WO2006037528A1 - Fluorescence microscope comprising at least one absorption filter for preventing the reflection of undesired illumination light - Google Patents

Fluorescence microscope comprising at least one absorption filter for preventing the reflection of undesired illumination light Download PDF

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WO2006037528A1 PCT/EP2005/010472 EP2005010472W WO2006037528A1 WO 2006037528 A1 WO2006037528 A1 WO 2006037528A1 EP 2005010472 W EP2005010472 W EP 2005010472W WO 2006037528 A1 WO2006037528 A1 WO 2006037528A1
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Reiner Mitzkus
Anke Vogelgsang
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Abstract

The invention relates to the prevention of stray light in the detection beam path of fluorescence microscopes. To this end, an absorption filter (6) is applied to the reflector module or arranged in the vicinity thereof, said absorption filter effectively attenuating the excitation light (53) let through by the separating mirror (4).

Description

FLEURESZENZMIKROSKOP MIT MINDESTENS EINEM ABSORPTIONSFILTER ZUR REFLEXUNTERDRÜCKUNG UNERWÜNSCHTEN BELEUCHTUNGSLICHTS FLEURESCENCE MICROSCOPE WITH AT LEAST ONE ABSORPTION FILTER FOR REFLEX SUPPRESSION OF UNWANTED LIGHTING LIGHT
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler. Solche Strahlteiler sind im Allgemeinen Bestandteil von Reflektormodulen für die Fluoreszenzmikroskopie. Diese Reflektormodule bestehen aus zwei Filtern und dem wellenlängen-selektiv wirkenden Teilerspiegel/Strahlteiler.The invention relates to a microscope with at least one beam splitter. Such beam splitters are generally part of reflector modules for fluorescence microscopy. These reflector modules consist of two filters and the wavelength-selective splitter mirror / beam splitter.
Das die Fluoreszenz des Präparates anregende Licht wird durch das Anregungsfilter dem gewählten Applikationsverfahren entsprechende schmalbandig und in der benötigten Wellenlänge zur Verfügung gestellt. Der Teilerspiegel lenkt dieses Licht möglichst effizient durch das Objektiv auf das Präparat. Das durch entsprechende Anregung von Fluoreszenz im Präparat emittierte Licht ist bzgl. seiner Wellenlänge etwas in Richtung längerer Wellenlänge verschoben (Stokes-Shift) und passiert jetzt den Teilerspiegel. Dieser Durchgang durch den Teilerspiegel muss ebenfalls effizient erfolgen um Verluste zu vermeiden. Ein nach dem Teilerspiegel angebrachtes Sperrfilter (Emissionsfilter) hat die Aufgabe nur das vom Präparat emittierte Licht durchzulassen, mögliche Anteile des Anregungslichtes aber möglichst vollständig zu blockieren.The fluorescence of the specimen exciting light is provided by the excitation filter according to the selected application method narrowband and in the required wavelength available. The splitter mirror directs this light as efficiently as possible through the lens to the specimen. The light emitted by appropriate excitation of fluorescence in the specimen is shifted somewhat in the direction of its wavelength with respect to its wavelength (Stokes shift) and now passes through the splitter mirror. This passage through the splitter mirror must also be efficient in order to avoid losses. A blocking filter (emission filter) attached after the splitter mirror has the task of transmitting only the light emitted by the specimen, but blocking possible proportions of the excitation light as completely as possible.
Bei bekannten Reflektormodulen wird das durch den Teilerspiegel hindurchgehende, nicht reflektierte Licht an den dem Anregungsfilter gegenüber liegenden Seite befindlichen Gehäuseteilen zumindestens teilweise reflektiert bzw. gestreut und so in den Strahlengang zurückgeworfen, insbesondere mit hoher Effizienz in Richtung des Emissionsfilters geworfen, da der Teilerspiegel auch auf seiner nun rückseitig liegenden Reflexionsschicht das Anregungslicht gut reflektiert. Ein besonderes Problem entsteht durch das gestreute Licht, welches unter einem von 90° verschiedenen Winkel auf das Emissionsfilter trifft, weil die für die Filter verwendeten dichroitischen Schichten ihre vorausberechnete Filterwirkung nur für senkrechten Lichteinfall realisieren können, bei schrägem Einfall werden auch andere Wellenlängen als die gewünschten durchgelassen.In known reflector modules passing through the splitter mirror, non-reflected light at the opposite side of the excitation filter housing parts is at least partially reflected or scattered and thrown back into the beam path, in particular thrown with high efficiency in the direction of the emission filter, since the splitter mirror on its rear reflection layer reflects the excitation light well. A particular problem arises from the scattered light which strikes the emission filter at an angle other than 90 °, because the dichroic layers used for the filters can only realize their predicted filtering effect for vertical incidence of light; at oblique incidence, wavelengths other than those desired are also realized pass through.
Damit wird in dem sich dem Emissionsfilter anschließenden Detektionsstrahlengang, der zur Beobachtung mittels Okularen oder empfindlicher Kameras führt, eine vom Anregungslicht direkt hervorgerufene Untergrundhelligkeit erzeugt, welche den Kontrast vermindert und insbesondere die Untersuchung schwacher Fluoreszenzen unmöglich machen kann. In der DE 199 26 037 Al der Anmelderin wurde zur Lösung dieses Problems vorgeschlagen, die Rückseite des Reflektormoduls zu entfernen oder durchsichtig zu gestalten und das den Teilerspiegel durchdringende Licht auf eine zumindestens teilweise Kegelform aufweisende reflektierende Oberfläche zu lenken und auf diese Art aus dem Strahlengang zu entfernen. Es kann aber auch bei dieser Lösung immer noch passieren, dass durch Reflexion anThus, in the detection beam path following the emission filter, which leads to observation by means of eyepieces or sensitive cameras, a background brightness directly caused by the excitation light is generated which reduces the contrast and in particular makes it impossible to study weak fluorescence. In DE 199 26 037 Al the Applicant has been proposed to solve this problem, to remove the back of the reflector module or make transparent and to direct the divider penetrating light on a reflective surface having at least partially conical and in this way from the beam path to remove. It But even with this solution can still happen that by reflection
Gehäuseteilen Licht von der kegelförmige Fläche zurück geworfen wird und damit wieder in den Detektionsstrahlengang reflektiert wird.Housing parts light is thrown back from the conical surface and thus reflected back into the detection beam path.
Die Erfindung stellt sich die Aufgabe die durch den Stand der Technik bekannteThe invention has the object of known by the prior art
Unterdrückung von unerwünschtem Anregungslicht im Detektionsstrahlengang weiter zu verbessern.Suppression of unwanted excitation light in the detection beam path to further improve.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler, wobei zurThis object is achieved by a microscope with at least one beam splitter, wherein the
Reflexunterdrückung unerwünschtes Beleuchtungslicht auf ein dieses absorbierendes Material gerichtet wird.Reflex suppression unwanted illumination light is directed to this absorbent material.
Besonders vorteilhaft ist, wenn Licht welches trotzdem noch durch das absorbierendeIt is particularly advantageous if light which still by the absorbent
Material hindurchtritt auf eine Lichtfalle geleitet und so aus dem Strahlen weg entfernt wird.Material passes on a light trap and is thus removed from the rays away.
Ein weitere Vorteil ergibt sich, wenn das absorbierende Material der durch dasA further advantage arises when the absorbent material is replaced by the
Anregungsfilter definierten Wellenlänge angepasst und vorzugsweise am Reflektormodul angebracht ist.Excitation filter defined wavelength adapted and preferably mounted on the reflector module.
Eine alternative vorteilhafte Lösung besteht darin , das absorbierende Material amAn alternative advantageous solution is to use the absorbent material on the
Mikroskopgehäuse anzubringen, wobei es vorteilhafterweise schräg zum einfallenden Licht positioniert wird.Mount microscope housing, wherein it is advantageously positioned obliquely to the incident light.
Damit es nicht zu unerwünschten Reflexionen am absorbierenden Material kommt ist es vorteilhaft, die dem Teilerspiegel zugewandte Seite des absorbierenden Materials mit einerIn order to avoid unwanted reflections on the absorbent material, it is advantageous to provide the splitter side of the absorbent material with a
Anti-Reflex-Schicht zu versehen.To provide anti-reflex layer.
Zusätzlich ist es vorteilhaft, wenn im Detektionsstrahlengang zusätzlich eine Streulichthülse angeordnet ist, welche das den Emissionsfilter schräg durchsetzende Licht aus demIn addition, it is advantageous if, in addition, a scattered light sleeve is arranged in the detection beam path, which illuminates the light passing obliquely through the emission filter
Strahlengang entfernt.Beam path away.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Zeichnungen näher erläutert.The invention will be explained in more detail below with reference to the drawings.
Es zeigen:Show it:
Fig. 1 den bekannten Grundaufbau eines ReflektormodulsFig. 1 shows the known basic structure of a reflector module
Fig. 2 das Entstehen von Falschlicht im Emissionsstrahlengang bei einem bekanntenFig. 2, the emergence of false light in the emission beam path in a known
Reflektormodulreflector module
Fig. 3 ein erstes Ausführungsbeispiel der ErfindungFig. 3 shows a first embodiment of the invention
Fig. 4 ein zweites AusführungsbeispielFig. 4 shows a second embodiment
Fig. 5 eine schematische Darstellung eines Mikroskops mit einem StrahlteilerFig. 5 is a schematic representation of a microscope with a beam splitter
Der Reflektormodul 1 aus Fig. 1 besteht aus einem Anregungsfilter 2, einem Emissionsfilter 3 und einem Teilerspiegel 4. Das Licht einer hier nicht dargestellten Lichtquelle (z.B. einerThe reflector module 1 of Fig. 1 consists of an excitation filter 2, an emission filter 3 and a splitter mirror 4. The light of a light source (e.g.
Halogenlampe) trifft auf das Annregungsfilter 2, welcher nur den gewünschten Teil des Spektrums hindurchlässt und wird vom Teilerspiegel 4 in Richtung des hier nicht dargestellten Objekts gelenkt (Anregungsstrahlengang Sl). Nach Wechselwirkung dieses Lichts mit den fluoreszierenden Teilen des Objekts trifft das zurückkommende, etwas in seiner Wellenlänge verschobene Fluoreszenzlicht wieder auf den Teilerspiegel 4, wird von diesem durchgelassen und trifft dann auf den Emissionsfϊlter 3, welcher die Aufgabe hat, nur das gewünschte Fluoreszenzlicht durchzulassen und auf den ebenfalls hier nicht dargestellten Detektor zu lenken (Emissionsstrahlengang S2). Das Anregungslicht, welches von dem Objekt reflektiert wurde, muss vom Emissionsfilter geblockt werden.Halogen lamp) meets the excitation filter 2, which only the desired part of Spectrum passes and is directed by the splitter mirror 4 in the direction of the object, not shown here (excitation beam Sl). After interaction of this light with the fluorescent parts of the object, the returning, somewhat shifted in its wavelength fluorescent light hits again on the splitter mirror 4, is transmitted by this and then strikes the Emissionsfϊlter 3, which has the task of transmitting only the desired fluorescent light and on to direct the detector, also not shown here (emission beam S2). The excitation light which has been reflected by the object must be blocked by the emission filter.
Fig. 2 zeigt, wie beim Stand der Technik doch Anregungslicht in den Detektionsstrahlengang S2 gelangen kann. Da der Teilerspiegel 4 das Anregungslicht nicht zu 100% in Richtung des Objekts reflektieren kann, gelangt ein Teil des Anregungslichtes auf hinter dem Teüerspiegel liegende Teile 5 des Mikroskops (Strahlengang S3) und wird von diesen im Allgemeinen ungerichtet gestreut bzw. reflektiert. Ein Teil dieses gestreuten oder reflektierten Lichts kann nun schräg auf den Emissionsfilter 3 fallen und wird von diesem durchgelassen (Strahlengang S4), da der Emissionsfilter seine Sperrwirkung für das Anregungslicht nur bei senkrechtem Einfall entfaltet. Damit kommt es zu einer Kontrastverringerung im Detektionsstrahlengang, welche unerwünscht ist.FIG. 2 shows how excitation light can enter the detection beam path S2 in the prior art. Since the splitter mirror 4 can not reflect the excitation light 100% in the direction of the object, a part of the excitation light reaches parts 5 of the microscope lying behind the table mirror (beam path S3) and is scattered or reflected by them in an undirected manner in general. A part of this scattered or reflected light can now fall obliquely on the emission filter 3 and is transmitted by this (beam path S4), since the emission filter unfolds its blocking effect for the excitation light only at normal incidence. This leads to a reduction in contrast in the detection beam path, which is undesirable.
In Fig. 3 ist erfindungsgemäß an der dem Anregungsfilter 2 gegenüberliegenden Seite des Reflektormoduls 1 ein Absorptionsfilter 6 angebracht, welches das Anregungslicht weitgehend absorbiert. Dazu ist es günstig, wenn das Absorptionsfilter an das Anregungsfilter angepasst ist, um genau die Anregungswellenlänge zu absorbieren. Das Absorptionsfilter 6 erstreckt sich dabei über die gesamte Seite des Reflektormoduls 1, so dass auch von den Mikroskopteilen 5 schräg zurückgeworfenes Licht zuerst wieder auf das Absorptionsfilter 6 trifft und von diesem noch einmal gedämpft wird (Strahlengang S4). Anstelle der Mikroskopteile 5 kann auch eine Lichtfalle vorgesehen sein, wie sie z.B. in DE 199 26 037 vorgeschlagen wurde. Zur weiteren Verbesserung der Eliminierung von Falschlicht im Detektionsstrahlengang S2 kann jetzt noch eine Streulichthülse angeordnet werden, welche bevorzugt aus einer schwarz eloxierten geriffelten Hülse oder einer geriffelten schwarzen Kunststoffhülse besteht. Durch diese wird das schräg in den Detektionsstrahlengang einfallende Licht wirkungsvoll eliminiert.In FIG. 3, according to the invention, an absorption filter 6 is mounted on the side of the reflector module 1 opposite the excitation filter 2, which absorbs the excitation light to a large extent. For this purpose it is favorable if the absorption filter is adapted to the excitation filter in order to absorb exactly the excitation wavelength. The absorption filter 6 extends over the entire side of the reflector module 1, so that also obliquely reflected light from the microscope parts 5 back to the absorption filter 6 again and is attenuated by this again (beam path S4). Instead of the microscope parts 5, a light trap may also be provided, as e.g. in DE 199 26 037 was proposed. To further improve the elimination of stray light in the detection beam path S2 can now be arranged a stray light sleeve, which preferably consists of a black anodized corrugated sleeve or a corrugated black plastic sleeve. By this, the incident light obliquely into the detection beam path is effectively eliminated.
In Fig. 4 ist als Alternative dargestellt, dass das Absorptionsfilter 6 auch am Mikroskopteil 5 oder einer eventuell vorgesehenen Lichtfalle nach DE 199 26 037 angebracht sein kann. In jedem Fall weist das Absorptionsfilter an seiner dem Teilerspiegel 4 zugewandtes Seite eine Anti-Reflex-B eschichtung auf um das Entstehen von Reflexionen an seiner Eingangsseite wirkungsvoll zu verhindern.In Fig. 4 is shown as an alternative that the absorption filter 6 can also be attached to the microscope part 5 or a possibly provided light trap according to DE 199 26 037. In any case, the absorption filter on its side facing the splitter mirror 4 on an anti-reflective coating on to effectively prevent the occurrence of reflections on its input side.
In Fig. 5 ist schematisch der Gesamtstrahlengang in einem Mikroskop dargestellt. Von einer Lichtquelle 7 wird das Licht über ein Wärmeschutzfilter 8, die Aperturblende 9 und die Leuchtfeldblende 10 auf den Anregungsfilter 2 gerichtet. Der Teilerspiegel 4 reflektiert das Anregungslicht über das Objektiv 11 auf das Objekt 12. Das vom Anregungslicht im Objekt 12 erzeugte Fluoreszenzlicht passiert wiederum das Objektiv 11 und wird jetzt vom Teilerspiegel 4 durchgelassen und durch das Emissionsfilter auf die Tubuslinse 13 und von dieser über ein Prismensystem in die Okulare 14 abgebildet. Alternativ kann das Licht auch mittels einer am Fototubus 15 angebrachte Kamera abgebildet werden. Dabei sind hier Anregungsfilter 2, Emissionsfilter 3 und Teilerspiegel 4 als getrennte Bauelemente dargestellt, werden aber üblicherweise zu Reflektormodulen zusammengefasst. Die Erfindung ist nicht an die dargestellten Ausfiihrungsbeispiele gebunden, fachmännische Weiterentwicklungen führen nicht zu einem Verlassen des durch die Patentansprüche definierten Schutzumfangs. Insbesondere lässt sich die Erfindung auch in Laser Scanning Mikroskopen bei der Unterdrückung von Falschlicht an den Haupt- bzw. Nebenfarbteilern anwenden. In Fig. 5, the total beam path is shown schematically in a microscope. From a light source 7, the light is directed onto the excitation filter 2 via a heat protection filter 8, the aperture diaphragm 9 and the field diaphragm 10. The splitter mirror 4 reflects the excitation light via the objective 11 onto the object 12. The fluorescence light generated by the excitation light in the object 12 again passes the objective 11 and is now transmitted by the splitter mirror 4 and through the emission filter onto the tube lens 13 and from there via a prism system the eyepieces 14 shown. Alternatively, the light can also be imaged by means of a camera attached to the phototube 15. Here, excitation filter 2, emission filter 3 and splitter mirror 4 are shown as separate components, but are usually combined to form reflector modules. The invention is not bound to the illustrative embodiments shown, expert developments do not lead to a departure from the scope defined by the claims. In particular, the invention can also be used in laser scanning microscopes in the suppression of stray light at the main or secondary color splitters.

Claims

Patentansprüche claims
1. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler, wobei zur Reflexunterdrückung unerwünschten Beleuchtungslicht auf ein dieses absorbierendes Material gerichtet wird.1. Microscope with at least one beam splitter, wherein for the reflection suppression unwanted illumination light is directed to a this absorbing material.
2. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach Anspruch 1 , wobei Licht welches durch das absorbierende Material hindurchtritt auf eine Lichtfalle geleitet und so aus dem Strahlenweg entfernt wird.2. A microscope with at least one beam splitter according to claim 1, wherein light which passes through the absorbing material passes onto a light trap and is thus removed from the beam path.
3. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach Anspruch 1 oder 2, wobei das absorbierende Material der durch das Anregungsfilter definierten Wellenlänge angepasst ist.3. A microscope with at least one beam splitter according to claim 1 or 2, wherein the absorbing material is adapted to the wavelength defined by the excitation filter.
4. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach Anspruch 1, 2 oder 3, wobei das absorbierende Material vorzugsweise am Reflektormodul angebracht ist.4. A microscope with at least one beam splitter according to claim 1, 2 or 3, wherein the absorbing material is preferably mounted on the reflector module.
5. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach Anspruch 1, 2 oder 3, wobei das absorbierende Material am Mikroskopgehäuse angebracht ist.5. A microscope with at least one beam splitter according to claim 1, 2 or 3, wherein the absorbing material is attached to the microscope housing.
6. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei das absorbierende Material schräg zum einfallenden Licht positioniert ist..6. A microscope with at least one beam splitter according to one of claims 1 to 5, wherein the absorbing material is positioned obliquely to the incident light.
7. Mikroskop mit mindestens einem Strahlteiler nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei die dem Teilerspiegel zugewandte Seite des absorbierenden Materials mit einer Anti-Reflex-Schicht versehen ist.7. A microscope with at least one beam splitter according to one of claims 1 to 6, wherein the splitter side facing the absorbent material is provided with an anti-reflection layer.
8. Mikroskop mit mindestens einem Strahl teuer nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei im Strahlengang zusätzlich eine Streulichthülse angeordnet ist. 8. microscope with at least one beam expensive according to one of claims 1 to 7, wherein in the beam path in addition a scattered light sleeve is arranged.
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