WO2008010376A1 - Anti-reflection film - Google Patents

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WO2008010376A1 PCT/JP2007/062299 JP2007062299W WO2008010376A1 WO 2008010376 A1 WO2008010376 A1 WO 2008010376A1 JP 2007062299 W JP2007062299 W JP 2007062299W WO 2008010376 A1 WO2008010376 A1 WO 2008010376A1
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Abstract

An anti-reflection film comprising a transparent substrate and at least a low-refractive-index layer provided on the substrate directly or through other layer, wherein the low-refractive-index layer comprises at least two silica microparticles, one of the silica microparticles is a hollow silica microparticle having a porous or hollow interior, another one of the silica microparticles is colloidal silica having an average particle diameter of not less than 1.1 times and less than 20 times that of the hollow silica microparticles, and the outermost surface of the film has an arithmetic average roughness (Ra) of not less than 40 and less than 500 nm.

Description

反射防止フィルム  Antireflection film
技術分野  Technical field
[0001] 本発明は反射防止フィルムに関し、詳しくは耐擦傷性に優れ、反射率が低ぐ表示 装置に用いたとき視認性に優れた反射防止フィルムに関する。  The present invention relates to an antireflection film, and more particularly to an antireflection film having excellent visibility when used in a display device having excellent scratch resistance and low reflectance.
背景技術  Background art
[0002] 液晶等の画像表示装置の最表面で使用される反射防止フィルムでは、光学干渉方 式の反射防止層を設けて低反射率とする技術が提案されている。  [0002] For an antireflection film used on the outermost surface of an image display device such as a liquid crystal, a technique has been proposed in which an optical interference type antireflection layer is provided to achieve low reflectance.
[0003] 反射率を下げる技術として、最表面の低屈折率層の屈折率を低下させる方法があ り、低屈折率素材や、空隙を多くして屈折率を下げる方式が提案されている。しかし、 いずれの技術についても、膜強度、耐傷性が弱点となっている。  [0003] As a technique for reducing the reflectance, there is a method of reducing the refractive index of the low refractive index layer on the outermost surface, and a low refractive index material or a method of reducing the refractive index by increasing the number of voids has been proposed. However, both technologies are weak in film strength and scratch resistance.
[0004] 最近提案された、内部が多孔質または空洞となっている中空シリカ系微粒子を用い る技術 (例えば、特許文献 1〜3参照)は、空隙による屈折率低下を維持したまま膜強 度を向上する技術である。それでも膜強度は不十分であり、中空シリカ系微粒子を 2 0質量%以上含有させた低屈折率層では実用膜強度以下に低下する問題がある。 また、中空シリカ系微粒子の分散液はロット間での pHのバラツキのため、低屈折率 層塗布組成物の粘度のバラツキが発生しやすぐまた低屈折率層塗布組成物を調 製後、塗布されるまでの間に中空シリカ系微粒子の内部からアンモニア等のアルカリ 成分が溶出し、低屈折率層塗布組成物の粘度が変動 (増加)する問題があった。  [0004] A recently proposed technique using hollow silica-based fine particles having a porous or hollow interior (see, for example, Patent Documents 1 to 3) is capable of maintaining film strength while maintaining a decrease in refractive index due to voids. It is a technology to improve. Nevertheless, the film strength is insufficient, and there is a problem that the low refractive index layer containing 20 mass% or more of hollow silica-based fine particles decreases to a practical film strength or less. In addition, dispersions of hollow silica-based fine particles vary in pH between lots, and as a result, variations in the viscosity of the low refractive index layer coating composition occur immediately. In the meantime, alkali components such as ammonia are eluted from the inside of the hollow silica fine particles, and there is a problem that the viscosity of the low refractive index layer coating composition fluctuates (increases).
[0005] また、チタンアルコキシドゃシランアルコキシドに代表される金属アルコキシドを支 持体の表面に塗布、乾燥、加熱して金属酸化物の膜を形成する方法が行われてい る。しかし、この方法では加熱温度が 300°C以上という高い温度が必要で支持体に ダメージを与え、また特開平 8— 75904号公報に記載されているような加熱温度が 1 00°Cと比較的低い方法では作製に長時間が必要となり、いずれにも問題点があった  [0005] In addition, a method of forming a metal oxide film by applying a metal alkoxide represented by titanium alkoxide or silane alkoxide on the surface of a support, drying, and heating has been performed. However, this method requires a high heating temperature of 300 ° C or higher and damages the support, and the heating temperature as described in JP-A-8-75904 is relatively high at 100 ° C. The low method required a long time for production, and both had problems.
[0006] 一方、金属酸化物の膜を形成する方法としては、例えば、機能性膜の下地膜として シリカ系膜を所謂ゾルゲル法によって形成する方法 (特許文献 4参照)、さらには、低 屈折率層を同じぐノルゲル法によって形成する方法 (特許文献 5参照)が知られて ヽ る。し力しこの方法も耐擦傷性は不十分であった。 On the other hand, as a method of forming a metal oxide film, for example, a method of forming a silica-based film as a base film of a functional film by a so-called sol-gel method (see Patent Document 4), A method of forming a refractive index layer by the same Norgel method (see Patent Document 5) is known. However, this method also had insufficient scratch resistance.
また、バインダー成分としてフッ素系榭脂を用いる技術 (例えば、特許文献 6〜8参 照)についても、屈折率は低下するが膜強度が弱い問題がある。即ち、低屈折率化と 膜強度はトレードオフの関係にあり、その改善が求められている。  In addition, techniques using fluorine-based resin as a binder component (see, for example, Patent Documents 6 to 8) also have a problem that the film strength is weak although the refractive index is lowered. That is, there is a trade-off between lowering the refractive index and film strength, and there is a need for improvement.
特許文献 1 特開 2001 - — 167637号公報  Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-167637
特許文献 2特開 2001 - — 233611号公報  Patent Document 2 JP 2001--233611 A
特許文献 3特開 2002- — 79616号公報  Patent Document 3 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002- — 79616
特許文献 4特開平 11 - - 269657号公報  Patent Document 4 Japanese Patent Laid-Open No. 11-269657
特許文献 5特開 2000- - 910号公報  Patent Document 5 Japanese Patent Laid-Open No. 2000-910
特許文献 6特開 2003 - — 236970号公報  Patent Document 6 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2003--236970
特許文献 7特開 2003 - — 240906号公報  Patent Document 7 JP2003--240906
特許文献 8特開 2003 - - 255103号公報  Patent Document 8 JP 2003-255103 A
発明の開示  Disclosure of the invention
発明が解決しょうとする課題  Problems to be solved by the invention
[0008] 本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、その目的は、耐擦傷性に優れ、反 射率が低ぐ表示装置に用いたとき視認性に優れた反射防止フィルムを提供すること にある。  [0008] The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an antireflection film having excellent visibility when used in a display device having excellent scratch resistance and low reflectivity. It is in.
課題を解決するための手段  Means for solving the problem
[0009] 本発明の上記課題は以下の構成により達成される。 [0009] The above object of the present invention is achieved by the following constitution.
1.透明支持体上に直接または他の層を介して少なくとも低屈折率層を有する反射 防止フィルムにお ヽて、前記低屈折率層が少なくとも 2種類のシリカ微粒子を含有し 、そのうちの 1種類のシリカ微粒子は内部が多孔質または空洞である中空シリカ系微 粒子であり、他の 1種類のシリカ微粒子はコロイダルシリカであり、該コロイダルシリカ の平均粒径は前記中空シリカ系微粒子の平均粒径の 1. 1〜20倍未満であり、最表 面の算術平均粗さ (Ra)が 40〜500nm未満であることを特徴とする反射防止フィル ム。  1. In an antireflection film having at least a low refractive index layer directly or via another layer on a transparent support, the low refractive index layer contains at least two types of silica fine particles, one of which The silica fine particles are hollow silica fine particles whose inside is porous or hollow, and the other one kind of silica fine particles is colloidal silica. The average particle diameter of the colloidal silica is the average particle diameter of the hollow silica fine particles. 1.1 to less than 20 times, and the arithmetic average roughness (Ra) of the outermost surface is less than 40 to 500 nm.
2.透明支持体上にハードコート層及び低屈折率層を有し、該ハードコート層の表面 の算術平均粗さ (Ra)が 60〜700nm未満であることを特徴とする前記 1に記載の反 射防止フィルム。 2. Having a hard coat layer and a low refractive index layer on a transparent support, the surface of the hard coat layer 2. The antireflection film as described in 1 above, wherein the arithmetic average roughness (Ra) is 60 to less than 700 nm.
3.前記透明支持体の表面の算術平均粗さ (Ra)が 50〜: LOOOnm未満であることを 特徴とする前記 1または 2に記載の反射防止フィルム。  3. The antireflection film as described in 1 or 2 above, wherein the surface of the transparent support has an arithmetic average roughness (Ra) of 50 to less than LOOOnm.
4.前記ハードコート層にフッ素含有アクリル榭脂微粒子を含有することを特徴とする 前記 1乃至 3の 、ずれか 1に記載の反射防止フィルム。  4. The antireflection film as described in any one of 1 to 3 above, wherein the hard coat layer contains fluorine-containing acrylic resin fine particles.
発明の効果  The invention's effect
[0010] 本発明により、耐擦傷性に優れ、反射率が低ぐ表示装置に用いたとき視認性に優 れた反射防止フィルムを提供することができる。  [0010] According to the present invention, it is possible to provide an antireflection film excellent in visibility when used in a display device having excellent scratch resistance and low reflectance.
図面の簡単な説明  Brief Description of Drawings
[0011] [図 1]凹凸型ローラを用いた凹凸面形成装置の概略図である。 FIG. 1 is a schematic view of an uneven surface forming apparatus using an uneven roller.
[図 2]乾燥装置内における凹凸面形成装置の概略図である。  FIG. 2 is a schematic view of an uneven surface forming apparatus in a drying apparatus.
[図 3]本発明に有用な 1周波数高周波電圧印加方式の薄膜形成装置の一例を示す 概略図である。  FIG. 3 is a schematic view showing an example of a single-frequency high-frequency voltage application type thin film forming apparatus useful for the present invention.
圆 4]本発明に有用な 2周波数高周波電圧印加方式の薄膜形成装置の一例を示す 概略図である。  4] A schematic view showing an example of a thin-film forming apparatus of a two-frequency high-frequency voltage application method useful for the present invention.
[図 5]ロール電極の導電性の金属質母材とその上に被覆されている誘電体の構造の 一例を示す斜視図である。  FIG. 5 is a perspective view showing an example of the structure of a conductive metallic base material of a roll electrode and a dielectric material coated thereon.
[図 6]角筒型電極の導電性の金属質母材とその上に被覆されている誘電体の構造の 一例を示す斜視図である。  FIG. 6 is a perspective view showing an example of the structure of a conductive metallic base material of a rectangular tube electrode and a dielectric material coated thereon.
符号の説明  Explanation of symbols
[0012] F 基材フィルム [0012] F base film
G 放電ガス  G discharge gas
G' 励起放電ガス  G 'excited discharge gas
P 送液ポンプ  P liquid pump
1 ダイ  1 die
2 流延用ベルト  2 Casting belt
3、 3' 凹凸型ローラ ノ ックローノレ 3, 3 'uneven roller Noc Ronore
テンター Tenter
フィルム乾燥装置 Film drying device
卷き取りロール Thatch roll
静電気除去装置a ロール電極 Static eliminator a Roll electrode
A、36A 金属質母材A. 、 36B 誘電体A, 36A Metallic base material A., 36B Dielectric
a 角筒型電極a Square tube electrode
0 大気圧プラズマ処理装置1 大気圧プラズマ処理容器2 放電空間0 Atmospheric pressure plasma treatment device 1 Atmospheric pressure plasma treatment vessel 2 Discharge space
5 ロール電極(第 1電極)6 角筒型電極群 (第 2電極)0 電界印加手段5 Roll electrode (first electrode) 6 Square tube electrode group (second electrode) 0 Electric field application means
1 第 1電源1 First power supply
2 第 2電源2 Second power supply
3 第 1フィルター3 First filter
4 第 2フィルター4 Second filter
0 ガス供給手段0 Gas supply means
1 ガス発生装置1 Gas generator
2 給¼口2 ¼ port
3 排気口3 Exhaust port
0 電極温度調節手段1 配管0 Electrode temperature control means 1 Piping
4、 167 ガイドロール5、 166 -ップロール8、 169 仕切板 発明を実施するための最良の形態 4, 167 Guide roll 5, 166-Pup roll 8, 169 Partition plate BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
[0013] 以下本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明するが、本発明はこ れらに限定されるものではない。  Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described in detail, but the present invention is not limited thereto.
[0014] 従来、反射率低減のために低屈折率層に中空シリカ系微粒子を使用する技術があ るが、この方法でさらに反射率低減を計るには中空シリカ系微粒子の含有量を増加 させることが必要であった。しかし、中空シリカ系微粒子は外圧で容易に壊れるため、 反射防止フィルムの表面物性、特に表面硬度が低下する。  [0014] Conventionally, there is a technique of using hollow silica-based fine particles in the low refractive index layer in order to reduce the reflectance. To further reduce the reflectance by this method, the content of the hollow silica-based fine particles is increased. It was necessary. However, since the hollow silica fine particles are easily broken by external pressure, the surface properties, particularly the surface hardness, of the antireflection film are lowered.
[0015] 本発明者は鋭意検討の結果、透明支持体上に直接または他の層を介して少なくと も低屈折率層を有する反射防止フィルムにおいて、該低屈折率層に特定の種類及 び粒径の異なるシリカ微粒子を含有させることで、反射防止フィルムの表面硬度を低 下させずに、反射率を低減できることを見出したものである。  As a result of intensive studies, the present inventor has found that the antireflective film having at least a low refractive index layer on the transparent support directly or via another layer has a specific type and a specific type in the low refractive index layer. It has been found that the reflectance can be reduced by reducing the surface hardness of the antireflection film by containing silica fine particles having different particle diameters.
[0016] 驚くべきことに、 1種類の中空シリカ系微粒子の含有率を増量するよりも、異種のシ リカ微粒子を混合した方が、表面硬度ばカゝりでなく反射率低減効果も大きい。なお、 他の層とは、後述するハードコート層、高屈折率層等の種々の機能層である。  [0016] Surprisingly, mixing the different types of silica fine particles has a greater effect on reducing the reflectance and not the surface hardness, rather than increasing the content of one type of hollow silica fine particles. The other layers are various functional layers such as a hard coat layer and a high refractive index layer described later.
[0017] このような効果が発現される機構にっ 、ては、以下のように推察される。表面物性、 特に表面硬度を低下させる中空シリカ系微粒子の含有率を減らし、表面硬度を低下 させにくいコロイダルシリカを併用することで、反射防止フィルムの表面硬度低下を防 ぐ。また、種類及び粒径の異なるシリカ微粒子を含有させることで、乾燥塗膜に空隙 が形成され、屈折率が低減される。防眩性の基材 (透明支持体の表面の算術平均粗 さ(Ra)が 50〜: LOOOnm未満である防眩性フィルム、または透明支持体上にハードコ 一ト層を有し、該ハードコート層の表面の算術平均粗さ(Ra)力 ½0〜700nm未満で ある防眩性フィルム)上に反射防止層を形成する場合、前記中空シリカ系微粒子の 平均粒径より大き!、平均粒径のコロイダルシリカを混合すると、乾燥中のレペリングが 阻害され、実質的に均一膜厚となり屈折率が低減される。同時に、防眩性の凹凸は 反射防止フィルムの最表面に保存され、防眩性を損なわな!/、。  [0017] The mechanism by which such effects are manifested is presumed as follows. By reducing the content of hollow silica-based fine particles that reduce surface properties, especially surface hardness, and using colloidal silica that is difficult to reduce surface hardness, the surface hardness of the antireflection film is prevented from decreasing. Moreover, by including silica fine particles of different types and particle sizes, voids are formed in the dried coating film, and the refractive index is reduced. Antiglare base material (An arithmetic average roughness (Ra) of the surface of the transparent support is from 50 to less than LOOOnm, or a hard coat layer on the transparent support, and the hard coat When the anti-reflection layer is formed on the anti-glare film having an arithmetic average roughness (Ra) force of less than ½0 to 700 nm on the surface of the layer, the average particle size is larger than the average particle size of the hollow silica-based fine particles. When colloidal silica is mixed, repelling during drying is hindered, resulting in a substantially uniform film thickness and a reduced refractive index. At the same time, the anti-glare irregularities are preserved on the outermost surface of the anti-reflection film so that the anti-glare property is not impaired!
[0018] 以下、本発明を詳細に説明する。  [0018] Hereinafter, the present invention will be described in detail.
[0019] 〔低屈折率層〕  [Low refractive index layer]
本発明に係る低屈折率層の屈折率は、支持体である透明支持体の屈折率より低く 、 23。C、波長 550nmで 1. 30〜: L 45の範囲力 ^好まし!/ヽ。 The refractive index of the low refractive index layer according to the present invention is lower than the refractive index of the transparent support that is the support. , twenty three. C, wavelength 550nm 1.30 ~: L 45 range power ^ Preferred! / ヽ.
[0020] 低屈折率層の膜厚は、 5nm〜0. 5 μ mが好ましぐ 10nm〜0. 3 μ mがより好まし く、 30nm〜0. 2 mであることがさらに好ましい。  The film thickness of the low refractive index layer is preferably from 5 nm to 0.5 μm, more preferably from 10 nm to 0.3 μm, and even more preferably from 30 nm to 0.2 m.
[0021] 本発明に用いられる低屈折率層形成用組成物は、少なくとも 2種類のシリカ微粒子 を含有し、そのうちの 1種類のシリカ微粒子は内部が多孔質または空洞である中空シ リカ系微粒子であり、他の 1種類のシリカ微粒子はコロイダルシリカであり、該コロイダ ルシリカの平均粒径は前記中空シリカ系微粒子の平均粒径の 1. 1〜20倍未満であ る。  [0021] The composition for forming a low refractive index layer used in the present invention contains at least two types of silica fine particles, and one type of silica fine particles is hollow silica-based fine particles whose inside is porous or hollow. The other kind of silica fine particles is colloidal silica, and the average particle size of the colloidal silica is 1.1 to less than 20 times the average particle size of the hollow silica fine particles.
[0022] (中空シリカ系微粒子)  [0022] (Hollow silica fine particles)
前記内部が多孔質または空洞である中空シリカ系微粒子 (以下、単に中空微粒子 ともいう)について説明する。  The hollow silica-based fine particles (hereinafter also simply referred to as hollow fine particles) in which the inside is porous or hollow will be described.
[0023] 中空微粒子は、 (I)多孔質粒子と該多孔質粒子表面に設けられた被覆層とからな る複合粒子、または (II)内部に空洞を有し、かつ内容物が溶媒、気体または多孔質 物質で充填された空洞粒子である。  [0023] The hollow fine particles are: (I) composite particles composed of porous particles and a coating layer provided on the surface of the porous particles, or (II) hollow inside, and the contents are a solvent, gas Or hollow particles filled with a porous material.
[0024] なお、空洞粒子は内部に空洞を有する粒子であり、空洞は粒子壁で囲まれている。  [0024] The cavity particles are particles having a cavity inside, and the cavity is surrounded by a particle wall.
空洞内には、調製時に使用した溶媒、気体または多孔質物質等の内容物で充填さ れている。このような中空微粒子の平均粒径は 5〜200nm、好ましくは 10〜70nm が望ま 、。中空微粒子の粒径は変動係数力^〜 40%の単分散であることが好まし い。平均粒径は、走査電子顕微鏡 (SEM)等による電子顕微鏡写真から計測するこ とができる。動的光散乱法や静的光散乱法等を利用する粒度分布計等によって計 測してもよい。使用する中空微粒子の平均粒径は、形成される低屈折率層の透明被 膜の厚さに応じて適宜選択され、透明被膜の膜厚の 2Z3〜: LZ10が望ましい。これ らの中空微粒子は、低屈折率層の形成のため、適当な媒体に分散した状態で使用 することが好ましい。分散媒としては、水、アルコール (例えば、メタノール、エタノー ル、イソプロピルアルコール)及びケトン(例えば、メチルェチルケトン、メチルイソブチ ルケトン)、ケトンアルコール(例えばジアセトンアルコール)が好ましい。  The cavity is filled with contents such as a solvent, a gas, or a porous material used at the time of preparation. The average particle size of such hollow fine particles is 5 to 200 nm, preferably 10 to 70 nm. The particle size of the hollow microparticles is preferably monodisperse with a coefficient of variation of ~ 40%. The average particle diameter can be measured from an electron micrograph taken with a scanning electron microscope (SEM) or the like. It may be measured by a particle size distribution meter using a dynamic light scattering method or a static light scattering method. The average particle diameter of the hollow fine particles to be used is appropriately selected according to the thickness of the transparent film of the low refractive index layer to be formed, and the film thickness of the transparent film is preferably 2Z3 to LZ10. These hollow fine particles are preferably used in a state of being dispersed in an appropriate medium in order to form a low refractive index layer. As the dispersion medium, water, alcohol (for example, methanol, ethanol, isopropyl alcohol), ketone (for example, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone), and ketone alcohol (for example, diacetone alcohol) are preferable.
[0025] 複合粒子の被覆層の厚さまたは空洞粒子の粒子壁の厚さは、 l〜20nm、好ましく は 2〜15nmが望ましい。複合粒子の場合、被覆層の厚さが lnm未満の場合は、粒 子を完全に被覆することができないことがあり、塗布液成分が容易に複合粒子の内 部に進入して内部の多孔性が減少し、低屈折率化の効果が十分得られないことがあ る。また、被覆層の厚さが 20nmを越えると、前記塗布液成分が内部に進入すること はないが、複合粒子の多孔性 (細孔容積)が低下し低屈折率化の効果が十分得られ なくなることがある。また空洞粒子の場合、粒子壁の厚さが lnm未満の場合は、粒子 形状を維持できないことがあり、また厚さが 20nmを越えても、低屈折率化の効果が 十分に現れないことがある。 [0025] The thickness of the coating layer of the composite particles or the thickness of the particle walls of the hollow particles is 1 to 20 nm, preferably 2 to 15 nm. For composite particles, if the coating layer thickness is less than lnm, In some cases, the coating cannot be completely covered, and the coating liquid component easily enters the inside of the composite particles, reducing the internal porosity, and the effect of lowering the refractive index may not be sufficiently obtained. The If the thickness of the coating layer exceeds 20 nm, the coating liquid component does not enter the interior, but the porosity (pore volume) of the composite particles is reduced, and the effect of lowering the refractive index is sufficiently obtained. It may disappear. In the case of hollow particles, if the particle wall thickness is less than 1 nm, the particle shape may not be maintained, and even if the thickness exceeds 20 nm, the effect of lowering the refractive index may not be sufficiently exhibited. is there.
[0026] 複合粒子の被覆層または空洞粒子の粒子壁は、シリカを主成分とすることが好まし い。また、シリカ以外の成分が含まれていてもよぐ具体的には、 Al O、 B O、 TiO [0026] The coating layer of the composite particles or the particle wall of the hollow particles preferably contains silica as a main component. In addition, specific components other than silica may be included. Al O, B 2 O, TiO
2 3 2 3 2 2 3 2 3 2
、 ZrO、 SnO、 CeO、 P O、 Sb O、 MoO、 ZnO、 WO等が挙げられる。複合粒ZrO, SnO, CeO, PO, SbO, MoO, ZnO, WO and the like. Composite grain
2 2 2 2 3 2 3 3 2 3 2 2 2 2 3 2 3 3 2 3
子を構成する多孔質粒子としては、シリカからなるもの、シリカとシリカ以外の無機化 合物とからなるもの、 CaF、 NaF、 NaAlF、 MgF等からなるものが挙げられる。この  Examples of the porous particles constituting the core include those made of silica, those made of silica and inorganic compounds other than silica, and those made of CaF, NaF, NaAlF, MgF, and the like. this
2 6  2 6
うち特にシリカとシリカ以外の無機化合物との複合酸ィ匕物力 なる多孔質粒子が好適 である。シリカ以外の無機化合物としては、 Al O、 B O、 TiO、 ZrO、 SnO、 CeO  Of these, porous particles having a complex acidity of silica and an inorganic compound other than silica are particularly preferable. Inorganic compounds other than silica include Al 2 O, B 2 O, TiO, ZrO, SnO, and CeO.
2 3 2 3 2 2 2 2 2 3 2 3 2 2 2 2
、 P O、 Sb O、 MoO、 ZnO、 WO等との 1種または 2種以上を挙げることができる, PO, SbO, MoO, ZnO, WO, etc.
2 3 2 3 3 2 3 2 3 2 3 3 2 3
。このような多孔質粒子では、シリカを SiOで表し、シリカ以外の無機化合物を酸ィ匕  . In such porous particles, silica is represented by SiO, and inorganic compounds other than silica are oxidized.
2  2
物換算(MO )で表したときのモル比 MO /SiO力 0. 0001〜: L 0、好ましくは 0  Molar ratio expressed in terms of product (MO) MO / SiO force 0.0001 ~: L 0, preferably 0
X X 2  X X 2
. 001〜0. 3の範囲にあることが望ましい。多孔質粒子のモル比 MO /SiOが 0. 0  It is desirable to be in the range of 001 to 0.3. The molar ratio of porous particles MO / SiO is 0.0.
X 2 X 2
001未満のものは得ることが困難であり、得られたとしても細孔容積が小さぐ屈折率 の低い粒子が得られない。また、多孔質粒子のモル比 MO /SiO力 1. 0を越える It is difficult to obtain particles less than 001, and even if obtained, particles having a small pore volume and a low refractive index cannot be obtained. Also, the molar ratio of porous particles MO / SiO force exceeds 1.0
X 2  X 2
と、シリカの比率が少なくなるので、細孔容積が大きくなり、さらに屈折率が低いもの を得ることが難し 、ことがある。  If the ratio of silica is reduced, the pore volume is increased, and it may be difficult to obtain a material having a lower refractive index.
[0027] このような多孔質粒子の細孔容積は、 0. 1〜1. 5mlZg、好ましくは 0. 2〜1. 5ml Zgの範囲であることが望ましい。細孔容積が 0. lmlZg未満では、十分に屈折率の 低下した粒子が得られず、 1. 5mlZgを越えると微粒子の強度が低下し、得られる被 膜の強度が低下することがある。  [0027] The pore volume of such porous particles is desirably in the range of 0.1 to 1.5 ml Zg, preferably 0.2 to 1.5 ml Zg. If the pore volume is less than 0.1 mlZg, particles having a sufficiently low refractive index cannot be obtained, and if it exceeds 1.5 mlZg, the strength of the fine particles may be lowered, and the strength of the resulting film may be lowered.
[0028] なお、このような多孔質粒子の細孔容積は水銀圧入法によって求めることができる 。また、空洞粒子の内容物としては、粒子調製時に使用した溶媒、気体、多孔質物 質等が挙げられる。溶媒中には空洞粒子調製する際に使用される粒子前駆体の未 反応物、使用した触媒等が含まれていてもよい。また多孔質物質としては、前記多孔 質粒子で例示した化合物力 なるものが挙げられる。これらの内容物は、単一の成分 力 なるものであってもよ 、が、複数成分の混合物であってもよ 、。 [0028] The pore volume of such porous particles can be determined by a mercury intrusion method. The contents of the hollow particles include the solvent, gas, and porous material used during the preparation of the particles. Quality and so on. The solvent may contain an unreacted particle precursor used in preparing the hollow particles, the catalyst used, and the like. Examples of the porous substance include those having the compound power exemplified in the porous particles. These contents can be a single component force or a mixture of multiple components.
[0029] このような中空微粒子の製造方法としては、例えば特開平 7— 133105号公報の段 落番号 [0010]〜[0033]に開示された複合酸化物コロイド粒子の調製方法が好適 に採用される。具体的に、複合粒子が、シリカ、シリカ以外の無機化合物とからなる場 合、以下の第 1〜3工程力 中空微粒子は製造される。  [0029] As a method for producing such hollow fine particles, for example, the method for preparing composite oxide colloidal particles disclosed in Step Nos. [0010] to [0033] of JP-A-7-133105 is preferably employed. The Specifically, when the composite particles are composed of silica and an inorganic compound other than silica, the following first to third step force hollow fine particles are produced.
[0030] 第 1工程:多孔質粒子前駆体の調製  [0030] Step 1: Preparation of porous particle precursor
第 1工程では、予め、シリカ原料とシリカ以外の無機化合物原料のアルカリ水溶液 を個別に調製する力 または、シリカ原料とシリカ以外の無機化合物原料との混合水 溶液を調製しておき、この水溶液を目的とする複合酸ィ匕物の複合割合に応じて、 pH 10以上のアルカリ水溶液中に攪拌しながら徐々に添加して多孔質粒子前駆体を調 製する。  In the first step, the ability to individually prepare an alkaline aqueous solution of a silica raw material and an inorganic compound raw material other than silica is prepared in advance, or a mixed water solution of a silica raw material and an inorganic compound raw material other than silica is prepared in advance. According to the composite ratio of the target composite oxide, the porous particle precursor is prepared by gradually adding it to an aqueous alkali solution having a pH of 10 or more while stirring.
[0031] シリカ原料としては、アルカリ金属、アンモ-ゥムまたは有機塩基のケィ酸塩を用い る。アルカリ金属のケィ酸塩としては、ケィ酸ナトリウム (水ガラス)やケィ酸カリウムが 用いられる。有機塩基としては、テトラエチルアンモ-ゥム塩等の第 4級アンモ-ゥム 塩、モノエタノールァミン、ジエタノールァミン、トリエタノールァミン等のアミン類を挙 げることができる。なお、アンモ-ゥムのケィ酸塩または有機塩基のケィ酸塩には、ケ ィ酸液にアンモニア、第 4級アンモ-ゥム水酸ィ匕物、アミンィ匕合物等を添加したアル カリ性溶液も含まれる。  [0031] As a silica raw material, an alkali metal, ammonium or an organic base silicate is used. As the alkali metal silicate, sodium silicate (water glass) or potassium silicate is used. Examples of organic bases include quaternary ammonium salts such as tetraethyl ammonium salts, and amines such as monoethanolamine, diethanolamine, and triethanolamine. For the ammonium silicate or organic base silicate, an alkaline solution in which ammonia, a quaternary ammonium hydroxide, an amine compound, or the like is added to the key acid solution. Sex solutions are also included.
[0032] また、シリカ以外の無機化合物の原料としては、アルカリ可溶の無機化合物が用い られる。具体的には、 Al、 B、 Ti、 Zr、 Sn、 Ce、 P、 Sb、 Mo、 Zn、 W等から選ばれる 元素のォキソ酸、該ォキソ酸のアルカリ金属塩またはアルカリ土類金属塩、アンモ- ゥム塩、第 4級アンモ-ゥム塩を挙げることができる。より具体的には、アルミン酸ナトリ ゥム、四硼酸ナトリウム、炭酸ジルコ二ルアンモ-ゥム、アンチモン酸カリウム、錫酸力 リウム、アルミノケィ酸ナトリウム、モリブデン酸ナトリウム、硝酸セリウムアンモニゥム、 燐酸ナトリウムが適当である。 [0033] これらの水溶液の添加と同時に混合水溶液の pH値は変化する力 この pH値を所 定の範囲に制御するような操作は特に必要ない。水溶液は、最終的に、無機酸化物 の種類及びその混合割合によつて定まる pH値となる。このときの水溶液の添加速度 には特に制限はない。また、複合酸化物粒子の製造に際して、シード粒子の分散液 を出発原料と使用することも可能である。当該シード粒子としては、特に制限はない 力 SiO、 Al O、 TiOまたは ZrO等の無機酸化物またはこれらの複合酸化物の微[0032] Further, as a raw material for inorganic compounds other than silica, alkali-soluble inorganic compounds are used. Specifically, elemental oxoacids selected from Al, B, Ti, Zr, Sn, Ce, P, Sb, Mo, Zn, W, etc., alkali metal salts or alkaline earth metal salts of the oxoacids, ammonia -Um salt, quaternary ammonia salt. More specifically, sodium aluminate, sodium tetraborate, zirconyl ammonium carbonate, potassium antimonate, potassium stannate, sodium aluminosilicate, sodium molybdate, cerium ammonium nitrate, sodium phosphate Is appropriate. [0033] A force that changes the pH value of the mixed aqueous solution simultaneously with the addition of these aqueous solutions. There is no particular need for an operation for controlling the pH value within a predetermined range. The aqueous solution finally has a pH value determined by the type of inorganic oxide and its mixing ratio. There is no particular limitation on the addition rate of the aqueous solution at this time. Further, in the production of composite oxide particles, a dispersion of seed particles can be used as a starting material. The seed particles are not particularly limited. Inorganic oxides such as SiO, Al 2 O, TiO or ZrO or fine particles of these composite oxides
2 2 3 2 2 2 2 3 2 2
粒子が用いられ、通常、これらのゾルを用いることができる。さらに前記の製造方法に よって得られた多孔質粒子前駆体分散液をシード粒子分散液としてもよ!ゝ。シード粒 子分散液を使用する場合、シード粒子分散液の pHを 10以上に調整した後、該シー ド粒子分散液中に前記化合物の水溶液を、上記したアルカリ水溶液中に攪拌しなが ら添加する。この場合も、必ずしも分散液の pH制御を行う必要はない。このようにして シード粒子を用いると、調製する多孔質粒子の粒径コントロールが容易であり、粒度 の揃ったものを得ることができる。  Particles are used, and usually these sols can be used. Furthermore, the porous particle precursor dispersion obtained by the above production method may be used as a seed particle dispersion. When using a seed particle dispersion, adjust the pH of the seed particle dispersion to 10 or higher, and then add the aqueous solution of the compound to the seed particle dispersion while stirring into the alkaline aqueous solution. To do. In this case, it is not always necessary to control the pH of the dispersion. When seed particles are used in this way, it is easy to control the particle size of the porous particles to be prepared, and particles with uniform particle sizes can be obtained.
[0034] 上記したシリカ原料及び無機化合物原料はアルカリ側で高い溶解度を有する。し 力しながら、この溶解度の大きい pH領域で両者を混合すると、ケィ酸イオン及びアル ミン酸イオン等のォキソ酸イオンの溶解度が低下し、これらの複合物が析出して微粒 子に成長したり、または、シード粒子上に析出して粒子成長が起る。従って、微粒子 の析出、成長に際して、従来法のような pH制御は必ずしも行う必要がない。  [0034] The silica raw material and the inorganic compound raw material described above have high solubility on the alkali side. However, when both are mixed in this highly soluble pH range, the solubility of oxalate ions such as silicate and aluminate ions decreases, and these composites precipitate and grow into fine particles. Alternatively, the particles grow on the seed particles by precipitation. Therefore, it is not always necessary to perform pH control as in the conventional method for precipitation and growth of fine particles.
[0035] 第 1工程におけるシリカとシリカ以外の無機化合物との複合割合は、シリカに対する 無機化合物を酸化物(MO )に換算し、 MO /SiOのモル比力 0. 05〜2. 0、好  [0035] The composite ratio of silica and inorganic compound other than silica in the first step is calculated by converting the inorganic compound to silica into an oxide (MO), and the molar ratio of MO / SiO is 0.05 to 2.0.
X X 2  X X 2
ましくは 0. 2〜2. 0の範囲内にあることが望ましい。この範囲内において、シリカの割 合が少なくなる程、多孔質粒子の細孔容積が増大する。し力しながら、モル比が 2. 0 を越えても、多孔質粒子の細孔の容積はほとんど増加しない。他方、モル比が 0. 05 未満の場合は、細孔容積が小さくなる。空洞粒子を調製する場合、 MO /SiOのモ  It is desirable that it is within the range of 0.2 to 2.0. Within this range, the smaller the proportion of silica, the greater the pore volume of the porous particles. However, even if the molar ratio exceeds 2.0, the pore volume of the porous particles hardly increases. On the other hand, when the molar ratio is less than 0.05, the pore volume becomes small. When preparing hollow particles, MO / SiO
X 2 ノレ itは、 0. 25-2. 0の範囲内にあること力望まし!/、。  X 2 Nore it should be within the range of 0.25-2.0! /.
[0036] 第 2工程:多孔質粒子からのシリカ以外の無機化合物の除去 [0036] Second step: removal of inorganic compounds other than silica from the porous particles
第 2工程では、前記第 1工程で得られた多孔質粒子前駆体から、シリカ以外の無機 化合物 (珪素と酸素以外の元素)の少なくとも一部を選択的に除去する。具体的な除 去方法としては、多孔質粒子前駆体中の無機化合物を鉱酸ゃ有機酸を用いて溶解 除去したり、または、陽イオン交換樹脂と接触させてイオン交換除去する。 In the second step, at least a part of inorganic compounds other than silica (elements other than silicon and oxygen) is selectively removed from the porous particle precursor obtained in the first step. Specific removal As the leaving method, the inorganic compound in the porous particle precursor is dissolved and removed using mineral acid or organic acid, or is contacted with a cation exchange resin for ion exchange removal.
[0037] なお、第 1工程で得られる多孔質粒子前駆体は、珪素と無機化合物構成元素が酸 素を介して結合した網目構造の粒子である。このように多孔質粒子前駆体力も無機 化合物 (珪素と酸素以外の元素)を除去することにより、一層多孔質で細孔容積の大 きい多孔質粒子が得られる。また、多孔質粒子前駆体力 無機酸ィ匕物 (珪素と酸素 以外の元素)を除去する量を多くすれば、空洞粒子を調製することができる。  [0037] The porous particle precursor obtained in the first step is a particle having a network structure in which silicon and an inorganic compound constituent element are bonded via oxygen. In this way, porous particles having a larger pore volume can be obtained by removing the inorganic compound (elements other than silicon and oxygen) from the porous particle precursor force. Further, if the amount of the porous particle precursor strength inorganic oxide (elements other than silicon and oxygen) is increased, the hollow particles can be prepared.
[0038] また、多孔質粒子前駆体力もシリカ以外の無機化合物を除去するに先立って、第 1 工程で得られる多孔質粒子前駆体分散液に、シリカのアルカリ金属塩を脱アルカリし て得られる、フッ素置換アルキル基含有シランィ匕合物を含有するケィ酸液または加水 分解性の有機珪素化合物を添加してシリカ保護膜を形成することが好まし ヽ。シリカ 保護膜の厚さは 0. 5〜15nmの厚さであればよい。なおシリカ保護膜を形成しても、 この工程での保護膜は多孔質であり厚さが薄いので、前記したシリカ以外の無機化 合物を、多孔質粒子前駆体力も除去することは可能である。  [0038] Further, the porous particle precursor force can also be obtained by removing alkali metal salt of silica from the porous particle precursor dispersion obtained in the first step prior to removing inorganic compounds other than silica. It is preferable to form a silica protective film by adding a caustic acid solution containing a fluorine-substituted alkyl group-containing silane compound or a hydrolyzable organosilicon compound. The thickness of the silica protective film may be 0.5 to 15 nm. Even if a silica protective film is formed, the protective film in this step is porous and thin, so it is possible to remove the inorganic compound other than the above-described silica with the porous particle precursor force. is there.
[0039] このようなシリカ保護膜を形成することによって、粒子形状を保持したまま、前記した シリカ以外の無機化合物を、多孔質粒子前駆体力も除去することができる。また、後 述するシリカ被覆層を形成する際に、多孔質粒子の細孔が被覆層によって閉塞され てしまうことがなぐこのため細孔容積を低下させることなく後述するシリカ被覆層を形 成することができる。なお、除去する無機化合物の量が少ない場合は粒子が壊れるこ とがな!/、ので必ずしも保護膜を形成する必要はな 、。  [0039] By forming such a silica protective film, the porous particle precursor force can be removed from inorganic compounds other than silica as described above while maintaining the particle shape. Further, when forming the silica coating layer described later, the pores of the porous particles are not blocked by the coating layer, so that the silica coating layer described later is formed without reducing the pore volume. be able to. If the amount of the inorganic compound to be removed is small, the particles will not break! /, So it is not always necessary to form a protective film.
[0040] また空洞粒子を調製する場合は、このシリカ保護膜を形成しておくことが望ま 、。  [0040] When preparing hollow particles, it is desirable to form this silica protective film.
空洞粒子を調製する際には、無機化合物を除去すると、シリカ保護膜と、該シリカ保 護膜内の溶媒、未溶解の多孔質固形分とからなる空洞粒子の前駆体が得られ、該 空洞粒子の前駆体に後述の被覆層を形成すると、形成された被覆層が、粒子壁とな り空洞粒子が形成される。  When preparing the hollow particles, the inorganic compound is removed to obtain a hollow particle precursor composed of a silica protective film, a solvent in the silica protective film, and an undissolved porous solid content. When a coating layer, which will be described later, is formed on the particle precursor, the formed coating layer becomes a particle wall to form hollow particles.
[0041] 上記シリカ保護膜形成のために添加するシリカ源の量は、粒子形状を保持できる範 囲で少ないことが好ましい。シリカ源の量が多すぎると、シリカ保護膜が厚くなりすぎ るので、多孔質粒子前駆体力 シリカ以外の無機化合物を除去することが困難となる ことがある。シリカ保護膜形成用に使用される加水分解性の有機珪素化合物としては 、一般式 R Si (OR' ) 〔R、 :アルキル基、ァリール基、ビュル基、アクリル基等 [0041] The amount of the silica source added for forming the silica protective film is preferably small as long as the particle shape can be maintained. If the amount of the silica source is too large, the silica protective film becomes too thick, so it becomes difficult to remove inorganic compounds other than the porous particle precursor force silica. Sometimes. The hydrolyzable organosilicon compound used for forming the silica protective film includes a general formula R Si (OR ') [R,: alkyl group, aryl group, bur group, acrylic group, etc.
n 4-n  n 4-n
の炭化水素基、 n=0、 1、 2または 3〕で表されるアルコキシシランを用いることができ る。特に、フッ素置換したテトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキ シシラン等のテトラアルコキシシランが好ましく用いられる。  Or an alkoxysilane represented by n = 0, 1, 2, or 3]. In particular, tetraalkoxysilanes such as fluorine-substituted tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, and tetraisopropoxysilane are preferably used.
[0042] 添加方法としては、これらのアルコキシシラン、純水、及びアルコールの混合溶液 に触媒としての少量のアルカリまたは酸を添加した溶液を、前記多孔質粒子の分散 液に加え、アルコキシシランを加水分解して生成したケィ酸重合物を無機酸ィ匕物粒 子の表面に沈着させる。このとき、アルコキシシラン、アルコール、触媒を同時に分散 液中に添カ卩してもよい。アルカリ触媒としては、アンモニア、アルカリ金属の水酸化物 、アミン類を用いることができる。また、酸触媒としては、各種の無機酸と有機酸を用 いることがでさる。 [0042] As an addition method, a solution obtained by adding a small amount of alkali or acid as a catalyst to a mixed solution of these alkoxysilanes, pure water, and alcohol is added to the dispersion of the porous particles to hydrolyze the alkoxysilane. The keyed acid polymer produced by decomposition is deposited on the surface of inorganic oxide particles. At this time, alkoxysilane, alcohol and catalyst may be simultaneously added to the dispersion. As the alkali catalyst, ammonia, an alkali metal hydroxide, or an amine can be used. As the acid catalyst, various inorganic acids and organic acids can be used.
[0043] 多孔質粒子前駆体の分散媒が、水単独、または有機溶媒に対する水の比率が高 い場合には、ケィ酸液を用いてシリカ保護膜を形成することも可能である。ケィ酸液を 用いる場合には、分散液中にケィ酸液を所定量添加し、同時にアルカリを加えてケィ 酸液を多孔質粒子表面に沈着させる。なお、ケィ酸液と上記アルコキシシランを併用 してシリカ保護膜を作製してもよ!/、。  [0043] When the dispersion medium of the porous particle precursor is water alone or when the ratio of water to the organic solvent is high, it is possible to form a silica protective film using a caustic acid solution. In the case of using a key acid solution, a predetermined amount of the key acid solution is added to the dispersion, and at the same time an alkali is added to deposit the key acid solution on the surface of the porous particles. In addition, a silica protective film may be produced by using a combination of a key acid solution and the above alkoxysilane! /.
[0044] 第 3工程:シリカ被覆層の形成  [0044] Third step: formation of a silica coating layer
第 3工程では、第 2工程で調製した多孔質粒子分散液 (空洞粒子の場合は空洞粒 子前駆体分散液)に、フッ素置換アルキル基含有シラン化合物を含有する加水分解 性の有機珪素化合物またはケィ酸液等を加えることにより、粒子の表面を加水分解 性有機珪素化合物またはケィ酸液等の重合物で被覆してシリカ被覆層を形成する。  In the third step, a hydrolyzable organosilicon compound containing a fluorine-substituted alkyl group-containing silane compound or a porous particle dispersion prepared in the second step (a hollow particle precursor dispersion in the case of hollow particles) or By adding a key acid solution or the like, the surface of the particles is coated with a hydrolyzable organosilicon compound or a polymer such as a key acid solution to form a silica coating layer.
[0045] シリカ被覆層形成用に使用される加水分解性の有機珪素化合物としては、前記し たような一般式 R Si (OR' ) 〔R、 :アルキル基、ァリール基、ビュル基、アクリル  [0045] The hydrolyzable organosilicon compound used for forming the silica coating layer includes the general formula R Si (OR ') [R,: alkyl group, aryl group, bur group, acrylic group as described above.
n 4-n  n 4-n
基等の炭化水素基、 n=0、 1、 2または 3〕で表されるアルコキシシランを用いることが できる。特に、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロボキシシラン等 のテトラアルコキシシランが好ましく用いられる。  A hydrocarbon group such as a group, and alkoxysilanes represented by n = 0, 1, 2 or 3] can be used. In particular, tetraalkoxysilanes such as tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, and tetraisopropoxysilane are preferably used.
[0046] 添加方法としては、これらのアルコキシシラン、純水、及びアルコールの混合溶液 に触 [0046] As an addition method, a mixed solution of these alkoxysilanes, pure water, and alcohol Touch
媒としての少量のアルカリまたは酸を添加した溶液を、前記多孔質粒子 (空洞粒子の 場合は空洞粒子前駆体)分散液に加え、アルコキシシランを加水分解して生成した ケィ酸重合物を多孔質粒子 (空洞粒子の場合は空洞粒子前駆体)の表面に沈着さ せる。このとき、アルコキシシラン、アルコール、触媒を同時に分散液中に添カ卩しても よい。アルカリ触媒としては、アンモニア、アルカリ金属の水酸ィ匕物、アミン類を用いる ことができる。また、酸触媒としては、各種の無機酸と有機酸を用いることができる。  A solution obtained by adding a small amount of alkali or acid as a medium to the above-described dispersion of porous particles (cavity particle precursor in the case of hollow particles) and hydrolyzing alkoxysilane is used to form a porous polymer. It is deposited on the surface of the particles (in the case of hollow particles, the hollow particle precursor). At this time, alkoxysilane, alcohol, and catalyst may be simultaneously added to the dispersion. As the alkali catalyst, ammonia, an alkali metal hydroxide or an amine can be used. As the acid catalyst, various inorganic acids and organic acids can be used.
[0047] 多孔質粒子 (空洞粒子の場合は空洞粒子前駆体)の分散媒が水単独、または有機 溶媒との混合溶媒であって、有機溶媒に対する水の比率が高!ヽ混合溶媒の場合に は、ケィ酸液を用いて被覆層を形成してもよい。ケィ酸液とは、水ガラス等のアルカリ 金属ケィ酸塩の水溶液をイオン交換処理して脱アルカリしたケィ酸の低重合物の水 溶液である。  [0047] In the case where the dispersion medium of porous particles (in the case of hollow particles, the hollow particle precursor) is water alone or a mixed solvent with an organic solvent, and the ratio of water to the organic solvent is high! May form a coating layer using a caustic acid solution. The key acid solution is an aqueous solution of a low-polymerization product of key acid obtained by dealkalizing an aqueous solution of an alkali metal silicate such as water glass by ion exchange treatment.
[0048] ケィ酸液は、多孔質粒子 (空洞粒子の場合は空洞粒子前駆体)分散液中に添加さ れ、同時にアルカリを加えてケィ酸低重合物を多孔質粒子 (空洞粒子の場合は空洞 粒子前駆体)表面に沈着させる。なお、ケィ酸液を上記アルコキシシランと併用して 被覆層形成用に使用してもよ!ヽ。被覆層形成用に使用される有機珪素化合物また はケィ酸液の添加量は、コロイド粒子の表面を十分被覆できる程度であればよぐ最 終的に得られるシリカ被覆層の厚さが l〜20nmとなるように量で、多孔質粒子 (空洞 粒子の場合は空洞粒子前駆体)分散液中で添加される。また前記シリカ保護膜を形 成した場合はシリカ保護膜とシリカ被覆層の合計の厚さ力^〜 20nmの範囲となるよう な量で、有機珪素化合物またはケィ酸液は添加される。  [0048] The caustic acid solution is added to the dispersion of porous particles (in the case of hollow particles, hollow particle precursors), and at the same time, alkali is added to lower the key acid low polymer to the porous particles (in the case of hollow particles). Cavity is deposited on the particle precursor surface. A caustic acid solution may be used in combination with the above alkoxysilane for forming a coating layer. The addition amount of the organosilicon compound or the caustic acid solution used for forming the coating layer is sufficient if the surface of the colloidal particles can be sufficiently covered. It is added in an amount of 20 nm in a dispersion of porous particles (in the case of hollow particles, hollow particle precursor). When the silica protective film is formed, the organosilicon compound or the caustic acid solution is added in such an amount that the total thickness force of the silica protective film and the silica coating layer is in the range of 20 nm to 20 nm.
[0049] 次 ヽで、被覆層が形成された粒子の分散液を加熱処理する。加熱処理によって、 多孔質粒子の場合は、多孔質粒子表面を被覆したシリカ被覆層が緻密化し、多孔質 粒子がシリカ被覆層によって被覆された複合粒子の分散液が得られる。また空洞粒 子前駆体の場合、形成された被覆層が緻密化して空洞粒子壁となり、内部が溶媒、 気体または多孔質固形分で充填された空洞を有する空洞粒子の分散液が得られる  [0049] Next, the dispersion liquid of the particles on which the coating layer is formed is heat-treated. By the heat treatment, in the case of porous particles, the silica coating layer covering the surface of the porous particles is densified, and a dispersion of composite particles in which the porous particles are coated with the silica coating layer is obtained. In the case of a hollow particle precursor, the formed coating layer is densified to become hollow particle walls, and a dispersion of hollow particles having cavities filled with a solvent, gas, or porous solid content is obtained.
[0050] このときの加熱処理温度は、シリカ被覆層の微細孔を閉塞できる程度であれば特に 制限はなぐ 80〜300°Cの範囲が好ましい。加熱処理温度が 80°C未満ではシリカ被 覆層の微細孔を完全に閉塞して緻密化できないことがあり、また処理時間に長時間 を要してしまうことがある。また加熱処理温度が 300°Cを越えて長時間処理すると緻 密な粒子となることがあり、低屈折率ィ匕の効果が得られないことがある。 [0050] The heat treatment temperature at this time is not particularly limited as long as it can close the fine pores of the silica coating layer. A range of 80 to 300 ° C is preferable. When the heat treatment temperature is less than 80 ° C, the fine pores of the silica coating layer may not be completely closed and densified, and the treatment time may take a long time. In addition, when the heat treatment temperature exceeds 300 ° C for a long time, fine particles may be formed, and the effect of low refractive index may not be obtained.
[0051] このようにして得られた無機微粒子の屈折率は、 1. 42未満と低い。このような無機 微粒子は、多孔質粒子内部の多孔性が保持されている力 内部が空洞であるので、 屈折率が低くなるものと推察される。  [0051] The refractive index of the inorganic fine particles thus obtained is as low as less than 1.42. Such an inorganic fine particle is presumed to have a low refractive index because the inside of the porous particle is hollow and the inside of the force is hollow.
[0052] 内部が多孔質または空洞である中空微粒子の低屈折率層中の含有量は、 10〜40 質量%であることが好ましい。低屈折率化の効果を得る上で、 15質量%以上が好ま しぐ 40質量%を超えるとバインダー成分が少なくなり膜強度が不十分となる。特に 好ましくは 20〜40質量%である。  [0052] The content of the hollow fine particles having a porous or hollow interior in the low refractive index layer is preferably 10 to 40% by mass. In order to obtain the effect of lowering the refractive index, 15% by mass or more is preferable. If it exceeds 40% by mass, the binder component decreases and the film strength becomes insufficient. Especially preferably, it is 20-40 mass%.
[0053] (コロイダルシリカ)  [0053] (Colloidal silica)
本発明に用いられるコロイダルシリカは、二酸ィ匕ケィ素をコロイド状に水または有機 溶媒に分散させたものであり、球状、針状または数珠状である。コロイダルシリカの平 均粒径は前記中空微粒子の平均粒径の 1. 1〜20倍未満であることが必要であり、 好ましくは 1. 5〜5. 0倍である。従って、コロイダルシリカの平均粒径は 50〜300nm の範囲が好ましく用いられる。コロイダルシリカの粒径は変動係数が 1〜40%の単分 散であることが好ましい。平均粒径は、走査電子顕微鏡 (SEM)等による電子顕微鏡 写真力も計測することができる。動的光散乱法や静的光散乱法等を利用する粒度分 布計等によって計測してもよい。しかし、コロイダルシリカの平均粒径と中空微粒子の 平均粒径の比を求める場合は、同じ計測方法によらねばならな!/、。  The colloidal silica used in the present invention is a colloidal dispersion of water and organic solvent in a colloidal form, and is spherical, acicular or beaded. The average particle size of the colloidal silica needs to be 1.1 to less than 20 times the average particle size of the hollow fine particles, and preferably 1.5 to 5.0 times. Therefore, the average particle diameter of colloidal silica is preferably in the range of 50 to 300 nm. The particle size of colloidal silica is preferably monodispersed with a coefficient of variation of 1 to 40%. The average particle diameter can also be measured by photographic power of an electron microscope using a scanning electron microscope (SEM) or the like. It may be measured by a particle size distribution meter using a dynamic light scattering method or a static light scattering method. However, the same measurement method must be used to determine the ratio between the average particle size of colloidal silica and the average particle size of hollow particles! /.
[0054] 本発明に用いられこのようなコロイダルシリカは市販されており、例えば、 日産化学 工業社のスノーテックスシリーズ、触媒ィ匕成工業社のカタロイド Sシリーズ、バイエ ル社のレバシルシリーズ等が挙げられる。また、アルミナゾルや水酸化アルミニウムで カチオン変性したコロイダルシリカやシリカの一次粒子を 2価以上の金属イオンで粒 子間を結合し数珠状に連結した数珠状コロイダルシリカも好ましく用いられる。数珠 状コロイダルシリカは日産化学工業社のスノーテックス AKシリーズ、スノーテックス —PSシリーズ、スノーテックス UPシリーズ等がある。 [0055] コロイダルシリカの低屈折率層中の含有量は、低屈折率層中の固形分に対し 30〜 60質量%であることが好ましい。低屈折率化の効果を得る上で、 30質量%以上が好 ましぐ 40質量%を超えるとバインダー成分が少なくなり膜強度が不十分となる。 [0054] Such colloidal silica used in the present invention is commercially available. For example, a snow tex series manufactured by Nissan Chemical Industries, a cataloid S series manufactured by Catalytic Co., Ltd., a rebacil series manufactured by Bayer, etc. Can be mentioned. Further, colloidal silica cation-modified with alumina sol or aluminum hydroxide, or bead-like colloidal silica in which primary particles of silica are connected in a bead-like manner by connecting particles with metal ions having a valence of 2 or more is also preferably used. There are rosary colloidal silicas, such as the Snowtex AK series, Snowtex-PS series, and Snowtex UP series from Nissan Chemical Industries. [0055] The content of colloidal silica in the low refractive index layer is preferably 30 to 60 mass% with respect to the solid content in the low refractive index layer. In order to obtain the effect of lowering the refractive index, 30% by mass or more is preferable. If it exceeds 40% by mass, the binder component decreases and the film strength becomes insufficient.
[0056] 低屈折率層中の中空微粒子とコロイダルシリカの含有量比は、反射率低減効果と 表面硬度の観点力も選ばれるが、 1 : 0. 1〜10が好ましぐ 1 : 0. 8〜5がより好ましい  [0056] The content ratio between the hollow fine particles and the colloidal silica in the low refractive index layer is selected from the viewpoint of the reflectance reduction effect and the surface hardness, but is preferably in the range of 1: 0.1 to 10: 1: 0.8. ~ 5 is more preferred
[0057] (バインダー) [0057] (Binder)
低屈折率層は、全体で 5〜80質量%のバインダーを含むことが好ましい。バインダ 一は、シリカ微粒子を接着し、空隙を含む低屈折率層の構造を維持する機能を有す る。バインダーの使用量は、空隙を充填することなく低屈折率層の強度を維持できる ように調整する。バインダーとしては、下記一般式(1)で表される有機珪素化合物も しくはその加水分解物あるいはその重縮合物が挙げられる。  The low refractive index layer preferably contains 5 to 80% by mass of binder as a whole. The binder 1 has a function of adhering silica fine particles and maintaining the structure of a low refractive index layer including voids. The amount of the binder used is adjusted so that the strength of the low refractive index layer can be maintained without filling the voids. Examples of the binder include an organosilicon compound represented by the following general formula (1), a hydrolyzate thereof, or a polycondensate thereof.
[0058] 一般式(1) Si (OR)  [0058] General formula (1) Si (OR)
4  Four
式中、 Rはアルキル基であり、好ましくは炭素数 1〜4のアルキル基である。具体的 化合物化合物には、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシ シラン等が好ましく用いられる。  In the formula, R is an alkyl group, preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. As specific compound compounds, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane and the like are preferably used.
[0059] また、低屈折率層にはバインダーとしてシランカップリング剤を含有してもよ!/、。シラ ンカップリング剤としては、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルト リメトキシエトキシシラン、メチルトリァセトキシシラン、メチルトリブトキシシラン、ェチル トリメトキシシラン、ェチルトリエトキシシラン、ビュルトリメトキシシラン、ビュルトリェトキ シシラン、ビニルトリァセトキシシラン、ビニルトリメトキシエトキシシラン、フエニルトリメト キシシラン、フエニルトリエトキシシラン、フエニルトリァセトキシシラン、 γ—クロ口プロ ピルトリメトキシシラン、 γ—クロ口プロピルトリエトキシシラン、 γ—クロ口プロピルトリア セトキシシラン、 3, 3, 3—トリフルォロプロピルトリメトキシシラン、 γ—グリシジルォキ βーグリシジノレ才キシエトキシ)プロピノレトリメトキシシラン、 13 (3, 4 ェポシシシク 口へキシル)ェチルトリメトキシシラン、 j8 (3, 4—エポキシシクロへキシル)ェチルト リエトキシシラン、 Ύ—アタリロイルォキシプロピルトリメトキシシラン、 Ύ—メタクリロイ ルォキシプロピルトリメトキシシラン、 γ—ァミノプロピルトリメトキシシラン、 γ—ァミノ プロピルトリエトキシシラン、 γ—メルカプトプロピルトリメトキシシラン、 γ—メルカプト プロピルトリエトキシシラン、 Ν— β— (アミノエチル) γ—ァミノプロピルトリメトキシ シラン及び j8—シァノエチルトリエトキシシランが挙げられる。 [0059] Further, the low refractive index layer may contain a silane coupling agent as a binder! Examples of silane coupling agents include methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltrimethoxyethoxysilane, methyltriacetoxysilane, methyltributoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, butyltrimethoxysilane. , Butyltrioxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxyethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, phenyltriacetoxysilane, γ-black propyltrimethoxysilane, γ-black propyltriethoxysilane , Γ-chloropropyl propyltriacetoxysilane, 3, 3, 3-trifluoropropyltrimethoxysilane, γ-glycidyl β-glycidinole oxyethoxy) propinoretrimethoxysila , 13 (3, 4 Eposhishishiku port hexyl) E trimethoxysilane, j8 (3, 4-epoxycyclohexyl) Echiruto triethoxysilane, Y - Atari Roy Ruo trimethoxysilane, Y - methacryloyl Luoxypropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltriethoxysilane, Ν- β- (aminoethyl) γ— Examples include aminopropyltrimethoxysilane and j8-cyanethyltriethoxysilane.
[0060] また、珪素に対して 2置換のアルキル基を持つシランカップリング剤の例として、ジメ チノレジメトキシシラン、フエニノレメチノレジメトキシシラン、ジメチノレジェトキシシラン、フ ェニノレメチノレジェトキシシラン、 Ίーグリシジノレ才キシプロピノレメチノレジェトキシシラン ルフエ二ルジェトキシシラン、 γ クロ口プロピルメチルジェトキシシラン、ジメチルジ ァセトキシシラン、 γ—アタリロイルォキシプロピルメチルジメトキシシラン、 γ—アタリ ロイルォキシプロピルメチルジェトキシシラン、 γ—メタクリロイルォキシプロピルメチ ルジメトキシシラン、 γ—メタクリロイルォキシプロピルメチルジェトキシシラン、 γ—メ ルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、 γ メルカプトプロピルメチルジェトキシシラ ン、 γ—ァミノプロピルメチルジメトキシシラン、 γ—ァミノプロピルメチルジェトキシシ ラン、メチルビ-ルジメトキシシラン及びメチルビ-ルジェトキシシランが挙げられる。 [0060] In addition, examples of silane coupling agents having a disubstituted alkyl group with respect to silicon include dimethylenoresimethoxysilane, pheninolemethinoresimethoxymethoxysilane, dimethylenolegetoxysilane, and phenenolemethinolegetoxy. Silane, グ リ -Glycidinore xyloxypropenolemethino lesoxy silane Lufenyl oxyoxy silane, γ-chloropropyl methoxy silane, dimethyl diacetoxy silane, γ-Ataryl oxypropyl methyl dimethoxy silane, γ- attayloxy propyl methyl Getoxysilane, γ-methacryloyloxypropylmethyldimethoxysilane, γ-methacryloyloxypropylmethyljetoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, γ mercaptopropylmethyljetoxy Run-, .gamma. § amino propyl methyl dimethoxy silane, .gamma. § amino propyl methyl jet Kishishi run, Mechirubi - dimethoxysilane and Mechirubi - Rougier butoxy silane.
[0061] これらのうち、分子内に二重結合を有するビニルトリメトキシシラン、ビニルトリェトキ シシラン、ビニルトリァセトキシシラン、ビニルトリメトキシエトキシシラン、 γ—アタリロイ ルォキシプロピルトリメトキシシラン及び γ—メタクリロイルォキシプロピルトリメトキシシ ラン、珪素に対して 2置換のアルキル基を持つものとして γ—アタリロイルォキシプロ ピルメチルジメトキシシラン、 γ アタリロイルォキシプロピルメチルジェトキシシラン、 口ピルメチルジェトキシシラン、メチルビ二ルジメトキシシラン及びメチルビ二ルジェト キシシランが好ましぐ y—アタリロイルォキシプロピルトリメトキシシラン及び γ—メタ クリロイルォキシプロピルトリメトキシシラン、 Ί—アタリロイルォキシプロピルメチルジメ トキシシラン、 γ—アタリロイルォキシプロピルメチルジェトキシシラン、 γ—メタクリロ ィルォキシプロピルメチルジメトキシシラン及び γ—メタクリロイルォキシプロピルメチ ルジェトキシシランが特に好まし 、。 [0061] Of these, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxyethoxysilane, γ-atarylloyoxypropyltrimethoxysilane and γ-methacryloyloxy having a double bond in the molecule. Propyltrimethoxysilane, which has a disubstituted alkyl group with respect to silicon, γ-Ataryloxypropyl propylmethyldimethoxysilane, γ Ataryloxypropylmethyl jetoxysilane, oral pyrmethylmethoxysilane, methylbiphenyl two dimethoxysilane and Mechirubi two Rujeto Kishishiran is preferred instrument y- Atari Roy Ruo trimethoxysilane and γ- methacryloyloxy Ruo trimethoxysilane, Ί - Atari Roy Ruo carboxypropyl methyl dimethacrylate Toki Silane, .gamma. Atari Roy Ruo carboxypropyl methyl jet silane, .gamma. methacrylonitrile I Ruo propyl methyl dimethoxy silane and .gamma.-methacryloyloxy Ruo propyl methylol Rougier butoxy silane is particularly preferred.
[0062] 2種類以上のカップリング剤を併用してもよい。上記に示されるシランカップリング剤 に加えて、他のシランカップリング剤を用いてもよい。他のシランカップリング剤には、 オルトケィ酸のアルキルエステル(例えば、オルトケィ酸メチル、オルトケィ酸ェチル、 オルトケィ酸 n プロピル、オルトケィ酸 i プロピル、オルトケィ酸 n—ブチル、オルト ケィ酸 sec ブチル、オルトケィ酸 tーブチル)及びその加水分解物が挙げられる。 [0062] Two or more types of coupling agents may be used in combination. Silane coupling agent shown above In addition to the above, other silane coupling agents may be used. Other silane coupling agents include alkyl esters of orthokeys (eg, methyl orthokeate, ethyl orthokete, n-propyl orthokeate, i-propyl orthokeate, n-butyl orthokeate, sec-butyl orthokeate, orthokeate t -Butyl) and hydrolysates thereof.
[0063] 低屈折率層のその他のバインダーとしては、例えば、ポリビュルアルコール、ポリオ キシエチレン、ポリメチルメタタリレート、ポリメチルアタリレート、ジァセチルセルロース 、トリァセチルセルロース、ニトロセルロース、ポリエステル、アルキド榭脂が挙げられ る。 [0063] Other binders for the low refractive index layer include, for example, polybutyl alcohol, polyoxyethylene, polymethyl methacrylate, polymethyl acrylate, diacetyl cellulose, triacetyl cellulose, nitrocellulose, polyester, alkyd Fats are listed.
[0064] (溶媒)  [0064] (Solvent)
本発明に係る低屈折率層塗布組成物は有機溶媒を含有することが好ま ヽ。具体 的な有機溶媒の例としては、アルコール (例、メタノール、エタノール、イソプロパノー ル、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン(例、アセトン、メチルェチルケトン、メチ ルイソブチルケトン、シクロへキサノン)、エステル(例、酢酸メチル、酢酸ェチル、酢 酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸ェチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂 肪族炭化水素 (例、へキサン、シクロへキサン)、ハロゲンィ匕炭化水素 (例、メチレンク 口ライド、クロ口ホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例、ベンゼン、トルエン、キシ レン)、アミド(例、ジメチルホルムアミド、ジメチルァセトアミド、 n—メチルピロリドン)、 エーテル(例、ジェチルエーテル、ジォキサン、テトラハイド口フラン)、エーテルアル コール(例、 1—メトキシ— 2—プロパノール)が挙げられる。中でも、トルエン、キシレ ン、メチルェチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロへキサノン及びブタノールが 特に好ましい。  The low refractive index layer coating composition according to the present invention preferably contains an organic solvent. Specific examples of organic solvents include alcohols (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketones (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), esters ( Examples: methyl acetate, ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate), aliphatic hydrocarbons (eg, hexane, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg , Methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic hydrocarbons (eg, benzene, toluene, xylene), amides (eg, dimethylformamide, dimethylacetamide, n-methylpyrrolidone), ethers (eg, , Jetyl ether, Dioxane, Tetrahydrate mouth furan), Ether alcohol Example, 1-methoxy - 2-propanol) and the like. Of these, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone and butanol are particularly preferable.
[0065] 低屈折率層塗布組成物中の固形分濃度は 1〜4質量%であることが好ましぐ該固 形分濃度が 4質量%以下にすることによって、塗布ムラが生じにくくなり、 1質量%以 上にすることによって乾燥負荷が軽減される。  [0065] The solid content concentration in the low refractive index layer coating composition is preferably 1 to 4% by mass, and when the solid content concentration is 4% by mass or less, uneven coating is less likely to occur. By making it 1% by mass or more, the drying load is reduced.
[0066] (フッ素系またはシリコーン界面活性剤) [0066] (Fluorine-based or silicone surfactant)
低屈折率層にはフッ素系またはシリコーン系の界面活性剤を含有することが好まし い。上記界面活性剤を含有させることで、塗布ムラを低減したり膜表面の防汚性を向 上させるのに有効である。 [0067] フッ素系界面活性剤としては、パーフルォロアルキル基を含有するモノマー、オリゴ マー、ポリマーを母核としたもので、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシ エチレンアルキルァリルエーテル、ポリオキシエチレン等の誘導体等が挙げられる。 The low refractive index layer preferably contains a fluorine type or silicone type surfactant. Inclusion of the surfactant is effective for reducing coating unevenness and improving the antifouling property of the film surface. [0067] Fluorosurfactants include monomers, oligomers, and polymers containing perfluoroalkyl groups as the core, and are polyoxyethylene alkyl ether, polyoxyethylene alkylaryl ether, polyoxyethylene. And the like.
[0068] フッ素系界面活性剤は市販品を用いることもでき、例えばサーフロン「S— 381」、「 S— 382」、「SC— 101」、「SC— 102」、「SC— 103」、「SC— 104」(何れも旭硝子( 株)製)、フロラード「FC— 430」、「FC— 431」、「FC— 173」(何れもフロロケミカル —住友スリーェム製)、エフトップ「EF352」、「EF301」、「EF303」(何れも新秋田化 成(株)製)、シュべゴーフルアー「8035」、「8036」(何れもシュべグマン社製)、「: B M1000」、「BM1100」(いずれもビーェム 'ヒミー社製)、メガファック「F— 171」、「F —470」(いずれも大日本インキ化学工業 (株)製)、等を挙げることができる。  [0068] Commercially available fluorosurfactants can also be used. For example, Surflon "S-381", "S-382", "SC-101", "SC-102", "SC-103", " SC-104 (all manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), FLORARD “FC-430”, “FC-431”, “FC-173” (all fluorochemicals—manufactured by Sumitomo 3EM), F-top “EF352”, “ "EF301", "EF303" (both manufactured by Shin-Akita Kasei Co., Ltd.), Schweggo Fureer "8035", "8036" (both manufactured by Schwegman), ": B M1000", "BM1100" (all BM 'Himmy'), MegaFuck "F-171", "F-470" (all manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), and the like.
[0069] 本発明におけるフッ素系界面活性剤のフッ素含有割合は、 0. 05〜2質量%、好ま しくは 0. 1〜1質量%である。上記のフッ素系界面活性剤は、 1種または 2種以上を 併用することができ、またその他の界面活性剤と併用することができる。  [0069] The fluorine content of the fluorosurfactant in the present invention is 0.05 to 2% by mass, and preferably 0.1 to 1% by mass. One or more of the above fluorosurfactants can be used in combination, and can be used in combination with other surfactants.
[0070] シリコーンオイルまたはシリコーン界面活性剤につ!/、て説明する。  [0070] Silicone oil or silicone surfactant! Explain that.
[0071] 本発明に用いられるシリコーンオイルは、ケィ素原子に結合した有機基の種類によ り、ストレートシリコーンオイルと変性シリコーンオイルに大別できる。ストレートシリコー ンオイルとは、メチル基、フエ-ル基、水素原子を置換基として結合したものをいう。 変性シリコーンオイルとは、ストレートシリコーンオイルから二次的に誘導された構成 部分をもつものである。一方、シリコーンオイルの反応性からも分類することができる。 これらをまとめると、以下のようになる。  [0071] Silicone oils used in the present invention can be broadly classified into straight silicone oils and modified silicone oils, depending on the type of organic group bonded to the silicon atom. Straight silicone oil refers to those bonded with a methyl group, a phenol group, or a hydrogen atom as a substituent. A modified silicone oil is one that has components derived secondarily from straight silicone oil. On the other hand, it can be classified from the reactivity of silicone oil. These are summarized as follows.
[0072] シリコーンオイル  [0072] Silicone oil
1.ストレートシリコーン才ィル  1.Straight silicone talent
1— 1.非反応性シリコーンオイル:ジメチル、メチルフエ-ル置換等  1— 1. Non-reactive silicone oil: dimethyl, methylphenol substitution, etc.
1 - 2.反応性シリコーンオイル:メチル水素置換等  1-2. Reactive silicone oil: methyl hydrogen substitution, etc.
2.変性シリコーンオイル  2. Modified silicone oil
ジメチルシリコーンオイルに、さまざまな有機基を導入することで生まれたものが、変 性シリコーンオイル  Modified silicone oil is born by introducing various organic groups into dimethyl silicone oil.
2- 1.非反応性シリコーンオイル:アルキル、アルキル Zァラルキル、アルキル Zポ リエ一テル、ポリエーテル、高級脂肪酸エステル置換等、 2- 1. Non-reactive silicone oil: alkyl, alkyl Z aralkyl, alkyl Z poly Rie Itel, polyether, higher fatty acid ester substitution, etc.
アルキル/ァラルキル変性シリコーンオイルは、ジメチルシリコーンオイルのメチル 基の一部を長鎖アルキル基あるいはフエ-ルアルキル基に置換えたシリコーンオイ ル、  Alkyl / aralkyl-modified silicone oil is a silicone oil in which a part of methyl group of dimethyl silicone oil is replaced with a long-chain alkyl group or a phenyl alkyl group.
ポリエーテル変性シリコーンオイルは、親水性のポリオキシアルキレンを疎水性のジ メチルシリコーンに導入したシリコーン系高分子界面活性剤、  Polyether-modified silicone oil is a silicone-based polymeric surfactant in which hydrophilic polyoxyalkylene is introduced into hydrophobic dimethyl silicone,
高級脂肪酸変性シリコーンオイルは、ジメチルシリコーンオイルのメチル基の一部を 高級脂肪酸エステルに置換えたシリコーンオイル、  Higher fatty acid-modified silicone oil is a silicone oil in which a part of methyl group of dimethyl silicone oil is replaced with higher fatty acid ester,
ァミノ変性シリコーンオイルは、シリコーンオイルのメチル基の一部をァミノアルキル 基に置換えた構造をもつシリコーンオイル、  The amino-modified silicone oil is a silicone oil having a structure in which a part of the methyl group of the silicone oil is replaced with an aminoalkyl group.
エポキシ変性シリコーンオイルは、シリコーンオイルのメチル基の一部をエポキシ基 含有アルキル基に置換えた構造をもつシリコーンオイル、  Epoxy-modified silicone oil is a silicone oil having a structure in which a part of methyl group of silicone oil is replaced with an epoxy group-containing alkyl group,
カルボキシル変性あるいはアルコール変性シリコーンオイルは、シリコーンオイルの メチル基の一部をカルボキシル基あるいは水酸基含有アルキル基に置換えた構造を もつシリコーンオイル  A carboxyl-modified or alcohol-modified silicone oil is a silicone oil having a structure in which a part of the methyl group of the silicone oil is replaced with a carboxyl group or a hydroxyl group-containing alkyl group.
2- 2.反応性シリコーンオイル:アミ入エポキシ、カルボキシル、アルコール置換 等  2- 2. Reactive silicone oil: Amide-containing epoxy, carboxyl, alcohol substitution, etc.
これらの内、ポリエーテル変性シリコーンオイルが好ましく添加される。ポリエーテル 変性シリコーンオイルの数平均分子量は、例えば、 1, 000〜100, 000、好ましくは 2, 000-50, 000が適当であり、数平均分子量が 1, 000未満では、塗膜の乾燥性 が低下し、逆に、数平均分子量が 100, 000を越えると、塗膜表面にブリードアウトし にくくなる傾向にある。  Of these, polyether-modified silicone oil is preferably added. The number average molecular weight of the polyether-modified silicone oil is, for example, 1,000-100,000, preferably 2,000-50,000, and if the number average molecular weight is less than 1,000, the drying property of the coating film On the contrary, when the number average molecular weight exceeds 100,000, it tends to be difficult to bleed out to the coating surface.
具体的な商品としては、 日本ュ-カー(株)の L 45、 L 9300、 FZ— 3704、 FZ — 3703、 FZ— 3720、 FZ— 3786、 FZ— 3501、 FZ— 3504、 FZ— 3508、 FZ— 3 705、 FZ— 3707、 FZ— 3710、 FZ— 3750、 FZ— 3760、 FZ— 3785、 FZ- 3785 、 Y— 7499、信越ィ匕学社の KF96L、 KF96、 KF96H、 KF99、 KF54、 KF965、 K F968、 KF56、 KF995、 KF351、 KF352、 KF353、 KF354, KF355、 KF615、 KF618、 KF945、 KF6004、 FL100等力ある。 [0074] 本発明に用いられるシリコーン界面活性剤は、シリコーンオイルのメチル基の一部 を親水性基に置換した界面活性剤である。置換の位置は、シリコーンオイルの側鎖、 両末端、片末端、両末端側鎖等がある。親水性基としては、ポリエーテル、ポリグリセ リン、ピロリドン、ベタイン、硫酸塩、リン酸塩、 4級塩等がある。 Specific products include L45, L9300, FZ-3704, FZ-3703, FZ-3720, FZ-3786, FZ-3501, FZ-3504, FZ-3508, FZ from Nippon Car Co., Ltd. — 3 705, FZ— 3707, FZ— 3710, FZ— 3750, FZ— 3760, FZ— 3785, FZ-3785, Y—7499, Shinetsu Yi Gaksha KF96L, KF96, KF96H, KF99, KF54, KF965, K F968, KF56, KF995, KF351, KF352, KF353, KF354, KF355, KF615, KF618, KF945, KF6004, FL100 etc. [0074] The silicone surfactant used in the present invention is a surfactant obtained by substituting a part of the methyl group of the silicone oil with a hydrophilic group. Substitution positions include silicone oil side chains, both ends, one end, both end side chains, and the like. Examples of hydrophilic groups include polyether, polyglycerin, pyrrolidone, betaine, sulfate, phosphate, and quaternary salt.
[0075] シリコーン界面活性剤としては、疎水基がジメチルポリシロキサン、親水基がポリオ キシアルキレン力も構成される非イオン界面活性剤が好ましい。  [0075] The silicone surfactant is preferably a nonionic surfactant in which the hydrophobic group is dimethylpolysiloxane and the hydrophilic group is also composed of a polyoxyalkylene force.
[0076] 非イオン界面活性剤は、水溶液中でイオンに解離する基を有しな ヽ界面活性剤を 総称していうが、疎水基のほか親水性基として多価アルコール類の水酸基、また、ポ リオキシアルキレン鎖 (ポリオキシエチレン)等を親水基として有するものである。親水 性はアルコール性水酸基の数が多くなるに従って、またポリオキシアルキレン鎖(ポリ ォキシエチレン鎖)が長くなるに従って強くなる。本発明に係わる非イオン界面活性 剤は疎水基としてジメチルポリシロキサンを有することに特徴がある。  [0076] A nonionic surfactant is a generic term for surfactants that do not have a group capable of dissociating into ions in an aqueous solution. However, in addition to a hydrophobic group, a hydroxyl group of a polyhydric alcohol can be used as a hydrophilic group. It has a reoxyalkylene chain (polyoxyethylene) or the like as a hydrophilic group. The hydrophilicity becomes stronger as the number of alcoholic hydroxyl groups increases and as the polyoxyalkylene chain (polyoxyethylene chain) becomes longer. The nonionic surfactant according to the present invention is characterized by having dimethylpolysiloxane as a hydrophobic group.
[0077] 疎水基がジメチルポリシロキサン、親水基がポリオキシアルキレン力 構成される非 イオン界面活性剤を用いると、前記の低屈折率層のムラや膜表面の防汚性が向上 する。ポリメチルシロキサン力もなる疎水基が表面に配向し汚れにくい膜表面を形成 するものと考えられる。他の界面活性剤を用いることでは得られない効果である。  [0077] When a nonionic surfactant having a hydrophobic group as dimethylpolysiloxane and a hydrophilic group as polyoxyalkylene force is used, unevenness of the low refractive index layer and antifouling property of the film surface are improved. It is thought that the hydrophobic group that also has polymethylsiloxane force is oriented on the surface and forms a film surface that is not easily soiled. This effect cannot be obtained by using other surfactants.
[0078] これらの非イオン活性剤の具体例としては、例えば、 日本ュ-カー (株)製、シリコー ン界面活性剤 SILWET L— 77、L— 720、L— 7001、L— 7002、 L— 7604、 Y — 7006、 FZ— 2101、 FZ— 2104、 FZ— 2105、 FZ— 2110、 FZ— 2118、 FZ— 2 120、 FZ— 2122、 FZ— 2123、 FZ— 2130、 FZ— 2154、 FZ— 2161、 FZ— 2162 、 FZ— 2163、 FZ— 2164、 FZ— 2166、 FZ— 2191等力挙げられる。  [0078] Specific examples of these nonionic surfactants include, for example, silicone surfactants manufactured by Nippon Car Co., Ltd. SILWET L-77, L-720, L-7001, L-7002, L- 7604, Y — 7006, FZ— 2101, FZ— 2104, FZ— 2105, FZ— 2110, FZ— 2118, FZ— 2 120, FZ— 2122, FZ— 2123, FZ— 2130, FZ— 2154, FZ— 2161 FZ-2162, FZ-2163, FZ-2164, FZ-2166, FZ-2191 and the like.
[0079] また、 SUPERSILWET SS— 2801、 SS— 2802、 SS— 2803、 SS— 2804、 S S— 2805等が挙げられる。  [0079] Further, SUPERSILWET SS-2801, SS-2802, SS-2803, SS-2804, SS-2805 and the like can be mentioned.
[0080] また、これら、疎水基がジメチルポリシロキサン、親水基がポリオキシアルキレンから 構成される非イオン系の界面活性剤の好まし 、構造としては、ジメチルポリシロキサ ン構造部分とポリオキシアルキレン鎖が交互に繰り返し結合した直鎖状のブロックコ ポリマーであることが好ましい。主鎖骨格の鎖長が長ぐ直鎖状の構造であることから 、優れている。親水基と疎水基が交互に繰り返したブロックコポリマーであることにより 、シリカ微粒子の表面を 1つの活性剤分子が、複数の箇所で、これを覆うように吸着 することができるためと考えられる。 [0080] These nonionic surfactants are preferably composed of dimethylpolysiloxane having a hydrophobic group and polyoxyalkylene having a hydrophilic group. The structure includes a dimethylpolysiloxane structure portion and a polyoxyalkylene. A linear block copolymer in which chains are alternately and repeatedly bonded is preferable. It is excellent because it has a linear structure with a long chain length of the main chain skeleton. By being a block copolymer with repeating hydrophilic groups and hydrophobic groups alternately This is probably because one activator molecule can be adsorbed on the surface of silica fine particles so as to cover it at multiple locations.
[0081] これらの具体例としては、例えば、 日本ュ-カー (株)製、シリコーン界面活性剤 A BN SILWET FZ— 2203、 FZ— 2207、 FZ— 2208、 FZ— 2222等力挙げられる  Specific examples of these include, for example, silicone surfactant A BN SILWET FZ-2203, FZ-2207, FZ-2208, FZ-2222, etc., manufactured by Nippon Car Co., Ltd.
[0082] これらのシリコーンオイルまたはシリコーン界面活性剤の中では、ポリエーテル基を 有するものが好ましい。 [0082] Among these silicone oils or silicone surfactants, those having a polyether group are preferred.
[0083] また、ビックケミージャパン社製の界面活性剤 BYKシリーズ、 BYK— 3007302、 ΒΥΚ— 306、 BYK— 307、 BYK— 310、 BYK— 315、 BYK— 320、 BYK— 322、 BYK— 323、 BYK— 325、 BYK— 330、 BYK— 331、 BYK— 333、 BYK— 337、 BYK— 340、 BYK— 344、 BYK— 370、 BYK— 375、 BYK— 377、 BYK— 352、 BYK— 354、 BYK- 355/356, BYK- 358N/361N, BYK— 357、 BYK— 3 90、 BYK— 392、 BYK— UV3500、 BYK— UV3510、 BYK— UV3570、 BYK Silclean3700、 GE東芝シリコーン社製のジメチルシリコーンシリーズ、 XC96— 7 23、 YF3800、 XF3905、 YF3057, YF3807、 YF3802、 YF3897を好ましく用い ることがでさる。  [0083] In addition, BYK series, BYK-3007302, BY-306, BYK-307, BYK-310, BYK-315, BYK-320, BYK-322, BYK-323, BYK manufactured by BYK Japan — 325, BYK—330, BYK—331, BYK—333, BYK—337, BYK—340, BYK—344, BYK—370, BYK—375, BYK—377, BYK—352, BYK—354, BYK-355 / 356, BYK- 358N / 361N, BYK—357, BYK—390, BYK—392, BYK—UV3500, BYK—UV3510, BYK—UV3570, BYK Silclean3700, GE Silicone Dimethyl Silicone Series, XC96—7 23, YF3800, XF3905, YF3057, YF3807, YF3802, YF3897 can be preferably used.
[0084] 他の界面活性剤も併用して用いてもよぐ適宜、例えばスルホン酸塩系、硫酸エス テル塩系、リン酸エステル塩系等のァ-オン界面活性剤、また、ポリオキシエチレン 鎖親水基として有するエーテル型、エーテルエステル型等の非イオン界面活性剤等 を併用してもよい。  [0084] Other surfactants may be used in combination. For example, sulfonate-based, sulfate ester-based, phosphate ester salt-based surfactants, and polyoxyethylene A nonionic surfactant such as an ether type or ether ester type having a chain hydrophilic group may be used in combination.
[0085] 本発明では、これらのシリコーンオイルまたはシリコーン界面活性剤を、低屈折率層 及び低屈折率層に隣接する層、具体的にはハードコート層や高屈折率層に用いるこ とが好ましい。低屈折率層が反射防止フィルムの最表面層である場合には、塗膜の 撥水、撥油性、防汚性を高めるば力りでなぐ表面の耐擦り傷性にも効果を発揮する 。低屈折率層塗布液中の含有量は、 0. 05〜2. 0質量%であることが好ましい。 0. 0 5質量%未満ではクラック耐性効果が不十分であり、 2. 0質量%を超えるど塗布ムラ を生じることがある。  [0085] In the present invention, these silicone oils or silicone surfactants are preferably used in the low refractive index layer and the layer adjacent to the low refractive index layer, specifically, the hard coat layer and the high refractive index layer. . In the case where the low refractive index layer is the outermost surface layer of the antireflection film, it is effective for improving the scratch resistance of the surface by the force by increasing the water repellency, oil repellency and antifouling property of the coating film. The content in the low refractive index layer coating solution is preferably 0.05 to 2.0% by mass. If it is less than 5% by mass, the crack resistance effect is insufficient, and if it exceeds 2.0% by mass, uneven coating may occur.
[0086] (酸) 本発明では、低屈折率層塗布組成物への酸の添カ卩により、中空微粒子の内部から アンモニア等のアルカリ成分が溶出して、塗布液調製後塗布までの間に低屈折率層 塗布組成物の粘度が増加することを防止するもできる。 [0086] (Acid) In the present invention, by adding an acid to the low refractive index layer coating composition, alkaline components such as ammonia are eluted from the inside of the hollow fine particles, and the coating composition of the low refractive index layer is applied after the coating solution is prepared and applied. It is also possible to prevent the viscosity of the product from increasing.
[0087] 添加する酸は公知の無機酸や有機酸が挙げられるが、本発明においては有機酸 が好ましい。有機酸としては酢酸、蟻酸、プロピオン酸等が挙げられ、このうちでは酢 酸が好ましい。有機酸の添加量は、中空微粒子の内部からアンモニア等のアルカリ 成分に対応する量であり、中空微粒子分散液中の固形分に対し、酸、例えば酢酸を 5〜: LOO質量%添加する。中空微粒子分散液の濃度によるが、通常、中空微粒子分 散液の 0. 5-30. 0質量%の範囲で酸を添加することが好ましい。  [0087] Examples of the acid to be added include known inorganic acids and organic acids. In the present invention, organic acids are preferable. Examples of the organic acid include acetic acid, formic acid, propionic acid, and among these, acetic acid is preferable. The addition amount of the organic acid is an amount corresponding to an alkali component such as ammonia from the inside of the hollow fine particles, and an acid, for example, acetic acid, for example, 5 to LOO mass% is added to the solid content in the hollow fine particle dispersion. Depending on the concentration of the hollow fine particle dispersion, it is usually preferable to add the acid in the range of 0.5 to 30% by mass of the hollow fine particle dispersion.
[0088] 〔高屈折率層〕  [0088] [High refractive index layer]
透明支持体と低屈折率層の間には、種々の機能層を設けることができる。その代表 的な層である高屈折率層につ 、て説明する。  Various functional layers can be provided between the transparent support and the low refractive index layer. A typical example of such a high refractive index layer will be described.
[0089] (高屈折率層の金属酸化物微粒子)  [0089] (Metal oxide fine particles of high refractive index layer)
高屈折率層には金属酸化物微粒子を含有することが好ま ヽ。金属酸化物微粒子 の種類は特に限定されるものではなぐ Ti、 Zr、 Sn、 Sb、 Cu、 Fe、 Mn、 Pb、 Cd、 As 、 Cr、 Hg、 Zn、 Al、 Mg、 Si、 P及び S力 選択される少なくとも一種の元素を有する 金属酸ィ匕物を用いることができ、これらの金属酸化物微粒子は Al、 In、 Sn、 Sb、 Nb 、ハロゲン元素、 Ta等の微量の原子をドープしてあつてもよい。また、これらの混合物 でもよい。本発明においては、中でも酸ィ匕ジルコニウム、酸化アンチモン、酸化錫、 酸化亜鉛、酸化インジウムースズ (ITO)、アンチモンドープ酸化スズ (ATO)、及び アンチモン酸亜鉛力 選ばれる少なくとも 1種の金属酸ィ匕物微粒子を主成分として用 いることが好ましぐ特に好ましくはアンチモン酸亜鉛である。  The high refractive index layer preferably contains fine metal oxide particles. Types of metal oxide fine particles are not particularly limited Ti, Zr, Sn, Sb, Cu, Fe, Mn, Pb, Cd, As, Cr, Hg, Zn, Al, Mg, Si, P and S force Metal oxides having at least one selected element can be used, and these metal oxide fine particles are doped with a small amount of atoms such as Al, In, Sn, Sb, Nb, halogen elements, Ta, etc. May be hot. A mixture of these may also be used. In the present invention, zirconium oxide, antimony oxide, tin oxide, zinc oxide, indium oxide (ITO), antimony-doped tin oxide (ATO), and at least one metal oxide selected from antimony zinc power It is preferable to use fine particles as a main component, and zinc antimonate is particularly preferable.
[0090] これら金属酸化物微粒子の一次粒子の平均粒径は 10〜200nmが好ましぐ 10〜 150nmがより好ましい。金属酸化物微粒子の平均粒径は、走査電子顕微鏡(SEM) 等による電子顕微鏡写真力 計測することができる。動的光散乱法や静的光散乱法 等を利用する粒度分布計等によって計測してもよ ヽ。粒径が小さ過ぎると凝集しやす くなり、分散性が劣化する。粒径が大き過ぎるとヘイズが著しく上昇し好ましくない。 金属酸化物微粒子の形状は、米粒状、球形状、立方体状、紡錘形状、針状あるいは 不定形状であることが好ま 、。 [0090] The average primary particle size of these metal oxide fine particles is preferably 10 to 200 nm, more preferably 10 to 150 nm. The average particle diameter of the metal oxide fine particles can be measured with an electron microscope photographic force using a scanning electron microscope (SEM) or the like. It may be measured by a particle size distribution meter using the dynamic light scattering method or the static light scattering method. If the particle size is too small, aggregation tends to occur and the dispersibility deteriorates. If the particle size is too large, the haze is remarkably increased. The shape of the metal oxide fine particles may be rice grain, sphere, cube, spindle, needle or It is preferable to have an indefinite shape.
[0091] 高屈折率層の屈折率は、具体的には、支持体である透明支持体の屈折率より高く 、 23°C、波長 550nm測定で、 1. 50-1. 90の範囲であることが好ましい。高屈折率 層の屈折率を調整する手段は、金属酸化物微粒子の種類、添加量が支配的である ため、金属酸化物微粒子の屈折率は 1. 80-2. 60であることが好ましい。  [0091] The refractive index of the high refractive index layer is specifically higher than the refractive index of the transparent support, which is the support, and is in the range of 1.50-1.90 when measured at 23 ° C and wavelength of 550 nm. It is preferable. The means for adjusting the refractive index of the high refractive index layer is dominated by the type and amount of metal oxide fine particles, so that the refractive index of the metal oxide fine particles is preferably 1.80-2.60.
[0092] 金属酸化物微粒子は有機化合物により表面処理してもよい。金属酸化物微粒子の 表面を有機化合物で表面修飾することによって、有機溶媒中での分散安定性が向 上し、分散粒径の制御が容易になるとともに、経時での凝集、沈降を抑えることもでき る。このため、好ましい有機化合物での表面修飾量は金属酸ィ匕物粒子に対して 0. 1 〜5質量%、より好ましくは 0. 5〜3質量%である。表面処理に用いる有機化合物の 例には、ポリオール、アルカノールァミン、ステアリン酸、シランカップリング剤及びチ タネートカップリング剤が含まれる。この中でも後述するシランカップリング剤が好まし い。二種以上の表面処理を組み合わせてもよい。  [0092] The metal oxide fine particles may be surface-treated with an organic compound. By modifying the surface of the metal oxide fine particles with an organic compound, the dispersion stability in an organic solvent is improved, the dispersion particle size can be easily controlled, and aggregation and sedimentation over time can be suppressed. it can. For this reason, the surface modification amount with a preferable organic compound is 0.1 to 5% by mass, more preferably 0.5 to 3% by mass with respect to the metal oxide particles. Examples of organic compounds used for the surface treatment include polyols, alkanolamines, stearic acid, silane coupling agents and titanate coupling agents. Of these, the silane coupling agents described below are preferred. Two or more kinds of surface treatments may be combined.
[0093] 前記金属酸化物微粒子を含有する高屈折率層の厚さは 5ηπ!〜 1 μ mであることが 好ましく、 ΙΟηπ!〜 0. 2 /z mであることがさらに好ましぐ 30ηπ!〜 0. 1 mであること が最も好ましい。  [0093] The thickness of the high refractive index layer containing the metal oxide fine particles is 5ηπ! Preferably ~ 1 μm, ΙΟηπ! It is more preferable that it is ~ 0.2 / z m 30ηπ! Most preferred is ~ 0.1 m.
[0094] 使用する金属酸化物微粒子と後述する電離放射線硬化型榭脂等のバインダーと の比は、金属酸化物微粒子の種類、粒子サイズ等により異なるが体積比で前者 1〖こ 対して後者 2から前者 2に対して後者 1程度が好ましい。  [0094] The ratio of the metal oxide fine particles to be used and a binder such as ionizing radiation curable resin, which will be described later, depends on the type of metal oxide fine particles, the particle size, etc., but the volume ratio of the former 1% versus the latter 2 Therefore, the latter 1 is preferable to the former 2.
[0095] 本発明にお ヽて用いられる金属酸化物微粒子の使用量は高屈折率層中に 5〜85 質量%が好ましぐ 10〜80質量%がより好ましぐ 20〜75質量%がさらに好ましい。 使用量が少ないと所望の屈折率や本発明の効果が得られず、多すぎると膜強度の 劣化等が発生する。  [0095] The amount of the metal oxide fine particles used in the present invention is preferably 5 to 85% by mass, more preferably 10 to 80% by mass, and more preferably 20 to 75% by mass in the high refractive index layer. Further preferred. If the amount used is small, the desired refractive index and the effect of the present invention cannot be obtained, and if it is too large, the film strength is deteriorated.
[0096] 上記金属酸化物微粒子は、媒体に分散した分散体の状態で、高屈折率層を形成 するための塗布液に供される。金属酸化物粒子の分散媒体としては、沸点が 60〜1 70°Cの液体を用いることが好ましい。分散溶媒の具体例としては、水、アルコール( 例、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケ トン(例、アセトン、メチルェチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロへキサノン)、 ケトンアルコール(例、ジアセトンアルコール)、エステル(例、酢酸メチル、酢酸ェチ ル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸ェチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチ ル)、脂肪族炭化水素 (例、へキサン、シクロへキサン)、ハロゲンィ匕炭化水素 (例、メ チレンクロライド、クロ口ホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例、ベンゼン、トル ェン、キシレン)、アミド(例、ジメチルホルムアミド、ジメチルァセトアミド、 n—メチルビ 口リドン)、エーテル(例、ジェチルエーテル、ジォキサン、テトラハイド口フラン)、エー テルアルコール(例、 1—メトキシ— 2—プロパノール)が挙げられる。中でも、トルエン 、キシレン、メチルェチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロへキサノン及びブタノ ールが特に好ましい。 [0096] The metal oxide fine particles are supplied to a coating solution for forming a high refractive index layer in a dispersion state dispersed in a medium. As a dispersion medium for metal oxide particles, it is preferable to use a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C. Specific examples of the dispersion solvent include water, alcohol (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketone (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), Ketone alcohol (eg, diacetone alcohol), ester (eg, methyl acetate, ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyrate formate), aliphatic hydrocarbon (eg, Xylene, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg, methyl chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic hydrocarbons (eg, benzene, toluene, xylene), amides (eg, dimethylformamide, Examples thereof include dimethylacetamide, n-methylbicycloidone), ether (eg, jetyl ether, dioxane, tetrahydride furan), and ether alcohol (eg, 1-methoxy-2-propanol). Of these, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone and butanol are particularly preferable.
[0097] また金属酸ィ匕物微粒子は、分散機を用いて媒体中に分散することができる。分散 機の例としては、サンドグラインダーミル (例、ピン付きビーズミル)、高速インペラーミ ル、ぺッブルミル、ローラーミル、アトライター及びコロイドミルが挙げられる。サンドグ ラインダーミル及び高速インペラ一ミルが特に好ましい。また、予備分散処理を実施 してもよい。予備分散処理に用いる分散機の例としては、ボールミル、三本ロールミ ル、ニーダー及びエタストルーダーが挙げられる。  [0097] The metal oxide fine particles can be dispersed in the medium using a disperser. Examples of the dispersing machine include a sand grinder mill (eg, a bead mill with a pin), a high-speed impeller mill, a pebble mill, a roller mill, an attritor, and a colloid mill. A sand grinder mill and a high-speed impeller mill are particularly preferred. In addition, preliminary dispersion processing may be performed. Examples of the disperser used for the preliminary dispersion treatment include a ball mill, a three-roll mill, a kneader, and an etastruder.
[0098] 本発明では、さらにコア Zシェル構造を有する金属酸ィ匕物微粒子を含有させてもよ い。シェルはコアの周りに 1層形成させてもよいし、耐光性をさらに向上させるために 複数層形成させてもよい。コアは、シェルにより完全に被覆されていることが好ましい In the present invention, metal oxide fine particles having a core Z shell structure may be further contained. The shell may be formed in a single layer around the core, or a plurality of layers may be formed in order to further improve the light resistance. The core is preferably completely covered by the shell
[0099] コアは酸化チタン (ルチル型、アナターゼ型、アモルファス型等)、酸化ジルコニウム[0099] The core is titanium oxide (rutile type, anatase type, amorphous type, etc.), zirconium oxide
、酸化亜鈴、酸ィ匕セリウム、スズをドープした酸化インジウム、アンチモンをドープした 酸化スズ等を用いることができる。 , Dumbbell, cerium oxide, indium oxide doped with tin, tin oxide doped with antimony, and the like can be used.
[0100] シェルは酸化チタン以外の無機化合物を主成分とし、金属の酸化物または硫化物 力も形成することが好ましい。例えば、二酸ィ匕珪素(シリカ)、酸ィ匕アルミニウム (アルミ ナ)酸化ジルコニウム、酸化亜鈴、酸化スズ、酸化アンチモン、酸化インジウム、酸ィ匕 鉄、硫ィ匕亜鉛等を主成分とした無機化合物が用いられる。この内アルミナ、シリカ、ジ ルコユア(酸ィ匕ジルコニウム)であることが好ましい。また、これらの混合物でもよい。  [0100] The shell preferably contains an inorganic compound other than titanium oxide as a main component and also forms a metal oxide or sulfide force. For example, inorganic materials mainly composed of silicon dioxide (silica), aluminum oxide (alumina), zirconium oxide, dumbbell, tin oxide, antimony oxide, indium oxide, iron oxide, zinc oxide zinc, etc. A compound is used. Of these, alumina, silica and zirconium (acid zirconium) are preferable. A mixture of these may also be used.
[0101] コアに対するシェルの被覆量は、平均の被覆量で 2〜50質量%である。好ましくは 3〜40質量%、さらに好ましくは 4〜25質量%である。シェルの被覆量が多いと微粒 子の屈折率が低下し、被覆量が少な過ぎると耐光性が劣化する。二種以上の無機微 粒子を併用してもよい。 [0101] The coating amount of the shell to the core is 2 to 50% by mass in average coating amount. Preferably It is 3-40 mass%, More preferably, it is 4-25 mass%. When the coating amount of the shell is large, the refractive index of the fine particles is lowered, and when the coating amount is too small, the light resistance is deteriorated. Two or more kinds of inorganic fine particles may be used in combination.
[0102] コアとなる酸ィ匕チタンは、液相法または気相法で作製されたものを使用できる。また 、シェルをコアの周りに形成させる手法としては、例えば、米国特許第 3, 410, 708 号、特公昭 58— 47061号、米国特許第 2, 885, 366号、同第 3, 437, 502号、英 国特許第 1, 134, 249号、米国特許第 3, 383, 231号、英国特許第 2, 629, 953 号、同第 1, 365, 999号に記載されている方法等を用いることができる。  [0102] Titanium oxide titanium used as a core can be prepared by a liquid phase method or a gas phase method. Examples of methods for forming the shell around the core include, for example, U.S. Pat. No. 3,410,708, JP-B 58-47061, U.S. Pat. No. 2,885,366, and 3,437,502. No. 1, British Patent No. 1,134,249, U.S. Pat.No. 3,383,231, British Patent No. 2,629,953, No. 1,365,999, etc. be able to.
[0103] (電離放射線硬化型榭脂)  [0103] (Ionizing radiation curable resin)
電離放射線硬化型榭脂は金属酸化物微粒子のバインダーとして塗膜の成膜性や 物理的特性の向上のために添加される。電離放射線硬化型榭脂としては、紫外線や 電子線のような電離放射線の照射により直接、または光重合開始剤の作用を受けて 間接的に重合反応を生じる官能基を 2個以上有するモノマーまたはオリゴマーを用 V、ることができる。官能基としては (メタ)アタリロイルォキシ基等のような不飽和二重結 合を有する基、エポキシ基、シラノール基等が挙げられる。中でも不飽和二重結合を 2個以上有するラジカル重合性のモノマーやオリゴマーを好ましく用いることができる 。必要に応じて光重合開始剤を組み合わせてもよい。このような電離放射線硬化型 榭脂としては、例えば多官能アタリレートイ匕合物等が挙げられ、ペンタエリスリトール 多官能アタリレート、ジペンタエリスリトール多官能アタリレート、ペンタエリスリトール多 官能メタタリレート、及びジペンタエリスリトール多官能メタタリレートよりなる群力も選 ばれる化合物であることが好ましい。ここで、多官能アタリレートイ匕合物とは、分子中 に 2個以上のアタリロイルォキシ基及び Zまたはメタクロィルォキシ基を有する化合物 である。  Ionizing radiation curable resin is added as a binder for fine metal oxide particles to improve the film formability and physical properties of the coating. Ionizing radiation curable resins include monomers or oligomers that have two or more functional groups that cause polymerization reaction either directly by irradiation with ionizing radiation such as ultraviolet rays or electron beams, or indirectly by the action of a photopolymerization initiator. You can use V. Examples of the functional group include a group having an unsaturated double bond such as a (meth) ataryloxy group, an epoxy group, and a silanol group. Of these, radically polymerizable monomers and oligomers having two or more unsaturated double bonds can be preferably used. You may combine a photoinitiator as needed. Examples of such ionizing radiation curable resins include polyfunctional attareito toy compounds, such as pentaerythritol polyfunctional attalylate, dipentaerythritol polyfunctional attalylate, pentaerythritol polyfunctional metatalylate, and dipentaylate. It is preferable that the compound is selected from the group power consisting of erythritol polyfunctional metatalylate. Here, the polyfunctional ate relato toy compound is a compound having two or more allyloyloxy groups and Z or methacryloxy groups in the molecule.
[0104] 多官能アタリレートイ匕合物のモノマーとしては、例えばエチレングリコールジアタリレ ート、ジエチレングリコールジアタリレート、 1, 6—へキサンジオールジアタリレート、ネ ォペンチルグリコールジアタリレート、トリメチロールプロパントリアタリレート、トリメチロ ールェタントリアタリレート、テトラメチロールメタントリアタリレート、テトラメチロールメタ ンテトラアタリレート、ペンタグリセロールトリアタリレート、ペンタエリスリトールジアタリ レート、ペンタエリスリトールトリアタリレート、ペンタエリスリトールテトラアタリレート、グ リセリントリアタリレート、ジペンタエリスリトールトリアタリレート、ジペンタエリスリトール テトラアタリレート、ジペンタエリスリトールペンタアタリレート、ジペンタエリスリトールへ キサアタリレート、トリス(アタリロイルォキシェチル)イソシァヌレート、エチレングリコー ルジメタタリレート、ジエチレングリコールジメタタリレート、 1, 6 へキサンジオールジ メタタリレート、ネオペンチルグリコールジメタタリレート、トリメチロールプロパントリメタ タリレート、トリメチロールェタントリメタクリレート、テトラメチロールメタントリメタタリレー ト、テトラメチロールメタンテトラメタタリレート、ペンタグリセロールトリメタタリレート、ぺ ンタエリスリトールジメタタリレート、ペンタエリスリトールトリメタタリレート、ペンタエリスリ トールテトラメタタリレート、グリセリントリメタタリレート、ジペンタエリスリトールトリメタタリ レート、ジペンタエリスリトールテトラメタタリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタクリ レート、ジペンタエリスリトールへキサメタタリレートが好ましく挙げられる。これらの化 合物は、それぞれ単独または 2種以上を混合して用いられる。また、上記モノマーの 2量体、 3量体等のオリゴマーであってもよい。 [0104] Examples of the monomer of the polyfunctional talaritoy compound include ethylene glycol diatalylate, diethylene glycol diatalylate, 1,6-hexanediol diatalylate, neopentyl glycol diatalylate, Methylolpropane tritalylate, trimethylolethane tritalylate, tetramethylol methane tritalylate, tetramethylol methane tetratalylate, pentaglycerol tritalylate, pentaerythritol diatali Rate, Pentaerythritol Triatalylate, Pentaerythritol Tetratallate, Glycerin Triatalylate, Dipentaerythritol Triatalylate, Dipentaerythritol Tetraatalylate, Dipentaerythritol Pentatalate, Dipentaerythritol Toxaatalylate, Tris (Ataryllooxychetyl) isocyanurate, ethylene glycol dimetatalylate, diethylene glycol dimetatalylate, 1, 6 hexanediol dimetatalylate, neopentyl glycol dimetatalylate, trimethylolpropane trimetatalylate, trimethylolethanetri Methacrylate, tetramethylol methane trimethacrylate, tetramethylol methane tetramethacrylate, pentaglycol Roll Trimetatalylate, Pentaerythritol Dimetatalylate, Pentaerythritol Trimetatalylate, Pentaerythritol Tetrametatalylate, Glycerin Trimetatalylate, Dipentaerythritol Trimetatalylate, Dipentaerythritol Tetrametatalylate, Dipentaerythritol Pentamethacrylate Preferred examples include rate and dipentaerythritol hexametatalylate. These compounds may be used alone or in combination of two or more. Further, it may be an oligomer such as a dimer or trimer of the above monomer.
[0105] 電離放射線硬化型榭脂の添加量は、高屈折率組成物では固形分中の 15質量% 以上 50質量%未満であることが好まし 、。  [0105] The addition amount of the ionizing radiation curable resin is preferably 15% by mass or more and less than 50% by mass in the solid content in the high refractive index composition.
[0106] 電離放射線硬化型榭脂の硬化促進のために、光重合開始剤と分子中に重合可能 な不飽和結合を 2個以上有するアクリル系化合物とを質量比で 3: 7〜1: 9含有するこ とが好ましい。  [0106] In order to accelerate the curing of the ionizing radiation curable resin, the mass ratio of the photopolymerization initiator and the acrylic compound having two or more polymerizable unsaturated bonds in the molecule is from 3: 7 to 1: 9. It is preferably contained.
[0107] 光重合開始剤としては、具体的には、ァセトフエノン、ベンゾフエノン、ヒドロキシベン ゾフエノン、ミヒラーケトン、 a アミ口キシムエステル、チォキサントン等及びこれらの 誘導体を挙げることができる力 S、特にこれらに限定されるものではない。 [0107] Specific examples of the photopolymerization initiator include acetophenone, benzophenone, hydroxybenzophenone, Michler's ketone, a amioxime ester, thixanthone, and derivatives thereof, and particularly limited thereto. It is not something.
[0108] (溶媒)  [0108] (Solvent)
高屈折率層をコーティングする際に用いられる有機溶媒としては、例えば、アルコ ール類(例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール  Examples of the organic solvent used for coating the high refractive index layer include alcohols (for example, methanol, ethanol, propanol, isopropanol, butanol).
、イソブタノール、セカンダリーブタノール、ターシャリーブタノール、ペンタノール、へ キサノール、シクロへキサノール、ベンジルアルコール等)、多価アルコール類(例え ば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、ポリエチレン グリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール、ポリプロピレングリコール、 ブチレングリコール、へキサンジオール、ペンタンジオール、グリセリン、へキサントリ オール、チォジグリコール等)、多価アルコールエーテル類(例えば、エチレングリコ 一ノレモノメチノレエーテノレ、エチレングリコーノレモノェチノレエーテノレ、エチレングリコー ルモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコ ールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリ コーノレモノメチノレエーテノレ、プロピレングリコーノレモノブチノレエーテノレ、エチレングリコ ールモノメチルエーテルアセテート、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、トリ エチレングリコーノレモノェチノレエーテノレ、エチレングリコーノレモノフエニノレエーテノレ、 プロピレングリコールモノフエ-ルエーテル等)、アミン類(例えば、エタノールァミン、 ジエタノールァミン、トリエタノールァミン、 N—メチルジェタノールァミン、 N ェチル ジエタノールァミン、モルホリン、 N ェチルモルホリン、エチレンジァミン、ジェチレ ンジァミン、トリエチレンテトラミン、テトラエチレンペンタミン、ポリエチレンィミン、ペン タメチルジェチレントリァミン、テトラメチルプロピレンジァミン等)、アミド類 (例えば、ホ ルムアミド、 N, N ジメチルホルムアミド、 N, N ジメチルァセトアミド等)、複素環類 (例えば、 2—ピロリドン、 N—メチル 2—ピロリドン、シクロへキシルピロリドン、 2—ォ キサゾリドン、 1, 3 ジメチルー 2 イミダゾリジノン等)、スルホキシド類 (例えば、ジメ チルスルホキシド等)、スルホン類 (例えば、スルホラン等)、尿素、ァセトニトリル、ァ セトン等が挙げられる力 特に、アルコール類、多価アルコール類、多価アルコール エーテル類が好ましい。 , Isobutanol, secondary butanol, tertiary butanol, pentanol, hexanol, cyclohexanol, benzyl alcohol, etc.), polyhydric alcohols (eg, ethylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, polyethylene) Glycol, propylene glycol, dipropylene glycol, polypropylene glycol, butylene glycol, hexanediol, pentanediol, glycerin, hexanetriol, thiodiglycol, etc.), polyhydric alcohol ethers (for example, ethylene glycol mono-monomono-methylolate) Tenole, Ethylene glycol monoethyl enoate ethere, Ethylene glycol monobutyl ether, Diethylene glycol monomethyl ether, Diethylene glycol monomethyl ether, Diethylene glycol monobutyl ether, Propylene glycol monomethino enoate ethere, Propylene glycol nole monobutenoate ethere, Ethylene glycol monomethyl ether acetate, triethylene glycol monomethyl ether, triethylene glycol Tylene glycol monoethanolino ester, ethylene glycol monophenol enoate, propylene glycol monophenol ether, etc., amines (eg ethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, N-methyl ester) Tananolamine, N-ethyldiethanolamine, morpholine, N-ethylmorpholine, ethylenediamine, jetylenediamine, triethylenetetramine, tetraethylenepentamine, polyethyleneimine, pentamethyljetylenetriamine, tetramethylpropylenediamine, etc. ), Amides (eg, formamide, N, N dimethylformamide, N, N dimethylacetamide, etc.), heterocyclics (eg, 2-pyrrolidone, N-methyl 2-pyrrolidone, cyclohexyl pyrrolidone, 2— Oxazo Don, 1,3 dimethyl-2 imidazolidinone, etc.), sulfoxides (eg, dimethyl sulfoxide, etc.), sulfones (eg, sulfolane, etc.), urea, acetonitrile, acetone, etc. Preferred are monohydric alcohols and polyhydric alcohol ethers.
[0109] 〔ハードコート層〕  [Hard coat layer]
本発明の反射防止フィルムには、透明支持体と、高屈折率層や低屈折率層等の反 射防止層との間にハードコート層を設けることが好ましい。ハードコート層は活性エネ ルギ一線硬化榭脂層であることが好ま 、。  In the antireflection film of the present invention, it is preferable to provide a hard coat layer between the transparent support and an antireflection layer such as a high refractive index layer or a low refractive index layer. The hard coat layer is preferably an activated energy line cured resin layer.
[0110] 活性エネルギー線硬化榭脂層とは、紫外線や電子線のような活性線照射により架 橋反応等を経て硬化する榭脂を主たる成分とする層を!ヽぅ。活性エネルギー線硬化 榭脂としては、エチレン性不飽和二重結合を有するモノマーを含む成分が好ましく用 V、られ、紫外線や電子線のような活性線を照射することによって硬化させて活性エネ ルギ一線硬化榭脂層が形成される。活性エネルギー線硬化榭脂としては紫外線硬 化性榭脂ゃ電子線硬化性榭脂等が代表的なものとして挙げられるが、紫外線照射 によって硬化する榭脂が好ま 、。 [0110] The active energy ray-cured resin layer is a layer mainly composed of resin that is cured through a bridge reaction or the like by irradiation with active rays such as ultraviolet rays and electron beams. Active energy ray curing As the resin, a component containing a monomer having an ethylenically unsaturated double bond is preferably used V, which is cured by irradiation with an active ray such as an ultraviolet ray or an electron beam to activate active energy. A lug-line cured resin layer is formed. Typical examples of the active energy ray curable resin include ultraviolet ray curable resins and electron beam curable resins. Preferred are those that are cured by ultraviolet irradiation.
[0111] 紫外線硬化性榭脂としては、例えば、紫外線硬化型ウレタンアタリレート系榭脂、紫 外線硬化型ポリエステルアタリレート系榭脂、紫外線硬化型エポキシアタリレート系榭 脂、紫外線硬化型ポリオールアタリレート系榭脂、または紫外線硬化型エポキシ榭脂 等が好ましく用いられる。中でも紫外線硬化型アタリレート系榭脂が好ましい。 [0111] Examples of the ultraviolet curable resin include an ultraviolet curable urethane acrylate resin, an ultraviolet curable polyester acrylate resin, an ultraviolet curable epoxy acrylate resin, and an ultraviolet curable polyol acrylate. A system resin or an ultraviolet curable epoxy resin is preferably used. Of these, ultraviolet curable attalylate resin is preferable.
[0112] 紫外線硬化型アクリルウレタン系榭脂は、一般にポリエステルポリオールにイソシァ ネートモノマー、またはプレボリマーを反応させて得られた生成物にさらに 2—ヒドロキ シェチルアタリレート、 2—ヒドロキシェチノレメタタリレート(以下アタリレートにはメタタリ レートを包含するものとしてアタリレートのみを表示する)、 2—ヒドロキシプロピルアタリ レート等の水酸基を有するアタリレート系のモノマーを反応させることによって容易に 得ることができる。例えば、特開昭 59— 151110号に記載のものを用いることができ る。  [0112] In general, UV-curable acrylic urethane-based resins are obtained by reacting isocyanate monomers or prepolymers with polyester polyols in addition to 2-hydroxy cetyl acrylate, 2-hydroxy ethynole methacrylate. (Hereinafter, only acrylate is included in the acrylate as including methacrylate), and it can be easily obtained by reacting an acrylate monomer having a hydroxyl group such as 2-hydroxypropyl acrylate. For example, those described in JP-A-59-151110 can be used.
[0113] 例えば、ュ-ディック 17— 806 (大日本インキ化学工業 (株)製) 100部とコロネート L (日本ポリウレタン (株)製) 1部との混合物等が好ましく用いられる。  [0113] For example, a mixture of 100 parts of Dudick 17-806 (Dainippon Ink Chemical Co., Ltd.) and 1 part of Coronate L (Nippon Polyurethane Co., Ltd.) is preferably used.
[0114] 紫外線硬化型ポリエステルアタリレート系榭脂としては、一般にポリエステルポリオ ールに 2—ヒドロキシェチルアタリレート、 2—ヒドロキシアタリレート系のモノマーを反 応させると容易に形成されるものを挙げることができ、特開昭 59— 151112号に記載 のものを用いることができる。  [0114] Examples of UV-curable polyester acrylate-based resins generally include those that are easily formed when 2-hydroxyethyl acrylate or 2-hydroxy acrylate monomers are reacted with polyester polyol. And those described in JP-A-59-151112 can be used.
[0115] 紫外線硬化型エポキシアタリレート系榭脂の具体例としては、エポキシアタリレート をオリゴマーとし、これに反応性希釈剤、光重合開始剤を添加し、反応させて生成す るものを挙げることができ、特開平 1— 105738号に記載のものを用いることができる  [0115] As a specific example of the ultraviolet curable epoxy acrylate resin, an epoxy acrylate is used as an oligomer, and a reactive diluent and a photopolymerization initiator are added to the oligomer and reacted to form an oligomer. And those described in JP-A-1-105738 can be used.
[0116] 紫外線硬化型ポリオールアタリレート系榭脂の具体例としては、トリメチロールプロ ノ ントリアタリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアタリレート、ペンタエリスリトールト リアタリレート、ペンタエリスリトールテトラアタリレート、ジペンタエリスリトールへキサァ タリレート、アルキル変性ジペンタエリスリトールペンタアタリレート等を挙げることがで きる。 [0116] Specific examples of the UV curable polyol atarylate-based resin include trimethylolpronone tritalylate, ditrimethylolpropane tetratalylate, pentaerythritol triarylate, pentaerythritol tetratalate, dipentaerythritol hexatalylate , Alkyl-modified dipentaerythritol pentaatrate, etc. wear.
[0117] これら紫外線硬化性榭脂の光重合開始剤としては、具体的には、ベンゾイン及び その誘導体、ァセトフエノン、ベンゾフエノン、ヒドロキシベンゾフエノン、ミヒラーズケト ン、 a アミ口キシムエステル、チォキサントン等及びこれらの誘導体を挙げることが できる。光増感剤と共に使用してもよい。上記光重合開始剤も光増感剤として使用で きる。また、エポキシアタリレート系の光重合開始剤の使用の際、 n—プチルァミン、ト リエチルァミン、トリ n—ブチルホスフィン等の増感剤を用いることができる。紫外線 硬化榭脂組成物に用いられる光重合開始剤また光増感剤は該組成物 100質量部に 対して 0. 1〜15質量部であり、好ましくは 1〜10質量部である。  [0117] Specific examples of the photopolymerization initiators for these ultraviolet curable resin include benzoin and its derivatives, acetophenone, benzophenone, hydroxybenzophenone, Michler's keton, a amioxime ester, thixanthone, and the like. Derivatives can be mentioned. You may use with a photosensitizer. The photopolymerization initiator can also be used as a photosensitizer. Further, when using an epoxy acrylate-based photopolymerization initiator, a sensitizer such as n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine or the like can be used. The photopolymerization initiator or photosensitizer used in the ultraviolet curable resin composition is 0.1 to 15 parts by weight, preferably 1 to 10 parts by weight, based on 100 parts by weight of the composition.
[0118] 榭脂モノマーとしては、例えば、不飽和二重結合が一つのモノマーとして、メチルァ タリレート、ェチルアタリレート、ブチルアタリレート、ベンジルアタリレート、シクロへキ シルアタリレート、酢酸ビニル、スチレン等の一般的なモノマーを挙げることができる。 また不飽和二重結合を二つ以上持つモノマーとして、エチレングリコールジアタリレ ート、プロピレングリコールジアタリレート、ジビュルベンゼン、 1, 4ーシクロへキサンジ アタリレート、 1, 4ーシクロへキシルジメチルアジアタリレート、前出のトリメチロールプ 口パントリアタリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリルエステル等を挙げることがで きる。  [0118] As the resin monomer, for example, a monomer having an unsaturated double bond, such as methyl acrylate, ethyl acrylate, butyl acrylate, benzyl acrylate, cyclohexyl acrylate, vinyl acetate, styrene, etc. The following general monomers can be mentioned. In addition, as monomers having two or more unsaturated double bonds, ethylene glycol ditalylate, propylene glycol ditalylate, dibutenebenzene, 1,4-cyclohexane diatalylate, 1,4-cyclohexyldimethyl asialate Examples thereof include the above-mentioned rates, the above-mentioned trimethylol-type pantriatalylate, and pentaerythritol tetraacrylic ester.
[0119] 本発明において使用し得る紫外線硬化樹脂の市販品としては、アデカオブトマー KR' BYシリーズ: KR— 400、 KR— 410、 KR— 550、 KR— 566、 KR— 567、 BY — 320B (旭電化(株)製);コーエイハード A— 101— KK、 A— 101— WS、 C— 302 、 C— 401— N、 C— 501、 M— 101、 M— 102、 T— 102、 D— 102、 NS— 101、 F T 102Q8、 MAG—1— P20、 AG—106、 M— 101— C (広栄化学 (株)製);セィ 力ビーム PHC2210 (S)ゝ PHC X— 9 (K— 3)、 PHC2213、 DP— 10、 DP— 20、 DP— 30、 P1000、 P1100、 P1200、 P1300、 P1400、 P1500、 P1600、 SCR90 0 (大日精ィ匕工業 (株)製); KRM7033、 KRM7039、 KRM7130、 KRM7131、 U VECRYL29201, UVECRYL29202 (ダイセル.ユーシービー(株)製); RC— 50 15、 RC— 5016、 RC— 5020、 RC— 5031、 RC— 5100、 RC— 5102、 RC- 512 0、 RC— 5122、 RC- 51 52、 RC— 5171、 RC— 5180、 RC— 5181 (大日本インキ化学工業 (株)製);オーレ ックス No. 340クリャ(中国塗料 (株)製);サンラッド H— 601、 RC— 750、 RC— 700 、 RC - 600、 RC— 500、 RC— 611、 RC— 612 (三洋ィ匕成工業 (株)製); SP— 150 9、 SP— 1507 (昭和高分子 (株)製); RCC— 15C (グレース'ジャパン (株)製)、ァロ ニックス M— 6100、 M— 8030、 M— 8060 (東亞合成(株)製); NKノヽード B— 420 、 B— 500 (新中村ィ匕学工業 (株)製)等を適宜選択して利用できる。 [0119] Commercially available UV curable resins that can be used in the present invention include Adeka Obtomer KR 'BY series: KR-400, KR-410, KR-550, KR-566, KR-567, BY-320B (Asahi Denka) KOIHARD A—101—KK, A—101—WS, C—302, C—401—N, C—501, M—101, M—102, T—102, D—102, NS—101, FT 102Q8, MAG—1—P20, AG—106, M—101—C (manufactured by Guangei Chemical Co., Ltd.); SE force beam PHC2210 (S) ゝ PHC X—9 (K—3), PHC2213 , DP-10, DP-20, DP-30, P1000, P1100, P1200, P1300, P1400, P1500, P1600, SCR90 0 (manufactured by Dainichi Seiki Kogyo Co., Ltd.); KRM7033, KRM7039, KRM7130, KRM7131, U VECRYL29201, UVECRYL29202 (Daicel, UCB Co., Ltd.); RC—50 15, RC—5016, RC—5020, RC—5031, RC—5100, RC—5102, RC-512 0, RC—5122, RC- 51 52, RC—5171, RC—5180, RC—5181 (Dainippon Ink Chemical Co., Ltd.); Orex No. 340 Clear (manufactured by China Paint Co., Ltd.); Sunrad H—601, RC—750, RC — 700, RC-600, RC—500, RC—611, RC—612 (Sanyo Kosei Kogyo Co., Ltd.); SP—150 9, SP—1507 (Showa Polymer Co., Ltd.); RCC— 15C (Grace 'Japan Co., Ltd.), Aronix M-6100, M-8030, M-8060 (Toagosei Co., Ltd.); NK Node B-420, B-500 (Shin Nakamura) Gaku Kogyo Co., Ltd.) can be selected as appropriate.
[0120] また、具体的化合物例としては、トリメチロールプロパントリアタリレート、ジトリメチロ ールプロパンテトラアタリレート、ペンタエリスリトールトリアタリレート、ペンタエリスリト ールテトラアタリレート、ジペンタエリスリトールへキサアタリレート、アルキル変性ジぺ ンタエリスリトールペンタアタリレート等を挙げることができる。 [0120] In addition, specific examples of compounds include trimethylolpropane tritalylate, ditrimethylolpropane tetratalylate, pentaerythritol tritalate, pentaerythritol tetratalylate, dipentaerythritol hexatalylate, Examples thereof include alkyl-modified dipentaerythritol pentaatalylate.
[0121] こうして得た硬化榭脂層には耐傷性、滑り性や屈折率を調整し、また作製された反 射防止フィルムに防眩性を付与するために無機化合物または有機化合物の微粒子 を含んでもよい。  [0121] The cured resin layer thus obtained contains fine particles of an inorganic compound or an organic compound in order to adjust the scratch resistance, slipperiness and refractive index, and to provide the antireflection film with antiglare properties. But you can.
[0122] ハードコート層に使用される無機微粒子としては、酸化珪素、酸化チタン、酸ィ匕ァ ルミ二ゥム、酸化スズ、酸化インジウム、 ITO、酸化亜鉛、酸化ジルコニウム、酸化マ グネシゥム、炭酸カルシウム、炭酸カルシウム、タルク、クレイ、焼成カオリン、焼成ケ ィ酸カルシウム、水和ケィ酸カルシウム、ケィ酸アルミニウム、ケィ酸マグネシウム及び リン酸カルシウムを挙げることができる。特に、酸化珪素、酸化チタン、酸ィ匕アルミ-ゥ ム、酸ィ匕ジルコニウム、酸ィ匕マグネシウム等が好ましく用いられる。  [0122] Inorganic fine particles used in the hard coat layer include silicon oxide, titanium oxide, nickel oxide, tin oxide, indium oxide, ITO, zinc oxide, zirconium oxide, magnesium oxide, calcium carbonate Calcium carbonate, talc, clay, calcined kaolin, calcined calcium silicate, hydrated calcium silicate, aluminum silicate, magnesium silicate and calcium phosphate. In particular, silicon oxide, titanium oxide, acid aluminum, acid zirconium, acid magnesium and the like are preferably used.
[0123] また有機粒子としては、ポリメタアクリル酸メチルアタリレート榭脂粉末、アクリルスチ レン系榭脂粉末、ポリメチルメタタリレート榭脂粉末、シリコーン系榭脂粉末、ポリスチ レン系榭脂粉末、ポリカーボネート榭脂粉末、ベンゾグアナミン系榭脂粉末、メラミン 系榭脂粉末、ポリオレフイン系榭脂粉末、ポリエステル系榭脂粉末、ポリアミド系榭脂 粉末、ポリイミド系榭脂粉末、またはポリ弗化ヱチレン系榭脂粉末等紫外線硬化性榭 脂組成物に加えることができる。特に好ましくは、架橋ポリスチレン粒子 (例えば、綜 研ィ匕学製 SX— 130H、 SX— 200H、 SX— 350Η)、ポリメチルメタクリレー卜系粒子( 例えば、綜研化学製 MX150、 MX300)が挙げられる。  [0123] Further, as the organic particles, polymethacrylic acid methyl acrylate resin powder, acrylic styrene resin powder, polymethylmethacrylate resin powder, silicone resin powder, polystyrene resin powder, polycarbonate Fatty powder, benzoguanamine-based resin powder, melamine-based resin powder, polyolefin-based resin powder, polyester-based resin powder, polyamide-based resin powder, polyimide-based resin powder, or polyfluorinated-ethylene resin powder It can be added to the ultraviolet curable resin composition. Particularly preferred are cross-linked polystyrene particles (for example, SX-130H, SX-200H, SX-350Η manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) and polymethyl methacrylate-based particles (for example, MX150, MX300 manufactured by Soken Chemical).
[0124] これらの微粒子粉末の平均粒径としては、 0. 01〜5 μ mが好ましく 0. 1〜5. 0 μ m、さらには、 0. 1〜4. 0 mであることが特に好ましい。また、粒径の異なる 2種以 上の微粒子を含有することが好ま ヽ。紫外線硬化榭脂組成物と微粒子の割合は、 榭脂組成物 100質量部に対して、 0. 1〜30質量部となるように配合することが望まし い。 [0124] The average particle size of these fine particle powders is preferably 0.01 to 5 µm, and preferably 0.1 to 5.0 µm. m, and more preferably 0.1 to 4.0 m. It is also preferable to contain two or more kinds of fine particles having different particle diameters. It is desirable that the ratio of the ultraviolet curable resin composition to the fine particles is 0.1 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin composition.
[0125] これらのハードコート層はグラビアコーター、ディップコーター、リバースコーター、ヮ ィヤーバーコ一ター、ダイコーター、インクジェット法等公知の方法で塗設することが できる。塗布後、加熱乾燥し、 UV硬化処理を行う。  [0125] These hard coat layers can be applied by a known method such as a gravure coater, a dip coater, a reverse coater, a fiber coater, a die coater, or an ink jet method. After coating, heat-dry and perform UV curing.
[0126] 紫外線硬化性榭脂を光硬化反応により硬化させ、硬化皮膜層を形成するための光 源としては、紫外線を発生する光源であれば制限なく使用できる。例えば、低圧水銀 灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、カーボンアーク灯、メタルハライドラン プ、キセノンランプ等を用いることができる。照射条件はそれぞれのランプによって異 なるが、活性線の照射量は、通常 5〜500mj/cm2、好ましくは 5〜150mj/cm2で あるが、特に好ましくは 20〜: LOOmj/cm2である。 [0126] As a light source for curing an ultraviolet curable resin by a photocuring reaction to form a cured film layer, any light source that generates ultraviolet light can be used without any limitation. For example, a low pressure mercury lamp, a medium pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, a carbon arc lamp, a metal halide lamp, a xenon lamp, or the like can be used. Irradiation conditions differ depending on each lamp, but the irradiation amount of active rays is usually 5 to 500 mj / cm 2 , preferably 5 to 150 mj / cm 2 , and particularly preferably 20 to: LOOmj / cm 2 . .
[0127] また、活性線を照射する際には、フィルムの搬送方向に張力を付与しながら行うこと が好ましぐさらに好ましくは幅方向にも張力を付与しながら行うことである。付与する 張力は 30〜300NZmが好ましい。張力を付与する方法は特に限定されず、バック ロール上で搬送方向に張力を付与してもよぐテンターにて幅方向、または 2軸方向 に張力を付与してもよい。これによつてさらに平面性優れたフィルムを得ることができ る。  [0127] Further, when irradiating actinic radiation, it is preferable to apply tension in the film transport direction, and more preferably to apply tension in the width direction. The tension to be applied is preferably 30 to 300 NZm. The method of applying tension is not particularly limited, and tension may be applied in the width direction or biaxial direction by a tenter that may apply tension in the transport direction on the back roll. This makes it possible to obtain a film with further excellent flatness.
[0128] ハードコート層塗布液には溶媒が含まれていてもよぐ必要に応じて適宜含有し、 希釈されたものであってもよい。塗布液に含有される有機溶媒としては、例えば、炭 化水素類(トルエン、キシレン、)、アルコール類 (メタノール、エタノール、イソプロパノ ール、ブタノール、シクロへキサノール)、ケトン類(アセトン、メチルェチルケトン、メチ ルイソブチルケトン)、エステル類(酢酸メチル、酢酸ェチル、乳酸メチル)、グリコール エーテル類、その他の有機溶媒の中でもから適宜選択し、またはこれらを混合し利用 できる。プロピレングリコールモノアルキルエーテル(アルキル基の炭素原子数として 1〜4)またはプロピレングリコールモノアルキルエーテル酢酸エステル(アルキル基 の炭素原子数として 1〜4)等を 5質量%以上、より好ましくは 5〜80質量%以上含有 する上記有機溶媒を用いるのが好ま 、。 [0128] The hard coat layer coating solution may contain a solvent or may be appropriately contained and diluted as necessary. Examples of the organic solvent contained in the coating solution include hydrocarbons (toluene, xylene), alcohols (methanol, ethanol, isopropanol, butanol, cyclohexanol), ketones (acetone, methylethyl). It can be appropriately selected from ketones, methyl isobutyl ketone), esters (methyl acetate, ethyl acetate, methyl lactate), glycol ethers, and other organic solvents, or a mixture thereof can be used. Propylene glycol monoalkyl ether (1 to 4 carbon atoms in the alkyl group) or propylene glycol monoalkyl ether acetate ester (1 to 4 carbon atoms in the alkyl group) is 5% by mass or more, more preferably 5 to 80%. Containing more than mass% It is preferable to use the above organic solvent.
[0129] (防眩性) [0129] (Anti-glare property)
本発明の反射防止フィルムは防眩性であることが好ましい。防眩性とは、表面に反 射した像の輪郭をぼかすことによって反射像の視認性を低下させて、液晶ディスプレ ィ、有機 ELディスプレイ、プラズマディスプレイといった画像表示装置等の使用時に 反射像の映り込みが気にならないようにするものである。表面に適切な凹凸を設ける ことによって、このような性質を持たせることができる。  The antireflection film of the present invention is preferably antiglare. The anti-glare property reduces the visibility of the reflected image by blurring the outline of the image reflected on the surface, and reflects the reflected image when using an image display device such as a liquid crystal display, organic EL display, or plasma display. It is intended not to worry about the complexity. By providing appropriate unevenness on the surface, such a property can be imparted.
[0130] このような凹凸を形成する方法としては、透明支持体への加工、ハードコート層への 加工、反射防止層を塗布した後での反射防止フィルムへの加工等を選択できるが、 反射防止フィルムへの加工は、凹凸形状の凸部が反射防止層を突き破ったり、反射 防止層を変形させて反射防止効果を損なうことがあるため、本発明では透明支持体 への加工、ハードコート層への加工が好ましい。  [0130] As a method for forming such irregularities, processing to a transparent support, processing to a hard coat layer, processing to an antireflection film after applying an antireflection layer, and the like can be selected. In the processing to the anti-reflection film, the convex and concave portions may break through the anti-reflection layer or deform the anti-reflection layer to impair the anti-reflection effect. Therefore, in the present invention, the processing to the transparent support, the hard coat layer Is preferred.
[0131] 本発明で言う凹凸形状としては、直円錐、斜円錐、角錐、斜角錐、楔型、凸多角体 、半球状等から選ばれる構造、並びにそれらの部分形状を有する構造が挙げられる 。なお、半球状は、必ずしもその表面形状は真球形状である必要はなぐ楕円体形 状や、より変形した凸曲面形状であってもよい。また、凹凸形状の稜線が線状に伸び た、プリズム形状、レンチキュラーレンズ形状、フレネルレンズ形状も挙げられる。その 稜線力 谷線にかけての斜面は平面状、曲面状、もしくは両者の複合的形状であつ てもよい。  [0131] Examples of the concavo-convex shape referred to in the present invention include structures selected from right cones, oblique cones, pyramids, oblique pyramids, wedge shapes, convex polygons, hemispheres, and the like, and structures having partial shapes thereof. The hemispherical shape may be an ellipsoidal shape that does not necessarily need to be a true spherical shape, or a more deformed convex curved shape. Also included are prism shapes, lenticular lens shapes, and Fresnel lens shapes in which the ridges of the concavo-convex shape extend linearly. The ridgeline force The slope to the valley line may be flat, curved, or a combination of both.
[0132] ハードコート層は、 JIS B 0601 : 2001で規定される算術平均粗さ(Ra)力 ½0〜7 OOnm、好ましくは 80〜400nmの防眩性ハードコート層が好ましい。 Raが 60nm未 満では防眩性の効果が弱ぐ 700nmを超えると目視で粗すぎる印象を受ける。算術 平均粗さ (Ra)は光干渉式の表面粗さ測定器で測定することが好ましぐ例えば光学 干渉式表面粗さ計 RSTZPLUS (WYKO社製)を用いて測定することができる。  [0132] The hard coat layer is preferably an antiglare hard coat layer having an arithmetic average roughness (Ra) force of ½0 to 7 OOnm, preferably 80 to 400nm, as defined in JIS B 0601: 2001. If Ra is less than 60nm, the anti-glare effect is weak. If it exceeds 700nm, the impression is too rough. The arithmetic average roughness (Ra) is preferably measured using an optical interference type surface roughness meter RSTZPLUS (manufactured by WYKO).
[0133] ハードコート層及び後述する透明支持体の表面に凹凸形状を形成する方法として 、例えば、下記の方法等が挙げられる。  [0133] Examples of a method for forming an uneven shape on the surface of the hard coat layer and the transparent support described later include the following methods.
( 1)ロールや原盤に目的とする形状のネガ型を形成しておき、エンボスにて形状を付 与する方法。 (2)ロールや原盤に目的とする形状のネガ型を形成しておき、熱硬化性榭脂をネガ 型に充填し、加熱硬化後ネガ型から剥離する方法。 (1) A method of forming a negative shape of the desired shape on a roll or master and giving the shape by embossing. (2) A method in which a negative mold having a desired shape is formed on a roll or master, a thermosetting resin is filled into the negative mold, and is peeled off from the negative mold after heat curing.
(3)ロールや原盤に目的とする形状のネガ型を形成しておき、紫外線または電子線 硬化榭脂を塗布し凹部に充填後、榭脂液を介して凹版上に透明支持体を被覆した まま紫外線または電子線を照射し、硬化させた榭脂とそれが接着した透明支持体と をネガ型力 剥離する方法。  (3) Form a negative shape of the desired shape on the roll or master, apply ultraviolet ray or electron beam curable resin, fill the recesses, and then coat the transparent support on the intaglio via a resin solution A method in which ultraviolet ray or electron beam is irradiated as it is, and the cured resin and the transparent support to which it is adhered are peeled off with a negative force.
(4)目的とする形状のネガ型を流延ベルトに形成しておき、キャスティング時に目的と する形状を付与する溶剤キャスト法。  (4) A solvent casting method in which a negative shape having a desired shape is formed on a casting belt, and a desired shape is imparted during casting.
(5)光または加熱により硬化する榭脂を透明基板に凸版印刷し、光または加熱により 硬化して凹凸を形成する方法。  (5) A method of forming relief by curing letterpress on a transparent substrate with a resin cured by light or heating, and curing by light or heating.
(6)透明支持体表面に光または加熱して硬化する榭脂をインクジェット法により印刷 し、光または加熱により硬化して透明支持体表面を凹凸形状にする方法。  (6) A method in which a resin that is cured by light or heating is printed on the surface of the transparent support by an ink jet method, and is cured by light or heating to make the surface of the transparent support uneven.
(7)表面を工作機械等で切削加工する方法。  (7) A method of cutting the surface with a machine tool or the like.
(8)球、多角体等各種形状の粒子を、透明支持体表面に半ば埋没する程度に押し 込んで一体化し、透明支持体表面を凹凸形状にする方法。  (8) A method in which particles of various shapes such as spheres and polygons are pressed and integrated so as to be partially buried in the surface of the transparent support to make the surface of the transparent support uneven.
(9)球、多角体等各種形状の粒子を少量のバインダーに分散したものを透明支持体 表面に塗布し、透明支持体表面を凹凸形状にする方法。  (9) A method in which particles of various shapes such as spheres and polygons dispersed in a small amount of binder are applied to the surface of the transparent support to make the surface of the transparent support uneven.
(10)透明支持体表面に、バインダーを塗布し、その上に球、多角体等各種形状の 粒子を散布し、透明支持体表面を凹凸形状にする方法。  (10) A method in which a binder is applied to the surface of a transparent support, and particles of various shapes such as spheres and polygons are dispersed thereon to make the surface of the transparent support uneven.
[0134] ハードコート層を防眩性にするには前記微粒子を塗布液に添加する方法がある。  [0134] In order to make the hard coat layer antiglare, there is a method of adding the fine particles to the coating solution.
[0135] 本発明にお ヽて、防眩性微粒子としては、例えば、前記無機微粒子または有機微 粒子以外にフッ素含有アクリル榭脂微粒子が好ましい [0135] In the present invention, as the antiglare fine particles, for example, fluorine-containing acrylic resin particles are preferable in addition to the inorganic fine particles or the organic fine particles.
フッ素含有アクリル榭脂微粒子としては、例えばフッ素含有のアクリル酸エステルあ るいはメタクリル酸エステルのモノマーまたはポリマーから形成された微粒子である。 フッ素含有のアクリル酸エステルあるいはメタクリル酸エステルの具体例としては、 1H The fluorine-containing acrylic resin fine particles are fine particles formed from, for example, a fluorine-containing acrylic ester or methacrylic ester monomer or polymer. Specific examples of fluorine-containing acrylic ester or methacrylic ester include 1H
, 1H, 3H—テトラフルォロプロピル (メタ)アタリレート、 1H, 1H, 5H—ォクタフルォ 口ペンチル (メタ)アタリレート、 1H, 1H, 7H—ドデカフルォ口へプチル (メタ)アタリレ ート、 1H, 1H, 9H—へキサデカフルォロノ-ル (メタ)アタリレート、 2, 2, 2—トリフル ォロェチル (メタ)アタリレート、 2, 2, 3, 3, 3 ペンタフルォロプロピル (メタ)アタリレ ート、 2- (パーフルォロブチル)ェチル (メタ)アタリレート、 2- (パーフルォ口へキシ ル)ェチル (メタ)アタリレート、 2- (パーフルォロォクチル)ェチル)(メタ)アタリレート、 2 パーフルォロデシルェチル (メタ)アタリレート、 3 パーフルォロブチル 2 ヒド ロキシプロピル(メタ)アタリレート、 3—パーフルォ口へキシル 2 ヒドロキシプロピル (メタ)アタリレート、 3—パーフルォロォクチル一 2 ヒドロキシプロピル (メタ)アタリレ ート、 2- (パーフルオロー 3—メチルブチル)ェチル (メタ)アタリレート、 2- (パーフ ルオロー 5—メチルへキシル)ェチル (メタ)アタリレート、 2- (パーフルオロー 7—メチ ルォクチル)ェチル (メタ)アタリレート、 3 (パーフルオロー 3—メチルブチルー 2 ヒ ドロキシプロピル(メタ)アタリレート、 3- (パーフルオロー 5—メチルへキシル) - 2- ヒドロキシプロピル (メタ)アタリレート、 3- (パーフルオロー 7—メチルォクチル) 2— ヒドロキシプロピル(メタ)アタリレート、 1H—1— (トリフルォロメチル)トリフルォロェチ ル (メタ)アタリレート、 1H, 1H, 3H へキサフルォロブチル (メタ)アタリレート、トリフ ルォロェチルメタタリレート、テトラフルォロプロピルメタタリレート、パーフルォロォクチ ルェチルアタリレート、 2- (パーフルォロブチル)ェチルーひ フルォロアタリレート が挙げられる。 , 1H, 3H—Tetrafluoropropyl (meth) atalylate, 1H, 1H, 5H—Octafluoro oral pentyl (meth) atarylate, 1H, 1H, 7H—Dodecafluoro oral heptyl (meth) acrylate, 1H, 1H, 9H—Hexadecafluoronol (meth) atarylate, 2, 2, 2—Triflu Oloethyl (meth) acrylate, 2, 2, 3, 3, 3 pentafluoropropyl (meth) acrylate, 2- (perfluorobutyl) ethyl (meth) acrylate, 2- (perfluor mouth) Xylyl) ethyl (meth) acrylate, 2- (perfluorooctyl) ethyl) (meth) arylate, 2 perfluorodecylethyl (meth) acrylate, 3 perfluorobutyl 2 hydroxyl Propyl (meth) acrylate, 3-perfluohexyl 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-perfluorooctyl 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2- (perfluoro-3-methylbutyl) ethyl ( (Meth) Atarylate, 2- (Perfluorool 5-methylhexyl) ethyl (meth) acrylate, 2- (Perfluoro-7-methyloctyl) ethyl (meth) atalyte Relate, 3 (perfluoro-3-methylbutyl-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3- (perfluoro-5-methylhexyl)-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3- (perfluoro-7-methyloctyl) 2— Hydroxypropyl (meth) acrylate, 1H—1— (trifluoromethyl) trifluoroethyl (meth) acrylate, 1H, 1H, 3H Hexafluorobutyl (meth) acrylate, trifluoroethyl methacrylate , Tetrafluoropropyl metatalylate, perfluorooctyl acetyl acrylate, 2- (perfluorobutyl) ethyl fluor acrylate.
[0136] また、フッ素含有アクリル榭脂微粒子の中でも、 2- (パーフルォロブチル)ェチル  [0136] Among the fluorine-containing acrylic resin fine particles, 2- (perfluorobutyl) ethyl
- a—フルォロアタリレートからなる微粒子、フッ素含有ポリメチルメタタリレート微粒 子、フッ素含有メタアクリル酸を架橋剤の存在下にビニル単量体と共重合させた微粒 子が好ましぐさらに好ましくはフッ素含有ポリメチルメタタリレート微粒子である。  -Fine particles composed of a-fluoroatalylate, fluorine-containing polymethylmethacrylate fine particles, and fine particles obtained by copolymerizing fluorine-containing methacrylic acid with a vinyl monomer in the presence of a crosslinking agent are preferred. Fluorine-containing polymethyl methacrylate fine particles are preferred.
[0137] フッ素含有 (メタ)アクリル酸と共重合可能なビニル単量体としては、ビニル基を有す るものであればよぐ具体的にはメタクリル酸メチル、メタクリル酸ブチル等のメタクリル 酸アルキルエステル、アクリル酸メチル、アクリル酸ェチル等のアクリル酸アルキルェ ステル、及びスチレン、 aーメチルスチレン等のスチレン類等が挙げられ、これらは単 独でまたは混合して用いることができる。  [0137] The vinyl monomer copolymerizable with fluorine-containing (meth) acrylic acid is not particularly limited as long as it has a vinyl group, and more specifically, alkyl methacrylates such as methyl methacrylate and butyl methacrylate. Examples include esters, alkyl acrylates such as methyl acrylate and ethyl acrylate, and styrenes such as styrene and a-methyl styrene. These may be used alone or in combination.
重合反応の際に用いられる架橋剤としては、特に限定されないが、 2個以上の不飽 和基を有するものを用いることが好ましぐ例えばエチレングリコールジメタタリレート、 ポリエチレングリコールジメタタリレート等の 2官能性ジメタタリレートや、トリメチロール プロパントリメタタリレート、ジビュルベンゼン等が挙げられる。 The cross-linking agent used in the polymerization reaction is not particularly limited, but it is preferable to use one having two or more unsaturated groups. For example, ethylene glycol dimetatalylate, polyethylene glycol dimetatalylate 2 Functional dimetatalylate and trimethylol Examples thereof include propane trimetatalylate, dibutene benzene and the like.
[0138] なお、本発明にお 、て、フッ素含有ポリメチルメタタリレート微粒子を製造するため の重合反応は、ランダム共重合およびブロック共重合の 、ずれでもよ 、。  [0138] In the present invention, the polymerization reaction for producing the fluorine-containing polymethylmethacrylate fine particles may be any of random copolymerization and block copolymerization.
具体的には、例えば特開 2000— 169658号公報に記載の方法なども挙げることが でき、市販品としては、例えば日本ペイント製: FS— 701、根上工業製: MF— 0043 等の市販品が挙げられる。  Specifically, for example, the method described in JP-A-2000-169658 can also be mentioned, and examples of commercially available products include commercially available products such as FS-701 manufactured by Nippon Paint and MF-0043 manufactured by Negami Kogyo. Can be mentioned.
なお、これらのフッ素含有アクリル榭脂微粒子は、単独で用いてもよいが、 2種以上を 組み合わせて用いてもよい。また、これらのフッ素含有アクリル榭脂微粒子の状態は Note that these fluorine-containing acrylic resin fine particles may be used alone or in combination of two or more. The state of these fluorine-containing acrylic resin particles is
、粉体あるいはェマルジヨン等、どのような状態でカ卩えられても良い。 , Powder or emulsion, etc. may be used in any state.
フッ素含有アクリル榭脂微粒子粉末の平均粒径としては、 0. 01〜5 111が好ましく0 The average particle size of the fluorine-containing acrylic resin fine particle powder is preferably 0.01 to 5 111.
. 1〜5. O /z m、さらには、 0. 1〜4. 0 mであることが特に好ましい。 1 to 5. O / z m, more preferably 0.1 to 4.0 m.
また、粒径の異なる 2種以上の微粒子を含有することが好ましい。紫外線硬化榭脂組 成物と微粒子の割合は、榭脂組成物 100質量部に対して、 0. 1〜30質量部となるよ うに配合することが望ましい。  Further, it is preferable to contain two or more kinds of fine particles having different particle diameters. The proportion of the ultraviolet curable resin composition and the fine particles is desirably blended so as to be 0.1 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin composition.
[0139] さらにハードコート層に前記フッ素系またはシリコーン系界面活性剤を含有させるこ とも好ましい。これらは下層への塗布性を高める。これらの成分は、塗布液中の固形 分成分に対し、 0. 01〜3質量%の範囲で添加することが好ましい。シリコーン系界 面活性剤の具体例としては、前記低屈折率層で説明したビックケミージャパン社製の 界面活性剤 BYKシリーズが挙げられる。  [0139] Further, it is also preferable that the hard coat layer contains the fluorine-based or silicone-based surfactant. These improve the applicability to the lower layer. These components are preferably added in the range of 0.01 to 3% by mass with respect to the solid component in the coating solution. Specific examples of the silicone surfactant include BYK series surfactants manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd. described in the low refractive index layer.
[0140] また、ハードコート層は、 2層以上の重層構造を有し、その中の 1層は例えば導電性 微粒子、または、イオン性ポリマーを含有する所謂帯電防止層としてもよいし、また、 種々の表示素子に対する色補正用フィルタ一として色調調整機能を有する色調調 整剤を含有させてもょ ヽし、また電磁波遮断剤または赤外線吸収剤等を含有させそ れぞれの機能を有するようにすることは好ま U 、。  [0140] Further, the hard coat layer has a multilayer structure of two or more layers, and one of the layers may be a so-called antistatic layer containing, for example, conductive fine particles or an ionic polymer. As a color correction filter for various display elements, a color tone adjusting agent having a color tone adjusting function may be included, and an electromagnetic wave blocking agent or an infrared absorber may be included to have each function. U like to be.
[0141] ハードコート層塗布液の塗布方法としては、前述のものを用いることができる。塗布 量はウエット膜厚として 0. 1〜30 111が適当で、好ましくは、0. 5〜15 /ζ πιである。ま た、ドライ膜厚としては平均膜厚 0. 1〜15 m、好ましくは 1〜8 μ mである。  [0141] As a coating method of the hard coat layer coating solution, the above-described methods can be used. The coating amount is suitably from 0.1 to 30 111 as the wet film thickness, and preferably from 0.5 to 15 / ζ πι. The dry film thickness is 0.1 to 15 m, preferably 1 to 8 μm.
[0142] ハードコート層は塗布乾燥後に、紫外線を照射するのがよぐ必要な活性線の照射 量を得るための照射時間としては、 0. 1秒〜 1分程度がよぐ紫外線硬化性榭脂の 硬化効率または作業効率の観点力も 0. 1〜: LO秒がより好ましい。 [0142] The hard coat layer is irradiated with actinic radiation that is necessary to be irradiated with ultraviolet rays after coating and drying. The irradiation time for obtaining the amount is preferably from about 0.1 second to about 1 minute, and the viewpoint of the curing efficiency or work efficiency of the ultraviolet curable resin is preferably 0.1 to LO seconds.
[0143] また、これら活性線照射部の照度は 50〜150mWZm2であることが好ましい。 [0143] Further, it is preferable illuminance of the active ray irradiation unit is 50~150mWZm 2.
[0144] 〔バックコート層〕  [0144] [Backcoat layer]
本発明の反射防止フィルムでは、透明支持体となるセルロースエステルフィルムの 活性エネルギー線硬化榭脂層を設けた側と反対側の面にはバックコート層を設ける ことが好ましい。ノ ックコート層は、活性エネルギー線硬化榭脂層やその他の層を設 けることで生じるカールを矯正するために設けられる。即ち、ノ ックコート層を設けた 面を内側にして丸まろうとする性質を持たせることにより、カールの度合いをバランス させることができる。なお、ノ ックコート層は好ましくはブロッキング防止層を兼ねて塗 設され、その場合、ノ ックコート層塗布組成物には、ブロッキング防止機能を持たせ るために微粒子が添加されることが好ま 、。  In the antireflection film of the present invention, it is preferable to provide a backcoat layer on the surface opposite to the side on which the active energy ray-cured resin layer of the cellulose ester film serving as the transparent support is provided. The knock coat layer is provided in order to correct curling caused by the provision of an active energy ray-cured resin layer or other layers. In other words, the degree of curling can be balanced by imparting the property of being rounded with the surface provided with the knock coat layer inside. The knock coat layer is preferably applied also as an anti-blocking layer. In this case, it is preferable that fine particles are added to the knock coat layer coating composition in order to provide an anti-blocking function.
[0145] ノックコート層に添加される微粒子としては無機化合物の例として、二酸化珪素、 二酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、炭酸カルシウム、炭酸カルシゥ ム、タルク、クレイ、焼成カオリン、焼成ケィ酸カルシウム、酸化錫、酸化インジウム、酸 化亜鉛、 ITO、水和ケィ酸カルシウム、ケィ酸アルミニウム、ケィ酸マグネシウム及びリ ン酸カルシウムを挙げることができる。微粒子は珪素を含むものがヘイズが低くなる点 で好ましぐ特に二酸ィ匕珪素が好ましい。  [0145] As fine particles added to the knock coat layer, examples of inorganic compounds include silicon dioxide, titanium dioxide, aluminum oxide, zirconium oxide, calcium carbonate, calcium carbonate, talc, clay, calcined kaolin, calcined calcium silicate, Mention may be made of tin oxide, indium oxide, zinc oxide, ITO, hydrated calcium silicate, aluminum silicate, magnesium silicate and calcium phosphate. Fine particles containing silicon are preferred in that haze is low, and silicon dioxide is particularly preferred.
[0146] これらの微粒子は、例えば、ァエロジル R972、 R972V, R974、 R812、 200、 20 OV、 300、 R202、 0X50、 TT600 (以上曰本ァエロジル (株)製)の商品名で巿販さ れており、使用することができる。酸ィ匕ジルコニウムの微粒子は、例えば、ァエロジル R976及び R811 (以上日本ァエロジル (株)製)の商品名で市販されており、使用す ることができる。ポリマーの例として、シリコーン榭脂、フッ素榭脂及びアクリル榭脂を 挙げることができる。シリコーン榭脂が好ましぐ特に三次元の網状構造を有するもの 力 S好ましく、 ί列えば、、トスノく一ノレ 103、同 105、同 108、同 120、同 145、同 3120及び 同 240 (以上東芝シリコーン (株)製)の商品名で市販されており、使用することができ る。  [0146] These fine particles are sold under the trade names of, for example, Aerosil R972, R972V, R974, R812, 200, 20 OV, 300, R202, 0X50, TT600 (manufactured by Enomoto Aerosil Co., Ltd.). And can be used. The fine particles of zirconium oxide are commercially available under the trade names of Aerosil R976 and R811 (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.), and can be used. Examples of polymers include silicone resin, fluorine resin and acrylic resin. Silicone resin is preferred, especially those having a three-dimensional network structure S Preferred, if it is arranged, Tosuno Kunore 103, 105, 108, 120, 145, 3120 and 240 (and above) It is commercially available under the trade name of Toshiba Silicone Co., Ltd. and can be used.
[0147] これらの中でもでァエロジル 200V、ァエロジル R972Vがヘイズを低く保ちながら、 ブロッキング防止効果が大きいため特に好ましく用いられる。本発明で用いられる反 射防止フィルムは、活性エネルギー線硬化榭脂層の裏面側の動摩擦係数が 0. 9以 下、特に 0. 1〜0. 9であることが好ましい。 [0147] Among them, Aerosil 200V, Aerosil R972V kept haze low, It is particularly preferably used because of its great anti-blocking effect. In the antireflection film used in the present invention, the dynamic friction coefficient on the back side of the active energy ray-cured resin layer is preferably 0.9 or less, particularly 0.1 to 0.9.
[0148] ノックコート層に含まれる微粒子は、バインダーに対して 0. 1〜50質量0 /0好ましく は 0. 1〜10質量0 /0であることが好ましい。ノ ックコート層を設けた場合のヘイズの増 加は 1%以下であることが好ましく 0. 5%以下であることが好ましぐ特に 0. 0〜0. 1 %であることが好ましい。 [0148] fine particles contained in the knock coat layer is preferably 0.1 to 50 mass 0/0 preferably from 0.1 to 10 weight 0/0 of the binder. When a knock coat layer is provided, the increase in haze is preferably 1% or less, more preferably 0.5% or less, and particularly preferably 0.0 to 0.1%.
[0149] ノックコート層は、具体的にはセルロースエステルフィルムを溶解させる溶媒または 膨潤させる溶媒を含む組成物を塗布することによって行われる。用いる溶媒としては 、溶解させる溶媒及び Zまたは膨潤させる溶媒の混合物の他さらに溶解させな ヽ溶 媒を含む場合もあり、これらを透明榭脂フィルムのカール度合いゃ榭脂の種類によつ て適宜の割合で混合した組成物及び塗布量を用 ヽて行う。  [0149] Specifically, the knock coat layer is formed by applying a composition containing a solvent for dissolving or swelling a cellulose ester film. The solvent to be used may include a solvent to be dissolved and a mixture of Z or a solvent to be swollen in addition to a non-dissolved soot solvent. These may be appropriately selected depending on the curl degree of the transparent resin film and the type of resin. The composition and the coating amount mixed at a ratio of 5 are used.
[0150] カール防止機能を強めた!/ヽ場合は、用いる溶媒組成を溶解させる溶媒及び Zまた は膨潤させる溶媒の混合比率を大きくし、溶解させない溶媒の比率を小さくするのが 効果的である。この混合比率は好ましくは (溶解させる溶媒及び Zまたは膨潤させる 溶媒):(溶解させない溶媒) = 10 : 0〜1 : 9で用いられる。このような混合組成物に含 まれる、透明榭脂フィルムを溶解または膨潤させる溶媒としては、例えば、ジォキサン 、アセトン、メチルェチルケトン、 N, N—ジメチルホルムアミド、酢酸メチル、酢酸ェチ ル、トリクロロエチレン、メチレンクロライド、エチレンクロライド、テトラクロ口エタン、トリ クロ口エタン、クロ口ホルム等がある。溶解させない溶媒としては、例えば、メタノール、 エタノール、 n—プロピルアルコール、 i—プロピルアルコール、 n—ブタノール、シクロ へキサノールまたは炭化水素類(トルエン、キシレン)等がある。  [0150] In the case of strengthening the curl prevention function! / が, it is effective to increase the mixing ratio of the solvent that dissolves the solvent composition to be used and Z or the solvent that swells, and to reduce the ratio of the solvent that does not dissolve . This mixing ratio is preferably (solvent to be dissolved and Z or solvent to be swollen) :( solvent not to be dissolved) = 10: 0 to 1: 9. Examples of the solvent for dissolving or swelling the transparent resin film contained in such a mixed composition include dioxane, acetone, methyl ethyl ketone, N, N-dimethylformamide, methyl acetate, ethyl acetate, Examples include trichlorethylene, methylene chloride, ethylene chloride, tetrachloroethane, trichloroethane, and black form. Examples of the solvent that does not dissolve include methanol, ethanol, n-propyl alcohol, i-propyl alcohol, n-butanol, cyclohexanol, and hydrocarbons (toluene, xylene).
[0151] これらの塗布糸且成物をグラビアコーター、ディップコーター、リバースコーター、ワイ ヤーバーコ一ター、ダイコ一ター、またはスプレー塗布、インクジェット塗布等を用い て透明榭脂フィルムの表面にウエット膜厚 1〜: LOO mで塗布するのが好ましいが、 特に 5〜30 μ mであることが好ましい。バックコート層のバインダーとして用いられる 榭脂としては、例えば塩ィ匕ビニル—酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル榭脂、酢酸ビ -ル榭脂、酢酸ビニルとビニルアルコールの共重合体、部分加水分解した塩化ビ- ルー酢酸ビュル共重合体、塩化ビュル一塩化ビ-リデン共重合体、塩化ビュルーァ クリロ-トリル共重合体、エチレン ビニルアルコール共重合体、塩素化ポリ塩ィ匕ビ- ル、エチレン一塩化ビニル共重合体、エチレン 酢酸ビニル共重合体等のビニル系 重合体または共重合体、ニトロセルロース、セルロースアセテートプロピオネート(好 ましくはァセチル基置換度 1. 8〜2. 3、プロピオ-ル基置換度 0. 1〜1. 0)、ジァセ チルセルロース、セルロースアセテートブチレート榭脂等のセルロース誘導体、マレイ ン酸及び Zまたはアクリル酸の共重合体、アクリル酸エステル共重合体、アタリ口-ト リル—スチレン共重合体、塩素化ポリエチレン、アクリロニトリル—塩素化ポリエチレン スチレン共重合体、メチルメタクリレートーブタジエン スチレン共重合体、アクリル 榭脂、ポリビュルァセタール榭脂、ポリビュルブチラール榭脂、ポリエステルポリウレタ ン榭脂、ポリエーテルポリウレタン榭脂、ポリカーボネートポリウレタン榭脂、ポリエステ ル榭脂、ポリエーテル榭脂、ポリアミド榭脂、アミノ榭脂、スチレン ブタジエン榭脂、 ブタジエン一アクリロニトリル榭脂等のゴム系榭脂、シリコーン系榭脂、フッ素系榭脂 等を挙げることができる力 これらに限定されるものではない。例えば、アクリル榭脂と しては、アタリペット MD、 VH、 MFゝ V (三菱レーヨン(株)製)、ハイパール M— 400 3、 M— 4005、 M— 4006、 M— 4202、 M— 5000、 M— 5001、 M— 4501 (根上 工業株式会社製)、ダイヤナール BR— 50、 BR—52、 BR— 53、 BR— 60、 BR— 64 、 BR— 73、 BR— 75、 BR— 77、 BR— 79、 BR— 80、 BR— 82、 BR— 83、 BR— 85 、 BR— 87、 BR— 88、 BR— 90、 BR— 93、 BR— 95、 BR— 100、 BR— 101、 BR— 102、 BR— 105、 BR— 106、 BR— 107、 BR— 108、 BR— 112、 BR— 113、 BR— 115、 BR— 116、 BR— 117、 BR— 118等(三菱レーヨン (株)製)のアクリル及びメタ クリル系モノマーを原料として製造した各種ホモポリマー並びにコポリマー等が巿販 されており、この中力も好まし 、モノを適宜選択することもできる。 [0151] These coated yarns and composites are coated on the surface of the transparent resin film using a gravure coater, dip coater, reverse coater, wire bar coater, die coater, spray coating, ink jet coating or the like. ~: It is preferable to apply with LOO m, but it is particularly preferably 5 to 30 µm. Examples of the resin used as a binder for the back coat layer include a salty vinyl-vinyl acetate copolymer, vinyl chloride resin, vinyl acetate resin, vinyl acetate and vinyl alcohol copolymer, and partial hydrolysis. PVC RU-acetate butyl copolymer, butyl chloride monochloride / vinylidene chloride copolymer, bulure chloride chloro-tolyl copolymer, ethylene vinyl alcohol copolymer, chlorinated poly salt vinyl, ethylene vinyl chloride monochloride copolymer Polymer, vinyl-based polymer or copolymer such as ethylene vinyl acetate copolymer, nitrocellulose, cellulose acetate propionate (preferably acetyl group substitution degree 1.8 to 2.3, propionol group substitution degree 0.1 to 1.0), cellulose derivatives such as diacetyl cellulose, cellulose acetate butyrate resin, maleic acid and Z or acrylic acid copolymers, acrylic acid ester copolymers, atta-tri-tri- Styrene copolymer, chlorinated polyethylene, acrylonitrile-chlorinated polyethylene styrene copolymer, methyl methacrylate-butadiene styrene Copolymer, Acrylic resin, Polybulassetal resin, Polybutylbutyral resin, Polyester polyurethane resin, Polyether polyurethane resin, Polycarbonate polyurethane resin, Polyester resin, Polyether resin, Polyamide resin Forces that can include rubber-based resins such as fats, amino-based resins, styrene-butadiene-based resins, and butadiene-acrylonitrile-based resins, silicone-based resins, and fluorine-based resins are not limited to these. For example, for acrylic resin, Ataripet MD, VH, MF IV (Mitsubishi Rayon Co., Ltd.), Hyperl M-400 3, M-4005, M-4006, M-4202, M-5000, M-5001, M-4501 (manufactured by Negami Kogyo Co., Ltd.), Dialnal BR-50, BR-52, BR-53, BR-60, BR-64, BR-73, BR-75, BR-77, BR — 79, BR—80, BR—82, BR—83, BR—85, BR—87, BR—88, BR—90, BR—93, BR—95, BR—100, BR—101, BR—102 , BR-105, BR-106, BR-107, BR-108, BR-112, BR-113, BR-115, BR-116, BR-117, BR-118, etc. (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.) Various homopolymers and copolymers produced from acrylic and methacrylic monomers as raw materials are on the market, and this medium strength is also preferred, and mono can also be selected as appropriate.
[0152] 特に好ましくはジァセチルセルロース、セルロースアセテートプロピオネートのような セルロース系榭脂層である。 [0152] A cellulose-based resin layer such as diacetyl cellulose and cellulose acetate propionate is particularly preferable.
[0153] バックコート層を塗設する順番はセルロースエステルフィルムの活性エネルギー線 硬化榭脂層を塗設する前でも後でも構わないが、バックコート層がブロッキング防止 層を兼ねる場合は先に塗設することが望ましい。または 2回以上に分けてバックコート 層を塗布することもできる。 [0153] The order of coating the backcoat layer may be before or after coating the active energy ray-cured resin layer of the cellulose ester film. However, if the backcoat layer also serves as an anti-blocking layer, coat it first. It is desirable to do. Or back coat in two or more times A layer can also be applied.
[0154] 前記低屈折率層で説明したビックケミージャパン社製の界面活性剤 BYKシリーズ 、 GE東芝シリコーン社製のジメチルシリコーンシリーズは、低屈折率層以外の反射 防止層にも好ましく用いることができる。  [0154] The surfactant BYK series manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd. described in the low refractive index layer and the dimethyl silicone series manufactured by GE Toshiba Silicone can be preferably used for an antireflection layer other than the low refractive index layer. .
[0155] 〔透明支持体〕  [Transparent support]
次に、本発明で用いることのできる透明支持体について説明する。  Next, the transparent support that can be used in the present invention will be described.
[0156] 本発明に用いられる透明支持体としては、製造が容易であること、活性線硬化型榭 脂層との接着性が良好である、光学的に等方性である、光学的に透明であること等 が好まし!/、要件として挙げられる。  [0156] The transparent support used in the present invention is easy to manufacture, has good adhesion to an actinic radiation curable resin layer, is optically isotropic, and is optically transparent. It is preferred that it be!
[0157] 本発明でいう透明とは、可視光の透過率 60%以上であることを指し、好ましくは 80 %以上であり、特に好ましくは 90%以上である。  [0157] The term "transparent" as used in the present invention means a visible light transmittance of 60% or more, preferably 80% or more, particularly preferably 90% or more.
[0158] 上記の性質を有して!/ヽれば特に限定はな 、が、例えば、セルロースエステル系フィ ルム、ポリエステル系フィルム、ポリカーボネート系フィルム、ポリアリレート系フィルム 、ポリスルホン(ポリエーテルスルホンも含む)系フィルム、ポリエチレンテレフタレート 、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロ ピレンフイノレム、セロファン、セノレロースジアセテートフイノレム、セノレローストリアセテー ト、セノレロースアセテートプロピオネートフイノレム、セノレロースアセテートブチレートフィ ルム、ポリ塩化ビ-リデンフィルム、ポリビュルアルコールフィルム、エチレンビュルァ ルコールフィルム、シンジォタクティックポリスチレン系フィルム,ポリカーボネートフィ ルム、シクロォレフインポリマーフィルム(アートン (JSR社製)、ゼォネックス、ゼォノア( 以上、 日本ゼオン社製))、ポリメチルペンテンフィルム、ポリエーテルケトンフィルム、 ポリエーテルケトンイミドフィルム、ポリアミドフィルム、フッ素榭脂フィルム、ナイロンフ イルム、ポリメチルメタタリレートフィルム、アクリルフィルムまたはガラス板等を挙げるこ とができる。 中でも、セルローストリアセテートフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリ スルホン (ポリエーテルスルホンを含む)が好ましぐ本発明においては、特にセル口 ースエステルフィルム(例えば、コ-カミノルタタック、製品名 KC8UX2MW、 KC4U X2MW、 KC8UYゝ KC4UYゝ KC5UNゝ KC12UR, KC8UCR— 3、 KC8UCR— 4、 KC8UCR—5 (コニカミノルタォプト (株)製))が、製造上、コスト面、透明性、等方 性、接着性等の観点力 好ましく用いられる。これらのフィルムは、溶融流延製膜で 製造されたフィルムであっても、溶液流延製膜で製造されたフィルムであってもよ 、。 [0158] Having the above properties! / If there is no particular limitation, for example, cellulose ester film, polyester film, polycarbonate film, polyarylate film, polysulfone (including polyethersulfone) ) Film, polyester film such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, etc., polyethylene film, polypropylene phenol, cellophane, cenorelose diacetate phenol, cenorelose triacetate, cenorelose acetate propionate, finolem, cenorelose acetate butyrate Rate film, polyvinylidene chloride film, polybulal alcohol film, ethylene bulcolol film, syndiotactic polystyrene film, polycarbonate Film, cycloolefin polymer film (Arton (manufactured by JSR), ZEONEX, ZENOOR (manufactured by ZEON CORPORATION)), polymethylpentene film, polyetherketone film, polyetherketoneimide film, polyamide film, fluorine Examples thereof include a resin film, nylon film, polymethyl methacrylate film, acrylic film, and glass plate. Of these, cellulose triacetate film, polycarbonate film, and polysulfone (including polyethersulfone) are preferred in the present invention. In particular, cellulose ester films (for example, co-minol tuck, product names KC8UX2MW, KC4U X2MW, KC8UY ゝ KC4UY ゝ KC5UN ゝ KC12UR, KC8UCR—3, KC8UCR—4, KC8UCR—5 (manufactured by Konica Minoltaput Co., Ltd.)), manufacturing, cost, transparency, isotropic Viewpoints such as property and adhesiveness are preferably used. These films may be films produced by melt casting film production or films produced by solution casting film production.
[0159] (セルロースエステル)  [0159] (Cellulose ester)
本発明にお 、ては、透明支持体としてはセルロースエステルフィルムを用いること が好ましい。セルロースエステルとしては、セルロースアセテート、セルロースァセテ 一トブチレート、セルロースアセテートプロピオネートが好ましぐ中でもセルロースァ セテートブチレート、セルロースアセテートフタレート、セルロースアセテートプロピオ ネートが好ましく用いられる。  In the present invention, it is preferable to use a cellulose ester film as the transparent support. Among the cellulose esters, cellulose acetate butyrate, cellulose acetate phthalate, and cellulose acetate propionate are preferably used, among which cellulose acetate, cellulose acetate butyrate, and cellulose acetate propionate are preferred.
[0160] 特にァセチル基の置換度を X、プロピオ-ル基またはブチリル基の置換度を Yとし た時、 Xと Yが下記の範囲にあるセルロースの混合脂肪酸エステルを有する透明支 持体上に活性線硬化型榭脂層と反射防止層を設けた低反射積層体が好ましく用い られる。  [0160] In particular, when the substitution degree of the acetyl group is X and the substitution degree of the propiol group or butyryl group is Y, X and Y are on the transparent support having a mixed fatty acid ester of cellulose in the following range. A low reflection laminate provided with an actinic radiation curable resin layer and an antireflection layer is preferably used.
[0161] 2. 3≤X+Y≤3. 0  [0161] 2. 3≤X + Y≤3.0
0. 1≤Υ≤1. 2  0. 1≤Υ≤1.2
特に、 2. 5≤Χ+Υ≤2. 9  In particular, 2.5 ≤ Χ + Υ ≤ 2. 9
0. 3≤Υ≤1. 2であることが好ましい。  It is preferable that 0. 3≤Υ≤1.2.
[0162] 本発明に用いられる透明支持体として、セルロースエステルを用いる場合、セル口 ースエステルの原料のセルロースとしては、特に限定はないが、綿花リンター、木材 パルプ (針葉樹由来、広葉樹由来)、ケナフ等を挙げることができる。またそれらから 得られたセルロースエステルはそれぞれ任意の割合で混合使用することができる。こ れらのセルロースエステルは、ァシル化剤が酸無水物(無水酢酸、無水プロピオン酸 、無水酪酸)である場合には、酢酸のような有機酸ゃメチレンクロライド等の有機溶媒 を用い、硫酸のようなプロトン性触媒を用いてセルロース原料と反応させて得ることが できる。  [0162] When a cellulose ester is used as the transparent support used in the present invention, the cellulose used as the raw material for the cell mouth ester is not particularly limited. Can be mentioned. Moreover, the cellulose ester obtained from them can be mixed and used in arbitrary ratios, respectively. When the acylating agent is an acid anhydride (acetic anhydride, propionic anhydride, butyric anhydride), these cellulose esters use an organic solvent such as acetic acid-like organic acid methylene chloride, etc. It can be obtained by reacting with a cellulose raw material using such a protic catalyst.
[0163] ァシル化剤が酸クロライド(CH COCl  [0163] The acylating agent is acid chloride (CH COCl
3 、 C H COCl )の場合には、触  3, C H COCl)
2 5 、 C H COC1  2 5, C H COC1
3 7  3 7
媒としてァミンのような塩基性ィ匕合物を用いて反応が行われる。具体的には、特開平 The reaction is carried out using a basic compound such as ammine as a medium. Specifically,
10— 45804号に記載の方法等を参考にして合成することができる。また、本発明に 用いられるセルロースエステルは各置換度に合わせて上記ァシル化剤量を混合して 反応させたものであり、セルロースエステルはこれらァシル化剤がセルロース分子の 水酸基に反応する。セルロース分子はグルコースユニットが多数連結したものからな つており、グルコースユニットに 3個の水酸基がある。この 3個の水酸基にァシル基が 誘導された数を置換度(モル%)という。例えば、セルローストリアセテートはダルコ一 スユニットの 3個の水酸基全てにァセチル基が結合している(実際には 2. 6〜3. 0)。 It can be synthesized with reference to the method described in 10-45804. In addition, the cellulose ester used in the present invention is mixed with the amount of the acylating agent according to the degree of substitution. In the cellulose ester, these acylating agents react with the hydroxyl groups of cellulose molecules. Cellulose molecules are composed of many glucose units linked together, and the glucose unit has three hydroxyl groups. The number of substituted acyl groups at these three hydroxyl groups is called the degree of substitution (mol%). For example, cellulose triacetate has a acetyl group bonded to all three hydroxyl groups of a dalcos unit (actually 2.6 to 3.0).
[0164] 本発明に用いられるセルロースエステルとしては、セルロースアセテートプロビオネ ート、セルロースアセテートブチレート、またはセルロースアセテートプロピオネートブ チレートのようなァセチル基の他にプロピオネート基またはブチレート基が結合したセ ルロースの混合脂肪酸エステルが特に好ましく用いられる。なお、プチレートを形成 するプチリル基としては、直鎖状でも分岐して 、てもよ 、。 [0164] Examples of the cellulose ester used in the present invention include cellulose acetate propionate, cellulose acetate butyrate or cellulose acetate propionate but also a cetyl group to which a propionate group or a butyrate group is bonded. A mixed fatty acid ester of roulose is particularly preferably used. The petityl group forming the petitate may be linear or branched.
[0165] プロピオネート基を置換基として含むセルロースアセテートプロピオネートは耐水性 に優れ、液晶画像表示装置用のフィルムとして有用である。 [0165] Cellulose acetate propionate containing a propionate group as a substituent has excellent water resistance and is useful as a film for liquid crystal image display devices.
[0166] ァシル基の置換度の測定方法は ASTM -D817- 96の規定に準じて測定するこ とがでさる。 [0166] The method for measuring the degree of substitution of the acyl group can be carried out in accordance with ASTM-D817-96.
[0167] セルロースエステルの数平均分子量は、 70000〜250000力 成型した場合の機 械的強度が強ぐかつ、適度なドープ粘度となり好ましぐさらに好ましくは、 80000 〜 150000である。  [0167] The number average molecular weight of the cellulose ester is preferably 70000 to 250,000, more preferably 80,000 to 150,000, which has a high mechanical strength when molded and has an appropriate dope viscosity.
[0168] これらセルロースエステルフィルムは、一般的に溶液流延製膜法と呼ばれるセル口 ースエステル溶解液 (ドープ)を、例えば、無限に移送する無端の金属ベルトまたは 回転する金属ドラムの流延用支持体上に加圧ダイからドープを流延 (キャスティング) し製膜する方法で製造されることが好まし ヽ。  [0168] These cellulose ester films are, for example, an endless metal belt for infinitely transferring a cell mouth ester solution (dope) called a solution casting film forming method, or a casting support for a rotating metal drum. It is preferable that the dope is cast on a body by casting from a pressure die to form a film.
[0169] (有機溶媒) [0169] (Organic solvent)
これらドープの調製に用いられる有機溶媒としては、セルロースエステルを溶解で き、かつ、適度な沸点であることが好ましぐ例えば、メチレンクロライド、酢酸メチル、 酢酸ェチル、酢酸ァミル、ァセト酢酸メチル、アセトン、テトラヒドロフラン、 1, 3—ジォ キソラン、 1, 4—ジォキサン、シクロへキサノン、ギ酸ェチル、 2, 2, 2—トリフルォロェ タノール、 2, 2, 3, 3—テトラフルオロー 1—プロパノール、 1, 3—ジフルオロー 2— プロパノール、 1, 1, 1, 3, 3, 3—へキサフルオロー 2—メチルー 2—プロパノール、 1, 1, 1, 3, 3, 3 へキサフノレオロー 2 プロノ ノーノレ、 2, 2, 3, 3, 3 ペンタフノレ オロー 1 プロパノール、ニトロェタン、 1, 3 ジメチルー 2 イミダゾリジノン等を挙 げることができるが、メチレンクロライド等の有機ハロゲンィ匕合物、ジォキソラン誘導体 、酢酸メチル、酢酸ェチル、アセトン、ァセト酢酸メチル等が好ましい有機溶媒 (即ち 、良溶媒)として挙げられる。 As the organic solvent used for preparing these dopes, it is preferable that the cellulose ester can be dissolved and has an appropriate boiling point, for example, methylene chloride, methyl acetate, ethyl acetate, amyl acetate, methyl acetate acetate, acetone. , Tetrahydrofuran, 1,3-dioxolan, 1,4-dioxane, cyclohexanone, ethyl formate, 2, 2,2-trifluoroethane, 2, 2, 3, 3-tetrafluoro-1-propanol, 1, 3-difluoro-2-propanol, 1, 1, 1, 3, 3, 3-hexafluoro-2-methyl-2-propanol, 1, 1, 1, 3, 3, 3 Hexafnoreolol 2 Prono Norole, 2, 2, 3, 3, 3 Pentafunole Olho 1 Propanol, Nitroethane, 1,3 Dimethyl-2 Imidazolidinone, etc. Organic halogen compounds such as methylene chloride, dioxolane derivatives, methyl acetate, ethyl acetate, acetone, methyl acetoacetate and the like are preferable organic solvents (that is, good solvents).
[0170] また、下記の製膜工程に示すように、溶媒蒸発工程において流延用支持体上に形 成されたウェブ (ドープ膜)力 溶媒を乾燥させる時に、ウェブ中の発泡を防止する観 点から、用いられる有機溶媒の沸点としては、 30〜80°Cが好ましぐ例えば、上記記 載の良溶媒の沸点は、メチレンクロライド (沸点 40. 4°C)、酢酸メチル (沸点 56. 32 °C)、アセトン (沸点 56. 3°C)、酢酸ェチル (沸点 76. 82°C)等である。  [0170] Further, as shown in the following film forming process, the web (dope film) force formed on the casting support in the solvent evaporation process is a view that prevents foaming in the web when the solvent is dried. In view of the above, the boiling point of the organic solvent used is preferably 30 to 80 ° C.For example, the boiling point of the good solvent described above is methylene chloride (boiling point 40.4 ° C), methyl acetate (boiling point 56. 32 ° C), acetone (boiling point 56.3 ° C), ethyl acetate (boiling point 76.82 ° C), and the like.
[0171] 上記記載の良溶媒の中でも溶解性に優れるメチレンクロライドあるいは酢酸メチル が好ましく用いられる。  [0171] Among the good solvents described above, methylene chloride or methyl acetate having excellent solubility is preferably used.
[0172] 上記有機溶媒の他に、 0. 1〜40質量%の炭素原子数 1〜4のアルコールを含有さ せることが好ましい。特に好ましくは 5〜30質量%で前記アルコールが含まれること が好ましい。これらは上記記載のドープを流延用支持体に流延後、溶媒が蒸発を始 めアルコールの比率が多くなるとウェブ(ドープ膜)がゲルイ匕し、ウェブを丈夫にし流 延用支持体から剥離することを容易にするゲル化溶媒として用いられたり、これらの 割合が少ない時は非塩素系有機溶媒のセルロースエステルの溶解を促進する役割 もめる。  [0172] In addition to the organic solvent, it is preferable to contain 0.1 to 40% by mass of an alcohol having 1 to 4 carbon atoms. It is particularly preferable that the alcohol is contained at 5 to 30% by mass. After casting the dope described above onto a casting support, the solvent begins to evaporate and the alcohol ratio increases, the web (dope film) gels, making the web strong and peeling from the casting support. It is used as a gelling solvent that makes it easy to perform, and when these ratios are small, it also plays a role in promoting the dissolution of cellulose esters of non-chlorine organic solvents.
[0173] 炭素原子数 1〜4のアルコールとしては、メタノール、エタノール、 n—プロパノール 、 iso プロパノール、 n—ブタノール、 sec ブタノール、 tert—ブタノール等を挙げ ることがでさる。  [0173] Examples of the alcohol having 1 to 4 carbon atoms include methanol, ethanol, n-propanol, isopropanol, n-butanol, sec butanol, tert-butanol and the like.
[0174] これらの溶媒のうち、ドープの安定性がよぐ沸点も比較的低ぐ乾燥性もよぐかつ 毒性がないこと等力もエタノールが好ましい。好ましくは、メチレンクロライド 70〜95 質量%に対してエタノール 5〜30質量%を含む溶媒を用いることが好ましい。メチレ ンクロライドの代わりに酢酸メチルを用いることもできる。このとき、冷却溶解法によりド ープを調製してもよい。  [0174] Of these solvents, ethanol is preferable because of the stability of the dope, the boiling point of which is relatively low, the drying property, the non-toxicity and the like. It is preferable to use a solvent containing 5 to 30% by mass of ethanol with respect to 70 to 95% by mass of methylene chloride. Methyl acetate can be used in place of methyl chloride. At this time, the dope may be prepared by a cooling dissolution method.
[0175] (可塑剤) 本発明の反射防止フィルムにセルロースエステルフィルムを用いる場合、下記のよ うな可塑剤を含有するのが好ましい。可塑剤としては、例えば、リン酸エステル系可 塑剤、フタル酸エステル系可塑剤、トリメリット酸エステル系可塑剤、ピロメリット酸系可 塑剤、グリコレート系可塑剤、クェン酸エステル系可塑剤、ポリエステル系可塑剤等を 好ましく用いることができる。 [0175] (Plasticizer) When a cellulose ester film is used for the antireflection film of the present invention, it preferably contains a plasticizer as described below. Examples of the plasticizer include phosphate ester plasticizers, phthalate ester plasticizers, trimellitic acid ester plasticizers, pyromellitic acid plasticizers, glycolate plasticizers, and citrate ester plasticizers. Polyester plasticizers can be preferably used.
[0176] リン酸エステル系可塑剤では、トリフエ-ルホスフェート、トリクレジルホスフェート、ク レジルジフエ-ルホスフェート、ォクチルジフエ-ルホスフェート、ジフエ-ノレビフエ- ルホスフェート、トリオクチルホスフェート、トリブチルホスフェート等、フタル酸エステル 系可塑剤では、ジェチルフタレート、ジメトキシェチルフタレート、ジメチルフタレート、 ジォクチルフタレート、ジブチルフタレート、ジー 2—ェチルへキシルフタレート、ブチ ルベンジルフタレート、ジフエ-ルフタレート、ジシクロへキシルフタレート等、トリメリッ ト酸系可塑剤では、トリブチルトリメリテート、トリフ -ルトリメリテート、トリェチルトリメリ テート等、ピロメリット酸エステル系可塑剤では、テトラブチルピロメリテート、テトラフエ -ルピロメリテート、テトラエチルピロメリテート等、グリコレート系可塑剤では、トリァセ チン、トリブチリン、ェチルフタリルェチルダリコレート、メチルフタリルェチルダリコレー ト、ブチルフタリルブチルダリコレート等、クェン酸エステル系可塑剤では、トリェチル シトレート、トリー n—ブチルシトレート、ァセチルトリェチルシトレート、ァセチルトリー n ーブチルシトレート、ァセチルトリー n— (2—ェチルへキシル)シトレート等を好ましく 用いることができる。その他のカルボン酸エステルの例には、トリメチロールプロパント リベンゾエート、ォレイン酸ブチル、リシノール酸メチルァセチル、セバシン酸ジブチ ル、種々のトリメリット酸エステルが含まれる。  [0176] Phosphate ester plasticizers include triphenyl phosphate, tricresyl phosphate, cresyl diphenyl phosphate, octyl diphenyl phosphate, diphenyl-norbiphenyl phosphate, trioctyl phosphate, tributyl phosphate, etc. Plasticizers such as jetyl phthalate, dimethoxyethyl phthalate, dimethyl phthalate, dioctyl phthalate, dibutyl phthalate, di-2-ethyl hexyl phthalate, butyl benzyl phthalate, diphenyl phthalate, dicyclohexyl phthalate, etc. Examples of acid plasticizers include tributyl trimellitate, tributyl trimellitate, triethyl trimellitate, etc., and pyromellitic acid ester plasticizers such as tetrabutyl pyromellitate and tetraphenol. -Glycolate plasticizers such as lupyromelitate and tetraethylpyromellitate include triacetin, tributylline, ethylphthalyl ethyl dallicolate, methyl phthalyl ethyl dallicolate, butyl phthalyl butyl dallicolate, etc. As the agent, triethyl citrate, tri-n-butyl citrate, acetyl acetyl citrate, acetyl butyl n-butyl citrate, acetyl acetyl n- (2-ethyl hexyl) citrate and the like can be preferably used. Examples of other carboxylic acid esters include trimethylol propane tribenzoate, butyl oleate, methyl acetyl ricinoleate, dibutyl sebacate, and various trimellitic acid esters.
[0177] ポリエステル系可塑剤として脂肪族二塩基酸、脂環式二塩基酸、芳香族二塩基酸 等の二塩基酸とダリコールの共重合ポリマーを用いることができる。脂肪族二塩基酸 としては特に限定されないが、アジピン酸、セバシン酸、フタル酸、テレフタル酸、 1, 4—シクロへキシルジカルボン酸等を用いることができる。グリコールとしては、ェチレ ングリコール、ジエチレングリコール、 1, 3—プロピレングリコール、 1, 2—プロピレン グリコール、 1, 4ーブチレングリコール、 1, 3—ブチレングリコール、 1, 2—ブチレン グリコール等を用いることができる。これらの二塩基酸及びグリコールはそれぞれ単 独で用いてもよ!、し、 2種以上混合して用いてもょ 、。 [0177] As the polyester plasticizer, a copolymer of a dibasic acid such as an aliphatic dibasic acid, an alicyclic dibasic acid, an aromatic dibasic acid, and the like, and dalicol can be used. The aliphatic dibasic acid is not particularly limited, and adipic acid, sebacic acid, phthalic acid, terephthalic acid, 1,4-cyclohexyldicarboxylic acid and the like can be used. As glycols, ethylene glycol, diethylene glycol, 1,3-propylene glycol, 1,2-propylene glycol, 1,4-butylene glycol, 1,3-butylene glycol, 1,2-butylene glycol and the like can be used. . These dibasic acids and glycols are each simple. You can use it alone! Or you can use a mixture of two or more.
[0178] これらの可塑剤の使用量は、フィルム性能、加工性等の点で、セルロースエステル に対して 1〜20質量%が好ましぐ特に好ましくは、 3〜13質量%である。 [0178] The amount of these plasticizers used is preferably from 1 to 20% by mass, more preferably from 3 to 13% by mass, based on the cellulose ester, in terms of film performance, processability and the like.
[0179] (紫外線吸収剤) [0179] (UV absorber)
本発明の低反射積層体用の長尺フィルムには、紫外線吸収剤が好ましく用いられ る。  For the long film for the low reflection laminate of the present invention, an ultraviolet absorber is preferably used.
[0180] 紫外線吸収剤としては、波長 370nm以下の紫外線の吸収能に優れ、かつ良好な 液晶表示性の観点から、波長 400nm以上の可視光の吸収が少ないものが好ましく 用いられる。  [0180] As the ultraviolet absorber, those excellent in the ability to absorb ultraviolet rays having a wavelength of 370 nm or less and having little absorption of visible light having a wavelength of 400 nm or more are preferably used from the viewpoint of good liquid crystal display properties.
[0181] 本発明に好ましく用いられる紫外線吸収剤の具体例としては、例えば、ォキシベン ゾフエノン系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物、サリチル酸エステル系化合物、ベ ンゾフ ノン系化合物、シァノアクリレート系化合物、ニッケル錯塩系化合物等が挙げ られる力 これらに限定されない。  [0181] Specific examples of the ultraviolet absorber preferably used in the present invention include, for example, oxybenzophenone compounds, benzotriazole compounds, salicylate compounds, benzophenone compounds, cyanoacrylate compounds, nickel complex salts, and the like. Forces including compounds, etc. The present invention is not limited to these.
[0182] ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤としては、例えば下記の紫外線吸収剤を具体 例として挙げる力 本発明はこれらに限定されない。  [0182] Examples of benzotriazole-based ultraviolet absorbers include the following ultraviolet absorbers as specific examples. The present invention is not limited to these.
[0183] UV— 1 : 2— (2' —ヒドロキシ一 5' —メチルフエ-ル)ベンゾトリアゾール  [0183] UV— 1: 2— (2 ′ —hydroxy 1 5 ′ —methyl phenol) benzotriazole
UV— 2 : 2— (2' —ヒドロキシ— 3' , 5' —ジ— tert—ブチルフエ-ル)ベンゾトリ ァゾール  UV— 2: 2— (2 ′ —Hydroxy—3 ′, 5 ′ —Di-tert-butylphenol) benzotriazole
UV— 3 : 2— (2' —ヒドロキシ一 3' — tert—ブチル 5' —メチルフエ-ル)ベン ゾトリァゾーノレ  UV— 3: 2— (2 ′ —hydroxy 1 3 ′ — tert-butyl 5 ′ —methyl phenol) benzotriazolene
UV— 4 : 2— (2' —ヒドロキシ— 3' , 5' —ジ— tert—ブチルフエ-ル)— 5 クロ 口べンゾトリァゾーノレ  UV— 4: 2— (2 ′ —hydroxy— 3 ′, 5 ′ —di- tert-butylphenol) — 5 black mouth benzotriazolole
UV— 5 : 2— (2' —ヒ キシ一 3' —(3 " , 5 ら" —テトラヒ フタルイ ミドメチル) 5' —メチルフエ-ル)ベンゾトリアゾール  UV— 5: 2— (2 ′ —Hydroxy 1 ′ 3 ′ — (3 “, 5 et al” —Tetrahyphthalimidomethyl) 5 ′ —Methylphenol) benzotriazole
UV- 6 : 2, 2—メチレンビス(4— (1, 1, 3, 3—テトラメチルブチル)ー6—(2H— ベンゾトリァゾールー 2—ィル)フエノール)  UV-6: 2,2-Methylenebis (4- (1, 1, 3, 3-tetramethylbutyl) -6- (2H-benzotriazole-2-yl) phenol)
UV— 7 : 2— (2' —ヒドロキシ一 3' — tert—ブチル 5' —メチルフエ-ル)一 5 クロ口べンゾトリァゾーノレ UV— 8 : 2— (2H ベンゾトリアゾール—2—ィル) -6- (直鎖及び側鎖ドデシル)UV— 7: 2— (2 ′ —hydroxy 1 3 ′ — tert-butyl 5 ′ —methyl phenol) 1 5 UV— 8: 2— (2H benzotriazole-2-yl) -6- (linear and side chain dodecyl)
— 4—メチルフエノール(TINUVIN171、 Ciba製) — 4—Methylphenol (TINUVIN171, manufactured by Ciba)
UV— 9 :ォクチルー 3—〔3— tert—ブチル 4 ヒドロキシ— 5— (クロ口 2H ベ ンゾトリアゾール 2—ィル)フエニル〕プロピオネートと 2 ェチルへキシル 3—〔3 UV—9: Octyl- 3 -— [3-tert-butyl 4-hydroxy-5- (black mouth 2H benzotriazole 2-yl) phenyl] propionate and 2-ethylhexyl 3 -— [3
—tert—ブチル 4 ヒドロキシ一 5— (5 クロ口一 2H ベンゾトリアゾール 2—ィ ル)フエ-ル〕プロピオネートの混合物(TINUVIN109、 Ciba製) —Tert-Butyl 4 Hydroxy 1-5— (5 Black 1H 2 Benzotriazole 2-Fil) Fel] propionate mixture (TINUVIN109, Ciba)
また、ベンゾフエノン系紫外線吸収剤としては下記の具体例を示すが、本発明はこ れらに限定されない。  Further, the following specific examples of the benzophenone-based ultraviolet absorber are shown, but the present invention is not limited thereto.
[0184] UV- 10 : 2, 4ージヒドロキシベンゾフエノン [0184] UV-10: 2, 4-Dihydroxybenzophenone
UV- 11 : 2, 2' ージヒドロキシー4ーメトキシベンゾフエノン  UV-11: 2, 2'-dihydroxy-4-methoxybenzophenone
UV— 12 : 2 ヒドロキシ一 4—メトキシ一 5—スルホベンゾフエノン  UV—12: 2 Hydroxy 4-methoxy-1-sulfobenzophenone
UV— 13:ビス( 2—メトキシ 4 ヒドロキシ 5 ベンゾィルフエ-ルメタン) 本発明で好ましく用いられる紫外線吸収剤としては、透明性が高ぐ偏光板や液晶 の劣化を防ぐ効果に優れたべンゾトリアゾール系紫外線吸収剤やベンゾフヱノン系 紫外線吸収剤が好ましぐ不要な着色がより少な 、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収 剤が特に好ましく用いられる。  UV-13: Bis (2-methoxy-4-hydroxy-5-benzoylmethane) UV absorbers preferably used in the present invention include benzotriazole-based UV rays that are highly transparent and have excellent effects of preventing deterioration of liquid crystals. Benzotriazole-based ultraviolet absorbers are particularly preferably used because they have less unwanted coloration, which is preferred by absorbers and benzophenone-based ultraviolet absorbers.
[0185] また、特開 2001— 187825号に記載されている分配係数が 9. 2以上の紫外線吸 収剤は、長尺フィルムの面品質を向上させ、塗布性にも優れている。特に分配係数 力 1以上の紫外線吸収剤を用いることが好ましい。 [0185] Further, the ultraviolet absorber having a distribution coefficient of 9.2 or more described in JP-A-2001-187825 improves the surface quality of a long film and is excellent in coatability. It is particularly preferable to use an ultraviolet absorber having a distribution coefficient of 1 or more.
[0186] また、特開平 6— 148430号に記載の一般式(1)または一般式(2)、特願 2000—[0186] Further, the general formula (1) or the general formula (2) described in JP-A-6-148430, Japanese Patent Application No. 2000-
156039号の一般式 (2)、(6)、(7)記載の高分子紫外線吸収剤 (または紫外線吸 収性ポリマー)も好ましく用いられる。高分子紫外線吸収剤としては、 PUVA- 30MPolymer ultraviolet absorbers (or ultraviolet absorbing polymers) described in general formulas (2), (6) and (7) of No. 156039 are also preferably used. As polymer UV absorber, PUVA-30M
(大塚化学 (株)製)等が市販されて 、る。 (Otsuka Chemical Co., Ltd.) is commercially available.
[0187] (微粒子) [0187] (Fine particles)
また、本発明に用いられるセルロースエステルフィルムには滑り性を付与するため、 後述の活性線硬化型榭脂を含む塗布層で記載するものと同様の微粒子を用いること ができる。  Further, in order to impart slipperiness to the cellulose ester film used in the present invention, fine particles similar to those described in the coating layer containing actinic ray curable resin described later can be used.
[0188] 微粒子としては、無機化合物の例として、二酸化珪素、二酸化チタン、酸化アルミ ユウム、酸化ジルコニウム、炭酸カルシウム、炭酸カルシウム、タルク、クレイ、焼成力 ォリン、焼成ケィ酸カルシウム、水和ケィ酸カルシウム、ケィ酸アルミニウム、ケィ酸マ グネシゥム及びリン酸カルシウムを挙げることができる。微粒子は珪素を含むものが 濁度が低くなる点で好ましぐ特に二酸ィ匕珪素が好ましい。 [0188] As fine particles, examples of inorganic compounds include silicon dioxide, titanium dioxide, aluminum oxide. Mention may be made of yuum, zirconium oxide, calcium carbonate, calcium carbonate, talc, clay, calcining power, calcined calcium silicate, hydrated calcium silicate, aluminum silicate, magnesium silicate and calcium phosphate. Fine particles containing silicon are preferred in terms of low turbidity, and silicon dioxide is particularly preferred.
[0189] 微粒子の一次粒子の平均径は 5〜50nmが好ましぐさらに好ましいのは 7〜20n mである。これらは主に粒径 0. 05-0. 3 μ mの 2次凝集体として含有されることが好 ましい。セルロースエステルフィルム中のこれらの微粒子の含有量は 0. 05〜1質量 %であることが好ましぐ特に 0. 1〜0. 5質量%が好ましい。共流延法による多層構 成のセルロースエステルフィルムの場合は、表面にこの添加量の微粒子を含有する ことが好ましい。  [0189] The average primary particle diameter of the fine particles is preferably 5 to 50 nm, and more preferably 7 to 20 nm. These are preferably contained mainly as secondary aggregates having a particle size of 0.05 to 0.3 μm. The content of these fine particles in the cellulose ester film is preferably 0.05 to 1% by mass, more preferably 0.1 to 0.5% by mass. In the case of a cellulose ester film having a multi-layer structure formed by a co-casting method, it is preferable that the added amount of fine particles is contained on the surface.
[0190] 二酸化珪素の微粒子は、例えば、ァエロジル R972、 R972V、 R974、 R812、 200 、 200V, 300、 R202、 0X50、 TT600 (以上曰本ァエロジル (株)製)の商品名で巿 販されており、使用することができる。  [0190] The fine particles of silicon dioxide are sold under the trade names of Aerosil R972, R972V, R974, R812, 200, 200V, 300, R202, 0X50, TT600 (above made by Enomoto Aerosil Co., Ltd.), for example. Can be used.
[0191] 酸化ジルコニウムの微粒子は、例えば、ァエロジル R976及び R811 (以上日本ァ エロジル (株)製)の商品名で市販されており、使用することができる。  [0191] The fine particles of zirconium oxide are commercially available under the trade names of Aerosil R976 and R811 (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.) and can be used.
[0192] ポリマーの例として、シリコーン榭脂、フッ素榭脂及びアクリル榭脂を挙げることがで きる。シリコーン榭脂が好ましぐ特に三次元の網状構造を有するものが好ましぐ例 えば、トスノ ール 103、同 105、同 108、同 120、同 145、同 3120及び同 240 (以上 東芝シリコーン (株)製)の商品名で市販されており、使用することができる。  [0192] Examples of the polymer include silicone resin, fluorine resin, and acrylic resin. Silicone resin is preferred, especially those having a three-dimensional network structure.For example, Tosnor 103, 105, 108, 120, 145, 3120 and 240 (above Toshiba Silicone ( It is commercially available under the trade name of “Made by Co., Ltd.” and can be used.
[0193] これらの中でもァエロジル 200V、ァエロジル R972Vがセルロースエステルフィルム の濁度を低く保ちながら、摩擦係数を下げる効果が大きいため特に好ましく用いられ る。本発明で用いられるセルロースエステルフィルムにお 、ては活性エネルギー線硬 化榭脂層の裏面側の動摩擦係数が 1. 0以下であることが好ましい。  Among these, Aerosil 200V and Aerosil R972V are particularly preferably used because they have a large effect of reducing the friction coefficient while keeping the turbidity of the cellulose ester film low. In the cellulose ester film used in the present invention, the dynamic friction coefficient on the back side of the active energy ray-cured resin layer is preferably 1.0 or less.
[0194] (セルロースエステルフィルムの製造方法)  [0194] (Method for producing cellulose ester film)
次に、セルロースエステルフィルムの製造方法について説明する。  Next, the manufacturing method of a cellulose-ester film is demonstrated.
[0195] セルロースエステルフィルムの製造は、セルロースエステル及び添加剤を溶剤に溶 解させてドープを調製する工程、ドープをベルト状もしくはドラム状の金属支持体上 に流延する工程、流延したドープをウェブとして乾燥する工程、金属支持体から剥離 する工程、延伸または幅保持する工程、さらに乾燥する工程、仕上がったフィルムを 卷取る工程により行われる。 [0195] The cellulose ester film is produced by dissolving a cellulose ester and an additive in a solvent to prepare a dope, casting a dope on a belt-shaped or drum-shaped metal support, casting a dope. The process of drying as a web, peeling from the metal support It is carried out by the following steps: stretching, maintaining the width, further drying, and scraping the finished film.
[0196] ドープを調製する工程について述べる。ドープ中のセルロースエステルの濃度は、 濃度が高い方が金属支持体に流延した後の乾燥負荷が低減できて好ましいが、セ ルロースエステルの濃度が高過ぎると濾過時の負荷が増えて、濾過精度が悪くなる。 これらを両立する濃度としては、 10〜35質量%が好ましぐさらに好ましくは、 15〜2 5質量%である。  [0196] The step of preparing the dope will be described. The concentration of cellulose ester in the dope is preferably higher because the drying load after casting on a metal support can be reduced. However, if the concentration of cellulose ester is too high, the load during filtration increases and the filtration is performed. The accuracy becomes worse. The concentration that achieves both of these is preferably 10 to 35% by mass, more preferably 15 to 25% by mass.
[0197] ドープで用いられる溶剤は、単独で用いても 2種以上を併用してもよいが、セルロー スエステルの良溶剤と貧溶剤を混合して使用することが生産効率の点で好ましぐ良 溶剤が多!、方がセルロースエステルの溶解性の点で好ま ヽ。良溶剤と貧溶剤の混 合比率の好ましい範囲は、良溶剤が 70〜98質量%であり、貧溶剤が 2〜30質量% である。良溶剤、貧溶剤とは、使用するセルロースエステルを単独で溶解するものを 良溶剤、単独で膨潤する力または溶解しないものを貧溶剤と定義している。そのため 、セルロースエステルのァシル基置換度によっては、良溶剤、貧溶剤が変わり、例え ばアセトンを溶剤として用いる時には、セルロースエステルの酢酸エステル(ァセチル 基置換度 2. 4)、セルロースアセテートプロピオネートでは良溶剤になり、セルロース の酢酸エステル (ァセチル基置換度 2. 8)では貧溶剤となる。  [0197] Solvents used in the dope may be used singly or in combination of two or more. However, it is preferable from the viewpoint of production efficiency to use a mixture of good and poor cellulose ester solvents. Good Solvents are preferred! The preferred is the solubility of cellulose ester. The preferable range of the mixing ratio of the good solvent and the poor solvent is 70 to 98% by mass for the good solvent and 2 to 30% by mass for the poor solvent. The good solvent and the poor solvent are defined as a good solvent if the cellulose ester used alone is dissolved, and a poor solvent is a solvent that swells alone or does not dissolve. Therefore, depending on the degree of acyl substitution of the cellulose ester, the good solvent and poor solvent change. For example, when acetone is used as the solvent, the cellulose ester acetate (acetylation degree 2.4), cellulose acetate propionate It becomes a good solvent, and it is a poor solvent for cellulose acetate (acetylene substitution degree 2.8).
[0198] 本発明に用いられる良溶剤は特に限定されないが、メチレンクロライド等の有機ハ ロゲン化合物ゃジォキソラン類、アセトン、酢酸メチル、ァセト酢酸メチル等が挙げら れる。特に好ましくはメチレンクロライドまたは酢酸メチルが挙げられる。  [0198] The good solvent used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include organic halogen compounds such as methylene chloride, dioxolanes, acetone, methyl acetate, and methyl acetate acetate. Particularly preferred is methylene chloride or methyl acetate.
[0199] また、本発明に用いられる貧溶剤は特に限定されないが、例えば、メタノール、エタ ノール、 n—ブタノール、シクロへキサン、シクロへキサノン等が好ましく用いられる。ま た、ドープ中には水が 0. 01〜2質量%含有していることが好ましい。  [0199] The poor solvent used in the present invention is not particularly limited, but for example, methanol, ethanol, n-butanol, cyclohexane, cyclohexanone and the like are preferably used. The dope preferably contains 0.01 to 2% by mass of water.
[0200] 上記記載のドープを調製する時の、セルロースエステルの溶解方法としては、一般 的な方法を用いることができる。加熱と加圧を組み合わせると常圧における沸点以上 に加熱できる。溶剤の常圧での沸点以上でかつ加圧下で溶剤が沸騰しな!、範囲の 温度で加熱しながら攪拌溶解すると、ゲルやママコと呼ばれる塊状未溶解物の発生 を防止するため好ましい。また、セルロースエステルを貧溶剤と混合して湿潤または 膨潤させた後、さらに良溶剤を添加して溶解する方法も好ましく用いられる。 [0200] As a method for dissolving the cellulose ester in preparing the dope described above, a general method can be used. When heating and pressurization are combined, it can be heated above the boiling point at normal pressure. The boiling point of the solvent exceeds the normal pressure and the solvent does not boil under pressure! It is preferable to stir and dissolve while heating at a temperature in the range, in order to prevent the formation of massive undissolved substances called gels and mamaco. Also, the cellulose ester is mixed with a poor solvent to wet or A method in which a good solvent is further added and dissolved after swelling is also preferably used.
[0201] 加圧は窒素ガス等の不活性気体を圧入する方法や、加熱によって溶剤の蒸気圧を 上昇させる方法によって行ってもよい。加熱は外部力 行うことが好ましぐ例えばジ ャケットタイプのものは温度コントロールが容易で好ましい。  [0201] The pressurization may be performed by a method of injecting an inert gas such as nitrogen gas or a method of increasing the vapor pressure of the solvent by heating. Heating is preferably performed by an external force. For example, a jacket type is preferable because temperature control is easy.
[0202] 溶剤を添加しての加熱温度は、高い方がセルロースエステルの溶解性の観点から 好ましいが、加熱温度が高すぎると必要とされる圧力が大きくなり生産性が悪くなる。 好ましい加熱温度は 45〜120°Cであり、 60〜110°C力 Sより好ましく、 70°C〜105°C 力 Sさらに好ましい。また、圧力は設定温度で溶剤が沸騰しないように調整される。  [0202] The heating temperature with the addition of a solvent is preferably higher from the viewpoint of the solubility of the cellulose ester, but if the heating temperature is too high, the required pressure increases and the productivity deteriorates. A preferable heating temperature is 45 to 120 ° C, more preferably 60 to 110 ° C force S, and further preferably 70 to 105 ° C force S. The pressure is adjusted so that the solvent does not boil at the set temperature.
[0203] または冷却溶解法も好ましく用いられ、これによつて酢酸メチル等の溶媒にセル口 ースエステルを溶解させることができる。  [0203] Alternatively, a cooling dissolution method is also preferably used, whereby the cellulose ester can be dissolved in a solvent such as methyl acetate.
[0204] 次に、このセルロースエステル溶液を濾紙等の適当な濾過材を用いて濾過する。  [0204] Next, the cellulose ester solution is filtered using a suitable filter medium such as filter paper.
濾過材としては、不溶物等を除去するために絶対濾過精度が小さ!、方が好ま U、が 、絶対濾過精度が小さすぎると濾過材の目詰まりが発生しやすいという問題がある。 このため絶対濾過精度 0. 008mm以下の濾材が好ましぐ 0. 001〜0. 008mmの 據材カ Sより好ましく、 0. 003〜0. 006mmの據材カさらに好まし!/、。  As a filter medium, the absolute filtration accuracy is low in order to remove insoluble matters and the like is preferable. However, if the absolute filtration accuracy is too small, there is a problem that the filter medium is likely to be clogged. For this reason, a filter medium with an absolute filtration accuracy of 0.008 mm or less is preferable. 0.001 to 0.008 mm of the filter medium S is preferable, 0.003 to 0.006 mm of the filter medium is more preferable!
[0205] 濾材の材質は特に制限はなぐ通常の濾材を使用することができるが、ポリプロピレ ン、テフロン (登録商標)等のプラスチック製の濾材や、ステンレススティール等の金 属製の濾材が繊維の脱落等がなく好ましい。濾過により、原料のセルロースエステル に含まれていた不純物、特に輝点異物を除去、低減することが好ましい。  [0205] The filter medium may be a normal filter medium with no particular restrictions. However, a plastic filter medium such as polypropylene or Teflon (registered trademark), or a metal filter medium such as stainless steel may be used. It is preferable because there is no dropout. It is preferable to remove and reduce impurities, particularly bright spot foreign matter, contained in the raw material cellulose ester by filtration.
[0206] 輝点異物とは、 2枚の偏光板をクロス-コル状態にして配置し、その間にセルロース エステルフィルムを置き、一方の偏光板の側力も光を当てて、他方の偏光板の側から 観察した時に反対側からの光が漏れて見える点(異物)のことであり、径が 0. Olmm 以上である輝点数が 200個 Zcm2以下であることが好ましい。より好ましくは 100個 Z cm2以下であり、さらに好ましくは 50個 Zm2以下であり、さらに好ましくは 0〜 10個 Z cm2以下である。また、 0. Olmm以下の輝点も少ない方が好ましい。 [0206] A bright spot foreign material is a film in which two polarizing plates are placed in a cross-cold state, a cellulose ester film is placed between them, and the side force of one polarizing plate is also exposed to light. and it means a point visible light leaks from the opposite side (foreign matter) when observed from is preferably bright points diameter is the 0. Olmm more is 200 or ZCM 2 below. More preferably 100 Z cm 2 or less, more preferably 50 or Zm 2 or less, more preferably 0 to 10 or Z cm 2 or less. Also, it is preferable that the number of bright spots of 0. Olmm or less is small.
[0207] ドープの濾過は通常の方法で行うことができるが、溶剤の常圧での沸点以上で、か つ加圧下で溶剤が沸騰しな 、範囲の温度で加熱しながら濾過する方法が、濾過前 後の濾圧の差 (差圧という)の上昇が小さぐ好ましい。好ましい温度は 45〜120°Cで あり、 45〜70°Cがより好ましぐ 45〜55°Cであることがさらに好ましい。 [0207] The dope can be filtered by a normal method, but the method of filtering while heating at a temperature within a range where the solvent is not boiling under pressure above the boiling point at normal pressure of the solvent is It is preferable that the difference in filtration pressure before and after filtration (referred to as differential pressure) is small. Preferred temperature is 45 ~ 120 ° C It is more preferable that it is 45-55 degreeC which 45-70 degreeC is more preferable.
[0208] 濾圧は小さい方が好ましい。濾圧は 1. 6MPa以下であることが好ましぐ 1. 2MPa 以下であることがより好ましぐ 1. OMPa以下であることがさらに好ましい。 [0208] A smaller filtration pressure is preferable. The filtration pressure is preferably 1.6 MPa or less. 1. It is more preferably 2 MPa or less. 1. More preferably, it is OMPa or less.
[0209] ここで、ドープの流延について説明する。 [0209] Here, casting of the dope will be described.
[0210] 流延 (キャスト)工程における金属支持体は、表面を鏡面仕上げしたものが好ましく 、金属支持体としては、ステンレススティールベルト若しくは铸物で表面をメツキ仕上 げしたドラムが好ましく用いられる。キャストの幅は l〜4mとすることができる。流延ェ 程の金属支持体の表面温度は 50°C〜溶剤が沸騰して発泡しな 、温度以下に設 定される。温度が高い方がウェブの乾燥速度が速くできるので好ましいが、余り高す ぎるとウェブが発泡したり、平面性が劣化する場合がある。好ましい金属支持体温度 としては 0〜100°Cで適宜決定され、 5〜30°Cがさらに好ましい。または、冷却するこ とによってウェブをゲル化させて残留溶媒を多く含んだ状態でドラム力 剥離すること も好まし 、方法である。金属支持体の温度を制御する方法は特に制限されな 、が、 温風または冷風を吹きかける方法や、温水を金属支持体の裏側に接触させる方法が ある。温水を用いる方が熱の伝達が効率的に行われるため、金属支持体の温度が一 定になるまでの時間が短く好ましい。温風を用いる場合は溶媒の蒸発潜熱によるゥェ ブの温度低下を考慮して、溶媒の沸点以上の温風を使用しつつ、発泡も防ぎながら 目的の温度よりも高い温度の風を使う場合がある。特に、流延から剥離するまでの間 で金属支持体の温度及び乾燥風の温度を変更し、効率的に乾燥を行うことが好まし い。  [0210] The metal support in the casting process is preferably a mirror-finished surface. As the metal support, a stainless steel belt or a drum whose surface is finished with a porcelain is preferably used. The cast width can be l ~ 4m. The surface temperature of the metal support in the casting process is set to 50 ° C to below the temperature at which the solvent does not boil and foam. A higher temperature is preferable because the web can be dried faster, but if it is too high, the web may foam or flatness may deteriorate. A preferable metal support temperature is appropriately determined at 0 to 100 ° C, and more preferably 5 to 30 ° C. Alternatively, it is also preferable to make the web gel by cooling and peel the drum force in a state containing a large amount of residual solvent. The method for controlling the temperature of the metal support is not particularly limited, but there are a method in which hot air or cold air is blown or a method in which hot water is brought into contact with the back side of the metal support. It is preferable to use hot water because heat transfer is performed efficiently, so that the time until the temperature of the metal support becomes constant is short. When using hot air, considering the temperature drop of the web due to the latent heat of vaporization of the solvent, use hot air that is higher than the target temperature while using hot air above the boiling point of the solvent and preventing foaming. There is. In particular, it is preferable to efficiently dry by changing the temperature of the metal support and the temperature of the drying air during the period from casting to peeling.
[0211] セルロースエステルフィルムが良好な平面性を示すためには、金属支持体からゥェ ブを剥離する際の残留溶媒量は 10〜 150質量%が好ましく、さらに好ましくは 20〜 40質量%または 60〜 130質量%であり、特に好ましくは、 20〜30質量%または 70 〜120質量%でぁる。  [0211] In order for the cellulose ester film to exhibit good planarity, the amount of residual solvent when peeling the web from the metal support is preferably 10 to 150% by mass, more preferably 20 to 40% by mass or 60 to 130% by mass, particularly preferably 20 to 30% by mass or 70 to 120% by mass.
[0212] 本発明においては、残留溶媒量は下記式で定義される。  [0212] In the present invention, the amount of residual solvent is defined by the following formula.
[0213] 残留溶媒量 (質量%) = { (M-N) /N} X 100  [0213] Residual solvent amount (mass%) = {(M-N) / N} X 100
なお、 Mはゥヱブまたはフィルムを製造中または製造後の任意の時点で採取した試 料の質量で、 Nは Mを 115°Cで 1時間の加熱後の質量である。 [0214] また、セルロースエステルフィルムの乾燥工程においては、ウェブを金属支持体より 剥離し、さらに乾燥し、残留溶媒量を 1質量%以下にすることが好ましぐさらに好まし くは 0. 1質量%以下であり、特に好ましくは 0〜0. 01質量%以下である。 M is the mass of the sample collected during or after the production of the tube or film, and N is the mass after heating M at 115 ° C for 1 hour. [0214] Further, in the drying step of the cellulose ester film, it is preferable and more preferable that the web is peeled off from the metal support and further dried to make the residual solvent amount 1% by mass or less. The content is not more than mass%, particularly preferably 0 to 0.01 mass%.
[0215] フィルム乾燥工程では一般にロール乾燥方式(上下に配置した多数のロールをゥェ ブを交互に通し乾燥させる方式)やテンター方式でウェブを搬送させながら乾燥する 方式が採られる。  [0215] In the film drying process, generally, a roll drying method (a method in which a plurality of rolls arranged above and below are alternately passed through a web to dry) or a tenter method is used while drying a web.
[0216] 本発明の反射防止フィルム用のセルロースエステルフィルムを作製するためには、 金属支持体より剥離した直後のウェブの残留溶剤量の多いところで搬送方向に延伸 し、さらにウェブの両端をクリップ等で把持するテンター方式で幅方向に延伸を行うこ とが特に好ましい。縦方向、横方向ともに好ましい延伸倍率は 1. 05〜: L 3倍であり 、 1. 05〜: L 15倍がさらに好ましい。縦方向及び横方向延伸により面積が 1. 12〜1 . 44倍となっていることが好ましぐ 1. 15-1. 32倍となっていることが好ましい。これ は縦方向の延伸倍率 X横方向の延伸倍率で求めることができる。縦方向と横方向の 延伸倍率の ヽずれかが 1. 05倍未満では活性エネルギー線硬化榭脂層を形成する 際の紫外線照射による平面性の劣化が大きく好ましくない。また、延伸倍率が 1. 3倍 を超えても平面性が劣化し、ヘイズも増加するため好ましくな 、。  [0216] In order to produce a cellulose ester film for an antireflective film of the present invention, the web is stretched in the conveying direction immediately after peeling from the metal support where the residual solvent amount is large, and both ends of the web are clipped or the like. It is particularly preferable to perform stretching in the width direction by a tenter method of gripping with. The preferred draw ratio in both the machine direction and the transverse direction is 1.05 to L 3 times, and 1.05 to L 15 times is more preferred. It is preferable that the area is 1.12-1.44 times due to longitudinal and transverse stretching. 1.15-1.32 times is preferable. This can be determined by the draw ratio in the machine direction X and the draw ratio in the transverse direction. If the difference between the draw ratios in the machine direction and the transverse direction is less than 1.05, flatness deterioration due to ultraviolet irradiation when forming the active energy ray-cured resin layer is unfavorable. Further, even if the draw ratio exceeds 1.3 times, the flatness deteriorates and haze increases, which is preferable.
[0217] 剥離直後に縦方向に延伸するために、剥離張力及びその後の搬送張力によって 延伸することが好ましい。例えば剥離張力を 210NZm以上で剥離することが好まし ぐ特に好ましくは 220〜300NZmである。  [0217] In order to stretch in the machine direction immediately after peeling, it is preferable to stretch by peeling tension and subsequent transport tension. For example, it is preferable to peel at a peeling tension of 210 NZm or more, and particularly preferably 220 to 300 NZm.
[0218] ウェブを乾燥させる手段は特に制限なぐ一般的に熱風、赤外線、加熱ロール、マ イク口波等で行うことができる力 簡便さの点で熱風で行うことが好ましい。  [0218] The means for drying the web is not particularly limited. In general, it can be carried out with hot air, infrared rays, heated rolls, microphone mouth waves, etc. It is preferably carried out with hot air in terms of simplicity.
[0219] ウェブの乾燥工程における乾燥温度は 30〜150°Cで段階的に高くしていくことが 好ましぐ 50〜140°Cの範囲で行うことが寸法安定性をよくするためさらに好ましい。  [0219] The drying temperature in the web drying step is preferably 30 to 150 ° C, and is preferably increased stepwise. More preferably, the drying is performed in the range of 50 to 140 ° C in order to improve dimensional stability.
[0220] セルロースエステルフィルムの膜厚は、特に限定はされないが 10〜200 μ mが好 ましく用いられる。特に 10〜70 mの薄膜フィルムでは平面性と硬度に優れた反射 防止フィルムを得ることが困難であった力 本発明によれば、平面性と硬度に優れた 薄膜の反射防止フィルムが得られ、また生産性にも優れているため、セルロースエス テルフィルムの膜厚は 10〜 70 μ mであることが特に好ましい。さらに好ましくは 20〜 60 mである。最も好ましくは 35〜60 /ζ πιである。また、共流延法によって多層構成 としたセルロースエステルフィルムも好ましく用いることができる。セルロースエステル が多層構成の場合でも紫外線吸収剤と可塑剤を含有する層を有しており、それがコ ァ層、スキン層、もしくはその両方であってもよい。 [0220] The thickness of the cellulose ester film is not particularly limited, but is preferably 10 to 200 µm. In particular, it was difficult to obtain an antireflection film excellent in flatness and hardness with a thin film of 10 to 70 m. According to the present invention, a thin antireflection film excellent in flatness and hardness was obtained. Moreover, since it is excellent also in productivity, it is especially preferable that the film thickness of a cellulose ester film is 10-70 micrometers. More preferably 20 ~ 60 m. Most preferably, it is 35-60 / ζ πι. A cellulose ester film having a multilayer structure by a co-casting method can also be preferably used. Even when the cellulose ester has a multilayer structure, it has a layer containing an ultraviolet absorber and a plasticizer, and it may be a core layer, a skin layer, or both.
[0221] 本発明の反射防止フィルムは、幅 1. 4〜5mのものが好ましく用いられる。また、セ ルロースエステルフィルム (透明支持体)の表面、特に低屈折率層を設ける側の表面 の算術平均粗さ(Ra)は 50〜: LOOOnm未満、好ましくは 80〜600nmのものを用いる ことが好ましい。 Raが 50nm未満では防眩性の効果が弱ぐ lOOOnmを超えると目視 で粗すぎる印象を受ける。算術平均粗さ (Ra)は、前記ハードコート層と同様に光干 渉式の表面粗さ測定器で測定することが好ましぐ例えば光学干渉式表面粗さ計 RS T/PLUS (WYKO社製)を用いて測定することができる。  [0221] The antireflection film of the present invention preferably has a width of 1.4 to 5 m. The surface of the cellulose ester film (transparent support), particularly the surface on which the low refractive index layer is provided, should have an arithmetic average roughness (Ra) of 50 to less than LOOOnm, preferably 80 to 600 nm. preferable. If Ra is less than 50nm, the anti-glare effect is weak. If it exceeds lOOOnm, the impression is too rough. Arithmetic mean roughness (Ra) is preferably measured with an optical interference type surface roughness measuring instrument as in the case of the hard coat layer. For example, an optical interference type surface roughness meter RS T / PLUS (manufactured by WYKO) ).
[0222] 透明支持体の表面に算術平均粗さ (Ra)が 50〜: LOOOnm未満の凹凸形状を形成 する方法については、前記防眩性の項で説明した。透明支持体の表面に凹凸形状 を形成する方法として好ましく用いられる型押し方法について以下に説明する。  [0222] The method for forming an irregular shape having an arithmetic average roughness (Ra) of 50 to less than LOOOnm on the surface of the transparent support has been described in the section of antiglare property. An embossing method that is preferably used as a method for forming an uneven shape on the surface of the transparent support will be described below.
[0223] 最初に、透明支持体の製膜工程で、フィルム面に铸型として凹凸型ローラを押し当 てて表面または裏面に凹凸を形成する方法について図により説明する。図は一例を 示しており、本発明はこれらに限定されるものではない。  [0223] First, in the film forming process of the transparent support, a method of forming irregularities on the front or back surface by pressing the concave-convex roller as a saddle on the film surface will be described with reference to the drawings. The figure shows an example, and the present invention is not limited to these.
[0224] 铸型としては表面に凹凸を設けた凹凸型ローラが挙げられるが、板状、フィルム状、 ベルト状の铸型でもよい。  [0224] Examples of the saddle type include a concave-convex roller having irregularities on the surface, but a plate-like, film-like, or belt-like saddle type may also be used.
[0225] 図 1は、凹凸型ローラを用いた凹凸面形成装置の概略図である。予め調液された 榭脂溶液をダイス 1より流延用ベルト 2上に流延し、ウェブ (金属支持体上にドープを 流延した以降の残留溶媒を含むフィルムをウェブと言う)を形成し、剥離後、凹凸面 形成用凹凸型ローラ 3及びそれと対向したバックロール 4によりウェブ上に凹凸面を 形成する。次いで、同様にしてウェブの反対側の面に凹凸形状を有する凹凸面形成 用凹凸型ローラ とバックロール 4によりウェブ裏面上に凹凸面を形成し、その後テ ンター 5によりウェブは延伸され、次のフィルム乾燥装置 6により乾燥され、巻き取り口 ール 7により巻き取られる。  [0225] FIG. 1 is a schematic view of an uneven surface forming apparatus using an uneven roller. A resin solution prepared in advance is cast from a die 1 onto a casting belt 2 to form a web (a film containing a residual solvent after casting a dope on a metal support is called a web). After the peeling, the concavo-convex surface is formed on the web by the concavo-convex roller 3 for forming the concavo-convex surface and the back roll 4 facing it. Next, in the same manner, a concave / convex surface forming roller having a concave / convex surface having a concave / convex shape on the opposite surface of the web and a back roll 4 are used to form a concave / convex surface on the back surface of the web. The film is dried by a film drying device 6 and wound by a winding roll 7.
[0226] また、凹凸面形成は、図 1のテンター 5の後でも、図 1の乾燥装置 6内でも、さらには 乾燥が終了した後で行ってもよぐ図では表面側、裏面側に一対の凹凸型ローラとバ ックロールを配して凹凸形成を行つているが、複数の凹凸型ローラとバックロールを 用いて行ってもよい。 [0226] Further, the uneven surface can be formed either after the tenter 5 in FIG. 1 or in the drying device 6 in FIG. In the figure, which can be performed after the drying is finished, a pair of concavo-convex rollers and a back roll are arranged on the front side and the back side to form the concavo-convex shape. You may go.
[0227] 図 2に乾燥装置内における凹凸面形成装置の概略図を示す。この場合は残留溶 媒量は、図 1の場合に比べ大幅に低下するが、乾燥装置による加熱条件を制御する ことにより透明支持体表面の温度を所望の温度に設定できるため、精度よく凹凸形 成ができる利点がある。  FIG. 2 shows a schematic diagram of the uneven surface forming apparatus in the drying apparatus. In this case, the amount of residual solvent is significantly lower than in the case of Fig. 1, but the temperature of the transparent support surface can be set to a desired temperature by controlling the heating conditions with the drying device, so that the uneven shape can be accurately formed. There is an advantage that can be achieved.
[0228] フィルムを室温に戻した後、別ラインで凹凸型ローラを用いた凹凸面形成装置を使 用することもできるが、この場合は残留溶媒や温度が低いと凹凸面形成の安定性に 欠ける。また、凹凸型ローラによる凹凸加工前にゴミゃ異物の付着する危険性があり 、図 1、 2で示したようにフィルム製膜工程の中で行うことが、故障が減るため好ましい だけでなく凹凸も形成しやすく好ましい。  [0228] After returning the film to room temperature, it is also possible to use an uneven surface forming apparatus using an uneven roller on another line, but in this case, if the residual solvent or temperature is low, the uneven surface forming stability is improved. Lack. In addition, there is a risk of foreign matter adhering to the ruggedness before the concavo-convex processing by the concavo-convex roller, and as shown in FIGS. Is also easy to form.
[0229] 凹凸面形成に用いられる凹凸型ローラとしては、凹凸が細かいもの、粗いものまで 、適宜選択して適用でき、模様、マット状、レンチキュラーレンズ状、球面の一部から なる凹部または凸部、プリズム状の凹凸を形成するためのエンボスが規則正しくもしく はランダムに配列されたものが使用できる。例えば、凸部または凹部の直径が 5〜: LO O ^ m,高さが 0. 1〜2 mの球の一部力 なる凹部または凸部等が挙げられるが、 これらは大きな凹凸と小さな凹凸を組み合わせてもよい。  [0229] The concave-convex type roller used for forming the concave-convex surface can be selected and applied to those with fine irregularities and rough ones, and is a pattern, matte shape, lenticular lens shape, concave portion or convex portion consisting of a part of a spherical surface. In addition, it is possible to use a material in which embosses for forming prism-like irregularities are regularly or randomly arranged. For example, the diameter of the convex part or the concave part is 5 to: LO O ^ m, and the concave part or convex part is a partial force of a sphere having a height of 0.1 to 2 m. May be combined.
[0230] 凹凸型ローラ及びバックロールの材質は、金属、ステンレス、炭素鋼、アルミニウム 合金、チタン合金、セラミック、硬質ゴム、強化プラスチックまたはこれらを組み合わせ た素材等が使用できるが、強度の点や加工のし易さの点力 凹凸型ローラは金属が 好ましい。特に洗浄のし易さ、耐久性も重要であり、ステンレス製の凹凸型ローラを使 用することが好ましい。特に好ましくは、視認側用は金属材料、セラミック材料で表面 凹凸形状を形成し、裏面側用はゴム材料で表面凹凸形状を形成することである。材 質が異なる凹凸型ローラを用いることで、凹凸形状(山、谷、稜線等の形状)が微妙 に異なる凹凸が形成でき、ギラツキを効果的に防止することができる。  [0230] The material of the concavo-convex roller and the back roll may be metal, stainless steel, carbon steel, aluminum alloy, titanium alloy, ceramic, hard rubber, reinforced plastic, or a combination of these, but the strength and processing Point of ease of handling The concave-convex roller is preferably a metal. In particular, ease of cleaning and durability are also important, and it is preferable to use a stainless uneven roller. Particularly preferably, the surface-side uneven shape is formed of a metal material or a ceramic material for the viewing side, and the surface uneven-shape is formed of a rubber material for the back side. By using concavo-convex rollers of different materials, concavo-convex shapes with slightly different concavo-convex shapes (shapes of peaks, valleys, ridge lines, etc.) can be formed, and glare can be effectively prevented.
[0231] また、表面に撥水もしくは撥水加工を施してもよい。凹凸型ローラに所望の凹凸面 を形成する方法としてはエッチングによる方法、サンドブラストによる方法、機械的に 加工する方法または金型等を使用して形成することができる。ノ ックロールとしては 硬質ゴムまたは金属が好ましく用いられる。 [0231] Further, the surface may be subjected to water repellency or water repellency. As a method of forming a desired concavo-convex surface on the concavo-convex roller, etching, sand blasting, mechanically It can be formed using a processing method or a mold. As the knock roll, hard rubber or metal is preferably used.
[0232] 凹凸型ローラの表面温度 T1は、用いる榭脂の熱変形温度 T2に対して T2+ 10°C 〜T2 + 55°C、好ましくは丁2 + 30で〜丁2 + 50でとでぁることが好ましぃ。なお、熱 変形温度 T2とは、 ASTMD— 648に従って測定した値である。  [0232] The surface temperature T1 of the concavo-convex roller is T2 + 10 ° C to T2 + 55 ° C with respect to the thermal deformation temperature T2 of the resin used, preferably 2 +30 to 2 + 50 I like it. The heat distortion temperature T2 is a value measured according to ASTM D-648.
[0233] 凹凸型ローラの表面温度 T1が熱変形温度 T2より低いと微細な凹凸形状が形成し にくくなる。表面温度 T1が熱変形温度 T2よりも 55°Cを超えると得られるフィルムの平 面性が劣化しやすくなる。凹凸型ローラの表面温度 T1は、凹凸型ローラ自身の温度 、雰囲気温度、凹凸を形成するフィルム温度、フィルムの残留溶媒量、凹凸形成速度 を設定することで制御することができる。凹凸型ローラ自身の温度は凹凸型ローラ内 に温度制御された気体もしくは液体の媒体を循環させることで制御することができる。 例えば、 40〜300°C、好ましくは、 50〜250°Cの範囲で榭脂の種類や形成する凹凸 形状に応じて選択される。その時、フィルム中の残留溶媒が発泡しないようにすること が好ましぐ凹凸型ローラの表面が例えば残留溶媒の沸点以上の温度であっても、 凹凸を形成する速度が速ければ発泡を防ぐことができる。例えば lOmZmin以上の 速度で凹凸を形成することができる。  [0233] When the surface temperature T1 of the concavo-convex roller is lower than the thermal deformation temperature T2, it becomes difficult to form a fine concavo-convex shape. If the surface temperature T1 exceeds 55 ° C than the heat distortion temperature T2, the flatness of the resulting film tends to deteriorate. The surface temperature T1 of the concavo-convex roller can be controlled by setting the temperature of the concavo-convex roller itself, the ambient temperature, the film temperature for forming the concavo-convex, the amount of residual solvent in the film, and the concavo-convex formation speed. The temperature of the concavo-convex roller itself can be controlled by circulating a temperature-controlled gas or liquid medium in the concavo-convex roller. For example, it is selected in accordance with the type of resin and the uneven shape to be formed in the range of 40 to 300 ° C, preferably 50 to 250 ° C. At that time, it is preferable to prevent the residual solvent in the film from foaming. Even if the surface of the concavo-convex roller is at a temperature equal to or higher than the boiling point of the residual solvent, foaming can be prevented if the concavo-convex formation speed is high. it can. For example, irregularities can be formed at a speed of lOmZmin or more.
[0234] ノ ックロールの温度も同様に制御することが好ましぐ凹凸型ローラと同等力低い温 度に設定することが好まし 、。  [0234] It is preferable to set the temperature of the knock roll to a temperature lower than that of the concave-convex roller, which is preferably controlled in the same manner.
[0235] 凹凸を形成する際のロール圧力は、線圧で 5〜500NZcm、さらに好ましくは 30〜 500NZcmから熱可塑性榭脂の種類、形成する凹凸の形状、温度等を考慮して適 宜決定される。  [0235] The roll pressure at the time of forming the unevenness is appropriately determined from a linear pressure of 5 to 500 NZcm, more preferably from 30 to 500 NZcm in consideration of the type of thermoplastic resin, the shape of the unevenness to be formed, temperature, etc. The
[0236] セルロースエステルフィルムの幅が広くなると紫外線硬化の際の照射光の照度ムラ が無視できなくなり、平面性が劣化するばかりか、硬度のムラも生じ、この上に反射防 止層を形成した場合に反射ムラが顕著になるという問題があった。本発明の反射防 止フィルムは少な 、照射量で十分な硬度が得られるため、照射光の幅手方向に照射 量のムラがあっても幅手方向の硬度ムラが生じにくぐ平面性にも優れた反射防止フ イルムが得られるため、広幅のセルロースエステルフィルムで著し!/、効果が認められ る。特に幅 1. 4〜4mのものが好ましく用いられ、特に好ましくは 1. 4〜3mである。 4 mを超えると搬送が困難となる。 [0236] When the width of the cellulose ester film becomes wider, the illuminance unevenness of the irradiated light during UV curing cannot be ignored, not only the flatness is deteriorated, but also the hardness is uneven, and an antireflection layer is formed thereon. In this case, there is a problem that the uneven reflection becomes remarkable. Since the antireflection film of the present invention has a small amount and sufficient hardness can be obtained with the irradiation amount, even if there is unevenness of the irradiation amount in the width direction of the irradiated light, the unevenness of the hardness in the width direction is less likely to occur. Since an excellent antireflection film is obtained, a wide cellulose ester film is markedly effective! In particular, a width of 1.4 to 4 m is preferably used, and particularly preferably 1.4 to 3 m. Four If it exceeds m, conveyance becomes difficult.
[0237] (反射防止層) [0237] (Antireflection layer)
本発明では低屈折率層等の反射防止層を設ける方法は特に限定されないが、塗 布により形成することが好ましい。  In the present invention, the method of providing an antireflection layer such as a low refractive index layer is not particularly limited, but it is preferably formed by coating.
[0238] 本発明においては、ハードコート層を付与したセルロースエステルフィルムの上に、 前記した低屈折率層組成物を用いて、その他の機能層を順次コーティングする工程 により反射防止層を製造することが好ましい。 [0238] In the present invention, an antireflection layer is produced by sequentially coating other functional layers on the cellulose ester film provided with a hard coat layer, using the above-described low refractive index layer composition. Is preferred.
[0239] 好ましい反射防止フィルムの構成を下記に示すが、これらに限定されるものではな い。 [0239] Preferred configurations of the antireflection film are shown below, but are not limited thereto.
[0240] ここでノ、ードコート層とは、前述の活性エネルギー線硬化榭脂層を意味する。  Here, the no-coat layer means the above-mentioned active energy ray-cured resin layer.
[0241] 透明支持体 Zハードコート層 Z低屈折率層 [0241] Transparent support Z hard coat layer Z low refractive index layer
透明支持体 Zハードコート層 Z高屈折率層 Z低屈折率層  Transparent support Z Hard coat layer Z High refractive index layer Z Low refractive index layer
透明支持体 Z帯電防止層 Zハードコート層 Z高屈折率層 Z低屈折率層 透明支持体 Z防眩性ハードコート層 Z高屈折率層 Z低屈折率層  Transparent support Z Antistatic layer Z Hard coat layer Z High refractive index layer Z Low refractive index layer Transparent support Z Antiglare hard coat layer Z High refractive index layer Z Low refractive index layer
透明支持体 Z帯電防止層 Z防眩性ハードコート層 Z高屈折率層 Z低屈折率層 反射防止フィルムの最表面の算術平均粗さ(Ra)は 40〜500nm未満、好ましくは 60〜300nmの防眩性とすることが好ましい。  Transparent support Z Antistatic layer Z Antiglare hard coat layer Z High refractive index layer Z Low refractive index layer The arithmetic average roughness (Ra) of the outermost surface of the antireflection film is 40 to less than 500 nm, preferably 60 to 300 nm. It is preferable to make it anti-glare.
[0242] 反射防止フィルムの最表面にこのような凹凸を形成する方法としては、前述のように 反射防止層を塗布した後での反射防止フィルムへの凹凸加工の方法もあるが、凹凸 形状の凸部が反射防止層を突き破ったり、反射防止層を変形させて反射防止効果 を損なうことがあるため、本発明では透明支持体への加工、ハードコート層への加工 が好ましい。透明支持体への加工、ハードコート層への加工により、反射防止フィル ムの最表面にも凹凸が形成される。  [0242] As a method of forming such unevenness on the outermost surface of the antireflection film, there is a method of forming unevenness on the antireflection film after applying the antireflection layer as described above. Since the convex portion may break through the antireflection layer or deform the antireflection layer to impair the antireflection effect, in the present invention, processing to a transparent support and processing to a hard coat layer are preferred. Unevenness is also formed on the outermost surface of the antireflection film by processing to a transparent support and processing to a hard coat layer.
[0243] 反射防止フィルムの最表面の算術平均粗さ (Ra)は、前記ハードコート層と同様に、 例えば光学干渉式表面粗さ計 RSTZPLUS (WYKO社製)を用いて測定すること ができる。  [0243] The arithmetic average roughness (Ra) of the outermost surface of the antireflection film can be measured using, for example, an optical interference type surface roughness meter RSTZPLUS (manufactured by WYKO) in the same manner as the hard coat layer.
[0244] いずれも透明支持体の低屈折率層を塗設した側と反対面には、前述のバックコート 層を設けることが好ましい。 [0245] 本発明は、上記ハードコート層を形成した後、ハードコート層の表面を表面処理行 い、該表面処理を行ったハードコート層表面に本発明に係る低屈折率層を形成する ことが好ましい。 [0244] In any case, the back coat layer described above is preferably provided on the surface of the transparent support opposite to the side on which the low refractive index layer is applied. [0245] In the present invention, after the hard coat layer is formed, the surface of the hard coat layer is subjected to a surface treatment, and the low refractive index layer according to the present invention is formed on the surface of the hard coat layer subjected to the surface treatment. Is preferred.
[0246] 本発明に係わる反射防止フィルムの反射率は分光光度計により測定を行うことがで きる。その際、サンプルの測定側の裏面を粗面化処理した後、黒色のスプレーを用 V、て光吸収処理を行ってから、可視光領域 (400〜700nm)の反射光を測定する。 反射率は低いほど好ましいが、可視光領域の波長における平均値が 1. 5%以下で あることが好ましぐ最低反射率は 0. 8%以下であることが好ましい。また、可視光の 波長領域にぉ ヽて平坦な形状の反射スペクトルを有することが好まし ヽ。  [0246] The reflectance of the antireflection film according to the present invention can be measured with a spectrophotometer. At that time, after roughening the back side of the measurement side of the sample, use a black spray to perform light absorption treatment, and then measure the reflected light in the visible light region (400 to 700 nm). The lower the reflectance, the better. However, the average reflectance at wavelengths in the visible light region is preferably 1.5% or less, and the minimum reflectance is preferably 0.8% or less. Further, it is preferable that the reflection spectrum has a flat shape over the wavelength range of visible light.
[0247] また、反射防止処理を施した偏光板表面の反射色相は、反射防止膜の設計上可 視光領域において短波長域や長波長域の反射率が高くなることから赤や青に色づく ことが多いが、反射光の色味は用途によって要望が異なり、 FPDテレビ等の最表面 に使用する場合には-ユートラルな色調が要望される。この場合、一般に好まれる反 射色相範囲は、 XYZ表色系(CIE1931表色系)上で 0. 17≤x≤0. 27、 0. 07≤y ≤0. 17である。  [0247] The reflection hue on the surface of the polarizing plate subjected to the antireflection treatment is colored red or blue because the reflectance in the short wavelength region and the long wavelength region is high in the visible light region due to the design of the antireflection film. In many cases, however, the color of the reflected light varies depending on the application, and when used on the outermost surface of an FPD TV or the like, a neutral color tone is required. In this case, the generally preferred reflection hue range is 0.17≤x≤0.27 and 0.007≤y≤0.17 on the XYZ color system (CIE1931 color system).
[0248] 低屈折率層の膜厚は、層の屈折率より反射率、反射光の色味を考慮して常法に従 つて計算で求められる。  [0248] The film thickness of the low refractive index layer is obtained by calculation according to a conventional method in consideration of the reflectance and the color of reflected light based on the refractive index of the layer.
[0249] ハードコート層の表面処理は、洗浄法、アルカリ処理法、フレームプラズマ処理法、 高周波放電プラズマ法、電子ビーム法、イオンビーム法、スパッタリング法、酸処理、 コロナ処理法、大気圧プラズマ法等が挙げられ、好ましくはアルカリ処理法、コロナ処 理法、大気圧プラズマ法であり、特に好ましくは大気圧プラズマ法が有効である。  [0249] The surface treatment of the hard coat layer is performed by a cleaning method, an alkali treatment method, a flame plasma treatment method, a high-frequency discharge plasma method, an electron beam method, an ion beam method, a sputtering method, an acid treatment, a corona treatment method, or an atmospheric pressure plasma method. The alkali treatment method, the corona treatment method, and the atmospheric pressure plasma method are preferable, and the atmospheric pressure plasma method is particularly preferable.
[0250] (コロナ処理法)  [0250] (Corona treatment method)
コロナ処理とは、大気圧下、電極間に lkV以上の高電圧を印加し、放電することで 行う処理のことであり、春日電機 (株)や (株)トーョー電機等で市販されて 、る装置を 用いて行うことができる。コロナ放電処理の強度は、電極間距離、単位面積当たりの 出力、ジェネレーターの周波数に依存する。コロナ処理装置の一方の電極 (A電極) は、巿販のものを用いることができる力 材質はアルミニウム、ステンレス等力も選択 ができる。もう一方はプラスチックフィルムを抱かせるための電極(B電極)であり、コロ ナ処理が、安定かつ均一に実施されるように、前記 A電極に対して一定の距離に設 置されるロール電極である。これも通常巿販されているものを用いることができ、材質 は、アルミニウム、ステンレス、及びそれらの金属でできたロールに、セラミック、シリコ ーン、 EPTゴム、ハイバロンゴム等がライニングされているロールが好ましく用いられ る。本発明に用いられるコロナ処理に用いる周波数は、 20〜: LOOkHzの周波数であ り、 30〜60kHzの周波数が好ましい。周波数が低下するとコロナ処理の均一性が劣 化し、コロナ処理のムラが発生する。また、周波数が大きくなると、高出力のコロナ処 理を行う場合には、特に問題ないが、低出力のコロナ処理を実施する場合には、安 定した処理を行うことが難しくなり、結果として、処理ムラが発生する。コロナ処理の出 力は、 l〜5wmin. Zm2である力 2〜4wmin. Zm2の出力が好ましい。電極とフ イルムとの距離は、 5〜50mmである力 好ましくは、 10〜35mmである。間隙が開い てくると、一定の出力を維持するためにより高電圧が必要になり、ムラが発生し易くな る。また、間隙が狭くなりすぎると、印加する電圧が低くなりすぎ、ムラが発生し易くな る。さらにまた、フィルムを搬送して連続処理する際に電極にフィルムが接触し傷が発 生する。 Corona treatment is a treatment performed by applying a high voltage of lkV or higher between electrodes at atmospheric pressure and discharging it, and it is commercially available from Kasuga Electric Co., Ltd. and Toyo Electric Co., Ltd. This can be done using a device. The intensity of the corona discharge treatment depends on the distance between the electrodes, the output per unit area, and the generator frequency. One electrode (A electrode) of the corona treatment device can be a commercially available force Material such as aluminum or stainless steel can be selected. The other is an electrode (B electrode) for holding a plastic film. The roll electrode is disposed at a certain distance from the A electrode so that the na treatment is performed stably and uniformly. The ones that are usually sold on the market can also be used, and the material is a roll made of aluminum, stainless steel, or a metal thereof, and a roll that is lined with ceramic, silicone, EPT rubber, high ballon rubber, or the like. Preferably used. The frequency used for the corona treatment used in the present invention is a frequency of 20 to: LOO kHz, and preferably a frequency of 30 to 60 kHz. When the frequency is lowered, the uniformity of the corona treatment is deteriorated and unevenness of the corona treatment occurs. In addition, when the frequency is increased, there is no particular problem when performing high-power corona processing, but when performing low-power corona processing, it becomes difficult to perform stable processing. Processing unevenness occurs. Output of corona treatment, l~5wmin. Zm 2 a is force 2~4Wmin. Output Zm 2 is preferred. The distance between the electrode and the film is a force of 5 to 50 mm, preferably 10 to 35 mm. When the gap opens, a higher voltage is required to maintain a constant output, and unevenness is likely to occur. If the gap is too narrow, the applied voltage becomes too low and unevenness is likely to occur. Furthermore, when the film is conveyed and continuously processed, the film comes into contact with the electrodes and scratches are generated.
[0251] (アルカリ処理法)  [0251] (Alkaline treatment method)
アルカリ処理法としては、ハードコート層を塗設したフィルムをアルカリ水溶液に浸 す方法であれば特に限定されな!、。  The alkali treatment method is not particularly limited as long as it is a method in which a film coated with a hard coat layer is immersed in an aqueous alkali solution!
[0252] アルカリ水溶液としては、水酸化ナトリウム水溶液、水酸ィ匕カリウム水溶液、アンモニ ァ水溶液等が使用可能であり、中でも水酸ィ匕ナトリウム水溶液が好ましい。  [0252] As the alkaline aqueous solution, an aqueous sodium hydroxide solution, an aqueous potassium hydroxide solution, an aqueous ammonia solution or the like can be used, and among them, an aqueous sodium hydroxide solution is preferable.
[0253] アルカリ水溶液のアルカリ濃度、例えば水酸ィ匕ナトリウム濃度は 0. 1〜25質量%が 好ましく、 0. 5〜15質量0 /0がより好ましい。 [0253] The alkali concentration of the alkali aqueous solution, for example Mizusani匕sodium concentration is preferably 0.1 to 25 mass%, 0.5 to 15 weight 0/0 is more preferable.
[0254] アルカリ処理温度は通常 10〜80°C、好ましく 20〜60°Cである。  [0254] The alkali treatment temperature is usually 10 to 80 ° C, preferably 20 to 60 ° C.
[0255] アルカリ処理時間は 5秒〜 5分、好ましくは 30秒〜 3分である。アルカリ処理後のフ イルムは酸性水で中和した後、十分に水洗 、を行うことが好ま 、。  [0255] The alkali treatment time is 5 seconds to 5 minutes, preferably 30 seconds to 3 minutes. It is preferable to neutralize the alkali-treated film with acid water and then wash it thoroughly with water.
[0256] (大気圧プラズマ法)  [0256] (Atmospheric pressure plasma method)
本発明では、大気圧またはその近傍の圧力下で、対向する電極の間に周波数が 5 OkHz〜 150MHzの高周波電圧を印加して放電を形成し、該放電により形成された 励起ガスを、透明支持体または透明支持体上にハードコート層を有するフィルムの表 面に接触させた後に、反射防止層を塗布により形成することが好ましい。 In the present invention, a discharge is formed by applying a high-frequency voltage having a frequency of 5 OkHz to 150 MHz between opposing electrodes under atmospheric pressure or a pressure near the atmospheric pressure, and the discharge is formed. It is preferable to form the antireflection layer by coating after bringing the excitation gas into contact with the transparent support or the surface of the film having the hard coat layer on the transparent support.
[0257] 前記周波数は 50kHz〜27MHzであることが好まし!/、。 [0257] The frequency is preferably 50 kHz to 27 MHz! /.
[0258] 前記対向する電極は、第 1電極と第 2電極とで構成され、何れか一方の電極に印加 する高周波電圧の周波数が 50kHz〜 150MHzであることが好ましい。また、前記第 1電極に印加する高周波電圧の周波数が l〜200kHzであり、かつ前記第 2電極に 印加する高周波電圧の周波数が 800kHz〜 150MHzであることが好ましい。  [0258] It is preferable that the opposing electrode is composed of a first electrode and a second electrode, and the frequency of the high-frequency voltage applied to any one of the electrodes is 50 kHz to 150 MHz. Moreover, it is preferable that the frequency of the high-frequency voltage applied to the first electrode is 1 to 200 kHz, and the frequency of the high-frequency voltage applied to the second electrode is 800 kHz to 150 MHz.
[0259] 大気圧またはその近傍の圧力下で行うプラズマ放電処理を以下、単に大気圧ブラ ズマ法ともいう。  [0259] Hereinafter, the plasma discharge treatment performed at or near atmospheric pressure is also simply referred to as the atmospheric pressure plasma method.
[0260] 即ち本発明は、透明支持体または透明支持体上にハードコート層を有するフィルム を、大気圧またはその近傍の圧力下、第 1電極と第 2電極とで構成する対向電極間 に、第 1電極には第 1の周波数 ωの電圧成分の高周波電圧を印加し、第 2電極には  [0260] That is, the present invention provides a transparent support or a film having a hard coat layer on the transparent support, between the counter electrodes constituted by the first electrode and the second electrode under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof. A high frequency voltage having a voltage component of the first frequency ω is applied to the first electrode, and the second electrode is applied to the second electrode.
1  1
第 2の周波数 ω  Second frequency ω
2の電圧成分の高周波電圧を印加して放電を形成し、該放電により 形成された励起ガスに該透明支持体の表面を接触させた後、その上に反射防止層 を形成する。  A high frequency voltage having a voltage component of 2 is applied to form a discharge, and the surface of the transparent support is brought into contact with the excitation gas formed by the discharge, and then an antireflection layer is formed thereon.
[0261] 本発明に適用できる大気圧プラズマ法としては、特開平 11— 133205号公報、特 開 2000— 185362号公報、特開平 11— 61406号公報、特開 2000— 147209号 公報、同 2000— 121804号公報等に開示されている技術を参考にすることができる  As the atmospheric pressure plasma method applicable to the present invention, JP-A-11-133205, JP-A-2000-185362, JP-A-11-61406, JP-A-2000-147209, 2000- You can refer to the technology disclosed in 121804
[0262] 本発明に用いられる大気圧プラズマ方法にっ 、て説明する。 [0262] The atmospheric pressure plasma method used in the present invention will be described.
[0263] 最初に、本発明に有用な大気圧プラズマ方法及びその装置について説明する。 [0263] First, an atmospheric pressure plasma method and apparatus useful for the present invention will be described.
[0264] 本発明では、大気圧またはその近傍の圧力下で、放電空間(対向電極間)にガスを 供給し、該放電空間に高周波電圧を印加し、ガスを励起してプラズマ状態とし、この 励起したプラズマ状態のガスに透明支持体または透明支持体上にハードコート層を 有するフィルムの表面を晒すものである。対向電極間で形成する放電空間に印加す る高周波電圧は、一つの周波数の高周波であってもよいし、二つあるいはそれ以上 の周波数の高周波であってもよ 、。 [0264] In the present invention, a gas is supplied to the discharge space (between the counter electrodes) under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof, a high frequency voltage is applied to the discharge space, and the gas is excited into a plasma state. A transparent support or the surface of a film having a hard coat layer on the transparent support is exposed to an excited plasma state gas. The high frequency voltage applied to the discharge space formed between the counter electrodes may be a high frequency of one frequency, or may be a high frequency of two or more frequencies.
[0265] 本発明にお 、て、大気圧プラズマ処理は、大気圧またはその近傍の圧力下で行わ れるが、大気圧またはその近傍の圧力とは 20〜110kPa程度であり、本発明に記載 の良好な効果を得るためには、 93〜104kPaが好ましい。 In the present invention, the atmospheric pressure plasma treatment is performed under atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof. However, the atmospheric pressure or the pressure in the vicinity thereof is about 20 to 110 kPa, and 93 to 104 kPa is preferable in order to obtain the good effects described in the present invention.
[0266] 本発明において、対向電極間 (放電空間)に供給するガスは、少なくとも、高周波電 圧により励起する励起ガス、または、高周波電圧により励起する励起ガスとそのエネ ルギーを受け取ってプラズマ状態あるいは励起状態になるガスとを含んで 、る。本発 明でいう高周波とは、少なくとも 0. 5kHzの周波数を有するものを言う。  [0266] In the present invention, the gas supplied between the counter electrodes (discharge space) is at least an excitation gas excited by a high-frequency voltage, or an excitation gas excited by a high-frequency voltage and its energy to receive a plasma state or Including the gas in an excited state. The high frequency referred to in the present invention means one having a frequency of at least 0.5 kHz.
[0267] 一つの周波数の高周波電圧でプラズマ放電処理する場合(1周波数高周波電圧印 加方式という場合がある)、または二つの周波数の高周波電圧でプラズマ放電処理 する場合(2周波数高周波電圧印加方式と ヽぅ場合がある)の電極は全く同じものが 使用でき、装置自体は大きな違いはない。異なる点は、高周波電源が二つ、それに 付随するフィルターがあること、さらに対向電極の両方の電極力 高周波電圧を印加 することである。  [0267] When plasma discharge treatment is performed with a high frequency voltage of one frequency (sometimes referred to as a one-frequency high-frequency voltage application method), or when plasma discharge treatment is performed with a high-frequency voltage of two frequencies (a two-frequency high-frequency voltage application method) The same electrode can be used, and the device itself is not significantly different. The difference is that there are two high-frequency power supplies and an associated filter, and that the electrode force high-frequency voltage of both counter electrodes is applied.
[0268] 本発明に有用な 1周波数高周波電圧印加方式の場合には、対向電極の一方はァ ース電極、もう片方は印加電極であり、印加電極に高周波電源が接続されており、ァ ース電極にはアースが接地されて 、る。  [0268] In the case of the one-frequency high-frequency voltage application method useful in the present invention, one of the counter electrodes is a ground electrode, and the other is an application electrode, and a high-frequency power source is connected to the application electrode. The ground electrode is grounded.
[0269] 図を使用して、 1周波数高周波電圧印加方式及び 2周波数高周波電圧印加方式 のそれぞれの方式の薄膜形成装置 (大気圧プラズマ処理装置)を説明する。 The thin film forming apparatus (atmospheric pressure plasma processing apparatus) of each of the 1-frequency high-frequency voltage application method and the 2-frequency high-frequency voltage application method will be described with reference to the drawings.
[0270] 図 3は、本発明に有用な 1周波数高周波電圧印加方式の薄膜形成装置の一例を 示す概略図である。 [0270] FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of a single-frequency high-frequency voltage application type thin film forming apparatus useful for the present invention.
[0271] プラズマ放電容器 130の内部にある高周波電圧を印加する印加電極 (角筒型電極 ) 136とその下側にある基材フィルム Fを巻き回すロール型アース電極 135とで対向 電極を形成している。印加電極 136は何個並べてもよい。ガス Gは、プラズマ放電容 器 10のガス供給口 152から供給され、ガス Gを均一化するメッシュを通り、印加電極 136の間及び印加電極とプラズマ放電容器 131の内壁に沿って通り、対向電極の間 の放電空間 13をガス Gで満たす。高周波電源 21により印加電極 136に高周波電圧 を印加し、放電空間 132で励起したガス Gに基材フィルム Fが晒される。印加する高 周波電圧の周波数が 50kHz以上であることが好ましい。より好ましくは 50kHz〜15 OMHzの範囲である。 [0272] 50kHz未満では本発明の効果が得られない。また、 150MHzを越える周波数は、 放電形成が難しくなり複雑な設備が必要になること、また電位分布発生で不均一処 理となり大面積ィ匕処理に不向きとなること、等力 本発明には適さないと考えられる。 [0271] A counter electrode is formed by an application electrode (square tube electrode) 136 for applying a high-frequency voltage inside the plasma discharge vessel 130 and a roll-type ground electrode 135 around which the base film F is wound. ing. Any number of the application electrodes 136 may be arranged. The gas G is supplied from the gas supply port 152 of the plasma discharge container 10, passes through the mesh for uniformizing the gas G, passes between the application electrode 136 and along the inner wall of the application electrode and the plasma discharge vessel 131, The discharge space 13 is filled with gas G. A high-frequency voltage is applied to the application electrode 136 by the high-frequency power source 21, and the base film F is exposed to the gas G excited in the discharge space 132. The frequency of the applied high frequency voltage is preferably 50 kHz or more. More preferably, it is in the range of 50 kHz to 15 OMHz. [0272] The effect of the present invention cannot be obtained at less than 50 kHz. Also, if the frequency exceeds 150 MHz, it is difficult to form a discharge and complicated equipment is required. Also, the generation of potential distribution causes non-uniform processing, making it unsuitable for large-area processing, and is suitable for the present invention. It is not considered.
[0273] 励起したガス Gに基材フィルム Fが晒される間、電極温度調節手段 160から配管を 経て電極を加熱または冷却する。温度調節の媒体としては、蒸留水、油等の絶縁性 材料が好ましく用いられる。プラズマ放電処理の際、幅手方向あるいは長手方向で の基材の温度ムラができるだけ生じないように電極の内部の温度を均等に調節する ことが望まれる。  [0273] While the base film F is exposed to the excited gas G, the electrode is heated or cooled via the pipe from the electrode temperature adjusting means 160. An insulating material such as distilled water or oil is preferably used as the temperature control medium. During the plasma discharge treatment, it is desirable to uniformly adjust the temperature inside the electrode so that the temperature unevenness of the substrate in the width direction or the longitudinal direction does not occur as much as possible.
[0274] 本発明にお 、ては、基材フィルム Fは、前記透明支持体フィルム、即ち、基材フィル ム、基材フィルム上にハードコート層が塗布されたフィルム、またはさらにその上に高 屈折率層及び Zまたは中屈折率層が塗布されたフィルム等であってもい。  [0274] In the present invention, the base film F is the transparent support film, that is, the base film, a film obtained by applying a hard coat layer on the base film, or a high film thereon. It may be a film coated with a refractive index layer and Z or a medium refractive index layer.
[0275] 図 4は、本発明に有用な 2周波数高周波電圧印加方式の薄膜形成装置の別の一 例を示す概略図である。これは図 3と同様にロール電極 (第 1電極) 135と角筒型電 極群(第 2電極) 136との対向電極間(放電空間) 132で、基材フィルム Fをプラズマ 放電処理するものである。  FIG. 4 is a schematic diagram showing another example of a two-frequency high-frequency voltage application type thin film forming apparatus useful for the present invention. In the same manner as in FIG. 3, the base film F is subjected to plasma discharge treatment between the opposing electrodes (discharge space) 132 between the roll electrode (first electrode) 135 and the square tube electrode group (second electrode) 136. It is.
[0276] ロール電極 (第 1電極) 135と角筒型電極群 (第 2電極) 136との間の放電空間(対 向電極間) 132に、ロール電極(第 1電極) 135には第 1電極 141から周波数 ωであ  [0276] The discharge space (between the counter electrodes) 132 between the roll electrode (first electrode) 135 and the square tube electrode group (second electrode) 136 is the first electrode in the roll electrode (first electrode) 135. From electrode 141 at frequency ω
1 つて高周波電圧 Vを、また角筒型電極群 (第 2電極) 136には第 2電源 142から周波  One high-frequency voltage V, and the rectangular tube electrode group (second electrode) 136 from the second power source 142
1  1
数 ωであって高周波電圧 Vをかけるようになつている。  A high frequency voltage V is applied at several ω.
2 2  twenty two
[0277] ロール電極(第 1電極) 135と第 1電源 141との間〖こは、第 1電源 141からの電流が ロール電極(第 1電極) 135に向かって流れるように第 1フィルター 143が設置されて おり、該第 1フィルタ一は第 1電源 141からの電流を通過しにくくし、第 2電源 142から の電流を通過し易くするように設計されている。また、角筒型電極群 (第 2電極) 136 と第 2電源 142との間〖こは、第 2電源力もの電流が第 2電極に向力つて流れるように 第 2フィルター 144が設置されており、第 2フィルター 144は、第 2電源 142からの電 流を通過しにくくし、第 1電源 141からの電流を通過しやすくするように設計されて!ヽ る。ここで、通過しにくいとは、好ましくは、電流の 20%以下、より好ましくは 10%以下 しか通さないことをいう。逆に通過しやすいとは、好ましくは電流の 80%以上、より好 ましくは 90%以上を通すことを 、う。 [0277] Between the roll electrode (first electrode) 135 and the first power supply 141, the first filter 143 is arranged so that the current from the first power supply 141 flows toward the roll electrode (first electrode) 135. The first filter is designed to make it difficult for the current from the first power source 141 to pass through and to easily pass the current from the second power source 142. In addition, the gap between the rectangular tube electrode group (second electrode) 136 and the second power source 142 is such that a second filter 144 is installed so that a current of the second power source flows toward the second electrode. The second filter 144 is designed to make it difficult for the current from the second power source 142 to pass through and to easily pass the current from the first power source 141! Here, the phrase “difficult to pass” preferably means that only 20% or less, more preferably 10% or less, of the current passes. On the contrary, being easy to pass is preferably 80% or more of the current, more preferably More than 90% is recommended.
[0278] 本発明において、上記のような性質のあるフィルターであれば制限なく使用できる。  [0278] In the present invention, any filter having the above properties can be used without limitation.
例えば、第 1フィルタ一としては、第 2電源の周波数に応じて数 10〜数万 pFのコンデ ンサ一、もしくは数 H程度のコイルを用いることができる。第 2フィルタ一としては、 第 1電源の周波数に応じて 10 H以上のコイルを用い、これらのコイルまたはコンデ ンサーを介してアース接地することでフィルタ一として使用できる。  For example, as the first filter, a capacitor of several tens to several tens of thousands of pF or a coil of about several H can be used depending on the frequency of the second power source. The second filter can be used as a filter by using a coil of 10 H or higher according to the frequency of the first power supply and grounding it through these coils or capacitors.
[0279] なお、本発明においては、ロール電極 135を第 2電極、また角筒型電極群 136を第 1電極としてもよい。何れにしろ第 1電極には第 1電源力 また第 2電極には第 2電源 が接続される。さらに、第 1電源は第 2電源より大きな高周波電圧 (V >V )を印加で  [0279] In the present invention, the roll electrode 135 may be the second electrode, and the rectangular tube electrode group 136 may be the first electrode. In any case, the first power source is connected to the first electrode, and the second power source is connected to the second electrode. In addition, the first power supply can apply a higher frequency voltage (V> V) than the second power supply.
1 2 きる能力を有していればよい。また、周波数は ω < ωとなる能力を有していればよ  It only needs to have the ability to 1 2. The frequency should have the ability to satisfy ω <ω.
1 2  1 2
い。  Yes.
[0280] ガス供給手段 150のガス供給装置 151で発生させたガス Gは、流量を制御して給 気口 152よりプラズマ放電処理容器 131内に導入する。放電空間 132及びプラズマ 放電処理容器 131内をガス Gで満たす。  The gas G generated by the gas supply device 151 of the gas supply means 150 is introduced into the plasma discharge treatment vessel 131 through the supply port 152 while controlling the flow rate. The inside of the discharge space 132 and the plasma discharge treatment vessel 131 is filled with gas G.
[0281] 基材フィルム Fを、図示されて 、な 、元巻き力 巻きほぐして搬送されて来る力、ま たは前工程から搬送されて来て、ガイドロール 164を経て-ップロール 165で基材フ イルムに同伴されて来る空気等を遮断し、ロール電極 135に接触したまま巻き回しな がら角筒型電極群 136との間に移送し、ロール電極 (第 1電極) 135と角筒型電極群 (第 2電極) 136との両方力も電圧をかけ、対向電極間(放電空間) 132で放電プラズ マを発生させる。基材フィルム Fはロール電極 135に接触したまま巻き回されながら プラズマ状態のガスに晒される。基材フィルム Fは、 -ップロール 166、ガイドロール 1 67を経て、図示してない巻き取り機で巻き取る力 次工程に移送する。  [0281] The base film F shown in the figure, the original winding force, the force that is unwound and conveyed, or the material film that is conveyed from the previous step, passes through the guide roll 164, and the substrate is made by the roll 165 Shut off the air entrained by the film, roll it while it is in contact with the roll electrode 135, and transfer it to and from the rectangular tube electrode group 136. Roll electrode (first electrode) 135 and the rectangular tube electrode A voltage is also applied to both the group (second electrode) 136 and a discharge plasma is generated between the counter electrodes (discharge space) 132. The base film F is exposed to the plasma state gas while being wound while being in contact with the roll electrode 135. The base film F passes through the -roll roll 166 and the guide roll 1 67, and is transferred to the next process by the winding force not shown.
[0282] 放電処理済みの処理排ガス G' は排気口 153より排出する。  [0282] Discharged treated exhaust gas G 'is discharged from the exhaust port 153.
[0283] プラズマ状態のガスに晒す間は、ロール電極 (第 1電極) 135及び角筒型電極群( 第 2電極) 136を加熱または冷却するために、電極温度調節手段 160で温度を調節 した媒体を、送液ポンプ Ρで配管 161を経て両電極に送り、電極内側から温度を調 節する。なお、 165及び 166はプラズマ放電処理容器 131と外界とを仕切る仕切板 である。 [0284] 本発明にお 、て、印加する高周波電圧は、断続的なパルス波であってもよ 、し、連 続したサイン波であってもよぐ印加電圧波形に限定されないが、ハイパワーの高周 波電圧を印カロ、強固な薄膜を形成させるのにサイン波が好ましい。 [0283] During the exposure to the plasma gas, the temperature was adjusted by the electrode temperature adjusting means 160 in order to heat or cool the roll electrode (first electrode) 135 and the rectangular tube electrode group (second electrode) 136. The medium is sent to both electrodes via pipe 161 with a liquid feed pump Ρ, and the temperature is adjusted from the inside of the electrode. Reference numerals 165 and 166 denote partition plates that partition the plasma discharge processing vessel 131 from the outside. [0284] In the present invention, the applied high-frequency voltage may be an intermittent pulse wave or a continuous sine wave, but is not limited to an applied voltage waveform. In order to form a strong thin film, a sine wave is preferable.
[0285] 本発明では、第 1電極に印加する高周波電圧の周波数が l〜200kHzであり、力 つ前記第 2電極に印加する高周波電圧の周波数が 800kHz以上であることが好まし い。  In the present invention, the frequency of the high frequency voltage applied to the first electrode is preferably 1 to 200 kHz, and the frequency of the high frequency voltage applied to the second electrode is preferably 800 kHz or more.
[0286] その時の電力密度は l〜50W/cm2 (ここで、分母の cm2は放電が起こって!/、る面 積である。)が好ましぐより好ましくは 1. 2〜30WZcm2である。 [0286] The power density at that time is preferably 1 to 50 W / cm 2 (where the denominator cm 2 is the area where discharge occurs! /), More preferably 1.2 to 30 WZcm 2 It is.
[0287] 本発明に有用な高周波電源としては、 100kHz * (ハイデン研究所製)、 200kHz[0287] High-frequency power supplies useful for the present invention include 100 kHz * (manufactured by HEIDEN Laboratory), 200 kHz
、 800kHz, 2MHz、 13. 56MHz、 27MHz及び 150MHz (何れもノール工業製) 等を挙げることができる。なお、 *印はハイデン研究所インパルス高周波電源 (連続 モードで 100kHz)である。 800 kHz, 2 MHz, 13.56 MHz, 27 MHz, and 150 MHz (all manufactured by Nord Kogyo). The asterisk indicates the HEIDEN Institute impulse high-frequency power supply (100 kHz in continuous mode).
[0288] 本発明においては、このような電圧を印加して、以下に述べる均一なグロ一放電状 態を保つことができる電極をプラズマ放電処理装置に採用する必要がある。 In the present invention, it is necessary to employ an electrode capable of maintaining a uniform glow discharge state described below by applying such a voltage to a plasma discharge processing apparatus.
[0289] 図 5は、図に示したロール電極の導電性の金属質母材とその上に被覆されている 誘電体の構造の一例を示す斜視図である。 FIG. 5 is a perspective view showing an example of the structure of the conductive metallic base material of the roll electrode shown in the figure and the dielectric material coated thereon.
[0290] 図 5において、ロール電極 35aは導電性の金属質母材 35Aとその上に誘電体 35B が被覆されたものである。内部は中空のジャケットになっていて温度調節が行われる ようになっている。 In FIG. 5, a roll electrode 35a is formed by covering a conductive metallic base material 35A and a dielectric 35B thereon. The inside is a hollow jacket for temperature control.
[0291] 図 6は、図 3、 4に示されている角筒型電極の導電性の金属質母材とその上に被覆 されて ヽる誘電体の構造の一例を示す斜視図である。  FIG. 6 is a perspective view showing an example of the structure of the conductive metallic base material of the rectangular tube type electrode shown in FIGS. 3 and 4 and the dielectric material covered thereon.
[0292] 図 6において、角筒型電極 36aは、導電性の金属質母材 36Aに対し、図 5同様の 誘電体 36Bの被覆を有しており、該電極の構造は金属質のパイプになっていて、そ れがジャケットとなり、放電中の温度調節が行えるようになつている。 [0292] In Fig. 6, a rectangular tube electrode 36a has a coating of a dielectric 36B similar to Fig. 5 on a conductive metallic base material 36A, and the structure of the electrode is a metallic pipe. It becomes a jacket that allows temperature adjustment during discharge.
[0293] なお、角筒型電極の数は、上記ロール電極の円周より大きな円周上に沿って複数 本設置されていおり、該電極の放電面積はロール電極 35に対向している全角筒型 電極面の面積の和で表される。 [0293] Note that the number of rectangular tube-type electrodes is set in plural along a circumference larger than the circumference of the roll electrode, and the discharge area of the electrodes is a full-square tube facing the roll electrode 35. It is expressed as the sum of the area of the type electrode surface.
[0294] 図 6に示した角筒型電極 36aは、円筒型電極でもよいが、角筒型電極は円筒型電 極に比べて、放電範囲 (放電面積)を広げる効果があるので、本発明に好ましく用い られる。 [0294] The rectangular tube electrode 36a shown in Fig. 6 may be a cylindrical electrode, but the rectangular tube electrode is a cylindrical electrode. Since it has the effect of extending the discharge range (discharge area) compared to the pole, it is preferably used in the present invention.
[0295] 図 3及び 4において、ロール電極 35a及び角筒型電極 36aは、それぞれ導電性の 金属質母材 35A及び 36Aの上に誘電体 35B及び 36Bとしてのセラミックスを溶射後 、無機化合物の封孔材料を用いて封孔処理したものである。セラミックス誘電体は片 肉で lmm程度被覆あればよい。溶射に用いるセラミックス材としては、アルミナ '窒化 珪素等が好ましく用いられる力 この中でもアルミナが加工しやすいので、特に好まし く用いられる。また、誘電体層が、ガラスライニングにより無機材料を設けたライニング 処理誘電体であってもよ ヽ。  [0295] In Figs. 3 and 4, the roll electrode 35a and the rectangular tube electrode 36a are encapsulated with inorganic compounds after spraying ceramics as dielectrics 35B and 36B on conductive metallic base materials 35A and 36A, respectively. The material is sealed using a pore material. The ceramic dielectric only needs to be covered by about 1 mm with a single wall. As a ceramic material used for thermal spraying, alumina or silicon nitride is preferably used. Among these, alumina is particularly preferred because it is easy to process. In addition, the dielectric layer may be a lining-processed dielectric provided with an inorganic material by glass lining.
[0296] 導電性の金属質母材 35A及び 36Aとしては、チタンまたはチタン合金、銀、白金、 ステンレススティール、アルミニウム、鉄等の金属等や、鉄とセラミックスとの複合材料 またはアルミニウムとセラミックスとの複合材料を挙げることができる力 後述の理由か らはチタンまたはチタン合金が特に好ましい。  [0296] The conductive metallic base materials 35A and 36A include metals such as titanium or titanium alloys, silver, platinum, stainless steel, aluminum and iron, composite materials of iron and ceramics, or aluminum and ceramics. Forces that can mention composite materials Titanium or a titanium alloy is particularly preferred for the reasons described below.
[0297] 2個の電極間の距離 (電極間隙)は、導電性の金属質母材に設けた誘電体の厚さ、 印加電圧の大きさ、プラズマを利用する目的等を考慮して決定されるが、電極の一 方に誘電体を設けた場合の誘電体表面と導電性の金属質母材表面の最短距離、上 記電極の双方に誘電体を設けた場合の誘電体表面同士の距離としては、いずれの 場合も均一な放電を行う観点力も 0. l〜20mmが好ましぐ特に好ましくは 0. 5〜2 mmである。  [0297] The distance between the two electrodes (electrode gap) is determined in consideration of the thickness of the dielectric provided on the conductive metal base material, the magnitude of the applied voltage, the purpose of using the plasma, etc. However, the shortest distance between the dielectric surface when the dielectric is provided on one of the electrodes and the surface of the conductive metallic base material, and the distance between the dielectric surfaces when the dielectric is provided on both electrodes In any case, the viewpoint power for performing uniform discharge is preferably 0.1 to 20 mm, and more preferably 0.5 to 2 mm.
[0298] プラズマ放電処理容器 10または 31はパイレックス (登録商標)ガラス製の処理容器 等が好ましく用いられるが、電極との絶縁がとれれば金属製を用いることも可能であ る。例えば、アルミニウムまたは、ステンレススティールのフレームの内面にポリイミド 榭脂等を張り付けてもよぐ該金属フレームにセラミックス溶射を行い絶縁性をとつて もよい。図 6において、平行した両電極の両側面(基材面近くまで)を上記のような材 質の物で覆うことが好まし 、。  [0298] The plasma discharge treatment vessel 10 or 31 is preferably a treatment vessel made of Pyrex (registered trademark) glass or the like, but may be made of metal as long as it can be insulated from the electrodes. For example, it is also possible to achieve insulation by spraying ceramics on the metal frame, which may be affixed with polyimide resin or the like on the inner surface of an aluminum or stainless steel frame. In Fig. 6, it is preferable to cover both sides of the parallel electrodes (up to near the substrate surface) with the material of the above-mentioned material.
[0299] 本発明に有用な導電性の金属質母材及び誘電体につ!、ての詳細にっ 、て述べる  [0299] The conductive metal base material and dielectric useful in the present invention will be described in detail.
[0300] このようなハイパワーの大気圧プラズマ法に使用する電極は、構造的にも、性能的 にも過酷な条件に耐えられるものでなければならない。このような電極としては、金属 質母材上に誘電体を被覆したものであることが好ましい。 [0300] The electrodes used in such a high-power atmospheric pressure plasma method are structurally and performance-friendly. It must be able to withstand harsh conditions. Such an electrode is preferably a metal base material coated with a dielectric.
[0301] 本発明に使用する誘電体被覆電極においては、さまざまな金属質母材と誘電体と の間に特性が合うものが好ましぐその一つの特性として、金属質母材と誘電体との 線熱膨張係数の差が 10 X 10—6Z°C以下となる組み合わせのものである。好ましくは 8 X 10— 6Z°C以下、さらに好ましくは 5 X 10— 6Z°C以下、さらに好ましくは 2 X 10— 6Z °C以下である。なお、線熱膨張係数とは、周知の材料特有の物性値である。 [0301] In the dielectric-coated electrode used in the present invention, one of the characteristics that is suitable between various metallic base materials and dielectrics is preferred. the difference in the linear thermal expansion coefficient is of the combination of the following 10 X 10- 6 Z ° C. Preferably below 8 X 10- 6 Z ° C, more preferably not more than 5 X 10- 6 Z ° C, more preferably not more than 2 X 10- 6 Z ° C. The linear thermal expansion coefficient is a well-known physical property value of a material.
[0302] 線熱膨張係数の差が、この範囲にある導電性の金属質母材と誘電体との組み合わ せとしては、  [0302] A combination of a conductive metallic base material and a dielectric whose difference in linear thermal expansion coefficient is within this range is as follows:
金属母材 誘電体  Metal matrix Dielectric
(1)純チタンまたはチタン合金 セラミックス溶射被膜  (1) Pure titanium or titanium alloy ceramic spray coating
(2)純チタンまたはチタン合金 ガラスライニング  (2) Pure titanium or titanium alloy glass lining
(3)ステンレススティール セラミックス溶射被膜  (3) Stainless steel Ceramic spray coating
(4)ステンレススティール ガラスライニング  (4) Stainless steel glass lining
(5)セラミックス及び鉄の複合材料 セラミックス溶射被膜  (5) Ceramics and iron composite material Ceramic spray coating
(6)セラミックス及び鉄の複合材料 ガラスライニング  (6) Composite materials of ceramics and iron Glass lining
(7)セラミックス及びアルミの複合材料 セラミックス溶射皮膜  (7) Composite material of ceramics and aluminum Ceramic spray coating
(8)セラミックス及びアルミの複合材料 ガラスライニング  (8) Composite material of ceramics and aluminum Glass lining
等がある。線熱膨張係数の差という観点では、上記(1)または(2)及び (5)〜(8)が 好ましぐ特に(1)が好ましい。  Etc. From the viewpoint of the difference in linear thermal expansion coefficient, (1) or (2) and (5) to (8) are preferred, and (1) is particularly preferred.
[0303] 本発明にお 、て、金属質母材は、上記の特性からはチタンまたはチタン合金が特 に有用である。金属質母材をチタンまたはチタン合金とすることにより、誘電体を上記 とすることにより、使用中の電極の劣化、特にひび割れ、剥がれ、脱落等がなぐ過酷 な条件での長時間の使用に耐えることができる。  [0303] In the present invention, titanium or a titanium alloy is particularly useful as the metallic base material from the above characteristics. By using titanium or titanium alloy as the metal base material, by using the above dielectric material, it can withstand long-term use under harsh conditions where there is no deterioration of the electrode in use, especially cracking, peeling, or falling off. be able to.
[0304] 本発明に有用な電極の金属質母材は、チタンを 70質量%以上含有するチタン合 金またはチタンである。本発明において、チタン合金またはチタン中のチタンの含有 量は、 70質量%以上であれば、問題なく使用できるが、好ましくは 80質量%以上の チタンを含有して 、るものが好ま 、。本発明に有用なチタン合金またはチタンは、 工業用純チタン、耐食性チタン、高力チタン等として一般に使用されているものを用 いることができる。工業用純チタンとしては、 TIA、 TIB, TIC, TID等を挙げることが でき、何れも鉄原子、炭素原子、窒素原子、酸素原子、水素原子等を極僅か含有し ているもので、チタンの含有量としては、 99質量%以上を有している。耐食性チタン 合金としては、 T15PBを好ましく用いることができ、上記含有原子の他に鉛を含有し ており、チタン含有量としては、 98質量%以上である。また、チタン合金としては、鉛 を除く上記の原子の他に、アルミニウムを含有し、その他バナジウムや錫を含有して いる T64、 Τ325、 Τ525、 ΤΑ3等を好ましく用いることができ、これらのチタン含有量 としては、 85質量%以上を含有しているものである。これらのチタン合金またはチタン はステンレススティール、例えば AISI316に比べて、熱膨張係数が 1Z2程度小さく 、金属質母材としてチタン合金またはチタンの上に施された後述の誘電体との組み 合わせがよぐ高温、長時間での使用に耐えることができる。 [0304] The metallic base material of the electrode useful in the present invention is a titanium alloy or titanium containing 70 mass% or more of titanium. In the present invention, if the titanium content in the titanium alloy or titanium is 70% by mass or more, it can be used without problems, but preferably contains 80% by mass or more of titanium. Titanium alloys or titanium useful in the present invention are: Those commonly used as industrial pure titanium, corrosion-resistant titanium, high-strength titanium and the like can be used. Examples of pure titanium for industrial use include TIA, TIB, TIC, TID, etc., all of which contain very few iron atoms, carbon atoms, nitrogen atoms, oxygen atoms, hydrogen atoms, etc. The content is 99% by mass or more. As the corrosion-resistant titanium alloy, T15PB can be preferably used, and it contains lead in addition to the above-mentioned atoms, and the titanium content is 98% by mass or more. Further, as the titanium alloy, T64, Τ325, Τ525, 等 3, etc. containing aluminum and other vanadium and tin in addition to the above-mentioned atoms excluding lead can be preferably used. As a quantity, it contains 85% by mass or more. These titanium alloys or titanium have a coefficient of thermal expansion smaller than that of stainless steel, such as AISI316, by about 1Z2, and can be combined with a titanium alloy or a dielectric described later on titanium as a metallic base material. Can withstand use at high temperatures for long periods of time.
[0305] 一方、誘電体の求められる特性としては、具体的には、比誘電率が 6〜45の無機 化合物であることが好ましぐまた、このような誘電体としては、アルミナ、窒化珪素等 のセラミックス、あるいは、ケィ酸塩系ガラス、ホウ酸塩系ガラス等のガラスライニング 材等がある。この中では、後述のセラミックスを溶射したものやガラスライニングにより 設けたものが好ま 、。特にアルミナを溶射して設けた誘電体が好まし 、。  [0305] On the other hand, as the required characteristics of the dielectric, specifically, an inorganic compound having a relative dielectric constant of 6 to 45 is preferable. Also, as such a dielectric, alumina, silicon nitride, and the like are preferable. And glass lining materials such as silicate glass and borate glass. Of these, those sprayed with ceramics described later and those provided with glass lining are preferred. In particular, a dielectric with thermal spraying of alumina is preferred.
[0306] または、上述のような大電力に耐える仕様の一つとして、誘電体の空隙率が 10体 積%以下、好ましくは 8体積%以下であることで、好ましくは 0体積%を越えて 5体積 %以下である。なお、誘電体の空隙率は、 BET吸着法や水銀ポロシメーターにより 測定することができる。後述の実施例においては、島津製作所製の水銀ポロシメータ 一により金属質母材に被覆された誘電体の破片を用い、空隙率を測定する。誘電体 力 低い空隙率を有することにより、高耐久性が達成される。このような空隙を有しつ つも空隙率が低い誘電体としては、後述の大気プラズマ溶射法等による高密度、高 密着のセラミックス溶射被膜等を挙げることができる。さらに空隙率を下げるためには 、封孔処理を行うことが好ましい。  [0306] Alternatively, as one of the specifications that can withstand high power as described above, the dielectric porosity is 10 volume% or less, preferably 8 volume% or less, and preferably exceeds 0 volume%. 5% by volume or less. The porosity of the dielectric can be measured by the BET adsorption method or mercury porosimeter. In the examples described later, the porosity is measured using a piece of dielectric covered with a metallic base material by a mercury porosimeter manufactured by Shimadzu Corporation. Dielectric force High durability is achieved by having a low porosity. Examples of the dielectric having such voids and a low void ratio include a high-density, high-adhesion ceramic sprayed coating by the atmospheric plasma spraying method described later. In order to further reduce the porosity, it is preferable to perform a sealing treatment.
[0307] 上記、大気プラズマ溶射法は、セラミックス等の微粉末、ワイヤ等をプラズマ熱源中 に投入し、溶融または半溶融状態の微粒子として被覆対象の金属質母材に吹き付 け、皮膜を形成させる技術である。プラズマ熱源とは、分子ガスを高温にし、原子に 解離させ、さらにエネルギーを与えて電子を放出させた高温のプラズマガスである。 このプラズマガスの噴射速度は大きぐ従来のアーク溶射やフレーム溶射に比べて、 溶射材料が高速で金属質母材に衝突するため、密着強度が高ぐ高密度な被膜を 得ることができる。詳しくは、特開 2000— 301655に記載の高温被曝部材に熱遮蔽 皮膜を形成する溶射方法を参照することができる。この方法により、上記のような被覆 する誘電体 (セラミック溶射膜)の空隙率にすることができる。 [0307] In the above-mentioned atmospheric plasma spraying method, fine powders such as ceramics, wires, etc. are put into a plasma heat source and sprayed onto the metal base material to be coated as fine particles in a molten or semi-molten state. This is a technique for forming a film. A plasma heat source is a high-temperature plasma gas in which a molecular gas is heated to a high temperature, dissociated into atoms, and further given energy to release electrons. Compared with conventional arc spraying or flame spraying, which has a higher plasma gas spraying speed, the sprayed material collides with the metallic base material at a higher speed, so a high-density coating with higher adhesion strength can be obtained. For details, reference can be made to a thermal spraying method for forming a heat shielding film on a high-temperature exposed member described in JP-A-2000-301655. By this method, the porosity of the dielectric (ceramic sprayed film) to be coated can be obtained.
[0308] また、大電力に耐える別の好ましい仕様としては、誘電体の厚みが 0. 5〜3mmで あることである。この膜厚変動は、 5%以下であることが望ましぐ好ましくは 3%以下、 さらに好ましくは 1%以下である。 [0308] Another preferable specification that can withstand high power is that the thickness of the dielectric is 0.5 to 3 mm. This film thickness variation is desirably 5% or less, preferably 3% or less, and more preferably 1% or less.
[0309] 誘電体の空隙率をより低減させるためには、上記のようにセラミックス等の溶射膜に[0309] In order to further reduce the porosity of the dielectric, as described above, the thermal spray film such as ceramics is applied.
、さらに、無機化合物で封孔処理を行うことが好ましい。前記無機化合物としては、金 属酸化物が好ましぐこの中では特に酸化ケィ素(SiO )を主成分として含有するもの が好ましい。 Further, it is preferable to perform a sealing treatment with an inorganic compound. Of these, metal oxides are preferred as the inorganic compound, and those containing silicon oxide (SiO 2) as the main component are particularly preferred.
[0310] 封孔処理の無機化合物は、ゾルゲル反応により硬化して形成したものであることが 好まし 、。封孔処理の無機化合物が金属酸ィ匕物を主成分とするものである場合には 、金属アルコキシド等を封孔液として前記セラミック溶射膜上に塗布し、ゾルゲル反 応により硬化する。無機化合物がシリカを主成分とするものの場合には、アルコキシ シランを封孔液として用いることが好ま 、。  [0310] The inorganic compound for sealing treatment is preferably formed by curing by a sol-gel reaction. In the case where the inorganic compound for sealing treatment contains a metal oxide as a main component, a metal alkoxide or the like is applied as a sealing liquid on the ceramic sprayed film and cured by sol-gel reaction. When the inorganic compound is mainly composed of silica, it is preferable to use alkoxysilane as the sealing liquid.
[0311] ここでゾルゲル反応の促進には、エネルギー処理を用いることが好まし 、。ェネル ギー処理としては、熱硬化 (好ましくは 200°C以下)や、紫外線照射等がある。さらに 封孔処理の仕方として、封孔液を希釈し、コーティングと硬化を逐次で数回繰り返す と、よりいつそう無機質ィ匕が向上し、劣化のない緻密な電極ができる。  [0311] Here, it is preferable to use energy treatment to promote the sol-gel reaction. Examples of the energy treatment include thermal curing (preferably 200 ° C. or less) and ultraviolet irradiation. Further, as a method of sealing treatment, when the sealing liquid is diluted, and coating and curing are repeated several times in succession, the inorganic quality is improved more and a dense electrode without deterioration can be obtained.
[0312] 誘電体被覆電極の金属アルコキシド等を封孔液として、セラミックス溶射膜にコーテ イングした後、ゾルゲル反応で硬化する封孔処理を行う場合、硬化した後の金属酸 化物の含有量は 60モル%以上であることが好まし!/、。封孔液の金属アルコキシドとし てアルコキシシランを用いた場合には、硬化後の SiO (Xは 2以下)含有量が 60モル %以上であることが好ましい。硬化後の SiO含有量は、 XPSにより誘電体層の断層 を分析することにより測定する。 [0312] In the case of performing a sealing treatment that cures by a sol-gel reaction after coating a ceramic sprayed coating using a metal alkoxide or the like of a dielectric-coated electrode as a sealing liquid, the content of the metal oxide after curing is 60 It is preferable to be at least mol%! /. When alkoxysilane is used as the metal alkoxide of the sealing liquid, the cured SiO 2 (X is 2 or less) content is preferably 60 mol% or more. The SiO content after curing is determined by XPS. It is measured by analyzing.
[0313] 本発明においては、電極の少なくとも基材と接する側の JIS B 0601 : 2001で規 定される表面粗さの最大高さ (Rmax)が 10 m以下になるように調整することが、本 発明に記載の効果を得る観点力 好ましいが、さらに好ましくは、表面粗さの最大値 力 ^ /z m以下であり、特に好ましくは、 7 m以下に調整することである。このように誘 電体被覆電極の誘電体表面を研磨仕上げする等の方法により、誘電体の厚み及び 電極間のギャップを一定に保つことができ、放電状態を安定ィ匕できること、さらに熱収 縮差や残留応力による歪やひび割れをなくし、かつ、高精度で、耐久性を大きく向上 させることができる。誘電体表面の研磨仕上げは、少なくとも基材と接する側の誘電 体において行われることが好ましい。さらに JIS B 0601 : 2001で規定される算術 平均粗さ(Ra)は 0. 5 μ m以下が好ましぐさらに好ましくは 0. 1 μ m以下である。  [0313] In the present invention, the maximum height (Rmax) of the surface roughness specified in JIS B 0601: 2001 on at least the side of the electrode in contact with the base material is adjusted to be 10 m or less. The viewpoint power for obtaining the effects described in the present invention is preferable, but more preferably, the maximum value of surface roughness is not more than ^ / zm, and particularly preferably 7 m or less. By such a method of polishing the dielectric surface of the dielectric-coated electrode, the thickness of the dielectric and the gap between the electrodes can be kept constant, the discharge state can be stabilized, and further, the heat can be reduced. Distortion and cracking due to differences and residual stresses can be eliminated, and durability can be greatly improved with high accuracy. The polishing finish on the dielectric surface is preferably performed at least on the dielectric that is in contact with the substrate. Further, the arithmetic average roughness (Ra) defined in JIS B 0601: 2001 is preferably 0.5 μm or less, and more preferably 0.1 μm or less.
[0314] 本発明に使用する誘電体被覆電極にお!ヽて、大電力に耐える他の好ま ヽ仕様と しては、耐熱温度が 100°C以上であることである。さらに好ましくは 120°C以上、特に 好ましくは 150°C以上である。また上限は 500°Cである。なお、耐熱温度とは、絶縁 破壊が発生せず、正常に放電できる状態において耐えられる最も高い温度のことを 指す。このような耐熱温度は、上記のセラミックス溶射や、泡混入量の異なる層状の ガラスライニングで設けた誘電体を適用したり、下記金属質母材と誘電体の線熱膨 張係数の差の範囲内の材料を適宜選択する手段を適宜組み合わせることによって 達成可能である。  [0314] The dielectric coated electrode used in the present invention! On the other hand, another preferred specification that can withstand high power is that the heat-resistant temperature is 100 ° C or higher. More preferably, it is 120 ° C or higher, particularly preferably 150 ° C or higher. The upper limit is 500 ° C. The heat-resistant temperature refers to the highest temperature that can withstand normal discharge without breakdown. For such heat-resistant temperatures, the above ceramic spraying and the dielectric provided with layered glass linings with different amounts of bubbles mixed can be applied, or the range of difference in linear thermal expansion coefficient between the metallic base material and dielectric below. This can be achieved by appropriately combining means for appropriately selecting the materials.
[0315] 本発明においては、このような電圧を印加して、均一なグロ一放電状態を保つこと ができる電極をプラズマ放電処理装置に採用する必要がある。  [0315] In the present invention, it is necessary to employ an electrode capable of maintaining a uniform glow discharge state by applying such a voltage in a plasma discharge treatment apparatus.
[0316] 本発明において、対向する電極間に印加する電力は、第 2電極に l〜50WZcm2 の電力密度を供給し、放電ガスを励起してプラズマを発生させ、エネルギーを薄膜形 成性ガスに与え薄膜を形成させる。好ましくは 1. 2〜30WZcm2である。 [0316] In the present invention, the power applied between the opposing electrodes supplies a power density of 1 to 50 WZcm 2 to the second electrode, excites the discharge gas to generate plasma, and converts the energy into a thin film forming gas. To form a thin film. Preferably is 1. 2~30WZcm 2.
[0317] ここで高周波電源の印加法に関しては、連続モードと呼ばれる連続サイン波状の 連続発振モードと、パルスモードと呼ばれる ONZOFFを断続的に行う断続発振モ ードのどちらを採用してもよいが、少なくとも第 2電極側は連続サイン波の方がより緻 密で良質な膜が得られるので好まし 、。 [0318] 放電条件は、対向する第 1電極と第 2電極との放電空間に、高周波電圧を印加し、 該高周波電圧が、第 1の周波数 ωの電圧成分と、前記第 1の周波数 ωより高い第 2 [0317] Here, regarding the method of applying the high-frequency power supply, either a continuous sine wave continuous oscillation mode called continuous mode or an intermittent oscillation mode called ON / OFF intermittently called pulse mode may be adopted. At least on the second electrode side, the continuous sine wave is preferred because a finer and better quality film can be obtained. [0318] The discharge condition is that a high frequency voltage is applied to the discharge space between the opposing first electrode and second electrode, and the high frequency voltage is derived from the voltage component of the first frequency ω and the first frequency ω. Second high
1 1  1 1
の周波数 ωの電圧成分とを重ね合わせた成分を少なくとも有することが好ましい。  It is preferable to have at least a component obtained by superimposing a voltage component of frequency ω.
2  2
[0319] 前記高周波電圧が、第 1の周波数 ωの電圧成分と、前記第 1の周波数 ωより高い  [0319] The high frequency voltage is higher than the voltage component of the first frequency ω and the first frequency ω.
1 1 第 2の周波数 ωの電圧成分とを重ね合わせた成分となり、その波形は周波数 ωの  1 1 The component with the voltage component of the second frequency ω superimposed, and its waveform is
2 1 サイン波上に、それより高い周波数 ωのサイン波が重畳された ωのサイン波の波形  2 1 A sine wave with a higher frequency ω superimposed on a sine wave
2 1  twenty one
となる。サイン波の重畳した波形に限られるものではなぐ両方パルス波であっても、 一方がサイン波でもう一方がパルス波であっても力まわない。また、さらに第 3の電圧 成分を有していてもよい。しかし、本発明においては、 1周波数高周波電圧印加方式 と同様に、少なくとも第 2電極側は連続サイン波の方が、より緻密で良質な膜が得ら れる。  It becomes. Even if it is a double pulse wave that is not limited to a waveform with superimposed sine waves, it does not matter if one is a sine wave and the other is a pulse wave. Further, it may have a third voltage component. However, in the present invention, as in the case of the one-frequency high-frequency voltage application method, a continuous sine wave at least on the second electrode side can provide a denser and better film.
[0320] 本発明において、放電開始電圧とは、実際に使用される放電空間 (電極の構成等) 及び反応条件 (ガス条件等)にお 、て放電を起こすことのできる最低電圧のことを指 す。放電開始電圧は、放電空間に供給されるガス種や電極の誘電体種等によって多 少変動するが、放電ガス単独の放電開始電圧と略同一と考えてよい。  [0320] In the present invention, the discharge start voltage refers to the lowest voltage that can cause discharge in the discharge space (electrode configuration, etc.) and reaction conditions (gas conditions, etc.) actually used. The The discharge start voltage varies slightly depending on the type of gas supplied to the discharge space, the dielectric type of the electrode, etc., but may be considered to be substantially the same as the discharge start voltage of the discharge gas alone.
[0321] 上記で述べたような高周波電圧を対向電極間(放電空間)に印加することによって 、放電を起こし、高密度プラズマを発生することができると推定される。  [0321] By applying a high-frequency voltage as described above between the counter electrodes (discharge space), it is presumed that discharge can be caused and high-density plasma can be generated.
[0322] 本発明において、高周波電圧を、放電空間に印加する具体的な方法は、対向電極 を構成する第 1電極に周波数 ωであって電圧 Vである第 1の高周波電圧を印加す  [0322] In the present invention, a specific method of applying a high-frequency voltage to the discharge space is to apply a first high-frequency voltage having a frequency ω and a voltage V to the first electrode constituting the counter electrode.
1 1  1 1
る第 1電源を接続し、第 2電極に周波数 ωであって電圧 Vである第 2の高周波電圧  A second high-frequency voltage of frequency ω and voltage V is connected to the second electrode.
2 2  twenty two
を印加する第 2電源を接続した薄膜形成装置 (大気圧プラズマ処理装置)を用いる。  A thin film forming apparatus (atmospheric pressure plasma processing apparatus) to which a second power source for applying the voltage is connected is used.
[0323] このような二つの高周波電源から高周波電圧を印加することは、第 1の周波数 ω側 [0323] The application of a high-frequency voltage from such two high-frequency power sources means that the first frequency ω side
1 によって高い放電開始電圧を有する放電ガスの放電を開始するのに必要であり、ま た第 2の周波数 ω側はプラズマ密度を高くして緻密で良質な薄膜を形成するのに必  1 is necessary to start discharge of a discharge gas having a high discharge starting voltage, and the second frequency ω side is necessary to increase the plasma density and form a dense and high-quality thin film.
2  2
要であると!/、うことが重要な点である。  It ’s important to say that!
[0324] 本発明において、第 1電源を用いて第 1電極からは l〜200kHz程度の高周波電 圧を、また第 2電源を用いて第 2電極からは 800kHz〜15MHzの程度の高周波電 圧を印加するのが好ましい。この場合、印加する l〜200kHzの高周波電圧により、 放電開始電圧の高い放電ガスが励起しプラズマを発生する。 [0324] In the present invention, a high frequency voltage of about 1 to 200 kHz is applied from the first electrode using the first power supply, and a high frequency voltage of about 800 kHz to 15 MHz is applied from the second electrode using the second power supply. It is preferable to apply. In this case, the applied high frequency voltage of l ~ 200kHz A discharge gas having a high discharge start voltage is excited to generate plasma.
[0325] さらに、第 1電源は、第 2電源より大きな高周波電圧を印加できる能力を有している ことが好ましい。  [0325] Furthermore, it is preferable that the first power source has the capability of applying a higher high-frequency voltage than the second power source.
[0326] また、本発明における別の放電条件としては、対向する第 1電極と第 2電極との間 に、高周波電圧を印加し、該高周波電圧が、第 1の高周波電圧 V及び第 2の高周波  [0326] Further, as another discharge condition in the present invention, a high frequency voltage is applied between the first electrode and the second electrode facing each other, and the high frequency voltage is applied to the first high frequency voltage V and the second high voltage. High frequency
1  1
電圧 Vを重畳したものであって、放電開始電圧を IVとしたとき、  When the voltage V is superimposed and the discharge start voltage is IV,
2  2
V≥IV>V  V≥IV> V
1 2  1 2
または V >IV≥V  Or V> IV≥V
1 2  1 2
を満たす。さらに好ましくは、  Meet. More preferably,
V >IV>V  V> IV> V
1 2  1 2
を満たすことである。  Is to satisfy.
[0327] 高周波及び放電開始電圧の定義、また、上記高周波電圧を、対向電極間(放電空 間)に印加する具体的な方法としては、上述したものと同様である。  [0327] The definition of the high frequency and the discharge start voltage and the specific method of applying the high frequency voltage between the counter electrodes (discharge space) are the same as those described above.
[0328] ここで、高周波電圧(印加電圧)と放電開始電圧は、下記の方法で測定されたもの をいう。  [0328] Here, the high-frequency voltage (applied voltage) and the discharge start voltage are those measured by the following methods.
[0329] 高周波電圧 V及び V (単位: kV/mm)の測定方法:  [0329] Measuring method of high frequency voltage V and V (unit: kV / mm):
1 2  1 2
各電極部の高周波プローブ(P6015A)を設置し、該高周波プローブをオシロスコ ープ(Tektronix社製、 TDS3012B)に接続し、電圧を測定する。  Install a high-frequency probe (P6015A) for each electrode, connect the high-frequency probe to an oscilloscope (Tektronix, TDS3012B), and measure the voltage.
[0330] 放電開始電圧 IV (単位: kV/mm)の測定方法: [0330] Measuring method of discharge start voltage IV (unit: kV / mm):
電極間に放電ガスを供給し、該電極間の電圧を増大させていき、放電が始まる電 圧を放電開始電圧 IVと定義する。測定器は上記高周波電圧測定と同じである。  The discharge gas is supplied between the electrodes, the voltage between the electrodes is increased, and the voltage at which discharge starts is defined as the discharge start voltage IV. The measuring instrument is the same as the above high-frequency voltage measurement.
[0331] 高い電圧をかけるような放電条件をとることにより、例え窒素ガスのように放電開始 電圧が高い放電ガスでも、放電ガスを開始し、高密度で安定なプラズマ状態を維持 できるのである。 [0331] By adopting a discharge condition in which a high voltage is applied, even a discharge gas having a high discharge start voltage such as nitrogen gas can start the discharge gas and maintain a high-density and stable plasma state.
[0332] 上記の測定により放電ガスを窒素ガスとした場合、その放電開始電圧 IVは 3. 7kV Zmm程度であり、従って、上記の関係において、第 1の高周波電圧を、 V≥3. 7k  [0332] When the discharge gas is nitrogen gas by the above measurement, the discharge start voltage IV is about 3.7 kV Zmm. Therefore, in the above relationship, the first high-frequency voltage is V≥3.7k
1 1
VZmmとして印加することによって窒素ガスを励起し、プラズマ状態にすることがで きる。 [0333] 放電ガスとしては、窒素、ヘリウム、アルゴン等の希ガス、空気、水素、酸素等があり 、これらを単独で放電ガスとして用いても、混合して用いてもカゝまわないが、窒素ガス を用いることが、ヘリウムまたはアルゴン等の希ガスを用いる場合に比較し、放電ガス の高 、経済性を得ることができるため、特に好ま U、。 By applying it as VZmm, the nitrogen gas can be excited and put into a plasma state. [0333] As the discharge gas, there are noble gases such as nitrogen, helium, and argon, air, hydrogen, oxygen, etc., and these may be used alone as a discharge gas or mixed and used. The use of nitrogen gas is particularly preferred because it can provide higher discharge gas economy than the use of rare gases such as helium or argon.
[0334] 大気圧プラズマ処理装置に設置する高周波電源は、前述のものと同じであるが、第 1電源(高周波電源)と第 2電源(高周波電源)とに周波数により下記のように分けられ る。  [0334] The high-frequency power source installed in the atmospheric pressure plasma processing apparatus is the same as described above, but it is divided into the first power source (high-frequency power source) and the second power source (high-frequency power source) as follows. .
[0335] 第 1電源としは、  [0335] As the first power supply,
高周波電源記号 メーカー 周波数  High frequency power supply symbol Manufacturer Frequency
A1 神鋼電機 3kHz  A1 Shinko Electric 3kHz
A2 神鋼電機 5kHz  A2 Shinko Electric 5kHz
A3 春日電機 15kHz  A3 Kasuga Electric 15kHz
A4 神鋼電機 50kHz  A4 Shinko Electric 50kHz
A5 ハイデン研究所 100kHz *  A5 HEIDEN Laboratory 100kHz *
A6 パール工業 200kHz  A6 Pearl Industry 200kHz
なお、 *印はハイデン研究所インパルス高周波電源 (連続モードで 100kHz)である また、第 2電源 (高周波電源)としては、  The asterisk is the HEIDEN Institute impulse high-frequency power supply (100 kHz in continuous mode).
高周波電源記号 メーカー 周波数  High frequency power supply symbol Manufacturer Frequency
B1 パ -ル工業 800kHz  B1 par industrial 800kHz
B2 パ -ル工業 2MHz  B2 pulse industry 2MHz
B3 パ -ル工業 13. 56MHz  B3 Pal Industry 13. 56MHz
B4 パ -ル工業 27MHz  B4 Pulse Industry 27MHz
B5 パ -ル工業 150MHz  B5 Pulse Industrial 150MHz
等の市販のものを挙げることができ、何れも好ましく使用できる。  And the like, and any of them can be preferably used.
[0337] 上記の対向電極の少なくとも一方の電極力 前記対向電極間に放電ガスを供給す るガス供給手段を備えることが好ましい。さらに、電極の温度を制御する電極温度制 御手段を有することが好まし 、。 [0338] また、図 6、 7の電極には金属母材及び誘電体が示されていないが、図 8及び 9と同 様に電極の金属母材に同様な誘電体が被覆されて 、ることは 、うまでもな 、。 [0337] At least one electrode force of the counter electrode is preferably provided with a gas supply means for supplying a discharge gas between the counter electrodes. Furthermore, it is preferable to have an electrode temperature control means for controlling the temperature of the electrode. [0338] Further, although the metal base material and the dielectric are not shown in the electrodes of Figs. 6 and 7, the same dielectric is coated on the metal base material of the electrode as in Figs. That's ugly.
[0339] 対向電極間に印加する高周波電圧は、断続的なパルス波であっても、連続したサ イン波であっても構わないが、本発明の効果を高く得るためには、連続したサイン波 であることが好ましい。  [0339] The high-frequency voltage applied between the counter electrodes may be an intermittent pulse wave or a continuous sine wave. However, in order to obtain a high effect of the present invention, a continuous sine wave may be used. A wave is preferred.
[0340] 本発明にお 、て、電極間の距離は、電極の金属母材に設置した誘電体の厚さ、印 加電圧の大きさ等を考慮して決定される。上記電極の一方に誘電体を設置した場合 の誘電体と電極の最短距離、上記電極の双方に誘電体を設置した場合の誘電体同 士の距離としては、いずれの場合も均一な放電を行う観点力も 0. 5〜20mmが好ま しぐより好ましくは 0. 5〜5mm、さらに好ましくは 0. 5〜3mm、特に好ましくは lmm ±0. 5mmである。  [0340] In the present invention, the distance between the electrodes is determined in consideration of the thickness of the dielectric provided on the metal base material of the electrodes, the magnitude of the applied voltage, and the like. When the dielectric is placed on one of the electrodes, the shortest distance between the dielectric and the electrode, and when the dielectric is placed on both of the electrodes, the distance between the dielectric and the dielectric is uniform. The viewpoint power is preferably 0.5 to 20 mm, more preferably 0.5 to 5 mm, still more preferably 0.5 to 3 mm, and particularly preferably lmm ± 0.5 mm.
[0341] 反射防止層の各層は、透明支持体上に、ディップコート法、エアーナイフコート法、 カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、マイク ログラビアコート法やエタストルージョンコート法を用いて、塗布により形成することが できる。塗布に際しては、透明支持体が、幅が 1. 4〜4mでロール状に巻き取られた 状態力 繰り出して、上記塗布を行い、乾燥 ·硬化処理した後、ロール状に巻き取ら れることが好ましい。  [0341] Each layer of the antireflection layer is formed on a transparent support by a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a roller coating method, a wire bar coating method, a gravure coating method, a microgravure coating method or an etch. It can be formed by coating using a rouge coating method. Upon coating, it is preferable that the transparent support is rolled up in a roll shape with a width of 1.4 to 4 m, and is applied in the above-mentioned manner, applied and dried / cured, and then wound into a roll. .
[0342] さらに、本発明の反射防止フィルムは、透明支持体上に反射防止層等を積層した 後、ロール状に巻き取った状態で 50〜160°Cで加熱処理を行う製造方法によって製 造することが好ましい。加熱処理の期間は、設定される温度によって適宜決定すれ ばよぐ例えば、 50°Cであれば、好ましくは 3日間以上 30日未満の期間、 160°Cであ れば 10分以上 1日以下の範囲が好ましい。通常は、卷外部、卷中央部、巻き芯部の 加熱処理効果が偏らないように、比較的低温に設定することが好ましぐ 50〜60°C 付近で 7日間程度行うことが好ましい。  [0342] Furthermore, the antireflection film of the present invention is produced by a production method in which an antireflection layer or the like is laminated on a transparent support and then heat-treated at 50 to 160 ° C in a state of being wound in a roll. It is preferable to do. The duration of the heat treatment may be determined appropriately according to the set temperature.For example, if it is 50 ° C, it is preferably 3 days or more and less than 30 days, if it is 160 ° C, it is 10 minutes or more and 1 day or less. The range of is preferable. Usually, it is preferable to set it at a relatively low temperature so that the heat treatment effect at the outside of the heel, the center of the heel, and the core is not biased.
[0343] 加熱処理を安定して行うためには、温湿度が調整可能な場所で行うことが必要であ り、塵のな 、クリーンルーム等の加熱処理室で行うことが好まし 、。  [0343] In order to perform heat treatment stably, it is necessary to perform in a place where the temperature and humidity can be adjusted, and it is preferable to perform in a heat treatment room such as a clean room without dust.
[0344] 反射防止フィルムをロール状に巻き取る際の、巻きコアとしては、円筒上のコアであ れは、特に限定されないが、好ましくは中空プラスチックコアであり、プラスチック材料 としては加熱処理温度に耐える耐熱性プラスチックが好ましく、例えばフエノール榭 脂、キシレン榭脂、メラミン榭脂、ポリエステル榭脂、エポキシ榭脂等の樹脂が挙げら れる。またガラス繊維等の充填材により強化した熱硬化性榭脂が好ま 、。 [0344] The winding core for winding the antireflection film into a roll is not particularly limited as long as it is a cylindrical core, but is preferably a hollow plastic core, which is a plastic material. For example, a heat-resistant plastic that can withstand the heat treatment temperature is preferable, and examples thereof include resins such as phenol resin, xylene resin, melamine resin, polyester resin, and epoxy resin. Thermosetting resin reinforced with fillers such as glass fiber is preferred.
[0345] これらの巻きコアへの巻き数は、 100巻き以上であることが好ましぐ 500巻き以上 であることがさらに好ましぐ巻き厚は 5cm以上であることが好ましい。 [0345] The winding number of these winding cores is preferably 100 windings or more, more preferably 500 windings or more, and the winding thickness more preferably 5 cm or more.
[0346] このようにして長巻の反射防止フィルムを、巻き取った状態で前記加熱処理を行うと き、該ロールを回転させることが好ましぐ回転は、 1分間に 1回転以下の速度が好ま ぐ連続でも良く断続的な回転であってもよい。また、加熱期間中に該ロールの巻き 替えを 1回以上行うことが好ましい。 [0346] When the heat treatment is performed in a state where the long antireflection film is wound in this manner, the rotation preferably rotating the roll has a speed of 1 rotation or less per minute. It may be continuous or intermittent rotation as desired. Further, it is preferable to perform the roll rewinding once or more during the heating period.
[0347] コアに巻き取られた長巻の反射防止フィルムを加熱処理中に回転させるため加熱 処理室に専用の回転台を設けることが好ましい。 [0347] In order to rotate the long antireflection film wound around the core during the heat treatment, it is preferable to provide a dedicated turntable in the heat treatment chamber.
[0348] 回転は、断続の場合は停止している時間を 10時間以内とすることが好ましぐ停止 位置は、円周方向に均一となるようにすることが好ましぐ停止時間は 10分以内とす ることがより好ましい。最も好ましくは、連続回転である。 [0348] In the case of intermittent rotation, it is preferable that the stopping time is within 10 hours. It is preferable that the stop position is uniform in the circumferential direction. The stopping time is 10 minutes. It is more preferable to be within the range. Most preferred is continuous rotation.
[0349] 連続回転での回転速度は、 1回転に要する時間は好ましくは 10時間以下とすること であり、早いと装置的に負担となるため実質的には、 15分から 2時間の範囲が好まし い。 [0349] The rotation speed in continuous rotation is preferably set to 10 hours or less for one rotation, and if it is fast, it is burdensome to the apparatus, so the range of 15 minutes to 2 hours is practically preferable. Good.
[0350] なお、回転機能を有する専用の台車の場合には、移動や保管中にも光学フィルム ロールを回転させることができて好ましぐこの場合、保管期間が長い場合に生じるブ ラックバンド対策として回転が有効に機能する。  [0350] In the case of a dedicated carriage having a rotation function, it is preferable that the optical film roll can be rotated during movement and storage. In this case, it is preferable to prevent black bands that occur when the storage period is long. As the rotation works effectively.
[0351] 〔偏光板〕  [Polarizer]
本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板にっ 、て述べる。  A polarizing plate using the antireflection film of the present invention will be described.
[0352] 偏光板は一般的な方法で作製することができる。本発明の反射防止フィルムの裏 面側をアルカリ鹼化処理し、処理した反射防止フィルムを、ヨウ素溶液中に浸漬延伸 して作製した偏光膜の少なくとも一方の面に、完全酸ィ匕型ポリビニルアルコール水溶 液を用いて貼り合わせることが好まし 、。もう一方の面にも該反射防止フィルムを用い ても、別の偏光板保護フィルムを用いてもよい。本発明の反射防止フィルムに対して 、もう一方の面に用いられる偏光板保護フィルムは面内リタ一デーシヨン Roが 590η mで、 20〜70nm、 Rtが 100〜400nmの位相差を有する光学補償フィルム(位相差 フィルム)であることが好ましい。これらは例えば、特開 2002— 71957号、特願 2002 — 155395号記載の方法で作製することができる。または、さらにディスコチック液晶 等の液晶化合物を配向させて形成した光学異方層を有している光学補償フィルムを 兼ねる偏光板保護フィルムを用いることが好ましい。例えば、特開 2003— 98348号 記載の方法で光学異方性層を形成することができる。本発明の反射防止フィルムと 組み合わせて使用することによって、平面性に優れ、安定した視野角拡大効果を有 する偏光板を得ることができる。 [0352] The polarizing plate can be produced by a general method. The back surface side of the antireflection film of the present invention is subjected to an alkali hatching treatment, and the treated antireflection film is immersed and stretched in an iodine solution. It is preferable to use an aqueous solution. The antireflection film may be used on the other surface, or another polarizing plate protective film may be used. With respect to the antireflection film of the present invention, the polarizing plate protective film used on the other surface is an in-plane retardation Ro of 590η. It is preferably an optical compensation film (retardation film) having a retardation of 20 to 70 nm and Rt of 100 to 400 nm. These can be prepared, for example, by the methods described in JP-A No. 2002-71957 and Japanese Patent Application No. 2002-155395. Alternatively, it is preferable to use a polarizing plate protective film that also serves as an optical compensation film having an optically anisotropic layer formed by aligning a liquid crystal compound such as a discotic liquid crystal. For example, the optically anisotropic layer can be formed by the method described in JP-A-2003-98348. By using in combination with the antireflection film of the present invention, a polarizing plate having excellent flatness and a stable viewing angle expansion effect can be obtained.
[0353] 裏面側に用いられる偏光板保護フィルムとしては、市販のセルロースエステルフィ ルムとして、 KC8UX2MW、 KC4UX、 KC5UX、 KC4UYゝ KC8UYゝ KC12UR、 KC8UCR—3、 KC8UCR—4、 KC8UCR—5 (コ-カミノルタォプト(株)製)等が好 ましく用いられる。 [0353] As the polarizing plate protective film used on the back side, commercially available cellulose ester films include KC8UX2MW, KC4UX, KC5UX, KC4UY ゝ KC8UY ゝ KC12UR, KC8UCR-3, KC8UCR-4, KC8UCR-5 (co-caminoltopto) Etc.) are preferably used.
[0354] 偏光板の主たる構成要素である偏光膜とは、一定方向の偏波面の光だけを通す素 子であり、現在知られている代表的な偏光膜は、ポリビニルアルコール系偏光フィル ムで、これはポリビュルアルコール系フィルムにヨウ素を染色させたものと二色性染料 を染色させたものがあるがこれのみに限定されるものではない。偏光膜は、ポリビニ ルアルコール水溶液を製膜し、これを一軸延伸させて染色する力、染色した後一軸 延伸してから、好ましくはホウ素化合物で耐久性処理を行ったものが用いられている 。偏光膜の膜厚は5〜30 111、好ましくは 8〜 15 mの偏光膜が好ましく用いられる 。該偏光膜の面上に、本発明の反射防止フィルムの片面を貼り合わせて偏光板を形 成する。好ましくは完全酸ィ匕ポリビュルアルコール等を主成分とする水系の接着剤に よって貼り合わせる。  [0354] The polarizing film, which is the main component of the polarizing plate, is an element that passes only light having a plane of polarization in a certain direction. A typical polarizing film that is currently known is a polyvinyl alcohol polarizing film. However, this is not limited to this, although there are a polyburoalcohol-based film dyed with iodine and a dichroic dye dyed. For the polarizing film, a polyvinyl alcohol aqueous solution is formed, and the film is uniaxially stretched and dyed, and after being dyed, the film is uniaxially stretched and is preferably subjected to a durability treatment with a boron compound. A polarizing film having a thickness of 5 to 30 111, preferably 8 to 15 m is preferably used. On the surface of the polarizing film, one side of the antireflection film of the present invention is bonded to form a polarizing plate. Bonding is preferably performed using a water-based adhesive mainly composed of completely acid-polybutyl alcohol or the like.
[0355] 〔画像表示装置〕 [0355] [Image display device]
本発明の反射防止フィルムを用いた偏光板の反射防止フィルム面を画像表示装置 の鑑賞面側に組み込むことによって、種々の視認性に優れた画像表示装置を作製 することができる。本発明の反射防止フィルムは反射型、透過型、半透過型 LCDま たは TN型、 STN型、 OCB型、 HAN型、 VA型(PVA型、 MVA型)、 IPS型等の各 種駆動方式の LCDで好ましく用いられる。また、本発明の反射防止フィルムは反射 防止層の反射光の色ムラが著しく少なぐまた、反射率が低ぐ平面性に優れ、ブラ ズマディスプレイ、フィールドェミッションディスプレイ、有機 ELディスプレイ、無機 EL ディスプレイ、電子ペーパー等の各種表示装置にも好ましく用いられる。特に画面が 30型以上の大画面の画像表示装置では、色ムラや波打ちムラが少なぐ長時間の 鑑賞でも目が疲れないという効果があった。 By incorporating the antireflection film surface of the polarizing plate using the antireflection film of the present invention into the viewing surface side of the image display device, various image display devices with excellent visibility can be produced. The antireflection film of the present invention can be applied to various types of drive systems such as reflective, transmissive, transflective LCD, TN, STN, OCB, HAN, VA (PVA, MVA), and IPS. It is preferably used in LCDs. In addition, the antireflection film of the present invention is reflective. The prevention layer has very little color unevenness in the reflected light, and the reflectance is low, and it has excellent flatness. It is also used in various display devices such as plasma display, field emission display, organic EL display, inorganic EL display, and electronic paper. Preferably used. In particular, an image display device with a large screen of 30-inch or larger has the effect of preventing eyestrain even during long-time viewing with less color unevenness and wavy unevenness.
実施例  Example
[0356] 以下、実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明はこれに限定されない。なお、 特に断りない限り、実施例中の「%」は「質量%」を表す。  [0356] Hereinafter, the present invention will be described with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. Unless otherwise specified, “%” in the examples represents “mass%”.
[0357] 実施例 1 [0357] Example 1
《反射防止フィルム 1の作製》  <Preparation of antireflection film 1>
〈透明支持体の作製〉  <Preparation of transparent support>
下記のようにして、透明なセルローストリアセテートフィルム(膜厚 80 m、幅 1330 mm)の透明支持体を作製した。  A transparent support with a transparent cellulose triacetate film (film thickness 80 m, width 1330 mm) was produced as follows.
[0358] (ドープ組成物) [0358] (Dope composition)
セルローストリアセテート(平均酢化度 61. 0%) 100質量部 トリフエ-ノレフォスフェート 8質量部  Cellulose triacetate (average degree of acetylation 61.0%) 100 parts by weight Triphenol-norephosphate 8 parts by weight
2-〔5 クロ口(2H)—べンゾトリァゾールー 2 ィル〕ー4ーメチルー 6 (tーブチ ル)フエノール 1質量部  2- [5 Black mouth (2H) -Benzotriazole- 2 yl] -4-methyl-6 (tert-butyl) phenol 1 part by mass
2- [ (2H)一べンゾトリァゾールー 2 ィル〕—4, 6 ジ t—ペンチルフエノール  2-[(2H) monobenzotriazole 2 yl] —4,6 di-t-pentylphenol
1質量部  1 part by mass
メチレンクロライド 430質量部  430 parts by mass of methylene chloride
メタノール 90質量部  90 parts by mass of methanol
上記組成物を密閉容器に投入し、加圧下で 80°Cに保温し撹伴しながら完全に溶 解してドープ組成物を得た。  The above composition was put into a closed container, kept at 80 ° C. under pressure, and completely dissolved while stirring to obtain a dope composition.
[0359] 次にこのドープ組成物を濾過し、冷却して 33°Cに保ちステンレスバンド上に均一に 流延し、剥離が可能になるまで溶媒を蒸発させたところで、ステンレスバンドから剥離 し、多数のロールで搬送させながら乾燥させ膜厚 80 mの透明支持体を得た。 [0359] Next, this dope composition was filtered, cooled and kept at 33 ° C, and evenly cast on a stainless steel band. After the solvent was evaporated until peeling became possible, the dope composition was peeled off from the stainless steel band. The film was dried while being conveyed by a number of rolls to obtain a transparent support having a thickness of 80 m.
[0360] ステンレスバンドに接して!/、る面を b面とし、もう一方の面を a面とする。なお、ハード コート層形成には b面を用いた。 [0360] The surface facing the stainless steel band is the b-side, and the other side is the a-side. Hard The b side was used to form the coat layer.
[0361] 〈ハードコート層の形成〉 [0361] <Formation of hard coat layer>
作製した透明支持体に、下記ハードコート層塗布液を塗布幅 1. 4mでダイコートし 、 80°Cで乾燥した後、 120mjZcm2の紫外線を高圧水銀灯で照射して硬化後の膜 厚 Thick film thickness after curing by applying the following hard coat layer coating solution to the prepared transparent support with a coating width of 1.4m, drying at 80 ° C, and then irradiating with 120mjZcm 2 ultraviolet light with a high-pressure mercury lamp
力 / z mになるようにハードコート層を設けた。  A hard coat layer was provided so as to have a force / zm.
[0362] (ハードコート層塗布液) [0362] (Hard coat layer coating solution)
アセトン 45質量部  45 parts by mass of acetone
酢酸ェチル 45質量部  Ethyl acetate 45 parts by mass
PGME (プロピレングリコールモノメチルエーテル) 10質量部 ペンタエリスリトールトリアタリレート 30質量部  PGME (propylene glycol monomethyl ether) 10 parts by mass Pentaerythritol tritalylate 30 parts by mass
ペンタエリスリトールテトラアタリレート 45質量部  45 parts by mass of pentaerythritol tetraatalylate
ウレタンアタリレート (商品名 U—4HA、新中村化学工業社製) 25質量部 Urethane acrylate (trade name U-4HA, Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.) 25 parts by mass
1 -ヒドロキシ -シクロへキシル -フエニル一ケトン (ィルガキュア 184、チノく'スぺシ ャルティ ·ケミカルズ社製) 5質量部 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl monoketone (Irgacure 184, manufactured by Special Chemicals) 5 parts by mass
2 -メチル 1— [4 (メチルチオ)フエ-ル] - 2-モノフォリノ一 1 オン(ィルガキ ユア 907、チノく'スペシャルティ ·ケミカルズ社製) 3質量部  2-Methyl 1- [4 (Methylthio) phenol] -2-monoforino 1-one (Irgaki Your 907, Chinoku's Specialty Chemicals) 3 parts by mass
BYK- 331 (シリコーン界面活性剤、ビックケミージャパン (株)製)  BYK-331 (Silicone surfactant, manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.)
0. 5質量部  0.5 parts by mass
フッ素含有ポリメチルメタタリレート微粒子 (根上工業製)、平均粒径 3. 5 m 20質量部  Fluorine-containing polymethylmetatalylate fine particles (Negami Kogyo Co., Ltd.), average particle size 3.5 m 20 parts by mass
〈バックコート層の形成〉  <Formation of back coat layer>
上記ハードコート層を塗設した面の反対側に、下記バックコート層塗布液をウエット 膜厚 14 mとなるようにダイコートし、 85°Cにて乾燥し巻き取り、ノ ックコート層を設け た。  On the opposite side of the surface on which the hard coat layer was applied, the following back coat layer coating solution was die-coated so as to have a wet film thickness of 14 m, dried at 85 ° C. and wound to provide a knock coat layer.
[0363] (バックコート層用塗布液)  [0363] (Coating liquid for back coat layer)
アセトン 30質量部  30 parts by mass of acetone
酢酸ェチル 45質量部 コール 10質量部 ジァセチノレセノレロース 0. 6質量部 Ethyl acetate 45 parts by mass Cole 10 parts by weight Diacetino Resenellose 0.6 parts by weight
超微粒子シリカ 2%アセトン分散液(日本ァエロジル (株)製ァエロジル 200V)  Ultrafine silica 2% acetone dispersion (Aerosil 200V manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.)
0. 2質量部  0.2 parts by mass
〈大気圧プラズマ処理〉  <Atmospheric pressure plasma treatment>
特願 2005— 351829号の図 7記載の大気圧プラズマ処理装置を用い、ハードコー ト層表面に下記の大気圧プラズマ処理を行った。  The following atmospheric pressure plasma treatment was performed on the surface of the hard coat layer using the atmospheric pressure plasma treatment apparatus described in Fig. 7 of Japanese Patent Application No. 2005-351829.
[0364] 電極間隙を 0. 5mmとして、以下に示す放電ガスを放電空間に供給し、神鋼電機 社製高周波電源を使用して、周波数 13. 5MHz,印加電圧 Vp = 9. 5kV及び出力 密度 1. 5WZcm2として放電を形成させて表面処理を行った。 [0364] The electrode gap was set to 0.5 mm, the following discharge gas was supplied to the discharge space, and the frequency was 13.5 MHz, the applied voltage Vp = 9.5 kV, and the output density 1 using a high-frequency power source manufactured by Shinko Electric Co., Ltd. Surface treatment was performed by forming a discharge as 5 WZcm 2 .
[0365] (放電ガス) [0365] (Discharge gas)
窒素ガス 80. 0体積%  Nitrogen gas 80.0% by volume
酸素ガス 20. 0体積%  Oxygen gas 20. 0% by volume
〈高屈折率層の形成〉  <Formation of high refractive index layer>
ハードコート層の表面に、下記高屈折率層塗布液をダイコートし、 80°Cで乾燥した 後、 120mjZcm2の紫外線を高圧水銀灯で照射して、硬化後の膜厚が l lOnmとな るように高屈折率層を設けた。高屈折率層の屈折率は 1. 60であった。 The surface of the hard coat layer is die-coated with the following high refractive index layer coating solution, dried at 80 ° C, and then irradiated with 120mjZcm 2 of UV light with a high-pressure mercury lamp so that the film thickness after curing becomes lOnm. A high refractive index layer was provided. The refractive index of the high refractive index layer was 1.60.
[0366] (高屈折率層塗布液) [0366] (High refractive index layer coating solution)
PGME (プロピレングリコールモノメチルエーテル) 40質量部 イソプロピルアルコール 25質量部  PGME (propylene glycol monomethyl ether) 40 parts by mass Isopropyl alcohol 25 parts by mass
メチルェチルケトン 25質量部  Methyl ethyl ketone 25 parts by mass
ペンタエリスリトールトリアタリレート 0. 9質量部  Pentaerythritol triatalylate 0.9 parts by mass
ペンタエリスリトールテトラアタリレート 1. 0質量部  Pentaerythritol tetraatalylate 1.0 parts by mass
ウレタンアタリレート (商品名: U—4HA、新中村ィ匕学工業社製) 0. 6質量部 粒子分散液 A (下記) 20質量部  Urethane acrylate (trade name: U-4HA, manufactured by Shin-Nakamura Co., Ltd.) 0.6 parts by mass Particle dispersion A (below) 20 parts by mass
1 -ヒドロキシ -シクロへキシル -フエニル一ケトン (ィルガキュア 184、チノく'スぺシ ャルティ ·ケミカルズ社製) 0. 4質量部  1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl monoketone (Irgacure 184, manufactured by Special Chemicals) 0.4 parts by weight
2 メチル 1— [4 (メチルチオ)フエ-ル] - 2-モノフォリノプロパン一 1 オン( ィルガキュア 907、チノく'スペシャルティ'ケミカルズ社製) 0. 2質量部 FZ— 2207 (10%プロピレングリコールモノメチルエーテル溶液、日本ュ-カー社 製) 0. 4質量部 2 Methyl 1— [4 (methylthio) phenol]-2-monoforinopropane 1-one ( Irgacure 907, manufactured by Chinoku 'Specialty' Chemicals Co., Ltd.) 0.2 parts by mass FZ-2207 (10% propylene glycol monomethyl ether solution, manufactured by Nippon Car Co., Ltd.) 0.4 parts by mass
(粒子分散液 Aの調製)  (Preparation of particle dispersion A)
メタノール分散アンチモン複酸ィ匕物コロイド(固形分 60%、日産化学工業 (株)製、 アンチモン酸亜鉛ゾル、商品名:セルナックス CX— Z610M— F2) 6. 0kgにイソプロ ピルアルコール 12. 0kgを攪拌しながら徐々に添加し、粒子分散液 Aを調製した。  Methanol-dispersed antimony double acid colloid (solid content 60%, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., zinc antimonate sol, trade name: Celnax CX—Z610M—F2) 6.0 kg of isopropyl alcohol The mixture was gradually added with stirring to prepare a particle dispersion A.
[0367] 〈低屈折率層の形成〉 <Formation of low refractive index layer>
上記高屈折率層上に、下記の低屈折率層塗布液をダイコートし、 80°Cで乾燥した 後、 120mjZcm2の紫外線を高圧水銀灯で照射して膜厚が 92nmになるように低屈 折率層を設け、反射防止フィルム 1を作製した。低屈折率層の屈折率は 1. 38であつ た。 In the high refractive index layer, and die coating a low refractive index layer coating solution having the following, after drying at 80 ° C, Tei屈folding as the film thickness is irradiated with a high pressure mercury lamp UV 120MjZcm 2 is 92nm An antireflection film 1 was prepared by providing a rate layer. The refractive index of the low refractive index layer was 1.38.
[0368] 屈折率層の屈折率は、分光光度計の分光反射率の測定結果から求めた。分光光 度計は U— 4000型(日立製作所製)を用いて、試料の測定側の裏面を粗面化処理 した後、黒色のスプレーで光吸収処理を行って裏面での光の反射を防止して、 5度 正反射の条件にて可視光領域 (400〜700nm)の反射率の測定を行った。  [0368] The refractive index of the refractive index layer was determined from the measurement result of the spectral reflectance of the spectrophotometer. The spectrophotometer is U-4000 type (manufactured by Hitachi, Ltd.). After the surface on the measurement side of the sample is roughened, it is light-absorbed with black spray to prevent reflection of light on the back side. Then, the reflectance in the visible light region (400 to 700 nm) was measured under the condition of regular reflection at 5 degrees.
[0369] (低屈折率層塗布液) [0369] (Low refractive index layer coating solution)
プロピレングリコールモノメチルエーテル 430質量部 イソプロピルアルコール 430質量部  Propylene glycol monomethyl ether 430 parts by mass Isopropyl alcohol 430 parts by mass
テトラエトキシシラン加水分解物 A (下記、固型分 21%換算) 120質量部 γ—メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン (商品名: ΚΒΜ503、信越化学工業社 製) 3. 0質量部  Tetraethoxysilane hydrolyzate A (following, solid content 21% conversion) 120 parts by mass γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (trade name: ΚΒΜ503, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 3.0 parts by mass
イソプロピルアルコール分散中空シリカ系微粒子 1 (下記、固形分 20%、平均粒径 45nm、粒径変動係数 30%) 40質量部  Isopropyl alcohol-dispersed hollow silica-based fine particles 1 (below, solid content 20%, average particle size 45 nm, particle size variation coefficient 30%) 40 parts by mass
アルミニウムェチルァセトアセテート ·ジイソプロピレート(川研ファインケミカル社製 Aluminum ethyl acetate acetate diisopropylate (by Kawaken Fine Chemical Co., Ltd.)
ALCH) 3. 0質量部 ALCH) 3.0 parts by mass
FZ— 2207 (10%プロピレングリコールモノメチルエーテル溶液、日本ュ-カー社 製) 3. 0質量部 (テトラエトキシシラン加水分解物 Aの調製) FZ-2207 (10% propylene glycol monomethyl ether solution, manufactured by Nippon Car Company) 3.0 parts by mass (Preparation of tetraethoxysilane hydrolyzate A)
テトラエトキシシラン 230g (商品名: KBE04、信越ィ匕学工業社製)とエタノール 440 gを混合し、これに 2%酢酸水溶液 120gを添加した後に、室温(25°C)にて 28時間 攪拌することでテトラエトキシシラン加水分解物 Aを調製した。  230 g of tetraethoxysilane (trade name: KBE04, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and 440 g of ethanol are added, 120 g of 2% aqueous acetic acid solution is added thereto, and the mixture is stirred at room temperature (25 ° C) for 28 hours. Thus, tetraethoxysilane hydrolyzate A was prepared.
[0370] (イソプロピルアルコール分散中空シリカ系微粒子 1の調製) [0370] (Preparation of isopropyl alcohol-dispersed hollow silica fine particles 1)
平均粒径 5nm、 SiO濃度 20質量0 /0のシリカゾル 100gと純水 1900gの混合物を 8 The average particle diameter of 5 nm, a mixture of silica sol 100g of pure water 1900g of SiO concentration of 20 mass 0/0 8
2  2
0°Cに加温した。この反応母液の pHは 10. 5であり、同母液に SiOとして 0. 98質量  Warmed to 0 ° C. The pH of this reaction mother liquor is 10.5, and 0.98 mass as SiO in the mother liquor.
2  2
%のケィ酸ナトリウム水溶液 9000gと AI Oとして 1. 02質量0 /0のアルミン酸ナトリウム % Of sodium aluminate 1.02 mass 0/0 as Kei aqueous sodium 9000g and AI O
2 3  twenty three
水溶液 9000gとを同時に添加した。その間、反応液の温度を 80°Cに保持した。反応 液の pHは添加直後、 12. 5に上昇し、その後、ほとんど変化しな力つた。添加終了後 、反応液を室温まで冷却し、限外濾過膜で洗浄して固形分濃度 20質量%の SiO ·Α  9000 g of aqueous solution was added simultaneously. Meanwhile, the temperature of the reaction solution was kept at 80 ° C. The pH of the reaction solution rose to 12.5 immediately after the addition, and after that, almost unchanged. After completion of the addition, the reaction solution is cooled to room temperature, washed with an ultrafiltration membrane, and a solid content of 20% by mass of SiO 2
2 2
1 Ο核粒子分散液を調製した。(工程 (a) ) 1 A hemorrhoid particle dispersion was prepared. (Process (a))
2 3  twenty three
この核粒子分散液 500gに純水 1700gをカ卩えて 98°Cに加温し、この温度を保持し ながら、ケィ酸ナトリウム水溶液を陽イオン交換樹脂で脱アルカリして得られたケィ酸 液 (SiO濃度 3. 5質量%) 3000gを添加して第 1シリカ被覆層を形成した核粒  1700 g of pure water was added to 500 g of this core particle dispersion and heated to 98 ° C, and while maintaining this temperature, a sodium silicate aqueous solution obtained by dealkalizing with a cation exchange resin ( (SiO concentration 3.5 mass%) Core particles with the addition of 3000 g to form the first silica coating layer
2  2
子の分散液を得た。(工程 (b) )  A dispersion of the child was obtained. (Process (b))
次いで、限外濾過膜で洗浄して固形分濃度 13質量%になった第 1シリカ被覆層を 形成した核粒子分散液 500gに純水 1125gを加え、さらに濃塩酸(35. 5%)を滴下 して pHl. 0とし、脱アルミニウム処理を行った。次いで、 pH3の塩酸水溶液 10Lと純 水 5Lを加えながら限外濾過膜で溶解したアルミニウム塩を分離し、第 1シリカ被覆層 を形成した核粒子の構成成分の一部を除去した SiO ·Α1 Ο多孔質粒子の分散液を  Next, 1125 g of pure water was added to 500 g of the core particle dispersion formed with the first silica coating layer having a solid content concentration of 13% by washing with an ultrafiltration membrane, and further concentrated hydrochloric acid (35.5%) was added dropwise. The pH was adjusted to 0.1 and dealumination was performed. Next, the aluminum salt dissolved in the ultrafiltration membrane was separated while adding 10 L of pH 3 hydrochloric acid aqueous solution and 5 L of pure water, and SiO · Α1 し た which removed some of the components of the core particles that formed the first silica coating layer. Porous particle dispersion
2 2 3  2 2 3
調製した(工程 (c) )。上記多孔質粒子分散液 1500gと、純水 500g、エタノール 1, 7 50g及び 28%アンモニア水 626gとの混合液を 35°Cに加温した後、ェチルシリケート (SiO 28質量%) 104gを添加し、第 1シリカ被覆層を形成した多孔質粒子の表面を Prepared (step (c)). A mixture of 1500 g of the above porous particle dispersion, 500 g of pure water, 1,750 g of ethanol and 626 g of 28% ammonia water is heated to 35 ° C, and then 104 g of ethyl silicate (SiO 28 mass%) is added. The surface of the porous particles on which the first silica coating layer is formed.
2 2
ェチルシリケートの加水分解重縮合物で被覆して第 2シリカ被覆層を形成した。次 ヽ で、限外濾過膜を用いて溶媒をイソプロピルアルコールに置換した固形分濃度 20質 量%の中空シリカ系微粒子 iの分散液を調製した。  A second silica coating layer was formed by coating with a hydrolyzed polycondensate of ethyl silicate. Next, a dispersion of hollow silica-based fine particles i having a solid content concentration of 20% by mass was prepared by replacing the solvent with isopropyl alcohol using an ultrafiltration membrane.
[0371] この中空シリカ系微粒子の第 1シリカ被覆層の厚さは 3nm、平均粒径は 45nm、 M Ox/SiO (モル比)は 0. 0017、屈折率は 1. 28であった。ここで、平均粒径及び粒[0371] The thickness of the first silica coating layer of these hollow silica-based fine particles is 3 nm, the average particle size is 45 nm, M Ox / SiO 2 (molar ratio) was 0.0019, and the refractive index was 1.28. Where the average particle size and grain
2 2
径の変動係数は動的光散乱法により測定した。  The variation coefficient of the diameter was measured by a dynamic light scattering method.
[0372] 《反射防止フィルム 2の作製》  [0372] <Preparation of antireflection film 2>
反射防止フィルム 1の作製にぉ 、て、低屈折率層塗布液中のイソプロピルアルコー ル分散中空シリカ系微粒子 1の量を 120質量部に変更し、他は同様にして反射防止 フィルム 2を作製した。  For the production of the antireflection film 1, the amount of isopropyl alcohol-dispersed hollow silica fine particles 1 in the coating solution for the low refractive index layer was changed to 120 parts by mass, and the antireflection film 2 was produced in the same manner. .
[0373] 《反射防止フィルム 3の作製》 [0373] <Preparation of antireflection film 3>
反射防止フィルム 1の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 3を作製した。  In the production of the antireflection film 1, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and the others were similarly produced.
[0374] イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 1 (固形分 20%、平均粒径 20nm 、粒径の変動係数 30%、市販品) 80質量部 [0374] Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 1 (solid content 20%, average particle size 20 nm, particle size variation coefficient 30%, commercially available product) 80 parts by mass
《反射防止フィルム 4の作製》  <Preparation of antireflection film 4>
反射防止フィルム 1の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 4を作製した。  In the production of the antireflection film 1, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and the antireflection film 4 was produced in the same manner as the others.
[0375] イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 2 (固形分 20%、平均粒径 45nm 、粒径の変動係数 30%、市販品) 80質量部 [0375] Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 2 (solid content 20%, average particle size 45 nm, particle size variation coefficient 30%, commercially available product) 80 parts by mass
《反射防止フィルム 5の作製》  << Preparation of antireflection film 5 >>
反射防止フィルム 1の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 5を作製した。  In the production of the antireflection film 1, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and the antireflection film 5 was produced in the same manner as the others.
[0376] イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 3 (固形分 20%、平均粒径 90nm 、粒径の変動係数 30%、市販品) 20質量部 [0376] Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 3 (solid content 20%, average particle size 90 nm, particle size variation coefficient 30%, commercially available product) 20 parts by mass
《反射防止フィルム 6の作製》  <Preparation of antireflection film 6>
反射防止フィルム 5の作製にぉ 、て、低屈折率層塗布液中のイソプロピルアルコー ル分散球状コロイダルシリカ 3の量を 80質量部に変更し、他は同様にして反射防止 フィルム 6を作製した。  For the production of the antireflection film 5, the amount of isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 3 in the coating solution for the low refractive index layer was changed to 80 parts by mass, and the antireflection film 6 was produced in the same manner.
[0377] 《反射防止フィルム 7の作製》 [0377] <Preparation of antireflection film 7>
反射防止フィルム 5の作製にぉ 、て、低屈折率層塗布液中のイソプロピルアルコー ル分散球状コロイダルシリカ 3の量を 140質量部に変更し、他は同様にして反射防止 フィルム 7を作製した。 For the production of the anti-reflection film 5, the amount of isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 3 in the coating solution for the low refractive index layer was changed to 140 parts by mass, and the others were similarly anti-reflective. Film 7 was produced.
[0378] 《反射防止フィルム 8の作製》 [0378] <Preparation of antireflection film 8>
反射防止フィルム 1の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 8を作製した。  In the production of the antireflection film 1, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and an antireflection film 8 was produced in the same manner as the others.
[0379] イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 4 (固形分 20%、平均粒径 200η m、粒径の変動係数 30%、市販品) 80質量部 [0379] Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 4 (solid content 20%, average particle size 200ηm, particle size variation coefficient 30%, commercially available product) 80 parts by mass
《反射防止フィルム 9の作製》  << Preparation of antireflection film 9 >>
反射防止フィルム 1の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 9を作製した。  In the production of the antireflection film 1, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and an antireflection film 9 was produced in the same manner as the others.
[0380] イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 5 (固形分 20%、平均粒径 9500 nm、粒径の変動係数 30%、市販品) 80質量部 [0380] Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 5 (solid content 20%, average particle size 9500 nm, particle size variation coefficient 30%, commercially available product) 80 parts by mass
《反射防止フィルム 10の作製》  << Preparation of antireflection film 10 >>
反射防止フィルム 6の作製にぉ 、て、低屈折率層塗布液中のイソプロピルアルコー ル分散中空シリカ系微粒子 1とイソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 3を 下記に変更し、他は同様にして反射防止フィルム 9を作製した。  In the preparation of the antireflection film 6, the isopropyl alcohol-dispersed hollow silica-based fine particles 1 and the isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 3 in the coating solution for the low refractive index layer were changed to the following, and the others were similarly treated. 9 was produced.
[0381] イソプロピルアルコール分散中空シリカ系微粒子 2 (固形分 20%、平均粒径 45nm 、粒径の変動係数 10%、上記イソプロピルアルコール分散中空シリカ系微粒子 1の 製造条件を調整して調製した) 40質量部 イソプロピルアルコール分散球状コロイダルシリカ 6 (固形分 20%、平均粒径 90nm 、粒径の変動係数 10%、市販品) 80質量部 [0381] Isopropyl alcohol-dispersed hollow silica-based fine particles 2 (prepared by adjusting the production conditions of the above-mentioned isopropyl alcohol-dispersed hollow silica-based fine particles 1 with a solid content of 20%, an average particle size of 45 nm, a particle size variation coefficient of 10%) 40 Part by mass Isopropyl alcohol-dispersed spherical colloidal silica 6 (solid content 20%, average particle size 90 nm, particle size variation coefficient 10%, commercially available product) 80 parts by mass
《反射防止フィルム 11の作製》  <Preparation of antireflection film 11>
反射防止フィルム 6の作製において、低屈折率層塗布液中にさらに下記を追加し、 他は同様にして反射防止フィルム 11を作製した。  In the production of the antireflection film 6, the following was further added to the coating solution for the low refractive index layer, and the antireflection film 11 was produced in the same manner as the others.
[0382] イソプロピルアルコール分散針状コロイダルシリカ 7 (固形分 20%、平均粒径 90nm 、粒径の変動係数 50%、市販品) 40質量部 [0382] Isopropyl alcohol-dispersed acicular colloidal silica 7 (solid content 20%, average particle size 90 nm, particle size variation coefficient 50%, commercially available product) 40 parts by mass
《反射防止フィルム 12の作製》  <Preparation of antireflection film 12>
反射防止フィルム 6の作製にぉ 、て、ハードコート層塗布液力 PMMA微粒子を 除き、他は同様にして反射防止フィルム 12を作製した。 [0383] 《反射防止フィルムの評価》 Antireflection film 12 was prepared in the same manner as in the preparation of antireflection film 6, except that the hard coating layer coating solution PMMA fine particles were removed. [0383] <Evaluation of antireflection film>
作製した反射防止フィルムにつ ヽて、下記のようにして反射率及び擦傷性を評価し た。  The produced antireflection film was evaluated for reflectivity and scratch resistance as follows.
[0384] (反射率)  [0384] (Reflectance)
裏面反射を防ぐために、試料を黒 、アクリル板上に基材レス両面テープで貼り付け 、ミノルタ社の SPECTROPHOTOMETER CM— 2500dで反射率を測定した。  In order to prevent backside reflection, the sample was attached to a black acrylic board with a baseless double-sided tape, and the reflectance was measured with a SPECTROPHOTOMETER CM-2500d manufactured by Minolta.
[0385] (擦傷性) [0385] (Abrasion)
試料【こ 230C、 550/0RHの環境下で、 # 0000のスチーノレクーノレ(SW)【こ 250g/c m2の荷重をかけ、 10往復したときの lcm幅当たりの傷の本数を測定した。なお、傷 の本数は荷重をかけた部分の中で最も傷の本数の多 、所で測定する。 10本 Zcm 以下であれば実用上問題ないが、 5本 Zcm以下が好ましぐ 3本 Zcm以下がさらに 好ましい。 Under the environment of the sample [This 23 0 C, 55 0/0 RH, multiplied by the scan Ticino Lek over Norre (SW) [load of this 250g / cm 2 of # 0000, the number of scratches per lcm width at the time of the 10 round-trip Was measured. Note that the number of scratches is measured at the highest number of scratches in the portion where the load is applied. If it is 10 Zcm or less, there is no practical problem, but 5 Zcm or less is preferable. 3 Zcm or less is more preferable.
[0386] 評価の結果を表 1に示す。  [0386] The results of the evaluation are shown in Table 1.
[0387] [表 1] [0387] [Table 1]
Figure imgf000081_0001
Figure imgf000081_0001
[0388] 表より、本発明の試料は反射率及び擦傷性が共に改良されていることが分かる。コ ロイドシリカの量は多 、方が好ましぐ粒径は大き 、方が好ま 、ことが分かる。 [0388] From the table, it can be seen that the reflectance and scratch resistance of the sample of the present invention are improved. It can be seen that the amount of colloidal silica is large and the preferred particle size is large, which is preferred.
[0389] 実施例 2 [0389] Example 2
《反射防止フィルム 13の作製》  << Preparation of antireflection film 13 >>
実施例 1の反射防止フィルム 6の作製において、ハードコート層表面に大気圧ブラ ズマ処理を行わず、他は同様にして反射防止フィルム 13を作製した。 [0390] 《反射防止フィルム 14の作製》 In the production of the antireflection film 6 of Example 1, the antireflection film 13 was produced in the same manner except that the hard coat layer surface was not subjected to the atmospheric pressure plasma treatment. [0390] <Preparation of antireflection film 14>
実施例 1の反射防止フィルム 6の作製において、ハードコート層塗布液中の PMM A微粒子を平均粒径 2 mのものに変更し、他は同様にして反射防止フィルム 14を 作製した。  In the production of the antireflection film 6 of Example 1, the antireflection film 14 was produced in the same manner except that the PMMA fine particles in the hard coat layer coating solution were changed to those having an average particle diameter of 2 m.
[0391] 《反射防止フィルム 15の作製》  [0391] <Preparation of antireflection film 15>
実施例 1の反射防止フィルム 12の作製において、ハードコート層塗布液をダイコー トし、 50°Cで仮乾燥した後、ハードコート層の表面を突起の付いたロールで型押しし た後に、 80°Cで本乾燥し、他は同様にして反射防止フィルム 15を作製した。  In the production of the antireflection film 12 of Example 1, the hard coat layer coating solution was die-coated, temporarily dried at 50 ° C., and then the surface of the hard coat layer was embossed with a roll having protrusions. Anti-reflection film 15 was produced in the same manner except that the film was dried at ° C.
[0392] 《反射防止フィルム 16の作製》 [0392] <Preparation of antireflection film 16>
実施例 1の反射防止フィルム 12の作製にぉ 、て、ドープ組成物をステンレスバンド 上に流延し、溶媒を蒸発させたところでステンレスバンドから剥離した後、透明支持 体 b面の表面を突起の付いたロールで型押しし、他は同様にして反射防止フィルム 1 6を作製した。  In the production of the antireflection film 12 of Example 1, the dope composition was cast on a stainless steel band, and after the solvent was evaporated, it was peeled off from the stainless steel band. The anti-reflection film 16 was produced in the same manner except that it was embossed with the attached roll.
[0393] 《反射防止フィルムの評価》 [0393] <Evaluation of antireflection film>
作製した反射防止フィルムについて、実施例 1で作製した反射防止フィルム 6、 12 と併せて、下記のようにして算術平均粗さ、及び表示装置に用いたときの視認性の指 標として写り込み、鮮鋭性及び透過写像性を評価した。  About the produced antireflection film, together with the antireflection films 6 and 12 produced in Example 1, it is reflected as an arithmetic average roughness and a visibility indicator when used in a display device as follows. Sharpness and transmission image clarity were evaluated.
[0394] (算術平均粗さ) [0394] (Arithmetic mean roughness)
JIS B 0601 : 2001に準じて、光学干渉式表面粗さ計RSTZPLUS (WYKO社 製)を使用して、透明支持体 (b面)、ハードコート層及び反射防止フィルムの各表面 1 . 2mm X O. 9mmの面積に対して、算術平均粗さを求めた。  In accordance with JIS B 0601: 2001, using optical interference type surface roughness meter RSTZPLUS (manufactured by WYKO), each surface of transparent support (b surface), hard coat layer and antireflection film 1.2mm X O Arithmetic mean roughness was determined for an area of 9 mm.
[0395] (写り込み、鮮鋭性) [0395] (Reflection, sharpness)
各試料をモニター上に基材レス両面テープで貼り付け、 30人で画像の写り込み及 び鮮鋭性の官能評価を行い、その平均点を求めた。 10点が最も良好で、写り込みが 少ない、あるいは鮮鋭性が高い。 1点が最も劣る。 5点以上が許容レベルである。  Each sample was affixed to the monitor with a substrate-less double-sided tape, and 30 people performed image evaluation and sharpness sensory evaluation to determine the average score. Ten points are the best, with little reflections or high sharpness. One point is the worst. Five or more points are acceptable levels.
[0396] (透過写像性) [0396] (Transparency mapping)
スガ試験機株式会社の写像性測定器 ICM— IDPで櫛巾 2. 5mmにおける透過写 像性を測定した。透過写像性は鮮鋭性と相関するパラメータである。 [0397] 評価の結果を表 2に示す。 The transmission image quality at a comb width of 2.5 mm was measured with an ICM-IDP image clarity measuring instrument from Suga Test Instruments Co., Ltd. Transmission image clarity is a parameter that correlates with sharpness. [0397] The results of the evaluation are shown in Table 2.
[0398] [表 2][0398] [Table 2]
Figure imgf000083_0001
Figure imgf000083_0001
[0399] 表より、請求の範囲第 2〜4のいずれか 1項に該当する反射防止フィルム 6及び 13 〜16は、請求の範囲第 1に該当するが請求の範囲第 2〜4のいずれの項にも該当し ない反射防止フィルム 12に比べ、画面への写り込みが少なく良好、その中で請求の 範囲第 3に該当しない反射防止フィルム 14及びノヽードコート層表面に大気圧プラズ マ処理を行わなかった反射防止フィルム 13はやや劣ることが分かる。また、請求の範 囲第 1に該当するが請求の範囲第 2に該当しない反射防止フィルム 12はかなり劣る 。請求の範囲第 4に対応する反射防止フィルム 16は鮮鋭性及び透過写像性も反射 防止フィルム 12並みに良好であることが分力る。  [0399] From the table, the antireflection films 6 and 13 to 16 corresponding to any one of claims 2 to 4 correspond to claim 1 but any of claims 2 to 4 Compared to the antireflection film 12 that does not fall under any of the above items, there is less reflection on the screen and it is good. It can be seen that the antireflection film 13 that was not present is somewhat inferior. Further, the antireflection film 12 that falls within the first claim but does not fall within the second claim is considerably inferior. The antireflection film 16 corresponding to claim 4 is as good as the antireflection film 12 in sharpness and transmission image clarity.

Claims

請求の範囲 The scope of the claims
[1] 透明支持体上に直接または他の層を介して少なくとも低屈折率層を有する反射防止 フィルムにおいて、前記低屈折率層が少なくとも 2種類のシリカ微粒子を含有し、その うちの 1種類のシリカ微粒子は内部が多孔質または空洞である中空シリカ系微粒子 であり、他の 1種類のシリカ微粒子はコロイダルシリカであり、該コロイダルシリカの平 均粒径は前記中空シリカ系微粒子の平均粒径の 1. 1〜20倍未満であり、最表面の 算術平均粗さ (Ra)が 40〜500nm未満であることを特徴とする反射防止フィルム。  [1] In an antireflection film having at least a low refractive index layer on a transparent support directly or via another layer, the low refractive index layer contains at least two types of silica fine particles, and one of them Silica fine particles are hollow silica-based fine particles whose inside is porous or hollow, and the other one type of silica fine particles is colloidal silica, and the average particle size of the colloidal silica is the average particle size of the hollow silica-based fine particles. 1. An antireflection film characterized by being 1 to less than 20 times and having an arithmetic average roughness (Ra) of an outermost surface of less than 40 to 500 nm.
[2] 透明支持体上にハードコート層及び低屈折率層を有し、該ハードコート層の表面の 算術平均粗さ (Ra)が 60〜700nm未満であることを特徴とする請求の範囲第 1項に 記載の反射防止フィルム。  [2] The hard coat layer and the low refractive index layer are provided on the transparent support, and the arithmetic average roughness (Ra) of the surface of the hard coat layer is less than 60 to 700 nm. The antireflection film as described in Item 1.
[3] 前記透明支持体の表面の算術平均粗さ (Ra)が 50〜: LOOOnm未満であることを特 徴とする請求の範囲第 1項または第 2項に記載の反射防止フィルム。  [3] The antireflection film according to claim 1 or 2, wherein the surface of the transparent support has an arithmetic average roughness (Ra) of 50 to less than LOOOnm.
[4] 前記ハードコート層にフッ素含有アクリル榭脂微粒子を含有することを特徴とする請 求の範囲第 1項乃至第 3項のいずれか 1項に記載の反射防止フィルム。  [4] The antireflection film as described in any one of [1] to [3], wherein the hard coat layer contains fluorine-containing acrylic resin fine particles.
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