WO2010046117A2 - Procédé et tomodensitomètre à rayons x pour examiner un objet par tomodensitométrie - Google Patents
Procédé et tomodensitomètre à rayons x pour examiner un objet par tomodensitométrie Download PDFInfo
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Abstract
L'invention concerne un procédé et un tomodensitomètre à rayons x (1) pour examiner un objet (2) par tomodensitométrie, des enregistrements de projection d'objet étant déterminés pour plusieurs directions de projection, enregistrements sur la base desquels une unité de calcul (11) calcule des enregistrements de longueur d'irradiation correspondants. Les enregistrements de longueur d'irradiation contiennent pour chaque direction de projection et pour chaque pixel (p) la longueur de l'objet (2) traversée par les rayons x (6). Les enregistrements de longueur d'irradiation servent au calcul par l'unité de calcul (11) d'enregistrements de projection de référence correspondants qui contiennent des informations sur des défauts d'objet (13) virtuels. L'unité de calcul (11) analyse les enregistrements de projection d'objet et les enregistrements de projection de référence calculés, de façon qu'il est possible de différencier entre des défauts d'objet (13) virtuels et des défauts d'objet (12) réels pour l'objet (2) examiné de manière individuelle.
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