WO2009074033A1 - A method and system for expanding micro telecom computing architecture microtca - Google Patents

A method and system for expanding micro telecom computing architecture microtca Download PDF

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WO2009074033A1
WO2009074033A1 PCT/CN2008/072771 CN2008072771W WO2009074033A1 WO 2009074033 A1 WO2009074033 A1 WO 2009074033A1 CN 2008072771 W CN2008072771 W CN 2008072771W WO 2009074033 A1 WO2009074033 A1 WO 2009074033A1
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WO
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jtag
amc
connector
test
unit
Prior art date
Application number
PCT/CN2008/072771
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English (en)
French (fr)
Inventor
Shanfu Li
Feng Hong
Cheng Chen
Longji Rao
Original Assignee
Huawei Technologies Co., Ltd.
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Filing date
Publication date
Application filed by Huawei Technologies Co., Ltd. filed Critical Huawei Technologies Co., Ltd.
Publication of WO2009074033A1 publication Critical patent/WO2009074033A1/zh
Priority to US12/813,368 priority Critical patent/US8601320B2/en

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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L49/00—Packet switching elements
    • H04L49/40—Constructional details, e.g. power supply, mechanical construction or backplane

Definitions

  • the present invention relates to the field of communications, and more particularly to a method and system for extending a micro telecommunications computing architecture. Background technique
  • MicroTCA is a platform specification developed by the Peripheral Component Expansion Interface (PCI) Industrial Computer Manufacturers Group (PIC), which uses Advanced Mezzanine Card (AMC) to build small-capacity, low-cost modular communications.
  • PCI Peripheral Component Expansion Interface
  • AMC Advanced Mezzanine Card
  • the platform is mainly used in small telecommunication equipment such as a central computer room or enterprise-class communication equipment.
  • the current standard specification version is the PICMG MicroTCA.O Rl.O version.
  • the MicroTCA can be configured in a variety of products. Depending on the service requirements, the MicroTCA system can be configured with different sizes and quantities of MicroTCA Carrier Hub (MCH, MicroTCA Carrier Hub) and AMC. Applicable to 300mm deep machine rejection, or can be placed back to back in a 600mm deep machine.
  • MCH MicroTCA Carrier Hub
  • AMC Applicable to 300mm deep machine rejection, or can be placed back to back in a 600mm deep machine.
  • the main functional modules include: chassis, power module (PM, Power Module), MCH, and AMC.
  • the parts connected to the MCH, AMC, and PM in the chassis are the backplanes, and the MCH, AMC, and PM are connected and exchanged through the lines in the backplane.
  • MCH is the central module of MicroTCA system, providing management, switching, clock and test functions of MicroTCA system.
  • JTAG Joint Test Action Group
  • the test protocol is mainly used in the interconnection test in the MicroTCA system, such as: data connection failure test between boards, interconnection failure between chips, etc., which can test the data connection and clock connection in the MicroTCA system.
  • the JTAG test unit set in the MicroTCA system provides a test port that is connected to the unit under test in the system.
  • the JTAG test unit is mainly composed of a JTAG switch module (JSM, JTAG Switch Module).
  • JSM JTAG switch module
  • the JTAG test unit is implemented by inserting a JSM into the JTAG slot.
  • the JTAG slot provides a connector for the JTAG test unit, and the JTAG test unit is connected.
  • the device contains a connection port to the unit under test and the JTAG control unit, and a connection port to the load power supply.
  • the connection relationship can be as shown in FIG. 2, that is, the connection between the JSM and the JTAG control unit and the tested unit uses a star topology.
  • the JTAG control unit can be set in the MCH or through an external test tool; the unit under test is usually AMCchev
  • FIG 3 is a functional block diagram of the JSM.
  • the JSM mainly includes a first switch module, a port switch module, and a power supply module.
  • the first switch module is used to connect the connection port of the JTAG test unit to the JTAG control unit, usually connected to the MCH connection or an external test tool.
  • the port switch module is used to connect the connection port of the JTAG test unit to the tested unit, usually connected to the AMC.
  • the power supply module is used to connect the connection port of the JTAG test unit to the load power supply and provide the load power of the JTAG test unit.
  • the port connected to the AMC may include: a test data output (TDO) port for outputting JSM data to the AMC, a test data input (TDI) port for inputting AMC data to the JSM, and a test clock input. (TCK) port for test clock input; Test Mode Select (TMS) port for setting the JTAG port to a specific test mode; Test Reset (TRST) port for test reset, active low.
  • TDO test data output
  • TDI test data input
  • TCK test clock input
  • TMS Test Mode Select
  • TRST Test Reset
  • an additional JTAG slot is usually provided on the backplane, and the JTAG is The slot occupies a separate backplane space.
  • the JTAG slot is only inserted into the JSM for the production process of the MicroTCA system, the JTAG slot is idle after shipment and is required on the MicroTCA system backplane.
  • the slots in other units in the MicroTCA system have very limited space.
  • a JTAG slot is used to occupy the independent backplane space, which obviously causes waste of the backplane space.
  • Embodiments of the present invention provide a method and system for extending MicroTCA, so as to further save backplane space.
  • a method of extending the micro-telecom computing architecture MicroTCA comprising: setting a connector of the AMC connector and the joint action test group JTAG test unit in the AMC slot of the at least one advanced mezzanine card on the backplane of the MicroTCA system.
  • a MicroTCA system includes at least one AMC slot on the backplane, and a connector of the AMC connector and the JTAG test unit is disposed in the at least one AMC slot.
  • the method and system provided by the embodiments of the present invention provide a connector of the AMC connector and the JTAG test unit in at least one AMC slot on the backplane of the MicroTCA system.
  • the connector of the JTAG test unit is set by using the existing AMC slot, which avoids the need to additionally set a JTAG slot to occupy the independent backplane space, thereby saving the backplane space. Also, after the test is completed, you can continue to insert the AMC without affecting the normal use of the AMC.
  • FIG. 1 is a schematic structural diagram of a MicroTCA system in the prior art
  • FIG. 2 is a connection topology diagram of a JTAG test unit in the prior art
  • FIG. 3 is a functional block diagram of a JSM in the prior art
  • FIG. 4a is a slot area distribution diagram of a full-height single-width AMC according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 4b is a slot area distribution diagram of a half-height double-width AMC according to an embodiment of the present invention
  • 4c is a slot area distribution diagram of a full-height double-width AMC according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 5 is a connection diagram provided by a connector of a JTAG test unit according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 6 is a connection diagram of a slot in which a JTAG test unit is set in a full-height double-width AMC slot according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 7 is another connection diagram according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a schematic diagram of a topology connection provided by a connector of a JTAG test unit according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a schematic structural diagram of a MicroTCA system according to an embodiment of the present invention.
  • the method provided by the embodiment of the present invention mainly includes: setting a connector of the AMC connector and the JTAG test unit in at least one AMC slot on the backplane of the MicroTCA system.
  • the connector of the JTAG test unit can be set in an area other than the AMC connector in the AMC slot.
  • the AMC in the MicroTCA system can be configured into different specifications according to actual requirements.
  • the AMC card can be divided into double-width AMC and single-width AMC.
  • the AMC configured as one layer is a single-width AMC, and the AMC configured as two-layer becomes a double-wide AMC.
  • AMC cards can also be divided into full-height AMC and half-height AMC.
  • the height of full-height AMC is usually 6HP, where 1HP is equivalent to 0.2 inches, and the height of half-height AMC is usually 3HP.
  • a full-height AMC slot can be inserted into two halves.
  • High AMC. 4a is a slot area distribution diagram of a full-height single-width AMC, FIG.
  • FIG. 4b is a slot area distribution diagram of a half-height double-width AMC
  • FIG. 4c is a slot area distribution diagram of a full-height double-width AMC.
  • the connector of the AMC usually only occupies one of the areas, and the other areas are in the idle state. Therefore, the connector of the JTAG test unit can be set by using the free area in the AMC slot.
  • the AMC connector is set in area 1
  • the JTAG test unit can be The connector is set in area 2 of the full-height single-width AMC slot.
  • the connector of the AMC is placed in zone 1, and the connector of the JTAG test cell can be placed in zone 3 of the half-height double-width AMC.
  • the connector of the AMC is disposed in the area 1, and the connector of the JTAG test unit can be set in the area 4 of the full height double width AMC, or in the area 2 or the area 3. It should be noted that the connector of the JTAG test unit can be set in any AMC slot.
  • FIG. 5 is a connection diagram provided by the connector of the JTAG test unit according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5, in the MicroTCA system.
  • a connector of the JTAG test unit is provided in the area 2 of a full-height single-width AMC, and the connector of the JTAG test unit provides a star topology connection with each AMC and MCH in the MicroTCA system, that is, each of the backplanes
  • the connection trace between the units is a star topology. After the JSM is inserted, the JSM is at the center node of the star topology connection.
  • the active and standby redundant MCHs are used, that is, the MCH 1 and MCH 2 are used.
  • the JTAG control unit that controls the JTAG test unit can be set in the MCH, or the JTAG control unit can be implemented by an external test tool. control function.
  • Figure 5 shows the JTAG control unit in the MCH, through the MCH to complete the management and control of the system JTAG test, and to achieve testing and software loading of the AMC in the system. Testing and loading can also be done with external testing tools.
  • the MCH exchanges information with the port switch module through the first switch module of the JSM.
  • the port switch module of the JSM connects to each AMC through the TDO, TDI, TCK, TMS, and TRST ports.
  • the connection to MCH and AMC provided by each port of the JSM connector can be a star connection.
  • the load power connection provided by the JSM connector can be directly connected to the MCH load power supply. That is, while the PM powers up the MCH, the JSM is powered by the load power connection provided by the MCH. Of course, the method of directly powering up JSM through PM is not ruled out. Since JSM does not require management power, there is no need to configure a management power connection on the connector of the JTAG test unit.
  • the JSM is inserted into the bit for system testing and software loading.
  • the JSM is removed.
  • the extended AMC slot can be inserted into the AMC card and has no effect on the AMC slot.
  • FIG. 5 is an example of a full-height single-width AMC.
  • the connection provided by the connector of the JTAG test unit provided in other specifications of the AMC can also be used in the above manner.
  • FIG. 6 is a full-height double width according to an embodiment of the present invention. Set the connection diagram of the slot of the JTAG test unit in the AMC slot. Set the connector of the JTAG test unit in the third area of the full-height double-width AMC slot. The connector of the JTAG test unit provides the connection with the MCH and the AMC. ⁇ Connect with a star topology.
  • the connectors provided by the connectors of the JTAG test unit can be connected to the star and star topology in addition to the above-mentioned star topology connection.
  • the JTAG test unit now contains the test bus controller. The following describes the connector of the JTAG test unit in the full-height double-width AMC slot as an example.
  • FIG. 7 is another connection diagram according to an embodiment of the present invention.
  • a connector of a JTAG test unit is provided in a third area in a full-height double-width AMC slot, and a connector of the JTAG test unit is provided.
  • the connection to the MCH and the AMC is mainly based on a bus-type topology connection, but some ports are connected by a star topology.
  • the specific port connection can be as shown in Figure 8.
  • the TCK connection, TRST connection, TDI connection and TDO connection of the test bus controller can be in the form of a bus.
  • the TCK port and TRST port of the connector of the JTAG test unit are The TDI port and the TDO port provide a connection in the form of a bus.
  • each tested unit does not listen to the function of the backplane test bus and cannot detect the addressing signal, the test mode of each tested unit can only be set by the TMS signal. Therefore, the test bus controller is tested.
  • the connection between the provided TMS port and the MCH and AMC requires a point-to-point star topology connection.
  • the JTAG control unit that controls the JTAG test unit can be set in the MCH or can be implemented by an external test tool.
  • the load power connection provided by the test bus controller can be directly derived from the MCH load power connection, that is, while the PM powers up the MCH, the test bus controller is powered up simultaneously by the load power connection provided by the pair of MCHs.
  • the connector 920 of the JTAG test unit can be disposed in an area other than the AMC connector 910 in at least one AMC slot on the backplane 900.
  • the specific setting method can be as shown in Fig. 4a, Fig. 4b or Fig. 4c.
  • the system can also include: a JTAG test unit 930.
  • the JTAG Test Unit 930 tests the MicroTCA system through the connector 920 of the JTAG Test Unit. For example, the unit under test 940 can be tested.
  • the tested unit 940 may be an AMC connected to the JTAG test unit 930 through an AMC connector, or may be a PM.
  • the JTAG test unit 930 includes: a JSM or test bus controller 931 and a JTAG control unit 932.
  • the JSM or test bus controller 931 is used for JTAG test processing on the tested unit 940.
  • a JTAG control unit 932 for managing and controlling the JSM or test bus controller 931 performs the JTAG test process.
  • the JSM When the JTAG test unit and the tested unit use the star topology, the JSM can be used. When the JTAG test unit and the tested unit use the star and bus type topology, the test bus can be used. Device.
  • the JTAG control unit 932 can be set in the MCH of the MicroTCA system or an external test tool of the MicroTCA system.
  • connection of the JTAG test unit 930 provided by the connector 920 of the JTAG test unit to the tested unit 940 may be a star topology connection, and the JSM 931 of the JTAG test unit 930 is at the center of the star topology connection, if the JTAG control unit 932 is set In the two MCHs, the JSM 931 and the two MCHs are point-to-point star topology connections, and each of the tested units 940 can also be a point-to-point star topology connection.
  • JTAG test unit The connection between the JTAG test unit 930 and the device under test 940 provided by the connector 920 may also be a star-type and bus-type topology connection.
  • connection between the TSM port provided by the JTAG test unit 930 and the device under test 940 is a point-to-point star topology connection, and the connection between the other ports and the tested unit and the MCH may be a bus topology connection.
  • the specific connection can be as shown in FIGS. 7 and 8.
  • the MicroTCA system can also include a PM 950 for powering the JTAG test unit 930 using a load supply provided to the MCH.
  • the method and system provided by the embodiments of the present invention provide a connector of the AMC connector and the JTAG test unit in at least one AMC slot on the backplane of the MicroTCA system.
  • the connector of the JTAG test unit is set by using the existing AMC slot, which avoids the need to additionally set a JTAG slot to occupy the independent backplane space, thereby saving the backplane space. Also, after the test is completed, you can continue to insert the AMC without affecting the normal use of the AMC.
  • the embodiment of the present invention further provides a topology connection between the JTAG test unit and the tested unit and the star and bus type of the MCH, and is connected with the star topology in the prior art to simplify the wiring density of the backplane. .
  • the present invention can be implemented by hardware, or can be implemented by means of software plus necessary general hardware platform, and the technical solution of the present invention. It can be embodied in the form of a software product that can be stored in a non-volatile storage medium (which can be a CD-ROM, a USB flash drive, a mobile hard disk, etc.), including a number of instructions for making a computer device (may It is a personal computer, a server, or a network device, etc.) that performs the methods described in various embodiments of the present invention.
  • a non-volatile storage medium which can be a CD-ROM, a USB flash drive, a mobile hard disk, etc.
  • a computer device may It is a personal computer, a server, or a network device, etc.

Landscapes

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  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

扩展微型电信计算架构的方法和系统 本申请要求于 2007年 12 月 10 日提交中国专利局、 申请号为 200710195339.1、 发明名称为 "扩展微型电信计算架构的方法、 系统 和设备" 的中国专利申请的优先权， 其全部内容通过引用结合在本申 请中。 技术领域
本发明涉及通信领域，特别涉及一种扩展微型电信计算架构的方 法和系统。 背景技术
MicroTCA 是周边元件扩展接口 （ PCI ) 工业计算机厂商协会 ( PICMG, PCI Industrial Computer Manufacturers Group )制定的平台 规范， MicroTCA釆用先进夹层卡（ AMC, Advanced Mezzanine Card ) 来构建小容量低成本的模块化通信平台，主要应用于诸如中央机房的 小型电信设备或企业级通信设备。 目前的标准规范版本为 PICMG MicroTCA.O Rl.O版本。
MicroTCA 可以有多种产品形态， 根据不同的业务需求， MicroTCA 系统可以配置不同的 MicroTCA承载板汇聚器（MCH, MicroTCA Carrier Hub )和 AMC的尺寸和数量。 适用于 300mm深机 拒， 也可以釆用背靠背的配置方式放置在 600mm深机拒。
如图 1所示，一个 MicroTCA系统中，主要功能模块包括：机框、 电源模块（PM, Power Module ), MCH、 以及 AMC。机框中与 MCH、 AMC以及 PM连接的部分为背板， MCH、 AMC以及 PM通过背板 中的线路进行连接和数据交换。 其中， MCH是 MicroTCA系统的中 心模块， 提供 MicroTCA系统的管理、 交换、 时钟和测试功能。
另外， 一个 MicroTCA 系统中还需要设置有联合测试行动小组 ( JTAG, Joint Test Action Group ) 测试单元， JTAG是一种国际标准 测试协议， 在 MicroTCA系统中主要应用于互联测试， 例如： 板卡间 的数据连接故障测试、 芯片间的互联故障等， 能够对 MicroTCA系统 中的数据连接、 时钟连接进行测试。 MicroTCA 系统中设置的 JTAG 测试单元提供测试端口， 与系统中的被测试单元连接。 JTAG测试单 元的主要构成为 JTAG交换模块（JSM, JTAG Switch Module ), 通常 JTAG测试单元由在 JTAG槽位中插入 JSM实现， 该 JTAG槽位提供 JTAG测试单元的连接器， 该 JTAG测试单元的连接器包含与被测试 单元和 JTAG控制单元的连接端口， 以及与负载电源的连接端口。 其 连接关系可以如图 2所示， 也就是说， JSM与 JTAG控制单元和被测 试单元之间的连接釆用星型拓朴结构。 其中， JTAG控制单元可以设 置在 MCH 中， 也可以通过外部测试工具实现； 被测试单元通常为 AMC„
图 3为 JSM的功能框图， 如图 3所示， 该 JSM主要包括第一交 换模块（Primary switch ), 端口交换模块 ( Port switch )和供电模块 ( Power Supply Module )。 第一交换模块用于连接 JTAG测试单元的 连接器上与 JTAG控制单元的连接端口， 通常与 MCH连接或外部测 试工具连接。 端口交换模块用于连接 JTAG测试单元的连接器上与被 测试单元的连接端口， 通常与 AMC连接。 供电模块用于连接 JTAG 测试单元的连接器上提供负载电源的连接端口， 并提供 JTAG测试单 元的负载电源。 其中， 在与 AMC连接的端口可以包括： 测试数据输 出（ TDO )端口，用于将 JSM的数据输出到 AMC;测试数据输入（ TDI ) 端口， 用于将 AMC的数据输入到 JSM; 测试时钟输入（ TCK )端口， 用于测试时钟输入； 测试模式选择 ( TMS )端口， 用于设置 JTAG端 口处于某种特定的测试模式； 测试复位（TRST )端口， 用于进行测 试复位，低电平有效。其中， MCH与 JSM的连接已在 MicroTCA.ORl.O 标准中进行了定义。
在实现本发明的过程中， 发明人发现现有技术至少存在以下问 题：
现有技术中， 通常在背板上另外设置一个 JTAG槽位， 该 JTAG 槽位占据独立的背板空间， 但由于 JTAG槽位只在 MicroTCA系统出 厂前插入 JSM进行产品生产过程的测试， 在出厂后该 JTAG槽位便 处于空闲状态， 并且， MicroTCA系统背板上需要提供 MicroTCA系 统中其它单元的槽位， 空间十分有限， 另外设置一个 JTAG槽位占据 独立的背板空间， 显然造成了背板空间的浪费。
发明内容
本发明实施例提供了一种扩展 MicroTCA的方法和系统，以便于 更加节约背板空间。
一种扩展微型电信计算架构 MicroTCA的方法， 该方法包括： 在 MicroTCA系统背板上， 至少一个先进夹层卡 AMC槽位中设 置 AMC连接器和联合行动测试小组 JTAG测试单元的连接器。
一种 MicroTCA 系统， MicroTCA 系统包括背板上的至少一个 AMC槽位， 所述至少一个 AMC槽位中设置有 AMC连接器及 JTAG 测试单元的连接器。
本发明实施例提供的方法和系统， 通过在 MicroTCA 系统背板 上， 至少一个 AMC槽位中设置 AMC连接器和 JTAG测试单元的连 接器。 利用已有的 AMC槽位设置 JTAG测试单元的连接器， 避免了 另外设置一个 JTAG槽位占据独立的背板空间，从而节约了背板空间。 并且， 在测试完毕后， 还可以继续插入 AMC, 不影响 AMC的正常 使用。 附图说明
图 1为现有技术中的 MicroTCA系统的组成框架图；
图 2为现有技术中的 JTAG测试单元的连接拓朴图；
图 3为现有技术中的 JSM功能框图；
图 4a为本发明实施例提供的全高单宽 AMC的槽位区域分布图； 图 4b为本发明实施例提供的半高双宽 AMC的槽位区域分布图； 图 4c为本发明实施例提供的全高双宽 AMC的槽位区域分布图； 图 5为本发明实施例提供的 JTAG测试单元的连接器提供的一种 连接关系图；
图 6为本发明实施例在全高双宽 AMC槽位中设置 JTAG测试单 元的槽位的连接关系图；
图 7为本发明实施例提供的另一种连接关系图；
图 8为本发明实施例提供的 JTAG测试单元的连接器提供的拓朴 连接示意图；
图 9为本发明实施例提供的 MicroTCA系统组成示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚， 下面结合附图 和具体实施例对本发明进行详细描述。
本发明实施例提供的方法主要为： 在 MicroTCA系统背板上， 至 少一个 AMC槽位中设置 AMC连接器和 JTAG测试单元的连接器。
其中， JTAG测试单元的连接器可以设置在该 AMC槽位中 AMC 连接器以外的区域。
由于 MicroTCA系统中的 AMC可以根据实际需求配置成不同的 规格， AMC卡可以分为双宽 AMC和单宽 AMC,配置成一层的 AMC 为单宽 AMC, 配置成两层的 AMC成为双宽 AMC。 AMC卡也可以 分为全高 AMC和半高 AMC, 全高 AMC的高度通常为 6HP, 其中， 1HP相当于 0.2英寸，半高 AMC的高度通常为 3HP, —个全高 AMC 的槽位可以插入两个半高 AMC。 图 4a为全高单宽 AMC的槽位区域 分布图， 图 4b为半高双宽 AMC的槽位区域分布图， 图 4c为全高双 宽 AMC的槽位区域分布图。通常在 AMC的槽位中， AMC的连接器 通常只占据其中一个区域， 其它区域均处于空闲状态， 所以， 可以利 用 AMC槽位中的空闲区域设置 JTAG测试单元的连接器。 如图 4a 所示， 通常 AMC连接器设置在区域 1 , 则可以将 JTAG测试单元的 连接器设置在全高单宽 AMC槽位的区域 2。 如图 4b所示， AMC的 连接器设置在区域 1 , 可以将 JTAG测试单元的连接器设置在半高双 宽 AMC的区域 3。 如图 4c所示， AMC的连接器设置在区域 1 , 可 以将 JTAG测试单元的连接器设置在全高双宽 AMC的区域 4, 也可 以设置在区域 2或区域 3。 需要说明的是， 可以将 JTAG测试单元的 连接器设置在任意的 AMC槽位中。
下面举一个实施例对 JTAG测试单元的连接器的设置进行详细描 述， 图 5为本发明实施例提供的 JTAG测试单元的连接器提供的一种 连接关系图， 如图 5所示， 在 MicroTCA系统的一个全高单宽 AMC 的区域 2中设置 JTAG测试单元的连接器， 该 JTAG测试单元的连接 器提供与 MicroTCA系统中的各 AMC和 MCH的星型拓朴连接， 也 就是说， 背板中各单元之间的连接走线为星型拓朴， 插入 JSM后， 该 JSM处于星型拓朴连接的中心节点。
图 5中釆用主备冗余 MCH,即釆用 MCH 1和 MCH 2两个 MCH, 可以将控制 JTAG测试单元的 JTAG控制单元设置在 MCH中， 也可 以通过外部的测试工具实现 JTAG控制单元的控制功能。 图 5釆用将 JTAG控制单元设置在 MCH中，通过 MCH完成对系统 JTAG测试的 管理和控制， 并实现对系统中的 AMC进行测试和软件加载。 也可以 通过外部的测试工具实现测试和加载。
如图 3所示， MCH通过 JSM的第一交换模块与端口交换模块交 换信息， JSM的端口交换模块通过 TDO、 TDI、 TCK、 TMS和 TRST 端口与各 AMC连接。其中， JSM连接器的每一个端口提供的与 MCH 和 AMC的连接都可以是星型连接。
JSM连接器提供的负载电源连接可以直接来源于 MCH的负载电 源连接， 也就是说，在 PM对 MCH进行上电的同时， 利用该对 MCH 提供的负载电源连接同时对 JSM上电。 当然， 也不排除通过 PM对 JSM直接上电的方法。 由于 JSM不需要管理电源， 所以， 不需要在 JTAG测试单元的连接器上配置管理电源连接。
在对 MicroTCA系统进行 JTAG测试时， 在上述扩展的 AMC槽 位中插入 JSM , 进行系统测试和软件加载， 当 JTAG测试完成后， 拔 出 JSM, 该扩展的 AMC槽位可以插入 AMC卡， 对 AMC槽位并没 有任何影响。
图 5是以全高单宽 AMC为例进行的说明， 其它规格的 AMC中 设置的 JTAG测试单元的连接器提供的连接也可以釆用上述方式， 例 如， 图 6为本发明实施例在全高双宽 AMC槽位中设置 JTAG测试单 元的槽位的连接关系图， 在全高双宽 AMC槽位中的第 3 区域设置 JTAG测试单元的连接器， JTAG测试单元的连接器提供的与 MCH以 及 AMC的连接釆用星型拓朴连接。
JTAG 测试单元的连接器提供的连接除了上述的星型拓朴连接 外， 还可以釆用总线和星型拓朴混合的连接方式。 此时 JTAG测试单 元包含测试总线控制器。 下面以全高双宽 AMC槽位中设置 JTAG测 试单元的连接器为例进行说明。
图 7为本发明实施例提供的另一种连接关系图， 如图 7所示， 在 全高双宽 AMC槽位中的第 3 区域设置 JTAG测试单元的连接器， JTAG测试单元的连接器提供的与 MCH以及 AMC的连接主要釆用总 线型的拓朴连接， 但有部分端口釆用星型拓朴连接。 其具体的端口连 接可以如图 8所示， 测试总线控制器的 TCK连接、 TRST连接、 TDI 连接和 TDO连接可以釆用总线形式，相应的， JTAG测试单元的连接 器的 TCK端口、 TRST端口、 TDI端口和 TDO端口提供总线形式的 连接。 但是， 由于在 JTAG测试过程中， 各个被测试单元没有侦听背 板测试总线的功能， 无法检测寻址信号， 只能通过 TMS信号设置每 个被测试单元的测试模式， 所以， 测试总线控制器提供的 TMS端口 与 MCH以及 AMC的连接需要釆用点到点的星型拓朴连接。
在图 7所示的实施例中， 控制 JTAG测试单元的 JTAG控制单元 可以设置在 MCH中， 也可以通过外部的测试工具实现。 测试总线控 制器提供的负载电源连接可以直接来源于 MCH的负载电源连接， 也 就是说， 在 PM对 MCH上电的同时， 利用该对 MCH提供的负载电 源连接同时对测试总线控制器上电。 以上是对本发明实施例提供的扩展 MicroTCA 的方法的详细描 述， 下面对本发明实施例提供的 MicroTCA系统进行描述。 如图 9所 示，该 MicroTCA系统主要包括： 背板 900上的至少一个 AMC槽位， 该至少一个 AMC槽位中设置有 AMC连接器 910以及 JTAG测试单 元的连接器 920。
JTAG测试单元的连接器 920 可以设置在背板 900上至少一个 AMC槽位中 AMC连接器 910以外的区域。 其具体设置方法可以釆 用图 4a、 图 4b或图 4c的方式。
该系统还可以包括： JTAG测试单元 930。
JTAG 测试单元 930 通过 JTAG 测试单元的连接器 920 对 MicroTCA系统进行测试。 例如， 可以对被测试单元 940进行测试。
该被测试单元 940可以是通过 AMC连接器与 JTAG测试单元 930 连接的 AMC , 也可以是 PM。
其中， JTAG测试单元 930包括： JSM或测试总线控制器 931和 JTAG控制单元 932。
JSM或测试总线控制器 931 , 用于对被测试单元 940进行 JTAG 测试处理。
JTAG控制单元 932, 用于管理和控制 JSM或测试总线控制器 931完成所述 JTAG测试处理。
当 JTAG测试单元与被测试单元釆用星型拓朴结构时， 可以釆用 JSM; 当 JTAG测试单元与被测试单元釆用星型与总线型混合的拓朴 结构时， 可以釆用测试总线控制器。
其中， JTAG控制单元 932可以设置在 MicroTCA系统的 MCH 中， 也可以为 MicroTCA系统的外部测试工具。
JTAG测试单元的连接器 920提供的 JTAG测试单元 930与被测 试单元 940的连接可以是星型拓朴连接， JTAG测试单元 930的 JSM 931处于星型拓朴连接的中心， 如果 JTAG控制单元 932设置在两个 MCH中， 则 JSM 931与两个 MCH为点到点的星型拓朴连接， 其与 各被测试单元 940也可以为点到点的星型拓朴连接。 JTAG测试单元 的连接器 920提供的 JTAG测试单元 930与被测试单元 940的连接也 可以是星型与总线型拓朴连接。 其中， JTAG测试单元的 930提供的 TSM端口与被测试单元 940的连接为点到点的星型拓朴连接， 其它 端口与被测试单元以及 MCH的连接可以为总线型拓朴连接。 其具体 连接可以如图 7和图 8所示。
该 MicroTCA系统还可以包括 PM 950,用于使用提供给 MCH的 负载电源对 JTAG测试单元 930进行供电。
由以上描述可以看出， 本发明实施例提供的方法和系统， 通过在 MicroTCA系统背板上， 至少一个 AMC槽位中设置 AMC连接器和 JTAG测试单元的连接器。 利用已有的 AMC槽位设置 JTAG测试单 元的连接器， 避免了另外设置一个 JTAG槽位占据独立的背板空间， 从而节约了背板空间。 并且， 在测试完毕后， 还可以继续插入 AMC, 不影响 AMC的正常使用。
并且， 本发明实施例还提供了一种 JTAG测试单元与被测试单元 以及 MCH的星型与总线型混合的拓朴连接， 与现有技术中的星型拓 朴连接， 简化背板的布线密度。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解 到本发明可以通过硬件实现，也可以可借助软件加必要的通用硬件平 台的方式来实现基于这样的理解，本发明的技术方案可以以软件产品 的形式体现出来， 该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质（可 以是 CD-ROM, U盘， 移动硬盘等） 中， 包括若干指令用以使得一 台计算机设备（可以是个人计算机， 服务器， 或者网络设备等）执行 本发明各个实施例所述的方法。
总之， 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已， 并非用于限定本 发明的保护范围。 凡在本发明的精神和原则之内， 所作的任何修改、 等同替换、 改进等， 均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

权利要求
1、 一种扩展微型电信计算架构 MicroTCA的方法， 其特征在于， 该方法包括：
在 MicroTCA系统背板上， 至少一个先进夹层卡 AMC槽位中设 置 AMC连接器和联合行动测试小组 JTAG测试单元的连接器。
2、 根据权利要求 1所述的方法， 其特征在于， 所述 JTAG测试 单元的连接器设置在所述 AMC连接器以外的区域。
3、 根据权利要求 1 所述的方法， 其特征在于， 控制所述 JTAG 测试单元的 JTAG控制单元设置在 MicroTCA系统的 MicroTCA承载 板汇聚器 MCH中， 或者通过外部的测试工具实现所述 JTAG控制单 元的控制功能。
4、 根据权利要求 1所述的方法， 其特征在于， 所述 JTAG测试 单元的连接器提供的与 MicroTCA系统中各被测试单元以及 MCH的 连接为星型拓朴连接，所述 JTAG测试单元包括 JTAG交换模块 JSM; 或者，
所述 JTAG测试单元的连接器提供的与 MicroTCA系统中各被测 试单元以及 MCH的连接为星型与总线型混合的拓朴连接，所述 JTAG 测试单元包括测试总线控制器。
5、 根据权利要求 4所述的方法， 其特征在于， 所述星型与总线 型混合的拓朴连接为： 所述 JTAG测试单元的连接器提供的测试模式 选择 TMS端口与被测试单元以及 MCH的连接为星型拓朴连接， 其 它端口与被测试单元以及 MCH的连接为总线型拓朴连接。
6、 根据权利要求 1所述的方法， 其特征在于， 所述 JTAG测试 单元的连接器提供的负载电源来源于 MicroTCA系统的 MCH负载电 源连接。
7、 一种 MicroTCA系统， 其特征在于， MicroTCA系统包括背板 上的至少一个 AMC槽位， 所述至少一个 AMC槽位中设置有 AMC 连接器及 JTAG测试单元的连接器。
8、 根据权利要求 7所述的 MicroTCA系统， 其特征在于， 该系 统还包括： JTAG测试单元；
所述 JTAG测试单元， 用于通过所述 JTAG测试单元的连接器对 所述 MicroTCA系统进行测试。
9、 根据权利要求 8所述的 MicroTCA系统， 其特征在于， 所述
JTAG测试单元包括： JTAG控制单元， 和 JSM或测试总线控制器； 所述 JSM或测试总线控制器， 用于对所述 MicroTCA系统中的 被测试单元进行 JTAG测试处理；
所述 JTAG控制单元， 用于管理和控制所述 JSM或测试总线控 制器完成所述 JTAG测试处理。
10、 根据权利要求 7所述的系统， 其特征在于， 所述 JTAG测试 单元的连接器设置在所述 AMC连接器以外的区域。
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