WO2008052377A3 - Procédé et système de mesure pour la mesure d'une grandeur physique - Google Patents

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Lars Kamm
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Abstract

L'invention concerne un procédé de mesure d'une grandeur physique au moyen d'un système de mesure qui présente un détecteur de mesure, une source de signaux et une unité de calcul. L'unité de calcul présente une entrée de signal de référence, une entrée de signal de mesure et une sortie de signal, et délivre comme signal de sortie une différence amplifiée entre un signal de mesure et un signal de référence. Dans le procédé, on applique un signal de référence à la fois sur l'entrée de signal de référence et sur l'entrée de signal de mesure de l'unité de calcul, on détermine à partir du signal de sortie de l'unité de calcul ainsi obtenu une erreur de décalage du système de mesure, on applique un signal de référence affaibli sur l'entrée de signal de référence et le signal de référence sur l'entrée de signal de mesure, et par la différence entre le signal de sortie de l'unité de calcul que l'on obtient ainsi et l'erreur de décalage calculée précédemment, on détermine une grandeur d'amplification effective. Le signal de référence est alors appliqué sur l'entrée de signal de référence, un signal de mesure est appliqué sur l'entrée de signal de mesure et on détermine un signal de sortie corrigé en formant la différence entre le signal de sortie de l'unité de calcul que l'on obtient ainsi et l'erreur de décalage, on compare la grandeur d'amplification effective à une grandeur prédéterminée d'amplification de consigne et on réduit l'amplification totale du système de mesure lorsque la grandeur d'amplification effective est plus grande que la grandeur d'amplification de consigne ou on l'augmente lorsque la grandeur d'amplification de consigne est plus grande que la grandeur d'amplification effective. L'invention concerne en outre un système de mesure qui permet de mettre en œuvre ce procédé.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012024893B4 (de) * 2012-12-20 2017-01-26 Krohne Messtechnik Gmbh Messanordnung zur Bestimmung einer Messgröße und Verfahren zur Erzeugung eines Ausgangssignals
CN104614002B (zh) * 2015-01-04 2017-02-22 中国科学院光电技术研究所 一种跟踪控制平台光电编码器细分信号误差补偿方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2072349A (en) * 1980-03-18 1981-09-30 Gaeltec Ltd Conditioning pressure transducer outputs
US4364028A (en) * 1978-06-30 1982-12-14 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Integrating analog to digital converter having offset error compensation
US4873655A (en) * 1987-08-21 1989-10-10 Board Of Regents, The University Of Texas System Sensor conditioning method and apparatus
JPH0972757A (ja) * 1995-09-01 1997-03-18 Murata Mfg Co Ltd 微少容量検出回路
EP1037017A1 (fr) * 1999-03-15 2000-09-20 Atsutoshi Goto Capteur inductif de position

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4364028A (en) * 1978-06-30 1982-12-14 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Integrating analog to digital converter having offset error compensation
GB2072349A (en) * 1980-03-18 1981-09-30 Gaeltec Ltd Conditioning pressure transducer outputs
US4873655A (en) * 1987-08-21 1989-10-10 Board Of Regents, The University Of Texas System Sensor conditioning method and apparatus
JPH0972757A (ja) * 1995-09-01 1997-03-18 Murata Mfg Co Ltd 微少容量検出回路
EP1037017A1 (fr) * 1999-03-15 2000-09-20 Atsutoshi Goto Capteur inductif de position

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