WO2011104171A1 - Appareil lithographique et procédé associé de fabrication d'un dispositif - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un appareil lithographique comportant une colonne optique qui permet de créer un motif sur une partie cible d'un substrat. Cette colonne optique comporte un dispositif programmable de formation de motifs conçu pour obtenir une pluralité de faisceaux de rayonnement et un système de projection conçu pour projeter ladite pluralité de faisceaux sur le substrat. Cet appareil peut comporter un actionneur pour déplacer la colonne optique, ou une partie de celle-ci, par rapport au substrat. La colonne optique peut être agencée pour projeter au moins deux de la pluralité de faisceaux sur la partie cible du substrat, par une même lentille d'une pluralité de lentilles du système de projection.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013124114A1 (fr) * | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Asml Netherlands B.V. | Dispositif, appareil lithographique, procédé de guidage d'un rayonnement et procédé de fabrication de dispositif |
WO2013178429A1 (fr) * | 2012-06-01 | 2013-12-05 | Asml Netherlands B.V. | Assemblage pour modifier des propriétés d'une pluralité de faisceaux de rayonnement, appareil de lithographie, procédé de modification de propriétés d'une pluralité de faisceaux de rayonnement et procédé de fabrication de dispositif |
WO2013182367A1 (fr) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Asml Netherlands B.V. | Appareil de lithographie et procédé de fabrication de dispositif |
US9316926B2 (en) | 2010-12-08 | 2016-04-19 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US9513561B2 (en) | 2011-04-21 | 2016-12-06 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, method for maintaining a lithographic apparatus and device manufacturing method |
TWI747446B (zh) * | 2019-08-29 | 2021-11-21 | 荷蘭商Asml控股公司 | 感測器裝置及偵測系統 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4523803A (en) * | 1981-02-27 | 1985-06-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning device |
US5216247A (en) * | 1992-02-07 | 1993-06-01 | Ying Wang | Optical scanning method with circular arc scanning traces |
US5229872A (en) | 1992-01-21 | 1993-07-20 | Hughes Aircraft Company | Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning |
US5296891A (en) | 1990-05-02 | 1994-03-22 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Illumination device |
US5523193A (en) | 1988-05-31 | 1996-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for patterning and imaging member |
WO1998033096A1 (fr) | 1997-01-29 | 1998-07-30 | Micronic Laser Systems Ab | Procede et dispositif de production d'une structure par rayonnement laser concentre sur un substrat a revetement photosensible |
WO1998038597A2 (fr) | 1997-02-28 | 1998-09-03 | Micronic Laser Systems Ab | Procede de conversion de donnees pour une imprimante laser multifaisceau destinee a des motifs microlithographiques de grande complexite |
US6002466A (en) * | 1996-06-29 | 1999-12-14 | Deutsches Zentrum Fuer Luft -Und Raumfahrt E.V. | Lithography exposure device |
-
2011
- 2011-02-18 WO PCT/EP2011/052399 patent/WO2011104171A1/fr active Application Filing
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4523803A (en) * | 1981-02-27 | 1985-06-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning device |
US5523193A (en) | 1988-05-31 | 1996-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for patterning and imaging member |
US5296891A (en) | 1990-05-02 | 1994-03-22 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Illumination device |
US5229872A (en) | 1992-01-21 | 1993-07-20 | Hughes Aircraft Company | Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning |
US5216247A (en) * | 1992-02-07 | 1993-06-01 | Ying Wang | Optical scanning method with circular arc scanning traces |
US6002466A (en) * | 1996-06-29 | 1999-12-14 | Deutsches Zentrum Fuer Luft -Und Raumfahrt E.V. | Lithography exposure device |
WO1998033096A1 (fr) | 1997-01-29 | 1998-07-30 | Micronic Laser Systems Ab | Procede et dispositif de production d'une structure par rayonnement laser concentre sur un substrat a revetement photosensible |
WO1998038597A2 (fr) | 1997-02-28 | 1998-09-03 | Micronic Laser Systems Ab | Procede de conversion de donnees pour une imprimante laser multifaisceau destinee a des motifs microlithographiques de grande complexite |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9316926B2 (en) | 2010-12-08 | 2016-04-19 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US9513561B2 (en) | 2011-04-21 | 2016-12-06 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, method for maintaining a lithographic apparatus and device manufacturing method |
WO2013124114A1 (fr) * | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Asml Netherlands B.V. | Dispositif, appareil lithographique, procédé de guidage d'un rayonnement et procédé de fabrication de dispositif |
CN104115068A (zh) * | 2012-02-23 | 2014-10-22 | Asml荷兰有限公司 | 装置、光刻设备、用于引导辐射的方法以及装置制造方法 |
US9715183B2 (en) | 2012-02-23 | 2017-07-25 | Asml Netherlands B.V. | Device, lithographic apparatus, method for guiding radiation and device manufacturing method |
WO2013178429A1 (fr) * | 2012-06-01 | 2013-12-05 | Asml Netherlands B.V. | Assemblage pour modifier des propriétés d'une pluralité de faisceaux de rayonnement, appareil de lithographie, procédé de modification de propriétés d'une pluralité de faisceaux de rayonnement et procédé de fabrication de dispositif |
JP2015522937A (ja) * | 2012-06-01 | 2015-08-06 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 複数の放射ビームの特性を修正するアセンブリ、リソグラフィ装置、複数の放射ビームの特性を修正する方法およびデバイス製造方法 |
WO2013182367A1 (fr) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Asml Netherlands B.V. | Appareil de lithographie et procédé de fabrication de dispositif |
KR20140141660A (ko) * | 2012-06-08 | 2014-12-10 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피 장치 및 디바이스 제조 방법 |
JP2015520418A (ja) * | 2012-06-08 | 2015-07-16 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
KR101680130B1 (ko) * | 2012-06-08 | 2016-12-12 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피 장치 및 디바이스 제조 방법 |
TWI747446B (zh) * | 2019-08-29 | 2021-11-21 | 荷蘭商Asml控股公司 | 感測器裝置及偵測系統 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
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