以上に説明したように、従来のシャドーマスクによる塗り分け方式は、基板の大型化に伴い、非常に大きな問題が生じる。したがって、大型の基板では未だ現実化されておらず、G4の半分の大きさの基板において実現している程度に留まっている。
 これに対し、特許文献1には、青色~青緑色を発光する発光層を有する有機EL素子と、上記有機EL素子からの青色~青緑色光を吸収し、緑色を発光する蛍光体層からなる緑色画素および赤色を発光する蛍光体層からなる赤色画素と、色純度を向上させる目的での青色カラーフィルターからなる青色画素とを組み合わせることによってフルカラーを発光させる方法が提案されている。この方法は有機層のパターン化を行う必要がないので、上記塗り分け方式に比べて簡単に製造でき、かつコスト的に優れており、マスクの制限が無くなるため、大型基板において容易に製造が可能となる。
 しかしながら、一般に、図11に示すように、基板101上に形成された蛍光体層103に、光源104から励起光が入射される場合、蛍光体層103からの発光は、各蛍光体層103から等方的に拡散する。そのため、光取り出し側(基板101側)に発光する成分(図11の実線矢印106)は、有効な発光として外部に取り出すことができるが、側面方向および光取り出し側と反対側に発光する成分(図11の破線矢印107)は、外部に取り出すことが不可能である。その結果、発光のロスとなる。光取り出し側に実際に取り出すことが可能な発光は、全体の発光の10%程度である。これは消費電力の上昇に繋がるので、表示装置の分野では大きな問題となる。
 この問題の解決の方法として、特許文献3に、蛍光体層の側面上に反射膜を設けることによって、側面に向かう光を効率良く正面から取り出す方法が提案されている。しかしこの方法では、光源側(光取り出し側と反対側)に発光する成分を取り出すことができない。
 また、特許文献2および非特許文献1には、従来の液晶表示装置と蛍光体方式とを組み合わせた自発光型の表示装置が提案されている。この装置は従来の液晶表示装置とは異なり、液晶層の外側に設けられたRGBの蛍光体層を発光させる。そのため、視野角特性の非常に優れた表示装置を実現できる。
 しかしながら、同様に、蛍光体層からの発光は等方的であるため、蛍光体層からの発光を外部に取り出す際のロスが大きく、得られる発光効率が低いという問題がある。これは消費電力の上昇に繋がり、表示装置の分野では大きな問題となる。
日本国公開特許公報「特開平3-152897号公報(1991年6月28日公開)」 日本国公開特許公報「特開2000-131683号公報(2000年5月12日公開)」 日本国公開特許公報「特開平11-329726号公報(1999年11月30日公開)」
映像情報メディア学会主催、The 16thInternational Display Workshops(IDW‘09),予稿集、p.1001,2009
 本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、蛍光体層からの光取り出し効率を向上させる共に、変換効率を大きく向上させることが可能な蛍光体基板およびその製造方法を提供することにある。
 また、本発明の他の目的は、視野角特性に優れる、すなわち、視野角によらず色純度および輝度がズレない良好な画像が得られると共に、低コスト化かつ低消費電力化が可能な表示装置を提供することにある。
 本発明の蛍光体基板は、上記の課題を解決するために、
 励起光によって発光する蛍光体層が形成された蛍光体基板であって、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに設けられ、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、反射膜が励起光におけるピーク波長の成分を透過させることによって蛍光体層へ伝搬する励起光のロスを最小限にすると共に、反射膜が蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射することによって蛍光体層からの等方発光に伴う蛍光体層の側面への発光ロスを、側面にある反射膜によって蛍光体層内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、再度、蛍光体層からの発光を所望の光取り出し位置から取り出すことが可能となる。また、励起光入射側に発光する蛍光体層からの等方的な発光ロスも、反射膜により光取り出し側から取り出すことが可能となる。結果、発光効率を大きく向上させる、すなわち光取り出し方向への輝度を大きく向上させることができる。
 また、蛍光体層のような発光体の場合、励起光が入射する面への発光が30%、側面への発光が40%となる。そのため、励起光が入射する面および側面への漏れ光を光取り出し方向に取り出すことは、発光効率の向上に非常に効果的である。
 本発明の蛍光体基板の製造方法は、上記の課題を解決するために、
 励起光によって発光する蛍光体層を、基板上に形成する工程と、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を形成する工程とを備えていることを特徴とする。
 上記製造方法によれば、発光効率を向上(すなわち光取り出し方向への輝度を向上)させることができる蛍光体基板を製造できる。
 本発明の表示装置は、上記の課題を解決するために、
 上記蛍光体基板と、
 紫外領域から青色領域のピーク波長を有し、上記蛍光体層を励起する励起光を、上記蛍光体基板に照射する光源とを備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、表示装置の発光効率を向上させ、消費電力、コストを低減させることができる。
 本発明の蛍光体基板は、
 励起光によって発光する蛍光体層が形成された蛍光体基板であって、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに設けられ、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を備えていることを特徴とする。
 これにより、蛍光体層からの光取り出し効率を向上させる共に、変換効率を大きく向上させることが可能な蛍光体基板を提供できる。
 本発明の蛍光体基板の製造方法は、
 励起光によって発光する蛍光体層を、基板上に形成する工程と、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を形成する工程とを備えていることを特徴とする。
 上記製造方法によれば、発光効率を向上(すなわち光取り出し方向への輝度を向上)させることができる蛍光体基板を製造できる。
 本発明の表示装置は、
 上記蛍光体基板と、
 紫外領域から青色領域のピーク波長を有し、上記蛍光体層を励起する励起光を、上記蛍光体基板に照射する光源とを備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、視野角特性に優れる、すなわち、視野角によらず色純度および輝度がズレない良好な画像が得られると共に、低コスト化かつ低消費電力化が可能な表示装置を提供できる。
本発明の一実施形態に係る表示装置の一構成例を模式的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る蛍光体層の形状を模式的に示す断面図であり、(a)~(f)は、本発明の一実施形態に係る蛍光体層の様々な形状をそれぞれ模式的に示す。 LED素子としての光源の構成の一例を模式的に示す断面図である。 有機EL素子としての光源の構成の一例を模式的に示す断面図である。 アクティブマトリックス駆動型有機EL表示装置の構成の一例を模式的に示す断面図である。 無機EL素子としての光源の構成の一例を模式的に示す断面図である。 有機EL素子と、液晶と、蛍光体とを組み合わせた方式の表示装置の一構成例を模式的に示す断面図である。 実施例1における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図であり、(a)は、実施例1における反射層の反射スペクトルを示し、(b)は、実施例1における反射層の透過スペクトルを示す。 実施例7における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図であり、(a)は、実施例7における反射層の反射スペクトルを示し、(b)は、実施例7における反射層の透過スペクトルを示す。 実施例18における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図であり、(a)は、実施例18における反射層の反射スペクトルを示し、(b)は、実施例18における反射層の透過スペクトルを示す。 従来技術の表示装置の一構成例を模式的に示す断面図である。 従来技術の表示装置の一構成例を模式的に示す断面図である。 実施例14に係る蛍光体基板の製造プロセスを示す図であり、(a)~(g)は、実施例14に係る蛍光体基板の製造プロセスにおける各工程をそれぞれ示す。 実施例15に係る蛍光体基板の製造プロセスを示す図であり、(a)~(f)は、実施例15に係る蛍光体基板の製造プロセスにおける各工程をそれぞれ示す。 比較例および実施例の結果を表にして示す図である。
 本発明に係る一実施形態について、図1~図7、および図12を参照して以下に説明する。
 〔本発明の概要〕
 まず、本発明の概要を説明する。本発明の蛍光体基板5は、励起光によって発光する蛍光体層3が形成された蛍光体基板5であって、蛍光体層3の側面と励起光が入射する面上とに設けられ、励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜10を備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、反射膜が励起光におけるピーク波長の成分を透過させることによって蛍光体層3へ伝搬する励起光のロスを最小限にすると共に、反射膜が蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射することによって蛍光体層3の側面への発光、および蛍光体層3の励起光が入射する面への発光の方向を変化させ、蛍光体基板5における光取り出し方向に取り出すことが可能になる(図1の実線矢印6)。結果、発光効率を大きく向上させる、すなわち光取り出し方向への輝度を大きく向上させることができる。
 また、蛍光体層3のような発光体の場合、励起光が入射する面への発光が30%、側面への発光が40%となる。そのため、励起光が入射する面および側面への漏れ光を光取り出し方向に取り出すことは、発光効率の向上に非常に効果的である。
 これに対し、図12に示す従来の表示装置のように、基板1上に形成された蛍光体層3を金属等の反射板210で覆うと、蛍光体層3の内部で発光する光は反射を利用して効率良く外部に光を取り出すことが可能となるが(図12の実線矢印206)、光源4からの蛍光体を励起するための励起光も同様に反射してしまい(図12の点線矢印209)、蛍光体層3に到達する励起光の強度が低下する。そのため、結果として、外部に取り出すことが可能な光の強度が低下する。
 つまり、蛍光体層3への励起光の入射のロスの低減と、蛍光体層3の光取り出し方向と異なる方向への発光ロスの低減との両立が、光取り出し効率の向上に重要な要因である。
 本発明では、励起光と蛍光体層3の発光スペクトルの波長が異なることに着目し、励起光は効率良く透過させると共に、蛍光体層3の発光は効率良く反射し、光取り出し方向に蛍光体からの発光を取り出す反射層10を蛍光体層3に設けることによって、効率良く蛍光体の発光を光取り出し方向に取り出す。反射層10は、光取り出し方向以外の面を覆うことが好ましい。
 ここで、蛍光体基板5では、反射層10は、励起光におけるピーク波長の成分を80%以上透過させると共に、蛍光体層3からの発光におけるピーク波長の成分を80%以上反射することが好ましい。これにより、蛍光体層3からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 また、蛍光体基板5では、上記蛍光体層3はテーパー状に形成されていることが好ましい。これにより、蛍光体層3の側面と励起光が入射する面とに反射層5を同時に簡単なプロセスで形成できるため、コストの上昇を抑制することができる。また、反射層10を均一に蛍光体層3上に形成できるので、等方的な発光をより効率よく光取り出し方向に取り出すことができる。なお、反射層10が均一でないと、反射特性にムラが生じるので光取り出し効率が低下する。
 〔表示装置50の構成〕
 以下では、図1~図5に基づいて、本実施形態における表示装置50の構成部材およびその形成方法について具体的に説明するが、本発明は後述する構成部材および形成方法には限定されない。
 図1は、本実施形態に係る表示装置50の一構成例を模式的に示す断面図である。図1に示すように、表示装置50は、蛍光体基板5と、該蛍光体基板5中の蛍光体層3を励起する光源4とを備えている。蛍光体基板5は、基板1上に、励起光によって発光する蛍光体層3と、各蛍光体層3間に形成された光吸収層2と、各蛍光体層3の側面および光源4と対向する面に形成された、励起光におけるピーク波長の成分を透過すると共に、蛍光体層3からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射層10とを備えている。
 (基板1)
 基板1には、蛍光体層3の発光領域において発光を透過させ、これによって各蛍光体層3からの発光を外部に取り出す性質が求められる。そこで基板1は、透光性を有する材料からなるものが好ましい。たとえば基板1は、ガラスまたは石英等からなる無機材料基板であったり、ポリエチレンテレフタレート、ポリカルバゾールまたはポリイミド等からなるプラスティック基板等であったりする。これらの中でも、プラスティック基板であればストレス無く湾曲部および折り曲げ部を形成できるので好ましい。
 通常、有機EL素子は特に低量の水分に対しても劣化を起こしてしまう。また、プラスティック基板は一定量の水分の透過を透過させる。したがって一般に、有機EL素子の基板としてプラスティック基板を用いた場合、水分によって有機EL素子が劣化してしまう問題が生ずる(有機EL素子にとっては最大の問題)。そこで蛍光体層3の基板1として、プラスティック基板に無機材料をコートした基板を用いればより一層好ましい。このような基板であれば、ガスバリア性が向上して水分の透過を防ぐことができるので、水分による有機EL劣化の問題を解消できる。
 (蛍光体層3)
 蛍光体層3は、青色蛍光体層、赤色蛍光体層、および緑色蛍光体層を少なくとも備えている。青色蛍光体層は、光源4からの励起光を吸収して青色に発光する。赤色蛍光体層は、光源4からの励起光を吸収して赤色に発光する。緑色蛍光体層は、光源4からの励起光を吸収して緑色に発光する。なお、光源4は、紫外発光有機EL素子、青色発光有機EL素子、紫外発光LED、または青色LED等である。
 蛍光体層3には、シアンまたはイエローに発光する蛍光体層を必要に応じて加えることができる。これによって、シアンまたはイエローに発光する画素のそれぞれの色純度を、色度図上における赤色、緑色、または青色に発光する画素の色純度の点で結ばれる三角形よりも外側にすることによって、色再現範囲を広げることが可能となる。
 蛍光体層3は、以下に例示する蛍光体材料から構成されていればよい。しかしこれに限らず、任意に添加剤等を含んでいてもよい。あるいは、これらの材料が高分子材料(結着用樹脂)または無機材料中に分散された構成であってもよい。蛍光体材料は公知の材料であればよく、有機系蛍光体材料と無機系蛍光体材料とに分類される。これらの材料として採用可能な具体的な化合物を以下に例示する。
 (有機系蛍光体材料の例)
 有機系蛍光体材料を例示する。第1に、紫外の励起光を青色発光に変換する蛍光色素として、スチルベンゼン系色素:1,4-ビス(2-メチルスチリル)ベンゼン、トランス-4,4’-ジフェニルスチルベンゼン、およびクマリン系色素:7-ヒドロキシ-4-メチルクマリン等が挙げられる。
 第2に、紫外または青色の励起光を緑色発光に変換する蛍光色素として、クマリン系色素:2,3,5,6-1H、4H-テトラヒドロ-8-トリフロメチルキノリジン(9,9a、1-gh)クマリン(クマリン153)、3-(2′-ベンゾチアゾリル)―7-ジエチルアミノクマリン(クマリン6)、3-(2′-ベンゾイミダゾリル)―7-N,N-ジエチルアミノクマリン(クマリン7)、ナフタルイミド系色素:ベーシックイエロー51、ソルベントイエロー11、およびソルベントイエロー116等が挙げられる。
 第3に、紫外または青色の励起光を赤色の発光に変換する蛍光色素としては、シアニン系色素:4-ジシアノメチレン-2-メチル-6-(p-ジメチルアミノスチルリル)-4H-ピラン、ピリジン系色素:1-エチル-2-[4-(p-ジメチルアミノフェニル)-1,3-ブタジエニル]-ピリジニウム-パークロレート、およびローダミン系色素:ローダミンB、ローダミン6G、ローダミン3B、ローダミン101、ローダミン110、ベーシックバイオレット11、およびスルホローダミン101等が挙げられる。
 (無機系蛍光体材料の例)
 無機系蛍光体材料を例示する。第1に、紫外励起光を青色発光に変換する蛍光体として、Sr227:Sn4+、Sr4Al1425:Eu2+、BaMgAl1017:Eu2+、SrGa24:Ce3+、CaGa24:Ce3+、(Ba、Sr)(Mg、Mn)Al1017:Eu2+、(Sr、Ca、Ba2、0 Mg)10(PO46Cl2:Eu2+、BaAl2SiO8:Eu2+、Sr227:Eu2+、Sr5(PO43Cl:Eu2+、(Sr,Ca,Ba)5(PO43Cl:Eu2+、BaMg2Al1627:Eu2+、(Ba,Ca)5(PO43Cl:Eu2+、Ba3MgSi28:Eu2+、およびSr3MgSi28:Eu2+等が挙げられる。
 第2に、紫外励起光または青色励起光を緑色発光に変換する蛍光体として、(BaMg)Al1627:Eu2+,Mn2+、Sr4Al1425:Eu2+、(SrBa)Al12Si28:Eu2+、(BaMg)2SiO4:Eu2+、Y2SiO5:Ce3+,Tb3+、Sr227-Sr225:Eu2+、(BaCaMg)5(PO43Cl:Eu2+、Sr2Si38-2SrCl2:Eu2+、Zr2SiO4、MgAl1119:Ce3+,Tb3+、Ba2SiO4:Eu2+、Sr2SiO4:Eu2+、および(BaSr)SiO4:Eu2+等が挙げられる。
 第3に、紫外励起光または青色励起光を赤色発光に変換する蛍光体として、Y22S:Eu3+、YAlO3:Eu3+、Ca22(SiO46:Eu3+、LiY9(SiO462:Eu3+、YVO4:Eu3+、CaS:Eu3+、Gd23:Eu3+、Gd22S:Eu3+、Y(P,V)O4:Eu3+、Mg4GeO5.5F:Mn4+、Mg4GeO6:Mn4+、K5Eu2.5(WO46.25、Na5Eu2.5(WO46.25、K5Eu2.5(MoO46.25、およびNa5Eu2.5(MoO46.25等が挙げられる。
 (無機蛍光体)
 蛍光体は、無機蛍光体であることが好ましい。これにより、反射膜10の側面から蛍光体層3中に戻ってくる光(従来では側面間で反射し蛍光体層3内部の自己吸収で失活する発光)を、蛍光体層3での散乱効果(無機蛍光体の持つ散乱効果)を利用して散乱させることによって、光取り出し側に持ってくることが可能となる。その結果、発光をより効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 無機蛍光体には表面改質処理を施してもよい。その際、シランカップリング剤等の化学的処理、または、サブミクロンオーダーの微粒子等の添加による物理的処理が可能である。これらの処理を併用するのもよい。励起光または発光による劣化等の安定性を考慮すると、無機材料を使用する方が好ましい。無機材料を用いる場合には、平均粒径(d50)が1μm~50μmであることが好ましい。平均粒径が1μm以下であると、蛍光体層3の発光効率が急激に低下する。一方、平均粒径が50μm以上であると、平坦な膜を形成することが困難になる。たとえば、光源4として有機EL素子を用いた場合、無機蛍光体層(屈折率:約2.3)と、有機EL素子(屈折率:約1.7)との間に空乏(屈折率:1.0)が出来てしまう。結果、有機EL素子からの光が効率よく無機蛍光体層に届かないので、蛍光体層3の発光効率が低下する問題が生ずる。また、蛍光体層3の平坦化が困難であると、蛍光体基板5と光源4との間に液晶層を形成できない問題が生ずる。具体的には、液晶層を挟む電極間の距離がバラバラとなり、均一に電界が掛からないため、液晶層が均一に動作しなくなる。
 (蛍光体層3の形成)
 蛍光体層3は、公知のウエットプロセスを用いて形成できる。その際、蛍光体材料と蛍光体層形成用塗液とを用いる。蛍光体層形成用塗液とは、樹脂材料を溶剤に溶解し分散させた液のことである。形成にはドライプロセス、またはレーザー転写法等を適用できる。ウエットプロセスとしては、スピンコーティング法、ディッピング法、ドクターブレード法、吐出コート法(ノズルコート法)、スプレーコート法等の塗布法、インクジェット法、凸版印刷法、凹版印刷法、スクリーン印刷法、マイクログラビアコート法等の印刷法等による公知のウエットプロセスを採用できる。
 蛍光体層3は、上記の材料を用いて、ドライプロセスまたはレーザー転写法等によっても形成できる。その際、ドライプロセスとしては、抵抗加熱蒸着法、電子線(EB)蒸着法、分子線エピタキシー(MBE)法、スパッタリング法、有機気相蒸着(OVPD)法等の公知のプロセスを採用できる。
 蛍光体層3の形成には、高分子樹脂として、感光性樹脂を用いてもよい。こうすれば、フォトリソグラフィー法によって感光性樹脂をパターン化できる。感光性樹脂としては、アクリル酸系樹脂、メタクリル酸系樹脂、ポリ桂皮酸ビニル系樹脂、または硬ゴム系樹脂等の反応性ビニル基を有する感光性樹脂(光硬化型レジスト材料)を用いることができる。いずれか一種類のみを用いても良いし、あるいは複数種類の混合物を用いてもよい。
 蛍光体材料は、直接パターニングしてもよい。その際、ウエットプロセス、ドライプロセス、またはレーザー転写法等の適用が可能である。ウエットプロセスとして、インクジェット法、凸版印刷法、凹版印刷法、およびスクリーン印刷法等が利用できる。ドライプロセスとして、シャドーマスクを用いた抵抗加熱蒸着法、電子線(EB)蒸着法、分子線エピタキシー(MBE)法、スパッタリング法、または有機気相蒸着(OVPD)法等が利用できる。
 蛍光体層3の膜厚は、通常100nm~100μm程度である。なお、1μm~100μmが好ましい。膜厚が100nm未満だと、光源4からの発光を十分吸収できないので、発光効率の低下および色純度の悪化という問題が生じる。そこで、光源4からの発光の吸収を高め、色純度に悪影響を及ぼさないためには、1μm以上の膜厚が好ましい。一方、膜厚が100μmを超えると、光源4からの発光を既に十分吸収していることから、発光効率の上昇が実現されない。したがって、材料を消費するだけに留まり、材料コストのアップに繋がるという問題が生じる。
 (蛍光体層3の断面)
 図2は、本実施形態に係る蛍光体層の形状を模式的に示す断面図である。蛍光体層3の断面は、図2の(a)~図2の(f)に示すように、テーパー状に形成されていることが好ましい。これによって、蛍光体層3の側面への発光を、後述の反射層10によって効率良く外部に取り出すことができる。各蛍光体層3間に光吸収層2が形成されている場合には、蛍光体層3の断面形状は、図2の(d)~図2の(f)に示すように、光吸収層2より上面の部分においてテーパー状に形成されていることが好ましい。これによって、蛍光体層3の側面と光取り出し方向と逆側の面とに同時に効率良くかつ低コストで、反射層10を形成できる。
 蛍光体層3上は、平坦化膜42(後述)等によって平坦化することが好ましい。これによって、たとえば、光源4(有機EL素子)と蛍光体層3との間における空乏の形成を防止できる。さらに、有機EL素子基板と蛍光体基板との密着性を上げることができる。
 (光吸収層2)
 蛍光体基板5において、各蛍光体層3間には光吸収層2が形成されている。光吸収層2によって、蛍光体層3からの発光が吸収され、別の画素内の蛍光体層3に漏れ出さない。これにより、コントラストの低下を防止できる。
 光吸収層2の膜厚は、通常100nm~100μm程度である。なお、100nm~10μmが好ましい。また、光吸収層2の膜厚は、蛍光体層3の膜厚よりも小さい方が好ましい。こうすれば、蛍光体層3の側面への発光を効率良く、反射層10によって外部に取り出すことができる。
 (反射層10)
 蛍光体層3の側面と、当該蛍光体層3における光源4に対向する面(励起光が入射する面)とを覆うように、反射層10が形成されている。反射層10は蛍光体層3ごとに設けられる。反射層10は、励起光を透過すると共に、蛍光体層3からの発光を反射する性質を有する。これにより、蛍光体層3からの発光(図1の実線矢印6)を効率良く外部に取り出すことができる。
 反射層10は、励起光のピーク波長において当該励起光の80%以上を透過すると共に、蛍光体層3からの発光のピーク波長において当該発光の80%以上を反射することが好ましい。これによって、励起光は効率良く透過させつつ、蛍光体層3からの発光は効率良く反射することができる。結果、蛍光体層3からの発光を、光取り出し方向に効率よく取り出せる。さらに、励起光のピーク波長において当該励起光の90%以上を透過すると共に、蛍光体層3からの発光のピーク波長において当該発光の90%以上を反射することがより好ましい。これによって、励起光はさらに効率良く透過させつつ、蛍光体層3からの発光は効率良く反射することが可能となり、その結果、蛍光体層3からの発光を、光取り出し方向に効率よく多く取り出せる。
 反射層10の具体例として、たとえば、誘電体多層膜、金属薄膜ガラス、石英等からなる無機材料基板、ならびに、ポリエチレンテレフタレート、ポリカルバゾール、またはポリイミド等からなるプラスティック基板等が挙げられるが、これらに限定されることはない。
 なお、励起光のピーク波長において当該励起光の透過率が80%以下であり、かつ、蛍光体層3からの発光のピーク波長において当該発光の反射率が80%以下であると、蛍光体層3からの発光の光取り出す効率は、反射層10の有無に関わらず同等になる。この場合、反射層10を設ける効果が無くなる。
 (反射膜10の膜厚の好例)
 反射膜3の励起光入射側を前面とし、光取り出し側を背面としたとき、反射膜3の側面における膜厚の最大値が、反射膜3の前面における膜厚の最大値よりも大きいことが好ましい。これにより、光入射側の反射膜10での励起光の蛍光体層3への透過率を、より効果的に高い状態で維持したまま、蛍光体層3側面に捨てる発光を内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、蛍光体層3からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 また、反射膜10の膜厚は、反射膜10の前面に向かい減少していくことが好ましい。実際には、励起光は、励起光源4よりある程度の角度を持ち拡散しているが、上記構成によれば、蛍光体側面の励起光励起光源4からの拡散光も、より効果的に光入射側の反射膜10での励起光の蛍光体層3への透過率を高い状態で維持したまま、蛍光体層3側面に捨てる発光を内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、蛍光体層3からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 (金を含有する反射層10)
 反射層10は、少なくとも金を含有する膜であることが好ましい。これにより、励起光を効率良く透過させると共に、蛍光体層3からの発光は効率良く反射できる。したがって、蛍光体層3からの発光を光取り出し方向に効率良く取り出すことができる。
 また、少なくとも金を含有する反射膜10の膜厚は、10nm~40nmであることが好ましく、この範囲内だと、少なくとも金を含有する反射膜10の励起光の透過特性と蛍光体層3からの発光の反射特性とを両立させ、蛍光体層3からの発光より効率よく外部に取り出すことが可能となる。反射膜10の膜厚が10nm以下であると、励起光の透過特性は向上し、蛍光体層3へ励起光のより大きなエネルギーが伝搬し、蛍光体の輝度は向上するが、蛍光体層3からの等方発光の反射特性が悪化し、光取り出し側での強度が低下する。一方、反射膜10の膜厚が40nm以上であると、蛍光体層3からの等方発光の反射特性が向上し、等方発光による側面での励起光の透過特性が向上し、蛍光体層3へ励起光のより大きなエネルギーが伝搬し、蛍光体の輝度は向上するが、光取り出し側での強度が低下する。
 (カラーフィルター)
 基板1における光取り出し側の表面と、各蛍光体層3との間には、カラーフィルター(図示せず)が設けられていることが好ましい。カラーフィルターとして、従来の赤色カラーフィルター,緑色カラーフィルター,および青色カラーフィルターを用いることができる。これらのカラーフィルターを設けることによって、赤色画素、緑色画素、および青色画素の色純度をそれぞれ高めることが可能となるので、色再現範囲を拡大することができる。
 青色蛍光体層上に形成された青色カラーフィルター、緑色蛍光体層上に形成された緑色カラーフィルター、赤色蛍光体層上に形成された赤色カラーフィルターが、各蛍光体層3を励起する外光(光源4からの励起光以外の光)を吸収する。そのため、外光による蛍光体層3の発光を低減したり防止したりすることができる。さらに、コントラストの低下を低減したり防止したりすることができる。
 青色カラーフィルター、緑色カラーフィルター、および赤色カラーフィルターによって、蛍光体層3によって吸収されずに透過してしまう励起光が外部に漏れ出すことを防止できる。よって、蛍光体層3からの発光と励起光との混色による色純度の低下を防止できる。
 (光源4)
 光源4は、蛍光体層3を励起する光を発光し、蛍光体層3に対して照射する。励起光として、紫外領域の光(紫外光)または青色領域の光(青色光)が好ましい。紫外光は、360nm~410nmの主発光ピーク波長を有する発光が好ましい。青色光は、410nm~470nmの主発光ピーク波長を有する発光が好ましい。
 光源4として、有機エレクトロルミネッセンス素子、無機エレクトロルミネッセンス素子、または発光ダイオードを用いることができる。より具体的には、たとえば、紫外LED、青色LED、紫外発光無機EL、青色発光無機EL、紫外発光有機EL、および青色発光有機EL等が挙げられるが、これらには限定されない。
 光源4には、封止膜または封止基板が設けられていることが好ましい。可能な封止膜および封止基板は、公知の封止材料および封止方法によって形成することができる。具体的には、たとえば、蛍光体基板5の光源4と対向する面上に、スピンコート法、ODF、またはラミレート法を用いて樹脂を塗布することによって、封止膜を形成できる。あるいは、プラズマCVD法、イオンプレーティング法、イオンビーム法、またはスパッタ法等によって、SiO、SiON、またはSiN等の無機膜を形成することによっても良い。または、スピンコート法、ODF、またはラミレート法を用いて、樹脂を塗布するかまたは貼り合わせることによって封止膜を形成することもできる。
 蛍光体基板5の光源4と対向する面の逆側から発光を取り出す場合には、封止膜および封止基板共に光透過性の材料を使用する必要がある。この封止膜によって、発光素子内への外部からの酸素や水分の混入を防止することができるので、光源4の寿命を向上させることができる。
 光源4は、直接スイッチングすることによって、画像を表示するための発光のON/OFFをコントロールできる。蛍光体層3と光源4との間には、液晶のようなシャッター機能を有する層を配置してもよい。それをコントロールすることによって、発光のON/OFFをコントロールすることも可能である。液晶のようなシャッター機能を有する層と光源4とを両方共にON/OFFをコントロールすることも可能である。
 光源4と蛍光体基板5とは、従来の紫外線硬化樹脂または熱硬化樹脂等によって接着させることできる。蛍光体基板5上に光源4を直接形成する場合には、たとえば、窒素ガスまたはアルゴンガス等の不活性ガスを、ガラスまたは金属等で封止する。封入した不活性ガス中に酸化バリウム等の吸湿剤等を混入する方が、水分による発光素子の劣化をより効果的に低減できるため好ましい。
 (光源4の具体例:有機EL素子)
 光源4として、有機EL素子を用いることもできる。たとえば、紫外発光有機ELまたは青色発光有機EL等が挙げられる。図3は、有機EL素子としての光源4の構成の一例を模式的に示す断面図である。この図に示す光源4は、基板11、陽極12、エッジカバー13、正孔注入層14、正孔輸送層15、発光層16、正孔防止層17、電子輸送層18、電子注入層19、および陰極20を備えている。
 具体的には、基板11上に、陽極12、正孔注入層14、正孔輸送層15、発光層16、正孔防止層17、電子輸送層18、電子注入層19、および陰極20が、この順で積層されている。なお、陽極12のエッジ部にはエッジカバー13が形成されている。正孔注入層14、正孔輸送層15、発光層16、正孔防止層17、電子防止層、電子輸送層18、および電子注入層19の各層は、単層構造でも多層構造でもよい。
 (基板11)
 基板11は、たとえば、ガラスまたは石英等からなる無機材料基板であればよい。または、ポリエチレンテレフタレート、ポリカルバゾール、またはポリイミド等からなるプラスティック基板であってもよい。または、アルミナ等からなるセラミックス基板であってもよい。または、アルミニウム(Al)または鉄(Fe)等からなる金属基板はであってもよい。
 基板11は、基板上に酸化シリコン(SiO)または有機絶縁材料等からなる絶縁物を表面にコーティングした基板であってもよい。または、Al等からなる金属基板の表面を陽極酸化等の方法によって絶縁化処理を施した基板等であってもよい。
 基板11として、プラスティック基板または金属基板を用いることが好ましい。これらの基板ならストレス無く湾曲部およびぼ折り曲げ部を形成できる。プラスティック基板に無機材料をコートした基板、または金属基板に無機絶縁材料をコートした基板がさらに好ましい。これらの基板なら、プラスティック基板を有機EL素子の基板として用いた場合の最大の問題となる水分の透過による有機ELの劣化を解消できる。なお、有機ELは、特に低量の水分に対しても劣化が起こることが知られている。
 有機ELの膜厚は、100~200nm程度と非常に薄い。そのため、突起による画素部での電流にリーク(ショート)が、顕著に起こることが知られている。金属基板を有機EL素子用の基板とすれば、この問題を解決できる。
 (TFTの形成)
 基板11に薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下「TFT」と称す)を形成する場合には、500℃以下の温度で融解せずかつ歪みも生じない基板を用いることが好ましい。一般的な金属基板の熱膨張率は、ガラスの熱膨張率とは異なる。そのため、従来の生産装置では金属基板上にTFTを形成することが困難である。しかし、線膨張係数が1×10-5/℃以下の鉄-ニッケル系合金である金属基板を用いて、線膨張係数をガラスに合わせ込めば、従来の生産装置を用いても、金属基板上にTFTを安価に形成できる。
 プラスティック基板の耐熱温度は非常に低い。そこで、基板11をプラスティック基板とする場合は、ガラス基板上にTFTを形成した後、当該形成されたTFTをプラスティック基板上に転写することによって形成する。
 有機EL層からの発光を、基板11と逆側から外部に取り出す場合には、基板11に制約はない。しかし、当該発光を基板11側から外部に取り出す場合には、透明または半透明の基板を用いる必要がある。
 (TFT)
 TFTは、基板11に有機EL素子を形成する前に基板11上に予め形成され、スイッチング用及び駆動用として機能する。本発明で用いられるTFTとしては、公知のTFTが挙げられる。また、本発明では、TFTの代わりに金属-絶縁体-金属(MIM)ダイオードを用いることもできる。
 基板11には、公知の材料を公知の形成方法によって、公知の構造のTFTを形成できる。TFTの活性層の材料として、たとえば無機半導体材料、酸化物半導体材料、および有機半導体材料が挙げられる。無機半導体材料として、非晶質シリコン(アモルファスシリコン)、多結晶シリコン(ポリシリコン)、微結晶シリコン、セレン化カドミウム等が用いられる。酸化物半導体材料として、酸化亜鉛および酸化インジウム-酸化ガリウム-酸化亜鉛等が用いられる。有機半導体材料として、ポリチオフェン誘導体、チオフエンオリゴマー、ポリ(p-フェリレンビニレン)誘導体、ナフタセン、およびペンタセン等が用いられる。
 TFTの構造としては、たとえば、スタガ型、逆スタガ型、トップゲート型、またはコプレーナ型が挙げられる。
 TFTを構成する活性層の形成方法としては、第1に、プラズマ誘起化学気相成長(PECVD)法により成膜したアモルファスシリコンに不純物をイオンドーピングする方法がある。第2に、シラン(SiH)ガスを用いた減圧化学気相成長(LPCVD)法によりアモルファスシリコンを形成し、固相成長法によりアモルファスシリコンを結晶化してポリシリコンを得た後、イオン打ち込み法によりイオンドーピングする方法がある。(第3に、SiHDガスを用いたLPCVD法またはSiHガスを用いたPECVD法によりアモルファスシリコンを形成し、エキシマレーザー等のレーザーによりアニールし、アモルファスシリコンを結晶化してポリシリコンを得た後、イオンドーピングを行う方法(低温プロセス)がある。第4に、LPCVD法またはPECVD法によりポリシリコン層を形成し、1,000℃以上で熱酸化することによりゲート絶縁膜を形成し、その上にn+ポリシリコンのゲート電極36を形成し、その後、イオンドーピングを行う方法(高温プロセス)がある。第5に、有機半導体材料をインクジェット法等により形成する方法がある。第6に、有機半導体材料の単結晶膜を得る方法がある。これらに限定されず、他の方法でも可能である。
 TFTのゲート絶縁膜は、公知の材料を用いて形成することができる。たとえば、PECVD法またはLPCVD法等によって、SiOをゲート絶縁膜として形成する。または、またはポリシリコン膜を熱酸化して得られるSiOを、ゲート絶縁膜として形成する。これらに限定される、他の手法でもよい。
 TFTの信号電極線、走査電極線、共通電極線、第1駆動電極、および第2駆動電極は、公知の材料を用いて形成することができる。当該材料として、たとえば、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、または銅(Cu)等が挙げられる。
 基板11上に形成されるTFTについて、上述した材料、構造、および形成方法に限定されない。
 (層間絶縁膜)
 層間絶縁膜は、公知の材料(無機材料または有機材料)を用いて形成することができる。無機材料として、たとえば、酸化シリコン(SiO)、窒化シリコン(SiN、又は、Si2N4)、または酸化タンタル(TaOまたはTa)等が挙げられる。有機材料として、アクリル樹脂またはレジスト材料等が挙げられる。
 層間絶縁膜の形成方法としては、化学気相成長(CVD)法、真空蒸着法等のドライプロセス、またはスピンコート法等のウエットプロセスが挙げられる。必要に応じてフォトリソグラフィー法等によりパターニングすることもできる。
 有機EL層からの発光を基板11の逆側(第2電極側)から取り出す場合には、遮光性を有する絶縁膜を用いることが好ましい。これにより、基板11上に形成されたTFTに外光が入射してTFT特性に変化が生じることを防止できる。なお、通常絶縁膜と、遮光性を有する絶縁膜とを組み合わせて用いることもできる。
 遮光性の層間絶縁膜として、フタロシアニンおよびキナクロドン等の顔料または染料をポリイミド等の高分子樹脂に分散したものを用いられる。または、カラーレジスト、ブラックマトリクス材料、およびNiZnFe等の無機絶縁材料等が挙げられる。しかし、これらの材料及び形成方法には限定されない。
 (平坦化膜)
 基板11上にTFT等を形成した場合には、その表面に凸凹が形成される。この凸凹によって、有機EL素子の欠陥が発生するおそれがある。当該欠陥として、たとえば、画素電極の欠損、有機EL層の欠損、対向電極の断線、画素電極と対向電極の短絡、および耐圧の低下等が想定される。これらの欠陥を防止するために、層間絶縁膜上に平坦化膜を設けてもよい。
 平坦化膜は、公知の材料を用いて形成することができる。たとえば、酸化シリコン、窒化シリコン、および酸化タンタル等の無機材料、並びにポリイミド、アクリル樹脂およびレジスト材料等の有機材料等が挙げられる。平坦化膜の形成方法としては、CVD法または真空蒸着法等のドライプロセス、並びにスピンコート法等のウエットプロセスが挙げられる。しかし、これらの材料及び形成方法には限定されない。平坦化膜の構造は単層でも多層構でもよい。
 (陽極12および陰極20)
 本発明で用いられる第1電極及び第2電極は、有機EL素子の陽極12または陰極20として対で機能する。つまり、第1電極を陽極12とした場合には、第2電極は陰極20となり、第1電極を陰極20とした場合には、第2電極は陽極12となる。以下に、陽極12および陰極20の具体的な化合物および形成方法を例示するが、これらには限定されない。
 陽極12は公知の電極材料によって形成できる。具体的には、仕事関数が4.5eV以上の金(Au)、白金(Pt)、ニッケル(Ni)等の金属、および、インジウム(In)と錫(Sn)からなる酸化物(ITO)、錫(Sn)の酸化物(SnO2)インジウム(In)と亜鉛(Zn)からなる酸化物(IZO)等が透明電極材料として挙げられる。これらの材料なら、有機EL層への正孔の注入をより効率化できる。
 陰極20は公知の電極材料によって形成できる。当該材料として、仕事関数が4.5eV以下のリチウム(Li)、カルシウム(Ca)、セリウム(Ce)、バリウム(Ba)、アルミニウム(Al)等の金属、または、これらの金属を含有するMg:Ag合金、Li:Al合金等の合金が挙げられる。これらの材料なら、有機EL層への電子の注入をより効率化できる。
 陽極12および陰極20は、上記の材料を用いて、EB蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の公知の方法によって形成することができる。しかしこれらには限定されない。必要に応じて、フォトリソグラフフィー法またはレーザー剥離法によって、形成した電極をパターン化することもできる。さらには、シャドーマスクと組み合わせることによって、直接パターン化した電極を形成することもできる。陽極12および陰極20の膜厚は、50nm以上が好ましい。膜厚が50nm未満の場合には、配線抵抗が高くなるので駆動電圧の上昇が生じるおそれがある。
 陽極12および陰極20によって、マイクロキャビティ構造を取ることができる。これにより、色純度、発光効率、および正面輝度等を向上できる。マイクロキャビティ構造を適用する際、有機EL層からの発光を陽極12から取り出す場合には、陽極12として半透明電極を用いることが好ましい。一方、有機EL層からの発光を陰極20から取り出す場合には、陰極20として半透明電極を用いることが好ましい。その際、陽極12(陰極20)の材料として、金属の半透明電極単体、もしくは、金属の半透明電極と透明電極材料の組み合わせを用いることが可能である。反射率および透過率の観点から、半透明電極材料としては銀が好ましい。半透明電極の膜厚は5~30nmが好ましい。膜厚が5nm未満であると、光の反射が不十分なので干渉の効果が十分得られない。一方で膜厚が30nmを超えると、光の透過率が急激に低下するので発光の輝度および効率が低下するおそれがある。
 陽極12(陰極20も同様)として、光を反射する反射率の高い電極を用いることが好ましい。この際に用いる電極材料としては、たとえば、アルミニウム、銀、金、アルミニウム-リチウム合金、アルミニウム-ネオジウム合金、およびアルミニウム-シリコン合金等の反射性金属電極、または、透明電極と反射性金属電極(反射電極)とを組み合わせた電極等が挙げられる。
 (エッジカバー13)
 陽極12と陰極20との間に、陽極12のエッジ部において、エッジカバー13が形成されていることが好ましい。これにより、陽極12と陰極20との間においてリークが起こることを防止できる。エッジカバー13は、絶縁材料を用いて、EB蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の公知の方法によって形成することができる。他にも、公知のドライおよびウエット法のフォトリソグラフィー法によってパターン化をすることができる。しかしこれらには限定されない.
 エッジカバー13の絶縁材料としては、公知の材料を使用できる。特に限定されないが、光を透過する必要があり、たとえば、SiO、SiON、SiN、SiOC、SiC、HfSiON、ZrO、HfO、およびLaO等が挙げられる。
 エッジカバー13の膜厚は100nm~2,000nmが好ましい。100nm以下であると絶縁性が十分ではないので、陽極12と陰極20との間でリークが起こる。その結果、消費電力の上昇および非発光の原因となる。一方で2,000nm以上であると、成膜プロセスに時間が掛かる。そのため生産性の悪化、およびエッジカバーにおける陰極20の断線の原因となる。
 光源4として用いられる有機EL素子は、マイクロキャビティ構造(光微小共振器構造)を有することが好ましい。当該構造は、陽極12および陰極20のいずれかを反射電極とし、もう一方を半透明電極として、反射電極と半透明電極との干渉効果によって実現される。または、誘電体多層膜によって実現される。マイクロキャビティ構造があれば、有機EL素子の発光を正面方向に集光させる(指向性を持たせる)ことが可能となる。その結果、周囲に逃げる発光ロスを低減できると共に、正面における発光効率を高められる。よって、有機EL素子の発光層中において生じる発光エネルギーを、蛍光体層へより効率良く伝搬できる。さらに、正面輝度を高められる。
 さらには、マイクロキャビティ構造の干渉効果によって、発光のピーク波長および半値幅を所望の値に調整できる。これにより発光スペクトルを調整できる。たとえば、赤色蛍光体層および緑色蛍光体層をより効果的に励起することが可能なスペクトルに制御する。結果、青色画素の色純度を向上させることができる。
 (正孔注入層14および正孔輸送層15)
 正孔注入層14および正孔輸送層15の材料としては、たとえば、酸化バナジウム(V)および酸化モリブデン(MoO)等の酸化物、無機p型半導体材料、ポルフィリン化合物、N,N’-ビス(3-メチルフェニル)-N,N’-ビス(フェニル)-ベンジジン(TPD)、およびN,N’-ジ(ナフタレン-1-イル)-N,N’-ジフェニル-ベンジジン(NPD)等の芳香族第三級アミン化合物、ヒドラゾン化合物、キナクリドン化合物、およびスチリルアミン化合物等の低分子材料、ならびに、ポリアニリン(PANI)、ポリアニリン-樟脳スルホン酸(PANI-CSA)、3,4-ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンサルフォネイト(PEDOT/PSS)、ポリ(トリフェニルアミン)誘導体(Poly-TPD)、ポリビニルカルバゾール(PVCz)、ポリ(p-フェニレンビニレン)(PPV)、およびポリ(p-ナフタレンビニレン)(PNV)等の高分子材料等が挙げられる。
 正孔注入層14の材料は、正孔輸送層15の材料よりも低い最高被占分子軌道(HOMO)のエネルギー準位を有することが好ましい。これによって、陽極12からの正孔の注入および輸送をより効率化できる。正孔輸送層15の材料は、正孔注入層14の材料よりも高い正孔移動度を有することが好ましい。正孔注入材料および正孔輸送材料にアクセプターをドープすることが好ましい。これによって、正孔の注入性および輸送性をより向上させることができる。アクセプターとしては、有機EL用の公知のアクセプター材料を用いることができる。具体的な化合物を以下に例示するが、これらには限定されない。
 アクセプター材料としては、Au、Pt、W,Ir、POCl3、AsF6、Cl、Br、I、酸化バナジウム(V)、および酸化モリブデン(MoO)等の無機材料、TCNQ(7,7,8,8,-テトラシアノキノジメタン)、TCNQF4(テトラフルオロテトラシアノキノジメタン)、TCNE(テトラシアノエチレン)、HCNB(ヘキサシアノブタジエン)、およびDDQ(ジシクロジシアノベンゾキノン)等のシアノ基を有sする化合物、TNF(トリニトロフルオレノン)、DNF(ジニトロフルオレノン)等のニトロ基を有する化合物、フルオラニル、クロラニル、およびブロマニル等の有機材料が挙げられる。特に、TCNQ、TCNQF4、TCNE、HCNB、およびDDQ等のシアノ基を有する化合物は、キャリア濃度をより効果的に増加させることができるためより好ましい。
 (発光層16)
 発光層16は、以下に例示する有機発光材料のみから構成されていればよい。または、発光性のドーパントとホスト材料との組み合わせによって構成されていてもよい。さらには、正孔輸送材料、電子輸送材料、および添加剤(ドナー、アクセプター等)等を任意に含んでいてもよい。これらの材料が高分子材料(結着用樹脂)または無機材料中に分散された構成であってもよい。発光効率および寿命の観点からは、ホスト材料中に発光性のドーパントが分散されたものが好ましい。
 有機発光材料として、有機EL素子用の公知の発光材料を用いることができる。このような発光材料は、低分子発光材料または高分子発光材料等に分類される。具体的な化合物を以下に例示するが、これらに限定はされない。発光材料は、蛍光材料または燐光材料等に分類されるものでもよい。低消費電力化できるため、発光効率の高い燐光材料を用いることが好ましい。具体的な化合物を以下に例示するが、これらに限定はされない。
 発光層16に任意に含まれる発光性のドーパントとしては、有機EL素子用の公知のドーパント材料を用いることができる。紫外発光材料としては、たとえば、p-クォーターフェニル、3,5,3,5テトラ-t-ブチルセクシフェニル、および3,5,3,5テトラ-t-ブチル-p-クィンクフェニル等の蛍光発光材料等が挙げられる。青色発光材料としては、たとえば、スチリル誘導体等の蛍光発光材料、ビス[(4,6-ジフルオロフェニル)-ピリジナト-N,C2’]ピコリネート イリジウム(III)(FIrpic)、およびビス(4’,6’-ジフルオロフェニルポリジナト)テトラキス(1-ピラゾイル)ボレート イリジウム(III)(FIr6)等の燐光発光有機金属錯体等が挙げられる。
 ドーパントを用いる時のホスト材料としては、有機EL素子用の公知のホスト材料を用いることができる。このようなホスト材料としては、上述した低分子発光材料、高分子発光材料、4,4’-ビス(カルバゾール)ビフェニル、9,9-ジ(4-ジカルバゾール-ベンジル)フルオレン(CPF)、3,6-ビス(トリフェニルシリル)カルバゾール(mCP)、および(PCF)等のカルバゾール誘導体、4-(ジフェニルフォスフォイル)-N,N-ジフェニルアニリン(HM-A1)等のアニリン誘導体、ならびに、1,3-ビス(9-フェニル-9H-フルオレン-9-イル)ベンゼン(mDPFB)および1,4-ビス(9-フェニル-9H-フルオレン-9-イル)ベンゼン(pDPFB)等のフルオレン誘導体等が挙げられる。
 (電荷注入輸送層18,19)
 電荷注入輸送層18,19は、電子の陰極20からの注入と発光層16への輸送(注入)をより効率よく行う目的で、電子注入層19と電子輸送層18に分類される。以下に例示する電荷注入輸送材料のみから構成されていればよい。または、任意に添加剤(ドナー、アクセプター等)等を含んでいてもよい。さらに、これらの材料が高分子材料(結着用樹脂)または無機材料中に分散された構成であってもよい。
 電荷注入輸送材料としては、有機EL用、有機光導電体用の公知の電荷輸送材料を用いることができる。このような電荷注入輸送材料は、正孔注入輸送材料および電子注入輸送材料に分類される。具体的な化合物を以下に例示するが、これらには限定されない。
 電子注入材料および電子輸送材料としては、たとえば、n型半導体である無機材料、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、チオピラジンジオキシド誘導体、ベンゾキノン誘導体、ナフトキノン誘導体、アントラキノン誘導体、ジフェノキノン誘導体、フルオレノン誘導体、およびベンゾジフラン誘導体等の低分子材料、ならびに、ポリ(オキサジアゾール)(Poly-OXZ)およびポリスチレン誘導体(PSS)等の高分子材料が挙げられる。電子注入材料としては、特にフッ化リチウム(LiF)およびフッ化バリウム(BaF)等のフッ化物、ならびに、酸化リチウム(LiO)等の酸化物等が挙げられる。
 電子注入層19の材料は、電子輸送層18に使用する材料よりも最低空分子軌道(LUMO)のエネルギー準位が高い方が好ましい。これによって、電子の陰極20からの注入および輸送をより効率よくできる。電子輸送層18の材料は、電子注入層19の材料よりも電子の移動度が高い材料が好ましい。電子注入材料および輸送材料にドナーをドープすることが好ましい。これによって、電子の注入および輸送性をより向上させることができる。ドナーとしては、有機EL用の公知のドナー材料を用いることができる。具体的な化合物を以下に例示するが、これらには限定されない。
 ドナー材料としては、アルカリ金属、アルカリ土類金属、希土類元素、Al、Ag、Cu、およびIn等の無機材料、アニリン類、フェニレンジアミン類、ベンジジン類(N,N,N’,N’-テトラフェニルベンジジン、N,N’-ビス-(3-メチルフェニル)-N,N’-ビス-(フェニル)-ベンジジン、N,N’-ジ(ナフタレン-1-イル)-N,N’-ジフェニル-ベンジジン等)、トリフェニルアミン類(トリフェニルアミン、4,4’4''-トリス(N,N-ジフェニル-アミノ)-トリフェニルアミン、4,4’4''-トリス(N-3-メチルフェニル-N-フェニル-アミノ)-トリフェニルアミン、4,4’4''-トリス(N-(1-ナフチル)-N-フェニル-アミノ)-トリフェニルアミン等)、およびトリフェニルジアミン類(N,N’-ジ-(4-メチル-フェニル)-N,N’-ジフェニル-1,4-フェニレンジアミン)等の芳香族3級アミンを骨格にもつ化合物、フェナントレン、ピレン、ペリレン、アントラセン、テトラセン、およびペンタセン等の縮合多環化合物(ただし、縮合多環化合物は置換基を有してもよい)、TTF(テトラチアフルバレン)類、ならびに、ジベンゾフラン、フェノチアジン、およびカルバゾール等の有機材料がある。特に、芳香族3級アミンを骨格にもつ化合物、縮合多環化合物、アルカリ金属がよりキャリア濃度を効果的に増加させることが可能であるためより好ましい。
 (各層の形成方法)
 正孔注入層14、正孔輸送層15、発光層16、電子輸送層18、および電子注入層19等の有機EL層は、各種の手法によって形成できる。たとえば、上記の材料を溶剤に溶解し分散させた有機EL層形成用塗液を用いて、スピンコーティング法、ディッピング法、ドクターブレード法、吐出コート法、スプレーコート法等の塗布法、インクジェット法、凸版印刷法、凹版印刷法、スクリーン印刷法、またはマイクログラビアコート法等の印刷法等による公知のウエットプロセスによって形成できる。または、上記の材料を用いて、抵抗加熱蒸着法、電子線(EB)蒸着法、分子線エピタキシー(MBE)法、スパッタリング法、または有機気相蒸着(OVPD)法等の公知のドライプロセスによっても形成できる。さらには、上記の材料を用いて、レーザー転写法等によって形成することができる。ウエットプロセスによって有機EL層を形成する場合には、有機EL層形成用塗液は、レベリング剤または粘度調整剤等の塗液の物性を調整するための添加剤を含んでいてもよい。
 各有機EL層の膜厚は、通常1~1,000nm程度である。なお、10nm~200nmが好ましい。膜厚が10nm未満であると、本来必要とされる物性(電荷の注入特性、輸送特性、閉じ込め特性)が得られない。さらに、ゴミ等の異物による画素欠陥が生じるおそれもある。膜厚が200nmを超えると、有機EL層の抵抗成分によって駆動電圧の上昇が生じるので、消費電力を上昇させる。
 (その他の層構成)
 図3に示す光源4は、正孔注入層14、正孔輸送層15、発光層16、正孔防止層17、電子輸送層18、および電子注入層19によって構成されている。しかしこれらに限定されず、たとえば、下記の構成(1)~(9)も可能である。
(1)有機発光層
(2)正孔輸送層/有機発光層
(3)有機発光層/電子輸送層
(4)正孔輸送層/有機発光層/電子輸送層
(5)正孔注入層/正孔輸送層/有機発光層/電子輸送層
(6)正孔注入層/正孔輸送層/有機発光層/電子輸送層/電子注入層
(7)正孔注入層/正孔輸送層/有機発光層/正孔防止層/電子輸送層
(8)正孔注入層/正孔輸送層/有機発光層/正孔防止層/電子輸送層/電子注入層
(9)正孔注入層/正孔輸送層/電子防止層/有機発光層/正孔防止層/電子輸送層/電子注入層
 (表示装置50の構成)
 以上に説明した表示装置50は、図4に示すアクティブマトリックス駆動型有機EL表示50として実現される。図4は、アクティブマトリックス駆動型有機EL表示50の構成の一例を模式的に示す断面図である。この図に示す表示装置50は、図1に示す蛍光体基板5と、図3に示す光源4とによって主に構成されている。表示装置50は、無機封止膜31、樹脂封止膜32、赤色発光蛍光体層33、緑色発光蛍光体層34、散乱体層35、ゲート電極36、ドレイン電極37、ソース電極38、p型コンタクト層51、ゲート配線52、層間絶縁膜53、およびソース配線54をさらに備えている。
 (光源4の具体例:LED素子)
 本発明では、光源4としてLED素子を用いることができる。たとえば、紫外LEDまたは青色LED等が挙げられる。図5は、LED素子としての光源4の構成の一例を模式的に示す断面図である。図5に示す光源4は、基板11、陽極12、陰極20、バッファ層21、n型コンタクト層22、n型クラッド層23,24、活性層25、p型クラッド層26,27、およびp型コンタクト層51を備えている。
 具体的には、基板11上には、バッファ層21、およびn型コンタクト層22が積層されている。n型コンタクト層22上には、陰極20および第2のn型クラッド層23が形成されている。第2のn型クラッド層23上には、第1のn型クラッド層24、活性層25、第1のp型クラッド層26、第2のp型クラッド層27、p型コンタクト層51、および陽極12が、この順で積層されている。
 (基板11)
 基板11は、たとえば、ガラスまたは石英等からなる無機材料基板であればよい。または、ポリエチレンテレフタレート、ポリカルバゾール、またはポリイミド等からなるプラスティック基板であってもよい。または、アルミナ等からなるセラミックス基板であってもよい。または、アルミニウム(Al)または鉄(Fe)等からなる金属基板はであってもよい。基板11は、基板上に酸化シリコン(SiO)または有機絶縁材料等からなる絶縁物を表面にコーティングした基板であってもよい。または、Al等からなる金属基板の表面を陽極酸化等の方法によって絶縁化処理を施した基板等であってもよい。
 (n型クラッド層23,24)
 n型クラッド層23,24として、LED用の公知のn型クラッド層材料を用いることができる。n型クラッド層23,24は、1層でも多層でも良い。活性層25よりもバンドギャップエネルギーが大きいn型半導体で形成される材料によってn型クラッド層23,24を構成してもよい。その際、n型クラッド層23,24と活性層25との間には正孔に対する電位障壁ができる。結果、正孔を活性層に閉じ込めることが可能となる。n型クラッド層23,24は、たとえばn型Inx Ga1-xN(0≦x<1)によって形成できるが、これには限定されない。
 (活性層25)
 活性層25は、電子と正孔との再結合によって発光する。その材料として、LED用の公知の活性層材料を用いることができる。活性層25の材料には紫外活性層材料と青色活性層材料とがある。紫外活性層材料として、AlGaN、InAlN、およびInaAlbGa1-a-bN(0≦a、0≦b、a+b≦1)が挙げられる。青色活性層材料として、Inz Ga1-z N(0<z<1)等が挙げられる。しかし活性層25はこれらには限定されない。
 活性層25は、単一量子井戸構造または多重量子井戸構造を有する。量子井戸構造の活性層25はn型およびp型のいずれでもよい。特にノンドープ(不純物無添加)とすると、バンド間発光によって発光波長の半値幅が狭くなり、色純度のよい発光が得られるため好ましい。
 活性層25に、ドナー不純物またはアクセプター不純物、あるいはこれらの両者をドープしてもよい。不純物をドープした活性層25の結晶性がノンドープと同じであれば、ドナー不純物をドープすると、ノンドープのものに比べてバンド間発光強度をさらに強くすることができる。アクセプター不純物をドープすると、バンド間発光のピーク波長よりも約0.5eV低エネルギー側にピーク波長をシフトさせることができる。しかし半値幅は広くなる。アクセプター不純物とドナー不純物との両者をドープすると、アクセプター不純物のみをドープした活性層の発光強度に比べ、その発光強度をさらに大きくできる。特に、アクセプター不純物をドープした活性層25を形成する場合、活性層25の導電型は、Si等のドナー不純物をドープしてn型とすることが好ましい。
 (p型クラッド層26,27)
 p型クラッド層26,27として、LED用の公知のp型クラッド層材料を用いることができる。p型クラッド層26,27は、1層でも多層でも良い。活性層25よりもバンドギャップエネルギーが大きいp型半導体によって形成される材料によって、p型クラッド層26,27を構成してもよい。p型クラッド層26,27と活性層25との間には、電子に対する電位障壁ができる。結果、電子を活性層に閉じ込めることが可能となる。p型クラッド層26,27は、たとえばAly Ga1-y N(0≦y≦1)によって形成できるが、これには限定されない。
 (コンタクト層22,51)
 コンタクト層22,51として、LED用の公知のコンタクト層材料を用いることができる。たとえば、n型GaNよりなるn型コンタクト層22を形成できる。p型GaNよりなるp型コンタクト層51も形成できる。コンタクト層22,51は、第2のn型クラッド層、および第2のp型クラッド層がGaNによって形成されていれば、特に形成する必要はなく、第2のクラッド層をコンタクト層とすることも可能である。
 上述した各層は、LED用の公知の成膜プロセスを用いて形成できる。しかしこれらに限定されず、たとえば、MOVPE(有機金属気相成長法)、MBE(分子線気相成長法)、またはHDVPE(ハイドライド気相成長法)等の気相成長法を用いて、たとえばサファイア(C面、A面、R面を含む)、SiC(6H-SiC、4H-SiCも含む)、スピネル(MgAl、特にその(111)面)、ZnO、Si、GaAs、または他の酸化物単結晶基板(NGO等)等の基板上に形成できる。
 (無機EL素子)
 光源4として、無機EL素子を用いることができる。たとえば、紫外発光無機ELまたは青色発光無機EL等が挙げられる。図6は、無機EL素子としての光源4の構成の一例を模式的に示す断面図である。図6に示す光源4は、基板11、電極28、誘電体層29、および発光層30を備えている。具体的には、基板11上に、電極28、誘電体層29、発光層30、誘電体層29、および電極28がこの順で積層されている。
 (基板11)
 基板11は、たとえば、ガラスまたは石英等からなる無機材料基板であればよい。または、ポリエチレンテレフタレート、ポリカルバゾール、またはポリイミド等からなるプラスティック基板であってもよい。または、アルミナ等からなるセラミックス基板であってもよい。または、アルミニウム(Al)または鉄(Fe)等からなる金属基板はであってもよい。
 基板11は、基板上に酸化シリコン(SiO)または有機絶縁材料等からなる絶縁物を表面にコーティングした基板であってもよい。または、Al等からなる金属基板の表面を陽極酸化等の方法によって絶縁化処理を施した基板等であってもよい。
 基板11として、プラスティック基板または金属基板を用いることが好ましい。これらの基板ならストレス無く湾曲部および折り曲げ部を形成できる。
 (電極28)
 電極28は、透明電極材料を用いて形成する。当該材料として、アルミニウム(Al)、金(Au)、白金(Pt)、ニッケル(Ni)等の金属が挙げられる。他にも、インジウム(In)と錫(Sn)からなる酸化物(ITO)、錫(Sn)の酸化物(SnO)インジウム(In)と亜鉛(Zn)からなる酸化物(IZO)等も挙げられる。しかし材料はこれらには限定されない。光を取り出す方向には、ITO等の透明電極を用いることが好ましい。一方、光を取り出す方向と逆側には、アルミニウム等の反射膜を用いることが好ましい。
 電極28は、上記の材料を用いて、EB蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の公知の方法によって形成できる。しかしこれらには限定されない。必要に応じて、フォトリソグラフフィー法またはレーザー剥離法によって、形成した電極をパターン化することもできる。シャドーマスクと組み合わせることによって、直接パターン化した電極を形成することもできる。電極28の膜厚は、50nm以上が好ましい。膜厚が50nm未満の場合には、配線抵抗が高くなるので、駆動電圧の上昇が生じるおそれがある。
 (誘電体層29)
 誘電体層29は、無機EL素子用の公知の誘電体材料を用いて形成することができる。当該材料として、たとえば、五酸化タンタル(Ta25)、酸化珪素(SiO)、窒化珪素(Si)、酸化アルミニウム(Al)、チタン酸アルミニウム(AlTiO)、チタン酸バリウム(BaTiO)、およびチタン酸ストロンチウム(SrTiO)等が挙げられる。しかしこれらには限定されない。
 誘電体層29は、上記の誘電体材料の中から選んだ1種類による構成であってもよく、あるいは、2種類以上の材料を積層した構成でも良い。誘電体層29の膜厚は、200nm~500nm程度が好ましい。
 (発光層30)
 発光層30は、無機EL素子用の公知の発光材料を用いて形成することができる。当該材料は、紫外発光材料および青色発光材料に分類される。紫外発光材料としては、ZnF2:Gdが挙げられる。青色発光材料としては、BaAl24:Eu、CaAl24:Eu、ZnAl24:Eu、Ba2SiS4:Ce、ZnS:Tm、SrS:Ce、SrS:Cu、CaS:Pb、および(Ba,Mg)Al:Eu等が挙げられる。しかしこれらには限定されない。発光層30の膜厚は300nm~1,000nm程度が好ましい。
 光源4としてのLED素子、無機EL素子、または有機EL素子は、直接に外部回路に接続して駆動すれば良い。あるいは、TFT素子等のアクティブ素子(スイッチング素子)を画素内に配置し、TFT等が接続される配線を光源4を駆動するための外部回路(走査線電極回路(ソースドライバ)、データ信号電極回路(ゲートドライバ)、および電源回路)に電気的に接続しても良い。
 (表示装置50の構成)
 以上に説明した表示装置50は、図7に示すように、有機EL素子と、液晶と、蛍光体とを組み合わせた方式の表示装置50として実現される。図7は、有機EL素子と、液晶と、蛍光体とを組み合わせた方式の表示装置50の一構成例を模式的に示す断面図である。この図に示す表示装置5は、図1に示す蛍光体基板5と、図3に示す光源4とによって主に構成されている。表示装置50は、偏光板44、基板45、透明電極46、配向膜47、液晶層48、および平坦化膜49をさらに備えている。また、蛍光体層3として、赤色発光蛍光体層33、緑色発光蛍光体層34、および青色発光蛍光体層43を備えている。
 (偏光板44)
 図7に示す表示装置50では、光取り出し側に偏光板44を備えている。偏光板44としては、従来の直線偏光板とλ/4板とを組み合わせたものを用いることが可能である。偏光板44を設けることによって、表示装置50の電極からの外光反射、基板もしくは封止基板の表面での外光反射を防止することができる。結果、表示装置50のコントラストを向上させることができる。
 (液晶素子)
 蛍光体層と光源4との間には、液晶素子が設けられている。液晶素子は、公知の液晶素子であればよい。たとえば、液晶セルおよび当該液晶セルを挟持する一対の偏向板44によって構成されている。しかし、これらには限定されない。偏向板44は層として形成してもよい。液晶セルは、2枚の電極基板45の間に液晶層48を担持している。さらに、液晶セルと一方の偏光板44との間に、光学異方性層が一枚配置される。または、液晶セルと双方の偏光板44との間に、光学異方性層が2枚配置されることもある。液晶セルの種類としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。たとえば、TNモード、VAモード、OCBモード、IPSモード、およびECBモードなどが挙げられる。
 液晶素子は、光源4からの発光を選択的に透過させる光シャッターとしての機能を有する。液晶素子の駆動方法は、パッシブ駆動でも良いし、TFT等のスイッチング素子を用いたアクティブ駆動でも良い。液晶素子のスイッチングと光源4のスイッチングとを組み合わせれば、消費電力をより低減させることができるのでさらに好ましい。
 図8~図11、および図13~図15を参照にして、本発明の各実施例と、比較例とを以下に詳細に説明する。しかし本発明はこれらの例に限定されない。説明の便宜上、実施形態において説明した部材と同じ機能を有する部材については、各実施例および比較例においても同じ符号を付記する。
 〔比較例1〕
 比較例1における蛍光体基板の製造プロセスについて、説明する。本比較例において、蛍光体基板用の基板は0.7mmのガラス基板である。まず、このガラス基板を水洗後、純水超音波洗浄10分、アセトン超音波洗浄10分、およびイソプロピルアルコール蒸気洗浄5分をそれぞれ行った。それから100℃にて1時間乾燥させた。
 乾燥後、基板上に膜厚100μmの緑色蛍光体層を形成した。その際、まず、平均粒径5nmのエアロジル0.16gにエタノール15gおよびγ-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン0.22gを加えて、開放系室温下において1時間攪拌した。この混合物と緑色蛍光体(Ca0.97Mg0.03:ZrO:Ho)20gとを乳鉢に移し、よくすり混ぜてから、70℃のオーブンで2時間加熱した。さらに120℃のオーブンで2時間加熱し、表面改質したBa2SiO4:Eu2+を得た。
 続いて、表面改質を施したCa0.97Mg0.03:ZrO:Ho(10g)に、水:ジメチルスルホキシド=1:1の混合溶液(300g)に溶解されたポリビニルアルコール30gを加え、分散機によって攪拌し、緑色蛍光体形成用塗液を作製した。こうして得た緑色蛍光体形成用塗液を、スクリーン印刷法によって、ガラス基板上の所望の位置に3mm幅で塗布した。引き続き、真空オーブン(200℃、10mmHgの条件)を用いて4時間加熱し乾燥させて、緑色蛍光体層を形成した。こうして蛍光体基板を完成した。
 蛍光体基板における25℃での輝度変換効率を測定した。その際、市販の輝度計(BM-7:株式会社トップコンテクノハウス社製)を用いて、青色LEDを励起光として450nmの光で測定した。図15に示すように、励起光としての青色LEDの輝度は1,000cd/mであった。一方、蛍光体層を通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、輝度は1,023cd/m、かつ輝度変換効率は1.0%であった。ここで、図15は、各比較例および実施例の結果を表にして示す図である。
 〔実施例1〕
 実施例1における蛍光体基板の製造プロセスについて説明する。まず、基板上に、膜厚100μmの緑色蛍光体層を市販のディスペンサーを用いて形成した。その形状は図2の(c)に示すような台形状にした。次に、緑色蛍光体層上に、膜厚20nmの反射層を形成した。その際、金を用いてスパッタ法によって基板を回転させながら形成した。本実施例では、緑色蛍光体層の形状と成膜法との組み合わせによって、緑色蛍光体層の背面(励起光が入射する面)および側面に均一な反射層を形成できた。上記以外は比較例1と同様にして、実施例1の蛍光体基板を作製した。
 実施例1の蛍光体基板の分光特性を、市販の分光光度計(U-2900:株式会社日立ハイテクノロジーズ社製)を用いて測定した。図8は、実施例1における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図である。図15および図8に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。図15に示すように、励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,880cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった。すなわち実施例1では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例2〕
 実施例2における蛍光体基板の製造プロセスについて説明する。まず、基板上に、クロムからなる台形状の光吸収層を形成した。その際、幅20μm、膜厚500nm、かつ200μmピッチとした。次に、光吸収層の間に、市販のディスペンサーを用いて緑色蛍光体層を形成した。その際、膜厚を100μmとし、形状を図2の(e)に示すようなものにした。上記以外は実施例1と同様にして、実施例2の蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例2の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,902cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった(図15)。すなわち実施例2では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例3〕
 実施例3では、反射層として膜厚40nmの金を用いた。それ以外は、実施例2と同様にして蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例3の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は30%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は90%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は1,605cd/mであり、かつ輝度変換効率は160%であった(図15)。すなわち実施例3では、発光の輝度は比較例1に比べて1.6倍に向上した。
 〔実施例4〕
 実施例4では、反射層として膜厚30nmの金を用いた。それ以外は実施例2と同様にして、実施例4の蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例4の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は60%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は85%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,060cd/mであり、かつ輝度変換効率は300%であった(図15)。すなわち実施例4では、発光の輝度は比較例1に比べて3.0倍に向上した。
 〔実施例5〕
 実施例5では、反射層として膜厚10nmの金を用いた。それ以外は実施例2と同様にして蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例5の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は85%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は50%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は2,848cd/mであり、かつ輝度変換効率は280%であった(図15)。すなわち実施例5では、発光の輝度は比較例1に比べて2.8倍に向上した。
 〔実施例6〕
 実施例6では、反射層として膜厚5nmの金を用いた。それ以外は、実施例2と同様にして実施例6の蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例6の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は90%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は4%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は945cd/mであり、かつ輝度変換効率は92%であった(図15)。すなわち実施例6では、発光の輝度は比較例1に比べて0.9倍に低下した。
 〔実施例7〕
 実施例7では、反射層として誘電体多層膜を用いた。具体的には、酸化チタン(TiO:屈折率=2.30)と酸化シリコン(SiO:屈折率=1.47)とをEB蒸着法によって交互に6層成膜して反射層を形成した。それ以外は、実施例2と同様にして蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例7の蛍光体基板の分光特性を測定した。図9は、実施例7における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図である。図15および図9に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は90%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は90%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は4,815cd/mであり、かつ輝度変換効率は470%であった(図15)。すなわち実施例7では、発光の輝度は比較例1に比べて4.7倍に向上した。
 〔実施例8〕
 実施例8では、反射層として膜厚50nmの金を用いた。それ以外は、実施例2と同様にして実施例8の蛍光体基板を作製した。
 実施例2と同様に、実施例8の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は5%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は92%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は273cd/mであり、かつ輝度変換効率は27%であった(図15)。すなわち実施例8では、発光の輝度は比較例1に比べて0.3倍に低下した。
 〔実施例9〕
 実施例9では、蛍光体層を図2の(a)に示す形状に加工した。それ以外は、実施例1と同様にして実施例9の蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例9の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,898cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった(図15)。すなわち実施例9では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例10〕
 実施例10では、蛍光体層を図2の(b)に示す形状に加工した。それ以外は、実施例1と同様にして実施例10の蛍光体基板を作製した。
 実施例1と同様に、実施例10の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,823cd/mであり、かつ輝度変換効率は370%であった(図15)。すなわち実施例10では、発光の輝度は比較例1に比べて3.7倍に向上した。
 〔実施例11〕
 実施例11では、蛍光体層を図2の(d)に示す形状に加工した。それ以外は、実施例2と同様にして実施例11の蛍光体基板を作製した。
 実施例2と同様に、実施例11の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,912cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった(図15)。すなわち実施例11では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例12〕
 実施例12では、蛍光体層を図2の(f)に示す形状に加工した。それ以外は、実施例2と同様にして実施例12の蛍光体基板を作製した。
 実施例2と同様に、実施例12の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 さらに、比較例1と同様に、青色LEDからの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,879cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった(図15)。すなわち実施例12では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例13〕
 実施例13では、蛍光体層を図2の(f)に示す形状に加工した。それ以外は、実施例2と同様にして実施例13の蛍光体基板を作製した。
 実施例2と同様に、実施例13の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は80%であった。
 次に、励起光源として青色発光有機EL素子を作製した。まず、0.7mmのガラス基板上に陽極を形成した。その際、銀を膜厚100nmとなるようにスパッタ法によって成膜した。その上に、インジウム-スズ酸化物(ITO)をスパッタ法によって成膜した。膜厚は20nmとした。さらに、従来のフォトリソグラフィー法を用いて、2mm幅のストライプ状にパターニングした。こうして陽極の形成を完了した。
 次に、陽極上に、SiOをスパッタ法によって200nm積層した。さらに、陽極のエッジ部のみを覆うように、パターン化した。その際、従来のフォトリソグラフィー法を用いた。こうしてエッジカバーを形成した。エッジカバーは、陽極の短辺を端から10μm分だけを覆う構造とした。これを水洗後、純水超音波洗浄(10分)、アセトン超音波洗浄(10分)、およびイソプロピルアルコール蒸気洗浄(5分)を行った。さらに120℃で1時間乾燥させた。
 次に、この基板を抵抗加熱蒸着装置内の基板ホルダーに固定し、1×10-4Pa以下の真空まで減圧して、各有機層を成膜した。具体的には、まず、正孔注入材料として、1,1-ビス-ジ-4-トリルアミノ-フェニル-シクロヘキサン(TAPC)を用い、抵抗加熱蒸着法によって膜厚100nmの正孔注入層14を形成した。
 次に、正孔輸送材料として、N,N’-di-l-ナフチル-N,N’-ジフェニル-1,1’-ビフェニル-1,1’-ビフェニル-4,4’-ジアミン(NPD)を用い、抵抗加熱蒸着法によって膜厚40nmの正孔輸送層を形成する。
 次に、正孔輸送層の上に、発光層としての青色有機発光層(厚さ:30nm)を形成した。この青色有機発光層は、1,4-ビス-トリフェニルシリル-ベンゼン(UGH-2)(ホスト材料)とビス[2-(4′,6′-ジフルオロフェニル)ピリジネート-N,C2′]テトラキス(1-ピラゾリル)ボレート(Fir6)(青色燐光発光ドーパント)とを共蒸着して作製した。その際、前者の蒸着速度を1.5Å/secとし、後者の蒸着速度を0.2Å/ secとした。
 次に、発光層16の上に2,9-ジメチルー4,7-ジフェニル-1,10-フェナントロリン(BCP)を用いて正孔防止層17(厚さ:10nm)を形成した。
 次に、正孔防止層17の上にトリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq)を用いて、電子輸送層(厚さ:30nm)を形成した。
 次に、電子輸送層の上にフッ化リチウム(LiF)を用いて、電子注入層(厚さ:0.5nm)を形成した。
 この後、陰極を形成した。まず、基板を金属蒸着用チャンバーに固定した。次に、陰極形成用のシャドーマスクと基板とをアライメントした。マスクとして、陽極のストライプと対向する位置に、幅2mmストライプ状の陰極を形成するための開口部を有するものを用いた。このマスクを通じて、電子注入層の表面に真空蒸着(共蒸着)法によって、マグネシウムと銀とを所望のパターン(厚さ:1nm)で形成した。マグネシウムの蒸着速度は0.1Å/secとし、銀の蒸着速度は0.9Å/secとした。
 さらにその上に、銀を1Å/secの蒸着速度で、所望のパターン(厚さ:19nm)で形成した。
 次に、膜厚3μmのSiOからなる無機封止膜を形成した。その際、プラズマCVD法によって、シャドーマスクを用いて、SiOを表示領域の端から上下左右2mmの封止エリアまでパターニング形成した。
 以上のプロセスによって、有機EL素子からなる光源の作製を完了した。
 さらに、青色EL素子からの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は3,879cd/mであり、かつ輝度変換効率は380%であった(図15)。すなわち実施例12では、発光の輝度は比較例1に比べて3.8倍に向上した。
 〔実施例14〕
 図13を参照して実施例14を説明する。図13は、本発明の一実施例に係る蛍光体基板の製造工程を示す図である。実施例14では、蛍光体層を図2の(f)に示す形状に加工した(図13の(a)~(e))。次に、金をスパッタにより200μm成膜した(図13の(f))。その後、250℃の王水(硝酸:塩酸=1:3)を1時間処理させ、反射層中の水分を完全に乾燥させた(図13の(g))。それ以外は、実施例2と同様にして実施例13の蛍光体基板を作製した。
 ここでウエットプロセスを用いることによって、ウエット状態では、基板の凹凸に関係なく、その表面は平らとなる。この状態で、実施例2と同様に、実施例14の蛍光体基板の分光特性を測定した。図15に示すように、励起光(青色光)のピーク波長(450nm)における透過率は80%であった。また、蛍光体の発光のピーク波長(547nm)における反射率は85%であった。
 さらに、実施例13と同様に、青色EL素子からの励起光(450nm)の、25℃における輝度変換効率を測定した。励起光の輝度は1,000cd/mであった。一方、励起光を緑色蛍光体層に通した後の光は、547nmに発光のピークを持つ緑色の発光であり、その輝度は4,829cd/mであり、かつ輝度変換効率は470%であった(図15)。すなわち実施例14では、発光の輝度は比較例1に比べて4.8倍に向上した。
 (結果の一覧)
 比較例1および実施例1~14の結果を、表にして図15にまとめて示す。図15は、比較例および実施例の結果を記載した表を示す図である。この図に示す表から分かるように、実施例1、2、7、9~14のいずれかの条件を満たせば、比較例に比べて性能の良い蛍光体基板を作製できる。
 〔実施例15〕
 実施例15の表示装置の製造プロセスを説明する。本実施例の表示装置は、光源(青色有機EL素子)と、蛍光体基板とを少なくとも備えている。
 蛍光体基板用の基板として、厚さ0.7mmのガラス基板を用いる(図14の(a))。このガラス基板上に、赤色蛍光体層、緑色蛍光体層、青色散乱体層を形成する。こうして蛍光体基板を得る。基板上にはまず光吸収層を形成する。その際、クロムからなる台形状とし、幅20μm、膜厚500nm、かつ200μmピッチで形成する(図14の(b))。
 (赤色蛍光体層の形成)
 次に、赤色蛍光体層を形成する。まず、平均粒径5nmのエアロジル0.16gにエタノール15gおよびγ-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン0.22gを加えて開放系室温下1時間攪拌する。この混合物と、赤色蛍光体K5Eu2.5(WO46.25(20g)とを乳鉢に移し、よくすり混ぜた後、70℃のオーブンで2時間加熱する。さらに120℃のオーブンで2時間加熱する。こうして、表面改質したK5Eu2.5(WO46.25を得る。
 次に、表面改質を施したK5Eu2.5(WO46.25(10g)に、水:ジメチルスルホキシド=1:1の混合溶液(300g)に溶解させたポリビニルアルコール(30g)を加え、分散機によって攪拌する。こうして赤色蛍光体形成用塗液を作製する。作製した赤色蛍光体形成用塗液を、スクリーン印刷法によって、ガラス基板上の光吸収層が形成されていない領域に塗布する。それから、真空オーブンで加熱乾燥する(200℃、10mmHgで4時間)。こうして膜厚50μmの赤色蛍光体層の形成が完了する(図14の(c))。
 (緑色蛍光体層の形成)
 次に、緑色蛍光体層を形成する。その際、まず、平均粒径5nmのエアロジル(0.16g)にエタノール(15g)およびγ-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン(0.22g)を加えて、開放系室温下で1時間攪拌する。この混合物と緑色蛍光体Ba2SiO4:Eu2+(20g)とを乳鉢に移し、よくすり混ぜた後、70℃のオーブンで2時間する。さらに120℃のオーブンで2時間加熱する。こうして、表面改質したBa2SiO4:Eu2+を得る。
 次に、表面改質を施したBa2SiO4:Eu2+(10g)に、水:ジメチルスルホキシド=1:1の混合溶液(300g)に溶解させたポリビニルアルコール(30g)を加え、分散機によって攪拌する。こうして緑色蛍光体形成用塗液を作製する。作製した緑色蛍光体形成用塗液を、スクリーン印刷法で、ガラス基板上の光吸収層が形成されていない領域に塗布する。それから真空オーブン(200℃、10mmHg)で加熱乾燥させ(4時間)する。以上で膜厚50μmの緑色蛍光体層の形成が完了する(図14の(d))。
 (青色散乱体層の形成)
 次に、青色散乱体層を形成する。その際、1.5μmのシリカ粒子(屈折率:1.65、20g)に、水:ジメチルスルホキシド=1:1の混合溶液(300g)に溶解させたポリビニルアルコール(30g)を加え、分散機によって攪拌する。こうして青色散乱層形成用塗液を作製する。作製した青色散乱層形成用塗液を、スクリーン印刷法で、ガラス基板上の光吸収層が形成されていない領域に塗布する。それから真空オーブン(200℃、10mmHg)で加熱乾燥させ(4時間)する。以上で青色散乱体層の形成が完了する(図14の(e))。
 (反射膜の形成)
 次に、各蛍光体層上に、膜厚20nmの反射層を形成する。その際、金を用いて、スパッタ法によって基板を回転させながら形成する。以上で蛍光体基板の作製が完了する(図14の(f))。
 (青色有機EL素子の製造)
 以下、光源としての青色有機EL素子の製造プロセスについて説明する。青色有機EL素子用の基板1には厚さ0.7mmのガラス基板を用いた。ガラス基板上にはまず陽極を形成した。その際、銀を膜厚100nmとなるように、スパッタ法によって成膜した。その上にインジウム-スズ酸化物(ITO)をスパッタ法によって成膜した。膜厚は20nmとした。以上で陽極の形成を完了した。さらに、陽極を160μm幅かつ200μmピッチで90本のストライプにパターニングした。その際、従来のフォトリソグラフィー法を用いた。
 次に、陽極上に、SiOをスパッタ法によって200nm積層した。さらに、陽極のエッジ部のみを覆うように、パターン化した。その際、従来のフォトリソグラフィー法を用いた。こうしてエッジカバーを形成した。エッジカバーは、陽極の短辺を端から10μm分だけを覆う構造とした。これを水洗後、純水超音波洗浄(10分)、アセトン超音波洗浄(10分)、イソプロピルアルコール蒸気洗浄(5分)を行った。さらに120℃で1時間乾燥させた。
 (各有機層の形成)
 次に、この基板を抵抗加熱蒸着装置内の基板ホルダーに固定し、1×10-4Pa以下の真空まで減圧して、各有機層を成膜した。具体的には、まず、正孔注入材料として、1,1-ビス-ジ-4-トリルアミノ-フェニル-シクロヘキサン(TAPC)を用い、抵抗加熱蒸着法によって膜厚100nmの正孔注入層14を形成した。
 次に、正孔輸送材料として、N,N’-di-l-ナフチル-N,N’-ジフェニル-1,1’-ビフェニル-1,1’-ビフェニル-4,4’-ジアミン(NPD)を用い、抵抗加熱蒸着法によって膜厚40nmの正孔輸送層を形成する。
 次に、正孔輸送層の上に、発光層としての青色有機発光層(厚さ:30nm)を形成した。この青色有機発光層は、1,4-ビス-トリフェニルシリル-ベンゼン(UGH-2)(ホスト材料)とビス[(4,6-ジフルオロフェニル)-ピリジナト-N,C2’]ピコリネート イリジウム(III)(FIrpic)(青色燐光発光ドーパント)とを共蒸着して作製した。その際、前者の蒸着速度を1.5Å/secとし、後者の蒸着速度を0.2Å/ secとした。
 次に、発光層16の上に2,9-ジメチルー4,7-ジフェニル-1,10-フェナントロリン(BCP)を用いて正孔防止層17(厚さ:10nm)を形成した。
 次に、正孔防止層17の上にトリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq)を用いて、電子輸送層(厚さ:30nm)を形成した。
 次に、電子輸送層の上にフッ化リチウム(LiF)を用いて、電子注入層(厚さ:0.5nm)を形成した。
 この後、陰極を形成した。まず、基板を金属蒸着用チャンバーに固定した。次に、陰極形成用のシャドーマスクと基板とをアライメントした。マスクとして、陽極のストライプと対向する位置に、幅500μmかつピッチ600μmのストライプ状の陰極を形成するための開口部を有するものを用いた。このマスクを通じて、電子注入層の表面に真空蒸着(共蒸着)法によって、マグネシウムと銀とを所望のパターン(厚さ:1nm)で形成した。マグネシウムの蒸着速度は0.1Å/secとし、銀の蒸着速度は0.9Å/secとした。
 さらにその上に、銀を1Å/secの蒸着速度で、所望のパターン(厚さ:19nm)で形成した。この目的は、干渉効果を強調すること、および、陰極における配線抵抗による電圧降下を防止することである。以上で陰極の形成を完了した。
 本実施例の有機EL素子では、陽極(反射電極)と陰極(半透過電極)との間において、マイクロキャビティ効果(干渉効果)が発現する。そのため、正面輝度を高めつつ、有機EL素子からの発光エネルギーをより効率良く、蛍光体層3に伝搬させることができる。また、同様にマイクロキャビティ効果によって発光ピークを460nmに調整し、かつ半値幅を50nmに調整することがそれぞれ可能になる。
 (無機封止膜の形成)
 次に、膜厚3μmのSiOからなる無機封止膜を形成した。その際、プラズマCVD法によって、シャドーマスクを用いて、SiOを表示領域の端から上下左右2mmの封止エリアまでパターニング形成した。
 以上のプロセスによって、有機EL素子からなる光源の作製を完了した。
 (位置合わせ)
 有機EL素子と蛍光体基板と5を、表示領域の外に形成されている位置合わせマーカーによって位置合わせした。その際、蛍光体基板には、事前に樹脂封止膜32としての熱硬化樹脂が塗布させた。熱硬化樹脂を介して両基板を密着し、80℃で2時間加熱することによって硬化させた。有機EL素子の水分による劣化を防止するために、この貼り合わせ工程はドライエアー環境下(水分量:-80℃)で行った。
 最後に、額縁領域に形成した端子を外部電源に接続することによって、有機EL表示装置を完成させた。
 本実施例の有機EL表示装置では、外部電源によって所望の電流を所望のストライプ状電極に印加する。これにより、青色発光有機ELを任意にスイッチング可能な励起光源として使用する。その結果、青色光を赤色蛍光体層において赤色光に変換する。また、青色光を緑色蛍光体層において赤色光に変換する。これらにより、等方的な赤色発光および緑色発光を得る。また、青色散乱体層からは等方的な青色発光を得る。結果、本実施例の有機EL表示装置はフルカラー表示が可能であり、かつ、画質および視野角特性の良い画像を表示できた。
 〔実施例16〕
 実施例16の表示装置の製造プロセスを説明する。本実施例の表示装置は、光源(青色有機EL素子)と、蛍光体基板とを少なくとも備えている。この青色有機EL素子は、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下「TFT」と称す)によって駆動される。
 蛍光体基板は、実施例15と同様の手法で作製する。以下、青色有機EL素子の製造プロセスについて説明する。
 まず、ガラス基板(100×100mm角)上に、PECVD法によって、アモルファスシリコン半導体膜を形成する。続いて、結晶化処理によって、多結晶シリコン半導体膜を形成した。次に、フォトリソグラフィー法によって、多結晶シリコン半導体膜を複数の島状にパターンニングした。パターニングした多結晶シリコン半導体層の上には、ゲート絶縁膜およびゲート電極層をこの順番で形成した。さらに、フォトリソグラフィー法によってパターニングした。
 パターニングした多結晶シリコン半導体膜に、リン等の不純物元素をドーピングした。これにより、ソース領域およびドレイン領域を形成した。これによりTFT素子を作製した。続いて平坦化膜を形成した。その際、窒化シリコン膜とアクリル系樹脂層とをこの順で積層した。窒化シリコン膜はPECVD法によって、アクリル系樹脂層はスピンコーターによって、それぞれ形成した。
 まず、窒化シリコン膜を形成した。その後、窒化シリコン膜とゲート絶縁膜とを一括してエッチングした。これにより、ソース領域およびドレイン領域の少なくともいずれかに通ずるコンタクトホールを形成した。続いて、ソース配線を形成した。その後、アクリル系樹脂層を形成した。さらに、ゲート絶縁膜および窒化シリコン膜に穿孔したドレイン領域のコンタクトホールと同じ位置に、ドレイン領域に通ずるコンタクトホールを形成した。これによりアクティブマトリクス基板を完成させた。
 平坦化膜としての機能はアクリル系樹脂層によって実現される。TFTのゲート電位を定電位にするためのコンデンサーは、スイッチング用TFTのドレインと駆動用TFTのソースとの間に、層間絶縁膜等の絶縁膜を介することによって形成された。
 アクティブマトリクス基板上には、平坦化層を貫通して、駆動用TFTと、赤色発光有機EL素子の陽極と、緑色発光有機EL素子の陽極と、青色発光有機EL素子の陽極とをそれぞれ電気的に接続するコンタクトホールを設けた。
 次に、スパッタ法によって、コンタクトホールに電気的に接続させるようにして、各画素の陽極(第1電極)を形成した。陽極は、150nmの膜圧のAl(アルミニウム)と20nmの膜圧のIZO(酸化インジウム-酸化亜鉛)とを積層して形成した。
 従来のフォトリソグラフィー法によって、陽極を各画素に対応した形状にパターン化した。陽極のサイズは300μm×160μmとした。さらに100×100角の基板に形成した。表示部のサイズは80mm×80mmとした。表示部の上下左右には2mm幅の封止エリアを設けた。短辺側には、さらに封止エリアの外にそれぞれ2mmの端子取り出し部を設けた。長辺側には、折り曲げを行う方に、2mmの端子取り出し部を設けた。
 陽極上に、SiOをスパッタ法によって200nm積層させた。その後、従来のフォトリソグラフィー法によって、陽極のエッジ部を覆うようにSiOをパターン化する。ここでは、陽極の端から10μm分だけ、4辺をSiOで覆う構造とした。これによりエッジカバーを形成した。
 次にアクティブ基板を洗浄した。その際、アセトンおよびIPAを用いて超音波洗浄(10分間)を行った。次にUV-オゾン洗浄(30分間)を行った。洗浄後の基板を、インライン型抵抗加熱蒸着装置内の基板ホルダーに固定した。そして、1×10-4Pa以下の真空まで減圧した。
 (有機層の成膜)
 この条件下で各有機層を成膜した。まず、正孔注入材料として、1,1-ビス-ジ-4-トリルアミノ-フェニル-シクロヘキサン(TAPC)を用いて、膜厚100nmの正孔注入層を抵抗加熱蒸着法によって形成した。
 次に、正孔輸送材料として、N,N’-di-l-ナフチル-N,N’-ジフェニル-1,1’-ビフェニル-1,1’-ビフェニル-4,4’-ジアミン(NPD)を用い、膜厚40nmの正孔輸送層を抵抗加熱蒸着法によって形成した。
 次に、正孔輸送層上に青色有機発光層(厚さ30nm)を形成した。この青色有機発光層は、1,4-ビス-トリフェニルシリル-ベンゼン(UGH-2)(ホスト材料)と、ビス[(4,6-ジフルオロフェニル)-ピリジナト-N,C2’]ピコリネート イリジウム(III)(FIrpic)(青色燐光発光ドーパント)とを共蒸着することによって作製した。その際、前者の蒸着速度を1.5Å/secとし、後者の蒸着速度を0.2Å/ secとした。
 次に、発光層上に2,9-ジメチルー4,7-ジフェニル-1,10-フェナントロリン(BCP)を用いて正孔防止層(厚さ:10nm)を形成した。
 次に、正孔防止層の上にトリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq)を用いて電子輸送層(厚さ:30nm)を形成した。
 次に、電子輸送層の上にフッ化リチウム(LiF)を用いて電子注入層(厚さ:0.5nm)を形成した。
 この後、陰極を形成した。まず、基板を金属蒸着用チャンバーに固定した。次に、陰極形成用のシャドーマスクと基板とをアライメントした。マスクとして、陽極のストライプと対向する位置に2mm幅のストライプ状に陰極を形成できるような開口部を有するものを用いた。このマスクを通じて、電子注入層の表面に真空蒸着(共蒸着)法によって、マグネシウムと銀とを所望のパターン(厚さ:1nm)で形成した。マグネシウムの蒸着速度は0.1Å/secとし、銀の蒸着速度は0.9Å/secとした。
 さらにその上に、銀を1Å/secの蒸着速度で、所望のパターン(厚さ:19nm)で形成した。この目的は、干渉効果を強調すること、および、陰極における配線抵抗による電圧降下を防止することである。以上で陰極の形成を完了した。
 本実施例の有機EL素子では、陽極(反射電極)と陰極(半透過電極)との間において、マイクロキャビティ効果(干渉効果)が発現する。そのため、正面輝度を高めつつ、有機EL素子からの発光エネルギーをより効率良く、蛍光体層3に伝搬させることができる。また、同様にマイクロキャビティ効果によって発光ピークを460nmに調整し、かつ半値幅を50nmに調整することがそれぞれ可能になる。
 (無機封止膜の形成)
 次に、膜厚3μmのSiOからなる無機封止膜を形成した。その際、プラズマCVD法によって、シャドーマスクを用いて、SiOを表示領域の端から上下左右2mmの封止エリアまでパターニング形成した。以上により、アクティブ駆動型有機EL素子基板を作製した。
 (位置合わせ)
 アクティブ駆動型有機EL素子基板と蛍光体基板とを、表示領域の外に形成されている位置合わせマーカーによって位置合わせした。その際、蛍光体基板には、事前に樹脂封止膜32としての熱硬化樹脂が塗布させた。熱硬化樹脂を介して両基板を密着し、80℃で2時間加熱することによって硬化させた。有機EL素子の水分による劣化を防止するために、この貼り合わせ工程はドライエアー環境下(水分量:-80℃)で行った。
 次に、光取り出し方向の基板に偏光板を張り合わせることによって、アクティブ駆動型有機ELを完成させた。
 最後に、短辺側に形成している端子をソースドライバを介して電源回路に、長辺側に形成している端子をゲートドライバを介して外部電源に接続することが、80×80mmの表示部を持つアクティブ駆動型有機ELディスプレイを完成した。
 本実施例のアクティブ駆動型有機EL表示装置では、外部電源によって所望の電流を各電極に印加する。これにより、青色発光有機ELを任意にスイッチング可能な励起光源として使用する。その結果、青色光を赤色蛍光体層において赤色光に変換する。また、青色光を緑色蛍光体層において赤色光に変換する。これらにより、等方的な赤色発光および緑色発光を得る。また、青色散乱体層からは等方的な青色発光を得る。結果、本実施例の有機EL表示装置はフルカラー表示が可能であり、かつ、画質および視野角特性の良い画像を表示できた。
 〔実施例17〕
 実施例17のLED表示装置の製造プロセスを説明する。まず、トリメチルガリウム(TMG)とアンモニア(NH)とを用いて、反応容器にセットしたサファイア基板のC面に550℃でGaNよりなるバッファ層を60nmの膜厚で成長させた。次に温度を1
,050℃まで上げ、TMGおよびNHに加えSiHガスを用い、Siドープn型GaNよりなるn型コンタクト層を5μmの膜厚で成長させた。続いて原料ガスにトリメチルアルミニウム(TMA)を加え、同じく1,050℃でSiドープn型Al0.3Ga0.7N層よりなる第2のクラッド層を0.2μmの膜厚で成長させた。
次に、温度を850℃に下げ、TMG、トリメチルインジウム(TMI)、NHおよびSiHを用いて、Siドープn型In0.01Ga0.99Nよりなる第1のn型クラッド層を60nmの膜厚で成長させた。
 次に、TMG、TMIおよびNHを用いて、850℃でノンドープIn0.05Ga0.95Nよりなる活性層を5nmの膜厚で成長させた。さらに、TMG、TMI、およびNHに加え新たにシクロペンタジエニルマグネシウム(CPMg)を用いて、850℃でMgドープp型In0.01Ga0.99Nよりなる第1のp型クラッド層を60nmの膜厚で成長させた。
 次に、温度を1100℃に上げ、TMG、TMA、NH、およびCPMgを用いて、Mgドープp型Al0.3Ga0.7Nよりなる第2のp型クラッド層を150nmの膜厚で成長させた。
 次に、1,100℃でTMG、NHおよびCPMgを用い、Mgドープp型GaNよりなるp型コンタクト層を600nmの膜厚で成長させた。
 以上の操作終了後、温度を室温まで下げてウェーハを反応容器から取り出した。そして、720℃でウェーハのアニーリングを行うことによって、p型層を低抵抗化した。次に、最上層のp型コンタクト層の表面に所定の形状のマスクを形成し、n型コンタクト層の表面が露出するまでエッチングした。エッチング後、n型コンタクト層の表面にチタン(Ti)とアルミニウム(Al)よりなる負電極を形成した。また、p型コンタクト層の表面にニッケル(Ni)と金(Au)よりなる正電極を形成した。
 これらの電極形成後、ウェーハを350μm角のチップに分離した。その後、別に用意してある外部回路に接続するための配線を形成してある基板上に、作製したLEDチップをUV硬化樹脂で固定した。さらに、LEDチップと基板上の配線とを電気的に接続することによって、青色LEDからなる光源基板を作製する。
 (位置合わせ)
 作製した光源基板と蛍光体基板とを、表示部の外に形成されている位置合わせマーカーによって位置合わせした。その際、蛍光体基板には、事前に樹脂封止膜32としての熱硬化樹脂が塗布させた。熱硬化樹脂を介して両基板を密着し、80℃で2時間加熱することによって硬化させた。有機EL素子の水分による劣化を防止するために、この貼り合わせ工程はドライエアー環境下(水分量:-80℃)で行った。
 最後に、周辺に形成している端子を外部電源に接続することによって、LED表示装置を完成した。
 本実施例のLED表示装置では、外部電源によって所望の電流を所望のストライプ状電極に印加する。これにより、青色発光有機ELを任意にスイッチング可能な励起光源として使用する。その結果、青色光を赤色蛍光体層において赤色光に変換する。また、青色光を緑色蛍光体層において赤色光に変換する。これらにより、等方的な赤色発光および緑色発光を得る。また、青色散乱体層からは等方的な青色発光を得る。結果、本実施例のLED表示装置はフルカラー表示が可能であり、かつ、画質および視野角特性の良い画像を表示できた。
 〔実施例18〕
 実施例18の表示装置の製造プロセスを説明する。まず、0.7mmのガラス基板上に、赤色蛍光体層、緑色蛍光体層、および青色蛍光体層を形成することによって、蛍光体基板を得た。それから基板上に、クロムからなる台形上の低反射層を幅20μm、膜厚500nm、かつ200μmピッチで形成した。次に、CFプラズマ処理によって、低反射層表面を撥水処理した。
 赤色蛍光体層の形成の際、まず、[2-[2-[4-(ジメチルアミノ)フェニル]エテニル]-6-メチル-4H-ピラン-4-イリデン]-プロパンジニトリル(DCM)(0.02mol/kg(固形分比))をエポキシ系熱硬化樹脂に混ぜ、攪拌機によって攪拌することによって、赤色蛍光体形成用塗液を作製した。この赤色蛍光体形成用塗液を、インクジェット法によって、ガラス上の低反射層を形成していない領域に塗布した。次に真空オーブン(150℃)で1時間硬化させることによって、膜厚2μmの赤色蛍光体層を形成した。ここで、赤色蛍光体層の断面は、低反射層の撥水処理による効果によって、蒲鉾状の形状となった。
 緑色蛍光体層の形成の際、まず、2,3,6,7-テトラヒドロ-11-オクソ-1H,5H,11H-[1]ベンゾピラノ[6,7,8-ij]キノリジン―10―カルボン酸(クマリン519)(0.02mol/kg(固形分比))をエポキシ系熱硬化樹脂に混ぜ、攪拌機により攪拌することによって、緑色蛍光体形成用塗液を作製した。この緑色蛍光体形成用塗液を、インクジェット法によって、ガラス上の低反射層を形成していない領域に塗布した。次に、真空オーブン(150℃)で1時間硬化させることによって、膜厚2μmの緑色蛍光体層を形成した。ここで、緑色蛍光体層の断面は、低反射層の撥水処理による効果によって、蒲鉾状の形状となった。
 青色蛍光体層の形成の際、まず、7-ヒドロキシ-4-メチルクマリン(クマリン4)(0.02mol/kg(固形分比))をエポキシ系熱硬化樹脂に混ぜ、攪拌機により攪拌することによって、青色蛍光体形成用塗液を作製した。この青色蛍光体形成用塗液を、インクジェット法によって、前記ガラス上の低反射層を形成していない領域に塗布した。次に、真空オーブン(150℃)で1時間硬化させることによって、膜厚2μmの青色蛍光体層を形成した。ここで、青色蛍光体層の断面は、低反射層の撥水処理による効果によって、蒲鉾状の形状となった。
 次に、反射層として誘電体多層膜を形成した。その際、酸化チタン(TiO:屈折率=2.30)と酸化シリコン(SiO:屈折率=1.47)とをいずれもEB蒸着法によって交互に6層成膜させた。これにより、図10に示す反射スペクトルおよび透過スペクトルを有する反射層を形成した。図10は、実施例18における反射層の反射スペクトルおよび透過スペクトルを示す図である。
 次に、反射層上に、スピンコート法によって、アクリル系樹脂を用いて平坦化膜を形成した。平坦化膜上には、偏光フィルム、透明電極、および配光膜を従来の方法によって形成した。これにより蛍光体基板を作製した。
 次に、ガラス基板上に、TFTからなるスイッチング素子を従来の方法によって形成した。次に、コンタクトホールとを介して前記TFTに電気的に接触するように、100nmのITO透明電極を形成した。次に、先に作製済みの有機EL部の画素と同一のピッチになるように、透明電極を通常のフォトリソグラフィー法によってパターニングした。次に、配向膜を印刷法によって形成した。
 次に、TFTを形成している基板と、蛍光体基板とを、10μmのスペーサーを介して、接着した。両基板の間にはTNモードの液晶材料を注入した。これにより液晶・蛍光体部を完成させた。
 次に、0.7mmの厚みのガラス基板上に、銀を膜厚100nmとなるようスパッタ法によって反射電極を成膜した。その上に、インジウム-スズ酸化物(ITO)を、膜厚20nmとなるようスパッタ法によって成膜した。これにより、陽極として反射電極(陽極)を形成した。さらに、従来のフォトリソグラフィー法により、所望の大きさに陽極をパターニングした。
 次に、陽極上にSiOをスパッタ法によって200nm積層した。さらに、陽極のエッジ部のみを覆うように、通常のフォトリソグラフィー法によってSiOをパターン化した。ここでは、陽極の端から10μm分だけ短辺をSiOで覆う構造とした。これを水洗後、純水超音波洗浄(10分)、アセトン超音波洗浄(10分)、およびイソプロピルアルコール蒸気洗浄(5分)をそれぞれ行い、さらに120℃にて1時間乾燥させた。
 次に、この基板を抵抗加熱蒸着装置内の基板ホルダーに固定し、1×10-4Pa以下の真空まで減圧した。
 この条件下において、各有機層を成膜させた。まず、正孔注入材料として、1,1-ビス-ジ-4-トリルアミノ-フェニル-シクロヘキサン(TAPC)を用いて、抵抗加熱蒸着法によって膜厚100nmの正孔注入層を形成した。次に正孔輸送材料として、カルバゾールビフェニル(CBP)を用いて、抵抗加熱蒸着法によって膜厚10nmの正孔輸送層を形成した。次に、正孔輸送層の上に近紫外有機発光層(厚さ:30nm)を形成した。この近紫外有機発光層は、3,5-ビス(4-t-ブチル-フェニル)-4-フェニル-[1,2,4]トリアゾール(TAZ)(近紫外燐光発光材料)を1.5Å/secの蒸着速度で蒸着することによって作製した。
 次に、発光層の上に2,9-ジメチルー4,7-ジフェニル-1,10-フェナントロリン(BCP)を用いて電子輸送層(厚さ:20nm)を形成した。次に、電子輸送層の上にフッ化リチウム(LiF)を用いて電子注入層(厚さ:0.5nm)を形成した。
 この後、陰極を形成した。まず、基板を金属蒸着用チャンバーに固定した。次に、陰極形成用のシャドーマスクと基板とをアライメントした。マスクとして、陽極のストライプと対抗する向きに500μm幅かつ600μmピッチのストライプ状の陰極を形成できるような開口部を有するものを用いた。このマスクを通じて、電子注入層の表面に真空蒸着(共蒸着)法によって、マグネシウムと銀とを所望のパターン(厚さ:1nm)で形成した。マグネシウムの蒸着速度は0.1Å/secとし、銀の蒸着速度は0.9Å/secとした。
 さらにその上に、銀を1Å/secの蒸着速度で、所望のパターン(厚さ:19nm)で形成した。この目的は、干渉効果を強調すること、および、陰極における配線抵抗による電圧降下を防止することである。以上で陰極の形成を完了した。
 本実施例の有機EL素子では、陽極(反射電極)と陰極(半透過電極)との間において、マイクロキャビティ効果(干渉効果)が発現する。そのため、正面輝度を高めつつ、有機EL素子からの発光エネルギーをより効率良く、蛍光体層3に伝搬させることができる。また、同様にマイクロキャビティ効果によって発光ピークを370nmに調整し、かつ半値幅を30nmに調整した。
 次にプラズマCVD法により、3μmのSiOからなる無機保護層をシャドーマスクを用いて、表示部の端から上下左右2mmの封止エリアまでパターニング形成した。以上により、有機EL素子からなる光源基板を作製した。
 最後に、有機EL部と液晶・蛍光体部とを位置合わせしてから熱硬化樹脂によって接続し、当該樹脂を硬化させて両者を密着させることによって、表示装置を完成した。
 この表示装置において、所望の有機EL部を発光させるために、外部電源から電流を印加しつつ、液晶を駆動させるための電極に、外部電源から所望の電圧を印加させた。この結果、画質および視野角特性の良い所望の画像を表示できた。
 本発明の蛍光体基板は、上記の課題を解決するために、
 励起光によって発光する蛍光体層が形成された蛍光体基板であって、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに設けられ、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、反射膜が励起光におけるピーク波長の成分を透過させることによって蛍光体層へ伝搬する励起光のロスを最小限にすると共に、反射膜が蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射することによって蛍光体層からの等方発光に伴う蛍光体層の側面への発光ロスを、側面にある反射膜によって蛍光体層内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、再度、蛍光体層からの発光を所望の光取り出し位置から取り出すことが可能となる。また、励起光入射側に発光する蛍光体層からの等方的な発光ロスも、反射膜により光取り出し側から取り出すことが可能となる。結果、発光効率を大きく向上させる、すなわち光取り出し方向への輝度を大きく向上させることができる。
 また、蛍光体層のような発光体の場合、励起光が入射する面への発光が30%、側面への発光が40%となる。そのため、励起光が入射する面および側面への漏れ光を光取り出し方向に取り出すことは、発光効率の向上に非常に効果的である。
 本発明の蛍光体基板では、上記反射層は、上記励起光におけるピーク波長の成分を80%以上透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を80%以上反射することが好ましい。
 上記構成によれば、蛍光体層からの等方的な発光を、効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率を向上させることができる。
 本発明の蛍光体基板では、上記反射層は、上記励起光におけるピーク波長の成分を90%以上透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を90%以上反射することが好ましい。
 上記構成によれば、蛍光体層からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 本発明の蛍光体基板では、上記反射膜の励起光入射側と励起光入射側とを前面とし、光取り出し側を背面としたとき、上記反射膜の側面における膜厚の最大値が、上記反射膜の前面における膜厚の最大値よりも大きいことをが好ましい。
 上記構成によれば、光入射側の反射膜での励起光の蛍光体層への透過率を、より効果的に高い状態で維持したまま、蛍光体層サイドに捨てる発光を内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、蛍光体層からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 本発明の蛍光体基板では、上記反射層は、少なくとも金を含有する膜であることが好ましい。
 上記構成によれば、励起光を効率良く透過させると共に、蛍光体層からの発光は効率良く反射できる。したがって、蛍光体層からの発光を光取り出し方向に効率良く取り出すことができる。
 また、少なくとも金を含有する反射膜の膜厚が、10nm~40nmであることが好ましく、この範囲内だと、少なくとも金を含有する反射膜の励起光の透過特性と蛍光体層からの発光の反射特性とを両立させ、蛍光体層からの発光をより効率よく外部に取り出すことが可能となる。反射膜の膜厚が10nm以下であると、励起光の透過特性は向上し、蛍光体層へ励起光のより大きなエネルギーが伝搬し、蛍光体の輝度は向上するが、蛍光体層からの等方発光の反射特性が悪化し、光取り出し側での強度が低下する。一方、反射膜の膜厚が40nm以上であると、蛍光体層からの等方発光の反射特性が向上し、等方発光による側面での励起光の透過特性が向上し、蛍光体層へ励起光のより大きなエネルギーが伝搬し、蛍光体の輝度は向上するが、光取り出し側での強度が低下する。
 本発明の蛍光体基板では、上記蛍光体が、無機蛍光体であることが好ましい。
 上記構成によれば、反射膜の側面から蛍光体層中に戻ってくる光(従来では側面間で反射し蛍光体層内部の自己吸収で失活する発光)を、蛍光体層での散乱効果(無機蛍光体の持つ散乱効果)を利用して散乱させることによって、光取り出し側に持ってくることが可能となる。その結果、発光をより効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 本発明の蛍光体基板では、上記蛍光体基板上に、異なる蛍光材料からなる複数種類の上記蛍光体層が設けられており、互いに隣り合う上記蛍光体層の間に光吸収層が設けられていることが好ましい。
 上記構成によれば、各蛍光体層からの等方的な拡散光(発光)が、別の画素に対応する蛍光体層に漏れ出ることを低減したり防止したりすることができる。これにより、蛍光体層によって吸収されずに透過してしまう励起光が外部に漏れ出すことを防止できるので、コントラストの低下を低減したり防止したりすることができる。
 本発明の蛍光体基板では、上記蛍光体層はテーパー状に形成されていることが好ましい。
 上記構成によれば、蛍光体層の側面と励起光が入射する面とに反射層を同時に簡単なプロセスで形成できるため、コストの上昇を抑制することができる。また、反射層を均一に蛍光体上に形成できるので、等方向な発光をより効率よく光取り出し方向に取り出すことができる。なお、反射層が均一でないと、反射特性にムラが生じるので光取り出し効率が低下する。
 本発明の蛍光体基板では、上記反射膜の膜厚が、反射膜前面に向かい減少していくことが好ましい。
 実際には、励起光は、励起光源よりある程度の角度を持ち拡散しているが、上記構成によれば、蛍光体側面の励起光励起光源からの拡散光も、より効果的に光入射側の反射膜での励起光の蛍光体層への透過率を高い状態で維持したまま、蛍光体層サイドに捨てる発光を内部に戻す(反射させる)ことが可能となり、蛍光体層からの等方的な発光を、より効率よく外部に取り出せる。したがって、発光効率をより向上させることができる。
 本発明の表示装置は、上記の課題を解決するために、
 上記蛍光体基板と、
 紫外領域から青色領域のピーク波長を有し、上記蛍光体層を励起する励起光を、上記蛍光体基板に照射する光源とを備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、表示装置の発光効率を向上させ、消費電力、コストを低減させることができる。
 本発明の表示装置では、上記光源が有機エレクトロルミネセンス素子、無機エレクトロルミネッセンス素子、または発光ダイオードを備えていることが好ましい。
 上記構成によれば、表示装置のコストおよび消費電力を低減させることができる。
 本発明の表示装置では、上記光源が、アクティブ素子によって駆動されることが好ましい。
 上記構成によれば、パッシブ駆動に比べ、上記光源の発光時間を長くすることができる。そのため、所望の輝度を得るための瞬間輝度を低減することが可能となり駆動電圧を低減することができるので、低消費電力化が可能となる。また、低輝度領域中のより発光効率の高い領域において駆動することが可能なため、同様に、消費電力を低減することが可能である。
 本発明の表示装置は、上記アクティブ素子が形成されている基板と対向して設けられている他の基板から、上記発光を取り出すことが好ましい。
 上記構成によれば、基板上に形成されているアクティブ素子および配線等の影響を受けることなく、各画素の開口率を高くできる。その結果、低消費電力の表示装置を提供できる。
 本発明の表示装置は、上記蛍光体基板と上記光源との間に設けられ、電圧によってスイッチングされる液晶素子をさらに備えていることが好ましい。
 上記構成によれば、液晶素子をスイッチング素子と利用できるので、表示品位の優れた表示装置を提供できる。
 本発明の蛍光体基板の製造方法は、上記の課題を解決するために、
 励起光によって発光する蛍光体層を、基板上に形成する工程と、
 上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を形成する工程とを備えていることを特徴とする。
 上記構成によれば、発光効率を向上(すなわち光取り出し方向への輝度を向上)させることができる蛍光体基板を製造できる。
 本発明の蛍光体基板では、上記蛍光体層を形成するする工程において、スクリーン印刷法、インクジェット法、またはノズルコート法を用いて、上記蛍光体層を形成することが好ましい。
 上記方法によれば、蛍光体層を基板に直接パターン化できる。したがって、フォトリソグラフィー法によってパターンかするよりも、蛍光体材料の利用効率を格段に向上させることができる。結果、蛍光体基板をより低コスト化で製造できる。
 また、ウエットプロセスにおいて撥水処理を併用することによって、蛍光体層を効率良く、所望の断面形状にコントロールできるので、効率の良い光取り出しに必要な断面形状を直接的に形成できる。
 本発明に係る蛍光体基板は、優れた輝度変換効率を有するため、表示装置に好適に利用することができる。
 1  基板
 2  光吸収層
 3  蛍光体層
 4  光源
 5  蛍光体基板
 10 反射層
 11 基板
 12 陽極
 13 エッジカバー 
 14 正孔注入層
 15 正孔輸送層
 16 発光層
 17 正孔防止層
 18 電子輸送層
 19 電子注入層
 20 陰極
 21 バッファ層
 22 n型コンタクト層
 23 第2のn型クラッド層
 24 第1のn型クラッド層
 25 活性層
 26 第1のp型クラッド層
 27 第2のp型クラッド層
 28 電極
 29 誘電体層
 30 発光層
 31 無機封止膜
 32 樹脂封止膜
 33 赤色発光蛍光体層
 34 緑色発光蛍光体層
 35 散乱体層
 36 ゲート電極
 37 ドレイン電極
 38 ソース電極
 42 平坦化膜
 43 青色発光蛍光体層
 44 偏光板
 45 基板
 46 透明電極 
 47 配向膜
 48 液晶層
 49 平坦化膜
 50 表示装置
 51 p型コンタクト層
 52 ゲート配線
 53 層間絶縁膜
 54 ソース配線

Claims (17)

  1.  励起光によって発光する蛍光体層が形成された蛍光体基板であって、
     上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに設けられ、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する反射膜を備えていることを特徴とする蛍光体基板。
  2.  上記反射膜は、上記励起光におけるピーク波長の成分を80%以上透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を80%以上反射することを特徴とする請求項1に記載の蛍光体基板。
  3.  上記反射膜は、上記励起光におけるピーク波長の成分を90%以上透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を90%以上反射することを特徴とする請求項2に記載の蛍光体基板。
  4.  上記反射膜の励起光入射側と励起光入射側とを前面とし、光取り出し側を背面としたとき、上記反射膜の側面における膜厚の最大値が、上記反射膜の前面における膜厚の最大値よりも大きいことを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の蛍光体基板。
  5.  上記反射膜は、少なくとも金を含有する膜であることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の蛍光体基板。
  6.  上記少なくとも金を含有する反射膜の膜厚が、10nm~40nmであることを特徴とする請求項5に記載の蛍光体基板。
  7.  上記蛍光体が、無機蛍光体であることを特徴とする請求項1~6のいずれか1項に記載の蛍光体基板。
  8.  上記蛍光体基板上に、異なる蛍光材料からなる複数種類の上記蛍光体層が設けられており、互いに隣り合う上記蛍光体層の間に光吸収層が設けられていることを特徴とする請求項1~7のいずれか1項に記載の蛍光体基板。
  9.  上記蛍光体層はテーパー状に形成されていることを特徴とする請求項1~8のいずれか1項に記載の蛍光体基板。
  10.  上記反射膜の膜厚が、上記反射膜の前面に向かって減少していくことを特徴とする請求項4に記載の蛍光体基板。
  11.  請求項1~10のいずれか1項に記載の蛍光体基板と、
     紫外領域から青色領域のピーク波長を有し、上記蛍光体層を励起する励起光を、上記蛍光体基板に照射する光源とを備えていることを特徴とする表示装置。
  12.  上記光源が有機エレクトロルミネッセンス素子、無機エレクトロルミネッセンス素子、または、発光ダイオードを備えていることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。
  13.  上記光源がアクティブ素子によって駆動されることを特徴とする請求項12に記載の表示装置。
  14.  上記アクティブ素子が形成されている基板と対向して設けられている他の基板から、上記発光を取り出すことを特徴とする請求項13に記載の表示装置。
  15.  上記蛍光体基板と上記光源との間に設けられ、電圧によってスイッチングされる液晶素子をさらに備えていることを特徴とする請求項11~14のいずれか1項に記載の表示装置。
  16.  蛍光体基板の製造方法であって、
     励起光によって発光する蛍光体層を、基板上に形成する工程と、
     上記蛍光体層の側面と上記励起光が入射する面上とに、上記励起光におけるピーク波長の成分を透過させると共に、上記蛍光体層からの発光におけるピーク波長の成分を反射する膜を形成する工程とを備えていることを特徴とする蛍光体基板の製造方法。
  17.  上記蛍光体層を形成するする工程において、スクリーン印刷法、インクジェット法、またはノズルコート法を用いて、上記蛍光体層を形成することを特徴とする請求項16に記載の蛍光体基板の製造方法。
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