WO2010143225A1 - 発光粉体、その製造方法、発光粉体を用いた発光素子、発光素子の製造方法および発光粉体の製造装置 - Google Patents

発光粉体、その製造方法、発光粉体を用いた発光素子、発光素子の製造方法および発光粉体の製造装置 Download PDF

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luminescent powder
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山村知玄
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    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional [2D] radiating surfaces
    • H05B33/14Light sources with substantially two-dimensional [2D] radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source

Definitions

  • the present invention relates to a luminescent powder, a manufacturing method thereof, a light emitting element using the luminescent powder, a manufacturing method of the light emitting element, and a manufacturing apparatus of the luminescent powder.
  • Each of the light emitting layers A, B, and C is made of silicon oxide and nanosilicon contained in the silicon oxide.
  • the nanosilicon contained in the light emitting layers A, B, and C has different sizes. More specifically, the nanosilicon included in the light emitting layer A has a size of 1.5 to 2.0 nm, and the nanosilicon included in the light emitting layer B has a size of 2.0 to 2.5 nm.
  • the nanosilicon contained in the light emitting layer C has a size of 2.5 to 3.5 nm.
  • the silicon oxide film is manufactured by a high frequency sputtering method and a heat treatment. More specifically, the silicon oxide film includes an amorphous silicon oxide film a that is the source of the light emitting layer A, an amorphous silicon oxide film b that is the source of the light emitting layer B, and an amorphous silicon oxide film c that is the source of the light emitting layer C.
  • the silicon oxide film includes an amorphous silicon oxide film a that is the source of the light emitting layer A, an amorphous silicon oxide film b that is the source of the light emitting layer B, and an amorphous silicon oxide film c that is the source of the light emitting layer C.
  • the silicon oxide film is formed by sequentially laminating the amorphous silicon oxide films a, b, and c having different amounts of silicon atoms, and the light-emitting layers A and B containing nano-silicones having different sizes by heat-treating the laminated bodies. , C is manufactured.
  • Another object of the present invention is to provide a method for producing a luminescent powder capable of emitting white light.
  • Another object of the present invention is to provide an apparatus for producing a luminescent powder capable of emitting white light.
  • the luminescent powder includes a first step of holding single crystal silicon in a supercritical fluid made of carbon dioxide, and laser ablation in which nano-sized crystal silicon jumps out of the single crystal silicon into the supercritical fluid.
  • a method for producing a luminescent powder includes a first step of holding single crystal silicon in a supercritical fluid made of carbon dioxide, and a nanosize crystalline silicon from single crystal silicon to a supercritical fluid. A second step of irradiating the single crystal silicon with a laser beam having an intensity that causes laser ablation to jump out.
  • At least one of the first and second electrodes is composed of a plurality of electrode pieces.
  • the method for manufacturing a light emitting element includes a first step of manufacturing a plurality of light emitting powders, and a light emitting member made of a plurality of light emitting powders by collecting the plurality of light emitting powders.
  • the first step includes a first sub-step of holding single crystal silicon in a supercritical fluid made of carbon dioxide, and laser ablation in which nano-sized crystal silicon jumps out of the single crystal silicon into the supercritical fluid.
  • the luminescent powder can emit white light.
  • FIG. 1 It is sectional drawing of the luminescent powder by embodiment of this invention. It is the schematic which shows the structure of the manufacturing apparatus of the luminescent powder by embodiment of this invention. It is process drawing which shows the manufacturing method of the luminescent powder shown in FIG. It is a schematic diagram of the luminescent powder deposited on the substrate. It is an optical microscope image of the several luminescent powder arrange
  • FIG. Fig. 4 It is another fluorescence microscope image of the luminescent powder manufactured according to the process shown in FIG. Fig. 4 is a photoluminescence spectrum of a luminescent powder produced according to the process shown in Fig. 3. It is a figure which shows the pressure dependence of the integrated intensity
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a luminescent powder according to an embodiment of the present invention.
  • luminescent powder 10 according to an embodiment of the present invention includes crystalline silicon 1 and silicon oxide 2.
  • the silicon oxide 2 covers the crystalline silicon 1. Therefore, the luminescent powder 10 has a core / shell structure with the crystalline silicon 1 as a core.
  • the crystalline silicon 1 is made of single crystal silicon and has a spherical shape.
  • the crystalline silicon 1 has an average particle diameter of about 2 nm.
  • the silicon oxide 2 is made of silicon dioxide (SiO 2 ) and has an average thickness of about 2 nm. Therefore, the luminescent powder 10 has a spherical shape having a diameter of about 6 nm.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a luminescent powder manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • the luminescent powder manufacturing apparatus 100 includes a cylinder 20, pipes 21 and 23, a pump 22, a cooler 24, a reaction vessel 25, a laser device 26, a lens 27, and a heater. 28, a thermocouple 29, a temperature detector 30, and a controller 31.
  • the cylinder 20 has a pressure valve 201 and is a siphon type CO 2 cylinder.
  • the cylinder 20 stores gaseous carbon dioxide (CO 2 ).
  • the pipe 21 is an oil-free pipe and supplies CO 2 stored in the cylinder 20 to the pump 22 via the pressure valve 201.
  • the pressure valve 201 is sealed with a CO 2 swelling-resistant material (for example, ethylene propylene rubber, nitrile rubber, and chloropyrene rubber).
  • the pump 22 is manufactured by removing the lubricant. Then, the pump 22 supplies CO 2 supplied from the cylinder 20 via the pipe 21 into the reaction vessel 25 via the pipe 23. In this case, the pump 22 supplies a supercritical fluid composed of CO 2 via the CO 2 piping 23 so that the pressure generated in the reaction vessel 25 within the reaction vessel 25.
  • the lens 27 condenses the laser light emitted from the laser device 26 and irradiates the silicon lump 40 with the condensed laser light through the sapphire window 252. In this case, the lens 27 condenses the laser light so that the energy per pulse is changed from 19 mJ / pulse to 800 mJ / pulse.
  • the silicon lump 40 is made of, for example, a cube having a side length of 1 cm and has a (111) plane orientation.
  • the substrate 50 is made of, for example, carbon (C) or stainless steel. And the board
  • the heater 28 heats the reaction vessel 25 to a temperature at which CO 2 in the reaction vessel 25 becomes a supercritical fluid in accordance with control from the controller 31.
  • the thermocouple 29 detects an electromotive force due to the temperature of CO 2 in the reaction vessel 25 and outputs the detected electromotive force to the temperature detector 30.
  • the temperature detector 30 receives an electromotive force from the thermocouple 29, and detects the temperature T of CO 2 based on the received electromotive force. Then, the temperature detector 30 outputs the detected temperature T to the controller 31.
  • a high-pressure valve is also used in the path for supplying CO 2 from the cylinder 20 to the reaction vessel 25.
  • the high-pressure valve (diaphragm type) is connected to the oil-free valve. Become.
  • the pump 22 supplies CO 2 into the reaction vessel 25 so that the pressure in the reaction vessel 25 is in the range of 4.56 MPa to 14.8 MPa.
  • the heater 28 heats the reaction container 25 so that the temperature T of CO 2 in the reaction container 25 is in the range of 40 ° C. to 50 ° C.
  • the pressure in the reaction vessel 25 is in the range of 4.56 MPa to 14.8 MPa, and the temperature T of CO 2 in the reaction vessel 25 is not less than the critical temperature of 31 ° C., for example, in the range of 40 ° C. to 50 ° C. If it becomes, the CO 2 in the reaction vessel 25 becomes a supercritical fluid.
  • the gaseous CO 2 output from the pump 22 is cooled by the cooler 24 so as to become liquid CO 2.
  • liquid CO 2 is more gaseous CO 2.
  • the pressure of CO 2 in the reaction vessel 25 is easily set to a pressure of 4.56 MPa to 14.8 MPa by the pump 22 because it is easier to pressurize by the pump 22 than 2 . That is, it is for stably producing a supercritical fluid composed of CO 2 .
  • the pressure valve 201 supplies gaseous CO 2 from the cylinder 20 to the pump 22 via the pipe 21, and the pump 22 outputs CO 2 into the pipe 23.
  • the cooler 24 cools gaseous CO 2 to liquid CO 2 .
  • the pump 22 supplies the cooled liquid CO 2 to the reaction vessel 25 so as to have a pressure at which a supercritical fluid is generated in the reaction vessel 25 (step S2).
  • thermocouple 29 detects an electromotive force due to the temperature of CO 2 in the reaction vessel 25 and outputs the detected electromotive force to the temperature detector 30.
  • the temperature detector 30 detects the temperature T of CO 2 in the reaction vessel 25 based on the electromotive force received from the thermocouple 29 and outputs the detected temperature T to the controller 31.
  • the laser device 26 stops the laser beam irradiation (step S5).
  • nano products are grown in the reaction vessel 25 for the growth time determined by the pressure in the reaction vessel 25 (step S6). Due to this growth, crystalline silicon that has jumped into the supercritical fluid is cooled by supercritical CO 2 at the nanosecond to picosecond term scale immediately after laser light irradiation, and emits light while moving downward in the supercritical fluid. The luminescent powder 10 is deposited on the substrate 50. During these periods, the reaction vessel 25 is controlled by the controller 31 so as to have the same temperature.
  • the growth time is 4 to 10 minutes when the pressure in the reaction vessel 25 is 4.56 MPa, and 1 hour when the pressure in the reaction vessel 25 is 11.0 MPa. When the internal pressure is 14.8 MPa, it is 2 hours. These times were determined based on the calculated time for 100 nm particles to sink by 1 cm.
  • the growth time determined by the pressure of the supercritical fluid is generated by the CO 2 in the reaction vessel 25 and the laser ablation.
  • the crystalline silicon is cooled and the luminescent powder 10 is deposited on the substrate 50.
  • the laser device 26 condenses the laser light by the lens 27 and irradiates the silicon lump 40 with the laser light having an intensity of 800 mJ / pulse.
  • the laser device 26 is not limited to this, and the laser device 26 uses laser light having an intensity of 200 mJ / pulse or more, which is a critical intensity at which laser ablation occurs in which nano-sized crystalline silicon jumps out of the silicon mass 40 into the supercritical fluid. What is necessary is just to irradiate the silicon lump 40 via 27.
  • a plurality of luminescent powders 10 forming a network structure were collected and analyzed by EPMA (Electron Probe Micro Analyzer).
  • FIG. 6 is a diagram showing an analysis result by small-angle X-ray scattering. X-ray small angle scattering was measured using CuK ⁇ rays having a wavelength of 1.5 mm.
  • Curve k1 shows the analysis result by X-ray small angle scattering of the luminescent powder 10 manufactured by setting the pressure of the supercritical fluid made of CO 2 to 4.56 MPa. Furthermore, a curve k2 shows the analysis result by X-ray small angle scattering of the luminescent powder 10 manufactured by setting the pressure of the supercritical fluid made of CO 2 to 10.4 MPa. Furthermore, the curve k3 shows a typical spectrum of X-ray small angle scattering.
  • the luminescent powder 10 was composed of Si having a diameter of about 2 nm and SiO 2 having a thickness of about 2 nm. .
  • the luminescent powder 10 emits white light blue as a whole and emits white light in the region indicated by the arrow A.
  • FIG. 9 is another optical microscope image of a plurality of luminescent powders arranged on a stainless steel substrate.
  • the optical microscope image was taken under the same shooting conditions as those of the optical microscope image shown in FIG. Referring to FIG. 9, a product composed of a plurality of luminescent powders 10 is generated. And a product has a projection part.
  • FIG. 10 is another fluorescence microscopic image of the luminescent powder 10 manufactured according to the process shown in FIG.
  • the excitation wavelength of the luminescent powder 10 when a fluorescent microscope image is taken is 325 nm, and the intensity of the excitation light is 20 mW.
  • the fluorescence microscope image was image
  • FIG. 11 is a photoluminescence spectrum of the luminescent powder 10 produced according to the process shown in FIG. In FIG. 11, the horizontal axis represents wavelength (or energy), and the vertical axis represents intensity.
  • the excitation wavelength of the luminescent powder 10 when measuring photoluminescence is 325 nm, and the intensity of the excitation light is 2 mW.
  • a laser beam having a wavelength of 325 nm is irradiated onto the sample by epi-illumination (the intensity of the excitation light immediately before the sample is several tens of ⁇ W), and light emitted from the sample is collected by an ultraviolet-compatible objective lens.
  • the wavelength was dispersed by a single-type spectrometer, and the spectrum was measured by a CCD camera.
  • an instrument function is obtained based on an intensity-corrected light source compliant with the National Institute of Standards and Technology (NIST), and the spectral sensitivity characteristic is calibrated using the device function. The measurement was performed at normal temperature and normal pressure.
  • FIG. 12 is a diagram showing the pressure dependence of the integrated intensity of the emission spectrum.
  • the horizontal axis represents the pressure of the supercritical fluid at the time of manufacturing the luminescent powder 10
  • the vertical axis represents the integrated intensity.
  • Curve k9 shows the pressure dependence of the integrated intensity of the emission spectrum 40 minutes after producing the luminescent powder 10
  • curve k10 shows the emission spectrum two days after producing the luminescent powder 10.
  • the pressure dependence of the integrated intensity is shown
  • the curve k11 shows the pressure dependence of the integrated intensity of the emission spectrum two months after the luminescent powder 10 is manufactured.
  • the integrated intensity of the emission spectrum after 40 minutes from the production of the luminescent powder 10 is substantially constant with respect to the pressure of the supercritical fluid (see curve k9).
  • the luminous powder 10 after two months from the production of the luminous powder 10 has a maximum luminous intensity (integrated intensity) of about 100 times (see curves k9 and k11).
  • the emission intensity can be controlled by controlling the pressure of the supercritical fluid when the luminescent powder 10 is manufactured.
  • the emission intensity (integrated intensity) of the luminescent powder 10 becomes stronger as the elapsed time after the luminescent powder 10 is manufactured becomes longer (see curves k9 to k11).
  • steps S1 to S3 constitute a “first process” for holding single crystal silicon in a supercritical fluid made of carbon dioxide.
  • step S4 by irradiating the silicon lump 40 made of single crystal silicon with laser light having an intensity that causes laser ablation, the nano-sized crystalline silicon jumps out of the silicon lump 40 into the supercritical fluid.
  • Step S4 constitutes a “second step” of irradiating the single crystal silicon with a laser beam having an intensity that causes laser ablation in which nano-sized crystal silicon jumps out of the single crystal silicon into the supercritical fluid.
  • the crystalline silicon jumps out of the silicon lump 40 into the supercritical fluid by laser ablation, and the luminescent powder 10 is manufactured if the jumped crystalline silicon is cooled for an arbitrary time. Even if the sample is taken out before the time elapses, the luminescent powder 10 can be obtained. Therefore, the luminescent powder according to the embodiment of the present invention only needs to be manufactured by the first and second steps described above.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view showing the configuration of the light emitting device according to the embodiment of the present invention.
  • a light emitting device 200 according to an embodiment of the present invention includes a transparent substrate 210, a transparent conductive film 220, a conductive polymer 230, a light emitting member 240, and an electrode 250.
  • the transparent substrate 210 is made of a film or glass.
  • the transparent conductive film 220 is made of any material for flexible displays such as ITO (Indium Tin Oxide), SnO 2 , ZnO, and organic EL (Electro Luminescence), and is formed around the transparent substrate 210.
  • the conductive polymer 230 is made of any one of polyacetylene, polyparaphenylene, polyaniline, polythiophene, and polyparaphenylene vinylene.
  • the conductive polymer 230 is disposed between the transparent conductive film 220 and the light emitting member 240 in contact with the transparent conductive film 220 and the light emitting member 240.
  • the light emitting member 240 is composed of a plurality of laminated light emitting powders 10.
  • the light emitting member 240 is disposed between the conductive polymer 230 and the electrode 250 in contact with the conductive polymer 230 and the electrode 250.
  • the light emitting element 200 emits white light when a voltage of 3.82 V is applied between the transparent conductive film 220 and the electrode 250, and a voltage of 3.3 V is generated between the transparent conductive film 220 and the electrode 250.
  • a voltage of 3.82 V is applied between the transparent conductive film 220 and the electrode 250
  • a voltage of 3.3 V is generated between the transparent conductive film 220 and the electrode 250.
  • FIG. 14 is a process diagram showing a method of manufacturing the light emitting device 200 shown in FIG. Referring to FIG. 14, when the manufacture of light emitting element 200 is started, a plurality of light emitting powders 10 are manufactured according to the process shown in FIG. 3 (step S11).
  • step S12 a plurality of luminescent powders 10 are collected and a light emitting member 240 made of the plurality of luminescent powders 10 is manufactured.
  • the light emitting member 240 is bonded to the transparent conductive film 220 by the conductive polymer 230 (step S13).
  • the electrode 250 is formed on the light emitting member 240 by any of sputtering, vapor deposition, and ink jet method (step S14). Thereby, the light emitting element 200 is completed.
  • FIG. 15 is a cross-sectional view showing the configuration of another light emitting device according to the embodiment of the present invention.
  • the light emitting device according to the embodiment of the present invention may be a light emitting device 200A shown in FIG.
  • the region of the light emitting member 240 in contact with the electrode piece 261 emits white light
  • the region of the light emitting member 240 in contact with the electrode piece 262 emits blue light
  • the region of the light emitting member 240 in contact with the electrode piece 263 is green.
  • the region of the light emitting member 240 that emits light and contacts the electrode piece 264 emits red light.
  • the light emitting element 200A is manufactured according to a process of adding a step of patterning the electrode 260 into electrode pieces 261 to 264 by photolithography after step S14 shown in FIG.
  • the electrode 250 may be made of a transparent conductive film such as ITO.
  • the light emitting element 200A may include an n-type or p-type silicon wafer having a carrier concentration of 10 20 cm ⁇ 3 or more, instead of the transparent substrate 210 and the transparent conductive film 220. In this case, the emitted light is emitted in the lateral direction of the light emitting element 200A.
  • the transparent conductive film 220 may be patterned in the same manner as the electrode 260.
  • at least one of the two electrodes disposed on both sides of the light emitting member 240 may be patterned into a plurality of electrode pieces.
  • the light emitting elements 200 and 200A described above are applied to lighting devices and display devices.
  • the luminescence lifetime of silicon nanomaterials is assumed to be on the order of microseconds (in some cases on the order of nanoseconds or picoseconds), considering its size. Therefore, by using the switching circuit, the light emission / flashing becomes quick and the electric follow-up property is good. As a result, the light emitting elements 200 and 200A are more suitable for a moving image display than a liquid crystal display device.
  • the luminescent powder 10 can be applied to an element for photoluminescence (PL).
  • PL photoluminescence
  • the conventional fluorescent lamp mercury is enclosed, and rare earth elements such as eurobium (Eu) and terbium (Tb) are excited by ultraviolet light of the enclosed mercury, and light of three primary colors is mixed to form a white fluorescent lamp. Therefore, when the above-described luminescent powder 10 is used in a fluorescent lamp, it can be used as a substitute for rare earth elements and a white fluorescent lamp can be realized by ultraviolet irradiation.
  • the luminescent powder 10 can also be applied to a plasma display.
  • the luminescent powder 10 is mixed with the ultraviolet transmissive polymer by mixing the luminescent powder 10 with the ultraviolet transmissive polymer together with the solvent, coating the solution on the inner wall of the glass, and then removing the solvent.
  • the structure is solidified on the glass surface.
  • the glass to be solidified may be any material as long as it is a transparent material, and the shape may be either a flat surface or a curved surface. Then, light is emitted from the inside by mercury discharge or rare gas discharge.
  • the reaction vessel 25 holds the silicon lump 40.
  • the reaction vessel 25 may hold a silicon wafer.
  • the silicon wafer is held in the reaction vessel 25 so that the surface thereof is substantially perpendicular to the laser beam.
  • the pump 22, the cooler 24, the heater 28, the thermocouple 29, the temperature detector 30 and the controller 31 generate a supercritical fluid made of CO 2 in the reaction vessel 25. Configure the “generator”.
  • the present invention is applied to a luminescent powder capable of emitting white light.
  • the present invention is also applied to a method for producing a luminescent powder capable of emitting white light.
  • the present invention is applied to a light emitting element using a luminescent powder capable of emitting white light.
  • the present invention is applied to a method for manufacturing a light-emitting element using a luminescent powder capable of emitting white light.
  • the present invention is applied to an apparatus for producing a luminescent powder capable of emitting white light.

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Abstract

発光粉体(10)は、二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコンを保持する第1の工程と、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する第2の工程とを実行することによって製造される。その結果、発光粉体(10)は、球形状を有する結晶シリコン(1)と、結晶シリコン(1)の周囲を覆う酸化シリコン(2)とからなる。結晶シリコン(1)の直径は、約2nmであり、酸化シリコン(2)の厚みは、約2nmである。したがって、発光粉体(10)は、直径が約6nmの球形状からなる。

Description

発光粉体、その製造方法、発光粉体を用いた発光素子、発光素子の製造方法および発光粉体の製造装置
 この発明は、発光粉体、その製造方法、発光粉体を用いた発光素子、発光素子の製造方法および発光粉体の製造装置に関するものである。
 従来、白色で発光する酸化ケイ素膜が知られている(特許文献1)。この酸化ケイ素膜は、青色で発光する発光層Aと、緑色で発光する発光層Bと、赤色で発光する発光層Cとを積層した構造からなる。
 発光層A,B,Cの各々は、酸化ケイ素と、酸化ケイ素中に含まれるナノシリコンとからなる。そして、発光層A,B,Cに含まれるナノシリコンは、それぞれ、サイズが異なる。より具体的には、発光層Aに含まれるナノシリコンは、1.5~2.0nmのサイズを有し、発光層Bに含まれるナノシリコンは、2.0~2.5nmのサイズを有し、発光層Cに含まれるナノシリコンは、2.5~3.5nmのサイズを有する。
 酸化ケイ素膜は、高周波スパッタリング法および熱処理によって製造される。より具体的には、酸化ケイ素膜は、発光層Aの元になるアモルファス酸化ケイ素膜a、発光層Bの元になるアモルファス酸化ケイ素膜b、および発光層Cの元になるアモルファス酸化ケイ素膜cを高周波スパッタリング法によって基板上に順次積層し、その積層した積層体を熱処理することによって製造される。
 この場合、アモルファス酸化ケイ素膜a,b,cは、相互に異なる量のシリコン原子を含む。
 このように、酸化ケイ素膜は、シリコン原子の量が異なるアモルファス酸化ケイ素膜a,b,cを順次積層し、その積層した積層体を熱処理して異なるサイズのナノシリコンを含む発光層A,B,Cを形成することによって製造される。
特開2007-63378号公報
 しかし、特許文献1に記載されたナノシリコンは、青、緑、および赤のいずれか1つの色で発光するため、白色で発光する発光粉体を製造することが困難であるという問題がある。
 そこで、この発明は、かかる問題を解決するためになされたものであり、その目的は、白色で発光可能な発光粉体を提供することである。
 また、この発明の別の目的は、白色で発光可能な発光粉体の製造方法を提供することである。
 さらに、この発明の別の目的は、白色で発光可能な発光粉体を用いた発光素子を提供することである。
 さらに、この発明の別の目的は、白色で発光可能な発光粉体を用いた発光素子の製造方法を提供することである。
 さらに、この発明の別の目的は、白色で発光可能な発光粉体の製造装置を提供することである。
 この発明によれば、発光粉体は、二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコンを保持する第1の工程と、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する第2の工程とを実行して製造される発光粉体である。
 好ましくは、発光粉体は、超臨界流体中へ飛び出したナノサイズの結晶シリコンを超臨界流体の圧力によって決定された成長時間だけ成長させる第3の工程をさらに実行して製造される発光粉体である。
 好ましくは、第3の工程において、ナノサイズの結晶シリコンは、超臨界流体の圧力が高い程、長い時間、成長し、超臨界流体の圧力が低い程、短い時間、成長する。
 また、この発明によれば、発光粉体の製造方法は、二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコンを保持する第1の工程と、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する第2の工程とを備える。
 好ましくは、発光粉体の製造方法は、超臨界流体中へ飛び出したナノサイズの結晶シリコンを超臨界流体の圧力によって決定された成長時間だけ成長させる第3の工程をさらに備える。
 好ましくは、第3の工程において、ナノサイズの結晶シリコンは、超臨界流体の圧力が高い程、長い時間、成長し、超臨界流体の圧力が低い程、短い時間、成長する。
 好ましくは、第1の工程は、単結晶シリコンを反応容器内に入れる第1のサブ工程と、二酸化炭素をサイフォン式のボンベから取り出し、耐膨潤性のある材料によってシールされた圧力弁、潤滑材を取り除いて作製されたポンプ、およびオイルフリーの配管を用いて超臨界流体が生成される圧力になるように反応容器に、取り出した二酸化炭素を供給する第2のサブ工程と、超臨界流体が生成される温度になるように反応容器を加熱する第3のサブ工程とを含む。
 さらに、この発明によれば、発光素子は、発光部材と、第1および第2の電極とを備える。第1の電極は、発光部材の一方の表面に形成される。第2の電極は、発光部材の他方の表面に形成される。そして、発光部材は、複数の発光粉体からなる。複数の発光粉体の各々は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の発光粉体からなる。
 好ましくは、第1および第2の電極の少なくとも一方の電極は、透明導電膜からなる。
 好ましくは、第1および第2の電極の少なくとも一方の電極は、複数の電極片からなる。
 さらに、この発明によれば、発光素子の製造方法は、複数の発光粉体を製造する第1の工程と、複数の発光粉体を収集して複数の発光粉体からなる発光部材を製造する第2の工程と、基板上に形成された第1の電極に発光部材を接着する第3の工程と、発光部材上に第2の電極を形成する第4の工程とを備える。そして、第1の工程は、二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコンを保持する第1のサブ工程と、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する第2のサブ工程とを含む。
 さらに、この発明によれば、発光粉体の製造装置は、反応容器と、生成器と、レーザ装置とを備える。反応容器は、単結晶シリコンを保持する。生成器は、反応容器に液体の二酸化炭素を供給し、反応容器内に二酸化炭素からなる超臨界流体を生成する。レーザ装置は、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する。
 この発明によれば、発光粉体は、COからなる超臨界流体中に保持された単結晶シリコンからレーザアブレーションによって製造された発光粉体からなる。そして、発光粉体は、白色の蛍光を発する。
 したがって、この発明によれば、発光粉体を白色で発光させることができる。
この発明の実施の形態による発光粉体の断面図である。 この発明の実施の形態による発光粉体の製造装置の構成を示す概略図である。 図1に示す発光粉体の製造方法を示す工程図である。 基板上に堆積された発光粉体の模式図である。 ステンレス基板上に配置された複数の発光粉体の光学顕微鏡像である。 X線小角散乱による分析結果を示す図である。 ラマン散乱のスペクトルを示す図である。 図3に示す工程に従って製造した発光粉体の蛍光顕微鏡像である。 ステンレス基板上に配置された複数の発光粉体の他の光学顕微鏡像である。 図3に示す工程に従って製造した発光粉体の他の蛍光顕微鏡像である。 図3に示す工程に従って製造した発光粉体のフォトルミネッセンスのスペクトルである。 発光スペクトルの積分強度の圧力依存性を示す図である。 この発明の実施の形態による発光素子の構成を示す断面図である。 図13に示す発光素子の製造方法を示す工程図である。 この発明の実施の形態による他の発光素子の構成を示す断面図である。 図15に示すB方向から見た電極の平面図である。
本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
 図1は、この発明の実施の形態による発光粉体の断面図である。図1を参照して、この発明の実施の形態による発光粉体10は、結晶シリコン1と、酸化シリコン2とを備える。酸化シリコン2は、結晶シリコン1を覆う。したがって、発光粉体10は、結晶シリコン1をコアとするコア/シェル構造からなる。
 結晶シリコン1は、単結晶シリコンからなり、球形状を有する。そして、結晶シリコン1は、約2nmの平均粒径を有する。酸化シリコン2は、二酸化ケイ素(SiO)からなり、平均で約2nmの厚みを有する。したがって、発光粉体10は、約6nmの直径を有する球形状からなる。
 図2は、この発明の実施の形態による発光粉体の製造装置の構成を示す概略図である。図2を参照して、発光粉体の製造装置100は、ボンベ20と、配管21,23と、ポンプ22と、冷却器24と、反応容器25と、レーザ装置26と、レンズ27と、ヒータ28と、熱電対29と、温度検出器30と、制御器31とを備える。
 ボンベ20は、配管21によってポンプ22に接続される。ポンプ22は、配管23によって反応容器25に接続される。ヒータ28は、反応容器25の周囲に接して配置される。これは、反応容器25内に生成された超臨界流体を均一に加熱するためである。熱電対29は、一方端側が反応容器25内に挿入され、他方端が温度検出器30に接続される。
 ボンベ20は、圧力弁201を有し、サイフォン式のCOボンベからなる。そして、ボンベ20は、気体の二酸化炭素(CO)を収納する。配管21は、オイルフリーの配管からなり、ボンベ20に収納されたCOを圧力弁201を介してポンプ22へ供給する。そして、圧力弁201は、COの耐膨潤性のある材料(たとえば、エチレンプロピレンゴム、ニトリルゴムおよびクロロピレンゴム)によってシールされている。
 ポンプ22は、潤滑材を取り除いて作製されている。そして、ポンプ22は、配管21を介してボンベ20から供給されたCOを配管23を介して反応容器25内へ供給する。この場合、ポンプ22は、COからなる超臨界流体が反応容器25内で生成される圧力になるようにCOを配管23を介して反応容器25内へ供給する。
 配管23は、オイルフリーの配管からなり、ポンプ22からのCOを反応容器25内に供給する。冷却器24は、たとえば、氷からなり、ポンプ22から出力されたCOが液体のCOになる温度にCOを冷却する。
 反応容器25は、耐膨潤性のある材料(たとえば、テフロン(登録商標)、カルレッツ、シリコンゴム)によってシールされている。そして、反応容器25は、中空の円筒形状を有し、たとえば、ステンレスからなる。また、反応容器25は、長さ方向の両端部に、透明な窓、たとえば、サファイア窓251,252を有する。また、反応容器25は、COからなる超臨界流体と、単結晶シリコンからなるシリコン塊40と、基板50とを保持する。
 レーザ装置26は、たとえば、Nd:YAGレーザからなり、Nd:YAGレーザの2倍波である532nmの波長を有するレーザ光を出射する。このレーザ光は、パルス幅が10nsecであり、繰返し周波数が20Hzであり、フルーエンスが19mJ/cmであるパルス光からなる。
 レンズ27は、レーザ装置26から出射されたレーザ光を集光し、その集光したレーザ光をサファイア窓252を介してシリコン塊40に照射する。この場合、レンズ27は、1パルス当たりのエネルギーが19mJ/パルスから800mJ/パルスになるようにレーザ光を集光する。また、シリコン塊40は、たとえば、1辺の長さが1cmである立方体からなり、(111)の面方位を有する。さらに、基板50は、たとえば、カーボン(C)またはステンレスからなる。そして、基板50は、レーザ光が照射されるシリコン塊40の面と反対面側に配置される。これは、小さいサイズの発光粉体10を得るためである。
 ヒータ28は、制御器31からの制御に従って、反応容器25内のCOが超臨界流体になる温度に反応容器25を加熱する。熱電対29は、反応容器25内のCOの温度に起因する起電力を検出し、その検出した起電力を温度検出器30へ出力する。
 温度検出器30は、熱電対29から起電力を受け、その受けた起電力に基づいて、COの温度Tを検出する。そして、温度検出器30は、その検出した温度Tを制御器31へ出力する。
 制御器31は、温度検出器30から温度Tを受け、その受けた温度Tに基づいて、反応容器25内のCOが超臨界流体になる温度Tcに反応容器25を加熱するようにヒータ28を制御する。
 COを反応容器25内に4.56MPa~14.8MPaの圧力範囲で詰める方法について説明する。図2においては、図示されていないが、製造装置100は、反応容器25内の圧力を測定する圧力計と、反応容器25内のCOを外部へ放出するための開閉弁とを備えている。そして、反応容器25内の圧力が設定圧力(=4.56MPa~14.8MPaの圧力範囲のいずれかの圧力)よりも高い圧力になるように、ボンベ20、配管21,23、ポンプ22および冷却器24を用いてCOを反応容器25内に詰める。そして、開閉弁を開いてCOを外部へ放出し、反応容器25内の圧力を設定圧力に設定する。
 なお、図2においては、図示されていないが、COをボンベ20から反応容器25へ供給する経路には、高圧バルブも使用されており、高圧バルブ(ダイヤフラム型)は、オイルフリーのバルブからなる。
 この発明の実施の形態においては、ポンプ22は、反応容器25内の圧力が4.56MPa~14.8MPaの範囲になるようにCOを反応容器25内に供給する。また、ヒータ28は、反応容器25内のCOの温度Tが40℃~50℃の範囲になるように反応容器25を加熱する。
 そして、反応容器25内の圧力が4.56MPa~14.8MPaの範囲になり、反応容器25内のCOの温度Tが臨界温度である31℃以上、たとえば、40℃~50℃の範囲になれば、反応容器25内のCOは、超臨界流体になる。
 また、製造装置100においては、ポンプ22から出力された気体のCOを液体のCOになるように冷却器24によって冷却しているが、これは、液体のCOの方が気体のCOよりもポンプ22によって加圧し易いため、反応容器25内のCOの圧力をポンプ22によって4.56MPa~14.8MPaの圧力に設定し易くするためである。つまり、COからなる超臨界流体を安定して作り出すためである。
 さらに、製造装置100においては、上述したように、ポンプ22は、潤滑材を取り除いて作製されており、配管21,23および高圧バルブがそれぞれオイルフリーの配管およびバルブからなるので、COからなる超臨界流体を反応容器25内で安定させることができるとともに、製造された発光粉体10への汚染を抑制できる。
 さらに、製造装置100においては、上述したように、ボンベ20は、サイフォン式のCOボンベからなるので、短時間で効率的に高密度のCOをボンベ20から取り出すことができる。
 図3は、図1に示す発光粉体10の製造方法を示す工程図である。図3を参照して、発光粉体10の製造が開始されると、シリコン塊40が反応容器25内に設置される(ステップS1)。
 そして、圧力弁201は、ボンベ20からの気体のCOを配管21を介してポンプ22に供給し、ポンプ22は、COを配管23中へ出力する。そして、冷却器24は、気体のCOを液体のCOに冷却する。そうすると、ポンプ22は、その冷却された液体のCOを反応容器25内で超臨界流体が生成される圧力になるように反応容器25へ供給する(ステップS2)。
 その後、熱電対29は、反応容器25内のCOの温度に起因する起電力を検出し、その検出した起電力を温度検出器30へ出力する。温度検出器30は、熱電対29から受けた起電力に基づいて、反応容器25内のCOの温度Tを検出し、その検出した温度Tを制御器31へ出力する。
 制御器31は、温度検出器30から受けた温度Tが、COからなる超臨界流体が生成される温度Tcになるようにヒータ28を制御する。そして、ヒータ28は、温度Tが温度Tcになるように反応容器25を加熱する(ステップS3)。
 引き続いて、レーザ装置26は、レーザアブレーションが生じる強度(=800mJ/パルス)を有するレーザ光をレンズ27を介してシリコン塊40に照射する(ステップS4)。この場合、レーザ光の照射時間は、約5分~10分である。また、レーザ装置26は、たとえば、約40秒、レーザ光をシリコン塊40の一箇所に照射し、その後、照射場所を数mmずらして、約40秒、レーザ光をシリコン塊40に照射することを繰り返す。また、反応容器25に入射されるレーザ光の入射位置を固定し、ターゲットとなるシリコン塊40を回転または移動させることによって、シリコン塊40におけるレーザ光の照射位置を変えてもよい。このように、レーザ光の照射場所を変えながらレーザ光をシリコン塊40に照射することによって、4倍程度、多くの発光粉体10を製造できる。
 これによって、レーザアブレーションが起こり、ナノサイズの結晶シリコンがシリコン塊40から超臨界流体(=CO)中へ飛び出す。
 レーザ光の照射時間が10分になると、レーザ装置26は、レーザ光の照射を停止する(ステップS5)。
 その後、反応容器25内の圧力によって決定された成長時間だけ反応容器25中でナノ生成物を成長させる(ステップS6)。この成長によって、超臨界流体中へ飛び出した結晶シリコンは、レーザ光の照射直後のナノ秒からピコ秒のタームスケールで超臨界COによって冷却され、超臨界流体中を下方向へ移動しながら発光粉体10になり、発光粉体10が基板50上に堆積される。これらの間、反応容器25は、同一温度になるように制御器31によって制御されている。
 また、成長時間は、反応容器25内の圧力が4.56MPaである場合、4分~10分であり、反応容器25内の圧力が11.0MPaである場合、1時間であり、反応容器25内の圧力が14.8MPaである場合、2時間である。これらの時間は、100nmの粒子が1cmだけ沈む時間を計算し、その計算した時間に基づいて決定された。
 このように、成長時間は、COからなる超臨界流体の圧力が高い程、長い時間に設定され、COからなる超臨界流体の圧力が低い程、短い時間に設定される。
 そして、成長時間が経過すると、発光粉体10の製造が終了する。
 上述したように、この発明の実施の形態においては、レーザ光の照射を停止した後、超臨界流体の圧力によって決定された成長時間だけ、反応容器25内のCOおよびレーザアブレーションによって生成された結晶シリコンを冷却し、発光粉体10を基板50上に堆積させる。
 なお、図3に示す工程においては、レーザ装置26は、レーザ光をレンズ27によって集光し、800mJ/パルスの強度を有するレーザ光をシリコン塊40に照射すると説明したが、この発明の実施の形態においては、これに限らず、レーザ装置26は、ナノサイズの結晶シリコンがシリコン塊40から超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる臨界強度である200mJ/パルス以上の強度を有するレーザ光をレンズ27を介してシリコン塊40に照射するものであればよい。
 図4は、基板50上に堆積された発光粉体10の模式図である。なお、図4は、基板50上に堆積された複数の発光粉体10の一部を拡大して示したものである。
 図4を参照して、発光粉体10は、ネットワーク構造(図4の斜線部分)を形成するように基板50上に堆積される。
 図5は、ステンレス基板上に配置された複数の発光粉体の光学顕微鏡像である。なお、図5は、図4に示すネットワーク構造を構成する複数の発光粉体10を収集してステンレス基板上に配置したときの光学顕微鏡像(明視野像)である。そして、明視野像は、ハロゲンランプを落射照明で照射し、常温および常圧下で高感度カラーCCDカメラ付き顕微鏡によって測定した。
 図5を参照して、複数の微小な粒が写っているのが解る。
 ネットワーク構造を形成する複数の発光粉体10を収集してEPMA(Electron Probe Micro Analyzer)による分析を行なった。
 複数の発光粉体10の集合体をEPMAによって分析した結果、シリコン(Si)および酸素(O)が約1:2の組成比で検出された。したがって、発光粉体10の表面側は、SiOからなることが解った。
 また、複数の発光粉体10の集合体をHFに浸漬したものについてフォトルミネッセンスを測定した結果、Siの発光が検出された。したがって、発光粉体10の中心部は、Siからなることが解った。なお、発光粉体10のフッ酸処理は、30%のHFに発光粉体10を数時間浸漬することによって行なわれた。
 このEPMAの分析およびフォトルミネッセンスの測定結果によって、発光粉体10は、上述したようにSiをコアとし、SiOをシェルとするコア/シェル構造からなることが実証された。
 次に、複数の発光粉体10の集合体をX線小角散乱(SAXS:Small Angle X-ray Scattering)によって分析した。
 図6は、X線小角散乱による分析結果を示す図である。なお、X線小角散乱は、波長1.5ÅのCuKα線を用いて測定された。
 図6において、横軸は、サイズを表し、縦軸は、存在量を表す。また、曲線k1は、COからなる超臨界流体の圧力を4.56MPaに設定して製造した発光粉体10のX線小角散乱による分析結果を示す。さらに、曲線k2は、COからなる超臨界流体の圧力を10.4MPaに設定して製造した発光粉体10のX線小角散乱による分析結果を示す。さらに、曲線k3は、X線小角散乱の典型的なスペクトルを示す。
 図6を参照して、COからなる超臨界流体の圧力を4.56MPaに設定して製造した発光粉体10、およびCOからなる超臨界流体の圧力を10.4MPaに設定して製造した発光粉体10は、共に、約0.5nm~約100nmの範囲のサイズを有し、約6nmのサイズに最も多く分布する(曲線k1,k2参照)。
 このサイズの分布と、上述したX線小角散乱の分析結果とを併せると、発光粉体10は、約2nmの直径を有するSiと、約2nmの厚みを有するSiOとからなることが解った。
 図7は、ラマン散乱のスペクトルを示す図である。図7において、横軸は、ラマンシフトを表し、縦軸は、強度を表す。また、曲線k4は、COからなる超臨界流体の圧力を4.56MPaに設定して製造した発光粉体10のラマン散乱のスペクトルを示す。さらに、曲線k5は、COからなる超臨界流体の圧力を10.4MPaに設定して製造した発光粉体10のラマン散乱のスペクトルを示す。さらに、曲線k6は、COからなる超臨界流体の圧力を14.8MPaに設定して製造した発光粉体10のラマン散乱のスペクトルを示す。さらに、曲線k7は、単結晶シリコンのラマン散乱のスペクトルを示す。さらに、曲線k8は、アモルファスシリコンのラマン散乱のスペクトルを示す。
 図7を参照して、発光粉体10は、製造時の超臨界流体(COからなる)の圧力に拘わらず、ラマンシフトの鋭いピークが520cm-1に観測された(曲線k4~k6参照)。これは、単結晶シリコンのラマンシフトのピーク(520cm-1)と同じであり(曲線k7参照)、アモルファスシリコンのラマンシフトと全く異なるものである(曲線k8参照)。
 したがって、発光粉体10は、単結晶シリコンからなるコアを有することが解った。
 図8は、図3に示す工程に従って製造した発光粉体10の蛍光顕微鏡像である。なお、蛍光顕微鏡像を撮ったときの発光粉体10の励起波長は、325nmであり、励起光の強度は、20mWである。また、蛍光顕微鏡像は、常温および常圧下で撮影された。
 図8を参照して、発光粉体10は、全体的には、白水色に発光しており、矢印Aによって示される領域では、白色で発光しているのが解る。
 図9は、ステンレス基板上に配置された複数の発光粉体の他の光学顕微鏡像である。なお、光学顕微鏡像は、図5に示す光学顕微鏡像の撮影条件と同じ撮影条件によって撮影された。図9を参照して、複数の発光粉体10からなる生成物が生成されている。そして、生成物は、突起部分を有する。
 図10は、図3に示す工程に従って製造した発光粉体10の他の蛍光顕微鏡像である。なお、蛍光顕微鏡像を撮ったときの発光粉体10の励起波長は、325nmであり、励起光の強度は、20mWである。また、蛍光顕微鏡像は、常温および常圧下で撮影された。
 図10を参照して、図9に示す領域と同じ領域が白色または白水色で発光している。図9および図10に示す領域は、図5および図8に示す領域よりも広い領域であり、数百μmのサイズを有する。
 したがって、複数の発光粉体10の集合体は、数百μmの領域で全体的に発光することが確認された。
 このように、COからなる超臨界流体中でシリコン塊40からレーザアブレーションによって製造された発光粉体10は、白水色または白色で発光することが実証された。
 図11は、図3に示す工程に従って製造した発光粉体10のフォトルミネッセンスのスペクトルである。図11において、横軸は、波長(またはエネルギー)を表し、縦軸は、強度を表す。
 なお、フォトルミネッセンスを測定するときの発光粉体10の励起波長は、325nmであり、励起光の強度は、2mWである。そして、フォトルミネッセンスの測定は、波長325nmのレーザ光を試料に対して落射によって照射し(試料直前における励起光の強度は、数十μWである)、紫外対応対物レンズで試料からの発光を採光し、シングル型分光器によって波長分散させ、CCDカメラでスペクトル計測を行なうことによって測定された。スペクトルは、アメリカ国立標準技術研究所(NIST)準拠の強度補正された光源を元に装置関数を得て、それを用いて分光感度特性が校正されている。測定は、常温および常圧下で行なわれた。
 また、図11は、COからなる超臨界流体の圧力を7.5MPaに設定し、COからなる超臨界流体の温度を322.4K(=49.4℃)に設定して発光粉体10を製造し、その製造した発光粉体10を大気中へ取り出して4日経過後に測定されたフォトルミネッセンスのスペクトルである。
 図11を参照して、発光粉体10は、350nm以上の波長範囲に発光スペクトルを有することが解った。すなわち、色の三原色である青、緑および赤の波長を含む波長範囲に発光スペクトルを有する。
 この発光スペクトルは、図8に示す蛍光顕微鏡像が白色であることを支持するものである。
 図12は、発光スペクトルの積分強度の圧力依存性を示す図である。図12において、横軸は、発光粉体10の製造時の超臨界流体の圧力を表し、縦軸は、積分強度を表す。また、曲線k9は、発光粉体10を製造してから40分後の発光スペクトルの積分強度の圧力依存性を示し、曲線k10は、発光粉体10を製造してから2日後の発光スペクトルの積分強度の圧力依存性を示し、曲線k11は、発光粉体10を製造してから2ヶ月後の発光スペクトルの積分強度の圧力依存性を示す。
 図12を参照して、発光粉体10を製造してから40分経過後の発光スペクトルの積分強度は、超臨界流体の圧力に対してほぼ一定である(曲線k9参照)。
 一方、発光粉体10を製造してから2日経過後の発光スペクトルの積分強度、および発光粉体10を製造してから2ヶ月経過後の発光スペクトルの積分強度は、4.56MPa~14.8MPaの圧力範囲において超臨界流体の圧力が高くなるに従って強くなる(曲線k10,k11参照)。
 そして、発光粉体10を製造してから2ヶ月経過後の発光粉体10は、発光強度(積分強度)が最大で約100倍になる(曲線k9,k11参照)。
 したがって、発光粉体10を製造するときの超臨界流体の圧力を制御することによって発光強度を制御できる。
 また、各圧力において、発光粉体10の発光強度(積分強度)は、発光粉体10を製造してからの経過時間が長くなるに従って強くなる(曲線k9~k11参照)。
 したがって、図3に示す工程に従って製造された発光粉体10は、製造されてからの経過時間によって劣化しないことが解った。
 なお、上述した図3に示す工程において、ステップS1~S3は、二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコンを保持する「第1の工程」を構成する。
 また、上述したステップS4において、レーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンからなるシリコン塊40に照射することによって、ナノサイズの結晶シリコンがシリコン塊40から超臨界流体中へ飛び出すので、ステップS4は、ナノサイズの結晶シリコンが単結晶シリコンから超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を単結晶シリコンに照射する「第2の工程」を構成する。
 そして、結晶シリコンがレーザアブレーションによってシリコン塊40から超臨界流体中へ飛び出し、その飛び出した結晶シリコンが、その後、任意の時間、冷却されれば、発光粉体10が製造されるので、上述した成長時間が経過する前に試料を取り出しても発光粉体10を得ることができる。したがって、この発明の実施の形態による発光粉体は、上述した第1および第2の工程によって製造されるものであればよい。
 図13は、この発明の実施の形態による発光素子の構成を示す断面図である。図13を参照して、この発明の実施の形態による発光素子200は、透明基板210と、透明導電膜220と、導電性高分子230と、発光部材240と、電極250とを備える。
 透明基板210は、フィルムまたはガラスからなる。透明導電膜220は、ITO(Indium Tin Oxide)、SnO、ZnO、および有機EL(Electro Luminescence)のフレキシブルディスプレイ用の材料のいずれかからなり、透明基板210の周囲に形成される。
 導電性高分子230は、ポリアセチレン、ポリパラフェニレン、ポリアニリン、ポリチオフェンおよびポリパラフェニレンビニレンのいずれかからなる。そして、導電性高分子230は、透明導電膜220および発光部材240に接して透明導電膜220と発光部材240との間に配置される。
 なお、キャリア移動度を大きくし、電極に印加された電圧を有効利用するためには、導電性高分子230は、比誘電率の小さい材料からなる。
 発光部材240は、積層された複数の発光粉体10からなる。そして、発光部材240は、導電性高分子230および電極250に接して導電性高分子230と電極250との間に配置される。
 電極250は、たとえば、金(Au)からなり、発光部材240に接して発光部材240上に形成される。また、電極250は、合金材料(Ca/Ag)およびMg系の金属からなっていてもよく、ナノ金属の集積体からなっていてもよい。
 発光素子200において、電圧が透明導電膜220と電極250との間に印加されると、電子および正孔が発光部材240の発光粉体10に注入され、発光部材240が発光する。この場合、電子および正孔は、発光粉体10の約2nmの厚みを有する酸化シリコン(SiO)2をトンネルして結晶シリコン1中へ注入される。また、2つの発光粉体10が接する領域においては、電子および正孔は、発光粉体10の約2nmの厚みを有する酸化シリコン(SiO)2をトンネルして一方の発光粉体10から他方の発光粉体10へ流れる。したがって、発光粉体10が積層されていても、その積層された発光粉体10に電子および正孔を注入できる。
 また、発光素子200は、3.82Vの電圧が透明導電膜220と電極250との間に印加されると、白色で発光し、3.3Vの電圧が透明導電膜220と電極250との間に印加されると、青色で発光し、2.7Vの電圧が透明導電膜220と電極250との間に印加されると、緑色で発光し、2.41Vの電圧が透明導電膜220と電極250との間に印加されると、赤色で発光する。
 なお、これらの電圧値は、最小の電圧値であり、結晶シリコン1と酸化シリコン2との界面におけるエネルギーギャップが作用する場合には、高電圧側へシフトする。
 このように、透明導電膜220と電極250との間に印加する電圧を制御することによって発光素子200を異なる色で発光させることができる。
 図14は、図13に示す発光素子200の製造方法を示す工程図である。図14を参照して、発光素子200の製造が開始されると、複数の発光粉体10が図3に示す工程に従って製造される(ステップS11)。
 そして、複数の発光粉体10を収集して複数の発光粉体10からなる発光部材240が製造される(ステップS12)。
 引き続いて、発光部材240が導電性高分子230によって透明導電膜220に接着される(ステップS13)。
 そして、電極250がスパッタリング、蒸着、およびインクジェット法のいずれかによって発光部材240上に形成される(ステップS14)。これによって、発光素子200が完成する。
 なお、発光素子200においては、電極250は、ITO等の透明導電膜からなっていてもよい。
 また、発光素子200は、透明基板210および透明導電膜220に代えて、キャリア濃度が1020cm-3以上のn型またはp型のシリコンウェハを備えていてもよく、透明基板210および透明導電膜220に代えて、キャリア濃度が1020cm-3以上のn型またはp型のシリコンウェハを備え、かつ、電極250に代えて、キャリア濃度が1020cm-3以上のpn型またはn型のシリコンウェハを備えていてもよい。この場合、発光した光は、発光素子200の横方向へ出射される。
 図15は、この発明の実施の形態による他の発光素子の構成を示す断面図である。この発明の実施の形態による発光素子は、図15に示す発光素子200Aであってもよい。
 図15を参照して、発光素子200Aは、図13に示す発光素子200の電極250を電極260に代えたものであり、その他は、発光素子200と同じである。
 電極260は、たとえば、Auからなり、発光部材240に接して発光部材240上に形成される。
 図16は、図15に示すB方向から見た電極260の平面図である。図16を参照して、電極260は、電極片261~264からなる。
 電極片261~264は、相互に異なる電圧が印加される。たとえば、電極片261は、3.82Vの電圧が印加され、電極片262は、3.3Vの電圧が印加され、電極片263は、2.7Vの電圧が印加され、電極片264は、2.41Vの電圧が印加される。
 その結果、電極片261に接する発光部材240の領域は、白色で発光し、電極片262に接する発光部材240の領域は、青色で発光し、電極片263に接する発光部材240の領域は、緑色で発光し、電極片264に接する発光部材240の領域は、赤色で発光する。
 このように、発光素子200Aは、白色の光、青色の光、緑色の光および赤色の光を同時に発光する発光素子である。
 なお、発光素子200Aは、図14に示すステップS14の後に、電極260をフォトリソグラフィによって電極片261~264にパターンニングするステップを追加する工程に従って製造される。
 また、発光素子200Aにおいては、電極250は、ITO等の透明導電膜からなっていてもよい。
 さらに、発光素子200Aは、透明基板210および透明導電膜220に代えて、キャリア濃度が1020cm-3以上のn型またはp型のシリコンウェハを備えていてもよい。この場合、発光した光は、発光素子200Aの横方向へ出射される。
 さらに、発光素子200Aにおいては、透明導電膜220が電極260と同じようにパターンニングされていてもよい。そして、一般的には、発光素子200Aにおいては、発光部材240の両側に配置される2つの電極のうち、少なくとも一方が複数の電極片にパターンニングされていればよい。
 そして、上述した発光素子200,200Aは、照明装置および表示装置に適用される。シリコンナノ材料の発光寿命は、そのサイズを考慮すると、マイクロ秒オーダー(場合によっては、ナノ秒またはピコ秒のオーダー)であると想定される。したがって、スイッチング回路を用いることにより、発光/点滅が素早くなり、電気追従性がよい。その結果、発光素子200,200Aは、液晶表示装置に比べ、動画用のディスプレイに適している。
 また、発光粉体10は、フォトルミネッセンス(PL)用の素子に適用できる。従来の蛍光灯は、水銀が封入され、その封入された水銀の紫外線によってユーロビウム(Eu)およびテルビウム(Tb)等の希土類元素を励起し、三原色の光を混ぜて白色蛍光灯としている。そこで、上述した発光粉体10を蛍光灯に用いると、希土類元素の代用になるとともに、紫外線照射によって白色蛍光灯を実現できる。また、発光粉体10は、プラズマディスプレイにも適用可能である。
 素子構造は、発光粉体10を紫外透過性高分子に溶媒と一緒に混ぜ、その溶液をガラス内壁に塗布し、その後、溶媒を飛ばすことによって、発光粉体10を紫外透過性高分子と一緒にガラス表面に固化させた構造である。そして、固化させるガラスは、透明な材料であればどのような材料であってもよく、また、形状も、平面および曲面のいずれでもよい。そして、内側から水銀の放電または希ガスの放電によって発光させる。
 上記においては、反応容器25は、シリコン塊40を保持すると説明したが、この発明の実施の形態においては、反応容器25は、シリコンウェハを保持してもよい。この場合、シリコンウェハは、その表面がレーザ光に対して略垂直になるように反応容器25内に保持される。
 また、この発明の実施の形態においては、ポンプ22、冷却器24、ヒータ28、熱電対29、温度検出器30および制御器31は、反応容器25内にCOからなる超臨界流体を生成する「生成器」を構成する。
 今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
 この発明は、白色で発光可能な発光粉体に適用される。また、この発明は、白色で発光可能な発光粉体の製造方法に適用される。さらに、この発明は、白色で発光可能な発光粉体を用いた発光素子に適用される。さらに、この発明は、白色で発光可能な発光粉体を用いた発光素子の製造方法に適用される。さらに、この発明は、白色で発光可能な発光粉体の製造装置に適用される。

Claims (12)

  1.  二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコン(40)を保持する第1の工程と、
     ナノサイズの結晶シリコン(1)が前記単結晶シリコン(40)から前記超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を前記単結晶シリコン(40)に照射する第2の工程とを実行して製造される発光粉体。
  2.  前記超臨界流体中へ飛び出した前記ナノサイズの結晶シリコン(1)を前記超臨界流体の圧力によって決定された成長時間だけ成長させる第3の工程をさらに実行して製造される、請求項1に記載の発光粉体。
  3.  前記第3の工程において、前記ナノサイズの結晶シリコン(1)は、前記超臨界流体の圧力が高い程、長い時間、成長し、前記超臨界流体の圧力が低い程、短い時間、成長する、請求項2に記載の発光粉体。
  4.  二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコン(40)を保持する第1の工程と、
     ナノサイズの結晶シリコン(1)が前記単結晶シリコン(40)から前記超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を前記単結晶シリコン(40)に照射する第2の工程とを備える発光粉体の製造方法。
  5.  前記超臨界流体中へ飛び出した前記ナノサイズの結晶シリコン(1)を前記超臨界流体の圧力によって決定された成長時間だけ成長させる第3の工程をさらに備える、請求項4に記載の発光粉体の製造方法。
  6.  前記第3の工程において、前記ナノサイズの結晶シリコン(1)は、前記超臨界流体の圧力が高い程、長い時間、成長し、前記超臨界流体の圧力が低い程、短い時間、成長する、請求項5に記載の発光粉体の製造方法。
  7.  前記第1の工程は、
     前記単結晶シリコン(40)を反応容器(25)内に入れる第1のサブ工程と、
     前記二酸化炭素をサイフォン式のボンベから取り出し、耐膨潤性のある材料によってシールされた圧力弁(201)、潤滑材を取り除いて作製されたポンプ(20)、およびオイルフリーの配管(21,23)を用いて前記超臨界流体が生成される圧力になるように前記反応容器(25)に前記取り出した二酸化炭素を供給する第2のサブ工程と、
     前記超臨界流体が生成される温度になるように前記反応容器(25)を加熱する第3のサブ工程とを含む、請求項4に記載の発光粉体の製造方法。
  8.  発光部材(240)と、
     前記発光部材(240)の一方の表面に形成された第1の電極(220)と、
     前記発光部材(240)の他方の表面に形成された第2の電極(250)とを備え、
     前記発光部材(240)は、複数の発光粉体(10)からなり、
     前記複数の発光粉体(10)の各々は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の発光粉体からなる、発光素子。
  9.  前記第1および第2の電極の少なくとも一方の電極は、透明導電膜からなる、請求項8に記載の発光素子。
  10.  前記第1および第2の電極の少なくとも一方の電極は、複数の電極片(261~264)からなる、請求項8に記載の発光素子。
  11.  複数の発光粉体(10)を製造する第1の工程と、
     前記複数の発光粉体(10)を収集して前記複数の発光粉体(10)からなる発光部材(240)を製造する第2の工程と、
     基板(210)上に形成された第1の電極(220)に前記発光部材(240)を接着する第3の工程と、
     前記発光部材(240)上に第2の電極(250)を形成する第4の工程とを備え、
     前記第1の工程は、
     二酸化炭素からなる超臨界流体中に単結晶シリコン(40)を保持する第1のサブ工程と、
     ナノサイズの結晶シリコン(1)が前記単結晶シリコン(40)から前記超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を前記単結晶シリコン(40)に照射する第2のサブ工程とを含む、発光素子の製造方法。
  12.  単結晶シリコン(40)を保持する反応容器(25)と、
     前記反応容器(25)に液体の二酸化炭素を供給し、前記反応容器(25)内に前記二酸化炭素からなる超臨界流体を生成する生成器(22,24,28,29,30,31)と、
     ナノサイズの結晶シリコン(1)が前記単結晶シリコン(40)から前記超臨界流体中へ飛び出すレーザアブレーションが生じる強度を有するレーザ光を前記単結晶シリコン(40)に照射するレーザ装置(26)とを備える発光粉体の製造装置。
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